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Z 2320-3

:2007

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  用語及び定義 

2

4

  安全上の予防措置

2

5

  装置の様式 

2

5.1

  可搬形電磁石 

2

5.2

  定置形磁化台 

3

5.3

  専用試験システム

5

6

  磁化電源

6

6.1

  一般

6

6.2

  技術的なデータ

6

6.3

  装置の最低要件

7

7

  ブラックライト 

7

7.1

  一般

7

7.2

  技術的なデータ

7

7.3

  装置の最低要件

7

8

  検出媒体循環システム 

8

8.1

  一般

8

8.2

  技術的なデータ

8

8.3

  装置の最低要件

8

9

  検査室

8

9.1

  一般

8

9.2

  技術的なデータ

8

9.3

  装置の最低要件

8

10

  脱磁装置 

9

10.1

  一般

9

10.2

  技術的なデータ

9

10.3

  装置の最低要件

9

11

  測定 

9

11.1

  一般

9

11.2

  電流測定

9

11.3

  磁界測定

9

11.4

  可視光線の測定 

10

11.5

  領域紫外線放射照度の測定 

10


Z 2320-3

:2007

(2)

11.6

  機器の検証及び校正

10

附属書 JA(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

11


Z 2320-3

:2007

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本非破壊検査協会(JSNDI)及び財

団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工

業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS Z 2320

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS Z 2320-1

  第 1 部:一般通則

JIS Z 2320-2

  第 2 部:検出媒体

JIS Z 2320-3

  第 3 部:装置


日本工業規格

JIS

 Z

2320-3

:2007

非破壊試験−磁粉探傷試験−第 3 部:装置

Non-destructive testing

Magnetic particle testing

Part 3: Equipment

序文 

この規格は,2002 年に第 1 版として発行された ISO 9934-3 を基に,技術的内容を変更して作成した日本

工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,磁粉探傷試験のための 3 様式の装置(可搬形電磁石,定置形磁化台及び専用試験システム)

を構成する磁化装置,脱磁装置,照明装置,及び観察装置について規定する。

注記 1  この規格は,磁粉探傷試験に使用される装置の特性について規定するものであるが,その特

性にかかわる規定は,装置の性能の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価

を行うことは,意図していない。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO 9934-3:2002

,Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 3: Equipment (MOD)

なお,対応の程度を表す記号(MOD)は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,修正していることを

示す

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0920

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)

JIS G 4051

  機械構造用炭素鋼鋼材

JIS Z 2300

  非破壊試験用語

JIS Z 2320-1

  非破壊試験−磁粉探傷試験−第 1 部:一般通則

注記  対応国際規格:ISO 9934-1,Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 1: General

principles

(MOD)

JIS Z 2321

  磁粉探傷用交流極間式磁化器

JIS Z 2323

  非破壊試験−浸透探傷試験及び磁粉探傷試験−観察条件

注記  対応国際規格:ISO 3059,Non-destructive testing−Penetrant testing and magnetic particle testing

−Viewing conditions(IDT)

JIS Z 8703

  試験場所の標準状態


2

Z 2320-3

:2007 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 2300 及び JIS Z 2320-1 による。

安全上の予防措置 

安全上の予防措置は,JIS Z 2320-1 の箇条 による。

装置の様式 

5.1 

可搬形電磁石 

5.1.1 

一般 

可搬形電磁石(交流極間式磁化器又はヨーク式磁化器ともいう。

)は,二つの磁極間に磁界を発生させる

JIS Z 2320-1 の規定に従って検査を行うとき,直流を使用する電磁石は,受渡当事者間で合意した場合

に限って使用する。

磁化の程度は,電磁石の磁極面の中心をつなぐ線の中心点において,試験面に平行な磁界強度 H

t

を測定

することによって決定する。磁極間隔 の電磁石を

図 に示すような鋼板の上に置く。鋼板の寸法は,(500

±25) mm×(250±13) mm×(10±0.5) mm とし,JIS G 4051 に規定する S20C に適合した鋼板を用いる。

定期的な機能点検は,上記の試験面に平行な磁界強度 H

t

を測定する方法で行うか,又は次に示すリフテ

ィング・パワー試験によって行ってもよい。

電磁石は,JIS G 4051 に規定する S20C に適合した鋼板又は長方形の棒を支持できるものとし,適切な

磁極間隔にセットされた状態で,最小 4.5 kg の質量を持ち上げられるものとする。鋼板又は棒の主な寸法

は,電磁石の磁極間隔 より大きくなければならない。

注記  質量 4.5 kg の鋼板を持ち上げるには,44 N のリフティング・パワーを必要とする。

単位  mm

図 1−可搬形電磁石の磁界測定


3

Z 2320-3

:2007

5.1.2 

技術的なデータ 

装置供給者は,次のデータを提供する。ただし,詳細については,受渡当事者間で協議し,決定する。

a)

