JISX6291:1998 ９０ｍｍ／１．３ＧＢ光ディスクカートリッジ（相変化光記録）

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

(1)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

今回の制定では，日本工業規格と国際規格との一致に留意し翻訳規格としたが，これについては解説に

その詳細を記述した。

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実

用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，

このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録

出願にかかわる確認について，責任はもたない。

JIS X 6291には，次に示す附属書がある。

附属書A（規定）端部のひずみ試験方法

附属書B（規定）可とう性試験方法

附属書C（規定） IDフィールドのCRC

附属書D（規定）制御ゾーンの内容

附属書E（規定） 1セクタ中のデータフィールドのフォーマット

附属書F（規定）ハブ吸着力試験方法

附属書G（規定）空気清浄度クラス100 000

附属書H（規定）カートリッジの基準面

附属書J（規定）各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和

附属書K（参考）トラックの振れ量の測定方法

附属書L（参考）使用環境条件の導出方法

附属書M（参考）セクタの交替に関するガイドライン

附属書N（参考）ワンビームオーバライトの定義

附属書P（参考）輸送環境

附属書Q（参考）オフィス環境

附属書R（参考）現在及び将来の規格で使用する数値

附属書S（参考）複屈折の測定

附属書（参考） ISO/IEC 14760 : 1997 (Information technology−Data interchange on 90mm overwritable

and read only optical disk cartridges using phase change−Capacity : 1.3 Gbytes per

cartridge)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6291 : 1998

(ISO/IEC 14760 : 1997)

90mm/1.3GB

光ディスクカートリッジ

（相変化光記録）

Information technology−

Data interchange on 90mm overwritable and read only optical disk cartridges

using phase change−Capacity : 1.3Gbytes per cartridge

序文この規格は，1997年に第1版として発行されたISO/IEC 14760, Information technology−Data

interchange on 90mm overwritable and read only optical disk cartridges using phase change−Capacity : 1.3Gbytes

per cartridgeについて，技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格であり，1.から6.までは，原

国際規格の同項目を全文翻訳し，7.以降については，原国際規格の同項目の内容を引用するものとした。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，説明のために追加したものであり，原国際規格には

ない事項である。

第1章一般事項

1. 適用範囲この規格は，カートリッジ当たり1.3ギガバイトの容量をもつ相変化90mm光ディスクカ

ートリッジの特性を規定する。この規格は，次の3種の光ディスクカートリッジについて規定する。

タイプR/W

相変化オーバライト効果を利用して，ディスクの記録領域全体にわたってデータ

のオーバライト及び再生を繰返しできる。

タイプP-ROM

ディスク表面の記録領域の一部に，スタンピング又はその他の方法によってエン

ボスマークが形成されている。この部分は，オーバライト効果を利用することな

く再生される。エンボスマークが形成されたところ以外の部分は，タイプR/Wの

要求を満足している。

タイプO-ROM

ディスク表面全体に，スタンピング又はその他の方法によってエンボスマークが

形成されている。このタイプのディスクは，オーバライト効果を利用することな

く再生される。

この規格では，各々のタイプに対して，1セクタ当たりの容量として512バイトと2048バイトが許容さ

れている。1枚のディスクのセクタはすべて同じ容量でなくてはならない。

タイプR/W，P-ROM及びO-ROMは，それぞれ“書換形”，“部分再生専用形”及び“全面再生専用形”

