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X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)/財

団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工

業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO/IEC 16382:2000,Information

technology

−Data interchange on 12.7 mm 208-track magnetic tape cartridges−DLT6 format を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS X 6174

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)光透過率の測定法

附属書 B(規定)データブロックの CRC の生成法

附属書 C(規定)ECC の生成

附属書 D(規定)ページ CRC の生成

附属書 E(規定)MAP エントリのフォーマット

附属書 F(規定)コントロールフィールド 1 のフォーマット

附属書 G(規定)コントロールフィールド 2 のフォーマット

附属書 H(参考)輸送条件

附属書 J(参考)不良テープ

附属書 K(参考)テープの耐久性

附属書 L(参考)カートリッジの操作


X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

(2)

目  次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  適合性

1

2.1

  磁気テープカートリッジ

1

2.2

  生成システム

1

2.3

  受領システム

1

3.

  引用規格

2

4.

  定義

2

4.1

  平均信号振幅(average signal amplitude

2

4.2

  アジマス(azimuth

2

4.3

  裏面(back surface

2

4.4

  テープの始端マーカ[beginning-of-tape markerBOT)]

2

4.5

  物理ブロック(block

2

4.6

  バイト(byte

2

4.7

  カートリッジ(cartridge

2

4.8

  巡回冗長検査文字[cyclic redunduncy checkCRCcharacter

2

4.9

  終端予告[early warningEW)]

2

4.10

  誤り検出符号[error-detecting codeEDC)]

2

4.11

  テープの終端マーカ[end-of-tape markerEOT)]

2

4.12

  エンティティ(entity

2

4.13

  誤り訂正符号[error-correcting codeECC)]

2

4.14

  実体集合(envelope

2

4.15

  実体個数(envelope size

2

4.16

  磁束反転位置(flux transition position

2

4.17

  磁束反転間隔(flux transition spacing

2

4.18

  グループレコード(group record

3

4.19

  論理トラック(logical track

3

4.20

  磁気テープ(magnetic tape

3

4.21

  主基準テープ(master standard reference tape

3

4.22

  オブジェクト(object

3

4.23

  ページ(page

3

4.24

  物理記録密度(physical recording density

3

4.25

  物理トラック(physical track

3

4.26

  レコード(record

3

4.27

  基準縁(reference edge

3


X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)  目次

(3)

ページ

4.28

  基準磁界(reference field

3

4.29

  二次基準テープ(secondary standard reference tape

3

4.30

  基準信号振幅[standard reference amplitudeSRA)]

3

4.31

  基準電流(standard reference current

3

4.32

  試験記録電流(test recording current

3

4.33

  ティピカル磁界(typical field

3

5.

  表記法

3

5.1

  数字の表現

3

5.2

  寸法

4

5.3

  名称

4

5.4

  略号

4

6.

  環境条件及び安全性

4

6.1

  試験環境条件

4

6.2

  使用環境条件

4

6.3

  保存環境条件

4

6.4

  安全性の要求事項

5

7.

  機械的特性及び電気的特性

5

7.1

  材料

5

7.2

  テープの長さ

5

7.3

  テープの幅

5

7.4

  テープの厚さ

5

7.5

  テープの連続性

5

7.6

  長手方向の湾曲

5

7.7

  平面からのひずみ

5

7.8

  カッピング

5

7.9

  塗布面の表面粗さ

5

7.10

  塗布面の接着強度

5

7.11

  層間の粘着

6

7.12

  弾性率

7

7.13

  剛性

7

7.14

  伸び荷重

7

7.15

  電気抵抗

7

7.16

  不良テープ

8

7.17

  研磨性

8

7.18

  テープ及びリーダテープの光透過率

9

7.19

  動摩擦係数

9

8.

  磁気記録特性

10

8.1

  ティピカル磁界

10

8.2

  信号振幅

10


X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)  目次

ページ

8.3

  分解能

10

8.4

  重ね書き

10

8.5

  ピークシフト

10

9.

  テープの品質

11

9.1

  ミッシングパルス

11

9.2

  ミッシングパルス領域

11

9.3

  テープの耐久性

11

10.

  概要

11

10.1

  底面及び側面(図 及び図 9

12

10.2

  後面及び左側面(図 10 及び図 11

13

10.3

  テープリール(図 8,図 12 及び図 13

13

10.4

  テープリーダ(図 14,図 15 及び図 16

14

10.5

  前面(図 17

15

10.6

  カートリッジの動作(図 18 及び図 19

15

10.7

  テープの巻き方

16

10.8

  慣性モーメント

16

10.9

  材料

16

11.

  記録方式

23

11.1

  物理記録密度

23

11.2

  チャネルビットセル長

23

11.3

  磁束反転間隔

24

11.4

  再生信号振幅

24

11.5

  アジマス

24

11.6

  チャネルスキュ

24

12.

  テープフォーマット

24

12.1

  基準縁

24

12.2

  記録の方向

24

12.3

  テープ上の配置

24

12.4

  調整エリア及びディレクトリエリア

25

12.5

  データエリア

26

13.

  データフォーマット

29

13.1

  データバイト

29

13.2

  データブロック

29

13.3

  ブロックのタイプ

30

13.4

  実体

30

13.5

  実体集合

30

13.6

  ブロックフォーマット

30

14.

  物理ブロックの使用

35

14.1

  データブロック

35


X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)  目次

(5)

ページ

14.2

  フィラーブロック

35

14.3

  トラックブロックの終端

35

14.4

  データブロックの終端

35

14.5

  ECC ブロック

35

15.

  実体のフォーマット

35

16.

  実体集合のフォーマット

36

17.

  誤りの処理

36

附属書 A(規定)光透過率の測定法

37

附属書 B(規定)データブロックの CRC の生成法

40

附属書 C(規定)ECC の生成

41

附属書 D(規定)ページ CRC の生成

44

附属書 E(規定)MAP エントリのフォーマット

45

附属書 F(規定)コントロールフィールド のフォーマット

46

附属書 G(規定)コントロールフィールド のフォーマット

47

附属書 H(参考)輸送条件

48

附属書 J(参考)不良テープ

49

附属書 K(参考)テープの耐久性

50

附属書 L(参考)カートリッジの操作

51

解  説

52

 


日本工業規格

JIS

 X

6174

:2004

(ISO/IEC 16382

:2000

)

情報交換用 12.7 mm  幅,208 トラック

磁気テープカートリッジ−DLT6 様式

Information technology

−Data interchange on 12.7 mm

208-track magnetic tape cartridges

−DLT6 format

序文  この規格は,2000 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 16382,Information technology – Data

interchange on 12.7 mm 208-track magnetic tape cartridges – DLT 6 format

を翻訳し,技術的内容及び規格票の

様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

1.

適用範囲  この規格は,12.7 mm 幅,208 トラックの磁気テープカートリッジの装置間での物理的互

換性をとるために,物理的特性及び磁気的特性を規定する。さらに,装置間でのデータ交換ができるよう

記録信号品質,DLT6(ディジタルリニアテープ 6)のフォーマット及び記録方式について規定する。

この規格は,JIS X 0601 とともに使用することによって磁気テープカートリッジを介した情報交換を可

能にする。

備考  この規格の国際対応規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

ISO/IEC 16382:2000

,Information technology – Data interchange on 12.7 mm 208-track magnetic tape

cartridges – DLT 6 format (IDT)

2.

適合性

2.1

磁気テープカートリッジ  磁気テープカートリッジは,この規格のすべての必要要求事項を満たす

とき,この規格に適合する。

テープの要求事項は,テープの全領域にわたって満たされなければならない。

2.2

生成システム  交換用磁気テープカートリッジを生成する書込みシステムは,2.1 で規定されたテー

プ上に生成するすべての記録がこの規格の必要要求事項に合致しているとき,この規格に適合する。

適合性を表示する場合,次の事項について記載する。

−  一つ以上の登録済みアルゴリズムを採用し,データをブロックに集める前にホストから受け取った

データを圧縮できるか否か。

−  採用している圧縮アルゴリズムの登録識別番号。

2.3

受領システム  交換用磁気テープカートリッジを受領するシステムは,2.1 で規定されたテープ上に

生成するすべての記録を処理できるとき,この規格に適合する。

次の事項について記載する。


2

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

−  一つ以上の復元アルゴリズムを採用し,データをホストに送る前に復元できるか否か。

−  採用している圧縮アルゴリズムの登録識別番号。

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。こ

れらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定

を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。

JIS X 0601 : 2000

  情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成

備考  ISO 1001:1986 Information processing – File structure and labelling of magnetic tapes for information

interchange

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

ISO 1302 : 1992

  Technical drawings-method of indicating surface texture

ISO/IEC 11576 : 1994

  Information technology – Procedure for the registration of algorithms for the lossless

compression of data

4.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

4.1

平均信号振幅(average signal amplitude)  記録密度 2 578 ftpmm で記録した磁気テープ上のミッシ

ングパルスのない部分を 25.4 mm 以上にわたって測定した再生ヘッドからの平均ピーク(P-P)出力電圧。

4.2

アジマス(azimuth)  磁束反転線及びテープ基準縁に垂直な直線との角度。

4.3

裏面(back surface)  データの記録に使う磁性面の反対側のテープ面。

4.4

テープの始端マーカ[beginning-of-tape markerBOT)]  リーダテープに最も近いテープ始端近傍

のテープの中心線上にあけた孔。

4.5

物理ブロック(block)  物理トラックに記録し 1 単位とみなされる一連のバイトの列。

4.6

バイト(byte)  一単位として取り扱うビットの列。

備考  この規格のバイトは,8 ビットとする。

4.7

カートリッジ(cartridge)  単一のリールに巻いた最外周にリーダテープの付いた 12.7 mm 幅の磁

気テープを収納するケース。

4.8

巡回冗長検査文字[cyclic redunduncy checkCRCcharacter]  誤り検出のために用いる 64 ビッ

トの文字。

4.9

終端予告[early warningEW)]  駆動装置が記録するテープの終端に近づいたことを示す信号。

4.10

誤り検出符号[error-detecting codeEDC)]  誤りを検出するために用いる数学的に計算して生成

する検査用バイト。

4.11

テープの終端マーカ[end-of-tape markerEOT)]  リーダテープから最も離れたテープ終端近傍

のテープ中心線上にあけた孔。

4.12

エンティティ(entity)  論理トラックに記録した論理単位として取り扱うフィラーブロックを除く

20

ブロックの集合。

4.13

誤り訂正符号[error-correcting codeECC)]  検出した誤りを自動訂正できるように設計した符号。

4.14

実体集合(envelope)  実体の集合。

4.15

実体個数(envelope size)  1 実体集合の中の実体の数。

4.16

磁束反転位置(flux transition position)  テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となるテープ上

の点。

4.17

磁束反転間隔(flux transition spacing)  一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。


3

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

4.18

グループレコード(group record)  同一サイズのレコード群からなるレコード。

4.19

論理トラック(logical track)  同時に書き込み又は読み取る 4 本の物理トラック。

4.20

磁気テープ(magnetic tape)  磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.21

主基準テープ(master standard reference tape)  基準磁界,信号振幅,分解能,ピークシフト及び

重ね書き特性の基準として用いるテープ。

参考  主基準テープは,Quantum Corporation によって管理されている。

4.22

オブジェクト(object)  1 レコード又はタイプテープマークの 1 ページ。

4.23

ページ(page)  物理ブロックの 1 論理区分。

4.24

物理記録密度(physical recording density)  トラックの長さ 1 mm 当たりに記録する磁束反転数

(ftpmm)

4.25

物理トラック(physical track)  磁気テープの長手方向に連続して記録できる部分。

4.26

レコード(record)  ホストが決める数で,利用者バイトの集合。

4.27

基準縁(reference edge)  磁性面を手前にし,BOT を左に EOT を右に見たときのテープの下端。

4.28

基準磁界(reference field)  主基準テープのティピカル磁界。

4.29

二次基準テープ(secondary standard reference tape)  テープの特性が既知であり,主基準テープと

の偏差を明示しているテープ。

備考  二次基準テープは,Quantum Corporation, 333 South Street, Shrewsbury, Mass. 01545-4195 USA が

部品番号“SSRT/DLT4”で通常 2010 年まで供給する。ただし,入手可能期間は,二次基準テー

プの需要によって ISO/IEC と Quantum 社との合意に基づいて変更することがある。このテープ

は,定期校正用の三次基準テープとの偏差を補正するために使用する。

4.30

基準信号振幅[standard reference amplitudeSRA)]  主基準テープに記録密度 2 578 ftpmm の信号

を試験記録電流で記録し,これを再生したときの出力電圧の平均値。

4.31

基準電流(standard reference current)  基準磁界を発生する記録電流。

4.32

試験記録電流(test recording current)  基準電流の 1.1 倍。

4.33

ティピカル磁界(typical field)  記録密度 2 578 ftpmm で記録して,再生したとき,その平均信号振

幅が最大値の 95  %を示す最小の印加磁界。

5.

