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K 0311:2020  

(1) 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 1 

3 用語,定義及び略語 ·········································································································· 2 

3.1 用語及び定義 ················································································································ 2 

3.2 略語 ···························································································································· 4 

4 測定方法の概要 ················································································································ 4 

5 試料ガスの採取 ················································································································ 5 

5.1 試料ガスの採取の概要 ···································································································· 5 

5.2 試料ガス採取装置 ·········································································································· 6 

5.3 試薬 ···························································································································· 8 

5.4 試料ガスの採取の準備 ···································································································· 9 

5.5 試料ガスの採取量 ········································································································· 10 

5.6 採取操作 ····················································································································· 10 

5.7 試料の回収及び保存 ······································································································ 11 

5.8 試料ガスの採取量の算出 ································································································ 12 

5.9 試料ガスの採取の記録 ··································································································· 12 

6 試料の前処理 ·················································································································· 12 

6.1 試料の前処理の概要 ······································································································ 12 

6.2 試薬及び材料 ··············································································································· 13 

6.3 器具及び装置 ··············································································································· 15 

6.4 前処理操作 ·················································································································· 16 

7 同定及び定量 ·················································································································· 22 

7.1 概要 ··························································································································· 22 

7.2 試薬及び装置 ··············································································································· 23 

7.3 測定操作 ····················································································································· 24 

7.4 ダイオキシン類の同定及び定量 ······················································································· 29 

7.5 検出下限及び定量下限 ··································································································· 31 

7.6 回収率の確認 ··············································································································· 33 

8 結果の報告 ····················································································································· 34 

8.1 結果の表示方法 ············································································································ 34 

8.2 濃度の単位 ·················································································································· 35 

8.3 毒性当量への換算 ········································································································· 35 

8.4 数値の取扱い ··············································································································· 35 

9 測定データの品質管理 ······································································································ 35 

K 0311:2020 目次 

(2) 

ページ 

9.1 一般 ··························································································································· 35 

9.2 測定データの信頼性の確保 ····························································································· 35 

9.3 測定操作における留意事項 ····························································································· 37 

9.4 測定操作の記録 ············································································································ 40 

9.5 精度管理に関する報告 ··································································································· 40 

附属書A(規定)試料ガス採取装置 ························································································ 41 

附属書B(参考)内標準物質の使用例······················································································ 46 

附属書C(参考)GC-MSの測定条件及びクロマトグラムの例 ······················································ 50 

附属書D(参考)酸素濃度による補正 ····················································································· 63 

附属書E(参考)TEQへの換算 ····························································································· 64 

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(3) 

まえがき 

この規格は,産業標準化法に基づき,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本

産業規格である。これによって,JIS K 0311:2008は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

日本産業規格          JIS 

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排ガス中のダイオキシン類の測定方法 

Method for determination of tetra-through octachlorodibenzo-p-dioxins, 

tetra-through octachlorodibenzofurans and dioxin-like 

polychlorinatedbiphenyls in stationary source emissions 

序文 

この規格は,1999年に制定され,その後2回の改正を経て今日に至っている。前回の改正は2008年に

行われたが,その後の抽出に用いる有機溶媒が労働安全衛生法の特定化学物質に指定されたことに対する

分析作業者の安全性確保のために改正した。 

なお,対応国際規格は現時点で制定されていない。 

適用範囲 

この規格は,燃焼,化学反応などに伴って煙道,煙突又はダクト(以下,ダクトという。)に排出される

排ガス中のテトラからオクタクロロジベンゾ-p-ジオキシン,テトラからオクタクロロジベンゾフラン及び

ダイオキシン様(よう)PCBのガスクロマトグラフ質量分析計(以下,GC-MSという。)を用いた測定方

法について規定する。ここで用いるGC-MSは,ガスクロマトグラフ(以下,GCという。)のカラムにキ

ャピラリーカラムを用い,分解能が10 000以上の二重収束形質量分析計(以下,MSという。)の装置とす

る。 

警告 ダイオキシン類は非常に有害性が高いので,吸入,誤飲,直接皮膚への接触などをできるだけ

避け,前処理室及び分析室の換気並びに廃液及び廃棄物の管理は十分に行う。また,その他の

薬品,溶媒などでも,吸入又は誤飲によって測定者の健康を損なうものがあるので,取扱いは

できるだけ慎重に行い,実験室の十分な換気に注意する。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS K 0095 排ガス試料採取方法 

JIS K 0114 ガスクロマトグラフィー通則 

JIS K 0123 ガスクロマトグラフィー質量分析通則 

JIS K 0211 分析化学用語(基礎部門) 

JIS K 0215 分析化学用語(分析機器部門) 

JIS K 0216 分析化学用語(環境部門) 

JIS K 0301 排ガス中の酸素分析方法 

JIS K 0557 用水・排水の試験に用いる水 

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JIS K 0901 気体中のダスト試料捕集用ろ過材の形状,寸法並びに性能試験方法 

JIS K 1107 窒素 

JIS K 8040 アセトン(残留農薬・PCB試験用)(試薬) 

JIS K 8099 ジエチレングリコール(試薬) 

JIS K 8105 エチレングリコール(試薬) 

JIS K 8117 ジクロロメタン(残留農薬・PCB試験用)(試薬) 

JIS K 8180 塩酸(試薬) 

JIS K 8550 硝酸銀(試薬) 

JIS K 8574 水酸化カリウム(試薬) 

JIS K 8680 トルエン(試薬) 

JIS K 8825 ヘキサン(残留農薬・PCB試験用)(試薬) 

JIS K 8891 メタノール(試薬) 

JIS K 8951 硫酸(試薬) 

JIS K 8987 硫酸ナトリウム(試薬) 

JIS K 9702 ジメチルスルホキシド(試薬) 

JIS K 9703 2,2,4-トリメチルペンタン(試薬) 

JIS R 3503 化学分析用ガラス器具 

JIS R 3505 ガラス製体積計 

JIS Z 8401 数値の丸め方 

JIS Z 8808 排ガス中のダスト濃度の測定方法 

用語,定義及び略語 

3.1 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS K 0095,JIS K 0114,JIS K 0123,JIS K 0211,JIS K 0215

及びJIS K 0216によるほか,次による。 

3.1.1 

ダイオキシン類 

テトラからオクタクロロジベンゾ-p-ジオキシン(以下,PCDDsという。),テトラからオクタクロロジベ

ンゾフラン(以下,PCDFsという。)及びダイオキシン様PCB(以下,DL-PCBsという。)の総称。 

注記 JIS K 0216:2014の定義とは異なる内容である。 

3.1.2 

異性体 

塩素の置換数が同じで置換位置だけを異にする個々の化合物。 

3.1.3 

同族体 

塩素の置換数が同じで置換位置だけを異にする化合物の一群。 

3.1.4 

2,3,7,8-位塩素置換異性体 

2,3,7,8-位に置換塩素をもつPCDDsのうち7種及びPCDFsのうち10種の計17化合物で,表1に示すも

の。 

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表1−2,3,7,8-位塩素置換異性体 

2,3,7,8-位塩素置換異性体 

略記 

PCDDs 

2,3,7,8-テトラクロロジベンゾ-p-ジオキシン 

2,3,7,8-TeCDD 

1,2,3,7,8-ペンタクロロジベンゾ-p-ジオキシン 

1,2,3,7,8-PeCDD 

1,2,3,4,7,8-ヘキサクロロジベンゾ-p-ジオキシン 

1,2,3,4,7,8-HxCDD 

1,2,3,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾ-p-ジオキシン 

1,2,3,6,7,8-HxCDD 

1,2,3,7,8,9-ヘキサクロロジベンゾ-p-ジオキシン 

1,2,3,7,8,9-HxCDD 

1,2,3,4,6,7,8-ヘプタクロロジベンゾ-p-ジオキシン 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

1,2,3,4,6,7,8,9-オクタクロロジベンゾ-p-ジオキシン 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

PCDFs 

2,3,7,8-テトラクロロジベンゾフラン 

2,3,7,8-TeCDF 

1,2,3,7,8-ペンタクロロジベンゾフラン 

1,2,3,7,8-PeCDF 

2,3,4,7,8-ペンタクロロジベンゾフラン 

2,3,4,7,8-PeCDF 

1,2,3,4,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン 

1,2,3,4,7,8-HxCDF 

1,2,3,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン 

1,2,3,6,7,8-HxCDF 

1,2,3,7,8,9-ヘキサクロロジベンゾフラン 

1,2,3,7,8,9-HxCDF 

2,3,4,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン 

2,3,4,6,7,8-HxCDF 

1,2,3,4,6,7,8-ヘプタクロロジベンゾフラン 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

1,2,3,4,7,8,9-ヘプタクロロジベンゾフラン 

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

1,2,3,4,6,7,8,9-オクタクロロジベンゾフラン 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

3.1.5 

DL-PCBs 

PCBのうち,オルト位(2,2',6及び6')に置換塩素をもたない化合物(以下,ノンオルト体という。)及

びオルト位に置換塩素が1個ある化合物(以下,モノオルト体という。)の中で,表2に示すもの。 

表2−DL-PCBs 

DL-PCBs 

略記 

ノンオルト体 

3,3',4,4'-テトラクロロビフェニル 

3,3',4,4'-TeCB (#77) 

3,4,4',5-テトラクロロビフェニル 

3,4,4',5-TeCB (#81) 

3,3',4,4',5-ペンタクロロビフェニル 

3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

3,3',4,4',5,5'-ヘキサクロロビフェニル 

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

モノオルト体 

2,3,3',4,4'-ペンタクロロビフェニル 

2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

2,3,4,4',5-ペンタクロロビフェニル 

2,3,4,4',5-PeCB (#114) 

2,3',4,4',5-ペンタクロロビフェニル 

2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

2',3,4,4',5-ペンタクロロビフェニル 

2',3,4,4',5-PeCB (#123) 

2,3,3',4,4',5-ヘキサクロロビフェニル 

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

2,3,3',4,4',5'-ヘキサクロロビフェニル 

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 

2,3',4,4',5,5'-ヘキサクロロビフェニル 

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

2,3,3',4,4',5,5'-ヘプタクロロビフェニル 

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

注記 括弧内の数値は,IUPAC No.を示す。 

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3.2 

略語 

略語は,表3による。 

表3−略語 

略語 

名称 

TeCDD 

テトラクロロジベンゾ-p-ジオキシン (tetrachlorodibenzo-p-dioxin) 

PeCDD 

ペンタクロロジベンゾ-p-ジオキシン (pentachlorodibenzo-p-dioxin) 

HxCDD 

ヘキサクロロジベンゾ-p-ジオキシン (hexachlorodibenzo-p-dioxin) 

HpCDD 

ヘプタクロロジベンゾ-p-ジオキシン (heptachlorodibenzo-p-dioxin) 

OCDD 

オクタクロロジベンゾ-p-ジオキシン (octachlorodibenzo-p-dioxin) 

TeCDF 

テトラクロロジベンゾフラン 

(tetrachlorodibenzofuran) 

PeCDF 

ペンタクロロジベンゾフラン 

(pentachlorodibenzofuran) 

HxCDF 

ヘキサクロロジベンゾフラン 

(hexachlorodibenzofuran) 

HpCDF 

ヘプタクロロジベンゾフラン 

(heptachlorodibenzofuran) 

OCDF 

オクタクロロジベンゾフラン 

(octachlorodibenzofuran) 

TeCB 

テトラクロロビフェニル 

(tetrachlorobiphenyl) 

PeCB 

ペンタクロロビフェニル 

(pentachlorobiphenyl) 

HxCB 

ヘキサクロロビフェニル 

(hexachlorobiphenyl) 

HpCB 

ヘプタクロロビフェニル 

(heptachlorobiphenyl) 

DeCB 

デカクロロビフェニル 

(decachlorobiphenyl) 

DMSO 

ジメチルスルホキシド 

(dimethyl sulfoxide) 

IUPAC 

国際純正・応用化学連合 

(International Union of Pure and Applied Chemistry) 

注記 化合物の略語において,複数を意味する“s”を付けて表記することがある。 

測定方法の概要 

排ガス中のダイオキシン類を,円筒ろ紙などによる“ろ過捕集”,吸収瓶(インピンジャー)による“吸

収捕集”又は吸着カラムによる“吸着捕集”で捕集し,捕集部から抽出後,クリーンアップしてGC-MS

で同定及び定量する。測定のフローを,図1に示す。 

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図1−排ガス中のダイオキシン類測定のフロー 

試料ガスの採取 

5.1 

試料ガスの採取の概要 

試料ガス採取の一般的事項は,JIS K 0095による。 

排ガス試料の採取手順の概略を,図2に示す。 

目的の明確化,計画の立案 

試料採取 

試料採取の準備,採取器具類の洗浄

内標準物質の添加(サンプリングスパイク) 

ダイオキシン類用試料保存・運搬 

代表試料の採取

内標準物質の添加(クリーンアップスパイク) 

試料からの抽出 

抽出液 

クリーンアップ 

内標準物質の添加(シリンジスパイク) 

GC-MSによる同定及び定量 

装置の維持管理,GCカラム取付け 
分解能(R>10 000)などの調節 
質量校正 

標準液の測定 

検量線の直線性 
検出下限及び定量下限の確認 
クロマトグラムのピーク形状 

実試料の測定 

S/N比評価,ブランク値確認 
クロマトグラムのピーク形状 
妨害成分,感度変動 

ダイオキシン類の同定 

相対保持時間の一致 
イオン強度比の評価 
化合物の分離状況 

ダイオキシン類の定量 

化合物ごとの濃度 

ダイオキシン類の濃度値確定 

:作業 

:添加 

:物又は試料 

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図2−試料ガスの採取の作業手順 

5.2 

試料ガス採取装置 

試料ガス採取装置は,採取管部,捕集部,吸引ポンプ及び流量測定部で構成する。図3に試料ガス採取

装置の概略を,図4に採取管部の概略をそれぞれ示す。 

図3−試料ガス採取装置の概略 

排ガス 

採取管部 

捕集部 

吸引ポンプ 

流量測定部 

事前調査 

排ガスの性状 
測定孔の状況 
設備稼動状況 

試料ガス採取装置の組立 

吸着剤の精製・充塡 
採取器具類の洗浄 

ろ紙準備 
吸収液準備 

試料ガスの採取 

等速吸引条件の設定 
温度,ガス組成,水分, 
全圧・静圧(流速) 
試料ガス採取装置の漏れ試験 
その他,CO,O2連続測定など 

等速吸引条件の確認 
流速・流量の確認 
採取装置の漏れ試験 

採取管・連結導管の洗浄 
吸収液の集約 
ろ紙の保管 

試料輸送・保存 

前処理及び測定 

:作業 

:後に続く作業 

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図4−採取管部の概略図 

なお,試料ガス採取装置は,次の全ての条件を備えていなければならない。 

− 測定点の排ガス流速に対して相対誤差−5 %〜+10 %の範囲内で等速吸引による試料ガスの採取が可

能。 

− ダイオキシン類について十分な捕集率がある。 

− ダイオキシン類の二次生成,分解などが起こらない。 

− 試料採取後から抽出操作を行うまでの操作において,ダイオキシン類の損失がない。 

− 試料ガス採取装置のダストなどによる汚染及び試料ガス採取中に現場の大気の混入などがない。 

試料ガス採取装置の種類を附属書Aに示す。附属書Aに示した装置は,ダイオキシン類に対して既に開

発された実績のあるもの又は上記条件を満たすものとする。ここに示した以外の装置であっても,次の点

が少なくとも組成の異なる3種類の排ガスについて確認されれば,確認に用いた排ガスの組成の範囲内で

その方法を用いてもよい。 

なお,組成の異なる排ガスとは,温度,水分,流速,酸素濃度,ダスト濃度及びダイオキシン類濃度に

ついて,これらのどれか一つでも30 %以上異なっているものとする。 

− 測定点での排ガス流量から算出される吸引流量が,装置の吸引流量調節の範囲内にある。 

− 装置に漏れがない。 

− 試料ガス採取装置の後にもう一段ダイオキシン類が捕集できる部分,例えば,附属書AのJIS I形装

置の吸着捕集部を追加して試料ガスを採取し,追加した吸着捕集部からダイオキシン類が検出されな

い。 

− 附属書AのJIS I形装置と同時並行して同じ試料ガスを採取し,そのダイオキシン類の濃度が±30 %

で一致する。 

5.2.1 

採取管部 採取管は,排ガス温度に応じてほうけい酸ガラス製又は透明石英ガラス製のものを用い

る。採取装置のダストが捕集される部分の温度を120 ℃以下に保てない場合は,水冷管を用いた冷却プロ

ーブを使用する。吸引ノズルは,材質は上記によるほか,JIS Z 8808の9.3.1.2 a) による。 

5.2.2 

捕集部 捕集部は,ガス状又はダストに吸着しているダイオキシン類を効率よく捕集する部分であ

る。フィルタによる捕集,液体による捕集,吸着剤による捕集などがあり,それらの組合せでダイオキシ

ン類を捕集する。 

 ① 排ガス温度が高い場合 

 ② 排ガス温度が低い場合 

捕集部へ 

冷却プローブ 

冷却水 

ダクト 

ガスの流れ方向 

捕集部へ 

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5.2.3 

連結部 採取管部から採取ガスの露点温度以下に冷却されている部分までの連結導管は,ガラス製

のものを用いる。それ以外の部分の連結導管及び接続には,ガラス製又はふっ素樹脂製のものを用い,接

続部にグリースは使用しない。 

5.2.4 

吸引ポンプ 10 L/min〜40 L/minの流量で吸引でき,流量調節機能をもち,24時間以上連続的に使

用できるもの。 

5.2.5 

流量測定部 指示流量計として湿式又は乾式ガスメータを用いる。10 L/min〜40 L/minの範囲を0.1 

L/minまで測定できるもの。指示流量計の目盛は,定期的に製造業者などに依頼して校正しておく。 

5.3 

試薬 

試料ガスの採取に用いる試薬は,次による。これ以外に試料ガス採取装置に必要な試薬は,その装置の

仕様による。これらの試薬は,空試験などによって測定に支障のないことを確認する。 

5.3.1 

水 JIS K 0557に規定するA4(又はA3)の水。 

5.3.2 

アセトン JIS K 8040に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

5.3.3 

トルエン JIS K 8680に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

5.3.4 

ヘキサン JIS K 8825に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

5.3.5 

メタノール JIS K 8891に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

5.3.6 

ジクロロメタン JIS K 8117に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

5.3.7 

ノナン 測定に支障のない品質のもの。 

5.3.8 

ヘキサン洗浄水 5.3.1の水を5.3.4のヘキサンで十分洗浄したもの。 

5.3.9 

サンプリングスパイク用内標準物質 試料ガス採取から抽出までの操作の結果を確認するために

添加する内標準物質で,全ての炭素又は塩素原子が13C又は37Clで標識したPCDDs,PCDFs及びPCBsの

うち,適正な種類を1種類以上,5.3.3のトルエン,5.3.7のノナンなどで適正な濃度に調整したものを用

いる。 

内標準物質にはこのほかに,クリーンアップスパイク用(6.2.17参照)及びシリンジスパイク用(6.2.18

参照)がある。添加する内標準物質は,サンプリングスパイク,クリーンアップスパイク及びシリンジス

パイクでそれぞれ別の化合物を用いる。内標準物質によっては,GC-MSの測定条件によって測定に妨害を

与える場合があるので,その使用に際しては,十分に検討・確認をする。表4及び附属書Bに内標準物質

の例を示す。 

background image

K 0311:2020  

表4−ダイオキシン類の内標準物質の例 

内標準物質 

P

C

D

D

TeCDD 

13C12-1,2,3,4-TeCDD 

13C12-2,3,7,8-TeCDD 

37Cl4-2,3,7,8-TeCDD 

PeCDD 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD 

HxCDD 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD 

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDD 

HpCDD 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

OCDD 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

P

C

D

F

TeCDF 

13C12-2,3,7,8-TeCDF 

13C12-1,2,7,8-TeCDF 

PeCDF 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF 

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF 

HxCDF 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF 

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF 

HpCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

OCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

P

C

B

TeCB 

13C12-2,3',4',5-TeCB (#70) 

