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X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

1 

目次

ページ

1.

  適用範囲

7

2.

  適合性

7

2.1

  磁気テープカートリッジ

7

2.2

  生成システム

8

2.3

  受領システム

8

3.

  引用規格

8

4.

  用語の定義

8

4.1

  アルゴリズ

8

4.2

  平均信号振幅

8

4.3

  裏面

8

4.4

  テープの始端

8

4.5

  バイト

8

4.6

  カートリッジ

9

4.7

  巡回冗長検査文字

9

4.8

  データブロック

9

4.9

  データレコード(PDR)

9

4.9.1

  圧縮データレコード(HDR)

9

4.9.2

  ホストデータレコード(LDR)

9

4.9.3

  論理データレコード(UDR)

9

4.9.4

  ユーザデータレコード(UDR)

9

4.10

  誤り訂正符号

9

4.11

  磁束反転位置

9

4.12

  磁束反転間隔

9

4.13

  磁気テープ

9

4.14

  標準テープ

9

4.15

  パケット

9

4.16

  パケット識別子

9

4.17

  パケットトレーラ

9

4.18

  パッドバイト

9

4.19

  記録密度

9

4.20

  ポストアンブル

9

4.21

  プリアンブル

9

4.22

  圧縮データ

9

4.23

  圧縮処理

9

4.24

  基準磁界

9


X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

目次

2 

ページ

4.25

  副標準テープ

9

4.26

  標準信号振幅

9

4.27

  基準電流

9

4.28

  試験記録電流

10

4.29

  トラック

10

4.30

  ティピカル磁界

10

4.31

  変換

10

5.

  表記法

10

5.1

  数字の表し方

10

5.2

  名称

10

5.3

  略号

10

6.

  環境条件及び安全性

10

6.1

  試験環境条件

10

6.2

  使用環境条件

11

6.3

  保存環境条件

11

6.4

  安全性の要求事項

11

6.4.1

  安全性

11

6.4.2

  燃焼性

11

6.5

  輸送条件

11

7.

  テープの特性

11

7.1

  材料

11

7.2

  テープの長さ

11

7.3

  テープの幅

11

7.4

  テープの連続性

11

7.5

  テープの厚さ

11

7.6

  ベースの厚さ

11

7.7

  長手方向の湾曲

11

7.8

  平面からのひずみ

11

7.9

  カッピング

11

7.10

  動摩擦特性

12

7.10.1

  記録面と表面との動摩擦力

12

7.10.2

  記録面とフェライトとの動摩擦力

12

7.11

  塗布面の接着強度

12

7.12

  剛性

13

7.13

  表面電気抵抗

13

7.14

  耐久性

14

7.15

  不良テープ

14

7.16

  テープの研磨性

14

7.17

  記録前の磁気的状態

14


X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

目次

3 

ページ

7.18

  磁気記録特性

14

7.18.1

  ティピカル磁界

14

7.18.2

  平均信号振幅

14

7.18.3

  分解能

15

7.18.4

  重ね書き

15

7.18.5

  狭帯域信号対雑音比 (NB-SNR)

15

7.18.5.1

  要求事項

15

7.18.5.2

  試験方法

15

7.19

  テープの品質

15

7.19.1

  ミッシングパルス

16

7.19.2

  ミッシングパルス領域

16

7.19.3

  同時発生ミッシングパルス領域

16

8.

  カートリッジの寸法及び機械的特性

16

8.1

  カートリッジの全体の寸

22

8.2

  書込み禁止機構

23

8.3

  後面のラベル領域

23

8.4

  上面のラベル領域

23

8.5

  ケース開口部

23

8.6

  位置決めノッチ

24

8.7

  位置決め領域

24

8.8

  ケースの開口部周辺の内部構造

24

8.9

  ケースのその他の外形

24

8.10

  中心孔

24

8.11

  スタッキングリブ

25

8.12

  ケースの柔軟性  ケースの上面及び底面

25

8.12.1

  要求事項

25

8.12.2

  試験方法

25

8.13

  リール

25

8.13.1

  ロック機構

25

8.13.2

  リールの回転軸

25

8.13.3

  金属接合

25

8.13.4

  歯形リム

26

8.13.5

  リールのハブ

26

8.13.6

  相対位置

26

8.13.6.1

  カートリッジが未装着の場合

26

8.13.6.2

  カートリッジが未装着又は装着のいずれかの場合

26

8.13.6.3

  カートリッジが装着の場合

26

8.13.7

  歯形リムの形状

27

8.14

  リーダブロック

27


X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

目次

4 

ページ

8.15

  リーダブロックへのテープの取付け

28

8.16

  ラッチング機構

28

8.17

  テープの巻き方

28

8.18

  テープの巻き張力

28

8.19

  テープの巻きの円周

28

8.20

  慣性モーメント

28

9.

  記録方式

29

9.1

  記録密度

29

9.2

  ビットセル長

29

9.3

  平均ビットセル長

29

9.4

  長周期平均ビットセル長

29

9.5

  短周期平均ビットセル長

29

9.6

  短周期平均ビットセル長の変動率

29

9.7

  ビットシフト

29

9.8

  トータルキャラクタスキュー

29

9.9

  再生信号振幅

29

9.10

  同時発生ミッシングパルス領域

29

10.

  トラック

29

10.1

  トラック数

29

10.2

  基準縁

29

10.3

  トラック位置

30

10.4

  トラック幅

30

10.5

  アジマス

30

11.

  パケットフォーマット

30

11.1

  パケットの構成要素

30

11.2

  パケット ID

30

11.3

  UDR

31

11.4

  パケットトレーラ

31

11.4.1

  圧縮時のパケットトレーラ

31

11.4.2

  非圧縮時のパケットトレーラ

31

12.

  データブロックの様式

32

12.1

  データ部

32

12.1.1

  パケットバイト

32

12.1.2

  カウントフィールドバイト

32

12.1.3

  ブロック ID バイト

32

12.2

  データバイトのフレームへの割当て

33

12.2.1

  接頭辞フレーム

34

12.2.2

  データフレーム

34

12.2.3

  剰余フレーム 1

34


X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

目次

5 

ページ

12.2.4

  剰余フレーム 2

35

12.2.4.1

  剰余バイト

36

12.2.4.2

  巡回冗長検査 (CRC) 文字

36

12.2.4.3

  剰余フレームの要求事項のまとめ

36

12.2.5

  接尾辞フレーム

37

12.3

  誤り訂正符号 (ECC)

37

12.3.1

  斜め冗長検査 (DRC) 符号

37

12.3.2

  垂直冗長検査 (VRC) 符号

37

12.3.3

  ECC のフォーマット

38

12.3.4

  ECC のまとめ

38

12.4

  8 ビットバイトの記録

39

12.5

  記録データブロック

39

12.5.1

  プリアンブル

40

12.5.2

  データ開始マーク (BDM)

40

12.5.3

  再同期制御フレーム

40

12.5.4

  データ終了マーク (EDM)

40

12.5.5

  ポストアンブル

40

12.6

  データ密度

40

13.

  テープフォーマット

41

13.1

  記録密度識別バースト

41

13.2

  ID 分離バースト

42

13.3

  ブロック間隔

42

13.4

  消去ギャップ

42

13.4.1

  正常の消去ギャップ

42

13.4.2

  長大な消去ギャップ

42

13.5

  テープマーク

42

13.6

  ブロック間隔,消去ギャップ及びテープマークの関係

42

13.6.1

  ブロック間隔に続くテープマーク

42

13.6.2

  テープマークに続くブロック間隔

43

13.6.3

  ブロック間隔に続く消去ギャップ

43

13.6.4

  消去ギャップに続くブロック間隔

43

13.6.5

  ブロック間隔,消去ギャップ及びテープマークの関係のまとめ

43

13.7

  テープの最初及び最後の記録

44

13.8

  テープフォーマットのまとめ

44

13.9

  変換切換えレコード (TCR)

44

附属書 A(参考)  輸送条件

46

附属書 B(参考)  不良テープ

47

附属書 C(規定)  テープ研磨性試験方法

48


X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

目次

6 

ページ

附属書 D(参考)  テープの耐久性

50

附属書 E(規定)  記録前の磁気的状態

51

附属書 F(規定)  8 ビットバイトの 9 ビットパターンでの表現

52

附属書 G(規定)  ビットシフトの測定方法

55

附属書 H(参考)  データの流れ

57

附属書 J(規定)  CRC の生成方法

58

附属書 K(規定)  テープの物理的位置の算出方法

59


日本工業規格

JIS

 X

6132

-1995

 (ISO/IEC

11559

:

 1993

)

12.7 mm

幅,18 トラック,情報交換用

磁気テープカートリッジ

−拡張フォーマット

Data interchange on 12.7 mm wide 18-track

magnetic tape cartridges

−Extended format

日本工業規格としてのまえがき 

この規格は,1993 年初版として発行された ISO/IEC 11559 (Information technology-Data interchange on

12.7mm wide 18-track magnetic tape cartridges

−Extended format)  を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を

変更することなく作成した日本工業規格である。

1.

適用範囲  この規格は,情報交換に用いる 12.7mm 幅,18 トラックの磁気テープカートリッジの物理

的特性及び磁気的特性について規定する。この規格は,JIS X 0601 とともに,テープカートリッジを媒体

として情報交換に使用できるように磁気テープカートリッジの記録信号の品質,フォーマット及び記録様

式を規定する。

この規格では,カートリッジ及び記録様式は,JIS X 6123 及び JIS X 6124 の規定と同じ規定であり,JIS 

X 6124

の規定による記録様式で書き込む前に,データを変換する次の拡張方法について規定する。

−  小容量のデータブロック複数個を拡張ブロックにまとめることによって,テープの実質の使用容量を

増加させる方法。

−  記録データが圧縮データか否かを明示する方法,及び圧縮データの場合には,そのアルゴリズムを明

示する方法。

−  この規格と JIS X 6124 にそれぞれ適合したデータブロックが,同じテープに共存する方法。データの

流れ図を

附属書 に参考として示す。

2.

適合性

2.1

磁気テープカートリッジ  磁気テープカートリッジは,次の要求事項を満たすとき,この規格に適

合する。

−  カートリッジが 4.及び 6.8.のすべての要求事項を満たす。

−  テープ上の記録が 9.13.のすべての要求事項を満たす。

−  圧縮データを記録する場合には,登録済みのアルゴリズムを用い登録番号をパケット ID のバイト 13

に記録する(11.2 参照)

備考  アルゴリズムを登録していない場合には,バイト 13 は, (FF) とする


2

2.2

生成システム  情報交換用磁気テープカートリッジを生成するシステムは,生成するテープ上のす

べての記録がこの規格の要求事項を満たすとき,この規格に適合する。適合性の表現は,登録済みのアル

ゴリズムを使用するか否か,及び使用する場合には,使用するすべてのアルゴリズムの登録番号を明示し

なければならない。

2.3

受領システム  情報交換用磁気テープカートリッジを受領するシステムは,この規格に従って生成

したテープ上の記録を読取り可能な場合,この規格に適合する。受領システムは,次の要求事項を満たさ

なければならない。

−  拡張ブロックが存在することを認識し,拡張ブロック内の個々のパケットからデータを識別し,読み

取る。

−  圧縮データを認識し,アルゴリズムを識別する。圧縮データを復元できないときには,ホストに明示

する。

−  登録済みのアルゴリズムで圧縮されたデータを復元する。

適合性の表現は,登録済みのアルゴリズムを使用するか否か、及び使用する場合には,使用するす

べてのアルゴリズムの登録番号を明示しなければならない。

3.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されたことによって,この規格の規定を構成する規定

となる。出版の時点では,表示された版が有効である。すべての規格は,改訂されるものであり,この規

格に基づいて合意した関係者は,次に列挙する規格の最新版を適用する可能性を調べるよう勧める。IEC

及び ISO の会員は,現在有効な国際規格の登録簿をもっているものである。

ISO 683-13 : 1986

  Heat-treatable steels, alloy steels and free-cutting steels−Part 13:Wrought stainless steels

備考  JIS G 4304(熱間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯)−1991 がこの国際規格と一致している

ISO 1001 : 1986

  Information processing−File structure and labelling of magnetic tapes for information

interchange

備考  JIS X 0601(情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成)−1990 がこの国際規格と一

致している。

ISO 1302 : 1992

  Technical drawing−Method of indicating surface texture

ISO 9661 : 1991

  Information processing−Data interchange on 12.7 mm (0.5in) wide magnetic tape

cartridges

−18tracks, 1 491 data bytes per millimetre (37 871 data bytes per inch)

備考  JIS X 6123(12.7mm 幅,情報交換用磁気テープカートリッジ)−1990 及び JIS X 6124(12.7mm

幅,18 トラック,1 491cpmm,情報交換用磁気テープカートリッジの情報記録様式)−

1990

がこの国際規格と一致している。

4.

