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G 0802:2016

1)

目  次

ページ

序文  

1

1  適用範囲  

1

2  引用規格  

1

3  用語及び定義  

2

3A  一般事項  

2

4  探傷方式  

2

5  検査技術者  

2

6  探傷装置  

2

6.1  探傷装置の構成  

2

6.2  探傷器  

3

6.3  探触子  

4

6.4  送り装置,探触子追従装置,自動警報装置,マーキング装置及び記録装置  

4

6.5  試験片  

4

7  探傷方法  

4

7.1  探傷形式  

4

7.2  探傷時期  

5

7.3  探傷面  

5

7.4  接触媒質  

5

7.5  走査方法  

5

7.6  探傷箇所(走査箇所及び範囲)  

5

8  探傷感度の適用・設定及び対比線の設定  

8

8.1  一般事項  

8

8.2  探傷感度の適用  

8

8.3  距離振幅特性曲線を用いた評価方法の適用  

8

8.4  探傷感度の設定方法  

8

8.5  対比線の設定  

9

9  きずの分類  

9

9.1  きずの分類及び表示記号  

9

9.2  きずの広がり及び指示長さ  

10

9.3  きずの記録  

11

10  きずの評価方法  

11

10.1  評価対象きず  

11

10.2  評価のための換算  

11

10.3  重きず(×きず)個数の評価  

11

10.4  きず 個の最大指示長さの評価  

12


G 0802:2016  目次

2)

ページ

10.5  密集度の評価  

12

11  きずの判定基準  

12

12  試験報告書  

12

附属書 JA(規定)二振動子垂直探触子用 形対比試験片(RB-E-S  

14

附属書 JB(規定)感度補正用試験片(RB-S  

15

附属書 JC(規定)二振動子垂直探触子の性能  

17

附属書 JD(規定)距離振幅特性曲線の作成及びエコー高さの区分方法  

19

附属書 JE(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

21


G 0802:2016

3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第

14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,ステンレス協会

JSSA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきと

の申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS G 0802:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。


日本工業規格

JIS

 G

0802

2016

ステンレス鋼板の超音波探傷検査方法

Ultrasonic testing of stainless steel plates

序文 

この規格は,

2016 年に第 2 版として発行された ISO 17577 を基とし,技術的内容を変更して作成した日

本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,附属書 JE に示す。

適用範囲 

この規格は,厚さ

6 mm 以上,200 mm 以下のステンレス鋼板に対する超音波探傷検査方法について規定

する。

この超音波探傷検査方法は,ニッケル板,ニッケル合金板及び超合金板にも適用する(以下,ステンレ

ス鋼板,ニッケル板,ニッケル合金板及び超合金板を総称して,製品板という。

また,受渡当事者間の協定によって,厚さ

6 mm 未満又は 200 mm を超える製品に,適用してもよい。

注記

  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO 17577:2016,Steel-Ultrasonic testing of steel flat products of thickness equal to or greater than 6

mm(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“

MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS B 0601  製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-用語,定義及び表面性状パラメ

ータ

JIS B 8266  圧力容器の構造-特定規格

JIS G 0431  鉄鋼製品の雇用主による非破壊試験技術者の資格付与

JIS G 4304  熱間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯

JIS G 4305  冷間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯

JIS Z 2300  非破壊試験用語

JIS Z 2305  非破壊試験技術者の資格及び認証

注記

  対応国際規格:ISO 9712,Non-destructive testing-Qualification and certification of NDT personnel

MOD)


2

G 0802:2016

JIS Z 2344  金属材料のパルス反射法による超音波探傷試験方法通則

JIS Z 2345  超音波探傷試験用標準試験片

JIS Z 2352  超音波探傷装置の性能測定方法

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 2300 によるほか,次による。

3.1 

密集度(

population density)

製品板内部の規定された単位面積,又は四周辺及び開先予定線の単位長さに対する,規定された最小サ

イズより大きく,最大サイズより小さいきずの数。

注記

  製品板内部とは,製品板の四周辺及び開先予定線を除いた部分をいう。

3.2 

手動探傷(

manual testing)

製品板表面上を適切なパターンで超音波探触子を手動で走査し,直接目視によるか,又はアラーム付き

の装置を使って,

A スコープ表示上に示される信号を評価する探傷。

3.3 

自動探傷(

automatic testing)

製品板表面上を適切なパターンで超音波探触子を機械的に自動で走査し,更に電気的方法で信号を評価

しながら行う探傷。

3.4 

二振動子垂直探触子用 形対比試験片(RB-E-S)(type E reference block for double crystal probe)

製品板の二振動子垂直探触子の距離振幅特性を調べる試験片。

3A 

一般事項 

この規格の規定以外の一般事項は,JIS Z 2344 による。

探傷方式 

探傷方式は,垂直法によるパルス反射法とする。

検査技術者 

製品板の超音波探傷検査に従事する技術者は,超音波探傷試験に関する基礎技術を習得し,検査の対象

となる製品板の性質及びその検査方法について,十分な知識・経験をもつ者でなければならない。

なお,受渡当事者間の協定によって,JIS G 0431JIS Z 2305 又はこれらと同等の資格を適用してもよ

い。

探傷装置 

6.1 

探傷装置の構成 

手動探傷装置は,主として手動探傷器及び探触子で構成する。自動探傷装置は,自動探傷器,探触子,

送り装置,探触子追従装置,自動警報装置,記録装置などで構成する。


3

G 0802:2016

6.2 

探傷器 

6.2.1 

一般的機能 

探傷器に要求される一般的機能は,次による。

a)  時間軸の調整が可能で,かつ,探傷感度がデシベル単位で調整できなければならない。

b)  使用する探触子の周波数に対応できなければならない。

c)

