X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 試験方法························································································································· 5
4.1 試験パラメタ ················································································································ 5
4.2 試験領域 ······················································································································ 6
4.3 試験ドライブ ················································································································ 6
4.4 ディスクの準備 ············································································································· 6
4.5 試験の実施 ··················································································································· 6
5 定期性能試験の試験間隔 ···································································································· 7
6 試験結果の評価 ················································································································ 7
6.1 一般 ···························································································································· 7
6.2 初期性能試験 ················································································································ 7
6.3 定期性能試験 ················································································································ 8
7 劣化の予防 ······················································································································ 9
附属書A（参考）長期保存用の光ディスクの劣化の原因 ····························································· 10
附属書B（参考）長期データ保存用光ディスクの取扱い，保存及びクリーニングのための推奨条件 ····· 12
附属書C（参考）BERとPI SUM 8との関係 ············································································ 14
附属書D（参考）厳しいストレス条件の場合の推定寿命補正のガイドライン ··································· 15
附属書E（参考）B50ライフ及びB5ライフを用いたBmigライフの計算 ············································ 17
附属書F（参考）試験間隔及びデータ移行のガイドライン ··························································· 19
附属書G（参考）試験領域 ···································································································· 23
附属書H（参考）BDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスクの最大RSERの基準·················· 24
附属書I（参考）欠陥の取扱いのガイドライン ·········································································· 25
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産
業技術振興協会（OITDA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
これによって，JIS X 6255:2015は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
日本工業規格 JIS
X 6255：2019
(ISO/IEC 29121：2018)
長期データ保存用光ディスクのための
データ移行方法
Data migration method for optical disks for long-term data storage
序文
この規格は，2018年に第3版として発行されたISO/IEC 29121を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格で，光ディスク媒体を用いたデータ移行方法の規定を提供するものである。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，長期データ保存用のDVD-Rディスク（JIS X 6249及びJIS X 6252），DVD-RWディスク（JIS
X 6248及びISO/IEC 13170），DVD-RAMディスク（JIS X 6246），+Rディスク（JIS X 6251及びISO/IEC
25434），+RWディスク（JIS X 6250，ISO/IEC 26925及びISO/IEC 29642），CD-Rディスク（JIS X 6282），
CD-RWディスク（JIS X 6283），BDレコーダブルディスク（JIS X 6230及びJIS X 6231）及びBD書換形
ディスク（JIS X 6232及びJIS X 6233）のためのデータ移行方法について規定する。この規格を情報保存
システムに適用することによって，コピーを許されたデジタルデータについては，移行前及び移行中のデ
ータエラーを完全に訂正できる限り，現在のディスクから欠落なく次の新しいディスクにデータを移行す
ることが可能となる。
この規格は，次の項目について規定する。
− 長期データ保存のためのデータ移行方法
− 試験パラメタ，試験領域，試験ドライブ，ディスクの準備及び試験の実行方法を含む試験方法
− ディスクに記録されたデータの読取性能を最大データエラーで区分した表に従って検査する，初期性
能試験及び定期性能試験
− 使用中，保存，取扱い及び移送のディスクの性能が完全であることを保証するために，劣化の可能性
を減らすための注意の必要性
この規格は，JIS X 6256に規定したB5ライフ及びB50ライフを用いて導入した推定寿命Bmig(B0.000 1)ライ
フをもつディスクを使用するためのガイドラインも提供する。
注記1 ISO/IEC 29121:2018は，ISO/IEC Directive Part 2 7th editionの規定に従い，“This International
Standard”の表記を“This document”の表記に改正された。ISO/IEC Directive Part 2 7th edition
の改正に対応して，JIS Z 8301では“This document”に対応した表記が将来定められるもの
と思われるが，現段階では“This document”に相当する箇所は従来どおり“この規格”と記
