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 8501 :

 19
99
 解

解説付表 1  JIS と対応する国際規格との対比表

JIS H 8501 : 1999

  めっきの厚さ試験方法

ISO 1463 : 1982

  (金属及び酸化物被覆−皮膜厚さ測定−顕微鏡断面試験方法)

ISO 2064 : 1996

  (金属及び無機質被覆−厚さ測定に関する定義と規定)

ISO 2177 : 1985

  (金属被覆−皮膜厚さ測定−陽極溶解による電解式試験方法)

ISO 2178 : 1982

  (磁性素地上の非磁性被覆−皮膜厚さ測定−磁力式試験方法)

ISO 2360 : 1982

  (非磁性金属素地上の非電導性被覆−皮膜厚さ測定−渦電流式試験方法)

ISO 3497 : 1976

  金属被覆−皮膜厚さ測定−蛍光 X 線式試験方法)

ISO 3543 : 1981

  (金属及び無機質被覆−皮膜厚さ測定−

β線式試験方法)

ISO 3868 : 1976

  (金属及び無機質被覆−皮膜厚さ測定−多重干渉式試験方法)

ISO 3882 : 1982

  (金属及び無機質被覆−皮膜厚さ測定法  通則)

ISO 4518 : 1980

  (金属被覆−皮膜厚さ測定−触針走査試験方法)

ISO 9220 : 1988

  (金属被覆−皮膜厚さ測定−走査電子顕微鏡試験方法)

対比項目

規定項目

(I)  JIS

の規定内容 (II)

国際規格番号 (III)

国際規格の規定内容 (IV)

JIS

と国際規格との相違点 (V)

JIS

と国際規格との

整合が困難な理由及
び今後の対策

1.

適用範囲

○  めっき製品の有効面のめっ

き厚さ試験方法について規
定。

ISO 2064

○ 厚さ測定に関する用語の定

義等

ISO 3882

○ 皮膜厚さ測定法(通則)

(

要旨)

6.1

顕微鏡断面試験方法

ISO 1463

○ 顕微鏡断面試験方法

7.1

電解式試験方法

ISO 2177

○ 陽極溶解による電解式試験

方法

8.1

渦電流式試験方法

ISO 2360

○ 渦電流式試験方法

9.1

磁力式試験方法

ISO 2178

○ 磁力式試験方法

10.1

蛍光 X 線式試験方法

ISO 3497

○ 蛍光X線式試験方法

11.1

β線式試験方法

ISO 3543

β線式試験方法

12.1

多重干渉式試験方法

ISO 3868

○ 多重干渉式試験方法

13.1

走査形電子顕 微鏡試験
方法

ISO 9220

○ 走査電子顕微鏡試験方法

14.1

測微計による試験方法

(1)

めっき破壊法

(2)

素地破壊法

(3)

非破壊法

(4)

触針走査法

ISO 4518

○ 触針走査試験方法

適用範囲としては一致

ISO では各試験方法が独

立の規格として規定され
ている。そのため,めっき

皮膜以外も適用範囲とし
ているものがある。


 

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解説付表 1  JIS と対応する国際規格との対比表(続き)

対比項目

規定項目

(I)  JIS

の規定内容 (II)

国際規格番号 (III)

国際規格の規定内容 (IV)

JIS

と国際規格との相違点 (V)

JIS

と国際規格との

整合が困難な理由及
び今後の対策

15.1

質量計測によ るめっき
付着量試験方法

2.

引用規格

○  JIS B 0601

JIS B 7150

JIS B 7509

JIS B 7520

JIS B 7533

JIS B 7536

JIS H 0400

ISO 1463

ISO 2064

ISO 2177

ISO 2178

ISO 2360

ISO 3497

ISO 3543

ISO 3868

ISO 3882

ISO 4518

ISO 9220

○ ISO 1463ISO 3497

ISO 2064

ISO 3543

ISO 2128

ISO 3868

ISO 2177

ISO 3882

ISO 2178

ISO 4518

ISO 2360

ISO 9220

ISO 2361

3.

定義

○  JIS H 0400 ほか

ISO 2064

○ 有効面,測定面積  他

4.

試験方法の種類

○  顕微鏡断面試験方法,電解式

試験方法,渦電流式試験方
法,磁力式試験方法,蛍光 X

線式試験方法,

β線式試験方

法,多重干渉式試験方法,走
査電子顕微鏡試験,測微計に

よる試験方法,質量計測によ
るめっき,付着量試験方法

5.

試料

○  試料の採取,代替試験片

6.

局部厚さの決定

○  有効面積(1cm

2

未満,以上)

ISO 2064

○ 有効面積(1cm

2

未満,以上)

7.

