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X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案件,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案件,又は出願公開後の実用新案出

願登録にかかわる確認について,責任はもたない。

この規格には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  テープの研磨性試験方法

附属書 B(規定)  記録前の磁気的状態

附属書 C(規定)  8 ビットバイトの 9 ビットパターンでの表現

附属書 D(規定)  ビットシフトの測定方法

附属書 E(規定)  CRC の生成方法

附属書 F(規定)  テープの物理的位置の算出方法

附属書 G(規定)  テープのタイプラベル

附属書 H(参考)  輸送条件

附属書 J(参考)  不良テープカートリッジ

附属書 K(参考)  テープの耐久性

附属書 L(参考)  データの流れ

附属書 M(参考)  加速寿命試験


X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

(1) 

目次

ページ

1.

  適用範囲

1

2.

  適合性

1

2.1

  磁気テープカートリッジ

1

2.2

  生成システム

2

2.3

  受領システム

2

3.

  引用規格

2

4.

  用語の定義

2

4.1

  アルゴリズム

2

4.2

  アルゴリズム圧縮データ

2

4.3

  テープの始端

2

4.4

  バイト

3

4.5

  巡回冗長検査文字

3

4.6

  データレコード

3

4.6.1

  圧縮データレコード

3

4.6.2

  ホストデータレコード

3

4.6.3

  論理データレコード

3

4.6.4

  ユーザデータレコード

3

4.7

  テープの終端

3

4.8

  誤り訂正符号

3

4.9

  磁束反転位置

3

4.10

  磁束反転間隔

3

4.11

  フレーム

3

4.12

  論理バックワード

3

4.13

  論理フォワード

3

4.14

  磁気テープ

3

4.15

  標準テープ

3

4.16

  パケット

3

4.17

  パッドバイト

3

4.18

  物理バックワード

3

4.19

  物理フォワード

3

4.20

  記録密度

3

4.21

  圧縮データ

3

4.22

  副標準テータ

3

4.23

  標準信号振幅

3

4.24

  基準電流

3


X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

目次

(2) 

4.25

  テープ基準縁

4

4.26

  試験記録電流

4

4.27

  トラック

4

4.28

  ティピカル磁界

4

4.29

  変換

4

4.30

  ラップ

4

4.31

  ハーフラップ

4

5.

  表記法

4

5.1

  数字の表し方

4

5.2

  名称

4

5.3

  略号

4

6.

  環境条件及び安全性

5

6.1

  試験環境条件

5

6.2

  使用環境条件

5

6.3

  保存環境条件

5

6.4

  安全性の要求事項

5

6.4.1

  安全性

5

6.4.2

  燃焼性

5

6.5

  輸送条件

5

7.

  テープの特性

5

7.1

  材料

5

7.2

  テープの長さ

5

7.3

  テープの幅

5

7.4

  テープの連続性

6

7.5

  テープの厚さ

6

7.6

  ベースの厚さ

6

7.7

  長手方向の湾曲

6

7.7.1

  CST テープ

6

7.7.2

  ECCST テープ

6

7.8

  平面からのひずみ

6

7.9

  カッピング

6

7.10

  動摩擦特性

6

7.10.1

  記録面と裏面との動摩擦力

6

7.10.2

  環境繰返し試験後の記録面とフェライトとの動摩擦力

7

7.11

  塗布面の接着強度

7

7.12

  剛性

7

7.13

  表面電気抵抗

8

7.14

  耐久性

9

7.15

  不良テープ

9

7.16

  テープの研磨性

9


X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

目次

(3) 

7.17

  寿命加速試験

9

7.18

  データ保全試験

9

7.18.1

  要求事項

9

7.18.2

  測定方法

9

7.19

  記録前の磁気的状態

9

7.20

  磁気記録特性

9

7.20.1

  ティピカル磁界

10

7.20.2

  平均信号振幅

10

7.20.3

  分解能

10

7.20.4

  重ね書き

10

7.20.5

  狭帯域信号対雑音比 (NB−SNR)

10

7.21

  テープの品質

11

7.21.1

  ミッシングパルス

11

7.21.2

  ミッシングパルス領域

11

7.21.3

  同時発生ミッシングパルス領域

11

8.

  カートリッジの寸法及び機械的特性

12

8.1

  カートリッジの全体の寸法

12

8.2

  書込み禁止機構

13

8.3

  後面のラベル領域

13

8.3.1

  単一ラベル領域の適用

13

8.3.2

  2 か所のラベル領域の適用

13

8.4

  上面のラベル領域

13

8.5

  ケース開口部

13

8.6

  位置決めノッチ

14

8.7

  位置決め領域

14

8.8

  ケースの開口部周辺の内部構造

14

8.9

  ケースのその他の外形

14

8.10

  中心孔

15

8.11

  スタッキングリブ

15

8.12

  リセス領域

15

8.13

  ケースの柔軟性

15

8.13.1

  要求事項

15

8.13.2

  試験方法

16

8.14

  リール

16

8.14.1

  ロック機構

16

8.14.2

  リールの回転軸

16

8.14.3

  金属接合部

16

8.14.4

  歯形リム

16

8.14.5

  リールのハブ

16

8.14.6

  相対位置

17


X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

目次

(4) 

8.14.7

  歯形リムの形状

17

8.15

  リーダブロック

17

8.16

  リーダブロックへのテープの取付

18

8.17

  ラッチング機構

18

8.18

  テープの巻き方

19

8.19

  テープの巻き張力

19

8.20

  テープの巻きの円周

19

8.21

  慣性モーメント

19

8.22

  カートリッジケースの配色

19

9.

  記録方式

27

9.1

  記録密度

27

9.2

  ビットセル長

27

9.3

  平均ビットセル長

28

9.3.1

  長周期平均ビットセル長

28

9.3.2

  短周期平均ビットセル長

28

9.4

  短周期平均ビットセル長の変動率

28

9.5

  ビットセルのピーク位置

28

9.6

  ビットシフト

28

9.7

  トータルキャラクタスキュー

28

9.8

  再生信号振幅

28

9.9

  同時発生ミッシングパルス領域

28

10.

  トラックフォーマット

28

10.1

  トラック数

28

10.2

  トラック位置

28

10.3

  トラック幅

29

10.4

  アジマス

29

10.5

  トラックの識別

29

11.

  パケットフォーマット

30

11.1

  パケット

30

11.2

  パケット ID

31

11.3

  UDR

31

11.4

  パケットトレーラ

32

11.4.1

  圧縮時のパケットトレーラ

32

11.4.2

  非圧縮時のパケットトレーラ

32

12.

  データブロックの様式

32

12.1

  データ部

32

12.1.1

  パケットバイト

33

12.1.2

  カウントフィールドバイト

33

12.1.3

  ブロック ID バイト

33

12.2

  データバイトのフレームへの割当て

33


X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

目次

(5) 

12.2.1

  接頭辞フレーム

35

12.2.2

  データフレーム

35

12.2.3

  剰余フレーム 1

36

12.2.4

  剰余フレーム 2

37

12.2.5

  接尾辞フレーム

39

12.3

  誤り訂正符号 (ECC)

39

12.4

  テープへの 8 ビットバイトの記録

39

12.5

  記録データブロック

40

12.5.1

  プリアンブル

40

12.5.2

  データ開始マーク (BDM)

40

12.5.3

  再同期制御フレーム

40

12.5.4

  データ終了マーク (EDM)

40

12.5.5

  ポストアンブル

40

12.6

  最大データ密度

41

13.

  テープフォーマット

41

13.1

  領域

41

13.2

  記録密度識別マーク

41

13.3

  VOLID マーク

42

13.4

  ID 分離マーク

43

13.5

  ブロックギャップ (IBG)

43

13.6

  消去ギャップ

43

13.6.1

  通常消去ギャップ

43

13.6.2

  拡張消去ギャップ

43

13.7

  テープマーク

43

13.8

  ラップマーク

44

13.9

  マークの伸長

44

13.9.1

  IBG に続くテープマーク

44

13.9.2

  テープマークに続く IBG

44

13.9.3

  IBG に続く消去ギャップ

44

13.9.4

  消去ギャップに続く IBG

45

13.9.5

  IBG に続くラップマーク

45

13.9.6

  ラップマークに続く IBG

45

13.9.7

  IBG に続く VOLID マーク”1”又は”0”

45

13.9.8

  VOLID マーク”1”又は”0”に続く IBG

45

13.10

  データブロックの終了 (EOD)

46

13.11

  記録領域

47

附属書 A(規定)  テープの研磨性試験方法

48

附属書 B(規定)  記録前の磁気的状態

50

附属書 C(規定)  8 ビットバイトの 9 ビットパターンでの表現

51

附属書 D(規定)  ビットシフトの測定方法

54


X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

目次

(6) 

附属書 E(規定)  CRC の生成方法

56

附属書 F(規定)  テープの物理的位置の算出方法

57

附属書 G(規定)  テープのタイプラベル

58

附属書 H(参考)  輸送条件

61

附属書 J(参考)  不良テープカートリッジ

62

附属書 K(参考)  テープの耐久性

63

附属書 L(参考)  データの流れ

64

附属書 M(参考)  加速寿命試験

65


日本工業規格

JIS

 X

6135

: 1997

(ISO/IEC 14251 :

 1995

)

12.7mm

幅,36 トラック,情報交換用

磁気テープカートリッジ

Data interchange on 12.7 mm 36-tracks magnetic tape cartridges

序文  この規格は,1995 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 14251 Information technology−Data

interchange on 12.7mm 36-tracks magnetic tape cartridges

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

1.

適用範囲  この規格は,情報交換に用いる 12.7mm 幅,36 トラックの磁気テープカートリッジの物理

的特性及び磁気的特性について規定する。この規格は,JIS X 0601 とともに,テープカートリッジを媒体

として情報交換に使用できるように磁気テープカートリッジの記録信号の品質,フォーマット及び記録様

式を規定する。

この規格は,2 種類のカートリッジを規定する。一つは,カートリッジシステムテープ (CST) と呼称し,

もう一つは,拡張容量カートリッジシステムテープ (ECCST) と呼称する。これらは,テープの厚さ及び

テープの長さが異なる。CST は,非圧縮で公称 400 メガバイトの容量をもち,ECCST は非圧縮で公称 800

メガバイトの容量をもつ。

JIS X 6132

の規定で書き込む記録様式とこの規格の規定との変更点及び拡張部分は,次に示す。

−  テープ上に記録したトラック数を 18 トラックから 36 トラックへ増加する。18 トラックずつ 2 度に分

けて書き込み,最初にテープ始端からテープ終端方向へ,次にテープ終端からテープ始端方向へ書き

込む。

−  データをテープから読み取るとき,エラーの検出及び訂正に用いる誤り訂正符号の生成方法を変更す

る。

2.

適合性

2.1

磁気テープカートリッジ  磁気テープカートリッジは,次の要求事項を満たすとき,この規格に適

合する。

−  磁気テープカートリッジが 6.8.の 2 種類の磁気カートリッジのどちらか一つに対するすべての要求

事項を満たす。

−  テープ上の記録が 9.13.のすべての要求事項を満たす。

−  圧縮データを記録する場合には,登録済みのアルゴリズムを用い,登録番号をパケット ID のバイト

13

に記録する(11.2 参照)

。この登録番号は,ISO/IEC 11576 に適合しなければならない。


2

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2.2

生成システム  情報交換用磁気テープカートリッジを生成するシステムは,生成するテープ上のす

べての記録がこの規格の要求事項を満たすとき,この規格に適合する。適合性の表現は,どちらのタイプ

のカートリッジに記録するのか,登録済みのアルゴリズムを使用するか否か,及び使用する場合には,使

用するすべてのアルゴリズムの登録番号を明示しなければならない。オプションの VOLID マーク情報を

生成できるか否かも明示しなければならない(13.3 参照)

2.3

受領システム  情報交換用磁気テープカートリッジを受領するシステムは,この規格に従って生成

した 2 種類の磁気テープカートリッジ上の記録を読取り可能な場合,この規格に適合する。受領システム

は,次の要求事項を満たさなければならない。

−  拡張ブロック内の個々のパケットからデータを識別し,読み取る。

−  圧縮データを認識し,アルゴリズムを識別する。圧縮されたデータを復元し,復元できないときには,

ホストに明示する。

適合性の表現は,登録済みのアルゴリズムを使用するか否か,及び使用する場合には,使用するす

べてのアルゴリズムの登録番号を明示しなければならない。オプションの VOLID マーク情報を使用

できるか否かも明示しなければならない。

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発効年(又は発行年)を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの

規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年(又は発行年)を付

記していない引用規格は,その最新版を(追補を含む。

)を適用する。

JIS G 4303-1991

  ステンレス鋼棒

備考  ISO 683-13:1986  Heat-treatable steels, alloy steels and free-cutting steels−Part 13:Wrought

stainless steels

が,この規格と一致している。

JIS X 0601-1990

  情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成

備考  ISO 1001:1986  Information processing−File structure and labelling of magnetic tapes for

information interchange

が,この規格と一致している。

JIS X 6132-1995

  12.7mm 幅,18 トラック,情報交換用磁気テープカートリッジ−拡張フォーマット

備考  ISO/IEC 11559:1993  Information technology−Data interchange on 12.7mm wide 18-track

magnetic tape cartridges

−Extended format が,この規格と一致している。

JIS X 0201-1997

  7 ビット及び 8 ビットの情報交換用符号化文字集合

備考  ISO/IEC 646:1991  Information technology−ISO 7-bit coded character set for information

interchange

が,この規格と一致している。

ISO 1302

:1992  Technical drawings−Method of indicating surface texture

ISO/IEC 11576

:1993  Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless

compression of data

4.

