>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1  適用範囲

1

2  引用規格

1

3  用語,定義,略語及び記号

2

3.1  用語及び定義

2

3.2  略語及び記号

3

4  試験における一般適用条件

5

4.1  試験環境

5

4.2  試験前の状態

5

4.3  許容誤差

5

4.4  寄生インダクタンス

6

4.5  総合的測定の不確かさ

6

5  JIS X 6322-1:2011 及び JIS X 6322-2:2011 のパラメタの試験用ジグ及び回路

6

5.1  測定器に関する最小要求事項

6

5.2  校正用コイル

6

5.3  PCD 試験アセンブリの構成

7

5.4  基準 PICC

9

6  JIS X 6322-1:2011 のパラメタに関する試験

11

6.1  PCD の試験

11

6.2  PICC の試験

12

7  JIS X 6322-2:2011 のパラメタに関する試験

14

7.1  PCD の試験

14

7.2  PICC の試験

17

8  JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 のパラメタ試験

21

8.1  PCD の試験

21

8.2  PICC の試験

21

附属書 A(規定)PCD 試験アンテナ

22

附属書 B(参考)PCD 試験アンテナの調整

28

附属書 C(規定)センスコイル

30

附属書 D(規定)基準 PICC のアンテナ配置

32

附属書 E(規定)変調度及び波形の解析方法

33

附属書 F(参考)周波数特性の評価用プログラム

97

附属書 G(規定)追加の PICC 試験方法

105

附属書 H(規定)追加の PCD 試験方法

159

附属書 I(規定)PCD 用高速伝送選択の試験方法

194


X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)  目次

(2)

ページ

参考文献

205


X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人日本

IC カードシステム利用促進協議会(JICSAP)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案

を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が

改正した日本工業規格である。

これによって,JIS X 6305-6:2010 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS X 6305 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

X

6305-1  第 1 部:一般的特性

JIS

X

6305-2  第 2 部:磁気ストライプ付きカード

JIS

X

6305-3  第 3 部:外部端子付き IC カード及び接続装置

JIS

X

6305-5  第 5 部:光メモリカード

JIS

X

6305-6  第 6 部:非接触(外部端子なし)IC カード−近接型

JIS

X

6305-7  第 7 部:非接触(外部端子なし)IC カード−近傍型


日本工業規格

JIS

 X

6305-6

:2013

(ISO/IEC 10373-6

:2011

)

識別カードの試験方法−

第 6 部:非接触(外部端子なし)IC カード−近接型

Identification cards-Test methods-Part 6: Proximity cards

序文

この規格は,2011 年に第 2 版として発行された ISO/IEC 10373-6 を基に,技術的内容及び構成を変更す

ることなく作成した日本工業規格である。

また,この規格は,JIS X 6301 に定義された識別カードのパラメタ及び国際流通用としてのこの識別カ

ードの使用方法のうち,外部端子のない近接型の IC カード,及びこれと結合する結合機器を規定する規格

群(JIS X 6322)に関連し,その試験方法について規定する。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

適用範囲

この規格は,JIS X 6301:2005 に基づく識別カードの特性評価試験方法について規定する。各試験方法は,

一つ以上の基本規格と相互に関連をもつ。基本規格とは,例えば,JIS X 6301,又は識別カードを使用し

た情報記憶技術に関する一つ以上の追加規格などである。

注記 1  許容値の基準は,この規格の中にはなく,ほかの規格の中に規定されているものがある。

注記 2  この規格で規定する試験方法は,項目別に実施される。供試されたカードについて,全ての

項目を順番に試験する必要はない。

注記 3  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO/IEC 10373-6:2011,Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”

ことを示す。

JIS X 6305 の一部であるこの規格の試験方法は,JIS X 6322-1JIS X 6322-2JIS X 6322-3 及び JIS X 

6322-4 で規定されている近接型 IC カード(PICC)に関して適用する。

JIS X 6305-1 は,複数の IC カード技術に共通の試験方法を定義し,その他の各部がそれぞれの技術に特

有の試験について扱う。

2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

JIS C 61000-4-2:2012  電磁両立性−第 4-2 部:試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and

measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test(IDT)


2

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

JIS X 6301:2005  識別カード−物理的特性

注記  対応国際規格:ISO/IEC 7810:2003,Identification cards−Physical characteristics(IDT)

JIS X 6322-1:2011  識別カード−非接触(外部端子なし)IC カード−近接型−第 1 部:物理的特性

注記  対応国際規格:ISO/IEC 14443-1:2008,Identification cards−Contactless integrated circuit cards

−Proximity cards−Part 1: Physical characteristics(IDT)

JIS X 6322-2:2011  識別カード−非接触(外部端子なし)IC カード−近接型−第 2 部:電力伝送及び

信号インタフェース

注記  対応国際規格:ISO/IEC 14443-2:2010,Identification cards−Contactless integrated circuit cards

−Proximity cards−Part 2: Radio frequency power and signal interface(IDT)

JIS X 6322-3:2011  識別カード−非接触(外部端子なし)IC カード−近接型−第 3 部:初期化及び衝

突防止

注記  対応国際規格:ISO/IEC 14443-3:2011,Identification cards−Contactless integrated circuit cards

−Proximity cards−Part 3: Initialization and anticollision(IDT)

JIS X 6322-4:2011  識別カード−非接触(外部端子なし)IC カード−近接型−第 4 部:伝送プロトコ

注記  対応国際規格:ISO/IEC 14443-4:2008,Identification cards−Contactless integrated circuit cards

−Proximity cards−Part 4: Transmission protocol(IDT)

3

用語,定義,略語及び記号

この規格で用いる主な用語,定義,略語及び記号は,JIS X 6322-1:2011,JIS X 6322-2:2011,JIS X 

6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 によるほか,次による。 
3.1

用語及び定義

3.1.1

基本規格

この試験方法を実施するに当たって,参照として使用される規格。

3.1.2

カスケードレベル数(CascadeLevels)

PICC のカスケードレベルの総数。

3.1.3

Class 1 PICC

JIS X 6322-1:2011 に規定するようにアンテナを配置し,7.2.4 に規定する“Class 1” PICC の最大負荷影響

試験を満足する PICC。

3.1.4

コマンドセット(Command Set)

初期応答及び衝突防止処理中に使用する PICC コマンドの集合。

注記  A 型については,JIS X 6322-3:2011 の 6.4 を参照。B 型については,JIS X 6322-3:2011 の 7.5  を

参照。

3.1.5

無応答(Mute)

規定するタイムアウト(

例  FWT の期間終了)までに応答がないこと。


3

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

3.1.6

PICC の状態(PICC States)

初期化及び衝突防止中の PICC の異なる状態。

注記  A 型については,JIS X 6322-3:2011 の 6.3 を参照。B 型については,JIS X 6322-3:2011 の 7.4 

参照。

3.1.7

シナリオ(Scenario)

この規格に規定する試験方法を使用する典型的なプロトコル及びアプリケーションに特化した通信を定

義する手順。

3.1.8

試験初期状態(Test Initial State,TIS)

コマンドセットの特定 PICC コマンドを実行する前の PICC の状態。

3.1.9

試験方法

規格を満たしていることを確認するために,識別カードの特性を試験する方法。

3.1.10

試験目標状態(Test Target State,TTS)

コマンドセットの特定 PICC コマンドを実行した後の PICC の状態。

3.2

略語及び記号

この規格で用いる略語及び記号は,次による。

注記  太字の大括弧“[ ]”に囲まれている項目は,任意選択値とする。

 
b“xxxxx”

2 進数のビット表現

“XY”

16 進数の表現方法,XY は,16 進数に相当

ATA(cid)

ATTRIB に対する応答,すなわち (mbli+cid CRC_B) 
 mbli は,任意の 16 進数表記の値(JIS X 6322-3:2011 の 7.11 
参照)

ATTRIB(cid,fsdi)

ATQB の PUPI,CID=cid  及び最大フレーム長符号化値= fsdi を設
定した省略時値の ATTRIB コマンド,すなわち (“1D” PUPI cid 
“01 00” CRC_B)

DUT

Device under test

試験対象品

ESD Electro-static

Discharge

静電気放電

I(c)

n

(inf [,CID = cid][,NAD = nad] [,~CRC])

連鎖ビット c

∈{1,0},ブロック番号 n∈{1,0}及び情報フィールド

inf からなる JIS X 6322-4:2011 に規定する I-block 
必要がなければ,CID 及び NAD とも伝送しない。 
CID = cid

∈{0...15}が規定されている場合,第 2 パラメタとして

CID を伝送する。 
NAD = nad

∈{0...“FF”}が規定されている場合,第 3 パラメタとし

て NAD を伝送する(CID がない場合は,第 2 パラメタとして)

'~CRC'が規定されていない場合,PICC の型によって正しい CRC
を省略時値(

例  CRC_A 又は CRC_B)として伝送する。

IUT Implementation

Under

Test (ISO/IEC 9646)

試験対象装置(ISO/IEC 9646 参照) 
IUT は,この規格では試験対象の PCD とする。

LT Lower

Tester

下位試験装置(ISO/IEC 9646 参照)


4

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

(ISO/IEC 9646) PCD 試験装置の PICC をエミュレートする部分

Modulation index

変調度

Mute   無応答

指定されたタイムアウト時間内に応答がないこと。

N/A   非適用 
PPS(cid,dri,dsi)

CID = cid, DRI = dri  及び DSI = dsi をもつ省略時値の PPS 要求,
すなわち,(“D” + cid “11” dsi × 4 + dri CRC_A)

R(ACK [,CID = cid] [,~CRC])

n

JIS X 6322-4:2011 に規定するブロック番号 n の R(ACK)ブロック
任意選択の CID 及び~CRC の記号の定義は,前出の I(c)

n

ブロッ

クで規定したものと同じである。

R(NAK [,CID = cid][,~CRC])

n

JIS X 6322-4:2011 に規定するブロック番号 n の R(NAK)ブロック
任意選択の CID 及び~CRC の記号の定義は,前出の I(c)

n

ブロッ

クで規定したものと同じである。

RATS(cid, fsdi)

CID = cid 及び FSDI value = fsdi をもつ省略時値 RATS コマンド,
すなわち,  (“E0” fsdi × 16+cid CRC_A)

READY(l)

カスケードレベル l  l

∈ {1, 2, 3}における READY 状態,例えば,

READY(2)  は,PICC  カスケードレベル 2

READY*(l)

カスケードレベル l  l

∈ {1, 2, 3}における READY*状態,例えば,

READY*(2)  は,PICC  カスケードレベル 2

REQB(N)

JIS X 6322-3:2011 の 7.7.4 で規定する N をもつ REQB コマンド

S(WTX)(WTXM [,CID = cid][,~CRC])

JIS X 6322-4:2011 で規定するパラメタ WTXM をもつ S(WTX)ブ
ロック

任意選択の CID 及び~CRC の記号の定義は,前出の I(c)

n

ブロッ

クで規定したものと同じである。

S(DESELECT [,CID = cid] [,~CRC])

JIS X 6322-4:2011 で規定する S(DESELECT)ブロック 
任意選択の CID 及び~CRC の記号の定義は,前出の I(c)

n

ブロッ

クで規定したものと同じである。

SAK(cascade)

カスケードビット b3=“1”とした SELECT(l)応答

SAK(complete)

カスケードビット b3=“0”とした SELECT(l)応答

SEL(c)

レベル c のセレクトコード,すなわち, 
(SEL(1) = “93”, SEL(2) = “95”, SEL(3) = “97”)

SELECT(l)

カスケードレベル l の SELECT コマンド 
すなわち, 
SELECT(1) = (“93 70” UIDTX

1

 BCC CRC_A)

SELECT(2) = (“95 70” UIDTX

2

 BCC CRC_A)

SELECT(3) = (“97 70” UIDTX

3

 BCC CRC_A)

SLOTMARKER(n)

スロット番号 n をもつ Slot-MARKER コマンド,すなわち,(16 × 
(n − 1) + 5 CRC_B)

TB-PDU Transmission

Block

Protocol Data Unit

I-block,R-block 及び S-block で構成

TEST_COMMAND1(1)

連鎖しない一つの I-block で構成する試験コマンド(特に指定が
ないときに用いる。

注記  このコマンドは,PICC のフレーム長の最大値に依存

する。

TEST_COMMAND1(n), 
n > 1

n 個(n>1)の連鎖 I-block で構成する試験コマンド(特に指定がな
いときに用いる。

,(PCD 側で連鎖)

注記  このコマンドは,PICC のフレーム長の最大値に依存

する。

TEST_COMMAND1(n)

k

連鎖している TEST_COMMAND1(n)の k 番目の I-block の INF フ

ィールド

注記  このコマンドは,PICC のフレーム長の最大値に依存

する。


5

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

TEST_COMMAND2(n), 
n > 1

n 個(n>1)の連鎖の I-block で構成する応答を想定する省略時値試
験コマンド

注記  このコマンドは,PCD のフレーム長の最大値に依存す

る。

TEST_COMMAND3

FWT 時間よりも大きい処理時間を必要とする一つの I-block から
なる試験コマンド(特に指定がないときに用いる。

TEST_RESPONSE1(n)

TEST_COMMAND1(n)の応答の INF フィールド

注記  この応答は,常に連鎖していない。

TEST_RESPONSE2(n)

TEST_COMMAND2(n)の応答

注記  この応答は,PCD のフレーム長の最大値に依存する。

TEST_RESPONSE2(n)

k

連鎖している TEST_COMMAND2(n)の k 番目の I-block の INF フ
ィールド

注記  この応答は,PCD のフレーム長の最大値に依存する。

TEST_RESPONSE3

TEST_COMMAND3 の I-block 応答

注記  この応答は,常に連鎖していない。

TM- PDU

Test Management 
Protocol Data Unit

試験管理プロトコルのデータ単位

ISO/IEC 9646-1 の PDU 参照)

UIDTX

I

カスケードレベル I で伝送される UID 32 ビットのデータ(

表 1

参照)

UT Upper

Tester

上位試験装置(ISO/IEC 9646 規格群参照)

,PCD 試験装置の主

制御部

UT_APDU Upper

Tester

Application Protocol 
Data Unit:

上位試験装置のアプリケーションプロトコルデータ単位,RF イ

ンタフェースを介して PCD から LT へ送られるデータのパケッ

WUPB(N)

JIS X 6322-3:2011 の 7.7.4 に規定する N をもつ WUPB コマンド

~X  ビット列 X の反転ビットで構成するビット列又はビット列 X と

異なるビット列

X[[a..b]]

ビット列 X のビット位置 a から b までのビット

(a 及び b を含む。

を取り出したビット列 
a>b の場合,ビット列は,くう(空)とする。

X[[n]]

ビット列 X のビット位置 n におけるビット

先頭ビットを位置 1 とする。

X[n]   ビット列 X のバイト位置 n におけるバイト

先頭バイトを位置 1 とする,すなわち, 
(X[n] = X[[(n − 1) × 8 + 1..n × 8]] )

表 1UID から UIDTX への対応表

カスケードレベル

シングル UID PICC

ダブル UID PICC

トリプル UID PICC

UIDTX

1

UID0 UID1 UID2 UID3

“88” UID0 UID1 UID2

“88” UID0 UID1 UID2

UIDTX

2

UID3 UID4 UID5 UID6

“88” UID3 UID4 UID5

UIDTX

3

UID6 UID7 UID8 UID9

4

試験における一般適用条件

4.1

試験環境

特に別途指定のない限り,試験環境は,23  ℃±3  ℃,相対湿度 40 %∼60 %とする。

4.2

試験前の状態

この規格で規定する各試験方法では,PICC 又は PCD の試験環境を事前調整する必要はない。

4.3

許容誤差

特に別途指定のない限り,数値化された値に対する許容誤差は,±5 %以内にするように,試験装置の


6

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

性能(例えば,直線性)及び試験仕様(例えば,試験装置の調整)を維持しなければならない。

4.4

寄生インダクタンス

抵抗及びキャパシタは,寄生インダクタンスを無視できることが望ましい。

4.5

総合的測定の不確かさ

この試験方法によって測定された各値の不確かさを,試験結果報告書の中に記載しなければならない。

不確かさを記述する基本的情報は,TS Z 0033:2012 で与えられる。

5

JIS X 6322-1:2011 及び JIS X 6322-2:2011 のパラメタの試験用ジグ及び回路

この箇条は,JIS X 6322-1:2011 及び JIS X 6322-2:2011 に関する PICC 又は PCD の動作を検証するための

試験用ジグ及び回路について規定する。試験ジグは,次のものを含む。

−  測定器(5.1 参照)

−  校正用コイル(5.2 参照)

− PCD 試験アセンブリの構成(5.3 参照)

−  基準 PICC(5.4 参照)

これらは,5.15.4 で規定する。

5.1

測定器に関する最小要求事項

5.1.1

オシロスコープ

デジタルサンプリングオシロスコープは,その適切なスケールで 8 ビット以上の分解能をもち,少なく

とも 500 M サンプリング/秒以上の性能でなければならない。また,最低 250 MHz の帯域幅をもたなけれ

ばならない。数学的解析装置及び外部ソフトウェア(

附属書 及び附属書 参照)によって解析するため

に,オシロスコープは,記録したデータをテキストファイルで出力できることが望ましい。

注記  総合帯域幅は,オシロスコープ及びプローブの帯域幅の合成となる。

5.2

校正用コイル

この細分箇条は,校正用コイルの寸法,厚さ及び特性を規定する。

5.2.1

校正用コイルカードの寸法

校正用コイルカードは,JIS X 6301:2005 に ID-1 型として規定する縦・横寸法の実効範囲の中に,その

外周に沿って 1 ターンのコイルを含んでいなければならない(

図 参照)。

コイル72×42 mm

1ターン

JIS X 6301で規定する

ID-1型の外形

接続端子

図 1−校正用コイル

コイル 72 mm×42 mm

1 ターン


7

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

5.2.2

校正用コイルカードの厚さ及び材質

校正用コイルカードの厚さは,ID-1 型の厚さより薄くなければならない。それは,適宜な絶縁材料で構

成しなければならない。

5.2.3

コイルの特性

校正用コイルカードのコイルは,1 ターンでなければならない。そのコイルの外形寸法は 72 mm×42 mm

とし,四隅の角の半径は 5 mm でなければならない。これらの誤差は±2 %とする。

注記 1  磁界を感知するコイル内側の面積は,約 3 000 mm

2

とする。

コイルは,銅はく(箔)35 μm 厚の印刷配線板(PCB)上に印刷配線コイルとして作る。トラック幅は,

500 μm±20 %とする。接続端子のパッドは,1.5 mm×1.5 mm とする。

注記 2 13.56

MHz において,インダクタンスは約 250 nH,抵抗値は約 0.4 Ω になる。

13.56 MHz で並列容量 C

p

<14 pF の等価入力アドミッタンス及び並列抵抗 R

p

>9 kΩ をもつ高インピーダン

スのオシロスコープのプローブを使用して,コイルに誘起する(開放)電圧を測定しなければならない。

校正用コイル及びその引出し端子部の共振周波数は,60 MHz 以上でなければならない。

注記 3  プローブ系に寄生する浮遊容量が 35 pF 未満のとき,その系全体の共振周波数は 60 MHz 以

上になる。

磁界の強さから開放電圧に変換する係数は,A/m(rms)当たり,0.32 V (rms)になる[ピーク  ツー  ピーク

電圧の場合の係数は,A/m(rms)当たり,900 mV (p-p)になる。

注記 4  高インピーダンスのオシロスコープのプローブの接地線は,できる限り短く 20 mm 未満にす

るか又は同軸接続にすることが望ましい。

5.3

PCD 試験アセンブリの構成

PCD 試験アセンブリは,直径 150 mm の PCD 試験アンテナ及び平行に配置した二つのセンスコイル(セ

ンスコイル a 及びセンスコイル b)によって構成しなければならない。その試験器の組立てを

図 に示す。

これらのセンスコイルは,互いに信号の位相が逆になるように配線しなければならない。10 Ω の可変抵抗

P1 は,PICC 又は他の磁気結合製品がない状態において,両者のセンスコイルの平衡をとるように調整す

る。浮遊容量を含めてプローブの容量負荷は,14 pF 未満でなければならない。

注記 1  接続配線の容量及びオシロスコーププローブの容量は,再現性をよくするように小さく維持

することが望ましい。

注記 2  非対称な組立ての場合,予期しない組立て誤りを避けるために,可変抵抗 P1 の調整範囲は,

僅か 10 Ω とする。10 Ω の可変抵抗 P1 で調整が取れない場合には,組立て全体の対称性を点

検することが望ましい。

注記 3  高インピーダンスのオシロスコープのプローブの接地線は,できる限り短く 20 mm 未満にす

るか又は同軸接続にすることが望ましい。


8

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

センスコイルb

センスコイルa

PCD

アンテナ

240Ω

±1%

P1

10Ω

オシロスコープへ

同一長さのツイストペア

配線又は同軸ケーブル

100 mm未満

240Ω

±1%

図 2−試験器の組立て(原理図)

5.3.1

PCD 試験アンテナ

PCD 試験アンテナは,直径 150 mm とし,その構造は,附属書 の寸法図に従わなければならない。 
PCD 試験アンテナの同調調整は,インピーダンスアナライザ,ネットワークアナライザ又は LCR メー

タを用いて行うのが望ましい。インピーダンスアナライザ,ネットワークアナライザ又は LCR メータを利

用できないとき,同調調整は,

附属書 に示す手順に従って行ってもよい。

5.3.2

センスコイル

センスコイルの寸法は,100 mm×70 mm,四隅の角の半径は 10 mm でなければならない。センスコイル

構造は,

附属書 の寸法図に従わなければならない。

5.3.3

PCD 試験アセンブリの配置

センスコイル及び PCD 試験アンテナは,その中心軸を一致させ,

図 に示すように,その銅はく(箔)

面の間隔を 37.5 mm とし,平行に配置しなければならない。その組立て精度は,±0.5 mm より小さくしな

ければならない。DUT のコイルと校正用コイルとの間隔は,PCD 試験アンテナのコイルと相対し等間隔に

しなければならない。

注記  これらの距離間隔は,PICC の典型的な動作距離を表している。

プローブ


9

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

 37.5 mm

37.5 mm

DUT

導体

センスコイル a

PCD

試験アンテナ

sense coil b

センスコイル b

校正用コイル

図 3PCD 試験アセンブリの配置

5.4

基準 PICC

PCD の動作空間内で,PCD の次の性能を試験するために,基準 PICC を規定する。

−  H

min

以上で H

max

を超えない磁界を生成する。

− PICC へ電力供給する。

− PICC へ変調信号を送信する。

− PICC からの負荷変調信号を受信する。

5.4.1

基準 PICC の寸法

基準 PICC は,JIS X 6301:2005 に ID-1 型として規定する縦・横寸法のコイル部及び回路部を含む領域で

構成しなければならない。PICC に要求される機能をエミュレートする回路部の領域は,コイル部の外側に

あり,試験装置に挿入して実行できるようにし,また,試験に影響しないようにしなければならない。こ

の寸法は,

図 に示すようにしなければならない。

図 4−基準 PICC の寸法


10

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

5.4.2

基準 PICC の構成

基準 PICC の構成を

附属書 に規定する。

基準 PICC は,

図 に示す回路図及び表 に示す部品表を適用しなければならない。

C1

L1

(

主コイル)

L 2

(

ピックアップ

コイル)

D1

Q1b

C2

Q1a

R5

R3

CMF4

D2

D3

D4

C3

Dz

C4

J1

Q2

R9

R6

R8

R7

CON2

CMF

2

CON4

R1

a

b

c

d

R4

CON3

CMF

3

CON1

CMF

1

R2

図 5−基準 PICC の回路図

注記  ジャンパ J1 の“d”の位置は,RFU とする。

表 2−基準 PICC の部品表

部品 

 

部品 

 

L1

附属書 参照 C1

pF

∼ 50 pF

b)

L2

附属書 参照 C2

pF

∼ 10 pF

b)

R1 1.8

kΩ C3

pF

R2 0

kΩ ∼ 2 kΩ

 a)

 C4

nF

R3 220

D1, D2, D3, D4

BAR43S  又は相当品

c)

R4 51

kΩ Dz

BZX84,

15

V 又は相当品

c)

R5 51

Ω Q1a,

Q1b BCV61A 又は相当品

R6 500

kΩ Q2  BSS83 又は相当品

R7 110

kΩ

CMF1, CMF2, CMF3, CMF4

ACM3225 -102-2P 又は相当品

R8 51

CON1, CON2, CON3, CON4

RF  コネクタ

R9 1.5

kΩ

a)

 10 回転のポテンショメータを使用することが望ましい。

b)

  Q 値は,13.56 MHz において 100 より大きくなければならない。

c)

  相当品ダイオードの Cj(ジャンクション容量),Cp(パッケージ容量),Ls(直列インダクタンス)及

び Rs(直列抵抗)の値に注意することが望ましい。データシートにそれらの値の記述がないかもしれ
ないので注意する。

CON1 に負荷変調信号を与えなければならない。負荷変調は,PCD 試験アセンブリで決めることができ

る。負荷変調信号を使用しないとき,負荷変調信号発生器は,接続しないか又は 0 V に設定しなければな


11

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

らない。

CON2 の電圧で,CON3 の DC 電圧が要求値になるまで基準 PICC の負荷を調整することができる。

高入力インピーダンスの電圧計を使用して,

基準 PICC の DC 電圧を CON3 で測定しなければならない。

ツイスト線又は同軸ケーブルを使用することが望ましい。

高入力インピーダンスのオシロスコープのプローブを使用して,PCD の波形のパラメタを CON4 で抽出

する。高インピーダンスのオシロスコープのプローブの接地線は,できる限り短く 20 mm 未満にするか又

は同軸接続にすることが望ましい。

5.4.3

基準 PICC の共振周波数の調整

基準 PICC の共振周波数は,次の手順で校正する。

a)  ジャンパ J1 を“a”に設定する。 
b)  校正用コイルを直接信号発生器に接続し,そして基準 PICC のコネクタ CON3 に高入力インピーダン

ス電圧計を接続する。他の全てのコネクタは,試験で使う同じ装置に接続する。

c)  結合させる二つのコイル(校正用コイル及び基準 PICC の主コイル)の中心軸上に距離  d = 10 mm 離

して基準 PICC を配置する(

図 参照)。

d)  希望する共振周波数に設定した正弦波信号で校正用コイルを駆動する。 
e) CON3 で DC 電圧が最大になるようにキャパシタ C1 及び C2 を調整する。 
f) CON3 で DC 電圧が 6 V になるように,信号発生器の出力を調整する。

g)  手順 e)の後,最大電圧が 6 V になるまで,手順 e)及び f)を繰り返す。 
h)  校正用コイルで H

min

の動作条件を生成するように PCD 試験アセンブリを校正する。

i) PCD 試験アセンブリの DUT の位置に基準 PICC を置く。ジャンパ J1 を“b”の位置に切り換える。

CON3 で DC 電圧が 6 V 得られるように,R2 を調整する。動作磁界の状態は,校正用コイルで電圧を

観測することによって確かめ,必要ならば調整する。

j)  得られた R2 の値で手順 b)∼g)を繰り返す。

注記  測定される校正用コイルの複素数インピーダンスの抵抗分が最大値に達しており,CON3 で 6 V

になるよう十分な電力が供給される場合,信号発生器の代わりに,ベクトルネットワークアナ

ライザを使用してもよい。

信号発生器へ

電圧計へ

CON

3

基準 PICC 回路

ピックアップコイル(表面)

校正用コイル(表面)

d

主コイル(裏面)

図 6−基準 PICC の周波数調整の設定(原理図)

6

JIS X 6322-1:2011 のパラメタに関する試験

6.1

PCD の試験

6.1.1

交流磁界


12

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

6.1.1.1  目的

この試験は,PICC の存在するいかなる場所でも,JIS X 6322-1:2011 で規定する平均値を超える磁界を

PCD が生成しないことを確認する。 
6.1.1.2  試験手順 
a)  5.4.3 の a)∼g)で規定する手順に従い,基準 PICC の共振周波数を 19 MHz に調整する。

b) PCD 試験アセンブリが JIS X 6322-1:2011 で規定する平均磁界強度を校正用コイル上に発生するよう

に校正する。

c) PCD 試験アセンブリの DUT の位置に基準 PICC を置く。ジャンパ J1 を“b”の位置に切り換える。コ

ネクタ CON3 で DC 電圧が 3 V 得られるように,R2 を調整する。校正用コイルの電圧を観測すること

によって,動作磁界の状態を確かめなければならない。必要ならば調整しなければならない。

注意 R2 の値は,55 Ω∼65 Ω の間が望ましい。

d)  試験対象 PCD の磁界内の適切な位置に基準 PICC を置く。CON3 で DC 電圧は,3V を超えてはならな

い。

e)  超えた場合,JIS X 6322-1:2011 で規定する 30 秒間の最大値及び平均磁界強度を確認するために,最大

値及び平均値の DC 電圧を測定し,同じ変換係数を使い,磁界強度に変換する。

6.1.1.3  試験成績書

試験成績書には,CON3 で測定した DC 電圧を記載しなければならない。

6.2

PICC の試験

6.2.1

交流磁界

この試験の目的は,13.56 MHz の交流磁界にさら(曝)された PICC の特性を確認することである。

6.2.1.1  試験ジグ

交流磁界を発生するために,PCD 試験アセンブリを使用する。

6.2.1.2  試験手順

試験手順は次のようになる。

a)  校正用コイルで測定した磁界強度を 10 A/m(rms)になるように,PCD 試験アンテナに信号発生器を接

続して,PCD 試験アセンブリの RF 電力を調整する。

b)  試験対象 PICC を DUT の位置に置き,必要ならば,PCD 試験アンテナを駆動する RF 電力を直ちに再

調整する。

c) 5 分後,少なくとも 5 秒間 DUT の位置から PICC を抜いておく。

d)  校正用コイルで測定した磁界強度を 12 A/m(rms)になるように,PCD 試験アンテナに信号発生器を接

続して,PCD 試験アセンブリの RF 電力を調整する。

e)  試験対象 PICC を DUT の位置に置き,必要ならば,PCD 試験アンテナを駆動する RF 電力を直ちに再

調整する。

f)  次に示すデューティサイクルでこの磁界を 5 分間 ASK100%変調する。

−  5 秒間 0 A/m(rms)

− 25 秒間 12 A/m(rms)

g) PICC が正常動作することを確認する。 
6.2.1.3  試験成績書

試験成績書には,PICC が正常動作したか否かを記載しなければならない。


13

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

6.2.2

静電気試験

この試験の目的は,試験対象品カードに静電気放電(ESD)することによって,試験対象品カード内の IC

の性能を調べることになる。試験対象 PICC に,人体モデルを模して静電気放電(ESD)させた後,基本動作

を確認する(

図 参照)。

厚さ 0.5 mm の絶縁板

PICC

放電電極

ESD 試験器

木製の台に敷いた導電板
(接地)

470 k

Ω

470 k

Ω

図 7ESD 試験の回路

6.2.2.1  試験ジグ

JIS C 61000-4-2:2012 を参照。

a) ESD 試験器の主要特性

−  電荷蓄積キャパシタ:150 pF±10%

−  放電抵抗:330 Ω±10%

−  充電抵抗:50 MΩ∼100 MΩ

−  立上がり時間:0.7 ns∼1 ns

b)  選択項目

−  試験装置の形態:卓上型

−  放電方法:導体を直接試験対象品に接触させ,放電

− ESD 試験器の放電電極:直径 8 mm の球型プローブ

6.2.2.2  試験手順

試験装置の接地端子と,カードを載せた導電板とを接続する。

図 に示す 20 の区分域ごとに,順極性の電圧を連続して放電させる。その後,逆極性にして,同様に繰

り返す。少なくとも 10 秒間の間隔でパルス休止時間をおき,繰り返す。

注意  区分域に外部端子を含むとき,その端子には放電をさせてはならない。

試験終了後,PICC が正常に動作することを確認する。


14

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

上端の基準辺

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

図 8ESD 試験における PICC 上の区分域

6.2.2.3  試験成績書

試験成績書には,PICC が正常動作したか否かを記載しなければならない。

7

JIS X 6322-2:2011 のパラメタに関する試験

7.1

PCD の試験

次に示す全ての試験は,PCD 製造業者が規定する動作空間で実施されなければならない。

7.1.1

PCD の磁界強度

7.1.1.1  目的

この試験は,PCD の動作空間内の磁界強度を測定する。

注記  試験は,PCD への PICC 負荷の影響も受ける。

7.1.1.2  試験手順

最大磁界強度 H

max

の試験手順

a)  5.4.3 の a)∼g)で規定する手順に従い,基準 PICC の共振周波数を 19 MHz に調整する。

b)  校正用コイル上で磁界 H

max

の状態にするように PCD 試験アセンブリを調整する。

c) PCD 試験アセンブリの DUT の位置に基準 PICC を置く。ジャンパ J1 を“b”の位置に切り換えて,コ

ネクタ CON3 で測定される DC 電圧を 3 V になるように,R2 を調整する。代わりの方法として,ジャ

ンパ J1 を“c”の位置に設定して,コネクタ CON3 の DC 電圧が 3 V になるように,CON2 の印加電

圧を調整してもよい。いずれの場合も,校正用コイルの電圧を観測することによって,動作磁界の状

態を確かめなければならない。必要ならば調整しなければならない。

注意 R2 の値は,75 Ω∼85 Ω が望ましい。代わりの方法(ジャンパ J1 を“c”の位置に設定する方

法)を使用する前に,少なくとも 1 回この範囲にあることを確認する。

d)  試験対象 PCD の定義された動作空間内に基準 PICC を置く。CON3 における DC 電圧は,3 V を超え

てはならない。

最小磁界強度 H

min

の試験手順

a)  5.4.3 の手順に従い,基準 PICC の共振周波数を 13.56 MHz に調整する。

b)  校正用コイル上で磁界 H

min

の状態にするように PCD 試験アセンブリを調整する。

c) PCD 試験アセンブリの DUT の位置に基準 PICC を置く。ジャンパ J1 を“b”の位置に切り換えて,コ

ネクタ CON3 で測定される DC 電圧を 3 V になるように,R2 を調整する。代わりの方法として,ジャ


15

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

ンパ J1 を“c”の位置に設定して,コネクタ CON3 の DC 電圧が 3 V になるように,CON2 の印加電

圧を調整してもよい。いずれの場合も,校正用コイルの電圧を観測することによって,動作磁界の状

態を確かめなければならない。必要ならば調整しなければならない。

注意 R2 の値は,400 Ω∼550 Ω が望ましい。代わりの方法(ジャンパ J1 を“c”の位置に設定する

方法)を使用する前に,少なくとも 1 回この範囲にあることを確認する。

d)  試験対象 PCD の定義された動作空間内に基準 PICC を置く。CON3 における DC 電圧は,3 V を超え

なければならない。

7.1.1.3  試験成績書

試験成績書には,選択した測定条件下(ジャンパ J1 を“b”又は“c”の位置)で磁界強度 H

min

及び H

max

になるように調整された R2 又は可変負荷回路に対して,CON3 で測定した DC 電圧を記載しなければなら

ない。

7.1.2

Class 1 PICC の動作に適用する PCD の磁界強度

7.1.2.1  目的

次の追加する PCD の試験は,PCD と“Class 1” PICC との間での互換性のために必要である。

この試験は,より大きい負荷影響(loading effect)を与えるように調整された基準 PICC を使用すること

を除いて,7.1.1 において指定された PCD の磁界強度の試験に類似している。

注記  “Class 1” PICC の負荷影響は,この試験で使用した基準 PICC の負荷影響よりも小さい(“Class 1”

PICC の最大負荷影響の試験は,7.2.4 を参照。)。これは,“Class 1” PICC のアンテナ寸法及び位

置が基準 PICC(

附属書 参照)のアンテナ寸法及び位置に類似している場合,H

min

が,“Class

1”用 PCD の動作空間において供給されることを保証している。

異なるアンテナ寸法及び/又は位置をもつ PICC のために,他のクラスは,各クラスに対応

する基準 PICC を作製してもよい。

7.1.2.2  試験手順

7.1.1 の H

min

試験の手順において規定した PCD の動作磁界強度の試験を,CON3 で 3 V の代わりに 6 V

を得るように調整された基準 PICC によって繰り返さなければならない。

注記  この試験で使用する基準 PICC の校正は,7.1.1 で規定した校正方法と同じである。

7.1.2.3  試験成績書

試験成績書には,選択した測定条件下で磁界強度 H

min

になるように調整された,R2 又は可変負荷回路

に対して,CON3 で測定した DC 電圧を記載しなければならない。

注記 DC 電圧 6 V を超える動作範囲は,“Class 1” PICC の動作空間と規定する。

7.1.3

PCD から PICC への電力伝送

7.1.3.1  目的

この試験は,PCD が動作空間内のどの PICC に対してもある一定の電力を供給できることを確認するた

めに使用される。

7.1.3.2  試験手順 
a)  5.4.3 の a)∼g)で規定する手順に従い,基準 PICC の共振周波数を 19 MHz に調整し,ジャンパ J1 を“a”

の位置にしておく。

b)  試験対象 PCD の動作空間に基準 PICC を置く。コネクタ CON3 の DC 電圧は,3 V を超えなければな

らない。


16

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

7.1.3.3  試験成績書

試験成績書には,測定条件下で定義された動作空間内で,CON3 の DC 電圧を記載しなければならない。

7.1.4

変調度及び波形

7.1.4.1  目的

この試験は,JIS X 6322-2:2011 において定義する PCD 磁界の変調度,立上がり時間,立下がり時間及び

オーバシュートの値を確認する。

7.1.4.2  試験手順 
a)  定義された動作空間の任意の位置に校正用コイルを置き,適切なオシロスコープの上にコイルの誘導

電圧を表示する。変調度及び波形解析プログラム(

附属書 参照)を使用して,変調度及び波形特性

を確認する。

b)  5.4.3 の a)∼g)で規定する手順に従い,基準 PICC の共振周波数を 16.5 MHz に調整し,ジャンパ J1 を

“c”の位置に切り換える。

c) PCD 動作空間内の任意に選んだ位置に基準 PICC を置く。 
d)  コネクタ CON3 で DC 電圧 3 V を得るように,CON2 で DC 電圧を調整する。又は“Class 1”に対応する

場合,任意選択として 6 V を得るように,CON2 で DC 電圧を調整する。

注記 1  選択した位置で DC 電圧が 6 V に達することができない場合,最大達成可能な電圧で試験

するのが望ましい。

e) CON4 での無変調の電圧が,適切なオシロスコープ(要求仕様は,5.1.1 参照)によって測定して 1 Vpp

以下の場合,代わりのピックアップコイルを波形特性の確認のために使用する。

注記 2  代わりのピックアップコイルは,半径 15 mm の 8 の字の形状で,結合度を最小にするため

に,基準 PICC からできるだけ離し,そして,誘導電圧を最大にするために,PCD アンテ

ナにできるだけ接近させることが望ましい。

また,8 の字形状のコイルにある二つのループの一方を PCD アンテナの内側,もう一方

をその外側に配置することが望ましい。

f) CON4 の電圧又は代わりのピックアップコイルの電圧から附属書 に規定する解析プログラムを使用

して変調度及び波形特性を確認する。

g)  動作空間の中で位置を変えて手順 c)∼f)を繰り返す。

注記 3  動作空間の中の校正用コイルの選択した位置は,測定結果に影響しないようにする。

注記 4  基準 PICC の負荷は,PICC の最悪な負荷影響を示すものではない。共振周波数が搬送周波

数に近い場合(例えば,15 MHz 又は 13.56 MHz)

,さらに大きな負荷影響が生じることが

ある。

7.1.4.3  試験成績書

試験成績書は,決めた動作空間及び負荷の有無の条件で,測定した PCD 磁界の変調度,立上がり時間,

立下がり時間及びオーバシュート値を記載しなければならない。

7.1.5

負荷変調の受信

7.1.5.1  目的

この試験は,PCD が JIS X 6322-2:2011 に対応する PICC の負荷変調を正しく検出することを確認するた

めに使用する。

7.1.5.2  試験手順

基準 PICC 及びその校正手順を用いることによって,負荷変調に対する PCD の感度を評価できる。基準


17

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

PICC は,全ての形式の PICC の負荷影響をエミュレートするものではない。 
a)  5.4.3 に従い,基準 PICC の共振周波数を 13.56 MHz に調整し,ジャンパ J1 を“c”の位置に切り換え

る。

b) PCD の動作空間内の任意に選んだ位置に基準 PICC を置く。 
c)  コネクタ CON3 で DC 電圧 3 V が得られるよう,CON2 に加える DC 電圧を調整する。また,“Class 1”

