T 5752-1
：2012
（1）
目 次
ページ
序文
1
1
適用範囲
1
2
引用規格
1
3
用語及び定義
2
4
分類
2
5
要求事項
2
5.1
一般
2
5.2
放射発散度
3
5.3
安全性
3
6
サンプリング
3
7
試験方法
3
7.1
一般
3
7.2
放射発散度
4
8
製造販売業者が提供する情報
14
8.1
取扱説明書
14
8.2
技術解説書
15
9
機器又は直接の容器若しくは直接の被包への表示
15
10
包装
15
附属書 JA（参考）JIS と対応国際規格との対比表
16
T 5752-1
：2012
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき，日本歯科器械工業協同組合（JDMMA）
，社
団法人日本歯科医師会（JDA）及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規
格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，厚生労働大臣が制定した日本工業規
格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。厚生労働大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS T 5752
の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS
T
5752-1
第 1 部：ハロゲンランプ
JIS
T
5752-2
第 2 部：発光ダイオード（LED）
日本工業規格
JIS
T
5752-1
：2012
歯科−重合用光照射器−第 1 部：ハロゲンランプ
Dentistry-Powered polymerization activators-
Part 1: Quartz tungsten halogen lamps
序文
この規格は，2004 年に第 1 版として発行された ISO 10650-1 を基とし，より安全性の向上など，我が国
の使用実態を反映させるため，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，
附属書 JA に示す。
1
適用範囲
この規格は，歯科用レジン系修復材料を重合させるために使用する，青色波長領域のハロゲンランプ重
合用光照射器（以下，重合用光照射器という。
）に対する要求事項及びその試験方法について規定する。こ
の規格は，電源（商用）を用いる重合用光照射器及び充電式電池を用いる重合用光照射器に適用する。
この規格は，間接修復物，ベニア，義歯又は他の口くう（腔）内歯科装置の技工製作に使用される重合
用光照射器には適用しない。また，この規格に規定する要求事項は，JIS T 0601-1 に優先する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 10650-1:2004
，Dentistry−Powered polymerization activators−Part 1: Quartz tungsten halogen
lamps
（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1 に基づき，
“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。
）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。
）を適用する。
JIS B 7502
マイクロメータ
JIS B 7507
ノギス
JIS T 0307
医療機器−医療機器のラベル，ラベリング及び供給される情報に用いる図記号
JIS T 0601-1:1999
医用電気機器−第 1 部：安全に関する一般的要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60601-1:1988，Medical electrical equipment−Part 1: General requirements for
safety
，Amendment 1（1991）及び Amendment 2（1995）
（MOD）
JIS T 0601-1-2
医用電気機器−第 1 部：安全に関する一般的要求事項−第 2 節：副通則−電磁両立性
−要求事項及び試験
2
T 5752-1
：2012
注記 対応国際規格：IEC 60601-1-2，Medical electrical equipment−Part 1-2: General requirements for
basic safety and essential performance
− Collateral standard: Electromagnetic compatibility −
Requirements and tests
（IDT）
JIS T 5507
歯科用器械−図記号
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS T 0601-1 の 2.（定義）によるほか，次による。
3.1
重合用光照射器（powered polymerization activator）
レジン系修復・合着材料の重合に使用する，青色波長領域の光を発生させる機器。
3.2
満充電された電池
初期性能における完全充電の 80∼100 %分が，あらかじめ充電されている電池。
4
分類
重合用光照射器の分類は，次による。
− タイプ 1：電源（商用）を用いる重合用光照射器
− タイプ 2：充電式電池を用いる重合用光照射器
5
要求事項
5.1
一般
5.1.1
