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P8150:2004

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,紙パルプ技術協会(JAPAN TAPPI)/財団法人日

本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調

査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,ISO 5631:2000 Paper and board−Determination of colour(C/2 ゚)−Diffuse reflectance

method

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS P 8150

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  三刺激値の計算

附属書 B(参考)  参考文献

附属書 1(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表


P 8150

:2004

(2)

目  次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  定義

2

3.1

  反射率係数(reflectance factorR

2

3.2

  固有反射率係数(intrinsic reflectance factorR

2

3.3

  三刺激値(tristimulus valuesXY

2

3.4

  CIELAB 色空間(CIELAB colour space

2

4.

  原理

2

5.

  装置

2

5.1

  反射率計

2

5.2

  フィルタ機能

2

5.3

  参照標準面

2

5.4

  常用標準面 3

5.5

  光トラップ(black cavity

3

6.

  試料の採取

3

7.

  試験片の調製

3

8.

  操作

3

9.

  計算

3

9.1

  CIE 三刺激値

3

9.2

  CIELAB 座標

3

9.3

  測定結果のばらつき

4

10.

  試験結果の表し方

4

11.

  報告

4

附属書 A(規定)三刺激値の計算

5

附属書 B(参考)参考文献

8

附属書 1(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

9


日本工業規格

JIS

 P

8150

:2004

紙及び板紙−色

(C/2

゚)

の測定方法−

拡散照明法

Paper and board

−Determination of colour(C/2 ゚)−

Diffuse reflectance method

序文  この規格は,2000 年に第 1 版として発行された ISO 5631 : 2000    Paper and board−Determination of

colour(C/2

゚ )−Diffuse reflectance method を翻訳し,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格で

あるが,対応国際規格には規定されていない規定項目を日本工業規格として追加している。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。

1.

適用範囲  この規格は,拡散光で照明し,正反射成分を除いて,紙及び板紙の色を測定する方法につ

いて規定する。この規格は,蛍光染料(蛍光増白剤を除く。

)又は蛍光顔料によって着色した紙及び板紙に

は適用しない。ただし,蛍光増白剤を含む紙及び板紙の色については,試験片への照明光に含まれる紫外

線量を,ISO 2470 に規定した認定試験所(authorized laboratory)が発行する IR3 標準蛍光白色面を用い,

CIE

イルミナント C 相当の紫外線含有量に調整すれば,測定してもよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

ISO 5631 : 2000

,Paper and board−Determination of colour(C/2 ゚)−Diffuse reflectance method

(MOD)

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は,その

最新(追補を含む。

)を適用する。

JIS P 0001

  紙・板紙及びパルプ用語

JIS P 8110

  紙及び板紙−平均品質を測定するためのサンプリング方法

備考  ISO 186,Paper and board−Sampling to determine average quality が,この規格と一致している。

JIS Z 8401

  数値の丸め方

JIS Z 8722

  色の測定方法−反射及び透過物体色

ISO 2469

,Paper,board and pulps−Measurement of diffuse reflectance factor

ISO 2470

,Paper,board and pulps−Measurement of diffuse blue reflectance factor (ISO brightness)

CIE Publication 15.2:1986, Colorimetry

ASTM E 308-95

,Standard Practice for Computing the Colors of Objects by Using the CIE System


2

P 8150

:2004

3.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,JIS P 0001 によるほか,次による。

3.1

反射率係数(reflectance factorR  同一の照明及び受光条件下において,完全拡散反射体によって

反射された放射に対する,物体によって反射された放射の比率を,百分率で表した値。

参考  反射率係数は,物体が半透明の場合は裏当ての影響を受ける。

3.2

固有反射率係数(intrinsic reflectance factorR

  測定するシート枚数を 2 倍にしても,反射率係数

に変化がないほど不透明になるだけの厚さの,1 枚の,又は重ねた試料の反射率係数。

3.3

三刺激値(tristimulus valuesXYZ  与えられた三色表色系において,試料の色刺激と等色する

ための 3 個の原刺激の量。

備考  この規格では,三色表色系を定義するために,CIE 1931 標準観測者及び CIE イルミナント C を

用いる。

3.4

CIELAB

色空間(CIELAB colour space9.  計算に規定した式によって定義した量 L

*

a

*

b

*

を,直

交座標系にプロットして得られる,3 次元の近似的な均等色空間。

4.