に対応する場合,CON3 で DC 電圧 6 V を得るように,CON2 に加える DC 電圧を調整する。

d) CON1 に変調信号を与えて応答を発生させる。このとき,変調信号の振幅は,初めは十分に小さくし,

PCD が少なくとも 10 回連続して応答を検出するまで,増大させていく。

e)  基準 PICC を PCD 試験アセンブリの DUT の位置に置く。 
f) CON3 で同じ電圧を与えるように PCD 試験アセンブリの磁界強度 を調整し,この校正用コイルの

電圧を読むことによって対応する磁界強度を記録する。

g)  7.2.1 に従い,基準 PICC の負荷変調振幅 V

LMA

を測定する。そして,測定地点の磁界強度を関係式に

代入して得られる標準限界値と比較する。この測定した V

LMA

値を PCD の感度と定義し,標準限界値

と比較するために,

(磁界強度を変えながら)この測定を繰り返す。

h)  動作空間の中で位置を変えて b)∼g)を繰り返す。 
i)

基準 PICC の共振周波数を 15 MHz に変えて,a)∼h)を繰り返す。

注記 1  試験範囲は,13.56 MHz 以下の 12 MHz,10 MHz などの共振周波数に拡張してもよい。

注記 2 PICC 負荷変調の受信を良好にするために,PCD 感度を標準限界値より低くすることが望ま

しい。

注記 3  この試験は,PCD 受信が PICC 負荷変調の位相に無関係であることを確認していない。

その結果,それは JIS X 6322-2:2011 に適合する PICC からの信号を正しく受信できるかは

保証できない。

7.1.5.3  試験成績書

試験成績書には,少なくとも基準 PICC の共振周波数が 15 MHz 及び 13.56 MHz のときの各試験位置で

測定した PCD の負荷変調感度を記載しなければならない。

7.2

PICC の試験

7.2.1

PICC の送信

7.2.1.1  目的

この試験の目的は,JIS X 6322-2:2011 において規定される[H

min

H

max

]の動作範囲中での PICC の負荷

変調振幅 V

LMA

を決定することである。また,JIS X 6322-2:2011 において規定するように,それらの対応

する変調範囲で A 型及び B 型の PICC の機能を決定しなければならない。

注記  fc/64,fc/32 及び fc/16 のビット伝送速度に対しての負荷変調試験は,必要ない。

7.2.1.2  試験手順

手順 1:図 に示すセンスコイル a,センスコイル b などを含む回路(負荷変調試験回路)及び図 

PCD 試験アセンブリを使用する。

校正用コイルによって測定して,信号発生器が PCD 試験アンテナに供給する RF 電力を必要な磁界強度

に調整する。

図 の負荷変調試験回路の出力をデジタルサンプリングオシロスコープに接続する。10 Ω の

ポテンショメータ P1 は,残留搬送波を最小化するために調整しなければならない。

この信号は,一つのセンスコイルを短絡させることによって得られた信号より少なくとも 40 dB 低くな

ければならない。


18

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

注意 PICC 負荷変調振幅の試験は,H

min

から始まる PICC の動作を正しく確認するため,磁界強度を

0 A/m(rms)から増大させることが望ましい。

手順 2:試験対象 PICC は,センスコイル a と同一の中心軸上の DUT の位置に置かなければならない。

PCD 試験アンテナに供給される RF 電力は,必要な磁界強度に再調整しなければならない。

JIS X 6322-3:2011 において定義される REQA 及び REQB コマンドシーケンスは,PICC から信号又は負

荷変調信号の応答を得るために PCD 試験アセンブリから送らなければならない。

デジタルサンプリングオシロスコープ上に副搬送波の負荷変調波形を少なくとも 6 サイクル分表示し,

コンピュータソフトウェアプログラム(

附属書 で例示するのと同様の)による解析のために,サンプリ

ングデータをファイルに保存する。

注記 1  低振幅負荷変調に適切な同期方法を適用することが望ましい。

附属書 で例示するのと同様の)適切なコンピュータソフトウェアを使用して,サンプリングした変

調波形の正確に副搬送波 6 サイクル分を,バートレット窓を用いてフーリエ変換する。純粋な正弦波信号

のピーク値を基準としてスケールを合わせて,離散的フーリエ変換を使用する。過渡的効果を最小化する

ために,無変調サイクル又は副搬送波の位相偏移直後の副搬送波サイクルの解析は避ける。離散的フーリ

エ変換は,試験対象 PICC が生成する側波帯の周波数で実行しなければならない(すなわち,fcfs 及び fc

fs

fc

fs 及び fcfs の上下の側波帯の結果として生じているピーク振幅値は,JIS X 6322-2:2011 の 8.2.2 

おいて定義する値以上でなければならない。

注記 2  B 型 PICC 負荷変調試験のために,FFT(高速フーリエ変換)付きオシロスコープは,過渡

現象がなく,かつ,位相偏移のない多くの副搬送波サイクル(すなわち,JIS X 6322-2:2011

の 9.2.5 で定義される TR1 の同期時間の安定した部分又は JIS X 6322-3:2011 の 7.1.4 において

定義される SOF の安定した部分)の解析に使用してもよい。

7.2.1.3  試験成績書

試験成績書には,fcfs 及び fcfs の上下側波帯の測定されたピーク振幅値,適用磁界及び変調度を記

載しなければならない。

7.2.2

PICC の受信

7.2.2.1  目的

この試験の目的は,PCD のコマンドを受信する PICC の能力を確認することである。

7.2.2.2  型 PICC 
7.2.2.2.1  伝送速度 fc/128 の試験条件

JIS X 6322-2:2011 の図 で定義された A 型 PICC の変調波形のタイミングパラメタ領域の境界でタイミ

ングについて三つの試験条件を定義する。

条件 1t

1

t

2

の最大値及び t

3

の最大値,並びにオーバシュートなし

条件 2:PCD 試験アセンブリを用いて達成可能な t

1

t

2

の最小値及びそのときの t

3

の最大値,並び

にオーバシュートの最大値

条件 3:PCD 試験アセンブリを用いて達成可能な t

3

の最小値及びそのときの t

1

t

2

の最大値,並び

にオーバシュートの最大値

注記  t

2

の終わりの搬送波の振幅が 4 %より少ないようにすることが望ましい。

これらの三つの試験条件は,少なくとも H

min

及び H

max

を使用して試験しなければならない。ここでパラ

メタ t

1

は,条件 1 及び条件 3 のとき指定された最大値とし,条件 2 のとき指定された最小値とする。


19

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

7.2.2.2.2  伝送速度 fc/64fc/32 及び fc/16 の試験条件

JIS X 6322-2:2011 の図 7,図 及び図 で定義された A 型 PICC の変調波形のタイミングパラメタ領域

の境界でタイミングについて三つの試験条件を定義する。

条件 1t

1

t

5

の最大値及び t

6

の最大値,並びにオーバシュートなし

条件 2:PCD 試験アセンブリを用いて達成可能な t

1

t

5

の最小値及びそのときの t

6

の最大値,並び

にオーバシュートの最大値

条件 3:PCD 試験アセンブリを用いて達成可能な t

6

の最小値及びそのときの t

1

t

5

の最大値,並び

にオーバシュートの最大値

これらの三つの試験条件は,少なくとも H

min

及び H

max

を使用して試験しなければならない。ここで,

−  パラメタ は,条件 1 を使用する場合は,規定の最大値とし,条件 2 及び条件 3 を使用する場合は,

PCD 試験アセンブリに関する達成可能な場合の最小値とする。

−  パラメタ t

1

は,条件 1 及び条件 3 を使用する場合は,規定の最大値とし,条件 2 を使用する場合は,

規定した最小値とする。

7.2.2.2.3  試験手順

7.2.2.2.1 に定義する条件で,PICC は,REQA に ATQA をもって応答しなければならない。

任意選択のビット伝送速度 fc/64 に対応する PICC は,ビット伝送速度 fc/64 を選択した後,7.2.2.2.2 に定

義する条件で動作しなければならない。この PICC は,ビット伝送速度 fc/64 で伝送された I-block に正し

く応答しなければならない。

任意選択のビット伝送速度 fc/32 に対応する PICC は,ビット伝送速度 fc/32 を選択した後,7.2.2.2.2 に定

義する条件で動作しなければならない。この PICC は,ビット伝送速度 fc/32 で伝送された I-block に正し

く応答しなければならない。

任意選択のビット伝送速度 fc/16 に対応する PICC は,ビット伝送速度 fc/16 を選択した後,7.2.2.2.2 に定

義する条件で動作しなければならない。この PICC は,ビット伝送速度 fc/16 で伝送された I-block に正し

く応答しなければならない。

7.2.2.3  型 PICC 
7.2.2.3.1  試験条件

JIS X 6322-2:2011 の図 14,図 15,図 16 及び図 17 で定義された B 型 PICC の変調波形のタイミングパ

ラメタ領域の境界でタイミングについて三つの試験条件を定義する。

条件 1t

f

及び t

r

の最大値,並びにアンダシュート及びオーバシュートなし

条件 2:PCD 試験アセンブリを用いて達成可能な t

f

の最小値及びそのときの t

r

の最大値,並びにア

ンダシュート及びオーバシュートの最大値

条件 3:PCD 試験アセンブリを用いて達成可能な t

r

の最小値及びそのときの t

f

の最大値,並びにア

ンダシュート及びオーバシュートの最大値

これらの三つの試験条件は,少なくとも次の条件を使用して試験しなければならない。

−  H

min

及び H

max

−  そのときの磁界強度において変調度 の最大値及び最小値(JIS X 6322-2:2011 の

図 13 参照)

7.2.2.3.2  試験手順

7.2.2.3.1 に定義する条件で,fc/128 のビット伝送速度で動作している PICC は,REQB に ATQB をもって

応答しなければならない。

任意選択のビット伝送速度 fc/64 に対応する PICC は,ビット伝送速度 fc/64 を選択した後,7.2.2.3.1 に定


20

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

義する条件で動作しなければならない。この PICC は,ビット伝送速度 fc/64 で伝送された I-block に正し

く応答しなければならない。

任意選択のビット伝送速度 fc/32 に対応する PICC は,ビット伝送速度 fc/32 を選択した後,7.2.2.3.1 に定

義する条件で動作しなければならない。この PICC は,ビット伝送速度 fc/32 で伝送された I-block に正し

く応答しなければならない。

任意選択のビット伝送速度 fc/16 に対応する PICC は,ビット伝送速度 fc/16 を選択した後,7.2.2.3.1 に定

義する条件で動作しなければならない。この PICC は,ビット伝送速度 fc/16 で伝送された I-block に正し

く応答しなければならない。

7.2.2.4  試験成績書

試験成績書は,ビット伝送速度 fc/128 を必須として,その動作を確認しなければならない。

一つ以上の任意選択の高速ビット伝送に対応する PICC に関しては,試験成績書は,対応する伝送速度

のその動作を確認しなければならない。

使用した試験条件は,

試験成績書の中に記載しなければならない。

7.2.3

PICC の共振周波数(参考)

7.2.3.1  目的

この試験は,PICC の共振周波数を計測するために使用できる。

二つ以上の PICC が同一の PCD 活性化磁界内に存在するとき,各 PICC の共振周波数は,低下する。

PICC の共振周波数の設計には注意を払うことが望ましい。

注意  共振周波数は,測定中使用する磁界強度にも影響される。

7.2.3.2  試験手順

PICC の共振周波数は,校正用コイルに接続したインピーダンスアナライザ又はネットワークアナライザ

若しくは LCR メータを使用して測定する。PICC は,校正用と PICC との二つのコイルの中心軸が一致し

ている状態で,校正用コイルから 10 mm の距離に置くのが望ましい。共振周波数は,測定された複素イン

ピーダンスの抵抗部が最大になるときの周波数である。

7.2.3.3  試験成績書

この試験を適用するとき,

試験成績書には,PICC の共振周波数及び試験条件を記載しなければならない。

7.2.4

Class 1 PICC の最大負荷影響

7.2.4.1  目的

次の追加の PICC 試験は,PCD と“Class 1” PICC(JIS X 6322-1:2011 参照)との互換性をとるために必要

である。

注記  “Class 1” PICC のアンテナ寸法及び配置が基準 PICC(附属書 参照)のアンテナ寸法及び配置

に類似している場合に限り,この試験は,相互運用性を改善する。異なるアンテナ寸法及び/

又は配置の PICC のために,他のクラスを,それぞれのクラスに対して,対応する基準 PICC に

よって作成してもよい。

7.2.4.2  試験手順

H

min

での PICC の負荷影響は,PCD 試験アセンブリを使用して測定する。それは,13.56 MHz で共振さ

せ,H

min

で CON3 に 6 V を得るように設定した基準 PICC の負荷影響を超えてはならない。

この詳細手順は次のとおりとする。

a)  5.4.3 において説明するように,基準 PICC を 13.56 MHz に調整する。

b)  校正用コイル上に H

min

の動作磁界を生成するように,PCD 試験アセンブリを調整する。

c) PCD 試験アセンブリ上の DUT の位置に基準 PICC を置く。ジャンパ J1 を“b”の位置に切り換えて,


21

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

コネクタ CON3 で測定される 6 V の DC 電圧を得るように,R2 を調整する。代わりの方法として,ジ

ャンパ J1 を“c”の位置に置き,コネクタ CON3 で 6 V の DC 電圧を得るように,CON2 の印加電圧

を調整してもよい。両方の場合に,動作磁界の条件は,校正用コイル上の電圧を観測することによっ

て確認しなければならない。

注意 R2 の値は,900 Ω∼1 000 Ω が望ましい。代わりの方法を使用する前に,少なくとも 1 回この

範囲を確認する。

d)  基準 PICC を取り除く。 
e) PCD 試験アセンブリ上の DUT の位置に試験対象 PICC を置く。

f)  校正用コイルによって観測した磁界強度 H

c

を測定する。

磁界強度 H

c

は,H

min

より大きくなければならない。

7.2.4.3  試験成績書

試験成績書には,H

c

の値を記載しなければならない。

8

JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 のパラメタ試験

8.1

PCD の試験

附属書 及び附属書 による。

8.2

PICC の試験

附属書 による。


22

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 A

規定)

PCD

試験アンテナ

A.1  インピーダンス整合回路を含む PCD 試験アンテナの配置図

図 A.1,図 A.2,図 A.3 及び図 A.4 は,PCD 試験アンテナの配置図を示す。描画は,実寸法でない。

アンテナコイルのパターン幅は,1.8 mm とする(スルーホールは除く。

アンテナコイルのパターンは,インピーダンス整合回路から開始し,45°ごとに交差する。

プリント基板(PCB)

:材質 FR4,厚さ 1.6 mm,両面,銅はく(箔)35 μm。

注記 1  インピーダンス整合回路部は,参考とする。

注記 2  プリント基板及び抵抗 R

ext

は,市販品を使用してもよい。

図 A.1−インピーダンス整合回路を含む PCD 試験アンテナの配置図

ビット伝送速度 fc/128 用(表面)

イ ン ピ ー ダ ン ス

整合回路


23

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

図 A.2−インピーダンス整合回路を含む PCD 試験アンテナの配置図

ビット伝送速度 fc/128 用(裏面)

接地パターン

アンテナコイル


24

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

図 A.3−インピーダンス整合回路を含む PCD 試験アンテナの配置図

ビット伝送速度 fc/64, fc/32 及び fc/16 用(表面)

イ ン ピ ー ダ ン ス

整合回路


25

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

Ground

compensation

Antenna coil

図 A.4−インピーダンス整合回路を含む PCD 試験アンテナの配置図

ビット伝送速度 fc/64, fc/32 及び fc/16 用(裏面)

A.2

インピーダンス整合回路

アンテナインピーダンス(R

ant

,L

ant

)は,整合回路(A.2.1 及び A.2.2 参照)によって,信号発生器の出

力インピーダンス(Z=50  Ω)に整合させる。キャパシタ C1,C1a,C1b,C2 及び C3 は,固定値とする。入

力インピーダンスの位相は,可変キャパシタ C4 によって調整できる。

5.3 及びこの附属書に規定される PCD 試験アセンブリは,各部品の過熱を避けるために,測定時間を制

限する。試験を連続して行う場合,放熱を改善しなければならない。各部品の許容最大電圧及び最大耐熱

温度に注意をしなければならない。

二つのインピーダンス整合回路が記載されている。

ビット伝送速度 fc/128 用のインピーダンス整合回路,

並びにビット伝送速度 fc/64,  fc/32 及び fc/16 用インピーダンス整合回路の二つのインピーダンス整合回路

を記載する。

表 A.1 にそれぞれの使用条件を示す。

表 A.1−インピーダンス整合回路の使用条件

インピーダンス整合回路

磁界強度

ビット伝送速度

ビット伝送速度  fc/128

12 A/m (rms)まで

fc/128

ビット伝送速度  fc/64, fc/32 及び  fc/16

7.5 A/m (rms)まで

fc/128

fc/16

アンテナコイル

接地パターン


26

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

注記 1  アンテナ整合インピーダンスの  許容範囲は,±5 Ω 及び位相±10°とする。

注記 2  R

ext

は,アンテナコイルの接地側に配置する。

注記 3  電力及び電圧には,安全な許容幅を含む。

注記 4 50

Ω 出力インピーダンスで出力可変の低ひずみ線形電力増幅器は,7.2.2 で規定する REQA

及び REQB を伝送するために A 型及び B 型の変調信号を発生できることが望ましい。出力

電力は,磁界強度 を 1.5 A/m (rms)∼12 A/m (rms)  に調整できることが望ましい。7.5 A/m

(rms)  を超えた動作磁界にするとき,磁界の発生時間に注意することが望ましい。

A.2.1  ビット伝送速度 fc/128 用インピーダンス整合回路

50 

Ω

電力増幅器

インピーダンス

整合回路

L

ant

R

ext

Z = 50 

Ω

C4

R

ant

C1

C3

C2

アンテナコイ

部品表

単位

許容値

C1

47

pF

200 V

C2

180

pF

200 V

C3

22

pF

200 V

C4

2∼27

pF

200 V

R

ext

0.94

10 W

図 A.5−ビット伝送速度 fc/128 用インピーダンス整合回路

注記 1  R

ext

は,4.7 Ω 2 W の抵抗を 5 個並列に接続してもよい。

注記 2  R

ext

は,

図 A.5 に示すように破線の位置に配置してもよい。

注記 3  R

ext

は,動作磁界が 7.5 A/m (rms)以下の場合は,4 W としてもよい。

注記 4  アンテナの浮遊容量は,図 A.5 に表示していない。

A.2.2  ビット伝送速度 fc/64, fc/32 及び fc/16 用インピーダンス整合回路


27

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

50 

Ω 

電力 増 幅 器  

Z =5 0  

Ω  

R

a n t

ア ン テ ナ コ イ ル 

L

a n t

R

e xt

C 1 a

C 2

C 3

C 4

C 1 b

イ ンピ ー ダ ン ス

整 合 回路  

部品表

 

単位 

許容値 

C1a 82

pF

200

V

C1b 8.2

pF

200

V

C2 150  pF

200

V

C3 10  pF

200

V

C4 2∼27 pF  200

V

R

ext

 4.7

Ω 20

W

図 A.6−ビット伝送速度 fc/64, fc/32 及び fc/16 用インピーダンス整合回路

注記 1  R

ext

は,4.7 Ω 5 W の抵抗を 2 個直列にしたものを並列に接続してもよい。

注記 2  R

ext

は,アンテナコイルの接地側に配置することが望ましい。

注記 3  アンテナの浮遊容量は,図 A.6 に表示していない。


28

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 B

参考)

PCD

試験アンテナの調整

図 B.1 及び図 B.2 は,アンテナのインピーダンスを駆動回路のそれに合わせるために,位相調整の二つ

の手順を示す。この二つの調整手順の後,信号発生器を試験用アンテナ出力端子に直接接続しなければな

らない。

手順 1  基準抵抗として高精密抵抗 50 Ω±1 %(例えば,50  Ω BNC 終端抵抗)を,信号発生器の出

力とアンテナコネクタとの間に挿入する。オシロスコープの二つのプローブをその直列基準

抵抗の両端に接続する。オシロスコープの画面を XY モードにして,リサージュ図形を表示

する。信号発生器は,次のように設定する。

−  波形

正弦波

−  周波数 13.56

MHz

−  振幅 2

V

(rms)∼5 V (rms)

出力は,二つ目の高精密抵抗 50 Ω±1 %(例えば,50  Ω BNC 終端抵抗)で終端する。出

力に並列接続したプローブは,少量の浮遊容量  C

probe

をもつ。参照抵抗に並列に接続された

調整用キャパシタ C

cal

は,C

cal

 = C

probe

の場合,プローブのキャパシタを補正する。

リサージュ図形が完全に閉じたとき,プローブのキャパシタは補正される。

R

1

 = 50Ω

13.56MHz

信号発生器

参照抵抗

50Ω

校正抵抗

50Ω

C

cal

 = C

probe

C

probe

100Ω

X

Y

オシロスコープ

角度
50Ωに対応

閉じたとき

φ=0

出力

図 B.1−校正方法(手順 1


29

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

注記  磁界によって誘起電圧を発生させないように,プローブの接地線は密着して配線しなければな

らない。

手順 2  手順 で設定した同じ値を使用して,手順 では整合回路をアンテナ出力に接続する。アン

テナ基板上のキャパシタ C4 は,位相φを 0 に調整するために使われる。

R

1

 = 50Ω

13.56MHz

信号発生器

参照抵抗

50Ω

C

cal

 = C

probe

C

probe

100Ω

X

Y

オシロスコープ

角度
50Ωに対応

閉じたとき

φ=0

出力

インピーダン

ス整合回路

アンテナ

コイル

位相調整:C4

図 B.2−校正方法(手順 2


30

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 C 

規定)

センスコイル

C.1

センスコイルの配置

図 C.1 は,センスコイルの配置を示す。

単位  mm

170

1

70

1

00

70

R=10

接続位置

図 C.1−センスコイル 及びセンスコイル の配置

寸法単位は mm(図は実寸法でない。

センスコイルのパターン幅は,0.5 mm±20 %とする(スルーホールを除く。

コイルの寸法は,外側の寸法を示す。

プリント基板(PCB)

:材質 FR4,厚さ 1.6 mm,両面,銅はく(箔) 35 μm

注記  プリント基板は,市販品を使用してもよい。

C.2

センスコイルの組立図

図 C.2 は,センスコイルの組立図を示す。


31

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

接続位置

センスコイルb

センスコイルa

PCD試験アンテナ

13.56MHz

図 C.2−センスコイルの組立図


32

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 D 

規定)

基準 PICC のアンテナ配置

図 D.1 は,基準 PICC のアンテナ配置を示す。

(ピックアップコイル,表面)

(主コイル,裏面)

図 D.1−アンテナの配置

寸法は,パターンの中心とする(実寸法でない。

ピックアップコイル及び主コイルの中心は,一致させなければならない。

二つのコイルのパターン幅及び余白は,0.5 mm±20 %でなければならない。

プリント基板(PCB)

:材質 FR4,厚さ 0.76 mm で誤差±10 %,両面,銅はく(箔) 35 μm

注記 1 13.56

MHz において,主コイルのインダクタンス L1 は,2.3 μH±10 %,抵抗は,1.8 Ω±10 %

である。

注記 2 13.56

MHz において,ピックアップコイルのインダクタンス L2 は,375 nH±10 %,抵抗は,

0.65 Ω±10 %である。

注記 3  プリント基板は,市販品を使用してもよい。

= 2

mm

41

.

50 mm

39

.

50 mm

37

.

50 mm

35 .50 mm

r = 1 mm

71.

50 mm

r

1

69.

50 mm

67.

50 mm

65.

50 mm

=3 mm

2

r

=5 mm

4

r

=4 mm

3

r

r = 2

.

5 mm

51

.

90 mm

1

.

90 mm

60.

50 mm

30

.

60 mm

r = 3

.

8 mm

r = 2

 .

5 mm

r = 5 mm

r = 2 mm

83.

60 mm


33

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 E

規定)

変調度及び波形の解析方法

E.1  概要

変調度及び波形の解析方法の動作原理を,

図 E.1 に示す。

図 E.1−変調度及び波形の解析方法の手順

各ブロックについて次の E.2E.8 で規定する。

E.2  サンプリング

信号を取り込むオシロスコープは,5.1.1 に規定する要求仕様を満足しなければならない。一つの変調パ

ルス(

図 E.2 参照)の時間及び電圧のデータは,適切なコンピュータに転送しなければならない。

フィルタリング

包絡線の生成

包絡線の平滑化

変調度

サンプリング

前処理

処理

パラメタ決定

タイミング

オーバシュート・アンダシュート


34

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

図 E.2−変調パルス

E.3  フィルタリング

中心周波数 13.56 MHz で 3dB 帯域幅 10 MHz の 4 次のバタワース型の帯域通過フィルタを用いて DC 及

び高調波を排除しなければならない。フィルタ特性を

図 E.3 に示す。

図 E.3−フィルタ特性


35

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

E.4  包絡線の生成

フィルタされた信号は,ヒルベルト(Hilbert)変換しなければならない。そしてこの複素数変換の振幅

で信号の包絡線を示す。

E.5  包絡線の平滑化

包絡線信号は,移動平均型のフィルタで平滑しなければならない。そのフィルタの周期は,搬送波の 1

周期とする。平滑された包絡線信号を

図 E.4 に示す。

平滑された包絡線信号

初期包絡線信号

振幅

変調された包絡線
信号振幅

振幅(V)

時間(µs)

図 E.4−包絡線の平滑化

E.6  変調度の計測

初期及び変調された包絡線信号の振幅は,平滑された包絡線信号のヒストグラムを計算して決めなけれ

ばならない。初期及び変調された包絡線信号の振幅を最大頻度の値で表す。A 型の変調信号に対しては,

初期包絡線信号だけをヒストグラム方式を使って決めなければならない。

E.7  タイミングの計測

立上がり時間及び立下がり時間は,JIS X 6322-2:2011 の規定に従って決めることが望ましい。

E.8  オーバシュート及びアンダシュートの計測

JIS X 6322-2:2011 の規定に従って,オーバシュート及びアンダシュートの値を決める前に,既に平滑さ

れた包絡線信号を搬送波の 3 周期分の移動平均型のフィルタで更に平滑化しなければならない。


36

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

E.9

変調度及び波形解析のプログラム(参考)

C 言語で書かれた次のプログラムは,変調度及び波形解析の手段の例として提供される。

この C 言語の解析手段は,同じフォルダに置かれた六つの異なったファイルで構成されている。


37

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

E.9.1  structures.h

/*************************************************************************/

/*structures.h

*/

/*This code contains the structures to save important results

*/

/*************************************************************************/

#ifndef STRUCTURES_H

#define STRUCTURES_H

typedef struct esl

{

double volt;

double time;

struct esl *sig;

}ESL;

typedef struct times

{

double tf; // Type B

double tr; // Type B

double b; // Type B

double trstartind; // Type B

double trendind; // Type B

double tfstartind; // Type B

double tfendind; // Type B

double t1; // Type A (all bit rates)

double t1startind; // Type A (all bit rates)

double t1start; // Type A (all bit rates)

double t1endind; // Type A (all bit rates)

double t2; // Type A

double t2startind; // Type A

double t2start; // Type A

double t3; // Type A

double t3end; // Type A

double t3endind; // Type A

double t4; // Type A

double t4endind; // Type A

double t5; // Type A (higher bit rates)

double t5startind; // Type A (higher bit rates)


38

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

double t6; // Type A (higher bit rates)

double t6end; // Type A (higher bit rates)

double t6endind; // Type A (higher bit rates)

double a; // Type A (higher bit rates)

double tploone; //Type A (higher bit rates)

}TIMES;

typedef struct shootreader

{

double shootind;

double shootind_b;

double hf_reader;

double hr_reader;

double above;

double above_b;

}SHOOTREADER;

#endif


39

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

E.9.2  fftrm.h

/************************************************************************/

/*fftrm.h

*/

/*This is the header file for fftrm.c

*/

/************************************************************************/

#ifndef FFTRM_H

#define FFTRM_H

#define RE(z) ((z).r)

#define IM(z) ((z).i)

typedef float real;

typedef double doublereal;

typedef struct { real r, i; } complex;

typedef struct { doublereal r, i; } doublecomplex;

int zffts (int debug, doublecomplex *X, int M);

int ziffts (int debug, doublecomplex *X, int M);

void zfftrmc(doublecomplex *X, int M, int P, float D);

void rmpo (int *rv, int *rvp );

#endif


40

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

E.9.3  fftrm.c

/*************************************************************************/

/*fftrm.c

*/

/*This code contains the necessary function for Fourier and inverse Fourier */

/* transformation

*/

/*************************************************************************/

#include <stdio.h>

#include <math.h>

#include <malloc.h>

#include "fftrm.h"

#ifndef M_PI

#define M_PI 3.1415926535897932384626433832795

#endif

float *WR;

float *WI;

doublereal *DWR;

doublereal *DWI;

void rmpo( int *rv, int *rvp )

{

int value_h;

int n;

n = 1;

*rvp = -1;

value_h = 1;

while ( value_h > 0 )

{

value_h = *rv - n;

(*rvp)++;

n += n;

}

}


41

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

void zfftrmc( doublecomplex *X, int M, int P, float D )

{

int MV2,MM1,J,I,K,L,LE,LE1,IP,IQ,IND,IND1,R;

int I1,J1;

float A,B;

float WCOS,WSIN;

float VR,VI;

float ARG;

static int IPOTC;

static float DALT;

DWR = (doublereal *)calloc(M,sizeof(doublereal));

DWI = (doublereal *)calloc(M,sizeof(doublereal));

/* if (IPOTC == P & D == DALT) goto warmstart; */

IPOTC = P;

DALT = (float)D;

LE = 1;

IND = 0;

for (L=1;L<=P;L++)

{

LE1 = LE;

LE = LE*2;

DWR[IND] = 1.0;

DWI[IND] = 0.0;

ARG = (float)M_PI/(float)LE1;

WCOS = (float)cos(ARG);

WSIN = (float)(D*sin(ARG));

for (R=1;R<=LE1;R++)

{

IND1 = IND+1;

A = (float)DWR[IND];

B = (float)DWI[IND];

DWR[IND1] = A*WCOS - B*WSIN;

DWI[IND1] = B*WCOS + A*WSIN;

++IND;


42

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

}

}

/* warmstart: */

MV2=M/2;

MM1=M-1;

J=1;

for (I=1; I<=MM1; I++)

{

if (I >= J)

goto P1;

J1 = J-1;

I1 = I-1;

VR = (float)RE(X[J1]);

VI = (float)IM(X[J1]);

RE(X[J1]) = RE(X[I1]);

IM(X[J1]) = IM(X[I1]);

RE(X[I1]) = VR;

IM(X[I1]) = VI;

P1: K = MV2;

P2: if (K >= J) goto P3;

J = J-K;

K = K/2;

goto P2;

P3: J = J+K;

}

IND = 0;

LE = 1;

for (L=1; L<=P; L++)

{

LE1 = LE;

LE = LE*2;


43

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

for (R=0; R<LE1; R++)

{

WCOS = (float)DWR[IND];

WSIN = (float)DWI[IND];

IND = IND+1;

for (IQ=R; IQ<M; IQ+=LE)

{

IP = IQ+LE1;

A = (float)RE(X[IP]);

B = (float)IM(X[IP]);

VR = A*WCOS - B*WSIN;

VI = B*WCOS + A*WSIN;

RE(X[IP]) = RE(X[IQ]) - VR;

IM(X[IP]) = IM(X[IQ]) - VI;

RE(X[IQ]) = RE(X[IQ]) + VR;

IM(X[IQ]) = IM(X[IQ]) + VI;

}

}

}

free(DWR);

free(DWI);

}

/*=======================================================================*/

/*___1-D FFT with respect to a spatial coordinate____________________________*/

/*=======================================================================*/

int zffts( int debug, doublecomplex *X, int M )

{

int P;

float D;

D = -1.0;

rmpo( &M, &P);


44

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

if ( debug )

{

printf("P = %d¥n",P);

printf("FFT ...¥n");

}

zfftrmc( X, M, P, D); /* fftrm.c */

return 0;

}

/*=======================================================================*/

/*___1-D Inverse FFT with respect to a spatial coordinate____________________*/

/*=======================================================================*/

int ziffts( int debug, doublecomplex *X, int M )

{

int i;

int P;

float D;

D = 1.0;

rmpo( &M, &P);

if ( debug )

{

printf("P = %d¥n",P);

printf("IFFT ...¥n");

}

zfftrmc( X, M, P, D); /* fftrm.c */

/*___Multiply with 1/M____*/

for (i=0; i<M; i++)

{

RE(X[i]) /= (doublereal)M;

IM(X[i]) /= (doublereal)M;

}

return 0;


45

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

}/*End of fftrm.c*/


46

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

E.9.4  hilbert.h

/*************************************************************************/

/*hilbert.h

*/

/*This code contains the necessary functions for extracting envelope

*/

/*************************************************************************/

#ifndef HILBERT_H_

#define HILBERT_H_

/*This function reads the sampled data recorded in the file*/

int ReadData(void);

/*This function performs the Fourier transform*/

void Fft(void);

/*This function performs the necessary phase shift*/

void PhaseShifting(void);

/*This function performs the inverse Fourier transform*/

void Ifft(void);

/*Envelope reconstruction is done by this function*/

int EnvelopeReconstruction(void);

/*Hilbert main function*/

void hilbert(char *fnamep);

#endif /* HILBERT_H_ */


47

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

E.9.5  hilbert.c

/** * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * /

/ * * * This program extract the envelope of modulated carrier

* * * /

/ * * * Input:

* * * /

/ * * * File in text format containing a table of two columns

* * * /

/ * * * (time and test PCD output voltage vd)

* * * /

/ * * *

* * * /

/ * * * Data format of input-file:

* * * /

/ * * *

* * * /

/ * * * One data-point per line,

* * * /

/ * * *

* * * /

/ * * * {time[seconds], sense-coil-voltage[volts])

* * * /

/ * * *

* * * /

/ * * * Data-points shall be equidistant time

* * * /

/ * * * Minimum sampling rate: 100 MSamples/second

* * * /

/ * * * example for spreadsheet file (start in next line):

* * * /

/ * * * (time) , (voltage )

* * * /

/ * * * 3.00000e-06,1.00

* * * /

/ * * * 3.00200e-06,1.01

* * * /

/ * * *

* * * /

/ * * * Run:

* * * /

/ * * * hilbert Filename.txt

* * * /

/ * * * or

* * * /

/ * * * hilbert (default file name input.txt)

* * * /

/ * * *

* * * /

/*************************************************************************/

/*hilbert.c

*/

/*Main program

*/

/*************************************************************************/

# include <stdio.h>

# include <math.h>

# include <malloc.h>

# include <ctype.h>

# include <string.h>

# include "fftrm.h"

#define MAX_POINT 200000


48

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

#ifndef M_PI

#define M_PI 3.1415926535897932384626433832795

#endif

int debug=0;

int fftdebug=0;

double *Gvalue;

double *Gtime;

double *Gr;

double *Gi;

double *Gc;

doublecomplex *Gt_ifft;

/*File containing the input data*/

char *InputFileName ="input.txt";

int SampledPoints=0;

int N;

int row;

const int col=2;

int ReadData(void)

{

float a,b;

int i=0;

FILE *fp1;

i=0;

SampledPoints=0; //IA

if ((fp1 = fopen(InputFileName,"r")) == NULL)

{

printf("Cannot open input file.¥n");

return 1;

}

while(!feof(fp1))

{

fscanf(fp1,"%e,%e¥n", &a, &b);


49

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

Gtime[SampledPoints] = a;

Gvalue[SampledPoints] = b;

SampledPoints++;

if (SampledPoints>= MAX_POINT) break;

}

fclose(fp1);

fp1=fopen("inputfile.txt","w");

if (!fp1)

{

fprintf(stdout,"Can't write the sampled data in inputfile.txt. ¥n");

return 1;

}

for(i=0; i<SampledPoints; i++)

fprintf(fp1,"%e¥n",Gvalue[i]); /*Gtime[i] has been omitted*/

fclose(fp1);

if(debug)

{

fp1=fopen("inputtime.txt","w");

if (!fp1)

{

fprintf(stdout,"Can't write the sampled data in inputtime.txt. ¥n");

return 1;

}

for(i=0; i<SampledPoints; i++)

fprintf(fp1,"%e¥n",Gtime[i]); /*Gtime[i] has been omitted*/

fclose(fp1);

}

if(debug)

{

if((fp1=fopen("inputfile.bin","wb"))!=NULL)

{

fwrite(Gvalue,sizeof(double),SampledPoints,fp1);

fclose(fp1);

}

}

if(SampledPoints<N)

{


50

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

for(i=SampledPoints;i<=N;i++)

{

Gvalue[i] = 0;

}

}

return 0;

}/*End Of Function ReadData;*/

void Fft(void)

{

doublecomplex *Gt_freq;

FILE *fp1,*fp2,*fp3;

int k,num1,num2;

Gt_freq = (doublecomplex *)calloc(sizeof(doublecomplex),row);

/* FFT Procedure Starts for Sampled Data*/

for(k=0;k<=N;k++)

{

RE(Gt_freq[k])=Gvalue[k];

IM(Gt_freq[k])=0.0;

}

if(debug)

{

if((fp3=fopen("f.bin","wb"))!=NULL)

{

fwrite(Gvalue,sizeof(double),row,fp3);

fclose(fp3);

}

}

zffts(fftdebug,Gt_freq,row);/*FFT is done in spatial coordinate*/

for (k=0;k<=N;k++)

{

Gr[k]=RE(Gt_freq[k]);

Gi[k]=IM(Gt_freq[k]);

}

/* FFT Procedure Ends for Sampled Data*/


51

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

/* Writing The Real And Imaginary Part Of Reflected Part for Debuging*/

/* Writing the real part of sampled data*/

if(debug)

{

if((fp1=fopen("Gr.bin","wb"))!=NULL)

{

num1=fwrite(Gr,sizeof(double),row,fp1);

fclose(fp1);

}

else

fprintf(stdout,"Can't Open Gr.bin");

// Writing the img part of sampled data

if((fp2=fopen("Gi.bin","wb"))!=NULL)

{

num2=fwrite(Gi,sizeof(double),row,fp2);

fclose(fp2);

}

else

fprintf(stdout,"Can't Open Gi.bin");

fprintf(stdout,"Num of Real Part Data after FFT = %d¥n",num1);

fprintf(stdout,"Num of Img Part Data after FFT = %d¥n",num2);

}

free(Gt_freq);

}/* End Of The Function Fft */

void PhaseShifting(void)

{

double *tempr, *tempi;

int k;

FILE *fp1;

tempr = (double *)calloc(sizeof(double),row);

tempi = (double *)calloc(sizeof(double),row);


52

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

for ( k=0; k<=N; k++ )

{

tempr[k]=Gr[k];

tempi[k]=Gi[k];

}

for ( k=0; k<=ceil(N/2); k++ )

{

Gr[k] = tempi[k];

Gi[k] = -tempr[k];

}

for ( k=(int)ceil(N/2)+1; k<=N; k++ )

{

Gr[k] = -tempi[k];

Gi[k] = tempr[k];

}

if(debug)

{

if((fp1=fopen("ffrpt.bin","wb"))!=NULL)

{

fwrite(Gr,sizeof(double),row,fp1);

fclose(fp1);

}

if((fp1=fopen("ffipt.bin","wb"))!=NULL)

{

fwrite(Gi,sizeof(double),row,fp1);

fclose(fp1);

}

}

free (tempr);

free (tempi);

}/*End of PhaseShifting() function*/

void Ifft(void)

{

double *Gt_tmp; /* It takes the real part of R_ifft*/

double *Gt_tmpi;

FILE *fp1;


53

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

int k,i;

Gt_tmp = (double *)calloc(sizeof(double),row);

Gt_tmpi = (double *)calloc(sizeof(double),row);

for (k=0;k<=N;k++)

{

Gt_ifft[k].r=Gr[k];

Gt_ifft[k].i=Gi[k];

}

ziffts(fftdebug,Gt_ifft,row);/*IFFT of the signal in spatial coordinate*/

// End of IFFT

for (k=0;k<=N;k++)

{

Gt_tmp[k]=Gt_ifft[k].r;

}

if(debug)

{

fp1=fopen("ifft.txt","w");

if (!fp1)

fprintf(stdout,"Can't write in file");

for(i=0; i<=N; i++)

fprintf(fp1,"%.4e¥n",(Gt_ifft[i].r));

fclose(fp1);

}

if(debug)

{

if((fp1=fopen("iffrpt.bin","wb"))!=NULL)

