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Z 2300

:2009

(1) 

目  次

ページ

序文 

1

1  適用範囲

1

2  分類

1

2.1  試験方法 

1

2.2  内容分類 

1

3  一般事項

2

3.1  番号の付け方 

2

3.2  用語の順序 

2

3.3  括弧の使い方 

2

3.4  対応英語 

2

4  用語及び定義 

3

(0)  共通及び一般 

3

(1)  放射線透過試験 

16

(2)  超音波探傷試験 

31

(3)  アコースティック・エミッション

51

(4)  磁粉探傷試験 

57

(5)  浸透探傷試験 

62

(6)  渦電流探傷試験 

64

(7)  漏れ(リーク)試験

67

(8)  ひずみ測定

74

(9)  目視試験

83

(10)  赤外線サーモグラフィ

84


Z 2300

:2009

(2) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本非破

壊検査協会(JSNDI)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべ

きとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS Z 2300:2003 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。


   

日本工業規格

JIS

 Z

2300

:2009

非破壊試験用語

Terms and definitions of nondestructive testing

序文 

JIS Z 2300 は,1991 年に制定され,その後試験方法ごとに国際規格及び国内規格に対応させて改正が行

われてきた。今回,最新の技術動向,試験方法ごとに関連する国際規格及び国内規格の改正状況などを考

慮に入れて改正を行った。

なお,このように,一般的な非破壊試験用語をまとめて規定する ISO 規格は,制定されていない。

適用範囲 

この規格は,工業分野において用いる非破壊試験に関する主な用語と,その定義について規定する。

分類 

非破壊試験用語は,試験方法によって 2.1 のように大分類する。また,それぞれの試験方法に対して,

基本的に 2.2 に示す内容に基づいて細分類する。ただし,ひずみ測定に対しては,2.2 に従わず測定方法に

よって細分類する。

2.1 

試験方法 

a)  共通及び一般

b)  放射線透過試験

c)  超音波探傷試験

d)  アコースティック・エミッション (AE) 試験

e)  磁粉探傷試験

f)  浸透探傷試験

g)  渦電流探傷試験

h)  漏れ(リーク)試験

i)

ひずみ測定

j)  目視試験

k)  赤外線サーモグラフィ

2.2 

内容分類 

a)  一般(物理現象など)

b)  機器・材料

c)  標準試験片・対比試験片

d)  試験方法

e)  判定・評価


2

Z 2300

:2009

   

f)  その他

一般事項 

3.1 

番号の付け方 

通常,番号は 4 けたとし,1000 の位の数字が試験方法による大分類を表し,100 の位の数字が細分類を

表す。共通及び一般の用語は 0001 から,放射線透過試験用語は 1001 から始める。その他の用語も,順次,

1000 ずつ増やした番号から始める。ただし,赤外線サーモグラフィ用語は 10000 から始めるため,例外的

に 5 けたとする。また,細分類による用語数が 100 以上の場合は,大分類のけた数を一つ上げて 10000 の

位とし,この場合も 5 けたとする。

3.2 

用語の順序 

用語は細分類ごとに五十音順に並べる。一つの用語欄に二つ以上の用語が併記してある場合は,記載さ

れている順位に従って優先的に使用する。

3.3 

括弧の使い方 

丸括弧“

(  )

”を用いる。直前の語句又は文章に対する説明若しくは補足を示す場合に,丸括弧“

(  )

を用いる。また,用語に対して特定の修飾語を付けて表現することがある場合に,該当する用語を−で示

し,用語の後に丸括弧“

(  )

”を用いて記載する。

3.4 

対応英語 

対応英語は参考として示すが,ISO 規格に規定されている用語を優先して掲載する。


3

Z 2300

:2009

用語及び定義 

  (0)  共通及び一般 

(00)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0001 

あばた(コンクリー

トの−) 

硬化コンクリート表面に残った気泡の跡。 crater

0002 

アルカリ骨材反応 

アルカリとの反応性をもつ骨材が,セメントその他

のアルカリ分と長期にわたって反応し,コンクリー
トに膨張ひび割れなどを生じさせる現象(JIS A 0203
参照)

alkali aggregate reaction

0003 

アンダカット 

母材又は既溶接の上に溶接して生じた止端の溝(JIS 
Z 3001-4 
参照)。

undercut

0004 

異種金属巻込み 

溶接部に巻き込まれた異種金属(JIS Z 3001-4 参照)

注記  タングステン,銅,その他の金属などがある。

metallic inclusion

0005 

異物 

本来の材料の中に混入した他の物質。 foreign

material

0006 

インゴットパターン 

鋼の凝固過程における結晶状態の変化又は成分の偏
りのため,輪郭状に濃度差が現れたもの(JIS G 0202

参照)

ingot pattern

0007 

裏当て 

開先溶接において,片面から溶接施工するため,又

は溶け落ち,欠陥の発生などを防止するために,開
先の底部に裏から当てる金属板,粒状フラックスな
ど(JIS Z 3001-2 参照)

注記  金属板であって母材とともに溶接される場合

は,裏当て金ともいう。

backing metal, 
backing

0008 

裏はつり 

開先溶接で,開先底部の欠陥部又は第 1 層部分など
を裏面からはつり取ること(JIS Z 3001-2 参照)

back chipping, 
back gouging

0009 SN  

信号振幅と雑音振幅との比。一般にデシベルで表す。 signal-to-noise ratio

0010 

塩害(コンクリート

の−) 

塩化物イオンによるコンクリート中の鋼材の腐食現
象。それによって,コンクリートにひび割れ,はく

離,はく落などの損傷が生じる現象。

salt attack,   
chloride attack

0011 

延性破壊 

材料が外力によって,塑性変形(永久変形)を生じ

て破壊する現象。

ductile fracture

0012 

応力き裂 

プラスチックの表面又は内部に破壊強さよりも小さ

い応力によって生じるき裂。

stress cracking

0013 

応力腐食割れ 

腐食と引張応力との相乗作用によって生じる割れ。

stress corrosion cracking

0014 

置割れ 

焼入れ又は焼入焼戻しした金属材料が放置中に生じ
る割れ。自然割れともいう。

season cracking

0015 

遅れ割れ 

引張応力のかかった状態の材料が,ある程度の時間
が経過した後に,ほとんど塑性ひずみを生じること
なく発生する割れ。

delayed crack


4

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0016 

オーバラップ 

溶着金属が止端で母材に融合しないで重なった部分
JIS Z 3001-4 参照)

overlap

0017 

開先(かいさき), 
グルーブ 

溶接する母材間に設ける溝。 
注記  I 形,V 形,X 形,レ形,K 形,J 形,U 形,H

形開先などの名称がある。

groove

0018 

かぶり(鋼材の−), 
かぶり厚さ(鋼材の

 

コンクリート表面から対象とする鋼材,シースなど

の表面までの最短距離(JIS A 0203 参照)

cover (reinforcement)

0019 

スリバー 

素材中の異物(ガスを含む。

)又はきずのために,材

料の表面が皮をかぶったようになったもの,及びこ
の皮がはがれたもの。

sliver

0020 

乾燥収縮ひび割れ 
( コ ン ク リ ー ト の

 

乾燥収縮によって生じるコンクリートのひび割れ。

drying shrinkage crack

0021 

気孔 

溶融金属中に発生した気泡が,凝固時に離脱できず
に溶接部又はインゴットに残留したもの。

gas cavity,   
cavity

0022 

銀点, 
フィッシュアイ 

溶接金属の破面に現れる銀白色をした魚の眼状の不
完全部(JIS Z 3001-4 参照)

fish eye

0023 

グラウト工法 

注入工法又は充てん(填)工法。グラウトには,セ
メント系材料,セメント以外の無機系材料,有機系

材料などが用いられる(JIS A 0203 参照)

grouting

0024 

クラスター 

非金属介在物の集合したもの。 inclusion

cluster

0025 

クリープ破壊 

材料が長時間にわたって外力を受け,時間とともに
塑性変形が増大して生じる破壊現象。

creep fracture

0026 

クレータパイプ 

アーク溶接のビード終端のくぼみをクレータと呼
び,ここに発生したパイプ状のきず。

crater pipe

0027 

クレータ割れ 

溶接部終端部のクレータに生じる割れ(JIS Z 3001-4
参照)

注記  溶接線方向に沿ったもの,溶接線に直交方向の

もの,放射状(スタークラック)のものなどが

ある。

crater crack


5

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0028 

研磨割れ 

熱処理した鋼のグラインダ加工において,研磨中に
熱応力によって発生する割れ。

grinding crack

0029 

高温割れ 

溶接部の凝固温度範囲又はその直下のような高温で

発生する割れ。

hot crack

0030 

孔食 

局部腐食が金属内部に向かって孔状に進行する局部

腐食現象。

pitting corrosion

0031 

コールドラップ, 
コールドウェルド, 
冷接 

融合不良の一種で,両金属面は接触しているが完全

に融合していない状態。

cold lap,   
cold weld

0032 

再熱割れ 

溶接部の再加熱において発生する割れ(JIS Z 3001-4
参照)

reheat crack

0033 

サルファバンド 

鋼材において硫黄を多量に含有する部分が帯状に偏

析した層。

sulphur band

0034 

サルファ割れ 

硫黄の偏析が層状に存在している鋼材を溶接した場

合,低融点の硫化鉄共晶が原因となって溶接金属内
に生じる一次晶粒界割れ。

sulphur crack

0035 

酸化物の巻込み 

溶接中に金属酸化物が巻き込まれて溶融せずに溶接
金属部に残ること。

oxide inclusion

0036 

残留応力 

外力又は温度こう配がない状態で,材料内部に残っ
ている応力(JIS G 0201 及び JIS Z 3001-1 参照)

residual stress

0037 

残留ひずみ 

外力又は温度こう配がない状態で材料内部に残って

いるひずみ。

residual strain

0038 

シェル 

鋳造中に起因し,又は熱間圧延中の材料のオーバラ

ップ。 
注記  形状も様々で,ランダムに分布する。母材に部

分的につながっている。非金属介在物であるこ

とが多い。

shell

0039 

σ ぜい(脆)性 

σ 相の析出分離によって起こるぜい化する性質。 
注記  σ 相とは,クロムを 20  %以上含む高クロム鋼,

高クロムニッケル鋼などに現れる金属間化合
物。

σ embrittleness

0040 

止端割れ 

溶接部の止端から発生する割れ。“0027 

クレータ割

れ”の図参照(JIS Z 3001-4 参照)。

toe crack

0041 

しま状組織, 
層状組織 

圧延又は鍛伸方向に平行に並んだ偏析組織。 banded

structure

0042 

シームきず 

圧延その他の加工によって,程度の差はあるが閉じ
ている線状のきず。

seam

0043 

収縮割れ(鋼材の−), 
ひけ割れ 

加熱又は溶湯の凝固過程において冷却速度が各部で
異なるときに起こる割れ。

shrinkage crack

0044 

照射ぜい(脆)性 

放射線などの照射を受けることによって,その物質
がもろくなる性質。

irradiation embrittleness

0045 

水素侵食 

200  ℃以上の温度で水素の圧力が高いときに,鋼中
に拡散した水素原子が,炭化物と反応して脱炭を生
じ,メタンの気泡が成長して割れを生じる現象。

hydrogen attack

0046 

水素ぜい(脆)性 

鋼中に吸収された水素によって鋼材に生じる延性又
はじん(靭)性が低下する性質。 
注記  酸素を含む銅が水素などの還元雰囲気の中で

高温加熱されたとき,酸化銅の還元によって生
じるボイドによって,延性又はじん性が低下す
る。

hydrogen embrittlement


6

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0047 

水素誘起割れ 

およそ 70  ℃以下の温度で,硫化水素と水とが存在す
るときに生じる水素原子が,鋼中に拡散して水素の
気泡となって発生する割れ。

hydrogen induced crack

0048 

スケールきず 

表面にスケールが圧着してかみ込んだもの又は脱落
してあばた状になったもの。

scale mark

0049 

砂かみ 

鋳造時に鋳型から混入した砂。 sand

inclusion,

sand patches

0050 

スパッタ 

アーク溶接,ガス溶接,ろう接などにおいて,溶接
中に飛散し,付着した金属粒(JIS Z 3001-4 参照)

spatter

0051 

スピルきず 

不規則ではく離状の微細な不連続表面きず。 
注記  圧延方向に延ばされ,圧下率に影響されるが,

母材につながっている。

spills

0052 

スポーリング 

圧延ロールなどの外表面に生じるはがれ。 
陽極酸化皮膜の密着性が局部的に失われて,はく離
を伴う現象。

spalling

0053 

スラグ巻込み 

溶着金属中又は母材との融合部にスラグが残ること
JIS Z 3001-4 参照)

注記  その形成状況によって線状,孤立状,群れ状な

どがある。

3011:線状  3012:孤立状  3014:群れ状

slag inclusion

0054 

すりきず 

取扱い中に表面にできた連続又は断続した線状のき
ず。

scratch

0055 

清浄度(鋼の−) 

鋼中において,非金属介在物が含まれる度合い。顕
微鏡視野内で,非金属介在物が占める面積百分率で

表す。

index of cleanliness of steel

0056 

ぜい(脆)性破壊 

材料が外力によって,ほとんど塑性変形を生じるこ
となく破壊すること。

brittle fracture

0057 

青熱ぜい(脆)性 

200∼300  ℃付近で鋼の引張強さ又は硬さが常温の
場合より増加し,伸び及び絞りが減少してもろくな

る性質。

blue shortness

0058 

赤熱ぜい(脆)性 

熱間加工の温度範囲で鋼がもろくなる性質。 red

shortness

0059 

全硬化層深さ 

硬化層の表面から硬化層と生地との物理的又は化学
的性質の差異が,区別できない位置までの距離。

depth of hardening

0060 

層割れ, 
層間はく離 

積層品の層間がはく離すること。 delamination

0061 

損傷 

使用環境によって,物理的性質に永久変化が起こっ
て性質が低下すること。

deterioration,  
damage


7

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0062 

ダイマーク 

押出(引抜)材表面の押出(引抜)方向に現れる線
状の細かい凹凸。

die mark

0063 

脱炭層 

熱間加工又は熱処理によって,表層部の炭素濃度が

減少した部分(JIS G 0202 参照)

decarburized layer

0064 

縦割れ 

溶接線に平行方向に対して生じる割れ(JIS Z 3001-4

参照)

注記  溶接金属,ボンド部,熱影響部,母材などに存

在する。

1:熱影響部と母材との境界

 1011:溶接金属  1012:ボンド部 
 1013:熱影響部  1014:母材

longitudinal crack

0065 

たれ 

片面溶接の場合,開先を突き抜けて,また,両面溶
接の場合,既に肉盛りされた側の溶接金属を突き抜
けて飛び出した余分な溶接金属。

excessive penetration

0066 

地きず 

鋼の仕上面において,そのまま肉眼によって認めら
れるピンホール又はブローホールなどが連なった線

状のきず,非金属介在物による線状のきず,砂など
の異物の介在による線状のきずなど。

streak fissure,   
macro-streak-flaw

0067 

中心部偏析 

溶融金属の凝固において最後に凝固する中央部に,
ある種の合金元素又は不純物が,濃化して偏在して
いる現象又はその状態。

center segregation

0068 

中性化(コンクリー

トの−) 

硬化コンクリートが,空気中の二酸化炭素,その他
の酸性物質の作用によって,次第にアルカリ性を失

ってゆく現象(JIS A 0203 参照)

。空気中の二酸化炭

素による中性化を炭酸化と呼ぶ。

neutralization,  
carbonation

0069 

低温ぜい(脆)性 

室温付近又はそれ以下の低温で,鉄鋼の衝撃値が急

激に低下してもろくなる性質。

cold shortness

0070 

低温割れ 

溶接後,溶接部の温度が常温付近に低下してから発

生する割れの総称。ビード下割れ,止端割れなどは
この割れに属する(JIS Z 3001-4 参照)

cold crack,   
cold cracking

0071 

溶落ち(とけおち) 

開先の反対側に溶け落ちた溶融金属(JIS Z 3001-4 
照)

 510:溶落ち

burn through


8

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0072 

溶込み不良 

設計溶込みに比べ実溶込みが不足していること(JIS 
Z 3001-4 
参照)。

 1):実溶込み  2):設計溶込み 
 402:溶込み不良

lack of penetration,   
incomplete penetration

0073 

内部きず 

試験体の内部に存在するきず。 internal flaw

0074 

ナゲット 

重ね抵抗溶接において,溶接部に生じる溶融凝固し
た部分(JIS Z 3001-1 参照)

nugget

0075 

軟点 

焼入れで局部的に生じる完全には硬化しない部分。

soft spot

0076 

熱影響部, 
HAZ 

溶接,切断などの熱で,組織,や(冶)金的性質,

機械的性質などが変化を生じた溶融していない母材
の部分。

00-117 

溶接部”参照(JIS Z 3001-1 参照)。

heat-affected zone

0077 

熱間割れ 

長さ,幅及び深さが一定でなく,方向性がない割れ。
注記  材料の半製品及びスラブの熱間加工時に発生。

hot tears

0078 

パイプ 

材料の凝固収縮による空洞又は気泡が完全に圧着さ
れず,中心部にその跡をとどめたもの(JIS G 0202
参照)

pipe,  
piping

0079 

白点(はくてん) 

鋼材の破面に現れる白色の光沢をもったはん点(JIS 
G 0201 
参照)。

flake white spot,   
shatter crack

0080 

はく(剥)離 

皮覆又はめっき層が,素地又はアンダコートからは
がれること。若しくは,コンクリート相互間,コン
クリートと鋼材間,コンクリートと仕上げ材間,又

は仕上げ材相互間に空げき(隙)を生じること。

delamination,  
peeling,  
flaking

0081 

ハードスポット 

局所的な焼入れなどによって周囲の硬さよりかなり

高い硬さをもった部分。

hard spot


9

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0082 

非金属介在物 

金属の凝固過程において,非金属が金属中に析出又
は巻き込まれたもの(JIS G 0202 参照)

non-metallic inclusion

0083 

引け巣 

鋳型に注入した溶湯が凝固するとき,先に凝固収縮

した部分に引っ張られて,ロート状に陥入した部分。

shrinkage cavity

0084 

ピックアップ, 
汚れ 

重ね抵抗溶接において,電極と母材との接触部が過

熱され,その結果,電極材と母材とが相互に付着し
たり,合金層を作ったりして生じる電極先端面又は
母材表面の汚損。

pick up

0085 

ピット 

製造工程又は腐食によって表面に生じる小さなくぼ
み穴(JIS G 0202 及び JIS Z 3001-4 参照)

 2017:ピット

pitting,  
pit

0086 

ビード下割れ 

ビードの下側に発生する割れ(JIS Z 3001-4 参照)

underbead crack

0087 

ひび割れ, 
ひび 

材料・製品の表面又は内部に生じたごく細かいき裂。 crazing

0088 

ひび割れ(コンクリ

ートの−) 

外力又は内部応力によってコンクリートに発生する
割れ目。

crack

0089 

表面きず, 
周辺きず 

周辺気泡によるきず,圧延又は鋳造によるきず及び
その他鋼材の外周辺に生じるきず。

surface flaw

0090 

疲労破壊 

材料が繰返し荷重を受けて発生した割れが進展して
破壊に至る現象。

fatigue fracture

0091 

ピンホール 

製品にできた微細な孔。

溶射皮膜を貫いて素地までに達する微細孔。

pinhole

0092 

ふくれ, 
膨れ, 
ブリスタ 

金属内部に紡錘状に膨れたもの。

皮膜が素地,アンダコートから又は皮膜内で局部的
に浮いている状態。

blister

0093 

フッククラック 

電気抵抗溶接管において,鋼帯中の表面に平行な非
金属介在物,偏析などが溶接部に生じて,きずとな
ったもの。

hook crack

0094 

ブローホール, 
気泡 

溶接金属中に生じる球状の空洞(JIS G 0202 及び JIS 
Z 3001-4 
参照)。

 2011:ブローホール

blow hole,   
blowhole


10

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0095 

ヘアークラック, 
毛割れ 

表面に現れる微細なひび割れ。 hair crack

0096 

へこみ 

機械的衝撃によって生じる表面のくぼみ。 dent

0097 

ペネトレータ, 
フラットスポット 

フラッシュ溶接,電気抵抗溶接などの圧接において,
不適切な溶接条件のため,接合面が酸化した状態で

圧接されたことによって生じた内部きず。

penetrator,  
flat spot

0098 

偏析 

合金元素又は不純物が不均一に偏在している現象又

はその状態(JIS G 0201 参照)

segregation

0099 

ボイド 

材料の内部に生じた空げき(隙)

。 void

00100 

放射線損傷, 
照射損傷 

放射線の照射を受けることによって,その物質の諸
特性に好ましくない変化が起こること。

radiation damage

00-101  ポップアウト 

コンクリートの表面部分が飛び出すようにはがれて
くること。

pop-out

00-102  ポロシティ 

溶融中に発生したガスによって,凝固後の材料中に
生じたブローホール,気孔などの総称(JIS Z 3001-4
参照)

porosity

00-103  ポロシティ(コンク

リートの−) 

全容積に占める微細空げき(隙)の比率。 
注記  セラミックスにも用いられる。

porosity

00-104  豆板(まめいた),

ジャンカ 

硬化したコンクリートの一部に,主に粗骨材だけが
集まってできた空げき(隙)の多い不均質な部分。

honeycomb,  
rock pocket

00-105  ミクロ割れ 

光学顕微鏡(約 50 倍以上)で拡大して初めて検出さ
れるような微小な割れ。

micro crack

00-106  溝きず 

表面にできた種々の幅,深さ,長さをもった機械的
なきず。 
注記  圧延方向に平行か直角で,スケールを含むこと

がある。

grooves

00-107  ウォームホール 

ガス放出で溶接金属に発生する筒状の空洞(JIS Z 
3001-4 
参照)。 
注記  ウォームホールの形状と位置は,凝固の形態又

はガス源によって決まる。一般に群集し,魚骨

状に分布する。溶接表面まで達し,開口する場
合もある。

 2016:ウォームホール

worm hole,   
piping porosity


11

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

00-108  もみ割れ 

不適切な鍛造又は圧延作業によって,中心部に生じ
た割れ。

forging crack

00-109  焼戻ぜい(脆)性 

焼入れした鉄鋼を,ある焼戻温度に保持した場合又

は焼戻温度から徐冷した場合,ぜい性破壊が生じや
すくなる現象。

temper brittleness

00-110  焼戻割れ 

焼入れした組織を焼戻しするとき,急熱,急冷又は
組織変化のために生じる割れ(JIS G 0201 参照)

tempering crack

00-111 

焼割れ 

焼入応力によって生じる割れ。 quenching

crack

00-112  焼け 

皮膜の表面の色調が熱によって著しく変化している

状態。

burn,  
burned

00-113  焼け過ぎ 

過熱によって内部まで著しい粒界酸化を起こしてい
る割れ。

over heating,   
burning

00-114  融合不良 

溶接境界面が互いに十分に溶け合っていないこと
JIS Z 3001-4 参照)

lack of fusion,   
incomplete fusion

00-115  湯境い 

鋳造条件が不適切なとき,鋳型内で二つの溶融金属
(湯)の流れが合流する所に生じる完全に融合しな
い境界面。

cold shut

00-116  湯回り不良 

鋳込み温度が低いなどの原因によって,鋳型を完全
に満たす前に溶湯が凝固して,不完全な鋳物を作っ

てしまう不良現象。

misrun

00-117  溶接部 

溶接金属及び熱影響部を含んだ部分の総称(JIS Z 
3001-1 
参照)。

weld,  
weld zone,   
weldment

00-118  溶接割れ 

冷却又は応力の影響で発生する固相の局部破壊によ

る不連続部(JIS Z 3001-4 参照)

weld crack,   
weld cracking

00-119  横割れ 

溶接線に対して直角方向に生じる割れ(JIS Z 3001-4

参照)

注記  溶接金属,熱影響部,母材などに存在する。

1021:溶接金属  1023:熱影響部  1024:母材

transverse crack


12

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

00-120  余盛 

開先又はすみ肉溶接で,必要寸法以上に表面から盛
り上がった溶接金属。

weld reinforcement,   
excess weld metal,   
weld cap,   
weld crown

00-121  ラミネーション 

圧延鋼材において,内部きず,非金属介在物,気泡,
不純物などが圧延方向に沿って平行に伸ばされ,層
状になったもの。

lamination

00-122  ラメラテア 

十字型突合せ継手及びすみ肉多層盛継手のように,
母材表面に直角方向の強い引張拘束応力が生じる継

手において,熱影響部及びその隣接部に母材表面と
平行に生じる割れ(JIS Z 3001-4 参照)

lameller tear

00-123  粒界割れ 

結晶粒界に発生又は結晶粒界通過した割れ。 
注記  いわゆる高温割れはこのタイプが多い。

intercrystalline crack, 
intergranular crack

00-124  ルート割れ 

溶接のルートの切欠きによる応力集中部から生じる
割れ(JIS Z 3001-4 参照)

root crack

00-125  劣化 

材料又は製品が,応力,熱,光などの使用環境によ

って,次第に本来の機能に有害な変化を起こすこと。

deterioration,  
degradation

00-126  割れ, 

き裂, 
クラック 

熱的又は機械的応力のために引き起こされる局部的

な破断によって生じるすき間又は不連続部。

crack,  
cracking

(01)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0101 

アコースティック・

エミッション試験 

AE 信号波を利用する非破壊試験方法及び材料評価方
法。略語は AE を用いる。

acoustic emission testing,   
AE testing

0102 

異材判別, 
異材の鑑別 

異材混入のおそれがある試験体を試験して異材を判
別すること,又は異材が混入していないことを確認す

ること。

sorting of materials,   
discrimination of foreign   
  materials

0103 

渦電流探傷試験 

コイルを用いて導体に,時間的に変化する磁場を与

え,導体に生じた渦電流が,きずなどによって変化す
ることを利用してきずの検出を行う非破壊試験方法。
渦流探傷試験ともいう。略語は ET を用いる。

eddy current testing

0104 

外観試験 

外 観の状態 を目視な どによっ て行う試 験(JIS Z 
3001-4 
参照)。略語は VT を用いる。

appearance test,   
visual testing

0105 

回送試験, 
ラウンドロビンテス

 

標準試験法又は標準試験片の決定などの場合,あらか
じめ試験方案を決めて特定の試験片をワーキング・グ
ループのメンバーの間で,順次,回送して行う試験。

round robin test

0106 

技術検定 

試験技術が規定された水準に達しているかどうかを
確認すること。

performance qualification

0107 

きず検出能, 
きず検出限界 

どれだけ小さいきずまで検出できるかを表す能力の
尺度。

detectability

0108 

技術者の認証 

非破壊試験業務を適切に遂行するために必要な知識,
技量,訓練及び経験があることを公に認めること。

(personnel) qualification and 
  certification

0109 

材質試験 

“材料の種類”

“不純物又は合金成分”

“熱処理”な

どによって物理的特性が変化するのを利用して材料
の性質を調べる試験。

identification of materials


13

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0110 

サルファプリント試

 

硫酸を含有する腐食液の中に前もって浸せきした黒
白写真印画紙に材料を密着させることによって,様々
な化学的形態で材料の中に存在する硫化物の位置及

び面積を検出する試験(JIS G 0560 参照)

注記  ISO 4968 では,写真印画紙に代えて,フラッ

ト・フィルムの適用を認めている。

sulphur print examination

0111 

試験体 

試験の対象物又は試験中の対象物。 test

object

examination object

0112 

試験体積 

試験される試験体の立体的領域。 test

volume

examination volume

0113 

試験片 

欠陥検出性をチェックするために用いられる人工き
ず又は自然きずのある試料。

test piece

0114 

磁粉探傷試験 

磁性粉末を含む適切な試験媒体を利用し,

漏えい

(洩)

磁界によって表面及び表面近傍のきずを検出する非
破壊試験。略語は MT を用いる。

magnetic particle testing

0115 

浸透探傷試験 

一般に浸透処理,余剰浸透液の除去処理,及び現像処
理で構成される表面に開口したきずを指示模様とし
て検出する非破壊試験。略語は PT を用いる。

penetrant testing

0116 

スンプ試験 

レプリカ法の一種で鋼の表面を仕上げ研磨して,その
上に酢酸メチルを滴下し,アセチルセルローズ膜をは

って乾燥した後これをはがし取り,その膜を透過形光
学顕微鏡で観察して,鋼の性状を判定する試験。

Suzuki’s Universal Micro   
  Printing examination

0117 

赤外線サーモグラフ

ィ試験 

赤外線放射エネルギーを検出し,その分布を画像表示
する方法を応用した試験。略語は TT を用いる。

infrared thermographic   
  testing

0118 

耐圧試験 

ボンベ,ボイラなどの圧力容器及び配管が,使用中の
圧力に十分耐えるかどうかを知ることを目的に行わ
れる試験。

pressure test

0119 

体積試験 

表面及び表層部を除く試験体全体を探傷の対象とす
る試験方法。

volumetric examination

0120 

対比試験片 

装置の感度調整及び検査実施のプロセスの調整に使
用する規定された不連続部を含む試験片。

reference test piece,   
reference block

0121 

断面試験 

試験体を切断し,断面について内部きず,金属組織,
形状などを調べる試験。

section test

0122 

超音波探傷試験 

超音波を試験体中に伝搬させたときに試験体の示す
音響的性質を利用して試験体内部のきず又は材質を
調べる非破壊試験。略語は UT を用いる。

ultrasonic testing

0123 

破面試験 

試験体を外力によって破断し,

破面を観察して内部の

きずなどを調べる試験。

fracture test

0124 

ひずみ測定 

荷重を与えた試験体に生じるひずみ又は応力の状態
を調べる試験。略語は SM を用いる。 
注記  JIS Z 2305:2001 ではひずみ測定(略語 SM)が

規定されているが,ISO 9712:2005 では Strain 
Testing(略語 ST)が規定されている。

strain measurement

0125 

非破壊検査, 
NDI 

非破壊試験の結果から,規格などによる基準に従って
合否を判定する方法。略語は NDI を用いる。

nondestructive inspection


14

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0126 

非破壊試験, 
NDT 

素材又は製品を破壊せずに,品質又はきず,埋設物な
どの有無及びその存在位置,大きさ,形状,分布状態
などを調べる試験。略語は NDT を用いる。 
注記  材質試験などに応用されることもある。放射線

