H 8686-2：2013
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 概要······························································································································· 2
5 装置······························································································································· 2
6 試験片···························································································································· 4
7 手順······························································································································· 4
7.1 黒色一次標準面による調整 ······························································································ 4
7.2 試験片測定の感度合せ ···································································································· 4
7.3 試験片の測定 ················································································································ 5
8 試験結果の表し方 ············································································································· 5
8.1 写像性（Cn） ················································································································ 5
8.2 光学的均一性（E） ········································································································ 6
8.3 光の分散性（D） ··········································································································· 7
9 試験報告書 ······················································································································ 7
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 8
H 8686-2：2013
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人軽金
属製品協会（JAPA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を
改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格で
ある。
これによって，JIS H 8686-2:1999は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS H 8686の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS H 8686-1 第1部：視感測定方法
JIS H 8686-2 第2部：機器測定方法
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
H 8686-2：2013
アルミニウム及びアルミニウム合金の
陽極酸化皮膜の写像性試験方法−
第2部：機器測定方法
Anodizing of aluminium and its alloys-Instrumental determination of
image clarity of anodic oxidation coatings-Instrumental method
序文
この規格は，2010年に第2版として発行されたISO 10216を基とし，技術的内容を変更して作成した日
本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，アルミニウム及びアルミニウム合金の表面が平滑な製品（以下，製品という。）に施した陽
極酸化皮膜（以下，皮膜という。）の機器測定方法による写像性試験方法について規定する。
注記1 写像性の試験方法には視感測定方法及び機器測定方法の2種類あるが，この規格では機器測
定方法について規定する。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 10216:2010，Anodizing of aluminium and its alloys−Instrumental determination of image
clarity of anodic oxidation coatings−Instrumental method（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS H 0201 アルミニウム表面処理用語
JIS Z 8401 数値の丸め方
JIS Z 8741 鏡面光沢度−測定方法
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次によるほか，JIS H 0201による。
2
H 8686-2：2013
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.1
写像性，Cn（image clarity）
皮膜の表面で反射する物体の像が，どの程度鮮明にゆがみなく見えるかの度合い。
注記1 この規格（機器測定方法）では，写像性を“Cn”で表す。
注記2 写像性の値は，光学くし（櫛）のくし幅の最高相対光量及び最低相対光量の値を用いて，パ
ーセント（%）として表示する。
3.2
光学的均一性，E（optical evenness）
