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T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲及び目的 ············································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 3 

3 用語及び定義 ··················································································································· 3 

4 共通事項−調整手順 ·········································································································· 5 

4.1 標準の放射線条件 ·········································································································· 5 

4.2 放射線検出器 ················································································································ 5 

4.3 管電圧のリプル百分率 ···································································································· 6 

4.4 アノード材質 ················································································································ 6 

5 RQR−X線源装置からの放射線ビームの線質 ········································································ 6 

5.1 目的 ···························································································································· 6 

5.2 識別 ···························································································································· 6 

5.3 仕様 ···························································································································· 6 

5.4 管電圧調整 ··················································································································· 7 

5.5 付加フィルタ ················································································································ 7 

5.6 試験機器 ······················································································································ 7 

5.7 標準の線質RQRの生成及び検証 ······················································································ 8 

6 RQA−アルミニウム付加フィルタで構成したファントムによる線質 ·········································· 8 

6.1 目的 ···························································································································· 8 

6.2 識別 ···························································································································· 9 

6.3 仕様 ···························································································································· 9 

6.4 標準の線質RQAの生成 ·································································································· 9 

6.5 標準の線質RQAを生成する別の方法 ················································································ 9 

7 RQC−銅付加フィルタによる線質 ······················································································ 10 

7.1 目的 ··························································································································· 10 

7.2 識別 ··························································································································· 10 

7.3 仕様 ··························································································································· 10 

7.4 線質RQCの生成方法 ···································································································· 10 

8 RQT−銅付加フィルタによる線質(CT装置に適用) ···························································· 11 

8.1 目的 ··························································································································· 11 

8.2 識別 ··························································································································· 11 

8.3 仕様 ··························································································································· 11 

8.4 線質RQTの生成方法 ···································································································· 11 

8.5 標準の線質RQTを生成するための別の方法 ······································································· 11 

8.6 半価層試験器具 ············································································································ 12 

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9 RQN−標準の放射線条件(ナロービーム条件) ···································································· 12 

9.1 目的 ··························································································································· 12 

9.2 識別 ··························································································································· 12 

9.3 仕様 ··························································································································· 12 

9.4 試験機器(絞り) ········································································································· 13 

9.5 標準の線質RQNの生成 ································································································· 13 

10 RQB−標準の放射線条件(ブロードビーム条件) ································································ 13 

10.1 目的 ·························································································································· 13 

10.2 識別 ·························································································································· 13 

10.3 仕様 ·························································································································· 13 

10.4 試験機器(絞り) ········································································································ 13 

10.5 標準の放射線条件RQBの生成 ······················································································· 14 

11 RQR-M−標準の放射線条件(乳房用X線装置に適用) ························································ 14 

11.1 目的 ·························································································································· 14 

11.2 識別 ·························································································································· 14 

11.3 仕様 ·························································································································· 14 

11.4 標準の線質RQR-Mの生成 ···························································································· 14 

12 RQA-M−標準の放射線条件(乳房用X線装置に適用) ························································ 14 

12.1 目的 ·························································································································· 14 

12.2 識別 ·························································································································· 14 

12.3 仕様 ·························································································································· 15 

12.4 標準の放射線条件RQA-Mの生成 ··················································································· 15 

13 RQN-M−標準の放射線条件(乳房用X線装置に適用) ························································ 15 

13.1 目的 ·························································································································· 15 

13.2 識別 ·························································································································· 15 

13.3 仕様 ·························································································································· 15 

13.4 試験機器(絞り) ········································································································ 16 

13.5 標準の放射線条件RQN-Mの生成 ··················································································· 16 

14 RQB-M−標準の放射線条件(乳房用X線装置に適用) ························································ 16 

14.1 目的 ·························································································································· 16 

14.2 識別 ·························································································································· 16 

14.3 仕様 ·························································································································· 16 

14.4 試験機器(絞り) ········································································································ 17 

14.5 標準の放射線条件RQB-Mの生成 ··················································································· 17 

附属書A(参考)論理的基礎 ································································································· 24 

附属書B(参考)付加ろ過量の決定 ························································································ 25 

附属書C(規定)加重平均ピーク電圧の測定 ············································································ 27 

附属書D(参考)線質及び放射線条件の一覧 ············································································ 29 

参考文献 ···························································································································· 30 

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定義した用語の索引 ············································································································· 31 

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まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本画像医療システム工業会

(JIRA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべき

との申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,厚生労働大臣及び経済産業大臣が制定した日本工業

規格である。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。厚生労働大臣,経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の

特許出願及び実用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

T 61267:2014 

(IEC 61267:2005) 

