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X 6272-1992

(1) 

目次

ページ

第 1 章  一般事項  1

1.

  適用範囲

1

2.

  適合性及び規定

1

3.

  引用規格

2

4.

  用語の定義

2

5.

  カートリッジの概要

3

6.

  環境及び安全性

3

7.

  基準駆動装置

4

第 2 章  機械的特性及び物理的特性  6

8.

  ケースの寸法,機械的特性及び物理的特性

6

9.

  ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性

19

10.

  カートリッジ及び駆動装置のインタフェース

22

第 3 章  フォーマット  23

11.

  トラックの一般事項

23

12.

  トラックフォーマット

24

13.

  セクタフォーマット

24

14.

  記録符号

26

15.

  情報ゾーンのフォーマット

27

16.

  データゾーンのフォーマット

29

17.

  書換ゾーンの欠陥管理

33

第 4 章  エンボス特性  36

18.

  エンボス特性の測定方法

36

19.

  グルーブ関連信号

37

20.

  ヘッダ信号

39

21.

  エンボスデータフィールド信号

40

第 5 章  記録層の特性  41

22.

  記録層の測定方法

41

23.

  光磁気特性

42

24.

  記録特性

43

25.

  消去特性

43

第 6 章  ユーザデータの特性  44

26.

  ユーザデータの測定方法

44

27.

  セクタの最低保証品質

44

28.

  データ交換の必要条件

45

附属書 A(規定)  カートリッジのひずみ量測定方法

46


X 6272-1992

目次

(2) 

附属書 B(規定)  カートリッジの可とう性測定方法

47

附属書 C(参考)  トラックの振れ量の測定方法

49

附属書 D(規定)  ID フィールドの CRC

52

附属書 E(規定)  セクタのデータフィールドのフォーマット

53

附属書 F(規定)  制御ゾーンの内容

56

附属書 G(参考)  代替セクタを使用するときのガイドライン

63

附属書 H(規定)  性能指数の測定方法

64

附属書 J(参考)  再生,記録及び消去パワー

65

附属書 K(規定)  ハブ吸着力の測定方法

66

附属書 L(参考)  使用環境条件の導出方法

68

附属書 M(規定)  空気清浄度クラス 100000

71

附属書 N(規定)  基準面に対するカートリッジの位置

72

附属書 P(参考)  輸送条件

73

附属書 Q(参考)  オフィス環境

74

附属書 R(規定)  信号特性が緩和できるゾーン

75

附属書 S(参考)  基準ディスク(記録パワー校正用)

76


日本工業規格

JIS

 X

6272

-1992

90mm

書換形及び再生専用形

光ディスクカートリッジ

90mm Rewritable and read only optical disk cartridges

for information interchange

日本工業規格としてのまえがき 

この規格は,1992 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 10090 (Information technology-90mm optical disk

cartridges, rewritable and read only, for data interchange)

を翻訳し,原国際規格の様式によって作成した日本工

業規格であるが,規格の名称を“90mm 書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ”とし,規定内容

の一部を我が国の実情に即して変更した。

なお,この規格で点線の下線(      )を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

第 章  一般事項 

1.

適用範囲  この規格は,次の事項について規定する。

−  適用試験及び基準駆動装置の条件

−  データ処理システム間の互換性を保証するための光ディスクカートリッジの機械的特性及び物理的特

−  再生専用のエンボスデータ及びユーザ記録データの記録フォーマット

−  エンボスデータの特性

−  ユーザ記録データの光磁気特性

−  データ交換のためのデータ品質

ボリューム及びファイル構造の規格と共に,この規格は,データ処理システム間の完全な互換性を与え

るものである。互換性とは,誤りなくデータを記録,再生及び消去できる機能をいう。

2.

適合性及び規定

2.1

適合性  この規格で規定するすべてを満足するならば,その 90mm の光ディスクカートリッジは,

この規格に適合とする。

附属書 にこの規格で規定する信号特性を満足するディスクゾーン及びこれらの仕様を緩めることがで

きるゾーンを示す。

この規格に対応する駆動装置は,ここで規定する使用環境条件で,この規格に適合するすべての光ディ

スクカートリッジへの記録再生ができなくてはならない。

この規格に適合する光ディスクカートリッジの特定領域だけを受け入れる駆動装置は,この規格に適合


2

X 6272-1992

しないものとする。

2.2

規定及び定義

2.2.1

数値表示

−  測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸めることとする。

すなわち,

01

.

0

02

.

0

26

.

1

+

という規定値は,

1.235

以上

1.275

未満の測定値は許容する。

 16

進数は,末尾に

h

を付けて表記する。

ビットの値は,

0

及び

1

とする。

  2

進数及びビットの組合せの数値については,

0

及び

1

で表す。

  2

進数及びビットの組合せの数値については,左に最上位ビットを示す。

  2

進数の負の値は,

2

の補数で表す。

各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト

0

)を最初に記録する。各バイトの中では,最上位

ビット(

8

ビットバイトの

7

番目)を最初に記録し,この規定は,

ECC

回路のデータ入出力にも適用

する。

2.2.3

略語

AM

:アドレスマーク

CCS

:複合連続トラッキングサーボ方式

CRC

:巡回冗長検査

DDS

:ディスク定義セクタ

DMA

:欠陥管理領域

ECC

:誤り訂正符号

FA1

:機能領域

1

FA2

:機能領域

2

LSB

:最下位バイト

MSB

:最上位バイト

ODC

:光ディスクカートリッジ

ODF

:オフセット検出フィールド

PA

:ポストアンブル

PDL

1

次欠陥管理表

PLL

:位相同期回路

RLL (2

7)

:ランレングス符号

SDL

2

次欠陥管理表

SM

:セクタマーク

VFO

VFO

制御領域

3.

引用規格  この規格の引用規格を,次に示す。

IEC 950 

: 1991

Safety of information technology equipment, including electrical business equipment

4.

用語の定義

4.1

ケース  光ディスクを保護する封入箱。

4.2

CRC

  データの誤り検出方法。


3

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4.3

エンボスマーク  光磁気の技法では記録内容を変更することができないマーク。

4.4

入射面  光ビームが最初に入射する光ディスクの表面。

4.5

誤り訂正符号 (ECC)

  データを構成するビットの中に誤りがあったとき,それを検出できるような

規則で構成された冗長符号。

4.6

フィールド  セクタの中の指定された領域。特定の種類に属するデータのために用いる。

4.7

フォーマット  ディスク上の情報の配置又は並び。

4.8

グルーブ  トラック位置決め用の溝のうち,入射面に近い方の溝。

4.9

インターリーブ  バースト誤りによって影響を受けないように,データの単位に物理的な不連続を

与えるプロセス。

4.10

カー回転  光磁気効果による記録層からの反射光ビームの偏光面の回転。

4.11

ランド  トラック位置決め用の溝のうち,入射面から遠い方の溝。

4.12

マーク  磁区,穴,へこみ,膨らみ,その他光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マー

クは,ディスクのデータを表す。

参考1.

セクタ記述に用いるマークは,ここで定義するマークと異なる。

4.13

光ディスク  光ビームによってデータを記録できる記録層をもつ平らな回転円盤(以下,ディスク

という。

4.14

光ディスクカートリッジ  ディスク及びそれを保護するケースからなるデバイス(以下,カートリ

ッジという。

4.15

偏光  光ビームの偏光方向は,光ビームの電気ベクトルの方向と一致していること。

参考2.

偏光面は光ビームの伝搬方向と電気ベクトルを含む面と一致する。光ビームの伝搬方向から

見て電気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を右回転偏光という。

4.16

記録層  光ビームによってデータを記録する層。

4.17

リードソロモン符号  バースト又はバーストと強い相関をもつエラーの訂正に適しているエラー検

出符号及びエラー訂正符号。

4.18

書換形光ディスク  光ビームでデータを書き換えることができる領域をもつディスク。

4.19

セクタ  アクセスできるアドレス指定の最小単位の情報トラックの部分。

4.20

基板  光ビームが透過して記録層に入射するディスク構成層。

4.21

トラック  ディスク円周上のデータが記録できる

360

度分の経路。

4.22

ゾーン  ディスクの環状領域。

5.

カートリッジの概要  カートリッジは,ディスクをケースに封入したもので,ケースにはヘッドアク

セス窓を設け,ディスク面はシャッタで覆う構造とする。シャッタは,カートリッジを駆動装置に差し入

れたとき,自動的に開く構造とする。

ディスクは,一面だけに記録可能とする。データの記録及び消去は,光磁気効果を用いてディスクの記

録層上の磁化領域に焦点を結ぶ光ビームによって行う。

ディスクには,ディスクの一部又は全部に製造時に形成する再生専用のエンボス領域をもつことができ

る。このデータは,あらかじめ形成したピットによって生じる光ビームの回折現象を用いて再生する。

6.

環境及び安全性

6.1

環境条件


4

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6.1.1

測定環境  測定環境は,規定がない限り,カートリッジの近傍で測定し,次のとおりとする。

温度

 23

±

2

相対湿度

 45

55%

大気圧

 60

106kPa

空気清浄度

クラス

100000

附属書 参照)

カートリッジの中又はディスク上に結露が生じてはならない。カートリッジは,測定前に,

48

時間以上

測定環境に放置する。ディスク表面は,ディスク製造者の条件によって清浄にしておくことを推奨する。

6.1.2

使用環境  使用環境は,カートリッジの近傍で測定し,次のとおりとする。測定環境を満足したカ

ートリッジは,使用環境でデータの互換性を保証しなくてはならない。

温度

5

50

相対湿度

3

85%

絶対湿度

1

30g/m

3

大気圧

 60

106kPa

最大温度変化率

 10

/h

最大相対湿度変化率

 10%/h

空気清浄度

オフィス環境(

附属書 参照)

最大磁界強度(光ビーム照射時)

32 000A/m

最大磁界強度(光ビーム非照射

時)

48 000A/m

カートリッジの中又はディスク上に結露が生じてはならない。カートリッジは,使用環境条件を外れて

保管した場合,使用前に

2

時間以上使用環境に放置する(

附属書 参照)。

6.1.3

保存環境  保存環境は,次のとおりとする。

温度

10

∼+

50

相対湿度

3

90%

絶対湿度

1

30g/m

3

大気圧

 60

106kPa

最大温度変化率

 15

/h

最 大 相 対 湿 度 変 化

10%/h

空気清浄度

オフィス環境(

附属書 参照)

最大磁界強度

 48

000A/m

カートリッジの中又はディスク上に結露を生じてはならない。

6.1.4

輸送条件  この規格では規定しないが,附属書 に従うことを推奨する。

6.2

温度衝撃  カートリッジは,駆動装置に着脱するとき,

20

℃の温度衝撃に耐えなければならない。

6.3

安全性  カートリッジ及びその構成部分は,IEC 950 の要求を満足しなければならない。

6.4

燃焼性  カートリッジは,IEC 950 に規定の

HB

と同等以上の材料とする。

7.

基準駆動装置  基準駆動装置は,ここで規定する記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために

用いる駆動装置で,ここでは,これらの特性を測定するために必要となる基準駆動装置の特性について規

定する。


5

X 6272-1992

7.1

光学系  記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために用いる基準駆動装置の光学系の基本構

成は,

図 に示すとおりとする。図 の光学系構成と同じ作動をする限り,基準駆動装置に用いる部品及

び部品の配置は問わない。ディスクの入射面からの反射光は,測定の精度に影響を与えないように光学系

の構成を配慮しなくてはならない。

ディスクの偏光変化が存在しないとき,偏光ビームスプリッタ

J

は,検出器

K

1

の信号と検出器

K

2

の信

号が等しくなるようにする。この場合の偏光方向をニュートラル偏光方向という。位相補償器

I

は,光学

系をニュートラル偏光方向とそれと直角方向の偏光との間の位相の遅れを

2.5

°以下に調整しなければな

らない。この位相補償器の位置は,中立位置という。

位相補償器は,狭帯域信号対雑音比の測定のために用いる(24.2 参照)

ビームスプリッタ

J

は,

100

以上の

P-S

強度反射比をもたなければならない。

ビームスプリッタ

E

F

から

H

へのニュートラル偏光方向の反射率 Rp の公称値は

0.30

とする。ニュー

トラル偏光方向と直角方向の偏光の反射率 Rs の公称値は

0.95

とする。

Rs

の実際の値は,

0.90

以上とする。

反射率が Rp'及び Rs'となるビームスプリッタをもつ駆動装置で光磁気信号のアンバランスを測定した場

合,測定値は,次の係数を乗じて補正をしなければならない。

s

R

Rp

p

R

Rs

チャネル

1

の出力は,

K

1

K

2

の光検出器の電流値の和とし,エンボスマークの再生に用いる。

チャネル

2

の出力は,

2

個の光検出器の電流値の差とし,光磁気効果によるユーザ記録マークの再生に

用いる。

図 1  基準駆動装置の光学系


6

X 6272-1992

7.2

光ビーム  光ビームは,次の特性をもつ。

(a)

波長

  (

λ)

nm

15

10

780

+

nm

15

10

825

+

(b)

波長

  (

λ)

と対物レンズの

開口数

  (NA)

の比

λ

780nm

のとき,

m

NA

μ

λ

035

.

0

475

.

1

±

=

λ

825nm

のとき,

m

NA

μ

λ

040

.

0

560

.

1

±

=

(c)

レンズの開口  (D)  と

2

1

e

の光ビーム直径  (W)  の比

0

.

1

W

D

(d)

波面収差(記録層にて)

180

2

λ

(e)

偏光方向

トラックに対して平行

(f)

消光比

≦0.01

消光比は,検光子を 180 度以上回転させたとき,測定される光強度の最大値と最小値の比とする。

(g)

光パワー,パルス幅及び磁界については,

18.2.2

22.2.2

22.3

22.4

26.2.2

による(

附属書 S

参照)

7.3

再生チャネル

  2 個の再生チャネルは,記録層のマークからの信号の再生に用いる。チャネル 1 はマ

ークの光ビームの回折現象によってエンボスマークの再生に用い,チャネル 2 はマークの光磁気効果によ

る光ビームの偏光回転によってユーザ記録マークの再生に用いる。チャネル 1 及びチャネル 2 の光検出器

の後の再生信号増幅器は,100kHz∼11.6MHz で±1dB の平たんな応答性とする。

7.4

トラッキング

  基準駆動装置のトラッキングチャネルは,光ビームの軸方向及び半径方向のサーボ

制御するためにトラッキングエラー信号を検出する。軸方向のトラッキングエラー信号を作る方法は,規

定しない。

半径方向のトラッキングエラー信号は,トラッキングチャネルの 2 分割検出器によって検出する。2 分

割検出器の分割線方向は,検出器上のトラック像と平行になるように配置する。光ビームの焦点のトラッ

ク溝に対する追随の精度については,

18.2.4

による。

7.5

ディスクの回転

  駆動軸は

10.4

で規定するように,ディスクの回転軸に位置する。ディスクの回転

周波数は,30.0±0.3Hz とする。回転方向は,対物レンズからみて反時計回りとする。

第 章  機械的特性及び物理的特性 

8.

ケースの寸法,機械的特性及び物理的特性

8.1

ケースの概要

  ケースの外観及び各部の名称は,

図 2

のとおりとする。

A

面及び B 面には,ヘッドアクセス窓を設ける。A 面側は,光ヘッドアクセス用とし,B 面側は,磁界

を与える磁気ヘッドアクセス用とする。その窓部は,シャッタで覆われ,カートリッジを駆動装置に差し

入れたときにシャッタが開き,取り出したときにシャッタが閉じる構造とする。ケースには,誤挿入防止

機構,書込み禁止機構及び自動交換用グリッパ機構を設ける。


7

X 6272-1992

図 2  ケース 

8.2

ケースの基準

  ケースの基準は,三つの直交する基準面 X,Y 及び Z とする。基準面 Z は,ケース

A

面上に設けた 4 か所 (S

1

∼S

4

)

からなる平面とする。三つの基準面は,位置決め穴の中心で直交し,基準

面 X は,位置決め穴及びアライメント穴の中心を結ぶ線上からなる(

附属書 N

参照)

8.3

ケースの寸法

  ケースの寸法は,測定環境条件で測定する。

8.3.1

外形寸法

図 3

参照)  ケースの長さ  (L

1

)

は,次による。

L

1

=94.0±0.3mm

ケースの基準面 X からの距離  (L

2

L

3

)

は,次による。

L

2

=76.0±0.2mm

L

3

=18.0±0.2mm

ケースの幅  (L

4

)

は,次による。

mm

L

0

4

.

0

4

0

.