試験片の筋目に対して，試験片に映し出されたスリット光の像が平行となる縦方向で測定した写像性の
値と，縦方向から90°回転させて試験片の筋目に対してスリット光の像が直角となる横方向で測定した写
像性の値との比率。
注記1 光学的均一性は，皮膜の表面の状態に依存し，皮膜の表面の縦及び横の方向性による写像性
の異なり度合いの評価に使用する。
注記2 試験片の筋目とは，試験片の作製時に生じるヘアーライン，ロール目などの一定の方向のこ
とをいう。
3.3
光の分散性，D（dispersion of light）
光学くしの異なるくし幅による写像性の値の比率。
3.4
有効面（significant surface）
製品の表面に施した皮膜が，用途に適合する品質を満たすことが不可欠な面。
4
概要
皮膜の写像性は，光源から試験片に光を照射し，試験面からの反射光を移動するくしによって，正反射
光と拡散光とに分けてその光量を測定し，全反射光に対する正反射光の比で写像性を求める。写像性の値
から，光学的均一性及び光の分散性も求めることができる。
5
装置
5.1
一般 装置の構成図の一例を，図1に示す。光源からの光は，最初に光源スリットを通り，第1レ
ンズで平行光線になる。次に，試験片の法線に対して45°で入射し，45°で正反射され，第2レンズで収
束して，光学くし上に結像する。光学くしを透過した光量が，受光器で測定される。試験片からの受光波
形の波高の高さ（M及びm：図4参照）は，それぞれの光学くしのくし幅で測定される。
5.2
光源 光源のフィラメントの径は，0.05 mmを超えないものとする。また，測定時の光量に変化が
あってはならない。
5.3
光源スリット 光源スリットの幅は，0.02 mm±0.01 mmとし，長さは，約20 mmとする。
5.4
レンズ レンズの焦点距離は，130 mmとする。
5.5
光学くし 光学くしは，図2に示すように，遮光部分と透過部分との幅の比が1対1で，くし幅は
2.0 mm，1.0 mm，0.5 mm 1)，0.25 mm及び0.125 mm 2) の5種類とし，更に暗部で構成する。光学くしの移
動速度は，記録計を用いる場合は約10 mm/min，記録計を用いない場合は約254 mm/minとする。
注1) 通常，0.5 mmのくし幅を使用する。
3
H 8686-2：2013
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2) 0.125 mmのくし幅は，光源を形作る光源スリットの幅0.02 mm±0.01 mmと同様に細く，その
ため，試験片は，平滑面だけに適している。
5.6
受光器 受光器は，反射光の小さい皮膜についても正確な写像性が求められるように，感度を調節
できるものとする。
5.7
黒色一次標準面 JIS Z 8741に規定する黒色一次標準面とする。黒色一次標準面を試験片取付台に
取り付けた場合に検知される波形は，図3に示すように，その波高（相対光量）が5種類の光学くしのい
ずれを通した場合でも同じでなければならない。
図1−測定装置の構成図の一例
図2−光学くしの例
4
H 8686-2：2013
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図3−黒色一次標準面からの受光波形の例
6
試験片
試験片は，次による。
a) 試験片は，有効面から採取する。ただし，試験片の端部は，有効面には含めない。
なお，製品から試験片を採取することができない場合は，製品と同一の材料及び同一の処理条件で
作製した試験片を用いる。製品と同一の材料とは，材料の種類・質別及び処理前の表面状態が，製品
と同じであること，また，同一の処理条件とは，前処理及び皮膜の処理が，製品と同一の浴組成及び
同一の処理条件で，製品と同一の性能を得るように処理することをいう。
b) 試験片は平滑な面とし，その寸法は，約50 mm×約50 mmとする。
c) 試験片は，汚れに応じて，水又はエタノールなどの適切な有機溶剤を浸した柔らかい布などで軽く拭
い，あらかじめ清浄にする。
なお，試験片を腐食したり，保護皮膜を作るような有機溶剤を用いてはならない。
7
手順
7.1
黒色一次標準面による調整
黒色一次標準面を用いて，次の調整をする。
a) 5.7の黒色一次標準面を試験片取付台に取り付ける。
b) 5.5の光学くしを移動して，図2の暗部で測定される出力をゼロに調整する。
注記 黒色一次標準面を測定した場合，光学くしの遮光部分を透過した光の出力と暗部で測定される
出力とは等しくなる。
7.2
試験片測定の感度合せ
試験片を用いて，次の調整をする。
a) 試験片取付台に試験片を取り付ける。
b) ヘアーライン，ロール目などの方向性のある試験片は，その筋目を光源スリットからの光と直角にな
るように取り付ける。
c) 光学くしをくし幅の広い方に移動し，光源スリットからの光が光学くしを通過した光量（受光量の最
高値）の波形が測定できるように装置の増幅器の感度を調整する。
5
H 8686-2：2013
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.3
試験片の測定
試験片の筋目と光源スリットからの光とを平行にして縦に置いたとき及び試験片を90°回転させて試
験片の筋目と光源スリットからの光とを直角にして横に置いたときの2方向を測定する。
試験片の測定は，次による。
a) 試験片を筋目（ヘアーライン，ロール目など）と光源スリットからの光とが平行になるように試験片
取付台に取り付ける。
b) 光学くしを2.0 mmのくし幅の位置に戻した後，暗部の方向へ徐々に移動する。
c) 受光量及び受光波形の変化を，図4に示すように，くし幅ごとの波形を測定（記録）する。
d) b)及びc)の操作を，異なる試験部位の2か所について行う。
e) d)において，8.1.1の式(1)で求めた写像性（Cn）の測定結果が大きく異なる場合は，更に別の試験部位
1か所を測定し，合計3か所のうちの写像性（Cn）の大きい方の二つを記録する。
f)
試験片を90°回転させて，b)〜e)の操作を行う。
図4−試験片からの受光波形の例
8
試験結果の表し方
8.1
写像性（Cn）
8.1.1
写像性（Cn）の算出
試験片の写像性（Cn）は，7.3の測定で得られた受光波形から，次の式(1)によって算出し，JIS Z 8401
の規則Aによって小数点以下1桁に丸める。
100
×
+
−
=
m
M
m
M
Cn
······································································· (1)
ここに，
Cn： 光学くしのくし幅n（mm）のときの写像性（%）
M： 光学くしのくし幅n（mm）のときの最高相対光量
m： 光学くしのくし幅n（mm）のときの最低相対光量
注記1 写像性の測定値は，光学くしのくし幅で異なる。
注記2 測定結果の例を，次に示す。
反射像が明瞭な試験片の場合
M＝100
m＝0
6
H 8686-2：2013
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(%)
0.
100
100
0
100
0
100
=
×
+
−
=
n
C
反射像が不明瞭な試験片の場合
M＝50
m＝30
(%)
0.