とも呼ばれる。

この規格は，次の事項について規定する。

− 適用試験の条件及び基準駆動装置

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− 光ディスクカートリッジの使用環境及び保存環境

− データ処理システム間の機械的互換性を保証するための光ディスクカートリッジの機械的特性及び物

理的特性

− トラックとセクタの物理的な配置，誤り訂正符号及び使用される変調方式を含むディスク上のエンボ

スデータ及びユーザ記録データのフォーマット

− ディスクのエンボス情報の特性

− データ処理システムがディスクにデータを記録可能にするためのディスクの相変化記録特性

− データ処理システムがディスクからデータを再生可能にするためのディスク上のユーザ記録データの

最低品質

この規格は，光ディスク駆動装置間での互換性を与えるものである。

なお，別途規定のボリューム及びファイル構造の規格と合わせることによって，データ処理システム間

の完全な互換性を与えるものである。

2. 適合性

2.1

光ディスクカートリッジこの規格に適合する光ディスクカートリッジは，そのタイプを明確にし

なければならない。そのタイプについて，この規格で規定するすべての要求事項を満足するとき，その光

ディスクカートリッジは，この規格に適合とする。

附属書Jは，この規格で規定された信号特性が満たされなければならないゾーン及び信号特性の規定が

緩和されているゾーンを示している。

2.2

ジェネレーティングシステムこの規格に適合するジェネレーティングシステムは，サポートする

光ディスクカートリッジのタイプを明確にしなければならない。そのタイプについて，この規格のすべて

の要求事項を満足するとき，そのデータ互換のための光ディスクカートリッジのジェネレーティングシス

テムは，この規格に適合とする。

2.3

レシービングシステムこの規格に適合するレシービングシステムは，サポートする光ディスクカ

ートリッジのタイプを明確にしなければならない。2.1に記載された光ディスクカートリッジに記録された

どの情報をも扱えるならば，そのデータ互換のための光ディスクカートリッジのレシービングシステムは，

この規格に適合とする。

2.4

適合性表示この規格に適合するジェネレーティングシステム及びレシービングシステムは，サポ

ートする他の規格のリストを記述しなければならない。この記述には，次の事項を含んでいなければなら

ない。

a) サポートする規格番号

b) サポートする光ディスクカートリッジのタイプ（タイプが適用されている規格に対して）

c) 再生だけをサポートするのか，オーバライト及び再生ともにサポートするのかの情報

3. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の一部を構成する。こ

の規格が制定された時点では，次の規格が最新規格であるが，改正されることもあるので，この規格を使

う当事者は，最新版を適用できるかどうか検討することが望ましい。現在有効な国際規格の登録維持は，

ISO及びIECの構成員が行っている。

IEC 60950 : 1991. Safety of information technology equipment

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4. 定義この規格では，次の定義を用いる。

4.1

バンド (band) 所定数の連続する物理トラックからなるデータゾーンの一部。

4.2

ケース (case) 光ディスクを保護するとともに，ディスクの互換を容易にするための入れ物。

4.3

チャネルビット (Channel bit) 2値の“0”及び“1”をディスク上のピット又はマークで表す要素。

4.4

クランプゾーン (clamping zone) クランプ装置からの保持力が印加されるディスクの環状部分。

4.5

制御情報トラック (control track) 光ディスクに記録及び再生するために必要なフォーマット並び

に媒体パラメータを含むトラック。

4.6

巡回冗長検査 (CRC) [Cyclic Redundancy Check (CRC)] データの誤り検出方法の一つ。伝送単位ご

とにビット列を2進数の多項式とみなし，あらかじめ定めた多項式で除算した余りをチェックビットとし

て伝送単位の最後に付加する方式。

4.7

欠陥管理 (defect management) ディスク上の欠陥領域を取り扱う方法。

4.8

ディスクの基準面 (disk reference plane) 回転軸に対して垂直で，かつ，理想スピンドルによってク

ランプされる完全にフラットな環状表面として規定される面。

4.9

エンボスマーク (embossed mark) 光学的手段によって変更できないように形成されたマーク。