診断用X線装置−特性決定に用いる放射線条件 

Medical diagnostic X-ray equipment- 

Radiation conditions for use in the determination of characteristics 

序文 

この規格は,2005年に第2版として発行されたIEC 61267を基に,技術的内容及び構成を変更すること

なく作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。 

適用範囲及び目的 

この規格は,診断用X線装置のシステム又は構成部品の特性決定のために,放射線条件を正しく決定す

るための試験手順について適用する。 

乳房撮影を除き,この規格では,放射線ビーム(この規格では,X線ビームのことである。)の線質を物

質の放射線吸収端を利用して意図的に変えるような場合(例えば,希土類フィルタによる。)には適用しな

い。 

増感紙−フィルムのセンシトメトリに使用される放射線条件は,この規格に含まない。 

注記 増感紙−フィルムのセンシトメトリは,ISO 9236規格群の対象である。 

この規格は,診断用X線装置の特性を決定するための試験機関又は製造業者の施設で,一般的な試験状

況で使うことのできる放射線条件で決まる放射線ビームを発生する手段について扱う。 

そのような線質の例としては,X線源装置からろ過を通して発せられた放射線ビームである。より一般

的な場合として,患者又はファントムの放出表面から発せられた散乱放射線の放射線条件がある。これは,

幾何学的配置を明確にする必要がある。 

放射線照射野の理想的な状態は,光子フルエンスのスペクトル分布で与えられる。X線スペクトルの分

光測定は困難であるため,この規格では,管電圧,第1及び第2半価層によって線質を表現する。放射線

条件の場合は,ファントムの特性及び幾何学的配置で定義する。 

管電圧,第1及び第2半価層によって,スペクトル分布の特性を求めるのは,線質を確定するのに過度

の労力を避け,線質の定義で曖昧さをなくすことである。X線管の構造設計,製造年,陽極角度,陽極の

荒れ及び固有ろ過の違いによって,同じ第1半価層をもつある管電圧での二つの線質は,全く異なるスペ

クトル分布をもつ可能性がある。線質特性の不確かさを考慮したとき,管電圧,第1半価層などの許容限

度は,十分小さいことが基本である。この規格に適合する線質又は放射線条件を使用すれば,診断用装置

の安定した特性測定を確立することができる。 

この目的を達成するため,この規格では,必須の制約として,最初に管電圧を測定し,正しい値に設定

する。次に必要な付加フィルタを追加し,規定の第1半価層にすることである。X線管の固有ろ過が大き

く,X線管装置から放出される放射線ビームの半価層が,得ようとする値よりもかなり大きくなる場合は,

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

このX線管装置は,望ましい放射線条件を発生させることに適していない。これは,また,X線管装置の

陽極角度が小さすぎる場合及び/又は劣化によって過度の陽極の荒れがある場合にも起こる可能性がある。

上記に記載した方法で,管電圧は,決定的に重要な役割を果たす。X線管に接続された高電圧発生装置の

種類にかかわらず,適切な管電圧を選択することが基本である。この規格において,現実的な方法は,加

重平均ピーク電圧によって管電圧を測定することである。この量は,照射中に発生する管電圧の全ての値

の重み付け平均である。重み付けは,発生装置によって印加された波形にかかわらず,同一の加重平均ピ

ーク電圧値が,X線写真で同一の低コントラスト値を示すよう実施する。 

加重平均ピーク電圧は,非接続的にも測定できるが,この規格で要求される不確かさのレベルは,接続

的な測定が必要である。非接続的測定では,X線管装置の構造設計及び劣化が測定結果に影響を与える。

電圧加重平均ピーク電圧を接続的に測定すれば,X線管装置の構造設計及び劣化は,測定結果に影響を与

えない。 

X線管の構造設計及び劣化の違いは,物理的に可能な構成として,適切な量の付加フィルタを追加する

ことで考慮する。 

附属書Cに,加重平均ピーク電圧について記載する。 

この規格では,次の二つの主要な線質について記載する。散乱放射線を含まない基本的な放射線条件

(RQR,RQA,RQC,RQT,RQR-M及びRQA-M)及び患者を模擬した散乱放射線を含む放射線条件(RQN,

RQB,RQN-M及びRQB-M)である。 

散乱放射線がある状態では,X線の特性,すなわち,一次放射線及び散乱放射線の空気カーマの分布は,

付加フィルタ,ファントムの配置及び特性に依存することに注意しなければならない。したがって,放射

線ビームの空気カーマ測定では,十分な注意が必要となる。 

箇条5〜箇条9では,基本的に散乱放射線がない放射線条件を扱う。この場合は,放射線条件の空間的

な均一性によって,適用距離は,放射線条件に重大な影響を及ぼさない。これらの放射線条件は,線質と

呼ばれる。 

箇条5では,X線源装置から生じる放射線ビームの線質を扱う。この線質は,関連機器の減弱特性を決

定するのに用いる。 

箇条6では,患者を模擬した物体からの次の放射線ビームの線質を扱う。 

− 放射線ビームに含まれる散乱放射線の寄与は重要でない。 

− 患者からの放射線ビームのスペクトル分布の正確なシミュレーションは,特に必要とはしない。 

箇条7及び箇条8は,自動露出制御,自動輝度制御及びCT装置のような特別な装置からの線質を箇条

6と同様に扱う。物体を透過した放射線の特性は,次の条件によって患者を透過したものと同様となる。 

− 放射線ビームにおける散乱放射線の寄与が重要でない。 

− 患者からの放射線ビームのスペクトル分布の正確なシミュレーションは,特に必要とはしない。 

箇条9及び箇条10では,散乱放射線を考慮した放射線条件を扱う。ここでは,適切な手段で散乱放射

線を制限するか,及び/又は,特別に条件を付加することが行われる。 

箇条9では,箇条10の放射線条件RQBとの組み合わせることを主に意図した測定配置について扱う。

ただし,検出された散乱放射線の寄与が最小限で,ナロービーム条件の測定に用いられる。 

箇条10では,検出された散乱放射線の寄与が大きく,ブロードビーム条件の測定に用いる放射線条件

を扱う。 

箇条5〜箇条10で述べる線質に対しては,X線管の陽極角度は,およそ9°以上であることを想定して

いる。小さな陽極角度をもつX線管では,箇条5の幾つか又は全ての線質の実現は不可能である。もし,

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

使用するX線管があまりに大きい固有ろ過をもつためにRQRシリーズの線質の幾つか又は全てが実現で

きない場合,箇条6〜箇条10では,更に強くろ過された線質を確立するため幾つかの対策を講じている。 

陽極角度が小さく9°までのX線管が使用される場合を酌量して,線質RQR4〜線質RQR10の半価層

は,IEC 61267第1版(1994)で指定した値に対し,大きめの値としている。 

箇条11〜箇条14では,乳房撮影に適用する放射線条件を扱う。 

箇条11では,X線源装置から生じる放射線ビームの線質を扱う。この線質は,関連機器の減弱特性を決

めるのに用いる。 

箇条12では,患者を模擬した物体からの次の放射線ビームの線質を扱う。 

− 放射線ビームにおける散乱放射線の寄与が重要でない。 

− 患者からの放射線ビームのスペクトル分布の正確なシミュレーションは,特に必要とはしない。 

箇条13では,ナロービーム条件での乳房撮影用の放射線条件を扱う。これらの放射線条件は,特別な

組織等価ファントムを用いる。 

箇条14では,ブロードビーム条件での乳房撮影用の放射線条件を扱う。これらの放射線条件は,特別

な組織等価ファントムを用いる。 

この規格で要求される試験用測定器は,規定のコンポーネント又は同等の一連のコンポーネントを含み,

試験パラメータを得るのに要求される試験条件を提供するのに最も適したものを選択する。しかし,これ

らの設備は,ハードウェアの点から見ると一般的に,使用者の施設では難しい。例えば,乳房用X線装置

では,患者支持器を外す必要があるため,改造なしに箇条11〜箇条14の線質を得るには適していない。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 61267:2005,Medical diagnostic X-ray equipment−Radiation conditions for use in the 

determination of characteristics(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ

とを示す。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。 

IEC 61674:1997,Medical electrical equipment−Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductor 

detectors as used in X-ray diagnostic imaging 

IEC 61676:2002,Medical electrical equipment−Dosimetric instruments used for non-invasive measurement of 

X-ray tube voltage in diagnostic radiology 

ISO 4037-1:1996,X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for 

determining their response as a function of photon energy−Part 1: Radiation characteristics and 

production methods 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,IEC 61674及びIEC 61676によるほか,次による。 

3.1 

適用距離(APPLICATION DISTANCE) 

実効焦点から適用平面までの距離。 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

3.2 

適用平面(APPLICATION PLANE) 

中心ビーム軸に垂直な平面。ここで,標準の放射線条件が定義される。 

3.3 

中心ビーム軸(CENTRAL BEAM AXIS) 

焦点から絞りの中心を通る線。 

3.4 

放出表面(EXIT SURFACE) 

放射線学では,放射線ビームが,照射された物体から出てくる平面又は曲面。 

3.5 

半価層試験器具(HALF-VALUE LAYER TEST DEVICE) 

通常は,はく(箔)状か又は板状であり,ナロービーム条件で用い,それがない場合の1/2の空気カー

マ率まで減弱させる器具。 

3.6 

均等度(HOMOGENEITY COEFFICIENT) 

第1半価層と第2半価層との比。 

注記 第1半価層は,この材質を用いないときの1/2の値まで空気カーマ率を減弱させる指定した材 

質の厚さを示す。第2半価層は,空気カーマ率を1/4に減衰させる付加的な厚さで与えられる。 

3.7 

加重平均ピーク電圧,Û(PRACTICAL PEAK VOLTAGE) 

Û

(

)

(

)

n

i

i

i

n

i

i

wUU

wU

=∑∑

によって重み付け平均された管電圧。 

Uiは,kVで測定された管電圧の連続で,重み付け関数w(Ui)は,次による。 

a) 乳房撮影以外 

w(Ui)=0 

Ui<20 kV 

w(Ui)=exp{a×Ui2+b×Ui+c} 

20 kV<Ui≦36 kV 

w(Ui)=d×Ui4+e×Ui3+f×Ui2+g×Ui+h 

36 kV<Ui≦150 kV 

ここに, 

a=−8.646 855×10−3,b=8.170 361×10−1,c=−2.327 793×10+1 

d=4.310 644×10−10,e=−1.662 009×10−7,f=2.308 190×10−5,g=1.030 820×10−5 

h=−1.747 153×10−2 

b) 乳房撮影 

w(Ui)=0 

Ui<20 kV 

w(Ui)=exp{k×Ui4+l×Ui3+m×Ui2+n×Ui+o} 

20 kV<Ui≦50 kV 

ここに, 

k=−2.142 352×10−6,l=2.566 291×10−4,m=−1.968 138×10−2,n=8.506 836×10−1, 

o=−1.514 362×10+1 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

3.8 

放射線条件(RADIATION CONDITION) 

