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X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  適用範囲

1

2

  適合性

1

3

  引用規格

1

4

  表記法

2

4.1

  数字の表記

2

4.2

  名称

2

4.3

  試験成績書

2

5

  用語及び定義

2

6

  記号及び略語

4

7

  概要

5

7.1

  試験装置

5

8

  ターゲット試験方法

6

8.1

  ターゲット試験装置

6

8.2

  JIS X 5211 に関するプロトコル試験方法リスト

6

8.3

  212 kb/s 及び 424 kb/s での受動通信モードにおける活性化

7

8.4

  能動通信モードにおける活性化

9

8.5

  ターゲット伝送プロトコルの論理操作

9

9

  イニシエータ試験方法

23

9.1

  イニシエータ試験装置

23

9.2

  イニシエータのプロトコル試験方法リスト

24

9.3

  212 kb/s 及び 424 kb/s での受動通信モードにおける活性化

25

9.4

  能動通信モードにおける活性化

26

9.5

  伝送プロトコルの論理操作

26

附属書 A(規定)ターゲット試験の試験成績書テンプレート

37

附属書 B(規定)イニシエータ試験の試験成績書テンプレート

40


X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人情報処理学会(IPSJ)及び財団法

人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標

準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。


   

日本工業規格

JIS

 X

5214

:2010

(ISO/IEC 23917

:2005

)

近距離通信用インタフェース及びプロトコル

(NFCIP-1)

プロトコル試験方法

Information technology-Telecommunications and information exchange

between systems-NFCIP-1-Protocol Test Methods

序文

この規格は,2005 年に第 1 版として発行された ISO/IEC 23917 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。

この規格は JIS X 5211 のプロトコル試験を規定するものであり,JIS X 5211 の RF インタフェース試験

を規定する JIS X 5213 を補足するものである。

1

適用範囲

この規格は,JIS X 5213 に加えて JIS X 5211 に対するプロトコル試験方法について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO/IEC 23917:2005

,Information technology−Telecommunications and information exchange between

systems

−NFCIP-1−Protocol Test Methods (IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

2

適合性

この規格で規定するすべての必す(須)要件を満たしたとき,JIS X 5211 を実装するシステムは,この

規格に適合する。

注記  この規格及び JIS X 5213 が JIS X 5211 の実装における,唯一の試験規格として国際規格を組み

立てている。このため,対応国際規格では,次のとおり規定されている。

JIS X 5211

の実装は,JIS X 5213 への適合に加え,この規格に規定するすべての試験及び要

件を満たさなければならない。試験結果は,この規格の

附属書 及び附属書 に記載する形式

で記録しなければならない。

3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS X 5211

  シ ス テ ム 間 の 通 信 及 び 情 報 交 換 − 近 距 離 通 信 用 イ ン タ フ ェ ー ス 及 び プ ロ ト コ ル


2

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

(NFCIP-1)

注記  対応国際規格:ISO/IEC 18092,Information technology−Telecommunications and information

exchange between systems

−Near Field Communication−Interface and Protocol (NFCIP-1) (IDT)

JIS X 5213

  近距離通信用インタフェース及びプロトコル (NFCIP-1)−RF インタフェース試験方法

注記  対応国際規格:ISO/IEC 22536,Information technology−Telecommunications and information

exchange between systems

−Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)−RF

interface test methods (IDT)

JIS X 6305-6

  識別カードの試験方法−第 6 部:外部端子なし IC カード−近接型

注記  対応国際規格:ISO/IEC 10373-6,Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards

(IDT)

4

表記法

4.1

数字の表記

この規格においては,特に断らない限り,次の表記を適用する。

a) 16

進法は,

“XX”で表す。X は数字及び英文字を表す。

b)

ビットの設定は,0 又は 1 で表す。

c)

ビットパターン及び 2 進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,b“xxxx  xxxx”で表し,x は 0 又

は 1 とする。規定しないビットには x を用いることがある。

4.2

名称

(対応国際規格では,この細分箇条において,名称の表記について英語特有の語句の用法について規定

しているが,この規格では不要であり,不採用とした。

4.3

試験成績書

試験成績書には,実施した試験の総数に対して合格した試験の数,サンプル個体数,及び試験日を記述

する(

附属書 及び附属書 参照)。

5

用語及び定義

この規格で使用する主な用語及び定義は,次による。

5.1

能動通信モードにおける活性化  (activation in active communication mode)

JIS X 5211

の規定に従って DUT を能動通信モードで活性化するフローであって,初期化及びプロトコル

活性化を含むもの。

5.2

受動通信モードにおける活性化  (activation in passive communication mode)

JIS X 5211

の規定に従って DUT を受動通信モードで活性化するフローであって,初期化及びプロトコル

活性化を含むもの。

5.3

能動通信モード  (active communication mode)

イニシエータ及びターゲットが,それぞれ自ら発生した RF フィールドを用いて通信するモード  (JIS X 

5211

参照)。


3

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

5.4

動作範囲  (operating volume)

製造業者が指定する位置において NFC デバイスが発生する H

min

∼H

max

の磁界強度範囲内となる空間領域。

5.5

受動通信モード  (passive communication mode)

イニシエータが RF フィールドを発生し,ターゲットがイニシエータの命令に対し JIS X 5211 で定義さ

れる負荷変調で応答する方式。

5.6

単一デバイス検出  [single device detection (SDD)]

RF

フィールドにある複数のターゲットの中から一つを検出するために,イニシエータが使用するアルゴ

リズム。

5.7

シナリオ  (scenario)

プロトコル及びアプリケーションに固有の試験手順。シナリオ記述表は,すべての試験の操作手順を列

挙したものである。

シナリオ記述表中に横線がある箇所では,デバイスが初期状態にリセットされなければならない。

5.8

試験命令  (test commands)

JIS X 5211

に従って実装されたシステムにおいて専用の機能を動作させるために定義された命令。これ

らの命令の中で実際に使用した pdu を試験成績書に記録しなければならない(

附属書 及び附属書 

照)

注記 PDU の表記方法について,一般名称として記載するときには“pdu(小文字)”,固有名詞とし

て記載するときには,

“xxxPDU(大文字)

”とした。

すべての試験命令に対し有効な定義。

xx PNI

次の試験命令は,JIS X 5211 に規定されている pdu に基づいて規定される。

(ACK) xx

ACK/NACK

ビットが 0 に,PNI が xx にそれぞれ設定され,pdu が ACK/NACK PDU に符号化さ

れた DEP_REQ PDU 又は DEP_RES PDU。

(NACK) xx

ACK/NACK

ビットが 1 に,PNI が xx にそれぞれ設定され,pdu が ACK/NACK PDU に符号化さ

れた DEP_REQ PDU 又は DEP_RES PDU。

(A)

タイムアウトビットが 0 に設定され,pdu が管理 PDU に符号化された DEP_REQ PDU 又は

DEP_RES PDU

。PNI はこの命令には使用されない。

(TO)

タイムアウトビットが 1 に設定され,pdu が管理 PDU に符号化された DEP_REQ PDU 又は

DEP_RES PDU

。PNI はこの命令には使用されない。

TEST_COMMAND1xx

既定の試験命令。複数情報リンクビットが 0(連鎖なし)に設定され,PNI が xx に設定され,情


4

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

報 PDU に符号化された DEP_REQ PDU。イニシエータ又はターゲット試験装置がこの pdu を送信

する。

TEST_RESPONSE1xx

PNI

が xx に設定された TEST_COMMAND1 への応答(DEP_RES PDU)

