X 6320-1
：2009 (ISO/IEC 7816-1：1998, Amd.1：2003)
（1）
目 次
ページ
序文
1
1
適用範囲
1
2
引用規格
1
3
用語及び定義
2
4
物理的特性
3
4.1
概要
3
4.2
追加物理的特性
3
X 6320-1
：2009 (ISO/IEC 7816-1：1998, Amd.1：2003)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき，一般社団法人日本 IC カードシステム利用促
進協議会 (JICSAP) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定す
べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
これによって，JIS X 6303 : 2000 は廃止され，その一部を分割して制定したこの規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS X 6320
の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS X 6320-1
第 1 部：外部端子付き IC カードの物理的特性
JIS X 6320-2
第 2 部：外部端子付き IC カードの端子の寸法及び位置
JIS X 6320-3
第 3 部：外部端子付き IC カードの電気的インタフェース及び伝送プロトコル
JIS X 6320-4
第 4 部：交換のための構成，セキュリティ及びコマンド
JIS X 6320-5
第 5 部：アプリケーション提供者識別子の登録
JIS X 6320-6
第 6 部：交換のための産業間共通データ要素
JIS X 6320-8
第 8 部：セキュリティ処理コマンド
JIS X 6320-9
第 9 部：カード管理共通コマンド
JIS X 6320-11
第 11 部：バイオメトリクスを用いた本人確認
JIS X 6320-13
第 13 部：マルチアプリケーション環境におけるアプリケーション管理用コマンド
JIS X 6320-15
第 15 部：暗号情報アプリケーション
日本工業規格
JIS
X
6320-1
：2009
(ISO/IEC 7816-1
：1998,
Amd.1
：2003
)
識別カード−IC カード−
第 1 部：外部端子付き IC カードの物理的特性
Identification cards-Integrated circuit(s) cards with contacts-
Part 1 : Physical characteristics
序文
この規格は，1998 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 7816-1，Amendment 1 (2003) を基に，技術的内
容を変更することなく作成した日本工業規格である。ただし，追補 (amendment) については，編集し，一
体とした。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，外部端子付き IC カードの物理的特性を規定し，JIS X 6301 で規定した ID-1 の識別カード
に適用する。この識別カードは，JIS X 6302 の規格群に規定されるエンボス及び／又は磁気ストライプを
含んでもよい。
この規格は，端子の物理的インタフェースをもっている IC カードに適用する。しかし，カード内の IC
チップの特性，数及び配置位置については定義しない。
注記 1 将来，新しいタイプの IC カードの形式又はインタフェースが開発され，この規格が変更され
るかもしれないし，他の国際規格を検討する必要が出てくるかもしれない。
注記 2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 7816-1 : 1998
，Identification cards−Integrated circuit(s) cards with contacts−Part 1 :
Physical characteristics 及び Amendment 1 : 2003 (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21-1 に基づき，一致していること
を示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。
）は適用しない。
JIS X 6301 : 2005
識別カード−物理的特性
注記 1 対応国際規格：ISO/IEC 7810 : 2003，Identification cards−Physical characteristics (IDT)
注記 2 原文では対応国際規格として ISO/IEC 7810 : 1995 を引用しているが，2003 年に改正されて
いる。この規格との関連部分は，技術的に同一である。
JIS X 6302-1 : 2005
識別カード−記録技術−第 1 部：エンボス
注記 1 対応国際規格：ISO/IEC 7811-1 : 2002，Identification cards−Recording technique−Part 1 :
2
X 6320-1
：2009 (ISO/IEC 7816-1：1998, Amd.1：2003)
Embossing (IDT)
注記 2 原文では対応国際規格として ISO/IEC 7811-1 : 1995 を引用しているが，2002 年に改正され
ている。この規格との関連部分は，技術的に同一である。
JIS X 6302-2 : 2005
識別カード−記録技術−第 2 部：磁気ストライプ−低保磁力
注記 1 対応国際規格：ISO/IEC 7811-2 : 2001，Identification cards−Recording technique−Part 2 :
Magnetic stripe−Low coercivity (MOD)
注記 2 原文では対応国際規格として ISO/IEC 7811-2 : 1995，ISO/IEC 7811-3 : 1995，ISO/IEC
7811-4 : 1995
及び ISO/IEC 7811-5 : 1995 を引用しているが，2001 年に改正されて一つの規
格としてまとめられている。改正に当たって，これらの規格が技術的差異なく，ISO/IEC
7811-2 : 2001
としてまとめられた。
JIS X 6302-6 : 2005
識別カード−記録技術−第 6 部：磁気ストライプ−高保磁力
注記 1 対応国際規格：ISO/IEC 7811-6 : 2001，Identification cards−Recording technique−Part 6 :
