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C 9730-1

:2010

(1) 

目  次

ページ

序文

1

1

  適用範囲及び引用規格

1

2

  用語及び定義

6

3

  一般要求事項

25

4

  試験に関する一般注意

25

5

  定格

28

6

  分類

28

7

  情報

34

8

  感電に対する保護

40

9

  保護接地装置

43

10

  端子及び端末

45

11

  構造要求事項

52

12

  耐湿性及び防じん性

67

13

  耐電圧及び絶縁抵抗

69

14

  温度上昇

71

15

  製造偏差及びドリフト

75

16

  環境によるストレス

76

17

  耐久性

77

18

  機械的強度

83

19

  ねじ山付き部品及び接続部

86

20

  沿面距離,空間距離及び固体絶縁物を通しての距離

89

21

  耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性

96

22

  耐腐食性

100

23

  電磁両立性  (EMC)  要求事項−エミッション

100

24

  部品

101

25

  通常動作

101

26

  電磁両立性  (EMC)  要求事項−イミュニティ

101

27

  異常動作

101

28

  電子的断路の使用に関する指針

103

附属書 A(規定)表示の耐消滅性

120

附属書 B(規定)沿面距離及び空間距離の測定

122

附属書 C(規定)水銀スイッチ試験に用いる綿

126

附属書 D(参考)耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性

127

附属書 E(規定)漏えい電流測定回路

128

附属書 F(参考)耐熱性及び耐火性カテゴリ

129


C 9730-1

:2010  目次

(2)

ページ

附属書 G(規定)耐熱性及び耐火性試験

130

附属書 H(規定)電子制御装置の要求事項

132

附属書 J(規定)サーミスタ使用の制御装置の要求事項

171

附属書 K(参考)過電圧制御の異なるモードに関する給電系統の公称電圧

176

附属書 L(規定)過電圧カテゴリ

178

附属書 M(参考)過電圧カテゴリの典型的な取扱い

179

附属書 N(規定)汚損度

180

附属書 P(規定)プリント回路板塗装特性試験

181

附属書 Q(規定)プリント回路板塗装特性試験

183

附属書 R(参考)サージイミュニティ試験の解説

186

附属書 S(参考)箇条 20 の適用指針

190

附属書 T(規定)SELV 及び PELV に対する要求事項

192

附属書 U(規定)JIS C 9335 機器の制御装置として使用するリレーに対する要求事項

195

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表

198


C 9730-1

:2010

(3) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本

工業規格である。これによって,JIS C 9730-1:2004 は改正され,この規格に置き換えられた。ただし,こ

の規格の製品は電気用品安全法によって規制されていたり,その規制の対象となる製品の部品として使用

されるものであり,この規格の改正時点においては JIS C 9730-1:2004 が規制上の技術基準として採用され

ている。改正されたこの規格が,直ちに規制上の技術基準として採用されることを意味するものではない

ため,この規格を規制対象となる電気用品の適合義務を果たすために使用する場合には,規制上の扱いに

十分注意する必要がある。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 9730

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 9730-1

  第 1 部:一般要求事項

JIS C 9730-2-2

  第 2-2 部:感熱式モータ保護装置の個別要求事項

JIS C 9730-2-3

  第 2-3 部:蛍光ランプ用安定器の感熱式保護装置の個別要求事項

JIS C 9730-2-4

  第 2-4 部:密閉形及び半密閉形の電動圧縮機用の感熱式モータ保護装置の個別要求事

JIS C 9730-2-5

  第 2-5 部:自動電気バーナコントロールシステムの個別要求事項

JIS C 9730-2-6

  第 2-6 部:機械的要求事項を含む自動電気圧力検出制御装置の個別要求事項

JIS C 9730-2-7

  第 2-7 部:タイマ及びタイムスイッチの個別要求事項

JIS C 9730-2-8

  第 2-8 部:電動式ウォーターバルブの個別要求事項

JIS C 9730-2-9

  第 2-9 部:温度検出制御装置の個別要求事項

JIS C 9730-2-10

  第 2-10 部:モータ起動リレーの個別要求事項

JIS C 9730-2-11

  第 2-11 部:エネルギー調整器の個別要求事項

JIS C 9730-2-12

  第 2-12 部:電動式ドアロックの個別要求事項

JIS C 9730-2-13

  第 2-13 部:湿度検出制御装置の個別要求事項

JIS C 9730-2-14

  第 2-14 部:電気アクチュエータの個別要求事項

JIS C 9730-2-15

  第 2-15 部:自動電気式の空気流量,水流量及び水位検出制御装置の個別要求事項

JIS C 9730-2-17

  第 2-17 部:機械的要求事項を含む電動式ガスバルブの個別要求事項

JIS C 9730-2-19

  第 2-19 部:機械的要求事項を含む電動式オイルバルブの個別要求事項


C 9730-1

:2010  目次

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

9730-1

:2010

家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置−

第 1 部:一般要求事項

Automatic electrical controls for household and similar use

Part 1: General requirements

序文

この規格は,1999 年に第 3 版として発行された IEC 60730-1,Amendment 1 (2003) 及び Amendment 2

(2007)  を基とし,我が国の配電事情を考慮し,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。ただ

し,追補 (amendment) については,編集し,一体とした。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

1

適用範囲及び引用規格

1.1

この規格は,暖房,空気調節及びこれに類する用途の制御装置を含む,家庭用及びこれに類する用

途の機器の中若しくはその表面,又はそれと共に使用する自動電気制御装置に適用する。この機器は,電

気,ガス,油,固形燃料,太陽熱エネルギーなど,又はそれらの組合せを使用してもよい。

1.1.1

この規格は,動作値,動作時間及び動作シーケンスが,機器の安全にかかわる場合において,固有

の安全に関して適用する。また,家庭用若しくは類似の機器において,又はそれらと関連して使用する自

動電気制御装置の試験に適用する。

この規格は,JIS C 9335 の規格群の適用範囲内の機器(以下,JIS C 9335 機器という。

)に使用する制御

装置に対しても適用する。

注記 1  この規格を通して,“機器”という用語は,“器具及び機器”を意味する。

JIS C 9730-2

シリーズで明りょうに記載しない限り,この規格は,工業用を意図した自動電気制御装置

には適用しない。

この規格は,制御システムに組み込んで使用する個別制御装置,又は非電気的出力をもつ多機能制御装

置と機械的に一体となっている制御装置にも適用する。

通常,家庭で使用しない機器の電気制御装置であっても,店舗,軽工業及び農場において,一般の人が

使用する場合には,この規格の適用範囲内である。

附属書 に規定するサーミスタにも適用する。

この規格は,JIS C 9335 機器の制御装置として使用するリレーにも適用する。

JIS C 9335

機器の制御装置として使用するリレーの安全性及び動作値に関する追加の要求事項を,

附属

書 に規定する。

注記 2  これらの要求事項は,JIS C 4540-1 の適用範囲で参照している。

注記 3  この規格は,JIS C 9335-1 の適用範囲内の機器の制御装置として使用する,独立したリレー


2

C 9730-1

:2010

の試験にも適用することを意図している。ただし,その他の独立したリレー又は IEC 61810

の規格群と置き換えるリレーに適用することは意図していない。

1.1.2

この規格は,温度,圧力,時間の経過,湿度,光,静電効果,流れ,液体レベル,電流,電圧,加

速度又はその組合せのような特性に反応する,又はそれらを制御する自動電気制御装置で,機械式又は電

動式のものに適用する。

1.1.3

この規格は,特殊タイプの自動電気制御装置である,モータの始動巻線を切替えするように設計さ

れた始動リレーにも適用する。このような制御装置は,モータ中に組み込むか,又はモータから分離して

いてもよい。

1.1.4

この規格は,電気的及び/又は機械的に自動制御装置と一体であるときの手動制御装置にも適用す

る。

注記  自動制御装置の一部でない手動スイッチの要求事項は,JIS C 4526-1 に含まれる。

1.2

この規格は,690 V 以下の定格電圧,63 A 以下の定格電流をもつ制御装置に適用する。

1.3

この規格は,自動制御装置の作動の応答値が自動制御装置の機器への取付方法に依存するときは,

その応答値については考慮しない。応答値が使用者の保護のため又は周辺に対し重要な目的のものである

場合,該当する家庭用機器規格において規定する又は製造業者が決定した値を適用する。

1.4

この規格は,電子装置を組み込んでいる制御装置にも適用する。その要求事項は,

附属書 に示す。

この規格は,負の温度係数 (NTC) 又は正の温度係数 (PTC) サーミスタを使用する制御装置にも適用す

る。その要求事項は,

附属書 に示す。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60730-1:1999

,Automatic electrical controls for household and similar use−Part 1:General

requirements,Amendment 1:2003 及び Amendment 2:2007 (MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

1.5

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0365:2007

  感電保護−設備及び機器の共通事項

注記  対応国際規格:IEC 61140:2001,Protection against electric shock−Common aspects for installation

and equipment (IDT)

JIS C 0664:2003

  低圧系統内機器の絶縁協調  第 1 部:原理,要求事項及び試験

注記  対応国際規格:IEC 60664-1:1992,Insulation coordination for equipment within low-voltage

systems−Part 1: Principles, requirements and tests,Amendment 1:2000 及び Amendment 2:2002

(MOD)

JIS C 0920:2003

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529:1989,Degrees of protection provided by enclosures (IP code)及び

Amendment 1:1999 (MOD)

JIS C 2134:2007

  固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法

注記  対応国際規格:IEC 60112:2003,Method for the determination of the proof and the comparative

tracking indices of solid insulating materials (IDT)


3

C 9730-1

:2010

JIS C 2570:1998

  直熱形 NTC サーミスタ通則

注記  対応国際規格:IEC 60539:1976,Directly heated negative temperature coefficient thermistors

(MOD)

JIS C 3662

(規格群)  定格電圧 450/750 V 以下の塩化ビニル絶縁ケーブル

注記  対応国際規格:IEC 60227 (all parts),Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and

including 450/750 V (MOD)

JIS C 3663-1:2007

  定格電圧 450/750 V 以下のゴム絶縁ケーブル−第 1 部:一般的要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60245-1:2003,Rubber insulated cables−Rated voltages up to and including

450/750 V−Part 1: General requirements (MOD)

JIS C 4003:1998

  電気絶縁の耐熱クラス及び耐熱性評価

注記  対応国際規格:IEC 60085:1984,Thermal evaluation and classification of electrical insulation (IDT)

JIS C 5101-14:2009

  電子機器用固定コンデンサ−第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コ

ンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-14:2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:

Sectional specification; Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection

to the supply mains (IDT)

JIS C 5101-16:1999

  電子機器用固定コンデンサ−第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロ

ピレンフィルム直流コンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-16:1992,Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 16:

Sectional specification: Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors (IDT)

JIS C 5101-17:2009

  電子機器用固定コンデンサ−第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロ

ピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-17:2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 17:

Sectional specification: Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors (IDT)

JIS C 6065:2007

  オーディオ,ビデオ及び類似の電子機器−安全性要求事項

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60065:2001 , Audio, video and similar electronic apparatus − Safety

requirements (MOD)

JIS C 6575

(規格群)  ミニチュアヒューズ

注記  対応国際規格:IEC 60127 (all parts),Miniature fuses (MOD)

JIS C 8269

(規格群)  低電圧ヒューズ

注記  対応国際規格:IEC 60269 (all parts),Low-voltage fuses (MOD)

JIS C 8305

  鋼製電線管

JIS C 8463:1999

  電気設備用電線管の外径及びねじ

注記  対応国際規格:IEC 60423:1993,Conduits for electrical purposes−Outside diameters of conduits

for electrical installations and threads for conduits and fittings (IDT)

JIS C 9335

(規格群)  家庭用及びこれに類する電気機器の安全性

注記  対応国際規格:IEC 60335 (all parts),Household and similar electrical appliances (MOD)

JIS C 9335-1:2003

  家庭用及びこれに類する電気機器の安全性−第 1 部:一般要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60335-1:2001,Household and similar electrical appliances−Safety−Part 1:

General requirements,Amendment 1:2004 及び Amendment 2:2006 (MOD)


4

C 9730-1

:2010

JIS C 60068-2-75

  環境試験方法−電気・電子−第 2-75 部:ハンマ試験

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-75:1997,Environmental testing−Part 2-75: Tests−Test Eh: Hammer

tests (IDT)

JIS C 60364

(規格群)  建築電気設備

注記  対応国際規格:IEC 60364 (all parts),Low-voltage electrical installations (IDT)

JIS C 60664-3:2009

  低圧系統内機器の絶縁協調−第 3 部:汚損保護のためのコーティング,ポッティ

ング及びモールディングの使用

注記  対応国際規格:IEC 60664-3:2003,Insulation coordination for equipment within low-voltage

systems−Part 3: Use of coating, potting or moulding for protection against pollution (IDT)

JIS C 60695-2-11:2004

  耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-11:2000,Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire flammability test method for end-products (IDT)

JIS C 60695-11-5:2007

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バ

ーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame

test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance (IDT)

JIS C 60695-11-10:2006

  耐火性試験−電気・電子−第 11-10 部:試験炎−50 W 試験炎による水平及び

垂直燃焼試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-10:1999,Fire hazard testing−Part 11-10: Test flames−50 W

horizontal and vertical flame test methods 及び Amendment 1:2003 (IDT)

JIS C 61000

(規格群)  電磁両立性

注記  対応国際規格:IEC 61000 (all parts),Electromagnetic compatibility (MOD)

JIS C 61000-3-2:2005

  電磁両立性−第 3-2 部:限度値−高調波電流発生限度値(1 相当たりの入力電

流が 20 A 以下の機器)

注記  対応国際規格:IEC 61000-3-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−

Limits for harmonic current emissions (equipment input current≦16 A per phase) (MOD)

JIS C 61000-4-2:1999

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 2 節:静電気放電イミュニティ試

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-2:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and

measurement techniques − Electrostatic discharge immunity test , Amendment 1:1998 及 び

Amendment 2:2000 (IDT)

JIS C 61000-4-3:2005

  電磁両立性−第 4-3 部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ

試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and

measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test (MOD)

JIS C 61000-4-4:2007

  電磁両立性−第 4-4 部:試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/

バーストイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-4:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and

measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test (IDT)

JIS C 61000-4-5:2009

  電磁両立性−第 4-5 部:試験及び測定技術−サージイミュニティ試験


5

C 9730-1

:2010

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-5:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and

measurement techniques−Surge immunity test (IDT)

JIS C 61000-4-6:2006

  電磁両立性−第 4-6 部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する

伝導妨害に対するイミュニティ

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-6:2003,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

(MOD)

JIS C 61000-4-8:2003

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 8 節:電源周波数磁界イミュニテ

ィ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-8:1993,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques − Section 8: Power frequency magnetic field immunity test 及 び

Amendment 1:2000 (MOD)

JIS C 61000-4-11:2008

  電磁両立性−第 4-11 部:試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び

電圧変動に対するイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-11:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing

and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

(IDT)

JIS C 61558-2-6:2008

  変圧器,電源装置,リアクトル及びこれに類する装置の安全性−第 2-6 部:一

般用安全絶縁変圧器の個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61558-2-6:1997,Safety of power transformers, power supply units and similar

−Part 2: Particular requirements for safety isolating transformers for general use (MOD)

JIS C 61558-2-17:2008

  変圧器,電源装置,リアクトル及びこれに類する装置の安全性−第 2-17 部:

スイッチモード電源装置用変圧器の個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61558-2-17:1997,Safety of power transformers, power supply units and similar

−Part 2: Particular requirements for transformers for switch mode power supplies (MOD)

IEC 60249 (all parts)

,Base materials for printed circuits

IEC 60326-3:1991

,Printed boards−Part 3: Design and use of printed boards

IEC 60417

,Graphical symbols for use on equipment

IEC 60738-1:1998

,Thermistors−Directly heated positive step-function temperature coefficient−Part 1:

Generic specification

IEC 60738-1-1:1998

,Thermistors−Directly heated positive step-function temperature coefficient−Part 1-1:

Blank detail specification−Current limiting application−Assessment level EZ

IEC 61000-3-3:1994

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3: Limits−Section 3: Limitation of voltage

fluctuations and flicker in low-voltage supply systems for equipment with rated current≦16 A

IEC 61000-4-28:1999

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-28: Testing and measurement techniques

−Variation of power frequency, immunity test 及び Amendment 1:2001

IEC 61210:1993

,Connecting devices−Flat quick-connect terminations for electrical copper conductors−

Safety requirements

CISPR 14-1:2005

,Electromagnetic compatibility−Requirements for household appliances, electric tools and

similar apparatus−Part 1: Emission


6

C 9730-1

:2010

CISPR 22:1997

,Informations technology equipment−Radio disturbance characteristics−Limits and methods

of measurement

2

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

なお,

“電圧”及び“電流”という語を用いる場合,それらは,別に明示していない場合,実効値を意味

する。

2.1

定格,電圧,電流,周波数及び電力に関する定義

2.1.1

定格電圧,定格電流,定格周波数又は定格電力 (rated voltage,current,frequency or wattage)

製造業者が制御装置に指定した電圧,電流,周波数又は電力。三相電源に対しては,定格電圧は相間電

圧である。

2.1.2

定格電圧,定格電流,定格周波数又は定格電力範囲 (rated voltage,current,frequency or wattage range)

製造業者が,制御装置に指定した,下限値及び上限値によって表す電圧,電流,周波数又は電力の範囲。

2.1.3

動作電圧 (working voltage)

制御装置が,定格電圧で動作しているとき,ある特定の絶縁部分に加わる交流又は直流の最高実効値電

圧。

注記 1  過渡過電圧は,考慮しない。

注記 2  開路状態及び通常の動作状態は,考慮する。

2.1.4

特別低電圧  (ELV) [extra-low voltage (ELV)]

導体間及び導体と大地との間が 50 V 以下の,又は三相接続において,導体間では 50 V 以下及び導体と

中性点との間が 29 V 以下の電圧。

注記 1  これらの値は,JIS C 9335-1 の定義 3.4.1 に基づいている。

注記 2  この規格では,関連する適用規格で規定した特定の用途に使用するための ELV レベルを,適

用規格で規定する環境条件で使用する制御装置に対して宣言してもよい。

2.1.5

安全特別低電圧  (SELV) [safety extra-low voltage (SELV)]

導体間及び導体と大地との間の SELV システム又は PELV システムで使用する電圧であって,導体間で

42 V 以下,又は三相回路の場合には導体と中性線との間で 24 V 以下,回路の無負荷電圧がそれぞれ 50 V

及び 29 V 以下であり,これらの電圧を高い電圧から得る場合,JIS C 61558-2-6 及び JIS C 61558-2-17 に規

定するものと同等な絶縁を施した分離巻線を備える安全絶縁変圧器又はコンバータから供給する電圧。

注記 1  電圧限度値は,安全絶縁変圧器がその定格電圧で給電されるという前提に基づいている。

注記 2  2.1.20(SELV システム)及び 2.1.21(PELV システム)も参照する。

2.1.6

安全絶縁変圧器  (safety isolating transformer)

その入力巻線を,少なくとも二重絶縁又は強化絶縁と同等である絶縁によって電気的に出力巻線から分

離し,安全特別低電圧回路に給電するように設計した変圧器。


7

C 9730-1

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2.1.7

同極性 (same polarity)

充電部間において,その間の相互接続によって負荷を通じて電流が流れ,この電流が負荷によって制限

されるような,充電部間の関係。

2.1.8

(規定なし)

2.1.9

制限二次絶縁回路  (isolated limited secondary circuit)

最大容量が 100 VA 以下で,開放回路二次定格電圧が 1 000 V 以下の変圧器の絶縁二次巻線からの回路。

2.1.10

パイロット負荷 (pilot duty)

最終目的の電気負荷を,リレー又は接触器のような外部手段によって制御する動作クラス。

2.1.11

過渡過電圧 (transient overvoltage)

数 ms 以下の過電圧。振動形又は非振動形であって,通常,急速に減衰する。

[IEV 604-03-13]

2.1.12

定格インパルス電圧 (rated impulse voltage)

製造業者がその装置又は部分に対して指定するインパルス耐電圧。過電圧に対して絶縁の規定耐容量を

特性付けるもの。

2.1.13

過電圧カテゴリ (overvoltage category)

過渡過電圧状態の特徴を示す数字値。

注記  過電圧カテゴリとしては,I,II,III 及び IV を用いる。附属書 参照。

2.1.14

露出導電性部分 (exposed-conductive-part)

装置の導電性部分であって,通常は充電部ではないが,基礎絶縁不良が生じた場合に充電部となる,触

れることができる部分。

[IEV 195-06-10]

充電部になる露出導電性部分との接触を通じてだけ充電部となる制御装置の導電性部分は,露出導電性

部分とは考えない。

2.1.15

導電)遮へい体 [(conductive) screen]

電気回路及び/又は導体を覆う又は分離する導電性部分。

[IEV 195-02-38]

2.1.16

電気的)保護遮へい体 [(electrically) protective screen]

危険な充電部から電気回路及び/又は導体を分離するために用いる導電性の遮へい体。

[IEV 195-06-17]

2.1.17

電気的)保護遮へい [(electrically) protective screening]


8

C 9730-1

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保護等電位ボンディングシステムに接続した保護遮へい体による,危険な充電部からの電気回路及び導

体の分離。感電に対する保護の装備を意図する。

[IEV 195-06-18]

2.1.18

単純分離 (simple separation)

基礎絶縁による,回路相互間又は回路と大地との間の分離。

JIS C 0365 の定義 3.23

2.1.19

電気的)保護分離  [(electrically) protective separation]

次のいずれかの方法による,一つの電気回路と他との分離。

−  二重絶縁

−  基礎絶縁及び電気的保護遮へい

−  強化絶縁

[IEV 195-06-19]

2.1.20

SELV

システム (SELV system)

次のいずれの場合においても,電圧が ELV を超えない電気的システム。

−  通常状態

−  他の回路の地絡故障を含む,単一故障状態

JIS C 0365 の定義 3.26.1

2.1.21

PELV

システム (PELV system)

次のいずれの場合においても,電圧が ELV を超えない電気的システム。

−  通常状態

−  他の回路の地絡故障を除く,単一故障状態

JIS C 0365 の定義 3.26.2

2.2

目的に関する制御装置のタイプの定義

2.2.1

電気制御装置 (electrical control)

機器からの出力を変化させ,又は変更する目的で,機器内若しくは機器表面又は機器と組み合わせて使

用し,開始,伝達及び動作の各状態を実現させるための電気制御装置(以下,制御装置という。

。少なく

とも,これらのうち一つの状態は,電気式又は電子式である。

2.2.2

手動制御装置 (manual control)

操作によって開始し,伝達及び動作がいずれも直接で,意図的な時間遅延がない制御装置。

2.2.3

自動制御装置 (automatic control)

一つ以上の状態が,手動でない制御装置。

2.2.4

検出制御装置 (sensing control)


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C 9730-1

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宣言された特定の作動量に対して感度をもつ素子によって開始される自動制御装置。

特定の作動量とは,

例えば,温度,電流,湿度,光,液体レベル,位置,圧力又は速度である。

2.2.5

熱により動作する制御装置  (thermally operated control)

熱的駆動装置によって伝達を行う自動制御装置。

2.2.6

自動温度調節器 (thermostat)

通常の動作状態において,特定の二つの値の間に温度を保持するように設計した,サイクル動作をする

温度検出制御装置。使用者設定用手段を備えていてもよい。

2.2.7

温度制限装置 (temperature limiter)

通常の動作状態において,一つの特定値より下又は上に温度を保持するように設計した温度検出制御装

置。使用者による設定手段を備えていてもよい。

注記  温度制限装置は,自動復帰形又は手動復帰形のものであってもよい。それは,機器の通常の負

荷サイクル中,逆方向の動作をしてはならない。

2.2.8

温度過昇防止装置 (thermal cut-out)

異常動作状態において,ある特定値の上又は下に温度を保持する目的の温度検出制御装置。これは,使

用者による設定手段を備えていてはならない。

注記 1  温度過昇防止装置は,自動復帰形又は手動復帰形のものであってもよい。

注記 2  通常,温度過昇防止装置は,タイプ 2 作動をもつ。

2.2.9

(規定なし)

2.2.10

エネルギー調整器 (energy regulator)

負荷装置に供給するエネルギーを変えるセルフサイクリングの制御装置。供給する平均エネルギーを変

えるために使用者が設定するための手段を備えていてもよい。

注記  オン時間とオフ時間との和に対するオン時間の比は,供給される平均エネルギーで決定する。

2.2.11

タイムベース制御装置 (time-based control)

タイムベース駆動装置又はタイムベース電気回路によって伝達を行う制御装置。

2.2.12

電気的に動作する制御装置  (electrically operated control)

電気的駆動装置によって伝達を行い,その動作が電気回路を制御し,意図的な有効遅延時間がない自動

制御装置。

注記 1  一例は,リレーである。

注記 2  試験機関と製造業者との協定によって,スラッジドリレーは,電気駆動制御装置又はタイム

ベース制御装置のいずれかであってもよい。

2.2.13

タイマ (timer)

次のサイクルを実施する前に操作が必要な,タイムベース制御装置。


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注記  あるサイクル中に,そのサイクルを継続するために休止位置から動く前に,外部から電気的又

は機械的信号が必要な場合がある。一例は,プログラミング装置である。

2.2.14

タイムスイッチ (time switch)

先行するサイクルが完了したときに後続サイクルを続ける,タイムベース制御装置。

注記  一例は,蓄熱ヒータ上の 24 時間制御装置である。

2.2.15

モータ保護装置 (motor protector)

モータの巻線を過熱から保護するための特別に設計した自動制御装置。

2.2.16

感熱式モータ保護装置 (thermal motor protector)

過負荷運転及び始動不能による過熱からモータを保護するように特別設計した,モータ組込み又は外面

取付けの自動制御装置。制御装置には,モータ電流が流れ,また,モータ温度及びモータ電流を検知する。

注記  制御装置は,モータ温度が復帰値まで低下すれば,手動又は自動のいずれかによって復帰でき

る。

2.2.17

電動バルブ  (electrically operated valve)

電気的駆動装置によって伝達を行い,その動作が液体又はガスの流れを制御する自動制御装置。

2.2.18

電気駆動機構  (electrically operated mechanism)

電気駆動装置によって伝達を行い,その動作が機械装置を制御する自動制御装置。

注記 1  一例は,回転乾燥機のふたに用いる電気式インタロックである。

注記 2  モータは,この定義の中には含まない。

2.2.19

動作制御装置 (operating control)

通常動作中に機器を始動又は調整する制御装置。

2.2.20

保護制御装置 (protective control)

その動作が,機器の異常動作時に危険な状況を阻止することを意図した制御装置。

2.2.21

多目的制御装置 (multipurpose control)

複数の目的に分類・使用できる制御装置。

注記  多目的制御装置の例は,温度制限装置としても使用できる自動温度調節器である。

2.2.22

多機能制御装置 (multifunctional control)

複数の機能を組み込んだ制御装置。

注記  多機能制御装置の例は,自動温度調節器と恒湿計との組合せである。

2.3

制御装置の機能に関する定義

2.3.1

開始 (initiation)


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制御装置が伝達及び動作するため必要である,制御装置の状態の変更。

2.3.2

伝達 (transmission)

その制御装置が目的を発揮するために必要となる,開始と動作との間の基礎的な結合。

2.3.3

動作 (operation)

機器又は機器の部分の入力を変える,制御装置の状態の変化。

2.3.4

自動作動 (automatic action)

伝達及び動作が,操作の結果でない開始によって起きる自動制御装置の作動。

2.3.5

スローメイク及びスローブレイク自動作動  (slow-make slow-break automatic action)

