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Z 0217 : 1998

  解説

解説表 2  JIS と対応する国際規格との対比表

JIS Z 0217

  クラフト紙袋−落下試験方法

ISO 7965-1 : 1984

  包装−袋−落下試験‐第 1 部:紙袋

対比項目

規定項目

(I)  JIS

の規定内

(II)

国 際 規 格 番

(III)

国 際 規 格 の

規定内容

(IV) JIS

と国際規

格との相違点

(V)  JIS

と国際規格との整合

が困難な理由及び今後の
対策

(1)

適用範囲

= ISO は紙袋,

JIS

はクラフ

ト 紙 袋 で あ
るが,実態と

して同一。

(2)

引用規格

○  JIS Z 0102 

ど 6 件。

○ ISO 2248 

ど 3 件。

ADP  (3)

∼(9)と連動。

(3)

定義

○  JIS P 0001 

JIS Z 0102

− ISO に規定さ

れていない。

ISO

に提案する。

(4)

供試品

○  個数:同一落

下姿勢で 3 個

以上。

○ 試料採取は,

ISO  7023

よる。3 個以
上。ただし,
ロ ッ ト の 大

き さ で 決 め
る。

ADP

次回の JIS 見直しを目途と
し ISO への統一化。

(5)

状態調節

○  JIS Z 0203

23

± 1 ℃  (50

±2) %で 24hr

以 上 又 は こ
の 条 件 以 外
の条件。

○ ISO

6599-1

(引用規格)

23

± 1 ℃  (50

±2) %

24hr

以上

ADP

条 件 に 左 記
の違いあり,
恒 温 恒 湿 設

備 の な い 場
合を考慮し,
基 準 以 外 も

規定。

次回の JIS 見直しを目途と
し ISO への統一化。

(6)

試験装置

= 同等

(7)

落下姿勢

= 同等

(8)

操作

○  操作

落 下 高 さ 一

定方式:高さ
は任意。

○ 試験方法

落 下 高 さ 漸

増方式 
落 下 高 さ 一
定方式:高さ

は,破袋前の
落 下 回 数 が

10

回 程 度 と

な る よ う に
決める。 
限 界 高 さ 方

ADP

次回の JIS 見直しを目途と
し ISO への統一化。

(9)

試験報告

= 同等


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Z 0217 : 1998

  解説

解説表 2  JIS と対応する国際規格との対比表(続き)

対比項目

規定項目

(I)  JIS

の規定内

(II)

国 際 規 格 番

(III)

国 際 規 格 の
規定内容

(IV) JIS

と国際規

格との相違点

(V)  JIS

と国際規格との整合

が困難な理由及び今後の
対策

附属書 1 
A

ADP ISO

規格を翻

訳 し 附 属 書

とした。

JIS

本体と附

属 書 の 差 異

は (1) ∼ (9) に
記載。

次回の JIS 見直しを目途と
し ISO への統一化。

項目ごとの対応策は(1)∼

(9)

参照。

基礎材料として JIS 仕様の

クラフト紙 袋が広 く普及
している。

試験報告

− ISO 規 格 に

は,採用した
落 下 試 験 方

法 を 記 載 し
ない(JIS 
は従来 JIS 

と ISO 法の二
つを採用)

今回改正で 可能な 限り対
応する ISO の試験方法の
内容を採用したが,全面的

に ISO 法に切り替えると
市場が混乱するので ISO
を附属書(規定)とした。