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H 8686-1:2013  

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 1 

3 用語及び定義 ··················································································································· 2 

4 概要······························································································································· 2 

5 装置······························································································································· 2 

6 試験片···························································································································· 5 

7 手順······························································································································· 5 

7.1 一般 ···························································································································· 5 

7.2 像明瞭性(CL,CT)の測定 ······························································································ 5 

7.3 像ゆがみ度(IL,IT)の測定····························································································· 5 

7.4 明度(Hn)の測定 ·········································································································· 6 

8 試験結果の表し方 ············································································································· 6 

9 試験報告書 ······················································································································ 7 

附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 8 

H 8686-1:2013  

(2) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人軽金

属製品協会(JAPA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を

改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格で

ある。 

これによって,JIS H 8686-1:1999は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS H 8686の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS H 8686-1 第1部:視感測定方法 

JIS H 8686-2 第2部:機器測定方法 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

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アルミニウム及びアルミニウム合金の 

陽極酸化皮膜の写像性試験方法− 

第1部:視感測定方法 

Anodizing of aluminium and its alloys-Visual determination of image clarity 

of anodic oxidation coatings-Visual method 

序文 

この規格は,2010年に第2版として発行されたISO 10215を基とし,技術的内容を変更して作成した日

本工業規格である。 

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。 

適用範囲 

この規格は,アルミニウム及びアルミニウム合金の表面が平滑な製品(以下,製品という。)に施した陽

極酸化皮膜(以下,皮膜という。)のチャートスケール及び明度スケールを用いた視感測定方法による写像

性試験方法について規定する。 

注記1 写像性の試験方法には視感測定方法及び機器測定方法の2種類あるが,この規格では視感測

定方法について規定する。 

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

ISO 10215:2010,Anodizing of aluminium and its alloys−Visual determination of image clarity of 

anodic oxidation coatings−Chart scale method(MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS H 0201 アルミニウム表面処理用語 

JIS Z 2305 非破壊試験技術者の資格及び認証 

JIS Z 8401 数値の丸め方 

JIS Z 8721 色の表示方法−三属性による表示 

JIS Z 8729 色の表示方法−L*a*b*表色系及びL*u*v*表色系 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次によるほか,JIS H 0201による。 

3.1 

写像性,CV(image clarity) 

皮膜の表面で反射する物体の像が,どの程度鮮明にゆがみなく見えるかの度合い。 

注記 この規格(視感測定方法)では,写像性を“CV”で表し,像明瞭性,像ゆがみ度及び明度の値

を用いて算出する。 

3.2 

像明瞭性,CL,CT(image clearness) 

皮膜の表面で反射されたチャートスケールの像の形態が,目視によって明確に識別できる限界。チャー

トスケールの等級で表す。 

なお,試験片の筋目に対して,試験片に映し出されたチャートスケールの線の像が平行となる縦方向

(CL)及び試験片の筋目に対してチャートスケールの線の像が直角となる横方向(CT)の2方向の測定を

行う。 

注記1 像明瞭性は,試験片表面の粗さに大きく影響を受ける。粗さが少なく鏡面に近付けば,像は

明瞭になる。 

注記2 試験片の筋目とは,試験片の作製時に生じるヘアーライン,ロール目などの一定の方向のこ

とをいう。 

3.3 

像ゆがみ度,IL,IT(image distortion) 

皮膜の表面のうねりによる像のゆがみ度合い。チャートスケールの等級で表す。 

なお,試験片の筋目に対して試験片に映し出されたチャートスケールの線の像が平行となる縦方向(IL)

及び試験片の筋目に対してチャートスケールの線の像が直角となる横方向(IT)の2方向の測定を行う。 

注記 像ゆがみ度は,測定される皮膜表面の均一性に依存する。像のゆがみは,皮膜の表面の不均一

性による他方向からの光が,観察部分からの反射光と重なるために引き起こされる。 

3.4 

明度,Hn(haze value) 