接点閉路及び/又は接点開路の速度が,直接的に作動量の変化率又は駆動装置の運動速度に比例する場

合の動作モード。

注記  この作動は,閉路若しくは開路のいずれか,又はその両方に適用できる。

2.3.6

手動作動 (manual action)

伝達及び動作が,操作の結果である開始によって起きる自動制御装置又は手動制御装置の作動。

2.3.7

操作 (actuation)

使用者による手,足,その他の人体の活動による,制御装置の操作部の運動。

2.3.8

定位置 (located position)

操作部をわずかに動かした後に開放した場合,操作部がその位置に復帰するときの操作部の位置。

2.3.9

中間位置 (intermediate position)

いずれの操作部についても定位置に隣接している位置で,そこに操作部が留まり,また,その制御装置

の動作が中間状態になる操作部の位置。

2.3.10

作動量 (activating quantity)

変動又は安定性を検出中の媒体の物理特性。

2.3.11

動作値 (operating value)

検出制御装置が作動量の上昇又は降下に基づいて動作する,関連温度,圧力,電流などの値。

2.3.12

動作時間 (operating time)

タイムベース制御装置の自動作動中に発生する,電気的又は機械的な二つの機能の間の経過時間,又は

時間差。

2.3.13

動作シーケンス (operating sequence)


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制御装置の自動作動又は手動作動の結果として,制御装置の電気的又は機械的機能の動作を発生させる

ように設計したシーケンス,順序又はパターン。

注記  ここには,定位置,中間位置,又は製造業者若しくは使用者による設定位置における開路又は

閉路接点のパターンも含む。

2.3.14

応答値 (response value)

制御装置が特定の機器に関与したときの動作時間又は動作シーケンスの動作値。

2.3.15

トリップフリー (trip-free)

自動動作が復帰操作部の操作又はその位置とは無関係になるように設計した自動作動。

2.3.16

漏えい電流 (leakage current)

デバイスの露出導電性面と,デバイスのその他の露出導電性面又は大地との間に流れる容量性結合電流

を含むすべての電流。

2.3.17

設定 (setting)

動作値を選択するための,制御装置の部分の機械的な位置決め。

2.3.18

制御装置製造業者による設定  (setting by the control manufacturer)

制御装置の製造業者による設定。機器製造業者,設置者又は使用者による変更を意図していないもの。

2.3.19

機器製造業者による設定  (setting by the equipment manufacturer)

機器製造業者による設定。設置者又は使用者による変更を意図していないもの。

2.3.20

設置者による設定  (setting by the installer)

機器製造業者又は制御装置製造業者の指示に従って設置者が実施する設定。使用者による変更を意図し

ていないもの。

2.3.21

使用者による設定  (setting by the user)

使用者の操作によって行う,動作値の選択。

2.3.22

設定点 (set point)

設定によって選択した値。

2.3.23

可変設定点  (adjustable set point)

設定において選ぶことができる,宣言された範囲内の複数の値。

2.3.24

デューティーサイクル (duty cycle)

制御されている機器の 1 回の起動から完了までの動作の中に含まれる,すべての自動及び手動による作

動。


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2.3.25

接点動作サイクル  (cycle of contact operation)

接点の 1 回の閉路及びそれに引き続く接点の 1 回の開路作動,又は接点開路及びそれに引き続く接点閉

路作動。

2.3.26

動作偏差 (operating differential)

動作値の上限値と下限値との間の差。

2.3.27

可変偏差 (adjustable differential)

手動操作機構の動作による定格限度値内で動作偏差を変更又は置換する能力。

2.3.28

固定偏差 (fixed differential)

製造業者の設定値から変更ができない動作偏差。

2.3.29

最大動作圧力(最大定格圧力)[maximum working pressure (maximum rated pressure)]

制御装置又はその部品が受けるおそれがある,ライン又はシステムの宣言された最大動作圧力。

2.3.30

T

max

スイッチヘッドが通常の動作中さらされる,宣言された最高連続周囲温度。

2.4

断路及び開路に関する定義

制御装置によっては,2 種類以上の回路の断路又は開路形式のものを組み込んでいるものもある。

2.4.1

全極断路 (all-pole disconnection)

単相交流機器及び直流機器に対しては,単一切替作動によって電源導体の両極断路,又は 3 個以上の電

源導体に接続する機器に対しては,単一切替作動によって接地導体を除いた全電源導体の断路。

注記  保護接地導体は,電源導体とはみなさない。

2.4.2

完全断路 (full-disconnection)

接地以外のすべての電源極における接点間隔が,商用主電源と断路する部分との間に基礎絶縁と同等な

絶縁を保証する接点の分離。

注記 1  耐電圧及び寸法要求事項が存在する。

注記 2  制御装置の極数が,それを接続する機器の電源の極数に等しい場合,完全断路は全極断路と

なる。

注記 3  H.2.4.2 も参照。

2.4.3

マイクロ断路 (micro-disconnection)

機能上の確実性を保証するための,少なくとも 1 極における十分な接点の分離。

注記 1  接点ギャップの耐電圧要求事項はあるが,寸法上の要求事項はない。

注記 2  マイクロ断路は,非検出制御装置においては,この断路による制御機能は確実であり,検出

制御装置においては,

表 7.2 の項目 36 において宣言された作動量の限度値間で確実であるこ


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とを表す。

注記 3  H.2.4.3 も参照。

2.4.4

マイクロ開路 (micro-interruption)

サイクル作動又は非サイクル作動による接点の分離による開路。完全断路又はマイクロ断路を保証しな

い。

注記 1  接点ギャップに対しては,耐電圧要求事項又は寸法要求事項はない。

注記 2  H.2.4.4 も参照。

2.4.5

オフ位置 (OFF position)

完全断路又はマイクロ断路の可視的又はそれと分かる表示。

2.4.6

H.2.4.6

による。

2.5

構造に関する制御装置のタイプの定義

2.5.1

一体形制御装置 (integrated control)

機器中の適正な取付け及び固定に依存し,機器の関連部品と組み合わせたときに限り試験ができる制御

装置。

注記 1  機器には,電気,ガス,油,固体燃料又はその組合せを使用するものもある。

注記 2  一体形制御装置とは,より複雑な制御装置と(電気的又は非電気的に)一体である制御装置

を含む。

2.5.2

組込形制御装置 (incorporated control)

機器内又は機器の表面に組み込むように意図しているが,分離して試験を行うことができる制御装置。

注記 1  組込形制御装置は,分離して試験ができるが,4.3.1.1 に規定するように機器に入れて試験を

受けてはならないというわけではない。

注記 2  機器は,電気,ガス,油,固形燃料又はその組合せを用いるものもある。

注記 3  組込形制御装置には,より複雑な制御装置に(電気的又は非電気的に)組み込む形の制御装

置も含む。

2.5.3

インラインコード形制御装置  (in-line cord control)

可とうコード,機器用インレット又はコンセントによって電源及び機器に接続するように設計し,分離

したケースに入れた制御装置。手動操作を意図したもの。

2.5.4

自立構造形制御装置 (free-standing control)

テーブル又は床上に自立するインラインコード形制御装置。それは,手,足,その他の人の行動によっ

て操作できる。

2.5.5

独立取付形制御装置 (independently mounted control)

固定配線に恒久的に接続するが,制御する機器から離れて取り付ける設計の制御装置。それは,次のい

ずれかである。


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−  壁に取り付けるような表面取付用

−  壁の空洞のような部分への埋込形取付用で,前面から据付けが可能なもの。

−  制御盤のようなものの表面又は内部に取り付けるもの。その場合,取付けは裏側から行うものでもよ

い。

2.5.6

引きひも(紐)操作制御装置  (pull-cord actuated control)

機器の中又は機器表面に取り付け,引きひも(紐)によって操作する制御装置。

2.5.7

2.5.10  H.2.5.7H.2.5.10 による。

2.5.11

2

段階操作 (two-step actuation)

操作部の二つの判別できる動きによるシーケンス的な行動。

2.6

試験手順による制御装置の自動作動のタイプの定義

2.6.1

タイプ 作動  (type 1 action)

動作値,動作時間又は動作シーケンスの製造偏差及びドリフトが宣言されておらず,この規格によって

試験していない自動作動。

注記  タイプ 1 作動は,6.4 に規定するように細分類する。

2.6.2

タイプ 作動  (type 2 action)

動作値,動作時間又は動作シーケンスの製造偏差及びドリフトが宣言されており,この規格によって試

験した自動作動。

注記  タイプ 2 作動は,6.4 に規定するように細分類する。

2.7

感電に対する保護に関する定義

2.7.1

充電部 (live part)

通常使用状態で電圧が加わる導電性部分。中性線を含むが,慣例によって PEN 導体は含まない。

2.7.1.1

危険な充電部  (hazardous live part)

一定の外部影響状態で感電することがあり得る充電部。

2.7.2

クラス 制御装置  (class 0 control)

感電保護が基礎絶縁に依存する制御装置。このことは,可触導電性部分があっても,設備の固定配線中

の保護導体にその導電性部分を接続するための手段がないことを意味する。基礎絶縁不良が生じた場合,

信頼性はその周囲の状況に依存する。

注記  接地端子は,それが連続性又は機能上の(保護目的とは別の)目的用であるときに限り,あっ

てもよい。

2.7.3

クラス 0I 制御装置  (class 0I control)

全体にわたって少なくとも基礎絶縁を備えており,接地端子はあるが,接地導体がない取外しできない

コード及び接地極がないプラグを備えており,接地極があるコンセントに差込みできないインラインコー


16

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ド形制御装置。

注記  接地端子は,それが連続性(保護目的とは別の)目的用であるときに限り,あってもよい。

2.7.4

クラス 制御装置  (class I control)

感電保護を基礎絶縁だけに依存せず,基礎絶縁不良の場合に,可触導電性部が充電部となるおそれがな

いように,可触導電性部分を設備の固定配線の保護(接地)導体に接続するための手段を設けた,追加の

安全装置を備えた制御装置。

注記 1  この備えは,可とうコード又はケーブルの一部となっている保護導体を含む。クラス I 制御

装置に 2 心可とうコード又はケーブルを取り付け,接地極をもつコンセントに差込みできな

いプラグを取り付ける場合,保護はクラス 0 制御装置と同等であるが,その他の点では機器

の接地設備は完全にクラス I の要求事項に適合することが望ましい。

注記 2  クラス I 制御装置は,二重絶縁部分又は SELV 若しくは PELV による感電に対する保護を備

えた部分をもっていてもよい。

2.7.5

クラス II 制御装置  (class II control)

感電保護が基礎絶縁だけに依存せず,二重絶縁又は強化絶縁のような追加の安全装置を備え,保護接地

装備がなく,据付条件に依存しない制御装置。このような制御装置は,次のタイプのいずれかのものであ

ってもよい。

注記 1  クラス II 制御装置は,SELV による感電に対する保護を備えた部分をもっていてもよい。

注記 2  クラス II 制御装置は,接地端子への接続が要求される PELV による感電に対する保護を備え

た部分をもつことはできない。

2.7.5.1

絶縁物外郭クラス II 制御装置  (insulation-encased class II control)

すべての金属部分(ただし,強化絶縁と同等以上の絶縁によって充電部から絶縁した銘板,ねじ,及び

リベットなどの小形部品は除く。

)を被覆する,耐久性がある絶縁材料製の実質的に連続した外郭をもつ制

御装置。このような制御装置を,絶縁物外郭クラス II 制御装置という。

2.7.5.2

金属外郭クラス II 制御装置  (metal-encased class II control)

二重絶縁の使用が明らかに実施できない場合に強化絶縁を使用する部分を除き,二重絶縁を全面的に使

用しており,実質的に連続した金属外郭をもつ制御装置。このような制御装置を,金属外郭クラス II 制御

装置という。

2.7.5.3

絶縁物外郭/金属外郭組合せ形クラス II 制御装置 (combination insulation-encased/metal-encased class II

control)

2.7.5.1

及び 2.7.5.2 に示すタイプの組合せの制御装置。

注記  全絶縁形クラス II 制御装置の外郭は,付加絶縁又は強化絶縁の一部又は全体を構成してもよい。

全面的に二重絶縁及び/又は強化絶縁を備えた制御装置が接地端子又は接地接点をもつ場合,

それは,クラス I 構造であるとみなす。

2.7.6

クラス III 制御装置  (class III control)


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C 9730-1

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次のすべてに該当する,感電に対する基本的な保護の装備を,ELV の値への電圧制限に依存する制御装

置。

−  故障に対する保護を備えていない。

− SELV システム又は PELV システムの部分からだけ,電源供給を受ける。

−  内部回路は,ELV を超える値で動作しない。

−  制御装置内部の単一故障において,ELV を超える値の安定的な接触電圧が現れず,発生しない。

−  保護導体に接続するための手段を備えていない。

2.7.7

取外し可能な部分 (detachable part)

工具を使用せずに取り外す又は開けることができ,11.11.1.5 の試験に適合しない部分。

2.7.8

可触部分又は可触表面  (accessible part or surface)

制御装置を通常使用状態で取り付け,取外し可能な部分を外した後に,

図 に示す標準テストフィンガ

によって,触れることができる部分又は表面。

2.7.9

動作絶縁 (operational insulation)

複数の充電部間に電位差があり,制御装置又は制御する機器の適正な動作のために絶縁が必要である場

合の充電部間の絶縁 (L-L)。

注記 1  これは,以前は機能絶縁と呼ぶ絶縁であった。

注記 2  2.7.92.7.12 において用いる略号は,次による。

 L

充電部

 A

可触部分(導電性又は絶縁物の表面)

 I

介在部分

2.7.10

基礎絶縁 (basic insulation)

基本的感電保護を施すために充電部に適用する絶縁(L-A 又は L-I)

。基礎絶縁は,充電部と次の各部分

との間の絶縁を含む。

−  介在導電性部分又は介在絶縁物の表面(クラス II 状態)上の金属はく(箔)

−  可触導電性部分(クラス 0,0I,I 状態)

−  可触導電性部に接続した導電性部分(クラス 0,0I,I 状態)

−  可触絶縁物の表面上の金属はく(クラス 0 状態)

2.7.11

付加絶縁 (supplementary insulation)

基礎絶縁が不良となった場合に感電保護を備えるために,基礎絶縁に追加して備える独立した絶縁

(I-A)。それは,介在導電性部又は介在絶縁物の表面上の金属はくと次の各部分との間の絶縁を含む。

−  可触導電性部分(クラス II 状態)

−  可触導電性部分に接続する導電性部分(クラス II 状態)

−  可触絶縁物の表面上の金属はく(クラス II 状態)

2.7.12

強化絶縁 (reinforced insulation)


18

C 9730-1

:2010

この規格で規定する状態の二重絶縁と同等な感電保護の度合いを備える充電部に適用する単一絶縁シス

テム[L- (I) -A]

。それは,充電部と次の各部分との間の絶縁を含む。

−  可触導電性部分(クラス II 状態)

−  可触導電性部分に接続する導体(クラス II 状態)

−  可触絶縁物の表面上の金属はく(クラス II 状態)

注記  “絶縁システム”という術語は,絶縁が 1 個の均一部分でなければならないという意味ではな

い。それは,付加絶縁又は基礎絶縁として単独に試験ができない数個の絶縁層を含んでもよい。

2.7.13

二重絶縁 (double insulation)

基礎絶縁及び付加絶縁の両方からなる絶縁(クラス II 状態)

2.7.14  H.2.7.14

による。

2.7.15

等電位ボンディング (equipotential bonding)

等電位を達成するための,導電性部分間の電気的接続の措置。

[IEV 195-01-10]

注記 1  等電位ボンディングの有効性は,ボンディング内の電流の周波数に依存する。

注記 2  等電位ボンディングは,次のような導電性部分を接続して同じ電位にするために使用する。

一つは構造物の導電性部分である。これは,電気設備の構成部分ではないが,一般に局部的

な接地(外部の導電性部分)の電位を誘導しがちである。他の一つは,設備内の制御装置,

機器又は構成部品の導電性部分である。これは,接触可能であり通常は充電部ではないが,

棒状の主要な等電位ボンディング端子に対して基礎絶縁が不良になった(導電性部分が露出

した)場合に充電部となる。等電位ボンディングシステムに接続する部分に含まれるものは,

保護導体,PE 導体,PEN 導体,接地線,制御装置又は機器の保護接地端子,建築物内のす

べての導電性部分[例えば,水(飲用及び下水)用の金属管,金属製浴槽,セントラルヒー

ティングシステム用配管,すべての内部ガス管(これは,外部のガス管からの分離も要求さ

れている。

,アンテナ及び通信システム用の接地コネクタ]

,敷物及び鉄のような組立てに使

用する建築物のすべての金属部分,及び避雷用導体並びに設備システムによっては接地電極

などである。等電位ボンディングに対する要求事項は,建築物の設備のための JIS C 60364

の規格群で規定する。これらは,建築物の固定式設備に並列か又は経由して接続されている

幾つかの構成部品(例えば,センサ,アクタ,中央制御要素,インタフェース要素)からな

る制御装置の設備に当てはめてもよい。

2.7.15.1

保護等電位ボンディング  (protective equipotential bonding)

安全を目的とした等電位ボンディング(感電に対する保護)

[IEV 195-01-15,修正]

注記  機能用等電位ボンディングは,IEV 195-01-16 に定義されている。

2.8

制御装置の構成部品に関する定義

2.8.1

検出素子 (sensing element)

検出制御装置応答の自動作動が,それに対応する作動量の影響を受ける制御装置の部分。


19

C 9730-1

:2010

2.8.2

スイッチヘッド (switch head)

完成した制御装置。ただし,検出素子は除く。

注記  構造上,スイッチヘッドと検出素子とを区別することが不可能である場合,制御装置全体は,

検出素子であるとみなす。

2.8.3

操作部 (actuating member)

制御作動の開始をするため,又は使用者による設定のために,手などによって動かし,引っ張り,押し

又は回転する部分。

注記  “操作部”という用語は,上述の装置が,更なる運動をしないように止めねじのようなもので

十分に固定される,又は製造業者による上述の設定に工具が必要であるような場合,そのよう

な装置は含まない。

2.8.4

操作手段 (actuating means)

制御装置の機構に操作部を接続する何らかの部分。

2.8.5

引きひも (pull-cord)

操作を起こすために引っ張る可とう性の操作手段。

2.8.6

駆動装置 (prime mover)

自動制御装置に対する動力伝達装置となるのに必要な機械的エネルギーを発生させるために用いられる

装置。例えば,電動制御装置,電動バルブ,電動機構又はタイムベース制御装置。

注記  駆動装置は,機械的蓄積装置(例えば,時計仕掛けのばね),電磁装置(例えば,モータ,又は

ステッピングソレノイド)

,電熱装置(例えば,エネルギー調整器の電熱素子)又は機械的エネ

ルギーを作る何らかの他の機構の場合がある。

2.8.7

クラッチ (clutch)

作動部の操作の開始若しくは取消しを引き起こす又は可能にする,駆動装置又は作動量のいずれかを無

効にすることができる機械装置。

2.8.8

カバー又はカバープレート  (cover or cover plate)

制御装置が,通常使用状態で取り付けられているとき,可触であって工具を用いるときに限り外すこと

ができる部分。その取外しは,特殊工具の使用が必要であってはならない。

2.8.9

ねじなし固定部(又は構成部品)[screwless fixed part (or component)]

ある機器又は構成部品の中,表面,又は特別製の支持物に取り付け,設置,搭載又は組み立てた後,ね

じに依存しない確実な手段によって,正しい位置に保持される可触部分(又は構成部品)

。分解又は取外し

は,その部分(又は構成部品)に直接行うか,又はその保持手段に接近するために工具の使用を必要とす

る場合がある。

注記  次のものは,ねじなし固定部分又は構成部品とみなさない部分の幾つかの例である。


20

C 9730-1

:2010

−  リベット,接着又は類似の手段によって恒久的に固定される構成部品の部分

−  平形プッシュオンコネクタ

−  ねじなし端子

−  標準プラグ及びコンセント

−  単一作動によるかん(嵌)合の外れを防止するための追加掛け金をもっていたとしても,標

準機器用カプラ

−  バイヨネット式ランプソケット中のランプの交換

−  ねじり−ラグ構造

−  摩擦はめあい構造

2.9

制御装置の端子及び端末の種類の定義

2.9.1

ピラー端子 (pillar terminal)

導体を,単一ねじ又は複数のねじの軸の下で締め付ける穴又は空洞に挿入する端子。締付圧力は,ねじ

の軸によって直接に加えるか,又はねじの軸による圧力を介在する締付部位を通して加えてもよい(

図 11

参照)

2.9.2

ねじ端子 (screw terminal)

導体を,ねじの頭の下で締め付ける端子。締付圧力は,ねじの頭によって直接に又は例えば,座金,締

付板若しくは広がり防止装置のような,介在部分を通して加えてもよい(

図 10 参照)。

2.9.3

スタッド端子 (stad terminal)

導体を,ナットの下で締め付ける端子。締付圧力は,適切な形状のナットによって直接に加えるか又は

座金,締付用の板若しくは広がり防止装置のような介在部分を通して加えてもよい(

図 10 参照)。

2.9.4

ねじなし端子 (screwless terminal)

ばね,くさび,偏心,円すい又は類似のものによって,導体を直接又は間接的に接続する端子。

注記  次のものは,ねじなし端子とはみなさない。

−  端子中に導体を締め付ける前に,導体に特殊装置を固定することを必要とする端子。例えば,

平形プッシュオンコネクタ

−  導体の巻付けを必要とする端子,例えば,巻付接続をもつ端子

−  絶縁を貫通する刃又は先端部によって,導体に直接接触する端子

2.9.5

平形プッシュオンコネクタ  (flat push-on connector)

線心又は導体を,制御装置又は他の線心若しくは導体に接続することを可能にするタブ及びレセプタク

ルの組立品。

2.9.6

レセプタクル (receptacle)

線心又は導体に恒久的に取り付けるように設計した平形プッシュオンコネクタの受金部分

図 16 参照)。

2.9.7

タブ (tab)


21

C 9730-1

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平形プッシュオンコネクタの挿入部分(

図 14 及び図 15 参照)。

2.9.8

インラインタブ (in-line tab)

線心又は導体に恒久的に取り付けるように設計したタブ。

2.9.9

制御装置の一部分であるタブ  (tab forming part of a control)

制御装置に恒久的に取り付けるか,制御装置と一体になったタブ。

2.9.10

端末 (termination)

導体の取換えに,特殊工具,特殊プロセス又は導体の特別端末処理のいずれかを必要とするやり方で,

導体を制御装置に接続できる部品。

注記  はんだ付けは,特殊工具を必要とする。溶接は,特殊プロセスを必要とする。導体に取り付け

られるケーブルラグは,特別端末処理である。

2.9.11

はんだ端末 (solder termination)

導体を機械的手段によって固定し,回路の連続性をはんだによって保証する端末。

2.9.12

サドル端子 (saddle terminal)

導体を 2 個以上のねじ又はナットによってサドルの下に締め付ける端子(

図 13a 参照)。

2.9.13

ラグ端子 (lug terminal)

ねじ又はナットによって,ケーブルラグ又はバーを締め付けるように設計したねじ端子又はスタッド端

子(

図 13b 参照)。

2.9.14

マントル端子 (mantle terminal)

導体をナットによって,ねじスタッド中の溝の底部に向けて締め付ける端子。導体は,ナットの下の適

切な形状の座金によって,溝の底部に向けて締め付けられる。ナットが,そのナットから溝内の導体への

圧力を伝達するキャップナット又は同等に有効な装置である場合,中央の栓によって締め付ける(

図 12

参照)

2.9.15

等電位ボンディング端子 (equipotential bonding terminal)

等電位ボンディングシステムへの電気的接続を意図する,機器上又は装置上に備えた端子。

[IEV 195-02-32]

2.9.16

保護ボンディング端子  (protective bonding terminal)

保護等電位ボンディングを目的とした端子。

注記  例として,制御装置又は機器の,保護遮へい体端子又は PE 端子がある。

2.9.17

保護導体,PE (protective conductor,PE)

安全を目的として備えた導体(感電に対する保護)


22

C 9730-1

:2010

[IEV 195-02-09,修正]

2.10

制御装置への接続部に関する定義

2.10.1

外部導体 (external conductor)

インラインコード形制御装置,独立取付形制御装置,又は制御装置を,機器内に取り付ける又は機器上

に載せる機器に対して,その一つの部分が外部にあるケーブル,可とうコード,線心又は導体。

注記  外部導体は,電源リード線,機能コード又は機器の異なる部品間の相互接続コードであっても

よく,固定配線の一部であってもよい。

2.10.2

固定配線 (fixed wiring)

通常使用状態で,導体が機器又は制御装置に入る箇所で,ストレスがその導体に加わるおそれがないよ

うに,建物の構造部に恒久的に固定される外部導体。

注記  固定配線は,例えば,電線管中への導体の収納,壁中へのケーブルの埋設,壁などの表面への

ケーブル又はコードの十分な固定によってもよい。

2.10.3

内部導体 (internal conductor)

外部導体でもなく,一体となった導体でもないケーブル,可とうコード,線心又は導体。

注記  一例は,制御装置と機器とを相互接続するための,機器内部にある導体である。

2.10.4

一体形導体 (integrated conductor)

制御装置内にあるか,制御装置の端子又は端末に恒久的に相互接続するために使用されている導体。

2.10.5

取外しできるコード (detachable cord)

機器インレット又はプラグとソケットとの組合せによって,制御装置又は機器に接続する外部可とうコ

ード。

2.10.6

取外しできないコード (non-detachable cord)

次の方法の一つに従って,制御装置に接続するか,それに対して組み立てる外部可とうコード。

2.10.6.1

X

形取付け  (type X attachment)

コードを特殊工具を用いずに容易に取り換えることができる,特別準備がない標準コードを使用する取

付方法。

2.10.6.2

M

形取付け  (type M attachment)

コードを特殊工具を用いずに容易に取り換えることができる,成形コードガード又は特殊端末が付いて

いる特殊コードだけを使用するように設計した取付方法。

注記  この取付方法は,サービス中に標準コードを取り付けることが可能であるものには適用しない

が,このようなことを特定の機器規格によって許容する場合は除く。

2.10.6.3

Y

形取付け (type Y attachment)


23

C 9730-1

:2010

製造業者,代理店又は類似の資格をもつ人によって交換を行うことを意図した電源コードの取付方法。

2.10.6.4

Z

形取付け  (type Z attachment)

可とうケーブルが,制御装置の一部分を切断又は破壊しない限り交換できない取付方法。

2.10.7

口出し線(ピッグテイル)[flying lead (pigtail)]

制御装置製造業者によって,その一端が制御装置に恒続的に接続されている,制御装置接続用の 1 本又

は複数の線。

2.11

タイプ 作動の性能に関する定義

2.11.1

製造偏差 (manufacturing deviation)

固有の形式番号で,製造業者によって供給されたいずれか 2 個の制御装置の間で要求される動作値,動

作時間又は動作シーケンスの最大偏差。ただし,供給された状態で,同一の方法で試験するときに限る。

注記  偏差は,箇条 15 の該当する細分箇条によって許容する絶対値に関連する。

2.11.2

ドリフト (drift)

この規格で規定する状態で試験するときに発生するおそれがある,

いずれかの 1 個のサンプルの動作値,

動作時間,又は動作シーケンスの最大の変化。

注記  偏差は,箇条 15 に該当する細分箇条によって許容する場合,絶対値を基準にしても,製造偏差

と組み合わせてもよい。

2.12

沿面距離及び空間距離のための要求事項に関する定義

2.12.1

空間距離 (clearance)

2 個の導電性部分間又は 1 個の導電性部分と絶縁材料の可触表面と接触する金属はくとの間の,空気中

の最短距離。

注記  測定方法は,附属書 及び図 17 で詳述する。

2.12.2

沿面距離 (creepage distance)