TEST_COMMAND2xx

連鎖処理の試験のための試験命令。この命令は,通信相手(イニシエータ又はターゲット)に対

し,次の DEP_REQ PDU に連鎖の使用を強要する。この命令は,イニシエータ又はターゲット各々

に対する DEP_REQ PDU 又は DEP_RES PDU で,複数情報リンクビットが 0,TEST_COMMAND1

と pdu との型は同じであるが,そのデータは異なる。

TEST_COMMAND3Bxx

この命令は,複数情報リンクビットは 1,PNI は xx に設定され,イニシエータ又はターゲット

各々に対する DEP_REQ PDU 又は DEP_RES PDU のフレームの開始を示す。

TEST_COMMAND3nxx

この命令は,TEST_COMMAND3B の後及び TEST_COMMAND3E の前に送信される。n は 0∼

9

の値をとる。複数情報リンクビットは 1,PNI は xx に設定される。

TEST_COMMAND3Exx

この命令は,複数情報リンクビットは 0,PNI は xx に設定されるイニシエータ又はターゲット

各々に対する DEP_REQ PDU 又は DEP_RES PDU のフレームで,連鎖手順の終了を示す。

TEST_RESPONSE3xx

連鎖命令への応答。イニシエータ又はターゲット各々に対する DEP_REQ PDU 又は DEP_RES

PDU

でなければならず,複数情報リンクビットは 0,PNI は xx に設定される。

TEST_COMMAND4xx

フレーム待ち時間を試験するための命令。イニシエータはこの命令を送信することでターゲット

にタイムアウトビットを 1,PNI を xx に設定した管理 PDU を使わせる。

TEST_RESPONSE4xx

TEST_COMMAND4

への応答。複数情報リンクビットが 0,PNI が xx に設定された DEP_RES

PDU

。TEST_RESPONSE1 と同じこともある。

6

記号及び略語

ATR_REQ

(Attribute Request command)

JIS X 5211

に規定する属性要求

ATR_RES

(Attribute Response command)

属性応答

CRC

(Cyclic Redundancy Check)

JIS X 5211

附属書 A(CRC の計算方法)に規定する

巡回冗長検査

~CRC

 

上記で定義する CRC のビット反転

DEP_REQ

(Data Exchange Protocol Request)  JIS X 5211 に規定するデータ交換プロトコル要求

DEP_RES

(Data Exchange Protocol Response) データ交換プロトコル応答

DID

(Device ID)

JIS X 5211

に規定するデバイス識別子

DSL_REQ

(Deselect Request command)

JIS X 5211

に規定する選択解除要求命令

DSL_RES

(Deselect Response command)

選択解除応答命令

DUT

(Device Under Test)

試験対象デバイス


5

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

fc

(carrier frequency)

JIS X 5211

に規定する搬送波の周波数

H

max

(Maximum field strength)

JIS X 5211

に規定する最大動作磁界強度

H

min

(Minimum field strength)

JIS X 5211

に規定する最小動作磁界強度

H

Threshold

JIS X 5211

に規定する外部 RF フィールドしきい値

ID

(Identification number)

識別番号

LT

(Lower Tester)

イニシエータ試験装置のターゲットエミュレーション部

M e

規定タイムアウト以内に応答がないこと

pdu

(Protocol Data Unit)

JIS X 5211

に規定するプロトコルデータ単位

PNI

(Package Number Information)

JIS X 5211

に規定するパケット番号情報

POL_REQ

(Polling Request command)

JIS X 5211

に規定するポーリング要求

POL_RES

(Polling Response command)

ポーリング応答

PSL_REQ

(Parameter Select Request command)

JIS X 5211

に規定するパラメタ選択要求

PSL_RES

(Parameter Select Response command)

パラメタ選択応答

RF

(Radio Frequency)

無線周波数

RFU

(Reserved for Future Use)

将来使用するため予約

RLS_REQ

(Release Request command)

JIS X 5211

に規定する解放要求命令

RLS_RES

(Release Response command)

解放応答命令

RTO PDU

(Response Timeout extension)

JIS X 5211

の 12.6.1.3.3(ターゲット規定)及び 12.6.2(タ

イムアウト応答拡張)に規定する

応答タイムアウト拡張要求

SDD

(Single Device Detection)

JIS X 5211

に規定する単一デバイス検出

Td

212

kb/s

及び 424 kb/s における SDD の要求フレームの最後尾とタイムスロットの先頭

との間の時間遅延(512×64/fc でなければならない。

Ts

一つのタイムスロットの時間枠(256×64/fc でなければならない。

TCM

(Test control message)

試験管理メッセージ

UT

(Upper Tester)

イニシエータ試験装置のマスタ部

7

概要

7.1

試験装置

注記  試験装置は,実装プロトコル及び機能に関する情報を要することがあり,これらパラメタは,

試験成績書に記録されなければならない。

7.1

は,イニシエータ及びターゲットの試験に適用される。

この規格では,タイミング測定及びフレーム正当性の確認のための専用試験回路を定義しないが,その

ような回路を使用した場合は試験結果に影響してはならない。

7.1.1

受信モードにおける入出力特性タイミングの生成

JIS X 5211

に従い,ターゲット試験装置及び LT は入出力ビット列を生成できなければならない。すべて

のタイミングパラメタ(スタートビットの長さ,ガードタイム,ビット幅,要求ガードタイム,フレーム

幅の先頭,フレーム幅の終端など)が JIS X 5211 に定義する値に設定されなければならない。JIS X 5213

でその制限を試験しなければならない。

注記 LT

(Lower

Tester)

