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R 1701-5

:2016

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

2

4

  試験装置  

2

5

  試験片  

3

6

  試験方法  

3

6.1

  一般事項  

3

6.2

  試験片の前処理  

4

6.3

  メチルメルカプタン除去試験  

4

7

  試験結果の計算  

5

8

  除去量が小さい試験片の場合の試験方法  

6

9

  報告書  

6

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

8


R 1701-5

:2016

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人日本

ファインセラミックス協会(JFCA)

,国立研究開発法人産業技術総合研究所(AIST)及び一般財団法人日

本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標

準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS R 1701-5:2008 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS R 1701

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS R 1701-1

  第 1 部:窒素酸化物の除去性能

JIS R 1701-2

  第 2 部:アセトアルデヒドの除去性能

JIS R 1701-3

  第 3 部:トルエンの除去性能

JIS R 1701-4

  第 4 部:ホルムアルデヒドの除去性能

JIS R 1701-5

  第 5 部:メチルメルカプタンの除去性能


日本工業規格

JIS

 R

1701-5

:2016

ファインセラミックス−

光触媒材料の空気浄化性能試験方法−

第 5 部:メチルメルカプタンの除去性能

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics)-

Test method for air purification performance of photocatalytic materials-

Part 5: Removal of methyl mercaptan

序文 

この規格は,2013 年に第 1 版として発行された ISO 22197-5 を基とし,その後に制定された JIS R 1701-2

JIS R 1701-5 及び JIS R 1751-1JIS R 1751-5 と整合させるために,技術的内容を変更して作成した日本

工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,

光触媒を建築材料及びその他の製品の表面に担持させた光触媒材料の空気浄化性能のうち,

メチルメルカプタン(CH

3

SH

)の除去性能を試験する方法について規定する。

この規格は,主として太陽光の照射下において波長 300∼380 nm の紫外線領域で効果を示す光触媒を対

象としている。可視光のみの照射下におけるメチルメルカプタンの除去性能を試験する場合は,この規格

ではなく,JIS R 1751-5 を適用する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO 22197-5:2013

,Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics)−Test method for

air-purification performance of semiconducting photocatalytic materials

−Part 5: Removal of

methyl mercaptan

(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS K 0055

  ガス分析装置校正方法通則

JIS K 0114

  ガスクロマトグラフィー通則

JIS R 1600

  ファインセラミックス関連用語


2

R 1701-5

:2016

JIS R 1701-1

  ファインセラミックス−光触媒材料の空気浄化性能試験方法−第 1 部:窒素酸化物の除

去性能

JIS R 1709

  ファインセラミックス−紫外線励起形光触媒試験用光源

JIS R 1751-5

  ファインセラミックス−可視光応答形光触媒材料の空気浄化性能試験方法−第 5 部:メ

チルメルカプタンの除去性能

JIS Z 8401

  数値の丸め方

JIS Z 8806

  湿度−測定方法

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS R 1600 及び JIS R 1701-1 による。

試験装置 

4.1 

装置の構成  試験装置は,JIS R 1701-1 の 4.1(装置の構成)による。低濃度のメチルメルカプタン

を含む空気を扱うことから,吸着などによる損失が少なく,測定結果に影響を及ぼさないように配慮した

ものでなければならない。

4.2 

試験用ガス供給装置  試験用ガス供給装置は,JIS R 1701-1 の 4.2(試験用ガス供給装置)による。

高圧容器入りのメチルメルカプタン標準ガスを用いて,所定の濃度・温度・水蒸気濃度の試験用ガスを調

製し,光照射容器に連続的に供給する。流量制御器,加湿器,ガス混合器などからなる。

4.3 

光照射容器  光照射容器は,JIS R 1701-1 の 4.3(光照射容器)による。

4.4 

光源  光源は,JIS R 1701-1 の 4.4(光源)による。また,試験片上表面での紫外放射照度が 10.0±

0.5 W/m

2

となるように,光照射容器までの距離を調節する。紫外放射照度の測定には,JIS R 1709 に規定

する校正済みの紫外放射照度計を用いる。

4.5 

汚染物質濃度測定装置  汚染物質濃度(メチルメルカプタン濃度)の測定には,JIS K 0114 に規定

するガスクロマトグラフ装置を用いる。装置の校正は JIS K 0055 の規定に従い,測定濃度範囲に対応した

濃度のゼロガス及び標準ガスを用いて行う。カラムは,メチルメルカプタンが分離できるものであれば,

充塡カラム又はキャピラリーカラムのいずれのタイプでもよい。メチルメルカプタンの検出には,水素炎

イオン化検出器(FID)

