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X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

第 章  一般事項  

1

1

  適用範囲  

1

2

  適合性 

2

2.1

  光ディスクカートリッジ(ODC  

2

2.2

  ジェネレーティングシステム  

2

2.3

  レシービングシステム  

2

2.4

  互換性表示  

2

3

  引用規格  

2

4

  用語及び定義  

2

5

  表記法 

6

5.1

  数値表示  

6

5.2

  名称  

6

6

  略語 

6

7

  ODC の概要  

7

8

  一般要件  

7

8.1

  環境条件  

7

8.2

  温度衝撃  

8

8.3

  安全性  

8

8.4

  耐燃性  

8

9

  基準駆動装置  

8

9.1

  光学系  

8

9.2

  光ビーム  

10

9.3

  再生チャネル  

10

9.4

  トラッキング  

10

9.5

  ディスクの回転  

10

第 章  機械的特性及び物理的特性  

10

10

  ケースの寸法特性及び物理的特性  

10

10.1

  ケースの概要(図 参照)  

10

10.2

  ケースの基準面  

11

10.3

  ケースの寸法  

11

10.4

  機械的特性  

15

11

  ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性  

28

11.1

  ディスクの概要  

28

11.2

  ディスクの基準軸及び基準面  

28


X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)  目次

(2)

ページ

11.3

  ディスクの寸法(図 13 参照)  

28

11.4

  機械的特性  

29

11.5

  光学特性  

30

12

  ODC と駆動装置とのインタフェース  

31

12.1

  クランプ方法  

31

12.2

  クランプ力  

31

12.3

  キャプチャシリンダ(図 14 参照) 

31

12.4

  使用環境条件におけるディスクの位置(図 14 参照)  

32

第 章  フォーマット  

34

13

  トラックの寸法  

34

13.1

  トラックの形状  

34

13.2

  トラックスパイラルの方向  

34

13.3

  トラックピッチ  

34

14

  トラックフォーマット  

34

14.1

  トラック番号  

34

14.2

  トラックレイアウト  

34

14.3

  クロック周波数及び周期  

34

14.4

  半径方向のアライメント  

35

14.5

  セクタ番号  

35

15

  セクタフォーマット  

35

15.1

  セクタのレイアウト  

35

15.2

  セクタマーク(SM  

36

15.3

  VFO フィールド  

36

15.4

  アドレスマーク(AM  

37

15.5

  ID フィールド  

37

15.6

  ポストアンブル(PA  

37

15.7

  オフセット検出フィールド(ODF  

37

15.8

  ギャップ  

37

15.9

  同期バイト(Sync  

37

15.10

  データフィールド  

38

15.11

  バッファ  

38

16

  記録符号  

38

17

  情報ゾーンのフォーマット  

40

17.1

  情報ゾーンの概要  

40

17.2

  情報ゾーンの分割  

40

18

  データゾーンのフォーマット  

42

18.1

  データゾーンのバッファトラック  

42

18.2

  欠陥管理領域(DMA  

43

18.3

  ディスク定義構造(DDS  

43


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(3)

ページ

18.4

  ゾーンの分割  

45

19

  欠陥管理  

50

19.1

  書換形グループ:スペアセクタ  

50

19.2

  エンボスグループ:パリティセクタ  

53

第 章  エンボス特性  

53

20

  試験方法  

53

20.1

  使用環境  

53

20.2

  基準駆動装置  

53

20.3

  信号の定義  

54

21

  グルーブからの信号  

55

21.1

  クロストラック信号  

55

21.2

  最小クロストラック信号  

55

21.3

  プッシュプル信号  

56

21.4

  デバイデドプッシュプル信号  

56

21.5

  位相深さ  

57

21.6

  トラックの位置  

57

22

  ヘッダ信号  

57

22.1

  セクタマーク  

57

22.2

  VFO 信号  

57

22.3

  アドレスマーク,ID フィールド及びポストアンブル  

57

23

  エンボス記録フィールド信号  

57

第 章  記録層の特性  

58

24

  試験方法  

58

24.1

  試験環境  

58

24.2

  基準駆動装置  

58

24.3

  記録条件  

58

24.4

  消去条件  

60

24.5

  信号の定義  

60

25

  光磁気特性  

60

25.1

  性能指数  

60

25.2

  光磁気信号の非対称性  

60

26

  記録特性  

61

26.1

  分解能  

61

26.2

  狭帯域信号対雑音比(NBSNR  

61

26.3

  クロストーク比  

62

27

  消去特性  

62

第 章  ユーザデータの特性  

62

28

  試験方法  

62

28.1

  試験環境  

62

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:2012 (ISO/IEC 13963:1995)  目次


X 6275

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(4)

ページ

28.2

  基準駆動装置  

62

29

  セクタの最低保証品質  

63

29.1

  ヘッダ  

63

29.2

  ユーザ記録データ  

63

29.3

  エンボスデータ  

63

30

  データ交換要件  

63

30.1

  トラッキング  

64

30.2

  ユーザ記録データ  

64

30.3

  エンボスデータ  

64

30.4

  ディスクの品質  

64

附属書 A(規定)ケースのひずみ(歪)量確認方法  

65

附属書 B(規定)ODC の可とう(撓)性確認方法  

66

附属書 C(参考)トラックの振れ量の測定方法  

68

附属書 D(規定)ID フィールドの CRC  

72

附属書 E(規定)セクタのデータフィールドのフォーマット  

73

附属書 F(規定)制御ゾーンの内容  

76

附属書 G(参考)交替セクタを利用するときのガイドライン  

83

附属書 H(規定)性能指数の測定  

84

附属書 J(参考)再生パワー,記録パワー及び消去パワー  

85

附属書 K(規定)ハブの吸着力の測定方法  

86

附属書 L(参考)使用環境条件の導出方法 

88

附属書 M(規定)空気清浄度クラス  100 000  

92

附属書 N(規定)基準面に関連する ODC の位置  

94

附属書 P(参考)輸送 

95

附属書 Q(参考)オフィス環境  

96

附属書 R(規定)信号特性が緩和できるゾーン  

97

附属書 S(参考)現在及び将来の規格で実装される値  

98


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(5)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般財団法人光産

業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。

これによって,JIS X 6275:1997 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格に従うことは,次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので,留意する。

−  氏名:ソニー株式会社

−  住所:東京都港区港南 1-7-1

−  氏名:富士通株式会社

−  住所:神奈川県川崎市中原区上小田中 4-1-1

上記の,特許権等の権利者は,非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施

の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし,この規格に関連する他の特許権等の権利者に対

しては,同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。

この規格に従うことが,必ずしも,特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ

る。

この規格の一部が,上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標

準調査会は,このような特許権等に関わる確認について,責任はもたない。

なお,ここで“特許権等”とは,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。


日本工業規格

JIS

 X

6275

:2012

(ISO/IEC 13963

:1995

)

90 mm/230 MB

光ディスクカートリッジ

Information technology-Data interchange on 90 mm optical disk cartridges-

Capacity: 230 Mbytes per cartridge

序文 

この規格は,1995 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 13963 を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

第 章  一般事項 

適用範囲 

この規格は,カートリッジ当たり 230 メガバイト(MB)の容量をもつ 90 mm の光ディスクカートリッ

ジ(以下,ODC という。

)の特性を規定する。この規格は,次の 3 種類の異なるタイプの ODC について規

定する。

タイプ R/W

熱磁気効果及び光磁気効果を利用して,ディスクの記録領域全体にわたって,繰り返

しデータの記録,再生及び消去ができる。

タイプ P-ROM

ディスクの一部に成型によるエンボスデータをもち,そのエンボスデータ部分は光磁

気効果を用いずに再生できる。その他の領域は,タイプ R/W と同じ性質をもつ。

タイプ O-ROM

ディスクの全領域が成型によるエンボスデータからなり,そのエンボスデータ部分は

光磁気効果を用いずに再生できる。

タイプ R/W は,

“全面書換形”

,タイプ P-ROM は,

“パーシャルロム”又は“部分エンボス形”

,タイプ

O-ROM は,“フルロム”又は“全面エンボス形”とも呼ばれる。

この規格は次の事項について規定する。

−  適用試験の条件及び基準駆動装置

− ODC の使用環境及び保存環境

−  データ処理システム間の機械的互換性を保証するための ODC の機械的特性及び物理的特性

−  トラック及びセクタの物理的な配置,並びに,誤り訂正符号及び使用する変調方式を含むディスク上

のエンボスデータ及びユーザ記録データのフォーマット

−  ディスクのエンボス情報の特性

−  データ処理システムがディスク上にデータを記録可能にするためのディスクの光磁気特性

−  データ処理システムがディスクからデータを再生可能にするためのディスク上のユーザ記録データの

最低限の品質

この規格は,駆動装置間の互換性を与えるものである。

なお,別途規定のボリューム及びファイル構造の規格と合わせることによって,データ処理システム間


2

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

の完全なデータ互換性を与えるものである。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO/IEC 13963:1995

,Information technology−Data interchange on 90 mm optical disk cartridges−

Capacity: 230 megabytes per cartridge(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

適合性 

2.1 

光ディスクカートリッジ(ODC 

この規格に適合する ODC は,そのタイプを明確にしなければならない。そのタイプについて,この規

格で規定する全ての要求事項を満足する場合,その ODC は,この規格に適合する。

附属書 は,この規格で規定された信号特性が満たされなければならないゾーン及び信号特性の規定が

緩和できるゾーンを示している。

2.2 

ジェネレーティングシステム 

この規格に適合するジェネレーティングシステムは,サポートするタイプ(複数可)を明確にしなけれ

ばならない。互換用 ODC のジェネレーティングシステムは,サポートするタイプについてこの規格の全

ての要件を満たすとき,この規格に適合する。

2.3 

レシービングシステム 

この規格に適合するレシービングシステムは,どのタイプ(複数可)を実装するかを明確にしなければ

ならない。

2.1

に規定されたタイプの ODC に記録したどの情報も扱える場合,そのデータ互換のための ODC のレ

シービングシステムは,この規格に適合する。

2.4 

互換性表示 

あるシステムがこの規格に対する適合性を表明する場合,そのシステムがサポートする他の ODC の規

格を列挙するステートメントを含まなければならない。このステートメントには,サポートする規格の番

号,ODC のタイプ,及び再生だけをサポートするのか又は記録と再生とを共にサポートするのかを明記し

なければならない。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用

規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 6950-1

  情報技術機器−安全性−第 1 部:一般要求事項

注記  対 応 国際 規格 : IEC 60950-1 , Information technology equipment− Safety− Part 1: General

requirements(MOD)

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

4.1 

バンド(band)

所定数の連続するフィジカルトラックからなるデータゾーンの一部。


3

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

4.2 

ケース(case)

ディスクを保護するとともに,ディスクの交換を容易にする光ディスクの入れ物。

4.3 

チャネルビット(channel bit)

ディスク上のデータの最小要素。スペース又はマークで記録される。2 チャネルビットで 1 データビッ

トを表す。

4.4 

クランプゾーン(clamping zone)

クランプ装置からの吸着力が印加されるディスクの環状部分。

4.5 

制御トラック(control track)

光ディスクに記録,再生及び消去をするために必要なフォーマット及びメディアパラメタを含むトラッ

ク。

4.6 

巡回冗長検査,CRC(Cyclic Redundancy Check,CRC)

データの誤り検出方法の一つ。伝送単位ごとにビット列を 2 進数とみなし,あらかじめ定められた多項

式で除算した余りをチェックビットとして伝送単位の最後に付加する方式。

4.7 

欠陥管理(defect management)

ディスクの欠陥領域を取り扱う方法。

4.8 

ディスク基準面(disk reference plane)

理想スピンドルにおいて,回転軸に対して垂直で,かつ,ディスクのクランプゾーンに対応する,完全

にフラットな環状表面として規定される面。

4.9 

エンボスマーク(embossed mark)

光磁気的手段によって変更できないように形成されたマーク。

4.10 

入射面(entrance surface)

光ビームが最初に入射するディスクの表面。

4.11 

誤り訂正符号,ECC(Error Correction Code,ECC)

データの中にある種の誤りを訂正するために設計された誤り検出符号の一つ。

4.12 

フィールド(field)

セクタの下位区分を表す領域。特定の種類に属するデータのために用いる。

4.13 

フォーマット(format)

ディスク上の情報の配置又はレイアウト。


4

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

4.14 

全面エンボス形光ディスク(fully embossed disk)

規定された領域のデータが,全てエンボスデータである光ディスク。

4.15 

全面書換形光ディスク(fully rewritable disk)

規定された領域のデータが,光ビームによって書換え可能である光ディスク。

4.16 

グルーブ(groove)

4.20

参照。

4.17 

ハブ(hub)

駆動装置のスピンドルによって芯出しを行い,かつ,吸着力を与えるためのディスクの中心部にある構

造体。

4.18 

インタリーブ(interleaving)

バーストエラーによって影響を受けないように,連続するデータ群を物理的に分割して配置するプロセ

ス。

4.19 

カー回転(Kerr rotation)

光磁気カー効果が引き起こす,記録層からの反射による光ビームの偏光面の回転。

4.20 

ランド及びグルーブ(land and groove)

情報が記録される前に形成するディスクの溝状構造。トラック位置を明らかにするために用いられる。

グルーブは,それと一対でトラックを形成するランドよりも入射面に近いほうに位置する。

4.21 

ロジカルトラック(logical track)

論理的に分割したトラックであり,25 個の連続したセクタで構成されるトラック。各ロジカルトラック

の最初のセクタにはセクタ番号 0 を割り当てる。

4.22 

マーク(mark)

磁区,ピット,その他光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マークのパターンがディスク上

のデータを表す。

注記  セクタマーク,アドレスマークなどのセクタの下位区分としての“マーク”は,ここでいうマ

ークと異なる。

4.23 

光ディスク(optical disk)

記録層にマークの形で情報を記録したり保持したりする,光ビームで再生可能なディスク。

4.24 

光ディスクカートリッジ,ODC(Optical Disk Cartridge,ODC)

光ディスクが収納されたケースからなるデバイス。


5

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:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

4.25 

部分エンボス形光ディスク(partially embossed disk)

1 枚のディスクの中に,書換えできないエンボスデータ領域及び書換え可能領域をもつ光ディスク。

4.26 

フィジカルトラック(physical track)

ディスクが一回転する間の光ビームの焦点がたどる経路。

4.27 

フィジカルトラックグループ(physical track group)

データゾーンでの一定数の連続するフィジカルトラック。

4.28 

ピッチ(pitch)

隣接するフィジカルトラックの中心線の半径方向の間隔。

4.29 

偏光(polarization)

光波の振動ベクトルの振動方向が規則的な状態。光ビームの偏光方向は,ビームの電気ベクトルの方向

となる。

注記  偏光面は,電気ベクトルを含み,かつ,光ビームの伝搬方向をもつ面である。光ビームの伝搬

方向を見て電気ベクトルが時計回りで回転する偏光を右だ(楕)円偏光という。

4.30 

再生パワー(read power)

再生時のディスクの入射面での光パワー。

注記  記録済みのデータを破壊することなく使えるパワーとして最大パワーを規定する。SN 比及びこ

の規格の他の要求事項を満足することを条件に,より小さいパワーを使うことができる。

4.31 

記録層(recording layer)

光ビームによってデータを記録する層。

4.32 

リードソロモン符号(Reed-Solomon code)

誤り検出符合及び/又は誤り訂正符号の一つ。特に,バーストエラー又は高い相関をもつ誤りの訂正に

向いている。

4.33 

セクタ(sector)

ディスクの情報ゾーンにあるアドレス指定可能な最小単位のトラックの部分。

4.34 

スピンドル(spindle)

ディスク及び/又はハブに接触するディスク駆動装置の一部。

4.35 

基板(substrate)

記録層を機械的に支持する透明なディスク構成層。光ビームはこの層を通して記録層に入射する。


6

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:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

4.36 

ゾーン CAVZCAV(Zoned Constant Angular Velocity,ZCAV)

角速度一定方式で,

ゾーンごとにフィジカルトラック当たりのセクタ数の異なるディスクフォーマット。

データゾーンにおいては,全てのトラックをロジカルトラックとして扱う。

4.37 

ゾーン(zone)

ディスクの環状領域。

表記法 

5.1 

数値表示 

数値表示は,次による。

−  測定値は,該当規定値の最下位桁に丸める。例えば,

01

.

0

02

.

0

26

.

1

+

という規定値は,

1.235

以上

1.275

未満

の測定値を許容する。

 16

進数は,括弧でくくった

0

9

の数字及び

A

F

のアルファベットで表示する。

ビットの値は,

0

”及び“

1

”とする。

  2

進数及びビットの組合せの数値は,

0

及び

1

で表す。

  2

進数及びビットの組合せの数値は,左に最上位ビットを示す。

  2

進数の負の値は,

2

の補数で表す。

各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト

0

)を最初に記録する。

8

ビットで構成する各バイト

内では,最下位ビット(

0

番目)を最後に記録し,最上位ビット(

7

番目)を最初に記録する。この記

録順は,誤り検出訂正回路のデータ入出力にも適用する。

特に明記されていない限り,全てのトラック番号はロジカルトラックで表す。

5.2 

名称 

固有のトラック,フィールドなどの実体の名前は,大文字の頭文字で示す。

略語 

略語について規定する。

AM

 Address

Mark

  アドレスマーク

CRC

 Cyclic

Redundancy

Check

  巡回冗長検査

DC

Direct Current (d.c.)

  直流

DDS

Disk Definition Structure

  ディスク定義構造

DMA

 Defect

Management

Area

  欠陥管理領域

ECC

Error Correction Code

  誤り訂正符号

FA1

 Functional

Area

1

  機能領域

1

FA2

 Functional

Area

2

  機能領域

2

GRP

 Group

Partitioning

  グループへの分割

ID

 Identifier

  識別子

LSB

Least Significant Byte

  最下位バイト

MO

 Magneto-Optical

  光磁気

MSB

Most Significant Byte

  最上位バイト


7

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

ODC

 Optical

Disk

Cartridge

  光ディスクカートリッジ

ODF

Offset Detection Field

  オフセット検出フィールド

O-ROM

Optical Read Only Memory

  オーロム,フルロム

PA

 Postamble

  ポストアンブル

PDL

 Primary

Defect

List

  一次欠陥管理表

P-ROM

Partial Read Only Memory

  パーシャルロム

RLL

2,7

Run Length Limited (code)

  (

2,7

)ランレングス限定(符号)

R/W

 Rewritable

  書換形

SDL

Secondary Defect List

  二次欠陥管理表

SM

 Sector

Mark

  セクタマーク

VFO

Variable Frequency Oscillator

VFO

(信号)

ZCAV

 Zoned

Constant

Angular

Velocity

  ゾーン化された角速度一定方式

7 ODC

の概要 

この規格の主題である

ODC

は,光ディスクを含むケースからなる。

ケースは,光ディスクを保護する覆いであり,シャッタによって覆われたアクセス窓をもつ。

ODC

を駆

動装置に挿入したとき,シャッタは自動的に開く構造とする。

光ディスクは,一面だけに記録可能とする。データの記録及び消去は,熱磁気効果を用いてディスクの

記録層上の磁化領域に焦点を結ぶ光ビームによって行う。

再生は,

集束光ビームで光磁気効果を使用して,

データを読み取る。光ビームは,透明なディスクの基板を通して,記録層にアクセスする。

製造業者は,エンボスマークを形成することで,ディスクの一部又は全部を再生専用データとすること

ができる。このデータは,エンボスマークによる回折を利用して再生される。

一般要件 

8.1 

環境条件 

8.1.1 

試験環境 

試験環境は,規定がない限り,

ODC

の近傍で測定し,次のとおりとする。

温度

23

±

2

相対湿度

45

55 %

大気圧

60

106 kPa

空気清浄度

:クラス

100 000

附属書 参照)

ODC

の中又はディスク上に結露が生じてはならない。

ODC

は,試験の前に,

48

時間以上測定環境に慣

らしておかなければならない。光ディスクの表面は,ディスク製造業者の条件によって清浄にしておくこ

とが望ましい。

別に規定しない限り,全ての試験及び測定は,この試験環境条件で行わなければならない。

8.1.2 

使用環境 

使用環境は,

ODC

の近傍で測定し,次のとおりとする。試験環境を満足した

ODC

は,使用環境でデー

タの互換性を保証しなければならない。

動作環境条件は,ディスク近傍の状態が次の条件を満たす環境とする。

温度

5

55


8

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

相対湿度

3

85 %

絶対湿度

1

30 g/m

3

大気圧

60

106 kPa

最大温度勾配

:最大

10

/h

最大相対湿度勾配

:最大

10 %/h

空気清浄度

:オフィス環境(

附属書 参照)

最大磁界強度(光ビーム照射時)

:最大

32 000 A/m

最大磁界強度(光ビーム非照射時)

:最大

48 000 A/m

ODC

の中又はディスク上に結露が生じてはならない。

ODC

は,使用環境条件を外れて保管した場合,

使用前に

2

時間以上使用環境に慣らしておかなければならない(

附属書 参照)。

8.1.3 

保存環境 

保護の覆いがない

ODC

は,保存環境を外れて保管してはならない。

保存環境は,

ODC

近傍の状態が次の条件を満たす環境とする。

温度

:−

10

55

相対湿度

3

90 %

絶対湿度

1

30 g/m

3

大気圧

60

106 kPa

最大温度勾配

:最大

15

/h

最大相対湿度勾配

:最大

10 %/h

空気清浄度

:オフィス環境(

附属書 参照)

最大磁界強度

:最大

48 000 A/m

ODC

の中又はディスク上に結露が生じてはならない。

8.1.4 

輸送条件 

この規格では規定しないが,

附属書 に従うことが望ましい。

8.2 

温度衝撃 

ODC

は,駆動装置に着脱するとき,

20

℃までの温度衝撃に耐えなければならない。

8.3 

安全性 

ODC

は,指示された方法で使用するとき,又は情報処理システムにおける予測可能な使用において,JIS 

C 6950-1

の安全性要件を満たさなければならない。

8.4 

耐燃性 

ODC

及びその部品は,JIS C 6950-1 で規定するように,燃焼性区分

HB

又は同等以上の耐燃性の材料を

使用しなければならない。

基準駆動装置 

基準駆動装置は,明確に定義された特性をもつ幾つかの重要部品からなる駆動装置であり,この規格で

規定する光ディスクの記録特性,再生特性及び消去特性を試験するために用いる。箇条 では,全ての部

品の概要について記述する。特定の箇条での試験に必要な部品については,それぞれの箇条で規定する。

9.1 

光学系 

記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために用いる基準駆動装置の光学系の基本構成は,

図 

示すとおりとする。

図 の光学系と同じ動作をする限り,基準駆動装置に用いる部品及び部品の配置は問


9

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

わない。ディスクの入射面からの反射光は,測定の精度に影響を与えないように光学系の構成を配慮しな

ければならない。

 A

:レーザダイオード

I:

