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C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 9814

には,次の附属書がある。

附属書 A(規定)  質問表

附属書 B(規定)  試験者への指示(例)

附属書 C(規定)  配分スキーム(例)

附属書 D(規定)  試験スキームの適用可能バリエーション

附属書 E(参考)  この方法の適用(例)

附属書 F(参考)  参考文献


C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

(1) 

目次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  定義

1

4.

  測定の種類

1

5.

  測定の一般条件

2

6.

  寸法の測定法

2

6.1

  全寸

2

6.2

  質量

2

6.3

  電源コード長さ

2

7.

  充電ごとの可働時間

2

7.1

  電池充電ごとの可働時間

2

7.2

  一次電池による可働時間

2

8.

  ひげそり性能

2

8.1

  試験パネルの構成

2

8.2

  試験期間及び試験手順

3

8.2.1

  試験期間

3

8.2.2

  試験手順

3

8.2.3

  取扱い性,便利さ,保管など

3

8.3

  シェーバの配分

3

8.4

  要因分析

4

8.5

  最終等級付け

4

9.

  トリマの性能

4

10.

  そりの深さの差の質量分析

4

10.1

  試験パネルの構成

5

10.2

  試験手順及び配分スキーム

5

10.2.1

  左−右効果

5

10.2.2

  2 種類以上のシェーバタイプの試験

6

10.3

  ひげの量から平均そり残し長さへの換算

6

10.4

  要因分析

6

附属書 A(規定)  質問表

8

附属書 B(規定)  試験者への指示(例)

12

附属書 C(規定)  配分スキーム(例)

13

附属書 D(規定)  試験スキームの適用可能バリエーション

15


C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

目次

(2) 

ページ

附属書 E(参考)  この方法の適用(例)

16

附属書 F(参考)  参考文献

30


日本工業規格

JIS

 C

9814

 : 1999

 (IEC

61254

 : 1993

)

家庭用電気かみそりの性能測定方法

Electric shavers for household use

Methods for measuring the performance

序文  この規格は,1993 年に第 1 版として発行された IEC 61254, Electric shavers for household use−Methods

for measuring the performance

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工

業規格である。

1.

適用範囲  この規格は,シェーバのユーザの関心事である男性用電気シェーバの主要性能特性につい

て規定,定義し,これら特性の標準測定方法について規定する。

この規格は,安全及び性能要件に関するものではない。

2.

引用規格  なし。

3.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

3.1

常用電源シェーバ (main shaver)   普通の電源に直接接続して使用するシェーバ。

備考  このシェーバは付加的電源に適用できることもある。

3.2

充電シェーバ (rechargeable shaver)   充電可能な附属バッテリを電源とするシェーバ。

備考  充電シェーバは,普通の電源に直接接続しても使用できることがある。

3.3

バッテリシェーバ (battery shaver)   一次電池を電源とするシェーバ。

3.4

カーシェーバ (car shaver)   自動車やボートの電池を電源とするシェーバ。

3.5

回転式シェーバ (rotary shaver)   シェービングヘッドが円形で,通常は回転刃をもつシェーバ。

3.6

振動式シェーバ (vibratory shaver)   シェービングヘッドが直線形で,通常は振動刃をもつシェー

バ。

3.7

トリマ (trimmer)   シェーバの附属品で,口ひげ(ひげ),あごひげ,ほお(頬)ひげなど特別なひ

げの手入れに用いるもの。

4.

測定の種類  次の測定を行って性能を定める。

−  全寸  (5.1)

−  質量  (5.2)

−  電源コード長さ  (5.3)

−  電池充電ごとの可働時間  (6.1)

−  一次電池による可働時間(バッテリシェーバだけ)  (6.2)


2

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

−  ひげそり性能  (7.)

−  トリマの性能  (8.)

−  そりの深さの差の質量分析  (9.)

5.

測定の一般条件  特に規定されない限り,測定は次の条件下で行う。

−  環境温度:20±5℃

−  電源電圧:定格電圧 

6.

寸法の測定法

6.1

全寸  シェーバの全寸(高さ,長さ及び幅又は直径)の最高値をミリメートル単位で測定,表示す

る。操作ノブ及び電源コードの保護部のように固定的に突起している部分があればそれも含める。トリマ

のような可働部品は収納する。

保管ケースの全寸も測定する。

6.2

質量  使用状態のシェーバの質量を測定し,5 グラム単位で表示する。

備考  “使用状態”とは保護キャップは外し,電池及び電源コードは付いた状態をいう。

6.3

電源コード長さ  シェーバとの接続点からプラグまでの距離をコード保護部があればそれも含めて

測定する。コイルコードの場合は,約 1daN の力で伸張して測定する。測定値はメートルで,0.05m の単位

に丸めて表示する。

7.

