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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電子工業振興協会  (JEIDA)  /

財団法人日本規格協会  (JSA)  から日本工業標準原案を具して,日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登

録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS X 6145

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  テープ及びリーダの光透過率の測定法

附属書 B(規定)  信号対雑音比の測定法

附属書 C(規定)  記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法(記録条件)

附属書 D(規定)  8 ビットバイトから 10 チャネルビットパターンへの変換

附属書 E(規定)  ビットシフトの測定法

附属書 F(規定)  トラックエッジの直線性の測定法

附属書 G(規定)  ECC の計算

附属書 H(参考)  輸送条件

附属書 J(参考)  記録時再生 (RAW)

附属書 K(参考)  基本グループ 0 の内容の例


X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

(1) 

目次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  適合性

1

2.1

  カートリッジ

1

2.2

  書込み装置

1

2.3

  読取り装置

2

3.

  引用規格

2

4.

  定義

2

4.1

  絶対フレーム番

2

4.2

  交流消

2

4.3

  アクセ

2

4.4

  アルゴリズ

2

4.5

  エリア I

2

4.6

  自動トラックファインディン

2

4.7

  平均信号振

2

4.8

  アジマ

2

4.9

  裏

2

4.10

  バイ

2

4.11

  カートリッ

3

4.12

  チャネルビッ

3

4.13

  コードワー

3

4.14

  EW

3

4.15

  EO

3

4.16

  エンティテ

3

4.17

  誤り訂正符

3

4.18

  磁束反転位

3

4.19

  磁束反転間

3

4.20

  フレー

3

4.21

  ハウスキーピングフレー

3

4.22

  LBO

3

4.23

  磁気テー

3

4.24

  信号振幅基準テー

3

4.25

  主基準テー

3

4.26

  MI

3

4.27

  パーティション境

3


X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

目次

(2) 

4.28

  PBO

3

4.29

  PEO

3

4.30

  記録密

3

4.31

  記録条

3

4.32

  圧縮処

3

4.33

  圧縮デー

3

4.34

  圧縮レコー

3

4.35

  レコー

3

4.36

  基準磁

3

4.37

  復元処

3

4.38

  信号振幅二次基準テー

4

4.39

  二次基準テー

4

4.40

  セパレータマー

4

4.41

  基準信号振幅

4

4.42

  基準電

4

4.43

  テープ基準

4

4.44

  試験記録電

4

4.45

  トラッ

4

4.46

  ティピカル磁

4

4.47

  未圧縮デー

4

4.48

  未圧縮レコー

4

5.

  表記法

4

5.1

  数字の表現

4

5.2

  エンティティの名称

4

6.

  略号

4

7.

  環境条件及び安全性

5

7.1

  試験環境条件

5

7.2

  使用環境条件

5

7.3

  保存環境条件

5

7.4

  輸送

6

7.5

  安全性

6

7.6

  難燃性

6

8.

  ケースの寸法及び機械的特性

6

8.1

  概要

6

8.2

  全体の寸法(図 5 及び図 6)

7

8.3

  保持領域

7

8.4

  カートリッジ挿入部

7

8.5

  窓(図 1)

8

8.6

  ローディンググリップ(図 5 及び図 7)

8

8.7

  ラベル領域(図 6 及び図 8)

8


X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

目次

(3) 

8.8

  基準領域及び基準孔(図 9,図 10 及び図 11)

8

8.9

  支持領域(図 9)

9

8.10

  識別孔(図 10,図 11 及び図 12)

10

8.11

  書込み禁止孔(図 11 及び図 12)

10

8.12

  位置決め面(図 4 及び図 10)

11

8.13

  リッド(図 6,図 13 及び図 15)

11

8.14

  リールロック(図 10 及び図 16)

12

8.15

  リール受け孔(図 10)

13

8.16

  リールと駆動スピンドルとの接触領域

13

8.17

  光通過経路(図 10,図 12,図 20 及び図 21)

14

8.18

  ケース内のテープの位置(図 21)

14

8.19

  テープ走行領域(図 21)

15

8.20

  テープ引出し開口部(図 10)

15

8.21

  テープの引出し開口部への要求事項(図 24)

15

8.22

  MIC への要求事項

15

8.22.1

  MIC アクセス

15

8.22.2

  識別用切込み(図 8 及び図 10)

16

9.

  テープの機械的特性,物理的特性及び寸法

32

9.1

  材料

32

9.2

  テープの長さ

32

9.2.1

  磁気テープの長さ

32

9.2.2

  リーダテープ及びトレーラテープの長さ

33

9.2.3

  スプライシングテープの長さ

33

9.3

  テープの幅

33

9.3.1

  磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅

33

9.3.2

  スプライシングテープの幅及び位置

33

9.4

  連続性

33

9.5

  テープの厚さ

33

9.5.1

  磁気テープの厚さ

33

9.5.2

  リーダテープ及びトレーラテープの厚さ

33

9.5.3

  スプライシングテープの厚さ

33

9.6

  長手方向の湾曲

33

9.7

  カッピング

33

9.8

  磁性面及び磁気テープ裏面の接着強度

33

9.9

  層間の粘着

34

9.10

  引張強度

34

9.10.1

  破断強度

34

9.10.2

  降伏強度

34

9.11

  残留伸び

34

9.12

  磁性面の電気抵抗

34


X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

目次

(4) 

9.13

  テープの巻き方

35

9.14

  テープの光透過率

35

10.

  磁気的特性

35

10.1

  ティピカル磁界

35

10.2

  平均信号振幅

35

10.3

  分解能

36

10.4

  重ね書き

36

10.5

  消去特性

36

10.6

  テープの品質

36

10.6.1

  ミッシングパルス

36

10.6.2

  ミッシングパルスゾーン

36

10.7

  信号対雑音比 (SNR) 特性

36

11.

  フォーマット 37

11.1

  一般事項

37

11.2

  基本グループ

37

11.2.1

  エンティティ

38

11.2.2

  グループ情報テーブル

39

11.2.3

  ブロックアクセステーブル (BAT)

40

11.3

  サブグループ

43

11.3.1

  G1 サブグループ

43

11.3.2

  G2 サブグループ(ランダム化)

43

11.3.3

  G3 サブグループ

45

11.4

  データブロック

46

11.4.1

  ID 情報

47

11.4.2

  データブロックヘッダへの ID 情報の記録

49

12.

  記録方式

51

12.1

  記録密度

51

12.2

  長周期平均ビットセル長

51

12.3

  短周期平均ビットセル長

51

12.4

  短周期平均ビットセル長の変動率

52

12.5

  ビットシフト

52

12.6

  情報交換時の再生信号振幅

52

12.7

  最大の記録レベル

52

13.

  トラック

52

13.1

  トラックの構成

52

13.2

  平均トラック間隔

53

13.3

  トラック間隔の変化

53

13.4

  トラック幅

53

13.5

  トラック角

53

13.6

  トラックエッジの直線性

53


X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

目次

(5) 

13.7

  トラック長

53

13.8

  アジマス角

53

14.

  記録パターン

53

14.1

  記録データブロック

53

14.2

  マージンブロック

53

15.

  トラックのフォーマット

53

15.1

  トラックの内容

53

15.2

  トラック位置精度

54

15.3

  トラッキング法

54

16.

  シングルデータスペーステープの構成

55

16.1

  デバイス領域

56

16.2

  リファレンス領域

56

16.3

  ガードバンド 1

56

16.4

  システム領域

56

16.4.1

  システムプリアンブル

56

16.4.2

  システムログ

56

16.4.3

  システムポストアンブル

59

16.4.4

  ガードバンド 2

59

16.4.5

  ベンダグループプリアンブル

59

16.5

  データ領域

59

16.5.1

  ベンダグループ

59

16.5.2

  記録データグループ

59

16.5.3

  ECC3

60

16.5.4

  多重記録インスタンス

61

16.5.5

  再記録フレーム

61

16.5.6

  追記録及び重ね書き

61

16.6

  EOD 領域

63

16.7

  オプションデバイス領域

63

16.8

  アーリーワーニングポイント (EWP)

64

16.9

  初期化

64

17.

  パーティションテープの構成

64

17.1

  テープ上の配置

65

17.1.1

  パーティション

65

17.2

  LBOT

66

17.3

  空きのパーティション

66

17.4

  パーティションテープの初期化

66

18.

  ハウスキーピングフレーム

66

18.1

  アンブルフレーム

66

18.2

  システムアンブルフレーム

67


X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

目次

(6) 

附属書 A(規定)  テープ及びリーダの光透過率の測定法

68

附属書 B(規定)  信号対雑音比の測定法

70

附属書 C(規定)  記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法  (記録条件)

71

附属書 D(規定)  8 ビットバイトから 10 チャネルビットパターンへの変換

72

附属書 E(規定)  ビットシフトの測定法

79

附属書 F(規定)  トラックエッジの直線性の測定法

81

附属書 G(規定)  ECC の計算

82

附属書 H(参考)  輸送条件

85

附属書 J(参考)  記録時再生 (RAW)

86

附属書 K(参考)  基本グループ 0 の内容の例

87


日本工業規格

JIS

 X

6145

: 2000

 (

15780

: 1998)

8mm

幅,ヘリカル走査記録,

情報交換用

磁気テープカートリッジ,AIT-1 様式

8mm wide magnetic tape cartridge for information interchange

Helical scan recording

−AIT-1 format

序文  この規格は,1998 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 15780, Information technology−Data

inter-change on 8mm wide magnetic tape cartridge

−Helical scan recording−AIT-1 format を翻訳し,技術的内容

及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

この規格に記載の IEC 規格番号は,1997 年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものである。

これより前に発行された規格については,規格票に記載された規格番号に 60000 を加えた番号に切り替え

る。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一である。

1.

適用範囲  この規格は,電子計算機,関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い

る 8mm 幅,ヘリカル走査記録,AIT-1 (Advanced Intelligent Tape-1)  様式,磁気テープカートリッジ(以下,

カートリッジという。

)の構造,寸法,物理的特性,機械的特性,磁気的特性及び情報の規格様式について

規定する。

この規格は,情報交換当事者間で合意した情報交換符号並びにラベル及びファイル構成の規格を用いる

ことでシステム相互の情報交換に適用する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

ISO/IEC 15780

  Information technology−Data interchange on 8mm wide magnetic tape cartridge−

Helical scan recording

−AIT-1 format (IDT)

2.

適合性

2.1

カートリッジ  カートリッジは,この規格のすべてを満足するとき,この規格に適合する。

2.2

書込み装置  情報交換用カートリッジに用いる書込み装置は,テープに記録するすべての記録がこ

の規格に適合するとき,この規格に適合する。

適合性を表示する場合,次の機能の有無を明示する。

−  記録時再生によるチェック及び不良フレームの再記録。

− ECC3(誤り訂正用 C3 符号)フレームの生成。


2

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

また,次の任意機能の有無を明示する。

−  登録した圧縮アルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。

−  圧縮アルゴリズムの登録番号。

2.3

読取り装置  情報交換用カートリッジに用いる読取り装置は,この規格に適合するテープ上の記録

を処理でき,次の機能をもつとき,この規格に適合する。

−  再記録フレームを識別し,これらのフレームの一つだけから利用者データ及びセパレータマークを

取り出す。

−  同一の基本グループが複数表れてもそれを識別し,これらの中の一つだけから利用者データ及びセ

パレータマークを取り出しホストに伝える。

− ECC3 フレームの識別。ただし,ECC3 機能がない場合,無視する。

−  定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し,ホストが利用できる登録番号を取り出す。

−  ホストが利用できる圧縮データの生成。

次の任意機能の有無を明示する。

− ECC3 を使用した誤り訂正の可否。

−  圧縮データ復元用アルゴリズムの有無,及びそのアルゴリズムを圧縮データに適用する機能の有無。

−  その装置がもつ圧縮データ復元アルゴリズムに対応する圧縮アルゴリズムの登録番号。

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・

追補には,適用しない。

JIS K 7161 : 1994

  プラスチック−引張特性の試験方法  第 1 部:通則

備考  ISO 527-1 : 1993  Plastics−Determination of tensile properties−Part 1:General principles が,こ

の規格と一致している。

ISO 1302 : 1992

  Technical drawings−Method of indicating surface texture on drawings

ISO/IEC 11576 : 1994

  Information technology−Procedure for the registration of algorithms for

the lossless compression of data

IEC 60950 : 1996

  Safety of information technology equipment

4.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

4.1

絶対フレーム番号  [absolute frame number (AFN)]    フレームに付けた連続番号。

4.2

交流消去 (a.c. erase)   減衰する交流磁界を用いた消去。

4.3

アクセス (access)   パーティションの記録又は再生。

4.4

アルゴリズム (algorithm)   データの論理的表現を変換する規則の集合。

4.5

エリア ID (area ID)    磁気テープ領域及び記録したフレームタイプの識別子。

4.6

自動トラックファインディング  [automatic track finding (ATF)]    トラッキング方法。

4.7

平均信号振幅 (average signal amplitude)    規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ

ルスがない部分を長さ 20.0mm 以上にわたって測定した再生ヘッドの平均ピーク (P-P) 出力電圧。

4.8

アジマス (azimuth)   磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。

4.9

裏面 (back surface)   データの記録に使う磁性面の反対側のテープ面。

4.10

バイト (byte)   一単位として取り扱うビット列。


3

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

4.11

カートリッジ (cartridge)   一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。

4.12

チャネルビット (channel bit)   8 ビットから 10 ビットに変換後のビット。

4.13

コードワード (codeword)   データ圧縮アルゴリズムによって変換処理したワード。コードワードの

ビット数は,可変であり,この規格では規定しない。

4.14  EWP (early warning point)

  パーティションの境界又は PEOT に近付いたことを示す箇所。

4.15  EOD (end of data)

  最後の利用者データを含むグループの終端。

4.16

エンティティ (entity)   エンティティヘッダ及びレコードによって構成する記録データの集合。

4.17

誤り訂正符号  [error correcting code (ECC)]    誤りを自動訂正できるように設計した符号。

4.18

磁束反転位置 (flux transition position)   テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となるテープ上

の点。

4.19

磁束反転間隔  (flux transition spacing)    一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。

4.20

フレーム (frame)   正のアジマスとこれに続く負のアジマスからなる一対のトラック。

4.21

ハウスキーピングフレーム (housekeeping frame)   利用者データを含まないフレーム。

4.22  LBOT (logical beginning of tape)

  テープ上でのデータの記録開始位置。

4.23

磁気テープ (magnetic tape)   磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.24

信号振幅基準テープ (master standard amplitude calibration tape)   交流消去したテープ上に正アジマ

ス及び負アジマス,35.0

µm のトラック幅ヘッド,11.0µm のトラック間隔で主基準信号を記録し,信号振

幅の校正の基準として用いるテープ。

参考1.  この基準テープは,1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm 及び3 809.5ftpmm の信号を記

録している。

2.

この基準テープは,ソニー株式会社によって管理されている。

4.25

主基準テープ  (master standard reference tape)    基準磁界,信号振幅,分解能,重ね書き及び信号対

雑音比の主基準として用いるテープ。

参考  この主基準テープは,ソニー株式会社によって管理されている。

4.26  MIC (memory in cartridge)

  ケース内にあり,テープの記録に関する情報を保持する半導体メモリ。

4.27

パーティション境界 (partition boundary)   パーティションが終わり次のパーティションが始まる磁

気テープの長さ方向に沿った点。

4.28  PBOT (physical beginning of tape)

  テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.29  PEOT (physical end of tape)

  テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。

4.30

記録密度  (physical recording density)    トラックの長さ 1mm 当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm)。

4.31

記録条件 (pre-recording condition)   互換性維持のために許容される記録レベル。

4.32

圧縮処理 (processing)   ホストからのデータを圧縮アルゴリズムによって,コードワードに変換す

る処理。

4.33

圧縮データ (processed data)   圧縮処理したコードワードの列。

4.34

圧縮レコード (processed record)   未圧縮レコードを圧縮処理することによって生成するレコード。

4.35

レコード (record)   情報の単位として扱うデータ。

4.36

基準磁界 (reference field)   主基準テープのティピカル磁界。

4.37

復元処理 (reprocessing)   コードワードを元のデータに復元する処理。


4

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

4.38

信号振幅二次基準テープ  (secondary standard amplitude calibration tape)    信号振幅基準テープと同じ

種類の信号を記録し,そのテープの信号振幅と信号振幅基準テープのそれとの偏差を明示したテープ。供

試テープの信号振幅と信号振幅基準テープのそれとを比較するために用い,供試テープの実測値を補正す

ることによって,間接的に供試テープとの特性の比較を行うことを可能にするテープ。

参考  信号振幅副基準テープは,〒141-0001  東京都品川区北品川 6-7-35  ソニー株式会社が部品番

号 SSCT-AIT-1 で 2006 年まで供給する。

4.39

二次基準テープ  (secondary standard reference tape)    テープの基準磁界,信号振幅,分解能,重ね書

き及び信号対雑音比を主基準テープのそれと比較するために用い,その特性値と主基準テープの特性との

偏差を明示して,実測値の偏差を補正することによって,間接的に供試テープと主基準テープとの特性の

比較を行うことを可能にするテープ。

参考  二次基準テープは,〒141-0001  東京都品川区北品川 6-7-35  ソニー株式会社が部品番号

SSRT-AIT-1

で 2006 年まで供給する。

4.40

セパレータマーク (separator mark)   データの区切りに使用する利用者データを含まないレコード。

4.41

基準信号振幅    [standard reference amplitude (SRA)]    信号振幅基準テープの正アジマストラックに

記録した主基準信号の平均信号振幅。

4.42

基準電流  (standard reference current)    基準磁界を発生させる記録電流。

4.43

テープ基準縁 (tape reference edge)   BOT のテープ接合箇所が左側になるようにテープの記録面か

ら見たときのテープの下端。

4.44

試験記録電流  (test recording current)    SRA を記録した電流で,基準電流の 1.5 倍の電流。

4.45

トラック (track)   磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.46

ティピカル磁界 (typical field)   記録密度 2 857.1ftpmm で記録して,再生したとき,その平均信号振

幅が最大値の 90%を示す最小の印加磁界。

4.47

未圧縮データ (unprocessed data)   圧縮処理をしていないデータの列。

4.48

未圧縮レコード (unprocessed record)   バイト単位で構成する未圧縮データのレコード。

5.