透過試験,超音波探傷試験,磁粉探傷試験,浸
透探傷試験,渦電流探傷試験などがある(将来

の有用さ及び役割を損なうことなく,きずを検
出し,位置の推定,寸法測定及び評価を行うた
めに,材料又は部品を試験する技術的方法の開

発と適用,本来の状態,特性及び組成を評価す
ること,幾何学的形状を測定することも含まれ
る。

nondestructive testing,   
nondestructive examination

0127 

非破壊評価, 
NDE 

非破壊試験で得られた指示を,

試験体の性質又は使用

性能の面から総合的に解析・評価すること。 
略語は NDE を用いる。

nondestructive evaluation

0128 

火花試験(鋼の−) 

鋼塊,鋼片,鋼材及びその他の鋼製品をグラインダを
使用して研削し,発生する火花の特徴を観察すること

によって,鋼種の推定又は異材の鑑別を行う試験。

spark test (for steel)

0129 

標準試験片 

装置の校正及び評価に用いる,規定された材質,形状

及び寸法の試験片。一つ又はそれ以上の人工きずを付
与してもよい。

calibration block

0130 

付帯記号 

基本記号を補うための記号。 supplemental

symbols

0131 

分解能 

隣接する二つ以上の不連続部を区別して測定できる
能力。

resolution

0132 

放射線透過試験 

放射線を試験体に照射し,透過した放射線の強さの変
化から,試験体内部のきずを調べる非破壊試験。略語

は RT を用いる。

radiography,  
radiographic testing

0133 

膜厚試験 

めっき,塗装,酸化皮膜などの皮膜厚さを測定する試

験。 
注記  膜厚試験には,化学的方法のほか,次の方法が

ある。 
a)  直接,マイクロメータ,顕微鏡などで測定

するもの。

b)  電気磁気的方法,放射線などを利用するも

の。

coating thickness testing

0134 

マクロ組織試験 

断面又は表面のきず,性状及び組織を検査する目的

で,研磨された断面又は表面を,塩酸,塩化銅アンモ
ニウム,王水などを用いて腐食し,肉眼で判定する試
験。

macroscopic test,   
macro structure examination

0135 

目視検査 

目視試験によって良否を判別すること。 visual

inspection

0136 

目視試験 

試験体の表面性状(形状,色,粗さ,きずの有無など)

を,直接又は拡大鏡を用いて肉眼で調べる試験(JIS Z 
3001-1 
参照)。略語は VT を用いる。

visual testing

0137 

漏れ試験, 
リーク試験 

漏れの有無,漏れ箇所,漏れ量の検出を行う試験。略
語は LT を用いる。

leak testing

0138 

レプリカ法 

追従性のよい有機材料皮膜を試験部の表面にてん
(貼)付し,表面の凹凸を忠実に皮膜上に再現し,こ
の皮膜をはがして観察する方法。

replica method


15

Z 2300

:2009

(02)  判定・評価 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0201 

疑似指示 

不連続部又は不完全部以外の状況に起因すると解釈

される NDT 指示。

false indication

0202 

きず 

非破壊試験の結果から判断される不完全部又は不連
続部。 
注記  きずには合格となるものと,不合格となるもの

とがある。

flaw

0203 

きず高さ 

きずの板厚方向の寸法。

注記  開口きずの場合,きず深さということもある。

flaw height

0204 

きず深さ 

きずから探傷面(基準面)までの最短距離。

0203 

ず高さ”の図参照。 
注記  開口きずの場合,きず高さを指すこともある。

flaw depth

0205 

欠陥 

規格,仕様書などで規定された判定基準を超え,不合

格となるきず。 
注記  総合した大きさ,形状,方向性,位置又は特性

が規定された合格基準を満足しない,一つ又は

それ以上のきずを指し,不合格とみなされる。

defect

0206 

欠陥高さ 

欠陥の板厚方向の寸法。 
0203 

きず高さ”の図参照。

注記  開口欠陥の場合,欠陥深さということもある。

defect height

0207 

欠陥深さ 

欠陥から探傷面(基準面)までの最短距離。

0203 

きず高さ”の図参照。

注記  開口欠陥の場合,欠陥高さを指すこともある。

defect depth

0208 

検出感度 

試験体の品質又は不連続部を検出できる非破壊試験
手法の能力。 
注記  検出感度が高いほど,小さい不連続部の検出能

力が高くなる。

detection sensitivity

0209 

検出レベル 

指示を検出するしきい値。 disregar level

0210 

検証 

非破壊試験の結果として得られたデータ又は証拠に
対して系統的に調査を行い,指示が実在するか否かを
決定すること。 
注記  放射線透過試験,磁粉探傷試験及び浸透探傷試

験の場合は“観察”を意味する。

viewing

0211 

検証条件 

検証を実施する際の周囲の環境状況の詳細。 viewing conditions

0212 

健全部 

非破壊試験の指示から異常がないと判断される部分。 sound area

0213 

合格基準 

試験体の検査を実施して,それを合格とし決定するた
めに用いられる基準。

acceptance criteria

0214 

合格品質レベル 

抜取検査の目的として,処理平均として満足すると考
えられる欠陥品が発生する割合の最大値。

acceptable quality level


16

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

0215 

合格レベル 

合否のためのしきい値として事前に決定された一連
のパラメータ値。

acceptance level

0216 

校正(装置の−) 

既知の対比きずによって,装置を比較できる状態にす

ること又は装置の調整を行うこと。

calibration instrument

0217 

指示 

非破壊試験において,装置上に表示された画像,数値

又は試験体上に出現された模様。 
注記  浸透探傷試験では,指示模様と読み替える場合

がある。

indication

0218 

人工きず 

機械加工又はその他の手法で試験片に加工された穴,
溝,ノッチなどの不連続部。

artificial discontinuity

0219 

寸法測定 

評価のための不連続部又は指示に対する寸法の決定。 sizing

0220 

特性化(きずの−) 

NDT 応答に基づいて,きずの寸法,方向性,成長又
は他の特性を定量化する手順。

flaw characterization

0221 

ノイズ 

試験対象物の表面状態又は組織若しくは装置又は試

験条件に起因する本来的でない指示。

background noise

0222 

判定 

きずが規定の要求基準を満足しているか否かを決定

すること。

evaluation

0223 

判定基準 

非破壊試験によって検出した結果を用いて,要求水準

を満足しているかを決める基準。

acceptance criteria,   
acceptance standard

0224 

判別 

指示が評価の対象となるか,評価対象外か又は疑似的
なものかの判断を下すこと。

interpretation

0225 

評価対象外指示 

きず指示であって判定対象とならないもの。 
注記  浸透探傷試験では,評価対象外指示模様と読み

替える場合がある。

nonrelevant indication

0226 

評価対象指示 

きず指示であって判定対象となるもの。 
注記  浸透探傷試験では,評価対象指示模様と読み替

える場合がある。

relevant indication

0227 

不完全部 

品質特性が意図する状態から逸脱している部分。 imperfection

0228 

不連続部 

組織,材質又は形状の連続性が途切れる部分で,意図
的な場合とそうでない場合との両方が含まれる。

discontinuity

  (1)  放射線透過試験 

(10)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1001 

一次放射線 

散乱することなく,線源から検出体に直接向かう放射

線。

primary radiation

1002 X 線, 

エックス線 

電子が金属ターゲットに高速で衝突したとき発生す
る,約 0.000 1∼1 nm の波長(範囲)の透過力のある

電磁波(放射線)

JIS Z 4001 参照)

X-rays

1003 

壊変曲線 

放射性同位元素の放射能の時間変化を表した曲線。 
注記  一般に log/linear の関係である。

decay curve

1004 

γ 線, 
ガンマ線 

特定の放射性物質から発生する電磁波(放射線)

。 gamma

rays

1005 

輝尽発光 

ある種の物質に X 線などの放射線を照射(刺激)し

た後,照射された所に可視光又は赤外線を照射する
と,この光よりも波長が短くかつ最初の照射量に対応
した蛍光が発する発光現象。

photostimulated  
  luminescence

1006 

吸収 

光子(放射線)が物質を通過するとき,その数が減少
すること(過程)

absorption


17

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1007 

吸収線量 

放射線が当たった物質が吸収したエネルギーで表さ
れる放射線量。単位はグレイ (Gy) であり,1 Gy は
物質 1 kg 当たり 1 ジュール (J) のエネルギーが吸収

されることを意味する。

absorbed dose

1008 

空気カーマ 

X 線又は γ 線を空気に照射したとき遊離した荷電粒子
の初期エネルギーを,空気 1 kg について表した X 線

又は γ 線の照射量。

[単位:Gy,1 Gy=1 J/kg]

air kerma

1009 

グレイ 

吸収線量,空気カーマなどの単位。物質 1 kg 当たり 1 
J のエネルギー吸収に等しい。[単位:Gy,1 Gy=1 J
/kg]

gray

1010 

減弱 

X 線又は γ 線が物質を通過するとき,吸収及び散乱に
よって照射線束の線量率が減少すること。

attenuation

1011 

減弱曲線 

吸収体を透過する一次放射線の透過割合を透過厚さ
の関数として図示したもの。

attenuation curve

1012 

減弱係数  (μ) 

X 線又は γ 線が物質を通過すると,物質との相互作用
(光電吸収,コンプトン散乱及び電子対生成)によっ
て減弱する。入射光子の数を I

0

とし,それが物質の

深さ の所で となったとすると,II

0

・e

μx

なる関

係式が導かれる。この式において,μ が線減弱係数で
ある。μ の単位は m

1

,cm

1

などである。なお,線

減弱係数を物質の密度で除したものが質量減弱係数

である。

attenuation coefficient, μ

1013 

後方散乱線 

入射放射線束の方向に対して 90°以上の角度で散乱

される X 線又は γ 線の一部。

back scatter/back scattered   
  radiation

1014 

固有ろ過 

一次線束(ビーム)が通過する X 線管の部品,取付

具又は線源カプセルによる放射線束(ビーム)のろ過。

inherent filtration

1015 

コンプトン散乱 

X 線又は γ 線の光子と電子との相互作用であり,光子
エネルギーの減衰を伴い,散乱放射線は放射線の入射
角とは異なる角度で放出される現象。

compton scatter

1016 

再生係数 

広い線束の場合,コンプトン散乱によってエネルギー

の低くなった散乱線の一部が入射線に加わるため,物
質中での減弱を計算する際に補正を必要とする。この
補正係数を再生係数(ビルドアップ係数)と呼ぶ。

build-up factor

1017 

散乱比 

放射線が試験体を透過したとき,任意の点における散
乱線量率と透過線線量率との比。

intensity ratio of scattered to 
  penetrated radiation

1018 

散乱放射線 

物質内を通過するとき方向が変化する放射線。 
1013 

後方散乱線”の図参照。

注記  エネルギー変化を伴うものと伴わないものと

がある。

scattered radiation

1019 

実効エネルギー 

白色 X 線の線質を,白色 X 線の半価層と等しい半価
層をもつ単一波長の X 線のエネルギーで表したもの。

effective energy


18

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1020 

シーベルト 

放射線の種類による生物に対する影響の違いを加味
した線量当量の単位(JIS Z 4001 参照)

[単位:Sv]

sievert

1021 1/10 価層 

X 線又は γ 線線束の中に特定の物質を置いたとき,そ
の放射線量率を十分の一に減少させるのに必要な,そ
の物質の厚さ。 
注記  ここで放射線量率は単位時間当たりの放射線

量である。

tenth-value layer (TVL)

1022 

照射線量 

電離放射線によって,空気中に生成される電荷量。

[単位:C/kg]

radiation dose,   
exposure

1023 

線質(放射線束の−)  放射線の透過力。“1034  半価層,HVT”参照。

注記  半価層として測定されることが多い。

radiation quality

1024 

前方散乱線 

散乱角が 90°未満の散乱線。

1013 

後方散乱線”の

図参照。

forward scattered radiation

1025 

速中性子 

ある特定の値より大きい運動エネルギーをもつ中性
子。 
注記  通常,エネルギーが 10 keV∼20 MeV の範囲の

ものをいう。

fast neutron

1026 

中性子 

電荷をもたず,1.674 95×10

27

 kg の静止質量をもつ

粒子(JIS Z 4001 参照)

neutron

1027 

中性子捕獲断面積 

中性子と原子核との相互作用のうち,原子核が中性子
を捕獲し γ 線を放出して原子核が基底状態に戻る反
応の確率。

neutron capture cross section

1028 

透過放射線 

試験体に照射された一次放射線が,相互作用を起こす
ことなく,直接透過した放射線。

1013 

後方散乱線”

の図参照。

penetrated radiation,   
transmitted radiation

1029 

特性  

ターゲット元素固有の線スペクトルをもつ X 線(JIS 
Z 4001 
参照)。

characteristic X-ray

1030 

軟  

長波長の成分を多く含む X 線の俗称。 soft

X-ray

1031 

二次放射線 

一次放射線が照射された物質から放射する放射線
JIS Z 4001 参照)

secondary radiation

1032 

熱中性子 

周囲の媒質と熱平衡にあるか又はほぼ熱平衡に近い
状態にある中性子。通常,エネルギーが 0.01∼0.5 eV
の範囲のものをいう(JIS Z 4001 参照)

thermal neutron

1033 

白色  

連続スペクトルをもつ X 線。 white

X-ray

1034 

半価層, 
HVT 

X 線又は γ 線の線束中に特定の物質を置いたとき吸収
によって,放射線の量が半分に減る場合の物質の厚
さ。

half value thickness,   
HVT

1035 

半減期 

放射性物質の放射能の強さがもとの半分になるまで
の時間。半減期の長さは核種に固有である。

half life

1036 

比放射能 

放射性同位元素を含有する物質の単位質量当たりの
放射能の強さを表す。

specific activity

1037 

フィルムコントラス

  (γ) 

特定の光学濃度における,フィルムの特性曲線の傾

き。

film gradient (γ)

1038 

フィルムシステムの

感度 

特定の露出条件における,

(放射線エネルギーに対す

る)フィルムシステムの定量的感度。

film system speed

1039 

放射線 

電磁波又は粒子の運動エネルギーが,空間又は物質を

通して放射されるエネルギーの伝搬(JIS Z 4001 
照)

注記  電磁放射線と粒子放射線とがある。

radiation


19

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1040 

放射線エネルギー 

X 線,γ 線などの電磁波の場合は光子のエネルギー。
注記  α 線,β 線などの粒子線の場合は粒子のエネル

ギー。単位は電子ボルトを用いる。

radiation energy

1041 

放射能 

放射性同位元素における単位時間当たりの壊変の数
JIS Z 4001 及び JIS Z 9211 参照)

radioactivity

1042 

冷中性子 

熱中性子より低い運動エネルギーをもつ中性子。通
常,エネルギーが 0.01 eV 未満のものをいう。

cold neutron

1043 

連続スペクトル 

X 線発生装置から生じる X 線の波長又は光子エネル
ギーの分布。

continuous spectrum

1044 

露出 

放射線が画像システムに記録される過程。 exposure

(11)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1101 IP 

イメージングプレー

 

輝尽性蛍光体を支持体に塗布した CR 用の放射線検
出器。

imaging plate

1102 IP 用カセット 

撮影時 IP(イメージングプレート)を収納する遮光
性の容器。 
注記  散乱線影響の軽減を目的に金属増感紙を内在

させる場合がある。

IP cassette

1103 

イコライザ 

高エネルギー放射線透過試験の一次 X 線束の放射線

量率を均一化させ,それによって有効照射域を拡大す
るための器具。

equalizing filter-beam   
  flattener

1104 

一体形 線装置, 
携帯式 線装置 

高電圧発生器及び X 線管を一体とした X 線発生器並
びに制御器を,低電圧ケーブルで接続する X 線装置。

mono-tank type X-ray   
  apparatus,  
portable type X-ray apparatus

1105 

陰極 

X 線管の負電極。 cathode

1106 SI 識別度計(中性子

ラジオグラフィ) 

中性子ラジオグラフィによる透過写真の分解能を定
性的に評価するゲージ。

sensitivity indicator

1107 X 線管 

一般にフィラメントから発生する熱電子を高速で陽

極に衝突させ,X 線を発生させるための真空管。 
注記  その陽極の表面で X 線が発生する。

X-ray tube

1108 X 線フィルム 

1171 

透過写真フィルム”参照。 X-ray

film

1109 

カセット 

露出中,撮影用フィルム又はペーパーを収納するため

の遮光性容器(袋)

注記  剛性のあるもの又はフレキシブルなもの,増感

紙のあるものとないものがある。

cassette

1110 

階調計 

透過写真の像質を評価するためのゲージ。透過写真の
撮影条件の定量的確認のために用いる。

contrast indicator,   
contrastmeter

1111 

画素 

デジタルラジオグラフィの画像を構成する最小単位
JIS Z 8120 参照)

pixel

1112 

画素寸法 

読取画像の横列又は縦列の隣同士のピクセル中心間
の幾何学的な距離。横列の場合は横方向間隔,縦列の
場合は縦方向間隔をいう。

pixel size

1113 

管電圧 

X 線管の陽極と陰極の間に印加される高電圧。 tube

voltage

1114 

γ 線源 

金属カプセル内に密封された放射性物質。 
注記  イッテルビウム 169,イリジウム 192,コバル

ト 60 などがある。

gamma-ray source


20

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1115 

照射容器, 
線源容器 

線源から放出される放射線量を著しく低減できて,ま
た,安全に取扱いができるだけの十分な壁厚のある,
高密度の材料で作られた容器。

radiation source container

1116 

輝尽性蛍光体 

輝尽発光の性質をもつ蛍光体。 photostimulable

phosphor

1117 

金属蛍光増感紙 

X 線又は γ 線に露出したとき蛍光を放出する材料を,
金属はく(通常は鉛)に塗布した増感紙。

fluorometallic intensifying   
  screen

1118 

金属増感紙 

X 線又は γ 線を照射されたとき,放射線をろ過して電
子を放出する高密度の金属(通常は鉛)からなる増感
紙。

metal screen

1119 

クリアリング時間 

フィルム定着の第 1 段階に必要な時間で,この間にく
もりが消える。

clearing time

1120 

蛍光増感紙 

X 線又は γ 線に露出したとき蛍光を発する,蛍光体を
塗布した増感紙。

fluorescent intensifying   
  screen

1121 X 線蛍光増倍管 

入射した X 線(像)を光(像)に変換し輝度増倍す

る機能をもつ電子管で,X 線透視法に用いる。

X-ray image intensifier

1122 

経時かぶり 

長時間の保管をすることによって,放射線を照射して

いないフィルムを写真処理した場合に認められるフ
ィルムの濃度の増加。

aging fog

1123 

減速材 

顕著な捕獲なしに速中性子のエネルギーを吸収して,
中性子エネルギーを低下させる材料。 
注記  黒鉛,ポリエチレン,パラフィンなどが使われ

る。

moderator

1124 

現像(フィルム又は

印画紙の−) 

潜像を可視像に変換する化学的又は物理的写真処理。 development (of a film or

  paper)

1125 

校正済み基準濃度ス

テップフィルム 

基準濃度として使用できるように,校正した種々の濃
度を段階的にもつフィルム。

calibrated density step wedge

1126 

固定マスク 

透過写真の周囲からの強い光を防ぐための透過写真
観察器の附属品。

viewing mask

1127 

コリメータ 

放射線束の方向及び領域を制限し決定するための,
鉛,タングステンなどの放射線吸収材料でできた器

具。

collimator

1128 

コントラスト調整材 

撮影する対象物に適用して,その放射線コントラスト
の全部又は一部を改善するための適切な固体又は液

体の材料。

contrast medium

1129 

コントロールケーブ

ル, 

レリーズワイヤ 

線源容器から線源ホルダーを遠隔操作によって当該

位置まで出入れするために接続するケーブル。

control cable,   
release wire

1130 

コーンビーム 

狭義には,円すい状に広がる放射線のビーム。広義で
は,ビームの縁の形状によらず二次元検出器で測定す
るときの放射線のビーム。

cone beam

1131 

試験体とフィルム間

の距離 

放射線ビームの中心軸に沿って測定した試験体の照
射側とフィルム表面との距離。

object-to-film distance

1132 

試験部の有効長さ 

1 回の撮影で試験の対象となる試験部の有効範囲を
示す長さ。

effective length of test part

1133 

実効焦点寸法 

照射野の中心から見た有効な焦点寸法。 
注記  ピンホール法,解像力法などによって測定す

る。

effective focal spot

1134 

絞り 

X 線管先端又はチューブシールドに固定することに
よって,放射する X 線束を制限する器具。

diaphragm


21

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1135 

写真乳剤 

ハロゲン化銀の微細な結晶粒子を保護コロイドの溶
液(例えば,ゼラチン水溶液)に分散させたもの。

photographic emulsion

1136 

シャッター 

X 線の照射を制御する器具。 
注記  一般に鉛製で,チューブシールドに取り付けら

れ,リモート操作によって X 線の照射をコン
トロールするための器具。

tube shutter

1137 

遮へい材料 

フィルム又は画像検出体への散乱線の影響を軽減す
るために用いる材料。

blocking medium

1138 

遮へいボックス 

内部に X 線管装置又は X 線発生器を設置する X 線防
護用の箱。

X-ray shield box

1139 

焦点 

試験対象部から見た,X 線管の陽極上における X 線
を放射している場所。

focal spot

1140 

焦点とフィルム間の

距離, 

ffd 

X 線管の焦点から放射線露出用のフィルムまでの最
短距離。

focus-to-film distance,   
ffd

1141 

照射角度 

放射線束の中心軸とフィルム面とで形成される角度。 beam angle

1142 

照射口 

ここを通って X 線が放出される X 線管の一部分。 tube

window

1143 

照射筒 

放射線源の放射口に取り付ける筒状の照射野限定器。 tubular diaphragm

1144 

照射野 

放射線透過写真を撮影するときに,放射線を試験体に
照射する範囲。

radiation field

1145 

焦点寸法 

フィルム面又は蛍光スクリーンに対して平行に測定
した X 線管の焦点寸法。

focal spot size

1146 

真空カセット 

真空状態に(操作)して,放射線照射中フィルム及び
増感紙を高い密着状態に保持する遮光性のケース。

vacuum cassette

1147 

スクリーン形フィル

 

蛍光増感紙と一緒に使用することを目的とした透過
写真(試験)用フィルム。

screen type film

1148 

ステップウエッジ 

同材質で厚さが階段状に並んだ試験体。 step

wedge

1149 

線源 

(電離)放射線を放出することができる機器(例えば,
X 線管又は γ 線源)。

radiation source

1150 

線源とフィルム間の

距離, 

sfd 

放射線束の方向に測定した線源とフィルムとの距離。 source-to-film distance,

sfd

1151 

線源ホルダー 

γ 線源(密封線源)を照射容器内又は遠隔操作装置の
先端に固定し,線源を保持,移動する取付器具。

source holder

1152 

潜像 

放射線によってフィルムに作られた目に見えない像
で,フィルムを処理することで可視像に変換できるも

の。

latent image

1153 

線量計 

X 線又は γ 線の積算線量を測定する計器。 dosemeter-dosimeter

1154 

線量率計 

X 線又は γ 線の線量率を測定する計器。

dose rate meter

1155 

増感係数 

他の条件が同じとき,同一の光学濃度を得るのに必要
な増感紙を使わない場合と使った場合の露出時間の
比。 
注記  増感率ともいう。

intensifying factor

1156 

増感紙 

放射線エネルギーの一部を光(光子)又は電子に変換
し,また,記録媒体と接触したとき透過写真の像質を

改善するか,透過撮影に必要な時間を短縮するか,又
はその両方を達成できるような物質。“1117 

金属蛍

光増感紙”,“1118  金属増感紙”及び“1120  蛍光増感
紙”参照。

intensifying screen


22

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1157 

操作管 

線源容器と操作装置との間の操作用ワイヤレリーズ
を誘導する可とう性をもつ管。

control-cable sheath

1158 

像質計, 
IQI 

確保すべき像質を測定することができる一連の厚さ

素子を備えたゲージ。 
注記 IQI の素子は,一般に針金又は段階的な孔であ

る。

image quality indicator,   
IQI

1159 

端部遮へい材 

試験体の周囲又は空洞の内側に配置して,より均一性
の高い吸収が行われるようにし,過度の散乱放射線を

低減して局部的な露光過多を防ぐための,細かな粒状
鉛などの遮へい材料。

1137 

遮へい材料”参照。

edge-blocking material

1160 

中心指示器 

X 線発生器の放射口に取り付け照射野の中心を示す
器具。

centering rod

1161 

直線加速器 

導波管の内部又は多数の整列したキャビティ間に作
られた高周波電界によって,荷電粒子を直線的に加速
する装置。 
注記  イオン又は電子を加速するものをそれぞれイ

オン直線加速器又は電子直線加速器という。線
形加速器,ライナック又はリニアックともい

う。

LINAC,  
linear accelerator

1162 

ターゲット 

電子ビームが衝突し,一次放射線束が放出される X
線管の陽極面。

target

1163 

中性子コンバ−タ 

中性子を照射することによって,α 線又は電子線を放
出する物質。

neutron converter

1164 

チューブシールド 

放射線漏れを所定の値以下に制限するための X 線管
容器。

tube shield

1165 

チューブヘッド 

X 線装置の一部で,X 線管を保護する容器。 tube

head

1166 

定格出力 

X 線装置において,X 線管に加わる最大端子電圧
[kV](定格電圧)と,その電圧における最大管電流
[mA](定格管電流)とで表す。

rated output

1167 

定着 

現像後に,写真乳剤からハロゲン化銀を化学的に除去
すること。

fixing

1168 

定電圧回路 

X 線管内に比較的一定した電圧を印加し,保持するた
めの電子回路。

constant potential circuit

1169 

伝送管 

線源容器から線源及びワイヤレリーズを誘導する可
とう性をもつ管。

projection sheath

1170 

等価 線管電圧 

特定の γ 線源によって撮影した γ 線透過写真に対し

て,等価な像質の透過写真が得られる X 線管の管電
圧。

equivalent X-ray tube   
  voltage

1171 

透過写真フィルム 

通常,薄い透明な支持体の両面に放射線感光乳剤を塗
布したフィルム。

radiographic film

1172 

透過写真観察器 

透過写真を観察するための,光源と半透明の拡散板を
もつ器具。

film illuminator-viewing   
  screen

1173 

透過度計 

透過写真の像質を定量的に管理するためのゲージ。 penetrameter

1174 

特性曲線(フィルム

の−) 

露出量の常用対数 log と光学濃度 との関係を示し
た曲線。

characteristic curve (of a   
  film)

1175 

トモグラム, 
断面画像 

CT で撮影した断面画像。被検体断面の全周方向から
得た放射線投影データを画像再構成して得られる。一

般的には得られた X 線線吸収係数の分布を輝度変調
した画像として表す。

tomogram


23

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1176 

肉厚補償くさび 

すみ肉溶接部の撮影,母材と溶接部の X 線又は γ 線
の吸収が大きく異なる試験体の撮影に使用する肉厚
補償用のブロック。

compensating wedge

1177 

入射線束軸 

焦点及び管窓で形成される円すい状線束の軸。 incident

beam

axis

1178 

濃度計 

透過写真(X 線)フィルムの透過濃度又は印画紙の反

射濃度を測定するための装置。

densitometer

1179 

ノンスクリーン形フ

ィルム 

放射線に対する感度を大きくした透過写真(X 線)フ

ィルム。 
注記  金属増感紙又は金属蛍光増感紙と組み合わせ

るか,増感紙なしで直接使用する。

non-screen type film

1180 

針金形透過度計 

金属線で構成した透過度計。 
注記  JIS Z 2306 では,直径の異なる 7 本の針金を用

いた一般形と,同一直径の 9 本の針金を用いた
帯形の 2 種類を規定している。

wire type penetrameter

1181 

微小焦点 線管 

焦点寸法が 100 µm 未満の X 線管。 
注記  拡大撮影法に用いられる。

micro focus tube

1182 BPI 線質計(中性子

ラジオグラフィ) 