充電ごとの可働時間

7.1

電池充電ごとの可働時間  バッテリはいったん十分充電しそれを放電させてから,使用指示によっ

て十分充電する。

シェーバを 24 時間おきに 5 分間ずつ働かせる。

シェーバを自由雰囲気中で働かせている状態で電池の電

圧が 1.05V を割った時点で試験を終了する。可働時間を分で表示する。

備考  この試験で求められる可働時間は,実使用可能時間より長いであろう。

7.2

一次電池による可働時間  新品の電池を使用し,シェーバを 7.1 に規定するように操作する。シェー

バを自由雰囲気中で働かせている状態で電池の電圧が約 0.9V に落ちた時点で試験を終了する。可働時間を

分で表示する。

備考  この試験で求められる可働時間は,実使用可能時間より長いであろう。

8.

ひげそり性能

8.1

試験パネルの構成  各パネルは,試験を行う国の成人男子をよく代表するように構成する。その際,

ひげの濃さ,あごひげの伸びる速さ,口ひげの剛さ,皮膚刺激に対する敏感度,そしてひげそりにかける

時間に特に配慮する。

試験パネルのメンバは先入観に影響されてはならない。

同じ大きさの分科パネルを構成し,各分科パネルは次の 2 種の基本的電気シェーバシステムの一方を代

表試験する。

−  回転式シェーバ使用(ROTA パネル)

−  振動式シェーバ使用(VIBRA パネル)

統計上の理由から,

上記分科パネルは,

それぞれ少なくとも 12 名の試験者で構成されなければならない。


3

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

備考1.  試験パネルの構成がその国の実情と多少異なっていても試験結果にそれほど顕著な影響はな

い。しかし分科パネルは互いに同じ構成であることが必す(須)である。

2.

湿式のひげそり(カミソリ)を使用している試験者で構成される分科パネルを考えてもよい。

8.2

試験期間及び試験手順

8.2.1

試験期間  試験に先立って 2 週間の導入期間を設け,その間パネルの試験者たちは異なる種類のシ

ェーバに慣れる。すなわち,回転式シェーバを使用している者は振動式シェーバを,振動式シェーバを使

用している者は回転式シェーバを使用してみる。

各シェーバの試験期間は,3 日間のひげそり日からなり,導入期間後 1 週間以内に試験を始める。各試

験期間の第 1 日は試験者が自分のシェーバを使用する(

附属書 参照)。

備考1.  試験するシェーバの数が少ないときは,3日の期間を6日に延長してもよい。第7日に試験者は

自分のシェーバを使用する(

附属書 参照)。

2.

あごひげの薄い又はあごひげの少ないパネルについては,各試験日の前にひげをそらない日

を設けてもよい(

附属書 参照)。

8.2.2

試験手順

第 

最初のひげそり日,各パネル試験者は,参照として自分のシェーバでひげをそる。ひげそり直後に

質問

表 1(附属書 参照)を完成するが,これは最初の 2 試験期間に限る。

備考  質問表 は最終分析には含まれない。それは試験機関が,特に判定スコアの平均レベルに関し

て使用者パネルの特徴付けの参考とする。

第 日及び第 

第 2,第 3 ひげそり日,パネル試験者は,試験シェーバの一つを用いてひげをそる。両日とも,試験者

はストップウォッチを用いてひげそり時間を記録する。そしてひげそり直後,ひげそり時間,そりの深さ

及び皮膚の気持ちよさに関して

質問表 2(附属書 参照)に記入する。

備考  試験スキームの変更の可能性について附属書 に規定してある。

8.2.3

取扱い性,便利さ,保管など  各試験期間において,試験シェーバの取扱い性,便利さ,保管など

を評価し,試験期間の最終日に

質問表 を完成する(附属書 参照)。

各パネル試験者が各試験シェーバを一度試みるまで試験を継続する。

パネル試験者に対する指示事項が

附属書 に規定されている。

8.3

シェーバの配分  シェーバは次の要領で各パネル試験者に配分される。

−  各シェーバで順番にひげをそる。

−  各シェーバを同じ回数(普通一度)使用する。

できる限り次の諸事項を守らなければならない。

−  各パネル試験者ごとに配分するシェーバの順序を変えなければならない。

備考  それによって,シェーバ間の相互影響を避ける。

−  試験する最初のシェーバは導入期間中に使用したものと同一であってはならない。

−  特定のシェーバシステム(VIBRA 又は ROTA)の代表数が少なすぎる場合は,そのシステムの全シ

ェーバを連続して試験しなければならない。

備考  それによって,もう一方のシステムの多すぎる代表数の影響を制限する。

−  同一モデルのシェーバの数はできる限り少なくなければならない。

備考  個々のシェーバは独立して判定されるが,配分スキームを作るための効率のよい手段として


4

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

Kraitchik (1953)

の提唱した方法を用いることができる。この方法は

附属書 に実例によって示

されている。

8.4

要因分析  附属書 に示すように,結果は 10 段階スケールで表され分散分析に処される。

次の変動要因が含まれる。

−  分科パネルによる変動  p

−  (分科パネル内)使用者による変動  t

−  シェーバのタイプによる変動  p

−  相互作用 n×による変動

−  相互作用 t (p)  ×による変動

−  実験誤差による変動(残存変動)