用語の定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

4.1

アルゴリズム (algorithm)   論理的に表現したデータに変換する規則。

4.2

アルゴリズム圧縮データ (algorithmically processed data)   定義されたアルゴリズムによって圧縮処

理したデータ。

4.3

テープの始端 (Beginning of Tape, BOT)   磁気テープの長手方向に沿って,情報を書き始める点。


3

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

4.4

バイト (byte)   1 単位として取り扱われる 8 ビット(変換した 9 ビット)の列。

4.5

巡回冗長検査文字  [Cyclic Redundancy Check (CRC) character]    誤り検出のための巡回符号として用

いる 2 バイトの文字。

4.6

データレコード (Data Records)

4.6.1

圧縮データレコード (Processed Data Record, PDR)   論理データレコード (LDR) にアルゴリズム

を適用して生成したデータ列。

4.6.2

ホストデータレコード  (Host Data Record, HDR)    ホストで最初に集められるデータ列。

4.6.3

論理データレコード  (Logical Data Record, LDR)    サブシステムがホストから受領するデータ列。

ホストで拡張ブロック処理にまとめた 1 個以上のホストデータレコード (HDR) からなる。

4.6.4

ユーザデータレコード  (User Data Record, UDR)    パケット生成に有効なデータ列。データが圧縮

処理されている場合には,圧縮データレコード (PDR) とし,非圧縮データの場合には,論理データレコ

ード (LDR) とする。

4.7

テープの終端 (End of Tape, EOT)   記録できる BOT から最も遠い点。

4.8

誤り訂正符号  (Error correcting code, ECC)    誤りを自動訂正できるように設計された符号。

4.9

磁束反転位置  (flux transition position)    テープの表面に垂直な方向で磁束密度が最大となる点。

4.10

磁束反転間隔  (flux transition spacing)    一つのトラックに沿って連続する磁束反転の長さ。

4.11

フレーム (Frame)   論理的に関連するバイトを含むハーフラップ内のすべての 18 トラックにまた

がる箇所。

4.12

論理バックワード (logical backward)   降べき順に LDR を検出するテープ走行方向。

4.13

論理フォワード (logical forward)   昇べき順に LDR を検出するテープ走行方向。

4.14

磁気テープ (magnetic tape)   磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.15

標準テープ  (Master Standard Reference Tape)    基準磁界,信号振幅,分解能及び重ね書き特性の標準

として用いるもので,その特性値を国際標準化機構  (ISO)  が規定するテープ。

備考  標準テープは,NIST で管理されている。

4.16

パケット (packet)   パケット識別子とパケットトレーラを付加したユーザデータレコード (UDR) 。

4.17

パッドバイト (Pad byte)   8 個のビット“0”で構成するバイト。

4.18

物理バックワード (physical backward)   EOT から BOT へのテープ走行方向。ハーフラップ 2 の論

理フォワードになる。

4.19

物理フォワード (physical forward)   BOT から EOT へのテープ走行方向。ハーフラップ 1 の論理フ

ォワードになる。

4.20

記録密度  (physical recording density)    トラックの長さ 1mm 当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm) 。

4.21

圧縮データ (Processed Data)   アルゴリズムによって圧縮処理したデータ。

4.22

副標準テープ  (Secondary Standard Reference Tape)    テープの特性が既知であり,標準テープとの偏

差が明示されているテープ。

参考  副標準テープは,NIST が開発し,SRM3202 の番号で供給する。入手先は,次による。

NIST Office of Standard Reference Materials, Room 205, Building 202 NIST, Gaitherburg, MA

20899, USA

4.23

標準信号振幅  (Standard Reference Amplitude, SRA)    NIST の計測システムで,標準テープに記録密

度 972ftpmm で試験記録電流で記録し,これを再生したときの出力電圧の平均ピーク値 (P−P)。

4.24

基準電流  (Standard Reference Current)    基準磁界を発生する電流。


4

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

4.25

テープ基準縁  (Tape Reference Edge)    ハブ終端(EOT 側)を右側に置きテープの記録面を見たとき

のテープ下端。

4.26

試験記録電流 (Test Recording Current)   基準電流の 1.5 倍の電流。

4.27

トラック (Track)   磁気テープの長手方向に,連続して磁気信号が記録できる部分。

4.28

ティピカル磁界 (Typical Field)   試験テープに記録密度 972ftpmm で連続する磁束反転を記録し,こ

れを再生したとき,再生出力電圧が最大出力電圧(飽和値)の 85%となる最小印加磁界。

4.29

変換 (transformation)   フォーマットする前のホストデータレコードの圧縮処理,パケット生成及び

パケット連鎖の操作。

4.30

ラップ (Wrap)   36 トラックの集まり。18 トラックは,BOT から EOT 方向に連続記録し,残り 18

トラックは,EOT から BOT 方向に連続に記録する。

4.31

ハーフラップ (Half-Wrap)   同一方向に連続記録した 18 トラックの集まり。BOT から EOT 方向に

記録するハーフラップ 1 と EOT からボリューム終端方向へ記録するハーフラップ 2 の 2 種類がある。

5.

表記法

5.1

数字の表し方  数字の表し方は,次による。

−  各フィールドのバイトは,バイト 1 を最上位として最初に配列する。各バイトのビットは,ビット 1

を最上位として最初に配列し,ビット 8 を最下位として最後に配列する。この配列の順序は,データ,

ECC

及び CRC の入出力に適用する。

− 16 進数は,丸括弧内に数字及び文字 A∼F で表す。

−  ビットの設定は,

“0”又は“1”で表す。

−  2 進数表記の数字及びビットの組合せは,

“0”及び“1”の列で表し,最上位ビットを左とする。

5.2

名称  エンティティの名称は,英文字で表記する場合,先頭の文字だけを大文字とする。

5.3

略号

BDM

データ開始マーク  (Beginning of Data Mark)

BOT

テープの始端 (Beginning of Tape)

CRC

巡回冗長検査  (Cyclic Redundancy Check)

CST

カートリッジシステムテープ (Cartridge System Tape)

ECC

誤り訂正符号  (Error Correction Code)

ECCST

拡張容量カートリッジシステムテープ  (Extended Capacity Cartridge System Tape)

EDM

データ終了マーク  (End of Data Mark)

EOT

テープの終端 (End of Tape)

EOV

ボリュームの終了 (End of Volume)

IBG

ブロックギャップ (Interblock Gap)

ID

識別子  (Identifier or Identification)

LBAP

リーダブロック取付け位置  (Leader Block Attachment Point)

LDR

論理データレコード  (Logical Data Record)

NB-SNR

狭帯域信号対雑音比  (Narrow Band Signal-to−Noise Ratio)

PDR

圧縮データレコード  (Processed Data Record)

RBW

分解能帯域幅 (Resolution Bandwidth)

SRA

標準信号振幅 (Standard Reference Amplitude)


5

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

UDR

ユーザデータレコード  (User Data Record)

VBW

ビデオ帯域幅 (Vide Band Width)

6.

環境条件及び安全性  カートリッジの試験環境条件及び使用環境条件は,規定がない限り,試験室又

は計算機室の環境条件とする。

6.1

試験環境条件  カートリッジの試験環境条件は,規定がない限り,次による。

温度 23℃±2℃

相対湿度 40%∼60%

試験前に,この環境条件に 24 時間以上放置しなければならない。

6.2

使用環境条件  カートリッジの使用環境条件は,次による。

温度 16℃∼32℃

相対湿度 20%∼80%

湿球温度 25℃以下

テープ近傍の平均空気温度は,40.5℃を超えてはならない。

備考  部分的であっても温度が 49℃を超えると,テープは,損傷する可能性がある。カートリッジが

保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合には,この環境条件に 24 時間以上放置してから

使用しなければならない。

6.3

保存環境条件  カートリッジの保存環境条件は,次による。

温度

5

℃∼32℃

相対湿度 5%∼80%

湿球温度 26℃以下

6.4

安全性の要求事項

6.4.1

安全性  カートリッジ及びその構成部品は,正しい使用方法又は予測し得る誤った便用方法でも安

全性を保ち,かつ,健康を害するものであってはならない。

6.4.2

燃焼性  カートリッジ及びその構成部品の材料は,マッチなどの炎によって着火してもよいが,二

酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

6.5

輸送条件  この規格では,カートリッジの輸送条件を規定しない。ただし,輸送条件は,附属書 H

によることが望ましい。

7.

テープの特性  この規格では,2 種類のテープを規定する。ECCST のテープは,CST のテープより長

く,薄い。ECCST は,テープを供給リールに完全に巻いたときにテープの円周が大きいこと,及びカート

リッジケースが 2 色に色分けしていることで CST と区別する。これらのカートリッジの相違は,この規格

で規定する。

7.1

材料  テープは,ベース(延伸したポリエチレンテレフタレート又はこれと同等品)上の片面に強

固で柔軟性のあるバインダと適切な磁性材を塗布したものとする。CST テープの裏面は,塗布してはなら

ない。

7.2

テープの長さ  テープの最小の長さは,次による。

CST

テープ

:165m

ECCST

テープ

:332m

7.3

テープの幅  テープの幅は,次による。


6

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

CST

テープ

:12.650mm±0.025mm

ECCST

テープ

:12.570mm±0.025mm

テープに 0.28N 未満の張力を加えてテープの縁から縁までを測定する。

7.4

テープの連続性  テープは,全長にわたり継目又は孔があってはならない。

7.5

テープの厚さ  テープの厚さは,次による。

CST

テープ

:0.025 9mm∼0.033 7mm

ECCST

テープ

:0.016 1mm∼0.018 0mm

7.6

ベースの厚さ  ベースの公称の厚さは,次による。

CST

テープ

:0.023 4mm

ECCST

テープ

:0.014 2mm

7.7

長手方向の湾曲

7.7.1

CST

テープ  CST テープの長手方向の湾曲は,曲率半径 33m 以上とする。試験方法は,次による。

長さ 1m のテープを平面上に自然の状態に置き,その縁線上に沿って 1m 離れた 2 点を定めて,これら

を結ぶ直線を引き,縁線とこの直線上との隔たりを測定し,この隔たりを 3.8mm 以下とする。この偏差は,

33m

の曲率半径と一致する。

7.7.2

ECCST

テープ  ECCST テープの長手方向の湾曲は,曲率半径 33.75m 以上とする。試験方法は,

次による。

長さ 0.90m のテープを平面上に自然の状態に置き,その縁線上に沿って 0.90m 離れた 2 点を定めて,こ

れらを結ぶ直線を引き,縁線とこの直線上との隔たりを測定し,この隔たりを 3.0mm 以下とする。この偏

差は,33.75m の曲率半径と一致する。

7.8

平面からのひずみ  テープを平面に置いて,次の張力を加えたとき,目視できるひずみがテープに

あってはならない。

CST

テープ

:0.6N

ECCST

テープ

:0.4N

7.9

カッピング  カッピングは,平面からのテープの幅方向での浮き上がり量とし,0.3mm 以下とする。

試験方法は,次による。

テープを長さ 1.0m±0.1m に切り取り,記録面を露出して,テープを試験環境条件に 3 時間以上つり下

げて放置した後,このテープの中央部分から 25mm の試験片を切り取る。次に,このテープ試験片をテー

プの一方の切断部を下側にして,高さ 25mm 以上,内径 13.0mm±0.2mm の円筒の中に立てる。この円筒

を光学的コンパレータに立てて載せ,テープ試験片の基準縁と反対側の縁とを十字線にそろえて,十字線

から試験片の中心までの距離を測定する。

7.10

動摩擦特性  動摩擦力は,7.10.1 及び 7.10.2 で規定し,その規定値 1.00N 及び 1.50N には,動摩擦力

とテープ試験片に加える力 0.64N を含む。

備考  試験時には,フェライト棒の表面を清掃すること。

7.10.1

記録面と裏面との動摩擦力  記録面の裏面に対する動摩擦力は,1.00N 以上とする。試験方法は,

次による。

a)

記録面を内側にして,テープの試験片を直径 25.4mm の円筒に動かないように巻き付ける。

b)

記録面を内側にして,第 2 のテープ試験片を第 1 の試験片に 90°巻き付ける。

c)

第 2 のテープ試験片の片側の端に 0.64N の力を加え,別の端をゲージに固定する。

d)

ゲージを速度 1mm/s で引っ張る。


7

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

7.10.2

環境繰返し試験後の記録面とフェライトとの動摩擦力  カートリッジのリーダブロックから

1.34mm

の位置でテープを動かすのに要する力は,1.5N 以下とする。テープとハブの接合部から 4.3m の位

置でテープを動かすのに要する力は,6.0N 以下とする。試験方法は,次による。

a) CST

テープでは,張力 2.2N±0.2N で,ECCST テープでは,張力 1.8N±0.2N でテープを直径 50mm の

スプールにテープの外径が 97m になるまで巻く。

b)

次の操作を 5 回繰り返す。

−  温度 50℃,相対湿度 10%∼20%の環境に 48 時間放置する。

−  試験環境条件に 2 時間慣らしてから,CST テープでは,張力 2.2N±0.2N で巻き戻し,ECCST テープ

では,張力 1.8N±0.2N で巻き戻す。

c)

温度 30.5℃,相対湿度 85%の環境に 48 時間放置する。テープは,d)及び e)の操作の間,この環境条件

に保つ。

d)

リーダブロックから 1.34m の位置で長さ 1m 以下のテープ試験片を切り取り,試験片の一方の端に

0.64N

の力を加える。記録面を内側にして試験片を直径 25.4mm のフェライトの棒に 90°巻き付けて

走行させる。この棒は,

附属書 によるフェライトを材質とする。この表面粗さは,ISO 1302 の N2

で規定する Ra を 0.05

µm とする。試験片の他の一方の端を速度 1mm/s で水平に引っ張る。

e)

テープとハブの接合部から 4.3m の位置で切り取った同様の試験片について,d)の操作を繰り返す。

7.11

塗布面の接着強度  塗布面の接着強度は,塗布面をテープのベース材料からは(剥)がす力とし,

その力は,1.5N 以上とする。試験方法は,次による。

a)

長さ約 380mm のテープ試験片を切り取り,一方の端から 125mm の位置でテープ幅方向にけがき(罫

書き)線をベース面に達するまで引く。

b)

図 に示すとおりに,塗布面を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金

属の板に取り付ける。

c)

試験片を 180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを万能引張試験機に取り付けて,速度

254mm/min

で引っ張る。

d)

塗布面のいかなる部分でも最初にベースから塗布面がはがれるときの力を記録する。この力が 1.5N に

達する前に試験片が両面接着テープからはがれる場合には,別の種類の両面接着テープを使用しなけ

ればならない。

e)

テープ裏面が塗布されている場合には,裏面についても a

)∼d)を繰り返す。

図 1  塗布面の接着強度の試験方法

7.12

剛性  テープの長手方向の剛性は,次による。

CST

テープ

:0.06N・mm

2

∼0.16N・mm

2

ECCST

テープ

:0.03N・mm

2

∼0.14N・mm

2


8

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

試験方法は,次による。

長さ 180mm のテープ試験片を,

間隔が 100mm となるように万能引張試験機に取り付けて,

速度 5mm/min

で引っ張り,距離と力の関係を打点する。2.2N∼7.7N の範囲の曲線の傾きを用いて,剛性  (EI)  を次の式

によって算出する。

L

L

WT

F

E

δ

δ

=

12

3

WT

I

=

L

L

FT

EI

δ

δ

12

2

=

ここに,

δF

力の変化 (N)

T

テープ試験片の厚さの測定値 (mm)

W

テープ試験片の幅の測定値 (mm)

L

L

δ

テープ試験片の長さの変化を初期の長さで除した値

7.13

表面電気抵抗  表面電気抵抗は,次による。

裏面が塗布されていないテープの記録面

:10

5

∼5×10

8

裏面が塗布されているテープの記録面

:10

5

∼5×10

9

裏面が塗布されているテープの裏面

:10

6

未満

試験方法は,次による(

図 参照)。

テープ試験片を試験環境条件に 24 時間放置する。24 カラットの金めっきした半径が

r

=25.4mm で粗さ

を N4(ISO 1302 参照)以上で仕上げてある二つの半円の電極に,記録面が接するように置く。これらの

電極は,水平で中心間の距離

d

=12.7mm となるように平行に置く。試験片の両端に

F

=1.62N の力を加え

る。電極に 500V±10V の直流電圧をかけて,電流を測定する。この値から表面電気抵抗を算出する。

この測定を一つのテープ試験片の 5 か所について行い,これらの表面電気抵抗の平均を算出する。裏面

が塗布されている場合には,裏面についてもこの試験を行う。

図 2  表面電気抵抗の試験方法

試験片を電極に置くとき,電極の間にはテープ試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考  試験前に電極の表面を清掃すること。