載した。
2
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 29121:2018，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−Data migration method for optical disks for long-term data storage
（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS X 6230:2017 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−120 mm単層（25ギガバイト／ディス
ク）及び2層（50ギガバイト／ディスク）BDレコーダブルディスク
注記 対応国際規格：ISO/IEC 30190:2016，Information technology−Digitally recorded media for
information interchange and storage−120 mm Single Layer (25,0 Gbytes per disk) and Dual Layer
(50,0 Gbytes per disk) BD Recordable disk
JIS X 6231:2017 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−120 mm 3層片面（100ギガバイト／デ
ィスク），3層両面（200ギガバイト／ディスク）及び4層片面（128ギガバイト／ディスク）BD
レコーダブルディスク
注記 対応国際規格：ISO/IEC 30191:2015，Information technology−Digitally recorded media for
information interchange and storage−120 mm Triple Layer (100,0 Gbytes single sided disk and
200,0 Gbytes double sided disk) and Quadruple Layer (128,0 Gbytes single sided disk) BD
Recordable disk
JIS X 6232 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−120 mm単層（25ギガバイト／ディスク）及
び2層（50ギガバイト／ディスク）BD書換形ディスク
注記 対応国際規格：ISO/IEC 30192，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−120 mm Single Layer (25,0 Gbytes per disk) and Dual Layer (50,0 Gbytes
per disk) BD Rewritable disk
JIS X 6233 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−120 mm 3層（100ギガバイト／ディスク）
BD書換形ディスク
注記 対応国際規格：ISO/IEC 30193，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−120 mm Triple Layer (100,0 Gbytes per disk) BD Rewritable disk
JIS X 6246 120 mm（4.7 GB／面）及び80 mm（1.46 GB／面）DVD−書換形ディスク（DVD-RAM）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17592，Information technology−120 mm (4,7 Gbytes per side) and 80 mm
(1,46 Gbytes per side) DVD rewritable disk (DVD-RAM)
JIS X 6248 80 mm（1.46 GB／面）及び120 mm（4.70 GB／面）DVDリレコーダブルディスク
（DVD-RW）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17342，Information technology−80 mm (1,46 Gbytes per side) and 120
mm (4,70 Gbytes per side) DVD re-recordable disk (DVD-RW)
JIS X 6249 80 mm（1.46 GB／面）及び120 mm（4.70 GB／面）DVDレコーダブルディスク（DVD-R）
3
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
注記 対応国際規格：ISO/IEC 23912，Information technology−80 mm (1,46 Gbytes per side) and 120
mm (4,70 Gbytes per side) DVD Recordable Disk (DVD-R)
JIS X 6250 120 mm（4.7 GB／面）及び80 mm（1.46 GB／面）+RWフォーマット光ディスク（4倍速
まで）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17341，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm
optical disk using +RW format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed up
to 4X)
JIS X 6251 120 mm（4.7 GB／面）及び80 mm（1.46 GB／面）+Rフォーマット光ディスク（16倍速
まで）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17344，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm
optical disk using +R format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed up to
16X)
JIS X 6252 120 mm（8.54 Gbytes／面）及び80 mm（2.66 Gbytes／面）2層DVDレコーダブルディス
ク（DVD-R for DL）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 12862，Information technology−120 mm (8,54 Gbytes per side) and 80
mm (2,66 Gbytes per side) DVD recordable disk for dual layer (DVD-R for DL)
JIS X 6282 情報交換用120 mm追記形光ディスク（CD-R）
注記 対応国際規格：ECMA-394，Recordable Compact Disc Systems CD-R Multi-Speed（MOD）
JIS X 6283 情報交換用120 mmリライタブル光ディスク（CD-RW）
注記 対応国際規格：ECMA-395，Recordable Compact Disc Systems CD-RW Ultra-Speed（MOD）
ISO/IEC 13170，Information technology−120 mm (8,54 Gbytes per side) and 80 mm (2,66 Gbytes per side)
DVD re-recordable disk for dual layer (DVD-RW for DL)
ISO/IEC 25434，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +R DL
format−Capacity: 8,55 Gbytes and 2,66 Gbytes per side (recording speed up to 16X)
ISO/IEC 26925，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +RW
HS format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed 8X)
ISO/IEC 29642，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +RW