送信波の繰返し周波数は,走査速度に対し,十分に対応できなければならない。

d)  不連続部の信号を探傷ゲート機能によって適正に検出でき,かつ,その信号を探傷器の表示器又は記

録装置に出力できなければならない。

6.2.2 

手動探傷器 

手動探傷器の

A スコープ表示は,ピークエコーが鋭く,かつ,明確に表示できるものでなければならな

い。少なくとも

1 年に 1 回,JIS Z 2352 の箇条 7(定期点検)によって定期点検を行う。

増幅直線性,遠距離分解能及び手動探傷器の不感帯の性能は,次による。

a)  増幅直線性  探傷器の増幅直線性は,使用する公称周波数において JIS Z 2352 の 6.2.2

[増幅直線性(測

定方法

A)]によって測定し,正の最大誤差(+h

MAX

)の絶対値と負の最大誤差(-h

MAX

)の絶対値と

の和が

6 %以下でなければならない。

b)  遠距離分解能  探傷器の垂直探傷における遠距離分解能は,表 の公称周波数に応じ JIS Z 2352 

6.3.3[分解能測定方法 A(RB-RA 形対比試験片)

]によって測定し,その値は,表 の値でなければ

ならない。

表 1-遠距離分解能 

公称周波数

MHz

遠距離分解能

mm

2 以上  4 未満

9 以下

4 以上  5 以下

7 以下

超音波減衰が著しい場合は,受渡当事者間の

協定によって

1 MHz を使用することができる。

ただし,遠距離分解能

9 mm 以下を満足しなけ

ればならない。

c) 

手動探傷器の不感帯  手動探傷器の不感帯は,

4 MHz 以上 5 MHz 以下の場合は 10 mm 以下,4 MHz

未満の場合は

15 mm 以下とし,その測定は,次の手順によって行う。

1)  時間軸の測定範囲を 50 mm に調整し,JIS Z 2345 の STB-N1 を探傷して,その標準穴のエコー高さ

を目盛板の

20 %に調整する。

2)  次に,感度を 14 dB 高め,目盛板の 0 点から送信パルスが最後に 20 %となる点までの長さを厚さ方

向の距離で読み取り,これを不感帯とする。

6.2.3 

自動探傷器 

自動探傷器の増幅直線性及び距離振幅補償機能は,次による。

なお,空調した室内に設置した自動探傷器は,少なくとも

3 年に 1 回,その他の自動探傷器は,少なく

とも

1 年に 1 回定期点検を行う。

a)  増幅直線性  増幅直線性は,附属書 JA の二振動子垂直探触子用 E 形対比試験片(RB-E-S)の第 1 回

底面エコー又は電気的擬似信号を適度のレベルに設定し,その設定レベルから-

6 dB,-12 dB 及び


4

G 0802:2016

18 dB の各線で測定し,理論値を基準とし,理論値と測定値との偏差のうち,正の最大値と負の最

大値の絶対値との和が,

2.5 dB 以下でなければならない。

なお,

A スコープ表示をもつ自動探傷器の増幅直線性は,6.2.2 a)  による。

b)  距離振幅補償機能  距離振幅補償機能をもつ装置では,使用する最大厚さでの補償後の底面エコーの

高さが,距離振幅特性曲線における最大エコー高さから-

6 dB 以内でなければならない。

6.3 

探触子 

探触子は,次による。

a)

探触子の種類は,製品板の厚さに応じて,表 による。一振動子の垂直探触子は,単に“垂直探触子”

という。

b)  探触子の公称周波数は,2 MHz 以上,5 MHz 以下とする。高減衰材又は特別な音響特性をもつ製品板

に対しては,受渡当事者間の協定によって,その他の周波数を用いてもよい。

c)

探触子の振動子は,円形の場合,公称寸法が

20 mm 以上,30 mm 以下とし,く(矩)形の場合,長辺

の公称寸法が

30 mm 以下とする。

d)  二振動子垂直探触子は,附属書 JC の性能をもたなければならない。

e)