9

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

7.14

耐久性  この規格では,テープの耐久性を評価するパラメータは規定しない。

なお,試験方法は,

附属書 によることが望ましい。

7.15

不良テープ  この規格では,テープが不良であるか否かを評価するパラメータは規定しない。

なお,不良テープに関する参考情報は,

附属書 による。

7.16

テープの研磨性  テープの研磨性は,テープ走行系に対する研磨度とする。

附属書 によって測定したとき,研磨性試験用バーに生じる研磨パターンの長さは,56

µ

m

以下とする。

7.17

寿命加速試験  この規格では,テープが長期間の保存と極端な動作環境条件に耐えるか否かを評価

するパラメータは規定しない。試験方法は,

附属書 によることが望ましい。

7.18

データ保全試験  データ保全試験の目的は,過酷な動作環境条件下の装置で,テープが記録したデ

ータを失うことなしに動作し続けることを示す。試験方法は,データを BOT から EOT へ正方向に記録し,

テープを全長にわたって繰り返し走行させる。その後,誤りの発生を検出するためにデータを読み取る。

7.18.1

要求事項  読取り時には,一時的な読取り誤りが 8 個以上増えてはならない。また,永久的な読取

り誤りが発生してはならない。

7.18.2

測定方法

a)

カートリッジを室温になじませ,さらに巻緩みを除去するためにテープを BOT から EOT まで 1 往復

走行する。

b)

試験装置とカートリッジを 30.0℃±2.0℃,85%の環境に 24 時間放置する。

c)

カートリッジの BOT から EOT まで正方向で 32K バイトのデータブロックを記録する。データを書込

み中に読み取り,誤りの情報を得る。

d)

カートリッジを書込み禁止状態とする。

e)

 EOT

から 50 データブロックまで戻り,そのブロック ID を読み取る。

f)

 4m/s

∼5m/s の速度で e)で求めたブロック ID の箇所まで走行し,次に BOT まで高速巻戻しをする。こ

の高速走行を 50 回繰り返す。

g)

テープ全体のデータを読み取り,誤りの情報を得る。

h)

  f)

から g)までを 4 回繰り返し,BOT から e)で求めた ID の箇所まで 250 回高速走行し BOT に戻り,5

回テープ全体を読み取る。最初の誤りの情報と比較するための情報を得る。

i)

c)

の最初の誤りの情報と 5 回の読取りの結果を比較する。

7.19

記録前の磁気的状態  データの記録又は試験に先立ち,テープは減衰する交流磁界をかけることに

よって(非可逆過程),記録面の残留磁気モーメントを最大残留磁気モーメントの 20%以下に消去しなけ

ればならない。試験方法は,

附属書 による。

テープは,低密度の磁束反転があってはならない。

7.20

磁気記録特性  磁気記録特性は,次に示す試験条件による。

これらの試験を行うとき,出力信号及び残留信号の測定は,標準テープで校正したテープ,被試験テー

プともに同じ走行系(記録時再生をするか,又は記録時再生機能がないときには,1 回目の再生時に読み

取る)を使用する。

磁気記録特性の試験条件は,特に規定がない限り次による。

−  テープの状態

:記録前の磁気的状態

−  テープ速度

:2.5m/s 以下

−  再生トラック幅

:記録トラック幅以下

−  アジマス

:記録時の磁束反転と再生ギャップとの傾き 6´以下


10

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

−  記録ギャップ長

:1.0

µ

m

±0.2

µ

m

−  記録ヘッドの飽和磁束密度

:0.34T±0.03T

−  テープ張力

CST

テープ

:2.2N±0.2N

ECCST

テープ

:1.8N±0.2N

−  記録電流

:試験記録電流

7.20.1

ティピカル磁界  ティピカル磁界は,基準磁界の 90%∼110%とする。

基準磁界の値は,副標準テープの校正値から求める。

7.20.2

平均信号振幅  平均信号振幅は,記録密度 972ftpmm で記録したときの SRA の 70%∼140%とする。

SRA

の値は,副標準テープの校正値から求める。

7.20.3

分解能  分解能は,記録密度 1 458ftpmm での平均信号振幅を記録密度 972ftpmm の平均信号振幅で

除した値とし,その値は,標準テープの分解能の 80%∼120%とする。

標準テープの分解能の値は,副標準テープの校正値から求める。

7.20.4

重ね書き  重ね書きは,トーンパターンの信号を記録した後,記録密度 972ftpmm で重ね書きし,

残留するトーンの基本周波数 (162ftpmm) の平均信号振幅を 972ftpmm の信号振幅で除した値とする。トー

ンの平均信号振幅は,等価な実効電力をもつ正弦波信号のピーク値 (P−P)  とする。

7.20.4.1

要求事項  重ね書きは,標準テープの重ね書きの 120%未満とする。

標準テープの重ね書きの値は,副標準テープの校正値から求める。

7.20.4.2

試験方法  試験時には,図 に示すトーンパターンを記録する。

記録したトーンパターンに記録密度 972ftpmm の信号を重ね書きした後,残留するトーンパターンの基

本周波数 (162ftpmm) の信号及び 972ftpmm の信号の平均振幅を測定する。これらの信号振幅は,適切なフ

ィルタを用いて測定する。

図 3  トーンパターン

7.20.5

狭帯域信号対雑音比 (NBSNR)    NB−SNR は,実効電力の平均信号振幅を雑音の実効電力の積

分(側帯波)で除した値とし,デシベル (dB) で表す。

7.20.5.1

要求事項  NB−SNR は,トラック幅が 410

µ

m

のとき,30dB 以上とする。

測定時のトラック幅が

W

µ

m

のとき,次の式によって換算する。

( )

( )

W

W

410

log

10

dB

410

dB

+

=

ここに, dB

(410)

トラック幅が 410

µm のときの NB-SNR

dB (W)

トラック幅が W

µm のときの NB-SNR

W

測定に用いた磁気ヘッドのトラック幅  (

µm)

7.20.5.2

試験方法  試験方法は,分解能帯域幅 (RBW) 1kHz 及びビデオ帯域幅 (VBW) 10MHz のスペクト

ラムアナライザを使用し,テープ速度を 762mm/s とし,次による。

− 972ftpmm の再生信号振幅をテープの長さ 46m 以上にわたり,

150

個以上のサンプルについて測定する。


11

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

−  次の走行(再生時)でテープ上の同じ部分の雑音の実効電力を測定し,その雑音の実効電力を 332kHz

∼366kHz の範囲まで,実際の分解能帯域幅で正規化して積分する。

その他のテープ速度で試験する場合,テープ速度に応じて周波数を補正する。

7.21

テープの品質  テープの品質は,保存環境条件又は輸送環境条件に放置してあった場合を含めて,

7.21.1

7.21.3 による。試験条件は,次による。

−  環境条件

:使用環境条件

−  テープの状態

:記録前の磁気的状態

−  テープ速度

:2m/s

−  書込みトラック幅

:読取りトラック幅以上

−  読取りトラック幅

:190

µm±2.5µm

−  記録密度

:972ftpmm

−  書込みギャップ長

:1.0

µm±0.2µm

−  アジマス

:書込み時の磁束反転と読取りヘッドギャップとの傾き 6´以下

−  書込みヘッドの飽和磁束密度  :0.34T±0.03T

−  記録電流

:試験記録電流

−  フォーマット

:36 トラック

−  テープ張力

CST

テープ

:2.2N±0.2N

ECCST

テープ

:1.8N±0.2N

7.21.1

ミッシングパルス  ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損であり,再生した電圧の 0V を基準

にしたピーク値 (0-P) が,その直前のテープの長さ 25.4mm にわたる平均信号振幅の 1/2 の 25%以下とす

る。

7.21.2

ミッシングパルス領域  ミッシングパルス領域は,ミッシングパルスが生じた箇所から続く 64 個

の磁束反転を検出するまで,又は 1mm の長さまでの領域とする。

ミッシングパルス領域の数の比率は,8×10

6

個を記録した磁束反転当たり 1 未満でなければならない。

7.21.3

同時発生ミッシングパルス領域  同時発生ミッシングパルス領域は,これを測定する目的で 36 ト

ラックを次のように 4 個の 9 トラック群に分ける。9 トラック群の 2 トラック以上での同一ミッシングパ

ルス領域は,同時ミッシングパルス領域とする。

第 1 群は,物理トラック 1, 5, 9, 13, 17, 21, 25, 29 及び 33 とする。

第 2 群は,物理トラック 3, 7, 11, 15, 19, 23, 27, 31 及び 35 とする。

第 3 群は,物理トラック 2, 6, 10, 14, 18, 22, 26, 30 及び 34 とする。

第 4 群は,物理トラック 4, 8, 12, 16, 20, 24, 28, 32 及び 36 とする。

同時発生ミッシングパルス領域が第 1 トラック群及び第 2 トラック群に,又は第 3 トラック群及び第 4

トラック群に同時に発生しても,1 個の同時発生ミッシングパルス領域とみなす。その長さは,最初に発

生した一つのトラック群の同時発生ミッシングパルス領域から,最後に発生したトラック群の同時発生ミ

ッシングパルス領域の終わりまでとする。

テープの同時発生ミッシングパルス領域の数は,12 個を超えてはならない。同時発生ミッシングパルス

領域の長さは,50mm 以下とする。


12

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

8.

カートリッジの寸法及び機械的特性  この規格で規定する 2 種類のカートリッジ,CST 及び ECCST

は,寸法及び機械的特性がほぼ同じである。8.の要求事項は,2 種類のカートリッジの明確な差異が表記さ

れたものを除いて,両カートリッジに適用する。

カートリッジの構成は,次による。

−  ケース

−  リール

−  リールハブに巻いた磁気テープ

−  リールのロック機構

−  書込み禁止機構

−  リーダブロック

−  リーダブロックのラッチ機構

カートリッジの寸法は,互換性上必す(須)の箇所を規定し,それ以外の箇所は,機能的特性だけを示

す。カートリッジの寸法を

図 4∼図 20 に示す。

寸法は,三つの直交する基準面 A,基準面 B 及び基準面 C に基づく(

図 参照)。カートリッジを装着

した場合,寸法は,カートリッジの他の面を基準としてもよい。カートリッジのケースの寸法を

図 4∼図

14

に示す。

図 4  カートリッジの外観

図 5  ケースの前面

図 6  ケースの上面

図 7  ケースの後面

図 8  ケースの底面

図 9  ケースの側面

図 10  図 の一部拡大図

図 11  位置決めノッチの拡大断面図

図 12  ケース開口部の詳細拡大図

図 13  ケースの底面図

図 14  くぼみ部分の拡大断面図

図 15  カートリッジが未装着の場合のカートリッジの部分拡大断面図

図 16  カートリッジが装着の場合のカートリッジの部分拡大断面図

図 17  リムの歯形図

図 18  リーダブロックの投影図と拡大断面図

図 19  リーダブロックへのテープの取付け

図 20  ケース内のリーダブロック

8.1

カートリッジの全体の寸法(図 及び図 7)  カートリッジの全体の寸法は,次による。

l

1

=125.00mm±0.32mm

l

2

=109.00mm±0.32mm

l

3

=24.50mm

mm

50

.

0

mm

32

.

0

+

ケース各部の丸みの半径は,次による。

r

1

≦3.00mm

r

2

≦4.00mm


13

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

r

3

≧3.00mm

8.2

書込み禁止機構(図 及び図 6)  書込み禁止機構は,書込み禁止状態を識別できる目印(例えば,

白い点)を付けた平らな表面を設けなければならない。

平らな表面は,ケースの前面の窓から取扱いができることとし,その窓の位置及び寸法は,次による。

l

4

=11.80mm±0.25mm

l

5

=15.60mm±0.25mm

l

6

= 7.40mm±0.25mm

l

7

=12.00mm±0.25mm

書込み禁止状態のとき,書込み禁止機構の平らな表面は,ケースの窓の奥にあるものとし,ケースの前

面からの距離は,次による。

l

8

≧2.55mm

書込み可能状態のとき,平らな表面は,ケースの前面から 0.25mm 以内とする。

書込み禁止機構が作動するのに要する力は,ケースの前面に平行に力を加えたとき,2N∼9N とする。

この規格では,

書込み禁止機構の実装方法を規定しない。

回転式であってもスライド式であってもよい。

窓を大きくしたり別の窓を設けても,ケースが汚れたり,きずがっかないようにしなければならない。

8.3

後面のラベル領域(図 及び図 7)  ケースの後面のラベル領域は,ラベルを保持する領域とし,単

一又は 2 か所とする。カートリッジは,この規格の要求事項のどちらかを適用する。

8.3.1

単一ラベル領域の適用  単一ラベル領域の適用は,次による。

l

9

= 7.00mm±0.25mm

l

10

=80.00mm

mm

30

.

0

mm

16

.

0

+

l

11

=12.30mm±0.25mm

l

12

= 0.50mm±0.25mm

r

4

≦ 1.00mm

l

74

l

75

l

76

は,規定しない。

8.3.2

2

か所のラベル領域の適用  2 か所のラベル領域の適用は,次による。

l

9

は,規定しない。

l

10

=80.00mm

mm

30

.

0

mm

16

.

0

+

mm

l

11

=12.30mm±0.25mm

l

12

= 0.50mm±0.25mm

l

74

=17.55mm±0.13mm

l

75

=21.97mm±0.25mm

l

76

= 2.41mm±0.13mm

r

4

≦ 1.00mm

8.4

上面のラベル領域(図 6)  ケースの上面のラベル領域は,ケースの上面から 0.50mm±0.25mm の

段差を設け,その位置,寸法及び丸みの半径は,l

9

l

10

r

4

及び次による。

l

13

=31.00mm±0.25mm

l

14

=75.00mm

mm

30

.

0

mm

16

.