一例として,p=2, t (p)  =18, n=9, k(反復回数)=2 の場合の変動要因とその自由度数  (df)  を

表 に示

す。

表 1  変動要因と自由度数

変動範囲

df

総平均 1

分科パネル p 1

使用者(分科パネル内)t (p) 34

シェーバのタイプ n 8

相互作用 p×n 8

相互作用  (tp×n 272

残存変動 324

シェーバのタイプの均質性は,F 検定で評価される。タイプ間にある有意差があれば,それらタイプの

分別が可能である(

附属書 参照)。

8.5

最終等級付け  要因分析の結果,分科パネルとシェーバタイプ間に顕著な相互作用  (p×n)  が示され

た場合,各分科パネルの結果は別々に提示しなければならない。

例えば,ほお,あご,鼻下それぞれのそりの深さといった個々の結果(

附属書 参照)を分析してその

結果を図示することができる。X

1

から X

9

まで 9 個のシェーバの例を,次に示す。

X

5

, X

1

などの文字の下の横線は分散分析の結果を表す。シェーバのタイプ X

5

及び X

1

は第 1 要因グルー

プを形成し,X

5

と X

1

間の差異はゼロと大きく異ならないことを示す。シェーバ X

1

, X

4

, X

3

と X

2

 ; X

2

, X

7

X

6

 ;

そして X

6

, X

8

と X

9

はそれぞれ第 2,第 3 及び第 4 要因グループを形成する。

平均スコアの差は,それらシェーバタイプが異なる要因グループに属する場合にだけ有意である。

9.

トリマの性能  トリマの性能の評価は,質問表 3(附属書 A)に含まれる。

10.

そりの深さの差の質量分析  この分析は,異なるタイプのシェーバによる相対的なそりの深さを,ひ

げ及び皮膚片の総量をはかりそしてデータの算術処理・統計解析を行って定めるものである。

方法は相対的なもので,試験者は自分の顔の片側をあるタイプのシェーバでそり,反対側を別のシェー


5

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

バでそる。したがって結果は絶対的なものではなく,常にそりの質の差異にかかわるものである。質量分

析は試験室で行わねばならない。

備考  この方法の開発及び背景についての広はん(汎)な情報を含む参考資料が附属書 に挙げてあ

る。

10.1

試験パネルの構成  各パネルを 8.1 によって構成する。各分科パネルの試験者数 は,最低 6 名好ま

しくは 12 名とする。

10.2

試験手順及び配分スキーム  この方法は,2 日ずつ 2 区分,計 4 日の試験期間に基づく。試験第 1

日の前日,試験者は通常のように自宅でひげをそる(

図 参照)。

試験期間中試験者たちは,自分できれいにそれたと思うまでひげをそる。

第 

第 1 日,試験者は,1 日分ひげを伸ばして試験室にくる。

試験者は,自分の顔の左側をタイプ A のシェーバでそり,右側をタイプ B のシェーバでそる。左,右側

のそりに要した時間を別々に記録する。

第 

24

時間±4 時間後,試験者は,ひげをそらずに試験室に戻る。ひげは伸びているが,第 1 日に使用した

シェーバ A, B のそりの深さの差が顔の両側のそり残しの長さの差として現れている。

各試験者は顔の左側を参照シェーバ (S) でそる。そり時間を記録する。そり前,後の参照シェーバの質

量をはかり,そり落とされたひげと皮膚片の量 M

s

を求める。

備考1.  参照シェーバはそられたひげが保留されるものならどんなタイプでもよい。

2.

M

s

は分析用はかりを用いれば正確に求められる。

3.

試験前後にひょう量する時点でシェーバの温度はほぼ同一でなければならない。

顔の右側について同じ手順を繰り返す。

備考4.  同一のタイプであれば参照シェーバが異なってもよい。

第 1 日にシェーバ A, B を使用したそりの深さの差は,ここで顔の片側ずつについてそり落とされた量

(mg で表示)の差  (M

sl

II

M

sr

II)

である。

備考5.  そり落とし収量は通常50mg のオーダで,収量の差は1∼10mg のオーダである。

6.