,又は炎光光度検出器(FPD)を用いる。

サンプリングループを用いてガスクロマトグラフに試験用ガスを注入する場合,

図 のように 6 方バル

ブを配し,試験用ガスを採取できるようにする。サンプリングループの容量は,濃度測定装置の性能に応

じて決める。ガスは,比較的小さい流量の吸引ポンプを

図 の 7 の位置に取り付け,採取する。分析時に

はポンプを止める。サンプリングループを用いない場合は,再現性よくガスを採取できるもの(例えば,

ガスタイトシリンジなど)を用意する。


3

R 1701-5

:2016

1

試験用ガス入口

2

光照射容器

3

排出

4

キャリヤーガス

5 6

方バルブ

6

サンプリングループ

7

吸引ポンプ

8

ガスクロマトグラフ

9

検出器

図 1−ガスのサンプリング方法(例) 

試験片 

試験片は,平板状又はフィルタ状の光触媒材料で,幅 49.0±1.0 mm,長さ 99.0±1.0 mm とする。光照射

容器内で補助板などとの間に隙間ができる場合は,試験片を上流側に寄せるとともに,必要に応じてスペ

ーサーなどを用いて調整する。平板状材料の場合は,光触媒面以外によるガス吸着を抑制するために,試

験片の厚さは 5 mm 以下とする。しかし,これを超える厚さの材料でも,以上の試験条件が保たれるなら

試験できる。光照射容器の深さが十分にあれば,厚さが 5 mm 以上の試験片を用いることも可能であるが,

厚い試験片の場合には,側面による吸着が予想されるので,あらかじめ側面をシールしておく。フィルタ

状の場合には,厚さを 20 mm 以内にする。

試験方法 

6.1 

一般事項 

メチルメルカプタン除去試験は,6.2 及び 6.3 に示す手順で実施し,光照射時の除去量を調べる。この過

程におけるメチルメルカプタン濃度の測定例を,

図 に示す。また,メチルメルカプタン除去量が非常に

小さく,正確な測定が困難な場合は箇条 によって,試験条件を変更することができる。


4

R 1701-5

:2016

図 2−試験操作におけるメチルメルカプタン濃度の測定例 

6.2 

試験片の前処理 

試験片に付着又は吸着している有機物を完全に除去するため,次の手順で実施する。この操作の直後に

試験を開始しない場合には,密閉容器に入れて暗所に保管する。

a) 

水洗  精製水に試験片を 2 時間以上浸せきした後,取り出して室温で風乾する。

なお,120  ℃を上限として,物理的・化学的な変化を生じさせない範囲で試験片を加熱乾燥しても

よい。いずれの場合も,試験片が恒量になることを確認する。洗液に沈殿物などがあればその状況,

乾燥の方法などを記録する。

b) 

有機物の除去  紫外線ランプを用いて 12 時間以上 24 時間未満の光照射を行う。光触媒面での紫外線

照度は 10∼20 W/m

2

の範囲とする。光照射はゼロガス中又は清浄な密閉容器内で行う。親油性の汚れ

が予想される場合には,b)a)  の順で実施してもよい。また,水洗によって試験片の諸性状に悪影響

が出る場合は,a)  を省略してもよい。

6.3 

メチルメルカプタン除去試験 

メチルメルカプタン除去試験は,次による。

a)

メチルメルカプタン濃度体積分率(5.00±0.25)ppm,水蒸気濃度体積分率(1.56±0.16)%,温度 25.0

±2.5  ℃の試験用ガスを安定して発生できるように試験用ガス供給装置をあらかじめ調整しておく。

光照射容器入口で流量が 1.00±0.05 L/min(0  ℃,101.3 kPa の標準状態において)となるように流量

制御器を設定する。このときの水蒸気濃度は,25  ℃における相対湿度(50±5)%に相当する。湿度

の測定は,JIS Z 8806 によって行う。また,試験片上表面における光源からの紫外放射照度を測定し,

記録する。

b)

光照射容器内のガス流路部分の中央に試験片を設置し,窓板までの空間の厚さを 5.0±0.5 mm に調整

するとともに,試験片と前後のガス流路との段差が 1 mm 以内となるよう,必要に応じて補助板を置

く。その後,窓板を取り付け,密閉されていることを確認する。

c)

光照射容器内に試験用ガスを導入する。光照射を行わない吸着過程を 30 分間継続し,暗条件でのメチ

2.0

4.0

6.0

0

60 120

180

240

経過時間(min)

メチルメルカプタン濃度(体積

分率

ppm)