構造
重合用光照射器の構造は，安全で確実な操作ができるような構造でなければならない。
注記 現場で修理できる重合用光照射器の場合は，容易に入手できる道具，又は製造販売業者によっ
て供給される道具を使って，保守及び修理のために容易に分解でき，かつ，再組立てができる
ことが望ましい。
その他の構造は，JIS T 0601-1 の 59.（構造及び配置）による。
5.1.2
接続
タイプ 1 の重合用光照射器は，清掃及び消毒のために，電源（商用）との切離しができ，かつ，再接続
ができなければならない。
適合性の確認は，実際の操作による。
5.1.3
作動制御器
作動制御器は，意図しない作動が起きないように設計する。
適合性の確認は，目視検査による。
5.1.4
清掃，消毒及び滅菌
清掃，消毒及び滅菌は，JIS T 0601-1 の 44.7（清掃，消毒及び滅菌）による。ただし，滅菌は，該当す
る場合に適用する。
5.1.5
過度の温度上昇
過度の温度上昇は，JIS T 0601-1 の 42.（過度の温度）による。ただし，温度上昇試験の試験方法は，製
造販売業者が指定する使用方法による。
3
T 5752-1
：2012
5.2
放射発散度
5.2.1 400
∼515 nm（青色）波長領域の放射発散度
この規格は，400∼515 nm の（青色）波長領域における放射発散度の要求値は規定しない。製造販売業
者は，7.2 によって測定した波長領域の放射発散度についての情報を提供しなければならない。7.2 によっ
て試験したとき，この波長領域の放射発散度は，製造販売業者が指定した重合用光照射器の出力値の範囲
内でなければならない。タイプ 2 の重合用光照射器については，満充電された重合用光照射器において，
要求事項に適合しているかどうかを試験しなければならない。放射発散度の単位は，mW/cm
2
又は W/m
2
とする。
5.2.2 200
∼385 nm 波長領域の放射発散度
7.2
によって試験したとき，電源定格電圧の 90 %において，また，110 %において，200∼385 nm の波長
領域の放射発散度は，200 mW/cm
2
（2 000 W/m
2
）以下でなければならない。タイプ 2 の重合用光照射器に
対しては，満充電されたものを用いる。
5.2.3 515
nm
より長い波長の波長領域における放射発散度
7.2
によって試験したとき，電源定格電圧の 90 %において，また 110 %において，515 nm より長い波長
の波長領域の放射発散度は，100 mW/cm
2
（1 000 W/m
2
）以下でなければならない。タイプ 2 の重合用光照
射器に対しては，満充電されたものを用いる。
5.3
安全性
安全性は，JIS T 0601-1 及び JIS T 0601-1-2 による。ただし，歯科用ユニットなどによって作動（運転）
させる場合は，重合用光照射器を組み込んだ状態で JIS T 0601-1 及び JIS T 0601-1-2 に適合しなければな
らない。
6
サンプリング
サンプリングは，各モデルシリーズごとに 1 台，この規格に対する適合性を評価する。
7
試験方法
7.1
一般
7.1.1
試験についての一般的要求事項
この規格で規定する試験は，全て形式試験である。形式試験は，各モデルシリーズの代表的サンプル 1
台について行う。
また，
製造販売業者が指定する放射発散度が異なる各照射モードについての測定を行う。
この規格で規定する波長領域の設定は，パワーメータを使用する場合には，カットオフフィルタで波長
領域を設定する。分光放射照度計を使用する場合には，分光放射照度計で波長領域を設定する。
その他の一般的要求事項は，JIS T 0601-1 の 4.1（試験）及び 4.2（試験の反復）による。
この規格において，特に規定がない限り，試験は反復してはならない。
7.1.2
環境条件
重合用光照射器を通常使用の状態に準備し，次の条件で試験しなければならない。
a)
周囲温度：23±2 ℃
b)
相対湿度：
（60±15）%
7.1.3
その他の条件
その他の条件は，JIS T 0601-1 の 4.6 d)による。
4
T 5752-1
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7.1.4
電源電圧，試験電圧，電流の波形，電源の特性及び周波数
JIS T 0601-1
の 4.7（電源電圧，試験電圧，電流の波形，電源の特性及び周波数）による。
7.1.5
前処理
前処理は，JIS T 0601-1 の 4.8（前処理）による。
7.1.6
調整
試験装置及び重合用光照射器は，試験前に少なくとも 4 時間，23±2 ℃の範囲内の環境の中に放置しな
ければならない。
［JIS T 0601-1 の 4.10（湿度前処理）参照］
7.1.7
修理及び改造
修理及び改造は，JIS T 0601-1 の 4.9（修理及び改造）による。
7.1.8
目視検査
拡大せずに健常視力で，重合用光照射器の外観を検査する。
7.2
放射発散度
7.2.1
機器
7.2.1.1
照射チップ又は照射部の照射断面積を測定するための機器
照射チップ又は照射部の照射断面積を測定するための機器は，JIS B 7502 に規定するマイクロメータ，
又は JIS B 7507 に規定するノギスを用いる。
7.2.1.2
放射量を測定するための機器
7.2.1.2.1
パワーメータ
パワーメータは，校正したもので，放射量［単位はワット（W）
］の測定に用いる。
200
∼1 100 nm の波長領域内で，フラットな応答（均一なスペクトル感度）をするものでなければなら
ない。
受光部は，放出される放射量の全てがパワーメータで測定できるように，重合用光照射器の照射チップ