DL format−Capacity: 8,55 Gbytes and 2,66 Gbytes per side (recording speed 2,4X)
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
Bmigライフ，Bmig（BmigLife）
データ移行（3.5）で使用するB0.000 1ライフと同等の寿命（3.9）で，寿命分布の0.000 001分位点（例
0.000 1 %故障時間）又は99.999 9 %生存寿命。
注記 附属書E参照。
3.2
B5ライフ（B5 Life）
寿命（3.9）分布の第5分位点（母集団の5 %が故障する時間），すなわち，母集団の95 %が生存する時
間。
4
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
（出典：JIS X 6256:2019，3.4）
3.3
(B5ライフ) L［(B5 Life)L］
B5ライフの95 %下側信頼限界。
（出典：JIS X 6256:2019，3.5）
3.4
B50ライフ（B50 Life）
寿命（3.9）分布の第50分位点（母集団の50 %が故障する時間），すなわち，母集団の50 %が生存する
時間。
（出典：JIS X 6256:2019，3.6）
3.5
データ移行（data migration）
ある記録媒体又は記録デバイスから別の記録媒体又は記録デバイスにデータを複写するプロセス。
3.6
誤り訂正符号，ECC（Error Correction Code）
データの誤りを検出，訂正するために用いられる照合バイトを生成するための数学的計算。
注記 DVD-Rディスク，DVD-RWディスク，DVD-RAMディスク，+Rディスク及び+RWディスク
の場合は，DVD-ROMシステム用にJIS X 6241で定義したリードソロモン積符号が使用される。
BDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスクの場合は，JIS X 6230，JIS X 6231，JIS X 6232
及びJIS X 6233で定義した長距離符号（LDC）及びバースト検出サブコード（BIS）が使用さ
れる。CD-Rディスク及びCD-RWディスクの場合は，JIS X 6281で定義したリードソロモン符
号（CIRC）及びリードソロモン積符号（RSPC）が使用される。
3.7
エラーレート（error rate）
誤り訂正を適用する前のディスク上に記録したデータに対する誤り率。
3.8
初期性能試験（initial performance test）
データを保存する前にディスクに記録したデータの記録性能を評価する試験。
3.9
寿命（lifetime）
システム（3.18）で情報が復元可能である時間。
3.10
最大BER（Max BER）
エラー訂正前のデコーダ（復号器）の最初のパスで測定される，ディスク上の連続した32個のECC（3.6）
ブロックでの最大バイト誤り率（3.7）。
注記 最大BERは，DVD-RAMディスクに適用される。
3.11
最大C1 Ave 10（Max C1 Ave 10）
任意の10秒間にわたって平均した，エラー訂正前の1秒当たりのC1エラー数の最大値。
注記 JIS X 6281，JIS X 6282及びJIS X 6283を参照。
5
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
3.12
最大データエラー（Maximum Data Error）
光ディスクの指定した領域で測定されたデータエラーの最大値。
（出典：JIS X 6256:2019，3.13で注記を削除したもの。）
3.13
最大PI SUM 8（Max PI SUM 8）
エラー訂正前のデコーダの最初のパスで測定される，ディスク上の任意の連続した8 ECC（3.6）ブロッ
クでの内符号（PI）パリティエラー数の最大値。
注記 JIS X 6241，JIS X 6248，JIS X 6249，JIS X 6250及びJIS X 6251参照。
3.14
最大RSER（Max RSER）
40バイト以上の長さのバーストエラーを除いた，エラー訂正前でのランダムシンボルエラーレートの最
大値。
注記 JIS X 6230，JIS X 6231，JIS X 6232，JIS X 6233及びJIS X 6256参照。
3.15
定期性能試験（periodic performance test）
保存期間中にディスクに記録したデータの記録性能を評価する定期試験。
3.16
復元性（retrievability）
記録したとおりに物理情報を回復する能力。
3.17
保存期間（storage time）
ディスクにデータが記録された以降のディスクにデータが保存されている期間。
3.18
システム（system）
情報の記録，復元及び再生に使用するハードウェア，ソフトウェア，保存用のメディア及び関連文書の
組合せ。
（出典：JIS X 6256:2019，3.20）
3.19
訂正不能エラー（uncorrectable error）
誤り訂正回路で訂正できない再生データのエラー。
3.20
Xmigライフ，Xmig（Xmig Life）
ユーザが決めるデータ移行の間隔（年）。
注記 附属書F参照。
4
試験方法
4.1
試験パラメタ
JIS X 6252及びJIS X 6249に規定するDVD-Rディスク，JIS X 6248及びISO/IEC 13170に規定する
DVD-RWディスク，JIS X 6251及びISO/IEC 25434に規定する+Rディスク，JIS X 6250，ISO/IEC 26925
6
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
及びISO/IEC 29642に規定する+RWディスクの場合は，エラー訂正する前のデコーダ（復号器）の最初の
パスにおける任意の連続する8 ECCブロックの最大の内符号パリティエラー（最大PI SUM 8）を測定する。
JIS X 6246に規定するDVD-RAMディスクの場合は，最大のバイトエラー（最大BER）を測定する（附
属書C参照）。
JIS X 6282に規定するCD-Rディスク，JIS X 6283に規定するCD-RWディスクの場合は，最大のC1 Ave
10（最大C1 Ave 10）を測定する。
JIS X 6230及びJIS X 6231に規定するBDレコーダブルディスク並びにJIS X 6232及びJIS X 6233に規
定するBD書換形ディスクの場合は，最大のランダムシンボルエラーレート（最大RSER）を測定する（附
属書H参照）。
4.2
試験領域
初期性能試験の試験領域は，全てのディスクの全てのデータを記録した領域とする。
定期性能試験の試験領域は，全てのディスクの全てのデータを記録した領域が望ましい（附属書G参照）。
4.3
試験ドライブ
4.3.1
一般
JIS X 6252及びJIS X 6249に規定するDVD-Rディスクの場合は，試験ドライブは各規格に従う。JIS X
6248及びISO/IEC 13170に規定するDVD-RWディスクの場合は，試験ドライブは各規格に従う。JIS X 6251
及びISO/IEC 25434に規定する+Rディスクの場合は，試験ドライブは各規格に従う。JIS X 6250，ISO/IEC
26925及びISO/IEC 29642に規定する+RWディスクの場合は，試験ドライブは各規格に従う。試験ドライ
ブは，最大PI SUM 8を測定できるようにする。
DVD-RAMディスクの場合は，試験ドライブはJIS X 6246に従う。試験ドライブは，最大BERを測定
できるようにする。
CD-Rディスク及びCD-RWディスクの場合は，試験ドライブは各々JIS X 6282及びJIS X 6283に従う。
試験ドライブは最大C1 Ave 10を測定できるようにする。
JIS X 6230及びJIS X 6231に規定するBDレコーダブルディスクの場合は，試験ドライブは各規格に従
う。JIS X 6232及びJIS X 6233に規定するBD書換形ディスクの場合は，試験ドライブは各規格に従う。
試験ドライブは，最大RSERを測定できるようにする。
注記 JIS X 6231及びJIS X 6233に記載されたRSERの測定回路は，JIS X 6230及びJIS X 6232に記
載されたものと異なり，特にHF信号の信号処理回路が異なる。JIS X 6230:2017の附属書H及
びJIS X 6231:2017の附属書H参照。
4.3.2
試験ドライブの校正
試験ドライブは，製造業者が定めた校正手順に基づき，製造業者が用意した校正ディスクを使用して校
正する。この校正は，製造業者が推奨する間隔で行う。
4.4
ディスクの準備
ディスクは試験実施に先立ち，ほこり，指紋，その他で汚れていないことを確認する。それらの汚れが