表記法

5.1

数字の表現  数字の表現は,次による。

−  測定した値は,対応する規定値の小有効数字に対応して丸める。すなわち,規定値が 1.26 であり,

正の許容誤差が 0.01 であり,負の許容誤差が 0.02 である場合,測定した値は,1.235 以上 1.275 未

満を許容する。

−  各ブロック及びフィールド内では,データバイト 1(最下位バイト)が,最初となる順序とする。

各バイト内では,ビット 1(最下位ビット)が,最初となる順序とし,ビット 8(最上位ビット)が,

最後となる順序とする。この順序は,特に規定がない限り,誤り検出符号及び訂正符号の入出力に

も適用する。

−  16 進数は,丸括弧に数字及び英文字で表す。

−  ビットの設定は,

“0”又は“1”で表す。

−  ビットパターン及び 2 進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,最下位ビットを右とする。


4

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

5.2

寸法  図 1の寸法は,公称値とする。図 823 の寸法は,規定がない限りミリメートル表示で,

その公差は,±50 mm とする。

5.3

名称  原国際規格では,名称を英大文字ではじめる表記法を採用しているが,この規格では特別な

表記法は,用いない。

5.4

略号

BOT

テープ始端(beginning of tape)

CF1

コントロールフィールド 1(control field 1)

CF2

コントロールフィールド 2(control field 2)

CRC

巡回冗長検査(cyclic redundancy check)

CT1

調整用トラック 1(calibration track 1)

CT2

調整用トラック 2(calibration track 2)

ECC

誤り訂正符号(error-correcting code)

EDC

誤り検出符号(error-detecting code)

EOD

データの終端(end of data)

EOT

テープの終端(end of tape)

EOTR

トラックの終端(end of track)

EW

終端予告(early warning)

RLL

ランレングスリミッテッド(run length limited)

SRA

基準信号振幅(standard reference amplitude)

6.

環境条件及び安全性  次によって規定する条件は,別に規定がない限り装置内部の環境条件ではなく,

試験を行う部屋の環境条件とする(

附属書 参照)。

6.1

試験環境条件  試験環境条件は,規定がない限り次による。

  温度 23

℃±2  ℃

  相対湿度 40

%∼60  %

  試験前放置時間 24 時間以上

6.2

使用環境条件  使用環境条件は,次による。

  温度 10

℃∼40  ℃

  相対湿度 20

%∼80  %

  湿球温度 25

℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

カートリッジは,保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合,使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上,使用環境条件に放置してから使用しなければならない。ただし,24 時間以上として

もよい。

参考  テープの温度が 49  ℃を超えた場合,テープに損傷を与えることがある。

6.3

保存環境条件  保存環境条件は,次による。

  温度 16

℃∼32  ℃

  相対湿度 20

%∼80  %

周辺磁界は,テープ上で 4 000 A/m を超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は,結露しては

ならない。


5

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

6.4

安全性の要求事項

6.4.1

安全性  カートリッジ及びその構成部品は,情報処理システムで適正使用時又はあらかじめ予想可

能な誤使用時に安全性,又は健康上の危険が生じてはならない。

6.4.2

難燃性  カートリッジ及びその構成部品の材料は,マッチなどの炎などによって着火してもよいが,

二酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

6.4.3

輸送  カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は,附属書 

よる。

7.

機械的特性及び電気的特性

7.1

材料  テープは,ベース(延伸したポリエチレンテレフタレート又はこれと同等品)上の片面に強

固で柔軟性のあるバインダと適切な磁性材を塗布したものとする。

テープの裏面は,導電性の非磁性材を塗布したものとする。

7.2

テープの長さ  リーダスプライス部からハブまでのテープの長さは,557 m±5 m とする。

7.3

テープの幅  テープの幅は,12 .649 mm±0.010 mm とする。

テープの幅は,テープに最大 0.28 N の張力を加えてテープの端から端までを測定する。

7.4

テープの厚さ  磁気テープの厚さは,テープの任意の箇所で,8.3

µm∼9.3 µm とする。

7.5

テープの連続性  テープは,BOT 及び EOT の間に継ぎ目又は孔のような不連続性があってはならな

い。

7.6

長手方向の湾曲  テープの長手方向の湾曲は,テープ表面と同一平面上にある長手方向の直線とテ

ープ基準縁の隔たりを測定する。

7.6.1

要求事項  直線からテープ基準縁との隔たりは,連続的で,かつ,テープの長さ 229 mm の範囲内

で 0.076 mm 以下とする。

7.6.2

試験方法  229 mm の間隔に置いた二つのガイドをもつ装置に 1.39 N  ± 0.28 N の張力を加えて測

定する。二つのテープガイドは,表面にテープ基準面を押し当てるように,ばね荷重制御する。二つのガ

イド制御面の間に引いた直線とテープ基準縁との間隔が最大の場所を測定する。

7.7

平面からのひずみ  テープに 0.6 N の張力を加えたとき,目視できるひずみがテープにあってはなら

ない。テープのひずみは,テープの一部分が反り返ったことによる局部的な変形である。平面からのひず

みは,テープに張力を加えずに平面の上に置いたとき,最も簡単に観察できる。

7.8

カッピング  カッピングは,平面からテープ幅方向への浮き上がり量とし,2.54 mm 以下とする。

測定方法は,次による。

テープを長さ 1.0 m±0.1 m に切り取る。テープ両面が試験環境の雰囲気に露出するように垂らして 3 時

間以上放置する。このテープの中心部分から,長さ 25 mm の試験片を切り取る。この試験片を高さ 25 mm

以上,内径 13.0 mm±0.2 mm の円筒の中に立てる。この円筒を光学的コンパレータに立てて載せ,試験片

の両方の縁をコンパレータの十字線にそろえて,十字線から試験片の中心までの距離を測定する。

7.9

塗布面の表面粗さ

7.9.1

裏面の粗さ  裏面の粗さは,中心線平均粗さ Ra で,0.003∼0.018

µm とする(ISO 1302:N2)。半径

12.5

µm の触針を荷重 20 mg で 254 µm のカットオフにて測定する。

7.9.2

磁性面の粗さ  磁性面の粗さは,中心線平均粗さ Ra で,0.003∼0.008

µm とする(ISO 1302:N3)。

半径 12.5

µm の触針を荷重 20 mg で 254 µm のカットオフで測定する。

7.10

塗布面の接着強度  塗布面をテープのベース材料からは(剥)がす力は,0.4 N 以上とする。


6

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

試験方法

a)

長さ約 380 mm の試験片を切り取り,一方の端から 125 mm の位置でテープの幅方向にけがき(罫書

き)線をベース面に達するまで引く。

b)

図 に示すとおりに,磁性塗布面(記録面)を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわた

って滑らかな金属の板にはり付ける。

c)

試験片を 180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを万力引張試験器に取り付けて,速度 254 mm/

分で引っ張る。

d)

塗布面のいかなる部分でも最初にベースから塗布面がはがれるときの力を記録する。この力が,0.4 N

未満のとき試験は失敗とする。この力が,0.2 N に達する前に両面接着テープが試験片からはがれたと

きは,別の種類の両面接着テープを使用する。

e)

磁気テープの裏面についても a)  から d)  を繰り返す。

  1  塗布面の接着強度の試験方法

7.11

層間の粘着  層間の粘着は,隣接層を密着して保持したときに,層の滑らかなはく(剥)離を妨げ

る隣接層の粘着状態をみる。

7.11.1

要求事項  塗布面に,はがれ又はその他の損傷の兆候があってはならない。

7.11.2

試験方法

a)

図 に示す水平に固定したステンレススチール円柱に低ひずみの粘着材料で,磁性面を内側にして,

長さ 914 mm のテープ端を固定する。

b)

円柱の寸法は,次による。

−  直径:12.7 mm

−  長さ:102 mm

c)

1 000 g

のおもりを反対の端に付ける。

d)

おもりの 25.4 mm 上の磁性面に短い幅で両面テープを付ける。

e)

ゆっくり円柱を回転し,テープを一様に巻き付けロールにする。両面接着テープは,テープの端を固

定し,ほどけないようにする。

f)

テープを巻いた円柱を,次の温度相対湿度サイクルに放置する。

時間

温度

相対湿度

16

時間∼18 時間 54

℃ 85

4

時間 54

℃ 10

%以下

1

時間∼2 時間 21

℃ 45

両面接着テープ

125 mm

記録面

けがき線


7

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

g)

ロールの終端を切り開いて,両面接着テープをはがす。

h)

テープの終端を緩める。

i)

外側のテープ 1 枚又は 2 枚の部分は,粘着性がなくほどける。

j)

テープの終端を固定して円柱をぶら下げることによってテープは,ほどける。

k)

円柱からテープ内側 51 mm の箇所を除き,塗布膜のはがれがあってはならない。

単位  mm

  2  層間の粘着の試験方法

7.12

弾性率  弾性率(ヤング率)は,長手方向への張力によるひずみ率である。

7.12.1

要求事項  弾性率は,4 900∼11 700 N/mm

2

とする。

7.12.2

試験方法  178 mm 以上のテープ試験片を 102 mm の長さで固定し,固定ジグを 3 mm/分の速度で

引っ張る。0  %及び 1  %伸びたときの張力の傾きによって弾性率を計算する。

7.13

剛性  剛性は,テープの長手方向でのたわみ力とする。

7.13.1

要求事項  テープの長手方向での剛性は,2×10

-7

∼8×10

-7

 N

・mm とする。

7.13.2

試験方法  剛性 は,次による。

D = E

×  

3

 / 12

× (1 - v

 2

)