90

=


8

X 6272-1992

ケースの基準面 Y からの距離  (L

5

L

6

)

は,次による。

L

5

=85.0±0.3mm

L

6

=5.0±0.1mm

上面の角部の半径  (R

1

)

は,次による。

R

1

=1.5±0.2mm

下面の二つの角部のそれぞれの半径  (R

2

)

は,次による。

R

2

=2.0±0.2mm

ケースの左右の端部から拡張ゾーンまでの距離  (L

7

)

は,次による。

L

7

≧8.6mm

ケースの厚さ  (L

8

)

は,次による。

L

8

=6.0±0.2mm

ケースの 8 か所の稜面の半径  (R

3

)

は,次による。

mm

R

2

.

0
0

3

3

.

0

+

=

8.3.2

位置決め穴

図 3

参照)  位置決め穴の中心は,基準面

X

Y

及び

Z

の交点とし,その直径

  (D

1

)

は,

次による。

mm

D

0

06

.

0

1

60

.

3

=

穴の深さ

  (L

9

)

は,次による。

L

9

1.5mm

位置決め穴は,基準面

Z

からの距離

  (L

10

)

とし,貫通してはならない。

L

10

4.0mm

その直径は,

D

1

以上とする。

位置決め穴の角部は,半径

  (R

4

)

で丸め,その値は,次による。

R

4

0.5mm

8.3.3

アライメント穴

図 3

参照)  アライメント穴の中心は,基準面

X

上とし,基準面

Y

から次の距

  (L

11

)

は,次による。

L

11

80.0

±

0.2mm

アライメント穴の形状は,長方形とし,その寸法

  (L

12

L

13

)

は,次による。

mm

L

0

06

.

0

12

60

.

3

=

mm

L

2

.

0
0

13

4

.

4

+

=

アライメント穴の深さは,位置決め穴の深さの規定

  (L

9

L

10

)

による。

アライメント穴の角部は,半径

  (R

4

)

で丸める。


9

X 6272-1992

図 3  外形寸法(面視) 

8.3.4

基準面

図 4

参照)  ケースの基準面

Z

は,ケース

A

面の

4

隅に設けられた

4

か所

 (S

1

S

2

S

3

S

4

)

を含む平面とする。

S

1

面及び

S

2

面は,位置決め穴及びアライメント穴を中心とした円とし,その直径

(D

2

)

は,次による。

D

2

7.0mm

S

3

面及び

S

4

面の寸法は,直径

  (D

3

)

とし,基準面

X

からの位置

  (L

14

)

を両者の中心とし,

S

3

面は基準面

Y

からの位置

  (L

15

)

に,

S

4

面は基準面

Y

からの位置

  (L

16

)

にそれぞれの中心をもつ位置に設け,その寸法

は,次による。

D

3

6.0mm

L

14

54.0

±

0.2mm


10

X 6272-1992

L

15

1.0

±

0.2mm

L

16

81.0

±

0.2mm

ケースの表面又はシャッタ機構(

8.3.8

参照)は,基準面

Z

から次に示すような突起

  (L

17

)

があってはな

らない。

L

17

0.15mm

図 4  面上の基準面

8.3.5

挿入スロット部

図 5

参照)  挿入スロット部は,基準面

Z

からの幅

  (L

18

)

に,左右対称に半径

  (R

5

)

の半径とし,基準面

X

からの位置

  (L

19

)

,基準面

Y

からの位置

  (L

20

L

21

)

に設ける。その寸法は,次によ

る。

R

5

2.1

±

0.1mm

L

18

5.0mm

L

19

65.5

±

0.2mm

L

20

4.0mm

L

21

84.0mm

挿入スロット部の外側の角は,次の半径

  (R

6

)

で丸める。

R

6

0.5

±

0.2mm

挿入スロット部は,ケース

B

面に貫通してはならない。


11

X 6272-1992

図 5  挿入スロット部 

8.3.6

機能領域

図 6

参照)  機能領域は,

FA1

及び

FA2

からなり,ケースの穴の開閉によって

表 1

示す書込み禁止情報,ディスク反射率の高低情報及び再生専用機能情報を示す各機能を表す。

機能領域は,ケース

A

面上に基準面

Y

及び

Z

の交点上に中心線をもつ,長さ

  (L

22

)

,幅

  (L

23

)

の開口部

を設け,そのうち,各々の長さ

  (L

24

)

FA1

及び

FA2

とする。その寸法は,次による。

L

22

8.2mm

L

23

4.4mm

L

24

3.6mm

FA1

及び

FA2

の中心位置は,基準面

X

からの距離

  (L

25

L

26

)

に平行に設け,その寸法は,次による。

L

25

7.8

±

0.2mm

L

26

4.0mm

FA1

は,ケース

B

面まで貫通した穴とする。

FA2

は,ケース

A

面から基準面

Z

に平行な深さ

  (L

26

)

のケース

B

面に貫通しない穴とし,その寸法は,

次による。

L

26

4.0mm


12

X 6272-1992

FA1

及び

FA2

の閉じたときの表面は,基準面

Z

から

  (L

28

)

とし,その寸法は,次による。

L

27

12.8

±

0.2mm

L

28

0.3mm

表 1  機能領域 FA1 及び FA2 の使用法

FA1 FA2

書込み

反射率

カートリッジの種類

不可

全面書換形,部分エンボス形

全面エンボス形

不可

全面エンボス形

規定しない

図 6  機能領域 FA1FA2 及びその断面図


13

X 6272-1992

8.3.7

ヘッドアクセス窓及びモータアクセス窓

図 7

参照)  ヘッドアクセス窓及びモータアクセス窓は,

ケース

A

面では基準面

Y

からの位置

  (L

29

)

を中心に,幅

  (L

30

L

31

)

,基準面

X

からの位置

  (L

32

)

L

29

交点から半径

  (R

7

)

の位置に設け,その寸法は,次による。

L

29

40.0

±

0.2mm

mm

L

2

.

0
0

30

0

.

11

+

=

mm

L

2

.

0
0

31

0

.

11

+

=

L

32

2.0

±

0.2mm

R

7

43.7mm

ケースの上部は,基準面

Z

からの幅

  (L

33

)

の溝を設け,その寸法は,次による。

mm

L

2

.

0
0

33

0

.

2

+

=

また,ケース

B

面では,基準面

Y

からの位置

  (L

29

)

を中心に幅

  (L

30

L

31

)

,基準面

X

からの位置

  (L

34

)

L

32

及び

L

29

の交点から半径

  (R

7

)

との位置にヘッドアクセス窓を設け,その寸法は,次による。

L

34

40.0mm

L

34

2

隅の角部は,半径

  (R

8

)

の丸みを設ける。

R

8

2.0mm

ヘッドアクセス窓のケース上部の幅

  (L

35

)

は,次による。

mm

L

0

4

.

0

35

2

.

4

=


14

X 6272-1992

図 7  面上のモータアクセス窓及びヘッドアクセス窓(下図)とシャッタを外した 面(上図)

8.3.8

シャッタ

図 8

参照)  ケースには,スプリング方式のシャッタを設け,シャッタが閉じたときモ

ータアクセス窓及びヘッドアクセス窓が完全に覆われ,シャツタが開いたとき

8.3.7

に規定の寸法

  (L

30

L

31

L

33

L

34

L

35

)

の最小値が露出しなければならない。

ケース

A

面:窓の下部の半円から上面及び

L

30

から

L

31

まで

ケース

B

面:

L

34

からケースの上部及び

L

30

から

L

31

まで

ケース上部:基準面

Z

から

L

33

L

30

から

L

31

L

35

からケース

B

面及び

L

30

から

L

31

まで

シャッタは,

8.3.1

に規定のケースの厚み

  (L

8

)

を超えない範囲で開閉が自由にでき,自力で閉じるのに

十分な力のあるスプリングをもたなければならない。

シャッタには,駆動装置のシャッタ開閉機能によってシャッタを押し開くことのできる角部を設け,シ

ャッタが閉じた状態でこの角部は,基準面

Y

からの距離

  (L

36

)

に位置し,

8.3.7

に規定のモータアクセス窓

及びヘッドアクセス窓の最小値が十分に露出する距離

  (L

37

)

で可動でき,

8.4.5

に規定のシャッタを開くの

に必要な力を超えない範囲で距離

  (L

38

)

を移動可能とする。その寸法は,次による。


15

X 6272-1992

mm

L

0

3

.

0

36

0

.

79

=

L

37

55.5mm

L

38

54.7mm

図 8  開状態のシャッタ(上図)及び最大の開状態(下図)

8.3.9

シャッタ開閉路及びシャッタセンサノッチ

図 9

参照)  ケースには,駆動装置のシャッタ開閉機

構が作動できるように,基準面

Y

からの距離

  (L

39

L

42

)

及び基準面

X

からの距離

  (L

41

)

の間を

図 9

に示す

形状とし,基準面

Y

からの距離

  (L

41

L

42

)

に深さ

  (L

43

)

のシャッタセンサノッチを設ける。

L

39

からシャ

ッタセンサノッチの右上の角部は,半径

  (R

9

)

で丸める。ケースの端までは,角度

  (A

1

)

をもつ形状とする。

その寸法は,次による。

L

39

81.0

±

0.3mm

mm

L

3

.

0
0

40

5

.

57

+

=


16

X 6272-1992

L

41

74.0

±

0.3mm

L

42

54.7mm

L

43

3.3

±

0.2mm

R

9

1.2

±

0.2mm

A

1

45

±

5

°

8.3.8

に規定のシャッタエッジが距離

  (L

37

)

まで移動したとき,シャッタセンサノッチの

L

40

から

L

37

の部

分は,シャッタが完全に開いていることを駆動装置が検出できるように,露出しなければならない。

図 9  シャッタを除いたときの 面から見たシャッタオープナの開閉路

8.3.10

誤挿入防止機構

図 10

参照)  ケースには,カートリッジの駆動装置への誤挿入を防止するため

に,

図 10

に示すノッチ,ケース角部の形状を設ける。ノッチは,基準面

Y

からの距離

  (L

44

L

45

)

に基準

X

からの距離

  (L

47

)

のケース上部から深さ

  (L

46

)

とする。ノッチの角部は,半径

  (R

10

R

11

)

で丸める。

ケースの角部は,ケースの上部からの距離

  (L

48

)

の間を角度

  (A

2

)

をもつ形状とする。その寸法は,次によ

る。

L

44

4.6

±

0.2mm

L

45

1.0

±

0.2mm

L

46

3.1

±

0.2mm

L

47

75.4

±

0.2mm

L

48

5.0

±

0.3mm

A

2

45

±

2

°

R

10

0.5

±

0.2mm

R

11

0.5

±

0.3mm


17

X 6272-1992

図 10  シャッタを除いたときの 面から見た誤挿入防止機構 

8.3.11

グリッパスロット

図 11

参照)  グリッパスロットは,ケースの底部からの位置

  (L

51

)

に左右対

称に設け,その寸法

  (L

49

L

50

)

は,次による。

mm

L

3

.

0
0

49

5

.

2

+

=

mm

L

3

.

0
0

50

0

.

4

+

=

mm

L

0

3

.

0

51

0

.

23

=

グリッパスロットの角部は,半径

  (R

12

R

13

)

で丸める。その寸法は,次による。

R

12

0.4

±

0.2mm

R

13

0.5

±

0.2mm


18

X 6272-1992

図 11  グリッパスロット 

8.3.12

ラベル領域

図 12

参照)  ラベル領域は,ケース

A

面及び底部,ケース

B

面に設け,ケース

A

面に対する位置及び寸法

  (L

52

L

53

L

55

)

,ケース

B

面に対する位置及び寸法

  (L

52

L

53

L

54

)

,ケース底部

に対する位置及び寸法

  (L

52

L

53

L

56

)

は,次による。

L

52

4.0

±

0.3mm

L

53

76.0

±

0.3mm

L

54

30.0

±

0.2mm

L

55

1.2

±

0.2mm

L

56

0.2mm

ラベル領域の角部は,半径

  (R

14

)

で丸め,その寸法は,次による。

R

14

2.0mm


19

X 6272-1992

図 12  ラベル領域

8.4

機械的特性

  ここで規定する機械的特性は,使用環境条件ですべての条件を満足しなければならな

い。

8.4.1

材料

  ケースは,この規定を満足するものであれば,材料を問わない。

8.4.2

質量

  光ディスクを除いたケースの質量は,

50g

を超えてはならない。

8.4.3

端部のひずみ

  カートリッジは,

附属書 A

に規定の端部のひずみ試験を満足しなければならない。

8.4.4

可とう性

  カートリッジは,

附属書 B

に規定の可とう性試験を満足しなければならない。

8.4.5

シャッタ開閉力

  シャッタを開くのに必要な力は,

1.5N

以下とする。

9.

ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性

9.1

ディスクの概要

  ディスクは,その一面にハブを取り付け,他面に記録層がある円盤状の基板から

なる。記録層は,保護層によって環境の影響から保護する。基板のフォーマット領域は,基板を通して記

録層に光ビームを集光できるように透明とする。円形のハブは,記録層の反対側の中心に取り付ける。ハ

ブは,駆動軸と係合し,ディスクの半径方向の位置合わせ及びハブの吸着力を発生する。


20

X 6272-1992

9.2

ディスクの基準軸及び基準面

図 13

参照)  基準面

P

は,駆動軸に垂直な平面とする。ハブの諸寸

法は,基準面

P

を基準とする。基準軸

A

は,ハブの中心を通り,基準面

P

に垂直な軸とする。

図 13  ハブの寸法及びクランプゾーン 

9.3

ディスクの寸法

  ディスクの寸法は,測定環境条件で測定する。ディスクの直径は,

0

5

.

0

0

.

86

mm

する。厚さは,面振れを含めず,ハブがない状態で

1.4mm

を超えてはならない。ハブが付いていないディ

スクの中心穴の直径

  (D

4

)

は,

6.0mm

以上とする。

9.3.1

ハブの寸法

図 13

参照)  ハブの中心穴の直径

  (D

5

)

,外径

  (D

6

)

,ディスク面からの高さ

  (h

1

)

,デ

ィスク面からの磁性面の位置

  (h

2

)

,基準面から中心穴上部までの高さ

  (h

3

)

及び中心穴の高さ

  (h

4

)

は,次

のとおりとする。

mm

D

012

.

0
0

5

004

.

4

+

=

mm

D

0

2

.

0

6

0

.

15

=

mm

h

0

2

.

0

1

2

.

1

=

mm

h

0

15

.

0

2

2

.

1

=

h

3

0.8mm

h

4

0.15mm

中心穴の内部の角には,

45

°で

0.2

±

0.1mm

の面取り

  (c

1

)

を付けるか又は半径

R

15

0.2

±

0.1mm

の曲率

とする。ハブの外部の角には,

45

°で

0.4

±

0.1mm

の面取り

  (c

2

)

を付けるか又は半径

R

16

0.4

±

0.1mm

曲率とする。ディスクをクランプするための磁性体の外径

  (D

9

)

及び内径

  (D

10

)

は,次のとおりとする。

D

9

13.0mm


21

X 6272-1992

D

10

6.0mm

9.3.2

クランプゾーン及びハブの吸着力

図 13

参照)  クランプゾーンの外径

  (D

7

)

及び内径

  (D

8

)

は,

次のとおりとする。

D

7

21.0mm

D

8

16.0mm

ハブの吸着力は,

附属書 K

によって測定したとき,

3.0

4.5N

とする。

9.4

機械的特性

  ここで規定する機械的特性は,使用環境条件で満足しなければならない。

9.4.1

ディスクの材料

  ディスクの材料は,この規格の条件を満足するならば材質を問わない。

9.4.2

ディスクの質量

  ディスクの質量は,

24.0g

以下とする。

9.4.3

慣性モーメント

  ディスクの慣性モーメントは,

0.020g

m

2

以下とする。

9.4.4

動釣合い

  ディスクの動釣合いは,

0.006g

m

以下とする。

9.4.5

軸方向の振れ

  ディスクの軸方向の振れは,記録層の軸方向の変位で規定する。振れは,基板の厚

みや屈折率のばらつき及び基準面

P

からの入射面のずれによって生じる。基準面

P

に対する記録層の公称

位置は,基板の公称厚さによる。フォーマット領域での基準面

P

に垂直な方向の記録層の公称位置からの

ずれは,

30Hz

までのどの回転周波数に対しても±

0.22mm

以下とする。

9.4.6

軸方向の加速度

附属書 C

に示すディスクの軸方向の最大許容エラー量

  (e

max

)

は,回転周波数

30

±

0.3Hz

で回転しているとき,基準サーボでサーボがかかった状態で±

1.0

μm

以下とする。このとき,モ

ータの定常的な外乱は,無視する。この測定は,次の伝達関数

  (H

s

)

をもつサーボ系又は

30Hz

100kHz

の帯域で,

| 1

H

|

が示す値の±

20%

以内の値をもつ

 | 1

H  | 

のサーボ系による。このとき,ディスクの

面振れによる軸方向の加速度は,

10m/s

2

以下とする。

( )

0

0

2

0

3

1

3

1

3

1

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

i

i

i

i

H

s

+

+

×

×

=

ここに,

ω=

2

π

f

Hz

870

2

0

=

π

ω

1

=

i

9.4.7

半径方向の振れ

  フォーマット領域でのトラックの半径方向の振れは,基準軸

A

に対するトラッ

クの偏心とし,屈折率の変動によって生じる偏心の効果も含む。半径方向の最大及び最小の振れ幅は,回

転周波数

30.0

±

0.3Hz

で回転しているとき,

50

μ

m

以下とする。

9.4.8

半径方向の加速度

附属書 C

に示すディスクの半径方向の最大許容エラー量

  (

e

max

)

は,回転周波

30.0

±

0.3Hz

で回転しているとき,基準サーボでサーボがかかった状態で±

0.15

μ

m

以下とする。このと

き,モータの定常的な外乱は無視する。この測定は,次の伝達関数

  (

H

s

)

のサーボ系又は

30Hz

100kHz

の帯域で,

| 1

H

|

が示す値の

20%

以内の値をもつ

 | 1

|

のサーボ系による。ディスクの半径方向の加

速度は,

3m/s

2

以下とする。

( )

0

0

2

0

3

1

3

1

3

1

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

i

i

i

i

H

s

+

+

×

×

=

ここに,

ω=

2

π

f


22

X 6272-1992

Hz

230

1

2

0

=

π

ω

1

=

i

9.4.9

チルト

  ディスクのチルトは,入射面上の

1mm

径の面積で平均した入射面の垂線と基準面

P

の垂

線との角度とし,フォーマット領域で

5mrad

以下とする。

9.5

光学的特性

9.5.1

屈折率

  フォーマット領域での基板の屈折率は,

1.46

1.60

とする。

9.5.2

厚さ

  基板の厚さ

  (t)

の公称値は,フォーマット領域で使用する基板の屈折率から次の式によって

算出した値とし,その許容値は±

0.050mm

とする。

( )

593

.