用語の定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

4.1

アルゴリズム (algorithm)   論理的に表現したデータに変換する規則。

4.2

平均信号振幅  (average signal amplitude)    テープ上のミッシングパルスがない部分を長さ 25.4mm 以

上にわたって測定した読取りヘッドの出力電圧の平均ピーク値 (P-P)。

4.3

裏面 (back surface)   データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

4.4

テープの始端  (beginning of tape, BOT)    磁気テープの長手方向に沿って,記録密度識別バーストを

書き始める点。

4.5

バイト (byte)   一単位として取り扱われる 8 ビットの列。


3

4.6

カートリッジ (cartridge)   リーダブロック付きの磁気テープを収納したケース。

4.7

巡回冗長検査文字  [cyclic redundacy check (CRC) character]    誤り検出及び誤り訂正のための巡回符

号として用いる文字。

4.8

データブロック (data block)   一つ以上の連鎖したパケット及び付加情報からなるデータ。

4.9

データレコード (data records)

4.9.1

圧縮データレコード  (processed data record, PDR)    論理データレコード (LDR) にアルゴリズムを

適用して,生成したデータ列。

4.9.2

ホストデータレコード  (host data record, HDR)    ホストで最初に集められるデータ列。

4.9.3

論理データレコード  (logical data record, LDR)    サブシステムがホストから受領するデータ列。ホ

ストで拡張ブロック処理にまとめた 1 個以上のホストデータレコード (HDR) からなる。

4.9.4

ユーザデータレコード  (user data record, UDR)    パケット生成に有効なデータ列。データが圧縮処

理されている場合には,圧縮データレコード (PDR) とし,非圧縮データの場合には,論理データレコー

ド (LDR) とする。

4.10

誤り訂正符号  (error correcting code, ECC)    誤りを自動訂正できるように設計された符号。

4.11

磁束反転位置  (flux transition position)    テープの表面に垂直な方向で磁束密度が最大となる点。

4.12

磁束反転間隔  (flux transition spacing)    一つのトラックに沿って連続する磁束反転の長さ。

4.13

磁気テープ (magnetic tape)   磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.14

標準テープ (master standard reference tape)   基準磁界,信号振幅,分解能及び重ね書き特性の標準

として用いるもので,その特性値を国際標準化機構 (ISO) が規定するテープ。

備考  標準テープは,NIST で管理されている。

4.15

パケット (packet)   パケット識別子とパケットトレーラを付加したユーザデータレコード (UDR)。

4.16

パケット識別子 (packet identifier)   パケット生成時,UDR の先頭に付加した 32 バイトの集まり。

4.17

パケットトレーラ (packet trailer)   パケット生成時,UDR の末尾に付加した可変なバイトの集まり。

4.18

パッドバイト (pad byte)  8 個のビット “0” で構成するバイト。

4.19

記録密度 (pysical recording density)   トラックの長さ 1mm 当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm)。

4.20

ポストアンブル (postamble)   逆方向にデータを読み取るとき,同期をとるためにデータブロックの

終端に書き込む 9 ビットの繰返しパターン。

4.21

プリアンブル (preamble)   正方向にデータを読み取るとき,同期をとるためにデータブロックの始

端に書き込む 9 ビットの繰返しパターン。

4.22

圧縮データ (processed data)   アルゴリズムによって圧縮処理したデータ。

4.23

圧縮処理 (processing)   アルゴリズムを用いてデータを変換する処理。

4.24

基準磁界 (reference field)   標準テープのティピカル磁界。

4.25

副標準テープ  (secondary standard reference tape)    テープの特性が既知であり,標準テープとの偏差

が明示されているテープ。

参考  副標準テープは,NIST が開発し,SRM3202 の番号で供給する。入手先は,次による。

NIST Office of Standard Reference Materials, Room 205, Building 202 NIST, Gaitherburg, MA

20899, USA

4.26

標準信号振幅  (standard reference amplitude, SRA)    NIST の計測システムで,標準テープに記録密度

972ftpmm

で試験記録電流で記録し,これを再生したときの出力電圧の平均ピーク値 (P-P)。

4.27

基準電流  (standard reference current)    基準磁界を発生する電流。


4

4.28

試験記録電流  (test recording current)    基準電流の 1.5 倍の電流。

4.29

トラック (track)   磁気テープの長手方向に,連続して磁気信号が記録できる部分。

4.30

ティピカル磁界 (typical field)   試験テープに記録密度 927ftpmm で連続する磁束反転を記録し,こ

れを再生したとき,再生出力電圧が最大出力電圧(飽和値)の 85%となる最小印加磁界。

4.31

変換 (transformation)   フォーマットする前のホストデータレコードの圧縮処理,パケット生成及び

パケット連鎖の操作。

5.

表記法

5.1

数字の表し方  数字の表し方は,次による。

−  各フィールドのバイトは,バイト 1 を最上位として最初に配列する。各バイトのビットは,ビット 1

を最上位として最初に,ビット 8 を最下位として最後に配列する。この配列の順序は,データ,ECC

及び CRC の入出力に適用する。

− 16 進数は,丸括弧内に数字及び文字 A∼F で表す。

−  2 進数表記の数字,及びビットの組合せは, “0” 及び “1” の連続で表す。

−  2 進数表記の数字,及びビットの組合せは,最上位ビットを左とする。

−  ビットの設定は, “0” 又は “1” で表す。

5.2

名称  エンティティの名称は,規定しない。

5.3

略号

BDM

データ開始マーク

BOT

テープの始端

CRC

巡回冗長検査

DRC

斜め冗長検査

ECC

誤り訂正符号

EDM

データ終了マーク

ID

識別子

LDR

論理データレコード

NB

−SNR  狭帯域信号対雑音比

PDR

圧縮データレコード

RBW

分解能帯域幅

SRA

標準信号振幅

STA

短周期平均ビットセル長

TCR

変換切換えレコード

UDR

ユーザデータレコード

VBW

ビデオ帯域幅

VRC

垂直冗長検査

6.

環境条件及び安全性  カートリッジの試験環境条件,使用環境条件などは,規定がない限り,試験室

又は計算機室の環境条件とする。

6.1

試験環境条件  カートリッジの試験環境条件は,規定がない限り,次による。

温度 23℃±2℃


5

相対湿度 40%∼60%

試験前に,この環境条件に 24 時間以上放置しなければならない。

6.2

使用環境条件  記録時及び再生時のカートリッジの使用環境条件は,次による。

温度 16℃∼32℃

相対湿度 20%∼80%

湿球温度 25℃以下

備考  部分的であっても温度が 49℃を超えると,テープは,損傷する可能性がある。カートリッジが

保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合には,この環境条件に 24 時間以上放置してから

使用しなければならない。

6.3

保存環境条件  カートリッジの保存環境条件は,次による。

温度

5

℃∼32℃

相対湿度 5%∼80%

湿球温度 26℃以下

6.4

安全性の要求事項

6.4.1

安全性  カートリッジ及びその構成部品は,正しい使用方法,又は予測し得る誤った使用方法でも

安全性を保ち,かつ,健康を害してはならない。

6.4.2

燃焼性  カートリッジ及びその構成部品の材料は,マッチなどの炎によって着火してもよいが,二

酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

6.5

輸送条件  この規格では,カートリッジの輸送条件を規定しない。ただし,輸送条件は,附属書 A

によることが望ましい。

7.

テープの特性

7.1

材料  テープは,ベース(延伸したポリエチレンテレフタレート又はこれと同等品)上の片面に強

固で柔軟性のあるバインダと適切な磁性材を塗布したものとする。

7.2

テープの長さ  テープの長さは,165m 以上とする。

7.3

テープの幅  テープの幅は,テープに 0.28N 以下の張力を加えて測定したとき,12.650mm±0.025mm

とする。

7.4

テープの連続性  テープは,全長にわたり継目があってはならない。

7.5

テープの厚さ  テープの厚さは,0.025 9mm∼0.033 7mm とする。

7.6

ベースの厚さ  ベースの厚さは,公称 0.023 4mm とする。

7.7

長手方向の湾曲  長手方向の湾曲は,曲率半径 33m 以上とする。試験方法は,次による。

長さ 1m のテープを平面上に自然の状態に置き,その沿線上に沿って 1m 離れた 2 点を定めて,これら

を結ぶ直線を引き,縁線とこの直線上との隔たりを測定し,この隔たりを 3.8mm 以下とする。この偏差は,

33m

の曲率半径と一致する。

7.8

平面からのひずみ  テープを平面に置いて,0.6N の一定の張力を加えたとき,目視できるひずみが

テープにあってはならない。

7.9

カッピング  カッピングは,平面からのテープの幅方向での浮き上がり量とし,0.3mm 以下とする。

試験方法は,次による。

テープを長さ 1.0m±0.1m に切り取り,記録面を露出して,テープを試験環境条件に 3 時間以上放置し

た後,このテープの中央部分から 25mm の試験片を切り取る。次に,このテープ試験片をテープの一方の


6

切断部を下側にして,高さ 25mm 以上,内径 13.0mm±0.2mm の円筒の中に立てる。この円筒を光学的コ

ンパレータに立てて載せ,テープ試験片の基準縁と反対側の縁とを十字線にそろえて,十字線からの試験

片の中心までの距離を測定する。

7.10

動摩擦特性  動摩擦力は,7.10.1 及び 7.10.2 で規定する 1.00N 及び 1.50N の値にはテープ試験片に加

える力 0.64N を含む。

備考  試験時には,フェライト棒の表面を清掃すること。

7.10.1

記録面と表面との動摩擦力  記録面の裏面に対する動摩擦力は,1.00N 以上とする。試験方法は,

次による。

a)

記録面を内側にして,テープの試験片を直径 25.4mm の円筒に巻き付ける。

b)

記録面を内側にして,第 2 のテープ試験片を第 1 の試験片に 90°巻き付ける。

c)

第 2 のテープ試験片の片側の端に 0.64N の力を加え,別の端をゲージに固定する。

d)

ゲージを速度 1mm/s で引っ張る。

7.10.2

記録面とフェライトとの動摩擦力  カートリッジのリーダブロックから 1.34mm の位置でテープを

動かすのに要する力は,1.5N 以下とする。テープとハブの接続部から 4.3m の位置でテープを動かすのに

要する力は,最初の力の 4 倍以下とする。試験方法は,次による。

a)

張力 2.2N±0.2N でテープを直径 50mm のスプールにテープの外径が 97mm になるまで巻く。

b)

次の操作を 5 回繰り返す。

1)

温度 50℃,相対湿度 10%∼20%の環境に 48 時間放置する。

2)

試験環境条件に 2 時間慣らしてから,張力 2.2N±0.2N で巻き戻す。

c)

温度 30.5℃,相対湿度 85%の環境に 48 時間放置する。テープは,d)及び e)の操作に必要な環境条件に

保つ。

d)

リーダブロックから 1.34m の位置で長さ 1m 以下のテープ試験片を切り取り,試験片の一方の端に

0.64N

の力を加える。記録面を内側にして試験片を直径 25.4mm のフェライトの棒に 90°巻き付けて

走行させる。この棒は,

附属書 によるフェライトを材質とする。この表面粗さは,ISO 1302 の N2

で規定する Ra を 0.05

µm とする。試験片の他の一方の端を速度 1mm/s で水平に引っ張る。

e)

テープとハブの接触部から 4.3m の位置で切り取った同様の試験片について,d)の操作を繰り返す。

7.11

塗布面の接着強度  塗布面の接着強度は,塗布面をテープのベース材料からは(剥)がす力とし,

その力は,1.5N 以上とする。試験方法は,次による。

a)

長さ約 380mm のテープ試験片を切り取り,一方の端から 125mm の位置でテープ幅方向にけ書き(罫

書き)線をベース面に達するまで引く。

b)

図 に示すとおりに,塗布面を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金

属の板に取り付ける。

c)

試験片を 180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて,速度 254mm/min

で引っ張る。

d)

塗布面のいかなる部分でも最初にベースから塗布面がはがれるときの力を記録する。この力が 1.5N に

達する前に試験片が両面接着テープからはがれる場合には,別の種類の両面接着テープを使用しなけ

ればならない。

e)