位相補償器

 B

:コリメータレンズ

I

1

I

2

2 分割フォトダイオードからの出力(20.3 参照)

 C

:光整形プリズム

J:

偏光ビームスプリッタ

 D

:ビームスプリッタ

K

1

, K

2

:  フォトダイオード

 E

:偏光ビームスプリッタ

K

3

2 分割フォトダイオード

 F

:対物レンズ

L

1

, L

2

: DC アンプ

 G

:光ディスク

M:

トラッキングチャネル(20.3 参照)

 H

:1/2λ 波長板

図 1−基準駆動装置の光学系 

ディスクによって偏光が変化しないとき,偏光ビームスプリッタ

J

は,フォトダイオード

K

1

の信号とフ

ォトダイオード

K

2

の信号とが等しくなるようにする。この場合の偏光方向をニュートラル偏光方向という。

位相補償器

I

は,光学系において,ニュートラル偏光方向の偏光とそれに直角の方向の偏光との間の位相

の遅れが

2.5

°以下になるように調整されなければならない。この位相補償器の位置は,中立位置という。

位相補償器は,狭帯域信号対雑音比の測定のために用いる(26.2 参照)

偏光ビームスプリッタ

J

は,

100

以上の

P-S

強度反射率比をもたなければならない。

偏光ビームスプリッタ

E

F

から

H

へのニュートラル偏光方向の反射率 R

p

の公称値は

0.30

とする。ニ

ュートラル偏光方向及び直角方向の偏光の反射率 R

s

の公称値は

0.95

とする。R

s

の実際の値は,

0.90

以上

とする。反射率が R'

p

及び R'

s

となる偏光ビームスプリッタ

E

をもつ駆動装置で光磁気信号の非対称性を測

定した場合,測定値は,次の係数を乗じて補正をしなければならない。

s

p

p

s

R

R

R

R

K

I

I

C

E

F

L

K

L

チャネル

チャネル

K


10

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

チャネル

1

の出力は,フォトダイオード

K

1

及び

K

2

の電流値の和とし,エンボスマークの再生に用いる。

チャネル

2

の出力は,フォトダイオード

K

1

及び

K

2

の電流値の差とし,光磁気効果によるユーザ記録マ

ークの再生に用いる。

9.2 

光ビーム 

データの記録,再生及び消去に使用する光ビームは,次の特性をもつ。

a)

波長(

λ

nm

780

15

10

b)

波長(λ)と対物レンズの開口数(NA)との比

λ/NA=1.42±0.03 μm

c)

対物レンズの開口(D)と 1/e

2

での光ビーム直径(W)との比

D/W≦1.0

d)

波面収差(記録層にて)

≦λ

2

/180

e)

偏光方向

直線,グルーブに対して平行又は垂直

f)

消光比

≦0.01

消光比は,検光子を 180°以上回転させたとき,測定される光強度の最大値と最小値との比とする。

g)

再生パワー

20.2.2

24.2.2 及び 28.2.2 参照

記録パワー及びパルス幅

24.3.2

参照

消去パワー

24.4.1

参照

9.3 

再生チャネル 

2 個の再生チャネルは,記録層のマークからの信号の再生に用いる。チャネル 1 は,マークの光ビーム

の回折現象による反射光強度の変化としてエンボスマークを再生する。チャネル 2 は,マークの光磁気効

果による光ビームの偏光方向の変化を利用してユーザ記録マークを再生する。チャネル 1 及びチャネル 2

の後の再生信号増幅器は,それぞれ DC から 22.3 MHz まで及び 100 kHz から 22.3 MHz まで±1 dB 以内の

平たん(坦)な応答性とする。

9.4 

トラッキング 

基準駆動装置のトラッキングチャネルは,光ビームの軸方向及び半径方向のトラッキングサーボをする

ためのトラッキングエラー信号を検出する。軸方向のトラッキングエラー信号,すなわち,フォーカシン

グエラー信号を作る方法は,規定しない。

半径方向のトラッキングエラー信号は,トラッキングチャネルの 2 分割検出器によって検出する。2 分

割検出器の分割線方向は,検出器上のトラック像と平行になるように配置する。

光ビームの焦点のトラック溝に対する追随の精度については,20.2.4 による。

9.5 

ディスクの回転 

駆動軸は 12.4 で規定するとおりの回転軸とする。ディスクの回転周波数は,30.0±0.3 Hz とする。回転

方向は,対物レンズから見て反時計回りとする。

第 章  機械的特性及び物理的特性 

10 

ケースの寸法特性及び物理的特性 

10.1 

ケースの概要(図 参照) 

ケースは,四角形の硬い保護用コンテナである。A 面にスピンドル窓を設け,駆動装置のスピンドルが

ハブによってディスクを固定できるようにする。ケースは両面にヘッド窓があり,一つは,駆動装置の光

ヘッド用,もう一つは,磁界を与える磁気ヘッド用である。その窓部は,シャッタで覆われ,ODC を駆動

装置に差し入れたときにシャッタが開き,取り出したときにシャッタが閉じて窓を覆う。ケースには,誤


11

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

挿入防止機構,記録禁止機構,反射率検出機構及びオートチェンジャ用のグリッパスロットがある。

10.2 

ケースの基準面 

ケースの基準は,三つの直交する基準面 X,Y 及び Z とする。基準面 Z は,ケース A 面上に設けた S

1

∼S

4

からなる平面とする。三つの基準面は,ロケーション孔の中心で直交し,基準面 X は,ロケーション

孔及びアライメント孔の中心を結ぶ線を通る平面とする(

附属書 参照)。平面からの距離として表され

た寸法は,その平面からの最短距離とする。

10.3 

ケースの寸法 

ケースの寸法は,試験環境で測定する。使用環境でのケースの寸法は,箇条 10 での規定の寸法から見積

もることができる。

10.3.1 

外形寸法(図 参照)

ケースの全長は,次による。

mm

3

.

0

0

.

94

1

±

=

L

ケースの上端から基準面 X までの長さは,次による。

mm

2

.

0

0

.

76

2

±

=

L

ケースの下端から基準面 X までの長さは,次による。

mm

2

.

0

0

.

18

3

±

=

L

ケースの全幅は,次による。

mm

0

.

90

0

4

.

0

4

=

L

ケースの左端から基準面 Y までの長さは,次による。

mm

3

.

0

0

.

85

5

±

=

L

ケースの右端から基準面 Y までの長さは,次による。

mm

1

.

0

0

.

5

6

±

=

L

上端の角部は,次の半径で丸める。

mm

2

.

0

5

.

1

1

±

=

R

下端の二つの角部は,次の半径で丸める。

mm

2

.

0

0

.

2

2

±

=

R

ケースの左端及び右端から

L

7

の領域におけるケースの厚さは,次による。

mm

6

.

8

7

L

mm

2

.

0

0

.

6

8

±

=

L

ケースの 8 か所のりょう(稜)線は,次の半径で丸める。

mm

3

.

0

2

.

0
0

3

+

=

R

10.3.2 

ロケーション孔(図 参照)

ロケーション孔の中心は,基準面 X,Y 及び Z の交点とし,その直径は,次による。

mm

60

.

3

0

06

.

0

1

=

D

ロケーション孔の深さは,次による。

mm

5

.

1

9

L

ロケーション孔は,基準面 Z から次の深さまで直径 D

1

以上で広がっているものとし,B 面に貫通しては

ならない。

mm

0

.

4

10

L

ロケーション孔の角部は,次の半径で丸める。


12

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

mm

5

.

0

4

R

10.3.3 

アライメント孔(図 参照) 

アライメント孔の中心は,基準面 X 上にあり,基準面 Y からの距離は,次による。

mm

2

.

0

0

.

80

11

±

=

L

アライメント孔の形状は,長方形とし,その寸法は,次による。

mm

60

.

3

0

06

.

0

12

=

L

及び

mm

4

.

4

2

.

0

0

13

+

=

L

深さは,ロケーション孔の深さの規定(L

9

L

10

)に準じ,ケース B 面に貫通してはならない。

アライメント孔の角部は,半径 R

4

で丸める。

10.3.4 

基準面(図 参照) 

ケース A 面は,四つの基準面(S

1

面,S

2

面,S

3

面及び S

4

面)を含む平面とする。S

1

面及び S

2

面は,ロ

ケーション孔及びアライメント孔を中心とした円形とし,その直径は,次による。

mm

0

.

7

2

D

S

3

面及び S

4

面の寸法は,直径(D

3

)とし,S

3

面の中心は,基準面 X から距離(L

14

)及び基準面 Y から

距離(L

15

)に,S

4

面の中心は,基準面 X から距離(L

14

)及び基準面 Y からの距離(L

16

)に設け,その寸

法は,次による。

mm

0

.

6

3

D

mm

2

.

0

0

.

54

14

±

=

L

mm

2

.

0

0

.

1

15

±

=

L

mm

2

.

0

0

.

81

16

±

=

L

ケースの表面又はシャッタ機構(10.3.8 参照)のいずれの部分も,基準面 Z から高さ(L

17

)を超えて突

出してはならず,その寸法は,次による。

mm

15

.

0

17

L

10.3.5 

ディテント(図 参照) 

ケースには,自動ローディングのために二つの対称的なディテントを設ける。

ディテントの基準面 Z からの深さは,次による。ディテントは,ケース B 面に貫通してはならない。

mm

0

.

5

18

L

形状は左右対称の半円とし,側面まで 2 本の直線でつな(繋)ぐ。半径の寸法は,次による。

mm

1

.

0

1

.

2

5

±

=

R

基準面 X からの位置(L

19

,基準面 Y からの位置(L

20

L

21

)の寸法は,次による。

mm

2

.

0

5

.

65

19

±

=

L

mm

0

.

4

20

L

mm

0

.

84

21

L

ディテントの外側の角は,次の半径で丸める。

mm

2

.

0

5

.

0

6

±

=

R

10.3.6 

機能領域(図 参照) 

ケース A 面上に基準面 Y 及び Z の交点上に中心線をもつ,長さ(L

22

,幅(L

23

)の開口部を設け,その

うち,各々の長さ(L

24

)を機能領域 FA1 及び機能領域 FA2 とする。その寸法は,次による。

mm

2

.

8

22

L


13

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

mm

4

.

4

23

L

mm

6

.

3

24

L

FA1 の中心位置は,基準面 X から距離(L

25

)の位置に平行に設け,その寸法は,次による。

mm

2

.

0

8

.

7

25

±

=

L

FA1 は,ケース B 面まで貫通した孔とする。 
FA2 の中心位置は,基準面 X から距離(L

27

)の位置に平行に設け,その寸法は,次による。

mm

2

.

0

8

.

12

27

±

=

L

FA2 は,ケース A 面から基準面 Z に平行な深さ(L

26

)のケース B 面を貫通しない孔とし,その寸法は,

次による。

mm

0

.

4

26

L

ODC は,次の操作ができるデバイスをもたなければならない。

− FA1 又は FA2 のいずれかが閉じる

− FA1 及び FA2 の両方が共に閉じる

FA1 及び FA2 は,ケースの孔の開閉によって表 に示す書込み禁止情報,ディスク反射率の高低情報及

び再生専用機能情報を示す各機能を表す。

FA1 及び FA2 の閉じたときの表面は,基準面 Z からの距離(L

28

)とし,その寸法は,次による。

mm

3

.

0

28

L

表 1−機能領域 FA1 及び FA2 の使用法 

FA1 FA2 書込み

反射率 ODC の種類

禁止

  R/W,P-ROM 又は O-ROM

可能

  R/W 又は P-ROM

禁止

  O-ROM

この規格では規定しない。

10.3.7 

ヘッド窓及びスピンドル窓(図 参照) 

ケース A 面には,駆動装置のスピンドル及び光ヘッドがディスクにアクセスするための窓を設ける。そ

の窓は,基準面 Y から L

29

の位置を中心線として,L

30

と L

31

とで決まる幅をもつ。その寸法は,次による。

mm

2

.

0

0

.

40

29

±

=

L

mm

0

.

11

2

.

0

0

 

30

+

=

L

mm

0

.

11

2

.

0

0

 

31

+

=

L

窓の上部は中心線と基準面 X から L

32

の位置との交点を中心とする半径(R

7

)の円弧で与えられる。そ

の寸法は,次による。

mm

7

.

43

7

R

mm

2

.

0

0

.

27

32

±

=

L

ケースの上部は,基準面 Z から幅 L

33

の溝を設け,その寸法は,次による。

mm

0

.

2

2

.

0

0

33

+

=

L

窓の下部は中心線と基準面

X

から

L

32

の位置との交点を中心とし,幅の位置(

L

30

)及び(

L

31

)と滑らか

につながる半円で囲まれた領域とする。また,ケース

B

面には,駆動装置の磁気ヘッドがアクセスするた

めの窓を設ける。その窓は,基準面

Y

から

L

29

の位置を中心線として,

L

30

L

31

とで決まる幅をもつ。


14

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

窓の上部は中心線と基準面

X

から

L

32

の位置との交点を中心とする半径(

R

7

)の円弧,並びに下部は基

準面

X

からの位置(

L

34

)で囲まれた領域とし,その寸法は,次による。

mm

0

.

40

34

L

ヘッド窓のケース上部と

R

7

とに挟まれた部分の基準面

Z

からの幅(

L

35

)は,次による。

mm

2

.

4

0

4

.

0

35

=

L

L

34

2

隅の角部は,次の半径で丸められる。

mm

0

.

2

8

R

10.3.8 

シャッタ(図 参照) 

ケースには,スプリング方式のシャッタを設け,閉じたときには,スピンドル窓及びヘッド窓を完全に

覆うようにしなければならない。シャッタを開いたときには,次に示す諸元が規定する最小範囲(10.3.7

参照)よりも広く,スピンドル窓及びヘッド窓を露出するものでなければならない。

ケース

A

面:

縦方向は窓の下部の半円からケースの上部まで,横方向は

L

30

から

L

31

まで

ケース

B

面:

縦方向は

L

34

からケースの上部まで,横方向は

L

30

から

L

31

まで

ケース上部:

基準面

Z

から

L

33

まで,

L

30

から

L

31

まで,

L

35

からケース

B

面まで及び

L

30

から

L

31

まで

シャッタは,シャッタを含めたケース全体の厚さが

L

8

を超えず,

L

8

を超えたとしても突出高さが

L

17

超えないことを保証するようなケースのへこ(凹)んでいる領域を,自由にスライドできなければならな

い。

シャッタには,駆動装置のシャッタオープナがシャッタを押し開くことのできる角部を設ける。シャッ

タが閉じているとき,この角部は,基準面

Y

からの次の距離に位置する。

mm

0

.

79

0

0.3

-

36

=

L

角部は,10.3.7 で規定したスピンドル窓及びヘッド窓の最小値が十分に露出する距離で可動し,その寸

法は,次による。

mm

5

.

55

37

L

角部は,10.4.5 で規定したシャッタを開くのに必要な力を超えない範囲で移動可能とする。その寸法は,

次による。

mm

7

.

54

38

L

10.3.9 

シャッタ開閉路及びシャッタセンサノッチ(図 参照) 

ケースには,駆動装置のシャッタオープナが動作できるように,開閉路を設ける。開閉路は,基準面

Y

からの距離(

L

39

L

40

)及び基準面

X

からの距離(

L

41

)の間を

図 に示す形状とし,その寸法は,次によ

る。

mm

3

.

0

0

.

81

39

±

=

L

mm

5

.

57

3

.

0

0

 

40

+

=

L

mm

3

.

0

0

.

74

41

±

=

L

基準面

Y

からの距離(

L

40

L

42

)に深さ(

L

43

)のシャッタセンサノッチを設ける。シャッタセンサノッ

チの右上の角部は,半径(

R

9

)で丸める。ケースの端までは,角度(

A

1

)をもつ形状とする。その寸法は,

次による。

mm

7

.

54

42

L

mm

2

.

0

3

.

3

43

±

=

L

mm

2

.

0

2

.

1

9

±

=

R


15

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

5

45

1

±

=

A

°

10.3.8

で規定したシャッタエッジが距離(

L

37

)まで移動したとき,シャッタセンサノッチの

L

40

の位置

から

L

37

の位置までの部分は,シャッタが完全に開いていることを駆動装置が検出できるように,露出し

なければならない。

10.3.10

  誤挿入防止機構(図 10 参照) 

ケースには,

ODC

の駆動装置への誤挿入を防止するために,

図 10 に示すノッチ,及びケース角部の形

状を設ける。ノッチは,基準面

Y

からの距離(

L

44

L

45

)に基準面

X

からの距離(

L

47

)のケース上部から

深さ(

L

46

)とする。ノッチの角部は,半径(

R

10

R

11

)で丸める。ケースの角部は,ケースの上部からの

距離(

L

48

)の間を角度(

A

2

)をもつ形状とする。その寸法は,次による。

mm

2

.

0

6

.

4

44

±

=

L

mm

2

.

0

0

.

1

45

±

=

L

mm

2

.

0

1

.

3

46

±

=

L

mm

2

.

0

4

.

75

47

±

=

L

mm

3

.

0

0

.

5

48

±

=

L

2

45

2

±

=

A

°

mm

3

.

0

10

R

mm

3

.

0

5

.

0

11

±

=

R

10.3.11

  グリッパスロット(図 11 参照) 

グリッパスロットは,ケースの底部からの位置(

L

51

)に左右対称に設け,その寸法(

L

49

L

50

)は,次

による。

mm

5

.

2

3

.

0
0

49

+

=

L

mm

0

.

4

3

.

0

0

50

+

=

L

mm

0

.

23

0

3

.

0

51

=

L

グリッパスロットの角部は,半径(

R

12

R

13

)で丸める。その寸法は,次による。

mm

2

.

0

4

.

0

12

±

=

R

mm

2

.

0

5

.

0

13

±

=

R

10.3.12

  ラベル領域(図 12 参照) 

ケースには,ケース

A

面,ケース底部及びケース

B

面にわたり連続したラベル領域を設ける。ケース

A

面に対する位置及び寸法(

L

52

L

53

L

55

),ケース底部に対する位置及び寸法(

L

52

L

53

)並びにケース

B

面に対する位置及び寸法(

L

52

L

53

L

54

)は,次による。

mm

3

.

0

0

.

4

52

±

=

L

mm

3

.

0

0

.

76

53

±

=

L

mm

2

.

0

0

.

30

54

±

=

L

mm

2

.

0

2

.

1

55

±

=

L

ラベル領域の角部は,半径(

R

14

)で丸め,その寸法は,次による。

mm

0

.

2

14

R

ラベル領域のへこ(凹)み(

L

56

)は,ラベルのない状態で,

3

面とも寸法は,次による。

mm

2

.

0

56

L

10.4 

機械的特性 

ここで規定する機械的特性は,使用環境条件下で全ての要件を満足しなければならない。


16

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

10.4.1 

材料 

ケースは,この規定の要件を満足する適切な材料で構成する。

10.4.2 

質量 

光ディスクを除いたケースの質量は,

50 g

を超えてはならない。

10.4.3 

エッジ部のひずみ(歪) 

ODC

は,

附属書 で規定するケースのひずみ(歪)量確認を満足しなければならない。

10.4.4 

可とう(撓)性 

ODC

は,

附属書 で規定する可とう(撓)性確認を満足しなければならない。

この要件は,駆動装置内において適切な面で

ODC

を拘束できることを保証する。

10.4.5 

シャッタ開閉力 

シャッタを開くのに必要なシャッタのばねの力は,

1.5 N

を超えてはならない。シャッタ開閉力の強さは,

ケースの姿勢にかかわらず,自由にスライドするシャッタを閉じるのに十分でなければならない。


17

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 2−ケース 

シャッタ(図 参照)

ラベル領域(図 12 参照)

シャッタセンサノッチ(図 参照)

シャッタオープナのスロット(図 参照)

ディテント(図 参照)

基準面 S

4

(図 参照)

アライメント孔(図 参照)

基準面 S

2

(図 参照)

ラベル領域(図 12 参照)

スピンドル窓及び 
ヘッド窓(図 参照)

ディテント(図 参照)

基準面 S

3

(図 参照)

ロケーション孔(図 参照)

基準面 S

1

(図 参照)

FA1 及び FA2(図 参照)

B

 

A

 

誤挿入防止機構(図 10 参照)

グリッパスロット(図 11 参照)


18

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 3−外形寸法(面側) 

L

7

L

7

L

13

A

A

L

11

L

5

R

2

L

4

L

6

R

1

-Y-

-X-

R

4

R

4

-Z-

R

3

-Z-

L

1

L

2

L

L

L

L

L

1

L

L

1

A-A断面


19

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 4面上の基準面 

-Z- 

L

17 


20

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 5−ディテント 

R

5

R

5

R

6

R

6

L

19

L

21

L

20

L

18

L

1

9

L

20

-Y-

-Y-

-Z-

-X-


21

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

 B-B

断面 B-B 断面 B-B 断面 

書込み禁止 

書込み可能 

高反射率,再生専用 

図 6面から見た機能領域 FA1 及び FA2(上図)並びにその断面図(下図) 


22

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 7−シャッタを外したケースの 面及び 面上のスピンドル窓及びヘッド窓 

-Y-

L

3

3

L

31

L

31

L

34

L

30

L

30

L

32

R

8

R

7

B

A

L

35

L

29

-Z-

-X-

-X-

-Y-

L

29


23

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 8−開状態のシャッタ(上図)及び最大の開状態(下図) 

L

36

L

37

L

38

-Y-

-Y-

-X-

-X-

破線は,シャッタが閉じたときのシャッタエッジの位置を示す。


24

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

L

39

L

40

L

42

L

4

3

L

41

R

9

A

1

-X-

-Y-

図 9−シャッタを除いたときの 面から見たシャッタオープナの開閉路 


25

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 10−シャッタを除いたときの 面から見た誤挿入防止機構 

L

47

L

46

R

10

R

11

L

44

L

45

L

48

A

2

L

47

-X-

-Y-


26

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 11−グリッパスロット 

L

50

L

49

L

51

-Y-

-Z-

-X-

R

13

R

12


27

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 12−ラベル領域 

-Y-

-Z-

L

53

L

52

-Y-

-X-

L

54

R

14

L

53

L

52

-X-

-Y-

L

53

L

52

R

14

L

55

 

L

56

 

L

56

 

L

5

6

 


28

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

11 

ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性 

11.1 

ディスクの概要 

ディスクは,円い基板で構成され,一方の面にはハブが,もう一方の面にはコーティングを施した記録

層がある。記録層は,保護層によって環境的影響から保護されている。基板の情報ゾーンは,基板を通し

て記録層に光ビームを集光できるように透明とする。

円形のハブは,

記録層の反対側の中心に取り付ける。

ハブは,駆動軸と係合し,ディスクの半径方向の位置合せ及びハブの吸着力を発生する。

11.2 

ディスクの基準軸及び基準面 

ハブの寸法は,ディスク基準面

P

を基準とする。ディスク基準面

P

は,理想的なスピンドルの完全に平

らで環状の取付面に平行かつ同一の平面と定義される。さらに,ディスクの基板の境界面であり,スピン

ドルの回転軸に垂直である。

スピンドルの回転軸

A

は,ハブの中心孔の中心を通り,ディスク基準面

P

に垂直である。

11.3 

ディスクの寸法(図 13 参照) 

ディスクの寸法は,試験環境条件で測定する。使用環境条件におけるディスクの寸法は,ここで規定す

る寸法から割り出す。

ディスクの外周直径は,

mm

0

.

