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X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

今回の制定では,日本工業規格と国際規格との一致に留意し翻訳規格としたが,これについては解説に

その詳細を記述した。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実

用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録

出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS X 6291

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  端部のひずみ試験方法

附属書 B(規定)  可とう性試験方法

附属書 C(規定)  ID フィールドの CRC

附属書 D(規定)  制御ゾーンの内容

附属書 E(規定)  1 セクタ中のデータフィールドのフォーマット

附属書 F(規定)  ハブ吸着力試験方法

附属書 G(規定)  空気清浄度クラス 100 000

附属書 H(規定)  カートリッジの基準面

附属書 J(規定)  各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和

附属書 K(参考)  トラックの振れ量の測定方法

附属書 L(参考)  使用環境条件の導出方法

附属書 M(参考)  セクタの交替に関するガイドライン

附属書 N(参考)  ワンビームオーバライトの定義

附属書 P(参考)  輸送環境

附属書 Q(参考)  オフィス環境

附属書 R(参考)  現在及び将来の規格で使用する数値

附属書 S(参考)  複屈折の測定

附属書(参考)  ISO/IEC 14760 : 1997 (Information technology−Data interchange on 90mm overwritable

and read only optical disk cartridges using phase change

−Capacity : 1.3 Gbytes per

cartridge)


日本工業規格

JIS

 X

6291

 : 1998

 (ISO/IEC

14760

 : 1997

)

90mm/1.3GB

光ディスクカートリッジ

(相変化光記録)

Information technology

Data interchange on 90mm overwritable and read only optical disk cartridges

using phase change

−Capacity : 1.3Gbytes per cartridge

序文  この規格は,1997 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 14760, Information technology−Data

interchange on 90mm overwritable and read only optical disk cartridges using phase change

−Capacity : 1.3Gbytes

per cartridge

について,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格であり,1.から 6.までは,原

国際規格の同項目を全文翻訳し,7.以降については,原国際規格の同項目の内容を引用するものとした。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,説明のために追加したものであり,原国際規格には

ない事項である。

第 章  一般事項 

1.

適用範囲  この規格は,カートリッジ当たり 1.3 ギガバイトの容量をもつ相変化 90mm 光ディスクカ

ートリッジの特性を規定する。この規格は,次の 3 種の光ディスクカートリッジについて規定する。

タイプ R/W

相変化オーバライト効果を利用して,ディスクの記録領域全体にわたってデータ

のオーバライト及び再生を繰返しできる。

タイプ P-ROM

ディスク表面の記録領域の一部に,スタンピング又はその他の方法によってエン

ボスマークが形成されている。この部分は,オーバライト効果を利用することな

く再生される。エンボスマークが形成されたところ以外の部分は,タイプ R/W の

要求を満足している。

タイプ O-ROM

ディスク表面全体に,スタンピング又はその他の方法によってエンボスマークが

形成されている。このタイプのディスクは,オーバライト効果を利用することな

く再生される。

この規格では,各々のタイプに対して,1 セクタ当たりの容量として 512 バイトと 2048 バイトが許容さ

れている。1 枚のディスクのセクタはすべて同じ容量でなくてはならない。

タイプ R/W,P-ROM 及び O-ROM は,それぞれ“書換形”

“部分再生専用形”及び“全面再生専用形”

とも呼ばれる。

この規格は,次の事項について規定する。

−  適用試験の条件及び基準駆動装置


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X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

−  光ディスクカートリッジの使用環境及び保存環境

−  データ処理システム間の機械的互換性を保証するための光ディスクカートリッジの機械的特性及び物

理的特性

−  トラックとセクタの物理的な配置,誤り訂正符号及び使用される変調方式を含むディスク上のエンボ

スデータ及びユーザ記録データのフォーマット

−  ディスクのエンボス情報の特性

−  データ処理システムがディスクにデータを記録可能にするためのディスクの相変化記録特性

−  データ処理システムがディスクからデータを再生可能にするためのディスク上のユーザ記録データの

最低品質

この規格は,光ディスク駆動装置間での互換性を与えるものである。

なお,別途規定のボリューム及びファイル構造の規格と合わせることによって,データ処理システム間

の完全な互換性を与えるものである。

2.