テープ裏面が塗布されている場合には,裏面についても a)d)を繰り返す。


7

図 1  塗布面の接着強度の試験方法

7.12

剛性  テープの長手方向の剛性は,0.06N・mm

2

とする。試験方法は,次による。

長さ 180mm のテープ試験片を,

間隔が 100mm となるように万能引張試験機に取り付けて,

速度 5mm/min

で引っ張り,距離と力の関係を打点する。2.2N∼7.7N の範囲の曲線の傾きを用いて,剛性  (EI)  を次の式

によって算出する。

L

L

WT

F

E

δ

δ

=

12

3

WT

I

=

L

L

FT

EI

δ

δ

12

2

=

ここに,

δF

力の変化 (N)

T

テープ試験片の厚さの測定値 (mm)

W

テープ試験片の幅の測定値 (mm)

L

L

δ

テープ試験片の長さの変化を初期の長さで除した値

7.13

表面電気抵抗  表面電気抵抗は,次による

裏面が塗布されていないテープの記録面 :10

5

∼5×10

8

裏面が塗布されているテープの記録面  :10

5

∼5×10

9

裏面が塗布されているテープの裏面

:10

6

未満

試験方法は,次による(

図 参照)。

テープ試験片を試験環境条件に 24 時間放置する。24 カラットの金めっきした半径が

r

=25.4mm で粗さ

を N4(ISO 1302 参照)で仕上げてある二つの半円の電極に,記録面が接するように置く。これらの電極

は,水平で,中心間の距離

d

=12.7mm となるように平行に置く。試験片の両端に

F

=1.62N の力を加える。

電極に 500V±10V の直流電圧をかけて,電流を測定する。この値から表面電気抵抗を算出する。

この測定を一つのテープ試験片の 5 か所について行い,これらの表面電気抵抗の平均を算出する。裏面

が塗布されている場合には,裏面についてもこの試験を行う。


8

図 2  表面電気抵抗の試験方法

試験片を電極に置くとき,電極の間にはテープ試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考  試験前に電極の表面を清掃すること。

7.14

耐久性  この規格では,テープの耐久性を評価するパラメータを規定しない。

なお,試験方法は,

附属書 によることが望ましい。

7.15

不良テープ  この規格では,テープが不良であるか否かを評価するパラメータを規定しない。

なお,不良テープに関する参考情報は,

附属書 による。

7.16

テープの研磨性  テープの研磨性は,テープのテープ走行系に対する研磨度とする。附属書 によ

って測定したとき,研磨性試験用バーに生じる研磨パターンの長さは,56

µ

m

以下とする。

7.17

記録前の磁気的状態  データの記録又は試験に先立ち,テープは,減衰する交流磁界をかけること

によって(非可逆過程)

,記録面の残留磁気モーメントの 20%以下に消去しなければならない。試験方法

は,

附属書 による。

テープには低密度の磁束反転があってはならない。

7.18

磁気記録特性  磁気記録特性は,次に示す試験条件による。これらの試験を行うとき,出力信号及

び残留信号の測定は,標準テープ,被試験テープともに同じ走行系(記録時再生をするか,又は記録時再

生機能がないときには,1 回目の再生時に読み取る。

)を使用する。

なお,磁気記録特性の試験に用いる標準テープは,副標準テープに代えることができる。磁気記録特性

の試験条件は,特に規定がない限り次の条件を適用する。

テープの状態

:記録前の磁気的状態

テープ速度

:2.5m/s 以下

再生トラック幅

:記録トラック幅以下

アジマス

:記録時の磁束反転と再生ギャップとの傾き 6'以下

記録ギャップ長

:1.4

µ

m

±0.2

µ

m

記録ヘッドの飽和磁束密度 :0.34T±0.03T

テ−プ張力

:2.2N±0.2N

記録電流

:試験記録電流

7.18.1

ティピカル磁界  ティピカル磁界は,基準磁界の 90%∼110%とする。

7.18.2

平均信号振幅  平均信号振幅は,記録密度 972ftpmm で記録したときの SRA の 70%∼140%とする。


9

7.18.3

分解能  分解能は,記録密度 1 458ftpmm での平均信号振幅を記録密度 972ftpmm の平均信号振幅で

除した値とし,その値は,標準テープの分解能の 80%∼120%とする。

7.18.4

重ね書き  重ね書きは,トーンパターンの信号を記録した後,記録密度 972ftpmm で重ね書きし,

残留するトーンの基本周波数 (162ftpmm) の平均信号振幅を 972ftpmm の信号振幅で除した値とする。トー

ンの平均信号振幅は,等価な実効電力をもつ正弦波信号のピーク値 (P-P) とする。

7.18.4.1

要求事項  重ね書きは,標準テープの重ね書きの 120%未満とする。

7.18.4.2

試験方法  試験時には,次に示すトーンパターンを記録する。

記録したトーンパターンに記録密度 972ftpmm の信号を重ね書きした後,トーンパターンの基本周波数

(162ftpmm)

の信号及び 972ftpmm の信号の平均振幅を測定する。これらの信号振幅は,適切なフィルタを

用いて測定する。

7.18.5

狭帯域信号対雑音比 (NB-SNR)    NB-SNR は,実効電力の平均信号振幅を雑音の実効電力の積分

(側帯波)で除した値とし,デシベル (dB) で表す。

7.18.5.1

要求事項  NB-SNR は,トラック幅が 410

µ

m

のとき,30dB 以上とする。

なお,測定時のトラック幅が

W

µ

m

のとき,次の式によって換算する。

( )

( )

W

W

410

log

10

dB

410

dB

ここに, dB

(410)

トラック幅が 410

µ

m

のときの NB-SNR

dB (W)

トラック幅が W

µ

m

のときの NB-SNR

W

測定に用いた磁気ヘッドのトラック幅  (

µ

m)

7.18.5.2

試験方法  試験方法は,分解能帯域幅 (RBW) 1kHz 及びビデオ帯域幅 (VBW) 10MHz のスペクト

ラムアナライザを使用し,テープ速度を 762mm/s とし,次による。

a)

 972ftpmm

の再生信号振幅をテープの長さ 46m 以上にわたり,

150

個以上のサンプルについて測定する。

b)

次の走行(再生時)でテープ上の同じ部分の雑音の実効電力を測定し,その雑音の実効電力を 332kHz

∼366kHz の範囲まで,実際の分解能帯域幅で正規化して積分する。

その他のテープ速度で試験するときには,テープ速度に応じて周波数を補正する。

7.19

テープの品質  テープの品質は,保存環境条件又は輸送環境条件に放置してあった場合を含めて,

7.19.1

7.19.3 による。試験条件は,次による。

環境条件

:使用環境条件

テープの状態

:記録前の磁気的状態

テープ速度

:2m/s

再生トラック幅

:410

µ

m

記録密度

:972ftpmm

記録ギャップ長

:1.4

µ

m

±0.2

µ

m

アジマス

:記録時の磁束反転と再生ギャップとの傾き 6'以下


10

記録ヘッドの飽和磁束密度 :0.34T±0.03T

記録電流

:試験記録電流

フォーマット(トラック数)

:18 トラック

テープ張力

:2.2N±0.2N

7.19.1

ミッシングパルス  ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損であり,再生した電圧の 0V を基準

にしたピーク値 (0-P) が,

その直前のテープの長さ 25.4mm にわたる平均信号振幅の

2

1

の 25%以下とする。

7.19.2

ミッシングパルス領域  ミッシングパルス領域は,ミッシングパルスが生じた箇所から続く 64 個

の磁束反転を検出するまで,又は 1mm の長さまでの領域とする。ミッシングパルス領域の数の比率は,8

×10

6

個を記録した磁束反転当たり 1 未満でなければならない。

7.19.3

同時発生ミッシングパルス領域  同時発生ミッシングパルス領域は,全トラックを奇数番号及び偶

数番号の二つの 9 トラックの群に分け,一つの 9 トラック群に 2 トラック以上にわたってミッシングパル

スが存在する領域とする。

同時発生ミッシングパルス領域が二つの 9 トラック群で同時に発生しても,1 個の同時発生ミッシング

パルス領域とみなす。その長さは,最初に発生した一つのトラック群の同時発生ミッシングパルス領域か

ら,最後に発生したトラック群の同時発生ミッシングパルス領域の終わりまでとする。

テープの長さ 165m の範囲内での同時発生ミッシングパルス領域の数は,12 個を超えてはならない。

同時発生ミッシングパルス領域の長さは,50mm 以下とする。

8.

カートリッジの寸法及び機械的特性  カートリッジの構成は,次による。

−  ケース

−  リール

−  リールハブに巻いたテープ

−  リールのロック機構

−  書込み禁止機構

−  リーダブロック

−  リーダブロックのラッチ機構

カートリッジの寸法は,互換性上必す(須)の箇所を規定し,それ以外の箇所は,機能的特性だけを示

す。カートリッジの寸法を

図 3∼図 17 に示す。

寸法は,三つの直交する基準面 A,基準面 B 及び基準面 C に基づく(

図 参照)。カートリッジを装着

した場合には,寸法は,カートリッジの他の面を基準としてもよい。カートリッジのケースの寸法を

図 4

図 11 に示す。


11

図 3  カートリッジの外観

図 4  ケースの前面


12

図 5  ケースの上面

図 6  ケースの後面

図 7  ケースの底面


13

図 8  ケースの側面

図 9  図 の一部拡大図

図 10  位置決めノッチの詳細図


14

図 11  ケース開口部の断面図

図 12  カートリッジが未装着の場合のカートリッジの断面図

図 13  カートリッジが装着の場合のカートリッジの断面図


15

図 14  リムの歯形詳細図

図 15  リーダブロック


16

図 16  リーダブロックへのテープの取付け

図 17  ケース内のリーダブロック

8.1

カートリッジの全体の寸法(図 及び図 6)  カートリッジの全体の寸法は,次による。

l

1

=125.00mm±0.32mm

l

2

=109.00mm±0.32mm

l

3

=24.50mm

50

.

0

32

.

0


mm

ケース各部の丸みの半径は,次による。

r

1

≦3.00mm

r

2

≦4.00mm

r

3

≧3.00mm


17

8.2

書込み禁止機構(図 及び図 5)  書込み禁止機構は,書込み禁止状態を識別できる目印(例えば,

白い点)を付けた平らな表面を設けなければならない。

平らな表面は,ケースの前面の窓から操作ができることとし,その窓の位置及び寸法は,次による。

l

4

=11.80mm±0.25mm

l

5

=15.60mm±0.25mm

l

6

= 7.40mm±0.25mm

l

7

=12.00mm±0.25mm

書込み禁止状態のとき,書込み禁止機構の平らな表面は,ケースの窓の奥にあることとし,ケースの前

面からの距離は,次による。

l

8

≧2.55mm

書込み可能状態のとき,平らな表面は,ケースの前面から 0.25mm 以内とする。

書込み禁止機構が作動するのに要する力は,ケースの前面に平行に力を加えたとき,2N∼9N とする。

この規格では,

書込み禁止機構の実装方法を規定しない。

回転式であってもスライド式であってもよい。

窓を大きくしたり別の窓を設けたりしても,ケースがよごれたり,きずがっかないようにしなければなら

ない。

8.3

後面のラベル領域(図 及び図 6)  ケースの後面のラベル領域の位置,寸法及び丸みの半径は,次

による。

l

9

= 7.00mm±0.25mm

l

10

=80.00mm

30

.

0

16

.

0


mm

l

11

=12.30mm±0.25mm

l

12

=0.50mm±0.25mm

r

4

≦1.00mm

8.4

上面のラベル領域(図 7)  ケースの上面のラベル領域は,ケースの上面から 0.50mm±0.25mm の

段差を設け,その位置,寸法及び丸みの半径は,l

9

l

10

r

4

及び次による。

l

13

=31.00mm±0.25mm

l

14

=75.00mm

30

.

0

16

.

0


mm

8.5

ケース開口部(図 4,図 5,図 及び図 9)  ケースには,リーダブロックを挿入できる開口部を設

ける(

図 17 参照)。ケース開口部の位置,寸法,角部の丸みの半径及び切欠きは,次による。

l

15

= 4.70mm±0.25mm

l

16

=14.90mm±0.32mm

l

17

= 7.50mm±0.25mm

l

18

=87.10mm±0.25mm

l

19

= 4.00mm±0.25mm

r

5

= 4.00mm±0.25mm

α

=50°±1°

図 を右側から見たときのケース開口部の構造の拡大図を図 に示し,その寸法及び角度は,次による。

l

61

= 3.9mm±0.5mm

l

62

=16.9mm

5

.