管電圧,総ろ過及び幾何学的な配置のような電気的かつ幾何学的なパラメータで表した放射線照射野の

仕様。 

3.9 

線質(RADIATION QUALITY) 

放射線照射野に散乱放射線がほとんど含まれない放射線条件。 

注記 この定義は,JIS Z 4005の定義に優先する。 

3.10 

基準点(REFERENCE POINT) 

検出器の校正時に,取り決めによる真値を指定するための点と一致する放射線検出器の中心位置とする

点。 

(IEC 61674:1997,3.17修正) 

3.11 

管電圧(X線管電圧)(X-RAY TUBE VOLTAGE) 

X線管の陽極と陰極との間に加える電位差。この量の単位は,ボルト(V)で示す。 

(IEC 61676:2002の3.25) 

注記 管電圧は,時間の関数で変化する。加重平均ピーク電圧は,ある期間での管電圧の重み付けさ

れた値である。 

3.12 

基準方向(REFERENCE DIRECTION) 

放射線源においては,陽極角度,放射線照射野及び画質に関する仕様など,特性の基準となる指定した

方向。 

共通事項−調整手順 

4.1 

標準の放射線条件 

標準の放射線条件は,文字コードによって特徴付けられる。 

次の事項を規定する。 

− 放射ターゲットの材質 

− 管電圧 

− 次で構成する指定の総ろ過 

・ X線源装置 

・ 指定の材質及び厚さの付加フィルタ又はファントム 

− 第1半価層 

− 均等度 

− 適用距離 

4.2 

放射線検出器 

減弱曲線を決定するための空気カーマ又は空気カーマ率の測定に使用する放射線検出器は,IEC 61674

に適合しなければならない。また,次を追加事項とする。 

− エネルギー依存性は,ISO 4037-1の(Table 4左欄,12 keV〜164 keVに相当する。)N15〜N200の線

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

質の範囲で±3 %を超えないこととする。 

− 有効容積の入射表面は,放射線ビームによって十分に覆われていることとする。 

− 感度は,この規格で記述される付加フィルタ又はファントムを用いても,十分に測定できるものとす

る。 

− 放射線検出器は,付加フィルタ又はファントムの使用の有無にかかわらず空気カーマ率の測定が可能

とする。 

4.3 

管電圧のリプル百分率 

管電圧のリプル百分率は,10 %を超えないこととする。 

なお,乳房X線撮影の場合は,4 %を超えないこととする。 

4.4 

アノード材質 

ターゲット材質として要求されるタングステンは,純タングステンでなく,タングステンを多く含む材

質でよい。技術的理由によって,例えば,10 %以下のレニウムを含む合金が使用されている。 

RQR−X線源装置からの放射線ビームの線質 

5.1 

目的 

この箇条は,X線源装置からの放射線ビームの測定に使用される線質について取り扱う。その線質は,

例えば,患者支持器が,X線源装置と患者との間に位置している場合に,患者支持器の特性を決定するた

めに適用する。 

5.2 

識別 

表1の1列に文字コードで示す標準の線質は,次によって識別する。 

RQR x JIS T 61267: 201y 

ここで x:表1による2〜10の間の数,y:この規格の発行年 

5.3 

仕様 

標準の線質RQRは,次の一連のパラメータで規定する。 

− タングステンの放射ターゲット 

− 表1の2列で与えられる値に調整された管電圧 

− X線源装置の調整された総ろ過 

− 表1の3列で与えられる第1半価層 

− 表1の4列で与えられる値の±0.03の均等度 

この細分箇条で指定した記載による線質RQRの生成の方法は,5.4及び5.6による。 

background image

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表1−標準の線質RQR 2〜RQR 10の特性 

標準の線質 

管電圧 

kV 

第1半価層 

アルミニウム厚 

mm 

均等度 

RQR 2 
RQR 3 
RQR 4 
RQR 5 
RQR 6 
RQR 7 
RQR 8 
RQR 9 
RQR 10 

40 
50 
60 
70 
80 
90 

100 
120 
150 

1.42 
1.78 
2.19 
2.58 
3.01 
3.48 
3.97 
5.00 
6.57 

0.81 
0.76 
0.74 
0.71 
0.69 
0.68 
0.68 
0.68 
0.72 

5.4 

管電圧調整 

管電圧は,加重平均ピーク電圧で表示する。管電圧は,不確かさ1.5 %又は1.5 kV(包含係数k=2)の

いずれか大きい値以下になるように調整する。 

5.5 

付加フィルタ 

5.4で決定した管電圧の設定を使用し,減弱曲線は,アルミニウム減弱層で測定する。減弱曲線は,少

なくとも6の減弱(7枚のアルミフィルタセットの16 mm)までカバーしなければならない。 

乳房撮影を除く全ての場合に,第1半価層の確立と適切な表で与えられる均等度に近づけるため,付加

フィルタの量が決定される。もしX線管装置の第1半価層が,得ようとする値よりも大きい場合,そのX

線管装置は,望まれる線質を確立するのに使用できない。 

要求される付加フィルタ量の決定例は,附属書Bに記載する。 

決定値を超える付加フィルタの量を加え,半価層試験器具の中間値から,修正されたろ過での半価層を

確認する。放射線ビーム中に半価層試験器具がある場合とない場合との測定で得られた空気カーマ又は空

気カーマ率の測定値の比率が,0.485〜0.515の場合に正確な標準の線質が得られる。 

注記 正確な半価層の確立は,非線形の手順である。その手順は,この細分箇条で記述したステップ

による減弱曲線の測定を繰り返すことが必要な場合もある。代わりに,放射線ビーム中に半価

層試験器具がある場合とない場合との測定で得られた空気カーマ又は空気カーマ率の指示値が,

0.485〜0.515(0.500±3 %に相当)の間の範囲の外にある場合,追加ろ過は,試行錯誤によって

変えてもよい。もし空気カーマの比が0.485未満である場合,付加フィルタを追加する必要が

ある,逆もまた同様である。減弱曲線は,7枚のアルミフィルタセットで,0.5 mmの厚さから

始め,一つのフィルタから次まで2倍ずつ厚さを増加し,32 mmまでのフィルタ厚さを含んだ

もので決定することができる。 

5.6 

試験機器 

5.6.1 

管電圧測定器 

管電圧は,X線発生装置及びX線管と並列に接続している分圧器で測定するものとする。 

注記 非接続形管電圧測定器は,この規格の目的には適さない。 

5.6.2 

補助のフィルタ 

アルミニウムの薄い層で作られた補助のフィルタが利用可能で,表1に示す第1半価層を得るためにX

線源装置に装着するのに適している。 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

これらの層の材質は,純度99.9 %以上のアルミニウムとする。 

5.6.3 

減弱層 

公称の半価層を得るために,5.3に要求する標準の線質RQRを達成するため,減弱カーブは,一連のア

ルミニウム減弱層によって測定する。アルミニウム減弱層を組み合わせることによって,厚さ0.5 mmを

超えないステップで,25 mmまでの減弱層厚さを確立することができる。各減弱層の厚さは,±0.01 mm

まで判別できるものとする。これらの減弱層の材質は,純度99.9 %以上のアルミニウムとする。 

減弱層の寸法は,試験に用いる全ての放射線ビームを遮るのに十分な大きさでなければならない(図1

参照)。 

5.6.4 

絞り 

