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Z 2343-6

:2012 (ISO 3452-6:2008)

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  低温浸透探傷試験

2

3.1

  一般事項 

2

3.2

  技術事項 

2

3.3

  安全対策 

2

3.4

  対比試験片 

2

3.5

  粘度及び浸透探傷試験 

2

3.6

  試験技術者 

2

4

  低温浸透探傷試験手順 

3

4.1

  基本事項 

3

4.2

  特殊事項 

3

5

  低温浸透探傷剤 

4

5.1

  基本的注意事項

4

5.2

  試験片(対比試験片) 

4

5.3

  試験温度 

4

5.4

  試験手順 

4

6

  結果

4


Z 2343-6

:2012 (ISO 3452-6:2008)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本非破壊検査協会(JSNDI)及び

財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS Z 2343

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS Z 2343-1

  第 1 部:一般通則:浸透探傷試験方法及び浸透指示模様の分類

JIS Z 2343-2

  第 2 部:浸透探傷剤の試験

JIS Z 2343-3

  第 3 部:対比試験片

JIS Z 2343-4

  第 4 部:装置

JIS Z 2343-5

  第 5 部:50  ℃を超える温度での浸透探傷試験

JIS

Z

2343-6

  第 6 部:10  ℃より低い温度での浸透探傷試験


   

日本工業規格

JIS

 Z

2343-6

:2012

(ISO 3452-6

:2008

)

非破壊試験−浸透探傷試験−

第 6 部:10  ℃より低い温度での浸透探傷試験

Non-destructive testing-Penetrant testing-

Part 6: Penetrant testing at temperatures lower than 10 °C

序文 

この規格は,2008 年に第 1 版として発行された ISO 3452-6 を基に,技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

適用範囲 

この規格は,10  ℃より低い温度(以下,低温という。

)で浸透探傷試験を適用する場合の特殊要求事項

及び適応する浸透探傷剤の格付けについて規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO 3452-6:2008

,Non-destructive testing−Penetrant testing−Part 6: Penetrant testing at temperatures

lower than 10 °C

(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS Z 2323

  非破壊試験−浸透探傷試験及び磁粉探傷試験−観察条件

注記  対応国際規格:ISO 3059,Non-destructive testing−Penetrant testing and magnetic particle testing

−Viewing conditions(IDT)

JIS Z 2343-1

  非破壊試験−浸透探傷試験−第 1 部:一般通則:浸透探傷試験方法及び浸透指示模様の

分類

注記  対応国際規格:ISO 3452-1,Non-destructive testing−Penetrant testing−Part 1: General principles

(MOD)

JIS Z 2343-2

  非破壊試験−浸透探傷試験−第 2 部:浸透探傷剤の試験

注記  対応国際規格:ISO 3452-2,Non-destructive testing−Penetrant testing−Part 2: Testing of penetrant

materials

(IDT)

JIS Z 2343-3

  非破壊試験−浸透探傷試験−第 3 部:対比試験片

注記  対応国際規格:ISO 3452-3,Non-destructive testing−Penetrant testing−Part 3: Reference test


2

Z 2343-6

:2012 (ISO 3452-6:2008)

   

blocks

(MOD)

低温浸透探傷試験 

3.1 

一般事項 

この規格又は探傷剤製造業者の指示がない場合は,JIS Z 2343-1 の一般事項を適用する。

格付け試験は,探傷剤製造業者が行う。製品が規定の範囲内で使用される場合は,それ以上の試験を現

場で行う必要はない。

3.2 

技術事項 

温度範囲によっては,次のような問題が発生することがある。

a)

試験体表面での結露及び凍結

b)

高温時に比較して溶剤の揮発遅延及び速乾式現像剤の乾き遅延

c)

スプレー缶使用時における圧力低下及びスプレー状態への影響

d)

探傷剤の中には,凝固するものもある。そのような探傷剤は,10  ℃より低い温度での試験に用いては

ならない。

3.3 

安全対策 

健康,安全及び環境に対する要求事項は,関連する法令及び規則を遵守しなければならない。

温度範囲によって,次の規則を守らなければならない。

a)

