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X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  適合性  

1

3

  引用規格  

2

4

  表記法  

2

4.1

  数値の表記  

2

4.2

  名称  

2

4.3

  試験報告書  

2

5

  記号及び略語  

2

6

  試験方法の適用条件  

3

6.1

  試験環境  

3

6.2

  許容誤差  

3

6.3

  寄生インダクタンス  

3

6.4

  測定の不確かさ  

3

6.5

  アンテナクラス  

3

7

  試験設備及び回路  

3

7.1

  デジタルサンプリングオシロスコープ  

3

7.2

  校正用コイル  

3

7.3

  試験アセンブリ  

3

7.4

  基準デバイス  

3

8

  イニシエータの機能試験  

4

8.1

  イニシエータの RF 検知  

4

8.2

  能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの磁界強度  

4

8.3

  能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び送信波形  

5

8.4

  受動通信モードにおけるイニシエータの負荷変調受信能力  

5

8.5

  能動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び波形の受信能力  

5

8.6

  能動通信モードにおけるイニシエータの最大負荷影響の試験(任意選択)  

6

9

  ターゲットの機能試験  

6

9.1

  受動通信モードにおけるターゲットの負荷変調送信  

6

9.2

  能動通信モードにおけるターゲットの磁界強度  

6

9.3

  能動通信モードにおけるターゲットの変調度及び送信波形  

6

9.4

  能動通信モード及び受動通信モードにおけるターゲットの変調度及び波形の受信能力  

7

9.5

  受動通信モードにおけるターゲットの最大負荷影響の試験(任意選択)  

7

附属書 A(参考)試験報告書の様式例  

8


X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人情報

処理学会(IPSJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって,JIS X 5213:2010 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。


日本工業規格

JIS

 X

5213

:2015

(ISO/IEC 22536

:2013

)

近距離通信用インタフェース及びプロトコル

(NFCIP-1)−RF インタフェース試験方法

Information technology-

Telecommunications and information exchange between systems-

Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)-

RF interface test methods

序文 

この規格は,2013 年に第 2 版として発行された ISO/IEC 22536 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

この規格は,JIS X 6305-6 との調整がなされており,試験機関が JIS X 6305-6 の設備と専門知識とを利

用できるようになっている。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

適用範囲 

この規格は,JIS X 5211 で規定した NFCIP-1 を試験する方法を規定する一連の規格の一つであり,RF

インタフェース用の試験方法を規定する。具体的には,50 mm×40 mm の長方形の領域に入るアンテナを

備えた NFC デバイスの RF インタフェース試験方法を規定する。

この試験方法規格は,2 部構成のはじめのものであり,JIS X 5211 に規定するデバイスの RF インタフェ

ースに対する適合試験を規定する。もう一方の規格 JIS X 5214 は,JIS X 5211 に規定するプロトコルに対

する試験方法を規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO/IEC 22536:2013

, Information technology − Telecommunications and information exchange

between systems

−Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)−RF interface test

methods

(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

適合性 

この規格において規定された全ての必須要件を満たしたとき,JIS X 5211 を実装するシステムは,この

規格に適合する。


2

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS X 5211

  シ ス テ ム 間 の 通 信 及 び 情 報 交 換 − 近 距 離 通 信 用 イ ン タ フ ェ ー ス 及 び プ ロ ト コ ル

(NFCIP-1)

注記  対応国際規格:ISO/IEC 18092,Information technology−Telecommunications and information

exchange between systems

−Near Field Communication−Interface and Protocol (NFCIP-1)(IDT)

JIS X 6305-6:2013

  識別カードの試験方法−第 6 部:非接触(外部端子なし)IC カード−近接型

注記  対応国際規格:ISO/IEC 10373-6:2011,Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards

(IDT)

ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1:2012

,Additional PICC classes

表記法 

4.1 

数値の表記 

(対応国際規格では,この細分箇条において,数値の表記について,英語特有の規定をしているが,こ

の規格では不要であり,不採用とした。

4.2 

名称 

(対応国際規格では,この細分箇条において,基本要素の名称の表記について,英語特有の規定をして

いるが,この規格では不要であり,不採用とした。

4.3 

試験報告書 

試験報告書には,行った試験の総数に対して合格した試験の数,サンプル個体数及び試験日を記載する

附属書 参照)。

記号及び略語 

JIS X 5211

によるほか,次の記号及び略語を使用する。

DFT

(Discrete Fourier Transformation)