0

265

.

0

1

509

.

0

2

2

2

3

+

+

×

×

=

n

n

n

n

mm

t

ここに,

n

屈折率

9.5.3

複屈折

  基板の複屈折の効果は,

23.2

に示す基準駆動装置のチャネル

2

の信号のアンバランスに含

める。

9.5.4

反射率

7.2

に規定の波長での書換形ディスク及び低反射率全面エンボス形ディスクの反射率

  (R)

は,

0.14

0.29

とする。高反射率全面エンボス形ディスクの反射率

  (R)

は,

0.5

以上とする(

附属書 R

照)

反射率

  (R)

の公称値は,

附属書 F

に示す制御データのバイト

3

及びバイト

19

によって規定する。

実際の反射率の値

  (R

m

)

は,基準駆動装置の集束ビームと波長で測定する。その測定は,グルーブがな

い未記録部分,例えば,

15.2.1

に示す最内周のグルーブがないイニシャルゾーン又は

13.7

に示す各セクタ

ODF

とする。反射率

  (R

m

)

は,公称値に対して±

12%

とする(

附属書 R

参照)

10.

カートリッジ及び駆動装置のインタフェース

10.1

クランプ方法

  カートリッジを駆動装置に差し込むと,ケースのシャッタが開きモータ駆動軸がデ

ィスク中心穴に入る。ディスクは,ハブの中心にある磁性体及び駆動軸に装着されている磁石によって生

じるハブの吸着力で駆動軸に保持する。ディスクの半径方向の位置決めは,ハブの中心軸合わせ機能によ

る。ディスクの軸方向の位置決めは,駆動軸のターンテーブルによってディスクのクランプゾーンを支え

ることによる。

10.2

ハブの吸着力

  駆動軸とハブとの吸着力は,

5N

以下とする。

10.3

キャプチャシリンダ

図 14

参照)  キャプチャシリンダは,駆動軸をハブに挿入するとき,駆動軸

がハブの中心穴をとらえ得るハブ中心穴の存在空間とする。シリンダの寸法は,ケースの内部の空間での

ディスクの許容遊び量を規定する。シリンダの位置は,駆動装置のアライメント及び位置決め用のピンの

位置による。シリンダの底面は,基準面

Z

に平行で,

Z

からの距離

  (L

57

)

にあり,さらに,シリンダの上

部は,基準面

Z

からの距離

  (L

58

)

になければならない。シリンダの直径

  (R

17

)

及びシリンダの中心位置の

公称値

  (L

29

L

32

)

は,次のとおりとする。

L

29

40.0

±

0.2mm

L

32

27.0

±

0.2mm

L

57

0.7mm

L

58

2.3mm


23

X 6272-1992

R

17

1.4mm

10.4

使用環境条件でのディスクの位置

図 14

参照)  ディスクが使用状態にあるとき,ディスクの基準

P

の位置は,ケースの基準面

Z

から距離

  (L

59

)

とする。その回転軸は,半径

  (R

18

)

の円の中にあり,そ

の中心位置の公称値

  (L

29

L

32

)

は,次による。

L

29

40.0

±

0.2mm

L

32

27.0

±

0.2mm

L

59

2.4

±

0.1mm

R

18

0.1mm

使用状態で回転周波数

30Hz

を保つためのディスクにかかるトルクは,

0.01N

m

以下とする。

図 14  キャプチャシリンダ及び使用環境条件でのディスクの位置

第 章  フォーマット 

11.

トラックの一般事項


24

X 6272-1992

11.1

トラック形状

  フォーマット領域は,複合連続トラッキングサーボ方式のためのトラックからなる。

トラックは,グルーブ・ランドの組合せによって構成し,各グルーブは隣接のトラックと共有する。グ

ルーブは,溝形状とし,ランドより入射面に近く位置する。トラックの中心は,ランドの中心とする。グ

ルーブは,

ODF

を除いて連続とする。グルーブの形状は,

19.

の規定による。

各トラックは,連続的なスパイラルの

360

度分とする。

11.2

回転方向

  ディスクの回転方向は,対物レンズ側から見て反時計方向とする。トラックは,内周か

ら始まって,外周方向に進む。

11.3

トラックピッチ

  トラックピッチは,半径方向に隣り合ったトラックの中心線間の距離とし,

1.60

±

0.10

μm

とする。

10 000

トラックの幅は,

16.00

±

0.10mm

とする。

11.4

トラック番号

  各トラックは,トラック番号によって識別する。トラック番号

0

は,データゾーン

の最初のトラックとし,半径

24.00

±

0.10mm

に位置する。

トラック番号

0

より外周側のトラック番号は,ディスク

1

回転ごとに

1

ずつ増加する。トラック番号

0

より内周側のトラック番号は,負数字を割り当て,ディスク

1

回転ごとに

1

ずつ減少する。負のトラック

番号の値は,

2

の補数で

ID

フィールドに記録し,トラック番号−

1

FFFFh

と記録する。

12.

トラックフォーマット

12.1

トラックレイアウト

  各トラックのセクタ数は,

25

セクタとし,各セクタは

725

バイトからなる。

1

バイトは,ディスク上で

16

チャネルビットで表し,

1

チャネルビット長は,

1

トラックに

25

×

725

×

16

290 000

チャネルビットがあることによって決める。

セクタは,トラック上に均等に配置し,セクタの先頭間は

11 600

±

3

チャネルビットとする。

1

チャネルビットの周期

T (ns)

は,

30Hz

の回転周波数のとき,次のとおりとする。

115

000

290

30

10

9

=

×

=

T

12.2

半径方向のセクタ位置

  半径方向のセクタ位置は,セクタのヘッダが隣接トラックのセクタの最初

のチャネルビット間の角度距離が±

1

チャネルビット以下になるように半径方向にそろえる。

12.3

セクタ番号

1

トラック上のセクタは,

0

24

の連続した番号をつけ,同じセクタ番号のすべてのセ

クタは,半径方向にそろえる。

13.

セクタフォーマット

13.1

セクタレイアウト

1

セクタは,ヘッダ,

ODF

及び

512

ユーザデータバイトを記録する記録フィー

ルドからなる。各セクタのヘッダは,エンボスデータとする。記録フィールドは,空白,ユーザ記録デー

タ又はエンボスデータとする。セクタ長は,公称

725

バイトとする。

12.1

に規定の公差は,セクタの最終

フィールドによって調整する。ヘッダフィールド長は

52

バイト,

ODF

長は

1

バイト,記録フィールド長

672

バイトとする。

セクタのレイアウトは,

図 15

のとおりとする。数値は,フィールド長をバイトで表す。


25

X 6272-1992

図 15  セクタフォーマット

13.2

セクタマーク (SM) 

  セクタマークは,データと容易に区別できるパターンとし,駆動装置が

PLL

に頼ることなくセクタ開始を見分けるために設ける。

セクタマークは,

80

チャネルビット長とし,

VFO

1

フィールドへのリードインに続く異なった長さの連

続したエンボスデータからなる。セクタマークのタイミングパターンは,

図 16

による。

図 16

に示す

T

は,

1

チャネルビット長とし,マーク信号振幅は,未記録部信号振幅よりも小さい。リードインは,チャネル

ビットパターン

0000010010

とする。

図 16  セクタマークのパターン 

13.3

  VFO

フィールド

VFO

フィールドは,チャネルビット同期のために設け,

図 15

に示すように,ヘ

ッダに一つの

VFO

1

及び二つの

VFO

2

,記録フィールドに一つの

VFO

3

をもつ。

VFO

1

VFO

3

は,同一パタ

ーンの

192

チャネルビット長とする。

VFO

2

の先頭ビットは,

RLL (2

7)

記録符号に要求される終結のた

めに異なり,次に示す二つのチャネルビットパターンのいずれかを用いる。

VFO

フィールドの連続チャネルビットパターンは,次のとおりとする。

VFO

1

192

チャネルビット:

0100100100100

10010

VFO

2

128

チャネルビット:

100100100100

10010

VFO

2

128

チャネルビット:

000100100100

10010

VFO

3

192

チャネルビット:

0100100100100

10010


26

X 6272-1992

13.4

アドレスマーク (AM) 

  アドレスマークは,データと容易に区別できるパターンとする。このフィ

ールドは,続く

ID

フィールドのバイト同期を駆動装置に与えるために設け,次に示す

16

チャネルビット

長のパターンとする。

0100

1000

0000

0100

13.5

  ID

フィールド

ID

フィールドは,次の

5

バイトで構成する。

1

及び第

2

バイト

トラック番号の

MSB

及び

LSB

3

バイト

  ビット

7

及び

6 00

ID

1

フィールド

 01

ID

2

フィールド

 10

ID

3

フィールド

  ビット

5 0

  ビット

4

0

セクタ番号(

2

進表記)

4

及び第

5

バイト

附属書 D

によって最初の

3

バイトから算出する

CRC

データ

13.6

ポストアンブル (PA) 

  ポストアンブルフィールドは,

16

チャネルビット長とし,

ID

3

に続くポスト

アンブル及びデータフィールドに続くポストアンブルの二つとする。ポストアンブルは,

14.

に規定する

RLL (2

7)

記録符号に変換したデータフィールド又はそれに続く

CRC

の終結を示すために設け,

ODF

はバッファフィールドに導く。

13.7

オフセット検出フィールド (ODF)

ODF

は,

16

チャネルビット長とし,グルーブ及びエンボスデ

ータを含めない。

ODF

は,トラッキングのオフセット補正用に設ける。

13.8

ギャップ

  ギャップは,

80

±

8

チャネルビット長とし,エンボスデータを含めない。

13.9

同期バイト

  同期バイトは,次の

48

チャネルビット長とする。

0100

0010

0100

0010

0010

0010

0100

0100

1000

0010

0100

1000

13.10

データフィールド

  データフィールドは,ユーザデータの記録のために用い,

639

バイト長とし,次

のとおりとする。

ユーザデータ

512

バイト

未規定バイト

4

バイト

CRC

バイト

4

バイト

ECC

バイト

80

バイト

再同期バイト

39

バイト

データフィールドのこれらのバイトは,

5

インターリーブで配置し,

CRC

バイト,

ECC

バイト及び再同

期バイトについては

附属書 E

による。

13.10.1

ユーザデータバイト

  ユーザデータバイトは,ユーザ情報の記録に用いる。

13.10.2

  CRC

及び ECC バイト

CRC

及び

ECC

バイトは,

附属書 E

の規定によって算出する。

13.10.3

再同期バイト

  再同期バイトは,欠陥後のバイト同期回復に用いる。バイト内容及び配置は,

附属

書 E

による。

13.11

バッファ

  バッファは,データを含めない

192

±

48

チャネルビット長とする。

14.

記録符号

  三つのアドレスフィールド及び再同期バイトを除くデータフィールドの

8

ビットバイトは,

ディスク上に

表 2

に従ってチャネルビットに変換して記録する。各“

1

”のチャネルビットは,マークに

対応する。記録符号は,

RLL (2

7)

のランレングス符号とする。


27

X 6272-1992

表 2  データビット及びチャネルビット 

の変換表

入力ビット

チャネルビット

10 0100

010 100100

0010 00100100

11 1000

011 001000

0011 00001000

000 000100

再同期フィールドの

RLL (2

7)

符号化は,次の入力データの最初のビットから新たに始める。

ID

フィールドは,

表 3a

の二つの

VFO

2

パターンのいずれかに続き,データバイトの後に

表 3b

の再同期

パターンが続く。

表 3a  ID

1

及び ID

2

の VFO

2

フィールドへの接続

表 3b  データバイトから再同期フィールドへの接続

15.

情報ゾーンのフォーマット

15.1

情報ゾーン

  情報ゾーンは,エンボストラッキング条件,エンボスヘッダ,エンボスデータ及びユ

ーザ記録データの情報からなる。

ディスクがユーザ記録ゾーンをもたない場合には,

16.3

及び

17.

は適用しない。また,エンボスデータを

もたない場合には,

16.4

は適用しない。


28

X 6272-1992

15.2

情報ゾーンの分割

  情報ゾーンは,リードインゾーン,データゾーン及びリードアウトゾーンとか

らなる。データゾーンは,ユーザデータの記録に用いる。リードインゾーン及びリードアウトゾーンは,

駆動装置の制御情報を含み,

製造者の試験及び駆動装置の試験に用いる。

情報ゾーンの分割は

表 4

による。

表 4  情報ゾーンのレイアウト

トラック番号

半径 (mm)

開始

終了

開始

終了

リードインゾーン

イニシャルゾーン

−−

−− 22.60 22.90

アクワイアゾーン

リードイントラック

−688

−297

22.90 23.53

フォーカストラック

−296

−293

内周試験ゾーン

製造者用

−292

−155

23.53 23.75

駆動装置用

−154

−17

23.75 23.97

内周制御ゾーン

−16

−1

23.97 24.00

データゾーン

    0

 9999

24.00

40.00

リードアウトゾーン

外周制御ゾーン 10000

10015

40.00

40.02

外周試験ゾーン

駆動装置用 10016

10153

40.02

40.24

製造者用 10154

10291

40.24

40.46

バッファゾーン 10292

10624

40.46

41.00

表中の半径は,ゾーンの最初のトラック及び最後のトラックの半径の公称値とする。

15.2.1

イニシャルゾーン

  イニシャルゾーンは,駆動装置のフォーカスサーボ引込みに用い,鏡面領域,

20.

に規定の完全グルーブ領域又はエンボスヘッダ及び

ODF

をもつトラックのいずれかとする。

15.2.2

アクワイアゾーン

  アクワイアゾーンは,二つの部分から構成され,それぞれエンボスグルーブ,

ヘッダ及び

ODF

からなる。

第一の部分は,各セクタにデータをもたないリードイントラックゾーンとする。

第二の部分は,各セクタのデータフィールドに,

VFO

3

,同期バイト及び

639

バイトのエンボスの繰返し

チャネルビットパターン“

100100

…”をもつフォーカストラックゾーンとする。

15.2.3

試験ゾーン

  内周及び外周試験ゾーンは,それぞれエンボスグルーブ,ヘッダ,

ODF

及び記録フ

ィールドとからなる。試験ゾーンは,駆動装置の記録パワー設定に用いる領域で,全面書換形及び部分エ

ンボス形ディスクでは,エンボスデータを含めない。

製造者用試験ゾーンは,ディスク製造者の品質試験用に用いる。

駆動装置用の試験ゾーンは,顕著な劣化を起こすような試験に用いてはならない。

15.2.4

制御ゾーン

  内周及び外周制御ゾーンは,エンボスグルーブ,

13.