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77) a) 

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81) a) 

PeCB 

13C12-2,3,3',4,4'-PeCB (#105) a) 

13C12-2,3,4,4',5-PeCB (#114) a) 

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118) a) 

13C12-2',3,4,4',5-PeCB (#123) a) 

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126) a) 

HxCB 

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) a) 

13C12-2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) a) 

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) a) 

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) a) 

HpCB 

13C12-2,2',3,3',4,4',5-HpCB (#170) 

13C12-2,2',3,4,4',5,5'-HpCB (#180) 

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) a) 

注記 括弧内の数値は,IUPAC No.を示す。 
注a) DL-PCBを示す。 

5.4 

試料ガスの採取の準備 

5.4.1 

事前調査 

測定する焼却処理施設は,規模,排ガスの処理方法などによって排ガスの性状が異なり,測定場所も作

業するうえで危険な場合が多い。このため,あらかじめ測定現場を調査して排ガスの性状及び作業上の安

全性を確認しておく。この事前調査には,次の項目が含まれる。 

なお,排ガスの採取位置は,代表的な性状のガスが採取できる位置とし,JIS Z 8808の箇条5(測定位

置,測定孔及び測定点)に規定する流速測定点のうち,可能な限り平均流速に近い地点(等速吸引が可能

10 

K 0311:2020  

な地点)とする。 

a) 排ガスの性状 排ガスの温度,流速,組成,圧力,水分量など。 

b) 測定位置 地上からの高さ,測定孔の状況,送排風機の位置など。 

c) ダクト ダクトの形状,大きさ(寸法)など。 

d) 作業の安全性 測定ステージの広さ,はしごの状況など。 

e) 電源及び水道 電源及び水道の有無。 

f) 

その他 

5.4.2 

器材の準備 

事前調査の結果から,測定現場の実態に合わせて必要な測定器材を選定及び整備するとともに,次の準

備を行う。 

a) 排ガス中のダスト捕集に必要な器材。 

b) 排ガス中のダイオキシン類を捕集する吸収瓶,吸着剤カラム,吸収液など。 

c) 冷却用の氷又はドライアイス。 

d) 採取後の捕集系の洗浄に必要な試薬(メタノール又はアセトン,及びトルエン又はジクロロメタン)。 

e) その他 

5.4.3 

内標準物質の添加(サンプリングスパイク) 

サンプリングスパイクは,試料ガスの採取前に内標準物質を添加する操作であり,試料ガス採取装置の

吸着捕集部にサンプリングスパイク用内標準物質を添加する。添加量は,排ガス濃度及び測定条件などに

よって,GC-MSでの測定の検量線範囲内の量になるように決める。 

注記 サンプリングスパイク用内標準物質は,1 ng〜20 ng程度添加するのが一般的である。 

5.5 

試料ガスの採取量 

試料ガスの採取量は,次の手順によって決定する。採取時間については,その目的に応じて試料ガスの

発生状況などを十分考慮して代表試料が採取できるようにしなければならない。 

a) 測定の目的から評価しなければならない最小の濃度を決定する。 

b) 試料ガスにおける検出下限は,特に指定がない限り,a) で決定した濃度の1/30以下に設定する。 

c) 式(1)によって測定に必要な最小の試料ガスの量を算出する。 

DL

E

E

1

000

1

S

V'

V

x

y

DL

V

×

×

×

=

 ······························································ (1) 

ここに, 

V: 測定に必要な最小の試料ガスの量(0 ℃,101.32 kPa)

(m3) 

DL: 測定方法の検出下限(pg) 

y: 測定用試料の液量(µL) 

x: GC-MSへの注入量(µL) 

VE: 抽出液量(mL) 

V'E: 抽出液分取量(mL) 

SDL: 設定した試料ガスにおける検出下限(0 ℃,101.32 kPa)

(ng/m3) 

d) 算出された最小の試料ガスの量V以上を試料ガスの採取量とする。 

5.6 

採取操作 

試料ガスの採取操作は,次による。 

a) JIS Z 8808に準じて,排ガスの温度,流速,圧力,水分量などを測定し,測定点における排ガス流速

11 

K 0311:2020  

を計算する。 

注記 一酸化炭素,酸素などを同時に連続測定する場合には,特に断らない限り試料採取時間帯の

1時間以上前から終了まで連続して行い,運転状態の同時確認を行う。 

b) 試料ガスの採取量及び採取時間を考慮して吸引流量を算出し,等速吸引となるようにノズルの内径を

決定する。 

c) 試料ガス採取装置を組み立て,漏れ試験を行う。漏れ試験は,採取管のノズルの口を塞いで吸引ポン

プを作動させ,ガスメータの指針が停止していればよい。この試験結果を記録しておく。 

d) 採取管のノズルを,排ガスの流れと逆向きにして測定孔から測定点まで挿入し,ガスメータの指示値

を読み取っておく。吸引ポンプの作動とともに採取管のノズルの方向を排ガスの流れに正しく直面さ

せ,等速吸引によって排ガスを吸引する。そのときの注意点は,次による。 

なお,排ガス中のダストの濃度が1 mg/m3(0 ℃,101.32 kPa)以下の場合は,等速吸引を行わずに

平均流速程度で一定に吸引してもよい。また,等速吸引が不可能な場合も同様とする。 

1) 採取管のノズルから吸引するガスの流速は,測定点の排ガス流速に対して相対誤差−5 %〜+10 %

の範囲内とする。排ガスの流速を60分間ごとに測定し,等速吸引量を調節することが望ましい。ま

た,等速吸引を行っているうちに吸引流量が低下し,等速吸引が困難な場合には,吸引を一時停止

し,捕集部のろ過材などを交換する。 

2) 試料ガス採取中も少なくとも1回は試料ガス採取装置の漏れ試験を行う。この場合は,試料ガス採

取点の酸素の濃度と試料ガス採取装置のポンプ出口の酸素の濃度とに差がないことで漏れがないこ

とを確認する。この試験結果は記録しておく。酸素の濃度の測定は,JIS K 0301による。また,フ

ィルタ捕集部のろ過材の交換,ドレインの水抜きなどでラインが外された場合には,復帰後に必ず

行う。 

3) 排ガスの温度が高温でダストが捕集される部分が120 ℃を超える可能性のある場合には,採取管を

空冷,図4のような冷却プローブなどによって,ダストが捕集される部分が120 ℃を超えないよう

にする。 

4) 冷却する必要のある捕集部は,排ガスの採取中は水浴又はドライアイス浴に入れる。ダイオキシン

類が捕集される部分は遮光しておく。 

5) その他,捕集装置ごとにそれぞれの注意事項に従う。 

e) ガスメータの温度及び圧力を記録しておく。 

f) 

試料ガスの必要量を吸引採取した後,採取管のノズルを再び逆向きにし,吸引ポンプを停止してガス

メータの指示を読み取り,採取管を取り出す。 

なお,ダクト内が負圧の場合は,吸引ポンプを作動させたまま速やかに採取管をダクト外に取り出

し,吸引ポンプを停止する。 

5.7 

試料の回収及び保存 

試料ガスの採取が終了した後,試料ガス採取装置の分解は必要最小限とし,外気が混入しないようにし

て遮光し,試験室に運搬する。試料ガス採取装置の各部を注意深く外す。採取管及び連結導管は,メタノ

ール又はアセトン,及びトルエン又はジクロロメタンで十分に洗浄する。洗浄液及び捕集液は,褐色瓶に

洗い移して保存する。フィルタ,吸着剤などは容器に入れ,遮光保存する。保存した試料は,速やかに前

処理以降の操作を行う。 

なお,試料運搬中の容器の破損,溶媒及び試料成分の揮発などによる損失に注意しなければならない。 

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12 

K 0311:2020  

5.8 

試料ガスの採取量の算出 

標準状態における吸引した乾きガスの量(V'N)は,JIS Z 8808の10.5(吸引ガス量の測定方法)によっ

て求める。 

5.9 

試料ガスの採取の記録 

試料ガスの採取を行った場合は,通常,次の項目についてまとめて整理し,記録する。また,必要に応

じて現場写真も撮る。 

a) 試料採取の日時 

b) 試料採取場所の状況(発生源の種類,使用状況,採取位置,付近の状況,概略図など。) 

c) 採取対象の条件及び状況(温度,水分量,静圧,流速,湿り流量,乾き流量,その他採取系の着色な

ど。) 

d) 試料採取の条件(試料ガス採取装置の構成,漏れ試験の結果,等速吸引流量,吸引時間,吸引ガス量,

必要に応じ捕集ダスト量など。) 

試料の前処理 

6.1 

試料の前処理の概要 

採取した試料は,クリーンアップスパイク用内標準物質を添加した後,ろ紙,吸着剤,吸収液などの形

態ごとに抽出する。これらの抽出液を合わせた後,必要に応じて分取し,硫酸処理−シリカゲルカラムク

ロマトグラフ操作,多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又はそれらを組み合わせた精製操作を行い,

その後,アルミナカラムクロマトグラフ操作,高速液体クロマトグラフ操作,活性炭カラムクロマトグラ

フ操作のいずれか又はこれらを組み合わせた精製操作を行う。試料中に鉱物油などの油分が多いときなど

は,必要に応じてDMSOとヘキサンとの間の分配係数の差を利用した処理操作(以下,DMSO処理操作

という。)を精製操作に加えてもよい。これらの精製操作を行った後,試料をガスクロマトグラフィー質量

分析法によって測定する。表5に精製操作の概要を示す。また,図5に試料の前処理から測定までのフロ

ーの例を示す。 

表5−精製操作の概要 

操作名 

主な効果 

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作 

大部分のマトリックスの分解除去 
着色物質,多環芳香族炭化水素,強極性物質の除去 

多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作 

フェノール類,酸性物質,脂質,たんぱく質,含硫黄化合物,
脂肪族炭化水素類,強極性物質,着色物質,多環芳香族炭化水
素の除去 

アルミナカラムクロマトグラフ操作 

低極性物質,有機塩素化合物の除去 

高速液体クロマトグラフ操作 

PCDDs及びPCDFs並びにDL-PCBsの分離精製 

活性炭カラムクロマトグラフ操作 

PCDDs及びPCDFs並びにDL-PCBsの分離精製 

DMSO処理操作 

脂肪族炭化水素などの低極性物質の除去 

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13 

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図5−試料の前処理から測定までのフローの例 

なお,ここに挙げた精製操作以外の操作であっても,次の全ての条件を満たすことが確認されれば,用

いてもよい。この確認は,適用する試料媒体について,5か所以上の採取地点の異なる試料を用いて,そ

れぞれ5回以上の測定を繰り返し,計25点以上のデータを用いて行う。 

a) 対象とするダイオキシン類の回収率が90 %以上。 

b) この規格において規定されている精製操作で得られた試料液と適用しようとする新規の操作方法によ

って得られた試料液とを,四重極形などの低分解能のGC-MSを用いて7.3.1 a) のGCの条件で測定質

量数が50〜450の範囲の全イオン検出法によって測定し,得られたそれぞれのクロマトグラムを比較

して精製効果に差がないか,又はこの規格の精製操作と同等の効果が得られる。 

c) 適用しようとする新規の操作方法によって得られた試料液について7.3.3によって測定を行い,分析対

象成分によるピークの出現する付近において校正用標準試料のモニターイオンの応答に変動がない。 

6.2 

試薬及び材料 

試料の前処理に用いる試薬及び材料は,次による。これらの試薬及び材料は,空試験などによって測定

に支障のないことを確認する。 

6.2.1 

水 JIS K 0557に規定するA4(又はA3)の水。 

6.2.2 

メタノール JIS K 8891に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

試料 

(ろ紙,吸着剤,吸収液,洗液) 

抽出 

抽出液 

一部分取 

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作 

又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作 

アルミナカラムクロマトグラフ操作など 

測定用試料 

★内標準物質の添加 
(クリーンアップスパイク) 

★内標準物質の添加 
(シリンジスパイク) 

:作業 

:省略できる作業 

:添加 

:物又は試料 

★ :重要 

14 

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6.2.3 

アセトン JIS K 8040に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.4 

トルエン JIS K 8680に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.5 

ジクロロメタン JIS K 8117に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.6 

ヘキサン JIS K 8825に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.7 

ジメチルスルホキシド JIS K 9702に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

注記 JIS K 9702では,ジメチルスルホキシドを規定しているが,この規格では,略語としてDMSO

を用いている(表3参照)。 

6.2.8 

デカン 測定に支障のない品質のもの。 

6.2.9 

ノナン 測定に支障のない品質のもの。 

6.2.10 

2,2,4-トリメチルペンタン JIS K 9703に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.11 

硫酸ナトリウム JIS K 8987に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.12 

塩酸 JIS K 8180に規定する特級,又は同等の品質のもの。 

6.2.13 

硫酸 JIS K 8951に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.14 

水酸化カリウム JIS K 8574に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.15 

硝酸銀 JIS K 8550に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

6.2.16 

ヘキサン洗浄水 6.2.1の水を6.2.6のヘキサンで十分洗浄したもの。 

6.2.17 

クリーンアップスパイク用内標準物質 抽出からクリーンアップまでの前処理操作全体の結果を

確認し,ダイオキシン類を定量するための基準とするために添加する内標準物質で,全ての炭素又は塩素

原子が13C又は37Clで標識したダイオキシン類のうち,適正な種類を6.2.4のトルエン又は6.2.9のノナン

で適正な濃度に調整したものを用いる。 

PCDDs及びPCDFsについては,少なくとも塩素数ごとに2,3,7,8-位塩素置換異性体を最低1種類ずつ,

PCBsについては,ノンオルト体のDL-PCBsを全種類,モノオルト体のDL-PCBs又はその他のPCBを塩

素化物ごとに1種類ずつ選択する。できれば毒性等価係数(以下,TEFという。)がゼロ(0)でない化合

物は,全て選択することが望ましい(5.3.9及び附属書B参照)。 

6.2.18 

シリンジスパイク用内標準物質 GC-MSへの測定用試料液の注入を確認するために添加する内

標準物質で,全ての炭素又は塩素原子が13C又は37Clで標識したPCDDs,PCDFs及びPCBsのうち,適正

な種類を6.2.9のノナンなどの測定用試料と同じ溶媒を用いて適正な濃度に調整したものを用いる(5.3.9

及び附属書B参照)。 

6.2.19 

シリカゲル カラムクロマトグラフ用シリカゲル(粒径63 µm〜212 µm)をビーカーに入れて6.2.2

のメタノールで洗浄し,メタノールを十分揮散させる。これを層の厚さを10 mm以下になるように蒸発皿

又はビーカーに入れ,130 ℃で約18時間加熱した後,デシケーター中で約30分間放冷する。調製後,密

閉できる試薬瓶に入れ,デシケーター中に保存する。 

6.2.20 

水酸化カリウム(質量分率2 %)シリカゲル 6.2.19のシリカゲル100 gに対して6.2.14の水酸化

カリウムで調製した水酸化カリウム溶液(50 g/L)40 mLを加えた後,ロータリエバポレータを用いて約

50 ℃で減圧脱水し,水分のほとんどを除去した後,温度を50 ℃〜80 ℃に上げて更に約1時間減圧脱水を

続けて粉末状にする。調製後,密閉できる試薬瓶に入れデシケーター中に保存する。 

6.2.21 

硫酸(質量分率22 %)シリカゲル 6.2.19のシリカゲル100 gに対して6.2.13の硫酸28.2 gを添

加後,十分振とうし粉末状にする。調製後,密閉できる試薬瓶に入れデシケーター中に保存する。 

6.2.22 

硫酸(質量分率44 %)シリカゲル 6.2.19のシリカゲル100 gに対して6.2.13の硫酸78.6 gを添

加後,十分振とうし粉末状にする。調製後,密閉できる試薬瓶に入れデシケーター中に保存する。 

15 

K 0311:2020  

6.2.23 

硝酸銀(質量分率10 %)シリカゲル 6.2.19のシリカゲル100 gに対して6.2.15の硝酸銀で調製

した硝酸銀溶液(400 g/L)28 mLを加えた後,ロータリエバポレータで水分を完全に除去する。調製後,

密閉できる着色容器に入れ,デシケーター中に保存する。 

なお,調製及び保管に当たっては,極力遮光する。 

6.2.24 

アルミナ カラムクロマトグラフ用アルミナ(塩基性,活性度I)は,あらかじめ活性化したもの

が入手できる場合は,そのまま使用してもよい。活性化する必要のある場合には,ビーカーに層の厚さを

10 mm以下にして入れて130 ℃で約18時間加熱,又はペトリ皿に層の厚さを約5 mm程度にして入れて

500 ℃で約8時間加熱処理した後,デシケーター中で約30分間放冷した後,密閉できる試薬瓶中に保存す

る。活性化後は,速やかに使用する。 

注記 アルミナの活性は製造ロット又は開封後の保存期間によって,かなり変化が認められる。活性

の低下したものでは,1,3,6,8-TeCDD,1,3,6,8-TeCDFなどが第1画分に溶出したり,OCDD,OCDF

などがジクロロメタン(体積分率50 %)を含むヘキサン溶液の規定量では第2画分に溶出しな

い場合もある。 

6.2.25 

高速液体クロマトグラフ用カーボンカラム 高速液体クロマトグラフ用の多孔質グラファイトカ

ーボン(porous graphitized carbon)カラム,又はこれと同等の分離性能をもつもの。 

注記 高速液体クロマトグラフ用のグラファイトカーボンカラムには,Hypercarb®(内径4.6 mm,長

さ100 mm)(サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社)などがある。この情報は,

この規格の利用者の便宜を図って記載するもので,この製品を推奨するものではない。 

6.2.26 

活性炭カラム充塡剤 活性炭を含浸又は分散させたシリカゲル,又はこれと同等の分離性能をも

つもの。 

注記 活性炭カラム充塡剤には,活性炭埋蔵シリカゲル(富士フイルム和光純薬株式会社),活性炭分

散シリカゲル(関東化学株式会社)などがある。この情報は,この規格の利用者の便宜を図っ

て記載するもので,この製品を推奨するものではない。 

6.2.27 

ガラス繊維ろ紙 孔径0.5 µm程度のもので,有機バインダーを含まないもの。ブフナー漏斗に用

いる。 

注記 市販品には,孔径の代わりに保持粒子径,粒子保持能などと表示しているものもある。 

6.2.28 

窒素 JIS K 1107に規定する窒素2級,又は同等の品質のもの。 

6.3 

器具及び装置 

試料の前処理に用いる器具及び装置は,メタノール又はアセトン,及びトルエン又はジクロロメタンで

十分洗浄し,空試験によって測定に支障がないことを確認する。 

6.3.1 

ガラス器具 JIS R 3503及びJIS R 3505に規定するもの。コックの部分がふっ素樹脂製のものを用

いてもよい。 

6.3.2 

ソックスレー抽出器 JIS R 3503に規定するもの又はこれと同等の性質のもの。接続部にグリース

を使用してはならない。 

6.3.3 

濃縮器 クデルナ−ダニッシュ(KD)濃縮器又はロータリエバポレータ。接続部にグリースを使

用してはならない。 

6.3.4 

カラムクロマトグラフ管 内径が10 mm又は15 mmで,長さが300 mmのダイオキシン類の吸着

及び/又は混入,妨害物質の溶出などがないガラス製又はこれと同等の材質のカラムクロマトグラフ管。 

6.3.5 

ブフナー漏斗 

6.3.6 

高速液体クロマトグラフ 流路切替えバルブを装着したもの。 

16 

K 0311:2020  

6.4 

前処理操作 

6.4.1 

内標準物質の添加(クリーンアップスパイク) 