{

fwrite(Gt_tmp,sizeof(double),row,fp1);

fclose(fp1);

}

if((fp1=fopen("iffipt.bin","wb"))!=NULL)

{

fwrite(Gt_tmpi,sizeof(double),row,fp1);

fclose(fp1);

}


54

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

}

free(Gt_tmp );

free(Gt_tmpi );

}/* End Of Function Ifft*/

int EnvelopeReconstruction(void)

{

FILE *fp1;

int k;

doublecomplex *G; /*Input signal read from input file in complex form*/

doublecomplex *Ganalytical;/*Analytical function of our input signal*/

double *test;

double *sqrtr;

double *sqrti;

G = (doublecomplex *)calloc(sizeof(doublecomplex),row);

Ganalytical = (doublecomplex *)calloc(sizeof(doublecomplex),row);

test = (double *)calloc(sizeof(double),row);

sqrtr=(double *)calloc(sizeof(double),row);

sqrti=(double *)calloc(sizeof(double),row);

for (k=0;k<=N;k++)

{

RE(G[k]) = Gvalue[k];

IM(G[k]) = 0.0;

}

for (k=0;k<=N;k++)

{

RE(Ganalytical[k])=G[k].r;

IM(Ganalytical[k])=Gt_ifft[k].r;

}

for (k=0;k<=N;k++)

{

sqrtr[k]=sqrt(Ganalytical[k].r*Ganalytical[k].r+Ganalytical[k].i*Ganalytical[k

].i);

}


55

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

fp1=fopen("output.txt","w");

if (!fp1)

{

fprintf(stdout,"Can't write extracted envelope in output.txt.¥n");

free(G);

free(Ganalytical);

free(test);

free(sqrtr);

free(sqrti);

return 1;

}

for(k=0; k<SampledPoints; k++)

fprintf(fp1,"%e,%e¥n",Gtime[k],sqrtr[k]);

fclose(fp1);

free(G);

free(Ganalytical);

free(test);

free(sqrtr);

free(sqrti);

return 0;

}

/*Main Function*/

void hilbert(char *fnamep)

{

int status=0,i=1;

char fname[256];

strcpy(fname, fnamep);

InputFileName= fname;

//Reading the sampled data

do

{

N=(int)pow(2,i)-1;

i++;

}while (MAX_POINT > N);

if (debug)


56

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

printf("N= %d¥n",N);

row=N+1;

Gvalue = (double *)calloc(sizeof(double),row);

Gtime = (double *)calloc(sizeof(double),row);

Gr = (double *)calloc(sizeof(double),row);

Gi = (double *)calloc(sizeof(double),row);

Gt_ifft = (doublecomplex *)calloc(sizeof(doublecomplex),row);

Gc = (double *)calloc(sizeof(double),row);

status = ReadData();

if (status== 1) goto MainExit;

/*Does FFT*/

Fft();

/*Appropriate Phase has been Shifted*/

PhaseShifting();

/*Does IFFT*/

Ifft();

/*Envelope Reconstruction */

status = EnvelopeReconstruction();

if (status== 1) goto MainExit;

MainExit:

free(Gvalue);

free(Gtime);

free(Gr);

free(Gi);

free(Gt_ifft);

free(Gc);

}/*End Of Main*/


57

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

E.9.6  functs.c

/*************************************************************************/

/*functs.c

*/

/*This code contains all functions which provide the program functionality. */

/*Main function of the whole program can be found at the end of this file. */

/*************************************************************************/

#include <stdio.h>

#include <stdlib.h>

#include <string.h>

#include <ctype.h>

#include <math.h>

#include "structures.h"

#include "hilbert.h"

#define MAX_SAMPLES 200000

#ifndef M_PI

#define M_PI 3.1415926535897932384626433832795

#endif

// Reads a line from a file (f) and returns two char arrays (s and t)

// It is used to read files written in "comma separation" format.

void read_line (FILE *f, char *s, char *t)

{

int a=0;

int i=0;

a=fgetc(f); /* Takes chars from the file pointed by f */

while (isspace(a)) /* spaces at the beginning of line are taken out */

{

a=fgetc(f);

}

while (a!=',' && a!=EOF) /* spaces at the beginning of line are taken out */

{

t[i++]=(char)a;

a=fgetc(f);

}

t[i]='¥0';

i=0;


58

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

a=fgetc(f);

while (a!='¥n' && a!=EOF)

{

s[i++]=(char)a;

a=fgetc(f);

}

s[i]='¥0'; /* We add the line end */

}

// Reads a line from a file (f) and discards it.

void skip_line (FILE *f)

{

int a=0;

a=fgetc(f);

while (a!='¥n' && a!=EOF)

{

a=fgetc(f);

}

}

// Creates a ESL node with the given volt and time parameters

ESL *createnodef(double voltf, double timef)

{

ESL *new=NULL;

new=(ESL *)malloc(sizeof(ESL));

if (new!=NULL)

{

new->volt=voltf;

new->time=timef;

new->sig=NULL;

}

else

fprintf(stderr,"Memory Error");

return new;

}

// Frees the allocated memory for ESL nodes

void freelist(ESL *first) // frees ESL list

{

ESL *to_free;


59

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

while (first->sig!=NULL)

{

to_free=first;

first=first->sig;

free(to_free);

}

}

// Creates a TIME node with the given volt and time parameters

void createtime(TIMES *new, double tr, double tf, double b, double trstartind, double

trendind, double tfstartind, double tfendind, double t1, double t1startind, double

t1start, double t1endind, double t2, double t2startind, double t2start, double t3,

double t3end, double t3endind, double t4, double t4endind, double t5, double

t5startind, double t6, double t6end, double t6endind, double a, double tploone)

{

new->tf=tf;

new->tr=tr;

new->b=b;

new->trstartind=trstartind;

new->trendind=trendind;

new->tfstartind=tfstartind;

new->tfendind=tfendind;

new->t1=t1;

new->t1startind=t1startind;

new->t1start=t1start;

new->t1endind=t1endind;

new->t2=t2;

new->t2startind=t2startind;

new->t2start=t2start;

new->t3=t3;

new->t3end=t3end;

new->t3endind=t3endind;

new->t4=t4;

new->t4endind=t4endind;

new->t5=t5;

new->t5startind=t5startind;

new->t6=t6;

new->t6end=t6end;

new->t6endind=t6endind;

new->a=a;


60

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

new->tploone=tploone;

}

// Inserts a ESL node (new) in a list pointed by "first"

void insert_node(ESL **first, ESL *new)

{

ESL *p=NULL;

ESL *previous=NULL;

if (new!=NULL)

{

p=*first;

if (p==NULL)

{

*first=new;

}

else

{

while (p!=NULL)

{

previous=p;

p=p->sig;

}

previous->sig=new;

}

}

}

/* Multiplies order polynomials supposing (x^2 + b*x + c) */

/* b and c are complex values stored in a table where even elements are */

/* real and odd elements imaginary */

double *mult_poli (int num_pol, double *b, double *c)

{

int i=0;

int y=0;

double *real;

double *imag;

double *vector;

double *new_real;

double *new_imag;

double real_b=0;


61

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

double real_c=0;

double imag_b=0;

double imag_c=0;

real=(double *)calloc(4*num_pol, sizeof(double));

imag=(double *)calloc(4*num_pol, sizeof(double));

new_real=(double *)calloc(4*num_pol, sizeof(double));

new_imag=(double *)calloc(4*num_pol, sizeof(double));

vector=(double *)calloc(4*num_pol, sizeof(double));

real[0]=c[0];

real[1]=b[0];

real[2]=1;

imag[0]=c[1];

imag[1]=b[1];

imag[2]=0;

for (i=3; i<(4*num_pol); i++)

{

real[i]=0;

imag[i]=0;

}

for (y=1; y<num_pol; y++)

{

// Selects values b and c

real_b=b[2*y];

real_c=c[2*y];

imag_b=b[2*y+1];

imag_c=c[2*y+1];

for (i=0; i<=(2*num_pol-2); i++)

{

// Starts with coeff "c"

new_real[i]+=real[i]*real_c-imag[i]*imag_c;

new_imag[i]+=real[i]*imag_c+imag[i]*real_c;

// Continues with coeff "b"

new_real[i+1]+=real[i]*real_b-imag[i]*imag_b;

new_imag[i+1]+=real[i]*imag_b+imag[i]*real_b;

// Finishes with coeff "1"

new_real[i+2]+=real[i];


62

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

new_imag[i+2]+=imag[i];

}

// Update Values

for (i=0;i<(4*num_pol); i++)

{

real[i]=new_real[i];

imag[i]=new_imag[i];

new_real[i]=0;

new_imag[i]=0;

}

}

for (y=0; y<(2*num_pol); y++)

{

vector[2*y]=imag[y];

vector[2*y+1]=real[y];

}

free (new_imag);

free (new_real);

free (imag);

free (real);

return (vector);

}

// Part of the calculation of the butterworth coeffs.

double *butter_d_coeffs(double freq1, double freq2)

{

int butter_order=2;

int index=0;

double theta=0;

// M_PI *(freq2-freq1)/2.0

double cp=0;

// cosine of phi

double *vec_r=0;

// z^-2 coefficients

double *vec_t=0;

// z^-1 coefficients

double *dcoeff=0;

// d coefficients

double pole_ang=0;

// pole angle

double divisor=0;


63

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

cp = cos(M_PI*(freq2+freq1)/2.0);

theta = M_PI*(freq2-freq1)/2.0;

vec_r=(double *)calloc(2*butter_order,sizeof(double));

vec_t=(double *)calloc(2*butter_order,sizeof(double));

for(index=0;index<butter_order;++index)

{

pole_ang=M_PI*(double)(2*index+1)/(double)(2*butter_order);

divisor=sin(2*theta)*sin(pole_ang)+1.0;

vec_r[2*index]=cos(2*theta)/divisor;

vec_r[2*index+1]=sin(2*theta)*cos(pole_ang)/divisor;

vec_t[2*index]=-2.0*cp*(cos(theta)+sin(theta)*sin(pole_ang))/divisor;

vec_t[2*index+1]=-2.0*cp*sin(theta)*cos(pole_ang)/divisor;

}

dcoeff=mult_poli(butter_order,vec_t,vec_r);

dcoeff[4]=dcoeff[1];

dcoeff[3]=dcoeff[3];

dcoeff[2]=dcoeff[5];

dcoeff[1]=dcoeff[7];

dcoeff[0]=1;

for(index=5;index<=2*butter_order;index++)

dcoeff[index]=0;

free(vec_t);

free(vec_r);

return(dcoeff);

}

// Calculates the Butterworth filter coefficients

void butterworth_coeffs(double freq1, double freq2, double *dfiltercoeff, double

*cfiltercoeff)

{

// n filter order

// freq1, freq2 lower/uppercutoff frequencies


64

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

double sf;

// scaling factor

double *dcoeff;

// d coefficients

double cotan=0;

// cotangent of theta

/* calculate the d coefficients */

dcoeff=butter_d_coeffs(freq1,freq2);

/* d coefficients for 4th order butterworth */

dfiltercoeff[0]=dcoeff[0];

//  Always  1

dfiltercoeff[1]=dcoeff[1];

dfiltercoeff[2]=dcoeff[2];

dfiltercoeff[3]=dcoeff[3];

dfiltercoeff[4]=dcoeff[4];

/* scalling factor for the c filter coefficients (Butterworth 4th order */

cotan=1.0/tan(M_PI*(freq2-freq1)/2.0);

sf=(1.0/(((cotan+sqrt(2)/2)*(cotan+sqrt(2)/2))+1/2));

/* c coefficients for 4th order butterworth*/

cfiltercoeff[0]=1*sf;

cfiltercoeff[1]=0*sf;

cfiltercoeff[2]=-2*sf;

cfiltercoeff[3]=0*sf;

cfiltercoeff[4]=1*sf;

free(dcoeff);

}

// Checks if the data input is adequate to our algorithms

int datacheck(int posval, int negval, int samplesp, double tlast,FILE *pointfile)

{

double diffr=0.0;

char timestr1[25];

char timestr2[25];

char voltstr[25];

double timestrf1=0;

double timestrf2=0;

double cut_sample=0;

double delta_t=0;

double val_t=0;

int loop=0;


65

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

double linf=0;

int lind=0;

// Checks that there are (nearly) much positive as negative values

if (posval>negval)

diffr=(posval-negval)/((posval+negval)/2);

else

diffr=(negval-posval)/((posval+negval)/2);

if (diffr>0.8)

fprintf(stdout,"Data Corrupted: Too little negative (or positive) values¥n");

// L=n*p with P=2*pi and n=1,2,3... - Cuts data

rewind (pointfile);

read_line(pointfile,voltstr,timestr1);

read_line(pointfile,voltstr,timestr1);

read_line(pointfile,voltstr,timestr1); // Skips csv header if present or not

read_line(pointfile,voltstr,timestr1);

while (voltstr[0]!='¥0')

{

read_line(pointfile,voltstr,timestr2);

loop++;

}

loop=loop+3;

rewind(pointfile);

for (lind=0; lind<loop; lind++)

{

read_line(pointfile,voltstr,timestr2);

}

timestrf1=atof(timestr1);

//  t(4)

timestrf2=atof(timestr2);

//  t(end)

cut_sample=((1/13.56e6)/((timestrf2-timestrf1)/(loop-1)));

linf=samplesp;

while (linf>0)

{

linf=linf-cut_sample;

}

linf+=cut_sample;

samplesp=samplesp-linf-3;


66

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

// At least 7 points per sample

delta_t=tlast-timestrf1;

val_t=delta_t/samplesp;

if (val_t>(1/13.56e6)/7)

fprintf(stdout, "More samples points needed - Nyquist¥n");

return (samplesp);

}

// Finds the most frequent value(s) of the given signal, Hmax (Types A/B) and Hmin

(Type B).

void Hmaxfinder(double *env, double *Hmax, double *Hmin, int numsamples)

{

int hist[2001]={0}; // IA Changed memory access violation. Increased +1

int hi_low_i=0;

double tophist=0;

double bothist=100;

double diffhist=0;

double value=0;

int histind=0;

int max_i=0;

int min_i=0;

double max=0;

double min=0;

// Finds higher and lower values of samples

for (hi_low_i=0; hi_low_i<MAX_SAMPLES; hi_low_i++)

{

if (env[hi_low_i]!=0)

{

if (env[hi_low_i]<bothist)

bothist=env[hi_low_i];

if (env[hi_low_i]>tophist)

tophist=env[hi_low_i];

// Finds limits for the histogram

}

}

diffhist=tophist-bothist;

for (hi_low_i=0; hi_low_i<numsamples; hi_low_i++)

{

if (env[hi_low_i]!=0)


67

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

{

value=env[hi_low_i];

histind=(int)(2000*((value-bothist)/diffhist)); // Performs a lineal

quantization

hist[histind]++;

}

}

for (hi_low_i=0; hi_low_i<1000; hi_low_i++)

{

if (hist[hi_low_i]>min) // Searches most frequent value in the lower half of

the form

{

min=hist[hi_low_i];

min_i=hi_low_i;

}

*Hmin=(bothist+(diffhist/2000)*(min_i));

}

for (hi_low_i=1001; hi_low_i<2000; hi_low_i++)

{

if (hist[hi_low_i]>max) // Search most frequent value in the upper half of

the form

{

max=hist[hi_low_i];

max_i=hi_low_i;

}

*Hmax=(bothist+(diffhist/2000)*(max_i));

}

}

// Linear convolution (z= x convolve y)

void LinearConvolution(double X[],double Y[], double Z[], int lenx, int leny)

{

double *zptr,s,*xp,*yp;

int lenz;

int i,n,n_lo,n_hi;

lenz=lenx+leny-1;

zptr=Z;


68

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

for (i=0;i<lenz;i++)

{

s=0.0;

n_lo=0>(i-leny+1)?0:i-leny+1;

n_hi=lenx-1<i?lenx-1:i;

xp=X+n_lo;

yp=Y+i-n_lo;

for (n=n_lo;n<=n_hi;n++)

{

s+=*xp * *yp;

xp++;

yp--;

}

*zptr=s;

zptr++;

}

}

int envfilt(double *output, double *toutput, int filterlength, double tini, double

tend, int lengthp, double *envelope)

{

int cofpi=0;

int xx=0;

double cofp=0.0;

int lengthp1=0;

double lengthf=0;

double cof[2000]={0};

double points=0.0;

int pointsi=0;

int lengthtotal=0;

cofp=(73.75e-9)/((tend-tini)/(lengthp));

cofpi=cofp+0.5;

lengthf=cofpi*filterlength;

points=(5*73.75e-9)/((tend-tini)/(lengthp-1));

pointsi=(int)points+1;

lengthp1=lengthp;

for (xx=0; xx<lengthf; xx++)


69

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

cof[xx]=1/lengthf;

for (xx=lengthf+1; xx<2000; xx++)

cof[xx]=0;

LinearConvolution(cof, output, envelope, lengthf, lengthp);

for (xx=0; xx<(pointsi); xx++) // "Cuts" envelope

{

envelope[xx]=0.0;

toutput[xx]=0.0;

envelope[lengthp1-xx]=0.0;

toutput[lengthp1-xx]=0.0;

}

for (xx=lengthp1+1; xx<MAX_SAMPLES; xx++)

{

envelope[xx]=0.0;

toutput[xx]=0.0;

}

lengthtotal=lengthp1-2*(pointsi);

return (lengthtotal);

}

// Performs the search of a certain level (target) in the envelope, i.e. 5% ,60%,

90% in Type A, 106 kbit/s

int localizador(double *env, double *toutput, double target, ESL **crosses, int

env_length)

{

int flag=0;

double diff;

ESL *new;

double v;

double t;

int crosscounter=0;

int locat_index=0;

int locat_index_start=0;

while (env[locat_index]==0.0) // Leaves 0s out


70

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

locat_index++;

locat_index_start=locat_index;

if (env[locat_index]-target>0)

{

for (locat_index=locat_index_start;

locat_index<env_length+locat_index_start-1; locat_index++)

{

diff=env[locat_index]-target;

if (diff<0 && flag==0 && env[locat_index]!=0.0) // At the beginning or

after an odd occurrence, envelope is over "target" level

{

flag=1; // down!

v=target;

t=toutput[locat_index-1]+((toutput[locat_index]-toutput[locat_index-
1])/(env[locat_index]-env[locat_index-1])*(target-env[locat_index-1]
));

new=createnodef(v,t);

insert_node(crosses,new);

crosscounter++;

}

if (diff>0 && flag==1 && env[locat_index]!=0.0) // After first (or even) 
occurrence, envelope is under "target" level

{

flag=0; // up!

v=target;

t=toutput[locat_index-1]+((toutput[locat_index]-toutput[locat_index-
1])/(env[locat_index]-env[locat_index-1])*(target-env[locat_index-1]
));

new=createnodef(v,t);

insert_node(crosses,new);

crosscounter++;

}

// Returns all occurrences with time and volt level in a list

}

}

else

fprintf(stdout,"Signal is not ---|___|--- ¥n");

return (crosscounter); // Also returns how many occurrences appeared

}

// Function that calculates the relevant times 
void tfinder(char type, double *env, double *toutput, double tini, double Hmax, 
double Hmin, int rate, int env_length, TIMES *timeres) 
{

double *envc=NULL;

double *envc2=NULL;

ESL *crosses=NULL;

ESL *crosses2=NULL;


71

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

ESL *crosses3=NULL;

ESL *crosses_WORK=NULL;

double ninety=0.0;

double five=0.0;

double sixty=0.0;

double tp90one=0.0;

double tp90two=0.0;

double tp5one=0.0;

double tp5two=0.0;

double tp60two=0.0;

double vp90one=0.0;

double vp90two=0.0;

double vp5one=0.0;

double vp5two=0.0;

double vp60two=0.0;

double tphione=0.0;

double tphitwo=0.0;

double vphione=0.0;

double vphitwo=0.0;

double tpmidone=0.0;

double vpmidone=0.0;

double tploone=0.0;

double tplotwo=0.0;

double vplotwo=0.0;

double t1=0.0;

double t2=0.0;

double t3=0.0;

double t4=0.0;

double t5=0.0;

double t6=0.0;

int flag=0;

int flag2=0;

int flag3=0;

int flag_improv=0;

int x_improv=0;

double minvolt=0.0;

double highrate_low=0.0;

double highrate_mid=0.0;

double highrate_hi=0.0;

double a=0.0;

double t6end=0.0;

double t5startind=0.0;

double t6endind=0.0;

double b=0.0;

double B_low=0.0;

double B_hi=0.0;


72

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

double tr=0.0;

double tf=0.0;

double tfstartind=0.0;

double tfendind=0.0;

double trstartind=0.0;

double trendind=0.0;

double t2startind=0.0;

double t2start=0.0;

double t1startind=0.0;

double t1start=0.0;

double t3end=0.0;

double t4endind=0.0;

double t3endind=0.0;

double t1endind=0.0;

double oscmin=0.0;

double osctmin=0.0;

double oscmax=0.0;

double osctmax=0.0;

ESL *crossescopy=NULL;

double tim3=0.0;

int index_A=0;

int index_A2=0;

int index_chain=0;

int i=0;

b=Hmin;

envc=env;

envc2=envc;

switch (type)

{

case 'A':

{

switch (rate)

{

case 106:

{

ninety=Hmax*0.9;

five=Hmax*0.05;

sixty=Hmax*0.6;

flag2=localizador(envc,toutput,five,&crosses2,env_length); // Finds 5%


73

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

of Hmax

if (flag2==2) // if there are two occurrences, there´s no problem...

{

tp5one=crosses2->time; // Temporary values are stored for future use

vp5one=crosses2->volt;

tp5two=crosses2->sig->time;

vp5two=crosses2->sig->volt;

freelist(crosses2);

}

else if (flag2==0) // ...if there is no occurrence...

fprintf(stdout,"5 percent of Hmax not reached - maybe wrong type or

bitrate? ¥n");

else if (flag2>2) // ...if there are more than two occurrences...

{ // ...it must be checked that "peaks" comply the ISO restrictions

while (toutput[index_A]<crosses2->sig->time)

index_A++;

oscmin=envc2[index_A];

for (index_chain=0; index_chain<flag2-2; index_chain++)

{

crosses2=crosses2->sig;

}

while (toutput[index_A]<=crosses2->time)

{

if (envc2[index_A]>oscmax)

{

oscmax=envc2[index_A];

osctmax=toutput[index_A];

}

index_A++;

}

while (envc2[index_A2]==0)

{

index_A2++;

}


74

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

while (envc2[index_A2]>oscmax)

{

index_A2++;

}

oscmin=envc2[index_A2];

osctmin=toutput[index_A2];

if (osctmax-osctmin>5e-7)

fprintf(stdout,"Monotony not fulfilled ¥n");

tp5one=crosses2->time; // Temporary values are stored for future use

vp5one=crosses2->volt;

tp5two=crosses2->sig->time;

vp5two=crosses2->sig->volt;

freelist(crosses2);

}

flag=localizador(envc,toutput,ninety,&crosses,env_length);

//

Finds

90%

of

Hmax

if (flag>=2)

{

crosses_WORK=crosses; // Copy of crosses to work with

while (x_improv<flag)

{

if (crosses_WORK->time<tp5one)

{

tp90one=crosses_WORK->time;

//

Temporary

values

are

stored

for

future

use

vp90one=crosses_WORK->volt;

}

if (crosses_WORK->time>tp5two && flag_improv==0)

{

tp90two=crosses_WORK->time;

//

Temporary

values

are

stored

for

future

use

vp90two=crosses_WORK->volt;

flag_improv=1;

}

crosses_WORK=crosses_WORK->sig;


75

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

x_improv++;

}

freelist(crosses);

}

else // ...otherwise...

{

fprintf(stdout,"90 %% of Hmax not found - Noise Too High ¥n");

}

flag3=localizador(envc,toutput,sixty,&crosses3,env_length); // Finds 60%

of Hmax

if (flag3==2) // if there are two occurrences, there´s no problem...

{

tp60two=crosses3->sig->time; // Temporary values are stored for future

use

vp60two=crosses3->sig->volt;

freelist(crosses3);

}

t1=tp5two-tp90one; // Definitive values are calculated and stored for display

t2=tp5two-tp5one;

t3=tp90two-tp5two;

t4=tp60two-tp5two;

t1start=tp90one; // Other important values for the coming functions

t2start=tp5one;

t3end=tp90two;

t1startind=vp90one;

t1endind=vp5two;

t2startind=vp5one;

t3endind=vp90two;

t4endind=vp60two;

createtime(timeres,0,0,0,0,0,0,0,t1,t1startind,t1start,t1endind,t2,t2startind,

t2start,t3,t3end,t3endind,t4,t4endind,0,0,0,0,0,0,0);

}

break;

case 212:

case 424:


76

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

case 848:

{

ninety=Hmax*0.9;

while (env[index_A]==0.0) // Finds first value different of 0.0

index_A++;

minvolt=env[index_A];

while (env[index_A]!=0.0) // All values are considered

{

if (env[index_A]<minvolt)

{

minvolt=env[index_A]; // Finds minimal voltage

}

index_A++;

}

highrate_low=minvolt+0.1*(Hmax-minvolt); // Calculates target

flag=localizador(envc,toutput,highrate_low,&crosses,env_length);

// Finds target

if (flag==2) // ...if there are two occurrences, there´s no problem...

{

tploone=crosses->time; // Temporary values are stored for future use

tplotwo=crosses->sig->time;

vplotwo=crosses->sig->volt;

}

else if (flag>2) // if there are more than two occurrences...

{ // ...it must be checked that "peaks" comply the ISO restrictions

while (toutput[index_A2]<crosses->time || toutput[index_A2]==0)

index_A2++;

oscmin=envc2[index_A2];

while (envc2[index_A2]<=oscmin)

{

oscmin=envc2[index_A2];

index_A2++;

}

osctmin=toutput[index_A2];

crossescopy=crosses;


77

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

for (i=1; i<(flag-1); i++)

crossescopy=crossescopy->sig;

tim3=crossescopy->time;

while (toutput[index_A2]<tim3)

index_A2++;

oscmax=envc2[index_A2];

while (toutput[index_A2]<tim3)

{

if (oscmax<envc2[index_A2])

{

oscmax=envc2[index_A2];

osctmax=toutput[index_A2];

}

index_A2++;

}

if (oscmax-oscmin>(0.09*(Hmax-oscmin)))

fprintf(stdout,"Monotony not fulfilled ¥n");

for (i=1; i<(flag-1); i++)

crosses=crosses->sig;

tploone=crosses->time; // Temporary values are stored for future use

tplotwo=crosses->sig->time;

vplotwo=crosses->sig->volt;

}

freelist(crosses);

highrate_hi=ninety+0.1*minvolt; // Calculates target

flag=localizador(envc,toutput,highrate_hi,&crosses2,env_length);

// Finds target

if (flag>=2)

{

crosses_WORK=crosses2;

while (x_improv<flag)

{

if (crosses_WORK->time<tploone)

{

tphione=crosses_WORK->time;

//

Temporary

values

are

stored

for

future


78

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

use

vphione=crosses_WORK->volt;

}

if (crosses_WORK->time>tplotwo && flag_improv==0)

{

tphitwo=crosses_WORK->time;

//

Temporary

values

are

stored

for

future

use

vphitwo=crosses_WORK->volt;

flag_improv=1;

}

crosses_WORK=crosses_WORK->sig;

x_improv++;

}

freelist(crosses2);

}

else // ...otherwise...

{

fprintf(stdout,"90 %% of Hmax not reached! - Noise Too High? ¥n");

}

highrate_mid=(Hmax+minvolt)/2; // Calculates target

flag=localizador(envc,toutput,highrate_mid,&crosses3,env_length);

// Finds target

if (flag==2) // ...if there are two occurrences, there´s no problem...

{

tpmidone=crosses3->time; // Temporary values are stored for future use

vpmidone=crosses3->volt;

freelist(crosses3);

}

else // ...otherwise...

fprintf(stdout,"Noise Too High ¥n");

t1=tplotwo-tphione;

//

Definitive

values

are

calculated

and

stored

for

display

t5=tplotwo-tpmidone;

t6=tphitwo-tplotwo;

a=minvolt;

t6end=tphitwo; // Other important values for the coming functions

t1start=tphione;

t1startind=vphione;


79

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

t5startind=vpmidone;

t1endind=vplotwo;

t6endind=vphitwo;

createtime(timeres,0,0,0,0,0,0,0,t1,t1startind,t1start,t1endind,0,0,0,0,0,0,0,

0,t5,t5startind,t6,t6end,t6endind,a,tploone);

}

break;

}

}

break;

case 'B':

{

B_low=b+0.1*(Hmax-b); // Calculates target

flag=localizador(envc,toutput,B_low,&crosses,env_length); // Finds target

if (flag>=2)

{

crosses_WORK=crosses;

tploone=crosses_WORK->time; // Temporary values are stored for future use

while (x_improv<flag)

{

tplotwo=crosses_WORK->time; // Temporary values are stored for future use

vplotwo=crosses_WORK->volt;

crosses_WORK=crosses_WORK->sig;

x_improv++;

}

freelist(crosses);

}

else

{

fprintf(stdout,"Monotony not fulfilled¥n");

}

B_hi=Hmax-0.1*(Hmax-b); // Calculates target

flag=localizador(envc,toutput,B_hi,&crosses2,env_length); // Finds

target

if (flag>=2)

{

x_improv=0;

flag_improv=0;


80

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

crosses_WORK=crosses2;

while (x_improv<flag)

{

if (crosses_WORK->time<tploone)

{

tphione=crosses_WORK->time;

//

Temporary

values

are

stored

for

future

use

vphione=crosses_WORK->volt;

}

if (crosses_WORK->time>tplotwo && flag_improv==0)

{

tphitwo=crosses_WORK->time;

//

Temporary

values

are

stored

for

future

use

vphitwo=crosses_WORK->volt;

flag_improv=1;

}

crosses_WORK=crosses_WORK->sig;

x_improv++;

}

freelist(crosses2);

}

else

{

fprintf(stdout,"Monotony not fulfilled¥n");

}

tf=tploone-tphione;

//

Definitive

values

are

calculated

and

stored

for

display

tr=tphitwo-tplotwo;

tfstartind=tphione; // Other important values for the coming functions

tfendind=tploone;

trstartind=tplotwo;

trendind=tphitwo;

createtime(timeres,tr,tf,b,trstartind,trendind,tfstartind,tfendind,0,0,0,0,0,0

,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0);

}

break;

}

}

// Checks monotony on the falling edge


81

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

void monocheck(double *env, double *toutput, double Hmax, TIMES *timesp, int rate,

char type)

{

double tinit=0.0;

double tend=0.0;

double compare=0.0;

double timer0=0.0;

double timer1=0.0;

double volt0=0.0;

double volt1=0.0;

int counter=0;

int flag_mono=0;

switch (type)

{

case 'A':

{

switch (rate)

{

case 106:

{

while (env[counter]==0)

counter++;

tinit=timesp->t1start;

tend=timesp->t2start;

while (toutput[counter]<tinit)

counter++; //find first value

while (toutput[counter]<tend)

{

compare=env[counter];

if (compare<env[counter+1])

{

timer0=toutput[counter];

volt0=env[counter];

while (volt0<env[counter+1]) // growing values...

{

counter++;


82

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

volt0=env[counter];

}

timer1=toutput[counter]; // ...max.value -> time

if (timer1-timer0>5e-6)

fprintf(stdout,"Monotony not fulfilled ¥n");

}

else

counter++;

}

}

break;

case 212:

case 424:

case 848:

{

while (env[counter]==0)

counter++;

tinit=timesp->t1start;

tend=timesp->t1endind;

while (toutput[counter]<tinit)

counter++; //find first value

while (env[counter]>tend)

{

compare=env[counter];

if (compare<env[counter+1])

{

volt0=env[counter];

volt1=volt0;

while (volt0<env[counter+1]) // growing values...

{

counter++;

volt0=env[counter];

}

if (volt1-volt0>0.09*(Hmax-volt0))

fprintf(stdout,"Monotony not fulfilled ¥n");

}

else

counter++;


83

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

}

}

break;

}

}

break;

case 'B':

{

while (env[counter]==0)

counter++;

tinit=timesp->tfstartind;

tend=timesp->tfendind;

while (toutput[counter]<tinit)

counter++; //find first value

while (toutput[counter]<tend)

{

compare=env[counter];

if (compare<env[counter++])

flag_mono=1;

}

if (flag_mono==1)

fprintf(stdout, "Monotony not fulfilled ¥n");

}

break;

}

}

// Function that calculates the overshoot times

void overshoot(TIMES *timesp, double Hmax, double *env2, double *toutput, int rate,

char type, int samples, SHOOTREADER *shootreader)

{

double shootind=0.0;

double shootind_b=0.0;

double hr_reader=0.0;

double hf_reader=0.0;

double above=0.0;

double above_b=10.0;

double start=0.0;

int index_samples=0;


84

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

switch (type)

{

case 'A':

{

switch (rate)

{

case (106):

{

start=timesp->t3end;

while (toutput[index_samples]<=start)

index_samples++;

while (index_samples<=samples)

{

if (env2[index_samples]>above)

{

above=env2[index_samples];

shootind=toutput[index_samples];

}

index_samples++;

}

}

break;

case (212):

case (424):

case (848):

{

start=timesp->t6end;

while (toutput[index_samples]<=start)

index_samples++;

while (index_samples<=samples)

{

if (env2[index_samples]>above)

{

above=env2[index_samples];

shootind=toutput[index_samples];

}

index_samples++;


85

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

}

if (above<Hmax) // In very strange cases if there´s no overshoot, the

highest point

above=Hmax; // in the curve can be cutted off by envfilt, producing

a negative hr

}

break;

}

}

break;

case 'B':

{

start=timesp->trendind;

while (toutput[index_samples]<start) // Starts at the rising edge

index_samples++;

while (index_samples<=samples)

{

if (env2[index_samples]>above)

{

above=env2[index_samples];

shootind=toutput[index_samples];

hr_reader=(above-Hmax)/(Hmax-timesp->b);

if (hr_reader<0) // In very strange cases if there´s no overshoot, the

highest point

hr_reader=0; // in the curve can be cutted off by envfilt, producing

a negative hr

}

index_samples++;

}

index_samples=0;

start=timesp->tfendind;

while (toutput[index_samples]==0)

index_samples++;

while (toutput[index_samples]<start)

index_samples++

while (toutput[index_samples]<(timesp->trstartind))


86

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

{

if (env2[index_samples]<above_b && env2[index_samples]!=0)

{

above_b=env2[index_samples];

shootind_b=toutput[index_samples];

hf_reader=(timesp->b-above_b)/(Hmax-timesp->b);

}

index_samples++;

}

}

break;

}

shootreader->shootind=shootind;

shootreader->shootind_b=shootind_b;

shootreader->hr_reader=hr_reader;

shootreader->hf_reader=hf_reader;

shootreader->above=above;

shootreader->above_b=above_b;

}

// Calculates the modulation index "m"

double modulation(char type, double Hmax, double b)

{

double m=0;

switch (type)

{

case 'A':

{

// m is not defined for Type A

}

break;

case 'B':

{

m=100*(Hmax-b)/(Hmax+b); // In %

}

break;

}

return (m);

}


87

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

// Displays on screen the results of the calculations

void display(char type, int rate, SHOOTREADER *shootreader2, TIMES *timesp, double

Hmax, double m)

{

double ovs=0;

double ovsb1=0;

double ovsb2=0;

fprintf (stdout,"¥n"); // 2nd set of functions, on debug purposes

switch (type)

{

case 'A':

{

fprintf(stdout,"---RESULTS------------¥n");

fprintf(stdout,"Type A - Bitrate %d¥n", rate);

fprintf(stdout,"---Overshoot----------¥n");

ovs=(((shootreader2->above)-Hmax)/(Hmax-timesp->a))*100;

if (ovs>0)

fprintf(stdout,"Overshoot = %f %% ¥n", ovs);

else

fprintf(stdout,"Overshoot = 0 %% ¥n");

switch (rate)

{

case (106):

{

fprintf(stdout,"---timings------------¥n");

fprintf(stdout,"t1 = %f microsec. ¥n", (timesp->t1)*1e6);

fprintf(stdout,"t1 = %f/fc ¥n", (timesp->t1)*13.56e6);

fprintf(stdout,"t2 = %f microsec. ¥n", (timesp->t2)*1e6);

fprintf(stdout,"t2 = %f/fc ¥n", (timesp->t2)*13.56e6);

fprintf(stdout,"t3 = %f microsec. ¥n", (timesp->t3)*1e6);

fprintf(stdout,"t3 = %f/fc ¥n", (timesp->t3)*13.56e6);

fprintf(stdout,"t4 = %f microsec. ¥n", (timesp->t4)*1e6);

fprintf(stdout,"t4 = %f/fc ¥n", (timesp->t4)*13.56e6);

fprintf(stdout,"---amplitudes---------¥n");

fprintf(stdout,"Hmax = %f volts ¥n", Hmax);

fprintf(stdout,"Max. Amplitude = %f volts ¥n", (shootreader2- >above));

}

break;

case (212):

case (424):

case (848):

{


88

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

fprintf(stdout,"hovs = %f ¥n", (((shootreader2->above- Hmax)/Hmax)));

fprintf(stdout,"---timings------------¥n");

fprintf(stdout,"t1 = %f microsec. ¥n", (timesp->t1)*1e6);

fprintf(stdout,"t1 = %f/fc ¥n", (timesp->t1)*13.56e6);

fprintf(stdout,"t5 = %f microsec. ¥n", (timesp->t5)*1e6);

fprintf(stdout,"t5 = %f/fc ¥n", (timesp->t5)*13.56e6);

fprintf(stdout,"t6 = %f microsec. ¥n", (timesp->t6)*1e6);

fprintf(stdout,"t6 = %f/fc ¥n", (timesp->t6)*13.56e6);

fprintf(stdout,"---amplitudes---------¥n");

fprintf(stdout,"Hmax = %f volts ¥n", Hmax);

fprintf(stdout,"a = %f %% of Hinitial ¥n", ((timesp->a)/Hmax));

}

break;

}

}

break;

case 'B':

{

fprintf(stdout,"---RESULTS------------¥n");

fprintf(stdout,"Type B - Bitrate %d¥n", rate);

fprintf(stdout,"---timings------------¥n");

fprintf(stdout,"tf = %f microsec. ¥n", (timesp->tf)*1e6);

fprintf(stdout,"tf = %f/fc ¥n", (timesp->tf)*13.56e6);

fprintf(stdout,"tr = %f microsec. ¥n", (timesp->tr)*1e6);

fprintf(stdout,"tr = %f/fc ¥n", (timesp->tr)*13.56e6);

fprintf(stdout,"---modulation---------¥n");

fprintf(stdout,"m = %f %% ¥n", m);

fprintf(stdout,"---amplitudes---------¥n");

fprintf(stdout,"a = %f volts ¥n", Hmax);

fprintf(stdout,"b = %f volts ¥n", timesp->b);

fprintf(stdout,"---Overshoots---------¥n");

fprintf(stdout,"hf = %f %% of Hinitial-b¥n", (shootreader2-

>hf_reader)*100);

fprintf(stdout,"hr = %f %% of Hinitial-b¥n", (shootreader2-

>hr_reader)*100);

ovsb1=(timesp->b-(shootreader2->above_b))*1000;

ovsb2=((shootreader2->above)-Hmax)*1000;

if (ovsb1>0)

fprintf(stdout,"hf = %f milivolts ¥n", ovsb1);

else

fprintf(stdout,"hf = 0 milivolts ¥n");


89

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

if (ovsb2>0)

fprintf(stdout,"hr = %f milivolts ¥n", ovsb2);

else

fprintf(stdout,"hr = 0 milivolts ¥n");

}

break;

}

}

// Main Function

int main (int argc, char *argv[])

{

char type;

int rate;

char voltstr[25]; // intermediate char array to modify the voltage values

char timestr[25]; // intermediate char array to modify the time values

double snum=0;

double tnum=0;

double t=0;

int filterlength=0;

double Hmax=0;

double Hmin=0;

double Hmax2=0;

double Hmin2=0;

FILE *pointfile=NULL;

FILE *input_u2=NULL;

FILE *poutput=NULL;

double m=0.0;

int length=0;

double val=0;

int posval=0;

int negval=0;

double tini=0;

double tfin=0;

int samples=0;

int out_i=0;

int length_total=0;

int sample_ini=0;

int sample_end=0;

int flag_cut=0;