又は照射部の照射断面積よりも広くなければならない。
7.2.1.2.2
フィルタ
フィルタは，次のタイプのフィルタを用いる。
a) 200 nm
フィルタ（石英） 200 nm より長い波長の光を透過させる，図 1 の曲線で示されるような光
透過特性をもつもの。
b) 385 nm
フィルタ 385 nm より長い波長の光を透過させる，図 2 の曲線で示されるような光透過特性
をもつもの。
c)
400 nm
フィルタ 400 nm より長い波長の光を透過させる，図 3 の曲線で示されるような光透過特性
をもつもの。
d) 515 nm
フィルタ 515 nm より長い波長の光を透過させる，図 4 の曲線で示されるような光透過特性
をもつもの。
5
T 5752-1
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図 1−200 nm フィルタ（石英）の光透過特性
Ti
：透過曲線＋入射面及び反射面における反射の損失
図 2−385 nm フィルタの光透過特性
6
T 5752-1
：2012
T
：透過曲線
Ti
：透過曲線＋入射面及び反射面における反射の損失
図 3−400 nm フィルタの光透過特性
T
：透過曲線
Ti
：透過曲線＋入射面及び反射面における反射の損失
図 4−515 nm フィルタの光透過特性
7.2.1.2.3
電圧可変電源
電圧可変電源は，重合用光照射器に指定の電源定格電圧を加えられるもの。また，電源定格電圧よりも
10 %
高い電圧，及び 10 %低い電圧を加えることができるもの。
7
T 5752-1
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7.2.1.2.4
電圧計
電圧計は，校正したもので，指定の電源定格電圧±10 %の範囲内で±1 V 以下まで電圧を測定できるも
の。
7.2.1.2.5
タイマ
タイマは，校正したもので，精度が±1 秒以上のもの。
7.2.1.2.6
分光放射照度計
分光放射照度計は，校正したもので，任意の波長領域を設定し，その波長領域内の放射照度［単位はワ
ット毎平方メートル（W/ m
2
）
］の測定に用いる。
200
∼1 100 nm の波長領域内で，フラットな応答（均一なスペクトル感度）をするものでなければなら
ない。
受光部は，分光放射照度計で個別に設定されたものを用いる。
7.2.2
手順
7.2.2.1
照射チップ又は照射部の照射断面積を測定する手順
照射チップ又は照射部の照射断面が円形の場合は，その直径を測定する。照射断面がだ（楕）円形の場
合には，長軸及び短軸を測定する。
照射断面積（Z）を求める。
7.2.2.2
放射量を測定する手順
7.2.2.2.1
一般
− タイプ 1：電源定格電圧，電源定格電圧の 90 %及び電源定格電圧の 110 %において，放射発散度を測
定する。
− タイプ 2：満充電して，放射発散度を測定する。
重合用光照射器を電圧可変電源へ接続する。
図 5 に示すように，重合用光照射器への入力電源を測定で
きるように，電圧可変電源の出力側に電圧計を接続する。
照射器のスイッチを入れて製造販売業者が指定する時間，予熱する。試験開始前に，2 回，それぞれ 20
秒間，照射器を作動させる。
1
重合用光照射器 2 電圧計 3 電圧可変電源
図 5−電圧可変電源，電圧計及び重合用光照射器の配線図
7.2.2.2.2
パワーメータによる測定
7.2.2.2.2.1
一般
フィルタは同じにして各ステップで操作電圧を変える方法 A［
表 1∼表 4 及び 7.2.2.2.2.2 の a)∼d)］を用
いるか，又は操作電圧は同じにして各ステップでフィルタを変える方法 B［
表 5∼表 7 及び 7.2.2.2.2.3 の
a)
∼c)］を用いる。
8
T 5752-1
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1
照射チップ又は照射部
2
フィルタ
3
パワーメータ又は分光放射照度計の検出器
図 6−放射発散度測定装置の配置図
7.2.2.2.2.2
方法 A
方法 A は，次による。
a)
方法 A−200 nm フィルタ（石英）を用いる場合 200 nm フィルタ（石英）を検出器の上に置く。図 6
に示すように，照射する角度を受光面に対して垂直に保ち，照射する光が検出器に漏れなく取り込め
るように，重合用光照射器の照射チップ又は照射部をフィルタ（石英）の上に置く。
測定は，
表 1 による。
表 1−方法 A−200 nm フィルタ（石英）を用いる場合（タイプ 1）
ステップ
フィルタ
nm
電圧
%
時間
秒
操作
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 A を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
1 100
60
ステップ 2 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 B を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
2
90
60
ステップ 3 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 C を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
3
200
（石英）
110
60
5
セットの表示値（A，B，C）が得られるまで，ステップ 1 へ戻って，
一連の測定を繰り返す。その後，7.2.2.2.2.2 b)及び
表 2 へ進む。
注記 時間は，各操作における測定作業の経過時間を示す。例えば，20 は，“照射開始 20 秒後に電圧を確認し，表