絞りは,減弱層の放出表面直後の放射線ビームの広がりを50 mm×50 mm以下に制限できなければなら

ない(図1参照)。 

5.6.5 

放射線検出器 

4.2を参照。 

5.6.6 

半価層試験器具 

公称の半価層を得るために,5.3に要求する標準の線質RQRを達成するため,アルミニウムの半価層試

験器具が利用可能である。この半価層試験器具は,できれば単一層で成りたち,表1の3列で与えられた

公称の第1半価層と許容差±0.1 mmの厚さのものとする。 

これらの層の材質は,純度99.9 %以上のアルミニウムとする。 

半価層試験器具の寸法は,試験に用いる放射線ビームを遮るのに十分な大きさでなければならない(図

1参照)。 

5.7 

標準の線質RQRの生成及び検証 

5.7.1 

幾何学的配列 

放射線検出器は,適用平面中の基準軸に基準点を配置する。適用平面は,焦点から最低550 mm離れて

いるか,焦点と半価層試験器具との間の距離の2倍以上のいずれか大きい距離とする。 

後方散乱を最小限にするために,放射線ビームの容積内には,測定目的のために必要なものだけを置く。

放射線ビームは,適用平面及び,基準方向に適用平面を越えた450 mmの点を含む放射線ビーム軸に垂直

な平面によって制限される(図1参照)。 

5.7.2 

一つの標準の線質RQRの確立 

5.4に記載したステップは,表1中で与えられたパラメータを使用して行う。これらの測定の結果,X線

源装置に補助のフィルタを取り付けることによって,総ろ過を修正することが必要な場合もある。 

5.7.3 

一連の線質 RQRの確立 

線質 RQRの確立に用いた付加フィルタは,それぞれの線質に一致しない場合がある。付加フィルタの

最大値と最小値との差が,0.5 mmを超えない場合,付加フィルタの最大値と最小値との平均に近い1枚の

付加フィルタを線質RQRの確立に使用してもよい。 

RQA−アルミニウム付加フィルタで構成したファントムによる線質 

6.1 

目的 

この箇条は,次に掲げる場合における特性の決定に使用する次の線質について取り扱う。 

− 患者を模擬した物体から出る放射線ビームの中で測定が行われる場合。 

− 検知された放射線ビーム中の散乱放射線の量が多くない場合(低散乱線条件)。 

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T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

− 患者からの放射線ビームのスペクトル分布の正確なシミュレーションは,特に必要とはしない。 

6.2 

識別 

表2の1列に文字コードで示す標準の線質は,次によって識別する。 

RQA x JIS T 61267: 201y 

ここで x:表2による2〜10の間の数,y:この規格の発行年 

6.3 

仕様 

6.3.1 

既知の管電圧に対する線質RQAの規定 

標準の線質RQAは,次の一連のパラメータで規定する。 

− タングステンの放射ターゲット 

− 線質RQAに対応する管電圧 

− 次のものから成る総ろ過 

・ 5.4及び5.5で表された総ろ過 

・ 6.3.2の表2の3列で与えられる付加フィルタ 

− 表2の4列で与えられる公称の第1半価層 

この細分箇条で指定した線質RQAの生成の方法は,6.4による。 

6.3.2 

付加フィルタ 

患者を模擬した標準の線質RQA 2〜線質RQA 10を達成するために,表2の中で与えられた付加フィル

タの値を得る適切な厚さのアルミニウムの層を適用する。 

各フィルタの厚さは,±0.01 mmまで判別できるものとする。 

これらの層の材質は,純度99.9 %以上のアルミニウムとする。 

層の寸法は,試験に用いる全ての放射線ビームを遮るように十分な大きさでなければならない(図2参

照)。 

表2−標準の線質RQA 2〜RQA 10の特性 

標準の線質 

管電圧 

kV 

付加フィルタ 

アルミニウム厚 

mm 

公称第1半価層 
アルミニウム厚 

mm 

RQA 2 
RQA 3 
RQA 4 
RQA 5 
RQA 6 
RQA 7 
RQA 8 
RQA 9 
RQA 10 

40 
50 
60 
70 
80 
90 

100 
120 
150 

10 
16 
21 
26 
30 
34 
40 
45 

2.2 
3.8 
5.4 
6.8 
8.2 
9.2 

10.1 
11.6 
13.3 

6.4 

標準の線質RQAの生成 

5.4及び5.6で設定された標準の線質RQRから開始し,表2の3列に与えられたフィルタを加える。 

注記 線質RQRを基に線質RQAを確立させる場合,管電圧及び総ろ過は,記載した方法で調整する。

これは,半価層の調整の自由度が広がるものではなく,表2の4列の半価層は,公称値を示す。 

6.5 

標準の線質RQAを生成する別の方法 

標準の線質RQAは,箇条5に記載した方法,すなわち,事前に線質RQRを確立せずに,直接確立でき

background image

10 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

る。箇条5で記載した方法を線質RQAの生成に適用する場合,表2の4列の半価層は,公称値ではなく

なる。 

RQC−銅付加フィルタによる線質 

7.1 

目的 

この箇条は,散乱線がない状況での透視用自動輝度制御システムの特性を決定する際に用いる線質につ

いて取り扱う。 

7.2 

識別 

表3の1列に文字コードで示す標準の線質は,次によって識別する。 

RQC x JIS T 61267: 201y 

ここで x:表3による3,5又は8のいずれかの数,y:この規格の発行年 

7.3 

仕様 

標準の線質RQCは,7.3.1に示されたパラメータによって規定する。 

7.3.1 

規定 

標準の線質RQCは,次による。 

− タングステンの放射ターゲット 

− 管電圧は,対応する線質RQRと同じ 

− 総ろ過は, 

・ 5.4及び5.5で表された総ろ過 

・ 銅の付加フィルタ 

7.3.2 

付加フィルタ 

患者を模擬した標準の線質RQC 3,RQC 5及びRQC 8を達成するため,表3の3列の付加フィルタを

用いる。各フィルタの厚さは,±0.01 mm以内まで判別できるものとする。 

これらの層の材質は,純度99.9 %以上の銅でなければならない。 

層の寸法は,試験に用いる全ての放射線ビームを遮るのに十分な大きさでなければならない(図2参照)。 

表3−標準の線質RQC 3,RQC 5及びRQC 8の特性 

標準の線質特性 

管電圧 

kV 

RQC用付加フィルタ 

銅厚 

mm 

公称第1半価層 
アルミニウム厚 

mm 

RQC 3 
RQC 5 
RQC 8 

50 
70 

100 

0.5 
1.5 
2.0 

4.5 
8.4 

11.5 

7.4 

線質RQCの生成方法 

標準の線質RQCは,線質RQAを確立した手順で開始して,生成しなければならない。付加フィルタは,

表3の3列に示した厚さの銅フィルタに設定する。表3の4列の半価層は,公称値を示す。 

X線管装置の線質等価ろ過が1.5 mm〜3.5 mmアルミニウムの範囲内の場合,付加フィルタは,表3の

厚さを使用しなければならない。 

注記 RQCの線質は,アルミニウムフィルタ厚さの精度によって,僅かに影響される。 

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11 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

RQT−銅付加フィルタによる線質(CT装置に適用) 