25
100
30
50
30
50
=
×
+
−
=
n
C
8.1.2
各くし幅の写像性
五つのくしで測定した写像性（Cn）の値を，式(1)によって求め，表1の様式に記入する。
表1−写像性の値
単位 %
写像性
試験片の方向
縦
横
C2.0
C1.0
C0.5
C0.25
C0.125
注記 それぞれのくし幅で，試験片の写像性の縦及び横の方向で算
出した値の大きい方が，写像性に優れていることを意味する。
8.1.3
写像性の評価及びその等級
写像性の評価は，一般的に，0.5 mmのくし幅によるC0.5の縦及び横の測定値のうちの大きい方の値を用
いる。その結果を，表2で示した等級で表示する。
表2−写像性の等級
等級
写像性（%）
例
S
90以上
鏡面処理
A
70以上 90未満
B
30以上 70未満
C
30未満
マット（艶消し）面
8.2
光学的均一性（E）
光学的均一性は，試験片の縦及び横で測定された写像性の値の比率から求める。試験片の写像性の縦及
び横の値が大きく異なる場合は，式(2)によって算出し，JIS Z 8401の規則Aによって小数点以下2桁に丸
め，試験片の写像性の方向性を確認する。
なお，光学的均一性は，受渡当事者間の取決めがある場合に求める。
5.0
5.0
5.0
L
S
E
=
··············································································· (2)
ここに， E0.5： 光学くしのくし幅0.5 mmのときの光学的均一性
S0.5： 試験片の縦及び横で測定したC0.5の中で小さい値
L0.5： 試験片の縦及び横で測定したC0.5の中で大きい値
注記 計算の例を，次に示す。
鏡面光沢の黒色一次標準面の場合
7
H 8686-2：2013
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
S0.5＝100， L0.5＝100
00
.1
100
100
5.0
=
=
E
方向性のある試験片の場合
S0.5＝60， L0.5＝80
75
.0
80
60
5.0
=
=
E
8.3
光の分散性（D）
個々の異なるくし幅での光の分散性（D）を次の式(3)又は式(4)で算出し，JIS Z 8401の規則Aによって
小数点以下2桁に丸める。
なお，光の分散性は，受渡当事者間の取決めがある場合に求める。
a) 表2に示す等級がA以上の場合
2.0
0.125
2.0
0.125
C
C
C
D
−
=
····································································· (3)
b) 表2に示す等級がB以下の場合
2.0
0.5
2.0
5.0
C
C
C
D
−
=
········································································ (4)
ここに， D0.125： 表2に示す等級がA以上の光の分散性
D0.5： 表2に示す等級がB以下の光の分散性
注記 計算の例を，次に示す。
鏡面光沢の黒色一次標準面の場合
C2.0＝100， C0.125＝100
00
.0
100
100
100
125
.0
=
−
=
D
反射像が不明瞭な試験片の場合
C2.0＝90， C0.5＝50
44
.0
90
50
90
5.0
=
−
=
D
9
試験報告書
試験報告書には，次の事項を含めなければならない。
a) この規格の番号：JIS H 8686-2
b) 試験年月日
c) 試験した製品名
d) 試験片の材質
e) 試験片の皮膜の種類
f)
写像性の全ての値（表1参照）
g) 写像性の等級（表2参照）
h) 受渡当事者間の取決めがある場合は，光学的均一性（E0.5）
i)
受渡当事者間の取決めがある場合は，縦及び横の光の分散性（D0.125及び／又はD0.5）
8
H 8686-2：2013
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS H 8686-2:2013 アルミニウム及びアルミニウム合金の陽極酸化皮膜の写像
性試験方法−第2部：機器測定方法
ISO 10216:2010 Anodizing of aluminium and its alloys−Instrumental determination of
image clarity of anodic oxidation coatings−Instrumental method
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1 適用範囲
1
一致
2 引用規格
2
3 用語及び定
義
3
追加
JISでは，ISO規格の規定に補足事項
を追加するとともに，“有効面”及び
JIS H 0201を追加した。
技術的差異はない。
−
4 概要
4
一致
5 装置
5.1 一般
5
5.1
一致
5.2 光源
5.3
一致
5.3 光源スリット
5.4
変更
ISO規格での光源スリットの幅は，
0.02 mm±0.002 mmであるが，JISで
は，0.02 mm±0.01 mmとした。
0.02 mm±0.002 mmの規定は，製作上
技術的に困難である。
光源スリットの幅の公差±
0.002 mmは技術的に困難であ
るため，ISO規格の見直しの際
に，±0.01 mmに変更すること
を提案する。
5.4 レンズ
5.2
一致
5.5 光学くし
5.5
一致
5.6 受光器
5.6
一致
5.7 黒色一次標準面
5.7
一致
6 試験片
6
追加
JISでは，試験片の採取方法を追加し，
細別で記載した。
技術的差異はない。
ISO規格の見直しの際に，提案
する。
2
H
8
6
8
6
-2
：
2
0
1
3
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9
H 8686-2：2013
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7 手順
7.1 黒色一次標準面による
調整
7.1
一致
7.2 試験片測定の感度合せ
7.2
一致
7.3 試験片の測定
7.3
追加
JISでは，ISO規格の規定を細別に記
載するとともに，補足事項を追加し
た。
技術的な差異はない。
−
8 試験結果の
表し方
8
追加
JISでは，写像性，光学的均一性及び
光の分散性の表し方に，数値の丸め方
及び測定結果の一例を追加した。
技術的な差異はない。
−
9 試験報告書
9
一致
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 10216:2010，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 一致 ················ 技術的差異がない。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
2
H
8
6
8
6
-2
：
2
0
1
3
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。