示値を記録する”ことを示す。
b)
方法 A−385 nm フィルタを用いる場合 検出器上の 200 nm フィルタ（石英）を，385 nm より長い波
長を透過させるフィルタに置き換える。
照射される光が検出器に漏れなく取り込めるように，重合用光照射器の照射チップ又は照射部をフ
ィルタの上に置く。
9
T 5752-1
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測定は，
表 2 による。
表 2−方法 A−385 nm フィルタを用いる場合（タイプ 1）
ステップ
フィルタ
nm
電圧
%
時間
秒
操作
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 D を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
4 100
60
ステップ 5 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 E を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
5 90
60
ステップ 6 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 F を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
6
385
110
60
5
セットの表示値（D，E，F）が得られるまで，ステップ 4 へ戻って，
一連の測定を繰り返す。その後，7.2.2.2.2.2 c) 及び
表 3 へ進む。
注記 時間は，各操作における測定作業の経過時間を示す。例えば，20 は，“照射開始 20 秒後に電圧を確認し，表
示値を記録する”ことを示す。
c)
方法 A−400 nm フィルタを用いる場合 検出器上の 385 nm フィルタを，400 nm より長い波長を透過
させるフィルタに置き換える。
照射される光が検出器に漏れなく取り込めるように，重合用光照射器の照射チップ又は照射部をフ
ィルタの上に置く。
測定は，
表 3 による。
表 3−方法 A−400 nm フィルタを用いる場合（タイプ 1）
ステップ
フィルタ
nm
電圧
%
時間
秒
操作
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 G を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
7 100
60
ステップ 8 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 H を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
8 90
60
ステップ 9 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 I を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
9
400
110
60
5
セットの表示値（G，H，I）が得られるまで，ステップ 7 へ戻って，
一連の測定を繰り返す。その後，7.2.2.2.2.2 d)及び
表 4 へ進む。
注記 時間は，各操作における測定作業の経過時間を示す。例えば，20 は，“照射開始 20 秒後に電圧を確認し，表
示値を記録する”ことを示す。
10
T 5752-1
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d)
方法 A−515 nm フィルタを用いる場合 検出器上の 400 nm フィルタを，515 nm より長い波長を透過
させるフィルタに置き換える。
照射される光が検出器に漏れなく取り込めるように，重合用光照射器の照射チップ又は照射部をフ
ィルタの上に置く。
測定は，
表 4 による。
表 4−方法 A−515 nm フィルタを用いる場合（タイプ 1）
ステップ
フィルタ
nm
電圧
%
時間
秒
操作
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 J を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
10 100
60
ステップ 11 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 K を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
11 90
60
ステップ 12 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 L を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
12
515
110
60
5
セットの表示値（J，K，L）が得られるまで，ステップ 10 に戻って，
一連の測定を繰り返す。
注記 時間は，各操作における測定作業の経過時間を示す。例えば，20 は，“照射開始 20 秒後に電圧を確認し，表
示値を記録する”ことを示す。
7.2.2.2.2.3
方法 B
方法 B は，次による。
フィルタを検出器の上に置く。
図 6 に示すように，照射される光が検出器に漏れなく取り込めるように，
重合用光照射器の照射チップ又は照射部をフィルタ（石英）の上に置く。
a)
方法 B−100 %電圧での測定 電源電圧を定格電圧の 100 %に設定する。
測定は，
表 5 による。
11
