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X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)/財

団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工

業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS X 6149

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)テープの光透過率の測定法

附属書 B(規定)テープの研磨性測定法

附属書 C(規定)論理ブロックの CRC の生成

附属書 D(規定)ECC3 チェックバイト

附属書 E(規定)データ領域の CRC の生成

附属書 F(規定)ECC の生成

附属書 G(規定)前置符号器

附属書 H(規定)8 ビットバイトから 10 ビットパターンへの変換

附属書 J(規定)乱数化

附属書 K(規定)サーチフィールドの CRC の生成条件

附属書 L(規定)サーチフィールド ECC

附属書 M(規定)ビットシフトの測定法

附属書 N(参考)輸送条件


X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

目  次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  適合性

1

2.1

  磁気テープカートリッジ

1

2.2

  生成システム

1

2.3

  受領システム

1

3.

  引用規格

2

4.

  定義

2

4.1

  交流消去 (a.c. erase)

2

4.2

  アルゴリズム (algorithm)

2

4.3

  平均信号振幅  (average signal amplitude) 

2

4.4

  アジマス (azimuth) 

2

4.5

  裏面 (back surface)

2

4.6

  ビットセル (bit cell)

2

4.7

  バイト (byte) 

2

4.8

  カートリッジ (cartridge)

2

4.9

  チャネルビット (channel bit) 

2

4.10

  巡回冗長検査文字  [cyclic redundancy check (CRC) character] 

2

4.11

  誤り訂正符号  [error correcting code (ECC)]

2

4.12

  ファイルマーク (file mark)

2

4.13

  LBOP (logical beginning of partition) 

2

4.14

  論理ブロック (logical block) 

2

4.15

  磁気テープ (magnetic tape)

2

4.16

  主基準テープ  (master standard reference tape) 

2

4.17

  パーティション (partition) 

2

4.18

  PBOP (physical beginning of partition)

2

4.19

  PBOT (physical beginning of tape) 

2

4.20

  PEOP (physical end of partition) 

2

4.21

  PEOT (physical end of tape)

2

4.22

  物理記録密度  (physical recording density)

2

4.23

  リードバック検査  [read back check (RBC)]

3

4.24

  基準磁界 (reference field) 

3

4.25

  二次基準テープ  [secondary standard reference tape (SSRT)] 

3

4.26

  セットマーク (set mark) 

3

4.27

  基準信号振幅  [standard reference amplitude (SRA)]

3


X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

(3)

4.28

  基準電流  [standard reference current (Ir)]

3

4.29

  テープ基準縁  (tape reference edge)

3

4.30

  試験記録電流  [test recording current (TRC)] 

3

4.31

  トラック (track) 

3

4.32

  ティピカル磁界 (typical field) 

3

5.

  表記法

3

5.1

  数字の表現

3

5.2

  エンティティの名称

3

6.

  略号

3

7.

  環境条件及び安全性

4

7.1

  試験環境条件

4

7.2

  使用環境条件

4

7.3

  保存環境条件

4

7.4

  輸送

5

7.5

  安全性

5

7.6

  難燃性

5

8.

  ケースの寸法及び機械的特性

5

8.1

  概要

5

8.2

  全体の寸法(図 及び図 6

6

8.3

  保持領域

6

8.4

  カートリッジ挿入部

6

8.5

  窓(図 1

7

8.6

  ローディンググリップ(図 及び図 7

7

8.7

  ラベル領域(図 及び図 8

7

8.8

  基準領域及び基準孔(図 9,図 10 及び図 11

8

8.9

  支持領域(図 9

8

8.10

  識別孔(図 10,図 11 及び図 12

9

8.11

  書込み禁止孔(図 11 及び図 12

10

8.12

  位置決め面(図 及び図 10

10

8.13

  リッド(図 及び図 13

10

8.14

  リールロック(図 16

11

8.15

  リール受け孔(図 10

12

8.16

  リールと駆動スピンドルとの接触領域

12

8.17

  光通過経路(図 10,図 12,図 20 及び図 21

13

8.18

  ケース内のテープの位置(図 21

14

8.19

  テープ走行領域(図 21

14

8.20

  テープ引出し開口部(図 10

14

8.21

  テープの引出し開口部への要求事項(図 24

14

9.

  テープの機械的特性,物理的特性及び寸法

29

9.1

  材料

29


X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

9.2

  テープの長さ

30

9.3

  テープの幅

30

9.4

  連続性

31

9.5

  テープの厚さ

31

9.6

  長手方向の湾曲

32

9.7

  カッピング

32

9.8

  磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度

32

9.9

  層間の粘着

32

9.10

  引張強度

33

9.11

  残留伸び

33

9.12

  磁性面の電気抵抗

33

9.13

  テープの巻き方

34

9.14

  テープの光透過率

34

9.15

  研磨性

34

10.

  磁気的特性

34

10.1

  試験条件

34

10.2

  ティピカル磁界

34

10.3

  平均信号振幅

34

10.4

  分解能

34

10.5

  信号対雑音比

34

10.6

  消去特性

35

10.7

  テープの品質

35

11.

  フォーマット

36

11.1

  概要

36

11.2

  物理ブロックのフォーマット

37

11.3

  サーチフィールドフォーマット

45

11.4

  サーボエリア

47

11.5

  トラックの配置

47

12.

  記録方式

50

12.1

  記録密度

50

12.2

  ビットシフト

50

12.3

  情報交換時の再生信号振幅

51

13.

  トラックの構成

51

13.1

  概要

51

13.2

  トラック間隔

51

13.3

  平均トラック間隔

51

13.4

  トラック幅

51

13.5

  トラック角

51

13.6

  トラック長

51

13.7

  ガードバンド

52


X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

(5)

13.8

  アジマス角

52

13.9

  トラックエッジの直線性

52

14.

  テープの配置

52

14.1

  概要

52

14.2

  テープ履歴ログ (THL) 

52

14.3

  PBOP 

53

14.4

  LBOP 

53

14.5

  データ領域

53

14.6

  EOD 

53

14.7

  PEOP 

53

附属書 A(規定)テープの光透過率の測定法

54

附属書 B(規定)テープの研磨性測定法

57

附属書 C(規定)論理ブロックの CRC の生成

59

附属書 D(規定)ECC3 チェックバイト

60

附属書 E(規定)データ領域の CRC の生成

61

附属書 F(規定)ECC の生成

62

附属書 G(規定)前置符号器

63

附属書 H(規定)ビットバイトから 10 ビットパターンへの変換

64

附属書 J(規定)乱数化

70

附属書 K(規定)サーチフィールドの CRC の生成条件

71

附属書 L(規定)サーチフィールド ECC 

72

附属書 M(規定)ビットシフトの測定法

73

附属書 N(参考)輸送条件

75

 


日本工業規格

JIS

 X

6149

:2003

(ISO/IEC 18836

:2001

)

情報交換用 8 mm 幅,磁気テープカートリッジ  −

ヘリカル走査記録  −  マンモステープ 2 様式

Information technology

−8mm wide magnetic tape cartridge for information

interchange

−Helical scan recording−Mammoth Tape-2 format

序文  この規格は,2001 年に第1版として発行された ISO/IEC 18836, Information technology – 8mm wide

magnetic tape cartridge for information interchange – Helical scan recording – MammothTape-2 format

を翻訳し,

技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

1.

適用範囲  この規格は,8mm 幅の磁気テープカートリッジの装置間での物理的互換性をとるために物

理的特性及び磁気的特性を規定する。さらに,装置間でのデータ交換ができるよう記録信号品質,マンモ

ステープ-2 のフォーマット及び記録方式について規定する。

システム相互の情報交換には,情報交換するカートリッジの情報交換符号並びにラベル及びファイル構

成について情報交換当事者間で最低限の合意が必要である。

備考  この規格の対応国際引用規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している),MOD(修

正している)

,NEQ(同等でない)とする。

ISO/IEC 18836:2001, Information technology – 8mm wide magnetic tape cartridge for information

interchange – Helical scan recording – MammothTape-2 format (IDT)

2.

適合性

2.1

磁気テープカートリッジ  カートリッジは,この規格のすべての必要要求事項を満たすとき,この

規格に適合する。

2.2

生成システム  交換用磁気テープカートリッジを生成する書込み装置は,テープ上に生成するすべ

ての記録がこの規格の必要要求事項に合致しているとき,この規格に適合する。

適合性を表示する場合,ホストシステムからのデータを物理ブロックに配置する前にシステムが一つ以

上の登録済みの圧縮アルゴリズムを採用するかを明示しなければならない。

2.3

受領システム  交換用磁気テープカートリッジを受領する装置は,この規格に適合するテープ上の

記録を処理できるときこの規格に適合する。

受領システムは,データ圧縮アルゴリズムの使用を認識しホストシステムへアルゴリズムの登録番号を明示

しなければならない。


2

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格

の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には,適用しない。

JIS X 6136 : 1999

  情報交換用データ圧縮−適合化無損失アルゴリズム(ALDC)

備考  ISO/IEC 15200 : 1996 Information technology – Adaptive Lossless Data Compression algorithm

(ALDC)

が,この規格と一致している。

JIS K 7161 : 1994

  プラスチック−引張特性の試験方法  第 1 部:通則

備考  ISO 527-1 : 1993  Plastics−Determination of tensile properties−Part 1 : General principles  が,

この規格と一致している。

ISO 1302 : 1992

  Technical Drawings−Method of indicating surface texture on drawings

IEC 60950 : 1996

  Safety of information technology equipment

4.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

4.1

交流消去 (a.c. erase)  減衰する交流磁界を用いた消去。

4.2

アルゴリズム (algorithm)  論理的に表現したデータに変換する規則。

4.3

平均信号振幅  (average signal amplitude)  記録密度 3 704 ftpmm で記録した磁気テープ上のミッシン

グパルスのない部分を 3 000mm 以上にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク(P-P)出力電圧。

4.4

アジマス (azimuth)  磁束反転線とトラックの中心線に垂直な直線との角度。

4.5

裏面 (back surface)  データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

4.6

ビットセル (bit cell)  トラックに記録する 1 チャネルビットの領域。

4.7

バイト (byte)  一単位として取り扱うビット列。

4.8

カートリッジ (cartridge)  一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。

4.9

チャネルビット (channel bit)  8 ビットから 10 ビットに変換後のビット。

4.10

巡回冗長検査文字  [cyclic redundancy check (CRC) character]  誤り検出のために用いる文字。

4.11

誤り訂正符号  [error correcting code (ECC)]  検出した誤りを自動訂正できるように設計した符号。

4.12

ファイルマーク (file mark)  ファイルを分離するため,又は追記録点を示すためテープ上に記録す

るマーク。ロングファイルマーク及びショートファイルマークがある。

4.13  LBOP (logical beginning of partition)

  パーティション内でのデータの記録開始位置。

4.14

論理ブロック (logical block)  情報の単位として扱うデータ,ファイルマーク又はセットマーク。

4.15

磁気テープ (magnetic tape)  磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.16

主基準テープ  (master standard reference tape)  基準磁界,信号振幅,分解能及び重ね書き特性の基

準として用いるテープ。

参考  この主基準テープは,Pericomp 社によって管理されている。

4.17

パーティション (partition)  データを記録するためのテープの長さ方向の分割。

4.18  PBOP (physical beginning of partition)

  パーティションのテープの長さ方向の始端。

4.19  PBOT (physical beginning of tape)

  テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.20  PEOP (physical end of partition)

  パーティションのテープの長さ方向の終端。

4.21  PEOT (physical end of tape)

  テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。

4.22

物理記録密度 (physical recording density)  トラックの長さ 1 mm 当たりに記録する磁束反転数

(ftpmm)


3

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

4.23

リードバック検査  [read back check (RBC)]  書込み中に行うデータの読取り誤りの有無の検査。

4.24

基準磁界 (reference field)  主基準テープのティピカル磁界。

4.25

二次基準テープ  [secondary standard reference tape (SSRT)]  テープの特性が既知であり,主基準テ

ープとの偏差を明示しているテープ。

参考  二 次 基 準 テ ー プ は , Pericomp 社  (14 Huron Drive, Natick, MA 01760 USA) が 部 品 番 号

SSRT/M.AME/PC97

で原則として,2011 年まで供給する。ただし入手可能期間は,二次基準テ

ープの需要動向によって,ISO/IEC と Pericomp 社との合意に基づいて,変更することがある。

このテープは定期校正用の三次基準テープとの偏差を補正するために使用する。

4.26

セットマーク (set mark)  データセットを分離するため,又は追記録点を示すためテープ上に記録

するマーク。

4.27

基準信号振幅  [standard reference amplitude (SRA)]  主基準テープに記録密度 3 704 ftpmm の信号を

試験記録電流で記録し,これを再生したときの出力が電圧の平均値。

4.28

基準電流  [standard reference current (Ir)]  基準磁界を発生する記録電流。

4.29

テープ基準縁 (tape reference edge)  供給リールが右側になるようにテープの記録面から見たとき

のテープの下端。

4.30

試験記録電流  [test recording current (TRC)]  基準電流の 1.5 倍の電流。

4.31

トラック (track)  磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.32

ティピカル磁界 (typical field)  記録密度 3 704 ftpmm で記録して, 再生したとき,その平均信号振

幅が最大値の 90 %を示す最小の印加磁界。

5.

表記法

5.1

数字の表現  測定した値は,対応する規定値の最小有効数字に対応して丸める。すなわち,規定値

が 1.26,正の許容誤差が 0.01,負の許容誤差が 0.02 である場合,測定した値は,1.235 以上 1.275 未満を許

容する。

− 16 進数は,丸括弧に数字及び英文字で表す。

−  ビットの設定は,

“0”又は“1”で表す。

−  ビットの組合せ及び 2 進数表現の数字は,

“0”又は“1”の列で表す。

−  ビットの組合せ及び 2 進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,最下位ビットを右とする。

−  2 進数の負の表現は,2 の補数で表す。

−  各フィールド内では,最上位バイト(データバイト 0)を最初に記録する。各バイト内では,最上位

ビット(8 ビットバイトのビット 7)を最初に記録し,最下位ビット(ビット 0)を最後に処理する。

この順序は,特に規定がない限り,誤り検出符号及び誤り訂正符号の入出力回路にも適用する。

5.2

エンティティの名称  原国際規格では,エンティティの名称を英大文字ではじめる表記法を採用し

ているが,この規格では特別な表記法は,用いない。

6.

略号  略号を次に示す。

ABID

増加ブロック識別子  (augmentative block identifier)

BID

ブロック識別子 (block identifier)

CRC

巡回冗長検査  (cyclic redundancy check)

CUH

圧縮ユニットヘッダ (compression unit header)


4

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

CUID

圧縮ユニット識別子 (compression unit identifier)

ECC

誤り訂正符号  (error correcting code)

EOD

データの終端  (end of data)

FID

ファイル識別子 (file identifier)

LBOP

論理パーティション始端  (logical beginning of partition)

LID

論理ブロック識別子  (logical block identifier)

lsb

最下位ビット  (least significant bit)

LSB

最下位バイト  (least significant byte)

LTS

論理変換セグメント  (logical transfer segment)

msb

最上位ビット  (most significant bit)

MSB

最上位バイト  (most significant byte)

PBOP

物理パーティション始端  (physical beginning of partition)

PBOT

物理テープ始端  (physical beginning of tape)

PEOP

物理パーティション終端  (physical end of partition )

PEOT

物理テープ終端  (physical end of tape)

PID

物理識別子 (physical identifier)

RBC

リードバック検査  (read back check)

SID

ストリーム識別子 (stream identifier)

SMID

セットマーク識別子 (set mark identifier)

SRA

標準信号振幅  (standard reference amplitude)

SSRT

二次基準テープ  (secondary standard reference tape)

TRC

試験記録電流  (test recording current)

7.