イニシエータ試験装置のターゲットエミュレーション部


6

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

7.1.2

RF

入出力プロトコルの測定及び監視

ターゲット試験装置及び LT は,受信データを復調し論理的な 1 及び 0 の状態のタイミングを測定でき

なければならない。

7.1.3

試験シナリオ及び試験成績書

この規格で定義された DUT の試験は,試験シナリオを適用する必要がある。この試験シナリオは,特

定の手順のプロトコル及びアプリケーションを含む。

試験シナリオの結果は,

附属書 及び附属書 に示す試験成績書に記録しなければならない。

7.1.4

RFU

ビット

RFU

が既定値に設定されていない場合,試験は不合格とし,かつ,DUT が不適合なものであると明示し

なければならない。この規定に,該当する箇所はない。

7.1.5

一般規則

次の規則を適用する。

ターゲット試験においては試験装置がイニシエータとして常に要求を送信するのに対し,イニシエータ

試験においては試験装置のターゲットエミュレーション部 (LT) がターゲットとして応答を送信する。

応答は要求に続かなければならない。

す べ て の 適 正 な TEST_COMMAND( は 数 字 1 ∼ 4 ) に お い て , TEST_RESPONSEの PNI は

TEST_COMMANDn

のものと等しいので,各論ではこの条件を省略する。

8

ターゲット試験方法

DUT

は,シナリオに定義するとおりに応答しなければならない。シナリオに定義するとおりに pdu で応

答する前に一つ以上の RTO PDU を挿入してもよい。

8.1

ターゲット試験装置

ターゲット試験装置は,イニシエータをエミュレートすることによって DUT を試験する。

ターゲット試験装置は,初期化及びプロトコル活性化を実行して,データ交換命令を実行しなければな

らない。

8.2

JIS X 5211

に関するプロトコル試験方法リスト

106 kb/s

での受動通信モードにおいてターゲットの初期化と SDD とを試験するには,JIS X 6305-6 

PICC

試験方法を実行しなければならない。

212 kb/s

及び 424 kb/s での受動通信モードにおいてターゲットの初期化と SDD とを試験するには,

表 1

の試験方法を実行しなければならない。

表 1212 kb/s 及び 424 kb/s での受動通信モードにおける活性化

試験方法

対応する要件

細分箇条

名称

規格

細分箇条

8.3.1 

活性化時間

JIS X 5211 

11.2.2.3 

8.3.2 

フレーム形式

JIS X 5211 

11.2.2.2 

8.3.3 

212 kb/s

及び 424 kb/s における SDD

JIS X 5211 

11.2.2.3

11.2.2.4 

能動通信モードにおいてターゲットの初期化を試験するには,

表 の試験方法を実行しなければならな

い。


7

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

表 2−能動通信モードにおける活性化

試験方法

対応する要件

細分箇条

名称

規格

細分箇条

8.4.1 

RF

衝突回避

JIS X 5211 

11.1.2 

ターゲットの伝送プロトコルを試験するには,

表 の試験方法を実行しなければならない。

表 3−伝送プロトコルの論理操作

試験方法

対応する要件

細分箇条

名称

規格

細分箇条

8.5.1 

ATR_REQ

の取扱方法

JIS X 5211 

12.5.1.3 

8.5.2 

PSL_REQ

の取扱方法

JIS X 5211 

12.5.3.3 

8.5.3 

DEP_REQ

情報 PDU の取扱方法

JIS X 5211 

12.6.1.2 

8.5.4 

複数情報リンクビットが 1 に設定され

た DEP_REQ  情報 PDU の取扱方法

JIS X 5211 

12.6.1.3 

8.5.5 

タイムアウトビットが 1 に設定された

DEP_REQ

管理 PDU の取扱方法

JIS X 5211 

12.6.1.3 

8.5.6 

タイムアウトビットが 0 に設定された

DEP_REQ

管理 PDU の取扱方法

JIS X 5211 

12.6.1.3 

8.5.7 

DSL_REQ

の取扱方法

JIS X 5211 

12.7.1.3 

8.5.8 

RLS_REQ

の取扱方法

JIS X 5211 

12.7.2.3 

8.3

212 kb/s

及び 424 kb/s での受動通信モードにおける活性化

8.3.1

活性化時間

この試験の目的は,ターゲットが起動後 2 秒以内に POL_REQ に対して POL_RES を応答することを確

認することにある[JIS X 5211 の 11.2.2.3(212 kb/s 及び 424 kb/s における単一デバイス検出)参照]

8.3.1.1

手順

212 kb/s

及び 424 kb/s の伝送速度で,a)∼e)の手順を繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択した伝送速度において TSN を 0 に設定した POL_REQ 命令を送信する。

d) Td

及び Ts が経過しても POL_RES を受信しない場合,再度 POL_REQ を送信する。DUT からの応答

があるまでこの手順を繰り返す。

e) RF

起動から DUT の初回応答開始までの時間遅延を測定する。DUT の応答が 2 秒以内である場合,試

験は合格,そうでなければ不合格とする。

8.3.1.2

試験成績書

試験成績書は,DUT が両方の伝送速度において正しく動作するかどうかを示さなければならない。

8.3.2

フレーム形式

この試験の目的は,212 kb/s 及び 424 kb/s において適正なフレーム形式を判断することにある[JIS X 5211

の 11.2.2.2(フレームの形式)参照]


8

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

8.3.2.1

手順

212 kb/s

及び 424 kb/s の伝送速度で,a)∼d)の手順を繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択した伝送速度において POL_REQ 命令を送信する。

d) DUT

からの応答が正しいフレーム形式であることを確認する。

8.3.2.2

試験成績書

試験成績書は,両方の伝送速度において DUT が正しく動作し,次の特性(

表 参照)を含むかどうか

を示さなければならない。

表 4−フレーム形式の特性

特性

期待される結果

プリアンブル

最低 48 ビットすべて 0

SYNC

第 1 バイト“B2”

第 2 バイト“4D”

長さ

“12”

CRC

JIS X 5211

附属書 に従う。

8.3.3

212 kb/s

及び 424 kb/s における SDD

この試験の目的は,POL_REQ への正しい応答を判断することにある[JIS X 5211 の 11.2.2.4(NFCID2

の内容)参照]

8.3.3.1

手順

212 kb/s

及び 424 kb/s の伝送速度で,a)∼f)の手順を繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択した伝送速度において TSN に設定した値を入れた POL_REQ 命令を送信する(初回の TSN は 0)

d) POL_REQ

と POL_RES との間の時間遅延を記録する。最後のタイムスロットまでに DUT が応答しな

い場合は,手順 c)

を繰り返す。

e)

応答の内容を分析する。

f) TSN

を次のとり得る値に増やし,TSN が最大値に達するまで a)∼e)の手順を繰り返す。

8.3.3.2

試験成績書

試験成績書は,DUT が両方の伝送速度において正しく動作し,次の特性を含むかどうかを示さなければ

ならない(

表 参照)。

表 5212 kb/s 及び 424 kb/s における SDD の特性

特性

期待値

ペイロードの第 1 バイト

“01”

ペイロードの第 2 バイト

“01”

ペイロードの第 3 バイト

“FE”

POL_REQ

及び POL_RES 間の

時間遅延

Td + (TSN + 1)

×Ts


9

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

8.4

能動通信モードにおける活性化

8.4.1

RF

衝突回避

この試験の目的は,能動通信モードにおける RF 衝突回避中の DUT の振る舞いを判断することにある

JIS X 5211 の 11.1.2(応答 RF 衝突回避)参照]

8.4.1.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,a)∼e)の手順を繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択した伝送速度で有効な ATR_REQ 命令を送信し,その後 RF を切断する。

d)

ターゲット試験装置の RF 切断から DUT の RF 起動までの時間を測定する。

e)

a)

d)の手順を,ターゲットがランダムに生成する数値(0≦n≦3)の倍数に当たる周期時間すべてが観

測されるまで繰り返し,そのリトライ回数を数える。

8.4.1.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度において正しく動作するかどうかを示さなければならない(

6

参照)

表 6−能動通信モードにおける活性化

特性

期待値

T

ADT

最小 768/fc 
最大 2559/fc

T

RFW

n

× 512/fc

8.5

ターゲット伝送プロトコルの論理操作

8.5.1

ATR_REQ

の取扱方法

この試験の目的は,DUT による ATR_REQ の取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211

の 12.5.1.3.2(ターゲット規定)参照]

8.5.1.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,能動及び受動両方の通信モードについて,a)∼e)の手順

を繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択した伝送速度で活性化し,能動通信モードにおいて衝突回避を行う。

d)