6.4.2の固体及び液体の抽出用試料に,クリーンアップスパイク用内標準物質を一定量添加する。添加量

は,各抽出用試料に添加した合計量で,通常,TeCDDs〜HpCDDs及びTeCDFs〜HpCDFsでは0.1 ng〜2 ng,

OCDD及びOCDFでは0.2 ng〜4 ng並びにDL-PCBsでは0.1 ng〜2 ngとなる。試料中のダイオキシン類の

濃度が非常に高く,通常の添加量では定量範囲を超えてしまうことが予想される場合には,この範囲を超

えて添加してもよい。 

6.4.2 

各捕集部からの抽出 

固体及び液体ごとに抽出操作を行い,それらの抽出液を混合して抽出液とする。液体捕集部の吸収液に

ダストが含まれる場合は,孔径0.5 µm程度のガラス繊維ろ紙を用いてブフナー漏斗などでろ過する。ろ過

残さは次のa) の塩酸処理を行ってから抽出用固体と合わせて抽出し,ろ液はb) の抽出用液体と合わせて

抽出する。抽出液の調製までの分析フローの例を,図6に示す。固体及び液体からの抽出操作は,次によ

る。 

なお,固体及び/又は液体を幾つかに分けて抽出してもよいが,抽出用試料は全て,6.4.1に従ってクリ

ーンアップスパイク用内標準物質を添加してから抽出操作を行わなければならない。 

background image

17 

K 0311:2020  

図6−抽出液調製までのフローの例 

a) 固体からの抽出 ろ過材,吸着剤などの固体からの抽出は,ソックスレー抽出又はこれと同等の抽出

方法で抽出する。ソックスレー抽出法と同等かどうかの判定は,次のいずれかによる。 

なお,条件を満たしていることの確認は,少なくとも3試料をそれぞれ3回の測定を繰り返し,合

計9個のデータを用いて行う。 

− 飛灰などの認証標準物質を,適用しようとする新規の抽出方法で抽出して測定し,測定結果と認証

吸着剤 

円筒ろ紙 

吸収液,洗液 

吸引プローブ洗液 

:作業 

:添加 

:物又は試料 

ソックスレー抽出 

(トルエン,16時間以上) 

塩酸(2 mol/L)処理 

ろ過 

残さ 

ろ液 

ろ過 

残さ 

ろ液 

風乾 

適量の水を加える 

内標準物質の添加 
(クリーンアップスパイク) 

液−液振とう抽出 

(ジクロロメタン又はトルエン,3回) 

ダスト1 gに対して20 
mmol以上の塩酸 

ジクロロメタン層 

又はトルエン層 

水層 

脱水 

濃縮 

抽出液 

18 

K 0311:2020  

値との差が所間標準偏差の±2倍にある。 

注記 認証標準物質に認証値の記載がない項目の場合は,参考値との差としてもよい。 

− 飛灰などの試料を,ソックスレー抽出法で抽出して測定する。これと併行して,適用しようとする

新規の抽出方法で抽出して測定する。両方の測定結果の平均値を求め,適用しようとする新規の抽

出方法による測定結果が平均値の±15 %にある。 

ろ過材などに捕集されたダストについては,次の操作を行った後,抽出操作を行う。ダスト1 gに

対して塩酸が20 mmol以上になるように塩酸(2 mol/L)を加え,時々かき混ぜながら発泡を確認しつ

つ約1時間放置し,更に塩酸を加えても発泡がないことを確認する。次に孔径0.5 µm程度のガラス繊

維ろ紙を用いてブフナー漏斗などでろ過し,ヘキサン洗浄水で十分に洗浄後,更に少量のメタノール

又はアセトンで洗浄して水分を除き風乾する。風乾の操作においては,試料中のダイオキシン類の揮

散及び汚染を最小限に抑えるように注意深く行う。 

ソックスレー抽出は,トルエンによって16時間(100回転程度)以上行う。ソックスレー抽出にお

いては試料中に残存する水分の影響で抽出効率が悪くなるおそれがあるので,水分の適切な除去を行

い,抽出する。また,抽出には長時間を要するので,抽出中の光分解に注意する。 

ソックスレー抽出においては,ソックスレー・ディーンスターク形抽出器を用いる方法(EPA Method 

1613など参照)を用いてもよい。 

b) 液体からの抽出 a) の塩酸処理後のろ液,水溶液の吸収液及びその洗浄液並びにジエチレングリコー

ル(附属書A参照)などの有機溶媒の吸収液及びその洗浄液などの液体は,一つに合わせて分液漏斗

に入れる。抽出用液体に,そこに含まれる有機溶媒と同量以上の水が含まれていない場合は,ヘキサ

ン洗浄水を加え,同量以上とする。溶液1 Lに対してトルエン又はジクロロメタンを100 mLの割合で

添加し,振とう幅約5 cm,毎分100回以上で約20分間振り混ぜて抽出する。この抽出を3回行い,

抽出液を合わせて硫酸ナトリウムを用いて脱水する。 

6.4.3 

抽出液の調製 

6.4.2で得られた抽出液を一つに合わせ,濃縮器で濃縮してトルエンで一定量とし,抽出液とする。 

6.4.4 

カラムクロマトグラフ操作の溶出条件 

6.4.6及び6.4.7のカラムクロマトグラフ操作におけるダイオキシン類の溶出条件は,使用する充塡剤の

種類又はロットによって異なってくるので,あらかじめ飛灰の抽出液など全てのダイオキシン類を含む試

料液を用いて分画試験を行って確認する。分画試験は,少なくとも充塡剤のロットごとに行う。 

6.4.5 

抽出液の濃縮 

6.4.3で得られた抽出液の適量を分取し,濃縮器で約5 mLに濃縮する。次いで,窒素気流によってトル

エンを除去し,約100 µLの濃縮液とする。ヘキサン2 mL〜3 mLを加え,窒素気流によって溶媒を除去し,

約100 µLの濃縮液とする。この操作をもう1回繰り返す。ただし,6.4.6でa) の操作を行う場合は,濃縮

器によるヘキサンへの転溶操作を行ってもよい。 

窒素気流による濃縮操作によって目的物質の損失を招かないように,溶液の表面が動いているのがよう

やく見える程度に窒素気流を調節して溶液が飛散しないように注意し,また,完全に乾固させてはならな

い。 

なお,再測定の必要な場合があるため,抽出液の一部を保存しておくことが望ましい。 

注記 窒素気流による濃縮操作において,溶液に大きな渦ができるほど窒素を吹きつけたり,完全に

乾固させると,目的物質の損失を招くことがある。 

6.4.6 

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作 

19 

K 0311:2020  

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作による

精製は,次による。 

なお,次のa) 1)〜2) の操作を行った後,b) の操作による精製を行ってもよい。 

警告 硫酸の添加は,硫酸と有機物との反応による溶媒の突沸に十分注意し,数mL程度から始め,

着色の度合いによって徐々に添加する。また,必ず手袋,マスクなどの保護具を使用する。 

a) 硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作 硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操

作の手順は,次による。 

なお,ここに示す手順は標準的なものであり,精製の効果を十分得ることが可能な場合は,必ずし

もこのとおりでなくてもよい。 

1) 6.4.5で得られた濃縮液を分液漏斗(300 mL)にヘキサン50 mL〜150 mLで洗い込みながら移し入

れ,硫酸5 mLを加え,穏やかに振とうし,静置後,硫酸層を除去する。この操作を硫酸層の着色

がうすくなるまで3回〜4回繰り返す。 

2) ヘキサン層をヘキサン洗浄水50 mLで洗浄し,洗液がほぼ中性になるまで繰り返し洗浄し,硫酸ナ

トリウムで脱水後,濃縮器で約2 mLに濃縮する。 

なお,硫黄分除去が必要な場合は,硝酸銀処理又は銅チップ処理を硫酸処理の後に行う。具体的

には硝酸銀シリカゲル又は銅チップ(塩酸処理した銅線を細かく切ったもの)をカラムに詰めて,

試料液を通過させるのがよい。 

3) カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め,ヘキサン10 mLで管内を洗浄し,石英

ガラスウール上部までヘキサンを残す。シリカゲル3 gをヘキサン10 mLを入れたビーカーにはか

りとり,ガラス棒で緩やかにかき混ぜて気泡を除き,カラムクロマトグラフ管に充塡する。ヘキサ

ンを流下させ,シリカゲル層を安定させた後,その上に硫酸ナトリウムを約10 mmの厚さになるよ

うに積層し,ヘキサン数mLで管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。 

4) シリカゲルカラムにヘキサン50 mLを流下させた後,液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げ,2) 

で調製した溶液をカラムに静かに移し入れ,ヘキサン1 mLで数回洗い込み,液面を硫酸ナトリウ

ム層の上端まで下げ,ヘキサン150 mLを約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)の流量で流下させる。 

5) 溶出液は,濃縮器で約2 mLに濃縮する。 

b) 多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作 多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作は,次の手順

による。 

なお,ここに示す手順は標準的なものであり,精製の効果を十分得ることが可能な場合は,必ずし

もこのとおりでなくてもよい。 

1) カラムクロマトグラフ管(内径は15 mmのもの)の底部に石英ガラスウールを詰め,シリカゲル

0.9 g,水酸化カリウム(質量分率2 %)シリカゲル3 g,シリカゲル0.9 g,硫酸(質量分率44 %)

シリカゲル4.5 g,硫酸(質量分率22 %)シリカゲル6 g,シリカゲル0.9 g,硝酸銀(質量分率10 %)

シリカゲル3 g及び硫酸ナトリウム6 gを順次充塡する(図7参照)。 

なお,硫酸処理と同様な効果は,硫酸シリカゲルだけを用いた処理で得られるため,試料によっ

ては多層シリカゲルカラムの代わりに硫酸(質量分率22 %)シリカゲルカラムを用いてもよい。 

注記 硝酸銀(質量分率10 %)シリカゲルは,特に硫黄分が多い試料に対して用いると効果的で

ある。 

2) ヘキサン50 mLを流下させた後,液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げる。 

3) 6.4.5で得られた濃縮液をカラムに静かに移し入れ,液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げる。 

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20 

K 0311:2020  

4) ヘキサン1 mLで濃縮液の容器を洗浄し,洗液はカラム内壁を洗いながら入れる。この洗浄操作を2

回〜3回繰り返す。 

5) ヘキサン120 mLを約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)の流量で流下させる。 

6) 溶出液を濃縮器で約2 mLに濃縮する。充塡部の着色が多い場合は,1)〜6) の操作を繰り返す。 

図7−多層シリカゲルカラムの例 

6.4.7 

その他の精製操作 

6.4.6で得られた濃縮液を,次に示すいずれかの操作又はそれらの組合せで精製を行い,PCDDs及び

PCDFs測定用並びにDL-PCBs測定用の濃縮液を調製する。 

なお,ここに示す手順は標準的なものであり,精製の効果を十分得ることが可能な場合は,必ずしもこ

のとおりでなくてもよい。 

a) アルミナカラムクロマトグラフ操作 アルミナカラムクロマトグラフ操作は,PCDDs及びPCDFs測

定用とDL-PCBs測定用とに濃縮液を分けて行う。それぞれの操作手順は,次による。同定及び定量の

操作条件によっては,濃縮液を分けないで行ってもよい。その場合の手順はこの限りではない。 

1) PCDDs及びPCDFs測定用アルミナカラムクロマトグラフ操作 PCDDs及びPCDFs測定用のアル

ミナカラムクロマトグラフ操作は,次の手順による。 

1.1) カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め,ヘキサン10 mLで管内を洗浄し,石

英ガラスウール上部までヘキサンを残す。アルミナ10 gをヘキサン10 mLを入れたビーカーには

かりとり,ガラス棒で緩やかにかき混ぜて気泡を除き,カラムクロマトグラフ管に充塡する。ヘ

キサンを流下させ,アルミナ層を安定させた後,その上に硫酸ナトリウムを約10 mmの厚さにな

るように積層し,ヘキサン数mLで管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。ヘキサン

50 mLを流下させた後,液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げる。 

1.2) 濃縮液を正確に二分した後,その一つを6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって約0.5 mLまで

濃縮し,1.1) のカラムに静かに移し入れ,ヘキサン1 mLで数回洗い込み,液面を硫酸ナトリウム

層の上端まで下げた後,ジクロロメタン(体積分率2 %)を含むヘキサン溶液100 mLを約2.5 

mL/min(毎秒1滴程度)の流量で流下して第1画分を得る。この画分は,測定が終了するまで保

硝酸銀(質量分率10 %)シリカゲル3 g 

硫酸(質量分率22 %)シリカゲル6 g 

硫酸(質量分率44 %)シリカゲル4.5 g 

水酸化カリウム(質量分率2 %)シリカゲル3 g 

石英ガラスウール 

硫酸ナトリウム6 g

シリカゲル0.9 g 

21 

K 0311:2020  

管する。 

1.3) ジクロロメタン(体積分率50 %)を含むヘキサン溶液150 mLを,約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)

の流量で流下して第2画分を得る。この画分にPCDDs及びPCDFsが含まれる。 

1.4) 第2画分を濃縮器で約2 mLに濃縮する。 

2) DL-PCBs測定用アルミナカラムクロマトグラフ操作 DL-PCBs測定用のアルミナカラムクロマト

グラフ操作は,次の手順による。 

2.1) カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め,ヘキサン10 mLで管内を洗浄し,石

英ガラスウール上部までヘキサンを残す。アルミナ10 gをヘキサン10 mLを入れたビーカーには

かりとり,ガラス棒で緩やかにかき混ぜて気泡を除き,カラムクロマトグラフ管に充塡する。ヘ

キサンを流下させ,アルミナ層を安定させた後,その上に硫酸ナトリウムを約10 mmの厚さにな

るように積層し,ヘキサン数mLで管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。ヘキサン

50 mLを流下させた後,液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げる。 

2.2) 濃縮液を正確に二分した後,その一つを6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって約0.5 mLまで

濃縮し,2.1) のカラムに静かに移し入れ,ヘキサン1 mLで数回洗い込み,液面を硫酸ナトリウム

層の上端まで下げた後,ヘキサン40 mLを約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)の流量で流下して鎖状

炭化水素などを溶出させる。 

2.3) ジクロロメタン(体積分率5 %)を含むヘキサン溶液120 mLを約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)の

流量で流下して第1画分を得る。この画分にはDL-PCBsが含まれる。 

2.4) ジクロロメタン(体積分率50 %)を含むヘキサン溶液160 mLを,約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)

の流量で流下して第2画分を得る。この画分は,測定が終了するまで保管する。 

2.5) 第1画分を濃縮器で約2 mLに濃縮する。 

b) 高速液体クロマトグラフ操作 高速液体クロマトグラフ操作は,次の手順による。 

なお,ここで示す操作条件は,使用する機器,カラムなどによって若干異なってくるので,あらか

じめ飛灰の抽出液などを用いて分画試験を行って確認しなければならない。 

1) 高速液体クロマトグラフにカーボンカラムを移動相の流れの向きが切り替えられるように装着し,

溶離液の流量を2 mL/minに設定する。検出器として吸光光度検出器を接続し,検出器出口から溶出

液を分取できるようにしておく。 

2) 溶離液をトルエンとして通常の流れの向きで流し,十分にカラムを洗浄した後,溶離液をヘキサン

に代えてカラム及び装置の流路内をヘキサンで置換する。検出器の指示値の変化でヘキサンに置換

したかどうかを判断するのがよい。 

3) 濃縮液を更に6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって100 µL程度に濃縮する。この液を高速液体

クロマトグラフに注入し,溶離液をヘキサンのままで4分間流し,溶出液8 mLを分取して第1画

分とする。ここには,DL-PCBs以外のPCBが含まれている。 

4) 溶離液をジクロロメタン(体積分率50 %)を含むヘキサン溶液として20分間流し,溶出液40 mL

を分取して第2画分とする。ここには,DL-PCBsのモノオルト体が含まれている。 

5) 溶離液をトルエン(体積分率30 %)を含むヘキサン溶液として20分間流し,溶出液40 mLを分取

して第3画分とする。ここには,DL-PCBsのノンオルト体が含まれている。 

6) オーブンを50 ℃に加熱し,カラムでの移動相の流れの向きを逆にしてトルエンを15分間流し,溶

出液30 mLを分取して第4画分とする。ここには,PCDDs及びPCDFsが含まれている。 

7) 第2画分と第3画分とを一つにし,DL-PCBs測定用として濃縮器で約2 mLに濃縮し,第4画分を

22 

K 0311:2020  

PCDDs及びPCDFs測定用として同様に濃縮する。 

c) 活性炭カラムクロマトグラフ操作 活性炭カラムクロマトグラフ操作は,次の手順による。 

1) カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め,その上に硫酸ナトリウムを厚さ約10 

mm,活性炭カラム充塡剤を1 g,硫酸ナトリウムを厚さ約10 mmに積層して充塡する。トルエンを

流下させて十分洗浄した後,ヘキサンを流下させてカラム内をヘキサンに置換する。 

2) 濃縮液を更に6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって100 µL程度に濃縮する。この液をカラムに

負荷し,ヘキサン50 mLを約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)の流量で流下させる。 

3) ジクロロメタン(体積分率25 %)を含むヘキサン溶液150 mLを約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)の

流量で流下させ,第1画分を得る。ここに,DL-PCBsのモノオルト体が含まれている。 

4) トルエン200 mLを約2.5 mL/min(毎秒1滴程度)の流量で流下させ,第2画分を得る。ここには,

PCDDs,PCDFs及びDL-PCBsのノンオルト体が含まれている。 

5) この第1画分と第2画分とを濃縮器で約2 mLにそれぞれ濃縮する。 

d) DMSO処理操作 DMSO処理操作は,次の手順による。この操作は,脂肪族炭化水素などの低極性物

質の除去を目的として行うものであり,PCDDs及びPCDFs測定用とDL-PCBs測定用とに分けること

はできないので,a)〜c) の精製操作と組み合わせて行う。 

1) 分液漏斗にヘキサン飽和のDMSO 25 mLを入れ,これに濃縮液をヘキサンで洗浄しながら移し入れ,

振とう抽出を4回行って得られた合計約100 mLのDMSO抽出液に,ヘキサン40 mLを加え,洗浄

する。 

2) 分液漏斗にヘキサン75 mLとヘキサン洗浄水100 mLとを入れ,1) の操作で得られたDMSO抽出液

約100 mLを加え,振とう抽出を3回行う。ヘキサン抽出液約225 mLを得る。 

3) 得られた合計約225 mLのヘキサン抽出液を分液漏斗に入れ,水酸化カリウム水溶液(2 mol/L)10 mL

による洗浄を行う。さらに,水25 mLで2回洗浄し,硫酸ナトリウムで脱水した後,濃縮器で2 mL

に濃縮する。 

6.4.8 

測定用試料の調製 

6.4.7の精製操作によって得られたPCDDs及びPCDFs測定用並びにDL-PCBs測定用の各濃縮液にシリ

ンジスパイク用内標準物質を検量線作成用標準液と同程度になるように添加して,ノナン,トルエン,デ

カン又は2,2,4-トリメチルペンタン0.5 mLを加え,再度,6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって一定液