皮膜の表面の不透明さの度合い。明るさの明度値で表す。 

注記 皮膜の表面が不透明であるほど,明度は増加する。明度の増加は,正反射光の散乱を引き起こ

し,写像性を減少させる。 

3.5 

有効面(significant surface) 

製品の表面に施した皮膜が,用途に適合する品質を満たすことが不可欠な面。 

概要 

皮膜の写像性は,皮膜の表面の像明瞭性,像ゆがみ度及び明度に依存し,試験片に写し出されたチャー

トスケールの画像を目視で評価することによって決定する。 

装置 

5.1 

一般 装置は,観察箱,チャートスケール及び明度スケールで構成する。 

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5.2 

観察箱 観察箱の概要を,図1に示す。観察箱の右側上部の窓に,等級1から等級11までのチャー

トスケールをセットする。反対側には観察窓があり,明度スケール及び試験片用の窓は,観察箱の底部に

ある。 

単位 mm 

図1−観察箱の概要 

5.3 

チャートスケール チャートスケールは,図2に示す等級1から等級11の白黒パターンの光学くし

(櫛)が印刷された透明なプラスチックフィルム又はガラス製とする。各等級における黒線は,4本以上

で構成する。 

各等級の白黒パターンの黒線部において,黒線及び隣接する二つの黒線の間の幅は同じであり,各黒線

は完全に平行である。各等級の黒線及び白線の幅を表1に示す。黒線の幅は,等級1が最も広く,等級11

が最も狭い。 

なお,黒線部は,光源からの光が透過してはならない。 

注記 黒線の線幅は,表1に示すように,等級1から等級11の順に並べると,等級1から等級7まで

は,等級1の線幅2.00 mmから0.25 mmずつ線幅が減少している。また,等級8の線幅は,等

級9の線幅0.25 mmと等級7の線幅0.50 mmとの中間の値0.375 mmになっており,等級10の

線幅は,等級11の線幅0.125 mmと等級9の線幅0.25 mmとの中間の値0.188 mmになってい

る。 

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図2−チャートスケール 

表1−チャートスケールにおける各等級の黒線及び白線の幅 

単位 mm 

等級 

10 

11 

幅 

2.00 

1.75 

1.50 

1.25 

1.00 

0.75 

0.50 

0.375 

0.25 

0.188 

0.125 

5.4 

明度スケール 明度スケールは,無彩色の塗装板で,Hn=9.5からHn=1.0まで,0.5間隔で18段階

の明度値がある。表2に明度値(Hn)とJIS Z 8729の明度値(L*)との対応を示す。 

注記1 記号をHnの代わりに,JIS Z 8721の明度の表示方法に規定するVを用いてもよい。 

注記2 明度値(Hn),明度値(V)及び明度値(L*)は,共に明度を表す値である。明度値(Hn)又

は明度値(V)は,色の表示方法−三属性による表示の明度値であり,明度値(L*)は,色

の表示方法−L*a*b*表色系及びL*u*v*表色系での明度値である。 

表2−明度スケール 

明度値 

Hn 

JIS Z 8729の明度値 

L* a) 