0

4

.

0


mm

l

63

= 3. 0mm±0.5mm

l

64

=11.6mm±0.5mm


18

ω

1

=1°00'±30'

ω

2

=20°±2°

8.6

位置決めノッチ(図 7,図 及び図 10)  位置決めノッチは,ケースの底面の 2 か所に設け,その

位置,寸法及び角度は,次による。

l

20

=106.00mm±0.25mm

l

21

=  5.00mm±0.25mm

l

22

=  7.00mm±0.25mm

l

23

=104.00mm±0.25mm

l

24

=  2.50mm±0.25mm

β

=1°30'±30'

γ

=2°00'±30'

8.7

位置決め領域(図 7)  位置決めの領域は,ケースの底面の 3 か所に,底面からの深さ 0.25mm 以内

とした円形の位置決め領域 a

1

,位置決め領域 a

2

及び位置決め領域 a

3

を設ける。

位置決め領域 a

1

及び位置決め領域 a

2

の直径は,10.00mm±0.25mm とし,この中心の位置は,次による。

l

25

=108.50mm±0.25mm

l

26

=  3.50mm±0.25mm

l

27

=105.50mm±0.25mm

位置決め領域 a

3

の直径は,14.00mm±0.25mm とし,この中心の位置は,次による。

l

28

= 31.25mm±0.25mm

l

29

= 54.50mm±0.25mm

8.8

ケースの開口部周辺の内部構造(図 及び図 11)  ケース開口部周辺の内部構造は,図 及び図 11

に示すとおりとし,その位置,寸法及び角部の丸みは,次による。

l

30

= 3.30mm±0.25mm

l

31

=18.40mm±0.25mm

r

6

= 1.50mm±0.25mm

r

7

= 1.50mm±0.25mm

ケースの傾斜の角度は,半径 r

6

で規定する円の接線とケースの側面との角度とし,その値は,次による。

λ

=40°00'±30'

8.9

ケースのその他の外形(図 8)  ケースのその他の外形の寸法,底面と上面の丸みの半径及び底面の

切欠き角は,次による。

l

32

=113.2mm±0.3mm

l

33

= 26.00mm±0.25mm

r

8

=145.50mm±0.25mm

r

9

=145.50mm±0.25mm

δ

=30°00'±30’

8.10

中心孔(図 7)  中心孔は,ケースの底面に設け,その中心の位置は,基準面 B からの距離 l

29

及び

基準面 A からの距離 l

34

とし,次による。

l

34

=61.00mm±0.25mm

中心孔の直径は,次による。

d

1

=43.5mm

0

.

2

0

.

1


mm


19

図 に示す部分の二つの接線と中心孔の中心とが形成する角度  (

θ

)

は,次による。

θ

=16°00'±30'

8.11

スタッキングリブ(図 及び図 7)  二つの平行なスタッキングリブを底面に設け,その寸法は,次

による。

l

35

= 5.00mm±0.25mm

l

36

= 1.00mm±0.16mm

l

37

=74.50mm±0.25mm

スタッキングリブの位置は,次による。

l

38

=31.00mm±0.25mm

l

39

= 7.50mm±0.32mm

l

40

=79.50mm±0.25mm

8.12

ケースの柔軟性  ケースの上面及び底面(図 参照)の柔軟性は,直角に力 F を加えたときのたわ

み量とする。

8.12.1

要求事項  たわみ量は,次の要求事項を満たさなければならない。

ケースの上面のたわみ量:0.025 6Fd≦0.38+0.054F

ケースの底面のたわみ量:0.025 8Fd≦0.38+0.040F

ここに,

d

:  たわみ量

F

: 4.5N≦F≦54.0N

8.12.2

試験方法  ケースの柔軟性の試験は,万能試験機を使用して圧縮モードで行う。適切なロードセル

を使用してケースの上面及び底面の測定点に,半径 10mm±1mm の点加重をかけて,たわみ量 を測定す

る。測定点の位置は,

図 5,  図 及び次による。

l

65

:公称値 86.9mm

l

66

:公称値 54.5mm

8.13

リール(図 12 及び図 13)  ケースに組み込まれたリールを図 12 及び図 13 に示し,図 12 は,装着

していないときの寸法を示し,

図 13 は装着したときの寸法を示す。図 12 及び図 13 は,スタッキングリブ

を省略している。

8.13.1

ロック機構(図 13)  ロック機構は,ロック状態で次の要求事項を満たさなければならない。た

だし,この規格では,ロック機構の実装方法を規定しない。

−  ロック機構の傾斜の分解能は,6°以下とする。

−  テープの繰出し方向に,0.32N・m のトルクを加えたとき,10°を超えて回転してはならない。

ロック機構のボタンの材料は,二硫化モリブテンを (2±1) %含むナイロン 6/6 とする。

ボタンの寸法及び角度は,次による。

d

9

=2.0mm±0.5mm

d

10

=10.0mm±0.2mm

ρ

=15°±2°

8.13.2

リールの回転軸  リールの回転軸は,平面 P(図 14 及び 8.13.7 参照)に直角で l

29

及び l

34

によって

規定した中心孔の中心を通らなければならない。

8.13.3

金属接合部(図 12)  ケースの裏面側のリールには,磁性特性をもつステンレス鋼[SUS 410 又は

SUS 416

 (JIS G 4304)

参照]の金属接合部を挿入する。この金属接合部は,300N の引張り張力に耐えるこ

ととし,その寸法は,次による


20

d

2

=35.00mm

20

.

0

20

.

1


mm

d

3

=11.15mm±0.05mm

e

1

= 1.51mm±0.10mm

直径 d

3

で規定する金属接合部の内側は,0.15mm 以内の精度でリールの回転軸と同心でなければならな

い。

金属接合部の表面は,平面 P に 0.15mm 以内の精度で平行でなければならない。

8.13.4

歯形リム  歯形リムは,中心孔から操作ができ,かつ,リールに設ける。その寸法及びリムの傾き

角は,次による。

d

4

=36.00mm

50

.

0

00

.

0

mm

d

5

=41.00mm±0.25mm

φ

=11°3'±5'

8.13.5

リールのハブ  リールのハブの直径は,次による。

d

6

=50.0mm

0

.

0

2

.

0

mm

ハブの寸法は,ハブの表面で測定し,次による。

l

41

=13.05mm

20

.

0

10

.

0


mm

角部の丸みの半径は,次による。

r

10

≦0.08mm

ハブは,次の要求事項を満たさなければならない。

−  ハブの表面の平面度は,0.04mm 以内とする。

−  リムのピッチ線である平面 P(8.13.7 参照)とハブの表面との傾きは,0.07mm 以内とする。

−  直径 d

6

の軸に直角な二つの断面をとり,

それぞれの直径の差と二つの断面間の距離との比率は,

0.0038

以下とする。

−  ハブの表面に沿った幅の変動率は,0.025mm/mm 以下とする。

−  歯形リムの歯のピッチ線(8.13.7 参照)に直角な円筒の変形の総計は,全円周にわたり 0.2mm 以下と

する。

8.13.6

相対位置

8.13.6.1

カートリッジが未装着の場合(図 12

−  ロック機構のボタンの先端から基準面 C までの距離は,次による。

l

42

=1.90mm

40

.

1

90

.

0


mm

−  金属接合部の底面から基準面 C までの距離は,次による。

l

43

= 0.4mm

0

.

1

5

.

0


mm

8.13.6.2

カートリッジが未装着又は装着のいずれかの場合(図 12 及び図 13

−  金属接合部の底面から平面 P までの距離は,次による。

l

44

=2.27mm±0.12mm

−  リールのフランジ内側から平面 P までの距離は,次による。

l

45

=0.65mm±0.09mm

8.13.6.3

カートリッジが装着の場合(図 13

−  ロック機構のボタンの先端から基準面 C までの距離は,次による。


21

l

46

=8.1mm±0.2mm

−  ロック機構のボタンを l

42

の位置から l

46

の位置に移動させるのに要する力は,12.25N 以下とする。

−  テープの中心から基準面 C までの距離は,次による。

l

47

:公称値 12.25mm

−  基準面 C から平面 P(8.13.7 参照)までの距離は,次による。

l

60

=5.04mm±0.20mm

8.13.7

歯形リムの形状(図 14)  歯形リムの歯は,60 個からなり,その角度は,次による。その公差は,

累積してはならない。

6

°0'±5'

ピッチ径 d

5

の歯形の寸法及び角度は,次による。

l

48

:公称値 4mm

l

49

:公称値 2mm

φ

:公称値 30°

ピッチ線は,l

49

で規定する円周とし,このピッチ線を平面 P とする。

歯底の半径は,次による。

r

11

≦0.25mm

歯先の半径は,次による

0.10mm

≦r

12

≦0.30mm

8.14

リーダブロック(図 15)  リーダブロックの寸法及び角部の丸みの半径,直径及び角度は,次によ

る。

l

50

=31.80mm±0.04mm

l

51

= 6.8mm±0.1mm

l

52

=21.8mm±0.2mm

l

53

=10.93mm

06

.

0

08

.

0


mm

l

54

= 5.46mm±0.10mm

l

55

= 6.00mm±0.25mm

l

56

=16.5mm

0

.

0

2

.

0

mm

l

57

= 5.2mm±0.2mm

r

13

=25.00mm±0.25mm

r

14

= 1.4mm±0.2mm

r

15

= 5.50mm±0.25mm

d

7

= 7.0mm±0.2mm

d

8

= 4.0mm±0.2mm

µ

1

=90°±2°

µ

2

ο

ο

ο 0

3

8

µ

3

ο

ο

ο 0

3

44


22

8.15

リーダブロックへのテープの取付け(図 16)  テープをリーダブロックに取り付けるための円筒形

の挿入部品は,テープの全幅を巻き付けることができ,かつ,リーダブロックの表面から突き出てはなら

ない。

領域 Z でのテープの下側の縁(

図 16 参照)は,リーダブロックの端と 0.12mm 以内で平行とし,テープ

に張力を加えたときの距離は,次による

l

58

=1.90mm±0.26mm

テープをリーダブロックに取り付けたとき,リーダブロックの表面からのテープ先端の突き出し量は,

次による。

l

59

≦2.5mm

図 16 に示す角度

µ

4

でテープに 10N の力を加えたとき,リーダブロックとテープとは,結合を維持しな

ければならない。

µ

4

=38°±2°

8.16

ラッチング機構(図 17)  この規格では,リーダブロックの位置及び引出し力を規定する。ただし,

リーダブロックへのラッチング機構の実装方法は,規定しない。

リーダブロックをケース内にラッチしているとき,l

51

及び,l

54

図 15 参照)で規定する交点は,l

17

び l

18

図 参照)で規定する二つの直線の交点を中心とした直径 0.5mm 以下の円内になければならない。

リーダブロックとこれに結合しているテープとをカートリッジから引き出すのに要する力は,次の要求

事項を満たさなければならない。

− 2.0N∼7.5N の範囲とする。

−  引き出すのに要する力の最大値と移動した距離との積は,1.3N・mm 未満とする。

リーダブロックをケースに挿入するのに要する力を測定する場合,その角度及び引張り速度は,引出し

に要する力を測定するときと同じとする。試験方法は,次による。

引出し点から,角度

µ

5

図 17 参照)でリーダブロックを引っ張ることができる万能試験機にカートリッ

ジを取り付ける。リーダブロックの引出し点は,l

17

及び l

18

の交点とする。引張り速度は,10mm/min とし,

カートリッジ内に存在する引張りピンによって揺動する状態で,リーダブロックを引っ張る。力が最初に

0.5N

を超える点と引張り力が最大となる点との距離を測定する。直径 d

7

及び直径 d

8

図 15 参照)にかん

(嵌)合するピンを用いて測定する。

挿入力,すなわち,リーダブロックをカートリッジのラッチ位置に押し込む力は,角度

µ

5

で測定したと

き,12N 以下とする。

µ

5

=48°±3°

8.17

テープの巻き方  テープは,カートリッジを上から見たとき,リールに記録面を内側にして反時計

方向に巻かなければならない。

8.18

テープの巻き張力  テープの巻き張力は,2.2N±0.3N とする。

8.19

テープの巻きの円周  リールに巻かれたテープの外側の円周は,280mm∼307mm とする。

8.20

慣性モーメント  慣性モーメントは,ハブ付きのリールにテープを巻いた状態で軸のまわりを自由

に回転できるトルクと,この軸に関する角速度との比とし,その値は,次による。

−  テープの巻きの円周が 280mm 以上,289mm 未満のとき,145×10

-6

kg

・m

2

∼180×10

-6

kg

・m

2

とする。

−  テープの巻きの円周が 289mm 以上,298mm 未満のとき,160×10

-6

kg

・m

2

∼195×10

-6

kg

・m

2

とする。

−  テープの巻きの円周が 298mm 以上,307mm 以下のとき,180×10

-6

kg

・m

2

∼216×10

-6

kg

・m

2

とする。

−  空リールのとき,33.00×10

-6

kg

・m

2

±3.63×10

-6

kg

・m

2

とする。


23

試験方法は,次による。

慣性試験機にリールを載せて振動させる。振動周期は,ユニバーサルカウンタで計測する。振動時間か

ら回転の慣性値に変換する。

9.

