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X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

2

3

  用語及び定義  

3

4

  試験方法  

5

4.1

  試験パラメタ  

5

4.2

  試験ドライブ  

5

4.3

  試験領域  

5

5

  試験結果の評価  

5

5.1

  初期性能試験結果の評価  

5

5.2

  定期性能試験結果の評価  

6

6

  試験間隔  

7

7

  劣化の予防  

8

附属書 A(参考)DVD-RDVD-RWDVD-RAM+R 及び+RW ディスクの劣化の原因  

9

附属書 B(参考)DVD-RDVD-RWDVD-RAM+R 及び+RW ディスクの取扱い, 

    保存及びクリーニングのための推奨条件  

11

附属書 C(参考)BER と PI SUM 8 との関係  

13

附属書 D(参考)保存条件が異なる場合の推定寿命の補正のガイドライン  

14

附属書 E(参考)B

50

ライフ及び B

5

ライフを用いた B

mig

ライフの計算  

16

附属書 F(参考)試験間隔及びデータ移行のガイドライン  

18

附属書 G(参考)定期性能試験領域  

22


X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般財団法人光産

業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。

これによって,JIS X 6255:2011 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。


日本工業規格

JIS

 X

6255

:2015

(ISO/IEC 29121

:2013

)

DVD-R

,DVD-RW,DVD-RAM,+R 及び

+RW

ディスクのためのデータ移行方法

Information technology-

Digitally recorded media for information interchange and storage-

Data migration method for DVD-R, DVD-RW, DVD-RAM, +R, and +RW disks

序文 

この規格は,光ディスク媒体を用いて長期間データを保存するためのデータ移行方法を規定する。また,

この規格は,2013 年に第 2 版として発行された ISO/IEC 29121 を基に,技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

適用範囲 

この規格は,長期間データを保存するためのデータ移行方法を規定する。この規格によって,情報保存

用の DVD-R,DVD-RW,DVD-RAM,+R 及び+RW ディスクを使用するデータ保存システムを構築するこ

とが可能となる。データ保存システムのユーザは,初期性能試験を基準にして十分な寿命の能力をもつデ

ィスクを選択することができ,また,定期性能試験に基づいて,ディスクからのデータ復元の可能性を継

続的に監視することができる。これらの試験は,制御保存条件における経年劣化の応答として,ディスク

に記録されたデータを訂正不能なエラーがない状態で復元できる実用的な長期保存性能を確立するもので

ある。コピーを許されたデジタルデータについては,移行前及び移行中のデータエラーを完全に訂正でき

る限り,現在のディスクから欠落なく次の新しいディスクにデータを移行することが可能となる。

このデータ移行の方法は,長期保存に向いたディスクに適用するものである。JIS X 6256 で規定された

平均値と標準偏差とで与えられた長期保存性能をもつディスクを使用することを推奨する。ディスクの長

期保存性能が分かっている場合に,ユーザは,長期保存性能に応じて試験間隔を決定できる。長期保存性

能の平均値と標準偏差とが分かっている場合は,推定のための試験方法に関係なく,この規格に基づくデ

ータ移行を実施できる。長期保存性能が不明な場合,3 年又はそれ以下の間隔で試験を行う必要がある。

ユーザは,システム又はアプリケーションの世代交代を考慮して,ディスクの推定存続期間によらず,移

行間隔を決定することができる。

データの推定保存寿命が短いディスクは,劣化のスピードが速く,頻繁な定期試験が必要となる。さら

に,記録データの劣化には複雑な故障メカニズムが存在する。そのため,保存寿命は,温度及び湿度だけ

ではなく,光ばく(曝)露,腐食ガス,汚れ,取扱い,再生装置など他の多くの要素に左右される。結果

として,保存環境が厳しくなればなるほど,より頻繁な定期試験が必要となる。すなわち,定期試験の頻

度は,ディスクの品質及び保存環境にも依存する。


2

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

この規格は,次を含む。

−  試験方法

−  試験ドライブ

−  試験結果の評価

−  試験間隔

−  劣化の予防

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO/IEC 29121:2013

,Information technology−Digitally recorded media for information interchange

and storage−Data migration method for DVD-R, DVD-RW, DVD-RAM, +R, and +RW disks

(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS X 6241

  120 mm DVD−再生専用ディスク

注記  対応国際規格:ISO/IEC 16448,Information technology−120 mm DVD−Read-only disk(IDT)

JIS X 6246

  120 mm(4.7 GB/面)及び 80 mm(1.46 GB/面)DVD−書換形ディスク(DVD-RAM)

注記  対応国際規格:ISO/IEC 17592,Information technology−120 mm (4,7 Gbytes per side) and 80 mm

(1,46 Gbytes per side) DVD rewritable disk (DVD-RAM)(IDT)

JIS X 6248

  80 mm

(1.46 GB/面)

及び 120 mm

(4.70 GB/面)

DVD リレコーダブルディスク(DVD-RW)

注記  対応国際規格:ISO/IEC 17342,Information technology−80 mm (1,46 Gbytes per side) and 120

mm (4,70 Gbytes per side) DVD re-recordable disk (DVD-RW)(IDT)

JIS X 6249

  80 mm(1.46 GB/面)及び 120 mm(4.70 GB/面)DVD レコーダブルディスク(DVD-R)

注記  対応国際規格:ISO/IEC 23912,Information technology−80 mm (1,46 Gbytes per side) and 120

mm (4,70 Gbytes per side) DVD Recordable Disk (DVD-R)(IDT)

JIS X 6250

  120 mm(4.7 GB/面)及び 80 mm(1.46 GB/面)+RW フォーマット光ディスク(4 倍速

まで)

注記  対応国際規格:ISO/IEC 17341,Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm

optical disk using +RW format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed up 
to 4X)(IDT)