量にしたものをそれぞれPCDDs及びPCDFs測定用並びにDL-PCBs測定用試料とする。 

同定及び定量 

7.1 

概要 

ダイオキシン類の同定及び定量は,キャピラリーカラムを用いるGC及びMSを用いるガスクロマトグ

ラフィー質量分析法によって行う。分解能は10 000以上が要求されるが,使用する内標準物質によっては

12 000が必要となる。10 000以上の高分解能での測定を維持するため,校正用標準試料を測定用試料と同

時にイオン源に導いてモニターイオンに近い質量のイオンをモニターして質量の微少な変動を補正するロ

ックマス方式による選択イオンモニタリング(以下,SIMという。)で検出し,保持時間及びイオン強度

比からダイオキシン類であることを確認した後,クロマトグラム上のピーク面積から内標準法によって定

量を行う。 

この規格で用いるGC-MSにおける装置の検出下限(7.5.1参照)は,装置の機種,測定条件などによっ

て変動するが,TeCDDs,PeCDDs,TeCDFs及びPeCDFsで0.1 pg,HxCDDs,HpCDDs,HxCDFs及びHpCDFs

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23 

K 0311:2020  

で0.2 pg,OCDD及びOCDFで0.5 pg並びにDL-PCBsで0.2 pg以下とする。 

7.2 

試薬及び装置 

7.2.1 

試薬 

同定及び定量に用いる試薬は,次による。 

7.2.1.1 

校正用標準試料 ペルフルオロケロセン(PFK)などの質量分析用高沸点成分を使用する。 

7.2.1.2 

標準物質 内標準法によるダイオキシン類の同定及び定量に使用する標準物質は,表6による。 

7.2.1.3 

内標準物質 サンプリングスパイク用内標準物質(5.3.9参照),クリーンアップスパイク用内標

準物質(6.2.17参照)及びシリンジスパイク用内標準物質(6.2.18参照)。 

7.2.1.4 

検量線作成用標準液 7.2.1.2の標準物質及び7.2.1.3の内標準物質を混合して,標準物質の濃度は,

GC-MSの定量範囲内で装置の定量下限程度となるような低濃度から5段階程度をノナン,トルエン,デカ

ン又は2,2,4-トリメチルペンタンで希釈して調製する(検量線作成用標準液の調製例は,附属書Bを参照)。 

表6−ダイオキシン類の標準物質 

標準物質 

P

C

D

D

TeCDD 

2,3,7,8-TeCDD 

PeCDD 

1,2,3,7,8-PeCDD 

HxCDD 

1,2,3,4,7,8-HxCDD 

1,2,3,6,7,8-HxCDD 

1,2,3,7,8,9-HxCDD 

HpCDD 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

OCDD 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

P

C

D

F

TeCDF 

2,3,7,8-TeCDF 

PeCDF 

1,2,3,7,8-PeCDF 

2,3,4,7,8-PeCDF 

HxCDF 

1,2,3,4,7,8-HxCDF 

1,2,3,6,7,8-HxCDF 

1,2,3,7,8,9-HxCDF 

2,3,4,6,7,8-HxCDF 

HpCDF 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

OCDF 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

D

L

-P

C

B

TeCB 

3,3',4,4'-TeCB (#77) 

3,4,4',5-TeCB (#81) 

PeCB 

2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

2,3,4,4',5-PeCB (#114) 

2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

2',3,4,4',5-PeCB (#123) 

3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

HxCB 

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

HpCB 

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

注記 括弧内の数値は,IUPAC No.を示す。 

24 

K 0311:2020  

7.2.2 

装置(GC-MS) 

同定及び定量に用いるGC-MSは,次による。 

7.2.2.1 

GC GCは,次による。 

a) 試料導入部 スプリットレス方式,オンカラム注入方式又は大量注入方式(温度プログラム気化注入

方式など)で250 ℃〜300 ℃で使用可能なもの。 

注記 大量注入方式の場合,ダイオキシン類の脱塩素によって定量に影響を与える可能性がある。

例えば,OCDDがHpCDDsの濃度に比較して高濃度な場合,HpCDDsの定量が正確でなくな

ることが考えられるので注意する。 

b) カラム 内径0.1 mm〜0.52 mm,長さ25 m〜60 mの溶融シリカ製のキャピラリーカラム。 

PCDDs及びPCDFsの測定では,2,3,7,8-位塩素置換異性体が可能な限り単離でき,全ての化合物に

ついてクロマトグラム上における溶出順位の判明しているカラムを使用する。全ての2,3,7,8-位塩素置

換異性体を他の異性体と完全に分離できるカラムは報告されていないので,溶出順位の異なる2種以

上のカラムを併用して2,3,7,8-位塩素置換異性体全てを単独に定量できるようにすることが望ましい。

単独に定量できない2,3,7,8-位塩素置換異性体がある場合,重なっている異性体の影響が無視できず,

測定結果に大きく影響することがあるので注意する[8.1 a) 参照]。 

DL-PCBsの測定では,12種類のDL-PCBsが他のPCB化合物と可能な限り単離でき,TeCB〜DeCB

のPCB化合物全てについてクロマトグラム上における溶出順位の判明しているカラムを使用する。 

注記 PCDDs及びPCDFsの溶出順位が報告されているカラムとしては,BPX-DXN(SGE),CP-Sil 

88(Agilent J&W),DB-5(Agilent J&W),DB-17(Agilent J&W),DB-210(Agilent J&W),

DB-225(Agilent J&W),007-17(Quadrex),RH-12ms(Inventx),SP-2331(Supelco)などが

あり,PCBの溶出順位が報告されているカラムとしては,DB-5ms(Agilent J&W),HT8-PCB

(SGE),RH-12ms(Inventx)などがある(附属書C参照)。この情報は,この規格の利用者の

便宜を図って記載するもので,この製品を推奨するものではない。 

c) キャリヤーガス 純度99.999 %(体積分率)以上の高純度ヘリウム。 

d) カラム恒温槽 温度制御範囲が50 ℃〜350 ℃であり,測定対象物質の最適分離条件の温度に調節でき

るような昇温プログラムの可能なもの。 

7.2.2.2 

MS MSは,次による。 

a) 方式 二重収束方式 

b) 分解能 10 000以上。ただし,内標準物質として13C12-OCDFを使用する場合,キャピラリーカラムの

選択によっては12 000程度が必要となる。 

c) イオン検出方法 校正用標準試料を用いたロックマス方式によるSIM 

d) イオン化方法 電子イオン化(EI)法 

e) イオン源温度 250 ℃〜320 ℃ 

f) 

イオン化電流 0.5 mA〜1 mA 

g) 電子加速電圧 30 V〜70 V 

h) 最大イオン加速電圧 5 kV〜10 kV 

7.3 

測定操作 

7.3.1 

GC-MSの測定条件の設定 

GC-MSの測定条件の設定は,次による。 

注記 GC-MSの測定条件及びクロマトグラムの例は,附属書Cを参照。 

25 

K 0311:2020  

a) GC PCDDs及びPCDFs並びにDL-PCBsのGCの設定条件は,次による。 

1) PCDDs及びPCDFs PCDDs及びPCDFsの測定においては,クロマトグラム上における2,3,7,8-位

塩素置換異性体のピークが他の異性体のものと良好な分離が得られ,各塩素化物の保持時間が適切

な範囲にあり,安定した応答が得られるようにGCの条件を設定する。設定した条件における各化

合物の分離状況を飛灰の抽出液などの試料を測定して確認しておく。 

2) DL-PCBs DL-PCBsの測定においては,DL-PCBsのクロマトグラム上でのピークが他の化合物のも

のと良好な分離が得られ,各塩素化物の保持時間が適切な範囲にあり,安定した応答が得られるよ

うにGCの条件を設定する。設定した条件における各化合物の分離状況を飛灰の抽出液などの試料

を測定して確認しておく。 

b) MS MSは,次の全てを満足する条件に設定する。 

1) 分解能 分解能は10 000以上とする。ただし,内標準物質として13C12-OCDFを使用する場合,GC

のカラムの選択によっては12 000程度が必要になる。 

2) 検出方法 校正用標準試料を用いたロックマス方式によるSIMを用いる。 

3) m/z 標準物質及び内標準物質の塩素化物ごとに,二つ以上の選択イオンのm/z及びロックマス用の

選択イオンのm/zを設定する。PCDDs及びPCDFsのm/zの例を表7に,DL-PCBsのm/zの例を表8

にそれぞれ示す。 

キャピラリーカラムによって得られるピークの幅は5秒〜10秒間程度であり,一つのピークに対

して十分な測定点を確保するため,クロマトグラムにおける単独成分ピークの最も幅の狭いピーク

であっても,そのピークを構成する測定点が7点以上となるようにSIMのサンプリングの周期を設

定しなければならない。1回の測定で設定可能なモニターイオンの数は,要求される感度との兼ね

合いとなるので,十分に検討した上で設定する。 

クロマトグラム上の各ピークの保持時間を考慮して,時間分割によるグルーピング方式によって

測定してもよいが,この場合にはグループごとに,適切な内標準物質ピークが出現するように条件

を設定する。 

background image

26 

K 0311:2020  

表7−PCDDs及びPCDFs測定のm/z(モニターイオン)の例 

M+ 

(M+2)+ 

(M+4)+ 

TeCDDs 

319.896 5 

321.893 6 

323.890 6 

PeCDDs 

353.857 6 

355.854 6 

357.851 7 a) 

HxCDDs 

387.818 6 

389.815 6 

391.812 7 a) 

HpCDDs 

421.779 6 

423.776 7 

425.773 7 

OCDD 

455.740 7 

457.737 7 

459.734 8 

TeCDFs 

303.901 6 

305.898 7 

307.895 7 

PeCDFs 

337.862 7 

339.859 7 

341.856 8 

HxCDFs 

371.823 7 

373.820 7 

375.817 8 

HpCDFs 

405.784 7 

407.781 8 

409.778 8 

OCDF 

439.745 7 

441.742 8 

443.739 8 

13C12-TeCDDs 

331.936 8 

333.933 9 

335.930 9 

37Cl4-TeCDDs 

327.884 7 

− 

− 

13C12-PeCDDs 

365.897 8 

367.894 9 

369.891 9 

13C12-HxCDDs 

399.858 9 

401.855 9 

403.853 0 

13C12-HpCDDs 

433.819 9 

435.816 9 

437.814 0 

13C12-OCDD 

467.780 9 

469.778 0 

471.775 0 

13C12-TeCDFs 

315.941 9 

317.938 9 

319.936 0 

13C12-PeCDFs 

349.902 9 

351.900 0 

353.897 0 

13C12-HxCDFs 

383.863 9 

385.861 0 

387.858 0 

13C12-HpCDFs 

417.825 0 

419.822 0 

421.819 1 

13C12-OCDF 

451.786 0 

453.783 0 

455.780 1 

校正用標準試料 

(PFK) 

330.979 2(TeCDDs,PeCDDs,TeCDFs及びPeCDFs定量用) 
380.976 0(PeCDDs,HxCDDs,PeCDFs及びHxCDFs定量用) 
430.972 9(HpCDDs,OCDD,HpCDFs及びOCDF定量用) 
442.972 9(HpCDDs,OCDD,HpCDFs及びOCDF定量用) 

注記1 質量は,IUPAC, Element by element review of their atomic weights, Pure Appl. 

Chem., 56 (6), 695-768 (1984) を基にして算出した。 

注記2 Mは,最も質量数の少ない安定同位体だけで構成された分子を示す。 
注a) PCBの妨害を受けることがある。 

表8−DL-PCBs測定のm/z(モニターイオン)の例 

M+ 

(M+2)+ 

(M+4)+ 

質 TeCBs 

289.922 4 

291.919 4 

293.916 5 

PeCBs 

323.883 4 

325.880 4 

327.877 5 

HxCBs 

357.844 4 

359.841 5 

361.838 5 

HpCBs 

391.805 4 

393.802 5 

395.799 5 

13C12-TeCBs 

301.962 6 

303.959 7 

305.956 7 

13C12-PeCBs 

335.923 7 

337.920 7 

339.917 8 

13C12-HxCBs 

369.884 7 

371.881 7 

373.878 8 

13C12-HpCBs 

403.845 7 

405.842 8 

407.839 8 

校正用標準試料 

(PFK) 

304.982 4(TeCBs及びPeCBs定量用) 
330.979 2(PeCBs及びHxCBs定量用) 
380.976 0(HxCBs及びHpCBs定量用) 

background image

27 

K 0311:2020  

表8−DL-PCBs測定のm/z(モニターイオン)の例(続き) 

注記1 質量は,IUPAC, Element by element review of their 

atomic weights, Pure Appl. Chem., 56 (6), 695-768 
(1984) を基にして算出した。 

注記2 Mは,最も質量数の少ない安定同位体だけで構成

された分子を示す。 

7.3.2 

MSの調整 

MSの調整は,装置が作動している状態で必要な項目の条件を設定した後,校正用標準試料を導入し,

質量校正用プログラムによって行う。m/z目盛,分解能(10 000以上)などを測定目的に応じて規定の値

に校正する。特に,分解能は測定質量範囲の全域で10 000以上に調節しなければならない。通常,一連の

測定を開始する前に行い,質量校正結果は保存しておく。 

7.3.3 

SIM測定操作 

SIM測定操作は,次による。 

a) GC-MSを所定の条件に設定する。 

b) 校正用標準試料を導入しながらそのモニターイオンの応答が安定したら,測定試料の測定を行う。 

c) 設定した各塩素化物のモニターイオンについて,クロマトグラムを記録する。 

d) 測定終了後,データ処理作業に入る前に個々の試料ごとに校正用標準試料のモニターイオンのクロマ

トグラム,妨害成分の有無及び2,3,7,8-位塩素置換異性体の分離の確認を行う。 

校正用標準試料のモニターイオンのクロマトグラムで,測定対象化合物の出現時間においてシグナ

ルに±20 %を超えた変動が認められた場合には,その化合物については定量してはならない。主な要

因として,試料の前処理が不十分な場合が考えられるので,試料の前処理を再度十分に行い,ロック

マスの変動を最小限に抑える。 

7.3.4 

検量線の作成 

検量線の作成は,次による。 

a) 検量線作成用標準液の測定 各検量線作成用標準液を1濃度に対して最低3回GC-MSに注入し,7.3.3

のSIM測定操作を行って,全濃度領域で合計15点以上のデータをとる。 

b) ノイズ幅に対するピーク高さの確認 最も濃度の低い検量線作成用標準液のクロマトグラムにおいて,

ベースラインのノイズ幅(N)に対する標準物質のピーク高さ(S)の比(S/N)が10以上であること

を確認する[7.4.1 b) 参照]。 

c) ピーク面積の強度比の確認 得られたクロマトグラムから,各標準物質の対応する二つのイオンのピ

ーク面積の強度比を求め,塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比と±15 %で一致する

ことを確認する(表9参照)。 

d) 相対感度の算出 相対感度の算出は,次による。 

なお,ここで用いるピーク面積は,一方のモニターイオンのピーク面積,両モニターイオンのピー

ク面積の合計値,又は両モニターイオンのピーク面積の平均値のいずれかとし,試料の測定までの全

ての測定において同じものを用いなければならない。 

1) 各標準物質及び内標準物質のピーク面積を求め,各標準物質とそれに対応するクリーンアップスパ

イク用内標準物質とのピーク面積の比,及び注入した標準液中のその標準物質と内標準物質との濃

度の比を用いて検量線(最小二乗法による一次直線回帰式)を作成し,検量線の切片が限りなくゼ

28 

K 0311:2020  

ロ(0)に近いことを確認する(測定対象の標準物質に対応する内標準物質の例は,附属書Bを参

照)。 

相対感度(RRCS)は,式(2)によって測定ごとに求め,得られた全濃度域合計15点以上のデータ

を平均する。この場合,データの変動係数が5 %を目安に可能な限り小さくなるようにし,変動係

数が10 %を超える化合物があってはならない。変動係数が10 %を超える場合は,GC-MSの状態を

確認して,必要な場合,調整し直すか,直線性のある範囲に定量範囲を狭めるなどの処置を行って

検量線を作成し直す。 

CS

S

S

CS

CS

A

A

Q

Q

RR

×

=

······································································· (2) 

ここに, 

RRCS: 測定対象物質のクリーンアップスパイク用内標準物質

に対する相対感度 

QCS: 標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質の量

(pg) 

QS: 標準液中の測定対象物質の量(pg) 

AS: 標準液中の測定対象物質のピーク面積 

ACS: 標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質のピ

ーク面積 

2) 同様にして,クリーンアップスパイク用内標準物質のシリンジスパイク用内標準物質に対する相対

感度(RRRS)を式(3)によって,サンプリングスパイク用内標準物質のクリーンアップスパイク用内

標準物質に対する相対感度(RRSS)を式(4)によってそれぞれ測定ごとに求め,得られたそれぞれの

全データを平均する(クリーンアップスパイク用内標準物質とシリンジスパイク用内標準物質との

対応の例及びサンプリングスパイク用内標準物質とクリーンアップスパイク用内標準物質との対応

の例は,附属書Bを参照)。この場合,データの変動係数が10 %を目安に可能な限り小さくなるよ

うにし,変動係数が20 %を超える化合物があってはならない。変動係数が20 %を超える場合は,

GC-MSの状態を確認して,必要な場合,調整し直して検量線を作成し直す。 

RS

CS

CS

RS

RS

A

A

Q

Q

RR

×

=

 ······································································ (3) 

ここに, 

RRRS: クリーンアップスパイク用内標準物質のシリンジスパ

イク用内標準物質に対する相対感度 

QRS: 標準液中のシリンジスパイク用内標準物質の量(pg) 

QCS: 標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質の量

(pg) 

ACS: 標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質のピ

ーク面積 

ARS: 標準液中のシリンジスパイク用内標準物質のピーク面

積 

CS

SS

SS

CS

SS

A

A

Q

Q

RR

×

=

 ······································································· (4) 

ここに, 

RRSS: サンプリングスパイク用内標準物質のクリーンアップ

スパイク用内標準物質に対する相対感度 

QCS: 標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質の量

(pg) 

QSS: 標準液中のサンプリングスパイク用内標準物質の量

(pg) 