記録方式  記録方式は,次による。

− “0”

は,ビットセル先頭の磁束反転,及びビットセル中央の磁束反転で表す。

− “1”

は,ビットセル先頭の磁束反転だけで表す。

9.1

記録密度  記録密度は,次による。

− “0”

の連続パターンの場合は,1 944ftpmm。

− “1”

の連続パターンの場合は,972ftpmm。

9.2

ビットセル長  公称ビットセル長は,1.029

µ

m

とする。

9.3

平均ビットセル長  平均ビットセル長は,ビットセル長の平均とする。

9.4

長周期平均ビットセル長  長周期平均ビットセル長は,連続する 972 000 ビットセル以上にわたる平

均とし,その値は,公称ビットセル長の (100±4) %とする。

9.5

短周期平均ビットセル長  短周期平均ビットセル長は,16 ビットセルにわたる平均とし,その値は,

公称ビットセル長の (100±7) %とする。

9.6

短周期平均ビットセル長の変動率  短周期平短ビットセル長の変動率は,任意の二つの連続する 16

ビットセルの長さ  (STA

n

STA

n

1

)

の変動とし,その値は,次の式によって算出し,1.6%を超えてはなら

ない。

( )

%

6

.

1

100

n

1

n

n

×

+

STA

STA

STA

9.7

ビットシフト  ミッシングパルスがない状態で, “1” のゼロ交差点は,平均ビットセル長によって

規定した公称位置から,28%を超えてはならない(

附属書 参照)。

9.8

トータルキャラクタスキュー  同一のコラムに属するすべてのビットの変位は,テープの基準縁

10.2 参照)に平行に測定したとき,19 ビットセル長を超えてはならない。

9.9

再生信号振幅  再生信号振幅は,記録密度 972ftpmm で連続する 4 000 磁束反転以上にわたり再生し

た出力の平均値とし,その値は,SRA の 60%∼150%とする。この測定は,ブロックごとに分割して行っ

てもよい。

9.10

同時発生ミッシングパルス領域  ブロックは,同時発生ミッシングパルス領域に記録してはならな

い。この領域は,13.4 の規定によって消去しなければならない。

10.

トラック

10.1

トラック数  トラックの数は,18 とする。

10.2

基準縁  テープの基準縁は,テープのハブ端を向かって右側にして記録面側から見たときに下側の

縁とする(13.8 参照)


24

10.3

トラック位置  各トラックの中心線と基準縁との間隔は,次による。

単位 mm

トラック番号

トラック中心線と基準縁との間隔

 1

11.68

±0.04

 2

11.05

±0.04

 3

10.42

±0.04

 4

 9.79

±0.04

 5

 9.16

±0.04

 6

 8.53

±0.04

 7

 7.90

±0.04

 8

 7.27

±0.04

 9

 6.64

±0.04

10

6.01

±0.04

11

5.38

±0.04

12

4.75

±0.04

13

4.12

±0.04

14

3.49

±0.04

15

2.86

±0.04

16

2.23

±0.04

17

1.60

±0.04

18

0.97

±0.04

10.4

トラック幅  書き込んだトラック幅は,0.540mm±0.017mm とする。

10.5

アジマス  いずれのトラックでも,トラックを横切る磁束反転と基準縁に直角な直線との傾きは,

3'

を超えてはならない。

参考  テープに書き込むときのアジマスは,1'未満が望ましい。残りの 2'は,環境条件及び経時変化

によって生じるテープの変形に対する許容差とすることが望ましい。

11.

パケットフォーマット

11.1

パケットの構成要素(図 18)  パケットの構成要素は,パケット ID,UDR 及びパケットトレーラ

とする。

図 18  パケットフォーマット

11.2

パケット ID  パケット ID は,番号 1∼32 の 32 バイトからなり,圧縮処理をしてはならない。パケ

ット ID は,次による。

バイト 1∼6

パケットブロック ID とする。

バイト 1 “10000000”

とする。

バイト 2

ビット 1

“0”とする。

ビット 2∼8  テープの物理的位置表示の値を 2 進数で表す。

算出方法は,

付属書 による。

バイト 3∼6 UDR の識別を 2 進数で表す。初期のブロック間隔に続く,最初のデータブロック又は

テープマークに対して “0” を設定する。各 UDR 及びテープマークによって 1 ずつ増

加する。TCR(13.9 参照)によって増加してはならない。


25

バイト 7∼10

パケットデータフィールド内のデータバイトの総数から 1 を引いた値を 2 進数で表す。

バイト 11

パケットトレーラ内のバイト数を 2 進数で表す。バイト 7∼10 とバイト 11 の和は,パ

ケット内のバイト総数から 1 を引いた値とする。

バイト 12

ビット 1

パケットがデータブロックの最終パケットでないときは, “0” とし,最終パケットの

ときは, “1” とする。

ビット 2

データが圧縮処理されていないときは, “0” とし,圧縮処理されているときは, “1”

とする。

ビット 3∼8  すべて “0” とする。

バイト 13

バイト 12 のビット 2 が “0” のときは,

すべて “0” とする。

バイト 12 のビット 2 が “1”

のときは,バイト 13 は,UDR データの圧縮処理に使用したアルゴリズムを示す 2 進

数とする。

バイト 14∼30

すべて “0” とする。

バイト 31,32 CRC バイト 1 及び CRC バイト 2 とし,

直前のバイトについて

附属書 に示すとおりに

順番に算出する。パケット ID バイトからのデータは,反転した後に CRC を算出する。

CRC

文字の各ビットは,反転した後にパケット ID の最初の 30 バイトに付加する。

11.3

  UDR

  UDR は,パケット ID のバイト 12 のビット 2 の指定に従い,すべての圧縮データ又は非圧縮

データを含む。

11.4

パケットトレーラ  パケットトレーラは,圧縮データのパケットトレーラ及び非圧縮データのパケ

ットトレーラの次の二つの形式とする。

パケットトレーラバイトは,圧縮処理をしてはならない。

11.4.1

圧縮時のパケットトレーラ  パケットトレーラの長さは,10∼41 バイトとする。

バイト 1∼4

パケット内の LDR(圧縮処理前)のバイト数を 2 進数で表す。

バイト 5,6

パケット内の LDR(圧縮処理前)を

附属書 に示すとおりに順番に算出した CRC バイ

ト 1 及び CRC バイト 2 とする。

バイト 7,8

パケット内の UDR(圧縮処理後)及びパケットトレーラの最初の 6 バイトについて

属書 に示すとおりに順番に算出した CRC バイト 1 及び CRC バイト 2 とする。

パッドバイト

パケット全体のバイト数が 32 の整数倍になるように,パケットトレーラにパッドバイ

トを 0∼31 バイトの範囲で付加する。

パケットトレーラ CRC バイト

パケットトレーラの最終の 2 バイトは,CRC バイト 1 及び CRC2 バイトとする。CRC

バイト 1 及び CRC バイト 2 は,UDR(圧縮処理後)及びパケットトレーラ内の直前の

バイトまでを

付属書 に示すとおりに順番に算出する。

 CRC

を生成するデータは,反転した後に CRC を算出する。

 CRC

文字の各ビットは,反転した後パケットトレーラのバイトに付加する。

11.4.2

非圧縮時のパケットトレーラ  パケットトレーラの長さは,2∼33 バイトとする。

パッドバイト

パケット全体のバイト数が 32 の整数倍になるように,パケットトレーラにパッドバイ

トを 0∼31 バイトの範囲で付加する。

パケットトレーラ CRC バイト

パケットトレーラの最終の 2 バイトは,CRC バイト 1 及び CRC バイト 2 とする。CRC


26

バイト 1 及び CRC バイト 2 は,

LDR

及びパケットトレーラ内の直前のパッドバイトま

でを

附属書 に示すとおりに順番に算出する。

 CRC

を生成するデータは,反転した後に CRC を算出する。

CRC

文字の各ビットは,反転した後パケットトレーラのバイトに付加する。

12.

データブロックの様式

12.1

データ部(図 19)  データブロックのデータ部は,一つ又は順番に連結された複数のパケットと,

それに続くカウントフィールド及びブロック ID からなる。

図 19  データ部

連結されたパケットの圧縮処理後のバイト総数は,102 400 バイトを超えてはならない。パケットの連結

は,テープマーク(13.5 参照)を記録するとき,又はパケットがそれ以上存在しないとき終了する。

なお,その他適切な理由があるとき,終了してもよい。

単一のパケットが 102 400 バイトを超える場合は,JIS X 6124 に規定のフォーマットで書き込む。

このデータ部のバイトは,データバイトと呼び,パケットバイト,カウントフィールドバイト及びブロ

ック ID バイトからなる。

12.1.1

パケットバイト  パケットバイトは,UDR バイト,パケット ID バイト及びパケットトレーラバイ

トからなる。

12.1.2

カウントフィールドバイト  カウントフィールドバイトは,6 バイトからなり,最後のパケットト

レーラバイトの次に位置する。

バイト 1,2

データブロックに含まれるパケットの数を 2 進数で表す。

バイト 3∼6

圧縮処理前に次によって算出した値を 2 進数で表す。

データブロックの各 LDR について,バイト数を 32 で割った商を小計する。ただし,

余りがある場合は商に 1 を加えた数を小計する。これら小計の総和を記録値とする。

12.1.3

ブロック ID バイト  ブロック ID バイトは,4 バイトからなり,カウントフィールドバイトの次に

位置する。

ビットは,1(最上位ビット)から 32(最下位ビット)までの番号を付ける。

ビット 1 “0”

とする。

ビット 2∼8

テープの物理的位置表示の値を 2 進数で表す。算出方法は,

附属書 による。

ビット 9 “1”

とする。

ビット 10 “0”

とする。

ビット 11∼12

データブロックの最初のパケットのパケットブロック ID と同じ値を 2 進数で表す

11.2

バイト 3∼6 参照)。

これらの 32 ビットは,

図 20 に示すとおりに配置する。

図 20  ブロック ID バイト

バイトの順序

1 2 3 4

ビット

1

∼8 9∼16 17∼24 25∼32


27

12.2

データバイトのフレームへの割当て  データバイトは,検査文字を含めてフレームというグループ

に配列する。フレームは,定められたビットパターンをもった付加バイト群とともに,一定の順序で配列

する。このように配列したデータバイト及び付加バイトを規定のコード化法(12.4 参照)でテープに記録

する。

フレームは,1 トラック当たり 1 バイトの論理的な 8 ビットバイトを 18 トラックで構成する 18 バイト

とする。フレーム内の各バイトは,トラックに沿って記録する(

図 21 参照)。

図 21  フレーム

フレームは,接頭辞フレーム,データフレーム,剰余フレーム及び接尾辞フレームの 4 種類がある。

フレームでは,次のバイトが使われる。

データバイト

パッドバイト

剰余バイト

斜め冗長検査バイト

垂直冗長検査バイト

CRC

バイト

データブロックは,

図 22 に示す構成とする。

接頭辞フレーム

最初の 2 フレームとする。

データフレーム

最大 7 314 フレームで,クラスタに分割する。

剰余フレーム

剰余フレーム 1 及び剰余フレーム 2,又は剰余フレーム 2 だけとする。

接尾辞フレーム

最後の 2 フレームとする。


28

図 22  データブロック

12.2.1

接頭辞フレーム  接頭辞フレームは,各トラックでパッドバイトの 2 フレームから構成する。

12.2.2

データフレーム(図 23)  各データフレームは,次によって構成する。

−  最初の 7 データバイトは,トラック 1∼13 の奇数トラックに記録する。

−  次の 7 データバイトは,トラック 2∼14 の偶数トラックに記録する。

−  斜め冗長検査バイト (DRC−A)  は,トラック 15 に記録する(12.3.1 及び 12.3.3 参照)

