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X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

JIS X 6292

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  端部のひずみ試験方法

附属書 B(規定)  可とう性試験方法

附属書 C(規定)  ID フィールドの CRC

附属書 D(規定)  セクタ中のデータフィールドのフォーマット

附属書 E(規定)  制御ゾーンの内容

附属書 F(規定)  オーバライトパルスの定義

附属書 G(規定)  空気清浄度クラス 100 000

附属書 H(規定)  カートリッジの基準面

附属書 J(規定)  各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和

附属書 K(参考)  トラックの振れ量の測定方法

附属書 L(参考)  セクタの交替に関するガイドライン

附属書 M(参考)  使用環境条件の導出方法

附属書 N(参考)  輸送環境

附属書 P(参考)  オフィス環境

附属書 Q(参考)  複屈折の測定

附属書(参考)  ISO/IEC 15485 : 1997 (Information technology−Data interchange on 120mm optical disk

cartridges using phase change PD format

−Capacity : 650Mbytes per cartridge)


日本工業規格

JIS

 X6292

 : 1998

 (ISO/IEC

15485

 : 1997

)

120mm/650MB

光ディスクカートリッジ

(相変化光記録,PD フォーマット)

Information technology

Data interchange on 120mm optical disk cartridges

using phase change PD format

−Capacity : 650Mbytes per cartridge

序文  この規格は,1997 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 15485, Information technology−Data

interchange on 120mm optical disk cartridges using phase change PD format

−Capacity : 650Mbytes per cartridge

について,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格であり,1.から 6.までは,原国際規格の

同項目を全文翻訳し,7.以降については,原国際規格の同項目の内容を引用するものとした。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,説明のために追加したものであり,原国際規格にはな

い事項である。

第 1 章  一般事項 

1.

適用範囲  この規格は,相変化 PD フォーマットの 650 メガバイトの記憶容量をもつ 120mm 光ディス

クカートリッジの特性を規定する。この規格は,次の 2 種の光ディスクカートリッジについて規定する。

タイプ R/W

相変化記録再生方式を利用して,ディスクの記録領域全体にわたってデータの記録,

再生及びオーバライトを繰返しできる。

タイプ WORM

相変化記録再生方式を利用して,ディスクの記録領域全体にわたって一度だけデー

タの記録ができ,記録されたデータは何度でも再生ができる。

タイプ R/W 及び WORM は,それぞれ“書換形”及び“追記形”とも呼ばれる。

この規格は,次の事項について規定する。

−  適用試験の条件及び基準駆動装置

−  光ディスクカートリッジの使用環境及び保存環境

−  データ処理システム間の機械的互換性を保証するための光ディスクカートリッジの機械的特性及び物

理的特性

−  トラックとセクタの物理的な配置,誤り訂正符号及び使用される変調方式を含む PD フォーマットと

して知られているディスク上の情報フォーマット

−  ディスクのエンボス情報の特性

−  データ処理システムがディスクにデータを記録可能にするためのディスクの相変化記録特性


2

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

−  データ処理システムがディスクからデータを再生可能にするためのディスク上のユーザ記録データの

最低品質

この規格は,光ディスク駆動装置間での互換性を与えるものである。

なお,別途規定のボリューム及びファイル構造の規格と合わせることによって,データ処理システム間

の完全な互換性を与えるものである。

2.

適合性

2.1

光ディスクカートリッジ  光ディスクカートリッジがそのタイプについて,規定するすべての要求

事項を満足するならば,その光ディスクカートリッジは,この規格に適合とする。

2.2

ジェネレーティングシステム  ジェネレーティングシステムがジェネレートする光ディスクカート

リッジが 2.1 に従っているならば,そのジェネレーティングシステムはこの規格に適合とする。

2.3

レシービングシステム  レシービングシステムが 2.1 に従って光ディスクカートリッジを取り扱う

ことができれば,そのレシービングシステムはこの規格に適合とする。

2.4

適合性表示  この規格に適合するジェネレーティングシステム及びレシービングシステムは,サポ

ートする他の規格のリストを記述しなければならない。この記述には,次の事項を含んでいなければなら

ない。

a)

サポートする規格番号

b)

サポートする光ディスクカートリッジのタイプ

c)

再生だけをサポートするのか,記録及び再生ともにサポートするのかの情報

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。こ

の規格が制定された時点では,次の規格が最新規格であるが,改正されることもあるので,この規格を使

う当事者は,最新版を適用できるかどうか検討することが望ましい。現在有効な国際規格の登録維持は,

IEC

及び ISO の構成員が行っている。

IEC 60950 : 1991 Safety of information technology equipment

4.