Magnetic stripe−High coercivity (IDT)
注記 2 原文では対応国際規格として ISO/IEC 7811-6 : 1996 を引用しているが，2001 年に改正され
ている。この規格との関連部分は，技術的に同一である。
JIS X 6305-1 : 2003
識別カードの試験方法−第 1 部：一般的特性の試験
注記 1 対応国際規格：ISO/IEC 10373-1 : 1998，Identification cards−Test methods−Part 1 : General
characteristics tests (IDT)
注記 2 原文では対応国際規格として ISO/IEC 10373 : 1993 を引用しているが，1998 年に改正され
ている。この規格との関連部分は，技術的に同一である。
JIS X 6305-3 : 2002
識別カードの試験方法−第 3 部：外部端子付き IC カード及び接続装置
注記 1 対応国際規格：ISO/IEC 10373-3 : 2001，Identification cards−Test methods−Part 3 : Integrated
circuit(s) cards with contacts and related interface devices (IDT)
注記 2 原文では対応国際規格として ISO/IEC 10373 : 1993 を引用しているが，2001 年に改正され
ている。この規格との関連部分は，技術的に同一である。
ISO/IEC 7813 : 2006
，Information technology−Identification cards−Financial transaction cards
注記 原文では対応国際規格として ISO/IEC 7813 : 1995 を引用しているが，2006 年に改正されてい
る。この規格との関連部分は，技術的に同一である。
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
IC [integrated circuit(s)]
処理及び／又は記録機能を行うために設計された集積回路。
3.2
IC
カード [integrated circuit(s) card]
1 個以上の IC を内蔵する JIS X 6301 に規定された ID-1 カード。
3.3
外部端子，端子 (contact)
IC と外部機器との間を直流的に接続する IC カード上の伝導素子。
3
X 6320-1
：2009 (ISO/IEC 7816-1：1998, Amd.1：2003)
4
物理的特性
ここでは，IC カードの物理的特性について規定する。また，このカードは，JIS X 6302-1，JIS X 6302-2，
JIS X 6302-6
及び ISO/IEC 7813 の幾つかの要求を満たす。試験方法は，JIS X 6305-1 及び JIS X 6305-3 に
記載する。
4.1
概要
JIS X 6301
に規定するすべての識別カードに共通の物理的特性は，IC カードにも適用する。
注記 1 JIS X 6301 に規定するカードの厚さは，エンボスなしの外部端子付き IC カードに適用する。
注記 2 JIS X 6301 の 8.4（耐薬品性）について，カードの発行者は，磁気ストライプ又は IC に保持
している情報が，汚染の結果として，無効になるかもしれないことについて考慮する必要が
ある。
4.2
追加物理的特性
4.2.1
紫外線
日常環境を超えた紫外線対策は，カード製造業者の責任である。
注記 これは，以前 EPROM を用いていたときの耐紫外線性への言及である。
4.2.2
X
線
カードの両面に 70 keV〜140 keV の間の X 線を 0.1 Gy 相当照射したとき，IC カードの機能に異常があ
ってはならない。
注記 この照射量は，人体について一般的に容認されている年間照射量 0.05 Gy の 2 倍である。
4.2.3
端子の表面
すべての端子とこれに接するカード表面との高さの差は，＋0.10 mm 以下及び−0.10 mm 以上とする。
ここで定義された許容差の範囲内で，カード発行者は，業務分野又は適用アプリケーションで規定する
要求に従って，より厳しい許容差を要求してもよい。
警告 端子がカード表面から突出しているカードに後から印刷する場合は，端子の隣接する部分に問
題が生じる可能性がある。
注記 JIS X 6303 : 2000 では，端子とカード表面との高さの差が，＋0.05 mm 以下及び−0.10 mm 以上
としていた。ISO/IEC 7816-1 : 1998，Amendment 1 : 2003 の発行に伴い，この規格では変更した。
4.2.4
カード及び端子の機械的強度
カードは，通常の使用，保管及び取扱いの間にその表面及びその内部の構成部品に損傷を生ぜず，正常
な状態を保つことが望ましい。
端子の表面は，1.5 N の力を加えた直径 1 mm の鋼球を用いる場合と等しい圧力で押したときに損傷が生
じてはならない。
4.2.5
端子の電気抵抗
端子の電気抵抗は，カード内の端子どうしを短絡させた試験用カードを使って測定した場合は，次によ
る。
任意の二つの端子間に 50 μA〜300 mA の直流電流を流したときの抵抗値は，0.5 Ω 未満でなければなら
ない。
任意の二つの端子間に周波数が 4 MHz，ピーク値が 10 mA の交流電流を流したとき，両端に現れる電圧
降下が 10 mV 未満となるようなインピーダンスでなければならない。
4.2.6
磁気ストライプ及び IC の電磁気的干渉
磁気ストライプの読取り，書込み又は消去を行った後に，IC カードは，損傷，故障又はデータに変化が
4
X 6320-1
：2009 (ISO/IEC 7816-1：1998, Amd.1：2003)
生じてはならない。
逆に IC の書込み又は読取りによって，
磁気ストライプに機能障害が生じてはならない。
また，磁気ストライプの読取り，書込み又は取扱いに障害が発生してはならない。
4.2.7
静電気
静電気を帯びた人が通常の状態でカードを用いても，IC に機能障害があってはならない。
2 000 V に充電された 100 pF の容量をもつコンデンサから 1 500 Ω の抵抗を通して，各端子と接地との間
に放電があっても，IC に機能障害が生じてはならない。
4.2.8
動作温度
カードは，周囲温度が 0 ℃〜50 ℃の範囲で正常に動作しなければならない。
4.2.9
動的曲げ強さ
JIS X 6305-1
で規定する合計 1 000 回の動的曲げ試験後，カードは，機能障害及び ひび割れが生じては
ならない。
4.2.10
動的ねじれ強さ
JIS X 6305-1
で規定する合計 1 000 回の動的ねじれ試験後，カードは，機能障害及び ひび割れが生じて
はならない。