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X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

第 章  一般事項  

1

1

  適用範囲  

1

2

  適合性 

2

2.1

  光ディスクカートリッジ(ODC  

2

2.2

  ジェネレーティングシステム  

2

2.3

  レシービングシステム  

2

2.4

  互換性表示  

2

3

  引用規格  

2

4

  用語及び定義  

2

5

  表記法 

5

5.1

  数値表示  

5

5.2

  名称  

6

6

  略語 

6

7

  ODC の概要  

6

8

  一般要件  

7

8.1

  環境条件  

7

8.2

  温度衝撃  

8

8.3

  安全性  

8

8.4

  耐燃性  

8

9

  基準駆動装置  

8

9.1

  光学系  

8

9.2

  光ビーム  

9

9.3

  再生チャネル  

9

9.4

  トラッキング  

10

9.5

  ディスクの回転  

10

第 章  機械的特性及び物理的特性  

10

10

  ケースの寸法特性及び物理的特性  

10

10.1

  ケースの概要  

10

10.2

  ケースの基準面  

10

10.3

  ケースの寸法  

10

10.4

  機械的特性  

15

11

  ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性  

27

11.1

  ディスクの概要  

27

11.2

  ディスクの基準軸及び基準面  

27


X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)  目次

(2)

ページ

11.3

  ディスクの寸法  

27

11.4

  機械的特性  

28

11.5

  光学特性  

30

12

  ODC と駆動装置とのインタフェース  

30

12.1

  クランプ方法  

30

12.2

  クランプ力  

31

12.3

  キャプチャシリンダ  

31

12.4

  使用環境条件におけるディスクの位置  

31

第 章  フォーマット  

33

13

  トラックの寸法  

33

13.1

  トラックの形状  

33

13.2

  トラックスパイラルの方向  

34

13.3

  トラックピッチ  

34

14

  トラックフォーマット  

34

14.1

  ロジカルトラック番号  

34

14.2

  ロジカルトラックレイアウト  

34

14.3

  クロック周波数及び周期  

35

14.4

  半径方向のアライメント  

35

14.5

  セクタ番号  

35

15

  セクタフォーマット  

36

15.1

  セクタのレイアウト  

36

15.2

  セクタマーク(SM  

36

15.3

  VFO フィールド  

37

15.4

  アドレスマーク(AM  

38

15.5

  ID フィールド  

38

15.6

  ポストアンブル(PA  

38

15.7

  ギャップ  

39

15.8

  同期バイト(Sync  

39

15.9

  データフィールド  

39

15.10

  VCO ロックパターンフィールド(VLP  

40

15.11

  バッファ  

40

16

  記録符号  

40

17

  情報ゾーンのフォーマット  

41

17.1

  情報ゾーンの概要  

41

17.2

  情報ゾーンの分割  

42

18

  データゾーンのフォーマット  

45

18.1

  データゾーンのバッファトラック及び試験トラック  

45

18.2

  欠陥管理領域(DMA  

48

18.3

  ディスク定義構造(DDS  

48


X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)  目次

(3)

ページ

18.4

  書換形ゾーンの分割  

50

18.5

  論理ブロックアドレス  

50

19

  欠陥管理  

50

19.1

  ディスクの初期化  

50

19.2

  検証  

51

19.3

  非検証ディスク  

51

19.4

  記録方法  

51

19.5

  一次欠陥管理表(PDL  

51

19.6

  二次欠陥管理表(SDL  

52

第 章  エンボス特性  

53

20

  測定方法  

53

20.1

  使用環境  

53

20.2

  基準駆動装置  

53

20.3

  信号の定義  

54

21

  グルーブからの信号  

55

21.1

  デバイデドプッシュプル信号  

55

21.2

  位相深さ  

56

21.3

  トラックの位置  

56

22

  ヘッダ信号  

56

22.1

  セクタマーク  

56

22.2

  VFO 信号  

56

22.3

  アドレスマーク,ID フィールド及びポストアンブル  

57

22.4

  ジッタ  

57

22.5

  非対称性  

57

23

  エンボス記録フィールド信号  

57

23.1

  信号振幅  

57

23.2

  ジッタ  

58

第 章  記録層及びユーザデータの特性  

58

24

  測定方法  

58

24.1

  測定環境  

58

24.2

  基準駆動装置  

58

24.3

  記録条件  

59

24.4

  消去条件  

61

24.5

  信号の定義  

62

25

  光磁気特性  

62

25.1

  性能指数  

62

25.2

  光磁気信号の非対称性  

62

26

  記録特性  

63

26.1

  分解能  

63


X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)  目次

(4)

ページ

26.2

  狭帯域信号対雑音比(NBSNR  

64

26.3

  クロストーク比  

65

26.4

  ジッタ  

65

26.5

  メディア熱相互作用  

65

27

  消去パワーの決定  

65

第 章  ユーザデータの特性  

66

28

  試験方法  

66

28.1

  測定環境  

66

28.2

  基準駆動装置  

66

29

  セクタの最低品質  

67

29.1

  ヘッダ  

67

29.2

  ユーザ記録データ  

67

30

  データ交換要件  

68

30.1

  トラッキング  

68

30.2

  ユーザ記録データ  

68

30.3

  ディスクの品質  

68

附属書 A(規定)エッジのひずみ(歪)量確認方法  

69

附属書 B(規定)カートリッジの可とう(撓)性確認方法  

70

附属書 C(規定)ID フィールドの CRC  

72

附属書 D(規定)インタリーブ,CRCECC 及びデータフィールドの再同期化  

73

附属書 E(規定)制御ゾーンの内容  

78

附属書 F(規定)再同期パターンの決定  

84

附属書 G(規定)性能指数の測定  

88

附属書 H(規定)NBSNR(狭帯域信号対雑音比)及びジッタを測定するための再生チャネル  

89

附属書 I(規定)記録メディアの互換のための実装独立マーク品質決定(IIMQD  

92

附属書 J(規定)空気清浄度クラス 100 000 

93

附属書 K(規定)基準面に関連するカートリッジの位置  

95

附属書 L(規定)信号特性が緩和できるゾーン  

96

附属書 M(規定)ハブの吸着力の測定方法  

97

附属書 N(参考)トラックの振れ量の測定方法  

99

附属書 O(参考)使用環境条件の導出方法  

103

附属書 P(参考)輸送 

106

附属書 Q(参考)オフィス環境  

107

附属書 R(参考)現在及び将来の規格で実装される値  

108

附属書 S(参考)基板の垂直複屈折の測定  

109

附属書 T(参考)交替セクタを使用するときのガイドライン  

111

附属書 U(参考)メディアの感度評価のためのレーザパワー校正方法  

112


X 6270

:2011 (ISO/IEC

3

:2005)  目次

(5)

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本

工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格に従うことは,次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので,留意する。

−  氏名:ソニー株式会社

−  住所:東京都港区港南 1-7-1

−  氏名:富士通株式会社

−  住所:神奈川県川崎市中原区上小田中 4-1-1

上記の,特許権等の権利者は,非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施

の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし,この規格に関連する他の特許権等の権利者に対

しては,同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。

この規格に従うことが,必ずしも,特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ

る。

この規格の一部が,上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標

準調査会は,このような特許権等に関わる確認について,責任はもたない。

なお,ここで“特許権等”とは,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)


1

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

日本工業規格

JIS

 X

6270

:2011

(ISO/IEC 22533

:2005

)

情報交換用 90 mm/2.3 GB  光ディスクカートリッジ

Information technology-

Data interchange on 90 mm optical disk cartridges-

Capacity: 2.3 Gbytes per cartridge

序文 

この規格は,2005 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 22533 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

第   一般事項 

適用範囲 

この規格は,カートリッジ当たり 2.3 ギガバイト(GB)の容量をもつ 90 mm の光ディスクカートリッジ

(以下,ODC という。

)の特性を規定する。この規格は,2 048 バイトセクタのタイプ R/W の ODC だけに

ついて規定する。

タイプ R/W は,熱磁気効果及び光磁気効果を利用して,ディスクの記録面全体にわたって,何度も繰り

返して,データの記録,再生及び消去が可能である。これは,

“全面書換形”とも呼ばれる。この規格は,

2 048 バイトセクタだけを規定する。ディスク上の全てのセクタのサイズは同じである。

この規格は次の項目を規定する。

−  適用試験の条件及び基準駆動装置。

− ODC の使用環境及び保存環境。

−  データ処理システム間の機械的互換を保証するための ODC の機械的特性及び物理的特性。

−  ディスク上のエンボスデータ及びユーザ記録データのフォーマット。トラック及びセクタの物理的な

配置,誤り訂正符号,並びに使用される変調方式を含む。

−  ディスクのエンボス情報の特性。

−  データ処理システムがディスク上にデータを記録可能にするための,ディスクの光磁気特性。

−  データ処理システムがディスクからデータを再生可能にするための,ディスク上のユーザ記録データ

の最低限の品質。

なお,別途規定のボリューム及びファイル構造の規格と合わせることによって,データ処理システム間

の完全なデータ互換性を与えるものである。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO/IEC 22533:2005

,Information technology−Data interchange on 90 mm optical disk cartridges−

Capacity: 2.3 Gbytes per cartridge(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。


2

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

適合性 

2.1 

光ディスクカートリッジ(ODC 

この規格に適合する ODC は,そのタイプを明確にしなければならない。この規格で規定する全ての要

求事項を満足する場合,その ODC は,この規格に適合する。

2.2 

ジェネレーティングシステム 

この規格に適合するジェネレーティングシステムは,サポートするものを明確にしなければならない。

互換用 ODC のジェネレーティングシステムは,サポートするタイプについてこの規格の全ての要件を満

たすとき,この規格に適合する。

2.3 

レシービングシステム 

この規格に適合するレシービングシステムは,どのタイプを実装するかを明確にしなければならない。

2.1

に規定された ODC に記録したどの情報も扱える場合,そのデータ互換のための ODC のレシービン

グシステムは,この規格に適合する。

2.4 

互換性表示 

この規格に適合する駆動装置は,サポートする他の規格のリストを規定しなければならない。その規定

には,サポートする規格番号と ODC のタイプ,再生だけをサポートするのか,記録及び再生ともにサポ

ートするのかの情報を記載しなければならない。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用

規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

ECMA-287:2002

  Safety of electronic equipment, 2

nd

 edition

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

4.1 

バンド(band)

所定数の連続するフィジカルトラックからなるデータゾーンの一部。

4.2 

ケース(case)

ディスクを保護するとともに,ディスクの交換を容易にする光ディスクの入れ物。

4.3 

チャネルビット(Channel bit)

ディスク上のデータの最小要素。スペース又はマークで記録される。12 チャネルビットで 8 データビッ

トを表す。

4.4 

クランプゾーン(clamping zone)

クランプ装置からの吸着力が印加されるディスクの環状部分。

4.5 

制御トラック(control track)

光ディスクに記録,

再生及び消去するために必要なフォーマット及びメディアパラメタを含むトラック。


3

X 6270

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4.6 

巡回冗長検査,CRC(Cyclic Redundancy Check, CRC)

データの誤りを検出する方法の一つ。伝送単位ごとにビット列を 2 進数とみなし,あらかじめ定められ

た多項式で除算した余りをチェックビットとして伝送単位の最後に付加する方式。

4.7 

欠陥管理(defect management)

ディスクの欠陥領域を取り扱う方法。

4.8 

ディスク基準面(disk reference plane)

理想スピンドルにおいて,回転軸に対して垂直で,かつ,ディスクのクランプゾーンに対応する,完全

にフラットな環状表面として規定される面。

4.9 

エンボスマーク(embossed mark)

光磁気的手段によって変更できないように形成されたマーク。

4.10 

入射面(entrance surface)

光ビームが最初に入射するディスクの表面。

4.11 

誤り訂正符号,ECC(Error Correcition Code, ECC)

データの中にある種の誤りを訂正するために設計された誤り検出符号の一つ。

4.12 

フィールド(field)

セクタの下位区分を表す領域。特定の種類に属するデータのために用いる。

4.13 

フォーマット(format)

ディスク上の情報の配置又はレイアウト。

4.14 

全面書換形光ディスク(fully rewritable disk)

規定された領域のデータが,光ビームによって書換え可能である ODC。

4.15 

グルーブ(groove)

4.19

参照。

4.16 

ハブ(hub)

駆動装置のスピンドルによって心出しを行い,かつ,吸着力を与えるためのディスクの中心部にある構

造体。

4.17 

インタリーブ(interleaving)

バーストエラーによって影響を受けないように,連続するデータ群を物理的に分割して配置するプロセ

ス。


4

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

4.18 

カー回転(Kerr rotation)

光磁気カー効果が引き起こす,記録層からの反射による光ビームの偏光面の回転。

4.19 

ランド及びグルーブ(land and groove)

情報が記録される前に形成するディスクの溝状構造。トラック位置を明らかにするために用いられる。

グルーブは,それと一対でトラックを形成するランドよりも入射面に近いほうに位置する。

4.20 

ロジカルトラック(logical track)

論理的に分割したトラックであり,2 048 バイトのセクタをもつディスクでは 17 個の連続したセクタで

構成されるトラック。各ロジカルトラックの最初のセクタにはセクタ番号 0 を割り当てる。

4.21 

ロジカル ZCAVlogical ZCAV(logical Zoned Constant Angular Velocity, logical ZCAV)

角速度一定方式で,

ゾーンごとにフィジカルトラック当たりのセクタ数の異なるディスクフォーマット。

データゾーンにおいては,全てのトラックをロジカルトラックとして扱う。

4.22 

マーク(mark)

磁区,ピット,その他光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マークのパターンがディスク上

のデータを表す。

注記  セクタマーク,アドレスマークなどのセクタの下位区分としての“マーク”はここでいうマー

クと異なる。

4.23 

光ディスク(optical disk)

記録層にマークの形で情報を記録したり保持したりする,光ビームで再生可能なディスク。

4.24 

光ディスクカートリッジ,ODC(optical disk cartridge, ODC)

光ディスクが収納されたケースからなるデバイス。

4.25 

フィジカルトラック(physical track)

ディスクが一回転する間の光ビームの焦点がたどる経路。

4.26 

フィジカルトラックグループ(physical track group)

データゾーンでの一定数の連続するフィジカルトラック。

4.27 

ピッチ(pitch)

隣接するフィジカルトラックの中心線の半径方向の間隔。

4.28 

偏光(polarization)

光波の振動ベクトルの振動方向が規則的な状態。光ビームの偏光方向は,ビームの電気ベクトルの方向

となる。


5

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:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

注記  偏光面は,電気ベクトルを含み,かつ,光ビームの伝搬方向をもつ面である。光ビームの伝搬

方向を見て電気ベクトルが時計回りで回転する偏光を右だ(楕)円偏光という。

4.29 

再生パワー(read power)

再生時のディスクの入射面での光パワー。

注記  記録済みのデータを破壊することなく使えるパワーとして最大パワーを規定する。SN 比及び規

格の他の要求事項を満足することを条件に,より小さいパワーを使うことができる。

4.30 

記録層(recording layer)

ディスクを構成する層の一つ。製造時及び/又は使用時に,層の上又は中にデータが記録される。

4.31 

リードソロモン符号(Reed-Solomon code)

誤り検出符号及び/又は誤り訂正符号の一つ。特に,バーストエラー又は高い相関をもつ誤りの訂正に

向いている。

4.32 

セクタ(sector)

ディスクの情報ゾーンにあるアドレス指定可能な最小単位のトラックの部分。

4.33 

スペース(space)

トラックに沿ったマークとマークとの間の領域。

4.34 

スピンドル(spindle)

ディスク及び/又はハブに接触するディスク駆動装置の一部。

4.35 

基板(substrate)

記録層を機械的に支持する透明なディスク構成層。光ビームはこの層を通して記録層に入射する。

4.36 

ゾーン(zone)

ディスクの環状領域。 

表記法 

5.1 

数値表示 

数値表示は,次による。

−  測定値は,該当規定値の最下位桁に丸める。例えば,1.26

01

.

0

0.02


という規定値は,1.235 以上 1.275 未満

の測定値を許容する。

− 16 進数は,括弧でくくった 0∼9 の数字及び A∼F のアルファベットで表示する。

−  ビットの値は,

“0”及び“1”とする。

−  2 進数及びビットの組合せの数値は,0 及び 1 で表す。

−  2 進数及びビットの組合せの数値は,左に最上位ビットを示す。

−  2 進数の負の値は,2 の補数で表す。


6

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

−  各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト 0)を最初に記録する。8 ビットで構成する各バイト

内では,最下位ビット(0 番目)を最後に記録し,最上位ビット(7 番目)を最初に記録する。この記

録順は,誤り検出訂正回路のデータ入出力にも適用する。

−  特に明記されていない限り,全てのトラック番号はロジカルトラックで表す。

5.2 

名称 

固有のトラック,フィールドなどの実体の名前は,大文字の頭文字で示す。

略語 

略語について規定する。

AM  

Address Mark  アドレスマーク

CRC  

Cyclic Redundancy Check  巡回冗長検査

DDS  

Disk Definition Structure  ディスク定義構造

DMA  

Defect Management Area  欠陥管理領域

ECC  

Error Correction Code  誤り訂正符号

FA1  

Function Area 1  機能定義領域 1

FA2  

Function Area 2  機能定義領域 2

ID  

Identifier  識別子

LSB  

Least Significant Byte  最下位バイト

MO  

Magneto-Optical  光磁気

MSB  

Most Significant Byte  最上位バイト

ODC  

Optical Disk Cartridge  光ディスクカートリッジ

PA  

Postamble  ポストアンブル

PDL  

Primary Defect List  一次欠陥管理表

RLL(1,7)  Run Length Limited (code)

  (1,7)ランレングス制限符号

R/W  

Rewritable  書換形

SDL  

Secondary Defect List  二次欠陥管理表

SM  

Sector Mark  セクタマーク

TIA  

Time Interval Analyzer  タイムインターバルアナライザ

VCO

Voltage

Controlled

Oscillator  VCO(信号)

VFO  

Variable Frequency Oscillator  VFO(信号)

ZCAV  Zoned Constant Angular Velocity

  ゾーン化された角速度一定方式

7 ODC

の概要 

この規格の主題である ODC は,光ディスクを含むケースからなる。

ケースは,ディスクを保護する覆いであり,シャッタによって覆われたアクセス窓をもつ。カートリッ

ジを駆動装置に挿入したとき,シャッタは自動的に開く構造とする。

光ディスクは,一面だけに記録可能とする。データの記録及び消去は,熱磁気効果を用いて記録層の磁

化領域に焦点を結ぶ光ビームによって行う。再生は,集束光ビームで光磁気効果を用いてデータを読み取

る。光ビームは,透明なディスクの基板を通して,記録層にアクセスする。


7

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

一般要件 

8.1 

環境条件 

8.1.1 

測定環境 

測定環境は,規定がない限り,ODC の近傍で測定し,次のとおりとする。

温度

:23±2  ℃

相対湿度

:45∼55 %

大気圧

:60∼106 kPa

空気清浄度

:クラス 100 000(

附属書 参照)

ODC の中又はディスク上に結露が生じてはならない。ODC は,測定の前に,48 時間以上測定環境に慣

らしておかなければならない。光ディスクの表面は,ディスク製造者の条件によって清浄にしておくこと

を推奨する。

別に規定しない限り,全ての試験及び測定は,この測定環境条件で行わなければならない。

8.1.2 

使用環境 

使用環境は,ODC の近傍で測定し,次のとおりとする。測定環境を満足した ODC は,使用環境でデー

タの互換性を保証しなければならない。

温度

:5∼55  ℃

相対湿度

:3∼85 %

絶対湿度

:1∼30 g/m

3

大気圧

:60∼106 kPa

最大温度勾配

:10  ℃/h

最大相対湿度勾配

:10 %/h

空気清浄度

:オフィス環境(Q.1 参照)

最大磁界強度(光ビーム照射時)  :36 000 A/m(Q.2 参照)

最大磁界強度(光ビーム非照射時) :48 000 A/m

ODC の中又はディスク上に結露が生じてはならない。ODC は,使用環境条件を外れて保管した場合,

使用前に 2 時間以上使用環境に慣らしておかなければならない(

附属書 参照)。

8.1.3 

保存環境 

保護の覆いがない ODC は,保存環境を外れて保存してはならない。

保存環境は,ODC 近傍の雰囲気が次の条件を満たす環境とする。

温度

:−10∼55  ℃

相対湿度

:3∼90 %

絶対湿度

:1∼30 g/m

3

大気圧

:60∼106 kPa

最大温度勾配

:15  ℃/h

最大相対湿度勾配

:10 %/h

空気清浄度

:オフィス環境(Q.1 参照)

最大磁界強度

:48 000 A/m

ODC の中又はディスク上に結露が生じてはならない。

8.1.4 

輸送条件 

この規格では規定しないが,

附属書 に従うことを推奨する。


8

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

8.2 

温度衝撃 

ODC は,駆動装置に着脱するとき,20  ℃までの温度衝撃に耐えなければならない。

8.3 

安全性 

ODC  は,指示された方法で使用するとき,又は情報処理システムにおける予測可能な使用において,

ECMA-287

の安全性要件を満たさなければならない。

8.4 

耐燃性 

ODC 及びその部品は,ECMA-287 に規定するように,HB と同等以上の耐燃性の材料とする。

基準駆動装置 

基準駆動装置は,明確に定義された特性をもつ幾つかの重要部品からなる駆動装置であり,この規格で

規定する光ディスクの記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために用いる。この箇条では,全ての

部品の概要について記述する。

特定の箇条での測定に必要な部品については,

それぞれの箇条で規定する。

9.1 

光学系 

記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために用いる基準駆動装置の光学系の基本構成は,

図 

示すとおりとする。

図 の光学系と同じ動作をする限り,基準駆動装置に用いる部品及び部品の配置は問

わない。ディスクの入射面からの反射光は,測定の精度に影響を与えないように光学系の構成を配慮しな

ければならない。

ディスクによって偏光が変化しないとき,偏光ビームスプリッタ J は,フォトダイオード K

1

の信号とフ

ォトダイオード K

2

の信号とが等しくなるようにする。この場合の偏光方向をニュートラル偏光方向という。

位相補償器 N は,光学系を,ニュートラル偏光方向の偏光とそれに直角方向の偏光との間の位相の遅れを

2.5°以下に調整しなければならない。この位相補償器の位置は,中立位置という。位相補償器は,狭帯域

信号対雑音比の測定のために用いる(26.2 参照)

偏光ビームスプリッタ J  は,100 以上の P-S 強度反射率比をもたなければならない。

偏光ビームスプリッタ E の F から H へのニュートラル偏光方向の反射率 R

p

の公称値は 0.30 とする。ニ

ュートラル偏光方向及び直角方向の偏光の反射率 R

s

の公称値は 0.95 とする。R

s

の実際の値は,0.90 以上

とする。反射率が R'

p

及び R'

s

となる偏光ビームスプリッタ E をもつ駆動装置で光磁気信号の非対称性を測

定した場合,測定値は,次の係数を乗じて補正をしなければならない。

s

p

p

s

R'

R

R'

R

チャネル 1 の出力は,K

1

と K

2

とのフォトダイオードの電流値の和とし,エンボスマークの再生に用い

る。

チャネル 2 の出力は,K

1

と K

2

とのフォトダイオードの電流値の差とし,光磁気効果によるユーザ記録

マークの再生に用いる。


9

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

 A







H

レーザダイオード

コリメータレンズ 
光整形プリズム 
ビームスプリッタ

偏光ビームスプリッタ 
対物レンズ 
光ディスク 
1/2λ 波長板

I

1

I

2


K

1

, K

2

K

3

L

1

, L

2


N

2 分割フォトダイオード出力 
偏光ビームスプリッタ 
フォトダイオード 
2 分割フォトダイオード 
DC アンプ 
トラッキングチャネル(20.3 参照) 
位相補償器

図 1−基準駆動装置の光学系 

9.2 

光ビーム 

データの記録,再生及び消去に使用する光ビームは次の特性をもつ。

a)

波長(λ) 665±10 nm

b)

波長(λ)と対物レンズの開口数(NA)との比

λ/NA=1.209±0.018 μm

c)

対物レンズの開口(D)と 1/e

2

での光ビーム直径(W)との比 D/W=0.85±0.05

d)

波面収差(記録層にて)

0∼0.033λ rms

e)

偏光方向

直線  グルーブに対して平行

f)

消光比

≦0.01

消光比は,検光子を 180°以上回転させたとき,測定される光強度の最大値と最小値との比とする。

g) 

記録,再生及び消去のための光パワー,パルス幅及び磁界については,20.2.224.2.224.324.4 

び 28.2.2 で規定する。

9.3 

再生チャネル 

2 個の再生チャネルは,記録層のマークからの信号の再生に用いる。チャネル 1 は,マークの光ビーム

の回折現象による反射光強度の変化としてエンボスマークを再生する。チャネル 2 は,マークの光磁気効

果による光ビームのニュートラル偏光方向からのずれをフォトダイオード K

1

と K

2

との出力差としてユー

ザ記録マークを再生する。

チャネル 1 及びチャネル 2 の後の再生信号増幅器は,

DC から 40 MHz まで±1 dB

K

2

I

1

I

2

A

B

C

D

E

F

G

M

H

N

J

L

2

K

1

L

1

チャネル 2

チャネル 1

K

3


10

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

以内の平たん(坦)な応答性とする。ほかに指示がない限り,チャネル 1 及びチャネル 2 からの信号は,

検出前に波形等化せず,チャネルクロック周波数の 1/2 の遮断周波数をもつ三次バターワースローパスフ

ィルタ(3-pole Butterworth low-pass filter)を通す。

9.4 

トラッキング 

基準駆動装置のトラッキングチャネルは,光ビームの軸方向及び半径方向のトラッキングサーボをする

ためのトラッキングエラー信号を検出する。軸方向のトラッキングエラー信号,すなわちフォーカシング

エラー信号を作る方法は,規定しない。

半径方向のトラッキングエラー信号は,トラッキングチャネルの 2 分割検出器によって検出する。2 分

割検出器の分割線方向は,検出器上のトラック像と平行になるように配置する。

光ビームの焦点のトラック溝に対する追随の精度については,20.2.4 による。

9.5 

ディスクの回転 

駆動軸は,12.4 で規定するとおりの回転軸とする。ディスクの回転周波数は,50.0±0.5 Hz とする。回

転方向は,対物レンズから見て反時計回りとする。

第   機械的特性及び物理的特性 

10 

ケースの寸法特性及び物理的特性 

10.1 

ケースの概要(図 参照)

ケースは,四角形の硬い保護用コンテナである。A 面にスピンドル窓があり,駆動装置のスピンドルが

ハブによってディスクを固定できるようにする。ケースは両面にヘッド窓があり,一つは,駆動装置の光

ヘッド用,もう一つは,磁界を与える磁気ヘッド用である。その窓部は,シャッタで覆われ,ODC を駆動

装置に差し入れたときにシャッタが開き,取り出したときにシャッタが閉じて窓を覆う。ケースには,誤

挿入防止機構,記録禁止機構及び反射率検出機能があり,更に,オートチェンジャ用のグリッパスロット

がある。

10.2 

ケースの基準面 

ケースの基準は,三つの直交する基準面 X,Y 及び Z とする。基準面 Z は,ケース A 面上に設けた S

1

∼S

4

からなる平面とする。三つの基準面は,位置決め孔の中心で直交し,基準面 X は,ロケーション孔及

びアライメント孔の中心を結ぶ線を通る平面とする(

附属書 参照)。

10.3 

ケースの寸法 

ケースの寸法は,測定環境で測定する。使用環境でのケースの寸法は,この箇条で規定する寸法から見

積もることができる。

10.3.1 

外形寸法(図 参照) 

ケースの全長は,次による。

L

1

=94.0±0.3 mm

ケースの上端から基準面 X までの長さは,次による。

L

2

=76.0±0.2 mm

ケースの下端から基準面 X までの長さは,次による。

L

3

=18.0±0.2 mm

ケースの全幅は,次による。

L

4

=90.0

0

4

.