90

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

int samplesp=0;

int fi=0; // Filter generic index

double b1=0; // Filter parameters

double b2=0;

double b3=0;

double b4=0;

double b5=0;

double a1=0;

double a2=0;

double a3=0;

double a4=0;

double a5=0;

double freq1=0;

double freq2=0;

double as[5]={0};

double bs[5]={0};

double t0=0;

double tlast=0;

int lineskip=0;

double *voutput=malloc (sizeof(double)*MAX_SAMPLES);

double *toutput=malloc (sizeof(double)*MAX_SAMPLES);

double *envelope=malloc (sizeof(double)*MAX_SAMPLES);

double *vfilter=malloc (sizeof(double)*MAX_SAMPLES);

double *tfilter=malloc (sizeof(double)*MAX_SAMPLES);

TIMES *timesp=(TIMES *)malloc(sizeof(TIMES));

TIMES *timesp2=(TIMES *)malloc(sizeof(TIMES));

SHOOTREADER *shootreader2=(SHOOTREADER *)malloc(sizeof(SHOOTREADER));

if (voutput!=NULL && toutput!=NULL && envelope !=NULL && vfilter!=NULL &&

tfilter!=NULL && timesp!=NULL && timesp2!=NULL && shootreader2!=NULL)

{

memset(voutput, 0, MAX_SAMPLES);

memset(toutput, 0, MAX_SAMPLES);

memset(envelope, 0, MAX_SAMPLES);

memset(vfilter, 0, MAX_SAMPLES);

memset(tfilter, 0, MAX_SAMPLES);

type=*argv[1];

rate=atoi(argv[2]);

if ((type!='A' && type!='B') || (rate!=106 && rate!=212 && rate!=424 &&

rate!=848))


91

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

{

fprintf(stdout, "Wrong Type (A or B) or Bitrate (106, 212, 424, 848)");

}

else

{

pointfile=fopen(argv[3],"r");

input_u2=fopen("intermediate.txt","w"); // modifiedintermediate amplitude

vector

if(pointfile!=NULL && input_u2!=NULL)

{

//1. LOAD DATA + CHECKING DATA (WITHOUT FILTER)

for (lineskip=0; lineskip<10; lineskip++) // Skips the first 10 lines

which are the header of csv files

{

skip_line (pointfile);

}

read_line (pointfile,voltstr, timestr);

t0=atof(timestr);

while (!feof(pointfile)) // We are reading the lines of the voltage input

file

{

if (voltstr[0]!='¥0')

{

snum=atof(voltstr);

tnum=atof(timestr);

if(snum<0)

negval++;

else

posval++;

vfilter[samplesp]=snum;

tfilter[samplesp]=tnum;

samplesp++;

read_line (pointfile,voltstr, timestr);

}

tlast=tfilter[samplesp-1];

}

samplesp=samplesp+3;

samplesp=datacheck(posval, negval, samplesp, tlast, pointfile);

tlast=tfilter[samplesp];


92

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

//2. DATA FILTER 10 MHz BANDPASS

freq1=8.56e6/(1/(2*((tlast-t0)/(samplesp-1))));

freq2=18.56e6/(1/(2*((tlast-t0)/(samplesp-1))));

butterworth_coeffs(freq1, freq2, as, bs);

b1=bs[0];

b2=bs[1];

b3=bs[2];

b4=bs[3];

b5=bs[4];

a1=as[0];

a2=as[1];

a3=as[2];

a4=as[3];

a5=as[4];

for (fi=0; fi<samplesp; fi++)

{

if (fi<7 || fi>samplesp-7)

voutput[fi]=0;

else

voutput[fi]=(b1*vfilter[fi]+b2*vfilter[fi-1]+b3*vfilter[fi-

2]+b4*vfilter[fi-3]+b5*vfilter[fi-4]-a2*voutput[fi-1]-a3*voutput

[fi-2]- a4*voutput[fi-3]-a5*voutput[fi-4])/a1;

}

rewind (pointfile);

lineskip=0;

for (lineskip=0; lineskip<10; lineskip++) // Skips the first 10 lines

which are the header of csv files

{

skip_line (pointfile);

}

for (fi=0; fi<(samplesp-7); fi++) /* We are reading the lines of the voltage

input file */

{

val=voutput[fi];

read_line (pointfile,voltstr,timestr);


93

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

fprintf(input_u2,"%s,%f¥n",timestr,val);

length++;

}

//3. HILBERT TRANSFORM AND THE COMPLEX ENVELOPE

rewind(input_u2);

hilbert("intermediate.txt"); // performs Hilbert transform

poutput=fopen("output.txt","r"); // Hilbert transform output vector

read_line (poutput,voltstr,timestr);

tini=atof(timestr);

rewind (poutput);

if(poutput!=NULL)

{

while (!feof(poutput)) // We are reading the lines of the voltage input

file */

{

read_line (poutput,voltstr,timestr);

if (timestr[0]!='¥0')

{

snum=atof(voltstr);

voutput[samples]=snum;

t=atof(timestr);

toutput[samples]=t;

samples++;//==>US // Same variable as the one in Hmaxfinder

tfin=t;

}

}

}

else

fprintf(stdout,"Error in Hilbert transform¥n");

//4. USING A SMOOTHING FILTER (MOV. AVG) TO REDUCE THE NOISE

filterlength=1;

length_total=envfilt(voutput, toutput, filterlength, tini, tfin, samples,

envelope);

//5. 100% OF H_INITIAL

Hmaxfinder(envelope, &Hmax, &Hmin, length_total);


94

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

//6. COMPUTING THE ISO BASED TIMES

tfinder(type,envelope,toutput,tini,Hmax,Hmin,rate,length_total,times

p);

//7. CHECKING FOR ISO DEFINED MONOTONY

monocheck(envelope, toutput, Hmax, timesp, rate, type);

out_i=0;

while (out_i<MAX_SAMPLES) // Finds how many zeros are at the beginning

of vector envelope

{

if (envelope[out_i]==0 && flag_cut==0)

{

sample_ini=out_i;

tini=toutput[sample_ini+1];

}

if (envelope[out_i]!=0)

{

flag_cut=1;

sample_end=out_i;

tfin=toutput[sample_end];

}

out_i++;

}

samples=sample_end-sample_ini-1; //==>US

for (out_i=0; out_i<samples; out_i++)

{

voutput[out_i]=envelope[out_i+sample_ini+1];

toutput[out_i]=toutput[out_i+sample_ini+1];

}

for (out_i=samples+1; out_i<MAX_SAMPLES; out_i++)

{

voutput[out_i]=0.0;

toutput[out_i]=0.0;

}


95

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

tini=toutput[0];

tfin=toutput[samples];

//8. OVERSHOOT OF THE READER

fprintf (stdout,"¥n"); // 2nd set of functions, "New Line" printed

for debug purposes

filterlength=3;

length_total=envfilt(voutput, toutput, filterlength, tini, tfin,

samples, envelope); // 2nd Filtering to find the alternate envelope

Hmaxfinder(envelope, &Hmax2, &Hmin2, length_total);

tfinder(type,envelope,toutput,tini,Hmax2,Hmin2,rate,length_total,

timesp2);

monocheck(envelope, toutput, Hmax2, timesp2, rate, type);

// The parameters of the alternate envelope are calculated

overshoot(timesp2,Hmax2,envelope,toutput,rate,type,samples,

shootreader2); // This time the over- and undershoots are found

//9. MODULATION

m=modulation(type, Hmax, timesp->b);

//10. DISPLAY

display(type, rate, shootreader2, timesp, Hmax, m);

}

else if (pointfile==NULL || input_u2!=NULL)

fprintf(stdout,"file(s) could not be opened ¥n");

fclose(pointfile);

fclose(input_u2);

}

}

else

fprintf(stdout, "Memory could not be allocated");

free (voutput);

free (toutput);

free (envelope);

free (vfilter);

free (tfilter);

free (timesp);

free (timesp2);


96

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

free (shootreader2);

return 0;

}


97

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 F

参考)

周波数特性の評価用プログラム

C 言語で書かれた次のプログラムは,PICC の周波数特性の振幅の計算例として提供される。

/***************************************************************/

/*** This program calculates the Fourier coefficients

***/

/*** of load modulated voltage of a PICC according

***/

/*** the ISO/IEC 10373-6 Test methods

***/

/*** The coefficients are calculated at the frequencies:

***/

/*** Carrier: fc (=13.5600 for 13.56 MHz)

***/

/*** Upper sideband: 14.4075 MHz

***/

/*** Lower sideband: 12.7125 MHz

***/

/***************************************************************/

/*** Input:

***/

/*** File in CSV Format containing a table of two

***/

/*** columns (time and test PCD output voltage vd, clause 7)  ***/

/***

***/

/*** data format of input-file:

***/

/*** -------------------------

***/

/*** - one data-point per line:

***/

/*** (time[seconds], sense-coil-voltage[volts])

***/

/*** - contents in ASCII, no headers

***/

/*** - data-points shall be equidistant time

***/

/*** - minimum sampling rate: 100 MSamples/second

***/

/*** - modulation waveform centered

***/

/*** (max. tolerance: half of subcarrier cycle)

***/

/***

***/

/***

***/

/*** example for spreadsheet file (start in next line):

***/

/*** (time) (voltage)

***/

/*** 3.00000e-06,1.00

***/

/*** 3.00200e-06,1.01

***/

/*** .....

***/

/***************************************************************/

/*** RUN:

***/

/*** “exefilename” [filename1[.csv] ... filename[.csv] ]

***/

/***************************************************************/


98

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

/*** ISO/IEC 10373-6 DFT CALCULATION

***/

/*** Program Version 2.1 Release 2008

***/

/***************************************************************/

#include <stdio.h>

#include <string.h>

#include <math.h>

#define MAX_SAMPLES 50000

#define MAX_POINTS 500

#define MAX_MOYENNE 200

double pi; /* pi=3.14.... */

/* Array for time and sense coil voltage vd */

double vtime[MAX_SAMPLES]; /* time array */

double vd[MAX_SAMPLES]; /* Array for different coil voltage */

/***************************************************************/

/*** Read CSV File Function

***/

/***

***/

/*** Description:

***/

/*** This function reads the table of time and sense coil

***/

/*** voltage from a File in CSV Format

***/

/***

***/

/*** Input: filename

***/

/***

***/

/*** Return: Number of samples (sample Count)

***/

/*** 0 if an error occurred

***/

/***

***/

/*** Displays Statistics:

***/

/***

***/

/*** Filename, SampleCount, Sample rate, Max/Min Voltage

***/

/***************************************************************/

int readcsv(char* fname)

{

double a,b;

double max_vd,min_vd;


99

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

int i;

FILE *sample_file;

/************ Open File ***********************************/

if (!strchr(fname, '.')) strcat(fname, ".csv");

if ((sample_file = fopen(fname, "r"))== NULL)

{

printf("Cannot open input file %s.¥n",fname);

return 0;

}

/**********************************************************/

/* Read CSV File */

/**********************************************************/

max_vd=-1e-9F;

min_vd=-max_vd;

i=0;

while (!feof(sample_file))

{

if (i>=MAX_SAMPLES)

{

printf("Warning: File truncated !!!¥n");

printf("To much samples in file %s¥b¥n",fname);

break;

}

fscanf(sample_file,"%Lf,%Lf¥n", &a, &b);

vtime[i] = a;

vd[i] = b;

if (vd[i]>max_vd) max_vd=vd[i];

if (vd[i]<min_vd) min_vd=vd[i];

i++;

}

fclose(sample_file);

/************ Displays Statistics ************************/

printf("¥n***********************************************¥n");

printf("¥nStatistics: ¥n");


100

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

printf(" Filename : %s¥n",fname);

printf(" Sample count: %d¥n",i);

printf(" Sample rate : %1.0f MHz¥n",1e-6/(vtime[1]-vtime[0]));

printf(" Max(vd) : %4.0f mV¥n",max_vd*1000);

printf(" Min(vd) : %4.0f mV¥n",min_vd*1000);

return i;

}/**************** End ReadCsv ***************/

/***************************************************************/

/*** DFT : Discrete Fourier Transformation

***/

/***************************************************************/

/*** Description:

***/

/*** This function calculate the Fourier coefficient

***/

/***

***/

/*** Input: Number of samples

***/

/*** Global Variables:

***/

/***

***/

/*** Displays Results:

***/

/***

***/

/*** Carrier coefficient

***/

/*** Upper sideband coefficient

***/

/*** Lower sideband coefficient

***/

/***

***/

/***************************************************************/

void dft(int count)

{

double c0_real,c0_imag,c0_abs,c0_phase;

double c1_real,c1_imag,c1_abs,c1_phase;

double c2_real,c2_imag,c2_abs,c2_phase;

int N_data,center,start;

double w0,wu,wl;

double Wb; /* Bartlett window coefficient */

int i,k;

double fc; /* add variable for carrier frequency */

fc=13.56e6;

w0=(double)(fc*2.0)*pi; /* carrier 13.56 MHz */


101

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

wu=(double)(1.0+1.0/16.0)*w0; /* upper sideband 14.41 MHz */

wl=(double)(1.0-1.0/16.0)*w0; /* lower sideband 12.71 MHz */

c0_real=0; /* real part of the carrier Fourier coefficient */

c0_imag=0; /* imag part of the carrier Fourier coefficient */

c1_real=0; /* real part of the up. sideband Fourier coefficient */

c1_imag=0; /* imag part of the up. sideband Fourier coefficient */

c2_real=0; /* real part of the lo. sideband Fourier coefficient */

c2_imag=0; /* imag part of the lo. sideband Fourier coefficient */

center=(count+1)/2; /* center address */

/********** signal selection ******************************/

/* Number of samples for six subcarrier periods */

N_data=(int)(0.5+6*16.0F/(vtime[2]-vtime[1])/fc);

/* Note: (vtime[2]-vtime[1]) is the scope sample rate */

start=center - (int) N_data / 2;

/******************* DFT ********************************/

for( i=0;i<=N_data-1;i++)

{

/* Bartlett window */

if ((N_data & 1) == 0)

{

/* N_data is even */

if (i < (int) N_data /2)

{

Wb=2.0F*i/(double)(N_data - 1);

}

else

{

Wb=2.0F*(N_data-i-1)/(double)(N_data - 1);

}

}

else

{


102

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

/*N_data is odd */

if (i < (int) N_data /2)

{

Wb=2.0F*i/(double)(N_data - 1);

}

else

{

Wb=2.0F-2.0F*i/(double)(N_data - 1);

}

}

k=i+start;

c0_real=c0_real+vd[k]*(double)cos(w0*vtime[k])*Wb;

c0_imag=c0_imag+vd[k]*(double)sin(w0*vtime[k])*Wb;

c1_real=c1_real+vd[k]*(double)cos(wu*vtime[k])*Wb;

c1_imag=c1_imag+vd[k]*(double)sin(wu*vtime[k])*Wb;

c2_real=c2_real+vd[k]*(double)cos(wl*vtime[k])*Wb;

c2_imag=c2_imag+vd[k]*(double)sin(wl*vtime[k])*Wb;

}

/******************* DFT scale ***************************/

c0_real=4.0F*c0_real/(double) N_data;

c0_imag=4.0F*c0_imag/(double) N_data;

c1_real=4.0F*c1_real/(double) N_data;

c1_imag=4.0F*c1_imag/(double) N_data;

c2_real=4.0F*c2_real/(double) N_data;

c2_imag=4.0F*c2_imag/(double) N_data;

/* Note: 4.0F includes the correction coef. of the Bartlett window */

/**************** absolute Fourier coefficient **********/

c0_abs=(double)sqrt(c0_real*c0_real + c0_imag*c0_imag);

c1_abs=(double)sqrt(c1_real*c1_real + c1_imag*c1_imag);

c2_abs=(double)sqrt(c2_real*c2_real+c2_imag*c2_imag);

/************** Phase of Fourier coefficient **********/


103

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

c0_phase=(double)atan2(c0_imag,c0_real);

c1_phase=(double)atan2(c1_imag,c1_real);

c2_phase=(double)atan2(c2_imag,c2_real);

/************** Result Display **************************/

printf("¥n¥nResults: ¥n");

printf("Carrier ");

printf("Abs: %7.3fmV ",1000*c0_abs);

printf("Phase: %3.0fdeg¥n",c0_phase/pi*180);

printf("Upper sideband ");

printf("Abs: %7.3fmV ",1000*c1_abs);

printf("Phase: %3.0fdeg¥n",c1_phase/pi*180);

printf("Lower sideband ");

printf("Abs: %7.3fmV ",1000*c2_abs);

printf("Phase: %3.0fdeg¥n¥n",c2_phase/pi*180);

printf("¥n***********************************************¥n");

return;

}/**************** End DFT ***************/

/***************************************************************/

/*** MAIN Program ***/

/***************************************************************/

int main(unsigned short paramCount,char *paramList[])

{

char fname[256];

unsigned int i,sample_count;

pi = (double)atan(1.0)*4; /* calculate pi */

printf("¥n***********************************************¥n");

printf("¥n**** ISO/IEC 10373-6 PICC Test-Program

****¥n");

printf("¥n**** Version: 2.1 NOVEMBER 2008

****¥n");

printf("¥n****

****¥n");

printf("¥n***********************************************¥n");

/************* No Input Parameter

  *****************/

if (paramCount==1)

{

printf("¥nCSV File name :");

scanf("%s",fname);


104

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

if (!strchr(fname, '.')) strcat(fname, ".csv");

if (!(sample_count=readcsv(fname))) return 0;

dft(sample_count);

}

else

{

/************* Input Parameter Loop *****************/

for (i=1;i<paramCount;i++)

{

strcpy(fname,paramList[i]);

if (!strchr(fname, '.')) strcat(fname, ".csv");

if (!(sample_count=readcsv(fname))) break;

dft(sample_count);

}

}

return 0;

}/*********************** End Main ***************************/


105

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 G 

規定)

追加の PICC 試験方法

G.1  PICC 試験装置及び附属品

この箇条は,JIS X 6322-3:2011 に従い,PICC の動作について確かめるための試験装置及び試験回路を定

義する。試験装置としては,次を含む。

−  校正用コイル(5.2 参照)

− PCD 試験アセンブリの構成(5.3 参照)

−  デジタルサンプリングオシロスコープ(5.1.1 参照)

試験回路の RF 性能が結果に影響しないことを保証するために,注意を払わなければならない。

G.1.1  入出力プロトコルのエミュレーション

PICC 試験装置は,PICC を試験するのに必要な A 型 PICC 及び B 型 PICC のプロトコルをエミュレート

できなければならない。

G.1.2  受信モードでの入出力キャラクタタイミングの生成

PICC 試験装置は,JIS X 6322-3:2011 に従い,入出力ビット列を生成できなければならない。

PICC 試験装置は,タイミングパラメタの値(スタートビットの長さ,保護時間,ビット幅,リクエスト保

護時間,フレーム開始信号の幅及びフレーム終了信号の幅)を設定できなければならない。

G.1.3  RF 入出力プロトコルの測定及び観測

PICC 試験装置は,クロック周波数に同期して,RF 入力・受信信号ラインの論理的“低”位状態及び“高”

位状態のタイミングを観測し,測定できなければならない。PICC 試験装置は,PICC 副搬送波を観測でき

なければならない。

G.1.4  プロトコル解析

PICC 試験装置は,JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 で規定される A 型 PICC 及び B 型 PICC の

プロトコルによって入出力ビット列を解析し,さらなるプロトコル解析のための論理的なデータの流れを

抽出できなければならない。

G.1.5  RFU フィールド

RFU フィールドを試験の間,絶えず観測し,割り当てた省略時値となっていることを常に確認しなけれ

ばならない。RFU フィールドが省略時値に設定されていない場合には,常に,試験は,不合格とし,試験

した PICC を不適合としなければならない。

G.1.5.1  RFU 

機能フィールドを試験の間,絶えず観測し,規格で示された機能値又は規格で示された個別値だけを含

むことを常に確認しなければならない。機能フィールドが両者に設定されていない(すなわち,RFU 又は

制限した値に設定されている。

)場合には,常に,試験は,不合格とし,試験した PICC を不適合としなけ

ればならない。

G.1.5.2  タイミング測定

PICC 試験装置は,次のフレーム形式及びタイミング値を連続的に観測しなければならない。 
A 型 PICC について

− PCD から PICC のフレーム遅延時間(JIS X 6322-3:2011 の 6.2.1.1 参照)


106

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

フレーム形式(JIS X 6322-3:2011 の 6.2.3 参照)

フレーム待ち時間(JIS X 6322-4:2011 の 7.2 参照)

B 型 PICC について

キャラクタ,フレーム形式及びタイミング(JIS X 6322-3:2011 の 7.1 参照)

フレーム待ち時間(JIS X 6322-4:2011 の 7.2 参照)

一覧表にしたタイミング規制の一つが違反する場合には,試験は不合格とし,試験した PICC を不適合

としなければならない。

G.1.5.3  タイミング測定報告

表 G.59 に A 型 PICC の測定タイミング値を,及び/又は,表 G.60 に B 型 PICC の測定タイミング値を

記入する。

G.2  試験方法と基本規格の要件との関係

表 G.1 に,A 型 PICC に適用する試験の一覧を示す。表 G.2 に,B 型 PICC に適用する試験の一覧を示す。

表 G.3 に,A 型 PICC 及び B 型 PICC に適用する試験の一覧を示す。

JIS X 6322-4:2011 に適合する PICC は,JIS X 6322-3:2011 にも適合するのが望ましく,かつ,A 型 B 型

に応じた JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 両方の項目の試験を行うことが望ましい。

JIS X 6322-3:2011 に適合し,  JIS X 6322-4:2011 に適合せず,かつ,ACTIVE 状態又は ACTIVE*状態

G.3.3.7G.3.3.12,及び G.4.4.6 参照)にいる PICC は,JIS X 6322-3:2011 に関連しないフレームに対して,

いかなるフレーム形式(無応答を含む。

)で応答してもよい。

表 G.1型 PICC プロトコルの論理操作のための試験方法

この規格による試験方法 

対応要件 

細分箇条 

名称 

基本規格 

箇条・細分箇条 

G.3.2 

ポーリング

JIS X 6322-3:2011

箇条 

G.3.3 

A 型 PICC の状態遷移の試験

JIS X 6322-3:2011

6.36.4 及び 6.5

G.3.4 

A 型 PICC の衝突防止の扱い

JIS X 6322-3:2011

6.4.2 

G.3.5 

RATS の扱い

JIS X 6322-4:2011

5.6.1.2 

G.3.6 

PPS 要求の扱い

JIS X 6322-4:2011

5.6.2.2 

G.3.7 

FSD の扱い

JIS X 6322-4:2011

5.1 

表 G.2型 PICC プロトコルの論理操作のための試験方法

この規格による試験方法 

対応要件 

細分箇条 

名称 

基本規格 

箇条・細分箇条 

G.4.2 

ポーリング

JIS X 6322-3:2011 

箇条 

G.4.3 

PICC の反応

JIS X 6322-3:2011 7.1 

G.4.4 

B 型 PICC の状態遷移の試験

JIS X 6322-3:2011 7.47.12 

G.4.5 

B 型 PICC の衝突防止の扱い

JIS X 6322-3:2011 7.47.12 

G.4.6 

ATTRIB の扱い

JIS X 6322-3:2011 7.10 

G.4.7 

最大フレームサイズの扱い

JIS X 6322-3:2011 7.10.4 


107

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.3型又は 型 PICC の論理操作のための試験方法

この規格による試験方法 

対応要件 

細分箇条 

名称 

基本規格 

箇条・細分箇条 

G.5.2 

JIS X 6322-4:2011 シナリオにおける PICC の反応

JIS X 6322-4:2011

箇条 

G.5.3 

PICC の誤り検出の扱い

JIS X 6322-4:2011

7.5.6 

G.5.4 

CID における PICC の反応

JIS X 6322-4:2011

7.1.1.2 

G.5.5 

NAD における PICC の反応

JIS X 6322-4:2011

7.1.1.3 

G.3  型 PICC の初期化に対する試験方法 
G.3.1  序文

箇条 G.3 の試験は,A 型 PICC が JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 の箇条 の活性化手順に従う

かどうかを判定する。JIS X 6322-4:2011 に適合することが要求されない場合,JIS X 6322-4:2011 のコマン

ドを含む全ての試験は適用しなくてもよい。

G.3.2  シナリオ G.1:ポーリング 
G.3.2.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の箇条 に従った REQA コマンドを受信するときの A 型 PICC の動作を

判定する。

G.3.2.2  手順

三つの異なる動作磁界 1.5,4.5 及び 7.5 A/m (rms)に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を動作磁界中に設置し,磁界を調整する。 
b) PICC をリセットするための最小時間(JIS X 6322-3:2011 の 5.4 参照),RF 動作磁界を停止する。 
c) RF 動作磁界を発生する。

d) 5

ms 後,有効な REQA  コマンドフレームを送出する。

e) PICC 応答の有無及び内容を記録する。 
f) PICC をリセットするための最小時間(JIS X 6322-3:2011 の 5.4 参照),RF 動作磁界を停止する。

g) RF 動作磁界を発生する。 
h) 5

ms 後,有効な REQB  コマンドフレーム(B 型 PICC の変調方式及びビット符号化を使用)を送出す

る。

i)

さらに,5 ms 後,有効な REQA  コマンドフレームを送出する。

j) PICC 応答の有無及び内容を記録する。 
G.3.2.3  試験成績書

表 G.4 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.4−シナリオ G.1:ポーリングの試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順 e)及び手順 j)の PICC 応答が有効な ATQA の場合

合格

手順 e)又は手順 j)の PICC 応答が無効な ATQA の場合

不合格

G.3.3  型 PICC の状態遷移の試験 
G.3.3.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3 に規定される A 型 PICC の状態遷移の仕組みが正しく動作するこ


108

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

とを確認する。

G.3.3.2  一般的な試験の概要

A 型 PICC の状態遷移の仕組みを徹底的に試験するため,全ての状態において,全ての起こり得る状態

遷移の正当性を確認しなければならない。ある状態遷移を用いてある状態になることの検証を次のように

行う。

最初に,PICC をリセットし,試験初期状態(TIS)にする。この状態は,遷移(T)を確認しなければ

ならない状態の集合(StateSet)から遷移した状態の一つとなる。

次に,遷移の集合(TransitionSet)から遷移(T)を実行する。状態遷移の実行後,PICC が期待される目

標状態(TTS)になっていることを確認する。

PICC の状態遷移の仕組みを直接点検することができないため,この確認方法に難しさがある。

この問題を解決するためには,状態遷移を追加実行し PICC の応答を確認する。この目的のため,PICC

応答からできるだけ正確に状態を判定できる遷移を選択する。

G.3.3.2.1  PICC を試験初期状態(TIS)にする機能

表 G.5 で規定する状態遷移コマンドを連続処理することによって,PICC を“状態 TIS”にする。一般的

な方法を次に示す。

PICC を“状態 TIS”にするために,表 G.5 の中から対応する状態遷移の連続処理を見つける。次に,表

G.6 で対応するコマンドを見つけることによって,表 G.5 の状態遷移連続処理欄に示した状態遷移を連続

して実行する。PICC 応答の内容及び正当性を常に確認する。

表 G.5−状態遷移連続処理表

TIS 

状態遷移連続処理 

POWER_OFF --- 
IDLE POWER_OFF

→ IDLE

READY(1) POWER_OFF

→ IDLE → READY(1)

READY(2) POWER_OFF

→ IDLE → READY(1) → READY(2)

READY(3) POWER_OFF

→ IDLE → READY(1) → READY(2) → READY(3)

ACTIVE POWER_OFF

→ IDLE → READY(1) → … → READY(カスケードレベル数)→ ACTIVE

PROTOCOL POWER_OFF

→ IDLE → READY(1) → … → READY(カスケードレベル数)  → ACTIVE →

PROTOCOL

HALT POWER_OFF

→ IDLE → READY(1) → …→ READY(カスケードレベル数) → ACTIVE → HALT

READY*(1) POWER_OFF

→ IDLE → READY(1) → … → READY(カスケードレベル数)  → ACTIVE →

HALT → READY*(1)

READY*(2) POWER_OFF

→ IDLE → READY(1) → … → READY(カスケードレベル数)  → ACTIVE →

HALT → READY*(1) → READY*(2)

READY*(3) POWER_OFF

→ IDLE → READY(カスケードレベル数) → ACTIVE → HALT → READY*(1) →

READY*(2) → READY*(3)

ACTIVE* POWER_OFF

→ IDLE → READY(1) → …→ READY (カスケードレベル数)→ ACTIVE → HALT

→ READY*(1) → …→ READY*(カスケードレベル数) → ACTIVE*


109

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.6−状態遷移表

状態    次の状態 PICC 試験装置  

PICC 

POWER_OFF→ IDLE

電源を入れる(RF 動作磁界発生)

。 →

 
無応答

IDLE → READY(1)

REQA

→ 

 
ATQA

READY(1) → READY(2)

SELECT(1)

a)

→ 

 
SAK (cascade)

READY(2) → READY(3)

SELECT(2)

 a)

→ 

 
SAK (cascade)

READY( カ ス ケ ー ド レ ベ ル 数 )  → 
ACTIVE

SELECT (カスケードレベル数)

a)

→ 

 
SAK (complete)

ACTIVE → PROTOCOL

RATS(0,0)

→ 

 
ATS

ACTIVE → HALT

HLTA

→ 

 
無応答

HALT→ READY*(1)

WUPA

→ 

 
ATQA

READY*(1) → READY*(2)

SELECT(1)

→ 

 
SAK (cascade)

READY*(2) → READY*(3)

SELECT(2)

→ 

 
SAK(cascade)

READY*( カ ス ケ ー ド レ ベ ル 数 ) 
→ACTIVE*

SELECT (カスケードレベル数)

→ 

 
SAK (complete)

a)

 SELECT コマンドを送る前に,PICC の UID(特に乱数で生成した UID)を得るために衝突防止コマンドを

先行してもよい。

G.3.3.2.2  試験目標状態(TTS)の正当性を確認する作業

表 G.7 は,状態遷移を示し,PICC が状態 S であるかを確認するために用いる。PICC 応答の内容(例え

ば,ATQA,SAK など)は,JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 に適合しているか徹底的に確認する

のが望ましい。これらの試験が,PICC の状態を変えても差し支えないことに注意する。

1 回の試験では,READY(l)  状態と READY*(l)状態との区別,及び,ACTIVE 状態と ACTIVE*状態との

区別ができない。“*”が付いた状態と付かない状態を区別するため次の手順を実行する。

a) TTS を確認せずに,2 回目の試験をする。 
b) REQA

コマンドを送出する。PICC 応答は,無応答でなければならない。

c) REQA

コマンドを送出する。

d) PICC 応答が無応答の場合,この確認作業開始時,PICC 状態は“*”が付いた状態にいたことが分かる。 
e)  それ以外の場合,この確認作業開始時,PICC 状態は“*”が付かない状態にいたことが分かる。

1 回の試験では,READY*(l)状態と HALT 状態との区別,及び,ACTIVE*状態と HALT 状態との区別が

できない。

HALT 状態を区別するため次の手順を実行する。

f) TTS を確認せずに,2 回目の試験をする。

g) WUPA コマンドを送出する。PICC 応答は,ATQA でなければならない。


110

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.7TTS の確認

状態 S 

PICC 試験装置  PICC 

IDLE

REQA

→ 

 
ATQA

READY(l), 
l <  カスケードレベル数

SELECT (l)

a)

→ 

 
SAK (cascade)

READY(l), 
l =  カスケードレベル数

SELECT (l)

a)

→ 

 
SAK (complete)

ACTIVE

RATS (0,0)

→ 

 
ATS

PROTOCOL

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

HALT

REQA 
 
WUPA

→ 
← 
→ 

 
無応答 
 
ATQA

READY*(l), 
l <  カスケードレベル数

SELECT (l)

→ 

 
SAK (cascade)

READY*(l), 
l =  カスケードレベル数

SELECT (l)

→ 

 
SAK (complete)

ACTIVE*

RATS(0,0)

→ 

 
ATS

a)

 SELECT コマンドを送る前に,PICC の UID(特に乱数で生成した UID)を得るために衝突防止コマンドを

先行してもよい。

G.3.3.3  シナリオ G.2IDLE 状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.3.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.2 に従って,IDLE 状態の A 型 PICC の動作を判定する。

G.3.3.3.2  手順

表 G.8 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を IDLE 状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。

c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


111

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.8IDLE 状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA

→ 

 
ATQA

1 172/fc READY(1)

WUPA

WUPA

→ 

 
ATQA

1 236/fc READY(1)

HLTA

HLTA

→ 

 
無応答

 IDLE

AC

c)

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)

→ 

 
無応答

 IDLE

nAC

d)

(“93” NVB ~UIDTX

1

[[1.. n

1

]] )

a)

→ 

 
無応答

 IDLE

SELECT

c)

SELECT(1)

→ 

 
無応答

 IDLE

nSELECT

d)

(“93 70” ~UIDTX

1

[[1..32]] BCC CRC_A)

→ 

 
無応答

 IDLE

RATS

RATS(0,0)

→ 

 
無応答

 IDLE

PPS

PPS(0,0,0)

→ 

 
無応答

 IDLE

JIS X 6322-4 コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
無応答

 IDLE

DESELECT

S(DESELECT)

→ 

 
無応答

 IDLE

誤り条件

(“26”)

b)

→ 

 
無応答

 IDLE

a)

  1≦n

1

≦32 とする。

b)

  値は,短縮フレームではなく標準フレームで送出する。

c)

  乱数で生成した UID を用いる PICC に対しては,この試験を省略する。

d)

  乱数で生成した UID を用いる PICC に対しては,任意の固定の UID を用いてこの試験を実施する。

G.3.3.3.3  試験成績書

表 G.9 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.9IDLE 状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.4  シナリオ G.3READY(1)状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.4.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.3 に従って,カスケードレベル 1 の READY 状態の A 型 PICC の動

作を判定する。

G.3.3.4.2  手順

全ての PICC について

表 G.10 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を READY(1)状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。


112

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


113

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.10READY(1)状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA


 
無応答

 IDLE

WUPA

WUPA


 
無応答

 IDLE

HLTA

HLTA


 
無応答

 IDLE

AC

g)

(b “0”の後で分割
される場合) 

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)


 
n

1

が 32 に等しい場合には

(BCC) 
そ の 他 の 場 合 に は 
(UIDTX

1

[[n

1

+1..32]] BCC)

a)

1 172/fc READY(1)

AC

g)

(b “1”の後で分割
される場合)

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

2

]] )

b)


 
n

2

が 32 に等しい場合には

(BCC) 
そ の 他 の 場 合 に は
(UIDTX

1

[[n

2

+1..32]] BCC)

b)

1 236/fc READY(1)

nAC

g)

(UID 不一致)

(“93” NVB ~UIDTX

1

[[1..n

3

]])

f)


 
無応答

 IDLE

SELECT

g)

SELECT(1)


 
SAK

d)

FDT

c)

 TTS

e)

nSELECT

g)

(UID 不一致)

(“93 70” ~UIDTX

1

 BCC CRC_A)


 
無応答

 IDLE

誤り条件

(“93 70” UIDTX

1

 BCC ~CRC_A)


 
無応答

 IDLE

JIS X 6322-4  コ
マンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

 IDLE

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

 IDLE

RATS

RATS(0,0)


 
無応答

 IDLE

PPS

PPS(0,0,0)


 
無応答

 IDLE

a)

  1≦n

1

≦32 で,UIDTX

1

[[n

1

]] = 0 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

b)

  1≦n

2

≦32 で,UIDTX

1

[[n

2

]] = 1 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

c)

 FDT は,最終ビットが b“0”の場合 1 172/fc (約 86.43 μs),最終ビットが b“1”の場合 1 236/fc(約 91.15 μs)とす

る(基本規格のマージン参照)

d)

 SAK のカスケードビットは,シングルサイズ UID PICC では 0 に,ダブル及びトリプルサイズ UID PICC

では 1 にしなければならない。

e)

  シングルサイズ UID PICC は,ACTIVE 状態でなければならない。ダブル及びトリプルサイズ UID PICC は,

READY 状態でなければならない。

f)

  1≦n

3

≦32 とする。

g)

AC 又は SELECT コマンドを送る前に,PICC の UID(特に乱数で生成した UID)を得るために衝突防止コ
マンドを先行してもよい。

G.3.3.4.3  試験成績書

表 G.11 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。


114

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.11READY(1)状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.5  シナリオ G.4READY(2)状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.5.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.3 に従って,カスケードレベル 2 の READY 状態の A 型 PICC の動

作を判定する。この試験は,ダブル又はトリプルサイズ UID の PICC だけに適用する。

G.3.3.5.2  手順

全てのダブルサイズ UID 及びトリプルサイズ UID の PICC について

表 G.12 の各項目に対し,次の手順

を実行する。

a) PICC を READY(2)状態にする。

b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。 
c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


115

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.12READY(2)状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置 PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA


 
無応答

 IDLE

WUPA

WUPA


 
無応答

 IDLE

HLTA

HLTA


 
無応答

 IDLE

AC

g)

(b “0”の後で分割
される場合)

(“95” NVB UIDTX

2

[[1..n

1

]] )

a)


 
n

1

が 32 に等しい場合には

(BCC) 
そ の 他 の 場 合 に は  
(UIDTX

2

[[n

1

+1..32]] BCC)

a)

1 172/fc READY(2)

AC

g)

(b “1”の後で分割
される場合)

(“95” NVB UIDTX

2

[[1..n

2

]] )

b)


 
n

2

が 32 に等しい場合には

(BCC) 
そ の 他 の 場 合 に は  
(UIDTX

2

[[n

2

+1..32]] BCC)

b)

1 236/fc READY(2)

nAC

g)

(UID 不一致)

(“95” NVB ~UIDTX

2

[[1..n

3

]] )

f)


 
無応答

 IDLE

SELECT

g)

SELECT(2)


 
SAK

d)

FDT

c)

 TTS

e)

nSELECT

g)

(UID 不一致)

(“95 70” ~UIDTX

2

 BCC CRC_A)


 
無応答

 IDLE

誤り条件

(“95 70” UIDTX

2

 BCC ~CRC_A)


 
無応答

 IDLE

JIS X 6322-4  コ
マンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

 IDLE

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

 IDLE

RATS

RATS(0,0)


 
無応答

 IDLE

PPS

PPS(0,0,0)


 
無応答

 IDLE

a)

  1≦n

1

≦32 で,UIDTX

2

[[n

1

]] = 0 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

b)

  1≦n

2

≦32 で,UIDTX

2

[[n

2

]] = 1 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

c)

 FDT は,最終ビットが b“0”の場合 1 172/fc (約 86.43 μs),最終ビットが b“1”の場合 1 236/fc

(約 91.15 μs)

とする(基本規格のマージン参照)

d)

 SAK のカスケードビットは,ダブルサイズ UID PICC では 0 に,トリプルサイズ UID PICC では 1 にしな

ければならない。

e)

  ダブルサイズ UID PICC は,ACTIVE 状態でなければならない。トリプルサイズ UID PICC は,READY

状態でなければならない。

f)

  1≦n

3

≦32 とする。

g)

 AC 又は SELECT コマンドを送る前に,PICC の UID(特に乱数で生成した UID)を得るために衝突防止

コマンドを先行してもよい。

G.3.3.5.3  試験成績書

表 G.13 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。


116

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.13READY(2)状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PICC がシングルサイズ UID の場合

適用外(NA)

PICC がダブル又はトリプルサイズ UID で,手順に示すように応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.6  シナリオ G.5READY(3)状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.6.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.3 に従って,READY 状態の A 型 PICC の動作を判定する。この試

験は,トリプルサイズ UID の PICC だけに適用する。

G.3.3.6.2  手順

全てのトリプルサイズ UID の PICC について

表 G.14 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を READY(3)状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。

c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


117

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.14READY(3)状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA

→ 

 
無応答

 IDLE

WUPA

WUPA

→ 

 
無応答

 IDLE

HLTA

HLTA

→ 

 
無応答

 IDLE

AC

e)

(b “0”の後で分割
される場合) 

(“97” NVB UIDTX

3

[[1..n

1

]] )

a)

→ 

 
n

1

が 32 に等しい場合には

(BCC)  
そ の 他 の 場 合 に は
(UIDTX

3

[[n

1

+1..32]] BCC)

a)

1 172/fc READY(3)

AC

e)

(b “1”の後で分割
される場合)

(“97” NVB UIDTX

3

[[1..n

2

]] )

b)

→ 

 
n

2

が 32 に等しい場合には

(BCC)  
そ の 他 の 場 合 に は
(UIDTX

3

[[n

2

+1..32]] BCC)

b)

1 236/fc READY(3)

nAC

e)

(UID 不一致)

(“97” NVB ~UIDTX

3

[[1..n

3

]])

d)

→ 

 
無応答

 IDLE

SELECT

e)

SELECT(3)

→ 

 
SAK (complete)