に規定のセクタフォーマットの

15

トラック及び

1

バッファトラックとからなる。トラック番号−

1

及びトラック番号

10000

は,バッファ

トラックとする。二つの制御ゾーンのデータフィールドは,同一で,

附属書 E

に規定の駆動装置用のエン

ボス制御データからなる。

二つのバッファトラックの記録フィールドは,全面書換形及び部分エンボス形ディスクでは,エンボス

データをもたない。全面エンボス形ディスクの記録フィールドのユーザデータは,

FFh

とする。


29

X 6272-1992

15.2.5

データゾーン

  データゾーンは,エンボスグルーブ,ヘッダ及び

ODF

からなる。記録フィールド

は,ユーザ記録データ又は

13.

に規定のフォーマットのエンボスデータとする。データゾーンは,

16.4

規定の連結したエンボスデータフィールドとし,レイアウトを

16.

で規定する。

15.2.6

バッファゾーン

  バッファゾーンは,エンボスグルーブ,ヘッダ及び

ODF

からなる。

16.

データゾーンのフォーマット

  データゾーンには,始めと終わりにそれぞれ二つの欠陥管理領域

(DMA)

を設ける。

データゾーン及び隣接ゾーンのレイアウトは,

表 5

による。

書換ゾーン及びエンボスゾーンは,

表 6

に示すグループに分割する。

表 5  データゾーン,制御ゾーン及びバッファトラック

表 6  書換ゾーン及びエンボスゾーンの分割

書換ゾーン

エンボスゾーン

グループ 1  R/W  データセクタ

グループ 1  エンボス  データセクタ

グループ 1  R/W  予備セクタ

グループ 1  エンボス  パリティセクタ

グループ 2  R/W  データセクタ

グループ 2  エンボス  データセクタ

・ 
・ 

・ 
・ 

グループ g1  R/W  データセクタ

グループ 2  エンボス  データセクタ

グループ g1  R/W  予備セクタ

グループ 2  エンボス  パリティセクタ

残余  R/W  セクタ

残余  エンボス  セクタ

16.1

欠陥管理領域 (DMA) 

  四つの

DMA

は,データゾーン構造の情報及び欠陥管理の情報をもち,各

DMA

36

セクタからなる。

DMA1

及び

DMA2

は,内周に位置し,

DMA3

及び

DMA4

は,外周に位置す

る。

DMA

の配置は,

表 7

とする。


30

X 6272-1992

表 7  DMA の配置

開始

終了

長さ

トラック番号

セクタ番号

トラック番号

セクタ番号

DMA1

   0

 0

   1

10

36

   1

11

   1

13

 3

DMA2

   1

14

   2

24

36

DMA3  9997

0 9998 10  36

▲ 9998

11

9998

13

3

DMA4  9998 14 9999 24  36

表 5

及び

表 7

に▲で示す三つのセクタグループの内容は,規定しない。

DMA

は,ディスク定義セクタ

 (DDS)

をもち,

1

次欠陥管理表

 (PDL)

2

次欠陥管理表

 (SDL)

又は

それら両方からなる。四つの

PDL

及び

SDL

は,それぞれ同一とする。

ディスク初期化後の各

DMA

は,次のとおりとする。

最初のセクタは

DDS

とし,

2

番目のセクタは,

PDL

が存在する場合には,

PDL

の最初のセクタとする。

SDL

は,

PDL

がある場合には,

PDL

の直後に配置し,

PDL

がない場合には,

2

番目のセクタから始まる。

PDL

及び

SDL

の長さは,その中の登録した数による。

DMA

の構成は,

表 8

のとおりとする。

表 8  DDSPDL 及び SDL

構成要素

全面書換形

部分エンボス形

全面エンボス形

DDS R/W

,必す R/W,必す

エンボス,必す

PDL R/W

,任意 R/W,任意

なし

SDL R/W

,必す R/W,必す

なし

SDL

以後の

DMA

の記録内容は,全面書換形及び部分エンボス形ディスクについては,規定しない。全

面エンボス形ディスクでは,

DDS

に続く

DMA

のデータフィールドのバイト及び▲のバイトを

FFh

とする。

16.2

ディスク定義セクタ (DDS)

DDS

は,

1

セクタ長の表からなり,ディスクの初期化方法,書換ゾー

ン,エンボスゾーンのグループ分割及び

PDL

SDL

の開始アドレスを表す。

DDS

は,ディスク初期化時

に各

DMA

の最初のセクタに記録する。

全面エンボス形ディスクでは,

DDS

はエンボスデータに記録する。

参考3.

部分エンボス形ディスクでは,

DDS

パラメータを製造者が制御ゾーンに記録する。

DDS

をデ

ィスク初期化中にデータゾーンに記録するときは,書換ゾーンの特性値を複製する必要はな

い。

表 9

に示すディスク構造の情報は,四つの各

DDS

に記録する。


31

X 6272-1992

表 9  DDS の内容

バイト DDS 内容

必す設定

全面

書換形

部分

エンボス形

全面

エンボス形

0

DDS

識別子 0Ah

0Ah

0Ah

1

DDS

識別子 0Ah

0Ah

0Ah

2

予備 00h

00h

00h

3

全面エンボス

n. a.

n. a.

00h

ディスク検証 01h

01h

n. a.

ディスク非検証 02h

02h

n. a.

4

R/W

グループ数 g

1

の MSB

− 00h

5

R/W

グループ数 g

1

の LSB

− 00h

6

グループ当たりの R/W データセクタ数 n

1

の MSB

− 00h

7

グループ当たりの R/W データセクタ数 n

1

− 00h

8

グループ当たりの R/W データセクタ数 n

1

の LSB

− 00h

9

グループ当たりの R/W スペアセクタ数 m

1

の MSB

− 00h

10

グループ当たりの R/W スペアセクタ数 m

1

− 00h

11

グループ当たりの R/W スペアセクタ数 m

1

の LSB

− 00h

12

エンボスグループ数 g

2

の MSB 00h

13

エンボスグループ数 g

2

の LSB 00h

14

グループ当たりのエンボスデータセクタ数 n

2

の MSB 00h

15

グループ当たりのエンボスデータセクタ数 n

2

 00h

16

グループ当たりのエンボスデータセクタ数 n

2

の LSB 00h  −

17

グループ当たりのエンボスパリティセクタ数 m

2

の MSB

00h

18

グループ当たりのエンボスパリティセクタ数 m

2

 00h

19

グループ当たりのエンボスパリティセクタ数 m

2

の LSB

00h

20

パリティセクタ当たりのトラック数 00h

01h

01h

21 PDL

の開始トラックの MSB

− FFh

22 PDL

の開始トラック

− FFh

23 PDL

の開始トラックの LSB

− FFh

24 PDL

の開始セクタ

− FFh

25 SDL

の開始トラックの MSB

− FFh

26 SDL

の開始トラック

− FFh

27 SDL

の開始トラックの LSB

− FFh

28 SDL

の開始セクタ

− FFh

29

 511

 0

00h

00h

表 9

の記号“−”は,任意の値とし,

n. a.

”は適用外を表す。

PDL

を記録しない場合には,

DDS

のバイト

21

24

FFh

とする。

全面書換形ディスクは,

DDS

のバイト

20

を除き,この規定とする。

DDS

パラメータは,

表 10

のとおり

とする。


32

X 6272-1992

表 10  DDS パラメータの制限

全面書換形

部分エンボス形

全面エンボス形

1

g

1

≦1 024

2

g

1

g

2

≦1 024

1

g

2

≦1 024

m

1

≧0

g

1

≧1  g

2

≧1

g

1

=0

0

g

1

×m

1

≦1 024

0

g

1

×m

1

≦1 024

25

2

n

=整数

m

1

≧0

g

2

=0

25

2

n

=整数

25

2

m

=整数

n

2

m

2

=0

25

2

n

=整数

25

2

2

n

m

 

25

2

2

n

m

n

1

m

1

=0

16.3

書換ゾーン

  書換ゾーンは,ユーザデータの記録領域とし,全記録フィールドにわたってエンボス

データをもたない。

16.3.1

配置

  全面書換形ディスクの場合には,書換ゾーンはトラック番号

3

のセクタ

0

からトラック番号

9996

のセクタ

24

までとする。

全面エンボス形ディスクの場合には,書換ゾーンはトラック番号

3

のセクタ

0

からエンボスゾーンの手

前のトラックのセクタ

24

までとする。

16.3.2

分割

  ディスクの初期化では,書換ゾーンを

g

1

個の連続した同じ大きさのグループと,残りのセ

クタとに分割する。各グループは,

n

1

個のデータセクタ及び

m

1

個の予備セクタ(

m

1

0

が可能)からな

る。予備セクタの合計数は,

1 024

以下とする。

g

1

n

1

m

1

の値は,

DDS

に記録する。

16.4

エンボスゾーン

  部分エンボス形及び全面エンボス形ディスクは,あらかじめディスク製造者によ

って形成されたエンボスゾーンをもつ。このゾーンのセクタの記録フィールドの配置は

13.

による。

16.4.1

配置

  部分エンボス形ディスクの場合には,エンボスゾーンは,トラック番号

32

以上のセクタ

0

から始まる。エンボスゾーンの最終トラックは,トラック番号

9996

とし,記録フィールドはエンボスデー

タをもたない。

全面エンボス形ディスクの場合には,エンボスゾーンは,トラック番号

3

のセクタ

0

から始まり,トラ

ック番号

9996

のセクタ

24

で終わる。

エンボスゾーンの最初及び最終トラックのトラック番号は,制御ゾーンに記録する。

16.4.2

分割

  エンボスゾーンは,同じ大きさの

g

2

個のグループに分割する(

表 6

参照)

。各グループは,

n

2

個のデータセクタ及び

m

2

個のパリティセクタからなる。各データセクタ及びパリティセクタは,セクタ

0

から始まり,

n

2

及び

m

2

の値は,

25

の整数倍とする。

m

2

の値は,

25

2

n

の値以上とし,各エンボストラック

に一つのパリティセクタを設ける。

g

2

n

2

m

2

の値は,

DDS

に記録する。

最初のグループは,エンボスゾーンの初めに配置する。部分エンボス形ディスク又は全面エンボス形デ

ィスクの場合には,エンボスゾーンの分割後に残るトラックをグループの後に配置する。エンボスゾーン

内の未使用セクタの記録フィールドは,部分エンボス形ディスクのトラック番号

9996

を除いて,すべての

ユーザバイトを

FFh

とする。

16.4.3

パリティセクタ

  パリティセクタのデータフィールドには,

516

パリティバイト

 (PB)

を設け,次

の式によって算出するユーザデータバイト及びバイト

513

516 (DB)

の排他的

OR (

⊕ )

を記録する。

n

t

n

j

t

n

t

n

t

n

T

DB

DB

DB

DB

PB

,

24

,

,

,

,

1

,

,

0

,

,

=

ここに,

  1

t

25

2

n


33

X 6272-1992

0

j

24

1

n

516

PB

Tn

パリティセクタ

T

のバイト

An

DB

tjn

グループの

t

トラック上の

j

セクタのバイト

An

An

附属書 E

による。パリティバイトは,再同期バイトを除くユーザデータバイト及びバイト

513

516

から算出する。

グループの各トラックのパリティセクタは,

m

2

セクタからなり,それぞれ第

1

セクタから始まる。未使

用のパリティセクタのデータフィールドは,

FFh

とし,データレイアウトは,

附属書 表 E.1

のとおりと

する。未使用のパリティセクタ数は

m

2

25

2

n

とする。

17.

書換ゾーンの欠陥管理

  書換ゾーンのグループ内欠陥セクタは,次の欠陥管理方式によって正常セク

タに代替する。ディスクは,使用に先立って初期化する。初期化時のディスク欠陥箇所の検証は,任意と

する。欠陥セクタは,線形置換方式及び選択的にセクタスリップ方式によって処理する。最大欠陥セクタ

数は,

1024

とする。

17.1

ディスク初期化

  ディスクの初期化は,ディスク使用に先立って四つの

DMA

を記録する。書換ゾ

ーンを

g

1

グループに分割し,

16.3.2

のように,それぞれ

n

1

個のデータセクタ及び

m

1

個の予備セクタを設

ける。予備セクタは,欠陥セクタの代替に使用する。初期化では,書換ゾーンの検証を行い,欠陥セクタ

を確認したとき,飛び越す。

すべての

DDS

パラメータは,四つの

DDS

セクタに記録し,

SDL

及び任意の

PDL

は,四つの

DMA

に記

録する。

17.2

検証

  検証は,グループ内のデータセクタ及び予備セクタについて行う。検証方法は,任意とする。

検証によって発見した欠陥セクタは,セクタスリップ方式(

17.2.1

参照)又は線形置換方式(

17.2.2

参照)

によって処理する。欠陥セクタの代替ガイドラインは,

附属書 G

による。

17.2.1

セクタスリップ方式

  検証時に発見した欠陥セクタは,欠陥セクタに続く最初の正常セクタと代替

する。そのため,グループの最後尾へ

1

セクタ分飛び越しが生じ,最後のセクタは予備セクタに飛び越す。

欠陥セクタのアドレスは,

PDL

に記録する。欠陥セクタがないときは,空白の

PDL

を記録する(

17.5

照)

検証時に欠陥と分かった予備セクタのアドレスは,

PDL

に記録する。

検証中にグループ内の予備セクタを使いきった場合は,欠陥セクタを線形置換方式で取り扱い,別のグ

ループの予備フィールドから代替セクタを登録する。この登録は,その他のグループの検証後に行う。

17.2.2

線形置換方式

  欠陥セクタは,そのグループ内で使用可能な最初の予備セクタに代替する。もし,

グループ内に使用可能な予備セクタがない場合には,欠陥セクタから最も近いグループの使用可能な予備

セクタに代替する。欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスは,

SDL

に記録する。

また,代替セクタに欠陥があった場合には,次の使用可能な予備セクタに記録する。

17.3

非検証ディスク

  検証されていないディスクの欠陥セクタの取扱いに,線形置換方式を使用する。

欠陥セクタは,そのグループ内で使用可能な最初の予備セクタに代替する。もしグループ内に使用可能な

予備セクタがない場合には,

欠陥セクタを最も近くにあるグループ内の使用可能な予備セクタに代替する。

欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスは,

SDL

に記録する。


34

X 6272-1992

17.4

記録方法

  データを記録するとき,

PDL

に記録したすべての欠陥セクタは飛び越し,データはセク

タスリップ方式によって,次のセクタに記録する。もし,セクタが

SDL

に記録されているならば,データ

は,線形置換方式によって

SDL

の指定する予備セクタに記録する。

17.5

一次欠陥管理表 (PDL) 

  ディスクが初期化中に検証される場合には,

PDL

を記録する。

PDL

には,初期化で確認したすべての欠陥セクタのアドレスを昇べき(冪)順に記録する。

PDL

の最後

のセクタの残余のバイトは,

FFh

とする。

PDL

のバイト配列は,

表 11

のとおりとする。

欠陥セクタのアドレスリストが複数のセクタに続く場合には,

PDL

識別子及び

PDL

のアドレス番号は,

1

セクタだけに記録する。

17.6

  2

次欠陥管理表 (SDL)

2

次欠陥管理表

 (SDL)

は,ディスク初期化中に記録し,検証中又は検証後

に用いる。書換ゾーンをもつディスクは,初期化中に記録した

SDL

をもつ。

SDL

は,欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスを記録する。各内容は,

8

バイトで構成し,最初の

4

イトは,欠陥セクタのアドレス,後の

4

バイトは代替セクタのアドレスとする。

表 12

SDL

のバイト配

列を示す。

SDL

の最後のセクタの残余のバイトは,

FFh

とする。

PDL

にすでに記録したセクタ番号は,

SDL

に記録しない。

もし,

SDL

に登録した代替セクタが欠陥の場合には,その欠陥セクタの代替セクタを新しく登録する。

SDL

が複数セクタに続く場合には,欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスリストは続けて記録し,

SDL

0

15

のバイト内容は,第

1

セクタだけに記録する。


35

X 6272-1992

表 11  PDL のバイト配列

バイト

PDL

内容

0 00h

,PDL 識別子

1 01h

,PDL 識別子

2 PDL

でのアドレス数の MSB

3 PDL

でのアドレス数の LSB

(もしバイト 2,3 が 00h ならば,バイト 3 が PDL の最後)

4

最初の欠陥セクタ番号(トラック番号の MSB)

5

最初の欠陥セクタ番号(トラック番号)

6

最初の欠陥セクタ番号(トラック番号の LSB)

7

最初の欠陥セクタ番号(セクタ番号)

・・・

x

−3

最後の欠陥セクタ番号(トラック番号の MSB)

x

−2

最後の欠陥セクタ番号(トラック番号)

x

−1

最後の欠陥セクタ番号(トラック番号の LSB)

x

最後の欠陥セクタ番号(セクタ番号)

表 12  SDL のバイト配列

バイト

SDL

内容

0 00h

,SDL 識別子

1 02h

,SDL 識別子

2 00h

3 01h

4 SDL

でのリスト長の MSB

5 SDL

でのリスト長の LSB

(この計数はバイト 6 から開始)

6

∼7 00h

8 02h

9 01h

10

∼13

00h

14 SDL

での登録数の MSB

15 SDL

での登録数の LSB

16

最初の欠陥セクタ番号(トラック番号の MSB)

17

最初の欠陥セクタ番号(トラック番号)

18

最初の欠陥セクタ番号(トラック番号の LSB)

19

最初の欠陥セクタ番号(セクタ番号)

20

最初の代替セクタ番号(トラック番号の MSB)

21

最初の代替セクタ番号(トラック番号)

22

最初の代替セクタ番号(トラック番号の LSB)

23

最初の代替セクタ番号(セクタ番号)

・・・

y

−7

最後の欠陥セクタ番号(トラック番号の MSB)

y

−6

最後の欠陥セクタ番号(トラック番号)

y

−5

最後の欠陥セクタ番号(トラック番号の LSB)

y

−4

最後の欠陥セクタ番号(セクタ番号)

y

−3

最後の代替セクタ番号(トラック番号の MSB)

y

−2

最後の代替セクタ番号(トラック番号)

y

−1

最後の代替セクタ番号(トラック番号の LSB)

y

最後の代替セクタ番号(セクタ番号)


36

X 6272-1992

第 章  エンボス特性 

18.