ここに,  E: 7.12 から得る弾性率 

t

: テープの厚さ(mm)

v

: ポアソン比,0.33

7.14

伸び荷重  テープの伸び荷重は,試験片を 3  %伸ばした場合,9.6 N 以上とする。

7.14.1

試験方法  2  %の精度で荷重表示可能な引張試験器で測定する。178 mm 以上のテープ試験片を 102

mm

の長さになるように固定ジグに取り付ける。最低 10  %の伸び率になるまで,51 mm/分の速度で試験

片を伸ばす。3  %の伸び率での張力を伸び荷重とする。

7.15

電気抵抗

7.15.1

要求事項  磁性層の電気抵抗は,5×10

6

∼50×10

12

Ωとする。


8

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

裏面の電気抵抗は,100×10

6

Ω以下とする。

7.15.2

試験方法  テープ試験片を,試験環境条件に 24 時間放置する。図 に示す 24K の金めっきを施し

た半径が(r)25.4 mm で粗さを N4(ISO 1302 参照)以上で仕上げてある二つの半円の電極に,記録面が

接するように置く。二つの電極は,水平で互いに平行に位置し,その距離(d)は,12.7 mm とする。試験

片の両端に,力(F)1.62 N を加える。電極に 100 V±10 V の直流電圧をかけて電流を測定する。この値か

ら,表面電気抵抗を算出する。

この測定を一つのテープ試験片の 5 か所について行い,これらの平均を算出し表面電気抵抗とする。裏

面についてもこの試験を行う。

  3  電気抵抗の試験方法

試験片を電極に置くとき,電極の間にはテープ試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考  試験前に電極の表面を清掃する。

7.16

不良テープ  この規格では,テープが不良であるか否かを評価するパラメータは,規定しない。不

良テープに関する参考情報は,

附属書 による。

7.17

研磨性  テープの研磨性は,磁性塗布面による磁気ヘッドの磨耗を表す。

7.17.1

要求事項  フェライト磨耗試験用バーでの磨耗量は,1.27

µm 未満とする。

7.17.2

試験方法  61 m の長さの試験テープを,図 に示すマンガン亜鉛フェライトの長方形バー上で 100

回(50 往復)走行する。試験用バーは,0.3 mm 幅とし,その先端表面は,曲率半径(r

0

)5 mm とする。

テープ速度は 2.54 m/秒,張力は 1.3 N 及び接触角度は 12°とする。磨耗度は,テープの幅方向に形状測定

器で測定する。

参考  マンガン亜鉛フェライトは,Philips Ceramic Division Saugerties NY から注文部品番号 3H7 で入

手可能である。

r

r

d

F

F


9

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

  4  研磨性の試験方法

7.18

テープ及びリーダテープの光透過率  テープ及びリーダテープの光透過率は 5  %未満とする。光透

過率の測定法は,

附属書 による。

7.19

動摩擦係数  動摩擦係数は,テープ両面とカルシウムチタンセラミックとの間で測定する。

7.19.1

要求事項

磁性面対裏面

:0.15 以上

磁性面対カルシウムチタンセラミック  :0.05∼0.35

裏面対カルシウムチタンセラミック

:0.05∼0.20

7.19.2

磁性面と裏面との摩擦試験方法

a)

裏面を外側にして巻付け角度が 90°以上になるように,直径 25.4 mm のカルシウムチタンセラミック

筒(R

a

=0.05

µm)に第 1 のテープ試験片を巻き付ける。

b)

磁性面を内側にして,第 2 のテープ試験片を第 1 のテープ試験片に 90°巻き付ける。

c)

外側のテープ試験片の端に力 F

1

=0.64 N

を加える。

d)

別の端に張力ゲージを取り付ける。

e)

ゲージを速度 1 mm/秒で引張って,張力 F

2

を測定する。

f)

次の式によって,動摩擦係数

γ

を計算する。

γ

  = 1/

φ×ln (F

2 

/ F

1 

)

ここに,  φ:  巻付け角度(ラジアン)

7.19.3

磁性面又は裏面とカルシウムチタンセラミックとの摩擦試験方法

a)

磁性面又は裏面を内側にして巻付け角度が 90°になるように,直径 25.4 mm のカルシウムチタンセラ

ミック筒(R

a

=0.05

µm)に第 1 のテープ試験片を巻き付ける。

b)

テープ試験片の外側の端に力 F

1

=0.64 N

を加える。

c)

別の端に張力ゲージを取り付ける。


10

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

d)

ゲージを速度 1 mm/秒で引っ張って,張力 F

2

を測定する。

e)

次の式によって,動摩擦係数

γ

を計算する。

γ

  = 1/

φ×ln (F

2 

/ F

1 

)

ここに,  φ:  巻付け角度(ラジアン)

参考  カルシウムチタンセラミックは,Philips Ceramic Division Saugerties NY から注文部品番号 CaTi

で入手可能である。

8.

磁気記録特性  磁気記録特性は,次に示す試験条件による。

これらの試験を行うときには,出力信号及び残留信号の測定は,主基準テープで校正したテープ及び被

試験テープ共に同じ走行系(記録時再生をするか,又は記録時再生機能がないときには,1 回目の再生時

に読み取る。

)を使用する。

すべての磁気記録特性の試験は,特に規定がない限り次による。

−  テープの状態

:平均信号振幅の 2  %以下まで交流消去

−  テープ速度

:4.26 m/秒±0.05 m/秒

−  再生トラック

:記録トラック以内

−  ギャップアライメント  :再生ギャップと記録ギャップとが 38.1

µm の範囲内で平行

−  記録ギャップ長

:0.64

µm±0.18 µm

−  記録ギャップ幅

:0.216 mm±0.010 mm

−  再生ギャップ

:0.18

µm±0.05 µm

−  再生ギャップ幅

:39.4

µm±5.0 µm

−  テープ張力

:0.79 N±0.08 N

−  記録電流

:試験記録電流

−  物理的記録密度

:2 f =2 578 ftpmm±44 ftpmm(5.5 MHz±2  %に相当)

  1 f =1 289 ftpmm±22 ftpmm(2.75 MHz±2  %に相当)

−  再生増幅器の帯域幅

:10.0 MHz

8.1

ティピカル磁界  ティピカル磁界は,基準磁界の 75∼125  %とする。

主基準テープの基準磁界との関係付けは,二次基準テープとその校正値によって保証される。

8.2

信号振幅  平均信号の振幅は,SRA の 85∼115  %とする。

主基準テープの SRA との関係付けは,二次基準テープとその校正値によって保証される。

8.3

分解能  分解能は,記録密度 2 578 ftpmm での平均信号振幅を記録密度 1 289 ftpmm での平均信号振

幅で除した値とし,その値は,主基準テープの分解能の 90∼120  %とする。

主基準テープの分解能との関係付けは,二次基準テープとその校正値によって保証される。

8.4

重ね書き  重ね書きは,1 289 ftpmm の記録をした後に,2 578 ftpmm で重ね書きし,残留する 1 289

ftpmm

の平均信号振幅と 1 289 ftpmm の平均信号振幅の比率とする。

8.4.1

要求事項  重ね書きは,主基準テープの重ね書きの 110  %未満とする。

主基準テープの重ね書きとの関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。

8.5

ピークシフト  ピークシフトは,ビットセル長が,0.129

µm の記録パターン 110110110…の 1 の公称

時間値からの時間変位を測定する。

8.5.1

要求事項  ピークシフトは,主基準テープのピークシフト比を n  %とした場合,(n–2)∼(n+2)  %

とする。


11

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

主基準テープのピークシフト比との関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。

8.5.2

試験方法  2 周波数の 96 倍の帯域で 250 個以上の 101 パターンの時間間隔を測定し,平均値をと

る。

ここで,1-1 パターンでの隣接するピーク時間を t

1

,1-1 パターンの最後の 1 から続く 1-1 パターンの最

後の 1 までの時間を t

0

とし,ピークシフト(PS)は,次の式による。

PS= (3t

1

 – t

0

) / 2t

0

× 100 %

  5  ピークシフトの測定

9.

テープの品質

9.1

ミッシングパルス  ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損であり,再生した電圧の 0 V を基準

にしたピーク値が,その直前のトラック長 25.4 mm の平均信号振幅(8.2 参照)の 1/2 の 35  %未満のとき,

25.4 mm

をミッシングパルスとする。この測定は,25.4 mm 間隔で行う。

9.1.1

要求事項  ミッシングパルスの平均発生率は,任意の 100 m 長のトラック当り,20 未満とする。

9.2

ミッシングパルス領域  ミッシングパルス領域は,100 mm を超えるミッシングパルスの連続とする。

9.2.1

要求事項  ミッシングパルス領域は,発生してはならない。

9.3

テープの耐久性  この規格では,テープの耐久性を評価するパラメータは,規定しない。

なお,テープの耐久性は,

附属書 によることが望ましい。

10.

概要  テープカートリッジは,次の構成要素からなる。

−  ケース

−  磁気テープ用リール

−  リールのロック機構

−  リールハブに巻いた磁気テープ

−  書込み禁止機構

−  テープリーダ

構成要素の寸法の規定は,カートリッジを用いて情報交換及び互換性上必す(須)のパラメータを表す。

それ以外の箇所は,設計の自由度がある場合には,機能的特性だけを示す。

寸法は,三つの直交する基準面 A,基準面 B 及び基準面 C に基づく。カートリッジを装着した場合,寸

法は,カートリッジの他の面を基準としてもよい。

カートリッジの具体図は,次による。

図 6

カートリッジの外観

図 7

基準面 A,  基準面 B 及び基準面 C


12

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

図 8

カートリッジの底面

図 9

カートリッジの右側面

図 10  カートリッジの後面

図 11  カートリッジの左側面

図 12  非動作状態のカートリッジの部分断面図

図 13  動作状態のカートリッジの部分断面図

図 14  リーダとテープの接合位置

図 15  スプライステープの接合位置

図 16  テープリーダ

図 17  カートリッジの前面

図 18  カートリッジの後面のドアロック位置

図 19  カートリッジのリーダチップの位置

カートリッジの外観を

図 に示す。カートリッジが動作状態にないとき,磁気テープのリールは,ロッ

クされ,回転しない。カートリッジを装置に装着する場合,後面を最初に挿入し,前面は,動作中見える

こととする。カートリッジを装着する過程で,テープリールは,ロックを解除し,カートリッジは,ケー

スの部品とかみ合う装置の部品によって,装置内に固定する。

ケースの基準面 A,基準面 B 及び基準面 C を

図 に示す。上面を基準面 A,右側面を基準面 B 及び後面

を基準面 C とする。

10.1

底面及び側面(図 及び図 9)  カートリッジ全体の寸法は,次による。

l

1

 = 105.79 mm

±0.20 mm

l

2

 = 105.41 mm

±0.20 mm

l

3

 = 25.40 mm

±0.25 mm

底面の窓の位置及び寸法は,次による。

l

4

 = 6.25 mm

±0.10 mm

l

5

 = 4.85 mm

±0.05 mm

l

6

 = 84.07 mm

±0.20 mm

l

7

 = 3.81 mm

±0.05 mm

装置のフィンガの一つが窓からケース内に貫通し,テープリールのロックを一部解除する(10.6 参照)

底面の位置決め孔,右側面のガイドノッチ及び位置決めノッチによって,カートリッジの装置内の位置

を決定する。

位置決め孔の寸法及び位置は,次による。

l

8

  = 21.59 mm

±0.10 mm

l

9

  =

mm

mm

45

.