−  垂直冗長検査バイト (VRC−A)  は,トラック 17 に記録する(12.3.2 及び 12.3.3 参照)

−  斜め冗長検査バイト (DRC−B)  は,トラック 16 に記録する(12.3.1 及び 12.3.3 参照)

−  垂直冗長検査バイト (VRC−B)  は,トラック 18 に記録する(12.3.2 及び 12.3.3 参照)

図 23  データフレーム

データフレームは,次のクラスタに分割する。

−  最初のクラスタは,データバイトの 69 フレームまでとする。

−  次のクラスタは,データバイトの 71 フレームとする。

−  最後のクラスタは,データバイトの 71 フレームまでとする。

12.2.3

剰余フレーム 1(図 24)  最後のデータクラスタのデータフレームの後に残りのデータバイトの数

が 12 バイト又は 13 バイトのときは,剰余フレーム 1 を設ける。残りのデータバイトの数が 12 バイト未満

のときは,剰余フレーム 1 を設けない。剰余フレーム 1 は,次によって構成する。

− 12 バイト又は 13 バイトのデータバイト

−  残りのデータバイト数による 1 バイト又は 2 バイトのパッドバイト


29

−  トラック 15 に DRC−A,トラック 17 に VRC−A

−  トラック 16 に DRC−B,トラック 18 に VRC−B

図 24  剰余フレーム 1

12.2.4

剰余フレーム 2(図 25)  剰余フレーム 1 がない場合,残りのデータバイトの数が 11 バイト以下

のときは,これらのデータバイトに続けて,データバイトの数と付加パッドバイトの数の和が 11 バイトに

なるように,

トラック 1∼13 の奇数トラック及びトラック 2∼8 の偶数トラックに付加パッドバイトを記録

する。剰余フレーム 1 がある場合,トラック 1∼13 の奇数トラック及びトラック 2∼8 の偶数トラックに付

加パッドバイトを記録する。

いずれの場合も,剰余フレーム 2 の構成は,次による。

−  トラック 10 に剰余バイトを記録する(12.2.4.1 参照)

−  トラック 12 に CRC バイト 1,トラック 14 に CRC バイト 2 を記録する(12.2.4.2 参照)

−  トラック 15 に DRC−A,トラック 17 に VRC−A を記録する。

−  トラック 16 に DRC−B,トラック 18 に VRC−B を記録する。


30

図 25  剰余フレーム 2

12.2.4.1

剰余バイト  剰余バイトは,剰余フレーム 2 のトラック 10 に記録し,ビット 1(最上位ビット)

からビット 8(最下位ビット)は,次による。

ビット 1,2

規定しない。 “1” 又は “0” のいずれでもよい。

ビット 3,4 “1”

とする。

ビット 5∼8

剰余フレーム内の付加パッドバイトの総数を 2 進数で表す。

12.2.4.2

巡回冗長検査 (CRC) 文字  剰余フレーム 2 のトラック 12 及びトラック 14 には,それぞれ CRC

バイト 1 及び CRC バイト 2 を記録する。CRC 文字は,データバイト,付加パッドバイト及び剰余バイト

について

附属書 に示す方法で算出する。

CRC

文字の算出には,ECC バイト(12.3 参照)を含めない。

12.2.4.3

剰余フレームの要求事項のまとめ  剰余フレーム 1 及び剰余フレーム 2 の要求事項のまとめを表

1

に示す。


31

表 1  剰余フレームの要求事項

最終データフレームの後
に残るデータバイト数

剰余フレーム 1

剰余フレーム 2

パケット

バイト

カウント

フィール

ドバイト

ブロック

−ID

バイト

パケット

バイト

カウント

フィール

ドバイト

ブロック

−ID

バイト

付加

パツド

バイト

パケット

バイト

カウント

フィール

ドバイト

ブロック

−ID

バイト

付加

パッド

バイト

剰余

バイト

CRC

バイト

0 0 0

剰余フレーム 1 なし

0 0 0 11

1

2

0 0 1          0 0 1 10

1

2

0 0 2          0 0 2

9

1

2

0 0 3          0 0 3

8

1

2

0 0 4          0 0 4

7

1

2

0 1 4          0 1 4

6

1

2

0 2 4          0 2 4

5

1

2

0 3 4          0 3 4

4

1

2

0 4 4          0 4 4

3

1

2

0 5 4          0 5 4

2

1

2

0 6 4          0 6 4

1

1

2

1 6 4          1 6 4

0

1

2

2 6 4 2 6 4 2 0 0 0 11

1

2

3 6 4 3 6 4 1 0 0 0 11

1

2

12.2.5

接尾辞フレーム  接尾辞フレームは,2 フレームからなり,その構成は,次による。

−  トラック 1∼13 の奇数トラック

付加パッドバイト

−  トラック 15 DRC-A

−  トラック 17 VRC-A

−  トラック 2∼14 の偶数トラック

付加パッドバイト

−  トラック 16 DRC-B

−  トラック 18 VRC-B

12.3

誤り訂正符号 (ECC)   誤り訂正符号は,斜め冗長検査 (DRC) 符号及び垂直冗長検査 (VRC) 符号

を生成する。

DRC

及び VRC の算出は,接頭辞フレームから始めて接尾辞フレームで終わる。

12.3.1

及び 12.3.2 で Tn

m

は,n 番目のトラックの m 番目のビットを示す。

12.3.1

斜め冗長検査 (DRC) 符号  2 個の DRC は,トラック 15 及びトラック 16 に記録する。DRC 内の

ビットは,トラック 17 及びトラック 18 を除く他のすべてのトラックのビットから算出する。DRC 内の m

番目のビットは,それぞれ二つの式で与えられる。

トラック 15 の m 番目のビット=

(

)

( )

ïþ

ï

ý

ü

ïî

ï

í

ì

+

+

å

å

=

=

6

0

n

8

1

n

7

n

m

1

n

m

n

2

1

n

2

T

T

 (mod 2)

トラック 16 の m 番目のビット=

(

)

( )

( )

ïþ

ï

ý

ü

ïî

ï

í

ì

+

+

+

å

å

=

=

+

+

6

0

n

7

1

n

8

n

m

15

m

14

n

m

n

2

15

1

n

2

T

T

T

 (mod 2)

12.3.2

垂直冗長検査 (VRC) 符号  2 個の VRC は,トラック 17 及びトラック 18 に記録する。VRC 内の

ビットは,同じインデックスパリティをもつ他の 8 トラックのビットから算出する。VRC 内の m 番目の

ビットは,それぞれ次の二つの式で与えられる。


32

トラック 17 の m 番目のビット=

(

)

ïþ

ï

ý

ü

ïî

ï

í

ì

+

å

=

7

0

n

m

1

n

2

T

 (mod 2)

トラック 18 の m 番目のビット=

( )

ïþ

ï

ý

ü

ïî

ï

í

ì

å

=

8

1

n

m

n

2

T

 (mod 2)

12.3.3

  ECC

のフォーマット  各フレームでの各 DRC 及び各 VRC の 8 ビットは,8 ビットの検査バイト

とみなす。

12.3.4

  ECC

のまとめ  ECC のまとめを図 26 に示す。

図 26  ECC のまとめ

参考  ECC の詳細は,IBM Journal of Research and Development.


33

Vol.29, Number 6 of November 1985

の A. M. PATEL:Adaptive cross parity (AXP) code for a 

high-density magnetic tape subsystem

による。

12.4

  8

ビットバイトの記録  接頭辞フレーム,データフレーム,剰余フレーム及び接尾辞フレームでの

ECC

バイトを含むそれぞれの 8 ビットバイトは,テープ上で 9 ビットパターンで表す。各 8 ビットバイト

の 9 ビットパターンでの表現を

付属書 に規定する。9 ビットパターンの最も左側のビットは,最初に記

録する(BOT に近い側)

12.5

記録データブロック  データブロックは,図 27 に示す構成でテープに記録し,記録後は,記録デー

タブロックという。


34

図 27  記録データブロック

*

この位置の再同期制御フレームの有無は,直前のフレーム数による(12.5.3 参照)

12.5.1

プリアンブル  プリアンブルは,全トラックに 9 ビットパターン “111111111” を記録した 9∼13

フレームで構成する。

12.5.2

データ開始マーク (BDM)   BDM は,全トラックに 9 ビットパターン “100010001” を記録した 2

フレームで構成する。

12.5.3

再同期制御フレーム  再同期制御フレームは,全トラックに 9 ビットパターン “100010001” を記

録した 1 フレームで構成し,接頭辞フレームから数えてデータブロックの 71 フレームごとに記録する。た

だし,データ終了マーク (EDM) の直前の場合は,再同期制御フレームを記録してはならない。

12.5.4

データ終了マーク (EDM)   EDM は,全トラックに 9 ビットパターン “100010001” を記録した 2

フレームで構成する。

12.5.5

ポストアンブル  ポストアンブルは,全トラックに 9 ビットパターン “111111111” を記録した 9∼

13

フレームで構成する。

12.6

データ密度  ECC バイト,8 ビットから 9 ビットへの変換及び再同期制御フレームの挿入によって,

データバイト数の最大密度は,次の式のとおり 1 491 バイト/mm となる。

(

)

mm

/

1491

72

71

9

8

8

1

972

14

バイト

=

×

×

×

×

ここに, 14:

1

フレーム当たりのバイト数

972

オール “1” パターンの長さ 1mm 当たりの磁束反転数

8

1

1

バイト当たりのビット数の逆数

9

8

12.4

の記録方法に対応


35

72

71

再同期制御フレームに対応

13.

テープフォーマット  テープフォーマットは,次の制御ブロックによって定義する。

記録密度識別バースト

 ID

分離バースト

ブロック間隔

消去ギャップ

テープマーク

さらに,

2

種類の変換切換えレコード(13.9 参照)がある。

5

種類の制御ブロックは,次によって記録する(

図 28 参照)。

a)

 18

トラックを次の六つの領域に分ける。

領域

A

:トラック

1

7

13

領域

B

:トラック

2

8

14

領域

C

:トラック

3

9

15

領域

D

:トラック

4

10

16

領域

E

:トラック

5

11

17

領域

F

:トラック

6

12

18

図 28  領域とトラック分割の関係

b)

各領域の各トラックは,オール“

1

”パターン,又は

6

ビットパターン

 “100000”

の繰返し(以下,ト

ーンという。

)のいずれかを記録する。

13.1

記録密度識別バースト  記録密度識別バーストは,次による。

領域

A

C

F

にオール“

1

”を記録する。

領域

B

D

E

にトーンを記録する。


36

記録密度識別バーストの長さは,公称

2 375mm

,最小

2 250mm

,最大

3 060mm

とする。記録密度識別バ

ーストは,テープの最初に記録する。

13.2

ID

分離バースト

ID

分離バーストは,次による。

全領域にオール

 “1”

を記録する。

ID

分離バーストの長さは,公称

2.0mm

,最小

1.9mm

,最大

2.1mm

とする。

13.3

ブロック間隔  ブロック間隔は,次による。

領域

A

D

F

にオール

 “1”

を記録する。

領域

B

C

E

にトーンを記録する。

ブロック間隔の長さは,公称

2.0mm

,最小

1.6mm

,最大

3.0mm

とする。

ブロック間隔での全トラックにわたる不連続な部分の長さ(例えば,起動/停止モードに起因)は,

0.03mm

を超えてはならない。この不連続な部分は,記録データブロックのプリアンブルの手前の

0.5mm

以内,又はポストアンブルの後の

0.5mm

以内に存在してはならない。

ブロック間隔は,

ID

分離バーストの直後に記録する。ブロック間隔は,各記録データブロック,各消去

ギャップ(13.4 参照)及び各テープマーク(13.5 参照)の前,並びに後に,テープ上の最終テープマーク

後を除き,記録する。

13.4

消去ギャップ  消去ギャップは,次による。

領域

B

C

F

にオール

 “1”