離散型フーリエ変換

DUT

(Device Under Test)

試験対象のデバイス

fc

(Frequency of the operating field)

搬送波の周波数

fs

(Frequency of subcarrier at 106 kbit/s in passive

106 kbit/s

の受動通信モードにおける副搬

 communication

mode

送波の周波数

H

m

(Maximum external field strength for not preventing

イニシエータが磁界を出力し始めることを

the Initiator to switch on its RF field

妨げない最大外部磁界強度

H

max

(Maximum field strength of the Initiator antenna field)

最大動作磁界強度

H

min

(Minimum field strength of the Initiator antenna field)

最小動作磁界強度

H

Threshold

(Minimum field strength for the RF level detector) RF レベル検出における最小磁界強度

PCB

(Printed Circuit Board)

プリント基板

RF

(Radio Frequency)

無線周波数


3

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

試験方法の適用条件 

6.1 

試験環境 

JIS X 6305-6

の 4.1 による。

6.2 

許容誤差 

JIS X 6305-6

の 4.3 による。

6.3 

寄生インダクタンス 

JIS X 6305-6

の 4.4 による。

6.4 

測定の不確かさ 

JIS X 6305-6

の 4.5 による。

6.5 

アンテナクラス 

試験は ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1 に規定されたクラス 3 アンテナを使用して行う。

注記 NFCIP-1 デバイスに使われるアンテナサイズがクラス 3 アンテナサイズより大きい場合は,

ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1

に規定されたクラス 1 アンテナをクラス 3 アンテナに加えて使用

してもよい。

試験設備及び回路 

試験設備には,次のものを含む。

−  デジタルサンプリングオシロスコープ

−  校正用コイル

−  試験アセンブリ

−  基準デバイス

この試験設備を,次の細分箇条(7.17.4)で示す。

7.1 

デジタルサンプリングオシロスコープ 

JIS X 6305-6

の 5.1.1 による。

7.2 

校正用コイル 

JIS X 6305-6

の 5.2 による。

7.3 

試験アセンブリ 

JIS X 6305-6

の 5.3 による。

7.4 

基準デバイス 

基準デバイスは,動作空間内で,次のイニシエータの能力測定に使用する。

−  H

min

以上で H

max

を超えない磁界を発生する。

−  ターゲットへ変調信号を送信する。

−  受動通信モードにおいて,ターゲットからの負荷変調信号を受信する。

基準デバイスは,動作空間内で,次のターゲットの能力測定に使用する。

−  能動通信モードにおいて,H

min

以上で H

max

を超えない磁界を発生する。

−  イニシエータへ変調信号を送信する。

7.4.1 

基準デバイスの外形寸法 

JIS X 6305-6

の 5.4.1 による。


4

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

7.4.2 

基準デバイスの構造 

JIS X 6305-6

の 5.4.2 による。基準デバイスのコイル構造は,ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1 の Annex D.3

に定義されている。

注記  アンテナがクラス 3 アンテナサイズより大きい場合は,ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1 の Annex 