4

13

.

0

0

+

l

10

 = 2.79 mm

±0.05 mm

l

11

 = 44.58 mm

±0.20 mm

位置決めノッチの寸法及び位置は,次による。

l

12

 = 5.56 mm

±0.10 mm

l

13

 = 33.30 mm

±0.20 mm

l

14

 = 5.08 mm

±0.10 mm

h

1

  = 9.02 mm

±0.10 mm


13

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

a

1

 = 14

°±  30’

ガイドノッチの寸法及び位置は,次による。

l

15

 = 8.59 mm

±0.10 mm

l

16

 = 24.64 mm

±0.10 mm

l

17

 = 1.50 mm

±0.05 mm

a

2

 = 45

°±    30’

a

3

 = 14

°±    30’

カートリッジ右側面の手動の書込み禁止スイッチ(10.5 参照)表示の寸法及び位置は,次による。

l

18

 = 8.64 mm

±0.10 mm

l

19

 = 5.08 mm

±0.10 mm

l

20

 = 86.11 mm

±0.20 mm

l

21

 = 10.16 mm

±0.10 mm

書込み禁止表示の表面がカートリッジの側面と同一面になるとき,記録可能とする。この面が,5.1 mm

くぼんでいるとき,書込み禁止とする。表面の中心に垂直方向に最大 1.0 N の力が加えられても,基準面

B

から 0.5 mm 以上くぼんでいてはならない。

10.2

後面及び左側面(図 10 及び図 11)  後面の窓の寸法及び位置は,次による。

l

22

 = 8.76 mm

±0.10 mm

l

23

 = 4.25 mm

±0.10 mm

l

24

 = 4.45 mm

±0.10 mm

l

25

 = 8.89 mm

±0.10 mm

装置の残りのフィンガの一つが,窓からケース内に貫通し,テープリールのロックを完全に解除する

10.6 参照)

扉は,後面と左側面との角に装着し,回転しなければならない(10.6 参照)

l

26

 = 61.47 mm

±0.20 mm

l

27

 =

mm

mm

65

.

9

13

.

0

0

+

l

71

 = 41.9 mm

±0.20 mm

l

72

 =

mm

mm

18

.

6

18

.

0

0

+

10.3

テープリール(図 8,図 12 及び図 13)  ケースの底面は,装置スピンドルが,リールハブに接触し,

トルクを伝達できるように丸窓を設けなければならない。

丸窓の直径は,次による。

d

1

 = 35.05 mm

±0.08 mm

丸窓の中心の位置は,次による。

l

69

 = 50

,42 mm±0.31 mm

l

70

 = 52.83 mm

±0.10 mm

スピンドル及びハブは,ハブに均等に配列した 48 個の歯で接触する。非動作時,ハブの表面は,ケース

の外面よりくぼむこととし,その寸法は,次による。

l

28

 = 0.38 mm

±0.05 mm

歯形は,直線の側面で構成する。歯の包囲寸法は,次による。

d

2

 = 23.88 mm

±0.13 mm

d

3

 = 29.21 mm

±0.13 mm


14

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

d

4

 = 34.29 mm

±0.13 mm

a

4

 = 22

°±  30’

a

5

 = 15

°±  30’

ここに,d

3

は,歯のピッチ径とする。

動作時,基準面 A からハブまでの距離は,次による。

l

29

 = 23.55 mm

±0.10 mm

10.4

テープリーダ(図 14,図 15 及び図 16)  リーダとテープの接合部及びテープの終端を基準として

BOT

及び EOT の位置は,次による。

リーダとテープの接合部から BOT までの距離は,次による。

l

30

 = 13 260 mm

±150 mm

テープの終端は,ハブに固定し,その終端から EOT までの距離は,次による。

l

31

 = 6 096 mm

±150 mm

BOT

孔及び EOT 孔の直径は,次による。

d

5

 = 4.78 mm

±0.10 mm

テープ,テープリーダ及びスプライステープの位置関係の寸法は,次による(

図 15 参照)。

11.81 mm

≦  l

32

≦ 20.32 mm

l

33

≧ 0.25 mm

l

54

≧ 0.41 mm

l

35

≦ 0.00 mm

l

36

≧ 0.20 mm

l

34

l

35

及び l

36

は,相互に関連する。l

35

は,スプライステープが,テープ又はリーダの両縁をはみ出して

はならないことを示す。

最大 22.2 N の張力をスプライステープの長手方向に加えたとき,スプライステープは,結合を維持しな

ければならない。リーダの寸法は,次による(

図 16 参照)。

l

37

 = 12.65 mm

00

.

0

10

.

0

+

mm

l

38

 = 309.63 mm

±0.30 mm

l

39

 = 130.96 mm

±0.10 mm

l

40

 = 22.35 mm

±0.10 mm

l

41

 = 8.13 mm

±0.10 mm

l

42

 = 3.05 mm

±0.05 mm

l

43

 = 2.95 mm

±0.05 mm

l

44

 = 2.79 mm

13

.

0

00

.

0

+

mm

l

45

 =18.54 mm

±0.10 mm

l

46

 = 8.69 mm

±0.10 mm

l

47

 = 5.89 mm

±0.10 mm

l

48

 = 6.33 mm

±0.10 mm

l

49

 = 3.40 mm

±0.05 mm

l

50

 = 3.73 mm

±0.05 mm

l

51

 = 5.00 mm

±0.05 mm

l

52

 = 7.47 mm

±0.10 mm


15

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

l

53

 = 6.86 mm

±0.10 mm

l

54

 = 8.15 mm

±0.10 mm

l

55

 = 2.24 mm

±0.10 mm

l

56

 = 3.40 mm

±0.05 mm

l

57

 = 6.325 mm

±0.001 mm

r

1

  = 4.98 mm

±0.05 mm

r

2

  = 15.01 mm

±0.10 mm

r

3

  = 10.21 mm

±0.10 mm

r

4

  = 3.40 mm

±0.05 mm

r

5

  = 4.00 mm

±0.01 mm

a

6

 = 5

°±  30’

a

7

 = 15

°±    30’

a

8

 = 60

°±    30’

リーダの形状は,10.6 による。

10.5

前面(図 17)  手動による書込み禁止スイッチの寸法は,次による。

l

58

 =

mm

mm

29

.

18

0

20

.

0

l

59

 = 26.60 mm

±0.20 mm

スイッチは,2 端子型とし,ケースの右側面の書込み禁止表示に連動しなければならない。スイッチの

動作に要する力は,連動方法による。

前面は,ラベル用領域とし,その寸法は,次による。

l

60

 = 54.40 mm

±0.20 mm

l

61

 = 18.40 mm

±0.20 mm

l

62

 = 21.40 mm

±0.20 mm

l

63

 = 0.76 mm

±0.10 mm

10.6

カートリッジの動作(図 18 及び図 19)  カートリッジを装置に装着するとき,カートリッジの動作

シーケンスは,次による。

a

)

基準面 A から扉の可動ロックの下辺までの距離は,次による。

l

64

 = 14.50 mm

±0.20 mm

装置のカムがロックを起こし,扉のロックを解除する。扉は,ロックの下辺が,1.0 mm 以上移動し

たとき,解除しなければならない。

扉は,装置によって 90°開き,105°まで回転できなければならない。扉が開口位置のとき,後面

の領域は,制限部分を除いて,操作できなければならない。その制限領域は,次による。

l

65

 = 35.79 mm

±0.20 mm

この位置で,左側面に沿う空間は,装置の部品が l

26

及び l

27

による突起に接触してはならない(

11

参照)

この空間の範囲は,次による。

l

66

 = 3.40 mm

±0.05 mm

b

)

装置のフィンガは,l

22

l

25

による窓を通して,ケース内に貫通し,リールのロックを一部解除する(

10

参照)

。ロック機構の装置側の部品の貫通する距離は,8 mm±1 mm とし,動作に要する力は,3.3 N

±0.4 N とする。


16

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

c

)

カートリッジを完全に装置内に装着したとき,カートリッジは,右側面の位置決めノッチ及び底面の

位置決め孔(

図 参照)にかみ合う装置の部品によって位置を保持する(図 及び図 参照)。

装置の第 2 フィンガは,l

4

l

7

による底面の窓を通して,ケース内に貫通し,リールのロックを完全

に解除する。貫通する距離及び動作に要する力は,b)  による。

d

)

装置のスピンドルは,ハブの歯にかみ合いリールを動作可能状態に置き(

図 13 参照),テープリール

の保持に要する力を 6.0 N±0.5 N とする。

e

)

装置内にカートリッジを完全に装着したとき,テープリーダの先端は,次による(

図 18 及び図 19 

照)

l

67

 = 4.42 mm

±1.52 mm

l

68

 = 49.28 mm

±1.27 mm

f

)

カートリッジが装置内で動作可能状態のとき(

図 13 及び図 19 参照),装置内のテープリールハブのド

ライブリーダが,カートリッジからテープを引き出す。装置リーダの先端は,テープリーダの主孔の

形状に適合し,かつ,かみ合う設計とする。装置リーダは,

図 16 の B に示す孔に対応する孔をもつ。

テープリーダを装置リールハブに巻いたとき,リーダの結合部が両孔の間に入るよう,両孔の寸法及

び位置を決める。

主孔の終端からストップエッジまでの距離は,長手方向に l

40

とする(

図 16 参照)。テープをカート

リッジ内に完全に巻き戻すとき,ストップエッジが停止する受け台をケースに取り付ける。

テープリーダの細長い孔にかみ合う部品及び受け台は,l

67

及び l

68

の寸法とする。

テープリーダ及び受け台は,テープリーダを 152∼178 mm/秒の速度で引き込むとき,リールを完全

に止める衝撃に耐えなければならない。リールを完全にロックし,カートリッジを装置から排出する

まで,ストップエッジは,1.1∼1.7 N の力で受け台に保持しなければならない。

10.7

テープの巻き方  テープは,ハブに磁気塗布面を内側にして巻かなければならない。テープは,カ

ートリッジを上から見たとき,順方向に再生又は記録動作中,反時計方向に巻き取る。

テープを巻く張力は,1.11 N±0.28 N とする。

10.8

慣性モーメント  リールにテープを完全に巻いたときの直径は,84.75∼91.19 mm とする。

慣性モーメントは,次による。

−  リールにテープを完全に巻いたとき:131×10

-6

 kg

・m

2

∼160×10

-6

 kg

・m

2

−  リールが空のとき:19×10

-6

 kg

・m

2

∼23×10

-6

 kg

・m

10.9

材料  カートリッジの材料は,この規格の要求事項を満足すればよい。例えば,ハブ及びケースは,

ガラスを 10  %含むポリカーボネイトとし,厚さは 1.5 mm とする。

リーダテープは,着色したポリエチレンテレフタレートのような半透明な材料とする。


17

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

  6  カートリッジの外観

  7  基準面 A,基準面 B 及び基準面 C


18

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

  8  カートリッジの底面

  9  カートリッジの右側面図


19

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

 10  カートリッジの後面

 11  カートリッジの左側面


20

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

 12  非動作状態のカートリッジの部分断面図

 13  動作状態のカートリッジの部分断面図

 14  リーダ及びテープの接合位置

 15  スプライステープの接合位置


21

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

 16  テープリーダ


22

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

 17  カートリッジの前面

 18  カートリッジの後面のドアロック位置


23

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

 19  カートリッジのリーダチップの位置

11.