JIS X 6251

  120 mm(4.7 GB/面)及び 80 mm(1.46 GB/面)+R フォーマット光ディスク(16 倍速

まで)

注記  対応国際規格:ISO/IEC 17344,Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm

optical disk using +R format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed up to 
16X)(IDT)

JIS X 6252

  120 mm(8.54 Gbytes/面)及び 80 mm(2.66 Gbytes/面)2 層 DVD レコーダブルディス

ク(DVD-R for DL)

注記  対応国際規格:ISO/IEC 12862,Information technology−120 mm (8,54 Gbytes per side) and 80


3

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

mm (2,66 Gbytes per side) DVD recordable disk for dual layer (DVD-R for DL)(IDT)

JIS X 6256

  情報技術−情報交換及び保存用のデジタル記録媒体−長期データ保存用光ディスク媒体

の寿命推定のための試験方法

注記  対応国際規格:ISO/IEC 16963,Information technology−Digitally recorded media for information

interchange and storage−Test method for the estimation of lifetime of optical media for long-term

data storage(IDT)

ISO/IEC 13170

,Information technology−120 mm (8,54 Gbytes per side) and 80 mm (2,66 Gbytes per side)

DVD re-recordable disk for dual layer (DVD-RW for DL)

ISO/IEC 25434

,Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +R DL

format−Capacity: 8,55 Gbytes and 2,66 Gbytes per side (recording speed up to 16X)

ISO/IEC 26925

,Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +RW HS

format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed 8X)

ISO/IEC 29642

,Information technology−  Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +RW

DL format−Capacity: 8,55 Gbytes and 2,66 Gbytes per side (recording speed 2,4X)

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

3.1

最大 BER(BER max)

エラー訂正前のデコーダ(復号器)の最初のパスで測定される,ディスク上の連続した 32 個の ECC ブ

ロックでの最大バイト誤り率。

注記  最大 BER は DVD-RAM ディスクに適用される。

3.2

B

mig

ライフ,B

mig

B

mig

 Life)

データ移行に用いる寿命であり,寿命分布の 100 万分位数である B

0.000 1

ライフ(すなわち,0.000 1 %が

故障する時間)又は 99.999 9 %生存期間。

注記  附属書 参照。

3.3

B

5

ライフ(B

5

 Life)

寿命分布の 5 %点(母集団の 5 %が故障する時間)

,すなわち,母集団の 95 %が生存する時間。

3.4

B

5

ライフ)

L

[(B

5

 Life)

L

B

5

ライフの 95 %下側信頼限界。

3.5

B

50

ライフ(B

50

 Life)

寿命分布の 50 %点(母集団の 50 %が故障する時間)

,すなわち,母集団の 50 %が生存する時間。

3.6

データ移行(data migration)

ある記録媒体又は記録デバイスから,別の記録媒体又は記録デバイスにデータを複写するプロセス。


4

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

3.7

誤り訂正符号,ECC(Error Correction Code)

データの誤りを検出及び訂正するために用いられる照合バイトを生成するための数学的計算。

注記 DVD-R,DVD-RW,DVD-RAM,+R 及び+RW の場合,JIS X 6241 で定義したリードソロモン

符号が適用される。

3.8

エラーレート(error rate)

誤り訂正を適用する前の記録したデータに対する誤り率。

3.9

初期性能試験(initial performance test)

初めてデータを記録した直後に行う,ディスクの記録性能の試験。

3.10

寿命(lifetime)

システムで情報が復元可能である時間。

3.11

最大 PI SUM 8(PI SUM 8 max)

訂正前のデコーダの最初のパスで測定される,ディスク上の連続した 8 個の ECC ブロックでの最大内符

号パリティ(PI)エラー数。

注記  JIS X 6241JIS X 6249JIS X 6250JIS X 6248 及び JIS X 6251 を参照。

3.12

定期性能試験(periodic performance test)

保存期間中のディスクに記録されたデータのエラーレート特性の定期試験。

3.13

復元性(retrievability)

記録したとおりに物理情報を回復する能力。

3.14

保存期間(storage time)

データが記録されてからディスクが保存されている期間。

3.15

基板(substrate)

記録する層又は記録された層を機械的に支持する透明なディスクの層。これを通して光ビームが記録す

る層又は記録された層にアクセスできる。

3.16

システム(system)

情報の記録,復元及び再生に使用するハードウェア,ソフトウェア,光ディスク,関連文書などの組合

せ。

3.17

訂正不能エラー(uncorrectable error)

誤り訂正回路で訂正できない再生データのエラー。


5

X 6255

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3.18

X

mig

ライフ,X

mig

X

mig

 Life)

ユーザによって決定されたデータ移行間隔(年)

注記  附属書 を参照する。

試験方法 

4.1 

試験パラメタ 

JIS X 6249

又は JIS X 6252 で規定する DVD-R,JIS X 6248 又は ISO/IEC 13170 で規定する DVD-RW,

JIS X 6251

又は ISO/IEC 25434 で規定する+R,及び JIS X 6250ISO/IEC 26925 又は ISO/IEC 29642 で規

定する+RW ディスクの場合は,エラー訂正する前の連続する 8 個の ECC ブロックの最大内符号パリティ

エラー数(最大 PI SUM 8)を測定する。

JIS X 6246

で規定された DVD-RAM ディスクの場合は,エラー訂正する前の最大バイト誤り率(最大

BER)を測定する(附属書 参照)。

4.2 

試験ドライブ 

試験ドライブは,DVD-R,DVD-RW,+R 及び+RW ディスクについては,JIS X 6241 に適合するか又は

同等でなければならず,DVD-RAM ディスクについては,JIS X 6246 に適合しなければならない。試験ド

ライブは,DVD-R,DVD-RW,+R 及び+RW ディスクについては最大 PI SUM 8 を,DVD-RAM ディスク

については最大 BER を,それぞれ測定する能力がなければならない。

4.2.1 

試験ドライブの校正 

試験ドライブは製造業者が定めた校正手順に基づき,製造業者が用意した校正ディスクを使用して,校

正する。この校正は製造業者が推奨する間隔内に行わなければならない。

4.2.2 

試験の準備 

ディスクは試験実施に先立ち,ほこり(埃)