定義  この規格では,次の定義を用いる。

4.1

アドレッサブルトラック  (addressable track)   セクタ番号 0 から始まりそれぞれのセクタがリニア

にアドレスされた 64 セクタの連続したグループ。

4.2

バンド  (band)    所定数の連続する物理トラックからなるデータゾーンの一部。

4.3

ケース (case)   光ディスクを保護するとともに,ディスクの互換を容易にするための入れ物。

4.4

チャネルビット  (Channel bit) 2 値の “0” 及び “1” をディスク上のスペース又はマークで表す要素。

備考  2 チャネルビットで 1 ユーザビットを表す。

4.5

クランプゾーン (Clamping Zone)   クランプ装置からのクランプ力が印加されるディスクの環状部

分。

4.6

制御情報トラック  (control track)   媒体パラメータ並びに光ディスクに記録及び再生するために必

要なフォーマットの情報を含むトラック。

4.7

巡回冗長検査  (CRC) [Cyclic Redundancy Check (CRC)]    データの誤り検出方法の一つ。伝送単位ご

とにビット列を 2 進数の多項式とみなし,あらかじめ定めた多項式で除算した余りをチェックビットとし

て伝送単位の最後に付加する方式。


3

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

4.8

欠陥管理 (defect management)   ディスク上の欠陥領域を取り扱う方法。

4.9

ディスクの基準面  (disk reference plane)    回転軸に対して垂直で,かつ,理想スピンドルによってク

ランプされる完全にフラットな環状表面によって規定される面。

4.10

エンボスマーク  (embossed mark)    光学的手段によって変更できないように形成されたマーク。

4.11

入射面 (entrance surface)   光ビームが最初に入射するディスクの表面。

4.12

誤り訂正符号 (ECC) [Error Correction Code (ECC)]   データ中のある種の誤りを訂正するように設

計された誤り検出符号の一つ。

4.13

フィールド (field)   1 セクタの中で,分割されまとまった区分を表す領域。

4.14

フォーマット  (format)    ディスク上の情報の配置。

4.15

インタリーブ  (interleaving)    バーストエラーによって影響を受けないように,連続するデータ群を

物理的に分散して配置するプロセス。

4.16

ランド及びグルーブ  (land and groove)    情報が記録される前に形成されるディスクの溝状構造。ト

ラック位置を明らかにするために用いられる。グルーブは,それと一対でトラックを構成するランドより

も入射面に近い方に位置する。

4.17

マーク  (mark)    非晶質スポット,結晶スポット,ピット,その他光学的に検出できる形態をもった

記録層の造作。マークのパターンが,ディスクのデータを表す。

備考  セクタマーク.アドレスマークなどのセクタの下位区分としての“マーク”は,ここでいうマ

ークとは異なる。

4.18

ワンビームオーバライト (one-beam overwrite)   事前に消去することなく 1 本のレーザビームを使

ってオーバライトすることで情報を記録する方法。

4.19

光ディスク  (optical disk)    記録層にマークの形で情報が記録かつ保持され,光ビームで再生可能な

ディスク。

4.20

光ディスクカートリッジ  [optical disk cartridge (ODC)]    光ディスクが収納されたケースからなるデ

バイス。

4.21

相変化 (PC) [phase change (PC)]    レーザビームが照射された記録膜領域が,熱せられて非晶質状態

から結晶状態又はその逆に可逆的に変化する物理的効果。

4.22

物理トラック  (physical track)    ディスクが 1 回転する間に光ビームの焦点がたどる経路。

4.23

ピッチ (pitch)   隣接する物理トラックの中心線の半径方向の間隔。

4.24

偏光 (polarization)   光波の振動ベクトルの振動方向が規則的なもの及びその状態。光ビームの偏光

方向は,光ビームの電気ベクトルの方向である。

備考  偏光面は光ビームの伝搬方向と電気ベクトルを含む面である。光ビームの伝搬方向から見て電

気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を右回転偏光という。

4.25

再生パワー  (read power)    再生時のディスクの入射面での光パワー。

4.26

記録層  (recording layer)    ディスクを構成する層の一つ。製造時及び/又は使用時に,その層の上又

は中にデータが記録される。

4.27

リードソロモン符号  (Reed-Solomon code)   バースト誤り又は高い相関をもつ誤りの訂正に適して

いる,誤り検出符号及び/又は誤り訂正符号。符号系列を一定長のブロックに分割したとき,このバイト

単位で発生する誤りに対する代表的な訂正符号。

4.28

書換形光ディスク (rewritable disk)   規定された領域のデータが,光ビームによって書換可能である

光ディスク。


4

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

4.29

セクタ (sector)   ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で,アドレス指定可能な最小領域。

4.30

スピンドル (spindle)   駆動装置の一部で,ディスク及び/又はハブと接合し回転する部分。

4.31

基板  (substrate)    記録層を機械的に支える透明な円盤状の基体。光ビームはこの基体を通して記録

層に照射される。

4.32

追記形光ディスク  (write once disk)    決められた領域にデータが非可逆的に記録され,かつ,そのデ

ータは光ビームで多数回読み取ることができる光ディスク。

4.33  ZCAV (ZCAV)

  角速度一定方式として使用するためのゾーン化されたディスクフォーマット。

4.34

ゾーン  (zone)    ディスクの環状領域。

5.