試験体,探傷剤又は試験場所を暖めるために加熱器を使用するときは,探傷剤の蒸気又はスプレーが

火炎又は高温の表面に触れることのないよう注意しなければならない。

b)

試験技術者は,低温の部品に触れることのできる衣服及び手袋を装着しなければならない。使用する

手袋は,試験に支障のないものを用いる。

c)

極めて低い温度環境においては,ある種の器材(ペン,カメラなど)は,使用できないことがある。

この場合には,使用できるようになるまで適切な温度に保つ(例えば,衣服の中に入れ,体に接する。

か,使用可能な器材を用いる。

3.4 

対比試験片 

対比試験片の取扱いには,注意しなければならない。試験片を冷凍庫に入れ,試験の規定温度になり取

り出した場合,低温の試験片は,暖かい空気に触れ,試験片表面は,結露し,試験片の温度は,急激に上

昇する。

このため試験は,実際に近い状態で実施しなければならない。試験片,試験技術者及び探傷剤の全てが

屋外で試験を実施するか,又は温度を実際の状態に再現できるような温度制御試験室で試験を実施しなけ

ればならない。

3.5 

粘度及び浸透探傷試験 

温度が低く浸透液の粘度が高くなる場合でも,粘度の上昇は,浸透探傷試験を実施する上での問題とは

ならない。毛管現象は,粘性効果よりもはるかに強力でありゼリー状に近い粘度の高い状態でも,割れ検

出が可能である。

3.6 

試験技術者 

この規格に従って試験を実施する試験技術者は,適切に資格付けされていなければならない。また,低

温での試験に関して十分な知識をもっていなければならない。

注記  上記の試験技術者の資格に関する規格は,JIS G 0431JIS W 0905JIS Z 2305 などがある。


3

Z 2343-6

:2012 (ISO 3452-6:2008)

低温浸透探傷試験手順 

4.1 

基本事項 

次のことを適用する。

a)

試験面及びきず部は,汚れのない状態にしなければならない。

なお,使用した前処理剤も完全に取り除かなければならない。

b)

試験体の浸透処理は,最も実施しやすい方法で実施する。

c)

浸透時間経過後,余剰浸透液は,きれいな糸くずの出ない布及び探傷剤製造業者が推奨する除去剤(低

温では,水の使用を避ける。

)で拭き取らなければならない。

d)

低温での浸透探傷試験は,一般には,定置式装置は,使用できない。速乾式現像剤を試験面にスプレ

ーした場合,低温においては,溶剤の乾燥は,常温に比べて遅くなる。このため,正確な浸透指示模

様を得るためには,溶剤が乾燥するまでの十分な時間を与えなければならない。

e)

観察条件は,JIS Z 2323 の要求に従う。

4.2 

特殊事項 

4.2.1 

前処理 

温度が−5∼10  ℃の範囲では,問題発生の主な原因は,水であり,それは,液体(湿気)

,霜又は氷によ

るものである。

水の存在は,探傷に支障をきたすので,次の方法で除去する。a)及び b)は,双方とも実施することが望

ましいが,それぞれ単独で実施してもよい。

a)

きず内部の水分を蒸発させるため,試験体表面を数分かけてゆっくりと暖める。

b) 2-

プロパノン(アセトン)又は 2-プロパノール(イソプロピルアルコール)のような水溶性の揮発溶

剤を使用する(一般に,浸透処理の前に適用する洗浄液は,炭化水素系のものを使用する。これらは,

水分の除去には使用できない。

c)

