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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) /財団法

人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標

準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登

録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS X 6147

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  光透過率の測定法

附属書 B(規定)  信号対雑音比の測定法

附属書 C(規定)  記録レベルの公称値及び最大値の決定法(記録条件)

附属書 D(規定)  16 ビットワードから 20 チャネルビットパターンへの変換

附属書 E(規定)  ビットシフトの測定法

附属書 F(規定)  トラックエッジの直線性の測定法

附属書 G(規定)  ECC の計算

附属書 H(参考)  輸送条件

附属書 J(参考)  記録時再生 (RAW)

附属書 K(参考)  記録グループ 0 の内容の例

附属書 L(参考)  チップの例


X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

(1) 

目次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  適合性

1

2.1

  カートリッジ

1

2.2

  書込み装置

1

2.3

  読取り装置

2

3.

  引用規格

2

4.

  定義

2

4.1

  絶対フレーム番号  [absolute frame number (AFN)]

2

4.2

  交流消  (a. c. erase)

2

4.3

  アクセス (access)

2

4.4

  アルゴリズム (algorithm)

2

4.5

  エリア ID (area ID)

2

4.6

  自動トラックファインディング  [automatic track finding (ATF)]

2

4.7

  平均信号振幅  (average signal amplitude)

2

4.8

  アジマス (azimuth)

2

4.9

  裏面 (back surface)

2

4.10

  バイト (byte)

2

4.11

  カートリッジ (cartridge)

3

4.12

  チャネルビット (channel bit)

3

4.13

  コードワード (code word)

3

4.14

  EWP (early warning point)

3

4.15

  EOD (end of data)

3

4.16

  エンティティ (entity)

3

4.17

  誤り訂正符号  [error correcting code (ECC)]

3

4.18

  磁束反転位置  (flux transition position)

3

4.19

  磁束反転間隔  (flux transition spacing)

3

4.20

  フレーム (frame)

3

4.21

  ハウスキーピングフレーム (housekeeping frame)

3

4.22

  LBOT (logical beginning of tape)

3

4.23

  磁気テープ (magnetic tape)

3

4.24

  信号振幅主基準テープ  (master standard amplitude calibration tape)

3

4.25

  主基準テープ  (master standard reference tape)

3

4.26

  MIC (memory in cartridge)

3

4.27

  パーティション境界 (partition boundary)

3


X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

目次

(2) 

ページ

4.28

  PBOT (physical beginning of tape)

3

4.29

  PEOT (physical end of tape)

3

4.30

  物理記録密度  (physical recording density)

3

4.31

  記録条件 (pre-recording condition)

3

4.32

  圧縮処理 (processing)

3

4.33

  圧縮データ (processed data)

3

4.34

  圧縮レコード (processed record)

3

4.35

  レコード (record)

3

4.36

  基準磁界 (reference field)

3

4.37

  信号振幅二次基準テープ  (secondary standard amplitude calibration tape)

4

4.38

  二次基準テープ  (secondary standard reference tape)

4

4.39

  セパレータマーク (separator mark)

4

4.40

  基準信号振幅  [standard reference amplitude    (SRA)]

4

4.41

  基準電流  (standard reference current)

4

4.42

  テープ基準縁  (tape reference edge)

4

4.43

  試験記録電流  (test recording current)

4

4.44

  トラック (track)

4

4.45

  ティピカル磁界 (typical field)

4

4.46

  未圧縮データ (unprocessed data)

4

4.47

  未圧縮レコード (unprocessed record)

4

5.

  表記法

4

5.1

  数字の表現

4

5.2

  名称

4

6.

  略号

4

7.

  環境条件及び安全性

5

7.1

  試験環境条件

5

7.2

  使用環境条件

5

7.3

  保存環境条件

5

7.4

  輸送

6

7.5

  安全性

6

7.6

  難燃性

6

8.

  ケースの寸法及び機械的特性

6

8.1

  概要

6

8.2

  全体の寸法

7

8.3

  保持領域

7

8.4

  カートリッジ挿入部

7

8.5

  窓

8

8.6

  ローディンググリップ

8

8.7

  ラベル領域

8


X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

目次

(3) 

ページ

8.8

  基準領域及び基準孔

8

8.9

  支持領域

9

8.10

  識別孔

10

8.11

  書込み禁止孔

10

8.12

  位置決め面

11

8.13

  リッド

11

8.14

  リールロック

12

8.15

  リール受け孔

13

8.16

  リールと駆動スピンドルとの接触領域

13

8.17

  光通過経路

14

8.18

  ケース内のテープの位置

14

8.19

  テープ走行領域

15

8.20

  テープ引出し開口部

15

8.21

  テープの引出し開口部のすきま

15

8.22

  MIC への要求事項

15

8.23

  識別用切込み

16

9.

  テープの機械的特性,物理的特性及び寸法

34

9.1

  材料

34

9.2

  テープの長さ

35

9.2.1

  磁気テープの長さ

35

9.2.2

  リーダテープ及びトレーラテープの長さ

35

9.2.3

  スプライシングテープの長さ

35

9.3

  テープの幅

35

9.3.1

  磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅

35

9.3.2

  スプライシングテープの幅及び位置

35

9.4

  連続性

35

9.5

  テープの厚さ

35

9.5.1

  磁気テープの厚さ

35

9.5.2

  リーダテープ及びトレーラテープの厚さ

35

9.5.3

  スプライシングテープの厚さ

35

9.6

  長手方向の湾曲

35

9.7

  カッピング

35

9.8

  塗布面の接着強度

36

9.9

  層間の粘着

36

9.10

  引張強度

36

9.10.1

  破断強度

36

9.10.2

  降伏強度

36

9.11

  残留伸び

37

9.12

  記録面の電気抵抗

37


X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

目次

(4) 

ページ

9.13

  テープの巻き方

37

9.14

  テープの光透過率

37

9.15

  識別ストライプ

37

10.

  磁気的特性

38

10.1

  ティピカル磁界

38

10.2

  平均信号振幅

38

10.3

  分解能

38

10.4

  重ね書き

38

10.5

  消去特性

39

10.6

  テープの品質

39

10.6.1

  ミッシングパルス

39

10.6.2

  ミッシングパルスゾーン

39

10.7

  信号対雑音比 (SNR) 特性

39

11.

  フォーマット

40

11.1

  一般事項

40

11.2

  基本グループ

40

11.2.1

  エンティティ

41

11.2.2

  グループ情報テーブル

42

11.2.3

  ブロックアクセステーブル

43

11.3

  サブグループ

45

11.3.1

  G1 サブグループ

45

11.3.2

  G2 サブグループ−ランダム化

46

11.3.3

  G3 サブグループ

47

11.4

  データブロック

47

11.4.1

  ID 情報

48

11.4.2

  データブロックヘッダへの ID 情報の記録

50

12.

  記録方式

57

12.1

  記録密度

57

12.2

  長周期平均ビットセル長

57

12.3

  短周期平均ビットセル長

57

12.4

  短周期平均ビットセル長の変動率

57

12.5

  ビットシフト

57

12.6

  情報交換時の再生信号振幅

57

12.7

  最大の記録レベル

57

13.

  トラック

57

13.1

  トラックの構成

57

13.2

  平均トラック間隔

58

13.3

  トラック間隔の変化

58

13.4

  トラック幅

58


X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

目次

(5) 

ページ

13.5

  トラック角

58

13.6

  トラックエッジの直線性

58

13.7

  トラック長

58

13.8

  アジマス角

58

14.

  記録パターン

59

14.1

  記録データブロック

59

14.2

  マージンブロック

59

15.

  トラックのフォーマット

59

15.1

  トラックの内容

59

15.2

  トラック位置精度

60

15.3

  トラッキング法

60

16.

  テープのレイアウト

61

16.1

  デバイス領域

62

16.2

  リファレンス領域

62

16.3

  ガードバンド 1

62

16.4

  システム領域

63

16.4.1

  システムプリアンブル

63

16.4.2

  システムログ

63

16.4.3

  システムポストアンブル

66

16.4.4

  ガードバンド 2

67

16.4.5

  ベンダグループプリアンブル

67

16.5

  データ領域

67

16.5.1

  ベンダグループ

67

16.5.2

  記録済みデータグループ

67

16.5.3

  ECC3

67

16.5.4

  多重記録インスタンス

68

16.5.5

  再記録フレーム

68

16.5.6

  追記録及び重ね書き

69

16.6

  EOD 領域

70

16.7

  オプションデバイス領域

71

16.8

  LEOT

71

16.9

  LBOT

71

16.10

  終端予告点

71

16.11

  空のパーティション

71

16.12

  初期化

72

17.

  ハウスキーピングフレーム

72

17.1

  アンブルフレーム

72

17.2

  システムアンブルフレーム

72

18.

  MIC の内容

72


X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

目次

(6) 

ページ

附属書 A(規定)  光透過率の測定法

74

附属書 B(規定)  信号対雑音比の測定法

76

附属書 C(規定)  記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法(記録前条件)

77

附属書 D(規定)  16 ビットワードから 20 チャネルビットパターンへの変換

78

附属書 E(規定)  ビットシフトの測定法

79

附属書 F(規定)  トラックエッジの直線性の測定法

81

附属書 G(規定)  ECC の計算

82

附属書 H(参考)  輸送条件

85

附属書 J(参考)  記録時再生 (RAW)

86

附属書 K(参考)  基本グループ 0 の内容の例

87

附属書 L(参考)  チップの例

88


日本工業規格

JIS

 X

6147

: 2001

 (

18810

: 2001

)

8mm

幅,ヘリカル走査記録,

情報交換用磁気テープ

カートリッジ,AIT-2・MIC 様式

Information technology

−8mm wide magnetic tape cartridge for information

interchange

−Helical scan recording AIT-2 with MIC format

序文  この規格は,2000 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 18810 : 2001  Information technology−8mm

wide magnetic tape cartridge for information interchange

−Helical scan recording AIT-2 with MIC format を翻訳し,

技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1.

適用範囲  この規格は,電子計算機,関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い

る 8mm 幅,ヘリカル走査記録,AIT-2・MIC (Advanced Intelligent Tape No.2 Memory In Cartridge)  様式,磁気

テープカートリッジ,メモリチップ内蔵(以下,カートリッジという。

)の構造,寸法,物理的特性,機械

的特性,磁気的特性及び情報の規格様式について規定する。

この規格は,ケースに内蔵する磁気テープの厚さが異なる 2 種類のカートリッジを規定する。

この規格は,情報交換当事者間で合意した情報交換符号並びにラベル及びファイル構成の規格を用いる

ことでシステム相互の情報交換に適用する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

ISO/IEC 18810 : 2001

  Information technology−8mm wide magnetic tape cartridge for information

interchanger

−Helical scan recording AIT-2 with MIC format (IDT)

2.

適合性

2.1

カートリッジ  カートリッジは,この規格のすべてを満足するとき,この規格に適合する。

2.2

書込み装置  情報交換用カートリッジに用いる書込み装置は,テープに記録するすべての記録がこ

の規格に適合するとき,この規格に適合する。書込み装置は,MIC にシステムログを記録できるものとす

る。

適合性を表示する場合,次の機能の有無を明示する。

−  記録時再生によるチェック及び不良フレームの再記録。

− ECC3(誤り訂正用 C3 符号)フレームの生成。

また,次の任意機能の有無を明示する。

−  登録した圧縮アルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。


2

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

−  圧縮アルゴリズムの登録番号。

2.3

読取り装置  情報交換用カートリッジに用いる読取り装置は,この規格に適合するテープ上の記録

を処理でき,次の機能をもつとき,この規格に適合する。

− MIC に記録したシステムログを読み取る。

−  再記録フレームを識別し,これらのフレームの一つだけから利用者データ及びセパレータマークを取

り出す。

−  同一の基本グループが複数現れてもそれを識別し,これらの中の一つだけから利用者データ及びセパ

レータマークを取り出しホストに伝える。

− ECC3 フレームの識別。ただし,ECC3 機能がない場合,無視する。

−  定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し,ホストが利用できる登録番号を取り出す。

−  ホストが利用できる圧縮データの生成。

次の任意機能の有無を明示する。

− ECC3 を使用した誤り訂正の可否。

−  圧縮データ復元用アルゴリズムの有無及びそのアルゴリズムを圧縮データに適用する機能の有無。

−  その装置がもつ圧縮データ復元アルゴリズムに対応する圧縮アルゴリズムの登録番号。

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発効年(又は発行年)を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの

規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年(又は発行年)を付

記していない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS K 7161 : 1994

  プラスチック−引張特性の試験方法  第 1 部:通則

備考  ISO 527-1 : 1993, Plastics−Determination of tensile properties−Part 1 : General principles が,この

日本工業規格と一致している。

ISO 1302 : 1992

  Technical Drawings−Method of indicating surface texture

ISO/IEC 11576 : 1994

  Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless

compression of data

IEC 60950 : 1996

  Safety of information technology equipment

4.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

4.1

絶対フレーム番号  [absolute frame number (AFN)]    フレームに付けた連続番号。

4.2

交流消去  (a. c. erase)    減衰する交流磁界を用いた消去。

4.3

アクセス (access)   パーティションの記録又は再生。

4.4

アルゴリズム (algorithm)   論理的に表現したデータに変換する規則。

4.5

エリア ID (area ID)    磁気テープ領域及び記録したフレームタイプの識別子。

4.6

自動トラックファインディング  [automatic track finding (ATF)]    トラッキング方法。

4.7

平均信号振幅  (average signal amplitude)   規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ

ルスがない部分を長さ 20.0mm 以上にわたって測定した再生ヘッドの平均ピーク (P-P) 出力電圧。

4.8

アジマス (azimuth)   磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。

4.9

裏面 (back surface)   データの記録に使う磁性面の反対側のテープ面。

4.10

バイト  (byte)    一単位として取り扱うビット列。


3

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

4.11

カートリッジ (cartridge)   一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。

4.12

チャネルビット (channel bit)   変調後に 2 進数 0 及び 2 進数 1 を異なった残留磁化でテープに記録

するビット。

4.13

コードワード (code word)   データ圧縮アルゴリズムによって変換処理したワード。コードワード

のビット数は,可変であり,この規格では規定しない。

4.14  EWP (early warning point)

  パーティションの境界又は PEOT に近付いたことを示す箇所。

4.15  EOD (end of data)

  最後の利用者データを含むグループの終端。

4.16

エンティティ  (entity)    エンティティヘッダ及びレコードによって構成する記録データの集合。

4.17

誤り訂正符号  [error correcting code (ECC)]    誤りを自動訂正できるように設計した符号。

4.18

磁束反転位置 (flux transition position)   テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となるテープ上

の点。

4.19

磁束反転間隔  (flux transition spacing)    一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。

4.20

フレーム  (frame)    正のアジマスとこれに続く負のアジマスからなる一対のトラック。

4.21

ハウスキーピングフレーム (housekeeping frame)   利用者データを含まないフレーム。

4.22  LBOT (logical beginning of tape)

  テープ上でのデータの記録開始位置。

4.23

磁気テープ  (magnetic tape)    磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.24

信号振幅主基準テープ  (master standard amplitude calibration tape)   交流消去したテープ上に正アジ

マス及び負アジマス,11.0

µm のトラック間隔で基準信号を記録し,信号振幅の校正の基準として用いるテ

ープ。

参考1.  この主基準テープは,2 053.6ftpmm 及び4 107.1ftpmm の信号を記録している。

2.

この主基準テープは,ソニー株式会社によって管理されている。

4.25

主基準テープ  (master standard reference tape)    基準磁界,信号振幅,分解能,重ね書き及び信号対

雑音比の基準として用いるテープ。

参考  この主基準テープは,ソニー株式会社によって管理されている。

4.26  MIC (memory in cartridge)

  ケース内にあり,テープの記録に関する情報を保持する半導体メモリ。

4.27

パーティション境界  (partition boundary)   パーティションが終わり次のパーティションが始まる磁

気テープの長さ方向に沿った点。

4.28  PBOT (physical beginning of tape)

  テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合か所。

4.29  PEOT (physical end of tape)

  テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合か所。

4.30

物理記録密度  (physical recording density)   トラックの長さ 1mm 当たりに記録する磁束反転数

(ftpmm)

4.31

記録条件 (pre-recording condition)   互換性維持のために許容される記録レベル。

4.32

圧縮処理 (processing)   ホストからのデータを圧縮アルゴリズムによって,コードワードに変換す

る処理。

4.33

圧縮データ  (processed data)    圧縮処理したコードワードの列。

4.34

圧縮レコード  (processed record)    未圧縮レコードを圧縮処理することによって生成するレコード。

4.35

レコード (record)   情報の単位として扱うデータ。

4.36

基準磁界  (reference field)    主基準テープのティピカル磁界。


4

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

4.37

信号振幅二次基準テープ  (secondary standard amplitude calibration tape)    信号振幅主基準テープと同

じ種類の信号を記録し,そのテープの信号振幅と信号振幅主基準テープのそれとの偏差を明示したテープ。

供試テープの信号振幅と信号振幅主基準テープのそれとを比較するために用い,供試テープの実測値を補

正することによって,間接的に供試テープとの特性の比較を行うことを可能にするテープ。

参考  信号振幅二次基準テープは,〒141-0001  東京都品川区北品川 6-7-35  ソニー株式会社 RME カ

ンパニーデータメディアマーケティング部が部品番号 SSCT-AIT-2 で 2011 年まで供給する。

4.38

二次基準テープ  (secondary standard reference tape)    テープの基準磁界,信号振幅,分解能,重ね書

き及び信号対雑音比を主基準テープのそれと比較するために用い,その特性値と主基準テープの特性との

偏差を明示して,実測値の偏差を補正することによって,間接的に供試テープと主基準テープとの特性の

比較を行うことを可能にするテープ。

参考  二次基準テープは,〒141-0001  東京都品川区北品川 6-7-35  ソニー株式会社 RME カンパニー

データメディアマーケティング部が部品番号 SSRT-AIT-2 で 2011 年まで供給する。

4.39

セパレータマーク (separator mark)   データの区切りに使用する利用者データを含まないレコード。

4.40

基準信号振幅 [standard reference amplitude   (SRA)]    信号振幅主基準テープの正アジマストラッ

クに記録した標準信号の平均信号振幅。

4.41

基準電流  (standard reference current)    基準磁界を発生させる記録電流。

4.42

テープ基準縁  (tape reference edge)  BOT のテープ接合か所が左側になるようにテープの記録面から

見たときのテープの下端。

4.43

試験記録電流  (test recording current)  SRA を記録した電流で,基準電流の 1.5 倍の電流。

4.44

トラック (track)   磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.45

ティピカル磁界  (typical field)    記録密度 4 107.1ftpmm で記録して,再生したとき,その平均信号振

幅が最大値の 90%を示す最小の印加磁界。

4.46

未圧縮データ (unprocessed data)    圧縮処理をしていないデータの列。

4.47

未圧縮レコード (unprocessed record)   バイト単位で構成する未圧縮データのレコード。

5.