環境条件及び安全性  次に規定する条件は,カートリッジ近傍の環境条件とする。カートリッジをこ

れらの規定を超えた環境に放置した場合,永久的な損傷を与えることがある。

7.1

試験環境条件  規格の要求を検査するカートリッジの試験及び測定は,規定がない限り次の条件に

よる。

      温度 23

°C ± 2 °C

      相対湿度 40

%

∼ 60 %

      試験前放置時間 24

時間

7.2

使用環境条件  データ交換に用いるカートリッジは,次の条件下で使用可能でなければならない。

      温度 5

°C  ∼ 45 °C

      相対湿度 20

%

∼ 80 %

      湿球温度 26

°C  以下

カートリッジ近傍の平均空気温度は,45

°C を超えてはならない。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は,使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上,又は 24 時間以上,使用環境条件に放置してから使用する。

7.3

保存環境条件  保存環境条件は,次による。

      温度 5

°C  ∼ 32 °C

      相対湿度 20

%

∼ 60 %


5

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

      周辺磁界

テープ上で 4 000 A/m を超えてはならない。

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

7.4

輸送  カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は,附属書 によ

る。

7.5

安全性  カートリッジ及びその構成部品は,IEC 60950 の要求を満たさなければならない。

7.6

難燃性  カートリッジ及びその構成部品の材料は,IEC 60950 に規定された HB 材,又は同等以上に

適合したものでなければならない。

8.

ケースの寸法及び機械的特性

8.1

概要  カートリッジは,次の構成要素からなる。

−  ケース

−  識別孔

−  書込み禁止機構

−  磁気テープを巻いた一対のリール

−  リールロック機構

構成要素の寸法の規定は,情報交換のための要求事項とする。設計の自由度がある場合には,構成要素

の機能的な特性だけを記述する。具体図は,三角法で表す。

  1

リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

  2

リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

  3

基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z

  4

リッドが閉じた状態の前面

  5

リッドが閉じた状態の左側面

  6

リッドが閉じた状態の上面

  7

リッドが閉じた状態の右側面

  8

リッドが閉じた状態の背面

  9

底面,基準領域及び支持領域

 10  リッドがない状態の底面

 11  基準孔及び識別孔の詳細図

 12  光通過孔,識別孔及び書込み禁止孔の断面図

 13  リッドの詳細図

 14  リッドロック解除ピンの挿入経路

 15  リッドロック解除機構

 16  リールロック解除機構

 17  リールロックの解除に必要な力の方向

 18  リッドのロック解除に必要な力の方向

 19  リッドを開けるために必要な力の方向

 20  光通過経路及び光通過窓

 21  内部のテープ通過経路及び光通過経路

 22  リールの外観及び断面図

 23  リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図


6

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 24  テープ引出し開口部

寸法は,三つの直交する基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z に基づく(

図 参照)。

基準面 X は,基準孔 A 及び基準孔 B の中心を通り,基準面 Z に垂直とする。

基準面 Y は,基準孔 A の中心を通り,基準面 X 及び基準面 Z に垂直とする。

基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C は,基準面 Z 内とする。

8.2

全体の寸法(図 及び図 6

ケースの長さは,次による。

      l

1

 = 62.5 mm ± 0.3 mm

ケースの幅は,次による。

      l

2

 = 95.0 mm ± 0.2 mm

ケースの上面から基準面 Z までの長さは,次による。

      l

3

 = 15.0 mm ± 0.2 mm

背面から基準面 X までの長さは,次による。

      l

4

 = 47.35 mm ± 0.15 mm

右側面から基準面 Y までの長さは,次による。

      l

5

 = 13.0 mm ± 0.1 mm

8.3

保持領域  カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は,図 の斜線の領域とする。

基準面 X から保持領域までの長さは,次による。

      l

6

≦ 12.0 mm

ケースの端からの幅は,次による。

      l

7

≧ 3.0 mm

8.4

カートリッジ挿入部  カートリッジ挿入部は,誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐ

ために,溝,切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。

溝は,リッドが閉じてロックした状態のとき,ロック解除を可能にするために,リッドロック解除ピン

の挿入領域を妨げないように設ける。溝の基準面 Y からの長さは,次による(

図 及び図 14 参照)。

      l

8

 = 79.7 mm ± 0.2 mm

溝の端部の面取りは,次による。

      l

9

 = 1.0 mm ± 0.1 mm

      l

16

 = 1.5 mm ± 0.1 mm

溝の内部の面取りは,次による。

      l

10

 = 0.7 mm ± 0.1 mm

      l

17

 = 1.0 mm ± 0.1 mm

      l

18

 = 3.8 mm ± 0.1 mm

溝の内部の幅は,次による。

      l

11

≧ 1.0 mm

リッドの厚さは,次による。

      l

12

 = 1.2 mm ± 0.1 mm

リッドの面取りは,次による。

      l

13

 = 0.8 mm ± 0.1 mm

      l

14

 = 1.2 mm ± 0.1 mm


7

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

リッドのケースからの突出は,次による。

      l

15

 = 0.5 mm ± 0.1 mm

ケースの左側面からリッドロックまでの長さは,次による。

      l

19

 = 0.2 mm ± 0.2 mm

挿入領域の高さは,次による。

      l

20

≧ 2.3 mm

      l

21

 = 2.5 mm ± 0.2 mm

切込みは,カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は,次による(

図 5,図 及び図 10 参照)。

      l

22

≦ 7.5 mm

      l

23

 = 11.0 mm ± 0.2 mm

      l

24

 = 1.5 mm ± 0.1 mm

切込みの深さは,次による。

      l

25

 = 1.5 mm ± 0.1 mm

こう配面は,リッドの構造の一部とし,基準面 X からの長さは,次による[

図 13 a)  参照]。

mm

mm

7

.

7

0

5

.

2

26

=

l

こう配面の角度は,次による。

      a

1

 = 20

° ± 1°

こう配面は,半径 r

3

との交点で終る。

8.5

窓(図 1)  窓は,リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合,カ

ートリッジの高さを超えてはならない。

8.6

ローディンググリップ(図 及び図 7)  ローディンググリップは,磁気テープ装置にカートリッジ

を自動的に装着するために設ける。

ローディンググリップの中心線の基準面 X からの長さは,次による。

      l

28

 = 39.35 mm ± 0.20 mm

ローディンググリップの基準面 Z 及びカートリッジ上面からの長さは,次による。

      l

29

 = 1.5 mm ± 0.1 mm

ローディンググリップのくぼみの幅は,次による。

      l

30

 = 5.0 mm ± 0.3 mm

ローディンググリップのくぼみの深さは,次による。

      l

31

 = 2.0 mm ± 0.2 mm

ローディンググリップのくぼみの傾斜は,次による。

      a

2

 = 90

° ± 5 °

8.7

ラベル領域(図 及び図 8)  ラベル領域は,カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ

ル領域の位置及び寸法は,カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。

  上面のラベル領域は,l

6

及び l

7

で規定した保持領域の内側に入ってはならない。

  背面のラベル領域の位置及び寸法は,次による。

      l

32

≧ 0.5 mm

      l

33

≧ 1.5 mm

      l

34

≦ 80.0 mm

  上面ラベル領域のくぼみの深さは,0.3 mm 以下とする。


8

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

  背面ラベル領域のくぼみの深さは,0.30 mm ± 0.05 mm とする。

8.8

基準領域及び基準孔(図 9,図 10 及び図 11)  環状の基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C は,

基準面 Z 上に設け,磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ

れの直径 d

1

は,6.0 mm ± 0.1 mm とし,それぞれの基準孔の中心と同心とする。

基準孔 A 及び基準孔 B の中心は,基準面 X 上とする。

円形の基準孔 A の中心は,基準面 X 及び基準面 Y の交線とする(

図 10 参照)。

基準孔 B の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 参照)。

      l

35

 = 68.0 mm ± 0.1 mm

円形の基準孔 C の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 11 参照)。

      l

36

 = 10.20 mm ± 0.05 mm

基準孔 D の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 11 参照)。

      l

37

 = 79.2 mm ± 0.1 mm

基準孔 C 及び基準孔 D の中心から基準面 X までの長さは,次による(

図 10 参照)。

      l

38

 = 36.35 mm ± 0.08 mm

基準領域のケースの厚さは,次による。

      l

39

 = 1.2 mm ± 0.1 mm

基準孔 A 及び基準孔 C の深部の直径は,次による。

      l

40

≧ 2.6 mm

基準孔の深さは,次による。

      l

42

≧ 4.0 mm

基準孔 A 及び基準孔 C の開口部付近の直径は,次による。

mm

mm

00

.

3

05

.

0

0

44

+

=

l

基準孔 A 及び基準孔 C の直径が l

44

となる部分の深さは,次による。

      l

41

≧ 1.5 mm

基準孔 A 及び基準孔 C の開口部の面取りは,次による。

      l

43

≦ 0.3 mm

      a

3

 = 45

° ± 1 °

基準孔 B 及び基準孔 D の深部の幅は,l

40

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の深さは,l

42

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の開口部付近の寸法は,次による。

      l

45

 = 3.5 mm ± 0.1 mm

      l

46

 = 3.00 mm ± 0.05 mm

      r

1

 = 1.75 mm ± 0.05 mm

基準孔 B 及び基準孔 D の寸法が l

45

l

46

及び r

1

となる部分の深さは,l

41

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の開口部の面取りは,l

43

及び a

3

とする。

8.9

支持領域(図 9)  カートリッジ支持領域は,図 の網掛け部分とする。支持領域 A′,支持領域 B′

及び支持領域 C′

は,それぞれ,基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C から± 0.1 mm 以内で同一の平面

上とする。支持領域 D′

は,基準面 Z から± 0.15 mm  以内で同一の平面上とする。

カートリッジの端から l

49

の長さの領域は,支持領域から除かなければならない。

      l

49

 = 0.5 mm ± 0.1 mm


9

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

基準面 X から支持領域 A′

及び支持領域 B′

のケース前面側の端までの長さは,次による。

      l

47

 = 10.0 mm ± 0.1 mm

基準孔 A 及び基準孔 B の中心から,それぞれ支持領域 A′

及び支持領域 B′

のケース側面側の端までの長

さは,l

47

とする。

基準孔 A 及び基準孔 B の中心から,それぞれ支持領域 A′

及び支持領域 B′

のケース内側の端までの長さ

は,次による。

      l

48

 = 11.0 mm ± 0.1 mm

基準面 X から支持領域 A′

及び支持領域 B′

のケース背面側の端までの長さは,次による。

      l

50

 = 7.0 mm ± 0.1 mm

基準面 X から支持領域 C′

及び支持領域 D′

までの長さは,次による。

      l

51

 = 30.0 mm ± 0.1 mm

支持領域 C′

及び支持領域 D′

の寸法は,l

47

及び次による。

      l

52

 = 5.5 mm ± 0.1 mm

      l

53

 = 64.5 mm ± 0.2 mm

8.10

識別孔(図 10,図 11 及び図 12)  識別孔は,図 11 に示す 1∼5 の番号を付けた 5 個を設ける。

識別孔 1 の中心の位置は,次による。

      l

54

 = 43.35 mm ± 0.15 mm

      l

57

 = 6.4 mm ± 0.1 mm

識別孔 2 の中心の位置は,l

54

及び l

57

とする。

識別孔 3 の中心の位置は,l

54

及び次による。

      l

58

 = 79.0 mm ± 0.2 mm

識別孔 4 の中心の位置は,次による。

      l

55

 = 3.7 mm ± 0.1 mm

      l

56

 = 2.3 mm ± 0.1 mm

識別孔 5 の中心の位置は,l

55

及び l

56

とする。

すべての識別孔は,

図 12 の E – E 及び図 12 の F – F に示す断面構造をもち,その直径は,3.0 mm ± 0.1 mm

とする。

閉じた識別孔の基準面 Z からの深さは,次による。

mm

mm

2

.

1

3

.

0

1

.

0

59

+

=

l

開いた識別孔の基準面 Z からの深さは,次による。

      l

60

≧ 5.0 mm

図 12 の E – E は,識別孔をプラグで閉じた状態を示し,図 12 の F – F は,二つの識別孔のうち一つを

プラグで閉じ,もう一方は,プラグを打ち抜いて開いた状態を示す。これらのプラグは,最大 0.5 N の力

を加えても打ち抜かれてはならない。

識別孔の開閉状態は,次による。

      識別孔 1 は,開く。

      識別孔 2 は,閉じる。

      識別孔 3 は,開く。

      識別孔 4 は,閉じる。

      識別孔 5 は,閉じる。


10

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

8.11

書込み禁止孔(図 11 及び図 12)  書込み禁止孔の位置は,l

54

及び次による。

      l

61

 = 10.0 mm ± 0.1 mm

書込み禁止孔の直径は,3.0 mm ± 0.1 mm とする。

閉じた書込み禁止孔の基準面 Z からの深さは,l

59

とする。

開いた書込み禁止孔の基準面 Z からの深さは,l

60

とする。

書込み禁止孔は,開いた状態で書込み禁止とし,閉じた状態で書込み可能とする。

書込み禁止孔は,可動の機構としてもよい。このとき,書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければ

ならない(

図 参照)。書込み禁止孔を閉じたとき,0.5 N の力を加えても開いてはならない。書込み禁止

孔の開閉に要する力は,1 N∼15 N とする。

8.12

位置決め面(図 及び図 10)  位置決め面は,カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき,カ

ートリッジの位置決めに用い,その寸法は,次による。

基準面 Z からの長さは,次による。

mm

mm

0

1

.

0

62

4

.

2

l

=

基準面 Y からの長さは,次による。

      l

63

 = 1.0 mm ± 0.1 mm

      l

64

 = 69.0 mm ± 0.2 mm

基準面 X からの長さは,次による。

      l

65

 = 14.65 mm ± 0.10 mm

位置決め面の面取りは,次による。

      l

66

 = 13.15 mm ± 0.10 mm

      a

4

 = 45

° ± 1 °

8.13

リッド(図 及び図 13)  リッドは,カートリッジの取扱い中,保管中及び運搬中にテープを保護

するために設け,主リッド及び副リッドからなる。

主リッドは,ケースに取り付けた軸 A を軸として回転する(

図 13 参照)。

軸 A の位置は,次による。

mm

mm

55

.

0

05

.

0

10

.