あった場合，適切であるならば，ディスク製造業者の推奨方法に従って除去する。適用可能なクリーニン
グ方法については，附属書Bに記載している。顕微鏡検査を行って，保護コーティングの剝離，穴などの
物理的劣化を明らかにできることもある。
4.5
試験の実施
試験ドライブは，ディスクを試験する前に，試験ドライブ附属の校正ディスク又は公の機関で検証した
校正ディスクを使って検証する。ドライブが検証をパスした場合，試験するディスクは，このドライブに
7
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
よって試験されなければならない。
ディスクを試験する際には，予期しない欠陥が入り込むことを避けるために，取扱いに注意をする。附
属書I参照。
試験結果は，最大データエラーによって判断する。最大データエラーは，DVD-Rディスク，DVD-RW
ディスク，+Rディスク及び+RWディスクでは最大PI SUM 8，DVD-RAMディスクでは最大BER，CD-R
ディスク及びCD-RWディスクでは最大C1 Ave 10及びBDレコーダブルディスク及びBD書換型ディスク
では最大RSERである。
5
定期性能試験の試験間隔
ディスクの推定寿命が既知の場合は，試験間隔を推定寿命によって決めてもよいが，推定寿命が分から
ない場合は，ディスクは，3年以下の間隔で試験を行うことが望ましい。
JIS X 6256:2019に従った推定寿命が与えられる場合は，ディスクは，附属書E及び附属書Fに従って試
験を行うことが望ましい。
附属書Bに示す推奨条件で保存し，注意して取り扱い，頻繁にデータへのアクセスを行わないなど，デ
ィスクが良好に扱われる場合は，3年から5年に一度の試験にしてもよい。類似のディスクの推定寿命が
十分であると分かっていれば，試験の間隔を更に長くすることもできる。
復元性に問題がある場合，又は読取りに時間がかかる場合は，すぐに試験を実施することが望ましい。
試験の結果，あるディスクが劣化を示した場合は，同じ型，同じ推定寿命，又は同じロットの別のディ
スクで追加の性能試験を実施して確認してもよい。追加試験で重大な問題が分かった場合は，同様に影響
を受けた全てのディスクを別のディスクに代えることが望ましい。
6
試験結果の評価
6.1
一般
ディスクに記録したデータの読取性能は，初期性能試験及び定期性能試験によって検査される。データ
をディスクに初めて記録するときに，初期記録性能を初期記録性能試験によって検査する。初期記録性能
試験の結果によって，長期データ保存に使用するディスクが選別される。それらのディスクに記録したデ
ータの性能は，保存期間中に定期性能試験によって定期的に試験することが望ましい。定期性能試験の試
験結果によって，データ移行の必要性が判断される。
6.2
初期性能試験
初期記録性能は，最大データエラーを用い，表1に示すとおりレベル1，レベル2及びレベル3に区分
される。
初期記録性能は，少なくともレベル1の範囲とする。初期記録性能がレベル2を示すディスクは，保存
用に使用しないほうがよい。初期記録性能がレベル3のディスクは，規格の範囲外であり，使用してはな
らない。
初期記録性能がレベル1より悪い場合は，最大データエラーがディスク及びドライブの両方の性能に左
右されるので，データの記録に使用するディスク及びドライブの性能を検証することが望ましい。ドライ
ブの状態がよくない場合には置き換えることが望ましい。ディスクの状態がよくない場合は，別のロット
のディスクを使用することが望ましい。
8
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
表1−初期記録性能の区分
レベル
ステータス
DVD-R，DVD-RW，
+R，+RW
DVD-RAM
CD-R，CD-RW
BDレコーダブル，
BD書換形
1
使用を推奨する。
＜ 140
＜ 5.0×10−4
＜ 110
＜ 5.0×10−4
2
使用しない方がよい。
140 〜 280
5.0×10−4
〜 1.0×10−3
110 〜 220
5.0×10−4
〜 1.0×10−3
3
使用してはならない。
＞ 280
＞ 1.0×10−3
＞ 220
＞ 1.0×10−3
最大データエラー
最大PI SUM 8
最大BER
最大C1 Ave 10
最大RSER
6.3
定期性能試験
定期性能試験の記録したデータの性能は，表2に示すとおり最大データエラーによって，レベル4，レ
ベル5及びレベル6に区分される。
記録したデータの性能がレベル4の範囲内である場合は，ディスクの性能は引き続き使用できる良好な
状態である。
記録したデータの性能がレベル5の範囲内である場合は，ディスクに保存されたデータをできるだけ早
く別のディスクに移行する。
記録したデータの性能がレベル6である場合は，データが読取可能ならばディスクに保存されたデータ
を即座に別のディスクに複製する。最大データエラーがレベル6でも大きな値になると，訂正不能エラー
が生じてデータ復元ができなくなることに注意が必要である。
表2−定期性能試験時の記録したデータの性能の区分
レベル
ステータス
DVD-R，DVD-RW，
+R，+RW
DVD-RAM
CD-R，CD-RW
BDレコーダブル，
BD書換形
4
引き続き使用してよ
い。
＜ 200
＜ 7.1×10−4
＜ 160
＜ 7.1×10−4
5
できるだけ早くデー
タ移行する。
200 〜 280
7.1×10−4
〜 1.0×10−3
160 〜 220
7.1×10−4
〜 1.0×10−3
6
直ちにデータ移行す
る。
＞ 280
＞ 1.0×10−3
＞ 220
＞ 1.0×10−3
最大データエラー
最大PI SUM 8
最大BER
最大C1 Ave 10
最大RSER
初期性能試験及び定期性能試験のデータ移行のフローチャートを図1に示す。
9
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
図1−長期保存用の光ディスクのデータ移行のフローチャート
7
劣化の予防
ディスクの使用，保存，取扱い又は搬送の間，ディスクの性能が完全であることを保証するために，デ
ィスクが劣化しないように必要な予防策を行う。劣化の原因及びそれらの影響について，附属書Aに記載
している。長期保存のために，附属書B及び附属書Dの推奨を実行することが望ましい。
長期保存用のディスクは，再生装置に置いたままにするとか，光，ほこり又は極端な温度若しくは湿度
にさら（曝）したままにするといった取扱いをしないことが望ましい。
テストドライブ
最大データエラー
レベル1：使用を推奨する。
レベル3：使用してはならない。
レベル2：使用しない方がよい。
レベル6：直ちにデータ移行する。
レベル5：できるだけ早くデータ移行する。
レベル4：引き続き使用してよい。
データを記録した後，
ディスクはしかるべき環境で保存される。
定期性能試験
初期性能試験
最大データエラー
ディスク
テストドライブ
ディスク
ディスク
レベル3：使用してはならない。
レベル2：使用しない方がよい。
試験ドライブ
レベル1：使用を推奨する。
データを記録した後，
ディスクはしかるべき環境で保存される。
ディスク
試験ドライブ
レベル6：直ちにデータ移行する。
レベル5：できるだけ早くデータ移行する。
レベル4：引き続き使用してよい。
10
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書A
（参考）
長期保存用の光ディスクの劣化の原因
A.1 劣化
長期保存用の光ディスクは，記録層及び反射層から構成される。記録層及び反射層の劣化は，次の環境
で起こる可能性がある。
− 高温及び／又は高湿での保存
− 日光又は紫外線の下での保存
− 高密度の腐食ガス（硫化水素など）の中での保存
− 環境変化がある中での保存（気温の変化，湿度の変化など）
さらに，使用中にディスクのレーザ入射面が損傷，又は汚れる可能性がある。
この劣化は，ディスクのエラー率を増加させることになる。
A.2 ディスクの構造
DVD-Rディスク，DVD-RWディスク，DVD-RAMディスク，+Rディスク及び+RWディスクは，片面
ディスクでは記録基板がダミー基板と貼り合わされ，両面ディスクでは2枚の記録基板がお互いに貼り合
わされた構造となっている。記録基板は，記録層及び反射層に覆われている。2枚の基板の間の角度は，
環境条件の変化によって生じるひずみが最小になるように制御される。2枚の基板を貼り合わせる接着剤
は，基板の貼合せ工程に起因するストレスが最少になるように選ばれる。
DVD-Rディスク及び+Rディスクは，有機色素の記録層を用い，DVD-RAMディスク，DVD-RWディス
ク及び+RWディスクは，無機の相変化記録層を用いている。
CD-Rディスク及びCD-RWディスクは，記録層，反射層及び樹脂の被覆層に覆われた1枚の記録基板の
