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H 8680-1 : 1998

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まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。これによって JIS H 8680 : 1993 は廃止され,廃止された JIS H 8680 のうちの顕微鏡断

面測定法は,この規格に置き換えられる。

今回の制定では,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成,及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案への提案を容易にするために,JIS H 8680 に規定されていた 4 種類

の測定方法のうち(1)顕微鏡断面測定法,(2)渦電流式測定法,(3)スプリットビーム顕微鏡測定法をそれぞれ

JIS H 8680-1

JIS H 8680-2JIS H 8680-3 として独立した規格とし,(4)皮膜質量法については,その規格

の内容から分離し,JIS H 8688 として規格を作成した。


日本工業規格

JIS

 H

8680-1

: 1998

アルミニウム及びアルミニウム合金の

陽極酸化皮膜厚さ試験方法−

第 1 部:顕微鏡断面測定法

Test methods for thickness of anodic oxide

coatings on aluminium and aluminium alloys

Part 1 : Microscopical method

序文  この規格は,1982 年に発行された ISO 1463,Metallic and oxide coatings−Measurement of coating

thickness

−Microscopical method を元に技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格である。アル

ミニウム及びアルミニウム合金に施された陽極酸化皮膜の皮膜厚さにかかわる試験方法として規定したこ

の規格は,顕微鏡断面測定法,渦電流式測定法及びスプリットビーム顕微鏡測定法の 3 部で構成され,そ

の適用は,製品の形状,皮膜の種類,皮膜厚さなどを配慮した受渡当事者間の協定による。

1.

適用範囲  この規格は,アルミニウム及びアルミニウム合金の製品(以下,製品という。)に施した陽

極酸化皮膜(以下,皮膜という。

)の顕微鏡断面測定法による皮膜厚さ試験方法について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

ISO 1463 : 1982

  Metallic and oxide coatings−Measurement of coating thickness−Microscopical

method

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格を構成する

ものであって,その後の改正版・追補は適用しない。発行年を付記していない引用規格は,その最新版を

適用する。

JIS B 7137 : 1990

  生物顕微鏡用対物ミクロメーター

JIS H 0201 : 1998

  アルミニウム表面処理用語

JIS H 8601 : 1992

  アルミニウム及びアルミニウム合金の陽極酸化皮膜

JIS Z 8401 : 1961

  数値の丸め方

3.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,JIS H 0201 による。

4.

概要  皮膜の垂直断面を顕微鏡で観察して,皮膜厚さ  (

µm)  を求める方法である。正確な測定値が得

られるので測定値は,他の測定法の補正に使用できる。


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H 8680-1 : 1998

5.

装置  装置は,200∼600 倍の拡大像を観察することのできる顕微鏡とし,測微計によって

µm の単位

で皮膜厚さを測定できるものでなければならない。

6.

試験片  試験片は,次による。

a)

試験片の採取箇所は,製品の有効面とする。ただし,製品について試験できない場合は,製品と同一

の材料(

1

)

及び同一の皮膜の処理条件(

2

)

で作られた試験片を用いてもよい。

b)

試験片の観察断面の長さは,5∼30mm とする。

c)

試験片は,汚れに応じて適切な溶剤(

3

)

を浸した柔らかい布などを用いて,あらかじめ清浄にしておく。

(

1

)

材料の種類・質別及び処理前の表面状態は,製品と同じでなければならない。

(

2

)

前処理及び皮膜の処理は,製品と同一の浴及び同一条件で,製品と同一の性能が得られるよう

に行われなければならない。

(

3

)

アセトン,エタノール,エチルエーテル,メチルエチルケトンなどをいい,試験片を腐食した

り,保護皮膜を作るものを用いてはならない。

7.

操作  操作は,次の順序で行う。

a)

試験片を研磨ジグに取り付けるか,樹脂又は低融点合金に観察面を垂直に埋め込む。

b)

粒度の粗い研磨紙から細かい研磨紙の順で,皮膜断面を壊さないように注意しながら,試験片面に対

して直角に研磨する。最終仕上げとして,酸化アルミニウムなどの微粉末を研磨材とした回転研磨機

による研磨を行うことが望ましい。同時に数個の試験片を研磨することのできる自動研磨機を用いて

もよい。

c)

顕微鏡によって適正に拡大し,皮膜断面を 5 か所以上測定する。

備考  JIS B 7137 に規定する生物顕微鏡用対物ミクロメーターに準じて作られた金属顕微鏡のスケー

ル(1/100mm 目盛)を用い,あらかじめ測微計の目盛の補正係数を求めておく。

8.

試験結果の表し方  試験の結果は,5 か所以上の測定値  (

µm)  の平均を JIS Z 8401 によって丸め,小

数点以下 1 位の数値で表す。この数値は,JIS H 8601 に規定する測定点皮膜厚さに相当する。


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H 8680-1 : 1998

制定原案調査作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

馬  場  宣  良

元東京都立大学

大  嶋  清  治

工業技術院標準部

後  藤  敬  一

通商産業省基礎産業局

橋  本  繁  晴

財団法人日本規格協会

佐  藤  敏  彦

芝浦工業大学

田  村  和  男

東京都立工業技術センター

福  田  芳  雄

科学技術庁金属材料技術研究所

星  野  重  夫

武蔵工業大学

松  下  静  夫

元工業技術院製品科学研究所

三  田  郁  夫

元東京都立工業技術センター

新  井  元  彦

理研アルマイト工業株式会社

石  黒  明  康

立山アルミニウム工業株式会社

菊  地      哲

軽金属製品協会

西  沢  和  由

昭和アルミニウム株式会社技術研究所

大  木  隆  喜

トステム株式会社建材研究所

大  中      隆

株式会社日本アルミ技術研究所

坂  下  満  雄

三協アルミニウム工業株式会社

田  中  義  朗

日本軽金属株式会社

西  村  健二郎

不二サッシ株式会社

藤  原  憲  彦

株式会社中金

山  本  尚  三 YKK 株式会社

(事務局)

佐  藤  信  幸

軽金属製品協会

小山田      誠

軽金属製品協会

備考  ◎:小委員会委員長 

○:小委員会委員