0

27

+

=

l

l

67

 = 7.5 mm ± 0.1 mm

副リッドは,主リッドに取り付け,主リッドとともに動く軸

B

を軸として回転する。リッドが閉じた状

態では,軸

B

の位置は,次による。

l

68

 = 7.0 mm ± 0.1 mm

l

69

 = 10.1 mm ± 0.1 mm

副リッドの回転は,両側のカムによって,

図 13 に示す経路で制御する。

完全に開いた副リッドの開口部の長さは,次による。

l

70

 14.8 mm

l

71

 = 11.5 mm ± 0.2 mm

l

72

 = 1.2 mm ± 0.1 mm

リッドは,完全に開いた状態では,主リッド及び副リッドともに基準面

Z

に平行で

l

73

離れた平面を超え

てはならない。

l

73

 22.3 mm

完全に開いたリッドの底面が基準面

Z

に対する角度は,次による。


11

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

a

5

 = 85

° ± 2 °

リッドは,途中まで開いた状態では,主リッド及び副リッドともに基準面

Z

に平行で

l

74

離れた平面を超

えてはならない。

l

74

 22.5 mm

リッドが開くとき,リッドの頂点の通過経路は,次による。

r

2

 14.9 mm

ケースと主リッドの継ぎ目は,次による(

図 の B – B 参照)。

l

75

 8.4 mm

主リッドの基準面

Z

からの高さは,次による(

図 13 参照)。

mm

mm

2

.

15

0

5

.

0

76

=

l

主リッドの前面の基準面

X

からの長さは,次による。

mm

mm

3

.

15

0

3

.

0

77

=

l

リッドの内側のすきまは,次による。

l

78

 = 13.15 mm ± 0.10 mm

リッド前面の曲面の中心は,軸

A

とし,半径は,次による。

mm

mm

7

.

14

0

3

.

0

3

=

r

リッドロック機構は,装置の解除ピンによって解除する。

解除ピンは,

図 15 の網掛け領域にあるとき,リッドロック機構を解除する。図 15 の網掛け領域は,次

による。

l

79

 = 2.0 mm ± 0.1 mm

l

80

 = 8.2 mm ± 0.2 mm

l

81

 = 0.7 mm ± 0.2 mm

a

6

 = 30

° ± 1 °

リッドロックの解除に要する力は,

図 18 に示す方向に

0.25 N

以下とする。

リッドを開く力は,

図 19 に示す方向に

1.0 N

以下とする。

8.14

リールロック(図 16)  リールは,カートリッジを磁気テープ装置から取り出したとき,ロックし

なければならない。ロック機構は,装置の解除ピンによって解除する。

ロック機構は,

図 10 に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面

Y

からの長さは,

次による。

l

82

 = 34.5 mm ± 0.1 mm

方形孔の基準面

X

からの寸法は,次による(

図 10 参照)。

l

83

 = 35.85 mm ± 0.15 mm

l

84

 = 4.0 mm ± 0.1 mm

l

85

 6.5 mm

ロック機構の寸法は,次による。

mm

mm

2

.

3

3

.

0

2

.

0

86

+

=

l

l

87

 = 4.0 mm ± 0.1 mm

a

7

 = 60.0

° ± 1.0 °

解除ピンの動作面が基準面

X

から

l

88

に位置するとき,リールはロックする。

mm

mm

0

.

39

0

.

2
0

88

+

=

l


12

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

解除ピンの動作面が基準面

X

から

l

89

に位置するとき,リールはロックしてはならない。

mm

mm

75

.

41

50

.

0
0

89

+

=

l

カートリッジの背面板の内側とロック機構との間に l

90

のすきまを設ける。

      l

90

≧ 0.5 mm

解除ピンをカートリッジに挿入する深さは,次による。

      l

91

≦ 7.8 mm

ロック機構のすきまは,次による。

      l

92

 = 4.0 mm ± 0.1 mm

      r

4

≦ 0.3 mm

リールロックの解除に要する力は,

図 17 に示す方向に 1.0 N 以下とする。

8.15

リール受け孔(図 10)  二つのリール受け孔は,駆動スピンドルを通すために設ける。

リール受け孔の位置は,次による。

      l

93

 = 23.00 mm ± 0.05 mm

      l

94

 = 11.40 mm ± 0.05 mm

      l

95

 = 46.2 mm ± 0.1 mm

リール受け孔の直径は,次による。

      d

2

 = 18.80 mm ± 0.05 mm

8.16

リールと駆動スピンドルとの接触領域  リールと駆動スピンドルとの接触領域は,次による(図 22

及び

図 23)。

      l

96

 = 11.75 mm ± 0.15 mm

      l

97

 = 8.30 mm ± 0.05 mm

      l

98

 = 0.6 mm ± 0.1 mm

      l

99

 = 0.3 mm ± 0.1 mm

      l

100

 = 1.10 mm ± 0.05 mm

      l

101

≦ 0.6 mm

      l

102

 = 5.4 mm ± 0.1 mm

      l

103

 = 4.4 mm ± 0.1 mm

      l

104

≦ 0.6 mm

mm

mm

00

.

10

08

.

0
0

4

+

=

d

      d

5

≦ 16.0 mm

mm

mm

0

.

18

0

1

.

0

6

=

d

mm

mm

0

.

16

0

1

.

0

7

=

d

mm

mm

1

.

45

0

5

.

0

8

=

d

mm

mm

1

.

45

0

2

.

0

9

=

d

リール駆動孔の面取りは,次による。

      l

105

 = 2.4 mm ± 0.1 mm

      a

9

 = 15

° ± 1 °

リール底面の外側のエッジの面取りは,次による。

      l

106

≦ 0.2 mm

      a

8

 = 45

° ± 1 °


13

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は,次による。

      l

107

 = 2.4 mm ± 0.2 mm

      a

10

 = 60

° ± 1 °

リール駆動孔の歯の半径は,次による。

      r

5

≦ 0.2 mm

リール駆動孔の深さ l

108

は,直径 d

3

の部分までとし,次による。

      l

108

≧ 9.4 mm

mm

mm

50

.

6

08

.

0
0

3

+

=

d

基準面 Z からのテープ中心線の位置は,磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき,次による。

      l

109

 = 7.05 mm ± 0.10 mm

基準面 Z からのリールの位置は,磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき,次による。

      l

110

 = 0.6 mm ± 0.2 mm

リールを挿入したとき,リールと駆動スピンドルとのかみ合いは,次による。

      l

111

≦ 7.5 mm

      l

112

≦ 8.0 mm

      l

113

 = 1.20 mm ± 0.05 mm

      l

114

 = 1.40 mm ± 0.05 mm

      a

11

 = 60

° ± 1 °

リールのばね力 は,磁気テープ装置にカートリッジを装着し,支持部が基準面 Z から l

110

の位置にあ

るとき,

図 23 に示す方向に 0.6 N ± 0.2 N とする。

8.17

光通過経路(図 10,図 12,図 20 及び図 21)  光通過経路は,リーダテープ及びトレーラテープを

検出するために設ける。リッドが開いたとき,光通過経路は,直径 d

10

の光通過孔から一辺が l

118

の正方形

の窓,及びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない(

図 12 の D – D 参照)。

光通過孔の中心の位置は,l

82

及び次による。

      l

115

 = 8.35 mm ± 0.10 mm

光通過孔の直径は,次による。

mm

mm

5

.

6

3

.

0
0

10

+

=

d

光通過孔の開口部の面取りは,次による。

      l

116

≦ 0.5 mm

      a

12

 = 45

° ± 1 °

光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は,次による。

      l

117

 = 6.05 mm ± 0.10 mm

      l

118

 = 2.5 mm ± 0.4 mm

光通過孔は,発光素子を挿入するため,次の深さとする。

      l

119

≧ 12.5 mm

光通過経路の角度は,次による。

      a

13

 = 5.50

° ± 0.25 °

リッドの光通過窓の位置及び寸法は,次による。

      l

120

 = 3.8 mm ± 0.1 mm

      l

121

 = 2.5 mm ± 0.4 mm


14

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

      l

122

 = 6.05 mm ± 0.10 mm

8.18

ケース内のテープの位置(図 21)  テープは,基準面 X に平行な二つのガイド面を通る。基準面 X

からガイド面までの長さは,次による。

      l

123

 = 13.15 mm ± 0.20 mm

ガイド面は,r

6

の半径をもち,

図 21 に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな

ければならない。

      r

6

 = 3.0 mm ± 0.1 mm

これらの点の位置及び寸法は,次による。

      l

124

 = 76.28 mm ± 0.30 mm

      l

125

 = 27.15 mm ± 0.20 mm

      l

126

 = 31.15 mm ± 0.20 mm

      l

127

 = 9.67 mm ± 0.10 mm

8.19

テープ走行領域(図 21)  カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると,テープは,テープガイド

によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは,ガイド面に接触してはならない。テー

プ走行領域は,テープが自由に走行できることとし,その位置及び寸法は,l

124

l

127

及び次による。

      l

128

 = 23.0 mm ± 0.1 mm

      l

129

≧ 0.3 mm

      l

130

 = 46.2 mm ± 0.2 mm

      l

131

 = 11.4 mm ± 0.1 mm

テープとガイドとのすきまは,次による。

      l

132

≧ 0.3 mm

8.20

テープ引出し開口部(図 10)  磁気テープ装置にカートリッジを装着すると,磁気テープ装置のテ

ープガイドは,カートリッジからテープを引き出す。二つの半径 r

7

の中心は,基準孔 A 及び基準孔 B の

中心とする。

テープ引出し開口部の形状及び寸法は,l

63

l

64

及び次による。

      r

7

 = 2.3 mm ± 0.1 mm

二つの半径 r

8

の中心は,二つのリール受け孔の中心とする。

      r

8

 = 24.15 mm ± 0.10 mm

      l

133

 = 3.85 mm ± 0.10 mm

8.21

テープの引出し開口部への要求事項(図 24)  ケースは,テープ引出し機構のためのすきまを設け,

開口部への要求事項は,次による。

      l

134

≦ 1.2 mm

mm

mm

15

.

1

20

.

0
0

135

+

=

l

mm

mm

0

.

14

0

2

.

0

136

=

l

      l

137

≧ 66.8 mm

      l

138

≧ 10.0 mm

      l

139

 = 14.8 mm ± 0.1 mm

      a

14

≦ 49

°


15

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

  1  リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

  2  リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観


16

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

  3  基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z

  4  閉じた状態の前面


17

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

  8  リッドが閉じた状態の背面

  5  図リッドが閉じた

状態の左側面

  6  図リッドが閉じた

  状態の上面

  7  図リッドが閉じた

  状態の左側面


18

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

  9  底面,基準領域及び支持領域


19

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 10  リッドがない状態の底面


20

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 11  基準孔及び識別孔の詳細図


21

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 12  光通過孔,識別孔及び書込み禁止孔の断面図

  断面 D−D

  断面 E−E

  断面 F−F


22

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 13  リッドの詳細図

  a)  リッド側面の詳細図

  b)  リッドの内部構造

  c)  途中まで開いた状態のリッドの位置

  d)  完全に開いた状態のリッドの位置


23

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 14  リッドロック解除ピンの挿入経路

 15  リッドロック解除機構

  断面 G−G


24

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 16  リールロック解除機構

 17  リールロックの解除に必要な力の方向

  断面 L−L

図 21 の E 部の詳細


25

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 18  リッドのロック解除に必要な力の方向

 19  リッドを開けるために必要な力の方向

 20  光通過経路及び光通過窓


26

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 21  内部のテープ通過経路及び光通過経路

D

部の詳細


27

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 22  リールの外観及び断面図

  断面 H−H

  断面 I−I

  F 部の詳細


28

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 23  リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図


29

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 24  テープ引出し開口部

9.

テープの機械的特性,物理的特性及び寸法

9.1

材料  ケース内にあるテープは,リーダテープ,クリーニングテープ,磁気テープ及びトレーラテ

ープで構成される(

図 25 参照)。

 25  テープ構成

リーダ

クリーニング

テープ

リーダ

磁気テープ

トレーラ

PBOT

PEOT

mm

10

mm

80

±

m

mm

0

.

2

5

.

0

0

.

0

+

mm

10

mm

80

±

m

mm

0

.

225

5

.

1

0

.

0

+

mm

10

mm

80

±


30

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

磁気テープは,ベース(ポリエチレンナフタレートフィルム又はこれと同等品)上の片面に蒸着した,

メタル材料の磁気層をもち,

,強固で柔軟性のあるもの(又はこれと同等品)とする。磁気テープの裏面は,

塗布してもよい。

クリーニングテープは,ポリエチレンテレフタレート(又はこれと同等品)とし,片面には研磨層を塗

布する(9.15 参照)

。テープの裏面は,塗布してもよい。

テープの始端には,巻取りリールのハブとクリーニングテープとの間にリーダテープを設ける。テープ

の終端には,供給リールのハブと PEOT との間にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテ

ープは,磁性材の塗布又は裏面の塗布がない同じベース材料(又はこれと同等品)の半透明とする。

リーダテープ及びトレーラテープは,それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。

スプライシングテープは,ポリエチレンテレフタレート(又はこれと同等品)とし,片面にはアクリル系

接着剤(又はこれと同等品)を塗布する。

9.2

テープの長さ

9.2.1

磁気テープの長さ  PBOT と PEOT との間のテープの長さは,225.0∼226.5 m とする。

9.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さ  リーダテープ及びトレーラテープの長さは,70∼90 mm

とする。クリーニングテープと磁気テープとの間のリーダテープの長さは,17∼37 mm とする。リーダテ

ープ及びトレーラテープと磁気テープ又はクリーニングテープとの接合は,テープ基準縁の垂直方向に

1

°以内とする。

9.2.3

クリーニングテープの長さ  クリーニングテープの長さは,2.0∼2.5 m とする。クリーニングテー

プとリーダテープとの接合は,テープ基準縁の垂直方向に 1  °以内とする。

9.2.4

スプライシングテープの長さ  スプライシングテープの長さは,13 mm 以下とし,リーダテープ及

びトレーラテープ上で 6.5 mm±1.5 mm とする。

9.3

テープの幅

9.3.1

磁気テープ,クリーニングテープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅  磁気テープ及びクリー

ニングテープの幅は,8.00 mm ± 0.01 mm とする。幅の最大値と最小値の差は,6 µm を超えてはならない。

リーダテープ,トレーラテープ及びスプライステープの幅は,8.00 mm ± 0.02 mm とする。

磁気テープの幅の測定方法は,次による。

a

)

顕微鏡用のスライドガラスを試験片にかぶせる。

b

)

少なくとも 0.5 µm の精度の顕微鏡,投影機又はこれと同等の装置を使用し,張力をかけないで幅を測

定する。

c

)

長さ 1 m 以上のテープで異なる位置 5 か所以上の測定を繰り返す。

測定した値の平均をテープの幅とする。

9.3.2

スプライシングテープの幅及び位置  スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが

リーダテープ,トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は,次による。

スプライシングテープの下端は,その他のテープの下端から 0.60 mm 以下とし,スプライシングテープ

の上端は,その他のテープの上端から 0.60 mm 以下とする。スプライシングテープの端がリーダテープ,

トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。

9.3.3

テープ縁の波形  テープ縁の波形は,長さ 50 mm のテープの試験片で算出したテープ基準縁の平

均位置からの平均偏差とし,6

µm を超えてはならない。

測定方法は,次による。

a

)