奨励される磁極間隔(最大及び最小の磁極間隔)

s

max

s

min

b)

磁極の断面寸法

c)

電源(電圧,電流及び周波数)

d)

電流波形

e)

電流制御の方法及び波形による影響(例  サイリスタ)

f)

最大出力時の使用率(全時間に対する電流“ON”の時間の比率を%で表す。

g)

最大電流時の通電時間

h)  s

max

及び s

min

における試験体表面に平行な磁界の強さ H

t

i)

装置の全長

j)

装置の質量(kg)

k)

規定の電気保護等級(IP)

JIS C 0920 の規定による。

5.1.3 

装置の最低要件 

可搬形電磁石は,JIS Z 8703 の規定により,周囲温度 20±5  ℃において,少なくとも次の要件を満たさ

なければならない。

−  使用率≧10  %

−  通電時間≧5 秒

−  にぎり部の表面温度≦50  ℃(JIS Z 2321 による。

−  s

max

における試験体表面に平行な磁界の強さ≧2 kA/m(RMS)

−  リフティング・パワー≧44 N

5.1.4 

追加要求事項 

電磁石には,にぎり部に,電源の ON/OFF スイッチを取り付けるのが望ましい。

注記  一般に,電磁石は,片手で使用できるのが望ましい。

5.2 

定置形磁化台 

5.2.1 

一般 

定置形磁化台は,通電法及び磁束投入法のための設備が含まれたものでよい。磁束は,電磁石ヨーク又

は JIS Z 2320-1 に規定する固定コイルによって投入する。電流源の特性は,箇条 による。

多方向磁化用の設備が含まれている場合は,各回路は独立して制御しなければならない。磁化は,すべ

ての方向において,要求される検出能力を満足させるのに十分なものとする。

電磁石ヨークの特性は,試験体表面に平行な磁界強度 H

t

で表し,kA/m を単位とし,円筒形の棒の長さ

方向の中央で測定する。この円筒形の棒は JIS G 4051 に規定する S20C に適合し,装置の仕様範囲内の適

切な寸法(長さと直径)のものとする。

磁化台によって 1 m 以上の試験体を磁束投入法で試験する場合,及び長さを分割して個々に磁化する場

合には,供給者は磁化性能の決定法を定義しなければならない。これには,適切な長さ及び直径をもつ棒

における試験体表面に平行な磁界の仕様も含まれるものとする。

5.2.2 

技術的なデータ 

装置供給者は,次のデータを提供する。ただし,詳細については,受渡当事者間で協議し,決定する。

a)

使用可能な磁化のタイプ

b)

使用可能な電流波形


4

Z 2320-3

:2007 

c) 

電流制御の方法及び波形による影響

d) 

調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ

e) 

定電流制御の方法(機能が備わっている場合)

f) 

磁化電流の波形チャート

g) 

磁化通電時間の範囲

h) 

自動化機能

i) 

最大出力時の使用率

j) 

最大電流時の通電時間(箇条 に指定されている場合以外)

k) 

試験体表面に平行な磁界強度 H

t

5.2.1 参照)

l) 

開回路電圧 U

o

(RMS)

m) 

短絡電流 I

k

(RMS)

n) 

定格電流  I

r

(RMS)

o) 

磁極断面の寸法

p) 

最大クランプ長さ

q) 

クランプ方法

r) 

圧縮空気圧力

s) 

主軸台とベッドとの間の最大寸法

t) 

試験体の最大直径

u) 

試験体の最大質量(支持ありの場合又は支持なしの場合)

v) 

使用可能な検出媒体の種類(水性/油性)

w) 

装置配置図の概要(電源,制御盤及び検出媒体槽の位置)

x) 

計器の種類(デジタル,アナログ)

y) 

計器の精度及び分解能

z) 

最大電流出力時の電源供給に対する要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)

aa) 