を記録する。

領域

A

D

E

にトーンを記録する。

消去ギャップは,正しく書き込めなかった箇所,又は消去命令によってテープ上の一定の長さに記録す

る。

13.4.1

正常の消去ギャップ  正常の消去ギャップの長さは,公称

7.8mm

,最小

7.4mm

,最大

8.2mm

とす

る。

正常の消去ギャップは,欠陥箇所を避けるため,ブロック間隔で分割して

20

回まで連続して記録してよ

い。欠陥箇所とは,7.19 の要求事項を満たさないテープ上の部分とする。

13.4.2

長大な消去ギャップ  長大な消去ギャップの長さは,

200mm

以下とする。

長大な消去ギャップは,正常の消去ギャップ及び/又は後に続くブロック間隔が認識されなかった場合

に記録する。長大な消去ギャップの内部に,長さが

1mm

以下のブロック間隔が部分的に存在してもよい。

13.5

テープマーク  テープマークは,次による。

領域

B

D

E

にオール“

1

”を記録する。

領域

A

C

F

にトーンを記録する。

テープマークの長さは,公称

1.0mm

,最小

0.7mm

,最大

1.3mm

とする。

テープマークは,連続するデータブロックの限界を定めるために,

1

個又は複数個使用できる。

13.6

ブロック間隔,消去ギャップ及びテープマークの関係  ブロック間隔が消去ギャップ若しくはテー

プマークに先立つか,又は消去ギャップ若しくはテープマークに続く場合,次に示すとおりに,制御ブロ

ックの

9

トラックのトーンパターンのうちの

6

トラックのトーンパターンは,他方の制御ブロックのオー

1

”パターンの中まで伸ばさなければならない(

図 29 参照)。

13.6.1

ブロック間隔に続くテープマーク

トラック

1

6

7

12

13

及び

18

で,ブロック間隔の最後の

18

個のオール“

1

”を

18

個のトーンビ

ットで置き換える。

トラック

2

5

8

11

14

及び

17

で,テープマークの最初の

18

個のオール“

1

”を

18

個のトーンビ


37

ットで置き換える。

13.6.2

テープマークに続くブロック間隔

トラック

1

6

7

12

13

及び

18

で,ブロック間隔の最初の

18

個のオール

1

”を

18

個のトーンビ

ットで置き換える。

トラック

2

5

8

11

14

及び

17

で,テープマークの最後の

18

個のオール

1

”を

18

個のトーンビ

ットで置き換える。

13.6.3

ブロック間隔に続く消去ギャップ

トラック

1

4

7

10

13

及び

16

で,ブロック間隔の最後の

18

個のオール“

1

”を

18

個のトーンビ

ットで置き換える。

トラック

2

3

8

9

14

及び

15

で,消去ギャップの最初の

18

個のオール“

1

”を

18

個のトーンビッ

トで置き換える。

13.6.4

消去ギャップに続くブロック間隔

トラック

1

4

7

10

13

及び

16

で,ブロック間隔の最初の

18

個のオール“

1

”を

18

個のトーンビ

ットで置き換える。

トラック

2

3

8

9

14

及び

15

で,消去ギャップの最後の

18

個のオール“

1

”を

18

個のトーンビッ

トで置き換える。

13.6.5

ブロック間隔,消去ギャップ及びテープマークの関係のまとめ  ブロック間隔,消去ギャップ及び

テープマークの関係のまとめは,

図 29 に示す。

図 29  ブロック間隔,消去ギャップ及びテープマークの関係


38

13.7

テープの最初及び最後の記録  テープの最初の記録は,記録密度識別バーストとする。記録密度識

別バーストは,カートリッジのリーダブロックから

1.34m

以内で始まり,

3.28m

以内で終わらなければな

らない。

テープの最後の記録は,テープとカートリッジのハブとの接合部から

4.3m

以上で終わらなければなら

ない。

13.8

テープフォーマットのまとめ  記録データブロック以外の記録は,図 30 に示す。

図 30  記録データブロック以外の記録

図 31  テープ上の記録の配列

13.9

変換切換えレコード (TCR)   変換切換えレコードは,この規格の規定で変換し,書き込まれた記録

データブロックと,JIS X 6124 の規定で書き込まれた記録データブロックの混在を可能とする。

TCR1

は,テープが正方向に走行しているとき,記録データブロックが JIS X 6124 で規定したフォーマ

ットから,この規格で規定したフォーマットに切り換えることを指示するために書き込む。

TCR2

は,テープが正方向に走行しているとき,記録データブロックがこの規格で規定したフォーマッ

トから,JIS X 6124 で規定したフォーマットに切り換えることを指示するために書き込む。


39

TCR

は,テープマークの後には不要である。最初の記録データブロックがこの規格か,又は JIS X 6124

か,いずれの規格に適合しているかを示すために,

BOT

TCR

を書き込んでもよい。テープマークの後

又は

BOT

TCR

を書き込むことは,必す(須)としない。

TCR

は,JIS X 6124 の規定に従って,テープ上に記録する。

TCR1

及び

TCR2

は,それぞれ

28

バイトからなり,バイト

7

及びバイト

18

を除いて同一の内容とする。

バイト

1 “11000000”

とする。

バイト

2

テープの物理的位置表示の値を

2

進数で示す。

算出方法は,

附属書 による。

バイト

3

6

オール

 “0”

とする。

バイト

7 TCR1

ではオール

 “1”

とし,

TCR2

では

 “11111110”

とする。

バイト

8

14

オール

 “0”

とする。

バイト

15

バイト

2

と同じ内容とする。

バイト

16

17

オール

 “1”

とする。

バイト

18

バイト

7

と同じ内容とする。

バイト

19

25

オール

 “0”

とする。

バイト

26 “00110111”

とする。

バイト

27

28

バイト

1

からバイト

26

までを

附属書 に示すとおりに順番に算出した

CRC

バイト

1

及び

CRC

バイト

2

とする。


40

附属書 A(参考)  輸送条件

A1

環境条件  カートリッジの輸送時においては,次の環境条件とすることが望ましい。

A1.1

未記録のカートリッジ

温度

:−

23

℃∼

48

相対湿度

5%

100%

湿球温度

26

℃以下

期間

:連続

10

日以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

A.1.2

記録済みカートリッジ

温度

5

℃∼

32

相対湿度

5%

80%

湿球温度

26

℃以下

カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

A.2

危険  データを記録したカートリッジを輸送する際,次の

3

種類の危険性がある。

A.2.1

衝撃及び振動  輸送中のカートリッジの損傷を少なくするために,次の対策をとることが望ましい。

a)

カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。

b)

カートリッジは,

1m

を超える高さから落下させてはならない。

c)

カートリッジは,十分な衝撃材を用いた固い箱の中に収納する。

d)

カートリッジ収納箱は,内部が清浄で,かつ,じんあい(塵挨)や水の浸入防止が十分可能な構造と

する。

e)

カートリッジ収納箱内でのカートリッジ収納方向は,テープ中心軸が水平になるようにする。

f)

カートリッジ収納箱は,正しい位置方向(天地)に置くように明確な表示をする。

A.2.2

極端な高温・高湿度環境

a)

温度及び湿度の急激な変化は,いかなる場合でも,可能な限り回避する。

b)

輸送されたカートリッジを使用する前には,必ず使用環境に

24

時間以上放置する。

A.2.3

誘導磁界の影響  カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は,

80mm

以上確保する。

これによって,外部磁界の影響による信号品質劣化の危険性は,無視できる程度に減少する。


41

附属書 B(参考)  不良テープ

テープ装置又は他のテープの性能を低下させるテープを,不良テープと呼ぶ。テープの特性には,テー

プ装置の性能を低下させるものとして,高い研磨性,テープ走行部に対する高い静摩擦力,テープの縁の

不良な状態,テープの摩耗によって発生する多量のごみ,テープの層間の滑り,ベース面に付着するテー

プのごみ,テープの吸着,他のテープの性能を低下させるようなテープ組成のしみ出しなどがある。この

ような不良テープを使用すると,テープ装置の性能が低下し,かつ,データの誤りが多く発生する。

不良テープは,使用しない方がよい。


42

附属書 C(規定)  テープ研磨性試験方法

C.1

概要  テープの研磨性は,テープのテ−プ走行系に対する研磨度とする。

C.2

取付け  図 C.1 に示す清浄なフェライトの試験用バーを図 C.2 に示す取付け用機構に取り付ける。試

験用の刃は,上向きに取り付け,摩耗してなく,かつ,

1

µ

m

以上のチップや欠けがないものとする。

試験用の刃の半径は,

13

µ

m

以下とする。

フェライトのバーは,単結晶フェライトからなり,その成分及び質量比は,次による。

ZnO 22%

NiO 11%

FeO 67%

粒子の平均の大きさは,

7.2

µ

m

±

2.0

µ

m

とし,密度は,

5.32g/cm

3

以上とする。

バーの

4

面の表面粗さは,

N2

ISO 1302 参照)以上とする。

参考

例えば,

住友 H4R2 又は H4R3”などが適合し,

Sumitomo Special Metals Div. Torrance CA. USA.

から入手可能である。

C.3

試験方法  試験用機器を,バーに対するテープの巻付け角度が両側でそれぞれ

8

°,合計で

16

°とな

るようにテープ装置に取り付ける。

バーにおけるテープの張力は,

1.4N

に設定する。

テープをバーに掛けて,バーを通過するテープの長さを

520.0m

±

2.5m

とし,速度

1m/s

1

回走行させ

る。この長さは,カートリッジを適切な数に分割した合計としてもよい。

試験用機器をテープ装置から取り外し,試験用バーの摩耗した部分の長さを測定する。この測定には,

倍率が

300

倍以上の顕微鏡を使用する。

12.65mm

の摩耗パターンの

4

1

2

1

及び

4

3

の部分で測定し,これらの

3

か所の平均の長さを算出する。

C.3

に摩耗パターンの例を示す。

図 C.1  研摩性試験用バー


43

図 C.2  研摩性試験用バーの取付け

図 C.3  摩耗パターンの例


44

附属書 D(参考)  テープの耐久性

供給者からカートリッジを購入するとき,カートリッジテープは,次の要求事項を満たさなければなら

ない。

適切な装置を用いたカートリッジの試験及び測定法を次に示す。試験は,使用環境(6.2 参照)で実施し

なければならない。

D.1

短区間耐久性試験

D.1.1

短区間耐久性試験は,短いデータのファイルを繰り返し走行させる場合の,テープの耐摩耗性を試

験するために行う。短区間耐久性試験で連続して

10

回読み取っても回復しないミッシングパルスは,永久

的なミッシングパルスとみなす。

D.1.2

正方向の読取り時の永久的な同時発生ミッシングパルス領域は,正方向の読取り回数が

40 000

回に

達する前に発生してはならない。さらに,正方向の読取り回数が

80 000

回に達するまでに平均

1

個を超え

て発生してはならない。

D.1.3

試験方法  試験に先立ち,テープ装置を清掃する。

試料は,

4

巻以上用意して,同時発生ミッシングパルス領域がないテープの領域に信号を書き込む。試

験する領域は,テープの先端から約

10m

以降,又は

25 000

バイトからなるレコードの

500

レコード以降

とすることが望ましい。

その長さは,

1m

又は

50

レコードとすることが望ましい。

試験の各サイクルでは,試験する領域の始めから終わりまでのすべてのレコードを記録してから,始め

の領域に戻る。試験を完全に行うためには,各カートリッジについて試験サイクルを

80 000

回続けること

が望ましい。同時発生ミッシングパルス領域を検出した場合は,永久的な同時発生ミッシングパルス領域

とする前に,正方向の読取りを

10

回まで行うことが望ましい。

試験中は,テープの走行部分を清掃してはならない。

D.2

長区間耐久性試験

D.2.1

長区間耐久性試験は,テープ装置でテープ全長を繰り返し走行させる場合のテープの耐摩耗性を試

験するために行う。これは,テープの寿命試験ではない。

D.2.2

カートリッジは,次の要求事項を満たさなければならない。

a)

同時発生ミッシングパルス領域は,テープ全長の走行回数を

200

回とし,テープの長さ

165m

当たり

平均

6

個を超えないことが望ましい。

b)

同時発生ミッシングパルス領域は,

1

回の走行では,テープの長さ

165m

当たり

12

個を超えないこと

が望ましい。

D.2.3

試験方法

試験に先立ち,テープ装置を清掃する。試験中は,テープの走行部分を清掃してはならない。試験用の

信号は,テープ全長に連続のデータを書き込むか,又は

16 000

バイト以上のレコードを書き込むことが望

ましい。


45

附属書 E(規定)  記録前の磁気的状態

E.1

概要  記録前の磁気的状態は,記録面の残留磁気モーメントで表す。残留磁気モーメントは,磁界が

ない場合の記録面の磁気モーメントで表す。記録面の最大残留磁気モーメントは,記録面を

350kA/m

の磁

界にさらした後の,記録面の最大残留磁気モーメントで表す。記録面は,強い磁気モーメントがあると,

記録システムの機能に支障を来す可能性があるので,記録の前に記録面の状態を 7.17 で規定する状態にし

ておくことが必要となる。

E.2

試験方法  磁気モーメントは,振動試料磁化測定器を使用して測定する。試験方法は,次による。

a)