原理  一定条件下で試料から反射された光を,フィルタ方式の光電色彩計又は分光測光器によって解

析し,色座標を算出する。

5.

装置  装置は,次による。

5.1

反射率計  ISO 2469 で規定した幾何学的,分光的及び測光的特性をもち,ISO 2469 の規定に従って

校正したもの。

備考  ISO 2469 の 1994 年版では,反射率計の仕様を附属書 に規定しており,また,校正サービス

附属書 に規定している。ISO 2469 が改正された場合,番号が変わる可能性がある。したが

って,1994 年版以降の版を参照する場合は,反射率計の仕様及び校正サービスを規定している

該当箇所を確認する必要がある。

5.2

フィルタ機能  フィルタ方式の光電色彩計の場合,装置の他の光学特性と併せて,CIE イルミナン

ト C における試験片の CIE 1931 標準表色系の CIE 三刺激値 XYと等価に応答する一組のフィルタ。

分光測光器の場合,

附属書 に規定した重価係数を用いて,CIE イルミナント C における試験片の CIE

1931

標準表色系の CIE 三刺激値 XYを算出できる機能。

参考  分光測光器としては,JIS Z 8722 に規定する第 2 種分光測光器が広く使われている。

5.3

参照標準面  装置及び常用標準面を校正するために,ISO 2469 の規定に従って ISO/TC6 認可試験所

が発行したもの。測定精度を最大にするためには,試験試料に予想される最大幅以内の値をもつ参照標準

面を選択する。

装置の直線性が不十分であるか,又は,光電色彩計では,CIE 三刺激値 XYと等価に応答する一組

のフィルタ特性の誤差が,及び分光測光器では,分光波長の公称値に対する波長の誤差が許容限界以上に

大きいと考えられる場合は,測定試料に近い参照標準面を使用することを考慮すべきである。

参考 ISO/TC の認可試験所として、次の試験所がある。

CTP

(Centre  Technique  du  PaPier)  フランス

KCL

(Oy   Keskuslaboratorio−Centrallaboratorium  Ab)フィンランド

PAPRICAN

(Pulp  and  Paper Research  Institute  of  Canada)カナダ

STFI

(Skogsindustrins  tekniska  forskningsinstitut)  スウェーデン

TLS

(Technidyne  Laboratory  Services)アメリカ合衆国


3

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:2004

5.4

常用標準面  使用する装置によって,ISO 2469 に規定した認可試験所が発行する ISO レベル 3 標準

面で校正したもの。満足な校正結果を維持するのに十分な頻度で,常用標準面の校正を行う。

使用する装置が参照装置と一致していることを保証できるほど十分な頻度で,新たに校正した参照標準

面を用いて校正する。

5.5

光トラップ(black cavity) 公称反射率係数に対し,すべての波長において反射率係数の差が

±0.2  %にあるもの。光トラップは,清浄な環境下に開口部を下向きにするか,又は,保護用のふたをし

て保管する。

参考1.  光トラップの状態が正常かどうかは,装置製造業者が確認する。

2.

公称反射率係数は,装置製造業者が定める。

6.

試料の採取  ロットを評価するための試験を行う場合は,JIS P 8110 に規定する方法によって,試料

を採取する。それ以外の場合は,試料を代表するように試験片を採取する。

7.

試験片の調製  すき入れ,きょう雑物及び明らかな欠陥箇所を避けて,約 75 mm×150 mm の長方形

の試験片を切り取る。10 枚以上の試験片を,表が上を向くように重ねる。試験片の枚数は,2 倍にしても

反射率係数が変化しない枚数とする。試験片束の上下に保護紙を当て,汚れ,光及び熱から保護する。

一番上の試験片の隅に,試料の種類及び表が分かるように印を付ける。

表・裏の判別が可能な場合は,表を上に向ける。ツインワイヤ抄紙機で抄造された紙のように,表・裏

の判別が不可能な場合は,同じ面を上に向ける。

8.