,指紋,その他の汚れがないか,視覚的に検査しなければな

らない。汚れなどがあった場合は,ディスク製造業者の推奨に従って,これらの汚れを除去する。ディス

クの性能劣化の原因は,

附属書 に記載する。顕微鏡による検査をすれば,保護コーティングの剝離,小

孔などの物理的劣化を明らかにできることもある。

4.2.3 

試験の実施 

試験ドライブは,ディスクを試験する前に,附属の校正ディスクによる検査でその性能を検証するか,

又は公の機関で検証しなければならない。ドライブが校正検査を通った場合,検査すべきディスクは,こ

のドライブを使って試験する。

DVD-R,DVD-RW,+R 及び+RW ディスクの試験結果は最大 PI SUM 8,DVD-RAM ディスクの試験結果

は最大 BER によって判断する。

4.3 

試験領域 

全てのディスクは,記録されたデータをより正確に把握するため,記録された領域全体を検査するのが

望ましい(

附属書 参照)。

試験結果の評価 

5.1 

初期性能試験結果の評価 

初めてデータが記録されたディスクの場合は,データが記録された領域全体の初期記録性能を検査しな

ければならない。初期記録性能は,

表 に示すとおり DVD-R,DVD-RW,+R 及び+RW ディスクについて


6

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:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

は最大 PI SUM 8,DVD-RAM ディスクについては最大 BER を用い,レベル 1,2 及び 3 に分類する(

附属

書 参照)。

少なくとも,初期記録性能は,レベル 1 の範囲内でなければならない。レベル 2 の初期記録性能を示す

ディスクは,長期保存用に使用しないのが望ましい。レベル 3 のディスクは規格から外れており,使用し

てはならない。

初期記録性能がレベル 1 より悪い場合は,最大 PI SUM 8 及び最大 BER がディスク及びドライブの両方

の性能に左右されるので,データの記録に使用するディスク及びドライブの性能を検証するのが望ましい。

ドライブの状態がよくない場合には,ドライブを換えるのが望ましい。また,ディスクの状態がよくない

場合には,別のロットのディスクを使用するのが望ましい。

表 1−初期記録性能の区分 

レベル

ステータス DVD-R,DVD-RW,+R,+RW

(最大 PI SUM 8)

DVD-RAM

(最大 BER)

1

使用を推奨する。

<140

<5.0×10

4

2

使用しないのが望ましい。 140∼280 5.0×10

4

∼1.0×10

3

3

使用してはならない。

>280

>1.0×10

3

5.2 

定期性能試験結果の評価 

データの保存に使用するディスクは,箇条 に記載する試験間隔で,定期的に試験することが望ましい。

定期性能試験での記録性能は,

表 に示すとおり,DVD-R,DVD-RW,+R 及び+RW ディスクについては

最大 PI SUM 8,DVD-RAM ディスクについては最大 BER を用い,レベル 4,5 及び 6 に分類する(

附属書

C

を参照)

記録性能がレベル 4 の範囲内である場合,ディスクの性能は引き続き使用できる良好な状態である。

記録性能がレベル 5 の範囲内である場合,ディスクに保存されたデータをできるだけ早く別のディスク

に移行しなければならない。

記録性能がレベル 6 である場合,ディスクに保存されたデータを別のディスクに即座に移行しなければ

ならない。レベル 6 では,最大 PI SUM 8 及び最大 BER の値がレベル 6 の下限値より大きい値になるとき,

訂正不能エラーになる場合があり,データを復元することができないこともある。

初期性能試験及び定期性能試験のデータ移行のフローチャートを

図 に示す。

表 2−定期性能試験時の記録性能の区分 

レベル

ステータス DVD-R,DVD-RW,+R,+RW

(最大 PI SUM 8)

DVD-RAM

(最大 BER)