中性子線のビーム中に含まれる熱中性子成分,散乱中

性子成分,γ 線成分及び電子対成分の割合を評価する
ゲージ。

beam purity indicator

1183 

非密封放射性同位元

 

密封されていないか,又は密封性能が不十分な放射性
同位元素。

unsealed source

1184 

ピンホール法 

微小な孔をもつピンホール板によって,実効焦点の幾
何学的寸法を測定する方法。

pinhole method

1185 

ファンビーム 

ほぼ平面内に X 線焦点を頂点とする扇状に広がる放

射線のビーム。

fan beam

1186 

フィルタ 

長波長の放射線を吸収するように,線源とフィルムの

間に置かれた,一般に試験体の原子番号よりも上位の
原子番号をもつ材料の均一層。

filter

1187 

フィルムディジタイ

 

透過写真(X 線)フィルムの画像をデジタル信号に変
換する装置。

film digitizer

1188 

フィルムベース 

感光乳(液)剤を塗布する支持体。 filmbase

1189 

フィルムマーカ 

透過写真に識別用の文字又は記号を写し込むための
マーカ。

film marker

1190 

複焦点 線管 

異なる二つの焦点寸法をもつ X 線管。

dual focus tube

1191 

分離形 線装置, 
据置式 線装置 

X 線管装置,X 線管冷却器,高電圧発生器,X 線制御
器,高電圧ケーブル,低電圧ケーブルなどによって構
成される X 線装置。

separate type X-ray   
  apparatus

1192 

並列針金形像質計 

透過写真の画像の全体的な像質を評価するための特
別な像質計で,高密度金属の対の針金がそろっている

もの。

duplex wire image quality   
  indicator

1193 

ベータトロン 

電子を加速する装置の一種。電子をその運動面に垂直
な磁界の時間的変化によって円軌道を保ち,この軌道

を貫く磁束の変化に伴う電界で加速するもの。誘導加
速器ともいう。

betatron

1194 

放射口 

放射線ビームを通過させることを目的とした放射線
源の防護遮へい体の開口部。

radiation aperture

1195 

放射性同位元素 

粒子線,γ 線又は X 線を自然発生する特性をもつ同位
元素。

radioisotope


24

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1196 

密封線源 

放射性物質の散逸及び他の物質との接触を避けるた
め,カプセルに密閉するかカバーを接着した放射性の
線源。

sealed source

1197 

漏れ放射線 

放射口,照射口を透過してくるものではなく放射線源
の防護遮へい物を透過してくる放射線。

leakage radiation

1198 

有孔形透過度計 

板に貫通孔を設けた透過度計。 
注記  く(矩)形の板に直径の異なる 3 個の貫通孔を

設けた方形と,円形の板に直径の異なる 2 個の

貫通孔を設けた円形との 2 種類がある。

hole type penetrameter

1199 

陽極 

X 線管の正電極。 anode

11100 

陽極電流 

X 線管内を陰極から陽極に移動する電子の流れ。 anode

current

11101 

露出計算器 

必要な露出時間を決定するために利用できる器具。 exposure

calculator

11102 

ロッドアノード管 

筒状の陽極の先端にターゲットを置いた,放射線を全
周照射できる X 線管。

rod anode tube

11103 

γ 線透過試験装置 

γ 線源,線源容器,操作器,操作管,伝送管及びコリ
メータを含む工業用透過試験装置。

gamma-ray apparatus for   
  radiography

(12)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1201 X 線透過試験, 

線ラジオグラフィ 

X 線を用いた放射線透過試験。 X-ray

radiography

1202 X 線透視法 

蛍光板又は蛍光増倍管などの放射線検出体上に電離

放射線によって可視像を作り,テレビモニターに表示
する方法。

radioscopy

1203 

解像力法 

解像力チャート又は数種類のワイヤーグリッドによ
って,実効焦点の解像力的寸法を測定する方法。

wire grid method

1204 

拡大撮影方法 

試験体と結像システムとの間の距離を使って,画像を

拡大する X 線透過法又は X 線透視法。

1232 

マイク

ロフォーカス放射線透過試験”参照。

projective magnification   
  technique

1205 

拡大率 

画像寸法の拡大の度合い。 projective

magnification

1206 

間接撮影方法 

試験体を透過した放射線を,蛍光板又は蛍光増倍管で

受け,蛍光面上の透視像をカメラなどで記録する撮影
方法。

indirect radiography

1207 

γ 線透過試験, 
γ 
線ラジオグラフィ 

γ 線源を用いた放射線透過試験。 gamma-ray

radiography

1208 

狭照射野撮影方法 

照射野を局部的に絞り,フィルムを試験体から適切な

距離を離して散乱比を低減させることによって,きず
の像のコントラストを上げる撮影方法。

narrow area radiation   
  technique

1209 

蛍光板透視法 

放射線によって蛍光板上へ可視像を作り,その像を直
接観察すること。

fluoroscopy

1210 

工業用放射線透過試

験技術 

非破壊検査における,X 線,γ 線,中性子線などの透
過性放射線の科学と応用。

industrial radiology

1211 

コリメーション 

吸収材料でできた絞りを用いて,放射線束の形状を所
定の寸法に制限すること。

collimation

1212 CT 

コンピュータ断層撮

 

試験体断面の全周方向から得た放射線投影データを

画像再構成して断面画像を得る手法。 
一般的には,得られた X 線線吸収係数の分布を輝度
変調した画像として表示する。

computed tomography,   
CT


25

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1213 CR 

コンピューティッド 
  ・

ラジオグラフィ 

X 線フィルムの代わりにイメージングプレートを用
いて,放射線透過試験を実施し,レーザによって読み
取り,デジタル画像を得るもの。

computed radiography

1214 

実時間ラジオグラフ

 

X 線透視法のうち,可視像をテレビカメラで撮像し,
動く試験体の透視画像を表示する手法。 
X 線ラインセンサを用いる手法もこれに該当する。

real-time radiography

1215 

写真処理 

フィルム上の潜像を永久的な可視像に変換するのに
必要な作業で,一般にフィルムの現像,停止,定着,

洗浄及び乾燥の段階がある。

film processing

1216 

瞬間撮影方法 

極めて短時間に瞬間的に X 線を放射する装置を用い

て,高速な現象を撮影する方法。

flash radiography

1217 

スキャンエリア, 
撮影領域 

CT で撮影する領域で,試験体断面画像を再構成する
ためのデータが収集され,画像再構成される領域。

scan area,   
field of view

1218 

線源寸法 

放射線源の寸法。 sour

size

1219 

全周同時撮影方法 

線源を管の中心に置き,フィルムを管の外周に取り付
けて,全周を同時に撮影する方法。

simultaneous radiography of 
  the full circumference

1220 

中性子ラジオグラフ

 

中性子線を用いる透過試験。 
注記  転写法又は直接法が用いられる。

neutron radiography

1221 

直接撮影方法 

試験体を透過した放射線を,直接,透過写真(X 線)
フィルムに受けて記録する撮影方法。

direct radiography

1222 

直接法(中性子ラジ

オグラフィ) 

中性子による透過像を直接フィルムに撮影する方法。
注記  増感紙としては,ガドリニウム板がよく使われ

る。

direct method   
  (neutron radiography)

1223 

デジタル 線撮影法  X 線を用いる透過試験において X 線画像がデジタル

信号に変換される系が存在する試験法。

digital radiography

1224 

転写法(中性子ラジ

オグラフィ) 

中性子照射によって放射化する物質を,フィルムの代
わりに置いて中性子を照射し,放射化した物質とフィ
ルムとを密着させて,フィルムに転写する方法。 
注記  放射化物質としては,ジスプロシウム板がよく

使われる。

transfer method   
  (neutron radiography)

1225 

内部線源撮影方法 

管の内部に線源を置き,管の外側にフィルムを取り付
けて撮影する方法。 
注記  全周同時撮影方法と分割撮影方法とがある。

a)  全周同時撮影

b)  分割撮影

internal source technique


26

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1226 

内部フィルム撮影方

 

管の外部に線源を置き,管の内側にフィルムを取り付
けて,全周を分割して撮影する方法。

internal film technique

1227 

二重壁片面撮影方法 

管の円周突合せ溶接部を撮影する場合,線源及びフィ
ルムを溶接部を含む平面と適切な角度をとって配置
し,管壁を二重に透過して撮影する方法。 
注記  フィルムを取り付けた面の溶接部を試験の対

象とする。

double wall single image   
  technique

1228 

二重壁両面撮影方法 

比較的小径管の円周突合せ溶接部を,管壁を二重に透
過して撮影する方法。 
注記  フィルムを取り付けた面とそれに相対する面

との両方の溶接部を試験の対象とする。

double wall double image   
  technique

1229 

パノラマ照射 

γ 線源の多方向特性又は X 線のパノラマセットを利用
した放射線透過試験構成。 
注記  例えば,複数の試験体を同時に透過撮影した

り,又は円筒形試験体の全周を撮影したりする
ことができる。

panoramic exposure

1230 

複合フィルム撮影方

 

肉厚の異なる部分をもつ試験体の撮影で,一枚のカセ
ットに同種又は感度の異なる種類の X 線フィルムを

複数枚一緒に入れて撮影する方法。

multiple film technique

1231 

放射線透過写真 

透過写真フィルム又は印画紙上に,直接又は間接放射
線の透過線によって作られた,写真処理後の可視像。

radiograph


27

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1232 

マイクロフォーカス

放射線透過試験 

100 µm 未満の極めて小さい有効焦点寸法をもつ X 線
管を使用した放射線透過試験。 
注記  一般に,射影による画像の直接幾何的拡大に用

いられる。

microfocus radiography

1233 

マスキング 

放射線透過試験を受ける場所を制限する物質を試験
体の照射表面にてん(貼)付すること。

masking

1234 

立体撮影法 

2 枚の透過写真を撮影し,きずなどの相対位置を立体
的に観察できる撮影方法。

stereo radiography

1235 

露出因子 

透過撮影で X 線フィルムに到達する X 線量又は γ 線
量を表す因子。 
X 線では, 
露出因子=管電流 [mA]×露出時間 [min]/ 
距離

2

[cm

2

]

γ 線では, 
露出因子=線源の強さ [Bq]×露出時間 [min]/ 
距離

2

[cm

2

]

exposure factor

1236 

露出寛容度 

フィルム乳剤の光学濃度有効範囲に対応する露出範
囲。

exposure latitude

1237 

露出時間 

記録媒体を放射線に露出する過程の時間。 exposure

time

1238 

露出線図 

特定材料の様々な厚さとビーム照射の所定の品質に

ついて,放射線露出時間を表した線図。

exposure chart

(13)  評価判定 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1301 

アーチファクト, 
放射線透過試験にお

ける疑似指示 

フィルムの製造,取扱,照射,処理の過程などで損傷
を受けることによって,透過写真に現れる疑似指示。
CT では CT 特有のデータ収集,画像再構成などによ
って現れる疑似画像を指す。

artifact (false indication)

1302 

圧力マーク 

フィルムに作用する局部的圧力が原因で,状況によっ

て明るく又は暗く表出する X 線写真の濃度の変動。

pressure mark

1303 

ウインドウ処理, 
ウインドウ(CT 

術) 

デジタル化された画像に対してウインドウレベルと

ウインドウ幅を設定し,設定したデジタル信号を輝度
変調して画像表示する処理。一般的に,表示は肉眼の
明暗方向の分解能を考慮して 8 ビットで DA 変換して

行う。 
DA:digital to analogue

window gradation processing

1304 

n-γ  

中性子束密度と γ 線量率との比。

[単位:n/cm

2

・C]

ただし,は中性子の数。

ratio of n to γ

1305 

回折異常像 

材料の結晶構造による放射線回折現象に起因する,透

過画像上の多重パターン。

diffraction mottle

1306 

階調計の値 

透過写真のコントラストの定量的な表示方法。

階調計に近接した母材の部分の濃度と階調計の中央
の部分の濃度とを濃度計によって測定し,その濃度差
を母材の部分の濃度で除したもの。

evaluation value of   
  contrastmeter

1307 

階調計の濃度差 

透過写真の像質を表す一つの尺度。透過写真のコント
ラストを定量的に示すもので,透過写真上の階調計の

中央の部分と近接する母材部分との濃度の差。

contrast of contrastmeter


28

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1308 

画像強調 

コントラスト及び/又は鮮鋭度を改善したり,又はノ
イズを低減したりして,像質を向上させる作業。 
注記  “デジタル画像処理”と呼ばれるコンピュータ

処理によることが多い。

image enhancement

1309 

画像再構成 

試験体の全周方向の放射線透過データ(投影データ)
から,被検体の放射線吸収の度合いを示す画像(断面

画像)を求める処理。

image reconstruction

1310 

カドミウム比 

中性子検出器の測定値と同じ条件のもとで,特定の厚

さのカドミウムで覆った場合の測定値の比。

cadmium ratio

1311 

かぶり濃度 

透過像を形成する放射線照射の直接的作用以外によ

る,処理フィルムの光学濃度を示す一般用語。 
注記  これには,経時かぶり,化学かぶり,二色かぶ

り,露光かぶり及び固有かぶりがある。

fog density

1312 

関心領域, 
ROI 

試験体上の注目している領域。また,画像処理を行う
場合に断面画像上に指定する領域。

region of interest

1313 

幾何学的不鮮鋭度 

線源の有限寸法に起因する透過画像の不明りょうさ。
注記  その規模はまた,線源−試験体間距離及び試験

体−フィルム間距離に左右される。幾何学的ぼ

け又は半影とも呼ばれる。

geometric unsharpness

1314 

きず検出感度 

特定の試験条件下で検出可能な最小きず寸法。 flaw

sensitivity

1315 

きず点数 

きずの長径に応じて規定した点数。 
注記  試験視野に存在するきず点数の合計によって,

きずの像の分類を行う。

flaw mark

1316 

空間分解能 

画像上で識別できる細部間隔の距離。 spatial

resolution

1317 

固有不鮮鋭度 

ハロゲン化銀の粒子を現像できるようにするための
写真乳剤中の電子を排出する,放射線の光子による透
過画像のぼけ。

inherent unsharpness

1318 

コントラスト 

1331 

透過写真のコントラスト”,“1341  放射線コ

ントラスト”,“1334  被写体コントラスト”及び“1321 
視覚コントラスト”参照。

contrast

1319 

コ ン ト ラ ス ト 識 別

度, 

厚さ識別度 

X 線透過(又は透視)画像において,認識できる程度
の光学濃度変化を生じる試験体の厚さの最小変化。 
注記  一般に,試験体全厚に対する百分率で表す。

contrast sensitivity-thickness 
  sensitivity

1320 

コ ン ト ラ ス ト 分 解

能, 

濃度分解能 

どれだけの放射線吸収の度合いの違い(密度差など)
が断面画像上で差として識別できるかの能力。

contrast resolution

1321 

視覚コントラスト 

観察器上の透過写真における,隣接した 2 か所の部分
の間の見かけのコントラスト。

visual contrast

1322 

識別限界コントラス

 

透過写真上できず,透過度計の針金又は孔の像として
認め得る最小の濃度差。 
注記  透過度計の線,孔の寸法,透過写真の濃度,観

察方法,X 線フィルムの粒状性,個人差などの
影響を受ける。

minimum perceptible   
  contrast

1323 

識別最小線径 

透過写真の試験部で識別された透過度計の最小線径。 minimum perceptible wire

  diameter

1324 

試験視野   

きずの像の分類を行う場合の視野。 
注記  例えば JIS Z 3104 の場合,母材の厚さによっ

て,10×10 mm,10×20 mm,10×30 mm を用

いる。

test field of vision


29

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1325 CT  

断面画像の各画素における線吸収係数 µ [cm

1

]  を水

の µ を用いて変換した値。 
注記  一般的に水を 0,空気を−1 000 で表す。断面

画像は CT 値を明暗方向の濃淡値に輝度変調し
て表示する。

CT number

1326 

写真濃度 

写真の黒さの程度を表す尺度。 
注記  透過濃度と反射濃度とがある。透過濃度 は,

次の式によって定義する。

D=log

10

(L

0

/L)

ここで,L

0

は入射光の強さ,は透過光の強さ。

film density

1327 

スライス厚 

断面画像の放射線の測定ビーム厚さ。 
注記  断面画像はスライス厚内の放射線吸収の度合

いの平均を示す画像となる。

slice width

1328 

鮮鋭度 

写真像の輪郭の明りょうさを表すもの。 
注記  鮮鋭度に与える影響を大別すると,幾何学的条

件による半影,放射線の線質,フィルムの粒状

性及び増感紙などがある。

definition,  
sharpness

1329 

像質 

放射線透過写真のフィルム画像の質。画質ともいう。 image quality

1330 

像質指数, 
IQI 
感度 

必要な又は確保した像質の測度。 image

quality

value,

IQI sensitivity

1331 

透過写真のコントラ

スト 

透過写真中の隣り合った二つの場所の濃度の相対的
差異。

image contrast

1332 

透過像の解像度 

透過画像の詳細輪郭の鮮明さ。 image

definition

1333 

動的不鮮鋭度 

線源,試験体又は放射線検出体の相対的な動きによる

透過写真又は透視写真のぼけ。

movement unsharpness

1334 

被写体コントラスト 

照射試験体の所定の二つの場所の放射線透過線量率
の相対的な差異。

object contrast

1335 

フィルタ関数 

画像再構成の一手法としてフィルタ補正逆投影法を
用いた場合に使われる周波数フィルタの特性を示す

関数。 
注記  フィルタ関数を変えることで再構成画像の特

性を変えることができる。

filter function

1336 

不鮮鋭度 

ぼけによる透過像の鮮鋭度の低下。 
注記  幾何学的不鮮鋭度,固有不鮮鋭度及び動的不鮮

鋭度の組合せによって構成されている。

unsharpness

1337 

平均階調 

写真感光材料の特性曲線上の特定の 2 点間を結んだ

直線の傾き。

average gradient

1338 

変調伝達関数, 
MTF 

結像システムの空間周波数応答。

modulation transfer function, 
MTF

1339 

空間周波数 

空間周波数は,正弦波などの周期的パターンが,単位
長さ当たり繰り返される回数をいう。

[単位:LP/mm]

spatial frequency

1340 

空間周波数最大値 

この値は,理論上ミリメートル当たりのラインペア数
で表され,ナイキストのサンプリング定理によって得

られる(次式参照)

    fc=1/(2×P
ここで, fc :空間周波数最大値 [LP/mm] 
 P 

:線幅及び線間の寸法 [mm]

spatial frequency maximum 
  value

1341 

放射線コントラスト 

照射される試験体内部の放射線透過率の変化による

放射線量の差異。

radiation contrast


30

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

1342 

ボクセル 

二次元断面画像のピクセルとスライス厚とで構成さ
れる立体の体積要素。

voxel

1343 

有効濃度範囲 

透過写真の観察に必要な光学濃度範囲。 
注記  その上限は透過写真観察器の輝度によって,ま

た,下限はきずの検出性の低下によって決定さ
れる。

useful density range

1344 

ブルーミング, 
フレア 

非常に強い X 線によって過剰に発生した信号電荷が,
画素からあふれて,光としてにじ(滲)み出した状態

をいう。

blooming,  
flare

1345 

粒状性 

粒状度の視覚的外観。 graininess

1346 

粒状度 

試験体画像上の多重 X 線写真の確率的濃度変動。 granularity

(14)  放射線管理 

番号

用語

定義

対応英語

1401 

エネルギー依存性 

線量計の指示値及びフィルムの感度が,照射する放射
線の線質によって異なる現象。

energy dependency

1402 

管理区域 

外部放射線の実効線量が 3 か月間について 1.3 mSv を
超えるおそれがある区域(JIS Z 4001 参照)

controlled area

1403 

蛍光ガラス線量計 

線量に比例した蛍光を発生する特殊ガラス製の個人
被ばく線量計(JIS Z 4001 参照)

fluoroglass dosimeter

1404 

サーベイメータ 

放射性物質の有無,レベル又は線量当量率を測定する
ポータブル放射線測定器(JIS Z 4001 参照)

survey meter

1405 

実効線量 

被ばくした組織又は臓器の等価線量に,その組織荷重
係数を乗じて合計した値。

[単位:Sv]

effective dose

1406 

線量当量, 
線量当量率 

放射線の人体への影響を表す量のこと。吸収線量と線
量係数との積で表される。

[単位:Sv]

注記  線量当量(率)には,1 センチメートル線量当

量(率)及び 70 マイクロメートル線量当量(率)
がある。

dose equivalent

1407 

組織荷重係数 

実効線量を計算するときに各組織・臓器の等価線量

に乗じる係数。放射線被ばくによる各組織・臓器の確
率的影響の損害割合を身体の全損害に対して算定さ
れたもの。

tissue weighting factor

1408 TLD 

熱ルミネセンス線量

 

放射線によってある種の固体が吸収したエネルギー
を加熱することによって発生する熱ルミネセンス量

を測定する個人モニター用測定器(JIS Z 4001 参照)

thermal luminescence   
  dosimeter

1409 

電離箱 

電離放射線によって作られた電荷を,気体増幅が起こ

らない程度の電界を印加して電極に集めることを利
用した放射線検出器(JIS Z 4001 参照)

ionization chamber

1410 

電離放射線 

直接又は間接的に電離作用をもつ放射線。紫外線は除
外する(JIS Z 4001 参照)

ionizing radiation

1411 

等価線量 

組織又は臓器に対する被ばくの効果を評価するため

に使用される量で,組織又は臓器における平均吸収線
量に放射線に対する放射線荷重係数を乗じた値。

equivalent dose

1412 

半導体検出器 

放射線による半導体中の余剰自由電荷キャリアの生
成及びその電極への移動を利用する放射線検出器。

semiconductor detector

1413 OSL バッジ 

放射線検出用輝尽性蛍光体を支持体に塗布し,数種類
のフィルタをもつケースに入れた個人被ばく線量計。
注記  その輝尽発光量から,装着した部位の被ばくを

推定する。

OSL badge


31

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語

1414 

方向依存性 

線量計の指示値などが,入射する放射線の方向によっ
て異なる現象。

direction dependency

1415 

放射線荷重係数 

健康への影響に対する,種類の異なる放射線の効果の

違いを考慮するためのもので,吸収線量に乗じられる
相対的係数。

radiation weighting factor

1416 

ポケット線量計 

万年筆大の大きさと形をもつ電離箱形の線量計(JIS 
Z 4001 
及び JIS Z 9212 参照)。

pocket dose meter

1417 

立入禁止区域 

X 線管の焦点又は放射線源及び被試験体から 5 m 以
内の場所。ただし,実効線量が 1 週間につき 1 mSv
以下の場所を除く。

no admittance area

1418 

鉛当量 

同一照射条件において,対象にしている物質と等しい
遮へい能力をもつ鉛の厚さ。

lead equivalent

  (2)  超音波探傷試験 

(20)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2001 

板波, 
ラム波 

薄い板状の固体を伝搬する波。 
注記  板中の振動の様子によって,対称モードと非対

称モードとに分類される。モードによって位相
速度及び群速度が異なる。

plate wave,   
lamb wave

2002 

エコー 

試験体のきず,底面,境界面などから反射して受信さ
れたパルス及びそれが探傷器の表示器に現れた指示。

echo

2003 

エコー受信点 

探傷面上の超音波ビームが受信される点。

echo receiving point

2004 

エコー高さ 

探傷図形上のエコー高さ。 
注記  表示器目盛板上%で表すか又は基準レベルと

の比で dB で表す。

echo height

2005 SH  

振動方向が試験体の表面と平行な横波。 
注記  外力を媒質に水平に加えることによって発生

する。

SH wave

2006 STB 屈折角 

JIS Z 2345 に規定する標準試験片(STB-A1 若しくは
STB-A3,STB-A31 又は STB-A32)を用いて測定した
屈折角。 
注記 STB とは Standard test block の略号である。

angle of refraction by STB

2007 SV  

試験体の表面に垂直方向の振動成分をもつ横波。 
注記  外力を媒質に垂直に加えることによって発生

する。

SV wave

2008 MA 表示 

基本表示図形を連続的に重畳させた形で表示する方

法。

multiple A-scope   
  presentation

2009 

遠距離音場 

ビーム軸上音圧の最後の最大点以遠の領域。

far field


32

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2010 

遠距離分解能 

探傷面から離れた所にある 2 個の反射源を 2 個の反射
源と識別できる超音波探傷装置の能力。

far surface resolution

2011 

遅れエコー 

同一原因からのエコーのうち,

伝搬経路が異なるため

又は途中で振動様式の変換のため遅れて探触子に到
着したエコー。

delayed echo

2012 

音圧 

音波によって生じる圧力(JIS Z 8106 参照)

。 sound

pressure

2013 

音圧往復通過率 

境界面に入った音波の音圧と,

透過して再び同じ境界

面を通過して戻った音波の音圧との比。

echo transmittance

2014 

音圧反射率 

超音波が境界面で反射するときの入射波音圧に対す

る全反射波音圧の比。

reflection coefficient

2015 

音響異方性 

試験体中において,超音波の音速などの超音波伝搬特
性が,探傷方向によって差がある場合の材料特性。

acoustical anisotropy

2016 

音響インピーダンス 

指定された面において,音圧を,その面を通過する体
積速度で除した値。通常,媒質の密度と音速との積で

表される(JIS Z 8106 参照)

acoustical impedance

2017 

音響結合損失 

探触子と試験体との間の境界面を横切る超音波エネ

ルギーの損失。

coupling losses

2018 

音響的かげ 

試験体の幾何学的形状又はきずによって,所定の方向

における超音波エネルギーが届かない試験体中の領
域。

acoustic shadow,   
shadow zone

2019 

音場 

超音波信号源からの音響エネルギーで生じる 3 次元

放射パターン。

sound field

2020 

音速 

均一媒質中の伝搬方向に対する音の群速度又は位相
速度(JIS Z 8106 参照)

sound velocity,   
velocity of propagation

2021 

ガイド波 

細長い材料中を長手方向に伝搬する超音波。 
注記  配管中を長手方向に伝搬する超音波について

使われることが多い。広義には,板波,ラム波,
表面波,レイリー波などもガイド波に含まれ
る。振動の様子が異なる多数のモードが存在

し,それぞれのモードで位相速度及び群速度が
周波数によって異なる。

guided wave


33

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2022 

偏り角 

探触子において設計された超音波ビームの方向と実
測された超音波ビーム方向との角度差(斜角探触子の
屈折角の場合を除く。

squint angle

2023 

感度余裕, 
感度余裕値 

超音波探傷装置において,特定の標準反射源を所定の
レベルで検出できるきず検出感度から,最大となるき
ず検出感度までの余裕の度合いを示す値。

margin of detection   
  sensitivity

2024 

きずエコー (F) 

