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H 1292

:2005

(1) 

まえがき

この規格は,

工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,

日本伸銅協会(JCBA)

/財団法人  日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS H 1292:1997 は改正され,この規格に置き換えられる。

今回の改正では,定量元素としてアンチモン,クロム及びチタンを追加するとともに,旧規格様式の新

規格様式への変更及び規格全体における文章表現の見直しを行った。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。


H 1292

:2005

(2) 

目  次

ページ

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  一般事項

1

4.

  定量元素及び定量範囲 

2

5.

  要旨

2

6.

  装置

2

7.

  検量用試料及び分析試料 

2

7.1

  検量用試料 

2

7.2

  検量用試料及び分析試料の調製

2

8.

  操作

2

8.1

  操作条件及び測定

2

8.2

  検量線の作成 

3

8.3

  計算

3


     

日本工業規格

JIS

 H

1292

:2005

銅合金の蛍光 X 線分析方法

Methods for X-ray fluorescence spectrometric analysis of copper alloys

1. 

適用範囲  この規格は,銅合金(伸銅品,鋳物用地金及び鋳物)の塊状又は板状の試料の蛍光 X 線分

析方法について規定する。

2. 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうち発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成す

るものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は,その最新

版(追補を含む。

)を適用する。

JIS B 0601

  製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状:輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ

ータ

JIS H 1012

  銅及び銅合金の分析方法通則

JIS H 1051

  銅及び銅合金中の銅定量方法

JIS H 1052

  銅及び銅合金中のすず定量方法

JIS H 1053

  銅及び銅合金中の鉛定量方法

JIS H 1054

  銅及び銅合金中の鉄定量方法

JIS H 1055

  銅及び銅合金中のマンガン定量方法

JIS H 1056

  銅及び銅合金中のニッケル定量方法

JIS H 1057

  銅及び銅合金中のアルミニウム定量方法

JIS H 1058

  銅及び銅合金中のりん定量方法

JIS H 1059

  銅及び銅合金中のひ素定量方法

JIS H 1060

  銅及び銅合金中のコバルト定量方法

JIS H 1061

  銅及び銅合金中のけい素定量方法

JIS H 1062

  銅及び銅合金中の亜鉛定量方法

JIS H 1071

  銅及び銅合金中のクロム定量方法

JIS H 1072

  銅及び銅合金中のアンチモン定量方法

JIS H 1073

  銅合金中のチタン定量方法

JIS K 0119-1997

  蛍光 X 線分析方法通則

3. 

一般事項  分析方法に共通な一般事項は,JIS H 1012 及び JIS K 0119 による。


2

H 1292

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4. 

定量元素及び定量範囲  定量元素及び定量範囲は,表 1 による。

  1  定量元素及び定量範囲

定量元素

定量範囲

%(m/m)

      50.0  以上  97.0 以下

    0.005 以上  22.0 以下

      0.01  以上   6.0 以下

すず

      0.01  以上  15.0 以下

亜鉛

      0.01  以上  23.0 以下

アルミニウム

      0.01  以上  12.0 以下

ひ素

      0.01  以上    0.1 以下

マンガン

      0.01  以上  15.0 以下

ニッケル

      0.01  以上  35.0 以下

けい素

      0.01  以上    5.0 以下

りん

     0.005 以上   0.5 以下

コバルト

      0.01  以上    0.6 以下

アンチモン

      0.01  以上   0.5 以下

クロム

      0.01  以上   2.0 以下

チタン

      0.01  以上   6.0 以下

5. 

要旨  試料に X 線を照射して元素を励起し,発生した定量元素の蛍光 X 線の強度を測定し,検量線に

よって定量元素の含有率を求める。共存元素の影響がある場合には,共存元素の影響補正を行って,定量

元素の含有率を求める。

6. 

装置  装置は,JIS K 0119 の 4.(装置)による。

7. 

検量用試料及び分析試料

7.1 

検量用試料  検量用試料(

1

)は,試料と類似の化学組成をもつ系列のものを用いる。検量用試料中

の定量元素含有率は,JIS H 1051JIS H 1052JIS H 1053JIS H 1054JIS H 1055JIS H 1056JIS H 1057

JIS H 1058

JIS H 1059JIS H 1060JIS H 1061JIS H 1062JIS H 1071JIS H 1072 及び JIS H 1073

に規定する方法によって決定する。

(

1

試料が展伸材の場合には,展伸材の検量用試料を用い,試料が鋳物材の場合には,鋳物材の検

量用試料を使用する。

7.2 

検量用試料及び分析試料の調製  検量用試料及び分析試料は,それらの X 線照射面の表面粗さが,

JIS B 0601

に規定する最大高さ(R

Z

)6.3

µm 以下となるように,切削,研磨などの適切な方法によって調

製する。

8. 

操作

8.1 

操作条件及び測定  操作条件及び測定は,次による。

a) 

検量用試料及び分析試料は,試料ホルダを用いて装置の試料室に正しく装着する。試料の X 線照射面

積は,試料マスクによって一定にする。


3

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b) 

使用する装置によってあらかじめ設定された条件(

2

)に従い,検量用試料及び分析試料に X 線を照

射し,発生する定量元素の蛍光 X 線の強度を測定する(

3

(

2

必要ならば X 線通路を真空にするか又はヘリウムに置換する。

(

3

用いる分析線の例を,

表 に示す。

  2  分析線の例

分析線

定量元素

波長

nm

次数

銅 0.154

1

(CuK

α

) 1

0.117 5

(PbL

α

0.098 2

(PbL

β

1

1

鉄 0.193

6

(FeK

α

) 1

すず 0.049

1

(SnK

α

) 1

亜鉛

0.143 5

(ZnK

α

0.129 5

(ZnK

β

1

1

アルミニウム 0.834

0

(AlK

α

) 1

ひ素

0.105 7

(AsK

α

0.099 2

(AsK

β

1

1

マンガン 0.210

3

(MnK

α

) 1

ニッケル 0.165

9

(NiK

α

) 1

けい素 0.712

5

(SiK

α

) 1

りん 0.615

5

(PK

α

) 1

コバルト 0.179

0

(CoK

α

) 1

アンチモン 0.047

0

(SbK

α

) 1

クロム 0.275

0

(CrK

α

) 1

チタン 0.229

1

(TiK

α

) 1

8.2 

検量線の作成  8.1 b)で得た検量用試料中の定量元素の蛍光 X 線強度と,その含有率との関係を求

め,検量線を作成する(

4

(

4

定量元素に対する共存元素の影響がある場合には,定量元素に対する共存元素の補正係数を求

めるとともに,基準検量線を作成する。

8.3 

計算  8.1 b)で得た分析試料中の定量元素の蛍光 X 線強度と,8.2 で作成した検量線とから分析試料

中の定量元素の含有率を求める(

5

(

5

注(

4

)を適用した場合には,8.1 b)で得た分析試料中の定量元素の蛍光 X 線強度と基準検量線

とから定量元素の未補正の含有率を求め,補正係数を用いて共存元素の影響を補正し,分析試

料中の定量元素の含有率を求める。