0

mm

ケースの左端から基準面 Y までの長さは,次による。


11

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

L

5

=85.0±0.3 mm

ケースの右端から基準面 Y までの長さは,次による。

L

6

=5.0±0.1 mm

上端の角部は,次の半径で丸める。

R

1

=1.5±0.2 mm

下端の二つの角部は,次の半径で丸める。

R

2

=2.0±0.2 mm

ケース A 面の右端から拡張ゾーンまでの長さは,次による。

L

7

≧8.6 mm

ケースの厚さは,次による。

L

8

=6.0±0.2 mm

ケースの 8 か所のりょう(稜)線は,次の半径で丸める。

R

3

=0.3

2

.

0
0

 mm

10.3.2 

ロケーション孔(図 参照) 

ロケーション孔の中心は,基準面 X,Y 及び Z の交点とし,その直径は,次による。

D

1

=3.6

0

06

.

0

mm

ロケーション孔の深さは,次による。

L

9

≧1.5 mm

ロケーション孔は,基準面 Z から次の深さまで直径 D

1

以上で広がっているものとし,B 面に貫通しては

ならない。

L

10

≧4.0 mm

ロケーション孔の角部は,次の半径で丸める。

R

4

≦0.5 mm

10.3.3 

アライメント孔(図 参照) 

アライメント孔の中心は,基準面 X 上にあり,基準面 Y からの距離は,次による。

L

11

=80.0±0.2 mm

アライメント孔の形状は,長方形とし,その寸法は,次による。

L

12

=3.60

0

06

.

0

mm

及び

L

13

=4.4

0.2

0

mm

深さは,ロケーション孔の深さの規定(L

9

L

10

)に準じ,ケース B 面に貫通してはならない。

アライメント孔の角部は,半径 R

4

で丸める。

10.3.4 

基準面(図 参照) 

ケースの A 面は,四つの基準面(S

1

面,S

2

面,S

3

面及び S

4

面)を含む平面とする。S

1

面及び S

2

面は,

ロケーション孔及びアライメント孔を中心とした円形とし,その直径は,次による。

D

2

≧7.0 mm

S

3

面及び S

4

面の寸法は,直径(D

3

)とし,S

3

面の中心は,基準面 X から距離(L

14

)及び基準面 Y から

距離(L

15

)に,S

4

面の中心は,基準面 X から距離(L

14

)及び基準面 Y からの距離(L

16

)に設け,その寸

法は,次による。

D

3

≧6.0 mm


12

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

L

14

=54.0±0.2 mm

L

15

=1.0±0.2 mm

L

16

=81.0±0.2 mm

ケースの表面又はシャッタ機構(10.3.8 参照)は,基準面 Z から次の突起(L

17

)があってはならない。

L

17

≦0.15 mm

10.3.5 

ディテント(図 参照)

ケースには,二つの対称的なディテントがある。

基準面 Z からの深さは,次による。

L

18

≧5.0 mm

形状は左右対称の半円とし,半径は次による。

R

5

=2.1±0.1 mm

基準面 X からの位置(L

19

,基準面 Y からの位置(L

20

L

21

)の寸法は,次による。

L

19

=65.5±0.2 mm

L

20

≦4.0 mm

L

21

≦84.0 mm

挿入スロット部の外側の角は,次の半径で丸める。

R

6

=0.5±0.2 mm

挿入スロット部は,ケース B 面に貫通してはならない。

10.3.6 

機能領域(図 参照) 

機能領域は,FA1 及び FA2 からなり,ケースの孔の開閉によって

表 に示す記録禁止情報,ディスク反

射率の高低情報及び再生専用機能情報を示す各機能を表す。

機能領域は,ケース A 面上に基準面 Y 及び Z の交点上に中心線をもつ,長さ(L

22

,幅(L

23

)の開口部

を設け,そのうち,各々の長さ(L

24

)を FA1 及び FA2 とする。その寸法は,次による。

L

22

≧8.2 mm

L

23

≧4.4 mm

L

24

≧3.6 mm

FA1 の中心位置は,基準面 X からの距離(L

25

)に平行に設け,その寸法は,次による。

L

25

=7.8±0.2 mm

FA1 は,ケース B 面まで貫通した孔とする。

FA2 の中心位置は,基準面 X からの距離(L

27

)に平行に設け,その寸法は,次による。

L

27

=12.8±0.2 mm

FA2 は,ケース A 面から基準面 Z に平行な深さ(L

26

)のケース B 面を貫通しない孔とし,その寸法は,

次による。

L

26

≧4.0 mm

FA1 及び FA2 の閉じたときの表面は,基準面 Z からの距離(L

28

)とし,その寸法は,次による。

L

28

≦0.3 mm


13

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

表 1−機能領域 FA1 及び FA2 の使用法 

FA1 FA2  記録

反射率 ODC の種類

不可

全面書換形

全面書換形

10.3.7 

ヘッド窓及びスピンドル窓(図 参照) 

ヘッド窓及びスピンドル窓は,ケース A 面では基準面 Y からの位置(L

29

)を中心に,幅(L

30

L

31

基準面 X からの位置(L

32

)と基準面 Y からの L

29

との交点から半径(R

7

)の位置に設け,その寸法は,次

による。

L

29

=40.0±0.2 mm

L

30

=11.0

0.2

0

mm

L

31

=11.0

0.2

0

mm

L

32

=27.0±0.05 mm

R

7

≧44.3 mm

ケースの上部は,基準面 Z からの幅(L

33

)の溝を設け,その寸法は,次による。

L

33

=2.0

0.2

0

mm

また,ケース B 面には,駆動装置の磁気ヘッドがディスクにアクセスするためにヘッド窓を設ける。そ

の窓は,基準面 Y から L

29

の位置にあり,中心から両側に L

30

及び L

31

の幅をもつ。基準面 X からの位置

L

34

から,L

32

と L

29

との交点を中心にした半径 R

7

の円弧まで拡張される。L

34

の寸法は,次による。

L

34

≦40.0 mm

L

34

の 2 隅の角部は,次の半径で丸められる。

R

8

≦2.0 mm

ヘッド窓のケース上部の幅(L

35

)は,次による。

L

35

=4.2

0

4

.

0

mm

10.3.8 

シャッタ(図 参照) 

ケースには,スプリング方式のシャッタがあり,閉じるときに,スピンドル窓及びヘッド窓を完全に覆

うように設計されており,シャッタが開いたとき 10.3.7 の規定の最小値が露出しなければならない。

−  ケース A 面 :窓の下部の半円∼上面及び L

30

L

31

−  ケース B 面 :L

34

∼ケースの上部及び L

30

L

31

−  ケース上部  :基準面 Z∼L

33

L

30

L

31

L

35

∼ケース B 面及び L

30

L

31

シャッタは,ケース及びシャッタ全体の厚さが L

8

を超えない範囲で,自由にスライドできなければなら

ない。

シャッタには,駆動装置のシャッタオープナがシャッタを押し開くことのできる角部を設ける。シャッ

タが閉じているとき,この角部は,基準面 Y からの次の距離に位置する。

L

36

=79.0

0

3

.

0

mm

角部は,10.3.7 で規定したスピンドル窓及びヘッド窓の最小値が十分に露出する距離で可動でき,その

寸法は,次による。

L

37

≧55.5 mm

角部は,10.4.5 の規定のシャッタを開くのに必要な力を超えない範囲で移動可能とする。その寸法は,

次による。


14

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

L

38

≦54.7 mm

10.3.9 

シャッタ開閉路及びシャッタセンサノッチ(図 参照) 

ケースには,駆動装置のシャッタオープナが動作できるように,開閉路を設ける。開閉路は,基準面 Y

からの距離(L

39

L

40

)及び基準面 X からの距離(L

41

)の間を

図 に示す形状とし,その寸法は,次によ

る。

L

39

=81.0±0.3 mm

L

40

=57.5

0.3

0

mm

L

41

=74.2±0.1 mm

基準面 Y からの距離(L

40

L

42

)に深さ(L

43

)のシャッタセンサノッチを設ける。シャッタセンサノッ

チの右上の角部は,半径(R

9

)で丸める。ケースの端までは,角度(A

1

)をもつ形状とする。その寸法は,

次による。

L

42

≦54.7 mm

L

43

=3.1±0.1 mm

R

9

=1.2±0.2 mm

A

1

=45±5°

10.3.8

で規定したシャッタエッジが距離(L

37

)まで移動したとき,シャッタセンサノッチの L

40

の位置

から L

37

の位置までの部分は,シャッタが完全に開いていることを駆動装置が検出できるように,露出し

なければならない。

10.3.10 

誤挿入防止機構(図 10 参照) 

ケースには,ODC の駆動装置への誤挿入を防止するために,

図 10 に示すノッチ,及びケース角部の形

状を設ける。ノッチは,基準面 Y からの距離(L

44

L

45

)に基準面 X からの距離(L

47

)のケース上部から

深さ(L

46

)とする。ノッチの角部は,半径(R

10

R

11

)で丸める。ケースの角部は,ケースの上部からの

距離(L

48

)の間を角度(A

2

)をもつ形状とする。その寸法は,次による。

L

44

=4.6±0.2 mm

L

45

=1.0±0.2 mm

L

46

=3.1±0.2 mm

L

47

=75.4±0.2 mm

L

48

=5.0±0.3 mm

A

2

=45±2°

R

10

≦0.3 mm

R

11

=0.5±0.3 mm

10.3.11 

グリッパスロット(図 11 参照) 

グリッパスロットは,ケースの底部からの位置(L

51

)に左右対称に設け,その寸法(L

49

L

50

)は,次

による。

L

49

=2.5

0.3

0

mm

L

50

=4.0

0.3

0

mm

L

51

=23.0

0

3

.

0

mm

グリッパスロットの角部は,半径(R

12

R

13

)で丸める。その寸法は,次による。

R

12

=0.4±0.2 mm

R

13

=0.5±0.2 mm


15

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

10.3.12 

ラベル領域(図 12 参照) 

ラベル領域は,ケース A 面,ケース底部及びケース B 面に設け,ケース A 面に対する位置及び寸法(L

52

L

53

L

55

,ケース底部に対する位置及び寸法(L

52

L

53

L

56

)並びにケース B 面に対する位置及び寸法(L

52

L

53

L

54

)は,次による。

L

52

=4.0±0.3 mm

L

53

=76.0±0.3 mm

L

54

=30.0±0.2 mm

L

55

=1.2±0.2 mm

L

56

≧0.2 mm

ラベル領域の角部は,半径(R

14

)で丸め,その寸法は,次による。

R

14

≦2.0 mm

10.4 

機械的特性 

ここで規定する機械的特性は,使用環境条件下で全ての要件を満足しなければならない。

10.4.1 

材料 

ケースは,この規定の要件を満足する適切な材料で構成する。

10.4.2 

質量 

光ディスクを除いたケースの質量は,50 g  を超えてはならない。

10.4.3 

エッジのひずみ(歪) 

ODC は,附属書 で規定するエッジのひずみ(歪)量確認を満足しなければならない。

10.4.4 

可とう(撓)性 

ODC は,附属書 で規定する可とう(撓)性確認を満足しなければならない。

この要件は,駆動装置内において適切な面でカートリッジを拘束できることを保証する。

10.4.5 

シャッタ開閉力 

シャッタを開くのに必要なシャッタのばねの力は,1.5 N を超えてはならない。シャッタ開閉力の強さは,

ケースの姿勢にかかわらず,自由にスライドするシャッタを閉じるのに十分でなければならない。


16

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 2−ケース 

A

 

スピンドル窓及び 
ヘッド窓(

図 参照)

シャッタセンサノッチ(

図 参照)

シャッタオープナのスロット(

図 参照)

ラベル領域(

図 12 参照)

挿入スロット部(

図 参照)

基準面 S

4

図 参照)

アライメント孔(

図 参照)

グリッパスロット(

図 11 参照)

位置決め孔

図 参照)

FA1 及び FA2(図 参照)

基準面 S

1

図 参照)

基準面 S

3

図 参照)

挿入スロット部(

図 参照)

誤挿入防止機構(

図 10 参照)

B

シャッタ(

図 参照)

基準面 S

2

図 4

参照)

ラベル領域(

図 12 参照)


17

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

L

7

L

7

L

13

A

A

L

11

L

5

R

2

L

4

L

6

R

1

-Y-

-X-

R

4

R

4

-Z-

R

3

-Z-

L

1

L

2

L

L

L

L

L

1

L

L

1

A-A断面

図 3−外形寸法(面側) 


18

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 4面上の基準面 

-Z-

L

17


19

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

R

5

R

5

R

6

R

6

L

19

L

21

L

20

L

18

L

1

9

L

20

-Y-

-Y-

-Z-

-X-

図 5−ディテント 


20

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 6−機能領域 FA1 及び FA2 並びにその断面図 

 

-Y-

L

25

L

23

L

26

L

28

L

28

L

24

L

2

4

L

22

L

27

B

-X-

-Z-

-Z-

B

B-B断面

書き込み禁止

B-B断面

書き込み可能

記録可能

記録禁止


21

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

-Y-

L

3

3

L

31

L

31

L

34

L

30

L

30

L

32

R

8

R

7

B

A

L

35

L

29

-Z-

-X-

-X-

-Y-

L

29

図 7−シャッタを外したケースの 面及び 面上のスピンドル窓並びにヘッド窓 


22

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

破線は,シャッタが閉じたときのシャッタエッジの位置を示す。

図 8−開状態のシャッタ(上図)及び最大の開状態(下図) 


23

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

L

39

L

40

L

42

L

43

L

41

R

9

A

1

-X-

-Y-

図 9−シャッタを除いたときの 面から見たシャッタオープナの開閉路 


24

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

L

47

L

46

R

10

R

11

L

44

L

45

L

48

A

2

L

47

-X-

-Y-

図 10−シャッタを除いたときの 面から見た誤挿入防止機構 


25

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

L

50

L

49

L

51

-Y-

-Z-

-X-

R

13

R

12

図 11−グリッパスロット 


26

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

-Y-

-Z-

L

56

L

53

L

52

L

56

-Y-

-X-

L

54

R

14

L

53

L

52

-X-

-Y-

L

55

L

56

L

53

L

52

R

14

図 12−ラベル領域 


27

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

11 

ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性 

11.1 

ディスクの概要 

ディスクは,円い基板で構成され,一方の面にはハブが,もう一方の面にはコーティングを施した記録

層がある。記録層は,保護層によって環境的影響から保護されている。基板のフォーマット領域は,基板

を通して記録層に光ビームを集光できるように透明とする。円形のハブは,記録層の反対側の中心に取り

付ける。ハブは,駆動軸と係合し,ディスクの半径方向の位置合わせ及びハブの吸着力を発生する。

11.2 

ディスクの基準軸及び基準面 

ハブの寸法は,ディスク基準面 P を基準とする。ディスク基準面 P は,理想的なスピンドルの完全に平

らで環状の取付面に平行かつ同一の平面と定義される。そして,ディスクの基板の境界面であり,スピン

ドルの回転軸に垂直である。

スピンドルの回転軸 A は,ハブの中心孔の中心を通り,ディスク基準面 P に垂直である。

11.3 

ディスクの寸法(図 13 参照) 

ディスクの寸法は,測定環境条件で測定する。使用環境条件におけるディスクの寸法は,ここで規定す

る寸法から割り出す。

ディスクの外周直径は,86.0

1

.

0

2

.

0

 mm とする。厚さは,面振れ(11.4.5 参照)を含めず,ハブのない状態

で 1.4 mm を超えてはならない。ハブが付いていないディスクの中心孔の直径(D

4

)は,6.0 mm 以上とす

る。

11.3.1 

ハブの寸法(図 13 参照) 

ハブの中心孔の直径は,次による。

D

5

=4.004

012

.

0
0

mm

ハブの外周直径は,次による。

D

6

=15.0

0

2

.

0

mm

ハブの高さは,次による。

h

1

=1.2

0

2

.

0

mm

ディスク面からの磁性面の位置は,次による。

h

2

=1.2

0

15

.

0

mm

基準面 P から中心孔上部までの高さは,次による。

h

3

≧0.8 mm

ハブの中心孔の高さは,次による。

h

4

≧0.15 mm

ハブの中心孔の内部の角には,45°で 0.2±0.1 mm  の面取り(C

1

)を付けるか,又は次の半径で丸める。

R

15

=0.2±0.1 mm

ハブの外部の角には,45°で 0.4±0.1 mm  の面取り(C

2

)を付けるか,又は次の半径で丸める。

R

16

=0.4±0.1 mm

ディスクをクランプするための磁性体の外周直径(D

9

)及び内周直径(D

10

)は,次による。

D

9

≧13.0 mm

D

10

≦6.0 mm

ハブの吸着力は,

附属書 によって測定したとき,3.0∼4.5 N とする。

11.3.2 

クランプゾーン(図 13 参照) 


28

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

クランプゾーンの外周直径(D

7

)及び内周直径(D

8

)は,次のとおりとする。

D

7

≧21.0 mm

D

8

≦16.0 mm

11.4 

機械的特性 

ここで規定する機械的特性は,使用環境条件下で満足しなければならない。

11.4.1 

材料 

ディスクの材料は,この規格の条件を満たす場合,材質を問わない。この規格で材料の特性を規定して

いるのは,ハブの磁気特性(

附属書 参照)及び情報ゾーンの基板の光学特性(11.5 参照)だけである。

11.4.2 

質量 

ディスクの質量は,24.0 g 以下とする。

11.4.3 

慣性モーメント 

軸 A に関連するディスクの慣性モーメントは,0.020 g・m

2

以下とする。

11.4.4 

アンバランス 

軸 A に関連するディスクのアンバランスは,0.006 g・m 以下とする。

11.4.5 

軸方向の振れ 

ディスクの軸方向の振れは,記録層の軸方向の変位で規定する。振れは,基板の厚さのばらつき,屈折

率のばらつき,

及び基準面 P からの入射面のずれによって生じる。

基準面 P に対する記録層の公称位置は,

基板の公称厚さによる。情報ゾーンでの基準面 P に垂直な方向の記録層の公称位置からのずれは,9.5 

規定する回転周波数で回転しているとき,±0.15 mm 以下とする。

7

8

D

6

9

D

10

D

5

h

3

h

1

h

2

D

4

h

4

-A-

-P-

C

又は

R

C

又は

R

16

15

図 13−ハブの寸法及びクランプゾーン 

φ

φ

φ

φ

φ

φ

φ


29

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

11.4.6 

軸方向の加速度 

附属書 に示すディスクの軸方向の最大許容エラー量(e

max

)は,9.5 で規定する回転周波数で回転して

いるとき,基準サーボでサーボがかかった状態で±0.5 μm 以下とする。このとき,モータの定常的な外乱

は,無視する。この測定は,次の伝達関数(H

s

)をもつサーボ系によるか,又は 50 Hz∼170 kHz の帯域で,

|1+H

s

|が示す値の±20 %以内の値をもつ|1+H|のサーボ系による。このとき,ディスクの面振れに

よる軸方向の加速度は,22 m/s

2

以下とする。

0

0

2

0

s

3

1

3

1

3

1

)

(

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

i

i

i

i

H

+

+

=

ここに,  ω=2πf 

π

2

0

ω

=1 830 Hz

i

1

11.4.7 

半径方向の振れ 

情報ゾーンでのトラックの半径方向の振れは,

基準駆動装置の光学ヘッドを用いて測定する。

このため,

回転軸と基準軸 A との差,基準軸 A に対するトラックの偏心,及び屈折率の変動によって生じる偏心の影

響も含む。

半径方向の振れは,トラックの 1 回転の間の中心からの最大距離と最小距離との差で,9.5 で規定する回

転周波数で回転しているとき,40 μm 以下とする。

11.4.8 

半径方向の加速度 

附属書 に示すディスクの半径方向のトラッキングエラーの最大許容量(e

max

)は,9.5 で規定する回転

周波数で回転しているとき,基準サーボでサーボがかかった状態で±0.04  μm 以下とする。このとき,モ

ータの定常的な外乱は,無視する。測定は,次の伝達関数(H

s

)のサーボ系によるか,又は 50 Hz∼170 kHz

の帯域で,|1+H

s

|が示す値の 20 %以内の|1+H|をもつサーボ系による。このとき,ディスクの半径

方向の加速度は,6.1 m/s

2

以下とする。

0

0

2

0

s

3

1

3

1

3

1

)

(

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

i

i

i

i

H

+

+

=

ここに,  ω=2πf 

π

2

0

ω

=3 400 Hz

i

1

11.4.9 

チルト 

ディスクのチルトは,入射面上の 1 mm 径の面積で平均した入射面の垂線と基準面 P の垂線との角度と

し,情報ゾーンで次のとおりとする。

半径方向のチルト

≦4.8 mrad

接線方向のチルト

≦1.5 mrad

1 回転中の合成チルトの変動  ≦3.0 mrad

p-p


30

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

11.5 

光学特性 

11.5.1 

屈折率 

情報ゾーンでの基板の屈折率は,1.46∼1.60 の範囲内になければならない。

11.5.2 

基板の厚さ 

基板の厚さ(t)の公称値は,情報ゾーンで入射面から記録層までの基板の厚さとし,次による。

05

.

0

9

592

.

0

0

265

.

0

1

3

509

.

0

2

2

2

3

±

×

n

n

n

n

mm

ここに,

n: 屈折率

11.5.3 

複屈折 

基板の複屈折の効果は,25.2 に示す基準駆動装置のチャネル 2 の信号の非対称性に影響する。

11.5.4 

垂直複屈折 

垂直複屈折の値は,次の範囲内とする。

N

p

N

z

|≦500×10

6

ここに,

N

p

ディスク面の任意の方向での屈折率

N

z

ディスク面に垂直な方向での屈折率(

附属書 参照)

11.5.5 

反射率 

11.5.5.1 

概要 

反射率 は,基板を通して測定する,ディスクのデータゾーンのうち未記録のグルーブ領域のランド上

の反射率の値であり,入射面の反射率は含まない。

反射率の公称値 は,制御トラックのバイト 3 及びバイト 19 において,製造者が規定する(

附属書 E

参照)

11.5.5.2 

測定値 

反射率の測定値 R

m

は,分割フォトディテクタ(I

1

I

2

)

OL

を用いて,9.2 a)9.2 f)の条件下及び 20.2.2 の条

件下で測定する。

測定は,エンボスデータフィールドのないトラックのデータゾーンで行う。

11.5.5.3 

要件 

9.2

で規定する標準波長での の値は,0.15∼0.30 の範囲内とする(

附属書 参照)。

データゾーンのどの点においても,測定反射率 R

m

は,R(1±0.13)に等しく,かつ,上記の の許容範

囲内になければならない。

この要件は,の値が同じ全てのディスクについて,R

m

の許容範囲を規定する。さらに,R

m

の偏差は,

次の要件を満たさなければならない。

13

.