記録方式  記録方式は,2-7RLL(Run Length Limited)とし,次による。

−  “1”は,ビットセルの中央で磁束反転する。

−  “0”は,ビットセルが磁束反転しない。

−  二つの連続する 1 の間の 0 の数は,最小 2 個,最大 7 個までとする。

入力ビット列を媒体に記録するチャネルビット列に変換する方法は,

表 による。

  1  コード変換

入力ビット列

チャネルビット列

    10

    11

 000

 010

 011

0010

0011

    0100

    1000

  000100

  100100

  001000

00100100

00001000

11.1

物理記録密度  最大物理記録密度は,2 578 ftpmm とする。

11.2

チャネルビットセル長  最大記録密度に相当する公称チャネルビットセル長は,0.129

µm とする。

11.2.1

平均チャネルビットセル長  平均チャネルビットセル長は,チャネルビットセル長の全長の合計

を で除したものとする。


24

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

11.2.2

長周期平均チャネルビットセル長  長周期平均チャネルビットセル長は,1 000 000 個のチャネル

ビット以上にわたる平均チャネルビットセル長とし,その値は,公称チャネルビットセル長の 2.25  %以内

とする。

11.2.3

短周期平均チャネルビットセル長  短周期平均チャネルビットセル長は,10 個のチャネルビット

にわたる平均とし,その値は,公称チャネルビットセル長の 5  %以内とする。

11.3

磁束反転間隔  磁束反転の間隔は,再生記録過程,記録パターン(波形干渉効果)及びその他の要

因によって影響を受ける。

ピークシフト比は,主基準テープのピークシフト比を とし,8.5 によって測定したとき,(n–3)∼(n+3)  %

とする。

主基準テープのピークシフトの特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

11.4

再生信号振幅  再生信号振幅は,再生ヘッド部の磁束変化に比例する信号が得られる再生チャネル

部で測定する。

情報交換用カートリッジの平均信号振幅は,SRA の 75∼125  %とする。

情報交換用カートリッジの信号振幅の平均は,ブロックで分割してもよいが,ミッシングパルスのない

箇所で測定しなければならない。

SRA

は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

11.5

アジマス  磁束反転は,テープの基準縁に対し垂直に記録する。

逆方向調整用トラック(12.4 参照)のアジマスは,10′

を超えてはならない。

奇数物理トラックのアジマスは,+9.41°± 0.03°とする。

偶数物理トラックのアジマスは,–9.41°± 0.03°とする。

11.6

チャネルスキュ  論理トラック(12.5.2 参照)を構成する物理トラックのチャネルビット間の偏差は,

どの物理トラックの対をとっても 200 ビットセル長を超えてはならない。

12.

テープフォーマット

12.1

基準縁  基準縁は,BOT を左に EOT を右にしてテープの磁性面を見たとき,下側の縁とする。

12.2

記録の方向  記録の方向は,2 方向とする。

−  順方向は,BOT から EOT とする。

−  逆方向は,EOT から BOT とする。

12.3

テープ上の配置  テープは,二つのエリアからなる。

−  調整エリア及びディレクトリエリア

−  データエリア

 20  テープ上の配置


25

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

12.4

調整エリア及びディレクトリエリア  調整エリア及びディレクトリエリアは,図 21 及び図 22 に示

すように,その長さは,リーダスプライスから BOT まで 13 260 mm±150 mm とする。

 21  調整エリア及びディレクトエリア

12.4.1

スクラッチエリア  スクラッチエリアは,リーダスプライスの終わりから始まり,BOT から 2 692

mm

±50 mm とする。スクラッチエリアは,装置の利得及び記録電流などの設定に用いる。

12.4.2

保護エリア G1  保護エリア G1 は,スクラッチエリアの終端から始まり,BOT から 2 388 mm±50

mm

とする。

12.4.3

調整用トラックエリア  調整用トラックエリアは,保護エリア G1 の終わりから始まり,BOT から

914 mm

±50 mm とする。調整用トラックエリアは,0.215 9 mm±0.012 7 mm 幅の 4 調整用トラックとし,

次による。

順方向調整用トラック 2FCT2)  FCT2 の中心線は,基準縁から 0.908 mm±0.030 mm とする(図 22 

照)

FCT2

は,保護エリア G1 の端から始まり,BOT から 2 108 mm±50 mm まで,正アジマス角+9.41°

±0.03

及び 2 =2 578 ftpmm±44 ftpmm で記録し,BOT から 914 mm±50 mm まで 1f =1 289 ftpmm±22 ftpmm で記

録する。

順方向調整用トラック 1FCT1)  FCT1 の中心線は,FCT2 の中心線から 6.633 mm±0.030 mm とする。

FCT1

は,FCT2 と同様の記録とする。

逆方向調整用トラック 2RCT2)  RCT2 の中心線は,基準縁から 1 505 mm±0.030 mm とする。

RCT2

は,保護エリア G2 の終わりから始まり,BOT から 1 219 mm±50 mm まで,2 =2 578 ftpmm±44

ftpmm

で記録し,BOT から 2 388 mm±50 mm まで 1f =1 289 ftpmm±22 ftpmm で記録する。

逆方向調整用トラック 1RCT1)  RCT1 の中心線は,RCT2 の中心線から 5.334 mm±0.030 mm とする。

RCT1

は,RCT2 と同様の記録とする。


26

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

 22  調整トラックエリア

12.4.4

保護エリア G2  保護エリア G2 は,調整用トラックエリアの終わりから始まり,BOT から 762 mm

±50 mm で終わるものとする。

12.4.5

ディレクトリエリア  ディレクトリエリアは,保護エリア G2 の終わりから始まり,BOT から 152

mm

±50 mm で終わるものとする。

ディレクトリエリアは,

FCT1

及び FCT2 の中心線上方の 2.604 mm±0.030

mm

に中心線をもつ 2 物理トラック上に記録する。

ディレクトリエリアは,テープ記録についての製造情報を記録する。この情報は,逆方向についても記

録し,ディレクトリエリアの終わりから記録する。ディレクトリエリアの内容は,データ交換では無視す

る。

12.4.6

保護エリア G3  保護エリア G3 は,ディレクトリエリアの終わり(12.4.5 参照)から始まり,BOT

までとする。

12.5

データエリア  データエリアは,ホストから装置に転送し,13.  によって記録するデータとする。記

録するデータの容量は,最大 208 物理トラックまで要求してもよいが,208 物理トラックに満たない場合

もある。データエリアの規定は,次による。

12.5.1

物理トラック  データエリアの 208 物理トラックは,物理トラック番号によって識別する。物理ト

ラック 208 は,基準縁から最も遠く,物理トラック 1 は,基準縁に最も近いこととする。

12.5.1.1

物理トラック幅  物理トラックの幅は,0.043 18 mm±0.012 70 mm とする。

12.5.1.2

物理トラックの位置  物理トラックの中心線の位置は,二つの順方向調整用トラックの中心線の

位置に関係する。

二つの順方向調整用トラックの位置に対する物理トラックの中心線の位置は,

表 による。正のオフセ

ットは,物理トラックが基準となる調整用トラックよりも上に位置することを表し,負のオフセットは,

基準調整用トラックよりも下に位置することを表す。

0

,25,26 及び 51 の論理トラック(12.5.2 参照)の物理トラックは,他の物理トラック幅より広くても


27

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

よい。トラックの利用できる部分の中心線は,前に記録した隣接トラックの中心線から 0.044 45 mm±

0.003 20 mm

とする。

  2  物理トラックの位置

物理トラック番号  n

物理トラックの位置  公差:±0.003 20

    1

FCT2

− 0.377 83

    2

FCT2

− 0.428 63

    3

∼ 26

FCT2

− [0.387 35 +  (n−1) 0.044 45]

 27

FCT2

+ 2.885 87

 28

FCT2

+ 2.936 87

 29

∼ 52

FCT2

+ [01.739 90 +  (n−27) 0.044 45]

 53

∼ 78

FCT2

+ [2.927 35 +  (n−53) 0.044 45]

 79

∼104 FCT2

+ [4.279 90 +  (n−79) 0.044 45]

105 FCT1

− 0.993 77

106 FCT1

− 0.942 97

107

∼130 FCT1

− [0.984 25 +  (n−105) 0.044 45]

131 FCT1

+ 0.358 77

132 FCT1

+ 0.409 57

133

∼156 FCT1

+ [0.368 30 +  (n−131) 0.044 45]

157

∼182 FCT1

+ [1.555 75 +  (n−157) 0.044 45]

183

∼208 FCT1

+ [2.908 30 +  (n−183) 0.044 45]

12.5.1.3

データエリアのトラックの配置  データエリアのトラックの配置は,図 23 による。

 23  データエリアのトラックの配置(0≦n≦102)


28

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

12.5.1.3.1

順方向トラック  奇数番号をもつ物理トラックは,順方向(BOT から EOT)に記録し,次によ

る。

保護エリア G4  保護エリア G4 は,BOT から 3 073 mm±76 mm とする。

保護エリア G6  保護エリア G6 は,EOT まで 1 524 mm 以上とする。順方向トラックは,保護エリア G6

で終わる。

参考  ISO/IEC 13421ISO/IEC 13962 及び ISO/IEC 14833 は,トラックが,保護ゾーン G4,2 の記

録ゾーン及び保護ゾーン G5 からなる 3 ゾーン部から始まり,保護ゾーン G6 で終わると規定し

ている。ISO/IEC 15307 及び ISO/IEC 15898 同様この規格では,3 ゾーンを保護ゾーン G4 だけ

とする。名称の統一及び関連する規格間の比較を簡単にするために,12.5.1.3.1 及び 12.5.1.3.2

では,G5 とはせず,G6 と表す。

12.5.1.3.2

逆方向トラック  偶数番号をもつ物理トラックは,逆方向(EOT から BOT)に記録し,次によ

る。

保護エリア G4  保護エリア G4 は,EOT から 3 073 mm±76 mm とする。

保護エリア G6  保護エリア G6 は,BOT まで 1 524 mm 以上とする。逆方向トラックは,保護エリア G6

で終わる。

12.5.2

論理トラック  論理トラックは,4 物理トラックによって構成し,同時に記録・再生する。

論理トラックは,番号 0∼51 で識別し,0 から始まり,論理トラック番号の昇順で記録する。

偶数番号の論理トラックは,奇数番号の物理トラックの上に順方向で記録する。

奇数番号の論理トラックは,偶数番号の物理トラックの上に逆方向で記録する。

論理トラックに対する物理トラックの配置は,

表 に示す。

  3  論理トラックに対する物理トラックの配置

論理トラック番号χ

物理トラック番号

0

≦χ≦ 25

(

χ+1) (χ+27) (χ+105) (χ+131)

26

≦χ≦ 51

(

χ+27) (χ+53) (χ+131) (χ+157)

論理トラック 0,25,26 及び 51 と物理トラックの関係は,

図 24 による。


29

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

 24  論理トラックの例

13.