装置の全体寸法

ab) 

装置の総質量(kg)

ac) 

コイルの特性

−  巻き数

−  最大アンペア・ターン

−  コイルの長さ

−  コイルの内径又は側面の各長さ(コイルが長方形の場合)

−  コイルの中心における磁界の強さ

5.2.3 

装置の最低要件 

定置形磁化台は,JIS Z 8703 の規定により,周囲温度 20±5  ℃において,少なくとも次の要件を満たさ

なければならない。

−  最大出力時の使用率≧10  %

−  通電時間≧5  秒

−  試験体表面に平行な磁界の強さ≧2 kA/m(5.2.1 参照)

−  検出能力(要求された場合)

5.2.4 

追加要求事項 


5

Z 2320-3

:2007

装置供給者は,指定された試験体に対する検出能力を検証しなければならない。

5.3 

専用試験システム 

5.3.1 

一般 

専用試験システムは,通常,自動化され,専門業務用に設計されている。複雑な形の試験体の場合は,

多方向磁化の使用が要求されることがある。そのとき,磁化回路の数及び磁化の設定値は,検出されるき

ず模様の位置及び方向に応じて決定する。

なお,専用試験システムのきずの検出能力は,適切な範囲において,適切な方向を向いた,自然欠陥又

は人工欠陥をもつ試験体で検証することができる。

5.3.2 

技術的なデータ 

装置供給者は,次のデータを提供する。ただし,詳細については,受渡当事者間で協議し決定する。

a)

磁化回路の数及び形式

b)

磁化回路の特性

c)

電流波形(機能が備わっている場合)

d)

電流制御方法及び波形による影響

e)

調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ

f)

定電流制御の方法(機能が備わっている場合)

g)

磁化電流の波形チャート

h)

システム・サイクル時間

i)

事前塗布及び散布時間

j)

磁化時間

k)

磁化後の待ち時間

l)

計器の種類(デジタル,アナログ)

m)

計器の精度及び分解能

n)

最大出力時の使用率

o)

最大電流通電時間(箇条 に指定されている場合以外)

p)

最大電流出力時の電源供給に対する要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)

q)

脱磁のタイプ

r)

使用可能な検出媒体のタイプ(水/油ベース)

s)

装置の概要配置図(電源,制御盤及び検出媒体の液槽の位置)

t)

圧縮空気圧力

u)

装置の全体寸法

v)

装置質量(kg)

5.3.3 

装置の最低要件 

専用試験システムは,JIS Z 8703 の規定により,周囲温度 20±5  ℃において,少なくとも次の要件を満

たさなければならない。

−  合意された検出能力に合致する。

−  合意されたサイクルタイムに合致する。

−  各回路の独立した制御。


6

Z 2320-3

:2007 

磁化電源 

6.1 

一般 

磁化装置に電流を供給するために使用する電源は,開回路電圧 U

o

,短絡電流 I

k

及び定格電流 I

r

(RMS

値)によって表す。

定格電流 I

r

は,特に指定のない限り,電源の使用率 10  %で,通電時間 5 秒と定められた場合の最大電

流とする。

開回路電圧 U

o

及び短絡電流 I

k

は,フィード・バック制御を外した状態で,電源の負荷特性から求める。

電源の負荷曲線は,電源に二つの異なる長さの負荷ケーブルを順次接続することによって求める。最初に

一つの負荷ケーブルを用いて,ケーブルに流れる電流 I

1

と出力端子間電圧 U

1

とによって,

図 の点 P

1

求める。次にもう一つの負荷ケーブルを用いて,点 P

2

を求める。負荷曲線は,P

1

と P

2

の 2 点を結ぶ直線

を引くことによって作図し,その負荷曲線と両軸との交点(

図 参照)を開回路電圧 U

o

及び短絡電流 I

k

として表す。

図 2−電源の負荷特性

6.2 

技術的なデータ 

装置供給者は,次のデータを提供する。ただし,詳細については,受渡当事者間で協議し決定する。

a) 

開回路電圧 U

o

(RMS)

b) 

短絡電流 I

k

(RMS)

c) 

定格電流 I

r

(RMS)

d) 

最大出力時の使用率

e) 

最大電流の通電時間

f) 

電流波形

g) 

電流制御の方法及び波形による影響

h) 

調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ


7

Z 2320-3

:2007

i) 