0

min

m

max

m

min

m

max

m

R

R

R

R

+

ここに,

R

m max

データゾーンの測定反射率の最大値

R

m min

データゾーンの測定反射率の最小値

12 ODC

と駆動装置とのインタフェース 

12.1 

クランプ方法 

ODC を駆動装置に挿入すると,ケースのシャッタが開き,モータ駆動軸がディスク中心孔に入る。ディ

スクは,ハブの磁性体(

附属書 参照)及び駆動軸に装着されている磁石によって生じる吸着力で駆動軸


31

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

に保持される。ディスクの半径方向の位置決めは,ハブの中心軸合わせ機能による。ディスクの軸方向の

位置決めは,駆動軸のターンテーブルによってディスクのクランプゾーンを支えることによる。

12.2 

クランプ力

駆動軸とハブとの吸着力は,5 N 以下とする。

12.3 

キャプチャシリンダ(図 14 参照)

キャプチャシリンダは,10.4.4 の可とう(撓)性をもつ ODC を駆動装置に挿入し,駆動軸にディスクを

クランプしようとする場合,ハブの中心があると期待される空間である。ハブの中心は,軸 A 上の P 面か

ら距離 h

1

の位置とする(11.3.1 及び

図 13 参照)。

キャプチャシリンダの寸法は,ケースの内部空間でのディスクの許容遊び量を規定する。キャプチャシ

リンダは,駆動装置の正確な寸法のアライメントピン及び位置決めピンの,正確な位置を基準として定義

するが,ケースのサイズ,これらのピンの間のディスクのサイズ,及びハブの中心には,許容誤差を含ん

でいる。

シリンダの底部は,基準面 Z から次の距離で,基準面 Z に平行に配置される。

L

57

≧0.7 mm

シリンダの上部は,基準面 Z から次の距離で配置される。

L

58

≦2.3 mm

シリンダの半径は,次による。

R

17

≦1.4 mm

中心は,L

29

及び L

32

の公称値で定義する。

12.4 

使用環境条件におけるディスクの位置(図 14 参照) 

ディスクが使用状態にあるとき,ディスクの基準面 P の位置は,ケースの基準面 Z から次の位置になけ

ればならない。

L

59

=2.4±0.1 mm

さらに,回転軸が,L

29

及び L

32

の公称値を中心とする次の半径の円内にあるとき,使用状態で 9.5 に規

定する回転周波数を保つために,ディスクにかかるトルクは,0.01 N・m 以下でなければならない。

R

18

≦0.1 mm


32

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

C

L

58

L

57

L

5

9

L

5

9

L

57

L

58

-Z-

-P-

L

29

L

32

R

17

R

18

-X-

-Y-

-Z-

C部詳細図

図 14−キャプチャシリンダ及び使用環境条件下でのディスクの位置 


33

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

第   フォーマット 

13 

トラックの寸法 

13.1 

トラックの形状 

情報ゾーンは,連続トラッキングサーボ方式のためのトラックからなる。

フィジカルトラックは,隣接するランド・グルーブの組合せで構成する。グルーブは溝状であり,その

底部の位置は,ランドよりも入射面に近い。各ランド・グルーブの組合せにおいて,二つの記録トラック

が存在し,一つはランドの中心線上(ランドトラック)に,もう一つはグルーブの中心線上(グルーブト

ラック)にそれぞれ位置する。ヘッダ領域のマークは,グルーブのない領域に形成する。フィジカルトラ

ックはランド及びグルーブとも,連続的なスパイラルの 360 度分とする。

グルーブの形状は,箇条 21 の規定を満足するように定める。 

図 15a−データゾーンのトラック及びヘッダの配置 

図 15b−コントロールゾーンのトラック及びヘッダの配置 

図 15−ランドとグルーブとの配置 

 

記録領域

記録領域

記録領域

セクタ

マーク 1

グルーブ 
ID

セクタ

マーク 1

グルーブ 
ID

セクタ

マーク 1

グルーブ 
ID

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

記録領域

記録領域

記録領域

ランド

ランド

ランド

セクタ

マーク 1

グルーブ 
ID

セクタ

マーク 2

ランド 
ID

セクタ

マーク 1

グルーブ 
ID

グルーブ

グルーブ

グルーブ

ランド

ランド

ランド

グルーブ

グルーブ

グルーブ

ランド

ランド

ランド

グルーブ

グルーブ

グルーブ

ランド

ランド

ランド

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ


34

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 15c−ゾーン境界のトラック配置の詳細 

図 15−ランドとグルーブとの配置(続き) 

13.2 

トラックスパイラルの方向 

ディスクの回転方向は,光ヘッド側から見て反時計方向とする。トラックは,外周から内周へと内に向

かってら(螺)旋を描く。

13.3 

トラックピッチ 

トラックピッチは,隣接するトラックの中心線間の距離として半径方向で測定し,0.67±0.05 μm とする。

10 000 フィジカルトラックの幅は,6.70±0.10 mm とする。 

14 

トラックフォーマット 

エンボスチャネルビット長は,MO チャネルビット長の 3 倍とする。

14.1 

ロジカルトラック番号 

各ロジカルトラックは,ロジカルトラック番号で識別する。トラック番号 0 は,データゾーンの最初の

ロジカルトラックとし,半径 41.80±0.10 mm に位置する。隣接するランドトラック及びグルーブトラック

は,同じロジカルトラック番号をもつ。

トラック番号 0 よりも内周側のロジカルトラックのトラック番号は,各トラックにつき,1 ずつ増加す

る。

トラック番号 0 よりも外周側のロジカルトラックのトラック番号は,負の数とし,各トラックにつき,1

ずつ減少する。負のトラック番号は,2 の補数で与え,トラック−1 は,

(FFFF)とする。

14.2 

ロジカルトラックレイアウト 

各ロジカルトラック上には,セクタ数が 17 存在する。

制御ゾーンのセクタは 922 バイトからなり,他の全てのセクタは 2 628 バイトからなる。1 バイトはディ

セクタ

マーク 1

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

内周

外周

ゾーン

境界

ゾーン A

ゾーン B

ランド ID

セクタ

マーク 2

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

記録領域

グルーブ ID

記録領域

ランド ID

セクタ

マーク 2

記録領域

グルーブ

グルーブ

グルーブ

ランド

ランド

ランド

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

ランド

ランド

グルーブ

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

ランド

グルーブ

グルーブ

グルーブ

ランド

ランド

ランド

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

グルーブ

ランド

ランド

グルーブ

グルーブ

ランド

ランド


35

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

スク上で 12 チャネルビットで表される。

セクタは,セクタの最初のチャネルビットと次のセクタの最初のチャネルビットとの距離が,制御ゾー

ンでは,11 064 チャネルビット±5 チャネルビットに,その他のゾーンでは,31 536 チャネルビット±5

チャネルビットとなるように,トラック全体に等しく配置する。

14.3 

クロック周波数及び周期 

回転周波数 50 Hz の場合の,各データ帯域に対する公称クロック周波数及び周期を,

表 に示す。

ヘッダのクロック周波数は,ギャップ及び制御ゾーンを除く記録フィールドの 1/3 となる。絶対周波数

及び周期は,次の公式によって,1 フィジカルトラックのチャネルビット数が正確になるように,調整す

る。

(50−2×データバンド番号)×12×2 628

ここに,12 はバイト当たりのチャネルビット数であり,2 628 はセクタ当たりのバイト数である。

表 2−クロック周波数及び周期 

フォーマット

ヘッダ

ギャップ及び記録フィールド

ゾーン及びバンド

クロック周波数

MHz

周期 T

ns

クロック周波数

MHz

周期 T

ns

リードインゾーン

バッファゾーン 27.66  36.15  82.98  12.05

試験ゾーン 27.66

36.15

82.98

12.05

バンド  0

27.66

36.15

82.98

12.05

バンド  1

26.55

37,76

79.66

12.55

バンド  2

25.45

39.30

76.34

13.10

バンド  3

24.34

41.08

73.02

13.69

バンド  4

23.23

43.04

69.70

14.35

バンド  5

22.13

45.19

66.34

15.06

データゾーン

バンド  6

21.02

47.57

63.03

15.86

バンド  7

19.92

50.21

59.75

16.74

バンド  8

18.81

53.17

56.06

17.72

バンド  9

17.70

56.49

53.11

18.83

バンド 10

16.60

60.26

49.79

20.09

バンド 11

15.49

64.56

46.47

21.52

制御ゾーン

15.49

64.56

46.47

51.55

リードアウトゾーン

試験ゾーン 15.49

64.56

15.49

64.56

バッファゾーン 15.49  64.56  46.47  21.52

14.4 

半径方向のアライメント 

セクタのヘッダは,各データバンド,リードインゾーン又はリードアウトゾーン内で,隣接するトラッ

クのセクタの最初のチャネルビット間の角距離が,±5 チャネルビットより少なくなるように,半径方向

にそろえる。

14.5 

セクタ番号 

ロジカルトラックのセクタには,0 から 16 まで連続した番号を付ける。 


36

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

15 

セクタフォーマット 

15.1 

セクタのレイアウト 

セクタは,ヘッダ,ギャップ及び 2 048 ユーザデータバイトを記録できる記録フィールドで構成する。

ヘッダは,エンボスデータとする。記録フィールドは,空白,ユーザ記録データ,又はエンボスデータで

あってもよい。セクタ長は,制御ゾーンで 922 バイト,その他のゾーンで 2 628 バイトとする。14.2 で規

定する許容差は,バッファ,すなわちセクタの最終フィールドに充てられる。ヘッダフィールド長は,69

バイトとし,ギャップ長は,制御ゾーンの場合は 8 バイト,その他のゾーンの場合は 20 バイトとする。

セクタのレイアウトを

図 16 に示す。数値はバイトで表した各部のフィールド長である。

SM1 VFO

1

 AM  ID

1

 VFO

2

 AM  ID

2

 PA

8 31

1 5 16 1 5 2

パターン G1(69 バイト)

SM2

スペース

8 61

パターン G2(69 バイト)

a) 

グルーブトラックのプリフォーマットヘッダパターン 

SM2 VFO

1

 AM  ID

1

 VFO

2

 AM  ID

2

 PA

8 31

1 5 16 1 5 2

パターン L1(69 バイト)

SM1

スペース

8 61

パターン L2(69 バイト)

b) 

ランドトラックのプリフォーマットヘッダパターン 

 
 

エンボスヘッダ  ギャップ VFO

3

 Sync データフィールド

PA VLP

バッファ

69 8

27

4  658  1

125

30

c) 

制御ゾーンのセクタフォーマット(922 バイト) 

 
 

エンボスヘッダ

ギャップ VFO

3

 Sync データフィールド PA バッファ

69 20

47

4

2

458

2

28

d) 

データゾーン及びリードイン/リードアウトゾーンのセクタフォーマット(2 628 バイト) 

図 16−セクタフォーマット 

15.2 

セクタマーク(SM 

セクタマークは,96 チャネルビット長とし,データゾーンでは発生しないパターンのエンボスデータと,

VFO

1

フィールドへのリードインとからなる。

セクタマークは,

図 17 で示すように 2 種類とする。SM1 は,6T マークから始まり,SM2 は,6T スペ

ースから始まる。T はヘッダ部の 1 チャネルビットの時間に相当する。マークからの反射レベルは,スペ

ースからの反射レベルよりも小さい。グルーブトラック及びランドトラックに対するヘッダパターンを

16 a)

及び

図 16 b)に示す。

記録フィールド

記録フィールド


37

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

制御ゾーンは,

図 16 c)に示すデータをグルーブトラックだけに記録し,グルーブトラックのヘッダパタ

ーンは

図 16 a)のパターン G1 とし,ランドトラックのヘッダパターンは図 16 b)のパターン L2 とする。

SM1 パターン

SM2 パターン

6T  12T  6T 12T 6T

12T

12T  6T

12T  6T

0001 01

 
 
 

6T  12T  6T 12T 6T

12T

12T  6T

12T  6T

000001

図 17−セクタマークのパターン 

15.3 VFO

フィールド 

VFO をチャネルビット同期のために設け,VFO

1

,VFO

2

及び VFO

3

図 18 参照)の三つのフィールドが

存在する。

VFO フィールドの連続チャネルビットパターンは,次による。 
 

VFO

1

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

…372

チャネルビット

VFO

2

0

1

0

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

…192

チャネルビット

VFO

3

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

0

1

…56

チャネルビット

図 18種類の VFO パターン 

スペース

マーク

マーク

スペース

長マークパターン

セクタマーク

リード

イン

スペース

マーク

スペース

マーク

スペース

マーク


38

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

VFO

2

フィールドの開始ビットは,

データビット 10 からの符号化に相当するチャネルビット 010 とする。

?で示す VFO

2

フィールドの第 4 チャネルビットは,それ以降のマークスペースパターンが

図 18 に示す

パターンと同じになるように,

“1”又は“0”のいずれかにする。VFO の最後をマーク後縁とすることに

よって,アドレスマークの最初のマーク前縁との間を 9T スペースにすることができる。

VFO

3

フィールドの開始点は,

この規格で規定する理想的な位置から 6 チャネルビット以内でなければな

らない。この許容差は,光駆動装置の回転変動の時間的な誤差を考慮したものであり,VFO

3

フィールドに

先行するギャップ,及びセクタの終わりにあるバッファフィールドによって補正されることになる。

15.4 

アドレスマーク(AM 

アドレスマーク(AM)は,RLL(1,7)符号では使用しないチャネルビットパターンで構成し,RLL(1,7)

符号に対するランレングス違反である。AM は,駆動装置に次の ID フィールドのバイト同期をとるための

ものであり,次の 12 ビットのチャネルビットパターンとする。

0000 0000 10x0

x の値は,次のように決定する。

−  後続する ID フィールドの最初のチャネルビットが 00 の場合,x  =“1”とする。

−  後続する ID フィールドの最初のチャネルビットが 00 でない場合,x  =“0”とする。

先行する VFO フィールドの最後のチャネルビットが“1”であり,AM の“1”との間に 8 個の“0”が

現れるため,AM として検出することができる。

15.5 ID

フィールド 

二つの ID フィールドは,セクタのアドレス情報でできており,トラック番号,セクタ番号及び CRC バ

イトからなる。

ID フィールドは,次の 5 バイトで構成する。

第 1 バイト    ロジカルトラック番号の最上位バイト

第 2 バイト    ロジカルトラック番号の最下位バイト

第 3 バイト

ビット 7

“0”は,ID

1

フィールド

“1”は,ID

2

フィールド

ビット 6∼5

グルーブトラックとランドトラックとの識別

“00”は,グルーブトラック

“10”は,ランドトラック

ビット 4∼0 2 進法表記のセクタ番号

第 4 バイト及び第 5 バイト

最初の 3 バイトから計算した 16 ビット CRC データ(

附属書 参照)

ID フィールドの最初の 2 データビットは,AM の最後の 1 チャネルビットを先行チャネルビットとして,

表 を用いて符号化する。

ID フィールドの最初の 3 チャネルビットは,AM の最後の 2 チャネルビットを先行チャネルビットとし

て,

表 を用いて復号化する。

15.6 

ポストアンブル(PA 

ポストアンブル(PA)フィールドは,ID

2

フィールド及びデータフィールドの後に位置し,

図 19 に示す

12 チャネルビット長とする。


39

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

PA

0

1

0

?

0

1

0

1

0

1

0

1

図 19−ポストアンブルのパターン 

PA の開始ビットは,入力データビット 10 からの符号化に相当するチャネルビット 010 とする。

?で示す第 4 チャネルビットは,PA がマーク後縁で終了するように決める。

データビットからチャネルビットへの RLL(1,7)変換表(箇条 16 参照)を使用すると,ID

2

フィールド

の CRC 及びデータフィールドの ECC の後に 2 データビットがないと最後の 3 チャネルビットを確定する

ことができない。

PA によって,ID

2

フィールドの CRC 及びデータフィールドの ECC の最後の 3 チャネルビットを確定し,

ヘッダフィールド及び記録フィールドを常にスペース状態で終了させることができ,次のフィールドとの

連続性を維持することができる。

15.7 

ギャップ 

各セクタには,240 チャネルビット長のギャップが存在する。ギャップフィールドの内容は,規定され

ず,互換性では無視する。コントロールゾーンのエンボスセクタの場合,ギャップは,連続する 2T エン

ボスパターンとする。ギャップは,記録フィールドの最初のフィールドであり,駆動装置がヘッダの読取

りを終了した後に行う処理,及び VFO

3

フィールドの消去,記録又は再生前に行う処理のための時間を,

駆動装置に与える。

15.8 

同期バイト(Sync 

同期バイトは,駆動装置が,後続するデータフィールドのバイトの同期をとることを目的とし,次に示

す 48 チャネルビット長とする。

0100 0010 0100 0010 0010 0010 0100 0100 1000 0010 0100 10x0

チャネルビット x の値は,次のように規定する。

−  後続するデータフィールドの最初のデータビットが 00 の場合,x を“1”に設定する。

−  後続するデータフィールドの最初のデータビットが 00 以外の場合,x を“0”に設定する。

15.9 

データフィールド 

データフィールドは,ユーザデータの記録のために用い,次のいずれかで構成する。

− 2

458 バイトの構成

 2

048 バイト:ユーザバイト

 402 バイト:CRC,ECC,及び再同期バイト

8 バイト:(FF)

コントロールゾーンは,658 バイトとし,次のいずれかで構成する。

 512 バイト:ユーザバイト

 142 バイト:CRC,ECC 及び再同期バイト 

4 バイト:(FF)

データフィールドにおけるこれらのバイトの配置は,

附属書 で規定する。

表 を用いてデータフィールドを符号化するとき,最初の 2 データビットの符号化には,同期バイト

(Sync)の最後のチャネルビットを使用する。

マーク

スペース


40

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

表 を用いてデータフィールドを復号化するとき,最初の 3 チャネルビットの復号化には,同期バイト

(Sync)の最後の 2 チャネルビットを使用する。

15.9.1 

ユーザデータバイト 

ユーザデータバイトは,ユーザ情報の記録に用いる。

15.9.2 CRC

及び ECC バイト 

巡回冗長検査(CRC)バイト及び誤り訂正符号(ECC)バイトは,間違ったデータを修正するために,

誤り検出及び訂正システムが使用する。ECC は,十六次のリードソロモン符号とする。バイトは,

附属書

D

に規定する。

15.9.3 

再同期バイト(Resync 

再同期バイト

(Resync)によって,駆動装置は,データフィールドに大きな欠陥が生じた場合でも,バ

イト同期を回復することができる。

附属書 は,再同期バイトとして使用する可能性のある二つのビットパターンを示すと同時に,どちら

を選択するかの基準を示す。

再同期バイトは,

附属書 で規定のとおり,データフィールドのバイト間に挿入する。

15.10 VCO

ロックパターンフィールド(VLP 

VCO ロックパターン(VLP)はコントロールゾーンにだけ存在し,1 500 チャネルビットとする。VLP

は,

図 20 に示すとおり連続する 3T パターンとし,PLL 同期に用いられる。 

 0 0 1

0  0 0 0

0

1

0

0

0  0

0

1 0

…1

500

チャネルビット

図 20VLP のチャネルビットパターン 

15.11 

バッファ 

バッファは,コントロールゾーンでは 360 チャネルビット長,その他のゾーンでは 336 チャネルビット

長とする。このバッファは,データを含まず,駆動装置のモータ回転数誤差,及び,他の電気的及び機械

的誤差を許容するために必要となる。

このフィールドを必要とする理由は,次の四つである。

a)

14.2

で規定するヘッダからヘッダまでの距離の変動幅。

b)  15.3

で規定する VFO

3

フィールドの開始位置の誤差。

c)

記録データの実際の長さの誤差。トラックの偏心及びデータ記録中のディスクの回転変動によって生

じる。

d)

記録のときに,事前に記録された全てのデータを上記の許容差の範囲内で確実に消去するために必要

となる長さ。

16 

記録符号 

二つの ID フィールド及びデータフィールドは,

表 及び附属書 に従って,ディスク上のチャネルビ

ットに符号化される。これらのフィールドのチャネルビットは,

表 及び附属書 に従ってデータビット

に復号化される。セクタの他の全てのフィールドのチャネルビットは,箇条 15 によって定義済みである。

スペース

マーク


41

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

記録パルスは,マークとスペースとの間のエッジ又はスペースとマークとの間のエッジが,チャネルビッ

ト“1”に対応するようにマークを形成する。

ディスクのフォーマット領域のデータを記録するために使用する記録符号は,

表 及び表 で定義する

RLL(1,7)のランレングス符号とする。

表 3−データビットのチャネルビットへの符号化 

先行チャネルビット

データビット

後続データビット

符号化チャネルビット

RLL(1,7)

“0”又は“1” 00  00

又は 01

001

“0” 00

10

又は 11

000

“1” 00

10 又は 11

010

“0” 01

00 又は 01

001

“0” 01

10 又は 11

000

“1” 01 00

010

“1” 01

01,10 又は 11

000

“0” 10

00 又は 01

101

“0” 10

10 又は 11

010

“0” 11 00

010

“0” 11

01,10 又は 11

100

符号化は,該当するフィールドの第一バイトの第一ビットから開始する。再同期バイトの後では再同期

バイトの最後のチャネルビットを使って符号化を開始する。

表 4−チャネルビットのデータビットへの復号化 

先行チャネルビット

チャネルビット

後続チャネルビット

復号化データビット

10 000

00,01 又は 10 00

00 又は 01 000

00,01 又は 10 01

00 001

00 又は 01 01

01 又は 10 001

00 又は 01 00

00 又は 10 010  00

11

00 又は 10 010

01 又は 10 10

01 010

00  01

01 010

01 又は 10 00

00 又は 10 100

00,01 又は 10 11

00 又は 10 101

00 又は 01 10

17 

情報ゾーンのフォーマット 

17.1 

情報ゾーンの概要 

情報ゾーンは,データ交換に関連するディスク上の全ての情報を含む。情報は,エンボストラッキング

条件,エンボスヘッダ,エンボスデータ及びユーザ記録データを含む。この箇条では,

“データ”という用

語は,一般にホストに転送されるセクタのデータフィールドの内容に使用する。

箇条 17 は,情報ゾーンのレイアウトを定義する。情報ゾーンから得られる信号の特性は,

第 章で規定

する。


42

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

17.2 

情報ゾーンの分割 

情報ゾーンは,リードインゾーン,データゾーン,制御トラックゾーン及びリードアウトゾーンの四つ

に分割される。データゾーンは,ユーザデータの記録に用いる。リードインゾーン及びリードアウトゾー

ンは,製造者の試験及び駆動装置の試験に用いる。制御トラックゾーンも駆動装置の制御情報を含む。

情報ゾーンの分割は,

表 5a 及び表 5b による。データゾーンの外周半径の許容差は,14.1 で規定する。

他の半径の許容差は,13.3 で規定するとおり,トラックピッチ上の許容差で規定する。

17.2.1 

バッファゾーン 

このゾーンは,駆動装置がフォーカスサーボ引込みに用い,鏡面領域,箇条 21 で規定の完全グルーブ領

域,エンボスヘッダをもつグルーブ領域,又は上記の組合せをもつトラックのいずれかとする。

17.2.2 

試験ゾーン 

内周試験ゾーン及び外周試験ゾーンがあり,グルーブ及びランドトラック,エンボスヘッダ,ギャップ

及び記録フィールドをもつ領域である。

駆動装置の試験ゾーンは,試験によって,駆動装置がその記録パワーを設定できることを目的としてい

る。試験に使用するトラックは,駆動装置の試験ゾーンから無作為に選択し,使用による試験ゾーン全体

の劣化が少しずつ進むようにするのが望ましい。そのため,このゾーンの各トラックは,ディスクのデー

タゾーンのトラックの特性をそのまま表すこととなる。

製造者用の試験ゾーンは,ODC 製造者による品質検査を目的としたものである。駆動装置の試験ゾーン

は,

試験によって試験ゾーンに重大な劣化をもたらす可能性があるため,

このような試験には使用しない。

17.2.3 

制御ゾーン 

制御ゾーンは,箇条 15 で規定されたフォーマットをもつ,168 ロジカルトラックのエンボスセクタグル

ーブからなる。

制御ゾーンの全セクタのデータフィールドは同一であり,

附属書 に規定の駆動装置のためのエンボス

制御データからなる。


43

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

表 5a−グルーブの情報ゾーンのレイアウト 

ゾーン及びバンド

半径位置(mm)