操作  操作は,次による。

a)

常用標準面を用いて,装置の校正を行う。

b)

試験片束から保護用の紙を取り除く。装置の測定手順に従い,測定箇所に触れないようにして,最初

の試験片の CIE 三刺激値(L

*

a

*

b

*

を直接表示できる装置の場合は,L

*

a

*

b

*

)

を測定する。値を読

み取り,0.05 単位で記録する。

c)

測定した試験片を試験片束の一番下に移し,次の試験片について測定を行う。この操作を繰り返し,

合計 10 枚以上の試験片を測定する。

d)

必要に応じ,試験片の反対側の面について測定を行う。

9.

計算  計算は,次による。

9.1

CIE

三刺激値  装置の波長間隔が 5 nm 以下である場合は,CIE Publication 15.2 : 1986 に従って CIE

三刺激値を計算する。それ以外の場合は,ASTM E 308-95 に規定する重価係数を用いて,三刺激値を計算

する。CIE 三刺激値を直接求めることができない装置の場合は,

附属書 に規定した表を用いて,三刺激

値を計算する。

9.2

CIELAB

座標  次の式を用いて,三刺激値 XYから CIELAB 座標を計算する。

16

)

/

(

116

1/3

n

*

=

Y

Y

L

 (1)

]

)

/

(

)

/

[(

500

3

/

1

n

3

/

1

n

*

Y

Y

X

X

a

=

 (2)


4

P 8150

:2004

]

)

/

(

)

/

[(

200

3

/

1

n

3

/

1

n

*

Z

Z

Y

Y

b

=

 (3)

ここに,

X

n

Y

n

Z

n

C/2

゚条件下における完全拡散反射面の三刺激値。これら

の値は,

附属書 に“白色点”として記載している。

明度が極めて低い試料については,次の計算方法による。

Y/Y

n

が 0.008 856 以下の場合は,L

*

を次の式で計算する。

)

/

(

3

.

903

n

*

Y

Y

L

=

 (4)

X/X

n

Y/Y

n

又は Z/Z

n

が 0.008 856 以下の場合は,式(2)及び式(3)中の(X/X

n

)

1/3

,(Y/Y

n

)

1/3

又は(Z/Z

n

)

1/3

を次の

式で置き換える。

116

/

16

787

.

7

+

F

 (5)

ここに,  F:  X/X

n

Y/Y

n

又は Z/Z

n

9.3

測定結果のばらつき  ばらつきを評価するための三次元の統計計算は極めて複雑なので,次の簡便

法を用いる。

L

*

a

*

及び b

*

のそれぞれの平均値<L

*

>,<a

*

>及び<b

*

>を求める。

各試験片について,平均値との偏差

Δ

E

ab

*

を次の式によって計算する。

2

*

2

*

2

*

*

ab

)

(

)

(

)

(

b

a

L

E

+

+

=

 (6)

ここに,

Δ

L

*

Δ

a

*

Δ

b

*

: 試験片の L

*

a

*

b

*

と平均値<L

*

>,<a

*

>,<b

*

>との差

Δ

E

ab

*

の平均値<

Δ

E

ab

*

>を計算する。この値は,平均値からの平均色差(the Mean Colour Difference from

the Mean

,MCDM)であり,CIELAB 空間における平均値を中心点とする半径<

Δ

E

ab

*

>の球によって,ば

らつきを定義している。

備考  この計算は,次の式によって二つの試料間の色差を求める場合にも用いられる。

2

*

2

*

2

*

*

ab

)

(

)

(

)

(

b

a

L

E

+

+

=

 (7)

ここに,

Δ

L

*

Δ

a

*

Δ

b

*

二つの試料の L

*

a

*

b

*

の差

ただし,色差の計算は,この規格の適用範囲外である。

10.