長さ 450 mm の試験片を 0.050 N ± 0.005 N の力で引張る。


31

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

b

) 0.5

µm 以上の精度で校正した縁位置センサで,試験片のテープ基準縁の長さ 250 mm にわたって 0.25

mm

間隔に 1 001 か所を測定する(

図 26 参照)。

c

) 1

∼201 の測定値で,線形回帰解析を用いて長さ 50 mm のテープ基準縁位置の平均値を算出する(

27

参照)

d

)  c) 

の 201 個の測定値の中で平均テープ基準位置からの最大偏差を求める(

図 27 参照)。

e

) 2

∼202,3∼203 続いて 801∼1 001 の測定値について,c)  及び d)  を繰り返し算出する。

f

) 801

個の測定値から得た 801 個の最大偏差の平均値を,テープ縁の波形とする。

 26  テープ縁の波形の測定

 27  テープ縁の波形

9.4

連続性  テープは,PBOT と PEOT との間に継ぎ目及び孔のような不連続があってはならない。

9.5

テープの厚さ

9.5.1

磁気テープの厚さ  磁気テープの厚さは,4.9∼5.5 µm とする。

9.5.2

クリーニングテープの厚さ  クリーニングテープの厚さは,8.5∼9.5 µm とする。

9.5.3

リーダテープ及びトレーラテープの厚さ  リーダテープ及びトレーラテープの厚さは,9∼17 µm

とする。

エッジ位置センサ

0.050 N

0.050 N

テープ

250 mm

フランジガイド

テープ基準縁

最大偏差

算出基準縁位置

50 m


32

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

9.5.4

スプライシングテープの厚さ  スプライシングテープの厚さは,20 µm 以下とする。

9.6

長手方向の湾曲  長手方向の湾曲は,曲率半径 33 m 以上とする。

試験方法は,次による。

a

)

長さ 1 m のテープを平面上に自然の状態で置く。

b

) 1

m

の弦からの偏差を測定する。

c

)

偏差は,3.8 mm 以下とする。この偏差は,33 m の曲率半径と一致する。

9.7

カッピング  カッピングは,平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし,0.9 mm 以下とする。

試験方法は,次による。

a

)

テープを長さ 150 mm ± 10 mm に切り取る。

b

)

磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして 3 時間以上放置する。

c

)

中心間 35 mm 離して水平に置いた 2 個の円筒型ガイドにテープを置く。

d

)

テープの両端に 0.3 g のおもりを付ける。

e

)

テープの縁で決まる面とこの面からの最大偏差の距離を測定する。

9.8

磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度  磁性面の接着強度は,磁性面をテープのベース材料から

はがす力とし,0.10 N 以上とする。

試験方法は,次による(

図 28 参照)。

a

)

長さ約 380 mm のテープの試験片を採り,一方の端から 125 mm の位置でテープ幅方向にけがき線を

ベース面に達するまで引く。

b

)

磁性面を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。

c

)

試験片を 180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて 254 mm/分で引っ

張る。

d

)

磁性面のどの部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が 0.10 N に達

する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は,別の種類の両面接着テープを使用する。

テープの裏面に塗布されている場合は,a)  ∼  d)  に準じ,裏面の試験を行う。

試験面

125 mm

両面接着テープ

けがき線

 28  磁性面又は磁気テープ裏面の接着強度の試験法

9.9

層間の粘着  層間の粘着は,次の試験方法によって試験したとき,試験片に粘着及び磁性面又は磁

気テープ裏面のはがれの兆候があってはならない。


33

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

a

)

直径 36 mm のガラス管の表面に,長さ 1 m の試験片の端を付ける。

b

) 1.1

N

の張力でガラス管にテープを巻く。

c

)

巻かれた試験片を温度 45 °C ± 3 °C,相対湿度 80 %の環境の中に 4 時間放置する。

d

)

さらに,試験環境条件に 24 時間放置する。

e

)

試験片の自由端に 0.1 N の力を加え,ゆっくりほどく。

9.10

引張強度  引張強度は,JIS K 7161 の試験方法による。

テープの試験片の長さは,200 mm とする。リーダテープの試験片の長さは,50 mm とする。トレーラ

テープの試験片の長さは,50 mm とする。引張速度は,100 mm/分とする。

9.10.1

破断強度  破断強度は,テープが破断するまで負荷をかけたときとし,その値は,8 N 以上とする。

9.10.2

降伏強度  降伏強度は,テープが 5 %伸びるまで負荷をかけたときとし,その値は,4 N 以上とす

る。

9.11

残留伸び  残留伸びは,元のテープの長さの 0.04 %未満とする。

試験方法は,次による。

a

) 0.20

N

以下の張力で,約 1 m 長の試験片の初期の長さを測定する。

b

)

さらに,全断面に 20.5 N/mm

2

の力を 10 分間加える。

c

)

加えた力を取り除き,10 分後にテープ長を測定する。

9.12

磁性面の電気抵抗  テープの磁性面の電気抵抗は,10

3

Ω  以下とする。

試験方法は,次による(

図 29 参照)。

a

)

テープ試験片を,試験環境条件に 24 時間放置する。

b

) 24

K

の金めっきを施した半径 =10 mm で粗さを N4(ISO 1302 参照)で仕上げてある二つの半円の電

極に,記録面が接するように置く。これらの電極は,水平で,中心間の距離 = 8 mm となるように平

行に置く。

c

) 5

N/mm

2

の張力を発生させるために必要な力 を試験片の両端に加える。

d

)

電極に 7 V ± 1 V の直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。

この測定を一つのテープの試験片の 5 か所について行い,読み取った抵抗値を平均する。

試験片を電極に置くとき,電極間には,試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考  試験前に電極の表面を清掃する。

 29  磁性面の電気抵抗試験法

r

r

d

F

F


34

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

9.13

テープの巻き方  テープの巻き方は,テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。

9.14

テープの光透過率  磁気テープ及びクリーニングテープの光透過率は,5 %以下とする。

リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は,60 %以上とする。

光透過率の測定方法は,

附属書 による。

9.15

研磨性  テープの研磨性は,テープ走行系に対する磨耗度とし,附属書 によって測定する。磁気

テープの場合,磨耗試験用バーに生じる磨耗パターンは,あってはならない(

附属書 B.3 参照)。クリーニ

ングテープの場合,磨耗試験用バーに生じる磨耗パターンの長さは,8

µm±1 µm とする。

10.

磁気的特性  磁気的特性の試験は,次による。

この試験を行うとき,出力信号又は残留信号の測定は,主基準テープ,供試テープともに同じ装置の同

じ走行系を使用し,記録時再生によって行う。

規定がない限り,正アジマストラックを使用して試験する。

10.1

試験条件  磁気的特性の試験条件は,次による。

テープの状態          :記録密度 3 704 ftpmm  の平均信号振幅の 2 %未満に交流消去

ヘッド/テープ速度    :14.627 5 m/秒  ±  0.043 9 m/秒

テープ張力            :スキャナ(ドラム)入口で 0.10 N

± 0.02 N

トラック幅            :9.91

µm ± 1.00 µm

記録ヘッドのギャップ長:0.27

µm ± 0.02 µm

再生ヘッドのギャップ長:0.16

µm ± 0.02 µm

ギャップアジマス      :20.009 ゚ ±  0.200 ゚

記録電流              :試験記録電流

記録波形              :方形波

10.2

ティピカル磁界  ティピカル磁界は,基準磁界の 80∼120 %とする。

主基準テープの基準磁界との関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。

10.3

平均信号振幅  平均信号振幅は,記録密度 3 704 ftpmm で記録したとき,主基準テープの平均信号振

幅の 80∼130 %とする。

主基準テープの平均信号振幅との関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。

10.4

分解能  分解能は,記録密度  3 704 ftpmm の平均信号振幅を 1 447 ftpmm の平均信号振幅で除した値

とし,その値は,主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して 80∼120 %とする。

主基準テープの分解能との関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。

10.5

信号対雑音比  信号対雑音比(SNR)は,平均実効リード信号振幅を平均雑音振幅の積分で除した値と

し,デシベル(dB)で表す。

  要求事項

dB

log

20

SNR

平均雑音振幅の積分

平均実効リード信号振

=

供試テープの SNR (SNR

tape

)

は,主基準テープの SNR (SNR

MSRT

)

より–2 dB 以上とする。

SNR

MSRT

との関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。信号対雑音比は,分解能 3 kHz

のスペクトラムアナライザを使用して測定する。

試験方法は,次による。

a

)

供試テープは,交流消去する。


35

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

b

)  3 704 ftpmm

でテープに記録する。その記録周波数は,f

1

とする。

c

)

スペクトラムアナライザを使用して実効信号振幅を測定する。リードヘッドがテープに最初に接触し

て 1 ms 後測定を開始し,1 ms 間測定する。各スィープで一回測定し,8 回の平均値 S

tape

を算出する。

f

1

より 2 MHz 低い周波数 f

2

で全体の雑音レベルを 1 ms 間測定する。同様に得る。各スィープで 1

回測定し,100 回の平均値 N

total

を算出する。

d

)

テープは装着せずにモータを回転させて,c)  のように 1 ms 間周波数 f

2

でリード実効チャネル雑音レ

ベルを測定する。各スィープで一回測定し,8 回の平均値 N

amp

を算出する。

e

)

この試験で信号対雑音比,20 log S

tape

/

N

tape

dB

を算出する。

ここに,

amp

total

tape

2

2

N

N

N

=

tape

amp

N

N

は,0.7 以下とする。

f

) 10

回以上  c),d)  及び e)  を繰り返す。10 個の信号対雑音比の平均値からテープの信号対雑音比 SNR

tape

を求める。

g

)

二次基準テープについて a)  ∼  f)  まで繰り返し,SNR

MSRT

を求める。信号対雑音比の特性は,SNR

tape

 -

SNR

MSRT

dB

とする。

10.6

消去特性  消去特性は,試験記録電流 3 704 ftpmm で記録密度 926 ftpmm の信号を記録した後,テー

プの長手方向に 320 000 A/m の均一な磁界中を通過したとき,残留信号の信号振幅は,標準信号振幅の 2 %

以下とする。消去磁界は,ソレノイドの中央部の磁界のように,均一でなければならない。また,測定は

バンドパスフィルタを通し,少なくとも第 3 高調波まで行う。

10.7

テープの品質  テープの品質は,次による。

10.7.1

ミッシングパルス  ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損とし,再生信号の出力電圧の 0 V を

基準としたピーク値

(0-P)

が記録密度 3 704 ftpmm の信号の平均信号振幅の 1/2 の 40 %以下のときとする。

10.7.2

ミッシングパルスゾーン  ミッシングパルスゾーンは,次による。

ミッシングパルスゾーンは,ミッシングパルスによって開始し,トラック方向に 1 mm の長さに達した

とき終了する。ミッシングパルスが連続して 1 mm を超えて発生したとき,次のミッシングパルスゾーン

とする。

一つのミッシングパルスゾーンは,次のトラックにまたがってはならない。

ミッシングパルスゾーンの発生頻度は,正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について 5  × 10

6

の磁束反転当たり 1 個未満とする。

10.7.3

重ね書き  重ね書きは,低記録密度の信号を記録をした後に,高記録密度の信号を重ね書きし,残

留する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。

主基準テープの重ね書きの特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

試験方法は,次による。

a

)

テープを交流消去する。

b

)

記録密度 926 ftpmm の信号を記録し,平均信号振幅を測定する。

c

)

記録密度 3 704 ftpmm の信号を重ね書きし, 残留した記録密度 926 ftpmm の信号の平均信号振幅を測

定する。

d

)

二次基準テープについて繰り返し測定する。


36

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

要求事項は,次による。

記録密度 926 ftpmm の重ね書きは,次の比によって求めたとき,主基準テープの 120 %未満とする。

              重ね書き後に残留する記録密度 926 ftpmm の信号の平均信号振幅

                              記録密度 926 ftpmm の信号の平均信号振幅

11.

フォーマット

11.1

概要  テープに書き込む情報は,データバイト,ロングファイルマーク,ショートファイルマーク,

又はセットファイルマークから成る。各情報単位を論理ブロックと呼ぶ。データは,論理変換セグメント

(LTS)

に変換する。LTS は,グループ化及び処理を経て圧縮ユニットとなる。圧縮ユニットは,物理ブロ

ックを形成する。

論理ブロックは,11.2 で規定する物理ブロックに変換する。サーチフィールドは,11.3 で規定し,サー

ボは,11.4 で規定する。完全なトラックレイアウトを構成する要素は,11.5 で規定する。

トラックは,一対の正アジマス及び負アジマスから成り,その構成は次による(

図 30 参照)。

−  パッド

−  サーチフィールド

−  パッド

−  サーボゾーン(偶数トラックだけ)

−  パッド(偶数トラックだけ)

−  サーチフィールド

−  物理ブロック列

−  サーチフィールド

−  パッド

−  サーボゾーン(偶数トラックだけ)

−  パッド(偶数トラックだけ)

−  サーチフィールド

−  データクロック同期

−  物理ブロック列

−  サーチフィールド

−  パッド

−  サーボゾーン(偶数トラックだけ)

−  パッド(偶数トラックだけ)

−  サーチフィールド

−  パッド


37

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 30  トラックフォーマット

11.2

物理ブロックのフォーマット

11.2.1

論理変換セグメント(LTS)  LTS は,LTS ヘッダ及びそれに続く論理ブロックデータから成る。

4

バイトの論理ブロック CRC は,LTS 内の論理ブロックに続く。CRC の生成は,

附属書 による。論理

ブロックは,1 個の LTS を占めてもよいし,1 個の LTS が複数の論理ブロックを含んでもよい。

32

バイトの LTS ヘッダのフィールドは,次による(

図 31)。

バイト

7   6   5   4   3   2   1   0

0

0

0

0

0

LTS

タイプ

1

∼3

ブロックサイズ

4 (00)

5 (00)

6,7

ブロック数

8

∼11 SMID

12

∼15 FID

16

∼19 LID

20

∼27 (00)