表記法

5.1

数字の表現  測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち,規定値が 1.26,

正の許容誤差が 0.01,負の許容誤差が 0.02 である場合,測定した値は,1.235 以上 1.275 未満を許容する。

ビットの設定は, “0” 又は “1” で表す。

ビットパターン及び 2 進数表現の数字は,“0”  又は “1” の列で表す。規定しないビットは,X を使用し

てもよい。

ビットパターン及び 2 進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,最下位ビットを右とする。

2

進数の負の表現は,2 の補数で表す。

各フィールド内では,データバイト 0 を最上位バイトとし,最初に記録する。各 8 ビットバイトでは,

最上位ビットを b8 とし,最下位ビットを b1 とする。

5.2

名称  名称は,この規格では規定しない。

6.

略号  略号は,次による。

AEWP

終端予告点後  (after early warning point)

AFN

絶対フレーム番号 (absolute frame number)


5

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ATF

自動トラックファインディング (automatic track finding)

BAT

ブロックアクセステーブル  (block access table)

ECC

誤り訂正符号  (error correcting code)

EOD

EOD (end of data)

EWP

終端予告点 (early warning point)

GIT

グループ情報テーブル  (group information table)

LBOT

LBOT (logical beginning of tape)

LEOT

LEOT (logical end of tape)

LSB

最下位バイト  (least significant byte)

LF-ID

論理フレーム識別子  (logical frame identifier)

MIC

メモリインカートリッジ  (memory in cartridge)

MSB

最上位バイト  (most significant byte)

MSRT

主基準テープ  (master standard reference tape)

PBOT

PBOT (physical beginning of tape)

PEOT

PEOT (physical end of tape)

RAW

記録時再生 (read-after-write)

SNR

信号対雑音比 (signal-to-noise ratio)

msb

最上位ビット  (most significant bit)

7.

環境条件及び安全性

7.1

試験環境条件  試験環境条件は,カートリッジ近傍の環境条件とし,規定がない限り次による。

温度                23±2℃

相対湿度            40∼60%

試験前放置時間      24 時間以上

7.2

使用環境条件  使用環境条件は,書込み装置又は読取り装置のスキャナ(ドラム)からテープ取出

し方向に 10mm 以内の大気中で測定し,次による。

温度          5∼45℃

相対湿度      20∼80%

湿球温度      26℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

使用環境条件は,装置使用に伴う温度上昇分も含む。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は,使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上,又は最大 24 時間,使用環境条件に放置してから使用する。

備考  急激な温度変化は,避ける。

7.3

保存環境条件  保存環境条件は,次による。

温度          5∼32℃

相対湿度      20∼60%

周辺磁界は,テープ上で 4 000A/m を超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は,結露しては

ならない。


6

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

7.4

輸送  カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は,附属書 によ

る。

7.5

安全性  カートリッジ及びその構成部品は,IEC 60950 の要求を満足しなければならない。

カートリッジ及びその構成部品は,適正使用時又はあらかじめ予想可能な誤使用時に,安全性,又は健

康上の危険が生じてはならない。

7.6

難燃性  カートリッジ及びその構成部品の材料は,マッチの炎などによって着火してもよいが,二

酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

8.

ケースの寸法及び機械的特性

8.1

概要  カートリッジ寸法の規定は,情報交換のための要求事項とする。具体図は次による。

図 1  リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

図 2  リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

図 3  基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z

図 4  リッドが閉じた状態の前面

図 5  リッドが閉じた状態の左側面

図 6  リッドが閉じた状態の上面

図 7  リッドが閉じた状態の右側面

図 8  リッドが閉じた状態の背面

図 9  底面,基準領域及び支持領域

図 10  リッドがない状態の底面

図 11  基準孔及び識別孔の詳細図

図 12  光通過孔,識別孔及び書込み禁止孔の断面図

図 13  リッドの詳細図

図 14  リッドロック解除機構の挿入経路

図 15  リッドロック解除機構

図 16  リールロック解除機構

図 17  リールロックの解除に必要な力の方向

図 18  リッドのロック解除に必要な力の方向

図 19  リッドを開けるために必要な力の方向

図 20  光通過経路及び光通過窓

図 21  内部のテープ通過経路及び光通過経路

図 22  リールの外観及び断面図

図 23  リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図

図 24  テープ引出し開口部

図 25  MIC 部背面のアクセス孔

図 26  MIC 部底面のアクセス孔

寸法は,三つの直交する基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z に基づく(

図 参照)。

基準面 X は,基準孔 A 及び基準孔 B の中心を通り,基準面 Z に垂直とする。

基準面 Y は,基準孔 A の中心を通り,基準面 X 及び基準面 Z に垂直とする。

基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C は,基準面 Z 内とする。


7

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

8.2

全体の寸法(図 及び図 6)  ケースの長さは,次による。

l

1

=62.5mm±0.3mm

ケースの幅は,次による。

l

2

=95.0mm±0.2mm

ケースの上面から基準面 Z までの長さは,次による。

l

3

=15.0mm±0.2mm

背面から基準面 X までの長さは,次による。

l

4

=47.35mm±0.15mm

右側面から基準面 Y までの長さは,次による。

l

5

=13.0mm±0.1mm

8.3

保持領域  カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は,図 の斜線の領域とする。

基準面 X から保持領域までの長さは,次による。

l

6

≦12.0mm

ケースの端からの幅は,次による。

l

7

≧3.0mm

8.4

カートリッジ挿入部  カートリッジ挿入部は,誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐた

めに,溝,切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。

溝は,リッドが閉じてロックした状態のとき,ロック解除を可能にするために,リッドロック解除ピン

の挿入領域を妨げないように設ける。溝の基準面 Y からの長さは,次による(

図 及び図 14 参照)。

l

8

=79.6mm±0.2mm

溝の端部の面取りは,次による。

l

9

=1.0mm±0.1mm

l

16

=1.5mm±0.1mm

溝の内部の面取りは,次による。

l

10

=0.7mm±0.1mm

l

17

=1.9mm±0.1mm

l

18

=3.65mm±0.10mm

溝の内部の幅は,次による。

l

11

≧1.0mm

リッドの厚さは,次による。

l

12

=1.2mm±0.1mm

リッドの面取りは,次による。

l

13

=0.8mm±0.1mm

l

14

=1.2mm±0.1mm

リッドのケースからの突出は,次による。

l

15

=0.5mm±0.1mm

ケースの左側面からリッドロックまでの長さは,次による。

l

19

=0.2mm±0.2mm

挿入領域の高さは,次による。

l

20

≧2.3mm


8

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

l

21

=2.5mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

切込みは,カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は,次による(

図 及び図 10 参照)。

l

22

≦7.5mm

l

23

=11.0mm±0.2mm

l

24

=1.5mm±0.1mm

切込みの深さは,次による。

l

25

=1.5mm±0.1mm

こう配面は,リッドの構造の一部とし,基準面 X からの長さは,次による(

図 13 参照)。

l

26

=7.7mm

mm

0

.

0

mm

5

.

2

+

こう配面の角度は,半径 r

3

と交差するところまでとし(8.13 参照)

,次による。

a

1

=17.5°±4.0°

8.5

窓(図 1)  窓は,リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合,カ

ートリッジの高さを超えてはならない。

8.6

ローディンググリップ(図 及び図 7)  ロディンググリップは,磁気テープ装置にカートリッジを

自動的に装着するために設ける。

ローディンググリップの中心線の基準面 X からの長さは,次による。

l

28

=39.35mm±0.20mm

ローディンググリップの基準面 Z 及びカートリッジ上面からの長さは,次による。

l

29

=1.5mm±0.1mm

ローディンググリップのくぼみの幅は,次による。

l

30

=5.0mm±0.3mm

ローディンググリップのくぼみの深さは,次による。

l

31

=2.0mm±0.2mm

ローディンググリップのくぼみの傾斜は,次による。

a

2

=90°±5°

8.7

ラベル領域(図 及び図 8)  ラベル領域は,カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ

ル領域の位置及び寸法は,カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。

上面のラベル領域は,l

6

及び l

7

で規定した保持領域の内側に入ってはならない。

背面のラベル領域の位置及び寸法は,次による。

l

32

≧0.5mm

l

33

≧1.5mm

l

34

≦65.0mm

l

171

≧l

164

ラベル領域のくぼみの深さは,0.3mm 以下とする。

8.8

基準領域及び基準孔(図 9,図 10 及び図 11)  環状の基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C は,

基準面 Z 上に設け,磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ

れの直径 d

1

は,6.0mm±0.1mm とし,それぞれの基準孔の中心と同心とする。

基準孔 A 及び基準孔 B の中心は,基準面 X 上とする。

円形の基準孔 A の中心は,基準面 X 及び基準面 Y の交線とする(

図 10 参照)。

基準孔 B の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 参照)。


9

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

l

35

=68.0mm±0.1mm

円形の基準孔 C の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 11 参照)。

l

36

=10.20mm±0.05mm

基準孔 D の中心から基準孔 C の中心までの長さは,次による(

図 参照)。

l

37

=89.4mm±0.2mm

基準孔 C 及び基準孔 D の中心から基準面 X までの長さは,次による(

図 10 参照)。

l

38

=36.35mm±0.08mm

基準領域のケースの厚さは,次による。

l

39

=1.2mm±0.1mm

基準孔 A 及び基準孔 C の深部の直径は,次による。

l

40

≧2.6mm

基準孔の深さは,次による。

l

42

≧4.0mm

基準孔 A 及び基準孔 C の開口部付近の直径は,次による。

l

44

≧3.00mm

mm

05

.

0

mm

00

.

0

+

基準孔 A 及び基準孔 C の直径が l

44

となる部分の深さは,次による。

l

41

≧1.5mm

基準孔 A 及び基準孔 C の開口部の面取りは,次による。

l

43

≦0.3mm

a

3

=45°±1°

基準孔 B 及び基準孔 D の深部の幅は,l

40

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の深さは,l

42

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の開口部付近の寸法は,次による。

l

45

=3.5mm±0.1mm

l

46

≧3.00mm

mm

05

.

0

mm

00

.

0

+

r

1

≧1.75mm

基準孔 B 及び基準孔 D の寸法が l

45

l

46

及び r

1

となる部分の深さは,l

41

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の開口部の面取りは,l

43

及び a

3

とする。

8.9

支持領域(図 9)  カートリッジ支持領域は,図 の網掛け部分とする。支持領域 A,支持領域 B

及び支持領域 C は,それぞれ,基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C から±0.1mm 以内で同一の平面

上とする。支持領域 D は,基準面 Z から±0.15mm 以内で同一の平面上とする。

カートリッジの端から l

49

の長さの領域は,支持領域から除かなければならない。

l

49

=0.5mm±0.1mm

基準面 X から支持領域 A 及び支持領域 B のケース前面側の端までの長さは,次による。

l

47

=10.0mm±0.1mm

基準孔 A 及び基準孔 B の中心から,それぞれ支持領域 A 及び支持領域 B のケース側面側の端までの長

さは,l

47

とする。

基準孔 A 及び基準孔 B の中心から,それぞれ支持領域 A 及び支持領域 B のケース内側の端までの長さ

は,次による。

l

48

=11.0mm±0.1mm


10

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

基準面 X から支持領域 A 及び支持領域 B のケース背面側の端までの長さは,次による。

l

50

=7.0mm±0.1mm

基準面 X から支持領域 C 及び支持領域 D までの長さは,次による。

l

51

=30.0mm±0.1mm

支持領域 C 及び支持領域 D の寸法は,l

47

及び次による。

l

52

=5.5mm±0.1mm

l

53

=64.5mm±0.2mm

8.10

識別孔(図 10,図 11 及び図 12)  識別孔は,図 11 に示す 1 及び 2 の番号を付けた 2 個を設ける。

識別孔 1 の中心の位置は,次による。

l

55

=39.65mm±0.15mm

l

56

=2.5mm±0.1mm

識別孔 1 は,円形とし,その直径は,3.0mm±0.1mm とする。

識別孔 2 は方形とし,その位置及び寸法は次による。

l

58

=74.3mm±0.1mm

l

142

=77.3mm±0.1mm

l

143

=41.15mm±0.10mm

l

144

=44.45mm±0.10mm

閉じた識別孔の基準面 Z からの深さは,次による。

l

59

=1.2mm

mm

3

.

0

mm

1

.

0

+

開いた識別孔の基準面 Z からの深さは,次による。

l

60

≧5.0mm

図 12 の E-は,識別孔をプラグで閉じた状態を示す。このプラグは,最大 0.5N の力を加えても打ち抜

かれてはならない。

識別孔の開閉状態は,次による。

識別孔 1 は,閉じる。

識別孔 2 は,開く。

8.11

書込み禁止孔(図 11 及び図 12)  書込み禁止孔は,方形とし,その位置及び寸法は,次による。

l

172

=5.40mm

mm

05

.

0

mm

10

.

0

+

l

173

=9.1mm±0.1mm

l

174

=1.4mm±0.1mm

l

175

=8.2mm±0.1mm

r

9

=1.6mm

mm

15

.

0

mm

10

.

0

+

平面 Z からの書込み禁止孔の位置は,次による。

l

180

≧3.0mm

書込みは,平面 Z からの書込み禁止孔可動部の位置によって,可能又は禁止とする。

書込み可能の場合は,次による。

l

181

=0.00mm

mm

00

.

0

mm

25

.

0

+

書込み禁止の場合は,次による。

l

182

≧3.0mm

可動部の位置及び寸法は,次による。


11

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

l

176

=5.45mm

mm

10

.

0

mm

15

.

0

+

l

177

=9.05mm±0.15mm

l

178

=1.57mm±0.15mm

l

179

=5.23mm

mm

10

.

0

mm

15

.

0

+

書込み禁止孔は,可動の機構としてもよいが,書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければならない

図 参照)。書込み禁止孔を閉じたとき,0.5N の力を加えても開いてはならない。書込み禁止孔の開閉

に要する力は,1N∼29N とする。

8.12

位置決め面(図 及び図 10)  位置決め面は,カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき,カ

ートリッジの位置決めに用い,その寸法は,次による。

基準面 Z からの長さは,次による。

l

62

=2.4mm

mm

0

.

0

mm

1

.

0

+

基準面 Y からの長さは,次による。

l

63

=1.0mm±0.1mm

l

64

=69.0mm±0.2mm

基準面 X からの長さは,次による。

l

65

=14.65mm±0.10mm

位置決め面の面取りは,次による。

a

4

=45°±1°

8.13

リッド(図 6,図 13 及び図 15)  リッドは,カートリッジの取扱い中,保管中及び運搬中にテープ

を保護するために設け,主リッド及び副リッドからなる。

主リッドは,ケースに取り付けた軸 A を軸として回転する(

図 13 参照)。

軸 A の位置は,次による。

l

27

=0.55mm±0.10mm

l

67

=7.5mm±0.1mm

副リッドは,主リッドに取り付け,主リッドとともに動く軸 B を軸として回転する。リッドが閉じた状

態では,軸 B の位置は,次による。

l

68

=7.0mm±0.1mm

l

69

=10.1mm±0.1mm

副リッドの回転は,両側のカムによって,

図 13 に示す経路で制御する。

完全に開いた副リッドの平面 Z からの開口部の高さは,次による。

l

70

≧14.8mm

ケースは,リッドと副リッドの間に適当なすきまがあるものとし,次による。

l

71

=11.5mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

72

=1.2mm±0.1mm

リッドは,完全に開いた状態では,主リッド及び副リッドともに基準面 Z に平行で l

73

離れた平面を超え

てはならない。

l

73

≦22.3mm

完全に開いたリッドの底面が基準面 Z に対する角度は,次による。

a

5

=85°

°

+

°

1

2

リッドは,途中まで開いた状態では,主リッド及び副リッドともに基準面 Z に平行で l

74

離れた平面を超


12

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

えてはならない。

l

74

≦22.5mm

リッドが開くときのリッドの頂点の通過経路は,次による。

r

2

≦14.9mm

ケースと主リッドの継ぎ目は,次による(

図 参照)。

l

75

≦8.4mm

主リッドの基準面 Z からの高さは,次による(

図 13 参照)。

l

76

≦15.2mm

mm

0

.

0

mm

5

.

0

+

主リッドの前面の基準面 X からの長さは,次による。

l

77

≦15.3mm

mm

0

.

0

mm

3

.

0

+

リッドの内側のすきまは,次による。

l

78

=13.15mm±0.10mm

リッド前面の曲面の中心は,軸 A とし,半径は,次による。

r

3

≦14.7mm

リッドロック機構は,装置の解除ピンによって解除する。リッドが閉じロックした位置のとき,リッド

ロックの解除動作は,

図 15 の斜線部に遮られてはならない。図 15 の斜線部は,次による。

l

79

=2.0mm±0.1mm

l

145

=6.3mm±0.2mm

l

146

=1.2mm±0.1mm

a

15

=45°±1°

a

16

=15°±1°

解除ピンは,

図 15 の網掛け領域にあるとき,リッドロック機構を解除する。図 15 の網掛け領域は,l

79

及び次による。

l

80

=8.2mm±0.2mm

l

81

=0.7mm±0.2mm

a

6

=15°±1°

リッドロックの解除に要する力は,

図 18 に示す方向に 0.25N 以下とする。

リッドを開く力は,

図 19 に示す方向に 1.0N 以下とする。

8.14

リールロック(図 10 及び図 16)  リールは,カートリッジを磁気テープ装置から取り出したとき,

ロックしなければならない。ロック機構は,装置の解除ピンによって解除する。

ロック機構は,

図 10 に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面 Y からの長さは,

次による。

l

82

=4.5mm±0.1mm

方形孔の基準面 X からの寸法は,次による(

図 10 参照)。

l

83

=35.85mm±0.15mm

l

84

=4.0mm±0.1mm

l

85

≧6.5mm

ロック機構の寸法は,次による。

l

86

=3.2mm

mm

3

.

0

mm

2

.

0

+

l

87

=4.0mm±0.1mm


13

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

a

7

=60.0°±1.0°

解除ピンの動作面が基準面 X から l

88

に位置するとき,リールはロックする。

l

88

=39.0mm

mm

0

.

2

mm

0

.