4.10 入射面 (entrance surface) 光ビームが最初に入射するディスクの表面。

4.11 誤り訂正符号 (ECC) [Error Correction Code (ECC)] データ中のある種の誤りを訂正するように設

計された，誤り検出符号の一つ。

4.12 フィールド (field) 1セクタの中で分割したまとまった区分を表す領域。

4.13 フォーマット (format) ディスク上の情報の配置又はレイアウト。

4.14 全面再生専用形光ディスク (fully embossed disk) データゾーンの中のすべてのデータフィールド

がエンボスデータである光ディスク。

4.15 全面書換形光ディスク (fully overwritable disk) 規定された領域のデータが，光ビームによって書換

え可能である光ディスク（4.22参照）。

4.16 グルーブ (groove) 4.19参照。

4.17 ハブ (hub) 駆動装置のスピンドルによって芯出しを行い，かつ，クランプ力を与えるためのディ

スクの中心部分にある構造体。

4.18 インタリーブ (interleaving) バーストエラーによって影響を受けないように，連続するデータ群を

物理的に分散して配置するプロセス。

4.19 ランド及びグルーブ (land and groove) 情報が記録される前に形成されるディスクの溝状構造。ト

ラック位置を明らかにするために用いられ，グルーブは，それと一対でトラックを構成するランドよりも

入射面に近い方に位置する。

4.20 論理トラック (logical track) 512バイト／セクタのディスクでは連続する16セクタ。2 048バイト

／セクタのディスクでは連続する4セクタ。各々の論理トラックの最初のセクタを第0セクタとする。

4.21 マーク (mark) 非晶質の形態，ピット，又はその他光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。

マークのパターンが，ディスクのデータを表す。

備考セクタマーク，アドレスマークなどのセクタの下位区分としての“マーク”は，ここでいうマ

ークとは異なる。

4.22 ワンビームオーバライト (one-beam overwrite) 事前に消去することなく1個のレーザビームを使

ってオーバライトすることで情報を記録する方法。

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.23 光ディスク (optical disk) 記録層にマークの形で情報を記録し，かつ，保持する，又はあらかじめ

記録されたマークをもつ，光ビームで再生可能なディスク。

4.24 光ディスクカートリッジ [optical disk cartridge (ODC)] 光ディスクが収納されたケースからなるデ

バイス。

4.25 部分再生専用形光ディスク (partially embossed disk) データゾーンに書換可能フィールド及びエン

ボスデータフィールドの両方をもつ光ディスク。

4.26 相変化 (PC) [phase change (PC)] 記録フィルムのレーザビームが照射された領域が熱せられて非

晶質状態から結晶状態，又はその逆に可逆的に変化する物理的効果。

4.27 物理トラック (physical track) ディスクが1回転する間に光ビームの焦点がたどる経路。

4.28 物理トラックグループ (physical track group) データゾーンでの一定数の連続する物理トラック。

4.29 ピッチ (pitch) 隣接する物理トラックの中心線の半径方向の間隔。

4.30 偏光 (polarization) 光波の振動ベクトルの振動方向が規則的なもの及びその状熊。光ビームの偏光

方向は，光ビームの電気ベクトルの方向である。

備考偏光面は光ビームの伝搬方向と電気ベクトルを含む面である。光ビームの伝搬方向から見て電

気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を右回転偏光という。

4.31 再生パワー (read power) 再生時のディスクの入射面での光パワー。

4.32 記録層 (recording layer) ディスクを構成する層の一つ。製造時及び／又は使用時にデータを書き込

むディスク上又はディスク内の層。

4.33 リードソロモン符号 (Reed-Solomon code) バーストエラー又は高い相関をもつ誤りの訂正に適し

ている，誤り検出符号及び／又は誤り訂正符号。符号系列を一定長のブロックに分割したとき，このバイ

ト単位で発生する誤りに対する代表的な訂正符号。

4.34 セクタ (sector) ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で，アドレス指定可能な最小領域。