29 

K 0311:2020  

ASS: 標準液中のサンプリングスパイク用内標準物質のピー

ク面積 

ACS: 標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質のピ

ーク面積 

7.3.5 

試料の測定 

試料の測定は,次による。 

a) 検量線の確認 ある一定の周期(1日に1回以上)で,検量線作成用標準液の中から一つ以上選び,

7.3.3のSIM測定操作に従って測定し,7.3.4と同様にして各化合物のそれに対応したクリーンアップ

スパイク用内標準物質に対する相対感度(RRCS)を求める。さらに,クリーンアップスパイク用内標

準物質のシリンジスパイク用内標準物質に対する相対感度(RRRS)及びサンプリングスパイク用内標

準物質のクリーンアップスパイク用内標準物質に対する相対感度(RRSS)を求める。 

これらの相対感度が,7.3.4で求めた検量線作成時の相対感度(RRCS,RRRS及びRRSS)に対して,

RRCSについては±10 %,RRRS及びRRSSについては±20 %にあるとき,7.3.4で求めた相対感度を用い

て測定を行う。この範囲を外れた場合には,その原因を取り除き,再測定を行うか,再度検量線を作

成する。 

さらに,保持時間についても,その変動を調べ,保持時間が1日に±5 %,内標準物質との保持時

間の比が±2 %を超えて変動する場合には,その原因を取り除き,その直前に行った一連の試料の再

測定を行う。 

b) 試料の測定 6.4.8で調製した測定用試料を7.3.3のSIM測定操作に従って測定し,各塩素化物のモニ

ターイオンについてクロマトグラムを得る。 

7.4 

ダイオキシン類の同定及び定量 

7.4.1 

ピークの検出 

7.3.5で得られたクロマトグラムにおけるピークの検出は,次による。 

a) シリンジスパイク用内標準物質の確認 6.4.8で調製した測定用試料中のシリンジスパイク用内標準

物質のピーク面積が標準液におけるシリンジスパイク用内標準物質のピーク面積の70 %以上である

ことを確認する。この範囲から外れた場合は,原因を調査し,その原因を取り除いて再度測定する。 

b) ピークの検出 クロマトグラム上において,ベースラインのノイズ幅(N)に対して3倍以上のピー

ク高さ(S)となるピーク,すなわち,ピーク高さでS/N=3以上となるピークについて,同定及び定

量の操作を行う。 

ここで,ノイズ幅及びピーク高さは,一般に次のようにして求める。まず,ピークの近傍(ピーク

の半値幅の10倍程度の範囲)のノイズを計測し,その標準偏差の2倍をノイズ幅とするか,経験的に

ノイズの最大値と最小値との幅はおおよそ標準偏差の5倍となるため,その幅の2/5をノイズ幅とす

る。一方,ノイズの中央値をベースラインとし,ベースラインのノイズを基にピークトップを決めて

この幅をピーク高さとする。 

なお,得られたクロマトグラムのベースラインが装置のゼロ点より高くない場合,ノイズを計測す

ることはできないので,測定に先立ってベースラインを確認,必要に応じてオフセットなどを適切に

調節しなければならない。 

c) ピーク面積の算出 b) で検出されたピークについて,そのピーク面積を算出する。 

7.4.2 

ダイオキシン類の同定 

ダイオキシン類の同定は,次による。 

background image

30 

K 0311:2020  

a) PCDDs,PCDFs及びPCBsの同定 モニターした二つ以上のイオンにおけるクロマトグラム上のピー

ク面積の比が標準物質のものとほぼ同じであり,表9に示す塩素原子の同位体存在比から推定される

イオン強度比に対して±15 %(検出下限の3倍以下の濃度では±25 %)にあるとき,そのピークはダ

イオキシン類又はPCBsによるものとする。標準物質のない化合物の同定は,分析に用いたカラムの

溶出順位を参考にして行う。 

b) 2,3,7,8-位塩素置換異性体の同定 同定されたPCDDs及びPCDFsの中の2,3,7,8-位塩素置換異性体は,

クロマトグラム上のピークの保持時間が標準物質とほぼ同じであり,対応する内標準物質との相対保

持時間が標準物質と一致することで同定する。 

c) DL-PCBsの同定 同定されたPCBsの中のDL-PCBsは,クロマトグラム上のピークの保持時間が標

準物質とほぼ同じであり,対応する内標準物質との相対保持時間が標準物質と一致することで同定す

る。 

表9−塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比 

M+2 

M+4 

M+6 

M+8 

M+10 

M+12 

M+14 

TeCDDs 

77.43 

100.00 

48.74 

10.72 

0.94 

0.01 

− 

− 

PeCDDs 

62.06 

100.00 

64.69 

21.08 

3.50 

0.25 

− 

− 

HxCDDs 

51.79 

100.00 

80.66 

34.85 

8.54 

1.14 

0.07 

− 

HpCDDs 

44.43 

100.00 

96.64 

52.03 

16.89 

3.32 

0.37 

0.02 

OCDD 

34.54 

 88.80 

100.00 

64.48 

26.07 

6.78 

1.11 

0.11 

TeCDFs 

77.55 

100.00 

48.61 

10.64 

0.92 

− 

− 

− 

PeCDFs 

62.14 

100.00 

64.57 

20.98 

3.46 

0.24 

− 

− 

HxCDFs 

51.84 

100.00 

80.54 

34.72 

8.48 

1.12 

0.07 

− 

HpCDFs 

44.47 

100.00 

96.52 

51.88 

16.80 

3.29 

0.37 

0.02 

OCDF 

34.61 

 88.89 

100.00 

64.39 

25.98 

6.74 

1.10 

0.11 

TeCBs 

76.67 

100.00 

49.11 

10.83 

0.93 

− 

− 

− 

PeCBs 

61.42 

100.00 

65.29 

21.43 

3.56 

− 

− 

− 

HxCBs 

51.22 

100.00 

81.48 

35.51 

8.75 

1.17 

− 

− 

HpCBs 

43.93 

100.00 

97.67 

53.09 

17.38 

3.43 

− 

− 

注記1 イオン強度比は,塩素数ごとにそれぞれ最大強度を示すイオンを100 %とした値である。 
注記2 Mは,最低質量数の同位体を示す。 

7.4.3 

ダイオキシン類の定量 

ダイオキシン類の定量は,次による。 

a) 検量線範囲の確認 同定されたダイオキシン類のピーク面積(Ai)の対応するクリーンアップスパイ

ク用内標準物質のピーク面積(ACSi)に対する比(Ai/ACSi)が,検量線範囲の最も高い濃度比における

ピーク面積比の平均値以下であることを確認する。2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBs以外の化

合物の場合で,各塩素化物に用いているクリーンアップスパイク用内標準物質が複数ある場合は,そ

れらのピーク面積比の平均値と比較する。 

これを超える場合は,再度,試料ガスの採取を行う。 

b) 各化合物の定量 抽出液全量中の同定された2,3,7,8-位塩素置換異性体又はDL-PCBsの量(Qi)は,

それに対応するクリーンアップスパイク用内標準物質の添加量を基準にして内標準法で,式(5)によっ

て求める。他の化合物についても同様にして求める(測定対象物質,標準物質及びそれに対応するク

リーンアップスパイク用内標準物質の例は,附属書Bを参照)。 

31 

K 0311:2020  

2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBs以外の化合物の定量には,各塩素化物に用いている標準物質

のクリーンアップスパイク用内標準物質に対する相対感度の平均値を用いる。各塩素化物に用いてい

るクリーンアップスパイク用内標準物質が複数ある場合は,それらのピーク面積の平均値を用いる。 

CS

CSi

CSi

i

i

RR

Q

A

A

Q

×

=

 ······································································· (5) 

ここに, 

Qi: 抽出液全量中の化合物の量(ng) 

Ai: クロマトグラム上の化合物のピーク面積 

ACSi: 対応するクリーンアップスパイク用内標準物質のピー

ク面積 

QCSi: 対応するクリーンアップスパイク用内標準物質の添加

量(ng) 

RRCS: 対応するクリーンアップスパイク用内標準物質に対す

る相対感度 

c) 濃度の算出 得られた各化合物の量から,試料ガス中の濃度を式(6)によって算出する。 

酸素の濃度による補正は,附属書Dを参照する。 

(

)

N

t

i

i

1

V'

Q

Q

C

×

=

 ····································································· (6) 

ここに, 

Ci: 試料ガス中の化合物の濃度(0 ℃,101.32 kPa)(ng/m3) 

Qi: 抽出液全量中の化合物の量(ng) 

Qt: 操作ブランク試験での化合物の量(ng) 

V'N: 標準状態(0 ℃,101.32 kPa)における試料ガスの採取量

(m3) 

7.5 

検出下限及び定量下限 

7.5.1 

装置の検出下限及び定量下限 

最低濃度(各標準物質をそれぞれTeCDDs,PeCDDs,TeCDFs及びPeCDFsで0.1 pg〜0.5 pg,HxCDDs,

HpCDDs,HxCDFs及びHpCDFsで0.2 pg〜1.0 pg,OCDD及びOCDFで0.5 pg〜2.5 pg並びにDL-PCBsで

0.2 pg〜1.0 pgを含む。)の検量線作成用標準液をGC-MSで測定し,各化合物を定量する。この操作を5

回以上繰り返し,得られた測定値から式(7)によって標準偏差を求め,その3倍を装置の検出下限,10倍を

装置の定量下限とする。ここでは,測定値の丸めを行わずに標準偏差を算出し,得られた検出下限は有効

数字を1桁とし,定量下限は検出下限と同じ桁までで丸める。 

ここで得られた装置の検出下限が,TeCDDs,PeCDDs,TeCDFs又はPeCDFsで0.1 pg,HxCDDs,HpCDDs,

HxCDFs又はHpCDFsで0.2 pg,OCDD又はOCDFで0.5 pg若しくはDL-PCBsで0.2 pgより大きいときに

は,器具,機器などを確認して,これらの値以下になるように調節する。 

この装置の検出下限及び定量下限は,使用するGC-MSの状態などによって変動するため,ある一定の

周期で確認し,常に十分な値が得られるように管理する。また,使用するGC-MS及び/又は測定条件を

変更した場合などには必ず確認する。 

(

)

1

2

i

=∑n

x

x

s

 ······································································· (7) 

ここに, 

s: 標準偏差 

xi: 個々の測定値(pg) 

x: 測定値の平均値(pg) 

32 

K 0311:2020  

n: 測定回数 

7.5.2 

測定方法の検出下限及び定量下限 

測定に用いるのと同量の吸収液,吸着剤及びフィルタから抽出した抽出液に,式(8)によって算出した量

の標準物質を添加し,前処理,GC-MSでの測定,同定及び定量を行う。これを5回以上行い,得られた測

定値の標準偏差を式(7)によって求め,その3倍を測定方法の検出下限,10倍を測定方法の定量下限とする。

ここでは,測定値の丸めを行わずに標準偏差を算出し,得られた検出下限は有効数字を1桁とし,定量下

限は検出下限と同じ桁までで丸める。 

この測定方法の検出下限及び定量下限は,前処理操作及び/又は測定条件によって変動するため,ある

一定の周期で確認し,常に十分な値が得られるように管理する。また,前処理操作及び/又は測定条件を

変更した場合などには必ず確認する。 

iv

v

QL'

Q

×

=

 ············································································· (8) 

ここに, 

Q: 標準物質の添加量(pg) 

QL': 装置の定量下限(pg) 

v: 測定用試料の液量(µL) 

vi: GC-MSへの注入量(µL) 

7.5.3 

試料ガスにおける検出下限及び定量下限 

試料ガスにおける検出下限及び定量下限は,試料ガスの採取量などによって異なってくるため,式(9)及

び式(10)によって試料ごとに求める。得られた検出下限は有効数字を1桁とし,定量下限は検出下限と同

じ桁までで丸める。 

2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBs以外の化合物の試料ガスにおける検出下限及び定量下限は,各

塩素化物に用いている標準物質の丸める前の試料ガスにおける検出下限及び定量下限を平均して求める。

得られた検出下限は有効数字を1桁とし,定量下限は検出下限と同じ桁までで丸める。 

V

V'

V

v

v

DL

C

1

000

1

E

E

i

DL

×

×

×

=

 ····························································· (9) 

V

V'

V

v

v

QL

C

1

000

1

E

E

i

QL

×

×

×

=

 ··························································· (10) 

ここに, 

CDL: 試料ガスにおける検出下限(0 ℃,101.32 kPa)(ng/m3) 

CQL: 試料ガスにおける定量下限(0 ℃,101.32 kPa)(ng/m3) 

DL: 測定方法の検出下限(pg) 

QL: 測定方法の定量下限(pg) 

vi: GC-MSへの注入量(µL) 

v: 測定用試料の液量(µL) 

V: 試料ガスの採取量(0 ℃,101.32 kPa)(m3) 

VE: 抽出液量(mL) 

V'E: 抽出液の分取量(mL) 

7.5.4 

試料測定時の検出下限の確認 

実際の試料の測定において,2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBsの中でピークが検出されなかった

ものについては,そのクロマトグラム上において,検出下限を次の手順で求め,その値から算出される試

料ガス中の濃度が7.5.3で求めた試料ガスにおける検出下限以下であることを確認する。この値が試料ガ

スにおける検出下限を超える場合は,前処理操作又は測定操作に問題がなかったかどうかを確認し,その

33 

K 0311:2020  

原因を取り除いて再測定し,少なくとも試料測定時の検出下限から算出される試料ガス中の濃度が,評価

しなければならない濃度の1/30以下になるようにする。 

a) 対象とする化合物のピーク近傍のベースラインにおいてノイズ幅を求める[7.4.1 b) 参照]。 

b) ノイズ幅の3倍のピーク高さに相当するピークの面積を標準液のクロマトグラムなどから推定する。 

c) 得られたピーク面積を用いて,その面積に相当する量を算出し,試料測定時の検出下限とする。 

7.6 

回収率の確認 

7.6.1 

クリーンアップスパイク用内標準物質の回収率の算出 

クリーンアップスパイク用内標準物質のピーク面積とシリンジスパイク用内標準物質のピーク面積との

比及び対応する相対感度(RRRS)を用いて式(11)によって,クリーンアップスパイク用内標準物質の回収

率を算出する。 

なお,クリーンアップスパイク用内標準物質の添加量は,抽出液の分取,精製操作における分割などの

補正を行う。 

このクリーンアップスパイク用内標準物質の回収率が50 %以上120 %以下の範囲から外れるときは,そ

の原因を取り除き,再度,抽出液からクリーンアップをやり直す,又は再度,試料ガスの採取を行う。 

CSi

RS

RSi

RSi

CSi

C

100

Q

RR

Q

A

A

R

×

×

=

 ······························································(11) 

ここに, 

RC: クリーンアップスパイク用内標準物質の回収率(%) 

ACSi: クリーンアップスパイク用内標準物質のピーク面積 

ARSi: 対応するシリンジスパイク用内標準物質のピーク面積 

QRSi: 対応するシリンジスパイク用内標準物質の添加量(ng) 

RRRS: 対応するシリンジスパイク用内標準物質に対する相対

感度 

QCSi: クリーンアップスパイク用内標準物質の添加量(ng) 

7.6.2 

サンプリングスパイク用内標準物質の回収率の算出 

サンプリングスパイク用内標準物質のピーク面積とクリーンアップスパイク用内標準物質のピーク面積

との比及び対応する相対感度(RRSS)を用いて式(12)によって,サンプリングスパイク用内標準物質の回

収率を算出する。 

なお,サンプリングスパイク用内標準物質の添加量は,抽出液の分取,精製操作における分割などの補

正を行う。 

このサンプリングスパイク用内標準物質の回収率が70 %以上130 %以下の範囲から外れるときは,その

原因を取り除き,再度,試料ガスの採取を行う。 

SSi

SS

CSi

CSi

SSi

S

100

Q

RR

Q

A

A

R

×

×

=

 ······························································ (12) 

ここに, 

RS: サンプリングスパイク用内標準物質の回収率(%) 

ASSi: サンプリングスパイク用内標準物質のピーク面積 

ACSi: 対応するクリーンアップスパイク用内標準物質のピー

ク面積 

QCSi: 対応するクリーンアップスパイク用内標準物質の添加

量(ng) 

RRSS: 対応するクリーンアップスパイク用内標準物質に対す

る相対感度 

QSSi: サンプリングスパイク用内標準物質の添加量(ng) 

background image

34 

K 0311:2020  

結果の報告 

8.1 

結果の表示方法 

ダイオキシン類測定結果の表示方法は,特に指定がない場合には,次による。 

a) PCDDs及びPCDFs PCDDs及びPCDFsの濃度の測定結果には,2,3,7,8-位塩素置換異性体の濃度,

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体の濃度並びにそれらの総和を記載する。 

各化合物の濃度は,試料ガスにおける定量下限以上の値はそのまま記載し,試料ガスにおける定量

下限未満で検出下限以上のものは,定量下限以上の値と同等の精度が保証できない値であることが分

かるような表示方法(例えば,括弧付きにする,別の欄にするなど。)で記載する。試料ガスにおける

検出下限未満のものは,検出下限未満であったことが分かるように記載する。 

単独で定量できなかった2,3,7,8-位塩素置換異性体については,単独で定量できていないことが分か

るように結果表の2,3,7,8-位塩素置換異性体の欄に重なっている異性体の名称を明記する。例えば,

1,2,3,7,8-PeCDFに1,2,3,4,8-PeCDFが重なっている場合,1,2,3,7,8-PeCDFの欄に“1,2,3,7,8+1,2,3,4,8- 

PeCDF”と記載する。 

各同族体の濃度及びそれらの総和は,検出された化合物の濃度で算出する。 

これらの表示方法は表10のとおりとし,試料ガスにおける検出下限及び定量下限も明記する。 

b) DL-PCBs DL-PCBsの濃度の測定結果には,各化合物の濃度とそれらの総和をa) と同様に記載する。

表示方法は表11のとおりとし,試料ガスにおける検出下限及び定量下限も明記する。 

表10−PCDDs及びPCDFsの化合物並びに同族体の表示方法 

PCDDs 

PCDFs 

同族体 

化合物 

同族体 

化合物 

TeCDDs 

2,3,7,8-TeCDD 
その他 

TeCDFs 

2,3,7,8-TeCDF 
その他 

PeCDDs 

1,2,3,7,8-PeCDD 
その他 

PeCDFs 

1,2,3,7,8-PeCDF 
2,3,4,7,8-PeCDF 
その他 

HxCDDs 

1,2,3,4,7,8-HxCDD 
1,2,3,6,7,8-HxCDD 
1,2,3,7,8,9-HxCDD 
その他 

HxCDFs 

1,2,3,4,7,8-HxCDF 
1,2,3,6,7,8-HxCDF 
1,2,3,7,8,9-HxCDF 
2,3,4,6,7,8-HxCDF 
その他 

HpCDDs 1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

その他 

HpCDFs 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 
1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 
その他 

OCDD 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

OCDF 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

PCDDs 

− 

PCDFs 

− 

PCDDs+PCDFs 

background image

35 

K 0311:2020  

表11−DL-PCBsの化合物の表示方法 

ノンオルト体 

モノオルト体 

3,3',4,4'-TeCB (#77) 
3,4,4',5-TeCB (#81) 

− 

3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 
2,3,4,4',5-PeCB (#114) 
2,3',4,4',5-PeCB (#118) 
2',3,4,4',5-PeCB (#123) 

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 
2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 
2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