0

+

解除ピンの動作面が基準面 X から l

89

に位置するとき,リールはロックしてはならない。

l

89

=41.75mm

mm

50

.

0

mm

00

.

0

+

カートリッジの背面板の内側とロック機構の間に l

90

のすきまを設ける。

l

90

≧0.5mm

解除ピンをカートリッジに挿入する深さは,次による。

l

91

≦7.8mm

ロック機構のすきまは,次による。

l

92

=4.0mm±0.1mm

r

4

≦0.3mm

リールロックの解除に要する力は,

図 17 に示す方向に 1.0N 以下とする。

8.15

リール受け孔(図 10)  二つのリール受け孔は,駆動スピンドルを通すために設ける。

リール受け孔の位置は,次による。

l

93

=23.00mm±0.05mm

l

94

=11.40mm±0.05mm

l

95

=46.2mm±0.1mm

リール受け孔の直径は,次による。

d

2

=18.80mm±0.05mm

8.16

リールと駆動スピンドルとの接触領域  リールと駆動スピンドルの接触領域は,次による(図 22 

図 23)。

l

102

=5.4mm±0.1mm

l

103

=4.4mm±0.1mm

l

104

≦0.6mm

d

4

=10.00mm

mm

08

.

0

mm

00

.

0

+

d

5

≦16.0mm

d

6

=18.0mm

mm

0

.

0

mm

1

.

0

+

d

7

=16.0mm

mm

0

.

0

mm

1

.

0

+

リール駆動孔の面取りは,次による。

l

105

=2.4mm±0.1mm

a

9

=15°±1°

リール底面の外側エッジの面取りは,次による。

l

106

≦0.2mm

a

8

=45°±1°

リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は,次による。

l

107

≦2.4mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

a

10

=60°±1°

リール駆動孔の歯の半径は,次による。

r

5

≦0.2mm


14

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

リール駆動孔の深さ l

108

は,直径 d

3

の部分までとし,次による。

l

108

≧9.4mm

d

3

≧6.50mm

mm

08

.

0

mm

00

.

0

+

基準面 Z からのテープ中心線の位置は,磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき,次による。

l

109

=7.05mm±0.10mm

基準面 Z からのリールの位置は,磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき,次による。

l

110

=0.6mm±0.2mm

リールを挿入したとき,リールと駆動スピンドルとのかみ合いは,次による。

l

111

≦7.5mm

l

112

≦8.0mm

a

11

=60°±1°

リールのばね力 は,磁気テープ装置にカートリッジを装着し,支持部が基準面 Z から l

110

の位置にあ

るとき,

図 23 に示す方向に 0.6N±0.2N とする。

8.17

光通過経路(図 10,図 12,図 20 及び図 21)  光通過経路は,リーダテープ及びトレーラテープを

検出するために設ける。リッドが開いたとき,光通過経路は,直径 d

10

の光通過孔から一辺が l

118

の正方形

の窓,及びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない(

図 12 の D-参照)。

光通過孔の中心の位置は,l

82

及び次による。

l

115

=8.35mm±0.10mm

光通過孔の直径は,次による。

d

10

≧6.5mm

mm

3

.

0

mm

0

.

0

+

光通過孔の開口部の面取りは,次による。

l

116

≦0.5mm

a

12

=45°±1°

光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は,次による。

l

117

=6.05mm±0.10mm

l

118

=2.5mm

mm

4

.

0

mm

0

.

0

+

光通過孔は,発光素子を挿入するため,次の深さとする。

l

119

≧12.5mm

光通過経路の角度は,次による。

a

13

=5.50°±0.25°

リッドの光通過窓の位置及び寸法は,次による。

l

120

=3.8mm±0.1mm

l

121

=2.5mm

mm

4

.

0

mm

0

.

0

+

l

122

=6.05mm±0.10mm

8.18

ケース内のテープの位置(図 21)  テープは,基準面 X に平行な二つのガイド面を通る。基準面 X

からガイド面までの長さは,次による。

l

123

=13.15mm±0.10mm

ガイド面は,r

6

の半径をもち,

図 21 に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな

ければならない。

r

6

=3.0mm±0.1mm


15

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

これらの点の位置及び寸法は,次による。

l

124

=76.28mm±0.30mm

l

125

=27.15mm±0.20mm

l

126

=31.15mm±0.20mm

l

127

=9.67mm±0.10mm

8.19

テープ走行領域(図 21)  カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると,テープは,テープガイド

によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは,ガイド面に接触してはならない。テー

プ走行領域は,テープが自由に走行できることとし,その位置及び寸法は,l

124

から l

127

及び次による。

l

128

=23.0mm±0.1mm

l

130

=46.2mm±0.2mm

l

131

=11.4mm±0.1mm

テープとガイドのすきまは,次による。

l

129

≧0.3mm

l

132

≧0.3mm

8.20

テープ引出し開口部(図 10)  磁気テープ装置にカートリッジを装着すると,磁気テープ装置のテ

ープガイドは,カートリッジからテープを引き出す。二つの半径 r

7

の中心は,基準孔 A 及び基準孔 B の

中心とする。テープ引出し開口部の形状及び寸法は,l

63

l

64

及び次による。

r

7

=2.3mm±0.1mm

二つの半径 r

8

の中心は,二つのリール受け孔の中心とする。

r

8

=24.15mm±0.10mm

l

133

=3.85mm±0.10mm

8.21

テープの引出し開口部のすきま(図 24)  ケースは,テープ引出し機構のためのすきまを設け,そ

の形状と寸法は,次による。

l

134

≦1.2mm

l

135

=1.15mm

mm

20

.

0

mm

00

.

0

+

l

136

=14.0mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

137

≧66.8mm

l

138

≧10.0mm

l

139

≧66.8mm

l

140

≦1.2mm

a

14

≦49°

l

141

≧14.8mm

l

159

≧13.0mm

l

170

≦4.0mm

8.22  MIC

への要求事項(図 25 及び図 26)  MIC は,ケース中の IC 素子とし(附属書 参照),5 か所

のアクセス孔によってアクセスする。

MIC

は,ケースに組み込み,装置にケースを装着するとき,MIC と装置が 5 か所のアクセス孔を通して

1.70mm

以上接触する。インタフェースは,I

2

C

TM

とする。アクセス孔の位置及び寸法は,次による。

アクセス孔 GND は,次による。

l

165

=67.2mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+


16

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

l

166

=69.0mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

アクセス孔 SCL は,次による。

l

167

=70.0mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

168

=71.8mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

アクセス孔 ID は,次による。

l

169

=72.8mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

147

=74.6mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

アクセス孔 SDA は,次による。

l

148

=75.6mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

149

=77.4mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

アクセス孔 Vcc は,次による。

l

150

=78.4mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

151

=80.2mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

5

か所のアクセス孔は,次による。

l

152

=5.1mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

153

=1.4mm

mm

3

.

0

mm

1

.

0

+

MIC

アクセス孔の面取りは,次による。

l

154

=0.4mm±0.1mm

a

17

=45°±1°

カートリッジを磁気テープ装置に装着するとき,カートリッジを識別するため,装置のピンが識別孔 3

を貫く。このため,

図 26 の N-の網掛け領域に障害物があってはならない。図 26 の網掛け領域は,l

143

l

144

及び次による。

l

157

≧5.0mm

l

158

≦1.5mm

l

160

≧45.4mm

8.23

識別用切込み(図 及び図 10)  識別用切込みは,ケースの背面に 2 個設け,ライブラリシステム

でカートリッジの識別に用いる。その寸法は,次による。

l

161

=8.4mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

162

=6.0mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

163

=2.0mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

164

=2.0mm

mm

2

.

0

mm

1

.

0

+


17

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 1  リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

図 2  リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観


18

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 3  基準面 X,基準面 及び基準面 

図 4  リッドが閉じた状態の前面


19

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 5  リッドが閉じた 

状態の左側面

図 6  リッドが閉じた状態の上面

図 7  リッドが閉じた 

状態の右側面

図 8  リッドが閉じた状態の背面


20

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 9  底面,基準領域及び支持領域


21

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 10  リッドがない状態の底面


22

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 11  基準孔及び識別孔の詳細図


23

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 12  光通過孔,識別孔及び禁止孔の断面図


24

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 13  リッドの詳細図


25

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 14  リッドロックの解除機構の挿入経路


26

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 15  リッドロック解除機構


27

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 16  リーリロック解除機構 

図 17  リールロックの解除に必要な力の方向


28

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 18  リードのロック解除に必要な力の方向

図 19  リッドを開けるために必要な力の方向 

図 20  光通過経路及び光通過窓


29

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 21  内部のテープ通過経路及び光通過経路


30

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 22  リールの外観及び断面図


31

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 23  リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図


32

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 24  テープ引出し開口部


33

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 25  MIC 部の背面の詳細図


34

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 26  MIC 部底面の詳細図

9.

テープの機械的特性,物理的特性及び寸法

この規格は,テープの厚さが異なる 2 種類のカートリッジを規定する。

タイプ A:公称厚さ 7.0

µm

タイプ B:公称厚さ 5.2

µm

9.1

材料  磁気テープは,ベース(又はこれと同等品)上の片面に強固で柔軟性のあるメタル蒸着層(又

はこれと同等品)をもつとする。磁気テープの裏面は,塗布してもよい。テープベース材は,次による。

タイプ A:配向したポリエチレンテレフタレートフィルム又はこれと同等品

タイプ B:ポリアミドフィルム又はこれと同等品

テープの始端には,巻取りリールのハブと PBOT の間にリーダテープを設け,テープの終端には,供給

リールのハブと PEOT の間にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテープは,ポリエチレ

ンテレフタレート(又はこれと同等品)の半透明な材料とする。

リーダテープ及びトレーラテープは,それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。

スプライシングテープは,ポリエチレンテレフタレート(又はこれと同等品)とし,片面にはアクリル系


35

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

接着剤(又はこれと同等品)を塗布する。

9.2

テープの長さ

9.2.1

磁気テープの長さ  磁気テープの長さは,PBOT と PEOT との間で測定し,次による。

タイプ A:5.0m∼170.0m

タイプ B:5.0m∼230.0m

9.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さ  リーダテープ及びトレーラテープの長さは,70mm∼

90mm

とする。リーダテープ及びトレーラテープと磁気テープとの接合は,テープ基準縁の垂直方向に 1°

以内とする。

9.2.3

スプライシングテープの長さ  スプライシングテープの長さは,13mm 以内とし,リーダテープ及

びトレーラテープ上で 6.5mm±1.5mm とする。

9.3

テープの幅

9.3.1

磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅  磁気テープの幅は,8.00mm±0.01mm とする。

幅の最大値と最小値の差は,6

µm を超えてはならない。

リーダテープ及びトレーラテープの幅は,8.00mm±0.02mm とする。

磁気テープの幅の測定方法は,次による。

a)

顕微鏡用のスライドガラスを試験テープにかぶせる。

b)

張力をかけないでテープ幅を測定する。測定には,2.5

µm 以上の高精度の顕微鏡,投影機又はこれと

同等の装置を使用する。

c)

長さ 1m 以上のテープにわたり,異なる 5 か所以上の位置で測定を繰り返す。

テープの幅は,測定した値の平均とする。

9.3.2

スプライシングテープの幅及び位置  スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが

リーダテープ,トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は,次による。

スプライシングテープの下端は,その他のテープの下端から 0.6mm 以下とし,スプライシングテープの

上端は,その他のテープの上端から 0.60mm 以内とする。スプライシングテープの端が,リーダテープ,

トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。

9.4

連続性  テープは,PBOT と PEOT との間に継目や孔のような不連続があってはならない。

9.5

テープの厚さ

9.5.1

磁気テープの厚さ  磁気テープの厚さは,次による。

タイプ A:6.5

µm∼7.3µm

タイプ B:5.0

µm∼5.5µm

9.5.2

リーダテープ及びトレーラテープの厚さ  リーダテープ及びトレーラテープの厚さは,9

µm∼

17

µm とする。

9.5.3

スプライシングテープの厚さ  スプライシングテープの厚さは,27

µm 以下とする。

9.6

長手方向の湾曲  長手方向の湾曲は,曲率半径 33m 以上とする。試験方法は,次による。

長さ 1.0m のテープを平面上に自然の状態で置く。1.0m の弦からの偏差を測定する。偏差は,3.8mm 以

下とする。この偏差は,33m の曲率半径と一致する。

9.7

カッピング  カッピングは,平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし,0.7mm 以下とする。試

験方法は,次による。

a)

テープを長さ 150mm±10mm に切り取る。

b)

磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして 3 時間以上放置する。


36

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

c)

2

個の円筒型ガイドの中心を 35mm 離して水平に置き,その上にテープを置く。

d)

テープの両端に 0.3g の重りをつける。

e)

テープの上端と下端で決まる面とテープ表面との距離の最大値を測定する。

9.8

塗布面の接着強度  接着強度は,塗布面をテープのベース材料からはがす力とし,0.1N 以上とする。

試験方法は,次による(

図 27 参照)。

a)

長さ約 380mm のテープの試験片を採り,一方の端から 125mm の位置でテープ幅方向にけがき線をベ

ース面に達するまで引く。

b)

図 27 に示すように,塗布面を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属

の板にはり付ける。

c)

試験片を 180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて 254mm/分で引っ

張る。

d)

塗布面のいかなる部分でも最初にベース材料から塗布面がはがれたときの力を記録する。この力が

0.1N

に達する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は,別の種類の両面接着テープを使用す

る。

テープの裏面に塗布されている場合は,a)d)に準じて,裏面の試験を行う。

図 27  塗布面の接着強度の試験法

9.9

層間の粘着  層間の粘着は,次の試験方法によって試験したとき,試験片に粘着及び塗布面のはが

れの兆候があってはならない。試験方法は,次による。

a)

直径 36mm のガラス管の表面に,長さ 1m の試験片の端を付ける。

b) 1.1N

の張力でガラス管にテープを巻く。

c)

巻かれた試験片を温度 45℃±3℃,相対湿度 80%の環境に 4 時間放置する。

d)

さらに,試験環境条件に 24 時間放置する。

e)

試験片の自由端に 0.1N の力を加え,ゆっくりほどく。

9.10

引張強度  引張強度は,JIS K 7161 の試験方法による。

テープの試験片の長さは,200mm とする。リーダテープ及びトレーラテープの試験片の長さは,50mm

とする。引張速度は,100mm/分とする。

9.10.1

破断強度  破断強度は,テープが破断するのに要する力とし,6N 以上とする。

試験方法は,次による。

テープの試験片を破断点に達するまで引っ張る。破断点へ達する力を破断強度とする。

9.10.2

降伏強度  降伏強度は,テープが 5%伸びるのに要する力とし,3N 以上とする。


37

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

9.11

残留伸び  残留伸びは,元のテープ長の 0.04%未満とする。試験方法は,次による。

a) 0.20N

以下の張力で,約 1m 長の試験片の初期の長さを測定する。

b)

さらに全断面に 20.5N/mm

2

の力を 10 分間加える。

c)

加えた力を取り除き,10 分後にテープ長を測定する。

9.12

記録面の電気抵抗  記録面の電気抵抗は,10

3

Ω以下とする。

試験方法は,次による(

図 28 参照)。

a)

テープ試験片を試験環境条件に 24 時間放置する。

b) 24

カラットの金めっきした半径 r=10mm で粗さを N4(ISO 1302 参照)で仕上げてある二つの半円の

電極に,記録面が接するように置く。これらの電極は,水平で,中心間の距離 d=8mm となるように

平行に置く。

c) 5N/mm

2

の張力を発生させるために必要な力 を試験片の両端に加える。

d)

電極に 7V±1V の直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。

この測定を一つのテープ試験片の 5 か所について行い,読み取った抵抗値を平均する。

試験片を電極に置くとき,電極間には,試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考  試験前に電極の表面を清掃する。

図 28  記録面の電気抵抗試験法

9.13

テープの巻き方  テープの巻き方は,テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。

9.14

テープの光透過率  磁気テープの光透過率は,5%以下とする。

リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は,60%以上とする。

光透過率の測定方法は,

附属書 による。

9.15

識別ストライプ  1 本の識別ストライプは,リーダテープ裏面の全幅にわたって印刷しなければなら

ない。

図 29 参照)。ストライプの長さは,次による。

l

180

=3.0mm±0.1mm

接合部に隣接するストライプ端の位置は,リーダテープと磁気テープの接合部からとし,次による。

l

181

=20.7mm±10.8mm

ストライプの光透過率は,

附属書 によって測定した場合,10%以下とする。


38

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 29  識別ストライプの位置

10.

磁気的特性  磁気的特性の試験は,次による。

この試験を行うとき,出力信号又は残留信号の測定は,主基準テープ,供試テープともに同じ装置の同

じ走行系を使用し,記録時再生によって行う。

規定がない限り,磁気的特性の試験条件は,次による。

テープの状態:記録密度 4 107.1ftpmm の平均信号振幅の 0.1%未満に交流消去

スキャナの直径        :40.00mm

mm

01

.

0

mm

00

.