D.1

に規定する基準デバイス 1 コイルを基準デバイス 3 に加えて使用してもよい。

7.4.3 

基準デバイスの共振周波数調整 

JIS X 6305-6

の 5.4.3 による。

イニシエータの機能試験 

8.1 

イニシエータの RF 検知 

8.1.1 

目的 

この試験は,イニシエータが JIS X 5211 の 8.4 に規定されているように H

Threshold

以上の磁界強度で,外

部 RF フィールドを検知できることの確認を目的とする。

8.1.2 

試験手順 

7.3

に規定する試験アセンブリを使用する。

手順 1

信号発生器から試験アセンブリへ供給される RF 電力は,NFCIP-1 デバイスのない状態で,校正用コイ

ルで測定しながら 0∼H

max

の必要な磁界強度に調整されていなければならない。

試験回路の出力は,デジタルサンプリングオシロスコープに接続する。可変抵抗 P1 を調整して残留搬

送波の電圧を最小にしなければならない。この信号は,DUT が RF フィールドを発生したかどうかを検出

できるように,一方のセンスコイルを短絡して得られる信号より少なくとも 40 dB 低くなければならない。

手順 2

試験対象の NFCIP-1 デバイスを,DUT の位置にセンスコイル a の中心軸に合わせて設置しなければなら

ない。DUT は,イニシエータモードに設定されなければならない。

信号発生器は,周波数 fc の無変調の RF フィールドを発生し始めて,磁界強度は 0 から,イニシエータ

が RF フィールドを発生することを妨げない最大磁界強度 H

m

まで直線的に増加しなければならない。

試験は,イニシエータが RF フィールドを正しく発生することを検証しなければならない。

H

m

が H

Threshold

以下のとき,DUT はこの試験に合格とする。

8.1.3 

試験報告書 

試験報告書は,DUT が 8.1.2 に示す手順に従って正しく動作しているか否かを記載する。

8.2 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの磁界強度 

8.2.1 

目的 

この試験は,JIS X 5211 の 8.2 に規定された動作空間において,イニシエータが発生した磁界の強度を

測定することを目的とする。

8.2.2 

試験手順 

JIS X 6305-6

の 7.1.1.2 による。

8.2.3 

試験報告書 

JIS X 6305-6

の 7.1.1.3 による。


5

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

8.3 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び送信波形 

8.3.1 

目的 

この試験は,全ての伝送速度において,イニシエータが発生する RF フィールドの変調度,立上がり時

間,立下がり時間,及びオーバーシュートが,規定された動作空間内で JIS X 5211 の 9.2.1.2 及び 9.2.2.2

の規定に一致していることの確認を目的とする。

8.3.2 

試験手順 

JIS X 6305-6

の 7.1.4.2 による。

8.3.3 

試験報告書 

試験報告書は,規定された動作空間において,変調度,立上がり時間,立下がり時間及びオーバーシュ

ート値を記載する。

8.4 

受動通信モードにおけるイニシエータの負荷変調受信能力 

8.4.1 

目的 

この試験は,イニシエータが JIS X 5211 の 9.3.2.2 及び 9.3.3.2 に規定するターゲットの負荷変調を正し

く検出するかの確認を目的とする。

8.4.2 

試験手順 

JIS X 6305-6

の 7.1.5.2 による。

8.4.3 

試験報告書 

試験報告書は,試験位置及びイニシエータの負荷変調を記載する。

8.5 

能動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び波形の受信能力 

8.5.1 

目的 

この試験は,イニシエータが JIS X 5211 の 9.2.1.2 及び 9.2.2.2 に規定された能動通信モードにおいて,

ターゲットの変調波形を正しく検出するかの確認を目的とする。

8.5.2 

伝送速度 106 kbit/s 

8.5.2.1 

試験環境 

JIS X 6305-6

の 7.2.2.2.1 による。

8.5.2.2 

試験手順 

7.3

に規定する試験アセンブリを使用する。

8.5.2.1

に規定する環境下において,イニシエータは,試験アセンブリから送られた変調波形を検波し,

通常動作を継続しなければならない。

8.5.2.3 

試験報告書 

試験報告書は,イニシエータが正常に動作したか否かを記載する。使用した試験環境も試験報告書に記

載する。

8.5.3 

伝送速度 212 kbit/s 及び 424 kbit/s 

8.5.3.1 

試験環境 

JIS X 6305-6

の 7.2.2.3.1 による。

8.5.3.2 

試験手順 

7.3

に規定する試験アセンブリを使用する。

8.5.3.1

に規定する環境下において,イニシエータは,試験アセンブリから送られた変調波形を検波し,

通常動作を継続しなければならない。


6

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

8.5.3.3 

試験報告書 

試験報告書は,イニシエータが正常に動作したか否かを記載する。使用した試験環境も試験報告書に記

載する。

8.6 

能動通信モードにおけるイニシエータの最大負荷影響の試験(任意選択) 