T 5752-1
：2012
表 5−方法 B−100 %電圧（タイプ 1）又は満充電された電池（タイプ 2）での測定
ステップ
電圧
%
フィルタ
nm
時間
秒
操作
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 A を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
1 200
（石英）
60
ステップ 2 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 D を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
2 385
60
ステップ 3 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 G を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
3 400
60
ステップ 4 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 J を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
4
100
515
60
5
セットの表示値（A，D，G，J）が得られるまで，ステップ 1 へ戻っ
て，一連の測定を繰り返す。その後，7.2.2.2.2.3 b) 及び
表 6 へ進む。
注記 時間は，各操作における測定作業の経過時間を示す。例えば，20 は，“照射開始 20 秒後に電圧を確認し，表
示値を記録する”ことを示す。
b)
方法 B−90 %電圧での測定 電源電圧を定格電圧の 90 %に設定する。
測定は，
表 6 による。
12
T 5752-1
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表 6−方法 B−90 %電圧での測定（タイプ 1）
ステップ
電圧
%
フィルタ
nm
時間
秒
操作
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 B を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
5 200
（石英）
60
ステップ 6 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 E を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
6 385
60
ステップ 7 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 H を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
7 400
60
ステップ 8 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 K を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
8
90
515
60
5
セットの表示値（B，E，H，K）が得られるまで，ステップ 5 へ戻
って，一連の測定を繰り返す。その後，7.2.2.2.2.3 c)及び
表 7 へ進む。
注記 時間は，各操作における測定作業の経過時間を示す。例えば，20 は，“照射開始 20 秒後に電圧を確認し，表
示値を記録する”ことを示す。
c)
方法 B−110 %電圧での測定 電源電圧を定格電圧の 110 %に設定する。
測定は，
表 7 による。
13
T 5752-1
：2012
表 7−方法 B−110 %電圧での測定（タイプ 1）
ステップ
電圧
%
フィルタ
nm
時間
秒
操作
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 C を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
9
200
（石英）
60
ステップ 10 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 F を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
10 385
60
ステップ 11 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 I を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
11 400
60
ステップ 12 を開始する。
0
電圧を確認し，照射を開始する。
20
電圧を確認し，表示値 L を記録する。
40
照射を終了する。冷却システムを動かし続ける。
40
∼60
フィルタを交換する。
12
110
515
60
5
セットの表示値（C，F，I，L）が得られるまで，ステップ 9 へ戻っ
て，一連の測定を繰り返す。
注記 時間は，各操作における測定作業の経過時間を示す。例えば，20 は，“照射開始 20 秒後に電圧を確認し，表
示値を記録する”ことを示す。
7.2.2.2.3
分光放射照度計による測定
7.2.2.2.3.1
一般
分光放射照度計で設定した波長領域は，
同じにして，
各ステップで操作電圧を変える方法 A
［
表 1∼表 4，
及び 7.2.2.2.2.2 の a)∼d)］を用いる。
7.2.2.2.3.2
方法
200 nm
フィルタ（石英）を検出器の上に置く。
図 6 に示すように，照射される光が検出器に漏れなく取