垂直探触子の不感帯は,規定された探傷感度で,目盛板の

0 点から送信パルス又は表面反射エコーが

最後に

20 %となるまでの領域で,厚さ方向の距離で読み取った値で示し,製品板の厚さの 15 %又は

15 mm のいずれか小さい方の値以下でなければならない。

表 2-使用探触子 

製品板の厚さ

mm

探触子の種類

 13 未満

二振動子垂直探触子

13 以上 60 以下

二振動子垂直探触子又は垂直探触子

60 を超えるもの

垂直探触子

6.4 

送り装置,探触子追従装置,自動警報装置,マーキング装置及び記録装置 

送り装置,探触子追従装置,自動警報装置,マーキング装置及び記録装置を使用する場合は,探傷作業

上及び結果の判定作業上,十分な性能をもつものでなければならない。

6.5 

試験片 

6.5.1 

二振動子垂直探触子用 形対比試験片(RB-E-S 

二振動子垂直探触子用

E 形対比試験片(RB-E-S)は,附属書 JA による。

6.5.2 

感度補正用試験片(RB-S 

感度補正用試験片(

RB-S)は,二振動子垂直探触子及び垂直探触子の探傷感度の補正値を測定する場合,

又は距離振幅特性曲線を作成する場合に使用する試験片であり,附属書 JB による。

6.5.3 

標準試験片 

標準試験片は,附属書 JC で規定する二振動子垂直探触子の性能を測定する試験片であり,JIS Z 2345

STB-N1 を用いる。

探傷方法 

7.1 

探傷形式 

探傷形式は,水浸法(局部水浸法又はギャップ法を含む。)又は直接接触法とする。


5

G 0802:2016

7.2 

探傷時期 

探傷時期は,通常,製造の最終工程とする。

7.3 

探傷面 

探傷面は,通常,圧延のまま又は熱処理のままの肌面とし,必要に応じて研磨などによって平滑な面と

してもよい。探傷は,片面から実施する。

7.4 

接触媒質 

接触媒質は,探触子と製品板表面との音響結合を十分に確保するためのものであり,通常,水を使用す

る。

なお,他の接触媒質(例えば,油,ペーストなど)を使用してもよい。

7.5 

走査方法 

7.5.1 

走査速度 

走査速度は,探傷に支障のない速度とする。ただし,自動警報装置のない探傷装置を用いて探傷する場

合は,

200 mm/s 以下とする。

7.5.2 

二振動子垂直探触子による場合の走査 

二振動子垂直探触子による場合は,

X 走査又は Y 走査を行う(図 参照)。

X 走査:探触子の音響隔離面を圧延方向に平行に配置し,圧延方向と直角に走査する。

Y 走査:探触子の音響隔離面を圧延方向に直角に配置し,圧延方向に走査する。

図 1-二振動子垂直探触子による走査 

7.6 

探傷箇所(走査箇所及び範囲) 

7.6.1 

製品板内部の探傷箇所 

製品板内部の探傷箇所は,注文者の要求がある場合,受渡当事者間の協定によって表 及び図 の走査

区分を指定することができる。注文者の要求がない場合,同一区分内の探傷箇所は,製造業者の選択によ

る。表 以外について,特に必要がある場合は,受渡当事者間の協定による。


6

G 0802:2016

表 3-探傷箇所 

走査区分

探傷箇所

A 形

圧延方向及びその直角方向に

200 mm ピッチの線上,又は圧延方向若しくはそ

の直角方向に

100 mm ピッチ線上を探傷する。

B 形

圧延方向又はその直角方向に

200 mm ピッチの線上を探傷する。

A 形及び B 形において,探傷する方向を表す必要がある場合には,次の記号による。 

AG 形:A 形で,圧延方向及びその直角方向に探傷

AL 形:A 形で,圧延方向だけに探傷

AC 形:A 形で,圧延方向に対し直角方向だけに探傷

BL 形:B 形で,圧延方向だけに探傷

BC 形:B 形で,圧延方向に対し直角方向だけに探傷

7.6.2 

四周辺又は開先予定線の探傷箇所 

四周辺又は開先予定線を中心に,表 に規定する走査幅全面の探傷を行う。注文者は,製品板内部を探

傷せずに四周辺又は開先予定線の探傷だけを指定する場合,走査区分

C 形として指定することができる(図

参照)

表 4-四周辺又は開先予定線の走査幅 

単位

mm

製品板の厚さ

走査幅

60 以下 50

 60 を超え 100 以下 75 
 100 を超えるもの 100


7

G 0802:2016

 a)  AG 形で四周辺を探傷する場合  

b)  AG 形で開先予定線を探傷する場合 

 c)  AL 形又は BL 形で四周辺を探傷する場合  

d)  AL 形又は BL 形で開先予定線を探傷する場合

 e)  AC 形又は BC 形で四周辺を探傷する場合  

f)  AC 形又は BC 形で開先予定線を探傷する場合

g)  形で四周辺だけを探傷する場合 

h)  形で開先予定線だけを探傷する場合 

図 2-走査区分及び探傷箇所 


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G 0802:2016

探傷感度の適用・設定及び対比線の設定 

8.1 

一般事項 

探傷感度の確認は,同一条件での連続探傷では,少なくとも

4 時間ごとに行う。

8.2 

探傷感度の適用 

探傷感度の適用は,次による。

a)