4

引き続き使用する。

<200

<7.1×10

4

5

できるだけ早くデータ移行する。 200∼280 7.1×10

4

∼1.0×10

3

6

直ちにデータ移行する。

>280

>1.0×10

3


7

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

最大 PI Sum 8

又は最大 BER

レベル 1: 使用を推奨する

レベル 3: 使用してはならない

レベル 2: 使用しないのが望ましい

レベル 6: 直ちにデータを移行する

レベル 5: できるだけ早くデータを

移行する

レベル 4: 引き続き使用してよい

データを記録した後,

ディスクは一定の環境で保存する。

定期性能試験

初期性能試験

最大 PI Sum 8

又は最大 BER

ディスク

試験ドライブ

ディスク

試験ドライブ

図 1−ディスクのデータ移行フローチャート 

試験間隔 

ディスクの長期保存性能が分かっている場合には,ディスクの試験間隔は長期保存性能に応じて決定し

てもよい。対応国際規格にある場合には,ディスクの試験は 3 年以下の間隔で行うことが望ましい。

JIS X 6256

を使用して寿命が推定できる場合には,ディスクは

附属書 と附属書 とに従って検査する

ことが望ましい。

ディスクの長期保存性能が分かっていない場合においても,

附属書 に示す推奨条件で保存し,注意し

て取り扱い,頻繁にデータへのアクセスを行わないなど,ディスクが良好に扱われる場合は,3 年∼5 年に

一度の試験だけで差し支えない。類似のディスクの長期保存性能が十分であると分かっていれば,試験の

間隔を更に長くすることもできる。

なお,保存条件が,

附属書 に示す推奨条件とは異なる場合には,附属書 によって推定寿命を補正す

ることができる。

復元性に問題がある場合,又は読取りに時間がかかる場合は,すぐに試験を実施するのが望ましい。

試験の結果,あるディスクが劣化を示した場合は,同じ型,同じ時の生産,又は同じロットの別のディ

スクで追加の性能試験を実施して状況を確認してもよい。追加試験で重大な問題が発生した場合は,同様

の影響を受けた全てのディスクを,別のディスクに代えることが望ましい。

注記  箇条 で示したように,ユーザは,システム又はアプリケーションの世代交代を考慮して,デ

ィスクの推定存続期間によらず,移行間隔を決定することができる。この場合,機器のサポー

ト期間が通常 5 年∼10 年ぐらいであり,全体的技術のライフサイクルも 20 年たてば終了する

ことが多いことに注意する。

引き続き使用する 


8

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

劣化の予防 

ディスクの使用,保存,取扱い又は搬送の間,ディスクが劣化しないように必要な予防策をとらなけれ

ばならない。劣化の原因及びそれらの影響については,

附属書 に記載する。長期保存のためには,附属

書 の推奨を実行するのが望ましい。

長期保存用のディスクは,再生装置に置いたままにせず,光,ほこり(埃)

,極端な温度変化又は極端な

湿度変化にさら(曝)さないことが望ましい。


9

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

附属書 A

(参考)

DVD-R

,DVD-RW,DVD-RAM,+R 及び+RW ディスクの劣化の原因

A.1 

劣化 

DVD-R,DVD-RW,DVD-RAM,+R 及び+RW ディスクは,記録層及び反射層から構成される。記録層

及び反射層の劣化は,次の環境で加速される。

−  高温及び/又は高湿での保存

−  日光又は紫外線の下での保存

−  高密度の腐食ガス(硫化水素など)の中での保存

−  環境変化が激しい中での保存(気温の変化,湿度の変化など)

さらに,使用中にディスクのレーザ入射面が損傷,又は汚れることもある。

この劣化は,ディスクの誤り率を増加させる可能性がある。

A.2 

ディスクの構造 

ディスクには,片面ディスク及び両面ディスクがある。片面ディスクは,記録層と反射層とが形成され

た 1 枚の記録基板を,記録層が内側となるようにダミー基板と貼り合わせた構造であり,両面ディスクは,

2 枚の記録基板を,記録層が内側となるよう貼り合わせた構造である。2 枚の基板を貼り合わせることで,

環境変化による反りは小さくなる。2 枚の基板を貼り合わせるための粘着剤は,貼合せ工程でのひず(歪)

みが最小限となるように選ばれている。

DVD-R 及び+R ディスクは,有機色素の記録層を用い,DVD-RAM,DVD-RW 及び+RW ディスクは,無

機の相変化記録層を用いている。

A.3 

劣化の原因 

記録層及び反射層は,A.1 に示すような厳しい環境で長期間保存した場合,推奨の保存環境に比べ著し

く劣化するおそれがある。

記録層は,腐食,亀裂,変質などで劣化することがある。結果として,反射率及び記録された信号品質

が劣化する。記録マークは A.1 に示すような厳しい環境で長期間保存した場合,変形することがある。相

変化ディスクの場合,非晶質の記録マークの一部がランダムに結晶化することで,マークエッジのふらつ

き及び記録マークの反射率の低下が生じ,検出信号の変調度の低下,ジッターの増加などが生じる。色素

ディスクの場合,記録マークは,色素層の屈折率の変化,又は基板の物理的変形によって形成される。ス

トレスが加わるとき,色素材の退色に伴う屈折率の変化及びマークの変形の緩和が生じるため,検出信号

の変調度の低下,ジッターの増加などが起こる。

反射層は,腐食,亀裂,変質などで劣化することがある。結果として,反射率及び記録されたマークが

劣化する。

全ての光ディスクは,製造時に小さなきずがつくことがある。長期間にわたって,厳しい環境にさら(曝)

した場合,これらのきずは大きくなることがある。これらのきずによる劣化は,上記の記録層及び反射層

の劣化と同様,アレニウス法及びアイリング法を適用して,DVD-R,DVD-RW,DVD-RAM,+R 及び+RW

ディスクの寿命を予測することができる。


10

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

ストレスの大きい環境下で保存する場合,ディスクの反り,軸方向又は半径方向の振れ量などの機械的

特性も劣化することがある。

ディスクのレーザ入射面の損傷又は汚れは,記録層に到達するレーザ光の強度を弱め,データのドロッ

プアウトの原因ともなる。さらに,ごみの付着又は汚れがひどくなる場合,フォーカス及びトラッキング

の能力が低下し,読取能力が低下する。不適切な材料及び方法による入射面のクリーニングは,入射面の

損傷又は汚れを助長する場合もある。ディスクのクリーニングは,

附属書 に従って実行するのが望まし

い。

A.4 

劣化の性質 

動作環境はディスクの劣化に影響を与える。ライブラリシステムで使用するディスクの場合,環境は良

好に制御されているが,スタンドアローンドライブでのディスクの操作は,潜在的にディスクをより広い

範囲の汚れ及びより厳しい環境に置くことになる。特に,管理されていない環境に放置されたディスクの

場合,製造業者の推奨に反して不適切な取扱い及び汚れの影響を受けるおそれがある。

A.5 

劣化の影響 

ビームの集光の不明瞭化及びサーボ信号の乱れの両方が組み合わさる場合,デコーダに入力されるデー

タに欠落が生じる可能性がある。誤り訂正符号には非常に高いバースト訂正能力(最大 6.0 mm)があるが,

ほこり(埃)の粒子が大きければ,この能力を超える可能性がある。

A.6 

予期しない劣化 

ディスクを予期しない重大な劣化から保護するためには,データの特性及び重要性に応じて,長期デー

タ保存のためのバックアップシステムを用いることを推奨する。


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X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