28

∼31

ヘッダ CRC

 31  LTS ヘッダ

:物理ブロックデータ
:サーチフィールド
:サーソトーン
:パッド

テープ走行方向

トラック2

トラック1

テープ走行方向


38

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

LTS

タイプは,4 ビットのフィールドで表し,次による。

      (0)  データ

      (A)  ロングファイルマーク

      (B)  ショートファイルマーク

      (C) LBOP

      (D)  セットマーク

      (F) EOD

すべての他の値は,情報交換時には無視する。

ブロックサイズ  −  論理ブロックサイズを 3 バイトのフィールドで表す。

ブロック数  − LTS の論理ブロック数を 2 バイトフィールドで表す。

SMID

− LBOP と現在の LTS を含む現在の論理ブロック位置間のセットマーク数を 4 バイトフィールド

で表す。

FID

− LBOP と現在の LTS を含む現在の論理ブロック位置間のファイルマーク数を 4 バイトフィール

ドで表す。

LID

− LBOP と現在の LTS を含む現在の論理ブロック位置間の論理ブロック数を 4 バイトフィールド

で表す。

ヘッダ CRC  − LTS ヘッダのヘッダ CRC を 4 バイトフィールドで表し,その生成は

附属書 による。

11.2.2

圧縮ユニット  LTS は,圧縮ユニットへ加工される。圧縮ユニットは,8 バイト圧縮ユニットヘッ

ダ (CUH) に続くこととし,CUH のフィールドは,

図 32 よる。

バイト

7      6      5      4          3            2        1        0

0 NDB

0

0

0

Append

Comp

Last

End

1

∼3

圧縮数

4

圧縮ユニットタイプ

5

∼7

元のサイズ

 32  圧縮ユニットヘッダ

NDB

−  圧縮ユニットがデータ(セットマーク又はファイルマーク)を含まないとき,1 に設定し,そ

れ以外のとき,0 に設定する。

Append

− CUH が追記圧縮ユニットに関連するとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に設定する。

Comp

−  圧縮ユニットが圧縮アルゴリズムで処理されるとき,1 に設定し,圧縮されないとき,0 に設

定する。

Last

−  物理ブロック内の最後の CUH のとき,1 に設定し,現在の CUH に続く CUH のとき,0 に設定

する。

End

−  圧縮ユニットがこの物理ブロック内で終わるとき,1 に設定し,圧縮ユニットが次の物理ブロッ

クに続くとき,0 に設定する。

圧縮数  −  圧縮ユニットの最初の CUH のとき,圧縮ユニットの合計バイト数を 3 バイトフィールドで

表す。圧縮ユニットの最初の CUH でないとき,現在の物理ブロックにある圧縮ユニットのバイト数

を 3 バイトフィールドで表す。

圧縮ユニットタイプ  −  圧縮ユニットのタイプを 1 バイトフィールドで表す。


39

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

    (00)   データ

    (0A)  ロングファイルマーク

    (0B)  ショートファイルマーク

    (0C) LBOP

    (0D)  セットマーク

    (0F) EOD

元のサイズ  −  圧縮ユニットの圧縮前のバイト数を 3 バイトフィールドで表す。

11.2.3

物理ブロック  物理ブロックは,図 33 に示す圧縮ユニットを含む 33 448 バイトとし,図 34 に示

す 11 物理ブロックタイプとする。各物理ブロックのデータ領域の内容は,11.2.3.3 に規定する。

33 448

バイトの物理ブロックの情報は,次による。

  24 バイト      物理ヘッダデータ

  12 バイト      論理ヘッダデータ

  33 440 バイト  データ

  4 バイト        チェックサム

  8 バイト       CRC データ

バイト

7   6   5   4   3   2   1   0

0

∼23

物理ブロックヘッダ

24

∼35

論理ヘッダ

36

∼43

圧縮ユニットヘッダ

44

∼n

圧縮ユニット

n+1

∼n +1+7

圧縮ユニットヘッダ

圧縮ユニット

m-1-7

∼m-1

圧縮ユニットヘッダ

  m

∼33435

圧縮ユニット

33436

∼33439

データ領域チェックサム

33440

∼33447

物理ブロック CRC

 33  物理ブロック

タイプ

定義

(00)

データ

(04) ECC3

チェックバイトブロック

(05)

消去

(09) PBOP

(0A)

ロングファイルマーク

(0B)

ショートファイルマーク

(0C) LBOP

(0D)

セットマーク

(0E)

ギャップ

(0F) EOD

(10)

シャットダウン

 34  物理ブロックタイプ


40

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

11.2.3.1

物理ブロックヘッダ  物理ブロックヘッダは,24 バイトからなる(図 35 参照)。

バイト

7

6

5

4

3

2

1

0

0

∼3 PID

4

∼7 BID

8

パーティション

9 Rwtstat rwcount

10 SID

11

タイプ

12 (00)

13 ECC3

グループサイズ

14 ECC3ID

15 ECC3

インデックス

16

∼19

(00)

20

∼23

物理ヘッダチェックサム

 35  物理ブロックヘッダ

11.2.3.1.1

物理 ID (PID)  PID は,4 バイトのカウンタとしテープ上の物理ブロックの絶対位置を示すもの

とする。PID 番号は,物理ブロックのタイプにかかわらず,ブロックごとに 1 を加算する。パーティショ

ン間の空白領域へも PID 番号を割り当てる。テープ履歴ログを表す最初の物理ブロックの PID 番号は,

(00000000)

とする。テープ上の最初のパーティションにある PID 番号は,(000017DE)  とする。

11.2.3.1.2

ブロック ID (BID)  BID は,4 バイトのカウンタとしホストから受信した論理ブロックの順序

を示すものとする。BID は,各パーティションで (00000000) から始まる。BID の値は,ブロックタイプ

で異なり次による。

データ,ロングファイルマーク,ショートファイルマーク,セットマーク及び EOD ブロックの場合,

パーティション内にある最初の物理ブロックの BID は,(00000001)  とし,物理ブロックごとに 1 を加算す

る。

ECC3

ブロックの BID は,現在の ABID に設定する(11.2.3.3.2 及び 11.3.1 参照)

消去ブロックの BID は,現在の ABID に設定する。

LBOP

及び PBOP ブロックの BID は,(00000000)  とする。

ギャップブロックの BID は,ギャップブロックがデータブロック間にあるとき,現在の ABID に設定す

る。

シャットダウンブロックの BID は,(FFFFFFFF)  とする。

11.2.3.1.3

再書込みステータス (Rwstat)  再書込みステータスは,4 ビットのフィールドとし物理ブロッ

クの再書込み状態を示すものとする。その値は,次による。

  0000:最初に書き込んだ物理ブロック

  0001:RBC の前に再書き込みした物理ブロック

  0010:RBC で書込み不良を検出後,再書込みした物理ブロック

  0011:RBC による書込み不良検出以外の原因で再書込みした物理ブロック

  PBOP 及び LBOP の最後の 2 物理ブロックは,0011 に設定する。

他の設定は,使用しないし,情報交換時には,無視する。


41

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

11.2.3.1.4

再書込み回数 (rwcount)  再書込み回数は,4 ビットのフィールドとし物理ブロックが再書込み

された回数を示すものとする。最初に書き込んだブロックの値は,0 とする。このフィールドは,データ,

ショートファイルマーク及び ECC3 物理ブロックだけに有効とする。

11.2.3.1.5

ストリーム ID (SID)  SID は,1 バイトのカウンタとし書込み時に連続した物理ブロックの中で

無効物理ブロックを示すものとする。SID は,テープ動作が停止するごとに 1 を加算する。

11.2.3.1.6

タイプ  タイプは,1 バイトのフィールドとし物理ブロックヘッダに関連するブロックの物理

ブロックタイプを示すものとする。物理ブロックタイプとその値は,

図 34 に示す。

11.2.3.1.7

  ECC3

グループサイズ  ECC3 ブロックを除いた ECC3 グループ内の物理ブロック数を示す。

11.2.3.1.8

  ECC3 ID

  ECC3 ID は,

1

バイトのフィールドとし ECC3 グループに含まれる物理ブロックを示

すものとする。ECC3 グループ内の全物理ブロックは,同じ ECC3 ID をもつ。ECC3 ID は,新しい ECC3

グループがテープに加えられるごとに 1 を加算する。

11.2.3.1.9

  ECC3

インデックス  ECC3 インデックスは,1 バイトのフィールドとし ECC3 チェックバイト

ブロックを含む ECC3 グループ内の全物理ブロックに割り当てられるものとする。グループにある最初の

ブロックの ECC3 インデックスは,(00)  とする。

11.2.3.1.10

物理ヘッダチェックサム  物理ヘッダチェックサムは,4 バイトとし,物理ヘッダの 20 バイト

を初期値 0 から連続して合計する。4 バイトワードで算術合計し,オーバフローは無視する。

11.2.3.2

論理ヘッダ  論理ヘッダは,物理ブロックに続くこととし,12 バイトで構成する(図 36 参照)。

バイト

7  6  5  4  3  2  1  0

0 CUID

1

∼3 SMID

4

∼7 FID

8

∼11

LID

 36  論理ヘッダ

11.2.3.2.1

圧縮ユニット ID (CUID)  CUID は 1 バイトのカウンタとし,物理ブロックの最初の完全な圧縮

ユニット又は圧縮ユニットの一部分を示すものとする。この計数は,パーティションの始めで (01) に設

定し,各圧縮ユニットごとに 1 を加算する。

11.2.3.2.2

セットマーク ID (SMID)  SMID は,3 バイトのカウンタとし物理ブロックが属しているセット

を示すものとする。SMID は,パーティションに書かれた最初のセットマークを含む物理ブロックを

(000000)

に設定し,各セットマークごとに 1 を加算する。

11.2.3.2.3

フィールド ID (FID)  FID は,4 バイトのカウンタとし物理ブロックが属しているファイルを示

すものとする。

FID

は,

パーティションに書かれた最初のファイルマークを含む物理ブロックを (00000000)

に設定し,各ショートファイルマーク又はロングファイルマークごとに 1 を加算する。

11.2.3.2.4

論理ブロック ID (LID)  LID は,ホストシステムからの論理ブロックの計数を 4 バイトで表す。

LID

は,パーティション内の最初の論理ブロックを (00000000) に設定し,各論理ブロック,ファイルマ

ーク又はセットマークごとに 1 を加算する。ヘッダデータに格納される LID は,物理ブロックが含む最初

の論理ブロック(一部分だけでもよい。

)の LID とする。

11.2.3.3

データ領域  データの内容は,ブロックタイプごとに異なる。


42

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

11.2.3.3.1

データブロック (00)  圧縮ユニットヘッダ及び圧縮ユニットは,データタイプブロックの場合,

データ領域を占める。CUH は,圧縮ユニットが物理ブロック内で開始しなくても,論理ヘッダに続く。

11.2.3.3.2

  ECC3

ブロック (04)  2 個の ECC3 ブロックは,各 ECC3 グループごとに生成することとする。

ECC3

グループは,最大 62 個の物理ブロックを含んでもよい。ECC3 は,論理ヘッダ,データ領域及びデ

ータ領域チェックサムにわたって生成することとする(

附属書 参照)。データ領域 CRC は,ECC3 を生

成するとき,含まないこととする。

11.2.3.3.3

消去ブロック (05)  消去ブロックの内容は,規定せず,情報交換時には無視する。

11.2.3.3.4

  PBOP

ブロック (09) 及び LBOP ブロック (0C)  PBOP ブロックと LBOP ブロックのデータ領

域は,CUH 及び LTS ヘッダで始まる。40 バイトのテープフォーマットデータは,LTS ヘッダに続く(

37

参照)

バイト

7 6 5

4

3 2 1 0

0

∼3

(00000000)

4

∼7

ストラクチャ長

8 0

N

(00)

9

圧縮アルゴリズム

テープフォーマット

10

テープタイプ

11 ECC3

ブロック

12

∼19

テープ ID

20

∼23 ECC 列

24

∼27 ECC 行

28

∼31

行 ECC チェックバイト

32

∼35

列 ECC チェックバイト

36

∼39

(00000000)

 37  テープフォーマットデータ

ストラクチャ長  −  データストラクチャ内で後続するバイト数を 4 バイトで表し,32 に設定する。

N

− LBOP ブロックの場合,このパーティションで再書込みができないとき,1 とし,再書込みができるとき,0

とする。PBOP ブロックの場合,0 とする。

圧縮アルゴリズム  −  パーティションで使用する圧縮アルゴリズムを示し,フィールドを 4 ビットで表す。値(0)

は,IDRC を示し,値(1)は,1 024 バイトの履歴バッファをもつ ALDC を示す。

テープフォーマット  −  フィールドを 4 ビットで表し,マンモステープ 2 フォーマットのとき,1とする。

テープタイプ  −  バイトで表し,情報交換用テープのとき,

(00)とする。

ECC3

ブロック  −  パーティション内の各 ECC3 グループに関連する ECC3 ブロック数を 1 バイトで表す。

テープ ID  −  この 8 バイトのフィールドは,テープの識別子として使用してもよい。情報交換時には無視する。

ECC

行  − ECC チェックバイトを含む情報マトリクスの各行のバイト数を 4 バイトで表す。この規格では,160 に

設定する。

ECC

列  − ECC チェックバイトを含む情報マトリクスの各列のバイト数を 4 バイトで表す。この規格では,242 に

設定する。

行 ECC チェックバイト  −  情報マトリクスの各列のチェックバイト数を 4 バイトで表す。この規格では,12 に設

定する。

列 ECC チェックバイト  −  情報マトリクスの各行のチェックバイト数を 4 バイトで表す。この規格では,16 に設


43

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

定する。

テープ上の各パーティションの 32 バイトパーティション情報ストラクチャが,

テープフォーマットデー

タに続くものとする(

図 38 参照)。

バイト 7 6 5 4  3  2  1  0

0

∼3

(00000001)

4

∼7

ストラクチャ長

8

(0) PSUM

9

パーティション SID

10

パーティション総数

11

現在パーティション

12

∼15

(00000000)

16

∼17

パーティションサイズ

18

∼19

(0000)

20

∼23 PBOP  PID

24

∼27 PEOP  PID

28

∼31

(00000000)

 38  パーティション情報ストラクチャ

ストラクチャ長  −  データストラクチャ内で後続するバイト数を 4 バイトで表し,24 に設定する。

PSUM

(Partition size of measure)−  パーティションの大きさをメガバイト単位で示し,106 とする。

パーティション SID  −  フィールドを 4 バイトで表し,テープを最初に分割したとき,

(00000000)とする。テープ

をパーティションにフォーマットするごとに,1 を加算する。

パーティション総数  −  テープ上のパーティション数を 1 バイトで表し,初期値を 1 とする。

現在パーティション  − PBOP 又は LBOP として識別するパーティション数を 1 バイトで表す。THL 用のパーティ

ション数は,

(FF)とする。

パーティションサイズ  −  パーティションで使用可能なデータ領域長を 1 バイトで表す。PSUM フィールドは,大

きさの単位を示す。

PBOP PID

−  パーティションの PBOP ブロックの PID 数を 4 バイトで示す。

PEOP PID

−  パーティションに書き込み可能な最後の PID の PID 数を 4 バイトで示す。

残りのデータ領域は,

(00)とする。

11.2.3.3.5

ロングファイルマーク (0A),セットマーク (0D) 及び EOD (0F)  ロングファイルマーク,セ

ットマーク及び EOD のデータ領域は,CUH 及び LTS ヘッダで始まる。24 バイトの追記データは,LTS ヘ

ッダに続く(

図 39 参照)。


44

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

バイト

7 6 5 4 3 2 1 0

0

∼3

(00000002)

4

∼7

ストラクチャ長

8

∼11

前 PID

12

∼15

前 BID

16

∼19

後 PID

20

∼23

後 BID

24

∼27 ECC3 ID

28

∼30

(000000)