0

+

8.5

ケース開口部(図 5,図 及び図 10)  ケースには,リーダブロックを挿入できる開口部を設ける

図 18 参照)。ケース開口部の位置,寸法,角部の丸みの半径及び切欠きは,次による。

l

15

= 4.70mm±0.25mm


14

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

l

16

=14.90mm±0.32mm

l

17

= 7.50mm±0.25mm

l

18

=87.10mm±0.25mm

l

19

= 4.00mm±0.25mm

r

5

= 4.00mm±0.25mm

α  =50°±1°

図 を右側から見たときのケース開口部の構造の拡大図を図 10 に示し,その寸法及び角度は,次による。

l

61

= 3.4mm±0.5mm

l

62

=16.9mm±0.5mm

l

63

= 3.0mm±0.5mm

l

64

=11.6mm±0.5mm

ω

1

=1°00´±30´

ω

2

=20°±2°

8.6

位置決めノッチ(図 8,図 及び図 11)  位置決めノッチは,ケースの底面の 2 か所に設け,その

位置,寸法及び角度は,次による。

l

20

=106.00mm±0.25mm

l

21

=  5.00mm±0.25mm

l

22

=  7.00mm±0.25mm

l

23

=104.00mm±0.25mm

l

24

=  2.50mm±0.25mm

β

 

=1°30´±30´

γ

 

=2°00´±30´

8.7

位置決め領域(図 8)  位置決めの領域は,ケースの底面の 3 か所に,底面からの深さ 0.25mm 以内

とした円形の位置決め領域 a

1

a

2

及び a

3

を設ける。

位置決め領域 a

1

及び a

2

の直径は,10.00mm±0.25mm とし,この中心の位置は,次による。

l

25

=108.50mm±0.25mm

l

26

=  3.50mm±0.25mm

l

27

=105.50mm±0.25mm

位置決め領域 a

3

の直径は,14.00mm±0.25mm とし,この中心の位置は,次による。

l

28

=31.25mm±0.25mm

l

29

=54.50mm±0.25mm

8.8

ケースの開口部周辺の内部構造(図 及び図 12)  ケース開口部周辺の内部構造は,図 及び図 12

に示すとおりとし,その位置,寸法及び角部の丸みは,次による(8.10 参照)

l

30

= 3.30mm±0.25mm

l

31

=18.40mm±0.25mm

r

6

= 1.50mm±0.25mm

r

7

= 1.50mm±0.25mm

ケースの傾斜の角度は,半径 r

6

で規定する円の接線とケースの側面との角度とし,その値は,次による。

λ

=40°00´±30´

8.9

ケースのその他の外形(図 9)  ケースのその他の外形の寸法は,次による。


15

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

l

32

=113.2mm±0.3mm

l

33

= 26.00mm±0.25mm

r

8

=145.50mm±0.25mm

r

9

=145.50mm±0.25mm

δ

=30°00´±30´

8.10

中心孔(図 8)  中心孔は,ケースの底面に設け,その中心の位置は,基準面 B からの距離 l

29

及び

基準面 A からの距離 l

34

とし,次による。

l

34

=61.00mm±0.25mm

中心孔の直径は,次による。

d

1

=43.5mm±2.0mm

図 に示す部分の二つの接線と中心孔の中心との角度  (

θ

)

は,次による。

θ

=16°00´±30´

8.11

スタッキングリブ(図 及び図 8)  二つの平行なスタッキングリブを底面に設け,その寸法は,次

による。

l

35

= 5.00mm±0.25mm

l

36

= 1.00mm±0.16mm

l

37

=74.50mm±0.25mm

スタッキングリブの位置は,次による。

l

38

=31.25mm±0.25mm

l

39

= 7.50mm±0.32mm

l

40

=79.50mm±0.25mm

8.12

リセス領域(図 13 及び図 14)  リセス領域は,ECCST ケースの底面に設け,その寸法は,次によ

る。

l

67

=61.50mm±0.25mm

l

68

= 5.00mm±0.25mm

l

69

= 0.45mm

mm

10

.

0

mm

20

.

0

+

µ

6

≦2.0°

r

16

≦0.25mm

r

17

≦0.10mm

リセス領域の位置は,l

20

及び次による。

l

70

=16.50mm±0.25mm

この領域は,CST については規定しない。

8.13

ケースの柔軟性  ケースの上面及び底面(図 参照)の柔軟性は,直角に力 を加えたときのたわ

み量とする。

8.13.1

要求事項  たわみ量は,次の要求事項を満たさなければならない。

ケースの上面のたわみ量:0.025 6Fd≦0.38+0.054F

ケースの底面のたわみ量:0.022 8Fd≦0.38+0.040F

ここに,

d

:  たわみ量 (mm)

F

: 4.5N≦F≦54.0N


16

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

8.13.2

試験方法  ケースの柔軟性の試験は,万能試験機を使用して圧縮モードで行う。適切なロードセル

を使用してケースの上面及び底面の測定点に,半径 10mm±1mm の点加重をかけて,たわみ量 を測定す

る。測定点の位置は,

図 6,図 及び次による。

l

65

:公称値 86.9mm

l

66

:公称値 54.5mm

8.14

リール(図 15 及び図 16)  ケースに組み込まれたリールを図 15 及び図 16 に示し,図 15 は,装着

していないときの寸法を示し,

図 16 は,装着したときの寸法を示す。図 15 及び図 16 は,スタッキングリ

ブを省略している。

8.14.1

ロック機構(図 16)  ロック機構は,ロック状態で次の要求事項を満たさなければならない。た

だし,この規格では,ロック機構の実装方法を規定しない。

−  ロック機構の傾斜の分解能は,6°以下とする。

−  テープの繰出し方向に,0.32N・m のトルクを加えたとき,10°を超えて回転してはならない。

ロック機構のボタンの材料は,二硫化モリブテンを (2±1) %含むナイロン 6/6 とする。

ボタンの寸法及び角度は,次による。

d

9

= 2.0mm±0.5mm

d

10

=10.0mm±0.2mm

ρ

=15°±2°

8.14.2

リールの回転軸  リールの回転軸は,平面 P(図 17 及び 8.14.7 参照)に直角で l

29

及び l

34

によって

規定した中心孔の中心を通らなければならない。

8.14.3

金属接合部(図 15)  ケースの裏面側のリールには,ステンレス鋼(JIS G 4303,SUS 410 又は SUS

416

)の金属接合部を挿入する。この金属接合部は,300N の引張り張力に耐えることとし,その寸法は,

次による。

d

2

=35.00mm

mm

20

.

0

mm

20

.

1

+

d

3

=11.15mm±0.05mm

e

1

= 1.51mm±0.10mm

直径 d

3

で規定する金属接合部の内側は,0.15mm 以内の精度でリールの回転軸と同心でなければならな

い。

金属接合部の表面は,平面 P に 0.15mm 以内の精度で平行でなければならない。

8.14.4

歯形リム(図 15)  歯形リムは,中心孔から取扱いができ,かつ,リールに設ける。その寸法及

びリムの傾き角は,次による。

d

4

=36.00mm

mm

50

.

0

mm

00

.

0

+

d

5

=41.00mm±0.25mm

ψ

=11°15´±5´

8.14.5

リールのハブ(図 15)  リールのハブの直径は,次による。

d

6

=50.0mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

ハブの寸法は,ハブの表面で測定し,次による。

l

41

=13.05mm

mm

20

.

0

mm

10

.

0

+

角部の丸みの半径は,次による。

r

10

≦0.08mm

ハブは,次の要求事項を満たさなければならない。


17

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

−  ハブの表面の平面度は,0.04mm 以内とする。

−  リムのピッチ線である平面 P(8.14.7 参照)とハブの表面との傾きは,0.07mm 以内とする。

−  直径 d

6

の軸に直角な二つの断面をとり,それぞれの直径の差と二つの断面間の距離との比率は,0.003

8

以下とする。

−  ハブの表面に沿った幅の変動率は,0.025mm/mm 以下とする。

−  歯形リムの歯のピッチ線(8.14.7 参照)に直角な円筒の変形の総計は,全円周にわたり 0.2mm 以下と

する。

8.14.6

相対位置

8.14.6.1

カートリッジが未装着の場合(図 15

ロック機構のボタンの先端から基準面 C までの距離は,次による。

l

42

=1.90mm

mm

40

.

1

mm

90

.

0

+

金属接合部の底面から基準面 C までの距離は,次による。

l

43

=0.4mm

mm

0

.

1

mm

5

.

0

+

8.14.6.2

カートリッジが未装着又は装着のいずれかの場合(図 15 及び図 16

−  金属接合部の底面から平面 P までの距離は,次による。

l

44

=2.27mm±0.12mm

−  リールのフランジ内側から平面 P までの距離は,次による。

l

45

=0.65mm±0.09mm

8.14.6.3

カートリッジが装着の場合(図 16

−  ロック機構のボタンの先端から基準面 C までの距離は,次による。

l

46

=8.10mm±0.35mm

−  ロック機構のボタンを l

42

の位置から l

46

の位置に移動させるのに要する力は,12.25N 以下とする。

−  テープの中心から基準面 C までの距離は,次による。

l

47

:公称値 12.25mm

−  基準面 C から平面 P(8.14.7 参照)までの距離は,次による。

l

60

=5.04mm±0.25mm

8.14.7

歯形リムの形状(図 17)  歯形リムの歯は,60 個からなり,その角度は,次による。その公差は,

累積してはならない。

6

°0′+5′

ピッチ径 d

5

の歯形の寸法及び角度は,次による。

l

48

:公称値 4mm

l

49

:公称値 2mm

φ

:公称値 30°

ピッチ線は,l

49

で規定する円周とし,このピッチ線を平面 P とする。

歯底の半径は,次による。

r

11

=0.2mm

mm

1

.

0

mm

0

.

0

+

歯先の半径は,次による。

r

12

≦0.25mm

8.15

リーダブロック(図 18)  リーダブロックの寸法及び角部の丸みの半径,直径及び角度は,次によ

る。


18

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

l

50

=31.80mm±0.04mm

l

51

= 6.8mm±0.1mm

l

52

=21.8mm±0.2mm

l

53

=10.93mm

mm

06

.

0

mm

08

.

0

+

l

54

= 5.46mm±0.10mm

l

55

= 6.00mm±0.25mm

l

56

=16.5mm

mm

0

.

0

mm

2

.

0

+

l

57

= 5.2mm±0.2mm

r

13

=25.00mm±0.25mm

r

14

= 1.4mm±0.2mm

r

15

= 5.50mm±0.25mm

d

7

= 7.0mm±0.2mm

d

8

= 4.0mm±0.2mm

µ

1

=90°±2°

µ

2

ο

ο

ο 0

3

8

+

µ

3

ο

ο

ο 0

3

44

+

8.16

リーダブロックへのテープの取付け(図 19)  テープをリーダブロックに取り付けるための円筒形

の挿入部品は,テープの全幅を巻き付けることができ,かつ,リーダブロックの表面から突き出てはなら

ない。

領域 Z でのテープの下側の縁(

図 16 参照)は,リーダブロックの端と 0.12mm 以内で平行とし,テープ

に張力を加えたときの距離は,次による。

l

58

=1.90mm±0.26mm

テープをリーダブロックに取り付けたとき,リーダブロックの表面からのテープ先端の突出し量は,次

による。

l

59

≦2.5mm

図 16 に示す角度

µ

4

でテープに 10N の力を加えたとき,リーダブロックとテープとは,結合を維持しな

ければならない。

µ

4

=38°±2°

8.17

ラッチング機構(図 20)  この規格では,リーダブロックの位置及び引出し力を規定する。ただし,

リーダブロックへのラッチング機構の実装方法は,規定しない。

リーダブロックをケース内にラッチしているとき,l

51

及び l

54

図 18 参照)で規定する交点は,l

17

及び

l

18

図 参照)で規定する二つの直線の交点を中心とした直径 0.5mm 以下の円内になければならない。

リーダブロックとこれに結合しているテープとをカートリッジから引き出すのに要する力は,次の要求

事項を満たさなければならない。

− 2.0N∼7.5N の範囲とする。

−  引き出すのに要する力の最大値と移動した距離との積は,13N・mm 未満とする。

リーダブロックをケースに挿入するのに要する力を測定する場合,その角度及び引張速度は,引出

しに要する力を測定するときと同じとする。試験方法は,次による。


19

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

引出し点から,角度

µ

5

図 20 参照)でリーダブロックを引っ張ることができる万能試験機にカートリッ

ジを取り付ける。リーダブロックの引出し点は,l

17

及び l

18

の交点とする。引張速度は,10mm/min とし,

引張ピンによって,リーダブロックを引っ張る。力が最初に 0.5N を超える点と引張力が最大となる点との

距離を測定する。直径 d

7

及び直径 d

8

図 18 参照)にかん(嵌)合するピンを用いて測定する。

挿入力,すなわち,リーダブロックをカートリッジのラッチ位置に押し込む力は,角度

µ

5

で測定したと

き,12N 以下とする。

µ

5

=48°±3°

8.18

テープの巻き方  テープは,カートリッジを上から見たとき,リールに記録面を内側にして反時計

方向に巻かなければならない。

8.19

テープの巻き張力  テープの巻き張力は,次による。

CST

テープ

:2.2N±0.3N

ECCST

テープ

:1.8N±0.3N

8.20

テープの巻きの円周  リールに巻かれたテープの外側の円周は,次による。

CST

テープ

:280mm∼307mm

ECCST

テープ

:310mm∼314mm

8.21

慣性モーメント  慣性モーメントは,ハブ付きのリールにテープを巻いた状態で軸の周りを自由に

回転するトルクと,この軸の角速度との比とし,その値は,次による。

−  テープの巻きの円周が 280mm 以上,289mm 未満のとき,145×10

-6

kg

・m

2

∼180×10

-6

kg

・m

2

とする。

−  テープの巻きの円周が 289mm 以上,298mm 未満のとき,160×10

-6

kg

・m

2

∼195×10

-6

kg

・m

2

とする。

−  テープの巻きの円周が 298mm 以上,307mm 未満のとき,180×10

-6

kg

・m

2

∼216×10

-6

kg

・m

2

とする。

−  テープの巻きの円周が 310mm 以上,314mm 未満のとき,190×10

-6

kg

・m

2

∼240×10

-6

kg

・m

2

とする。

−  空リールのとき,33.00×10

-6

kg

・m

2

±3.63×10

-6

kg

・m

2

とする。

試験方法は,次による。

慣性試験機にリールを載せて振動させる。振動周期は,ユニバーサルカウンタで計測する。振動時間か

ら回転の慣性値に変換する。

8.22

カートリッジケースの配色  ECCST ケースの底面(図 参照)は,JIS X 6123 で規定するカートリ

ッジと目視で区別できるようにケース上半部の色と相違しなければならない。カートリッジの底面は,基

準面 C に平行な面の下部のすべての部分とする。この面は,l

9

l

12

で規定するラベル領域の端から下面と

し,基準面 C から上面とする。色調は,Macrolon FCR2405-3091 による色及び輝度とする。

参考  底面の色のサンプル (Macrolon FCR2405-3091) は,Mobay Corporation, Mobay Road, Pittsburg, PA.

USA15205-9741

で入手可能である。


20

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 4  カートリッジの外観 

図 5  ケースの前面


21

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 6  ケースの上面 

図 7  ケースの後面


22

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 8  ケースの底面 

図 9  ケースの側面


23

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 10  図 の一部拡大図 

図 11  位置決めノッチの拡大断面詳細図 

図 12  ケース開口部の詳細拡大図


24

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 13  ケースの底面図 

図 14  くぼみ部分の拡大断面図 (B-B)


25

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 15  カートリッジが未装着の場合のカートリッジの部分拡大断面図 

図 16  カートリッジが装着の場合のカートリッジの部分拡大断面図 

図 17  リムの歯形詳細図 


26

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 18  リーダブロックの投影図と拡大断面図


27

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 19  リーダブロックへのテープの取付け 

図 20  ケース内のリーダブロック

9.

記録方式  記録方式は,次による。

“0”は,ビットセル先頭の磁束反転で表し,ビットセルの中央で反転しない。

“1”は,ビットセル先頭及びビットセル中央の磁束反転で表す。

9.1

記録密度  記録密度は,次による。

“0”の連続パターン:1 944ftpmm

“1”の連続パターン: 972ftpmm

9.2

ビットセル長  公称ビットセル長は,1.029

µm とする。


28

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

9.3

平均ビットセル長  平均ビットセル長は,ビットセル長の合計を で除す。

9.3.1

長周期平均ビットセル長  長周期平均ビットセル長は,連続する 972 000 ビットセル以上にわたる

平均とし,その値は,公称ビットセル長の (100±4)%とする。

9.3.2

短周期平均ビットセル長  短周期平均ビットセル長は,16 ビットセルにわたる平均とし,その値

は,公称ビットセル長の (100±7)%とする。

9.4

短周期平均ビットセル長の変動率  短周期平均ビットセル長の変動率は,図 21 で規定したとき,

1.6%

を超えてはならない。

T

n

T

n

1

←64 ビット→ ←64 ビット→

( )

%

6

.