定電流制御(機能が備わっている場合)

j) 

計器の種類(デジタル,アナログ)

k) 

電流出力計器の精度と分解能

l) 

最大電流出力時の電源供給に対する要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)

m) 

指定された電気的な保護等級(IP)

JIS C 0920 参照)

n) 

装置の全体寸法

o) 

装置の総質量(kg)

p) 

脱磁の形式(利用可能な場合)

10.1 参照)

6.3 

装置の最低要件 

磁化電源は,JIS Z 8703 の規定により,周囲温度 20±5  ℃及び定格電流 I

r

において,少なくとも次の要

件を満たさなければならない。

−  使用率≧10  %

−  通電時間≧5 秒

注記  高負荷試験を行う場合は,より高い使用率及び長い通電時間を要求することになる。

ブラックライト 

7.1 

一般 

ブラックライトは,JIS Z 2323 による。

7.2 

技術的なデータ 

装置供給者は,次のデータを提供する。ただし,詳細については,受渡当事者間で協議し決定する。

a)

1

時間後のブラックライト本体の表面温度

b)

冷却の方式(例  熱交換器)

c)

電源供給の要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)

d)

装置の全体寸法

e)

装置質量(kg)

f)

規定電圧でのブラックライトのフィルタ面から 400 mm の距離における次のデータ

1)

照射領域[表面における紫外線強度(紫外線放射照度)の最大値の半分以上の強度で照射される領

域の直径又は長さ×幅]

2) 15

分運転後の紫外線強度

3) 200

時間連続運転後の紫外線強度(代表的な値)

4) 15

分運転後の照度(11.4 参照)

5) 200

時間連続運転後の照度(代表的な値)

7.3 

装置の最低要件 

ブラックライトは,JIS Z 8703 の規定により,周囲温度 20±5  ℃において,少なくとも次の要件を満た

さなければならない。

−  検出媒体の飛散に対するフィルタの防護

−  設置位置における手持ち式装置の危険防護

−  光源から 400 mm の点におけるブラックライトの紫外線放射照度≧10 W/m

2

−  光源から 400 mm の点における自然光照度≦20 Lx

−  取っ手(にぎり部)の表面温度≦50  ℃


8

Z 2320-3

:2007 

検出媒体循環システム 

8.1 

一般 

通常,定置形磁化台及び専用試験システムでは,検出媒体を,液槽,散布装置及び排水トレーの中で循

環させる。

8.2 

技術的なデータ 

装置供給者は,次のデータを提供する。

a)

かくはん方法

b)

液槽,散布装置及び排水トレーの材質

c)

腐食防護

d)

適用される検出媒体の種類(水性/油性)

e)

検出媒体の突出量

f)

液槽の容量

g)

ポンプの電源供給に対する要求事項(装置と分離している場合)

h)

手動/自動式散布

i)

定置式/可搬式散布装置

j)

手持ちホース

8.3 

装置の最低要件 

検出媒体循環システムは,JIS Z 8703 の規定により,周囲温度 20±5  ℃において,少なくとも次の要件

を満たさなければならない。

−  検出媒体循環システムに耐食性がある。

−  検出媒体の吐出量の制御ができる。

検査室 

9.1 

一般 

蛍光性の検出媒体を使用する場合,きずによる磁粉模様とバックグラウンドとのコントラストを確実に

するために,周辺可視光の照度を低くして検査を行う(JIS Z 2323 参照)

。この目的のために,検査室は,

磁化台と一体となっているか,又は独立した暗室が要求されている。

9.2 

技術的なデータ 

装置供給者は,次のデータを提供する。

a)

A

領域紫外線のない場合の可視光の照度

b)

可燃性の等級

c)

構造材料

d)

換気のタイプ

e)

寸法及び入出路

9.3 

装置の最低要件 

検査室は,JIS Z 8703 の規定により,周囲温度 20±5  ℃において,少なくとも次の要件を満たさなけれ

ばならない。

−  可視光線≦20 Lx

−  難燃性材料

−  検査員の視野内に可視光線及び/又は A 領域紫外線に伴うハレーションがない。


9

Z 2320-3

:2007

10 

脱磁装置 

10.1 

一般 

脱磁設備は,磁化装置と一体となっている場合と磁化装置とは別置きの場合とがあるが,いずれにおい

ても,磁粉模様の観察が脱磁後に行われる場合には,磁粉模様が適切な方法によって保持されるものでな

ければならない。

10.2 

技術的なデータ 

装置供給者は,次のデータを提供する。

a)

