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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

(1) 

まえがき

この規格は,

工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,

社団法人  日本電子工業振興協会  (JEIDA)  /

財団法人  日本規格協会  (JSA)  から,日本工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があ

り,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録

出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS X 6144

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  テープの光透過率の測定法

附属書 B(規定)  ビットシフトの測定法

附属書 C(規定)  8 ビットバイトから 10 ビットパターンへの変換

附属書 D(規定)  データ領域の CRC の生成

附属書 E(規定)  ECC の生成

附属書 F(規定)  論理ブロックの CRC の生成

附属書 G(規定)  ハミングコード ECC の生成

附属書 H(規定)  サーチフィールドの CRC の生成

附属書 J(規定)  乱数化

附属書 K(参考)  輸送条件


X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

(1) 

目次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  適合性

1

2.1

  カートリッジ

1

2.2

  書込み装置

1

2.3

  読取り装置

1

3.

  引用規格

2

4.

  定義

2

4.1

  交流消去

2

4.2

  アルゴリズム

2

4.3

  追記録点

2

4.4

  平均信号振幅

2

4.5

  アジマス

2

4.6

  裏面

2

4.7

  ビットセル

2

4.8

  バイト

2

4.9

  カートリッジ

2

4.10

2

4.11

  クラスタ

2

4.12

  巡回冗長検査文字

2

4.13

  ディジタルサムバリエーション

2

4.14

  誤り訂正符号

2

4.15

  ファイルマーク

2

4.16

  磁束反転間隔

2

4.17

  LBOP

2

4.18

  論理ブロック

2

4.19

  磁気テープ

2

4.20

  主基準テー

3

4.21

  パーティション

3

4.22

  PBOP

3

4.23

  PBOT

3

4.24

  PEOP

3

4.25

  PEOT

3

4.26

  記録密度

3

4.27

  リードバックチェック

3


2

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

目次

4.28

  基準磁界

3

4.29

  二次基準テープ

3

4.30

  セットマーク

3

4.31

  標準信号振幅

3

4.32

  基準電流

3

4.33

  テープ基準縁

3

4.34

  試験記録電流

3

4.35

  トラック

3

4.36

  ティピカル磁界

3

5.

  表記法

3

5.1

  数字の表現

3

5.2

  エンティティの名称

4

5.3

  予備フィールド

4

6.

  略号

4

7.

  環境条件及び安全性

4

7.1

  試験環境条件

4

7.2

  使用環境条件

4

7.3

  保存環境条件

5

7.4

  輸送

5

7.5

  安全性

5

7.6

  難燃性

5

8.

  ケースの寸法及び機械的特性

5

8.1

  概要

5

8.2

  全体の寸法(図 5 及び図 6)

6

8.3

  保持領域

6

8.4

  カートリッジ挿入部

6

8.5

  窓(図 1)

7

8.6

  ローディンググリップ(図 5 及び図 7)

7

8.7

  ラベル領域(図 6 及び図 8)

7

8.8

  基準領域及び基準孔(図 9,図 10 及び図 11)

8

8.9

  支持領域(図 9)

8

8.10

  識別孔(図 10,図 11 及び図 12)

9

8.11

  書込み禁止孔(図 11 及び図 12)

10

8.12

  位置決め面(図 4 及び図 10)

10

8.13

  リッド(図 6 及び図 13)

10

8.14

  リールロック(図 16)

11

8.15

  リール受け孔(図 10)

12

8.16

  リールと駆動スピンドルとの接触領域

12

8.17

  光通過経路(図 10,図 12,図 20 及び図 21)

13

8.18

  ケース内のテープの位置(図 21)

14


3

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

目次

8.19

  テープ走行領域(図 21)

14

8.20

  テープ引出し開口部(図 10)

14

8.21

  テープの引出し開口部への要求事項(図 24)

14

9.

  テープの機械的特性,物理的特性及び寸法

28

9.1

  材料

28

9.2

  テープの長さ

29

9.2.1

  磁気テープの長さ

29

9.2.2

  リーダテープ及びトレーラテープの長さ

29

9.2.3

  スプライシングテープの長さ

29

9.3

  テープの幅

29

9.3.1

  磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅

29

9.3.2

  スプライシングテープの幅及び位置

29

9.4

  連続性

29

9.5

  テープの厚さ

29

9.5.1

  磁気テープの厚さ

29

9.5.2

  リーダテープ及びトレーラテープの厚さ

29

9.5.3

  スプライシングテープの厚さ

29

9.6

  長手方向の湾曲

29

9.7

  カッピング

29

9.8

  磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度

30

9.9

  層間の粘着

30

9.10

  引張強度

30

9.10.1

  破断強度

30

9.10.2

  降伏強度

30

9.11

  残留伸び

30

9.12

  磁性面の電気抵抗

30

9.13

  テープの巻き方

31

9.14

  テープの光透過率

31

9.15

  媒体識別システム (MRS)

31

10

  磁気的特性

32

10.1

  試験条件

32

10.2

  ティピカル磁界

32

10.3

  平均信号振幅

32

10.4

  分解能

32

10.5

  狭帯域の信号対雑音比 (NB−SNR)

32

10.6

  消去特性

33

10.7

  テープの品質

33

10.7.1

  ミッシングパルス

33

10.7.2

  ミッシングパルスゾーン

33

10.7.3

  重ね書き

33


4

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

目次

11.

  フォーマット

33

11.1

  概要

33

11.2

  物理ブロックのフォーマット

35

11.2.1

  概要

35

11.2.2

  共通ヘッダフィールド

36

11.2.3

  データブロック

37

11.2.4

  消去ブロック

38

11.2.5

  診断ブロック

38

11.2.6

  PBOP ブロック

38

11.2.7

  ロングファイルマークブロック

39

11.2.8

  ショートファイルマークブロック

39

11.2.9

  LBOP ブロック

39

11.2.10

  セットマークブロック

41

11.2.11

  ギャップブロック

41

11.2.12

  EOD ブロック

41

11.2.13

  記録パターン

42

11.3

  サーチフィールドフォーマット

43

11.3.1

  サーチフィールドデータ

43

11.3.2

  サーチフィールド ECC

44

11.3.3

  サーチフィールド記録パターン

44

11.4

  サーボ領域

45

11.5

  トラックの配置

45

12.

  記録方式

47

12.1

  記録密度

47

12.1.1

  長周期平均ビットセル長

47

12.1.2

  短周期平均ビットセル長

47

12.1.3

  短周期平均ビットセル長の変動率

47

12.2

  ビットシフト

47

12.3

  情報交換時の再生信号振幅

47

13.

  トラックの構成

47

13.1

  概要

47

13.2

  平均トラック間隔

48

13.3

  トラック間隔の変化

48

13.4

  トラック幅

48

13.5

  トラック角

48

13.6

  トラック長

48

13.7

  ガードバンド

48

13.8

  アジマス角

48

13.9

  トラックエッジの直線性

48

14.

  テープの構成

48


5

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

目次

14.1

  概要

49

14.2

  テープ履歴ログ (THL)

49

14.3

  PBOP

49

14.4

  LBOP

50

14.5

  データ領域

50

14.5.1

  概要

50

14.5.2

  ショートファイルマーク

50

14.5.3

  ロングファイルマーク

50

14.5.4

  セットマーク

50

14.6

  EOD

50

14.7

  PEOP

50

附属書 A(規定)  テープの光透過率の測定法

51

附属書 B(規定)  ビットシフトの測定法

53

附属書 C(規定)  8 ビットバイトから 10 ビットパターンへの変換

55

附属書 D(規定)  データ領域の CRC の生成

63

附属書 E(規定)  ECC の生成

64

附属書 F(規定)  論理ブロックの CRC の生成

66

附属書 G(規定)  ハミングコード ECC の生成

67

附属書 H(規定)  サーチフィールドの CRC の生成

68

附属書 J(規定)  乱数化

69

附属書 K(参考)  輸送条件

70


日本工業規格

JIS

 X

6144

: 2000

 (

15757

: 1998

)

8mm

幅,ヘリカル走査記録,

情報交換用

磁気テープカートリッジ,DA-2 様式

8mm widemagnetic tape cartridge for information interchange

Helical scan recording

−DA-2 format

序文  この規格は,1998 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 15757, Information technology−Data

interchange on 8mm widemagnetic tape cartridge

−Helical scan recording−DA-2 format を翻訳し,技術的内容及

び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

この規格に記載の IEC 規格番号は,

1997

年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものである。

これより前に発行された規格については,規格票に記載された規格番号に 60000 を加えた番号に切り替え

る。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一である。

1.

適用範囲  この規格は,電子計算機,関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い

る 8mm 幅,ヘリカル走査記録,DA-2 (Dual Azimuth-2)  様式,磁気テープカートリッジ(以下,カートリ

ッジという。

)の構造,寸法,物理的特性,機械的特性,磁気的特性及び情報の規格様式について規定する。

この規格は,情報交換当事者間で合意した情報交換符号並びにラベル及びファイル構成の規格を用いる

ことでシステム相互の情報交換に適用する。

備考  この規格の対応国際規格を次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

ISO/IEC 15757 : 1998

  Information technology−Data interchange on 8mm wide magnetic tape

cartridge

−Helical scan recording−DA-2 format (IDT)

2.

適合性

2.1

カートリッジ  カートリッジは,この規格のすべてを満足するとき,この規格に適合する。

2.2

書込み装置  情報交換用カートリッジに用いる書込み装置は,テープに書き込むすべての記録がこ

の規格に適合するとき,この規格に適合する。

適合性を表示する場合,次の機能の有無を明示する。

−  登録した圧縮アルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。

2.3

読取り装置  情報交換用カートリッジに用いる読取り装置は,この規格に適合するテープ上の記録

を処理でき,次の機能をもつとき,この規格に適合する。


2

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

−  定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し,ホストが利用できる登録番号を取り出す。

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・

追補には,適用しない。

JIS K 7161 : 1994

  プラスチック−引張特性の試験方法  第 1 部:通則

備考  ISO 527-1 : 1993  Plastics−Determination of tensile properties−Part 1:General principles が,こ

の規格と一致している。

ISO 1302 : 1992

  Technical drawings−Method of indicating surface texture on drawings

ISO/IEC 11576 : 1994

  Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless

compression of data

IEC 60950 : 1996

  Safety of information technology equipment

4.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

4.1

交流消去  (a.c.erase)    減衰する交流磁界を用いた消去。

4.2

アルゴリズム  (algorithm)    論理的に表現したデータに変換する規則。

4.3

追記録点  (append point)    ロングファイルマーク,セットマーク又はデータの終端,EOD に先行し,

論理ブロックを含む最後のトラック対と 2 個のギャップストライプに続く最初のトラックにある最初の物

理ブロック。

4.4

平均信号振幅  (average signal amplitude)    規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ

ルスのない部分を 3 000 回以上の磁束反転にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク (P-P) 出力電圧。

4.5

アジマス  (azimuth)    磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。

4.6

裏面  (back surface)    データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

4.7

ビットセル  (bit cell)    トラックに記録するデータの 1 ビットの領域。

4.8

バイト  (byte)    一単位として取り扱われるビット列。

4.9

カートリッジ  (cartridge)    一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。

4.10

チャネルビット (channel bit)   8 ビットから 10 ビットに変換後のビット。

4.11

クラスタ  (cluster)    同種のブロックで連続するブロック群。

4.12

巡回冗長検査文字  [cyclic redundancy check (CRC) character]    誤り検出のために巡回符号として用

いる 16 ビットの文字。

4.13

ディジタルサムバリエーション  [digital sum variation (DSV)]    各トラックの最初からチャネルビッ

ト “1” を+1 として “0” を−1 とした総和。

4.14

誤り訂正符号  [error correcting code (ECC)]    誤りを自動訂正できるように設計した符号。

4.15

ファイルマーク  (filemark)    ファイルを分離するため,又はスプライスポイントを示すためテープ

上に記録するマーク。ロングファイルマーク及びショートファイルマークがある。

4.16

磁束反転間隔  (flux transition spacing)    一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。

4.17  LBOP (logical beginning of partition) 

  パーティション内でのデータの記録開始位置。

4.18

論理ブロック  (logical block)    情報の単位として扱うデータ,ファイルマーク又はセットマーク。

4.19

磁気テープ  (magnetic tape)    磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。


3

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

4.20

主基準テープ  (master standard reference tape)    基準磁界,信号振幅,分解能及び重ね書きの標準と

して用いるテープ。

参考  この主基準テープは,Pericomp 社によって管理されている。

4.21

パーティション  (partition)    データを記録するためのテープの長さ方向の分割。テープを短い領域

に分割するために使う。

4.22  PBOP (physical beginning of partition) 

  パーティションのテープの長さ方向の始端。

4.23  PBOT (physical beginning of tape) 

  テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.24  PEOP (physical end of partition) 

  パーティションのテープの長さ方向の終端。

4.25  PEOT (physical end of tape) 

  テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。

4.26

記録密度  (physical recording density)    トラックの長さ 1mm 当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm) 。

4.27

リードバックチェック  [read back check (RBC)]    書込み中にデータの読取り誤りの有無の検査。

4.28

基準磁界  (reference field)    主基準テープのティピカル磁界。

4.29

二次基準テープ  [secondary standard reference tape (SSRT)]    テープの基準磁界,信号振幅,分解能及

び重ね書きを主基準テープのそれと比較するために用い,その特性値と主基準テープの特性との偏差を明

示して,実測値の偏差を補正することによって,間接的に供試テープと主基準テープとの特性の比較を行

うことを可能にするテープ。

参考  二 次 基 準 テ ー プ は , Pericomp 社  (14 Huron Drive, Natick, MA 01760 USA) が 部 品 番 号

SSRT/M.AME/PC 97

で 1998 年から 10 年間供給する。

4.30

セットマーク  (set mark)    データセットを分離するため,又はスプライスポイントを示すためテー

プ上に記録するマーク。

4.31

標準信号振幅  [standard reference amplitude (SRA)]    記録密度 3 819ftpmm の信号を試験記録電流で記

録したときの主基準テープの平均信号振幅。

4.32

基準電流  [standard reference current (Ir)]    基準磁界を発生させる記録電流。

4.33

テープ基準縁  (tape reference edge)    リールが左側になるようにテープの記録面から見たときのテ

ープの下端。

4.34

試験記録電流  [test recording current (TRC)]    基準電流の 1.5 倍の電流。

4.35

トラック  (track)    磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.36

ティピカル磁界  (typical field)   記録密度 3 819ftpmm で記録して,再生したとき,その平均信号振

幅が最大値の 90%を示す最小の印加磁界。

5.