不連続部又はきずからのエコー。

flaw echo,   
defect echo

2025 

基本記号 

探傷図形上の各指示を示すための記号。

basic symbols for ultrasonic 
  testing

2026 

基本表示, 
スコープ表示 

X 軸に時間,Y 軸に振幅を表す超音波信号の表示方
法。

2024 

きずエコー (F)”の図参照。

A-scan display,   
A-scan presentation

2027 

球面波 

球状の波頭をもつ波。 spherical wave

2028 

境界面 

異なった音響インピーダンスをもち,音響的に接触し
ている 2 個の物質の境界。

interface

2029 

境界面エコー 

音響インピーダンスの異なる境界面からのエコー。 interface

echo

2030 

近距離音場 

干渉のために,音圧が超音波ビームの中の距離に直接

的に関係しない領域。

2009 

遠距離音場”の図参照。

near field,   
fresnel zone

2031 

近距離音場限界距離 

超音波信号源から近距離音場限界点までの距離。 
2009 

遠距離音場”及び“2019  音場”の図参照。

near field length

2032 

近距離音場限界点 

ビーム軸上の音圧が,最後の最大点となるビーム軸上
の位置。

near field point

2033 

近距離分解能 

垂直探傷において,探傷面に接近した反射源と探傷面
とからのエコーを識別できる超音波探傷装置の能力。

surface resolution


34

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2034 

屈折角 

境界面に超音波が入射し屈折したとき,屈折した波の
進行方向と境界面への法線とがなす角度。

2024 

きず

エコー (F)”の図参照。

angle of refraction

2035 

クリーピング波 

試験体の表面に沿って伝搬する縦波。 
注記  縦波臨界角(第一臨界角)で試験体に入射した

場合に発生する。

creeping wave

2036 

ゲイン補正 

探触子を標準試験片又は対比試験片から試験体に移

す場合の超音波探傷装置のゲインの補正(音響結合,
反射及び減衰による損失も含む。

transfer correction

2037 

減衰 

音波が媒質中を伝搬するとき,

吸収又は散乱で生じる

音圧の減少。

attenuation,  
sound attenuation

2038 

減衰係数 

単位伝搬距離当たりの減衰を示す係数。 
注記  媒質の特性,波長及び波のモードに支配され

る。一般には,dB/m で表される。

attenuation coefficient

2039 

公称屈折角 

特定の材料と温度に関して表示された探触子の屈折
角の公称値。

nominal angle of probe

2040 

公称周波数 

製造者によって表示された探触子の公称周波数。 nominal

frequency

2041 

交束距離 

二振動子探触子において,交束範囲と探傷面との間の
最も短い距離。

convergence distance

2042 

交束範囲 

二振動子探触子における送・受信ビームの交差する 
領域又は点。

2041 

交束距離”の図参照。

convergence zone,   
convergence point

2043 

散乱 

超音波伝搬経路中の微小反射源及び/又は結晶によ
って生じる方向性のない反射。

scattering

2044 

残留エコー 

パルス反射法において,試験体中のエコーが,次のパ
ルスが送信された後も残っているために受信されて

探傷図形に現れるエコー。

ghost echo,   
phantom echo,   
wrap around


35

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2045 

試験体積 

試験される試験体の立体的領域。 test

volume

examination volume

2046 

指向角 

遠距離音場における振幅が所定のレベルまで低下す

るビームエッジとビーム軸との間の角度。“2009 

距離音場”の図参照。

divergence angle

2047 

指向性 

空間的に超音波が一つの方向に偏って伝搬する性質。 directivity

2048 

集束距離 

集束探触子の音源から集束点までの距離。

focal length

2049 

集束点 

音源から最も遠い距離において最大音圧を示す点。
2048 

集束距離”の図参照。

focal point,   
focus

2050 

集束範囲 

最大音圧に関係するあるレベルの音圧を保っている,

集束探触子の超音波ビーム内の領域。“2048 

集束距

離”参照。

depth of field,   
focal zone,   
focal range

2051 

スキップ距離 

斜角法において,斜角探触子の入射点からスキップ点
までの探傷面上の距離。 
注記  1 スキップの距離は,1S と略す場合がある。

skip distance

2052 

スキップ点 

斜角法において,超音波ビームが探傷面又は探傷面と
反対側の面で反射する点。

2051 

スキップ距離”の図

参照。

skip point

2053 

接触媒質, 
音響結合媒質 

超音波エネルギーが透過できるようにするための探

触子と試験体との間に挿入する媒質。

couplant,  
coupling medium,   
coupling film

2054 

接触媒質路程 

探触子入射点とビーム入射点との間の接触媒質(音響
結合媒質)の距離。 
2053 

接触媒質,音響結合媒質”の図参照。

couplant path

2055 

走査範囲 

探傷の目的に応じて走査を行う範囲。 scanning

zone


36

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2056 

走査方向 

探傷面上の探触子を走査する方向。

scanning direction

2057 

送信パルス 

超音波パルスを発生させるために,探触子の振動子に
印加する電気パルス。一探触子法において試験体中に

入射させるパルスの場合,表示器上で探触子からの発
信信号として現れる。

transmitter pulse

2058 

送信パルス指示 (T)  通常,基本表示で用いられる送信パルスに対応する超

音波探傷器の表示器上の応答。“2024 

きずエコー 

(F)”の図参照。

transmission pulse indication

2059 

増幅直線性 

受信器への入力信号の振幅と超音波探傷器の表示器
又は附属の表示器に表示される信号の振幅との比例
関係の程度。

amplitude linearity

2060 

側面エコー (W) 

試験体の側面(探傷面及び底面を除いた面)からのエ
コー。

2024 

きずエコー (F)”の図参照。

side wall echo

2061 

対称モード 

板波又は薄膜の振動において,

線又は点を基準に対称

の位相変位で同じ位相で振動する波動のモード。

symmetric mode

2062 

ダイナミックレンジ 

探傷のために小さすぎず,また,過負荷又は顕著なひ
ずみもなく超音波探傷器によって取り扱うことがで
きる信号振幅の範囲。

dynamic range

2063 

多重エコー 

2 個又はそれ以上の境界面若しくはきずの間で繰り
返される超音波パルスの反射。

multiple echo,   
multiple reflection

2064 

縦波 

媒質粒子の振動方向と振動の伝搬方向とが同じ波の
モード(JIS Z 8106 参照)

注記  固体中で,音速が最も速い。

compressional wave,   
longitudinal wave

2065 

探傷屈折角 

試験体又は試験体から切り出した対比試験片を用い
て,探傷方向において測定した屈折角。

angle of refraction in test   
  object

2066 

探傷図形 

超音波探傷器の表示器に現れた図形又はそれを記録

したもの。

testing diagram

2067 

探傷方向 

探傷面上に投影した超音波の伝搬方向又は探触子か

ら放射された超音波ビームが伝搬していく方向。

test direction

2068 

探傷面 

探触子を走査する試験体の表面の一部。

2024 

きずエコー (F)”の図参照。

test surface,   
scanning surface


37

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2069 

探触子オリエンテー
ション 

探触子の走査中に探傷面上のビーム軸の投影線と基
準線との間で維持されている角度。

2056 

走査方向”

の図参照。

probe orientation

2070 

探触子きず距離 

斜角法において,斜角探触子の入射点から,きずまで
の探傷面上に投影された距離。“2024 

きずエコー 

(F)”の図参照。

probe to flaw distance

2071 

探触子溶接部距離 

斜角法において,斜角探触子の入射点から,溶接部の
基準線までの探傷面上に投影された距離。

probe to weld distance

2072 

タンデム基準線 

タンデム探傷において,探触子を移動するときの基準
となる線。 
注記  通常,探傷断面から 0.5 スキップ距離の位置に

設ける。

tandem reference line

2073 

タンデム参照線 

タンデム探傷を行うときに,溶接に先立ち探傷面上に

開先面(I 開先)から一定の距離に印した線。 
注記  タンデム基準線を決定するときの基準となる。

tandem base line

2074 

断面表示, 
スコープ表示 

探触子を一方向に走査したとき,ビーム軸の位置と関

連してエコーの表示範囲でエコーに関するビーム路
程をプロットすることによって作られた試験体の断
面表示方法。 
注記  通常,反射源の長さと深さを示すために用い

る。

B-scan display,   
B-scan presentation

2075 

端部効果 

反射源の端部による超音波の干渉に起因する現象。 edge

effect

2076 

遅延路程 

入射点と振動子との間の距離。 delay path

2077 

中心周波数 

ピーク周波数の振幅の,透過法に関しては−3 dB,パ
ルス反射法では−6 dB に相当する周波数の算術平均

値。

center frequency

2078 

超音波 

人の耳の可聴範囲以上の周波数の音波。 
注記  一般的には 20 kHz 以上とされる。

ultrasonic wave

2079 

超音波特性 

試験体において,超音波の入射又は伝搬に影響を与え
る特性。 
注記  超音波の音速,減衰などを指す。

ultrasonic characteristics


38

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2080 

超音波ビーム 

媒質中に伝搬された超音波エネルギーの大部分が含
まれるおおよそ円すい形状の領域。

ultrasonic beam,   
sound beam

2081 

底面 

パルス反射・垂直法における探傷面の反対側の面。

2024 

きずエコー (F)”の図参照。

back wall,   
bottom back surface

2082 

底面エコー (B) 

超音波ビーム軸に対して垂直な境界面から反射した

パルス。 
注記  通常,垂直探触子で平行な面をもつ試験体を探

傷しているときの裏面からのエコーに用いる。

2024 

きずエコー (F)”の図参照。

back wall echo,   
bottom echo,   
back reflection

2083 

底面エコーの消失 

試験領域の底面からのエコーの振幅が著しく低下す

るか,消失すること。

loss of back reflection

2084 

デシベル 

二つの超音波信号の振幅の比の底が 10 の対数の 20

倍(JIS Z 8106 参照)

[20 log

10

(振幅比)

decibel (dB)

2085 

伝搬時間 

送信された超音波が受信点に到達するまでの時間。 propagation

time,

time of flight

2086 

投影ビーム路程 

探傷面に投影されたビーム路程。

projected beam path

2087 

肉厚半値ビーム路程 

曲率をもつ試験体の斜角法において,肉厚の中央に存
在するきずに対するビーム路程。

path length in center of   
  curved test object

2088 

入射角 

媒質に超音波が入射するとき,

入射波の進行方向と境

界面の法線とがなす角度(JIS Z 8120 参照)

angle of incidence

2089 

入射点 

探触子の表面と超音波ビーム軸との交点。

2088 

入射

角”の図参照。 
注記  斜角探触子に関しては,この点が測定できるよ

うに,通常,探触子の側面に目盛が描かれてい
る。

probe index

2090 

波頭 

音波の同一位相点をつないだ連続面。 wave

front

2091 

波長  (λ) 

完全な 1 サイクルの間に波が伝搬した距離(JIS Z 
8120 
参照)。

wave length

2092 

パルス 

極めて短い時間だけ継続する信号。 pulse

2093 

パルスエネルギー 

パルス超音波探傷器において,

探触子の振動子に加え

られるパルス状の電気エネルギー。

pulse energy

2094 

パルス繰返し周波数 

単位時間当たりに発生させられるパルスの数。 
注記  通常,1 秒間当たりのパルスの数[単位:Hz]

で表示される。

pulse repetition   
  frequency (prf),   
pulse repetition rate


39

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2095 

パルス振幅, 
エコー振幅 

パルス(エコー)の最大振幅。基本表示が用いられた
場合は,通常基線(時間軸)からパルスのピークまで
の高さ。

pulse amplitude,   
echo amplitude

2096 

パルス波形 

時間及び振幅の座標におけるパルス図形の形状。 pulse

shape

2097 

パルス幅, 
エコー幅 

所定のレベルで測定されたパルスの前線と後線との

時間間隔。

pulse length,   
pulse width,   
pulse duration

2098 

波列 

同じ音源で発生し,同じ経路を通って伝搬する同じ性
質の超音波の所定の数の続き。

wave train

2099 

反射角 

境界面へ超音波が入射し反射するとき,反射波の進行
方向と境界面の法線とがなす角度(JIS Z 8120 参照)

angle of reflection

20100 

反射源 

超音波ビームの当たる部分の音響インピーダンスの
変化によって,少なくとも超音波エネルギーの一部が
反射する境界面。

reflector

20101 

ピーク周波数 

周波数スペクトルにおいて最大振幅が観測される周
波数。

peak frequency

20102 

ピーク数 

受信信号の波形周期内の最大振幅の 20  % 
(−14 dB)より大きな振幅をもつサイクルの数。 
注記  この数値の逆数を,“探触子ダンピング係数”

という。

この例では,ピーク数 (PN) は 8 となる。

peak number

20103 

ピークホールド 

探触子の走査に伴って変化するエコー高さの最大値

を常に追跡し,新たにより高いエコー高さが入力され
るまで,そのエコー高さとビーム路程とを表示器に表
示し続けるデジタル探傷器の機能。

peak holding function

20104 

非対称モード 

板波又は薄膜の振動において,

線又は点を基準に対象

の座標変位で逆の位相で振動する波動のモード。

asymmetric mode

20105 

ビームエッジ 

超音波の音圧がビーム軸上の値より所定の値だけ低
下した遠距離音場における超音波ビームの境界。 
2009 

遠距離音場”の図参照。

beam edge


40

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

20106 

ビーム形状 

ビームエッジによって定められた超音波ビームの形
状。

beam profile

20107 

ビーム軸 

遠距離音場の最大音圧点を通り,音源まで延長した

線。

2009 

遠距離音場”の図参照。

beam axis

20108 

ビーム中心軸の偏り 

探触子の実測したビーム軸が設計値から偏っている

距離。

deviation of beam axis

20109 

ビーム入射点 

超音波ビーム軸が試験体に入射する探傷面上の点。

2053 

接触媒質,音響結合媒質”の図参照。

beam index

20110 

ビームの広がり 

超音波が媒質中を伝搬するときの,超音波ビームの拡

散。

beam spread

20111 

ビーム路程 

超音波が入射点から反射源まで試験体中を伝搬した
最短距離。

sound path length,   
beam path length

20112 

表面エコー (S) 
エコー 

探触子に対して媒質の最初の境界面からのエコー。 
注記  通常,水浸法又は遅延材付き探触子を用いた直

接接触法で現れる。

surface echo

20113 

表面波 

実効浸透深さ 1 波長程度で媒質の表面を伝搬する波
のモード。

surface wave,   
Rayleigh wave

20114 

付帯記号 

基本記号を補うための記号。 supplemental

symbols for

  ultrasonic testing

20115 

分解能 

探触子から距離又は方向の異なる接近した 2 個の反

射源を,表示器上それぞれ別のエコーとして識別でき
る性能。分解能には,近距離分解能,遠距離分解能及
び方位分解能がある。

resolution

20116 

平面表示, 
スコープ表示 

走査した探触子の位置に関連して,表示範囲内の振幅
又はビーム路程表示範囲内のエコーの存在をプロッ

トすることによって作られた試験体の二次元平面表
示方法。

C-scan display,   
C-scan presentation

20117 

方位分解能 

探傷面から同じ距離にある 2 個の反射源を 2 個の反射

源と識別できる超音波探傷装置の能力。

angular resolution


41

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

20118 

妨害エコー 

探傷の妨害となるエコー。 
注記  くさび内エコー,残留エコーなど。その他,余

盛からの形状によるエコーなどを含めた総称。

spurious echo,   
parasitic echo

20119 

モード変換 

境界面で超音波モードが変換すること。音波が反射又
は屈折によって他のモードに変換すること。

mode conversion,   
mode transformation,   
wave conversion

20120 

横波 

媒質が固体で,媒質粒子の振動と振動の伝搬方向が直
角方向の波のモード(JIS Z 8106 参照)

shear wave,   
transverse wave

20121 

横波音速比 

圧延した板材において,横波の振動方向を主圧延方向
とした場合の音速と,直角方向にした場合の音速との
比。

sound velocity ratio

20122 

臨界角 

屈折角が 90°になるときの入射角

JIS Z 8120 参照)

。 critical angle

20123 

林状エコー 

試験体内部にある多くの微小の境界面(主として結晶

粒界)によるエコー。ただし,明らかにきずエコーと
分かるものは含まない。

grass,  
structural echoes

20124 

連続波 

パルスの反対語としての一定の連続した流れのある
超音波。

continuous wave

(21)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2101 EDAC 

電子的距離振幅補償の略称。 
2137 

電子的距離振幅補償”参照。

EDAC

2102 EDAC 機能 

電子的距離振幅補償を行う機能。 EDAC

function

2103 

可変角探触子 

入射角を連続的に変えることのできる斜角探触子。

variable angle probe

2104 

くさび 

試験体と探触子とを音響結合させたとき,試験体中へ

所定の角度で屈折していく超音波を発生する(一般に
プラスチックスで作られた)特殊な形状に加工された
構成品。

2116 

斜角探触子”の図参照。

wedge,  
refracting prism

2105 

警報機能 

ゲート装置に接続され,エコーの高さがしきい値を超
えたとき,光又は音で警報を出す装置。

alarm function

2106 

ゲイン調整器 

通常 (dB) で校正され,探傷器のつまみ又はキーで信
号を適切な高さに調整するために使用するもの。

gain controls dB controls,   
gain adjustment

2107 

ゲート 

きずエコーなど必要なエコーだけを取り出す目的で,
表示器上で時間的に限定した範囲。

gate,  
time gate

2108 

ゲート範囲 

ゲート回路が作動する範囲。 gate

range

2109 

ゲートレベル 

監視又は更なる処理のために選択されたゲート内の
エコー信号の上又は下の所定の振幅レベル。

gate level

2110 

校正目盛, 
校正目盛板 

表示器上に設けられた,距離振幅特性曲線を記入した
目盛板,又はそれを記入した目盛板。

calibrated graduation,   
calibrated graduation plate

2111 

広帯域探触子 

1 波又は 2 波程度の極く短い超音波パルスを発生する
探触子。

broad band probe


42

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2112 

時間軸 

時間又はビーム路程で校正された表示器上の掃引線。 time base,

sweep

2113 

時間軸調整器 

探傷器のつまみ又はキーで所定の距離へ時間軸を調

整するために使用するもの。

time base control,   
sweep control

2114 

時間軸直線性 

既知の厚さをもつ板からの多重エコー又は校正され

た時間発生器によって与えられた入力信号と表示器
の時間又は距離軸上に表示された信号との比例の程
度。

time base linearity

2115 

時間軸範囲 

特定の時間軸上に表示される超音波ビーム路程範囲。 time base range,

test range

2116 

斜角探触子 

斜角探傷を行うための探触子。

angle probe,   
angle beam search unit

2117 

集束探触子 

集束点又は集束ビームを得るために,特殊な装置(曲
面振動子,レンズなど)によって超音波ビームを集束

した探触子。

focusing probe

2118 

振動子 

電気エネルギーを音響エネルギーに変換する,又はそ

の逆をする能動素子。

2116 

斜角探触子”及び“2123 

垂直探触子”の図参照。

transducer,  
element

2119 

振動子の公称寸法 

振動子の物理的寸法。

nominal transducer size,   
transducer size,   
element size

2120 

振動子の実効寸法 

波長と近距離音場限界距離から測定された振動子の
機械的寸法より狭い範囲。

effective transducer size

2121 

振動子背面材 

ダンピングを増加させるために,振動子の後ろ側に固
着したもの。

2116 

斜角探触子”及び“2123  垂直探

触子”の図参照。

transducer backing

2122 

水浸探触子 

液体中で使用するために設計された縦波探触子。 immersion

probe

2123 

垂直探触子 

探傷面に対して 90°(垂直入射の超音波ビーム軸)
で伝搬する音波を発生する探触子。

normal probe,   
straight beam probe,   
straight beam search unit

2124 

掃引遅延 

送信パルス又は基準信号との関係において与えられ
た遅延で起動する時間軸掃引。

delayed time base,   
correction of zero point


43

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2125 

タイヤ探触子 

液体を満たした柔らかいタイヤの中に 1 個又はそれ
以上の振動子を組み込んだ探触子。 
注記  超音波ビームは,タイヤの回転する接触部分を

通して試験体と音響結合する。

wheel probe,   
wheel search unit

2126 

縦波斜角探触子 

試験体に縦波を斜めに伝搬させて探傷するための探
触子。

longitudinal wave angle   
  probe

2127 

縦波探触子 

縦波を発生したり,受信したりするための探触子。

compressional wave probe

2128 

探傷図形表示応答性 

瞬間的な探傷信号入力に対するデジタル探傷器の探
傷図形の表示応答能力を表す指標。

displaying response on   
  testing diagram

2129 

探触子 

超音波の送受信を行うために,1 個又はそれ以上の振
動子を組み込んでいる電気−音響変換器。

probe,  
search unit,   
transducer

2130 

探触子シュー 

音響結合状態の改善又は探触子の保護の目的のため
に,探触子と試験体との間に挟む材料の適切な形状の
小片。

probe shoe

2131 

探触子ダンピング係

 

ピーク数の逆数。 probe

damping factor

2132 

超音波厚さ計 

超音波によって試験体の厚さを測定・表示する測定
器。

ultrasonic thickness meter

2133 

超音波探傷器 

超音波試験を行うときに使用する測定器。

ultrasonic test instrument

2134 

超音波探傷装置 

超音波探傷器,探触子,ケーブル及び探傷中に探傷器

に接続されているすべての機器で構成される装置。

ultrasonic test equipment

2135 

調度 

ゲイン,パルス幅,リジェクションなどの,探傷図形

に影響を与えるすべてのつまみの調整位置。

control position

2136 

電磁超音波探触子, 
EMAT 

電磁誘導効果と磁界の相互作用によって電気的振動

を音響エネルギーに変換又はその逆ができる変換素
子。

electro-magnetic acoustic   
  transducer,  
electro dynamic transducer

2137 

電子的距離振幅補償 

超音波探傷器において,距離の異なる同じ寸法の反射
源からのエコーの振幅を電子的に変え,結果的にエコ
ーの高さを等しくすること。

2101 EDAC”参照。

electronic distance amplitude 
  compensation,  
EDAC

2138 

二振動子探触子 

1 個のケースの中に音響的に隔離された 2 個の振動子
で構成された探触子。1 個は超音波送信用で,他の 1
個は受信用である。

2041 

交束距離”の図参照。

double transducer probe,   
twin transducer probe,   
dual search unit

2139 

表示器 

超音波探傷図形を表示するために探傷器に附属する

機器。

display

2140 

表面波探触子 

表面波を発生したり,受信したりするための探触子。 surface wave probe

2141 

フェーズドアレイ探

触子 

複数個の振動子で構成され,それらは異なった振幅又
は位相で独立して作動し,その結果,種々のビームの

角度及び集束範囲を制御できる探触子。

phased array probe

2142 

不感帯 

目的とするエコーを検出することのできない探傷面
直下の領域。

dead zone

2143 

部分拡大 

試験体の長さ又は厚さ以内の選択された領域内のエ
コーをより詳細に探傷図形中に表示させるための時

間軸拡大機能。

expanded time-base sweep, 
zoom

2144 

フリーズ 

表示器上の探傷図形を静止させるデジタル探傷器の

機能。

freezing function

2145 

保護膜 

探触子に組み込めるような構造で,試験体への直接接

触による磨耗などから振動子を保護するための薄い
層状のもの。

2123 

垂直探触子”の図参照。

wear plate,   
diaphragm


44

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2146 

横波垂直探触子 

横波探触子のうち,探傷面に対して垂直方向に超音波
を送信・受信することのできる探触子。

shear wave normal probe

2147 

リジェクション 

超音波探傷器において,

所定の振幅レベル

(しきい値)

より下のすべての指示を消すことによって,雑音の指
示(林状エコーなど)を軽減すること。

rejection,  
suppression,  
reject,  
grass cutting

2148 

ルーフ角 

二振動子探触子において,2 個の振動子の垂線間の角
度の 2 分の 1。

2041 

交束距離”の図参照。

roof angle,   
tee-in-semi-angle

(22)  標準試験片・対比試験片 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2201 

円形平面きず 

基準として使用する円板状の反射源。 
注記 DGS 線図などで理論的取扱いによく用いられ

る。

disk type flaw

2202 

円柱反射源 

基準として使用する円柱状の反射源。 
注記  通常,試験体に横穴をドリルで加工したものが

用いられる。

cylindrical reflector

2203 

基準反射源 

きず検出感度の校正又は評価のために使用する標準
試験片又は対比試験片の中の既知の形状,寸法,探傷

面からの距離をもつ反射源。

reference flaw (defect),   
reference reflector

2204 

対比試験片(超音波

探傷用−) 

探傷器の感度,測定範囲の調整などに使用され,試験

体と同材質又は類似材質のもので作製した試験片。

reference block

2205 

標準穴 

超音波探傷装置のゲイン調整を行うとき,標準の反射
源として用いるために,試験片に加工される規格化さ

れた形状,寸法の穴。

reference hole

2206 

標準試験片, 
STB 

材質・形状・寸法は規定され,超音波的にも検定され

た試験片。 
注記  探傷器の性能試験又は感度調整などに使用さ

れる。

JIS Z 2345 では 5 種類が規定されている。

calibration block,   
standard test block

2207 

平底穴 

標準試験片又は対比試験片に設けられた底が平らな
ドリル穴。

flat bottom hole (FBH),   
disc flaw,   
disc shaped reflector

2208 

横円柱穴, 
横穴 

探傷面に平行に作られた円筒形反射源。

side drilled hole (SDH),   
side cylindrical hole

(23)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2301 

板波法 

板波を使用する探傷方法。主に薄板の探傷に使用す
る。

plate wave technique

2302 

一回反射法 

斜角法において,探触子の接触面と反対の面で反射さ
せた後,超音波ビームを試験体の探傷領域に投射する
探傷方法。

double traverse technique

2303 

一探触子法 

超音波の発生と受信とを 1 個の探触子を用いて行う

探傷方法。

single probe technique


45

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2304 A2 感度 

STB-A2 試験片のφ1.5 mm 貫通穴を使用して規定し
た探傷感度。

A2 sensitivity

2305 

間接探傷法 

試験体の面での反射を用いて試験体の探傷領域に超

音波ビームを投射する探傷方法。

indirect scan technique,   
indirect scan

2306 

基準感度 

基準反射源のエコー高さを所定の値に調整すること

によって表される超音波探傷装置の感度。

specified sensitivity

2307 

きず検出感度 

検出可能な最も小さなきずによって規定される超音

波探傷装置の能力。

flaw detection sensitivity

2308 

ギャップ走査, 
ギャップ走査法 

探触子を直接試験体に接触せずに,数波長以内の厚さ

の水柱を介して探触子を試験体に音響結合する探傷
方法。

2053 

接触媒質,音響結合媒質”の図参照。

gap scanning,   
gap scanning technique

2309 

局部水浸法 

探触子と探傷面との間だけ局部的に音響結合媒質を

介在させて探傷する方法。

local immersion technique

2310 

首振り走査 

斜角法において,探触子を,その入射点を通り,探傷

面に垂直な軸で回転させる走査。

swivel scanning

2311 

格子点探傷法, 
交点探傷法 

鋼板などの探傷面に一定間隔で縦横の線を引き,その
交点の箇所を垂直探傷する方法。

specified cross point testing

2312 

左右走査, 
左右走査法 

斜角法において溶接部からの距離を一定にして探触
子を左右に移動する走査。“2056 

走査方向”の図参

照。

lateral scanning,   
lateral scanning technique

2313 

ジグザグ走査, 
ジグザグ走査法 

斜角法において,多少の首振り走査を交えて,前後走
査しながら,溶接線に平行に探触子を移動する法。

zig-zag scanning,   
zig-zag scanning technique

2314 

自動探傷法 

探触子の走査が電気,油圧,空圧などのエネルギーで

機械的に行われ,かつ,試験体又は探傷装置の移送,
探傷結果の記録が自動的に行われるもので,被探傷部
を連続的に探傷する方法。

automatic scanning


46

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2315 

斜角法 

探傷面に対して垂直以外の入射角の斜角探触子の超
音波ビームを用いる方法。

angle beam technique

2316 

手動走査 

探傷面の上を探触子を手動で移動すること。 manual

scanning

2317 

水浸法 

音響結合媒質又は屈折プリズムとして使用する液体
の中に試験体と探触子とを浸す方法。

20112

表面エ

コー (S)エコー”の図参照。 
注記  全没又は部分没を含む。水ジェット及びタイヤ

探触子を用いた方法を含む。

immersion technique,   
immersion testing

2318 

垂直法 

垂直探触子を使用する方法。

2024 

きずエコー (F)

の図参照。

normal beam technique,     
straight beam technique

2319 

スパイラル走査 

探触子又はパイプの長手方向の移動と同軸の回転と
を用いた走査。

spiral scanning

2320 

セクター走査 

フェーズドアレイ探触子を用いて,送・受信を位相制
御することによって同一平面で超音波ビームを扇形
に移動させる走査方法。

sector scanning

2321 

前後走査 

斜角法において溶接線に対し探触子を前後に移動す
る走査。

2056 

走査方向”の図参照。

depth scanning

2322 

走査 

探傷の目的に応じて,探傷面上で探触子を動かすこ
と。

scanning

2323 

対比試験片法 

きずの評価に,きずからのエコーと,対比試験片内の
既知の反射源からのエコーとを比較する方法。

reference block method

2324 

多重エコー法 

試験体の面又はきずからの繰り返されたエコーを,材
料評価に使用する探傷方法。 
注記  この方法は次のように使用される。

a)  振幅による評価:材料又は接着部分の品質

評価のために,後に続くエコーの高さを用
いる。

b)  ビーム路程による評価:肉厚測定の精度を

向上させるために,できる限り多くの多重
エコーを用いる。

multiple-echo technique


47

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2325 

多数回反射法 

試験体の面での数回の反射の後,試験体の探傷領域に
超音波ビームを投射する探傷方法“2051 

スキップ距

離”の図参照。

multiple traverse technique

2326 

縦方形走査, 
縦方形走査法 

斜角法において探触子を一定の間隔で溶接線と直角
に移動させて行う走査方法。

square scanning,   
square scanning technique

2327 

探傷感度 

探傷目的に応じて適切に調整された超音波探傷装置

の感度。

working sensitivity

2328 

タンデム走査, 
タンデム探傷法, 
タンデム走査探傷法 

通常,同じ屈折角をもち,超音波ビームを探傷面上で

同じ方向に向けた 2 個又は 2 個以上の探触子を必要と
する探傷(走査)方法。 
注記  1 個の探触子を送信用に,他の探触子を受信用

に用いる。この探傷方法は,主に,探傷面に垂
直なきずの検出に使用される。

tandem scanning,   
tandem technique,   
tandem scanning technique

2329 

端部エコー法 

斜角探触子の入射点と,きずの端部とルートエッジ部

からの 2 個の最も高いエコーの距離から探傷面に平
行ではない平面きずの見かけ寸法を見積もる探傷法。
きず寸法測定法の一つ。

tip echo technique,   
tip diffraction technique

2330 

超音波パルス法 

試験体に超音波パルスを伝搬させて,音速の測定及び
音響的不連続部分を検出する方法。

ultrasonic pulse technique

2331 

直射法 

途中で反射することなく,直接超音波ビームを試験体
の探傷領域に投射する方法。

direct scanning technique,   
single traverse technique

2332 

直接接触法 

探触子を探傷面に直接接触させて探傷する方法。

contact testing technique,   
contact method,   
contact scanning


48

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2333 

透過法 

試験体を伝搬し受信用探触子に入射した超音波エネ
ルギーの強さで,材料の品質を評価する方法。

transmission technique,   
through transmission   
  technique

2334 TOFD  

平面きずの検出及び寸法測定のために,種々の探触子
の位置又は入射角での干渉波の間の相互関係を用い
る探傷方法。 
注記  ティーオーエフディ法又はトフド法と呼ぶ。

time of flight diffraction   
  technique

2335 

斜め平行走査, 
斜め平行走査法 

斜角法において,1 個の探触子を溶接線に対して,あ

る角度 α をもたせておき,これを溶接線に平行に移
動させて行う走査方法。

parallel scanning with a   
  probe slanted,   
parallel scanning technique 
  with a probe slanted