適合性

2.1

光ディスクカートリッジ  この規格に適合する光ディスクカートリッジは,そのタイプを明確にし

なければならない。そのタイプについて,この規格で規定するすべての要求事項を満足するとき,その光

ディスクカートリッジは,この規格に適合とする。

附属書 は,この規格で規定された信号特性が満たされなければならないゾーン及び信号特性の規定が

緩和されているゾーンを示している。

2.2

ジェネレーティングシステム  この規格に適合するジェネレーティングシステムは,サポートする

光ディスクカートリッジのタイプを明確にしなければならない。そのタイプについて,この規格のすべて

の要求事項を満足するとき,そのデータ互換のための光ディスクカートリッジのジェネレーティングシス

テムは,この規格に適合とする。

2.3

レシービングシステム  この規格に適合するレシービングシステムは,サポートする光ディスクカ

ートリッジのタイプを明確にしなければならない。

2.1

に記載された光ディスクカートリッジに記録された

どの情報をも扱えるならば,

そのデータ互換のための光ディスクカートリッジのレシービングシステムは,

この規格に適合とする。

2.4

適合性表示  この規格に適合するジェネレーティングシステム及びレシービングシステムは,サポ

ートする他の規格のリストを記述しなければならない。この記述には,次の事項を含んでいなければなら

ない。

a)

サポートする規格番号

b)

サポートする光ディスクカートリッジのタイプ(タイプが適用されている規格に対して)

c)

再生だけをサポートするのか,オーバライト及び再生ともにサポートするのかの情報

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。こ

の規格が制定された時点では,次の規格が最新規格であるが,改正されることもあるので,この規格を使

う当事者は,最新版を適用できるかどうか検討することが望ましい。現在有効な国際規格の登録維持は,

ISO

及び IEC の構成員が行っている。

IEC 60950 : 1991.

  Safety of information technology equipment


3

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

4.

定義  この規格では,次の定義を用いる。

4.1

バンド (band)  所定数の連続する物理トラックからなるデータゾーンの一部。

4.2

ケース  (case)    光ディスクを保護するとともに,ディスクの互換を容易にするための入れ物。

4.3

チャネルビット (Channel bit)   2 値の“0”及び“1”をディスク上のピット又はマークで表す要素。

4.4

クランプゾーン  (clamping zone)    クランプ装置からの保持力が印加されるディスクの環状部分。

4.5

制御情報トラック  (control track)    光ディスクに記録及び再生するために必要なフォーマット並び

に媒体パラメータを含むトラック。

4.6

巡回冗長検査  (CRC) [Cyclic Redundancy Check (CRC)]    データの誤り検出方法の一つ。伝送単位ご

とにビット列を 2 進数の多項式とみなし,あらかじめ定めた多項式で除算した余りをチェックビットとし

て伝送単位の最後に付加する方式。

4.7

欠陥管理 (defect management)   ディスク上の欠陥領域を取り扱う方法。

4.8

ディスクの基準面  (disk reference plane)    回転軸に対して垂直で,かつ,理想スピンドルによってク

ランプされる完全にフラットな環状表面として規定される面。

4.9

エンボスマーク  (embossed mark)    光学的手段によって変更できないように形成されたマーク。

4.10

入射面  (entrance surface)    光ビームが最初に入射するディスクの表面。

4.11

誤り訂正符号 (ECC) [Error Correction Code (ECC)]    データ中のある種の誤りを訂正するように設

計された,誤り検出符号の一つ。

4.12

フィールド  (field)    1 セクタの中で分割したまとまった区分を表す領域。

4.13

フォーマット  (format)    ディスク上の情報の配置又はレイアウト。

4.14

全面再生専用形光ディスク (fully embossed disk)   データゾーンの中のすべてのデータフィールド

がエンボスデータである光ディスク。

4.15

全面書換形光ディスク  (fully overwritable disk)    規定された領域のデータが,光ビームによって書換

え可能である光ディスク(4.22 参照)