表記法

5.1

数字の表現  測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち,規定値が 1.26,

正の許容誤差が 0.01,負の許容誤差が 0.02 である場合,測定した値は,1.235 以上 1.275 未満を許容する。

16

進数は,丸括弧に数字及び英文字で表す。

ビットの設定は, “0” 又は “1” で表す。

ビットパターン及び 2 進数表現の数字は, “0” 又は “1” の列で表す。

ビットパターン及び 2 進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,最下位ビットを右とする。

2

進数の負の表現は,2 の補数で表す。

各フィールド内では,データバイト 0 を最上位バイトとし,最初に記録する。各バイト内では,最上位

ビット(8 ビットバイトのビット 7)を最初に記録する。この順序は,特に規定がない限り,誤り検出符号


4

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

及び誤り訂正符号の入出力にも適用する。

5.2

エンティティの名称  エンティティの名称は,この規格では規定しない。

5.3

予備フィールド  resv で示すフィールドは将来の拡張の際に使用し,フィールド内の全ビットは “0”

とする。

6.

略号  略号を次に示す。

BID

ブロック ID (block identifier)

CRC

巡回冗長検査  (cyclic redundancy check)

ECC

誤り訂正符号  (error correcting code)

EOD

EOD (end of data)

FID

フィールド ID (field identifier)

LBOP

LBOP (logical beginning of partition)

lsb

最下位ビット  (least significant bit)

LSB

最下位バイト  (least significant byte)

LID

論理ブロック ID (logical block identifier)

msb

最上位ビット  (most significant bit)

MSB

最上位バイト  (most significant byte)

PBOP

PBOP (physical beginning of partition)

PEOP

PEOP (physical end of partition)

PBOT

PBOT (physical beginning of tape)

PEOT

PEOT (physical end of tape)

PID

物理 ID (physical identifier)

RBC

リードバックチェック  (read back check)

SID

ストリーム ID (stream identifier)

SMID

セットマーク ID (setmark identifier)

SRA

標準信号振幅  (standard reference amplitude)

SSRT

二次基準テープ  (secondary standard reference tape)

TRC

試験記録電流  (test recording current)

7.

環境条件及び安全性  次に規定する条件は,カートリッジ近傍の環境条件とする。カートリッジをこ

れらの規定を超えた環境に放置した場合,永久的な損傷を与えることがある。

7.1

試験環境条件  試験環境条件は,規定がない限り次による。

温度 23℃±2℃

相対湿度 40%∼60%

試験前放置時間 24 時間

7.2

使用環境条件  使用環境条件は,次による。

温度

5

℃∼45℃

相対湿度 20%∼80%

湿球温度 26℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。


5

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

カートリッジ近傍の平均温度は,45℃を超えてはならない。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は,使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上,又は最大 24 時間,使用環境条件に放置してから使用する。

7.3

保存環境条件  保存環境条件は,次による。

温度

5

℃∼32℃

相対湿度 20%∼60%

周辺磁界は,テープ上で 4 000A/m を超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は,結露しては

ならない。

7.4

輸送  カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は,附属書 によ

る。

7.5

安全性  カートリッジ及びその構成部品は,IEC 60950 の要求を満たさなければならない。

7.6

難燃性  カートリッジ及びその構成部品の材料は,IEC 60950 に規定された HB 材,又は同等以上に

適合したものでなければならない。

8.

ケースの寸法及び機械的特性

8.1

概要  カートリッジは,次の構成要素からなる。

−  ケース

−  識別孔

−  書込み禁止機構

−  磁気テープを巻いた一対のリール

−  リールロック機構

構成要素の寸法の規定は,情報交換のための要求事項とする。具体図は,次による。

図 1  リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

図 2  リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

図 3  基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z

図 4  リッドが閉じた状態の前面

図 5  リッドが閉じた状態の左側面

図 6  リッドが閉じた状態の上面

図 7  リッドが閉じた状態の右側面

図 8  リッドが閉じた状態の背面

図 9  底面,基準領域及び支持領域

図 10  リッドがない状態の底面

図 11  基準孔及び識別孔の詳細図

図 12  光通過孔,識別孔及び書込み禁止孔の断面図

図 13  リッドの詳細図

図 14  リッドロック解除機構の挿入経路

図 15  リッドロック解除機構

図 16  リールロック解除機構

図 17  リールロックの解除に必要な力の方向

図 18  リッドのロック解除に必要な力の方向


6

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 19  リッドを開けるために必要な力の方向

図 20  光通過経路及び光通過窓

図 21  内部のテープ通過経路及び光通過経路

図 22  リールの外観及び断面図

図 23  リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図

図 24  テープ引出し開口部

寸法は,三つの直交する基準面 X,基準面 Y 及び基準面 Z に基づく(

図 参照)。

基準面 X は,基準孔 A 及び基準孔 B の中心を通り,基準面 Z に垂直とする。

基準面 Y は,基準孔 A の中心を通り,基準面 X 及び基準面 Z に垂直とする。

基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C は,基準面 Z 内とする。

8.2

全体の寸法(図 及び図 6)  ケースの長さは,次による。

l

1

=62.5mm±0.3mm

ケースの幅は,次による。

l

2

=95.0mm±0.2mm

ケースの上面から基準面 Z までの長さは,次による。

l

3

=15.0mm±0.2mm

背面から基準面 X までの長さは,次による。

l

4

=47.35mm±0.15mm

右側面から基準面 Y までの長さは,次による。

l

5

=13.0mm±0.1mm

8.3

保持領域  カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は,図 の斜線の領域とする。

基準面 X から保持領域までの長さは,次による。

l

6

≦12.0mm

ケースの端からの幅は,次による。

l

7

≧3.0mm

8.4

カートリッジ挿入部  カートリッジ挿入部は,誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐ

ために,溝,切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。

溝は,リッドが閉じてロックした状態のとき,ロック解除を可能にするために,リッドロック解除ピン

の挿入領域を妨げないように設ける。溝の基準面 Y からの長さは,次による(

図 及び図 14 参照)。

l

8

=79.7mm±0.2mm

溝の端部の面取りは,次による。

l

9

=1.0mm±0.1mm

l

16

=1.5mm±0.1mm

溝の内部の面取りは,次による。

l

10

=0.7mm±0.1mm

l

17

=1.0mm±0.1mm

l

18

=3.8mm±0.1mm

溝の内部の幅は,次による。

l

11

≧1.0mm

リッドの厚さは,次による。


7

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

l

12

=1.2mm±0.1mm

リッドの面取りは,次による。

l

13

=0.8mm±0.1mm

l

14

=1.2mm±0.1mm

リッドのケースからの突出は,次による。

l

15

=0.5mm±0.1mm

ケースの左側面からリッドロックまでの長さは,次による。

l

19

=0.2mm±0.2mm

挿入領域の高さは,次による。

l

20

≧2.3mm

l

21

=2.5mm

mm
mm

2

.

0

0

.

0

+

切込みは,カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は,次による(

図 5,図 及び図 10 参照)。

l

22

≦7.5mm

l

23

=11.0mm±0.2mm

l

24

=1.5mm±0.1mm

切込みの深さは,次による。

l

25

=1.5mm±0.1mm

こう配面は,リッドの構造の一部とし,基準面 X からの長さは,次による[

図 13a)参照]。

l

26

=7.7mm

mm
mm

0

.

0

5

.

2

+

こう配面の角度は,次による。

a

1

=20°±1°

8.5

窓(図 1)  窓は,リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合,カ

ートリッジの高さを超えてはならない。

8.6

ローディンググリップ(図 及び図 7)  ローディンググリップは,磁気テープ装置にカートリッジ

を自動的に装着するために設ける。

ローディンググリップの中心線の基準面 X からの長さは,次による。

l

28

=39.35mm±0.20mm

ローディンググリップの基準面 Z 及びカートリッジ上面からの長さは,次による。

l

29

=1.5mm±0.1mm

ローディンググリップのくぼみの幅は,次による。

l

30

=5.0mm±0.3mm

ローディンググリップのくぼみの深さは,次による。

l

31

=2.0mm±0.2mm

ローディンググリップのくぼみの傾斜は,次による。

a

2

=90°±5°

8.7

ラベル領域(図 及び図 8)  ラベル領域は,カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ

ル領域の位置及び寸法は,カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。

上面のラベル領域は l

6

及び l

7

で規定した保持領域の内側に入ってはならない。

背面のラベル領域の位置及び寸法は,次による。

l

32

≧0.5mm


8

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

l

33

≧1.5mm

l

34

≦80.0mm

ラベル領域のくぼみの深さは,0.3mm 以下とする。

8.8

基準領域及び基準孔(図 9,図 10 及び図 11)  環状の基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C は,

基準面 Z 上に設け,磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ

れの直径 d

1

は,6.0mm±0.1mm とし,それぞれの基準孔の中心と同心とする。

基準孔 A 及び基準孔 B の中心は,基準面 X 上とする。

円形の基準孔 A の中心は,基準面 X 及び基準面 Y の交線とする(

図 10 参照)。

基準孔 B の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 参照)。

l

35

=68.0mm±0.1mm

円形の基準孔 C の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 11 参照)。

l

36

=10.20mm±0.05mm

基準孔 D の中心から基準面 Y までの長さは,次による(

図 11 参照)。

l

37

=79.2mm±0.2mm

基準孔 C 及び基準孔 D の中心から基準面 X までの長さは,次による(

図 10 参照)。

l

38

=36.35mm±0.08mm

基準領域のケースの厚さは,次による。

l

39

=1.2mm±0.1mm

基準孔 A 及び基準孔 C の深部の直径は,次による。

l

40

≧2.6mm

基準孔の深さは,次による。

l

42

≧4.0mm

基準孔 A 及び基準孔 C の開口部付近の直径は,次による。

l

44

=3.00mm

mm
mm

05

.

0

00

.

0

+

基準孔 A 及び基準孔 C の直径が l

44

となる部分の深さは,次による。

l

41

≧1.5mm

基準孔 A 及び基準孔 C の開口部の面取りは,次による。

l

43

≦0.3mm

a

3

=45°±1°

基準孔 B 及び基準孔 D の深部の幅は,l

40

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の深さは,l

42

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の開口部付近の寸法は,次による。

l

45

=3.5mm±0.1mm

l

46

=3.00mm

mm
mm

05

.

0

00

.

0

+

r

1

=1.75mm±0.05mm

基準孔 B 及び基準孔 D の寸法が l

45

l

46

及び r

1

となる部分の深さは,l

41

とする。

基準孔 B 及び基準孔 D の開口部の面取りは,l

43

及び a

3

とする。

8.9

支持領域(図 9)  カートリッジ支持領域は,図 の網掛け部分とする。支持領域 A’,支持領域 B’  及

び支持領域 C’  は,それぞれ,基準領域 A,基準領域 B 及び基準領域 C から±0.1mm 以内で同一の平面上

とする。支持領域 D’  は,基準面 Z から±0.15mm 以内で同一の平面上とする。


9

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

カートリッジの端から l

49

の長さの領域は,支持領域から除かなければならない。

l

49

=0.5mm±0.1mm

基準面 X から支持領域 A’  及び支持領域 B’  のケース前面側の端までの長さは,次による。

l

47

=10.0mm±0.1mm

基準孔 A 及び基準孔 B の中心から,それぞれ支持領域 A’  及び支持領域 B’  のケース側面側の端までの

長さは,l

47

とする。

基準孔 A 及び基準孔 B の中心から,それぞれ支持領域 A’  及び支持領域 B’  のケース内側の端までの長

さは,次による。

l

48

=11.0mm±0.1mm

基準面 X から支持領域 A’  及び支持領域 B’  のケース背面側の端までの長さは,次による。

l

50

=7.0mm±0.1mm

基準面 X から支持領域 C’  及び支持領域 D’  までの長さは,次による。

l

51

=30.0mm±0.1mm

支持領域 C’  及び支持領域 D’  の寸法は,l

47

及び次による。

l

52

=5.5mm±0.1mm

l

53

=64.5mm±0.2mm

8.10

識別孔(図 10,図 11 及び図 12)  識別孔は,図 11 に示す 1∼5 の番号を付けた 5 個を設ける。

識別孔 1 の中心の位置は,次による。

l

54

=43.35mm±0.15mm

l

57

=6.4mm±0.1mm

識別孔 2 の中心の位置は,l

54

及び l

57

とする。

識別孔 3 の中心の位置は,l

54

及び次による。

l

58

=79.0mm±0.2mm

識別孔 4 の中心の位置は,次による。

l

55

=3.7mm±0.1mm

l

56

=2.3mm±0.1mm

識別孔 5 の中心の位置は,l

55

及び l

56

とする。

すべての識別孔は,

図 12 の E-及び図 12 の F-に示す断面構造をもち,その直径は,3.0mm±0.1mm

とする。

閉じた識別孔の基準面 Z からの深さは,次による。

l

59

=1.2mm

mm
mm

3

.

0

1

.

0

+

開いた識別孔の基準面 Z からの深さは,次による。

l

60

≧5.0mm

図 12 の E-は,識別孔をプラグで閉じた状態を示し,図 12 の F-は,二つの識別孔のうち一つをプラ

グで閉じ,もう一方は,プラグを打ち抜いて開いた状態を示す。これらのプラグは,最大 0.5N の力を加え

ても打ち抜かれてはならない。

識別孔の開閉状態は,次による。

識別孔 1 は,開く。

識別孔 2 は,開く。

識別孔 3 は,開く。


10

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

識別孔 4 は,閉じる。

識別孔 5 は,閉じる。

8.11

書込み禁止孔(図 11 及び図 12)  書込み禁止孔の位置は,l

54

及び次による。

l

61

=10.0mm±0.1mm

書込み禁止孔の直径は,3.0mm±0.1mm とする。

閉じた書込み禁止孔の基準面 Z からの深さは,l

59

とする。

開いた書込み禁止孔の基準面 Z からの深さは,l

60

とする。

書込み禁止孔は,開いた状態で書込み禁止とし,閉じた状態で書込み可能とする。

書込み禁止孔は,可動の機構としてもよい。このとき,書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければ

ならない(

図 参照)。書込み禁止孔を閉じたとき,0.5N の力を加えても開いてはならない。書込み禁止

孔の開閉に要する力は,1N∼15N とする。

8.12

位置決め面(図 及び図 10)  位置決め面は,カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき,カ

ートリッジの位置決めに用い,その寸法は,次による。

基準面 Z からの長さは,次による。

l

62

=2.4mm

mm

mm

0

.

0

1

.

0

+

基準面 Y からの長さは,次による。

l

63

=1.0mm±0.1mm

l

64

=69.0mm±0.2mm

基準面 X からの長さは,次による。

l

65

=14.65mm±0.10mm

位置決め面の面取りは,次による。

l

66

=13.15mm±0.10mm

a

4

=45°±1°

8.13

リッド(図 及び図 13)  リッドは,カートリッジの取扱い中,保管中及び運搬中にテープを保護

するために設け,主リッド及び副リッドからなる。

主リッドは,ケースに取り付けた軸 A を軸として回転する(

図 13 参照)。

軸 A の位置は,次による。

l

27

=0.55mm

mm
mm

05

.