表記法

5.1

数字の表現  測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち,規定値が 1.26,

正の許容誤差が 0.01,負の許容誤差が 0.02 である場合,測定した値は,1.235 以上 1.275 未満を許容する。

16

進数は,丸括弧を付け数字及び英文字で表す。

ビットの設定は, “0” 又は “1” で表す。

ビットパターン及び 2 進数表現の数字は, “0” 又は “1” の列で表す。規定しないビットは,X を使用

してもよい。

ビットパターン及び 2 進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,最下位ビットを右とする。

2

進数の負の表現は,2 の補数で表す。

各フィールド内では,データバイト 0 を最上位バイトとし,最初に記録する。各バイト内では,最上位

ビット(8 ビットバイトのビット 7)を最初に記録する。この順序は,特に規定がない限り,誤り検出符号

及び誤り訂正符号の入出力にも適用する。

5.2

エンティティの名称  エンティティの名称は,この規格では規定しない。

6.

略号  略号は,次による。


5

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

AEWP

アフターアーリーワーニングポイント  (after early warning point)

AFN

絶対フレーム番号 (absolute frame number)

ATF

自動トラックファインディング (automatic track finding)

BAT

ブロックアクセステーブル  (block access table)

ECC

誤り訂正符号  (error correcting code)

EOD

EOD (end of data)

EWP

アーリーワーニングポイント (early warning point)

GIT

グループ情報テーブル  (group information table)

LBOT

LBOT (logical beginning of tape)

LSB

最下位バイト  (least significant byte)

LF-ID

論理フレーム識別子  (logical frame identifier)

MIC

メモリインカートリッジ  (memory in cartridge)

MSB

最上位バイト  (most significant byte)

MSRT

主基準テープ  (master standard reference tape)

PBOT

PBOT (physical beginning of tape)

PEOT

PEOT (physical end of tape)

RAW

記録時再生 (read-after-write)

SNR

信号対雑音比 (signal-to-noise ratio)

msb

最上位ビット  (most significant bit)

7.

環境条件及び安全性

7.1

試験環境条件  試験環境条件は,カートリッジ近傍の環境条件とし,規定がない限り次による。

温度 23℃±2℃

相対湿度 40%∼60%

試験前放置時間 24 時間

7.2

使用環境条件  使用環境条件は,書込み装置又は読取り装置のスキャナ(ドラム)からテープ取出

し方向に 10mm 以内の大気中で測定し,次による。

温度

5

℃∼45℃

相対湿度 20%∼80%

湿球温度 26℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

使用環境条件は,装置使用に伴う温度上昇分も含む。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は,使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上,又は最大 24 時間,使用環境条件に放置してから使用する。

備考  急激な温度変化は,避ける。

7.3

保存環境条件  保存環境条件は,次による。

温度

5

℃∼32℃

相対湿度 20%∼60%

周辺磁界は,テープ上で 4 000A/m を超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は,結露しては

ならない。


6

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

7.4

輸送  カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は,附属書 によ

る。

7.5

安全性  カートリッジ及びその構成部品は,IEC 60950 の要求を満足しなければならない。

カートリッジ及びその構成部品は,適正使用時又はあらかじめ予想可能な誤使用時に,安全性,又は健

康上の危険が生じてはならない。

7.6

難燃性  カートリッジ及びその構成部品の材料は,マッチの炎などによって着火してもよいが,二

酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

8.

ケースの寸法及び機械的特性

8.1

概要  カートリッジ寸法の規定は,情報交換のための要求事項とする。具体図は次による。

図 1  リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

図 2  リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

図 3  基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z

図 4  リッドが閉じた状態の前面

図 5  リッドが閉じた状態の左側面

図 6  リッドが閉じた状態の上面

図 7  リッドが閉じた状態の右側面

図 8  リッドが閉じた状態の背面

図 9  底面,基準領域及び支持領域

図 10  リッドがない状態の底面

図 11  基準孔及び識別孔の詳細図

図 12  光通過孔,識別孔及び書込み禁止孔の断面図

図 13  リッドの詳細図

図 14  リッドロック解除機構の挿入経路

図 15  リッドロック解除機構

図 16  リールロック解除機構

図 17  リールロックの解除に必要な力の方向

図 18  リッドのロック解除に必要な力の方向

図 19  リッドを開けるために必要な力の方向

図 20  光通過経路及び光通過窓

図 21  内部のテープ通過経路及び光通過経路

図 22  リールの外観及び断面図

図 23  リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図

図 24  テープ引出し開口部

図 25  MIC 部背面の詳細図

図 26  MIC 部底面の詳細図

寸法は,三つの直交する基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z に基づく(

図 参照)。

基準面 X は,基準孔 A 及び基準孔 B の中心を通り,基準面 Z に垂直とする。

基準面 Y は,基準孔 A の中心を通り,基準面 X 及び基準面 Z に垂直とする。

基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C は,基準面 Z 内とする。


7

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

8.2

全体の寸法(図 及び図 6)  ケースの長さは,次による。

l

1

=62.5mm±0.3mm

ケースの幅は,次による。

l

2

=95.0mm±0.2mm

ケースの上面から基準面 Z までの長さは,次による。

l

3

=15.0mm±0.2mm

背面から基準面 X までの長さは,次による。

l

4

=47.35mm±0.15mm

右側面から基準面 Y までの長さは,次による。

l

5

=13.0mm±0.1mm

8.3

保持領域  カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は,図 の斜線の領域とする。

基準面 X から保持領域までの長さは,次による。

l

6

≦12.0mm

ケースの端からの幅は,次による。

l

7

≧3.0mm

8.4

カートリッジ挿入部  カートリッジ挿入部は,誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐ

ために,溝,切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。

溝は,リッドが閉じてロックした状態のとき,ロック解除を可能にするために,リッドロック解除ピン

の挿入領域を妨げないように設ける。溝の基準面 Y からの長さは,次による(

図 及び図 14 参照)。

l

8

=79.6mm±0.2mm

溝の端部の面取りは,次による。

l

9

=1.0mm±0.1mm

l16

=1.5mm±0.1mm

溝の内部の面取りは,次による。

l

10

=0.7mm±0.1mm

l

17

=1.0mm±0.1mm

l18

=3.65mm±0.10mm

溝の内部の幅は,次による。

l

11

≧1.0mm

リッドの厚さは,次による。

l

12

=1.2mm±0.1mm

リッドの面取りは,次による。

l

13

=0.8mm±0.1mm

l

14

=1.2mm±0.1mm

リッドのケースからの突出は,次による。

l

15

=0.5mm±0.1mm

ケースの左側面からリッドロックまでの長さは,次による。

l

19

=0.2mm±0.2mm

挿入領域の高さは,次による。

l

20

≧2.3mm


8

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

l

21

=2.5mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

切込みは,カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は,次による(

図 及び図 10 参照)。

l

22

≦7.5mm

l

23

=11.0mm±0.2mm

l

24

=1.5mm±0.1mm

切込みの深さは,次による。

l

25

=1.5mm±0.1mm

こう配面は,リッドの構造の一部とし,基準面 X からの長さは,次による(

図 13 参照)。

l

26

=7.7mm

mm

0

.

0

mm

5

.

2

+

こう配面の角度は,半径 r

3

と交差するところまでとし(8.13 参照)

,次による。

a

1

=17.5°±4.0°

8.5

窓(図 1)  窓は,リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合,カ

ートリッジの高さを超えてはならない。

8.6

ローディンググリップ(図 及び図 7)  ローディンググリップは,磁気テープ装置にカートリッジ

を自動的に装着するために設ける。

ローディンググリップの中心線の基準面 X からの長さは,次による。

l

28

=39.35mm±0.20mm

ローディンググリップの基準面 Z 及びカートリッジ上面からの長さは,次による。

l

29

=1.5mm±0.1mm

ローディンググリップのくぼみの幅は,次による。

l

30

=5.0mm±0.3mm

ローディンググリップのくぼみの深さは,次による。

l

31

=2.0mm±0.2mm

ローディンググリップのくぼみの傾斜は,次による。

a

2

=90°±5°

8.7

ラベル領域(図 及び図 8)  ラベル領域は,カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ

ル領域の位置及び寸法は,カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。

上面のラベル領域は,l

6

及び l

7

で規定した保持領域の内側に入ってはならない。

背面のラベル領域の位置及び寸法は,次による。

l

32

≧0.5mm

l

33

≧1.5mm

l

34

≦65.0mm

l

171

l

164

ラベル領域のくぼみの深さは,0.3mm 以下とする。

8.8

基準領域及び基準孔(図 9,図 10 及び図 11)  環状の基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C は,

基準面 Z 上に設け,磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ

れの直径 d

1

は,6.0mm±0.1mm とし,それぞれの基準孔の中心と同心とする。

基準孔 A 及び基準孔 B の中心は,基準面 X 上とする。

円形の基準孔 A の中心は,基準面 X 及び基準面 Y の交線とする(

図 10 参照)。

基準孔 B の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 参照)。


9

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

l

35

=68.0mm±0.1mm

円形の基準孔 C の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 11 参照)。

l

36

=10.20mm±0.05mm

基準孔 D の中心から基準孔 C の中心までの長さは,次による(

図 参照)。

l

37

=89.4mm±0.2mm

基準孔 C 及び基準孔 D の中心から基準面 X までの長さは,次による(

図 10 参照)。

l

38

=36.35mm±0.08mm

基準領域のケースの厚さは,次による。

l

39

=1.2mm±0.1mm

基準孔 A 及び基準孔 C の深部の直径は,次による。

l

40

≧2.6mm

基準孔の深さは,次による。

l

42

≧4.0mm

基準孔 A 及び基準孔 C の開口部付近の直径は,次による。

l

44

=3.00mm

mm

05

.

0

mm

00

.

0

+

基準孔 A 及び基準孔 C の直径が l

44

となる部分の深さは,次による。

l

41

≧1.5mm

基準孔 A 及び基準孔 C の開口部の面取りは,次による。

l

43

≦0.3mm

a

3

=45°±1°

基準孔 B 及び基準孔 D の深部の幅は,l

40

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の深さは,l

42

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の開口部付近の寸法は,次による。

l

45

=3.5mm±0.1mm

l

46

=3.00mm

mm

05

.

0

mm

00

.

0

+

r

1

=1.75mm±0.05mm

基準孔 B 及び基準孔 D の寸法が l

45

l

46

及び r

1

となる部分の深さは,l

41

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の開口部の面取りは,l

43

及び a

3

とする。

8.9

支持領域(図 9)  カートリッジ支持領域は,図 の網掛け部分とする。支持領域 A,支持領域 B

及び支持領域 C は,それぞれ,基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C から±0.1mm 以内で同一の平面

上とする。支持領域 D は,基準面 Z から±0.15mm 以内で同一の平面上とする。

カートリッジの端から l

49

の長さの領域は,支持領域から除かなければならない。

l

49

=0.5mm±0.1mm

基準面 X から支持領域 A 及び支持領域 B のケース前面側の端までの長さは,次による。

l

47

=10.0mm±0.1mm

基準孔 A 及び基準孔 B の中心から,それぞれ支持領域 A 及び支持領域 B のケース側面側の端までの長

さは,l

47

とする。

基準孔 A 及び基準孔 B の中心から,それぞれ支持領域 A 及び支持領域 B のケース内側の端までの長さ

は,次による。

l

48

=11.0mm±0.1mm


10

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

基準面 X から支持領域 A 及び支持領域 B のケース背面側の端までの長さは,次による。

l

50

=7.0mm±0.1mm

基準面 X から支持領域 C 及び支持領域 D までの長さは,次による。

l

51

=30.0mm±0.1mm

支持領域 C 及び支持領域 D の寸法は,l

47

及び次による。

l

52

=5.5mm±0.1mm

l

53

=64.5mm±0.2mm

8.10

識別孔(図 10,図 11 及び図 12)  識別孔は,図 11 に示す 1∼3 の番号を付けた 3 個を設ける。

識別孔 1 の中心の位置は,次による。

l

54

=43.35mm±0.15mm

l

55

=3.7mm±0.1mm

l

56

=2.3mm±0.1mm

識別孔 2 の中心の位置は,l

54

及び次による。

l

61

=10.0mm±0.1mm

識別孔 1 及び識別孔 2 は円形とし,その直径は,3.0mm±0.1mm とする。

識別孔 3 は方形とし,その位置及び寸法は次による。

l

58

=74.3mm±0.1mm

l

142

=77.3mm±0.1mm

l

143

=41.15mm±0.10mm

l

144

=44.45mm±0.10mm

すべての識別孔は,

図 12 の E-E 及び図 12 の F-F に示す断面構造をもち,閉じた識別孔の基準面 Z から

の深さは,次による。

l

59

=1.2mm

mm

3

.

0

mm

1

.

0

+

開いた識別孔の基準面 Z からの深さは,次による。

l

60

≧5.0mm

図 12 の E-E は,識別孔をプラグで閉じた状態を示す。このプラグは,最大 0.5N の力を加えても打ち抜

かれてはならない。

識別孔の開閉状態は,次による。

識別孔 1 は,閉じる。

識別孔 2 は,開く。

識別孔 3 は,開く。

8.11

書込み禁止孔(図 11 及び図 12)  書込み禁止孔の位置は,l

54

及び次による。

l

57

=6.4mm±0.1mm

書込み禁止孔の直径は,3.0mm±0.1mm とする。

閉じた書込み禁止孔の基準面 Z からの深さは,l

59

とする。

開いた書込み禁止孔の基準面 Z からの深さは,l

60

とする。

書込み禁止孔は,開いた状態で書込み禁止とし,閉じた状態で書込み可能とする。

書込み禁止孔は,可動の機構としてもよい。このとき,書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければ

ならない(

図 参照)。書込み禁止孔を閉じたとき,0.5N の力を加えても開いてはならない。書込み禁止

孔の開閉に要する力は,1N∼15N とする。


11

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

8.12

位置決め面(図 及び図 10)  位置決め面は,カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき,カ

ートリッジの位置決めに用い,その寸法は,次による。

基準面 Z からの長さは,次による。

l

62

=2.4mm

mm

0

.

0

mm

1

.

0

+

基準面 Y からの長さは,次による。

l

63

=1.0mm±0.1mm

l

64

=69.0mm±0.2mm

基準面 X からの長さは,次による。

l

65

=14.65mm±0.10mm

位置決め面の面取りは,次による。

a

4

=45°±1°

8.13

リッド(図 6,図 13 及び図 15)  リッドは,カートリッジの取扱い中,保管中及び運搬中にテープ

を保護するために設け,主リッド及び副リッドからなる。

主リッドは,ケースに取り付けた軸 A を軸として回転する(

図 13 参照)。

軸 A の位置は,次による。

l

27

=0.55mm±0.10mm

l

67

=7.5mm±0.1mm

副リッドは,主リッドに取り付け,主リッドとともに動く軸 B を軸として回転する。リッドが閉じた状

態では,軸 B の位置は,次による。

l

68

=7.0mm±0.1mm

l

69

=10.1mm±0.1mm

副リッドの回転は,両側のカムによって,

図 13 に示す経路で制御する。

完全に開いた副リッドの開口部の長さは,次による。

l

70

≧14.8mm

l

71

=11.5mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

72

=1.2mm  ±0.1mm

リッドは,完全に開いた状態では,主リッド及び副リッドともに基準面 Z に平行で,l

73

離れた平面を超

えてはならない。

l

73

≦22.3mm

完全に開いたリッドの底面が基準面 Z に対する角度は,次による。

a

5

ο

ο

ο 1

2

85

+

リッドは,途中まで開いた状態では,主リッド及び副リッドともに基準面 Z に平行で,l

74

離れた平面を

超えてはならない。

l

74

≦22.5mm

リッドが開くときのリッドの頂点の通過経路は,次による。

r

2

≦14.9mm

ケースと主リッドの継ぎ目は,次による(

図 の B-B 参照)。

l

75

≦8.4mm

主リッドの基準面 Z からの高さは,次による(

図 13 参照)。


12

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

l

76

=15.2mm

mm

0

.

0

mm

5

.

0

+

主リッドの前面の基準面 X からの長さは,次による。

l

77

=15.3mm

mm

0

.

0

mm

3

.

0

+

リッドの内側のすきまは,次による。

l

78

=13.15mm±0.10mm

リッド前面の曲面の中心は,軸 A とし,半径は,次による。

r

3

≦14.7mm

リッドロック機構は,装置の解除ピンによって解除する。リッドが閉じロックした位置のとき,リッド

ロックの解除動作は,

図 15 の斜線部に遮られてはならない。図 15 の斜線部は,次による。

l

79

=2.0mm±0.1mm

l

145

=6.3mm±0.2mm

l

146

=1.2mm±0.1mm

a

15

=45°±1°

a

16

=15°±1°

解除ピンは,

図 15 の網掛け領域にあるとき,リッドロック機構を解除する。図 15 の網掛け領域は,l

79

及び次による。

l

80

=8.2mm±0.2mm

l

81

=0.7mm±0.2mm

a

6

=15°±1°

リッドロックの解除に要する力は,

図 18 に示す方向に 0.25N 以下とする。

リッドを開く力は,

図 19 に示す方向に 1.0N 以下とする。

8.14

リールロック(図 10 及び図 16)  リールは,カートリッジを磁気テープ装置から取り出したとき,

ロックしなければならない。ロック機構は,装置の解除ピンによって解除する。

ロック機構は,

図 10 に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面 Y からの長さは,

次による。

l

82

=34.5mm±0.1mm

方形孔の基準面 X からの寸法は,次による(

図 10 参照)。

l

83

=35.85mm±0.15mm

l

84

=4.0mm±0.1mm

l

85

≧6.5mm

ロック機構の寸法は,次による。

l

86

=3.2mm

mm

3

.

0

mm

2

.

0

+

l

87

=4.0mm±0.1mm

a

7

=60.0°±1.0°

解除ピンの動作面が基準面 X から l

88

に位置するとき,リールはロックする。

l

88

=39.0mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

解除ピンの動作面が基準面 X から l

89

に位置するとき,リールはロックしてはならない。

l

89

=41.75mm

mm

50

.

0

mm

00

.

0

+

カートリッジの背面板の内側とロック機構の間に l

90

のすきまを設ける。

l

90

≧0.5mm


13

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

解除ピンをカートリッジに挿入する深さは,次による。

l

91

≦7.8mm

ロック機構のすきまは,次による。

l

92

=4.0mm±0.1mm

r

4

≦0.3mm

リールロックの解除に要する力は,

図 17 に示す方向に 1.0N 以下とする。

8.15

リール受け孔(図 10)  二つのリール受け孔は,駆動スピンドルを通すために設ける。

リール受け孔の位置は,次による。

l

93

=23.00mm±0.05mm

l

94

=11.40mm±0.05mm

l

95

=46.2mm±0.1mm

リール受け孔の直径は,次による。

d

2

=18.80mm±0.05mm

8.16

リールと駆動スピンドルとの接触領域  リールと駆動スピンドルの接触領域は,次による(図 22 

図 23)。

l

102

=5.4mm±0.1mm

l

103

=4.4mm±0.1mm

l

104

≦0.6mm

d

4

=10.00mm

mm

08

.