86

0

5

.

0

とする。厚さは,面振れ(11.4.5 参照)を含めず,ハブのない状態

1.4 mm

を超えてはならない。ハブが付いていないディスクの中心孔の直径(

D

4

)は,

6.0 mm

以上とす

る。

11.3.1 

ハブの寸法(図 13 参照) 

ハブの中心孔の直径は,次による。

mm

004

.

4

012

.

0

0

5

+

=

D

ハブの外周直径は,次による。

mm

0

.

15

0

2

.

0

6

=

D

ハブの高さは,次による。

mm

2

.

1

0

2

.

0

1

=

h

ディスク面からの磁性面の位置は,次による。

mm

20

.

1

0

15

.

0

2

=

h

基準面

P

から中心孔上部までの高さは,次による。

mm

8

.

0

3

h

ハブの中心孔の高さは,次による。

mm

15

.

0

4

h

ハブの中心孔の内部の角には,

45

°で

0.2

±

0.1 mm

の面取り(

c

1

)を付けるか,又は次の半径で丸める。

mm

1

.

0

2

.

0

15

±

=

R

ハブの外部の角には,

45

°で

0.4

±

0.1 mm

の面取り(

c

2

)を付けるか,又は次の半径で丸める。

mm

1

.

0

4

.

0

16

±

=

R

ディスクをクランプするための磁性体の外周直径(

D

9

)及び内周直径(

D

10

)は,次による。

mm

0

.

13

9

D

mm

0

.

6

10

D

ハブの吸着力は,

附属書 によって測定したとき,

3.0

4.5 N

とする。

11.3.2 

クランプゾーン(図 13 参照) 

クランプゾーンの外周直径(

D

7

)及び内周直径(

D

8

)は,次のとおりとする。


29

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

mm

0

.

21

7

D

mm

0

.

16

8

D

図 13−ハブの寸法及びクランプゾーン 

11.4 

機械的特性 

ここで規定する機械的特性は,使用環境条件下で満足しなければならない。

11.4.1 

材料 

ディスクの材料は,この規格の条件を満たす場合,材質を問わない。この規格で材料の特性を規定して

いるのは,ハブの磁気特性(11.3.1 参照)及び情報ゾーンの基板の光学特性(11.5 参照)だけである。

11.4.2 

質量 

ディスクの質量は,

24.0 g

以下とする。

11.4.3 

慣性モーメント 

A

に関連するディスクの慣性モーメントは,

0.020 g

m

2

以下とする。

11.4.4 

アンバランス 

A

に関連するディスクのアンバランスは,

0.006 g

m

以下とする。

11.4.5 

軸方向の振れ 

ディスクの軸方向の振れは,記録層の軸方向の変位で規定する。振れは,基板の厚さのばらつき,屈折

率のばらつき,

及び基準面

P

からの入射面のずれによって生じる。

基準面

P

に対する記録層の公称位置は,

D

7

D

8

D

6

D

9

D

10

D

5

h

3

h

1

h

2

D

4

h

4

-A-

-P-

C

又は

R

C

又は

R

16

15


30

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

基板の公称厚さによる。情報ゾーンでの基準面

P

に垂直な方向の記録層の公称位置からのずれは,

30 Hz

以下の回転周波数に対して±

0.22 mm

以下とする。

11.4.6 

軸方向の加速度 

附属書 に示すディスクの軸方向の最大許容エラー量(

e

max

)は,

30.0

±

0.3 Hz

の回転周波数で回転して

いるとき,基準サーボでサーボがかかった状態で±

1.0 μm

以下とする。このとき,モータの定常的な外乱

は,無視する。この測定は,次の伝達関数(

H

s

)をもつサーボ系によるか,又は

30 Hz

100 kHz

の帯域で,

1

H

s

|が示す値の±

20 %

以内の値をもつ|

1

H

|のサーボ系による。このとき,ディスクの面振れに

よる軸方向の加速度は,

10 m/s

2

以下とする。

0

0

2

0

s

3

1

3

1

3

1

)

(

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

i

i

i

i

H

+

+

=

ここに,

f

π

ω 2

=

Hz

870

2

0

=

π

ω

1

=

i

11.4.7 

半径方向の振れ 

情報ゾーンでのトラックの半径方向の振れは,

基準駆動装置の光学ヘッドを用いて測定する。

このため,

回転軸と基準軸 A との差,基準軸 A に対するトラックの偏心,及び屈折率の変動によって生じる偏心の影

響も含む。

半径方向の振れは,トラックの 1 回転の間の中心からの最大距離と最小距離との差で,30.0±0.3Hz の回

転周波数で回転しているとき,50 μm 以下とする。 

11.4.8 

半径方向の加速度 

附属書 に示すディスクの半径方向のトラッキングエラーの最大許容量(e

max

)は,30.0±0.3 Hz の回転

周波数で回転しているとき,基準サーボでサーボがかかった状態で±0.15  μm 以下とする。このとき,モ

ータの定常的な外乱は無視する。測定は,次の伝達関数(H

s

)のサーボ系によるか,又は 30 Hz∼100 kHz

の帯域で,|1+H

s

|が示す値の 20 %以内の値をもつ|1+H|のサーボ系による。このとき,ディスクの

半径方向の加速度は,3 m/s

2

以下とする。

0

0

2

0

s

3

1

3

1

3

1

)

(

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

i

i

i

i

H

+

+

=

ここに,

f

π

ω 2

=

Hz

230

1

2

0

=

π

ω

1

=

i

11.4.9 

チルト 

ディスクのチルトは,入射面上の

1 mm

径の面積で平均した入射面の垂線と基準面

P

の垂線との角度と

し,情報ゾーンで

5 mrad

以下とする。

11.5 

光学特性 


31

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

11.5.1 

屈折率 

情報ゾーンでの基板の屈折率は,

1.46

1.60

の範囲内になければならない。

11.5.2 

基板の厚さ 

基板の厚さ(

t

)の公称値は,情報ゾーンで入射面から記録層までの基板の厚さとし,次による。

mm

050

.

0

593

.

0

265

.

0

1

509

.

0

2

2

2

3

±

+

+

×

n

n

n

n

ここに,

n

屈折率

11.5.3 

複屈折 

基板の複屈折の効果は,25.2 に示す基準駆動装置のチャネル

2

の信号の非対称性に影響する。

11.5.4 

反射率 

反射率

R

は,基板を通して測定する,ディスクのデータゾーンのうち未記録のグルーブ領域の反射率の

値であり,入射面の反射率は含まない。反射率の公称値

R

は,制御トラックのバイト

3

及びバイト

19

おいて,製造業者が規定する(

附属書 参照)。

R

の値は,タイプ

R/W

P-ROM

及び反射率の低いタイプ

O-ROM

に対して

0.12

0.25

の範囲とし,反射

率の高いタイプ

O-ROM

に対して

0.50

0.90

の範囲とする(

附属書 参照)。

反射率の測定値

R

m

は,9.2

a)

9.2 f) の条件下で,測定する。測定は,エンボスデータフィールドのな

いトラックのデータゾーンで行う。

制御トラックに

R

と記載されたディスクでは,測定反射率

R

m

は,データゾーンのどの点においても

R

1

±

0.15

)に等しく,かつ,上記の

R

の許容範囲内になければならない。

1

枚のディスクでは,データゾーンの全ての領域で,次の要件を満たさなければならない(

附属書 

照)

12

.

0

min

OL

max

OL

min

OL

max

OL

I

I

I

I

+

I

OL

の定義については 20.3 参照。

12 ODC

と駆動装置とのインタフェース 

12.1 

クランプ方法 

ODC を駆動装置に挿入すると,ケースのシャッタが開き,モータ駆動軸がディスク中心孔に入る。ディ

スクは,ハブの磁性体(

附属書 参照)及び駆動軸に装着されている磁石によって生じる吸着力(クラン

プ力)で駆動軸に保持される。ディスクの半径方向の位置決めは,ハブの中心軸合せ機能による。ディス

クの軸方向の位置決めは,駆動軸のターンテーブルによってディスクのクランプゾーンを支えることによ

る。

12.2 

クランプ力 

駆動軸とハブとの吸着力は,5 N 以下とする。

12.3 

キャプチャシリンダ(図 14 参照) 

キャプチャシリンダは,10.4.4 の可とう(撓)性をもつ ODC を駆動装置に挿入し,駆動軸にディスクを

クランプしようとする場合,ハブの中心があると期待される空間である。ハブの中心は,軸 A 上の P 面か

ら距離 h

1

の位置とする(11.3.1 及び

図 13 参照)。

キャプチャシリンダの寸法は,ケースの内部空間でのディスクの許容遊び量を規定する。キャプチャシ

リンダは,駆動装置の正確な寸法のアライメントピン及びロケーションピンの,正確な位置を基準として


32

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

定義するが,ケースのサイズ,これらのピンの間のディスクのサイズ,及びハブの中心には,許容誤差を

含んでいる。

シリンダの底面は,基準面 Z から次の距離で,基準面 Z に平行に配置される。

mm

7

.

0

57

L

シリンダの上部は,基準面 Z から次の距離で配置される。

mm

3

.

2

58

L

シリンダの半径は,次による。

mm

4

.

1

17

R

中心は,L

29

及び L

32

の公称値で定義する。

12.4 

使用環境条件におけるディスクの位置(図 14 参照) 

ディスクが使用状態にあるとき,ディスクの基準面 P の位置は,ケースの基準面 Z から次の位置になけ

ればならない。

mm

1

.

0

4

.

2

59

±

=

L

さらに,回転軸は,L

29

及び L

32

の公称値を中心とする次の半径の円内になければならない。

mm

1

.

0

18

R

使用状態でディスクの回転周波数を 30 Hz に保つために,ディスクにかかるトルクは,0.01 N・m 以下で

なければならない。


33

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 14−キャプチャシリンダ及び使用環境条件下でのディスクの位置 

C

L

58

L

57

L

5

9

L

5

9

L

57

L

58

-Z-

-P-

L

29

L

32

R

17

R

18

-X-

-Y-

-Z-

C部詳細図


34

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第 章  フォーマット 

13 

トラックの寸法 

13.1 

トラックの形状 

情報ゾーンは,連続トラッキングサーボ方式のためのトラックからなる。

フィジカルトラックは,グルーブ・ランド・グルーブの組合せで構成され,各グルーブを隣接するフィ

ジカルトラックと共有する。グルーブは溝状であり,その底部の位置は,ランドよりも入射面に近い。フ

ィジカルトラックの中心,すなわち,記録が行われる部分は,ランドの中心とする。グルーブは,リード

インゾーン及びリードアウトゾーンの ODF を除いて連続とする。各フィジカルトラックは,連続的なスパ

イラルの 360 度分とする。

グルーブの形状は,箇条 21 の規定を満足するように定める。

13.2 

トラックスパイラルの方向 

ディスクの回転方向は,光ヘッド側から見て反時計方向とする。トラックは,内周から外周へと外に向

かってら(螺)旋を描く。

13.3 

トラックピッチ 

トラックピッチは,隣接するトラックの中心線間の距離として半径方向で測定し,1.39±0.08 μm とする。

10 000 フィジカルトラックの幅は,13.90±0.10 mm とする。

14 

トラックフォーマット 

14.1 

トラック番号 

各ロジカルトラックは,ロジカルトラック番号で識別する。トラック番号 0 は,データゾーンの最初の

ロジカルトラックとし,半径 24.00±0.10 mm に位置する。

トラック番号 0 よりも外周側のロジカルトラック番号は,各トラックにつき,1 ずつ増加する。

トラック番号 0 よりも内周側のロジカルトラック番号は,負の数とし,各トラックにつき,1 ずつ減少

する。負のトラック番号は,2 の補数で与え,したがって,トラック−1 は,

(FFFF)とする。

14.2 

トラックレイアウト 

各ロジカルトラック上には,セクタが 25 存在する。

各セクタは 725 バイトからなる。1 バイトはディスク上で 16 チャネルビットで表される。

セクタは,セクタの最初のチャネルビットと次のセクタの最初のチャネルビットとの距離が,11 600 チ

ャネルビット±3 チャネルビットとなるように,トラック全体に等しく配置する。

14.3 

クロック周波数及び周期 

回転速度 30 Hz の場合の,各データ帯域に対する公称クロック周波数及び周期を,

表 に示す。

絶対周波数及び周期は,次の公式によって,1 フィジカルトラックのチャネルビット数が正確になるよ

うに調整する。

    (30+2×データバンド番号)×16×725

ここに,16 はバイト当たりのチャネルビット数であり,725 はセクタ当たりのバイト数である。


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表 2−クロック周波数及び周期 

ゾーン又はバンド

クロック周波数(MHz)

周期  T(ns)

イニシャルゾーン 8.700  114.9 
アクワイアゾーン 8.700  114.9 
試験ゾーン 8.700

114.9

制御ゾーン 8.700

114.9

バンド    0 10.440

95.8

バンド    1 11.136

89.8

バンド    2 11.832

84.5

バンド    3 12.528

79.8

バンド    4 13.224

75.6

バンド    5 13.920

71.8

バンド    6 14.616

68.4

バンド    7 15.312

65.3

バンド    8 16.008

62.5

バンド    9 16.704

59.9

制御ゾーン 8.700

114.9

試験ゾーン 8.700

114.9

バッファゾーン 8.700

114.9

14.4 

半径方向のアライメント 

セクタのヘッダは,各データバンド,リードインゾーン又はリードアウトゾーン内で,隣接するトラッ

クのセクタの最初のチャネルビット間の角距離が,±4 チャネルビットより小さくなるように,半径方向

にそろえる。

14.5 

セクタ番号 

トラックのセクタには,0 から 24 まで連続した番号を付ける。

15 

セクタフォーマット 

15.1 

セクタのレイアウト 

セクタは,ヘッダ,ODF 及び 512 ユーザデータバイトを記録できる記録フィールドで構成する。ヘッダ

は,エンボスデータとする。記録フィールドは,空白,ユーザ記録データ,又はエンボスデータであって

もよい。セクタ長は,725 バイトとする。14.2 で規定する許容差は,バッファ,すなわち,セクタの最終

フィールドに充てられる。ヘッダフィールド長は,52 バイトとし,ODF は 1 バイト,記録フィールド長は

672 バイトとする。

セクタのレイアウトを

図 15 に示す。数値はバイトで表した各部のフィールド長である。


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トラック番号

セクタ番号  CRC

 ODF

ギャップ

2B 1B

2B

1B

5B

5B 6B

SM

VFO1

AM

ID1+

CRC

VFO2

AM

ID2+

CRC

VFO2

AM

ID3+

CRC

PA

ODF+

ギャッ

VFO3 sync

データ+

ECC/CRC

RESYNC

PA

バッ

ファ

SM

5B

12B 1B 5B  8B

1B 5B  8B

1B

5B 1B

6B  12B

3B

639B  1B

12B

52 バイト

1B

672 バイト

ヘッダ領域

記録フィールド

725 バイトセクタ

注記  リードインゾーン及びリードアウトゾーンの ODF には,グルーブがない。

図 15−セクタフォーマット 

15.2 

セクタマーク(SM 

セクタマークは,RLL(2,7)コード(箇条 16 参照)では発生しないパターンのエンボスデータからな

り,フェイズロックループを外すことなくセクタのスタートを認識できるようにしている。

SM の長さは 80 チャネルビットとし,長いマークのエンボスデータと VFO

1

フィールドへのリードイン

とからなる。

図 16 に,SM のチャネルビットのパターンを示す。図 16 に示す T は,ヘッダ部の 1 チャネ

ルビット長に相当する。マークからの信号レベルは,マークのない部分からの信号レベルよりも小さい。

リードインのチャネルビットパターンは,0000010010 とする。

10T 6T

6T

14T

6T

6T

6T

6T

10T

0000010010

 
 

図 16−セクタマークのパターン 

15.3 VFO

フィールド 

VFO をチャネルビット同期のために設け,ヘッダには,1 個の VFO

1

及び 2 個の VFO

2

,記録フィールド

には,1 個の VFO

3

がある。VFO

1

と VFO

3

とは同一とし,192 チャネルビット長である。VFO

2

は 128 チャ

ネルビット長とする。VFO

2

のパターンは,RLL(2,7)を満たすために,直前の ID フィールドに依存して

変化する。したがって,VFO

2

は最初のチャネルビットが異なる二つのパターンのうちのいずれかとなる。

VFO フィールドの連続チャネルビットパターンは,次による。

マーク

スペース

1T

長マークパターン

リードイン

セクタマーク


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VFO

1

,192 チャネルビット: 0100100100100….

10010

VFO

2

,128 チャネルビット: 100100100100….

10010

VFO

2

,128 チャネルビット: 000100100100….

10010

VFO

3

,192 チャネルビット: 0100100100100….

10010

15.4 

アドレスマーク(AM 

アドレスマークは,後続する ID フィールドのバイト同期をとるためのものであり,RLL(2,7)では使

用しないチャネルビットパターンとし,次の 16 ビットのチャネルビットパターンとする。

0100 1000 0000 0100

15.5 ID

フィールド 

三つの ID フィールドは,セクタのアドレス情報でできており,トラック番号,セクタ番号及び CRC バ

イトからなる。

ID フィールドは,次の 5 バイトのエンボスデータで構成される。

  第 1 バイト及び第 2 バイト

ロジカルトラック番号の上位,下位バイト

  第 3 バイト

ビット 7 及び 6

“00”は ID

1

フィールド

“01”は ID

2

フィールド

“10”は ID

3

フィールド

ビット 5

“0”

ビット 4∼0 2 進法表記のセクタ番号

  第 4 バイト及び第 5 バイト

最初の 3 バイトから計算した CRC データ(

附属書 参照)

15.6 

ポストアンブル(PA 

ポストアンブル(PA)フィールドは,ID

3

フィールド及びデータフィールドの後に位置し,16 チャネル

ビット長とする。PA によって,直前の ID

3

フィールドの CRC 及びデータフィールドの RLL(2,7)変換(箇

条 16 参照)を終結することができ,直後のギャップ又はバッファとの連続性を維持することができる。 

15.7 

オフセット検出フィールド(ODF 

このフィールドは,16 チャネルビット長とする。コントロールゾーンを含むリードインゾーンとリード

アウトゾーンとの ODF には,

グルーブもエンボスデータもあってはならない。

データゾーンでは ODF は,

グルーブとする。この結果,コントロールゾーンのトラック−1 及びトラック 17 940 の二つのトラックで

は ODF は片側だけにグルーブがあることになる。

15.8 

ギャップ 

各セクタには,80 チャネルビット長のギャップが存在する。ギャップフィールドの内容は,規定されず,

互換性評価の対象としないが,エンボスデータであってはならない。ギャップは,記録フィールドの最初

のフィールドであり,駆動装置がヘッダの読取りを終了した後に行う処理,及び,VFO

3

  フィールドの消

去,記録又は再生前に行う処理のための時間を,駆動装置に与える。

ギャップの長さは,±8 チャネルビットの誤差を許容し,ODF に続く 72∼88 チャネルビットの位置から

VFO

3

が始まればよい。さらに,VFO

3

は,ヘッダのチャネルビットと正確に同期してスタートする必要は

ない。ギャップの開始位置の誤差は,バッファで吸収される。例えば,ギャップの長さが 85.3 チャネルビ

ットであった場合,結果としてバッファの長さが 5.3 チャネルビット短くなる。

15.9 

同期バイト(Sync 

同期バイトは,駆動装置が,後続するデータフィールドのバイトの同期をとることを目的とし,次に示


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す 48 チャネルビット長とする。

  0100 0010 0100 0010 0010 0010 0100 0100 1000 0010 0100 1000

15.10 

データフィールド 

639 バイトのデータフィールドは,ユーザデータの記録のために用い,次のとおりとする。

              512 バイト: ユーザバイト

                4 バイト: 規定せず,互換性評価の対象としない

                4 バイト: CRC

               80 バイト: ECC

               39 バイト: 再同期バイト

データフィールドにおけるこれらのバイトの配置は,

附属書 で規定する。

15.10.1

  ユーザデータバイト 

ユーザデータバイトは,ユーザ情報の記録に用いる。

15.10.2

  CRC 及び ECC バイト 

巡回冗長検査(CRC)バイト及び誤り訂正符号(ECC)バイトは,間違ったデータを修正するために,

誤り検出及び訂正システムが使用する。ECC は,16 次のリードソロモン符号とする。バイトは,

附属書 E

に規定する。

15.10.3

  再同期バイト(Resync 

再同期バイト(Resync)によって,駆動装置は,データフィールドに大きな欠陥が生じた場合でも,バ

イト同期を回復することができる。再同期バイトのパターン及び配置は,

附属書 で規定する。

15.11 

バッファ 

バッファは,192±48 チャネルビット長とし,データを含んではならない。このフィールドを必要とす

る理由は,次の四つである。

a)  14.2

で規定するヘッダからヘッダまでの距離の変動幅。

b)  15.8

で規定する VFO

3

フィールドの開始位置の誤差。

c)

記録データの実際の長さの誤差。トラックの偏心及びデータ記録中のディスクの回転変動によって生

じる。

d)