FDT

c)

 ACTIVE

nSELECT

e)

(UID 不一致)

(“97 70” ~UIDTX

3

 BCC CRC_A)

→ 

 
無応答

 IDLE

誤り条件

(“97 70” UIDTX

3

 BCC ~CRC_A)

→ 

 
無応答

 IDLE

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
無応答

 IDLE

DESELECT

S(DESELECT)

→ 

 
無応答

 IDLE

RATS

RATS(0,0)

→ 

 
無応答

 IDLE

PPS

PPS(0,0,0)

→ 

 
無応答

 IDLE

a)

  1≦n

1

32 で,UIDTX

3

[[n

1

]] = 0 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

b)

  1≦n

2

≦32 で,UIDTX

3

[[n

2

]] = 1 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

c)

 FDT は,最終ビットが b“0”の場合 1 172/fc (約 86.43 μs),最終ビットが b“1”の場合 1 236/fc (約 91.15 μs)と

する(基本規格のマージン参照)

d)

  1≦n

3

≦32 とする。

e)

 AC 又は SELECT コマンドを送る前に,PICC の UID(特に乱数で生成した UID)を得るために衝突防止

コマンドを先行してもよい。

G.3.3.6.3  試験成績書

表 G.15 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。


118

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.15READY(3)状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PICC がシングル又はダブルサイズ UID の場合

適用外(NA)

PICC がトリプルサイズ UID で,手順に示すように応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.7  シナリオ G.6ACTIVE 状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.7.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.4 に従って,ACTIVE 状態の A 型 PICC の動作を判定する。

G.3.3.7.2  手順

表 G.16 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を ACTIVE 状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。 
c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。

d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。

表 G.16ACTIVE 状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA


 
無応答

 IDLE

WUPA

WUPA


 
無応答

 IDLE

AC

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)


 
無応答

b)

 IDLE

nAC

(“93” NVB ~UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)


 
無応答

b)

 IDLE

HLTA

HLTA


 
無応答

 HALT

SELECT

SELECT(1)


 
無応答

b)

 IDLE

nSELECT

(“93 70” ~UIDTX

1

 BCC CRC_A)


 
無応答

b)

 IDLE

RATS

RATS(0,0)


 
ATS

<65 536/fc PROTOCOL

誤り条件

(“E0 00” ~CRC_A)


 
無応答

b)

 IDLE

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

b)

 IDLE

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

b)

 IDLE

PPS

PPS(0,0,0)


 
無応答

b)

 IDLE

a)

  1≦n

1

≦32 とする。

b)

  無応答又は製造業者専用の応答


119

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

G.3.3.7.3  試験成績書

表 G.17 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.17ACTIVE 状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.8  シナリオ G.7HALT 状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.8.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.5 に従って,HALT 状態の A 型 PICC の動作を判定する。

G.3.3.8.2  手順

表 G.18 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を HALT 状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。 
c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。

d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。

表 G.18HALT 状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA

→ 

 
無応答

 HALT

WUPA

WUPA

→ 

 
ATQA

1 236/fc READY*(1)

HLTA

HLTA

→ 

 
無応答

 HALT

AC

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)

→ 

 
無応答

 HALT

nAC

(“93” NVB ~UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)

→ 

 
無応答

 HALT

SELECT

SELECT(1)

→ 

 
無応答

 HALT

nSELECT

(“93 70” ~UIDTX

1

 BCC CRC_A)

→ 

 
無応答

 HALT

RATS

RATS(0,0)

→ 

 
無応答

 HALT

誤り条件

標準フレームの中の(“52”)

→ 

 
無応答

 HALT

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
無応答

 HALT

DESELECT

S(DESELECT)

→ 

 
無応答

 HALT

PPS

PPS(0,0,0)

→ 

 
無応答

 HALT

a)

  1≦n

1

≦32 とする。


120

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

G.3.3.8.3  試験成績書

表 G.19 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.19HALT 状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.9  シナリオ G.8READY*(1)状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.9.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.6 に従って,カスケードレベル 1 の READY*状態の A 型 PICC の

動作を判定する。

G.3.3.9.2  手順

表 G.20 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を READY*(1)状態にする。

b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。 
c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


121

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.20READY*(1)状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA


 
無応答

 HALT

WUPA

WUPA


 
無応答

 HALT

HLTA

HLTA


 
無応答

 HALT

AC 
(b“0”の後で分割
される場合)

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)


 
n

1

が 32 に等しい場合には

(BCC)  
そ の 他 の 場 合 に は
(UIDTX

1

[[n

1

+1..32]] BCC )

a)

1 172/fc READY*(1)

AC 
(b “1”の後で分割
される場合)

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

2

]] )

b)


 
n

2

が 32 に等しい場合には

(BCC)  
そ の 他 の 場 合 に は
(UIDTX

1

[[n

2

+1..32]] BCC)

b)

1 236/fc READY*(1)

nAC 
(UID 不一致)

(“93” NVB ~UIDTX

1

[[1..n

3

]] )

f)


 
無応答

 HALT

SELECT

SELECT(1)


 
SAK

d)

FDT

c)

 TTS

e)

nSELECT 
(UID 不一致)

(“93 70” ~UIDTX

1

 BCC CRC_A)


 
無応答

 HALT

誤り条件

(“93 70” UIDTX

1

 BCC ~CRC_A)


 
無応答

 HALT

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

 HALT

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

 HALT

RATS

RATS(0,0)


 
無応答

 HALT

PPS

PPS(0,0,0)


 
無応答

 HALT

a)

  1≦n

1

≦32 で,UIDTX

1

[[n

1

]] = 0 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

b)

  1≦n

2

≦32 で,UIDTX

1

[[n

2

]] = 1 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

c)

 FDT は,最終ビットが b“0”の場合 1 172/fc (約 86.43 μs),最終ビットが b“1”の場合 1 236/fc (約 91.15 μs)

とする(JIS X 6322-3:2011 の 6.2.1.1 のマージン参照)

d)

 SAK のカスケードビットは,シングルサイズ UID PICC では 0 に,ダブル及びトリプルサイズ UID PICC

では 1 にしなければならない。

e)

  シングルサイズ UID PICC は,ACTIVE*状態でなければならない。ダブル及びトリプルサイズ UID PICC

は,READY*状態でなければならない。

f)

  1≦n

3

≦32 とする。

G.3.3.9.3  試験成績書

表 G.21 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。


122

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.21READY*(1)状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.10  シナリオ G.9: READY*(2)状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.10.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.6 に従って,カスケードレベル 2 の READY*状態の A 型 PICC の

動作を判定する。この試験は,ダブルサイズ UID 又はトリプルサイズ UID の PICC にだけ適用する。

G.3.3.10.2  手順

表 G.22 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を READY*(2)状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。 
c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。

d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


123

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.22READY*(2)状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA


 
無応答

 HALT

WUPA

WUPA


 
無応答

 HALT

HLTA

HLTA


 
無応答

 HALT

AC 
(b “0”の後で分
割される場合)

(“95” NVB UIDTX

2

[[1..n

1

]] )

a)


 
n

1

が 32 に等しい場合には

(BCC)  
そ の 他 の 場 合 に は  
(UIDTX

2

[[n

1

+1..32]] BCC)

a)

1 172/fc READY*(2)

AC 
(b “1”の後で分
割される場合)

(“95” NVB UIDTX

2

[[1..n

2

]] )

b)


 
n

2

が 32 に等しい場合には

(BCC)  
その他の場合には     
(UIDTX

2

[[n

2

+1..32]] BCC)

b)

1 236/fc READY*(2)

nAC 
(UID 不一致)

(“95” NVB ~UIDTX

2

[[1..n

3

]] )

f)


 
無応答

 HALT

SELECT

SELECT(2)


 
SAK

d)

FDT

c)

 TTS

e)

nSELECT 
(UID 不一致)

(“95 70” ~UIDTX

2

 BCC CRC_A)


 
無応答

 HALT

誤り条件

(“95 70” UIDTX

2

BCC ~CRC_A)


 
無応答

 HALT

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

 HALT

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

 HALT

RATS

RATS(0,0)


 
無応答

 HALT

PPS

PPS(0,0,0)


 
無応答

 HALT

a)

  1≦n

1

≦32 で,UIDTX

2

[[n

1

]] = 0 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

b)

  1≦n

2

≦32 で,UIDTX

2

[[n

2

]] = 1 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

c)

 FDT は,最終ビットが b“0”の場合 1 172/fc (約 86.43 μs),最終ビットが b“1”の場合 1 236/fc (約 91.15 μs)

とする(JIS X 6322-3:2011 の 6.2.1.1 のマージン参照)

d)

 SAK のカスケードビットは,ダブルサイズ UID PICC では 0 に,トリプルサイズ UID PICC では 1 にしな

ければならない。

e)

  ダブルサイズ UID PICC は,ACTIVE*状態でなければならない。トリプルサイズ UID PICC は,READY*

状態でなければならない。

f)

  1≦n

3

≦32 とする。

G.3.3.10.3  試験成績書

表 G.23 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。


124

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.23READY*(2)状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PICC がシングルサイズ UID の場合

適用外(NA)

PICC がダブル又はトリプルサイズ UID で,手順に示すように応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.11  シナリオ G.10READY*(3)状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.11.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.6 に従って,カスケードレベル 3 の READY*状態の A 型 PICC の

動作を判定する。この試験は,トリプルサイズ UID の PICC にだけ適用する。

G.3.3.11.2  手順

表 G.24 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を READY*(3)状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。

c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


125

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.24READY*(3)状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQA

REQA


 
無応答

 HALT

WUPA

WUPA


 
無応答

 HALT

HLTA

HLTA


 
無応答

 HALT

AC 
(b“0”の後で分割
される場合)

(“97” NVB UIDTX

3

[[1..n

1

]] )

a)


 
n

1

が 32 に等 しい 場合 には

(BCC)  
そ の 他 の 場 合 に は
(UIDTX

3

[[n

1

+1..32]] BCC)

a)

1 172/fc READY*(3)

AC 
(b“1”の後で分割
される場合)

(“97” NVB UIDTX

3

[[1..n

2

]] )

b)


 
n

2

が 32 に等 しい 場合 には

(BCC)  
そ の 他 の 場 合 に は
(UIDTX

3

[[n

2

+1..32]] BCC)

b)

1 236/fc READY*(3)

nAC 
(UID 不一致)

(“97” NVB ~UIDTX

3

[[1..n

3

]])

d)


 
無応答

 HALT

SELECT

SELECT(3)


 
SAK (complete)

FDT

c)

 ACTIVE*

nSELECT 
(UID 不一致)

(“97 70” ~UIDTX

3

 BCC CRC_A)


 
無応答

 HALT

誤り条件

(“97 70” UIDTX

3

 BCC ~CRC_A)


 
無応答

 HALT

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

 HALT

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

 HALT

RATS

RATS(0,0)


 
無応答

 HALT

PPS

PPS(0,0,0)


 
無応答

 HALT

a)

  1≦n

1

≦32 で,UIDTX

3

[[n

1

]] = 0 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

b)

  1≦n

2

≦32 で,UIDTX

3

[[n

2

]] = 1 とする。そのような数が存在しない場合には,試験を省いてもよい。

c)

 FDT は,最終ビットが b“0”の場合 1 172/fc (約 86.43 μs),最終ビットが b“1”の場合 1 236/fc (約 91.15 μs)

とする(JIS X 6322-3:2011 の 6.2.1.1 のマージン参照)

d)

  1≦n

3

≦32 とする。

G.3.3.11.3  試験成績書

表 G.25 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.25READY*(3)状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PICC がシングル又はダブルサイズ UID の場合

適用外(NA)

PICC がトリプルサイズ UID で,手順に示すように応答した場合

合格

その他の場合

不合格


126

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

G.3.3.12  シナリオ G.11ACTIVE*状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.12.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.3.7 に従って,ACTIVE*状態の A 型 PICC の動作を判定する。

G.3.3.12.2  手順

表 G.26 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を ACTIVE 状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。 
c) PICC 応答が PICC 欄に示す応答になることを確認する。

d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。

表 G.26ACTIVE*状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT  TTS 

REQA

REQA


 
無応答

 HALT

WUPA

WUPA


 
無応答

 HALT

HLTA

HLTA


 
無応答

 HALT

AC

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)


 
無応答

b)

 HALT

nAC

(“93” NVB ~UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)


 
無応答

b)

 HALT

SELECT

SELECT(1)


 
無応答

b)

 HALT

nSELECT

(“93 70” ~UIDTX

1

 BCC CRC_A)


 
無応答

b)

 HALT

RATS

RATS(0,0)


 
ATS

< 65 536/fc PROTOCOL

誤り条件

(“E0 00” ~CRC_A)


 
無応答

b)

 HALT

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

b)

 HALT

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

b)

 HALT

PPS

PPS(0,0,0)


 
無応答

b)

 HALT

a)

  1≦n

1

≦32 とする。

b)

  無応答又は製造業者専用の応答

G.3.3.12.3  試験成績書

表 G.27 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。


127

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.27ACTIVE*状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.3.13  シナリオ G.12PROTOCOL 状態の 型 PICC の動作 
G.3.3.13.1  目的

この試験は,JIS X 6322-4:2011 に従って,PROTOCOL 状態の A 型 PICC の動作を判定する。

この試験によって,活性化したPICCが衝突防止及び初期化コマンドに応答しないことを確認しなければな

らない。

G.3.3.13.2  手順

表 G.28 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を PROTOCOL 状態にする。

b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。 
c) PICC 応答が PICC 欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC 応答が無応答でない場合,PICC のフレーム遅延時間が FDT の欄に示す値に合致することを確認

する。

e) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


128

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.28PROTOCOL 状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC  FDT  TTS 

REQA

REQA


 
無応答

 PROTOCOL

WUPA

WUPA


 
無応答

 PROTOCOL

AC

(“93” NVB UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)


 
無応答

 PROTOCOL

nAC

(“93” NVB ~UIDTX

1

[[1..n

1

]] )

a)


 
無応答

 PROTOCOL

HLTA

HLTA


 
無応答

 PROTOCOL

SELECT

SELECT(1)


 
無応答

 PROTOCOL

nSELECT

(“93 70” ~UIDTX

1

 BCC CRC_A)


 
無応答

 PROTOCOL

RATS

RATS(0,0)


 
無応答

 PROTOCOL

誤り条件

(“93 70” UIDTX

1

 BCC ~CRC_A)


 
無応答

 PROTOCOL

DESELECT

S(DESELECT)


 
S(DESELECT)

65 536/fc 
JIS X 6322-4:2011
の 8.1 に規定

HALT

PPS

PPS(0,0,0)


 
無応答又は PPS

応答

b)

 PROTOCOL

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
I(0)

0

(TEST_

RESPONSE1(1))

< FWT

PROTOCOL

a)

1≦n

1

≦32 とする。

b)

PPS に対応する場合には,PICC は PPS 応答を返す。

G.3.3.13.3  試験成績書

表 G.29 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.29PROTOCOL 状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.4  シナリオ G.13型 PICC の衝突防止の扱い 
G.3.4.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.5.3 に従って,全ビットでの衝突防止ループを実行する。

G.3.4.2  手順 
a) PICC を動作磁界中に設置する。 
b) PICC を READY(1)状態にする。

c)  次に示す擬似コード(Procedure AnticollisionA)を実行する。


129

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

d) PICC を READY* (1)状態にする。 
e)  次に示す擬似コード(Procedure AnticollisionA)を実行する。

擬似コード:型 PICC の衝突防止手順

1 Procedure AnticollisionA 
2 // TPDUSend and TPDURecv are PCD specific functions 
3 // to send and receive frames 

5 for c = 1 to CascadeLevels do 

7      // anticollision over UID bits 
8      for p = 1 to 32 do 
9        // enter desired cascade level 
10      if c

2 then TPDUSend(SELECT(1))

11      if c = 3 then TPDUSend(SELECT(2)) 
12      // anticollision with matched bit 
13      NVB[[1..4]] = (p + 16) mod 8 
14      NVB[[5..8]] = (p + 16) div 8 
15      TPDUSend (SEL(c) NVB UIDTXc[[1..p]]) 
16      if TPDURecv() ≠ (UIDTXc[[p+1..32]] BCC) then return FAIL 
17      // anticollision with unmatched bit 
18      TPDUSend(SEL(c) NVB UIDTXc[[1..p-1]] ~UIDTXc[[p]]) 
19      if TPDURecv() ≠ Mute then return FAIL 
20      // re-enter READY(1) (resp. READY*(1)) state 
21     TPDUSend (WUPA) 
22   end for 
23 end for 
24 return PASS

G.3.4.3  試験成績書

表 G.30 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.30型 PICC の衝突防止の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順 c)及び手順 e)の Procedure AnticollisionA の実行結果が PASS の場合

合格

手順 c)又は手順 e)の Procedure AnticollisionA の実行結果が FAIL の場合

不合格

G.3.5  RATS の扱い

RATS の扱いは,G.3.3.7 及び G.3.3.12 において試験される。

シナリオ G.14:不良 RATS の後の RATS

JIS X 6305-6:2009(追補 1)で規定したシナリオ 14 を削除する。

シナリオ G.15RATS の後の RATS

JIS X 6305-6:2009(追補 1)で規定したシナリオ 15 を削除する。

G.3.6  PPS 要求の扱い 
G.3.6.1  目的

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 5.6.2.2 に従って,A 型 PICC による PPS 要求の扱いを判定する。

G.3.6.2  手順

G.16G.19 の各シナリオに対し,次の手順を実行する。


130

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

a) PICC を PROTOCOL 状態にする。 
b)  表の PICC 試験装置の欄に示すようにコマンドを送る。

c) PICC の応答が PICC の欄に示された応答に一致していることを確認する。 
d) PICC が PROTOCOL 状態であることを確認する。

シナリオ G.16:パラメタ変更なしの PPS

JIS X 6305-6:2009(追補 1)で規定したシナリオ 16 を削除する。

シナリオ G.17PPS1 なしの PPS

PICC 試験装置  

PICC 

(“D0 01” CRC_A)

→ 

 
無応答  又は (“D0” CRC_A)

 a)

a)

  いずれの応答も有効。

シナリオ G.18PPS 後の PPS

PICC 試験装置  

PICC 

PPS(0,0,0)

→ 

 
無応答  又は (“D0” CRC_A)

 a)

PPS(0,0,0)

→ 

 
無応答

a)

  応答の有無は,PICC が PPS に対応しているか否かに依存する。PICC がどのような変更可能なパラメ

タにも対応しない場合には,PCD がそのような PICC に PPS を送ってはならないので,PPS 要求に対

応しなくてもよい(JIS X 6322-4:2011 の箇条 直下の 6 番目参照)

シナリオ G.19:受信されなかった PPS 後の PPS

PICC 試験装置  

PICC 

(“D0 11 00” ~CRC_A)

→ 

 
無応答

PPS(0,0,0)

→ 

 
無応答

G.3.6.3  試験成績書

表 G.31 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.31PPS 要求の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.3.7  シナリオ G.20FSD の扱い 
G.3.7.1  目的

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 5.1 に従って,RATS が提示する FSD 値を A 型 PICC が採用すること

を判定する。

G.3.7.2  手順

FSDI の値 0∼8 の各々に対し,次の手順を実行する。


131

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

a) PICC を ACTIVE 状態にする。 
b)  各試験において当該パラメタ fsdi を設定した RATS(0,fsdi)  コマンドを送出する。

c) PICC からの応答が有効な ATS であり,そのサイズが FSD 以下であることを確認する。

注記 PICC は,TEST_COMMAND2(2)を受け入れるために追加のシーケンスを要求してもよい。

d) I-block

I(0)

0

(TEST_COMMAND2(2))  を送出する。

e) PICC から送られる I-block のサイズが FSD 以下であることを確認する。 
G.3.7.3  試験成績書

表 G.32 の説明に従って,表 G.61 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.32−シナリオ G.20FSD の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.4  型 PICC の初期化に対する試験方法 
G.4.1  序文

箇条 G.4 は,B 型 PICC が JIS X 6322-3:2011 の規格に従うかどうかを試験する。JIS X 6322-4:2011 の規

格に従う必要がない場合,JIS X 6322-4:2011 のコマンドを含む全ての試験を適用しなくてもよい。

PICC が N > 1 の REQB・WUPB コマンド又は Slot-MARKER コマンド(JIS X 6322-3:2011 の 7.6.1 参照)

を採用しない場合,これらのコマンドを含む全ての試験を適用しなくてもよい。

G.4.2  シナリオ G.21:ポーリング 
G.4.2.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の箇条 に従って,REQB を受信するときの B 型 PICC の動作を判定す

る。

G.4.2.2  手順

三つの異なる動作磁界 1.5,4.5 及び 7.5 A/m (rms)に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を動作磁界中に設置し,磁界を調整する。 
b)  JIS X 6322-3:2011 の 5.4 に従い,PICC をリセットするための最小時間,RF 動作磁界を停止する。

c) RF 動作磁界を発生する。 
d) 5

ms 後,有効な REQB(1)コマンドフレームを送出する。

e) PICC 応答の有無及び内容を記録する。

f)  JIS X 6322-3:2011 の 5.4 に従い,PICC をリセットするための最小時間,RF 動作磁界を停止する。 
g) RF 動作磁界を発生する。 
h) 5

ms 後,有効な REQA コマンドフレーム(A 型 PICC の変調方式を使用)を送出する。

i)

さらに,5 ms 後,有効な REQB(1)コマンドフレームを送出する。

j) PICC 応答の有無及び内容を記録する。 
G.4.2.3  試験成績書

表 G.33 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。


132

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.33−シナリオ G.21:ポーリングの試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順 e)及び手順 j)の PICC の応答が有効な ATQB の場合

合格

手順 e)又は手順 j)の PICC の応答が無効な ATQB の場合

不合格

G.4.3  シナリオ G.22PICC の反応 
G.4.3.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.1.17.1.27.1.4 及び 7.1.5 に従って,PCD メッセージを受信すると

きの B 型 PICC の動作を判定する。

G.4.3.2  手順

表 G.34 の各行に対し,次の手順を実行する。

a)  参照 PICC を動作磁界中に設置する。 
b)  表 G.34 に従って,PICC 試験装置のフレームパラメタを設定する。 
c) REQB コマンドを送出する。 
d) PICC 応答の有無,内容及びタイミングを記録する。 
e) PICC 応答のフレーム形式が次に従うかを確認する。

・ PICC 応答は,有効な ATQB でなければならない。

・ SOF 論理 0 タイミングは,10∼11 etu でなければならない。

・ SOF 論理 1 タイミングは,2∼3 etu でなければならない。

・ EOF 論理 0 タイミングは,10∼11 etu でなければならない。

・ TR0 タイミングは,64/fs≦TR0≦256/fs の範囲でなければならない。

・ TR1 タイミングは,80/fs≦TR1≦200/fs の範囲でなければならない。

・ PICC は,EOF 終了後,0∼2 etu で副搬送波を止めなければならない。

表 G.34型 PICC フレームパラメタ

EGT

[μs] 

SOF (論理 0)

[etu] 

SOF (論理 1)

[etu] 

EOF

[etu] 

0 10 2 10

57 10 2 10

0 11 2 10 
0 10 3 10 
0 10 2 11

G.4.3.3  試験成績書

表 G.35 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.35−シナリオ G.22PICC の反応の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.4.4  型 PICC の状態遷移の試験

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.4 に規定される B 型 PICC の状態遷移の仕組みが正しく動作するこ


133

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

とを確認する。

G.4.4.1  一般的な試験の概要

この試験の概要は,A 型 PICC で示した手順と同様とする(G.3.3.2 参照)

G.4.4.1.1  PICC を試験初期状態(TIS)にする機能

表 G.37 で規定する状態遷移コマンドを連続処理することによって,PICC を状態 TIS にする。一般的な

方法を次に示す。

PICC を状態 TIS にするために,表 G.36 の中から対応する状態遷移の連続処理を見つける。次に,状態

遷移表で対応するコマンドを見つけることによって,この欄に示した状態遷移を連続して実行する。PICC

応答の内容及び正当性を常に確認する。

表 G.36−状態遷移連続処理表

TIS 

状態遷移連続処理 

POWER_OFF --- 
IDLE Power

Off

→ IDLE

READY REQUESTED

Power Off → IDLE → READY REQUESTED

READY DECLARED

Power Off → IDLE → READY DECLARED

PROTOCOL Power

Off

→ IDLE → READY DECLARED → PROTOCOL

HALT Power

Off

→ IDLE → READY DECLARED → HALT

表 G.37−状態遷移表

状態    次の状態 PICC 試験装置  

PICC 

POWER_OFF→ IDLE

電源を入れる(RF 動作磁界発生)

。 →

 
無応答

IDLE → READY REQUESTED

REQB(16)

→ 

 
無応答

a)

IDLE → READY DECLARED

REQB(1)

→ 

 
ATQB

READY DECLARED → HALT

HLTB

→ 

 
“00” CRC_B

READY DECLARED → PROTOCOL

ATTRIB(0,0)

→ 

 
ATA(0)

a)

 PICC が 1 番目のスロットを選択した場合,PICC が,ATQB を応えなくなるまで REQB コマンドを再

送信しなければならない。

G.4.4.1.2  試験目標状態(TTS)の正当性を確認する機能

次の

表 G.38 は状態遷移を示し,PICC が状態 TTS であるかを確認するために用いる。PICC の応答の内

容(例えば,ATQB など)は,JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 に適合しているか徹底的に確認す

るのが望ましい。

注記  試験によって,PICC の状態が変わってもよい。


134

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.38TTS の確認

TTS PICC 試験装置   PICC 

IDLE

REQB(1)

→ 

 
ATQB

READY REQUESTED

SLOTMARKER (n)

 a)

→ 

 
ATQB

READY DECLARED

ATTRIB(0,0)

→ 

 
ATA(0)

PROTOCOL

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

HALT

REQB(1)

→ 

 
無応答

WUPB(1)

→ 

 
ATQB

a)

  選択された PICC のスロットが不明なので,ATQB を受信するまで,スロット値の異なる Slot-MARKER

コマンドを再送信しなければならない。

G.4.4.2  シナリオ G.23IDLE 状態の 型 PICC の動作 
G.4.4.2.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.4.4 に従って,IDLE 状態の B 型 PICC の動作を判定する。

G.4.4.2.2  手順

表 G.39 の各行に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を IDLE 状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。

c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


135

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.39IDLE 状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

TTS 

REQB

REQB(1)


 
ATQB

READY DECLARED

WUPB

WUPB(1)


 
ATQB

READY DECLARED

REQB 
(CRC 不一致)

(“05 00 00” ~CRC_B)


 
無応答

IDLE

WUPB 
(CRC 不一致)

(“05 00 08” ~CRC_B)


 
無応答

IDLE

HLTB

 b)

HLTB


 
無応答

IDLE

ATTRIB

 b)

ATTRIB(0,0)


 
無応答

IDLE

Slot-MARKER

SLOTMARKER(n)

a)


 
無応答

IDLE

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

IDLE

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

IDLE

REQB 
(AFI 不一致)

REQB(1,nAFI)


 
無応答

IDLE

WUPB 
(AFI 不一致)

WUPB(1, nAFI)


 
無応答

IDLE

HLTB 
(PUPI 不一致)

HLTB(~PUPI)


 
無応答

IDLE

ATTRIB 
(PUPI 不一致)

ATTRIB(0,0, ~PUPI )


 
無応答

IDLE

REQB

 d)

REQB(16)

 c)


 
無応答

READY REQUESTED

WUPB

 d)

WUPB(16)

 c)


 
無応答

READY REQUESTED

a)

  n は,2≦n≦16 の全ての値で実行しなければならない。

b)

  乱数の PUPI を使う PICC に対しては,このコマンドの任意の PUPI を適用する。

c)

  統計的に 1/16 の確率で,PICC は ATQB を応答し READY-DECLARED 状態になることがある。

d)

 PICC が N>1 の REQB・WUPB を採用しない場合(JIS X 6322-3:2011 の 7.6.1 参照),この試験は適用しな

い。

G.4.4.2.3  試験成績書

表 G.40 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.40−シナリオ G.23IDLE 状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.4.4.3  シナリオ G.24READY-REQUESTED 状態(sub-state)の 型 PICC の動作

PICC が N>1 の REQB・WUPB を採用しない場合,又は Slot-MARKER コマンドを採用しない場合


136

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

JIS X 6322-3:2011 の 7.6.1 参照)

,このシナリオは適用しない。

G.4.4.3.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.4.5 に従って,READY REQUESTED 状態(sub-state)の B 型 PICC の動

作を判定する。

G.4.4.3.2  手順

表 G.41 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を READY-REQUESTED 状態(sub-state)にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。

c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


137

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.41READY-REQUESTED 状態(sub-state)からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

TTS 

REQB

REQB(1)


 
ATQB

READY DECLARED

WUPB

WUPB(1)


 
ATQB

READY DECLARED

REQB 
(CRC 不一致)

(“05 00 00” ~CRC_B)


 
無応答

READY REQUESTED

WUPB 
(CRC 不一致)

(“05 00 08” ~CRC_B)


 
無応答

READY REQUESTED

HLTB

 b)

HLTB


 
無応答

READY REQUESTED

ATTRIB

 b)

ATTRIB(0,0)


 
無応答

READY REQUESTED

Slot-MARKER

SLOTMARKER(n)

 a)


 
ATQB  又は  無応答

READY DECLARED

JIS X 6322-4   
コマンド

I(0)0(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

READY REQUESTED

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

READY REQUESTED

REQB

REQB(16)

 c)


 
無応答

READY REQUESTED

WUPB

WUPB(16)

 c)


 
無応答

READY REQUESTED

REQB 
(AFI 不一致)

REQB(1,nAFI)


 
無応答

IDLE

 d)

WUPB 
(AFI 不一致)

WUPB(1, nAFI)


 
無応答

IDLE

 d)

HLTB

(PUPI 不一致)

HLTB(~PUPI)


 
無応答

READY REQUESTED

ATTRIB 
(PUPI 不一致)

ATTRIB(0,0, ~PUPI )


 
無応答

READY REQUESTED

a)

  n は,2≦n≦16 の全ての値で実行しなければならない。PICC は,n のただ一つの値で ATQB を応答し,

他の値は無応答でなければならない。

b)

  乱数の PUPI を使う PICC に対しては,このコマンドの任意の PUPI を適用する。

c)

  統計的に 1/16 の確率で,PICC は ATQB を応答し READY-DECLARED 状態になることがある。

d)

  全ての Slot-MARKER コマンドを送出し,IDLE 状態を調べる前に無応答であることを確認する。

G.4.4.3.3  試験成績書

表 G.42 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.42−シナリオ G.24READY-REQUESTED 状態(sub-state)の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.4.4.4  シナリオ G.25READY- DECLARED 状態(sub-state)の 型 PICC の動作 
G.4.4.4.1  目的


138

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.4.6 に従って,READY-DECLARED 状態(sub-state)の B 型 PICC の動

作を判定する。

G.4.4.4.2  手順

表 G.43 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を READY-DECLARED 状態(sub-state)にする。

b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。 
c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。

表 G.43READY-DECLARED 状態(sub-state)からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

TTS 

REQB

REQB(1)


 
ATQB

READY DECLARED

WUPB

WUPB(1)


 
ATQB

READY DECLARED

REQB 
(CRC 不一致)

(“05 00 00” ~CRC_B)


 
無応答

READY DECLARED

WUPB 
(CRC 不一致)

(“05 00 08” ~CRC_B)


 
無応答

READY DECLARED

HLTB

HLTB


 
(“00” CRC_B)

HALT

ATTRIB

ATTRIB(0,0)


 
ATA(0)

PROTOCOL

Slot-MARKER

SLOTMARKER(n)

a)


 
無応答

READY DECLARED

JIS X 6322-4 
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

READY DECLARED

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

READY DECLARED

REQB

 b)

REQB(16)

 c)


 
無応答

READY REQUESTED

WUPB

 b)

WUPB(16)

 c)


 
無応答

READY REQUESTED

HLTB 
(PUPI 不一致)

HLTB(~PUPI)


 
無応答

READY DECLARED

ATTRIB 
(PUPI 不一致)

ATTRIB(0,0, ~PUPI )


 
無応答

READY DECLARED

REQB 
(AFI 不一致)

REQB(1,nAFI)


 
無応答

IDLE

 d)

WUPB 
(AFI 不一致)

WUPB(1, nAFI)


 
無応答

IDLE

 d)

a)

  n は,2≦n≦16 の全ての値で実行しなければならない。

b)

 PICC が N>1 の REQB/WUPB を採用しない場合(JIS X 6322-3:2011 の 7.6.1 参照),この試験は適用しな

い。

c)

  統計的に 1/16 の確率で,PICC は ATQB を応答し READY-DECLARED 状態になることがある。

d)

 ATTRIB コマンドを送出し,IDLE 状態を調べる前に無応答であることを確認する。


139

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

G.4.4.4.3  試験成績書

表 G.44 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.44−シナリオ G.25READY- DECLARED 状態(sub-state)の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.4.4.5  シナリオ G.26HALT 状態の 型 PICC の動作 
G.4.4.5.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.4.8 に従って,HALT 状態の B 型 PICC の動作を判定する。

G.4.4.5.2  手順

表 G.45 の各項目に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を HALT 状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。

c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。


140

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.45HALT 状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

TTS 

REQB

REQB(1)


 
無応答

HALT

WUPB

WUPB(1)


 
ATQB

READY DECLARED

WUPB 
(CRC 不一致)

(“05 00 08” ~CRC_B)


 
無応答

HALT

HLTB

HLTB


 
無応答

HALT

ATTRIB

ATTRIB(0,0)


 
無応答

HALT

Slot-MARKER

SLOTMARKER(n)

a)


 
無応答

HALT

JIS X 6322-4 
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
無応答

HALT

DESELECT

S(DESELECT)


 
無応答

HALT

WUPB 
(AFI 不一致)

WUPB(1, nAFI)


 
無応答

IDLE

REQB 
(AFI 不一致)

REQB(1,nAFI)


 
無応答

HALT

HLTB

(PUPI 不一致)

HLTB(~PUPI)


 
無応答

HALT

ATTRIB 
(PUPI 不一致)

ATTRIB(0,0, ~PUPI )


 
無応答

HALT

WUPB

 b)

WUPB(16)

 c)


 
無応答

READY REQUESTED

a)

  n は,2≦n≦16 の全ての値で実行しなければならない。

b)

 PICC が N>1 の REQB/WUPB を採用しない場合(JIS X 6322-3:2011 の 7.6.1 参照),この試験は適用しな

い。

c)

  統計的に 1/16 の確率で,PICC は ATQB を応答し READY-DECLARED 状態になることがある。

G.4.4.5.3  試験成績書

表 G.46 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.46−シナリオ G.26HALT 状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.4.4.6  シナリオ G.27PROTOCOL 状態の 型 PICC の動作 
G.4.4.6.1  目的

この試験は,JIS X 6322-4:2011 に従って,PROTOCOL 状態の B 型 PICC の動作を判定する。

この試験は,活性化状態の PICC がどの初期化コマンドにも応答しないことを確認する。

G.4.4.6.2  手順

表 G.47 の各項目に対し,次の手順を実行する。


141

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

a) PICC を PROTOCOL 状態にする。 
b) PICC 試験装置の欄に示すコマンドを送出し,状態を遷移させる。

c) PICC 応答が PICC の欄に示す応答になることを確認する。 
d) PICC が TTS の欄に示す状態になることを確認する。

表 G.47PROTOCOL 状態からの遷移

遷移 PICC 試験装置  

PICC 

FDT 

TTS 

REQB

REQB(1)


 
無応答

 PROTOCOL

WUPB

WUPB(1)


 
無応答

 PROTOCOL

REQB 
(CRC 不一致)

(“05 00 00” ~CRC_B)


 
無応答

 PROTOCOL

WUPB 
(CRC 不一致)

(“05 00 08” ~CRC_B)


 
無応答

 PROTOCOL

HLTB

HLTB


 
無応答

 PROTOCOL

ATTRIB

ATTRIB(0,0)


 
無応答

 PROTOCOL

Slot-MARKER

SLOTMARKER(n)

 a)


 
無応答

 PROTOCOL

JIS X 6322-4 
コマンド

I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))


 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

< FWT

PROTOCOL

DESELECT

S(DESELECT)


 
S(DESELECT)

 HALT

WUPB 
(AFI 不一致)

WUPB(1, nAFI)


 
無応答

 PROTOCOL

REQB 
(AFI 不一致)

REQB(1,nAFI)


 
無応答

 PROTOCOL

HLTB

(PUPI 不一致)

HLTB(~PUPI)


 
無応答

 PROTOCOL

ATTRIB 
(PUPI 不一致)

ATTRIB(0,0, ~PUPI )


 
無応答

 PROTOCOL

a)

  n は,2≦n≦16 の全ての値で実行しなければならない。

G.4.4.6.3  試験成績書

表 G.48 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.48−シナリオ G.27PROTOCOL 状態の 型 PICC の動作の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.4.5  シナリオ G.28型 PICC の衝突防止の扱い 
G.4.5.1  目的

この試験の目的は,JIS X 6322-3:2011 の 7.4.1 に従って,B 型 PICC の衝突防止の扱いを判定する。

この試験の中核は,Procedure AnticollisionB(N,出力パラメタ chi2)で,擬似コードで定義されている。


142

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

手順では,REQB(N)コマンドとそれに続く Slot-MARKER コマンドとを 256 回送出し,N 個のスロットの

各々が PICC によって何回選択されたかを計数する。手順では,PICC が各 REQB(N)要求に対してただ一つ

のスロットを対応させているかどうかを確認する。そうでない場合には,試験は FAIL を返す。

B 型 PICC の衝突防止は,スロットの無作為選択に基づいているので,確認のために統計的手法を使用

しなければならない。全ての統計的検査法の本質に基づき,PICC が正しく反応する場合でもこの試験で不

合格となることがある。この不合格を統計的な用語で“第 1 種の誤り”と呼ぶ。この誤りを完全に避ける

ことはできない。代わりに,この誤りの発生確率は,いわゆる“有意水準”α によって制御できる。これ

は,より小さい α が“第 1 種の誤り”の発生を少なくすることを意味する。しかしながら,これは,でき

るだけ小さい α を選択するのが望ましい,という意味ではない。なぜならば,α がより小さい場合に,試

験で不良 PICC(すなわち,正しい確率でスロットを選択しない PICC)が合格となる確率が高くなるため

である。統計的な用語で,これを“第 2 種の誤り”と呼ぶ。

さらに,PICC は,等しい確率(すなわち,1/N)で N 個のスロットの各々を選択しなければならない。

これを確認するために,全てのスロットに対して統計的な χ

2

検定を実行しなければならない。この試験の

結果は,χ

(N−1)五分位点と比較しなければならない値 chi2 となる。

注記  五分位点(quintile)とは,統計学上の数であり,総サンプルの 1/5 を含む分布関数の確率変数

の値である。

G.4.5.2  手順

統計的検査法の一つが手順 e)で不合格となる場合には,試験所は,このパラメタ N に対する試験の再実

行を選択してもよい。

N=2,4,8 及び 16 の各々の値に対して,次の手順を実行する。

a)  有意水準 α=0.005 を選択し,表 G.49 から対応する。

χ

(N−1)  五分位点を見つける。表 G.49 によって他の α の値を選択することは任意である。

b) PICC をリセットする。

c) AnticollisionB(N,

chi2)を実行する。

d) AnticollisionB が FAIL を返す場合には,試験結果を不合格とする。 
e) chi2≦χ

(N−1)の場合には,試験結果を合格とし,それ以外は試験結果を不合格とする。

表 G.49−五分位点の値

α

χ

(N−1)

χ

(1)

χ

(3)

χ

(7)

χ

(15)

0.1(任意選択) 2.706

6.251

12.017

22.307

0.05(任意選択) 3.841

7.815

14.067

24.996

0.01(任意選択) 6.635

11.345

18.475

30.578

0.005 7.879

12.838

20.278 32.801


143

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

擬似コード:型 PICC の衝突防止手順

1 Procedure AnticollisionB(N, chi2) 

3        // TPDUSend and TPDURecv are PCD specific functions 
4        // to send and receive TPDU frames 