0

mm

00

.

0

+

d

5

≦16.0mm

d

6

=18.0mm

mm

0

.

0

mm

1

.

0

+

d

7

=16.0mm

mm

0

.

0

mm

1

.

0

+

リール駆動孔の面取りは,次による。

l

105

=2.4mm±0.1mm

a

9

=15°±1°

リール底面の外側エッジの面取りは,次による。

l

106

≦0.2mm

a

8

=45°±1°

リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は,次による。

l

107

=2.4mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

a

10

=60°±1°

リール駆動孔の歯の半径は,次による。

r

5

≦0.2mm

リール駆動孔の深さ l

108

は,直径 d

3

の部分までとし,次による。

l

108

≧9.4mm

d

3

=6.50mm

mm

08

.

0

mm

00

.

0

+

基準面 Z からのテープ中心線の位置は,磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき,次による。

l

109

=7.05mm±0.10mm

基準面 Z からのリールの位置は,磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき,次による。

l

110

=0.6mm±0.2mm


14

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

リールを挿入したとき,リールと駆動スピンドルとのかみ合いは,次による。

l

111

≦7.5mm

l

112

≦8.0mm

a

11

=60°±1°

リールのばね力 は,磁気テープ装置にカートリッジを装着し,支持部が基準面 Z から l

110

の位置にあ

るとき,

図 23 に示す方向に 0.6N±0.2N とする。

8.17

光通過経路(図 10,図 12,図 20 及び図 21)  光通過経路は,リーダテープ及びトレーラテープを

検出するために設ける。リッドが開いたとき,光通過経路は,直径 d

10

の光通過孔から一辺が l

118

の正方形

の窓,及びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない(

図 12 の D-D 参照)。

光通過孔の中心の位置は,l

82

及び次による。

l

115

=8.35mm±0.10mm

光通過孔の直径は,次による。

d

10

=6.5mm

mm

3

.

0

mm

0

.

0

+

光通過孔の開口部の面取りは,次による。

l

116

≦0.5mm

a

12

=45°±1°

光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は,次による。

l

117

=6.05mm±0.10mm

l

118

=2.5mm

mm

4

.

0

mm

0

.

0

+

光通過孔は,発光素子を挿入するため,次の深さとする。

l

119

≧12.5mm

光通過経路の角度は,次による。

a

13

=5.50°±0.25°

リッドの光通過窓の位置及び寸法は,次による。

l

120

=3.8mm±0.1mm

l

121

=2.5mm

mm

4

.

0

mm

0

.

0

+

l

122

=6.05mm±0.10mm

8.18

ケース内のテープの位置(図 21)  テープは,基準面 X に平行な二つのガイド面を通る。基準面 X

からガイド面までの長さは,次による。

l

123

=13.15mm±0.10mm

ガイド面は,r

6

の半径をもち,

図 21 に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな

ければならない。

r

6

=3.0mm±0.1mm

これらの点の位置及び寸法は,次による。

l

124

=76.28mm±0.30mm

l

125

=27.15mm±0.20mm

l

126

=31.15mm±0.20mm

l

127

=9.67mm±0.10mm


15

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

8.19

テープ走行領域(図 21)  カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると,テープは,テープガイド

によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは,ガイド面に接触してはならない。テー

プ走行領域は,テープが自由に走行できることとし,その位置及び寸法は,l

124

から l

127

及び次による。

l

128

=23.0mm±0.1mm

l

130

=46.2mm±0.2mm

l

131

=11.4mm±0.1mm

テープとガイドのすきまは,次による。

l

129

≧0.3mm

l

132

≧0.3mm

8.20

テープ引出し開口部(図 10)  磁気テープ装置にカートリッジを装着すると,磁気テープ装置のテ

ープガイドは,カートリッジからテープを引き出す。二つの半径 r

7

の中心は,基準孔 A 及び基準孔 B の

中心とする。テープ引出し開口部の形状及び寸法は,l

63

l

64

及び次による。

r

7

=2.3mm±0.1mm

二つの半径 r

8

の中心は,二つのリール受け孔の中心とする。

r

8

=24.15mm±0.10mm

l

133

=3.85mm±0.10mm

8.21

テープの引出し開口部への要求事項(図 24)  ケースは,テープ引出し機構のためのすきまを設け,

開口部への要求事項は,次による。

l

134

≦1.2mm

l

135

=1.15mm

mm

20

.

0

mm

00

.

0

+

l

136

=14.0mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

137

≧66.8mm

l

138

≧10.0mm

l

139

≧66.8mm

l

140

≦1.2mm

a

14

≦49°

l

141

≧14.8mm

l

159

≧13.0mm

l

170

≦4.0mm

8.22

  MIC

への要求事項  MIC は,ケースに組み込まれた半導体メモリで,システムログや利用者情報な

どを保持する。この MIC の組込みの有無及び内容は,規定しない。ただし,MIC が組み込まれたカート

リッジを装置が正常に使用できることを確実にするために,8.22.1 及び 8.22.2 を規定する。

8.22.1

  MIC

アクセス孔(図 25 及び図 26)  MIC アクセス孔は,5 個設け,その寸法は,次による。

l

165

=67.2mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

166

=69.0mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

167

=70.0mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

168

=71.8mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

169

=72.8mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

147

=74.6mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

148

=75.6mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+


16

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

l

149

=77.4mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

150

=78.4mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

151

=80.2mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

152

=5.1mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

153

=1.4mm

mm

3

.

0

mm

1

.

0

+

MIC

アクセス孔の面取りは,次による。

l

154

=0.4mm±0.1mm

a

17

=45°±1°

カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると,カートリッジを識別するため,装置のピンが識別孔 3 を

貫く。このため,

図 26 の N-N の網掛け領域に障害物があってはならない。図 26 の網掛け領域は,l

143

l

144

及び次による。

l

157

≧5.0mm

l

158

≦1.5mm

l

160

≧45.4mm

8.22.2

識別用切込み(図 及び図 10)  識別用切込みは,ライブラリー装置でカートリッジ識別に用い

る。

識別用切込みは,ケースの背面に 2 個設け,その寸法は,次による。

l

161

=8.4mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

162

=6.0mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

163

=2.0mm

mm

2

.

0

mm

0

.

0

+

l

164

=2.0mm

mm

2

.

0

mm

1

.

0

+

図 1  リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観


17

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 2  リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

図 3  基準面 X,基準面 及び基準面 Z


18

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 4  リッドが閉じた状態の前面

図 5  リッドが閉じた状態の左側面  図 6  リッドが閉じた状態の上面

図 7  リッドが閉じた状態の右側

図 8  リッドが閉じた状態の背面


19

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 9  底面,基準領域及び支持領域


20

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 10  リッドがない状態の底面


21

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 11  基準孔及び識別孔の詳細図


22

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 12  光通過孔,識別孔及び書込み禁止孔の断面図

図 13  リッドの詳細図


23

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 13  リッドの詳細図(続き)

図 14  リッドロック解除機構の挿入経路


24

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 15  リッドロック解除機構

図 16  リールロック解除機構


25

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 17  リールロックの解除に必要な力の方向

図 18  リッドのロック解除に必要な力の方向

図 19  リッドを開けるために必要な力の方向


26

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 20  光通過経路及び光通過窓


27

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 21  内部のテープ通過経路及び光通過経路


28

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 22  リールの外観及び断面図


29

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 23  リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図


30

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 24  テープ引出し開口部


31

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 25  MIC 部背面の詳細図


32

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 26  MIC 部底面の詳細図 

9.

テープの機械的特性,物理的特性及び寸法

9.1

材料  磁気テープは,配向したポリエチレンテレフタレートフィルムベース(又はこれと同等品)

上の片面に強固で柔軟性のあるメタル蒸着層(又はこれと同等品)をもつこととする。磁気テープの裏面

は,塗布してもよい。

テープの始端には,巻取りリールのハブと PBOT の間にリーダテープを設け,テープの終端には,供給

リールのハブと PEOT の間にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテープは,磁性材の塗

布及び裏面の塗布がないポリエチレンテレフタレート(又はこれと同等品)の半透明な材料とする。

リーダテープ及びトレーラテープは,それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。

スプライシングテープは,ポリエチレンテレフタレート(又はこれと同等品)とし,片面にはアクリル系

接着剤(又はこれと同等品)を塗布する。

9.2

テープの長さ

9.2.1

磁気テープの長さ  PBOT と PEOT 間のテープの長さは,9.0m∼172.0m とする。


33

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

9.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さ  リーダテープ及びトレーラテープの長さは,70mm∼

90mm

とする。リーダテープ及びトレーラテープと磁気テープとの接合は,テープ基準縁の垂直方向に 1°

以内とする。

9.2.3

スプライシングテープの長さ  スプライシングテープの長さは,13mm 以内とし,リーダテープ及

びトレーラテープ上で 6.5mm±1.5mm とする。

9.3

テープの幅

9.3.1

磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅  磁気テープの幅は,8.00mm±0.01mm とする。

幅の最大値と最小値の差は,6

µm を超えてはならない。

リーダテープ及びトレーラテープの幅は,8.00mm±0.02mm とする。

磁気テープの幅の測定方法は,次による。

a)

顕微鏡用のスライドガラスを試験テープにかぶせる。

b)

張力をかけないでテープ幅を測定する。測定には,2.5

µm 以上の高精度の顕微鏡,投影機又はこれと

同等の装置を使用する。

c)

長さ 1m 以上のテープにわたり,異なる 5 か所以上の位置で測定を繰り返す。

テープの幅は,測定した値の平均とする。

9.3.2

スプライシングテープの幅及び位置  スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが

リーダテープ、トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は,次による。

スプライシングテープの下端は,その他のテープの下端から 0.60mm 以下とし,スプライシングテープ

の上端は,その他のテープの上端から 0.60mm 以内とする。スプライシングテープの端が,リーダテープ,

トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。

9.4

連続性  テープは,PBOT と PEOT との間に継ぎ目や孔のような不連続があってはならない。

9.5

テープの厚さ

9.5.1

磁気テープの厚さ  磁気テープの厚さは,6.5

µm∼7.3µm とする。

9.5.2

リーダテープ及びトレーラテープの厚さ  リーダテープ及びトレーラテープの厚さは,9

µm∼

17

µm とする。

9.5.3

スプライシングテープの厚さ  スプライシングテープの厚さは,27

µm 以下とする。

9.6

長手方向の湾曲  長手方向の湾曲は,曲率半径 33m 以上とする。試験方法は,次による。

長さ 1m のテープを平面上に自然の状態で置く。1m の弦からの偏差を測定する。偏差は,3.8mm 以下と

する。この偏差は,33m の曲率半径と一致する。

9.7

カッピング  カッピングは,平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし,0.7mm 以下とする。試

験方法は,次による。

a)

テープを長さ 150mm±10mm に切り取る。

b)

磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして 3 時間以上放置する。

c)

2

個の円筒型ガイドの中心を 35mm 離して水平に置き,その上にテープを置く。

d)

テープの両端に 0.3g のおもりを付ける。

e)

テープの上端と下端で決まる面とテープ表面との距離の最大値を測定する。

9.8

磁性面及び磁気テープ裏面の接着強度  接着強度は,磁性面又は塗布面をテープのベース材料から

はがす力とし,0.1N 以上とする。試験方法は,次による(

図 27 参照)。

a)

長さ約 380mm のテープの試験片を採り,一方の端から 125mm の位置でテープ幅方向にけがき線をベ

ース面に達するまで引く。


34

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

b)

磁性面を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。

c)

試験片を 180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて 254mm/分で引っ

張る。

d)

磁性面のいかなる部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が 0.1N に

達する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は,別の種類の両面接着テープを使用する。テ

ープの裏面に塗布されている場合は,a)d)に準じて,裏面の試験を行う。

図 27  記録面及び塗布面の接着強度の試験法

9.9

層間の粘着  層間の粘着は,次の試験方法によって試験したとき,試験片に粘着及び磁性面又は塗

布面のはがれの兆候があってはならない。試験方法は,次による。

a)

直径 36mm のガラス管の表面に,長さ 1m の試験片の端を付ける。

b)

 1.1N

の張力でガラス管にテープを巻く。

c)

巻かれた試験片を温度 45℃±3℃,相対湿度 80%の環境に 4 時間放置する。

d)

さらに,試験環境条件に 24 時間放置する。

e)

試験片の自由端に 0.1N の力を加え,ゆっくりほどく。

9.10

引張強度  引張強度は,JIS K 7161 の試験方法による。

テープの試験片の長さは,200mm とする。リーダテープ及びトレーラテープの試験片の長さは,50mm

とする。引張速度は,100mm/分とする。

9.10.1

破断強度  破断強度は,テープが破断するのに要する力とし,8N 以上とする。

9.10.2

降伏強度  降伏強度は,テープが 5%伸びるのに要する力とし,4N 以上とする。

9.11

残留伸び  残留伸びは,元のテープ長の 0.04%未満とする。試験方法は,次による。

a)

 0.20N

以下の張力で,約 1m 長の試験片の初期の長さを測定する。

b)

さらに全断面に 20.5N/mm

2

の力を 10 分間加える。

c)

加えた力を取り除き,10 分後にテープ長を測定する。

9.12

磁性面の電気抵抗  テープ記録面の電気抵抗は,10

3

Ω以下とする。

試験方法は,次による(

図 28 参照)。

a)

テープ試験片を試験環境条件に 24 時間放置する。

b)

 24

カラットの金めっきした半径 r=10mm で粗さを N4(IS0 1302 参照)で仕上げてある二つの半円の

電極に,記録面が接するように置く。これらの電極は,水平で,中心間の距離 d=8mm となるように

平行に置く。


35

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

c)

 5N/mm

2

の張力を発生させるために必要な力 を試験片の両端に加える。

d)

電極に 7V±1V の直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。

この測定を一つのテープ試験片の 5 か所について行い,読み取った抵抗値を平均する。

試験片を電極に置くとき,電極間には,試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考  試験前に電極の表面を清掃する。

図 28  磁性面の電気抵抗試験法

9.13

テープの巻き方  テープの巻き方は,テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。

9.14

テープの光透過率  磁気テープの光透過率は,5%以下とする。

リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は,60%以上とする。

光透過率の測定方法は,

附属書 による。

10.

磁気的特性  磁気的特性の試験は,次による。

この試験を行うとき,出力信号又は残留信号の測定は,主基準テープ,供試テープともに同じ装置の同

じ走行系を使用し,記録時再生によって行う。

規定がない限り,磁気的特性の試験条件は,次による。

テープの状態

:記録密度 2 857.1ftpmm の平均信号振幅の 0.1%未満に交流消去

スキャナの直径

:40.00mm

mm

01

.

0

mm

00

.

0

+

スキャナの回転速度

:4 800.0rpm±0.5rpm

テープ速度

:20.63mm/s±0.30mm/s

試験トラック

:正アジマス

再生ヘッドのギャップ長

:0.20

µm±0.05µm

記録電流

:試験記録電流

記録トラック幅

:11

µm±1µm

テープ張力

:スキャナ(ドラム)入口で 0.050N±0.005N

記録ヘッドのギャップ長

:0.22

µm±0.05µm

再生ヘッドのトラック幅

:13mm 以上 15mm 以下

再生ヘッドの配置

:記録時再生中,再生トラックの全体が記録トラックの内側

再生出力

:基本周波数で測定

10.1

ティピカル磁界  ティピカル磁界は,基準磁界の 80%∼112%とする。

基準磁界の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.2

平均信号振幅  平均信号振幅は,記録密度 3 809.5ftpmm で記録したとき,主基準テープの平均信号

振幅の 90%∼140%とする。

平均信号振幅は,記録密度 1 428.6ftpmm で記録したとき,主基準テープの平均信号振幅の 90%∼130%

とする。


36

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

主基準テープの平均信号振幅の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.3

分解能  分解能は,記録密度 3 809.5ftpmm の平均信号振幅を 1 428.6ftpmm の平均信号振幅で除した

値とし,その値は,主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して 85%∼120%とする。

主基準テープの分解能の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.4

重ね書き  重ね書きは,低記録密度の信号を記録した後に,高記録密度の信号を重ね書きし,残留

する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。

主基準テープの重ね書きの特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

試験方法は,次による。

交流消去したテープを用い記録密度 1 142.9ftpmm の信号を記録し,平均信号振幅を測定する。記録密度

5 714.3ftpmm

の信号を重ね書きし,残留した記録密度 1 142.9ftpmm の信号の平均信号振幅を測定する。二

次基準テープについて繰り返し測定する。

要求事項は,次による。

記録密度 1 142.9ftpmm の重ね書きは,次の比によって求めたとき,主基準テープの 120%未満とする。

の信号の平均信号振幅

記録密度

の信号の平均信号振幅

記録密度

重ね書き後に残留する

ftpmm

9

.

1142

ftpmm

9

.

1142

10.5

消去特性  消去特性は,次による。

試験記録電流で記録密度 1 142.9ftpmm の信号を記録した後,テープの長手方向に 320 000A/m の均一な

磁界中を通過したとき,残留信号の信号振幅は,主基準信号振幅の 2%以下とする。

消去磁界は,ソレノイドの中央部の磁界のように,均一でなければならない。また,測定はバンドパス

フィルタを通し,少なくとも第 3 高調波まで行う。

10.6

テープの品質  テープの品質は,次による。

10.6.1

ミッシングパルス  ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損であり,再生信号の出力電圧の 0V

を基準としたピーク値 (0-P) が記録密度 1 428.6ftpmm の信号の平均信号振幅の 2 分の 1 の 40%以下とする。

10.6.2

ミッシングパルスゾーン  ミッシングパルスゾーンは,次による。

ミッシングパルスゾーンは,ミッシングパルスによって開始し,トラック方向に 1mm の長さに達した

とき終了する。ミッシングパルスが連続して 1mm を超えて発生したとき,次のミッシングパルスゾーン

とする。

一つのミッシングパルスゾーンは,次のトラックにまたがってはならない。

ミッシングパルスゾーンの発生頻度は,正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について 5×10

6

磁束反転当たり 1 個未満とする。

10.7

信号対雑音比 (SNR) 特性  信号対雑音比は,再生信号の平均信号振幅を雑音の平均信号振幅で除し,

デシベル (dB) で表す。

SNR

=20 log Stape/Ntape

ここに,

SNR

信号対雑音比 (dB)

S

tape

再生信号の平均信号振幅

N

tape

雑音の平均信号振幅

試験テープの SNR は,

附属書 の測定法で測定したとき,主基準テープの SNR に比べて−2dB 以上良

くなければならない。

主基準テープの SNR の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。


37

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

11.