データフォーマット  ホストは,装置にデータをレコードとして転送する。レコードは,1 バイト以

上とし,その内容は,データの送信者及び受信者間の合意事項であり,この規格では規定しない。

このフォーマットで許容する最大レコードの大きさは,2

24

–1

バイトとする。

13.1

データバイト  データバイトは,次による。

−  ホストが転送する利用者バイト

−  MAP エントリ(13.6.3.3 参照)を構成する 8 バイトグループ

−  すべて 0 に設定するパッドバイト

13.2

データブロック  ホストから受信後,レコードは,8 208 データバイトを単位とするグループに配分

する。各グループは,次の要素を付加する。

−  プリアンブル(13.6.1 参照)

−  同期(Sync)

13.6.2 参照)

−  16 ビット CRC(13.6.3.1a 参照)

−  2EDC バイト(13.6.4 参照)

−  2 パッドバイト(

図 24 参照)

−  コントロールフィールド 1(13.6.5 参照)

−  コントロールフィールド 2(13.6.6.参照)

−  64 ビット CRC(13.6.7 参照)

−  ポストアンブル(13.6.8 参照)

8 208

バイトグループは,9 要素を付加し 8 450 バイトのデータブロックを形成する。


30

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

13.3

ブロックのタイプ  ブロックのタイプは,次の 5 個とする。

データブロック(14.1 参照)

フィラーブロック(14.2 参照)

トラックの終端(EOTR)

14.3 参照)

データの終端(EOD)

14.1 参照)

ECC

ブロック(14.5 参照)

13.4

実体  ブロックは,EOTR ブロック及び EOD ブロック(15.  参照)を除き,実体に記録する。実体

は,同じ論理トラック内で記録を完了する。

ブロックは,公称 0.303 mm の直流消去したギャップを設け,その再生信号振幅は,平均信号振幅の 5  %

未満とする。

実体のフォーマットは,15.  による。

13.5

実体集合  実体集合は実体の集合とし,実体集合中の実体の数を実体個数とする。このサイズは,

最大 3 とする。実体集合のフォーマットは,16.  による。

13.6

ブロックフォーマット  ブロックフォーマットは図 25 とし,ECC ブロックは 14.5 による。

バイト数

フィールド

97

プリアンブル

1

同期 (Sync)

可変長

ページ 1:レコード番号 1 及び CRC

可変長

ページ 2:レコード番号 2 及び CRC

可変長

ページ(n−1):レコード番号(n−1)及び CRC

可変長

ページ n:レコード番号 及び CRC

  データ

可変長

必要な場合パッドバイト

フィールド

8

ページ の MAP

8 208

バイト

8

ページ  (n−1)  の MAP

: 

: 

8

ページ 2 の MAP

8

ページ 1 の MAP

2 EDC

2

パッドバイト

20 CF1

16 CF2

8 CRC

96

ポストアンブル

 25  ブロックフォーマット

13.6.1

プリアンブル  このフィールドは,776 個の 1 を設定する。

13.6.2

同期(Sync)  このフィールドは,01101111 を設定し,次がデータフィールドの最初のバイトで

あることを表す。


31

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

13.6.3

データフィールド  ブロックのデータフィールドは,パッドバイトを含め 8 208 バイトとし,可変

長の 1 以上のページ及び 8 バイトの MAP エントリを配置する。MAP エントリは,各ページに対応し,ペ

ージは,バイト 99 からとし,バイト位置の昇順に配置する。MAP エントリは,バイト 8 307 からとし,

バイト位置の降順に配置する。

ページは,可変長のレコード又はレコードの一部を含み,レコードバイト数が奇数の場合,1 パッドバ

イトを付加し補正する。

1

レコードは,1)  すべてがこのデータブロックに含まれる場合,2)  このデータブロックで開始し,続く

データブロックで終了する場合,3)  前のデータブロックで開始し,このデータブロック若しくは次のデー

タブロックで終了する場合の 3 種類とする。

タイプが異なるブロックのデータフィールドは,ブロックに関する項目で規定する。

13.6.3.1

ページの配置  ページ内のバイト数は,4 の倍数とする。

a

)

ページごとにレコードは,16 ビットの CRC(

附属書 参照)を付加する。ただし,d),e)  及び f)  は,

例外とする。

b

)

ページのレコードデータバイト数と CRC の和が 4 の倍数のとき,次のページに移る。

c

)

ページのレコードデータバイト数が 4 の倍数のとき,CRC に続き,2 パッドバイトを付加しページを

完成する。

d

)

レコード又はレコードの一部が 8 208 バイトのとき,CRC は,次のデータブロックの第 1 ページに記

録し,第 1 ページは,CRC 及び 2 パッドバイトとする。

e

)

レコードの開始及び終了がこのデータブロック以外のデータブロックとなる場合,このデータブロッ

クに記録するレコードは,CRC を付加しない。

f

)

データブロックで開始したレコードが,次のデータブロックに連続する場合,

このデータブロックは,

CRC

を付加しない。

13.6.3.2

パッドバイト  ページ終了後パッドバイトは,データを補完し,MAP エントリがバイトに対応

する。ページタイプは,フィラーとする(13.6.3.3 参照)

データフィールドの余りが 6 バイト以下のとき,MAP エントリの余地がなく,新しくページを開始して

はならない。

13.6.3.3

  MAP

エントリ  MAP エントリは,8 バイトとし,ページの属性を規定する。MAP エントリは,

図 26 とし,テープへ記録する場合,附属書 のフォーマットによる。


32

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

フィールド

設定

ページタイプ

3

ビット

001

  フィラー

010

  データ

011

  テープマーク

N

ビット

0

:レコードは,このデータブロックで終了

1

:レコードは,次のデータブロックに継続

P

ビット

0

:レコードは,このデータブロックから開始

1

:レコードは,他のブロックから開始

L

ビット

0

:MAP の継続

1

:最後の MAP

I

ビット

0

に設定

C

ビット

0

:非圧縮レコードデータ

1

:圧縮レコードデータ

グループレコード数

1

バイト

1

:レコードは,グループレコードではない

2

∼255:グループレコードとし,グループレコードを構

成するサブレコード数による

0

:使用を禁止する

ページバイトカウント

16

ビット

ページの利用者バイト及び/又はパッドバイトの数

レコードバイトカウント

32

ビット

レコードのバイト総数

 26  MAP エントリの内容

ページタイプがフィラー又はテープマークのとき,ページバイトカウントは,データフィールドのパッ

ドバイト数とし,レコードバイトカウントは,無視する。

13.6.4

  EDC

  EDC は,データフィールドの 8 208 バイトにわたって計算した 16 ビットとし,2 バイトと

する。

EDC

は,データフィールドの 8 208 バイトからなる 4 104 個の 16 ビットデータワードについて生成した

結果を 16 ビットのワードで表す。第 1 データバイトは,第 1 データワードの下位とし,第 2 データバイト

を第 1 データバイトの上位とする。以下,同様にデータワードを作成する。EDC は,1≦i≦4 104 の 4 104

データワードを用い,次の生成方法による。

EDC

0

に,(00) (45)を設定する。

EDC

i

に,EDC

i-1

⊕(データワード)

i

を設定する。

EDC

i

を左へ 1 ビットシフトし,最上位ビットを最下位ビットへ巡回する。

ここに,

⊕は,Exclusive OR とする。

この生成法によって生成した EDC

4104

は,

ブロックフォーマットのバイト位置 8 308 及びバイト位置 8 309

の 16 ビットパターンとなる。

13.6.5

コントロールフィールド 1CF1)  CF1 は,160 ビットフィールドとし,ブロックの属性を表す。

CF1

図 27 とし,テープへ記録する場合,附属書 のフォーマットによる。


33

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

ビット数

フィールド

26 0

に設定

 6

フォーマット

24

テープマーク

 8

圧縮

32

オブジェクト番号

16

レコードブロックの連続番号

 4

連続ファイルマークオフセット

12

連続ファイルマーク番号

 3

ブロックタイプ

 1

終端予告

 4

実体個数

24

実体集合バックリンク

 27  コントロールフィールド 1 の内容

フォーマットは,ECC ブロックには適用しない(14.5 参照)

13.6.5.1

予約フィールド  予約ビットは,0 に設定する。

13.6.5.2

フォーマット  このフィールドは,000110 に設定する。

13.6.5.3

テープマーク  このフィールドは,テープマークタイプのページを含むブロックが最初に現れる

まで,0 に設定する。

このフィールドは,テープマークタイプのページを含むブロックに先行するデータブロックの序数を 2

進数で表す。

EOTR

ブロック及び EOD ブロックは,このフィールドをすべて 0 に設定する。

13.6.5.4

圧縮  このフィールドは,適用する圧縮アルゴリズムの識別子を 2 進数で表す。適用しない場合,

0

に設定する(ISO/IEC 11576 参照)