1

100

1

×

+

n

n

n

T

T

T

ここに,

T

n

は,最初に 64 ビットを測定した時間

T

n

1

は,次の 64 ビットを測定した時間

図 21  短周期平均ビットセル長の変動率

9.5

ビットセルのピーク位置  ビットセルのピーク位置の最大変動は,次の方法で測定したとき,30%

以内とする。

a)

測定する領域に“1”の連続パターンを記録する。

b)

ミッシングパルスのない 64 ビットの連続したサンプルを測定する。このサンプルの前後には,5 ビッ

ト以上の“1”がなければならない。

c)

平均ビットセル長位置は,64 ビットセル長を 63 で除した値とする。任意のビットセル位置は,公差

を含めて 64 ビットセル長以内とする。

9.6

ビットシフト  ミッシングパルスがない状態で,“1”のゼロ交差点は,平均ビットセル長によって

規定した公称位置から,28%を超えてはならない(

附属書 参照)。

9.7

トータルキャラクタスキュー  同一のコラムに属するすべてのビットの変位は,テープの基準縁

10.2 参照)に平行に測定したとき,19 ビットセル長を超えてはならない。

9.8

再生信号振幅  再生信号振幅は,記録密度 972ftpmm で連続する 4 000 磁束反転以上にわたり再生し

た出力の平均値とし,その値は,SRA の 60%∼150%とする。この測定は,ブロックごとに分割して行っ

てもよい。

SRA

は,副標準テープの校正値から求める。

9.9

同時発生ミッシングパルス領域  ブロックは,同時発生ミッシングパルス領域に記録してはならな

い。この領域は,13.4 の規定によって消去しなければならない。

10.

トラックフォーマット

10.1

トラック数  トラック数は,1 から 36 に番号付けした 36 とする。

10.2

トラック位置  各トラックの中心線と基準縁との間隔は,次による。


29

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

トラック番号

トラック中心線と基準縁との間隔 mm

1 11.838

±0.040

2 11.523

±0.040

3 11.208

±0.040

4 10.893

±0.040

5 10.578

±0.040

6 10.263

±0.040

7 9.948

±0.040

8 9.633

±0.040

9 9.318

±0.040

10 9.003

±0.040

11 8.688

±0.040

12 8.373

±0.040

13 8.058

±0.040

14 7.743

±0.040

15 7.428

±0.040

16 7.113

±0.040

17 6.798

±0.040

18 6.483

±0.040

19 6.168

±0.040

20 5.853

±0.040

21 5.538

±0.040

22 5.223

±0.040

23 4.908

±0.040

24 4.593

±0.040

25 4.278

±0.040

26 3.963

±0.040

27 3.648

±0.040

28 3.333

±0.040

29 3.018

±0.040

30 2.703

±0.040

31 2.388

±0.040

32 2.073

±0.040

33 1.758

±0.040

34 1.443

±0.040

35 1.128

±0.040

36 0.813

±0.040

10.3

トラック幅  書き込んだトラック幅は,0.285mm±0.012mm とする。

10.4

アジマス  トラックを横切る磁束反転と基準縁に直角な直線との傾きは,3′を超えてはならない。

参考  テープに書き込むときのアジマスは,2.5′未満が望ましい。残りの 0.5′は,環境条件及び経

時変化によって生じるテープの変形に対する許容差とすることが望ましい。

10.5

トラックの識別  36 トラックは,18 トラックずつのハーフラップ 1 及びハーフラップ 2 と呼ぶ二組

に分割する。ハーフラップ 1 は,奇数のトラック番号のトラックで構成し,ハーフラップ 2 は,偶数のト

ラック番号のトラックで構成する(

図 22 参照)。


30

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

ハーフラップトラック番号

トラック番号

ハーフラップ 1

ハーフラップ 2

1 1

2  1

3 2

4  2

5 3

6  3

7 4

8  4

9 5

10  5

11 6

12  6

13 7

14  7

15 8

16  8

17 9

18  9

19 10

20  10

21 11

22  11

23 12

24  12

25 13

26  13

27 14

28  14

29 15

30  15

31 16

32  16

33 17

34  17

35 18

36  18

図 22  トラックとハーフラップトラックの関係

11.

パケットフォーマット  記録するデータをフォーマットする前に,LDR は,1 対 1 のパケットにする。

パケットは,非圧縮又は圧縮したユーザデータを含むことができる(

図 23 及び附属書 参照)。

11.1

パケット  パケットは,次による。

−  パケット ID

− UDR

−  パケットトレーラ


31

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

パケット ID UDR

パケットトレーラ

←パケットデータフィールド→

図 23  パケットフォーマット

11.2

パケット ID  パケット ID は,番号 1∼32 の 32 バイトからなり,圧縮処理をしてはならない。パケ

ット ID は,次による。

バイト 1∼6

パケットブロック ID とする。

バイト 1

ビット 1∼7

“0100000”に設定する。

ビット 8

パケットをハーフラップ 1 に記録する場合,“0”に設定する。

パケットをハーフラップ 2 に記録する場合,“1”に設定する。

バイト 2

ビット 1

パケットをハーフラップ 1 に記録する場合,“0”に設定する。

パケットをハーフラップ 2 に記録する場合,“1”に設定する。

ビット 2∼8

テープの物理的位置表示の値を 2 進数で表す。

算出方法は,

附属書 による。

バイト 3∼6

パケット番号を 2 進数で表す。パケット番号は,最初の UDR,VOLID マーク

後の IBG に続くテープマーク又は ID セパレータマークについて,“0”に設

定する。パケット番号は,各 UDR,テープマーク及びデータブロックの終了

によって 1 ずつ増加する。

バイト 7∼10

パケットデータフィールドのデータバイトの総数から 1 を引いた値を 2 進数で

表す。

バイト 11

パケットトレーラのバイトの総数を 2 進数で表す。バイト 7∼10 とバイト 11

の和は,パケットのバイト総数から 1 を引いた値とする。

バイト 12

ビット 1

パケットがデータブロックの最終パケットでない場合,“0”に設定し,最終

パケットの場合,“1”に設定する。

ビット 2

データが圧縮処理されていない場合,“0”に設定し,圧縮処理されている場

合,“1”に設定する。

ビット 3∼8

すべて“0”に設定する。

バイト 13

バイト 12 のビット 2 が,“0”の場合,すべて“0”に設定する。バイト 12

のビット 2 が“1”の場合,バイト 13 は,UDR の圧縮処理に使用したアルゴ

リズムの識別子(ISO/IEC 11576 による。)を示す 2 進数とする。

バイト 14∼30

すべて“0”に設定する。

バイト 31, 32

CRC

バイト 1 及び CRC バイト 2 とし,直前のバイトについて

附属書 に示す

とおりに順番に算出する。入力は,CRC 文字生成器で処理する前に反転する。

CRC

文字の各ビットは,パケット ID のバイトの残りを加える前に反転する。

11.3

  UDR

  UDR は,パケット ID のバイト 12 のビット 2 の指定に従い,圧縮データ又は非圧縮データか

らなる。一つの論理データレコードの非圧縮ユーザバイト数は,このフォーマットでは,最大 262 144 バ

イトまでとする。


32

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

11.4

パケットトレーラ  パケットトレーラは,圧縮時及び非圧縮時のパケットトレーラの二つの形式と

する。パケットトレーラバイトは,圧縮処理をしてはならない。

11.4.1

   

圧縮時のパケットトレーラ  圧縮時のパケットトレーラの長さは,10∼41 バイトとする。

バイト 1∼4

パケット内の LDR(圧縮処理前)のバイト数を 2 進数で表す。

バイト 5,6

パケット内の LDR(圧縮処理前)を

附属書 に示すとおりに順番に算出した CRC

バイト 1 及び CRC バイト 2 とする。

バイト 7,8

パケット内の UDR(圧縮処理後)及びパケットトレーラの最初の 6 バイトについ

附属書 に示すとおりに順番に算出した CRC バイト 1 及び CRC バイト 2 とす

る。

パッドバイト

パケット全体のバイト数が 32 の整数倍になるように,パケットトレーラにパッド

バイトを 0∼31 バイトの範囲で付加する。

パケットトレーラ CRC バイト

パケットトレーラの最終の 2 バイトは,CRC バイト 1 及び CRC バイト 2 とする。

CRC

バイト 1 及び CRC バイト 2 は,UDR(圧縮処理後)及びパケットトレーラ内

の直前のバイトまでを

附属書 に示すとおりに順番に算出する。

CRC

を生成するデータは,反転した後 CRC を算出する。

CRC

文字の各ビットは,反転した後パケットトレーラのバイトに付加する。

11.4.2

非圧縮時のパケットトレーラ  非圧縮時のパケットトレーラの長さは,2∼33 バイトとする。

パッドバイト

パケット全体のバイト数が 32 の整数倍になるように,パケットトレーラにパッド

バイトを 0∼31 バイトの範囲で付加する。

パケットトレーラ CRC バイト

パケットトレーラの最終の 2 バイトは,CRC バイト 1 及び CRC バイト 2 とする。

CRC

バイト 1 及び CRC バイト 2 は,LDR 及びパケットトレーラ内の直前のパッド

バイトまでを

附属書 に示すとおりに順番に算出する。

CRC

を生成するデータは,反転した後 CRC を算出する。

CRC

文字の各ビットは,反転した後パケットトレーラのバイトに付加する。

12.

データブロックの様式

12.1

データ部  データブロックのデータ部は,一つ又は順番に連結した複数のパケット及びカウントフ

ィールド及びプロッタ ID からなる。

データブロックのデータ部のバイトは,データバイトと呼び,パケットバイト,カウントフィールドバ

イト及びブロック ID バイトからなる(

図 24 参照)。

図 24  データブロックのデータ部

連結したパケットのバイト総数は,461 824 バイトを超えてはならない。連結したパケットの数は,2 048

を超えてはならない。パケットの連結は,テープマークを記録するとき終了しなければならない。パケッ

トの連結は,その他適当な理由があるとき,パケットの境界で終了しなければならない。


33

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参考  データブロックの大きさは,128K バイトまでを推奨する。

12.1.1

パケットバイト  パケットバイトは,UDR バイト,パケット ID バイト及びパケットトレーラバイ

トからなる。

12.1.2

カウントフィールドバイト  カウントフィールドバイトは,6 バイトからなり,最後のパケットト

レーラバイトの次に位置する。

バイト 1, 2

データブロックに含まれるパケットの数を 2 進数で表す。

バイト 3∼6

圧縮処理前に算出した数値を 2 進数で表し,次による。

データブロックの各 LDR について,バイト数を 32 で割った商を小計する。ただし,

余りがある場合は,商に 1 を加えた数を小計する。小計を総和し,記録値とする。

12.1.3

ブロック ID バイト  ブロック ID バイトは,4 バイトからなり,カウントフィールドバイトの次に

位置する。ビットは,1(最上位ビット)から 32(最下位ビット)までの番号を付ける。

ビット 1

ハーフラップ 1 に記録する場合,“0”に設定し,ハーフラップ 2 に記録する場合,

“1”に設定する。

ビット 2∼8

テープの物理的位置表示の値を 2 進数で表す。算出方法は,

附属書 による。

ビット 9

“0”に設定する。

ビット 10

“1”に設定する。

ビット 11∼32

データブロックの最初のパケットのパケットブロック ID と同じ値を 2 進数で表す

11.2 のバイト 3∼6 参照)。

12.2

データバイトのフレームへの割当て  データバイトは,検査文字を含めてフレームというグループ

に配列する。フレームは,定められたビットパターンをもった付加バイト群とともに,一定の順序で配列

する。このように配列したデータバイト及び付加バイトを規定のコード化法(

附属書 参照)でテープに

記録する。

フレームは,1 トラック当たり 1 バイトの論理的に関連する 8 ビットバイトからなる 18 個のハーフラッ

プトラックとする。フレーム内の各バイトは,トラックに沿って記録する(

図 25 参照)。


34

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図 25  フレーム

データブロックのフレームは,次の 4 種類とする。

  接頭辞フレーム

  データフレーム

  剰余フレーム

  接尾辞フレーム

データブロックフレームは,次のバイトとする。

  データバイト

  パッドバイト

  剰余バイト

  ECC バイト

  CRC バイト

データブロックは,

図 26 に示す構成とする。

  接頭辞フレーム:最初の 2 フレームとする。

  データフレーム:クラスタ内でグループ化したデータバイトを含むフレームとする。

  剰余フレーム  :剰余フレーム 1 及び剰余フレーム 2,又は剰余フレーム 2 だけとする。

  接尾辞フレーム:最後の 2 フレームとする。


35

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 26  データブロック

12.2.1

接頭辞フレーム  接頭辞フレームは,18 個のハーフラップトラックに,パッドバイトからなる 2

フレームとする。

12.2.2

データフレーム  各データフレームは,次による(図 27 参照)。

−  ハーフラップトラック 1∼13 の奇数トラックに記録する 7 個の連続パケットバイト

−  ハーフラップトラック 2∼14 の偶数トラックに記録する次の 7 個の連続パケットバイト

−  ハーフラップトラック 15 に記録する ECC バイト 2

−  ハーフラップトラック 16 に記録する ECC バイト 3

−  ハーフラップトラック 17 に記録する ECC バイト 1

−  ハーフラップトラック 18 に記録する ECC バイト 4

データブロックの最初のデータフレームは,データブロックの最初の 14 パケットバイトとする。

データフレームは,次のクラスタに分割する。

−  最初のクラスタは,パケットバイトの 69 フレームまでとする。

−  次のクラスタは,パケットバイトの 71 フレームとする。

−  最後のクラスタは,パケットバイトの 71 フレームまでとする。


36

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図 27  データフレーム

12.2.3

剰余フレーム 1  最後のデータクラスタのデータフレームの後に,残りのデータバイトの数が 12

バイト又は 13 バイトのとき,

剰余フレーム 1 を設ける。

残りのデータバイトの数が 12 バイト未満のとき,

剰余フレーム 1 は,設けない。剰余フレーム 1 は,次による(

図 28 参照)。

− 12 バイト又は 13 バイトのデータバイト

−  残りのデータバイト数による 1 バイト又は 2 バイトのパッドバイト

−  ハーフラップトラック 15, 16, 17 及び 18 に ECC バイト


37

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 28  剰余フレーム 1

12.2.4

剰余フレーム 2  剰余フレーム 1 がない場合,残りのデータバイトの数が 11 バイト以下のときは,

これらのデータバイトに続けて,データバイトの数と付加パッドバイトの数の和が 11 バイトになるように,

トラック 1∼13 の奇数ハーフラップトラック及びトラック 2∼8 の偶数ハーフラップトラックに付加パッド

バイトを記録する。剰余フレーム 1 がある場合,トラック 1∼13 の奇数ハーフラップトラック及びトラッ

ク 2∼8 の偶数ハーフラップトラックに付加パッドバイトを記録する。

剰余フレーム 2 の構成は,次による(

図 29 参照)。

−  ハーフラップトラック 10 に剰余バイトを記録する(12.2.4.1 参照)