2 個の導電性部間又は 1 個の導電性部分と絶縁材料の可触表面と接触する金属はくとの間で,絶縁材料

製の面に沿う最短距離。

注記  測定方法は,附属書 及び図 17 で詳述する。

2.12.3

2.12.7  (規定なし)

2.12.8

汚損 (pollution)

絶縁物の耐電圧又は表面抵抗を減少させることになる外来物,固形物,液体又はガス状物質のあらゆる

添加。

2.12.9

環境 (environment)

2.12.9.1

マクロ環境 (macro-environment)

装置を設置又は使用する,部屋又はその他の場所の環境。


24

C 9730-1

:2010

2.12.9.2

ミクロ環境 (micro-environment)

沿面距離の決定に特に影響を及ぼす,絶縁に近接した環境。

2.12.9.3

汚損度 (pollution degree)

ミクロ環境の,推測される汚損を特性付ける数値。

注記  汚損度 1,2,3 及び 4 を用いる。附属書 参照。

2.13

その他の定義

2.13.1

固有の形式番号  (unique type reference)

その制御装置の製造業者に対して完全に告知することによって,元のものと電気的,機械的,寸法的,

及び機能的に完全に互換できる交換品が供給できるような表示。

2.13.2

工具 (tool)

ナット,ねじ又は類似部品を動作するために用いることができる,ねじ回し,コイン,その他の物体。

2.13.3

特殊工具 (special-purpose tool)

通常の家庭において,容易に入手することが困難である工具。例えば,六角穴付きねじ用のキー。四角

又は六角ナットを動かすために設計されたコイン,ねじ回し,スパナのような工具は,特殊工具ではない。

2.13.4

通常使用 (normal use)

制御装置又は関連機器の,それが作られた目的及び製造業者が意図する方法に従った使用。

注記 1  通常使用には,機器規格中に規定された過負荷又は異常動作状態を含む。

注記 2  通常使用には,制御装置又は機器を良好な状況に維持するために必要なプロセスは,これが

製造業者の説明書に従って使用者が実施するとしても,含まない。

2.13.5

使用者保守 (user maintenance)

制御装置又は機器を良好な状況に維持するために必要な,詳細を使用者に対する製造業者の説明書中に

示す,定期的なプロセス。

2.13.6

サービス (servicing)

有資格者によって現場などで,電気技術士によって,又はサービス組織によって行われる,制御装置又

は機器を良好な状態に維持するために必要なプロセス。これには,可とうコードの交換,温度ヒューズの

交換又は類似作業が含まれる。

2.13.7

製造業者のサービス (manufacturer servicing)

製造業者又は製造業者が信認を与えた修理者に限り行うことができるサービス。これには,特殊工具,

又は特殊計装が必要なことによる製造業者のサービスである場合があり,また,これには,製造業者によ

る設定も含まれる。


25

C 9730-1

:2010

2.14

製造業者及び使用者に関する定義

2.14.1

制御装置製造業者 (control manufacturer)

制御装置の製造業者。

2.14.2

機器製造業者 (equipment manufacturer)

制御装置を,機器の中若しくは表面に付けて,又は組み合わせて使用する機器の製造業者。

2.14.3

設置者 (installer)

制御装置及び場合によっては関連機器も据え付ける資格がある者。

2.14.4

使用者 (user)

制御装置の通常の寿命中,使用者保守文書に従って制御装置を使用する者。

使用者は,一般の人を想定する。

2.15

サーミスタに関する定義

J.2.15

による。

2.16

ソフトウェアを使用する制御装置の構造に関する定義

H.2.16

による。

2.17

ソフトウェアを使用する制御装置におけるエラー防止に関する定義

H.2.17

による。

2.18

ソフトウェアを使用する制御装置のための故障/エラー抑制技術に関する定義

H.2.18

による。

2.19

ソフトウェアを使用する制御装置のためのメモリテストに関する定義

H.2.19

による。

2.20

ソフトウェア用語の定義−一般事項

H.2.20

による。

3

一般要求事項

制御装置は,通常使用の場合又は通常使用で発生するおそれがある不注意の使用の場合であっても,人

に対する傷害又は周囲の財物に対する損害を引き起こさないように機能する設計及び構造でなければなら

ない。

一般に適否は,この規格及び JIS C 9730 の規格群の該当する第 2 部において規定する関連試験を実施す

ることによって判定する。

4

試験に関する一般注意

この規格による試験は,形式試験とする。

注記 1  規定の試験のいずれかの結果が,評価によって疑う余地のないものと判定できるなら,一つ

又は複数の試験は実施する必要がない。

注記 2  H.4 も参照。JIS C 9730 の規格群の該当する第 2 部に規定のない限り,附属書 の要求事項

は,非電気制御装置には適用しない。


26

C 9730-1

:2010

4.1

試験条件

4.1.1

この規格において,別に規定する場合を除き,サンプルは,製造業者によって宣言された状態で取

り付け,重要な意味があれば,最も不利な姿勢にして供給された状態で試験する。

4.1.2

試験結果が室温によって影響を受ける場合,20±5  ℃に維持する。ただし,疑義がある場合には,

特定の箇条で別に規定する場合を除き,23±2  ℃に維持する。

4.1.3

その他の指示事項を特定の箇条で規定する場合を除き,操作部は最も不利な定位置,中間位置又は

使用者によって設定される位置に置く。

4.1.4

この規格で別に規定する場合を除き,試験は,この規格の箇条の順序で実施する。

H.4.1.4

も適用する。

4.1.5

この規格の試験中,17.12 の高速度試験を除き,制御装置の操作は,必要に応じて試験機器によっ

て実施してもよい。

4.1.6

17.12

の試験を除くこの規格の試験及び目的に対して,操作部が製造業者によって供給されていな

い場合,制御装置を操作させるために操作手段を使用してもよい。

4.1.7

7.2

において宣言され,箇条 17 において使用される温度変化率(すなわち α

1

β

1

α

2

及び β

2

)は,

温度許容差±12 K/h とする。その他の作動量に対しては,

表 7.2 の項目 37 で宣言され,箇条 17 で用いら

れる最小変化率及び/又は最大変化率(すなわち,α

1

β

1

α

2

及び β

2

)は,JIS C 9730 の規格群の該当す

る第 2 部に規定する試験許容差としなければならない。

4.1.8

すべての試験において,測定器又は測定装置は,測定している値に著しく影響を与えることがあっ

てはならない。

4.1.9

4.1.11  H.4.1.9H.4.1.11 による。

4.2

必要とするサンプル

4.2.1

1 個のサンプルを,箇条 5∼箇条 11 及び箇条 18∼箇条 23 の試験のために使用する。一組 3 個のサ

ンプルを,残りの試験に使用する。

注記 1  箇条 12∼箇条 17 の試験において 1 個のサンプルが適合しない場合,不適合となった試験及

びその試験結果に影響を与えるおそれがある先行する試験について,同一のサンプルの別の

組によって繰り返す。そのときは,そのすべてのサンプルが繰り返した試験に適合しなけれ

ばならない。

注記 2  製造業者は,第一の組のサンプルと共に,1 個のサンプルが適合しないことがある場合に要

求される可能性がある,追加の組又は追加の複数の組を提出してもよい。そのとき,試験機

関は新しく要求することなく追加のサンプルで試験を行い,更に不適合が発生したときにだ

け不適合となる。追加するサンプルの組が同時に提出されない場合,1 個のサンプルの不適

合によって不適合となる。

4.2.2

(規定なし)

4.2.3

この規格の幾つかの破壊試験のために,追加サンプルを要求してもよい。

4.2.4

JIS C 9730

の規格群の 2 規格以上の第 2 部の要求事項に適合するように設計された制御装置は,一

般に,規格ごとに別々に試験しなければならない。

注記  製造業者と試験機関との間の合意によって,JIS C 9730 の規格群の 2 規格以上の第 2 部に共通

である要求事項及び試験は,1 回だけ確認すればよいが,共通の試験が特定の試験の結果に影

響を与える場合は除く。


27

C 9730-1

:2010

4.3

試験のための指示事項

4.3.1

提出状態について

4.3.1.1

制御装置が機器に取り付けられるか又は機器と共に提出される場合,機器に取り付けるか又は機

器と共に試験してもよい。この場合,制御装置は宣言された特定負荷用として分類する。また,機器とは

別々に試験してもよいが,この場合,制御装置は,宣言された特定負荷,抵抗負荷又は抵抗−誘導負荷用

として分類してもよい。抵抗負荷又は抵抗−誘導負荷用のいずれにおいても,その機器が通常の負荷で動

作している場合,該当する回路中の電流は,その回路の定格電流とみなす。

4.3.1.2

機器に取り付けた状態又は機器と共に提供されたすべての制御装置に対しては,7.2 が要求する

すべての他の関連情報は,提出された機器の目視検査及び測定によって得られるとみなす。

4.3.1.3

一体形制御装置は,宣言された特定負荷用として分類し,制御装置を対象として設計した機器,

又はその一部分に取り付けて試験する。

4.3.1.4

機器に取り付けてない状態又は機器と共に提出されたものではない制御装置は,分離した状態で

試験する。

4.3.1.5

取外しできないコードと共に使用する制御装置は,該当するコードを接続した状態で試験する。

4.3.2

定格に関するもの

4.3.2.1

交流専用制御装置は,宣言されていれば,定格周波数の交流を用いて試験する。直流専用制御装

置は直流を用いて,また,交直両用制御装置は,不利な方の電源で試験する。

4.3.2.2

定格周波数を宣言されない交流専用制御装置は,50 Hz 又は 60 Hz のいずれかより不利な方の周

波数で試験する。定格周波数が 50∼60 Hz 以外の宣言された周波数範囲以内の周波数の制御装置は,表示

された周波数又は宣言された範囲内の最も不利な周波数で試験する。

4.3.2.3

直流専用設計の制御装置を試験するとき,極性が制御装置の動作に及ぼす影響を考慮に入れなけ

ればならない。

4.3.2.4

異なる交流及び直流定格をもつ制御装置については,箇条 12∼箇条 14 及び箇条 17 に対する試験

は,2 組のサンプルについて実施する。1 個は,交流定格に従って試験し,他は直流定格に従って試験する。

注記  試験機関の選択によって,幾つかの定格をカバーするように試験数を低減して実施してよい。

4.3.2.5

他に規定していなければ,1 又はそれを超える数の電圧範囲が宣言された制御装置は,宣言され

た範囲内の最も不利な電圧で試験しなければならない。また,この電圧は,試験項目ごとに規定する係数

を乗じなければならない(4.3.2.7 参照)

4.3.2.6

2 以上の定格電圧若しくは定格電流の表示があるか,又はそれが宣言された制御装置については,

箇条 17 の試験は定格電圧及び定格電流のそれぞれの組合せについて複数の組のサンプルについて実施す

る。

注記  試験機関の選択によって,幾つかの定格をカバーするように試験数を低減して実施してよい。

4.3.2.7

電圧範囲が宣言された制御装置に対しては,その範囲の各限度値で 1 組のサンプルについて試験

するが,限度値間の差が,その範囲の平均値の 10 %を超えない場合は,試験は,その範囲の上限値におい

て 1 組のサンプルについて実施する。

4.3.2.8

特定電源によって動作する制御装置は,その特定電源を用いて試験する。

4.3.3

感電に対する保護に関するもの

4.3.3.1

クラス I 制御装置,又はクラス 0,クラス 0I 若しくはクラス I 機器に用いる制御装置においては,

二重絶縁又は強化絶縁の部品をもつことが必要である場合,このような部品はクラス II 制御装置のために

規定する,該当する要求事項に適合するかどうかを検査する。


28

C 9730-1

:2010

4.3.3.2

クラス I 制御装置及びクラス I 機器に用いる制御装置は,接地されない可触金属部又は可触絶縁

表面は,クラス II 制御装置の要求事項に適合する絶縁を備えていなければならない(9.1.1 参照)

4.3.3.3

クラス I 若しくはクラス II 制御装置,又はクラス 0,クラス 0I,クラス I 若しくはクラス II 機器

に用いる制御装置は,中に SELV 回路を使用した部分を備える必要があれば,そのような部分は,11.2.6

の SELV の使用による保護のために規定する該当する要求事項に適合するかどうかを検査する。

クラス I 制御装置又はクラス I 機器に用いる制御装置は,PELV 回路を使用した部分を備える必要があれ

ば,そのような部分は,11.2.6 の PELV の使用による保護のために規定する該当する要求事項に適合する

かどうかも検査する。

注記  定義上  (2.7.5),クラス II 制御装置は PELV 回路を使用できない。

4.3.4

製造上の変動に関するもの

4.3.4.1

その他の点では同一であるが,製造業者が設定するか,又は入替え可能な構成部品を製造段階に

おいて含めることによって,いろいろな動作値,動作時間又はシーケンスを作り出すことができる制御装

置は,この規格の目的に対して,通常,同一機種の提出として取り扱う。通常,制御装置は,最も厳しく

なる条件に設定する。しかし,試験機関は,全範囲の承認を可能にするために追加のサンプルが必要であ

る場合,他の値に設定したこれらのサンプルを要求できる。

4.3.4.2

この場合,いかなる動作値,動作時間又はシーケンスの製造偏差,及びドリフトの変動性に対し

ても注意しなければならない。また,検出制御装置に対しては,その範囲の異なる部分に適用する可能性

のある,

該当する作動量の上昇及び降下の許容できる最小及び最大速度に十分に注意しなければならない。

4.3.5

目的に関するもの

4.3.5.1

多目的制御装置は,6.3 に従い,一般的に目的ごとに別々に試験しなければならない。一つの目

的のための試験中,他のすべての目的に適用できる作動量及び駆動装置は,宣言された範囲又は複数範囲

内の最も厳しい値又は位置に維持しなければならない。

4.3.5.2

箇条 17 に適切に該当するセクションがない制御装置は,基本設計された動作値,動作時間及び

動作シーケンスを試験するように,製造業者と試験機関との間で協定したやり方で試験しなければならな

い。

4.3.5.3

6.3

又は JIS C 9730 の規格群の第 2 部で分類していない目的をもった制御装置も,この規格に合

わせて試験し,承認してもよいが,箇条 17 は除く。できる限り,箇条 17 で意図する試験計画を基礎とし,

製造業者と試験機関との間で協定しなければならない。

4.3.5.4

J.4.3.5.4

による。

5

定格

5.1

最大定格電圧

最大定格電圧は,690 V とする。

5.2

最大定格電流

最大定格電流は,63 A とする。

5.3

適否

5.1

及び 5.2 の適否は,箇条 の情報要求事項によって判定する。

6

分類

制御装置は,次によって分類する。


29

C 9730-1

:2010

6.1

電源の性質による分類

6.1.1

交流専用制御装置

注記 1  交流専用制御装置は,直流回路で使用してもよいが,電流が交流定格電流の 10 %又は 0.1 A

のうちいずれか少ない方を超えないときに限る。

注記 2  直流定格を確定するために,追加試験が必要となる場合がある。

6.1.2

直流専用制御装置

6.1.3

交流用及び直流用制御装置

6.1.4

特定電源用又は多種電源用制御装置

6.2

制御装置の各回路によって制御される負荷の種類による分類

2 個以上の回路をもつ制御装置は,各回路が同一の分類をもつ必要はない。

6.2.1

力率が 0.95 以上の実質的に抵抗負荷用の回路

注記  このような回路は,誘導負荷用に使用してもよいが,力率が 0.8 以上であり,誘導負荷は抵抗

負荷の電流定格の 60 %を超えないときに限る。また,このような回路は他の無効負荷に対して

使用してもよいが,無効電流が定格抵抗性電流の 5 %を超えず,負荷が 10 VA 以下であるとき

に限る。

6.2.2

抵抗負荷又は力率が 0.6 以上の誘導負荷又は両方の組合せのいずれかに適用できる回路

注記 1  一例は,加熱素子及びモータの両方を含むファンヒータ中の回路である。

注記 2  誘導負荷専用の回路は,抵抗負荷が誘導負荷に等しいことを宣言することによって,この細

分箇条に分類しても,宣言された特定負荷用として分類してもよい。

6.2.3

宣言された特定負荷用の回路

注記  例は,白熱電球又は蛍光ランプ負荷用,力率が 0.6 未満の高誘導負荷用,容量性負荷用及び無

負荷での動作を意図した接点用の回路である。

6.2.4 20

mA 未満の電流用回路

注記  例は,ネオン指示器,その他の信号ランプ用回路である。

6.2.5

特性が制御装置の製造業者の宣言によって示される交流モータ負荷用回路

6.2.6

パイロット負荷用の回路

6.3

目的による分類

一つの制御装置は,2 個以上の目的に対して分類してもよい。この場合,多目的制御装置と称する。

注記  自動制御装置の手動作動又は自動制御装置と一体であるが分離した手動作動は,この細分箇条

に従っては分類しない。

6.3.1

自動温度調節器

6.3.2

温度制限装置

6.3.3

温度過昇防止装置

6.3.4

(規定なし)

6.3.5

エネルギー調整器

6.3.6

タイマ

6.3.7

タイムスイッチ

6.3.8

手動制御装置

6.3.9

検出制御装置(6.3.16.3.4 に含まれるものは除く。

6.3.10

電気的に動作する制御装置


30

C 9730-1

:2010

6.3.11

モータ保護装置

6.3.11.1

感熱式モータ保護装置

6.3.12

電動式バルブ

6.3.13

電気駆動機構

6.3.14

保護制御装置

6.3.15

動作制御装置

注記  上記以外の分類は,適切な JIS C 9730 の規格群の第 2 部に示す。

6.4

自動作動の機能による分類

6.4.1

タイプ 1 作動

6.4.2

タイプ 2 作動

6.4.3

タイプ 1 作動及びタイプ 2 作動は,次の構造上又は動作上の特徴のうちの 1 個又はそれを超える個

数の特徴に従って,更に細かく分類する。

注記 1  更なる分類は,関連する宣言がされており,該当する試験が完了したときに限り,適用する。

注記 2  2 個以上の特徴を提供する作動は,該当する文字の組合せ,例えば,タイプ 1.C.L 又はタイプ

2.A.E によって分類してもよい。

注記 3  手動作動は,この細分箇条に従っては分類しない。

6.4.3.1

動作時に完全断路(タイプ 1.A 又は 2.A)

6.4.3.2

動作時にマイクロ断路(タイプ 1.B 又は 2.B)

6.4.3.3

動作時にマイクロ開路(タイプ 1.C 又は 2.C)

J.6.4.3.3

も適用する。

6.4.3.4

故障に対して瞬間的であっても再閉路ができないトリップフリー機構(タイプ 1.D 又は 2.D)

6.4.3.5

故障の継続に対して,接点が開放するのを防止できないか又は閉路状態を維持できないトリップ

フリー機構(タイプ 1.E 又は 2.E)

注記  一例は,過電流の故障がまだ続いていることを検出するために再閉路しなければならないか,

瞬間的に再閉路ができる電流検出制御装置である。

6.4.3.6

工具を用いるときに限り,復帰が可能である作動(タイプ 1.F 又は 2.F)

6.4.3.7

電気的負荷が加わった状態では,復帰させない作動(タイプ 1.G 又は 2.G)

6.4.3.8

接点が開路を妨害されるおそれがなく,復帰手段が“復帰”の位置にある場合,通常動作状態が

回復した後“閉路”位置に自動的に復帰できるトリップフリー機構(タイプ 1.H 又は 2.H)

6.4.3.9

接点が開路を妨害されるおそれがなく,復帰手段が“復帰”又は“入り”位置に保持されている

場合,制御装置は,自動復帰装置として機能することが許されないトリップフリー機構(タイプ 1.J 又は

2.J)。

6.4.3.10

検出作動であって検出素子又は検出素子をスイッチヘッドに接続する部品が破損してもその結

果として,動作値の増加がないもの(タイプ 1.K 又は 2.K)

6.4.3.11

その意図した動作のために外部の補助的電気エネルギー源を必要としない作動(タイプ 1.L 又は

2.L)。

6.4.3.12

宣言されたエージング期間の後,動作する作動(タイプ 1.M 又は 2.M)

6.4.3.13  H.6.4.3.13

による。

6.4.3.14  J.6.4.3.14

による。


31

C 9730-1

:2010

6.5

保護等級及び制御装置の汚損度による分類

6.5.1

固形物及びじんあいの侵入に対して,外郭によって備えられる保護等級に従う(JIS C 0920 参照)

IP0X,IP1X,IP2X,IP3X,IP4X,IP5X,IP6X

6.5.2

水の有害な浸入に対して,外郭によって備えられる保護等級に従う(JIS C 0920 参照)

IPX0,IPX1,IPX2,IPX3,IPX4,IPX5,IPX6,IPX7,IPX8

注記 1  特定の環境において使用される制御装置は,適切な処置が装置の中でなされている場合,異

なる環境にも使用できる。

注記 2  6.5.1 及び 6.5.2 による保護等級の優先的な組合せは,次による。

第 2 特性数字  水の浸入保護

第 1 特性数字

異物の侵入保護

0 1 2 3 4 5 6 7

I 0

2

IP20

IP21

   

4

 IP41

 IP43

IP44

5

 

IP54

IP55

6

   

IP65

IP67

6.5.3

制御装置は,汚損度(複数の場合もある。

)に従って,宣言される。

附属書 による。

注記  制御装置を製造業者の宣言に従って取り付けた時,制御装置の異なる部品を,異なる汚損度の

マクロ環境の中に設置してもよい。

6.6

接続方法による分類

6.6.1

固定配線の接続を目的とする 1 個以上の端子をもつ制御装置。

6.6.2

可とうコードの接続を目的とする 1 個以上の端子をもつ制御装置。

一つの制御装置は,6.6.1 及び 6.6.2 の両方に分類してもよい。

6.6.3

外部導体接続を目的とする端子がない制御装置。

このタイプの制御装置は,制御装置と一体となった導体又は内部導体だけの接続を目的とする。

6.7

スイッチヘッドの周囲温度限度値による分類

6.7.1

最低温度値  (T

min

) 0  ℃と最高温度値  (T

max

) 55  ℃との間の周囲温度において使用するスイッチヘッ

ドをもつ制御装置。

6.7.2 30

℃以上で 55  ℃以外の最高温度値  (T

max

)  若しくは 0  ℃より低い最低温度値  (T

min

)  又はその両

方の周囲温度において使用するスイッチヘッドをもつ制御装置。

注記 1  T

max

の優先値は,30  ℃,55  ℃,70  ℃,85  ℃,105  ℃,125  ℃及び 150  ℃である。T

min

優先値は 0  ℃,−10  ℃,−20  ℃,−30  ℃,及び−40  ℃である。

注記 2  これらの優先値とは異なる値も許される。

6.8

感電に対する保護による分類

6.8.1

一体形制御装置

注記  一体形制御装置については分類はないが,制御装置が一体となっている機器の分類となる。

6.8.2

機器の中で使用するために組み込む制御装置の分類は,次による。

6.8.2.1

クラス 0 機器用

6.8.2.2

クラス 0I 機器用

6.8.2.3

クラス I 機器用


32

C 9730-1

:2010

6.8.2.4

クラス II 機器用

6.8.2.5

クラス III 機器用

注記 1  クラス 0,クラス I,クラス II 及びクラス III の電気機器の協調関係については,JIS C 0365

を参照。電気設備内の保護措置については,JIS C 60364(規格群)を参照。

注記 2  特定のクラスの機器に組み込む制御装置は,機器内で適切な措置が施されている場合,異な

るクラスを使用してもよい。

6.8.3

インラインコード形制御装置,自立構造形制御装置又は独立取付形制御装置の分類は,次による。

6.8.3.1

(対応国際規格の“クラス 0”を削除した。

6.8.3.2

(対応国際規格の“クラス 0I”を削除した。

6.8.3.3

クラス I

6.8.3.4

クラス II

6.8.3.5

クラス III

注記 1  クラス I,クラス II 及びクラス III の電気機器の協調については,JIS C 0365 を参照。電気設

備内の保護措置については,JIS C 60364(規格群)を参照。

注記 2  特定のクラスの機器に組み込む制御装置は,機器内で適切な措置が施されている場合,異な

るクラスを使用してもよい。

注記 3  この規格では,クラス 0 制御装置及びクラス 0I 制御装置は認めていない。

6.8.4

感電に対する保護のために SELV 又は PELV を使用する制御装置は,次による。

6.8.4.1 SELV

を使用する制御装置及び適用可能な場合,

表 7.2 の項目 86

6.8.4.2 PELV

を使用する制御装置及び適用可能な場合,

表 7.2 の項目 86

6.9

回路断路又は開路に従った分類

6.9.1

完全断路

6.9.2

マイクロ断路

6.9.3

マイクロ開路

6.9.4

全極断路

6.9.5

電子的断路(H.6.9.5 参照)

注記 1  幾つかの機器規格は,完全断路を要求する。その他の規格は,完全断路又はマイクロ断路の

いずれかを要求する場合がある。マイクロ開路だけを要求する規格もある。

注記 2  制御装置の異なる作動では,異なる回路断路又は開路を行ってもよい。

6.10

各手動作動の操作サイクル数  (M)  に従う分類

推奨値は,次による。

6.10.1 100

000 サイクル

6.10.2 30

000 サイクル

6.10.3 10

000 サイクル

6.10.4 6

000 サイクル

6.10.5 3

000 サイクル

1)

6.10.6 300

サイクル

1)

6.10.7 30

サイクル

1)

注記  2 個以上の手動作動をもつ制御装置は,異なる値を各操作に対して宣言してもよい。制御装置

が 2 個以上の意図した“オフ”位置をもつ場合,1 操作サイクルは,ある“オフ”位置からそ


33

C 9730-1

:2010

の次の“オフ”位置までの運動とみなす。

1)

  電圧タップ制御装置,温水器の夏/冬制御装置のような特定の機器・器具及び該当する機器の

規格で許容する制御装置の作動だけに適用できる。

6.11

各自動作動の自動サイクル数  (A)  に従う分類

推奨値は,次による。

6.11.1 300

000 サイクル

6.11.2 200

000 サイクル

6.11.3 100

000 サイクル

6.11.4 30

000 サイクル

6.11.5 20

000 サイクル

6.11.6 10

000 サイクル

6.11.7 6

000 サイクル

6.11.8 3

000 サイクル

2)

6.11.9 1

000 サイクル

2)

6.11.10 300

サイクル

3)

6.11.11 30

サイクル

3), 5)

6.11.12  1

サイクル

4)

2)

  自動温度調節器,その他の急速サイクル作動には適用しない。

3)

  手動復帰形だけに適用する。

4)

  各動作の後に部品の取換えを必要とする作動に限り適用する。

5)