り込めるように，重合用光照射器の照射チップ又は照射部を 200 nm フィルタ（石英）の上に置く。
測定は，
表 1∼表 4 による。
7.2.3
結果の処理
7.2.3.1
一般
各ステップについて 5 個の値を用いて平均放射発散度（ M ）を求め，各ステップの平均値を
A
M
，…，
L
M
と表す。光照射断面積（Z）とともにこれらの平均値を用いて，7.2.3.2∼7.2.3.4 の値を求める。
7.2.3.2
電源定格電圧における放射発散度の計算
電源定格電圧における放射発散度の計算は，次による。
a)
平均値を用いて(
A
M
−
D
M )/Z
の計算式で，200∼385 nm 波長領域に対する放射発散度を求める。
b)
平均値を用いて(
G
M
−
J
M )/Z
の計算式で，400∼515 nm（青色）波長領域に対する放射発散度を求め
る。
c)
平均値を用いて
J
M /Z
の計算式で，515 nm より長い波長に対する放射発散度を求める。
14
T 5752-1
：2012
7.2.3.3
電源定格電圧の 90 %における放射発散度の計算
電源定格電圧の 90 %における放射発散度の計算は，次による。
a)
平均値を用いて(
B
M
−
E
M )/Z
の計算式で，200∼385 nm 波長領域に対する放射発散度を求める。
b)
平均値を用いて(
H
M
−
K
M )/Z
の計算式で，400∼515 nm（青色）波長領域に対する放射発散度を求め
る。
c)
平均値を用いて
K
M /Z
の計算式で，515 nm より長い波長に対する放射発散度を求める。
7.2.3.4
電源定格電圧の 110 %における放射発散度の計算
電源定格電圧の 110 %における放射発散度の計算は，次による。
a)
平均値を用いて(
C
M
−
F
M )/Z
の計算式で，200∼385 nm 波長領域に対する放射発散度を求める。
b)
平均値を用いて(
I
M
−
L
M )/Z
の計算式で，400∼515 nm（青色）波長領域に対する放射発散度を求め
る。
c)
平均値を用いて
L
M /Z
の計算式で，515 nm より長い波長に対する放射発散度を求める。
7.2.3.5
結果のまとめ
算出した値を，
表 8 によって記載する。
重合用光照射器が 5.2 の要求事項に適合することを確認する。
表 8−結果のまとめ
放射発散度
波長領域
nm
100 %
操作電圧 90
%
操作電圧 110
%
操作電圧
200
∼385
400
∼515
＞515
8
製造販売業者が提供する情報
8.1
取扱説明書
JIS T 0601-1
の 6.8.2 a)（一般的情報）及び d)（患者と接触する部分の清掃，消毒及び滅菌）による。
重合用光照射器には，操作法，操作者による保守，安全対策及びサービスについての情報を記載した文
書を添付しなければならない。
この取扱説明書には，次の事項を記載しなければならない。
a)
製造販売業者の名称及び／又は商標，及び住所
b)
製品の名称
c)
電源の定格電圧及び定格周波数
d)
操作モード
1)
，分類及び環境条件
e)
ハロゲンランプの形式番号
f)
ハロゲンランプの電圧及びワット数
g)
ハロゲンランプの交換方法
h)
重合用光照射器の性能を確認する方法
i)
青色波長光，紫外線及び熱放射についての注意事項
j)
照射光からの保護のための推奨事項（保護フィルタ眼鏡の有効使用など）
k)
患者に接触する部分の清掃方法及び消毒方法
l)
滅菌方法（該当する場合）
15
T 5752-1
：2012
m)
重合用光照射器の現場での修理方法
n)
照射チップの交換方法
o)
重合用光照射器の出力値［各照射チップ及び各照射モードの最低放射発散度（400∼515 nm）
］
p)
“電圧低下”の表示についての情報（タイプ 2 の重合用光照射器の場合）
q)
電池交換についての情報（タイプ 2 の重合用光照射器の場合）
r)
照射断面積（単位：cm
2
）の値。照射断面積が円形の場合は，断面積の直径を示してもよい。
s) EMC
適合表示
t)
附属品及び工具（該当する場合）
u)
連続照射による過熱への注意事項
注
1)
操作モードは，操作者が重合させる歯科用レジン系修復材料ごとに設定する，重合用光照射
器の製造販売業者が指定する放射発散度，照射時間などをいう。
8.2
技術解説書
技術解説書は，JIS T 0601-1 の 6.8.3 a)（一般）及び c)（回路図・部品表など）による。
9
機器又は直接の容器若しくは直接の被包への表示
機器又は直接の容器若しくは直接の被包への表示は，次による。
a)
法定表示事項
b)
形名（該当する場合）
c)
オートクレーブ処理可能を示す表示（該当する場合）
表示用図記号は，JIS T 0307 及び JIS T 5507 による。ただし，c)については該当する構成品自体への表
示が困難な場合には附属する文書に記載する。
10
包装
重合用光照射器は，輸送する場合，予期できる輸送条件の下で製品に損傷がないように，包装しなけれ
ばならない。また，見やすいところに，輸送取扱い操作上の注意及び禁止事項を表示しなければならない。
16
T 5752-1
：2012
附属書 JA
（参考）
JIS
と対応国際規格との対比表
JIS T 5752-1:2011
歯科−重合用光照射器−第 1 部：ハロゲンランプ
ISO 10650-1:2004
Dentistry−Powered polymerization activators−Part 1: Quartz
tungsten halogen lamps
(I)JIS の規定
(III)国際規格の規定
(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容
箇 条 番 号
及び題名
内容