0

+

スキャナの回転速度    :6 400.0rpm±0.5rpm

テープ速度            :27.51mm/s±0.30mm/s

試験トラック          :正アジマス

再生ヘッドのギャップ長:0.18

µm±0.05µm

記録電流              :試験記録電流

記録トラック幅        :11

µm±1µm

テープ張力            :スキャナ(ドラム)入口で 0.050N±0.005N

記録ヘッドのギャップ長:0.18

µm±0.05µm

再生ヘッドのトラック幅:13

µm∼15µm

再生ヘッドの配置      :再生トラックの全幅が記録トラックの内側

再生出力              :基本周波数で測定

10.1

ティピカル磁界  ティピカル磁界は,基準磁界の 80%∼112%とする。

基準磁界の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.2

平均信号振幅  平均信号振幅は,記録密度 4 107.1ftpmm で記録したとき,主基準テープの平均信号

振幅の 90%∼140%とする。

平均信号振幅は,記録密度 2 053.6ftpmm で記録したとき,主基準テープの平均信号振幅の 90%∼130%

とする。

主基準テープの平均信号振幅の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.3

分解能  分解能は,記録密度 4 107.1ftpmm の平均信号振幅を 2 053.6ftpmm の平均信号振幅で除した

値とし,その値は,主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して 85%∼120%とする。

主基準テープの分解能の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.4

重ね書き  重ね書きは,低記録密度の信号を記録した後に,高記録密度の信号を重ね書きし,残留

する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。

主基準テープの重ね書きの特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

試験方法は,次による。


39

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

交流消去したテープを用い記録密度 821.4ftpmm の信号を記録し,平均信号振幅を測定する。記録密度 8

214.2ftpmm

の信号を重ね書きし,残留した記録密度 821.4ftpmm の信号の平均信号振幅を測定する。二次

基準テープについて繰返し測定する。

要求事項は,次による。

重ね書きは,次の比によって求めたとき,主基準テープの 120%未満とする。

の信号の平均信号振幅

記録密度

の信号の平均信号振幅

記録密度

重ね書き後に残留する

821.4ftpmm

821.4ftpmm

10.5

消去特性  消去特性は,次による。

試験記録電流で記録密度 821.4ftpmm の信号を記録した後,テープの長手方向に 320 000A/m の均一な磁

界中を通過したとき,残留信号の信号振幅は,標準信号振幅の 2%以下とする。

消去磁界は,ソレノイドの中央部の磁界のように,均一でなければならない。また,測定はバンドパス

フィルタを通し,少なくとも第 3 高調波まで行う。

10.6

テープの品質  テープの品質は,次による。

10.6.1

ミッシングパルス  ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損であり,再生信号の出力電圧の 0V

を基準としたピーク値 (0-P) が記録密度 2 053.6ftpmm の信号の平均信号振幅の 2 分の 1 の 40%以下とする。

10.6.2

ミッシングパルスゾーン  ミッシングパルスゾーンは,次による。

ミッシングパルスゾーンは,ミッシングパルスによって開始し,トラック方向に 1mm の長さに達した

とき終了する。ミッシングパルスが連続して 1mm を超えて発生したとき,次のミッシングパルスゾーン

とする。

一つのミッシングパルスゾーンは,次のトラックにまたがってはならない。

ミッシングパルスゾーンの発生頻度は,正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について 5×10

6

磁束反転当たり 1 個未満とする。

10.7

信号対雑音比 (SNR) 特性  信号対雑音比は,再生信号の平均信号振幅を雑音の平均信号振幅で除し,

デシベル (dB) で表す。

SNR

=20logS

tape

/N

tape

ここに, SNR:

信号対雑音比 (dB)

S

tape

再生信号の平均信号振幅

N

tape

雑音の平均信号振幅

要求事項は,次による。

試験テープの SNR は,

附属書 の測定法で測定したとき,主基準テープの SNR に比べて−2dB 以上よ

くなければならない。

主基準テープの SNR の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。


40

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

11.

フォーマット

11.1

一般事項  この規格によって規定するデータの最小集合をレコードと呼ぶ。レコードは,テープ装

置で処理し記録するためにホストから提供されるデータバイトを識別する最小単位である。また,レコー

ドは,テープ装置で再処理してホストに送るためのデータを識別する最小単位である。圧縮レコードと未

圧縮レコードの 2 種類のレコードがある。

記録したテープは,未圧縮レコード,圧縮レコード,又はこれらの両方を含むことができることとし,

セパレータマークを含んでもよい。圧縮レコード及び未圧縮レコードは,共にエンティティとしてテープ

に記録する。セパレータマークは,構造スキームでのデータの論理的な区分を示すためにホストが使用し

てもよい。

エンティティ及びセパレータマークは,グループにまとめる。各グループのインデックスによって,そ

のグループの内容を記述する。一連の転送過程中での処理,すなわち,ランダムマイジング,インタリー

ビング,ブロッキング,二つのリードソロモン誤り訂正符号の生成と記録,及びバイトからチャネルビッ

トへの変換は,テープに記録する前に各グループに適用する。3 番目のリードソロモン誤り訂正符号をグ

ループに適用してもよい。その場合,生成するバイトを変換して,テープ上のグループの後に続くフレー

ム内に記録する。

各グループは,トラックのグループ上に記録する。各トラック上の利用者データ,セパレータマーク,

及び関連情報を記録する部分は,トラックのメインデータゾーンと呼ぶ。グループの内容,トラックの位

置,及びトラックの内容についての追加情報は,メインデータゾーンの ID 領域内にある記録データブロ

ックのヘッダに記録する。

ホストコンピュータから受け取ったデータに対するすべての処理は,誤り検出符号及び誤り訂正符号の

使用方法を含めて規定する。ただし,処理方法については,規定しない。テープへの記録方法及びテープ

レイアウトを規定する。ただし,このフォーマットは,固有の特性をもっているので,必要な場合,デー

タの処理についての規定で,テープレイアウトの詳細を規定する。

11.2

基本グループ  記録するデータは,1 202 688 バイトの基本グループにグループ化する。基本グルー

プのバイトは,0 から始まる連続番号を付けて識別する。各基本グループのバイトは,1∼1 202 688 の番号

で識別する。

基本グループ 0 の内容は,この規格では規定しない。この基本グループのデータは,テープシステムで

生成し,ベンダグループとして記録する(

附属書 参照)。

ホストコンピュータから受け取ったデータ及びセパレータマークは,基本グループ 0 の後に,基本グル

ープ 1 から開始して基本グループとしてグループ化する。これらの基本グループの構成は,次による。

参考  この規格では,セパレータ 1 及びセパレータ 2 と呼ぶ 2 種類のセパレータマークを使用する。

磁気テープ装置とホストコンピュータ間のインタフェースを定義する他の規格は,セパレータ

マークをファイルマーク及びセットマークと呼んでいる。その場合には,セパレータ 1 はファ

イルマークとし,セパレータ 2 は,セットマークとすることを推奨する。


41

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 30  基本グループの構成

エンティティを構成するデータは,基本グループで左から右に生成する(

図 30 参照)。同時にブロック

アクセステーブル (BAT) と呼ぶ基本グループの一部は,右から左に生成する。グループ情報テーブル

(GIT)

は,基本グループ内の 40 バイトとする。

11.2.1

エンティティ

11.2.1.1

内容  エンティティは,エンティティヘッダ及びレコード列から構成する。エンティティヘッダ

の長さは,8 バイトとし,レコード列の前に配置する。

エンティティのすべての圧縮レコードは,同じ長さの未圧縮レコードについて同一の圧縮アルゴリズム

を適用して生成する。

エンティティは,すべてのエンティティヘッダ及びレコード列の最初の 8 ビットが同じ基本グループに

あれば,複数の基本グループにまたがってもよい。

エンティティが複数の基本グループにまたがる場合,基本グループ内の部分とし,エンティティのスタ

ートパート,ミドルパート,又はラストパートのいずれかとする(11.2.3.211.2.3.4 参照)

エンティティは,交換用データを含まないレコードを含めてはならない。

11.2.1.2

エンティティヘッダ  バイト 1 は,レコード列に隣接するエンティティヘッダの最初のバイトと

し,バイト 8 は,最後のバイトとする。エンティティヘッダのレイアウトは,次による。

バイト 1

このバイトは,エンティティヘッダのバイト 8 を定義するために 0000 1000 つまり 8 に

設定する。

バイト 2

このバイトは,次による。

−レコードが未圧縮レコードの場合,1 に設定する。

−レコードが圧縮レコードの場合,

・レコードに適用する圧縮アルゴリズム ISO/IEC 11576 によって,登録 ID に対応する

2

∼254 に設定する。

・圧縮アルゴリズムが未登録の場合,255 に設定する。

このバイトは,0 に設定してはならない。

バイト 3∼5

圧縮する前のレコードのバイト数を 2 進数で表す(11.2.1.1 の第 2 段落を参照)。この

長さは,0 に設定してはならない。バイト 3 は,MSB とし,バイト 5 は,LSB とする。

バイト 6∼8

エンティティ内のレコードの数を 2 進数で表す。この値は,0 に設定してはならない。

バイト 6 は,MSB とし,バイト 8 は,LSB とする。


42

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

11.2.2

グループ情報テーブル  グループ情報テーブルのレイアウトは,40 バイトとし,表 による。

表 1  グループ情報テーブル

バイト位置  バイト長

フイールド名

1 202 649

1

すべて 0 に設定

1 202 650

3

基本グループ番号

1 202 652

1 202 653

4

レコード数

1 202 656

1 202 657

4

セパレータ 1 数

1 202 660

1 202 661

4

セパレータ 2 数

1 202 664

1 202 665

1

すべて 0 に設定

1 202 666

3

前のレコードの基本グループ番号

1 202 668

1 202 669

1

すべて 0 に設定

1 202 670

3

前のセパレータ 1 の基本グループ番号

1 202 672

1 202 673

1

すべて 0 に設定

1 202 674

3

前のセパレータ 2 の基本グループ番号

1 202 676

1 202 677

2

ブロックアクセステーブル数

1 202 678

最下位 2 バイト

1 202 679

2

現在の基本グループのレコード数

1 202 680

最下位 2 バイト

1 202 681

2

現在の基本グループのセパレータ 1 数

1 202 682

最下位 2 バイト

1 202 683

2

現在の基本グループのセパレータ 2 数

1 202 684

最下位 2 バイト

1 202 685

1

ブロックアクセステーブル数の MSB

1 202 686

1

現在の基本グループのレコード数の MSB

1 202 687

1

現在の基本グループのセパレータ 1 数の

MSB

1 202 688

1

現在の基本グループのセパレータ 2 数の

MSB

表 の各フィールド内の最上位バイトは最小バイト番号とし,最下位バイトは,最大バイト番号とする。

ただし,最後の 4 個の 1 バイトエントリは,それぞれ最後の 4 個の 2 バイトの最上位バイトとする。

11.2.2.1

グループ番号フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。現在の基本グループの番号を 2

進数で表す。

11.2.2.2

レコード数フィールド  このフィールドは,4 バイトとする。LBOT から現在の基本グループま

での,すべての基本グループの GIT の現在の基本グループフィールド内にあるレコード数の合計を 2 進数

で表す。セパレータマークは,レコードとして計数する。


43

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

11.2.2.3

セパレータ 数フィールド  このフィールドは,4 バイトとする。LBOT から現在の基本グルー

プまでに記録したセパレータ 1 の数を 2 進数で表す。

11.2.2.4

セパレータ 数フィールド  このフィールドは,4 バイトとする。LBOT から現在の基本グルー

プまでに記録したセパレータ 2 の数を 2 進数で表す。

11.2.2.5

前のレコードのグループ番号フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。セパレータマー

ク,又は未圧縮レコードの最初の部分が発生した前の基本グループの最大番号を 2 進数で表す。このよう

な基本グループが存在しない場合は,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

11.2.2.6

前のセパレータ のグループ番号フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。最後に記録

したセパレータ 1 を含む前の基本グループの最大番号を 2 進数で表す。このような基本グループが存在し

ない場合は,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

11.2.2.7

前のセパレータ のグループ番号フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。最後に記録

したセパレータ 2 を含む前の基本グループの最大番号を 2 進数で表す。このような基本グループが存在し

ない場合は,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

11.2.2.8

ブロックアクセステーブル数フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。ブロックアクセ

ステーブル内のエントリ数を 2 進数で表す。この値は,基本グループ内のレコード又はパーシャルレコー

ドの数を示すものではない。

11.2.2.9

現在の基本グループのレコード数フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。次の合計を

2

進数で表す。

−  現在の基本グループの BAT 内にあるセパレータマークエントリの数

−  現在の基本グループのエンティティ内にあるレコードの数

−  現在の基本グループの BAT 内にエンタイヤエンティティエントリ全体(11.2.3.1

  参照)がある

すべてのエンティティのエンティティヘッダのバイト 6 からバイト 8 までの値の合計

−  現在の基本グループの BAT 内にエンティティエントリのスタートパートがある(11.2.3.2

  参照)

エンティティのエンティティヘッダのバイト 6 からバイト 8 までの値よりも 1 小さい値(このよ

うなエントリが存在する場合)

−  現在の基本グループの BAT 内のエンティティエントリの総数

11.2.2.10

セパレータ 数フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。現在の基本グループに記録し

たセパレータ 1 の数を 2 進数で表す。

11.2.2.11

セパレータ 数フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。現在の基本グループに記録し

たセパレータ 2 の数を 2 進数で表す。

11.2.3

ブロックアクセステーブル (BAT)   BAT は,基本グループの各エンティティと各セパレータマー

クについて一つ以上のエントリを含むこととする。基本グループに完全に含まれていないエンティティも

一つ以上のエントリによって識別する。最初のエントリは,グループ情報テーブルの直前のバイト位置 1

202 645

∼1 202 648 に記録する。各エントリは,

図 31 に示す構成の 4 バイトのフィールドとする。最初の

バイトは,最小バイト番号のバイト 1 とし,4 番目のバイトは,最大バイト番号のバイト 1 とする。

ブロックアクセステーブルのエントリ

フラグバイト

カウント

第 1 バイト

第 2 バイト

(MSB)

第 3 バイト

第 4 バイト

(LSB)

図 31  ブロックアクセステーブル

3

バイトのカウントフィールドは,次のフラグバイトの設定によって 2

24

−1 を超えない数値を 2 進数で


44

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

表す。この規格は,フラグバイトとして

表 に示す 14 種類の設定を規定する。その他の設定は,この規格

では,禁止する。

フラグバイトの最上位ビット(

表 参照)は,終端予告点後ビットとし,エントリの意味には無関係で,

次による。

− EWP の前では,0 に設定する。

− EWP の後では,現在の基本グループ及びその後のすべての基本グループのブロックアクセステーブ

ルエントリ内で 1 に設定する。

表 2  フラグバイトの設定

設定

エントリ

0000 0001

エンタイヤエンティティ

0000 0010

スタートパートエンティティ

0000 0011

ミドルパートエンティティ

0000 0100

ラストパートエンティティ

0000 0101

エンティティの総数

0000 0110

セパレータマークエンティティ

EWP

の前

0000 0111

スキップ

1000 0001

エンタイヤエンティティ

1000 0010

スタートパートエンティティ

1000 0011

ミドルパートエンティティ

1000 0100

ラストパートエンティテイ

1000 0101

エンティティの総数

1000 0110

セパレータマークエンティティ

EWP

の後

1000 0111

スキップ

11.2.3.1

エンタイヤエンティティ  このエントリは,エンティティが現在の基本グループで始まり,かつ,

終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは,エンティティのバイト数を表す。

11.2.3.2

スタートパートエンティティ  このエントリは,エンティティが現在の基本グループで始まり,

それに続く基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは,現在の基本グループ

に記録したスタートパートエンティティのバイト数を表す。

11.2.3.3

ミドルパートエンティティ  このエントリは,エンティティが前の基本グループで始まり,それ

に続く基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは,現在の基本グループに記

録したパーシャルエンティティのバイト数を表す。

11.2.3.4

ラストパートエンティティ  このエントリは,エンティティが前の基本グループで始まり,現在

の基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは,現在の基本グループ内にある

パーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。現在の基本グループのブロックアクセステーブル

は,このエントリの直後にエンティティの総数エントリが続かなければならない。

11.2.3.5

エンティティの総数  このエントリは,ラストパートエンティティエントリの直後に配置する。

このエントリは,

ラストパートエンティティの前の同一エンティティに関連する。

カウントフィールドは,

該当するエンティティの総バイト数を表す。

11.2.3.6

セパレータマークエンティティ  このエントリは,セパレータマークレコードのエンティティを

規定する。カウントフィールドは,エンティティセパレータ 1 レコードの場合,0 に設定し,エンティテ

ィがセパレータ 2 レコードの場合,1 を設定する。


45

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

11.2.3.7

スキップ  各基本グループのブロックアクセステーブルの最後のエントリとしてスキップエン

トリを規定する。このエントリは,現在の基本グループ内利用者データの最後のバイトに到達したことを

示す。カウントフィールドは,基本グループに残っているバイトの数を表す。カウントフィールドに指定

可能な最小値は,グループ情報テーブルとブロックアクセステーブルの総バイト数とする。

ブロックアクセステーブルのスキップエントリの数は,4 の倍数とする。

11.2.3.8

カウントフィールド  このブロックアクセステーブル内のカウントフィールドに設定する数値

の合計は,1 202 688 でなければならない。エントリタイプは,スキップ,エンタイアエンティティ,スタ

ートパートエンティティ,ミドルパートエンティティ及びラストパートエンティティとする。

11.2.3.9

ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス  表 にエントリの有効なシーケンスを

示す。状態及び動作は,長方形内に示し,エントリ(フラグバイトで設定)は,長円内に示す。

表 は,各状態内,各動作後に現れるエントリ,又は有効なエントリだけを示し,その他のエントリは

すべて無効とする。

表 3  ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス

11.3

サブグループ

11.3.1

  G1

サブグループ  一つの基本グループは,これを 1∼66 816 の番号をもつ 18 個の 66 816 バイトの

G1

サブグループに分割する(

図 32 参照)。各 G1 サブグループは,1∼18 の走行番号をもつ。


46

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 32  G1 サブグループ

11.3.2

  G2

サブグループ−ランダム化  各 G1 サブグループの奇数番号のバイトは,図 33 に示すシフトレ

ジスタから出力したビット列によって EXCLUSIVE-OR 演算を行う。

各 G1 サブグループの偶数番号のバイ

トは,

図 33 に示すシフトレジスタから出力したビット列によって EXCLUSIVE-OR 演算を行う。

図 33  シフトレジスタ 

図 34  G2 サブグループ

各バイトの最下位ビット b1 を最初に入力する。論理演算子は,EXCLUSIVE-OR とする。

G1

サブグループは,それぞれ 33 408 バイトからなる偶数 G2 サブグループ及び奇数 G2 サブグループの二

つの G2 サブグループに変換する(

図 34 参照)。

n

=1,2,…,33 408 について,G1 サブグループのバイト D

n

は,次によって割り当てる。

−  偶数 G2 サブグループは,バイト D

2n

で構成

−  奇数 G2 サブグループは,バイト D

(2n

1)

で構成

各 G2 サブグループのバイト順序は,G1 サブグループのバイト順序と同じとする。


47

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

11.3.3

  G3

サブグループ  G3 サブグループは,1∼336 の番号付けした 336 ブロックの集合で構成する。

G2

サブグループの 33 408 バイトは,番号 25∼312 の 288 ブロックとし,各ブロックは,116 データバイト

とする。各ブロックは,12 バイトの C1 ECC で完結する。C1 ECC は,116 データバイトで算出し,

附属書

G

による。

288

ブロックは,C1 ECC バイトを生成し

図 35 に示すように詰め込むこととする。C2 ECC バイトは,288

ブロックと C1 ECC バイトから算出する。6 144 個の C2 ECC バイトは,番号 1∼24 及び番号 313∼336 の

ブロックに割り当てる。C2 ECC バイトの生成は,

附属書 による。

この操作は,偶数 G2 サブグループ及び奇数 G2 サブグループに適用し,G3 サブグループを生成する。

G3

サブグループは,128 バイトとし,1∼336 の連続ブロック番号を付ける。

図 35  G3 サブグループ

11.4

データブロック  128 バイトの各ブロックは,その先頭に 8 バイトのヘッダを付けて 136 バイトのデ

ータブロックに変換する。ヘッダの構成は,

図 36 に示す。

 b8

b7

b6

b5

b4

b3

b2

b1

ID1

データブロック番号 (DBN)