0

10

.

0

+

l

67

=7.5mm±0.1mm

副リッドは,主リッドに取り付け,主リッドとともに動く軸 B を軸として回転する。リッドが閉じた状

態では,軸 B の位置は,次による。

l

68

=7.0mm±0.1mm

l

69

=10.1mm±0.1mm

副リッドの回転は,両側のカムによって,

図 13 に示す経路で制御する。

完全に開いた副リッドの開口部の長さは,次による。

l

70

≧14.8mm

l

71

=11.5mm

mm
mm

2

.

0

0

.

0

+

l

72

=1.2mm±0.1mm

リッドは,完全に開いた状態では,主リッド及び副リッドともに基準面 Z に平行で l

73

離れた平面を超え

てはならない。


11

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

l

73

≦22.3mm

完全に開いたリッドの底面が基準面 Z に対する角度は,次による。

a

5

=85°

°

+

°

1
2

リッドは,途中まで開いた状態では,主リッド及び副リッドともに基準面 Z に平行で l

74

離れた平面を超

えてはならない。

l

74

≦22.5mm

リッドが開くとき,リッドの頂点の通過経路は,次による。

r

2

≦14.9mm

ケースと主リッドの継ぎ目は,次による(

図 の B-参照)。

l

75

≦8.4mm

主リッドの基準面 Z からの高さは,次による(

図 13 参照)。

l

76

=15.2mm

mm
mm

0

.

0

5

.

0

+

主リッドの前面の基準面 X からの長さは,次による。

l

77

=15.3mm

mm
mm

0

.

0

3

.

0

+

リッドの内側のすきまは,次による。

l

78

=13.15mm±0.10mm

リッド前面の曲面の中心は,軸 A とし,半径は,次による。

r

3

=14.7mm

mm
mm

0

.

0

3

.

0

+

リッドロック機構は,装置の解除ピンによって解除する。

解除ピンは,

図 15 の網掛け領域にあるとき,リッドロック機構を解除する。図 15 の網掛け領域は,次

による。

l

79

=2.0mm±0.1mm

l

80

=8.2mm±0.2mm

l

81

=0.7mm±0.2mm

a

6

=30°±1°

リッドロックの解除に要する力は,

図 18 に示す方向に 0.25N 以下とする。

リッドを開く力は,

図 19 に示す方向に 1.0N 以下とする。

8.14

リールロック(図 16)  リールは,カートリッジを磁気テープ装置から取り出したとき,ロックし

なければならない。ロック機構は,装置の解除ピンによって解除する。

ロック機構は,

図 10 に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面 Y からの長さは,

次による。

l

82

=34.5mm±0.1mm

方形孔の基準面 X からの寸法は,次による(

図 10 参照)。

l

83

=35.85mm±0.15mm

l

84

=4.0mm±0.1mm

l

85

≧6.5mm

ロック機構の寸法は,次による。

l

86

=3.2mm

mm

mm

3

.

0

2

.

0

+

l

87

=4.0mm±0.1mm

a

7

=60.0°±1.0°


12

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

解除ピンの動作面が基準面 X から l

88

に位置するとき,リールはロックする。

l

88

=39.0mm

mm
mm

0

.

2

0

.

0

+

解除ピンの動作面が基準面 X から l

89

に位置するとき,リールはロックしてはならない。

l

89

=41.75mm

mm
mm

50

.

0

00

.

0

+

カートリッジの背面板の内側とロック機構の間に l

90

のすきまを設ける。

l

90

≧0.5mm

解除ピンをカートリッジに挿入する深さは,次による。

l

91

≦7.8mm

ロック機構のすきまは,次による。

l

92

=4.0mm±0.1mm

r

4

≦0.3mm

リールロックの解除に要する力は,

図 17 に示す方向に 1.0N 以下とする。

8.15

リール受け孔(図 10)  二つのリール受け孔は,駆動スピンドルを通すために設ける。

リール受け孔の位置は,次による。

l

93

=23.00mm±0.05mm

l

94

=11.40mm±0.05mm

l

95

=46.2mm±0.1mm

リール受け孔の直径は,次による。

d

2

=18.80mm±0.05mm

8.16

リールと駆動スピンドルとの接触領域  リールと駆動スピンドルの接触領域は,次による(図 22 

図 23)。

l

96

=11.75mm±0.15mm

l

97

=8.30mm±0.05mm

l

98

=0.6mm±0.1mm

l

99

=0.3mm±0.1mm

l

100

=1.10mm±0.05mm

l

101

≦0.6mm

l

102

=5.4mm±0.1mm

l

103

=4.4mm±0.1mm

l

104

≦0.6mm

d

4

=10.00mm

mm
mm

08

.

0

00

.

0

+

d

5

≦16.0mm

d

6

=18.0mm

mm

mm

0

.

0

1

.

0

+

d

7

=16.0mm

mm

mm

0

.

0

1

.

0

+

d

8

=45.1mm

mm
mm

0

.

0

5

.

0

+

d

9

=45.1mm

mm
mm

0

.

0

2

.

0

+

リール駆動孔の面取りは,次による。

l

105

=2.4mm±0.1mm

a

9

=15°±1°

リール底面の外側のエッジの面取りは,次による。


13

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

l

106

≦0.2mm

a

8

=45°±1°

リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は,次による。

l

107

=2.4mm

mm
mm

2

.

0

0

.

0

+

a

10

=60°±1°

リール駆動孔の歯の半径は,次による。

r

5

≦0.2mm

リール駆動孔の深さ l

108

は,直径 d

3

の部分までとし,次による。

l

108

≧9.4mm

d

3

=6.50mm

mm
mm

08

.

0

00

.

0

+

基準面 Z からのテープ中心線の位置は,磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき,次による。

l

109

=7.05mm±0.10mm

基準面 Z からのリールの位置は,磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき,次による。

l

110

=0.6mm±0.2mm

リールを挿入したとき,リールと駆動スピンドルとのかみ合いは,次による。

l

111

≦7.5mm

l

112

≦8.0mm

l

113

=1.20mm±0.05mm

l

114

=1.40mm±0.05mm

a

11

=60°±1°

リールのばね力 は,磁気テープ装置にカートリッジを装着し,支持部が基準面 Z から l

110

の位置にあ

るとき,

図 23 に示す方向に 0.6N±0.2N とする。

8.17

光通過経路(図 10,図 12,図 20 及び図 21)  光通過経路は,リーダテープ及びトレーラテープを

検出するために設ける。リッドが開いたとき,光通過経路は,直径 d

10

の光通過孔から一辺が l

118

の正方形

の窓,及びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない(

図 12 の D-参照)。

光通過孔の中心の位置は,l

82

及び次による。

l

115

=8.35mm±0.10mm

光通過孔の直径は,次による。

d

10

=6.5mm

mm

mm

3

.

0

0

.

0

+

光通過孔の開口部の面取りは,次による。

l

116

≦0.5mm

a

12

=45°±1°

光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は,次による。

l

117

=6.05mm±0.10mm

l

118

=2.5mm

mm
mm

4

.

0

0

.

0

+

光通過孔は,発光素子を挿入するため,次の深さとする。

l

119

≧12.5mm

光通過経路の角度は,次による。

a

13

=5.50°±0.25°

リッドの光通過窓の位置及び寸法は,次による。


14

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

l

120

=3.8mm±0.1mm

l

121

=2.5mm

mm
mm

4

.

0

0

.

0

+

l

122

=6.05mm±0.10mm

8.18

ケース内のテープの位置(図 21)  テープは,基準面 X に平行な二つのガイド面を通る。基準面 X

からガイド面までの長さは,次による。

l

123

=10.15mm±0.10mm

ガイド面は,r

6

の半径をもち,

図 21 に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな

ければならない。

r

6

=3.0mm±0.1mm

これらの点の位置及び寸法は,次による。

l

124

=76.28mm±0.30mm

l

125

=27.15mm±0.20mm

l

126

=31.15mm±0.20mm

l

127

=9.67mm±0.10mm

8.19

テープ走行領域(図 21)  カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると,テープは,テープガイド

によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは,ガイド面に接触してはならない。テー

プ走行領域は,テープが自由に走行できることとし,その位置及び寸法は,l

124

から l

127

及び次による。

l

128

=23.0mm±0.1mm

l

129

≧0.3mm

l

130

=46.2mm±0.2mm

l

131

=11.4mm±0.1mm

テープとガイドのすきまは,次による。

l

132

≧0.3mm

8.20

テープ引出し開口部(図 10)  磁気テープ装置にカートリッジを装着すると,磁気テープ装置のテ

ープガイドは,カートリッジからテープを引き出す。二つの半径 r

7

の中心は,基準孔 A 及び基準孔 B の

中心とする。

テープ引出し開口部の形状及び寸法は,l

63

l

64

及び次による。

r

7

=2.3mm±0.1mm

二つの半径 r

8

の中心は,二つのリール受け孔の中心とする。

r

8

=24.15mm±0.10mm

l

133

=3.85mm±0.10mm

8.21

テープの引出し開口部への要求事項(図 24)  ケースは,テープ引出し機構のためのすきまを設け,

開口部への要求事項は,次による。

l

134

≦1.2mm

l

135

=1.15mm

mm
mm

20

.

0

00

.

0

+

l

136

=14.0mm

mm
mm

0

.

0

2

.

0

+

l

137

≧66.8mm

l

138

≧10.0mm

l

139

=14.8mm±0.1mm

a

14

≦49°


15

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 1  リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

図 2  リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観


16

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 3  基準面 X,基準面 及び基準面 Z


17

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 5

リッドが閉じた 

状態の左側面

図 6

リッドが閉じた 

状態の上面

図 7

リッドが閉じた 

状態の右側面

図 8  リッドが閉じた状態の背面


18

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 9  底面,基準領域及び支持領域


19

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 10  リッドがない状態の底面


20

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 11  基準孔及び識別孔の詳細図


21

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 12  光通過孔,識別孔及び書込み禁止孔の断面図

図 13  リッドの詳細図


22

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 14  リッドロック解除機構の挿入経路

図 15  リッドロック解除機構


23

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 16  リールロック解除機構

図 17  リールロックの解除に必要な力の方向


24

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 18  リッドのロック解除に必要な力の方向

図 19  リッドを開けるために必要な力の方向

図 20  光通過経路及び光通過窓


25

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 21  内部のテープ通過経路及び光通過経路


26

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 22  リールの外観及び断面図


27

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 23  リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図


28

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 24  テープ引出し開口部

9.

テープの機械的特性,物理的特性及び寸法

9.1

材料  磁気テープは,ベース(配向したポリエチレンテレフタレートフィルム又はこれと同等品)

上の片面に,メタル材料を蒸着し,強固で柔軟性のあるもの(又はこれと同等品)とする。磁気テープの

裏面は,塗布してもよい。

テープの始端には,巻取りリールのハブと PBOT の間にリーダテープを設け,テープの終端には,供給

リールのハブと PEOT の間にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテープは,磁性材の塗

布及び裏面の塗布がないポリエチレンテレフタレート(又はこれと同等品)の半透明な材料とする。


29

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

リーダテープ及びトレーラテープは,それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。

スプライシングテープは,ポリエチレンテレフタレート(又はこれと同等品)とし,片面にはアクリル系

接着剤(又はこれと同等品)を塗布する。

9.2

テープの長さ

9.2.1

磁気テープの長さ  PBOT と PEOT の間のテープの長さは,22.5m∼172.0m とする。

9.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さ  リーダテープ及びトレーラテープの長さは,70mm∼

90mm

とする。リーダテープ及びトレーラテープと磁気テープとの接合は,テープ基準縁の垂直方向に 1°

以内とする。

9.2.3

スプライシングテープの長さ  スプライシングテープの長さは,13mm 以下とし,リーダテープ及

びトレーラテープ上で 6.5mm±1.5mm とする。

9.3

テープの幅

9.3.1

磁気テープ,リーダテープ及びトレーラテープの幅  磁気テープの幅は,8.00mm±0.01mm とする。

幅の最大値と最小値の差は,6

µm を超えてはならない。

リーダテープ及びトレーラテープの幅は,8.00mm±0.02mm とする。

磁気テープの幅の測定方法は,次による。

a)

顕微鏡用のスライドガラスを試験片にかぶせる。

b)

少なくとも 2.5

µm の精度の顕微鏡,投影機又はこれと同等の装置を使用し,張力をかけないで幅を測

定する。

c)

長さ 1m 以上のテープで異なる位置 5 か所以上の測定を繰り返す。

測定した値の平均をテープの幅とする。

9.3.2

スプライシングテープの幅及び位置  スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが

リーダテープ,トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は,次による。

スプライシングテープの下端は,その他のテープの下端から 0.60mm 以下とし,スプライシングテープ

の上端は,その他のテープの上端から 0.60mm 以下とする。スプライシングテープの端がリーダテープ,

トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。

9.4

連続性  テープは,PBOT と PEOT との間に継ぎ目及び孔のような不連続があってはならない。

9.5

テープの厚さ

9.5.1

磁気テープの厚さ  磁気テープの厚さは,6.5

µm∼7.3µm とする。

9.5.2

リーダテープ及びトレーラテープの厚さ  リーダテープ及びトレーラテープの厚さは,9

µm∼17

µm とする。

9.5.3

スプライシングテープの厚さ  スプライシングテープの厚さは,27

µm 以下とする。

9.6

長手方向の湾曲  長手方向の湾曲は,曲率半径 33m 以上とする。試験方法は,次による。

長さ 1m のテープを平面上に自然の状態で置く。1m の弦からの偏差を測定する。偏差は,3.8mm 以下と

する。

この偏差は,33m の曲率半径と一致する。

9.7

カッピング  カッピングは,平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし,0.7mm 以下とする。試

験方法は,次による。

a)

テープを長さ 150mm±10mm に切り取る。

b)

磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして 3 時間以上放置する。

c)

中心間 35mm 離して水平に置いた 2 個の円筒型ガイドにテープを置く。


30

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

d)

テープの両端に 0.3g のおもりを付ける。

e)

テープの端で決まる面とこの面からの最大偏差の距離を測定する。

9.8

磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度  磁性面の接着強度は,磁性面をテープのベース材料から

はがす力とし,0.10N 以上とする。試験方法は,次による(

図 25 参照)。

a)

長さ約 380mm のテープの試験片を採り,一方の端から 125mm の位置でテープ幅方向にけがき線をベ

ース面に達するまで引く。

b)

磁性面を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。

c)

試験片を 180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて 254mm/min で引っ

張る。

d)

磁性面のどの部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が 0.10N に達

する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は,別の種類の両面接着テープを使用する。

テープの裏面に塗布されている場合は,a)

d)に準じ,裏面の試験を行う。

図 25  磁性面又は磁気テープ裏面の接着強度の試験法

9.9

層間の粘着  層間の粘着は,次の試験方法によって試験したとき,試験片に粘着及び磁性面又は磁

気テープ裏面のはがれの兆候があってはならない。

a)