記録のときに,事前に記録された全てのデータを上記の許容差の範囲内で確実に消去するために必要

となる長さ。

16 

記録符号 

再同期バイトを除く三つの ID フィールド及びデータフィールドは,

表 に従って,ディスク上のチャ

ネルビットに符号化される。セクタの他の全てのフィールドのチャネルビットは,既に定義済みである。

チャネルビットの“1”をマークとして適当なパルス幅及び記録パワーを用いて記録する。

ディスクの情報ゾーンのデータを記録するために使用する記録符号は,RLL(2,7)のランレングス限定

符号とする。


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表 3−データビットとチャネルビットとの変換表 

データビット

チャネルビット

“10” 0100

“010” 100100

“0010” 00100100

“11” 1000

“011” 001000

“0011” 00001000

“000” 000100

符号化は,該当するフィールドの第 1 バイトの第 1 ビットから開始する。再同期バイトの後では次の入

力データの第 1 バイトの第 1 ビットから符号化を再開する。

RLL(2,7)変換では,入力ビットの末尾できりよく変換できず,残余ビットが残ることがある。この残

余ビットを処理するために,チャネルビットに変換する前に末尾に 3 ビットのパッドビットを付加する。

表 に残余ビットを処理するためのあり得る組合せを示す。

ID

1

及び ID

2

によって,VFO

2

は 2 種類のパターンのいずれかになる(

表 4a 参照)。

再同期バイトの前のデータフィールドによって,再同期バイトは 1 種類のパターンに落ち着く(

表 4b

参照)

ID

3

の終結させ方,ID

3

に続く PA の最後のバイト,及びデータフィールドに続く PA の最後のバイトにつ

いては規定せず,情報交換では無視する。

表 4aID

1

及び ID

2

から VFO

2

への接続 

残余入力ビット

パッドビット

2 種類の VFO

2

パターンに導く,終始パターンのチャネルビット

なし 010

100100100100100100……..10010

0 010

00

100100100100100100……..10010

1 010

01

000100100100100100……..10010

00 010

0001

000100100100100100……..10010

01 010

1001

000100100100100100……..10010

001 010

001001

000100100100100100……..10010

ID フィール

ID フィールド終端

ド終端 VFO

2

フィールド

表 4b−データバイトから再同期フィールドへの接続 

残余入力ビット

パッドビット

再同期パターンに導く,終始パターンのチャネルビット

なし   011

0010000000100100

0   011

0010000000100100

1   011

0010000000100100

00   011

000

0010000000100100

01   011

100

0010000000100100

001   011

00100

0010000000100100

ID フィール

ID フィールド終端

ド終端

再同期フィールド


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17 

情報ゾーンのフォーマット 

17.1 

情報ゾーンの概要 

情報ゾーンは,データ交換に関連するディスク上の全ての情報を含む。情報は,エンボストラッキング

条件,エンボスヘッダ,エンボスデータ及びユーザ記録データを含む。箇条 17 では,

“データ”という用

語は,一般にホストに転送されるセクタのデータフィールドの内容に使用する。

箇条 17 は,情報ゾーンのレイアウトを定義する。情報ゾーンから得られる信号の特性は,

第 章で規定

する。

17.2 

情報ゾーンの分割 

情報ゾーンは,リードインゾーン,データゾーン及びリードアウトゾーンの三つに分割される。データ

ゾーンは,ユーザデータの記録に用いる。リードインゾーン及びリードアウトゾーンは,製造業者の試験

及び駆動装置の試験に用いる。リードインゾーンは,駆動装置の制御情報も含む。

情報ゾーンの分割は,

表 による。データゾーンの内周半径の許容差は,14.1 で規定する。他の半径の

許容差は,13.3 で規定するとおり,トラックピッチ上の許容差で規定する。

表 5−情報ゾーンのレイアウト 

ゾーン又はバンド

半径位置(mm)

開始        終了

ロジカル

トラック数

トラック番号

開始        終了

フィジカル

トラック数

リードインゾーン

  イニシャルゾーン 22.60

22.90

  アクワイアゾーン

    リードイントラック 22.90

23.53

450  −790

−341 450

    フォーカストラック

4

−340

−337 4

  内周試験ゾーン

    製造業者用 23.53

23.76

160

−336

−177 160

    駆動装置用 23.76

23.98

160

−176

−17 160

    内周制御ゾーン 23.98

24.00

16

−16

−1 16

データゾーン

  バンド  0

24.00

25.60

1 380

0

1 379

1 150

  バンド  1

25.60

27.20

1 472

1 380

2 851

1 150

  バンド  2

27.20

28.80

1 564

2 852

4 415

1 150

  バンド  3

28.80

30.40

1 656

4 416

6 071

1 150

  バンド  4

30.40

32.00

1 748

6 072

7 819

1 150

  バンド  5

32.00

33.60

1 840

7 820

9 659

1 150

  バンド  6

33.60

35.20

1 932

9 660

11 591

1 150

  バンド  7

35.20

36.80

2 024

11 592

13 615

1 150

  バンド  8

36.80

38.40

2 116

13 616

15 731

1 150

  バンド  9

38.40

40.00

2 208

15 732

17 939

1 150

リードアウトゾーン

  外周制御ゾーン

40.00

40.02

16

17 940

17 955

16

  外周試験ゾーン

    駆動装置用 40.02

40.24

160

17

956

18

115

160

    製造業者用 40.24

40.46

160

18

116

18

275

160

  バッファゾーン

40.46

41.00

383

18 276

18 658

383

注記  ゾーン又はバンドの半径は,バンドの最初のトラック中心の半径及びゾーンの最後のトラックの中心の

半径の公称値とする。


41

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

17.2.1 

イニシャルゾーン 

イニシャルゾーンは,駆動装置がフォーカスサーボ引込みに用い,鏡面領域,箇条 21 で規定の完全グル

ーブ領域,エンボスヘッダをもつグルーブ領域,又は上記の組合せをもつ領域のいずれかとする。

17.2.2 

アクワイアゾーン 

アクワイアゾーンは,それぞれエンボスグルーブ及びヘッダをもつ,二つの部分から構成される。第一

の部分はリードイントラックで,記録フィールドの中のデータのないセクタである。

第二の部分は,VFO

3

,同期バイト及び 639 バイトのデータフィールドに,チャネルビットパターンとし

て繰返しデータ“1001001…..”をエンボスビットとして記録した,フォーカストラックの部分である。こ

のトラックの再生信号を最大化することで,駆動装置はフォーカスずれを除くことができる。

17.2.3 

試験ゾーン 

内周試験ゾーン及び外周試験ゾーンがあり,エンボスグルーブ,ヘッダ及び記録フィールドをもつ領域

である。

駆動装置の試験ゾーンは,試験によって,駆動装置がその記録パワーを設定できることを目的としてい

る。記録可能な種類のディスクでは,データはエンボスデータであってはならない。試験に使用するトラ

ックは,駆動装置の試験ゾーンから無作為に選択し,使用による試験ゾーン全体の劣化が少しずつ進むよ

うにするのが望ましい。そのため,このゾーンの各トラックは,ディスクのデータゾーンのトラックの特

性をそのまま表すこととなる。

製造業者用の試験ゾーンは,メディア製造業者による品質検査を目的としたものである。駆動装置の試

験ゾーンは,試験によって試験ゾーンに重大な劣化をもたらす可能性があるため,このような試験には使

用しない。

17.2.4 

制御ゾーン 

内周制御ゾーンと外周制御ゾーンとがあり,それぞれの制御ゾーンは,箇条 15 で規定されたフォーマッ

トをもつ,15 ロジカルトラックのエンボスグルーブをもつセクタ及び 1 トラックのバッファトラックから

なる。内周制御ゾーンではトラック−1 が,外周制御ゾーンではトラック 17 940 が,バッファトラックで

ある。

バッファトラックを除く,制御ゾーンの全セクタのデータフィールドは同一であり,

附属書 に規定の

駆動装置のためのエンボス制御データからなる。

バッファトラックのデータフィールドは,記録可能な種類のディスクではエンボスデータがあってはな

らず,全面エンボス形光ディスクでは(FF)とする。

17.2.5 

データゾーン 

データゾーンは,エンボスグルーブ及びヘッダからなる。データゾーンの記録フィールドは,箇条 15

に記載のフォーマットでユーザによる記録に使われるか,又はエンボスデータを形成する。データゾーン

のレイアウトは,箇条 18 で規定する。

データゾーンは,バンド 0∼バンド 9 の,10 バンドに分割される。各バンドのフィジカルトラック数は,

同じである。これらのフィジカルトラックは,フィジカルトラックグループにくくられる。各フィジカル

トラックグループは,

表 で示すとおり,ロジカルトラックに分割される。各バンドは,46 フィジカルト

ラックグループをもつ。フィジカルトラックグループごとのロジカルトラック数は,内周のバンドから外

周のバンドへと増加する(フィジカルトラック当たり 30∼48)

。バンド内では角記録密度は一定である。

各フィジカルトラックグループは,整数のフィジカルトラックからなり,同じ半径線上で開始し,終了す

る。


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X 6275

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データゾーンの構成は,次のようになっている。

25 セクタ=1 ロジカルトラック 
30∼48 ロジカルトラック(25 フィジカルトラック)=1 フィジカルトラックグループ

46 フィジカルトラックグループ=1 バンド

10 バンド=データゾーン

データゾーンは,ロジカルトラック 0 で始まり,ロジカルトラック 17 939 で終わる。

17.2.6 

バッファゾーン 

バッファゾーンは,エンボスグルーブ,ヘッダ及び ODF からなる。

18 

データゾーンのフォーマット 

データゾーンは,4 個の欠陥管理領域(DMA)を含む。DMA は,18.1 で規定のとおり,データゾーン

の始まりの二つのバッファトラックの後ろと,

データゾーンの終わりの二つのバッファトラックの前とに,

それぞれ 2 個ずつ配置する。2 組の DMA の間の領域をユーザ領域と呼ぶ。ユーザ領域は,書換形ゾーン,

エンボスゾーン,又は,書換形ゾーン及びエンボスゾーンからなる場合がある。18.1 で規定のとおり,各

バンド境界にバッファトラックを設ける。

データゾーンのレイアウトを

表 で示す。表中の“R/W”は書換え可能であることを示す。

表 6−データゾーン,制御ゾーン及びバッファトラックのレイアウト 

全面書換形

部分エンボス形

全面エンボス形

内周制御ゾーン

内周制御ゾーン

内周制御ゾーン

バッファトラック

バッファトラック

バッファトラック

2 バッファトラック

2 バッファトラック

2 バッファトラック

データゾーン DMA1(R/W)

DMA1(R/W)

DMA1

DMA2(R/W) DMA2(R/W)

DMA2

書換形ゾーン(R/W)

エンボスゾーン

エンボスゾーン

ユーザ

領域

書換形ゾーン

(R/W)

DMA3(R/W) DMA3(R/W)

DMA3

DMA4(R/W) DMA4(R/W)

DMA4

2 バッファトラック

2 バッファトラック

2 バッファトラック

バッファトラック

バッファトラック

バッファトラック

外周制御ゾーン

外周制御ゾーン

外周制御ゾーン

              :予備セクタ(18.2 参照)

18.1 

データゾーンのバッファトラック 

各バンドの始まり及び終わりのそれぞれ 2 トラックを,バッファトラックとする。


43

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

バッファトラックは,エンボスのグルーブ及びヘッダからなり,ユーザデータの記録に使用してはなら

ない。

書換え可能セクタからなるバンド 

タイプ R/W 及びタイプ P-ROM の書換え可能セクタからなるバンドのバッファトラックには,エンボス

データをもたせてはならず,また,データを記録してはならない。

エンボスセクタからなるバンド 

タイプ O-ROM 及びタイプ P-ROM のトラック 17 933∼トラック 17 934 もバッファトラックである。タ

イプ O-ROM 及びタイプ P-ROM のエンボスセクタのバンドの,バッファトラックのデータには(FF)を

記録する。ただし,タイプ P-ROM のトラック 17 933∼トラック 17 934 及びトラック 17 938∼トラック 17

939 のデータフィールドには,エンボスデータを記録してはならない。

18.2 

欠陥管理領域(DMA 

四つの欠陥管理領域(DMA)は,データゾーンの構造の情報,及び欠陥管理情報を含む。各 DMA の長

さは,36 セクタとする。DMA のうちの二つ,すなわち,DMA1 及び DMA2 は,ディスクの内周に位置し,

他の二つの DMA,すなわち,DMA3 及び DMA4 は,ディスクの外周に位置する。DMA の配置を

表 

示す。

表 の予備セクタの内容は,この規格では規定せず,互換性では無視する。

各 DMA は,ディスク定義構造(DDS)

,一次欠陥管理表(PDL)及び二次欠陥管理表(SDL)を含む。

四つの PDL の内容は同一とし,四つの SDL の内容は同一とする。四つの DDS 間の内容の相違は,各関連

PDL 及び SDL に対するポインタだけとする。

ディスクの初期化後,各 DMA がもつ内容は,次による。

−  最初のセクタは DDS とする。

−  タイプ R/W 及びタイプ P-ROM の,2 番目のセクタは PDL の最初のセクタとする。

−  タイプ R/W 及びタイプ P-ROM の,SDL は PDL の直後に配置する。

PDL 及び SDL の長さは,それぞれのエントリの数によって決定する。タイプ O-ROM には PDL 又は SDL

がない。

SDL の後の DMA セクタの内容は規定されず,互換性では無視する。タイプ O-ROM の DDS の後の DMA

セクタには(FF)を記録する。

DDS の内容は,18.3 で規定し,PDL 及び SDL の内容は,19.1.5 及び 19.1.6 で規定する。

表 7DMA の配置 

開始位置

終了位置

セクタ数

トラック番号  セクタ番号 トラック番号 セクタ番号

DMA1 2

0

3 10 36

予備 3

11

3

13

3

DMA2 3 14

4 24 36

DMA3

17 935

  0

17 936

10

36

予備

17

936 11 17

936 13

3

DMA4

17 936

14

17 937

24

36

18.3 

ディスク定義構造(DDS 

DDS は,1 セクタで構成し,ディスクの初期化の方法,書換形ゾーン及びエンボスゾーンのグループ分

割数,各バンドのデータセクタの種類,並びに,PDL 及び SDL の開始アドレスを記録する。DDS は,デ


44

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

ィスクの初期化終了時に,各 DMA の最初のセクタに記録する。O-ROM では,DDS はエンボスデータと

する。

タイプ P-ROM の場合,DDS の幾つかの値は,製造業者が規定し,制御ゾーンに記載する。

表 は,四つの DDS に記録される情報を示す。

表 8DDS の内容 

バイト

内容

全面書換形

部分エンボス形

全面エンボス形

0 DDS 識別子

(0A)

(0A)

(0A)

1 DDS 識別子

(0A)

(0A)

(0A)

2

予備

(00)

(00)

(00)

3 (00):タイプ O-ROM(ディスク全面エンボスデータ)

(01):ディスク検証済み 
(02):ディスク非検証

(01)又は(02)

(01)又は(02)

(00)

4

グループ数の MSB

(00)

(00)

(00)

5

グループ数の LSB(1 又は 10)

(01|0A)

(0A)

(01|0A)

6

グループ 0 タイプ

(01)

(01)

(02)

7

グループ 1 タイプ

(00|01)

(01/02)

(00|02)

8

グループ 2 タイプ

(00|01)

(01/02)

(00|02)

9

グループ 3 タイプ

(00|01)

(01/02)

(00|02)

10

グループ 4 タイプ

(00|01)

(01/02)

(00|02)

11

グループ 5 タイプ

(00|01)

(01/02)

(00|02)

12

グループ 6 タイプ

(00|01)

(01/02)

(00|02)

13

グループ 7 タイプ

(00|01)

(01/02)

(00|02)

14

グループ 8 タイプ

(00|01)

(01/02)

(00|02)

15

グループ 9 タイプ

(00|01)

(02)

(00|02)

16 PDL の開始アドレスのトラックの MSB

− (FF)

17 PDL の開始アドレス

− (FF)

18 PDL の開始アドレスのトラックの LSB

− (FF)

19 PDL の開始アドレスのセクタ

− (FF)

20 SDL の開始アドレスのトラックの MSB

− (FF)

21 SDL の開始アドレス

− (FF)

22 SDL の開始アドレスのトラックの LSB

− (FF)

23 SDL の開始アドレスのセクタ

− (FF)

24∼511  (00)

(00)

(00)

(00)

注記 1  記号“−”は,PDL,SDL の開始アドレスの適正値が入ることを意味する。 
注記 2  (01)は書換形ゾーンを,(02)はエンボスゾーンを,また,(00)は適用不可を示す。 
注記 3  (aa|bb)の箇所は,1 グループを採用した場合に(aa)とし,10 グループを採用した場合に(bb)とする。
注記 4  (aa/bb)の箇所は,該当バンドが書換形ゾーンの場合(aa)とし,エンボスゾーンの場合(bb)とする。

18.3.1 

全面書換形光ディスク 

全面書換形光ディスクのユーザ領域は,書換形ゾーンからなる。書換形ゾーンはユーザデータの記録に

使われ,エンボスデータが含まれていてはならない。

書換形ゾーンは,バッファトラックを除く,トラック 5 の 0 セクタからトラック 17 934 の最終セクタま

でとする。

DDS のバイト 6 から 15 までは,全て書換形ゾーンと記録する。

18.3.2 

全面エンボス形光ディスク 

全面エンボス形光ディスクのユーザ領域は,エンボスゾーンからなる。エンボスゾーンはディスク製造


45

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

業者によってエンボスデータが記録される。データフィールドの全セクタのレイアウトは,

附属書 で規

定のとおりとする。

エンボスゾーンは,バッファトラックを除く,トラック 5 の 0 セクタからトラック 17 934 の最終セクタ

までとする。 

DDS のバイト 6 からバイト 15 までは,全てエンボスゾーンと記録する。

18.3.3 

部分エンボス形光ディスク 

部分エンボス形光ディスクのユーザ領域は,書換形ゾーン及びエンボスゾーンからなる。書換形ゾーン

及びエンボスゾーンは,バッファトラックを除く,トラック 5 のセクタ 0 からトラック 17 934 の最終セク

タまでとする。 

DDS のバイト 6 からバイト 15 までは,書換形ゾーンか又はエンボスゾーンかに応じた値を記録する(た

だし,バンド 0 は常に書換形ゾーンであり,バンド 9 は,常にエンボスゾーンである。

パーシャルロムのバンド 0 は,書換セクタからなる。エンボスゾーンは,バンド 1 からバンド 9 までの

いずれかのバンドの最初のトラックのセクタ 0 から始まり,バンド 9 のトラック 17 934 までとする。全セ

クタのデータフィールドのレイアウトは,

附属書 で規定のとおりとする。

18.4 

ゾーンの分割 

18.4.1 

全面書換形光ディスク 

全面書換形 ODC の初期化によって,書換形ゾーンは,1 又は 10 のグループに分割される。1 グループ

を採用した場合には,ユーザ領域全域を一つのグループとする。10 グループを採用した場合には,各バン

ドを一つのグループとする。ただし,各バンドの前後にあるバッファトラックを除き,かつ,バンド 0 に

おいてはトラック 2∼4 を除き,バンド 9 においてはトラック 17 935∼17 937 を除く。

各グループは,連続したデータセクタ及びそれに続く連続したスペアセクタからなる。各グループのス

ペアトラックの数を

表 に示す。

18.4.2 

部分エンボス形光ディスク 

部分エンボス形 ODC の製造に当たって,ディスクは 10 のグループに分割される。部分エンボス形 ODC

は,グループ 0 から開始する,1 個∼9 個の書換形グループをもち,残りのグループはエンボスグループと

する。書換形グループは内周に,エンボスグループは外周に配置される。データ領域及びスペア領域(又

は,パリティ領域)の仕様は,全面書換形光ディスク,又は全面エンボス形光ディスクと同様とする。一

つのグループでは,各バンドの前後にあるバッファトラックを除き,かつ,バンド 0 においてはトラック

2∼4 を除き,バンド 9 においてはトラック 17 933∼17 937 を除く。

各グループは,連続したデータセクタ及びそれに続く連続したスペアセクタ又はパリティセクタからな

る。各グループのスペアセクタ及びパリティセクタの配置を

表 に示す。DDS のバイト 0∼バイト 23 は,

制御トラックに記録される。

18.4.3 

全面エンボス形光ディスク 

全面エンボス形 ODC の製造に当たって,ディスクは 1 又は 10 のグループに分割される。1 グループを

採用した場合には,ユーザ領域全域を一つのグループとする。10 グループを採用した場合には,各バンド

を一つのグループとする。ただし,各バンドの前後にあるバッファトラックを除き,かつ,バンド 0 にお

いてはトラック 2∼4 を除き,バンド 9 においてはトラック 17 933∼17 937 を除く。

各グループは,連続したデータセクタ及びそれに続く連続したパリティセクタからなる。各バンドのパ

リティセクタトラックの数を

表 に示す。


46

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

表 9−データゾーンのトラックレイアウト 

全面書換形光ディスク‐グループ(GRP1-R/W 

バンド 
番号

フィジカ
ルトラッ

ク 当 た り
の セ ク タ

開始ト 
ラック

番号

バッファ 
トラック

DMA1

&

DMA2

データ

トラック

データ
トラッ

ク数

スペア

トラック

スペア
トラッ

ク数

バッフ
ァトラ

ック

DMA3

&

DMA4

バッファ 
トラック

終了ト 
ラック

番号

0

30

0

0 - 1

2 - 4

      5 - 1 377

1 373

-

0

-

-

1 378 - 1 379

1 379

1

32

1 380

1 380 - 1 381

-

1 382 - 2 849

1 468

-

0

-

-

2 850 - 2 851

2 851

2

34

2 852

2 852 - 2 853

-

2 854 - 4 413

1 560

-

0

-

-

4 414 - 4 415

4 415

3

36

4 416

4 416 - 4 417

-

4 418 - 6 069

1 652

-

0

-

-

6 070 - 6 071

6 071

4

38

6 072

6 072 - 6 073

-

6 074 - 7 817

1 744

-

0

-

-

7 818 - 7 819

7 819

5

40

7 820

7 820 - 7 821

-

7 822 - 9 657

1 836

-

0

-

-

9 658 - 9 659

9 659

6

42

9 660

9 660 - 9 661

-

9 662 - 11 589

1 928

-

0

-

-

11 590 - 11 591

11 591

7

44

11 592

11 592 - 11 593

-

11 594 - 13 613

2 020

-

0

-

-

13 614 - 13 615

13 615

8

46

13 616

13 616 - 13 617

-

13 618 - 15 729

2 112

-

0

-

-

15 730 - 15 731

15 731

9

48

15 732

15 732 - 15 733

-

15 734 - 17 893

2 160

17 894 - 17 934

41

-

17 935 - 17 937

17 938 - 17 939

17 939

合計

 -

17

853

 41

3

X 627

5


2

012

 (

IS

O

/IE

C

 13
96
3


19
95
)