(II)
国際 規
格番号
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
1
適 用 範
囲
歯 科 用 レ ジ ン 系 修 復
材 料 を 重 合 さ せ る た
め に 使 用 す る 重 合 用
光 照 射 器 に 対 す る 要
求 事 項 及 び そ の 試 験
方法について規定。
1 JIS
とほぼ同じ。
変更
ISO
規格の“歯科用ポリマー系材
料”を，JIS では“歯科用レジン
系修復材料”に変更した。
歯科で使用する一般的な材料名
への変更。技術的差異はない。
2
引 用 規
格
2
3
用 語 及
び定義
3.1
重合用光照射器
3.2
満充電された電池
3 JIS
とほぼ同じ。
変更
追加
ISO
規格の“歯科用ポリマー系充
塡・修復・合着材料”を JIS では
“レジン系修復・合着材料”に変
更した。
満充電された電池の定義を明確
にした。
歯科で使用する一般的な材料名
への変更。技術的差異はない。
この規格の使用者の利便性を考
慮した。技術的差異はない。
5
要 求 事
項
5.1.4
清掃，消毒及び
滅菌
5.1.4
追加
JIS T 0601-1
の 44.7 による，とし
て滅菌を追加。
実質的な技術的差異はない。
5.1.5
過度の温度上昇
5.1.5
追加
“試験方法は，製造販売業者が指
定する使用方法による”を追加。
試験方法を明記した。実質的な技
術的差異はない。
16
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-1
：
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1
1
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T 5752-1
：2012
(I)JIS の規定
(III)国際規格の規定
(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容
箇 条 番 号
及び題名
内容
(II)
国際 規
格番号
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
5
要 求 事
項（続き）
5.2.1 400
∼515 nm（青
色）波長領域の放射発
散度
5.2.1
追加
放射発散度の単位に mW/cm
2
と
W/m
2
を追加し，単位を明記した。
この規格の使用者の利便性を考
慮した。技術的差異はない。
5.2.2 200
∼385 nm 波長
領域の放射発散度
5.2.2 190
nm
変更
JIS
では，190 nm を 200 nm に変
更した。
200 nm
未満は特殊な波長領域の
ため，実際の測定条件に合致した
波長に変更したが，実質的な技術
的差異はない。
5.3
安全性
5.3
追加
“ JIS T 0601-1 及 び JIS T
0601-1-2
による。”とした。
引用規格をより明確にした。実質
的な技術的差異はない。
7
試 験 方
法
7.1.1
試験についての
一般的要求事項
7.1.1
追加
“製造販売業者が指定する放射
発散度が異なる各照射モードに
ついての測定を行う。”を追加し
た。
“この規格で規定する波長領域
の設定は，パワーメータを使用す
る場合には，カットオフフィルタ
で波長領域を設定する。分光放射
照度計を使用する場合には，分光
放射照度計で波長領域を設定す
る。
”を追加した。
波長領域の設定方法を明文化し
た。技術的差異はない。
7.1.2
環境条件
7.1.8
目視検査
7.1.2
−
変更
追加
相対湿度を日本の気候条件に合
わせて（50±10）%を（60±15）%
に変更した。
JIS
では，7.1.8 として検査項目を
追加した。
気候条件の変更であるため，特に
提案はしない。
実質的な技術的差異はない。
17
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1
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：2012
(I)JIS の規定
(III)国際規格の規定
(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容
箇 条 番 号
及び題名
内容
(II)
国際規
格番号
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
7
試 験 方
法（続き）
7.2.1.1
追加
“照射チップ又は照射部の照射
断面積”として，“照射部”を追
記した。
照射チップのない照射器がある
ためで，技術的差異はない。
7.2.1.1
照 射 チ ッ プ 又
は 照 射 部 の 照 射 断 面
積 を 測 定 す る た め の
機器
変更
ISO
規格の“マイクロメータで，
表示がミリメートル単位で，精度
が 0.02 mm 以上，又は同等な精度
をもつ測定器を使用する。”を，
JIS
では“JIS B 7502 に規定する
マイクロメータ，又は JIS B 7507
に規定するノギスを用いる。”に
変更した。
測定器の明確化であり，精度は更
に上回るため，実質的な技術的差
異はない。
7.2.1.2.1
パ ワ ー メ ー
タ
7.2.1.2.1
変更
JIS
では，190 nm を 200 nm に変
更した。
200 nm
未満は特殊な波長領域の
ため，実際の測定条件に合致した
波長に変更したが，実質的な技術
的差異はない。
7.2.1.2.6
分 光 放 射 照
度計
−
追加 7.2.1.2.6 として，分光放射照度計
の仕様を追加した。
実質的な技術的差異はない。
7.2.2.1