シナリオ記述表 T 1 を適用する。

e) DUT

からの応答が

シナリオ記述表 T 1 どおりであるかを解析する。


10

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

シナリオ記述表 T 1ATR_REQ

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

ATR_RES

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

ATR_RES

ATR_REQ (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

ATR_RES

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

8.5.1.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ

ばならない。

8.5.2

PSL_REQ

の取扱方法

この試験の目的は,DUT による PSL の取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211 

12.5.3.3.2

(ターゲット規定)参照]

8.5.2.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,能動及び受動両方の通信モードについて,a)∼f)の手順を

繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択した通信モード及び伝送速度において初期化とプロトコル活性化とを実行する。

d) ATR_REQ

を送信し,ATR_RES を受信する。

e)

シナリオ記述表 T 2 を適用する。

f) DUT

からの応答が

シナリオ記述表 T 2 どおりであるかどうかを確認する。


11

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

シナリオ記述表 T 2PSL_REQ

ターゲット試験装置 

DUT 

PSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

PSL_RES

PSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

PSL_REQ (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

PSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

PSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

8.5.2.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ

ばならない。

8.5.3

DEP_REQ

情報 PDU の取扱方法

この試験の目的は,DUT による DEP_REQ 情報 PDU の取扱いが正しいかどうかを判断することにある

JIS X 5211 の 12.6.1.3(ブロックの取扱方法)参照]

8.5.3.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,能動及び受動両方の通信モードについて,a)∼f)の手順を

繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択した通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。


12

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

d) ATR_REQ

を送信し,DUT から ATR_RES を受信する。

e)

シナリオ記述表 T 3,続いてシナリオ記述表 T 4 を実行する。

f) DUT

からの応答及び PNI がシナリオと一致するかどうかを確認する。

シナリオ記述表 T 3DEP_REQ 情報 PDU,正しいトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

TEST_COMMAND1

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

11

シナリオ記述表 T 4DEP_REQ 情報 PDU,誤りのあるトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

 (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

 (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01


13

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

8.5.3.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ

ばならない。

8.5.4

複数情報リンクビットが に設定された DEP_REQ 情報 PDU の取扱方法

この試験の目的は,複数情報リンクビットが 1 に設定された DEP_REQ 情報 PDU の取扱いが正しいかど

うかを判断することにある(JIS X 5211 の 12.6.1.3 参照)

8.5.4.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,能動及び受動両方の通信モードについて,a)∼f)の手順を

繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

動作範囲速度 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択した通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。

d) ATR_REQ

を送信し,DUT から ATR_RES を受信する。

e)

シナリオ記述表 T 5,続いてシナリオ記述表 T 6 を実行する。

f) DUT

からの応答及び PNI がシナリオと一致するかどうかを確認する。


14

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

シナリオ記述表 T 5−複数情報リンクビットが に設定された DEP_REQ 情報 PDU

正しいトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND3B

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

TEST_COMMAND3E

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE3

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

11

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND3B

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

TEST_COMMAND30

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

10

TEST_COMMAND31

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

11

TEST_COMMAND32

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

00

TEST_COMMAND33

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

TEST_COMMAND3E

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE3

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

11


15

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND2

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3B

01

A(ACK)

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_ COMMAND3E

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

11

次の試験は,DUT の振る舞いに依存するものであり,任意とする。

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND2

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3B

01

A(ACK)

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND30

10

A(ACK)

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND31

11

A(ACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND32

00

A(ACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND33

01

A(ACK)

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3E

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

11


16

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

シナリオ記述表 T 6−複数情報リンクビットが に設定された DEP_REQ 情報 PDU

誤りのあるトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND3B

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

TEST_COMMAND30

10

 (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

TEST_COMMAND30

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

10

TEST_COMMAND3E

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE3

11

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND2

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3B

01

A(ACK)

10

 (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

A(ACK)

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE3E

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

11

8.5.4.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ

ばならない。


17

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

8.5.5

タイムアウトビットが に設定された DEP_REQ 管理 PDU の取扱方法

この試験の目的は,タイムアウトビットが 1 に設定された DEP_REQ 管理 PDU の取扱いが正しいかどう

かを判断することにある(JIS X 5211 の 12.6.1.3 参照)

8.5.5.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,能動及び受動の両方の通信モードで,a)∼f)の手順を繰り

返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。

d) ATR_REQ

を送信し,DUT から ATR_RES を受信する。

e)

シナリオ記述表 T 7,続いてシナリオ記述表 T 8 を実行する。

f) DUT

からの応答及び PNI が試験シナリオと一致するかどうかを確認する。

シナリオ記述表 T 7−タイムアウトビットが に設定されている DEP_REQ 管理 PDU

正しいトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND4

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(TO)

S(TO)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE4

01

TEST_COMMAND1

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

10


18

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

シナリオ記述表 T 8−タイムアウトビットが に設定された DEP_REQ 管理 PDU

誤りのあるトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND4

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(TO)

S(TO) (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

S(TO)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE4

01

TEST_COMMAND1

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

10

8.5.5.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ

ばならない。

8.5.6

タイムアウトビットが に設定された DEP_REQ 管理 PDU の取扱方法

この試験の目的は,タイムアウトビットが 0 に設定された DEP_REQ 管理 PDU の取扱いが正しいかどう

かを判断することにある(JIS X 5211 の 12.6.1.3 参照)

8.5.6.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,能動及び受動の両方の通信モードで,a)∼f)の手順を繰り

返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。

d) ATR_REQ

を送信し,DUT から ATR_RES を受信する。

e)

シナリオ記述表 T 9,続いてシナリオ記述表 T 10 を実行する。

f) DUT

からの応答及び PNI が試験シナリオと一致するかどうかを確認する。


19

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

シナリオ記述表 T 9−タイムアウトビットが に設定された DEP_REQ 管理 PDU

正しいトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

シナリオ記述表 T 10−タイムアウトビットが に設定された DEP_REQ 管理 PDU

誤りのあるトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

S(A) (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

8.5.6.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ

ばならない。

8.5.7

DSL_REQ

の取扱方法

この試験の目的は,DSL_REQ の取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211 の 12.7.1.3

(DSL_REQ 及び DSL_RES の取扱方法)参照]

8.5.7.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s,424 kb/s の伝送速度で,能動及び受動の両方の通信モードで,a)∼f)の手順を繰り返

す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。

d) ATR_REQ

を送信し,DUT から ATR_RES を受信する。

e)

シナリオ記述表 T 11,続いてシナリオ記述表 T 12 を実行する。


20

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

f) DUT

からの応答及び PNI が試験シナリオと一致するかどうかを確認する。

シナリオ記述表 T 11DSL_REQ,正しいトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

DSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

DSL_RES

DSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

シナリオ記述表 T 12DSL_REQ,誤りのあるトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

DSL_REQ (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

DSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

DSL_RES

8.5.7.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ

ばならない。

8.5.8

RLS_REQ

の取扱方法

この試験の目的は,DUT による RLS_REQ の取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211

の 12.7.2.3(RLS_REQ 及び RLS_RES の取扱方法)参照]

8.5.8.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s,424 kb/s の伝送速度で,能動及び受動の両方の通信モードで,a)∼h)の手順を繰り返

す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。

d) ATR_REQ

を送信し,DUT から ATR_RES を受信する。

e)

シナリオ記述表 T 13,続いてシナリオ記述表 T 14 を実行する。

f) DUT

からの応答及び PNI が試験シナリオと一致するかどうかを確認する。

g)