9.5 

96.00 

9.0 

91.08 

8.5 

86.21 

8.0 

81.35 

7.5 

76.48 

7.0 

71.60 

6.5 

66.67 

6.0 

61.70 

5.5 

56.66 

5.0 

51.58 

4.5 

46.41 

4.0 

41.22 

3.5 

36.00 

3.0 

30.77 

2.5 

25.61 

2.0 

20.54 

1.5 

15.60 

1.0 

10.63 

注記 詳細については,ISO/TR 8125:1984の表2に規定されている。 
注a) L*の数値は,JIS Z 8729によって算出される。 

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試験片 

試験片は,次による。 

a) 試験片は,有効面から採取する。ただし,試験片の端部は,有効面には含めない。 

なお,製品から試験片を採取することができない場合は,製品と同一の材料及び同一の処理条件で

作製した試験片を用いる。製品と同一の材料とは,材料の種類・質別及び処理前の表面状態が,製品

と同じであること,また,同一の処理条件とは,前処理及び皮膜の処理が,製品と同一の浴組成及び

同一の処理条件で,製品と同一の性能を得るように処理することをいう。 

b) 試験片は,平板とし,寸法は,90 mm以上×65 mm以上とする。 

c) 試験片は,汚れに応じて,水又はエタノールなどの適切な有機溶剤を浸した柔らかい布などで軽く拭

い,あらかじめ清浄にする。 

なお,試験片を腐食したり,保護皮膜を作るような有機溶剤を用いてはならない。 

手順 

7.1 

一般 

写像性(CV)は,像明瞭性(CL,CT),像ゆがみ度(IL,IT)及び明度(Hn)を測定し,これらの値から

算出する。 

なお,測定者の視力は,JIS Z 2305の7.4(視力要求事項−全ての資格レベル)の要件を満たしているこ

とが望ましい。 

7.2 

像明瞭性(CL,CT)の測定 

像明瞭性(CL,CT)の測定は,次による。 

a) 図1に示すように,観察箱にチャートスケールをセットし,試験片の上に,筋目に平行な縦方向とな

るように観察箱を置き,電源を入れチャートスケールを照明する。 

b) 試験片上のチャートスケールからの黒線及び白線の反射像を,観察窓から観察する。 

c) 鏡面のような像明瞭性をもった試験片は,チャートスケールの等級11の黒線と白線との境界が明確に

識別できるので,等級11と判定する。 

d) 像が明確に識別できなければ,チャートスケールをずらし,等級が一つ下の黒線及び白線で観察する。

例えば,等級10で識別できないで,等級9で識別できれば,像明瞭性は等級9と判定する。 

e) 試験片の縦方向で,明瞭な像が識別できる一番高いチャートスケールの等級を判定し,像明瞭性(CL)

とする。 

f) 

試験片を90°回転させ,観察箱を試験片の上に置く。 

g) 同様に,b)〜d)の操作を行う。 

h) 試験片の横方向で,明瞭な像が識別できる一番高いチャートスケールの等級を判定し,像明瞭性(CT)

とする。 

7.3 

像ゆがみ度(IL,IT)の測定 

像ゆがみ度(IL,IT)の測定は,次による。 

a) 7.2と同様の方法で,チャートスケールをセットした観察箱を使い,試験片の上に筋目に平行な縦方向

になるように観察箱を置き,像のゆがみ度(IL)を測定する。 

b) 黒線の幅の乱れが図3に示すように,チャートスケールの黒線の最小幅と最大幅との比が約1/2とな

る等級を調べ,その一つ前の等級を像ゆがみ度として求める。例えば,黒線の幅が,約1/2となった

チャートスケールの等級5の像ゆがみ度は,等級4とする。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

c) 試験片を横方向から90°回転させ,観察箱を試験片の上に置く。 

d) 同様に,b)の操作を行い,横方向の像のゆがみ度(IT)を測定する。 

図3−像のゆがみによる黒線の幅の乱れの例 

7.4 

明度(Hn)の測定 

明度(Hn)の測定は,次による。 

a) 図1に示すように,観察箱の右上にチャートスケールを,下部に明度スケールに示す明度値の一番暗

い1.0をセットして,観察箱を試験片の上に置く。 

b) 試験片上に結像したチャートスケールの等級1の黒線の像を明度スケールと比較する。 

c) 黒線の像と明度スケールとが合致しない場合は,チャートスケールの等級はそのままで,明度スケー

ルの一番暗い明度値1.0から明るい明度値へ順番に交換していく。明度値がチャートスケールと合致

するまで交換し,明るさに合致する明度(Hn)を測定する。 

注記 明度は,皮膜の表面の不透明さの度合いである。皮膜の表面が透明な場合には,チャートス

ケールの黒線は明瞭で黒く,明度は低くなる。一方,皮膜の表面が不透明な場合には,チャ

ートスケールの黒線は不明瞭で,明度は高くなる。 

試験結果の表し方 

写像性(CV)は,箇条7の測定結果に基づき,次の式を用いて算出し,JIS Z 8401の規則Aによって小

数点以下1桁に丸める。 

n

H

I

I

C

C

C

1

2

2

T

L

T

L

V

×

+

+

+

=

ここに, 

CV: 視感測定方法による写像性 

CL: 縦方向の像明瞭性の等級 

CT: 横方向の像明瞭性の等級 

IL: 縦方向の像ゆがみ度 

IT: 横方向の像ゆがみ度 

Hn: 明度(明るさの等級) 