31 CUID

32

∼35 CRC

 39  追記データ

ストラクチャ長  −  データストラクチャ内で後続するバイト数を 4 バイトで表し,28 に設定する。

前 PID  −  マークを重ね書きするとき,次に書き込むブロックの PID を 4 バイトで表す。

前 BID  −  マークを重ね書きするとき,次に書き込むブロックの BID を 4 バイトで表す。

後 PID  −  マークを追記するとき,次に書き込むブロックの PID を 4 バイトで表す。EOD ブロックのとき,

(00000000)とする。

後 BID  −  マークを追記するとき,次に書き込むブロックの BID を 4 バイトで表す。EOD ブロックのとき,

(00000000)とする。

ECC3 ID

−  次の ECC3 グループの ID を 4 バイトで表す。

CUID

−  次に書き込む圧縮ユニットの CUID を 1 バイトで表す。

CRC

−  4 バイト CRC は,36 バイトの追記データ全体で算出する(

附属書 参照)。

11.2.3.3.6

ショートファイルマーク (0B),ギャップ (0E) 及びシャットダウン (10)  ショートファイルマ

ークブロック,ギャップブロック及びシャットダウンブロックのデータ領域の内容は,規定せず,情報交

換時には,無視する。

11.2.3.4

データ領域チェックサム  データ領域チェックサムは,4 バイトで表し,12 バイトの論理ヘッダ

及び 33 400 バイトのデータ領域を初期値 0 から連続して合計する。4 バイトワードで算術合計し,オーバ

フローは,無視する。

11.2.3.5

データ領域 CRC  データ領域 CRC は,12 バイトの論理ヘッダ,33     400 バイトのデータ領域及び

4

バイトのチェックサム全体で算出する(

附属書 参照)。

11.2.4

情報マトリクス  33 448 バイトの物理ブロックは,148 列 226 行の情報マトリクスに格納する(図

40

参照)

。マトリクスは,列 0 で始まる列から格納する。各セルは,1 バイトのデータからなる。24 バイ

トのヘッダデータは,00/00∼00/23 に順次格納する。12 バイトの論理ヘッダデータは,00/24∼02/35 に順

次格納する。33 400 バイトのデータは,00/36∼147/213 に順次格納する。4 バイトのデータ領域チェック

サムは,147/214∼147/217 に格納する。8 バイトの CRC データは,147/218∼147/225 に格納する。

5 272

バイトの ECC データの生成は,

附属書 による。2712 バイトの水平 ECC バイトは,148/00∼159/225

に格納する。2 560 バイトの垂直 ECC は,列 00∼159 の行 226∼241 に格納する。


45

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

    列

0 1

2

3

146

147 148

∼ 159

00

物理ヘッダ

23

24

論理ヘッダ

水平 ECC

35

36

データ領域

213

214

チェックサム

217

218

CRC

225

226

垂直

ECC

241

 40  情報マトリクス

11.2.5

記録パターン  38 720 バイトの情報マトリクスからのデータは,行 0 から行単位にテープに順次記

録する。各行のデータストリームは,20 チャネルビットの同期フィールドに続く 30 チャネルビットの行

ID

及び各行からの 1 600 チャネルビットで構成する。完全なデータストリームは,テープに書き込む前に

附属書 によって符号化する。

11.2.5.1

シンボル同期フィールド  20 チャネルビットシンボル同期フィールドは,(A1F0B)  とする。

11.2.5.2

行 ID  1 バイトの行 ID のビット 7∼3 は,行数の下位 5 ビットとする。ビット 2∼0 は,書込み

トラックごとに 1 を加算するモデュロ 14 カウンタの上位 3 ビットとする。このバイトは,3 コピーに対し

て 2 回繰り返す。行 ID は,

附属書 によって 8 ビットから 10 ビットのチャネルビットに変換する。

11.2.5.3 

行バイト  各行のバイトは,附属書 によって乱数化する。160 バイトのデータは,附属書 

よって 8 ビットから 10 ビットのチャネルビットに変換する。

11.3

サーチフィールドフォーマット

11.3.1

サーチフィールドデータ  32 バイトのサーチフィールドデータのフォーマットは,図 41 に示す。


46

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

バイト  7

6

5

4  3

2

1

0

0

パーティション

1

∼3 SMID

4

∼7 FID

8

∼11 LID

12

∼15 PID

16

∼19 ABID

20

∼23 DBID

24 EDM

BOP

THL

消去

(0)

25 CUID

26 PSID

27 SID

28

∼29 (00)

30

∼31

フォーマット ID

 41  サーチフィールドデータ

サーチフィールドデータの各フィールドは,次による。

パーティション  −  1 バイトのフィールドとし現在のパーティションのパーティション番号を表す。

SMID

−  3 バイトのフィールドとし次に書き込むセットマークのセットマーク番号を表す。一対のセットマークト

ラックの両トラックにあるサーチフィールドは,セットマークブロックのヘッダブロックの SMID と同じ SMID

とする。

FID

−  4 バイトのフィールドとし次に書き込むファイルマークのファイルマーク番号を表す。一対のロングファイ

ルマークトラックの両トラックにあるサーチフィールドは,ロングファイルマークブロックのヘッダブロックの

FID

と同じ FID とする。ショートファイルマークに続くトラックにあるサーチフィールドの FID は,前のトラッ

クにある最後のショートファイルマークブロックのブロックヘッダの FID と同じ FID とする。

LID

−  4 バイトのフィールドとしこのサーチフィールドを含むトラックの前にテープ上に書き込んだ最大の論理

ブロック番号を表す。

PID

−  4 バイトのフィールドとし前に書き込んだトラックにある最後の物理ブロックの PID 番号を表す。

ABID

−  4 バイトのフィールドとし書込みを試みた任意のブロックの最新の ECC3 グループに書き込む最小の BID

を表す。

DBID

−  4 バイトのフィールドとし ECC3 ブロックを含む正常に書き込まれた全ブロックをもつ最も早い ECC3 グ

ループの最大の BID を表す。

EOD

−  サーチフィールドを EOD トラックのうちの一つに配置するとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に設定

する。

BOP

−  サーチフィールドを LBOP トラック又は PBOP トラックのうちの一つに配置するとき,1 に設定し,それ

以外のとき,0 に設定する。

THL

−  サーチフィールドをテープ履歴ログに配置するとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に設定する。

消去  −  サーチフィールドを消去動作の一部として書き込むとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に設定する。

CUID

−  次に書き込む圧縮のユニットの CUID を 1 バイトで表す。

PSID

−  テープを最初にパーティションするとき,0 に設定し,テープをパーティションするごとに 1 を加算する。

SID

− SID は 1 バイトのカウンタとし,書き込むとき連続した物理ブロックのなかの無効物理ブロックを示すもの

とする。SID は,テープ動作が停止するごとに 1 を加算する。


47

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

フォーマット ID  −  2 バイトのフィールドとしテープフォーマットを示し,(0001)  に設定する。

11.3.2

サーチフィールド CRC と ECC  2 バイトの CRC は,附属書 によってサーチフィールドから生

成し,サーチフィールドデータの終わりに付加する。32 バイトのサーチフィールド及び 2 バイトの CRC

を対象範囲とする 8 バイトの ECC は,

附属書 によって生成する。

11.3.3

サーチフィールド記録パターン  各サーチフィールドのデータストリームは,50 チャネルビット

の同期,20 チャネルビットのシンボル同期,それに続く 30 チャネルビットのサーチフィールド ID,及び

それに続く 420 チャネルビットのサーチフィールドデータからなる。完全なデータストリームは,

附属書

G

によって符号化する。

11.3.3.1

同期フィールド  50 チャネルビットの同期フィールドは,2 種類のパターンの中の 1 種類とする。

先行パッドパターンが  (…3333)  のとき,パターンは (3FFEDF92D93FF) とする。先行パッドパターンが

(

…CCCC)  のとき,パターンは (3FFADF92D93FF) とする。

11.3.3.2

シンボル同期フィールド  20 チャネルビットのシンボル同期フィールドは,(A1F0B)  とする。

11.3.3.3

サーチフィールド ID  1 バイトのサーチフィールド ID のビット 7∼3 は,サーボゾーンに先行す

るトラック 1 にあるサーチフィールドを 01111,サーボゾーンに先行するトラック 3 にあるサーチフィー

ルドを 10 000 及びすべての他のサーチフィールドを 01101 に設定する。ビット 2∼0 は,111 とする。サー

チフィールド ID は,

附属書 によって 8 ビットから 10 ビットのチャネルビットに変換する。

11.3.3.4

サーチフィールドデータ  42 バイトのサーチフィールドは,附属書 によって 8 ビットから 10

ビットのチャネルビットに変換する。

11.4

サーボエリア  トラック 2 とトラック 4 上のサーボエリアは,3 個とする。各サーボエリアの前後に

サーボパッドエリアを 2869.5 ftpmm (2T)  で記録する。サーボエリアは,57.39 ftpmm(トーン)で記録す

る。

11.5

トラックの配置  11.111.4 で規定したトラックの構成要素の配置は,図 42,図 43 及び図 44 によ

る。トラックは,4 個のトラックを一組として書き込む。トラック 1 は,トラック 3 と異なり,サーチフ

ィールド領域にある 3 か所のパッドの前に 6T パターン (956.5 ftpmm) を書き込む。

6T

のトラック 1ID は,

テープを読み出した場合,トラック 1 であることを識別する。トラック 2 及びトラック 4 の構成は,同一

とする。


48

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

要素

チャネルビット

パターン

パッド 2

020

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

トラック 1ID 60  6T

パッド 2

560

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データ PLL 220 2T

データ行 0∼120 199

650

データ

パッド 50

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

トラック 1ID 60  6T

パッド 2

560

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データ PLL 220 2T

データ行 121∼241

199 650

データ

パッド 50

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

トラック 1ID 60  6T

パッド 3

880

2T

 42  トラック 1 の配置


49

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

要素

チャネルビット

パターン

パッド 1

980

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド 1

300

2T

サーボゾーン 1

200

トーン

パッド 1

300

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データ PLL 80 2T

データ行 0∼120 199

650

データ

パッド 50

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド 1

300

2T

サーボゾーン 1

200

トーン

パッド 1

300

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データ PLL 80 2T

データ行 121∼241

199 650

データ

パッド 50

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド 1

300

2T

サーボゾーン 1

200

トーン

パッド 2

000

2T

 43  トラック 及びトラック の配置


50

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

要素

チャネルビット

パターン

パッド 2

020

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド 2

620

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データ PLL 220 2T

データ行 0∼120 199

650

データ

パッド 50

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド 2

620

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データ PLL 220 2T

データ行 121∼241

199 650

データ

パッド 50

2T

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド 3

940

2T

 44  トラック の配置

12.

記録方式  記録方式は,“1”の場合,ビットセルの中央で磁束を反転し,“0”の場合,ビットセルで

磁束を反転しないこととする。

12.1

記録密度  最大記録密度は,公称 5 739 ftpmm とし,公称ビットセル長は,0.174

µm とする。

12.1.1

長周期平均ビットセル長  長周期平均ビットセル長は,各トラックについて 133 060 個以上の連続

するビットセルの記録を測定し,その値は,公称ビットセル長の  ± 0.20 %以内とする。

12.1.2

短周期平均ビットセル長  短周期平均ビットセル長は,任意のビットセルを基準とし,その前の

16

個のビットセルの平均とする。その値は,同一アジマスのその前のトラックの長周期平均ビットセル長

の± 0.35 %以内とする。

12.1.3

短周期平均ビットセル長の変動率  短周期平均ビットセル長は,任意の 2 個の連続する 16 ビット

セル長当たり 0.05 %を超えて変化してはならない。

12.2

ビットシフト  ミッシングパルスを除去して “1” を再生したときの再生信号のゼロ交差は,短周期

平均ビットセル長の規定による予測位置から 25 %以上ずれてはならない。ビットシフトの測定は,

附属書

M

による。


51

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

12.3

情報交換時の再生信号振幅  記録密度 3 704 ftpmm で 3 000 磁束反転以上にわたる平均信号振幅は,

標準信号振幅の 80∼130 %とする。

13. 

トラックの構成

13.1

概要  トラックパターンは,テープ走行方向と一対の二つのヘッドの回転軸との相対関係で形成す

る。この一対のヘッドの一つは,正のアジマス角をもち,他のヘッドは,負のアジマス角をもつ。記録の

方向は,テープ基準縁から離れる方向とする。トラックの位置及び寸法は,

図 45 による。

ヘッド走査方向

  A

正アジマス角

負アジマス角

テープ走行方向

E

F

トラック 1

トラック

2

トラック

中心線

C

B

A

:トラック角

B

:トラック幅

C

:トラック間隔

E

:トラック長

F

:ガードバンド

 45  トラックの位置及び寸法

13.2

トラック間隔  トラック間隔は,任意の隣接した二つのトラック間で,9.91

µm ± 1.50 µm とする。

13.3

平均トラック間隔  平均トラック間隔は,任意の連続した 60 トラックの間隔の平均とし,その値は,

9.91 µm

± 0.35 µm とする。

13.4

トラック幅  トラック幅は,公称値 9.91

µm とする。

13.5

トラック角  トラック角は,テープ基準縁に対する角度とし,公称値 4.902 5 °とする。

13.6

トラック長  トラック長は,73.438 mm ± 0.220 mm とする。


52

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

13.7

ガードバンド  テープ基準縁からトラックの記録開始までをガードバンドとし,その幅は,905

µm ±

10

µm とする。

13.8

アジマス角  正のアジマス角は,20.009 ° ± 0.200 °とする。負のアジマス角は,– 9.991 ° ± 0.200 °と

する。

13.9

トラックエッジの直線性  記録したトラックエッジは,6

µm 間隔の 2 本の平行線の間になければな

らない。平行線は,テープ基準縁から公称トラック角で設定する。

14.