エンボス特性の測定方法

7.

に規定の

780nm

及び

825nm

の波長をもつ,二つの異なる基準駆動装置を

用いたときの,グルーブ,ヘッダ及びエンボスデータから得られる信号条件について次に規定する。

18.1

測定環境

19.

21.

の測定は,

6.1.2

での使用環境条件のカートリッジに対して行う。

18.2

基準駆動装置の使用

19.

21.

に規定のすべての信号は,基準駆動装置で指定したチャネルによって

測定する。このため,駆動装置は,次の特性をもたなければならない。

18.2.1

光学系

  光ビームは,

7.2(a)

(f)

に規定の特性を満足する。ディスクは

7.5

に規定の回転とする。

18.2.2

再生パワー

  再生パワーは,

波長

825nm

及び

780nm

では,

1.0mW

から次に示す

P

max

の範囲とする。

1.2mW

P

max

1.3mW

P

max

は,制御情報トラックの

21

バイト及び

135

バイトで規定する。

参考4.

その他の回転数での推奨

P

max

附属書 J

に示す。

18.2.3

再生チャネル

  駆動装置には,対物レンズの出射ひとみ(瞳)からの総光量を測定する再生チャネ

ルを設ける。このチャネルは,

7.1

のチャネル

1

とする。

18.2.4

フォーカシング及びトラッキング

  光ビームの最大許容エラー量

  (e

max

)

は,次のとおりとする。

e

max

(フォーカシング)≦

1.0

μm

e

max

(トラッキング)≦

0.10

μm

18.3

信号の定義

  トラッキングチャネルの

2

分割光検出器の各半分からの信号を

I

1

I

2

で表し,これら

の信号は,グルーブがない領域の未記録部からの信号和

  (I

1

I

2

)

と比較する。

また,

チャネル

1

の信号振幅は,

グルーブがない領域の未記録部のチャネル

1

からの信号

I

0

と比較する。

19.

20.

及び

21.

に規定の信号は,

図 17

のとおりとする。


37

X 6272-1992

図 17  エンボス領域の各種信号 

19.

グルーブ関連信号

  グルーブ関連信号は,次の特性を満足しなければならない(

附属書 R

参照)

19.1

クロストラック信号

  クロストラック信号振幅は,次の条件を満足しなければならない。

(a)

ヘッダ及びエンボス記録フィールド

波長

780nm

では

(

)

(

)

59

.

0

14

.

0

2

1

2

1

a

pp

I

I

I

I

+

+


38

X 6272-1992

波長 825nm では

(

)

(

)

50

.

0

10

.

0

2

1

2

1

a

pp

I

I

I

I

+

+

(b)

エンボス記録フィールドがない領域

波長 780nm では

(

)

(

)

71

.

0

25

.

0

2

1

2

1

a

pp

I

I

I

I

+

+

波長 825nm では

(

)

(

)

60

.

0

20

.

0

2

1

2

1

a

pp

I

I

I

I

+

+

クロストラック信号は,いかなる点でも,この値が 15%以上変化してはならない。

19.2

クロストラック最小信号  クロストラック最小信号は,エンボス信号の有無に関わらず,次の条件

を満足しなければならない。

波長 780nm では

(

)

(

)

25

.

0

2

1

min

2

1

a

I

I

I

I

+

+

波長 825nm では

(

)

(

)

30

.

0

2

1

min

2

1

a

I

I

I

I

+

+

19.3

プッシュプル信号  プッシュプル信号  (I

1

I

2

)

は,次の条件を満足しなければならない。

(a)

エンボスデータがあるグルーブ領域

波長 780nm では

(

)

(

)

71

.

0

38

.

0

2

1

2

1

a

pp

I

I

I

I

+

波長 825nm では

(

)

(

)

70

.

0

35

.

0

2

1

2

1

a

pp

I

I

I

I

+

(b)

エンボスデータがないグルーブ領域

波長 780nm では

(

)

(

)

71

.

0

52

.

0

2

1

2

1

a

pp

I

I

I

I

+

波長 825nm では

(

)

(

)

70

.

0

50

.

0

2

1

2

1

a

pp

I

I

I

I

+

19.4

デバイデッドプッシュプル信号(DPP 信号)  DPP 信号の第一項は,光ビームがトラックを横断す

るときに 2 分割光検出器から得られる差動信号の瞬時振幅  (I

1

I

2

)

を,和信号の瞬時振幅  (I

1

I

2

)

で除し

た最大値とする。

DPP

信号の第二項は,第一項の比の最小振幅を最大振幅で除した値とする。

第一項は,次の条件を満足しなければならない。

波長 780nm では


39

X 6272-1992

05

.

1

74

.

0

2

1

2

1

pp

I

I

I

I





+

波長 825nm では

05

.

1

7

.

0

2

1

2

1

pp

I

I

I

I





+

第二項は,次の条件を満足しなければならない。

波長 780nm 及び 825nm では

7

.

0

max

min

2

1

2

1

2

1

2

1

pp

pp

I

I

I

I

I

I

I

I





+





+

19.5

オントラック信号比  オントラック信号比





0

0

I

I

t

は,次の条件を満足しなければならない。

波長 780nm では

00

.

1

72

.

0

0

0

I

I

t

波長 825nm では

00

.

1

70

.

0

0

0

I

I

t

19.6

位相深さ  グルーブの位相深さは,180°未満でなければならない。

19.7

トラック位置  トラック位置は,プッシュプル信号が 0 で,クロストラック信号が最大値となる位

置とする。

20.

ヘッダ信号

20.1

セクタマーク  セクタマーク信号  (I

sm

)

は,次の条件を満足しなければらない。

波長 780nm では

53

.

0

0

I

I

sm

波長 825nm では

50

.

0

0

I

I

sm

20.2

  VFO

信号  VFO

1

及び VFO

2

フィールド信号  (I

vfo

)

は,次の条件を満足しなければならない。

波長 780nm では

23

.

0

0

I

I

vfo

波長 825nm では

20

.

0

0

I

I

vfo


40

X 6272-1992

さらに,各セクタで,次の条件を満足しなければならない。

波長 780nm では

53

.

0

max

h

vfo

I

I

波長 825nm では

50

.

0

max

h

vfo

I

I

ここに,I

hmax

は 20.3 に規定の領域でのヘッダマークからの再生信号の最大値とする。

20.3

アドレスマーク,ID フィールド及びポストアンブル  アドレスマーク,ID フィールド及びポストア

ンブルの信号  (I

h

)

は,次の条件を満足しなければならない。

波長 780nm では

23

.

0

0

I

I

h

53

.

0

max

min

h

h

I

I

波長 825nm では

20

.

0

0

I

I

h

50

.

0

max

min

h

h

I

I

ここに,I

hmin

及び I

hmax

は,信号  (I

h

)

の最小値及び最大値とする。

21.

エンボスデータフィールド信号  エンボスデータフィールドからの信号  (I

d

)

は,次の条件を満足しな

ければならない。

波長 780nm では

23

.

0

0

I

I

d

53

.

0

max

min

d

d

I

I

波長 825nm では

20

.

0

0

I

I

d

50

.

0

max

min

d

d

I

I

ここに,I

dmin

及び I

dmax

は,データフィールドからの再生信号の最小値及び最大値とする。


41

X 6272-1992

第 章  記録層の特性 

22.

記録層の測定方法  23.25.は,記録及び消去に用いる記録層の光磁気特性の測定条件及び性能につい

て規定する。測定は,書換ゾーン中のセクタの記録フィールドで実施する。書換ゾーンが存在しない場合,

24.

26.は適用しない。記録,再生及び消去の測定は,すべて同一の基準駆動装置で行う(

附属書 参照)。

23.

25.は,記録層の品質を規定する。規定値を満足しない箇所は,欠陥とする。欠陥については,

第 6

章で規定する。

22.1

測定環境  23.25.の測定は,6.1.2 での使用環境条件のカートリッジに対して行う。

22.2

基準駆動装置の使用  23.25.の記録及び消去の測定は,次の特性をもつ基準駆動装置のチャネル 2

で行う。

22.2.1

光学系  光ビームは,7.2 (a)(f)に規定の特性を満足する。ディスクは 7.5 に規定の回転とする。

22.2.2

再生パワー  ディスク入射面上に投じる再生パワーは,1.0mW から P

max

の範囲とする。

22.2.3

再生チャネル  再生チャネルは,7.3 のチャネル 2 による。

22.2.4

フォーカシング及びトラッキング  フォーカシング及びトラッキングは,18.2.4 に規定の光ビーム

による。

22.3

記録条件

22.3.1

記録パルス  記録パルスは,図 18 による。

図 18  記録パルス

信号の記録は,バイアスパワー0.9∼1.1mW に記録パルスを重畳して行う。パルスの立ち上がり時間  (T

r

)

及び立ち下がり時間  (T

f

)

は,それぞれパルス幅  (T

p

)

が 100ns 以上のときは 15ns 未満,100ns 未満のとき

は (0.1×T

p

+5) ns 以下とする。

22.3.2

記録パワー  記録パワーは,ディスク入射面上に投じる記録パルス及び光パワーで表し,測定環境

条件で次のいずれかとする。

−  制御データ(

附属書 参照)のバイト 22∼30 及びバイト 136∼144 に記録した 3 種類のパルス幅  (T

p

)


42

X 6272-1992

の一つ及び半径に対応した記録パワー  (P

w

)

−  制御データ(

附属書 参照)のバイト 31 及びバイト 145 に記録した記録パワー  (P

w

)

及びバイト 32

∼34 及びバイト 146∼148 に記録した半径に対応したパルス幅。

記載外の半径についての値は,直線補間する。使用する実際の記録パワー及びパルス幅は,選択された

値に対し±5%とする。

測定環境条件を外れる温度での記録パワーは,

附属書 で示すように補正する。

記録パワー  (P

w

)

は,次の式による。

( )

+

p

p

w

T

T

mW

P

1

1

61

ここに,  T

p

:  パルス幅 (ns)

T

p

の値は,92ns 以下とする。もし,T

p

が 92ns を超える場合,記録パワーは,7mW 以下とする。

22.3.3

記録磁界  記録層での磁界強度は,16 000∼32 000A/m の範囲とする。

記録磁界方向は,ディスク基準面 P の垂線に対して 15°以内で,入射ビームの方向,すなわち入射面か

ら記録層への方向とする。ここで,磁界の方向は,N 極から S 極とする。

22.4

消去条件  マークは,磁界及び光パワーによって消去する。

22.4.1

消去パワー  消去パワーは,ディスク入射面上に投じる光パワーで表し,測定環境条件で,制御デ

ータ

附属書 参照)のバイト 45∼47 及びバイト 159∼161 に記録した半径に対応した消去パワーとする。

記載外の半径についての値は,直線補間する。使用する実際の消去パワーは,選択された値に対し±10%

とする。

測定環境条件を外れる温度での消去パワーは,

附属書 で示すように補正する。

22.4.2

消去磁界  消去磁界は,記録層での磁界強度が 16 000∼32 000A/m の範囲とする。

消去磁界方向は,ディスク基準面 P の垂線に対して 15°以内で,反射ビームの方向,すなわち記録層か

ら入射面への方向とする。

22.5

信号の定義  チャネル 2 の信号は,光検出器 K

1

及び K

2

の電流の差に比例する。すなわち検出器に

入射する光パワーに比例する(7.1 を参照)

23.

光磁気特性

23.1

性能指数  記録層の性能指数  (F)  は,マークから得られる信号強度とし,R・sin

θ

・cos2

β

で表す。こ

こに,はディスクの反射率(小数で表す。

θ

はマークと未記録部間の偏光のカー回転角,

β

は反射ビー

ムのだ(楕)円率とし,開口上で平均化する。性能指数の極性は,22.3.3 の記録磁界方向によって Fe リッ

チの Fe-Tb 合金記録層に記録したとき,マークに対し負とする。この場合,カー回転角の方向は,入射ビ

ームから見て反時計回りとする。

性能指数の極性及び値の大きさは,制御データ(

附属書 参照)のバイト 10 及びバイト 11 に記録する。

性能指数  (F)  は,次のとおりとする。

0.002 5< | | <0.005 0

23.2

光磁気信号のアンバランス  光磁気信号のアンバランスは,基準駆動装置のチャネル 2 からの信号

の DC オフセットで表し,基板の複屈折による。このオフセットは,

附属書 に示す,光学系の MTF を 1

とする低周波領域の信号を記録して測定する。再生信号が 50%のデューティサイクルとなる記録信号を用

いてもよい。オフセットは,信号の両極間の半分のレベルとする。


43

X 6272-1992

アンバランスは,チャネル 2 のオフセットをチャネル 1 の信号で割った値が,0.06 以下とし,DC から

40kHz

の帯域幅で測定する。アンバランスは,基準駆動装置を用いて測定する(7.1 参照)

24.

記録特性

24.1

分解能  分解能

IL

IH

は,高密度パターンの信号振幅と低密度パターンの信号振幅との比で表し,次

の測定方法によるとき,0.4 以上とする。

セクタの記録フィールドに,8 チャネルビットごとに一つのマーク及び 3 チャネルビットごとに一つの

マークの 2 種類のパターンを記録する。記録条件は,22.3 のとおりとする。

22.2.2

及び 22.2.3 の条件で,チャネル 2 の信号を再生する。IL は低密度パターンから,IH は高密度パタ

ーンから再生される信号振幅値とする。

24.2

狭帯域信号対雑音比  狭帯域信号対雑音比は,次の条件によって測定したとき,45dB 以上とする(図

19

参照)

図 19  信号レベル及び雑音レベル

狭帯域信号対雑音比は,7.1 の光学系の位相差が−15∼+15°とき,45dB 以上でなくてはならない。

記録信号

:3 チャネルビットごとに一つのマークパターン

スペクトラムアナライザの分解能帯域

:30kHz

信号振幅及び雑音の測定周波数

:2.9±0.1MHz

狭帯域信号対雑音比

:20×log

10

雑音レベル

信号レベル

測定値は,記録フィールドだけの値を得るために,ヘッダフィールドの影響を補正すること。

24.3

クロストーク

  クロストークは,書換ゾーン中の任意の連続した

5

本の未記録トラックの中心トラ

ック

n

に,

8

チャネルビットごとに一つのマークのパターンを

22.3

の記録条件によって記録し,再生した

ときの

  (n

1)

及び

  (n

1)

トラックに誘起する信号レベルとし,

(n

1)

及び

  (n

1)

トラックのいずれで

も,中心トラック

  (n)

との信号レベルの比は,−

27dB

未満とする。

25.