光照射開始

光照射停止


5

R 1701-5

:2016

ルメルカプタン濃度の変化を記録する。ただし,出口におけるメチルメルカプタン濃度が 30 分間以内

に供給濃度に一致したことを確認できる場合には,その時点で光照射を開始してもよい。30 分間後も

メチルメルカプタン濃度が供給濃度の 50 %を下回る場合には,メチルメルカプタン濃度の測定値が 3

点連続して 50 %を超えて安定となるまで継続する。安定となったメチルメルカプタン濃度(3 点以上)

の平均値を算出し,暗条件のメチルメルカプタン濃度(C

M,d1

)とする。90 分経過してもメチルメルカ

プタン濃度が供給濃度の 50 %を超えない場合には,この試験法を適用することができないため,ガス

の供給を停止して試験を中止する。

d)

光源を点灯して光照射を開始する。安定な点灯に時間を要する光源については,紫外光が試験片に当

たらないようにするための遮蔽物を設置した上であらかじめ点灯しておき,安定した後,遮蔽物を取

り除いて光照射を開始する。光照射下での試験容器出口におけるメチルメルカプタン濃度を 3 時間記

録する。メチルメルカプタンの光触媒分解が起こると,

図 のように濃度が低下して,やがて一定に

なる。計算に用いるメチルメルカプタン濃度(C

M

)は,最後の 1 時間中に測定した濃度(3 点以上)

の平均値とする。

e)

光照射を停止し,再び暗条件で試験容器出口のメチルメルカプタン濃度を 30 分間記録する。測定濃度

(3 点以上)の平均値を算出し,光照射後の暗条件のメチルメルカプタン濃度(C

M,d2

)とする。

f)

容器への試験用ガスの供給を停止し,試験片を容器から取り出す。

試験結果の計算 

試験容器出口におけるメチルメルカプタン濃度 C

M

が式(1)を満たさない場合は試験不成立とし,次の計

算は行わない。光触媒によるメチルメルカプタン除去率 R

M

は式(2)によって計算する。除去率 R

M

の計算値

の処理は,JIS Z 8401 によって小数点以下 1 桁に丸める。R

M

が 5.0 %未満又は 95.0 %以上となる場合は,

“5.0 %未満”又は“95.0 %以上”とし,これを除去率とする。次に,1 時間当たりのメチルメルカプタン

除去量 Q

M

を式(3)を用いて計算する。除去量 Q

M

の計算値の処理は,JIS Z 8401 によって小数点以下 2 桁に

丸める。

なお,計算に用いるメチルメルカプタン濃度は,水分補正を行わない実測値とする。また,試験ガス流

量 としては 0  ℃,101.3 kPa 換算の実測値を用いる。除去率 R

M

が 5.0 %未満,又は 95.0 %以上の場合は,

R

M

に 5.0 又は 95.0 を代入し,得られた値に“未満”又は“以上”を付け,これを除去量とする。

なお,除去率 R

M

が 5.0 %未満の試験片については,箇条 によって試験条件を緩和した測定を行うこと

ができる。


6

R 1701-5

:2016

0.05

/2}

)

{(

}

2

/

)

{(

M,d2

M,d1

M,d2

M,d1

M

×

+

+

C

C

C

C

C

  (1)

100

)/2

(

)/2}

{(

M,d2

M,d1

M

M,d2

M,d1

M

×

+

+

=

C

C

C

C

C

R

  (2)

4

.

22

100

60

)/2}

{(

M,d2

M,d1

M

M

×

×

×

+

×

=

f

C

C

R

Q

  (3)

ここに,

R

M

試験片によるメチルメルカプタンの除去率(%)

Q

M

試験片による 1 時間当たりのメチルメルカプタンの除去量
(µmol/h)

C

M

試験容器出口におけるメチルメルカプタン濃度(体積分率
ppm

C

M,d1

暗条件のメチルメルカプタン濃度(体積分率 ppm)

C

M,d2

光照射後の暗条件のメチルメルカプタン濃度

(体積分率 ppm)

f

標準状態

(0  ℃,

101.3 kPa

に換算した試験用ガス流量

(L/min)

除去量が小さい試験片の場合の試験方法 

平板状の試験片の測定において,メチルメルカプタン除去率 R

M

が 5.0 %未満で,除去量を正確に測定で

きないことが予想される場合は,試験片の枚数及び試験用ガス流量の両方を同時に

表 1

のとおり変更して

測定することができる。この場合,試験片の前にガス流路部分を 100 mm 以上確保する。

なお,試験条件を変更した場合,報告書に記載するメチルメルカプタン除去量は,式(3)から求められる

値の 1/2 とする。また,試験条件を変更した場合,変更した試験条件における暗条件の時間を確認する必

要がある。

表 1

試験条件の変更 

変更できる試験条件

変更後の値

試験用ガス流量

0.500

±0.025 L/min

試験片の枚数

2

報告書 

試験報告書には,通常次の項目を記載する。

a) 