4.16

グルーブ  (groove)    4.19 参照。

4.17

ハブ  (hub)    駆動装置のスピンドルによって芯出しを行い,かつ,クランプ力を与えるためのディ

スクの中心部分にある構造体。

4.18

インタリーブ  (interleaving)    バーストエラーによって影響を受けないように,連続するデータ群を

物理的に分散して配置するプロセス。

4.19

ランド及びグルーブ  (land and groove)    情報が記録される前に形成されるディスクの溝状構造。ト

ラック位置を明らかにするために用いられ,グルーブは,それと一対でトラックを構成するランドよりも

入射面に近い方に位置する。

4.20

論理トラック  (logical track)   512 バイト/セクタのディスクでは連続する 16 セクタ。2 048 バイト

/セクタのディスクでは連続する 4 セクタ。各々の論理トラックの最初のセクタを第 0 セクタとする。

4.21

マーク (mark)   非晶質の形態,ピット,又はその他光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。

マークのパターンが,ディスクのデータを表す。

備考  セクタマーク,アドレスマークなどのセクタの下位区分としての“マーク”は,ここでいうマ

ークとは異なる。

4.22

ワンビームオーバライト (one-beam overwrite)   事前に消去することなく 1 個のレーザビームを使

ってオーバライトすることで情報を記録する方法。


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X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

4.23

光ディスク  (optical disk)    記録層にマークの形で情報を記録し,かつ,保持する,又はあらかじめ

記録されたマークをもつ,光ビームで再生可能なディスク。

4.24

光ディスクカートリッジ  [optical disk cartridge (ODC)]    光ディスクが収納されたケースからなるデ

バイス。

4.25

部分再生専用形光ディスク  (partially embossed disk)    データゾーンに書換可能フィールド及びエン

ボスデータフィールドの両方をもつ光ディスク。

4.26

相変化 (PC) [phase change (PC)]   記録フィルムのレーザビームが照射された領域が熱せられて非

晶質状態から結晶状態,又はその逆に可逆的に変化する物理的効果。

4.27

物理トラック  (physical track)    ディスクが 1 回転する間に光ビームの焦点がたどる経路。

4.28

物理トラックグループ  (physical track group)    データゾーンでの一定数の連続する物理トラック。

4.29

ピッチ  (pitch)    隣接する物理トラックの中心線の半径方向の間隔。

4.30

偏光 (polarization)   光波の振動ベクトルの振動方向が規則的なもの及びその状熊。光ビームの偏光

方向は,光ビームの電気ベクトルの方向である。

備考  偏光面は光ビームの伝搬方向と電気ベクトルを含む面である。光ビームの伝搬方向から見て電

気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を右回転偏光という。

4.31

再生パワー  (read power)    再生時のディスクの入射面での光パワー。

4.32

記録層 (recording layer)   ディスクを構成する層の一つ。製造時及び/又は使用時にデータを書き込

むディスク上又はディスク内の層。

4.33

リードソロモン符号  (Reed-Solomon code)   バーストエラー又は高い相関をもつ誤りの訂正に適し

ている,誤り検出符号及び/又は誤り訂正符号。符号系列を一定長のブロックに分割したとき,このバイ

ト単位で発生する誤りに対する代表的な訂正符号。

4.34

セクタ  (sector)    ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で,アドレス指定可能な最小領域。

4.35

スピンドル (spindle)   駆動装置の一部で,ディスク及び/又はハブと接合し回転する部分。

4.36

基板 (substrate)   記録層を機械的に支持する透明な円盤状の基体。光ビームはこの基体を通して記

録層に入射する。

4.37  ZCAV (ZCAV)

  角速度一定方式として使用するためのゾーン化されたディスクフォーマット。デー

タゾーンにおいてはすべてのトラックを論理トラックとして扱う。

4.38

ゾーン (zone)    ディスクの環状領域。

5.

規定及び表記法  数値表示及び特殊名称の表記について規定する。

5.1

数値表示

−  測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸めることとする。すなわち,1.26

01

.

0

02

.

0

+

という規定

値は,1.235 以上 1.275 未満の測定値を許容する。

− 16 進数は,( )でくくり表記する。

−  ビットの値は,0 及び 1 とする。

−  2 進数及びビットの組合せの数値は,0 及び 1 で表す。

−  2 進数及びビットの組合せの数値は,左に最上位ビットを示す。

−  2 進数の負の値は,2 の補数で表す。

−  各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト 0)を最初に記録する。8 ビットで構成する各バイト

では,最下位ビット(0 番目)を最後に記録し,最上位ビット(7 番目)を最初に記録する。この規定


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X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

は,誤り検出訂正回路のデータ入出力にも適用する。

−  特に明記されていない限り,xx...x/yy...y 形式の 10 進数のグループは,xx...x は 512 バイトセクタのバ

イト,セクタ又はトラック番号を,yy...y は 2 048 バイトセクタのそれらを表す。

5.2

名称

−  特定のトラック,フィールドなどの登録名称はイニシャルの頭文字によって与えられる。

6.