直径 36mm のガラス管の表面に,長さ 1m の試験片の端を付ける。

b) 1.1N

の張力でガラス管にテープを巻く。

c)

巻かれた試験片を温度 45℃±3℃,相対湿度 80%の環境の中に 4 時間放置する。

d)

さらに,試験環境条件に 24 時間放置する。

e)

試験片の自由端に 0.1N の力を加え,ゆっくりほどく。

9.10

引張強度  引張強度は,JIS K 7161 の試験方法による。

テープの試験片の長さは,200mm とする。リーダテープの試験片の長さは,50mm とする。トレーラテ

ープの試験片の長さは,50mm とする。引張速度は,100mm/min とする。

9.10.1

破断強度  破断強度は,テープが破断するのに要する力とし,8N 以上とする。

9.10.2

降伏強度  降伏強度は,テープが 5%伸びるのに要する力とし,4N 以上とする。

9.11

残留伸び  残留伸びは,元のテープの長さの 0.04%未満とする。試験方法は,次による。

0.20N

以下の張力で,約 1m 長の試験片の初期の長さを測定する。さらに全断面に 20.5N/mm

2

の力を 10

分間加える。加えた力を取り除き,10 分後にテープ長を測定する。

9.12

磁性面の電気抵抗  テープの磁性面の電気抵抗は,10

3

Ω以下とする。


31

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

試験方法は,次による(

図 26 参照)。

a)

テープ試験片を試験環境条件に 24 時間放置する

b) 24

カラットの金めっきした半径 r=10mm で粗さを N4(ISO 1302 参照)で仕上げてある二つの半円の

電極に,記録面が接するように置く。これらの電極は,水平で,中心間の距離 d=8mm となるように

平行に置く。

c) 5N/mm

2

の張力を発生させるために必要な力 を試験片の両端に加える。

d)

電極に 7V±1V の直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。

この測定を一つのテープの試験片の 5 か所について行い,読み取った抵抗値を平均する。

試験片を電極に置くとき,電極間には,試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考  試験前に電極の表面を清掃する。

図 26  磁性面の電気抵抗試験法

9.13

テープの巻き方  テープの巻き方は,テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。

9.14

テープの光透過率  磁気テープの光透過率は,5%以下とする。

識別ストライプの光透過率は,10%以下とする。

リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は,60%以上とする。

光透過率の測定方法は,

附属書 による。

9.15

媒体識別システム (MRS)   リーダテープの PBOT 付近に,1 本の識別ストライプを設けなければな

らない。

ストライプは,リーダテープの全幅にわたっていなければならない(

図 27 参照)。

ストライプの長さは,3.0mm±0.1mm とする。

接合部に近接しているストライプの端は,リーダテープと磁気テープの接合部から 20.17mm±10.80mm

とする。


32

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 27  識別ストライプの位置

10

磁気的特性  磁気的特性の試験は,次による。

この試験を行うとき,出力信号又は残留信号の測定は,主基準テープ,供試テープともに同じ装置の同

じ走行系を使用し,記録時再生によって行う。

規定がない限り,正アジマストラックを使用して試験する。

10.1

試験条件  磁気的特性の試験条件は,次による。

テープの状態

: 記録密度 3 819ftpmm の平均信号振幅の 2%未満に交流消去。

ヘッド/テープ速度

: 13.876 8m/sec±0.027 8m/sec

テープ張力

: スキャナ(ドラム)入口で 0.10N±0.02N

トラック幅

: 11.5

µm±1.0µm

記録ヘッドのギャップ長

: 0.20

µm±0.03µm

再生ヘッドのギャップ長

: 0.20

µm±0.03µm

ギャップアジマス

: 20.009°±0.200°

記録電流

: 試験記録電流

記録波形

: 方形波

10.2

ティピカル磁界  ティピカル磁界は,基準磁界の 80%∼120%とする。

基準磁界の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.3

平均信号振幅  平均信号振幅は,記録密度 3819ftpmm で記録したとき,主基準テープの平均信号振

幅の 80%∼130%とする。

主基準テープの平均信号振幅の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.4

分解能  分解能は,記録密度 3819ftpmm の平均信号振幅を 954.75ftpmm の平均信号振幅で除した値

とし,その値は,主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して 80%∼120%とする。

主基準テープの分解能の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.5

狭帯域の信号対雑音比 (NBSNR)    狭帯域の信号対雑音比は,実効電力の平均信号振幅を雑音の

実効電力の積分(側帯波)で除した値とし,デシベル (dB) で表す。

NB-SNR

は,トラック幅を 11.5

µm としたとき,24dB 以上とする。

正規化は,次の式で算出する。


33

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

dB (11.5)

=dB (W)  +10log11.5/W

ここに,  W:  測定に用いたトラック幅

試験方法

a)

分解能 3kHz 及びビデオ帯域幅 30Hz のスペクトラムアナライザを使用する。

b)

記録密度 3819ftpmm の再生信号振幅をテープの長さ 6m 以上にわたり,150 か所以上のサンプルにつ

いて測定する。

c)

次の走行(再生時)でテープ上の同じ箇所の雑音の実効電力を測定し,その雑音の実効電力を 1MHz

から 33MHz まで,実際の分解能帯域幅で規準化して積分する。

10.6

消去特性  消去特性は,次による。

試験記録電流 3819ftpmm で記録密度 954.75ftpmm の信号を記録した後,テープの長手方向に 320000A/m

の均一な磁界中を通過したとき,残留信号の信号振幅は,標準信号振幅の 2%以下とする。

消去磁界は,ソレノイドの中央部の磁界のように,均一でなければならない。また,測定はバンドパス

フィルタを通し,少なくとも第 3 高調波まで行う。

10.7

テープの品質  テープの品質は,次による。

10.7.1

ミッシングパルス  ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損であり,再生信号の出力電圧の 0 V

を基準としたピーク値 (0-P) が記録密度 3819ftpmm の信号の平均信号振幅の 1/2 の 40%以下とする。

10.7.2

ミッシングパルスゾーン  ミッシングパルスゾーンは,次による。

ミッシングパルスゾーンは,ミッシングパルスによって開始し,トラック方向に 1mm の長さに達した

とき終了する。ミッシングパルスが連続して 1mm を超えて発生したとき,次のミッシングパルスゾーン

とする。

一つのミッシングパルスゾーンは,次のトラックにまたがってはならない。

ミッシングパルスゾーンの発生頻度は,正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について 5×10

6

磁束反転当たり 1 個未満とする。

10.7.3

重ね書き  重ね書きは,低記録密度の信号を記録をした後に,高記録密度の信号を重ね書きし,残

留する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。

主基準テープの重ね書きの特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

試験方法は,次による。

交流消去したテープを用い記録密度 954.75ftpmm の信号を記録し,平均信号振幅を測定する。記録密度

3 819ftpmm

の信号を重ね書きし,残留した記録密度 954.75ftpmm の信号の平均信号振幅を測定する。二次

基準テープについて繰り返し測定する。

要求事項は,次による。

記録密度 954.75ftpmm の重ね書きは,次の比によって求めたとき,主基準テープの 120%未満とする。

の信号の平均信号振幅

記録密度

の信号の平均信号振幅

記録密度

重ね書き後に残留する

ftpmm

ftpmm

75

.

954

75

.

954

11.

フォーマット

11.1

概要  テープサブシステムは,ホストコンピュータから論理ブロックのデータバイト,ロングファ

イルマーク,ショートファイルマーク,又はセットファイルマークを受け取る。論理ブロックは,物理ブ

ロックに変換する(11.2 参照)

一対のトラックのフォーマット構成は,次による(

図 28 参照)。


34

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

・プリアンブル

・サーチフィールド

・サーボエリア(トラック 2 だけ)

・サーチフィールド

・データクロック同期

・8 個の物理ブロック

・サーチフィールド

・サーボエリア(トラック 2 だけ)

・サーチフィールド

・データクロック同期

・8 個の物理ブロック

・サーチフィールド

・サーボエリア(トラック 2 だけ)

・サーチフィールド

・ポストアンブル

図 28  トラックフォーマット


35

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

11.2

物理ブロックのフォーマット

11.2.1

概要  物理ブロックのフォーマットは,32 物理ブロックタイプがあり,そのうち 10 物理ブロック

タイプを

表 に示す。残りの 22 物理ブロックタイプは,将来使用するための予備とする

表 1  物理ブロックタイプ

ブロック ID

定義

(0)

データ

(5)

消去

(8)

診断

(9) PBOP

(A)

ロングファイルマーク

(B)

ショートファイルマーク

(C) LBOP

(D)

セットマーク

(E)

ギャップ

(F) EOD

各物理ブロックの情報は,次による。

ヘッダデータ 24 バイト

データ 1014 バイト

CRC

データ

2

バイト

ECC

データ 400 バイト

ヘッダデータ領域とデータ領域の内容は,物理ブロックタイプによって異なる(11.2.2

11.2.12 参照)。

情報マトリクスは,1440 バイトとし,60 列 24 行の配列とする(

図 29 参照)。情報マトリクスの各セル

は,1 バイトとし,列番号及び行番号によって識別する。列番号及び行番号は,列/行の形式で 00/00∼59/23

と表記する。

情報マトリクスの内容は,次による。

・24 バイトへのヘッダデータは,00/00∼00/19 及び 02/00∼02/03 に順次格納する。

・1014 バイトのデータは,最初の 16 バイトを 02/04∼02/19 に格納する。次の 20 バイトは,04/00∼04/19

に格納する。以降 50/00∼50/19 までの偶数列に順次格納する。次に奇数列 01∼49 の行 00∼19 まで順次格

納する。最後の 18 バイトは,51/00∼51/17 に格納する。

・2 バイトの CRC データは,51/18∼51/19 に格納する。CRC データの生成は,

附属書 による。

・160 バイトの水平 ECC は,52/00∼59/19 に格納する。バイトの垂直 ECC バイトは,列 00∼59 の行 20

∼23 に格納する。400 バイトの ECC データの生成は,

附属書 による。


36

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 29  情報マトリクス

11.2.2

共通ヘッダフィールド  次のフィールドは,複数のヘッダで使用する。

11.2.2.1

物理 ID (PID)   PID は,テープ上の物理ブロックの絶対位置を示し,計数を 4 バイトで表す。

PID

番号は,物理ブロックのタイプにかかわらず,ブロックごとに 1 を加算する。パーティション間の空

白領域へも PID 番号を割り当てる。テープ履歴ログを表す最初の物理ブロックの PID 番号は, (0000F040)

とする。テープ上の最初のパーティションにある PID 番号は, (00014B80) とする。

11.2.2.2

ブロック ID (BID)    BID は,ホストから受信した論理ブロックの順序を示し,計数を 4 バイト

で表す。BID は,各パーティションで (00000000) から始まり,ホスト情報を含む最初の物理ブロックは,

(00000001)

とし,物理ブロックごとに 1 を加算する。

11.2.2.3

ストリーム ID (SID)    SID は,書込み時に連続した物理ブロックの中で無効物理ブロックを示し,

計数を 1 バイトで表す。SID は,テープ動作が停止するごとに 1 を加算する。

11.2.2.4

再書込みステータス (Rwstat)   再書込みステータスは,物理ブロックの再書込み状態を示し,

フィールドを 2 ビットで表す。その値は,次による。

00

:最初に書き込んだ物理ブロック

01

:将来の予備

10

:リードバックチェック (RBC) で書込み不良を検出後,再書込みした物理ブロック

11

:RBC による書込み不良検出以外の原因で再書込みした物理ブロックで,データ交換時には,無視

する。

11.2.2.5

セットマーク ID (SMID)    SMID は,物理ブロックが属しているセットを示し,フィールドを 3

バイトで表す。SMID は,パーティションに書かれた最初のセットマークを含む物理ブロックを (000000)

に設定し,各セットマークごとに 1 を加算する。

11.2.2.6

フィールド ID (FID)    FID は,物理ブロックが属しているファイルを示し,計数を 4 バイトで表

す。FID は,パーティションに書かれた最初のファイルマークを含む物理ブロックを (00000000) に設定

し,各ショートファイルマーク又はロングファイルマークごとに 1 を加算する。


37

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

11.2.2.7

論理ブロック ID (LID)    LID は,ホストシステムからの論理ブロックの計数を 4 バイトで表す。

LID

は,パーティション内の最初の論理ブロックを (00000000) に設定し,各論理ブロック,ファイルマ

ーク又はセットマークごとに 1 を加算する。ヘッダデータに格納される LID は,物理ブロックの一部又は

全体に含む最初の論理ブロックの LID とする。

11.2.3

データブロック  データブロックは,ホストからのデータバイトを記録する。データブロックのデ

ータは,圧縮アルゴリズムで圧縮してもよい。論理ブロックは,可変長で,物理ブロックにまたがり,又

は物理ブロックに含んでもよい。

11.2.3.1

データブロックヘッダ

バイト/

ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

00-03 PID

04-07 BID

08 (resv)

09 rwcount

10 SID

11

Rwtstat

(resv)

0 0 0 0 0

12 (resv)

13-15 SMID

16-19 FID

20-23 LID

図 30  データブロックヘッダ

データブロックヘッダは,

図 30 に示す。rwcount バイトは,物理ブロックのコピーを識別し,計数を 1

バイトで表す(

図 30 参照)。物理ブロックの最初の書込み時に,計数を 0 に設定する。物理ブロックを再

書込みするごとに,計数に 1 を加算する。LID は,データブロックの一部又は全体に含む最初とする。

11.2.3.2

データ領域  データ領域は,ホストから送信したデータを含む。2 バイトの論理ブロックヘッダ

は,論理ブロックに先行する。論理ブロックが一つ以上の物理ブロックにまたがる場合,論理ブロックヘ

ッダは,連続する論理ブロックに先行するデータブロックのデータ領域の最初の 2 バイトとする。2 バイ

トの論理ブロック CRC は,論理ブロックに続くこととする。

11.2.3.2.1

論理ブロックヘッダ (LBH) 

  7 6 5 4 3 2 1 0

バイト 0 NDB  (resv)  Appnd Cmprsd  Last

End

Length

msb

バイト 1 Length lsb

図 31  論理ブロックヘッダ

論理ブロックヘッダは,次による(

図 31 参照)。

NDB

−全論理ブロックがホストデータを含まないとき,1 に設定し,含むとき,0 に設定する。

Appnd

−論理ブロックが直前のデータブロックから続くとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に設定す

る。

Cmprsd

−論理ブロック内のデータが圧縮アルゴリズムで圧縮しているとき,1 に設定し,それ以外のと

き,0 に設定する。

Last

−データブロック内の最後の論理ブロックのとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に設定する。

End

−論理ブロックがこのデータブロックで終わるとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に設定する。