シェーバを指で汚すことがあり,試験者と試験室の助手は,手袋をはめる必要がある(薄手

の木綿手袋がよい。

温度・湿度が管理された部屋で試験を行えば測定精度の向上がはかれる。

備考7.  付加的な利点として,試験者をそのような部屋でひげそり前に5分間待機させれば彼らの皮膚

の状態を標準化することができる。この点は試験者が汗をかいて困る夏場に特に重要である。

10.2.1

左−右効果  顔の両側のひげの量に差があるときそれを相殺するため,シェーバの使用順序を変え

て同じ手順を繰り返す。

第 

第 1 日と同様だが,今回は顔の左側にシェーバ B を使用し,右側にシェーバ A を使用する。

第 

第 2 日と同様だが,今回は顔の右側及び左側のそり落とし量の差  (M

sr

IV-M

sl

IV)

を求める。

備考  試験者が自分のシェーバを使用するなら第 2 日と第 3 日との間隔が開いてもよい。


6

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

10.2.2  2

種類以上のシェーバタイプの試験  2 種類以上のタイプのシェーバを試験する場合,各試験者が

一つの参照シェーバを使用して他のシェーバと比較する。仮に 種のタイプのシェーバ(n

1

から n

x

)を評

価するとして,第一の試験者は,タイプ n

1

のシェーバを参照シェーバ  (n

1

r)

とし,次の順序でシェーバを

使う。

n

1

r-n

1

n

1

r-n

2

n

1

r-n

3

n

1

r-n

x

第二の試験者は,タイプ n

2

のシェーバを参照シェーバ  (n

2

r)

とし,次の順序でシェーバを使う。

n

2

r-n

2

n

2

r-n

3

n

2

r-n

4

n

2

r-n

x

n

2

r-n

1

こうして,各試験者は,常に同じタイプのシェーバの組合せ(すなわち,n

1

r-n

1

n

2

r-n

2

n

3

r-n

3

など)で試

験を開始し,その他の組合せは数字の順に試験される。

各試験シェーバは,参照シェーバと同じ回数使用される。

10.3

ひげの量から平均そり残し長さへの換算  ひげの量を平均そり残し長さに換算する。それぞれのひ

げそり落とし量差を顔のひげの全量  (n)  ,ひげの密度  (p)  ,とひげの平均断面積  (F)  の積で除す。

備考1.  この質量法の開発中,大きな試験者パネルについて平均 npF が求められた。全そり落とし質

量の約75%がひげであることが分かった。24時間中のあごひげの平均の伸びは約400

µm であ

る。

Thus :

)

(

10

875

.

1

)

(

400

75

.

0

F

sr

l

s

3

sr

sl

M

M

M

M

np

+

×

+

顔全面の平均そり残し長さを計算するため,顔の左及び右側のひげそり落とし量の差を 2 倍する。そし

て顔全面の平均そり残し長さは,次のようになる。

)

(

)

(

067

1

)

(

10

875

.

1

)

(

2

sr

l

s

sr

l

s

sr

l

s

3

sr

sl

M

M

M

M

M

M

M

M

+

+

×

備考2.  一例として,MSl=40.4mg, Msr=38.6mg であれば,平均そり残し長さは:

24

)

6

.

38

4

.

40

(

)

6

.

38

4

.

40

(

067

1

+

µm

10.4

要因分析  個々の  [M

sl

II

M

sr

II]

及び  [M

sr

IV

M

sl

IV]

のデータのすべてに基づいて要因分析が行わ

れる。

)

IV

IV

(

)

IV

IV

(

067

1

and

)

II

II

(

)

II

II

(

067

1

sl

sr

sl

sr

sr

sl

sr

sl

M

M

M

M

M

M

M

M

+

+

もし 2 種類以上のシェーバタイプを試験するのであれば,

8.4

に規定する分散分析を適用する必要があり,

その場合,次の変動要因を追加する。

−  顔の側による変動  s

−  相互作用 p×による変動

−  相互作用 t (p)  ×による変動

−  相互作用 n×による変動

備考1.  もし2種類のシェーバだけを比較するのなら,そり残し長さの平均差がゼロから著しく隔たる

かどうかを推定するため(各試験者について“左−右”効果を消去した)個々のデータに基

づいて有意差の 検定を行わなければならない。

IV

IV

II

II

IV

IV

II

II

067

1

sr

sl

sr

sl

sr

sl

sr

sl

M

M

M

M

M

M

M

M

+

+

+

+

2.

ひげの量から平均そり残し長さへの換算は省略してよく,そり落とし量値に基づいて要因分


7

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

析を行う。

シェーバタイプの等級付けを 8.5 に規定するように行う。

図 1  試験手順を図で表したもの


8

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 A(規定)  質問表

質問表 


9

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

質問表 


10

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

質問表 


11

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)


12

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 B(規定)  試験者への指示(例)

備考  シェーバは複数の試験者が使用します。皮膚感染を防ぐため,シェーバヘッドとクリッパは,完全に清掃,消

毒します。


13

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 C(規定)  配分スキーム(例)

9

種のタイプのシェーバの配分スキーム(例)