開始        終了

ロジカル

トラック数

トラック番号 
開始        終了

フィジカル 
トラック数

リードインゾーン

バッファゾーン 42.506

1

456 −1 500

外周試験ゾーン

527

製造者用 41.843

32

−94

駆動装置用 41.828

32 −62

バッファゾーン 41.814

30  −30

データゾーン

バンド 0

41.80

3 550

    0

1 207

バンド  1

40.18

3 408

3 550

1 207

バンド  2

38.57

3 266

6 958

1 207

バンド  3

36.95

3 124

10 224

1 207

バンド  4

35.33

2 982

13 348

1 207

バンド  5

33.71

2 840

16 330

1 207

バンド  6

32.10

2 698

19 170

1 207

バンド  7

30.48

2 556

21 868

1 207

バンド  8

28.86

2 414

24 424

1 207

バンド  9

27.24

2 272

26 838

1 207

バンド  10

25.63

2 130

29 110

1 207

バンド 11

24.01

1 232

31 240

748

制御トラックゾーン

102

制御ゾーン 23.007

168

32

472

リードアウトゾーン

バッファゾーン 22.870

17 32

640

内周試験ゾーン

340

駆動装置用 22.856

32

32

657

製造者用 22.830

32

32

689

バッファゾーン

22.804    22.414

479

32 721    33 199


44

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

表 5b−ランドの情報ゾーンのレイアウト 

ゾーン及びバンド

半径位置(mm)

開始        終了

ロジカル

トラック数

トラック番号 
開始        終了

フィジカル 
トラック数

リードインゾーン

バッファゾーン 42.506

1

456

−1 500

外周試験ゾーン

527

製造者用 41.843

32

−94

駆動装置用 41.828

32 −62

バッファゾーン 41.814

30  −30

データゾーン

バンド  0

41.80

3 550

0

1 207

バンド  1

40.18

3 408

3 550

1 207

バンド  2

38.57

3 266

6 958

1 207

バンド  3

36.95

3 124

10 224

1 207

バンド  4

35.33

2 982

13 348

1 207

バンド  5

33.71

2 840

16 330

1 207

バンド  6

32.10

2 698

19 170

1 207

バンド  7

30.48

2 556

21 868

1 207

バンド  8

28.86

2 414

24 424

1 207

バンド  9

27.24

2 272

26 838

1 207

バンド  10

25.63

2 130

29 110

1 207

バンド 11

24.01

1 232

31 240

748

制御トラックゾーン

102

予備ゾーン 23.007

168

32

472

リードアウトゾーン

バッファゾーン 22.870

17 32

640

内周試験ゾーン

340

駆動装置用 22.856

32

32

657

製造者用 22.830

32

32

689

バッファゾーン

22.804    2.414

479

32 721  33 199

注記 1  表 5a 及び表 5b のゾーン又はバンドの半径は,ゾーン又はバンドの最初の又は最後のトラック中心の半

径の公称値とする。

注記 2  表 5b の予備ゾーンは,グルーブトラックの制御ゾーンと対になる部分であり,仮想的にアドレスを定義

する。

17.2.4 

データゾーン 

データゾーンは,グルーブ及びエンボスヘッダからなる。データゾーンの記録フィールドは,箇条 15

に記載のフォーマットでユーザによる記録に使われる。

データゾーンのレイアウトは,

箇条 18 で規定する。

データゾーンは,12 のバンドに分割される。バンド 0 からバンド 10 は 1 207 フィジカルトラックから,

バンド 11 は 748 フィジカルトラックで構成され,さらに,

表 5a 及び表 5b で示すとおり,ロジカルトラ

ックに分割される。バンドごとのロジカルトラック数は,外周のバンドから内周のバンドへと必然的に減

少する。バンド内では角記録密度は一定である。バンドの各フィジカルトラックは,同じ半径線上で開始

し,終了する。

データゾーンの構成は次のようになっている。

17 セクタ=1 ロジカルトラック


45

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

50(外周=バンド 0)∼28(内周=バンド 11)ロジカルトラック=17 フィジカルトラック

1 207 フィジカルトラック=1 バンド(バンド 0∼バンド 10) 
748 フィジカルトラック=1 バンド(バンド 11)

12 バンド=データゾーン

データゾーンは,ロジカルトラック 0 で始まり,ロジカルトラック 32 471 で終わる。

18 

データゾーンのフォーマット 

データゾーンは,4 個の欠陥管理領域(DMA)を含み,ゾーンの冒頭に 2 個,末尾に 2 個配置する。2

組の DMA の間の領域をユーザ領域と呼ぶ。18.1 で規定のとおり,各バンド境界に,バッファトラックを

設ける。

データゾーンのレイアウトを

表 に示す。

表 6−リードインゾーン,データゾーン及び制御トラックゾーンのレイアウト 

18.1 

データゾーンのバッファトラック及び試験トラック 

表 7a  及び表 7b  に示すように,バンド 0 以外の各バンドの始まりの数トラックをバッファトラックと

し,各バンドの終わりの数トラックをバッファトラック,試験トラック及びバッファトラックとする。

各バンドの始まり及び終わりのバッファトラックの一部にはセクタマークしかないが,ロジカルトラッ

ク番号は割り当てる。

バッファトラック及び試験トラックを,

ユーザデータの記録に使用してはならない。

バンド 11

バンド 0

バンド 1

データ 
ゾーン

制御トラックゾーン

リードアウトゾーン

リードインゾーン

外周試験ゾーン

バッファゾーン

制御データゾーン

内周試験ゾーン

書換形ゾーン

書換形ゾーン

DMA1,DMA2

DMA3,DMA4


表 7a−データゾーンのグルーブトラックレイアウト 

バンド

番号

フィジカ
ルトラッ
ク当たり

のセクタ

各バン
ドのト
ラック

開始ト
ラック

番号

ヘッダなし
バッファ開
始トラック

番号

ヘッダ付き
バッファ開
始トラック

番号

DMA1

及び

DMA2

予備

トラッ

データ開
始トラッ

ク番号

スペア開
始トラッ

ク番号

DMA3

及び

DMA4

ヘッダ付き

バッファ開始

トラック番号

試験開始
トラック

番号

ヘッダ付き
バッファ開
始トラック

番号

ヘッダなし

バッファ開始

トラック番号

終了ト
ラック

番号

0

50

1 207

3 550

0∼5 6∼25

26

3 435 3 460∼3 465

3 466/00

3 469

3 490/00

3 505/15

3 549

1

48

1 207

3 408

35 50/00

35 92/06

3 608

6 866

6 890/00

6 893

6 914/00

6 929/15

6 957

2

46

1 207

3 266

69 58/00

69 85/01

7 000

10 148

10 172/00

10 175

10 196/00

10 210/08

10 223

3

44

1 207

3 124

10 024/00

10 236/16

10 250

13 275

13 298/00

13 301

13 322/00

13 335/01

13 347

4

42

1 207

2 982

13 348/00

13 360/06

13 374

16 257

16 280/00

16 283

16 304/00

16 317/11

16 329

5

40

1 207

2 840

16 330/00

16 330/06

16 354

19 100

19 122/00

19 125

19 146/00

19 158/04

19 169

6

38

1 207

2 698

19 170/00

19 170/03

19 194

11 798

21 820/00

11 823

21 844/00

21 856/14

21 867

7

36

1 207

2 556

21 868/00

21 878/10

21 890

14 357

24 378/00

24 381

24 402/00

24 413/07

24 423

8

34

1 207

2 414

24 424/00

24 434/00

24 444

26 773

26 794/00

26 797

26 818/00

26 828/00

26 837

9

32

1 207

2 272

26 838/00

26 847/07

26 858

29 046

29 066/00

29 069

29 090/00

29 100/10

29 109

10

30

1 207

2 130

29 110/00

29 118/14

29 128

21 178

31 198/00

31 201

31 222/00

31 231/03

31 239

11

28

748

1 232

31 240/00

31 248/04

31 258

32 420

32 439/00

32 442

32 463/00

32 471

注記  バッファトラックの欄の“nnn/mm”は“ロジカルトラック番号/セクタ番号”を表す。

3

X 6270


201

1 (
ISO
/IEC

 2253

3


2005)


表 7b−データゾーンのランドトラックレイアウト 

バンド

番号

フィジカル
トラック当
たりのセク

タ数

各バンド
のトラッ

ク数

開始

トラック

番号

ヘッダなし
バッファ開
始トラック

番号

ヘッダ付き
バッファ開
始トラック

番号

予備

トラック

データ開
始トラッ

ク番号

スペア開始

トラック

番号

予備

トラック

ヘッダ付き

バッファ開始
トラック番号

試験開始
トラック

番号

ヘッダ付き
バッファ開
始トラック

番号

ヘッダなし

バッファ開始
トラック番号

終了ト
ラック

番号

0

50

1 207

3 550

0∼25

26

3 435

3 460∼3 465

3 466/00

3 469

3 490/00

3 505/15

3 549

1

48

1 207

3 408

35 50/00

35 92/06

3 608

6 866

6 890/00

6 893

6 914/00

6 929/15

6 957

2

46

1 207

3 266

69 58/00

69 85/01

7 000

10 148

10 172/00

10 175

10 196/00

10 210/08

10 223

3

44

1 207

3 124

10 024/00

10 236/16

10 250

13 275

13 298/00

13 301

13 322/00

13 335/01

13 347

4

42

1 207

2 982

13 348/00

13 360/06

13 374

16 257

16 280/00

16 283

16 304/00

16 317/11

16 329

5

40

1 207

2 840

16 330/00

16 330/06

16 354

19 100

19 122/00

19 125

19 146/00

19 158/04

19 169

6

38

1 207

2 698

19 170/00

19 170/03

19 194

11 798

21 820/00

11 823

21 844/00

21 856/14

21 867

7

36

1 207

2 556

21 868/00

21 878/10

21 890

14 357

24 378/00

24 381

24 402/00

24 413/07

24 423

8

34

1 207

2 414

24 424/00

24 434/00

24 444

26 773

26 794/00

26 797

26 818/00

26 828/00

26 837

9

32

1 207

2 272

26 838/00

26 847/07

26 858

29 046

29 066/00

29 069

29 090/00

29 100/10

29 109

10

30

1 207

2 130

29 110/00

29 118/14

29 128

21 178

31 198/00

31 201

31 222/00

31 231/03

31 239

11

28

748

1 232

31 240/00

31 248/04

31 258

32 420

32 439/00

32 442

32 463/00

32 471

注記  バッファトラックの欄の“nnn/mm”は“ロジカルトラック番号/セクタ番号”を表す。

 

3

X 6270


201

1 (
ISO
/IEC

 2253

3


2005)


48

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

18.2 

欠陥管理領域(DMA 

四つの欠陥管理領域(DMA)は,データゾーンの構造の情報,及び欠陥管理情報を含む。各 DMA の長

さは,41 セクタとする。DMA のうちの二つ,すなわち,DMA1 及び DMA2 は,バンド 0 の最外周に位置

し,他の二つの DMA,すなわち,DMA3 及び DMA4 は,バンド 0 の最内周に位置する。DMA の配置を

表 に示す。表 の予備セクタの内容は,この規格では規定せず,互換性では無視する。

各 DMA は,ディスク定義構造(DDS)

,一次欠陥管理表(PDL)及び二次欠陥管理表(SDL)を含む。

四つの PDL の内容は同一とし,四つの SDL の内容は同一とする。四つの DDS 間の内容の相違は,各関連

PDL 及び SDL に対するポインタだけとする。

ディスクの初期化後,各 DMA がもつ内容は,次による。

−  最初のセクタは DDS とする。

−  2 番目のセクタは PDL の最初のセクタとする。

− SDL は PDL の直後に配置する。

PDL 及び SDL の長さは,それぞれのエントリの数によって決定する。SDL の後の DMA セクタの内容は

規定されず,互換性では無視する。

DDS の内容は,18.3 で規定し,PDL 及び SDL の内容は,19.5 及び 19.6 で規定する。 

表 8DMA の配置 

開始位置

終了位置

セクタ数

トラック番号  セクタ番号 トラック番号 セクタ番号

DMA1 0

0  2

6

41

予備 2

7 2

16

10

DMA2 3

0  5

6

41

予備 5

7 5

16

10

DMA3

3 460

0

3 462

6

41

予備

3 462

7

3 462

16

10

DMA4

3 463

0

3 465

6

41

予備

3 465

7

3 465

16

10

18.3 

ディスク定義構造(DDS 

DDS は,1 セクタで構成し,ディスクの初期化の方法,書換形ゾーンのグループ分割数,PDL の開始ア

ドレス及び SDL の開始アドレスを規定する。書換形ゾーンのグループ分割数はバンド数と同じとする。

DDS は,ディスクの初期化終了時に,各 DMA の最初のセクタに記録する。表 は,四つの DDS に記録

される情報を示す。

各バンドは,

グルーブトラックのグループ及びランドトラックのグループの二つのグループに分割する。

ユーザ領域は,バッファトラック及び DMA3 と DMA4 を除くトラック 6 のセクタ 0 からランドトラッ

クのトラック 32 438 の最後のセクタまでをユーザによるデータの記録を目的として割り当てる。

DDS のバ

イト 22 から 46 までは,各グループが記録可能かエンボスデータかを表すが,全て記録可能を表す“01”

とする。

このゾーンにおけるデータフィールドのレイアウトは,

附属書 に規定する。


49

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

表 9DDS の内容 

バイト番号

内容

設定

0

DDS 識別子

(0A)

1

DDS 識別子

(0A)

2

メディア識別子

(00)

3

ディスク検証

(01)

ディスク非検証

(02)

4

グループ数の MSB

(00)

5

グループ数の LSB

(19)

6∼13

予備

(00)

14

PDL の開始アドレスのトラックの MSB

15

PDL の開始アドレス

16

PDL の開始アドレスのトラックの LSB

17

PDL の開始アドレスのセクタ

18

SDL の開始アドレスのトラックの MSB

19

SDL の開始アドレス

20

SDL の開始アドレスのトラックの LSB

21

SDL の開始アドレスのセクタ

22

グループ 0 タイプ

(01)

23

グループ 1 タイプ

(01)

24

グループ 2 タイプ

(01)

25

グループ 3 タイプ

(01)

26

グループ 4 タイプ

(01)

27

グループ 5 タイプ

(01)

28

グループ 6 タイプ

(01)

29

グループ 7 タイプ

(01)

30

グループ 8 タイプ

(01)

31

グループ 9 タイプ

(01)

32

グループ 10 タイプ

(01)

33

グループ 11 タイプ

(01)

34

グループ 12 タイプ

(01)

35

グループ 13 タイプ

(01)

36

グループ 14 タイプ

(01)

37

グループ 15 タイプ

(01)

38

グループ 16 タイプ

(01)

39

グループ 17 タイプ

(01)

40

グループ 18 タイプ

(01)

41

グループ 19 タイプ

(01)

42

グループ 20 タイプ

(01)

43

グループ 21 タイプ

(01)

44

グループ 22 タイプ

(01)

45

グループ 23 タイプ

(01)

46

予備

(01)

47

欠陥セクタ数,最大 8 セクタ

48∼127

(00)

128

最初の欠陥セクタ(トラック番号,MSB  )

129

最初の欠陥セクタ(トラック番号)

130

最初の欠陥セクタ(トラック番号,LSB  )

131

最初の欠陥セクタ(セクタ番号)

x−3

最後の欠陥セクタ(トラック番号,MSB  )

x−2

最後の欠陥セクタ(トラック番号)

x−1

最後の欠陥セクタ(トラック番号,LSB  )

x(最大:255  )

最後の欠陥セクタ(セクタ番号)

x+1∼2 047

予備

(00)

注記 1

バイト 2 の(01)∼(0F)の値は予備とする。

注記 2

記号“−”は,適正値が入ることを意味する。

注記 3

バイト 22∼46 には書換可能を意味する(01)を記録し,

(00)を記録しない。


50

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

18.4 

書換形ゾーンの分割 

カートリッジの初期化によって,データゾーンは,12 の連続グループに分割される。各グループは,バ

ンド 0 のトラック 0 からトラック 5 まで及びトラック 3 460 からトラック 3 465 までを除く。

各グループは,

連続したデータセクタとそれに続く連続したスペアセクタとからなり,その配置を

表 に示す。各グルー

プは記録可能として DDS に記録する。

18.5 

論理ブロックアドレス 

論理ブロックアドレス 0 は,バンド 0 のグルーブトラックの最初のデータトラックの最初のセクタとす

る。論理ブロックアドレスは,

表 10 で示すとおりの順序で割り当てる。

表 10−論理ブロックアドレスのレイアウト 

バンド 0

バンド 1

バンド 2  バンド 11

グルーブ

ランド

グルーブ

ランド

グルーブ

ランド

グルーブ

ランド

バンド

グルーブ

ランド

開始

終了

開始

終了

0

0

57 952

57 953

115 905

1

115 906

171 291

171 292

226 677

2

226 678

280 193

280 194

333 709

3

333 710

385 134

385 135

436 559

4

436 560

485 570

485 571

534 581

5

534 582

581 263

581 264

627 945

6

627 946

672 213

672 214

716 481

7

716 482

758 420

758 421

800 359

8

800 360

839 952

839 958

879 545

9

879 546

916 741

916 742

953 937

10

953 938

988 787

988 788

1 023 637

11

1 023 638

1 043 392

1 043 392

1 063 145

19 

欠陥管理 

書換形ゾーンの欠陥セクタは,次に記載する欠陥管理方式に従って,正常セクタに代替する。使用前に,

ディスクを初期化する。初期化のとき,検証を行っても行わなくてもよい。欠陥セクタは,セクタスリッ

プ方式,又は線形置換方式によって処理される。両方式が置換した欠陥セクタの総数は,最大で 8 976 以

下とする。

19.1 

ディスクの初期化 

ディスクの初期化とは,ディスクの最初の使用に先立って,四つの DMA を記録することをいう。各グ

ループは,連続したデータセクタと連続したスペアセクタとを含む。スペアセクタは欠陥セクタの代替と

して使うことができる。ディスクの初期化のときに,書換形グループの検証によって,欠陥セクタの検出

及び代替を行ってもよい。

全ての DDS の内容を,四つの DDS セクタに記録する。PDL 及び SDL を,四つの DMA に記録する。PDL

及び SDL を記録するための要件は,

表 11 及び表 12 に規定する。


51

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

19.2 

検証 

ディスクを検証する場合,グループ内のデータセクタ及びスペアセクタについて検証を行う。この規格

は,検証の方法について規定しないが,セクタの消去,記録及び再生を含み得る。検証中に発見された欠

陥セクタは,セクタスリップ方式によって処理されるか,又は線形置換方式によって処理される。再生又

は記録に欠陥セクタを使用してはならない。

19.2.1 

セクタスリップ方式 

検証を実行する場合,セクタスリップ方式は,書換形ゾーンの全てのグループに個々に適用する。

検証中に検出された欠陥データセクタは,欠陥セクタに後続する最初の正常セクタで代替し,これによ

って,グループの最後尾のセクタがスペアセクタ領域にスリップすることになる。欠陥セクタのアドレス

は,PDL に記録する。検証中に欠陥セクタが見つからない場合は,空の PDL を記録する。

セクタスリップ方式によってデータセクタとして使われなかったスペアセクタで,検証中に欠陥がある

と判明した場合は,そのアドレスを PDL に記録する。したがって,使用できるスペアセクタの数は,それ

に応じて減少する。

検証中にグループ内のスペアセクタを使い切った場合には,欠陥セクタは,線形置換方式によって処理

される。この過程は,別のグループのスペアセクタへの置換を含み,別のグループの検証が終了するまで

完了できない。これは,検証が終了するまで,すなわち,セクタスリップ方式を適用するまで,次に使用

できるスペアセクタが分からないためである。

19.2.2 

線形置換方式 

検証後に見つかった欠陥セクタは,線形置換方式を用いて処理する。また,検証中にグループのスペア

セクタを使い切った場合にも,線形置換方式を使用する。

欠陥セクタは,そのグループの最初に使用できるスペアセクタに代替する。グループにスペアセクタが

残っていない場合,欠陥セクタは,別のグループの最初に使用できるスペアセクタに置換する。欠陥セク

タ及び代替セクタのアドレスを,SDL に記録する。

既に PDL に記録したセクタのアドレスを,SDL に記録してはならない。

SDL に記録した代替セクタが,後に欠陥セクタであると判明した場合には,その欠陥セクタ及び代替セ

クタのアドレスを新しく SDL に記録する。

19.3 

非検証ディスク 

検証されていないディスクの欠陥セクタの取扱いには,線形置換方式を使用する。

欠陥セクタは,当該グループの最初に使用できるスペアセクタに代替する。当該グループに使用できる

スペアセクタが残っていない場合,欠陥セクタは,別のグループの最初に使用できるスペアセクタに代替

する。欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスを,SDL に記録する。

検証されていないディスクであっても PDL に欠陥セクタのアドレスのリストが存在する場合は,これら

のセクタを使用せず,19.2.1 で規定する検証済みディスクの場合と同様にセクタスリップ方式を適用する。

19.4 

記録方法 

データの記録に当たっては,PDL に記録した欠陥セクタは,スキップされ,セクタスリップ方式に従っ

て次のデータセクタで記録を行う。記録しようとするセクタが SDL に記録されている場合,線形置換方式

に従って,SDL が指示した代替セクタにデータを記録する。

19.5 

一次欠陥管理表(PDL 

一次欠陥管理表(PDL)は,欠陥セクタがない場合でも必ず記録しなければならない。

欠陥セクタのリストは,検証によって得られる。


52

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

PDL には,初期化のときに検証した,セクタスリップ方式によって代替された全ての欠陥セクタのアド

レスを昇順に記録する。PDL のセクタ数は,必要最小数とし,DDS の次のセクタから記録する。PDL の

最終セクタの全ての未使用バイトには,

(FF)を記録する。PDL に記録する内容を

表 11 に示す。

PDL が複数セクタにわたる場合,欠陥セクタのアドレスのリストを,2 番目以降のセクタの最初のバイ

トから記録する。したがって,PDL の識別子及び欠陥セクタ登録数は最初のセクタにだけ存在する。

セクタスリップ方式による欠陥セクタがない場合,

すなわち空の PDL では,

バイト 2 及びバイト 3 に

(00)

を記録し,バイト 4 から 2 047 までに(FF)を記録する。

表 11PDL の内容 

バイト番号

内容

0

(00)

,PDL 識別子

1

(01)

,PDL 識別子

2 PDL に登録された欠陥セクタ数の MSB 
3 PDL に登録された欠陥セクタ数の LSB

[バイト 2 及びバイト 3 が(00)の場合,バイト 3 は PDL の最後]

4

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

5

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)

6

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

7

最初の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)

x−3

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

x−2

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)

x−1

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

x

最後の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)

19.6 

二次欠陥管理表(SDL 

二次欠陥管理表(SDL)に,検証中にセクタスリップ方式で処理できなかった欠陥セクタ情報,及び検

証後に欠陥セクタが発見されたときの欠陥セクタ情報を記録する。初期化されたディスクは,SDL が記録

されていなければならない。

SDL に記録する欠陥セクタ情報は,欠陥セクタのアドレス 4 バイト及び代替セクタのアドレス 4 バイト

の計 8 バイトを一組とし,欠陥セクタのアドレスが昇順となるように記録する。

SDL のセクタ数は必要最小数とし,PDL の最終セクタの次のセクタから記録する。SDL が記録される最

後のセクタの残り全てのバイトは,

(FF)に設定する。四つの SDL に

表 12 に示す内容を記録する。

既に PDL に記録したセクタのアドレスを,SDL に記録してはならない。

SDL に記録した代替セクタが,後に欠陥セクタであると判明した場合には,その欠陥セクタ及び代替セ

クタのアドレスを新しく SDL に記録する。

SDL が複数セクタにわたる場合,欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスのリストを,2 番目以降のセク

タの最初のバイトから記録する。したがって,

表 12 のバイト 0 からバイト 15 までの内容は,最初のセク

タだけに存在する。


53

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

表 12SDL の内容 

バイト番号

内容

0

(00)

,SDL 識別子

1

(02)

,SDL 識別子

2

(00)

3

(01)

4 SDL のリスト長の MSB 
5 SDL のリスト長 
6 SDL のリスト長の LSB 
7

(00)

8

(02)

9

(01)

10∼13

(00)

14 SDL の登録数の MSB 
15 SDL の登録数の LSB 
16

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

17

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)

18

最初の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

19

最初の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)

20

最初の代替セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

21

最初の代替セクタのアドレス(トラック番号)

22

最初の代替セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

23

最初の代替セクタのアドレス(セクタ番号)

y−7

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

y−6

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号)

y−5

最後の欠陥セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

y−4

最後の欠陥セクタのアドレス(セクタ番号)

y−3

最後の代替セクタのアドレス(トラック番号の MSB)

y−2

最後の代替セクタのアドレス(トラック番号)

y−1

最後の代替セクタのアドレス(トラック番号の LSB)

y

最後の代替セクタのアドレス(セクタ番号)