消去特性

  消去特性は,次の手順によって測定したとき,再生信号振幅に対し,−

40dB

以下とする。

この場合,狭帯域信号対雑音比は,

45dB

以上でなければならない。

(a)

書換ゾーン中の任意の一連のセクタに,

3

チャネルビットごとに一つのマークのパターンを記録す


44

X 6272-1992

る。記録条件は,

22.3

のとおりとする。

(b)

スペクトラムアナライザ(分解能帯域幅

30kHz

)を用いて,

22.2.2

及び

22.2.3

の条件で再生し信号

振幅を測定する。

(c)

  22.4

の条件によって消去する。

(d)

  (a)

及び

(c)

1 000

回繰り返す。

(e)

  (a)

の条件で記録する。

(f)

  (b)

の条件で再生する。このときの再生信号振幅及び雑音レベルから,狭帯域信号対雑音比を算出す

る。

(g)

  (c)

によって消去し,残留信号振幅を測定する。消去特性は,

(b)

の再生信号振幅に対する残留信号振

幅の比として表す。

第 章  ユーザデータの特性 

26.

ユーザデータの測定方法

27.

及び

28.

は,ディスク上のユーザデータの品質について規定する。測定

は,エンボスデータ及びユーザ記録データについて行う。記録データは,任意とする。ユーザデータの記

録は,環境条件及び駆動装置を問わない。再生は,基準駆動装置を用いて測定する。

18.

25.

は,欠陥を考慮しないのに対し,

27.

及び

28.

は,欠陥を考慮する。欠陥は,誤り検出訂正回路に

よっても訂正できない誤りをいう。

27.

及び

28.

は,データ交換に必要な最低限のデータ品質を規定する。

26.1

測定環境

27.

及び

28.

の測定は,

6.1.2

での使用環境条件のカートリッジに対して行う。測定を行う

前に,ディスクの入射面を清掃することを推奨する。

26.2

基準駆動装置の使用

27.

及び

28.

の測定は,次の特性をもつ基準駆動装置の,規定するチャネルを用

いる。

26.2.1

光学系

  光ビームは,

7.2

(a)

(f)

に規定の特性を満足する。ディスクは,

7.5

に規定の回転とす

る。

26.2.2

再生パワー

  ディスク入射面上に投じる再生パワーは,

1.0mW

から

P

max

の範囲とする。

26.2.3

再生増幅器

  チャネル

1

及びチャネル

2

の再生増幅器は,

7.3

のとおりとする。

26.2.4

アナログ−バイナリ変換器

  再生増幅器の出力信号は,ピーク検出器によってアナログからバイナ

リに変換する。

チャネル

1

用の変換器は,

20.

及び

21.

に規定の特性をもったエンボスマークからのアナログ信号に対し

て正しく作動しなければならない。

チャネル

2

用の変換器は,

23.

及び

24.

に規定の特性をもったユーザ記録マークからのアナログ信号に対

して正しく作動しなければならない。

26.2.5

誤り訂正

  データバイトの誤り訂正は,

附属書 E

E.3

の誤り検出訂正システムによって行う。エ

ンボスデータの場合は,

16.4.3

のパリティセクタによる訂正システムも用いる。

26.2.6

フォーカシング及びトラッキング

  フォーカシング及びトラッキングは,

18.2.4

に規定の光ビーム

による。

27.

セクタの最低保証品質

  ここでは,データ交換に必要な,セクタのヘッダ及び記録フィールドの最低

限の品質について規定する。この品質は,

26.2

に規定の基準駆動装置によって測定する。

27.1

ヘッダ


45

X 6272-1992

27.1.1

セクタマーク

  セクタマークは,

5

個の長いマークのうち,

少なくとも

3

個が

13.2

の規定を満足し,

再生信号振幅は,

20.1

の規定を満足しなければならない。

27.1.2

  ID

フィールド

ID

フィールドは,チャネル

1

で再生するヘッダの中の

3

個の

ID

フィールドのう

ち,少なくとも一つは,

CRC

によって検出されるバイト誤りがあってはならない。

参考5.

これには,先行する

VFO

1

又は

VFO

2

フィールドでの正しいデータクロックの捕捉,及びアド

レスマークでの正しいバイト同期が条件となる。

27.2

ユーザ記録データ

  ユーザ記録データは,チャネル

2

で再生し,

26.2.5

の規定によって訂正不能なバ

イト誤りがあってはならない。

参考6.

これには,先行する

VFO

3

フィールドでの正しいデータクロックの捕捉,及びデータ同期で

の正しいバイト同期が条件となる。

27.3

エンボスデータ

  セクタ中のエンボスデータは,チャネル

1

で再生し,

26.2.5

の規定によって訂正不

能なバイト誤りがあってはならない。

参考7.

これには,先行する

VFO

3

フィールドでの正しいデータクロックの捕捉,及びデータ同期で

の正しいバイト同期が条件となる。

28.

データ交換の必要条件

  データ交換に供するディスクは,次の事項を満足しなければならない。

28.1

トラッキング

  光ビームが,不用意にトラックジャンプを起こさない。

28.2

ユーザ記録データ

27.1

及び

27.2

の規定を満足しないユーザ記録セクタは,

17.

の欠陥管理規則によ

って代替されている。

28.3

エンボスデータ

27.1

及び

27.3

の規定を満足しないエンボスセクタは,

16.4.3

のパリティセクタに

よって訂正できる。

28.4

ディスクの品質

  ディスクの品質は,書換ゾーン中の代替されたセクタ数による。この規格では,

代替セクタは最大

1 024

個とする。


46

X 6272-1992

附属書 A(規定)  カートリッジのひずみ量測定方法

A.1

カートリッジのひずみ量測定では,

カートリッジの両端に沿った領域でのひずみ量及びはみ出し量が,

許容値以内であることを測定する。測定は,基準器となる直立した細長い基準穴をカートリッジが通過す

ることを確かめる。

A.2

基準器は,クロムめっきした炭素鋼などの材料とし,基準穴内面の表面粗さは,

5

μm

以下とする。

A.3

基準器の各部の寸法は,次のとおりとする(

図 A.1

参照)

A

96.0mm

B

91.0

±

0.1mm

C

1

.

0
0

6

.

8

+

mm

D

6.30

±

0.01mm

E

6.80mm

A.4

カートリッジを基準器に垂直方向に挿入し,カートリッジの自重を含め

0.8N

の荷重

F

0

を垂直下向き

に加えたとき,カートリッジは,基準穴を通過しなければならない。

図 A.1  ひずみ量基準器 


47

X 6272-1992

附属書 B(規定)  カートリッジの可とう性測定方法

B.1

カートリッジの可とう性の測定は,カートリッジの

4

か所の基準面に荷重をかけカートリッジを平面

に押し付けたとき,カートリッジの平たん度及び屈曲性について測定する。

B.2

カートリッジの

4

か所の基準面

S

1

S

2

S

3

及び

S

4

の位置は,

本体 8.3.4

及び

本体図 4

による。

B.3

可とう性測定装置は,

図 B.1

に示すように,平板上に立てた支柱

P1

P4

からなる。

S

1

S

2

S

3

及び

S

4

に対応した位置に,それぞれ

P1

P2

P3

及び

P4

を設ける。

P1

P4

の寸法は,次のとおりとする(

B.2

参照)

支柱

P1

及び

P2

D

a

6.50

±

0.01mm

D

b

0

02

.

0

50

.

3

mm

H

a

1.0

±

0.1mm

H

b

2.0mm

なお,

H

a

H

b

の間は,

H

b

-H

a

の長さの面取りをする。

支柱

P3

及び

P4

D

c

5.50

±

0.01mm

四つの柱上部は,

0.01mm

離れた二つの水平面の間に存在しなければならない。

B.4

カートリッジの基準面が,水平面基準である支柱の上に載るように,カートリッジを測定装置に位置

決めする。垂直下向き方向に

0.4N

の荷重

F

0

を,カートリッジの

4

か所の支柱と対向する位置にそれぞれ

加える。

B.5

可とう性の許容量

B.4

で,カートリッジの

4

か所の基準面

S

1

S

4

の内

3

か所の面は,それぞれに対

応する柱上部面と接していなければならない。

また,接していない基準面

S

とそれに対応する柱上部面との間のすき間は,

0.1mm

以下とする。


48

X 6272-1992

図 B.1  可とう性測定装置 

図 B.2  支柱の詳細図 


49

X 6272-1992

附属書 C(参考)  トラックの振れ量の測定方法

トラックの規定位置からの振れ量は,トラッキングサーボを掛けて駆動装置上で測定する。測定に用い

る基準サーボの強度は,駆動装置のサーボを超えてはならない。サーボ強度の差は,駆動装置の裕度を示

す。トラックの振れ量は,基準サーボを印加した状態で測定するトラックと光ビーム焦点間のずれ量であ

るトラッキングエラー量となる。

トラックの振れ量の測定方法は,光軸方向のトラック振れ量及び半径方向のトラック振れ量のどちらに

も適用する。

C.1

許容値との関係

  トラック振れ量は,トラッキングサーボモータに要する加速度及びトラッキングエ

ラーの測定による。加速度及びトラッキングエラーとの関係を周波数の関数として

図 C.1

に示す。

図 C.1  単一周波数,正弦波状振れ量の許容値

低周波数領域での許容振幅

  (x

max

)

は,次の式によって算出する。

( )

2

max

max

f

a

x

π

=

  (1)

ここに,

  a

max

サーボモータの最大加速度

高周波数領域での許容振幅

  (x

max

)

は,次の式によって算出する。

x

max

e

max

  (2)

ここに,

  e

max

最大許容エラー量

二つの周波数領域の合成は,

C.3

による。

C.2

基準サーボ

  トラック振れ量の許容値は,基準サーボに対するトラック振れ量の許容量と等しい。基

準サーボは,所定の伝達関数をもち,

図 C.1

に示したように,振幅

  (x

max

)

の単一の正弦波状のトラック振

れ量を最大許容エラー量

  (e

max

)

に圧縮する。

基準サーボの開ループ伝達関数

  (H

s

)

は,次のとおりとする。


50

X 6272-1992

( )

0

0

2

0

1

1

1

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

c

i

c

i

i

c

i

H

s

+

+

=

  (3)

ここに,

1

=

i

ω=

2

π

f

ω

0

2

π

f

0

f

0

開ループ伝達関数上で,ゲインが

0dB

となる周波数

c

サーボのクロスオーバ周波数(

f

1

及び

f

2

)を与える定数

c

f

f

0

1

=

f

2

f

0

×

c

基準サーボによるトラック振れ量

  (x)

のエラー量

  (e)

への圧縮は,次の式によって算出する。

s

H

x

e

+

=

1

1

  (4)

0dB

となる周波数

ω

0

は,次の式によって算出する。

max

max

0

e

c

a

=

ω

   (5)

このとき,

ω

0

より低い周波数のトラック振れは,最大許容エラー量

  (

e

max

)

に圧縮される。

また,

ω

0

より高い周波数のトラック振れは,圧縮されない。

図 C.1

に示す許容振幅

  (

x

max

)

は,次の式に

よって算出する。

x

max

e

max

| 1

H

|   (6)  

この基準サーボのモータに要求される最大加速度

  [

a

max

 (motor)]

は,次の式によって算出する。

a

max

 (motor)

e

max

ω

2

| 1

H

|   (7)

c

f

f

0

<

なる低周波数領域での最大加速度

  [

a

max

 (motor)]

は,次の式によって算出する。

(

)

(

)

c

e

track

a

motor

a

max

2

0

max

max

ω

=

=

  (8)

ここに,

本体 9.4.6

及び

9.4.8

の低周波数領域での基準サーボの

ω

0

の計算に a

max

 (motor)

を用いてもよい。

C.3

トラック振れの許容量

  トラック振れは,所定の周波数で回転しているディスクに対し,基準サーボ

でトラッキングを行ったとき,エラー量

  (

e

max

)

は,連続

12

μ

s

を超えてはならない。

軸方向及び半径方向の基準サーボの開ループ伝達関数は,

30Hz

100kHz

の帯域で,公称値から±

20%

超えない精度の

 | 1

|

を用い,

(3)

によって求める。

定数 は,

3

とする。

0dB

周波数 π

ω

2

0

は,

本体 18.2.4

9.4.6

及び

9.4.8

の軸方向及び半径方向の a

max

及び e

max

を用いて,式

(5)

によって求める。

C.4

測定方法

  軸方向又は半径方向の測定システムとして,

3

種類の方法を示す(

図 C.2

図 C.3

及び

C.4

参照)

。図中,H

a

は駆動装置の実際のトラッキングサーボの開ループ伝達関数を,H

s

は,式

(3)

によっ

て求める基準サーボの伝達関数を,及び はトラックの位置及び光ビームの焦点の半径方向の位置を,

e

s

は基準サーボを経た後のエラー量を示す。

図 C.2

図 C.3

及び

図 C.4

3

種類の方法について示す。

板ばね方式サーボモータでは,低周波数及び高周波数に分けて二系統の測定回路を用いると,よい測定


51

X 6272-1992

結果が得られる。測定方法のうち,

図 C.2

の方法は低周波数の測定系に用い,

図 C.3

及び

図 C.4

の方法は,

高周波数の測定系に用いる。二つの測定系の出力信号を,逆特性の交差型フィルタ

 (reversed cross-filter)

用いて加算して,必要なエラー量を求める。低周波数の測定系では,サーボモータにヒステリシスがない

ときには,サーボモータの加速度の測定としてサーボモータに流れる電流を利用してもよい。このとき,

電流は,サーボモータの伝達関数によって校正する。式

(4)

に等しい伝達関数

a

e

をもつフィルタによって,

サーボモータに流れる電流を,エラー量に変換する。

図 C.2  基準サーボによって圧縮されたトラック位置信号に 

フィルタを印加して e

s

を得るようにした基準サーボ方法 

図 C.3  実際のサーボの伝達関数を変換することによって 

e

s

を得るようにした基準サーボ方法

図 C.4  実際のサーボのエラー信号を変換することによって 

e

s

を得るようにした基準サーボ方法


52

X 6272-1992

附属書 D(規定)  ID フィールドの CRC

CRC

16

ビットは,

ID

フィールドの最初の

3

バイトから算出する。

生成多項式:

G

 (

x

)

x

16

x

12

x

5

1

剰余多項式:

( )

( )

x

G

x

x

b

x

b

x

R

i

i

i

i

i

i

i

i

mod

16

23

8

7

0



+

=

=

=

=

=

ここに,

b

i

最初の

3

バイトのビット

i

b

反転ビット

b

23

最初のバイトの最上位ビット

CRC

16

バイト

  (C

k

)

の内容は,次の式による。

( )

=

=

=

15

0

k

k

k

k

c

x

C

x

R

ここに,

C

15

は,

ID

フィールドでの

4

番目のバイトの最上位ビットとして記録す

る。


53

X 6272-1992

附属書 E(規定)  セクタのデータフィールドのフォーマット

E.1

データフィールドの内容

  ディスク上へ記録するデータ

A

n

n

は記録する順番を示す。

)は,

n

によっ

て次のとおりとする。

1

n

512

A

n

D

n

  ユーザデータバイト

513

n

516

A

n

F

m

  未規定バイト

517

n

520

A

n

C

k

CRC

データ

521

n

600

A

n

E

st

ECC

データ

ここに,

  m

n

512

k

n

516

s

[(n

521) mod 5]

1

1

5

521

int

+

=

n

t

ここに,

int (x)

x

より小さい最大の整数

(x mod y)

:整数の割算

y

x

の余り

ユーザデータバイト

D

n

の次数は,

駆動装置のコントローラに入力するものと同じ次数とする。すなわち,

D

1

が最初とする。再同期バイトは,

A

n

に含めない。

E.2

インターリーブ

  データフィールドのバイトは,

ECC

及び

CRC

バイトの算出前に

5

インターリーブ

する。そのために

A

n

の最初の

3

グループは,

104

列,

5

行の二次元行列

B

ij

に写像する(

表 E.1

参照)

1

n

520

の範囲で,

B

ij

は,次のとおりとする。

B

ij

A

n

ここに,

=

5

1

int

103

n

i

j

(n

1) mod 5

E.3

  CRC

及び ECC

E.3.1

全般

CRC

及び

ECC

は,次の原始多項式であるガロア体によって算出する。

G

p

 (x)

x

8

x

5

x

3

x

2

1

このガロア体の要素は,

α

i

  (

β

i

)

88

とする。ここに,

βは

G

p

 (x)

の原始根とする。バイトの

n

番目のビット

の値は,

βの

n

乗の項の係数とする

 (0

n

7)

。ここに,

βは多項式の基底上で表す。

E.3.2

  CRC

  CRC

の生成多項式は,次のとおりとする。

( )

( )

=

=

+

=

139

136

i

i

i

c

x

x

G

α

4

バイトの

CRC

は,ユーザデータ及び

4

バイトの

F

m

から算出する。

情報多項式は,次のとおりとする。

( )

0

0

,

0

103

1

4

0

x

B

x

B

x

I

i

i

j

j

i

ij

c

+





=

 

=

=

=

=


54

X 6272-1992

4

バイトの

CRC (

C

k

)

の内容は,次の剰余多項式で規定する。

R

c

 (

x

)