8.1 

目的 

この箇条は,CTの特性決定に適用される線質について取り扱う。 

8.2 

識別 

表4の1列に文字コードで示す標準の線質は,次によって識別する。 

RQT x JIS T 61267: 201y 

ここで x:表4による8〜10の数,y:この規格の発行年 

8.3 

仕様 

標準の線質RQTは,8.3.1のパラメータによって規定する。 

8.3.1 

既知の管電圧による線質RQTの規定 

標準の線質RQTは,次による。 

− 第1半価層 

− タングステンの放射ターゲット 

− 線質RQRに同等に対応した管電圧 

− 総ろ過は, 

・ 5.4及び5.5で表された総ろ過 

・ 銅の付加フィルタ 

8.3.2 

付加フィルタ 

患者を模擬した標準の線質RQT 8〜線質RQT 10を達成するために,表4の4列に示す第1半価層の値

になるように適切な厚さの銅を用いる。 

これらの層の材質は,純度99.9 %以上の銅でなければならない。 

層の寸法は,試験に用いる全ての放射線ビームを遮るのに十分な大きさでなければならない(図2参照)。 

表4−標準の線質RQT 8,RQT 9及びRQT 10の特性 

標準の線質特性 

管電圧 

kV 

公称RQT用付加フィルタ 

銅厚 

mm 

公称第1半価層 
アルミニウム厚 

mm 

RQT 8 
RQT 9 
RQT 10 

100 
120 
150 

0.2 
0.25 
0.3 

6.9 
8.4 

10.1 

8.4 

線質RQTの生成方法 

標準の線質RQTは,線質RQRを確立した手順で開始して,生成しなければならない。表4の3列で示

す厚さの付加フィルタをビーム内に挿入する。この結果,公称第1半価層は,表4の4列となる。 

注記 線質RQRに基づき確立した線質RQAによって,管電圧及び総ろ過は,記載のとおり調整され

る。これは半価層の調整に自由度を与えるものではない。したがって,表2の4列に記載され

た半価層は,公称値を示す。 

8.5 

標準の線質RQTを生成するための別の方法 

標準の線質RQTは,事前に標準の線質RQRを確立することなく直接的に確立できる。線質RQRを使

用せず,直接的に線質RQTを得るために,繰り返し行うことを推奨する。 

最初に,表4の3列に記載した銅の付加フィルタを追加する。8.6に記載した半価層試験器具で得られ

た半価層を確認する。放射線ビーム内に半価層試験器具がある場合とない場合とで測定された空気カーマ

12 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

又は空気カーマ率の比率が0.485〜0.515の間にある場合は,正確な標準の線質RQTが得られたといえる。

値が0.485以下の場合は,追加した銅フィルタの厚さを増す必要がある。値が0.515を超える場合は,厚さ

を減らす必要がある。銅フィルタ厚さの変更後,新たに半価層の測定を実施しなければならない。試験器

具がある場合とない場合で,空気カーマ又は空気カーマ率の比率が0.485〜0.515に入るまで,この処置を

繰り返す。 

標準の線質RQTがこの細分箇条に記載された方法で得られたとき,表4の4列の半価層は,確立され

た値となり,公称値ではなくなる。 

8.6 

半価層試験器具 

標準の線質RQTを達成するため8.3.2に要求された公称半価層を得るには,アルミニウムの半価層試験

器具を適用する。なるべく1層からなるこの半価層試験器具は,表4の4列に示された公称第1半価層と

許容差±0.1 mmで等しい厚さのものでなければならない。 

これらの層の材質は,純度99.9 %以上のアルミニウムでなければならない。 

半価層試験器具の寸法は,試験に用いる全ての放射線ビームを遮るのに十分な大きさでなければならな

い(図1参照)。 

RQN−標準の放射線条件(ナロービーム条件) 

9.1 

目的 

この箇条は,特性決定に使用し,検出信号への散乱放射線の影響を最小限にする適切な測定(ナロービ

ーム条件)となる放射線条件について取り扱う。 

注記 管電圧30 kV近傍のRQN 1の可能性として,乳房撮影の研究への適用がある。この研究は特別

な条件のため,放射線条件は,RQN-Mの特性として箇条13に記載する。 

9.2 

識別 

文字コードRQN 2〜RQN 10で示す標準の放射線条件は,次によって識別する。 

RQN x JIS T 61267: 201y 

ここで x:2〜10の数,y:この規格の発行年 

適用距離が1 000 mmを超えxxxの場合,放射線条件は,次によって識別する。 

RQN x-xxx JIS T 61267: 201y 

ここで xxx:mm単位での適用距離 

9.3 

仕様 

RQNの標準の放射線条件は,箇条5で指定した標準の線質RQR 2〜線質RQR 10を参照する。 

対応する標準の線質RQRが達成された後,次に示すファントムを放射線ビーム内に設置する。 

標準の線質RQN 2からRQN 10を達成するため,水で満たされた円柱状の容器をファントムとして用い

る。 

容器は,次による。 

− 外径50 mm 

− 高さ200 mm±1 mm 

− 上部,底部及び側面はポリメチルメタクリレート(PMMA: polymethylmethacrylate)製で厚さは,10 mm

±2 mm 

− 内部は,水で満たす。 

13 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

9.4 

試験機器(絞り) 

絞りは,図3に示すようにX線源装置に近接して設置し,付加フィルタの入射表面及び放出表面で共に

放射線ビームを制限できるようにする。最初の絞りは,焦点から300 mmの距離に配置し,放出表面(焦

点から500 mm)の絞りは,直径40 mm以下の口径でなければならない。 

直径11 mmの口径をもつ,三つ目の絞りは,焦点から550 mmの距離に配置し,全放射線ビームが適用

距離で直径20 mm±2 mmに調整できるようにする。 

絞りは,厚さ5 mm以上の鉛でなければならない。 

注記 絞りが十分大きければ(>275 mm×275 mm又は>直径390 mm),図4に示すファントム(付 

加フィルタ)を図3の付加フィルタの代わりに使用できる。 

9.5 

標準の線質RQNの生成 

標準の線質RQNの生成のための条件を確立するため,対応するRQRで確立された全ての手順を実施す

る。RQR線質を確立するため,9.3で指定したファントムは,入射表面が焦点から200 mm〜300 mmの間

になるように設置する。 

9.4で規定した絞りは,図3に従って設置しなければならない。 

10 RQB−標準の放射線条件(ブロードビーム条件) 

10.1 目的 

この箇条は,検出信号への散乱線の影響が大きい場合に使用する放射線条件について取り扱う(ブロー

ドビーム条件)。 

注記 管電圧30 kV近傍のRQB1の可能性として,乳房撮影の研究への適用がある。この研究は特別

な条件のため,放射線条件は,RQB-Mの特性として箇条14に記載する。 

10.2 識別 

文字コードRQB 2〜RQB 10で示す標準の放射線条件は,次によって識別する。 

RQB x JIS T 61267: 201y 

ここで x:2〜10の数,y:この規格の発行年 

もし適用距離が1 000 mmを超えるxxxの場合は,放射線条件は,次によって識別する。 

RQB x - xxx JIS T 61267: 201y 

ここで,xは,2〜10の数,xxxは,ミリメートル単位の適用距離である。 

10.3 仕様 

RQBの標準の放射線条件は,箇条5に示された標準の線質RQR 2〜RQR 10に関連している。 

相当する標準の線質RQRが達成された後,次に示すファントムを放射線ビーム内に設置する。 

RQB 2〜RQB 10の標準の放射線条件には,ファントムとして水を満たした容器を使用する。 

容器は,次に規定する。 

− 外形寸法は300 mm±1 mm四方,高さは200 mm±1 mm 

− 上部,底部及び側面はポリメチルメタクリレート(PMMA)製で厚さは,10 mm±2 mm 

− 内部は,水で満たす。 

10.4 試験機器(絞り) 