テープの配置

14.1

概要  テープの配置は,図 46 による。テープは,1∼255 個までのパーティションからなる。最初の

パーティションをパティーション 0 とし,昇順に番号を付ける。テープフォーマットの構成要素は,14.2

14.7 で規定する。テープは,全体に消去ブロックを書込み消去する。テープをフォーマットするとき,

各パーティションは,PBOP,LBOP 及び EOD を含むこととする。

 46  テープの配置

14.2

テープ履歴ログ (THL)  THL は,パーティション番号を  (FF)  とする。THL の記録は,PBOT から

518 mm

±10 mm の位置で開始する。THL は,50 トラックの PBOP ブロック及び 50 トラックの LBOP ブロ

ックからなる。最初の PBOP ブロックは,トラック 1 で始まり,最初の PBOP ブロックの PID を  (00000000) 

とする。THL の内容は,規定せず,情報交換時には無視する。100 トラックの EOD ブロックが,最後のデ

ータトラックに続くこととする。

リーダ

磁気テープ(記録面)

リーダ

PBOT

PEOT

THL

パーティション0

パーティション1 パーティションn

LBOP

EOD

ホストデータ

ファイルマーク

セットマーク

PBOP

PEOP

LEOP


53

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

14.3

PBOP

  すべてのパーティションは,PBOP で始まる。PBOP は,340 トラックの PBOP ブロックか

らなる。

最初の PBOP トラックは,

トラック 1 で始まる。

すべての PBOP ブロックヘッダは,

PID

及び Rwtstat

を除いて同じとする。最後の 2 トラックの Rwtstat フィールドは,0011 とする。PID は,テープ上の位置

を示す。BID は,(00000000)

に設定する。

14.4

LBOP

  LBOP は,PBOP に続いて記録し,460 トラックの LBOP ブロックからなる。すべての LBOP

の BID は,(00000000)

に設定する。

14.5

データ領域

14.5.1

概要

  データ領域は,LBOP に続いて記録し,データブロック,シャットダウンブロック及びギャ

ップブロックからなる。書込みを中止するとき,2 個以上のギャップブロック,それに続く 2 個のシャッ

トダウンブロックを偶数番号トラックの終わりに書き込む。再び書込みを開始するとき,2 個のシャット

ダウンブロックは,ギャップブロックで重ね書きする。ファイルマーク及びセットマークは,ホストから

の要求で記録する。データブロック又はショートファイルマークブロックは,誤りがあるとき,再書込み

してもよい。再書込み物理ブロックのブロックヘッダは,テープ上の位置を示す PID を除いて元のブロッ

クヘッダと同じとする。  物理ブロックをテープ上に更に再書込みできるかは,DBID フィールドによる。

ブロックは,繰り返し再書込みしてもよい。

14.5.2

ショートファイルマーク

  ショートファイルマークは,1 個のショートファイルマークブロックか

らなる。

14.5.3

ロングファイルマーク

  ロングファイルマークは,2 トラックのギャップブロック,それに続く 2

トラックのロングファイルマークブロック及びそれに続く 2 トラック以上のギャップブロックからなる。

ロングファイルマークブロックの最初のトラックは,トラック 1 で始まる。すべてのロングファイルマー

クブロックの BID は,同じとする。すべてのデータブロックは,RBC によって照合し,ロングファイルマ

ークを書き込む前に再書込みする。

14.5.4

セットマーク

  セットマークは,2 トラックのギャップブロック,それに続く 2 トラックのセット

マークブロック及びそれに続く 2 トラック以上のギャップブロックからなる。セットマークブロックの最

初のトラックは,トラック 1 で始まる。すべてのセットマークブロックの BID は,同じとする。すべての

データブロックは,RBC によって照合し,セットマークを書き込む前に再書込みする。

14.6

EOD

  EOD は,データ領域の直後に書き込む。EOD は,2 トラックのギャップブロック及びそれに

続く 880 トラックの EOD ブロックからなる。データ領域は,EOD に重ね書きし,追記録してもよい。

14.7

PEOP

  PEOP は,テープ上に記録しない。PEOP は,パーティションの終端で,パーティションの

データを次のパーティションに重ね書きしないようにする。PEOP の PID は,LBOP ブロックに記録する。

PID

が PEOP の PID に一致したとき,すべてのホストデータの書込みが終了する。PEOP の PID に続いて,

追加の 32 トラックを書き込む。このトラックの内容は,規定せず,情報交換時には無視する。


54

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 A(規定)テープの光透過率の測定法

A.1

概要

  この附属書は,テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。

光透過率は,測定装置に試験片を入れないときの計測値と入れたときの計測値の比を百分率(%)で表

す。

A.2

測定装置の構成

  測定装置の構成は,次による。

−  光源

−  光検出部

−  測定用マスク

−  光学系

−  測定回路

A.2.1

光源

  光源は,次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード(LED)を使用する。

波長  :850 nm

±

 50 nm

半値幅:

±

 50 nm

A.2.2

光検出部

  光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。

A.2.3

測定用マスク

  測定用マスクは,厚さを 2 mm とし,孔の直径  (

d

)

をフォトダイオードの受光領域

の 80∼100 %の大きさに設定する。

表面は,黒のつや消しとする。

試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないようにマスクに固定する。

A.2.4

光学系(附属書 図 1

  光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離  (

L

)

は,次

の式による。

α

2tan

d

L

=

ここに,  d:  mm 

α:  光軸上の最大光量に対して 95 %以上の光量がある領域に設定

参考

附属書 図 1

は,原国際規格のとおりに機器の配置などを概念的に説明したものであり,定量

的な関係まで示すものではない。定量的関係については,上式が正しい。

A.2.5

仕上げ

  装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6

測定回路(附属書 図 2

  測定回路は,次による。

E

:出力電圧可変の定電圧電源

R

:電流制限用の抵抗器

LED

:赤外線発光ダイオード

Di

:シリコンフォトダイオード

A

:演算増幅器

Rf0,Rf1 :帰還用の抵抗器 
S

:増幅率切替えスイッチ

V

:電圧計

LED

に流れる電流,すなわち,照射力は,供給電圧 (E) によって変化させる。


55

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

Di

は,短絡回路モードで動作させる。

演算増幅器の出力電圧は,次による。

f

k

0

R

I

V

×

=

ここに,  I

k

: Di の短絡回路モードでの電流

出力電圧は,光量に比例する。

Rf0  及び  Rf1  は,許容誤差 1 %で,温度による抵抗変化の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は,

次の式による。

20

1

f1

f0

=

R

R

A.3

測定法

  測定法は,次による。

−  スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。

−  試験片を取り付けないで,電圧計 (V) の指示がフルスケール (100 %) になるように LED の供給電圧

(E)

を変化させる。

−  リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このとき電圧計は,60 %∼100 %を示さな

ければならない。

−  磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このときの電圧計

のフルスケールは,光透過率 5 %を示す。

L

d

マスク

LED

シリコン
フォトダイオード

テープ

光軸

2

α

附属書   1  光学系の構成


56

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

R

LED

E

Rf0

Rf1

Di

A

0

1

S

V

附属書   2  測定回路


57

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 B(規定)テープの研磨性測定法

B.1

概要

  テープの研磨性は,テープがテープ走行系を磨耗させる度合いとする。

B.2

取付け

附属書 図 1

に示す清浄な試験用バーを

附属書 図 2

に示す試験用固定具に取り付ける。

試験用の刃は,上向けに取り付け,磨耗のない,かつ,1 µm 以上の欠けがないこととする。試験用の刃の

曲率半径は,113 µm 以下とする。

試験用バーの成分及び重量比は,次による。

  A l5.4%

  Si 9.6%

  Fe 85.0%

バーの 4 面すべての表面仕上げは,N2 (0.05 µm)  以上とする。

試験用バーの正方形からのずれは,0.5 mm 以内とする。

B.3

測定方法

  バーに対するテープの巻付け角度が片側 15°合計 30°になるよう試験用固定具をテープ

装置に取り付ける(

B.2

参照)

バーにおけるテープ張力を 0.13 N±0.02 N に設定する。

相対湿度を 50 %±10 %に設定する。

テープを速度 25.4 mm/s で,バーの上を 1 回走行させる。バーを通過するテープの長さを 39.5 m±0.5 m

とする。

テープ装置から試験用固定具を取り外し,

試験用バーの磨耗した部分の長さを測定する。

この測定には,

倍率が 300 倍の顕微鏡,カメラ及び網線を使用するとよい。

測定は,磨耗パターンの幅の 1/4,1/2 及び 3/4 の部分で行い,3 回の平均から長さを測定する。

附属書 B

図 3

に磨耗パターンと測定点を示す。

附属書   1  研磨性試験用バー

18 mm

4.5 mm

±0.3 mm


58

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書   2  試験用固定具

附属書   3  磨耗パターン

試験用バー

巻きつけ角度 15℃

テープ幅

摩耗パターン長

1/4

1/2

3/4


59

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 C(規定)論理ブロックの CRC の生成

論理 CRC の生成は,次の GF(2)の生成多項式による。

1

)

(

2

6

10

17

19

26

28

32

+

+

+

+

+

+

+

+

=

x

x

x

x

x

x

x

x

x

g

論理 CRC は,情報多項式に x

32

を乗じて(乗算し)

,次に g(x)で除算して得られる剰余とする。情報多項

式の最上位係数は,データの最初のバイトのビット 7 とし,最下位係数はデータの最後のバイトのビット

0

とする。

CRC

多項式は,CRC レジスタで情報多項式をシフトする前,初期値 (FFFFFFFF) に設定する。


60

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 D(規定)ECC3 チェックバイト

8

ビットガロア体の生成多項式 g

f

(x)

は,次による。

1

)

(

2

3

4

8

+

+

+

+

=

x

x

x

x

x

g

f

各 8 ビットバイトのガロア体の原始元は,上記の生成多項式によって生成する。α

0

,

α

1

,

α

2

,

α

3

,…,

α

254

は,生成多項式 g

f

 (x)

によって生成される 255 個の非ゼロ原始元を示す。ECC3 チェックバイトの生成は,

次の生成多項式による。

0

25

+

+

=

α

α

x

x

x

g

f

2

)

(

ECC3

情報多項式は,ECC3 ブロックから生成する。最初のバイトは,情報多項式の最上位項の係数とす

る。最後のバイトは,情報多項式の最下位項の係数とする。情報生成多項式は,x

2

で積算し,次に g (x)で

除算して,剰余を求める。剰余は,2 個の ECC3 チェックバイトとする。

附属書   1  ECC3 ブロック

ECC3

コードワードは,各ブロックから対応するバイトを抽出して算出する。物理ヘッダ及び

CRC

は,

ECC3

の計算には含まない。各情報多項式は,

ECC3

グループにあるバイト数(最大 253 個)を含む。

・・・

ECC3

ECC3

ブロック1

ブロック2

ブロック3

ECC3

ブロック1

ECC3

ブロック2

チェックサムバイト

リードソロモンコードワード


61

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 E(規定)データ領域の CRC の生成

データ領域 CRC の生成は,次の GF (2)  の生成多項式による。

1

)

(

62

64

+

+

+

=

x

x

x

x

g

64

ビット CRC レジスタは,初期値 (FFFFFFFF FFFFFFFF) に設定する。情報多項式に x

64

を乗じて(乗

算し)

,CRC 生成多項式で除算する。情報多項式は,論理ヘッダの最初のバイトからチェックサムの最後

のバイトまでで構成する。各バイトのビット 7 は,バイトの最上位係数,ビット 0 は最下位係数とする。


62

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 F(規定)ECC の生成

ガロア体 GF (2

8

)

の生成多項式は,次による。

1

)

(

2

3

4

8

f

+

+

+

+

=

x

x

x

x

x

g

α

0

,

α

1

,

α

2

,

α

3

,…,

α

254

は,ガロア体の 255 個の非ゼロ原始元を示す。

水平 ECC チェックバイトの生成多項式は,次による。

=

=

11

0

i

i

x

x

g

)

(

)

(

h

α

垂直 ECC チェックバイトの生成多項式は,次による。

=

=

15

0

i

i

x

x

g

)

(

)

(

v

α

チェックバイトは,データバイトから情報多項式 (x)  に水平 ECC のとき x

12

,垂直 ECC のとき x

16

を乗

じて(乗算し)

,次に

h

 (x)

,及び

v

 (x)

で各々除算して得る。この除算の剰余をチェックバイトとする。

剰余の最下位係数は,最上位チェックバイトとし,最上位係数は,最下位チェックバイトとする。


63

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 G(規定)前置符号器

データストリームは,連続したデータを書き込む前に次のアルゴリズムによって符号化する。出力ビッ

トは,入力ビットと 2 ビット分遅れた出力ビットの排他的論理和演算をする(

附属書 図 1

参照)

。前置

符号器の初期状態は,00 とする。

附属書   1  前置き符号

Z-1

Z-2

入力

出力

Z-1

Z-1


64

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 H(規定)8 ビットバイトから 10 ビットパターンへの変換

8

ビットバイトから 10 ビットパターンへの変換アルゴリズムは,次による。8 ビットバイトは,10 進数

で表す。表 1 パターン又は表 2 パターンの選択は,トラック上に前に記録したビットの直流成分による。

直流成分は,各データストリームの始めで 0 に設定し,前もって符号化したデータストリームの 1 の数と

0

の数の相違による。パターンは,パターンの前もって符号化した値が直流成分の絶対値を最小化するよ

うに選択する。

表 1

パターン及び

表 2

パターンの最も左側のビットは,テープ上に最初に記録するビットとする。

8

ビットパターン 10 ビットパターン

バイト(10 進数)バイト(16 進数) 表 1 パターン

表 2 パターン

0 (00)

1010111111

1010111111

1 (01)

1011010001

1011010001

2 (02)

1011010011

1011010011

3 (03)

1011010110

1011010110

4 (04)

1011100010

1011100010

5 (05)

1011100101

1011100101

6 (06)

1011100111

1011100111

7 (07)

1011101010

1011101010

8 (08)

1011101101

1011101101

9 (09)

1011101111

1011101111

10 (0A)

1011111001

1011111001

11 (0B)

1011111110

1011111110

12 (0C)

1100010001

1100010001

13 (0D)

1100010011

1100010011

14 (0E)

1100010110

1100010110

15 (0F)

1100100010

1100100010

16 (10)

1100100101

1100100101

17 (11)

1100100111

1100100111

18 (12)

1100101010

1100101010

19 (13)

1100101101

1100101101

20 (14)

1100101111

1100101111

21 (15)

1100111001

1100111001

22 (16)

1100111011

1100111011

23 (17)

1100111110

1100111110

24 (18)

1101001001

1101001001

25 (19)

1101001011

1101001011

26 (1A)

1101001110

1101001110

27 (1B)

1101010010

1101010010

28 (1C)

1101010101

1101010101

29 (1D)

1101010111

1101010111

30 (1E)

1101011010

1101011010

31 (1F)

1101011101

1101011101

32 (20)

1101011111

1101011111

33 (21)

1101101001

1101101001

34 (22)

1101101011

1101101011


65

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

8

ビットパターン 10 ビットパターン

バイト(10 進数)バイト(16 進数) 表 1 パターン

表 2 パターン

35 (23)

1101101110

1101101110

36 (24)

1101110010

1101110010

37 (25)

1101110101

1101110101

38 (26)

1101110111

1101110111

39 (27)

1101111010

1101111010

40 (28)

1101111101

1101111101

41 (29)

1101111111

1101111111

42 (2A)

1110010001

1110010001

43 (2B)

1110010011

1110010011

44 (2C)

1110010110

1110010110

45 (2D)

1110100010

1110100010

46 (2E)

1110100101

1110100101

47 (2F)

1110100111

1110100111

48 (30)

1110101010

1110101010

49 (31)

1110101101

1110101101

50 (32)

1110101111

1110101111

51 (33)

1110111001

1110111001

52 (34)

1110111011

1110111011

53 (35)

1110111110

1110111110

54 (36)

1111001001

1111001001

55 (37)

1111001011

1111001011

56 (38)

1111001110

1111001110

57 (39)

1111010010

1111010010

58 (3A)

1111010101

1111010101

59 (3B)

1111010111

1111010111

60 (3C)

1111011010

1111011010

61 (3D)

1111011101

1111011101

62 (3E)

1111011111

1111011111

63 (3F)

1111101001

1111101001

64 (40)

1111101011

1111101011

65 (41)

1111101110

1111101110

66 (42)

1111110010

1111110010

67 (43)

1111110101

1111110101

68 (44)

1111110111

1111110111

69 (45)

1111111010

1111111010

70 (46)

0110110010

1110011010

71 (47)

1010011001

1110110010

72 (48)

0010001001

0010001001

73 (49)

0010001011

0010001011

74 (4A)

0010001110

0010001110

75 (4B)

0010010010

0010010010

76 (4C)

0010010101

0010010101

77 (4D)

0010010111

0010010111

78 (4E)

0010011010

0010011010

79 (4F)

0010011101

0010011101

80 (50)

0010011111

0010011111

81 (51)

0010101001

0010101001

82 (52)

0010110010

0010110010


66

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

8

ビットパターン 10 ビットパターン

バイト(10 進数)バイト(16 進数) 表 1 パターン

表 2 パターン

83 (53)

0011010001

0011010001

84 (54)

0011010011

0011010011

85 (55)

0011100010

0011100010

86 (56)

0011100101

0011100101

87 (57)

0011100111

0011100111

88 (58)

0011111001

0011111001

89 (59)