第   エンボス特性 

20 

測定方法 

ディスク上のエンボスデータのフォーマットは,箇条 13∼箇条 18 で定義する。箇条 21∼箇条 23 は,箇

条 で規定する基準駆動装置を用いて得られるグルーブ,ヘッダ及びエンボスデータからの信号について

規定する。

箇条 21∼箇条 23 は,エンボスデータの平均品質を規定する。規定値からの局所的な逸脱を欠陥と呼ぶ

が,これらについては,

第 章に記載する。

20.1 

使用環境 

ODC は,8.1.2 に規定する使用環境の範囲で,箇条 21∼箇条 23 の規定を満足していなければならない。

20.2 

基準駆動装置 

箇条 21∼箇条 23 で規定する全ての信号は,基準駆動装置で指定のチャネルで測定する。このため,基

準駆動装置は,次の特性をもっていなければならない。

20.2.1 

光学系 

光ビームは,9.2 a)9.2 f)で規定されたものとする。ディスクの回転方式は,9.5 で規定のものとする。


54

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

20.2.2 

再生パワー 

この章で規定する試験において,ディスクの入射面から入射する再生パワーは,1.3 mW とする。

制御トラックを再生するときの再生パワーは,制御ゾーンのバイト 6 で与えられる範囲とする(

附属書

E

参照)

再生を行うときのディスク温度は,25±1  ℃とする。

20.2.3 

再生チャネル 

駆動装置には,対物レンズの射出瞳からの総光量を測定する再生チャネルを設ける。このチャネルは,

9.1

のチャネル 1 とする。

20.2.4 

フォーカシング及びトラッキング 

測定中の光ビームの焦点と記録層との軸方向の偏位,

すなわち,

フォーカシングエラーの最大許容量は,

次のとおりとする。

e

max

(フォーカシング)=0.5 μm

トラックの中心との間の半径方向の偏位,すなわち,トラッキングエラーの最大許容量は,次のとおり

とする。

e

max

(トラッキング)=0.04 μm

20.3 

信号の定義 

図 21 に,箇条 21∼箇条 23 で規定する信号を示す。

全ての信号は,フォトダイオードの出力であり,したがって,ディテクタ上の光パワーに比例する。

I

1

及び I

2

は,トラッキングチャネルの 2 分割フォトダイオードの出力である(9.1 及び

図 21b 参照)。

図 21a−トラッキングチャネルでのグルーブからの信号 

図 21−ヘッダ,グルーブ,エンボス記録領域からの信号 

 

クロストラック信号

2分割フォトダイオード

光ビーム

I

2

I

1

エンボスのない記録フィールド

エンボスヘッダ又はエンボス記録フィールド

(

I

1

+

I

2

)

pp

(

I

1

+

I

2

)

OL

(

I

1

-

I

2

)

pp

(I

1

+

I

2

)

mi

n

0レベル

ランドレベル 


55

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 21b−オントラック時のデバイデドプッシュプル信号 

図 21c−トラッキングチャネル でのヘッダからの信号 

図 21−ヘッダ,グルーブ,エンボス記録領域からの信号(続き) 

21 

グルーブからの信号 

和信号(I

1

I

2

)及び差信号(I

1

I

2

)は,1.0 MHz 以上の周波数で 40 dB 以上減衰するようにフィルタを

使用し,エンボスマークによる変調の影響を除去する(

図 21 及び附属書 参照)。

21.1 

デバイデドプッシュプル信号 

21.1.1 

オープンループトラッキング信号 

デバイデドプッシュプル信号(DPP 信号)は,光ビームがエンボス記録フィールド又は未記録フィール

ドのグルーブを横切るときに,2 分割フォトダイオードの差信号(I

1

I

2

)を 2 分割フォトダイオードの和

信号間(I

1

I

2

)で除した信号のことであり,DPP 信号の振幅の絶対値の規定,及び DPP 信号の振幅のデ

ィスク内ばらつきの規定の二つを満足しなければならない。

このとき,2 分割フォトダイオードの分割方向はトラック方向に平行とし,トラッキングサーボをかけ

ていない状態で測定する。

a)

光ビームがエンボスヘッダ又はエンボス記録フィールドを交差するときの DPP 信号振幅は,次の条件

を満足しなければならない。

VFO

0 レベル

I

SP

I

sm

AM,ID,PA

セクタマーク

I

vf

o

I

pmaxtop

I

pmin

I

pmintop

I

pmax

I

p

I

pminbottom

I

pmaxbottom

未記録トラック

レベル

0 レベル

ヘッダ

100 バイト

I

n(0

p)

I

k(pp

)


56

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

(

)

(

)

58

.

0

12

.

0

pp

2

1

2

1

+

I

I

I

I

b)

  光ビームがエンボスのない記録フィールドを交差するときの DPP 信号振幅は次の条件を満足しなけ

ればならない。

(

)

(

)

29

.

1

85

.

0

pp

2

1

2

1

+

I

I

I

I

DPP 信号振幅の最小値と最大値との比が,次の条件を満足しなければならない。

(

)

(

)

47

.

0

)

(

)

(

37

.

0

max

pp

2

1

2

1

min

pp

2

1

2

1





+

+

I

I

I

I

I

I

I

I

21.1.2 

クローズドループトラッキング信号 

トラッキングサーボをかけた状態での DPP 信号の 0 レベルからの偏り(I

N

)は,次の条件を満足しなけ

ればならない。ヘッダフィールドでの偏りは,

図 21b で示すとおり,ビームがヘッダフィールド及び追加

の 100 バイト上にある間に測定する。

a)

ヘッダフィールド

30

.

0

)

pp

(

k

)

p

0

(

N

I

I

ここに,

I

k

DPP 信号上のキックバック信号の振幅

b)

記録フィールド

07

.

0

)

pp

(

k

)

p

0

(

N

I

I

21.2 

位相深さ 

グルーブの位相深さは,180°未満でなければならない。

21.3 

トラックの位置 

トラックは,2 分割フォトダイオードの差信号(I

1

I

2

)が 0 に等しく,和信号(I

1

I

2

)の値が最大値と

なる位置とする。

22 

ヘッダ信号 

エンボスヘッダから得られる信号は,基準駆動装置のチャネル 1 で測定する。

エンボスマークからの信号は,チャネル 1 の信号振幅として定義する(

図 21 及び附属書 参照)。

22.1 

セクタマーク 

セクタマークからの信号 I

sm

は,次の要件を満たす。

95

.

0

15

.

0

SP

sm

I

I

ここに,

I

SP

ランドトラックのセクタマークの波高値

22.2 VFO

信号 

VFO

1

及び VFO

2

のフィールドのマークからの信号 I

vfo

は,次の要件を満たす。


57

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

90

.

0

10

.

0

SP

vfo

I

I

さらに,各セクタ内で次の条件を満たす。

max

p

vfo

I

I

0.3

ここに,

I

p max

そのセクタでの 22.3 で定義する

I

p

のエンボスマーク信号

からの最大振幅

I

vfo

VFO

領域からの再生信号のピークからピークまでの振

22.3 

アドレスマーク,ID フィールド及びポストアンブル 

アドレスマーク,

ID

フィールド及びポストアンブルフィールドの中にあるマークからの信号

I

p

は,次の

要件を満たす。

90

.

0

10

.

0

SP

p

I

I

0.30

max

p

min

p

I

I

2

番目の要件は,全てのヘッダに対して適用される。

I

p min

及び

I

p max

は,それらのフィールドにおいて,

最小振幅及び最大振幅とする。

22.4 

ジッタ 

ヘッダ信号のジッタ

J

t

 ()

は,

附属書 で定義する再生チャネル回路を用いて,附属書 の手順に従っ

て,20.2.2 で規定する条件下で測定し,次の条件を満足しなければならない。

T

08

.

0

)

(

H

J

t

ここに,

T

チャネルクロック周期

J

t

 ()

マークの前縁から前縁までの長さ及びマークの後縁か
ら後縁までの長さの,各

nT

の区間の標準偏差(シグマ)

の合計[

J

t

 ()

については,

図 H.3 で示す。]

ヘッダ信号から検出される全ての時間間隔のサンプルは,

J

t

 ()

の条件を満足しなければならない。

22.5 

非対称性 

非対称性は,アドレスマーク,

ID

フィールド及び

PA

フィールドの中で最大振幅及び最小振幅(

I

p max

I

p min

)を与える信号の中心レベル間の偏差とし(

図 21 参照),次の条件を満たさなければならない。

15

.

0

2

2

15

.

0

bottom

max

p

top

max

p

bottom

min

p

top

min

p

bottom

max

p

top

max

p

I

I

I

I

I

I

+

+

23 

エンボス記録フィールド信号 

23.1 

信号振幅 

エンボス記録フィールドから得られる信号は,基準駆動装置のチャネル

1

で測定する(9.1 及び

附属書 L

参照)

。容認可能なマークの欠陥は,

第 章で規定する。

エンボスマークからの信号は,チャネル

1

の信号振幅として定義する(

図 21 参照)。

全てのエンボス記録フィールドからの信号は,信号変調のピークからピークまでの値として定義する。

エンボス記録フィールドのマークからの信号

I

d

は,次の条件を満足しなければならない。


58

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

90

.

0

10

.

0

SP

d

I

I

0.30

max

d

min

d

I

I

最後の条件は,記録フィールド全体に適用される。

I

d min

及び

I

d max

は,各セクタのエンボス記録フィール

ド内の

I

d

の最小値と最大値とする。

23.2 

ジッタ 

エンボス記録フィールドのジッタ

J

t

 (D )

は,

附属書 で定義する再生チャネル回路を用いて,附属書 H

の手順に従って,20.2.2 で規定する条件下で測定し,次の条件を満足しなければならない。

J

()

0.08T

ここに,

T

チャネルクロック周期

J

()

マークの前縁から前縁までの長さ及びマークの後縁か
ら後縁までの長さの,各

nT

の区間の標準偏差(シグマ)

の合計(

J

t

については,

図 H.3 で示す。)

エンボスデータ信号から検出される全ての時間間隔のサンプルは,

J

t

 (D

)

の条件を満足しなければならな

い。

第   記録層及びユーザデータの特性 

24 

測定方法 

箇条 25∼箇条 27 では,データの記録及び消去に用いる記録層の光磁気特性の測定条件及び性能につい

て規定する。測定は,書換形ゾーンのセクタの記録フィールドで行う。記録,再生及び消去の測定は,同

一の基準駆動装置で行う(

附属書 参照)。

箇条 25∼箇条 27 では,記録層の平均品質だけを規定する。指定値からの部分的な逸脱を欠陥と呼ぶが,

これは,記録又は消去の問題の原因となり得る。これらの欠陥は

第 章で規定する。

24.1 

測定環境 

箇条 25∼箇条 27 の全ての信号は,別に注記がある場合を除いて,8.1.2 で規定する使用環境の範囲にあ

るカートリッジに関して,規定範囲内になければならない。

24.2 

基準駆動装置 

箇条 25∼箇条 27 で記述する記録及び消去は,基準駆動装置のチャネル

2

で測定する。このため基準駆

動装置は,次の特性をもっていなければならない。

24.2.1 

光学系 

光ビームは,9.2 a)9.2

f)

で規定する特性をもつ。ディスクは,9.5 で規定のとおりに回転する。

24.2.2 

再生パワー 

この章で規定する試験において,ディスクの入射面から入射される最大再生パワーは,

7.5 mW

とする。

データゾーンの再生パワーは,

制御ゾーンのデータフィールドに記載された制御データのバイト

21

から

23

で与えられる範囲内とする(

附属書 参照)。

24.2.3 

再生磁界 

全ての試験において,記録層の位置で再生磁界強度は,

36 000 A/m

以下でなければならない。

全ての試験において,再生磁界方向は,ディスク基準面

P

の垂線に対して

10

°以内で,入射ビームの方

向,すなわち,入射面から記録層へ向かって

N

極から

S

極となるようにする。

50 Hz

の回転数に対する再

生磁界の値は,制御ゾーンに記録される。


59

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

24.2.4 

再生チャネル 

基準駆動装置は,記録層の磁気光学マークを検出できる 9.3 のチャネル

2

と同等の再生チャネルをもた

なければならない。

測定はマークのエッジ位置をしきい(閾)値検出方法で行い,しきい(閾)値は再生信号のピークから

ピークの包絡線の中心とする。正のピーク信号及び負のピーク信号の包絡線は,各々

50 kHz

3 dB

減衰

する一次ローパスフィルタを通さなければならない。

24.2.5 

トラッキング 

測定中の光ビームの焦点は,20.2.4 で規定のとおりにトラックを追随しなければならない。

24.2.6 

信号検出 

再生チャネルからの信号は,検出前に等化回路を通してはならない。信号は,チャネルクロック周波数

1/2

のカットオフ周波数をもつ三次バターワースフィルタを通す。全ての再生試験は

50 Hz

の回転数で

行う。

データの記録条件などが理想的であれば,しきい(閾)値は

0

となるが,測定によっては,記録中のパ

ラメタ変化によるマークサイズの変化の影響を除くために,しきい(閾)値を調整しなければならないこ

ともある。

24.3 

記録条件 

24.3.1 

記録パルス及び記録パワー 

マークは,アシストパワー

P

a

にパルス列を重畳させた光ビームによってディスク上に記録される。

2T

4T

及び

8T

の長さのマークについて,次のとおりに試験パルス列を定義する。

2T

マークの試験パルスは,パワー

P

s

1.5T

パルスをアシストパワーに重畳して形成する。

2T

よりも長

いマークの試験パルス列は,冒頭の

2T

部分をパワー

P

s

1.5T

パルスとし,それに引き続いて

0.5T

P

a

及び

0.5T

P

w

)の組合せを所要の長さ分だけ追加することで形成する。ここに,

P

a

はアシストパワー,

P

w

は記録ピークパワーとする。マークの後の

nT

スペースは,

1.5T

のパワーゼロの冷却期間,及び,

(n

1.5)T

のアシストパワー

P

a

で構成する。

P

w

P

a

との関係は,次のとおりとする。

24 mm

の場合,

P

w

P

a

1.0

0.2

32 mm

の場合,

P

w

P

a

1.0

0.3

41.5 mm

の場合,

P

w

P

a

1.0

0.4

マークの長さ

2T

4T

及び

8T

について,パルス列は次のとおりとする。

2T

1.5T(P

w

)0.5T(0)

4T

1.5T(P

w

)0.5T(P

a

)0.5T(P

w

)0.5T(P

a

)0.5T(P

w

)0.5T(0)

8T

1.5T(P

w

)0.5T(P

a

)0.5T(P

w

)0.5T(P

a

)0.5T(P

w

)0.5T(P

a

)0.5T(P

w

)0.5T(P

a

)0.5T(P

w

)

0.5T(P

a

)0.5T(P

w

)0.5T(P

a

)0.5T(P

w

)0.5T(0)

試験の目的のための汎用パルス列を,

図 22 に示す。

パルスの

10 %

から

90 %

までの立上がり,立下がり時間は,

3 ns

未満とする。

レーザパワーの測定は,繰返しパルス発光の平均パワーの測定,例えばパルス幅を

50 ns

として光パワ

ーメータで測定し,パルス幅とパルス振幅との積として評価することで,パルス幅及びパルス振幅の設定

誤差を小さくすることができる(

附属書 参照)。

メディア試験で使用する

P

w

は,24.3.3 の方法で測定した値を用いる。

ODC

製造者は,

24 mm

32 mm

41.5 mm

で測定した

P

w

5 %

以内の値を,制御ゾーンに記録しなければならない。


60

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

ここに,

P

w

記録ピークパワー

P

a

アシストパワー

図 22a−記録パルスの波形 

ここに,

P

w

記録ピークパワー

P

a

アシストパワー

P: P

w

P

a

P

w

P

a

T

f

立下がり時間

T

r

立上がり時間

T

p

記録パルス幅

図 22b−記録パルス形状 

図 22−記録パルス 

24.3.2 

記録磁界 

特に記載がない限り,記録磁界強度は,記録層の位置で

16 000 A/m

から

32 000 A/m

までの範囲になけれ

ばならない。

P

a

T

r

T

f

T

p

P

w

-

P

a 

P

w

P

a

0.5

P

0.1

P

0.9

P

6T

1.5T

1.5T

P

P

a

1   2   3   4   5   6   7   8   9  10  11  12  13  14  15  16  17  18  19  20  21  22  23  24  25  26  27  28  29  30  31  32  33  34  35  36

2T 4T

6T

記録パワー


61

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

記録磁界の方向は,ディスク基準面

P

の垂線に対して

10

°以内で,入射ビームの方向,すなわち,入射

面から記録層へ向かって

N

極から

S

極となるようにする。

24.3.3 2T

及び 4T のパルスパワーの決定 

メディア製造者は,次の手順を用いて,制御ゾーンに記録される

4T

パルスパワー

P

w

の値を測定する。

試験のとき,次の試験パターンを繰り返し記録することによって,複数のトラック及びディスクの半径

24 mm

32 mm

及び

41.5 mm

で,消去及び記録を行う。

ランレングス

2T

6T

4T

8T

マーク又はスペース

M

 S

M

 S

メディア温度

25

℃±

1

℃,磁界強度

24 000 A/m

±

5 %

,及び試験回転周波数で,記録を行う。

24.2.6

で規定する検出方法を用いて,信号を再生し検出する。

2T

マークを用いて,再生信号振幅が最大

となるように焦点を合わせ,ピークからピークまでの信号振幅の

50 %

にしきい(閾)値を設定する。焦点

を±

0.25 μm

動かし,熱相互作用エラー

E

th

が最良であることを確認する。

半径

24 mm

32 mm

及び

41.5 mm

でタイムインターバルアナライザ(

TIA

)を用いて,エッジ間の平均

距離,すなわち

2T

に対しては

L

2

4T

に対しては

L

4

6T

に対しては

L

6

を測定する。各半径位置で,複数

トラック上の

10

5

個以上の独立した時間間隔サンプルの平均をとる。

TIA

上の

6T

の分布は,一般に二つの

山に分離されることに注意する。この分離の度合いは,メディアの温度特性に依存する。

L

6

の値は,この

二つの山の分布の平均とする。

L

6

ができる限り

6T

に近くなるように記録パワー

P

w

を調整する。

L

6

の長さは

2

点で極小となるため,制

御ゾーンに記録する

P

w

は,記録パワーが増加するに従って,

L

6

の長さが減少していく点とする。

24.3.4 

メディアの感度 

P

w

は,パルス幅

T

p

の関数として,

4T

マークの形成を要求するパワーの上限とする。

P

w

T

p

との相互関

係は,次による。

mW

1

1

p

p

w



+

T

T

C

ここに,

2

5

.

0

5

.

0

5

.

1

25

.

1

p

T

T

T

T

T

+

+

=

=

メディア製造者は,24.3.3 で測定した

T

p

及び

P

w

から次の公式を用いてメディアパワー感度

C

の値を求

める(

図 22 参照)。



+

×

p

p

p

p

w

T

T

T

T

P

C

の値は,半径

24 mm

32 mm

及び

41.5 mm

のところで,

50

未満でなければならない。

24.4 

消去条件 

マークは,磁界の存在下で,一定光パワーを照射することで消去される。

24.4.1 

消去パワー 

消去パワーは,24.3 に従って記録されたマークを消去するために,入射面から入射される連続光パワー

とする(箇条 27 参照)

データゾーンを消去するための消去パワーは,

制御トラックゾーンのバイト

41

43

で与えられる範囲内

とする(

附属書 参照)。


62

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

その他の半径位置での消去パワーは,直線補完した値±

5 %

の範囲とする。

連続消去パワーは,

13 mW

を超えてはならない。

24.4.2 

消去磁界 

消去磁界は,記録層の位置で

24 000 A/m

以上でなければならない。

消去磁界の方向は,ディスク基準面

P

の垂線に対して

10

°以内で,反射ビームの方向,すなわち,記録

層から入射面へ向かって

N

極から

S

極となるようにする。

24.5 

信号の定義   

チャネル

2

の信号は,フォトダイオード

K

1

及び

K

2

の電流の差に比例し,したがって,フォトダイオー

ドに入射する光パワーに比例する(9.1 参照)

25 

光磁気特性 

この箇条では,

9.1

で定義した光学系で−

8

°と+

8

°との間の全ての位相差の範囲で満足すべき光磁気特

性を規定する。

25.1 

性能指数 

記録層の性能指数

F

は,光磁気マークから得られる信号強度とし,

R sinθ cos2β

で表す。ここで,

R

は小

数で表示される反射率であり,

θ

は,マークと未記録部との間の偏光のカー回転角度,及び

β

は,開口部

全体で平均した反射ビームのだ(楕)円率である。性能指数の極性は,24.3.2 で規定する記録磁界方向に

おいて,

Fe

リッチの

Fe-Tb

合金記録層に記録したとき,マークに対しては負となるように定義する。この

場合,カー回転の方向は,入射ビームからみて反時計回りとなる。

性能指数の値の極性及び大きさは,制御データのバイト

10

及びバイト

11

で規定し(

附属書 参照),

のとおりとする。

0.002 5

<|

F

|<

0.005 0

性能指数の実効値

F

m

の測定は,

附属書 に従って行う。

F

m

は,公称値の

12 %

以内とする。

25.2 

光磁気信号の非対称性 

光磁気信号の非対称性(アンバランス)は,ディスクの複屈折などによって光磁気信号にオフセットを

生じる現象をいい,

d.c.

アンバランス及び

a.c.

アンバランスの二つを規定する。測定は,セクタのデータフ

ィールドで,

2T

パターンを使用して行い,チャネル

2

からの信号の中心線の変動振幅とチャネル

2

の信号

振幅との比から求め,

d.c.

アンバランス及び

a.c.

アンバランスはそれぞれ次のフィルタを通した後測定する。

後の信号振幅(チャネ

ハイパスフィルタ

ャネル

中心線の変動振幅(チ

ローパスフィルタ後の

アンバランス

2

1

2

d.c.

後の信号振幅(チャネ

ハイパスフィルタ

変動振幅(チャネル

後の中心線の

ハイパスフィルタ

アンバランス=

2

1

2

2

a.c.

d.c.

アンバランスは最大で

4.0

とする。

a.c.

アンバランスは

図 23 で示すとおり,ハイパスフィルタ

2

のロールオフ周波数の関数とする。

1 kHz

≦ロールオフ周波数≦

100 kHz

a.c.

アンバランス≦

10

log

5/

1.2×

ロールオフ周波数)


63

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 23−信号の a.c.アンバランス 

ここに,

各フィルタは次の特性をもつ。

ハイパスフィルタ

1

50 kHz

で−

3 dB

のロールオフ及びチャネルク

ロック周波数の

1/2

でカットオフをもつ三次

バターワースフィルタ

ハイパスフィルタ

2

: オクターブ当たり−

6 dB

の減衰

ローパスフィルタ:

1 kHz

で−

3 dB

のロールオフ

測定に当たっては,ゲート,サンプルホールドなどの技術によってヘッダの影響を除去した上で行わな

ければならない。

隣接するバンドのエンボスヘッダから光磁気信号への漏込み信号は,上記

a.c.