絞りは,図4に示すようにX線源装置及びファントムの入射表面に近接して設置し,ファントムの放出

表面で275 mm×275 mmに調整できなければならない。 

絞りは,厚さ5 mm以上の鉛でなければならない。 

background image

14 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

10.5 標準の放射線条件RQBの生成 

RQBを決める標準の放射線条件の生成条件を確立するために,相当するRQRを確立するために行われ

た全ての手順を実施する。RQRを確立した後,10.3に従うファントムの放出表面は,適用距離より20 mm

近い位置に配置する。 

10.4で記載した絞りを図4に従って設置する。 

11 RQR-M−標準の放射線条件(乳房用X線装置に適用) 

11.1 目的 

この箇条は,乳房撮影のように管電圧が40 kV未満で使用されるX線管からの減弱しない放射線ビーム

を使用し,検出信号への散乱X線の影響を最小限とする場合に使用する放射線条件について記載する。 

11.2 識別 

文字コードRQR-Mで示す標準の線質は,次によって識別する。 

RQR-M x JIS T 61267: 201y 

ここで x:表5による1〜4の数,y:この規格の発行年 

11.3 仕様 

標準の線質RQR-Mは,次に規定する。 

− モリブデンの放射ターゲット 

− リプル百分率が4 %以下の管電圧 

− X線源装置の総ろ過が0.032 mm±0.002 mmモリブデン 

表5−標準の線質RQR-M 1〜RQR-M 4の特性 

標準の線質特性 

管電圧(公称値) 

kV 

公称第1半価層 
アルミニウム厚 

mm 

RQR-M 1 
RQR-M 2 
RQR-M 3 
RQR-M 4 

25 
28 
30 
35 

0.28 
0.31 
0.33 
0.36 

11.4 標準の線質RQR-Mの生成 

公称管電圧を選択し,半価層試験器具を用いて第1アルミニウム半価層を測定する。試験的に決められ

た値は,表5の3列の値の±0.02以内が望ましい。 

12 RQA-M−標準の放射線条件(乳房用X線装置に適用) 

12.1 目的 

この箇条は,次に掲げる場合における特性の決定に使用する次の線質について取り扱う。 

− 患者を模擬した物体から出る放射線ビームの中で測定が行われる場合。 

− 検知された放射線ビーム中の散乱放射線の量が多くない場合(低散乱線条件)。 

− 患者からの放射線ビームのスペクトル分布の正確なシミュレーションは,特に必要とはしない。 

12.2 識別 

文字コードRQA-Mで示す標準の線質は,次によって識別する。 

RQA-M x JIS T 61267: 201y 

background image

15 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

ここで x:表6による1〜4の数,y:この規格の発行年 

12.3 仕様 

標準の放射線条件RQA-Mは,次による。 

− モリブデンの放射ターゲット 

− リプル百分率が4 %以下の管電圧 

− X線源装置の総ろ過が0.032 mm±0.002 mmモリブデン 

− 2 mm±0.01 mmアルミニウムの付加フィルタ 

表6−標準の線質RQA-M 1〜RQA-M 4の特性 

標準の線質特性 

管電圧(公称値) 

kV 

付加フィルタ 

アルミニウム厚 

mm 

公称第1半価層 
アルミニウム厚 

mm 

RQA-M 1 
RQA-M 2 
RQA-M 3 
RQA-M 4 

25 
28 
30 
35 




0.56 
0.60 
0.62 
0.68 

12.4 標準の放射線条件RQA-Mの生成 

線質RQR-Mを確立後,付加フィルタの入射表面を焦点から200 mm〜300 mmの距離になるよう配置す

る。 

13 RQN-M−標準の放射線条件(乳房用X線装置に適用) 

13.1 目的 

この箇条は,乳房撮影のように基本的に管電圧を40 kV未満で使用し,かつ,関連した測定結果におい

て検出された信号への散乱放射線の影響が最小化されている(ナロービーム条件)X線装置の特性決定に

使用する放射線条件について取り扱う。 

13.2 識別 

文字コードRQN-Mで示す標準の放射線条件は,次によって識別する。 

RQN-M x JIS T 61267: 201y 

ここで x:表7による1〜4の数,y:この規格の発行年 

13.3 仕様 

RQN-Mの標準の放射線条件は,次による。 

− モリブデンの放射ターゲット 

− リプル百分率が4 %以下の管電圧 

− X線源装置の総ろ過が0.032 mm±0.002 mmモリブデン 

− ファントム 

background image

16 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表7−標準の放射線条件RQN-M 1〜RQN-M 4の特性 

標準の線質特性 

管電圧(公称値) 

kV 

公称第1半価層 
アルムニウム厚 

mm 

RQN-M 1 
RQN-M 2 
RQN-M 3 
RQN-M 4 

25 
28 
30 
35 

0.37 
0.61 
0.63 
0.70 

患者を模擬したRQN-Mの標準の放射線条件を達成するため,厚さ45 mmのファントムを使用する。 

ファントムの外形寸法は,次による。 

− 長さ:120 mm±1 mm 

− 幅 :80 mm±1 mm 

− 高さ:45 mm±0.5 mm 

ファントムの材質は,ポリメチルメタクリレート(PMMA)とする。 

13.4 試験機器(絞り) 

絞りは,図5に示すようにファントム(付加フィルタ)の入射表面及び放出表面の放射線ビームを制限

するためにX線源装置の近くに配置しなければならない。 

第2の絞りは,放射線ビームを適用平面上で直径20 mmに制限する。 

絞りは,厚さ1 mm以上の鉛でなければならない。 

13.5 標準の放射線条件RQN-Mの生成 

線質RQR-Mに適した構成条件とし,ファントムは,入射表面が焦点から200 mm〜300 mmの距離に配

置する。 

絞りは,図5に従って配置する。 

14 RQB-M−標準の放射線条件(乳房用X線装置に適用) 

14.1 目的 

この箇条は,乳房撮影のように基本的に管電圧を40 kV未満で使用し,検出された信号への散乱放射線

の影響が大きい(ブロードビーム条件)ときのX線装置の特性決定に使用する放射線条件について取り扱

う。 

14.2 識別 

文字コードRQB-Mで示す標準の放射線条件は,次によって識別する。 

RQB-M x JIS T 61267: 201y 

ここで x:表8による1〜4の数,y:この規格の発行年 

14.3 仕様 

標準の放射線条件RQB-Mは,次による。 

− モリブデンの放射ターゲット 

− リプル百分率が4 %以下の管電圧 

− X線源装置の総ろ過が0.032 mm±0.002 mmモリブデン 

− ファントム 

background image

17 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表8−標準の放射線条件RQB-M 1〜RBQ-M 4の特性 

標準の線質特性 

管電圧(公称値) 

kV 

RQB-M 1 

25 

RQB-M 2 

28 

RQB-M 3 

30 

RQB-M 4 

35 

患者を模擬したRQB-Mの標準の放射線条件を得るため,平均組成が脂肪50 %,乳腺50 %の乳房組織

を模擬する厚さ45 mmのファントムを使用する。 

ファントムの外形寸法は,次による。 

− 長さ:120 mm±1 mm 

− 幅 :80 mm±1 mm 

− 高さ:45 mm±0.5 mm 

ファントムの材質は,ポリメチルメタクリレート(PMMA)とする。 

14.4 試験機器(絞り) 

絞りは,次のように放射線ビームを制限する。 

− ファントムの全入射表面を覆う。 

− 通常の患者検査中の胸壁側と異なる3側面においてファントムの全放出表面より約10 mm広げる。 

胸壁側のはみ出しは,できる限り小さくする。 

14.5 標準の放射線条件RQB-Mの生成 

11.4に従って,標準の線質RQR-Mを確立する。 

ファントムは,その放出表面が基準方向の適用平面から10 mmの距離に配置する。 

適用距離は600 mmとする。 

絞りは,14.4の要求を全て満たすように配置する。また,図6に従って配置する。 

background image

18 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

単位 mm 

図1−標準の線質RQR 2〜RQR 10の測定配置 

background image

19 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

単位 mm 

図2−標準の線質RQA 2〜RQA 10の測定配置 

background image

20 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

単位 mm 

図3−放射線条件RQN 2〜RQN 10の測定配置 

background image

21 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

単位 mm 

図4−放射線条件RQB 2〜RQB 10の測定配置 

background image

22 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

単位 mm 

図5−放射線条件RQN-Mの測定配置 

background image

23 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

単位 mm 

 臨床機器においては,この図に示すような対称性を保つため,全体の配置(フィルタ,

絞り及び適用平面)は,10°傾けている。 

図6−放射線条件RQB-Mの測定配置 

24 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書A 

(参考) 