4.35 スピンドル (spindle) 駆動装置の一部で，ディスク及び／又はハブと接合し回転する部分。

4.36 基板 (substrate) 記録層を機械的に支持する透明な円盤状の基体。光ビームはこの基体を通して記

録層に入射する。

4.37 ZCAV (ZCAV) 角速度一定方式として使用するためのゾーン化されたディスクフォーマット。デー

タゾーンにおいてはすべてのトラックを論理トラックとして扱う。

4.38 ゾーン (zone) ディスクの環状領域。

5. 規定及び表記法数値表示及び特殊名称の表記について規定する。

5.1

数値表示

− 測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸めることとする。すなわち，1.26

.002
.0

+−という規定

値は，1.235以上1.275未満の測定値を許容する。

− 16進数は，( )でくくり表記する。

− ビットの値は，0及び1とする。

− 2進数及びビットの組合せの数値は，0及び1で表す。

− 2進数及びビットの組合せの数値は，左に最上位ビットを示す。

− 2進数の負の値は，2の補数で表す。

− 各フィールドのデータは，最上位バイト（バイト0）を最初に記録する。8ビットで構成する各バイト

では，最下位ビット（0番目）を最後に記録し，最上位ビット（7番目）を最初に記録する。この規定

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

は，誤り検出訂正回路のデータ入出力にも適用する。

− 特に明記されていない限り，xx...x/yy...y形式の10進数のグループは，xx...xは512バイトセクタのバ

イト，セクタ又はトラック番号を，yy...yは2 048バイトセクタのそれらを表す。

5.2

名称

− 特定のトラック，フィールドなどの登録名称はイニシャルの頭文字によって与えられる。

6. 略語略語について規定する。

Address Mark

アドレスマーク

CRC

Cyclic Redundancy Check

巡回冗長検査

DDS

Disk Definition Structure

ディスク定義構造

DMA

Defect Management Area

欠陥管理領域

ECC

Error Correction Code

誤り訂正符号

EDAC

Error Detection and Correction Code

誤り検出訂正符号

FA1

Functional Area 1

機能定義領域1

FA2

Functional Area 2

機能定義領域2

Identifier

識別子

LBA

Logical Block Address

論理ブロックアドレス

LSB

Least Significant Byte

最下位バイト

MSB

Most Significant Byte

最上位バイト

ODC

Optical Disk Cartridge

光ディスクカートリッジ

O-ROM

Optical Read Only Memory

全面再生専用形光ディスク

Postamble

ポストアンブル

Phase change

相変化

PDL

Primary Defect List

1次欠陥管理表

PLL

Phase-Lock Loop Circuit

位相同期ループ

P-ROM

Partial Read Only Memory

部分再生専用形光ディスク

RLL (2, 7)

Run Length Limited (code)

(2, 7) ランレングス制限符号

R-S

Reed−Solomon (code)

リードソロモン符号

R/W

Read/Write

書換形

SDL

Secondary Defect List

2次欠陥管理表

VFO

Variable Frequency Oscillator

VFO信号

ZCAV

Zoned Constant Angular Velocity

ゾーン化された角速度一定方式

7. カートリッジの概要 ISO/IEC 14760 : 1997の7. General description of the optical disk cartridgeによる。

8. 一般的要求事項 ISO/IEC 14760 : 1997の8. General requirementsによる。

9. 基準駆動装置 ISO/IEC 14760 : 1997の9. Reference Driveによる。

第2章機械的特性及び物理的特性

10. ケースの寸法及び機械的特性 ISO/IEC 14760 : 1997の10. Dimensional and physical characteristics of the

caseによる。

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11. 光ディスクの寸法，機械的特性及び物理的特性 ISO/IEC 14760 : 1997の11. Dimensional, mechanical