フォーマット

11.1

一般事項  この規格によって規定するデータの最小集合をレコードと呼ぶ。レコードは,テープ装

置で処理し記録するためにホストから提供されるデータバイトを識別する最小単位である。また,レコー

ドは,テープ装置で再処理してホストに送るためのデータを識別する最小単位である。圧縮レコードと未

圧縮レコードの 2 種類のレコードがある。

記録したテープは,未圧縮レコード,圧縮レコード,又はこれらの両方を含むことができることとし,

セパレータマークを含んでもよい。圧縮レコード及び未圧縮レコードは,共にエンティティとしてテープ

に記録する。セパレータマークは,構造スキームでのデータの論理的な区分を示すためにホストが使用し

てもよい。

エンティティ及びセパレータマークは,グループにまとめる。各グループのインデックスによって,そ

のグループの内容を記述する。一連の転送過程中での処理,すなわち,ランダムマイジング,インタリー

ビング,ブロッキング,二つのリードソロモン誤り訂正符号の生成と記録,及びバイトからチャネルビッ

トへの変換は,テープに記録する前に各グループに適用する。3 番目のリードソロモン誤り訂正符号をグ

ループに適用してもよい。その場合,生成するバイトを変換して,テープ上のグループの後に続くフレー

ム内に記録する。

各グループは,トラックのグループ上に記録する。各トラック上の利用者データ,セパレータマーク,

及び関連情報を記録する部分は,トラックのメインデータゾーンと呼ぶ。グループの内容,トラックの位

置,及びトラックの内容についての追加情報は,メインデータゾーンの ID 領域内にある記録データブロ

ックのヘッダに記録する。

ホストコンピュータから受け取ったデータに対するすべての処理は,誤り検出符号及び誤り訂正符号の

使用方法を含めて規定する。ただし,処理方法については,規定しない。テープへの記録方法及びテープ

レイアウトを規定する。ただし,このフォーマットは,固有の特性をもっているので,必要な場合,デー

タの処理についての規定で,テープレイアウトの詳細を規定する。

11.2

基本グループ  記録するデータは,801 792 バイトの基本グループにグループ化する。基本グループ

は,0 から始まる連続番号を付けて識別する。基本グループは,バイトは 1∼801 792 の番号で識別する。

基本グループ 0 の構成は,この規格では規定しない。グループ用のデータは,テープシステムで生成し,

ベンダグループとして記録する(

附属書 参照)。

ホストコンピュータから受け取ったデータ及びセパレータマークは,基本グループ 0 の後に,基本グル

ープ 1 から開始して基本グループとしてグループ化する。これらの基本グループの構成は,次による。

参考  この規格では,セパレータ 1 及びセパレータ 2 と呼ぶ 2 種類のセパレータマークを使用する。

磁気テープ装置とホストコンピュータ間のインタフェースを定義する他の規格は,セパレータ

マークをファイルマーク及びセットマークと呼んでいる。その場合には,セパレータ 1 はファ

イルマークとし,セパレータ 2 は,セットマークとすることを推奨する。


38

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 29  基本グループの構成

エンティティを構成するデータは,基本グループで左から右に生成する(

図 29 参照)。同時にブロック

アクセステーブル (BAT) と呼ぶ基本グループの一部は,右から左に生成する。グループ情報テーブル

(GIT)

は,基本グループ内の 40 バイトとする。

11.2.1

エンティティ

11.2.1.1

内容  エンティティは,エンティティヘッダ及びレコード列から構成する。エンティティヘッダ

の長さは,8 バイトとし,レコード列の前に配置する。

エンティティのすべての圧縮レコードは,同じ長さの未圧縮レコードについて同一の圧縮アルゴリズム

を適用して生成する。

エンティティは,すべてのエンティティヘッダ及びレコード列の最初の 8 ビットが同じ基本グループに

あれば,複数の基本グループにまたがってもよい。

エンティティが複数の基本グループにまたがる場合,基本グループ内の分断されているエンティティ部

分をパーシャルエンティティと呼ぶ。パーシャルエンティティは,エンティティのスタートパート,ミド

ルパート,又はラストパートのいずれかとする(11.2.3.1.211.2.3.1.3 参照)

。分断しているエンティティ

内では,ミドルパート(存在する場合)及びラストパートのパーシャルエンティティの合計は,最大 1 レ

コードとする。

エンティティは,交換用データを含まないレコードを含めてはならない。

11.2.1.2

エンティティヘッダ  バイト 1 は,レコード列に隣接するエンティティヘッダの最初のバイトと

し,バイト 8 は,最後のバイトとする。エンティティヘッダのレイアウトは,次による。

バイト 1

このバイトは,エンティティヘッダのバイト 8 を定義するために 00001000 に設

定する。

バイト 2

このバイトは,次による。

−  レコードが未圧縮レコードの場合,1 に設定する。

−  レコードが圧縮レコードの場合,

・  レコードに適用する圧縮アルゴリズム ISO/IEC 11576 によって,登録 ID

に対応する 2∼250 に設定する。

・  圧縮アルゴリズムが未登録の場合,255 に設定する。

このバイトは,0 に設定してはならない。

バイト 3∼バイト 5

圧縮する前のレコードのバイト数を 2 進数で表す(11.2.1.1 の第 2 段落を参照)。


39

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

この長さは,0 に設定してはならない。バイト 3 は,MSB とし,バイト 5 は,

LSB

とする。

バイト 6∼バイト 8

エンティティ内のレコードの数を 2 進数で表す。この値は,0 に設定してはな

らない。バイト 6 は,MSB とし,バイト 8 は,LSB とする。

11.2.2

グループ情報テーブル  グループ情報テーブルのレイアウトは,次による。

表 1  グループ情報テーブル

バイト位置

バイト長

フィールド名

801 753

1

すべて 0 に設定

801 754

∼ 3

グループ番号

801 756

801 757

∼ 4

レコード数

801 760

801 761

∼ 4

セパレータ 1 数

801 764

801 765

∼ 4

セパレータ 2 数

701 768

801 769

1

すべて 0 に設定

801 770

∼ 3

前のレコードのグループ番号

801 772

801 773

1

すべて 0 に設定

801 774

∼ 3

前のセパレータ 1 のグループ番号

801 776

801 777

1

すべて 0 に設定

801 778

∼ 3

前のセパレータ 2 のグループ番号

801 780

801 781

2

ブロックアクセステーブル数

801 782

801 783

2

現在の基本グループ内のレコード数

801 784

801 785

2

現在の基本グループ内のセパレータ 1 数

801 786

801 787

2

現在の基本グループ内のセパレータ 2 数

801 788

801 789

∼ 4

すべて 0 に設定

801 792

表 の各フィールド内の最上位バイトは,最小バイト番号とし,最下位バイトは,最大バイト番号とす

る。

11.2.2.1

グループ番号フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。現在の基本グループの番号を 2

進数で表す。


40

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

11.2.2.2

レコード数フィールド  このフィールドは,4 バイトとする。LBOT から現在の基本グループま

での,すべての基本グループの GIT の現在の基本グループフィールド内にあるレコード数の合計を 2 進数

で表す。セパレータマークは,レコードとして計数する。

11.2.2.3

セパレータ 数フィールド  このフィールドは,4 バイトとする。LBOT から現在の基本グルー

プまでに記録したセパレータ 1 の数を 2 進数で表す。

11.2.2.4

セパレータ 数フィールド  このフィールドは,4 バイトとする。LBOT から現在の基本グルー

プまでに記録したセパレータ 2 の数を 2 進数で表す。

11.2.2.5

前のレコードのグループ番号フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。セパレータマー

ク,アクセスポイント,又は未圧縮レコードの最初の部分が発生した前の基本グループの最大番号を 2 進

数で表す。このような基本グループが存在しない場合は,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

11.2.2.6

前のセパレータ のグループ番号フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。最後に記録

したセパレータ 1 を含む前の基本グループの最大番号を 2 進数で表す。このような基本グループが存在し

ない場合は,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

11.2.2.7

前のセパレータ のグループ番号フィールド  このフィールドは,3 バイトとする。最後に記録

したセパレータ 2 を含む前の基本グループの最大番号を 2 進数で表す。このような基本グループが存在し

ない場合は,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

11.2.2.8

ブロックアクセステーブル数フィールド  このフィールドは,2 バイトとする。ブロックアクセ

ステーブル内のエントリ数を 2 進数で表す。この値は,基本グループ内のレコード又はパーシャルレコー

ドの数を示すものではない。

11.2.2.9

現在の基本グループのレコード数フィールド  このフィールドは,2 バイトとする。次の合計を

2

進数で表す。

−  現在の基本グループのブロックアクセステーブル内にあるセパレータマークエントリの数

−  現在の基本グループのエンティティ内にあるレコードの数

−  現在の基本グループのブロックアクセステーブル内にエンティティエントリ全体があるすべてのエ

ンティティのエンティティヘッダのバイト 6 からバイト 8 までの値の合計

−  現在の基本グループのブロックアクセステーブル内にエンティティエントリのスタートパートがあ

るエンティティのエンティティヘッダのバイト 6 からバイト 8 までの値よりも 1 小さい値(このよ

うなエントリが存在する場合)

−  現在の基本グループのブロックアクセステーブル内のエンティティエントリの総数

11.2.2.10

セパレータ 数フィールド  このフィールドは,2 バイトとする。現在の基本グループに記録し

たセパレータ 1 の数を 2 進数で表す。

11.2.2.11

セパレータ 数フィールド  このフィールドは,2 バイトとする。現在の基本グループに記録し

たセパレータ 2 の数を 2 進数で表す。

11.2.3

ブロックアクセステーブル (BAT)   ブロックアクセステーブルは,基本グループの各エンティテ

ィと各セパレータマークについて一つ以上のエントリを含む。基本グループに完全に含まれていないエン

ティティも一つ以上のエントリによって識別する。最初のエントリは,グループ情報テーブルの直前のバ

イト位置 801 749∼801 752 に記録する。各エントリは,

図 30 に示す構成の 4 バイトのフィールドとする。

最初のバイトは,最小バイト番号とし,4 番目のバイトは最大バイト番号とする。


41

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

ブロックアクセステーブルのエントリ

フラグバイト

カウント

第 1 バイト

第 2 バイト

(MSB)

第 3 バイト

第 4 バイト

(LSB)

図 30  ブロックアクセステーブル

3

バイトのカウントフィールドは,次のフラグバイトの設定によって 2

24

−1 を超えない数値を 2 進数で

表す。この規格は,フラグバイトとして

表 に示す 14 種類の設定を規定する。その他の設定は,この規格

では,禁止する。

フラグバイトの最上位ビット(

表 参照)は,アフターアーリーワーニングポイントビットとし,エン

トリの意味には無関係で,次による。

− EWP の前では,0 に設定する。

− EWP の後では,現在の基本グループ、及びその後のすべての基本グループのすべてのブロックアク

セステーブルエントリ内で 1 に設定する。

表 2  フラグバイトの設定

設定

エントリ

 0000

0001

エンタイアエンティティ

 0000

0010

スタートパートエンティティ

 0000

0011

ミドルパートエンティティ

EWP

の前 0000

0100

ラストパートエンティティ

 0000

0101

エンティティの総数

 0000

0110

セパレータマーク

 0000

0111

スキップ

 1000

0001

エンタイアエンティティ

 1000

0010

スタートパートエンティティ

 1000

0011

ミドルパートエンティティ

EWP

の後 1000

0100

ラストパートエンティティ

 1000

0101

エンティティの総数

 1000

0110

セパレータマーク

 1000

0111

スキップ

11.2.3.1

エンタイアエンティティ  このエントリは,エンティティが現在の基本グループで始まり,かつ,

終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは,エンティティのバイト数を表す。

11.2.3.2

スタートパートエンティティ  このエントリは,エンティティが現在の基本グループで始まり,

それに続く基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは,現在の基本グループ

内に含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。

11.2.3.3

ミドルパートエンティティ  このエントリは,エンティティが前の基本グループで始まり,それ

に続く基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは,現在の基本グループ内に

含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。

11.2.3.4

ラストパートエンティティ  このエントリは,エンティティが前の基本グループで始まり,現在

の基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは,現在の基本グループ内にある

パーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。現在の基本グループのブロックアクセステーブル

は,このエントリの直後にエンティティの総数エントリが続かなければならない。


42

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

11.2.3.5

エンティティの総数  このエントリは,ラストパートエンティティエントリの直後に配置する。

このエントリは,

ラストパートエンティティの前の同一エンティティに関連する。

カウントフィールドは,

該当するエンティティの総バイト数を表す。

11.2.3.6

セパレータマーク  このエントリは,セパレータマークレコードのエンティティを規定する。カ

ウントフィールドは,エンティティがセパレータ 1 レコードの場合,0 に設定し,エンティティがセパレ

ータ 2 レコードの場合,1 に設定する。

11.2.3.7

スキップ  各基本グループのブロックアクセステーブルの最後のエントリとしてスキップエン

トリを規定する。このエントリは,現在の基本グループ内利用者データの最後のバイトに到達したことを

示す。カウントフィールドは,基本グループに残っているバイトの数を表す。カウントフィールドに指定

可能な最小値は,グループ情報テーブルとブロックアクセステーブルの総バイト数とする。

11.2.3.8

カウントフィールド  このブロックアクセステーブル内のカウントフィールドに設定する数値

は,801 792 でなければならない。エントリタイプは,スキップ,エンタイアエンティティ,スタートパー

トエンティティ,ミドルパートエンティティ及びラストパートエンティティとする。

11.2.3.9

ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス  表 にエントリの有効なシーケンスを

示す。状態及び動作は,長方形内に示し,エントリ(フラグバイトで設定)は,長円内に示す。

表 は,各状態内,各動作後に表れるエントリ,又は有効なエントリだけを示し,その他のエントリは

すべて無効とする。


43

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

表 3  ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス

11.3

サブグループ

11.3.1

  G1

サブグループ  一つの基本グループは,これを 1∼44 544 の番号をもつ 18 個の 44 544 バイトの

G1

サブグループに分割する(

図 31 参照)。各 G1 サブグループは,1∼18 の走行番号をもつ。

図 31  G1 サブグループ 

11.3.2

  G2

サブグループ(ランダム化)  各 G1 サブグループの奇数番号のバイトは,図 32 に示すシフト

レジスタから出力したビット列によって EXCLUSIVE-OR 演算を行う。

各 G1 サブグループの偶数番号のバ

イトは,

図 32 に示すシフトレジスタから出力したビット列によって EXCLUSIVE-OR 演算を行う。


44

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 33  G2 サブグループ

各バイトの最下位ビット b1 を最初に入力する。論理演算子は,EXCLUSIVE-OR とする。

G1

サブグループは,それぞれ 22 272 バイトからなる偶数 G2 サブグループ及び奇数 G2 サブグループの

二つの G2 サブグループに変換する(

図 33 参照)。

n

=1,2,...,22 272 について,G1 サブグループのバイト D

n

は,次によって割り当てる。

−  偶数 G2 サブグループは,バイト D

2n

で構成

−  奇数 G2 サブグループは,バイト D

 (2n

1)

で構成


45

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

各 G2 サブグループのバイト順序は,G1 サブグループのバイト順序と同じとする。

11.3.3

  G3

サブグループ  各 G2 サブグループのバイトは,図 34 に示すように G3 サブグループ内に配置

する。G3 サブグループは,それぞれ 128 バイトを含む 224 個のセルに配列する。各 G2 サブグループの 22

272

データバイトは,セル番号 17∼208 の 192 個のセルに配置する。各セルは,64 バイト及び 52 バイトの

二組のデータバイトを含め,その後にセルの 116 データバイトに対して算出した 12 バイトの C1 ECC バイ

トを続ける。C1 バイトは,

附属書 に指定する方法で算出する。

192

個のすべてのセルについて,C2 ECC バイトを算出し,各セルに対応する C2 バイトは,セル番号 1

∼16 及び 209∼224 に格納する。C2 バイトは,

附属書 に規定する方法で算出する。この操作は,偶数

G2

サブグループ及び奇数 G2 サブグループの両方について行う。

各セルに含む 64 バイトセットでブロックを構成する。これらのブロックには,0∼447 のブロック番号

をもつ。


46

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 34  G3 サブグループ

11.4

データブロック  64 バイトの各ブロックは,その先頭に 8 バイトのヘッダを付けて 72 バイトのデー

タブロックに変換する。ヘッダの構成は,

図 35 に示す。


47

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

  b8 b7 b6 b5 b4 b3 b2 b1

ID1

データブロック番号 (DBN)