脱磁方式

b)

電流制御の方式

c)

磁界の強さ(可能な場合及び空しん脱磁コイルの中心)

d)

指定された試験体の残留磁気

e)

最大電流出力時の電源供給に対する要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)

(磁化装置と別置きの場

合)

f)

装置の全体寸法(磁化装置と別置きの場合)

g)

装置の総質量(kg)

(磁化装置と別置きの場合)

10.3 

装置の最低要件 

脱磁装置は,少なくとも次の要件を満たさなければならない。

−  装置は指定されたレベル(標準値 0.4∼1.0 kA/m)まで脱磁できる(受渡当事者間で別の取決めがない

場合に限る。

11 

測定 

11.1 

一般 

装置供給者は,次のデータを提供する。

−  装置特性の決定

−  検査パラメータの確認

すべての電気,磁気に関する値は,RMS 値(真の実効値)で明記し測定する。半波整流の波形について

は,RMS 測定は,直流成分も考慮に入れる。RMS 測定が不可能な場合,測定値の測定方法が公表されな

ければならない。

11.2 

電流測定 

AC

(正弦波の波形)は,クランプ・メータ(測定誤差<10  %)又は分流器及び一般的な多目的電圧計

(測定誤差<10  %)を用いて測定することができる。位相調整された電流測定には,波高率(実効値に対

する波高値の比率)が 6 よりも大きいメータを用いる。

11.3 

磁界測定 

11.3.1 

測定方法 

磁化は,ホール素子プローブなどを用いて,試験体表面に平行な磁界強度を測定することによって決定

する。要求される磁界の強さを得る場合,磁化方法及び測定位置に関して,次の三つの要因を考慮する。

a)

ホール素子などの向き  感磁素子面は,試験体表面に対して垂直に置く。

注記  垂直な磁界成分が存在する場合には,素子の傾斜は本質的な誤差を招く。

b)

ホール素子などの表面への接近  磁界が表面からの高さに応じて強く変わる場合は,表面での値を推

定するために,異なる高さで 2 回測定してもよい。


10

Z 2320-3

:2007 

c)

磁界の方向  磁界の方向及び大きさを決定するために,プローブを回転させ,最大値を読み取とる。

11.3.2 

技術的なデータ 

次のデータは,供給者が提供する。

a)

測定値

b)

プローブの形式及び寸法

c)

プローブ表面からのセンサの距離

d)

感磁素子の形状

e)

測定機器のタイプ

f)

測定機器の寸法

g)

電源(バッテリ,商用電源)

11.3.3 

装置の最低要件 

測定装置は,JIS Z 8703 の規定により周囲温度 20±5  ℃において,少なくとも次の要件を満たさなけれ

ばならない。

−  測定精度±10  %以内

11.4 

可視光線の測定 

可視光線の測定は JIS Z 2323 による。

ブラックライトからの可視光線を測定するとき,照度計は,紫外線及び赤外線に感応してはならない。

このため,適切なフィルタが組み込まれていなければならない。

11.5 A

領域紫外線放射照度の測定 

A

領域紫外線放射照度の測定は JIS Z 2323 による。

11.6 

機器の検証及び校正 

校正間隔期間中の測定誤差がこの規格の規定範囲内となるように,機器の検証及び校正を,手順に従っ

て実施する。この作業は,機器の製造業者の推奨に従うか又は使用者の品質保証システムに沿って行う。


11

Z 2320-3

:2007

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応する国際規格との対比表

JIS Z 2320-3:200X

  非破壊試験−磁粉探傷試験−第 3 部:装置

ISO 9934-3:2002

,Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 3: Equipment

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

箇 条 番 号 及

び名称

内容

(Ⅱ)

国 際 規
格番号

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)JIS と国際規格との技術的差異

の理由及び今後の対策

3

用 語 及 び

定義

JIS Z 2300

及び JIS 

Z 2320-1

を規定。

追加

この規格の利便上,

用語に関する JIS

を追加した。

4

安 全 上 の

予防措置

JIS Z 2320-1

の箇条

5

を引用。

 3

安全に関する国内法規な
どに従うと規定。

変更

JIS

は具体的内容を規定。

JIS

は分かりやすく,具体的に規定

したためで,技術的差異はない。

5

装 置 の 様

5.1

可搬形電

磁石

5.1.1

一般

5.1.2

技術的なデー

5.1.3

装置の最低要

 4

4.1.1

4.1.3

一般(特性試験に使用す
る鋼板)