47

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

表 9−データゾーンのトラックレイアウト(続き) 

全面書換形光ディスク‐10 グループ(GRP10-R/W 

バンド 
番号

フィジカ
ルトラッ

ク 当 た り
の セ ク タ

開始ト 
ラック

番号

バッファ 
トラック

DMA1

&

DMA2

データ

トラック

データ
トラッ

ク数

スペア

トラック

スペア
トラッ

ク数

バッフ
ァトラ

ック

DMA3

&

DMA4

バッファ 
トラック

終了ト 
ラック

番号

0

30

          0

0 - 1

2 - 4

      5 - 1 374

1 370

1 375 - 1 377

3

-

-

1 378 - 1 379

1 379

1

32

    1 380

1 380 - 1 381

-

1 382 - 2 846

1 465

2 847 - 2 849

3

-

-

2 850 - 2 851

2 851

2

34

    2 852

2 852 - 2 853

-

2 854 - 4 409

1 556

4 410 - 4 413

4

-

-

4 414 - 4 415

4 415

3

36

  4 416

4 416 - 4 417

-

4 418 - 6 065

1 648

6 066 - 6 069

4

-

-

6 070 - 6 071

6 071

4

38

  6 072

6 072 - 6 073

-

6 074 - 7 813

1 740

7 814 - 7 817

4

-

-

7 818 - 7 819

7 819

5

40

  7 820

7 820 - 7 821

-

7 822 - 9 653

1 832

9 654 - 9 657

4

-

-

9 658 - 9 659

9 659

6

42

  9 660

9 660 - 9 661

-

9 662 - 11 585

1 924

11 586 - 11 589

4

-

-

11 590 - 11 591

11 591

7

44

11 592

11 592 - 11 593

-

11 594 - 13 608

2 015

13 609 - 13 613

5

-

-

13 614 - 13 615

13 615

8

46

13 616

13 616 - 13 617

-

13 618 - 15 724

2 107

15 725 - 15 729

5

-

-

15 730 - 15 731

15 731

9

48

15 732

15 732 - 15 733

-

15 734 - 17 929

2 196

17 930 - 17 934

5

-

17 935 - 17 937

17 938 - 17 939

17 939

合計

-

17

853

41

3

X 627

5


2

012

 (

IS

O

/IE

C

 13
96
3


19
95
)


48

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

表 9−データゾーンのトラックレイアウト(続き) 

全面エンボス形光ディスク‐グループ(GRP1-ROM 

バンド 
番号

フィジカ
ルトラッ

ク 当 た り
の セ ク タ

開始ト 
ラック

番号

バッファ 
トラック

DMA1

&

DMA2

データ

トラック

データ
トラッ

ク数

スペア

トラック

パリテ
ィトラ

ック数

バッファ 
トラック

DMA3

&

DMA4

バッファ 
トラック

終了ト 
ラック

番号

0

30

0

0 - 1

2 - 4

      5 - 1 377

1 373

-

0

-

-

1 378 - 1 379

1 379

1

32

1 380

1 380 - 1 381

-

1 382 - 2 849

1 468

-

0

-

-

2 850 - 2 851

2 851

2

34

2 852

2 852 - 2 853

-

2 854 - 4 413

1 560

-

0

-

-

4 414 - 4 415

4 415

3

36

4 416

4 416 - 4 417

-

4 418 - 6 069

1 652

-

0

-

-

6 070 - 6 071

6 071

4

38

6 072

6 072 - 6 073

-

6 074 - 7 817

1 744

-

0

-

-

7 818 - 7 819

7 819

5

40

7 820

7 820 - 7 821

-

7 822 - 9 657

1 836

-

0

-

-

9 658 - 9 659

9 659

6

42

9 660

9 660 - 9 661

-

  9 662 - 11 589

1 928

-

0

-

-

11 590 - 11 591

11 591

7

44

11 592  11 592 - 11 593

-

11 594 - 13 613

2 020

-

0

-

-

13 614 - 13 615

13 615

8

46

13 616  13 616 - 13 617

-

13 618 - 15 729

2 112

-

0

-

-

15 730 - 15 731

15 731

9

48

15 732  15 732 - 15 733

-

15 734 - 17 239

1 506

17 240 - 17 932

693

17 933 - 17 934

17 935 - 17 937

17 938 - 17 939

17 939

合計

 -

17

199

 693

3

X 627

5


2

012

 (

IS

O

/IE

C

 13
96
3


19
95
)


49

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

表 9−データゾーンのトラックレイアウト(続き) 

全面エンボス形光ディスク‐10 グループ(GRP10-ROM)及び部分エンボス形光ディスク‐10 グループ(GRP10-P-ROM 

バンド 
番号

フィジカ
ルトラッ

ク当たり
のセクタ

開始ト 
ラック

番号

バッファ 
トラック

DMA1

&

DMA2

データ

トラック

データ
トラッ

ク数

スペア

トラック

パリテ
ィトラ

ック数

バッファ 
トラック

DMA3

&

DMA4

バッファ 
トラック

終了ト 
ラック

番号

0

30

0

0 - 1

2 - 4

      5 - 1 324

1 320

1 325 - 1 377

53

-

-

1 378 - 1 379

1 379

1

32

1 380

1 380 - 1 381

-

1 382 - 2 792

1 411

2 793 - 2 849

57

-

-

2 850 - 2 851

2 851

2

34

2 852

2 852 - 2 853

-

2 854 - 4 353

1 500

4 354 - 4 413

60

-

-

4 414 - 4 415

4 415

3

36

4 416

4 416 - 4 417

-

4 418 - 6 005

1 588

6 006 - 6 069

64

-

-

6 070 - 6 071

6 071

4

38

6 072

6 072 - 6 073

-

6 074 - 7 749

1 676

7 750 - 7 817

68

-

-

7 818 - 7 819

7 819

5

40

7 820

7 820 - 7 821

-

7 822 - 9 586

1 765

9 587 - 9 657

71

-

-

9 658 - 9 659

9 659

6

42

9 660

9 660 - 9 661

-

9 662 - 11 514

1 853

11 515 - 11 589

75

-

-

11 590 - 11 591 11 591

7

44

11 592  11 592 - 11 593

-

11 594 - 13 535

1 942

13 536 - 13 613

78

-

-

13 614 - 13 615 13 615

8

46

13 616  13 616 - 13 617

-

13 618 - 15 647

2 030

15 648 - 15 729

82

-

-

15 730 - 15 731 15 731

9

48

15 732  15 732 - 15 733

-

15 734 - 17 847

2 114

17 848 - 17 932

85

17 933 - 17 934

17 935 - 17 937

17 938 - 17 939 17 939

合計

-

17

199

693

注記 1  スペアセクタの位置は,部分エンボス形光ディスク-10 グループ(GRP10-P-ROM)と全面書換形光ディスク-10 グループ(GRP10-R/W)とが同じである。 

パリティセクタの位置は,部分エンボス形光ディスク-10 グループ(GRP10-P-ROM)と全面エンボス形光ディスク-10 グループ(GRP10-ROM)とが同じ
である。

注記 2  全面エンボス形光ディスク – 1 グループ(GRP1-ROM)のパリティトラック数(693 トラック=17 325 セクタ)は,17 199 個のパリティセクタ及び 126 個

の未使用のパリティセクタである(19.2 参照)

3

X 627

5


2

012

 (

IS

O

/IE

C

 13
96
3


19
95
)


50

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

19 

欠陥管理 

19.1 

書換形グループ:スペアセクタ 

書換形ゾーンの欠陥セクタは,次に記載する欠陥管理方式に従って,正常セクタに代替する。使用前に,

ディスクを初期化する。初期化のとき,検証を行っても行わなくてもよい。欠陥セクタは,セクタスリッ

プ方式,又は線形置換方式によって処理される。両方式が置換した欠陥セクタの総数は,最大で 1 025 以

下とする。10 グループを採用した場合には,41(= 1 025 / 25)のスペアセクタトラックは,

表 に示すよ

うに,各グループに分割される。

19.1.1 

ディスクの初期化 

ディスクの初期化とは,ディスクの使用に先立って,四つの DMA を記録することをいう。全面書換形

光ディスクの場合には,書換形ゾーンは 1 グループ又は 10 グループに分割する。部分エンボス形光ディス

クの場合は,10 グループに分割する。各書換形グループは,連続したデータセクタ及びそれに続く連続し

たスペアセクタからなり,スペアセクタは欠陥セクタの代替として使うことができる。ディスクの初期化

のときに,書換形グループの検証によって,欠陥セクタの検出及び代替を行ってもよい。

全ての DDS の内容を,四つの DDS セクタに記録する。PDL 及び SDL を,四つの DMA に記録する。PDL

及び SDL を記録するための要件は,

表 10 及び表 11 に規定する。

19.1.2 

検証 

ディスクを検証する場合,グループ内のデータセクタ及びスペアセクタについて検証を行う。この規格

は,検証の方法について規定しないが,セクタの消去,記録及び再生を含み得る。検証中に発見された欠

陥セクタは,セクタスリップ方式によって処理されるか,又は線形置換方式によって処理される。再生又

は記録に欠陥セクタを使用してはならない。欠陥セクタの交替するときのガイドラインを

附属書 に示す。

19.1.2.1 

セクタスリップ方式 

検証を実行する場合,セクタスリップ方式は,書換形ゾーンの全てのグループに個々に適用する。

検証中に検出された欠陥データセクタは,欠陥セクタに後続する最初の正常セクタで代替し,これによ

って,グループの最後尾のデータセクタがスペアセクタ領域にスリップすることになる。欠陥セクタのア

ドレスは,PDL に記録する。検証中に欠陥セクタが見つからない場合は,空の PDL を記録する。

セクタスリップ方式によってデータセクタとして使われなかったスペアセクタで,検証中に欠陥がある

と判明した場合は,そのアドレスを PDL に記録する。したがって,使用できるスペアセクタの数は,それ

に応じて減少する。

検証中にグループ内のスペアセクタを使い切った場合には,欠陥セクタは,線形置換方式によって処理

される。この過程は,別のグループのスペアセクタへの置換を含み,別のグループの検証が終了するまで

完了できない。これは,検証が終了するまで,すなわち,セクタスリップ方式を適用するまで,次に使用

できるスペアセクタが分からないためである。

19.1.2.2 

線形置換方式 

検証後に見つかった欠陥セクタは,線形置換方式を用いて処理する。また,検証中にグループのスペア

セクタを使い切った場合にも,線形置換方式を使用する。

欠陥セクタは,そのグループの最初に使用できるスペアセクタに代替する。グループにスペアセクタが

残っていない場合,欠陥セクタは,別のグループの最初に使用できるスペアセクタに置換する。欠陥セク

タ及び代替セクタのアドレスを,SDL に記録する。

既に PDL に記録したセクタのアドレスを,SDL に記録してはならない。

SDL に記録した代替セクタが,後に欠陥セクタであると判明した場合には,その欠陥セクタ及び代替セ


51

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

クタのアドレスを新しく SDL に記録する。

19.1.3 

非検証ディスク 

検証されていないディスクの欠陥セクタの取扱いには線形置換方式を使用する。

欠陥セクタは,当該グループの最初に使用できるスペアセクタに代替する。当該グループに使用できる

スペアセクタが残っていない場合,欠陥セクタは,別のグループの最初に使用できるスペアセクタに代替

する。欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスを,SDL に記録する。

検証されていないディスクであっても PDL に欠陥セクタのアドレスのリストが存在する場合は,これら

のセクタを使用せず,19.1.2.1 で規定する検証済みディスクの場合と同様にセクタスリップ方式を適用す

る。

19.1.4 

記録方法 

データの記録に当たっては,PDL に記録した欠陥セクタは,スキップされ,セクタスリップ方式に従っ

て次のデータセクタで記録を行う。記録しようとするセクタが SDL に記録されている場合,線形置換方式

に従って SDL が指示した代替セクタにデータを記録する。

19.1.5 

一次欠陥管理表(PDL 

一次欠陥管理表(PDL)は,欠陥セクタがない場合でも必ず記録しなければならない。

注記  JIS X 6272 によって初期化した光ディスクでは,PDL がないものがあり得る。)

欠陥セクタのリストは検証によって得られる。

PDL には,初期化のときに検証した,セクタスリップ方式によって代替された全ての欠陥セクタのアド

レスを昇順に記録する。PDL のセクタ数は,必要最小数とし,DDS の次のセクタから記録する。PDL の

最終セクタの全ての未使用バイトには,

(FF)を記録する。PDL に記録する内容を

表 10 に示す。

PDL が複数セクタにわたる場合,欠陥セクタのアドレスのリストを,2 番目以降のセクタの最初のバイ

トから記録する。したがって,PDL の識別子及び欠陥セクタ登録数は最初のセクタにだけ存在する。

セクタスリップ方式による欠陥セクタがない場合,すなわち,空の PDL では,バイト 2 及びバイト 3

に(00)を記録し,バイト 4 からバイト 511 までに(FF)を記録する。

表 10PDL の内容 

バイト番号

内容

0

(00)

,PDL 識別子

1

(01)

,PDL 識別子

2 PDL に登録された欠陥セクタ数の MSB 
3 PDL に登録された欠陥セクタ数の LSB

(バイト 2 及び 3 が(00)の場合,バイト 3 は PDL の最後)

4

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

5

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)

6

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

7

最初の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)

... ...

x-3

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

x-2

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)

x-1

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

x

最後の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)


52

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

19.1.6 

二次欠陥管理表(SDL 

二次欠陥管理表(SDL)に,検証中にセクタスリップ方式で処理できなかった欠陥セクタ情報,及び検

証後に欠陥セクタが発見されたときの欠陥セクタ情報を記録する。初期化されたディスクは,SDL が記録

されていなければならない。

SDL に記録する欠陥セクタ情報は,欠陥セクタのアドレス 4 バイト及び代替セクタのアドレス 4 バイト

の計 8 バイトを一組とし,欠陥セクタのアドレスが昇順となるように記録する。

SDL のセクタ数は必要最小数とし,PDL の最終セクタの次のセクタから記録する。SDL が記録される最

後のセクタの残り全てのバイトは,

(FF)に設定する。四つの SDL に

表 11 に示す内容を記録する。

既に PDL に記録したセクタのアドレスを,SDL に記録してはならない。

SDL に記録した代替セクタが,後に欠陥セクタであると判明した場合には,その欠陥セクタ及び代替セ

クタのアドレスを新しく SDL に記録する。

SDL が複数セクタにわたる場合,欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスのリストを,2 番目以降のセク

タの最初のバイトから記録する。したがって,

表 11 のバイト 0 から 15 までの内容は,最初のセクタだけ

に存在する。

表 11SDL の内容 

バイト番号

内容

0

(00)

,SDL 識別子

1

(02)

,SDL 識別子

2

(00)

3

(01)

4 SDL のリスト長の MSB 
5 SDL のリスト長の LSB

6∼7

(00)

8

(02)

9

(01)

10∼13

(00)

14 SDL の登録数の MSB 
15 SDL の登録数の LSB 
16

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

17

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)

18

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

19

最初の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)

20

最初の代替セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

21

最初の代替セクタのアドレス(トラック番号)

22

最初の代替セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

23

最初の代替セクタのアドレス(セクタ番号)

... ...

y-7

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

y-6

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)

y-5

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

y-4

最後の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)

y-3

最後の代替セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

y-2

最後の代替セクタのアドレス(トラック番号)

y-1

最後の代替セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

y

最後の代替セクタのアドレス(セクタ番号)


53

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

19.2 

エンボスグループ:パリティセクタ 

エンボスパリティセクタは,エンボスデータである各セクタのユーザデータ,バイト 513∼バイト 516,

データフィールド及び制御データのエラー訂正に使われる。ECC で訂正できなかったセクタが 1 トラック

当たり 1 個の場合,パリティセクタによって訂正することができる。ECC で訂正できなかったセクタが 1

トラック当たり 2 セクタ以上の場合は,パリティセクタでは訂正できない。

パリティセクタのデータフィールドは,516 パリティバイト(PB)からなり,一つのトラックの各セク

タのユーザデータ及びバイト 513∼バイト 516(DB)の排他的 OR(  )の結果を記録する。

n

t

n

j

t

n

t

n

t

n

T

DB

DB

DB

DB

PB

,

24

,

,

,

,

1

,

,

0

,

,

...

...

ここに,  1≦tn

2

/25(n

2

はグループの中のエンボスデータセクタの数)

24

0

≦ j

516

1

≦ n

PB

T,n

はパリティセクタ のバイト A

n

及び DB

t,j,n

は,該当グループのトラック のセクタ のバイト A

n

であり,A

n

は,

附属書 に定義されている。パリティバイトは再同期バイトを除く,ユーザデータ及びバ

イト 513∼バイト 516 の全てで計算し,

附属書 で定義する CRC,ECC 及び再同期バイトを付加して記録

する。

各グループの各トラックに対応するパリティセクタは,各グループに割り当てられた位置に第一セクタ

から順に記録する。最初のパリティセクタは,同じグループのデータ領域の最初のトラックに対応し,2

番目のパリティセクタは,2 番目のトラックに対応し,以下同様に全てのパリティセクタとトラックとを

対応させる。使わないパリティセクタのデータ領域の内容は,

(FF)とし,

表 E.1 の配置とする。

データゾーンのバッファトラックは,パリティセクタをもたない。

第 章  エンボス特性 

20 

試験方法 

ディスク上のエンボスデータのフォーマットは,箇条 13∼箇条 18 で定義する。箇条 21∼箇条 23 は,箇

条 で規定する基準駆動装置を用いて得られるグルーブ,ヘッダ及びエンボスデータからの信号について

規定する。

箇条 21∼箇条 23 は,エンボスデータの平均品質を規定する。規定値からの局所的な逸脱を欠陥と呼ぶ

が,これらについては,

第 章に記載する。

20.1 

使用環境 

ODC は,8.1.2 に規定する使用環境の範囲で,箇条 21∼箇条 23 の規定を満足していなければならない。

20.2 

基準駆動装置 

箇条 21∼箇条 23 で規定する全ての信号は,基準駆動装置で指定のチャネルで測定する。このため,基

準駆動装置は,次の特性をもっていなければならない。

20.2.1 

光学系 

光ビームは,9.2 a)9.2 f)  で規定されたものとする。ディスクの回転方式は,9.5 で規定のものとする。

20.2.2 

再生パワー 

ディスクの入射面から入射する再生パワーは,波長が 780 nm のとき 1.0 mW から P

max

の範囲とする。

P

max

は次の範囲とする。P

max

は,制御ゾーンのバイト 21 とバイト 135 とに明示する。

mW

3

.

1

mW

2

.

1

max

P

その他の波長については,この規格では定義しない。


54

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

注記

回転数の異なる場合の

P

max

の推奨値は,

附属書 J

に記す。

20.2.3 

再生チャネル 

駆動装置には,対物レンズの出射瞳からの総光量を測定する再生チャネルを設ける。このチャネルは,

9.1

のチャネル

1

とする。

20.2.4 

フォーカシング及びトラッキング 

測定中の光ビームの焦点と記録層との間の軸方向の偏位,すなわち,フォーカシングエラーの最大許容

量は,次のとおりとする。

e

max

(フォーカシング)=

0.8 μm

トラックの中心との間の半径方向の偏位,すなわち,トラッキングエラーの最大許容量は,次のとおり

とする。

e

max

(トラッキング)=

0.09 μm

この測定に使用するトラッキングサーボは,

11.4.8

で規定のものより高精度のものとする。

20.3 

信号の定義 

図 17

に,箇条

21

∼箇条

23

で規定する信号を示す。

全ての信号は,フォトダイオードの出力であり,したがって,ディテクタ上の光パワーに比例する。

I

1

及び

I

2

は,トラッキングチャネルの

2

分割フォトダイオードのそれぞれの出力である。トラッキング

チャネルの信号は,エンボスマークのない情報ゾーンで最大となるクロストラック信号

  (I

1

I

2

)

OL

を基準

として扱う。

チャネル

1

の信号は,情報ゾーンの未記録のグルーブからの信号レベル

I

OL

を基準として扱う。

図 17a

トラッキングチャネルでのグルーブからの信号 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

図 17b

チャネル でのヘッダからの信号 

図 17

ヘッダ

グルーブ及びエンボス記録領域からの信号 

VFO 

0

レベル

I

OL

I

sm

AM, ID, PA 

セクタマーク

I

vf

o

未記録

トラックレベル→

I

h

クロストラック信号

2

分割フォトダイオード

I

2

I

1

(

I

1

+

I

2

)

pp

(

I

1

+

I

2

)

OL

(

I

1

-

I

2

)

pp

(I

1

+

I

2

)

min

0

レベル 

ランド 
反射レベル

光ビーム


55

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 17c

チャネル での記録フィールドからの信号 

図 17

ヘッダ

グルーブ及びエンボス記録領域からの信号(続き) 

21 

グルーブからの信号 

和信号(

I

1

I

2

)及び差信号(

I

1

I

2

)は,

1 MHz

以上の周波数で

40 dB

以上減衰するようにフィルタを

使用し,エンボスマークによる変調の影響を除去する。ただし,

(I

1

I

2

)

OL

を測定するときを除外する。

グルーブ及びエンボスの形状は,偏光面がグルーブと平行な場合と垂直な場合とで次項の要求を満たす

ように決定する(

附属書 R

参照)

21.1 

クロストラック信号 

クロストラック信号は,光ビームの焦点がトラックを横切るときのトラックチャネルの和信号(

I

1

I

2

である。この信号は,駆動装置が,光ビームをトラックの中央に位置合わせするために使うことができる。

クロストラック信号のピークからピークまでの値は,次の要件を満足しなければならない。

a)

エンボスヘッダ又はエンボス記録フィールドの領域

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

60

.

0

12

.

0

OL

2

1

pp

2

1

I

I

I

I

+

+

(

)

(

)

75

.

0

20

.

0

OL

2

1

pp

2

1

I

I

I

I

+

+

b) 

エンボスマークのない情報ゾーンのグルーブ領域

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

65

.

0

23

.

0

OL

2

1

pp

2

1

I

I

I

I

+

+

(

)

(

)

75

.

0

30

.