アンバランスと同様の方

法で測定し,同じ規格とする。

26 

記録特性 

26.1 

分解能 

I

L

は,チャネル

2

9.3 参照)で,24.3 で規定する条件下で記録される

8T

マーク及び

8T

スペースから得

られる信号のピークからピークまでの値とし,

RLL

1,7

)符号が各ゾーンに許容する最長間隔であり,24.2  

で規定する条件下で再生する。

I

H

は,チャネル

2

で,24.3 で規定する条件下で記録される

2T

マーク及び

2T

スペースから得られる信号

のピークからピークまでの値とし,

RLL

1,7

)符号が各ゾーンに±

0.1 MHz

で許容する最短間隔であり,

24.2

で規定する条件下で再生する。

分解能

I

H

/ I

L

図 24 参照)は,あらゆるセクタ内で,

0.50

以上とする。この変化の範囲は,トラック全

体で

0.20

以下とする。

1

0.1

10

100

10.00

1.00

0.10

0.01

周波数(kHz)

アンバラン


64

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 24I

L

及び I

H

の定義 

26.2 

狭帯域信号対雑音比(NBSNR 

狭帯域信号対雑音比(

NBSNR

)は,規定パターンの雑音レベルに対する信号レベルの比とし,

30 kHz

の帯域幅で測定する。次のとおり

NBSNR

を決定する。

 RLL

1,7

)符号が各ゾーンで許容する最高周波数

f

0

±

0.1 MHz

で,

2T

マーク/

2T

スペースの繰返し信

号を,連続したセクタに記録する。記録条件は,24.3 で規定のとおりとする。

9.5

及び 24.2 で規定する条件のチャネル

2

を用いて記録フィールドを再生し,帯域幅

30 kHz

のスペク

トラムアナライザを使用する。

図 25 で示すとおり,周波数

f

0

で信号振幅及び雑音を測定する。測定値

は,ヘッダフィールドの影響を除去し,記録フィールドだけの値となるように補正する。

狭帯域信号対雑音比を次に示す。

N

S

NBSNR

10

log

20

×

=

ここに,

NBSNR

狭帯域信号対雑音比

S

信号レベル

N

雑音レベル

狭帯域信号対雑音比は,記録磁界の全ての許容値に対して,記録ゾーンのあらゆるセクタの全トラック

45 dB

より大きくなければならない。

図 25−信号レベル及び雑音レベル 

 

I

L

I

H

信号レベル 

雑音レベル 

振幅

f

周波数 


65

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

26.3 

クロストーク比 

クロストーク比の定義及び測定手順は,フィジカルトラックを基準にする。これらのフィジカルトラッ

クは,一つ以上のロジカルトラックで構成されるため(箇条 13 参照)

,測定するバンドごとに,測定する

ロジカルトラックの数を調整しなければならない。

26.3.1 

書換形トラックの試験方法 

書換形トラックの場合,クロストークの測定は,書換形ゾーンで,

n

2

n

1

n

n

1

)及び(

n

2

)として指定する五つの隣接する未記録フィジカルトラックで行う。

これらのトラックの各セクタの記録フィールドを消去する。

トラック

n

のセクタの記録フィールドで,各ゾーンの周波数

f

1

±

0.1 MHz

で,

2T

マーク/

2T

スペースの

繰返し信号を記録する。記録条件は,24.3 で規定のとおりとする。

9.5

及び 24.2 で規定の条件下で,トラック(

n

1

n

及び(

n

1

)のセクタのデータフィールドを再生

する。

トラック

n

からトラック(

n

1

)及びトラック

n

からトラック(

n

1

)へのクロストークは,−

35 dB

未満でなければならない。

26.4 

ジッタ 

24.3.3

TIA

のデータからジッタを得る。

TIA

2T

マーク(

L

2

)/

6 T

スペース(

L

6

)の波形,及び

6T

スペース(

L

6

)/

2 T

マーク(

L

2

)の波形の,前縁から前縁までの時間の長さ,及びマークの後縁から後縁

までの時間の長さを測定する。測定は,各半径位置で,複数のトラック上の

10

5

個のサンプルを用いて行

う。

メディアによるジッタの値は,半径

24 mm

32 mm

及び

41.5 mm

に対して,

1

チャネルビットの周期

T

15 %

未満でなければならない。

26.5 

メディア熱相互作用 

メディア製造者は,次の公式を用いて,制御ゾーンに記録するメディア熱相互作用の値を測定する。公

式は,24.3.3 からの

L

2

L

4

及び

L

6

の測定データを使用する。

最初に,半径

32 mm

で測定する実効チャネルクロック周期

T

を計算する。

18

2

T

6

4

2

L

L

L

×

+

+

=

目的とする半径

32 mm

に記録されていることを,この

T

で確認する。

次の公式を用いて,熱相互作用エラー

E

th

を計算し,記録する。

%

100

T

T

2

2

4

th

×

×

=

L

L

E

E

th

の値は,チャネルクロック周期

T

27 %

未満でなければならない。

27 

消去パワーの決定 

メディア製造者は,この手順を用いて,制御ゾーンに記録する消去パワーを決定する。消去パワーは,

隣接するトラックを消去することなく,現在のトラックを消去するのに十分な一定の連続パワーレベルと

する。

消去パワーの測定のための条件は,メディア温度が

25

℃±

1

℃,記録層の磁界強度の値が,試験回転

周波数で,

25 000 A/m

±

5 %

とする。

手順を次に示す。


66

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

十分に高い消去パワーを用いて,ユーザゾーンの四つの隣接するトラック

n

n

1

n

2

及び

n

3

を消去する。

24.3.1

で規定する条件下で,

トラック

n

1

上に

2T

マーク/

2T

スペースの繰返し信号を,

トラック

n

2

上に

4T

マーク/

4T

スペースの繰返し信号を記録する。トラック

n

1

を消去し,スペ

クトラムアナライザを用いて,

n

1

及び

n

2

の両トラックの信号振幅を測定する。

この一連の試験を低い消去パワーから開始し,

0.5 mW

ずつ消去パワーを増して試験を繰り返す。消去

パワーの関数として,トラック

n

1

及び

n

2

の信号振幅を曲線で表す。制御ゾーンに記録する消去

パワーは,トラック

n

2

の信号振幅が

3 dB

落ちる消去パワーとトラック

n

1

の信号振幅が最初にメ

ディア特有の雑音レベルまで到達するパワーとの中間の値とする。

第   ユーザデータの特性 

28 

試験方法 

箇条 29 及び箇条 30 では,ディスク上のユーザデータの適合性を検査するための一連の測定方法を記載

する。これは,エンボスデータ及びユーザ記録データの両方について行う。データは任意でよい。ユーザ

記録データの記録については,駆動装置及び環境を問わない。基準駆動装置で再生試験を実行する。

箇条 20∼箇条 27 が欠陥を無視するのに対して,箇条 29 及び箇条 30 では,それらを再生信号の不可避

な劣化とみなす。欠陥の重大性は,次で定義する再生チャネルの誤り検出回路及び誤り訂正回路で,発生

するエラーを訂正できるかどうかによって決定する。箇条 29 及び箇条 30 の要件は,データ交換に必要と

されるデータの最低品質を定義する。

28.1 

測定環境 

8.1.2

で定義する使用環境条件の許容範囲にあるカートリッジにおいて,箇条 29 及び箇条 30 で定義する

全ての信号は,その規定の範囲内になければならない。測定の前に,ディスク製造者の取扱説明書に従っ

て,光ディスクの入射面の汚れを取り除くことを推奨する。

28.2 

基準駆動装置 

箇条 29 及び箇条 30 で規定する全ての信号は,基準駆動装置の指定のチャネルで測定する。これらの試

験の目的のために,測定装置は,次の特性をもつ。

28.2.1 

光学系 

光ビームは,9.2 a)9.2

f)

で規定する特性をもつ。ディスクは,9.5 で規定の回転とする。

28.2.2 

再生条件 

ヘッダ及びエンボスデータの再生に使用する,ディスク入射面上に投じる光パワーは,20.2.2 の規定に

よるものとし,ユーザ記録データの再生については 24.2.2 の規定によらなければならない。ユーザ記録デ

ータの再生に使用する再生磁界は,24.2.3 の規定による。

28.2.3 

再生増幅器 

チャネル

1

及びチャネル

2

の再生増幅器は,9.3 の規定によらなければならない。

28.2.4 

マークの品質 

チャネル

1

及びチャネル

2

の再生増幅器からの信号は,

附属書 で定義するとおり,エッジ検出器を用

いて,アナログからバイナリに変換される。チャネル

1

及びチャネル

2

の出力信号は,等化回路を使わず,

ローパスフィルタを通し,しきい(閾)値が

0.25

0.75

となるコンパレータへ入力される。マーク及びス

ペースの

2T

3T

…..

7T

8T

の長さと,理想的な値とのずれ量が最小になるようにしきい(閾)値を調

整する。コンパレータからの出力信号は,エッジ検出器でバイナリ信号に変換される(

附属書 参照)。

この章のジッタは,前縁から前縁までの時間間隔及び後縁から後縁までの時間間隔を,別々に測定した


67

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

時間間隔の標準偏差として定義する。この場合,欠陥によるデータは除き,セクタのマーク及びスペース

のエッジ検出器からの出力信号に関しては,

TIA

を使用する。そのため,この測定のためのサンプルは,

セクタのマーク及びスペースの数によって制限される。ジッタは,チャネルビット時間

T

のパーセントと

して表現する。

チャネル

1

のコンバータは,箇条 22 及び箇条 23 で規定のとおりの振幅をもつエンボスマークからのア

ナログ信号に対して,正しく動作しなければならない。

チャネル

2

のコンバータは,箇条 25 及び箇条 26 で規定のとおりの振幅をもつユーザ記録マークからの

アナログ信号に対して,正しく動作しなければならない。

28.2.5 

チャネルビットクロック 

アナログバイナリコンバータからの信号は,

バイナリ信号の前縁及び/又は後縁に対して有効間口

0.70T

のチャネルビット窓を提供するチャネルビットクロックにロックされる。チャネルビットクロックは,前

縁∼前縁,前縁∼後縁,後縁∼前縁及び後縁∼後縁とチャネルビットクロックとのずれの累積値が最小に

なるように調整する。

28.2.6 

バイナリデジタルコンバータ 

箇条 15 及び箇条 16 で規定するセクタフォーマット及び記録符号に基づいて,バイナリデジタルコンバ

ータでバイナリ信号をデータバイトへ正しく変換する。

28.2.7 

誤り訂正 

データバイトの誤り訂正は,D.3 の定義に基づいて,誤り検出方式及び誤り訂正方式によって実行する。

28.2.8 

トラッキング 

測定中の光ビームのフォーカシング及びトラッキングは,20.2.4 で規定する。

29 

セクタの最低品質 

この箇条では,そのセクタに含まれるデータの交換に必須となるセクタのヘッダ及び記録フィールドの

最低品質を規定する。28.2 で規定する基準駆動装置で測定する。

1

バイト内にビットの設定の間違いが一つ以上あるとき,

ECC

及び/又は

CRC

回路が検出するとおり,

バイトエラーが生じる(セクタ交替のガイドラインについては,

附属書 参照。)。

29.1 

ヘッダ 

29.1.1 

セクタマーク 

セクタマークの五つの長いマークのうち,少なくとも三つについては,そのタイミングは 15.2 で規定の

とおりとし,信号は 22.1 で規定する振幅をもつ。

29.1.2 ID

フィールド 

チャネル

1

で再生されるヘッダの二つの

ID

フィールドのうち,少なくとも一つには,

CRC

で検出され

るようなバイトエラーがあってはならない。

29.2 

ユーザ記録データ 

29.2.1 

記録フィールド 

セクタの記録マークは,プリフォーマットヘッダの末尾から,

240

チャネルビット±

6

チャネルビットの

位置から開始し,セクタの終了前の

336

チャネルビット±

156

チャネルビットの位置で終了する。

29.2.2 

バイトエラー 

チャネル

2

で再生するユーザ記録データは,28.2.7 で定義する誤り訂正によって訂正できないバイトエ

ラーを含んではならない。


68

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

29.2.3 

ジッタ 

チャネル

2

で再生するセクタのユーザ記録マークには,メディアによるジッタがあり,それは

1

チャネ

ルビットの時間周期

T

15 %

未満とする。

30 

データ交換要件 

データ交換のためのディスクは,次の要件を満たす。

30.1 

トラッキング 

光ビームの焦点は,意図なくトラックを飛んではならない。

30.2 

ユーザ記録データ 

29.1

及び 29.2 の規定を満たさない書換形ゾーンで記録されたセクタは,箇条 19 で定義のとおり,欠陥

管理の規則に従って代替されなければならない。

30.3 

ディスクの品質 

ディスクの品質は,代替セクタ数に反映される(箇条 19 参照)


69

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 A

(規定)

エッジのひずみ(歪)量確認方法

この附属書は,エッジのひずみ(歪)量確認方法について規定する。

A.1 

ひずみ(歪)量確認方法 

ひずみ(歪)試験は,ケースに容認できないエッジのひずみ(歪)及び隆起がないかどうかを検査する。

引力以外の規定の力を与え,計器の挿入口にカートリッジを垂直に通過させることによって試験を行う。

A.2 

基準器 

基準器はクロムめっきの炭素鋼など適切な材料で製作し,内面を磨いて,ピークからピークまでが

5 μm

となるように表面処理を行う。

A.3 

寸法 

寸法は,次による(

図 A.1 参照)。

L

a

96.0 mm

L

b

91.0

±

0.1 mm

L

c

8.6

0.1

0

 mm

L

d

6.30

±

0.01 mm

L

e

6.80 mm

A.4 

カートリッジの挿入 

カートリッジを基準器に垂直に挿入するとき,最大

0.8 N

の垂直下力

F

i

をカートリッジ上端の中央に加

えたとき,カートリッジは基準器を通過しなければならない。

L

d

L

e

ee

L

c

L

b

L

a

L

c

L

d

F

図 A.1−ひずみ(歪)量基準器

i


70

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 B

(規定)

カートリッジの可とう(撓)性確認方法

この附属書は,カートリッジの可とう(撓)性確認方法について規定する。

B.1 

目的 

カートリッジの可とう(撓)性確認は,カートリッジの四つの基準面を平面に押し付けることによって,

ケースの平面度及び柔軟性を検査する。

B.2 

基準面の定義 

四つの基準面

S

1

S

2

S

3

及び

S

4

の位置は,10.3.4 及び

図 で定義する。

B.3 

試験計器の構成 

試験計器は,四つの面

S

1

S

2

S

3

及び

S

4

にそれぞれ対応するように四つの支柱

P

1

P

2

P

3

及び

P

4

を平

板上に固定した構成とする(

図 B.1 参照)。寸法は次による(図 B.2 参照)。

支柱

P

1

及び

P

2

D

a

6.50

±

0.01 mm

D

b

3.50

0
0.02

 mm

H

a

1.0

±

0.1 mm

H

b

2.0 mm

なお,支柱

P

1

及び

P

2

の上部領域(

H

b

H

a

)は面取りをする。

支柱

P

3

及び

P

4

D

c

5.50

±

0.01 mm

組立て後,四つの支柱の上部環状面は,

0.01 mm

離れた二つの水平面の間に存在しなければならない。

B.4 

カートリッジの装着 

可とう(撓)性確認装置を水平に設置し,カートリッジの基準面が支柱の上に載るようにカートリッジ

を置く。垂直下向き方向に

0.4 N

の荷重

F

0

を,カートリッジの

4

か所の支柱と対向する位置にそれぞれ加

える。

B.5 

要件 

B.4

の条件下で,

S

1

S

4

4

か所の面のうちの

3

か所の面は,個々の支柱の環状面に接していなければ

ならず,残りの面とその支柱の環状面との隙間は

0.1 mm

以下でなければならない。


71

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 B.1−可とう(撓)性確認装置 

Z

P3,4

D

b

H

a

H

b

D

c

D

a

P1,2

図 B.2−支柱の詳細図 

F

0

P

1

P

2

P

3

P

4

F

0

F

0

F

0

P

3

, P

4

P

1

, P

2


72

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 C

(規定)

ID

フィールドの CRC

この附属書は,

ID

フィールド用の

CRC

について規定する。

 CRC

16

ビットは,

ID

フィールドの最初の

3

バイトにわたって計算される。生成多項式は,次によ

る。

1

)

(

5

12

16

+

+

+

=

x

x

x

x

G

残差多項式は,次による。

)

(

mod

)

(

16

7

0

23

8

x

G

x

x

b

x

b

x

R

i

i

i

i

i

i

i

i



+

=

=

=

=

=

ここに,

b

i

最初の三つのバイトのビット

¯

b

i

逆ビット

b

23

最初のバイトの最高位ビット

CRC

16

ビット

C

k

は,次によって定義する。

=

=

=

15

0

C

)

(

k

k

k

k

x

x

R

ここに,

C

15

ID

フィールドの

4

番目のバイトの最高位ビットとして記録する。


73

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 D

(規定)

インタリーブ,CRC,ECC 及びデータフィールドの再同期化

この附属書は,インタリーブ,

CRC

ECC

及びデータフィールドの再同期化について規定する。

D.1 

インタリーブ 

D.1.1 2 

048

バイトセクタのためのインタリーブ 

ディスク上へ記録するバイトの表記は,次のとおりとする。

D

n

ユーザデータバイトとする。

C

k

  CRC

チェックバイトとする。

E

s,t  

ECC

チェックバイトとする。

F

m

未定義バイト(

FF

)とする。

これらのバイトは,ディスク上に記録する順序で,シーケンス

A

n

で番号付けされる。この順序は,それ

らをコントローラに入力するときの順序と同じである。

n

の値によって,これらの要素は,次となる。

1

n

2 048

の場合:

  A

n

D

n

2 049

n

2 056

の場合:

  A

n

F

m

2 057

n

2 060

の場合:

  A

n

C

k

2 061

n

2 380

の場合:

  A

n

E

s,t

ここに,

  k

n

2 056

s

[(n

2 061) mod 20]

1

1

20

061

2

int

+

n

t

表記

int[x]

は,

x

以下の最大整数を示す。

A

n

の最初の三つの部分は,それらを

103

行及び

20

列の二次元マトリックス

B

ij

にマップすることによっ

て,

20

通りにインタリーブされる。したがって,次となる。

1

n

2 060

の場合:

B

ij

A

ここに,

20

1

int

102

n

i

j=(n−1)mod 20

D.1.2 512

バイトセクタのためのインタリーブ 

512 バイトセクタについては,バイトのシーケンスを A’

n

で示し,その他の記法は

D.1.1

で規定するとお

りとする。

    1≦n≦512 の場合:A’

n

=D

n

513≦n≦516 の場合:A’

n

=F

m

517≦n≦520 の場合:A’

n

=C

k

521≦n≦600 の場合:A’

n

=E

s,t

ここに,  kn−516 

s=[(n−521) mod 5]+1


74

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

1

5

521

int

+

n

t

A’

n

の最初の三つの部分は,それらを 103 行及び 5 列の二次元マトリックス B’

ij

にマップすることによっ

て,5 通りにインタリーブされる。したがって,次となる。

1≦n≦520 の場合:B’

ij

=A’

ここに,

5

1

int

103

n

i

j=(n−1) mod 5

D.2 CRC 

D.2.1 

概要 

CRC 及び ECC は,次の原始多項式に基づくガロアフィールドにわたって計算される。

G

p

(x)=x

8

x

5

x

3

x

2

+1

CRC バイトのための生成多項式は,次による。

=

=

+

139

136

c

)

(

)

(

i

i

i

α

x

x

G

ここに,  要素 α

i

=(β

i

)

88

であり,β は,G

p

(x)の原始根である。バイトの 番目の

ビットの値は,β の 乗の項の係数とし,0≦n≦7 とする。

D.2.2 2 

048

バイトセクタのための CRC 

CRC の四つのチェックバイトは,ユーザデータ及び 8 バイトの未規定バイトによって算出する。

情報多項式を次に示す。

 

=

=

=

=

=

=

+



15

0

0

,

0

102

1

19

0

)

(

j

j

j

i

i

j

j

i

ij

c

x

B

x

B

x

I

CRC の四つのチェックバイト C

k

の内容は,残差多項式によって定義される。

R

c

(x)=I

c

(x)x

4

modG

c

(x)

=

=

4

1

4

C

)

(

k

k

k

k

c

x

x

R

最後の方程式は,多項式の係数の位置を規定する。

D.2.3 512

バイトセクタのための CRC 

CRC の四つのチェックバイトは,ユーザデータ及び 8 バイトの未規定バイトによって算出する。

情報多項式を次に示す。

 

=

=

=

=

=

=

+



15

0

0

,

0

102

1

19

0

)

(

j

j

j

i

i

i

ij

j

j

c

x

B

x

B

x

I

CRC の四つのチェックバイトの内容は,多項式 I

c

(x)を用いて

D.2.2

に規定するとおりに計算する。

D.3 ECC 

原始多項式 G

p

(x)並びに,要素 α

i

及び β は,

D.2.1

に規定する。ECC のチェックバイトに対する生成多項

式を,次に示す。


75

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

=

=

+

135

120

)

(

)

(

i

i

i

E

x

x

G

α

この多項式は,自己相反多項式である。この特性を用いて,ハードウェアのサイズを減じることができ

る。ECC レジスタの初期設定は,全て 0 とする。計算済みチェックバイトのビットの変換後,それらをチ

ャネルビットに符号化する。

D.3.1 2 

048

バイトセクタのための ECC 

ECC の 320 チェックバイトは,ユーザバイト,8 バイトの未規定バイト及び CRC バイトにわたって計算

される。対応する 20 個の情報多項式は,次による。

=

=

102

0

,

)

(

i

i

i

j

i

Ej

x

B

x

I

ここに,  0≦j≦19 とする。

各多項式 I

Ej

(x)に対する 16 チェックバイト E

s,t

の内容は,次の残差多項式によって定義する。

)

(

mod

)

(

)

(

16

x

G

x

x

IE

x

R

E

j

Ej

t

t

t

t

j

Ej

x

E

x

R

=

=

+

16

16

1

,

1

)

( =

最後の方程式は,多項式の係数の保存先を規定する。

D.3.2 512

バイトセクタのための ECC 

ECC の 80 チェックバイトは,ユーザバイト,4 バイトの未規定バイト及び CRC バイトにわたって計算

される。対応する 20 個の情報多項式は,次による。

=

=

103

0

,

)

(

i

i

i

j

i

Ej

x

B

x

I

ここに,  0≦j≦4 とする。

各多項式 I

Ej

(x)に対する 16 チェックバイトの計算は,

D.3.1

で規定するとおりに実行する。

D.4 

再同期バイト 

再同期バイト(

附属書 F

参照)は,データフィールドに挿入され,同期外れを回避し,ユーザデータで

の誤りの伝ぱ(播)を制限する。再同期バイトは連続した番号を付け,次に示す二つのうちのいずれかの

チャネルビットパターンとする。

0X0 100 000 001 000 000 100 00Y

0X0 100 000 001 000 000 101 00Y

ここに,  X 及び Y は,これに先立つデータパターンとこれに続くデータパター

ンとに基づき,0 又は 1 に設定する。

2 048 バイトセクタの時,フィールド RS

n

は,バイト A

60n

と A

60n+1

との間に挿入される。この場合,1≦n

≦39 とする。

512 バイトセクタの時,フィールド RS

n

は,バイト A

20n

と A

20n+1

との間に挿入される。この場合,1≦n

≦29 とする。 

D.5 

データフィールドの記録順序 

データフィールドのデータは,同期バイトに続き,A

n

の順に従って,

D.4

で規定のとおりに再同期バイ


76

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

トを挿入して,ディスク上に記録する。

図 D.1

は,行列形式で,これらの要素の配置を示す。記録の順序は,左から右へ,上から下へとする。

SB

同期バイトを表す

D

ユーザバイトを表す

RS

再同期バイトを表す

C CRC のためのチェックバイトを表す 
E ECC のためのチェックバイトを表す 
F

m

未定義バイト(FF)を設定

2 048 バイトセクタ(

図 D.1

)については,最初の 103 行は,ユーザデータ,8 個の未定義バイト及び CRC

チェックバイトを含む。次の 16 行は ECC チェックバイトだけを含む。

512 バイトセクタ(

図 D.2

)については,最初の 104 行は,ユーザデータ,4 個の未定義バイト及び CRC

チェックバイトを含む。次の 16 行は ECC チェックバイトだけを含む。

行番号 i

列番号 j

0 1 2

6  7  8

15 16 17 18 19

SB1

SB2

SB3

SB4

D1  D2  D3

D7  D8  D9

D16  D17 D18 D19 D20 102

D21 D22 D23

D27 D28 D29

D36  D37 D38 D39 D40 101

D41 D42 D43

D47 D48 D49

D56  D57 D58 D59 D60 100

    RS1

RS1

D61 D62 D63

D67 D68 D69

D76  D77 D78 D79 D80 99

  D81

D82

D83

D87

D88

D89

D96

D97

D98

D99

D100

98

  D1961

D1962

D1963

D1967

D1968

D1969

D1976

D1977

D1978

D1979

D1980

4

RS33 RS33 D1981 D1982 D1983

D1987

D1988

D1989

D1996  D1997  D1998  D1999  D2000

3

  D2001

D2002

D2003

D2007

D2008

D2009

D2016

D2017

D2018

D2019

D2020

2

  D2021

D2022

D2023

D2027

D2028

D2029

D2036

D2037

D2038

D2039

D2040

1

  RS34

RS34

D2041

D2042

D2043

D2047

D2048

(FF)

(FF) C1 C2 C3 C4 0

E1,1  E2,1  E3,1

E7,1  E8,1  E9,1

E16,1  E17,1 E18,1 E19,1 E20,1 -1

E1,2  E2,2  E3,2

E7,2  E8,2  E9,2

E16,2  E17,2 E18,2 E19,2 E20,2 -2

RS35

RS35

E1,3  E2,3  E3,3

E7,3  E8,3  E9,3

E16,3  E17,3 E18,3 E19,3 E20,3 -3

  E1,13

E2,13

E3,13

E7,13

E8,13

E9,13

E16,13

E17,13

E18,13

E19,13

E20,13

-13

  E1,14

E2,14

E3,14

E7,14

E8,14

E9,14

E16,14

E17,14

E18,14

E19,14

E20,14

-14

RS39 RS39 E1,15

E2,15  E3,15

E7,15

E8,15

E9,15

E16,15

E17,15 E18,15 E19,15 E20,15

-15

  E1,16

E2,16

E3,16

E7,16

E8,16

E9,16

E16,16

E17,16

E18,16

E19,16

E20,16

-16

図 D.1

2 048

バイトセクタ

20

バイト折り返しの ECC におけるデータフィールドの構成 

 
 
 

103

16


77

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

行 番号 i

列番号 j

0 1 2 3 4

SB1 SB2

SB3

SB4

D1 D2 D3 D4 D5

103

   

D6

D7

D8

D9

D10

102

   

D11

D12

D13

D14

D15

101

   

D16

D17

D18

D19

D20

100

RS1

RS1

D21

D22

D23

D24

D25

99

   

D26

D27

D28

D29

D30

98

   

D31

D32

D33

D34

D35

97

RS25

RS25

D501

D502

D503

D504

D505

3

   

D506

D507

D508

D509

D510

2

   

D511

D512

(FF)

(FF)

(FF)

1

   

(FF)

C1

C2

C3

C4

0

RS26

RS26

E1,1

E2,1

E3,1

E4,1

E5,1

-1

   

E1,2

E2,2

E3,2

E4,2

E5,2

-2

   

E1,3

E2,3

E3,3

E4,3

E5,3

-3

RS29

RS29

E1,13

E2,13

E3,13

E4,13

E5,13

-13

   