構造となっている。
CD-Rディスクは，有機色素の記録層を用い，一方CD-RWディスクは，無機の相変化記録層を用いてい
る。
BDレコーダブル3層両面ディスクを除くBDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスクは，1枚の
記録基板の構造となっている。BDレコーダブル3層両面ディスクは，2枚の記録基板がお互いに貼り合わ
された構造となっている。記録基板は，記録層，反射層及び樹脂の被覆層に覆われている。
BDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスクは，無機の相変化記録層を用いている。幾つかのタ
イプのBDレコーダブルディスクは，無機の相変化記録層の代わりに有機色素の記録層を用いている。
A.3 劣化の原因
記録層及び反射層の劣化は，上記A.1に示すような厳しい環境条件での長期保存中に劣化する可能性が
ある。
記録層は，腐食，亀裂，変質などで劣化する可能性がある。結果として，反射率及び記録した信号の品
質が劣化する。記録マークも，そのような厳しい環境条件での長期保存中に変形する可能性がある。相変
化ディスクの場合，非晶質の記録マークの一部がランダムに結晶化する可能性があり，各マークの端部の
ふらつき及び反射率の低下が生じる可能性がある。それらの現象の結果，検出記号の変調度の低下又はジ
11
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
ッタノイズの増加となる。色素ディスクの場合，記録マークは，色素層の屈折率の変化又は基板材料の変
形で形成される。環境のストレスが加わると，色素材料の退色又はマークの変形の緩和が生じる可能性が
ある。それらの現象の結果も，検出信号の変調度の低下又はジッタノイズの増加となる。
反射層は，腐食，亀裂，変質などで劣化する可能性がある。結果として，反射率及び記録された信号の
品質が劣化する。
全ての光ディスクは，製造時の小さな欠陥は許容される。長期間にわたって，厳しい環境にさら（曝）
した場合，これらの欠陥は大きくなる可能性がある。欠陥の成長は，上記の記録層及び反射層の劣化と同
様に，アレニウス法が適用でき，そのアレニウス法は，長期保存用の光ディスクの寿命の予測確認に使用
することができる。
変動する環境下で保存すると，ディスクのそり，軸方向及び半径方向の振れ量などの機械的特性が劣化
する可能性がある。
ディスクのレーザ入射面の損傷又は汚れは，光ビームがぼけて記録層がはっきりとしなくなり，データ
のドロップアウトの原因ともなる。さらに，微粒子の付着又は汚れは，ドライブがフォーカス及びトラッ
キングを要求される精度で維持するために使用するサーボ信号の変動の原因となる可能性がある。予期せ
ぬ汚れの最もよくある原因の一つに，不適切な材料及び方法によるディスクのクリーニングがある。ディ
スクのクリーニングは，附属書Bの方法に従ってだけ実行することが望ましい。
A.4 劣化の性質
動作環境は，ディスクの劣化に影響を与える。ライブラリシステムで使用するディスクの場合，環境は
良好に制御されているが，スタンドアローンドライブでのディスクの操作の場合は，潜在的にディスクを
より広い範囲の汚れ及びより厳しい環境に置くことになる。特に，管理されていない環境に放置されたデ
ィスクの場合，製造業者の推奨に反して不適切な取扱い及び汚れの影響を受ける可能性がある。
A.5 劣化の影響
ビームのぼけ及びサーボ信号の乱れが組み合わされると，デコーダに入力されるデータに欠落が生じる
可能性がある。誤り訂正符号は，非常に高いバースト訂正能力があるが，ほこりの粒子が大きければ，こ
の能力を超える可能性がある。
A.6 想定外の劣化
ディスクの想定外の深刻な劣化から保護するために，データの性質及び重要性に応じてデータ長期保存
のためのバックアップシステムを用意することを推奨する。
12
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書B
（参考）
長期データ保存用光ディスクの取扱い，保存及びクリーニングのための
推奨条件
B.1
取扱い
レーベル面のもろい保護コートは損傷を受けやすいので，読取面とともに保護することが望ましい。デ
ィスクは注意深く取り扱い，ディスクの外側の縁部及び内側の孔部だけ触ることを推奨する。読取面には
決して触れないように，強く推奨する。
ディスクは，ほこり（埃）及びちり（塵）が付かないように保護することが望ましい。このことは，追
記形及び書換形ディスクを記録する過程において特に重要である。遊離している汚染物質を引き付けて定
着させやすい静電気を中和するために，イオンを取り除く環境（帯電防止環境）を使用することを推奨す
る。
B.2
保存
オフィス環境など通常保存の場合，保存環境を表B.1に示す範囲に限定することを推奨する。
表B.1−推奨する通常保存条件
環境条件
推奨範囲
温度
5 ℃ 〜 30 ℃
相対湿度
15 % 〜 80 %
絶対湿度
1 g/m3 〜 24 g/m3
大気圧
75 kPa 〜 106 kPa
温度勾配
最大10 ℃／時間
相対湿度勾配
最大10 %/時間
長期間保存が望まれる場合には，保存条件を更に厳しく制御することが望ましく，保存環境を表B.2で
示す範囲に限定することを推奨する。
表B.2−推奨する管理保存条件
環境条件
推奨範囲
温度
10 ℃ 〜 25 ℃
相対湿度
30 % 〜 50 %
絶対湿度
3 g/m3 〜 12 g/m3
大気圧
75 kPa 〜 106 kPa
温度勾配
最大10 ℃／時間
相対湿度勾配
最大10 %/時間
ディスク上に結露がないことが望ましい。涼しく乾燥した保存条件が望ましい。望ましい温度及び湿度
の変動許容レベルを維持し，強い光及び汚れから保護するために，長期データ保存用の光ディスクの保存
には，清浄で遮光された保存容器の使用を推奨する。動作時又は保存時のほこり（埃）及びちり（塵）は，
13
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
適切な保守管理及び監視手順によって最小限にすることが望ましく，特に記録動作中は厳密に管理するこ
とが望まれる。
B.3
クリ−ニング
有益なデータが入っているディスクのクリーニング操作を実行する前に，クリーニングで逆に悪い影響
が生じないことを確実にするために，同じタイプかつ同じ提供元のデータを含まないディスクで試験を実
行することが望ましい。
遊離性の汚染物質は，低温の高圧ガスは避けて，清浄な乾燥空気を1秒程度の短い時間，間欠的に吹き
かけることで取り除ける可能性がある。製造業者がクリーニングのための情報を提供していない場合でも，
有機ポリマー基板をもつディスクでは，低発じん（塵）性の不織布（リントフリー布）及び清浄水又は石
けん水を使用して拭き取ることができる可能性がある。合成洗剤，アルコールなどの溶剤を使用しないこ
とが推奨される。拭取りは全て半径方向で行い，剝離させるような圧力をかけたり，ディスクをきずつけ
たりすることがないように注意することが望ましい。研磨剤は使用しないように強く推奨する。いずれの
面にもアクリル系液体，ワックス剤又はその他のコート剤を使用しないように推奨する。
14
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書C
（参考）
BERとPI SUM 8との関係
バイト誤り率（BER）は，エラーのあるバイト数をバイトの総数で除した値である。内符号コードの一
つのコードワードの長さは182であるため，エラーのある内符号コードワードの確率Npiは，エラーが無
作為に発生するという前提で，次の二項確率の式(C.1)による。
(
)
∑
=
−
−
×
×
=
182
1
182
182
pi
1
C
i
i
i
i
p
p
N
····················································· (C.1)
ここに，pはBERを表す。
図C.1に示すとおり，外符号長が208であるので，8 ECCブロックのPIエラーの数Npis8は式(C.2)によ
る。
pi
pis8
8
208
N
N
×
×
=
··································································· (C.2)
0.0E+00
2.0E+02
4.0E+02
6.0E+02
8.0E+02
1.0E+03
1.2E+03
1.4E+03
1.6E+03
1.8E+03
1.0E-05
1.0E-04
1.0E-03
1.0E-02
1.0E-01
P
I
S
U
M
8
BER (p)
図C.1−BER（p）とPI SUM 8との関係
15
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書D