附属書 B

(参考)

DVD-R

,DVD-RW,DVD-RAM,+R 及び+RW ディスクの取扱い,

保存及びクリーニングのための推奨条件

B.1 

取扱い 

ラベル面上の保護コートはもろくて損傷を受けやすいので,読出し面とともに保護するのが望ましい。

ディスクは注意深く取り扱い,触れるのは外側の縁部及び内側の孔部だけとするのが望ましい。読出し面

には決して触れないことが望ましい。

ディスクは,ほこり(埃)及びちり(塵)が付かないように保護することが望ましい。このことは,追

記形及び書換形ディスクを記録する過程において,特に重要である。ディスク上の静電気は,遊離性の汚

染物質を引き付けて定着させやすいので,帯電防止のある環境で使用することを推奨する。

B.2 

保存 

オフィス環境など通常保存の場合,保存環境を

表 B.1 に示す範囲に限定することを推奨する。

表 B.1−推奨する通常保存条件 

環境条件

推奨範囲

温度 5

℃∼30  ℃

相対湿度 15

%∼80 %

絶対湿度 1

g/m

3

∼24 g/m

3

大気圧 75

kPa∼106 kPa

温度勾配

最大 10  ℃/h

相対湿度勾配

最大 10 %/h

長期間保存が望まれる場合には,保存条件を更に厳重に制御することが望ましく,保存環境を

表 B.2 

示す範囲に限定することを推奨する。

表 B.2−推奨する管理保存条件 

環境条件

推奨範囲

温度 10

℃∼25  ℃

相対湿度 30

%∼50 %

絶対湿度 3

g/m

3

∼12 g/m

3

大気圧 75

kPa∼106 kPa

温度勾配

最大 10  ℃/h

相対湿度勾配

最大 10 %/h

ディスク上に結露がないことが望ましい。涼しく乾燥した保存条件が望ましい。望ましい温度及び湿度

の変動許容レベルを維持し,強い光及び汚れから保護するために,DVD-R,DVD-RW,DVD-RAM,+R 及

び+RW ディスクの長期保存には,清浄で遮光性のある保存容器の使用を推奨する。動作時又は保存時のほ

こり(埃)及びちり(塵)は,適切な保守管理及び監視手順によって最小限にすることが望ましく,特に

記録動作中は,厳密に管理することが望まれる。


12

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

B.3 

クリーニング 

データを含むディスクのクリーニング操作を実行する場合には,これに先立って,同じタイプかつ同じ

提供元からのもので,データを含まないディスクで試験を実行するのが望ましい。これによって,クリー

ニングによって逆に悪い影響が生じないかどうかを確認することができる。

遊離性の汚染物質は,清浄な乾燥空気を 1 秒程度の短い時間,間欠的に吹きかけることで取り除く。こ

のとき,低温の高圧ガスの吹付けは避ける。製造業者がクリーニングのための情報を提供していない場合,

有機ポリマ基板をもつディスクでは,低発じん(塵)性の不織布(リントフリー布)及び清浄水又は石け

ん水を使用して拭き取ってもよい。合成洗剤,アルコールなどの溶剤を使用しないことが望ましい。拭取

りは全て半径方向で行い,剝離させるような圧力をかけること及びディスクをきずつけることがないよう

に注意する。研磨剤は決して使用しないことが望ましい。いずれの面にもアクリル系液体,ワックス剤又

はその他のコート剤を使用しないことが望ましい。


13

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

附属書 C 
(参考)

BER

と PI SUM 8 との関係

バイト誤り率(BER)は,エラーのあるバイト数をバイトの総数で除した値である。内符号コードの一

つのコードワードの長さは 182 であるため,エラーのある内符号コードワードの確率 N

pi

は,エラーが無

作為に発生するという前提で,次の式(C.1)の二項確率で表すことができる。

(

)

i

i

i

i

pi

p

p

C

N

=

×

×

=

182

182

1

182

1

  (C.1)

ここで,

p

BER

を表す。

図 C.1 で示すとおり,外符号コードワードの長さが

208

であるため,

8 ECC

ブロックの

PI

エラーの数(

PI

SUM 8

N

pis8

は,式

(C.2)

で表すことができる。

pi

pis

N

N

×

×

=

8

208

8

   (C.2)

PI SUM 8

0

200

400

600

800

1000

1200

1400

1600

1800

1.0E-05

1.0E-04

1.0E-03

1.0E-02

1.0E-01

BER(p

図 C.1BERp)と PI SUM 8 との関係 


14

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

附属書 D 
(参考)

保存条件が異なる場合の推定寿命の補正のガイドライン

実際の保存条件では,温度及び相対湿度が

25

℃及び

50 %RH

から外れ,推定寿命が変化することが考

えられる。この場合,

25

℃及び

50 %RH

の保存条件の推定寿命は,次の記載のように実際の保存条件での

推定寿命に補正するのが望ましい。

JIS X 6256

によって,アイリング法に基づいた推定寿命

B

5

ライフ(

B

5

 Life

)は次の式

(D.1)

による。

(

)

σ

β

β

β

ˆ

64

.