照 射 チ ッ プ 又
は 照 射 部 の 照 射 断 面
積を測定する手順
7.2.2.1
追加
“照射チップ又は照射部の照射
断面積”として，“照射部”を追
記した。
照射チップのない照射器がある
ためで，技術的差異はない。
7.2.2.2.2.2
方法 A
7.2.2.2.2.2
190 nm
変更
追加
JIS
では，190 nm を 200 nm に変
更した。
7.2.2.2.2.2 a)
∼d) で“照射チップ
又は照射部”として，“照射部”
を追記した。
200 nm
未満は特殊な波長領域の
ため，実際の測定条件に合致した
波長に変更したが，実質的な技術
的差異はない。
照射チップのない照射器がある
ためで，技術的差異はない。
表 1∼表 7
追加
表 1∼表 7 で（タイプ 1）を追記
した。
“タイプ 1 に適用”という条件の
明確化。技術的差異はない。
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T
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：
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1
1
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(I)JIS の規定
(III)国際規格の規定
(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容
箇 条 番 号
及び題名
内容
(II)
国際規
格番号
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
7
試 験 方
法（続き）
追加
表 1∼表 7 で，注記を追記した。
各操作における経過時間の明確
化。技術的差異はない。
7.2.2.2.2.3
方法 B
7.2.2.2.2.3
190 nm
変更
JIS
では，190 nm を 200 nm に変
更した。
200 nm
未満は特殊な波長領域の
ため，実際の測定条件に合致した
波長に変更したが，実質的な技術
的差異はない。
追加
表 5 で，
“
（タイプ 1）又は満充電
された電池（タイプ 2）での測定”
を追加した。タイプ 1 及び満充電
された電池（タイプ 2）での測定
の明確化。
ISO
規格の見直し時に提案する。
7.2.2.2.3
分 光 放 射 照
度計による測定
−
追加 7.2.2.2.3 で“照射チップ又は照射
部の照射断面”として，
“照射部”
を追記。
照射チップのない照射器がある
ためで，技術的差異はない。
追加
追加
追加
7.2.2.2.3
として，分光放射照度計
を用いての測定を細分箇条とし
て追加した。
7.2.2.2.3.1
として，測定条件を追
記した。
7.2.2.2.3.2
として，測定方法を追
記した。
この規格の使用者の利便性を考
慮した。技術的差異はない。
この規格の使用者の利便性を考
慮した。技術的差異はない。
この規格の使用者の利便性を考
慮した。技術的差異はない。
7.2.3.2
∼7.2.3.5
7.2.3.2
∼
7.2.3.5
変更
JIS
では，190 nm を 200 nm に変
更した。
200 nm
未満は特殊な波長領域の
ため，実際の測定条件に合致した
波長に変更したが，実質的な技術
的差異はない。
19
T
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20
1
1
20
T 5752-1
：2012
(I)JIS の規定
(III)国際規格の規定
(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容
箇 条 番 号
及び題名
内容
(II)
国際 規
格番号
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
8
製 造 販
売 業 者 が
提 供 す る
情報
製 造 販 売 業 者 が 提 供
する情報
8.1
取扱説明書
8
8.1
製造業 者が 提供 する情
報
変更
追加
法定表示方法による表示に変更
した。
JIS T 0601-1
の 6.8.2 a)（一般的情
報）及び d)（患者と接触する部
分の清掃，消毒及び滅菌）による，
とした。
技術的差異はない。
技術的差異はない。
加 d)
操作モードの説明に，注
1)
を
追加した。
操作モードの明文化であり，技術
的差異はない。
追加
“s) EMC 適合表示”を追加した。 法定表示事項であり，技術的差異
はない。
追加
“u) 連続照射による過熱への注
意事項”を追加した。
記載すべき事項を追加。技術的差
異はない。
9
機 器 又
は 直 接 の
容 器 若 し
く は 直 接
の 被 包 へ
の表示
本体への表示
9
追加
法定表示事項，形名（該当する場
合），オートクレーブ処理可能を
示す表示（該当する場合）を追加
した。
法定表示事項であるため。技術的
差異はない。
10
包装
包装への表示事項
−
追加
輸送する場合の包装への注意事
項，輸送取扱い操作上の注意及び
禁止の表示事項を追加した。
技術的差異はない。
JIS
と国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 10650-1:2004，MOD
注記 1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。
注記 2 JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
20
T
57
52
-1
：
20
1
1