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R 1639-2 : 1999 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。 

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は,出願公開後の実用

新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

R 1639-2 : 1999 

ファインセラミックス− 

か(顆)粒特性の測定方法− 

第2部:かさ密度 

Test methods of properties of fine ceramic granules 

Part 2:Bulk density 

1. 適用範囲 この規格は,数十から数百μmのファインセラミックスか粒のかさ密度の測定方法につい

て規定する。 

2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は,その最新版を適用する。 

JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語 

JIS R 1628 ファインセラミックス粉末のかさ密度測定方法 

JIS R 6003 研摩材のサンプリング方法 

JIS Z 8401 数値の丸め方 

3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS R 1600によるほか,次による。 

a) か粒 微粒子の造粒操作によって製造した粒子集合体。 

b) か粒特性 か粒の特性を表す代表的な性質。 

c) かさ密度 か粒が占める単位かさ体積当たりの質量。 

d) 初期かさ密度 か粒を静かに容器に入れたときのかさ密度。 

e) タップかさ密度 か粒を容器に入れた後,容器にタップによる衝撃を加え,体積変化がなくなったと

きのかさ密度。 

f) 

定体積測定法 測定体積を一定として行う測定方法。 

g) 定質量測定法 測定質量を一定として行う測定方法。 

4. サンプリング方法 試験する試料のサンプリング方法は,JIS R 6003の3.(サンプリング方法)及び

4.(試料調整方法)による。 

調整試料の1試料の量は,体積で200cm3程度とする。 

5. かさ密度の種類 かさ密度の種類は,次による。 

a) 初期かさ密度

R 1639-2 : 1999 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

b) タップかさ密度 

6. 測定方法の種類 かさ密度の測定は,次のいずれかによる。 

a) JIS R 1628による方法 

b) その他の方法 

7. 測定方法 

7.1 JIS R 1628による方法 JIS R 1628に規定する定体積測定法又は定質量測定法による。ただし,試料

の乾燥は行わない。タップかさ密度を求める場合には,いずれの測定法においても,最初のタップ回数を

100回から始めてもよい。 

7.2 

その他の方法による場合 JIS R 1628に規定する方法以外の場合には,測定結果がJIS R 1628に規

定する定容積測定法又は定質量測定法の結果との差が,あらかじめ当事者間で合意した許容範囲内になる

ように,測定条件を設定して行わなければならない。 

8. 計算 かさ密度の計算は,次による。 

8.1 

初期かさ密度及びタップかさ密度 初期かさ密度及びタップかさ密度は,それぞれの測定における

試料の質量を,測定容器中に占める試料の最上層までの体積で除して求め,それぞれ初期かさ密度及びタ

ップかさ密度とする。 

8.2 

計算結果の整理 測定値は,有効数字3けたまで求め,平均値は4けたまで計算して,JIS Z 8401

によって3けたに丸め,単位はg/cm3で表示する。 

9. 結果の表示 かさ密度の測定結果の表示は,次による。 

a) 試料名 

b) 測定方法(JIS R 1628による方法の場合には,その規格番号と測定方法の種類。その他の方法による

場合には,容器の材質及び断面積,容器に入れた試料の高さ,タップ高さ,タップ速度,タップ時間

及び衝撃面材質) 

c) 測定条件(温度及び湿度) 

d) 初期かさ密度 

e) タップかさ密度 

R 1639-2 : 1999  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

ファインセラミックスか(顆)粒特性の測定方法 第2部 かさ密度原案作成委員会 構成表 

氏名 

所属 

(委員長) 

○ 内 海 良 治 

工業技術院名古屋工業技術研究所 

(委員) 

○ 伊ケ崎 文 和 

工業技術院物質工学工業技術研究所 

○ 青 木 正 司 

財団法人ファインセラミックスセンター 

○ 山 田 哲 夫 

宇部與産株式会社 

○ 伊 藤   崇 

大川原化工機株式会社 

○ 渡 邊 敬一郎 

日本ガイシ株式会社 

○ 松 尾 康 史 

日本特殊陶業株式会社 

鈴 木 和 夫 

工業技術院名古屋工業技術研究所 

椿   淳一郎 

名古屋大学 

中 平 兼 司 

財団法人ファインセラミックスセンター 

中 村 彰 一 

大塚電子株式会社 

福 井 俊 文 

株式会社島津製作所 

橋 本 邦 男 

昭和電工株式会社 

佐々木 邦 雄 

株式会社セントラル科学貿易 

山 口 浩 文 

日本ガイシ株式会社 

虎 谷 秀 穂 

名古屋工業大学 

林   茂 雄 

三重県窯業試験場 

中 安 哲 夫 

宇部與産株式会社 

安 川 勝 正 

京セラ株式会社 

築 野   孝 

住友電気工業株式会社 

稲 場   徹 

電気化学工業株式会社 

○ 伊 藤   敏 

通商産業省生活産業局ファインセラミックス室 

○ 大 嶋 清 治 

工業技術院標準部 

○ 加 山 英 男 

財団法人日本規格協会 

○ 菅 野 隆 志 

ファインセラミックス国際標準化推進協議会 

○ 渡 辺 一 志 

社団法人日本ファインセラミックス協会 

(事務局) 

○ 杉 本 克 晶 

社団法人日本ファインセラミックス協会 

備考 ○印は小委員会委員を兼ねる。 

文責 原案作成小委員会