1

ˆ

ˆ

ˆ

exp

Life

20

2

10

1

0

5

+

+

=

X

X

B

  (D.1)

ここに,

β

0

lnA

β

1

ΔH/k

β

2

B

X

10

及び

X

20

それぞれ制御保存条件(

25

℃/

50 %RH

)における温度

に依存するファクタ及び相対湿度に依存するファクタ

A

定数

ΔH

活性化エネルギ

k

ボルツマン定数

B

定数

σ

標準偏差

保存の温度及び相対湿度が

25

℃/

50 %RH

と異なるならば,

B

5

 Life

は次の式

(D.2)

で算出される

B

5

ライ

(m,n)

B

5

 Life

(m,n)

]で置き換える。次の式において,

X

1m

及び

X

2n

は,それぞれ温度

m

における温度に依存

するファクタ及び相対湿度

n

における相対湿度に依存するファクタを示す。この附属書では,式

(D.1)

にお

ける

B

5

 Life

は,式

(D.2)

を用いて

B

5

 Life

(0, 0)

とも表記することができる。

(

)

σ

β

β

β

ˆ

64

.

1

ˆ

ˆ

ˆ

exp

Life

2

2

1

1

0

)

,

(

5

+

+

=

n

m

n

m

x

x

B

  (D.2)

ここに,

m

温度を代表する数値

n

相対湿度を代表する数値

そして,

B

5

 Life

で正規化された補正係数[

A

d (m,n)

B

5

 Life

(m,n)

/B

5

 Life

]は,次の式

(D.3)

で与えられる。

(

) (

)

σ

β

β

β

σ

β

β

β

ˆ

64

.

1

ˆ

ˆ

ˆ

exp

ˆ

64

.

1

ˆ

ˆ

ˆ

exp

20

2

10

1

0

2

2

1

1

0

)

,

d(

+

+

+

+

=

x

x

x

x

A

n

m

n

m

[

]

)

(

ˆ

)

(

ˆ

exp

20

2

2

10

1

1

x

x

x

x

n

m

+

=

β

β

  (D.3)

JIS X 6256

のデータを用いて推定寿命 B

5

 Life(年)[B

5

 Life/24/365]の補正係数 A

d (m,n)

を計算した例を

D.1

に示した。温度を 25  ℃から 30  ℃まで 1  ℃ごとに,相対湿度は 50 %から 80 %まで 5 %ごとに変化さ

せて計算している。この条件において,25  ℃/50 %RH の B

50

 Life(年)は 1 101 年,B

5

 Life(年)は 887

年である。

この表から,

表 B.1 に示す推奨する通常保存条件でも,保存条件が 25  ℃/50 %RH より厳しくなると推

定寿命は大幅に短くなることが分かる。例えば,30  ℃/80 %RH で保存した場合,推定寿命は 25  ℃/

50 %RH の場合に比べ,1/6 に短くなるので,保存条件には十分注意が必要である。


15

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

なお,実際に使用するディスクの補正係数を計算するためには,そのディスクが属する母集団の推定寿

命及び簡易アイリングモデルの係数が必要となる。自ら JIS X 6256 を用いて寿命推定を行う場合を除き,

ディスク製造業者に問い合わせることを推奨する。

表 D.1−推定寿命の補正係数の一例 

JIS X 6256 の附属書 の試験データを用いて算出) 

 n 0 1 2 3 4 5 6

m  50

%

相対湿度

55 %

相対湿度

60 %

相対湿度

65 %

相対湿度

70 %

相対湿度

75 %

相対湿度

80 %

相対湿度

0 25

1.00 

0.86 0.74 0.64 0.55 0.47 0.41

1 26

℃ 0.84 0.72 0.62 0.54 0.46 0.40 0.34

2 27

℃ 0.70 0.61 0.52 0.45 0.39 0.33 0.29

3 28

℃ 0.59 0.51 0.44 0.38 0.33 0.28 0.24

4 29

℃ 0.50 0.43 0.37 0.32 0.27 0.24 0.20

5 30

℃ 0.42 0.36 0.31 0.27 0.23 0.20 0.17 

注記  この表は,寿命を推定した標本群が属する母集団に対して適用できる。母集団が異なる場合に

は,その都度,上記の式に従って計算し直す必要がある。


16

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

附属書 E

(参考)

B

50

ライフ及び B

5

ライフを用いた B

mig

ライフの計算

JIS X 6256

は,推定寿命を B

50

ライフ及び B

5

ライフ並びに B

5

ライフの 95 %下側信頼限界[

B

5

ライフ)

 L

で規定している。推定寿命 B

5

ライフは,製品の 5 %が故障になることを意味する。そのため,信頼性の観

点から,オリジナルデータを長期的に完全に保存するための試験間隔を決める場合の推定寿命及びデータ

移行を決定する場合に用いる推定寿命として,B

5

ライフを使用するのは適切ではない。

データ移行の場合は,十分に低い故障確率が必要である。そのため,この規格では製品の 100 万分の 1

が故障に達する時間を,試験間隔及び移行間隔を決めるための推定寿命として使用する。B

0.000 1

ライフは

寿命分布の 100 万分位数(すわなち,0.000 1 %故障時間)であり,この規格ではこれを B

mig

ライフとして

定義する。B

mig

ライフは,B

50

ライフと B

5

ライフとを用いることで,次のとおり計算できる。

なお,次の式中では,B

5

ライフ,B

50

ライフなどを,それぞれ B

5

B

50

などのように省略して表記する。

JIS X 6256

によれば,

p

Bˆ

ln

は式(E.1)で示される。

σ

β

β

β

ˆ

ˆ

ˆ

ˆ

ˆ

ln

100

/

20

2

10

1

0

p

p

z

x

x

B

+

+

+

=

   (E.1)

ここに,

z: N(0,σ

2

)のパーセント点

{x

10

x

20

}: 制御保存条件(25  ℃,相対湿度 50 %)

式(E.1)を用いて,100 万分の 1 の故障確率となる推定寿命

1

000

.

0

ˆ

ln B

は,式(E.2)で与えられる。故障確率が

100 万分の 1 である推定寿命は,正規分布の 4.75σ に相当する。

σ

σ

β

β

β

ˆ

75

.

4

ˆ

ln

ˆ

75

.