I

c

 (

x

)

x

4

mod

G

c

 (

x

)

多項式の係数の位置は,次のとおりとする。

( )

=

=

=

4

1

4

k

k

k

k

c

x

C

x

R

E3.3

  ECC

  原始多項式及び要素は,

E.3.1

による。

ECC

の生成多項式は,次のとおりとする。

( )

( )

=

=

+

=

135

120

i

i

i

e

x

x

G

α

80

バイトの

ECC

は,ユーザデータ,

4

バイトの F

m

及び

4

バイトの

CRC

から算出する。対応する五つの

情報多項式は次のとおりとする。

( )

=

=

=

103

0

i

i

i

ij

ej

x

B

x

I

ここに,

0

j

4

多項式 I

ej

 (

x

)

での

16

バイトの

ECC (

E

st

)

を,次の剰余多項式で規定する。

R

ej

 (

x

)

I

ej

 (

x

)

x

16

 mod

G

e

 (

x

)

多項式の係数の位置は,次のとおりとする。

( )

( )

=

=

+

=

16

1

16

,

1

t

t

t

t

j

ej

x

E

x

R

算出された

ECC

のビットは,チャネルビットに変換する前に反転する(式中の 及び

表 E.1

E

E.4

再同期バイト

  再同期バイトは,同期外れ防止及びユーザデータのエラー伝搬の制限のためデータフ

ィールドに挿入する。再同期バイトは,連続した番号を付けるがすべて同じパターンとし,次に示すチャ

ネルビットパターンとする。

0010

0000

0010

0100

再同期バイト

  (

RS

n

)

は,A

15n

と A

15n

1

の間に挿入する

 (1

n

39)

E.5

データフィールドの記録

  データフィールドのバイトは,同期バイトに続き

E.4

に規定の再同期バイ

トを挿入し,A

n

の順にディスク上に記録する。各データは,

表 E.1

のように行列形式で配置する。記録の

順序は,左から右へ,及び上から下へとする。最初の

3

バイトの同期バイト

SB

1

SB

2

及び

SB

3

は,データ

フィールドの前に置く。データフィールドの最初の

104

列は,ユーザデータ,未規定内容(数バイト)及

CRC

を含み,残りの

16

列は,

ECC

とする。


55

X 6272-1992

表 E.1  データフィールドのデータ構成 


56

X 6272-1992

附属書 F(規定)  制御ゾーンの内容

二つの制御ゾーンの各セクタは,媒体製造者が記録する同じ制御データを含む。制御データは,次の方

法によって四つのグループに分ける。

(1)

媒体特性データは,ディスクの種類,

ECC

及びトラッキング方法などのディスクの一般的な特性を規

定し,バイト

0

17

に記録する。バイト

0

9

,バイト

12

及びバイト

13

は,すべてのディスクで必す

とし,バイト

10

及びバイト

11

は,書換形及び部分エンボス形ディスクだけに用いる。

(2)

制御データは,駆動装置の記録,再生及び消去特性に関する駆動装置の設定を規定し,次のデータの

組合せで配置する。

  3

波長 L

1

L

2

及び L

3

各波長でのディスクの反射率 R

各波長での四つの回転周波数 N

1

N

2

N

3

及び N

4

各回転周波数での次の値

最大再生パワー

一組の消去条件

四組の記録条件,すなわち一定パルス幅に対しての三組,及び一定パルスパワーに対しての一組

(各組は情報ゾーンの内周,中周及び外周の三つの値を含む。

制御データは,

2

グループに分け,一方は

本体 18.

27.

に規定の適合性試験,他方はユーザ駆動装置

の制御とする。

(a)

適合性試験データは,基準駆動装置の設定を規定し,また,ユーザ駆動装置に対し基準データとし

て用いる。適合性試験データは,バイト

18

34

,バイト

44

47

,バイト

132

148

及びバイト

158

161

とし,書換形及び部分エンボス形ディスクで必すとする。

(b)

ユーザ基準データは,測定環境でディスクを測定するユーザ駆動装置の設定に対し,媒体製造者の

推奨値とする。このデータの記録は,バイト

48

131

,バイト

162

263

及びバイト

272

359

とし,

任意とする。

(c)

次のバイトは将来の規格の予備とし,

FFh

とする。

バイト

35

43

バイト

198

200

バイト

56

58

バイト

226

228

バイト

84

86

バイト

263

271

バイト

112

114

バイト

284

286

バイト

149

157

バイト

312

314

バイト

170

172

バイト

340

342

(3)

システムデータは,ディスクのエンボスゾーンの特性を与え,バイト

380

383

に記録し,部分エンボ

ス形及び全面エンボス形ディスクで必すとする。バイト

400

428

はすべてのディスクで必すとする。

(4)

最後のグループは,未規定データとし,バイト

480

511

とする。

任意のバイトは,

(1)

(3)

の規定データを含むか又は

FFh

とする。

F.1

媒体特性データ

バイト

0

:フォーマット記述子

1


57

X 6272-1992

00000000

とし,複合連続サーボトラッキング方式,一定角速度及び

RLL (2

7)

マーク位置記録を表す。

バイト

1

:フォーマット記述子

2

00010001

とし,

512

バイトセクタに適用される最小距離

17

5

インターリーブのリードソロモン符号を

表す。

バイト

2

:トラック当たりのセクタ数

00011001

とし,トラック当たり

25

セクタを表す。

バイト

3

:反射率

公称波長

825nm

で測定したディスクの反射率

  (

R

)

とし,次の数値を記録する。

n

100

R

バイト

4

:ランド記録又はグルーブ記録

00000000

とし,ランド記録を表す。

バイト

5

:予備

FFh

とする。

バイト

6

:最大再生パワー

制御情報トラックのバイト

21

及びバイト

135

249

に規定の最低の値を記録する。制御情報トラックを

再生する最大再生パワーP

w

 (mW)

とし,次の を記録する。

n

20

P

w

バイト

7

:ディスクの種類

0000

0000

:全面エンボス形ディスク

0010

0000

:全面書換形ディスク

1010

0000

:部分エンボスデータをもつ書換形ディスク

ほかの設定は,将来の予備とし,禁止する。

バイト

8

9

:データゾーンの最後のトラック

00100111

及び

00001111

とし,データゾーンの最後のトラック番号

 (9999)

MSB

及び

LSB

を表す。

バイト

10

:性能指数の極性

00000001

とし,負極性を表す。

バイト

11

:性能指数の大きさ

性能指数

  (

F

)

の大きさとし,次の の値を記録する。

n

10 000

F

バイト

12

13

:予備

FFh

とする。

バイト

14

17

:未規定

これらのバイトは,媒体製造者が使用してもよい。

F.2

制御データ

バイト

18

:波長

駆動装置の波長 L

1

 (nm)

を規定し,次の を記録する。

1

5

1

L

n

=

このバイトは,n

165

を設定する。


58

X 6272-1992

バイト

19

:反射率

波長 L

1

での反射率 R

1

を規定し,次の を記録する。

n

100

R

1

この値は,バイト

3

と同じ値とする。

バイト

20

:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

1

 (Hz)

を規定し,次の を記録する。

n

N

1

このバイトは,n

30

を設定する。

バイト

21

:最大再生パワー

条件 L

1

及び N

1

での情報ゾーンの最大再生パワーP

1

 (mW)

を規定し,次の を記録する。

n

20

P

1

ここに,

24

n

26

バイト

22

30

:一定パルス幅での記録パワー

バイト

22

30

は,条件 L

1

及び N

1

でのパルス幅 T

w

に対する記録パワーP

w

 (mW)

を規定し,次の を記

録する。

n

5

P

w

バイト

22

T

w

1.00

T

及び半径 r

24mm

での記録パワー

バイト

23

T

w

1.00

T

及び半径 r

30mm

での記録パワー

バイト

24

T

w

1.00

T

及び半径 r

40mm

での記録パワー

バイト

25

T

w

0.50

T

及び半径 r

24mm

での記録パワー

バイト

26

T

w

0.50

T

及び半径 r

30mm

での記録パワー

バイト

27

T

w

0.50

T

及び半径 r

40mm

での記録パワー

バイト

28

T

w

0.25

T

及び半径 r

24mm

での記録パワー

バイト

29

T

w

0.25

T

及び半径 r

30mm

での記録パワー

バイト

30

T

w

0.25

T

及び半径 r

40mm

での記録パワー

ここに,T

1

チャネルビットの周期

バイト

31

34

:一定記録パワーでの記録パルス幅

条件 L

1

及び N

1

での記録パワーP

w

に対する記録パルス幅 T

w

 (ns)

を規定し,次の を記録する。

n

T

w

バイト

31

:記録パワー

バイト

32

:半径 r

24mm

での記録パルス幅

バイト

33

:半径 r

30mm

での記録パルス幅

バイト

34

:半径 r

40mm

での記録パルス幅

バイト

35

43

:予備

FFh

とする。

バイト

44

47

DC

消去パワー

バイト

44

00h

とする。バイト

45

47

は,条件 L

1

及び N

1

での三つの半径の

DC

消去パワーP

e

 (mW)

規定し,バイト

22

30

の P

w

と同様に記録する。

バイト

45

:半径 r

24mm

での消去パワー

バイト

46

:半径 r

30mm

での消去パワー


59

X 6272-1992

バイト

47

:半径 r

40mm

での消去パワー

バイト

48

:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

2

 (Hz)

を規定し,バイト

20

の N

1

と同様に記録する。

このバイトが

FFh

でない場合,n

40

を設定する。

バイト

49

75

条件 L

1

及び N

2

でのバイト

21

47

と同じパラメータを記録する。ただし,バイト

56

58

FFh

とする。

バイト

76

:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

3

 (Hz)

を規定し,バイト

20

の N

1

と同様に記録する。

このバイトが

FFh

でない場合,n

60

を設定する。

バイト

77

103

条件 L

1

及び N

3

のバイト

21

47

と同じパラメータを記録する。ただし,バイト

84

86

FFh

とする。

バイト

104

:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

4

 (Hz)

を規定し,バイト

20

の N

1

と同様に記録する。

このバイトが

FFh

でない場合,

30

40

及び

60

以外の値を設定する。

バイト

105

131

条件 L

1

及び N

4

でのバイト

21

47

と同じパラメータを記録する。ただし,バイト

112

114

FFh

とす

る。

バイト

132

:波長

駆動装置の波長 L

2

 (nm)

を規定し,次の を記録する。

2

5

1

L

n

=

このバイトは,n

156

を設定する。

バイト

133

:反射率

波長 L

2

での反射率 R

2

を規定し,次の を記録する。

n

100

R

2

バイト

134

:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

1

 (Hz)

を規定し,次の を記録する。

n

N

1

このバイトは,n

30

を設定する。

バイト

135

:最大再生パワー

条件 L

2

及び N

1

での情報ゾーンの最大再生パワーP

2

 (mW)

を規定し,次の を記録する。

n

20

P

2

ここに,

24

n

26

バイト

136

144

:一定パルス幅での記録パワー

条件 L

2

及び N

1

でのパルス幅 T

w

に対する記録パワーP

w

 (mW)

を規定し,次の を記録する。

n

5

P

w

バイト

136

T

w

1.00

T

及び半径 r

24mm

での記録パワー

バイト

137

T

w

1.00

T

及び半径 r

30mm

での記録パワー

バイト

138

T

w

1.00

T

及び半径 r

40mm

での記録パワー

バイト

139

T

w

0.50

T

及び半径 r

24mm

での記録パワー


60

X 6272-1992

バイト

140

T

w

0.50

T

及び半径 r

30mm

での記録パワー

バイト

141

T

w

0.50

T

及び半径 r

40mm

での記録パワー

バイト

142

T

w

0.25

T

及び半径 r

24mm

での記録パワー

バイト

143

T

w

0.25

T

及び半径 r

30mm

での記録パワー

バイト

144

T

w

0.25

T

及び半径 r

40mm

での記録パワー

ここに,T

1

チャネルビットの周期

バイト

145

148

:一定記録パワーでの記録パルス幅

条件 L

2

及び N

1

での記録パワーP

w

に対する記録パルス幅 T

w

 (ns)

を規定し,次の を記録する。

n

T

w

バイト

145

:記録パワー

バイト

146

:半径 r

24mm

での記録パルス幅

バイト

147

:半径 r

30mm

での記録パルス幅

バイト

148

:半径 r

40mm

での記録パルス幅

バイト

149

157

:予備

FFh

とする。

バイト

158

161

DC

消去パワー

バイト

158

00h

とする。バイト

159

161

は,条件 L

2

及び N

1

での三つの半径の

DC

消去パワーP

e

 (mW)

を規定し,バイト

136

144

の P

w

と同様に記録する。

バイト

159

:半径 r

24mm

での消去パワー

バイト

160

:半径 r

30mm

での消去パワー

バイト

161

:半径 r

40mm

での消去パワー

バイト

162

:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

2

 (Hz)

を規定し,バイト

134

の N

1

と同様に記録する。

このバイトが

FFh

でない場合,n

40

を設定する。

バイト

163

189

条件 L

2

及び N

2

でのバイト

135

161

と同じパラメータを記録する。ただし,バイト

170

172

FFh

する。

バイト

190

:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

3

 (Hz)

を規定し,バイト

134

の N

1

と同様に記録する。

このバイトが

FFh

でない場合,n

60

を設定する。

バイト

191

217

条件 L

2

及び N

3

でのバイト

135

161

と同じパラメータを記録する。ただし,バイト

198

200

FFh

する。

バイト

218

:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

4

 (Hz)

を規定し,バイト

134

の N

1

と同様に記録する。

このバイトが

FFh

でない場合,

30

40

及び

60

の他の値を設定する。

バイト

219

245

条件 L

2

及び N

4

でのバイト

135

161

と同じパラメータを記録する。ただし,バイト

226

228

FFh

する。

バイト

246

:波長


61

X 6272-1992

駆動装置の波長 L

3

 (nm)

を規定し,バイト

132

の L

2

と同様に記録する。

バイト

247

359

条件 L

3

でのバイト

133

245

と同じパラメータを記録する。ただし,バイト

284

286

,バイト

312

314

及びバイト

340

342

は,

FFh

とし,バイト

256

258

は任意とする。

バイト

360

379

:予備

FFh

とする。

記録する制御データのまとめ

表 F.1

は,バイト

18

359

に対する規定をまとめたものである。

太字の数字は,必すバイトである[

(a)

参照]

網掛けの斜体の数字は,

FFh

に設定する[

(c)

参照]

細字の数字は,任意バイトであり,

F.1

で規定の値か

FFh

とする[

(b)

参照]

表 F.1  制御データの一覧表

L

1

L

1

L

1

L

1

L

2

L

2

L

2

L

2

L

3

L

3

L

3

L

3

N

1

N

2

N

3

N

4

N

1

N

2

N

3

N

4

N

1

N

2

N

3

N

4

18

132 246

19

133 247

20 48 76

104

134

162

190

218

248

276

304 332

21 49 77

105

135

163

191

219

249

277

305 333

22 50 78

106

136

164

192

220

250

278

306 334

23 51 79

107

137

165

193

221

251

279

307 335

24 52 80

108

138

166

194

222

252

280

308 336

25 53 81

109

139

167

195

223

253

281

309 337

26 54 82

110

140

168

196

224

254

282

310 338

27 55 83

111

141

169

197

225

255

283

311 339

28

56

84

112

142

170

198

226

256

284

312

340

29

57

85

113

143

171

199

227

257

285

313

341

30

58

86

114

144

172

200

228

258

286

314

342

31 59 87

115

145

173

201

229

259

287

315 343

32 60 88

116

146

174

202

230

260

288

316 344

33 61 89

117

147

175

203

231

261

289

317 345

34 62 90

118

148

176

204

232

262

290

318 346

35 63 91

119

149

177

205

233

263

291

319 347

36 64 92

120

150

178

206

234

264

292

320 348

37 65 93

121

151

179

207

235

265

293

321 349

38 66 94

122

152

180

208

236

266

294

322 350

39 67 95

123

153

181

209

237

267

295

323 351

40 68 96

124

154

182

210

238

268

296

324 352

41 69 97

125

155

183

211 239

269

297

325 353

42 70 98

126

156

184

212

240

270

298

326 354

43 71 99

127

157

185

213

241

271

299

327 355

44 72

100

128

158

186

214

242

272

300

328 356

45 73

101

129

159

187

215

243

273

301

329 357

46 74

102

130

160

188

216

244

274

302

330 358

47 75

103

131

161

189

217

245

275

303

331 359

F.3

システムデータ

バイト

380

381

:エンボスゾーンの最初のトラック


62

X 6272-1992

ディスクにエンボスゾーンがある場合,これらのバイトは,このゾーン(

本体表 5

参照)の最初のトラ

ック番号の

MSB

LSB

を記録する。エンボスゾーンがない場合は,

FFh

とする。

バイト

382

383

:エンボスゾーンの最後のトラック

ディスクにエンボスゾーンがある場合,これらのバイトは,このゾーン(

本体表 5

参照)の最後のトラ

ック番号の

MSB

LSB

を規定する。エンボスゾーンがない場合は,

FFh

とする。

バイト

384

399

:予備

FFh

とする。

バイト

400

428

:部分エンボス形ディスクの制御バイト

この情報は,部分エンボス形ディスクに必要であり,

DDS

のバイト

0

28

の値とする。これらの制御バ

イトは,

ディスク作製時に製造者によって定義する。

PDL

及び

SDL

のアドレスを表すバイト

421

428

は,

FFh

とする。制御バイトは,フォーマット工程や

DDS

の内容を修復する工程でユーザが使用できる。全面

書換形ディスク及び全面エンボス形ディスクの場合,

FFh

とする。

F.4

未規定データ

バイト

480

511

これらのバイトの内容は,未規定とする。


63

X 6272-1992

附属書 G(参考)  代替セクタを使用するときのガイドライン

欠陥セクタと判定して,代替セクタを使用する例を,次に示す。

(a)

 CRC

で検出された欠陥

ID

フィールドが

2

個又は

3

個あるセクタ

(b)

セクタマークが検出できないとき

(c)

データフィールド(

表 E.1

参照)の行に,

3

個を超える欠陥バイト A

n

があるとき


64

X 6272-1992

附属書 H(規定)  性能指数の測定方法

H.1

性能指数は,低い周波数で記録したマークの再生信号振幅によって測定する。

本体 7.