and physical characteristics of the diskによる。

12. 光ディスクカートリッジと駆動装置とのインタフェース ISO/IEC 14760 : 1997の12. Interface

between cartridge and driveによる。

第3章フォーマット

13. 物理トラックの形状 ISO/IEC 14760 : 1997の13. Geometry of physical tracksによる。

14. トラックフォーマット ISO/IEC 14760 : 1997の14. Track formatによる。

15. セクタフォーマット ISO/IEC 14760 : 1997の15. Sector formatによる。

16. 記録符号 ISO/IEC 14760 : 1997の16. Recording codeによる。

17. 情報ゾーンのフォーマット ISO/IEC 14760 : 1997の17. Format of the Information Zoneによる。

18. データゾーンのフォーマット ISO/IEC 14760 : 1997の18. Format of the Data Zoneによる。

19. 欠陥管理 ISO/IEC 14760 : 1997の19. Defect managementによる。

第4章エンボス情報の特性

20. 試験方法 ISO/IEC 14760 : 1997の20. Method of testingによる。

21. グルーブ関連信号 ISO/IEC 14760 : 1997の21. Signals from groovesによる。

22. ヘッダ信号 ISO/IEC 14760 : 1997の22. Signals from Headersによる。

23. エンボスレコーディングフィールドからの信号 ISO/IEC 14760 : 1997の23. Signals from embossed

Recording fieldsによる。

第5章記録層の特性

24. 試験方法 ISO/IEC 14760 : 1997の24. Method of testingによる。

25. オーバライト特性 ISO/IEC 14760 : 1997の25. Overwrite characteristicsによる。

26. 消去特性 ISO/IEC 14760 : 1997の26. Erase characteristicsによる。

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

第6章ユーザデータの特性

27. 試験方法 ISO/IEC 14760 : 1997の27. Method of testingによる。

28. セクタの最低保証品質 ISO/IEC 14760 : 1997の28. Minimum quality of a sectorによる。

29. データ互換の要求特性 ISO/IEC 14760 : 1997の29. Data interchange requirementsによる。

附属書A（規定）端部のひずみ試験方法 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex A−Edge distortion testによ

る。

附属書B（規定）可とう性試験方法 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex B−Compliance testによる。

附属書C（規定） IDフィールドのCRC ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex C−CRC for ID fieldsによ

る。

附属書D（規定）制御ゾーンの内容 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex D−Contents of the Control Zones

による。

附属書E（規定） 1セクタ中のデータフィールドのフォーマット ISO/IEC14760 : 1997のAnnex E

−Format of the Data field of asectorによる。

附属書F（規定）ハブ吸着力試験方法 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex F−Test method for measuring

the adsorbent force of the hubによる。

附属書G（規定）空気清浄度クラス100 000 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex G−Air cleanliness

class100 000による。

附属書H（規定）カートリッジの基準面 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex H−Position of the cartridge

relative to the reference planesによる。

附属書J（規定）各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex J−

Relaxation by zones of the requirements for signalsによる。

附属書K（参考）トラックの振れ量の測定方法 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex K−Track deviation

measurementによる。

附属書L（参考）使用環境条件の導出方法 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex L−Derivation of the

operating climatic environmentによる。

附属書M（参考）セクタの交替に関するガイドライン ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex M−Guidelines

for sector replacementによる。

附属書N（参考）ワンビームオーバライトの定義 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex N−Definition of

one-beam overwriteによる。

附属書P（参考）輸送環境 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex P−Transportationによる。

附属書Q（参考）オフィス環境 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex Q−Office environmentによる。

附属書R（参考）現在及び将来の規格で使用する数値 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex R−Values to

be implemented in existing and future standardsによる。

附属書S（参考）複屈折の測定 ISO/IEC 14760 : 1997のAnnex S−Measurement of birefringenceに

よる。

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

光ディスク標準化委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

板生清

東京大学

石井正則

日本電気株式会社

磯村嘉伯

日本電信電話株式会社

伊藤武

富士通株式会社

入江英之

株式会社東芝

金沢安矩

日立マクセル株式会社

橋爪邦隆

工業技術院

木目健治朗

三菱電機株式会社

小町祐史

松下電送株式会社

佐藤正聡

株式会社ニコン

菅谷寿鴻

株式会社東芝

高橋正彦

株式会社日立製作所

土屋洋一

三洋電機株式会社

徳丸春樹

日本放送協会

戸島知之

NTTインテリジェントテクノロジ株式会社

増井久之

財団法人マルチメディアコンテンツ振興協会

松林宣秀

オリンパス光学工業株式会社

三和邦彦

日本アイ・ビー・エム株式会社

村上善照

シャープ株式会社

山上保

ソニー株式会社

山田昇

松下電器産業株式会社

横川文彦

パイオニア株式会社

吉田秀実

三菱化学株式会社

光ディスク標準化委員会第2メディア分科会構成表

氏名

所属

（統括）

菅谷寿鴻

株式会社東芝

伊藤雅樹

日本電気株式会社

伊藤正也

三菱電機株式会社

大林元太郎

東レ株式会社

小平康人

旭化成工業株式会社

佐藤哲生

帝人株式会社

杉本守

セイコーエプソン株式会社

南雲収

パルステック工業株式会社

西田哲也

株式会社日立製作所

橋爪邦隆

工業技術院

橋詰隆

株式会社小野測器

宮園泰

HOYA株式会社

山田昇

松下電器産業株式会社