− 

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

ノンオルト体 

モノオルト体 

DL-PCBs 

8.2 

濃度の単位 

ダイオキシン類の実測値は,ng/m3(0 ℃,101.32 kPa)で表示する。 

8.3 

毒性当量への換算 

ダイオキシン類の濃度を毒性当量(以下,TEQという。)に換算する場合は,附属書Eを参照する。 

8.4 

数値の取扱い 

濃度の表示における数値の取扱いは,特に指定がない場合には,次による。 

a) 8.1の濃度が試料ガスにおける検出下限以上か未満か,及び定量下限以上か未満かの判断は,7.4.3 c) で

算出された丸めていない濃度と7.5.3で求めた丸めた試料ガスにおける検出下限及び定量下限とを比

較して行う。 

b) 各化合物の濃度については,JIS Z 8401によって数値を丸め,有効数字を2桁として,ただし,試料

ガスにおける検出下限の桁までで丸めて表示する。 

c) 各同族体の濃度及び総和については,検出された化合物の丸めていない濃度を合計し,JIS Z 8401に

よって数値を丸め,有効数字を2桁として,ただし,合計対象の検出された化合物の中で最も高い試

料ガスにおける検出下限の桁までで丸めて表示する。 

測定データの品質管理 

9.1 

一般 

ダイオキシン類の測定は,極めて低濃度の測定であるため,測定精度の管理を十分に行う。 

9.2 

測定データの信頼性の確保 

9.2.1 

内標準物質の回収率の確認 

内標準物質の回収率の確認は,次による。 

a) サンプリングスパイク用内標準物質の回収率 サンプリングスパイク用内標準物質の回収率を確認

し,各サンプリングスパイク用内標準物質の回収率が70 %〜130 %の範囲内にない場合は,その原因

を調査し,改善後,再度,試料ガスの採取を行う。 

b) クリーンアップスパイク用内標準物質の回収率 クリーンアップスパイク用内標準物質の回収率を

確認し,各クリーンアップスパイク用内標準物質の回収率が50 %〜120 %の範囲内にない場合は,そ

の原因を調査し,改善後,再度,抽出液からクリーンアップをやり直す,又は再度,試料ガスの採取

36 

K 0311:2020  

を行う。 

9.2.2 

検出下限及び定量下限の確認 

検出下限及び定量下限の確認は,次による。 

a) 装置の検出下限及び定量下限 最低濃度(各標準物質をそれぞれTeCDDs,PeCDDs,TeCDFs及び

PeCDFsで0.1 pg〜0.5 pg,HxCDDs,HpCDDs,HxCDFs及びHpCDFsで0.2 pg〜1.0 pg,OCDD及び

OCDFで0.5 pg〜2.5 pg並びにDL-PCBsで0.2 pg〜1.0 pgを含む。)の検量線作成用標準液をGC-MS

で測定し,各2,3,7,8-位塩素置換異性体を定量する。この操作を5回以上繰り返し,得られた測定値か

ら標準偏差を求め,その3倍を装置の検出下限,10倍を装置の定量下限とする。 

ここで得られた装置の検出下限が,TeCDDs,PeCDDs,TeCDFs又はPeCDFsで0.1 pg,HxCDDs,

HpCDDs,HxCDFs又はHpCDFsで0.2 pg,OCDD又はOCDFで0.5 pg若しくはDL-PCBsで0.2 pgよ

り大きいときには,器具,機器などを確認して,これらの値以下になるように調節する。 

この装置の検出下限及び定量下限は,使用するGC-MSの状態などによって変動するため,ある一

定の周期で確認し,常に十分な値が得られるように管理する。また,使用するGC-MS及び/又は測

定条件を変更した場合などには必ず確認する。 

b) 測定方法の検出下限及び定量下限 測定に用いるのと同量の吸収液,吸着剤及びフィルタを抽出した

抽出液にGC-MSへの注入量が装置の定量下限と同じ量になるように標準物質を添加し,前処理,測

定,同定及び定量を行う。これを5回以上行い,得られた測定値の標準偏差を求め,その3倍を測定

方法の検出下限,10倍を測定方法の定量下限とする。 

この測定方法の検出下限及び定量下限は,前処理操作及び/又は測定条件によって変動するため,

ある一定の周期で確認し,常に十分な値が得られるように管理する。また,前処理操作及び/又は測

定条件を変更した場合などには必ず確認する。 

c) 試料ガスにおける検出下限及び定量下限 試料ガスにおける検出下限及び定量下限は,試料ガスの採

取量などによって異なってくるため,測定方法の検出下限及び定量下限を用いて試料ごとに求める。

得られた試料ガスにおける検出下限は,評価しなければならない濃度の1/30以下でなければならない。 

d) 試料測定時の検出下限の確認 実際の試料の測定において,2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBs

の中でピークが検出されなかったものについては,そのクロマトグラム上において,ピーク近傍のベ

ースラインのノイズ幅から,試料測定時の検出下限を推定し,その値から算出された試料ガスにおけ

る濃度が試料ガスにおける検出下限以下でなければならない。 

その値が試料ガスにおける検出下限を超える場合は,前処理操作,測定操作に問題がなかったかど

うかを確認し,その原因を除いて再測定し,少なくとも試料測定時の検出下限から算出される試料ガ

ス中の濃度が,評価しなければならない濃度の1/30以下になるようにする。 

9.2.3 

操作ブランク試験及びトラベルブランク試験 

操作ブランク試験及びトラベルブランク試験は,次による。 

a) 操作ブランク試験 操作ブランク試験は,測定用試料の調製又はGC-MSへの導入操作などに起因す

る汚染を確認し,測定に支障のない測定環境を設定するために行うものである。試料採取用と同一ロ

ットのろ過材,吸着剤及び吸収液を用意し,箇条6及び箇条7の操作を試料と同様に行う。 

この試験は,試薬のロットが変わるときなど一定の周期で定期的に行い,操作時の汚染などに対し

て十分に管理をしなければならない。さらに,次の場合は,測定に先立って行い,操作ブランク試験

の結果(以下,操作ブランク値という。)が十分低くなるようにしておくことが望ましい。 

なお,操作ブランク値が大きいと測定感度が悪くなるばかりでなく,測定値の信頼性が低下するた

37 

K 0311:2020  

め,操作ブランク値は極力低減を図らなければならない。そのため,必要に応じてクリーンドラフト

内で前処理操作などを行うことが望ましい。 

1) 新しい試薬又は機器を使用するとき,修理した機器を使用するときなどの前処理操作に大きな変更

があった場合。 

2) 試料間汚染が予想されるような高い濃度の試料を測定した場合。 

b) トラベルブランク試験 トラベルブランク試験は,試料ガス採取準備から採取試料の運搬までの汚染

の有無を確認するためのものであり,採取操作以外は試料と全く同様に扱い,持ち運んだものについ

て,箇条6及び箇条7の操作を試料と同様に行う。 

この試験は,試料採取から採取試料の運搬までに汚染が考えられる場合(電気集じん機で集められ

た灰などによる汚染)には必ず行わなければならないが,それ以外の場合には,汚染防止が確実に行

われていることが確認できれば毎回行わなくてもよい。しかし,試料採取における信頼性を確保する

ため,あらかじめトラベルブランク試験について十分検討しておき,必要な場合,そのデータが提示

できるようにしておく。 

トラベルブランク試験を行う場合には,少なくとも3試料以上行い,その結果の平均値(e)を求め

て,次のように測定値の補正を行う。 

1) トラベルブランク試験の結果の平均値(e)(以下,トラベルブランク値という。)が操作ブランク値

(a)と同等(等しいか,小さい)とみなせる(e≒a)ときには,移送中の汚染は無視できるものと

する。 

2) トラベルブランク値(e)が操作ブランク値(a)より大きい(e>a)場合には,次による。 

2.1) トラベルブランク値(e)が,試料の測定値(d)以下であり(d≧e),測定値(d)がトラベルブ

ランク試験結果の標準偏差の10倍から算出した濃度値(f)以上(d≧f)の場合には,測定値(d)

からトラベルブランク値(e)を差し引いて濃度を計算する。 

2.2) 測定値(d)がトラベルブランク試験結果の標準偏差の10倍から算出した濃度値(f)より小さい

(d<f),又はトラベルブランク値(e)が試料の測定値(d)より大きい(e>d)場合には,測定

値の信頼性に問題があるため,通常,欠測扱いとする。このような場合には,汚染の原因を発見

して取り除いた後,再度,試料ガスの採取を行う。 

9.2.4 

二重測定 

二重測定用として,同一の試料ガスを同時に2台の装置で採取する。この採取は,可能な場合,10回の

試料ガス採取につき1回の頻度で行い,2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBsで定量下限以上で検出さ

れた化合物の測定値について,その平均値を求め,個々の測定値が平均値の±30 %にあることを確認する。 

試料ガスの採取の操作について十分な検討がなされ,信頼性を十分確保できていることが確認できれば,

上記の頻度で二重測定用の試料ガスの採取を行わなくてもよいが,試料ガスの採取における信頼性につい

て,必要時にそのデータが提示できるようにしておく。 

9.2.5 

標準物質 

測定値の信頼性を確保するため,国家計量標準にトレーサブル又は国家計量標準機関が認めた標準物質

を用いる。また,これらの標準液は,溶媒の揮散などによって濃度変化がないようにガラス製の密閉容器

に入れて冷暗所に保管し,厳重な管理下で保管する。 

9.3 

測定操作における留意事項 

9.3.1 

試料ガスの採取 

試料ガスの採取においては,次の点に注意する。 

38 

K 0311:2020  

a) 試料ガス採取用器材の準備及び保管 使用する円筒ろ紙,吸着剤及び吸収液は,十分に洗浄して空試

験値の十分に低いものを用いる。特に吸着剤は,洗浄後から試料採取までの保管において,周辺空気

からの汚染などがないように密閉して保管する。 

b) 試料ガス採取装置 各試料ガスの採取装置に使用する器具,部品などは洗浄し,器具などからの汚染

を十分に低減する。試料ガスの採取に当たっては,試料ガス採取装置の各部を固定し,気密性を点検

し,装置の漏れがないことを確認する。ダイオキシン類が捕集されている部分は遮光する。 

c) ガスメータ ガスメータの信頼性を確保するため,国家計量標準にトレーサブル又は国家計量標準機

関が認めた計量標準を用いて計量機器を定期的に校正する。 

d) 代表試料の採取 試料ガスの採取においては,目的とする試料に対して代表試料の採取が適切に行わ

れるものでなければならない。一般に,連続運転の焼却炉などにおける排ガスの測定においては,4

時間平均を基準とし,炉の燃焼状態が安定した時点から,最低1時間以上経過した後に試料ガスの採

取を開始する。 

間欠運転炉については,定常運転時の排ガスが代表試料と考えられる場合は,炉の立上げ及び停止

時を除いた定常運転時に試料ガスを採取し,立上げ及び/又は停止時が大きく影響すると考えられる

ような場合は,それらを含むように採取するなど,その運転状況に応じて試料ガスを採取する。 

なお,このような試料ガスの採取に当たっては,温度,一酸化炭素の濃度などを連続測定するなど

して試料ガスの採取開始から終了までの運転状態の変化を記録し,報告書に添付することが望ましい。 

e) 試料ガスの採取操作 試料ガスの採取操作においては,採取時におけるフィルタ捕集部でのダイオキ

シン類の二次生成及び/又は損失がないこと,さらに,採取後の試料からダイオキシン類が十分に回

収できることが大切である。また,試料ガスの採取は,JIS Z 8808に準じ,等速吸引しなければなら

ない。そのための流量,温度,圧力,水分量,組成などを事前に測定し,等速吸引流量を計算して,

適切な吸引ノズル(内径4 mm以上)を取り付ける。 

f) 

試料の保管・運搬 採取後の試料の保管は,周囲空気からの混入及び/又は周囲への漏えいを防ぐた

めに密閉して保管する。また,試料の保管及び運搬時も遮光する。 

9.3.2 

前処理操作 

前処理操作においては,次の点に注意する。 

a) 試料からの抽出 試料からの抽出においては,次の点に注意する。 

1) 液−液抽出においては,目的の溶媒層への抽出が十分に行われるように溶媒の選択及び抽出条件を

確認する。 

2) ソックスレー抽出においては,抽出を行うガラス繊維ろ紙は,十分に乾いていることを確認する。 

3) 光による分解を防ぐため,試料に強い光の当たることを避ける。特に,ソックスレー抽出などで光

が長時間当たる場合には遮光して行う。 

b) 硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作 

操作においては,次の点に注意する。 

1) 硫酸処理においては,抽出液の着色が完全にないことを確認する。 

2) カラムクロマトグラフ操作における分画条件は,使用する充塡剤の種類及び活性度,又は溶媒の種

類及び量によって異なるので,あらかじめ飛灰の抽出液のように全化合物が含まれたものを用いて

分画試験を行って条件を確認しておく。 

c) アルミナカラムクロマトグラフ操作 アルミナの極性は,製造ロット又は開封後の保存状態若しくは

保存期間によってかなり変化が認められる。活性の低下したものでは,ダイオキシン類の場合,

39 

K 0311:2020  

1,3,6,8-TeCDD,1,3,6,8-TeCDFなどが第1画分に溶出したり,OCDD,OCDFなどがジクロロメタン(体

積分率50 %)を含むヘキサン溶液の規定量では溶出しなかったりすることがあり,DL-PCBsの場合,

一部がヘキサン溶出画分に溶出することがあるので,あらかじめ飛灰の抽出液のように全化合物が含

まれたものを用いて分画試験を行って条件を確認しておく。 

9.3.3 

同定及び定量 

同定及び定量においては,次の点に注意する。 

a) GC-MS 使用するGC-MSは,目的に応じて測定条件を設定し,試料の測定が可能なように機器を調

整する。このとき,応答の直線性,安定性などのほか,測定の誤差となる干渉の有無,その大きさ,

その補正方法など,十分信頼できる測定ができるかどうかを確認しておく。GC-MSの調整,操作条件

及び維持管理は,次による。 

1) GCの調整 カラム槽温度,注入口温度,キャリヤーガス流量などの条件を設定し,応答が安定し

ていること,各塩素化物の保持時間が適切な範囲にあり,かつ,ピークが十分に分離されているこ

となどを確認する。スプリットレスの時間,パージガス流量などを適切な値に設定する。 

キャピラリーカラムは,測定対象成分と他成分との分離が十分でない場合には,新品と交換する。

ただし,キャピラリーカラムを300 mm程度切断(両端又は片端)することによって測定対象物質

と他成分との分離に問題がない場合は,交換しなくてもよい。 

2) MSの調整 MSに校正用標準試料(ペルフルオロケロセン:PFKなど)を導入し,MSの質量校正

用プログラムなどによってマスパターン,分解能(10 000以上)などの校正を行うとともに,装置

の感度などの基本的な確認を行う。この調整の結果を記録して保管する。 

3) GC-MSの操作条件 キャピラリーカラムによって得られるピークの幅は,5秒〜10秒間程度であ

るが,一つのピークに対して十分な測定点を確保するため,クロマトグラムにおける単独成分ピー

クの最も幅の狭いピークであってもそのピークを構成する測定点が7点以上となるようにSIMのサ

ンプリングの周期を設定しなければならない。1回の測定で設定可能なモニターイオンの数は,要

求される感度との兼ね合いとなるので,十分に検討した上で設定する。 

クロマトグラム上の各ピークの保持時間を考慮して,時間分割によるグルーピング方式によって

測定してもよいが,この場合には,グループごとに,適切な内標準物質のピークが出現するように

条件の設定を行う。 

4) 装置の維持管理 GC-MSの性能を維持するには,日常的な保守管理を欠かしてはならない。特に,

GCとのインタフェース及びイオン化室内の汚れは,感度,分解能及び測定精度の低下に大きく影

響するので,適宜,洗浄する。 

b) 検量線の作成 検量線は,測定を初めて開始するときに作成する。その後は,標準液の更新,分析条

件の変更など測定上の変更があった場合又は感度が大きく変動した場合に作成する。 

測定の精度を維持するためには,上記以外のときでも定期的に更新することが望ましい。どの程度

の周期で更新するかは,測定条件,装置の稼動状況などによって異なってくるので,感度変動などの

状況から3か月間というような一定の期間か,一定の測定試料数で決めておく。 

c) 装置の感度変動 1日1回以上,定期的に1濃度以上の標準液を測定して,内標準物質の感度が検量

線作成時に比べ大きく変動していないことを確認する。また,ダイオキシン類の各化合物の内標準物

質に対する相対感度の変動が,検量線作成時の相対感度に比べて±10 %にあることを確認し,この範

囲を超えて変動した場合には,その原因を取り除き,再測定を行うか,検量線を再作成して試料の再

測定を行う。 

40 

K 0311:2020  

さらに,保持時間については,分離カラムの劣化などによって徐々に保持時間が変動する場合には,

必要に応じて対応を取ればよいが,比較的短い間に変動(通常,1日に保持時間が±5 %の範囲外,内

標準物質との相対保持比が±2 %の範囲外)した場合には,その原因を取り除き,それ以前の試料の

再測定を行う。 

9.3.4 

異常値及び欠測値の取扱い 

測定機器の感度の変動が大きい,ブランク値が大きい,二重測定の結果が大きく異なるなどの場合には,

測定値の信頼性に問題があるため,再測定を行ったり,欠測扱いとして再度試料の採取を行わなければな

らない。このような問題が起こると,多大な労力,時間及び経費がかかるだけでなく,調査結果全体の評

価に影響を及ぼすことになるため,事前の確認などを十分に行い,異常値及び欠測値を出さないように注

意しなければならない。また,異常値及び欠測値が出た経緯を十分に検討し,記録に残して,今後の再発

防止に役立てることが重要である。 

9.4 

測定操作の記録 

次の情報を記録し,整理及び保管する。 

a) 試料ガスの採取に使用する装置及び器具の調節,校正及び操作。 

b) 容器,吸着剤,吸収液,捕集用フィルタなどの準備,取扱い及び保管の状況。 

c) 試料ガスの採取時の状況。 

採取方法,採取地点,採取日時,温度,水分量,静圧,流速,湿り及び乾きの流量,漏れ試験の結

果,その他,採取系の着色など。 

d) 試料ガスの採取条件。 

吸引流量,採取時間,採取量,その他。 

e) 測定装置の校正及び操作。 

f) 

前処理から測定に至るまでの操作の記録。 

g) 測定値を得るまでの各種の数値。 

9.5 

精度管理に関する報告 

精度管理に関する次の情報を記録し,必要な場合,データとともに報告する。 

a) ガスメータのトレーサビリティ,校正の記録 

b) GC-MSの日常的点検,調整の記録(装置の校正など) 

c) 測定機器の測定条件の設定及び結果 

d) 標準物質などの製造業者及びトレーサビリティ 

e) 検出下限及び定量下限の測定結果 

f) 

操作ブランク試験,トラベルブランク試験及び二重測定の結果 

g) 試料採取,前処理操作などの回収試験の検証結果 

h) 測定機器の感度の変動 

i) 

測定操作の記録(試料採取から前処理及び測定までに関する記録) 

41 

K 0311:2020  

附属書A 

(規定) 

試料ガス採取装置 

A.1 試料ガス採取装置 

試料ガス採取装置は,次による。ここに示す試料ガス採取装置は,既に多く使用されている実績のある

もの又は5.2に規定されている条件を満たすことが十分確認されたものである。ここに示した以外の装置

でも,5.2に規定されている条件を満たすことが確認されれば用いることができる。 

a) JIS I形装置 排ガス中のダイオキシン類をフィルタによるろ過捕集,吸収瓶による液体捕集及び吸着

カラムによる吸着捕集で捕集する採取装置の基本となる装置である。 

b) JIS II形装置 排ガスをフィルタによるろ過捕集した後,アルミナ系の吸着剤を特殊加工して成形し

た円筒フィルタ状の吸着剤によって吸着捕集する装置である。 

c) JIS III形装置 排ガスを冷却プローブで冷却して液体捕集し,その後,吸着捕集とフィルタによるろ

過捕集とを行う欧州の規格(EN 1948)に規定されている装置である。 

A.2 JIS I形装置 

A.2.1 使用範囲 

この装置は,あらゆる排ガスに適用できる。 

A.2.2 装置の構成 

この装置は,採取管部に続いて,フィルタ捕集部,液体捕集部(I),吸着捕集部及び液体捕集部(II)か

らなる(図A.1参照)。 

a) フィルタ捕集部 フィルタ捕集部には,JIS Z 8808の9.3(普通形試料採取装置)に規定する2形のダ

スト捕集器を用いる。ろ紙を用いる場合は,シリカ繊維製の円形又は円筒形のものを用いる。ダスト

チューブの場合には,ガラス繊維又はシリカ繊維を詰める。いずれも使用に先立ち,空試験成分及び

他の妨害成分がないことを確認しておく。 

ダスト量が少なくサンプリング及び測定に支障を来さない場合は,フィルタ捕集部を省略すること

ができる。また,燃焼装置の種類によっては,円筒ろ紙の前にシリカ繊維などの入ったダストチュー

ブを用いる。 

b) 液体捕集部 内容積0.5 L〜1 Lの吸収瓶を直列に連結し,ヘキサン洗浄水を100 mL〜300 mL入れた

もの及びジエチレングリコールを100 mL〜300 mL入れたものの2種類を用いる。捕集部(I)では1

本目及び2本目の吸収瓶にヘキサン洗浄水を入れ,3本目の吸収瓶は空とし,捕集部(II)では1本目

にジエチレングリコールを入れ,2本目は空とする。 

c) 吸着捕集部 洗浄,乾燥した吸着剤40 g〜70 g程度をガラス管(内径30 mm〜50 mm,長さ70 mm〜

200 mm,容量100 mL〜150 mL)に充塡し,両端をガラスウールなどによって,吸着剤が動かないよ

うに固定したカラムとし,液体捕集部に縦形に連結して固定する。 

必要な場合には,吸着剤カラムを2段で用いてもよい。 

d) 連結部 フィルタ捕集部から液体捕集部までの連結導管はできるだけ短くし,ガラス製又はふっ素樹

脂製のものを用いる。各部の接続には,共通球面すり合わせ接手管,ふっ素樹脂製管継手などを用い,

接続部にグリースは使用しない。 

background image

42 

K 0311:2020  

図A.1−JIS I形装置の例 

A.2.3 試薬 

この装置に用いる試薬は,次による。これらの試薬は,空試験などによって測定に支障のないことを確

認する。 

A.2.3.1 水 JIS K 0557に規定するA4(又はA3)の水。 

A.2.3.2 ヘキサン JIS K 8825に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

A.2.3.3 ジエチレングリコール JIS K 8099に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