規定及び表記法  数値表示及び特殊名称の表記について規定する。

5.1

数値表示

−  測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸めることとする。すなわち,

26

.

1

01

.

0

02

.

0

という規定

値は,1.235 以上 1.275 未満の測定値を許容する。

− 16 進数は, ( ) でくくり表記する。

−  ビットの値は,0 及び 1 とする。

−  2 進数及びビットの組合せの数値は,0 及び 1 で表す。

−  2 進数及びビットの組合せの数値は,左に最上位ビットを示す。

−  2 進数の負の値は,2 の補数で表す。

−  各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト 0)を最初に記録する。8 ビットで構成する各バイト

では,最下位ビット(0 番目)を最後に記録し,最上位ビット(7 番目)を最初に記録する。この規定

は,誤り検出訂正回路のデータ入出力にも適用する。

−  特に明記されていない限り,すべてのトラック番号はアドレッサブルトラックで表す。

6.

略語  略語について規定する。

AM Address

Mark

アドレスマーク

CRC

Cyclic Redundancy Check

巡回冗長検査

DC

Direct Current (d.c.)

直流

DDS Disk

Definition

Structure

ディスク定義構造

DMA Defect

Management

Area

欠陥管理領域

DMS

Defect Management Sector

欠陥管理セクタ

ECC

Error Correction Code

誤り訂正符号

ID Identifier

識別子

LSB

Least Significant Byte

最下位バイト

MSB

Most Significant Byte

最上位バイト

ODC

Optical Disk Cartridge

光ディスクカートリッジ

ODF

Offset Detection Field

オフセット検出フィールド

PA Postamble

ポストアンブル

PC Phase

Change

相変化

PDL Primary

Defect

List

1

次欠陥管理表

RLL (2, 7)

Run Length Limited (code)

(2, 7)

ランレングス制限符号

R/W rewritable

書換形

SDL Secondary

Defect

List

2

次欠陥管理表

SM Sector

Mark

セクタマーク

VFO Variable

Frequency

Oscillator

VFO

信号


5

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

WDL Working

Defect

List

作業欠陥管理表

WORM

Write Once Read Many

追記形

ZCAV Zoned

Constant

Angular

Velocity

ゾーン化された角速度一定方式

7.

カートリッジの概要  ISO/IEC 15485 : 1997 の 7. Gencral description of the optical disk cartridge による。

8.

一般的要求事項  ISO/IEC 15485 : 1997 の 8. General requirements による。

9.

基準駆動装置  ISO/IEC 15485 : 1997 の 9. Reference Drive による。

第 2 章  機械的特性及び物理的特性 

10.

ケースの寸法及び機械的特性  ISO/IEC 15485 : 1997 の 10. Dimensional and physical characteristics of the

case

による。

11.

光ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性  ISO/IEC 15485 : 1997 の 11. Dimensiona1, mechanical

and physical characteristics of the disk

による。

12.

光ディスクカートリッジと駆動装置とのインタフェース  ISO/IEC 15485 : 1997 の 12.  Interface

between cartridge and drive

による。

第 3 章  フォーマット 

13.

物理トラックの形状  ISO/IEC 15485 : 1997 の 13. Geometry of physical tracks による。

14.

情報ゾーンのフォーマット  ISO/IEC 15485 : 1997 の 14. Format of the Information Zone による。

15.

アドレッサブルトラックフォーマット  ISO/IEC 15485 : 1997 の 15. Addressable track format による。

16.

セクタフォーマット  ISO/IEC 15485 : 1997 の 16. Sector format による。

17.

記録符号  ISO/IEC 15485 : 1997 の 17. Recording code による。

18.

データゾーンのフォーマット  ISO/IEC 15485 : 1997 の 18. Format of the Data Zone による。

19.

欠陥管理  ISO/IEC 15485 : 1997 の 19. Defect management による。

第 4 章  エンボス情報の特性 

20.

試験方法  ISO/IEC 15485 : 1997 の 20. Method of testing による。


6

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

21.