  製造業者のサービス中に復帰できるものに限る。

注記  2 個以上の自動作動をもつ制御装置に対しては,異なる値をそれぞれに対して宣言してもよい。

6.12

制御装置の取付面の温度限度値に従った分類

6.12.1  6.7

で分類する周囲温度を 20 K 超えない表面に取り付けるのに適格である制御装置。

6.12.2  6.7

で分類する周囲温度を 20 K 超える表面に取り付けるのに適格である制御装置。

注記  そのような制御装置の一例は,冷蔵庫中のコンプレッサ上に取り付ける制御装置である。ここ

では,検出素子が温度−10  ℃であり,周囲温度が 30  ℃を過ぎないとしても,取付面は 150  ℃

であると考えられる。

6.13

使用絶縁材料の保証トラッキング指数  (PTI)  に従った分類

6.13.1 PTI

値が 100 以上 175 未満の材料は,材料グループ IIIb

6.13.2 PTI

値が 175 以上 400 未満の材料は,材料グループ IIIa

6.13.3 PTI

値が 400 以上 600 未満の材料は,材料グループ II

6.13.4 PTI

値が 600 以上の材料の材料は,材料グループ I

6.14

充電部支持用絶縁部品及び充電部と接地した金属との間に加わる電気的ストレスの期間に従った分

6.14.1

短時間

6.14.2

長時間

注記  制御装置を連続使用機器中で使用する場合,長時間の電気的ストレスが存在するとみなす。ま

た,プラグの引抜きによって,又は完全断路を行う制御装置の動作によって電源から断路され

そうにないその他の機器内の制御装置の電源側も長時間の電気的ストレスが存在するとみなす。


34

C 9730-1

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6.15

構造による分類

6.15.1

一体形制御装置

6.15.2

組込形制御装置

6.15.3

インラインコード形制御装置

6.15.3.1

自立構造形制御装置

6.15.4

独立取付形制御装置

6.15.4.1

露出形

6.15.4.2

埋込形

6.15.4.3

パネル取付形

6.15.5  J.6.15.5

による。

6.16

機器の内部に又は機器と組み合わせて制御装置を用いる場合のエージング要求事項  (Y)  に従う分類

6.16.1 60

000 時間

6.16.2 30

000 時間

6.16.3 10

000 時間

6.16.4 3

000 時間

6.16.5 300

時間

6.16.6 15

時間

注記  機器規格の温度上昇試験又は耐久性試験中に動作する制御回路は,この細分箇条に従う分類は

しない。

6.17

サーミスタの使い方による分類

J.6.17

による。

6.18

ソフトウェアクラスによる分類

H.6.18

による。

7

情報

7.1

一般要求事項

制御装置の製造業者は,次の事項を確認するために十分な情報を提供しなければならない。

−  適切な制御装置を選択できる。

−  その制御装置を,この規格の要求事項を満足するようなやり方で取り付け,使用できる。

−  関連する試験が,この規格への適合を保証するために実施できる。

7.2

情報提供の方法

7.2.1

情報は,次の方法の一つ以上の方法を用いて提供しなければならない。制御装置のために要求され

る情報及びこの情報を提供する適切な方法は,

表 7.2 に示す方法でなければならない。

注記  表 7.2 自体は,必然的に製造業者と試験機関との間で情報を伝達するために用いられる実際の

方法として意図したものではない。

表示  (C)    情報は,その制御装置上に付けた表示によって提供しなければならない。ただし,一体形

制御装置の場合,そのような表示は,それが制御装置に関係することが明白であるときに限り,その

機器の隣接部上にあってもよい。

表示 (C) が提供する情報は,文書 (D) 中に含まれていてもよい。

文書  (D)    情報は,制御装置の使用者又は設置者に提供され,また,読みやすい説明書とならなけれ


35

C 9730-1

:2010

ばならない。各制御装置は,このような使用説明書を添付しなければならない。取扱説明書,その他

のこの規格によって要求する他のテキストは,その制御装置が販売される国の公用語で書かれなけれ

ばならない。

機器製造業者専用に提供される意図の制御装置に対しては,取扱説明書は,リーフレット,文字,

図面などに代替してもよい。制御装置ごとに上述の文書を添付する必要はない。

宣言  (X)    情報は,試験の目的で試験機関と製造業者との間で協定した方法で,試験機関に提供され

なければならない。例えば,それは,制御装置上の表示によって,又はリーフレット,文字若しくは

図面によって与えることができ,機器に入れて,機器に付けて又は機器と共に提出した制御装置の場

合,提出機器の測定,又は目視検査によって与えることができる。

宣言 (X) に必要であると指示される情報も,該当する場合,機器製造業者に提供することが望まし

い。

7.2.2

表示 (C) 又は文書 (D) によって必要であると指示される情報は,試験機関が要求する場合,協定

した方法で試験機関に供給しなければならない。

7.2.3

機器に入れて,機器に付けて,又は機器と共に提出する制御装置に対しては,文書 (D) の要求事

項は,宣言 (X) によって代えることができる。

7.2.4

より複雑な制御装置の一部となる一体形制御装置に関連する表示は,より複雑な制御装置の表示に

含めてもよい。

7.2.5

文書 (D) の要求事項は,情報が表示 (C) によって提供される場合,満足するとみなす。

7.2.5.1

宣言 (X) の要求事項は,情報が文書 (D) 又は表示 (C) のいずれかによって提供される場合,満

足するとみなす。

7.2.6

一体形制御装置に対して,7.4 に規定することを除き,すべての情報は宣言 (X) によって提供され

る。JIS C 9730 の規格群の第 2 部で別に規定する場合を除き,組込形制御装置に対して最低限要求される

表示は,製造業者名又は商標,及び固有の形式番号だけである。ただし,その他の要求される表示が文書 (D)

によって提供される場合に限る。

表 7.2 の項目 50 で宣言された組込形制御装置に対しては,7.2.1 に含ま

れる文書 (D) の説明を参照。

7.2.7

スペースがないために,規定された読むことができる表示を付けることができないもので,一体形

でなく組込形でもない制御装置に対しては,制御装置は,製造業者名(又は商標)及び固有の形式番号だ

けは表示しなければならない。必要とされるその他の表示は,文書 (D) に含めなければならない。

7.2.8

それが誤解を招かないときに限り,追加表示又は情報を許容する。

7.2.9

記号を用いるときは,次による。

アンペア  A

ボルト  V

ワット  W

ボルト−アンペア  VA

交流(単相)  ∼

交流(三相)  3∼

交流(三相,中性線付き)  3N∼

直流

クラス II 構造

クラス III 制御装置


36

C 9730-1

:2010

スイッチヘッドの周囲温度限度  T

T

min

が 0  ℃未満であれば,マイナス記号及

び低い方の温度の数値を T の前に置き,T

max

が 55  ℃以外であれば,高い方の温度の数値

を T の後に置く。

該当するヒューズの定格電流 (A)

周波数  Hz

接地端子(7.4.3.1 参照)

    IEC 60417-5017

又は

    IEC 60417-5019

外郭による保護等級の識別に対しては,6.5 に示す記号を使用しなければならない。

注記 1  定格電流及び定格電圧についての情報の提供は,数値だけを使用してもよい。定格電流の数

値は,定格電圧の数値の前か,又はその数値の上に書き,線によって分離する。抵抗負荷及

び誘導負荷回路に対しては,誘導負荷の定格電流は括弧にくくり,抵抗負荷の定格電流のす

ぐ後に置く。電源の性質のための記号は,電流と電圧の後に配置する。

注記 2  電源の電流,電圧及び電源の性質は,次のとおりに示すことができる。

16 (3) A250 V∼,16 (3)/250∼又は      ∼

注記 3  次は,制御装置の温度限度の情報を示す方法の例である。

−20T30(この意味は,マイナス 20  ℃からプラス 30  ℃まで。

  T85(0  ℃からプラス 85  ℃までの意味である。

注記 4  宣言された特別負荷に関する情報は,図又は形式を引用して示してもよい。例えば,次のと

おりである。

“モータ図番第…号,部品リスト第…号製造”又は“5×80 W 蛍光灯”

表 7.2−製造業者によって宣言された情報,適用箇条及び方法

情報

適用箇条

方法

1

製造業者名又は商標

2)

7.2.6 

C

2

固有の形式番号

1), 2)

2.11.1

2.13.17.2.6 

C

3

定格電圧又は定格電圧範囲 (V)

2.1.2

4.3.214.4 

C

4

制御装置が交直両用であるか,又は定格が交流及び直流に対して同
一である場合を除き,電源の性質

4.3.2

6.1 

C

5

電圧範囲 50∼60 Hz 以外の周波数の場合,周波数

4.3.2 

C

6

制御装置の目的

2.2

4.2.44.3.56.317.16 

D

6a

制御装置の構造及びその制御装置が電子式であるかどうか。

6.15

H.2.5.7 

D

7

各回路によって制御される負荷の形式

7)

6.2

141723.1.1 

C

15

外郭によって備えられる保護等級

8)

6.5.1

6.5.211.5 

C

17

外部導体の接続に対して,端子のどれが適格であり,それらが相導
体若しくは中性導体又はその両方に対して適格であるかどうか。

6.6

7.4.27.4.3 

C

18

外部導体用端子のどれが

表 10.1.4 に示すものよりも広い範囲の導体

寸法に用いられるか。

10.1 

D

19

ねじなし端子に対して,接続法及び断路法

9)

10 

D

20

内部導体用端子に接続する意図の特殊導体の詳細

10.2.1 

D

21

一体形及び組込形制御装置の内部導体用端子及び外部導体用端子
の 85  ℃より高い場合の最高温度

14 

X

250

)

3

(

16


37

C 9730-1

:2010

表 7.2−製造業者によって宣言された情報,適用箇条及び方法(続き)

情報

適用箇条

方法

22

T

min

が 0  ℃より低い又は T

max

が 55  ℃とは異なる場合,スイッチヘ

ッドの温度限度値

6.7

14.514.717.3 

C

23

取付面の温度限度値  (T

s

)

6.12.2

14.117.3 

C

24

感電保護による制御装置の分類

6.8 

X

25

クラス II 制御装置に対しては,クラス II 構造の記号

7.3 

C

26

各手動作動に対する操作サイクル数 (M)

6.10

17.1017.11 

X

27

各自動作動に対する自動サイクル数 (A)

6.11

17.817.9 

X

28

タイプ 1.M 又は 2.M 作動の制御装置に対するエージング期間 (Y)

6.16

17.6 

X

29

各回路によって提供される断路形式又は開路形式

2.4.1

2.4.22.4.32.4.46.9

X

30

絶縁のために用いられる材料の PTI

6.13

表 20.3  

2)

表 20.4  

1)

21.2.7 

X

31

制御装置の取付方法

5)

11.6 

D

31a

制御装置の接地方法

7.4.3

99.1.19.1.2 

D

32

取外しできないコード取付法

6)

10.1

11.7 

D

33

制御装置の意図した輸送条件

20)

16.1 

X

34

動作時間の制限の詳細

21)

14

17 

D

35

絶縁用部品に加わる電気的ストレス期間

6.14 

X

36

マイクロ断路が保証される検出素子に対する作動量の限度値(H.7

表 7.2 への追加項目 36 による)

11.3.2 

X

37

検出制御装置の作動量の最小変化率及び/又は最大変化率並びに
サイクル速度の最小及び/又は最大

4)

4.1.7

1517 

X

38

正しい作動のために必要である,又は試験目的に使用するおそれが

ある検出制御装置の作動量のオーバシュート値

17 

X

39

タイプ 1 又はタイプ 2 作動

6.4 

D

40

タイプ 1 又はタイプ 2 作動の追加機能

6.4.3

11.4 

D

41

製造偏差及び偏差に該当する試験条件

2.11.1

11.4.31517.14 

X

42

ドリフト

2.11.2

11.4.31516.2.4 

X

43

カットアウトの作動復帰特性

3)

6.4 

D

44

制御装置が手持ち形である又は,手持ち形機器用を意図しているか

どうか。

21 

X

45

取り付けることができる平形プッシュオンレセプタクルの数又は

分配に対する制限

10.2.4.4 

D

46 2 個以上の回路が付いた制御装置のための動作順序(重要であると

きに限る。

11.4.3 

D

47

検出素子があれば,その範囲

2.8.1 

D

48

動作値(又は複数の動作値)又は動作時間

2.3.11

2.3.126.4.3.1011

14

15.617 

D

49

制御装置の汚損度

6.5.3 

D

50

機器製造業者だけに供給される目的の制御装置

7.2.1

7.2.6 

X

51

耐熱性及び耐火性カテゴリ

21 

X

52∼60  附属書 の表 7.2 の項目 52∼60 による

61∼65  附属書 の表 7.2 の項目 61∼65 による

66∼74  附属書 の表 7.2 の項目 66∼74 による

75

定格インパルス電圧

2.1.12

20.1 

D

76

プリント回路板の塗膜の形式

附属書 又は附属書 

X

77

ボールプレッシャ試験の温度

21.2.5 

D

78

熱可塑性材料を使用する単一ブッシュ取付けの最大指示トルク

表 19.1  注

1)

D


38

C 9730-1

:2010

表 7.2−製造業者によって宣言された情報,適用箇条及び方法(続き)

情報

適用箇条

方法

79

制御装置よりも清浄な場合の沿面距離又は空間距離のミクロ環境

における汚損度,及びこれをどのように設計するか

表 H.27.1 

D

80

制御装置のものと異なる場合の沿面距離又は空間距離のための定
格インパルス電圧,及びこれをどのように確保するか

表 H.27.1 

D

81

故障モード“短絡”からの除外が主張される距離許容差の設計値

表 H.27.1 

D

82∼84  J.7 の表 7.2 への追加項目 82∼84 による

85

クラス III 制御装置に対して,クラス III 構造の記号

7.4.6 

C

86 SELV 又は PELV に対して,ELV 限度値の実現

2.1.5

T.3.2 

D

87 SELV 又は PELV 回路の接触可能な電圧の値が 8.1.1 と異なる場合,

制御装置の適用となる製品規格に記載された値

2.1.4

6.8.4.16.8.4.28.1.1 

D

88

U.7

による

J1

図 14∼図 16 以外又は IEC 61210 以外の平形プッシュオンコネクタ
の寸法

10.2.4.1 

D

8∼14 は,規定なし。 

1)

  固有の形式番号は,それを省略なしに完全に引用するとき,制御装置の製造業者が,元のものと電気的,機

械的,寸法的及び機能的に完全に互換性のある交換品を供給できるようなものでなければならない。それは

その他の表示,例えば,電圧定格又は周囲温度表示をもつシリーズ形式名称でできていてもよい。それは一
緒で固有の形式番号となるものでもよい。

2)

  (欠番)

3)

  製造業者は,それ以前に手動復帰が発生してはならない時間又はその作動量を超えて手動復帰が発生しては

ならない動作量の特定値を宣言してもよい。

4)

  α

1

:最低上昇率

β

1

:最低降下率

作動量の変化率(α

1

及び β

1

)は,通常の使用に適用できる変化率である。

α

1

:最高上昇率(タイプ 2 作動だけに対する)

β

1

:最高降下率(タイプ 2 作動だけに対する)

試験の目的に対しては,α

1

及び β

1

は,宣言されたとおりでなければならないが,タイプ 1 作動及び/又は

タイプ 2 作動に対しては,JIS C 9730 の規格群の該当する第 2 部に規定する限度値(又は複数の限度値)よ

り低くてはならない。値 α

1

及び β

1

は,ただ試験の目的に限られ,また,代わりに最大サイクル速度として宣

言してもよい。この規格の目的に対する変化率は,次の表に示す単位で表現しなければならない。

作動量

変化率のための単位

圧力 Pa/s

温度 K/h

位置 mm/s

照度 lx/s

速度 mm/s

2

液体レベル mm/s

電流 A/s

相対湿度 %/s

空気流れ

m

3

/s

2

 
その他の作動量を使用する場合,単位は SI 単位で表現する。


39

C 9730-1

:2010

表 7.2−製造業者によって宣言された情報,適用箇条及び方法(続き)

5)

  独立取付形制御装置に対しては,制御装置を据え付けているか,又は使用しているとき,特殊な予防措置を

講じる必要がある場合,これらの詳細は,制御装置に添付されている取扱説明書で示さなければならない。

特別な予防策が,例えば埋込形の独立取付形制御装置のためには,必要と思われる。埋込み後この規格の

要求事項を満足するために必要である条件が達成されることを保証するために,このような制御装置のため
の取扱説明書は,次に関する明白な情報を含まなければならない。

−  制御装置のために用意すべき空間の寸法

−  この空間内で制御装置を支持し,固定する装置の寸法及び位置 
−  制御装置の各種部品と附属品の周辺部分との間の最小空間距離 
−  換気用開口部の最小寸法及びその適正な配置

−  その制御装置を電源に接続すること,及び離れた部品があれば相互接続

制御装置の電源導体が固定配線の端子ブロック又は仕切り空間の部品と接触するおそれがあり,これらの

部分が通常使用状態で

表 14.1 に規定する温度を超える温度である場合,取扱説明書には,その制御装置が該

当する T 定格をもつ導体によって接続しなければならないことも述べなければならない

表 14.1 の注

1)

参照]

6)

  インラインコード形制御装置,自立構造形制御装置,及び独立取付形制御装置は,Y 形取付け又は Z 形取付

けを使用する取外しできないコードが取り付けられる場合,次の文章のうちのいずれか該当する 1 個の文章

の趣旨を含む文書 (D) がなければならない。

−  “この制御装置の電源コードは,交換できない。もしコードが損傷を受けた場合,その制御装置は捨てる

ことが望ましい”(Z)。

又は

−  “この制御装置の電源コードは,製造業者又は認定されたサービスマンだけによって交換できる”(Y)。

7)

  2 個以上の回路をもつ制御装置については,各回路及び各端子に適用できる電流。これらが相互に異なる場

合は,どの回路又はどの端子にその情報を適用するか明白にしなければならない。抵抗性及び誘導性負荷用
回路に対しては,

表 17.2.1 に示す力率の定格電流又は定格負荷 (VA)。

8)

  表示 (C) 要求事項は,IP00,IP10,IP20,IP30 及び IP40 として分類される制御装置又はその部品には適用し

ない。

9)

  [対応国際規格の注

9)

は,カナダ及びアメリカ合衆国で適用する規定であり,この規格では採用しない。

10)

  (欠番)

11)

  (欠番)

12)

19)

  H.7 による。

20)

  包装方法は宣言する必要はない。

21)

  インラインコード形,自立構造形及び独立取付形制御装置については,この情報を方法 (C) によって提供し

なければならない。

7.3

クラス II 記号

7.3.1

クラス II 構造のための記号は,6.8.3.4 に従って分類された制御装置に対してだけ使用する。

7.3.2

クラス II 構造の記号の寸法は,外側の正方形の一辺の長さが内側の正方形の一辺の長さの約 2 倍

でなければならない。

7.3.2.1

記号の外側の正方形の一辺の長さは 5 mm 以上でなければならないが,制御装置の最大寸法が 15

mm 以下である場合は除く。このとき,記号の寸法は,低減してもよいが,外側の正方形の一辺の長さは

3 mm 以上とする。

7.3.2.2

クラス II に対して要求される感電保護を備えた制御装置が機能目的の接地連続用端子を含む場

合,IEC 60417-5019 (2002-10)のクラス II 構造の記号を表示してはならず,クラス I の制御装置とみなさな

ければならない。

7.4

表示の追加要求事項

7.4.1

制御装置上の必要な表示は,制御装置の主要器体上になければならないが,取外しできない部分に

配置してもよい。


40

C 9730-1

:2010

要求する表示は,読みやすく耐久性がなければならない。

適否は,目視検査及び

附属書 の試験によって判定する。

7.4.2

電源導体を接続する制御装置の端子は,商用主電源への接続方法が重要でないか又は自明である場

合を除き,端子に向けた矢印によって指示しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

7.4.3

中性外部導体専用の端子は,文字“N”によって示さなければならない。

7.4.3.1

外部接地導体又は接地連続用の接地端子,及び機能目的(感電保護用とは対称的な)の接地端子

は,次の記号を表示しなければならない。

−  保護接地については,保護接地用の接地記号 IEC 60417-5019 (2002-10)

−  機能接地については,機能接地用の接地記号 IEC 60417-5017 (2002-10)

7.4.3.2

すべての他の端子は,適切に識別しなければならない。それらの目的が自明であるか,又はその

制御回路構成は,目で見て明らかでなければならない。矢印,文字“N”又は接地記号は,上に示す場合

を除き,使用してはならない。

適否は,目視検査によって判定する。

7.4.4

制御装置の設定

使用者又は設置中に機器製造業者によって設定する制御装置は,応答値が増加する方向又は減少する方

向の指示を具備していなければならない。

注記  “+”又は“−”の指示で十分である。

機器製造業者又は設置者が設定する制御装置は,その設定値を保証する適切な方法を示す文書 (D) を添

付しなければならない。

7.4.5

動作中に壊れる部分の表示要求事項

制御装置の通常の動作中に壊れ,交換しなければならない部分は,製造業者のサービス中にだけ交換を

意図するものを除き,それが動作した後であってもカタログ又は類似のものからそれが識別できるように

表示しなければならない。

7.4.6 SELV

システムへの接続だけを意図した制御装置は,IEC 60417-5180 (2002-10)の図記号で表示しな

ければならない。電源への接続手段が特別に設計された SELV 又は PELV 配列とだけ結合するように形成

されている場合には,この要求事項は適用しない。

クラス III に対して要求される感電保護を備えた制御装置が,

機能目的のために接地連続用の端子をもつ

場合,IEC 60417-5180 (2002-10)のクラス III 構造の記号を表示してはならない。

8

感電に対する保護

8.1

一般要求事項

8.1.1

制御装置は,通常使用状態で発生するおそれがある不利な姿勢において,取外し可能な可触部分を

外した後,危険な充電部に偶然に接触しないようにする十分な保護装置が存在するような構造でなければ

ならない。ただし,取外し可能なカバーの内部にあるランプで,カバーを取り外した状態については除く。

しかし,ランプの挿入及び取外し中については,ランプ口金の危険な充電部への偶然の接触防止を保証し

なければならない。

特に指定のない限り,24 V 以下の電圧で供給される SELV 回路又は PELV 回路は,危険な充電部とはみ

なさない。

高い(24 V を超える)電圧で供給される SELV 又は PELV 回路が接触可能な場合,可触部分と SELV 又


41

C 9730-1

:2010

は PELV 回路の電源のいずれかの電極との間の電流は,H.8.1.10.1 に適合しなければならない。

危険とみなされない SELV 回路又は PELV 回路の電圧値は,次の場合,異なる値で指定してもよい。

− SELV と PELV とで接触可能な裸の導体の電圧限度値が異なる,他の製品規格で規定する用途に使用

することだけを意図した制御装置の場合

−  製造業者が,用途を規定する製品規格,及びその適用規格で危険とみなされない接触可能な SELV 回

路又は PELV 回路の電圧レベルを宣言した場合(

表 7.2 の項目 86)

8.1.2

クラス II 制御装置及びクラス II 機器用制御装置については,基礎絶縁だけによって危険な充電部

から分離する金属部との偶然の接触に関してもこの要求事項を適用する。

8.1.3

金属部品上のワニス,エナメル,紙,木綿,酸化フィルム及びビーズ並びに密封コンパウンドの絶

縁特性は,危険な充電部との偶然の接触を防止するために要求される保護となるものとして,依存しては

ならない。

注記  自己硬化性の密封用コンパウンドには,接触してもよい。

8.1.4

通常使用状態でガス管又は水道管に接続されるクラス II 制御装置及びクラス II 機器用制御装置に

おいては,ガス管に導電的に接続する又は水道システムと電気的に接触する金属部分は,二重絶縁又は強

化絶縁によって危険な充電部から分離しなければならない。

8.1.5

固定配線に恒久的に接続するクラス II 制御装置及びクラス II 機器用制御装置は,必要な感電保護

の度合いが,その制御装置の設置によって低下しないような設計でなければならない。

注記  クラス II 独立取付形制御装置の感電保護は,例えば,金属電線管又は金属シースを備えたケー

ブルの設置によって影響を受けるおそれがある。

8.1.6

一体形制御装置及び組込形制御装置に対しては,8.1.98.1.9.5 の試験は,それが製造業者の宣言に

従う位置に取り付け,かつ,取外し可能な部分の取外しの後接近できる制御装置の部品だけに適用する。

8.1.7

インラインコード形及び自立構造形制御装置に対しては,8.1.98.1.9.5 の試験は,その制御装置が

10.1.4

で用いる最小公称断面積又は最大公称断面積の可とうケーブルのうち,いずれがより不利であるか

に従って,そのケーブルを取り付けて行う。取外し可能な部分は外し,また,工具の使用なしに開けるこ

とができる丁番付きのカバーは開けておく。

8.1.8

独立取付形制御装置は,試験は通常使用状態のように取り付け,10.1.4 で用いる最小又は最大公称

断面積のケーブルのうち,より不利な方を取り付けるか,又は硬質,柔軟若しくは可とうの電線管を取り

付ける。取外し可能な部分は外し,工具の使用なしに開けることができる丁番付きのカバーは,開けてお

く。

8.1.9

8.1.1

8.1.8 への適否は,目視検査及び次の試験で判定する。

図 に示す標準テストフィンガは,力を加えないで,あらゆる可能な位置に当てる。テストフィンガが

入ることを防止する開口部は,更に同一寸法の直線の関節なしテストフィンガを 20 N の力で当てる。この

テストフィンガが入る場合は,必要であれば,

図 に示すテストフィンガをその開口部に押し込んで試験

を繰り返す。関節なしテストフィンガが入らない場合は,加える力を 30 N に増加する。そのとき,

図 2

に示すテストフィンガが力を加えないで挿入できるようにガードが動くか,又は開口部がひずむ場合,そ

のテストフィンガによる試験を繰り返す。電気接触指示器を接触を示すために用いる。

注記  ランプは,接触の指示用に用いられ,電圧を 40 V 以上とすることが望ましい。

8.1.9.1

標準テストフィンガは,各ジョイントセクションのそれぞれが同一方向に限り,テストフィンガ

の軸を基準にして角度 90°にわたり回転できるように設計しなければならない。

8.1.9.2

さらに,絶縁材料中及び非接地金属部中の開口部は,力を加えないであらゆる方向に

図 に示す


42

C 9730-1

:2010

テストピンを当てることによって,試験しなければならない。

8.1.9.3

テストピン又は標準テストフィンガのいずれかによっても,危険な充電部に接触できてはならな

い。

8.1.9.4

二重絶縁構造の部分をもつ制御装置に対しては,危険な充電部から基礎絶縁だけで分離した金属

部分に標準テストフィンガで接触できてはならない。

8.1.9.5

通常の使用中又は使用者保守中にある部品を外すという指示があり,

“外す前に電源から切り離

すこと”

を示す警告が部品上にない場合,

この部品はその取外しのために工具を使用する必要があっても,

取外し可能な部分とみなす。部品上に上述の警告が存在する場合,取外し後,基礎絶縁によって危険な充

電部から分離した部品に接触することが許容できる。

8.1.10  H.8.1.10

による。

8.1.11

クラス III 回路と商用主電源又は大地に接続する回路との間では,安全絶縁変圧器の外側(入出力

端子相互間など)の絶縁は,クラス II 絶縁に対するすべての要求事項に適合しなければならない。

注記  回路がクラス III であることを特別には要求しない場合,クラス II 要求事項をクラス III 回路と

大地との間に適用しなくてもよい。

8.1.12

充電部が 8.1.1 に規定する値を超え,H.8.1.10 に適合する保護インピーダンスによって電源から切

り離されず,また,PEN 導体又は等電位ボンディングシステムの一部でない場合には,危険な充電部とみ

なす。

8.2

操作部及び操作手段

8.2.1

操作部は,充電部であってはならない。

8.2.2

操作手段は,十分に固定及び絶縁した操作部を備えているか,又は操作部を外したとき,その操作

手段に触れることができない場合を除き,充電部であってはならない。

8.2.1

及び 8.2.2 の適否は,目視検査及び 8.1 の試験によって判定する。

注記  絶縁した操作部は,破壊及び切断だけによって,又は致命的な損傷を受けた後に限り外すこと

ができる場合,十分に固定していると考える。

8.2.3

クラス III 以外の制御装置又はクラス III 以外の機器用の制御装置に対しては,通常使用状態に保持

される操作部及びハンドルは,絶縁材料製であるか又は絶縁材料によって十分に覆わなければならない。

金属製の場合,その可触部分は,絶縁故障のときに充電部となるおそれがあるときは,付加絶縁によって

その操作手段又は固定部分から分離しなければならない。

固定配線に接続する制御装置又は据置形機器用の制御装置に対しては,次のいずれかの場合,この要求

事項は適用しない。

−  接地端子又は接地接点に確実に接続する。

−  接地した金属によって危険な充電部から遮へいする。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  二重絶縁又は強化絶縁によって危険な充電部から分離した部分は,絶縁故障のとき,充電部と