略語  略語について規定する。

AM Address

Mark

アドレスマーク

CRC

Cyclic Redundancy Check

巡回冗長検査

DDS Disk

Definition

Structure

ディスク定義構造

DMA Defect

Management

Area

欠陥管理領域

ECC

Error Correction Code

誤り訂正符号

EDAC

Error Detection and Correction Code

誤り検出訂正符号

FA1 Functional

Area 1

機能定義領域 1

FA2 Functional

Area 2

機能定義領域 2

ID Identifier

識別子

LBA Logical

Block

Address

論理ブロックアドレス

LSB

Least Significant Byte

最下位バイト

MSB

Most Significant Byte

最上位バイト

ODC

Optical Disk Cartridge

光ディスクカートリッジ

O-ROM

Optical Read Only Memory

全面再生専用形光ディスク

PA Postamble

ポストアンブル

PC Phase

change

相変化

PDL Primary

Defect

List

1

次欠陥管理表

PLL Phase-Lock

Loop

Circuit

位相同期ループ

P-ROM

Partial Read Only Memory

部分再生専用形光ディスク

RLL (2, 7)

Run Length Limited (code)

(2, 7)

ランレングス制限符号

R-S Reed

−Solomon (code)

リードソロモン符号

R/W Read/Write

書換形

SDL Secondary

Defect

List

2

次欠陥管理表

VFO Variable

Frequency

Oscillator

VFO

信号

ZCAV Zoned

Constant

Angular

Velocity

ゾーン化された角速度一定方式

7.

カートリッジの概要  ISO/IEC 14760 : 1997 の 7. General description of the optical disk cartridge による。

8.

一般的要求事項  ISO/IEC 14760 : 1997 の 8. General requirements による。

9.

基準駆動装置  ISO/IEC 14760 : 1997 の 9. Reference Drive による。

第 章  機械的特性及び物理的特性 

10.

ケースの寸法及び機械的特性  ISO/IEC 14760 : 1997 の 10. Dimensional and physical characteristics of the

case

による。


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X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

11.

光ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性  ISO/IEC 14760 : 1997 の 11.  Dimensional, mechanical

and physical characteristics of the disk

による。

12.

光ディスクカートリッジと駆動装置とのインタフェース  ISO/IEC 14760 : 1997 の 12.  Interface

between cartridge and drive

による。

第 章  フォーマット 

13.

物理トラックの形状  ISO/IEC 14760 : 1997 の 13. Geometry of physical tracks による。

14.

トラックフォーマット  ISO/IEC 14760 : 1997 の 14. Track format による。

15.

セクタフォーマット  ISO/IEC 14760 : 1997 の 15. Sector format による。

16.

記録符号  ISO/IEC 14760 : 1997 の 16. Recording code による。

17.

情報ゾーンのフォーマット  ISO/IEC 14760 : 1997 の 17. Format of the Information Zone による。

18.

データゾーンのフォーマット  ISO/IEC 14760 : 1997 の 18. Format of the Data Zone による。

19.

欠陥管理  ISO/IEC 14760 : 1997 の 19. Defect management による。

第 章  エンボス情報の特性 

20.

試験方法  ISO/IEC 14760 : 1997 の 20. Method of testing による。

21.

グルーブ関連信号  ISO/IEC 14760 : 1997 の 21. Signals from grooves による。

22.

ヘッダ信号  ISO/IEC 14760 : 1997 の 22. Signals from Headers による。

23.

エンボスレコーディングフィールドからの信号  ISO/IEC 14760 : 1997 の 23.  Signals from embossed

Recording fields

による。

第 章  記録層の特性 

24.

試験方法  ISO/IEC 14760 : 1997 の 24. Method of testing による。

25.

オーバライト特性  ISO/IEC 14760 : 1997 の 25. Overwrite characteristics による。

26.