−  ハーフラップトラック 12 及びトラック 14 に,CRC バイト 1 及び CRC バイト 2 を記録する。

−  ハーフラップトラック 15, 16, 17 及び 18 に ECC バイトを記録する。


38

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図 29  剰余フレーム 2

12.2.4.1

剰余バイト  剰余バイトは,剰余フレーム 2 のハーフラップトラック 10 に記録し,次による。

ビット 1,2

規定しない。

“1”又は“0”のいずれでもよい。

ビット 3,4

“1”に設定する。

ビット 5∼8

剰余フレーム内の付加パッドバイトの総数を 2 進数で表す。

12.2.4.2

巡回冗長検査 (CRC) 文字  剰余フレーム 2 のハーフラップトラック 12 及び 14 は,それぞれ CRC

バイト 1 及び CRC バイト 2 とする。CRC 文字は,パケットバイト,カウントバイト,ブロック ID バイト,

パッドバイト及び剰余バイトについて

附属書 に示す方法で算出する。CRC 文字の算出には,ECC バイ

トを含めない。

12.2.4.3

剰余フレームの要求事項のまとめ  剰余フレーム 1 及び剰余フレーム 2 の要求事項のまとめを表

1

に示す。


39

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

表 1  剰余フレームの要求事項

最終データフレームの後
に残るデータバイト数

剰余フレーム 1

剰余フレーム 2

ユ ー ザ
バイト

カウント 
フイールド 
バイト

ブ ロ ッ
ク ID 
バイト

パ ケ ッ
ト 
バイト

カウント 
フィールド 
バイト

ブ ロ ッ
ク ID 
バイト

付加 
パッド
バイト

パ ケ ッ
ト 
バイト

カウント
フィールド 
バイト

ブ ロ ッ
ク ID 
バイト

付加 
パッド 
バイト

剰余 
バイト

CRC

バイト

0 0 0

0 0 0

11

1

2

0 0 1

0 0 1

10

1

2

0 0 2

0 0 2

9

1

2

0 0 3

0 0 3

8

1

2

0 0 4

0 0 4

7

1

2

0 1 4

0 1 4

6

1

2

0 2 4

0 2 4

5

1

2

0 3 4

0 3 4

4

1

2

0 4 4

0 4 4

3

1

2

0 5 4

0 5 4

2

1

2

0 6 4

0 6 4

1

1

2

1 6 4

剰余フレーム 1 なし

1 6 4

0

1

2

2  6  4 2  6  4 2 0  0  0 11 1 2

3  6  4 3  6  4 1 0  0  0 11 1 2

12.2.5

接尾辞フレーム  接尾辞フレームは,18 個のハーフラップトラックにパッドバイトからなる 2 フ

レームとする。

12.3

誤り訂正符号 (ECC)   ECC バイトは,ECC バイトを除くデータブロックバイトから生成し,デー

タ読出し時に誤りの検出及び訂正に用いる。

誤り訂正符号は,リードソロモン符号とする。各フレームの 4ECC バイトは,誤り訂正符号発生回路(

30

参照)によって,ハーフラップトラック 1∼14 の 14 バイトから生成する。

ガロア体 GF (2

8

)

は,次の式によって算出する。

G (x)

x

8

x

4

x

3

x

2

+1

ガロア体 GF (2

8

)

の原始元

α

は,次の式による。

α

=  ( 0 0 0 0 0 0 1 0 )

α

7

α

6

α

5

α

4

α

3

α

2

α

1

α

0

生成多項式は,次による。

G (x)

x

4

α

75

x

3

α

249

x

2

α

78

x

α

6

図 30  誤り訂正符号発生回路

ここに,  ⃝

は EXCLUSIVE OR とする。

4ECC

バイト(ECC1, ECC2, ECC3 及び ECC4)は,それぞれハーフラップトラック 17, 15, 16 及び 18 に

記録する。

12.4

テープへの ビットバイトの記録  接頭辞フレーム,データフレーム,剰余フレーム及び接尾辞フ

レームの ECC バイトを含む 8 ビットバイトは,テープ上では 9 ビットパターンで表す。


40

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

各 8 ビットバイトの 9 ビットパターンでの表現は,

附属書 による。9 ビットパターンの最上位のビッ

トは,最初に記録する。

12.5

記録データブロック  各データブロックは,図 31 に示す構成でテープに記録し,記録データブロッ

クとする。

ハーフラップ 1 は,ハーフラップ 2 にデータを書き込む前に完全に記録しなければならない。

図 31  記録データブロック

ここに, Dir:

ハーフラップ 1 のとき“0”

ハーフラップ 2 のとき“1”

**:

ハーフラップ 1 のとき (40)

ハーフラップ 2 のとき (41)

*  :

この位置の再同期制御フレームの有無は,直前のフレーム数
による(12.5.3 参照)

12.5.1

プリアンブル  プリアンブルは,全ハーフラップトラックに 9 ビットパターン“111111111”を記

録した 9∼13 フレームとする。

12.5.2

データ開始マーク (BDM)   BDM は,全ハーフラップトラックに 9 ビットパターン“100010001”

を記録した 2 フレームとする。

12.5.3

再同期制御フレーム  再同期制御フレームは,全ハーフラップトラックに 9 ビットパターン

“100010001”を記録した 1 フレームとし,各クラスタの後に記録する。ただし,データ終了マーク (EDM)

の直前の場合,再同期制御フレームを記録してはならない。EDM の最初のフレームを再同期制御フレーム

の代替えとする。

12.5.4

データ終了マーク (EDM)   EDM は,全ハーフラップトラックに 9 ビットパターン“100010001”

を記録した 2 フレームとする。

12.5.5

ポストアンブル  ポストアンブルは,全ハーフラップトラックに 9 ビットパターン“111111111”

を記録した 9∼13 フレームとする。


41

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

12.6

最大データ密度  ECC バイト,8 ビットから 9 ビットへの変換及び再同期制御フレームの挿入によ

って,ハーフラップでのデータバイト数の最大密度は,14×972× (1/8) × (8/9) × (71/72) =1 491 バイ

ト/mm となる。

ここに, 14:

1

フレーム当たりのバイト数

972

オール“1”パターンの長さ 1mm 当たりの磁束反転数

1/8

  1

バイト当たりのビット数の逆数

8/9

 12.4

の記録方法に対応

71/72

再同期制御フレームに対応

13.

テープフォーマット  テープフォーマットは,記録データブロックの区別及び/又は認識のために,

次のマーク及びギャップによって定義する。

記録密度識別マーク

ID

分離マーク

IBG

消去ギャップ

テープマーク

ラップマーク

VOLID

マーク

マーク及びギャップは,ハーフラップトラック群の領域に書き込むオール“1”又はトーンパターンの組

合せとする。

トーンは,テープ上に 6 ビットパターン“100000”の繰返しとする。

13.1

領域  18 ハーフラップトラックは,次の 6 領域に分割する。

領域 A:ハーフラップトラック 1, 7, 13

領域 B:ハーフラップトラック 2, 8, 14

領域 C:ハーフラップトラック 3, 9, 15

領域 D:ハーフラップトラック 4, 10, 16

領域 E:ハーフラップトラック 5, 11, 17

領域 F:ハーフラップトラック 6, 12, 18

13.2

記録密度識別マーク  記録密度識別マークは,次による。

ハーフラップ 1:領域 B, C, E にオール“1”を記録する。

領域 A, D, F にトーンを記録する。

ハーフラップ 2:全領域にオール“0”を記録する。

記録密度識別マークは,次の二つのモードのどちらかによる。モード 1 は,VOLID を書き込まないとき

に使用し,モード 2 は,VOLID を書き込むときに使用する。VOLID の使用は,任意とする(

図 32 参照)。


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X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 32  VOLID マークと記録密度識別マーク

VOLID

を書き込まないとき,

CST

テープの記録密度識別マークの長さは,

公称 2 375mm,

最小 2 250mm,

最大 3 060mm とする。

VOLID

を書き込むとき,CST テープの記録密度識別マークの長さは,公称 2 195mm,最小 2 070mm,

最大 2 880mm とする。

CST

テープにオール“0”パターンを書き込む領域は,リーダブロックから最小 4.50m の距離から始ま

り,ハーフラップ 2 の BOT までとする。記録密度識別マークは,リーダブロックから最大 1.34m の距離

から始まり,VOLID マークがない場合,リーダブロックから最小 3.28m までとし,VOLID マークがある

場合,リーダブロックから最小 3.18m までとする。

ECCST

テープでは,VOLID の有無にかかわらず記録密度識別マークの長さは,公称 1 056mm,最小 1

003mm

,最大 1 714mm とする。

ECCST

テープにオール“0”パターンを書き込む領域は,リーダブロックから最小 8.75m の距離から始

まり,ハーフラップ 2 の BOT までとする。記録密度識別マークは,リーダブロックから最大 6.94m の距

離から始まり,リーダブロックから最小 7.38m までとする。

記録密度識別マーク及びオール“0”パターンは,通常リーダブロックに最も近く最初に記録する。ハー

フラップ 1 の最初の 25mm までは,記録密度識別マークパターン以外の情報を含んでいてもよい。

13.3

  VOLID

マーク  VOLID マークは,使用する場合,ID 分離マーク後の IBG 直後とする。

VOLID

マークは,マークの組合せとし,カートリッジのボリューム識別のデータとする。マークは,IBG

13.5 参照)で分離される VOLID“0”と“1”を区別する。VOLID マークは,通常の消去ギャップ(13.6.1

参照)で完了し,次に IBG が続く。

VOLID

“0”及び“1”は,次による。

領域 B, C, F にオール“1”を記録する。

領域 A, D, E にトーンを記録する。

VOLID

“1”の長さは,公称 1.00mm,最小 0.95mm,最大 1.05mm とする。

VOLID

“0”の長さは,公称 0.50mm,最小 0.47mm,最大 0.53mm とする。

VOLID

マークの IBG パターンの長さは,公称 2.0mm,最小 1.9mm,最大 2.1mm とする。

VOLID

マークは,73 個の VOLID ビットとし,次による。

VOLID

ビット 1∼48

カートリッジのボリューム識別名を表し,VOL1 ヘッダがある場合,

VOL1

ヘッダレコードのバイト 5∼10 と同一とする。VOL1 ヘッダのバ

イトの規定は,JIS X 0601 による。

VOLID

ビット 49∼56

カートリッジのボリュームアクセス条件を表し,VOL1 ヘッダレコード


43

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

がある場合,VOL1 ヘッダレコードのバイト 11 と同一とする。

VOLID

ビット 57∼64 VOL1 ラベルがある場合,適合するラベル規格番号を表す。VOL1 ヘッ

ダレコードのバイト 80 と同一とする。

VOLID

ビット 65 VOLID ビット 1∼64 が JIS X 0201 に適合している場合,“1”に設定す

る。適合していない場合,“0”に設定する。

VOLID

ビット 66∼73 VOLID ビット 1∼65 についての 8 ビットの CRC とし,次の生成多項式

による短縮したハミング符号とする。

G (x)

=1+xx

3

x

4

x

7

x

8

ここに,  P(x)=1+x

3

x

7

の原始多項式

ハミング符号は,127, 119 から 73, 65 に短縮する。

VOLID

マークは,オプションであり,73 ビットとする。

13.4

  ID

分離マーク  ID 分離マークは,次による。

全領域にオール“1”を記録する。

ID

分離マークの長さは,公称 2.0mm,最小 1.9mm,最大 2.1mm とする。

ID

分離マークは,ハーフラップ 1 の記録密度識別マークの直後に記録し,後に続く IBG と記録密度識

別マークを分離する。

13.5

ブロックギャップ (IBG)  IBG は,次による。

領域 A,D,F にオール“1”を記録する。

領域 B,C,E にトーンを記録する。

IBG

の長さは,公称 2.0mm,最小 1.6mm,最大 3.0mm とする。

IBG

の全トラックでの不連続な部分の長さ(例えば,起動/停止モードに起因)は,0.03mm を超えて

はならない。この不連続な部分は,記録データブロックのプリアンブルの手前の 0.5mm 以内,又はポスト

アンブルの後の 0.5mm 以内に存在してはならない。

IBG

は,ID 分離マークの直後に記録する。IBG は,各記録データブロック,各消去ギャップ,各テープ

マーク,各ラップマーク,各 VOLID マーク,及び EDM の前後に記録する。最終テープマークの後に EDM

が続いていないとき,IBG は,テープ上の最終テープマークの後に必要としない。局部的な IBG を,最終

テープマークの後に記録するとき,IBG の長さは,0.5mm 以上とする。ハーフラップ 2 の最初のラップマ

ークに先行する IBG は,局部的な IBG としてもよい。そのとき,IBG の長さは,0.5mm 以上とする。

13.6

消去ギャップ  消去ギャップは,次による。

領域 B,C,F にオール“1”を記録する。

領域 A,D,E にトーンを記録する。

消去ギャップは,正しく書き込めなかった箇所の長さ,又は消去命令による長さに記録する。

13.6.1

通常消去ギャップ  通常消去ギャップの長さは,公称 7.8mm,最小 7.4mm,最大 8.2mm とする。

通常消去ギャップは,欠陥箇所を避けるため,IBG で分離し,50 回まで連続記録してもよい。

13.6.2

拡張消去ギャップ  拡張消去ギャップの長さは,200mm 以下とする。

拡張消去ギャップは,通常消去ギャップ及び/又は後に続く IBG が認識されない場合に記録する。拡張

消去ギャップの内部に,長さが 1mm 以下の IBG が部分的に存在してもよい。

13.7

テープマーク  テープマークは,次による。

領域 B,D,E にオール“1”を記録する。

領域 A,C,F にトーンを記録する。


44

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

テープマークの長さは,公称 1.0mm,最小 0.7mm,最大 1.3mm とする。

テープマークの使用法は,JIS X 0601 による。

13.8

ラップマーク  ラップマークは,次による。

領域 A,C,E にオール“1”を記録する。

領域 B,D,F にトーンを記録する。

ラップマークは,ハーフラップ 1 の最後のデータの後とハーフラップ 2 の最初のデータの前に,

図 33

に示すとおり記録する。

データ IBG ラ ッ プ

マ ー ク

1

IBG

ラ ッ プ
マ ー ク

2

IBG

ラ ッ プ
マ ー ク

3

IBG

ハーフラップ 1

データ IBG ラ ッ プ

マ ー ク

3

IBG

ラ ッ プ
マ ー ク

2

IBG

ラ ッ プ
マ ー ク

4

IBG

ハーフラップ 2

→EOT

図 33  ラップマークの順序

ラップマーク 1 の長さは,公称 10.0mm,最小 9.0mm,最大 11.0mm とする。

ラップマーク 2 の長さは,公称 6.0mm,最小 5.2mm,最大 6.8mm とする。

ラップマーク 3 の長さは,公称 10.0mm,最小 9.0mm,最大 11.0mm とする。

ラップマーク 4 の長さは,公称 10.0mm,最小 9.0mm,最大 11.0mm とする。

ラップマーク 3 は,後に続く IBG の読取りチェックに失敗したときに,公称 10.0mm の長さに加えて

3.0mm

±0.3mm の 3 倍の長さまで拡張してもよい。最大 3 倍の長さまで拡張したとき,ラップマーク 3 の

長さは,20.9mm 以下とする。ラップマークを最大に拡張した場合,有効な IBG は,ハーフラップ 1 では

ラップマーク 3 の後に必要ではなく,又はハーフラップ 2 ではラップマーク 4 の前に必要としない。

ラップマーク 4 は,ハーフラップ 1 のラップマーク 3 と同じ長さに拡張し,ハーフラップ 1 のラップマ

ーク 3 に隣接する。

EOT

直前の IBG は,公称の長さより短くてもよいが,ラップマーク 3 とラップマーク 4 が最大に拡張し

ない限り,0.50mm 以上とする。

13.9

マークの伸長  IBG が,消去ギャップ,テープマーク,ラップマーク,又は VOLID マークに先立つ

か続く場合,次に示すとおりに,制御ブロックの 9 トラックのトーンパターンの内の 6 トラックのパター

ンは,他方の制御ブロックのオール“1”パターンの中まで伸ばさなければならない(

図 34 参照)。

13.9.1

  IBG

に続くテープマーク

ハーフラップトラック 1,6,7,12,13 及び 18

− IBG の最後の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック 2,5,8,11,14 及び 17