ID2 DBN

ID

情報

ID3 ID

情報

ID4 ID

情報

ID5 ID

情報

ID6 ID

情報

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

図 36  データブロックヘッダの構成

これらの ID バイトは,次の ID 情報とする。

−  データブロック番号

−  テープ長及び厚さ ID

−  論理フレーム ID

−  パーティション ID


48

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

−  エリア ID

−  リピート

−  ポジション

−  グループ数

−  セパレータ 1 数

−  セパレータ 2 数

−  レコード数

−  絶対フレーム番号

− ID パリティ

ID

情報は,11.4.2 による。

11.4.1

  ID

情報

11.4.1.1

データブロック番号  (DBN)    データブロック番号は,9 ビットとし,バイト ID1 の 8 ビット及

びバイト ID2 の最上ビット 8 で表す。この番号は,0∼335 とする。

11.4.1.2

テープの長さ ID 及び厚さ ID  この 8 ビットフィールドは,次による。

ビット 8 及びビット 7:00 の場合,テープの厚さは,6.5

µm∼7.3µm

 01

の場合,テープの厚さは,5.0

µm∼5.5µm

ビット 6∼1:テープ長を 1∼46 の範囲の 2 進数 で表し,テープ長を 5メートルとする。

11.4.1.3

論理フレーム ID (LF-ID)    この 8 ビットフィールドは,次による。

ビット 8

フレームが基本グループの最後にある場合,1 に設定する。その他の場合,0 に設定する。

ビット 7

フレームが ECC3 フレームの場合(16.5.3 参照),1 に設定する。その他の場合,0 に設

定する。

ビット 6∼1

フレームがアンブルフレームの場合,すべて 0 に設定する。その他の場合,n=1∼20 の

データフレーム順序番号 を 2 進数で表す。

11.4.1.4

パーティション ID  この 8 ビットフィールドは,0∼225 のパーティション順序番号を 2 進数で

表す。

11.4.1.5

エリア ID  この 4 ビットフィールドは,テープ上の現在の領域及び現在のフレームの形式を表す。

図 37 に示す定義以外の設定は,この規格では禁止する。

ビット位置

b7 b6 b5 b4

定義

0 0 0

0

デバイス領域

0 0 0

1

リファレンス領域

0 0 1

0

システム領域

0 1 0

0

データ領域

0 1 0

1 EOD

領域

0 1 1

1

オプションテバイス領域

図 37  エリア ID

11.4.1.6

リピート  この 3 ビットフィールドは,次の基本グループのインスタンスの数を表す。

000

  基本グループのインスタンスが一つだけ存在することを示す。

001

  基本グループのインスタンスが二つ存在することを示す。

010

  基本グループのインスタンスが三つ存在することを示す。

011

  基本グループのインスタンスが四つ存在することを示す。

100

  基本グループのインスタンスが五つ存在することを示す。


49

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

101

  基本グループのインスタンスが六つ存在することを示す。

110

  基本グループのインスタンスが七つ存在することを示す。

111

  基本グループのインスタンスが八つ存在することを示す。

11.4.1.7

ポジション  この 3 ビットフィールドは,基本グループの連続レコードインスタンス列で現在の

レコードインスタンスの位置を表す(

図 38 参照)。

ビット位置

b3 b2 b1

定義

0 0 0

基本グループの最初のインスタンス

0 0 1

基本グループの 2 番目のインスタンス

0 1 0

基本グループの 3 番目のインスタンス

0 1 1

基本グループの 4 番目のインスタンス

1 0 0

基本グループの 5 番目のインスタンス

1 0 1

基本グループの 6 番目のインスタンス

1 1 0

基本グループの 7 番目のインスタンス

1 1 1

基本グループの 8 番目のインスタンス

図 38  ポジションフィールド

11.4.1.8

グループ数  この 24 ビットフィールドは,現在のパーティションのベンダグループの後に記録

した 1 から現在の基本グループまでの利用者データグループの数を表す。ベンダグループの基本グループ

番号は,0 とし,リピートを用いる場合,基本グループ番号は,各インスタンスについて同一とする。

11.4.1.9

セパレータ 数  この 32 ビットフィールドは,パーティションの最初から現在の基本グループ

までに記録したセパレータ 1 の数を表す。パーティション内の最初のセパレータ 1 の数は 1 とする。

11.4.1.10

セパレータ 数  この 32 ビットフィールドは,パーティションの最初から現在のグループまで

に記録したセパレータ 2 の数を表す。パーティション内の最初のセパレータ 2 の数は,1 とする。

11.4.1.11

レコード数  この 32 ビットフィールドは,現在の基本グループに含まれる完結したレコードを

含み,パーティションの最初から記録したレコードの数を表す。この数は,グループ情報テーブルに記録

したレコードの総数(11.2.2 参照)とする。

11.4.1.12

絶対フレーム番号  (AFN)    この 24 ビットフィールドは,カレントフレームの絶対フレーム番号

を表す。リファレンス領域の最初のフレームは,AFN1 とする。断続する番号又は繰返し番号は,アンブ

ルフレームシーケンスだけに用いる(17.1 参照)

。ただし,中間フレームは,例外とする(16.5.5 参照)

11.4.1.13

  ID

パリティ  ID パリティバイトは,拡張リードソロモンコードを用いて算出する。

GF (2

8

)

は,次の式による。

G (x)

x

8

x

4

x

3

x

2

+1

GF (2

8

)

の原始元

α

は,00000010 とする。

ID

パリティバイトは,次の式による。

H

S

×V

S

=0

H

S

ú

û

ù

ê

ë

é

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

2

3

4

5

α

α

α

α

α


50

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

V

S

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

û

ù

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ë

é

ID8

ID7

ID6

ID5

ID4

ID3

ID2

ID1

11.4.2

データブロックヘッダへの ID 情報の記録  G3 サブグループの 336 個のデータブロックは,21 連

続した 16 データブロックとして構成する。

ID

情報は,

図 39 に示すとおりデータブロック 1∼16 について,

これらの 16 個のデータブロック内に配置する。16 個のデータブロックの各項目について同じ配置を繰り

返す。


51

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3 0

に設定

ID4 0

に設定

ID5 0

に設定

ID6

テープの長さ及び厚み ID

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 1

データ 128 バイトデータ

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

セパレータ 1 数 (LSB)

ID4

セパレータ 1 数

ID5

セパレータ 1 数

ID6

セパレータ 1 数 (MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 2

データ 128 バイトデータ

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

セパレータ 2 数 (LSB)

ID4

セパレータ 2 数

ID5

セパレータ 2 数

ID6

セパレータ 2 数 (MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 3

データ 128 バイトデータ

図 39  ID 情報の割当て


52

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

レコード数 (LSB)

ID4

レコード数

ID5

レコード数

ID6

レコード数 (MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 4

データ 128 バイトデータ

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

パーティション ID

ID4

グループ数 (LSB)

ID5

グループ数

ID6

グループ数 (MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 5

データ 128 バイトデータ

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

リピート

ID3 LF-ID

ID4 AFN

(L

ID5 AFN

ID6 AFN

(MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 6

データ 128 バイトデータ

図 39  ID 情報の割当て(続き)


53

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

ポジション

ID3 LF-ID

ID4 AFN

(L

ID5 AFN

ID6 AFN

(MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 7

データ 128 バイトデータ

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ビット 3 0 に設定

ビット 2 0 に設定

ID2

ビット 1 0 の場合,ID3 及び ID4 を 0 に設定

1

の場合,ID3 及び ID4 の設定は,下記

による

ID3

データブロック 8 の ID2 のビット 1 が 1

の場合,基本グループの偶数 G2 サブグ

ル ー プ 内 の 33 408 バ イ ト に つ い て

EXCLUSIVE-OR

した結果とする

データブロック 8 の ID2 のビット 1 が 0

の場合,0 に設定

ID4

データブロック 8 の ID2 のビット 1 が 1

の場合,基本グループの奇数 G2 サブグ

ル ー プ 内 の 33 408 バ イ ト に つ い て

EXCLUSIVE-OR

した結果とする

データブロック 8 の ID2 のビット 1 が 0

の場合,0 に設定

ID5 0

に設定

ID6 0

に設定

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 8

データ 128 データバイト

図 39  ID 情報の割当て(続き)


54

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

0

に設定

ID4

0

に設定

ID5

0

に設定

ID6

0

に設定

ID7

ID

パリティ

ID8

ID

パリティ

データブロック 9

データ 128 データバイト

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

0

に設定

ID4

0

に設定

ID5

0

に設定

ID6

0

に設定

ID7

ID

パリティ

ID8

ID

パリティ

データブロック 10

データ 128 データバイト

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

0

に設定

ID4

0

に設定

ID5

0

に設定

ID6

0

に設定

ID7

ID

パリティ

ID8

ID

パリティ

データブロック 11

データ 128 データバイト

図 39  ID 情報の割当て(続き)


55

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

0

に設定

ID4

0

に設定

ID5

0

に設定

ID6

0

に設定

ID7

ID

パリティ

ID8

ID

パリティ

データブロック 12

データ 128 データバイト

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

0

に設定

ID4

0

に設定

ID5

0

に設定

ID6

0

に設定

ID7

ID

パリティ

ID8

ID

パリティ

データブロック 13

データ 128 データバイト

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

0

に設定

ID4

0

に設定

ID5

0

に設定

ID6

0

に設定

ID7

ID

パリティ

ID8

ID

パリティ

データブロック 14

データ 128 データバイト

図 39  ID 情報の割当て(続き)


56

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

0

に設定

ID4

0

に設定

ID5

0

に設定

ID6

0

に設定

ID7

ID

パリティ

ID8

ID

パリティ

データブロック 15

データ 128 データバイト

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼4

エリア ID

ID2

ビット 3∼1

0

に設定

ID3

0

に設定

ID4

0

に設定

ID5

0

に設定

ID6

0

に設定

ID7

ID

パリティ

ID8

ID

パリティ

データブロック 16

データ 128 データバイト

図 39  ID 情報の割当て(続き)


57

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

12.

記録方式  記録方式は,次による。

−  1 は,正の残留磁化

−  0 は,負の残留磁化

12.1

記録密度  公称最大記録密度は,8 214.2ftpmm とする。生成する公称ビットセル長は,0.121 7

µm と

する。この値は,トラック長(13.7 参照)を 1 トラック当たりのビット数で除して算出する。

12.2

長周期平均ビットセル長  各トラックの長周期平均ビットセル長は,記録した 64 記録済みデータブ

ロックについて測定する。この値は,公称ビットセル長の 0.2%以内とする。

12.3

短周期平均ビットセル長  任意のビットセルを基準とした短周期平均ビットセル長は,その前の 40

個のビットセルの平均値とし,その値は,同一アジマスの,その前の長周期平均ビットセル長の 0.35%以

内とする。

12.4

短周期平均ビットセル長の変動率  短周期平均ビットセル長は,1 ビットセル当たり 0.05%を超えて

変化してはならない。

12.5

ビットシフト  ビットシフトは,附属書 によって測定し,(|A

1110

|+|A

0111

|) / (A

0100

A

0010

)

表し,その値は,0.05 未満とする。

12.6

情報交換時の再生信号振幅  情報交換時の再生信号振幅は,次による。

− 821.4ftpmm,912.7ftpmm,1 026.8ftpmm,1 173.5ftpmm,1 369.0ftpmm,1 642.9ftpmm,2 053.6ftpmm,

2 738.1ftpmm

,4 107.1ftpmm 及び 5 476.2ftpmm それぞれに対応する各公称記録レベルの 80%∼140%

とする(

附属書 C.1 参照)。

12.7

最大の記録レベル  記録信号は,重ね書きによって消去可能でなければならない。この値は,附属

書 の C.2 に規定している。

13.

トラック

13.1

トラックの構成  ヘリカルトラックパターンは,テープの移動方向と正及び負のアジマス角度をも

つ 2 個一組のヘッドの回転軸との相対関係によって,形成する。記録方向は,テープ基準縁から離れる方

向とする。トラックの構成は,

図 40 による。


58

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 40  トラックの構成(記録面)

13.2

平均トラック間隔  平均トラック間隔は,30 個の連続したトラックの任意のグループについて

11.00

µm±0.20µm とする。ただし,ノンシームレス追記録(16.5.6.2 参照)のトラック間隔は,平均値に含

めない。

13.3

トラック間隔の変化  連続したトラック間でのトラック間隔の変化は,追記録操作(16.5.6 参照)の

効果を除外して 2.0%を超えてはならない。

13.4

トラック幅  公称トラック幅は,11.00

µm とする。

測定するトラック幅は,11.00

µm±1.50µm とする。

この規定は,ノンシームレス追記録には,適用しない。

13.5

トラック角  テープ基準縁に対する各トラック角の公称角度は,4.895 0°とする。

13.6

トラックエッジの直線性  各トラックのエッジの直線性は,附属書 によって測定したとき,その

要求事項を満足することとする。

13.7

トラック長  各トラックの長さは,60.334mm±0.050mm とする。

13.8

アジマス角  正のアジマス角度は,25°00"  ±0°150"  とする。

負のアジマス角度は,−25°00"  ±0°150"  とする。


59

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

14.

記録パターン  データブロックは,128 データバイト及び 8 データブロックヘッダバイトからなる 136

個の 8 パッドバイトとする。8 ビットバイトは,対の 68 個の 16 ビットバイトにグループ分けし,

附属書

D

によって 20 チャネルビットに変換する。

14.1

記録データブロック  記録済みのデータブロックは,1 400 チャネルビットとし,メインデータブロ

ックは,68 個の 16 ビットバイトで表し,次のいずれかの 40 ビットの同期フィールドが先行する。

a)

1000100111 1111111000 0000000111 1111111000 ; Q

=3

b)

  1011011000 0000000111 1111111000 0000000111 ; Q

=0

c)

0100100111 1111111000 0000000111 1111111000 ; Q

=3

d)

  0111011000 0000000111 1111111000 0000000111 ; Q

=0

パターン a : Q'  =0

パターン b : Q'  =1

パターン c : Q'  =2

パターン d : Q'  =3

附属書 参照)

14.2

マージンブロック  マージンブロックは,次のいずれかの 20 チャネルビットパターンの繰返しとし,

1 400

チャネルビットとする。

a)

 00110011001100110011Q

=0 又は 1

b)

 11001100110011001100Q

=2 又は 3

15.

トラックのフォーマット

15.1

トラックの内容  各トラックは,表 及び表 に示すとおり,二つのマージンゾーン,三つの ATF

ゾーン及び二つのメインデータゾーンで構成する。ATF ゾーンは,スペーサブロック並びに正のアジマス

トラック及び負のアジマストラックとで異なる ATF ブロックから構成する。

表 4  トラックのフォーマット(負のアジマストラック)

ゾーン

内容

ブロック数

マージンゾーン 1

マージンブロック 3

ATF

ゾーン 1

スペーサブロック

ATF-C

ブロック

スペーサブロック

1

1.5

1.5

メインデータゾーン 1 記録済みデータブロック 1∼168

168

ATF

ゾーン 2

スペーサブロック

ATF-C

ブロック

スペーサブロック

1

1.5

1.5

メインデータゾーン 2 記録済みデータブロック 169∼

336

168

ATF

ゾーン 3

スペーサブロック

ATF-C

ブロック

スペーサブロック

1

1.5

1.5

マージンゾーン 2

マージンブロック 3


60

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

表 5  トラックのフォーマット(正のアジマストラック)

ゾーン

内容

ブロック数

マージンゾーン 1

マージンブロック 3

ATF

ゾーン 1

スペーサブロック

ATF-A

ブロック

ATF-B

ブロック

スペーサブロック

0.25

1.5

1.5

0.75

メインデータゾーン 1 記録済みデータブロック 1∼168

168

ATF

ゾーン 2

スペーサブロック

ATF-A

ブロック

ATF-B

ブロック

スペーサブロック

0.25

1.5

1.5

0.75

メインデータゾーン 2 記録済みデータブロック 169∼

336

168

ATF

ゾーン 3

スペーサブロック

ATF-A

ブロック

ATF-B

ブロック

スペーサブロック

0.25

1.5

1.5

0.75

マージンゾーン 2

マージンブロック 3

各トラックは,354 ブロックからなる。

15.2

トラック位置精度  トラック 178 番目のブロックの先頭は,テープ基準縁から 4.460mm±0.021mm

の距離になければならない。トラックの中心線上にある 236 番目のブロックの先頭は,176 番目のブロッ

クの最初のビット及び 180 番目のブロックの最初のビットとの中間点とする。また,隣接する任意のトラ

ックの 178 番目のブロックの先頭は,5.4

µm を超えてはならない。この値は,トラックの中心でトラック

に沿って 0.5 ブロックに相当する。

15.3

トラッキング法  トラッキングは,ATF(自動トラックファインディング)方式とする。ATF ブロ

ックは,

表 及び表 に示すように ATF ゾーン,ATF ゾーン 2 及び ATF ゾーン 3 の三つのゾーンに割り

当る。

ATF

ゾーンは,スペーサブロック及び ATF ブロックから構成する。

スペーサブロックは,マージンブロック(14.2 参照)で規定する同一チャネルビットパターンを繰り返

す 1 400 チャネルビット長とする。スペーサブロックは,正のアジマストラックでは,正のアジマスを記

録し,負のアジマストラックでは,負のアジマスを記録する。

ATF

ブロックは,正のアジマスを記録し,20 チャネルビットパターンを繰り返す 1 400 チャネルビット

長とする。

a)

 00000111110000011111Q

=0 又は 1

b)

 11111000001111100000Q

=2 又は 3

ATF

ブロックは,トラック間の位相関係を ATF-A,ATF-B 及び ATF-C で示す。トラック 上の ATF-B

ブロック,トラック n-1 上の ATF-C ブロック及びトラック n-2 上の ATF-A ブロックは,位相内で記録し,

図 41 に示す。


61

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 41  ATF ブロックとスペーサブロックの割当て

16.