選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。


21

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

h) ATR_REQ

を送信し,DUT からの有効な ATR_RES を確認する。

シナリオ記述表 T 13RLS_REQ,正しいトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

RLS_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

RLS_RES

RLS_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

シナリオ記述表 T 14RLS_REQ,誤りのあるトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

RLS_REQ (~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

RLS_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

RLS_RES

8.5.8.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ

ばならない。

8.5.9

WUP_REQ

の取扱方法(能動通信モードに限る)

この試験の目的は,DUT による WUP_REQ の取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211

の 12.5.2.3(WUP_REQ 及び WUP_RES の取扱方法)参照]

8.5.9.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,a)∼g)の手順を繰り返す。

a) DUT

を動作範囲に置く。

b)

磁界強度範囲 H

min

∼H

max

の RF フィールドを生成し,その磁界強度が試験結果に影響しないことを確

認する。

c)

能動通信モードにおいて,選択された伝送速度で活性化を実行する。

d) ATR_REQ

を送信し,DUT から ATR_RES を受信する。

e)

シナリオ記述表 T 15,続いてシナリオ記述表 T 16 を実行する。

f) DUT

からの応答及び PNI がシナリオと一致するかどうかを確認する。

g) ATR_REQ

を送信し,DUT から ATR_RES を受信する。


22

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

シナリオ記述表 T 15WUP_REQ,正しいトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

DSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

DSL_RES

WUP_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

WUP_RES

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

シナリオ記述表 T 16WUP_REQ,誤りのあるトランザクション

ターゲット試験装置 

DUT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

DSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

DSL_RES

TEST_COMMAND1

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

WUP_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

WUP_RES

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00


23

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

DSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

DSL_RES

WUP_REQ(~CRC)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

WUP_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

WUP_RES

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

8.5.9.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度において正しく振る舞うかどうかを示さなければならない。

9

イニシエータ試験方法

9.1

イニシエータ試験装置

9.1.1

イニシエータ試験装置の概念

イニシエータ試験装置は,二つの部分から構成される(

図 参照)。

a) UT

は,イニシエータを設定する部分で,命令の送信を指示する。この規格では UT が DUT を制御す

る方法について言及しない。

b) LT

は,ターゲットのプロトコルをエミュレートする部分で,タイミング測定のためのデジタルサンプ

リングオシロスコープをもつ。

図 1−イニシエータ試験装置の概念図

イニシエータ(DUT)

UT

PDU

LT

イニシエータ

試験装置


24

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

9.1.2

106 kb/s

での受動通信モードにおけるプロトコル活性化手順

次の手順に従って LT を活性化する。

a) 106

kb/s

で LT を受動通信モードに設定する。

b) 106

kb/s

で DUT を受動通信モードに設定する。

c) 106

kb/s

で DUT に活性化及び SDD を実行させる。

9.1.3

212 kb/s

及び 424 kb/s での受動通信モードにおけるプロトコル活性化手順

212 kb/s

及び 424 kb/s の伝送速度で,次の手順を繰り返す。

a)

選択した伝送速度で LT を受動通信モードに設定する。

b)

選択した伝送速度で DUT を受動通信モードに設定する。

c)

選択した伝送速度で DUT に活性化及び SDD を実行させる。

9.1.4

能動通信モードにおけるプロトコル活性化手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,次の手順を繰り返す。

a)

選択した伝送速度で LT を能動通信モードに設定する。

b)

選択した伝送速度で DUT を能動通信モードに設定する。

c)

選択した伝送速度で DUT に能動通信モード活性化手順を実行させる[JIS X 5211 の 12.3(能動通信モ

ードの活性化手順)参照]

9.2

イニシエータのプロトコル試験方法リスト

ここでは,イニシエータに必要なプロトコル試験方法をすべて記載する。

106 kb/s

の受動通信モードにおけるイニシエータの初期化及び SDD の試験には,JIS X 6305-6 の PCD 試

験方法を適用する。

212 kb/s

及び 424 kb/s での受動通信モードにおけるイニシエータの初期化及び SDD の試験には,

表 

試験方法を適用する。

表 7212 kb/s 及び 424 kb/s での受動通信モードの活性化

試験方法

対応する要件

細分箇条

名称

規格

細分箇条

9.3.1 

フレーム形式

JIS X 5211 

11.2.2.2 

9.3.2 

212 kb/s

及び 424 kb/s における SDD

JIS X 5211 

11.2.2.3

11.2.2.4 

能動通信モードにおけるイニシエータの初期化の試験には,

表 の試験方法を適用する。

表 8−能動通信モードの活性化

試験方法

対応する要件

細分箇条

名称

規格

細分箇条

9.4.1 

初期の RF 衝突回避

JIS X 5211 

11.1.1 

9.4.2 

時間ジッタ n=0 のときの RF 衝突回避応答

JIS X 5211 

11.1.2 

イニシエータの伝送プロトコル試験には,

表 の試験方法を適用する。


25

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

表 9−イニシエータの伝送プロトコルの論理操作

試験方法

対応する要件

細分箇条

名称

規格

細分箇条

9.5.1 

ATR_RES

の取扱方法

JIS X 5211 

12.5.1.3 

9.5.2 

PSL_RES

の取扱方法

JIS X 5211 

12.5.3.3 

9.5.3 

DEP_RES

情報 PDU の取扱方法

JIS X 5211 

12.6.1.2 

9.5.4 

複数情報リンクビットが 1 に設定された

DEP_RES

情報 PDU の取扱方法

JIS X 5211 

12.6.1.3 

9.5.5 

タイムアウトビットが 1 に設定された

DEP_RES

管理 PDU の取扱方法

JIS X 5211 

12.6.1.3 

9.5.6 

タイムアウトビットが 0 に設定された

DEP_RES

管理 PDU の取扱方法

JIS X 5211 

12.6.1.3 

9.5.7 

DSL_RES

の取扱方法

JIS X 5211 

12.7.1.3 

9.5.8 

RLS_RES

の取扱方法

JIS X 5211 

12.7.2.3 

9.3

212 kb/s

及び 424 kb/s での受動通信モードにおける活性化

9.3.1

フレーム形式

この試験の目的は,212 kb/s 及び 424 kb/s における DUT のフレーム形式が正しいかどうかを判断するこ

とにある(JIS X 5211 の 11.2.2.2 参照)

9.3.1.1

手順

212 kb/s

及び 424 kb/s の伝送速度で,a)∼d)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b)

選択した伝送速度において 9.1.3 を実行する。

c) DUT

が有効な POL_REQ を送るまで,LT は待機する。

d)

フレーム属性が JIS X 5211 の 11.2.2.2 と一致することを確認する。

9.3.1.2

試験成績書

試験成績書は,DUT が両方の伝送速度で正しく振る舞うかどうかを示さなければならない。

9.3.2

212 kb/s

及び 424 kb/s における SDD

この試験の目的は,DUT による POL_REQ の取扱いが正しいかどうかを判断することにある(JIS X 5211

の 11.2.2.3 及び 11.2.2.4 参照)

9.3.2.1

手順

212 kb/s

及び 424 kb/s の伝送速度ですべての TSN 値について,a)∼f)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b)