グルーブ関連信号  ISO/IEC 15485 : 1997 の 21. Signals from grooves による。

22.

ヘッダ信号  ISO/IEC 15485 : 1997 の 22. Signals from Headers による。

23.

エンボスレコーディングフィールドからの信号  ISO/IEC 15485 : 1997 の 23.  Signals from embossed

Recording fields

による。

第 5 章  記録層の特性 

24.

試験方法  ISO/IEC 15485 : 1997 の 24. Method of testing による。

25.

記録特性  ISO/IEC 15485 : 1997 の 25. Write characteristics による。

26.

オーバライト消去率  ISO/IEC 15485 : 1997 の 26. Overwrite erasability による。

第 6 章  ユーザデータの特性 

27.

試験方法  ISO/IEC 15485 : 1997 の 27. Method of testing による。

28.

セクタの最低保証品質  ISO/IEC 15485 : 1997 の 28. Minimum quality of a sector による。

29.

データ互換の要求特性  ISO/IEC 15485 : 1997 の 29. Data interchange requirements による。

附属書 A(規定)  端部のひずみ試験方法  ISO/IEC15485 : 1997 の Annex A-Edge distortion test による。

附属書 B(規定)  可とう性試験方法  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex B-Compliance test による。

附属書 C(規定)  ID フィールドの CRC  ISO/IEC15485 : 1997 の Annex C-CRC for ID fields による。

附属書 D(規定)  セクタ中のデータフイールドのフォーマット  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex D-Format

of the Data field of a sector

による。

附属書 E(規定)  制御ゾーンの内容  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex E-Contents of the Control Zone によ

る。

附属書 F(規定)  オーバライトパルスの定義  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex F-Definition of the overwrite

pulse

による。

附属書 G

(規定)  空気清浄度クラス 100 000  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex G-Air cleanliness class 100 000

による。


7

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

附属書 H(規定)  カートリッジの基準面  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex H-Position of the cartridge relative

to the reference planes

による。

附属書 J(規定)  各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex J-Relaxation by

zones of the requirements for signals

による。

附属書 K(参考)  トラックの振れ量の測定方法  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex K-Track deviation

measurement

による。

附属書 L(参考)  セクタの交替に関するガイドライン  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex L-Guidelines for

sector replacement

による。

附属書 M(参考)  使用環境条件の導出方法  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex M-Derivation of the operating

climatic environment

による。

附属書 N(参考)  輸送環境  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex N-Transportation による。

附属書 P(参考)  オフィス環境  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex P-Office environment による。

附属書 Q(参考)  複屈折の測定  ISO/IEC 15485 : 1997 の Annex Q- Measurement of birefringence による。


8

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

光ディスク標準化委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

板  生      清

東京大学

石  井  正  則

日本電気株式会社

磯  村  嘉  伯

日本電信電話株式会社

伊  藤      武

富士通株式会社

入  江  英  之

株式会社東芝

金  沢  安  矩

日立マクセル株式会社

橋  爪  邦  隆

工業技術院

木  目  健治朗

三菱電機株式会社

小  町  祐  史

松下電送株式会社

佐  藤  正  聡

株式会社ニコン

菅  谷  寿  鴻

株式会社東芝

高  橋  正  彦

株式会社日立製作所

土  屋  洋  一

三洋電機株式会社

徳  丸  春  樹

日本放送協会

戸  島  知  之 NTT インテリジェントテクノロジ株式会社

増  井  久  之

財団法人マルチメディアコンテンツ振興協会

松  林  宣  秀

オリンパス光学工業株式会社

三  和  邦  彦

日本アイ・ビー・エム株式会社

村  上  善  照

シャープ株式会社

山  上      保

ソニー株式会社

山  田      昇

松下電器産業株式会社

横  川  文  彦

パイオニア株式会社

吉  田  秀  実

三菱化学株式会社

光ディスク標準化委員会第 2 メディア分科会  構成表

氏名

所属

(統括)

菅  谷  寿  鴻

株式会社東芝

伊  藤  雅  樹

日本電気株式会社

伊  藤  正  也

三菱電機株式会社

大  林  元太郎

東レ株式会社

小  平  康  人

旭化成工業株式会社

佐  藤  哲  生

帝人株式会社

杉  本      守

セイコーエプソン株式会社

南  雲      収

パルステック工業株式会社

西  田  哲  也

株式会社日立製作所

橋  爪  邦  隆

工業技術院

橋  詰      隆

株式会社小野測器

宮  園      泰 HOYA 株式会社

山  田      昇

松下電器産業株式会社