13.6.5.5

オブジェクト番号  このフィールドは,テープ上のすべてのレコード及びテープマークタイプの

ページの計数を表し,最初を 1 とし,レコード及びテープマークタイプのページごとに 1 を加算する。

EOTR

ブロック及び EOD ブロックは,このフィールドをすべて 0 に設定する。

13.6.5.6

レコードブロックの連続番号  このフィールドは,レコードが 1 ブロックを超える場合,ブロッ

クの連続番号を表し,最初を 1 とし,ブロックが増えるごとに 1 を加算し,2 進数で表す。

レコードがブロックを超えない場合,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

13.6.5.7

連続ファイルマークオフセット  このフィールドは,グループ(13.6.5.7 参照)内のテープマー

クタイプのページ数を 2 進数で表す。グループは,第 2 ページに対応する 2 を最小値とする。

13.6.5.8

連続ファイルマーク番号  このフィールドは,2 個以上連続するテープマークタイプのページの

グループの計数を表し,最初を 1 とし,グループごとに 1 を加算する。グループは,テープマークタイプ

のページを含まない 1 以上のデータブロックによって分離する。

13.6.5.9

ブロックタイプ  このフィールドは,3 ビットとし,ブロックのタイプを表す。

ビットパターン

ブロックのタイプ

     000

フィラーブロック

     001

データブロック

     011

トラックの終端

     100

データの終端


34

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

     101

ECC

ブロック

これ以外のビットパターンは,この規格では使用できない。

13.6.5.10

終端予告  終端予告ビットは,論理トラック 0∼50 では 0 に設定する。終端予告ビットは,論

理トラック 51 では,終端予告信号を生成するまで 0 に設定し,終端予告信号生成後は,残りの全論理ブロ

ックに対して 1 に設定する。

終端予告信号は,順方向トラックでは,少なくとも EOT の手前 1 650 mm で生成し,逆方向トラックで

は,少なくとも BOT の手前 1 650 mm で生成する。

13.6.5.11

実体個数  このフィールドは,実体集合中の実体数を表す。

13.6.5.12

実体集合バックリンク  このフィールドは,先行実体集合の最終ブロックのブロックオフセッ

トとし,論理トラック 0 の先頭実体集合の場合,すべてのブロックに対して 0 に設定する。その他の論理

トラックの先頭実体集合の場合,先行する論理トラックの最終実体集合の最終ブロックによるブロックオ

フセットを保持する。

13.6.6

コントロールフィールド 2CF2)  このフィールドは,128 ビットとし,ブロックの属性を表し,

ブロックを記録する実体と実体集合について表す。

CF2

は,

図 28 とし,テープへの記録は,附属書 のフォーマットによる。

ビット数

フィールド

    5

0

に設定

    5

実体オフセット

 32

ブロックオフセット

 24

実体集合の先頭オブジェクト番号

    5

実体サイズ

    1

レコードの先頭ブロック

    8

実体番号

 16

実体集合番号

 24

ランダムタグ

    1

K

ビット

    7

論理トラック番号

 28  コントロールフィールド 2 の内容

13.6.6.1

実体オフセット  このフィールドは,実体の連続するブロックの序数を 2 進数で表し,先頭ブロ

ックを 1 とし,連続するブロックごとに 1 を加算する。

13.6.6.2

ブロックオフセット  このフィールドは,ブロックの序数を 2 進数で表し,先頭ブロックを 0 と

し,同一の論理トラックに記録するごとに 1 を加算する。

13.6.6.3

実体集合の先頭オブジェクト番号  このフィールドは,実体集合の先頭ブロックのオブジェクト

番号を表す。

13.6.6.4

実体サイズ  このフィールドは,実体のブロックの数とし,フィラーブロックは除外する。

13.6.6.5

レコードの先頭ブロック  このビットは,ブロックがレコードの先頭ブロックのとき,1 に設定

し,それ以外のとき,0 に設定する。

13.6.6.6

実体番号  このフィールドは,実体集合中の実体の序数とし,下位 4 ビットは,この序数を表す。

上位 4 ビットは,論理トラック 0 の先頭実体集合を 0 とし,テープに記録するごとに 1(mod 16)を加算

する。


35

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

13.6.6.7

実体集合番号  このフィールドは,論理トラックの実体集合の序数を表し,先頭実体集合は 1 と

し,後続する実体集合ごとに 1 を加算する。

13.6.6.8

ランダムタグ  このフィールドは,2 進数の乱数で表し,記録時再生検査過程で再生し,生成し

た数値と比較し,検査能力を高める。このフィールドは,情報交換時には,無視する。

13.6.6.9

  K

ビット  先行する実体集合中に誤りを検出した物理ブロックが存在するとき,始めの 4 ブロッ

クの K ビットは,1 に設定する。先行実体集合に誤りブロックの再記録が終了したとき,K ビットは,0

に再設定する。

13.6.6.10

論理トラック番号  このフィールドは,ブロックを記録する論理トラックの論理番号(0∼51)

を 2 進数で表す。

13.6.7

  CRC

  このフィールドは,64 ビットの CRC とし,データフィールド 8 208 バイト,EDC,2 パッ

ドバイト,CF1 及び CF2 にわたって計算する。CRC の生成方法は,

附属書 による。

13.6.8

ポストアンブル  このフィールドは,768 個の 1 とする。

14.

物理ブロックの使用

14.1

データブロック  データブロックは,利用者バイトを含む。利用者データとして使用しないブロッ

クのデータフィールド及び MAP エントリは,いずれのバイトにも 1 パッドバイトを含むこととする。

14.2

フィラーブロック  フィラーブロックは,実体を完結するときにだけ使用する(15.  参照)。

フィラーブロックのデータフィールドは,0 に設定する。

14.3

トラックブロックの終端  論理トラックの最後の実体集合処理後,次の論理トラックに記録するデ

ータがない場合,少なくとも 11EOTR ブロックを最後の実体集合後の論理トラックに記録し,次の論理ト

ラックは,少なくとも 11EOD ブロックの記録から開始する(14.4 参照)

EOTR

ブロックのデータフィールドは,この規格では規定しない。情報交換時には,無視する。

14.4

データブロックの終端  11EOD ブロックは,テープに記録するデータの終端を表す。

EOD

ブロックのデータフィールドは,この規格では規定しない。情報交換時には,無視する。

14.5

  ECC

ブロック  4ECC ブロックのバイトは,8 208 バイトのデータフィールド,2EDC バイト,2 パ

ッドバイト及び実体の先行するブロックの最初の 16CF1 バイト(

附属書 参照)にわたって計算する。

4 114ECC

の 2 バイトワードは,バイト位置 99∼8 326 とし,ECC ブロックの CF1 は,バイト位置 8 327∼

8 330

までの 4 バイトとする。

ECC

ブロックの CF2 は,13.6.6 による。

ECC

ブロックは,13.6.7 の CRC によって完結する。

ECC

バイトの生成法は,

附属書 による。

15.

実体のフォーマット  実体は,1∼20 の連続した 20 ブロックとする。1 及び 2 のブロックは,データ

ブロックとし,3∼16 までのブロックは,データブロック又はフィラーブロックとする。

−  ブロック 17 は,ECC1 ブロックとする。

−  ブロック 18 は,ECC2 ブロックとする。

−  ブロック 19 は,ECC3 ブロックとする。

−  ブロック 20 は,ECC4 ブロックとする。

ECC

ブロックを計算後,データブロック及び ECC ブロックはテープに記録し,フィラーブロックは,

テープに記録しない。


36

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

EOTR

ブロック及び EOD ブロックは,実体の一部ではない。

16.

実体集合のフォーマット  実体集合内の実体は,実体集合に関する実体の数とする(13.6.6.6 参照)。

実体集合は,

論理トラックをまたがってはならない。ホストからの記録命令を受け取って記録を開始し,

第 1 の EOD ブロックの前のブロックの後に,新しい実体集合を記録する。

17.

誤りの処理  ブロックに誤りが発生したとき,正しく書き込むまで,同じ論理トラックを別の物理ト

ラックに再書き込みする(13.6.6.9 参照)


37

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

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附属書 A(規定)光透過率の測定法

A.1

概要  この附属書(規定)は,テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。

光透過率は,測定装置に試験片を入れないときの計測値と入れたときの計測値の比を百分率(%)で表

す。要求値は,A.2.1 による二つの波長について 5  %以下とする。

A.2

測定装置の構成  測定装置の構成は,次による。

−  光源

−  光検出部

−  測定用マスク

−  光学系

−  測定回路

A.2.1

光源  光源は,次のパラメータをもつ二つの赤外線発光ダイオード(LED)を使用する。

LED 1

  波長  :750 nm

± 50 nm

  半値幅:

± 50 nm

LED 2

  波長  :1 050 nm

± 50 nm

  半値幅:

± 50 nm

A.2.2

光検出部  光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。

A.2.3

測定用マスク  測定用マスクは,厚さを 2 mm とし,孔の直径(d)をフォトダイオードの受光領

域の 80  %∼100  %の大きさに設定する。

表面は,黒のつや消しとする。

試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないようにマスクに固定する。

A.2.4

光学系(附属書 図 1)  光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離(L)は,次

の式による。

α

2tan

d

L

=

ここに,

d

  mm

α

光軸上の最大光量に対して

95

%以上の光量がある領域

参考

附属書 図 は,原国際規格のとおりに,機器などの配置を概念的に説明したものであり,定

量的な関係まで示すものではない。定量的関係については,上の式が正しい。

A.2.5

仕上げ  装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6

測定回路(附属書 図 2)  測定回路は,次による。

E

:出力電圧可変の定電圧電源

R

:電流制限用の抵抗器

LED

:赤外線発光ダイオード

Di

:シリコンフォトダイオード


38

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:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

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A

:演算増幅器

R

f0

R

f1

:帰還用の抵抗器

S

:増幅率切替えスイッチ

V

:電圧計

LED

に流れる電流,すなわち,照射力は,供給電圧(

E

)によって変化させる。

Di

は,短絡回路モードで動作させる。

演算増幅器の出力電圧は,次による。

V

0

 = I

k

×

  R

f

ここに,

  I

k

Di

の短絡回路モードでの電流

出力電圧は,光量に比例する。

R

f0

及び

  R

f1

は,許容誤差

1

%で,温度による抵抗変化の少ない抵抗器とする。これらの抵抗値の比は,

次の式による。

20

1

R

R

f1

f0

=

A.3

測定法  測定法は,次による。

−  スイッチ(

S

)を位置(

0

)に設定する。

−  試験片を取り付けないで,電圧計(

V

)の指示がフルスケール(

100

%)になるように供給電圧(

E

を変化させる。

−  リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このとき電圧計は,

60

%∼

100

%を示さ

なければならない。

−  磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ(

S

)を位置(

1

)に設定する。このとき,電

圧計のフルスケールは,光透過率

5

%を示す。

LED1

及び

LED2

についてそれぞれ

1

回,合計

2

回測定する。

L

d

マスク

LED

光軸

テープ

2

α

附属書   1  工学系の構成

シリコン

フォトダイオード


39

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R

LED

E

Rf0

Rf1

Di

A

0

1

S

V

附属書   2  測定回路

R

f0

R

f1

A

S

0

R

E

LED

Di

V


40

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附属書 B(規定)データブロックの CRC の生成法

CRC

フィールドは,データフィールドの最初のバイトから始まり,最後の

CF2

バイトで終わる

8 264

イトの

66 112

ビットにわたって算出し,

64

ビットとする。

下側の

b

0

ビットで始まるビットは,次の多項式による。

i

i

i

i

x

b

x

M

å

=

=

=

112

66

0

)

(

P(x) = M(xx

64

生成多項式は,次による。

G(x) = x

64

 + x

62

x

57

 + x

55

 + x

54

 + x

53

 + x

52

 + x

47

 + x

46

 + x

45

 + x

40

 + x

39

 + x

38

 + x

37

 + x

35

 + x

33

 + x

32

 + x

31

 + x

29

x

27

 +

x

24

 + x

23

 + x

22

 + x

21

 + x

19

 + x

17

 + x

13

 + x

12

x

10

x

9

x

7

 + x

4

 + x + 1

64

ビットの

CRC

は,

P(x)/G(x)

の剰余とする。


41

X 6174

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附属書 C(規定)ECC の生成

C.1

 4ECC

ブロックは,

ECC1

ECC2

ECC3

及び

ECC4

とする(本体の 15.  参照)

ECC

ブロックの

8

ビットバイトは,データフィールド,

EDC

,パッドバイト及び実体の最初の

16

ブロックの

CF1

にわたっ

て計算する。

ECC

ブロックは,

ECC1

(バイト

i

ECC2

(バイト

i

ECC3

(バイト

i

)及び

ECC4

(バイト

i

)を元に,

ブロック

1

(バイト

i

,ブロック

2

(バイト

i

,ブロック

3

(バイト

i

)・…及びブロック

16

(バイト

i

)と

する。

C.2

 ECC

ブロックのバイトは,次による。

ECC

演算の開始時に,

RS1

バイト

(i

 0)

RS2

バイト

(i

 0)

RS3

バイト

(i

 0)

及び

RS4

バイト

(i

0)

0

に設定する(ここに,

i

はブロックのバイト位置とする。

16

バイトのグループは,リードソロモン生成器によって,次による。

ECC1

バイト

(i)

RS1

バイト(

i

16

ECC2

バイト

(i)

RS2

バイト(

i

16

ECC3

バイト

(i)

RS3

バイト(

i

16

ECC4

バイト

(i)

RS4

バイト(

i

16

C.3

附属書 図 は,処理の概要を表す。ここに,

i

は,バイトの位置を表し,

j (j=1

16)

は,データブ

ロックの番号とする。


42

X 6174

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附属書   1  ECC ブロック

C.4

附属書 図 のマトリックスは,次による。

−  マトリックス

4

07 = i7 xor i6 xor i5 xor i1;

06 = i6 xor i5 xor i4 xor i0;

05 = i5 xor i4 xor i3;

04 = i4 xor i3 xor i2;

03 = i6 xor i5 xor i3 xor i2;

02 = i7 xor i6 xor i4 xor i2;

入力データ

xor

RS4

バイト

(i,j-1)

マトリックス

1

マトリックス

2

マトリックス

3

マトリックス

4

xor

RS3

バイト

(i,j-1)

RS4

バイト

(i,j)

xor

RS3

バイト

(i,j)

RS2

バイト

(i,j-1)

xor

RS2

バイト

(i,j)

RS1

バイト

(i,j-1)

RS1

バイト

(i,j)


43

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

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01 = i7 xor i3;

00 = i7 xor i6 xor i2.