技術的データ

最小要求事項

変更

追加

変更

JIS

は S20C。ISO 規格では EN

10084

鋼種(C22)。

JIS

は,提供するデータの詳細

は,受渡当事者間で協議し決定
するとした。

JIS Z 8703

に従って,周囲温度

20

±5  ℃における要件として規

定。

JIS Z 2321

に従って,にぎり部

の表面温度 50  ℃以下と規定。

ISO

規格では,にぎり部の表面

温度 40  ℃以下と規定。

国ごとに鋼種に関する規格は異なる
ので,相当する鋼種を規定するのが
一般的である。

提供するデータの詳細を選択するた
めで,技術的差異はない。

日本の気候条件に対応するため変更
した。

11

Z 232

0-3


00
00


12

Z 2320-3

:2007 

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

箇 条 番 号 及

び名称

内容

(Ⅱ) 
国 際 規
格番号

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

5.2

定置形磁

化台

5.2.1

一般

5.2.2

技術的なデー

5.2.3

装置の最低要

4.3

4.3.1

4.3.2

4.3.3

一般

技術的データ

最小要求事項

変更

変更

変更

変更

JIS

は S20C。ISO 規格は EN

10084

鋼種(C22)

JIS

は,提供するデータの詳細

は,受渡当事者間で協議し決定
するとした。

JIS Z 8703

に従って,周囲温度

20

±5  ℃における要件として規

定。

規格構成の変更で技術的差異はな

い。

5.1.1

と同じ

5.1.2

と同じ

5.1.3

と同じ

5.3

専用試験

システム

5.3.2

技術的なデー

5.3.3

装置の最低要

4.4.1

4.4.2

技術的データ

最小要求事項

変更

変更

JIS

は,提供するデータの詳細

は,受渡当事者間で協議し決定
するとした。

JIS Z 8703

に従って,周囲温度

20

±5  ℃における要件として規

定。

5.1.2

と同じ

5.1.3

と同じ

6

磁化電源 6.2

技術的なデータ

6.3

装置の最低要件

4.2.1

4.2.2

技術的データ

最小要求事項

変更

変更

JIS

は,提供するデータの詳細

は,受渡当事者間で協議し決定

するとした。

JIS Z 8703

に従って,周囲温度

20

±5  ℃における要件として規

定。

5.1.2

と同じ

5.1.3

と同じ

12

Z 232

0-3


00
00


13

Z 2320-3

:2007

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

箇 条 番 号 及

び名称

内容

(Ⅱ) 
国 際 規
格番号

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

7

ブ ラ ッ ク

ライト

7.2

技術的なデータ

7.3

装置の最低要件

5.2

5.3

技術的データ

最小要求事項

変更

変更

JIS

は,提供するデータの詳細

は,受渡当事者間で協議し決定
するとした。

JIS Z 8703

に従って,周囲温度

20

±5  ℃における要件として規

定。

JIS Z 2321

に従って,にぎり部

の表面温度 50  ℃以下と規定。

ISO

規格では,にぎり部の表面

温度 40  ℃以下と規定。

5.1.2

と同じ

5.1.3

と同じ

8

  検出媒体

循 環 シ ス テ

8.3

  装置の

最低要件

装置の最低要件

6.3

最小要求事項

変更

JIS Z 8703

に従って,周囲温度

20

±5  ℃における要件として規

定。

5.1.3

と同じ

9

  検査室

9.3

  装置の

最低要件

装置の最低要件

7.3

最小要求事項

変更

JIS Z 8703

に従って,周囲温度

20

±5  ℃における要件として規

定。

5.1.3

と同じ

11

  測定

11.3

  磁界

測定

11.3.3

  装置

の最低要件

装置の最低要件

9.3.2

最小要求事項

変更

JIS Z 8703

に従って,周囲温度

20

±5  ℃における要件として規

定。

5.1.3

と同じ

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:ISO 9934-3:2002,MOD

13

Z 232

0-3


00
00


14

Z 2320-3

:2007 

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  一致  技術的差異がない。 
    −  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD  国際規格を修正している。

14

Z 232

0

-3


00
00