シェーバのタイプの全数 n=9

回転式シェーバのタイプ数=3(1 番から 3 番とする。

振動式シェーバのタイプ数=6(4 番から 9 番とする。

1/2 (n

+1)  列の縦欄と 行,すなわち,5 列と 9 行,1 から 9 までの番号を左から右,上から下に向かっ

て記入する。

附属書 表 ではこれが 5 列に太字の数字で記入されている。そして今度は表の右下の隅か

ら逆方向に 1/2 (n−1)  列の欄に普通の字体の数字が記入されていく。

附属書 表 1

1 2 9 3 8 4 7 5 6

6 7 5 8 4 9 3 1 2

2 3 1 4 9 5 8 6 7

7 8 6 9 5 1 4 2 3

3 4 2 5 1 6 9 7 8

8 9 7 1 6 2 5 3 4

4 5 3 6 2 7 1 8 9

9 1 8 2 7 3 6 4 5

5 6 4 7 3 8 2 9 1

この例では試験者の数がシェーバの数の倍とすると,各分科パネルに対するシェーバの配分シーケンス

は単に

附属書 表 の各列を逆に並べれば得られる(附属書 表 2)。

附属書 表 2

6 5 7 4 8 3 9 2 1

2 1 3 9 4 8 5 7 6

7 6 8 5 9 4 1 3 2

3 2 4 1 5 9 6 8 7

8 7 9 6 1 5 2 4 3

4 3 5 2 6 1 7 9 8

9 8 1 7 2 6 3 5 4

5 4 6 3 7 2 8 1 9

1 9 2 8 3 7 4 6 5

例えば,分科パネルの試験者数を 15 名に限ると,

附属書 表 又は附属書 表 から 3 行をランダム

に消去できる。

試験者数 t (p)  =18 の二つのパネルについて

附属書 表 及び附属書 表 を組み合わせれば全配分ス

キームが得られる。

附属書 表 は,一例として,導入期間と第一週にこの配分スキームを適用したものである。

この試験を行うのに必要な試験者の最低数は 72,すなわち,シェーバ 1 タイプ当たり 8 名である。


14

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 3  導入期間及び第一週の配分スキーム

経験者

導入期間

試験機関 1

試験機関 2

パネル No.

第 1 日

第 2,3 日

第 1 日

第 2,3 日

ROTA

1

401 E 101 E 205

  2

402 E 601 E 705

  3

403 E 201 E 305

  4

501 E 701 E 805

  5

502 E 301 E 405

  6

503 E 801 E 905

  7

601 E 401 E 505

  8

602 E 901 E 105

  9

603 E 501 E 605

  10

801 E 602 E 506

  11

802 E 202 E 106

  12

803 E 702 E 606

  13

901 E 302 E 206

  14

902 E 802 E 706

  15

903 E 402 E 306

  16

701 E 902 E 806

  17

702 E 502 E 406

  18

703 E 102 E 906

VIBRA

19

301 E 103 E 207

  20

302 E 603 E 707

  21

303 E 203 E 307

  22

201 E 703 E 807

  23

202 E 303 E 407

  24

203 E 803 E 907

  25

101 E 403 E 507

  26

102 E 903 E 107

  27

103 E 503 E 607

  28

104 E 604 E 508

  29

105 E 204 E 108

  30

106 E 704 E 608

  31

204 E 304 E 208

  32

205 E 804 E 708

  33

206 E 404 E 308

  34

304 E 904 E 808

  35

405 E 504 E 408

  36

506 E 104 E 908

E

: 自分のシェーバ 501…508 : シェーバのタイプ E

101

…108 : シェーバのタイプ A 601…608 : シェーバのタイプ F

201

…208 : シェーバのタイプ B 701…708 : シェーバのタイプ G

301

…308 : シェーバのタイプ C 801…808 : シェーバのタイプ H

401

…408 : シェーバのタイプ D 901…908 : シェーバのタイプ I


15

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 D(規定)  試験スキームの適用可能バリエーション

 A

B

C

各週試験者 2 名:

試験シェーバ多数

各週試験者 1 名:

試験シェーバ少数

各週試験者 1 名:

パネルによるひげそり 2 日に 1 回


試験者自身のシェーバ使用(最初の 2 試験期間) 
試験シェーバの配分と回収


試験シェーバ使用

ひげそり性能評価

試験シェーバ使用

評価不要

ひげそりなし


試験シェーバ使用

ひげそり性能及び他の全要素の評価*

試験シェーバ使用

評価不要

試験シェーバ使用

ひげそり性能評価



試験者自身のシェーバ使用

試験シェーバ使用 
評価不要

ひげそりなし



次の試験シェーバ使用 
ひげそり性能評価

試験シェーバ使用 
ひげそり性能評価

試験シェーバ使用 
ひげそり性能及び他の全要素の評価*


試験シェーバ使用 
ひげそり性能及び他の全要素の評価*

試験シェーバ使用 
ひげそり性能及び他の全要素の評価*

試験者自身のシェーバ使用


試験者自身のシェーバ使用

ひげそりなし

*

他の要素については,同日中又は同夕刻までに評価できる。

備考1.  この規格が推奨するのはスキーム A である。

2.