選択した TSN 及び伝送速度で 9.1.3 を実行する。

c) DUT

が有効な POL_REQ を送るまで,LT は待機する。

d)

適切なタイムスロットにおいて LT は POL_RES を応答する。

e) DUT

に ATR_REQ を送信させる。

f) LT

は ATR_REQ を受信する。

9.3.2.2

試験成績書

試験成績書は,DUT が両方の伝送速度及びすべての TSN 値で正しく振る舞うかどうかを示さなければ

ならない。


26

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

9.4

能動通信モードにおける活性化

9.4.1

初期の RF 衝突回避

この試験の目的は,初期の RF 衝突回避中における DUT の振る舞いを確認することにある[JIS X 5211

の 11.1.1(初期 RF 衝突回避)参照]

9.4.1.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,a)∼h)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) LT

(の磁界発生アンテナ)は,RF フィールドを生成しなければならない(試験アセンブリの配置に

ついては JIS X 5213 参照)

c) DUT

の磁界強度が H

Threshold

以上であることを確認する。

d)

選択した伝送速度で 9.1.4 を実行する。

e) LT

は,RF を切断しなければならない。

f) DUT

が有効な ATR_REQ を送信するまで LT は待機する。

g) LT

が RF を切断してから DUT が RF を起動するまでの時間を測定する(JIS X 5211 の 11.1.1 参照)

h)  n

回のとり得る T

RFW

を検出するまで,a)∼g)の手順を繰り返す。

9.4.1.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度で正しく振る舞うかどうかを示さなければならない。

9.4.2

時間ジッタ nのときの応答 RF 衝突回避

この試験の目的は,時間ジッタ n=0 のときの応答 RF 衝突回避中の DUT の振る舞いを確認することに

ある(JIS X 5211 の 11.1.2 参照)

9.4.2.1

手順

106 kb/s

,212 kb/s 及び 424 kb/s の伝送速度で,a)∼g)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b)

選択した伝送速度で 9.1.4 を実行する。

c) DUT

が有効な ATR_REQ を送信するまで LT は待機する。

d) LT

は有効な ATR_RES を応答する。

e) DUT

に TEST_COMMAND1 を送信させる。

f) LT

は TEST_COMMAND1 を受信する。

g) LT

が RF を切断してから DUT が RF を起動するまでの時間が JIS X 5211 の 11.1.2 に適合していること

を確認する。

9.4.2.2

試験成績書

試験成績書は,すべての伝送速度でタイミングが正しいかどうかを示さなければならない。

9.5

伝送プロトコルの論理操作

9.5.1

ATR_RES

の取扱方法

この試験の目的は,DUT による ATR_RES の取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211

の 12.5.1.3(ATR_REQ 及び ATR_RES の取扱方法)参照]

9.5.1.1

手順

すべての伝送速度,通信モード,プロトコル活性化手順の組合せで,a)∼c)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) 106

kb/s

の受動通信モードで 9.1.2 を,212 kb/s 及び 424 kb/s の受動通信モードで 9.1.3 を,すべての伝


27

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

送速度の能動通信モードで 9.1.4 を実行する。

c)

シナリオ記述表 I 1 を実行する。

シナリオ記述表 I 1ATR_RES

DUT  

LT 

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

ATR_RES

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

ATR_RES(~CRC)

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

ATR_RES

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

9.5.1.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら

ない。

9.5.2

PSL_RES

の取扱方法

この試験の目的は,DUT による PSL_RES の取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211

の 12.5.3.3(PSL_REQ 及び PSL_RES の取扱方法)参照]

9.5.2.1

手順

すべての伝送速度,通信モード,プロトコル活性化手順の組合せで,a)∼c)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) 106

kb/s

の受動通信モードで 9.1.2 を,212 kb/s 及び 424 kb/s の受動通信モードで 9.1.3 を,すべての伝

送速度の能動通信モードで 9.1.4 を実行する。

c)

シナリオ記述表 I 2 を実行する。

シナリオ記述表 I 2PSL_RES

DUT  

LT 

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

ATR_RES

(変更可能なパラメタ)

PSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

PSL_RES

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→


28

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

ATR_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

ATR_RES

(変更可能なパラメタ)

PSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

PSL_RES (~CRC)

PSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

9.5.2.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら

ない。

9.5.3

DEP_RES

情報 PDU の取扱方法

この試験の目的は,DEP_RES 情報 PDU の取扱いが正しいかどうかを判断することにある[JIS X 5211

の 12.6.1.2(PDU 番号の取扱方法)参照]

9.5.3.1

手順

すべての指定された伝送速度,通信モード,及びプロトコル活性化手順の組合せで,a)∼d)の手順を繰

り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) 106

kb/s

の受動通信モードで 9.1.2 を,212 kb/s 及び 424 kb/s の受動通信モードで 9.1.3 を,すべての伝

送速度の能動通信モードで 9.1.4 を実行する。

c)

シナリオ記述表 I 3 を実行する。

d)

シナリオ記述表 I 4 を実行する。

シナリオ記述表 I 3DEP_RES 情報 PDU,正しいトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

01

TEST_COMMAND1

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

11

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→


29

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

シナリオ記述表 I 4DEP_RES 情報 PDU,誤りのあるトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

(~CRC)

A(NACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

(~CRC)

A(NACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

A(NACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

9.5.3.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら

ない。

9.5.4

複数情報リンクビットが に設定された DEP_RES 情報 PDU の取扱方法

この試験の目的は,複数情報リンクビットが 1 に設定された DEP_RES 情報 PDU の取扱いが正しいかど

うかを判断することにある(JIS X 5211 の 12.6.1.3 参照)

9.5.4.1

手順

すべての伝送速度,通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで,a)∼d)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) 106

kb/s

の受動通信モードで 9.1.2 を,212 kb/s 及び 424 kb/s の受動通信モードで 9.1.3 を,すべての伝

送速度の能動通信モードで 9.1.4 を実行する。

c)

シナリオ記述表 I 5 を実行する。

d)

シナリオ記述表 I 6 を実行する。


30

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

シナリオ記述表 I 5−複数情報リンクビットが に設定された DEP_RES 情報 PDU

正しいトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND2

00

TEST_COMMAND3B

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

TEST_COMMAND3E

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE3

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3B

00

A(ACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3E

01

TEST_RESPONSE3

10

⎯⎯⎯→

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3B

00

A(ACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND30

01

A(ACK)

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND31

10

A(ACK)

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND32

11

A(ACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND33

00

A(ACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3E

01

TEST_RESPONSE3

10

⎯⎯⎯→


31

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

次の試験は,DUT の振る舞いに依存するので,任意とする。

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND2

00

TEST_COMMAND3B

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

TEST_COMMAND30

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

10

TEST_COMMAND31

11

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

11

TEST_COMMAND32

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

00

TEST_COMMAND33

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

TEST_COMMAND3E

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE3

10

TEST_COMMANDE1

11

⎯⎯⎯→

シナリオ記述表 I 6−複数情報リンクビットが に設定された DEP_RES 情報 PDU

誤りのあるトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3B

00

 (~CRC)

A(NACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3B

00

A(ACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3E

01

TEST_RESPONSE3

10

⎯⎯⎯→


32

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND2

00

TEST_COMMAND3B

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

 (~CRC)

A(NACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

A(ACK)