ID2

DBN

  ID

情報

ID3

   ID

情報

ID4

   ID

情報

ID5

   ID

情報

ID6

   ID

情報

ID7

   ID

パリティ

ID8

   ID

パリティ

図 35  データブロックヘッダの構成

これらの ID バイトは,次の ID 情報を含む。

−  データブロック番号

−  ローフォーマット ID

−  論理フレーム ID

−  パーティション ID

−  エリア ID

−  位置

−  グループ数

−  セパレータ 1 数

−  セパレータ 2 数

−  レコード数

−  絶対フレーム番号

− ID パリティ

11.4.1

  ID

情報

11.4.1.1

データブロック番号 (DBN)   データブロック番号は,9 ビットとし,バイト ID1 の 8 ビット,

及びバイト ID2 の最上ビット 8 で表す。この番号は,0∼477 とする。

11.4.1.2

ローフォーマット ID  この 8 ビットフィールドは,次による。

ビット 1 及びビット 2 1 ブロック当たりのバイト数が 64 であることを示し,00 に設定する。

ビット 3 及びビット 4 1 トラック当たりのデータブロック数が 448 であることを示し,

00

に設定する。

ビット 5 及びビット 6

フレームサイズが 44 544 バイトであることを示し,00 に設定する。

ビット 7 及びビット 8

トラックピッチが 11.00

µm であることを示し,00 に設定する。

11.4.1.3

論理フレーム ID (LFID)    この 8 ビットフィールドは,次による。

ビット b8

フレームが基本グループの最後にある場合,1 に設定する。その他の場合,0 に設定する。

ビット b7

フレームが ECC フレームの場合,1 に設定する。その他の場合,0 に設定する。

ビット b6∼ビット b1

フレームがアンブルフレームの場合,すべて 0 に設定する。その他の場合,n=1∼20 のデ

ータフレーム順序番号 を 2 進数で表す。

11.4.1.4

パーティション ID  この 8 ビットフィールドは,0∼225 のパーティション順序番号を 2 進数で

表す。


48

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

11.4.1.5

エリア ID  この 4 ビットフィールドは,テープ上の現在の領域及び現在のフレームの形式を表す。

図 36 に示す設定以外は,この規格では禁止する。

ビット位置

b7 b6 b5 b4

定義

0 0 0 0

デバイス領域

0 0 0 1

リファレンス領域

0 0 1 0

システム領域

0 1 0 0

データ領域

0 1 0 1 EOD

領域

0 1 1 1

オプションデバイス領域

図 36  エリア ID

11.4.1.6

リピート  この 3 ビットフィールドは,次の基本グループのインスタンスの数を表す。

000

基本グループのインスタンスが一つだけ存在することを示す。

001

基本グループのインスタンスが二つ存在することを示す。

010

基本グループのインスタンスが三つ存在することを示す。

011

基本グループのインスタンスが四つ存在することを示す。

100

基本グループのインスタンスが五つ存在することを示す。

101

基本グループのインスタンスが六つ存在することを示す。

110

基本グループのインスタンスが七つ存在することを示す。

111

基本グループのインスタンスが八つ存在することを示す。

11.4.1.7

ポジション  この 3 ビットフィールドは,次のとおり,この基本グループの連続レコードインス

タンス列で現在のレコードインスタンスの位置を表す(

図 37 参照)。

ビット位置

b3 b2 b1

定義

0 0 0

グループの最初のインスタンス

0 0 1

グループの 2 番目のインスタンス

0 1 0

グループの 3 番目のインスタンス

0 1 1

グループの 4 番目のインスタンス

1 0 0

グループの 5 番目のインスタンス

1 0 1

グループの 6 番目のインスタンス

1 1 0

グループの 7 番目のインスタンス

1 1 1

グループの 8 番目のインスタンス

図 37  ポジションフィールド

11.4.1.8

グループ番号  この 24 ビットフィールドは,現在のパーティションのベンダグループの後に記

録した 1 から現在のグループまでの利用者データグループの数を表す。

ベンダグループのグループ番号は,

0

とし,リピートを用いる場合,グループ番号は,各インスタンスについて同一とする。

11.4.1.9

セパレータ 数  この 32 ビットフィールドは,パーティションの最初から現在のグループまで

に記録したセパレータ 1 の数を表す。パーティション内の最初のセパレータ 1 の数は,1 とする。

11.4.1.10

セパレータ 数  この 32 ビットフィールドは,パーティションの最初から現在のグループまで

に記録したセパレータ 2 の数を表す。パーティション内の最初のセパレータ 2 の数は,1 とする。


49

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

11.4.1.11

レコード番号  この 32 ビットフィールドは,現在の基本グループに含まれる完結したレコード

を含めて,

パーティションの最初から記録したレコードの数を表す。

グループに含む完了レコードの数は,

基本グループのブロックアクセステーブル内に設定するレコードの数に一致する。セパレータ 1 及びセパ

レータ 2 は,エントリレコードとして数える。

11.4.1.12

絶対フレーム番号 (AFN)   この 24 ビットフィールドは,カレントフレームの絶対フレーム番号

を表す。リファレンス領域の最初のフレームの絶対フレーム番号は,1 とする。断続する番号又は繰返し

番号は,

アンブルフレームシーケンスだけに用いる

18.1 参照)

ただし,

中間フレームは,

例外とする

16.5.5

参照)

11.4.1.13

  ID

パリティ  ID パリティバイトは,拡張リードソロモンコードを用いて算出する。

GF (2

8

)

は,次による

G (x)

x

8

x

4

x

3

x

2

+1

GF (2

8

)

の原始元

α

は,00000010 とする

ID

パリティバイトは,次の式による。

Hs

×Vs=0

ú

û

ù

ê

ë

é

=

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

1

H

1

2

3

4

5

S

α

α

α

α

α

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

û

ù

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ë

é

=

ID8

ID7

ID6

ID5

ID4

ID3

ID2

ID1

V

S

11.4.2

データブロックヘッダへの ID 情報の記録  G3 サブグループの 448 個のデータブロックは,64 連

続した 7 データブロックとして構成する。ID 情報は,

図 38 に示すとおりデータブロック 1∼データブロ

ック 7 について,これらの 7 個のデータブロックのヘッダに配置する。7 個のデータブロックの各項目に

ついて同じ配置を繰り返す。


50

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ID2

ビット 7∼ビット 4

エリア ID

ビット 3∼ビット 1

0

に設定

ID3 0

に設定

ID4 0

に設定

ID5 0

に設定

ID6

ローフォーマット ID

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 1

DATA 64

バイトデータ

ID1

データブロック番号

ID2

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼ビット 4

エリア ID

ビット 3∼ビット 1

0

に設定

ID3

セパレータ 1 数 (LSB)

ID4

セパレータ 1 数

ID5

セパレータ 1 数

ID6

セパレータ 1 数 (MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 2

DATA 64

バイトデータ

ID1

データブロック番号

ID2

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼ビット 4

エリア ID

ビット 3∼ビット 1

0

に設定

ID3

セパレータ 2 数 (LSB)

ID4

セパレータ 2 数

ID5

セパレータ 2 数

ID6

セパレータ 2 数 (MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 3

DATA 64

バイトデータ

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ID2

ビット 7∼ビット 4

エリア ID

ビット 3∼ビット 1

0

に設定

ID3

レコード数 (LSB)

ID4

レコード数

ID5

レコード数

ID6

レコード数 (MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 4

DATA 64

バイトデータ

図 38  ID 情報の割当て 


51

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

ID1

データブロック番号

ID2

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼ビット 4

エリア ID

ビット 3∼ビット 1

0

に設定

ID3

パーティション ID

ID4

グループ数 (LSB)

ID5

グループ数

ID6

グループ数 (MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 5

DATA 64

バイトデータ

ID1

データブロック番号

ID2

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ビット 7∼ビット 4

エリア ID

ビット 3∼ビット 1

リピート

ID3 LFID

ID4 AFN

(LSB)

ID5 AFN

ID6 AFN

(MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 6

DATA 64

バイトデータ

ID1

データブロック番号

ビット 8

データブロック番号 (msb)

ID2

ビット 7∼ビット 4

エリア ID

ビット 3∼ビット 1

ポジション

ID3 LFID

ID4 AFN

(LSB)

ID5 AFN

ID6 AFN

(MSB)

ID7 ID

パリティ

ID8 ID

パリティ

データブロック 7

DATA 64

バイトデータ

図 38  ID 情報の割当て(続き)

12.

記録方式  記録方式は,次による。

−  ビットセルの中心で磁束反転がある場合,1 とする。

−  ビットセルの中心で磁束反転がない場合,0 とする。

12.1

記録密度  公称最大記録密度は,5 714.3ftpmm とする。生成する公称ビットセル長は,0.175

µm とす

る。この値は,トラック長(13.7 参照)を 1 トラック当たりのビット数で除して算出する。

12.2

長周期平均ビットセル長  各トラックの長周期平均ビットセル長は,記録した 64 メインデータブロ

ックについて測定する。この値は,公称ビットセル長の 0.2%以内とする。

12.3

短周期平均ビットセル長  任意のビットセルを基準とした短周期平均ビットセル長は,その前の 40

個のビットセルの平均値とし,その値は,同一アジマスの,その前の長周期平均ビットセル長の 0.35%以

内とする。


52

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

12.4

短周期平均ビットセル長の変動率  短周期平均ビットセル長は,1 ビットセル当たり 0.05%を超えて

変化してはならない。

12.5

ビットシフト  ビットシフトは,附属書 によって測定し, (| A

1110

 |

+ | A

0111

 |) / (A

0100

+A

0010

)

表し,その値は,0.05 未満とする。

12.6

情報交換時の再生信号振幅  情報交換時の再生信号振幅は,次による。

− 1

142.9ftpmm

,1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm 及び 3 809.5ftpmm,それぞれに対応する

各公称記録レベルの 80%∼140%とする(

附属書 の C.1 参照)。

12.7

最大の記録レベル  記録信号は,重ね書きによって消去可能でなければならない。この値は,附属

書 の C.2 に規定している。

13.

トラック

13.1

トラックの構成  ヘリカルトラックパターンは,テープの移動方向と正及び負のアジマス角度をも

つ 2 個一組のヘッド回転軸との相対関係によって,形成する。記録方向は,テープ基準縁から離れる方向

とする。トラックの構成は,

図 39 による。

図 39  トラックの構成(記録面)


53

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

13.2

平均トラック間隔  平均トラック間隔は,30 個の連続したトラックの任意のグループについて

11.00

µm±0.20µm とする。ただし,ノンシームレス追記録(16.5.6.2 参照)のトラック間隔は,平均値に含

めない。

13.3

トラック間隔の変化  連続したトラック間でのトラック間隔の変化は,追記録操作(16.5.6 参照)の

効果を除外して 2.0%を超えてはならない。

13.4

トラック幅  公称トラック幅は,11.00

µm とする測定する。トラック幅は,11.00µm±1.50µm とする。

この規定は,ノンシームレス追記録には,適用しない。

13.5

トラック角  テープ基準縁に対する各トラック角の公称角度は,4.8950°とする。

13.6

トラックエッジの直線性  各トラックのエッジの直線性は,附属書 によって測定したとき,その

要求事項を満足することとする。

13.7

トラック長  各トラックの長さは,60.170mm±0.050mm とする。

13.8

アジマス角  正のアジマス角度は,25°0′0″±0°15′0″とする。負のアジマス角度は,−25°0′

0

″±0°15′0″とする。

14.

記録パターン  メインデータブロックの各 8 ビットバイトは,テープ上に 10 ビットパターンで表す。

各 8 ビットバイトについて記録する 10 ビットパターンは,

附属書 によって規定する。10 ビットパター

ンのビットは,チャネルビットと呼ぶ。

14.1

記録データブロック  記録データブロックは,メインデータブロックの 72 個の 8 ビットバイトを表

す 730 個のチャネルビットで構成する。このチャネルビットの前には,次のどちらかのパターンの 10 チャ

ネルビットからなる同期フィールドを付ける。

a)

 0100010001

b)

 1100010001

パターン a)は,Q′=−1,DC=0,Q=1 に使用する。パターン b)は,Q′=1,DC=0,Q=1 に使

用する(

附属書 参照)。それ以前にパターンがなく,Q′の値がないとき,どちらのパターンを使用

してもよい。記録順序は,

附属書 による。

正のアジマストラックでは,記録データブロックは,偶数 G3 サブグループから形成したメインデ

ータブロックを表す。同じフレームの負のアジマストラックで,記録データブロックは,対応する奇

数 G3 サブグループから形成したメインデータブロックを表す。記録メインデータブロックは,各ト

ラックでそのブロック番号順に記録する。

14.2

マージンブロック  このブロックの長さはチャネルビットパターン 1100 1100...又は 0011 0011....を

繰り返して構成する 730 個のチャネルビットとする。

15.

トラックのフォーマット

15.1

トラックの内容  各トラックは,表 及び表 に示すとおり,二つのマージンゾーン,三つの ATF

ゾーン,及び二つのメインデータゾーンで構成する。ATF ゾーンは,スペーサブロック,及び正のアジマ

ストラック及び負のアジマストラックとで異なる ATF ブロックから構成する。


54

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

表 4  トラックのフォーマット(負のアジマストラック)

表 5  トラックのフォーマット(正のアジマストラック)

15.2

トラック位置精度  トラック 236 番目のブロックの中心は,テープ基準縁から 4.460mm±0.021mm

の距離になければならない。トラックの中心線上にある 236 番目のブロックの中心は,234 番目のブロッ

クの最初のビット及び 239 番目のブロックの最初のビットとの中間点とする。また,隣接する任意のトラ

ックの 236 番目のブロックの中心は,5.4

µm を超えてはならない。この値は,トラックの中心でトラック

に沿って 0.5 ブロックに相当する。

15.3

トラッキング法  トラッキングは,ATF(自動トラックファインディング)方式による。ATF ブロ

ックは,

表 及び表 に示すように ATF ゾーン 1,ATF ゾーン 2 及び ATF ゾーン 3 の三つのゾーンに割り

当てる。

ATF

ゾーンは,スペーサブロック及び ATF ブロックから構成する。

スペーサブロックは,

チャネルビットパターン 1010101010 を繰り返して構成する 730 個のチャネルビッ

トとする。スペーサブロックは,正のアジマストラックでは,正のアジマスを記録し,負のアジマストラ

ックでは,負のアジマスを記録する。

ATF

ブロックは,チャネルビットパターン 1000010000 を繰り返して構成する 730 個のチャネルビット

とする。ATF ブロックは,正のアジマスを記録する。

ATF

ブロックは,トラック間の位相関係を ATF-A,ATF-B 及び ATF-C で示す。トラック 上の ATF-B


55

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

ブロック,トラック n-1 上の ATF-C ブロック及びトラック n-2 上の ATF-A ブロックは,位相内で記録し,

図 40 に示す。

図 40  ATF ブロックとスペーサブロックの割当て

16.

シングルデータスペーステープの構成  磁気テープは,シングルデータスペーステープ又はパーティ

ションテープとして記録する。ここでは,シングルデータスペーステープの構成を規定する。パーティシ

ョンテープの構成は,17.で規定する。

シングルデータスペーステープの構成は,次の六つの領域によって構成する。

図 41  シングルデータスペーステープの構成


56

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

16.1

デバイス領域  この領域は,磁気テープ上の最初の領域で,PBOT から LBOT までとする。この領

域は,情報交換用データの記録はできない。テープ基準縁に沿って PBOT からリファレンス領域の最初の

記録トラックの最初のブロックの最初のビットまでの長さは,870mm±10mm とする。この領域は,スピ

ンアップゾーン,試験ゾーン及びガードゾーンの三つのゾーンから構成する。

デバイス領域の最初のゾーンは,スピンアップゾーンとする。スピンアップゾーンは,テープをテープ

装置にロードしたとき,ドラムに巻き取られる部分である。

スピンアップゾーンの後に記録再生用の試験ゾーンが続く。これら二つのゾーンの内容はこの規格では

規定しない。

試験ゾーンの後に,最小 6.2mm のガードゾーンが続く。ここに記録することは,禁止する。

16.2

リファレンス領域  リファレンス領域は,AFN=001∼264 のフレームで構成する。最初のフレーム

は,LBOT に始まり,その絶対フレーム番号を 1 とする。リファレンス領域は,システムログを更新する

ときに物理的な基準として使用する。これらのフレームの内容は,この規格では規定しない。情報交換で

は,無視する。

16.3

ガードバンド 1  ガードバンド 1 は,公称長を 24 フレームで AFN=265∼288 とし,システムログを

更新するとき,位置誤差を吸収するために使用する。ガードバンド 1 は,絶対フレーム番号の不連続及び

繰返しが発生することがある。記録信号は,無視してもよい。これらのフレームの内容は,この規格では

規定しない。情報交換では無視する。

16.4

システム領域  システム領域は,システムプリアンブル,システムログ,システムポストアンブル,

ガードバンド 2 及びベンダグループプリアンブルで構成する。

16.4.1

システムプリアンブル  システムプリアンブルは,絶対フレーム番号 289∼360 の 72 個のフレーム

で構成する。

16.4.2

システムログ  システムログは,絶対フレーム番号 361∼540 の 180 個のフレームで構成する。シ

ステムログ内の各フレームは,

図 42 によるボリューム情報とパーティション情報を含む。テープの各パー

ティションは,パーティション情報として 48 バイトの格納場所を確保する。各パーティションのパーティ

ション情報は,パーティション 0 のシステムログに記録する。

パーティション 0 情報 48 バイト

パーティション 1 情報 48 バイト

・ 12

288

バイト 445 44 バイト

パーティション 255 情報

48

バイト

ボリューム情報 72 バイト

システムログベンダデータタイプ番号

2

バイト

システムログベンダデータ 32

182

バイト

図 42  システムログ

16.4.2.1

パーティション情報  パーティション情報は,図 43 に示す。


57

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

前の記録グループ数

4

バイト

記録データグループの記録総数

4

バイト

予約フィールド

1

バイト

前の再生グループ数

3

バイト

記録データグループの再生総数

4

バイト

予約フィールド

1

バイト

再記録フレーム総数

3

バイト

予約フィールド

1

バイト

ECC3

総数

3

バイト

アクセス回数

4

バイト

更新回数

4

バイト

前の再記録フレーム数

2

バイト

前の ECC3 総数

2

バイト

予約フィールド

1

バイト

ロード回数

3

バイト

予約フィールド

1

バイト

有効な最終の絶対フレーム番号

3

バイト

フラグバイト

ビット 1

記録禁止

1

バイト

ビット 2

再生禁止

ビット 3

記録リトライ禁止

ビット 4

再生リトライ禁止

ビット 5 0 に設定

ビット 6 0 に設定

ビット 7 0 に設定

ビット 8

パーティション操作中

最大絶対フレーム番号

3

バイト

図 43  パーティション情報

16.4.2.1.1

前の記録グループ数  このフィールドは,システム領域を最後に更新した後でパーティション

に物理的に記録した基本グループの数を表す。

16.4.2.1.2

記録データグループの記録総数  このフィールドは,パーティションに記録した最初からの基

本グループの総数を表す。

16.4.2.1.3

前の再生グループ数  このフィールドは,システム領域を最後に更新した後でパーティション

から物理的に再生した基本グループの数を表す。

16.4.2.1.4

記録データグループの再生総数  このフィールドは,パーティションから再生した最初からの

基本グループの総数を表す。この値は,記録時再生検査の再生操作の数は,含めない。この値は,テープ

の使用期間にわたって累積するが,フォーマットしたときは,0 とする。

16.4.2.1.5

再記録フレーム総数  このフィールドは,パーティションに最初に記録した後で再度記録した

フレームの総数を表す。

この値は,

記録時再生で誤りを検出した後にフレームを繰り返し記録するたびに,

1

ずつ増やす。この値は,元のフレームと再記録フレームとの間に記録したフレームの数は,含めない。

この値は,テープの使用期間にわたって累積するが,フォーマットしたときは,0 とする。

16.4.2.1.6

  ECC3

総数  このフィールドは,物理的に再生した基本グループが C3 訂正符号を使ったデータ

修復回数を,そのパーティションが作られた最初のときからの累積回数として表す。この値は,テープの

使用期間にわたって累積するが,フォーマットしたときは,0 とする。


58

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

16.4.2.1.7

アクセス回数  このフィールドを使用する場合,パーティションのアクセス回数を表す。使用

しない場合,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

16.4.2.1.8

更新回数  このフィールドを使用する場合,パーティションへの記録回数を表す。使用しない

場合,このフィールドは,すべて 0 に設定する。

16.4.2.1.9

前の再記録フレーム数  このフィールドは,システム領域を最後に更新した後で再記録したパ

ーティションの数を表す。この値は,記録時再生で誤りを検出した後にフレームを繰り返し記録するごと

に 1 ずつ増やす。この値は,元のフレーム及び再記録フレームとの間に記録したフレームの数は,含めな

い。

16.4.2.1.10

前の ECC3 総数  このフィールドは,そのシステム領域を最後に更新したときから物理的に再

生した基本グループが C3 訂正符号を使ったデータ修復回数を表す。

16.4.2.1.11

ロード回数  このフィールドは,テープに最初に記録した後でテープがロードされた回数を表

す。1 回のロードは,テープをテープ装置機構のドラムに巻き付け,テープが使用可能で,テープ送りが

できる位置に設定する操作とする。この値は,テープの使用期間にわたって累積するが,フォーマットを

したときは,0 とする。このフィールドは,パーティションテープのパーティション 0 のシステムログ内

に格納する。

16.4.2.1.12

有効な最終の絶対フレーム番号  このフィールドは,有効なデータを含む最後の絶対フレーム

番号を表す。リファレンス領域の最初のフレームの絶対フレーム番号は,1 とする。

16.4.2.1.13

フラグバイト

ビット 1

記録禁止

このビットが 1 の場合,パーティションへの記録は,禁止する。

ビット 2

再生禁止

このビットが 1 の場合,パーティションからの再生は,禁止する。

ビット 3

記録リトライ禁止

このビットが 1 の場合,パーティションへの記録リトライは,禁止する。

ビット 4

再生リトライ禁止

このビットが 1 の場合,パーティションからの再生リトライは,禁止する。

ビット 5∼ビット 7

これらのビットは,0 に設定する。

ビット 8

パーティション操作中

このビットは,パーティションでの 1 回の再生操作又は記録操作の前に 1 に設定する。パーティシ
ョンのすべての操作が終了したとき,これらのビットは,すべて 0 に設定する。