スキーム C は,あごひげが薄いかあごひげが少ない場合に適用可能である。


16

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 E(参考)  この方法の適用(例)

この附属書 E(参考)は,この方法の適用(例)について記述するものであり,規定の一部ではない。

E.1

緒言  この方法が二つの研究室で試みられた。分散分析の結果が以降 16 の表にまとめられている。試

験したシェーバのグループは同一ではないが,両グループには同じタイプのシェーバが 4 種,ここでは A,

B, C

及び D とする,が含まれた。この方法の再現性の検討のため,結果の解析はこの 4 種のシェーバを中

心に行われた。

E.2

試験パラメータの概要

研究室 1

−  シェーバのタイプ数:8(シェーバ A, B, C, D を含む。

−  試験パネルの数:2(

“rota”と“vibra”

−  各パネルの試験者数:15

研究室 2

−  シェーバのタイプ数:12(シェーバ A, B, C, D を含む。

−  試験パネルの数:2(

“rota”と“vibra”

−  各パネルの試験者数:14

E.3

結果  分散分析の結果は,附属書 表 115 に示されている。

附属書 表 

rota

及び vibra 使用者の合同パネルの均質性の試験結果を示す。

ほとんどの項目においてパネル×シェーバタイプの相互作用が極めて顕著なことが分かる。したがって

分散分析は各パネル別に行われた。それぞれの結果が示されている。

附属書 表 215 は結果の詳細である。これらの表中,どちらか片方の研究室でだけ試験されたシェー

バタイプは

*印で示してある。

附属書 表 16 にはシェーバタイプ A, B, C 及び D について得られた結果だけをまとめ,他のシェーバタ

イプについての結果は除いてある。この表では,縦線で区切られた 2 種以上のシェーバタイプ(例えば,

最初の“ひげそり時間”の囲みの最下行のシェーバ B, A, D)は同じ要因クラスに属する。したがって,首

題の特性に関してはこれらは同一とみなされる。表中のタイプの順序はランダムである。

1

本の縦線で隔てられている(クラス差 1 以下)シェーバタイプはおそらく同一ではないが,差はあっ

ても統計的に有意ではない。2 本又はそれ以上の縦線で隔てられた(クラス差 1 又はそれ以上)シェーバ

タイプ間の差は統計的に有意である。

E.4

結論  附属書 表 から,ほとんどの場合に統計的に有意なパネル×シェーバタイプの相互作用が存

在すると結論できる。それによって,シェーバの性能試験は“rota”及び“vibra”パネル別に行わなけれ

ばならないことが確かめられる。

附属書 表 215 は,この試験によって異なるシェーバ間の差異の統計的識別が適正に行われることを

示す。


17

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 16 は一般論として約 15 名の試験者で構成される使用者パネルによって得られる結果は再現

性があることを示す。統計的有意度の差はしばしばみられるものの,二つの研究室で定められた等級は多

くの場合同じである。

この観点から,統計的有意度又は等級付けにおける差異はむしろ“国別効果”によって起こり得ること

に留意すべきである。すなわち,それらは試験が行われる国を代表する差であり得る。

以上を総括すると,この規格を用いることによって,シェーバの性能を高度の統計的信頼性をもって特

徴づけられる可能性が極めて大きいと結論できる。

附属書 表 1  パネル×タイプの相互作用

測定

研究室

統計的有意度

ひげそり時間 1

SS

 2

SS

最終的なそりの深さ 1

NS

ほお,あご,及び鼻下 2

SS

最終的なそりの深さ 1

SS

首 2

SS

皮膚刺激 1

SS

使いやすさと気分 2

SS

総合判定 1

SS

シェーバ 2

SS

取扱い 1

SS

難しい場所のそり 2

SS

取扱い 1

NS

入/切スイッチ 2

NS

騒音 1

NS

 2

NS

振動 1

NS

 2

NS

そったひげの保留 1

NS

 2

NS

清掃法 1

NS

 2

SS

使用説明 1

NS

 2

S

保管 1

NS

元の袋又はケース 2

S

NS

:95%レベルで検定して有意差なし

S

:>95%レベルで有意

SS

:>99%レベルで有意


18

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 2  “ひげそり時間”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

B A

2

B

A

3

A

C

4

C D**

平均スコア  155 159 161 175 178 185

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 B

**A

 

2

**A

* *  

3

* * * *

4

* * * *

CD

平均スコア  154 160 178 185  196  201

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* * 

CD*

2

CD*

*A

3

CD*

*A B

平均スコア  196 204 212 233 240

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*

**C*

BA*D

2

**C*

BA*D

3

BA*D

* *

*

平均スコア 201 204  207  211 215

附属書 表 3  “ほお,あご,及び鼻下の最終的そりの深さ”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* C B

2

C

B

A*D

3

C

A*D

* *

平均スコア 8.3 8.1 8.0 7.7 7.6

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* B *

C*

2

B

*

C*

A**

3

*

C*

A**

* *

4

C*

A**

* * D

* * D  *

平均スコア 8.2 8.0 7.9 7.8 7.6 7.4 7.3 7.0


19

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* C B

2

C

B

A*D

3

C

A*D

* *

平均スコア 8.3 8.1 8.0 7.7 7.6

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* B *

C*

2

B

*

C*

A**

3

*

C*

A**

* *

4

 