A.2.3.4 ヘキサン洗浄水 A.2.3.1の水をA.2.3.2のヘキサンで十分洗浄したもの。 

A.2.3.5 ろ過材 ろ紙を用いる場合は,円形又は円筒形でJIS K 0901に規定するろ過材のうち,シリカ繊

維製を用いる。ダストチューブを用いる場合は,ガラス繊維又はシリカ繊維を用いる。いずれも使用に先

立ち,JIS K 8040に規定するアセトン及びJIS K 8680に規定するトルエンでそれぞれ30分間超音波洗浄

を行い,真空乾燥する。又はシリカ繊維製のろ過材については,電気炉を用いて600 ℃で6時間程度加熱

する。洗浄又は加熱したろ過材は,ダイオキシン類の空試験成分及び他の分析を妨害する成分を含まない

ことを確認してから使用する。 

A.2.3.6 吸着剤 吸着剤には,スチレン−ジビニルベンゼン共重合体を用いる。この吸着剤は使用前に,

アセトンで洗浄し,トルエンで16時間以上のソックスレー抽出による洗浄を行うか,又はアセトンで1

回,トルエンで2回の順にそれぞれ30分間超音波洗浄を行う。その後,真空乾燥器中50 ℃以下で8時間

加熱し,密閉容器中で保存する。洗浄した吸着剤は,排ガス試料からの抽出と同様の操作を行い,抽出液

を濃縮し,ダイオキシン類の空試験成分及び他の分析を妨害する成分を含まないことを確認してから使用

する。 

注記 吸着剤として,“XAD-2”が一般に入手できる。この情報は,この規格の利用者の便宜を図って

記載するもので,この製品を推奨するものではない。同等以上の効果が得られることが証明さ

れれば,他のものを用いてもよい。 

A.2.4 操作上の注意 

操作上の注意点は,次による。 

a) フィルタ捕集部は,排ガス中の水分が凝縮しない温度から120 ℃の範囲になるようにする。排ガス温

円筒ろ紙 

採取管部から 

吸着剤カラム 

空 

ジエチレングリコール 

氷又はドライアイス 

液体捕集部(II) 

吸着捕集部 

液体捕集部(I) 

フィルタ捕集部 

吸引ポンプへ 

ヘキサン洗浄水

background image

43 

K 0311:2020  

度が高い場合には,採取管部との連結管の長さを調節するなどして120 ℃を超えないようにする。排

ガス温度が低い場合には,水分が凝縮しない程度に保温する。 

b) 等速吸引中,ろ過材の抵抗が増加して等速吸引が困難になった場合は,吸引を一時停止し,フィルタ

捕集部のろ過材を交換する。 

c) 液体捕集部は,各吸収瓶を5 ℃〜6 ℃以下に保てるように氷浴又はドライアイス浴に入れる。 

d) 吸着捕集部は,30 ℃以下に保つ。雰囲気温度が高い場合には,液体捕集部と同様に氷浴などで冷却す

る。 

e) 捕集部は全て遮光する。 

A.3 JIS II形装置 

A.3.1 使用範囲 

この装置は,次の範囲の試料ガスに適用できる。この範囲外での使用については,5.2に規定された装置

の確認を行ってから使用する。 

a) 対象排ガス 一般及び産業廃棄物焼却炉の排ガス 

b) 水分量 42 %以下 

c) 一酸化炭素濃度 平均実測濃度で670 ppm以下 

A.3.2 装置の構成 

この装置は,採取管部に続いて,フィルタ捕集部及び吸着捕集部からなる(図A.2参照)。 

a) フィルタ捕集部 A.2.2 a) による。 

b) 吸着捕集部 アルミナ系の吸着剤を特殊加工して成形した円筒フィルタ状の吸着剤を用いて吸着捕集

する。この吸着捕集部での捕集効率を確保するために,捕集部通過流量が35 L/min(湿りガス,120 ℃,

101.32 kPa)以下,及び試料ガスの採取量が3.8 m3(乾きガス,0 ℃,101.32 kPa)以下で使用する。 

c) 連結部 A.2.2 d) による。 

図A.2−JIS II形装置の例 

A.3.3 試薬 

この装置に用いる試薬は,次による。これらの試薬は,空試験などによって測定に支障のないことを確

認する。 

吸引ポンプ

ドレン瓶

ガスメータ

温度計

採取管

円筒ろ紙

ダイオアナフィルタ

ダクト

吸着剤 

44 

K 0311:2020  

A.3.3.1 ろ過材 A.2.3.5による。 

A.3.3.2 吸着剤 アルミナ系の吸着剤を特殊加工して成形した円筒フィルタ状の吸着剤。この吸着剤は,

通常,洗浄された状態で入手できるので,特に使用前の洗浄は行わなくてよい。ただし,使用する吸着剤

のロットごとに,ダイオキシン類及び他の分析を妨害する成分を含まないことを確認してから使用する。 

注記 この吸着剤は,商品名“ダイオアナフィルタ”として市販されている。この情報は,この規格

の利用者の便宜を図って記載するもので,この製品を推奨するものではない。 

A.3.4 操作上の注意 

操作上の注意点は,次による。 

a) フィルタ捕集部及び吸着捕集部は,排ガス中の水分が凝縮しない温度から120 ℃の範囲になるように

する。排ガス温度が高い場合には,採取管部との連結管の長さを調節するなどして120 ℃を超えない

ようにする。排ガス温度が低い場合には,水分が凝縮しない程度に保温する。 

b) 等速吸引中,ろ過材の抵抗が増加して等速吸引が困難になった場合は,吸引を一時停止し,フィルタ

捕集部のろ過材を交換する。 

c) 捕集部は全て遮光する。 

d) 冷却プローブを用いた場合などで吸着捕集部の前で水分が凝縮する場合は,使用を避ける。また,タ

ール分が3 mg/m3(0 ℃,101.32 kPa)を超えて存在する場合にも使用しない。 

A.4 JIS III形装置 

A.4.1 使用範囲 

この装置は,ほとんどの排ガスに適用できる。ただし,ダスト濃度が非常に高く,更にダイオキシン類

の濃度も非常に高い排ガスについては,5.2に規定された装置の確認を行った後,使用する。 

A.4.2 装置の構成 

この装置は,採取管部に続いて,冷却プローブ,液体捕集部並びに吸着及びフィルタ捕集部からなる(図

A.3参照)。 

a) 冷却プローブ 後段の液体捕集部で試料ガスが20 ℃以下になるように冷却する。 

b) 液体捕集部 液体捕集部は,1段目に水を,2段目にエチレングリコールを入れたもので,1段目で試

料ガスを20 ℃以下に冷却し,ガス中の水分を凝縮させ,ダストも一緒に捕集する。2段目は,1段目

を通過したダストとガス状のダイオキシン類とを捕集する。水浴などで冷却する。 

c) 吸着及びフィルタ捕集部 ウレタンフォームなどの吸着剤をフィルタの前後に接続したもので,液体

捕集部を通過したガス状のダイオキシン類及び粒径の小さいダストを捕集する。 

d) 連結部 A.2.2 d) による。 

background image

45 

K 0311:2020  

図A.3−JIS III形装置の例 

A.4.3 試薬 

この装置に用いる試薬は,次による。これらの試薬は,空試験などによって測定に支障のないことを確

認する。 

A.4.3.1 水 JIS K 0557に規定するA4又はA3の水。 

A.4.3.2 エチレングリコール JIS K 8105に規定するもの,又は同等の品質のもの。 

A.4.3.3 フィルタ フィルタは,シリカ繊維製又はガラス繊維製のものを用いる。A.2.3.5の使用に先立つ

準備を行ってから使用する。 

A.4.3.4 吸着剤 ポリウレタンフォーム又はそれと同等の性能のもの。この吸着剤は使用前に,水及びJIS 

K 8040に規定するアセトンで洗浄し,更にアセトンで16時間〜24時間のソックスレー抽出による洗浄を

行うか,又はアセトンで30分間超音波洗浄を3回行う。その後,真空乾燥器中50 ℃以下で8時間加熱し

て十分乾燥し,密閉容器中で保存する。洗浄した吸着剤は,排ガス試料からの抽出と同様の操作を行い,

抽出液を濃縮し,ダイオキシン類の空試験の成分及び他の分析を妨害する成分を含まないことを確認して

から使用する。 

A.4.4 操作上の注意 

操作上の注意点は,次による。 

a) 液体捕集部の1段目で試料ガスが20 ℃まで冷却できることを確認する。 

b) 捕集部は全て遮光する。 

冷却水

冷却プローブ

ダクト

ガスの流れ方向

フィルタ

吸引ポンプへ

エチレングリコール 

ポリウレタンフォーム 

background image

46 

K 0311:2020  

附属書B 

(参考) 

内標準物質の使用例 

内標準物質の使用は,GC-MSの分析条件などによって使用方法が異なる部分があるため,使用の詳細に

ついては特に規定せず,最低限の要求事項だけを規定した。ここでは,一般的な使用の例を表B.1〜表B.5

に示す。その場合の検量線作成用標準液,定量のときの分析対象物質とそれに対応する内標準物質などを

例として示した。これを参考にして各試験所において,その操作手順,GC-MSの分析条件に照らし合わせ

て使用を検討する。 

表B.1−内標準物質の使用例 

内標準物質 

例1 

例2 

サンプリン
グスパイク 

クリーンアッ

プスパイク 

シリンジ
スパイク 

サンプリン
グスパイク 

クリーンアッ

プスパイク 

シリンジ
スパイク 

13C12-1,2,7,8-TeCDF 

○ 

13C12-2,3,7,8-TeCDF 

○ 

○ 

13C12-1,2,3,4-TeCDD 

○ 

○ 

13C12-2,3,7,8-TeCDD 

○ 

○ 

37Cl4-2,3,7,8-TeCDD 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF 

○ 

○ 

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF 

○ 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD 

○ 

○ 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF 

○ 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF 

○ 

○ 

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF 

○ 

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF 

○ 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD 

○ 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD 

○ 

○ 

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDD 

○ 

○ 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

○ 

○ 

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

○ 

○ 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

○ 

○ 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

○ 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

○ 

○ 

13C12-2,3',4',5-TeCB (#70) 

○ 

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77) 

○ 

○ 

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81) 

○ 

○ 

13C12-2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

○ 

13C12-2,3,4,4',5-PeCB (#114) 

○ 

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

○ 

○ 

13C12-2',3,4,4',5-PeCB (#123) 

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

○ 

○ 

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

○ 

○ 

13C12-2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

○ 

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

○ 

○ 

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

○ 

○ 

13C12-2,2',3,3',4,4',5-HpCB (#170) 

13C12-2,2',3,4,4',5,5'-HpCB (#180) 

注記 括弧内の数値は,IUPAC No.を示す。 

background image

47 

K 0311:2020  

表B.2−検量線作成用標準物質の調製例(表B.1の例1の場合) 

単位 ng/mL 

標準物質 

濃度 

STD1 

STD2 

STD3 

STD4 

STD5 

2,3,7,8-TeCDD 

0.4 

2.0 

10 

40 

200 

1,2,3,7,8-PeCDD 
1,2,3,4,7,8-HxCDD 

1.0 

5.0 

25 

100 

500 

1,2,3,6,7,8-HxCDD 
1,2,3,7,8,9-HxCDD 
1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

2.0 

10 

50 

200 

 1 000 

2,3,7,8-TeCDF 

0.4 

2.0 

10 

40 

200 

1,2,3,7,8-PeCDF 
2,3,4,7,8-PeCDF 
1,2,3,4,7,8-HxCDF 

1.0 

5.0 

25 

100 

500 

1,2,3,6,7,8-HxCDF 
1,2,3,7,8,9-HxCDF 
2,3,4,6,7,8-HxCDF 
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 
1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

2.0 

10 

50 

200 

 1 000 

13C12-2,3,7,8-TeCDD 

100 

100 

100 

100 

100 

13C12-1,2,3,4-TeCDD 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD 

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDD 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

200 

200 

200 

200 

200 

13C12-2,3,7,8-TeCDF 

100 

100 

100 

100 

100 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF 

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF 

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

200 

200 

200 

200 

200 

3,3',4,4'-TeCB (#77) 

1.0 

5.0 

25 

100 

500 

3,4,4',5-TeCB (#81) 
2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 
2,3,4,4',5-PeCB (#114) 
2,3',4,4',5-PeCB (#118) 
2',3,4,4',5-PeCB (#123) 
3,3',4,4',5-PeCB (#126) 
2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 
2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 
2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 
3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 
2,2',3,3',4,4',5-HpCB (#170) 
2,2',3,4,4',5,5'-HpCB (#180) 
2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

background image

48 

K 0311:2020  

表B.2−検量線作成用標準物質の調製例(表B.1の例1の場合)(続き) 

単位 ng/mL 

標準物質 

濃度 

STD1 

STD2 

STD3 

STD4 

STD5 

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77) 

100 

100 

100 

100 

100 

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81) 

13C12-2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

注記 括弧内の数値は,IUPAC No.を示す。 

表B.3−標準物質とクリーンアップスパイク用内標準物質との 

対応例(表B.1の例1の場合) 

標準物質 

対応するクリーンアップスパイク用 

内標準物質 

2,3,7,8-TeCDF 

13C12-2,3,7,8-TeCDF 

2,3,7,8-TeCDD 

13C12-2,3,7,8-TeCDD 

1,2,3,7,8-PeCDF 

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF 

2,3,4,7,8-PeCDF 
1,2,3,7,8-PeCDD 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD 

1,2,3,4,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF 

1,2,3,6,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF 

1,2,3,7,8,9-HxCDF 
2,3,4,6,7,8-HxCDF 

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF 

1,2,3,4,7,8-HxCDD 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD 

1,2,3,6,7,8-HxCDD 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD 

1,2,3,7,8,9-HxCDD 
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 
1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

3,3',4,4'-TeCB (#77) 

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77) 

3,4,4',5-TeCB (#81) 

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81) 

2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

2,3,4,4',5-PeCB (#114) 
2,3',4,4',5-PeCB (#118) 
2',3,4,4',5-PeCB (#123) 
3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 
2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

2,2',3,3',4,4',5-HpCB (#170) 

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

2,2',3,4,4',5,5'-HpCB (#180) 
2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

注記 括弧内の数値は,IUPAC No.を示す。 

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49 

K 0311:2020  

表B.4−クリーンアップスパイク用内標準物質とシリンジスパイク用 

内標準物質との対応例(表B.1の例1の場合) 

クリーンアップスパイク用 

内標準物質 

対応するシリンジスパイク用 

内標準物質 

13C12-2,3,7,8-TeCDF 

13C12-1,2,3,4-TeCDD 

13C12-2,3,7,8-TeCDD 

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDD 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF 

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77) 

13C12-2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81) 

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

注記 括弧内の数値は,IUPAC No.を示す。 

表B.5−サンプリングスパイク用内標準物質とクリーンアップスパイク用 

内標準物質との対応例(表B.1の例1の場合) 

サンプリングスパイク用 

内標準物質 

対応するクリーンアップスパイク用 

内標準物質 

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF 

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF 

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF 

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF 

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

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50 

K 0311:2020  

附属書C 
(参考) 

GC-MSの測定条件及びクロマトグラムの例 

C.1 GC-MSの測定条件 

PCDDs及びPCDFs並びにDL-PCBsの測定におけるGC-MSの測定条件の例を次に示す。 

a) PCDDs及びPCDFsのGC-MSの測定条件の例1 

GC 

① 測定対象物質 

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体 

使用カラム 

:BPX-DXN 

  内径0.25 mm,長さ60 m 

カラム温度 

:130 ℃(1 min)→(15 ℃/min)→210 ℃ 

        →(3 ℃/min)→310 ℃ 

        →(5 ℃/min)→320 ℃ 

注入口温度 

:300 ℃ 

試料導入法 

:スプリットレス方式(60 s) 

試料注入量 

:1 µL 

② 測定対象物質 

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体 

使用カラム 

:RH-12ms 

  内径0.25 mm,長さ60 m 

カラム温度 

:130 ℃(1 min)→(15 ℃/min)→210 ℃ 

        →(3 ℃/min)→310 ℃ 

        →(5 ℃/min)→320 ℃ 

注入口温度 

:300 ℃ 

試料導入法 

:スプリットレス方式(60 s) 

試料注入量 

:1 µL 

MS 

分解能 

:10 000以上 

電子加速電圧 :40 V〜50 V 

イオン化電流 :0.5 mA 

イオン源温度 :320 ℃ 

検出方法 

:ロックマス方式によるSIM 

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51 

K 0311:2020  

b) PCDDs及びPCDFsのGC-MSの測定条件の例2 

GC 

① 測定対象物質 

TeCDDs,TeCDFs及びPeCDFsの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体 

使用カラム 

:SP-2331 

  内径0.25 mm,長さ60 m,膜厚さ0.20 µm 

カラム温度 

:120 ℃(1 min)→(50 ℃/min)→200 ℃ 

        →(2 ℃/min)→260 ℃(25 min) 

注入口温度 

:260 ℃ 

試料導入法 

:スプリットレス方式(90 s) 

試料注入量 

:1 µL 

② 測定対象物質 

PeCDDs,HxCDDs及びHxCDFsの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体 

使用カラム 

:SP-2331 

  内径0.25 mm,長さ60 m,膜厚さ0.20 µm 

カラム温度 

:120 ℃(1 min)→(50 ℃/min)→200 ℃ 

        →(2 ℃/min)→260 ℃(25 min) 

注入口温度 

:260 ℃ 

試料導入法 

:スプリットレス方式(90 s) 

試料注入量 

:1 µL 

③ 測定対象物質 

HpCDDs,OCDD,HpCDFs及びOCDFの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体 

使用カラム 

:DB-17 

  内径0.32 mm,長さ30 m,膜厚さ0.25 µm 

カラム温度 

:120 ℃(1 min)→(20 ℃/min)→160 ℃ 

        →(3 ℃/min)→280 ℃(5 min) 

注入口温度 

:280 ℃ 

試料導入法 

:スプリットレス方式(90 s) 

試料注入量 

:1 µL 

MS 

分解能 

:10 000以上 

電子加速電圧 :70 V 

イオン化電流 :1 mA 

イオン源温度 :260 ℃ 

検出方法 

:ロックマス方式によるSIM 

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52 

K 0311:2020  

c) PCDDs及びPCDFsのGC-MSの測定条件の例3 

GC 

① 測定対象物質 

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体ごとの合計並びに主な2,3,7,8-位塩素置換異性体 

使用カラム 

:SP-2331 

  内径0.32 mm,長さ60 m,膜厚さ0.20 µm 

カラム温度 

:120 ℃(1 min)→(50 ℃/min)→200 ℃ 

        →(2 ℃/min)→260 ℃(30 min) 

注入口温度 

:170→300 ℃(100 ℃/min) 