−  マトリックス

3

07 = i7 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2 xori1;

06 = i7 xor i6 xor i4 xor i3 xor i1 xor i0;

05 = i6 xor i5 xor i3 xor i2 xor i1 xor i0;

04 = i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i2 xor i1 xor i0;

03 = i6 xor i5 xor i2 xor i0;

02 = i7 xor i3 xor i2;

01 = i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i3;

00 = i6 xor i5 xor i4 xor i3 xori2.

−  マトリックス

2

07 = i5 xor i3 xor i2;

06 = i4 xor i2 xor i1;

05 = i3 xor i1 xor i0;

04 = i2 xor i0;

03 = i5 xor i3 xor i2 xor i1;

02 = i5 xor i4 xor i3 xor i1 xor i0;

01 = i7 xor i5 xor i4 xor i0;

00 = i6 xor i4 xor i3.

−  マトリックス

1

07 = i7 xor i6 xor i5 xor i4;

06 = i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i3;

05 = i6 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2;

04 = i7 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2 xor i1;

03 = i5 xor i3 xor i2 xor i1 xor i0;

02 = i6 xor i5 xor i2 xor i1 xor i0;

01 = i7 xor i6 xor i1 xor i0;

00 = i7 xor i6 xor i5 xor i0.


44

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

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附属書 D(規定)ページ CRC の生成

ページ

CRC

は,ページのレコードの

k

ビットにわたって計算する

16

ビットの検査符号とする。

k

ビットの

b

0

b

k-1

は,次の多項式の計数とする。ここに,

b

0

は,下位のビットとする。

i

k

i

x

b

x

M

å

=

1

0

)

(

P(x) = M(xx

16

P(x)

を,次の生成多項式で除した剰余は,16 ビット CRC とする。

x

16

x

15

x

2

+ 1


45

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

著作権法により無断での複製,転載等は禁止されております。

附属書 E(規定)MAP エントリのフォーマット

テープに記録する前の MAP エントリのフォーマットは,

附属書 図 による。

ビット位置

フィールド

ビット長

  1

∼ 8

グループレコード数 8

 9

C

ビット 1

10

∼12

ページタイプ 3

13 N

ビット 1

14 P

ビット 1

15 L

ビット 1

16 0

に設定 1

17

∼24

ページバイトカウント  ビット 1∼8 8

25

∼32

ページバイトカウント  ビット 9∼16 8

33

∼40

レコートバイトカウント  ビット 17∼24 8

41

∼48

レコートバイトカウント  ビット 25∼32 8

49

∼56

レコートバイトカウント  ビット 1∼8 8

57

∼64

レコートバイトカウント  ビット 9∼16 8

附属書   1  MAP エントリのフォーマット


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X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

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附属書 F(規定)コントロールフィールド 1 のフォーマット

テープに記録する前の CF1 フィールドのフォーマットは,

附属書 図 による。

ビット位置

フィールド名

ビット長

    1

∼   8

テープマーク,ビット 17∼24 8

    9

∼  10 0 に設定 2

 11

∼  16

フォーマット 6

 17

∼  24

テープマーク,ビット 1∼8 8

 25

∼  32

テープマーク,ビット 9∼16 8

 33

∼  36

圧縮ビット,ビット 5∼8 4

 37

∼  40

圧縮ビット,ビット 1∼4 4

 41

∼  64 0 に設定する 24

 65

∼  72

オブジェクト番号,ビット 17∼24 8

 73

∼  80

オブジェクト番号,ビット 25∼32 8

 81

∼  88

オブジェクト番号,ビット 1∼8 8

 89

∼  96

オブジェクト番号,ビット 9∼16 8

 97

∼ 104

レコードブロックの連続番号,ビット 1∼8 8

105

∼ 112

レコードブロックの連続番号,ビット 9∼16 8

113

∼ 120

連続ファイルマーク番号,ビット 1∼8 8

121

∼ 124

連続ファイルマークオフセット 4

125

∼ 128

連続ファイルマーク番号,ビット 9∼12 4

129

∼ 136

実体集合バックリンク,ビット 17∼24 8

137

終端予告 1

138

∼ 140

ブロックタイプ 3

141

∼ 144

実体集合サイズ 4

145

∼ 152

実体集合バックリンク,ビット 1∼8 8

153

∼ 160

実体集合バックリンク,ビット 9∼16 8

附属書   1  CF1 のフォーマット


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附属書 G(規定)コントロールフィールド 2 のフォーマット

テープに記録する前の CF2 フィールドのフォーマットは,

附属書 図 による。

ビット位置

フィールド名

ビット長

    1

∼  8

ブロックオフセット,ビット 17∼24

8

    9

実体オフセット,ビット 5 1

 10

∼ 12

0

に設定 3

 13

∼ 16

実体オフセット,ビット 1∼4

4

 17

∼ 24

ブロックオフセット,ビット 1∼8 8

 25

∼ 32

ブロックオフセット,ビット 9∼16 8

 33

∼ 40

実体集合第 1 オブジェクト番号,ビット 17∼24 8

 41

∼ 48

実体集合第 1 オブジェクト番号,ビット 25∼32 8

 49

∼ 56

実体集合第 1 オブジェクト番号,ビット 1∼8 8

 57

∼ 64

実体集合第 1 オブジェクト番号,ビット 9∼16 8

 65

∼ 72

実体番号,ビット 1∼8 8

 73

レコードの第 1 ブロック 1

    74

及び 75 0 に設定 2

    76

∼ 80

実体サイズ 5

    81

∼ 88

実体集合番号,ビット 1∼8 8

    89

∼ 96

実体集合番号,ビット 9∼16 8

    97

∼104

ランダムタグ,ビット 9∼16 8

 105

∼112

ランダムタグ,ビット 17∼24 8

113 K

ビット 1

 114

∼120

論理トラック番号 7

 121

∼128

ランダムタグ,ビット 1∼8 8

附属書   1  CF2 のフォーマット


48

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:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

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附属書 H(参考)輸送条件

この附属書は,カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので,規定の一部ではない。

H.1

環境条件  カートリッジの輸送時の環境条件は,次によることが望ましい。

H.1.1

未記録カートリッジ

温度

:– 23 °C∼48 °C

相対湿度 :5  %∼100  %

期間

:連続 10 日以内

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

H.1.2

記録済カートリッジ

温度

:5 °C∼32 °C

相対湿度 :5  %∼80  %

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

H.2

安全性  記録済カートリッジの輸送条件は,次による。

H.2.1

衝撃及び振動  輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために,次のような対策を取ること

が望ましい。

a

)

カートリッジを変形させるおそれがある,機械的な荷重を加えてはならない。

b

)

カートリッジは,1.0 m を超える高さから落下させてはならない。

c

)

カートリッジは,十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。

d

)

カートリッジの収納箱は,内部が清浄で,かつ,じんあい(塵埃)

,水などの侵入がない構造とする。

e

)

カートリッジの収納箱内での収納方法は,テープリールの中心軸が水平になるようにする。

f

)

カートリッジの収納箱は,正しい方向(天地)に置けるように明確な表示をする。

H.2.2

極端な温度及び湿度  温度及び湿度の急激な変化は,いかなる場合でも可能な限り回避する。

輸送されたカートリッジは,使用環境条件に最低 24 時間放置する。

H.2.3

誘導磁界の影響  カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は,外部磁界の影響による

信号破壊の危険性を最小限にするため,80 mm 以上とする。


49

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附属書 J(参考)不良テープ

この附属書は,不良テープについて記述するもので,規定の一部ではない。

テープ装置の性能を阻害するテープは,使用禁止テープとする。テープの特性には,テープ装置の性能

を劣化するものがある。高い研磨性,テープ走行部品に対する高い静摩擦係数,エッジの悪い状態,極端

な磨耗粉,テープ層間のスリップ,テープ裏面への磁性層からの転写,粘着スリップの原因,他のテープ

の性能を阻害するテープ成分のにじ(滲)みだしなどである。これらの特性は,テープの性能を劣化させ,

誤りを多く発生させる。

カートリッジに使用禁止テープを入れて,用いてはならない。


50

X 6174

:2004 (ISO/IEC 16382:2000)

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附属書 K(参考)テープの耐久性

この附属書は,テープの耐久性について記述するもので,規定の一部ではない。

耐久性及び信頼性のテストは,テープ装置についてテープを繰り返し使用したときの磨耗に対する耐性

で評価する。このテストは,テープの寿命又は装置の誤り修復能力のテストではない。

テープメーカから新しいカートリッジの出荷時,次の要求事項を満足することが望ましい。

適切な装置を使用するカートリッジの試験と評価は,次による。テストは,テープと装置の使用環境(本

体 6.2 参照)で行う。

K.1

テープの耐久性及び信頼性は,データのファイルを繰り返しアクセスして,磨耗に対する耐性で表

す。永久的なミッシングパルスは,10 回の連続再生で 1 回とする。

K.2

 20

000

パス後,10 実体の 1 実体中の 3 ブロックに誤りがあるとき,不合格とする。3 ブロックすべ

てに,少なくとも 1 ミッシングパルスがあったことを意味する。

K.3

 250

000

パス後,10 実体の 1 実体中の 5 ブロックに誤りがあるとき,不合格とする。5 ブロックすべ

てに,少なくとも 1 ミッシングパルスがあったことを意味する。

K.4

手順  試験の前に,装置は清潔にする。

試験には,4 巻以上のカートリッジを使用する。試験領域は,1 m 以上又は 10 実体とする。

試験サイクルは,試験領域の始めの部分から開始し,試験領域に記録の後,始めの部分に戻る。ミッシ

ングパルスが発生した場合,7 回まで再生を繰り返した後に,ミッシングパルスとして記録する。

試験中は,テープの走行系を清掃してはならない。


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附属書 L(参考)カートリッジの操作

この附属書は,カートリッジの操作について記述するもので,規定の一部ではない。

L.1

概要

L.1.1

カートリッジに不必要な物理的衝撃が加わらないようなコンテナで輸送する。

L.1.2

カートリッジは,使用するまで保護ケースに入れる。

L.1.3

テープに汚染又は物理的な損傷を与えるので,カートリッジのリッドを不必要に開けない。テープ

を直接触れない。

L.1.4

カートリッジは,蒸気又は直射日光にさらさない。

L.1.5

使用環境及び保存環境は,清潔にする。

L.1.6

磁界を発生する機器の上又は近くにカートリッジを置かない。

L.2

ラベル

L.2.1

カートリッジメーカが供給するラベルを使用する。他のラベルを使用すると,カートリッジ使用時

に支障がでることがある。

L.2.2

鉛筆,水溶性フェルトペン又は脱落物が発生するおそれがあるラベル書込み装置は,使用しない。

ラベルを,消去したり,交換したりしない。

L.3

保管  カートリッジは,保護ケースに入れて,立てて保管する。