（参考）
厳しいストレス条件の場合の推定寿命補正のガイドライン
実際の保存条件で，温度及び相対湿度が25 ℃及び相対湿度50 %から外れる可能性があり，そのことに
よって推定寿命が変動する。その場合，25 ℃及び相対湿度50 %における推定寿命を実際の保存条件にお
ける推定寿命に，次に示す方法で補正することが望ましい。
JIS X 6256によって，アイリング法に基づいた推定寿命B5ライフは，次の式(D.1)による。
(
)
σ
β
β
β
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
exp
20
2
10
1
0
5
−
+
+
=
x
x
ライフ
B
····································· (D.1)
ここに，
B
,
/
,
A
ln
2
1
0
=
∆
=
=
β
β
β
k
H
x10及びx20： 各々が制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）におけ
る温度依存因子及び相対湿度依存因子
A： 定数
ΔH： 1分子当たりの活性化エネルギー
k： ボルツマン定数
B： 相対湿度の指数定数
保存温度及び相対湿度が25 ℃及び相対湿度50 %と異なる場合，B5ライフは，m及びnが各々温度及び
相対湿度を表す数詞として，次に示す式による
)
(
5
m,n
ライフ
B
と置き換えられる。x1m及びx2nは，各々温度m
における温度依存因子及び相対湿度nにおける相対湿度因子を表す。式(D.1)のB5ライフは，式(D.2)を使
って，同様にB5ライフ（0,0）と表すことができる。
(
)
σ
β
β
β
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
exp
2
2
1
1
0
)
(
5
−
+
+
=
n
m
m,n
x
x
ライフ
B
·································· (D.2)
B5ライフで正規化した補正係数であるAd (m,n)＝B5ライフ(m,n) / B5ライフは，次の式(D.3)による。
(
)
(
)
(
)
(
)
[
]
20
2
2
10
1
1
20
2
10
1
0
2
2
1
1
0
)
,
(
d
ˆ
ˆ
exp
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
exp
/
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
exp
x
x
x
x
x
x
x
x
A
n
m
n
m
n
m
−
+
−
=
−
+
+
−
+
+
=
β
β
σ
β
β
β
σ
β
β
β
······ (D.3)
JIS X 6256の例を使用し，推定寿命B5ライフ（年）（B5ライフ/24/365）の補正係数Ad (m,n)を計算した例
を表D.1に示す。25 ℃及び相対湿度50 %におけるB50ライフ（年）が1 110年及びB5ライフ（年）が893
年という条件の下で，温度を25 ℃から35 ℃まで1度単位で変更し，相対湿度を50 %から80 %まで5 %
単位で変更して計算している。
表D.1は，表B.1に示す推奨する通常保存条件の範囲であっても，25 ℃及び相対湿度50 %から温度及
び相対湿度がより厳しくなる場合，推定寿命が急に短くなることを示している。例えば，保存条件の温度
及び相対湿度が25 ℃及び相対湿度50 %の場合に比して30 ℃及び相対湿度80 %の場合は，推定寿命が約
1/6に短くなる。したがって，実際の保存条件には十分な注意を払うことが望ましい。
追加して，あるディスクの補正係数を計算するためには，そのディスクが所属する母集団の推定寿命及
びアイリング法の係数の推定値が必要である。JIS X 6256を使用して寿命推定を行う場合を除き，ディス
ク製造業者にディスクの補正係数を問い合わせることを推奨する。
16
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
表D.1−推定寿命の補正係数
相対湿度
（n）
n
0
1
2
3
4
5
6
m
50 %
55 %
60 %
65 %
70 %
75 %
80 %
温
度
（m）
0
25 ℃
1.00
0.86
0.74
0.64
0.55
0.47
0.41
1
26 ℃
0.84
0.72
0.62
0.54
0.46
0.40
0.34
2
27 ℃
0.70
0.61
0.52
0.45
0.39
0.33
0.29
3
28 ℃
0.59
0.51
0.44
0.38
0.33
0.28
0.24
4
29 ℃
0.50
0.43
0.37
0.32
0.27
0.24
0.20
5
30 ℃
0.42
0.36
0.31
0.27
0.23
0.20
0.17
注記 この表は，JIS X 6256:2019の附属書Bの参考データを使用した計算例である。
17
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書E
（参考）
B50ライフ及びB5ライフを用いたBmigライフの計算
JIS X 6256は，光ディスクの推定寿命をB50ライフ，B5ライフ及びB5ライフの95 %下側信頼限界［(B5
ライフ)L］を定義している。推定寿命B5ライフは，製品の5 %が故障する寿命を意味している。したがっ
て，元のデータを完全に保つために長期保存の試験間隔及びデータ移行を決定する場合に，信頼性の観点
から，推定寿命としてB5ライフを使用するのは適切ではない。
データ移行の場合，故障確率が十分に低いことが必要である。したがって，この規格では試験間隔又は
データ移行間隔を決めるために，百万分の1の製品が故障時間に達する時間を推定寿命として使用される。
B0.000 1ライフは，寿命分布の0.000 001分位点（0.000 1 %故障時間）であり，この規格ではBmigライフと定
義する。Bmigライフは，B50ライフ及びB5ライフを使用して計算ができ，次による。
JIS X 6256によって，
p
Bˆ
ln
は，式(E.1)による。
σ
β
β
β
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
100
/
20
2
10
1
0
p
p
z
x
x
B
+
+
+
=
················································· (E.1)
ここに，
z：
(
)
2
σ
,0
N
の分位点
(
)
20
10,x
x
： 各々が制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）におけ
る温度依存因子及び相対湿度依存因子
式(E.1)を使用して，故障確率が百万分の1となる推定寿命のln B0.000 1は，式(E.2)による。百万分の1の
故障確率の推定寿命は，正規分布の場合4.75 σに相当する。
σ
σ
β
β
β
ˆ
75
.4
ˆ
ln
ˆ
75
.4
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
50
20
2
10
1
0
1
000
.0
−
=
−
+
+
=
B
x
x
B
··························· (E.2)
一方，
5ˆ
lnBは式(E.3)による。
σ
σ
β
β
β
ˆ
64
.1
ˆ
ln
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
50
20
2
10
1
0
5
−
=
−
+
+
=
B
x
x
B
······························· (E.3)
B50ライフ及びB5ライフを式(E.2)及び式(E.3)に挿入し，式(E.4)による。
(
)
−
−
=
−
=
64
.1
ˆ
ln
ˆ
ln
75
.4
ˆ
ln
exp
ˆ
75
.4
ˆ
ln
exp
5
50
50
50
1
000
.0
B
B
B
B
B
σ
ライフ
(
)
50
5
ˆ
ln
9.1
ˆ
ln
9.2
exp
B
B−
=
·························································· (E.4)
したがって，
(
)
50
5
1
000
.0
mig
ˆ
ln
9.1
ˆ
ln
9.2
exp
B
B
B
B
−
=
=
ライフ
ライフ
························ (E.5)
例えば，JIS X 6256:2019の附属書Bでは，アイリング法によって求めた制御保存条件（25 ℃及び相対
湿度50 %）におけるB50ライフ及びB5ライフのデータを示している。
(
)
時間
年
ライフ
120
724
9
110
1
50
=
=
B
12
090
.