E1,14

E2,14

E3,14

E4,14

E5,14

-14

   

E1,15

E2,15

E3,15

E4,15

E5,15

-15

   

E1,16

E2,16

E3,16

E4,16

E5,16

-16

図 D.2

512

バイトセクタ

5

バイト折り返しの ECC におけるデータフィールドの構成 

104

16


78

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 E

(規定)

制御ゾーンの内容

この附属書は,制御ゾーンの内容について規定する。

E.1 

メディア特性データ 

バイト 0:フォーマット記述子 1

0110 0010 とし,連続複合サーボトラッキング,ロジカル ZCAV 回転記録モード,

(1,7)RLL マークエッ

ジ変調を示す。

バイト 1:フォーマット記述子 2

0010 0011 とし,2 048 バイトセクタに適用される最小距離 16 で 20 インタリーブのリードソロモン符号

を表す。

バイト 2:ロジカルトラック当たりのセクタ数

0001 0001 とし,ロジカルトラック当たり 17 セクタを表す。

バイト 3:反射率

公称波長 68 nm で測定したディスクの反射率 とし,次の数値を記録する。

n=100R

バイト 4:オンランド記録又はイングルーブ記録

1100 0000 とし,オンランド及びイングルーブ記録を表す。

バイト 5:予備

(FF)とする。

バイト 6:最大再生パワー

制御ゾーンのバイト 21∼23 に規定の最小の値を記録する。これは,制御ゾーンの再生する最大再生パワ

P

r

(mW)とし,次の を記録する。

n=20P

r

ここに,  は 26 よりも大きくなければならない。

バイト 7:ディスクの種類

0010 0010 とし,データ再生に磁界を適用する必要がある書換形ディスクを表す。

他の設定は,将来の予備とし,禁止する(

附属書 R

参照)

バイト 8,9:データゾーンの最後のトラック

0111 1110 及び 1101 0111 とし,データゾーンの最後のトラックのトラック番号(32 471)の MSB 及び

LSB を表す。

バイト 10:性能指数の極性

0000 0001 とし,極性が負であることを表す。

バイト 11:性能指数の大きさ

性能指数(F)の大きさとし,次の の値を記録する。

n=10 000

バイト 12:トラックピッチ


79

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

トラックピッチ t

p

(μm)とし,次の の値を記録する。

n=100t

p

(43)はトラックピッチ 0.67 μm を表す。

バイト 13:予備

(FF)とする。

バイト 14∼17:未規定

これらのバイトは,ODC 製造者が使用してもよい。これらは互換性では無視する。

E.2 

記録制御データ 

バイト 18∼45 は,波長 L

1

=665 nm,反射率 R

1

及び回転周波数 N

1

=50 Hz に対する条件を規定する。

の各値に対して,4T マークに対する,内周,中周及び外周の半径での記録パワーが与えられる。バイ

ト 18∼45 で規定する全ての値は,

11.5

の要件,箇条

24

及び箇条

25

を満たすような値とする。

バイト 18:波長

駆動装置の波長 L

1

(nm)を規定し,次の を記録する。

1

5

1

L

n

このバイトは,n=133 を設定する。

バイト 19:反射率

波長 L

1

での反射率 R

1

を規定し,次の を記録する。

n=100R

1

の値は,バイト 3 と同じ値とする。

バイト 20:回転周波数

ディスクの回転周波数 N

1

(Hz)を規定し,次の を記録する。

nN

1

このバイトは,n=50 を設定する。

バイト 21∼23:情報ゾーンに対する最大再生パワー

条件 L

1

及び N

1

での情報ゾーンの,半径 24 mm,32 mm 及び 41.5 mm での最大再生パワーP

r

(mW)を規

定し,次の を記録する。

n=20P

r

ここに,  n≦150

バイト 24:再生磁界の極性

1111 1110 とし,N 極から S 極方向の再生磁界を入射面から記録層に向かって印加することを示す。

バイト 25:再生磁界の大きさ

再生磁界 H

r

(A/m)を表し,次の を記録する。

r

000

1

1

H

n

バイト 26∼30:予備

(FF)とする。

バイト 31∼33:記録パワー

それぞれ半径 24 mm,32 mm 及び 41.5 mm での記録パワーP

w

(mW)を規定し,次の を記録する。


80

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

n=5P

w

バイト 34:記録磁界の極性

1111 1110 とし,N 極から S 極方向の記録磁界を入射面から記録層に向かって印加することを示す。

バイト 35:記録磁界の大きさ

記録磁界 H

w

(A/m)を表し,次の を記録する。

w

000

1

1

H

n

バイト 36∼40:予備

(FF)とする。

バイト 41∼43:消去パワー

それぞれ半径 24 mm,32 mm 及び 41.5 mm での消去パワーP

e

(mW)を規定し,次の を記録する。

n=5P

e

バイト 44:消去磁界の極性

0000 0001 とし,N 極から S 極方向の消去磁界を記録層から入射面に向かって印加することを示す。

バイト 45:消去磁界の大きさ

消去磁界 H

e

(A/m)を表し,次の を記録する。

e

000

1

1

H

n

バイト 46∼379:予備

(FF)とする。 

E.3 

システム制御データ 

バイト 380∼387:予備

(FF)とする。

バイト 388∼389:最初のデータバンドのロジカルトラック番号

0000 1101 及び 1101 1110 とし,それぞれ,最初のデータバンドのロジカルトラック番号,3 550 の MSB,

LSB を表す。

バイト 390:バンド数

0000 1100 とし,バンド数 12 を表す。

バイト 391:予備

(FF)とする。

バイト 392∼393:データバンド当たりのフィジカルトラック数

0000 0100 及び 1011 0111 に設定し,それぞれ,データバンドごとのフィジカルトラック数,1 207 の MSB,

LSB を表す。

バイト 394∼395:最後のデータバンドのフィジカルトラック数

0000 0010 及び 1110 1100 とし,それぞれ,最後のデータバンドのフィジカルトラック数,748 の MSB,

LSB を表す。

バイト 396∼479:予備

(FF)とする。

バイト 480∼511


81

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

これらのバイトの内容は,未規定とする。これらは互換性では無視する。

表 E.1

メディア特性データ 

バイト

2 048 バイト/セクタ

内容

0 (62)

フォーマット記述子 1

1 (23)

フォーマット記述子 2

2 (11)

トラック当たりのセクタ数

3 N=100 R

反射率

4 (C0)

オンランド記録及びイングルーブ記録

5 (FF)

予備

6 N=20 P

r

最大再生パワー

7 (22)

メディアの種類

8 (7E)

データゾーンの最終トラック番号

9 (D7)

10 (01)

性能指数の極性

11

N=10 000 F

性能指数

12 (43)

トラックピッチ

13 (FF)

予備

14∼17

Xx

未規定

  必す(須)事項

  未規定


82

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

表 E.2

記録制御データ 

バイト

内容

18

波長:n=1/5L

1

19

反射率:n=100R

1

20

回転周波数:n=(N

1

)

21

最大再生パワー:n=20P

r

  半径 r=24 mm

22

                        半径 r=32 mm

23

                        半径 r=41.5 mm

24

再生磁界の極性

25

最小再生磁界:n=1/1 000 H

r

26  
27  
28 (FF) 
29  
30  
31

記録パワー:n=5P

w

  半径 r=24 mm

32

半径 r=32 mm

33

半径 r=41.5 mm

34

記録磁界の極性

35

最小記録磁界:n=1/1 000H

w

36  
37  
38 (FF) 
39  
40  
41

消去パワー:n=5P

e

  半径 r=24 mm

42

半径 r=32 mm

43

半径 r=41.5 mm

44

消去磁界の極性

45

最小消去磁界:n=1/1 000H

e

46  
47  
48 (FF) 
49  
50

51∼379 (FF)

  必須事項

  設定:

(FF)


83

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

表 E.3

システム制御データ 

バイト 2

048 バイト/セクタ

内容

380∼387 (FF)

予備

388 (0D)

最初のデータバンドのロジカル

389 (DE)

トラック数

390 (0C)

バンド数

391 (FF)

予備

392 (04)

データバンド当たりの

393 (B7)

フィジカルトラック数

394 (02)

最後のデータバンド当たりの

395 (EC)

フィジカルトラック数

396∼479 (FF)

予備

480∼511 Xx

未規定

  必須事項

  未規定


84

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 F

(規定)

再同期パターンの決定

この附属書は,再同期パターンの決定について規定する。

DSV(デジタル総計値)を,次の記述で使用する。他の頭文字は,PLL(位相同期ループ),PPM(パル

ス位置変調)及び PWM(パルス幅変調)を含む。

F.1 

再同期パターンの条件 

再同期パターンは,次の特性をもち,その要求機能を満たす。

a)

  再同期パターンは,0 ビットが 7 個連続し,その後 1 ビットに RLL(1,7)変調符号では発生しない 6

個の 0 ビットが続く不規則なチャネルビットパターンとする。

b)

  二重 PLL を使用するときに,前縁又は後縁のいずれか一つだけを用いて,再同期パターンの不規則性

を検出することができる。

c)

  再同期パターンの中の 1 という数字は,セクタのデータフィールドのデータパターンの直流レベルの

変動を最小化するために,奇数から偶数に,又は偶数から奇数に変更することができる。

d)

  再同期パターンの長さは,2 バイトとする。

F.2 

再同期パターン 

直流レベルの変動を最小化するために,次に示す二つの再同期パターンのうち一つを選択する。

選択基準を

F.5

に示す。

再同期 1      0x0 100000001000000100 00y

再同期 2      0x0 100000001000000101 00y

ここに,  x=0 又は 1 

y=0 又は 1

データ 1                  再同期領域                        データ 2

      再同期パターン


85

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

F.3 

再同期パターンの生成アルゴリズム 

表 F.1

再同期パターンの生成アルゴリズム 

前の

データ 1

再同期領域

次のデ

ータ 2

データ
ビット

チャネル

ビット

00

仮定データビット

  01

データ
ビット

x

1

x

2

  0x0    再同期パターン   z  00y x

3

x

4

00 0

001 010 100 000 001 000 000 100 001  0x

     

100

000

1x

     

101

001

0x

     

101

000

1x

00 1

001 010 100 000 001 000 000 100 001  0x

     

100

000

1x

     

101

001

0x

     

101

000

1x

01 0

001 010 100 000 001 000 000 100 001  0x

     

100

000

1x

     

101

001

0x

     

101

000

1x

01 1

010 000 100 000 001 000 000 100 001  0x

     

100

000

1x

     

101

001

0x

     

101

000

1x

10 0

101 010 100 000 001 000 000 100 001  0x

     

100

000

1x

     

101

001

0x

     

101

000

1x

10 1---

発 生しない

11 0

010 000 100 000 001 000 000 100 001  0x

     

100

000

1x

     

101

001

0x

     

101

000

1x

11 1---

発 生しない

注記 1  次の情報ビットが 00 であると仮定して,x

1

及び x

2

を符号化する。

注記 2  これらの情報ビットの値は,符号化用の仮定値とする。 
注記 3  このチャネルビットは,不規則パターンを生成するために,符号化後に変更される。 
注記 4  再同期領域の最後の 3 ビットの値は,次によって決定する。

1)

前のチャネルビットを 0 と仮定する。

2)

二つの情報ビットを 01 と仮定する。

3)

データ 2 情報ビット x

3

の状態は,

表 の(1,7)符号化による。

F.4 

直流レベルの最小化 

直流レベルの変動を最小化するために,再同期パターン 1 又は再同期パターン 2 のいずれを選択するか

の基準は,データ領域のチャネルビット及び再同期領域の 0x0,00y に基づく。


86

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

                    100000001000000100

  データブロック 0x0(再同期パターン 1)00y  データブロック

                    100000001000000101

                    (再同期パターン 2)

ここに,  x=0 又は 1 

y=0 又は 1

F.5

で記述する手順に従って,再同期パターン 1 又は再同期パターン 2 のいずれを選択するかを決定す

る。

F.5 

再同期パターンの決定 

使用する再同期パターンを次の手順で決定する。

a)

  処理を簡単にするために,PPM データで記述するチャネルビットを PWM データに変換する。

例えば,PPM データが次とする。

      …0010100010010…

この場合,PWM データは,次となる。

      …0011000011100…

注記 

対応国際規格には記載がないが,次の PWM データとなることがある。

…1100111100011…

DSV 計算は,“0”=−1,“1”=+1 など,PWM データによって定義する(

図 F.1a

参照)

図 F.1a

ブロック DSV

m

と再同期 DSV

m

との計算例 

DSV

m

の計算は,次による。

DSV

m

=(+5−4+8−5…)

b)

  再同期領域を二つの部分(RS||INV)に分割する。この場合,両部分とも次のように連結する。

PPM データで,RS=0x010000000100000010 
PPM データで,INV=000y(INV1)又は 100y(INV2)

5

4

8

5

ディスク上の

記録マーク

PWM

データ

0

1

1

1

1

1

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

0

0

0

0

1

PPMデータ)

1, 7

)チャネルビット

0

1

0

0

0

0

1

0

0

0

1

0

0

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

1

データ                    再同期領域                        データ

    再同期パターン


87

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

c)

  ユーザデータフィールドを次のように連結する。

VFO

3

||SYNC||B

0

||RS

1

||INV1 又は INV2||B

1

||RS

2

….

…||INV1 又は INV2||B

m

||RS

m+1

||… …||INV1 又は INV2||B

N

ここに,   

m=1∼N

N=39(

図 F.1b

参照)

d)

 PPM データストリームである項(z)が,

(z)項でデータに先行する PWM データの最後の PWM の状

態に基づき,結果として PWM DSV 総計となるように,DSV(z)関数を定義する。

e)

  次のアルゴリズムを用いて,ステップ m で INV1 又は INV2 を選択する。

P

0

=DSV(VFO

3

||SYNC||B

0

||RS

1

)

P

m

=P

m

1

+DSV(INV1||B

||RS

m

1

)又は

P

m

=P

m

1

+DSV(INV2||B

m

||RS)

INV1 又は INV2 を選択して,|P

m

|を最小化する。

P

N

=P

N

1

+DSV(INV1||B

N

)又は

P

N

=P

N

1

+DSV(INV2||B

N

)

INV1 又は INV2 を選択して,|P

N

|を最小化する。

m=1 から N までこの手順を繰り返す。この場合,N=39 とする。|P

m

|が再同期パターン 1 でも

再同期パターン 2 でも同じである場合は,再同期パターン 1 を選択しなければならない。

再同期領域

直流レベル変動ビット

0x0

00y

0x0

00y

0x0

00y

Resync

39

Data 39

Resync(m+1)

Data m

Resync m

RS

m

INV 1 or

INV 2

B

m

P

m

RS

m+1

INV 1 or

INV 2

RS

INV 1 or

INV 2

B

39

P

1

直流レベル変動ビット

再同期パターン

Resync 1

00y

0x0

00y

0x0

Sync

Data 0

VFO3

VFO3

Sync

B

0

RS

1

RS

2

B

1

INV 1 or INV 2

INV 1 or

INV 2

P

0

P

1

Resync 2

Data 1

図 F.1b

再同期バイトの例 

3

3


88

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 G 
(規定)

性能指数の測定

この附属書は,性能指数の測定について規定する。

G.1 

性能指数について 

性能指数は,低い周波数で記録したマークの再生信号振幅によって測定する。

図 1

で示す,箇条

9

で規定する光学系を使用した性能指数の測定では,光学系の位相差を含む。そのた

め,反射率,カー回転角及びだ(楕)円率を測定し,光学系の位相差を校正することが必要である。ただ

し,低保磁力のメディアを使用する場合だけ,この校正が精度良くできる。 

G.2 

測定用光学系の校正 

測定用光学系の校正は,次のとおりとする。低保磁力の記録層をもつ複屈折率が無視できるほど小さい

ガラスディスクを用いて,反射率(R

,カー回転角(θ)及びだ(楕)円率 β を測定する。性能指数 F

L

を,

次の式によって算出する。

F

L

R sinθ cos2β

次に,同じディスクを用いて低周波数の信号を記録し,チャネル 2 の再生信号振幅 V

L

を測定することに

よって,光学系自身の位相差の校正を行う。記録された磁区は,その領域で光学系の MTF が 1 となるよ

うに,実質的に集光スポットよりも大きくする。これは,50 Hz で回転するディスクに対して,100 kHz よ

り低い周波数の長い磁区のパターンが隣接するトラックでマークが半径方向に整列し,かつ,重なり合う

ように連続する数トラックにわたり記録されていることを意味する。 

G.3 

性能指数の算出 

保磁力の大きさによらず,ディスクの性能指数 は,校正された駆動装置で低周波数の信号を記録し,

チャネル 2 の再生信号の振幅 を測定し,次の式で算出する。

L

L

V

V

F

F


89

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 H

(規定)

NBSNR

(狭帯域信号対雑音比)及び

ジッタを測定するための再生チャネル

この附属書は,NBSNR(狭帯域信号対雑音比)及びジッタを測定するための再生チャネルについて規定

する。

NBSNR 及びジッタは,次の再生チャネルを用いて測定する。 

フィルタ

チャネル1

又は

チャネル2

比較器

エッジ検出器

前縁

後縁

図 H.1

再生チャネル 

入力信号:

エンボスマーク用のチャネル 1

ユーザ記録マーク用のチャネル 2

フィルタ仕様:

a)

  イコライザ:MO の信号評価に使用しない

エンボスマークの信号評価に使用する

b)

  フィルタタイプ:五次のベッセルフィルタ

c)

  ローパスフィルタ:カットオフ周波数=試験中の帯域で 2T の連続信号の周波数の 2 倍

H.1 

しきい(閾)値フォロア 

このトラッキングしきい(閾)値フォロア(又は同等のもの)は,データ検出過程で,ベースラインレ

ベルを設定するために必要である。これは,メディアの反射率及び記録感度の局所的変動並びに記録デー

タパターンで生じる直流成分の変動を補正するために用いる。

コンパレータ

しきい(閾)値
調整用


90

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 H.2a

トラッキングしきい(閾)値ブロックダイアグラム 

上側エンベロープフォロアの例 

(半波整流器) 

下側エンベロープフォロアの例 

(半波整流器) 

図 H.2b

ダイオードを用いたエンベロープフォロア 

図 H.2

しきい(閾)値フォロア 

H.2 

ジッタ測定手順 

前縁から前縁,又は後縁から後縁までのジッタは,次の手順で測定する。

a)

 VFO の 2T マーク及び 2T スペースが正確に 2 チャネルビット時間 T の長さになるように,検出器回

路のしきい(閾)値レベルを設定する。

b)

  しきい(閾)値レベルを保ち,信号のエッジを検出する。

c)

  タイムインターバルアナライザを使用して,前縁から前縁又は後縁から後縁までの時間を測定する。

d)

  欠陥領域からのデータを除いて,10

5

個のデータ(時間間隔)を取得する。

e)

  前縁から前縁,又は後縁から後縁までのデータの平均値 L

n

を計算する。

f)

  測定した平均値 L

n

と,対応する前縁から前縁,又は後縁から後縁までの(すなわち T の 倍)の理想

値との差を計算し,その中の最大値を S

t

としてとる。

g)

  ジッタ分布の標準偏差 J

t

を計算する。すなわち,前縁から前縁までのデータ又は後縁から後縁までの

データと,各々に対応する平均値 L

n

との差の標準偏差 J

t

を計算する(

図 H.3

参照)

前縁から前縁までの標準偏差 J

t

及び後縁から後縁までの標準偏差 J

t

は,

別々に測定しなければならない。

入力

100 kΩ

1200 pF

100 kΩ

出力

入力

100 kΩ

1200 pF

100 kΩ

出力

入力バッファ

上側

エンベロープ

フォロア

50 kHz

ローパス 
フィルタ

10 k

Ω

コンパレータ

出力

入力

下側

エンベロープ

フォロア


91

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

個々の数値は,最悪でも規定を満たすことが望ましい。

ヘッダ信号の評価の場合,しきい(閾)値レベルは VFO

1

を使用して設定し,標準偏差 J

t

は,AM∼PA

のデータを使用して測定する。

エンボスデータ信号の評価の場合,しきい(閾)値レベルは,VFO

3

を使用して設定し,ユーザデータ領

域の同期フィールド及びデータフィールドのデータを使用して測定する。

この場合,

ユーザデータ領域は,

ユーザデータ,CRC 及び再同期パターンからの全てのデータを使用して測定する。

図 H.3

ジッタの測定分布 

T

(チャネルクロック周期)

理想時間(

nT

nT

マーク又は

nT

スペースの

ジッタ分散の中間値

標準偏差=

J

t

時間

事象


92

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 I

(規定)

記録メディアの互換のための実装独立マーク品質決定(IIMQD)

この附属書は,記録メディアの互換のための実装独立マーク品質決定について規定する。

I.1 

試験パターン 

IIMQD オフセット試験は,7 個のマーク及び 7 個のスペース,すなわち,2T から 8T までの各ランレン

グスの一つのマーク及び一つのスペースで構成される,二つの特別なパターンを用いる。この試験は,駆

動装置のメディア互換性のため,適切な長さのマークを形成する能力を検査する。

次の手順を用いて,記録メディア互換性のための IIMQD を決定する。

駆動装置を用いて,トラックを消去し,次の試験パターンの一つの繰返しデータを,半径 24 mm,32 mm

及び 41.5 mm で,数トラック上に記録する。個々の試験を各々のパターンに対して実施する。

パターン No.1:

2T 2T 3T 3T 4T 4T 5T 5T 6T 6T 7T 7T 8T 8T

M S M S M S

M

S

M

S

M

S

M

S

パターン No.2:

2T 2T 3T 3T 4T 4T 5T 5T 6T 6T 7T 7T 8T 8T

S

M

S

M

S

M

S

M

S

M

S

M

S

M

ここに,M は,マークを,S は,スペースを表す。

I.2 

検出方法 

24.2.4

で規定した検出方法のほかに,次のイコライザを用いて,データ信号を再生し検出する。この試

験では,しきい(閾)値 TV を変更して,パラメタ変化によるマークのエッジ変動を補正してもよい。

Eq(ω)=1−2Acos(ω2T)

ここに,  A=0.1 

ω=2πf

T は,読み取っているゾーンのチャネルクロック周期

このイコライザは,ディスクスピードが 3 000 rpm のとき,半径 24 mm,32 mm 及び 41.5 mm のそれぞ

れについて

表 2

で規定するクロック周期をもち,タップ遅延が 39.4 ns でタップ係数が−A,0,1,0,−A

及び 0,−A,1,−A,0 である 5 個のタップ付きディレイラインフィルタで実装できる。

タイムインターバルアナライザを使用して,記録トラックからの検出信号を 2 通りの方法で測定する。

a)

  前縁から後縁(マーク)の長さの平均値

b)

  後縁から前縁(スペース)の長さの平均値


93

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 J

(規定)

空気清浄度クラス 100 000

この附属書は,空気清浄度クラス 100 000 について規定する。

空気清浄度の分類は,単位体積当たりに存在する規定サイズを超える粒子の最大許容数,及び統計上の

平均粒子径分布に基づく。

J.1 

定義 

0.5 μm 以上の粒径の粒子数は,1 m

3

当たり 3.5×10

6

個以下とする。

統計上の平均粒子径分布を

図 J.1

に示す。クラス 100 000 とは,サイズ 0.5 μm 以上の粒子の許容数は,

1 m

3

当たり 3.5×10

6

個であるが,サイズ 5.0 μm 以上の粒子の許容数は,1 m

3

当たり 2.5×10

4

個に過ぎない

ことを意味する。

局所的な又は一時的なばらつきから,1 回の測定では分布がこの曲線から逸脱することがある。サンプ

リングの数が多いときを除き,

1 m

3

当たりの粒子数が 3.5×10

5

個未満である場合,

データに信頼性がない。

J.2 

試験方法 

0.5∼5.0 μm の粒子に対し,光散乱の原理による装置を用いる。一定環境の空気を既知の流速でサンプリ

ングする。サンプル空気中に含まれる粒子は,装置の光学槽の光量検出領域を通過させる。個々の粒子に

よる光散乱は,光パルスを電流パルスに変換するフォトダイオードによって受光する。電気系は,パルス

の高さと粒子径を関連させ,パルス数を数える。


94

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 J.1

平均粒子径分布 


95

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 K

(規定)

基準面に関連するカートリッジの位置

この附属書は,基準面に関連するカートリッジの位置について規定する。

10.2

に規定の基準面に関連するカートリッジの位置は,

図 K.1

による。

図 K.1

カートリッジ位置 

S

4

S

2

アライメント孔

位置決め孔

S

1

S

3


96

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 L

(規定)

信号特性が緩和できるゾーン

この附属書は,信号特性が緩和できるゾーンについて規定する。

表 L.1

は,この規格の本体に規定の信号特性が必須であるゾーンか緩和できるゾーンかの区別を示す。

  信号特性が規定範囲内であることを必須とするゾーンを表す。

仕様範囲が下限値の 80 %から上限値の 120 %に拡張できるゾーンを表す。均一性は,±12 %から±20 %
に拡張できる。

規定を適用しないゾーンを表す。

表 L .1

各ゾーンの信号の規定 

箇条

信号

ゾーン

バッ
ファ

試験ゾーン

データ
ゾーン

バッ
ファ

制御

ゾーン

試験ゾーン

バッ
ファ

製造者用

駆動装置用

駆動装置用  製造者用

11.5.5  反射率

21.1 
21.1

DPP(第一項) 
DPP(第二項)

22.1 
22.2 
 
22.3 
 
22.4

セクタマーク 
VFO

1

,VFO

2

アドレスマーク, 
ID フィールド 
及びポストアンブル 
ジッタ

23

エンボスデータ

24.2.2 
24.2.3 
24.3.1 
24.3.2 
24.3.4 
24.4.1 
24.4.2

再生パワー 
再生磁界 
記録パワー 
記録磁界 
媒体感度 
消去パワー 
消去磁界

25.1 
25.2 
26.1 
26.2 
26.3 
26.4

性能指数 
光磁気信号のアンバランス 
分解能 
狭帯域信号対雑音比 
クロストーク 
ジッタ


97

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 M

(規定)

ハブの吸着力の測定方法

この附属書は,ハブの吸着力の測定方法について規定する。

M.1 

目的 

この試験は,ハブの磁性材料の磁気特性を決定することを目的とする。

M.2 

試験装置 

試験装置(

図 M.1

参照)は,スペーサ,磁石,バックヨーク及び中心軸で構成する。試験装置の寸法は

次による。

D

d

=7.0±0.1 mm

D

e

=14.0±0.1 mm

最大で D

f

=13.0 mm

mm

9

.