平均厚さの決定

○  質量計測

ISO 2064

○ 質量計測及び他の方法

8.

顕 微 鏡 断 面 試 験
方法

○  要旨,装置,操作

ISO 1463

○ 原理,測定精度に関する要

因,断面の調整,測定,要求

される精度,試験報告,附属
書 A,附属書 B

= ISO に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事

項はすべて規定。

9.

電解式試験方法

○  要旨,装置,校正,操作

ISO 2177

○ 原理,試験装置,電解液,測

定精度に影響∼要因,手順,
試験結果の表現,測定の不確
かさ(精度),試験結果,附属

書 A,附属書 B

= ISO に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事
項はすべて規定。


 

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 解

解説付表 1  JIS と対応する国際規格との対比表(続き)

対比項目

規定項目

(I)  JIS

の規定内容 (II)

国際規格番号 (III)

国際規格の規定内容 (IV)

JIS

と国際規格との相違点 (V)

JIS

と国際規格との

整合が困難な理由及
び今後の対策

10.

渦 電 流 式 試 験 方

○  要旨,装置,校正,操作,

測定精度に影響∼因子 
附属書 1(参考)

ISO 2360

○ 原理,測定精度に影響∼要

因,装置の校正,手順,必要
精度

= ISO に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事
項はすべて規定。

11.

磁力式試験方法

○  要旨,装置,校正,操作

測定精度に影響∼因子

附属書 2(参考)

ISO 2178

○ 原理,測定精度に影響∼要

因,装置の校正,手順,必要

精度

= ISO に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事

項はすべて規定。

12.

蛍光 X 線式試験
方法

○  要旨,装置,操作,測定精度

に影響∼因子,安全管理

附属書 3(参考)

ISO 3497

○ 原理,装置,測定精度に影響

∼要因,装置の校正,手順,

測定の誤差,試験報告

= ISO に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事

項はすべて規定。

13.

β線式試験方法

○  要旨,装置,校正,操作測定

精度に影響∼因子 
附属書 4〈参考)

ISO 3543

○ 原理,計測,精度に関する要

因,装置の校正,測定手順,
測定の正確さ及び精度,試験
報告

= ISO に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事
項はすべて規定。

14.

多 重 干 渉 式 試 験
方法

○  要旨,装置,校正,操作

測定精度に影響∼因子 
附属書 5(参考)

ISO 3868

○ 原理,定義,装置,測定精度

に関する要因,装置の校正,
測定手順,測定精度

= ISO に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事
項はすべて規定。

15.

走 査 電 子 顕 微 鏡
試験方法

○  要旨,装置,校正,操作

測定精度に影響∼因子

附属書 6(参考)

ISO 9220

○ 原理,装置,測定精度に関す

る要因,装置の校正,測定手

順,測定誤差,結果の表現,
試験報告,附属書 A

= ISO に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事

項はすべて規定。

16.

測 微 器 に よ る 試

験方法

方法の区分

めっき破壊法

(

要旨,装置,はく離液及び

はく離方法,操作)

○  素地破壊法

(

要旨,装置,溶解除去液及

び除去方法,操作)

○  非破壊法

(

要旨,装置,測定面のめっ

き防止法,操作)


 

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解説付表 1  JIS と対応する国際規格との対比表(続き)

対比項目

規定項目

(I)  JIS

の規定内容 (II)

国際規格番号 (III)

国際規格の規定内容 (IV)

JIS

と国際規格との相違点 (V)

JIS

と国際規格との

整合が困難な理由及
び今後の対策

16.

測 微 器 に よ る 試
験方法

○  触針走査法

(

要旨,装置,操作)

附属書 7(参考)

ISO 4518

○ 原理,計測,精度に関する要

因,校正,測定の手順

ISO

に規定されている内容

を採用。JIS として,必要事
項はすべて規定。

17.

質 量 計 測 に よ る
め っ き 付 着 量 試

験方法

○ 

方法の区分 
めっき破壊質量法

(

要旨,装置・器具,はく離

液及びはく離方法,操作)



○  めっき破壊分析法

(

要旨,装置及び器具,はく

離液,操作)

○  素地破壊法

(

要旨,装置,器具及びその

精度,溶解除去液及び溶解除

去方法,操作)

○  非破壊法

(

要旨,装置,器具及びその

精度,操作)

備考1.  対比項目(I)及び(III)の小欄で,“○”は該当する項目を規定している場合,“−”は規定していない場合を示す。

2.

対比項目(IV)の小欄の記号の意味は,次による。

“=”

JIS と国際規格との技術的内容は同等である。ただし,軽微な技術上の差異がある。

“−”

:該当項目がない場合。