に規定の基準駆

動装置を用いた性能指数の測定では,光学系自身の位相差を含むので,光学系の位相差を取り除く必要が

生じる。これらは,反射率,カー回転角及びだ(楕)円率から性能指数を求め,光学系の位相差を校正す

ることができる。ただし,この校正は,低保磁力の記録層だけに精度よく行うことができる。

H.2

測定用光学系の校正は,次のとおりとする。

低保磁力の記録層をもつ複屈折率が無視できるほど小さい(ガラス)ディスクを用いて,反射率

  (

R

)

カー回転角

  (

θ

)

及びだ円率

  (

β

)

を測定する。性能指数 F

L

を,次の式によって算出する。

F

L

R

sin

θ・

cos2

β

次に,同じディスクを用いて低周波数の信号を記録し,チャネル

2

の再生信号振幅 V

L

を測定することに

よって,光学系自身の位相差の校正を行う。記録された磁区は,その領域で光学系の

MTF

1

となるよ

うに実質的に集光スポットより大きくする。これは,

30Hz

で回転しているディスクに対して,

100kHz

り低周波数の長い磁区パターンが隣接するトラックでマークが半径方向に整列し,かつ,重なり合うよう

に連続する数トラックにわたり記録されていることを意味する。

H.3

ディスク(低保磁力ディスク,高保磁力ディスクのいずれでもよい。

)の性能指数 は,校正された

駆動装置で低周波数の信号を記録し,チャネル

2

の再生信号の振幅 を測定し,次の式で算出する。

L

L

V

V

F

F

=


65

X 6272-1992

附属書 J(参考)  再生,記録及び消去パワー

J.1

再生パワー

  回転周波数

40Hz

及び

60Hz

での最大再生パワーは,次のとおりとし,その値を制御ゾー

ンに記録する。

回転周波数

最大再生パワーP

max

40Hz 1.4mW

P

max

1.5mW

60Hz 1.8mW

P

max

2.0mW

J.2

記録及び消去パワー

  制御ゾーンに記録する記録パワー及び消去パワーの値は,

23

℃の値だけとし,

回転周波数

40Hz

及び

60Hz

での最大記録パワー及び最大消去パワーは次の値を超えてはならない。

回転周波数

最大記録パワー及び最大消去パワー

40Hz



+

=

w

w

T

T

P

1

1

61

mW

T

w

72ns

P

8mW

T

w

72ns

60Hz



+

=

w

w

T

T

P

1

1

61

mW

T

w

48ns

P

10 mW

T

w

48ns

ここに,

P

記録パワー又は消去パワー

T

w

記録パルス幅

記録パワー及び消去パワーは,ディスクの温度によって,次の式で補正する。

P

t

P

23

[0.03 (

T

0p

23)]

ここに,

P

t

補正されたパワー

P

23

制御ゾーンに記録したパワー

T

0p

ディスクの温度


66

X 6272-1992

附属書 K(規定)  ハブ吸着力の測定方法

K.1

この附属書は,ハブ吸着力の測定方法を規定する。

K.2

測定装置(

図 K.1

参照)は,スペーサ,磁石,ヨーク及び中心軸からなる。測定装置の寸法は,次に

よる。

D

d

7.0

±

0.1mm

D

e

14.0

±

0.1mm

D

f

13.0mm

D

g

0

1

.

0

9

.

3

mm

H

c

0.4

±

0.01mm

H

d

1.0

±

0.05mm

図 K.1  ハブ吸着力の測定装置 

K.3

測定装置の材料は,次による。

磁石

Sm-Co

ヨーク

:適切な磁性材料

スペーサ

:非磁性材料又は空気間隙

中心軸

:非磁性材料

K.4

ヨーク付き磁石の特性は,次による。

磁極数

4


67

X 6272-1992

最大エネルギー積

  (

BH

max

)

175

±

16kJ/m

3

ヨーク付き磁石の特性は,

次の寸法の純ニッケル板

図 K.2

参照)

を用い調整する。

磁石面から H

c

0.4mm

の点でのこの板の吸着力は,

3.3

±

0.2N

とする。

D

h

6.0

±

0.1mm

D

i

15.0

±

0.1mm

H

e

1.0

±

0.05mm

図 K.2  測定装置の校正板 

K.5

測定条件は,

本体 6.1.1

による。


68

X 6272-1992

附属書 L(参考)  使用環境条件の導出方法

L.1

標準環境条件

  カートリッジの使用環境条件は,幾つかの例外を除いて,

IEC 721-3-3

IEC

標準環

境条件クラス

3K3

(以下,

IEC

クラス

3K3

という。

)の値を基本とする。

IEC

クラス

3K3

は,室内での装

置を設置する環境を定義し,それは次による。

“通常の居住空間,すなわち,居間,大勢が使用する場所(劇場,レストランなど)

,オフィス,店,

電子部品の組立や製造の場所,電気通信センタ,貴重品保管室”

L.2

温度上昇の考え方

IEC

クラス

3K3

は室内の環境だけを定義しているが,この規格のカートリッジの

使用環境条件は,システム及び駆動装置の温度上昇も考慮している。駆動装置に取り付けたカートリッジ

は,室内温度より高い温度になる。使用環境条件は,この温度上昇を

20

℃までと仮定して計算している。

L.3

絶対湿度

  絶対湿度(空気中の水分量

g/m

3

)の導入は,温度上昇を考えるときに有用となる。駆動装

置の中で温度上昇があったとき,絶対湿度は実質的に一定であるにもかかわらず相対湿度が下がる。その

ため,使用環境条件に温度上昇分の余裕をもたせると,温度の上限のみならず相対湿度の下限に影響を与

える。これらの関係を,カートリッジの使用環境条件の空気線図(相対湿度対温度図,

図 L.1

参照)に示

す。

絶対湿度を限定すると,次の二つの使用環境条件が排除できる。

(1)

カートリッジの性能及び寿命に悪影響を及ぼす高温及び高相対湿度の組合せ

(2)

世界中のオフィス環境でほとんど起こらない低温及び低相対湿度の組合せ


69

X 6272-1992

図 L.1  IEC クラス 3K3 及びカートリッジ使用環境の空気線図 

L.4

  IEC

標準環境条件との違い

L.2

の温度上昇に関する変更を除くと,

次のパラメータが

IEC

クラス

3K3

の基本値と異なる。

気圧

IEC

クラス

3K3

の下限気圧

70kPa

60kPa

に拡張した。

カートリッジは本質的に気圧に敏感でなく,

70kPa

の規定は,一部の市場を排除する可能性がある。

絶対湿度

空調があるオフィス環境以外で使用する携帯用装置を考え,

IEC

クラス

3K3

の上限の

25g/m

3

30g/m

3

に引き上げた。

温度

カートリッジの周囲温度(駆動装置内の温度上昇を含む。

)の上限は,

50

℃とする(一方

IEC

クラス

3K3

は+

20

℃で

60

℃となる。

。この規格によるカートリッジに対し,上限

50

℃は,それ以上では作動(保存と

同様)が安全でないという物理的な上限を考慮に入れている。


70

X 6272-1992

これは,装置設計者が,室温が

IEC

クラス

3K3

の上限

40

℃になったとき,駆動装置内部を十分冷却し

てもよいことを意味する。

その他

温度及び相対湿度の変化率は,

IEC

クラス

3K3

に従っていない。

図 L.2  使用環境及び保存環境の湿球温度 

L.5

湿球温度仕様

  絶対湿度による仕様値の代わりに,既発行のカートリッジの規格は,他のデジタル記

録媒体と同様,高温及び高相対湿度の厳しすぎる組合せを排除するために次のパラメータの規定をした。

  湿球温度

  (

)

異なった仕様の比較を容易にするため,

図 L.2

にカートリッジの使用環境,測定環境及び保存環境に対

する湿球温度を示す。

湿球温度は大気圧で僅かに変化するので,

図は

101.3kPa

の通常の気圧で有効となる。


71

X 6272-1992

附属書 M(規定)  空気清浄度クラス 100000

M.1

定義

0.5

μ

m

以上の粒径の粒子数は,

1m

3

当たり

3.5

×

10

6

個以下とする。

統計的平均粒子径分布は,

図 M.1

とする。クラス

100000

は,

1m

3

当たり

0.5

μ

m

の粒子を

3.5

×

10

6

個許

容し,

5.0

μ

m

以上の粒子を

2.5

×

10

4

個許容することを意味する。

図 M.1  粒子径分布曲線

M.2

測定原理

0.5

5.0

μ

m

の粒子に対し,光散乱の原理による装置を用いる。一定環境の空気を既知の流

量でサンプリングする。サンプル空気中に含まれる粒子は,装置の光学槽の光量検出領域を通過させる。

個々の粒子による光散乱は,光パルスを電流パルスに変換する光検出器によって受光する。電気系は,パ

ルスの高さと粒子径を関連させ,パルスを計数する。


72

X 6272-1992

附属書 N(規定)  基準面に対するカートリッジの位置

本体 8.2

に規定の基準面に対するカートリッジの位置は,

図 N.1

による。

図 N.1  カートリッジ位置 


73

X 6272-1992

附属書 P(参考)  輸送条件

P.1

輸送は,世界中の広範囲の温湿度変化の下,異なる期間,様々な輸送方法によって行われるため,輸

送条件や包装条件を一般的に規定することは困難である。

P.2

包装の形式は,送り主と受取者の間の協定によるか,協定がない場合は送り主の責任となる。次の危

険性を考慮に入れる必要がある。

P.2.1

温度及び湿度

  輸送の見積期間よりも長期の条件に耐えるように,包装方法を考慮する必要がある。

P.2.2

衝撃及び振動

(1)

カートリッジの形状を損ねる機械的な荷重に耐える包装とする。

(2)

カートリッジの落下に耐える包装とする。

(3)

カートリッジは,緩衝材を入れた堅い箱に包装する。

(4)

最終的な箱は,汚れや湿気を防ぎ輸送できる構造と清浄な内装を具備する。


74

X 6272-1992

附属書 Q(参考)  オフィス環境

カートリッジは,駆動装置の内外のゴミの影響に対しかなりの耐力をもつ構造となっている。そのため

に,十分低いゴミの量を維持するような特別の注意は必要としないが,機械場や工事現場などのゴミの多

い場所での使用は避けたほうがよい。

オフィス環境とは,個人が何の保護もなしに,一時的な苦痛や永久的な不快感を伴わずに一日中働ける

環境をいう。


75

X 6272-1992

附属書 R(規定)  信号特性が緩和できるゾーン

表 R.1

は,この規格の

本体

に規定の信号特性が必すであるゾーンか緩和できるゾーンかの区別を示す。

表 R.1  各ゾーンの信号の規定

信号特性が仕様範囲内であることを必すとするゾーンを表す。

仕様範囲が下限値の

80%

から上限値の

120%

に拡張できるゾーンを表す。均一

性は±

12%

から±

20%

に拡張できる。

規定を適用しないゾーンを表す。

項番

信号

ゾーン

イニシャ

    ゾー

アクワイアゾー

試験ゾーン

制御

ゾーン

データ

ゾーン

制御

ゾーン

試験ゾーン

バッファ

リード

フォーカ

製造

  者用

駆動

装置用

駆動

装置用

製造

  者用

9.5.4

反射率

均一性

19.1(a)

クロストラック信号

19.1(b)

クロストラック信号

19.2

クロストラック最小信号

19.3(a)

プシュプル信号

19.3(b)

プシュプル信号

19.4 DPP

信号(第一項)

 DPP

信号(第二項)

19.5

オントラック信号比

20.1

セクタマーク

20.2 VFO

信号

20.3

アドレスマーク,ID フィールド

及びポストアンブル

21

エンボスデータフィールド信号

22.3.2

記録パワー

22.4.1

消去パワー

23.1

性能指数

23.2

光磁気信号のアンバランス

24.1

分解能

24.2

狭帯域信号対雑音比

24.3

クロストーク

25

消去特性


76

X 6272-1992

附属書 S(参考)  基準ディスク(記録パワー校正用)

基準ディスクは,財団法人日本電子部品信頼性センター

 (RCJ)

によって定常的に基準駆動装置を校正す

るために設ける。

基準ディスクは,駆動装置のレーザパワーの校正に用いる。

品番

JCM

6272

供給元

:財団法人日本電子部品信頼性センター

 (RCJ)

203

  東京都東久留米市八幡町

1

丁目

1

12

 TEL

0424-71-5142

 FAX

0424-72-4961

光ディスク標準化委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

久  保  高  啓

静岡大学

石  井  正  則

日本電気株式会社

石  井  泰  弘

三洋電機株式会社

石  橋      稔

ヘキストジャパン株式会社

伊  藤      武

富士通株式会社

稲  葉  裕  俊

通商産業省

井  上      栄

株式会社東芝

岩  下  隆  二

パイオニア株式会社

応  和  英  男

ソニー株式会社

大  石  完  一

日本ユニシス株式会社

大  島      建

オリンパス光学工業株式会社

太  田  賢  司

シャープ株式会社

大  森  晴  史

イーストマン・コダック株式会社

岡  田  和  夫

三菱電機株式会社

沖  野  芳  弘

松下電器産業株式会社

尾  島  正  啓

株式会社日立製作所

窪  田  恵  一

日本電気株式会社

古  賀  尚  之

株式会社日立製作所

小  林  政  信

沖電気工業株式会社

小  町  祐  史

松下電送株式会社

斉  藤  哲  男

株式会社東芝

笹  森  栄  造

キヤノン株式会社

佐  藤  正  聡

株式会社ニコン

瀬  野  健  治

財団法人パーソナル情報環境協会

西  沢  紘  一

日本板硝子株式会社

西  村  一  敏

日本電信電話株式会社

野  村  龍  男

日本放送協会

舩  木  克  典

ダイセル化学工業株式会社

前  田  巳代三

株式会社富士通研究所

丸  川      章

通商産業省

望  月  重  樹

三井石油化学工業株式会社

山  崎  俊  一

株式会社ジーク

山  田  文  明

日本アイ・ビー・エム株式会社

(オブザーバ)

三  橋  慶  喜

日本板硝子株式会社

久保田  直  基

株式会社加藤スプリング製作所


77

X 6272-1992

氏名

所属

藤  原  康  博

オリンパス光学工業株式会社

中  島  憲  一

ナカミチリサーチ株式会社

橋  詰      隆

株式会社小野測器

柳  井      治

株式会社シバソク

工  藤  芳  明

大日本印刷株式会社

糸  岡      晃

大日本スクリーン製造株式会社

90mm

書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ

JIS

原案作成 WG  構成表

氏名

所属

(主査)

西  沢  紘  一

日本板硝子株式会社

大  石  完  一

日本ユニシス株式会社

佐  藤  正  聡

株式会社ニコン

岩  下  隆  二

パイオニア株式会社

岡  田  和  夫

三菱電機株式会社

垣  内  志津夫

パイオニア株式会社

窪  田  恵  一

日本電気株式会社

田  所  通  博

三菱電機株式会社

益  井      譲

パイオニア株式会社