16.4.2.1.14

最大絶対フレーム番号  このフィールドは,最後の EOD 領域の最後のフレームの絶対フレーム

番号を表す。

16.4.2.1.15

予約フィールド  すべて 0 に設定する。

16.4.2.2

ボリューム情報  ボリューム情報は,ボリュームに関する情報を含み,図 44 に示す。

16.4.2.2.1

フラグ  フラグは,次による。

ビット 1

このビットが 1 の場合,ボリュームを AIT-1 ネイティブモードで処理する。0 に設定している場合,
パーティション数を 2 以内とする。

ビット 2

このビットが 1 の場合,ロード/アンロードを PBOT で行う。0 に設定している場合,オプション

デバイス領域が存在するとき,ロード/アンロードをオプションデバイス領域で行う。

ビット 3 及びビット 4

これらのビットは,システムログ情報が存在することを示し,0 に設定し,それ以外の

設定は,この規格では禁止する。

16.4.2.2.2

最後のパーティションの番号  テープ上で最後に有効なパーティションの番号を表す。


59

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

16.4.2.2.3

デバイス領域の配置  オプションデバイス領域のビット配置は,32 バイト中に 256 ビットごと

に各パーティションに割り当てる。このビットが 1 の場合,パーティションにオプションデバイス領域が

存在することを示す。

予約済み

6

バイト

0

に設定

フラグ

1

バイト

ビット 1

AIT

ネイティブ

ビット 2

PBOT

でロード/アンロード

ビット 3

システムログ情報の存在

ビット 4

ビット 5

0

に設定

ビット 6

0

に設定

ビット 7

0

に設定

ビット 8

0

に設定

最後のパーティション番号  1 バイト

カートリッジの最後のパーティション番号

デバイス領域の配置 32 バイト

デバイス領域の配置を示す 256 ビット

予約済み 32 バイト

すべて 0 に設定

図 44  ボリューム情報

16.4.2.3

システムログベンダデータ型式番号  この番号は,2 バイトで表す。

0

に設定している場合,システムログベンダデータは,すべて 0 とする。

1

に設定している場合,システムログベンダデータは,ベンダ固有情報を含み,それ以外の設定は,禁

止する。

16.4.3

システムポストアンブル  システムポストアンブルは,絶対フレーム番号 541∼564 の 24 フレーム

からなる。

参考  システムログの更新時にシステムプリアンブル,システムログ及びシステムポストアンブルを

含む一連の領域を続けて書き込むことを推奨する。

16.4.4

ガードバンド 2  ガードバンド 2 の長さの公称値は,24 フレームとする。このフレームの内容は,

この規格では規定しない。情報交換では,無視する。

16.4.5

ベンダグループプリアンブル  ベンダグループプリアンブルは,絶対フレーム番号 589∼660 の 72

フレームとし,ベンダグループの直前にあってベンダグループと連続する。フレームの内容は,この規格

では規定しない。情報交換では,無視する。

16.5

データ領域  この領域は,ベンダグループと一つ以上の記録データグループとする。

16.5.1

ベンダグループ  ベンダグループは,基本グループ 0 に記録したインスタンスとする。内容は,こ

の規格では規定しない。ベンダグループは,11.に規定している操作を適用し,その結果,生成したフレー

ムを記録することによって,その基本グループのバイトから形成する。これらのフレーム内の最初のフレ

ームの絶対フレーム番号は,661 とする。

さらに ECC3 及びリピートフレームのどちらか一方,又は両方の操作を適用してもよい。

ベンダグループは,未記録領域,物理的不連続域,物理的継ぎ目,絶対フレーム番号の不連続又は繰返

しがあってはならない。

16.5.2

記録データグループ  記録データグループは,基本グループに記録したインスタンスで,11.に規

定している操作を適用し,その結果,生成したフレームをその論理フレーム番号順に記録することによっ

て,ホストコンピュータのデータから生成する。

さらに ECC3 及びリピートフレームのどちらか一方,又は両方の操作を適用してもよい。

記録データグループは,未記録領域,物理的不連続域,物理的継ぎ目,絶対フレーム番号の不連続又は


60

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

繰返しがあってはならない。

16.5.3

  ECC3

  ECC3 は,記録データグループ内で二つの不良トラックを訂正することができる。ECC3

データは,基本グループの 18 個の G1 サブグループを次のリードソロモン符号を用いて生成する。

GF(2

8

) (20, 18, 3)

GF(2

8

)

は,次の多項式によって算出する。

G(x)

x

8

x

4

x

3

x

2

+1      a= (00000010)

ECC3

のインタリーブの深度は,1 フレームとし,ECC バイトは,次の式を満足する。

H

R

×V

R

=0

生成多項式は,次による。

( )

( )

=

=

=

1

0

R

G

j

i

i

x

x

α

ú

û

ù

ê

ë

é

=

0

1

2

16

17

18

19

R

1

1

1

1

1

1

1

α

α

α

α

α

α

α

・・・

・・・

H

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

û

ù

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ë

é

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

×

+

+

×

+

×

=

44544

19

1

22272

2

Q

44544

19

0

22272

2

P

44544

6

1

22272

2

D

44544

6

0

22272

2

D

44544

5

1

22272

2

D

44544

5

0

22272

2

D

44544

4

1

22272

2

D

44544

4

0

22272

2

D

44544

3

1

22272

2

D

44544

3

0

22272

2

D

44544

2

1

22272

2

D

44544

2

0

22272

2

D

44544

1

1

22272

2

D

44544

1

0

22272

2

D

44544

0

1

22272

2

D

44544

0

0

22272

2

D

R

i

i

i

i

i

i

i

i

i

i

i

i

i

i

i

i

V

n

n

n

n

n

n

n

n

n

n

n

n

n

n

n

n

Μ

Μ

ここに,

n

  0

1

2

...

22271

i

  0

1

D

n

利用者データバイト番号

P

n

パリティバイト番号

Q

n

=

パリティバイト番号


61

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

16.5.4

多重記録インスタンス  基本グループ

0

以外の各基本グループは,一連の連続インスタンスに記録

してもよい。最大インスタンス数は,

8

とする。同一の基本グループからの一連の記録データグループ内

で,論理フレーム

ID

,ポジション,及び絶対フレーム番号が異なり,計算するパリティバイトの値も異な

る。また,これらのインスタンスで記録データグループ当たりの再記録フレームの数も異なる。

16.5.5

再記録フレーム  データ領域内で記録データグループの任意のフレームは,再記録によって繰り返

してもよい。再記録フレームは,

0

個∼

7

個の中間フレームの記録後に記録することができる。この操作(例

えば,元のフレーム又は再記録フレーム及びそれに引き続く

0

個∼

7

個の中間フレーム)は,複数回繰り

返すことによって,このテープの不良箇所を回避することができる。一連のフレームの上限のインスタン

ス数は,

256

(元のフレームと

255

までの繰返しフレームを含めて)とする。

中間フレーム(元のフレーム及び次のフレームとの間に記録するフレーム)は,通常の順番としてそれ

に続く論理フレーム番号のフレームとなり,

それ以降も正しい順番でなければならない。

正しい順番とは,

1

ずつ増加する論理フレーム番号をもつ連続したフレームをいう。記録データグループの最後のフレーム

又は

ECC3

フレームが存在する場合,その後の論理フレーム番号は,アンブルフレームについては,

0

し,次の論理フレーム番号の最初のフレームについては,

1

とする。アンブルフレームは,中間フレーム

の数が

7

個を超えない限り,この順番とし,最後の再記録フレームの後に正しい順番で記録した中間フレ

ームが続く。

絶対フレーム番号の不連続又は繰返しがあってはならない。

16.5.6

追記録及び重ね書き  テープ上に既に記録しているデータに新しいデータを追記録するとき,又は

既存のデータを新しいデータによって重ね書きするとき,記録開始点は,記録データグループの最後のフ

レーム(

図 46 のフレーム

A

)を基準とする。最後のグループの多重記録インスタンスが複数個存在すると

き,関連する記録データグループは,その順番の最後になる。再記録フレームを記録した場合,関連する

フレームは,最後のフレームの最後の繰返しフレームになる。追記録又は重ね書きの最小単位は,記録デ

ータグループとする。

参考

重ね書きを開始すると,現在の記録位置と

PEOT

との間にあるすべてのデータは,論理的に無

効となる。

追記録及び重ね書きの規則は,同一とする。簡素化のため,追記録だけを規定する。

データは,シームレス又はノンシームレスのいずれかの方法でテープに追記録できる。追記録操作は,

追記録したトラックがその前のトラックと連続シーケンスを形成するように配置されている場合だけ,シ

ームレスとする。トラックは,再生不可能な位置まで部分的に重ね書きしたり,トラック間にギャップを

作ったりしてはならない。


62

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 45  追記録規則

図 45 では,フレーム

A

までのフレームは,保持すべき情報を含み,追記録は,アンブルフレームのフ

レーム

B

か始まり,情報は,フレーム

C

から記録する。

16.5.6.1

シームレス追記録の規則  シームレス追記録は,次の規則による。

規則 1.

フレーム

A

とフレーム

B

の間は,一つのフレームが存在する。例えば,フレーム

A

の絶対フレ

ーム番号

 (AFN)

n

のとき,フレーム

B

AFN

は,n

2

とする。

規則 2.

フレーム

A

とフレーム

B

の間に記録するフレームは,フレーム

A

に連続とする。例えば,フレ

ーム

A

とフレーム

B

との間に未記録領域,

AFN

の不連続,

AFN

の繰返し又は物理的不連続があ

ってはならない。アンブルフレーム以外は,フレームのグループ番号がフレーム

A

のグループ番

号よりも大きくなければならない。アンブルフレームは,グループ番号がフレーム

A

のグループ

番号に等しくなる。フレームの内容は,無視する。

規則 3.

フレーム

B

とフレーム

C

との間は,アンブルフレームが少なくとも一つ存在する。例えば,フレ

ーム

B

AFN

が n

2

のとき,フレーム

C

AFN

の最小値は,n

4

とする。フレーム

B

とフレ

ーム

C

との間には,未記録領域,

AFN

の不連続,

AFN

の繰返し又は物理的不連続があってはな

らない。

規則 4.

テープの走行方向の位置(

図 46 参照)で測定したフレーム

B (AFN

n

2)

の最初のトラック位

置は,

AFN

n

1

のフレームの最初のトラックから x

257.8

µ

m

±

42.9

µ

m

の距離とする。


63

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 46  シームレス追記録での許容値

16.5.6.2

ノンシームレス追記録の規則  ノンシームレス追記録の規則は,次による。

規則 1.

フレーム

A

とフレーム

B

との距離は,最小

1

フレーム最大

11

フレームとする。フレーム

A

とフ

レーム

B

との間に未記録領域が存在してはならない。

フレーム

A

とフレーム

B

との間の一つ以上

のフレームは,誤った内容でもよい。すなわち,追記録地点での部分的な重ね書きの結果,誤っ

たフレームができる。

規則 2.

次の条件を満足する場合,フレーム

A

とフレーム

B

との間に

AFN

の不連続及び

AFN

の繰返しが

あってもよい。フレーム

A

AFN

が のとき,

すべてのフレームの

AFN

は,よりも大

フレーム

B

AFN

は,最小 n

2

最大 n

12

規則 3.

フレーム

A

とフレーム

B

の間にあるアンブルフレームのグループ番号は,フレーム

A

のグルー

プ番号と同じとする。その他のフレームのグループ番号は,フレーム

A

のグループ番号よりも大

きくなければならない。

規則 4.

フレーム

B

とフレーム

C

との間には,最低

29

フレームなければならない。例えば,フレーム

B

AFN

が n

2

n′≦n

12

のとき,フレーム

C

AFN

は,n′+

30

以上とする。フレーム

B

とフレーム

C

との間には,未記録領域,物理的不連続,物理的継ぎ目,

AFN

の不連続又は

AFN

の繰返しがあってはならない。

16.6

EOD

領域

EOD

領域は,データ領域の後に続く領域とする。

EOD

領域は,

300

ハウスキーピングフレーム以上からなり,最後の記録データグループに続く一連のア

ンブルフレームの最後のアンブルフレームの後から始まる。

EOD

領域の最初のフレームは,

PEOT

の少な

くとも

5 000mm

手前に記録する。

EOD

領域は,一つのテープに複数存在してもよい。

LBOT

に一番近い

EOD

領域だけは,情報交換に有

効とする。

16.7

オプションデバイス領域  オプションデバイス領域は,

EOD

領域の後

PEOT

までの間に設けてもよ

い。オプションデバイス領域の内容は,情報交換には,規定しない。


64

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

16.8

アーリーワーニングポイント (EWP)   新しいテープ又はバルク消去テープの

EWP

の位置は,テー

プに記録をしているテープ装置が算出する。算出した

EWP

の位置は,

PEOT

から

5 258mm

以上手前とし

なければならない。算出した

EWP

を超えてデータを記録することがない限り,

EWP

の位置表示は,テー

プには記録しない。算出した

EWP

を超えて最初にデータを記録するとき,

EWP

の前に完全又は部分的に

記録した最後の基本グループで,

AEWP

ビットの設定を

0

から

1

にする。このビットの変化を以後テープ

を再生する場合,

EWP

の位置として利用する。

データを含むテープの重ね書きの場合,重ね書きを開始した位置が,重ね書きの開始前に定義した

EWP

より手前の場合,データを記録している磁気テープ装置が新しい

EWP

を算出する。算出した

EWP

の位置

は,少なくとも

PEOT

から

5 258mm

以上手前としなければならない。算出した

EWP

を超えてデータを記

録するとき,

EWP

の前に完全又は部分的に記録した最後の基本グループで,

AEWP

ビットの設定を

0

から

1

にする。このビットの変化を以後テープを再生する場合,

EWP

の位置として利用する。

データを含んでいるテープの重ね書きは,新たな重ね書きを開始する位置から手前に

AEWP

ビットが

0

から

1

に変化しているとき,その変化点が

EWP

の位置となる。それ以降のすべての新しい重ね書きグル

ープは,

AEWP

ビットの設定を

1

にする。

16.9

初期化  初期化は,利用者データを記録するために最初にテープカートリッジを使用する前に行う。

初期化によって,

LBOT

とベンダグループの終了位置との間に未記録領域があってはならない。

LBOT

ベンダグループの終了位置との間は,連続して記録する。ガードバンド

1

及びガードバンド

2

の公称フレ

ーム数は,それぞれ

24

フレームとする。ガードバンド

1

の各フレームのエリア

ID

は,リファレンス領域

ID

に設定する。

記録済みテープに初期化を行う場合,

テープ上のすべてのデータ

(システムログ内の履歴データも含む。

が破壊される。

参考

テープ割付上,最初の記録データグループの記録前に,新しいテープ又はバルク消去したテー

プに対して初期化を行う必要はない。

リファレンス領域,

システム領域及びベンダグループは,

最初の記録データグループの記録と同時に記録できる。

17.