注記 計算の例を,次に示す。 

皮膜の表面で反射する物体の像が最も明瞭な場合 

CL,CT=11,IL,IT=11, Hn=1.0 

0.

22

0.1

1

2

11

11

2

11

11

V

=

×

+

+

+

=

C

皮膜の表面で反射する物体の像が最も不明瞭な場合 

CL,CT=1, IL,IT=1, Hn=9.5 

2.0

5.9

1

2

1

1

2

1

1

V

=

×

+

+

+

=

C

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

試験報告書 

試験報告書には,次の事項を含めなければならない。 

a) この規格の番号:JIS H 8686-1 

b) 試験年月日 

c) 試験片の材質 

d) 試験片の皮膜の種類 

e) 試験結果[写像性(CV),像明瞭性(CL,CT),像ゆがみ度(IL,IT)及び明度(Hn)] 

参考文献 ISO/TR 8125:1984,Anodizing of aluminium and its alloys−Determination of colour and colour 

difference of coloured anodic coatings 

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H 8686-1:2013  

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附属書JA 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

JIS H 8686-1:2013 アルミニウム及びアルミニウム合金の陽極酸化皮膜の写像
性試験方法−第1部:視感測定方法 

ISO 10215:2010 Anodizing of aluminium and its alloys−Visual determination of image 
clarity of anodic oxidation coatings−Chart scale method 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

1 適用範囲  

一致 

2 引用規格  

3 用語及び
定義 

追加 

JISでは,ISO規格の規定に補足事項
を追加するとともに,“有効面”,及び
JIS H 0201を追加した。 
技術的差異はない。 

− 

4 概要 

一致 

5 装置 

5.1 一般 

追加 

JISでは,5.1を設けた。 
技術的差異はない。 

− 

5.2 観察箱 

5.2 

削除 

ISO規格の図3は外面図であり,この
規格の図1を見れば明確なため,JIS
では削除した。技術的差異はない。 

− 

5.3 チャートスケール 

5.1 

一致 

5.4 明度スケール 

5.3 

追加 

ISO規格には“表2の明度スケール”
が記載されていないが,JISでは追加
して記載した。技術的差異はない。 

ISO規格の改正の際に,“明度
スケール”の記載を提案する。 

6 試験片 

追加 

JISでは,試験片の採取方法を追加し,
細別で記載した。 
技術的差異はない。 

ISO規格の改正の際に,提案す
る。 

2

H

 8

6

8

6

-1

2

0

1

3

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 手順 

7.1 一般の測定 

7.1 

追加 

JISでは,JIS Z 2305を参照し,補足
事項を追加した。技術的差異はない。 

− 

7.2 像明瞭性の測定 

7.2 

追加 

JISでは,ISO規格の規定に補足事項
を追加した。技術的差異はない。 

− 

7.3 像ゆがみ度の測定 

7.3 

追加 

JISでは,ISO規格の規定に補足事項
を追加した。技術的差異はない。 

− 

7.4 明度の測定 

7.4 

一致 

8 試験結果
の表し方 

追加 

JISでは,写像性の計算例を追加記載
した。 

− 

9 試験報告
書 

一致 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:ISO 10215:2010,MOD 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 
 

− 一致 ················ 技術的差異がない。 

− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 

− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 
 

− MOD ··············· 国際規格を修正している。 

2

H

 8

6

8

6

-1

2

0

1

3

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。