Length

−論理ブロックがこのデータブロックで終了するとき,2 バイトの論理ブロック CRC を含んでデ


38

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

ータブロックにある論理ブロックのバイト数より 1 小さい数を 10 ビットの計数で表す。

11.2.3.2.2

論理ブロック CRC  2 バイトの論理ブロック CRC の生成は,附属書 による。

11.2.4

消去ブロック  消去ブロックは,テープ上の古いデータに重ね書きするときに用いる。

11.2.4.1

消去ブロックヘッダ  消去ブロックヘッダは,図 32 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

0-3 PID

4-9 (resv)

10 SID

11

(resv)

0 0 1 0 1

12-23 (resv)

図 32  消去ブロックヘッダ

11.2.4.2

データ領域  消去ブロックのデータ領域は,規定しない。データ交換時には,無視する。

11.2.5

診断ブロック  診断ブロックは,テープ装置又は媒体の実行状態を表す装置固有の情報とし,周期

的にテープ上に書き込んでもよい。

11.2.5.1

診断ブロックヘッダ  診断ブロックヘッダは,図 33 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

0-3 PID

4-7 DID

8-9 (resv)

10 SID

11

(resv)

0 1 0 0 0

12-23 (resv)

図 33  診断ブロックヘッダ

診断 ID (DID)  は,テープ上に書き込む最初の診断ブロックを (00000000) に設定し,各診断ブロックご

とに 1 を加算する。

11.2.5.2

データ領域  診断ブロックのデータ領域は,装置固有の情報で,データ交換時には無視する。

11.2.6

  PBOP

ブロック  PBOP ブロックは,パーティションの開始を表す。

11.2.6.1

  PBOP

ブロックヘッダ  PBOP ブロックヘッダは,図 34 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

00-03 PID

04-07 BID

08-09 (resv)

10 SID

11

(resv)

0 1 0 0 1

12-17 (resv)

18 TotalParts

19 CurPartNum

20-23 (resv)

図 34  PBOP ブロックヘッダ

BID

− (00000000) に設定する。

TotalParts

−テープ上のパーティションの総数をバイトで表し,有効な計数値は, (1) ∼ (40) とする。

CurPartNum

−現在のパーティションの番号をバイトで表し,有効な計数値は, (00) ∼ (3F) とする。

11.2.6.2

データ領域  PBOP ブロックのデータ領域は,規定しない。データ交換時には,無視する。


39

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

11.2.7

ロングファイルマークブロック  ロングファイルマークブロックは,テープ上のファイルの分離及

び追記録点に用い,ホストからの要求によって書き込む。

11.2.7.1

ロングファイルマークブロックヘッダ  ロングファイルマークブロックヘッダは,図 35 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

00-03 PID

04-07 BID

08-09 (resv)

10 SID

11

(resv)

0 1 0 1 0

12 (resv)

13-15 SMID

16-19 FID

20-23 LID

図 35  ロングファイルマークブロックヘッダ

11.2.7.2

データ領域  ロングファイルマークブロックのデータ領域は,論理ブロックヘッダ (LBH) の

NDB

ビットを 0 に設定する。LBH に続く 4 バイトのデータは,ロングファイルマークを重ね書きした場

合,使用する追記録点用の PID 番号を表す。残りのデータバイトは,規定しない。データ交換時には,無

視する。

11.2.8

ショートファイルマークブロック  ショートファイルマークは,データの分離に用い,ホストから

の要求によって書き込む。

11.2.8.1

ショートファイルマークブロックヘッダ  ショートファイルマークブロックヘッダは,図 36 

示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

00-03 PID

04-07 BID

08-09 (resv)

10 SID

11

Rwt

Stat  (resv)

0 1 0 1 1

12 (resv)

13-15 SMID

16-19 FID

20-23 LID

図 36  ショートファイルマークブロックヘッダ

11.2.8.2

データ領域  ショートファイルマークブロックのデータ領域は,規定しない。データ交換時には,

無視する。

11.2.9

  LBOP

ブロック  LBOP ブロックは,パーティションの特性を規定する。

11.2.9.1

  LBOP

ブロックヘッダ  LBOP ブロックヘッダは,図 37 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

00-03 PID

04-07 BID

08-09 (resv)

10 SID

11

(resv)

0 1 1 0 0

12-13 (resv)

14 LBCRC

REW (resv) (resv)

ClstrSize


40

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

15 (resv)

16 ComprsAlg

17 (resv) 1

0

18 TotalParts

19 CurPartNum

20-23 (resv)

図 37  LBOP ブロックヘッダ

BID

− (00000000) に設定する。

LBCRC

−パーティション内のすべての論理ブロックで,論理ブロックの次に 2 バイトの論理ブロック

CRC

があるとき,1 に設定する。

REW

−このパーティション内で物理ブロックが再書込みしたとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に

設定する。

ClstrSize

−各クラスタに割り当てた物理ブロックの番号で,そのフィールドを 4 ビットで表す。この規

格の場合,フィールドの有効値は, (1), (2), (3) 又は (4) とする。

ComprsAlg

ISO/IEC 11576 で規定した登録アルゴリズムの識別子を,2 進法で規定する。

TotalParts

−テープ上のパーティションの総数をバイトで表し,有効な計数値は, (01) ∼ (40) とする。

CurPartNum

−現在のパーティションの番号をバイトで表し,有効な計数値は, (00) ∼ (3F) とする。

11.2.9.2

データ領域  LBOP のデータ領域は,テープ上のすべてのパーティションの配置情報を含む。各

パーティションのパーティションレコードは,パーティションの大きさ及び位置を含むこととする(

図 38

参照)

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

0-1 LBH

2-3 PartSize

4-7 PBOP PID

8-11 PEOP PID

図 38  パーティションレコード

パーティションレコードのフィールドは,次による。

PartSize

−パーティションのデータ領域の長さをメガバイト単位で 2 バイトのフィールドで表す。

PBOP PID

−パーティションの最初の PBOP ブロックの PID を 4 バイトのフィールドで表す。

PEOP PID

−パーティションに書き込む最後の PEOP ブロックの PID を 4 バイトのフィールドで表し,ト

ラック 2 の最後の物理ブロックとする。

パーティションレコードのデータ領域への配置は,次による(

図 39 参照)。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

0-1 LBH

2-15

テープ ID

16-27

パーティションレコード 0

28-39

パーティションレコード 1

図 39  パーティションデータ領域

テープ ID−装置固有の情報で,データ交換時には無視する。

パーティションレコードは,昇順に配置する。


41

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

11.2.10

セットマークブロック  セットマークブロックは,テープ上のデータグループの分離及び追記録点

に用い,ホストからの要求によって書き込む。

11.2.10.1

セットマークブロックヘッダ  セットマークブロックヘッダは,図 40 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

00-03 PID

04-07 BID

08-09 (resv)

10 SID

11

(resv)

0 1 1 0 1

12 (resv)

13-15 SMID

16-19 FID

20-23 LID

図 40  セットマークブロックヘッダ

11.2.10.2

データ領域  セットマークブロックのデータ領域は,論理ブロックヘッダ (LBH) の NDB ビット

を 0 に設定する。LBH に続く 4 バイトのデータは,セットマークを重ね書きした場合,使用する追記録点

用の PID 番号を表す。

11.2.11

ギャップブロック  ギャップブロックは,書込み動作が終了したとき不完全なトラックのパッドに

用いる。

11.2.11.1

ギャップブロックヘッダ  ギャップブロックヘッダは,図 41 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

0-3 PID

4-7 ABID

8-9 (resv)

10 SID

11

(resv)

0 1 1 1 0

12-23 (resv)

図 41  ギャップブロックヘッダ

ABID

−前の一対のトラックの終端と LBOP との間に大きな BID を発生しないように書き込む最小の

BID

で,4 バイトのフィールドで表す。

11.2.11.2

データ領域  ギャップブロックのデータ領域は,規定しない。データ交換時には,無視する。

11.2.12

  EOD

ブロック  EOD ブロックは,パーティション内の書込みデータの終わりを示す。

11.2.12.1

  EOD

ブロックヘッダ  EOD ブロックヘッダは,図 42 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

00-03 PID

04-07 BID

08-09 (resv)

10 SID

11

(resv)

0 1 1 1 1

12 (resv)

13-15 SMID

16-19 FID

20-23 LID

図 42  EOD ブロックヘッダ


42

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

11.2.12.2

データ領域  EOD ブロックのデータ領域は,論理ブロックヘッダ (LBH) の NDB ビットを 0 に

設定する。LBH に続く 4 バイトのデータは,EOD を重ね書きした場合,使用する追記録点用の PID 番号

を表す。残りのデータバイトは,規定しない。データ交換時には,無視する。

11.2.13

記録パターン  情報マトリクスからのデータは,0∼47 に番号付けした 48 セグメントでテープに

順次記録する。各セグメントは,20 ビットの同期フィールドに続く 10 ビットのセグメント ID 及び情報マ

トリクスからの 30 バイトで構成する。

11.2.13.1

ビット同期フィールド  ビット同期フィールドは,01111111111111111101 からなる。

11.2.13.2

セグメント ID  各セグメント ID は,表 に示す 10 ビットパターンで表す。

表 2  セグメント ID パターン

データセグメント ID

コードワード

データセグメント ID

コードワード

0 0111111101 24 0101101011

1 0111111010 25 0101011010

2 0111110111 26 0010101011

3 0111110101 27 0010101110

4 0111101110 28 0010110101

5 0111101011 29 0010110111

6 0111011111 30 0010111010

7 0111011101 31 0010111101

8 0111010111 32 0010111111

9  0111010101 33 0011010110

10 0110111110 34 0011101010

11 0110111011 35 0011101101

12 0110101111 36 0011101111

13 0110101010 37 0011111011

14 0101111111 38 0011111110

15 0101111101 39 1010101011

16 0101110111 40 1010101110

17 0101110101 41 1010110101

18 0101011111 42 1010110111

19 0101011101 43 1010111010

20 0111011010 44 1010111101

21 0110101101 45 0101010111

22 0101111010 46 0101010101

23 0101101110 47 1011111011

11.2.13.3

情報マトリックス  情報マトリックスのセグメントのデータは,附属書 によって乱数化する。

30

バイトのデータは,

附属書 によって 8 ビットから 10 ビットのチャネルビットに変換する。情報マト

リックスのデータは,次の順序で 48 セグメントに配置する。

セグメント 0 00 行,00∼29 列

セグメント 1 00 行,30∼59 列

セグメント 2 01 行,00∼29 列

セグメント 3 01 行,30∼59 列


43

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

セグメント 46 23 行,00∼29 列

セグメント 47 23 行,30∼59 列

11.3

サーチフィールドフォーマット

11.3.1

サーチフィールドデータ  サーチフィールドデータのフォーマットは,図 43 に示す。

バイト/ビット

7 6 5 4 3 2 1 0

00

パーティション

01-03 SMID

04-07 FID

08-11 LID

12-15 PID

16-19 ABID

20-23 DBID

24 EOM

BOP

THL

消去 (resv)

25 (resv)

26 PSID

27 SID

図 43  サーチフィールドデータ

サーチフィールドデータの各フィールドは,次による。

パーティション−現在のパーティションのパーティション番号を 1 バイトのフィールドで表す。

SMID

−次に書き込むセットマークのセットマーク番号を 3 バイトのフィールドで表す。

一対のセットマ

ークトラックの両トラックにあるサーチフィールドは,セットマークブロックのヘッダブロックの SMID

と同じ SMID とする。

FID

−次に書き込むファイルマークのファイルマーク番号を 4 バイトのフィールドで表す。一対のロン

グファイルマークトラックの両トラックにあるサーチフィールドは,ロングファイルマークブロックのヘ

ッダブロックの FID と同じ FID とする。ショートファイルマークに続くトラックにあるサーチフィールド

の FID は,前のトラックにある最後のショートファイルマークブロックのブロックヘッダ FID と同じ FID

とする。

LID

−このサーチフィールドを含むトラックの前にテープ上に書き込んだ最大の論理ブロック番号を 4

バイトのフィールドで表す。

PID

−前に書き込んだトラックにある最後の物理ブロックの PID 番号を 4 バイトのフィールドで表す。

ABID

−前の一対のトラックの終端と LBOP の間に大きな BID を発生させないように書き込む最小の

BID

で,4 バイトのフィールドで表す。

DBID

−前の一対のトラック終端とこのパーティションの EOD の間に小さな BID を発生させないように

書き込む最大の BID で,4 バイトのフィールドで表す。

EOD

−サーチフィールドが EOD トラックのうちの一つに配置するとき,1 に設定し,それ以外のとき,

0

に設定する。

BOP

−サーチフィールドを LBOP 又は PBOP トラックのうちの一つに配置するとき,1 に設定し,それ

以外のとき,0 に設定する。

THL

−サーチフィールドをテープ履歴ログに配置するとき,

1

に設定し,

それ以外のとき,

0

に設定する。

消去−サーチフィールドを消去動作の一部として書き込むとき,1 に設定し,それ以外のとき,0 に設定

する。

PSID

−テープを最初にパーティションするとき,0 に設定し,テープをパーティションするごとに 1 を


44

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

加算する。

SID

−SID は,書き込むとき,連続した物理ブロックのなかの無効物理ブロックを示し,計数を 1 バイト

で表す。SID は,テープ動作が停止するごとに 1 を加算する。

11.3.2

サーチフィールド ECC  2 ビットハミングコード ECC は,サーチフィールドデータの各バイトに

加える(

図 44 参照)。ハミングコード ECC の生成は,附属書 による。2 バイトの CRC は,附属書 

よってサーチフィールドから生成し,サーチフィールドデータの終わりに付加する。ECC キャラクタに関

する 2 個の 5 ビット CRC キャラクタは,

附属書 によって生成し,ECC キャラクタの列に加える。

12

11

10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0

データ(00) ECC(00)

データ(01) ECC(01) 
データ(02) ECC(02) 
データ(03) ECC(03)

データ(04) ECC(04) 
データ(05) ECC(05) 
データ(06) ECC(06)

データ(07) ECC(07) 
データ(08) ECC(08) 
データ(09) ECC(09)

データ(0A) ECC(0A) 
データ(0B) ECC(0B) 
データ(0C) ECC(0C)

データ(0D) ECC(0D)

データ(0E) ECC(0E) 
データ(0F) ECC(0F)

データ(10) ECC(10) 
データ(11) ECC(11) 
データ(12) ECC(12)

データ(13) ECC(13) 
データ(14) ECC(14) 
データ(15) ECC(15)

データ(16) ECC(16) 
データ(17) ECC(17) 
データ(18) ECC(18)

データ(19) ECC(19)

データ(1A) ECC(1A) 
データ(1B) ECC(1B)

CRC

上位 ECC

CRC

上位

CRC

下位 ECC

CRC

下位

図 44  サーチフィールド構成(ECC を含む)