2336 

二探触子法 

送信用及び受信用の 2 個の探触子を用いる超音波探
傷法。

double probe technique

2337 

パルス反射法 

送信された 1 周期の超音波パルスを反射後受信する
方法。

pulse echo technique,   
reflection technique

2338 

反射板法 

水浸法において,試験体の底面側に設置した反射板を

利用して行う透過法。 
注記  特に薄い試験体の探傷に利用される。

reflection plate method

2339 

表面波法 

表面波を用いる方法。 
注記  主に表面近傍のきずの検出に使用する。

surface wave technique

2340 V 透過法 

送受 2 個の斜角探触子を 1 スキップの距離を隔てて相
対して配置し,超音波を送受する方法。

vee path technique

2341 

振子走査, 
振子走査法 

斜角法において,探触子をあらかじめ存在している反
射源の周囲を走査し,その形状に関する情報を得るた
めに使用する走査。

orbital scanning,   
orbital scanning technique

2342 

またぎ走査 

斜角法において,2 個の探触子を溶接線の両側に 1 個
ずつ配置し,これらを同時に移動させて行う走査。 
注記  溶接線に直角方向のきずを検出するために使

用する。

straddle scanning


49

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2343 

溶接線上走査 

斜角法において,探触子を余盛が削除された溶接部及
び熱影響部の上に置き,超音波ビームを溶接線方向に
向け,溶接線方向に移動させて行う走査。

longitudinal scanning on   
  weld surface

2344 

横方形走査 

斜角法において,探触子を一定の間隔で溶接線と平行
に移動させて行う走査。 
2326 

縦方形走査,縦方形走査法”の図参照。

lateral square scanning

2345 

リニア走査 

フェーズドアレイ探触子を用いて,送・受信を位相制
御することによって同一平面・探触子の真下で超音

波ビームを平行に移動させる走査。

linear scanning

(24)  判定・評価 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2401 

エコー高さ区分線 

きずエコー高さを領域で区分して評価するための線。
注記  一般的には,数本の距離振幅特性曲線によって

構成される。

dividing curves of echo   
  height

2402 

基準レベル 

きず検出感度の調整及びきずエコー高さの評価のと
きの,基準とするエコー高さ。

reference level

2403 

きずの指示高さ 

6 dB 又は 20 dB 低下法などで,探触子の移動距離に
よって推定されたきずの試験体の厚さ方向の見かけ

の寸法。

apparent flaw height

2404 

きずの指示長さ 

6 dB 又は 20 dB 低下法などで,探触子の移動距離に
よって推定されたきずの長手方向の見かけの寸法。

apparent flaw length

2405 

距離振幅特性曲線 

ビーム路程によるエコーの高さの変化を示す標準的
な特性曲線。

distance-amplitude  
  characteristic curve

2406 

距離振幅補正 

距離によるエコー高さの変化を距離振幅特性曲線で
補正すること。

distance-amplitude  
  correction

2407 

距離振幅補正曲線, 
DAC 
曲線 

探触子から種々の距離にある等しい基準反射源から
の最大エコー高さに基づいて校正された基準曲線。

distance-amplitude,  
correction curve (DAC)

2408 

警報レベル 

ゲート装置によって設定された検出レベル。 alarm/trigger

level

2409 

検出レベル, 
評価レベル 

欠陥として評価するために定めたきずエコー高さの

最低限界レベル。

disregard level


50

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

2410 

合否判定レベル 

基準きず検出感度に基づいて定めた合格の限界レベ
ル。

acceptance level

2411 

試験片方式 

標準試験片又は対比試験片を用いて探傷感度を調整

して探傷を行う方法。

reference block method

2412 

走査グラフ 

探触子位置とエコー高さとの関係を直角座標などに

描いたグラフ。

scanning graph of echo   
  height

2413 DAC  

反射源からのエコー高さを DAC 曲線と関連付けて表

す方法。

DAC method

2414 DGS 線図 

異なる寸法の円形平面反射源と無限大反射源に関し,
dB でビームに沿った距離とゲインとの関係を表す曲
線群。

DGS diagram,   
AVG diagram

2415 DGS  

反射源からのエコーを種々の寸法の円形平面きずか

ら得られる等価きずエコー高さに換算して,平底穴か
らのエコー高さで表すために DGS 線図を用いる方
法。

DGS method,   
AVG method

2416 

底面エコー方式 

試験体の健全部の底面エコー高さを基準として,きず
検出感度を調整して探傷を行う方法。

back wall echo method

2417 

等価きず直径 

DGS 線図によって計算された円形平面きずの直径。

equivalent flaw diameter

2418 20 

dB 低下法 

反射源の寸法(長さ,高さ及び幅)を,最大エコー高

さを示す位置からそのエコーの高さが,1/10 (20 dB) 
の値になるまで探触子を移動させて評価する方法。

20 dB drop method

2419 

領域 

きずを評価するために,ビーム路程に応じてエコー高
さを区分した範囲。

region of echo height

2420 6 

dB 低下法 

反射源の寸法(長さ,高さ及び幅)を,最大エコー高

さを示す位置からそのエコーの高さが,半分の値  (−
6 dB)  になるまで探触子を移動させて評価する方法。

6 dB drop method,   
half-amplitude method


51

Z 2300

:2009

  (3)  アコースティック・エミッション 

(30)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

3001 

アコースティック・

エミッション, 

AE 

ある材料の内部の局部的音源の急速なエネルギー放
出によって非定常的な弾性波が発生する事象,又は,

そのようにして発生する非定常的な信号波をいう。 
注記  一般的用語としては,この“アコースティッ

ク・エミッション”を推奨する。

なお,AE 関係の文献に使用されている他の

用語には次のものがある。 
a)  弾性波放出 (stress wave emission) 
b)  ミ ク ロ サ イ ス ミ ッ ク ・ ア ク テ ィ ビ テ ィ

(microseismic activity)

c)  他の限定詞による修飾を伴う,エミッショ

ン又はアコースティック・エミッション

acoustic emission,   
AE

3002 AE 信号, 

エミッション信号 

一つ又はそれ以上の AE 事象を検出して得られる電
気信号。

AE signal,   
emission signal

3003 AE 事象, 

エミッション事象 

AE を生じさせる,材料の局部変化。

acoustic emission event,   
emission event

3004 AE 事象のエネルギ

 

一つのエミッション事象によって放出される弾性エ
ネルギーの全量。

AE event energy

3005 AE 信号の開始 

システム・プロセッサによって認識された AE 信号の
開始。 
注記  通常は,振幅が最初にしきい値を超えることに

よって定義される。

AE signal start

3006 AE 信号の終了 

AE 信号の認識された終了を意味し,通常は,当該信
号がしきい値を最終的に通過することと定義される。

AE signal end

3007 AE 特性 

定められた試験条件のもとで所定の計測システムに

よって観測される,個々の試験体にかかわる AE 信号
の再現可能な一連の特性。

AE signature,   
signature

3008 AE  

AE によって生じる弾性波。 AE

wave

3009 

音響・超音波法, 
AU 

弾性波を発生させて,供試構造体のきず分散状態,損

傷状況及び機械的特性変化を検出し評価する非破壊
検査方法。 
注記  この AU 検査法は,アコースティック・エミッ

ション (AE) 信号による解析手法と,超音波を
用いた材料特性検査手法とを組み合わせたも
のである。

acousto-ultrasonics,  
AU

3010 

カイザー効果 

前に使用した応力レベルを超えるまでの間,あらかじ
め設定した感度レベルで検出可能な AE が存在しな
いこと。

Kaiser effect

3011 

疑似 AE  

AE センサ又は計測装置の校正,感度設定などの目的
に使用される AE 波を模擬した弾性波の発生源。

artificial AE source

3012 

検査部位 

AE で監視する試験体の部分。 examination area

3013 

検査領域 

AE 技術を使って評価する試験体の部分。 examination

region

3014 AE の減衰 

振幅の単位長さ当たりの低下。 
注記  通常は単位長さ当たりの dB 値で表す。UT の

減衰は“音圧の減少”として定義されるが,
AE 試験においては,

“振幅値の減少”と定義さ

れる。

AE attenuation


52

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

3015 

刺激 

試験品に力,圧力,熱などの刺激を与えて AE 源を活
性化すること。

stimulation

3016 

設計圧力 

設計において,必要な最小肉厚及び必要な最小機械的

特性を決定するときに用いる圧力。

design pressure

3017 

突発形 AE 

材料内に起きる個々の AE 事象に関連する,離散信号

の定性的表現。 
注記  “突発形 AE”は,AE 信号の定性的な見かけの

様相を表現する場合に限って推奨される。下図

は,

突発形 AE のオシロスコープ表示例である。

burst emission

3018 

フェリシティ効果 

あらかじめ設定した感度で検出可能な AE が,前に使
用した応力より低いレベルで検出されること。

felicity effect

3019 

有効音速 

人為的に発生させた AE によって得られた到着時間
と伝ぱ距離とから計算される速度。 
注記  計算による位置標定に用いる。

effective velocity

3020 

連続形 AE 

次々と急速に起きる AE 事象によって生じる持続性
信号レベルの定性的表現。 
注記  “連続形 AE”は,AE 信号の,定性的な見かけ

の様相を表現する場合に限って推奨される。下
図は,2 種類の掃引時間で得られた連続形 AE

のオシロスコープ表示例である。

continuous emission


53

Z 2300

:2009

(31)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

3101 AE ウェーブガイド 

AE モニタリングのときに,構造体又はその他の試験
体から発せられる弾性波を,遠隔点に置かれた変換子
に結合するための装置。 
注記  線又は棒端を監視すべき試験体に結合し,他方

の端を変換子に結合した装置は,この AE ウェ
ーブガイドの一例である。

AE waveguide

3102 AE 信号発生器 

AE 計測器に,設定した過渡信号を繰り返して入力で
きる装置。

AE signal generator

3103 AE センサ, 

AE 変換子 

弾性波を電気信号に変換するための,通常,圧電方式

の検出器。

AE sensor

3104 AE チャンネル 

次の組合せによって構成される AE を計測するシス

テム。 
a)  変換子 
b)  前置増幅器又はインピーダンス整合トランス 
c)  フィルタ二次増幅器又はその他の必要機器 
d)  接続ケーブル 
e)  検出器又はプロセッサ 
注記  ガラス繊維強化プラスチック (FRP) を検査す

るためのチャンネルには,付帯電子回路を備え
た 2 個以上の変換子を使用してもよい。また複

数のチャンネルは,それぞれを別々に処理する
か,又は感度と周波数特性とが類似しているグ
ループにあらかじめ分けて処理を行ってもよ

い。

AE channel

3105 AE 変換素子 

アコースティック・エミッションセンサ(変換子)に

使われる,通常,圧電式の変換素子。

AE transducer

3106 

接触媒質 

AE 計測のときに,音響エネルギーの伝ぱをよくする
目的で,構造体と変換子との境界部分に使用する材

料。

couplant

(33)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

3301 

アコースティック・

エミッション信号
振幅 

一つのエミッション事象における信号波形の最大電
圧。

AE signal amplitude

3302 

アレイ 

音源を検出し,かつ,その位置を標定する目的で構造
物に配置された 2 個以上の AE 変換子の群。 
注記  音源は,通常,アレイ内にある。

array

3303 AE 計数, 

エミッション計数 

ある試験期間において,AE 信号が,あらかじめ設定

したしきい値を超える回数。

AE count

3304 AE 計数率, 

エミッション率, 
計数率 

AE 計数の時間率。 emission rate,

count rate

3305 AE 

RMS  

AE 信号の実効値。

AE root mean square value

3306 AE 信号の持続時間 

AE 信号の開始から終結に至るまでの時間。AE 信号
の継続時間ともいう。

AE signal duration

3307 AE 信号の立上り時

 

AE 信号の開始から,その AE 信号が最大振幅に至る
までの時間。

AE signal rise time


54

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

3308 

過負荷回復時間 

信号の振幅が測定器の直線動作範囲を超えることに
よって起きる測定器の非直線動作の時間。

overload recovery time

3309 

事象計数 

弁別されたアコースティック・エミッション事象を

一つとして数えて得られた数値。“3321 

評価しきい

値”参照。

event count

3310 

事象計数率 

事象計数の時間率。

event count rate

3311 

システム検査しきい

 

その値においてデータが検出される電子計測器のし

きい値。

3321 

評価しきい値”参照。

system examination   
  threshold

3312 

処理速度 

データ移動のための割込みを掛けなくても,システム

による AE 信号の連続処理が可能である維持速度 
(hits/s)。 
注記  パラメータ集合と活動チャンネル数の関数。

processing speed

3313 

処理容量 

システムがデータ集積に割り込んで,バッファをクリ
アするなどの新規データの受入態勢を作らなければ
ならなくなる以前に,その処理速度で処理することが

可能であるヒット数。

processing capacity

3314 

信号過負荷点 

そのポイントで,出力と入力との比が所定の直線動作

範囲内にあるとみられる,入力信号振幅の最大値。

signal overload point

3315 

信号過負荷レベル 

それを超えると信号がゆがんだり,オーバヒートした

り,損傷が起きて,満足な動作が行われなくなる信号
レベル。

signal overload level

3316 

ダイナミックレンジ 

システム又は変換子において,

過負荷レベルと最小信

号レベル(通常は,雑音レベル,低レベルひずみ,干
渉又は分解能の一つ若しくは複数の組合せによって

決まる)の差を,dB で表した値。

dynamic range

3317 dBAE(でしべるえー

いー) 

1 µV(マイクロボルト)を基準に取ったときの,AE
信号振幅の対数値。信号の最大振幅値 [(dB

AE

)=20

log

10

 (A

1

/A

0

)]  で表される。

ただし, 
A

0

:1µV,

A

1

:変換子出力端(増幅される前)において測定され

た AE 信号電圧の最大値

アコースティック・エミッションの基準スケール。

dBAE 値

変換子出力端電圧

  0

1 µV

 20

10 µV

 40

100 µV

 60

1 mV

 80

10 mV

100 100

mV

dBAE

3318 

電圧しきい値 

それより大きい振幅の信号が認識される比較器の電

圧レベル。 
注記  この電圧しきい値はユーザが調整,固定するこ

とができ,また,自動浮動形とすることもでき

る。

voltage threshold

3319 

到着時間差 

変換子アレイの 番目と 番目の変換子で検出され

た,AE 波の到着の時間差。

arrival time interval

3320 

ヒット 

しきい値を上回り,システム・チャンネルのデータを

加算する信号。

hit


55

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

3321 

評価しきい値 

検査データの解析に用いるしきい値。 
注記  データは,この評価しきい値より低いシステム

検査しきい値でだけ,記録される。解析では,

システム検査しきい値が測定データに与える
影響を考慮しなければならない。

evaluation threshold

3322 

不感時間 

データ取得中に,計測器又は装置が新たなデータを受

け入れ得ない時間。

dead time

3323 

浮動形しきい値 

入力信号の時間平均振幅で設定されるしきい値。 floating

threshold

3324 

平均信号レベル 

整流され,かつ時間平均された対数 AE 信号。AE 振
幅の対数目盛で測定され,dB

AE

単位で報告された値。

ただし,前置増幅器の入力端で 1 µV(マイクロボル
ト)を 0 dB

AE

とする。

average signal level

(34)  判定・評価 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

3401 

位置標定 

AE データを評価し,試験体上の音源の起点を決定す
る方法。 
注記  位置標定へのアプローチとして,ゾーン標定,

計算標定,連続標定などがある。

source location

3402 

位置標定精度 

AE 源(又は人為的に発生させた AE 源)と,計算位
置標定との比較。

location accuracy

3403 

クラスター位置標定 

指定された長さ又は面積の範囲内に位置標定された,
AE アクティビティのある量をもって位置を標定する
方法(例えば,305 mm の線分内又は 305 mm

2

の面積

内に 5 事象)

cluster location

3404 

計算ロケーション 

変換子間の到着時間差から解析して行う位置標定の
方法。 
注記  計算位置標定には,直線,平面,立体,複合位

置標定など,幾つかがある。

computed location

3405 

信号減衰による位置

標定 

AE 信号の距離と減衰との対応関係を利用する位置標
定方法。 
注記  対象物上のさまざまな箇所で,連続信号の AE

信号強度を監視すれば,その信号強度の最大値
から,又は複数の測定値を内挿又は外挿するこ
とによって,音源位置を決定することができ

る。

signal attenuation-based   
  source location

3406 

相関による位置標定 

音源を包囲する二つ以上の箇所で比 AE 信号の相互

相 関 を 求 め , そ れ ら の 信 号 の 時 間 差  (time 
displacement)  を求める位置標定方法。 
注記  この時間差データを,通常のヒットを利用する

位置標定手法とともに用いれば,その音源位置
が求められる。

correlation-based source   
  location

3407 

ゾーン標定 

AE 源の発生した領域を判定する方法(例えば,AE
総計数,エネルギー,ヒットなどを用いる方法があ
る。

注記  ゾーン標定へのアプローチとしては,独立チャ

ンネル・ゾーン標定,第 1 ヒット・ゾーン標定,
到着順位ゾーン標定などがある。

zone location


56

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

3408 

対数振幅分布, 
対数 AE 振幅分布 

V と αV(ただし,α は定数)との間に信号振幅をも
つ AE 事象の数の振幅による変化。 
注記  これは微分振幅分布の一種で,対数分割データ

に適する。

logarithmic amplitude   
  distribution,  
logarithmic AE amplitude   
  distribution

3409 

第 ヒット・ゾーン

標定 

チャンネル群のうち,第 1 ヒット・チャンネルからの
アクティビティだけを比較するゾーン標定方法。

first-hit zone location

3410 

直線位置標定 

二つ以上のチャンネルを必要とする一次元の位置の
標定。

linear location

3411 

適応位置標定 

人為的に発生させた音源と,計算位置標定とを組み合
わせて行う位置標定。

adaptive location

3412 

到着順位ゾーン標定 

変換子への到着順位で比較するゾーン標定方法。

arrival sequence zone   
  location

3413 

独立チャンネル・ゾ

ーン標定 

各チャンネルからのアクティビティの総量を比較す
るゾーン標定方法。

independent channel zone   
  location

3414 

微分しきい値通過分

布, 

微分 AE しきい値通

過分布 

AE 信号波形が,しきい値 と  (V

Δ

V)  との間にピ

ークをもつ回数の振幅 による変化。f

t

 (V)  は,累積

振幅分布 F

t

 (V)  の導関数の絶対値とする。

differential threshold   
  crossing amplitude   
  distribution,  
differential AE threshold   
  crossing amplitude   
  distribution

3415 

微分振幅分布, 
微分 AE 振幅分布 

と  (V

Δ

V)  との間に信号振幅をもつ AE 事象の数

の振幅 による変化。f (V)  は,累積振幅分布 F (V)  の

導関数の絶対値とする。

differential amplitude   
  distribution,  
differential AE amplitude   
  distribution

3416 

フェリシティ比 

フェリシティ効果が起きるときの応力と,前に使用し
た最大応力との比。 
注記  感度レベルは,通常は,前の負荷又は試験に使

用した感度と同じである。

felicity ratio

3417 

平面位置標定 

三つ以上のチャンネルを必要とする二次元の位置の
標定。

planar location

3418 

立体位置標定 

五つ以上のチャンネルを必要とする三次元の位置の
標定。 
注記  チャンネル数は,四つでもよい。

3-D location

3419 

累積しきい値通過分

布, 

累積 AE しきい値通

過分布 

AE 信号がある任意のしきい値を上回る回数のそのし
きい値電圧 (V) による変化。

cumulative threshold   
  crossing distribution,   
cumulative AE threshold   
  crossing distribution

3420 

累積振幅分布, 
累積 AE 振幅分布 

任意の振幅値を上回る信号をもつ AE 事象の数の振
幅 による変化。

cumulative amplitude   
  distribution,  
cumulative AE amplitude   
  distribution

3421 

連続 AE 信号標定 

ヒット又は到着時間差による方法と異なり,連続 AE

信号を用いて行う位置の標定方法。 
注記  このタイプの位置標定は,連続形 AE が発生す

るリークの位置標定に広く用いられる。連続信

号位置標定方法の一般的なタイプとして,信号
減衰解析法,信号相関解析法などがある。

continuous AE signal   
  location


57

Z 2300

:2009

  (4)  磁粉探傷試験 

(40)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4001 A 領域紫外線 

波長 365 nm に公称最大強度をもつ紫外放射。(UV-A)
(波長 315∼400 nm)

ultraviolet radiation in A   
  region

4002 

アーク・ストライク 

電気回路の結合又は分断によって生じたアークによ
る部材の局部的焼損(JIS Z 3001-2 及び JIS Z 3001-4
参照)

arc strikes

4003 

暗順応 

人が明るい所から暗い所へ移ったときに目が行う順
応。

dark adaptation

4004 

暗順応時間 

暗順応に要する時間。

最小で 10 分間,

最大で 30 分間。 dark adaptation time

4005 

永久磁石 

外部磁界を取り去っても残留磁束密度が長時間残る
磁性体。

permanent magnet

4006 

液槽(磁粉探傷試験

用−) 

磁粉を懸濁させた検査液の入った槽。

bath for magnetic particle   
  examination

4007 

円形磁界 

電流が試験体又は貫通導体を流れるときに電流を取

り囲むように生じる円形の磁界。

circular magnetic field

4008 

起磁力 

コイルの巻き数とコイルを流れる電流(アンペア)と

の積。アンペアターンともいう。

ampere turn

4009 

キュリー点 

磁性体が外部磁界によって磁化されなくなる温度。 curie

point

4010 

凝集 

検査液中又は空気中に懸濁させた磁粉が集まり固ま
ってしまうこと。

coagulation

4011 

強磁性体 

比透磁率が 1 より大きく,磁気履歴を示す物質。 ferromagnetic

material

4012 

蛍光 

ある種の化学物質が紫外線の照射を受けている間,可

視光を放射する現象(JIS Z 4001 及び JIS Z 8120 
照)

fluorescence

4013 

蛍光安定性 

一定時間にわたって検出媒体が蛍光性能を維持する
能力。

fluorescent stability

4014 

継鉄棒 

磁化状態を改善するために試験体の端部に取り付け

る強磁性体。

extenders

4015 

検出媒体 

検査に使える状態になっている,液体に分散した磁粉

(湿式法の検査液)又は空気中に分散した磁粉(乾式
法)

detection media

4016 

検出媒体の機械的安

定性 

作業条件下において検出媒体が性能を維持する能力。 mechanical stability

4017 

合成磁界 

多くの磁界を同じ場所に加えた場合の合成された磁
界。

resultant magnetic field,   
resultant field

4018 

残磁性体 

外部磁界が取り去られた後に磁束密度が残留する物

質。

retentive material

4019 

残留磁界 

外部磁界が取り去られた後に磁性材料に残った磁界。 residual magnetic field

4020 

残留磁気 

外部磁界が取り去られた後に強磁性体材料に残る磁
束密度。

residual magnetism

4021 

紫外線 

100∼400 nm の波長の紫外放射。 
注記  UV-A (315-400 nm),UV-B (280-315 nm) 及び

UV-C (100-280 nm)  の三つの領域に分かれる。
蛍光磁粉探傷において用いられるのは 365 nm
にピークのある A 領域紫外線 (UV-A) である。

ultraviolet radiation

4022 

磁界 

磁化された部品及び電流の流れている導体の内と周
りの空間で,磁力が作用しているところ。磁場ともい
う。

magnetic field


58

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4023 

磁界の強さ 

磁界の大きさを表す量であって,磁界の中に置いた単
位磁極に働く力の大きさに対応する。 
[単位:A/m(アンペア毎メートル)

magnetic field strength

4024 

磁化電流 

試験体中に磁気を誘導するために用いる電流。 magnetizing

current

4025 

磁気コア 

電磁石の鉄心部分であって,この上にコイルが巻かれ

ている。

core

4026 

磁気飽和 

強磁性体において,磁界が増加しても,磁束密度が顕

著に増加しない領域。

magnetic saturation

4027 

磁極 

磁石又は磁化された試験体において,磁束が出入りす

る領域。N 極と S 極とがある。

magnetic pole,   
pole

4028 

磁気履歴 

鉄のような磁性材料における磁界の変化に起因する,
磁化の強さ又は磁束密度の履歴。磁気ヒステリシスと

もいう。

magnetic hysteresis,   
hysteresis

4029 

試験体表面に平行な

磁界 

磁化された試験体の表面に形成される磁界の,試験体

表面に平行な成分。

tangential field

4030 

磁束密度 

単位面積当たりの磁束線の量。

[単位:T(テスラ)

magnetic fIux density

4031 

磁力線 

磁界内において,その点の磁界の接線方向と一致して

いる曲線。磁石上の紙片に鉄粉を散布し,軽くたたけ
ば,鉄粉が磁力線に沿って整列する。

lines of force,   
flux lines

4032 

全波整流 

交流の正の部分はそのまま,負の部分を正の電流に変

換する整流方式。

full-wave direct current

4033 

脱磁 

残留磁気を必要な限度まで減少させること。 demagnetization

4034 

調整剤 

適度のぬれ性,分散性又は防食性のような特殊な特性
を与えるため,水性の検査液に添加する物質。

conditioning agent

4035 

透磁率 

磁界 H と磁束密度 B との関係式 B=μH における μ を
いう。

magnetic permeability

4036 

長手方向磁界 

試験体の長手方向軸に平行な方向に磁束線が通るよ
うに磁化することによって発生する磁界。

longitudinal magnetic field

4037 

バイポーラ磁界 

きずの両端などに生じる両極性の磁界。 bipolar

field

4038 

バックグラウンド 

磁粉指示模様に対する試験体表面に付着した磁粉粒

子の状態。

background

4039 

バッチ 

1 回の製造作業によって製造された磁粉の量であっ
て,全体にわたって均一な性質をもち,かつ,識別の
ための唯一の番号又はマークをもつもの。

batch

4040 

半波整流 

交流の正又は負のどちらかの電流を流す整流方式。 half-wave

current

4041 

表皮効果 

試験体に加えた交流電流又は交流磁束が,表面で最大
で内部では次第に減少する現象。

skin effect

4042 

表皮深さ 

交流磁界における表皮効果の程度を示す量であって,
試験体の透磁率を一定とみなしてよい場合は電磁界

の強さが表面の約 37  %になる厚さ。浸透深さともい
う。

skin depth,   
standard depth of penetration

4043 

保磁力 

磁化曲線において,磁束密度がゼロに等しいところの
磁界の強さ。 
[記号:A/m(アンペア毎メートル)

coercive force

4044 

脈流 

整流された電流の波形。 rectified

current

4045 

リフティングパワー

テスト 

可搬形電磁石の吸引力による性能確認試験。 lift

test


59

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4046 

漏えい(洩)磁界 

磁気回路の不連続部又は断面形状の変化部で,試験体
表面に出入りする磁界。

magnetic leakage field,   
leakage field

(41)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4101 

乾式磁粉 

乾いた状態で適用される強磁性粉体。 dry

powder,

powder

4102 

極間式磁化器 

磁石によって試験体に磁束を投入して磁化する装置。
ヨークともいう。 
注記  極間式磁化器は永久磁石又は電磁石で構成さ

れる。

yoke,  
magnetic yoke

4103 

蛍光検出媒体 

A 領域紫外線を用いて検査に使用される検出媒体。

fluorescent detection media

4104 

検査液 

磁粉の懸濁した液体であって,通常,調整剤によって
沈降を防ぐように調整されている。湿式検出媒体。

magnetic ink,   
examination medium,   
magnetic suspension,   
inspection medium

4105 

コントラストペイン

 

磁粉模様の識別性をよくするために表面に適用する
コーティング又はフィルム。

contrast aid paint

4106 

紫外線強度計 

紫外線放射強度を測定する計器。 ultraviolet

intensity

meter

4107 

紫外線照射装置 

A 領域紫外線 (UV-A) の照射器。ブラックライトと
もいう。

ultraviolet lamp,   
black light

4108 

紫外線フィルタ 

A 領域紫外線 (UV-A) を透過し,他の波長の電磁波
を吸収するフィルタ。

ultraviolet filter

4109 

磁界検出器 

磁界を検知するために用いる簡易計測器具。 magnetic

field

indicator

4110 

磁界測定器 

磁界を測定するための装置。 magnetic field

meter

4111 

磁化コイル 

試験体の全体又は一部を囲むように配置した,形状の
固定した導体又は形状を変化させ得る柔軟性のある

導体。

magnetizing coil

4112 

磁化電源 

磁化電流の発生装置。 current

generator

4113 

磁束計 

磁束を測定するための装置。

magnetic flux meter

4114 

磁粉 

漏えい

(洩)