探傷感度は,通常,表 に示す A 感度を適用する。

b)  製品板の厚さが 60 mm を超え,SN 比が 6 dB 以下の場合は,受渡当事者間の協定によって,表 に示

B 感度を適用してもよい。ただし,B 感度は,圧力容器用途[JIS B 8266 の 5.3.4(鉄鋼材料の非破

壊試験)a)]の製品板には適用してはならない。また,B 感度を適用した場合は,箇条 12 によって報

告を行う。

注記

 SN 比とは,垂直探触子の不感帯部を除く厚さ内において,φ5 mm 検出レベル(DM 線)と

ノイズレベルとの比率をいう。

8.3 

距離振幅特性曲線を用いた評価方法の適用 

製品板の厚さが

60 mm を超え,超音波減衰が著しい場合には,製造業者の選択によって,附属書 JD 

規定する距離振幅特性曲線を用いた評価方法を適用してもよい。ただし,距離振幅特性曲線を用いた評価

方法を適用した場合は,箇条 12 によって報告を行う。

8.4 

探傷感度の設定方法 

探傷感度の設定方法は,表 及び次による。

a) A 感度の設定  A 感度の設定は,次によって行う。

1)  探傷する製品板の底面エコーの高さを表 に示すように,CRT 上 50 %線(図 の DM 線)に調整

する。

2)  次に,感度補正用試験片(附属書 JB の RB-S)を用いて,あらかじめ測定した F/B(dB)を補正値

として,感度を高める。

b) B 感度の設定  B 感度の設定は,次によって行う。

1)  探傷する製品板の底面エコーの高さを表 に示すように,CRT 上 50 %線(図 の DM 線)に調整

する。

2)  次に,感度補正用試験片(附属書 JB の RB-S)を用いて,あらかじめ測定した F/B(dB)から 6 dB

を減じた値を補正値として,感度を高める。

表 5-探傷感度 

製品板の厚さ

探傷感度

 

mm

製品板の底面エコー

の高さ(

CRT 上)

%

感度補正用

試験片

No.

感度補正用試験片による補正値

a)

A 感度

dB

B 感度

dB

  6 以上 13 以下 50

1  F/B

 13 超え 20 以下 50

2  F/B

 20 超え 40 以下 50

3  F/B

 40 超え 60 以下 50

4  F/B

 60 超え 100 以下 50

5  F/B

F/B-6

 100 超え 160 以下 50

6  F/B

F/B-6

 160 超え 200 以下 50

7  F/B

F/B-6


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G 0802:2016

表 5-探傷感度(続き) 

a)

  補正値とは,感度補正用試験片のφ5 mm エコー高さ(F)と底面エコーの高さ(B)と

の比である F/B(dB)値又は F/B-6(dB)値を示す。

8.5 

対比線の設定 

手動探傷器の場合の対比線の設定は,探傷器の目盛板の

50 %の高さを基準の対比線(DM 線)とし,基

準線より

6 dB 高い線を DH 線(100 %),基準線より 6 dB 低い線を DL 線(25 %),基準線より 12 dB 低い

線を

DC 線(12.5 %)とする(図 参照)。

自動探傷器の場合は,図 に相当する対比線を設定する。

注記

  [  ]内は,A スコープ式探傷器の対比線に相当する自動探傷器の場合の対比線。

図 3-探傷器の対比線の設定 

きずの分類 

9.1 

きずの分類及び表示記号 

9.1.1 

二振動子垂直探触子による場合 

X 走査の場合は,きずエコー高さによって表 のように分類し,表示記号を付ける。また,Y 走査の場

合は,きずエコー高さによって表 のように分類し,表示記号を付ける。

表 6-二振動子垂直探触子によるきずの分類及び表示記号(走査) 

きずの程度

きずの評価基準

表示記号

 DL 線を超え DM 線以下

 DM 線を超え DH 線以下

 DH 線を超えるもの

×


10

G 0802:2016

表 7-二振動子垂直探触子によるきずの分類及び表示記号(走査) 

きずの程度

きずの評価基準

表示記号

 DC 線を超え DL 線以下

 DL 線を超え DM 線以下

 DM 線を超えるもの

×

9.1.2 

垂直探触子による場合 

垂直探触子による場合は,きずエコー高さによって表 のきずの程度に分類し,表示記号を付ける。

表 8-垂直探触子によるきずの分類及び表示記号 

きずの程度

きずの評価基準

表示記号

 DL 線<F

1

DM 線  ただし,B

1

DH 線未満の場合は,25 %<F

1

/B

1

50 %

 DM 線<F

1

DH 線  ただし,B

1

100 %未満の場合は,50 %<F

1

/B

1

100 %

F

1

DH 線,F

1

/B

1

100 %又は B

1

50 %

×

F

1

及び B

1

は,JIS Z 2344 の 3.(探傷図形の表示)による。

9.2 

きずの広がり及び指示長さ 

9.2.1 

きずの広がり 

きずが検出された場合は,その付近を探傷して,きずの広がりを確かめる。きずの圧延方向の寸法を,

長さ方向の指示長さといい,圧延方向に直交する寸法を,きずの幅方向の指示長さという。

なお,圧延方向が不明の場合には,きずの広がりにおいて最大径となる方向を圧延方向とする。

自動探傷できずを検出した場合は,その付近を手動探傷して,きずの広がりを確かめるか,又は手動探

傷と同等の検出能力をもつ自動探傷装置で,きずの広がりを確かめる。

9.2.2 

きずの指示長さ 

きずの程度によるきずの指示長さは,次のいずれかによる。

a)  二振動子垂直探触子による場合  二振動子垂直探触子によってきずの長さ方向の指示長さを測定する

場合は,通常,

Y 走査で探触子を移動して,きずエコー高さが表 に示す対比線まで低下するときの

探触子の中心間距離を測定して,きずの指示長さとする。

Y 走査が困難な場合は,X 走査で探触子を

移動し,きずエコー高さが表 10 に示す対比線まで低下するときの探触子の中心間距離を測定して,き

ずの指示長さとしてもよい。きずの幅方向の指示長さを測定する場合は,

X 走査によって探触子を移

動し,きずの程度が“軽”の場合は

DC 線,きずの程度が“中”及びきずの程度が“重”の場合は,

DL 線まで低下するときの探触子の中心間距離を測定する。

表 9-きずの指示長さを測定する基準(走査) 