11.3.3

サーチフィールド記録パターン  サーチフィールドは, “1” に設定した 160 チャネルビットのク

ロック検出領域に続き, “01111111111111111110” に設定した 20 同期ビット及び 10 ビットのサーチフィー

ルド ID (SFID)  に続くこととする。トラック 1 にある 3 番,6 番及び 16 番のサーチフィールドの SFID は,

“1101101101”

に設定する。他のサーチフィールドの SFID は, “1010101101” に設定する。49 バイトのサ

ーチフィールドデータは,最初のバイトを 0 番バイトとしマトリクスに垂直に配置する(

図 45 参照)。48

番バイトは,2 ビットの 0 を加える。バイトは,

附属書 によって 8 ビットから 10 ビットに変換しチャネ

ルビットに符号化する。


45

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

b12

b11

b10 b9 b8 b7 b6 b5 b4 b3 b2 b1 b0

ワード

s

ワード

ワード 2  

11

 

26

 

41

ワード 3 0      

30

 

45

ワード

1

ワード 5  4  

19

 

34

 

ワード

ワード 7

lsb

 8  

23

 

38

ワード

ワード 9  

12

 

27

 

42

ワード 1

ワード 11

1  

16

 

31

 

46

ワード 1

ワード 13  5  

20

 

35

 

ワード 1

ワード 15   9  

24

 

39

ワード 1

ワード 17  

13

 

28

 

43

ワード 1

ワード 19

2  

17

 

32

 

47

ワード 2

ワード 2

ワード 22  6  

21

 

36

 

ワード 23     10      25      40

ワード 2

ワード 25

14

29

 

44

ワード 2

ワード 27

33

 

CRC1

37

CRC2

3

7

18

22

48

図 45  サーチフィールドの構成

11.4

サーボ領域  一対のトラックのトラック 2 上のサーボ領域は,3 個とする。各サーボ領域の前後にサ

ーボパッド領域を 955ftpmm (4T)  で記録する。サーボ領域は,76.38ftpmm(トーン)で記録する。

11.5

トラックの配置  11.111.4 で規定したトラックの構成要素の配置は,図 46 及び図 47 による。

要素

ビットセル

データ

要素

ビットセル

データ

プリアンブル

2700

 “1”

SF10

同期

160

 “1”

SF0

データ 520 データ  SF10 データ 520 データ

SF1

同期

160

 “1”

SF11

同期

160

 “1”

SF1

データ 520 データ  SF11 データ 520 データ

SF2

同期

160

 “1”

SF12

同期

160

 “1”

SF2

データ 520 データ  SF12 データ 520 データ

SF3

同期

160

 “1”

同期クロック

160

 “1”

SF3

データ 520 データ

データ B8 15840

データ

パッド 0 2000 4T

データ B9 15840

データ

SF4

同期

160

 “1”

データ B10 15840 データ

SF4

データ 520 データ

データ B11 15840 データ

同期クロック

160

 “1”

データ B12 15840 データ

データ B0 15840

データ

データ B13 15840 データ


46

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

要素

ビットセル

データ

要素

ビットセル

データ

データ B1 15840

データ

データ B14 15840 データ

データ B2 15840

データ

データ B15 15840 データ

データ B3 15840

データ   SF13 同期

160

 “1”

データ B4 15840

データ  SF13 データ 520 データ

データ B5 15840

データ   SF14 同期

160

 “1”

データ B6 15840

データ  SF14 データ 520 データ

データ B7 15840

データ   SF15 同期

160

 “1”

SF5

同期

160

 “1”

SF15

データ 520 データ

SF5

データ 520 データ   SF16 同期

160

 “1”

SF6

同期

160

 “1”

SF16

データ 520 データ

SF6

データ 520 データ

パッド 2 2000 4T

SF7

同期

160

 “1”

SF17

同期

160

 “1”

SF7

データ 520 データ  SF17 データ 520 データ

SF8

同期

160

 “1”

SF18

同期

160

 “1”

SF8

データ 520 データ  SF18 データ 520 データ

SF9

同期

160

 “1”

SF19

同期

160

 “1”

SF9

データ 520 データ  SF19 データ 520 データ

パッド 1 2000 4T

ポストアンブル

4960

 “1”

合計 280860

図 46  トラック の配置

要素

ビットセル

データ

要素

ビットセル

データ

プリアンブル

4740

 “1”

SF7

同期

160

 “1”

SF0

データ 520 データ   SF7 データ 520 データ

SF1

同期

160

 “1”

SF8

同期

160

 “1”

SF1

データ 520 データ   SF8 データ 520 データ

SF2

同期

160

 “1”

SF9

同期

160

 “1”

SF2

データ 520 データ   SF9 データ 520 データ

サーボパッド 960

4T

同期クロック

160

 “1”

サーボゾーン 900  トーン

データ B8 15840

データ

サーボパッド 1020

4T

データ B9 15840

データ

SF3

同期

160

 “1”

データ B10 15840 データ

SF3

データ 520 データ

データ B11 15840 データ

同期クロック

160

 “1”

データ B12 15840 データ

データ B0 15840

データ

データ B13 15840 データ

データ B1 15840

データ

データ B14 15840 データ

データ B2 15840

データ

データ B15 15840 データ

データ B3 15840

データ   SF10 同期

160

 “1”

データ B4 15840

データ  SF10 データ 520 データ

データ B5 15840

データ   SF11 同期

160

 “1”

データ B6 15840

データ  SF11 データ 520 データ

データ B7 15840

データ

サーボパッド 1440

4T

SF4

同期

160

 “1”

サーボゾーン 2 900  トーン

SF4

データ 520 データ

サーボパッド 1020

4T

SF5

同期

160

 “1”

SF12

同期

160

 “1”

SF5

データ 520 データ  SF12 データ 520 データ

SF6

同期

160

 “1”

SF13

同期

160

 “1”

SF6

データ 520 データ  SF13 データ 520 データ

サーボパッド 1440

4T    SF14

同期

160

 “1”


47

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

要素

ビットセル

データ

要素

ビットセル

データ

サーボゾーン 1 900  トーン  SF14 データ 520 データ

サーボパッド 1020

4T

ポストアンブル

2720

 “1”

合計 280860

図 47  トラック の配置

12.

記録方式  記録方式は, “1” の場合,ビットセルの中央で磁束を反転し, “0” の場合,ビットセル

で磁束を反転しないこととする。

12.1

記録密度  最大記録密度は,公称 3 819ftpmm とし,公称ビットセル長は,0.262

µm とする。

12.1.1

長周期平均ビットセル長  長周期平均ビットセル長は,各トラックについて 133060 個以上の連続

するビットセルの記録を測定し,その値は,公称ビットセル長の±0.20%以内とする。

12.1.2

短周期平均ビットセル長  短周期平均ビットセル長は,任意のビットセルを基準とし,その前の

16

個のビットセルの平均とする。その値は,同一アジマスのその前のトラックの長周期平均ビットセル長

の±0.35%以内とする。

12.1.3

短周期平均ビットセル長の変動率  短周期平均ビットセル長は,任意の 2 個の連続する 16 ビット

セル長当たり 0.05%を超えて変化してはならない。

12.2

ビットシフト  ミッシングパルスを除去して “1” を再生したときの再生信号のゼロ交差は,短周期

平均ビットセル長の規定による予測位置から 25%以上ずれてはならない。ビットシフトの測定は,

附属書

B

による。

12.3

情報交換時の再生信号振幅  記録密度 3819ftpmm で 3000 磁束反転以上にわたる平均信号振幅は,標

準信号振幅の 80%∼130%とする。

13.

トラックの構成

13.1

概要  トラックパターンは,テープ走行方向と一対の二つのヘッドの回転軸との相対関係で形成す

る。この一対のヘッドの一つは,正のアジマス角をもち,他のヘッドは,負のアジマス角をもつ。記録の

方向は,テープ基準縁から離れる方向とする。トラックの位置及び寸法は,

図 48 による


48

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

図 48  トラックの位置及び寸法

13.2

平均トラック間隔  平均トラック間隔(図 48 の C)は,任意の連続した 60 トラックの間隔の平均

とし,その値は,11.50

µm±0.35µm とする。

13.3

トラック間隔の変化  トラック間隔は,任意の隣接した二つのトラック間で,11.5

µm±1.7µm とす

る。

13.4

トラック幅  トラック幅(図 48 の B)は,公称値 11.5

µm とする。

13.5

トラック角  トラック角(図 48 の A)は,テープ基準縁に対する角度とし,公称値 4.896 0°とする。

13.6

トラック長  トラック長(図 48 の E)は,73.536mm±0.228mm とする。

13.7

ガードバンド  テープ基準縁からトラックの記録開始までをガードバンド(図 48 の F)とし,その

幅は,870

µm±16µm とする。

13.8

アジマス角  正のアジマス角は,20.009°±0.200°とする。負のアジマス角は,−9.991°±0.200°

とする。

13.9

トラックエッジの直線性  記録したトラックエッジは,6

µm 間隔の 2 本の平行線の間になければな

らない。平行線は,テープ基準縁から公称トラック角で設定する。

14.

テープの構成


49

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

14.1

概要  テープの構成は,図 49 による。テープは,1 個から 64 個までのパーティションからなる。最

初のパーティションを最上位のパーティション番号とし,降順に番号をつけテープの最後のパーティショ

ンをパーティション 0 とする。テープの構成は,次に規定する。テープは,全体に消去ブロックを書込み

消去する。テープをフォーマットするとき,各パーティションは,PBOP,LBOP 及び EOD を含むことと

する。

図 49  テープの構成

14.2

テープ履歴ログ (THL)   THL は,特別なパーティションで,パーティション番号を (FF) とする。

THL

の記録は,PBOT から 584mm±10mm の位置で開始する。THL は,50 トラックの PBOP ブロック及

び 50 トラックの LBOP ブロックからなる。最初の PBOP ブロックは,トラック 1 で始まり,最初の PBOP

ブロックの PID を (0000F040) とする。製造業者が規定するデータブロックは,THL に最大 500 トラック

があり,情報交換時には無視する。100 トラックの EOD ブロックは,最後のデータトラックに続くことと

する。

14.3

  PBOP

  すべてのパーティションは,PBOP で始まる。PBOP は,300 トラックの PBOP ブロックか

らなる。最初の PBOP トラックは,トラック 1 で始まる。すべての PBOP ブロックヘッダは,PID を除い

て同じとする。PID は,テープ上の位置を示す。BID は,0 に設定する。


50

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

14.4

  LBOP

  LBOP は,PBOP に続いて記録し,400 トラックの LBOP ブロックからなる。すべての LBOP

の BID は,0 に設定する。

14.5

データ領域

14.5.1

概要  データ領域は,LBOP に続いて記録され,データブロック及びギャップブロックからなる。

ファイルマーク及びセットマークは,ホストからの要求で記録する。診断ブロックは,周期的にデータブ

ロックに記録してもよい。データブロック又はショートファイルマークブロックは,誤りがあるとき,再

書込みしてもよい。クラスタ内の任意の物理ブロックの再書込みが必要な場合,クラスタ内のすべての物

理ブロックは,再書込みする。再書込み物理ブロックのブロックヘッダは,テープ上の位置を示す PID を

除いて元のブロックヘッダと同じとする。物理ブロックをテープ上にさらに再書込みできるかは,DBID

フィールドによって決まる。クラスタは,繰り返し再書込みしてもよい。

14.5.2

ショートファイルマーク  ショートファイルマークは,1 個のショートファイルマークブロックか

らなる。

14.5.3

ロングファイルマーク  ロングファイルマークは,2 トラックのギャップブロック,それに続く 2

トラック以上のロングファイルマークブロック及びそれに続く 2 トラックのギャップブロックからなる。

ロングファイルマークブロックの最初のトラックは,トラック 1 で始まる。すべてのロングファイルマー

クブロックの BID は,同じとする。すべてのデータブロックは,RBC によって照合し,ロングファイルマ

ークを書き込む前に再書込みする。

14.5.4

セットマーク  セットマークは,2 トラックのギャップブロック,それに続く 2 トラックのセット

マークブロック及びそれに続く 2 トラック以上のギャップブロックからなる。セットマークブロックの最

初のトラックは,トラック 1 で始まる。すべてのセットマークブロックの BID は,同じとする。すべての

データブロックは,RBC によって照合し,セットマークを書き込む前に再書込みする。

14.6

  EOD

  EOD は,データ領域の直後に書き込む。EOD は,2 トラックのギャップブロック及びそれに

続く 400 トラックの EOD ブロックからなる。データ領域は,EOD に重ね書きし,追記録してもよい。

14.7

  PEOP

  PEOP は,テープ上に記録しない。PEOP は,パーティションの終端で,パーティションの

データを次のパーティションに重ね書きしないようにする。PEOP の PID は,LBOP ブロックに記録する。

PID

が PEOP の PID に一致したとき,すべてのホストデータの書込みは終了する。PEOP の PID に続いて,

追加の 32 トラックを書き込む。このトラックの内容は,規定しない。


51

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 A(規定)  テープの光透過率の測定法

A.1

概要  この附属書は,テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。

光透過率は,

測定装置に試験片を入れないときの計測値と入れたときの計測値の比を百分率 (%) で表す。

A.2

測定装置の構成  測定装置の構成は,次による。

−  光源

−  光検出部

−  測定用マスク

−  光学系

−  測定回路

A.2.1

光源  光源は,次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。

波長

:850 nm±50 nm

半値幅  :±50 nm

A.2.2

光検出部  光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。

A.2.3

測定用マスク  測定用マスクは,厚さを 2mm とし,孔の直径  (d)  をフォトダイオードの受光領域の

80%

∼100%の大きさに設定する。

表面は,黒のつや消しとする。

試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないようにマスクに固定する。

A.2.4

光学系(附属書 図 1)  光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離  (L)  は,次の

式による。

α

tan

2

d

L

=

ここに,

d

  mm

α

光軸上の最大光量に対して

95%

以上の光量がある領域に設定

A.2.5

仕上げ  装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6

測定回路(附属書 図 2)  測定回路は,次による。

E

:出力電圧可変の定電圧電源

R

:電流制限用の抵抗器

LED

:赤外線発光ダイオード

Di

:シリコンフォトダイオード

A

:演算増幅器

R

f0

R

f1

:帰還用の抵抗器

S

:増幅率切替えスイッチ

V

:電圧計

LED

に流れる電流,すなわち,照射力は,供給電圧

 (E)

によって変化させる。

Di

は,回路を閉じて動作させる。

演算増幅器の出力電圧は,次による。

V

0

I

k

×

R

f


52

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

ここに,

I

k

 Di

の閉回路での電流

出力電圧は,光量に比例する。

R

f0

及び

R

f1

は,許容誤差

1%

で,温度による抵抗変化の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は,次

の式による。

20

1

1

=

f

f

R

R

φ

A.3

測定法  測定法は,次による。

−  スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。

−  試験片を取り付けないで,電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるように LED の供給電圧

(E)

を変化させる。

−  リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このときの電圧計は,60%∼100%を示す。

−  磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このときの電圧計

のフルスケールは,光透過率 5%を示す。

附属書 図 1  光学系の構成

附属書 図 2  測定回路


53

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 B(規定)  ビットシフトの測定法

B.1

記録装置  試験テープは,情報交換に使用する磁気テープ装置で記録する。

テープは,システムの動作に支障がないように記録されているものを用いる。

B.2

読取り装置  トラックの直線性が 6

µm の範囲内に保持されている磁気テープ装置によってテープを

読み取る。読取りヘッドの出力電圧の絶対値は,規定しない。ただし,読取りヘッド,前置増幅器,回転

トランス及びヘッドとテープの相対速度は,低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択す

る。ヘッド,トランス,前置増幅器及び関連する回路の周波数応答特性は,低周波の場合,トランスによ

る。高周波の場合,前置増幅器による。

読取りヘッド

−  ギャップ長  :0.20

µm±0.02µm

−  トラック幅  :11.5

µm±1.0µm

−  正アジマス  :20.009°±0.200°

−  負アジマス  :−9.991°±0.200°

ヘッドとテープとの接触及び読取りチャネル  ヘッド,回転トランス,前置増幅器及び等化器の総合周

波数応答特性と共に,信号を測定する間ヘッドとテープとを安定に接触させ,信号対雑音比を 15 dB 以上

にする。

B.3

測定方法  平均ビットセルの長さ  (L)  は,試験ゼロ交差点 (TZC) の両側にある二つの基準ゼロ交差

点 (RZC) の間隔から得る。基準ゼロ交差点は,少なくとも両側にそれぞれ 2 個以上のビット “1” のゼロ

交差点をもつようなビット “1” のゼロ交差点とし,その変化率を 2%未満に保つため,40 ビットセル以下

とする。

12.2

に規定したビットシフト値は,

ユーザーデータが 11.