パーティションテープの構成  パーティションテープの構成を,図 47 に示す。


65

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

図 47  パーティションテープの構成

17.1

テープ上の配置  パーティションテープの配置は,デバイス領域の後に

PBOT

から

PEOT

までパー

ティションが続く。

17.1.1

パーティション

17.1.1.1

システムログ  システムログ領域の内容は,この規格では規定しない。情報交換では,無視する

16.4.2 参照)

17.1.1.2

テープの仮想 EOT (VEOT)

VEOT

は,パーティション境界の手前の

300

フレームに相当する

距離を基準点とする。この基準点は,シングルデータスペーステープ上の

PEOT

と同じ方法で使用する。

例えば,

VEOT

を超えたパーティション

0

の中では,初期化の場合を除いて記録してはならない。

VEOT

とパーティション境界との間の領域は,他のパーティションの

EOD

領域と同じハウスキーピング

フレームを含む。

17.1.1.3

アーリーワーニングポイント (EWP)   最後のパーティションの

EWP

の位置は,シングルデー

タスペーステープのそれと同じとする。空きのパーティションの

EWP

の位置は,テープに記録するテー

プ装置が算出する。算出した

EWP

の位置は,

VEOT

から

1 000

フレーム以上手前になければならない。算

出した

EWP

を超えてデータを記録するまでは,テープに

EWP

の位置は記録しない。算出した

EWP

を超

えてデータを記録したとき,

EWP

の手前に完全又は部分的に記録した最後の基本グループで,

AEWP

ビッ

トの設定を

0

から

1

にする。

このビットの変化を以後テープに再生する場合,

EWP

の位置として利用する。

データを重ね書き中のパーティションは,重ね書きが始まった位置が重ね書きを始める前に定義した

EWP

の手前にある場合,新しい

EWP

の位置は,テープに重ね書きしているテープ装置が算出する。算出

した

EWP

は,

VEOT

から

1 000

フレーム以上手前になければならない。算出した

EWP

を超えてデータを

記録したとき,

EWP

の手前に完全又は部分的に記録した最後の基本グループで,

AEWP

ビットの設定を

0

から

1

にする。このビットの変化を以後テープを再生する場合,

EWP

の位置として利用する。

データを重ね書き中のパーティション

1

で,新たに重ね書きを開始する位置よりも手前で

AEWP

ビット


66

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

0

から

1

に変化しているとき,

EWP

の位置は,変化点として利用する。

AEWP

ビットは,このパーティ

ションのすべての重ね書きグループで

1

に設定する。

17.1.1.4

EOD

領域

EOD

領域は,データ領域の後に続く領域とする。最後のパーティションの

EOD

領域

の位置は,シングルデータスペーステープのそれと同じとする。

EOD

領域は,ハウスキーピングフレームとし,最後の記録データグループに続く一連のアンブルフレー

ム最後のアンブルフレームの後から始まる。

EOD

領域は,最後のアンブルフレームと

VEOT

との間のテー

プの長さが

300

フレーム以上のとき,

300

フレーム以上とし,最後のアンブルフレームと

VEOT

との間の

テープの長さが

300

フレーム未満のとき,その長さと同一とする。

17.1.1.5

オプションデバイス領域  オプションデバイス領域の規定は,シングルデータスペーステープに

ついての規定と同じとする(16.7 参照)

17.2

LBOT

LBOT

は,パーティション境界とする。この位置の後の最初のフレームの絶対フレーム番号

は,

1

とする。

17.3

空きのパーティション  空きのパーティションは,次の内容とする。

リファレンス領域

システム領域

一つのベンダグループ及び

12

個以上のアンブルフレームで構成するデータ領域

 300

フレーム以上の長さの

EOD

領域

ベンダグループプリアンブル,データ領域,及びそれに続くハウスキーピングフレームは,パーティシ

ョンの境界まで連続としなければならない。未記録領域,物理的不連続,物理的継ぎ目,

AFN

の不連続又

AFN

の繰返しがあってはならない。

17.4

パーティションテープの初期化  新しいテープ又はバルク消去したテープをパーティションテープ

として使用するとき,

一つのパーティションにだけ記録データグループを記録し,

他のパーティションは,

空とする。パーティション境界の位置を定義し,空のパーティションの規定に適合し,かつテープ位置の

効率的な管理を補助するために,最初の記録の前に初期化することを推奨する。初期化のときは,空のパ

ーティションを連続して書き込む。

記録済みテープを初期化する場合,システムログの履歴データを含むすべてのデータが破壊される可能

性がある。

18.

ハウスキーピングフレーム  ハウスキーピングフレームは,利用者データ又はセパレータを含めては

ならない。データは,

ID

情報だけ記録することができる(11.4.1 参照)

。このデータは,ハウスキーピング

フレームを記録している磁気テープ領域に依存する。ハウスキーピングフレームの内容は,この規格では

規定しない。

ハウスキーピングフレームは,次に示すアンブルフレーム及びシステムアンブルフレームの

2

種類があ

18.1

アンブルフレーム  アンブルフレームは,データ領域内だけに存在する。論理フレーム番号は,

0

とする。

アンブルフレームは,中間フレームとして挿入した場合を除いて,記録データグループ及びベンダグル

ープの手前にあってはならない。

アンブルフレームは,追記録点を除いて,その他のアンブルフレーム又は参照する記録データグループ

の最後のフレームに続かなければならない。


67

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

フレームの内容は,この規格では規定しない。情報交換では,無視する。

18.2

システムアンブルフレーム  システムアンブルフレームは,システム領域内に記録する。絶対フレ

ーム番号は,

289

360

及び

541

564

とする。

フレームの内容はこの規格では規定しない。情報交換では,無視する。


68

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 A(規定)  テープ及びリーダの光透過率の測定法

A.1

概要  この附属書は,テープ及びリーダの光透過率の測定装置及び測定法を示す。

光透過率は,測定装置に試験片を入れないときを

100

とし,入れたときの比を百分率

 (%)

で表す。

A.2

測定装置の構成  測定装置の構成は,次による。

光源

光検出部

測定用マスク

光学系

測定回路

A.2.1

光源  光源は,次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード

 (LED)

を使用する。

波長  :

850nm

±

50nm

半値幅:±

50nm

A.2.2

光検出部  光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。

A.2.3

測定用マスク  測定用マスクは,厚さを

2mm

とし,孔の直径

  (

d

)

をフォトダイオードの受光領域の

80%

100%

の大きさに設定する。

表面は,黒のつや消しとする。

試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないようにマスクに固定する。

A.2.4

光学系(附属書 図 1)  光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離

  (

L

)

は,次の

式による。

α

tan

2

d

L

=

α

は,光軸上の最大強度に対して

95%

以上の強度がある領域に設定する。

A.2.5

仕上げ  装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6

測定回路(附属書 図 2)  測定回路は,次による。

E

:出力電圧可変の定電圧電源

R

:電流制限用の抵抗器

LED

:赤外線発光ダイオード

Di

:シリコンフォトダイオード

A

:演算増幅器

R

f0

R

f1

:帰還用の抵抗器

S

:増幅率切替えスイッチ

V

:電圧計

LED

に流れる電流,すなわち,照射力は,供給電圧

 (E)

によって変化させる。

Di

は,回路を閉じて動作させる。

演算増幅器の出力は,

V

0

I

k

×

R

f

で与えられる。ここで,

I

k

は,

Di

の閉回路での電流とする。

出力電圧は,光の明るさに比例する。


69

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

R

f0

及び

R

f1

は,許容誤差

1%

で,温度による抵抗変化の少ない抵抗器とする。これらの抵抗値の比は,次

の式による。

20

1

f1

0

f

=

R

R

A.3

測定法  測定法は,次による。

スイッチ

 (S)

を位置

 (0)

に設定する。

試験片を取り付けないで,電圧計

 (V)

の指示がフルスケール

 (100%)

になるように供給電圧

 (E)

を変化させる

リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。電圧計は,

60%

100%

を示す。

磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ

 (S)

を位置

 (1)

に設定する。このとき,電圧

計のフルスケールは,光透過率

5%

を示す。

附属書 図 1  光学系の構成

附属書 図 2  測定回路


70

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 B(規定)  信号対雑音比の測定法

信号対雑音比の測定は,分解能

10kHz

のスペクトラムアナライザを用いる。試験条件は,特に規定がな

い限り,

本体 10.による。

B.1

テープを交流消去する。

B.2

テープに記録密度

2 857.1ftpmm

で記録する。その記録周波数を

f

1

で表す。

B.3

信号振幅の実効値は,読取りヘッドが最初にテープに接触して

1ms

後から測定を開始し,

1ms

の時間

にわたってスペクトラムアナライザを掃引して測定する。

1

回の掃引によって得た測定値を

1

回分の測定

値とし,

8

回分の測定値の平均値を求める。これを

S

tape

とする。

これらの

8

回の掃引の際,周波数

f

2

で全雑音レベルの実効値を測定する。ここで,

f

2

は,

f

1

より

2MHz

低い周波数とする。

1

回の掃引によって得た測定値を

1

回分の測定値とし,

100

回分の測定値の平均値を求

める。これを

N

total

とする。

B.4

周波数

f

2

の再生系雑音レベルの実効値は,同じ

1ms

の時間にわたって,テープを巻き付けずにモータ

を回転させて測定する。

1

回の掃引によって得た測定値を

1

回分の測定値とし,

8

回分の測定値の平均値を

求める。これを

N

amp

とする。

B.5

信号対雑音比は,次による。

tape

tape

log

20

N

S

ここに,  テープ雑音:

2

amp

2

total

tape

N

N

N

=

tape

amp

N

N

は,0.7 未満とする。

B.6

テープの信号対雑音比  (

SNR

tape

)

は,B.3B.5 を 10 回以上繰り返し測定した平均値とする。

B.7

副標準テープについても B.1B.6 の測定を行い,副標準テープの信号対雑音比

SNR

MSRT

を求める。

供試テープの信号対雑音比は,次による。

(

SNR

tape

SNR

MSRT

) dB


71

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 C(規定)  記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法 

(記録条件)

記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は,

本体 10.による。

C.1

記録レベルの公称値の決定法

C.1.1

信号振幅副基準テープの記録密度 3 809.5ftpmm の信号を再生し,読み取った値を信号振幅副基準テ

ープによって校正する。

C.1.2

交流消去した副基準テープに,3 809.5ftpmm の信号を記録電流が小さい値から徐々に増やしながら

記録し,読み取った値が C.1.1 で求めた値と等しくなるまで記録電流を増やす。

C.1.3

交流消去した供試テープに対し,C.1.2 で求めた記録電流で 3 809.5ftpmm の信号を記録する。読み取

った値を,記録密度 3 809.5ftpmm での記録レベルの公称値とする。

C.1.4

記録密度 1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm 及び 3 809.5ftpmm の値を求めるために,C.1.1

C1.3 を同様に繰り返す。

C.2

記録レベルの最大許容値の決定法

C.2.1

交流消去した副基準テープに,記録密度 3 809.5ftpmm の信号を記録電流が小さい値から徐々に増や

しながら記録し,読み取った値が C.1.1 で求めた校正後の値の 120%になるまで記録電流を増やす。

C.2.2

交流消去した供試テープに対し,C.2.1 で求めた記録電流で 3 809.5ftpmm の信号を記録する。読み取

った値を,記録密度 3 809.5ftpmm での記録レベルの最大許容値とする。

C.2.3

記録密度 1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm 及び 3 809.5ftpmm の値を求めるために,C.2.1

C2.2 を同様に繰り返す。

C.3

記録レベルの限界値  極端な記録レベルは,この規格を用いた記録システムの動作に支障を来すので,

互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は,次による。

記録密度 1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm 及び 3 809.5ftpmm では,記録レベルの最大許容値

とする。

参考  互換性確保のために,記録レベルは,記録密度 1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm 及び

3 809.5ftpmm

で,記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。


72

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 D(規定)  ビットバイトから 10 チャネルビットパターンへの変

D.1

  8

ビットバイトは,最上位ビットを左側とし,最下位ビットを右側とする。

10

チャネルビットパターンは,最初に記録するビットを左側とし,最後に記録するビットを右側とする。

D.2

使用する記録装置は,記録信号の直流成分を 0 に近づける必要がある。

すべての 10 チャネルビットパターンは,0 平衡又は 6 : 4 若しくは 4 : 6 の直流不平衡である。

各 10 チャネルビットパターンは,DC(直流成分)を最小にするために,次の 10 チャネルビットパター

ンの二つの代替パターンのいずれを選択するかを変調器に指示するインジケータ Q が含まれる。

Q

′は,前のパターンの直流情報である。

Q

は,現在のパターンの直流情報である。

D.3

左側の列には,検索を容易にするために,8 ビットバイトを 16 進数で表記する。


73

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

Q

′=−1

 Q

′=1

8

ビットバイト 10 チャネルビットパターン DC  Q 10 チャネルビットパターン DC

Q

(00)

00000000

0101010101

0

  1

0101010101

  0

−1

(01) 00000001

0101010111

0

−1

0101010111

  0

  1

(02) 00000010

0101011101

0

−1

0101011101

  0

  1

(03)

00000011

0101011111

0

  1

0101011111

  0

−1

(04) 00000100

0101001001

0

−1

0101001001

  0

  1

(05)

00000101

0101001011

0

  1

0101001011

  0

−1

(06)

00000110

0101001110

0

  1

0101001110

  0

−1

(07)

00000111

0101011010

0

  1

0101011010

  0

−1

(08) 00001000

0101110101

0

−1

0101110101

  0

  1

(09)

00001001

0101110111

0

  1

0101110111

  0

−1

(0A)

00001010

0101111101

0

  1

0101111101

  0

−1

(0B) 00001011

0101111111

0

−1

0101111111

  0

  1

(0C)

00001100

0101101001

0

  1

0101101001

  0

−1

(0D) 00001101

0101101011

0

−1

0101101011

  0

  1

(0E) 00001110

0101101110

0

−1

0101101110

  0

  1

(0F) 00001111

0101111010

0

−1

0101111010

  0

  1

(10)

00010000

1101010010

0

  1

1101010010

  0

−1

(11) 00010001

0100010010

2

−1

1100010010

−2

−1

(12) 00010010

0101010010

0

−1

0101010010

  0

  1

(13)

00010011

0101110010

0

  1

0101110010

  0

−1

(14)

00010100

1101110001

2

  1

0101110001

−2

  1

(15) 00010101

1101110011

2

−1

0101110011

−2

−1

(16) 00010110

1101110110

2

−1

0101110110

−2

−1

(17) 00010111

1101110010

0

−1

1101110010

  0

  1

(18) 00011000

0101100101

2

−1

1101100101

−2

−1

(19)

00011001

0101100111

2

  1

1101100111

−2

  1

(1A)

00011010

0101101101

2

  1

1101101101

−2

  1

(1B) 00011011

0101101111

2

−1

1101101111

−2

−1

(1C)

00011100

0101111001

2

  1

1101111001

−2

  1

(1D) 00011101

0101111011

2

−1

1101111011

−2

−1

(1E) 00011110

0101111110

2

−1

1101111110

−2

−1

(1F) 00011111

0101101010

2

−1

1101101010

−2

−1

(20) 00100000

0111010101

0

−1

0111010101

  0

  1

(21)

00100001

0111010111

0

  1

0111010111

  0

−1

(22)

00100010

0111011101

0

  1

0111011101

  0

−1

(23) 00100011

0111011111

0

−1

0111011111

−2

  1

(24)

00100100

1111010001

2

  1

0111010001

−2

  1

(25) 00100101

1111010011

2

−1

0111010011

−2

−1

(26) 00100110

1111010110

2

−1

0111010110

−2

−1

(27) 00100111

0111011010

0

−1

0111011010

  0

  1

(28)

00101000

0111110101

0

  1

0111110101

  0

−1

(29) 00101001

0111110111

0

−1

0111110111

  0

  1

(2A) 00101010

0111111101

0

−1

0111111101

  0

  1

(2B)

00101011

0111111111

0

  1

0111111111

  0

−1


74

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

Q

′=−1

 Q

′=1

8

ビットバイト 10 チャネルビットパターン DC  Q 10 チャネルビットパターン DC

Q

(2C) 00101100

0111101001

0

−1

0111101001

  0

  1

(2D)

00101101

0111101011

0

  1

0111101011

  0

−1

(2E)

00101110

0111101110

0

  1

0111101110

  0

−1

(2F)

00101111

0111111010

0

  1

0111111010

  0

−1

(30)

00110000

0111010010

0

  1

0111010010

  0

−1

(31) 00110001

1110010010

2

−1

0110010010

−2

−1

(32) 00110010

1111010010

0

−1

1111010010

  0

  1

(33)

00110011

1111110010

0

  1

1111110010

  0

−1

(34)

00110100

0111110001

2

  1

1111110001

−2

  1

(35) 00110101

0111110011

2

−1

1111110011

−2

−1

(36) 00110110

0111110110

2

−1

1111110110

−2

−1

(37) 00110111

0111110010

0

−1

0111110010

  0

  1

(38) 00111000

0111000101

2

−1

1111000101

−2

−1

(39)

00111001

0111000111

2

  1

1111000111

−2

  1

(3A)

00111010

0111001101

2

  1

1111001101

−2

  1

(3B) 00111011

0111001111

2

−1

1111001111

−2

−1

(3C)

00111100

0111011001

2

  1

1111011001

−2

  1

(3D) 00111101

0111011011

2

−1

1111011011

−2

−1

(3E) 00111110

0111011110

2

−1

1111011110

−2

−1

(3F) 00111111

0111001010

2

−1

1111001010

−2

−1

(40)

01000000

0100010101

2

  1

1100010101

−2

  1

(41) 01000001

0100010111

2

−1

1100010111

−2

−1

(42) 01000010

0100011101

2

−1

1100011101

−2

−1

(43)

01000011

0100011111

2

  1

1100011111

−2

  1

(44)

01000100

0101010001

2

  1

1101010001

−2

  1

(45) 01000101

0101010011

2

−1

1101010011

−2

−1

(46) 01000110

0101010110

2

−1

1101010110

−2

−1

(47)

01000111

0100011010

2

  1

1100011010

−2

  1

(48) 01001000

0100110101

2

−1

1100110101

−2

−1

(49)

01001001

0100110111

2

  1

1100110111

−2

  1

(4A)

01001010

0100111101

2

  1

1100111101

−2

  1

(4B) 01001011

0100111111

2

−1

1001111111

−2

−1

(4C)

01001100

0100101001

2

  1

1100101001

−2

  1

(4D) 01001101

0100101011

2

−1

1100101011

−2

−1

(4E) 01001110

0100101110

2

−1

1100101110

−2

−1

(4F) 01001111

0100111010

2

−1

1100111010

−2

−1

(50) 01010000

0100100101

0

−1

0100100101

  0

  1

(51)

01010001

0100100111

0

  1

0100100111

  0

−1

(52)

01010010

0100101101

0

  1

0100101101

  0

−1

(53) 01010011

0100101111

0

−1

0100101111

  0

  1

(54)

01010100

0100111001

0

  1

0100111001

  0

−1

(55) 01010101

0100111011

0

−1

0100111011

  0

  1

(56) 01010110

0100111110

0

−1

0100111110

  0

  1

(57) 01010111

0100101010

0

−1

0100101010

  0

  1


75

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

Q

′=−1

 Q

′=1

8

ビットバイト 10 チャネルビットパターン DC  Q 10 チャネルビットパターン DC

Q

(58)

01011000

0110100101

0

  1

0110100101

  0

−1

(59) 01011001

0110100111

0

−1

0110100111

  0

  1

(5A) 01011010

0110101101

0

−1

0110101101

  0

  1

(5B)

01011011

0110101111

0

  1

0110101111

  0

−1

(5C) 01011100

0110111001

0

−1

0110111001

  0

  1

(5D)

01011101

0110111011

0

  1

0110111011

  0

−1

(5E)

01011110

0110111110

0

  1

0110111110

  0

−1

(5F)

01011111

0110101010

0

  1

0110101010

  0

−1

(60) 01100000

0010010101

0

−1

0010010101

  0

  1

(61)

01100001

0010010111

0

  1

0010010111

  0

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76

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

Q

′=−1

 Q

′=1

8

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77

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

Q

′=−1

 Q

′=1

8

ビットバイト 10 チャネルビットパターン DC  Q 10 チャネルビットパターン DC

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78

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

Q

′=−1

 Q

′=1

8

ビットバイト 10 チャネルビットパターン DC  Q 10 チャネルビットパターン DC

Q

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−1

(E7)