きずの程度

対比線

軽(○きず)

 DC 線

中及び重(△きず及び×きず)

DL 線

表 10-きずの指示長さを測定する基準(走査) 

きずの程度

対比線

軽(○きず)

 DL 線

中及び重(△きず及び×きず)

DM 線


11

G 0802:2016

b)  垂直探触子による場合  垂直探触子による場合は,探触子を移動して,きずエコー高さ(F

1

),F

1

/B

1

又は底面エコーの高さ(B

1

)が表 11 に示す値まで低下するときの探触子の中心間距離を測定してきず

の指示長さとする。

表 11-きずの指示長さを測定する基準(垂直探触子による場合) 

きずの程度

F

1

F

1

/B

1

又は B

1

軽(○きず)

F

1

DL 線又は F

1

/B

1

25 %

中(△きず)

F

1

DM 線又は F

1

/B

1

50 %

重(×きず)

F

1

DM 線,F

1

/B

1

50 %又は B

1

DM 線

9.3 

きずの記録 

9.3.1 

製品板内部 

製品板内部のきずは,特に指定のない限り,△きず及び×きずの表示記号,位置及びそれらの寸法を記

録する。ただし,指示長さが

50 mm 未満の△きず及び指示長さが 25 mm 未満の×きずは,点きずとして

扱い,寸法を記録する必要はない。

9.3.2 

四周辺及び開先予定線 

四周辺及び開先予定線のきずの記録の方法は,次による。

a)

きずの指示長さが

10 mm 以下の○きずは,きずとして扱わず,記録する必要はない。

b)  ○きず(10 mm 以下を除く。

),△きず及び×きずの表示記号,位置及びそれらの寸法を記録する。た

だし,指示長さが

50 mm 未満の○きず及び△きず並びに指示長さが 25 mm 未満の×きずは,点きず

として扱い,寸法を記録する必要はない。

10 

きずの評価方法 

10.1 

評価対象きず 

評価対象きずは,探傷箇所によって,次による。

a)  製品板内部  △きず及び×きずを評価対象とし,○きずは,評価対象にしない。

b)  四周辺又は開先予定線  きずの指示長さが,10 mm を超える○きず,△きず及び×きずの全てを評価

対象とする。

10.2 

評価のための換算 

評価のための換算は,きずの程度及び探傷箇所によって,次のように行う。

a)

○きず及び△きずは,探傷線に沿ってその長さが

50 mm 以下の場合は 1 個として数え,50 mm を超え

る場合は,長さ

50 mm ごと及びその端数をそれぞれ 1 個として数える。

b)  ×きずは,探傷線に沿ってその長さが 25 mm 以下の場合は 1 個として数え,25 mm を超える場合は,

その長さが

25 mm ごと及びその端数をそれぞれ 1 個として数える。

c)

a)  及び b)  で数えた○きず及び×きずを,次のように△きずに換算し,換算後の△きずの総数を,き

ずの換算個数とする。

○きず

2 個→△きず 1 個

×きず

1 個→△きず 2 個

10.3 

重きず(×きず)個数の評価 

重きずの個数の評価は,次による。


12

G 0802:2016

a)

製品板内部については,重きず(×きず)個数の製品板全面積に対する割合(個

/m

2

)によって評価す

る。

b)  四周辺又は開先予定線については,重きず(×きず)個数の四周辺又は開先予定線 3 m に対する割合

(個

/3 m)によって評価する。

10.4 

きず 個の最大指示長さの評価 

きず

1 個の最大指示長さは,それぞれのきずの程度別に,きずの最大指示長さによって評価する。ただ

し,

2 個以上のきずが直線状に連続して存在する場合で,隣り合うきずの間隔が,両方のきずのうち,小

さい方のきずの指示長さより小さい場合は,両きずは間隔部分を含めて連続した一つのきずとみなし,そ

の総和をもってきず

1 個の指示長さとする。

10.5 

密集度の評価 

密集度の評価は,次による。

a)  製品板内部については,換算個数が最も多い箇所において,通常,1 m

2

の正方形面積内の探傷線上の

換算個数とする。

b)  四周辺又は開先予定線については,換算個数が最も多い 3 m の部分における換算個数とする。

11 

きずの判定基準 

きずの判定基準は,表 12 及び表 13 に示す全ての項目について規定した値以下の場合,その製品板を合

格とする。ただし,自動探傷の場合で,きずが擬似信号によるものか否かを確認する必要がある場合は,

手動探傷によってきずを評価し,判定してもよい。また,判定の結果が不合格となった場合でも,受渡当

事者間の協定によって,製品板の板取り,使用箇所などを考慮し,合格にしてもよい。

表 12-製品板内部の判定基準 

きず表示

記号

重きずの

個数

/m

2

きず

1 個の

最大指示長さ

mm

密集度

(△きず換算個数)