6    // probability for selecting slot 
7    p = 1/N 

9    // clear slot counters 
10      for i from 1 to N do 
11    Slots[i] = 0 
12   endfor 
13 
14   // collect data 
15      for i from 1 to 256 do 
16     Reset the PICC 
17     TPDUSend (REQB(N)) 
18     if TPDURecv() = ATQB then 
19        Slots[1] = Slots[1]+1 
20     endif 
21     for j from 2 to N

do

22              TPDUSend (SLOTMARKER(j)) 
23       if TPDURecv () = ATQB then 
24                  Slots[j] = Slots[j]+1 
25              endif 
26     endfor 
27   endfor 
28 
29   // check that exactly 
30      // one slot has been selected at each run 
31   cnt = 0 
32      for i from 1 to N do 
33     cnt = cnt + Slots[i] 
34   endfor 
35   if cnt ≠ 256 then 
36     return FAIL 
37   endif 
38   chi2 = 0 
39      for i from 1 to N do 
40     chi2 = chi2 + Slots[i]*Slots[i] 
41   endfor 
42      chi2 = chi2*N/256 – 256 
43 return PASS

注記  上記の 43 で PASS を返した場合に限り,手順 e)に進む。

G.4.5.3  試験成績書

表 G.50 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.50−シナリオ G.28型 PICC の衝突防止の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

全ての衝突防止試験手順が PASS を返した場合

合格

いずれかの衝突防止試験手順が値 FAIL を返した場合

不合格

G.4.6  ATTRIB の扱い 
G.4.6.1  目的


144

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.10 に従って,ATTRIB コマンドでの B 型 PICC の動作を判定する。

G.4.6.2  手順

G.29 及び G.30 の各シナリオに対し,次の手順を実行する。

a) PICC を READY-DECLARED 状態(sub-state)にする。 
b) PICC 試験装置に示すようにコマンドを送る。

c) PICC の応答が PICC 欄で与えられたものに従うことを確認する。 
d) PICC が PROTOCOL 状態にあることを確認する。

シナリオ G.29PUPI 不一致の ATTRIB

PICC 試験装置  

PICC 

(“1D” ~PUPI “00 00 01 00” CRC_B)

→ 

 
無応答

ATTRIB(0,0)

→ 

 
ATA(0)

シナリオ G.30:無効 ATTRIB の後の ATTRIB

PICC 試験装置  

PICC 

(“1D” PUPI “00 00 01 00” ~CRC_B)

→ 

 
無応答

ATTRIB(0,0)

→ 

 
ATA(0)

G.4.6.3  試験成績書

表 G.51 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.51ATTRIB の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.4.7  シナリオ G.31:最大フレームサイズの扱い 
G.4.7.1  目的

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.10.4 に従って,B 型 PICC が採用する FSD サイズを判定する。

G.4.7.2  手順

FSDI の値 0∼8 の各々に対し,次の手順を実行する。

a) PICC を G.4.4.1.1 に示した READY-DECLARED 状態(sub-state)にする。 
b)  当該試験においてパラメタ fsdi を設定した ATTRIB(0, fsdi)コマンドを送出する。 
c) PICC が ATA(0)を応答することを確認する。

注記 PICC は,TEST_COMMAND2(2)を受信するために追加の手順を要求してもよい。

d) I-block

I(0)

0

(TEST_COMMAND2(2) )を送出する。

e) PICC からの I-block 応答のサイズが FSD 以下であることを確認する。

G.4.7.3  試験成績書

表 G.52 の説明に従って,表 G.62 の該当欄に試験結果を記入する。


145

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.52−シナリオ G.31:最大フレームサイズの扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.5

型 PICC 又は 型 PICC の論理操作のための試験方法

G.5.1  序文

箇条 G.5 は,

活性化状態の PICC が JIS X 6322-4:2011 に従うことを確かめる試験を含む。

G.5 は A 型 PICC

及び B 型 PICC に適用する。

G.5.1.1  PICC 活性化手順

PICC 活性化とは,PICC を JIS X 6322-4:2011 で定義するプロトコルブロックを交換してもよい状態にす

る処理である。この手順は,PICC のタイプに依存する。

注記 PICC は,シナリオの手順 1 を受信するために追加の手順を要求してもよい。

G.5.1.1.1  型 PICC の活性化 
a) PICC を G.3.3.2.1 に示した ACTIVE 状態にする。 
b) RATS(cid,fsdi)を送出する。

c) PICC 応答が有効な ATS であることを確認する。 
G.5.1.1.2  型 PICC の活性化 
a) PICC を G.4.4.1.1 に示した READY-DECLARED 状態(sub-state)にする。

b) ATTRIB(cid,fsdi)を送出する。

c) PICC 応答が有効な ATA であることを確認する。 
G.5.2  JIS X 6322-4:2011  シナリオにおける PICC の反応 
G.5.2.1  目的

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の箇条 に対する PICC の振舞いを判定する。  この試験は,JIS X 

6322-4:2011 の附属書 のプロトコルシナリオを実施する。 
G.5.2.2  手順

G.32G.54 の各シナリオに対し,次の手順を実行する。

a) CID=0 及び FSDI=0 として,G.5.1.1 に示したように PICC を活性化する。

b)  シナリオの各手順を実行する。

1) PICC 試験装置欄に示すようにコマンドを送る。 
2) PICC の応答が PICC 欄で与えられたものに一致することを確認する。

c)  終了する。

シナリオ G.32I-block の交換

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

2 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))


146

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ G.33:待ち時間延長の要求

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND3)

→ 

 
S(WTX) (WTXM)

2 S(WTX)

(WTXM)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

3 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.34DESELECT

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

2 S(DESELECT)

→ 

 
S(DESELECT)

3 REQA

又は REQB(1)

a)

→ 

 
無応答

4 WUPA

又は WUPB(1)

a)

→ 

 
ATQA  又は ATQB

a)

a)

  左のコマンドは A 型 PICC,右のコマンドは B 型 PICC に使用する。

シナリオ G.35PCD がブロック連鎖を使用

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(1)

0

(TEST_COMMAND1(2)

1

)

→ 

 
R(ACK)

0

2 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(2)

2

)

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(2))

3 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.36PICC がブロック連鎖を使用

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND2(2))

→ 

 
I(1)

0

(TEST_RESPONSE2(2)

1

)

2 R(ACK)

1

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE2(2)

2

)

3 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.37:プロトコルの開始

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1), ~CRC)

→ 

 
無応答

2 R(NAK)

0

→ 

 
R(ACK)

1

3 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

4 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))


147

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ G.38:複数 I-block の交換

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

2 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1), ~CRC)

→ 

 
無応答

3 R(NAK)

1

→ 

 
R(ACK)

0

4 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1) )

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

5 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.39I-block の交換 1

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

2 R(NAK)

0

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

3 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1) )

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.40I-block の交換 2

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

2

R(NAK, ~ CRC)

0

→ 

 
無応答

3 R(NAK)

0

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

4 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1) )

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.41:待ち時間延長の要求

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND3)

→ 

 
S(WTX)(WTXM)

2 R(NAK)

0

→ 

 
S(WTX)(WTXM)

3 S(WTX)(WTXM)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

4 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

 
 
 
 
 


148

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ G.42:待ち時間延長の要求

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND3)

→ 

 
S(WTX)(WTXM)

2

R(NAK, ~ CRC)

0

→ 

 
無応答

3 R(NAK)

0

→ 

 
S(WTX)(WTXM)

4 S(WTX)(WTXM)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

5 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.43:待ち時間延長の要求

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND3)

→ 

 
S(WTX)(WTXM)

2 S(WTX)(WTXM,

~CRC)

→ 

 
無応答

3 R(NAK)

0

→ 

 
S(WTX)(WTXM)

4 S(WTX)(WTXM)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

5 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.44:待ち時間延長の要求

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND3)

→ 

 
S(WTX)(WTXM)

2 S(WTX)(WTXM)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

3 R(NAK)

0

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

4 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1) )

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.45:待ち時間延長の要求

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND3)

→ 

 
S(WTX)(WTXM)

2 S(WTX)(

WTXM)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

3

R(NAK, ~ CRC)

0

→ 

 
無応答

4 R(NAK)

0

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

5 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))


149

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ G.46DESELECT

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

2 S(DESELECT,

~CRC)

→ 

 
無応答

3 S(DESELECT)

→ 

 
S(DESELECT)

4 REQA

又は REQB(1)

 a)

→ 

 
無応答

5 WUPA

又は WUPB(1)

 a)

→ 

 
ATQA  又は ATQB

a)

a)

  左のコマンドは A 型 PICC,右のコマンドは B 型 PICC に使用する。

シナリオ G.47PCD がブロック連鎖を使用

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(1)

0

(TEST_COMMAND1(3)

1

)

→ 

 
R(ACK)

0

2 R(NAK)

0

→ 

 
R(ACK)

0

3 I(1)

1

(TEST_COMMAND1(3)

2

)

→ 

 
R(ACK)

1

4 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(3)

3

)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(3))

5 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.48PCD がブロック連鎖を使用

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(1)

0

(TEST_COMMAND1(3)

1

)

→ 

 
R(ACK)

0

2 I(1)

1

(TEST_COMMAND1(3)

2

, ~CRC)

→ 

 
無応答

3 R(NAK)

1

→ 

 
R(ACK)

0

4 I(1)

1

(TEST_COMMAND1(3)

2

)

→ 

 
R(ACK)

1

5 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(3)

3

)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(3))

6 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

 
 
 
 
 
 


150

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ G.49PCD がブロック連鎖を使用

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(1)

0

(TEST_COMMAND1(3)

1

)

→ 

 
R(ACK)

0

2 R(NAK,

~CRC)

0

→ 

 
無応答

3 R(NAK)

0

→ 

 
R(ACK)

0

4 I(1)

1

(TEST_COMMAND1(3)

2

)

→ 

 
R(ACK)

1

5 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(3)

3

)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(3))

6 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.50PICC がブロック連鎖を使用

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND2(3))

→ 

 
I(1)

0

(TEST_RESPONSE2(3)

1

)

2 R(ACK,

~CRC)

1

→ 

 
無応答

3 R(ACK)

1

→ 

 
I(1)

1

(TEST_RESPONSE2(3)

2

)

4 R(ACK)

0

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE2(3)

3

)

5 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.51PICC がブロック連鎖を使用

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND2(3))

→ 

 
I(1)

0

(TEST_RESPONSE2(3)

1

)

2 R(ACK)

1

→ 

 
I(1)

1

(TEST_RESPONSE2(3)

2

)

3 R(ACK)

1

→ 

 
I(1)

1

(TEST_RESPONSE2(3)

2

)

4 R(ACK)

0

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE2(3)

3

)

5 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

 
 
 
 
 
 
 
 


151

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ G.52PICC がブロック連鎖を使用

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND2(2))

→ 

 
I(1)

0

(TEST_RESPONSE2(2)

1

)

2 R(NAK)

0

→ 

 
I(1)

0

(TEST_RESPONSE2(2)

1

)

3 R(ACK)

1

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE2(2)

2

)

4 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.53PICC の存在確認  方法 1

注記 1  このシナリオは,削除された旧シナリオと置き換える。

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(empty)

0

→ 

 
I()

0

2 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

3 I(empty)

0

→ 

 
I()

0

注記 2 I(empty)

0

  は,I(0)

0

(empty)という意味である。I()

0

  は,I(0)

0

()という意味である。

シナリオ G.54PICC の存在確認  方法 2

注記 3  このシナリオは,削除された旧シナリオと置き換える。

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 R(NAK)

0

→ 

 
R(ACK)

1

2 R(NAK)

0

→ 

 
R(ACK)

1

3 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

4 R(NAK)

1

→ 

 
R(ACK)

0

5 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(1))

G.5.2.3  試験成績書

表 G.53 の説明に従って,表 G.63 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.53JIS X 6322-4:2011  シナリオにおける PICC の反応の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.5.3  PICC の誤り検出の扱い 
G.5.3.1  目的

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 7.5.6 に規定する PICC の誤り検出機構を判定する。


152

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

G.5.3.2  手順

G.55G.57 の各シナリオに対し,次の手順を実行する。

a)  参照 PICC を動作磁界内に置く。 
b) CID=0 及び FSDI=0 として,G.5.1.1 に示したように PICC を活性化する。 
c)  シナリオの各手順を実行する。

1) PICC 試験装置欄に示すようにコマンドを送る。 
2) PICC の応答が PICC 欄に示したものに一致することを確認する。

d)  終了する。

注記  次のシナリオの参照欄に,JIS X 6322-4 の 7.5.37.5.6 における参照規則を記載する。

シナリオ G.55I-block の CRC 不良

手順 PICC 試験装置  

PICC 

参照 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1), ~CRC)

→ 

 
無応答

7.5.6.1 a) 

2 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1))

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1))

シナリオ G.56:連鎖した I-block の CRC 不良

手順 PICC 試験装置  

PICC 

参照 

1 I(1)

0

(TEST_COMMAND1(2)

1

)

→ 

 
R(ACK)

0

 

2 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(2)

2

, ~CRC)

→ 

 
無応答

7.5.6.1 a

3 I(0)

1

(TEST_COMMAND1(2)

2

)

→ 

 
I(0)

1

(TEST_RESPONSE1(2))

 

シナリオ G.57S(WTX)-block の CRC 不良

手順 PICC 試験装置  

PICC 

参照 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND3)

→ 

 
S(WTX) (WTXM)

 

2 S(WTX)(WTXM,

~CRC)

→ 

 
無応答

7.5.6.1 a
 

3 S(WTX)(WTXM)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE3)

 

G.5.3.3  試験成績書

表 G.54 の説明に従って,表 G.63 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.54PICC の誤り検出の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.5.4  CID における PICC の反応 
G.5.4.1  目的

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 7.1.1.2 に従って,CID 符号化に対する PICC の反応を判定する。


153

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

G.5.4.2  手順

G.58G.62 の各シナリオに対し,次の手順を実行する。PICC の CID 対応の有無に応じて,適切な CID

試験条件表を使用する。

CID 試験条件表の表 G.55 又は表 G.56 の各行に対し,次を実行する。

a)  割当て CID 欄で示す cid

ass

で PICC を活性化する。

b)  対応するシナリオで示すブロック交換を実行する。CID 試験条件表のコマンド CID 欄に示す cid

cmd

使用する。

c) PICC の応答がシナリオの PICC 欄に示す応答に一致することを確認する。PICC の応答に二つの選択

肢が示される場合,期待される応答は,CID 試験条件表の PICC 応答の期待値から判定する。

表 G.55CID 試験条件表(PICC が CID に対応している場合)

試験番号

a)

割当て CID (cidass) 

コマンド CID (cidcmd)

PICC 応答の期待値 

1 1

1

試験シナリオの応答 1

2 0

0

試験シナリオの応答 1

3 0

CID なし

試験シナリオの応答 1

4 1

CID なし

試験シナリオの応答 2 (無応答)

5 0

1

試験シナリオの応答 2 (無応答)

6 1

0

試験シナリオの応答 2 (無応答)

7 2

1

試験シナリオの応答 2 (無応答)

a)

  示されている全シナリオで,この表の全試験番号を試験しなければならない。

表 G.56CID 試験条件表(PICC が CID に対応していない場合)

試験番号

a)

割当て CID (cidass) 

コマンド CID (cidcmd)

PICC 応答の期待値 

1 0

0

試験シナリオの応答 2 (無応答)

2 0

CID なし

試験シナリオの応答 1

3 0

1

試験シナリオの応答 2 (無応答)

4

 b)

 1

CID なし

試験シナリオの応答 1

a)

  示されている全シナリオで,この表の全試験番号を試験しなければならない。

b)

  A 型 PICC だけに適用する。

シナリオ G.58I-block の CID

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1), CID = cid

cmd

)

→ 

 
応答 1: I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1), CID= cid

cmd

)

応答 2:  無応答

a)

a)

  表 G.55 又は表 G.56 によって,応答 1 又は応答 2 となる。

シナリオ G.59:連鎖した I-block の CID

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(1)

0

(TEST_COMMAND1(2)1,CID = cid

cmd

)

→ 

 
応答 1: R(ACK, CID= cid

cmd

)

0

応答 2:  無応答

a)

a)

  表 G.55 又は表 G.56 によって,応答 1 又は応答 2 となる。

 


154

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ G.60R-block の CID

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND2(3), CID

 a)

= cid

ass

)

→ 

 
I(1)

0

(TEST_RESPONSE2(3)

1

,CID= cid

ass

)

2 R(ACK,

CID

 a)

= cid

cmd

)

1

→ 

 
応答 1: I(1)

1

(TEST_RESPONSE2(3)

2

,CID

 a)

= cid

cmd

)

応答 2:無応答

b)

a)

 CID に対応していない PICC に対しては,CID なしとする。

b)

  表 G.55 又は表 G.56 によって,応答 1 又は応答 2 となる。

シナリオ G.61S(WTX)-block の CID

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND3, CID

 a)

= cid

ass

)

→ 

 
S(WTX)(WTXM, CID= cid

ass

)

2 S(WTX,)(WTXM,

CID

 a)

= cid

cmd

)

→ 

 
応答 1: I(0)

0

(TEST_RESPONSE3,CID

 a)

= cid

cmd

 )

応答 2:  無応答

b)

a)

 CID に対応していない PICC に対しては,CID なしとする。

b)

  表 G.55 又は表 G.56 によって,応答 1 又は応答 2 となる。

シナリオ G.62S(DESELECT)-block の CID

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1

S(DESELECT, CID= cid

cmd

)

→ 

 
応答 1: S(DESELECT, CID= cid

cmd

)

応答 2:  無応答

a)

a)

  表 G.55 又は表 G.56 によって,応答 1 又は応答 2 となる。

G.5.4.3  試験成績書

表 G.57 の説明に従って,表 G.63 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.57CID における PICC の反応の試験結果の判定

説明 

試験結果 

手順に示すように PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.5.5  NAD における PICC の反応 
G.5.5.1  目的

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 7.1.1.3 に従って,NAD 符号化に対する PICC の反応を判定する。

G.5.5.2  手順

G.63G.65 の各シナリオに対し,次の手順を実行する。 
CID=0 及び FSDI=0 として,G.5.1.1 に示したように PICC を活性化する。

シナリオの各手順を実行する。

a) PICC 試験装置欄に示すようにコマンドを送る。 
b) PICC の応答が PICC 欄で与えられたものと一致することを確認する。

n は,b4 及び b8 が b“0”に設定された有効な NAD の任意の値とする。


155

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ G.63NAD に対応している PICC の I-block の NAD

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1), NAD=n)

→ 

 
I(0)

0

(TEST_RESPONSE1(1),NAD を含む。)

シナリオ G.64NAD に対応している PICC の連鎖 I-block の NAD

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND2(3), NAD=n)

→ 

 
I(1)

0

(TEST_RESPONSE2(3)

1

,NAD を含む。)

2 R(ACK)

1

→ 

 
I(1)

1

(TEST_RESPONSE2(3)

2

,NAD を含まず)

シナリオ G.65NAD に対応していない PICC の I-block の NAD

手順 PICC 試験装置  

PICC 

1 I(0)

0

(TEST_COMMAND1(1), NAD=n)

→ 

 
無応答

G.5.5.3  試験成績書

表 G.58 の説明に従って,表 G.63 の該当欄に試験結果を記入する。

表 G.58NAD における PICC の反応の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PICC に対しシナリオを適用しない場合

適用外(NA)

PICC に対しシナリオを適用するとき,手順に示すように
PICC が応答した場合

合格

その他の場合

不合格

G.6  試験結果報告

表 G.59型 PICC 規定タイミング表

項番 

パラメタ JIS 参照規格 

最小値 

最大値 

測定値 

1 PCD から PICC へのフ

レーム遅延時間 
(REQA,WUPA, 
ANTICOLLISION 及び
SELECT  コマンド)

JIS X 6322-3:2011
の 6.2.1.1 

最終ビット b“1”

≧ 1 236/fc  

最終ビット b“0”

≧ 1 172/fc

最終ビット b“1”

≧ 1 236/fc +0.4μs 

最終ビット b“0”

≧ 1 172/fc +0.4μs

2 RATS 及び非活性化フ

レーム遅延時間

JIS X 6322-4:2011
の 8.1 

最終ビット b“1”

≧ 1 236/fc

最終ビット b“0”

≧ 1 172/fc

65 536/fc 
(約 4.8 ms) 

3 PCD から PICC へのフ

レーム遅延時間 
(項番 2 を除くフレー
ム)

JIS X 6322-3:2011
の 6.2.1.1 及び JIS 
X 6322-4
:2011 の
8.1

最終ビット b“1”

≧ 1 236/fc 

最終ビット b“0”

≧ 1 172/fc

(256/fs)×2

FWI

 
(約 302.06 µs ×2

FWI

)

FWI = 
 
Max FDT=

注記  全タイミング値は,搬送波周波数 fc = 13.56 MHz 及びビット伝送速度=fc/128(約 106 kbit/s)で計

算する。


156

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.60型 PICC 規定タイミング表

項番 

パラメタ JIS 参照規格 

標準最小値 

標準最大値 

測定値 

1 SOF 論理 0

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.4

10 etu 
(約 94.40 µs)

11 etu 
(約 103.83 µs)

2 SOF 論理 1

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.4

2 etu 
(約 18.88 µs)

3 etu 
(約 28.32 µs)

3 EOF 論理 0

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.5

10 etu   
(約 94.40 µs)

11 etu 
(約 103.83 µs)

4

ビット境界

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.1

(n – 1/8) etu

(n + 1/8) etu

5 PICC

から PCD への

EGT

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.2

0 µs

19 µs

6 ATQB の TR0

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.6

64/fs 
(約 75.52 µs)

256/fs 
(約 302.06 µs)

7 ATQB の TR1

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.6

80/fs 
(約 94.40 µs)

200/fs 
(約 235.99 µs)

8 ATQB 以外の TR0

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.6 
JIS X 6322-3:2011
の 7.10.3

JIS X 6322-3:2011

表 30 の規定値

(256/fs)×2

FWI

(約 302.06 µs×2

FWI

)

FWI = 
Max TR0 =

9 ATQB 以外の TR1

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.6 
JIS X 6322-3:2011
の 7.10.3

JIS X 6322-3:2011

表 31 の規定値

200/fs 
(約 235.99 µs)

10 TR2

JIS X 6322-3:2011
の 7.9.4.4

JIS X 6322-3:2011

表 27 の規定値

最大値なし

11 EOF の終わりから副

搬送波終了までの過

渡時間

JIS X 6322-3:2011
の 7.1.7

0 2

etu

12

非活性化フレーム待

ち時間

JIS X 6322-4:2011
の 8.1

64/fs + 80/fs 
(約 169.92 µs)

65 536/fc 
  (約 4.8 ms)

注記  全タイミング値は,搬送波周波数 fc = 13.56 MHz 及びビット伝送速度=fc/128(約 106 kbit/s)で計

算する。


157

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.61型 PICC 固有の試験結果報告

この規格による試験方法 

シナリオ番号 

試験結果 

箇条 

パラメタ 

この規格の

試験シナリオ番号 

合格,不合格,又は

適用外(NA

G.3.2 

ポーリング

シナリオ G.1

G.3.3 

A 型 PICC の状態遷移の試験

シナリオ G.2

シナリオ G.3

シナリオ G.4

シナリオ G.5

シナリオ G.6

シナリオ G.7

シナリオ G.8

シナリオ G.9

シナリオ G.10

シナリオ G.11

シナリオ G.12

G.3.4 

A 型 PICC の衝突防止の扱い

シナリオ G.13

G.3.6 

PPS 要求の扱い

シナリオ G.17

シナリオ G.18

シナリオ G.19

G.3.7 

FSD の扱い

シナリオ G.20

表 G.62型 PICC 固有の試験結果報告

この規格による試験方法 

シナリオ番号 

試験結果 

箇条 

パラメタ 

この規格の

試験シナリオ番号 

合格,不合格,又は

適用外(NA 

G.4.2 

ポーリング

シナリオ G.21

G.4.3 

PICC の反応

シナリオ G.22

G.4.4 

B 型 PICC の状態遷移の試験

シナリオ G.23

シナリオ G.24

シナリオ G.25

シナリオ G.26

シナリオ G.27

G.4.5 

B 型 PICC の衝突防止の扱い

シナリオ G.28

G.4.6 

ATTRIB の扱い

シナリオ G.29

シナリオ G.30

G.4.7 

最大フレームサイズの扱い

シナリオ G.31


158

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 G.63/B 型 PICC 共通の試験結果報告

この規格による試験方法 

シナリオ番号 

試験結果 

箇条 

パラメタ 

この規格の

試験シナリオ番号 

合格,不合格,又は

適用外(NA 

G.5.2 

JIS X 6322-4:2011  シナリオにおける PICC の
反応

シナリオ G.32

シナリオ G.33

シナリオ G.34

シナリオ G.35

シナリオ G.36

シナリオ G.37

シナリオ G.38

シナリオ G.39

シナリオ G.40

シナリオ G.41

シナリオ G.42

シナリオ G.43

シナリオ G.44

シナリオ G.45

シナリオ G.46

シナリオ G.47

シナリオ G.48

シナリオ G.49

シナリオ G.50

シナリオ G.51

シナリオ G.52

シナリオ G.53

シナリオ G.54

G.5.3 

PICC の誤り検出の扱い

シナリオ G.55

シナリオ G.56

シナリオ G.57

G.5.4 

CID における PICC の反応

シナリオ G.58

シナリオ G.59

シナリオ G.60

シナリオ G.61

シナリオ G.62

G.5.5 

NAD における PICC の反応

シナリオ G.63

シナリオ G.64

シナリオ G.65

G.1.5.1 

RFU 値


159

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 H 

規定)

追加の PCD 試験方法

H.1  PCD 試験装置及び附属品

この箇条は,JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 に従い,PCD の動作を確認するための PCD 試験

装置及び試験回路を定義する。

H.1.1  試験方法

ISO/IEC 9646 規格群の抽象化モデルを選択し,試験対象 PCD と LT との間の JIS X 6322 規格群のプロ

トコル試験に対してローカル試験方法を適用する。

H.1.2  PCD 試験装置の構成

PCD 試験装置は,次の二つの部分(図 H.1 参照)で構成する。

−  上位試験装置(UT)

(試験対象 PCD に適合したホストインタフェースをもつパーソナルコンピュー

タでもよい。

−  下位試験装置(LT)

試験対象 PCD は,試験対象装置(IUT)として扱う。

PCD が製品に組み込まれている場合には,UT を含む。この場合には,幾つかの試験は適用できなくて

もよい。また,この規格に特定の要求事項がない場合には,試験結果は,性能の報告だけでよい。

試験対象装置

(IUT = PCD)

上位試験装置(UT)

下位試験装置 (LT)

PCD

試験装置

TM-PDUs

TB-PDUs

INITIALIZE_PCD_TEST _MODE
INITIATE_ANTICOLLISION 
SEND_UT_APDU

I-blocks
R-blocks
S-blocks

図 H.1−試験装置の概念的な構造

PCD 試験装置の LT 部は,次を含む。

−  A 型及び B 型のプロトコルのエミュレートが可能な,ハードウェア及びソフトウェアで構成する

PICC エミュレータ。

−  デジタルサンプリングオシロスコープ(5.1.1 参照)

 


160

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.1.3  PCD 試験装置のインタフェース

UT 及び IUT は,TM-PDU(試験管理プロトコルのデータ単位)を用いて通信する。TM-PDU の定義は,

製品に依存し,IUT 製造業者によって規定され,

表 H.1 に要求される動作を指示しなければならない。

表 H.1−論理インタフェースコマンド

TM-PDU の名称 

要求される IUT の動作 

1 INITIALIZE_PCD_TEST_MODE

電源オンの状態に戻す(IUT が衝突防止ループに遷移すると

期待される。

IUT は,この動作の結果を示すコードを UT に返す。

2 INITIATE_ANTICOLLISION

衝突防止手順を開始する(IUT が初期化に続いて自動的に衝

突防止手順を開始する場合,この手順は,くう(空)でもよ

い。

IUT は,この動作の結果を示すコードを UT に返す。

3 SEND_UT_APDU

IUT は,RF インタフェースを介して UT_APDU を LT に送信
し,この動作の結果を示すコードを UT に返す。IUT からの

応答は,送信した UT_APDU に対する LT の応答を含まなけ

ればならない。

PCD 試験装置は,UT インタフェースを介して IUT 製造業者によって提供される IUT ユーティリティ情

報を初期化し,LT インタフェースを介して必要な手順,プロトコル及び解析を実行するために,それ自体

(PCD 試験装置)を構成することができなければならない。

H.1.4  入出力プロトコルのエミュレート

PCD 試験装置は,LT インタフェースにおいて試験シナリオを実行するために要求される A 型及び B 型

のプロトコル,並びに PICC アプリケーションをエミュレートできなければならない。LT は,送信パケッ

トを要求された長さの連鎖ブロックに分割できなければならない。

次の任意選択を個別にシミュレートするために LT を構成できなければならない。

− NAD 及び CID の構成

−  フレームサイズ,ビット伝送速度及び試験方法の実装に要求される他のパラメタ

H.1.5  伝送方式における入出力キャラクタタイミングの生成

PCD 試験装置は,LT インタフェースにおいて,JIS X 6322-3:2011 に従い,入出力ビット列を生成でき

なければならない。タイミングパラメタ:

[すなわち,スタートビット持続時間,拡張保護時間(B 型だけ)

ビット持続時間,フレーム遅延時間,フレーム開始信号の幅及びフレーム終了信号の幅]を設定できなけ

ればならない。A 型の試験目的のために,LT は,選択されたビット位置(複数)でビット衝突をシミュレ

ートできなければならない。

H.1.6  RF 入出力プロトコルの観測及び測定

PCD 試験装置は,LT インタフェースにおいて,PCD によって伝送された論理“低”状態及び“高”状

態のタイミングを観測し,測定できなければならない。

H.1.7  プロトコル解析

PCD 試験装置は,JIS X 6322-3:2011 及び JIS X 6322-4:2011 で規定される A 型及び B 型のプロトコルに

従って,LT インタフェースにおいて入出力ビット列を解析し,プロトコルを更に解析するために論理的な

データの流れを抽出できなければならない。


161

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.1.8  プロトコル活性化手順 
H.1.8.1  衝突防止試験方法のための活性化手順

次の手順で,LT を活性化する。

a) A 型又は B 型プロトコルをエミュレートするために LT を構成する。 
b) UT は,INITIALIZE_PCD_TEST_MODE (TM-PDU)を PCD に送信する。

c) UT は,INITIATE_ANTICOLLISION (TM-PDU)を PCD に送信する。 
H.1.8.2  型プロトコル試験方法のための活性化手順

次の手順で,LT を活性化する。

a) A 型プロトコルをエミュレートするために LT を構成する。 
b) UT は,INITIALIZE_PCD_TEST_MODE (TM-PDU)を PCD に送信する。 
c) UT は,INITIATE_ANTICOLLISION (TM-PDU)を PCD に送信する。PCD は,JIS X 6322-3:2011 の箇条

で定義される衝突防止手順(リクエスト,衝突防止ループ,及び選択)を適用しなければならない。
PCD は,JIS X 6322-4:2011 の箇条 で定義されるプロトコル活性化手順を適用しなければならない。

d) PCD は,活性化手順の実行結果を UT に報告する。

H.1.8.3  型プロトコル試験方法のための活性化手順

次の手順で,LT を活性化する。

a) B 型プロトコルをエミュレートするために LT を構成する。

b) UT は,INITIALIZE_PCD_TEST_MODE (TM-PDU)を PCD に送信する。

c) UT は,INITIATE_ANTICOLLISION (TM-PDU)を PCD に送信する。PCD は,JIS X 6322-3:2011 の箇条

で定義される衝突防止手順を適用しなければならない。

d) PCD は,活性化手順の実行結果を UT に報告する。 
H.1.9  試験シナリオ 
H.1.9.1  概要

この規格で定義する PCD の試験は,実行すべき試験シナリオを要求する。この試験シナリオは,

“典型

的なプロトコル及びアプリケーションに特化した通信”とし,プロトコル及びアプリケーションに特化し

た機能で,通常の使用でみられ,PCD に実装される機能に依存する。

典型的な試験シナリオは,H.1.3 で定義したコマンド TM-PDU のセットとする。

試験シナリオは,

これらの試験を実施する装置で定義され,

試験成績とともに記録しなければならない。

試験シナリオは,通常の使用で利用されると予想される PCD の代表的な機能の部分集合を,望ましくは,

PCD が可能な場合は全機能を,包含しなければならない。

注記  試験装置は,実装したプロトコル及び機能に関する情報を要求してもよい。

送信される UT_APDU は,次のうちの一つでもよい。

− PCD 試験装置が決定する UT_TEST_COMMAND1 は,PCD のブロック連鎖処理を必要としない試験

シナリオで通常使用するコマンドとして ISO コマンドとする(PCD がブロック連鎖を行うように決

めた場合には,試験シナリオは,試験所で修正されるのが望ましい。

− PCD 試験装置が決定する UT_TEST_COMMAND2 は,PCD のブロック連鎖処理をする試験シナリオ

で通常使用するコマンドとして ISO コマンドとする。

H.1.9.2  試験シナリオ例

典型的な試験シナリオは,次のとおりでよい。


162

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

INITIALIZE_PCD_TEST_MODE

INITIATE_ANTICOLLISION

SEND_UT_APDU (UT_TEST_COMMAND1)

SEND_UT_APDU (UT_TEST_COMMAND2)

….

H.1.10  UTLT 及び PCD の動作

UT,LT 及び PCD の動作を,次にまとめる。

a) UT は,H.1.8 で定義するように活性化手順を実行する。 
b)  活性化手順に支障を来した場合には,PCD は,例外処理を行う。この例外処理は,誤りを UT に報告

することを含めてもよい。

c)  衝突防止の試験方法の場合には,PCD 試験装置は,ここで試験を終わる。プロトコル試験方法に対し

て UT は,次の手順を継続して実施する。

d) UT は,最初のコマンド UT_APDU を PCD に送信する。

e) PCD は,このコマンド UT_APDU を,TB-PDU を使用して LT に伝送することが期待される。PCD は,

現在の UT_APDU を適切な TB-PDU(I-blocks)に分割し,最初の I-block を LT に送信し,応答ブロッ

クを待つ。JIS X 6322-4:2011 に従い,PCD は,通信ブロックを管理する。

f)  コマンド UT_APDU は,LT が受信する。LT は,応答 UT_APDU を PCD に送信する。JIS X 6322-4:2011

に従い,LT は通信ブロック(TB-PDU)を管理する(PCD 又は PICC の最大フレームサイズのいずれ

かによって強制されない場合にも,LT はいつでも,ブロック連鎖機構を使用してもよい。

。PCD は,

LT から受信した応答 UT_APDU を UT へ伝送することが期待される。

g)  コマンドがプロトコルレベルで失敗した場合には(すなわち,誤りが PCD で検出された場合),PCD

は,例外処理を行う。例外処理は,誤りを UT に報告することを含めてもよい。

h)  コマンドが成功した場合には,PCD は,成功結果を UT に報告する。ここで,試験シナリオが LT に

送信する追加 UT_APDU を定義する場合には,UT は,次の UT_APDU を PCD に送信する。この繰返

し処理は,最後の試験 UT_APDU を送信するまで続く。

H.1.11  試験方法と根拠規格の要件との関係

表 H.2,表 H.3 及び表 H.4 における全ての試験を実行し,その試験結果を対応する H.6 の表を用いて報

告しなければならない。

表 H.2型固有の試験方法

この規格の試験方法 

対応要件 

細分箇条 

名称 

基本規格 

細分箇条 

H.2.1 

PICC から PCD へのフレーム遅延時間

JIS X 6322-3:2011

6.2.1.2 

H.2.2 

リクエスト保護時間

JIS X 6322-3:2011

6.2.2 

H.2.3 

ATQA 中のビット衝突の扱い

JIS X 6322-3:2011

6.5.2 

H.2.4 

衝突防止ループの扱い

JIS X 6322-3:2011

6.5.3 

H.2.5 

RATS 及び ATS の扱い

JIS X 6322-4:2011

5.6.1.1 

H.2.6 

PPS 応答の扱い

JIS X 6322-4:2011

5.6.2.1 

H.2.7 

フレームサイズ選択機構

JIS X 6322-4:2011

5.2.3 

H.2.8 

開始フレーム保護時間の扱い

JIS X 6322-4:2011

5.2.5 

H.2.9 

PCD による活性化における CID の扱い

JIS X 6322-4:2011

5.6.3 


163

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 H.3型固有の試験方法

この規格の試験方法 

対応要件 

細分箇条 

名称 

基本規格 

細分箇条 

H.3.1 

入出力伝送タイミング

JIS X 6322-3:2011

7.1 

H.3.2 

フレームサイズ選択機構

JIS X 6322-3:2011

7.9 

H.3.3 

PCD による活性化における CID の扱い

JIS X 6322-3:2011

7.10 

表 H.4−論理操作のための試験方法

この規格の試験方法 

対応要件 

細分箇条 

名称 

基本規格 

箇条・細分箇条 

H.4.1 

ポーリングループの扱い

JIS X 6322-3:2011

箇条 

H.4.2 

待ち時間延長要求に対する PCD の反応

JIS X 6322-4:2011

7.3 

H.4.3 

誤り検出及び回復

JIS X 6322-4:2011

7.5.6 

H.4.4 

ブロック連鎖中の NAD の扱い

JIS X 6322-4:2011

7.1.1.3 

H.2  型固有の試験方法 
H.2.1  PICC から PCD へのフレーム遅延時間

この試験は,PICC フレームと次の PCD フレームとの間のタイミングを判定することを目的とする。

H.2.1.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.1.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置する。

次の処理中,RF 入力及び受信データを絶えず観測し,JIS X 6322-2:2011 の規定に一致していることを確

認しなければならない。通信の論理的内容と同様に,全ての信号変化(レベル及びタイミング)を記録し

なければならない。次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。

b) LT は,PCD が有効な REQA・WUPA コマンドフレームを送信するまで待機する。 
c) LT は,有効な ATQA を応答する。 
d) LT は,JIS X 6322-3:2011 の図 によって PCD が有効な衝突防止コマンドを送信するまで待機する。 
e) LT によって伝送された最後の変調から PCD によって伝送された最初のポーズまでの時間を測定する

JIS X 6322-3:2011 の 6.2.1.2 参照)

H.2.1.3  試験成績書

信号記録を報告する。  フレーム遅延時間の測定値を

表 H.21 の項目 1 に記入し,表 H.23 の該当欄につ

いても記入する。

H.2.2  リクエスト保護時間

この試験は,二つの連続する REQA・WUPA コマンドのリクエスト保護時間を判定することを目的とす

る。この試験は,REQA・WUPA を連続して送信する PCD に関係している。

H.2.2.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.2.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置する。


164

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

次の処理中,RF 入力及び受信データを絶えず観測し,JIS X 6322-2:2011 の規定に一致していることを確

認しなければならない。通信の論理的内容と同様に,全ての信号変化(レベル及びタイミング)を記録し

なければならない。次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,PCD が有効な REQA・WUPA  コマンドフレームを送信するまで待機する。LT は,無応答のま

までいる。

c) LT は,PCD が次の有効な REQA・WUPA  コマンドフレームを送信するまで待機する。LT は,無応答

のままでいる。

d)  二つの連続した REQA・WUPA の開始ビット間の時間を測定する(JIS X 6322-3:2011 の 6.2.2 参照)。 
H.2.2.3  試験成績書

信号記録を報告する。リクエスト保護時間の測定値を

表 H.21 の項目 2 に記入し,表 H.23 の該当欄につ

いても記入する。

H.2.3  ATQA 中のビット衝突の扱い

この試験は,PCD による ATQA 中のビット衝突の扱いを判定することを目的とする。

H.2.3.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.3.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。

b) LT は,PCD が有効な REQA・WUPA  コマンドフレームを送信するまで待機する。 
c)  ビット N(N=1∼16)でビット衝突するようにシミュレートした ATQA で応答するために,LT を調整

する。このビット衝突は,対応するパリティビットでも衝突を引き起こす。

H.2.3.3  試験成績書

表 H.5 に従って,表 H.23 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.5ATQA 中のビット衝突の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD が,ビット対応の衝突防止ループを開始する場合

合格

その他の場合

不合格

H.2.4  衝突防止ループの扱い

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 6.5.3 に従い,ビット衝突防止ループの扱いを判定することを目的とす

る。

H.2.4.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.4.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

H.2.4.2.1  手順 1(シングルサイズ UID

次の手順を実行する。


165

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,PCD が有効な REQA・WUPA  コマンドフレームを送信するまで待機する。

c) LT は,ビットフレーム衝突防止及びシングルサイズ UID(ビット b8 及び b7 が b“00”に等しい。)

を示す ATQA を応答する。

d) PCD は,ANTICOLLISION コマンド“93 20”(カスケードレベル 1)を送信しなければならない。

e) LT は,UID CL1 (uid0 uid1 uid2 uid3 BCC)を応答する。 
f) PCD は,SELECT コマンド“93 70”  uid0 uid1 uid2 uid3 BCC CRC_A を送信しなければならない。 
g) LT は,UID が完全であることを示す SAK(カスケードビット b3 を b“0”に設定した状態)を応答す