論理的基礎 

A.1 範囲に関して 

用語の放射線条件は,放射線照射野の仕様に関連しており,機器の試験のための固有な準備の仕様と混

同すべきでない(この規格の3.8の定義を参照)。 

類似した二つの用語,すなわち,放射線条件及び線質がこの規格の中で使用されていることに注目する。

3.8及び3.9において,散乱放射線が指定した放射線照射野の中で重要な役割を果たさない場合は,線質が

放射線条件として使用されることを示唆している。 

A.2 細分箇条4.1:標準の放射線条件に関して 

この規格に関連する放射線条件は,付加フィルタ又はファントム及び約30 kV〜150 kVまでの範囲の管

電圧の調整によって得られる。標準の放射線条件は,付加フィルタの物質又はファントム及び適用する放

射線条件の種類によるため,箇条5〜箇条10に,約30 kVの管電圧での放射線条件は,乳房撮影用を扱う

箇条11〜箇条14に記載している。 

5.7 

標準の線質RQRの生成及び検証 

6.4 

標準の線質RQAの生成 

9.5 

標準の線質RQNの生成 

10.5 標準の放射線条件RQBの生成 

5.7,6.4,9.5及び10.5において,通常,適用平面は構成品,附属品又は試験される装置の入射表面に一

致する。 

25 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書B 

(参考) 

付加ろ過量の決定 

目的の線質を得るのに必要な付加ろ過量を決定する単純な方法を,次に示す。 

減弱カーブのプロットを作成する。減弱層厚を表す横座標は線形(均等)目盛,減弱比率を表す縦座標

は対数目盛を使用する。できれば透明な長方形のテンプレートを準備する。テンプレートの横軸は,第1

半価層に(1+1/h)を乗じて作成する。hは,標準の線質の均等度である。縦軸は,1/4の減弱に相当する

高さで作成する。テンプレートを均等に2等分する補助の水平線を引き,テンプレートの左端から第1半

価層に一致する位置に垂直線を引く。テンプレートの端が図形の軸と平行で,上部の左,より低い右コー

ナー,及び補助の2行のラインの交差のポイントが,減弱カーブ(図B.1参照)上のポイントと一致する

ように減弱カーブにこのテンプレートを置く。テンプレートの左端の位置と縦座標の間の差は,線質RQR

を確立するのに必要な,付加ろ過量を与える。 

注記 具体例として,表1から標準の線質RQR 6は,第1半価層は3.01 mm,均等度hは0.69である。

均等度=第1半価層/第2半価層から第2半価層は,3.01/0.69=4.36 mmとなる。標準の線質

RQR 6の第2半価層までのアルミニウム厚は,3.01(1+1/h)=3.01+4.36=7.37 mmとなる。テ

ンプレートは,減弱カーブのグラフ上で,高さは,縦座標の1.0〜0.5に相当する目盛の2倍(1/4

の減弱に相当する高さ),幅は,横座標の3.01+4.36=7.37 mmに相当する目盛の大きさを準備

する。 

上に記載したアルゴリズムは,X線管のろ過の合計が小さいときに限り,意味のある解答を得ることが

できる。ろ過が大きすぎる場合,テンプレートは,要求された方法で減弱に置くことができない。この場

合,減弱カーブとテンプレートとの間のマッチは,縦座標の左側へテンプレートの左の端を移すことによ

って,及び減弱カーブの外挿法によって理論上達成することができる。この手順は,通常実施されないが,

X線源装置の総ろ過を減じることに相当する。 

background image

26 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

 Ka/Ka0は,付加フィルタの空気カーマKaと付加フィルタなしの空気カーマKa0の比率を表す。 

図B.1−総ろ過を所定の値に調整するのに必要な付加ろ過の決定(5.5参照) 

27 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書C 
(規定) 

加重平均ピーク電圧の測定 

C.1 序文 

加重平均ピーク電圧は,指定のファントムを透過した後の空気カーマコントラストが同じであれば,い

かなる波形の高電圧によって生成された放射線も,同等電位で生成された放射線と同質であるという考え

に基づいている。試験に使う(管電圧)波形につき,同一のコントラストを生成する一定の電位を加重平

均ピーク電圧として定義する。 

特定の加重平均ピーク電圧決定のためには,この一定でない電圧を印加されたX線管によって生成され

たX線スペクトルが計算されなければならない。このスペクトルを用い,ファントム透過後の空気カーマ

と,ファントム及びコントラスト材料透過後の空気カーマとの比が計算できる(“一般的な診断”領域へ

の適用として,10 cmのPMMAファントム及び1.0 mmのアルミニウムのコントラスト材料が使用される)。

対応する方法として,同一のコントラスト形状が得られる等しい空気カーマ率の一定(管)電圧が確認で

きる。これが与えられた(管電圧)波形に対する加重平均ピーク電圧である。この複雑な手順が加重平均

ピーク電圧値の正確な決定のために必要である。実際の使用には,次に示す単純化された数式が全ての(管

電圧)波形に適用できる。 

C.2 加重平均ピーク電圧Û決定のための単純化された数式 

ある期間[Ui−ΔU/2,Ui+ΔU/2]の電圧の発生が確立的な分布としてp(Ui)として与えられた場合, 

Û

=

=

×

×

×

=

n

i

n

i

i

i

i

i

i

U

w

U

p

U

U

w

U

p

1

1

)

(

)

(

)

(

)

(

 ···························································· (C.1) 

Uiの単位をkVとしたとき,重み関数w(Ui)は,次の式に従って,十分な精度をもち近似できる。 

Ui<20 kVの電圧範囲では, 

w(Ui)=0 ··············································································· (C.2) 

20 kV≦Ui<36 kVの電圧範囲では, 

w(Ui)=exp{a×Ui2+b×Ui+c} ··················································· (C.3) 

ここに, 

a=−8.646 855E-03 

b=+8.170 361E-01 

c=−2.327 793E+01 

さらに,36 kV≦Ui<150 kVの電圧範囲では, 

w(Ui)=d×Ui4+e×Ui3+f×Ui2+g×Ui+h ····································· (C.4) 

ここに, 

d=+4.310 644E-10 

e=−1.662 009E-07 

f=+2.308 190E-05 

28 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

g=+1.030 820E-05 

h=−1.747 153E-02 

定義として,Ûの式は,総和の代わりに積分式として一般化されている。しかしながら,それは重み関

数の値に影響を与えるものではない。 

上記の式とa〜hのパラメータとして与えられた値は,“一般的な診断”,“CT”,“歯科”及び“透視”の

適用範囲で有効である。 

background image

29 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書D 
(参考) 

線質及び放射線条件の一覧 

番号 

線質 

発生源 

患者を模擬した 

ファントム 

適用例 

条件 

RQR 

X線源装置 

関連機器の減弱特性の測定 

RQA 

付加フィルタを透過した
放射線ビーム 

アルミニウム層 

X線受像器面での測定 

・散乱放射線の寄与が無視できる条件 

・患者からの放射線ビームスペクトル分

布に対する正確な模擬が不要な条件 

RQC 

付加フィルタを透過した
放射線ビーム 

銅層 

・イメージインテンシファイア管の調整 
・自動露出制御 

RQT 

付加フィルタを透過した
放射線ビーム 

銅層 

CT検査 

RQN 

小型水ファントムを 
透過した放射線ビーム 

水を満たしたPMMA製の
円筒形容器 

9及び10 a)を併用し,[散乱線除去]グリッドの
比較試験 

ナロービーム条件 

10 

RQB 

大型水ファントムを 
透過した放射線ビーム 

水を満たしたPMMA製の
容器 

9及び10 a)を併用し,[散乱線除去]グリッドの
比較試験 

ブロードビーム条件 

11 

RQR-M 

X線源装置 

乳房撮影 

ナロービーム条件 

12 

RQA-M 

付加フィルタを透過した
放射線ビーム 

アルミニウム層 

乳房撮影 

ナロービーム条件 

13 

RQN-M 

ファントムを透過した 
放射線ビーム 

乳房組織及び等価物質 

乳房撮影 

ナロービーム条件 

14 

RQB-M 

ファントムを透過した 
放射線ビーム 

乳房組織及び等価物質 

乳房撮影 

ブロードビーム条件 

注a) 対応国際規格では10及び11と記載していたが誤りのため9及び10とした。 

2

T

 6

1

2

6

7

2

0

1

4

 (I

E

C

 6

1

2

6

7

2

0

0

5

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

30 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

参考文献 

[1] JIS T 0601-1:2014 医用電気機器−第1部:基礎安全及び基本性能に関する一般要求事項 

注記 対応国際規格:IEC 60601-1,Medical electrical equipment−Part 1: General requirements for 

basic safety and essential performance(MOD) 