テープのレイアウト  テープのレイアウトは,デバイス領域に続いて最大 256 パーティションで構成

する。パーティションの構成は,次による。

−  リファレンス領域

−  システム領域

−  データ領域

− EOD 領域

−  オプションデバイス領域


62

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

図 42  テープのレイアウト

16.1

デバイス領域  この領域は,磁気テープ上の最初の領域で,PBOT から LBOT までとする。この領

域は,情報交換用データの記録はできない。テープ基準縁に沿って PBOT からリファレンス領域の最初の

記録トラックの最初のブロックの最初のビットまでの長さは,870mm±10mm とする。この領域は,スピ

ンアップゾーン,試験ゾーン及びガードゾーンの三つのゾーンから構成する。

デバイス領域の最初のゾーンは,スピンアップゾーンとする。スピンアップゾーンは,テープをテープ

装置にロードしたとき,ドラムに巻き取られる部分である。

スピンアップゾーンは,記録再生用の試験ゾーンが続かなければならない。これら二つのゾーンの内容

はこの規格では規定しない。

試験ゾーンは,最小 6.2mm のガードゾーンが続かなければならない。ここに記録することは,禁止する。

16.2

リファレンス領域  リファレンス領域は,AFN1∼264 のフレームで構成する。最初のフレームは,

LBOT

に始まり,AFN1 とする。リファレンス領域は,システムログを更新するときに物理的な基準とし

て使用する。これらのフレームの内容は,この規格では規定しない。情報交換では,無視する。

16.3

ガードバンド 1  ガードバンド 1 は,公称長を 24 フレームで AFN265∼288 とし,システムログを更

新するとき,位置誤差を吸収するために使用する。ガードバンド 1 は,絶対フレーム番号の不連続及び繰

返しが発生することがある。記録信号は,無視してもよい。これらのフレームの内容は,この規格では規

定しない。情報交換では無視する。

16.4

システム領域  システム領域は,システムプリアンブル,システムログ,システムポストアンブル,

ガードバンド 2 及びベンダグループプリアンブルで構成する。


63

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

16.4.1

システムプリアンブル  システムプリアンブルは,AFN289∼360 の 72 個のシステムプリアンブル

フレームで構成する。システムプリアンブルの内容は,この規格では規定しない。データ交換時は,無視

する。

16.4.2

システムログ  システムログは,MIC に記録することとし,テープ上に記録してもよい(16.4.2.2.2

及び 18.参照)

ベンダデータ情報を含むシステムログをテープ上にも記録する場合,

図 42 に示す AFN361∼AFN540 を

もつ 180 フレームとする。各パーティションは,48 バイトをパーティション情報とし,システムログのパ

ーティション 0 に記録する。ベンダデータ情報を含むシステムログを

図 43 に示す。

システムログを MIC だけに記録する場合,180 フレームの内容は規定しない。データ交換時は,無視す

る。18.は,MIC へのシステムログの記録の方法を規定する。

1

∼48

パーティション 0 情報 48 バイト

49

∼96

パーティション 1 情報 48 バイト

12 240

∼12 288  パーティション 255 情報

48

バイト

12 288

バイト

12 289

∼12 359  ボリューム情報 72 バイト

12 360

∼12 361  システムログベンダデータタイプ番号

2

バイト

12 362

∼66 816  システムログベンダデータ 54

454

バイト

66 816

バイト

図 43  ベンダデータ情報を含むシステムログ

テープが 1 パーティション構成の場合,パーティション 1 情報からパーティション 255 情報の 12 240 バ

イトは,0 に設定する。テープが 2 パーティション以上で構成する場合,最終パーティションに引き続く

パーティション情報は,0 に設定する。

16.4.2.1

パーティション情報  パーティション情報は,図 44 に示す。


64

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

前の記録グループ数

4

バイト

記録グループの記録総数

4

バイト

0

に設定

1

バイト

前の再生グループ数

3

バイト

記録グループの再生総数

4

バイト

0

に設定

1

バイト

再記録フレーム総数

3

バイト

0

に設定

1

バイト

ECC3

総数

3

バイト

アクセス回数

4

バイト

更新回数

4

バイト

前の再記録フレーム数

2

バイト

前の ECC3 数

2

バイト

0

に設定

1

バイト

ロード回数

3

バイト

0

に設定

1

バイト

有効な最終の絶対フレーム番号

3

バイト

フラグバイト  ビット 1 記録禁止

1

バイト

ビット 2 再生禁止

ビット 3 記録リトライ禁止

ビット 4 再生リトライ禁止

ビット 5 0 に設定

ビット 6 0 に設定

ビット 7 0 に設定

ビット 8 パーティション操作中

最大絶対フレーム番号

3

バイト

図 44  パーティション情報

パーティション情報領域が数値をもつ場合,2 進数とする。

16.4.2.1.1

前の記録グループ数  このフィールドは,システム領域を最後に更新した後でパーティション

に物理的に記録した基本グループの数を表す。

16.4.2.1.2

記録グループの記録総数  このフィールドは,パーティションに記録した最初からの基本グル

ープの総数を表す。

16.4.2.1.3

前の再生グループ数  このフィールドは,システム領域を最後に更新した後でパーティション

から物理的に再生した基本グループの数を表す。

16.4.2.1.4

記録グループの再生総数  このフィールドは,パーティションから再生した最初からの基本グ

ループの総数を表す。この値は,記録時再生検査の再生操作の数は,含めてはならない。この値は,テー

プの使用期間にわたって累積するが,フォーマットしたときは,0 とする。

16.4.2.1.5

再記録フレーム総数  このフィールドは,パーティションに最初に記録した後で再度記録した

フレームの総数を表す。

この値は,

記録時再生で誤りを検出した後にフレームを繰り返し記録するごとに,

1

ずつ増やす。この値は,元のフレームと再記録フレームとの間に記録したフレームの数は,含めてはな

らない。この値は,テープの使用期間にわたって累積するが,フォーマットしたときは,0 とする。

16.4.2.1.6

  ECC3

総数  このフィールドは,物理的に再生した基本グループが C3 訂正符号を使ったデータ

修復回数を,そのパーティションが作られた最初のときからの累積回数として表す。この値は,テープの

使用期間にわたって累積するが,フォーマットしたときは,0 とする。


65

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

16.4.2.1.7

アクセス回数  このフィールドを使用する場合,パーティションのアクセス回数を表す。使用

しない場合,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

16.4.2.1.8

更新回数  このフィールドを使用する場合,パーティションへの記録回数を表す。使用しない

場合,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

16.4.2.1.9

前の再記録フレーム数  このフィールドは,システム領域を最後に更新した後で再記録したパ

ーティションのフレームの数を表す。この値は,記録時再生で誤りを検出した後にフレームを繰返し記録

するごとに 1 ずつ増やす。

この値は,

元のフレーム及び再記録フレームとの間に記録したフレームの数は,

含めてはならない。

16.4.2.1.10

前の ECC3 数  このフィールドは,そのシステム領域を最後に更新したときから物理的に再生

した基本グループが C3 訂正符号を使ったデータ修復回数を表す。

16.4.2.1.11

ロード回数  このフィールドは,テープに最初に記録した後でテープがロードされた回数を表

す。1 回のロードは,テープをテープ装置機構のドラムに巻き付け,テープが使用可能で,テープ送りが

できる位置に設定する操作とする。この値は,テープの使用期間にわたって累積するが,フォーマットを

したときは,0 とする。このフィールドは,パーティションテープのパーティション 0 のシステムログ内

に格納する。

16.4.2.1.12

有効な最終の絶対フレーム番号  このフィールドは,有効なデータを含む最後の絶対フレーム

番号を表す。リファレンス領域の最初のフレームの絶対フレーム番号は,1 とする。

16.4.2.1.13

フラグバイト

ビット 1

記録禁止

このビットが 0 の場合,パーティションへの記録は,可能とする。

このビットが 1 の場合,パーティションへの記録は,禁止する。

ビット 2

再生禁止

このビットが 0 の場合,パーティションからの再生は,可能とする。

このビットが 1 の場合,パーティションからの再生は,禁止する。

ビット 3

記録リトライ禁止

このビットが 0 の場合,パーティションへの記録リトライは,可能とする。

このビットが 1 の場合,パーティションへの記録リトライは,禁止する。

ビット 4

再生リトライ禁止

このビットが 0 の場合,パーティションからの再生リトライは,可能とする。

このビットが 1 の場合,パーティションからの再生リトライは,禁止する。

ビット 5∼7

これらのビットは,0 に設定する。

ビット 8

パーティション操作中

このビットは,パーティションでの 1 回の再生操作又は記録操作の前に 1 に設定する。

パーティションのすべての操作が終了したとき,これらのビットは,すべて 0 に設定す

る。

16.4.2.1.14

最大絶対フレーム番号  このフィールドは,最後の EOD 領域の最後のフレームの絶対フレーム

番号を表す。

16.4.2.1.15

予約フィールド  すべて 0 に設定する。

16.4.2.2

ボリューム情報  ボリューム情報は,次の 72 バイトとする。


66

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

予約済み

5

バイト

0

に設定

ビット 1∼6

テープ長番号

テープ長番号及びテープ厚さ番号 1 バイト

ビット 7 及びビット 8 テープ厚さ番号

ビット 1 AIT ネイティブフラグ

ビット 2 PBOT でロード/アンロード

ヒット 3

ビット 4

システムログ情報の場所

ビット 5 MIC の存在

ビット 6 0 に設定

ビット 7 0 に設定

フラグ

1

バイト

ビット 8 0 に設定

最後のパーティション番号

1

バイト カートリッジの最後のパーティション番号

デバイス領域の配置 32 バイト デバイス領域の配置を示す 256 ビット

予約済み 32 バイト すべて 0 に設定

図 45  ボリューム情報

16.4.2.2.1

テープ長番号及びテープ厚さ番号

ビット 1∼6:テープ長さ及びテープ厚さの ID バイト(11.4.1.2 参照)のビット 1∼6 と同一とする。

ビット 7 及びビット 8:00    タイプ A

 01

    タイプ B

他のビット設定は,この規格では禁止する。

16.4.2.2.2

フラグ  フラグは,次による。

ビット 1 0 の場合,パーティション番号は,2 とする

1

の場合,最大のパーティション番号は,MIC の記録容量による

ビット 2 0 に設定し,かつ,オプショナルデバイス領域が存在する場合,ロード/アンロード動作

は,オプショナルデバイス領域で実行

1

の場合,ロード/アンロード動作は,PBOT で実行

ビット 3 及びビット 4    これらのビットは,システムログの場所を示す。

 10

の場合,システムログは,テープ上と MIC に記録

 11

の場合,システムログは MIC にだけに記録

ビット 5 MIC が存在する場合,1 に設定

ビット 6∼8 0 に設定

他のビット設定は,この規格では禁止する。

16.4.2.2.3

最後のパーティションの番号  テープ上で最後に有効なパーティションの番号を表す。

16.4.2.2.4

デバイス領域の配置  オプションデバイス領域のビット配置は,32 バイト中に 256 ビットごと

に各パーティションに割り当てる。このビットが 1 の場合,パーティションにオプションデバイス領域が

存在することを示す。

16.4.2.3

システムログベンダデータ型式番号  この番号は,2 バイトで表す。

0

に設定している場合,システムログベンダデータは,すべて 0 とする。

1

に設定している場合,システムログベンダデータは,ベンダ固有情報を含み,それ以外の設定は,禁

止する。

16.4.3

システムポストアンブル  システムポストアンブルは,AFN541∼564 の 24 システムアンブルフレ

ームからなる。システムポストアンブルの内容は,この規格では規定しない。データ交換時は,無視する。


67

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

参考  システムログの更新時にシステムプリアンブル,システムログ及びシステムポストアンブルを

含む一連の領域を続けて書き込むことを推奨する。

16.4.4

ガードバンド 2  ガードバンド 2 の長さの公称値は,24 フレームとする。このフレームの内容は,

この規格では規定しない。情報交換では,無視する。

16.4.5

ベンダグループプリアンブル  ベンダグループプリアンブルは,AFN589∼660 の 72 フレームとし,

ベンダグループの直前にあってベンダグループと連続する。

フレームの内容は,

この規格では規定しない。

情報交換では,無視する。

16.5

データ領域  この領域は,ベンダグループと一つ以上の記録データグループとする。

16.5.1

ベンダグループ  ベンダグループは,基本グループ 0 に記録したインスタンスとする。内容は,こ

の規格では規定しない。ベンダグループは,11.に規定している操作を適用し,その結果,生成したフレー

ムを記録することによって,その基本グループのバイトから形成する。これらのフレーム内の最初のフレ

ームは,AFN661 とする。

さらに ECC3 及び再記録フレームのどちらか一方,又は両方の操作を適用してもよい。

ベンダグループは,未記録領域,物理的不連続域,物理的継目,絶対フレーム番号の不連続又は繰返し

があってはならない。

16.5.2

記録済みデータグループ  記録済みデータグループは,基本グループに記録したインスタンスで,

11.

に規定している操作を適用し,その結果,生成したフレームをその論理フレーム番号順に記録すること

によって,ホストコンピュータのデータから生成する。

さらに ECC3 及び再記録フレームのどちらか一方,又は両方の操作を適用してもよい。

記録データグループは,未記録領域,物理的不連続域,物理的継目,絶対フレーム番号の不連続又は繰

返しがあってはならない。

16.5.3

  ECC3

  ECC3 は,記録データグループ内で二つの不良トラックを訂正することができる。ECC3

データは,基本グループの 18 個の G1 サブグループを次のリードソロモン符号を用いて生成し,19 番及び

20

番の G1 基本サブグループに形成する。

GF (2

8

) (20, 18, 3)

GF (2

8

)

は,次の多項式によって算出する。

G (x)

x

8

x

4

x

3

x

2

+1

α

=(00000010)

ECC3

のインタリーブの深度は,1 フレームとし,ECC バイトは,次の式を満足する。

H

R

×V

R

=0

生成多項式は,次による。

=

=

=

1

0

)

(

)

(

GR

j

i

i

x

x

α

ú

û

ù

ê

ë

é

=

0

1

2

16

17

18

19

1

1

1

1

1

1

1

α

α

α

α

α

α

α

Λ

Λ

R

H


68

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

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é

=

×

+

+

×

+

×

×

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×

+

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×

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×

×

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×

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×

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+

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×

×

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+

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×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