試験結果の表し方  測定した L

*

a

*

b

*

の各平均値を有効数字 3 けたに,測定のばらつきを表わす平

均値からの平均色差(MCDM 値)を有効数字 2 けたに,

JIS Z 8401

に規定する方法によってそれぞれ丸める。

備考  式(6)で定義した

Δ

L

*

Δ

a

*

Δ

b

*

のそれぞれの平均値を計算すれば,測定結果の変動に関する

情報を得ることができる。しかし,このことは,この規格の適用範囲外である。

11.

報告  報告には,必要に応じて次の事項を記録する。

a)

規格名称又は規格番号

b)

試料の種類及び名称

c)

試験年月日及び試験場所

d)

試料の表及び必要な場合は反対側の面について,L

*

a

*

b

*

のそれぞれの平均値及び 9.3 で定義した

MCDM


5

P 8150

:2004

e)

使用した装置の名称及び形式

f)

その他必要とする事項


6

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:2004

附属書 A(規定)  三刺激値の計算

三刺激値は,分光反射率係数と,CIE 1931(2 ゚)  観測者及び CIE イルミナント C について ASTM E 308-95

に規定する重価係数(

附属書 表 A.1 及び附属書 表 A.2)(

1

) の積を合計して求める。

ASTM E 308-95

には二組の表があるが,通常,この

附属書に記載した表を用いる。これらの表では,波

長幅が測定波長間隔にほぼ等しいデータを用い,分光特性の波長幅依存性に対する補正を三刺激値の計算

に盛り込んでいる。

この

附属書の表において,各列の最後に示した“合計”の値は,各列の値の算術合計である。これは,

表の転記を行う場合に,誤記がないことを確認するためのものである。この合計値は,四捨五入の影響で,

“白色点”の値とは一致しない場合がある。この“白色点”の値は,これらの表によって計算した三刺激

値を CIELAB 座標に変換する場合の X

n

Y

n

Z

n

として用いる。

測定波長範囲に,これらの表の短波長領域又は長波長領域が含まれない場合は,ASTM E 308-957.3.2.2

に記載された次の手順による。

測定波長範囲が 360780 nm よりも狭い場合  R(λ)の値がこの波長範囲全域では得られない場合は,

測定値の得られる最も短い波長,又は最も長い波長の重価係数に,測定値の得られない波長の重価係数を

加算する。

測定値の得られないすべての波長(360 nm,...)の重価係数を加算し,測定値の得られる最も短い波長の重

価係数に加算する。

測定値の得られないすべての波長(...,780 nm)の重価係数を加算し,測定値の得られる最も長い波長の重

価係数に加算する。

注(

1

)  ASTM E 308-95

表 6.5 及び表 6.6


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:2004

附属書   1  測定間隔が 10 nm の装置用の重価係数

波長  nm W

X

W

Y

W

Z

360 0.000 0.000

0.000

370 0.001 0.000

0.003

380 0.004 0.000

0.017

390 0.015 0.000

0.069

400 0.074 0.002

0.350

410 0.261 0.007

1.241

420 1.170 0.032

5.605

430 3.074 0.118

14.967

440 4.066 0.259

20.346

450 3.951 0.437

20.769

460 3.421 0.684

19.624

470 2.292 1.042

15.153

480 1.066 1.600

9.294

490 0.325 2.332

5.115

500 0.025 3.375

2.788

510 0.052 4.823

1.481

520 0.535 6.468

0.669

530 1.496 7.951

0.381

540 2.766 9.193

0.187

550 4.274 9.889

0.081

560 5.891 9.898

0.036

570 7.353 9.186

0.019

580 8.459 8.008

0.015

590 9.036 6.621

0.010

600 9.005 5.302

0.007

610 8.380 4.168

0.003

620 7.111 3.147

0.001

630 5.300 2.174

0.000

640 3.669 1.427

0.000

650 2.320 0.873

0.000

660 1.333 0.492

0.000

670 0.683 0.250

0.000

680 0.356 0.129

0.000

690 0.162 0.059

0.000

700 0.077 0.028

0.000

710 0.038 0.014

0.000

720 0.018 0.006

0.000

730 0.008 0.003

0.000

740 0.004 0.001

0.000

750 0.002 0.001

0.000

760 0.001 0.000

0.000

770 0.000 0.000

0.000

780 0.000 0.000

0.000