直径が

6mm

12mm

のテープ試験片をとる。

b)

原テープの長手(塗布)方向を示す矢印をテープの試験片に付ける。

c)

テープ試験片の長手方向を極方向にそろえて,振動試料磁化測定器に取り付ける。

d)

テープ試験片を振動試料磁化測定器の極と極の中心に置く。

試験片は,試験の準備又は取付け中,

4kA/m

以上の磁界中にさらしてはならない。

e)

テープ試験片の残留磁気モーメントを測定する。

f)

テープ試験片を

180

°回転させて,d)及び e)を繰り返す。

g)

テープ試験片を,磁界のピーク値

350kA/m

でヒステリシスループに沿って

4

回磁界を変える。

h)

残留磁気モーメントの正及び負の最大値を測定する。

i)

e)

h)の操作で得た測定値を比較する。


46

附属書 F(規定)  ビットバイトの ビットパターンでの表現

8

ビットバイトは,左端が最上位ビット及び右端が最下位ビットを示す。

9

ビットパターンは,左端のビットを最初に,右端のビットを最後に記録する。

8

ビットバイト

9

ビットパターン

00000000 011001011

00000001 011001001

00000010 001001101

00000011 101100011

00000100 011001010

00000101 101100101

00000110 101100110

00000111 101100111

00001000 011001111

00001001 101101001

00001010 101101010

00001011 101101011

00001100 011001110

00001101 101101101

00001110 101101110

00001111 101101111

00010000 001001011

00010001 001001001

00010010 011001101

00010011 100100011

00010100 001001010

00010101 100100101

00010110 100100110

00010111 100100111

00011000 001001111

00011001 100101001

00011010 100101010

00011011 100101011

00011100 001001110

00011101 100101101

00011110 100101110

00011111 100101111

00100000 101001111

00100001 101001101

00100010 001010010

00100011 001010011

00100100 101001110

00100101 001010101

00100110 001010110

00100111 001010111

00101000 101001011

00101001 001011001

00101010 001011010

8

ビットバイト

9

ビットパターン

00101011 001011011

00101100 101001010

00101101 001011101

00101110 001011110

00101111 001011111

00110000 011100011

00110001 001100011

00110010 001110010

00110011 001110011

00110100 010100011

00110101 001110101

00110110 001110110

00110111 001110111

00111000 111100011

00111001 001111001

00111010 001111010

00111011 001111011

00111100 110100011

00111101 001111101

00111110 001111110

00111111 001111111

01000000 010001011

01000001 010001001

01000010 010010010

01000011 010010011

01000100 010001010

01000101 010010101

01000110 010010110

01000111 010010111

01001000 010001111

01001001 010011001

01001010 010011010

01001011 010011011

01001100 010001110

01001101 010011101

01001110 010011110

01001111 010011111

01010000 011100101

01010001 001100101

01010010 010110010

01010011 010110011

01010100 010100101

01010101 010110101


47

X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

8

ビットバイト

9

ビットパターン

01010110 010110110

01010111 010110111

01011000 111100101

01011001 010111001

01011010 010111010

01011011 010111011

01011100 110100101

01011101 010111101

01011110 010111110

01011111 010111111

01100000 011100110

01100001 001100110

01100010 011010010

01100011 011010011

01100100 010100110

01100101 011010101

01100110 011010110

01100111 011010111

01101000 111100110

01101001 011011001

01101010 011011010

01101011 011011011

01101100 110100110

01101101 011011101

01101110 011011110

01101111 011011111

01110000 011100111

01110001 001100111

01110010 011110010

01110011 011110011

01110100 010100111

01110101 011110101

01110110 011110110

01110111 011110111

01111000 111100111

01111001 011111001

01111010 011111010

01111011 011111011

01111100 110100111

01111101 011111101

01111110 011111110

01111111 011111111

10000000 111001011

10000001 111001001

10000010 100010010

10000011 100010011

10000100 111001010

10000101 100010101

10000110 100010110

10000111 100010111

10001000 111001111

8

ビットバイト

9

ビットパターン

10001001 100011001

10001010 100011010

10001011 100011011

10001100 111001110

10001101 100011101

10001110 100011110

10001111 100011111

10010000 011101001

10010001 001101001

10010010 100110010

10010011 100110011

10010100 010101001

10010101 100110101

10010110 100110110

10010111 100110111

10011000 111101001

10011001 100111001

10011010 100111010

10011011 100111011

10011100 110101001

10011101 100111101

10011110 100111110

10011111 100111111

10100000 011101010

10100001 001101010

10100010 101010010

10100011 101010011

10100100 010101010

10100101 101010101

10100110 101010110

10100111 101010111

10101000 111101010

10101001 101011001

10101010 101011010

10101011 101011011

10101100 110101010

10101101 101011101

10101110 101011110

10101111 101011111

10110000 011101011

10110001 001101011

10110010 101110010

10110011 101110011

10110100 010101011

10110101 101110101

10110110 101110110

10110111 101110111

10111000 111101011

10111001 101111001

10111010 101111010

10111011 101111011


48

X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

8

ビットバイト

9

ビットパターン

10111100 110101011

10111101 101111101

10111110 101111110

10111111 101111111

11000000 110001011

11000001 110001001

11000010 110010010

11000011 110010011

11000100 110001010

11000101 110010101

11000110 110010110

11000111 110010111

11001000 110001111

11001001 110011001

11001010 110011010

11001011 110011011

11001100 110001110

11001101 110011101

11001110 110011110

11001111 110011111

11010000 011101101

11010001 001101101

11010010 110110010

11010011 110110011

11010100 010101101

11010101 110110101

11010110 110110110

11010111 110110111

11011000 111101101

11011001 110111001

11011010 110111010

11011011 110111011

11011100 110101101

11011101 110111101

11011110 110111110

8

ビットバイト

9

ビットパターン

11011111 110111111

11100000 011101110

11100001 001101110

11100010 111010010

11100011 111010011

11100100 010101110

11100101 111010101

11100110 111010110

11100111 111010111

11101000 111101110

11101001 111011001

11101010 111011010

11101011 111011011

11101100 110101110

11101101 111011101

11101110 111011110

11101111 111011111

11110000 011101111

11110001 001101111

11110010 111110010

11110011 111110011

11110100 010101111

11110101 111110101

11110110 111110110

11110111 111110111

11111000 111101111

11111001 111111001

11111010 111111010

11111011 111111011

11111100 110101111

11111101 111111101

11111110 111111110

11111111 111111111


49

X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

附属書 G(規定)  ビットシフトの測定方法

試験テープに記録する装置は,通常の情報交換用装置とする。

テープは,7.17 で規定する記録前の磁気的状態を満たさなければならない。

テープは,システムの動作と同様の起動停止方式で記録する。

G.1

読取り装置  読取り装置のテープ速度の許容差は,公称テープ速度の

1%

以内とする。

読取りヘッドの出力電圧の絶対値は,規定しない。ヘッド及びテープ速度は,信号対雑音比による影響

を避けるように配慮しなければならない。

a)

読取りヘッド

磁気誘導形ヘッド:ギャップ長は,

0.63

µ

m

未満とする。

磁気抵抗形ヘッド:磁気抵抗素子とシールドとの間の距離の平均有効ギャップ長は,

0.63

µ

m

未満とす

る。

b)

読取りチャネル

ヘッド及び読取り増幅器の応答周波数特性は,リード線を読取りギャップに隣接して平行に配置して測

定したとき,次による。

磁気誘導形ヘッドの場合には,

オール

 “1”

パターンの周波数の

20

1

2

倍までの帯域で,

応答総合特性は,

6dB

/オクターブの線から

1dB

以内とする。例えば,テープ速度が

762mm/s

の場合の帯域は,

18.5kHz

740.7kHz

とする。位相特性は,同じ帯域で直線から

2

°以内とする。

磁気抵抗形ヘッドの場合には,応答総合特性は,同じ帯域で平たんな線から

1dB

以内とし,応答位相特

性は,同じ帯域で直線から

2

°以内とする。

いずれの場合でもオール“

1

”パターンの周波数の

2

倍の周波数からは,

18dB

/オクターブの傾きとす

る。

G.2

測定方法  測定方法は,次による。

平均ビットセル長

  (

L

)

は,試験ゼロ交差点

 (TZC)

の両側にある二つの基準ゼロ交差点

 (RZC)

の間隔か

ら得る。基準ゼロ交差点は,少なくとも両側にそれぞれ

2

個以上のビット

 “1”

のゼロ交差点をもつような

ビット

 “1”

のゼロ交差点とし,その変化率を

2%

未満に保つため,

40

ビットセル以下とする。

G.3

データ分析


50

X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

二つの基準ゼロ交差点の間にあるビットセルの数を

n

としたとき,平均ビットセル長

  (

L

)

は,次の式に

よって算出する。

n

1

3

P

P

L

=

最初の基準ゼロ交差点と試験ゼロ交差点との間に

m

ビットの間隔がある場合,ビットシフト

  (BS)

は,

次の式によって算出する。

(

)

100

1

2

×

=

L

P

P

mL

BS

ここに,

BS

ビットシフト

 (%)

L

平均ビットセル長

P

n

n

番目の

 “1”

パターンのゼロ交差点


51

X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

附属書 H(参考)  データの流れ


52

X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

附属書 J(規定)  CRC の生成方法

J.1

概要

CRC

は,

16

ビットからなり,

CRC1

及び

CRC2

2

バイトで表す。

J.2

算出方法

CRC

は,次の生成多項式で算出する。

X

16

X

15

X

8

X

1

シフトレジスタの構成を次に示す。

ここに,○は,

mod 2

加算を示す。

算出の開始前にすべての位置のシフトレジスタに

 “0”

を設定する。

1

バイトのビット処理は,ビット

8

(最下位)から始めてビット

1

(最上位)で終わる。

J.3

CRC1

と CRC2 のビットの位置  算出終了後シフトレジスタの各ビットは,次に示すとおり

2

バイト

CRC

のビット位置に割り付ける。

 CRC

バイト 1 CRC バイト 2

シ フ ト レ ジ ス

タのビット

9

∼16 1∼8


53

X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

附属書 K(規定)  テープの物理的位置の算出方法

K.1

概要  物理的な位置

  (PPI)

は,データ又はすべてのブロック

ID

バイトを読むことなしにテープの長

さ方向のデータの位置を,粗く,迅速に示すために使用する。

K.2

算出方法

PPI

の値は,テープの長さ方向のいかなる点でも,次の式によって算出する。

÷÷

÷

ø

ö

çç

ç

è

æ

+

=

0

2

2

0

25

625

5

.

62

R

R

R

R

PPI

数値は,小数点以下を切り上げた整数とする。 
ここに,  R

0

:  リールにテープ全長が巻かれている場合のテープの半径 (mm)

R

:  テープが繰り出されている場合のテープの半径 (mm)

K.3

要求事項  PPI は,1≦PPI≦91 とする。


54

X 6132-1995 (ISO/IEC 11559 : 1993)

JIS

磁気テープ原案作成委員会  構成表

(敬称略,順不同)

氏名

所属

(委員長)

大  石  完  一

パルステック工業株式会社

(幹事)

多羅尾  悌  三

富士通株式会社

富  田  正  典

日本電信工業株式会社

(委員)

徳  永  賢  次

住友スリーエム株式会社

横  山  克  哉

日本ビクター株式会社

平  川      卓

富士写真フィルム株式会社

竹  内      正

株式会社トリム・アソシエイツ

今  井  伸  二

日本電気株式会社

山  口  茂  孝

ティアック株式会社

新  井      清

日本システムハウス株式会社

安  藤  晴  夫

日立マクセル株式会社

三  瓶      徹

株式会社日立製作所

堀  川  憲  一

ソニー株式会社

岸  野  忠  信

財団法人日本規格協会

中  島  一  郎

通商産業省

倉  重  有  幸

工業技術院標準部

瀬戸屋  英  雄

工業技術院標準部

関係者

佐々木  修  二

財団法人日本電子部品信頼性センター

事務局

東  條  喜  義

社団法人日本電子工業振興協会