816

66

19

0

408

33

2

816

66

19

0

408

33

2

816

66

6

1

408

33

2

816

66

6

0

408

33

2

816

66

5

1

408

33

2

816

66

5

0

408

33

2

816

66

4

1

408

33

2

816

66

4

0

408

33

2

816

66

3

1

408

33

2

816

66

3

0

408

33

2

816

66

2

1

408

33

2

816

66

2

0

408

33

2

816

66

1

1

408

33

2

816

66

1

0

408

33

2

816

66

0

1

408

33

2

816

66

0

0

408

33

2

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

i

n

R

Q

P

D

D

D

D

D

D

D

D

D

D

D

D

D

D

V

Μ

ここに,  n=0,1,2,…,33 407

i

=0,1

D

n

=利用者データバイト番号

P

n

=パリティバイト番号

Q

n

=パリティバイト番号

16.5.4

多重記録インスタンス  基本グループ 0 以外の各基本グループは,一連の連続インスタンスに記録

してもよい。最大インスタンス数は,8 とする。同一の基本グループからの一連の記録データグループ内

で,論理フレーム ID,ポジション,及び絶対フレーム番号が異なり,計算するパリティバイトの値も異な

る。また,これらのインスタンスで記録データグループ当たりの再記録フレームの数も異なる。

16.5.5

再記録フレーム  データ領域内で記録データグループの任意のフレームは,再記録によって繰り返

してもよい。再記録フレームは,0∼7 個の中間フレームの記録後に記録することができる。この操作(例

えば,元のフレーム又は再記録フレーム及びそれに引き続く 0∼7 個の中間フレーム)は,複数回繰り返す

ことによって,このテープの不良か所を回避することができる。一連のフレームの上限のインスタンス数

は,256(元のフレームと 255 までの繰返しフレームを含めて)とする。

中間フレーム(元のフレーム及び次のフレームとの間に記録するフレーム)は,通常の順番としてそれ

に続く論理フレーム番号のフレームとなり,

それ以降も正しい順番でなければならない。

正しい順番とは,

一つずつ増加する論理フレーム番号をもつ連続したフレームをいう。記録データグループの最後のフレー

ム又は ECC3 フレームが存在する場合,その後の論理フレーム番号は,アンブルフレームについては,0

とし,次の論理フレーム番号の最初のフレームについては,1 とする。アンブルフレームは,中間フレー

ムの数が 7 個を超えない限り,この順番とし,最後の再記録フレームの後に正しい順番で記録した中間フ

レームが続く。

絶対フレーム番号の不連続又は繰返しがあってはならない。


69

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

16.5.6

追記録及び重ね書き  テープ上に既に記録しているデータに新しいデータを追記録するとき,又は

既存のデータを新しいデータによって重ね書きするとき,記録開始点は,記録データグループの最後のフ

レーム(

図 46 のフレーム A)を基準とする。最後のグループの多重記録インスタンスが複数個存在すると

き,関連する記録データグループは,その順番の最後になる。再記録フレームを記録した場合,関連する

フレームは,最後のフレームの最後の繰返しフレームになる。追記録又は重ね書きの最小単位は,記録デ

ータグループとする。

参考  重ね書きを開始すると,現在の記録位置と PEOT との間にあるすべてのデータは,論理的に無

効となる。

追記録及び重ね書きの規則は,同一とする。簡素化のため,追記録だけを規定する。

データは,シームレス又はノンシームレスのいずれかの方法でテープに追記録できる。追記録操作は,

追記録したトラックがその前のトラックと連続シーケンスを形成するように配置されている場合だけ,シ

ームレスとする。トラックは,再生不可能な位置まで部分的に重ね書きしたり,トラック間にギャップを

作ったりしてはならない。

図 46  追記録規則

図 46 では,フレーム A までのフレームは,保持すべき情報を含み,追記録は,アンブルフレームのフ

レーム B から始まり,情報は,フレーム C から記録する。

16.5.6.1

シームレス追記録の規則  シームレス追記録は,次の規則による。

規則 1.  フレーム A とフレーム B の間は,一つのフレームが存在する。例えば,フレーム A の絶対フレ

ーム番号 (AFN) が のとき,フレーム B の AFN は,n+2 とする。

規則 2.  フレーム A とフレーム B の間に記録するフレームは,フレーム A に連続とする。例えば,フレ

ーム A とフレーム B との間に未記録領域,AFN の不連続,AFN の繰返し又は物理的不連続があ

ってはならない。アンブルフレーム以外は,フレームのグループ番号がフレーム A のグループ番

号よりも大きくなければならない。アンブルフレームは,グループ番号がフレーム A のグループ

番号に等しくなる。フレームの内容は,無視する。

規則 3.  フレーム B とフレーム C との間は,アンブルフレームが少なくとも一つ存在する。例えば,フレ

ーム B の AFN が n+2 のとき,フレーム C の AFN の最小値は,n+4 とする。フレーム B とフレ

ーム C との間には,未記録領域,AFN の不連続,AFN の繰返し又は物理的不連続があってはな

らない。

規則 4.  テープの走行方向の位置(図 47 参照)で測定したフレーム B (AFN=n+2)  の最初のトラック位


70

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

置は,AFN=n+1 のフレームの最初のトラックから x=257.8

µm±42.9µm の距離とする。

図 47  シームレス追記録での許容値

16.5.6.2

ノンシームレス追記録の規則  ノンシームレス追記録の規則は,次による。

規則 1.  フレーム A とフレーム B との距離は,最小 1 フレーム最大 11 フレームとする。フレーム A とフ

レーム B との間に未記録領域が存在してはならない。フレーム A とフレーム B との間の一つ以上

のフレームは,誤った内容でもよい。すなわち,追記録地点での部分的な重ね書きの結果,誤っ

たフレームができる。

規則 2.  次の条件を満足する場合,フレーム A とフレーム B との間に AFN の不連続及び AFN の繰返しが

あってもよい。フレーム A の AFN が のとき,

−  すべてのフレームの AFN は,よりも大

−  フレーム B の AFN は,最小 n+2,最大 n+12

規則 3.  フレーム A とフレーム B の間にあるアンブルフレームのグループ番号は,フレーム A のグルー

プ番号と同じとする。その他のフレームのグループ番号は,フレーム A のグループ番号よりも大

きくなければならない。

規則 4.  フレーム B とフレーム C との間には,最低 29 フレームなければならない。例えば,フレーム B

の AFN が n+2≦n'n+12 のとき,フレーム C の AFN は,n'+30 以上とする。フレーム B とフ

レーム C との間には,未記録領域,物理的不連続,物理的継目,AFN の不連続又は AFN の繰返

しがあってはならない。

16.6

  EOD

領域  EOD 領域は,データ領域の後に続く領域とする。

すべてのパーティションにおいて,

最後のアンブルフレームと LEOT との間が 300 フレーム以上の場合,

EOD

領域は,300 フレーム以上とする。最後のアンブルフレームと LEOT との間が 300 フレーム未満の場

合,EOD 領域は,そのフレーム数とする。

最後のパーティションの EOD 領域は,300 アンブルフレーム以上からなり,最後の記録データグループ

に続く一連のアンブルフレームの最後のアンブルフレームの後から始まる。EOD 領域の最初のフレームは,

PEOT

の少なくとも 5 000mm 手前に記録する。


71

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

EOD

領域は,一つのテープ及びパーティションに複数存在してもよい。パーティションに二つ以上の

EOD

領域が存在する場合,LBOT に番近い EOD 領域だけは,情報交換に有効とする。

16.7

オプションデバイス領域  オプションデバイス領域は,EOD 領域の後パーティション境界又は

PEOT

までの間に設けてもよい。オプションデバイス領域の内容は,情報交換には,規定しない。

16.8

  LEOT

  LEOT は,パーティション境界から 300 フレーム手前の箇所とする。

16.9

  LBOT

  LBOT は,パーティション境界とし,LBOT から最初のフレームは,AFN1 とする。

16.10

終端予告点 (EWP)    新しいテープ又はバルク消去テープの EWP の位置は,テープに記録をしてい

るテープ装置が算出する。算出した EWP の位置は,PEOT から 5 258mm 以上手前としなければならない。

算出した EWP を超えてデータを記録することがない限り,EWP の位置表示は,テープには記録しない。

算出した EWP を超えて最初にデータを記録するとき,EWP の前に完全又は部分的に記録した最後の基本

グループで,AEWP ビットの設定を 0 から 1 にする。このビットの変化を以後テープを再生する場合,EWP

の位置として利用する。

データが記録済みの最後のパーティションへの重ね書き及び追記録は,重ね書きを開始した位置が,重

ね書きの開始前に定義した EWP より手前の場合,データを記録している磁気テープ装置が新しい EWP を

算出する。算出した EWP の位置は,少なくとも PEOT から 5 258mm 以上手前としなければならない。算

出した EWP を超えてデータを記録するとき,EWP の前に完全又は部分的に記録した最後の基本グループ

で,AEWP ビットの設定を 0 から 1 にする。このビットの変化を以後テープを再生する場合,EWP の位置

として利用する。

データが記録済みの最後のパーティションへの重ね書き及び追記録は,新たな重ね書きを開始する位置

から手前に AEWP ビットが 0 から 1 に変化しているとき,その変化点が EWP の位置となる。それ以降の

すべての新しい重ね書きグループは,AEWP ビットの設定を 1 にする。

空のパーティションでは,EWP は記録しているテープ装置が算出し,LEOT から 1 000 フレーム以上手

前としなければならない。算出した EWP を超えてデータを記録することがない限り,

EWP

の位置表示は,

テープには記録しない。算出した EWP を超えて最初にデータを記録するとき,EWP の前に完全又は部分

的に記録した最後の基本グループで,AEWP ビットの設定を 0 から 1 にする。このビットの変化を以降テ

ープを再生する場合,EWP の位置として利用する。

最後のパーティションを除くデータが記録済みのパーティションにおける重ね書きの場合,重ね書きを

開始した位置が,重ね書きの開始前に定義した EWP より手前の場合,データを記録している磁気テープ

装置が新しい EWP を算出する。算出した EWP の位置は,少なくとも LEOT から 1 000 フレーム以上手前

としなければならない。算出した EWP を超えてデータを記録するとき,EWP の前に完全又は部分的に記

録した最後の基本グループで,AEWP ビットの設定を 0 から 1 にする。このビットの変化を以後テープを

再生する場合,EWP の位置として利用する。

最後のパーティションを除くデータが記録済みのパーティションにおける重ね書きは,新たな重ね書き

を開始する位置から手前に AEWP ビットが 0 から 1 に変化しているとき,その変化点を EWP の位置とす

る。それ以降のすべての新しい重ね書きの基本グループは,AEWP ビットの設定を 1 にする。

16.11

空のパーティション  空のパーティションの構成は,次による。

−  リファレンス領域

−  システム領域

−  ベンダグループ及び 12 アンブルフレーム以上のデータ領域

−  パーティションの EOD 領域と同一の 300 フレーム以上


72

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ベンダグループプリアンブル,データ領域及び引き続くアンブルフレームは,連続体を形成し,パーテ

ィション境界又は PEOT に入り込み,未記録領域,物理的な不連続域,物理的継目,絶対フレーム番号の

不連続又は繰返しがあってはならない。

16.12

初期化  初期化は,利用者データを記録するために最初にテープカートリッジを使用する前に行う

手続きとする。初期化によって,LBOT とベンダグループの終了位置との間に未記録領域があってはなら

ない。LBOT とベンダグループの終了位置との間は,連続して記録する。ガードバンド 1 及びガードバン

ド 2 の公称フレーム数は,それぞれ 24 フレームとする。ガードバンド 1 の各フレームのエリア ID は,リ

ファレンス領域 ID に設定する。

記録済みテープの初期化は,

システムログ内の履歴データも含みテープ上のすべてのデータを破壊する。

参考  テープ割付上のレイアウト規定によって,最初の記録データグループの記録前に,さらに新し

いテープ又はバルク消去したテープに対して初期化を行う必要はない。リファレンス領域,シ

ステム領域及びベンダーグループは,最初の記録データグループの記録と同時に記録できる。

17.

ハウスキーピングフレーム  ハウスキーピングフレームは,利用者データ又はセパレータを含めては

ならない。データは,ID 情報だけ記録することができる(11.4.1 参照)

。このデータは,ハウスキーピング

フレームを記録しているテープレイアウトの領域に依存する。ハウスキーピングフレームの内容は,この

規格では規定しない。

ハウスキーピングフレームは,次に示すアンブルフレーム及びシステムアンブルフレームの 2 種類があ

る。

17.1

アンブルフレーム  アンブルフレームは,データ領域内だけに存在する。論理フレーム番号は,0

とする。

アンブルフレームは,中間フレームとして挿入した場合を除いて,記録データグループ及びベンダグル

ープの手前にあってはならない。

アンブルフレームは,追記録点を除いて,その他のアンブルフレーム又は参照する記録データグループ

の最後のフレームに続かなければならない。

フレームの内容は,この規格では規定しない。情報交換では,無視する。

17.2

システムアンブルフレーム  システムアンブルフレームは,システム領域内に記録する。絶対フレ

ーム番号は,289∼360 及び 541∼564 とする。

フレームの内容はこの規格では規定しない。情報交換では,無視する。

18.

  MIC

の内容  ここでは,MIC の内容について規定する。テープのパーティションの最大数は,MIC

の記録容量によって,

図 48 に 8 パーティションの場合の MIC の内容を規定する。ボリューム情報は,16.4.2.2

とし,パーティション情報は,16.4.2.1 による。

図 48 の網掛け部は,この規格では規定しない。データ交換時は無視する。


73

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

1

1

バイト

2 00010001

1

バイト

3

∼349

 347

バイト

350

∼354 0 に設定

5

バイト

355

テープ長さ及びテープ厚さ

1

バイト

356

フラグ

1

バイト

357

最後のパーティション番号

1

バイト

358

∼389

デバイス領域配置図 32 バイト

390

∼421

ボリューム

情報

0

に設定 32 バイト

72

バイト

422

∼1024   603 バイト

1025

∼1040   16 バイト

1041

∼1088  パーティション 0 情報 48 バイト

1089

∼1104   16 バイト

1105

∼1152  パーティション 1 情報 48 バイト

1153

∼1168   16 バイト

1169

∼1216  パーティション 2 情報 48 バイト

1217

∼1232   16 バイト

1233

∼1280  パーティション 3 情報 48 バイト

1281

∼1296   16 バイト

1297

∼1344  パーティション 4 情報 48 バイト

1345

∼1360   16 バイト

1361

∼1408  パーティション 5 情報 48 バイト

1409

∼1424   16 バイト

1425

∼1472  パーティション 6 情報 48 バイト

1473

∼1488   16 バイト

1489

∼1536  パーティション 7 情報 48 バイト

1537

∼2048

メモリの最後から最小 480 バイト

図 48  パーティションの場合の MIC の内容


74

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 A(規定)  光透過率の測定法

A.1

概要  この附属書は,テープの光透過率の測定装置及び測定法を規定する。

光透過率は,測定装置に試験片を入れないときを 100 とし,入れたときの比を百分率 (%) で表す。

A.2

測定装置の構成  測定装置の構成は,次による。

−  光源

−  光検出部

−  測定用マスク

−  光学系

−  測定回路

A.2.1

光源  光源は,次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。

波長:850nm±50nm

半値幅:±50nm

A.2.2

光検出部  光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。

A.2.3

測定用マスク  測定用マスクは,厚さを 2mm とし,孔の直径  (d)  をフォトダイオードの受光領域の

80

∼100%の大きさに設定する。

表面は,黒のつや消しとする。

試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないようにマスクに固定する。

A.2.4

光学系(附属書 図 1)  光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離  (L)  は,次の

式による。

α

tan

2

d

L

=

α

は,光軸上の最大強度に対して 95%以上の強度がある領域に設定する。

A.2.5

仕上げ  装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6

測定回路(附属書 図 2)  測定回路は,次による。

E

:出力電圧可変の定電圧電源

R

:電流制限用の抵抗器

LED

:赤外線発光ダイオード

Di

:シリコンフォトダイオード

A

:演算増幅器

R

f0

R

f1

:帰還用の抵抗器

S

:増幅率切替えスイッチ

V

:電圧計

LED

に流れる電流,すなわち,照射力は,供給電圧  (E)  によって変化する。

Di

は,閉回路で動作する。

演算増幅器の出力は,V

0

I

k

×R

f

で与えられる。ここで,I

k

は,Di の閉回路での電流とする。

出力電圧は,光の明るさに比例する。

R

f0

及び R

f1

は,許容誤差 1%で,温度による抵抗変化の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は,次


75

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

の式による。

20

1

f1

0

f

=

R

R

A.3

測定法  測定法は,次による。

−  スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。

−  試験片を取り付けないで,

電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるように LED 供給電圧  (E)

を変化させる。

−  リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このときの電圧計は,60∼100%を示す。

−  磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このときの電圧計

のフルスケールは,光透過率 5%を示す。

附属書 図 1  光学系の構成

附属書 図 2  測定回路


76

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 B(規定)  信号対雑音比の測定法

信号対雑音比の測定は,分解能 3kHz のスペクトラムアナライザを用いる。試験条件は,特に規定がな

い限り,本体 10.による。

B.1

テープを交流消去する。

B.2

テープに記録密度 4 107.1ftpmm で記録する。その記録周波数を f

1

で表す。

B.3

信号振幅の実効値は,読取りヘッドが最初にテープに接触して 1ms 後から測定を開始し,1ms の時間

にわたってスペクトラムアナライザを掃引して測定する。1 回の掃引によって得た測定値を 1 回分の測定

値とし,8 回分の測定値の平均値を求める。これを S

tape

とする。

これらの 8 回の掃引の際,周波数 f

2

で全雑音レベルの実効値を測定する。ここで,f

2

は,f

1

より 2MHz

低い周波数とする。1 回の掃引によって得た測定値を 1 回分の測定値とし,100 回分の測定値の平均値を求

める。これを N

total

とする。

B.4

周波数 f

2

の再生系雑音レベルの実効値は,同じ 1ms の時間にわたって,テープを巻き付けずにモータ

を回転させて測定する。1 回の掃引によって得た測定値を 1 回分の測定値とし,8 回分の測定値の平均値を

求める。これを N

amp

とする。

B.5

信号対雑音比は,次の式による。

tape

tape

log

20

N

S

ここに,

テープ雑音:

2

amp

2

total

tape

N

N

N

=

tape

amp

N

N

は,0.7 未満とする。

B.6

テープの信号対雑音比  (SNR

tape

)

は,B.3B.5 を 10 回以上繰り返し測定した平均値とする。

B.7

二次基準テープについても B.1B.6 の測定を行い,

二次基準テープの信号対雑音比 SNR

MSRT

を求める。

供試テープの信号対雑音比は,次による。

(SNR

tape

SNR

MSRT

)dB


77

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 C(規定)  記録レベルの公称値及び 

最大許容値の決定法(記録前条件)

記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は,本体 10.による。

C.1

記録レベルの公称値の決定法

C.1.1

信号振幅二次基準テープの記録密度 5 476.2ftpmm の信号を再生し,読み取った値を信号振幅二次基

準テープによって校正する。

C.1.2

交流消去した二次基準テープに,5 476.2ftpmm の信号を記録電流が小さい値から徐々に増やしなが

ら記録し,読み取った値が C.1.1 で求めた値と等しくなるまで記録電流を増やす。

C.1.3

交流消去した供試テープに対し,C.1.2 で求めた記録電流で 5 476.2ftpmm の信号を記録する。読み取

った値を,記録密度 5 476.2ftpmm での記録レベルの公称値とする。

C.1.4

記録密度 821.4ftpmm,912.7ftpmm,1 026.8ftpmm,1 173.5ftpmm,1 369.0ftpmm,1 642.9ftpmm,

2 053.6ftpmm

,2 738.1ftpmm,4 107.1ftpmm 及び 5 476.2ftpmm の値を求めるために,C.1.1C1.3 を同様に

繰り返す。

C.2

記録レベルの最大許容値の決定法

C.2.1

交流消去した二次基準テープに,記録密度 5 476.2ftpmm の信号を記録電流が小さい値から徐々に増

やしながら記録し,読み取った値が C.1.1 で求めた校正後の値の 120%になるまで記録電流を増やす。

C.2.2

交流消去した供試テープに対し,C.2.1 で求めた記録電流で 5 476.2ftpmm の信号を記録する。読み取

った値を,記録密度 5476.2ftpmm での記録レベルの最大許容値とする。

C.2.3

記録密度 821.4ftpmm,912.7ftpmm,1 026.8ftpmm,1 173.5ftpmm,1 369.0ftpmm,1 642.9ftpmm,

2 053.6ftpmm

,2 738.1ftpmm 及び 4 107.1ftpmm の値を求めるために,C.2.1C2.2 を同様に繰り返す。

C.3

記録レベルの限界値  極端な記録レベルは,この規格を用いた記録システムの動作に支障を来すので,

互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は,次による。

記録密度 821.4ftpmm,

912.7ftpmm

1 026.8ftpmm

1 173.5ftpmm

1 369.0ftpmm

1 642.9ftpmm

2 053.6ftpmm

2 738.1ftpmm

,4 107.1ftpmm 及び 5 476.2ftpmm では,記録レベルの最大許容値とする。

参考  互換性確保のために,記録レベルは,記録密度 821.4ftpmm,912.7ftpmm,1 026.8ftpmm,

1 173.5ftpmm

,1 369.0ftpmm,1 642.9ftpmm,2 053.6ftpmm,2 738.1ftpmm,4 107.1ftpmm 及び

5 476.2ftpmm

で,記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。


78

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 D(規定)  16 ビットワードから 

20

チャネルビットパターンへの変換

16

ビットワードは,最上位ビットを左側とし,最下位ビットを右側とする。20 チャネルビットパターン

は,最初に記録するビットを左側とし,最後に記録するビットを右側とする。

使用する記録装置は,記録信号の直流成分を 0 に近づける必要がある。すべての 20 チャネルビットパタ

ーンは,0 直流平衡又は直流部とする,各 20 チャネルビットパターンは,DC(直流成分)を最小にする

ために,

次の 20 チャネルビットパターンの二つの代替パターンのどちらかを選択するかを変調器に指示す

るインジケータ Q が含まれる。

Q'

は,前のパターンの直流情報である。

Q

は,現在のパターンの直流情報である。

ビットの変換表は,1 639 ページにも及ぶため,次の URL によって入手できる。

http : //www. iso. ch/isoiec18810table. htm

変換表の最初を情報として次に示す。16 ビット及び 20 チャネルビットパターンは,16 進数で示す。

16-bit Q'

=0 Q Q'=1 Q Q'=2 Q Q'=3 Q

Words Channel

bits

pattern

 Channel

bits

pattern

 Channel

bits

pattern

 Channel

bits

pattern

(0000)

(2659B) 0 (2659B) 1 (D9A64)

2 (D9A64) 3

(0001)

(2659E) 0 (2659E) 1 (D9A61)

2 (D9A61) 3

(0002)

(265A7)  0  (265A7)

1 (D9A58)

2 (D9A58) 3

(0003)

(265AB) 2 (265AB)