試料導入法 

:オンカラム注入方式 

試料注入量 

:1 µL 

② 測定対象物質 

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体ごとの合計並びに一部の2,3,7,8-位塩素置換異性体 

使用カラム 

:DB-17 

  内径0.32 mm,長さ30 m,膜厚さ0.25 µm 

カラム温度 

:120 ℃(1 min)→(20 ℃/min)→160 ℃ 

        →(3 ℃/min)→280 ℃ 

注入口温度 

:150→300 ℃(100 ℃/min) 

試料導入法 

:オンカラム注入方式 

試料注入量 

:1 µL 

MS 

分解能 

:10 000以上 

電子加速電圧 :35 V〜40 V 

イオン化電流 :0.5 mA 

イオン源温度 :270 ℃ 

検出方法 

:ロックマス方式によるSIM 

d) DL-PCBsのGC-MSの測定条件の例1 

GC 

測定対象物質 

DL-PCBs 

使用カラム 

:RH-12ms 

  内径0.25 mm,長さ60 m 

カラム温度 

:130 ℃(1 min)→(15 ℃/min)→210 ℃ 

        →(3 ℃/min)→310 ℃ 

        →(5 ℃/min)→320 ℃ 

注入口温度 

:300 ℃ 

試料導入法 

:スプリットレス方式(60 s) 

試料注入量 

:1 µL 

MS 

分解能 

:10 000以上 

電子加速電圧 :40 V〜50 V 

イオン化電流 :0.5 mA 

イオン源温度 :320 ℃ 

検出方法 

:ロックマス方式によるSIM 

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53 

K 0311:2020  

e) DL-PCBsのGC-MSの測定条件の例2 

GC 

測定対象物質 

DL-PCBs 

使用カラム 

:DB-5ms 

  内径0.32 mm,長さ60 m,膜厚さ0.25 µm 

カラム温度 

:150 ℃(1 min)→(20 ℃/min)→185 ℃(3 min) 

        →(2 ℃/min)→245 ℃(3 min) 

        →(6 ℃/min)→290 ℃(10 min) 

注入口温度 

:170→300 ℃(100 ℃/min) 

試料導入法 

:オンカラム注入方式 

試料注入量 

:1 µL 

MS 

分解能 

:10 000以上 

電子加速電圧 :35 V〜40 V 

イオン化電流 :0.5 mA 

イオン源温度 :270 ℃ 

検出方法 

:ロックマス方式によるSIM 

f) 

DL-PCBsのGC-MSの測定条件の例3 

GC 

測定対象物質 

DL-PCBs 

使用カラム 

:HT8-PCB 

  内径0.25 mm,長さ60 m 

カラム温度 

:120 ℃(1 min)→(20 ℃/min)→180 ℃ 

        →(2 ℃/min)→260 ℃ 

        →(5 ℃/min)→300 ℃(4 min) 

注入口温度 

:280 ℃ 

試料導入法 

:スプリットレス方式(60 s) 

試料注入量 

:1 µL 

MS 

分解能 

:10 000以上 

電子加速電圧 :70 V 

イオン化電流 :1 mA 

イオン源温度 :260 ℃ 

検出方法 

:ロックマス方式によるSIM 

C.2 クロマトグラム 

ダイオキシン類のGC-MSのクロマトグラムの例を,図C.1〜図C.9に示す。 

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54 

K 0311:2020  

注記 カラム:BPX-DXN,内径0.25 mm,長さ60 m 

図C.1−PCDDsのクロマトグラムの例1 

1

4

6

9

TeCDDs 

PeCDDs 

HxCDDs 

HpCDDs 

OCDD 

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55 

K 0311:2020  

注記 カラム:BPX-DXN,内径0.25 mm,長さ60 m 

図C.2−PCDFsのクロマトグラムの例1 

OCDF 

HpCDFs 

TeCDFs 

PeCDFs 

HxCDFs 

1

4

6

7

8

background image

56 

K 0311:2020  

注記 カラム:RH-12ms,内径0.25 mm,長さ60 m 

図C.3−PCDDsのクロマトグラムの例2 

TeCDDs 

PeCDDs 

HxCDDs 

HpCDDs 

OCDD 

background image

57 

K 0311:2020  

注記 カラム:RH-12ms,内径0.25 mm,長さ60 m 

図C.4−PCDFsのクロマトグラムの例2 

1

4

6

7

8

TeCDFs 

PeCDFs 

HxCDFs 

HpCDFs 

OCDF 

background image

58 

K 0311:2020  

注記 カラム:SP-2331,内径0.32 mm,長さ60 m,膜厚さ0.20 µm(TeCDDs,PeCDDs,HxCDDs) 

DB-17,内径0.32 mm,長さ30 m,膜厚さ0.15 µm(HpCDDs,OCDD) 

図C.5−PCDDsのクロマトグラムの例3 

1

,3

,6

,8

1

,3

,7

,9

1

,3

,7

,8

1

,3

,6

,9

1

,2

,4

,7

1

,2

,4

,8

1

,2

,6

,8

1

,4

,7

,8

*

2

,3

,7

,8

1

,2

,3

,7

1

,2

,3

,4

1

,2

,4

,6

1

,2

,4

,9

1

,2

,3

,8

1

,2

,3

,6

1

,2

,7

,9

1

,4

,6

,9

1

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,7

,8

1

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1

,2

,6

,9

1

,2

,6

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1

,2

,8

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1

,2

,4

,6

,8

1

,2

,4

,7

,9

1

,2

,3

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1

,2

,4

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,8

1

,2

,3

,7

,9

1

,2

,4

,6

,9

1

,2

,3

,4

,7

*

1

,2

,3

,7

,8

1

,2

,3

,6

,9

1

,2

,4

,6

,7

1

,2

,4

,8

,9

1

,2

,3

,4

,6

1

,2

,3

,6

,7

1

,2

,3

,8

,9

1

,2

,3

,4

,6

,8

1

,2

,4

,6

,7

,9

1

,2

,4

,6

,8

,9

1

,2

,3

,6

,7

,9

1

,2

,3

,6

,8

,9

*

1

,2

,3

,4

,7

,8

*

1

,2

,3

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,7

,8

1

,2

,3

,4

,6

,9

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1

,2

,3

,7

,8

,9

1

,2

,3

,4

,6

,7

1

,2

,3

,4

,6

,7

,9

*

1

,2

,3

,4

,6

,7

,8

321.8936 TeCDDs 

355.8546 PeCDDs 

389.8156 HxCDDs 

423.7767 HpCDDs 

459.7348 OCDD 

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
105

0

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

22:00 

23:00 

24:00 

25:00 

26:00 

27:00 

28:00 

29:00 

30:00 

31:00 

32:00 

28:00 

29:00 

30:00 

31:00 

32:00 

33:00 

34:00 

35:00 

33:00 

34:00 

35:00 

36:00 

37:00 

38:00 

39:00 

40:00 

41:00 

42:00 

15:00             16:00             17:00 

16:00        18:00 

時間 

時間 

時間 

時間 

時間 

background image

59 

K 0311:2020  

注記 カラム:SP-2331,内径0.32 mm,長さ60 m,膜厚さ0.20 µm(TeCDFs,PeCDFs,HxCDFs) 
 

DB-17,内径0.32 mm,長さ30 m,膜厚さ0.15 µm(HpCDFs,OCDF) 

図C.6−PCDFsのクロマトグラムの例3 

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

305.8987 TeCDFs 

1

,3

,6

,8

22:00 

24:00 

26:00 

28:00 

30:00 

32:00 

26:00 

28:00 

30:00 

32:00 

34:00 

36:00 

33:00 

34:00 

35:00 

36:00 

37:00 

38:00 

39:00 

40:00 

41:00 

42:00 

43:00 

15:00             16:00             17:00 

16:00        18:00 

時間 

1

,3

,7

,8

1

,3

,7

,9

1

,3

,4

,7

1

,4

,6

,8

1

,2

,4

,7

1

,3

,6

,7

1

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1

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1

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,4

,8

1

,2

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1

,2

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1

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1

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1

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1

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,9

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1

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1

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1

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3

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1

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1

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1

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1

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1

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1

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1

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1

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1

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1

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1

,2

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,8

*

1

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,3

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,8

1

,3

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,9

1

,2

,3

,6

,7

- 1

,2

,4

,6

,9

1

,2

,6

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,8

1

,2

,6

,7

,9

1

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1

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1

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,8

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1

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1

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1

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*

1

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1

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2

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*

1

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1

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,7

,9

1

,2

,3

,4

,6

,8

,9

*

1

,2

,3

,4

,7

,8

,9

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

339.8597 PeCDFs 

373.8207 HxCDFs 

407.7818 HpCDFs 

443.7398 OCDF 

時間 

時間 

時間 

1

,2

,3

,4

,6

時間 

1

,2

,3

,7

,9

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

1

,2

,6

,9

- *

2

,3

,7

,8

- 2

,3

,4

,8

background image

60 

K 0311:2020  

注記 カラム:RH-12ms,内径0.25 mm,長さ60 m 

図C.7−PCBsのクロマトグラムの例1 

TeCBs 

PeCBs 

HxCBs 

HpCBs 

109 
107 

108 

background image

61 

K 0311:2020  

注記 カラム:DB-5,内径0.32 mm,長さ60 m,膜厚さ0.25 µm 

図C.8−PCBsのクロマトグラムの例2 

background image

62 

K 0311:2020  

注記 カラム:HT8-PCB,内径0.25 mm,長さ60 m 

図C.9−PCBsのクロマトグラムの例3 

63 

K 0311:2020  

附属書D 
(参考) 

酸素濃度による補正 

D.1 酸素の濃度による補正方法 

排ガス中の酸素の濃度による補正は,ダイオキシン類の試料ガス中の実測濃度を次の式によって所定の

酸素の濃度に換算したものとする。ただし,試料ガス中の実測濃度(Cs)は,8.4で丸めて表示された濃度

とし,排ガス中の酸素の濃度(Os)が20 %を超える場合は,20とする。 

s

s

n

21

21

C

O

O

C

×

=

ここに, 

C: 酸素の濃度Onにおける濃度(0 ℃,101.32 kPa)(ng/m3) 

On: 換算する酸素の濃度(%) 

Os: 排ガス中の酸素の濃度(%) 

Cs: 試料ガス中の実測濃度(0 ℃,101.32 kPa)(ng/m3) 

D.2 酸素濃度換算された試料ガスにおける検出下限 

酸素濃度換算された試料ガスにおける検出下限は,7.5.3で求めた丸めた試料ガスにおける検出下限を

D.1の式によって換算して求める。得られた検出下限は有効数字を1桁として丸める。 

D.3 試料ガスの採取量 

評価しなければならない濃度が,排ガス中の酸素の濃度によって補正された濃度の場合,5.5で必要な試

料ガスの採取量を算出するときは,試料ガスにおける検出下限(CDL)をD.2で求めた酸素濃度換算され

た試料ガスにおける検出下限とする。 

D.4 結果の表示方法 

酸素濃度換算された濃度は,8.4で丸めて表示された濃度と同じ有効数字で丸めて表示する。酸素濃度換

算された濃度が,試料ガスにおける検出下限以上か未満か,及び定量下限以上か未満かの判断は,実測濃

度についての8.4 a) における判断に従う。8.1で試料ガスにおける定量下限未満で検出下限以上のものと

して,又は試料ガスにおける検出下限未満のものとして記載された化合物は,同様な表示方法で記載する。 

64 

K 0311:2020  

附属書E 

(参考) 

TEQへの換算 

E.1 

TEQへの換算 

ダイオキシン類の濃度をTEQに換算する場合は,濃度にTEFを乗じる。TEQへの換算は,次による。 

a) TEF 特に指定がない場合は,表E.1に示すTEFを用いる。別のTEFを用いた場合は,用いたTEF

を明記する。 

b) TEQの算出 各化合物のTEQを算出し,それらを合計したTEQも算出する。その算出は,次のよう

に行うことが望ましい。ただし,いずれの場合でも算出方法は必ず明記する。 

1) 特に指定がない場合は,定量下限以上の濃度はそのままその値を用い,定量下限未満で検出下限以

上のもの及び検出下限未満のものはゼロ(0)として算出する。 

2) TEQ算出の目的に応じて,1) 以外にも次の方法があり,指定がある場合は,次による。 

2.1) 定量下限以上の値及び定量下限未満で検出下限以上の濃度はそのままその値を用い,検出下限未

満のものは試料ガスにおける検出下限を用いて算出する。 

2.2) 定量下限以上の値及び定量下限未満で検出下限以上の濃度はそのままその値を用い,検出下限未

満のものは試料ガスにおける検出下限の1/2の値を用いて算出する。 

E.2 

TEQの単位 

ダイオキシン類のTEQは,ng-TEQ/m3(0 ℃,101.32 kPa)として表示する。 

E.3 

数値の取扱い 

E.1でTEFに乗じる濃度は,8.4で丸めて表示された濃度とする。 

各化合物のTEQは,丸めの操作を行わずに表示する。合計のTEQは,各化合物の丸めていないTEQを

合計して算出し,JIS Z 8401によって数値を丸め,有効数字を2桁として表示する。 

E.4 

酸素の濃度による補正 

排ガス中の酸素の濃度によって補正されたダイオキシン類の濃度のTEQを求める場合は,附属書Dを

参照する。ただし,E.1でTEFに乗じる濃度は,D.4で丸めて表示された酸素濃度換算された濃度とする。 

E.5 

結果の表示方法 

測定結果の記載例を,表E.2及び表E.3に示す。 

background image

65 

K 0311:2020  

表E.1−TEF 

化合物 

TEF(2006) 

PCDDs 

2,3,7,8-TeCDD 

1,2,3,7,8-PeCDD 

1,2,3,4,7,8-HxCDD 

0.1 

1,2,3,6,7,8-HxCDD 

0.1 

1,2,3,7,8,9-HxCDD 

0.1 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

0.01 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

0.000 3 

その他 

PCDFs 

2,3,7,8-TeCDF 

0.1 

1,2,3,7,8-PeCDF 

0.03 

2,3,4,7,8-PeCDF 

0.3 

1,2,3,4,7,8-HxCDF 

0.1 

1,2,3,6,7,8-HxCDF 

0.1 

1,2,3,7,8,9-HxCDF 

0.1 

2,3,4,6,7,8-HxCDF 

0.1 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

0.01 

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

0.01 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

0.000 3 

その他 

DL-PCBs 

ノンオルト体 

3,4,4',5-TeCB (#81) 

0.000 3 

3,3',4,4'-TeCB (#77) 

0.000 1 

3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

0.1 

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

0.03 

DL-PCBs 

モノオルト体 

2',3,4,4',5-PeCB (#123) 

0.000 03 

2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

0.000 03 

2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

0.000 03 

2,3,4,4',5-PeCB (#114) 

0.000 03 

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

0.000 03 

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

0.000 03 

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 

0.000 03 

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

0.000 03 

注記 このTEFは,2005年にWHO/IPCSから提案され,2006年に専

門誌(Toxicological Sciences,Oxford Journal社,Volume 93,
Number 2)に掲載されたものを表す。 

background image

66 

K 0311:2020  

表E.2−測定結果の記載例1 

排出口(0 ℃,101.32 kPa) 

実測濃度 

試料ガス
における
定量下限 

試料ガス
における
検出下限 

酸素 % 

換算濃度 

毒性等価

係数 

毒性当量 

ng/m3 

ng/m3 

ng/m3 

ng/m3 

ng-TEQ/m3 

P

C

D

D

2,3,7,8-TeCDD 

TeCDDs 

− 

− 

1,2,3,7,8-PeCDD 

PeCDDs 

− 

− 

1,2,3,4,7,8-HxCDD 

1,2,3,6,7,8-HxCDD 

1,2,3,7,8,9-HxCDD 

HxCDDs 

− 

− 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

HpCDDs 

− 

− 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

Total 

− 

− 

− 

P

C

D

F

2,3,7,8-TeCDF 

TeCDFs 

− 

− 

1,2,3,7,8-PeCDF 

2,3,4,7,8-PeCDF 

PeCDFs 

− 

− 

1,2,3,4,7,8-HxCDF 

1,2,3,6,7,8-HxCDF 

1,2,3,7,8,9-HxCDF 

2,3,4,6,7,8-HxCDF 

HxCDFs 

− 

− 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

HpCDFs 

− 

− 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

Total 

− 

− 

− 

Total (PCDDs+PCDFs) 

− 

− 

− 

体 3,4,4',5-TeCB (#81) 

3,3',4,4'-TeCB (#77) 

3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

Total 

− 

− 

− 

2',3,4,4',5-PeCB (#123) 

2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

2,3,4,4',5-PeCB (#114) 

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

Total 

− 

− 

− 

Total DL-PCBs 

− 

− 

− 

Total (PCDDs+PCDFs+DL-PCBs) 

− 

− 

− 

注記1 実測濃度の欄の括弧付きの数値は,定量下限未満で検出下限以上の濃度であることを示す。 
注記2 実測濃度の欄の“ND”は,検出下限未満であることを示す。 
注記3 毒性等価係数は,WHO/IPCS(2006)のTEFを適用した。 
注記4 毒性当量は,定量下限未満の実測濃度をゼロ(0)として算出したものである。 

background image

67 

K 0311:2020  

表E.3−測定結果の記載例2 

排出口(0 ℃,101.32 kPa) 

実測濃度 

試料ガス
における
定量下限 

試料ガス
における
検出下限 

酸素 % 

換算濃度 

毒性等価

係数 

毒性当量 

ng/m3 

ng/m3 

ng/m3 

ng/m3 

ng-TEQ/m3 

P

C

D

D

2,3,7,8-TeCDD 

1,2,3,7,8-PeCDD 

1,2,3,4,7,8-HxCDD 

1,2,3,6,7,8-HxCDD 

1,2,3,7,8,9-HxCDD 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD 

P

C

D

F

2,3,7,8-TeCDF 

1,2,3,7,8-PeCDF 

2,3,4,7,8-PeCDF 

1,2,3,4,7,8-HxCDF 

1,2,3,6,7,8-HxCDF 

1,2,3,7,8,9-HxCDF 

2,3,4,6,7,8-HxCDF 

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF 

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF 

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF 

P

C

D

D

TeCDDs 

− 

− 

PeCDDs 

− 

− 

HxCDDs 

− 

− 

HpCDDs 

− 

− 

OCDD 

− 

− 

Total PCDDs 

− 

− 

− 

P

C

D

F

TeCDFs 

− 

− 

PeCDFs 

− 

− 

HxCDFs 

− 

− 

HpCDFs 

− 

− 

OCDF 

− 

− 

Total PCDFs 

− 

− 

− 

Total (PCDDs+PCDFs) 

− 

− 

− 

D

L

-P

C

B

3,4,4',5-TeCB (#81) 

3,3',4,4'-TeCB (#77) 

3,3',4,4',5-PeCB (#126) 

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) 

2',3,4,4',5-PeCB (#123) 

2,3',4,4',5-PeCB (#118) 

2,3,3',4,4'-PeCB (#105) 

2,3,4,4',5-PeCB (#114) 

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) 

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) 

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) 

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) 

Totalノンオルト体 

− 

− 

− 

Totalモノオルト体 

− 

− 

− 

Total DL-PCBs 

− 

− 

− 

Total (PCDDs+PCDFs+DL-PCBs) 

− 

− 

− 

注記1 実測濃度の欄の括弧付きの数値は,定量下限未満で検出下限以上の濃度であることを示す。 
注記2 実測濃度の欄の“<a”は,検出下限(a)未満であることを示す。 
注記3 毒性等価係数は,WHO/IPCS(2006)のTEFを適用した。 
注記4 毒性当量は,定量下限未満の実測濃度をゼロ(0)として算出したものである。