8.6.1 

目的 

この試験は,能動通信モード時に受信動作しているイニシエータの負荷影響が基準デバイスの負荷影響

よりも大きいか又は小さいかを確認することを目的とする。

8.6.2 

試験手順 

ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1

の 7.2.4.2 で定義されるクラス 3 PICC において CON3 の DC 電圧を 4.5 V と

する。

8.6.3 

試験報告書 

JIS X 6305-6

の 7.2.4.3 による。

ターゲットの機能試験 

9.1 

受動通信モードにおけるターゲットの負荷変調送信 

9.1.1 

目的 

この試験は,ターゲットの負荷変調信号の振幅が JIS X 5211 の 9.3.2.2 及び 9.3.3.2 の規定に一致してい

ることの確認を目的とする。

9.1.2 

試験手順 

JIS X 5211

は,受動通信モードに対し,三つの異なる伝送速度を規定する。受動通信モードにおけるタ

ーゲット試験は,106 kbit/s,212 kbit/s 及び 424 kbit/s で実行しなければならない。

9.1.2.1 106 

kbit/s

の試験手順 

JIS X 6305-6

の 7.2.1.2 に規定されている PICC を参照する。

9.1.2.2 106 

kbit/s

の試験報告書 

上側帯波(fcfs)及び下側帯波(fcfs)の振幅が JIS X 5211 で規定する値よりも大きいとき,この試

験に合格とする。

9.1.2.3 212 

kbit/s

及び 424 kbit/s の試験手順 

JIS X 6305-6

の 7.2.1.2 に規定されている PICC を参照する。

ただし,次の操作を行う。

−  副搬送波を搬送波に置き換える。

− REQA 又は REQB コマンドを JIS X 5211 に規定されている当該通信速度のポーリングコマンドに置き

換える。

−  信号又は負荷変調応答を JIS X 5211 に規定されている当該通信速度のポーリング応答コマンドに置き

換える。

9.1.2.4 212 

kbit/s

及び 424 kbit/s の試験報告書 

変調データの振幅が JIS X 5211 に規定した値を超えているとき,この試験は合格とする。

9.2 

能動通信モードにおけるターゲットの磁界強度 

ターゲットについては,8.2 を実施する。

9.3 

能動通信モードにおけるターゲットの変調度及び送信波形 

ターゲットについては,8.3 を実施する。


7

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

9.4 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるターゲットの変調度及び波形の受信能力 

ターゲットとイニシエータとを交換して 8.5 を実施する。

9.5 

受動通信モードにおけるターゲットの最大負荷影響の試験(任意選択) 

ターゲットについては,8.6 による。


8

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

附属書 A

(参考)

試験報告書の様式例

序文 

供給者:

製品:

凡例:

# passed tests

=合格した試験数

# tests

=遂行した総試験数

# samples

=DUT のサンプル数

# of tested positions

=動作空間中の試験位置数

# date

=日付

No

試験名称

目的

8.1 

イニシエータ RF レベル検出

この試験は,イニシエータが JIS X 5211 の 8.4 に規定され

た H

Threshold

以上の磁界強度で,外部 RF フィールドを検知

できることの確認を目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests

# samples

# date

H

H

Threshold

 DUT

は,自身の RF フィールド

を発生する。

H

Threshold

≦ H

H

max

DUT

は,自身の RF フィールド

を発生しない。

No

試験名称

目的

8.2 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるイ

ニシエータ磁界強度

この試験は,JIS X 5211 の 8.2 に規定された動作空間にお

いて,イニシエータが発生した磁界の強度を測定すること
を目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