磁束に引き寄せられる細かい強磁性物質。 magnetic particles

4115 

磁粉散布器 

乾式法において試験体表面に磁粉を適用するために
用いられる器具。

powder blower

4116 

磁粉探傷装置 

試験体に磁束を投入して磁化する極間式磁化器,通電
によって磁化するプロッド又は磁化,検査液供給,観

察などの機能を備えた定置式磁粉探傷装置を指す。

magnetic particle flaw   
  detector

4117 

磁粉濃度 

検出媒体のある体積の中に含まれる磁粉の量を g/L

で示したもの。

magnetic particle content

4118 

接触器ヘッド 

通電法において,電流を試験体に流すために,試験体

を固定したり,支えたりする電極をいう。

contact head

4119 

接触パッド 

電気的接触をよくするために電極に取り付けた交換
可能な金属パッド。 
注記  それによって試験体への機械的な損傷(焼損

等)を防止する。

contact pad

4120 

ソレノイド 

通電時に磁界を発生するコイル。 solenoid

4121 

脱磁コイル 

磁化した試験体を脱磁するためのコイル。 demagnetization

coil

4122 

定置式磁粉探傷装置 

磁化,検査液供給,観察などの機能を備えた定置式の
磁粉探傷装置。

fixed installation

4123 

定置式磁化台 

通電法及び/又は磁束投入法を用いて試験を行う定
置式のはん(汎)用装置。

magnetic bench


60

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4124 

電磁石 

鉄心に巻いたコイルに電流を流し,磁界を発生させる
装置。

electromagnet

4125 

電流貫通棒 

試験体の開口部中心を貫通するように配置された導

体。

central conductor

4126 

非蛍光磁粉 

可視光を用いて試験を行うための検出媒体。

colored detection media

4127 

プロッド 

試験体を通電によって磁化する可搬型の電極。 prods

4128 

分散媒 

磁粉を分散(懸濁)させる液体又は気体。 carrier

fluid,

vehicle

4129 

ペースト状磁粉 

使用前に希釈を要する,ペースト状で供給される濃縮

検出媒体。

concentrate

4130 

リーチ 

磁化電流が流れる電極に取り付けられ,電極の確実な

接触を保つのに十分な強さのある永久磁石又は電磁
石。

leeches

(42)  標準試験片・対比試験片 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4201 

シムタイプ試験片 

磁粉探傷試験の検査性能を確認するための試験片で
あって,A 形標準試験片と類似の薄板の試験片を指

し,標準溝として線,円,十字などの溝があるもの。

shim-type test piece

4202 A 形標準試験片 

標準試験片確認方式において用いられる,試験方法の

適否などを調べる試験片であって,薄板に標準溝を加
工したもの。

type A standard test piece

4203 C 形標準試験片 

試験部分が狭くて A 形標準試験片の使用が困難な場
合に,代わりに用いる試験片。

type C standard test piece

4204 B 形対比試験片 

標準試験片確認方式において,装置,磁粉,及び検査
液の性能を調べるためのリング状試験片。

type B reference test piece

4205 

対比試験片タイプ 

工程確認試験方式において用いられる,検出媒体の性

能を調べる試験片であって,自然割れをもつディスク
状の永久磁石。

reference block type 1

4206 

対比試験片タイプ 

工程確認試験方式において用いられる,検出媒体の性
能を調べる試験片であって,閉磁気回路を構成する永
久磁石と 2 本の平行な強磁性体(狭い空げきあり)か

らなる。検出媒体を適用すると,空げき間の漏えい
(洩)磁界に沿って磁粉が並び,性能がよい場合,そ
の範囲(強磁性体端部からの距離)が広くなる。

reference block type 2

(43)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4301 

アンペアターン 

コイルの巻き数とコイルを流れる電流(アンペア)と

の積。

ampere turn

4302 

円形磁化 

円形磁界を形成する磁化方法。 circular

magnetization

4303 

乾式法 

乾燥した磁粉を使用する磁粉探傷試験。

dry powder technique

4304 

間接磁化 

直接電気的に接触せずに試験体を磁化する磁化方法。 indirect magnetization

4305 

急速遮断 

磁化電流の急な切断。 quick break

4306 

局部磁化 

試験体の限定された体積又は表面の磁化。 local

magnetization

4307 

蛍光磁粉探傷試験 

蛍光磁粉と紫外線照射装置とを用いる磁粉探傷試験

方法。

fluorescence magnetic   
  particle examination

4308 

コイル法(固定) 

試験体を形状の固定したコイルの中に入れて磁化す

る方法。

rigid coil technique

4309 

コイル法(ケーブル)  試験体の周りに近接して巻きつけた,柔軟性のある導

体を用いて磁化する方法。

flexible coil technique


61

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4310 

工程確認方式 

磁化の定量的確認及び対比試験片(タイプ 1 又はタイ
プ 2)を用いた検出媒体の性能確認試験によって,磁
粉探傷試験の検査性能を確認する磁粉探傷試験方式。

detectability certification by 
  processes

4311 

サージ磁化 

短い期間(1 秒間未満)の高い電流を用いる磁化方法。
パルス磁化ともいう。

surge magnetization

4312 

残留法 

磁化終了後に磁粉を適用する磁粉探傷試験方法。 residual

technique

4313 

磁束貫通法 

リング状試験体の空洞部に配置した磁性体(磁束貫通

棒など)に外部から交番磁界を供給し,試験体内に誘
導される環状電流によって試験体を磁化する方法。

induced current technique

4314 

磁束投入法 

外部から試験体に直接,磁束を投入する磁化方法。 magnetic

flow

technique

4315 

湿式法 

液体の分散媒中に分散された磁粉を用いる磁粉探傷
試験方法。

wet technique

4316 

瞬間磁化 

極めて短い時間通電して磁化すること。 flash

magnetization

4317 

ショット 

磁粉探傷試験における短期の磁化サイクル。 shot

4318 

全面磁化 

1 回の通電で試験体全体を磁化すること。 overall

magnetization

4319 

多軸磁化 

試験体に異なる方向の磁界を同時に適用する磁化方
法。

multidirectional  
  magnetization

4320 

通電法 

プロッド又は接触ヘッドを通じ,検査部分に電流を流
すことによって磁化する方法。

current flow technique

4321 

直線磁化 

試験体の長手軸と本質的に平行な磁界を形成する磁
化方法。

longitudinal magnetization

4322 

通電時間 

磁化電流を流し続ける時間。 post-magnetization

time

4323 

電流貫通法 

試験体の孔部又は開口部を貫通する棒(電流貫通棒)
又はケーブルによる磁化方法。

threading conductor   
  technique

4324 

標準試験片確認方式 

A 形又は C 形標準試験片を用いた,きず検出性能確
認試験によって,磁粉探傷試験の検査性能を確認する

磁粉探傷試験方式。

detectability certification by 
  standard test piece

4325 

ポリマー法 

分散媒としてポリマーを用いる試験法。 polymer

technique

4326 

極間法, 
ヨーク法 

極間式磁化器(ヨーク)を用いて磁化する方法。 yoke

technique

4327 

隣接電流法 

試験体表面に近接させて配置した,棒状導体又はケー
ブルに通電して試験体を磁化する方法。

adjacent conductor technique

4328 

連続法 

磁化しながら,磁粉の適用を行う磁粉探傷試験方法。 continuous magnetization

  technique

(44)  判定・評価 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4401 

拡散磁粉模様 

へこみによって生じた指示模様のように不明りょう
な磁粉模様。

diffuse indications

4402 

感度 

不連続部を指示する磁粉探傷試験の能力。 sensitivity

4403 

疑似模様 

きず以外の原因によって現れる磁粉模様。 false

indication

4404 

きず磁粉模様 

きずによって現れる磁粉模様。 flaw

indication

4405 

磁気ペン跡 

磁化された試験体が,他の強磁性体と接触したときに
局所的な磁化によって生じる疑似模様。

magnetic writing

4406 

磁粉模様 

試験体上に出現した磁粉によって形成される模様。 indication,

magnetic particle indication

4407 

評価対象外磁粉模様 

磁粉探傷試験における評価対象外指示。 nonrelevant

indication

4408 

評価対象磁粉模様 

磁粉探傷試験における評価対象指示。 relevant

indication

4409 

表面近傍の不連続部 

表面近傍で開口していない不連続部。幅広く,不明り
ょうな,ぼんやりとした磁粉模様を形成する。

surface discontinuity,   
near surface discontinuity


62

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

4410 

ファーリング 

過度の磁化によって磁粉が集まり,盛り上がること。 furring

  (5)  浸透探傷試験 

(50)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

5001 

蛍光 

物質の分子などが A 領域紫外線によって励起され,

それが基底状態に遷移するときに発生する特定の光。

fluorescence

5002 

蛍光光度 

A 領域紫外線 (UV-A) によって励起されたときに浸
透液から放出される明るさ。 
注記  非破壊試験分野では,蛍光輝度ということもあ

る。

fluorescent intensity,   
luminance brightness

5003 

蛍光浸透探傷試験 

蛍光浸透液を使用する浸透探傷試験方法。 fluorescence

penetran

  testing

5004 

染色浸透探傷試験 

染色浸透液を使用する浸透探傷試験方法。

visible dye penetrant testing

(51)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

5101 

後乳化性浸透液 

水洗性を付与するため浸透処理後に乳化剤を適用し
なければならない浸透液。

post emulsifiable penetrant

5102 

油ベース乳化剤 

油をベースにした乳化剤。 lipophilic

emulsifier

5103 

液槽 

(浸透探傷用−) 

試験中に試験体を浸せきする一定量の探傷剤(浸透

液,乳化剤,現像剤など)を入れる容器。

bath

5104 

乾式現像剤 

蛍光浸透探傷剤に使用する乾燥した微粉末状の現像

剤。

dry developer

5105 

蛍光浸透液 

A 領域紫外線の下で蛍光を発する浸透液。 fluorescent

penetrant

5106 

現像剤 

浸透液をきずから吸出し,きずより大きな指示模様を
形成させることによって,より検出しやすくする作用
をもつ探傷剤。

developer

5107 

紫外線照射装置 

4107 

紫外線照射装置”参照。 black

lig

ultraviolet lamp

5108 

除去剤 

探傷面から余剰な浸透液を除去するのに使用する溶
剤。

solvent remover

5109 

浸透液 

試験体に塗布されると,きず内部に浸透し,その後に
余剰な浸透液を表面から除去する間,検出可能な量が
そこにとどまるように考案された液体。

penetrant

5110 

浸透探傷剤, 
試験用探傷剤 

浸透探傷試験に使用する浸透液,除去液及び現像剤。 penetrant materials,

testing products

5111 

水洗性浸透液 

直接水洗ができる浸透液。 water-washable

penetrant

5112 

水溶性現像剤 

乾燥すると現像剤塗膜を形成する水に微粉末を溶解
させた現像剤。

water soluble developer

5113 

染色浸透液 

溶剤中に染料(一般に赤色)を溶解させた浸透液。

color contrast penetrant

5114 

速乾式現像剤, 
非水湿式現像剤 

揮発性溶剤中に微粒子を懸濁させた現像剤。

solvent based developer,   
nonaqueous wet developer

5115 

二元性浸透液 

可視光の下でも A 領域紫外線の下でも見ることので
きる指示模様が得られる浸透液。

dual purpose penetrant

5116 

乳化剤 

後乳化性浸透液に水洗性を付与するために用いる探
傷剤。

emulsifier

5117 

はく(剥)離性現像

 

指示模様を固定し薄膜の複製として得るために用い
る液体現像剤。

peelable developer


63

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

5118 

湿式現像剤 

乾燥すると現像剤塗膜を形成する水に微粉末を分散
させた現像剤。

water suspendable developer

5119 

水ベース乳化剤 

水で希釈可能な乳化剤。 hydrophilic

emulsifier

5120 

溶剤除去性浸透液 

探傷面から余剰な浸透液を除去するのに適切な溶剤
が必要な浸透液。

solvent-removable penetrant

(52)  標準試験片,対比試験片 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

5201 

対比試験片 

(浸透探傷試験用−) 

浸透探傷剤及び探傷工程の感度の比較を実施するた

めに使用する,人工的な既知のきずを含んでいる試験
片。

reference block

(53)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

5301 

後処理 

浸透探傷試験完了後に浸透探傷剤の残留物を試験体

から取り除く操作。

post cleaning

5302 

感度レベル 

(浸透探傷試験−) 

浸透探傷試験の感度の等級。

sensitivity level (of a   
  penetrant testing)

5303 

現像時間 

現像剤を適用してから観察を開始するまでの時間。 development

time

5304 

しみ出し 

通常,きず内の浸透液が現像剤塗膜にしみ出てくるこ
と。

bleed out

5305 

浸せき洗浄処理 

余剰浸透液を除去するために試験体を水タンク中に
入れる処理。水タンクはかくはんさせてもよい。

dip rinse

5306 

浸透液の乳化処理 

後乳化性浸透液に水洗性を付与するため,浸透処理後

に乳化剤を適用すること。

emulsification of penetrant

5307 

浸透時間 

浸透液が試験面をぬらしている時間。 penetration

time

5308 

浸透探傷試験感度 

浸透探傷試験においてきずを検出できる能力の尺度。 sensitivity

5309 

水分許容量 

水洗性浸透液が所定の温度において許容含有できる
水の量(質量分率%又は体積分率%)

water tolerance

5310 

静電塗布 

帯電した探傷剤粒子を接地した探傷面に塗布するこ

と。

electrostatic spraying

5311 

洗浄処理 

適切な除去剤(通常は水)で洗浄するか又は流して余

剰な浸透液を表面から除去する方法。

rinse

5312 

探傷剤の組合せ 

探傷剤の組合せとは,浸透液,余剰浸透液除去液及び

現像剤を組み合わせたもの。

product family

5313 

乳化時間 

後乳化性浸透液に水洗性を付与するために乳化剤を

適用している時間。

emulsification time

5314 

乳化停止 

乳化時間経過後に試験体を水に浸せきするか又は水
をかけて乳化の進行を停止させる操作。

emulsification stop

5315 

排液 

試験体表面の余剰浸透液の膜厚を薄く均一にするた
めに行う滴下などの操作。

drain

5316 

前処理 

試験面の汚れを取り除く操作。 precleaning

5317 

無現像法 

現像剤を使用しないで観察を行う浸透探傷試験。

self development technique

5318 

余剰浸透液の除去 

浸透液をきず内部から除去することなく余剰な浸透
液を探傷面から除去するために用いる操作。

excess penetrant removal

5319 

予備洗浄 

水ベース乳化剤を使用する場合に適用する方法で,試
験体表面の余剰浸透液が薄膜になるまで,水スプレイ

であらかじめ除去する洗浄処理。

pre-rinse


64

Z 2300

:2009

   

(54)  判定,評価 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

5401 

バックグラウンド 

余剰浸透液を除去した後に試験体の表面に残留して

いる蛍光浸透液又は染色浸透液の程度。

background

  (6)  渦電流探傷試験 

(60)  共通及び一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

6001 

位相解析 

きず信号及び雑音との区別をするために,入力信号の

位相情報を利用する解析方法。

phase analysis

6002 

位相角 

複素平面上で信号ベクトルと基準とする参照ベクト

ルとのなす角度。

phase angle of a signal,   
signal phase

6003 

インピーダンス解析 

試験に及ぼす影響因子によって試験コイルのインピ
ーダンスがどのように変化するかを,インピーダンス

平面図を用いて解析する方法。

impedance analysis

6004 

渦電流 

時間的に変化する磁界によって導体中に生じる電流。 eddy current

6005 

渦電流分布 

渦電流の方向と強さの分布。

eddy current distribution

6006 

ガタ雑音 

貫通プローブを通過する試験体又は管内を通過する
内挿プローブの振動によって生じる雑音。

wobble

6007 

コイル間隔 

二つのコイルの中心間の距離。 coil

spacing

6008 

コイル長 

コイルの軸方向の長さ。 co length

6009 

コイル分離間隔 

二つのコイルの隣接した境界間の距離。 coil

separation

6010 

磁気飽和 

4026 

磁気飽和”参照。

注記  この現象を用いて試験体の磁性の不均一によ

る雑音を抑制することができる。

magnetic saturation

6011 

実効透磁率 

表皮効果によって表面に磁束密度の分布を生じると,

表面から内部にわたり透磁率が変化して分布する。こ
の状態で表面からプローブで検査したときの実効的
な透磁率(μ

eff

effective permeability

6012 

充てん率 

貫通(又は内挿)プローブによる試験で,試験体の断
面積(内挿の場合は内面積)とコイルの内面積(内挿

の場合は外面積)との比。 
注記  コイル内径の代わりに平均径を用いることも

ある。

coil fill factor,   
probe fill factor

6013 

周波数解析 

検出信号の周波数成分の違いを利用し,有用な信号成
分だけを取り出す方法。

frequency analysis

6014 

振幅弁別 

検波して得られた検出信号を,

その大きさによって評

価する方法。しきい値(特定の大きさ)と比較し,弁

別することが多い。

amplitude discrimination

6015 

正規化インピーダン

 

正規化抵抗と正規化リアクタンスを合成したインピ
ーダンス。

normalized impedance

6016 

正規化抵抗 

試験体の存在しない試験コイルの抵抗を R

o

,リアク

タンスを ωL

o

,試験コイルの抵抗を としたとき,(R

R

o

)  を ωL

o

で除した値。

normalized resistance

6017 

正規化リアクタンス 

試験コイルのリアクタンス ωL を,試験体の存在しな

いコイルのリアクタンス ωL

o

で除した値。

normalized reactance

6018 

総合性能 

試験装置,すなわち,探傷器(プローブを含む。

,記

録装置,送り装置,磁気飽和装置などが全体として示
す性能。

system performance


65

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

6019 

増分透磁率, 
変分透磁率 

直流磁気飽和を併用した場合では,作用する直流磁界
に小さな交流磁界が重畳し交流磁界の変化に伴った
小さなループを描く。この小ループにおいて Δμ
ΔB/ΔH としたときの Δμ をいう。インクリメンタル透
磁率ともいう。

incremental permeability

6020 

速度効果 

試験体とプローブとの相対速度の変化に伴って生じ

る渦電流又はきずの検出感度の変化。

speed effect,   
drag effect

6021 

端末効果 

プローブが試験体の端部に近づくことによる渦電流

の変化に伴う指示の変化。

end effect,   
edge effect

6022 

端末不感帯 

端末効果によって探傷が不可能となる試験体の領域。 untested ends dead zone

6023 

透磁率 

4035 

透磁率”参照。 magnetic

permeability

6024 

特性周波数 

貫通プローブにおいて,試験体の物性値と寸法とを考

慮した特有な周波数 f

c

をいう。

2

π

2

μσa

f

c

=

μ:透磁率 (H/m),σ:導電率 (S/m),a:試験体の外
径 (m)

characteristic frequency

6025 

導電率 

電流の流れやすさを示す物質固有の値。抵抗率の逆数
となる。

[記号 σ (S/m)]

(electrical) conductivity

6026 

表皮効果 

4041 

表皮効果”参照。 skin effect

6027 

表皮深さ 

4042 

表皮深さ”参照。 skin

depth,

standard depth of penetration

6028 

プローブクリアラン

 

貫通プローブ又は内挿プローブにおける,試験体の表

面とプローブとの間の空間。

probe clearance

6029 

リフトオフ 

上置プローブと試験体表面間とのすき間及び傾きを

含む距離。

lift-off

6030 

励磁電流 

磁界を発生するために試験コイルに流す電流。 excitation

current

(61)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

6101 

アレイプローブ 

試験コイルを周期的に配列したプローブ。 array

probe

6102 

移相器 

信号の位相を変化させる装置。 phase

shifter

6103 

回転プローブ 

試験体の周囲を回転する形式のプローブで,丸棒及び
管の探傷試験に用いる。一般に,対になったコイルが
周回し,軸方向に送られる試験体表面を走査する。

rotation probe

6104 

貫通プローブ 

丸棒,管などの試験体を取り巻く円筒形のコイルをも
つプローブ。

encircling coil

6105 

空心コイル 

試験体に作用していない試験コイル。すなわち,導体
から十分に離れている試験コイル。

air cored probe,   
empty coil

6106 

検出コイル, 
二次コイル 

相互誘導形プローブにおいて,

励磁を行う励磁コイル

に対して磁界を検出するコイル。

secondary coil,   
receiving coil,   
detection coil

6107 

交流ブリッジ 

試験コイルを組み込んだ,交流を電源とするブリッジ
回路。 
注記  試験コイルのわずかなインピーダンス変化の

検出に用いる。

AC bridge

6108 

磁気飽和コイル 

強磁性体の探傷における磁気ノイズの影響を減らす

ために使われる直流磁界を発生するコイル。

saturation coil


66

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

6109 

自己誘導形プローブ 

励磁と検出を兼ねたコイルで構成されたプローブ。

self induction type probe, 
combined transmit receive   
  probe

6110 

上置プローブ 

試験体の表面に当てて用いるプローブ。 surface

probe

6111 

相互誘導形プローブ 

交流磁界を発生する励磁コイルと,磁界の検出を行う

検出コイルとで構成されたプローブ。

mutual induction type probe, 
separate transmit receive   
  probe

6112 

内挿プローブ 

管又は孔(穴)を内面側から試験するため,内部に挿
入して用いるプローブ。

internal probe

6113 

バランス補正信号 

信号のアンバランスを補正するために入力される電
気信号。

compensating signal

6114 

フィルタ 

特定の周波数範囲の信号を容易に通し,その他の周波

数範囲を通過しにくいようにした装置。

filter

6115 

プローブ 

導体に渦電流を発生させ,その変化を検出するコイル

からなるトランスジューサ(変換器)

。貫通プローブ,

内挿プローブ及び上置プローブがある。試験コイルと
もいう。

probe

6116 

励磁コイル, 
一次コイル 

相互誘導形プローブにおいて励磁を行うコイル。すな
わち,磁界を発生して試験体内に渦電流を誘起するた

めに用いられるコイルである。

primary coil,   
excitation coil

(62)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

6201 

差動測定 

2 個のコイルを並置して用いて,試験体の隣接した部
分の差を検出する方法。このタイプのプローブは差動
形プローブと呼ばれる。

differential measurement

6202 

試験周波数, 
励磁周波数 

渦電流を発生させるためにプローブに印加する電流
の周波数。

exciting frequency

6203 

絶対値測定 

標準比較コイル,又は単一コイルを用いて得られる,
試験体における材料諸因子の変化を測定する方法。こ

のタイプのプローブは絶対値形プローブと呼ばれる。

absolute measurement

6204 

多重周波数試験 

プローブに複数の周波数の交流電流を重ね合わせ又
は時分割して印加し,各々の周波数での検波出力を演

算して,ノイズ成分を除去する方法。

multi-frequency examination

6205 

電磁誘導試験 

電磁誘導現象を利用した非破壊試験。 
注記  電磁誘導による探傷試験,材質試験,膜厚測定

などの試験が含まれる。

electromagnetic induction   
  testing

6206 

パルス渦電流試験 

励磁電流にパルス波,く(矩)形波などを用いる渦電
流試験。

pulsed eddy current testing

6207 

標準比較方式 

絶対値測定の一種で同一の二つのプローブを用いて
片方を基準とする標準試験片に,他方を検査する試験
体にあてがい,両者の差を検出する方式。

standard comparison coil   
  technique

6208 

ブリッジバランス 

渦電流変化を検出するために用いる交流ブリッジ回
路の調整。

bridge balance

6209 

リジェクション 

ある電圧レベル以下の信号又は表示を電気的に除く
こと。

rejection

6210 

リモートフィールド

 

電磁誘導を利用した試験方法の一種で,検出コイルを
励磁コイルから離れた位置に配置をして行う試験方
法。

remote field technique


67

Z 2300

:2009

  (7)  漏れ(リーク)試験 

(70)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7001 

圧縮比 

特定の気体に対するあるポンプの出口側圧力と入口
側圧力の比。

compression ratio

7002 

イオン化ポテンシャ

 

原子又は分子を電離するのに必要な最小エネルギー。
[単位:電子ボルト]

ionization potential

7003 

運転条件 

装置の使用条件。

operating conditions (for a   
  mass spectrometer leak   
  detector)

7004 

応答時間 

ゼロ(若しくは小さな漏れ量)の表示から正(若しく
はより大きな漏れ量)の表示へ変化したとき,又は正

の漏れ量の表示からある小さな(若しくはゼロの)漏
れ量表示へ変化したときの時定数で,通常は前者の場
合最大値の 63  %,後者の場合最大値の 37  %になる

までの時間。

response time

7005 

外部トレーサガスド

リフト 

吹き付け法において吹き付け箇所以外の漏れ箇所か

ら侵入したサーチガスによるドリフト。

external tracer gas drift

7006 

解離 

物質が二つ以上の成分に分解されること。“7015 

ラッキング”に同じ。

dissociation

7007 

ガス放出 

材料からの気体の自然脱離。 outgassing

7008 

仮想リーク 

系内の気体又は蒸気の放出による見せかけのリーク。 virtual leak

7009 

感度(漏れ試験の−)  機器の出力の変化量を入力の変化量で除した値。 sensitivity

7010 

気体の拡散 

濃度こう配による別の媒質への気体の移動。

diffusion of gas

7011 

キャピラリーリーク 

直径がリーク経路長に比べて小さい形状のリーク。一

つの経路をもつチャンネルリークと同じ。

capillary leak

7012 

吸収 

気体(被吸収剤)が固体又は液体(吸収剤)の中に拡

散して保持される現象。

absorption

7013 

吸蔵 

凝固中に気体が固体に閉じ込められる現象。 occlusion

7014 

許容リーク量 

実用上影響しないほど小さなリーク量で,仕様書に規
定されているリーク量。

allowable leak rate

7015 

クラッキング 

7006 

解離”参照。 cracking

7016 

クリーンアップ時間, 
クリアリング時間 

正のリーク量表示から,ある小さな(又はゼロの)リ

ーク量表示へ変化したときの時定数。 
(最大値から,最大値の 37  %になるまでの時間) 
注記  この規格においては応答時間とクリーンアッ

プ時間が等しいものと仮定している。

cleanup time,   
clearing time

7017 

計器ドリフト 

環境条件又は電子回路の変化による計器の出力のゆ

っくりした変動。

instrument drift

7018 

系統の飽和状態 

試験中に,その漏れ試験を先に進められなくなるほど
サーチガスで充満してしまったシステムの状態。

flooded system

7019 

ゲージ圧力 

絶対圧力と大気圧との差。 gauge

pressure

7020 

高真空 

0.1 mPa∼0.01 mPa の真空状態。 high

vacuum

7021 

コンダクタンス 

等温条件と仮定して,気体流量を二つの規定断面,又

はオリフィスの両面における圧力の差で除した値。

conductance

7022 

コンダクタンスリー

 

流体が通ることができる一つ又は複数個の分離した
経路(多孔質構造も含む。

)からなるリーク。

conductance leak

7023 

最小可検信号 

サーチガスによる出力信号で,

ノイズとドリフトとの

合計。

minimum detectable output 
  signal of a leak detector


68

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7024 

最小可検リーク量 

使用するリークディテクタによって,そのサーチガス
で明らかに検出できる最小リーク量。 
注記  最小可検リーク量は,最小検出可能信号と感度

との比として計算される。

minimum detectable leak   
  rate

7025 

散乱 

分子又は荷電粒子が,それらの衝突によって種々の方
向へ分散又は拡散する現象。

scattering

7026 

試験条件 

漏れ試験のときの周囲温度と圧力条件。 test

conditions

7027 

質量分析形リークデ

ィテクタの校正 

指示値の変化が校正リークのリーク量と等しくなる
ように質量分析形リークディテクタの感度調整をす
ること。

calibration of mass   
  spectrometer leak detector

7028 

スロットリング 

排気系の体積流量を減少させるためにバルブを絞り,
管路のコンダクタンスを減少させること。

throttling

7029 

正規化リーク量 

外部が標準圧力で,内部が真空の条件下のある温度の
リーク量。

normalized leakage rate

7030 

絶対圧力 

完全真空をゼロ(基準)とする圧力。 absolute

pressure

7031 

ゼロ 

リークディテクターの出力信号を,表示スケールのゼ

ロ点又は他の点に置くために,

バッキングオフ又はゼ

ロ調整系を調整すること。

zero (verb)