C*

A**

* * D

* * D  *

平均スコア 8.2 8.0 7.9 7.8 7.6 7.4 7.3 7.0

附属書 表 4  “首筋の最終的そりの深さ”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* B

2

B

A

3

A

CD***

平均スコア 8.0 7.8 7.4 7.2

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* B *A

2

B

*A

* *

3

*A

* *

*C**

4

  

*C**

D*

平均スコア 7.8 7.6 7.4 7.2 6.7 6.4

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C****BDA

平均スコア 6.9

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C

*

***B

2

*

***B

* *

3

***B

* * DA*

4

* * DA*

*

平均スコア 7.6 7.5 7.4 7.2 7.1 6.9


20

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 5  “首筋の皮膚刺激”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 B*C

A*D

2

A*D

*

3

*

*

平均スコア 8.1 7.5 7.1 6.4

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**BA***

D*C

2

* *

平均スコア 7.4  7.0

6.5

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C

* * D

2

* * D B*

3

D

B*

*

4

B*

* A

平均スコア 7.5 7.2 7.0 6.7 6.4 6.0

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*C

*

***D

2

*

***D

A

3

***D

A

*B*

4

A

*B*

*

平均スコア 8.1 8.0 7.9 7.6 7.4 7.2

附属書 表 6  “使用性及び気持ちよさの総合判定”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*B AC

2

AC

*

3

*

**D

平均スコア 8.0 7.7 7.2 6.6

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**B AC

2

AC

* * *

3

* * *

*

4

*

*

5

*

*D

平均スコア 8.5 8.1 7.5 7.0 6.3 6.0


21

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C

B**

2

B**

**A

3

   D

平均スコア 7.9 7.2 6.8 5.7

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C

* *

* * * *

2

* *

* * * *

B A*

3

* * * *

B A*

*

4

 

A*

* D

平均スコア 8.0 7.8  7.7  7.5 7.3 7.1 6.8

附属書 表 7  “シェーバの取扱い”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 B* AC*

2

AC*

*D

3

*D

*

平均スコア  8.0 7.4 6.9 6.3

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*B*

C*

*

2

C*

*

*

3

*

*

*A*

4

   *

*A*

*

5

 

*A*

* D

平均スコア 8.3 8.0 7.6 7.1 6.6 6.5 6.3

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C

*B**

2

*B**

*A

3

   D

平均スコア 8.1 7.5 7.2 5.6

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C**

***B

2

***B

***A

3

***A

D

平均スコア 8.3 8.0 7.4 7.1


22

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 8  “難しい場所のそり”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* AB C

2

AB

C

*

3

C

*

*D*

平均スコア 8.1 7.9 7.5 7.3 7.0

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 B***

* AC**

2

*

*

3

* D

4

* D *

平均スコア 7.5 7.2 7.0 6.5 6.3 5.9

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C**

*

2

*

*

3

* ABD

平均スコア 7.8 7.3 6.7 6.2

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*C

*

* *

*

2

*

* *

* D

3

**

* D *B

4

   * D *B

*A*

平均スコア 8.3 8.1 7.9 7.6 7.4 7.2 6.9

附属書 表 9  “入/切スイッチ”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 BC

*D*A

2

*D*A

* *

平均スコア 8.4  7.8  7.4

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**C*

* * *

*DB

2

* * *

*DB

A

3

*DB

A

*

平均スコア 8.6 8.4 7.9 7.3 6.9


23

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C

* B

2

* B A

3

B

A

*

4

A

*

**D

平均スコア 7.9 7.7 7.6 7.0 6.9 6.6

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C

*

**D***

B

2

*

*

3

*

4

*

*A

平均スコア 9.3 9.1  8.5  7.8 7.2

附属書 表 10  “騒音”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 B*

A*

2

A*

*C

3

 

*D

平均スコア 8.4 7.3 6.7 4.9

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*B

* A

2

* A *C

3

A

*C

* * * *

4

       *

5

        D

平均スコア 8.3 8.0 7.8 7.6  7.4  6.1 4.7

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 B*A

* C

2

* C *

3

C

*

*

4

     D

平均スコア 7.4 7.1 7.0 6.5 6.3 5.5

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*B

* A

2

* A *C

3

A

*C

* * * *

4

       *

5

        D

平均スコア 8.3 8.0 7.8 7.6  7.4  6.1 4.7


24

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 11  “振動”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 B*A

2

*C**D

平均スコア 8.7

6.5

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**B

*A

 

2

*A C**

* *

3

C**

* *

4

*D

平均スコア 8.7 8.4 7.8 7.5 6.1

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*BA

2

C

D**

3

D**

*

平均スコア 8.2 7.2 6.8 6.3

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**B

*A

 