消去特性  ISO/IEC 14760 : 1997 の 26. Erase characteristics による。


7

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

第 章  ユーザデータの特性 

27.

試験方法  ISO/IEC 14760 : 1997 の 27. Method of testing による。

28.

セクタの最低保証品質  ISO/IEC 14760 : 1997 の 28. Minimum quality of a sector による。

29.

データ互換の要求特性  ISO/IEC 14760 : 1997 の 29. Data interchange requirements による。

附属書 A(規定)  端部のひずみ試験方法  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex A−Edge distortion test によ

る。

附属書 B(規定)  可とう性試験方法  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex B−Compliance test による。

附属書 C(規定)  ID フィールドの CRC  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex C−CRC for ID fields によ

る。

附属書 D(規定)  制御ゾーンの内容  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex D−Contents of the Control Zones

による。

附属書 E(規定)  セクタ中のデータフィールドのフォーマット  ISO/IEC14760 : 1997 の Annex E

−Format of the Data field of asector による。

附属書 F(規定)  ハブ吸着力試験方法  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex F−Test method for measuring

the adsorbent force of the hub

による。

附属書 G(規定)  空気清浄度クラス 100 000  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex G−Air cleanliness

class100 000

による。

附属書 H(規定)  カートリッジの基準面  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex H−Position of the cartridge

relative to the reference planes

による。

附属書 J(規定)  各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex J

Relaxation by zones of the requirements for signals

による。

附属書 K(参考)  トラックの振れ量の測定方法  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex K−Track deviation

measurement

による。

附属書 L(参考)  使用環境条件の導出方法  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex L−Derivation of the

operating climatic environment

による。

附属書 M(参考)  セクタの交替に関するガイドライン  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex M−Guidelines

for sector replacement

による。

附属書 N(参考)  ワンビームオーバライトの定義  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex N−Definition of

one-beam overwrite

による。

附属書 P(参考)  輸送環境  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex P−Transportation による。

附属書 Q(参考)  オフィス環境  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex Q−Office environment による。

附属書 R(参考)  現在及び将来の規格で使用する数値  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex R−Values to

be implemented in existing and future standards

による。

附属書 S(参考)  複屈折の測定  ISO/IEC 14760 : 1997 の Annex S−Measurement of birefringence に

よる。


8

X 6291 : 1998 (ISO/IEC 14760 : 1997)

光ディスク標準化委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

板  生      清

東京大学

石  井  正  則

日本電気株式会社

磯  村  嘉  伯

日本電信電話株式会社

伊  藤      武

富士通株式会社

入  江  英  之

株式会社東芝

金  沢  安  矩

日立マクセル株式会社

橋  爪  邦  隆

工業技術院

木  目  健治朗

三菱電機株式会社

小  町  祐  史

松下電送株式会社

佐  藤  正  聡

株式会社ニコン

菅  谷  寿  鴻

株式会社東芝

高  橋  正  彦

株式会社日立製作所

土  屋  洋  一

三洋電機株式会社

徳  丸  春  樹

日本放送協会

戸  島  知  之 NTT インテリジェントテクノロジ株式会社

増  井  久  之

財団法人マルチメディアコンテンツ振興協会

松  林  宣  秀

オリンパス光学工業株式会社

三  和  邦  彦

日本アイ・ビー・エム株式会社

村  上  善  照

シャープ株式会社

山  上      保

ソニー株式会社

山  田      昇

松下電器産業株式会社

横  川  文  彦

パイオニア株式会社

吉  田  秀  実

三菱化学株式会社

光ディスク標準化委員会第 2 メディア分科会  構成表

氏名

所属

(統括)

菅  谷  寿  鴻

株式会社東芝

伊  藤  雅  樹

日本電気株式会社

伊  藤  正  也

三菱電機株式会社

大  林  元太郎

東レ株式会社

小  平  康  人

旭化成工業株式会社

佐  藤  哲  生

帝人株式会社

杉  本      守

セイコーエプソン株式会社

南  雲      収

パルステック工業株式会社

西  田  哲  也

株式会社日立製作所

橋  爪  邦  隆

工業技術院

橋  詰      隆

株式会社小野測器

宮  園      泰 HOYA 株式会社

山  田      昇

松下電器産業株式会社