0

OL

2

1

pp

2

1

I

I

I

I

+

+

エンボス記録フィールド以外のグルーブのある情報ゾーンで,クロストラック信号は,15 %以上変動し

てはならない。

21.2 

最小クロストラック信号 

最小クロストラック信号は,光ビームがトラックを横切るときのトラックチャネルの和信号(I

1

I

2

)の

最小値である。

最小クロストラック信号は,次の要件を満足しなければならない。

a)

情報ゾーンのエンボスデータがあるグルーブ領域

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

0

3

.

0

OL

2

1

min

2

1

>

+

+

I

I

I

I

(

)

(

)

21

.

0

OL

2

1

min

2

1

I

I

I

I

+

+

b) 

エンボスマークのない情報ゾーンのグルーブ領域

0

レベル

I

dmax

I

dmin


56

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

0

3

.

0

OL

2

1

min

2

1

>

+

+

I

I

I

I

(

)

(

)

21

.

0

OL

2

1

min

2

1

I

I

I

I

+

+

21.3 

プッシュプル信号 

プッシュプル信号は,光ビームの焦点がトラックを横切るときのトラッキングチャネルの差信号(I

1

I

2

であり,駆動装置はこの信号を用いてトラッキングを行うことができる。

プッシュプル信号のピークからピークまでの値は,次の要件を満足しなければならない。

a)

情報ゾーンのエンボスデータがあるグルーブ領域

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

90

.

0

35

.

0

OL

2

1

pp

2

1

I

I

I

I

+

(

)

(

)

70

.

0

22

.

0

OL

2

1

pp

2

1

I

I

I

I

+

b)

エンボスマークのない情報ゾーンのグルーブ領域

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

90

.

0

55

.

0

OL

2

1

pp

2

1

I

I

I

I

+

(

)

(

)

70

.

0

35

.

0

OL

2

1

pp

2

1

I

I

I

I

+

21.4 

デバイデドプッシュプル信号 

デバイデドプッシュプル信号(DPP 信号)の第一項は,光ビームがエンボス記録フィールド又は未記録

フィールドのグルーブを横切るときに,2 分割フォトダイオードの差信号(I

1

I

2

)を 2 分割フォトダイオ

ードの和信号(I

1

I

2

)で除した信号の信号振幅である。

DPP 信号の第二項は,第一項の最小値と最大値との比である。

このとき,2 分割フォトダイオードの分割方向はトラック方向と平行とし,また,トラッキングサーボ

をかけていない状態で測定する。

第一項は,次の要件を満足しなければならない。

a) 

情報ゾーンのエンボスデータがあるグルーブ領域

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

10

.

1

74

.

0

pp

2

1

2

1

+

I

I

I

I

(

)

(

)

00

.

1

45

.

0

pp

2

1

2

1

+

I

I

I

I

b)

  エンボスマークのない情報ゾーンのグルーブ領域

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

10

.

1

74

.

0

pp

2

1

2

1

+

I

I

I

I

(

)

(

)

00

.

1

65

.

0

pp

2

1

2

1

+

I

I

I

I

第二項は,次の要件を満足しなければならない。

水平偏光

垂直偏光

(

)

(

)

7

.

0

)

(

)

(

max

pp

2

1

2

1

min

pp

2

1

2

1

+

+

I

I

I

I

I

I

I

I

(

)

(

)

7

.

0

)

(

)

(

max

pp

2

1

2

1

min

pp

2

1

2

1

+

+

I

I

I

I

I

I

I

I


57

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

21.5 

位相深さ 

グルーブの位相深さは,180°未満でなければならない。

21.6 

トラックの位置 

トラックは,プッシュプル信号が 0 で,クロストラック信号が最大値となる半径位置とする。

22 

ヘッダ信号 

エンボスヘッダから得られる信号は,基準駆動装置のチャネル 1 で測定する。

エンボスマークからの信号は,チャネル 1 の信号振幅として定義する(

附属書 R

参照)

エンボスマークからの全ての信号レベルは,I

OL

より小さくなければならない。

22.1 

セクタマーク 

セクタマークからの信号 I

SM

は,次の要件を満足しなければならない。

55

.

0

L

O

SM

I

I

22.2 VFO

信号 

VFO

1

及び VFO

2

のフィールドのマークからの信号 I

vfo

は,次の要件を満足しなければならない。

15

.

0

L

O

vfo

I

I

さらに,各ヘッダで次の要件を満足しなければならない。

35

.

0

max

h

vfo

I

I

ここに,

I

h max

そのヘッダでの

22.3

で定義するエンボスマーク信号 I

h

最大振幅

22.3 

アドレスマーク

ID

フィールド及びポストアンブル 

アドレスマーク,ID フィールド及びポストアンブルフィールドの中にあるマークからの信号 I

h

は,次の

要件を満足しなければならない。

15

.

0

OL

h

I

I

35

.

0

max

h

min

h

I

I

後者の要件は,全てのヘッダに対して適用される。I

h min

及び I

h max

は,それらのフィールドにおいて,最

小振幅及び最大振幅とする。

23 

エンボス記録フィールド信号 

エンボス記録フィールドから得られる信号は,基準駆動装置のチャネル 1 で測定する(

9.1

及び

附属書 R

参照)

。容認可能なマークの欠陥は,

第 

で規定する。

全てのエンボス記録フィールドからの信号は,信号振幅のピークからピークまでの値として定義する。

エンボス記録フィールドのマークからの信号 I

d

は,次の条件を満足しなければならない。

15

.

0

OL

d

I

I


58

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

35

.

0

max

d

min

d

I

I

後者の要件は,記録フィールド全体に適用される。I

d min

及び I

d max

は,各セクタのエンボス記録フィール

ド内の I

d

の最小値及び最大値とする。

アクワイアゾーンのフォーカストラックでは,I

d

/I

OL

だけが定義される。

第 章  記録層の特性 

24 

試験方法 

箇条

25

∼箇条

27

では,データの記録及び消去に用いる記録層の光磁気特性の試験条件及び性能につい

て規定する。試験は,書換形ゾーンのセクタの記録フィールドで行う。書換形ゾーンがない場合は,箇条

25

∼箇条

27

は適用しない。記録,再生及び消去の試験は,同一の基準駆動装置で行う(

附属書 J

参照)

箇条

25

∼箇条

27

では,記録層の平均品質だけを規定する。規定値からの部分的な逸脱を欠陥と呼ぶが,

これは,記録又は消去の問題の原因となり得る。これらの欠陥は

第 

で規定する。

24.1 

試験環境 

箇条

25

∼箇条

27

の全ての信号は,別に注記がある場合を除いて,

8.1.2

で規定する使用環境の範囲にあ

る ODC に関して,規定範囲内になければならない。

24.2 

基準駆動装置 

箇条

25

∼箇条

27

で記述する記録及び消去は,基準駆動装置のチャネル 2 で測定する。このため基準駆

動装置は,次の特性をもっていなければならない。

24.2.1 

光学系 

光ビームは,

9.2 a)

9.2

f) 

で規定する特性をもつ。ディスクは,

9.5

で規定のとおりに回転する。

24.2.2 

再生パワー 

情報を再生するための,ディスクの入射面から入射される再生パワーは,1.0 mW から P

max

までの範囲

とする。

24.2.3 

再生チャネル 

基準駆動装置は,記録層の光磁気マークを検出できる

9.3

のチャネル 2 と同等の再生チャネルをもたな

ければならない。

24.2.4 

トラッキング 

測定中の光ビームの焦点は,

20.2.4

で規定のとおりにトラックを追随しなければならない。

24.3 

記録条件 

マークは,磁界の存在下で,バイアスパワーにパルス列を重畳させた光ビームによって,ディスク上に

記録される。

24.3.1 

記録パルス 

記録パルスは,

図 18

のとおりとする。

パルスの 10 %から 90 %までの立上がり時間及び立下がり時間は,

(0.1T

p

+5)ns 未満とする。


59

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

P

w

 :記録パワー

P

b

 :バイアスパワー

T

r

  :立上がり時間

T

f

  :立下がり時間

T

p

 :記録パルス幅

P  :P

w

P

b

図 18

記録パルス形状 

24.3.2 

記録パワー及びパルス幅 

記録パワーは,ディスクの入射面から入射してマークを記録するための光パワーである。

バイアスパワーP

b

は,0.9 mW から 1.1 mW までの範囲とする。試験は,23±2  ℃で行い,次のいずれか

の条件で行う(

附属書 F

参照)

−  制御データのバイト 22∼バイト 25 又はバイト 136∼バイト 139 の測定するバンドに相当する記録パル

ス幅及び記録パワー(

附属書 F

参照)

又は,

−  制御データのバイト 31 及びバイト 145 の記録パワー,並びに,バイト 32∼バイト 34 及びバイト 146

∼バイト 148 に記録されている記録パルス幅(

附属書 F

参照)

その他の半径位置での記録パワー及びパルス幅は,直線補完した値±5 %の範囲とする。

異なる温度のときには,

附属書 J

に示す方法で補償する。

附属書 J

には,2 種類の回転数での最大記録

パワーの推奨値も併記する。

記録パワーは,T

p

の単位を ns としたとき,次の値を超えてはならない。

mW

1

1

50

p

p

+

T

T

                    ここに,10≦T

p

≦50

又は,

8 mW

                    ここに,T

p

>50

24.3.3 

記録磁界 

T

p

T

r

T

f

P

w

P

b

0.9

P

0.1

P

0.5

P


60

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

記録磁界強度は,記録層の位置で 16 000 A/m から 32 000 A/m までの範囲になければならない。

記録磁界の方向は,ディスク基準面 P の垂線に対して 15°以内で,入射ビームの方向,すなわち,入射

面から記録層へ向かって N 極から S 極となるようにする。

24.4 

消去条件 

マークは,磁界の存在下で,一定光パワーを照射することで消去される。

24.4.1 

消去パワー 

消去パワーは,記録されたマークを消去するために,入射面から入射される光パワーとする。消去パワ

ーは,

24.3.2

で提示された値を超えてはならない。

試験は,23±2  ℃で行い,制御データのバイト 45∼バイト 47 及びバイト 159∼バイト 161 で与えられる

半径位置に適した消去パワーで行う(

附属書 F

参照)

その他の半径位置での消去パワーは,直線補完した値±10 %の範囲とする。

異なる温度のときには,

附属書 J

に示す方法で補償する。

附属書 J

には,2 種類の回転数での最大消去

パワーの推奨値も併記する。

24.4.2 

消去磁界 

消去磁界は,記録層の位置で 16 000 A/m∼32 000 A/m の範囲になければならない。

消去磁界方向は,ディスク基準面 P の垂線に対して 15°以内で,反射ビームの方向,すなわち,記録層

から入射面へ向かって N 極から S 極となるようにする。

24.5 

信号の定義   

チャネル 2 の信号は,フォトダイオード K

1

と K

2

との電流の差に比例し,したがって,フォトダイオー

ドに入射する光パワーに比例する(

9.1

参照)

25 

光磁気特性 

25.1 

性能指数 

記録層の性能指数 は,光磁気マークから得られる信号強度とし,sinθ cos2β で表す。ここで,は小

数で表示される反射率であり,θ はマークと未記録部との間の偏光のカー回転角度であり,また,β は開口

部全体で平均した反射ビームのだ(楕)円率である。性能指数の極性は,

24.3.3

で規定する記録磁界方向

において,Fe リッチの Fe-Tb 合金記録層に記録したとき,マークに対しては負となるように定義する。こ

の場合,カー回転の方向は,入射ビームからみて反時計回りとなる。

性能指数の値の極性及び大きさは,制御データのバイト 10 及び 11 で規定し(

附属書 F

参照)

,次のと

おりとする。

0

005

.

0

|

|

5

002

.

0

<

F

性能指数の実効値 F

m

の測定は,

附属書 H

に従って行う。F

m

は,公称値の 12 %以内とする。

25.2 

光磁気信号の非対称性 

光磁気信号の非対称性(アンバランス)は,基板の複屈折に起因し,基準駆動装置のチャネル 2 の信号

の d.c.オフセットで表す。このオフセットは,

附属書 H

に示す,光学系の MTF を 1 とする低周波領域の

信号を記録して測定する。再生信号が 50 %のデューティサイクルとなる記録信号を用いてもよい。オフセ

ットは,信号の両極間の半分のレベルとする。

アンバランスは,チャネル 2 のオフセットをチャネル 1 の信号で除した値が,0.06 以下とし,DC から

40 kHz までの帯域幅で測定する。アンバランスは基準駆動装置を用いて測定する(

9.1

参照)


61

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

26 

記録特性 

26.1 

分解能 

分解能は,

高密度パターンの信号振幅と低密度パターンの信号振幅との比で表し,

次のように測定する。

セクタの記録フィールドに,8 チャネルビットごとに一つのマーク及び 3 チャネルビットごとに一つの

マークの 2 種類の連続信号を記録する。記録条件は

24.3

で規定のとおりとする。

24.2.2

及び

24.2.3

の条件で,チャネル 2 の信号を再生する。I

L

は低密度パターンから,I

H

は高密度パタ

ーンから再生される信号振幅値とする。

分解能 I

H

/I

L

は,規定の記録磁界の範囲で,書換形ゾーン内の全てのセクタで,0.30 以上とする。この変

化の範囲は,トラック全体で,0.20 以下とする。

26.2 

狭帯域信号対雑音比(NBSNR 

狭帯域信号対雑音比(NBSNR)は,規定パターンの雑音レベルに対する信号レベルの比とし,30 kHz

の帯域幅で測定する。

24.3

に規定の条件で,3 チャネルビットごとに一つのマークを記録する連続信号を,記録フィールドの

連続したセクタに記録する。

24.2.2

及び

24.2.3

で規定する条件のチャネル 2 を用いて記録フィールドを再生し,帯域幅 30 kHz のスペ

クトラムアナライザを使用する。

図 19

で示すとおり,周波数 f

0

で信号振幅及び雑音を測定する。測定値

は,ヘッダフィールドの影響を除去し,記録フィールドだけの値となるように補正する。

狭帯域信号対雑音比を,次に示す。

N

S

NBSNR

10

log

20

×

=

ここに,

NBSNR: 狭帯域信号対雑音比

S: 信号レベル

N: 雑音レベル

狭帯域信号対雑音比は,記録磁界の全ての許容値に対して,及び

9.1

に規定の光学系の位相差が−15°

∼+15°の範囲において,書換形ゾーンのあらゆるセクタの全トラックで 43 dB より大きくなければなら

ない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

図 19

信号レベル及び雑音レベル 

信号レベル

雑音レベル

f

0

周波数


62

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

26.3 

クロストーク比 

クロストーク比の試験は,書換形ゾーンで,

n−2)

n−1)

n

n+1)及び(n+2)として指定する

五つの隣接する未記録フィジカルトラックを用い,次の手順で測定する。

−  これらのトラックの各セクタの記録フィールドを全て消去する。

−  次にトラック のセクタの記録フィールドに 8 チャネルビットごとに一つのマークを記録する連続信

号を,

24.3

に規定の条件で記録する。

 24.2.2

及び

24.2.3

で規定の条件で,トラック(n−1)

及び(n+1)のセクタの記録フィールドを再

生する。

トラック n∼トラック(n−1)及びトラック n∼トラック(n+1)のクロストークは,−26 dB 未満でな

ければならない。

27 

消去特性 

消去特性は,次の手順によって測定したとき,

f) 

で測定される NBSNR は 43 dB より大きくなければな

らず,かつ,

b) 

で測定される再生信号振幅に対し,

g) 

で測定される残存信号振幅は−40 dB より小さくな

ければならない。

a)

  書換形ゾーンの一連のセクタに,3 チャネルビットごとに一つのマークを記録する連続信号を,

24.3

に規定の条件で記録する。

b)

  帯域幅 30 kHz のスペクトラムアナライザを用いて,

24.2.2

及び

24.2.3

で規定の条件で再生し,信号振

幅を測定する。

c)

24.4

に規定の条件で消去する。

d)

a) 

及び

c) 

を 1 000 回繰り返す。

e)

a) 

を行う。

f)

b) 

を行う。

26.2

で規定の,信号振幅とノイズレベルとを測定する。

g)

c) 

を行う。

f) 

と同じ周波数で残留信号振幅を測定する。

第 章  ユーザデータの特性 

28 

試験方法 

箇条

29

及び箇条

30

では,ディスク上のユーザデータの適合性を検査するための一連の測定方法を記載

する。これは,エンボスデータ及びユーザ記録データの両方について行う。データは任意でよい。ユーザ

記録データの記録については,駆動装置及び環境を問わない。基準駆動装置で再生試験を実行する。

箇条

20

∼箇条

27

が欠陥を無視するのに対して,箇条

29

及び箇条

30

では,それらを再生信号の不可避

な劣化とみなす。欠陥の重大性は,

28.2.5

で定義する再生チャネルの誤り検出回路及び誤り訂正回路で,

発生するエラーを訂正できるかどうかによって決定する。箇条

29

及び箇条

30

の要件は,データ交換に必

要とされるデータ最低品質を定義する。

28.1 

試験環境 

8.1.2

で定義する使用環境条件の許容範囲にある ODC において,箇条

29

及び箇条

30

で定義する全ての

信号は,その規定の範囲内になければならない。試験の前に,ディスク製造業者の取扱説明書に従って,

光ディスクの入射面の汚れを取り除くことが望ましい。

28.2 

基準駆動装置 

箇条

29

及び箇条

30

で規定する全ての信号は,基準駆動装置の指定のチャネルで測定する。これらの試


63

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

験の目的のために,測定装置は,次の特性をもつ。

28.2.1 

光学系 

光ビームは,

9.2 a)

9.2

f) 

に規定する特性をもつ。ディスクは,

9.5

で規定の回転とする。

28.2.2 

再生パワー 

ディスク入射面上に投じる再生パワーは,1.0 mW∼P

max

の範囲とする。

28.2.3 

再生増幅器 

チャネル 1 及びチャネル 2 の再生増幅器は,

9.3

の規定によらなければならない。

28.2.4 

アナログ−バイナリ変換器 

再生増幅器の出力信号は,ピーク検出器によってアナログからバイナリに変換する。

チャネル 1 用の変換器は,箇条

22

及び箇条

23

に規定の特性をもったエンボスマークからのアナログ信

号に対して正しく作動しなければならない。

チャネル 2 用の変換器は,箇条

25

及び箇条

26

に規定の特性をもったユーザ記録マークからのアナログ

信号に対して正しく作動しなければならない。

28.2.5 

誤り訂正 

データバイトの誤り訂正は,

E.3

の定義に基づいて,誤り検出方式及び誤り訂正方式によって実行する。

エンボスデータに対しては,

18.4.3

で規定のパリティセクタによる誤り検出訂正方式を用いる。

28.2.6 

トラッキング 

測定中の光ビームのフォーカシング及びトラッキングは,

20.2.4

で規定する。

29 

セクタの最低保証品質 

箇条

29

では,

そのセクタに含まれるデータの交換に必須となるセクタのヘッダ及び記録フィールドの最

低品質を規定する。

28.2

で規定する基準駆動装置で測定する。

1 バイト内にビットの設定の間違いが一つ以上あるとき,ECC 及び/又は CRC 回路が検出するとおり,

バイトエラーが生じる。

29.1 

ヘッダ 

29.1.1 

セクタマーク 

セクタマークの五つの長いマークのうち,少なくとも三つについては,そのタイミングは

15.2

で規定の

とおりとし,信号は

22.1

で規定する振幅をもつ。

29.1.2 ID

フィールド 

チャネル 1 で再生されるヘッダの三つの ID フィールドのうち,少なくとも一つには,CRC で検出され

るようなエラーがあってはならない。

29.2 

ユーザ記録データ 

チャネル 2 で再生するユーザ記録データは,

28.2.5

で定義する誤り訂正によって訂正できないバイトエ

ラーを含んではならない。

29.3 

エンボスデータ 

チャネル 1 で再生されるエンボスデータは,

28.2.5

で定義する誤り訂正によって訂正できないバイトエ

ラーを含んではならない。

30 

データ交換要件 

データ交換のためのディスクは,次の要件を満足しなければならない。


64

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

30.1 

トラッキング 

光ビームの焦点は,意図なくトラックを飛んではならない。

30.2 

ユーザ記録データ 

29.1

及び

29.2

の規定を満たさない書換形ゾーンで記録されたセクタは,箇条

19

で定義したとおり,欠

陥管理の規則に従って代替されなければならない。

30.3 

エンボスデータ 

29.1

及び

29.2

の規定を満たさないエンボスゾーンのセクタは,

18.4.3

で定義したとおり,パリティセク

タの誤り訂正で訂正できなければならない。

30.4 

ディスクの品質 

ディスクの品質は,書換形ゾーンの代替セクタ数に反映される。代替セクタは最大 1 025 個とする。


65

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 A

(規定)

ケースのひずみ(歪)量確認方法

この附属書は,ケースのひずみ(歪)量確認方法について規定する。

A.1 

ひずみ(歪)量確認方法 

ひずみ(歪)量確認では,容認できないケースのひずみ(歪)及びエッジの隆起がないかどうかを検査

する。規定の力を与え,計器の挿入口に ODC を垂直に通過させることによって試験を行う。

A.2 

基準器 

基準器はクロムめっきの炭素鋼など適切な材料で製作し,内面を磨いて,表面粗さの最大高さが 5  μm

以下となるように表面処理を行う。

A.3 

寸法 

寸法は,次による(

図 A.1

参照)

mm

0

.

96

a

L

mm

1

.

0

0

.

91

b

±

=

L

mm

6

.

8

1

.

0
0

c

+

=

L

mm

01

.

0

30

.

6

d

±

=

L

mm

80

.

6

e

L

A.4 ODC

の挿入 

ODC を基準器に垂直に挿入するとき,最大 0.8 N の垂直下力 F

i

を ODC 上端の中央に加えたとき,ODC

は基準器を通過しなければならない。

図 A.1

ひずみ(歪)量基準器 

L

d

L

e

ee

L

c

L

b

L

a

L

c

L

d

F

i


66

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 B

(規定)

ODC

の可とう(撓)性確認方法

この附属書は,ODC の可とう(撓)性確認方法について規定する。

B.1 

目的 

ODC の可とう(撓)性確認は,ODC の四つの基準面(S

1

面,S

2

面,S

3

面及び S

4

面)を平面に押し付け

ることによって,ケースの平面度及び柔軟性を検査する。

B.2 

基準面の定義 

四つの基準面(S

1

面,S

2

面,S

3

面及び S

4

面)の位置は,

10.3.4

及び

図 4

で定義する。

B.3 

試験計器の構成 

試験計器は,四つの面 S

1

,S

2

,S

3

及び S

4

にそれぞれ対応するように四つの支柱 P

1

,P

2

,P

3

及び P

4

を平

板上に固定した構成とする(

図 B.1

参照)

。寸法は,次による(

図 B.2

参照)

支柱 P

1

及び P

2

mm

01

.