7032 

総リーク量 

試験体のリーク量の総和。

total leak rate,   
integral leak rate

7033 

大気圧 

特定の場所と時間とにおける大気の圧力(標準大気圧

は 101 325 Pa)

atmospheric pressure

7034 

脱ガス 

材料からの意図的なガス出し。 degassing

7035 

窒素等価値 

同じ指示値を与える窒素の圧力。

equivalent nitrogen pressure

7036 

チャンネルリーク 

長いキャピラリーとして概念的に扱われる一つ又は
複数の分離した経路をもつリーク。

channel leak

7037 

中間流 

粘性層流と分子流との中間の条件下の気体の流れ。 transition

flow

7038 

超高真空, 
UHV 

10 μPa 未満の真空状態。 ultra-high

vacuum

7039 

抵抗 

コンダクタンスの逆数。

resistance to flow

7040 

低真空 

100 Pa∼100 kPa の真空状態。 low

vacuum

7041 

デッドボリューム 

試験体の容積に付加されるシステムの容積。 dead

volume

7042 

透過係数 

透過率と障壁の厚さとの積を障壁の面積で除した値。 permeability coefficient

7043 

透過リーク 

7067 

メンブレンリーク”参照。 permeation

leak

7044 

透過率 

(定常的流れにおける特定の温度での)ある気体に対
する固体障壁の透過率。障壁を通過する気体の流量を

壁の両側における圧力の関数で除した値。

permeability

7045 

動的リーク量測定 

動的リーク試験法においてサーチガスの平衡(定常状
態)分圧からリーク量を測定する方法。

dynamic leak rate   
  measurement

7046 

吐出圧 

ポンプの放出側の圧力。 exhaust

pressure

7047 

ドリフト 

比較的速度の遅いバックグラウンドの変化。 drift

7048 

トレーサガスドリフ

 

外部トレーサガス及び内部トレーサガスからなるド

リフト。

tracer gas drift

7049 

トレーサガスバック

グラウンド 

系から発生するサーチガスによるバックグラウンド。 tracer gas background

7050 

内部トレーサガスド

リフト 

検出器センサにおいてゆっくりと変化するサーチガ
ス濃度によってリークディテクタの出力信号が徐々

にふらつくこと。

internal tracer gas drift


69

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7051 

粘性リーク 

通過する気体の質量流量が粘性係数の逆数に実質的
に比例するリーク。

viscous leak

7052 

粘性流 

平均自由行程がダクト断面の最小内径寸法と比較し

て非常に小さく,流れが気体の粘性に依存する条件に
ある流れ。流れは層流又は乱流である。

viscous flow

7053 

濃度比 

混合気体中の全原子(分子)数に対するその中のある
混合成分の原子(分子)数の比。

concentration ratio

7054 

背圧(はいあつ) 

7062 

フォアプレッシャ,前段圧力”に同じ。 backing

pressure

7055 

背圧側空間, 
バッキングスペース 

主ポンプ(拡散ポンプ,ターボ分子ポンプなど)と補

助ポンプ(前段ポンプ)との間の空間。

7135 

バラス

ト”参照。

backing space

7056 

排気時間 

系を大気圧から所定の圧力まで排気するのに要する

時間。

pump-down time

7057 

バックグラウンド 

一般的に,サーチガスを注入しないときにリークディ

テクタが示す見せかけの表示。

background

7058 

反応係数 

基準気体と比較したある気体に対するリークディテ

クタの相対感度。

response factor

7059 pV  

規定圧力のある体積の気体が所定の断面を通過する

流量。 
注記  気体流量が計算できるように温度,分子量又は

密度を付記すること。

pV-throughput

7060 

標準空気換算リーク

 

種々の条件(ガスの種類,温度及び圧力)で測定した
リーク量を“標準空気リーク量”に換算した値。

equivalent standard air leak 
  rate

7061 

標準空気リーク量 

標準条件の下で−25  ℃より低い露点をもつ空気がリ
ーク部を通過する流量。 
標準条件とは,入口の圧力は 100 kPa±5  %,出口の

圧力は 1 kPa 未満,温度は 23±7  ℃と規定する。

standard air leak rate

7062 

フォアプレッシャ, 
前段圧力 

高真空ポンプの吐出側における全圧。

7054 

背圧”に

同じ。

fore pressure

7063 

分圧 

混合気体のある成分気体の圧力。 partial

pressure

7064 

分子リーク 

通過する気体の質量流量が分子質量の平方根の逆数
に実質的に比例するリーク。

molecular leak

7065 

分子流 

ダクトの断面の最大寸法と比較して,その平均自由行
程が非常に大きい気体の流れ。

molecular flow

7066 

ポアズイユ流 

円断面の長いパイプを流れる粘性層流の特殊な事例。 Poiseuille flow

7067 

メンブレンリーク 

非多孔性の壁をガスが透過することによってガスの

流れを作るリーク。 
ヘリウムの場合,この壁はガラス,石英又は他の適し
た材料によって構成される。

“メンブランリーク”と

もいう。

7043 

透過リーク”に同じ。

membrane leak

7068 

漏れ, 
リーク 

壁の両側の圧力差又は濃度差によって液体又は気体
が通過する現象。

孔,多孔質などの透過性要素が原因となる。 
注記  他の用語及び定義においても“漏れ”と“リー

ク”は置き換えて使ってもよい。

leak

7069 

漏れ試験の検出限界 

ある条件下で検出できる最小漏れ量。

detection limit of leak test

7070 

漏れ量, 
リーク量 

ある条件下で漏れ箇所を通過する,定められた液体又
は気体の流量。

leak rate

7071 

リークタイト 

仕様値以上のリークがない状態。 leak

tight


70

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7072 

リークディテクタの

動的検出限界 

動的漏れ試験方法による最小可検漏れ量。

dynamic detection limit of   
  leak detector

7073 

流量 

単位時間に単位断面を横切る物質の量であり,質量流

量,体積流量,モル流量などがある。

flow rate

(71)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7101 

圧力プローブ 

試験体にサーチガスを吹き付ける器具。 pressure

probe

7102 

アパーチャリークオ

リフィス 

直径がリーク経路長を大幅に上回るリーク。

非常に薄い壁の開口とみなすこともできる。

aperture leak orifice

7103 

粗引きポンプ 

系内の圧力を大気圧から別の高真空ポンプが動作で

きる圧力まで排気する真空ポンプ。

roughing vacuum pump

7104 

アルカリイオンダイ

オード 

ハロゲンガス用のセンサ。

alkali ion diode

7105 

ガイスラー放電管 

被試験系に接続されている放電管。

放電の形及び色は,存在する気体の種類及び圧力に関
係する。

discharge tube leak detector

7106 

気密チャンバ 

試験体を容器内に入れて試験をするための気密容器。

ベルジャー法又はボンビング法に用いる。

tight chamber

7107 

吸盤 

試験体に押し当て漏れてきたサーチガスを収集する

カップ。

suction cup

7108 

混合ガスプローブ, 
プロポーショニング

スプレイガン 

希釈気体(乾燥空気,窒素)に対するサーチガスの割

合を可変できる器具。

proportioning spray gun,   
proportioning probe

7109 

サーチガス 

漏れを検出するために用いる特定の気体。“7128 

レーサガス”に同じ。 
注記 1  真空法の場合は,漏れ試験をする試験体の外

表面に吹き付け,漏れ箇所を通して試験体に
導入する。

注記 2  加圧試験の場合は,漏れ試験をする試験体の

中に導入して,漏れ箇所から外部に放出す
る。

search gas

7110 

サンプリングプロー

 

試験体の漏れ箇所からサーチガスを吸引してリーク

ディテクタに供給する器具。“7118 

スニッファプロ

ーブ”に同じ。

sampling probe

7111 

試験シール 

漏れ試験のために試験体の開口部をプラグ又はガス
ケットで一時的にふさぐシール。

test seal

7112 

試験ポート 

試験体を接続するリークディテクタの接続口。 test

port

7113 

指示材料 

サーチ流体と作用して漏れの存在を示す物質。 indicating

material

7114 

質量分析形リークデ

ィテクタ 

サーチガスに対してだけ応答するように調整された
質量分析計を検出部とするリークディテクタ。

mass spectrometer leak   
  detector

7115 

質量分析計 

質量電荷比が異なる電離粒子を分離し,そのイオン電
流を測定する計測器。 
注記  質量分析計は特定の気体の分圧を測定する真

空計としても,特定のサーチガスを検知するリ
ークディテクタとしても,また,混合気体のパ
ーセンテージ組成を判定するための分析器具

としても使用できる。タイプはイオンを分離す
る方法によって区別される。

mass spectrometer


71

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7116 

順方向リークディテ

クタ 

試験体がポンプの高真空側に取り付けられているリ
ークディテクタ。

direct flow leak detector

7117 

真空箱 

漏れ試験に使用する一端に開口部を要し,内部を減圧

できる容器。 
発泡試験では,のぞき窓がある。

vacuum box

7118 

スニッファプローブ 

7110 

サンプリングプローブ”参照。 sniffing

probe

sniffer probe

7119 

スパークコイルリー

クディテクタ 

ガラス製の真空系のピンホールテストをするために,
テスラ形の高周波放電コイルを用いたリークディテ
クタ。 
注記  リーク箇所に放電が起こることによってリー

ク箇所を検出できる。

spark coil leak detector,   
spark coil leak tester

7120 

スプレイガン, 
スプレイプローブ 

サーチガスを試験体に吹き付ける器具。

spray gun (jet gun)

7121 

絶対圧力計 

完全真空をゼロ

(基準)

とする圧力を測定する計測器。 absolute pressure gauge

7122 

絶対真空計 

面に作用する物理的な力を圧力として測定する真空
計。

absolute vacuum gauge

7123 

超音波リークディテ

クタ 

漏れ箇所を通過する気体の層流から乱流への遷移に
よって発生する超音波を検出するリークディテクタ。

ultrasonic leak detector

7124 

電子捕獲形リークデ

ィテクタ 

負イオンを形成する傾向のあるサーチガスを検出す
るリークディテクタ。

electron capture leak detector

7125 

導入系 

リークディテクタの高真空側を試験体に接続するの
に必要なバルブ,配管,圧力計などの組合せ。

inlet system

7126 

導入配管, 
サンプル導入配管 

試験体からリークディテクタまでの間のサーチガス
が通過する配管。

inlet line,   
sample inlet line

7127 

導入バルブ 

サンプル導入配管の端に置かれ,かつ,リークディテ
クタの近傍にあるバルブ。

inlet valve

7128 

トレーサガス 

7109 

サーチガス”参照。 tracer

gas

7129 

トレーサ流体 

漏れ試験に使われる気体又は液体。 tracer

fluid

7130 

背圧側配管, 
バッキングライン 

7140 

フォアライン,前段配管”参照。 backing-line

7131 

背圧側配管バルブ 

7141 

フォアラインバルブ,前段配管用バルブ”参

照。

backing-line valve

7132 

排気系 

質量分析形リークディテクタにおいては,質量分析計
の高真空を維持し,サーチガスを排出する部分。

pumping system

7133 

バッキングポンプ 

7139 

フォアポンプ,補助ポンプ”参照。 backing

pump

7134 

発泡液 

発泡物質と界面活性剤とを含んだ溶液。 bubble

solution

7135 

バラスト 

凝縮性の蒸気(例えば H

2

O)を排気したとき,窒素

又は不活性ガスをガスバラストバルブから注入し,凝
縮性の蒸気が液体となることによる排気能力低下を

防ぐ又は回復させる機構。 
注記  通常は油回転ポンプの圧縮容器に取り付けて,

凝縮性気体がポンプの中で凝縮するのを防い

でいる。

ballast

7136 

ハロゲン 

周期率表の第Ⅶ族の元素。

漏れ試験においてはハロゲン化合物も意味する。

halogen

7137 

ハロゲンリークディ

テクタ 

ハロゲンガスをサーチガスとして用いるリークディ
テクタ。

halogen leak detector


72

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7138 

非凝縮性気体 

臨界温度以上の気体。すなわち,圧力の増加だけでは
凝縮相に変化させることのできない気体。

non-condensable gas

7139 

フォアポンプ, 
補助ポンプ 

高真空ポンプの背圧側を排気する補助ポンプ。

7133 

バッキングポンプ”に同じ。

fore pump

7140 

フォアライン, 
前段配管 

補助ポンプと高真空ポンプとの間の配管。“7130 

圧側配管,バッキングライン”に同じ。

fore-line

7141 

フ ォ ア ラ イ ン バ ル

ブ,

前段配管用バルブ 

補助ポンプと高真空ポンプとの間に設けられたバル

ブ。

7131 

背圧側配管バルブ”に同じ。

fore-line valve

7142 

ヘリウムリークディ

テクタ 

サーチガスとしてヘリウムを使用するリークディテ
クタ。

helium leak detector

7143 

ベントバルブ 

系の圧力を大気圧にするためのバルブ。 vent

valve

7144 

放射線同位元素形漏

れ試験システム 

放射性サーチガスのリークディテクタを用いて漏れ
を検出する漏れ試験システム。

radioisotope leak test system

7145 

放電形リークディテ

クタ 

放電特性の変化を検出するリークディテクタ。

electron discharge leak   
  detector

7146 

ホールディングポン

 

粗引きポンプで系を排気している間に高真空ポンプ
の排気側を補助しているポンプ。

holding pump

7147 

ポンプバルブ 

サンプル導入配管を排気するために使用される粗引
きポンプとその配管との間に置かれるバルブ。

pump valve

7148 

リーク遮断バルブ 

標準リーク又は校正リークを遮断するバルブ。

leak isolation valve

7149 

リークディテクタ 

漏れの有無,漏れ箇所,漏れ量を検出する装置。 
注記  他の用語及び定義においても“リークディテク

タ”と“リーク検出器”とは置き換えてもよい。

leak detector

(72)  校正リーク 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7201 

校正リーク 

機器の校正に当たって流量を供給するために使用す
るリーク。

calibrated leak,   
calibration leak

7202 

標準リーク 

値付けがトレーサブルな流量を供給するリーク。 standard

leak

7203 

模擬リーク 

系統に導入するのに用いる気体(通常,10

7

 mol/s 未

満)の制御された流量。

leak artifact

(73)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7301 

圧力試験 

試験体に気体又は液体を充てんし,加圧する漏れ試験
方法。

pressure test

7302 

圧力変化試験 

試験体における全圧又は分圧の変化,減少,増加の速
度を測定する漏れ試験。

pressure change test

7303 

アンモニア漏れ試験 

サーチガスとしてアンモニアガスを用い,指示薬とし
てアンモニアと化学的に反応する物質を使用する漏
れ試験方法。

ammonia leak test

7304 

液圧試験 

試験体に水又は他の液体を一杯に充てんする圧力試
験。 
注記  必要があれば,所要時間,液体に圧力を加え,

漏れがないか,試験体の外面を目視検査する。
液体が水の場合を特に水圧試験という。

hydraulic pressure test

7305 

加圧浸透漏れ試験法 

加圧して行う浸透漏れ試験法。 
7315 

浸透液漏れ試験法”参照。

pressure dye test


73

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7306 

加圧−排気試験, 
圧力−排気試験 

真空チャンバ内での試験に先立ち,密閉した試験体に
対して“ボンビング”を行う漏れ試験。 
7310 

逆圧加圧試験”及び“7332  ボンビング試験”

に同じ。

pressurizing evacuation test, 
pressure-evacuation test

7307 

外覆法試験 

試験体の一部又は全部を覆って行う漏れ試験。 
注記 1  対象物が真空下にある場合は覆いにサーチ

ガスを充てんし,リークディテクタを対象物
の内部容積部に接続する。

注記 2  対象物がサーチガスによって加圧される場

合は,プローブを覆いの内部に挿入した状態
で試験を実施する。

hood test

7308 

カウンタフロー法 

リークディテクタの背圧側配管ポートに試験体を接
続して行う試験方法。 
7311 

逆拡散法”,“7323  背圧側スペース法,バッキ

ングスペース法”及び“7324  背圧側配管ポート法,
バッキングラインポート法”に同じ。

counter flow technique

7309 

隔離試験 

試験体を排気系から隔離し,圧力上昇速度によって漏
れの有無及び漏れ量を調べる試験。

isolation test

7310 

逆圧加圧試験 

7306 

加圧−排気試験,圧力−排気試験”参照。

back pressurizing test

7311 

逆拡散法 

7308 

カウンタフロー法”参照。

back diffusion technique,   
back diffusion method

7312 

差圧試験 

同条件で加圧又は減圧した基準容器と試験体との一
定時間後の圧力差を差圧計で測定することによって

漏れを検出する漏れ試験。

differential pressure test

7313 

真空試験 

試験体を排気し,サーチガスを外面に吹き付ける試

験。 
注記  試験体が容器の場合がある。

vacuum test

7314 

真空容器法試験 

試験体を真空チャンバ又は真空容器内に入れて漏れ
を検出する試験。

vacuum chamber test

7315 

浸透液漏れ試験法 

試験体の片側に浸透性のよい赤色又は蛍光色の浸透

液を適用し,反対側に白い現像剤を適用するなどで漏
れ箇所を明りょうな指示模様で検出する漏れ試験方
法。

7305 

加圧浸透漏れ試験法”参照。

penetrant leak test

7316 

水圧試験 

7304 

液圧試験”参照。 hydrostatic test

7317 

水浸法 

試験体の内部に圧力をかけ,水又は他の液体に浸せき
させて行う試験。

7325 

発泡試験”参照。

water immersion test

7318 

スニッファ法 

試験体の内部をサーチガスで加圧して行う漏れ試験。

漏れ箇所から漏れるサーチガスをスニッファプロー
ブで検出する。

sniffing test,   
sniffer method

7319 

蓄積試験 

サーチガスを既知の容積に蓄積させて行う漏れ試験。
注記  漏れによる分圧上昇を校正リークと比較する

か濃度の分かっているガスと比較することに
よって求めることができる。

accumulation test

7320 

動的リーク試験 

サーチガスを用いて排気しながら行う漏れ試験方法。 dynamic leak test

7321 

トレーサプローブ漏

れ箇所捜し 

7328 

プローブ試験”参照。

tracer probe leak location

7322 

トレース 

漏れ箇所捜しの走査。 trace

(verb)


74

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

7323 

背圧側スペース法, 
バッキングスペース

 

7308 

カウンタフロー法”参照。

backing space technique

7324 

背 圧 側 配 管 ポ ー ト

法, 

バッキングラインポ

ート法 

7308 

カウンタフロー法”参照。

backing-line port technique

7325 

発泡試験 

試験体を液体に浸すか,

その外面を界面活性剤

(発泡)

溶液で覆うことによって漏れを検出する試験。

bubble test

7326 

ハロゲン漏れ試験 

ハロゲンガスをサーチガスとして用いる漏れ試験。

halogen leak test

7327 

吹付け法 

プローブ(スプレイガン)を使う漏れ試験方法。 spray

test

7328 

プローブ試験 

プローブ(スプレイガン)を用いてサーチガスを吹き

付けて行う漏れ試験。 
注記  これによって漏れ箇所を特定できる。

probe test

7329 

ヘリウム漏れ試験 

ヘリウムをサーチガスとして用いる漏れ試験。

helium leak test

7330 

ベルジャー試験 

試験体の一部又は全部にサーチガスを充てんし,その

試験体を,真空チャンバ又は真空容器内に入れて漏れ
を検出する試験。

bell jar test

7331 

ボンビング 

密閉した試験対象物を高圧の試験ガス(通常はヘリウ
ム)にさらす操作。

bombing

7332 

ボンビング試験 

7306 

加圧−排気試験,圧力−排気試験”参照。 bombing

test

7333 

マスキング 

試験対象以外の部分にサーチガスの侵入を防止する
ためにその部分を覆うこと。

masking

7334 

リーク位置捜し 

リーク箇所の特定。 leak

locating

  (8)  ひずみ測定 

(80)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8001 

静ひずみ 

大きさが時間的に変化しないひずみ又は変化しない
とみなすことができるひずみ。

static strain

8002 

動ひずみ 

大きさが時間的に変化するひずみ。 dynamic

strain

(81)  測定方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8101 X 線応力測定法 

多結晶体の表層部に特性 X 線を入射し,X 線回折を
利用して格子面間隔の変化を検出することによって
応力を測定する方法。

X-ray stress measuring   
  method

8102 

応力塗料膜法 

試験体の表面に応力塗料を塗装してもろい膜を形成
しておき,負荷したときに膜に生じるき裂の模様か

ら,応力又はひずみの分布を測定する方法。

brittle coating method,   
brittle lacquer coating   
  method

8103 

音弾性法 

弾性体に力を加えたとき,力学的異方性によって音響

複屈折が生じる現象(音弾性効果)を利用して,応力
を測定する方法。

acoustoelastic method

8104 

光弾性法 

透明な均質等方性の物体に力を加えたときに生じる

光弾性効果を利用して応力を測定する方法。

photoelasticity

8105 

コースティック法, 
シャドー・スポット

 

荷重を受けた平板に平行光を入射させ,応力集中部か

ら反射又は透過された光で形成されるコースティッ
ク像を利用して,応力拡大係数,集中荷重などを測定
する方法。

method of caustics,   
shadow spot method


75

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8106 

磁気ひずみ法 

磁化された強磁性体に力を加えて変形させると磁化
の強さが変化することを利用して,応力又はひずみを
測定する方法。

magnetostriction method

8107 

スペックル法 

物体面を可干渉性の光で照射したときに生じるスペ
ックルパターンを利用して,変形,変位又はひずみを
測定する方法。

method of speckle

8108 

熱弾性応力測定法, 
熱弾性法 

熱弾性効果による測定対象物の表面温度変化の分布
を赤外線サーモグラフィ装置で測定し,表面主応力和

変動の分布へ換算・表示する方法。

thermoelastic stress   
  measuring method

8109 

バルクハウゼンノイ

ズ法 

バルクハウゼンノイズが,応力の方向及び大きさによ

って変化する現象を利用して,応力を測定する方法。

BHN stress measuring   
  method

8110 

ひずみゲージ法 

物体が変形すると,接着又は埋設したセンサの電気抵

抗が変化する現象を利用して,

ひずみ又は応力を測定

する方法。

strain gauge method

8111 

ホログラフィ干渉法 

ホログラムの再生像を用いて得られる干渉じま(縞)

を利用して,物体の変位,変形などを測定する方法。

holographic interferometry

8112 

めっき法 

銅又はニッケルめっきを施した試験体に繰返し荷重

を加えると,めっき層表面にはん(斑)点が生じる現
象を利用して,応力又はひずみを測定する方法。

electroplating method

8113 

モアレ法 

2 枚の格子(格子像を含む。)を重ねたときに生じる
モアレじま(縞)を利用して,物体の形状,変位又は
ひずみを求める方法。

moiré method

(82)  電気的方法 

a)  ひずみゲージ法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8201 

アクティブゲージ 

ひずみを測定する部分に取り付けたひずみゲージ。 active

gauge

8202 1 ゲージ法 

ゲージブリッジの 1 辺がひずみゲージで構成される
測定法。

quarter bridge technique,   
one arm technique

8203 

埋込みゲージ 

モルタル,コンクリートなどに埋め込んで,内部のひ
ずみを測定するひずみゲージ。

mould gauge,   
embeddable strain gauge

8204 

大ひずみゲージ, 
塑性域ゲージ, 
塑性ゲージ 

通常のひずみゲージに比べて大きなひずみに追従で

きるひずみゲージ。

large-elongation strain   
  gauge,  
post yield strain gauge

8205 

熱硬化形接着剤 

加熱によって硬化する接着剤。

heat setting adhesive,   
heat curing adhesive

8206 

ゲージ基準線 

ゲージ受感部の中心位置,方向などを示すために,ゲ
ージベースに表示された線又は記号。

gauge guide line,   
gauge guide mark

8207 

ゲージクリープ 

環境が一定の状態で,ひずみゲージにある一定の大き
さのひずみを加えたとき,指示ひずみが時間と共に変
化する現象。

gauge creep

8208 

ゲージ軸 

ゲージ受感部の測定方向の中心軸。 gauge

axis

8209 

ゲージ受感部 

ひずみゲージの抵抗素子で,ひずみを受けて抵抗変化

を生じる部分。

sensitive element

8210 

ゲージタブ 

はくひずみゲージにおいて,ゲージリード又は導線を

取り付けるためにはくが広くなった部分。

gauge tab

8211 

ゲージ長, 
ゲージ長さ 

ゲージ受感部のゲージ軸方向の長さ。ただし,折返し

部分の長さは除く。折返し部分をもたないものでは,
ひずみゲージの電極間の内側長さ。

gauge length

8212 

ゲージ抵抗 

ひずみゲージの電気抵抗値。 gauge

resistance


76

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8213 

ゲージ幅 

ゲージ受感部のゲージ軸と直交する方向の外側の長
さ。

gauge width

8214 

ゲージブリッジ 

ひずみゲージを構成辺とするブリッジ回路。

strain gauge bridge

8215 

ゲージベース 

ゲージ受感部の形状を保ち,ひずみの伝達,電気絶縁
などの役目を果たす薄い膜状又は板状の部分。

gauge matrix,   
gauge base,   
gauge backing

8216 

ゲージ率 

接着されたひずみゲージのゲージ軸方向に加えられ

た 1 軸応力によって生じる抵抗変化率 ΔR/と,ゲー
ジ軸方向のひずみ ε との比  (ΔR/R)/ ε

gauge factor

8217 

ゲージリード 

ゲージ受感部又はゲージタブから引き出された細い
導線。

gauge lead

8218 

高温ゲージ 

主に高温で使用できるように作られたひずみゲージ。 high temperature strain

  gauge

8219 

抗磁性ゲージ 

磁気抵抗効果による影響をできるだけ少なくするよ

うな材料を用いて作られたひずみゲージ。

non-magnetoresistive strain 
  gauge

8220 

校正ひずみ 

ひずみ測定器を校正するために加えるひずみ信号。 
注記  ひずみ入力で示される。

reference strain,   
equivalent strain for   
  calibration

8221 3 軸ロゼットゲージ 

主ひずみの大きさ及び方向を知るために,三つの受感
部が特定の 3 方向に配置されたひずみゲージ。

three-element rosette strain 
  gauge

8222 3 線式結線法 

温度によるリード線の抵抗変化の影響を避けるため,

リード線を 3 本用いる結線法。

three wire system,   
three lead system

8223 

シアノアクリレート

系接着剤 

シアノアクリレート樹脂を基材とした常温で短時間

に硬化する接着剤。瞬間接着剤ともいう。

cyanoacrylate adhesive

8224 

自己温度補償ゲージ 

規定された温度範囲で温度変化による見かけのひず

みが,できるだけ少なくなるように作られたひずみゲ
ージ。

self-temperature  
  compensated strain gauge

8225 

指示ひずみ 

測定の結果,ひずみ測定器に表示されるひずみ。 indicated

strain

8226 

常温硬化形接着剤 

熱を加えないで硬化する接着剤。 room-temperature

setting

  adhesive,  
cold setting adhesive

8227 

スイッチボックス 

1 台のひずみ測定器で多数点のひずみ測定を行うた
め,ひずみゲージの切換えを行う器具。

switching box

8228 

縦感度 

ひずみゲージのゲージ軸方向に加えた 1 軸ひずみ ε

l

によって生じた抵抗変化率 ΔR

/と ε

l

との比  (ΔR

/R)

/ε

l

longitudinal sensitivity

8229 

ダミーゲージ 

ゲージブリッジを構成する抵抗としてだけ用いるひ
ずみゲージ。温度補償の目的のものも含まれる。

dummy gauge

8230 

単軸ゲージ 

1 方向のひずみを測定するためのひずみゲージ。

uni-axial strain gauge

8231 

低温ゲージ 

主に低温で使用できるように作られたひずみゲージ。 low temperature strain gauge

8232 

抵抗線ひずみゲージ 

ゲージ受感部に細線状の金属抵抗体を用いたひずみ
ゲージ。

wire strain gauge,   
wire resistance strain gauge

8233 

電気抵抗ひずみゲー

 

電気抵抗体にひずみを与えたとき,その抵抗値が変化
する現象を応用して,ひずみを測定するために使用す
るセンサ。単にひずみゲージ又はゲージということも

ある。

electric resistance strain   
  gauge


77

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8234 

等価ひずみ 

ゲージブリッジを構成するひずみゲージにひずみが
加わって生じる出力電圧を,同じ出力電圧を与える 1
辺のひずみゲージのひずみに換算した値。 
注記  変換式は,次のとおりである。

KE

e

ε

4

=

ここに,  ε  :等価ひずみ 

:ゲージ率

:ブリッジの出力端開放電圧

:ブリッジの印加電圧

equivalent strain

8235 2 ゲージ法 

ゲージブリッジの 2 辺がひずみゲージで構成される

測定法。

half bridge technique,   
two arm technique

8236 2 軸直交ゲージ 

二つの受感部が直交する方向に配置されたひずみゲ

ージ。

two-element rectangular   
  rosette strain gauge

8237 

熱 出 力 ( ゲ ー ジ の

), 

温度による見かけの

ひずみ 

試験体が自由膨張できる状態で,ひずみゲージと試験

体との温度を一様に変化させたときに生じる指示ひ
ずみ。

apparent strain caused by   
  temperature change

8238 

はくひずみゲージ 

ゲージ受感部に,はく(箔)状の金属抵抗体を用いた
ひずみゲージ。

foil strain gauge

8239 

半導体ひずみゲージ 

ゲージ受感部に,ゲルマニウム,けい素などの半導体
を用いたひずみゲージ。

semiconductor strain gauge

8240 

ひずみ限界(ゲージ

の−) 