−  テープマークの最初の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

13.9.2

テープマークに続く IBG

ハーフラップトラック 1,6,7,12,13 及び 18

− IBG の最初の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック 2,5,8,11,14 及び 17

−  テープマークの最後の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

13.9.3

  IBG

に続く消去ギャップ

ハーフラップトラック 1,4,7,10,13 及び 16


45

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

− IBG の最後の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック 2,3,8,9,14 及び 15

−  消去ギャップの最初の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

13.9.4

消去ギャップに続く IBG

ハーフラップトラック 1,4,7,10,13 及び 16

− IBG の最初の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック 2,3,8,9,14 及び 15

−  消去ギャップの最後の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

13.9.5

  IBG

に続くラップマーク

ハーフラップトラック 4,6,10,12,16 及び 18

− IBG の最後の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック 3,5,9,11,15 及び 17

−  ラップマークの最初の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

13.9.6

ラップマークに続く IBG

ハーフラップトラック 4,6,10,12,16 及び 18

− IBG の最初の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック 3,5,9,11,15 及び 17

−  ラップマークの最後の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

13.9.7

  IBG

に続く VOLID マーク“1”又は“0

ハーフラップトラック 1,4,7,10,13 及び 16

− IBG の最後の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック 2,3,8,9,14 及び 15

− VOLID マークの最初の 18 個のオール“1”又は“0”を 18 個のトーンビットで置き換える。

13.9.8

  VOLID

マーク“1”又は“0”に続く IBG

ハーフラップトラック 1,4,7,10,13 及び 16

− IBG の最初の 18 個のオール“1”を 18 個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック 2,3,8,9,14 及び 15

− VOLID マークの最後の 18 個のオール“1”又は“0”を 18 個のトーンビットで置き換える。


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X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

図 34  ギャップとマークの関係

備考 VOLID ビットと IBG の関係は,IBG と消去ギャップの関係と同一とする。

13.10

データブロックの終了 (EOD)   EOD は,最後の有効なデータが書かれた後,テープに書き込んで

もよい。

EOD

は,28 バイトからなり,次による。

バイト 1

ビット 1∼8 は,

“11000000”に設定する。

バイト 2

ビット 1 は,次による。

 EOD

をラップ 1 に記録している場合,

“0”に設定する。

 EOD

をラップ 2 に記録している場合,

“1”に設定する。

ビット 2∼8 は,次による。

テープの物理的位置表示の値を 2 進数で表す。

算出方法は,

附属書 による。

バイト 3

オール“0”に設定する。

バイト 4

ビット 1, 2 は,XX に設定する。

ビット 3∼8 は,次による。

 UDR

識別の最上位 6 ビットを示す。UDR 識別は,VOLID マーク若しくは記録密

度識別マークの後の最初の IBG に続く最初の UDR 又はテープマークでは,

“0”に

設定する。各 UDR,テープマーク及び EOD によって“1”増加する。

バイト 5,6 UDR 識別の最下位 16 ビットを示す。

バイト 7

“11110000”に設定する。

バイト 8∼14

オール“0”に設定する。


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バイト 15

バイト 2 と同じ内容に設定する。

バイト 16,17

オール“0”に設定する。

バイト 18

“11110000”に設定する。

バイト 19∼25

オール“0”に設定する。

バイト 26

“XX110111”に設定する。

バイト 27,28

バイト 1 からバイト 26 までを

附属書 に示すとおり算出した CRC バイト 1 及び

CRC

バイト 2 とする。

ここに,X は,

“0”又は“1”のどちらかとする。

13.11

記録領域  両ハーフラップでの記録領域は,BOT と EOT の間とする。LBAP は,リーダブロック取

付け位置とする。EOT は,テープとカートリッジのハブの接合部から 4.3m 以上とする(

図 35 及び図 36

参照)

 CST

ECCST

LBAP

から BOT までの最大値 1.34m

6.94m

LBAP

からハーフラップ 1 のデータまでの最小値

3.28m 7.38m

図 35  記録範囲の位置

 CST

ECCST

最小値 公称値 最大値 最小値 公称値 最大値

P

1

− 1.34m

− 6.94m

P

2

 3.28m

− 7.38m

P

3

 4.5m

− 8.75m

マークとギャップの長さは,13.による。

図 36  テープ上の記録の配列


48

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 A(規定)  テープの研磨性試験方法

A.1

概要  テープの研磨性は,テープのテープ走行系に対する研磨度とする。

A.2

取付け  附属書 図 に示す清浄なフェライトの試験用バーを附属書 図 に示す取付け用機構に

取り付ける。試験用の刃は,上向きに取り付け,摩耗しておらず,かつ,1

µm 以上のチップや欠けがない

ものとする。

試験用の刃の半径は,13

µm 以下とする。

フェライトのバーは,多結晶フェライトからなり,その成分及び重量比は,次による。

ZnO

  22%

NiO

  11%

FeO

  67%

粒子の平均の大きさは,7.2

µm±2.0µm とし,密度は,5.32g/cm

3

以上とする。

参考  例えば,“住友 H4R2 又は H4R3”などが適合し,Sumitomo Special Metals Div. Torrance CA. USA.

から入手可能である。

バーの 4 面の表面仕上げは,N2(ISO 1302 参照)以上とする。

A.3

試験方法  試験用機器をバーに対するテープの巻付け角度が両側でそれぞれ 8°,合計で 16°とな

るようにテープ装置に取り付ける。

バーにおけるテープの張力は,1.4N に設定する。

テープをバーに掛けて,バーを通過するテープの長さを 520.0m±2.5m とし,速度 1m/s で 1 回走行させ

る。この長さは,カートリッジを適当な数に分割した合計としてもよい。

試験用機器をテープ装置から取り外し,試験用バーの摩耗した部分の長さを測定する。この測定には,

倍率が 300 倍以上の顕微鏡を使用する。

幅 12.65mm の摩耗パターンの

4

1

2

1

及び

4

3

の部分で測定し,これらの 3 か所の平均の長さを算出する。

属書 図 に摩耗パターンの例を示す。

附属書 図 1  研磨性試験用バー


49

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 図 2  研磨性試験用バーの取付け 

附属書 図 3  摩耗パターンの例


50

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 B(規定)  記録前の磁気的状態

B.1

概要  記録前の磁気的状態は,記録面の残留磁気モーメントで表す。残留磁気モーメントは,磁界

がない場合の記録面の磁気モーメントで表す。記録面の最大残留磁気モーメントは,記録面を 350kA/m の

磁界にさらした後の,記録面の最大残留磁気モーメントで表す。記録面は,製造過程,試験過程又は記録

面の直流消去若しくは低密度の磁束反転を伴う磁気記録装置の使用によって,強磁界の影響を受ける可能

性がある。記録面は,強い磁気モーメントがあると,記録システムの機能に支障をきたす可能性があるの

で,記録の前に記録面の状態を 7.19 で規定する状態にしておくことが必要である。

B.2

試験方法  磁気モーメントは,振動試料磁化測定器 (VSM) を使用して測定する。試験方法は,次

による。

1)

直径が 6mm∼12mm のテープ試験片をとる。

2)

原テープの長手(塗布)方向を示す矢印をテープの試験片に付ける。

3)

テープ試験片の長手方向を極方向にそろえて,振動試料磁化測定器に取り付ける。

4)

テープ試験片を振動試料磁化測定器の極と極の中心に置く。

試験片は,試験の準備又は取付け中,4kA/m より強いいかなる磁界中にもさらしてはならない。

5)

テープ試験片の残留磁気モーメントを測定する。

6)

テープ試験片を 180°回転させて,4)及び 5)を繰り返す。

7)

テープ試験片を,磁界のピーク値 350kA/m でヒステリシスループに沿って 4 回磁界を変える。

8)

残留磁気モーメントの正及び負の最大値を測定する。

9)

5)

8)の操作で得た測定値を比較する。


51

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 C(規定)  ビットバイトの ビットパターンでの表現

8

ビットバイトは,左端が最上位ビット及び右端が最下位ビットを示す。

9

ビットパターンは,左端のビットを最初に,右端のビットを最後に記録する。

8

ビットバイト

9

ビットパターン

8

ビットバイト

9

ビットパターン

00000000 011001011  00101000 101001011

00000001 011001001  00101001 001011001

00000010 001001101  00101010 001011010

00000011 101100011  00101011 001011011

00000100 011001010  00101100 101001010

00000101 101100101  00101101 001011101

00000110 101100110  00101110 001011110

00000111 101100111  00101111 001011111

00001000 011001111  00110000 011100011

00001001 101101001  00110001 001100011

00001010 101101010  00110010 001110010

00001011 101101011  00110011 001110011

00001100 011001110  00110100 010100011

00001101 101101101  00110101 001110101

00001110 101101110  00110110 001110110

00001111 101101111  00110111 001110111

00010000 001001011  00111000 111100011

00010001 001001001  00111001  001111001

00010010 011001101  00111010 001111010

00010011 100100011  00111011  001111011

00010100 001001010  00111100  110100011

00010101 100100101  00111101  001111101

00010110 100100110  00111110  001111110

00010111 100100111  00111111 001111111

00011000 001001111  01000000 010001011

00011001 100101001  01000001 010001001

00011010 100101010  01000010 010010010

00011011 100101011  01000011 010010011

00011100 001001110  01000100 010001010

00011101 100101101  01000101 010010101

00011110 100101110  01000110 010010110

00011111 100101111  01000111 010010111

00100000 101001111  01001000 010001111

00100001 101001101  01001001 010011001

00100010 001010010  01001010 010011010

00100011 001010011  01001011 010011011

00100100 101001110  01001100 010001110

00100101 001010101  01001101 010011101

00100110 001010110  01001110 010011110

00100111 001010111  01001111 010011111

01010000 011100101  10000100 111001010

01010001 001100101  10000101 100010101

01010010 010110010  10000110 100010110

01010011 010110011  10000111 100010111


52

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

8

ビットバイト

9

ビットパターン

8

ビットバイト

9

ビットパターン

01010100 010100101  10001000  111001111

01010101 010110101  10001001 100011001

01010110 010110110  10001010 100011010

01010111 010110111  10001011 100011011

01011000 111100101  10001100 111001110

01011001 010111001  10001101 100011101

01011010 010111010  10001110 100011110

01011011 010111011  10001111 100011111

01011100 110100101  10010000 011101001

01011101 010111101  10010001 001101001

01011110 010111110  10010010 100110010

01011111 010111111  10010011 100110011

01100000 011100110  10010100 010101001

01100001 001100110  10010101 100110101

01100010 011010010  10010110 100110110

01100011 011010011  10010111 100110111

01100100 010100110  10011000 111101001

01100101 011010101  10011001 100111001

01100110 011010110  10011010 100111010

01100111 011010111  10011011 100111011

01101000 111100110  10011100 110101001

01101001 011011001  10011101 100111101

01101010 011011010  10011110 100111110

01101011 011011011  10011111 100111111

01101100 110100110  10100000 011101010

01101101 011011101  10100001 001101010

01101110 011011110  10100010 101010010

01101111 011011111  10100011 101010011

01110000 011100111  10100100 010101010

01110001 001100111  10100101 101010101

01110010 011110010  10100110 101010110

01110011 011110011  10100111 101010111

01110100 010100111  10101000 111101010

01110101 011110101  10101001 101011001

01110110 011110110  10101010 101011010

01110111 011110111  10101011 101011011

01111000 111100111

 10101100 110101010

01111001 011111001  10101101 101011101

01111010 011111010  10101110 101011110

01111011 011111011  10101111 101011111

01111100 110100111  10110000 011101011

01111101 011111101  10110001 001101011

01111110 011111110  10110010 101110010

01111111 011111111

10110011 101110011

10000000 111001011  10110100 010101011

10000001 111001001  10110101 101110101

10000010 100010010  10110110  101110110

10000011 100010011  10110111  101110111

10111000 111101011  11011100 110101101

10111001 101111001  11011101 110111101

10111010 101111010  11011110 110111110


53

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

8

ビットバイト

9

ビットパターン

8

ビットバイト

9

ビットパターン

10111011 101111011

 11011111 110111111

10111100 110101011  11100000 011101110

10111101 101111101  11100001 001101110

10111110 101111110

 11100010 111010010

10111111 101111111

 11100011 111010011

11000000 110001011  11100100 010101110

11000001 110001001  11100101 111010101

11000010 110010010  11100110 111010110

11000011 110010011  11100111 111010111

11000100 110001010  11101000 111101110

11000101 110010101  11101001 111011001

11000110 110010110  11101010 111011010

11000111 110010111  11101011 111011011

11001000 110001111  11101100 110101110

11001001 110011001  11101101 111011101

11001010 110011010  11101110 111011110

11001011 110011011  11101111 111011111

11001100 110001110  11110000 011101111

11001101 110011101  11110001 001101111

11001110 110011110

 11110010 111110010

11001111 110011111

 11110011 111110011

11010000 011101101  11110100 010101111

11010001 001101101  11110101 111110101

11010010 110110010  11110110 111110110

11010011 110110011  11110111 111110111

11010100 010101101  11111000  111101111

11010101 110110101  11111001 111111001

11010110 110110110  11111010 111111010

11010111 110110111

 11111011 111111011

11011000 111101101  11111100 110101111

11011001 110111001  11111101 111111101

11011010 110111010  11111110  111111110

11011011 110111011

 11111111  111111111


54

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 D(規定)  ビットシフトの測定方法

試験テープに記録する装置は,通常の情報交換用装置とする。

テープは,記録前の磁気的状態を満たさなければならない。

D.1

読取り装置  読取り装置のテープ速度の許容差は,公称テープ速度の 1%以内とする。

読取りヘッドの出力電圧の絶対値は,規定しない。ヘッドの設計及びテープ速度は,低い信号対雑音比

による影響を避けるように配慮しなければならない。

a)

読取りヘッド

−  磁気誘導型ヘッド:ギャップ長は,0.63

µm 未満とする。

−  磁気抵抗型ヘッド:磁気抵抗素子とシールドとの間の距離の平均有効ギャップ長は,0.63

µm 未満とす

る。

読取りヘッドギャップのアジマスアライメントと,書き込まれたトラックの平均磁束反転ラインは,9′

未満の傾きでなければならない。

b)