/m

2

 150

20

×

 1  100

表 13-四周辺又は開先予定線の判定基準 

きず表示

記号

重きずの

個数

/3 m

きず

1 個の

最大指示長さ

mm

密集度

(△きず換算個数)

/3 m

 100

10

75

×

 1

50

12 

試験報告書 

試験報告が必要な場合には,報告書の種類のほか,報告する事項は,次のうちから,受渡当事者間の協

定によって選択してよい。報告は,試験報告書によるか又は検査文書に記載してもよい。また,8.2 b)  及

び 8.3 を適用した場合は,必ず報告しなければならない。

a)

検査年月日


13

G 0802:2016

b)  検査技術者名

c)

この規格番号

d)  試験対象材の明細(種類の記号,熱処理条件,表面状態,寸法及び識別番号)

e)

超音波探触子(種類,寸法及び周波数)及び探傷装置の特性

f)

探傷条件(接触媒質,走査方法,探傷感度,距離振幅特性曲線の有無,面積決定方法及び校正方法)

g)

試験結果


14

G 0802:2016

附属書 JA

(規定)

二振動子垂直探触子用 E 形対比試験片(RB-E-S)

JA.1  材料 

材料は,JIS G 4304 又は JIS G 4305 の固溶化熱処理を行った SUS304 を使用する。

JA.2  形状及び寸法 

対比試験片の形状及び寸法は,図 JA.1 による。表面仕上げは,探傷両面とも JIS B 0601 の算術平均粗

さ Ra 1.6 μm 以下とする。

単位

mm

厚さの許容差は,±

0.05 mm とする。

図 JA.1-形状及び寸法 


15

G 0802:2016

附属書 JB

(規定)

感度補正用試験片(RB-S)

JB.1 

材料 

材料は,JIS G 4304 又は JIS G 4305 の固溶化熱処理を行った SUS304 を使用する。

JB.2 

形状及び寸法 

仕上面並びに形状及び寸法は,次による。

a)  仕上面  仕上面は,試験体と同等以上の表面状態とする。

b)  形状及び寸法  感度補正用試験片の形状及び寸法は,図 JB.1 及び表 JB.1 による。

単位

mm

平底穴の最終仕上げに使用する“きり”の先端角度は,

180°とする。

平底穴径の加工精度は,±

0.05 mm とする。特に規定した箇所以外の寸法許容差は,±0.1 mm とする。

a)

  この寸法は,使用する探触子又は探触子ホルダーの寸法に合わせて決めてよい。

図 JB.1-形状及び寸法 


16

G 0802:2016

表 JB.1-厚さ寸法 

単位

mm

感度補正用試験片

No.

厚さ T

1 13 
2 20 
3 40 
4 60 
5 100 
6 160 
7 200


17

G 0802:2016

附属書 JC

(規定)

二振動子垂直探触子の性能

JC.1  適用する公称周波数 

探触子を適用する公称周波数は,

2 MHz~5 MHz とする。

JC.2  探触子の性能 

JC.2.1  距離振幅特性 

距離振幅特性は,附属書 JA に規定する二振動子垂直探触子用 E 形対比試験片(RB-E-S)を用いて,厚

さごとにエコー高さ(

dB)を測定し,図 JC.1 に示すように特性曲線を作成したとき,次の条件を満足し

なければならない。

a)  使用する最大厚さにおけるエコー高さが,最大エコー高さから 0~-6 dB の範囲になければならない。

ただし,距離振幅補償機能をもつ探傷器と組み合わせて使用する二振動子垂直探触子については,そ

れを使用することによって,使用する最大厚さにおけるエコー高さが,最大エコー高さから-

6 dB 以

上確保できればよい。

b)  厚さ 3 mm におけるエコー高さが,最大エコー高さから 0~-6 dB の範囲になければならない。ただ

し,距離振幅補償機能をもつ探傷器と組み合わせて使用する二振動子垂直探触子については,それを

使用することによって,厚さ

3 mm におけるエコー高さが,最大エコー高さから-6 dB 以上確保でき

ればよい。

l

0

 RB-E-S において最大エコー高さを示す厚さ(mm)

t: 使用する最大厚さ(mm)

図 JC.1-距離振幅特性曲線 

JC.2.2  表面エコーレベル 

直接接触法による表面エコーレベルは,最大エコー高さより

40 dB 以上低くなければならない。

JC.2.3 N1 検出感度 

STB-N1 の標準穴のエコー高さは,最大エコー高さから-10 dB±2 dB の範囲にあるものを使用しなけれ

ばならない。


18

G 0802:2016

JC.2.4  有効ビーム幅 

有効ビーム幅は,

STB-N1 の標準穴を用い,音響隔離面に平行に探触子を移動させ,エコー高さが最大

になる位置から両側に

6 dB 低下する範囲を測定し,その全幅が 15 mm 以上でなければならない。


19

G 0802:2016

附属書 JD

(規定)

距離振幅特性曲線の作成及びエコー高さの区分方法

JD.1  使用する試験片 

距離振幅特性曲線は,附属書 JB に規定する感度補正用試験片(RB-S)を使用する。

JD.2  距離振幅特性曲線及びエコー高さ区分線の作成手順 

距離振幅特性曲線及びエコー高さ区分線の作成手順は,次による。

a)