なるおそれがあるとはみなさない。

8.3

コンデンサ

8.3.1

クラス II インラインコード形制御装置及び独立取付形制御装置に対して,コンデンサは,可触金

属部に接続してはならない。クラス II 機器用制御装置においては,制御装置を製造業者の宣言に従って取

り付けるとき,コンデンサを可触金属に接続するおそれがある金属に接続してはならない。コンデンサの

金属ケースは,制御装置を製造業者の宣言に従って取り付けるとき,可触金属部及び可触金属部に接続さ


43

C 9730-1

:2010

れる他の金属から付加絶縁によって分離しなければならない。

適否は,目視検査によって,また箇条 13 及び箇条 20 の付加絶縁要求事項によって検査する。

8.3.2

プラグによって電源に接続する制御装置は,通常使用状態でプラグに接触したとき,充電されたコ

ンデンサによる感電の危険がないように設計しなければならない。

適否は,8.3.2.18.3.2.4 の試験を 10 回実施することによって判定する。

8.3.2.1

制御装置は,定格電圧で又は定格電圧範囲の上限値で給電する。

8.3.2.2

次に,操作部がありオフ位置があればそこまで動かし,制御装置は,プラグをコンセントから外

すことによって電源から断路する。

8.3.2.3

断路後 1 秒たってから,プラグのピンの間の電圧を測定する。

8.3.2.4

電圧は,34 V を超えてはならない。試験は,コンデンサが 0.1

μF を超えるときに限り実施する。

8.4

カバー及び絶縁されていない危険な充電部品又は危険部品

非金属製のカバー及びカバー板を備えた制御装置は,それらを接地するか,二重絶縁又は強化絶縁によ

って危険な充電部から分離するか,又は機器に取り付けた後,可触でない場合を除き,カバー固定用ねじ

が可触でないように設計しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

9

保護接地装置

9.1

一般要求事項

9.1.1

操作部を除き,絶縁破壊のときに充電部となるおそれのあるクラス I のインラインコード形制御装

置,自立構造形制御装置及び独立取付形制御装置の可触金属部は,その制御装置内の接地端子,接地端末,

又は機器用インレットの接地接点に,恒久的に,かつ確実に接続しなければならない。

注記 1  “接地端子に,恒久的に,かつ確実に接続する”という語は,“ボンディング”という語と同

じ意味である。

注記 2  二重絶縁又は強化絶縁によって充電部から分離される部分及び接地端子,接地端末又は接地

接点に接続する金属部によって充電部から遮へいされる部分は,絶縁破壊の場合,充電部と

なるおそれがあるとはみなさない。

注記 3  操作部の要求事項は,8.2.3 に規定する。

9.1.2

一つの絶縁破壊によって充電部となるおそれのある,操作部を除いたクラス 0I 及びクラス I 機器

用の一体形制御装置並びに組込形制御装置の可触金属部は,接地の手段をもたなければならない。

注記 1  一体形制御装置及び組込形制御装置は,それらの固定手段によって接地に接続してもよいが,

手段が清浄な金属面において行うときに限る。また,このことは,例えば,製造業者が,こ

れを接地する方法であると宣言している場合,機器の金属部分に確実に接続されている金属

製の検出素子をもつ制御装置にも適用する。

注記 2  二重絶縁又は強化絶縁によって充電部から分離された部分,及び接地端子,接地端末又は接

地接点に接続する金属部によって充電部から遮へいされた部分は,絶縁破壊の場合,充電部

となるおそれがあるとはみなさない。

注記 3  操作部の要求事項は,8.2.3 に規定する。

9.1.3

接地端子,接地端末及び接地接点は,中性点に電気的に接続してはならない。

9.1.1

9.1.3 への適合は,目視検査によって判定する。

9.2

クラス II 及びクラス III 制御装置は,保護接地用の装置をもってはならない。


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C 9730-1

:2010

適否は,目視検査によって判定する。

注記  それ自身クラス II 又はクラス III 構造のいずれかである状況によって,機器又はシステムの接

地部分を相互接続することが必要であれば,端子又は端末を含むこのような相互接続は,接地

回路のすべての部品が二重絶縁又は強化絶縁によって充電部又は可触表面から分離される場合

は,クラス II 又はクラス III 状況においても許容できる。

9.3

接地接続の妥当性

9.3.1

一般要求事項

接地端子,接地端末又は接地接点とこれに接続する必要がある部分との間の接続は,低抵抗のものでな

ければならない。

適否は,次の試験によって判定する。

−  無負荷電圧 12 V 以下の交流電源によって,定格電流の 1.5 倍,ただし,25 A 以下の電流を接地端子,

接地端末又は接地接点と部分それぞれとの間に順番に通電する。

−  接地端子,接地端末又は接地接点とその部分との間の電圧降下を測定し,抵抗は,電流とこの電圧降

下とから計算する。いかなる場合でも,抵抗は,0.1

Ω を超えてはならない。試験は,定常状態が確

立するまで継続する。

注記 1  測定用プローブの先端と試験している金属部分との間の接触抵抗が,試験結果に影響を与え

ないように注意する。

注記 2  外部導体又は内部導体の抵抗は,抵抗測定には含まないが,一体となった導体の抵抗は含む。

9.3.2

固定配線並びに 形及び 形取付け

固定配線の接続用接地端子又は X 形取付け及び M 形取付けを使用する取外しできないコード用の接地

端子は,10.1 の要求事項に適合しなければならない。

(対応国際規格には

表 9.3.2 があるが,カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,この規格では

採用しない。

9.3.3

外部導体

外部導体用接地接続は,ねじなし端子を使用して実施してはならない。

9.3.4

可触接地端子の寸法

通常の使用において可触である接地端子は,2.5∼6 mm

2

の公称断面積をもつ導体の接続ができなければ

ならない。また,それは,工具を用いずに緩めることができてはならない。

9.3.5

非可触形接地端子の寸法

通常使用状態において可触でない外部導体のための接地端子は,対応する導電端子のために要求される

寸法に等しいか,又はこれより大きい寸法のものでなければならない。

9.3.6

接地端子の固定

外部導体用の接地端子の締付手段は,偶然の緩みがないように十分に固定しなければならない。

9.3.2

9.3.6 への適否は,目視検査,手による試験及び 10.1 の該当する試験によって判定する。

注記  一般に,導電端子に対して普通に使用する設計では,過度の振動又は温度サイクルがない場合,

偶然の緩みに対して十分な固定のための要求事項を満足する弾性を提供する。端子が過度の振

動又は温度サイクルを受ける場合,ピラー端子を用いるときに不注意で取り除かれるおそれが

ない圧力板のような,十分な弾性をもつ部品を使用するような,特別な準備が必要となること

がある。


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C 9730-1

:2010

9.4

耐食性

接地端子のすべての部分は,それらと接地導体の銅又はそれらと接触している他の金属との間の接触に

よる腐食に耐えなければならない。

9.4.1

材料

接地端子の器体は,金属フレーム又は外郭の一部分である場合を除き,黄銅又は耐腐食性が同程度のそ

の他の金属製でなければならない。ねじ又はナットは,黄銅,めっき鋼,箇条 22 に適合するその他の金属

又は耐食性が同程度である他の金属製でなければならない。

9.4.2

アルミニウム製のフレーム又は外郭

接地端子の器体が,アルミニウム又はアルミニウム合金製のフレーム又は外郭の一部分である場合は,

銅とアルミニウム又はその合金との間の接触に起因する腐食のおそれを回避するための予防措置を講じな

ければならない。

9.4

9.4.1 及び 9.4.2 への適否は,目視検査及び疑義がある場合には,材料及びその皮膜の分析によって

判定する。

注記  耐食性は,めっき加工又は類似の工程によって達成できる。

9.5

その他の要求事項

9.5.1

取外し可能な部分

制御装置の取外し可能な部分が接地接続をもつ場合,この接地接続は,その部品が通常の位置にあると

き,導電接続が行われる前に確立できなければならない。また,いかなる導電接続も,部品を外すとき接

地接続が切れる前に分離しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

9.5.2

組込形制御装置

組込形制御装置が,機器が通電されている間,試験,設定又はサービスの目的で,機器の中へ取付け後,

その通常の接地手段から分離されるおそれがある場合,このような試験,設定又はサービスにおいて,そ

の制御装置から外すことを要求されない接地接続器又は接地導体を装備しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  冷蔵庫温度検出制御装置及び霜取り制御装置がその例である。

10

端子及び端末

箇条 20 の第 3 段落も適用する。

10.1

外部銅導体用端子及び端末

10.1.1  X

形取付け及び M 形取付けを使用する固定配線用及び取外しできないコード用端子は,10.1.3 

規定する端末を除き,接続又は接続解除のために特殊工具を必要とせずに,ねじ,ナット又は同様に有効

な装置若しくは方法によって接続を行うものでなければならない。

10.1.1.1  Y

形取付け及び Z 形取付けを使用する取外しできないコード用端子又は端末は,内部導体用の端

子及び端末のための該当する要求事項を満足しなければならない。この場合,接続又は接続解除のために

特殊工具を必要としてもよい。

10.1.1

及び 10.1.1.1 への適否は,目視検査及び試験によって判定する。

注記 1  ねじなし端子は,同等な有効な装置とみなす。JIS C 2814-2-2 に要求事項を示す。

注記 2  平形プッシュオンコネクタは,かしめを実施するための特殊工具が必要とみなす。

10.1.2

外部導体を締め付けるねじ及びナットは,ISO メートルねじか,又は同等の有効性があるねじでな


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C 9730-1

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ければならない。それらは,他の構成部品を固定するために用いてはならない。ただし,外部導体を取り

付けるときに内部導体に変位が起こるおそれがないような処置がしてある場合に限り,それらに内部導体

を取り付けてもよい。

適否は,目視検査によって判定する。

注記 1 SI,BA 及びユニファイねじは,ISO メートルねじ山と等しい実効性があるものとみなす。

注記 2  ISO,SI,BA 及びユニファイ以外のねじの場合の同等の有効性をもつ試験は検討中であり,

それは,トルク値を 20 %増加させるものである。

10.1.3

はんだ付け,溶接,かしめ又は類似の端末

はんだ付け,溶接,かしめ又は類似の端末は,該当する機器規格によって許容する場合を除き,X 形取

付け及び M 形取付けを使用する取外しできないコードの接続に用いてはならない。上記の端末を外部導体

のために使用するとき,それらは,また,10.2.2 及び 10.2.3 の要求事項に適合しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  一般に,機器の規格は,上述の接続部の使用を制限している。

10.1.4  X

形取付け若しくは M 形取付けを使用する固定配線又は取外しできないケーブルのための端子は,

少なくとも

表 10.1.4 に示す公称断面積をもつ,いずれかの導体の接続ができるようになっていなければな

らない。

適否は,目視検査,測定及び規定する又は宣言された最小及び最大断面積の導体を取り付けることによ

って判定する。

表 10.1.4−端子を流れる電流及び接続する導体の公称断面積

公称断面積

1)

mm

2

端子を流れる電流

A

可とうコード導体

固定配線用導体

6 以下

2)

 0.5∼1 1∼1.5

6 を超え 10 以下 0.75∼1.5 1∼2.5

10 を超え 16 以下

1∼2.5 1.5∼4

16 を超え 25 以下 1.5∼4 2.5∼6 
25 を超え 32 以下 2.5∼6 4∼10 
32 を超え 40 以下

4∼10 6∼16

40 を超え 63 以下

6∼16 10∼25

1)

  [対応国際規格の注

1)

は,アメリカ合衆国における情報であり,この規格

では採用しない。

2)

  規定する公称断面積は,3 A 以下の電流の SELV 回路内又は PELV 回路内

の端子には適用しない。

10.1.4.1

端子が,

表 10.1.4 の 2 欄及び 3 欄に示す導体寸法より広い範囲の固定配線又は可とうコード導体

を収容する設計になっている場合には,これが宣言されなければならない。

10.1.4.2

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。

10.1.4.3

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。

10.1.5  X

形取付け及び M 形取付けを使用する固定配線又は取外しできないコード用の端子は,締付手段


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を締め付けるか又は緩めるとき,端子が緩まず,内部導体がストレスを受けず,かつ,沿面距離及び空間

距離が箇条 20 に規定する値未満まで低減しないように固定しなければならない。

10.1.5.1

適否は,目視検査及び 10.1.4 で使用する最大断面積の導体を 10 回締め付け,また,緩めた後の

測定によって判定する。導体は,それを緩めるごとに動かす。ねじを切った部品に対しては,加える全ト

ルクは,

表 19.1 に示す全トルク又は関連図(図 10∼図 13)に規定するトルクのうち,いずれか大きい方

のトルクとする。

試験中,端子は緩まず,例えばねじの破損又はその端子を更に使用することを阻害するおそれがある頭

部のすりわり,ねじ山,座金,受金,その他の部品に対する損傷があってはならない。

注記 1  この要求事項は,端子の移動が,この規格の他の要求事項との不適合をもたらさなければ,

端子の回転及び変位を防止するような設計でなくてもよい。

注記 2  端子は,2 個のねじを用いて固定すること,くぼみの中に 1 個のねじを用いて固定すること,

その他の適切な手段によって,緩みを防止してもよい。

注記 3  封止用コンパウンド又は樹脂による被覆は,次の場合に限り,端子の緩みを防止するのに十

分な手段であるとみなす。

−  そのシールが,導体の接続若しくは断路の結果又はその装置の使用の結果として機械的ス

トレスを受けない場合。

−  シーリングコンパウンドの有効性が,この規格に規定する最も不利な条件で,その端子が

到達する温度によって阻害されない場合。

10.1.6  X

形取付け又は M 形取付けを使用する固定配線又は取外しできないコードの端子は,それらが十

分な接触圧力をもつ金属面の間で導体に対する過度な損傷なしに導体を締め付けるように設計しなければ

ならない。ただし,2 A 以下の電流を通す回路に用いるねじなし端子は,その表面のうちの 1 個の表面は

非金属材料であってもよい。

適否は,10.1.5 の試験後,端子及び導体の目視検査によって判定する。

注記  導体に鋭い又は深いくぼみがあれば,過度な損傷を受けたとみなす。

10.1.7  X

形取付けを使用する固定配線及び取外しできないコード用の端子は,正しい接続を実施するため

に導体の特別準備を必要としてはならない。

10.1.7.1  X

形取付け用端子は,たとえ元の工場製作の接続部がその他の手段を使用するとしても,この手

段の少なくとも 1 個がこの要求事項に適合する場合,代替の接続手段を用いていてもよい。この場合,元

の工場製作の接続部が,内部導体のための端子及び端末のための要求事項に適合しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  “導体の特別準備”という用語は,よ(撚)り線のはんだ付け,ケーブルラグの使用,アイレ

ットの形成などを含むが,導体を端子に挿入する前の導体の整形又は導体の端末を固めるため

のより合せ導線のねじりは含まない。

10.1.8  X

形取付け又は M 形取付けを使用する固定配線及び取外しできないコード用の端子は,導体も,

より合せ導体の素線も,取付ねじ若しくはナットが締められている間又は同等に効果がある装置が動作し

ている間,滑り出るおそれがないように設計するか配置しなければならない。

10.1.8.1

適否は,次の試験によって判定する。

10.1.8.2

端子は,

表 10.1.8 又は製造業者による指定電線に従って,端子の使用に合わせた導体を取り付け

る。固定配線導体の素線は,端子に挿入する前に真っ直ぐに伸ばす。

10.1.8.3

可とうケーブル及びコードの素線は,20 mm に 1 回の完全ターンの均一なねじれが存在するよう


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にねじる。導体は,最小規定距離まで端子に挿入するか,距離を規定しない場合,それが,端子の最も遠

い側から,わずかに突出するまで挿入する。導体は,素線が滑り落ちるのを最も促進するおそれがある位

置に挿入する。次に,ねじは,

表 19.1 に規定するトルクの 3 分の 2 のトルクで締め付ける。

10.1.8.4

可とうコードに対しては,試験は新しい導体を用いて繰り返す。前と同様にねじるが,反対方向

にねじる。試験後,導体の素線が締付装置と保持装置との間のギャップに滑り出ていてはならない。

表 10.1.8形又は 形取付端子の導体取付試験

端子を流れる電流

A

取り付ける導体(素線数及び各素線の公称径)

mm

可とうコード

導体

固定配線

導体

可とうコード

導体用

固定配線

導体用

0 以上

6 以下

− 32×0.20

6 を超え 10 以下

0 を超え 6 以下 40×0.25 7×0.52

10 を超え 16 以下

6 を超え 10 以下 50×0.25 7×0.67

16 を超え 25 以下 10 を超え 16 以下 56×0.30 7×0.85 
25 を超え 32 以下 16 を超え 25 以下 84×0.30 7×1.04

− 25 を超え 32 以下 94×0.30 7×1.35

32 を超え 40 以下 32 を超え 40 以下 80×0.40 7×1.70 
40 を超え 63 以下 40 を超え 63 以下 126×0.40 7×2.14

10.1.9

端子は,導体を確実に締め付けるように設計しなければならない。

適否は,次の試験によって判定する。

10.1.9.1

端子は,10.1.4 において使用する最小断面積又は最大断面積の固定配線用導体又は可とう導体の

うち,いずれか該当するもの又はより不利なものを取り付け,端子ねじを締め付ける。トルクは,

表 19.1

に規定するトルクの 3 分の 2 に等しい。各導体に,

表 10.1.9 に示す値の引張力を加える。引張力は,導体

用スペースの軸方向に 1 分間,反動を付けないように加える。

10.1.9.2

この引張試験は,通常,導体が端子に入る場所に隣接する位置の導体に直接適用する。ただし,

導体又は導体の周りの絶縁を保持する追加かしめ装置又はクランプ装置が,導体を端子に引き込む点から

導体の縦方向に沿って測定したとき 30 mm 以下のところに存在する場合,この試験は,かしめ又はクラン

プ装置に適用し,実際の端子には適用しないことが望ましい。

10.1.9.3

試験中,導体は端子の中で著しく動いてはならない。


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C 9730-1

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表 10.1.9−端子に取り付けた導体の引張試験

引張力

N

端子を流れる電流

A

可とうコードの導体

固定配線用端子

3 以下 20

1)

 20

1)

3 を超え  6 以下 30

30

6 を超え 10 以下 30

50

10 を超え 16 以下 50

50

16 を超え 25 以下 50

60

25 を超え 32 以下 60

80

32 を超え 40 以下 90

90

40 を超え 63 以下 100

100

1)

 SELV 回路内又は PELV 回路及び特定導体を規定していないその他

の用い方に限り適用する。

10.1.10

端子は,通常使用状態で過度の温度に達することがなく,支持絶縁の材料又はクランプした導体

の絶縁被覆を損傷するようなことがない設計でなければならない。

適否は,箇条 14 の温度上昇試験中に判定する。

10.1.11

端子は,固定した配線シース又は可とうコードシースの中の各線心が,同一シース中のその他の

線心に対し,

技術的利点がある場合を除き,

合理的に近接して終端できるように配置しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

10.1.12  X

形取付け又は M 形取付けを使用する取外しできないコード用端子は,導体が取り付けられると

き,万一素線が滑り出ても充電部と可接金属部との間の偶然の接触のおそれがなく,また,クラス II 制御

装置及びクラス II 機器用制御装置に対しては,充電部と付加絶縁だけによって可触金属部分から絶縁した

金属部との間に偶然の接触のおそれがないように,配置又は遮へいしなければならない。さらに,完全断

路又はマイクロ断路を備えていると宣言された作動を短絡するような危険があってはならない。

適否は,目視検査及び次の試験によって判定する。

−  10.1.4 の試験中に用いる最小寸法に等しい公称断面積をもつより合せ導体の端末から絶縁部分 8 mm

を取り除く。より合せ導体の 1 本の素線は,固定しないままにし,その他の素線は完全に端子中に挿

入し締め付ける。

固定しない素線はあらゆる方向に,

絶縁部を後方に引き裂くことなく曲げられるが,

障壁の周りには鋭い曲げは作らない。

−  充電端子に接続されている導体の固定してない素線は,可触金属部又は可触金属部に接続されている

金属部分に触れてはならない。クラス II 制御装置及びクラス II 機器用制御装置については,付加絶縁

によって可触金属部分から絶縁した金属部分に接触してはならない。

−  接地端子に接続されている導体の固定されていない素線は,充電部に接触してはならない。

−  充電端子に接続されている導体の固定されない素線は,可触になってはならず,完全断路又はマイク

ロ断路を行うことが宣言された作動を短絡してはならない。

10.1.13

端子は,回路の連続性がセラミック又はセラミックと同等以上の特性をもつその他の絶縁材料以

外の絶縁材料を通して伝達される圧力によって維持されないように設計しなければならない。ただし,い

かなる収縮又はひずみをも補償するよう,適切な金属部品によって十分な弾性をもつ場合を除く。

適否は,初期の目視検査及びサンプルが箇条 17 の試験を完了したとき,端子を更に検査することによっ

て判定する。


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C 9730-1

:2010

注記  材料が適格であるかどうかは,その制御装置に適用できる温度範囲内の寸法の安定性について

考慮する。

10.1.14

端子のねじ及びねじ山付き部品は,金属製でなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

10.1.15

ピラー端子及びマントル端子は,十分な長さの導体が端子に導入できるように,また,導体が脱

落しないことを保証するために,ねじの周縁の向こう側まで通るように設計しなければならない。

適否は,ピラー端子に対しては,

図 11 において寸法 の測定によって,またマントル端子に対しては,

図 12 に規定する最小距離によって判定する。

10.1.16

口出し線(ピッグテイル)

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。

10.2

内部導体用端子及び端末

10.2.1

端子及び端末は,

表 10.2.1 に示す公称断面積をもつ導体の接続ができなければならない。

表 10.2.1−端子又は端末の接続試験用導体断面積

端子又は端末を流れる電流

A

導体の最小公称断面積

1)

mm

2

3 以下

2)

3 を超え  6 以下 0.75 
6 を超え 10 以下 1

10 を超え 16 以下 1.5 
16 を超え 25 以下 2.5 
25 を超え 32 以下 4 
32 を超え 40 以下 6 
40 を超え 63 以下 10

1)

  [対応国際規格の注

1)

は,アメリカ合衆国における

情報であり,この規格では採用しない。

2)

  最小値の規定はないが,製造業者が試験目的のため

に導体寸法を宣言しなければならない。

注記  10.2.1 の要求事項は,特別な準備のない標準導体の受入れを考慮していない端子,その設計及

び使い方によって標準導体を受け入れることができない端子,又は異なる寸法の導体を受け入

れるように入念な設計がなされており,かつ,特定のタイプの機器の中でだけに使用される端

子には適用しない。一例は,電気毛布の織物の内部で用いる自動温度調節器である。

10.2.2

端子及び端末は,その目的に対して適切でなければならない。はんだ付け,かしめ及び溶接する接

続部に作る端末は,通常のサービス中に発生するストレスに耐えなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

10.2.3

はんだ付け端子を使用するとき,導体は導体を正しい位置に維持するために,はんだ付けだけに頼

らないように配置又は固定しなければならない。ただし,充電部とその他の金属部との間の沿面距離及び

空間距離が,万一導体がはんだ付けした点で外れたとしても,箇条 20 に規定する値の 50 %未満に低下す

るおそれがないようにバリアが設けられるときは除く。

適否は,目視検査によって判定する。

注記 1  一般に,はんだ付けの前に“引っ掛けて止めること”は,導体が通過する穴が過度に大きく


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C 9730-1

:2010

ない場合,及び導体が平形 2 心金糸コードの部分でない場合,導体を正しい位置に維持する

ための適格な手段であるとみなす。

注記 2  導体を正しい位置に維持するその他の手段,例えば,はんだタグの側面の腰をくびれさせる

ことも受け入れられるとみなす。

10.2.4

平形プッシュオンコネクタ

10.2.4.1

制御装置と一体になっているタブは,

図 14 又は図 15 の寸法要求事項に適合しなければならない。

適否は,測定によって判定する。

注記 1  図 14 又は図 15 に示す寸法以外の寸法をもつタブは許容するが,寸法及び形状が標準レセプ

タクルと誤ったかみ合わせが起きるおそれがないような異なった寸法及び形状であるときに

限る(

図 16 参照)。ただし,表 7.2 の項目 J1 に従って使用する場合は,この限りでない。

図 14∼図 16 の寸法については,IEC 61210 の物理的寸法を代替として使用してもよい。IEC 61210 の性

能要求事項は適用しない。

注記 2  レセプタクルの極性を付けた受け口とかん合するタブは,許容する(図 16 参照)。

10.2.4.2

制御装置と一体になっているタブは,

表 10.2.4.2 に示すタブの最高温度に適切な材料及びめっき

を施したものでなければならない。

表 10.2.4.2−タブの材料及びめっきの最高温度

タブ材料及びめっき

タブの最高温度

裸銅 155

裸黄銅 210

すずめっきの銅及び銅合金 160

ニッケルめっきの銅及び銅合金 185

銀めっきの銅及び銅合金 205

ニッケルめっきの鋼 400

ステンレススチール 400

適否は,箇条 14 の試験中に達する温度を測定することによって判定する。

注記 1  指定した以外の材料又は被覆を使用してもよいが,電気的及び機械的特性が,特に耐食性又

は機械的強度に関して同等に信頼できるときに限る。

注記 2  規定温度は,連続使用温度である。これより高くても,過渡的温度は許容する。例えば,温

度検出制御装置の温度のオーバシュートの間である。

10.2.4.3

制御装置と一体になっているタブは,この規格への適合を阻害するような制御装置の損傷なし

に,レセプタクルの挿入及び引抜きができる十分な強度をもたなければならない。

適否は,

表 10.2.4.3 に規定する力に等しい軸方向の力を,衝撃的ではなく静かに加えることによって判

定する。著しい変位又は損傷があってはならない。


52

C 9730-1

:2010

表 10.2.4.3−タブの挿入・引抜き試験

タブ寸法

図 16 参照)

mm

押圧力

1)

N

引張力

1)

N

2.8 50 40 
4.8 60 50 
6.3 80 70 
9.5 100 100

1)

  この表の値は,レセプタクルにタブを挿入及

び引き抜くときに許容する最大値である。

10.2.4.4

制御装置と一体になっているタブは,該当するレセプタクルの接続を許すように,適切な間隔を

設けなければならない。

図 14∼図 16 の寸法については,IEC 61210 の物理的寸法を代替として使用してもよい。IEC 61210 の性

能要求事項は適用しない。

適否は,7.2 で宣言された場合を除き,各タブに該当するレセプタクルを接続して判定する。接続してい

る間,応力又はひずみがタブ若しくはそれらの隣接部分に対しても発生してはならず,沿面距離又は空間

距離の値が,箇条 20 に規定する値未満に減少してはならない。

注記  図 14 又は図 15 に適合するタブに対しては,該当するレセプタクルを,図 16 に示す。

10.3

一体となった導体のための端子及び端末

注記  一体形導体の端子又は端末に対しては,箇条 10 に特別要求事項又は試験はないが,その他の箇

条の関連する要求事項が適用できる。

11

構造要求事項

11.1

材料

11.1.1

絶縁材料−含浸した材料

木材,綿,絹,普通紙及び類似の繊維質又は吸湿性の材料は,含浸しない限り絶縁に使用してはならな

い。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  絶縁材料は,材料の繊維間のすき間を適切な絶縁物で実質的に満たしていれば,含浸している