16
)
120
724
9(
ln
ˆ
ln
50
=
=
B
(
)
時間
年
ライフ
297
826
7
893
5
=
=
B
18
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
00
873
.
15
)
297
826
7(
ln
ˆ
ln
5
=
=
B
Bmigライフは，これらの値を式(E.5)に代入することによって計算される。
)
12
090
.
16
9.1
00
873
.
15
9.2(
exp
)
ˆ
ln
9.1
ˆ
ln
9.2(
exp
50
5
mig
×
−
×
=
−
=
B
B
Bライフ
年
時間591
811
180
5
=
=
他の例では，JIS X 6256:2019の附属書Cでアレニウス法によって求めた過酷保存条件（30 ℃及び相対
湿度80 %）におけるB50ライフ及びB5ライフのデータを示している。
(
)
時間
年
ライフ
280
417
1
62
1
50
=
=
B
25
164
.
14
)
280
417
1(
ln
ˆ
ln
50
=
=
B
(
)
時間
年
ライフ
462
087
1
124
5
=
=
B
36
899
.
13
)
462
087
1(
ln
ˆ
ln
5
=
=
B
Bmigライフは，これらの値を式(E.5)に代入することによって計算される。
)
25
164
.
14
9.1
36
899
.
13
9.2(
exp
)
ˆ
ln
9.1
ˆ
ln
9.2(
exp
50
5
mig
×
−
×
=
−
=
B
B
Bライフ
年
時間
5
7
413
657
=
=
19
X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書F
（参考）
試験間隔及びデータ移行のガイドライン
F.1
一般
附属書Fは，推定寿命が既知のディスク及び未知のディスクの両方について，試験間隔を選択する及び
データ移行を実施するためのガイドラインを示す。
この規格に従って，光ディスクは定期的に試験を行い，ディスクのエラーが表2に定めた値を超える場
合データ移行が行われる。したがって，ディスクの推定寿命が十分長い場合，ディスクのデータ移行の間
隔も長くできる。
しかしながら，データ移行の時期の前に読取デバイス及び／又はファイル構造及び／又は応用を含むシ
ステムの世代交代が起こった場合，保存したデータは簡単に読み取れない可能性がある。さらに，保存デ
ータの価値が高い場合，ユーザは，安全のために短い間隔でデータ移行を行う可能性がある。これらの要
因を考慮に入れて，データ移行の間隔をXmig（年）と定義し，この値は，この規格のユーザによって決定
される。
データ移行の間隔Xmigは，ディスクの推定寿命が未知であった場合でも適用してもよい。
附属書Eで，試験間隔及びデータ移行のための推定寿命は，Bmigライフ（B0.000 1ライフ：0.000 1 %故障
時間）で定義する。Bmig［これ以降Bmig（年）とする。］の半分が試験間隔として設定され，定期性能試験
（PP試験）が行われる。試験間隔がBmigとなる2回のPP試験の後，試験結果が表2のレベル4の場合，
次の試験間隔は3年又はそれ以下に設定される。この場合，試験は2回に限ることを推奨する。
試験間隔が長い場合は，適切な時期にディスクのサンプリング検査を行うことを推奨する。
F.2
試験間隔及びデータ移行
a) 初期性能試験の結果が表1のレベル1（推奨）の場合（レベル1以外の場合は使用しないほうがよい
又は使用しない。）
1) Xmig−Bmig/2が0より大きい場合，最初の定期性能試験（PP試験）の試験間隔はBmig/2に設定する
のがよい（図F.1参照）。
2) Xmig−Bmig/2が0以下の場合，最初のPP試験の試験間隔はXmigにするのがよい。試験の結果にかか
わらず，最初のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい（図F.2参照）。
b) 1)のPP試験の結果が表2のレベル4（引き続き使用）の場合（レベル4以外の場合，データをできる
だけ早く又は直ちにデータ移行する。）
3) Xmig−2×Bmig/2が0より大きい場合，第2回のPP試験までの間隔はBmig/2に設定するのがよい（図
F.1参照）。
4) Xmig−2×Bmig/2が0以下の場合，第2回のPP試験までの間隔はXmig−Bmig/2に設定するのがよい。
試験の結果にかかわらず，第2回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい（図F.2参照）。
c) 3)の試験結果が表2のレベル4（引き続き使用）の場合（レベル4以外の場合，データをできるだけ
早く又は直ちにデータ移行する。）
5) Xmig−2×Bmig/2−3が0以上の場合，第3回のPP試験までの間隔は3年に設定するのがよい（図F.1
参照）。
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X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
6) Xmig−2×Bmig/2−3が−2又は−1の場合，第3回のPP試験までの間隔は各々1年及び2年に設定す
るのがよい。試験の結果にかかわらず，第3回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい
（図F.2参照）。
d) 5)の試験結果が表2のレベル4（引き続き使用）の場合（レベル4以外の場合，データをできるだけ
早く又は直ちにデータ移行する。）
7) Xmig−2×Bmig/2−2×3が0以上の場合，第4回のPP試験までの間隔は3年に設定するのがよい。試
験の結果にかかわらず，第4回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい（図F.1参照）。
8) Xmig−2×Bmig/2−2×3が−2又は−1の場合，第4回のPP試験までの間隔は各々1年及び2年に設
定するのがよい。試験の結果にかかわらず，第4回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのが
よい（図F.2参照）。
図F.1−ユーザが決めたデータ移行期間よりも推定寿命が比較的短い場合の定期性能試験（PP試験）
及びデータ移行のタイミング
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X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
図F.2−ユーザが決めたデータ移行期間よりも推定寿命が比較的長い場合の定期性能試験（PP試験）及び
データ移行のタイミング
F.3
特定の計算例
ケース1
ディスクのBmigが20年，データ移行間隔Xmigが25年に設定され，初期性能試験の結果がレベル1の場
合。
a)によって，Xmig−Bmig/2＝25−10＝15は0より大きく，最初のPP試験までの間隔は10年にするのがよ
い。最初のPP試験の試験結果はレベル4になるとする。
b)によって，Xmig−2×Bmig/2＝25−2×10＝5は0より大きく，第2回のPP試験までの間隔は10年にす
るのがよい。第2回のPP試験の試験結果はレベル4になるとする。
c)によって，Xmig−2×Bmig/2−3＝25−2×10−3＝2は0より大きく，第3回のPP試験までの間隔は3年
にするのがよい。第3回のPP試験の試験結果はレベル4になるとする。
d)によって，Xmig−2×Bmig/2−2×3＝−1は0以下であり，第4回のPP試験までの間隔は2年である。
試験の結果にかかわらず，第4回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい。
ケース2
ディスクのBmigが50年，データ移行間隔Xmigが20年に設定され，初期性能試験の結果がレベル1の場
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X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
合。
a)によって，Xmig−Bmig/2＝20−25＝−5は0以下であり，最初のPP試験までの間隔は20年にするのが
よい。試験の結果にかかわらず，最初のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい。