一般事項 

1)

この規格の番号

2)

試験年月日

b) 

試験機関 

1)

試験機関の名称及び所在地

2)

試験責任者名

c) 

試験片に関する情報 

1)

試験片の種類,製造番号など

2)

材質,形状及び寸法

3)

試験片の選択プロセス(抜取り方法など)

4)

試験機関到着日,包装から取り出した日時及び試験片を準備した日時

d) 

結果 

1)

試験片による 1 時間当たりのメチルメルカプタン除去量


7

R 1701-5

:2016

2)

参考値として,メチルメルカプタン除去率

e) 

試験条件 

1)

メチルメルカプタン供給濃度,試験ガス流量,水蒸気濃度,温度

2)

箇条

8

適用の有無(試験片枚数の変更)

3)

光照射条件(光源の種類,紫外放射照度)

4)

前処理条件(水洗及び乾燥の条件,紫外放射照度及び照射時間)

f) 

試験装置 

1)

試験装置の形式及び仕様

2)

ガスクロマトグラフ,照度計,紫外放射照度計などの種類

g) 

その他必要な事項 

試験状況及び試験後の試験片に関しての特記事項


8

R 1701-5

:2016

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS R 1701-5:2016

  ファインセラミックス−光触媒材料の空気浄化性能試験方法

−第 5 部:メチルメルカプタンの除去性能

ISO 22197-5:2013

,Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics)−

Test method for air-purification performance of semiconducting photocatalytic materials

−Part 5: Removal of methyl mercaptan

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異

の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

1

適用範囲

1

一致

2

引用規格

3

用語及び

定義

3

一致

4

計算で使用する記号の

一覧。ガス流量 は乾

きガス基準。

削除

JIS

は記載なし。

JIS

は流量 の乾きガス基準を廃

止した(6.3 参照)

流量 の定義を ISO 規格の改正時に

変更するよう提案する。理由は 6.3

参照。

5

試験の目的及び原理が
記載されている。

削除

JIS

は記載なし。

規格本文に記載する必要性がない
ため削除した。

4.2

試 験 用

ガス供給装

JIS R 1701-1

による。

6.2

流量は標準状態(0  ℃,

101.3 kPa

,乾きガス基

準)に換算する。

変更

JIS

は乾きガス基準を廃止した

(6.3 参照)

ISO

規格改正時に変更を提案する

(6.3 参照)

4.3

光 照 射

容器

JIS R 1701-1

による。

6.3

JIS R 1701-1

とほぼ同

じだが,ガスの流れを

乱す構造及び試験片の

前 に ガ ス 流 路 部 分 を

100 mm

以上確保する

ことは明記されていな

い。

追加

ISO

規格でも図示されているた

め技術的な差異はない。

規格利用者の理解促進のため。ISO
規 格 の 改 正 時 に , 修 正 し た ISO 

22197-1

を参照するよう提案する。

8

R

 170

1-5


201

6


9

R 1701-5

:2016

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

5

試験片

寸 法 許 容 差 は ± 1.0

mm

7

寸 法 許 容 差 は ± 0.5

mm

変更

JIS

では試験片の寸法許容差が

大きい。

ほかの試験条件の許容差と比べて

寸法に関する許容差が厳しかった
ため。ISO 規格の改正時に変更を提

案する。

6.2

試 験 片

の前処理

水洗して乾燥した後,

10

∼20 W/m

2

除去の強

度 の 紫 外 線 照 射 で 12

時間以上 24 時間未満

の有機物除去を行う。
逆の順序でもよいし,

水 洗 は 省 略 し て も よ

い。

8.2

15 W/m

2

以上の強度の

紫 外 線 照 射 で 16 ∼ 24
時間の有機物除去を行

う。

選択

水 洗 に 関 す る 記 述 が 追 加 さ れ

た。また,JIS の方が紫外線照射
の強度と時間の範囲が広く設定

されている。

JIS R 1751-1

-5 に整合させるとと

もに,手順を柔軟にするため。

ISO

規格改正時に変更を提案する。

6.3 a)

メチ

ルメルカプ

タン除去試

流 量 が

1.00

± 0.05

L/min

(0  ℃,101.3 kPa

の標準状態において)