る。

シナリオ H.1−シングルサイズ UID の PICC に対する衝突防止ループの扱い,手順 1

試験 PCD 

LT 

段階 

REQA・WUPA REQA・WUPA

← ATQA(シングルサイズ UID) 1

ANTICOLLISION 
レベル 1

ANTICOLLISION コマンドレベル 1 
(“93 20”)

→ 

 

 

← UID

CL1

(uid0 uid1 uid2 uid3 BCC)

2

SELECT SELECT コマンド  (“93 70” uid0

uid1 uid2 uid3 BCC CRC_A)

→ 

 

 

← SAK(complete)

3

H.2.4.2.2  手順 2(ダブルサイズ UID

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,PCD が有効な REQA・WUPA  コマンドフレームを送信するまで待機する。

c) LT は,ビットフレーム衝突防止及びダブルサイズ UID(ビット b8 及び b7 が b“01”に等しい。)を

示す ATQA を応答する。

d) PCD は,ANTICOLLISION コマンド  “93 20”  (カスケードレベル 1)を送信しなければならない。

e) LT は,UID CL1 (“88”  uid0 uid1 uid2 BCC)を応答する。 
f) PCD は,SELECT コマンド“93 70 88”  uid0 uid1 uid2 BCC CRC_A を送信しなければならない。 
g) LT は,SAK(カスケードビット b3 を b“1”に設定した状態)を応答する。

h) PCD は,カスケードレベルを増加させ,ANTICOLLISION コマンド“95 20”(カスケードレベル 2)

を送信しなければならない。

i) LT は,UID CL2 (uid3 uid4 uid5 uid6 BCC)を応答する。

j) PCD は,SELECT コマンド“95 70”  uid3 uid4 uid5 uid6 BCC CRC_A を送信しなければならない。 
k) LT は,UID が完全であることを示す SAK(カスケードビット b3 を b“0”に設定した状態)を応答す

る。

 
 
 
 


166

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ H.2−ダブルサイズ UID の PICC に対する衝突防止ループの扱い,手順 2

試験 PCD 

LT 

段階 

REQA・WUPA REQA・WUPA

← ATQA

(ダブルサイズ UID) 1

ANTICOLLISION
レベル 1

ANTICOLLISION コマンドレベル 1 
(“93 20”)

← UID

CL1

(“88”  uid0 uid1 uid2 BCC)

2

SELECT SELECT コマンド  (“93 70 88” uid0

uid1 uid2 BCC CRC_A)

→ 

← SAK(cascade)

3

ANTICOLLISION 
レベル 2

ANTICOLLISION コマンドレベル 2 
(“95 20”)

→ 

← UID

CL2

(uid3 uid4 uid5 uid6 BCC)

4

SELECT SELECT コマンド  (“95 70” uid3

uid4 uid5 uid6 BCC CRC_A)

← SAK(complete)

5

H.2.4.2.3  手順 3(トリプルサイズ UID

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,PCD が有効な REQA・WUPA  コマンドフレームを送信するまで待機する。

c) LT は,ビットフレーム衝突防止及びトリプルサイズ UID(ビット b8 及び b7 が b“10”に等しい。)

を示す ATQA を応答する。

d) PCD は,ANTICOLLISION コマンド“93 20”(カスケードレベル 1)を送信しなければならない。

e) LT は,UID CL1 (“88”  uid0 uid1 uid2 BCC)を応答する。 
f) PCD は,SELECT コマンド“93 70 88”  uid0 uid1 uid2 BCC CRC_A を送信しなければならない。 
g) LT は,SAK(カスケードビット b3 を b“1”に設定した状態)を応答する。

h) PCD は,カスケードレベルを増加させ,ANTICOLLISION コマンド“95 20”(カスケードレベル 2)

を送信しなければならない。

i) LT は,UID CL2 (“88”  uid3 uid4 uid5 BCC)を応答する。 
j) PCD は,SELECT コマンド“95 70 88”  uid3 uid4 uid5 BCC CRC_A を送信しなければならない。 
k) LT は,SAK(カスケードビット b3 を b“1”に設定した状態)を応答する。 
l) PCD は,カスケードレベルを増加させ,ANTICOLLISION コマンド“97 20”(カスケードレベル 3)

を送信しなければならない。

m) LT は,UID CL3 (uid6 uid7 uid8 uid9 BCC)を応答する。 
n) PCD は,SELECT コマンド“97 70”  uid6 uid7 uid8 uid9 BCC CRC_A を送信しなければならない。

o) LT は,UID が完全であることを示す SAK(カスケードビット b3 を b“0”に設定した状態)を応答す

る。

 
 
 


167

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ H.3−トリプルサイズ UID の PICC に対する衝突防止ループの扱い,手順 3

試験 PCD 

LT 

段階 

REQA・WUPA REQA・WUPA

← ATQA

(トリプルサイズ UID) 1

ANTICOLLISION 
レベル 1

ANTICOLLISION コマンドレベル 1 
(“93 20”)

→ 

← UID

CL1

(“88”  uid0 uid1 uid2 BCC)

2

SELECT SELECT コマンド

(“93 70 88” uid0 uid1 uid2 BCC 
CRC_A)

→ 

 

 

← SAK(cascade)

3

ANTICOLLISION 
レベル 2

ANTICOLLISION コマンドレベル 2 
(“95 20”)

→ 

← UID

CL2

(“88”  uid3 uid4 uid5 BCC)

4

SELECT SELECT コマンド

(“95 70 88” uid3 uid4 uid5 BCC 
CRC_A)

→ 

← SAK(cascade)

5

ANTICOLLISION 
レベル 3

ANTICOLLISION コマンドレベル 3 
(“97 20”)

→ 

← UID

CL3

(uid6 uid7 uid8 uid9 BCC)

6

SELECT SELECT コマンド  (“97 70” uid6 uid7

uid8 uid9 BCC CRC_A)

→ 

 

← SAK(complete)

7

H.2.4.2.4  手順  4(全ビットでの衝突防止ループ,シングルサイズ UID

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。

b) LT は,有効な REQA 又は WUPA コマンドフレームを PCD が送信するまで待機する。 
c) LT は,ビットフレーム衝突防止及びシングルサイズ UID(ビット b8 及び b7 が b“00”に等しい。)

を示す ATQA を応答する。

d) PCD は,ANTICOLLISION コマンド“93 20”を送信しなければならない。 
e) LT は,各ビットで衝突をエミュレートし,パリティビットを含む 40 ビットのビット列を応答する。 
f)  値 k を 1 から 31 まで変更しながら,手順 g)∼h)を繰り返す。

g) PCD は,ANTICOLLISION コマンド“93”NVB UIDTX

1

[[1..k]]を送信しなければならない。ここで,

UIDTX

1

[[1..k-1]]は,くう(空)

(すなわち,k=1)又は PCD によって既知の値のいずれかとし,UIDTX

1

[[k]]

は,PCD によって選択された任意のビットとする。

h) LT は,全ビットで衝突をエミュレートし,パリティビットを含む(40−k)ビットのビット列を応答す

る。

i) PCD は,ANTICOLLISION コマンド“93 60” UIDTX

1

[[1..32]]を任意選択して送信してもよい。この

場合には,LT は,BCC を応答する。

注記  任意選択の ANTICOLLISION コマンドは,段階番号を変更しない。


168

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

j) PCD は,SELECT コマンド“93 70” UIDTX

1

[[1..32]] BCC CRC_A を送信しなければならない。手順

i)で任意選択せず,実行しない場合には,BCC は,PCD によって計算され付与される。

k) LT は,UID が完全であることを示す SAK(カスケードビット b3 を b“0”に設定した状態)を応答す

る。

シナリオ H.4−全ビットでの衝突防止ループの扱い PICC,手順 4

試験 PCD 

LT 

段階

REQA・WUPA REQA・WUPA

← ATQA

(シングルサイズ UID) 1

ANTICOLLISION ANTICOLLISION コマンド

(“93 20”)

← 40 ビットの完全な衝突フレーム 2

ANTICOLLISION 
(k  ビット UID

PARTIAL

)

1  ≦k≦ 31

ANTICOLLISION コマンド   
(“93” NVB UIDTX

1

[[1..k]])

 

 

(40 – k)ビットの衝突フレーム 

k+2

OPTIONAL 
ANTICOLLISION  
(32  ビット UID

PARTIAL

)

ANTICOLLISION コマンド   
(“93 60”UIDTX

1

[[1..32]])

 

← (BCC)

SELECT SELECT コマンド

(“93 70” UIDTX

1

[[1..32]] BCC

CRC_A )

→ 

← SAK(complete)

34

H.2.4.3  試験成績書

表 H.6 に従って,表 H.23 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.6−衝突防止ループの扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD コマンド手順が期待どおりの場合

合格

その他の場合

不合格

H.2.5  RATS 及び ATS の扱い

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 5.6.1.1 に従い,PCD による RATS 及び ATS の扱いを判定することを

目的とする。

H.2.5.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.5.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

H.2.5.2.1  手順  1

次の手順を用いる。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,関連する衝突防止メッセージを応答し,PCD が有効な RATS コマンドフレームを送信するま

で待機する。


169

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

c) LT は,RATS に応答しない(無応答)。 
d) PCD は,有効な RATS コマンドフレームを送信してもよい。

e) PCD が 2 番目の RATS を送信した場合には,LT は,RATS に応答しない(無応答)。 
f) PCD は,JIS X 6322-4:2011 の箇条 で定義された非活性化手順を開始しなければならない。 
g)  無応答の代わりに誤った ATS フレーム(不良 CRC_A を使用した状態で)を用いて手順 a)∼f)を繰り

返す。

シナリオ H.5RATS 及び ATS の扱い,手順  1

試験 PCD 

LT 

 
無応答

RATS コマンドフレーム 
(例  “E0 01” CRC_A)

→ 

 

無応答

RATS コマンドフレーム 
(例  “E0 01” CRC_A)

→ 

無応答

非活性化開始 DESELECT

 
誤った ATS フレーム

RATS コマンドフレーム 
(例  “E0 01” CRC_A)

→ 

 

誤った ATS フレーム

a)

RATS コマンドフレーム 
(例  “E0 01” CRC_A)

→ 

誤った ATS フレーム

a)

非活性化開始 DESELECT

a)

  手順 g)で決まる。

注記 RATS コマンドを 2 回送信してもよいという仕様は,JIS X 6322-4:2011 の 5.6.1.1 を参照。

H.2.5.2.2  手順  2

次の手順を用いる。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。

b) LT は,関連する衝突防止メッセージを応答し,PCD が有効な RATS コマンドフレームを送信するま

で待機する。

c) LT は,TA バイトのない有効な ATS を応答する。

d) PCD は,表 H.1 に従って動作結果コードを UT に返信しなければならない。 
e) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
f) PCD は,任意の I-block[くう(空)を含む。]を,可能であれば PICC 存在確認手順の後に,LT に送

信するよう期待される。

シナリオ H.6RATS 及び ATS の扱い,手順 2

試験 PCD 

LT 

正しい ATS RATS コマンドフレーム

(例  “E0 01” CRC_A)

← ATS

継続操作

任意の I-block[くう(空)を含む。


170

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.2.5.2.3  手順 3

PCD が JIS X 6322-4:2011 の 5.6.1.1 に従う任意選択の RATS 再送信を使用しない場合には,この手順を

省略する。

PCD が JIS X 6322-4:2011 の 5.6.1.1 に従う任意選択の RATS 再送信を使用する場合には,次の手順を用

いる。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,関連する衝突防止メッセージを応答し,PCD が有効な RATS コマンドフレームを送信するま

で待機する。

c) PCD が RATS を伝送した場合には,LT は,RATS に反応しない(無応答)。 
d) PCD が RATS を再送信した場合には,LT は,有効な ATS を応答する。 
e) PCD は,任意の I-block[くう(空)を含む。]を,可能であれば PICC 存在確認手順の後に,又は PPS

要求を LT に送信するよう期待される。

f)  無応答の代わりに誤った ATS フレーム(不良 CRC_A を使用した状態で)を用いて手順 a)∼e)を繰り

返す。

シナリオ H.7RATS 及び ATS の扱い,手順 3

試験 PCD 

LT 

無応答

又は

誤った ATS フレーム

RATS コマンドフレーム 
(例  “E0 01” CRC_A)

→ 

 

無応答/誤った ATS フレーム

a)

PCD の RATS 再送信

RATS コマンドフレーム 
(例  “E0 01” CRC_A)

→ 

← ATS

継続操作

任意の I-block[くう(空)を含

む。]又は PPS 要求

a)

  手順 f)で決まる。

注記  シナリオ H.7 の記号“/”は,次に示すように“置き換え”の意味に解釈する。まず,LT の応

答を“/”の左側に記されている“無応答”として手順 a)∼e)を実行する。その後,手順 f)に

示すように,“無応答”の代わりに“/”の右側に記されている“誤った ATS フレーム”を用

いて再度手順 a)∼e)を実行する。

H.2.5.3  試験成績書

表 H.7 に従って,表 H.23 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.7RATS 及び ATS の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD コマンド手順が期待どおりの場合

合格

その他の場合

不合格

H.2.6  PPS 応答の扱い

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 5.6.2.1 に従って,PPS 要求の扱いを判定することを目的とする。

この試験は,PICC 活性化手順の一部としてプロトコル及びパラメタの選択機構を使用する PCD だけに


171

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

適用可能とする。PCD が PPS 機構を使用しない場合には,試験報告書の該当欄を適用外(N/A)とする。

H.2.6.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.6.2  準備手順

PCD をこの試験で必要な状態にするために,次の手順を用いる。

a) LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。 
b) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
c) LT は,関連する衝突防止メッセージを応答し,PCD が RATS を送信するまで待機する。

d) LT は,有効な TA≠“00”(高速のビット伝送速度に対応していることを示し,PPS は,この PICC に

よって対応されており,PCD は,PPS 手順を実行してもよい。

)の ATS を応答する。

H.2.6.2.1  手順  1

手順 H.2.6.2 の直後に次の手順を用いる。

a) LT は,PCD が有効な PPS 要求を送信するまで待機する。PPS 開始バイト,パラメタ 0 及びパラメタ 1

が RFU 値を含んでいないことを確認する。

注記 PPS 要求を送信することは,必須ではない。

b) LT は,PPS 応答を応答する。 
c) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
d) PCD は,選択されたパラメタを使用して I-block を,(可能であれば PICC 存在確認手順の後に)伝送

しなければならない。

シナリオ H.8PPS 要求及び応答の取扱い,手順  1

試験 PCD 

LT 

正しい PPS 応答 PPS 要求

← PPS 応答

パラメタ設定及び継続操作 UT が提供する I-block

H.2.6.2.2  手順  2

手順 H.2.6.2 の直後に次の手順を用いる。

a) LT は,PCD が有効な PPS 要求を送信するまで待機する。

b) LT は,誤った PPS 応答(不良 CRC_A を用いた)を返信する。 
c)  既定のビット伝送速度を用いて,PCD は,有効な PPS 要求を再送信してもよく,又は操作(例えば,

I-block を送信する。)を継続してもよい。

d) PPS 要求への応答なし(無応答)で処理を繰り返す。

シナリオ H.9PPS 要求及び応答の取扱い,手順  2

試験 PCD 

LT 

誤った PPS 応答

又は

無応答

PPS 要求

誤った PPS 応答  又は  無応答

a)

任意選択の PPS 要求  又は I-block

a)

  手順 d)で決まる。


172

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.2.6.3  試験成績書

表 H.8 に従って,表 H.23 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.8PPS 要求及び応答の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD コマンド手順が期待どおりの場合

合格

その他の場合

不合格

H.2.7  フレームサイズ選択機構

この試験は,伝送フレームのサイズの正しい扱いについて確認することを目的とする。伝送フレームサ

イズは,FSCI 指示値よりも長くしてはならない。少なくとも 0,1 及び 8 に設定した FSCI に対し,この試

験を実行しなければならない。

H.2.7.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.7.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,関連する衝突防止メッセージを応答し,PCD が有効な RATS コマンドフレームを送信するま

で待機する。

c) LT は,有効な ATS を用いて応答する。この試験の目的のために,LT は,構成バイト T0 =“70”を返

信する(JIS X 6322-4:2011 の 5.2.3 参照)

。PPS 要求がある場合には,LT は,次の手順を続行する前に

PPS 応答を返信する。 
LT によって受け入れられるフレームの最大サイズは,FSCI による。

d) UT は,LT によって受け入れられるフレームの最大サイズより大きいデータ長の SEND_UT_APDU

(UT_TEST_COMMAND2)を PCD に送信する。

e) PCD は,FSCI に従って,次の最大長の I(1)

0

ブロックを送信しなければならない。

シナリオ H.10−フレームサイズ選択機構

PCD  

LT 

RATS コマンドフレーム  (例  “E0 01” CRC_A)

ATS,T0 =  “70”

任意選択の PPS 要求は,可能であり,LT によって,I-block

より前に処理される。

PPS 応答(PPS 要求の場合)

I(1)

0

  (FSCI に従った最大長)

H.2.7.3  試験成績書

表 H.9 に従って,表 H.23 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.9−フレームサイズ選択機構の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD の動作が,全ての試験した FSCI の値に対して期待したシナリオに一致する場合

合格

その他の場合

不合格


173

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.2.8  開始フレーム保護時間の扱い

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 5.2.5 に従って,PCD 伝送タイミングを判定することを目的とする。

この試験は,SFGI を少なくとも 0,1 及び 14 に設定して実行しなければならない。

注記  SFGI (start-up frame guard time index)とは,開始フレーム保護時間整数値である(JIS X 

6322-4:2011 参照)。

H.2.8.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.8.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

次の処理中,RF 入力及び受信データを絶えず観測し,JIS X 6322-2:2011 の規定に一致していることを確

認しなければならない。通信の論理的内容と同様に,全ての信号変化(レベル及びタイミング)を記録し

なければならない。

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。

b) LT は,関連する衝突防止メッセージを応答し,PCD が有効な RATS コマンドフレームを送信するま

で待機する。

c) LT は,有効な ATS を用いて応答する。この試験の目的のために,LT は,構成バイト TB(1)として“0E”

を返信する(JIS X 6322-4:2011 の 5.2.5 参照)

。PPS 要求がある場合には,LT は,次の手順を続行する

前に PPS 応答を返信する。

値“0E”=b“00001110”の意味:

LT が受け入れるフレーム遅延の最小値は,(256×16/fc)×2

14

(約 4 949 ms)である。

d) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
e) PCD は,約 4 949 ms の最小遅延の後,次の I(0 又は 1)

0

ブロックを送信しなければならない。

シナリオ H.11−開始フレーム保護時間機構

PCD  

LT 

RATS コマンドフレーム  (例  “E0 01” CRC_A)

← ATS,TB (1) =“0E”

任意選択の PPS 要求は,可能であり,I-block より前に LT によ

って処理される。

→ 

 

← PPS 応答(PPS 要求の場合)

I(0 又は 1)

0

[ SFGT の経過後に送信する。  SFGT = (256 × 16/fc) ×2

14

 (約

4 949 ms)]

H.2.8.3  試験成績書

表 H.10 に従って,表 H.23 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.10−開始フレーム保護時間の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD の動作が,全ての試験した SFGI の値に対して期待したシナリオに一致する場合

合格

その他の場合

不合格


174

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.2.9  PCD による活性化における CID の扱い

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 5.6.3 に従って,CID の扱いを判定することを目的とする。

この試験は,UT が CID を選択できる場合には,少なくとも 0,1 及び 14 に設定された CID に対し実行

しなければならない。それら以外の場合には,PCD によって選択された CID だけを使用しなければならな

い。

H.2.9.1  試験装置

H.1 を参照。

H.2.9.2  手順

次の a)∼c)の手順で,PCD をこの試験を行うのに必要な状態にする。

a) LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。 
b) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。

c) LT は,関連する衝突防止メッセージを応答し,PCD が RATS を送信するまで待機する。LT は,ATS

を用いて応答する。

シナリオ H.12 の各試験に PCD が対応しているとき,次の d)∼h)の手順を適用する。

d) PCD をこの試験を行うのに必要な状態にする。 
e) LT は,PCD が PCD 欄に説明するコマンドを適用するまで待機する。 
f) LT は,LT 欄に説明するように応答する。

g) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
h) PCD は,PCD 欄に説明する条件を適用して I-block を LT に送信すると期待される。

シナリオ H.12CID の扱い

試験 PCD 

LT 

CID=n が 0 に等しくなく,
CID 対応を受信

RATS  (CID が 0 に等しくない。)

→ 

 
ATS(CID 対応)

 CID を使用する任意の有効コマンド

CID=n が 0 に等しくなく,
CID 非対応を受信

RATS  (CID が 0 に等しくない。)

→ 

 
ATS(CID 非対応)

 CID のない任意の有効コマンド

CID=n が 0 に等しく,CID
対応を受信

RATS  (CID が 0 に等しい。)

→ 

 
ATS(CID 対応)

 CID=0 を使用する,又は CID のない任意の

有効コマンド

CID=n が 0 に等しく,CID
非対応を受信

RATS  (CID が 0 に等しい。)

→ 

 
ATS(CID 非対応)

 CID のない任意の有効コマンド

H.2.9.3  試験成績書

表 H.11 に従って,表 H.23 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.11PCD による活性化における CID の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD コマンド手順が期待どおりの場合

合格

その他の場合

不合格


175

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.3

型固有の試験方法

H.3.1  入出力伝送タイミング

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.1 に従って,PCD 伝送タイミングを判定することを目的とする。

H.3.1.1  試験装置

H.1 を参照。

H.3.1.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置する。

次の処理中,RF 入力及び受信データを絶えず観測し,JIS X 6322-2:2011 の規定に一致していることを確

認しなければならない。通信の論理的内容と同様に,全ての信号変化(レベル及びタイミング)を記録し

なければならない。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。

b) PCD が送信したキャラクタ中のビット境界のタイミングを解析する(JIS X 6322-3:2011 の 7.1.1 参照)。 
c) PCD が送信した連続する二つのキャラクタ間の拡張保護時間(EGT)を解析する(JIS X 6322-3:2011 の

7.1.2 参照)。

d) PCD が送信した SOF のタイミングを解析する(JIS X 6322-3:2011 の 7.1.4 参照)。 
e) PCD が送信した EOF のタイミングを解析する(JIS X 6322-3:2011 の 7.1.5 参照)。 
f) PCD の SOF 以前のタイミングを解析する(JIS X 6322-3:2011 の 7.1.7 参照)。 
H.3.1.3

試験成績書

信号記録を報告する。H.3.1.2 の b)∼f)までの測定した値を,

表 H.22 の該当欄に記入し,表 H.24 の該当

欄に試験結果を記入する。

H.3.2

フレームサイズ選択機構

この試験は,JIS X 6322-3:2011 の 7.9 に従って,フレームサイズ選択機構を解析することを目的とする。

この試験は,最大フレームサイズコードを少なくとも 0,1 及び 8 に設定し実行しなければならない。

H.3.2.1  試験装置

H.1 を参照。

H.3.2.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。

b) LT は,PCD が有効な REQB・WUPB コマンドフレームを送信するまで待機する。 
c) LT は,ATQB を応答する。ここで,LT の PUPI を“12 23 34 45”とし,LT は,CID に対応すると仮

定する。この試験の目的のために,LT は,“01”に等しい第 2 番目のプロトコル情報バイトを返す(JIS 

X 6322-3:2011 の 7.9.4 参照)。この値は,LT の対応する最大フレームサイズが 16 バイトであり,LT

が JIS X 6322-4:2011 に適合していることを示す。

d) PCD は,有効な ATTRIB コマンドフレームを送信しなければならない。

e) LT は,ATTRIB コマンドに対する応答を送信する。 
f) PCD は,表 H.1 に従って,動作結果コードを UT に返信しなければならない。 
g) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND2)を PCD に送信する。

h) PCD は,シナリオ H.13 の PCD 欄に示すように,ブロックの長さが 16 バイト以下の I(1)

0

ブロックを

送信しなければならない。


176

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ H.13−フレームサイズ選択機構

PCD  

LT 

REQB・WUPB

← ATQB

ATTRIB コマンドフレーム

← ATTRIB コマンドに対する応答

I(1)

0

( INF は , 最 初 の ブ ロ ッ ク 連 鎖 と し , そ れ は ,
UT_TEST_COMMAND2 の先頭ブロックを含む。 
I(1)

0

の最大長は,16 バイトとする。

H.3.2.3

試験成績書

表 H.12 に従って,表 H.24 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.12−フレームサイズ選択機構の試験結果の判定

説明 

試験結果 

最大フレームサイズコードの設定が少なくとも 0,1 及び 8 に対して,PCD の動作が,試験

シナリオで期待したものに一致する場合

合格

その他の場合

不合格

H.3.3  PCD による活性化における CID の扱い

この試験は,JIS X 6322-3:2011 に従って,CID の扱いを判定することを目的とする。

この試験は,UT が CID を選択できる場合には,少なくとも 0,1 及び 14 に設定された CID に対して実

行しなければならない。ほかには,PCD によって選択された CID だけが使用されなければならない。

H.3.3.1

試験装置

H.1 を参照。

H.3.3.2

手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

H.3.3.2.1  手順 1

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,PCD が REQB・WUPB コマンドを送信するまで待機する。 
c) LT は,任意選択フレームビット(b2,b1)が b“00”に等しい ATQB を送信する。これは,CID 及び NAD

に対応しないことを意味する。

d) LT は,PCD が ATTRIB コマンドを送信するまで待機する。PCD は,Param 4 のバイト値が 0 に等し

い有効な ATTRIB コマンドフレームを送信しなければならない。

e) LT は,CID 値が 0 に等しい ATTRIB コマンドに対する応答を送信する。 
f) PCD は,表 H.1 に従って,動作結果コードを UT に返信しなければならない。 
g) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。

h) PCD は,NAD 及び CID なしで次の I(0 又は 1)

0

ブロックを送信しなければならない。

 


177

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ H.14CID の扱い,手順  1

PCD  

LT 

REQB・WUPB

任意選択フレームビット(b2,b1)が b“00”

の ATQB

ATTRIB コマンドフレーム 
(例  “1D 12 23 34 45 00 05 01 00” CRC_B)

→ 

 

← ATTRIB コマンドに対する応答

NAD 及び CID なしの I(0 又は 1)

0

H.3.3.2.2  手順  2

次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従い活性化手順を実行する。 
b) LT は,PCD が REQB・WUPB コマンドを送信するまで待機する。 
c) LT は,任意選択フレームビット(b2,b1)が  b“01”に等しい ATQB を送信する。これは,CID に対応

し,NAD に対応しないことを意味する。

d) LT は,PCD が ATTRIB コマンドを送信するまで待機する。PCD は,Param 4 のバイト値が“0X(CID=X

であり,X は,0∼14 の値)に等しい有効な ATTRIB コマンドフレームを送信しなければならない。

e) LT は,PCD が手順 d)で Param 4 のバイト値に割り当てた CID 値で ATTRIB コマンドに対する応答を

送信する。

f) PCD は,表 H.1 に従って動作結果コードを UT に返信しなければならない。 
g) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
h) PCD は,PCD が手順 d)で割り当てた CID 値を用いるか,又は,任意選択として,CID=0 の場合には,

CID を用いないで,次の I(0 又は 1)

0

ブロックを送信しなければならない。PCD は,この I(0 又は 1)

0

ブロックに NAD を使用してはならない。

シナリオ H.15CID の扱い,手順  2

PCD  

LT 

REQB・WUPB

任意選択フレームビット(b2,b1)が b

“01”の ATQB

CID 値 X が 0∼14 の ATTRIB コマンドフレーム 
(例  Param 4 =  “0X”)(例  “1D 12 23 34 45 00 05 01 0X” 
CRC_B)

→ 
 

← ATTRIB コマンドに対する応答

NAD なしで,CID 値が“0X”の I(0 又は 1)

0

H.3.3.3

試験成績書

表 H.13 に従って,表 H.24 の該当欄に試験結果を記入する。

表 H.13PCD による活性化における CID の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD コマンド手順が期待どおりの場合

合格

その他の場合

不合格


178

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.4

PCD の論理操作に対する試験方法

H.4.1 を除いて,この箇条で記述された全ての試験方法は,二度(A 型信号インタフェースで一度,及び,

B 型信号インタフェースで一度)適用しなければならない。 
H.4.1

ポーリングループの扱い

この試験は,ポーリング中の PCD の動作を判定することを目的とする。JIS X 6322-3:2011 の 5.1 で規定

する条件を適用しなければならない。

H.4.1.1  試験装置

H.1 を参照。

H.4.1.2

手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

次の処理中,RF 入力及び受信データを絶えず観測し,JIS X 6322-2:2011 の規定に一致していることを確

認しなければならない。通信の論理的内容と同様に,全ての信号変化(レベル及びタイミング)を記録し

なければならない。次の手順を実行する。

a) UT は,H.1.8.1 に従いプロトコル活性化手順を実行する。

b) PCD が有効な REQA・WUPA  コマンドフレーム及び有効な REQB・WUPB コマンドフレームを任意

の順序及び繰返しで送信するまで,LT は,待機する。

H.4.1.3  試験成績書

表 H.14 に従って,表 H.25 の該当欄に A 型及び B 型両方の試験結果を記入する。

表 H.14−ポーリングループの扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD が,REQA・WUPA コマンドフレーム及び REQB・WUPB コマンドフレームをそれぞ
れ少なくとも 1 度送信し,A 型及び B 型のコマンドの時間間隔が少なくとも 5 ms ある場

合。JIS X 6322-3:2011 の 5.1 で規定する条件を適用しなければならない。

合格

その他の場合

不合格

H.4.2

待ち時間延長要求に対する PCD の反応

この試験は,PICC がフレーム待ち時間延長要求(JIS X 6322-4:2011 の 7.3 参照)を使用する場合の PCD

の動作を判定することを目的とする。PCD による WTX 維持の仕組みについても試験する。

LT が B 型 PICC をエミュレートする場合には,この試験は,TR0 及び TR1 を LT の省略時値に設定し,

少なくとも 0,1 及び 14 に設定された FWI に対して実行しなければならない。

この試験は,

表 H.15 に従って,少なくとも 1,3 及び 59 に設定された WTXM に対して実行しなければ

ならない。


179

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 H.15−最小の組合せ

組合せ FWI WTXM 

1 0 1 
2 0 3 
3 0

59

4 1 1 
5 1 3 
6 1

59

7 14  1 
8 14  3 
9 14 59

H.4.2.1

試験装置

H.1 を参照。

H.4.2.2

手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

次の処理中,RF 入力及び受信データを絶えず観測し,JIS X 6322-2:2011 の規定に一致していることを確

認しなければならない。

通信の論理的内容と同様に,全ての信号変化(レベル及びタイミング)を記録し

なければならない。

UT は,A 型に対しては H.1.8.2 に従い,B 型に対しては H.1.8.3 に従い,プロトコル活性化手順を実行

する。

H.4.2.2.1

手順 1JIS X 6322-4:2011 の 7.3

手順 H.4.2.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I(0)

0

ブロックを PCD が LT に送信するまで,

LT は,

待機する。

c) LT は,フレーム待ち時間延長するため S(WTX)要求を送信する。 
d) PCD は,INF(b6∼b1)=WTXM となっている S(WTX)応答を送信しなければならない。

シナリオ H.16LT の待ち時間延長要求に対する PCD の反応,手順  1

PCD  

LT 

I(0)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1)

← S(WTX)要求

S(WTX)応答

H.4.2.2.1.1

期待する結果

PCD コマンドは,全ての組合せで,H.4.2 で定義される全ての FWI 値及び WTXM 値に対し,シナリオ

H.16 によることが期待される。全ての実施した試験に合格した場合にだけ,試験に合格とする。 
H.4.2.2.1.2

試験成績書

表 H.16 に従って,表 H.25 の該当欄に A 型及び B 型両方の試験結果を記入する。

 
 


180

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 H.16−待ち時間延長要求に対する PCD の反応,手順  1 の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD が,H.4.2 で定義される全ての FWI 値及び WTXM 値(試験するための最小の組合せは
表 H.15 で与えられる。)に対し,INF(b6∼b1) = WTXM で S(WTX)応答を送信する場合

合格

その他の場合

不合格

H.4.2.2.2  手順 2JIS X 6322-4:2011 の 7.3

手順 H.4.2.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。

b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,S(WTX)要求を送信する。

d) PCD は,INF(b6∼b1)=WTXM とした S(WTX)応答を送信しなければならない。期待した応答に一致し

ない場合には,ここで試験を終了する。

e)  次のビットタイミングパラメタを LT に設定する。

パラメタ 

 

参照 

一 時 的 な フ レ ー ム 応 答 時 間 
FWT

TEMP

WTXM×(256×16/fc)×2

FWI

JIS X 6322-3:2011 の 7.9.4.3 
JIS X 6322-4:2011 の 7.2  及び 7.3

JIS X 6322-3:2011 で定義される EGT  最大値 (19 μs)

JIS X 6322-3:2011 の 7.1.2 

注記  フレーム応答時間は,受信フレームの EOF 後縁と次に送信されるフレームの SOF 前縁との間の時

間と定義される。

f) LT は,b)で送られた UT_TEST_COMMAND1 コマンドの応答を送信する。 
g) PCD は,UT_APDU 応答(コマンド UT_TEST_COMMAND1 に対する応答)を UT に伝送することが

期待される。

h) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
i) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。PCD は,ここで FWT をリセットしなければならない。

j) LT は,少なくとも期待された FWT の間,無応答のままでいる。このことは,PCD に対する FWT タ

イムアウトを意味する。

k) PCD 応答の有無,内容,及びタイミングを記録する。PCD は,FWT タイムアウトの後にだけ,R(NAK)

ブロックを送信しなければならない(JIS X 6322-4:2011 の 7.5.4.2

l)

手順 i)の PCD フレームの終了から手順 k)の PCD フレームの開始までの時間を測定し記録する。

シナリオ H.17LT の待ち時間延長要求に対する PCD の反応,手順  2

PCD  

LT 

I(0)

0

  (INF = UT_TEST_COMMAND1)

← S(WTX)要求(WTXM は,試験設定による。)

S(WTX)応答

← I(0)

0

 (INF = UT_TEST_COMMAND1 に対する応答)

I(0)

1

  (INF = UT_TEST_COMMAND1)

無応答

R(NAK)


181

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.4.2.2.2.1

期待する結果

PCD コマンドは,全ての組合せで,H.4.2 で定義される全ての FWI 及び WTXM 値に対し,シナリオ H.17

によることが期待される。これらの異なった値の全ての試験に合格した場合にだけ,試験に合格とする。

H.4.2.2.2.2

試験成績書

表 H.17 に従って,表 H.25 の該当欄に A 型及び B 型両方の試験結果を記入する。

表 H.17−待ち時間延長要求に対する PCD の反応,手順  2 の試験結果の判定

説明 

試験結果 

TEST_COMMAND1 に対する応答が UT に返送されなかった場合,又は,PCD が H.4.2 で定
義される少なくとも一つの FWI 値及び WTXM 値の組合せ(試験するための最小の組合せは
表 H.15 で与えられる。)に対する FWT タイムアウト前に R(NAK)を送信した場合

不合格

その他の場合

合格

H.4.3

誤り検出及び回復

この試験は,JIS X 6322-4:2011 の 7.5.6 に従って,誤りが起きたときの PCD の動作を判定することを目

的とする。

注記  この細分箇条では,“誤りのあるブロック”とは,不良 CRC をもつフレームとする。

H.4.3.1

試験装置

H.1 を参照。

H.4.3.2

手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

次の処理中,RF 入力及び受信データを絶えず観測し,JIS X 6322-2:2011 の規定に一致していることを確

認しなければならない。通信の論理的内容と同様に,全ての信号変化(レベル及びタイミング)を記録し

なければならない。

UT は,A 型に対しては H.1.8.2 に従い,B 型に対しては H.1.8.3 に従い,プロトコル活性化手順を実行

する。

H.4.3.2.1

手順 1JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 12

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,誤りのある I-block を PCD に送信する。 
d) PCD は,R(NAK)

0

を送信しなければならない。

e) LT は,I-block を PCD に送信する(この I-block は,UT_TEST_COMMAND1 に対する UT_APDU 応答

を含む。

f) PCD は,UT_APDU 応答を UT に伝送することが期待される。UT は,この UT_APDU 応答が正しく受

け入れられることを確認する。

 
 


182

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ H.18PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復

JIS X 6322-4:2011

の附属書 におけるシナリオ 12),手順  1

PCD  

LT 

I(0)

0

(INF=UT_TEST_COMMAND1)

← I(0)

0

  (INF = UT_TEST_COMMAND1 に対する応答,

不良 CRC)

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 又は“B2” CRC)

→ 

← I(0)

0

  (INF= UT_TEST_COMMAND1 に対する応答)

H.4.3.2.2

手順 2JIS X 6322-4:2011 の 7.5.4.2 規則 4

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。

b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,誤りのあるブロックを PCD に送信する。

d) PCD は,R(NAK)

0

を送信しなければならない。

e) LT は,2 度目の無効なブロックを PCD に送信する。 
f) PCD は,R(NAK)

0

又は S(DESELECT)要求のいずれかを送信しなければならない。

シナリオ H.19PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,手順  2

PCD  

LT 

I(0)

0

(INF=UT_TEST_COMMAND1)

← I(0)

0

  (INF= UT_TEST_COMMAND1 に対する応答,

不良 CRC)

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 又は“B2” CRC)

→ 

← I(0)

0

  (INF= UT_TEST_COMMAND1 に対する応答,

不良 CRC)

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 若しくは“B2” CRC)

又は 
S(DESELECT)

H.4.3.2.3

手順 3JIS X 6322-4:2011 の 7.5.4.2 規則 4

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。

b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,無応答のままでいる。

d) PCD からの全ての応答を記録する。PCD は,少なくとも 1 回 R(NAK)

0

を送信しなければならない。

 
 
 


183

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ H.20PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,手順  3

PCD  

LT 

I(0)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1)

無応答

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 又は“B2” CRC)

無応答

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 若しくは“B2” CRC)

又は 
S(DESELECT)

H.4.3.2.4

手順 4JIS X 6322-4:2011 の 7.5.4.2 規則 7

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,(プロトコルに違反して)R(ACK)

0

を送信する。

d) PCD は,S(DESELECT)要求を送信しなければならない。

シナリオ H.21PCD による誤り検出及びプロトコル誤りの回復,手順 4

PCD  

LT 

I(0)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1)

← R(ACK)

0

(“AA” CID CRC 又は“A2” CRC)

a)

S(DESELECT)要求

a)

 PCD ブロックが CID を含んでいる場合には,左側が選択され,その他の場合には,右側が選択さ

れなければならない。

H.4.3.2.5

手順 5 (ブロック連鎖中) (JIS X 6322-4:2011 の 7.5.4.2  規則 5,及び,JIS X 6322-4:2011 

附属書 におけるシナリオ 23

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,ブロック連鎖の最初の I ブロックの I(1)

0

を送信して,PCD からの応答を待つ。

d) PCD は,R(ACK)

1

を送信しなければならない。

e) LT は,誤りのある I ブロックの I(0)

1

を PCD に送信する。

f) PCD は,R(ACK)

1

を送信しなければならない。

 
 
 
 
 


184

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ H.22PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,

手順  5JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 23

PCD  

LT 

I(0)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1)

← I(1)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1 に対する応答の

先頭ブロック連鎖)

R(ACK)

1

  (“AB” CID CRC 又は“A3” CRC)

→ 

 

← I(0)

1

  (INF=UT_TEST_COMMAND1 に対する応答の

最終ブロック連鎖,不良 CRC)

R(ACK)

1

H.4.3.2.6

手順  6JIS X 6322-4:2011 の 7.5.4.2

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。

b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,誤りのあるブロックを PCD に送信する。

d) PCD は,R(NAK)

0

を送信しなければならない。

e) LT は,無応答のままでいる。 
f) PCD からの全ての応答を記録する。PCD は,R(NAK)

0

又は S(DESELECT)のいずれかを送信しなけれ

ばならない。

シナリオ H.23PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,手順  6

PCD  

LT 

I(0)

0

(INF=UT_TEST_COMMAND1)

← I(0)

0

(INF=UT_TEST_COMMAND1 に対する応答,

不良 CRC)

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 又は“B2” CRC)

→ 

無応答

R(NAK)

0

又は 
S(DESELECT)要求

H.4.3.2.7

手順 7JIS X 6322-4:2011 の 7.5.6,及び,JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 14

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,誤りのある S(WTX)要求を送信する。 
d) PCD は,R(NAK)