4

ˆ

ˆ

ˆ

ˆ

ln

50

20

2

10

1

0

1

000

.

0

=

+

+

=

B

x

x

B

  (E.2)

一方,

5

ˆ

ln B

は式

(E.3)

で与えられる。

σ

σ

β

β

β

ˆ

64

.

1

ˆ

ln

ˆ

64

.

1

ˆ

ˆ

ˆ

ˆ

ln

50

20

2

10

1

0

5

=

+

+

=

B

x

x

B

   (E.3)

(E.2)

及び式

(E.3)

B

50

ライフと

B

5

ライフとを代入し,式

(E.4)

が得られる。

(

)



=

=

64

.

1

ˆ

ln

ˆ

ln

75

.

4

ˆ

ln

exp

ˆ

75

.

4

ˆ

ln

exp

5

50

50

50

1

000

.

0

B

B

B

B

B

σ

(

)

50

5

ˆ

ln

90

.

1

ˆ

ln

90

.

2

exp

B

B

=

  (E.4)

よって,

(

)

50

5

1

000

.

0

mig

ˆ

ln

90

.

1

ˆ

ln

90

.

2

exp

B

B

B

B

=

=

  (E.5)

例えば,JIS X 6256 

附属書 

B

50

ライフ及び

B

5

ライフのデータを使用すると,

(

)

(

)

659

158

)

875

770

7

ln(

ˆ

ln

875

770

7

887

823

160

)

593

648

9

ln(

ˆ

ln

593

648

9

101

1

5

5

50

50

=

=

=

=

=

=

=

=

B

B

B

B

時間

時間


17

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

B

mig

ライフは,上記の値を式(E.5)に代入することによって求まる。

(

)

(

)

時間

588

199

151

5

823

160

9

.

1

659

158

9

.

2

exp

ˆ

ln

9

.

1

ˆ

ln

9

.

2

exp

50

5

mig

=

=

×

×

=

=

B

B

B


18

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

附属書 F

(参考)

試験間隔及びデータ移行のガイドライン

この附属書では,寿命が推定されていて既知のディスク及び寿命が未知のディスクの双方に対して,試

験間隔の選択及びデータ移行の実施に対するガイドラインを示す。

この規格による場合,光ディスクは定期的に試験され,ディスクのエラーが

表 2

に示される値を超えた

ときには,データ移行を実施する。したがって,ディスクの推定寿命が十分長い場合には,移行間隔も増

大する可能性がある。

しかし,移行間隔の間に再生装置,ファイル構造,アプリケーションソフトウェアの世代交代などがな

された場合,データを容易に再生できなくなることも想定される。加えて,記録されたデータの価値が高

い場合,ユーザは安全のためにより短い間隔での移行を望むことも想定される。このような要素も考慮し

て,移行間隔を

X

mig

(単位:年)と定義し,その値はこの規格を使用するときに決める。

移行間隔

X

mig

は,ディスクの推定寿命が未知の場合にも適用してもよい。

附属書 E

において,試験間隔及びデータ移行に用いる推定寿命は,

B

mig

ライフ(=

B

0.000 1

ライフ:

0.000 1 %

故障時間)と定義されている。

B

mig

(以下,単位:年)の半分を試験間隔として,定期性能試験を実施す

る。

試験間隔が長い場合には,適切な時期にディスクの抜取試験を行うことを推奨する。

2

回の定期性能試

験後,すなわち,試験間隔が

B

mig

に達したとき,試験結果が

表 2

のレベル

4

に相当する場合は,以降の試

験間隔を

3

年以下とする。この場合,試験は

2

回に制限することを推奨する。

F.1 

試験間隔及びデータ移行 

推定寿命がユーザの設定したデータ移行間隔に比べて比較的短い場合の定期性能試験及びデータ移行の

流れを

図 F.1

に示す。また,推定寿命がユーザの設定したデータ移行間隔に比べて比較的長い場合の定期

性能試験及びデータ移行の流れを

図 F.2

に示す。詳細を次の

(1) a)

(4) h)

のケースについて説明する。

(1)

初期性能試験の結果が

表 1

のレベル

1

(使用を推奨する。

)に相当する場合(レベル

1

以外は,使用し

ないのが望ましい又は使用してはならない。

a)  X

mig

B

mig

/2

0

より大きい場合,初回の定期性能試験の試験間隔は,

B

mig

/2

を推奨する。

b)  X

mig

B

mig

/2

0

以下の場合,初回の定期性能試験の試験間隔は,

X

mig

を推奨する。初回の定期性能

試験結果にかかわらず,データ移行の実施を推奨する。

(2)  a)

で定期性能試験結果が

表 2

のレベル

4

(引き続き使用する。

)に相当する場合(レベル

4

以外は,で

きるだけ早くデータ移行する又は直ちにデータ移行する。

c)

X

mig

2

×

B

mig

/2

0

より大きい場合,

2

回目の定期性能試験の試験間隔は,

B

mig

/2

を推奨する。

d)  X

mig

2

×

B

mig

/2

0

以下の場合,

2

回目の定期性能試験の試験間隔は,

X

mig

を推奨する。

2

回目の定

期性能試験結果にかかわらず,データ移行の実施を推奨する。

(3)  c)

で定期性能試験結果が

表 2

のレベル

4

(引き続き使用する。

)に相当する場合(レベル

4

以外は,で

きるだけ早くデータ移行する又は直ちにデータ移行する。

e)

X

mig

2

×

B

mig

/2

3

0

以上の場合,

3

回目の定期性能試験の試験間隔は,

3

年を推奨する。

f)

X

mig

2

×

B

mig

/2

3

0

より小さい場合,

3

回目の定期性能試験の試験間隔は,

1

年又は

2

年を推奨


19

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

する。

3

回目の定期性能試験結果にかかわらず,データ移行の実施を推奨する。

(4)  e)

で定期性能試験結果が

表 2

のレベル

4

(引き続き使用する。

)に相当する場合(レベル

4

以外は,で

きるだけ早くデータ移行する又は直ちにデータ移行する。

g)  X

mig

2

×

B

mig

/2

2

×

3

0

以上の場合,

4

回目の定期性能試験の試験間隔は,

3

年を推奨する。

4

目の定期性能試験結果にかかわらず,データ移行の実施を推奨する。

h)   X

mig

2

×

B

mig

/2

2

×

3

0

より小さい場合,

4

回目の定期性能試験の試験間隔は,

1

年又は

2

年を推

奨する。

4

回目の定期性能試験結果にかかわらず,データ移行の実施を推奨する。

F.