8.3.1

流量が 1.0 L/min(0  ℃,

101.3 kPa

,乾きガス基

準 の 標 準 状 態 に お い

て)

変更

JIS

は流量に許容差を追加し,

1.00

±0.05 L/min とした。JIS 

ISO

規格も標準状態に換算した

流量を用いるが,JIS は水蒸気を
含めた流量(湿りガス基準)を

用い,ISO 規格は水蒸気を除い

た流量(乾きガス基準)を用い
る。

許容差が必要であり,5 %の許容差
を追加した。乾きガス基準廃止によ

り水蒸気濃度に相当する 1.6 %の差

が生じるが,その他の影響に比べて
小さく,簡略化のために廃止した。

ISO

規格改正時に変更を提案する。

6.3 c)

メチ

ルメルカプ

タン除去試

吸 着 過 程 の 手 順 を 記

載。90 分間でメチルメ
ルカプタン濃度が 50 %
を超えなければ試験停

止。

8.3.3

吸 着 過 程 の 手 順 を 記

載。90 分間でメチルメ

ルカプタン濃度が 90 %
を超えなければ試験停

止。

変更

JIS

では吸着過程でメチルメル

カプタン濃度が供給濃度の 50 %

を超えれば試験可能とした。ま
た,暗条件のメチルメルカプタ

ン濃度を定義した。

90 %

を超えない光触媒が見つかっ

たため,しきい(閾)値を 50 %に

下げた。ISO 規格改正時に変更を提
案する。

9

R

 170

1-5


201

6


10

R 1701-5

:2016

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

6.3 e)

メチ

ルメルカプ
タン除去試

光照射停止後の手順を

記載。メチルメルカプ
タン濃度を 30 分間測
定し,測定濃度(3 点

以上)の平均値を光照
射後の暗条件のメチル

メルカプタン濃度とす

る。

光照射停止後の手順を

記載。メチルメルカプ
タン濃度が供給濃度に

戻ることを確認する。

変更

JIS

では光照射停止後の測定濃

度(3 点以上)の平均値を,光照
射後の暗条件のメチルメルカプ

タン濃度,と定義した。

吸着過程でメチルメルカプタン濃

度が供給濃度の 90 %を超えない光
触媒の評価のために変更した。ISO

規格改正時に変更を提案する。

7

試験結果

の計算

メチルメルカプタン濃
度が式(1)を満たさない

場合は試験不成立とす

る。としては 0  ℃,

101.3 kPa

換算の実測値

を用いる。メチルメル

カプタン除去量及び除
去率の算出に,光照射

前後の暗条件のメチル

メルカプタン濃度の平
均値を用いる。

9

f

は標準状態(0  ℃,

101.3 kPa

,乾きガス基

準)に換算した流量で,

水蒸気補正ファクター

1.016

を乗じる。メチル

メルカプタン除去量及

び除去率の算出に,メ
チルメルカプタンの供

給濃度の平均値を用い

る。

追加 
変更

試験の成立を判定する式(1)を追
加した。流量計算における乾き

ガス基準を廃止した(6.3 参照)

メチルメルカプタン除去量及び
除去率の計算に,ISO 規格は供

給濃度を用いるが,JIS では 6.3

c)

及び e)  で求めた光照射前後

の暗条件のメチルメルカプタン

濃度の平均値を用いる。

暗反応が起こる場合に対応するた
め,計算式を変更した。また,暗反

応が起こっている場合にも試験の

成立・不成立を判定できるようにす
るため,式(1)を追加した。ISO 規格

改正時に計算式の追加と修正を提

案する。

8

除去量が

小さい試験

片の場合の
試験方法

変更後の流量は 0.500

±0.025 L/min。

10

変 更 後 の 流 量 は 0.5

L/min

追加

許容差を追加した。

許容差が必要であり,5 %の許容差

を追加した。ISO 規格改正時に追加

を提案する。

9

報告書

ISO

規格の報告項目に

加え,試験責任者名及

び試験片の前処理条件
を記載する。

11

JIS

の報告項目に加え,

署名,各ページ番号を

記載する。

変更

JIS

では前処理条件を記載する。 JIS R 1701-1-5 において前処理の

重要性が高まり,記載事項として前

処理条件が追加され,整合を図るた
めに追加した。ISO 規格改正時に変

更を提案する。

10

R

 170

1-5


201

6


11

R 1701-5

:2016

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:ISO 22197-5:2013,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

−  一致  技術的差異がない。

−  削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

−  選択  国際規格の規定内容とは異なる規定内容を追加し,それらのいずれかを選択するとしている。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

− MOD

国際規格を修正している。

11

R

 170

1-5


201

6