14.の規定によって記録した場合に適用する。

B.4

データ分析  二つの基準ゼロ交差点の間にあるビットセルの数を としたとき,平均ビットセル長は,

次による。

n

P

P

L

1

3

=

最初の基準ゼロ交差点と試験ゼロ交差点との間に ビットの間隔がある場合,ビットシフトは,次によ

る。

(

)

100

1

2

×

=

L

P

P

mL

BS

%

ここに,

BS

ビットシフト

L

平均ビットセル長

P

n

  n

番目の

 “1”

パターンのゼロ交差点


54

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 図 1  波形の測定


55

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 C(規定)  ビットバイトから 10 ビットパターンへの変換

8

ビットバイトから

10

ビットパターンへの変換アルゴリズムは,次による。

8

ビットバイトは,

10

進数

で表す。

前に記録したビット

 “1”

の数が偶数の場合,

no_of_ones

は,

0

とする。前に記録したビット

 “1”

の数が

奇数の場合,

no_of_ones

は,

1

とする。

Charge

は,前に記録したビットの直流成分の値である。

Charge

は,

NRZ

のデータストリームで計算し,

次による。

  charge=0

  no_of_ones=0

  while (there are input_nrz_bits)

      if (input_nrz_bit==1)

                if (no_of_ones==0)

                         charge=charge−1

                else

                         charge=charge+1

                no_of_ones=-no_of_ones

      else

                if (no_of_ones==0)

                         charge=charge+1

                else

                         charge=charge−1

符号化の規則は,次による。

no_of_ones

==

0 AND charge

0

又は

no_of_ones

==

1 AND charge

0

の場合,

8

ビットバイトを

表 の値

で符号化し,それ以外の場合,

表 で符号化する。

8

ビットバイトは,最上位ビットを左側とし,

10

ビットパターンは,最初に記録するビットを左側とす

る。

バイト

 (10

進数

)

バイト

 (16

進数

)

表 1,パターン

直流成分

表 2,パターン

直流成分

0 (00)

1010111111

0

1010111111

0

1 (01)

1011010001

0

1011010001

0

2 (02)

1011010011

0

1011010011

0

3 (03)

1011010110

0

1011010110

0

4 (04)

1011100010

0

1011100010

0

5 (05)

1011100101

0

1011100101

0

6 (06)

1011100111

0

1011100111

0

7 (07)

1011101010

0

1011101010

0

8 (08)

1011101101

0

1011101101

0

9 (09)

1011101111

0

1011101111

0

10 (0A)

1011111001

0

1011111001

0


56

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

バイト

 (10

進数

)

バイト

 (16

進数

)

表 1,パターン

直流成分

表 2,パターン

直流成分

11 (0B)

1011111110

0

1011111110

0

12 (0C)

1100010001

0

1100010001

0

13 (0D)

1100010011

0

1100010011

0

14 (0E)

1100010110

0

1100010110

0

15 (0F)

1100100010

0

1100100010

0

16 (10)

1100100101

0

1100100101

0

17 (11)

1100100111

0

1100100111

0

18 (12)

1100101010

0

1100101010

0

19 (13)

1100101101

0

1100101101

0

20 (14)

1100101111

0

1100101111

0

21 (15)

1100111001

0

1100111001

0

22 (16)

1100111011

0

1100111011

0

23 (17)

1100111110

0

1100111110

0

24 (18)

1101001001

0

1101001001

0

25 (19)

1101001011

0

1101001011

0

26 (1A)

1101001110

0

1101001110

0

27 (1B)

1101010010

0

1101010010

0

28 (1C)

1101010101

0

1101010101

0

29 (1D)

1101010111

0

1101010111

0

30 (1E)

1101011010

0

1101011010

0

31 (1F)

1101011101

0

1101011101

0

32 (20)

1101011111

0

1101011111

0

33 (21)

1101101001

0

1101101001

0

34 (22)

1101101011

0

1101101011

0

35 (23)

1101101110

0

1101101110

0

36 (24)

1101110010

0

1101110010

0

37 (25)

1101110101

0

1101110101

0

38 (26)

1101110111

0

1101110111

0

39 (27)

1101111010

0

1101111010

0

40 (28)

1101111101

0

1101111101

0

41 (29)

1101111111

0

1101111111

0

42 (2A)

1110010001

0

1110010001

0

43 (2B)

1110010011

0

1110010011

0

44 (2C)

1110010110

0

1110010110

0

45 (2D)

1110100010

0

1110100010

0

46 (2E)

1110100101

0

1110100101

0

47 (2F)

1110100111

0

1110100111

0

48 (30)

1110101010

0

1110101010

0

49 (31)

1110101101

0

1110101101

0


57

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

バイト

 (10

進数

)

バイト

 (16

進数

)

表 1,パターン

直流成分

表 2,パターン

直流成分

50 (32)

1110101111

0

1110101111

0

51 (33)

1110111001

0

1110111001

0

52 (34)

1110111011

0

1110111011

0

53 (35)

1110111110

0

1110111110

0

54 (36)

1111001001

0

1111001001

0

55 (37)

1111001011

0

1111001011

0

56 (38)

1111001110

0

1111001110

0

57 (39)

1111010010

0

1111010010

0

58 (3A)

1111010101

0

1111010101

0

59 (3B)

1111010111

0

1111010111

0

60 (3C)

1111011010

0

1111011010

0

61 (3D)

1111011101

0

1111011101

0

62 (3E)

1111011111

0

1111011111

0

63 (3F)

1111101001

0

1111101001

0

64 (40)

1111101011

0

1111101011

0

65 (41)

1111101110

0

1111101110

0

66 (42)

1111110010

0

1111110010

0

67 (43)

1111110101

0

1111110101

0

68 (44)

1111110111

0

1111110111

0

69 (45)

1111111010

0

1111111010

0

70 (46)

0110110010

2

1110011010

2

71 (47)

1010011001

2

1110110010

2

72 (48)

0010001001

0

0010001001

0

73 (49)

0010001011

0

0010001011

0

74 (4A)

0010001110

0

0010001110

0

75 (4B)

0010010010

0

0010010010

0

76 (4C)

0010010101

0

0010010101

0

77 (4D)

0010010111

0

0010010111

0

78 (4E)

0010011010

0

0010011010

0

79 (4F)

0010011101

0

0010011101

0

80 (50)

0010011111

0

0010011111

0

81 (51)

0010101001

0

0010101001

0

82 (52)

0010110010

0

0010110010

0

83 (53)

0011010001

0

0011010001

0

84 (54)

0011010011

0

0011010011

0

85 (55)

0011100010

0

0011100010

0

86 (56)

0011100101

0

0011100101

0

87 (57)

0011100111

0

0011100111

0

88 (58)

0011111001

0

0011111001

0


58

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

バイト

 (10

進数

)

バイト

 (16

進数

)

表 1,パターン

直流成分

表 2,パターン

直流成分

89 (59)

0100010001

0

0100010001

0

90 (5A)

0100010011

0

0100010011

0

91 (5B)

0100010110

0

0100010110

0

92 (5C)

0100100010

0

0100100010

0

93 (5D)

0100100101

0

0100100101

0

94 (5E)

0100100111

0

0100100111

0

95 (5F)

0100101010

0

0100101010

0

96 (60)

0100101101

0

0100101101

0

97 (61)

0100101111

0

0100101111

0

98 (62)

0100111001

0

0100111001

0

99 (63)

0100111011

0

0100111011

0

100 (64)

0100111110

0

0100111110

0

101 (65)

0101001001

0

0101001001

0

102 (66)

0101001011

0

0101001011

0

103 (67)

0101001110

0

0101001110

0

104 (68)

0101010010

0

0101010010

0

105 (69)

0101101001

0

0101101001

0

106 (6A)

0101110010

0

0101110010

0

107 (6B)

0110010001

0

0110010001

0

108 (6C)

0110010011

0

0110010011

0

109 (6D)

0110010110

0

0110010110

0

110 (6E)

0110100010

0

0110100010

0

111 (6F)

0110100101

0

0110100101

0

112 (70)

0110100111

0

0110100111

0

113 (71)

0110111001

0

0110111001

0

114 (72)

0111001001

0

0111001001

0

115 (73)

0111001011

0

0111001011

0

116 (74)

0111001110

0

0111001110

0

117 (75)

0111010010

0

0111010010

0

118 (76)

0111101001

0

0111101001

0

119 (77)

0111110010

0

0111110010

0

120 (78)

1000100011

0

1000100011

0

121 (79)

1000100110

0

1000100110

0

122 (7A)

1001000101

0

1001000101

0

123 (7B)

1001000111

0

1001000111

0

124 (7C)

1001001010

0

1001001010

0

125 (7D)

1001001101

0

1001001101

0

126 (7E)

1001001111

0

1001001111

0

127 (7F)

1001011001

0

1001011001

0


59

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

バイト

 (10

進数

)

バイト

 (16

進数

)

表 1,パターン

直流成分

表 2,パターン

直流成分

128 (80)

1001011011

0

1001011011

0

129 (81)

1001011110

0

1001011110

0

130 (82)

1001110001

0

1001110001

0

131 (83)

1001110011

0

1001110011

0

132 (84)

1001110110

0

1001110110

0

133 (85)

1010001001

0

1010001001

0

134 (86)

1010001011

0

1010001011

0

135 (87)

1010001110

0

1010001110

0

136 (88)

1010010010

0

1010010010

0

137 (89)

1010010101

0

1010010101

0

138 (8A)

1010010111

0

1010010111

0

139 (8B)

1010011010

0

1010011010

0

140 (8C)

1010011101

0

1010011101

0

141 (8D)

1010011111

0

1010011111

0

142 (8E)

1010101001

0

1010101001

0

143 (8F)

1010110010

0

1010110010

0

144 (90)

1101100101

2

1001001011

2

145 (91)

1101100111

2

1001001011

2

146 (92)

1101101010

2

1001001110

2

147 (93)

1101101101

2

1001010010

2

148 (94)

1101101111

2

1001010101

2

149 (95)

1101111001

2

1001010111

2

150 (96)

1101111011

2

1001011010

2

151 (97)

1101111110

2

1001011101

2

152 (98)

1110100011

2

1001011111

2

153 (99)

1110100110

2

1001101001

2

154 (9A)

1111000101

2

1001101011

2

155 (9B)

1111000111

2

1001101110

2

156 (9C)

1111001010

2

1001110010

2

157 (9D)

1111001101

2

1001110101

2

158 (9E)

1111001111

2

1001110111

2

159 (9F)

1111011001

2

1001111010

2

160 (A0)

1111011011

2

1001111101

2

161 (A1)

1111011110

2

1001111111

2

162 (A2)

1111110001

2

1010010011

2

163 (A3)

1111110011

2

1010010110

2

164 (A4)

1111110110

2

1010100101

2

165 (A5)

0010010001

2

1010100111

2

166 (A6)

0010010011

2

1010101010

2


60

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

バイト

 (10

進数

)

バイト

 (16

進数

)

表 1,パターン

直流成分

表 2,パターン

直流成分

167 (A7)

0010010110

2

1010101111

2

168 (A8)

0010100101

2

1010111001

2

169 (A9)

0010100111

2

1010111110

2

170 (AA)

0010101010

2

1011001001

2

171 (AB)

0010101101

2

1011001011

2

172 (AC)

0010101111

2

1011001110

2

173 (AD)

0010111001

2

1011010010

2

174 (AE)

0010111011

2

1011010111

2

175 (AF)

0010111110

2

1011011010

2

176 (B0)

0011001001

2

1011011101

2

177 (B1)

0011001011

2

1011011111

2

178 (B2)

0011001110

2

1011101001

2

179 (B3)

0011010010

2

1011101011

2

180 (B4)

0011010101

2

1011101110

2

181 (B5)

0011010111

2

1011110010

2

182 (B6)

0011011010

2

1011110101

2

183 (B7)

0011011101

2

1011110111

2

184 (B8)

0011011111

2

1011111010

2

185 (B9)

0011101001

2

1011111101

2

186 (BA)

0011101011

2

1011111111

2

187 (BB)

0011101110

2

1100100011

2

188 (BC)

0011110010

2

1100100110

2

189 (BD)

0011110101

2

1101001010

2

190 (BE)

0011110111

2

1101001101

2

191 (BF)

0011111010

2

1101001111

2

192 (C0)

0011111101

2

1101011001

2

193 (C1)

0011111111

2

1101011011

2

194 (C2)

0100100011

2

1101011110

2

195 (C3)

0100100110

2

1101110011

2

196 (C4)

0101000101

2

1101110110

2

197 (C5)

0101000111

2

1110010010

2

198 (C6)

0101001010

2

1110010101

2

199 (C7)

0101001101

2

1110010111

2

200 (C8)

0101001111

2

1110011101

2

201 (C9)

0101011001

2

1110011111

2

202 (CA)

0101011011

2

1110101001

2

203 (CB)

0101011110

2

1110101011

2

204 (CC)

0101110001

2

1110101110

2

205 (CD)

0101110011

2

1110110101

2


61

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

バイト

 (10

進数

)

バイト

 (16

進数

)