使用する探触子及び

RB-S 試験片のφ5 mm 平底穴を利用して,距離振幅特性曲線を作成する。作成す

る距離振幅特性曲線は,目盛板に記入するか,表示器上に記入する。

b)  作成する距離振幅特性曲線の範囲は,製品板の厚さを探傷面から底面まで,きずエコー高さを評価す

るのに十分な厚さ範囲以上であればよい。

c)

垂直探触子に使用する距離振幅特性曲線を作成する場合は,深さ

40 mm 又は 60 mm のφ5 mm 平底穴

エコー高さの大きい方を

CRT 上 40 %~60 %の範囲になるように探傷器の感度を定め,次に,厚さの

大きい

RB-S 試験片のφ5 mm 平底穴のエコー高さのピークを CRT 上にプロットする。深さ 40 mm 又

60 mm のピーク位置以下のプロットは,13 mm 厚さの RB-S 試験片の平底穴のエコー高さを CRT

上にプロットする。この各点のエコー高さのピークを結んだ線を

DM

JD

線とする(図 JD.1 参照)。厚

13 mm 以下については水平に線を引く。

d) DM

JD

線の各点より

6 dB 高い点をプロットし,その点を結んだ線を DH

JD

線,

DM

JD

線の各点より

6 dB

低い点をプロットし,その点を結んだ線を

DL

JD

線とする。また,

DH

JD

線及び

DL

JD

線も,厚さ

13 mm

以下については水平に線を引く(図 JD.1 参照)。

e)

評価に使用する対比線の高さは,使用する範囲において

10 %以下にならないように作成する。10 %以

下の範囲を使用する場合(例  図 JD.1 の 150~200 mm)は,感度を 6 dB 上げて,対比線を順次,DL

JD

線,

DM

JD

線,

DH

JD

線と読み替える。

f)

距離振幅特性曲線を使ったきず評価の対比線の名称は,8.5 及び図 に合わせて,表 JD.1 のように読

み替える(図 JD.1 参照)。

表 JD.1-距離振幅特性曲線を使った対比線の読み替え 

附属書 JD の対比線

8.5 及び図 の対比線

DH

JD

 DH 線

DM

JD

 DM 線

DL

JD

 DL 線


20

G 0802:2016

注記

  (  )は,感度を 6 dB 上げて,対比線を読み替えた場合を示す。

図 JD.1-垂直探触子の距離振幅特性曲線の例(60 mm 深さの平底穴がピークになった場合) 

JD.3  探傷感度の設定 

探傷感度の設定は,次による。

a)

探傷する製品板の底面エコーの高さが

CRT 上の DM

JD

線になるように感度を調整する。

b)  次に,感度補正用試験片(RB-S)を用いてあらかじめ測定した F/B(dB)を補正値として,感度を高

める。

JD.4  きずの分類及びきずの指示長さを測定する基準 

JD.4.1  きずの分類 

きずの分類は,9.1.2 及び表 による。

JD.4.2  きずの指示長さの測定 

きずの指示長さの測定は,9.2.2 b)  及び表 11 による。

JD.4.3  きずの記録方法 

きずの記録方法は,9.3 による。

JD.5  きずの評価方法 

きずの評価方法は,箇条 10 による。

JD.6  きずの判定基準 

きずの判定基準は,箇条 11 による。


21

G 0802:2016

附属書 JE

(参考)

JIS と対応国際規格との対比表

JIS G 0802:2016  ステンレス鋼板の超音波探傷検査方法

ISO 17577:2016,Steel-Ultrasonic testing of steel flat products of thickness equal to or 
greater than 6 mm

(

I)JIS の規定

(

II)

国際規
格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと

の評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

1  適用範囲

ステンレス鋼板,ニ
ッケル板,ニッケル
合 金 板 及 び 超 合 金
板に適用。

 1 ステンレス鋼を含む鋼

板に適用。

変更

JIS では,JIS G 0801(圧力容器用
鋼板),JIS G 0901(建築用鋼板及
び平鋼)及びこの規格(ステンレス
鋼板)に分けて規定している。

国内市場の要求に応じて,超音波
特性を調査の上,ニッケル板,ニ
ッケル合金板及び超合金板を追加
した。

3  用語及び
定義

製 品 板 用 の 対 比 試
験片を規定。

 3 欠陥及び不感体の用語

も定義されている。

変更

JIS Z 2300 で定義されている用語
については,JIS Z 2300 によること
とした。

JIS では,ステンレス鋼製の二振動
子垂 直探 触子 用

E 形対比試験片

RB-E-S)を定義した。

技術的差異は軽微である。

3A  一 般 事

追加

この規格の規定以外の一般事項は,

JIS Z 2344 によることとした。

技術的差異は軽微である。

5  検査技術

受 渡 当 事 者 間 の 協
定によって,JIS G 

0431JIS Z 2305 
は こ れ ら と 同 等 の
資 格 を 適 用 し て も
よい。

 5 ISO 9712 と同等のレベ

3 の資格者の下で資

格付けできた者が実施。

変更

基本的には同等の資格レベルであ
る。

技術的差異は軽微である。

 
 