2

*A C**

3

C**

* *

4

*D

平均スコア 8.7 8.4 7.8 7.5 6.1

附属書 表 12  “ひげの保留”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*AB

2

*

*DC

3

*DC

*

平均スコア 8.8 6.6 6.3 5.4

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**B*A

2

****C*D

平均スコア 8.8

7.0


25

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 A*

B  

2

B

*

3

*

*CD

4

*CD

*

平均スコア 8.0 7.8 7.3 7.0 6.6

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**B*A

2

****C*D

平均スコア 8.8

7.0

附属書 表 13  “清掃法”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 AB*C**D*

平均スコア 7.4

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 B*

*

* AC*

2

*

* AC*

*

3

* AC*

*

*

4

AC*

*

*

*

* D

*

平均スコア 8.1 8.0 7.8 7.7 7.6 7.5 6.9 6.1 5.8

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

*ABC***D

平均スコア 7.0

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**C*****BAD*

平均スコア 7.7

附属書 表 14  “使用説明”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 A*B*C

2

**D

平均スコア 8.1

6.2

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 A***C*B****D

平均スコア 7.8


26

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 C*A*

B*

2

B*

*D

平均スコア 7.6  7.0  6.1

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

**C******BA

2

D

平均スコア 8.0  5.9

附属書 表 15  “元のケースでの保管”分散分析結果

Rota

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 AB*

*C*

2

*C*

*

3

   D

平均スコア 8.2 7.6 6.9 5.5

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 CB****A*

2

* D

3

D

*

4

*

*

平均スコア

8.2

6.3 6.0 5.3 4.9

Vibra

パネル

研究室 1 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1 A*B**

C

2

C

*

3

D

平均スコア 7.6 7.0

6.5

4.8

研究室 2 における試験

等級グループ

シェーバタイプ記号

1

* CB*****

2

CB*****

3

A

D*

4

A

D*

*

平均スコア 8.4  8.3  7.5 6.6 6.4


27

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 16  ユーザ向けの可能等級づけ

備考  タイプ記号間の 1 本の縦線は差がある傾向を示し,2 本又はそれ以上の縦線だけがタイプ間に

統計的に有意な差があることを示す。


28

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 16(続き及び結論) 


29

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 表 16(続き及び結論)


30

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

附属書 F(参考)  参考文献

1.

 David

H.

A.

:一対(いっつい)比較試験法  Charles Griffin & Co. , Ltd. London

2.

Duncan D. B.

:多重範囲及び多重 F 検定  Biometrics 11, 1955, 1-42

3.

Commissaris C. P. L. and DE GEE A. W. J.

  電気シェーバによるそりの深さの客観的試験法 TNO Institute

of Production and Logistics Research, Apeldoorn Branch, the Netherlands ;

報告 C75-324-9 1A, IEEE Appliance Technical Conference, St Louis, 1975-5 月


31

C 9814 : 1999 (IEC 61254 : 1993)

第 59/61-1 小委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

八木澤  英  長

財団法人電気安全環境研究所

(委員)

佐  藤  政  博

財団法人電気安全環境研究所

渡  辺  博市郎

財団法人日本品質保証機構

上  野  雅  雄

製品評価技術センター

浅  井      功

社団法人日本電気協会

片  岡      茂

国民生活センター

伊  藤  文  一

財団法人日本消費者協会

中  野  三千代

全国地域婦人団体連絡協議会

原      早  苗

消費科学連合会

大  内  孝  典

全国電機商業組合連合会

齋  藤  有  常

日本百貨店協会

岡  田  省  三

社団法人日本厨房工業会

重  田  政  秀

日本自動販売機工業会

鴨志田  隆  英

日本暖房機器工業会

奥      敏  夫

社団法人日本ホームヘルス機器工業会

中  野  康  夫

三洋電機株式会社

新  里  勝  弘

シャープ株式会社

平  岡  俊  二

株式会社東芝

仁  衡  昭  一

株式会社日立製作所

奈良井  良  雄

三菱電機株式会社

青  田  安  功

松下電器産業株式会社

石  井  禎  二

松下電工株式会社

佐々木      宏

松下電器産業株式会社

平  田  俊  通

三洋電機株式会社

森  川  喜  之

松下電器産業株式会社

田  嶋  啓  三

日立工機株式会社

横  山  豊  次

社団法人日本電子機械工業会

薦  田  康  久

通商産業省資源エネルギー庁

橋  爪  邦  隆

通商産業省工業技術院

伊  藤      章

通商産業省機械情報産業局

(事務局)

柴  田  和  男

社団法人日本電機工業会

電気かみそり技術専門委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

前  川  多喜夫

松下電工株式会社

(委員)

知屋城  雅  展

九州日立マクセル株式会社

酒  井  喜代隆

三洋電機株式会社

谷  岡      進

株式会社東芝テック

岩  田  光  正

日本電気ホームエレクトロニクス株式会社

斎  藤  恭  一

日立フィリップス株式会社

上  原  修  三

セイコー株式会社

本  山  俊  彦

ブラウンジャパン株式会社

(事務局)

尾  身  健  二

社団法人日本電機工業会