01

TEST_COMMAND3E

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE3

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3B

00

A(ACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND30

01

 (~CRC)

A(NACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

A(NACK)

01

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND30

01

A(ACK)

10

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_COMMAND3E

10

TEST_COMMAND1

11

⎯⎯⎯→

9.5.4.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら

ない。

9.5.5

タイムアウトビットが に設定された DEP_RES 管理 PDU の取扱方法

この試験の目的は,タイムアウトビットが 1 に設定された DEP_RES 管理 PDU の取扱いが正しいかどう

かを判断することである(JIS X 5211 の 12.6.1.3 参照)

9.5.5.1

手順

すべての伝送速度,通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで,a)∼d)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) 106

kb/s

の受動通信モードで 9.1.2 を,212 kb/s 及び 424 kb/s の受動通信モードで 9.1.3 を,すべての伝

送速度の能動通信モードで 9.1.4 を実行する。

c)

シナリオ記述表 I 7 を実行する。

d)

シナリオ記述表 I 8 を実行する。


33

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

シナリオ記述表 I 7−タイムアウトビットが に設定された DEP_RES,正しいトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(TO)

S(TO)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

シナリオ記述表 I 8−タイムアウトビットが に設定された DEP_RES,誤りのあるトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(TO) (~CRC)

A(NACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(TO)

S(TO)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(TO) (~CRC)

A(NACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

A(NACK)

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(TO)

S(TO)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

TEST_COMMAND1

01

⎯⎯⎯→

9.5.5.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら

ない。

9.5.6

タイムアウトビットが に設定された DEP_RES 管理 PDU の取扱方法

この試験の目的は,タイムアウトビットが 0 に設定された DEP_RES 管理 PDU の取扱いが正しいかどう

かを判断することにある(JIS X 5211 の 12.6.1.3 参照)


34

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

9.5.6.1

手順

すべての伝送速度,通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで,a)∼d)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) 106

kb/s

の受動通信モードで 9.1.2 を,212 kb/s 及び 424 kb/s の受動通信モードで 9.1.3 を,すべての伝

送速度の能動通信モードで 9.1.4 を実行する。

c)

シナリオ記述表 I 9 を実行する。

d)

シナリオ記述表 I 10 を実行する。

シナリオ記述表 I 9−タイムアウトビットが に設定された DEP_RES,正しいトランザクション

DUT  

LT 

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

シナリオ記述表 I 10−タイムアウトビットが に設定された DEP_RES,誤りのあるトランザクション

DUT  

LT 

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

S(A)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

S(A)

9.5.6.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら

ない。

9.5.7

DSL_RES

の取扱方法

この試験の目的は,DUT による DSL_RES の取扱いが正しいかどうかを判断することである[JIS X 5211

の 12.7.1.3(DSL_REQ 及び DSL_RES の取扱方法)参照]

9.5.7.1

手順

すべての伝送速度,通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで,a)∼d)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) 106

kb/s

の受動通信モードで 9.1.2 を,212 kb/s 及び 424 kb/s の受動通信モードで 9.1.3 を,すべての伝

送速度の能動通信モードで 9.1.4 を実行する。

c)

シナリオ記述表 I 11 を実行する。

d)

シナリオ記述表 I 12 を実行する。


35

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

シナリオ記述表 I 11DSL_RES,正しいトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

DSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

DSL_RES

シナリオ記述表 I 12DSL_RES,誤りのあるトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

DSL_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

DSL_REQ

a)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

DSL_RES

a)

この振る舞いは適正なものであるが,任意とする。

9.5.7.2

試験成績書

試験成績書は,DUT がすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら

ない。

9.5.8

RLS_RES

の取扱方法

この試験の目的は,DUT による RLS_RES の取扱いが正しいかどうかを判断することにある(JIS X 5211

の 12.7.2.3 参照)

9.5.8.1

手順

すべての伝送速度,通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで,a)∼d)の手順を繰り返す。

a) LT

を DUT の動作範囲に置く。

b) 106

kb/s

の受動通信モードで 9.1.2 を,212 kb/s 及び 424 kb/s の受動通信モードで 9.1.3 を,すべての伝

送速度の能動通信モードで 9.1.4 を実行する。

c)

シナリオ記述表 I 13 を実行する。

d)

シナリオ記述表 I 14 を実行する。

シナリオ記述表 I 13RLS_RES,正しいトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

RLS_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

RLS_RES


36

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

シナリオ記述表 I 14RLS_RES,誤りのあるトランザクション

DUT  

LT 

TEST_COMMAND1

00

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

TEST_RESPONSE1

00

RLS_REQ

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

Mute

RLS_REQ

a)

⎯⎯⎯→

←⎯⎯⎯

RLS_RES

a)

この振る舞いは適正なものであるが,任意とする。

9.5.8.2

試験成績書

試験成績書は,DUT のすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら

ない。


37

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

附属書 A

規定)

ターゲット試験の試験成績書テンプレート

供給者:

製品:

試験装置に関する情報:

キャプション:

A: 106 kbps

106 kb/s

能動通信モード

A: 212 kbps

212 kb/s

能動通信モード

A: 424 kbps

424 kb/s

能動通信モード

P: 106 kbps

106 kb/s

受動通信モード

P: 212 kbps

212 kb/s

受動通信モード

P: 424 kbps

424 kb/s

受動通信モード

試験日

 
すべてのプロトコル試験で有効な命令及び ID 定義 
命令に関しては JIS X 5211 で規定するコマンドのいずれをどのように試験命令としたかを記入する。

No

命令 

解説 

データ 

1 TEST_COMMAND1

試験のための既定命令

2 TEST_RESPONSE1

TEST_COMMAND1

への応答

3 TEST_COMMAND2

連鎖処理を強要するときに使う既定の命令

4 TEST_COMMAND3

連鎖処理時の既定の命令。一つ以上に分割さ
れる。

5 TEST_RESPONSE3

TEST_COMMAND3

への応答

6 TEST_COMMAND4

ターゲットに応答待ち時間を強要する既定の
命令

7 TEST_RESPONSE4

応答待ち時間経過後 の TEST_COMMAND4 
への応答

8 DID

試験のための識別子

9 NAD

ターゲットが NAD に対応する場合だけ試験
する。

対応又は非対応

10

連鎖

ターゲットが 63 バイト以上の命令に対応す
る場合だけ試験する。

対応又は非対応

 
212 kb/s

及び 424 kb/s  での受動通信モードにおける活性化

No

試験 

JIS X 5211

における

期待値 

JIS X 5211

での参照

条件 

試験結果

合格又は不合格

P: 212 kbps

1

8.3.1 
活性化時間

JIS X 5211

に規定す

る時間で DUT が応答
する場合,合格

11.2.2.3 

P: 424 kbps


38

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

P: 212 kbps

2

8.3.2 
フレーム形式

JIS X 5211

に規定す

るプリアンブル,
SYNC

,長さ,CRC で

ある場合,合格

11.2.2.2 

P: 424 kbps

P: 212 kbps

3

8.3.3 
212 kb/s

及び 424

kb/s

における

SDD

データと応答とが JIS 
X 5211

の規定を満た

す場合,合格

11.2.2.4 

P: 424 kbps

 
能動通信モードにおける活性化 

No

試験 

JIS X 5211 

における

期待値 

JIS X 5211

での参照

条件 

試験結果

合格又は不合格

A: 106 kbps

A: 212 kbps

1

8.4.1 
RF

衝突回避

 
リトライ回数を
記入する。

DUT

が RF フィールド

を JIS X 5211 にある
ように起動する場合,
合格

11.1.2 

A: 424 kbps

 
ターゲット伝送プロトコルの論理操作 

No

試験 

JIS X 5211 

にお

ける期待値 

JIS X 5211

での

参照 

シナリオ

番号 

条件 

試験結果

合格又は

不合格 

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

1

8.5.1 
ATR_REQ

の取

扱方法

DUT

がシナリオ

どおりに動作す
る場合,合格

12.5.1.3.2 

T 1

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

2

8.5.2 
PSL_REQ

の取扱

方法

DUT

がシナリオ

ど お り に 動 作 す
る場合,合格

12.5.3.3.2 

T 2

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

3

8.5.3 
DEP_REQ

情報

PDU

の取扱方法

DUT

がシナリオ

ど お り に 動 作 す
る場合,合格

12.6.1.3 

T 3 
T 4

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

4

8.5.4 
複数情報リンク
ビットが 1 に設
定された
DEP_REQ

情報

PDU

の取扱方法

DUT

がシナリオ

どおりに動作す
る場合,合格

12.6.1.3 

T 5 
T 6

A: 424 kbps


39

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212, kbps

5

8.5.5 
タイムアウトビ
ットが 1 に設定
された
DEP_REQ

管理

PDU

の取扱方法

DUT

がシナリオ

ど お り に 動 作 す
る場合,合格

12.6.1.3 

T 7 
T 8

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

6

8.5.6 
タイムアウトビ
ットが 0 に設定
された
DEP_REQ

管理

PDU

の取扱方法

DUT

がシナリオ

ど お り に 動 作 す
る場合,合格

12.6.1.3 

T 9 
T 10

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

7

8.5.7 
DSL_REQ

の取

扱方法

DUT

がシナリオ

ど お り に 動 作 す
る場合,合格

12.7.1.3 

T 11 
T 12

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

8

8.5.8 
RLS_REQ

の取扱

方法

DUT

がシナリオ

ど お り に 動 作 す
る場合,合格

12.7.2.3 

T 13 
T 14

A: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

9

8.5.9 
WUP_REQ

の取

扱方法(能動通
信モードに限
る)

DUT

がシナリオ

ど お り に 動 作 す
る場合,合格

12.5.2.3 

T 15 
T 16

A: 424 kbps


40

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

附属書 B

規定)

イニシエータ試験の試験成績書テンプレート

供給者:

製品:

試験装置に関する情報:

キャプション:

A: 106 kbps

106 kb/s

能動通信モード

A: 212 kbps

212 kb/s

能動通信モード

A: 424 kbps

424 kb/s

能動通信モード

P: 106 kbps

106 kb/s

受動通信モード

P: 212 kbps

212 kb/s

受動通信モード

P: 424 kbps

424 kb/s

受動通信モード

試験日

 
プロトコル試験に使用する命令及び ID 定義 
命令に関しては JIS X 5211 で規定するコマンドのいずれをどのように試験命令としたかを記入する。

No

命令 

解説 

データ 

1 TEST_COMMAND1

試験のための既定命令

2 TEST_RESPONSE1 TEST_COMMAND1

への応答

3 TEST_COMMAND2

連鎖処理を強要するときに使う既定の命令

4 TEST_COMMAND3

連鎖処理時の既定の命令。一つ以上に分割さ

れる。

5 TEST_RESPONSE3 TEST_COMMAND3

への応答

6 TEST_COMMAND4

ターゲットに応答待ち時間を強要する既定の
命令

7 TEST_RESPONSE4

応答待ち時間経過後 の TEST_COMMAND4 
への応答

8 DID

試験のための識別子

9 NAD

ターゲットが NAD に対応する場合だけ試験
する。

対応又は非対応

10

連鎖

ターゲットが 63 バイト以上の命令に対応す
る場合だけ試験する。

対応又は非対応

 
212 kb/s

及び 424 kb/s  での受動通信モードにおける活性化

No

試験 

JIS X 5211

における期

待値 

JIS X 5211

での参照

条件 

試験結果

合格又は不合格


41

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

P: 212 kbps

1

9.3.1 
フレーム形式

JIS X 5211

に規定する

プリアンブル,SYNC,
長さ,CRC である場
合,合格

11.2.2.2 

P: 424 kbps

P: 212 kbps

2

9.3.2 
212 kb/s

及び 424

kb/s

に お け る

SDD

データと応答とが JIS 
X 5211

の規定を満た

す場合,合格

11.2.2.3 
11.2.2.4 

P: 424 kbps

 
能動通信モードにおける活性化 

No

試験 

JIS X 5211 

における

期待値 

JIS X 5211

での参照

条件 

試験結果

合格又は不合格

A: 106 kbps

A: 212 kbps

1

9.4.1 
初期の RF 衝突
回避

DUT

が RF フィールド

を JIS X 5211 にあるよ
うに起動する場合,合

11.1.1 

A: 424 kbps

 
ターゲット伝送プロトコルの論理操作 

No

試験 

JIS X 5211 

におけ

る期待値 

JIS X 5211

での

参照 

シナリオ

番号 

条件 

試験結果

合格又は

不合格 

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

1

9.5.1 
ATR_RES

の取

扱方法

DUT

がシナリオど

おりに動作する場
合,合格

12.5.1.3 

I 1

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

2

9.5.2 
PSL_RES

の取

扱方法

DUT

がシナリオど

おりに動作する場
合,合格

12.5.3.3 

I 2

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

3

9.5.3 
DEP_RES

情報

PDU

の取扱方

DUT

がシナリオど

おりに動作する場
合,合格

12.6.1.2 

I 3 
I 4

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

4

9.5.4 
複 数 情 報 リ ン
ク ビ ッ ト が 1
に 設 定 さ れ た
DEP_RES

情報

PDU

の取扱方

DUT

がシナリオど

おりに動作する場
合,合格

12.6.1.3 

I 5 
I 6

A: 424 kbps


42

X 5214

:2010 (ISO/IEC 23917:2005)

   

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

5

9.5.5 
タ イ ム ア ウ ト
ビットが 1 に
設 定 さ れ た
DEP_RES

管理

PDU

の取扱方

DUT

がシナリオど

おりに動作する場
合,合格

12.6.1.3 

I 7 
I 8

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

6

9.5.6 
タ イ ム ア ウ ト
ビットが 0 に
設 定 さ れ た
DEP_RES

管理

PDU

の取扱方

DUT

がシナリオど

おりに動作する場
合,合格

12.6.1.3 

I 9 
I 10

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

7

9.5.7 
DSL_RES

の取

扱方法

DUT

がシナリオど

おりに動作する場
合,合格

12.7.1.3 

I 11 
I 12

A: 424 kbps

P: 106 kbps

P: 212 kbps

P: 424 kbps

A: 106 kbps

A: 212 kbps

8

9.5.8 
RLS_RES

の取

扱方法

DUT

がシナリオど

おりに動作する場
合,合格

12.7.2.3 

I 13 
I 14

A: 424 kbps