 
 

21

G 0

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G 0802:2016

(

I)JIS の規定

(

II)

国際規
格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと

の評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

6  探傷装置

手 動 探 傷 器 及 び 自
動 探 傷 器 並 び に 探
触子の要求事項。

 6 自動探傷器及び手動探

傷器並びに探触子の要
求事項。

変更

技術レベルに大きな差異はないが,
増幅直線性及び不感帯の評価基準
が異なる。

ISO 規格では,60 mm 以上の鋼板に
も二振動子を適用可能としている。

JIS では,二振動子及び一振動子探
触子の距離振幅特性を測定する試
験片及び探傷感度を設定する試験
片を規定している。

60 mm 以上の二振動子の適用は今
後,調査を行い,必要に応じて適
用の方法を ISO に提案する。

JIS の探傷感度の設定に関しては,
今後 ISO 規格の規定との同等性を
調査して,ISO 規格との整合を検
討する。

7  探傷方法

探傷形式

探傷時期

探傷面

接触媒質

走査方法

探傷箇所

 
7.1 

6.6 
7.2.2 a)
7.2

 
探傷時期

探傷面

接触媒質

走査方法

探傷箇所

変更

JIS は,探傷形式及び探傷面に一般
的な規定を追加した。

ISO 規格では,探傷カバー範囲を規
定している。探傷ピッチの規定は同
等である。

自動警報装置のない探傷装置を用
いる場合の走査速度は,JIS では,
200 mm/s 以下,ISO 規格では,500 
mm/s 以下である。

探触子の大きさから基本的には同
等となり,技術的差異は軽微であ
る。

自動警報装置のない探傷装置を用
いる場合の走査速度は,ISO 規格
では,

500 mm/s 以下に改正された

が,現在の手動探傷器は,ほとん
ど警報装置をもつこと,及び測定
精度の確保のため,国内市場の現
行条件を維持する。JIS G 0801 
び JIS G 0901 も,同様に 200 mm/s
以下である。

8  探傷感度
の適用・設
定及び対比
線の設定

製 品 板 の 底 面 エ コ
ー と 対 比 試 験 片 と
で感度設定。

 7.4

対比試験片で感度設定。 変更

基本的に JIS の方式が,合理的で,
厳格である。

他 の 類 似 規 格 の 動 向 も 参 考 に ,

ISO への提案を検討する。

9  きずの分

エ コ ー 高 さ に よ っ
て軽きず,中きず及
び重きずの

3 種類に

分類。

 8 きず評価線以上のエコ

ー高さをきずとする。

変更

JIS の方式が,より小さいきずまで
評価している。

他 の 類 似 規 格 の 動 向 も 参 考 に ,

ISO への提案を検討する。

 

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G 0802:2016

(

I)JIS の規定

(

II)

国際規
格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと

の評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

10  き ず の
評価方法

重きず個数,きず

1

個 の 最 大 指 示 長 さ
及 び 密 集 度 に よ っ
て評価。

 8 きずの大きさ及び密集

度で評価する。

変更

ISO 規格はきずの面積で,JIS はき
ずの長さで評価しているが,その差
は軽微である。

他 の 類 似 規 格 の 動 向 も 参 考 に ,

ISO への提案を検討する。

11  き ず の
判定基準

判定基準は一つ。

9

きずの大きさと密集度
とで

4 レベルの判定基

準をもつ。

変更

ISO 規格の最も厳格な判定レベル
が,JIS の判定レベルに相当する。

今後,ISO 規格の判定レベルの要
否を検討する。

12  試 験 報
告書

試 験 報 告 書 の 項 目
を規定。

 10

試験報告書の規定

変更

ISO 規格は全ての項目を報告とし
ているが,JIS は,選択を可能とし
ている。

ISO への提案を検討する。

附属書

JA

(規定)

二 振 動 子 の 性 能 測
定用試験片

追加

JIS では,

RB-E-S 試験片による性能

測定を規定している。

他 の 類 似 規 格 の 動 向 も 参 考 に ,

ISO への提案を検討する。

附属書

JB

(規定)

探 傷 感 度 の 補 正 値
測 定 用 及 び エ コ ー
高 さ 区 分 線 作 成 用
の対比試験片

 7.4

品質レベルによって,き
ずの大きさ,深さが異な
る対比試験片を作成す
ることを規定している。

変更

JIS では,ISO 規格の最厳格レベル

(φ

5 mm)の感度用試験片だけを規

定している。

今後,JIS として,ISO 規格の判
定レベルの要否を検討する。

附属書

JC

(規定)

二 振 動 子 垂 直 探 触
子の性能

追加

JIS では,

RB-E-S 試験片による要求

性能を規定している。

他 の 類 似 規 格 の 動 向 も 参 考 に ,

ISO への提案を検討する。

附属書

JD

(規定)

60 mm 超で超音波減
衰 が 大 き い と き の
評価方法

追加

ISO 規格は感度レベル,判定レベル

4 水準あり,選択方式。JIS は,

感度は

1 レベルだけ規定している。

今後,ISO 規格の判定レベルの要
否を検討する。

JIS と国際規格との対応の程度の全体評価:ISO 17577:2016,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

 MOD

国際規格を修正している。

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G 0

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