ひずみゲージが損傷しないで動作できるひずみの最
大値。

strain limit of strain gauge

8241 

ひずみ測定器 

電気抵抗ひずみゲージを用いて,ひずみを測定するた
めの機器。

strain measuring instrument

8242 

ひずみ入力 

ひずみで示したひずみ測定器への入力。 strain

input

8243 

ブリッジ電源 

ゲージブリッジの印加電源。 bridge

excita

bridge supply

8244 

ブリッジボックス 

ゲージブリッジを構成するための器具。 bridge

box

8245 

防水ゲージ 

ひずみゲージの表面及びリード線を防水性のある材
料で覆い,試験体に接着するだけで防水効果のあるよ
うに作られたひずみゲージ。

water proof strain gauge

8246 

無誘導ゲージ 

磁界による誘導電圧をできるだけ少なくするような
形状に作られたゲージ。

non-inductive strain gauge

8247 

溶射ゲージ 

試験体に溶射によって取り付けられるひずみゲージ。 thermal spray strain gauge

8248 

溶接ゲージ 

試験体に溶接によって取り付けられるひずみゲージ。 weldable strain gauge

8249 

横感度 

ひずみゲージのゲージ軸と直角な方向に加えた 1 軸
ひずみ ε

t

によって生じた抵抗変化率 ΔR

/と ε

t

との比

(ΔR

/R) / ε

t

transverse sensitivity

8250 4 ゲージ法 

ゲージブリッジの 4 辺がひずみゲージで構成される

測定法。

full bridge technique,   
four arm technique


78

Z 2300

:2009

   

(83)  光学的方法 

a)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8301 

位相差 

角度の単位で表した光路差。 
注記  変換式は,次のとおりである。

Δ

λ

π

δ

2

=

ここに,  δ :位相差 

λ :真空(実用的には空気)中における光の

    波長

Δ :光路差

phase difference

8302 

回折格子 

光の回折を利用してスペクトルを得るために用いる
光学素子。 
注記  平面格子,凹面格子などがある。

diffraction grating

8303 

干渉 

二つ以上の光波が同一点で重なって,互いに強め合う

又は弱め合う現象。

interference

8304 

干渉次数, 
干渉じま(縞)次数 

干渉する二つの光路の差を波長で除した値。

order of fringes

8305 

干渉じま(縞) 

光の干渉によって生じる明暗又は色の付いたしま
(縞)

interference fringes

8306 

格子 

間隔一定の平行な線群。 grating

8307 

単色光, 
単色放射 

単一波長の光又は一つの波長の光で代表される程度
に狭い波長範囲に含まれる光又は放射。

monochromatic radiation

8308 

白色光 

通常連続スペクトルからなる肉眼で白色に見える光。 white light

b)  光弾性法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8309 

暗視野 

偏光子と検光子とが互いに垂直に配置された光弾性
の場。

dark field

8310 

円偏光 

振動面が時間に比例して一様に回転する偏光。 
注記  直線偏光の偏光面と 1/4 波長板の主軸とのなす

角度を+45°とし,直線偏光を 1/4 波長板に入

射すると,円偏光を得る。

circularly polarized light

8311 

応力凍結法 

ガラス転移温度以上のゴム状領域で負荷した透明高
分子材料の試験体においては,

ゆっくりと冷却してガ

ラス状領域で除荷しても負荷時の光学的異方性が凍
結(残留)されることを利用して,冷却後に試験体を
スライスして透過光弾性法を適用することによって

三次元応力分布を測定する方法。

stress freezing technique

8312 

応力光係数 

主屈折率 n

1

n

2

n

3

と主応力 σ

1

σ

2

σ

3

との間の関係式

)

(

o

k

j

i

i

B

A

n

n

σ

σ

σ

+

+

=

)

(

j

i

j

i

C

n

n

σ

σ

=

における比例定数 ABC 
ここに, n

o 

:無応力状態の屈折率

 i 

:1, 2, 3

 j 

:2, 3, 1

 k 

:3, 1, 2

注記  を直接応力光係数,を横応力光係数,

相対的応力光係数,ブリュースタの定数又は光
弾性係数という。

stress optical coefficient

8313 

検光子 

試験体を透過した後の偏光を検出するための偏光板。 analyzer


79

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8314 

光弾性感度, 
応力感度 

光弾性係数を光の波長で除した値。 photoelastic

sensitivity,

stress sensitivity

8315 

光弾性係数 

複屈折によって生じた二つの光波の振動方向におけ

る屈折率の差と主応力差との間の比例定数。

photoelastic coefficient

8316 

光弾性効果 

透明な弾性体に力を加え,内部にひずみが生じること

によって光学的異方体となり複屈折を生じる現象。ピ
エゾ光電効果又はひずみ光学効果ともいう。

photoelastic effect

8317 

光弾性じま(縞) 

光弾性効果によって生じた二つの偏光の干渉によっ
て現れるしま(縞)

注記  等色線と等傾線とがある。

photoelastic fringe

8318 

光弾性被(皮)膜法 

試験体の表面に光弾性材料の被膜を接着し,被膜に伝
えられたひずみを,光弾性効果を利用して測定するこ

とによって,試験体表面の応力又はひずみの分布を測
定する方法。

birefringence coating   
  technique,  
photoelastic coating   
  technique

8319 

主応力分離 

等色線から決定される主応力差に基づいて主応力を

求めること。 
注記  場合によっては,等傾線から決定される主応力

の方向も利用する。

separation of principal   
  stresses

8320 

直線偏光 

振動面が一つの平面内にある偏光。平面偏光ともい
う。

linearly polarized light

8321 

透過光弾性法 

透明な平板状の試験体に対して垂直に偏光を入射・ 
透過させる光弾性法。二次元光弾性法ともいう。

photoelastic transmission   
  technique

8322 

等傾線 

偏光子と検光子とを互いに直交させて直線偏光を試
験体に入射させたとき,光弾性効果によって生じた二

つの偏光の偏光面と偏光子・検光子の主軸方向とが 
一致する箇所に現れる干渉じま(縞)

注記  主応力の方向が一定である点の軌跡と一致す

る。

isoclinic,  
isoclinic fringe

8323 

等色線 

光弾性効果によって生じた二つの偏光の位相差が一
定となる箇所に現れる干渉じま(縞)

注記  主応力差が一定である点の軌跡と一致する。

isochromatic,  
isochromatic fringe

8324 

複屈折 

結晶その他の異方性物質に入射した光が,互いに垂直

な振動方向をもつ二つの光波に分かれる現象。

birefringence,  
double refraction

8325 

ブリュースタの法則 

複屈折によって生じた二つの光波の位相差(光路差)

が主応力差に比例するという法則。

Brewster’s law

8326 

偏光子 

試験体への入射光を直線偏光に変えるための偏光板。 polarizer

8327 

明視野 

偏光子と検光子とが互いに平行に配置された光弾性
の場。

light field

8328 1/4 波長板 

互いに垂直な方向に振動する偏光の光路差を 1/4 波
長だけ変化させる透明板。

quarter-wave plate,   
quarter-wave length plate

c)  モアレ法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8329 

基準格子, 
参照格子 

試料格子に重ねてモアレじま(縞)を形成するために
用いられる変形しない格子。

master grating,   
reference grating

8330 

試料格子, 
変形格子 

試験体に付けた格子。 specimen

grating

8331 

投影モアレ法, 
シャドーモアレ法 

透明な基準格子に照明を当てて物体に投影し,この影
と基準格子とで形成されるモアレじま(縞)

によって,

面外変位又は形状を測定する方法。

shadow moiré technique


80

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8332 

ミスアライメント法 

試料格子と基準格子との間に最初からわずかな相対
回転角を与えておく方法。

misalignment technique

8333 

ミスマッチ法 

最初から間隔がわずかに異なる試料格子と基準格子

とを用いる方法。

mismatch technique

8334 

モアレ干渉法 

試験体表面の回折格子に 2 方向から入射した光の回

折光同士の干渉を利用して面内変位を測定する方法。
回折モアレ干渉法ともいう。

moiré interferometry

8335 

モアレじま(縞) 

2 枚の格子を重ねたとき,格子間隔の差又は相対回転
によって生じる干渉じま(縞)

moiré fringe

d)  ホログラフィ干渉法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8336 

参照波 

ホログラムを作る場合,物体波とある角度をなして写
真フィルム,乾板などに直接に入射する光波。

reference wave,   
reference beam

8337 

時間平均法 

振動周期より十分長い時間露光して作られたホログ
ラムの再生像から,物体の振動パターンを観察する方

法。

time-average technique

8338 

実時間法 

物体の変形前のホログラムによる再生像と,変形後の

物体像とによる干渉じま(縞)を観察して変位,変形
などを求める方法。

real-time technique

8339 

二重露光法 

変形前後の物体波を 1 枚の感光材料に重ねて記録さ

せ,この像上のしま(縞)模様を観察して変位,変形
などを求める方法。

double-exposure technique

8340 

物体波 

ホログラムを作る場合,物体から出て写真フィルム,
乾板などに入射する光波。信号波ともいう。

object wave,   
object beam

8341 

ホログラム 

物体から出る光波と,それと干渉性がある光波との干
渉パターンを写真フィルム,乾板などに記録したも
の。

hologram

e)  スペックル法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8342 

スペックル, 
スペックルパターン 

レーザ光線のような干渉性がよい光で拡散面を照明

するとき,不規則に散乱された光の干渉によって生じ
るはん(斑)点模様。

speckle,  
speckle pattern

8343 

スペックル干渉法 

物体の変形前後のスペックルパターンを写真的に又
は電子的に重ね合わせて記録し,面内又は面外の変位
を測定する方法。

speckle interferometry

8344 

スペックル写真法 

スペックルを写真フィルムに記録し,それにレーザ光
を照射して形成された干渉じま(縞)から変位を求め

る方法。

speckle photography

f)  コースティックス法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8345 

コースティック像 

荷重を受けた平板に平行光を入射させると,応力集中
部の板厚及び屈折率の変化に応じて透過光又は反射
光が曲げられることによって形成される,周囲が明る

く内部が暗い像。

caustic pattern

8346 

透過法 

試験体を透過した光によって像を形成する方法。 transmission

technique

8347 

反射法 

試験体の表面で反射された光によって像を形成する
方法。

reflection technique


81

Z 2300

:2009

(84)  赤外線を用いる方法 

a)  熱弾性応力測定法 

熱弾性応力測定法に関連する用語は,(10)

  赤外線サーモグラフィにおいて定義する。

(85)  線を用いる方法 

a)  線応力測定法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8501 X 線回折 

結晶格子面で散乱された X 線が,X 線の波長と結晶
の 0 格子面間隔によって定まる方向で干渉して強め

合う現象。

X-ray diffraction

8502 

応力定数 

sin

2

 ψ 法において用いる,次式で定義される定数。

0

cot

)

1

(

2

θ

v

E

K

+

=

ここに,:応力定数 
 E 

:縦弾性係数

 v 

:ポアソン比

 

θ

0

:無ひずみ状態におけるブラッグ角

stress constant

8503 

回折  

X 線回折によって発生する二次 X 線。 diffracted

X-ray

8504 

回折角 

入射 X 線と回折 X 線とのなす角の補角。 
注記  ブラッグ角 θ の 2 倍に等しい。

diffraction angle

8505 

回折面 

結晶の格子面のうち,X 線回折に関与している特定の

格子面。

diffraction plane

8506 

格子面間隔 

同じミラー指数で表される隣接した二つの格子面間
の距離。

spacing of lattice planes

8507 sin

2

 ψ 法(さいんぷさ

いにじょうほう) 

X 線の照射箇所において,様々な回折面から得られた
回折角 2θ のデータに基づいて,次の式によって応力
σ

x

を算定する方法。

)

(sin

)

2

(

2

ψ

θ

σ

K

x

ここに,K  :応力定数 
 

ψ  :試験体表面の法線と回折面法線とのな

    す角

sin

2

 ψ technique

8508 

側傾法 

入射 X 線と X 線検出器の走査方向とで作られる面が,

試験体表面の法線と応力を測定する方向とで作られ
る面と直交する検出器の走査方法。

side inclination technique

8509 

入射  

試験体に照射される X 線。 incident

X-ray

8510 

入射角一定法, 
ψ

0

一定法(ぷさいぜ

ろいっていほう) 

X 線入射角度 ψ

0

を固定して,X 線検出器だけを走査

させる X 線の入射方法。

fixed incident-angle   
  technique

8511 

半価幅法, 
半値幅法 

回折強度曲線において,まずバックグラウンド強度を

表す直線を定め,これを基準として最大強度の 1/2 の
高さでバックグラウンド直線に平行な直線を定め,こ
の直線と回折強度曲線との 2 交点の中点に対応する

角度を求めることによって,回折角 2θ を決定する方
法。

half value breadth technique

8512 

ピーク位置 

回折角 2θ に対応する回折強度曲線の図上の位置。 peak

location

8513 

ブラッグ角 

ブラッグ条件を満たす角度 θ,すなわち,入射 X 線又

は回折 X 線と格子面とのなす角度。

Bragg angle


82

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8514 

ブラッグ条件 

X 線回折現象を規定する条件。 
注記  X 線の波長を λ,格子面間隔を d,入射線と格

子面とのなす角度を θ とするとき,2dsinθ

は整数)で示される。

Bragg condition

8515 

並傾法 

入射 X 線と X 線検出器の走査方向とで作られる面が,
試験体表面の法線と応力を測定する方向とで作られ

る面と一致する検出器の走査方法。

iso-inclination technique

8516 

平行ビーム法 

X 線をソーラスリットで平行ビームにしてから試験
体に照射し,回折 X 線を再びソーラスリットを通し
て検出する方法。

parallel beam technique

8517 

ミラー指数 

結晶格子面を  (hkl)  と表すときの 3 整数 hkl。 Miller

index

(86)  磁気を用いる方法 

a)  磁気ひずみ法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8601 

磁気異方性センサ 

磁化用と磁化の強さ測定用との二つのコの字形電磁

石を直交させ,主応力の方向と主応力差とを測定する
ための磁気センサ。

magnetic anisotropy sensor

8602 

磁気ひずみ効果 

強磁性体を磁化すると変形を生じる現象。 magnetostriction

effect

b)  バルクハウゼンノイズ法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8603 

バルクハウゼンノイ

 

磁化過程での磁壁の発生又は移動が不連続的に起こ
るために発生するパルス状の磁気ノイズ。

Barkhausen noise

8604 

バルクハウゼンノイ

ズセンサ 

磁化用電磁石の磁極間にバルクハウゼンノイズ検出
用電磁石を配置した一体構造のセンサ。

Barkhausen noise sensor

(87)  超音波を用いる方法 

a)  音弾性法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8701 

音響複屈折 

物体内を伝ぱ(播)するせん断波の伝ぱ速度が振動方
向によって異なる現象。

acoustic birefringence

8702 

複屈折音弾性定数 

複屈折音弾性法則において,二つの主応力方向に振動
するせん断波の伝ぱ速度の差と主応力差との間の比
例定数。

acoustic elastic constant

8703 

複屈折音弾性法則 

平面応力場において,二つの主応力方向に振動するせ
ん断波の伝ぱ速度の差が,材料異方性及び主応力差に

依存することを示す法則。

rule of acoustic birefringence

(88)  被(皮)膜を用いる方法 

a)  応力塗料膜法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8801 

応力緩和法 

応力塗料膜の粘弾性特性を利用して圧縮ひずみを測

定する方法。

stress relaxation technique

8802 

応力塗料 

わずかなひずみでき裂を生じるようなもろい塗料。ひ

ずみ塗料又はぜい性塗料ともいう。

brittle lacquer,   
brittle coating

8803 

き裂密度 

き裂に垂直な方向の単位長さ当たりに含まれるき裂
の数。

crack density

8804 

下塗塗料 

試験体の表面状態を整えるために用いる塗料。 under

coating,

undercoat

8805 

ひずみ感度 

応力塗料膜にき裂が生じるときの最小ひずみ。 strain

sensitivity


83

Z 2300

:2009

b)  めっき法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

8806 

検定曲線 

観察されたはん(斑)点模様からひずみを求めるため

に,あらかじめはん(斑)点が発生する限界のひずみ
と繰返し数との関係を定量化した基準曲線。

calibration curve

8807 

電解研磨 

はん(斑)点模様を観察するために,めっき表面に直

流を与えて研磨すること。

electropolishing

  (9)  目視試験 

(90)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

9001 

遠方視力 

遠く (5 m) を見る能力。 distance

vision

9002 

観察条件 

表面状態の目視試験を適切に行うために整える環境。 viewing condition

9003 

近方視力 

近く(通常 30 cm)を見る能力。 near

vision

9004 

色覚 

色を識別する能力。 color vision

9005 

視野 

視認可能な範囲を意味し,正面を見たときに同時に見
え得る角度範囲。レンズの場合は,画面に映り得る最

大限の対角線範囲の基準点からの角度範囲を意味す
る。

field of view

9006 

照度 

一定面積の表面に一定時間に受ける光の量。 illuminance

9007 

ジャガー番号 

ASNT (American Society for Nondestructive Testing)  の
SNT-TC-1A に規定する近方視力確認用ジャガーチャ
ートの番号。

Jaeger eye chart number

9008 

動体視力 

動く物体を見る能力。観察者が静止した状態で,移動

する目標物を連続して追い続ける眼の能力。 
注記  観察者が動いている状態で移動する一つの目

標物を連続して追い続ける眼の能力は動態視

力という。

dynamic vision

(91)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

9101 

光学的補助具 

各種の材料,加工品,製品,設備及び装置の目視試験
を実施する場合に,近くを拡大したり,遠くの物体表
面,細い管・空洞の内面などを観察するために使用す

る補助具。鏡,拡大鏡,双眼鏡,ボアスコープ,ファ
イバスコープ,TV カメラ,写真機などを含む。

optical assistant tool,   
optical aids

9102 

目視補助具 

各種の材料,加工品,製品,設備及び装置の目視試験
を実施する場合に使用する補助具で,観察用の照明器
具,直尺,巻尺,ノギス,マイクロメータのほかに,

限界ゲージ,溶接ゲージなど測定器具を含む。目視試
験・点検に常時携行する懐中電灯,テストハンマ,記
録関係などの器具・用具類も含む。

visual assistant tool,   
mechanical aids

9103 

溶接ゲージ 

溶接部の余盛高さ,目違いなどの寸法を計測するため
に用いるゲージ。

measuring gauge of welds

(92)  標準試験片・対比試験片 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

9201 

カラーチャート, 
色標(しきひょう)

 

色見本 

色を表示するための色見本を配したチャート。 color

chart

9202 

グレースケール, 
無彩色スケール 

白色と黒色及びその中間の明度の異なる色を配した
チャート。

gray scale


84

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

9203 

対比試験片(目視試

験用−) 

目視試験に使用する試験材の表面状態の適否を調べ
るのに比較する試験片。

reference test piece,   
reference specimen

9204 

標準試験片(目視試

験用−) 

標準の表面状態をもつ試験片。

standard test piece

(93)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

9301 

解像力, 
解像度 

レンズ,写真感光材料などの性能を表す量の一つ[等
間隔な黒白の条線の像のうちで見分けられる黒白一

対の最小幅 (mm) の逆数]

。一般に,解像力(解像度)

チャートなどを用いて判別する。

resolution

9302 

型取法 

型取ゲージ又は型取材(印象剤)を使って表面形状を

測定する方法。

impression technique

9303 

間接目視 

CCD,TV カメラ,写真機などの画像機器を用いて間
接的に観察する方法。

indirect viewing

9304 

直接目視 

直接又は光学的補助具(ただし,TV カメラ,写真機

などの画像機器を除く。

)を用いて観察する方法。

direct viewing

  (10)  赤外線サーモグラフィ 

(100)  一般 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

10001 

吸収率 

物体で吸収され熱に変わる赤外線放射エネルギーと,

物体に入射したエネルギーとの比。 
[記号:α]

absorptivity: α

10002 

黒体 

入射する赤外線放射エネルギーを,波長,入射方向及
び偏光状態に関係なくすべて吸収し,放射する物体
で,放射率が 1 となる理想的な熱放射体(JIS Z 9211

参照)

black body

10003 

赤外線放射エネルギ

 

赤外線,すなわち波長が可視光の波長より長く,1 mm

より短い電磁波として放射・伝搬するエネルギー。
[単位:J]

infrared radiant energy

10004 

大気の窓 

赤外線の波長帯域において大気による吸収の少ない

帯域。

atmospheric window

10005 

透過率 

物体で吸収されずに通過していく赤外線放射エネル

ギーと,物体に入射したエネルギーとの比(JIS Z 
9211 
参照)。[記号:τ]

transmissivity: τ

10006 

熱弾性係数 

熱弾性効果における温度変動と,物体温度と主応力和
の変動との積の比例係数。 
物質定数で次の式の関係がある。

      ka /(ρCp
ここに, k  :熱弾性係数[単位:1/Pa] 

a  :線膨張係数[単位:1/K]

ρ  :密度[単位:kg/m

3

Cp :定圧比熱[単位:J/(kg・K)]

thermoelastic coefficient


85

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

10007 

熱弾性効果 

物体の断熱的な弾性変形に伴って温度変動が生じる
現象。温度変動は主応力和の変動に比例し,一般的に
引張りによる温度降下と圧縮による温度上昇とが見

られる。 
      ΔT=−kTΔσ 
ここに, ΔT :温度変動[単位:K] 
 k 

:熱弾性係数[単位:1/Pa]

 T 

:物体温度[単位:K]

 

Δσ :主応力和の変動[単位:Pa]

thermoelastic effect

10008 

灰色体 

放射率が波長によらず,1 より小さい一定値をもつ物
体。

gray body

10009 

背景放射 

赤外線検出器が測定対象面以外の面から検出する赤
外線放射。

background radiation

10010 

反射率 

物体から反射された赤外線放射エネルギーと,物体に
入射するエネルギーとの比(JIS Z 9211 参照)

[記号:ρ

reflectivity: ρ

10011 

放射率 

物体の赤外線放射エネルギーと,その物体と同一温度
である黒体の放射エネルギーとの比(JIS Z 9211 

照)

[記号:ε

emissivity: ε

10012 

見かけの温度 

放射率を 1 と仮定した場合に,

測定した赤外線放射エ

ネルギーから求められる物体の温度。

[単位:K]

apparent temperature

(101)  機器・材料 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

10101 

位相合わせ 

測定対象物への熱又は荷重負荷に同期した信号と,実
際に発生している温度変動の位相とを調整すること。

phase adjustment

10102 

位置補正 

測定対象物の変位・変形のために生じる測定誤差を補
正すること。

motion compensation

10103 

エッジ効果 

熱弾性応力測定法において変動荷重を負荷するとき
に,測定対象物の変位又は変形のために,エッジ部で
測定誤差が生じること。

edge effect

10104 

応力分解能 

熱弾性応力測定法において,測定可能な主応力和変動
の最小値。

stress resolution

10105 

温度差画像方式 

周期変動する温度が最大及び最小となるときの温度
分布画像を測定し,それらから温度変動幅の画像を作

ることによって主応力和の変動幅の分布画像を作成
する信号処理方式。 
注記  変動幅とは,いわゆる全振幅を意味する。

temperature difference   
  imaging technique

10106 

温度ドリフト 

周囲温度の変化によって生じる赤外線放射計の出力
変動。

temperature drift

10107 

温度分解能 

識別可能な見かけの最小温度差。 temperature

resolution

10108 

画像加算平均 

S/N(信号レベル/ノイズレベル)改善のため,画像
を重ね合わせて,それを総数で除すること。

frame averaging

10109 

空間分解能 

二次元センサを使用した赤外線放射計において映像

化できる最小視野角。二次元に配列された検出素子の
ピッチ間隔を結像レンズの焦点距離で除した値。

spatial resolution

10110 

最小検知温度差 

ある大きさの測定対象物を検出するのに必要な対象

物と背景との最小温度差。

minimum detectable   
  temperature difference   
  (MDTD)


86

Z 2300

:2009

   

番号

用語

定義

対応英語(参考)

10111 

最小検知寸法 

測定可能な,最も小さな測定対象物の寸法又は長さ。 minimum detectable

  dimension (MDD)

10112 

最小分解温度差 

標準スリットパターンを識別するのに必要な標準試

験片と背景との最小温度差。

minimum resolvable   
  temperature difference   
  (MRTD)

10113 

雑音等価温度差 

検出信号が雑音のレベルに等しくなるときの測定対
象物と背景との最小温度差。

noise equivalent temperature 
  difference (NETD)

10114 

視野角 

測定できる視野の範囲(JIS C 1612 参照)

。 field

of

view

(FOV)

10115 

瞬時視野角 

走査装置において個々の検出素子が映像化できる視

野角。

instantaneous field of view   
  (IFOV)

10116 

精度定格 

定められた使用環境条件で許容される計測値の最大
誤差。

accuracy rating

10117 

赤外線画像 

赤外線放射エネルギーの強度分布をコントラスト又
はカラーパターンに当てはめた画像。

infrared image

10118 

赤外線カメラ 

赤外線放射エネルギーを検出し,その強度分布を画像
表示する装置。 
注記  熱赤外線カメラと呼ぶこともある。

infrared thermographic   
  camera,  
thermal infrared camera

10119 

赤外線検出器 

赤外線放射エネルギーを検出し,電気信号に変換する

センサ。

infrared detector

10120 

赤外線サーモグラフ

 

赤外線放射エネルギーを検出し,見かけの温度に変換
し,その分布を画像表示する方法。 
注記  装置を示すこともある。

infrared thermography

10121 

赤外線サーモグラフ

ィ装置 

赤外線カメラのうち,赤外線放射エネルギーを見かけ

の温度に変換し,その分布を画像表示する装置。

infrared thermographic   
  instrument

10122 

赤外線放射計 

赤外線放射エネルギーを測定する機器。 
注記  赤外線カメラも含まれる。

infrared radiometer

10123 

測定周波数帯域 

熱弾性応力測定が可能な負荷周波数の帯域。

load frequency range

10124 

多素子形センサ 

赤外線検出素子を一次元又は二次元に複数個配列し
たセンサ。

multi-elements sensor

10125 

単素子形センサ 

一個の赤外線検出素子からなるセンサ。 single

element

sensor

10126 

熱画像 

赤外線放射エネルギーを見かけの温度分布としてコ

ントラスト又はカラーパターンに当てはめた温度画
像。

thermogram thermal image

10127 

熱弾性応力測定装置 

熱弾性効果に基づき測定対象物の応力分布を測定す
るための装置。

thermoelastic stress   
  measurement apparatus

10128 

表示画素数 

モニター上で表示される熱画像又は赤外線画像を構

成する最小単位(画素)の数。

number of pixels

10129 

非冷却形センサ 

冷却器を用いなくても動作するセンサ。 uncooled

sensor

10130 

フレームタイム 

熱画像又は赤外線画像を連続して計測するときの画
像計測周期。

frame time

10131 

面積効果 

測定対象物の面積に依存して,

赤外線放射計の出力が

変化すること。

area effect

10132 

有効画素数 

測定された赤外線画像の空間分解能を表す。走査形赤
外線サーモグラフィ装置の場合には走査ピッチ,アレ
イセンサを用いた赤外線サーモグラフィ装置の場合

には,検出器の画素数によって決まる。

effective number of pixels

10133 

冷却形センサ 

赤外線放射エネルギーの検出感度を上げるために,熱

雑音の影響を軽減するための冷却を必要とするセン
サ。

cooled sensor


87

Z 2300

:2009

番号

用語

定義

対応英語(参考)

10134 

ロックイン方式 

温度変動の時系列データから,

参照信号と同一周波数

の温度変動だけを抽出することによって主応力和の
変動幅の分布画像を作成する信号処理方式。 
注記  変動幅とは,いわゆる全振幅を意味する。

lock-in technique

(102)  試験片・対比試験片 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

10201 

標準スリットパター

 

最小分解温度差 (MRTD) を評価するために用いる標
準試験片に存在する貫通スリットのパターン。

standard slit pattern

(103)  試験方法 

番号

用語

定義

対応英語(参考)

10301 

熱弾性応力測定法, 
熱弾性法 

8108 

熱弾性応力測定法,熱弾性法”参照。 thermoelastic

stress

  measuring method

参考文献 JIS A 

0203  コンクリート用語 

JIS C 1612  放射温度計の性能試験方法通則

JIS G 0201  鉄鋼用語(熱処理)

JIS G 0202  鉄鋼用語(試験)

JIS G 0560  鋼のサルファプリント試験方法

JIS Z 2305:2001  非破壊試験−技術者の資格及び認証

JIS Z 2306  放射線透過試験用透過度計

JIS Z 2345  超音波探傷試験用標準試験片

JIS Z 3001-1  溶接用語−第 1 部:一般

JIS Z 3001-2  溶接用語−第 2 部:溶接方法

JIS Z 3001-4  溶接用語−第 4 部:融接不完全部

JIS Z 3104  鋼溶接継手の放射線透過試験方法

JIS Z 4001  原子力用語

JIS Z 8106  音響用語

JIS Z 8120  光学用語

JIS Z 9211  エネルギー管理用語(その 1)

ISO 4968  Steel−Macrographic examination by sulfur print (Baumann method)

ISO 9712:2005  Non-destructive testing−Qualification and certification of personnel