とみなす。

11.1.2

導電性部分

黄銅を,端子のねじ部以外の導電性部分に使用する場合,その部品が鋳造されるか棒材から作られてい

れば 50 %以上,その部分が圧延薄板から作られていれば 58 %以上の銅を含有していなければならない。

適否は,目視検査及びこの材料の分析によって判定する。

11.1.3

取外しできないコード

11.1.3.1

クラス I 制御装置の取外しできないコードは,その制御装置の接地用端子若しくは端末,又は機

器用インレット若しくはコンセントの接地極に接続するための緑/黄の絶縁の導体をもたなければならな

い。

11.1.3.2

緑/黄の組合せによって識別する絶縁導体は,接地用端子又は端末以外に接続してはならない。

11.1.3.1

及び 11.1.3.2 への適否は,目視検査によって判定する。


53

C 9730-1

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11.2

感電に対する保護

11.2.1

二重絶縁

二重絶縁を用いるとき,両方の絶縁の性質について,その他の方法で満足する場合を除き,基礎絶縁及

び付加絶縁が別々に試験できるような設計でなければならない。

11.2.1.1

基礎絶縁及び付加絶縁を別々に分けて試験できない場合,又は両方の絶縁の性質に関して適合す

ることがその他の方法では得られない場合,絶縁は強化絶縁とみなす。

適否は,目視検査及び試験によって判定する。

注記  特別に作成されたサンプル又は絶縁部品のサンプルは,満足な結果を得るための方法とみなす。

11.2.2

二重絶縁又は強化絶縁の劣化

クラス II 制御装置及びクラス II 機器中で使用する制御装置は,付加絶縁又は強化絶縁の上の沿面距離又

は空間距離が摩耗の結果として箇条 20 に規定する値未満に低減しないように設計しなければならない。

線,ねじ,ナット,座金,スプリング,平形プッシュオンレセプタクル又は類似の部品が緩み,正規の位

置から落下しても,それが通常使用状態において,付加絶縁又は強化絶縁上の沿面距離又は空間距離が箇

条 20 に規定する値の 50 %未満に低減する配置になるおそれがないように組み立てなければならない。

適否は,目視検査,測定及び/又は手による試験によって判定する。

この要求事項の意図に対しては,次を適用する。

−  2 個の独立した固定具が同時に緩くなることは想定しない。

−  ロック座金を装備したねじ又はナットで固定した部品は,緩みやすくないとみなす。ただし,これら

のねじ又はナットは,使用者保守又はサービス中に外すことを要求してはならない。

−  箇条 17 及び箇条 18 の試験中に緩まない,又は正規の位置から落下しないばね及びばね部分は適合し

ているとみなす。

−  はんだ付けによって接続する素線は,はんだに無関係に端末の近傍で正規の位置に保持する場合を除

き,十分に固定しているとはみなさない。

−  端子に接続する素線は,追加固定部品をその端子の近傍に設けている場合を除き,十分に固定してい

るとはみなさない。より線導体の場合,追加の固定部品は,導体ではなく絶縁を締め付けなければな

らない。

−  短く固い素線は,いずれかの端子ねじ又はナットが緩んでいるとき,正規の位置に依然として留まる

場合,端子から離れやすいとはみなさない。

11.2.3

一体形導体

11.2.3.1

一体形導体は,通常使用状態において,沿面距離及び空間距離が箇条 20 に規定する値未満に低

減するおそれがないように,曲がらないように固定するか,又は絶縁しなければならない。

11.2.3.2

絶縁があれば,取付け中又は通常使用状態において損傷するおそれがあってはならない。

11.2.3.1

及び 11.2.3.2 への適否は,目視検査,測定及び手による試験によって判定する。

注記  導体上の絶縁が,該当する JIS に適合するケーブル及び可とうコードの絶縁と電気的に等価で

ないか,又は箇条 13 に規定する条件で,導体と絶縁に巻いた金属はくとの間で行う耐電圧試験

に適合しない場合,導体は裸導体とみなす。

11.2.4

可とうコードシース

制御装置内で,可とうケーブル又はコードのシース(ジャケット)は,それが,過度の機械的ストレス

又は温度ストレスを受けない場所に限り,かつ,その絶縁特性が JIS C 3662(規格群)

JIS C 3663-1 又は

電気用品の技術上の基準を定める省令(昭和 37 年通商産業省令第 85 号)の別表第一に規定する絶縁特性


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C 9730-1

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以上であるときに限り,付加絶縁として使用しなければならない。

適否は,目視検査によって,また必要である場合,JIS C 3662(規格群)

JIS C 3663-1 又は電気用品の

技術上の基準を定める省令(昭和 37 年通商産業省令第 85 号)の別表第一によって可とうコードのシース

を試験することによって判定する。

11.2.5  H.11.2.5

による。

11.2.6  SELV

又は PELV の使用による感電に対する保護

附属書 による。

11.2.7

内部及び外部の SELV 回路と PELV 回路との接続

一体となった SELV 回路と外部の PELV 回路との相互接続を防止する適切な手段を備えなければならな

い。この逆も同様とする。

分離可能な接続による外部の SELV 電源からのクラス III 制御装置への供給は,他の接続システムに適合

するか又は相互に接続するのが不可能な専用プラグ及びソケットシステムによってだけ可能でなければな

らない。

適否は,目視検査によって判定する。

11.3

操作及び動作

11.3.1

完全断路

完全断路として宣言された位置をもつ制御装置は,宣言された位置において,少なくとも箇条 20 に規定

する関連する値に同等な接点間隔が,接地極以外のすべての電源極において存在するように設計しなけれ

ばならない。接点間隔は,自動作動又は手動作動によって得ることができるが,それに続くどのような自

動作動によっても,接点間隔距離が規定する最小値未満に低減してはならない。

その断路が,全極断路を備えていると宣言された場合,各電源極における接点動作は,実質的には同時

でなければならない。

適否は,目視検査,必要があれば箇条 13 及び箇条 20 の試験によって判定する。

11.3.2

マイクロ断路

マイクロ断路であると宣言された位置をもつ制御装置は,宣言された位置において,箇条 13 の耐電圧要

求事項を満足するために,少なくとも電源の 1 極において接点間隔が存在するように設計しなければなら

ない。ただし,空間距離の寸法は規定しない。接点間隔は,自動作動又は手動作動によって得られるが,

表 7.2 の項目 36 に示す限度値間の作動量に引き続く変化又はいかなるスイッチヘッド温度においても,表

7.2

の項目 22 において宣言された限度値間の温度の引き続く変化が,接点間隔を低減するおそれのある動

作を引き起こし,箇条 13 の要求事項に不適合となってはならない。

適否は,目視検査によって,また必要があれば,宣言された温度限度値において実施した箇条 13 の試験

によって判定する。

11.3.3

復帰ボタン

制御装置の復帰ボタンは,復帰ボタンが偶然に復帰するおそれがないよう配置する又は保護しなければ

ならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記 1  この要求事項は,例えば,制御装置を壁に押し付けることによって,又は制御装置に向けて

家具を押し付けることによって復帰するような位置に復帰ボタンを取り付けてはならないこ

とを意味する。

注記 2  この要求事項は,トリップフリー作動の手動復帰形制御装置には適用しない。


55

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11.3.4

製造業者による設定

製造業者による制御装置の設定のために使用する部分は,設定後,偶然のずれを防止するように固定し

なければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

11.3.5

接点−一般事項

操作によって動作させることができる 0.1 A を超える直流定格をもつ接点は,両接点表面の接近速度及

び分離速度が操作速度とは無関係であるように設計しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  この要求事項は,11.3.7 によって除外される接点には適用しない。

11.3.6

完全断路用及びマイクロ断路用の接点

交流定格又は 0.1 A 以下の直流定格をもつ,完全断路用接点及びマイクロ断路用接点(操作によって動

作させることができる。

)は,閉位置又は開位置においてだけ静止できるように設計しなければならない。

適否は,目視検査によって,また,マイクロ断路に対して規定するとおり,閉位置に対しては箇条 14

の温度要求事項によって,また,開位置に対しては箇条 13 の要求事項によって判定する。ただし,操作部

の中間位置が,完全断路と宣言された定位置に隣接して発生する場合,完全断路に対して規定する箇条 13

及び箇条 20 の試験は,この中間位置に対して行う。

11.3.7  11.3.5

及び 11.3.6 の要求事項については,目視検査の結果,接点が負荷時に動作できないか,負荷

時に動かす意図がないことが明白な場合の接点又は,通常使用状態でアークを生じない接点にも適用して

はならない。

11.3.7.1

適否は,目視検査によって,必要であれば 11.3.7.2 の試験によって判定する。

11.3.7.2

最大動作電圧に等しい直流電圧を,通常使用状態によって発生する電流が得られるように,抵抗

を直列に接続して接点に印加する。その接点がゆっくり開放することによって,アークを維持することが

可能であってはならない。

11.3.8

接点静止位置

接点は,操作部の任意の静止位置において,意図したように開放するか閉じなければならない。そうで

なければ,制御装置又は機器内で危険が発生するおそれがないものでなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記 1  “操作部の静止位置”という語は,中間位置であって使用者によって位置決め設定される位

置を含む。

注記 2  インデックスを付けた,表示した,又は意図した静止位置の間で操作部の中間位置を得よう

とする試みのためには,操作部は通常使用のように操作することが望ましい。操作部をその

位置に保持しておくことは,操作ではない。

11.3.9

引きひも操作制御装置

引きひも操作制御装置は,引きひもを,その制御装置を操作させた後に放すとき,その機構の関連部分

が制御装置の操作サイクルにおける次の運動を直ちに実施できる位置に復帰できないおそれがない設計で

なければならない。

適否は,目視検査及び次の試験によって判定する。

引きひも操作制御装置は,垂直下方に 45 N 又は垂直に対して 45°の方向では,70 N 以下の定常引張力

を加え,また放すことによって定位置からその次の定位置まで操作する。その制御装置は,宣言された方

法で取り付ける。


56

C 9730-1

:2010

注記  引きひも以外で操作する制御装置の操作力は,規定しない。上記の要求事項が規定されている

可能性がある関連機器規格に留意する。

11.4

作動

11.4.1

組合せ作動

2 種類以上の作動がある制御装置で,作動のうちの一つが,その他の作動の故障の後に動作するように

設計されたものでは,その他の作動が個々に独特な部分の故障後,この作動が依然として動作するような

構成でなければならない。

適否は,目視検査によって,また,必要である場合,その他の作動のすべてを作動不能にした後の試験

によって判定する。

11.4.2

製造業者による設定

製造業者によって設定が提供されるタイプ 2 作動は,その動作値,動作時間又は動作シーケンスの設定

値がその後干渉しているかどうか明白に見分けられる設計でなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

11.4.3

タイプ 作動

タイプ 2 作動は,その動作値,動作時間又は動作シーケンスの製造偏差及びドリフトが,

表 7.2 の項目

41 及び項目 42 で宣言された限度値内にあるような設計でなければならない。

適否は,箇条 15∼箇条 17 の試験によって判定する。

11.4.4

タイプ 1.A 又は 2.A 作動

タイプ 1.A 又は 2.A 作動は,完全断路に対して規定する空間距離及び耐電圧要求事項を備えるように動

作をしなければならない。

適否は,箇条 13 の試験及び箇条 20 の関連要求事項によって判定する。

11.4.5

タイプ 1.B 又は 2.B 作動

タイプ 1.B 又は 2.B 作動は,マイクロ断路のための耐電圧の必要事項を備えるように動作をしなければ

ならない。

適否は,箇条 13 の試験及び箇条 20 の当該要求事項によって判定する。

11.4.6

タイプ 1.C 又は 2.C 作動

タイプ 1.C 又は 2.C 作動は,マイクロ開路によって回路開路を行うように動作しなければならない。

適否は,箇条 20 の当該要求事項によって判定する。

11.4.7

タイプ 1.D 又は 2.D 作動

タイプ 1.D 又は 2.D 作動は,断路が復帰機構によって妨害又は阻止されるおそれがないように,また,

断路後,超過した条件又は故障状態が継続している間は,瞬間的にもその回路を再閉路できないような設

計でなければならない。

適否は,目視検査及び試験によって判定する。

11.4.8

タイプ 1.E 又は 2.E 作動

タイプ 1.E 又は 2.E 作動は,断路が復帰機構によって妨害又は阻止されるおそれがないように,また,

超過した条件又は故障条件の継続に対して,接点が開路を妨害されたり,閉路を維持したままとなること

のないような設計でなければならない。

適否は,目視検査及び試験によって判定する。

11.4.9

タイプ 1.F 又は 2.F 作動

タイプ 1.F 又は 2.F 作動は,製造業者の取扱説明書に従って取り付けた後,それを工具を用いたときに


57

C 9730-1

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限り,復帰できる設計でなければならない。

適否は,目視検査及び試験によって判定する。

注記  制御装置に接触するために,工具が必要であるような機器の内部に取り付けることは,この要

求事項に満足するとみなす。

11.4.10

タイプ 1.G 又は 2.G 作動

タイプ 1.G 又は 2.G 作動は,その制御装置が働いた後,電気的負荷条件下で制御装置を復帰する(その

意図がなくても)ことが可能であるように設計しなければならない。

適否は,目視検査並びに定格電圧及び定格電流で 1 回復帰することによって判定する。

11.4.11

タイプ 1.H 又は 2.H 作動

タイプ 1.H 又は 2.H 作動は,その接点が開放を妨害されるおそれがなく,復帰装置が復帰位置に保持さ

れる場合,自動的に閉位置に復帰できるような設計でなければならない。制御装置は,復帰機構が通常の

位置で−35  ℃を超える温度で自動的に復帰してはならない。

適否は,目視検査及び試験によって判定する。

11.4.12

タイプ 1.J 又は 2.J 作動

タイプ 1.J 又は 2.J 作動は,接点の開放が妨害されるおそれがなく,制御装置は,復帰機構が復帰位置に

保持される場合,自動復帰機構として機能することがない設計でなければならない。制御装置は−35  ℃を

超える温度で自動的に復帰してはならない。

適否は,目視検査及び試験によって判定する。

11.4.13

タイプ 1.K 又は 2.K 作動

タイプ 1.K 又は 2.K 作動は,検出素子中又は検出素子とスイッチヘッドの間のいずれかの部分において

破壊が生じた場合,宣言された動作値,動作時間又は動作シーケンスを超える前に宣言された断路が行わ

れるような設計でなければならない。

注記  この試験は,JIS C 9730 の規格群の関連する第 2 部で行う。

11.4.14

タイプ 1.L 又は 2.L 作動

タイプ 1.L 又は 2.L 作動は,電源故障の場合,外部の補助エネルギー源又は補助電源とは無関係に,そ

の意図した機能を実施するような設計でなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  単純な直動形ばね又はおもりは,補助エネルギー源又は電源とはみなさない。

11.4.15

タイプ 1.M 又は 2.M 作動

タイプ 1.M 又は 2.M 作動は,宣言されたエージングの手順を経た後,意図された方法で動作する設計で

なければならない。

適否は,17.6 の試験によって判定する。

11.4.16

H.11.4.16

による。

11.4.17

J.11.4.17

による。

11.5

外郭にある開口部

水抜口がある場合,面積は 20 mm

2

以上 40 mm

2

以下で,寸法 3 mm 以上とする。

適否は,目視検査によって判定する。

注記 1  耐湿性のための追加要求事項は,箇条 12 に含まれる。

注記 2 IPX7 として分類する制御装置は,水抜口の開放装置をもっていてもよい。


58

C 9730-1

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11.6

制御装置の取付け

11.6.1

制御装置は,製造業者の宣言に従う取付方法が,この規格への適合に悪影響を与えないような設計

でなければならない。

11.6.2

宣言された取付方法は,制御装置が回転したり機器から外れることによって,この規格への適合性

を損なうおそれがある場合は,制御装置が回転したり,又は変位するおそれがなく,かつ,工具の助けな

しに機器から外すことができないものでなければならない。取外し又は部分的取外しがその制御装置の正

しい使用に対して必要である場合には,取外し前及び取外し後に箇条 8,箇条 13 及び箇条 20 の要求事項

を満足しなければならない。

11.6.1

及び 11.6.2 への適否は,目視検査及び手による試験によって判定する。

注記  操作手段と同心のナット及び単一ブッシングによって固定され,回転操作を備えた制御装置以

外であれば,制御装置はこの要求事項に適合するものとみなす。ただし,ナットの締付けに工

具の使用を必要とし,その部分が十分な機械的強度をもつときに限る。ねじなし固定装置によ

って取り付けられた組込形制御装置は,制御装置を機器から外すことができる前に工具の使用

が必要である場合,この要求事項に適合しているとみなす。

11.6.3

独立取付形制御装置の取付け

11.6.3.1

パネル取付け用と宣言された制御装置以外の独立取付形制御装置は,次のいずれかによる。

−  宣言された標準ボックスに適合するもの。

−  特別な電線管用ボックスが必要である場合,電線管ボックスと共に供給されるもの。

−  平たんな表面上の表面取付けに適切なもの。

11.6.3.2

特別電線管用ボックスが必要である場合,それは制御装置と共に供給されなければならず,その

ボックスは JIS C 8463 又は JIS C 8305 に示す電線管用の引込口を装備しなければならない。

11.6.3.3

アウトレット用ボックスを使用しない埋込設備[隠ぺい(蔽)配線]とともに用いる表面に取り

付けるための独立取付形制御装置は,制御装置の裏側に端子への容易な取付け及び接続ができる適切な穴

を装備しなければならない。

11.6.3.4

露出配線を使用する表面に取り付けるための独立取付形制御装置は,関連 JIS に適合するケーブ

ル又は電線管の該当するタイプの接続ができるケーブル若しくは電線管引込口,ノックアウト又は独立グ

ランドを装備しなければならない。

11.6.3.5

表面に取り付けるための独立取付形制御装置,又はこのような制御装置のサブベースは,外部導

体への端子が利用でき,その制御装置又はサブベースがその支持物に正しく固定され,そのカバー(又は

制御装置)を外せば,使用できる構造でなければならない。

11.6.3.6

アウトレット用ボックス又は類似の外郭上に取り付ける意図の制御装置は,配線端子,その他の

充電部及び鋭い縁の付いた金属部が接地されているかいないかにかかわらず,制御装置の取付け中に,そ

のボックス又は外郭内の配線に対して押し付けられないように配置する又は保護しなければならない。

11.6.3.7

裏側配線端子を使用する場合,それは凹所に置くか,ボックス内の配線との接触を防止するよう

に接近して取り付けた隔壁,絶縁材料又は同等のものによって保護しなければならない。

11.6.3.1

11.6.3.7 への適否は,目視検査によって判定する。

ボックスの前面の縁で形成される平面を越えてボックス内に突出しない端子は,合格とする。

端子に沿って設けられ,配線前に 6.5 mm 以上端子を越える大きさのガードであって,二極構造の間に

対応するものは許容する。


59

C 9730-1

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11.7

コードの取付け

11.7.1

屈曲

11.7.1.1

インラインコード形制御装置及び自立構造形制御装置の可とうコードは,通常使用中に発生する

おそれがある屈曲に耐えなければならない。X 形取付けを用いる場合で,この要求事項に適合するために

コードガードを用いるとき,可とうコードと一体であってはならない。

11.7.1.2

適否は,その制御装置のために,可とうコード又は設計された範囲の可とうコードを取り付けて,

制御装置に次の試験を行って判定する。

11.7.1.2.1

制御装置は,

図 に示される屈曲試験装置に取り付ける。振動軸は,コードに取り付けたおも

り及びコード自身が,試験中,横方向の動きが最小になるようにする。平形コードの付いたサンプルは,

断面の主軸が振動軸に平行になるように取り付ける。導入孔開口部を通過する各可とうコードは,おもり

1 kg の負荷をかける。制御装置が定格電圧で動作するとき,その特定の線心を通過する電流に等しい電流

を各線心に通電する。線心間の電圧は,最大定格電圧である。振動部分は角度 90°(垂線のいずれの側で

も 45°)にわたり,前後に動かす。屈曲回数(すなわち 1 回の運動は 90°)は 5 000 とし,屈曲速度は 60

回/分とする。

11.7.1.2.2

試験後サンプルは,この規格への適合性を阻害するおそれのある損傷があってはならない。試

験中,電流の開路及び各個別導体間の短絡が起きてはならず,断線したより線は附属品の外面まで絶縁を

突き破ってはならない。電流が試験電流の 2 倍の値に達した場合,個別導体の短絡が発生したとみなす。

11.7.1.2.3

可とうコードの導体全数の 10 %を超えて断線していてはならない。

11.7.2

コード止め

11.7.2.1

取外しできないコードによって接続する設計で一体形及び組込形制御装置以外のものは,端子に

接続する場所でねじれ又は引張りを防ぎ,その被覆が摩滅しないように保護するコード止めをもっていな

ければならない。引張りひずみ及びねじれをどのように防止するか,明確でなければならない。

11.7.2.2

クラス II 制御装置のコード止めは,絶縁材料製であるか,又は金属製の場合,可触金属部若しく

は可触非金属面上の金属はくから付加絶縁に対する要求事項に適合する絶縁によって絶縁しなければなら

ない。

11.7.2.3

クラス II 以外の制御装置のコード止めは,コード上の絶縁不良が可触金属部の充電に至る場合,

絶縁材料製であるか,又は絶縁用裏打ちを装備しなければならない。この裏打ちがある場合,それが 11.7.1

の要求事項を満足するために設けられるコードガードと一体であるブッシングのときを除き,コード止め

に固定していなければならない。

11.7.2.4

コード止めは,次のような設計でなければならない。

−  コードは,コード止めの締付用のねじが可触金属部分である場合は,これらのねじに接触するおそれ

があってはならない。

−  コードは,そのコードと直接接触する金属ねじによって締め付けてはならない。

−  X 形取付け又は M 形取付けについては,1 か所以上が制御装置に確実に固定されていなければならな

い。

−  X 形取付け又は M 形取付けについては,可とうコードの交換が特殊工具の使用を必要としない。

−  X 形取付けにおいて,コード止めは,接続できる範囲の異なるタイプの可とうコードに対して適して

いる。

−  X 形取付けにおいては,可とうコードの交換が容易にできる設計及び位置でなければならない。

11.7.2.5  Z

形取付け以外においては,位置を固定するのにそのコードに結び目に作ること又は末端をひも


60

C 9730-1

:2010

で結ぶことといった方法を使用してはならない。

11.7.2.6

グランド(パッキン抑え)は,10.1.4 で用いるすべてのタイプ及び寸法のコードを締め付けるた

めの準備があるときを除き,X 形取付けを使用するインラインコード形制御装置中のコード止めとして使

用してはならない。

11.7.2.7

コードを取り換えるとき動かさなければならないねじがあれば,他の部品を固定するために用い

てはならない。ただし,ねじを省略したとき,又は正しく取り換えなかったときに制御装置が動作しなく

なるか若しくは明らかに不完全となる場合,又は固定されるように設計された部品が可とうコードを取り

換えているとき工具の使用なしに取り外すことができない場合は除く。

11.7.2.8  11.7.2.1

11.7.2.7 への適否は,目視検査及び 11.7.2.911.7.2.15 の試験によって判定する。

11.7.2.9

制御装置に可とうコードを取り付け,導体を端子に導入する。端子ねじがあれば,導体がその位

置を変えることを防止するだけに必要な程度締め付ける。コード止めは,意図するように取り付け,その

ねじは

表 19.1 に示すトルクの 3 分の 2 に等しいトルクによって締め付ける。

11.7.2.10

この準備の後,制御装置のコード若しくは内部の部品が損傷を受けるおそれがあるほど,又は

内部の部品がこの規格への適合性を損なうおそれがあるほど妨害を受ける範囲まで,コードを制御装置に

押し込むことができてはならない。

11.7.2.11

次に,コードは,

表 11.7.2 の値及び回数の引張力を加える。引張力は,毎回 1 秒間,静かに最

も不利な方向に加える。

11.7.2.12

その直後,コードに,

表 11.7.2 の値のトルクを 1 分間加える。

表 11.7.2−コード止めの試験条件

制御装置

引張力

1)

N

トルク

1)

N・m

引張回数

1)

自立構造形制御装置

1 kg 以下 30

0.1

25

1 kg を超え 4 kg 以下 60

0.25

25

4 kg を超える 100

0.35

25

インラインコード形制御装置 
(自立構造形制御装置以外のもの。

90 0.25

100

1)

  幾つかの機器規格は,異なる値を要求する場合がある。

11.7.2.13  X

形取付けに対しては,まず 10.1.4 に使用する最小断面積の可とうコードの許容できる最もグ

レードの低い(軽い)タイプのものを付け試験する。次に,使用する最も大きい断面積で 2 番目にグレー

ドの高い可とうコードを付けて試験を行う。M 形取付け,Y 形取付け又は Z 形取付けに対しては,宣言さ

れているか又は取り付けられているコードだけを使用する。

11.7.2.14

試験中,コードは損傷を受けてはならない。試験後,コードは 2 mm を超えて縦方向に変位し

てはならない。導体は,端子内で 1 mm を超える距離にわたって動いてはならない。また,接続部におい

て著しい張力が加わっていてはならない。沿面距離及び空間距離は,箇条 20 中に規定する値未満に低減し

ていてはならない。

11.7.2.15

縦方向の変位の測定に対しては,試験を開始する前に,コードに引張力を加えながらコード止

めから約 20 mm の距離のところでコード上に表示を付ける。試験後,コード止めを基準にして,コードに

引張力を加えながらコード上のマークの変位を測定する。


61

C 9730-1

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11.8

コードの寸法−取外しできない

11.8.1

取外しできないコードは,一般用強化ゴム絶縁コード  (60245 IEC 53)  又は一般用ポリ塩化ビニル

絶縁コード  (60227 IEC 53)  よりもグレードが低くてはならない。グレードの低いコードの使用は,個別の

機器規格で許容する場合又は外部の SELV 装置(センサ,ユニット)との接続用の場合は許容する。

注記  電気用品の技術上の基準を定める省令(昭和 37 年通商産業省令第 85 号)の別表第一に適合し

た適切なコード又はケーブルを使用したものは同等とみなす。ただし,シース付きに限る。

適否は,目視検査によって判定する。

11.8.2

取外しできないコードを取り付けた制御装置は,コードの導体断面積が,

表 11.8.2 に規定する以上

の値でなければならない。

表 11.8.2−取外しできないコードの導体断面積

関連回路中の電流

A

公称断面積

1)

mm

2

6 以下

2)

 0.75

6 を超え 10 以下 1

10 を超え 16 以下 1.5 
16 を超え 25 以下 2.5 
25 を超え 32 以下 4 
32 を超え 40 以下 6 
40 を超え 63 以下 10

1)

  [対応国際規格の注

1)

は,アメリカ合衆国における情報であり,この規格では採用しない。

2)

 0.75

mm

2

よりも低い値は,クラス III 制御装置だけに対して,又は個別機器規格で許容する場

合だけ許容する。

表 11.8.2 に適合しなくても,次に従った電線を使用したものは,この細分箇条に適合するものとして扱

う。

a)

周囲温度が 30  ℃の場合の許容電流

1)

コード  コードの許容電流は,表 11.8.2A による。

表 11.8.2A−コードの許容電流

電気絶縁物の使用温度の上限値

60  ℃のもの 75

℃のもの 80

℃のもの 90

℃のもの

断面積

 

mm

2

素線数/直径

 

本/mm

許容電流

A

0.75

30/0.18

7 8 9 10

1.25

50/0.18

12 14 15 17

2.0

37/0.26

17 20 22 24

3.5

45/0.32

23 28 29 32

5.5

70/0.32

35 42 45 49

2)

キャブタイヤケーブル(電気絶縁物の使用温度の上限値が 60  ℃のもの)  キャブタイヤケーブルの

許容電流は,

表 11.8.2B による。


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C 9730-1

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表 11.8.2B−キャブタイヤケーブルの許容電流

許容電流

A

断面積

mm

2

素線数/直径

本/mm

単心

2 心

3 心

4 心及び 5 心

0.75

30/0.18

14 12 10  9

1.25

50/0.18

19 16 14 13

2.0

37/0.26

25 22 19 17

3.5

45/0.32

37 32 28 25

5.5

70/0.32

49 41 36 32

8.0

50/0.45

62 51 44 39

14 88/0.45

88 71 62 55

22

7/20/0.45

115 95 83 74

30 7/27/0.45

140  100  98  89

38 7/34/0.45

165  130  110  100

注記  中性線,接地線及び制御回路用電線は,心線数に含めない。

3)