[2] IEC 60731:1997,Medical electrical equipment−Dosimeters with ionization chambers as used in 

radiotherapy 

[3] JIS Z 4005:2012 医用放射線機器−定義した用語 

注記 対応国際規格:IEC/TR 60788:2004,Medical electrical equipment−Glossary of defined terms

(MOD) 

[4] JIS Z 4752-1:2001 医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法−第1部:総則 

注記 対応国際規格:IEC 61223-1:1993,Evaluation and routine testing in medical imaging departments

−Part 1: General aspects(IDT) 

[5] ISO 9236 (all parts),Photography−Sensitometry of screen/film systems for medical radiography 

background image

31 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

定義した用語の索引 

定義した用語(日本語) 

定義した用語(英語) 

出典・定義した箇所 

一次放射線 

PRIMARY RADIATION 

JIS Z 4005:2012 10836 

イメージインテンシファイア 

X-RAY IMAGE INTENSIFIER 

JIS Z 4005:2012 11287 

イメージインテンシファイア管 

X-RAY IMAGE INTENSIFIER TUBE 

JIS Z 4005:2012 11288 

受入試験 

ACCEPTANCE TEST 

JIS Z 4752-1:2001 3.2.4 

X線管 

X-RAY TUBE 

JIS Z 4005:2012 11293 

X線管装置 

X-RAY TUBE ASSEMBLY 

JIS Z 4005:2012 11294 

X線源装置 

X-RAY SOURCE ASSEMBLY 

JIS Z 4005:2012 10915 

X線受像器 

X-RAY IMAGE RECEPTOR 

JIS Z 4005:2012 11289 

X線装置 

X-RAY EQUIPMENT 

JIS Z 4005:2012 11285 

X線発生装置 

X-RAY GENERATOR 

JIS Z 4005:2012 11286 

加重平均ピーク電圧 

PRACTICAL PEAK VOLTAGE 

3.7 

患者 

PATIENT 

JIS Z 4005:2012 10775 

患者支持器 

PATIENT SUPPORT 

JIS Z 4005:2012 10786 

管電圧 

X-RAY TUBE VOLTAGE 

3.11 

関連機器 

ASSOCIATED EQUIPMENT 

JIS Z 4005:2012 10082 

基準軸 

REFERENCE AXIS 

JIS Z 4005:2012 10972 

基準点 

REFERENCE POINT 

3.10 

基準方向 

REFERENCE DIRECTION 

3.12 

規定の,規定した 

Specific 

JIS Z 4005:2012 11094 

均等度 

HOMOGENEITY COEFFICIENT 

3.6 

空気力ーマ 

AIR KERMA 

JIS Z 4005:2012 10037 

空気力ーマ率 

AIR KERMA RATE 

JIS Z 4005:2012 10042 

減弱 

ATTENUATION 

JIS Z 4005:2012 10092 

減弱係数 

ATTENUATION COEFFICIENT 

JIS Z 4005:2012 10093 

公称最高管電圧 

NOMINAL X-RAY TUBE VOLTAGE 

JIS Z 4005:2012 10715 

固有ろ過 

INHERENT FILTRATION 

JIS Z 4005:2012 10505 

[散乱線除去]グリッド 

ANTI-SCATTER GRID 

JIS Z 4005:2012 10056 

散乱[放射]線 

SCATTERED RADIATION 

JIS Z 4005:2012 11033 

試験器具 

TEST DEVICE 

JIS Z 4005:2012 11159 

指示値 

INDICATED VALUE 

JIS Z 4005:2012 10489 

実効焦点,焦点 

EFFECTIVE FOCAL SPOT, FOCAL SPOT 

JIS Z 4005:2012 10313 

指定の,指定した 

Specified 

JIS Z 4005:2012 11096 

自動露出制御 

AUTOMATIC EXPOSURE CONTROL 

JIS Z 4005:2012 10098 

絞り 

DIAPHRAGM 

JIS Z 4005:2012 10268 

使用者 

USER 

JIS Z 4005:2012 11247 

製造業者 

MANUFACTURER 

JIS Z 4005:2012 10627 

background image

32 

T 61267:2014 (IEC 61267:2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

定義した用語(日本語) 

定義した用語(英語) 

出典・定義した箇所 

[放射]線源 

RADIATION SOURCE 

JIS Z 4005:2012 10914 

線質 

RADIATION QUALITY 

3.9 

線質等価ろ過 

QUALITY EQUIVALENT FILTRATION 

JIS Z 4005:2012 10887 

総ろ過 

TOTAL FILTRATION 

JIS Z 4005:2012 11181 

ターゲット 

TARGET 

JIS Z 4005:2012 11144 

中心ビーム軸 

CENTRAL BEAM AXIS 

3.3 

適用距離 

APPLICATION DISTANCE 

3.1 

適用平面 

APPLICATION PLANE 

3.2 

電離箱 

IONIZATION CHAMBER 

JIS Z 4005:2012 10544 

取り決めによる真値 

CONVENTIONAL TRUE VALUE 

JIS Z 4005:2012 10204 

ナロービーム条件 

NARROW BEAM CONDITION 

JIS Z 4005:2012 10694 

入射表面 

ENTRANCE SURFACE 

JIS Z 4005:2012 10360 

半価層 

HALF-VALUE LAYER 

JIS Z 4005:2012 10452 

半価層試験器具 

HALF-VALUE LAYER TEST DEVICE 

3.5 

品質管理 

QUALITY CONTROL 

JIS Z 4752-1:2001 3.2.3 

ファントム 

PHANTOM 

JIS Z 4005:2012 10804 

付加フィルタ 

ADDED FILTER 

JIS Z 4005:2012 10028 

付加ろ過 

ADDITIONAL FILTRATION 

JIS Z 4005:2012 10029 

附属品 

ACCESSORY 

JIS Z 4005:2012 10015 

附属文書 

ACCOMPANYING DOCUMENTS 

JIS Z 4005:2012 10019 

ブロードビーム条件 

BROAD BEAM CONDITION 

JIS Z 4005:2012 10136 

放射線学 

RADIOLOGY 

JIS Z 4005:2012 10937 

放射線検出器 

RADIATION DETECTOR 

JIS Z 4005:2012 10898 

放射線照射野 

RADIATION FIELD 

JIS Z 4005:2012 10903 

放射線条件 

RADIATION CONDITION 

3.8 

放射線ビーム 

RADIATION BEAM 

JIS Z 4005:2012 10895 

放射線ビーム軸 

RADIATION BEAM AXIS 

JIS Z 4005:2012 10896 

放出表面 

EXIT SURFACE 

3.4 

有効容積 

SENSITIVE VOLUME 

JIS Z 4005:2012 11046 

リプル百分率 

PERCENTAGE RIPPLE 

JIS Z 4005:2012 10793