蒸発するのに数分かけてもよい。蒸発を確実にするには,試験体を結露するような温度に下げてはな

らない。

温度が−5  ℃より低い場合は,霜又は氷のないことを確認する。僅かな霜又は氷でも取り除かなければ

ならない。

4.2.2 

浸透処理 

スプレー缶の圧力が十分であれば,浸透液は,スプレー法を適用してもよい。浸透液の適用は,JIS Z 

2343-1

に規定している,いずれの方法を用いてもよい。

浸透時間は,

JIS Z 2343-1

に規定する時間(温度 10∼50  ℃での浸透時間)の 2 倍にすることが望ましい。

この理由は,きず内部の水を完全に除去することが困難であり,水が存在すると浸透液の浸入が困難にな

るためである。

4.2.3 

除去処理 

水洗性浸透液を使用した場合でも,糸くずの出ない布又は紙及び探傷剤製造業者が推奨する揮発性溶剤

を使うことは,水を使うよりも望ましい。

最初に,きれいな糸くずの出ない布又は紙でできる限り浸透液を除去する。

次に,糸くずの出ない布又は紙に少しの揮発性溶剤を湿らせて残りの浸透液を除去する。

最後に,乾いた糸くずの出ない布又は紙で浸透液及び揮発性溶剤の残りを拭き取る。

揮発性溶剤が乾くまで,数分かかる。


4

Z 2343-6

:2012 (ISO 3452-6:2008)

   

4.2.4 

現像処理 

速乾式現像剤が最も望ましい。

スプレーを行うとき,最も効果的な方法は,スプレー缶を使用することである。

薄く積層された適切な現像剤塗膜を得るために,スプレー缶は,最低でも 10  ℃の温度に保持しておか

なければならない。

溶剤は,3 分以内に乾燥するように適用しなければならない。それより長い場合は,浸透指示模様がぼ

やけて評価に支障をきたす。

溶剤の乾燥を速めるために,暖かい空気(赤外線ヒータを除く。

)をゆっくり当ててもよい。

現像時間は,JIS Z 2343-1 に規定する時間(温度 10∼50  ℃での現像時間)の 2 倍まで延ばしてもよい。

4.2.5 

観察 

観察条件は,JIS Z 2323 による。

低温浸透探傷剤 

5.1 

基本的注意事項 

10

∼50  ℃の範囲で用いられる探傷剤の多くは,低温でも使用することができる。

洗浄剤は,水溶性で速乾性のものでなければならない。除去剤も,速乾性でなければならない。

最低使用温度の規定は,探傷剤製造業者の責任である。

探傷剤は,最低規定温度において,分離しないものを用いる。

5.2 

試験片(対比試験片) 

JIS Z 2343-3

に規定する対比試験片を使用する。

5.3 

試験温度 

試験は,探傷剤製造業者によって許容される最低温度で,実施しなければならない。

5.4 

試験手順 

5.4.1 

試験片の洗浄 

使用前に,試験片を適切な方法で洗浄し,速乾式現像剤を用いて浸透指示模様の残存していないことを

確認しなければならない。浸透指示模様のないことが確認できれば,試験に使用できる。現像剤を除去し,

汚染防止のため,処理中は素手で触らない。対比試験片の取扱いに当たっては,温度変化を与えないよう

な,きれいな白い木綿又はその他の素材の手袋を使用してもよい。

5.4.2 

試験温度の設定 

試験体は,試験実施温度で少なくとも 10 分間は保持する。

温度を設定できる“温度制御試験室”を使用しなければならない。試験技術者は,浸透処理開始直前に

温度制御試験室に入り,浸透処理,浸透時間の保持及び除去処理を行い,溶剤の乾燥後に,現像処理を実

施する。

現像時間中は,10 分ごとに浸透指示模様の形成を観察することが望ましい。

5.4.3 

観察条件 

観察条件は,JIS Z 2323 の要求事項を満足しなければならない。

結果 

検出感度レベルは,JIS Z 2343-2 による。


5

Z 2343-6

:2012 (ISO 3452-6:2008)

参考文献  JIS G 0431  鉄鋼製品の雇用主による非破壊試験技術者の資格付与

JIS Q 9001

  品質マネジメントシステム−要求事項

注記  対応国際規格:ISO 9001,Quality management systems−Requirements(IDT)

JIS Q 17025

  試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項

注記  対応国際規格:ISO/IEC 17025,General requirements for the competence of testing and

calibration laboratories

(IDT)

JIS W 0905

  航空宇宙用非破壊検査員の技量認定基準

JIS Z 2300

  非破壊試験用語

注記  対応国際規格:ISO 12706,Non-destructive testing−Penetrant testing−Vocabulary(MOD)

JIS Z 2305

  非破壊試験−技術者の資格及び認証

注記  対応国際規格:ISO 9712,Non-destructive testing−Qualification and certification of

personnel

(MOD)

EN 473

,Non-destructive testing−Qualification and certification of NDT personnel−General principles