読取りチャネル

ヘッド及び読取り増幅器の周波数応答特性は,リード線を読取りギャップに隣接して平行に配置して測

定したとき,次による。

磁気誘導型ヘッドの場合,オール“1”パターンの周波数の 1/20∼2 倍までの帯域で総合応答特性は,+

6dB

/オクターブの線から 1dB 以内とする。例えば,テープ速度が 762mm/s の場合の帯域は,18.5kHz∼

740.7kHz

とする。位相応答特性は,同じ帯域で直線から 2°以内とする。

磁気抵抗型ヘッドの場合,総合応答特性は,同上の帯域で平たんな線から 1dB 以内とし,位相応答特性

は,同じ帯域で直線から 2°以内とする。

いずれの読取りチャネルの場合でもオール“1”パターンの周波数の 2 倍以上の周波数では,18dB/オク

ターブの傾きとする。

D.2

測定方法  測定方法は,次による。

平均ビットセル長  (L)  は,試験ゼロ交差点 (TZC) の両側にある二つの基準ゼロ交差点 (RZC) の間隔か

ら得る。基準ゼロ交差点は,少なくとも両側にそれぞれ 2 個以上のビット“1”のゼロ交差点をもつような

ビット“1”のゼロ交差点とする。基準ゼロ交差点の間隔は,その変化率による最大エラーを 2%未満に保

っため,40 ビットセル以下とする。


55

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

D.3

データ分析

ここに, RZC:

基準ゼロ交差点

TZC

試験ゼロ交差点

P

n

  n

番目の“1”パターンのゼロ交差点

二つの基準ゼロ交差点の間にあるビットセルの数を としたとき,平均ビットセル長  (L)  は,次の式に

よる。

n

P

P

L

1

3

最初の基準ゼロ交差点と試験ゼロ交差点との間に ビットの間隔がある場合,ビットシフト  (BS)  は,

次の式による。

(

)

100

1

2

×

L

P

P

mL

BS

ここに,

BS

ビットシフト

 (%)

L

平均ビットセル長

P

n

  n

番目の“

1

”パターンのゼロ交差点


56

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 E(規定)  CRC の生成方法

E.1

概要

CRC

は,

16

ビットからなり,

CRC1

及び

CRC2

2

バイトで表す。

E.2

算出方法

CRC

は,次の生成多項式で算出する。

x

16

x

15

x

8

x

1

シフトレジスタの構成を

附属書 図 1

に示す。

ここに,⃝

は,

mod 2

加算を示す。

附属書 図 1  シフトレジスタの構成

算出の開始前にすべての位置のシフトレジスタに“

0

”を設定する。

1

バイトのビット処理は,ビット

8

(最下位)から始めてビット

1

(最上位)で終わる。

E.3

CRC1

と CRC2 のビットの位置

  算出終了後シフトレジスタの各ビットは,

附属書 図 2

に示すと

おり

2

バイトの

CRC

のビット位置に割り付ける。

 CRC

バイト 1

CRC

バイト 2

シフトレジスタ

のビット

9

∼16 1∼8

附属書 図 2  CRC1 と CRC2 のビット位置


57

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 F(規定)  テープの物理的位置の算出方法

F.1

概要

  物理的な位置

  (PPI)

は,データ又はすべてのブロック

ID

バイトを読むことなしにテープの長

さ方向のデータの位置を,粗く,かつ,迅速に示すために使用する。

F.2

算出方法

PPI

の値は,テープの長さ方向のいかなる点でも,次の式による。

÷÷

÷

ø

ö

çç

ç

è

æ

0

2

2

0

25

625

5

.

62

R

R

R

R

PPI

数値は,小数点以下を切り上げた整数とする。

ここに,  R

0

:  リールにテープ全長が巻かれている場合のテープの半径 (mm)

R

:  テープが繰り出されている場合のテープの半径 (mm)

F.3

要求事項  PPI は,1≦PPI≦95 とする。


58

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 G(規定)  テープのタイプラベル

この附属書は,オプションの媒体のタイプを示すラベルの情報を提供する。ラベルは,オプションであ

るが,使用することを推奨する。使用する場合は,G.1 による。バーコードラベルの寸法は,

附属書 

1

による。

G.1

文字  文字は,E とし,附属書 図 による。

ここに,  T=0.787mm±0.127mm 

H

=5.613mm±0.127mm

W

=3.150mm±0.127mm

1H/2

と 1W/2 の文字の中心線は,

附属書 図 の文字の垂直及び水平の中心線と一致する。

G.2

バーコード  バーコードは,ANSI MH 10.8M.1983 による文字 E で 3/9 コードとする。バーコードは,

初めのビットコードがラベル底側に,最後のビットコードがラベル上側に印刷する。

狭い白地とバーの幅は,0.737mm±0.127mm とする。

広い白地とバーの幅は,1.437mm±0.127mm とする。

バーの幅の最大値は,端部のにじみ部の外側から測定する。白地の幅は,これらどうしの最も離れた距

離とする。

バーの幅の最小値は,端部のにじみ部の内側から測定する。

G.3

カストムストップコード  バーコードには,附属書 図 に示す,2/4 ストップコードを付ける。

G.4

反射率  白及び黒の領域の反射率の測定は,Macbeth PCM II Print Contrast Meter,又は同等品を使用

する。

G.4.1

白領域

G.4.1.1

反射率  白領域の反射率 RW は,次による。

55%

RW≦75%

狭い白地の中心で測定し,印刷の欠陥や端部のにじみ部分は,避ける。

G.4.1.2

スポット  スポットは,白地領域でその反射率が 55%未満とする。スポットの直径は,0.20mm

未満とする。スポットは,ラベルにつき 5 個以下とする。どのスポットも,0.51mm 以上離れていなけれ

ばならない。

G.4.2

黒領域

G.4.2.1

プリント・コントラスト信号 (PCS)   黒領域の反射率は,印刷の欠陥と端部のにじみ部分を避

けた任意の黒領域の任意の場所で測定する。PCS は,次による。

RW

RB

RW

PCS

最小値は,0.85 とする。


59

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

G.4.2.2

欠損  欠損は,黒領域内で PCS が 0.85 未満とし,欠損の直径は,0.20mm 以上とする。OCR 文字

のバー1 本につき欠損は,1 個以下とし,ラベル全体で 5 個以下とする。どの二つの欠損も 0.51mm 以上離

れていなければならない。

附属書 図 1  テープタイプラベル


60

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 表 1  バーコードラベル寸法

シンボル

SI

系 (mm)

寸法

公差

L

1

 5.59 0.51

L

2

 3.25 0.13

L

3

 16.51  0.25

L

4

 12.70  0.13

L

5

 8.255

0.127

L

6

 6.35 0.13

L

7

 0.76 0.13

L

8

 0.76 0.13

L

9

 9.80

+0.51 
−1.02

L

10

 5.21 0.13

L

11

 0.38 0.13

L

12

 1.65 0.51

L

13

 13.26  0.13

L

14

 1.143

+0.508 
−0.000

L

15

 3.45

0.51

R

1

 1.52

0.13

附属書 図 2  データ文字


61

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 H(参考)  輸送条件

H.1

環境条件  カートリッジの輸送時においては,次の環境条件とすることが望ましい。

H.1.1

未記録のカートリッジ

温度

:−23℃∼48℃

相対湿度

:5%∼100%

湿球温度

:26℃以下

期間

:連続 10 日以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

H.1.2

記録済みカートリッジ

温度

:5℃∼32℃

相対湿度

:5%∼80%

湿球温度

:26℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

H.2

危険性  データを記録したカートリッジを輸送する際,次の 3 種類の危険性がある。

H.2.1

衝撃及び振動  輸送中のカートリッジの損傷を少なくするために,次の対策をとることが望ましい。

カートリッジを変形させるおそれがある機械的な加重を加えてはならない。

カートリッジは,1m を超える高さから落下させてはならない。

カートリッジは,十分な衝撃材を用いた固い箱の中に収納する。

カートリッジ収納箱は,内部が清浄で,かつ,じんあい(塵挨)や水の浸入防止が十分可能な構造とす

る。

カートリッジ収納箱内でのカートリッジ収納方向は,テープ中心軸が水平になるようにする。

カートリッジ収納箱は,正しい位置方向(天地)に置くように明確な表示をする。

H.2.2

極端な高温・高湿度環境

a)

温度及び湿度の急激な変化は,いかなる場合でも,可能な限り回避する。

b)

輸送されたカートリッジを使用する前には,必ず使用環境に 24 時間以上放置する。

H.2.3

誘導磁界の影響  カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は,80mm 以上確保する。

これによって,外部磁界の影響による信号品質劣化の危険性は,無視できる程度に減少する。


62

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 J(参考)  不良テープカートリッジ

テープ装置,オートローダ又は他のテープの性能を低下させるテープカートリッジを,不良テープカー

トリッジと呼ぶ。テープの特性には,テープ装置の性能を低下させるものとして,高い研磨性,テープ走

行部に対する高い静摩擦力,テープの縁の不良な状態,テープの摩耗によって発生する多量のごみ,テー

プの層間の滑り,次のテープの裏面への磁性塗布面材料の転写,他のテープに吸着を発生させるようなテ

ープ組成のしみ出しなどがある。このような不良テープを使用すると,テープ装置の性能が低下し,かつ,

データの誤りが多く発生する。

カートリッジの特性には,オートローダ装置の性能を低下させるものとして次のようなものがある。

−  ピックアップ機構をつまらせるようなグリップ表面

−  カートリッジとカートリッジロード機構の接触面積を減少させるようなグリップ表面

不良カートリッジ及び不良テープは,使用しないほうがよい。


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X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 K(参考)  テープの耐久性

供給者から磁気テープカートリッジを購入するとき,磁気テープカートリッジは,次の要求事項を満た

さなければならない。

適切な装置を用いた磁気テープカートリッジの試験及び測定法を次に示す。試験は,テープや装置の使

用環境(6.2 参照)で実施しなければならない。

K.1

短区間耐久性信頼性試験

K.1.1

短区間耐久性信頼性試験は,短いデータのファイルを繰り返し走行させる場合の,テープの耐摩耗

性を試験するために行う。連続して 10 回読み取っても回復しないミッシングパルスは,永久的なミッシン

グパルスとみなす。

K.1.2

永久的な同時発生ミッシングパルス領域は,読取り回数が 40 000 回に達する前に発生してはなら

ない。さらに,読取り回数が 80 000 回に達するまでに平均 1 個を超えて発生してはならない。

K.1.3

試験方法  試験に先立ち,テープ装置を清掃する。

試料は,4 巻以上用意して,同時発生ミッシングパルス領域がないテープの領域に信号を書き込む。試

験する領域は,テープのローディング点から約 10m 以降,又は 25 000 バイトからなるレコードの 500 レ

コード以降とすることが望ましい。その長さは,1m 又は 50 レコードとすることが望ましい。

試験の各サイクルでは,試験する領域の始めから終わりまですべてのレコードを記録してから始めの領

域に戻る。試験を完全に行うためには,各カートリッジについて試験サイクルを 80 000 回続けることが望

ましい。同時発生ミッシングパルス領域を検出した場合は,永久的な同時発生ミッシングパルス領域とす

る前に,正方向の読取りを 10 回まで行うことがましい。

K.2

長区間耐久性信頼性試験

K.2.1

長区間耐久性信頼性試験は,テープ装置でテープ全長を繰り返し走行させる場合のテープの耐摩耗

性を試験するために行う。これは,テープの寿命試験ではない。

K.2.2

カートリッジは,次の要求事項を満たさなければならない。

a)

同時発生ミッシングパルス領域は,テープ全長の走行回数の最初の 200 回とし,テープの長さ 165m

当たり平均 6 個を超えないことが望ましい。

b)

同時発生ミッシングパルス領域は,1 回の走行では,テープの長さ 165m 当たり 12 個を超えないこと

が望ましい。

K.2.3

試験方法  試験に先立ち,テープ装置を清掃する。試験中は,テープの走行部分を清掃してはなら

ない。試験用の信号は,テープ全長に連続のデータを書き込むか,又は 16 000 バイト以上のレコードを書

き込むことが望ましい。


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X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 L(参考)  データの流れ


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X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

附属書 M(参考)  加速寿命試験

加速寿命試験の目的は,テープの磁性層の長期安定性を実証することである。過酷な環境条件下で保存

し,加速環境での使用条件で操作を行い,製品固有の寿命を推定する。

M.1

要求事項  試験中及び試験後に永久的な書込み又は読取りエラーの発生がなく,かつ,不良テープ

附属書 参照)になってはならない。

M.2

試験方法

M.2.1

加速試験は,永久的なエラーのない 10 個のカートリッジを 1 グループとする。

M.2.2

環境条件

a)

 47

℃から 49℃の範囲の温度で,相対湿度が 18%∼22%の範囲の環境で 21 日間テープを保存する。

b)

カートリッジの試験環境(6.1 参照)に少なくとも 24 時間なじませ,BOT と EOT の間を早送りと巻

戻しによってテープを巻き直す。

c)

試験機と試験用のカートリッジ 10 本を 30℃±2℃で相対湿度 83%∼87%の範囲に調整した加速試験室

内に放置する。最低 24 時間この環境に放置する。

M.2.3

試験サイクル

M.2.3.1

書込みサイクル  BOT から EOT 方向へ 32 768 個の 8 ビットバイトのデータブロックを順方向へ

書き込み,BOT へ巻き戻す。

M.2.3.2

起動/停止サイクル

a)

データブロック 50 までテープを進め,起動/停止モードで次の 100 個のデータブロックを読み取る。

b)

データブロック 3 050 までテープを進め,起動/停止モードで次の 100 個のデータブロックを読み取

る。

c)

データブロック 6 050 までテープを進め,起動/停止モードで次の 100 個のデータブロックを読み取

る。

d)

テープを BOT へ巻き戻す。

e)

a)

d)を 4 回繰り返す。

M.2.3.3

読取りサイクル  BOT から EOT までストリーミングモードで,テープを読み取る。

M.2.3.4

残り 9 巻のカートリッジも同様 M.2.3.1M.2.3.3 の操作を繰り返す。

M.2.3.5

クリーニングテープを使って装置を清掃する。

M.2.4

  K.2.3

を 9 回繰り返す。

M.2.5

  K.2.1

で選んだ 10 本のカートリッジに対し M.2.2M.2.4 を更に 2 回繰り返す。


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X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

磁気テープ JIS 原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

大  石  完  一

パルステック工業株式会社

(幹事)

富  田  正  典

日本システムインテグレーション株式会社

徳  永  賢  次

イメーション株式会社

(委員)

千  原  健  一

富士通株式会社

竹  内      正

株式会社トリム・アソシエイツ

平  川      卓

富士写真フイルム株式会社

新  井      清

日本システムハウス株式会社

伊  藤  欣  也

日本電機株式会社

安  藤  晴  夫

日立マクセル株式会社

樋  口  重  光

株式会社日立製作所

酒  井  和  夫

株式会社日立製作所

堀  川  憲  一

ソニー株式会社

荒  木      学

日本ユニシス株式会社

岸  野  忠  信

財団法人日本規格協会

永  松  荘  一

通商産業省

兼  谷  明  男

通商産業省

(関係者)

佐々木  喜  七

財団法人日本電子部品信頼性センター

(事務局)

内  山  誠  作

社団法人日本電子工業振興協会

長谷川  久  子

社団法人日本電子工業振興協会