11100111

1111011010

0

  1

1111011010

  0

−1

(E8) 11101000

1111110101

0

−1

1111110101

  0

  1

(E9)

11101001

1111110111

0

  1

1111110111

  0

−1

(EA)

11101010

1111111101

0

  1

1111111101

  0

−1

(EB) 11101011

1111111111

0

−1

1111111111

  0

  1

(EC)

11101100

1111101001

0

  1

1111101001

  0

−1

(ED) 11101101

1111101011

0

−1

1111101011

  0

  1

(EE) 11101110

1111101110

0

−1

1111101110

  0

  1

(EF) 11101111

1111111010

0

−1

1111111010

  0

  1

(F0) 11110000

1101010101

0

−1

1101010101

  0

  1

(F1)

11110001

1101010111

0

  1

1101010111

  0

−1

(F2)

11110010

1101011101

0

  1

1101011101

  0

−1

(F3) 11110011

1101011111

0

−1

1101011111

  0

  1

(F4)

11110100

1101001001

0

  1

1101001001

  0

−1

(F5) 11110101

1101001011

0

−1

1101001011

  0

  1

(F6) 11110110

1101001110

0

−1

1101001110

  0

  1

(F7) 11110111

1101011010

0

−1

1101011010

  0

  1

(F8) 11111000

1111100101

2

−1

0111100101

−2

−1

(F9)

11111001

1111100111

2

  1

0111100111

−2

  1

(FA)

11111010

1111101101

2

  1

0111101101

−2

  1

(FB) 11111011

1111101111

2

−1

0111101111

−2

−1

(FC)

11111100

1111111001

2

  1

0111111001

−2

  1

(FD) 11111101

1111111011

2

−1

0111111011

−2

−1

(FE) 11111110

1111111110

2

−1

0111111110

−2

−1

(FF) 11111111

1111101010

2

−1

0111101010

−2

−1


79

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 E(規定)  ビットシフトの測定法

試験テープは,情報交換に使用する磁気テープ装置によってシステムオペレーションと互換性のあるモ

ードで記録する。

E.1

読取り装置  読取り装置は,次による。

附属書 によって測定するときに,トラックの直線性が附属書 の規定を満たす磁気テープ装置によっ

て読み取らなければならない。

再生ヘッドの出力電圧の絶対値は,規定しない。ただし,再生ヘッド,前置増幅器,回転トランス,ヘ

ッドとテープの相対速度及び積分器は,低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択しなけ

ればならない。

−  再生ヘッド

ギャップ長

:0.20

µ

m

±0.05

µ

m

ヘッドギャップの角度  :正アジマスのヘッドギャップは,スキャナ軸に対して+25°00′±15′と

する。

:負アジマスのヘッドギャップは,スキャナ軸に対して−25°00′±15′と

する。

−  ヘッドとテープの接触及び再生チャネル

信号取込み中(E.2 参照)のヘッドとテープの接触の安定性及び読取りヘッド,前置増幅器及び回転ト

ランスの総合周波数応答特性は,信号対雑音比で 10dB 以上の良好なものとする。

E.2

測定方法  ビットシフトは,再生電圧波形をディジタル記録する計数信号処理を用いて等化器の出力

で測定する。信号取込みは,メインデータゾーン 1 の最初のビットで始まり(本体の 15.1 参照)

,メイン

データゾーン 1 のチャネルビットが少なくとも 25 000 個読み取られた時点で終わる。

信号処理のアルゴリズムは,次の段階で実行する。

a)

メインデータゾーン 1 からのディジタル波形をタイミング抽出アルゴリズムに入力する。タイミング

抽出アルゴリズムの例としては,このゾーンからのリードバックチャネルビットシグナルのビット長

間での公称中央位置について,一連の一定間隔タイムリファレンスを生成するファーストフーリエ変

換がある。これらのリファレンスは b)c),及び d)を実行したとき,d)に指定したビットエラー率を

満足するように,十分に正確であることとする。

b)

一連のタイムリファレンスを,同一の周波数とフェーズで残りの信号キャプチャ長間に拡張する。こ

れらのリファレンスが,メインデータゾーン 1 からのリードバックチャネルビットシグナルのビット

長間での公称中央位置のタイミングを定義する。

c)

メインデータゾーン 1 から取り込んだビット長間での公称中央位置で,再生電圧を 2%よりも高い精

度で測定する。

d)

メインデータゾーン 1 から取り込んだ各ビット長間について,ビットエラー率が 1/10 000 よりも小さ

い検出方法を使用して,テープ上の対応するビットセルの状態を推測する。ヘッド走行方向に磁化さ

れている各ビットセルに,+1 のデータ値

D

を割り当て,ヘッド走行と反対方向に磁化されている各

ビットセルに,−1 のデータ値

D

を割り当てる。


80

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

e)

各ビットセルについて,4 要素のベクトルを作成し,各要素に 1,2,3,4 と番号を付ける。第 3 要素

D

3

の値が,現在のビットセルのデータ値

D

になり,第 4 要素の

D

4

の値が,次のビットセルのデー

タ値

D

になる。第 1 及び第 2 要素の値

D

1

D

2

は,それぞれ前の二つのビットセルのデータ値

D

にな

る。その結果,ベクトルは 16 個のうちのいずれかのベクトル値

i

をもつ。

f)

 16

個の各ベクトル値について,ベクトル値がそのベクトル値

i

をもつすべてのビットセルの c)で測定

したプレイバック電圧の平均値

Vi

を計算する。

g)

電圧平均値とデータ値を各ベクトル値に一つずつ与え,16 個の Volterra シリーズを作成する。各シリ

ーズは,次による。

Vi

=  A

0000

 (d.c.

term

+A

0100

D

2

+A

0010

D

3

 (signal

term

+A

1000

D

1

+A

0001

D

4

(linear ISI terms)

+A

1100

D

1

D

2

+A

0110

D

2

D

3

+A

0011

D

3

D

4

(non-linear ISI terms)

+A

1010

D

1

D

3

+A

0101

D

2

D

4

+A

1001

D

1

D

4

(non-linear ISI terms の続き)

A

1101

D

1

D

2

D

4

A

1011

D

1

D

3

D

4

A

1111

D

1

D

2

D

3

D

4

(non-linear ISI terms の続き)

+A

1110

D

1

D

2

D

3

+A

0111

D

2

D

3

D

4

(ビットシフトに関係する non-linear ISI terms)

h)

  g)

で定義する 16 個の同時式を解くことによって,Volterra 係数の

A

0000

から

A

1111

を算出する。

i)

ビットシフトに対応する non-linear inter-symbol interference を示す Volterra 係数は,

A

1110

A

0111

となる。

参考  この方法の論理的根拠は,次の文献に記述されている。

Newby, P. and Wood, R., 1986 “The effects of Nonlinear Distortion on Class IV Partial Response” IEEE

Transactions on Magnetics, Volume MAG-22, Number 5, September 1986, page1203

この方法の適用方法については,次の文献に記述されている。

Williams, C.H., 1990 “The Measurement and Classification of Impairment for DVTR Transports”

8th Conference on Video, Audio and Data Recording, IEE Conference Publication No.319, page67


81

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 F(規定)  トラックエッジの直線性の測定法

F.1

測定条件  試験片は,長手方向に 0.04N∼0.06N の張力を加える。

F.2

測定方法  記録トラックのエッジ上に,テープ基準縁からの距離 4.454 5mm を中心とし,長手方向の

軸がテープ基準縁に対して,

α

=4.895 0°傾いた 59.148mm×7.5

µ

m

の長方形の箱を設定する。

F.3

要求事項  トラックエッジは,箱の短い辺にだけ交差しなければならない。

附属書 図 1  トラックエッジの直線性の測定法


82

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 G(規定)  ECC の計算

C1

符号は,GF(2

8

)

リードソロモン符号  (64, 58, 7)  とし,C2 符号は,GF(2

8

)

リードソロモン符号 (56, 48,

9)

とする。

*

C1

パリティは,シンボルでインタリーブした 2 ブロックとして完了する。

GF(2

8

)

は,次の多項式によって算出する。

G

(

x

)

x

8

x

4

x

3

x

2

+1

α

= (00000010)

C1

符号のインタリーブ深度は,2 バイトとし,C2 符号のインタリーブ深度は 8 ブロックとする。

ECC

バイトは,次の式による。

H

p

×

V

P

=0

H

Q

×

V

Q

=0

生成多項式は,次の式による。

( )

( )

=

=

=

5

0

P

i

i

i

x

x

G

α

( )

( )

=

=

=

7

0

Q

i

i

i

x

x

G

α

 

α

0

α

0

α

0

α

0

α

0

α

0

α

0

 

 

α

63

α

62

α

61

α

60

α

2

α

1

α

0

 

Hp

 

α

126

α

124

α

122

α

120

α

4

α

2

α

0

 

 

α

189

α

186

α

183

α

180

α

6

α

3

α

0

 

 

α

252

α

248

α

244

α

240

α

8

α

4

α

0

 

 

α

315

α

310

α

305

α

300

α

10

α

5

α

0

 

 

α

0

α

0

α

0

α

0

α

0

α

0

α

0

 

 

α

55

α

54

α

53

α

52

α

2

α

1

α

0

 

 

α

110

α

108

α

106

α

104

α

4

α

2

α

0

 

 

α

165

α

162

α

159

α

156

α

6

α

3

α

0

 

HQ

 

α

220

α

216

α

212

α

208

α

8

α

4

α

0

 

 

α

275

α

270

α

265

α

260

α

10

α

5

α

0

 

 

α

330

α

324

α

318

α

312

α

12

α

6

α

0

 

 

α

385

α

378

α

371

α

364

α

14

α

7

α

0

 

 

α

440

α

432

α

424

α

416

α

16

α

8

α

0

 


83

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

 D2k,

l

 

Qm, n

 D2k,

l

+2

Qm

+8, n

 D2k,

l

+4

Qm

+16, n

 D2k,

l

+6

Qm

+24, n

 D2k,

l

+8

Dm

+32, n

 D2k,

l

+10

Dm

+40, n

 D2k,

l

+12

Dm

+48, n

 D2k,

l

+14

Dm

+56, n

 D2k,

l

+16

Dm

+64, n

 D2k,

l

+18

Dm

+72, n

 D2k,

l

+20

Dm

+80, n

 D2k,

l

+22

Dm

+88, n

 D2k,

l

+24

Dm

+96, n

 D2k,

l

+26

Dm

+104, n

 D2k,

l

+28

Dm

+112, n

 D2k,

l

+30

Dm

+120, n

 D2k,

l

+32

Dm

+128, n

 D2k,

l

+34

Dm

+136, n

 D2k,

l

+36

Dm

+144, n

 D2k,

l

+38

Dm

+152, n

 D2k,

l

+40

Dm

+160, n

 D2k,

l

+42

Dm

+168, n

 D2k,

l

+44

Dm

+176, n

 D2k,

l

+46

Dm

+184, n

 D2k,

l

+48

Dm

+192, n

 D2k,

l

+50

Dm

+200, n

 D2k,

l

+52

Dm

+208, n

 D2k,

l

+54

Dm

+216, n

 D2k,

l

+56

Dm

+224, n

 D2k,

l

+58

Dm

+232, n

 D2k,

l

+60

Dm

+240, n

V

P

= D2k,

l

+62   V

Q

Dm

+248, n

 D2k

+1, l

Dm

+256, n

 D2k

+1, l+2

Dm

+264, n

 D2k

+1, l+4

Dm

+272, n

 D2k

+1, l+6

Dm

+280, n

 D2k

+1, l+8

Dm

+288, n

 D2k

+1, l+10

Dm

+296, n

 D2k

+1, l+12

Dm

+304, n

 D2k

+1, l+14

Dm

+312, n

 D2k

+1, l+16

Dm

+320, n

 D2k

+1, l+18

Dm

+328, n

 D2k

+1, l+20

Dm

+336, n

 D2k

+1, l+22

Dm

+344, n

 D2k

+1, l+24

Dm

+352, n

 D2k

+1, l+26

Dm

+360, n

 D2k

+1, l+28

Dm

+368, n

 D2k

+1, l+30

Dm

+376, n

 D2k

+1, l+32

Dm

+384, n

 D2k

+1, l+34

Dm

+392, n

 D2k

+1, l+36

Dm

+400, n

 D2k

+1, l+38

Dm

+408, n

 D2k

+1, l+40

Qm

+416, n

 D2k

+1, l+42

Qm

+424, n

 D2k

+1, l+44

Qm

+432, n

 D2k

+1, l+46

Qm

+440, n

 D2k

+1, l+48

 D2k

+1, l+50

 P2k

+1, l+52

 P2k

+1, l+54

 P2k

+1, l+56

 P2k

+1, l+58

 P2k

+1, l+60

 P2k

+1, l+62


84

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

ここに,

P

ij

=C1 バイト

Q

ij

=C2 バイト

i

ブロック番号

j

シリアル番号

なお,C1 バイトは,次による。

k

0, 1,...,223

l

0, 1

k

0

∼15,又は 208∼223 では,V

P

の D

ij

は Q

ij

C2

バイトは,次による。

0

m

≦7

0

n

≦63

各セルに含む 64 個のバイトセットは,00∼63 のシリアル番号で識別し,ブロック番号で識別するブロ

ックを構成する。


85

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 H(参考)  輸送条件

この附属書(参考)は,カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので,規定の一部ではない。

H.1

環境条件  カートリッジの輸送時の環境条件は,次によることが望ましい。

温度

:−40℃∼45℃

相対湿度  :5%∼80%

湿球温度  :26℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

H.2

カートリッジの輸送条件  カートリッジの輸送は,次による。

H.2.1

衝撃及び振動  輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために,次のような対策を取ること

が望ましい。

a)

カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。

b)

カートリッジは,1m を超える高さから落下させてはならない。

c)

カートリッジは,十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。

d)

カートリッジの収納箱は,内部が清浄で,かつ,じんあい(塵挨)

,水などの侵入がない構造とする。

e)

カートリッジの収納箱内での収納方法は,テープリールの中心軸が水平になるようにする。

f)

カートリッジの収納箱は,正しい方向(天地)に置けるように明確な表示をする。

H.2.2

極端な温度及び湿度

a)

温度及び湿度の急激な変化は,いかなる場合でも可能な限り回避する。

b)

輸送されたカートリッジは,必ず使用環境条件に最低 24 時間放置する。

H.2.3

誘導磁界の影響  カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は,外部磁界の影響による

信号破壊の危険性を最小限にするため,80mm 以上とする。


86

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 J(参考)  記録時再生 (RAW)

記録時再生 (RAW) は,フレームを記録した後に,正しく記録できたかどうかを検査し,正しく記録で

きていないときは,再記録するために,直ちに,そのフレームを再生することである。RAW は,フレーム

単位で行う。RAW を行うときは,テープのデータ領域だけで行うこととし,アンブルフレームで行っては

ならない。RAW を行うときは,他のフレームに適用したか否かにかかわらず,個々のフレームごとに適用

するかどうかを決めてもよい。RAW 検査で,フレームが正しく記録できていないと判断すると,テープに

沿いその先に再記録する。再記録するフレームが,元のフレームを重ね書きすることはない。

RAW

検査の第一の目的は,テープの欠陥によって発生する多量の誤りを含むフレームの検出である。し

たがって,すべてのチャネルビットが正しく再生できなくても必ずしも再記録を行う必要はない。データ

交換の信頼性は,

記録品質及びデータデコード品質だけに十分な余裕をもつことが最小の要求事項である。

フレームの品質を検査する方法の例としては,ミッシングパルスの長さ,レベル及びレベルの分布,C1

符号又は C2 符号によって検出された欠陥の数を数えること,記録及び再生のチェックサムを比較するこ

と,記録及び再生データの比較をサンプル期間又は常時行うことなどである。

フレームを再記録するときは,テープ上に複数の同じフレームが存在する可能性がある。それに引き続

く再生によって,フレームのデータが複数の部分から再生した場合,前に再生したフレームのデータは,

記録の失敗の可能性があるので,最後に再生したデータを使用することを推奨する。


87

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

附属書 K(参考)  基本グループ の内容の例

この附属書(参考)は,基本グループ番号 0 の内容の例を記述するもので,

附属書 図 に示すものと

し,規定の一部ではない。

バイト位置 1∼バイト位置 400 のすべてのエントリの後に(00)が続き,

残りのフィールドは(00)で埋める。

バイト位置

フィールド ID

内容の説明

0

∼127

製造業者名

パーティションの初期化又は記録を行ったテープ装置の製造業者の
名前 ASCII 文字列,ヌルで終わりパディングされる。

128

∼159

モデル番号

パーティションの初期化又は記録を行ったテープ装置のモデル番号

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

160

∼191

シリアル番号

テープ装置のシリアル番号

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

192

∼223

改定番号

テープ装置構成部品の改定番号

192

∼199 サブアセンブリ 1

200

∼207 サブアセンブリ 2

208

∼215 サブアセンブリ 3

216

∼223 サブアセンブリ 4

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

224

∼255 SCSI や接続アドレスなどの,ホストインタフェースの型式

ホストインタフェースの

型式とアドレス 224∼239 ホストインタフェース型式

240

∼255 アドレス

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

256

∼271

日時

パーティションの初期化又は記録を行った時期

 YYMMDDHHMMSS

256

∼257YY 年=1996+YY

258

∼259 MM 月

260

∼261 DD 日

262

∼263 HH 時間

264

∼265 MM 分

266

∼267 SS 秒

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

272

∼399

テープラベル又は ID

パーティションの内容を示すインジケータ

ASCII

文字列,ヌルで終わりパディングされる。

400

∼22 271

確保

すべてのバイトを 0 に設定

22 272

∼801 792

製造業者用データ

規定しない

附属書 図 1  基本グループ の内容の例


88

X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)

磁気テープ JIS 改正原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

大  石  完  一

パルステック工業株式会社

(幹事)

富  田  正  典

日本システムインテグレーション株式会社

(幹事)

徳  永  賢  次

日本ナドコ株式会社

(委員)

中  島  郁  志

ソニー株式会社

村  上  恒  夫

日本システムハウス株式会社

荒  木      学

日本ユニシス株式会社

益  田  憲  明

株式会社日立製作所

安  藤  晴  夫

日立マクセル株式会社

竹  内      正

株式会社トリム・アソシエイツ

船  越  正  次 TDK 株式会社

小  林  政  吉

富士通株式会社

藤  原  圭  介

ソニー株式会社

川  田  道  孝

日本電気株式会社

橋  本      進

財団法人日本規格協会

永  松  荘  一

通商産業省機械情報産業局

橋  爪  邦  隆

通商産業省工業技術院

(事務局)

長谷川  久  子

社団法人日本電子工業振興協会