合計 98.074  99.999

118.231

白色点 98.074  100.000

118.232


8

P 8150

:2004

附属書   2  測定間隔が 20 nm の装置用の重価係数

波長  nm W

X

W

Y

W

Z

360 0.000 0.000

0.000

380 0.066 0.000

0.311

400 -0.164  0.001

-0.777

420 2.373 0.044

11.296

440 8.595 0.491

42.561

460 6.939 1.308

39.899

480 2.045 3.062

18.451

500 -0.217  6.596 4.728

520 0.881

12.925

1.341

540 5.406

18.650

0.319

560 11.842 20.143 0.059

580 17.169 16.095 0.028

600 18.383 10.537 0.013

620 14.348  6.211 0.002

640 7.148 2.743

0.000

660 2.484 0.911

0.000

680 0.600 0.218

0.000

700 0.136 0.049

0.000

720 0.031 0.011

0.000

740 0.006 0.002

0.000

760 0.002 0.001

0.000

780 0.000 0.000

0.000

合計 98.073 99.998

118.231

白色点 98.074 100.000 118.232


9

P 8150

:2004

附属書 B(参考)参考文献

[1]  ISO 2470:1999

,Paper,board and pulps – Measurement of diffuse blue reflectance factor (ISO brightness)

[2]  ISO/CIE 10526:1999

,CIE standard illuminants for colorimetry

[3]  ISO/CIE 10527:1991

,CIE standard colorimetric observers

[4]  CIE Publication 17.4:1987

,International lighting vocabulary. CIE Central Bureau, Kegelgasse 27,A-1030

Vienna

,Austria

[5]  Erb

,W. and Krystek,K.,Truncation error in colorimetric computations,Col. Res. Appl. 8 (1983) No.1.


10

P 8150

:2004

附属書 1(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

JIS P 8150

:2004    紙及び板紙−色(C/2 ゚)の測定方法−拡散照明法

ISO 5631

:2000  紙及び板紙−色(C/2 ゚)

の測定方法−拡散照明法

(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅱ)

国際

規格 
番号

(

Ⅲ)国際規格の規定

(

Ⅳ)JIS と国際規格との

技術的差異の項目ごと

の評価及びその内容 
表示箇所:本体及び附
属書

表示方法:点線の下線

(

Ⅴ) JIS と国際

規 格 と の 技 術

的 差 異 の 理 由
及 び 今 後 の 対

項目番号

内容

項目番号

内容

項目ごと

の評価

技術的差
異の内容

1.

適用範囲

ISO 

5631

1.

IDT

2.

引用規格

JIS P 0001

JIS P 8110

JIS Z 8401

JIS Z 8722

ISO 2469

ISO 2470

CIE Publication15.2

ASTM E 308 

2.

ISO 186

− 

ISO 2469

ISO 2470

CIE 

Publication15.2

ASTM E 308 

MOD/

追加

JIS4

規格

を 追 加 規

JIS P 0001

JIS 

P 8110

は ISO

規格に整合。

JIS4

規格は

ISO

に提案。

3.

定義

3.

IDT

4.

原理

4.

IDT

5.

装置

5.

IDT

6.

試料の採取

6.

IDT

7.

試験片の調

7.

IDT

8.

操作

8.

IDT

9.

計算

9.

IDT

10.

試 験 結 果

の表し方

JIS Z 8401

を引用

10.

MOD/

追加

数値の丸

め方につ
いて JIS
を引用

技 術 的 差 異 は

ない。

11.

報告

11.

IDT

附属書 A(規定)  三刺激値の計算

Annex A

IDT

附属書 B(参考)  参考文献

Bibliogr-

aphy

IDT

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

− IDT 技術的差異がない。 
− MOD/追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

2.  JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

− MOD  国際規格を修正している。