0

を送信しなければならない。

e) LT は,有効な S(WTX)要求を送信する。

f) PCD は,S(WTX)応答で返さなければならない。


185

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

g) LT は,I-block を PCD に送信する(この I-block は,UT_TEST_COMMAND1 に対する UT_APDU 応答

を含む。

h) PCD は,UT_APDU 応答を UT に伝送することが期待される。UT は,この UT_APDU 応答が正常に受

け入れられることを確認する。

シナリオ H.24PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,

手順 7JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 14

PCD  

LT 

I(0)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1)

← S(WTX)要求,不良 CRC

R(NAK)

0

  (“BA” CID CRC 又は“B2” CRC)

← S(WTX)要求

S(WTX)応答

← I(0)

0

  (UT_TEST_COMMAND1 に対する応答)

H.4.3.2.8

手順  8JIS X 6322-4:2011 の 7.5.6,及び,JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 17

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
b) INF フィールドを UT_TEST_COMMAND1 とした I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機

する。

c) LT は,S(WTX)要求ブロックを送信する。 
d) PCD は,S(WTX)応答で返さなければならない。

e) LT は,誤りのある I ブロックの I(0)

0

を送信する。

f) PCD は,R(NAK)

0

を送信しなければならない。

g) PCD の FWT が拡張されたままでいることを確認するために,LT は,R(NAK)

0

と I(0)

0

との間の最大タ

イミングで有効な I ブロックの I(0)

0

を送信する。

h) PCD は,UT_APDU 応答を UT に伝送することが期待される。UT は,この UT_APDU 応答が正常に受

け入れられることを確認する。

シナリオ H.25PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,

手順 8  JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 17

PCD  

LT 

I(0)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1)

← S(WTX)要求

S(WTX)応答

← I(0)

0

(INF= UT_TEST_COMMAND1 に対する応答,不良 CRC)

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 又は“B2” CRC)

← I(0)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1 に対する応答)

H.4.3.2.9

手順  9(ブロック連鎖中) (JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 20

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(三つのブロック連鎖を生じる UT_TEST_COMMAND2)を PCD に送信する。


186

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

b) UT_TEST_COMMAND2 の最初の連鎖ブロックの INF フィールドで,I-blockI(1)

0

を PCD が LT に送信

するまで,LT は,待機する。

c) LT は,誤りのある R(ACK)

0

を送信する。

d) PCD は,R(NAK)

0

を送信しなければならない。

e) LT は,R(ACK)

0

を送信する。

f) PCD は,ブロック連鎖の次のブロックの I(1)

1

を送信しなければならない。

g) LT は,R(ACK)

1

を送信する。

h) PCD は,ブロック連鎖の最後のブロックの I(0)

0

を送信しなければならない。

i) LT は,I-block(UT_TEST_COMMAND2 に対する UT_APDU 応答を含む。)を PCD に送信する。 
j) PCD は,UT_APDU 応答を UT に伝送することが期待される。UT は,この UT_APDU 応答が正常に受

け入れられることを確認する。

注記 UT が PCD に TEST_COMMAND2 を三つの連鎖ブロックを使って送信させることができない場

合には,手順 c)の伝送誤り後のブロック番号付け及びブロック連鎖が適切に行われることを確

認する試験目的を反映するように,期待された手順を変更する。

シナリオ H.26PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,

手順 9 (ブロック連鎖中)  JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 20

PCD  

LT 

I(1)

0

(INF = UT_TEST_COMMAND2 の先頭

ブロック連鎖)

→ 

← R(ACK)

0

,  不良 CRC

  (“AA” CID “00 00”又は“A2 00 00”)

a)

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 又は“B2” CRC)

→ 

← R(ACK)

0

(“AA” CID CRC 又は“A2” CRC)

a)

I(1)

1

(INF = UT_TEST_COMMAND2 の 2 番

目のブロック連鎖)

→ 

 

← R(ACK)

1

(“AB” CID CRC 又は“A3” CRC)

a)

I(0)

0

(INF = UT_TEST_COMMAND2 の最終

ブロック連鎖)

→ 

 

← I(0)

0

(INF= UT_TEST_COMMAND2 に対する応答)

a)

PCD フレームが CID を含んでいる場合には,左側が選択され,その他の場合には,右側が選択されな
ければならない。

H.4.3.2.10

手順 10(ブロック連鎖中) (JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 21 参照)

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(三つのブロック連鎖を生じる UT_TEST_COMMAND2)を PCD に送信する。

b) UT_TEST_COMMAND

2 の最初の連鎖ブロックの INF フィールドで,I-blockI(1)

0

を PCD が LT に送信

するまで,LT は,待機する。

c) LT は,R(ACK)

0

を送信する。

d) PCD は,次の連鎖ブロック I(1)

1

を送信しなければならない。

e) LT は,無応答のままでいる。


187

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

f) PCD は,R(NAK)

1

を送信しなければならない。

g) LT は,R(ACK)

0

を送信する。

h) PCD は,前の I-block の I(1)

1

を LT に再度送信しなければならない。

i) LT は,R(ACK)

1

を送信する。

j) PCD は,最後の連鎖ブロック I(0)

0

を送信しなければならない。

k) LT は,I-block(UT_TEST_COMMAND2 に対する UT_APDU 応答を含む。)を PCD に送信する。 
l) PCD は,UT_APDU 応答を UT に伝送することが期待される。UT は,この UT_APDU 応答が正常に受

け入れられることを確認する。

注記 1 UT が PCD に TEST_COMMAND2 を三つの連鎖ブロックを使って送信させることができない

場合には,手順 c)の無応答後のブロック番号付け及びブロック連鎖が適切に行われることを

確認する試験目的を反映するように,期待された手順を変更する。

注記 2  上記 a)∼l)の手順は,次のシナリオ H.27JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ  21

参照)と一致するように修正している。

シナリオ H.27PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,

手順 10(ブロック連鎖中)  JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 21

PCD  

LT 

I(1)

0

  (INF = UT_TEST_COMMAND2 の先頭ブロック

連鎖)

→ 

← R(ACK)

0

(“AA” CID CRC 又は“A2” CRC)

a)

I(1)

1

(INF = UT_TEST_COMMAND2 の 2 番目のブロッ

ク連鎖)

無応答

R(NAK)

1

    (“BB” CID CRC 又は“B3” CRC)

→ 

← R(ACK)

0

(“AA” CID CRC 又は“A2” CRC)

a)

I(1)

1

(INF = UT_TEST_COMMAND2 の 2 番目のブロッ

ク連鎖)

→ 

← R(ACK)

1

(“AB” CID CRC 又は“A3” CRC)

a)

I(0)

0

(INF = UT_TEST_COMMAND2 の最終ブロック連

鎖)

→ 

← I(0)

0

(INF= UT_TEST_COMMAND2 に対する

応答)

a)

 PCD ブロックが CID を含んでいる場合には,左側が選択され,その他の場合には,右側が選択されな

ければならない。

H.4.3.2.11

手順 11(ブロック連鎖中) (JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 24

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
b) UT_TEST_COMMAND1 の INF フィールドで,I-block の I(0)

0

を PCD が LT に送信するまで,LT は,

待機する。

c) LT は,ブロック連鎖を示す I-block の I(1)

0

を送信する。


188

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

d) PCD は,R(ACK)

1

を送信しなければならない。

e) LT は,誤りのある I-block の I(1)

1

を PCD に送信する。

f) PCD は,R(ACK)

1

を送信しなければならない。

g) LT は,誤りのない I-block の I(1)

1

を再送信する。

h) PCD は,R(ACK)

0

を送信しなければならない。

i) LT は,最後の連鎖ブロックの I-blockI(0)

0

(UT_TEST_COMMAND1 に対する UT_APDU 応答を含む。)

を PCD に送信する。

j) PCD は,全てのブロック連鎖セグメントを含む UT_APDU 応答を UT に伝送することが期待される。

UT は,この UT_APDU 応答が正常に受け入れられることを確認する。

シナリオ H.28PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,

手順 11(ブロック連鎖中)  JIS X 6322-4:2011 の附属書 におけるシナリオ 24

PCD  

LT 

I(0)

0

  (INF=UT_TEST_COMMAND1)

← I(1)

0

(INF = UT_TEST_COMMAND1 に対する応答の先頭

ブロック連鎖)

R(ACK)

1

(“AB” CID CRC 又は“A3” CRC)

→ 

 

← I(1)

1

(INF = UT_TEST_COMMAND1 に対する応答の 2 番

目のブロック連鎖,不良 CRC)

R(ACK)

1

(“AB” CID CRC 又は“A3” CRC)

→ 

← I(1)

1

(INF = UT_TEST_COMMAND1 に対する応答の 2 番

目のブロック連鎖)

R(ACK)

0

(“AA” CID CRC 又は“A2” CRC)

→ 

 

← I(0)

0

(INF = UT_TEST_COMMAND1 に対する応答の最終

ブロック連鎖)

H.4.3.2.12

手順 12JIS X 6322-4:2011 の 7.5.4.2 規則 8

手順 H.4.3.2 の直後に次の手順を用いる。

a) UT は,SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1)を PCD に送信する。 
b) UT_TEST_COMMAND1 の INF フィールドで I-block を PCD が LT に送信するまで,LT は,待機する。

c) LT は,無応答のままでいる。 
d) PCD が R(NAK)

0

ブロックを送信するまで,LT は,待機する(PCD は,R-block を 2 回以上送信して

もよい。

e) LT は,無応答のままでいる。 
f) PCD が S(DESELECT)要求を LT に送信するまで,LT は,待機する。 
g) LT は,無応答のままでいる。

h) PCD からの応答を記録する。PCD は,S(DESELECT)要求を再送信又は LT を無視しなければならない。


189

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ H.29PCD による誤り検出及び伝送誤りの回復,手順 12

PCD  

LT 

I(0)

0

(INF=UT_TEST_COMMAND1)

無応答

R(NAK)

0

(“BA” CID CRC 又は“B2” CRC)

無応答

S(DESELECT)要求 
(“CA” CID CRC 又は“C2” CRC)

無応答

PCD 応答

H.4.3.3

試験成績書

表 H.18 に従って,表 H.25 の該当欄に A 型及び B 型両方の試験結果を記入する。

表 H.18−誤り検出及び回復の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD コマンド手順が期待どおりの場合

合格

その他の場合

不合格

H.4.4

ブロック連鎖中の NAD の扱い

この試験は,PCD が適切な方法で NAD を維持することを確認することを目的とする。

H.4.4.1  試験装置

H.1 を参照。

H.4.4.2  手順

LT を PCD の動作空間中に設置し,PCD コマンドの有無及び内容を記録する。

次の手順を実行する。

a) NAD に対応している LT を構成する。 
b)  シナリオ H.26 の手順を繰り返す。 
H.4.4.3

試験成績書

表 H.19 に従って,表 H.25 の該当欄に A 型及び B 型両方の試験結果を記入する。

表 H.19−ブロック連鎖中の NAD の扱いの試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD がブロック連鎖の先頭パケットだけで NAD を使用する場合,又は NAD を
使用しない場合

合格

その他の場合

不合格

H.5  PCD が送信するパケットの連続観測

この試験は,PCD が,送信したフレーム中のいかなる RFU ビットをも,RFU ビットとして記述された

省略時値以外の値に設定しないことを確認することを目的とする。さらに,この試験は,RFU 値に設定し

たフィールドが全くないことも確認しなければならない。また,試験は,R-block 及び S-block がプロトコ

ル定義に一致していること,並びにパケットの先頭バイトに関して与えられた規則に違反していないこと

も確認しなければならない。


190

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.5.1

RFU フィールド

RFU フィールドを試験の間,絶えず観測し,割り当てられた省略時値となっていることを常に確認しな

ければならない。RFU フィールドが省略時値に設定されない場合には,常に,試験は,不合格とし,試験

した PCD を不適合としなければならない。

H.5.2  RFU 

機能フィールドを試験の間,絶えず観測し,規格で示された機能値又は規格で示された個別値だけを含

むことを常に確認しなければならない。

機能フィールドが両者に設定されていない場合には,常に,試験は,不合格とし,試験した PCD を不適

合としなければならない。

H.5.3  R-block

R-block は,INF フィールドを決して含んではならない(JIS X 6322-4:2011 の 7.1.1.1 参照)。

H.5.4

S-block

WTX ブロックの場合,S-block は,1 バイトの INF フィールドを含まなければならない。その他の場合,

S-block は,INF フィールドを含んではならない(JIS X 6322-4:2011 の 7.1.1.1 参照)。

H.5.5

PCB

PCB バイトは,許容された値を含まなければならない(JIS X 6322-4:2011 の 7.1.1.1 及び JIS X 6322-4:2011

附属書 参照)。

H.5.6  型初期化フレーム

A 型の初期化フレームは,許容された値を含まなければならない(JIS X 6322-3:2011 の 6.4.1 及び 6.5.3.2

参照)

H.5.7

試験装置

H.1 を参照。

H.5.8  手順

全ての試験手順及びシナリオの実行中,通信の論理的な内容を常に記録しなければならない。

H.5.9

試験成績書

表 H.20 に従って,表 H.25 及び表 H.27 の該当欄に A 型及び B 型両方の試験結果を記入する。

表 H.20PCD が送信するパケットの連続観測の試験結果の判定

説明 

試験結果 

PCD が,次の全ての条件を満足する場合 
・全ての送信したフレーム中の RFU ビットを省略時値に設定する場合

・どのフィールドにも RFU 値を決して設定しない場合

・R-block 及び S-block の長さ規則に違反していない場合

・ブロック及びフレームの先頭バイトの符号化規則に違反していない場合

JIS X 6322-4:2011 の

附属書 に参考としてまとめられている。)

合格

PCD が,次の少なくとも一つの条件に該当する場合 
・送信したフレーム中の少なくとも一つの RFU ビットを省略時値以外の値に設定する場合

・いずれかのフィールドを RFU 値に設定する場合

・R-block 又は S-block の長さ規則に違反する場合

・ブロック及びフレームの先頭バイト符号化規則に違反する場合

JIS X 6322-4:2011 の

附属書 に参考としてまとめられている。)

不合格


191

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

H.6

試験結果報告

表 H.21型固有のタイミング表

No 

パラメタ 

引用 JIS 

引用する値 

測定値 

1 PICC から PCD へのフ

レーム遅延時間

JIS X 6322-3:2011 の 6.2.1.2 少なくとも 1 172/fc(約 86 μs)

2

リクエスト保護時間

JIS X 6322-3:2011 の 6.2.2

少なくとも 7 000/fc(約 512 μs)

注記  全てのタイミング値は,搬送波の周波数 fc=13.56 MHz 及びビット伝送速度 fc/128(約 106 kbit/s)

に対し計算する。

表 H.22型固有のタイミング表

No 

パラメタ 

引用 JIS 

最小値 

最大値 

測定値

1 SOF 論理 0

JIS X 6322-3:2011 の
7.1.4

10 etu  (約 94.40 μs) 11 etu(約 103.83 μs)

2 EOF 論理 0

JIS X 6322-3:2011 の
7.1.5

10 etu  (約 94.40 μs) 11 etu(約 103.83 μs)

3

ビット境界

JIS X 6322-3:2011 の
7.1.1

(n – 0.125) etu

(n + 0.125) etu

4 PCD から PICC への

EGT

JIS X 6322-3:2011 の
7.1.2

0 μs 57

μs

5 PICC の EOF 開始と

PCD SOF 開始との間
の最小時間間隔

JIS X 6322-3:2011 の
7.1.7

10 etu + 32/fs

なし

注記  全てのタイミング値は,搬送波の周波数 fc=13.56 MHz 及びビット伝送速度 fc/128(約 106 kbit/s)

に対し計算する。

表 H.23型固有の試験方法に対する試験結果報告

この規格の試験方法 

シナリオ番号 

試験結果 

細分 
箇条 

パラメタ 

この規格の

試験シナリオ番号 

合格,不合格,又は

適用外(NA

a)

H.2.1 

PICC から PCD へのフレーム遅延時間

H.2.2 

リクエスト保護時間

H.2.3 

ATQA 中のビット衝突の扱い

H.2.4 

衝突防止ループの扱い

シナリオ H.1

シナリオ H.2

シナリオ H.3

シナリオ H.4

H.2.5 

RATS 及び ATS の扱い

シナリオ H.5

シナリオ H.6

シナリオ H.7

H.2.6 

PPS 応答の扱い

シナリオ H.8

シナリオ H.9

H.2.7 

フレームサイズ選択機構

シナリオ H.10

H.2.8 

開始フレーム保護時間の扱い

シナリオ H.11

H.2.9 

PCD による活性化における CID の扱い

シナリオ H.12

a)

  幾つかの手順からなる試験の場合,個々の手順が合格である場合にだけ合格と記す。


192

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 H.24型固有の試験方法に対する試験結果報告

この規格の試験方法 

シナリオ番号 

試験結果 

細分 
箇条 

パラメタ 

この規格の

試験シナリオ番号 

合格又は不合格

a)

H.3.1 

入出力伝送タイミング

H.3.2 

フレームサイズ選択機構

シナリオ H.13

H.3.3 

PCD による活性化における CID の扱い

シナリオ H.14

シナリオ H.15

a)

  幾つかの手順からなる試験の場合,個々の手順が合格である場合にだけ合格と記す。

表 H.25PCD の論理操作に対する試験方法に対する試験結果報告

この規格の試験方法 

シナリオ番号 

試験結果 

細分 
箇条 

パラメタ 

この規格の

試験シナリオ番号

JIS X 6322-4:2011

の附属書 の試

験シナリオ番号 

a)

  B 

a)

H.4.1 

ポーリングループの扱い

H.4.2 

待ち時間延長要求に対する PCD の

反応

シナリオ H.16

シナリオ H.17

H.4.3 

誤り検出及び回復

シナリオ H.18

シナリオ 12   
I ブロックの交換

シナリオ H.19

シナリオ H.20

シナリオ H.21

シナリオ H.22

シナリオ 23   
PICC がブロック
連鎖を使用

シナリオ H.23

シナリオ H.24

シナリオ 14

待 ち 時 間 延 長 の

要求

シナリオ H.25

シナリオ 17

待 ち 時 間 延 長 の

要求

シナリオ H.26

シナリオ 20   
PCD がブロック
連鎖を使用

シナリオ H.27

シナリオ 21     
PCD がブロック
連鎖を使用

シナリオ H.28

シナリオ 24     
PICC がブロック
連鎖を使用

シナリオ H.29

H.4.4 

ブロック連鎖中の NAD の扱い

H.5 

PCD が送信するパケットの連続観

a)

  幾つかの手順からなる試験の場合,個々の手順が合格である場合にだけ合格と記す。


193

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 H.26−試験範囲の報告

No 

パラメタ 

説明 

情報 

1

ブロック連鎖 16 バイト以上をサポートするコマンドがある場合にだけ

試験する。

2 NAD の扱い

表 H.27PCD の RFU に関する報告

名称 PCD コマンド RFU フィールド/

 

 

試験結果 

省略時 

違反 

合格,不合格,

又は

実行せず 

短フレーム 
A 型 PICC

REQA/WUPA RFU 値

JIS X 6322-3:2011 の
表 で RFU として規
定される全ての値

SEL 符号化 SEL

RFU 値

JIS X 6322-3:2011 の
表 で RFU として規
定される全ての値

AFI REQB/WUPB

RFU 値

JIS X 6322-3:2011 の
表 22 で RFU として
規定される全ての値

PARAM REQB/WUPB

RFU フィールド 
(b8∼b5)

b“000”

他の全ての値

ス ロ ッ ト の 数 の
RFU 値 
(b3∼b1)

b“101” 
b“110” 
b“111”

Param1 ATTRIB  RFU フィールド

(b2∼b1)

b“00”

他の全ての値

TR0 最小値 ATTRIB

RFU 値 
(b8∼b7)

b“11”

TR1 最小値 ATTRIB

RFU 値 
(b6∼b5)

b“11”

Param 2

ATTRIB

RFU 値 
(b4∼b1)

“9”(b“1001”) ∼

“F”(b“1111”) の

全ての値

Param 3

ATTRIB

RFU フィールド 
 (b8∼b4)

b“00000”

他の全ての値

Param 4 

ATTRIB 

RFU フィールド 
(b8∼b5)

b“0000”

他の全ての値

RFU 値 
(b4∼b1)

“F”(b“1111”)


194

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

附属書 I

規定)

PCD

用高速伝送選択の試験方法

I.1

試験装置

この試験における PCD 試験装置は,この試験実行中,伝送速度を変更する機能をもたなければならない。

試験装置は,試験手順の各段階で伝送速度を変更できなければならない。

I.2

手順

PCD の動作磁界中に PCD 試験装置を置く。

I.2.1

型に対する試験手順

表 I.1 に規定するインタフェースバイト TA(1)の全ての値に対して,次の手順を繰り返さなければならな

い。

a)  JIS X 6322-3:2011 に規定する活性化手順を実行する。

b) PCD は,JIS X 6322-4:2011 に規定する RATS コマンドを送出しなければならない。 
c) PCD 試験装置は,表 I.1 に基づく TA(1)を含む有効な ATS を返信する。 
d) PCD は,表 I.1 に基づく PPS1 を設定する有効な PPS を任意選択として送出してもよい。 
e) PCD が PPS を送出した場合,PCD 試験装置は,受信した PPS  を有効な PPS と認識する。 
f) PCD は,選択した伝送速度を使用して,I(0)

0

ブロックを送出しなければならない。

注記 1  このブロックは,I(1)

0

でもよいが,JIS X 6322-4:2011 の 7.5.5.2 に規定する PICC の存在試

験 2a の場合は,R(NAK)でもよい。

g) PCD 試験装置は,選択された伝送速度で有効な応答を送出する。PCD が PCD 試験装置からの応答を

受け取ったことを確認する。

注記 2  以降の手順は,PCD が製品の中に組み込まれた場合は適用しなくてもよい。

h) PCD は,選択された伝送速度で S(DESELECT)要求を送出しなければならない。 
i) PCD 試験装置は,選択した伝送速度を使用して,有効な S(DESELECT)応答を送出する。PCD が PCD

試験装置からの応答を受け取ったことを確認する。

j) PCD は,fc/128 の伝送速度で有効な WUPA コマンドを送出しなければならない。 
k) PCD 試験装置は,有効な ATQA を応答する。


195

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 I.1TA(1)を含む ATS 受信後の PCD の正しい状態

TA(1) PPS1 に設定する有効なパラメタ 

b"10000000" b"00000000"

a)

b"10010001" b"00000101",

b"00000000"

b"10100010" b"00001010",

b"00000000"

b"10110011"

b"00000101", b"00001010", b"00000000"

b"11000100" b"00001111",

b"00000000"

b"11010101"

b"00000101", b"00001111", b"00000000"

b"11100110"

b"00001010", b"00001111", b"00000000"

b"11110111"

b"00000101", b"00001010", b"00001111", b"00000000"

b"00000000" b"00000000"

a)

b"00000001" b"00000001",

b"00000000"

b"00000010" b"00000010",

b"00000000"

b"00000011"

b"00000001", b"00000010", b"00000000"

b"00000100" b"00000011",

b"00000000"

b"00000101"

b"00000001", b"00000011", b"00000000"

b"00000110"

b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000111"

b"00000001", b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00010000"

b"00000000"
b"00000100"

b"00010001"

b"00000001", b"00000000"
b"00000101", b"00000100"

b"00010010"

b"00000010", b"00000000"

b"00000110", b"00000100"

b"00010011"

b"00000001", b"00000010", b"00000000"

b"00000101", b"00000110", b"00000100"

b"00010100"

b"00000011", b"00000000"

b"00000111", b"00000100"

b"00010101"

b"00000001", b"00000011", b"00000000"

b"00000101", b"00000111", b"00000100"

b"00010110"

b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000110", b"00000111", b"00000100"

b"00010111"

b"00000001", b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000101", b"00000110", b"00000111", b"00000100"

b"00100000"

b"00000000"
b"00001000"

b"00100001"

b"00000001", b"00000000"
b"00001001", b"00001000"

b"00100010"

b"00000010", b"00000000"
b"00001010", b"00001000"

b"00100011"

b"00000001", b"00000010", b"00000000"
b"00001001", b"00001010", b"00001000"

b" 00100100"

b"00000011", b"00000000"
b"00001011", b"00001000"

b"00100101"

b"00000001", b"00000011", b"00000000"
b"00001001", b"00001011", b"00001000"

b"00100110"

b"00000010", b"00000011", b"00000000"
b"00001010", b"00001011", b"00001000"

b"00100111"

b"00000001", b"00000010", b"00000011", b"00000000"
b"00001001", b"00001010", b"00001011", b"00001000"


196

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 I.1TA(1)を含む ATS 受信後の PCD の正しい状態(続き)

TA(1) PPS1 に設定する有効なパラメタ 

b"00110000"

b"00000000"
b"00000100"
b"00001000"

b"00110001"

b"00000001", b"00000000"
b"00000101", b"00000100"
b"00001001", b"00001000"

b"00110010"

b"00000010", b"00000000"

b"00000110", b"00000100"

b"00001010", b"00001000"

b"00110011"

b"00000001", b"00000010", b"00000000"

b"00000101", b"00000110", b"00000100"

b"00001001", b"00001010", b"00001000"

b"00110100"

b"00000011", b"00000000"

b"00000111", b"00000100"

b"00001011", b"00001000"

b"00110101"

b"00000001", b"00000011", b"00000000"

b"00000101", b"00000111", b"00000100"

b"00001001", b"00001011", b"00001000"

b"00110110"

b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000110", b"00000111", b"00000100"

b"00001010", b"00001011", b"00001000"

b"00110111"

b"00000001", b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000101", b"00000110", b"00000111", b"00000100"

b"00001001", b"00001010", b"00001011", b"00001000"

b"01000000"

b"00000000"

b"00001100"

b"01000001"

b"00000001", b"00000000"

b"00001101", b"00001100"

b"01000010"

b"00000010", b"00000000"

b"00001110", b"00001100"

b"01000011"

b"00000001", b"00000010", b"00000000"

b"00001101", b"00001110", b"00001100"

b"01000100"

b"00000011", b"00000000"

b"00001111", b"00001100"

b"01000101"

b"00000001", b"00000011", b"00000000"

b"00001101", b"00001111", b"00001100"

b"01000110"

b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00001110", b"00001111", b"00001100"

b"01000111"

b"00000001", b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00001101", b"00001110", b"00001111", b"00001100"


197

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 I.1TA(1)を含む ATS 受信後の PCD の正しい状態(続き)

TA(1) PPS1 に設定する有効なパラメタ 

b"01010000"

b"00000000"
b"00000100"

b"00001100"

b"01010001"

b"00000001", b"00000000"
b"00000101", b"00000100"

b"00001101", b"00001100"

b"01010010"

b"00000010", b"00000000"

b"00000110", b"00000100"

b"00001110", b"00001100"

b"01010011"

b"00000001", b"00000010", b"00000000"

b"00000101", b"00000110", b"00000100"

b"00001101", b"00001110", b"00001100"

b"01010100"

b"00000011", b"00000000"

b"00000111", b"00000100"

b"00001111", b"00001100"

b"01010101"

b"00000001", b"00000011", b"00000000"

b"00000101", b"00000111", b"00000100"

b"00001101", b"00001111", b"00001100"

b"01010110"

b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000110", b"00000111", b"00000100"

b"00001110", b"00001111", b"00001100"

b"01010111"

b"00000001", b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000101", b"00000110", b"00000111", b"00000100"

b"00001101", b"00001110", b"00001111", b"00001100"

b"01100000"

b"00000000"
b"00001000"

b"00001100"

b"01100001"

b"00000001", b"00000000"
b"00001001", b"00001000"

b"00001101", b"00001100"

b"01100010"

b"00000010", b"00000000"
b"00001010", b"00001000"

b"00001110", b"00001100"

b"01100011"

b"00000001", b"00000010", b"00000000"
b"00001001", b"00001010", b"00001000"

b"00001101", b"00001110", b"00001100"

b"01100100"

b"00000011", b"00000000"
b"00001011", b"00001000"

b"00001111", b"00001100"

b"01100101"

b"00000001", b"00000011", b"00000000"
b"00001001", b"00001011", b"00001000"

b"00001101", b"00001111", b"00001100"

b"01100110"

b"00000010", b"00000011", b"00000000"
b"00001010", b"00001011", b"00001000"

b"00001110", b"00001111", b"00001100"

b"01100111"

b"00000001", b"00000010", b"00000011", b"00000000"
b"00001001", b"00001010", b"00001011", b"00001000"

b"00001101", b"00001110", b"00001111", b"00001100"


198

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 I.1TA(1)を含む ATS 受信後の PCD の正しい状態(続き)

TA(1) PPS1 に設定する有効なパラメタ 

b"01110000"

b"00000000"
b"00000100"
b"00001000"

b"00001100"

b"01110001"

b"00000001", b"00000000"
b"00000101", b"00000100"
b"00001001", b"00001000"

b"00001101", b"00001100"

b"01110010"

b"00000010", b"00000000"

b"00000110", b"00000100"

b"00001010", b"00001000"

b"00001110", b"00001100"

b"01110011"

b"00000001", b"00000010", b"00000000"

b"00000101", b"00000110", b"00000100"

b"00001001", b"00001010", b"00001000"

b"00001101", b"00001110", b"00001100"

b"01110100"

b"00000011", b"00000000"

b"00000111", b"00000100"

b"00001011", b"00001000"

b"00001111", b"00001100"

b"01110101"

b"00000001", b"00000011", b"00000000"

b"00000101", b"00000111", b"00000100"

b"00001001", b"00001011", b"00001000"

b"00001101", b"00001111", b"00001100"

b"01110110"

b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000110", b"00000111", b"00000100"

b"00001010", b"00001011", b"00001000"

b"00001110", b"00001111", b"00001100"

b"01110111"

b"00000001", b"00000010", b"00000011", b"00000000"

b"00000101", b"00000110", b"00000111", b"00000100"

b"00001001", b"00001010", b"00001011", b"00001000"

b"00001101", b"00001110", b"00001111", b"00001100"

a)

 PPS コマンドは,この場合使用されない。PPS コマンドは,PICC に適用されていない可能性

がある。


199

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ I.1−高速伝送選択  型,手順 1

PCD  

PCD 試験装置 

RATS コマンドフレーム 
(“E0 01” CRC_A)

表 I.1 に基づく TA(1),ATS

表 I.1−TA(1)を含む ATS 受信後の PCD の正しい
状態に基づく任意選択の PPS 要求

← PPS 応答

(伝送速度  fc/128 使用)

I(0)

0

(選択された伝送速度使用)

← I(0)

0

(選択された伝送速度使用)

S(DESELECT)  要求

S(DESELECT)応答 
(選択された伝送速度使用)

WUPA 
(伝送速度  fc/128 使用)

← ATQA

(伝送速度  fc/128 使用)

I.2.1.1

期待される結果

PCD は,72 の各試験項目において,シナリオ I.1 に示されるように動作しなければならない。

I.2.1.2

試験成績書

PCD が 72 の各試験項目において,シナリオ I.1 のように正しく動作する場合,この試験は,合格とする。

試験成績書は,72 の各試験項目に,PCD が選択した伝送速度を記述することが望ましい。

I.2.2

型に対する試験手順

表 I.2 に規定するプロトコル情報バイトの許容伝送速度の全ての値に関して,次の手順を繰り返さなけ

ればならない。

a) PCD は有効な REQB コマンドフレームを送出しなければならない。 
b) PCD 試験装置は,表 I.2 による許容伝送速度を含む有効な ATQB を応答する。 
c) PCD は,表 I.2 による Param 2 に設定する有効なパラメタを含む ATTRIB コマンドを送出しなければ

ならない。

d) PCD 試験装置は,ATTRIB コマンドに対する有効な応答で受信した ATTRIB に応答する。 
e) PCD は,Param 2 で選択した伝送速度を使用して,I(0)

0

ブロックを送出しなければならない。

注記 1  このブロックは,I(1)

0

でもよいが,JIS X 6322-4:2011 の 7.5.5.2 に規定する PICC の存在試

験 2a の場合は R(NAK)でもよい。

f) PCD 試験装置は,Param 2 で選択された伝送速度で有効な応答を送出する。PCD が PCD 試験装置から

の応答を受け取ったことを確認する。

注記 2  以降の手順は,PCD が製品の中に組み込まれた場合は適用しなくてもよい。

g) PCD は,選択された伝送速度で S(DESELECT)要求を送出しなければならない。

h) PCD 試験装置は,選択した伝送速度を使用して,有効な S(DESELECT)応答を送出する。PCD が PCD

試験装置からの応答を受け取ったことを確認する。

i) PCD は,fc/128 の伝送速度で有効な WUPB コマンドを送出しなければならない。


200

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

j) PCD 試験装置は,表 I.2 による許容伝送速度を含む有効な ATQB を応答する。

表 I.2ATQB 後の PCD の正しい状態

許容伝送速度 Param 

を設定する有効なパラメタ

a)

b"10000000" b"0000xxxx" 
b"10010001" b"0101xxxx",

b"0000xxxx"

b"10100010" b"1010xxxx",

b"0000xxxx"

b"10110011"

b"0101xxxx", b"1010xxxx", b"0000xxxx"

b"11000100" b"1111xxxx",

b"0000xxxx"

b"11010101"

b"0101xxxx", b"1111xxxx", b"0000xxxx"

b"11100110"

b"1010xxxx", b"1111xxxx", b"0000xxxx"

b"11110111"

b"0101xxxx", b"1010xxxx", b"1111xxxx", b"0000xxxx"

b"00000000" b"0000xxxx" 
b"00000001" b"0001xxxx",

b"0000xxxx"

b"00000010" b"0010xxxx",

b"0000xxxx"

b"00000011"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"00000100" b"0011xxxx",

b"0000xxxx"

b"00000101"

b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"00000110"

b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"00000111"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"00010000"

b"0000xxxx" 
b"0100xxxx"

b"00010001"

b"0001xxxx", b"0000xxxx" 
b"0101xxxx", b"0100xxxx"

b"00010010"

b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"0110xxxx", b"0100xxxx"

b"00010011"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0100xxxx"

b"00010100"

b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"00010101"

b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"00010110"

b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"00010111"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"00100000"

b"0000xxxx" 
b"1000xxxx"

b"00100001"

b"0001xxxx", b"0000xxxx" 
b"1001xxxx", b"1000xxxx"

b"00100010"

b"0010xxxx", b"0000xxxx" 
b"1010xxxx", b"1000xxxx"

b"00100011"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx" 
b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1000xxxx"

b"00100100"

b"0011xxxx", b"0000xxxx" 
b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"00100101"

b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx" 
b"1001xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"


201

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 I.2ATQB 後の PCD の正しい状態(続き)

許容伝送速度 Param 

を設定する有効なパラメタ

a)

b"00100110"

b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx" 
b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"00100111"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx" 
b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"00110000"

b"0000xxxx" 
b"0100xxxx" 
b"1000xxxx"

b"00110001"

b"0001xxxx", b"0000xxxx" 
b"0101xxxx", b"0100xxxx" 
b"1001xxxx", b"1000xxxx"

b"00110010"

b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"0110xxxx", b"0100xxxx"

b"1010xxxx", b"1000xxxx"

b"00110011"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0100xxxx"

b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1000xxxx"

b"00110100"

b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"00110101"

b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1001xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"00110110"

b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"00110111"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"01000000"

b"0000xxxx"

b"1100xxxx"

b"01000001"

b"0001xxxx", b"0000xxxx"

b"1101xxxx", b"1100xxxx"

b"01000010"

b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"1110xxxx", b"1100xxxx"

b"01000011"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1100xxxx"

b"01000100"

b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01000101"

b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"1101xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01000110"

b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01000111"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"


202

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 I.2ATQB 後の PCD の正しい状態(続き)

許容伝送速度 Param 

を設定する有効なパラメタ

a)

b"01010000"

b"0000xxxx" 
b"0100xxxx"

b"1100xxxx"

b"01010001"

b"0001xxxx", b"0000xxxx" 
b"0101xxxx", b"0100xxxx"

b"1101xxxx", b"1100xxxx"

b"01010010"

b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"0110xxxx", b"0100xxxx"

b"1110xxxx", b"1100xxxx"

b"01010011"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0100xxxx"

b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1100xxxx"

b"01010100"

b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01010101"

b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1101xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01010110"

b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01010111"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01100000"

b"0000xxxx" 
b"1000xxxx"

b"1100xxxx"

b"01100001"

b"0001xxxx", b"0000xxxx" 
b"1001xxxx", b"1000xxxx"

b"1101xxxx", b"1100xxxx"

b"01100010"

b"0010xxxx", b"0000xxxx" 
b"1010xxxx", b"1000xxxx"

b"1110xxxx", b"1100xxxx"

b"01100011"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx" 
b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1000xxxx"

b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1100xxxx"

b"01100100"

b"0011xxxx", b"0000xxxx" 
b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01100101"

b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx" 
b"1001xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"1101xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01100110"

b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx" 
b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01100111"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx" 
b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"


203

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

表 I.2ATQB 後の PCD の正しい状態(続き)

許容伝送速度 Param 

を設定する有効なパラメタ

a)

b"01110000"

b"0000xxxx" 
b"0100xxxx" 
b"1000xxxx"

b"1100xxxx"

b"01110001"

b"0001xxxx", b"0000xxxx" 
b"0101xxxx", b"0100xxxx" 
b"1001xxxx", b"1000xxxx"

b"1101xxxx", b"1100xxxx"

b"01110010"

b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"0110xxxx", b"0100xxxx"

b"1010xxxx", b"1000xxxx"

b"1110xxxx", b"1100xxxx"

b"01110011"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0100xxxx"

b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1000xxxx"

b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1100xxxx"

b"01110100"

b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01110101"

b"0001xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1001xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"1101xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01110110"

b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

b"01110111"

b"0001xxxx", b"0010xxxx", b"0011xxxx", b"0000xxxx"

b"0101xxxx", b"0110xxxx", b"0111xxxx", b"0100xxxx"

b"1001xxxx", b"1010xxxx", b"1011xxxx", b"1000xxxx"

b"1101xxxx", b"1110xxxx", b"1111xxxx", b"1100xxxx"

a)

 Param 2 の下位 4 ビットは,PCD が受信できる最大フレームサイズを符号化

するために利用する。


204

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

シナリオ I.2−高速伝送選択  型,手順 2

PCD  

PCD 試験装置 

REQB 
(“05 00 00” CRC_B)

表 I.2 に基づく許容伝送速度,ATQB

表 I.2 に基づく Param 2,ATTRIB  コマンド

← ATTRIB

コマンドの応答

(伝送速度  fc/128 使用)

I(0)

0

(選択された伝送速度使用)

← I(0)

0

(選択された伝送速度使用)

S(DESELECT) 
  要求

← S(DESELECT)

応答

(選択された伝送速度使用)

WUPB 
(伝送速度  fc/128 使用)

← ATQB

(伝送速度  fc/128 使用)

I.2.2.1

期待される結果

PCD は,72 の各試験項目において,シナリオ I.2 に示されるように動作しなければならない。

I.2.2.2

試験成績書

PCD が 72 の各試験項目において,シナリオ I.2 のように正しく動作する場合,この試験は,合格とする。

試験成績書は,72 の各試験項目に,PCD が選択した伝送速度を記述することが望ましい。


205

X 6305-6

:2013 (ISO/IEC 10373-6:2011)

参考文献

[1]  TS Z 0033:2012  測定における不確かさの表現のガイド

注記  対応国際規格:ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the

expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)(IDT)

[2]  ISO/IEC 9646-1:1994 , Information technology − Open Systems Interconnection − Conformance testing

methodology and framework−Part 1: General concepts

[3]  ISO/IEC 9646-2:1994 , Information technology − Open Systems Interconnection − Conformance testing

methodology and framework−Part 2: Abstract Test Suite specification

[4]  ISO/IEC 9646-3:1998 , Information technology − Open Systems Interconnection − Conformance testing

methodology and framework−Part 3: The Tree and Tabular Combined Notation (TTCN)

[5]  ISO/IEC 9646-4:1994 , Information technology − Open Systems Interconnection − Conformance testing

methodology and framework−Part 4: Test realization

[6]  ISO/IEC 9646-5:1994 , Information technology − Open Systems Interconnection − Conformance testing

methodology and framework−Part 5: Requirements on test laboratories and clients for the conformance 
assessment process

[7]  ISO/IEC 9646-6:1994 , Information technology − Open Systems Interconnection − Conformance testing

methodology and framework−Part 6: Protocol profile test specification

[8]  ISO/IEC 9646-7:1995 , Information technology − Open Systems Interconnection − Conformance testing

methodology and framework−Part 7: Implementation Conformance Statements