3

0

0.1

g

D

H

c

=0.40±0.01 mm

H

d

=1.00±0.05 mm(通常,

M.4

の要件を満たすように調整される。

M.3 

試験装置の材料 

試験装置の材料は,次による。

磁石          :適切な磁性材料  通常,Sm-Co

バックヨーク  :適切な磁性材料

スペーサ      :非磁性材料又は空隙

中心軸        :非磁性材料

M.4 

バックヨーク付き磁石の特性 

磁極の数                        :4(通常)

最大エネルギー積(BH

max

:175±16 kJ/m

3

(通常)

バックヨークに関する磁石の特性は,次の寸法の純ニッケル板(

図 M.2

参照)を使用し,磁石面からの

空間が H

c

=0.4 mm となる点でのこの板の吸着力が 3.3±0.2 N となるように調整する。

D

h

=6.0±0.1 mm

D

i

=15.0±0.1 mm

H

e

=1.00±0.05 mm

M.5 

試験温度条件 

試験温度の条件は,

8.1.1

に規定のとおりとする。


98

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 M.1

ハブ吸着力の測定 

図 M.2

測定装置の校正板 

D

h

D

i

H

e

スペーサ

ヨーク

磁石

D

f

D

g

H

d

H

c

D

d

D

e

ハブ

中心軸

バックヨーク


99

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 N

(参考)

トラックの振れ量の測定方法

トラックの規定位置からの振れ量は,トラッキングサーボを掛けて駆動装置上で測定する。測定に用い

る基準サーボの強度は,駆動装置のサーボの強度を超えてはならない。サーボの強度の差は,駆動装置の

余裕度を示す。トラックの振れ量は,基準サーボを印加した状態で測定するトラックと光ビーム焦点間と

のずれ量であるトラッキングエラー量となる。

トラックの振れ量の測定方法は,光軸方向のトラック振れ量及び半径方向のトラック振れ量のどちらに

も適用する。

N.1 

許容値との関係 

トラックの振れ量は,トラッキングサーボモータに要する加速度,及びトラッキングエラーの測定によ

る。加速度及びトラッキングエラーとの関係を周波数の関数として

図 N.1

に示す。

e

max

log(x

max

)

log(f)

図 N.1

単一周波数

正弦波状振れ量の許容値 

低周波数領域での許容振幅(

x

max

)は,式

(N.1)

によって算出する。

2

max

max

)

π

2

f

a

x

  (N.1)

ここに,

а

max

サーボモータの最大加速度

高周波数領域での許容振幅(

x

max

)は,式

(N.2)

によって算出する。

x

max

e

max

  (N.2)

ここに,

е

max

最大許容エラー量

二つの周波数領域の合成は,

N.3

による。


100

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

N.2 

基準サーボ 

トラックの振れ量の許容値は,基準サーボに対するトラック振れ量の許容値と等しい。基準サーボは,

所定の伝達関数をもち,

図 N.1

に示したように,振幅(

x

max

)の単一の正弦波状のトラック振れ量を最大

許容エラー量(

е

max

)に圧縮する。

基準サーボの開ループ伝達関数(

H

s

)は,式

(N.3)

によって算出する。

0

0

2

0

s

1

1

1

)

(

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

c

i

c

i

i

c

i

H

+

+

  (N.3)

ここに,

H

s

開ループ伝達関数

0

0

π

2

π

2

1

f

f

i

ω

ω

f

0

開ループ伝達関数上で,ゲインが 0 dB となる周波数

c: サーボのクロスオーバー周波数(f

1

及び f

2

)を与える定

f

1

f

0

c

f

2

f

0

× c

基準サーボによるトラック振れ量(x)のエラー量(e)への圧縮は,式(N.4)によって算出する。

s

1

1

H

x

e

+

  (N.4)

ここに,

x: トラックの振れ量

e: エラー量

H

s

開ループ伝達関数

0 dB となる周波数 ω

0

は,式(N.5)によって算出する。

max

max

0

e

c

a

ω

   (N.5)

このとき,ω

0

より低い周波数のトラックの振れは,最大許容エラー量(е

max

)に圧縮される。また,ω

0

より高い周波数のトラックの振れは,圧縮されない。

図 N.1 に示す許容振幅(x

max

)は,式(N.6)によって

算出する。

x

max

e

max

 |1+H

s

|  (N.6)

この基準サーボのモータに要求される最大加速度は,式(N.7)によって算出する。

a

max

(motor)=e

max

ω

2

|1+H

s

|  (N.7)

ここに,  a

max

(motor): 基準サーボのモータに要求される最大加速度

ff

0

 / となる低周波数領域での最大加速度は,式(N.8)によって算出する。

c

e

a

a

max

2

0

max

max

)

track

(

)

motor

(

ω

(N.8)

ここに,11.4.6 及び 11.4.8 の低周波数領域で基準サーボの ω

0

計算に a

max

(motor)を用いてもよい。

N.3 

トラックの振れの許容量 

トラックの振れは,所定の周波数で回転しているディスクに対し,基準サーボでトラッキングを行った

とき,7.2 μs 以上にわたって,エラー量(е

max

)を超えてはならない。

軸方向及び半径方向の基準サーボの開ループ伝達関数は,50 Hz∼170 kHz の帯域で,公称値からの相違


101

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

が±20 %の範囲を超えない精度の|1+H|を用い,式(N.3)によって求める。定数 は,3 とする。0 dB 周

波数 ω

0

/(2π)は,20.2.411.4.6 及び 11.4.8 の軸方向及び半径方向の а

max

及び е

max

を用いて,式(N.5)によっ

て求める。

N.4 

測定方法 

軸方向又は半径方向の測定システムとして,3 種類の方法を示す(

図 N.2,図 N.3 及び図 N.4 参照)。図

中,H

a

は駆動装置の実際のトラッキングサーボの開ループ伝達関数を,H

s

は式(N.3)によって求める基準サ

ーボの伝達関数を,及び はトラックの位置及び光ビームの焦点の半径方向の位置を,е

s

は基準サーボを

経た後のエラー量を示す。

最適な測定方法は,H

a

及び H

s

の特性に依存する。板ばね方式サーボモータでは,低周波数及び高周波

数に分けて二系統の測定回路を用いると,良い測定結果が得られる。測定方法のうち,

図 N.2 の方法は,

低周波数の測定系に用い,

図 N.3 及び図 N.4 の方法は,高周波数の測定系に用いる。二つの測定系の出力

信号を,逆特性の交差形フィルタ(reversed cross-filter)を用いて加算し,必要なエラー量を求める。低周

波数の測定では,サーボモータにヒステリシスがないときには,サーボモータの加速度の測定としてサー

ボモータに流れる電流を利用してもよい。このとき,電流は,サーボモータの伝達関数によって校正する。

式(N.4)に等しい伝達関数 e/ae/(

2

)をもつフィルタによって,サーボモータに流れる電流をエラー量に変

換する。

図 N.2−基準サーボによって圧縮されたトラック位置信号にフィルタを 

印加して e

s

を得るようにした基準サーボ方法 

図 N.3−実際のサーボの伝達関数を変換することによって 

e

s

を得るようにした基準サーボ方法 

 

H

a

+

e

s

H

s

H

a

e

s

位置センサ 

サーボ 

+

+

x

e

a

フィルタ 

1

1+H

s


102

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 N.4−実際のサーボのエラー信号を変換することによって 

e

s

を得るようにした基準サーボ方法 

H

a

e

a

e

s

1+H

a

1+H

s


103

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 O 
(参考)

使用環境条件の導出方法

この附属書は,8.1.2 の使用環境条件の導出方法について,その背景を示す。

O.1 

標準環境条件 

ODC の使用環境条件は,幾つかの例外を除いて,JIS C 60721-3-3:1997,環境条件の分類  環境パラメー

タとその厳しさのグループ別分類  屋内固定使用の条件[IEC 60721-3-3: 1996 に対応(IDT)

]の分類 3K3

の値を基本とする。分類 3K3 は,室内での装置を設置する環境を定義し,次による。

“通常の居住空間,すなわち,居間,大勢が使用する場所(劇場,レストランなど)

,オフィス,店,電

気部品の組立及び製造の場所,電気通信センタ,貴重品及び精密機器の保管室”

O.2 

温度上昇の考え方 

分類 3K3 は,室内の環境だけを定義しているが,この規格のカートリッジの使用環境条件は,システム

及び駆動装置の温度上昇についても考慮する。駆動装置に取り付けたカートリッジは,室内温度より高い

温度になる。使用環境条件は,この温度過昇を 20  ℃までと仮定する。

O.3 

絶対湿度 

絶対湿度(空気中の水分量 g/m

3

)の導入は,温度上昇を考えるときに有用となる。駆動装置の中で温度

上昇があったとき,絶対湿度は実質的に一定であるにもかかわらず相対湿度は,下がる。そのため,使用

環境条件に温度上昇分の余裕をもたせると,温度の上限だけでなく,相対湿度の下限に影響を与える。こ

れらの関係を,カートリッジの使用環境条件の空気線図(相対湿度対温度図,

図 O.1 参照)に示す。

絶対湿度を制限すると,次の二つの使用環境条件が排除できる。

a)

カートリッジの性能及び寿命に悪影響を及ぼす高温及び高相対湿度の組合せ

b)

世界中のオフィス環境でほとんど起こらない低温及び低相対湿度の組合せ

O.4 

JIS C 60721-3-3

の分類 3K3 との違い 

O.2

に示す温度上昇に関する変更を除くと,次のパラメタが分類 3K3 の基本値と異なる。

−  大気圧

分類 3K3 の下限気圧 70 kPa を 60 kPa まで拡張する。カートリッジは,本質的に気圧に敏感でなく,

70 kPa の規定は,一部の市場を排除する可能性がある。

−  絶対湿度

空調があるオフィス環境以外で使用する携帯用装置を考慮し,分類 3K3 の上限の 25 g/m

3

を 30 g/ m

3

に引き上げる。

−  温度

カートリッジの周囲温度(駆動装置内の温度上昇を含む。

)の上限は,55  ℃とする(分類 3K3 は+

20  ℃で 60  ℃になる。)。この規格によるカートリッジに対し,上限 55  ℃は,それ以上では動作(保

存と同様)が安全でないという物理的な上限を考慮している。


104

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

これは,装置設計者が,室温が分類 3K3 の上限の 40  ℃になったとき,駆動装置内部を十分に冷却

してもよいことを意味する。

−  その他

温度及び相対湿度の変化率は,分類 3K3 に従っていない。

O.5 

湿球温度規定 

絶対湿度による仕様値の代わりに,既発行のカートリッジの規格は,他のデジタル記録メディアと同様

に,高温及び高相対湿度の厳しすぎる組合せを排除するために次のパラメタの規定をした。

湿球温度  (単位:℃)

異なった仕様の比較を容易にするために,

図 O.2 及び表 O.1 に,カートリッジの使用環境,測定環境及

び保存環境に対する湿球温度を示す。湿球温度は,大気圧でわずかに変化するため,図表は,101.3 kPa の

標準圧で有効となる。

図 O.1−分類 3K3 及びカートリッジ使用環境の空気線図 


105

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

注記  A 点から I 点及び T 領域は,表 O.1 による。

図 O.2−使用環境及び保存環境の湿球温度 

表 O.1−主なポイントの位置 

気温  ℃

相対湿度 %

全体温度  ℃

A 31.7

90.0

30.3

B 32.8

85.0

30.6

C 55.0

28.8

35.5

D 55.0 3.0

22.2

E 31.7 3.0

12.1

F 5.0

14.6

−1.4

G 5.0

85.0

3.9

H

−10.0 90.0

−10.3

I

−10.0 46.8

−11.6

測定環境(T) 23.0±2.0 50.0±5.0

保存環境 A-B-C-D-E-F-I-H で定める。

使用環境 B-C-D-E-F-G で定める。


106

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 P

(参考)

輸送

P.1 

概要 

輸送は,世界中の広範囲の温湿度変化の下,異なる期間,様々な輸送方法によって行われるため,輸送

条件及び包装条件を一般的に規定することは困難である。

P.2 

包装 

包装の形式は,受渡当事者間の協定によるか,P.2.1 及び P.2.2 を考慮する。

P.2.1 

温度及び湿度 

輸送の見積期間よりも長期の条件に耐えるように,包装方法を考慮する。

P.2.2 

衝撃及び振動 

a)

カートリッジの形状を損ねる機械的な荷重に耐える包装とする。

b)

カートリッジの落下に耐える包装とする。

c)

カートリッジは,緩衝材を入れた硬い箱に包装する。

d)

最終的な箱は,汚れ及び湿気を防ぎ輸送できる構造と清浄な内装とを具備する。


107

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 Q 
(参考)

オフィス環境

Q.1 

空気清浄度 

カートリッジは,駆動装置の内外のじんあい(塵埃)の影響に対しかなりの耐力をもつ構造となってい

る。そのために,じんあい(塵埃)の量を十分低く維持するような特別の注意は必要としないが,機械工

場,建築現場など,じんあい(塵埃)の多い場所での使用は避け,通常のオフィス環境で使用するのが望

ましい。

オフィス環境とは,個人が何の保護もなしに,一時的な苦痛及び永久的な不快感を伴わずに一日中働け

る環境をいう。 

Q.2 

動作の影響 

最高動作温度(55  ℃)及び最大許容バイアス磁界(36 000 A/m)が与えられた状態で,1 本のトラック

に再生パワーが長期間照射される場合,メディア上のマークの品質が低下する場合がある。1 本のトラッ

クに再生パワーが長期間照射される場合とは,駆動装置にメディアがロードされたままであり,駆動装置

が準備完了状態で,更に一つの特定トラック上でジャンプバックモードにある場合である。メディア製造

者は,

駆動装置製造者の再生パワー管理方法と同様に,

ユーザゾーンで許容される最大再生パワーの値を,

データを損なうリスクを最小にするように設定する必要がある。


108

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 R

(参考)

現在及び将来の規格で実装される値

この規格は,この規格に適合する光カートリッジを識別するバイトの値を規定する。他のタイプの ODC

が将来開発されることを期待し,次の値を他のカートリッジに用いることを推奨する。

R.1 

制御トラックのバイト 

ビット 6∼4 の設定の意味は,次による。

000  角速度一定方式(CAV)

001  線速度一定方式(CLV) 
010  ゾーン化された角速度一定方式(ZCAV)

011  ゾーン化された線速度一定方式(ZCLV)

110  ロジカル ZCAV

R.2 

制御トラックのバイト 

次のビットパターンの意味は,次による。

0000 0000  再生専用カートリッジ(ROM)

0001 0000  不可逆記録を用いる追記形カートリッジ

0001 0001  MO 記録を用いる追記形カートリッジ 
0010 0000  MO 記録を用いる書換形カートリッジ

0010 0010  データ再生に磁界を必要とする MO 記録を用いる書換形カートリッジ

0110 0000  DOW 記録を用いる書換形カートリッジ 
0011 0000  相変化記録を用いる書換形カートリッジ

1001 0000  追記形カートリッジのパーシャル ROM

1010 0000  MO のパーシャル ROM 
1110 0000  部分的にエンボスをもつダイレクトオーバーライト

1011 0000  相変化のパーシャル ROM


109

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 S

(参考)

基板の垂直複屈折の測定

駆動装置の性能が良好であるためには,複屈折の平均値及び屈折率だ(楕)円体を検査しなければなら

ない。基板成形処理を適切に制御するため,面内複屈折(IPB)及び垂直複屈折(VB)の両方を高精度で

決定する必要がある。この附属書では,両面に薄膜が形成されていない基板及び薄膜が形成された基板に

適用できる,記録メディアの垂直複屈折を,簡易かつ非接触で測定する方法について記載する。

IPB 及び VB は,角度可変形分光エリプソメータ(VASE)を用い,解析的なフィッティング手法によっ

て測定できる。VASE は,少なくとも三つの入射角に対して,直交偏光状態間の位相遅延を測定するよう

設定される。

基板が比較的薄い(1.2 mm)ため,基板の表面反射光と,複屈折による位相シフトを受ける MO 層から

の反射光との二つがほとんど重なってしまう。不要な表面反射光を排除するため,薄く(<0.5 mm)硬い,

細長い小さな遮光板を用いる。遮光板は,入射光の反射する位置に,記録メディアにほぼ近接するように

設置される。この遮光板の位置を調整し,反射点での反射信号が最大になるようにする。この状態で,表

面反射光が遮断され,内面(薄膜面)からの底部反射光だけが偏光検出器を通過できる(

図 S.1 参照)。遮

光板を入射光源に近づけすぎた場合には,主光束が遮られ,信号が低下する。反射点から遠ざけすぎた場

合には,両方の反射光が遮られ,再び信号が低下する。このアプローチは,不要な表面反射光を除去する

ための,屈折率整合流体及び光学部品を使用する確立された技術に基づいている。透明基板の場合,VASE

を直進モードに設定し,透過測定することによって可能であり,接触は必要ない。

上記それぞれの場合において,また,両面透明コートされた記録メディアに対して,位相遅延は入射角

の関数として表される。一般に 3 角度での測定が,VB を確定するために最低限必要である。主光軸がデ

ィスクの円柱座標軸方向に向いている(これはほとんど一般的なケースである)ディスクでは,入射角の

関数としての位相遅延を記録メディアの屈折率(N

r

N

Φ

N

z

)に関連付ける次の式が成り立つ。位相遅延

データを次に示す非線形解析式にフィッティングさせ,屈折率が決まる。

=

Δ

Φ

)

(

sin

)

(

sin

2

2

r

z

2

2

r

θ

θ

N

N

N

N

d

ここに,

Δ: 大気中の入射角 θ の関数として表される位相遅延量

d: ディスクの厚さ(通常 1.2 mm)

複屈折は,次の屈折率間の差となる。

面内:

Φ

r

in

N

N

N

=

Δ

垂直:

z

Φ

r

vert

)

(

5

.

0

N

N

N

N

+

=

Δ

無単位の複屈折は,ΔN

in

又は ΔN

vert

を基板の厚さ で乗じることによって,長さの単位で表すことがで

きる。この場合,複屈折は,位相遅延量(nm)として表される。


110

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

(b)

不要反射光

光ブロック

プローブ光

ディスク

(a)

プローブ光

ディスク

検出器

不要反射光

a)

不要反射光の発生

b)

非接触光ブロック法による不要反射光の除去

図 S.1−基板の垂直複屈折の測定方法 

a) 

b)


111

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 T

(参考)

交替セクタを使用するときのガイドライン

次に示す欠陥セクタを最大値まで(箇条 19 参照)の交替セクタに置き換えることができる。

a)

一つのセクタ内から ID が読み取れない。

b)

一つのセクタ内の二つの ID のうち,一つだけが読み取れ,先行するセクタと矛盾する。

c)

一つのセクタ内で,80 バイトを超える長さの一つの欠陥が検出される。

d)

一つのセクタ内で,欠陥バイトの総数が,80 バイトを超えるか,又はセクタの一つの ECC インタリ

ーブで 4 バイトを超える。


112

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

附属書 U

(参考)

メディアの感度評価のためのレーザパワー校正方法

U.1 

試験条件の変化 

24.3.4

で規定するメディアの感度の測定に当たっては,メディアの感度 の値が基準駆動装置に許容さ

れる各種条件に影響されるため,メディア評価装置のレーザパワーを注意深く校正する必要がある。磁性

層のレーザスポットプロファイルは,9.2 で規定する基準駆動装置に許容される光学的条件で変わる。記録

パワー感度の観点からの,基準駆動装置に許容される最良条件及び最悪条件を

表 U.1 に示す。最悪条件の

温度のピークは,最良条件の温度のピークから 21 %低くなると見積もられる。そのため,メディアの感度

は,注意深く評価する必要がある。

表 U.1−標準駆動装置に許容される最良及び最悪条件 

最良条件

最悪条件

波長(λ)

675 nm

695 nm

λ/NA 1.227

μm 1.263

μm

D/W 0.8

0.9

光ヘッドの波面収差 0  0.033

λrms

ディスクのチルト 0

4.8

mrad(半径方向)

ディスクの厚さ変動 0

50

μm

U.2 

パワーの校正 

評価装置のレーザパワーの校正は,次の手順で行う。正確な校正には,高速フロントパワーモニタを使

用する。

ステップ 

パワーメータによって高速フロントパワーモニタを校正する(

図 U.1)。

・  校正は,直流パワーメータを用いて,直流レーザ操作で行うことができる。

・  記録パルスの波形観測には,高速(>100 MHz)フロントパワーモニタを用いる。


113

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 U.1−フロントパワーモニタの校正 

ステップ 

記録パルスの形状を直接観測する(

図 U.2)。

・  集光状態でのパルスパワーは,半導体レーザの戻り光の影響によって,非集光状態でのパルスパ

ワーとは異なる。

・  実際の測定条件では,パルスパワー,パルス幅及びアシストパワーレベルを注意深く観測する。

・ 2T マークの孤立パルス及び 4T マークの補助パルスが同一波形であり,4T マークの二つの記録パ

ルスの立上がり及び立下がりが補助パルスと同一であるかどうかを確認する。同一でない場合は,

及び E

th

の測定誤差が大きくなる。

図 U.2−パルス強度及びパルス幅の測定 

オシロスコープ

半導体レーザ

MO信号及び

サーボ信号検出器

高速フロントパワーモニタ

(

>100 MHz)

オシロスコープ

半導体レーザ

高速フロントパワーモニタ

(

>100 MHz)

MO信号及び

サーボ信号検出器

_._mW

光パワーメータ


114

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

ステップ 

適切なフィルタを用いて,記録パルスパワー及びパルス幅を測定する。

・カットオフ周波数 80 MHz で,

(ガウシアン)ローパスフィルタによってリンギングを除去するこ

とができる(

図 U.3a)。

・パルスエネルギーを正確に測定するため,高速フロントパワーモニタを利用できない場合は,平

均パワーレベル測定を推奨する(

図 U.3b)。

測定に関する備考 

・  アシストパワーレベル

アシストパワーレベル P

a

の測定における誤りが,の測定値の重大な誤りを招くことになるた

め,P

a

の測定は注意深く(±0.05 mW の精度で)行う。

・  ディスクの温度

ディスクの温度は,25  ℃±1  ℃に保つ。評価装置が密閉している場合,内部温度が上昇する場

合がある。

・  迷光

光ヘッド内の迷光が対物レンズに入射し,迷光のスポットを形成することもある。光ビームス

ポットにおける温度上昇が小さくても,対物レンズを通した光パワーの測定値は大きい場合があ

る。

・  光部品(特に対物レンズ)の汚れ

光がちり(塵)などで吸収される場合,対物レンズを通過後の光パワーは減少する。これはパ

ワーメータで測定することができるため,混乱は生じない。光を散乱させる場合は,対物レンズ

を通過した全ての光パワーが,メディアの温度上昇に対して有効なわけではない。定期的に清掃

を行う必要がある。

・  ビームスポットの大きさ

記録メディアの感度の測定の前に,評価装置のビームプロファイルを光ナイフエッジ法で検査

するのが望ましい。測定したスポットの直径が,基準駆動装置の最良の直径である 1.08  μm から

かけ離れていない場合,ディスクの傾斜などの上記の条件を注意深く調整するのが望ましい。

図 U.3a−ローパスフィルタによるリンギングの除去 

図 U.3−平均パワーレベルからパルスパワーを正確に決定する方法 


115

X 6270

:2011 (ISO/IEC 22533:2005)

図 U.3b−平均パワーレベルからのパルスパワー決定 

図 U.3−平均パワーレベルからパルスパワーを正確に決定する方法(続き) 

P

a

T

p

1 周期

P

w

P

b

ローパスフィルタ

(~100 kHz)

平均パワーレベル

P

b

P

w

=(P

a

P

b

)×(1 周期)/T

p

 + P

b