0100010001

0100010001

90 (5A)

0100010011

0100010011

91 (5B)

0100010110

0100010110

92 (5C)

0100100010

0100100010

93 (5D)

0100100101

0100100101

94 (5E)

0100100111

0100100111

95 (5F)

0100101010

0100101010

96 (60)

0100101101

0100101101

97 (61)

0100101111

0100101111

98 (62)

0100111001

0100111001

99 (63)

0100111011

0100111011

100 (64)

0100111110

0100111110

101 (65)

0101001001

0101001001

102 (66)

0101001011

0101001011

103 (67)

0101001110

0101001110

104 (68)

0101010010

0101010010

105 (69)

0101101001

0101101001

106 (6A)

0101110010

0101110010

107 (6B)

0110010001

0110010001

108 (6C)

0110010011

0110010011

109 (6D)

0110010110

0110010110

110 (6E)

0110100010

0110100010

111 (6F)

0110100101

0110100101

112 (70)

0110100111

0110100111

113 (71)

0110111001

0110111001

114 (72)

0111001001

0111001001

115 (73)

0111001011

0111001011

116 (74)

0111001110

0111001110

117 (75)

0111010010

0111010010

118 (76)

0111101001

0111101001

119 (77)

0111110010

0111110010

120 (78)

1000100011

1000100011

121 (79)

1000100110

1000100110

122 (7A)

1001000101

1001000101

123 (7B)

1001000111

1001000111

124 (7C)

1001001010

1001001010

125 (7D)

1001001101

1001001101

126 (7E)

1001001111

1001001111

127 (7F)

1001011001

1001011001

128 (80)

1001011011

1001011011

129 (81)

1001011110

1001011110

130 (82)

1001110001

1001110001


67

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

8

ビットパターン 10 ビットパターン

バイト(10 進数)バイト(16 進数) 表 1 パターン

表 2 パターン

131 (83)

1001110011

1001110011

132 (84)

1001110110

1001110110

133 (85)

1010001001

1010001001

134 (86)

1010001011

1010001011

135 (87)

1010001110

1010001110

136 (88)

1010010010

1010010010

137 (89)

1010010101

1010010101

138 (8A)

1010010111

1010010111

139 (8B)

1010011010

1010011010

140 (8C)

1010011101

1010011101

141 (8D)

1010011111

1010011111

142 (8E)

1010101001

1010101001

143 (8F)

1010110010

1010110010

144 (90)

1101100101

1001001011

145 (91)

1101100111

1001001011

146 (92)

1101101010

1001001110

147 (93)

1101101101

1001010010

148 (94)

1101101111

1001010101

149 (95)

1101111001

1001010111

150 (96)

1101111011

1001011010

151 (97)

1101111110 1001011101

152 (98)

1110100011

1001011111

153 (99)

1110100110

1001101001

154 (9A)

1111000101 1001101011

155 (9B)

1111000111 1001101110

156 (9C)

1111001010 1001110010

157 (9D)

1111001101 1001110101

158 (9E)

1111001111 1001110111

159 (9F)

1111011001 1001111010

160 (A0)

1111011011 1001111101

161 (A1)

1111011110 1001111111

162 (A2)

1111110001 1010010011

163 (A3)

1111110011 1010010110

164 (A4)

1111110110 1010100101

165 (A5)

0010010001

1010100111

166 (A6)

0010010011

1010101010

167 (A7)

0010010110

1010101111

168 (A8)

0010100101

1010111001

169 (A9)

0010100111

1010111110

170 (AA)

0010101010

1011001001

171 (AB)

0010101101

1011001011

172 (AC)

0010101111

1011001110

173 (AD)

0010111001

1011010010

174 (AE)

0010111011

1011010111

175 (AF)

0010111110

1011011010

176 (B0)

0011001001

1011011101

177 (B1)

0011001011

1011011111

178 (B2)

0011001110

1011101001


68

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

8

ビットパターン 10 ビットパターン

バイト(10 進数)バイト(16 進数) 表 1 パターン

表 2 パターン

179 (B3)

0011010010

1011101011

180 (B4)

0011010101

1011101110

181 (B5)

0011010111

1011110010

182 (B6)

0011011010

1011110101

183 (B7)

0011011101

1011110111

184 (B8)

0011011111

1011111010

185 (B9)

0011101001

1011111101

186 (BA)

0011101011

1011111111

187 (BB)

0011101110

1100100011

188 (BC)

0011110010

1100100110

189 (BD)

0011110101

1101001010

190 (BE)

0011110111

1101001101

191 (BF)

0011111010

1101001111

192 (C0)

0011111101 1101011001

193 (C1)

0011111111 1101011011

194 (C2)

0100100011

1101011110

195 (C3)

0100100110

1101110011

196 (C4)

0101000101

1101110110

197 (C5)

0101000111

1110010010

198 (C6)

0101001010

1110010101

199 (C7)

0101001101

1110010111

200 (C8)

0101001111

1110011101

201 (C9)

0101011001

1110011111

202 (CA)

0101011011

1110101001

203 (CB)

0101011110

1110101011

204 (CC)

0101110001

1110101110

205 (CD)

0101110011

1110110101

206 (CE)

0101110110

1110110111

207 (CF)

0110010010

1110111010

208 (D0)

0110010101

1110111101

209 (D1)

0110010111

1110111111

210 (D2)

0110011101

1111010011

211 (D3)

0110011111

1111010110

212 (D4)

0110101001

1111100101

213 (D5)

0110101011

1111100111

214 (D6)

0110101110

1111101010

215 (D7)

0110110101

1111101101

216 (D8)

0110110111

1111101111

217 (D9)

0110111010

1111111001

218 (DA)

0110111101

1111111011

219 (DB)

0110111111 0010001010

220 (DC)

0111010001

0010001111

221 (DD)

0111010011

0010011011

222 (DE)

0111010110

0010011110

223 (DF)

0111100010

0010110011

224 (E0)

0111100101

0010110110

225 (E1)

0111100111

0011100011

226 (E2)

0111101010

0011100110


69

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

8

ビットパターン 10 ビットパターン

バイト(10 進数)バイト(16 進数) 表 1 パターン

表 2 パターン

227 (E3)

0111101101

0100101001

228 (E4)

0111101111

0100101011

229 (E5)

0111111001 0100101110

230 (E6)

0111111011 0100110101

231 (E7)

0111111110 0100110111

232 (E8)

1010001010

0100111010

233 (E9)

1010001111

0100111101

234 (EA)

1010011011

0100111111

235 (EB)

1010011110

0101010011

236 (EC)

1010110011

0101010110

237 (ED)

1010110110

0101100101

238 (EE)

1011100011

0101100111

239 (EF)

1011100110

0101101010

240 (F0)

1100010010

0101101101

241 (F1)

1100010101

0101101111

242 (F2)

1100010111

0101111001

243 (F3)

1100011101

0101111011

244 (F4)

1100011111

0101111110

245 (F5)

1100101001

0110100011

246 (F6)

1100101011

0110100110

247 (F7)

1100101110

0111001010

248 (F8)

1100110101

0111001101

249 (F9)

1100110111

0111001111

250 (FA)

1100111010

0111011001

251 (FB)

1100111101

0111011011

252 (FC)

1100111111 0111011110

253 (FD)

1101010001

0111110011

254 (FE)

1101010011

0111110110

255 (FF)

1101010110

1000111011


70

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 J(規定)乱数化

情報マトリクス行からのデータは,シフトレジスタにあるビットと排他的論理和演算をする(

附属書 J

図 1

参照)

。新しい行を処理する前に,シフトレジスタは,行 ID の 16 進数の 1 の補数に設定する。シフ

トレジスタは,行のバイトを連続して処理する。

b0

b1

b2

b3

b4

b5

b6

b7

+

+

+

lsb

msb

附属書   1  乱数化シフトレジスタ


71

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 K(規定)サーチフィールドの CRC の生成条件

サーチフィールド CRC の生成は,次の生成多項式による。

1

)

(

5

12

16

+

+

+

=

x

x

x

x

g

情報多項式は,GF (2)  とし,サーチフィールドバイトの全ビットから算出する。サーチフィールドの最

初のバイトは,最上位係数を形成し,最後のバイトは最下位係数を形成する。論理 CRC は,情報多項式に

x

32

を乗じて(乗算し)

,次に (x)  で除算して得られる剰余とする。各バイトにおいて,ビット 7 を最上位

係数とし,ビット 0 を最下位係数とする。情報多項式は,x

16

を乗じて(乗算し)

,次に g  (x)  で除算する。

剰余が 16 ビット CRC である。CRC レジスタは,各サーチフィールドごとに初期値 (FFFF) に設定する。


72

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 L(規定)サーチフィールド ECC

サーチフィールド ECC のチェックバイトは,リードソロモン符号とする。フィールドの生成多項式は,

次による。

1

)

(

2

3

4

8

f

+

+

+

+

=

x

x

x

x

x

g

ECC

の生成多項式は,次による。

=

=

7

0

i

i

x

x

g

)

(

)

(

sf

α

チェックバイトは,32 個のサーチフィールドバイト及び 2 個の CRC バイトから情報多項式を算出して

得る。サーチフィールドの第 1 バイトは,最上位係数とし,第 34 バイトは最下位係数とする。情報多項式

は,x

8

を乗じて(乗算し)

,次に

sf 

(x)

を除算して得る。剰余多項式をサーチフィールドのチェックバイ

トとする。剰余の最上位係数は,最下位チェックバイトとし,最下位係数は,最上位チェックバイトとす

る。


73

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 M(規定)ビットシフトの測定法

試験テープは,情報交換に使用する磁気テープ装置で記録する。

M.1

読取り装置

  測定は,本体

10. 

に規定する要求事項のもとで行う。読取りヘッドの出力電圧の絶対

値は,規定しない。ただし,読取りヘッド,回転トランス,前置増幅器,ヘッドとテープとの相対速度及

び等化器は,低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択する。

M.2

測定方法

  ビットシフトは,再生電圧波形をデジタル記録する計数信号処理を用いて等化器の出力

で測定する。信号取込みは,物理データブロックの最初のビットで始まり,物理データブロックのチャネ

ルビットを少なくとも 25 000 個読取った時点で終わる。

信号処理のアルゴリズムは,

次の段階で実行する。

a

)

物理データブロックからのデジタル波形をファーストフーリエ変換のようなタイミング抽出アルゴリ

ズムに入力する。タイミング抽出アルゴリズムは,このゾーンからのリードバック検査信号のビット

間隔の公称中心位置に対応する一連の一定間隔の基準タイムを生成する。これらの基準タイムは,

b)

d)

を実行したとき,

d)

に指定したビットエラー率を満足するように,十分に正確であることとす

る。

b

)

一連の基準タイムを,同一の周波数及び位相で残りの信号キャプチャ間隔に拡張する。これらの基準

タイムが,物理データブロックからのリードバックチャネルビット信号のビット間隔での公称中心位

置のタイミングを定義する。

c

)

物理データブロックから取り込んだビット間隔での公称中心位置で,再生電圧を 2 %よりも高い精度

で測定する。

d

)

物理データブロックから取り込んだ各ビット間隔について,ビットエラー率が 1/10 000 よりも小さい

検出方法を使用して,テープ上の対応するビットセルの状態を推測する。ヘッド走行方向に磁化され

ている各ビットセルに,+1 のデータ値 を割り当て,ヘッド走行と反対方向に磁化されている各ビ

ットセルに,–1 のデータ値 を割り当てる。

e

)

各ビットセルについて,4 要素のベクトルを作成し,各要素に 1, 2, 3, 4 と番号を付ける。第 3 要素の

D

3

の値は,現在のビットセルのデータ値 とし,第 4 要素の D

4

の値が,次のビットセルのデータ値

D

とする。第 1 要素及び第 2 要素の値 D

1

と D

2

は,それぞれ前の 2 個のビットセルのデータ値 とす

る。その結果,ベクトル値は 16 個のベクトル値の一つのベクトル値 i  をもつ。

f

) 16

個の各ベクトル値について,ベクトル値がそのベクトル値 をもつすべてのビットセルの

c)

で測

定した再生電圧の平均値 V

i

を計算する。

g

) 16

個の各ベクトル値ごとに,電圧平均値とデータ値からボルテラシリーズを作成する。各シリーズは,

次による。

V

i

 =

  A

0000

+

(d.c.  成分)

 +

A

0100

D

2

 +

A

0010

D

3

(信号成分)

 +

A

1000

D

1

 +

A

0001

D

4

(線形 ISI 成分)

 +

A

1100

D

1

D

2

 +

A

0110

D

2

D

3

 + A

0011

D

3

D

4

(非線形 ISI 成分)

 +

A

1010

D

1

D

3

 +

A

0101

D

2

D

4

 +

A

1001

D

1

D

4

(高次線形 ISI 成分の続き)

 +

A

1101

D

1

D

2

D

4

 +

A

1011

D

1

D

3

D

4

 +

A

1111

D

1

D

2

D

3

D

4

(高次線形 ISI 成分の続き)


74

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

 +

A

1110

D

1

D

2

D

3

 + A

0111

D

2

D

3

D

4

(ビットシフトに関係する非線形 ISI 成分)

h

)

g

)

で定義する 16 個の連立方程式を解くことによって,ボルテラ係数の

A

0000

A

1111

を算出する。

i

)

ビットシフトに対する非線形シンボル間 ISI 干渉を示すボルテラ係数は,

A

1110

及び A

0111

になる。

参考

この方法の論理的根拠は,次の文献に記述されている。

Newby, P. and Wood, R., 1986

“The Effects of Nonlinear Distortion on Class IV Partial Response”

IEEE Transactions on Magnetics

Volume MAG-22, Number 5, September 1986, Page 1203

この方法の適用は,次の文献に記述されている。

Williams, C.H., 1990

“The Measurement and Classification of Impairment for DVTR Transports”

8th    Conference on Video, Audio and Data Recording

IEEE Conference Publication No. 319, page 67


75

X 6149

:2003 (ISO/IEC 18836:2001)

附属書 N(参考)輸送条件

この

附属書

は,カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので,規定の一部ではない。

N.1

環境条件

  カートリッジの輸送時の環境条件は,次によることが望ましい。

  温度

:– 40∼45°C

  相対湿度 :5∼80 %

  湿球温度 :26 °C  以下

  カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

N.2

カートリッジの輸送条件

  カートリッジの輸送は,次による。

N.2.1

衝撃及び振動

  輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために,次のような対策を取ること

が望ましい。

−  カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。

−  カートリッジは,1 m を超える高さから落下させてはならない。

−  カートリッジは,十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。

−  カートリッジの収納箱は,内部が清浄で,かつ,じんあい

(塵埃)

,水などの侵入がない構造とする。

−  カートリッジの収納箱内での収納方法は,テープリールの中心軸が水平になるようにする。

−  カートリッジの収納箱は,正しい方向(天地)に置けるように明確な表示をする。

N.2.2

極端な温度及び湿度

  温度及び湿度の急激な変化は,どのような場合でも可能な限り回避する。輸

送されたカートリッジは,必ず使用環境条件に最低 24 時間放置する。

N.2.3

誘導磁界の影響

  カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は,外部磁界の影響による

信号破壊の危険性を最小限にするため,80 mm 以上とする。