3 (D9A54)

0 (D9A54) 1

(0004)

(265AD) 0 (265AD)

1 (D9A52)

2 (D9A52) 3

(0005)

(265AE) 2 (265AE)

3 (D9A51)

0 (D9A51) 1

(0006)

(265B3) 0 (265B3) 1 (D9A4C)

2 (D9A4C) 3

(0007)

(265B6) 0 (265B6) 1 (D9A49)

2 (D9A49) 3

(0008)

(265B9) 0 (265B9) 1 (D9A46)

2 (D9A46) 3

(0009)

(265BA) 2 (265BA)

3 (D9A45)

0 (D9A45) 1

(000A)

(265BC) 0 (265BC)

1 (D9A43)

2 (D9A43) 3

(000B)

(265CB) 0 (265CB)

1 (D9A34)

2 (D9A34) 3

(000C)

(265CE)  0 (265CE)

1 (D9A31)

2 (D9A31) 3

(000D)

(265E3) 0 (265E3) 1 (D9A1C)

2 (D9A1C) 3

(000E)

(265E6) 0 (265E6) 1 (D9A19)

2 (D9A19) 3

(000F)

(265E9) 0 (265E9) 1 (D9A16)

2 (D9A16) 3

(0011)

(265EA) 2 (265EA)

2 (D9A15)

0 (D9A15) 1

(0012)

(265F2) 0 (265F2) 0 (D9A0D)

2 (D9A0D) 3


79

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 E(規定)  ビットシフトの測定法

試験テープは,情報交換に使用する磁気テープ装置によってシステムオペレーションと互換性のあるモ

ードで記録する。

E.1

読取り装置  読取り装置は,次による。

附属書 によって測定するときに,トラックの直線性が附属書 の規定を満足する磁気テープ装置によ

って読み取る。

再生ヘッドの出力電圧の絶対値は,規定しない。ただし,再生ヘッド,前置増幅器,回転トランス,ヘ

ッドとテープの相対速度及び積分器は,低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択する。

−  再生ヘッド

ギャップ長

: 0.18

µm±0.05µm

ヘッドギャップの角度  : 正アジマスのヘッドギャップは,スキャナ軸に対して+25°00'±15'とす

る。

: 負アジマスのヘッドギャップは,スキャナ軸に対して−25°00'±15'とす

る。

−  ヘッドとテープの接触及び再生チャネル

信号取込み中(E.2 参照)のヘッドとテープの接触の安定性及び読取りヘッド,前置増幅器及び回

転トランスの総合周波数応答特性は,信号対雑音比で 10dB 以上の良好なものとする。

E.2

測定方法  ビットシフトは,再生電圧波形をデジタル記録する計数信号処理を用いて等化器の出力で

測定する。信号取込みは,メインデータゾーン 1 の最初のビットで始まり(本体の 15.1 参照)

,メインデ

ータゾーン 1 のチャネルビットが少なくとも 25 000 個読み取られた時点で終わる。

信号処理のアルゴリズムは,次の段階で実行する。

a)

メインデータゾーン 1 からのデジタル波形をタイミング抽出アルゴリズムに入力する。タイミング抽

出アルゴリズムの例としては,このゾーンからのリードバックチャネルビット信号のビット間隔での

公称中心位置について,一連の一定間隔の基準タイムを生成する第一次フーリエ変換がある。これら

の基準タイムは b)d)を実行したとき,d)に指定したビットエラー率を満足するように,十分に正確

であることとする。

b)

一連の基準タイムを,同一の周波数と位相で残りの信号キャプチャ間隔に拡張する。これらの基準タ

イムは,メインデータゾーン 1 からのリードバックチャネルビット信号のビット間隔での公称中心位

置のタイミングを定義する。

c)

メインデータゾーン 1 から取り込んだビット間隔での公称中心位置で,再生電圧を 2%よりも高い精

度で測定する。

d)

メインデータゾーン 1 から取り込んだ各ビット間隔について,ビットエラー率が 1/10 000 よりも小さ

い検出方法を使用して,テープ上の対応するビットセルの状態を推測する。ヘッド走行方向に磁化さ

れている各ビットセルに,+1 のデータ値 を割り当て,ヘッド走行と反対方向に磁化されている各

ビットセルに,−1 のデータ値 を割り当てる。

e)

各ビットセルについて,4 要素のベクトルを作成し,各要素に 1,2,3,4 と番号を付ける。第 3 要素


80

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

の D

3

の値は,現在のビットセルのデータ値 とし,第 4 要素の D

4

の値は,次のビットセルのデータ

値 とする。第 1 要素及び第 2 要素それぞれの値 D

1

と D

2

は,前の 2 個のビットセルのデータ値 

する。その結果,ベクトル値は,16 個のベクトル値のベクトル値 をもつ。

f)

 16

個の各ベクトル値について,ベクトル値がそのベクトル値 をもつすべてのビットセルの c)で測定

したプレイバック電圧の平均値 V

i

を計算する。

g)

電圧平均値とデータ値を各ベクトル値に一つずつ与え,16 個のボルテラシリーズを作成する。各シリ

ーズは,次による。

V

i

=  A

0000

(d. c 成分)

A

0100

D

2

A

0010

D

3

(信号成分)

A

1000

D

1

A

0001

D

4

(線形 ISI 成分)

A

1100

D

1

D

2

A

0110

D

2

D

3

A

0010

D

3

D

4

(非線形 ISI 成分)

A

1010

D

1

D

3

A

0101

D

2

D

4

A

1001

D

1

D

4

(高次非線形 ISI 成分)

A

1101

D

1

D

2

D

4

A

1011

D

1

D

3

D

4

A

1111

D

1

D

2

D

3

D

4

(高次線形 ISI 成分)

A

1110

D

1

D

2

D

3

A

0111

D

2

D

3

D

4

(ビットシフトに関係する非線形 ISI 成分)

h)

  g)

で定義する 16 個の連立方程式を解くことによって,ボルテラ係数の A

0000

A

1111

を算出する。

i)

ビットシフトに関係する非線形 ISI 干渉を示すボルテラ係数は,A

1110

及び A

0111

となる。

参考  この方法の論理的根拠は,次の文献に記述されている。

Newby, P. and Wood, R., 1986 “The effects of Nonlinear Distortion on Class IV Partial Response” IEEE

Transactions on Magnetics Volulme MAG-22, Number 5, September 1986, Page 1203

この方法の適用方法については,次の文献に記述されている。

Williams C. H., 1990 “The Measurement and Classification of Impairment for DVTR Transports” 8th

Conference on Video, Audio and Data Recording IEE Conference Publication No.319, page 67


81

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 F(規定)  トラックエッジの直線性の測定法

F.1

測定条件  試験片は,長手方向に 0.04N∼0.06N の張力を加える。

F.2

測定方法  記録トラックのエッジ上に,テープ基準縁からの距離 4.454 5mm を中心とし,長手方向の

軸がテープ基準縁に対して,

α

=4.895 0°傾いた 59.148mm×7.5

µm の長方形の箱を設定する。

F.3

要求事項  トラックエッジは,箱の短い辺にだけ交差しなければならない。

附属書 図 1  トラックエッジの直線性の測定法


82

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 G(規定)  ECC の計算

C1

符号は,GF (2

8

)

リードソロモン符号 (64,58,7)  とし,C2 符号は,GF (2

8

)

リードソロモン符号 (56,

48

,9)  とする。

*C1

パリティは,シンボルでインターリブした 2 ブロックとして完了する。

GF (2

8

)

は,次の多項式によって算出する。

G

 (x)

x

8

x

4

x

3

x

2

+1

α

=(00000010)

C1

符号のインターリーブ深度は,2 バイトとし,C2 符号のインターリーブ深度は 8 ブロックとする。

ECC

バイトは,次の式による。

H

P

×V

P

=0

H

Q

×V

Q

=0

生成多項式は,次の式による。

=

=

=

5

i

0

i

i

P

)

(

)

(

α

x

x

G

=

=

=

7

i

0

i

i

Q

)

(

)

(

α

x

x

G

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

û

ù

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ë

é

=

0

5

10

300

305

310

315

0

4

8

240

244

248

252

0

3

6

180

183

186

189

0

2

4

120

122

124

126

0

1

2

60

61

62

63

0

0

0

0

0

0

0

P

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

H

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

û

ù

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ë

é

=

0

8

16

416

424

432

440

0

7

14

364

371

378

385

0

6

12

312

318

324

330

0

5

10

260

265

270

275

0

4

8

208

212

216

220

0

3

6

156

159

162

165

0

2

4

104

106

108

110

0

1

2

52

53

54

55

0

0

0

0

0

0

0

Q

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

α

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

Λ

H


83

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

V

P

D

2k,l

D

2k,l+2

D

2k,l+4

D

2k,l+6

D

2k,l+8

D

2k,l+10

D

2k,l+12

D

2k,l+14

D

2k,l+16

D

2k,l+18

D

2k,l+20

D

2k,l+22

D

2k,l+24

D

2k,l+26

D

2k,l+28

D

2k,l+30

D

2k,l+32

D

2k,l+34

D

2k,l+36

D

2k,l+38

D

2k,l+40

D

2k,l+42

D

2k,l+44

D

2k,l+46

D

2k,l+48

D

2k,l+50

D

2k,l+52

D

2k,l+54

D

2k,l+56

D

2k,l+58

D

2k,l+60

D

2k,l+62

D

2k+1,l+64

D

2k+1,l+66

D

2k+1,l+68

D

2k+1,l+70

D

2k+1,l+72

D

2k+1,l+74

D

2k+1,l+76

D

2k+1,l+78

D

2k+1,l+80

D

2k+1,l+82

D

2k+1,l+84

D

2k+1,l+86

D

2k+1,l+88

D

2k+1,l+90

D

2k+1,l+92

D

2k+1,l+94

D

2k+1,l+96

D

2k+1,l+98

D

2k+1,l+100

D

2k+1,l+102

D

2k+1,l+104

D

2k+1,l+106

D

2k+1,l+108

D

2k+1,l+110

D

2k+1,l+112

D

2k+1,l+114

P

2k+1,l+116

P

2k+1,l+118

P

2k+1,l+120

P

2k+1,l+122

P

2k+1,l+124

P

2k+1,l+126

V

Q

=

Q

m,n 

Q

m+6,n 

Q

m+12,n 

Q

m+18,n 

D

m+24,n 

D

m+30,n 

D

m+36,n 

D

m+42,n 

D

m+48,n 

D

m+54,n 

D

m+60,n 

D

m+66,n 

D

m+72,n 

D

m+78,n 

D

m+84,n 

D

m+90,n 

D

m+96,n 

D

m+102,n 

D

m+108,n 

D

m+116,n 

D

m+122,n 

D

m+128,n 

D

m+132,n 

D

m+138,n 

D

m+144,n 

D

m+150,n 

D

m+156,n 

D

m+162,n 

D

m+168,n 

D

m+174,n 

D

m+180,n 

D

m+186,n 

D

m+192,n 

D

m+198,n 

D

m+204,n 

D

m+210,n 

D

m+216,n 

D

m+222,n 

D

m+234,n 

D

m+246,n 

D

m+252,n 

D

m+258,n 

D

m+264,n 

D

m+270,n 

D

m+276,n 

D

m+282,n 

D

m+288,n 

D

m+294,n 

D

m+300,n 

D

m+306,n 

Q

m+312,n 

Q

m+318,n 

Q

m+324,n 

Q

m+330,n 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


84

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

ここに,

P

ij

C1

バイト

Q

ij

C2

バイト

i

ブロック番号

j

シリアル番号

なお,C1 バイトは,次による。

k

=0,1,…,335

l

=0,1

k

=0∼23,又は 312∼335 では,V

P

の D

ij

は Q

ij

C2

バイトは,次による。

0

m≦5

0

n≦127

各ブロックに含む 128 個のバイトは,

0

∼127 のシリアル番号で識別し,

0

∼335 ブロック番号で識別する。


85

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 H(参考)  輸送条件

この附属書(参考)は,カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので,規定の一部ではない。

H.1

環境条件  カートリッジの輸送時の環境条件は,次によることが望ましい。

温度:    −40∼45℃

相対湿度:5∼80%

湿球温度:26℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

H.2

カートリッジの輸送条件  カートリッジの輸送は,次による。

H.2.1

衝撃及び振動  輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために,次のような対策を取ること

が望ましい。

a)

カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。

b)

カートリッジは,1m を超える高さから落下させてはならない。

c)

カートリッジは,十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。

d)

カートリッジの収納箱は,内部が清浄で,かつ,じんあい(塵埃)

,水などの侵入がない構造とする。

e)

カートリッジの収納箱内での収納方法は,テープリールの中心軸が水平になるようにする。

f)

カートリッジの収納箱は,正しい方向(天地)に置けるように明確な表示をする。

H.2.2

極端な温度及び湿度

a)

温度及び湿度の急激な変化は,どの場合でも可能な限り回避する。

b)

輸送されたカートリッジは,必ず使用環境条件に最低 24 時間放置する。

H.2.3

誘導磁界の影響  カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は,外部磁界の影響による

信号破壊の危険性を最小限にするため,80mm 以上とする。


86

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 J(参考)  記録時再生 (RAW) 

この附属書(参考)は,記録時再生について記述するもので,規定の一部ではない。

記録時再生 (RAW) は,フレームを記録した後に,正しく記録できたかどうかを検査し,正しく記録で

きていないときは,再記録するために,直ちに,そのフレームを再生することである。RAW は,フレーム

単位で行う。RAW を行うときは,テープのデータ領域だけで行うこととし,アンブルフレームで行っては

ならない。RAW を行うときは,他のフレームに適用したか否かにかかわらず,個々のフレームごとに適用

するかどうかを決めてもよい。RAW 検査で,フレームが正しく記録できていないと判断するとテープに沿

い,その先にフレームを再記録する。再記録するフレームが,元のフレームを重ね書きすることはない。

RAW

検査の第一の目的は,テープの欠陥によって発生する多量の誤りを含むフレームの検出である。し

たがって,すべてのチャネルビットが正しく再生できなくても必ずしも再記録を行う必要はない。データ

交換の信頼性は,

記録品質及びデータデコード品質だけに十分な余裕をもつことが最小の要求事項である。

フレームの品質を検査する方法の例としては,ミッシングパルスの長さ,レベル及びレベルの分布,C1

符号又は C2 符号によって検出された欠陥の数を数えること,記録及び再生のチェックサムを比較するこ

と,記録及び再生データの比較をサンプル期間又は常時行うことなどである。

フレームを再記録するときは,テープ上に複数の同じフレームが存在する可能性がある。それに引き続

く再生によって,フレームのデータが複数の部分から再生した場合,前に再生したフレームのデータは,

記録の失敗の可能性があるので,最後に再生したデータを使用することを推奨する。


87

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 K(参考)  基本グループ の内容の例

この附属書(参考)は,基本グループ番号 0 の内容の例を記述するもので,

附属書 図 に示すものと

し,規定の一部ではない。

バイト位置 1 からバイト位置 400 のすべてのエントリの後に(00)が続き,残りのフィールドは(00)で埋め

る。

バイト位置

フィールド ID

内容の説明

0

∼127

製造業者名

パーティションの初期化又は記録を行ったテープ装置の製造
業者の名前

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

128

∼159

モデル番号

パーティションの初期化又は記録を行ったテープ装置のモデ
ル番号

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

160

∼191

シリアル番号

テープ装置のシリアル番号

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

192

∼223

改定番号

テープ装置構成部品の改定番号

192

∼199  サブアセンブリ 1

200

∼207  サブアセンブリ 2

208

∼215  サブアセンブリ 3

216

∼223  サブアセンブリ 4

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

241

∼255

ホストインタフェース

の形式とアドレス

SCSI

や接続アドレスなどの,ホストインタフェースの形式

224

∼239 ホストインタフェース形式

240

∼255 アドレス

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

256

∼271

日時

パーティションの初期化又は記録を行った日時

 YYMMDDHHMMSS

256

∼257 YY 年=1996+YY

258

∼259 MM 

260

∼261 DD 

262

∼263 HH 時間

264

∼265 MM 

266

∼267 SS 

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

272

∼399

テープラベル又は ID

パーティションの内容を示すインジケータ

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

400

∼22 271

確保

すべてのバイトを 0 に設定

22 272

∼801 792  製造業者用データ

規定しない

附属書 図 1  基本グループ の内容の例


88

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

附属書 L(参考)  チップの例

この附属書(参考)は,MIC に使用する IC について記述するもので,規定の一部ではない。

この附属書では,この規格で規定するカートリッジに有効な市場で流通している 2 種類の IC チップ,

Serial I

2

C EEPROM ST24E16

及び ST25E16 について記述する。これらの 2 種類の IC チップの信号,デバイ

ス走査及び読出し/書込みの詳細な技術情報は,次の STMicroelectronics の URL から入手できる。

http : //www. st. com

http : //www. st. com/stonline/index. htm

後者の URL では,シリアル Serial EEPROM I

2

C

バス類を選択しパーツリストの中に ST24E16 SERIAL

EXTENDED ADDRESSING COMPATIBLE WITH I2C 16K (2K

×8) EEPROM を検索することができる。

附属書 図 は,2 種類の EEPROM の論理ダイアグラムを示し,右側の信号名は本体 8.2.2 に規定する

アクセス孔の配置を示す。

附属書 図 1  アクセス孔と IC チップとの接触の関連

アクセス孔 ID は,この規格では使用しない(

附属書 図 参照)。

URL

で使用している “K” の表現は,1 024 と等価とし,MIC チップの容量は,2 048 バイトとする。


89

X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)

JIS X 6147

(8mm 幅,ヘリカル走査記録,情報交換用磁気テープカートリッジ,AIT-2・MIC 様式)

原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

大  石  完  一

(幹事)

富  田  正  典

トータルシステム株式会社

(幹事)

荒  木      学

日本ユニシス株式会社

高  山  佳  久

ソニー株式会社

中  島  郁  志

ソニー株式会社

船  越  正  次 TDK 株式会社

竹  内      正

株式会社トリム・アソシエイツ

村  上  恒  夫

日本システムハウス株式会社

吉  岡      雄

日本ストレージ・テクノロジー株式会社

川  田  道  孝

日本電気株式会社

益  田  憲  明

株式会社日立製作所

渡  谷  誠  治

日立マクセル株式会社

稲  垣  博  康

富士通株式会社

橋  本      進

財団法人日本規格協会

和  泉      章

経済産業省商務情報政策局

八  田      勲

経済産業省産業技術環境局

(事務局)

鈴  木  尋  士

社団法人電子情報技術産業協会