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X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書G
（参考）
試験領域
4.2で定期性能試験でデータ読取性能を確認するためにディスクの全ての記録済み領域を試験するのが
よいとした。ディスクは，記録領域全体にわたって均一な記録特性をもつことが望ましいので，アイリン
グ加速モデル又はアレニウス加速モデルに従うディスクの記録面の平均的な劣化は，部分的な領域での定
期性能試験で推定可能である。しかしながら，欠陥などによる部分的な劣化は，部分領域の試験では検知
できない可能性がある。結論として，記録済み領域全体の試験を推奨する。
試験領域を少なくするのに応じてデータの信頼性は低下するが，ユーザは，情報の価値及び試験を行う
ディスクの枚数によって，試験を行う試験領域及びディスクの枚数を削減したがる可能性がある。
一般的に，ディスク全体の記録した又は保存したデータの性能又は特性が分かっていなければ，データ
エラーの欠陥，不確実性又は予測不能のふるまいのために，データの信頼性は試験領域の割合に比例する
ことになる。幾つかの有効な情報が不確実性又はエントロピを下げる場合，部分的な試験であってもデー
タの信頼性が改善される。
寿命推定に使用する故障時間が対数正規分布ではない場合，分布に適した統計的な推定が要求される。
注記 上記の推定は部分欠陥に起因する故障時間には適用することができない。
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X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書H
（参考）
BDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスクの最大RSERの基準
JIS X 6256は，BDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスクの加速ストレス試験における故障時間
を評価する最大RSERの値として10−3を採用している。BDレコーダブルディスク及びBD書換形ディス
クのためのECCは十分強力であり，かつ，DVD-Rディスク，DVD-RWディスク，DVD-RAMディスク，
+Rディスク及び+RWディスクのECCがRSER 10−3で示すエラー訂正能力を上回る訂正能力をもっている。
同じ10−3の最大RSERの値をBDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスクの最大データエラーのレ
ベル3及びレベル6基準値として採用している。
RSERは40バイト以上の長さのバーストエラーを除外している。しかし，40バイトより短いバーストに
まだ影響を受けている。
RSERが予想以上に増加した場合（特にディスクの外周近辺で），ほこり又は指紋を拭き取りRSERを再
測定することが推奨される。附属書I参照。
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X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
附属書I
（参考）
欠陥の取扱いのガイドライン
ディスクを測定する場合，ディスクを手で取り扱うのは避けられない。欠陥を生じさせないために，デ
ィスクの表面に指紋を付けないように注意をするのが重要であり，特に最初のデータを記録する際は注意
が必要である。
引っかききずのように取り去れない欠陥が見つかった場合，ディスクに記録したデータが将来訂正不能
にならないことを確認するために，可能ならばバーストエラーの検査をすることが推奨される。
市販のドライブでそれらのディスクのバーストエラーの検査をするのが難しい可能性がある場合，業務
用のディスク検査機を必要に応じて準備してもよい。
長期保存用の各光ディスクの欠陥の規定の値の基本的な考え方として，欠陥の規定の値は，エラー訂正
能力の限界値ではなく，ディスクが工場出荷後に実際に使用される際に追加となる，引っかききず，ほこ
り，指紋などの欠陥に対しての訂正能力の余地を残したディスクの工場出荷時に要求される規定値である。
したがって，データの回復能力を検査するための限界値は，ディスク規格の規定値よりも大きく2倍未満
に設定することが望ましい。
a) 初期性能試験の場合，バーストエラーが次のレベルを超える場合，データを新しいディスクに再記録
することが推奨される。
1) DVD-Rディスク，DVD-RWディスク，DVD-RAMディスク，+Rディスク及び+RWディスク
30 μmを超える長さの欠陥を全て加算した長さが400 μmを超える，又は欠陥の数が8を超える場合
2) CD-Rディスク及びCD-RWディスク
連続した訂正不能フレームの数が10を超える場合
3) BDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスク
40バイト以上の長さのバーストエラーの数が10を超える，又はこれらのバーストエラーの長さを
足したものが800バイトを超える場合
b) 定期性能試験の場合，バーストエラーが次のレベルを超える場合，ディスクに記録したデータをでき
るだけ早く他の新しいディスクに複製することが推奨される。
1) DVD-Rディスク，DVD-RWディスク，DVD-RAMディスク，+Rディスク及び+RWディスク
30 μmを超える長さの欠陥を全て加算した長さが600 μmを超える，又は欠陥の数が12を超える場
合
2) CD-Rディスク及びCD-RWディスク
連続した訂正不能フレームの数が14を超える場合
3) BDレコーダブルディスク及びBD書換形ディスク
40バイト以上の長さのバーストエラーの数が16を超える，又はこれらのバーストエラーの長さを
足したものが1 200バイトを超える場合
データ保存システムが欠陥管理機能をもっている場合，欠陥領域に記録したデータを同じディスクの欠
陥管理用に予備としている領域に再記録又は複製してもよい。
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X 6255：2019 (ISO/IEC 29121：2018)
参考文献
[1] JIS X 6241 120 mm DVD−再生専用ディスク
注記 原国際規格では，ISO/IEC 16448，Information technology−120 mm DVD−Read-only diskを記
載している。
[2] JIS X 6242 80 mm DVD−再生専用ディスク
注記 原国際規格では，ISO/IEC 16449，Information technology−80 mm DVD−Read-only diskを記載
している。
[3] JIS X 6256:2019 情報交換及び保存用のデジタル記録媒体−長期データ保存用光ディスク媒体の寿命
推定のための試験方法
注記 対応国際規格：ISO/IEC 16963:2017，Information technology−Digitally recorded media for
information interchange and storage−Test method for the estimation of lifetime of optical disks for
long-term data storage
[4] JIS X 6281 120 mm再生専用形光ディスク（CD-ROM）
注記 原国際規格では，ISO/IEC 10149，Information technology−Data interchange on read-only 120 mm
optical data disks (CD-ROM) を記載している。
[5] ISO/IEC 10995，Information technology−Digitally recorded media for information interchange and storage−
Test method for the estimation of the archival lifetime of optical media
[6] ISO 23868，Document management−Monitoring and verification of information stored on 130 mm optical
media
[7] ECMA-413，Data Migration Method for BD Recordable and BD Rewritable Disks