絶縁電線(電気絶縁物の使用温度の上限値が 60  ℃のもの)  絶縁電線の許容電流は,表 11.8.2C 

よる。

表 11.8.2C−絶縁電線の許容電流

導体

許容電流

A

単線,より線の別

断面積

mm

2

素線数/直径

本/mm

導体が銅のもの

導体がアルミニ

ウムのもの

単線

− 1.0 16 12

  1.2

19

15

  1.6

27

21

  2.0

35

27

  2.6

48

37

  3.2

62

48

  4.0

81

63

  5.0

107

83

より線 0.9 7/0.4  17  13

 1.25

7/0.45

19

15

 2

7/0.6

27

21

 3.5

7/0.8

37

29

 5.5

7/1.0

49

38

 8

7/1.2

61

48

 14 7/1.6

88 69

 22 7/2.0

115 90

 30 7/2.3

139

108

 38 7/2.6

162

126

4)  2)

及び 3)において電気絶縁物の使用温度の上限値が 60  ℃以外のものの許容電流は,電気絶縁物の

使用温度の上限値に応じた

表 11.8.2D の許容電流補正係数を許容電流に乗じた値とする。


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表 11.8.2D−電気絶縁物の使用温度の上限値が 60  ℃以外のものの許容電流補正係数

電気絶縁の使用温度の上限値

許容電流補正係数

75  ℃のもの 1.22 
80  ℃のもの 1.29 
90  ℃のもの 1.41

注記 1  許容電流の値は,小数点以下 1 位を 7 捨 8 入する。

b)

周囲温度が 40  ℃の場合の許容電流は,電気絶縁物の使用温度の上限値に応じた

表 11.8.2E の許容電流

補正係数を許容電流に乗じた値とする。

表 11.8.2E−周囲温度が 40  ℃の場合の許容電流補正係数

電気絶縁の使用温度の上限値

許容電流補正係数

60  ℃のもの 0.82 
75  ℃のもの 1.08 
80  ℃のもの 1.15 
90  ℃のもの 1.29

注記 2  許容電流の値は,小数点以下 1 位を 7 捨 8 入する。

c)

電線管工事によって配線される絶縁電線の許容電流は,

表 11.8.2F の許容電流補正係数を許容電流に

乗じた値とする。

表 11.8.2F−電線管工事によって配線される絶縁電線の許容電流補正係数

同一管内の電線数

許容電流補正係数

3 以下 0.79

4 0.63

5 又は 6 0.56

注記 3  許容電流の値は,小数点以下 1 位を 7 捨 8 入する。

d)

コード及びキャブタイヤケーブルであって a)  1)及び a)  2)の表にない断面積をもつものの許容電流は,

各断面積の許容電流の値を直線で結ぶ内挿法によって求めた値とする。

適否は,目視検査によって判定する。

11.8.3

制御装置の内部の可とうコード用スペースは,導体を容易に挿入し接続するのに十分でなければな

らない。また,カバーがあるものは,導体又はその絶縁に対する損傷の危険なしに取付けできなければな

らない。カバーを取り付ける前に,導体が正しく接続され,かつ,正しい位置にあることを検査できなけ

ればならない。

適否は,目視検査及び 10.1.4 で用いる最大断面積のコードを接続することによって判定する。

11.9

導入孔開口部

11.9.1

可とう外部コードのための導入孔開口部は,コードの被覆が損傷のおそれがなく導入できるように

設計及び形成する,又は入口ブッシングを装備していなければならない。

11.9.1.1

独立取付形制御装置の電線管引込口及びノックアウトは,電線管又は電線管取付器具の導入が感

電保護に影響を与えない,

並びに沿面距離及び空間距離を箇条 20 で規定する値未満に低減しないように設


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計又は配置しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

11.9.2

入口ブッシングが設けられない場合,導入孔開口部は絶縁材料製でなければならない。

11.9.3

入口ブッシングが設けられる場合,それは絶縁材料製であり,かつ,次に適合しなければならない。

−  コードの損傷が防止される形状でなければならない。

−  確実に固定されなければならない。

−  工具の助けなしに外すことができてはならない。

−  X 形取付けが使用される場合,コードと一体であってはならない。

11.9.4

入口ブッシングは,クラス I 制御装置の M 形取付け,Y 形取付け及び Z 形取付けに対して,ブッ

シングがゴム製のコードのシースと一体である場合を除き,ゴム製であってはならない。

11.9.1

11.9.4 への適否は,目視検査及び試験によって判定する。

11.9.5

固定配線に永続的に接続されるように設計された独立取付形制御装置の外郭は,該当する電線管,

ケーブル又はコードの接続ができるケーブル引込口,電線管引込口,ノックアウト又はグランドをもたな

ければならない。

11.10

機器用インレット及びコンセント

11.10.1

複数の制御装置と機器との相互接続のために使用者が使用する複数の機器用インレット及びコ

ンセントの設計は,それらが相互に,又はその他のシステムに用いる機器用インレット若しくはコンセン

トとのかん合が起こらないようなものでなければならない。ただし,このようなかん合が,火災,人への

傷害若しくは感電,又は機器若しくは周囲への損傷を引き起こすおそれがある場合に限る。

適否は,目視検査によって判定する。

11.10.2

機器用インレット又はコンセントを装備するインラインコード形制御装置は,制御装置,機器用

インレット又はコンセントのいずれかの偶然の過負荷が通常使用状態において発生するおそれがない定格

であるか,又は過負荷に対し,保護しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

11.10.3

固定コンセントに挿入するためのピン,刃,その他の接続/適応手段を備えた制御装置は,該当

するコンセントシステムの要求事項に適合しなければならない。

適否は,目視検査によって,また,コンセントシステムに対して規定された試験に基づく試験を実施す

ることによって判定する。

11.11

取付け,保守及びサービス中の要求事項

11.11.1

カバー及びその固定

11.11.1.1

一体形制御装置以外の制御装置においては,制御装置又は機器の取付け,使用者保守又はサー

ビス中に外されるカバー又はカバープレートの取外しは,この規格への適合性を阻害するおそれがある制

御装置の設定値に影響を与えてはならない。

11.11.1.2

カバーの固定は,使用者の誤使用に至るおそれがあるか,又はこの規格への適合性を阻害する

場合,それらが位置を変えるか,不適正に交換されるおそれがあるような固定であってはならない。取付

けのために外す必要があるカバーの固定は,操作部又はガスケット以外のどのような部分も固定するため

に共用してはならない。

11.11.1.1

及び 11.11.1.2 への適否は,目視検査によって判定する。

11.11.1.3

外郭のカバー

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。


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11.11.1.4

開口部を覆うガラス

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。

11.11.1.5

取外しできない部分

感電,湿気,又は可動部との接触に対する必要な保護度を与える取外しできない部分は,確実な方法で

固定しなければならず,通常使用で生じる機械的ストレスに耐えなければならない。

取外しできない部分の固定用に使用するスナップイン装置は,

明白な固定位置をもたなければならない。

設置のため又はサービス時に取り外す部分に使用するスナップイン装置の固定性能は,劣化してはならな

い。

適否は,11.11.1.5.111.11.1.5.3 の試験によって判定する。

11.11.1.5.1

設置のため又はサービス時に取り外す部分は,試験を行う前に 10 回分解して組み立てる。

注記  サービスには,電源コードの交換も含まれる。

11.11.1.5.2  11.11.1.5.3

の試験については,制御装置を室温にして行う。ただし,適否が温度によって左右

される場合には,箇条 14 に規定する条件で制御装置を動作させた直後にも試験を行う。

11.11.1.5.3

急激に力を加えることなく,カバー,その他の部分の弱そうな箇所に対して,最も不利にな

る方向に 10 秒間力を加える。適用する力は,次のとおりでなければならない。

−  押圧力 50

N

−  次の場合の引張力

a)

当該部分が指先が簡単に滑り落ちることがない形状である場合 50

N

b)

当該部分のつかむ突起部が取外しの方向で 10 mm 未満の場合 30

N

押圧力は,

図 に示す標準テストフィンガと類似した寸法の剛性テストフィンガで加える。

引張力は,試験結果が左右されないように適切な手段(例えば,吸盤)で加える。

a)

又は b)の引張試験を行いながら,

図 に示すテストフィンガネイルを 10 N の力で穴又は接合部に差し

込む。次いで,テストフィンガネイルを 10 N の力で横方向へ滑らせる。テストフィンガネイルをねじらな

い又はレバーのように使用しない。

当該部分が軸方向の引張りがなさそうな形状である場合,引張力は加えないが,

図 に示すテストフィ

ンガネイルを 10 N の力で穴又は接合部に差し込み,次いでループを使用して 30 N の力で軸方向又は取外

し方向に 10 秒間引っ張る。

カバー又は部分がねじり力を受けそうな場合には,引張力又は押圧力と同時に次のトルクを加えなけれ

ばならない。

− 50

mm 以下の主要寸法については 2

N・m

− 50

mm を超える主要寸法については 4

N・m

ループでテストフィンガネイルを引っ張るときにもこのトルクを加える。

当該部分のつかむ突起部が 10 mm 未満の場合には,上記のトルクの値を 50 %に引き下げる。

11.11.1.5.4  11.11.1.5.3

の試験中及び試験後,部分が外れてはならず,固定された位置に留まらなければな

らず,そうでなければ,その部分は取外し可能な部分とみなす。

11.11.1.6

片手で外すことができるカバーは,引張試験のための 15 N 以下の力と組み合わせた 45 N 以下

の絞り力を,カバー表面の手の平で包まれる部分にテープをぴったりと延ばした状態で間隔が 125 mm 以

下の任意の 2 か所に加えたときに外れてはならない。10 回の取外し及び取付動作の前と後に試験を行う。

11.11.2

カバー固定手段

設置,使用者保守又はサービス中に外す必要があるカバー又はカバープレートの固定ねじは,係留式で


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なければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  カードボード又は類似の材料による硬く密着した座金の使用は,この要求事項を満足するとみ

なす。19.1.5 参照。

11.11.3

操作部

11.11.3.1

制御装置は,その操作部を,その意図する仕方で取り付ける又は外すとき,損傷を受けてはな

らない。

11.11.3.2

タイプ 2 作動制御装置の製造業者又は使用者による最大又は最小の設定値が,操作部に関連す

る機械的方法によって制限される場合,このような操作部は工具を使用しないで外すことができてはなら

ない。

11.11.3.3

“オフ”

位置を提供するタイプ 1 作動制御装置の操作部又はタイプ 2 作動制御装置の操作部が,

その制御装置の状態を示すために用いられる場合,その操作部を正しくない位置に固定することが可能で

あってはならない。

11.11.3.1

11.11.3.3 への適否は目視検査によって,また,取外しのために工具を必要としない操作部に

対しては 18.9 の試験によって判定する。

注記  機器の規格は,制御装置の状態を示すために用いられる操作部が正しくない位置に固定される

おそれがないことを要求する場合がある。

11.11.4

付加絶縁又は強化絶縁となる部品

付加絶縁又は強化絶縁として用いる,使用者保守又はサービスの後の再組立て中に省略されるおそれの

ある制御装置の部品は,その部品をひどく損傷しない限り取り外すことができないように固定するか,又

は部品が不適正な位置で取り換えられるおそれがなく,かつ,部品が省略されたときに制御装置が動かな

くなる若しくは明白に不完全になるように設計しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記  ラッカーコーティング,又はこすり落とすことによって容易に除かれるおそれがあるコーティ

ング状の他の材料で裏打ちした金属外郭は,この要求事項を満足するとはみなさない。

11.11.5

付加絶縁としてのスリーブ

一体形導体の付加絶縁としてのスリーブは,確実な方法によって正しい位置に保持しなければならない。

適否は,目視検査及び手による試験によって判定する。

注記  スリーブは,それを破壊するか若しくは切断することによってだけ外すことができる,又はそ

れが締め付けられる場合,確実な手段による固定とみなす。

11.11.6

引きひも

引きひもは,充電部から絶縁しなければならず,制御装置は,充電部が可触になることなく,引きひも

を取り付ける又は交換することが可能である設計でなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

11.11.7

絶縁用裏打ち

絶縁用裏打ち,隔壁などは十分な機械的強度をもち,確実な方法で固定しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

11.12

ソフトウェアを使用する制御装置

H.11.12

による。


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11.13

保護制御装置及び保護制御装置の構成部品

11.13.1

保護制御装置

保護制御装置は,次のとおりでなければならない。

−  意図された使用について信頼性を示し,かつそれに適するように,また該当する場合は,装置の保守

及び要求事項を考慮に入れるように設計及び製造する。

−  安全機能が他の機能によって悪影響を受けない場合を除き,このような他の機能から独立する。

−  適切かつ信頼できる保護を得るために,適切な設計原則に適合する。

これらの原則には,特に,フェールセーフモード,冗長性,多様性及び自己診断が含まれる。

動作制御装置を,保護制御装置として使用してはならない。

適否は,この規格及び JIS C 9730 の規格群の該当する第 2 部に規定する関連試験を実施することによっ

て判定する。

11.13.2

圧力制限器

この装置は,圧力が制御対象の機器の最高許容圧力を常に超えることがないように設計しなければなら

ない。ただし,適切な場合又は制御対象機器の関連規格で規定されていない場合,圧力サージの 10 %以下

の短期的圧力サージは許容できる。

11.13.3

温度監視装置

この装置は,安全上の理由から,測定機能に整合した適切な応答時間をもたなければならない。

12

耐湿性及び防じん性

12.1

水の浸入及びじんあいの侵入防止

12.1.1

制御装置は,宣言された方法で取り付けて使用したとき,それらの IP 分類に該当する水及びじん

あいの侵入の保護度合いを提供しなければならない。

12.1.2

適否は,12.1.312.1.6 に規定するように制御装置をまず準備し,次に,JIS C 0920 に規定する該

当する試験を実施することによって判定する。制御装置は,該当する試験の直後に 13.2 に規定する耐電圧

試験に耐え,目視検査によって,その制御装置に入った水が,この規格への適合を阻害していないことが

証明されなければならない。

特に沿面距離及び空間距離を箇条 20 に規定した値未満に低減するおそれがあ

る,絶縁物上の水のこん跡が存在してはならない。

12.1.3

制御装置は,該当する試験を行う前に,通常の試験室の雰囲気中に 24 時間放置する。

12.1.4

取外しできるコードを装備した制御装置は,該当する機器用インレット及び可とうコードを取り付

ける。X 形取付けを使用する取外しできないコードをもつ制御装置は,10.1.4 に規定する最小断面積の適

切な導体を取り付ける。M 形取付け,Y 形取付け又は Z 形取付けを使用する取外しできないコードを装備

した制御装置は,宣言された又はサンプルと共に提出されたコードを付けて試験する。

12.1.5

取外し可能な部分は外し,必要であれば主要部と共に試験を行う。

12.1.6

グランドのシーリングリング,その他のシーリング装置があれば,それらも周囲の空気の組成及び

圧力をもつ雰囲気中で,それらを自然循環によって換気される恒温槽中に自由につり下げてエージングす

る。それらは,10 日間(240 時間)

,温度 70±2  ℃で恒温槽中に保持する。

12.1.6.1

(規定なし)

12.1.6.2

エージングの直後に,その部品を恒温槽から取り出し,再組立てする前に 16 時間以上直射日光

を回避して室温に放置する。次に,グランド,その他の密封装置は,

表 19.1 に示すトルクの 3 分の 2 のト

ルクで締め付ける。


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12.2

湿気条件に対する保護

12.2.1

すべての制御装置は,通常使用状態で発生するおそれがある湿気条件に耐えなければならない。

J.12.2.1

も適用する。

12.2.2

適否は,12.2.512.2.9 までの湿度処理の後,12.2.3 に述べる試験シーケンスによって判定する。

12.2.3

インラインコード形,自立構造形及び独立取付形制御装置に対しては,13.1 及び 13.2 の試験を湿

度処理の直後に実施する。一体形制御装置及び組込形制御装置に対しては,13.2 の試験を湿度処理の直後

に実施する。

これらの試験は,

凝結が試験サンプルの表面で発生しないやり方で実施しなければならない。

12.2.4

制御装置には,この規格への適合性を阻害するような損傷があってはならない。

12.2.5

ケーブル導入孔開口部及び排水孔は開けたままにしておく。排水孔が IPX7 制御装置に設けられて

いる場合は,それは開けたままにする。

12.2.6

取外し可能な部分は,取り外し,必要があれば主要部分と共に湿度処理を行う。

12.2.7

恒湿槽中に配置する前に,サンプルを 20∼30  ℃の間の都合のよい値 t  ℃と  (t+4)  ℃との間の温

度にする。次に,サンプルを恒湿槽中に,次に規定する時間保持する。

− IPX0 制御装置に対しては,2 日間(48 時間)

−  他のすべての制御装置に対しては,7 日間(168 時間)

12.2.8

湿度処理は,相対湿度 91∼95 %の雰囲気の恒湿槽中で実施する。サンプルを配置できるすべての

場所で,空気の温度を から 1  ℃以内に維持する。

12.2.9

この処理後,箇条 13 の試験を恒湿槽中,又は部屋の中で,取外しできる部品を再度組み立てた後,

サンプルが規定温度になったときに行う。

注記 1  ほとんどの場合,サンプルを湿度処理の前,4 時間以上の間,指定温度に保持することによ

って規定の温度に移行する。

注記 2 91∼95 %の相対湿度は,空気と十分に大きい接触面をもつ硫酸ナトリウム (Na

2

SO

4

)  又は硝

酸カリウム (KNO

3

)  の飽和水溶液を恒湿槽中に配置することによって得ることができる。試

験サンプルが,その水溶液から又は試験用機器のどの部分からも凝結,その他の汚染を受け

ないように留意しなければならない。

注記 3  恒湿槽内で規定の条件を達成するために,その中の空気の連続循環の備えが必要であり,一

般に熱絶縁されている恒湿槽を使用することが必要である。

12.3

動作電圧による耐湿試験前のインラインコード形及び自立構造形制御装置に対しては,1 個のサンプ

ルを箇条 12 の他の試験の前に,12.3.112.3.7 の試験を行う。

クラス III 制御装置は,これらの細分箇条によっては試験しない。

注記  “動作電圧による”とは,“自動調節器に定格入力電圧を加えた通常動作状態”を意味し,この

状態で測定する漏えい電流は,制御装置から大地に流れる漏えい電流となる。

12.3.1

制御装置は,定格電圧の 1.06 倍の電圧に等しい電源電圧に接続する。この試験は,最高定格電流

及び宣言された最大周囲温度で実施する。

12.3.2

漏えい電流は 13.3.1 に規定する複数部品の間で測定し,測定はこの項目及び 13.3.1 に規定するよう

に行う。

12.3.3

異なる電源を使用する制御装置用の測定回路を,次のように図中に示す。

− 250 V 以下の定格電圧をもつ単相制御装置又は単相制御装置として用いられる三相制御装置に対して

は,クラス II であれば

図 25 参照,クラス II 以外であれば図 26 参照。

− 250 V を超える定格電圧をもつ単相制御装置又は単相制御装置として用いるのに適さない三相制御装


69

C 9730-1

:2010

置に対しては,クラス II であれば

図 27 参照,クラス II 以外であれば図 28 参照。

−  クラス II 以外の 250 V 以下の定格電圧をもつ単相 3 線式制御装置に対しては使用法に依存するが,

29

又は

図 30 参照。

250 V を超える定格電圧をもつ単相機器用制御装置は,相導体の 2 本を接続しなければならない。残り

の相導体は使用してはならない。

適切な測定回路を,

附属書 に示す。

12.3.4

測定中,すべての制御装置回路は,閉路しなければならない。ただし,

図 26,図 29 及び図 30 

従って試験する制御装置は,漏えい電流をスイッチ S

1

を開路位置及び閉路位置にして検査しなければなら

ない。

閉路をシミュレートするために,接点を短絡してもよい。

12.3.5

測定回路は,全インピーダンスを 1 750±250

Ω としなければならない。また,回路の時定数が 225

±15

μs になるコンデンサによって分流しなければならない。

12.3.6

測定回路は,漏えいの指示値 0.75 mA で 5 %を超える誤差があってはならず,20 Hz∼5 kHz の範囲

におけるすべての周波数に対して 5 %以内の精度をもっていなければならない。

12.3.7

制御装置の温度が安定した後,最大漏えい電流が 13.3.4 に示す値を超えてはならない。

13

耐電圧及び絶縁抵抗

13.1

絶縁抵抗

インラインコード形,自立構造形及び独立取付形制御装置の絶縁抵抗は,十分でなければならない。

13.1.1

適否は,13.1.213.1.4 の試験によって判定する。この試験は,箇条 12 に規定があるとき実施する。

13.1.2

金属以外の部品の強化絶縁又は付加絶縁について測定するとき,絶縁部の該当する表面は,それぞ

れ試験のための電極となるように金属はくで覆わなければならない。

13.1.3

絶縁抵抗は,ほぼ 500 V の直流電圧を加えて測定する。測定は,電圧印加 1 分後に実施する。

13.1.4

絶縁抵抗は,

表 13.1 に示す絶縁抵抗以上でなければならない。

表 13.1−絶縁抵抗

試験すべき絶縁

絶縁抵抗

M

Ω

動作絶縁

基礎絶縁 2

付加絶縁 5

強化絶縁 7

13.2

耐電圧

すべての制御装置の耐電圧は,十分でなければならない。

13.2.1

適否は,次の 13.2.213.2.4 の試験によって判定する。試験は,箇条 12 及び箇条 17 に規定があれ

ば実施する。


70

C 9730-1

:2010

表 13.2 

14)

耐電圧試験電圧

動作電圧のための試験電圧

11), 12), 13)

試験する絶縁

又は断路箇所

6), 10)

クラス III

50 V 以下

2)

50 V 以下

1), 2)

50 V を超え

130 V 以下

1)

130 V を超え

250 V 以下

1)

250 V を超え

440 V 以下

1)

440 V を超え

690 V 以下

1)

動作絶縁

100  100 260 500 880

1

380

基礎絶縁

4), 7)

500  1 250 1 330 1 450 1 640 1

890

付加絶縁

4), 7), 8)

−  1 250 1 330 1 450 1 640 1

890

強化絶縁

4), 7), 8), 9)

 100  2 500 2 660 2 900 3 280 3

780

電子的断路

16)

−  100 260 500 880

1

380

マイクロ断路

5)

 500  100 260 500 880

1

380

完全断路

5)

−  1 250 1 330 1 450 1 640 1

890

マイクロ開路

3)

1)

  商用主電源に電気的に (galvanically) 接続された制御装置に適用する。

2)

  回路が,二重又は強化絶縁によって商用主電源から絶縁されている場合(接地でもよい。),交流 24 V r.m.s.まで

は要求事項がない。

3)

  箇条 15∼箇条 17 の試験を終了して合格であれば十分であると考えられるので,マイクロ開路のための耐電圧要

求事項はない。さらに,その操作手段の一つの位置においてマイクロ断路が行われず,他の位置でマイクロ開
路が行われる制御装置に対しては,マイクロ開路に対応する位置に対する耐電圧要求事項がない。

4)

  13.3.1 による。

5)

  完全断路及びマイクロ断路試験に対しては,接点を自動的に又は手動で開放し,接点間隔及び支持用絶縁物が

満足できることを保証するために開路後できる限り早く試験する。温度検出制御装置の場合,恒湿槽中から取

り出した直後,この試験を室温で実施できるようにするために 15∼25  ℃の間で開放するように特別に調整した
特別サンプルを提供することが必要となる場合がある。

6)

  電子部品,ネオンランプ,コイル又は巻線のような試験を実施不可能にするおそれがある特殊構成部品は,一

つの極で断路するか又は試験する絶縁物に適するように橋絡しなければならない。コンデンサは,単極で断路
したとき,動作絶縁に関する試験を除き,橋絡しなければならない。上記の手続が実施できない場合,箇条 15
∼箇条 17 の試験で十分であると考える。

7)

  可触金属に接触している金属も,また,可触とみなす。

8)

  付加絶縁及び強化絶縁の試験に対して,金属はくをシーリングコンパウンドが効果的に可触絶縁表面に試験で

きるように当てる。

9)

  二重絶縁だけではなく,強化絶縁を組み込んでいる制御装置に対しては,強化絶縁に印加される電圧が二重絶

縁の基礎絶縁又は付加絶縁に過剰に電圧を加えないように留意することが望ましい。

10)

  クラス I 制御装置及びクラス I 状態のための制御装置に対しては,充電部と接地された金属部との間の絶縁に過

剰な電圧を加えることを回避するために十分な空間距離を金属はくと可触金属部との間に維持するように留意
しなければならない。

11)

  試験用の高電圧トランスは,出力電圧を試験電圧に調整した後,出力端子を短絡したとき,出力電流が 200 mA

以上であるように設計しなければならない。過電流リレーは,出力電流が 100 mA 未満のとき,トリップしては
ならない。試験電圧の実効値が±3 %以内で測定できるように留意しなければならない。H.13.2 も適用する。

12)

及び

13)

  H.13.2 による。

14)

  (対応国際規格の注は,カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,この規格では採用しない。)

15)

  H.13.2 による。

16)