表 1,パターン

直流成分

表 2,パターン

直流成分

206 (CE)

0101110110

2

1110110111

2

207 (CF)

0110010010

2

1110111010

2

208 (D0)

0110010101

2

1110111101

2

209 (D1)

0110010111

2

1110111111

2

210 (D2)

0110011101

2

1111010011

2

211 (D3)

0110011111

2

1111010110

2

212 (D4)

0110101001

2

1111100101

2

213 (D5)

0110101011

2

1111100111

2

214 (D6)

0110101110

2

1111101010

2

215 (D7)

0110110101

2

1111101101

2

216 (D8)

0110110111

2

1111101111

2

217 (D9)

0110111010

2

1111111001

2

218 (DA)

0110111101

2

1111111011

2

219 (DB)

0110111111

2

0010001010

2

220 (DC)

0111010001

2

0010001111

2

221 (DD)

0111010011

2

0010011011

2

222 (DE)

0111010110

2

0010011110

2

223 (DF)

0111100010

2

0010110011

2

224 (E0)

0111100101

2

0010110110

2

225 (E1)

0111100111

2

0011100011

2

226 (E2)

0111101010

2

0011100110

2

227 (E3)

0111101101

2

0100101001

2

228 (E4)

0111101111

2

0100101011

2

229 (E5)

0111111001

2

0100101110

2

230 (E6)

0111111011

2

0100110101

2

231 (E7)

0111111110

2

0100110111

2

232 (E8)

1010001010

2

0100111010

2

233 (E9)

1010001111

2

0100111101

2

234 (EA)

1010011011

2

0100111111

2

235 (EB)

1010011110

2

0101010011

2

236 (EC)

1010110011

2

0101010110

2

237 (ED)

1010110110

2

0101100101

2

238 (EE)

1011100011

2

0101100111

2

239 (EF)

1011100110

2

0101101010

2

240 (F0)

1100010010

2

0101101101

2

241 (F1)

1100010101

2

0101101111

2

242 (F2)

1100010111

2

0101111001

2

243 (F3)

1100011101

2

0101111011

2

244 (F4)

1100011111

2

0101111110

2


62

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

バイト

 (10

進数

)

バイト

 (16

進数

)

表 1,パターン

直流成分

表 2,パターン

直流成分

245 (F5)

1100101001

2

0110100011

2

246 (F6)

1100101011

2

0110100110

2

247 (F7)

1100101110

2

0111001010

2

248 (F8)

1100110101

2

0111001101

2

249 (F9)

1100110111

2

0111001111

2

250 (FA)

1100111010

2

0111011001

2

251 (FB)

1100111101

2

0111011011

2

252 (FC)

1100111111

2

0111011110

2

253 (FD)

1101010001

2

0111110011

2

254 (FE)

1101010011

2

0111110110

2

255 (FF)

1101010110

2

1000111011

2


63

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 D(規定)  データ領域の CRC の生成

2

バイトの

CRC

は,物理ブロックのデータ領域の

1 038

バイトから算出し,

51

18

行及び

51

19

に割り当てる。

2

バイトの

CRC

バイトの生成は,次による。

( )

å

=

=

7

0

,

j

j

j

j

k

k

x

D

x

D

( )

( )

(

)

å

=

=

1037

0

1039

8

k

k

k

k

x

x

D

x

D

G

CRC

 (x)

x

16

x

12

x

5

1

C

 (x)

D

 (x)mod G

crc

 (x)

( )

(

)

å

=

=

+

7

0

8

2

4

6

9

11

13

15

1

k

k

k

k

k

k

x

CL

x

CH

x

x

x

x

x

x

x

x

C

ここに,

  D

k

c

列及び

r

行のバイト

k

0

1 037

c

0

51

r

0

19

k

 (10c

r)

  :

c

が偶数のとき

k

 (10c

r

510)

c

が奇数のとき

D

k

0

D

k

1

,…,

D

k

7 : D

k

7

を最上位ビットとする

D

k

8

ビッ

CH

0

CH

1

,

CH

7

1CRC

バイト

  (CH)

のビットを表し,

CH

7

最上位ビット

CL

0

CL

1

,

CL

7

2CRC

バイト

  (CL)

のビットを表し,

CL

7

を最

上位ビット


64

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 E(規定)  ECC の生成

ECC

は,リード・ソロモン符号

  (30, 26, 5)

を水平符号,リード・ソロモン符号

 (24, 20, 5)

を垂直符号

とし,水平

ECC

バイト及び垂直

ECC

バイトの

2

種類の検査バイトを生成する。

ガロア体

GF (2

8

)

は,次による。

G

α (x)

x

8

x

4

x

3

x

2

1

水平

ECC

バイトと垂直

ECC

バイトの生成多項式は,次による

( )

(

)

=

=

+

2

1

i

i

i

x

x

G

α

ここに,

ここに,

GF (2

8

)

の原始元は,

α

とする。

ECC

の変換演算子は,次による。

B

T [A]

A

T

1

 [B]

ここに,

 T

[A]

8

ビット

ECC

バイトの線型変換演算子

T

-1

 [B]

8

ビット

ECC

バイトの逆線型変換演算子

バイト

A

とバイト

B

の相互変換は,次による。

B

0

A

0

A

2

A

3

A

5

A

7

A

0

B

5

B

1

A

3

A

4

A

6

A

7

A

1

B

4

B

2

A

0

A

6

A

7

A

2

B

5

B

7

B

3

A

0

A

1

A

6

A

3

B

2

B

6

B

7

B

4

A

1

A

4

B

1

B

5

B

6

B

7

B

5

A

0

A

5

B

0

B

4

B

5

B

6

B

6

A

1

A

2

A

3

A

7

A

6

B

3

B

4

B

5

B

7

A

0

A

1

A

2

A

6

A

7

B

2

B

3

B

4

水平 ECC バイト

D

c

,

r

は,

c

0

51

の列番号,

r

0

19

の行番号とし,11.2.1 

図 29 に示す情報マト

リクスのデータ部分のバイトを表す。

DHE

r

 (x)

は,

r

行の偶数列のバイトを変換した値

 (T)

を係数とする多項式,

TCRE

k

,

r

は,

r

行の偶数列の

水平

ECC

バイトの変換,

CRE

k

,

r

は,

r

行の偶数水平

ECC

バイトを表し,それぞれ次による。

( )

[ ]

k

k

k

r

k

r

x

D

T

x

DHE

=

=

å

29

25

0

,

2

( )

( )

k

k

k

r

k

r

x

TCRE

x

G

x

DHE

=

=

å

4

4

1

,

mod

CRE

k

,

r

T

1

 [TCRE

k

,

r

]

ここに,

  r

0, 1,

, 19

k

1, 2, 3, 4

CRE

k

,

r

は,

c

50

2k

とする

c

列及び各

r

行のセルに格納する。

 

DHO

r

  (x)

は,

r

行の奇数列のバイトを変換した値

 (T)

を係数とする多項式,

TCRO

k

,

r

は,

r

行の奇数列


65

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

の水平

ECC

バイトの変換,

CRO

k

,

r

は,

r

行の奇数水平

ECC

バイトを表し,それぞれ次による。

( )

[

]

k

k

k

r

k

r

x

D

T

x

DHO

=

=

+

å

=

29

25

0

,

1

2

( )

( )

k

k

k

r

k

r

x

TCRO

x

G

x

DHO

=

=

å

=

4

4

1

,

mod

CRO

k

,

r

T

-1

 [TCRO

k

,

r

]

ここに,

  r

0, 1,

, 19

k

1, 2, 3, 4

CRO

k

,

r

は,

c

51

2k

とする

c

列及び各

r

行のセルに格納する。

 

垂直 ECC バイト

  D

c

,

r

は,

c

0

59

の列番号,

r

0

19

の行番号とし,11.2.1 

図 29 に示す情報マト

リクスのデータ及び水平

ECC

部分のバイトを表す。

DV

c

 (x)

は,

c

列のバイトを変換した値

 (T)

を係数とする多項式,

TCC

c

,

k

は,

c

列の中の垂直

ECC

バイ

トの変換,

CC

c

,

k

は,

c

列の中の垂直

ECC

バイトを表し,それぞれ次の式による。

( )

[ ]

k

k

k

k

c

c

x

D

T

x

DV

=

=

å

23

19

0

,

( )

( )

k

k

k

k

c

c

x

TCC

x

G

x

DV

=

=

å

4

4

1

,

mod

CC

c

,

k

T

-1

 [TCC

c

,

k

]

ここに,

  r

0, 1,

…,

59

k

1, 2, 3, 4

CC

c

,

k

は,

r

19

k

とする

c

列及び各

r

行のセルに格納する。


66

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 F(規定)  論理ブロックの CRC の生成

2

バイトの

CRC

は,各論理レコードのユーザーデータから算出し,論理レコードの最後のバイトに続く

セルに順に格納される。

2

バイトの

CRC

バイトの生成は,次による。

( )

å

=

=

7

0

,

j

j

j

j

k

k

x

D

x

D

( )

( )

(

)

å

=

=

+

1

0

1

8

n

k

k

k

n

k

x

x

D

x

D

G

CRC

 (x)

x

16

x

12

x

5

1

C (x)

D (x)mod G

crc

 (x)

( )

(

)

å

=

=

+

+

=

+

+

+

+

+

+

+

7

0

8

3

5

7

8

10

12

14

j

j

j

j

j

j

x

CL

x

CH

x

x

x

x

x

x

x

x

x

C

ここに,

D

k

論理レコードの

k

番目のバイト

D

k

,

j

k

番目のバイトの

j

番目のビット

n

論理レコードのユーザーデータバイトの数

CH

0

CH

1

,

CH

7

1CRC

バイト

  (CH)

のビットを表し,

CH

7

を最上位ビット

CL

0

CL

1

,

…,

CL

7

2CRC

バイト

  (CL)

のビットを表し,

CL

7

最上位ビット


67

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 G(規定)  ハミングコード ECC の生成

サーチフィールドのバイトは,

8

ビットデータベクトル

  [a

7

 a

6

 a

5

 a

4

 a

3

 a

2

 a

1

 a

0

]

で表し,

a

7

をバイトの最

上位ビット,

a

0

を最下位ビットとする。各ベクトルは,次の生成マトリックスを乗算して,

12

ビットハミ

ング符号ベクトル

  [h

11

h

10

h

11

h

9

h

8

h

7

h

6

h

5

h

4

h

3

h

2

h

1

h

0

]

に変換する。

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

ú

û

ù

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ê

ë

é

0

0

1

1

1

0

0

0

0

0

0

0

1

1

0

1

0

1

0

0

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

0

1

0

0

0

1

0

0

0

0

1

1

1

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

1

1

0

0

0

0

0

0

1

0

0

1

0

1

0

0

0

0

0

0

0

1

0

1

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

G

追加のパリティビット p

0

は,次による。

p

0

=∼  [h

11

h

10

h

11

h

9

h

8

h

7

h

6

h

5

h

4

h

3

h

2

h

1

h

0

]

パリティビットを 12 ビットハミング符号ベクトルに追加し,13 ビットベクトルを生成する。

[h

11

  h

10

  h

11

  h

9

  h

8

  h

7

  h

6

  h

5

  h

4

  h

3

  h

2

  h

1

  h

0

  p

0

]

各 28 バイトのサーチフィールドデータ及び 2 バイトのサーチフィールド CRC は,8 ビットバイトから

13

ビット符号バイトへ変換する。


68

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 H(規定)  サーチフィールドの CRC の生成

2

バイトのサーチフィールド CRC は,28 バイトのサーチフィールドデータから算出し,2 バイトの CRC

バイトの生成は,次による。

( )

å

=

=

=

27

0

28

j

j

j

k

k

x

D

x

D

ここに,  D

k

:  論理レコードの 番目のバイト

k

: 0,

1,

…, 27

第 1CRC バイト CRCByte1 は,次による。

CRCByte1

D (x) mod (x

α)

ここに,

α:  多項式 G (x)  =x

8

x

4

x

3

x

2

+1 から生成したガロア体の原始

第 2CRC バイト CRCByte2 は,次による。

å

=

=

27

0

1

2

k

k

k

D

Byte

CRC

Byte

CRC


69

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 J(規定)  乱数化

情報セグメントからのデータは,

シフトレジスタにあるビットと排他的論理和演算をする

図 J.1 参照)。

情報セグメントを処理する前に,シフトレジスタは,セグメント番号の 16 進数の 1 の補数に設定する。情

報セグメントバイトの各ビットは,図に示すように最上位ビットから最下位ビットの順にシフトレジスタ

のビットと排他的論理和演算をする。シフトレジスタは,情報セグメントバイトを連続して処理する。

附属書 図 1  乱数化シフトレジスタ


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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

附属書 K(参考)  輸送条件

この附属書(参考)は,カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので,規定の一部ではない。

K.1

環境条件  カートリッジの輸送時の環境条件は,次によることが望ましい。

温度

:−40℃∼45℃

相対湿度  :5%∼80%

湿球温度  :26℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

K.2

カートリッジの輸送条件  カートリッジの輸送は,次による。

K.2.1

衝撃及び振動  輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために,次のような対策を取ること

が望ましい。

a)

カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。

b)

カートリッジは,1m を超える高さから落下させてはならない。

c)

カートリッジは,十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。

d)

カートリッジの収納箱は,内部が清浄で,かつ,じんあい(塵挨)

,水などの侵入がない構造とする。

e)

カートリッジの収納箱内での収納方法は,テープリールの中心軸が水平になるようにする。

f)

カートリッジの収納箱は,正しい方向(天地)に置けるように明確な表示をする。

K.2.2

極端な温度及び湿度

a)

温度及び湿度の急激な変化は,どのような場合でも可能な限り回避する。

b)

輸送されたカートリッジは,必ず使用環境条件に最低 24 時間放置する。

K.2.3

誘導磁界の影響  カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は,外部磁界の影響による

信号破壊の危険性を最小限にするため,80mm 以上とする。


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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

磁気テープ JIS 改正原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

大  石  完  一

パルステック工業株式会社

(幹事)

富  田  正  典

日本システムインテグレーション株式会社

(幹事)

徳  永  賢  次

日本ナドコ株式会社

(委員)

中  島  郁  志

ソニー株式会社

村  上  恒  夫

日本システムハウス株式会社

荒  木      学

日本ユニシス株式会社

益  田  憲  明

株式会社日立製作所

安  藤  晴  夫

日立マクセル株式会社

竹  内      正

株式会社トリム・アソシエイツ

船  越  正  次 TDK 株式会社

小  林  政  吉

富士通株式会社

藤  原  圭  介

ソニー株式会社

川  田  道  孝

日本電気株式会社

橋  本      進

財団法人日本規格協会

永  松  荘  一

通商産業省機械情報産業局

橋  爪  邦  隆

通商産業省工業技術院

(事務局)

長谷川  久  子

社団法人日本電子工業振興協会