1

でのケー

0

X

mig

(4) g)

3

4回目の定期性能試験

データ移行する

(1) a)

B

mig

/2

初回の定期性能試験

2のレベルを判断

(2) c)

B

mig

/2

2回目の定期性能試験

2のレベルを判断

継続使用可

継続使用可

継続使用可

(3) e)

3回目の定期性能試験

2のレベルを判断

3

保存期間(年) 

図 F.1

推定寿命がユーザの設定したデータ移行間隔に比べて比較的短い場合の 

定期性能試験及びデータ移行の流れ 


20

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

F.

1

でのケー

0

X

mig

(1) b)

B

mig

/2

初回の定期性能試験

データ移行する

(2) d)

B

mig

/2

B

mig

/2

2回目の定期性能試験

データ移行する

(3) f)

B

mig

/2

B

mig

/2

3

3回目の定期性能試験

データ移行する

(4) h)

3

B

mig

/2

B

mig

/2

3

4回目の定期性能試験

データ移行する

保存期間(年) 

図 F.2

推定寿命がユーザの設定したデータ移行間隔に比べて比較的長い場合の 

定期性能試験及びデータ移行の流れ 

F.2 

個別の計算例 

F.1

でのケース

(1)

(4)

の計算例を,次の

事例 1

及び

事例 2

に示す。

事例 1

ディスクの

B

mig

値が

20

年で,移行間隔

X

mig

25

年として,初期性能試験の結果がレベル

1

に相当する

場合。

(1)

では,

X

mig

B

mig

/2

25

年−

10

年=

15

年>

0

年なので,初回の定期性能試験までの試験間隔は

10

年と

するのが望ましい。ここでは,初回の定期性能試験結果はレベル

4

とする。

(2)

では,

X

mig

2

×

B

mig

/2

25

年−

2

×

10

年=

5

年>

0

年なので,

2

回目の定期性能試験までの試験間隔は

10

年とするのが望ましい。ここでは,

2

回目の定期性能試験結果はレベル

4

とする。

(3)

では,

X

mig

2

×

B

mig

/2

25

年−

2

×

10

年−

3

年=

2

年>

0

年なので,

3

回目の定期性能試験までの試験

間隔は

3

年とするのが望ましい。ここでは,

3

回目の定期性能試験結果は,レベル

4

とする。

(4)

では,

X

mig

2

×

B

mig

/2

2

×

3

25

年−

2

×

10

年−

2

×

3

年=−

1

年<

0

年なので,

4

回目の定期性能試験

までの試験間隔は

2

年とするのが望ましい。

4

回目の定期性能試験結果にかかわらず,データ移行の実施

を推奨する。

事例 2

ディスクの

B

mig

値が

50

年で,移行間隔

X

mig

20

年として,初期性能試験の結果がレベル

1

に相当する

場合。


21

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

(1)

では,

X

mig

B

mig

/2

20

年−

25

年=−

5

年<

0

年なので,初回の定期性能試験までの試験間隔は

20

とするのが望ましい。初回の定期性能試験結果にかかわらず,データ移行の実施を推奨する。


22

X 6255

:2015 (ISO/IEC 29121:2013)

附属書 G 
(参考)

定期性能試験領域

4.3

では,データの読取能力を確認するため,全てのディスクの記録領域全体を試験するのが望ましい。

ディスクは記録領域全てにわたり均一な記録性能をもつことが期待されるため,一部の記録領域だけで定

期性能試験を実施しても,アイリング加速モデル又はアレニウス加速モデルに従う記録面の平均的な劣化

を推測することは可能である。しかし,部分的な試験では,欠陥などによる局所的な劣化を検知できない

場合がある。そのため,定期性能試験でも,記録領域全体を試験することを推奨する。

試験領域を狭くする場合,局所的な劣化を見逃す可能性があり,データの完全性は低下するが,保存す

る情報の価値及び試験するディスクの数によっては,ユーザがディスクの試験領域及びディスクの数を減

らしたいと考えることもある。

一般に,記録保存されたデータの品質又は特性がディスク全体にわたり既知でない限り,欠陥による,

不確定的な,又は予測不可能な振る舞いを示す

PI

エラーを要因として,データの完全性は試験領域の割合

に応じて増減する。しかし,不確実性を減少させる有効な情報がある場合には,部分的な試験であっても

データの完全性は改善される。

もし,

PI SUM8

又は

BER

が正規分布に従わない場合は,その分布に基づいた適切な統計的推定が必要で

ある。

注記

上記の推定は,局所的な欠陥に起因する

PI

エラー又は

BER

には適用できない。

参考文献

[1]  JIS X 6242

80 mm DVD

−再生専用ディスク

注記

対応国際規格:

ISO/IEC 16449

Information technology

80 mm DVD

Read-only disk

IDT

[2]  ISO/IEC 10995:2011

Information technology

Digitally recorded media for information interchange and

storage

Test method for the estimation of the archival lifetime of optical media

[3]  ISO 23868:2008

Document management

Monitoring and verification of information stored on 130 mm

optical media