動作空間内の

異なる位置

H

min

HH

max

No

試験名称

目的

8.3 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるイ

ニシエータの変調度及び送信波形

この試験は,全ての伝送速度において,イニシエータが発

生する RF フィールドの変調度,立上がり時間,立下がり

時間,及びオーバーシュートが,規定された動作空間内で

JIS X 5211

の 9.2.1.2 及び 9.2.2.2 の規定に一致しているこ

との確認を目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

動作空間内の
異なる位置

JIS X 5211

で規定された要求範

囲内の波形パラメタとする。


9

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

No

試験名称

目的

8.4 

受動通信モードにおけるイニシエータの負荷変
調受信能力

この試験は,イニシエータが JIS X 5211 の 9.3.2.2 及び

9.3.3.2

に規定するターゲットの負荷変調を正しく検出す

るかの確認を目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

動作空間内の
異なる位置

106 kbit/s

212 kbit/s

424 kbit/s

JIS X 5211

で規定された要求を

下 回 る 負 荷 変 調 振 幅 感 度 と す

る。

No

試験名称

目的

8.5 

能動通信モードにおけるイニシエータの変調度

及び波形受信能力

この試験は,イニシエータが JIS X 5211 の 9.2.1.2 及び

9.2.2.2

に規定された能動通信モードにおいて,ターゲット

の変調波形を正しく検出するかの確認を目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

H

min

H

max

106 kbit/s

イニシエータが正しく変調波形

を受信し,通常動作を継続する
とき,この試験は合格とする。

H

min

H

max

212 kbit/s

イニシエータが正しく変調波形

を受信し,通常動作を継続する

とき,この試験は合格とする。

H

min

H

max

424 kbit/s

イニシエータが正しく変調波形

を受信し,通常動作を継続する
とき,この試験は合格とする。

No

試験名称

目的

8.6 

能動通信モードにおけるイニシエータの最大負
荷影響(任意選択)

この試験は,能動通信モード時に受信動作しているイニシ
エータの負荷影響が基準デバイスの負荷影響よりも大き

いか又は小さいかを確認することを目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

H

min

 

基準デバイスの負荷影響が小さ
いとき,この試験は合格とする。


10

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

No

試験名称

目的

9.1

受動通信モードにおけるターゲットの負荷変調
送信

この試験は,ターゲットの負荷変調信号の振幅が JIS X 

5211

の 9.3.2.2 及び 9.3.3.2 の規定に一致していることの確

認を目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests

# samples

# date

106 kbit/s

上側帯波(fcfs)及び下側帯波

fcfs)の振幅が JIS X 5211 

規定値を上回っているとき,こ
の試験は合格とする。

212 kbit/s

上側帯波(fcfs)及び下側帯波
fcfs)の振幅が JIS X 5211 

規定値を上回っているとき,こ

の試験は合格とする。

424 kbit/s

上側帯波(fcfs)及び下側帯波
fcfs)の振幅が JIS X 5211 

規定値を上回っているとき,こ

の試験は合格とする。

No

試験名称

目的

9.2 

能動通信モードにおけるターゲットの磁界強度

この試験は,JIS X 5211 の 8.2 に規定された動作空間にお

いて,ターゲットが発生した磁界の強度を測定することを

目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

動作空間内の

異なる位置

H

min

HH

max

No

試験名称

目的

9.3 

能動通信モードにおけるターゲットの変調度及

び送信波形

この試験は,全ての伝送速度において,ターゲットが発生

する RF フィールドの変調度,立上がり時間,立下がり時

間,及びオーバーシュートが,規定された動作空間内で

JIS X 5211

の 9.2.1.2 及び 9.2.2.2 の規定に一致しているこ

との確認を目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

動作空間内の
異なる位置

JIS X 5211

で規定された要求範

囲内の波形パラメタとする。


11

X 5213

:2015 (ISO/IEC 22536:2013)

No

試験名称

目的

9.4 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるタ
ーゲットの変調度及び波形受信能力

この試験は,

ターゲットが JIS X 5211 の 9.2.1.2 及び 9.2.2.2

に規定する能動通信モードのイニシエータからの変調波

形を正しく検出するかの確認を目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

H

min

H

max

106 kbit/s

ターゲットが正しく変調波形を
受信し,通常動作を継続すると

き,この試験は合格とする。

H

min

H

max

212 kbit/s

ターゲットが正しく変調波形を

受信し,通常動作を継続すると

き,この試験は合格とする。

H

min

H

max

424 kbit/s

ターゲットが正しく変調波形を
受信し,通常動作を継続すると

き,この試験は合格とする。

No

試験名称

目的

9.5 

受動通信モードにおけるターゲットの最大負荷
影響(任意選択)

この試験は,受動通信モードにおける受信動作中のターゲ
ットの負荷影響が基準デバイスの負荷影響よりも大きい

か又は小さいかを確認することを目的とする。

条件

JIS X 5211

で期待する結果

# passed tests

# tests &

# of tested

positions

# samples

# date

H

min

 

負荷影響が基準デバイスのとき
の値より小さいとき,この試験

は合格とする。