0

50

.

6

a

±

=

D

mm

50

.

3

0

02

.

0

b

=

D

mm

1

.

0

0

.

1

a

±

=

H

mm

0

.

2

b

H

なお,支柱 P

1

及び P

2

の上部領域(H

b

H

a

)は面取りをする。

支柱 P

3

及び P

4

mm

01

.

0

50

.

5

c

±

=

D

組立て後,四つの支柱の上部環状面は,0.01 mm 離れた二つの水平面の間に存在しなければならない。

B.4 ODC

の装着 

可とう(撓)性確認装置を水平に設置し,ODC の基準面が支柱の上に載るように ODC を置く。垂直下

向き方向に 0.4 N の力 F

C

を,ODC の 4 か所の支柱と対向する位置にそれぞれ加える。

B.5 

要件 

B.4

の条件下で,S

1

∼S

4

までの 4 か所の面のうちの 3 か所の面は,個々の支柱の環状面に接していなけ

ればならず,残りの面とその支柱の環状面との隙間は 0.1 mm 以下でなければならない。


67

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 B.1

可とう(撓)性確認装置 

図 B.2

支柱の詳細図 

F

C

P

1

P

2

P

4

P

3

F

C

F

C

F

C

P

1

P

2

P

3

P

4

Z

D

b

D

c

D

a

H

a

H

b


68

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 C

(参考)

トラックの振れ量の測定方法

トラックの規定位置からの振れ量は,トラッキングサーボを掛けて駆動装置上で測定する。試験に用い

る基準サーボの強度は,駆動装置のサーボの強度を超えてはならない。サーボの強度の差は,駆動装置の

余裕度を示す。トラックの振れ量は,基準サーボを印加した状態で測定するトラックと光ビーム焦点との

間のトラッキングエラー量に関係している。

トラックの振れ量の測定方法は,光軸方向のトラック振れ量及び半径方向のトラック振れ量のいずれに

も適用する。

C.1 

許容値との関係 

トラックの振れ量は,トラッキングサーボモータに要する加速度,及びトラッキングエラーの測定によ

る。加速度とトラッキングエラーとの関係を周波数の関数として

図 C.1

に示す。

図 C.1

単一周波数

正弦波状振れ量の許容値 

低周波数領域での許容振幅(x

max

)は,次の式によって算出する。

2

max

max

)

2

(

f

a

x

π

=

  (C.1)

ここに,

a

max

サーボモータの最大加速度

高周波数領域での許容振幅(x

max

)は,次の式によって算出する。

max

max

e

x

=

   (C.2)

ここに,

е

max

最大許容エラー量

二つの周波数領域の合成は,

C.3

による。

e

max

log(x

max

)

log(f)


69

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

C.2 

基準サーボ 

トラック振れ量の許容値は,基準サーボに対するトラック振れ量の許容値と等しい。基準サーボは,所

定の伝達関数をもち,

図 C.1

に示したように,振幅(

x

max

)の単一の正弦波状のトラック振れ量を最大許

容エラー量(

е

max

)に圧縮する。

基準サーボの開ループ伝達関数(

H

s

)は,次とする。

0

0

2

0

s

1

1

1

)

(

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

c

i

c

i

i

c

i

H

+

+

=

  (C.3)

ここに,

H

s

開ループ伝達関数

1

=

i

f

π

ω

2

=

0

0

f

π

ω

=

f

0

開ループ伝達関数上で,ゲインが

0 dB

となる周波数

c

サーボのクロスオーバー周波数(

f

1

及び

f

2

)を与える定数

f

1

f

0

 / c

f

2

f

0

×

c

基準サーボによるトラック振れ量(

x

)のエラー量(

e

)への圧縮は,次の式によって算出する。

s

1

1

H

x

e

+

=

   (C.4)

ここに,

x

トラックの振れ量

e

エラー量

H

s

開ループ伝達関数

0 dB

となる周波数

ω

0

は,次の式によって算出する。

max

max

0

e

c

a

=

ω

  (C.5)

このとき,

ω

0

より低い周波数のトラック振れは,最大許容エラー量(

е

max

)に圧縮される。また,

ω

0

り高い周波数のトラックの振れは,圧縮されない。

図 C.1

に示す許容振幅(

x

max

)は,次の式によって算

出する。

|

1

|

s

max

max

H

e

x

+

=

  (C.6)

この基準サーボのモータに要求される最大加速度は,次の式によって算出する。

|

1

|

)

motor

(

s

2

max

max

H

e

a

+

=

ω

(C.7)

f

f

0

/c

となる低周波数領域での最大加速度は,次の式によって算出する。

c

)

track

(

)

motor

(

max

2

0

max

max

e

a

a

ω

=

=

   (C.8)

ここに,

11.4.6

及び

11.4.8

の低周波数領域で基準サーボの

ω

0

計算に

a

max

(motor)

を用いてもよい。

C.3 

トラックの振れの許容量 

トラックの振れは,所定の周波数で回転しているディスクに対し,基準サーボでトラッキングを行った

とき,

12 μs

にわたって,エラー量(

е

max

)を超えてはならない。

軸方向及び半径方向の基準サーボの開ループ伝達関数は,

30 Hz

100 kHz

の帯域で,公称値からの相違

が±

20 %

の範囲を超えない精度の|

1

H

│を用い,式

(C.3)

によって求める。定数

c

は,

3

とする。

0 dB


70

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

波数

ω

0

/(2π)

は,

20.2.4

11.4.6

及び

11.4.8

の軸方向及び半径方向の

а

max

及び

е

max

を用いて,式

(C.5)

によっ

て求める。

C.4 

測定方法 

軸方向又は半径方向の測定システムとして,

3

種類の方法を示す(

図 C.2

図 C.3

及び

図 C.4

参照)

。図

中,

H

a

は駆動装置の実際のトラッキングサーボの開ループ伝達関数を,

H

s

は式

(C.3)

によって求める基準サ

ーボの伝達関数を,

x

及び

y

はトラックの位置及び光ビームの焦点の半径方向の位置を,

е

s

は基準サーボを

経た後のエラー量を示す。

位置センサ 

サーボ 

+

+

e

e

フィルタ 

1

1+H

S

C.2

基準サーボによって圧縮されたトラック位置信号に 

フィルタを印加してe

s

を得るようにした基準サーボ方法 

H

+

e

H

H

C.3

実際のサーボの伝達関数を変換することによって 

e

s

を得るようにした基準サーボ方法 


71

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

最適な測定方法は,

H

a

及び

H

s

の特性に依存する。板ばね方式サーボモータでは,低周波数及び高周波

数に分けて

2

系統の測定回路を用いると,良い測定結果が得られる。測定方法のうち,

図 C.2

の方法は,

低周波数の測定系に用い,

図 C.3

及び

図 C.4

の方法は,高周波数の測定系に用いる。二つの測定系の出力

信号を,逆特性の交差型フィルタ(

reversed cross-filter

)を用いて加算し,必要なエラー量を求める。低周

波数の測定では,サーボモータにヒステリシスがないときには,サーボモータの加速度の測定としてサー

ボモータに流れる電流を利用してもよい。このとき,電流は,サーボモータの伝達関数によって校正する。

(C.4)

に等しい伝達関数

e

/a

e

/(

2

)

をもつフィルタによって,サーボモータに流れる電流をエラー量に

変換する。

H

+

e

e

1+H

1+H

C.4

実際のサーボのエラー信号を変換することによって 

e

s

を得るようにした基準サーボ方法 


72

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 D

(規定)

ID

フィールドの CRC

この附属書は,

ID

フィールドの

CRC

について規定する。

CRC

16

ビットは,

ID

フィールドの最初の

3

バイトにわたって計算される。生成多項式は,次による。

1

)

(

5

12

16

+

+

+

=

x

x

x

x

G

残差多項式は,次による。

)

(

mod

)

(

16

23

8

7

0

x

G

x

x

b

x

b

x

R

i

i

i

i

i

i

i

i



+

=

=

=

=

=

ここに,

b

i

最初の三つのバイトのビット

i

b

反転ビット

b

23

最初のバイトの最上位ビット

CRC の 16 ビット C

k

は,次によって定義する。

=

=

=

15

0

)

(

k

k

k

k

x

c

x

R

ここに,  C

15

は ID フィールドの 4 番目のバイトの最高位ビットとして記録する。


73

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 E

(規定)

セクタのデータフィールドのフォーマット

この附属書は,セクタのデータフィールドのフォーマットについて規定する。

E.1 

データフィールドの内容 

ディスク上へ記録するデータ A

n

は,記録する順番を示し,コントローラにそれらを入力するときの

順序と同じである。

)は,によって次のとおりとする。

1≦n≦512:A

n

=D

n

ユーザデータバイト

 513≦n≦516:A

n

=F

m

未規定バイト

 517≦n≦520:A

n

=C

k

 CRC チェックバイト

 521≦n≦600:A

n

=E

s,t

 ECC チェックバイト

ここに,

512

n

m

516

n

k

1

]

5

mod

)

521

[(

+

n

s

1

5

521

int

+





=

n

t

表記 int[x]は,以下の最大の整数を示す。

x mod y)は,整数の除算 x/の余りを示す。

ユーザデータバイト D

n

の順序は,駆動装置のコントローラに入力する順序と同じ,すなわち,D

1

が最

初とする。再同期バイトは,A

n

に含めない。

E.2 

インタリーブ 

A

n

の最初の 3 グループは,それらを 104 行 5 列の二次元行列 B

ij

に写像することによって,5 インタリー

ブする。したがって,次となる。

1≦n≦520:B

ij

=A

n

ここに,





=

5

1

int

103

n

i

5

mod

)

1

(

n

j

E.3 CRC

及び ECC 

E.3.1 

概要 

CRC 及び ECC は,次の原始多項式であるガロア体によって計算される。

1

)

(

2

3

5

8

p

+

+

+

+

=

x

x

x

x

x

G

このガロア体の要素は,α

i

=(β 

i

)

88

とし,β は,G

p

(x)の原始根とする。バイトの 番目のビットの値は,

β の 乗の項の係数とし,0≦n≦7 とする。

E.3.2 CRC 


74

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

CRC バイトに対する生成多項式は,次とする。

=

=

+

=

139

136

c

)

(

)

(

i

i

i

x

x

G

α

4 バイトの CRC は,ユーザデータ及び 8 バイトの未規定バイトによって算出する。

情報多項式を次に示す。

0

0

,

0

103

1

4

0

c

)

(

x

B

x

B

x

I

i

i

j

j

i

ij

+



=

 

=

=

=

=

4 バイトの CRC(C

k

)  の内容は,次の剰余多項式で規定する。

)

(

mod

)

(

)

(

c

4

c

c

x

G

x

x

I

x

R

=

多項式の係数の位置を次に示す。

=

=

=

4

1

4

c

)

(

k

k

k

k

x

C

x

R

E.3.3 ECC 

原始多項式 G

p

(x),要素 α

i

及び β は,

E.3.1

に規定する。ECC のチェックバイトに対する生成多項式を次

に示す。

=

=

+

=

135

120

e

)

(

)

(

i

i

i

x

x

G

α

80 バイトの ECC は,ユーザバイト,4 バイトの未規定バイト及び CRC バイトから算出する。対応する

5 個の情報多項式を次に示す。

=

=

=

103

0

,

)

(

i

i

i

j

i

ej

x

B

x

I

ここに,0≦j≦4 とする。

各多項式 I

ej

(x)  に対する 16 チェックバイト E

s,t

の内容は,次の剰余多項式で規定する。

)

(

mod

)

(

)

(

e

16

x

G

x

x

I

x

R

ej

ej

=

多項式の係数の位置を次に示す。

t

t

t

t

j

j

x

E

x

R

=

=

+

=

16

16

1

)

1

(

e

)

(

チェックバイトの各ビットは,チャネルビットに変換する前に,上の式中に で示すように反転させな

ければならない。

E.4 

再同期バイト 

再同期バイトは,同期外れ防止及びユーザデータのエラー伝搬の制限のため,データフィールドに挿入

する。再同期バイトは,連続した番号を付けるが全て同じであり,ユーザデータでは発生しない,次に示

すチャネルビットパターンとする。

      0010 0000 0010 0100

再同期バイト RS

n

は,バイト A

15n

と A

15n+1

との間に挿入する(1≦n≦39)

E.5 

データフィールドの記録順序 


75

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

データフィールドのデータは,同期バイトに続き,

E.4

に規定の再同期バイトを挿入し,A

n

の順にディ

スク上に記録する。

各データは

表 E.1

のように行列形式で配置する。記録の順序は,左から右へ,上から下へとする。

最初の 3 バイト,SB1,SB2 及び SB3 はデータの同期を取るために使われる。データフィールドの最初

の 104 行はユーザデータ,4 個の未定義バイト及び CRC を含み,これに続く 16 行は ECC とする。

表 E.1

データフィールドの構成

行番号 i

列番号 j

0

1

2

3

4

SB1 SB2  SB3

D

1

D

2

D

3

D

4

D

5

 103

D

6

D

7

D

8

D

9

D

10

 102

D

11

D

12

D

13

D

14

D

15

 101

  RS

1

D

16

D

17

D

18

D

19

D

20

 100

D

21

D

22

D

23

D

24

D

25

 99

D

26

D

27

D

28

D

29

D

30

 98

  RS

2

D

31

D

32

D

33

D

34

D

35

 97

  RS

33

D

496

D

497

D

498

D

499

D

500

 4

D

501

D

502

D

503

D

504

D

505

 3

D

506

D

507

D

508

D

509

D

510

 2

  RS

34

D

511

D

512

F

1

F

2

F

3

 1

F

4

C

1

C

2

C

3

C

4

 0

E

1,1

E

2,1

E

3,1

E

4,1

E

5,1

−1

  RS

35

E

1,2

E

2,2

E

3,2

E

4,2

E

5,2

−2

E

1,3

E

2,3

E

3,3

E

4,3

E

5,3

−3

  RS

39

E

1,14

E

2,14

E

3,14

E

4,14

E

5,14

−14

E

1,15

E

2,15

E

3,15

E

4,15

E

5,15

−15

E

1,16

E

2,16

E

3,16

E

4,16

E

5,16

−16

10

4

16


76

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 F

(規定)

制御ゾーンの内容

この附属書は,制御ゾーンの内容について規定する。

二つの制御ゾーンの各セクタは,製造業者によって設定された同じ制御データをもつ。制御データは次

に示す四つのグループに分けられる。

a)

  メディア特性データは,ディスクの一般的な特性,メディアの種類,ECC,トラッキング方法などを

示し,バイト 0∼17 に記録する。バイト 0∼9 及びバイト 12∼13 は必須項目であり,バイト 10∼11

は書換え可能メディア及び部分エンボスメディアに対して必須項目である。

b)

  記録制御データは,駆動装置が再生,記録及び消去する場合の条件を規定し,次のようなデータの組

合せからなっている。

−  三つの波長 L

1

L

2

及び L

3

−  それぞれの波長に対する反射率 R

−  それぞれの波長に対する回転周波数 N

1

N

2

N

3

及び N

4

−  それぞれの回転周波数 に対して:

・  最大再生パワー

・  消去パワー(内周,中周及び外周の一組)

・  パルス幅一定のときの記録パワー二組(異なるパルス幅に対して,それぞれ内周,中周及び外

周の一組)

,記録パワー一定のときのパルス幅一組

記録制御データは二つのサブグループに分けることができ,一つは箇条

18

∼箇条

27

で示した適合

性試験に,もう一つは駆動装置の制御に用いられる。

1)

  適合性試験データは基準駆動装置の設定に使われ,同時に,ユーザの駆動装置の参照値として使わ

れる。適合性試験データは,必須項目として,バイト 18∼34 及びバイト 44∼47 に記録する。

2)

  ユーザ参照データは,製造業者の推奨値として,試験環境での駆動装置の設定条件を記録する。こ

れらのデータは,

3) 

に記載の部分を除いて,バイト 48∼359 に記録し,必須項目ではない。

3)

  次のバイトは,将来の標準化のために(FF)とする。

26∼30 196∼200 
35∼43 224∼228

54∼58 254∼258

82∼86 263∼271 
110∼114 282∼286

140∼144 310∼314

149∼157 338∼342 
168∼172

c)

  システムデータエンボスゾーンの特性を表す。バイト 380∼399 は全種類のメディアに対して必須項目

であり,バイト 400∼479 はタイプ P-ROM に対して必須項目である。

d)

  最後のグループは,バイト 480∼511 で未規定データである。


77

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

必須項目でないバイトは,規定の値とするか,又は(FF)とする。

F.1 

メディア特性データ 

バイト 0:フォーマット記述子 1

0110 0000 とし,連続複合サーボトラッキング,ロジカル ZCAV 回転記録モード,及び,

(2,7)RLL マー

ク位置変調を表す。

バイト 1:フォーマット記述子 2

0001 0001 とし,512 バイトセクタに適用される最小距離 16 で 5 インタリーブのリードソロモン符号を

表す。

バイト 2:トラック当たりのセクタ数

0001 1001 とし,トラック当たり 25 セクタを表す。

バイト 3:反射率

製造業者が設定する反射率であり,公称波長 780 nm で測定したディスクの反射率(R)とし,次の数値

を記録する。

n=100

バイト 4:オンランド又はイングルーブ記録

0000 0000 とし,オンランド記録を表す。

バイト 5:予備

(FF)とする。

バイト 6:最大再生パワー

制御ゾーンのバイト 21,135 及び 249 に規定の最小の値を記録する。制御ゾーンを再生する最大再生パ

ワーP

w

(mW)とし,次の を記録する。

n=20P

w

バイト 7:ディスクの種類

次の値を設定できる。

0000 0000:全面エンボス形 
0010 0000:全面書換え可能形

1010 0000:部分エンボス形

他の設定は,将来の予備とし,禁止する(

附属書 S

参照)

バイト 8,9:データゾーンの最後のトラック

0100 0110 及び 0001 0011 とし,データゾーンの最後のトラックのトラック番号(17 939)の MSB 及び

LSB を表す。

バイト 10:性能指数の極性

0000 0001 とし,極性が負であることを表す。

バイト 11:性能指数の大きさ

性能指数(F)の大きさとし,次の の値を記録する。

n=10 000

バイト 12:トラックピッチ

トラックピッチ t

p

(μm)とし,次の の値を記録する。

n=100t

p


78

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

(8B)はトラックピッチ 1.39 μm を表す。

バイト 13:予備

(FF)とする。

バイト 14∼17:未規定

これらのバイトは,メディア製造業者が使用してもよい。これらは互換性では無視する。

F.2 

記録制御データ 

バイト 18:波長

駆動装置の波長 L

1

(nm)を規定し,次の を記録する。

n=1/5L

1

このバイトは,n=156 を設定する。

バイト 19:反射率

波長 L

1

での反射率 R

1

を規定し,次の を記録する。

n=100R

1

の値は,バイト 3 と同じ値とする。

バイト 20:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

1

(Hz)を規定し,次の を記録する。

nN

1

このバイトは,n=30 を設定する。

バイト 21:最大再生パワー

条件 L

1

及び N

1

での情報ゾーンでの最大再生パワーP

1

(mW)を規定し,次の を記録する。

n=20P

1

ここに,24≦n≦26

バイト 22∼25:パルス幅一定のときの記録パワー

バイト 22∼25 は,L

1

及び N

1

の条件で,三つのパルス幅 T

p

に対する,記録パワーP

w

(mW)を規定する。

T をチャネルビット周期とするとき,次の を記録する。

n=5P

w

バイト 22:バンド 0 で T

p

=1.00T のときの記録パワー

バイト 23:バンド 4 で T

p

=1.00T のときの記録パワー

バイト 24:バンド 9 で T

p

=1.00T のときの記録パワー

バイト 25:バンド 0 で T

p

=0.50T のときの記録パワー

バイト 26∼30:予備

(FF)とする。

バイト 31∼34:記録パワー一定のときの記録パルス幅

バイト 31∼34 は,L

1

及び N

1

の条件で,記録パワーP

w

に対する,パルス幅 T

p

(ns)を規定する。T

p

とし

て,次の を記録する。記録パワーは,バイト 22∼25 の記録パワーと同様に記録する。

nT

p

バイト 31:記録パワー

バイト 32:バンド 0 のパルス幅

バイト 33:バンド 4 のパルス幅


79

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

バイト 34:バンド 9 のパルス幅

バイト 35∼43:予備

(FF)とする。

バイト 44∼47:消去パワー

バイト 44 は(00)とする。バイト 45∼47 は,L

1

及び N

1

の条件で,三つの半径位置での DC 消去パワー

P

e

(mW)を規定する。消去パワーは,バイト 22∼25 の記録パワーと同様に記録する。

バイト 45:バンド 0 で消去パワー

バイト 46:バンド 4 で消去パワー

バイト 47:バンド 9 で消去パワー

バイト 48:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

2

(Hz)を規定し,バイト 20 の N

1

と同様に記録する。

もし,

(FF)を記録しない場合には,は 50 とする。

バイト 49∼75:

これらのバイトは,L

1

及び N

2

の条件のときの,バイト 21∼47 と同じデータを記録する。ただし,バイ

ト 54∼58 は(FF)とする。

バイト 76:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

3

(Hz)を規定し,バイト 20 の N

1

と同様に記録する。

もし,

(FF)を記録しない場合には,は 60 とする。

バイト 77∼103:

これらのバイトは,L

1

及び N

3

の条件のときの,バイト 21∼47 と同じデータを記録する。ただし,バイ

ト 82∼86 は(FF)とする。

バイト 104:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

4

(Hz)を規定し,バイト 20 の N

1

と同様に記録する。

もし,

(FF)を記録しない場合には,は 30,50 及び 60 以外の値とする。

バイト 105∼131:

これらのバイトは,L

1

及び N

4

の条件のときの,バイト 21∼47 と同じデータを記録する。ただし,バイ

ト 110∼114 は(FF)とする。

バイト 132:波長

駆動装置の波長 L

2

(nm)を規定し,次の を記録する。

n=1/5L

2

バイト 133:反射率

波長 L

2

での反射率 R

2

を規定し,次の を記録する。

n=100R

2

バイト 134:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

1

(Hz)を規定し,次の を記録する。

nN

1

このバイトは,n=30 を設定する。

バイト 135:最大再生パワー

条件 L

2

及び N

1

での情報ゾーンでの最大再生パワーP

2

(mW)を規定し,次の を記録する。

n=20P

2


80

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

ここに,24≦n≦26

バイト 136∼139:パルス幅一定のときの記録パワー

バイト 136∼139 は,L

2

及び N

1

の条件で,三つのパルス幅 T

p

に対する,記録パワーP

w

(mW)を規定す

る。をチャネルビット周期とするとき,次の を記録する。

n=5P

w

バイト 136:バンド 0 で T

p

=1.00T のときの記録パワー

バイト 137:バンド 4 で T

p

=1.00T のときの記録パワー

バイト 138:バンド 9 で T

p

=1.00T のときの記録パワー

バイト 139:バンド 0 で T

p

=0.50T のときの記録パワー

バイト 140∼144:予備

(FF)とする。

バイト 145∼148:記録パワー一定のときの記録パルス幅

L

2

及び N

1

の条件で,記録パワーP

w

に対する,パルス幅 T

p

(ns)を規定する。T

p

として,次の を記録

する。

nT

p

P

w

は,バイト 136∼139 と同様の表記とする。

バイト 145:記録パワー

バイト 146:バンド 0 のパルス幅

バイト 147:バンド 4 のパルス幅

バイト 148:バンド 9 のパルス幅

バイト 149∼157:予備

(FF)とする。

バイト 158∼161:消去パワー

バイト 158 は(00)とする。バイト 159∼161 は,L

2

及び N

1

の条件で,三つの半径位置での DC 消去パ

ワーP

e

(mW)を規定する。消去パワーは,バイト 136∼139 の記録パワーと同様に記録する。

バイト 159:バンド 0 で消去パワー

バイト 160:バンド 4 で消去パワー

バイト 161:バンド 9 で消去パワー

バイト 162:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

2

(Hz)を規定し,バイト 20 の N

1

と同様に記録する。

もし,

(FF)を記録しない場合には,は 50 とする。

バイト 163∼189:

これらのバイトは,L

2

及び N

2

の条件のときの,バイト 135∼161 と同じデータを記録する。ただし,バ

イト 168∼172 は(FF)とする。

バイト 190:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

3

(Hz)を規定し,バイト 134 の N

1

と同様に記録する。

もし,

(FF)を記録しない場合には,は 60 とする。

バイト 191∼217:

これらのバイトは,L

2

及び N

3

の条件のときの,バイト 135∼161 と同じデータを記録する。ただし,バ

イト 196∼200 は(FF)とする。


81

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

バイト 218:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

4

(Hz)を規定し,バイト 134 の N

1

と同様に記録する。

もし,

(FF)を記録しない場合には,は 30,50 及び 60 以外の値とする。

バイト 219∼245:

これらのバイトは,L

2

及び N

4

の条件のときの,バイト 135∼161 と同じデータを記録する。ただし,バ

イト 226∼228 は(FF)とする。

バイト 246:波長

駆動装置の波長 L

3

(nm)を規定し,次の を記録する。

n=1/5L

3

バイト 247∼359:

これらのバイトは,L

3

の条件のときの,バイト 133∼245 と同様のデータを記録する。ただし,バイト

254∼258,263∼271,282∼286,310∼314 及び 338∼342 は(FF)とする。

バイト 360∼379:予備

(FF)とする。

制御データのまとめ

表 F.1

にバイト 18∼359 の規定をまとめる。表の中で,

−  薄く網掛けしてある部分は,必須項目である[

b) 1) 

参照]

−  濃く網掛けしてある部分は,

(FF)を記録しなければならない[

b) 3) 

参照]

−  網掛けのない部分は必須項目ではない。適宜数値を記録してもよいし (FF)でもよい[

b) 2) 

参照]

F.3 

システムデータ 

バイト 380∼399 は全種類のメディアに対して必須項目であり,バイト 400∼479 はタイプ P-ROM に対

して必須項目である。

バイト 380∼387:予備

(FF)とする。

バイト 388∼389:最初のデータバンドのロジカルトラック番号

0000 0101 及び 0110 0100 とし,それぞれ,最初のデータバンドのロジカルトラック番号,1 380 の MSB

及び LSB を表す。

バイト 390:バンド数

0000 1010 とし,バンド数 10 を表す。

バイト 391:バンド定数

0101 1100 とし,バンド定数(バンドごとのトラックの増分)92 を表す。

バイト 392∼393:データバンドごとのフィジカルトラック数

0000 0100 及び 0111 1110 とし,それぞれ,データバンドごとのフィジカルトラック数,1 150 の MSB 及

び LSB を示す。

バイト 394∼399:予備

(FF)とする。

バイト 400 から 423:

これらのバイトの内容は,タイプ P-ROM の場合記載が必要であり,DDS のバイト 0∼23 と同じ値とし,

製造業者が製造時に設定する。PDL の位置と SDL の位置とを示すバイト 416∼423 は,

(FF)とする。こ


82

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

のバイトは,フォーマット,装置故障及び意図しない書込みによって DDS を復旧する必要が生じた場合に

利用できる。全面書換形又は全面エンボスディスクの場合は,

(FF)とする。

バイト 424∼479:予備

(FF)とする。 

F.4 

未規定データ 

バイト 480∼511:

これらのバイトの内容は,未規定とする。製造業者のデータを含んでいる可能性がある。これらは互換

性では無視する。

表 F.1

メディア特性データのまとめ 

L

1

N

1

L

1

N

2

L

1

N

3

L

1

N

4

 

L

2

N

1

L

2

N

2

L

2

N

3

L

2

N

4

 

L

3

N

1

L

3

N

2

L

3

N

3

 

L

3

N

4

18 132 246

19 133 247

20 48 76 104

134

162

190

218

248

276 304 332

Max P

read

21 49 77 105

135

163

191

219

249

277 305 333

P

w

22 50 78 106

136

164

192

220

250

278 306 334

P

w

23 51 79 107

137

165

193

221

251

279 307 335

P

w

24 52 80 108

138

166

194

222

252

280 308 336

P

w

25 53 81 109

139

167

195

223

253

281 309 337

Reserved

26

54

82

110

140

168

196

224

254

282

310

338

27

55

83

111

141

169

197

225

255

283

311

339

28

56

84

112

142

170

198

226

256

284

312

340

29

57

85

113

143

171

199

227

257

285

313

341

30

58

86

114

144

172

200

228

258

286

314

342

T

p

31 59 87 115

145

173

201

229

259

287 315 343

T

p

32 60 88 116

146

174

202

230

260

288 316 344

T

p

33 61 89 117

147

175

203

231

261

289 317 345

T

p

34 62 90 118

148

176

204

232

262

290 318 346

Reserved

35 63 91 119

149

177

205

233

263

291 319 347

36 64 92 120

150

178

206

234

264

292 320 348

37 65 93 121

151

179

207

235

265

293 321 349

38 66 94 122

152

180

208

236

266

294 322 350

39 67 95 123

153

181

209

237

267

295 323 351

40 68 96 124

154

182

210

238

268

296 324 352

41 69 97 125

155

183

211

239

269

297 325 353

42 70 98 126

156

184

212

240

270

298 326 354

43 71 99 127

157

185

213

241

271

299 327 355

(00)

44  72  100 128

158

186

214

242

272

300 328 356

P

e

45  73  101 129

159

187

215

243

273

301 329 357

P

e

46  74  102 130

160

188

216

244

274

302 330 358

P

e

47  75  103 131

161

189

217

245

275

303 331 359

必須項目(FF)に設定

必須項目

未規定

それぞれのバイトの内容は,F.1 参照


83

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 G 
(参考)

交替セクタを利用するときのガイドライン

この附属書は,交替セクタを利用するときのガイドラインについて記載するものであって,規定の一部

ではない。

箇条

19

は,セクタが,例えば次のような欠陥があるときには,欠陥管理方法で交替処理されることを想

定している。

a)

  一つのセクタ内から CRC チェックで二つ以上の ID がエラーとなる。

b)

  セクタマークが読めない。

c)

  データフィールドの一つの行の中で(

図 E.1

参照)3 個以上の欠陥バイト A

n

がある。


84

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 H

(規定)

性能指数の測定

この附属書は,性能指数の測定について規定する。

H.1 

性能指数について 

性能指数によって,垂直偏光及び水平偏光の低周波数で記録した光磁気マークからのチャネル 2 の信号

振幅を決定することができる。

箇条

9

で規定する光学系を使用した性能指数の測定では,光学系自身の位相差を含む。そのため,反射

率,カー回転角及びだ(楕)円率を測定し,光学系の位相差を校正することが必要である。ただし,低保

磁力のメディアを使用する場合だけ,この校正が精度よくできる。

H.2 

測定用光学系の校正 

測定用光学系の校正は,次のとおりとする。低保磁力の記録層をもつ複屈折率が無視できるほど小さい

ガラスディスクを用いて,反射率(R

,カー回転角(θ)及びだ(楕)円率 β を測定する。性能指数 F

L

を,

次の式によって算出する。

β

θ

2

cos

sin

L

R

F

=

次に,同じディスクを用いて低周波数の信号を記録し,チャネル 2 の再生信号振幅 V

L

を測定することに

よって,光学系自身の位相差の校正を行う。記録された磁区は,その領域で光学系の MTF が 1 となるよ

うに,実質的に集光スポットよりも大きくする。これは,50 Hz で回転するディスクに対して,100 kHz よ

り低い周波数の長い磁区のパターンが隣接するトラックでマークが半径方向に整列し,かつ,重なり合う

ように連続する数トラックにわたり記録されていることを意味する。

H.3 

性能指数の算出 

保磁力の大きさによらず,ディスクの性能指数 は,校正された駆動装置で低周波数の信号を記録し,

チャネル 2 の再生信号の振幅 を測定し,次の式で算出する。

L

L

V

V

F

F

=


85

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 J

(参考)

再生パワー,記録パワー及び消去パワー

J.1 

再生パワー 

2 種類の回転周波数に対する P

max

表 J.1

に示す。回転周波数が異なる場合,制御ゾーンの値は,この

値を超えてもよい。

表 J.1

回転周波数と最大再生パワーとの関係 

回転周波数

(Hz)

最大再生パワーP

max

(mW)

50 1.6≦P

max

≦1.7

60 1.8≦P

max

≦2.0

J.2 

記録パワー及び消去パワー 

制御ゾーンに含まれる記録パワー及び消去パワーの値は,温度が 23  ℃のときの値であり,

表 J.2

で示す

2 種類の回転周波数の場合に,

表 J.2

で示す値を超えてはならない。

表 J.2

回転周波数と

最大記録パワー及び最大消去パワーとの関係 

回転周波数

(Hz)

最大記録パワーP

w

(mW)及び最大消去パワーP

e

(mW)

50



+

=

p

p

e

w,

1

1

50

T

T

P

T

p

≦30 ns

P

w,e

=11

T

p

>30 ns

60



+

=

p

p

e

w,

1

1

50

T

T

P

T

p

≦25 ns

P

w,e

=12

T

p

>25 ns

ここに,P

w,e

は記録パワー(P

w

)又は消去パワー(P

e

)であり,T

p

は ns で表される記録パルス幅である。

記録パワー及び消去パワーは,次の式による温度補正を行わなければならない。

P

t

P

23

−[0.03(T

op

−23)]

ここに,

P

t

補正されたパワー

P

23

制御ゾーンに記録されている値

T

op

ディスク温度を摂氏(℃)で表した値


86

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 K

(規定)

ハブの吸着力の測定方法

この附属書は,ハブの吸着力の測定方法について規定する。

K.1 

目的 

この試験は,ハブの磁化材料の磁気特性を決定することを目的とする。

K.2 

試験装置 

試験装置(

図 K.1

参照)は,スペーサ,磁石,バックヨーク及び中心軸で構成する。試験装置の寸法は,

次による。

D

d

=7.0±0.1 mm

D

e

=14.0±0.1 mm

D

f

≦13.0 mm

0.1

0

g

9

.

3

=

D

 mm

H

c

0.40

±

0.01 mm

H

d

1.00

±

0.05 mm

(通常,

K.4

の要件を満たすように調整される。

K.3 

試験装置の材料 

試験装置の材料は,次による。

磁石

:適切な磁性材料  通常は

Sm-Co

バックヨーク

:適切な磁性材料

スペーサ

:非磁性材料又は空気間隙

中心軸

:非磁性材料

K.4 

バックヨーク付き磁石の特性 

磁極の数

4

(通常)

最大エネルギー積(

BH

max

175

±

16 kJ/m

3

(通常)

バックヨーク付き磁石の特性は,次の寸法の純ニッケル板の使用(

図 K.2

参照)を使用し,磁石面から

H

c

0.4 mm

となる点でのこの板の吸着力が

3.3

±

0.2 N

となるように調整する。

D

h

6.0

±

0.1 mm

D

i

15.0

±

0.1 mm

H

e

1.00

±

0.05 mm

K.5 

試験温度要件 

試験温度の条件は,

8.1.1

に規定のとおりとする。


87

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 K.1

ハブ吸着力の試験装置 

図 K.2

試験装置の校正板 

スペーサ 

バックヨーク 

磁石 

D

g

H

d

H

c

D

d

D

e

ハブ 

中心軸 

D

h

D

i

H

e

D

f


88

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 L

(参考)

使用環境条件の導出方法

この附属書は,

8.1.2

の使用環境条件の導出方法について,その背景を示す。

L.1 

標準環境条件 

ODC

の使用環境条件は,幾つかの例外を除いて,

JIS C 60721-3-3:1997

,環境条件の分類  環境パラメー

タとその厳しさのグループ別分類  屋内固定使用の条件[

IEC 60721-3-3:1996

に対応(

IDT

]の分類の

3K3

の値を基本とする。分類

3K3

は,室内での装置を設置する環境を定義し,次による。

“通常の居住空間,すなわち,居間,大勢が使用する場所(劇場,レストランなど)

,オフィス,店,電

気部品の組立及び製造の場所,電気通信センタ,貴重品及び精密機器の保管室”

L.2 

温度上昇の考え方 

分類

3K3

は,室内の環境だけを定義しているが,この規格の

ODC

の使用環境条件は,システム及び駆

動装置の温度上昇についても考慮する。駆動装置に取り付けた

ODC

は,室内温度より高い温度になる。

使用環境条件は,この温度過昇を

20

℃までと仮定する。

L.3 

絶対湿度 

絶対湿度(空気中の水分量

g/m

3

)の導入は,温度上昇を考えるときに有用となる。駆動装置の中で温度

上昇があったとき,絶対湿度は実質的に一定であるにもかかわらず,相対湿度は下がる。そのため,使用

環境条件に温度上昇分の余裕をもたせると,温度の上限だけでなく,相対湿度の下限に影響を与える。こ

れらの関係を,

ODC

の使用環境条件の空気線図(相対湿度対温度図,

図 L.1

参照)に示す。

絶対湿度を制限すると,次の二つの使用環境条件が排除できる。

a) ODC

の性能及び寿命に悪影響を及ぼす高温及び高相対湿度の組合せ

b)

世界中のオフィス環境でほとんど起こらない低温及び低相対湿度の組合せ

L.4 

JIS C 60721-3-3

の分類 3K3 との違い 

L.2

の温度上昇に関する変更を除くと,次のパラメタが分類

3K3

の基本値と異なる。

大気圧

分類

3K3

の下限気圧

70 kPa

60 kPa

まで拡張する。

ODC

は,本質的に気圧に敏感でなく,

70 kPa

の規定は,一部の市場を排除する可能性がある。

絶対湿度

空調があるオフィス環境以外で使用する携帯用装置を考慮し,分類

3K3

の上限の

25 g/m

3

30g/m

3

に引き上げる。

温度

ODC

の周囲温度(駆動装置内の温度上昇を含む。

)の上限は,

55

℃とする(分類

3K3

は+

20

℃で

60

℃になる。

。この規格による

ODC

に対し,上限

55

℃は,それ以上では動作(保存と同様)が安

全でないという物理的な上限を考慮している。


89

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

これは,装置設計者が,室温が分類

3K3

の上限の

40

℃になったとき,駆動装置内部を十分に冷却

してもよいことを意味する。

その他

温度及び相対湿度の変化率は,分類

3K3

に従っていない。

L.5 

湿球温度規定 

絶対湿度による仕様値の代わりに,既発行の

ODC

の規格は,他のデジタル記録メディアと同様に,高

温及び高相対湿度の厳しすぎる組合せを排除するために次のパラメタの規定をした。

                湿球温度(単位:℃)

異なった仕様の比較を容易にするため,

図 L.2

に,

ODC

の使用環境,試験環境及び保存環境に対する湿

球温度を示す。湿球温度は,大気圧で僅かに変化するため,図は,

101.3 kPa

の標準気圧で有効となる。


90

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 L.1

分類 3K3 及び ODC の使用環境の空気線図 


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X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 L.2

使用環境及び保存環境の湿球温度 


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X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 M

(規定)

空気清浄度クラス  100 000

この附属書は,空気清浄度クラス

100 000

について規定する。

空気清浄度の分類は,単位体積当たりに存在する規定サイズを超える粒子の最大許容数,及び統計上の

平均粒子径分布に基づく。

M.1 

定義 

0.5 μm

以上の粒径の粒子数は,

1 m

3

当たり

3.5

×

10

6

個以下とする。

統計上の平均粒子径分布は,

図 M.1

に示す。クラス

100 000

とは,サイズ

0.5 μm

以上の粒子の許容数は,

1 m

3

当たり

3.5

×

10

6

個であるが,サイズ

5.0 μm

以上の粒子の許容数は,

1 m

3

当たり

2.5

×

10

4

個に過ぎない

ことを意味する。

局所的な又は一時的なばらつきから,

1

回の測定では分布がこの曲線から逸脱することがある。サンプ

リングの数が多いときを除き,

1 m

3

当たりの粒子数が

3.5

×

10

5

個未満である場合,

データに信頼性がない。

M.2 

試験方法 

0.5

5.0 μm

の粒子に対し,光散乱の原理による装置を用いる。一定環境の空気を既知の流速でサンプリ

ングする。サンプル空気中に含まれる粒子は,装置の光学槽の光量検出領域を通過させる。個々の粒子に

よる光散乱は,光パルスを電流パルスに変換するフォトダイオードによって受光する。電気系は,パルス

の高さと粒子径とを関連させ,パルス数を数える。


93

X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

図 M.1

平均粒子径分布 


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X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 N

(規定)

基準面に関連する ODC の位置

この附属書は,基準面に関連する

ODC

の位置について規定する。

10.2

に規定の基準面に関連する

ODC

の位置は,

図 N.1

による。

図 N.1

ODC

位置 

アライメント孔

ロケーション孔

S

1

S

2

S

4

S

3


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X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 P

(参考)

輸送

P.1 

概要 

輸送は,世界中の広範囲の温湿度変化の下,異なる期間,様々な輸送方法によって行われるため,輸送

条件及び包装条件を一般的に規定することは困難である。

P.2 

包装 

包装の形式は,受渡当事者間の協定によるか,協定がない場合は送り主の責任となる。包装には次の危

険性を考慮する必要がある。

P.2.1 

温度及び湿度 

輸送の見積期間よりも長期の条件に耐えるように,包装方法を考慮する。

P.2.2 

衝撃及び振動 

a) ODC

の形状を損ねる機械的な荷重に耐える包装とする。

b) ODC

の落下に耐える包装とする。

c) ODC

は,緩衝材を入れた硬い箱に包装する。

d)

最終的な箱は,汚れ及び湿気を防ぎ輸送できる構造と清浄な内装とを具備する。


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X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 Q 
(参考)

オフィス環境

ODC

は,駆動装置の内外のじんあい(塵埃)の影響に対しかなりの耐力をもつ構造となっている。その

ために,じんあい(塵埃)の量を十分低く維持するような特別の注意は必要としないが,機械工場,建築

現場など,じんあい(塵埃)の多い場所での使用は避け,通常のオフィス環境で使用するのが望ましい。

オフィス環境とは,個人が何の保護もなしに,一時的な苦痛及び永久的な不快感を伴わずに一日中働け

る環境をいう。


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X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 R

(規定)

信号特性が緩和できるゾーン

この附属書は,信号特性が緩和できるゾーンについて規定する。

表 R.1

は,この規格の本体に規定の信号特性が必須であるゾーンか,又は緩和できるゾーンかの区別を

示す。

表 R.1

各ゾーンの信号の規定 

箇条

信号

ゾーン

イニシ

ャル

ゾーン

アクワイアゾーン

試験ゾーン

制御

ゾーン

データ
ゾーン

制御

ゾーン

試験ゾーン

バッ
ファ

リード

イン

フォー

カス

製造業

者用

駆動装置

駆動装置

製造業

者用

11.5.4

反射率

21.1 a) 
21.1 b)

クロストラック信号

21.2

最小クロストラック信

21.3 a)  プッシュプル信号

21.3 b)  プッシュプル信号

21.4 
21.4

DPP(第一項) 
DPP(第二項)

21.5

位相深さ

22.1 
22.2 
22.3

SM 
VFO

1

, VFO

2

AM, ID, PA

23

エンボスデータ

24.3.2 
24.4.1

記録パワー 
消去パワー

25.1 
25.2 
26.1 
26.2 
26.3 
27

性能指数 
光磁気信号の非対称性 
分解能 
狭帯域信号対雑音比 
クロストーク比 
消去特性

信号特性が規定範囲内であることを必須とするゾーンを表す。

仕様範囲が下限値の 80 %から上限値の 120 %までに拡張できるゾーンを表す。均一性は,±12 %から±20 %

までに拡張できる。

規定を適用しないゾーンを表す。


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X 6275

:2012 (ISO/IEC 13963:1995)

附属書 S

(参考)

現在及び将来の規格で実装される値

この規格は,この規格に適合する

ODC

を識別するバイトの値を規定する。他のタイプの

ODC

が将来開

発されることを期待し,次の値を他の

ODC

に用いることが望ましい。

S.1 

制御トラックのバイト 

ビット

6

4

の設定の意味は,次による。

000

角速度一定方式(

CAV

001

線速度一定方式(

CLV

010

ゾーン化された角速度一定方式(

ZCAV

011

ゾーン化された線速度一定方式(

ZCLV

110

ロジカル

ZCAV

S.2 

制御トラックのバイト 

次のビットパターンの意味は,次による。

0000 0000

再生専用(

ROM

0001 0000

不可逆記録を用いる追記形

0001 0001  MO

記録を用いる追記形

0010 0000  MO

記録を用いる書換形

0011 0000

相変化記録を用いる書換形

1001 0000

追記形のパーシャル

ROM

1010 0000  MO

のパーシャル

ROM

1011 0000

相変化のパーシャル

ROM