  H.28 による。

13.2.2

強化絶縁又は付加絶縁から金属以外の部分までの距離を測定するとき,絶縁の該当するそれぞれの

面を試験用電極とするために金属はくで覆う。

13.2.3

各絶縁には,周波数 50 Hz 又は 60 Hz の実質的に正弦波形の電圧を加える。電圧は,1 分間,

表 13.2

に示す絶縁又は断路部分の間に加え,表中に示す値とする。

13.2.4

最初に規定値の半分以下の電圧が加えられ,次に,全電圧まで急速に上昇させる。フラッシオーバ

又は絶縁破壊が発生してはならない。電圧降下がないグロー放電は,無視する。


71

C 9730-1

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13.3

動作電圧でないインラインコード形及び自立構造形制御装置に対しては,13.1 又は 13.2 の試験のう

ち該当する試験の後,12.3 の試験をしたサンプルは 13.3.113.3.4 の試験を行わなければならない。

クラス III の制御装置は,これらの細分箇条では,試験しない。

注記  “動作電圧でない”とは,“制御装置は通常動作させず,充電部と外郭との間に定格電圧を加え

た状態”を意味し,この状態で測定する漏えい電流は,充電部と外郭間に流れる漏えい電流と

なる。

13.3.1

直流専用の制御装置には直流の,及び他のすべての制御装置に対しては交流の試験電圧を,充電部

と次の部分との間に加える。

−  可触金属部

−  絶縁材料製の可触表面と接触している 20 cm×10 cm 以下の面積の相互接続した金属はく

測定は,同時に接触できる場合において,ある面からもう一つの面まで集合的だけではなく,個別的に

も実施する。

表面が 20 cm×10 cm 未満である場合には,金属はくは,その表面と同一の寸法とする。金属はくは,そ

の制御装置の温度に影響を与えるおそれがある時間その位置に留めない。

制御装置が接地用のピン又は接地用の導体を装備している場合,接地用導体は,電源で断路する。

13.3.2

試験電圧は,次による。

−  直流専用制御装置,単相制御装置及び単相電源にも適切である三相制御装置に対しては,定格電圧又

は定格電圧範囲の上限値が 250 V を超えない場合,定格電圧の 1.06 倍又は定格電圧範囲の上限値の

1.06 倍。

−  その他の制御装置に対しても,定格電圧の 1.06 倍又は定格電圧範囲の上限値の 1.06 倍の電圧とする。

13.3.3

漏えい電流は,試験電圧の印加後,5 秒以内に測定する。

13.3.4

可触金属部分及び金属はくに対する最大漏えい電流は,次の値を超えてはならない。

−  (対応国際規格のクラス 0 及びクラス 0I に関する規定を削除した。

−  クラス I 制御装置に対しては,0.75 mA

−  クラス II 制御装置に対しては,0.25 mA

14

温度上昇

14.1

制御装置及びその支持面は,通常使用状態において過度の温度に達してはならない。

14.1.1

適否は,14.214.7 の試験によって判定する。

14.1.2

この試験中,温度が

表 14.1 で規定する値を超えてはならず,制御装置はこの規格,特に箇条 8,箇

条 13 及び箇条 20 への適合を阻害するようないかなる変化もあってはならない。

14.2  M

形取付け,Y 形取付け又は Z 形取付けを用いる取外しできないコード用の端子及び端末以外の,

外部導体の接続を目的とする端子及び端末は,10.1.4 で用いる導体タイプ及び定格に該当する中間断面積

の導体を取り付けなければならない。

14.2.1  M

形取付け,Y 形取付け又は Z 形取付けを使用するときは,宣言されたコード又は供給されたコ

ードを試験のために用いなければならない。

14.2.2

端子が可とうコード及び固定導体のいずれにも適している場合,該当する可とうコードを用いる。

14.2.3

外部導体の接続を目的としない端子は,10.2.1 において規定する最小導体面積の導体又は 7.2 にお

いて宣言された場合,その特殊導体を取り付ける。

14.3

インラインコード形制御装置は,つや消し黒色塗りのベニヤ板面上に立てるか又は寝かせる。


72

C 9730-1

:2010

14.3.1

独立取付形制御装置は,通常使用状態のように取り付ける。

14.4

制御装置は,定格電圧 V

R

の 0.94∼1.06 倍のうち,最も不利な電圧の電源に接続する。電圧検出形で

ない回路は,これより低い電圧(ただし

V

R

の 10 %以上で,定格電流の 0.94∼1.06 倍の間の最も不利な

電流が回路に流れ込むような負荷をかける。

)に接続してもよい。

14.4.1

外部負荷を目的としない回路及び接点は,製造業者が規定しなければならない。

14.4.2

操作部は,最も不利な位置に配置する。

14.4.3

この試験の目的において,始めに閉路を要求される接点は,回路の定格電流及び定格電圧において

閉路する。

14.4.3.1

温度検出制御装置に対しては,この箇条の条件で測定する動作温度と 5±1  ℃異なる温度まで,

その接点が閉路位置にある状態で温度検出素子を上昇させるか低下させる。

制御装置全体が検出素子(

表 7.2 の項目 47 参照)として宣言された場合には,温度上昇試験は 14.4.3.1

及び 14.5.1 の両方の条件で実施する。

14.4.3.2

他のすべての検出用制御装置に対しては,接点を閉路位置で,実施できる限り開放点の近傍にあ

るように検出素子を保持しなければならない。

14.4.3.3

動作を引き起こし,次に,必要レベルまで作動量の値を復帰させるように,動作値を超えて作動

量の値を上昇させるか又は低減することが必要となる場合がある。

14.4.3.4

その他の自動制御装置に対しては,最も困難な動作シーケンス又は動作シーケンスの部分を選択

しなければならない。

14.4.4

制御装置が,この試験中動作を開始する場合,制御装置は,接点が閉路したままとなるように復帰

する。

14.4.4.1

接点を再閉路するための復帰が実施できない場合,試験を中断する。新しい動作値を決定し,こ

の新しい動作値を用いて試験を繰り返す。

14.5

制御装置は,14.5.1 及び 14.5.2 の条件が得られるような適切な加熱装置及び/又は冷却装置中で試験

する。

機器に入れるか機器と共に提出される制御装置を除き,試験は,通風のない環境中で実施する。自然対

流は許容する。

14.5.1

スイッチヘッドの温度は,T

max

と  (T

max

+5)  ℃又は T

max

の 1.05 倍のうちのいずれか大きい方の温度

との間に維持する。取付面の最高温度 T

s max

が T

max

と異なる場合には,T

s max

と  (T

s max

+5)  ℃又は T

s max

1.05 倍のいずれか大きい方の温度との間に維持する。

14.5.2

インラインコード形制御装置,独立取付形制御装置並びに制御装置が通常使用状態のように取り付

けるとき可触となる一体形制御装置及び組込形制御装置の部品は,15∼30  ℃の室温中に置く。測定した結

果の温度は,基準値 25  ℃に合わせて補正する。

14.6

スイッチヘッド,取付面及び検出素子のために規定する温度に,ほぼ 1 時間で到達しなければなら

ない。

14.6.1

電気的及び温度条件は,

4 時間又は定常状態後 1 時間のいずれか,最初に到達した方の間維持する。

14.6.2

短時間動作又は間けつ的動作用に設計された制御装置については,4 時間の中に

表 7.2 の項目 34

で宣言された休止時間を含む。

14.7

スイッチヘッドを入れる媒体の温度及び検出素子が暴露される作動量の値は,そのサンプルが占め

る空間の中心にできる限り近く,また,その制御装置からほぼ 50 mm の距離で測定しなければならない。

14.7.1

表 14.1 に指示する部品及び表面の最高許容温度は,試験中の部品の温度に最小の影響しか与えな


73

C 9730-1

:2010

いように選び,配置した細線熱電対又はその他の同等な手段によって測定する。

14.7.2

支持表面温度決定用の熱電対は,その支持表面に埋め込んだ直径 15 mm 及び厚さ 1 mm の銅又は

黄銅製の小形黒色塗装円板の裏面に取り付ける。制御装置の位置は,可能な限り最高温度に到達すると思

われる部分が円板に接触するように配置する。

14.7.3

操作部,その他のハンドル,ノブ,グリップなどの温度を決定する場合に,通常使用状態で握られ

る他の部分,及び非金属製であれば高温金属に接触する部分についても考慮しなければならない。

14.7.4

巻線温度以外の電気絶縁の温度は,絶縁破壊が次に示す事象を引き起こすおそれがある場所の絶縁

表面で決定する。

−  短絡

−  火災の危険

−  感電保護に対する悪影響

−  充電部と可触金属部との間の接触

−  絶縁の橋絡

−  沿面距離又は空間距離の箇条 20 の規定値未満への減少

表 14.1−部品・表面の最高許容温度

部品

最高許容温度

機器用インレット及びプラグ−イン装置のピン

1)

−  超高温用

155

−  高温用

120

−  低温用

65

次の材料の巻線

8), 9), 10), 13)

及びこれと接触しているコア

−  A 種材料

100 [90]

−  E 種材料

115 [105]

−  B 種材料

120 [110]

−  F 種材料

140

−  H 種材料

165

外部導体用端子及び端末

1), 7), 14)

85

その他の端子及び端末

1), 2)

85

導体のゴム又はポリ塩化ビニル絶縁

1), 201)

−  屈曲が発生する又は,発生するおそれがある場合 60

−  屈曲が発生しない又は,発生するおそれがない場合 75

−  温度表示又は温度定格がついている場合

表示値

付加絶縁として用いられるコードシース

12), 201)

 60

その劣化が,この規格への適合性を阻害するおそれがある,ガスケット,その他の部分に対して用い
られる,合成ゴム以外のゴム

−  付加絶縁又は強化絶縁として使用するとき 65

−  その他の場合

75

巻線絶縁用以外の絶縁として使用する材料

3), 5), 12), 202)

−  含浸又はワニス処理した織物,紙又はプレスボード 95

−  次の材料で結合した積層板:

メラミンホルムアルデヒド,フェノール・ホルムアルデヒド又はフェノール・フルフラール樹脂 110

[200]

ユリア・ホルムアルデヒド樹脂 90

[175]

−  次の材料の成形品

3)

セルロース充てん(填)剤入りフェノール・ホルムアルデヒド 110

[200]

無機充てん剤入りフェノール・ホルムアルデヒド 125

[225]

メラミン・ホルムアルデヒド 100

[175]


74

C 9730-1

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表 14.1−部品・表面の最高許容温度(続き)

部品

最高許容温度

ユリア・ホルムアルデヒド

90 [175]

ガラス繊維強化ポリエステル 135

付加絶縁又は強化絶縁として使用する純マイカ及び固く焼結したセラミック材料 425

その他の熱硬化性材料及びすべての熱可塑性材料

4)

操作部,ハンドルノブ,グリップなどの表面を除く,すべての可触表面 85

制御装置の運搬又は移動に用いるハンドル,ノブ,グリップなどの可触表面

−  金属製

55

−  陶磁器製又は,ガラス質の材料製 65

−  成形材料,ゴム又は木材製

75

操作部の可触表面又は短時間に限り保持するその他のハンドル,グリップ又は類似のものの可触表面

−  金属製

60

−  陶磁器製又はガラス質の材料製 70

−  成形材料,ゴム又は木材製

85

木材一般

90

支持され,塗料されたベニヤ表面 85

銅又は黄銅製の導電性部分

1), 6), 15)

 230

鋼製の導電性部

1)

400

その他の導電性部分

1), 6)

1)

  これらの部分に対しては,この箇条の試験を箇条 17 の後,繰り返す。

2)

  より高い値が製造業者によって宣言された場合を除き,測定された温度は,85  ℃を超えてはならない。

3)

  角括弧内の値は,操作部,ハンドル,ノブ,グリップなどのために用いる材料でできた部分(高温金属には接

触しているが可触ではない。

)に適用できる。

4)

  最高許容温度は,これらの材料について,使用中に安全であると証明できる温度を超えてはならない。温度を,

箇条 21 の目的のために記録しなければならない。

5)

  金属部分が絶縁材料製の材料でできた部品と接触している場合,接触点で絶縁材料の温度は金属部分の温度と

同一であると仮定する。

6)

  最高許容温度は,これらの材料にとって使用が許容できると証明された温度を超えてはならない。

7)

  機器の内部に入れるか,又はその上に付けて提出される制御装置に対しては,普通は機器が外部導体と共に提

供されないため,固定導体用端子の温度だけを確認する。固定導体用端子以外の端子をもつ機器に対しては,
外部導体の絶縁部の温度を端子の温度の代わりに決定する。

8)

  分類は,JIS C 4003 による。

A 種材料の例:含浸綿,絹,人造絹糸及び紙,オレオ樹脂(含油樹脂)又はポリアミド樹脂を基材とする 
              エナメル

B 種材料の例:ガラス繊維,メラミン及びフェノール・ホルムアルデヒド樹脂

E 種材料の例:

−  メラミン・ホルムアルデヒド,フェノール・フルフラール樹脂ではり合わされたセルロース充てん剤入りの

成形品,木綿織物積層板及び積層紙

−  架橋ポリエステル樹脂,セルローストリアセテートフィルム,ポリエチレンテレフタレートフィルム 
−  油性アルキド樹脂ワニスではり合わされたワニス塗りポリエチレンテレフタレート布

−  エナメル(基材がポリビニルホルマール,ポリウレタン又はエポキシ樹脂)

B 種及びこれより高い温度種別の絶縁システムには,より広範囲の加速温度試験及び両立性試験が要求され

る。

A 種,E 種及び B 種材料を使用する全密閉形モータの温度は,5  ℃までは上昇するおそれがある。 
A 種,E 種及び B 種材料を使用する全密閉形モータは,ケースの内側と外側との間の空気循環は防止される

が,必ずしも気密といえるほど十分には被覆されないような構造をもつモータである。

例示がない絶縁材料については,

“電気用品の技術上の規準を定める省令(昭和 37 年通商産業省令第 85 号)

別表第四 1 (1)  ロの解釈 3”をその材料の温度上限値とみなす。


75

C 9730-1

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表 14.1−部品・表面の最高許容温度(続き)

9)

  ユニバーサルモータ,リレー,ソレノイドなどの巻線温度が,通常,熱電対に接触するおそれがある点で平

均値を下回るという事実を見こして,角括弧が付いていない数字は,抵抗法を使用するときに適用し,角括
弧が付いている数字は熱電対を使用するときに適用する。振動子コイルの巻線及び交流モータに対しては,

角括弧が付いていない数字は,いずれの場合にも適用する。

10)

  銅巻線の温度上昇値は,次の式によって算出する。

(

) (

)

1

2

1

1

1

2

5

.

234

Δ

t

t

t

R

R

R

t

ここに,

Δt

温度上昇

R

1

試験開始時の抵抗

R

2

試験の終了時の抵抗

t

1

試験開始時の動作周囲温度であり,T

max

で設定

t

2

試験終了時の動作周囲温度

試験の開始時に,巻線は,T

max

でなければならない。

スイッチを遮断した瞬間の抵抗を確かめるために,抵抗対時間曲線をプロットできるような短い間隔で,

スイッチを切った後できる限り早く抵抗測定を行って試験の終了時の巻線抵抗を決定することが望ましい。

この箇条の目的のための到達した最高温度は,T

max

にこの温度上昇を追加することによって求められる。

11)

  (規定なし)

12)

  材料の耐熱特性に関連する規定した温度値は,個々の材料が検査され,特殊な耐熱特性をもつと承認されて

いる場合は超過してもよい。

13)

  その最小寸法が 5 mm 未満である断面をもつ小形巻線に対しては,抵抗法によって測定する許容最高温度は,

次による。

種別

A



F

H

105 
120 
130 
155 
180

14)

  一体形及び組込形制御装置の場合は温度限度を適用しないが,ほとんどの機器規格が固定機器の端子の温度

を 85  ℃,すなわち,通常の PVC ケーブル絶縁物に対する最高許容温度に限定していることに注意する必要

がある。最高温度記録値は,

表 7.2 の項目 21 に記載した値を超えないことが望ましい。

制御装置を機器に一体/組み込む場合,外部導体の端子は,機器の一部として,機器規格の規定の試験を

受け,機器規格の温度限度値に適合しているか評価することになる。

15)

  公認のや(冶)金規格に適合していることを合金製造業者からの試験データによって立証できるならば,特

定の銅合金についてはこれより高い温度を受け入れることができる。

6)

も参照。

201)

 この値は IEC 規格に適合した電線に対して適用する。それ以外のものについては,関連法規による。

注記  関連法規には,“電気用品の技術上の基準を定める省令(昭和 37 年通商産業省令第 85 号)の別表第

四 1(1)ロの解釈 3”がある。

202)

 表 14.1 に規定したもの以外の材料で,関連法規に適合するものは,最高許容温度を満たしているとみなす。

注記  関連法規には,“電気用品の技術上の基準を定める省令(昭和 37 年通商産業省令第 85 号)の別表第

四 1(1)ロの解釈 3”がある。 

15

製造偏差及びドリフト

15.1

制御装置のタイプ 2 作動となる部品は,宣言された動作値,動作時間又は動作シーケンスに関して

十分な製造の一貫性をもたなければならない。

15.2

適否は,この箇条の該当する試験によって判定する。

15.3

平常動作中に完全に又は部分的に壊れる制御装置については,箇条 17 の該当する細分箇条の試験が


76

C 9730-1

:2010

十分であるとみなす。

15.4

運転のために,機器上の取付け又は機器に組み込む方法に依存する制御装置に対しては,製造偏差

及びドリフトは別々に宣言されるが,比較できる値でなければならない。宣言された製造偏差は,帯域幅

又は範囲(例えば,10 K)として,表現しなければならない。ドリフトは値の変化(例えば,±10 K 又は

+5 K,−10 K)によって表現する。

15.5

一貫性は,次のようにして決定する。

15.5.1

使用する試験機器は,制御装置を製造業者によって宣言された方法で取り付けたものでなければな

らない。

15.5.2

検出用制御装置について,試験装置は,できるだけ制御装置の平常動作がその試験装置を制御する

ために用いるようなものでなければならない。

15.5.3

この試験は,応答値よりもむしろ比較値を決定するために行われるので,その装置の形式は重大で

はない。ただし,それは実施できる限り使用条件に近づけてシミュレートすることが望ましい。

15.5.4

試験の電気的条件は,異なる条件が

表 7.2 の項目 41 で宣言された場合を除き,通常,最大定格電

圧 V

R max

及び最大定格電流 I

R max

でなければならない。

ただし,制御装置の動作は,0.05 A 以下の検出電流をもつ適切な装置によって検出しなければならない。

15.5.5

検出制御装置に対しては,作動量の変化率は,特別な値が

表 7.2 の項目 37 で宣言された場合を除

き,適切な値でなければならない。

15.5.6

該当する動作値,動作時間又は動作シーケンスを,各サンプルに対して記録しなければならない。

いずれの 2 個のサンプルにも,宣言された製造偏差を超える大きさの差があってはならない。

15.5.7

記録値はまた,各サンプルに対する基準値として使用し,その結果,箇条 16 の環境試験及び箇条

17

の耐久性試験後の再試験によってドリフトを決定できる。

15.6

ある機器への取付方法,又はその機器に組み込まれる方法に,制御装置の動作が依存しない制御装

置(例えば,タイマ,電流検出制御装置,電圧検出制御装置,エネルギー調節器又は電動式制御装置のド

ロップアウト電流)に対する継続性の決定は,次のように行う。

15.6.1

製造偏差及び/又はドリフトは,絶対値であってもよい。この場合,製造偏差及びドリフトの両方

を組み合わせる 1 個の宣言が行われてもよい。

15.6.2

該当する動作値,動作時間又は動作シーケンスは,すべてのサンプルにおいて最初に測定し,製造

業者によって宣言された制限値の中になければならない。

15.6.3

試験用装置は,宣言された通常使用状態のうち,最も不利な状態をシミュレートするようなもので

なければならない。

15.6.4

ドリフト値が

表 7.2 の項目 42 に別々に宣言された場合,各サンプルの実測値を基準値として記録

しなければならない。その結果,箇条 16 の環境試験及び箇条 17 の耐久性試験後の再試験によって,その

ドリフトを決定できる。

15.7  J.15.7

による。

15.8  J.15.8

による。

16

環境によるストレス

16.1

環境上の温度ストレスに敏感な制御装置は,輸送及び貯蔵中に発生するおそれがある該当するスト

レスのレベルに耐えなければならない。

16.1.1

適否は,制御装置を輸送条件として宣言されたものと同一の条件中に放置した状態で実施する 16.2


77

C 9730-1

:2010

の該当する試験によって判定する。輸送条件が宣言されない場合,その制御装置は,操作部又は操作手段

を最も不利な姿勢にして試験する。

16.2

環境上の温度ストレス

16.2.1

温度の影響は,次のように試験する。

−  制御装置全体は,24 時間,温度−10±2  ℃で維持する。

−  次に,制御装置全体は,4 時間,温度 60±5  ℃に維持する。

16.2.2

制御装置は,いずれの試験中においても通電しない。

16.2.3

各試験後,操作部又は操作手段をもつ制御装置は,宣言された回路断路クラスを適正に提供するよ

うに操作ができなければならない。ただし,このことは制御装置を取り外すことなく,決定できなければ

ならない。

この試験は,室温で実施する。制御装置は,操作前に 8 時間室温に保持する。

16.2.4

さらに,タイプ 2 作動付きの制御装置に対しては,箇条 15 の該当する試験を上記の試験の後,そ

の都度繰り返さなければならない。これらの試験中の測定値は,同一サンプルについて

表 7.2 の項目 42 で

宣言されたドリフトを超えて箇条 15 で記録した値と異なってはならない。

17

耐久性

17.1

一般要求事項

17.1.1

制御装置は機器に組み込むか又は機器と共に提出される制御装置を含み,通常使用状態で発生する

機械的,電気的及び熱的ストレスに耐えなければならない。

17.1.2

タイプ 2 作動付きの制御装置は,動作値,動作時間又は動作シーケンスが宣言されたドリフトより

も大きく変化しないように動作しなければならない。

17.1.2.1  17.1.1

及び 17.1.2 の適否は,17.1.3 の試験によって判定する。

17.1.3

試験シーケンス及び条件

17.1.3.1

一般に,試験シーケンスは,次による。

−  17.6 に規定するエージング試験(この試験は,タイプ 1.M 又は 2.M として分類される作動だけに適用

する。

−  17.7 に規定する加速速度での自動作動の過電圧試験

−  17.8 に規定する加速速度での自動作動の試験

−  17.9 に規定する低速度での自動作動の試験(この試験は,スローメイク及びスローブレイク自動作動

だけに適用する。

−  17.10 に規定する加速速度での手動作動の過電圧試験

−  17.11 に規定する,低速度での手動作動の試験

−  17.12 に規定する高速度での手動作動の試験(この試験は,2 極以上の極をもち,動作中に極性逆転が

起きる場合の作動だけに適用する。

−  17.13 に規定する加速速度での手動作動の試験

17.1.3.2

電気的,温度及び機械的試験条件は,一般に,17.217.4 に規定する条件でなければならない。

一般的試験要求事項は,17.617.14 に規定する。個別試験要求事項は,JIS C 9730 の規格群の該当する第

2 部に規定する。

17.1.3.3

自動作動動作の一部分となる手動作動の試験は,通常,その自動作動に該当する細分箇条に規定

する。試験の規定がない場合は,17.1017.13 をこのような手動作動に適用する。


78

C 9730-1

:2010

17.1.3.4  JIS C 9730

の規格群の該当する第 2 部に規定する場合を除き,規定するすべての試験の後,サン

プルは 17.14 の要求事項に適合しなければならない。

17.1.4  H.17.1.4

による。

17.2

試験のための電気的条件

17.2.1

制御装置の各回路は,製造業者によって宣言された定格に従って

表 17.2.1 に示す電気的条件で負荷

しなければならない。外部負荷を目的としない回路及び接点は,設計負荷を用いて動作させる。この方法

が製造業者によって宣言された場合,切換回路の各部分に対して別々に試験を行うことが必要となる場合

がある。特に切換回路の 1 個の部分の定格がその他の部分に通電される電流に依存する場合である。

17.2.2

過電圧試験を行う場合,使用する電気負荷は,定格電圧 V

R

で,

表 17.2.1 に規定する電気的負荷と

する。この電圧は,17.7 及び 17.10 の過電圧試験に対しては,1.15 V

R

に増加する。

17.2.3

(対応国際規格の規定は,過電圧試験の代わりに過負荷試験を使用する国に適用するものであり,この

規格では採用しない。

17.2.4

接地された中性線システムがあるとき,外郭は 3A 筒形ヒューズを通して回路の保護導体に接続し

なければならず,接地中性線システム以外に対しては,外郭は,最も絶縁破壊して接地するおそれがない

充電極に上記のヒューズを通して接続しなければならない。

17.2.5

タイプ 1.G 若しくはタイプ 2.G 作動,又はその他の負荷切離し作動に対しては,試験時には補助ス

イッチを使用して意図した動作をシミュレートする。


79

C 9730-1

:2010

表 17.2.1−試験の電気的条件

交流回路

直流回路

6.2

の分類

回路のタイプ

動作

電圧

V

電流

A

力率

  (±0.05)

3)

電圧

V

電流

A

時定数

  (±1 ms)

実質的に抵抗性 
(分類は 6.2.1

開路及
び閉路

V

R

I

R

 0.95

V

R

I

R

非誘導形

6.0 I

X

 0.6

V

R

2.5 I

X

 7.5

又は算術的に大きい場合

0.95

又は算術的に大きい場合

閉路

1)

V

R

I

R

I

R

I

X

 0.95

I

X

又は算術的に大きい場合

又は算術的に大きい場合

抵抗又は誘導性 
(分類は 6.2.2

開路

V

R

I

R

I

R

非誘導形

宣言された特定負
荷(分類は 6.2.3

開路及
び閉路

V

R

負荷によって決定

V

R

負荷によって決定

20 mA 負荷 
(分類は 6.2.4

開路及

び閉路

V

R

 20

mA  0.95

V

R

20 mA

非誘導形

宣言されたモータ

負荷

(分類は 6.2.5

開路及

び閉路

V

R

宣言どおり

V

R

宣言どおり

閉路

1)

V

R

 10

VA/V

R

 0.35

2) 

パイロット負荷

(分類は 6.2.6

開路

V

R

 VA/V

R

 0.95

V

R

:定格電圧,  I

R

:定格電流,  I

X

:誘導負荷電流

1)

  規定した閉路条件は,50∼100 ms の間維持し,次に,補助スイッチによって規定した開路条件に低減する。こ

の箇条の試験中に,接点閉路から 2 秒以内に接点開路が発生する場合,閉路のために規定した条件は,開路に
も使用する。

2)

  これらの値は,適用しない。

3)

  抵抗器及び誘導器は,並列には接続しない。ただし,空心誘導器を使用する場合,その誘導器を流れる電流の

ほぼ 1 %を流す抵抗器は,それと並列に接続する。鉄心誘導器は使用してよいが,電流が実質的に正弦波形であ

るときに限る。三相の試験には 3 心誘導器を用いる。

表 17.2.217.7 及び 17.10 の過負荷試験の電気条件

(対応国際規格の

表 17.2.2 は,カナダ,中国及びアメリカ合衆国で適用するものであり,この規格では

採用しない。

表 17.2.317.817.917.1117.12 及び 17.13 の過負荷試験の電気条件

(対応国際規格の

表 17.2.3 は,カナダ,中国及びアメリカ合衆国で適用するものであり,この規格では

採用しない。

17.3

試験のための温度条件

17.3.1

温度検出素子以外の制御装置の部品に対しては,次を適用する。

−  制御装置を宣言された方法で取り付けるとき,可触部品は,通常の室温にさらさなければならない(4.1

参照)

−  制御装置の取付面は,T

s max

と  (T

s max

+5)  ℃又は T

s max

の 1.05 倍のうち,いずれか大きい方の温度との

間に維持しなければならない。

−  スイッチヘッドの他の部分は,T

max

と  (T

max

+5)  ℃又は T

max

の 1.05 倍のうち,いずれか大きい方の温

度との間に維持しなければならない。T

min

が 0  ℃未満であれば,スイッチヘッドを T

min

と  (T

min

−5)  ℃


80

C 9730-1

:2010

との間に維持して追加試験を実施する。

17.3.2  17.8

及び 17.13 の試験中に,

17.3.1

の温度を各試験の最後の 50 %の間に加える。

各試験の始めの 50 %

の間は,スイッチヘッドを通常の室温に維持する。

試験を両方の温度(T

max

及び T

min

)で実施する必要があれば,追加サンプルを要求する。

17.4

試験のための手動及び機械的条件

17.4.1

すべての手動作動に対しては,各操作サイクルは,制御装置の作動のために適切なすべての位置に

連続して動かし,次に,その出発点まで帰るような操作部の運動で構成する。ただし,制御装置が 2 個以

上の意図した“オフ”位置をもっているものでは,各手動作動は,ある“オフ”位置から次の“オフ”位

置までの運動でなければならない。

17.4.2

操作部の運動速度は,次による。

−  低速度に対しては,

回転作動については,(9±1)°/s

直線作動については,5±0.5 mm/s

−  高速度に対しては,

操作部はできる限り早く手によって操作しなければならない。操作部が制御装置と共に供給されな

いものは,適切な操作部をこの試験目的のために,試験機関によって取り付けなければならない。

−  加速速度に対しては,

回転作動については,(45±5)°/s

直線作動については,25±2.5 mm/s

17.4.3  17.4.2

の低速度試験中,試験装置が,その装置と操作部との間に著しい遊びなしに確実に操作部を

駆動するように留意する。

17.4.4  17.4.2

の加速速度試験中,次に留意する。

−  試験装置の決定は,機械部分の通常の作動を妨害しないように,操作部が自由に動くことができるこ

とを保証するように留意する。

−  操作部の運動が制限される制御装置に対しては,次による。

・  方向を逆転するごとに,2 秒以上のドエル(一時的運転停止)期間が存在しなければならない。

・  トルク(回転式制御装置に対して)又は力(非回転式制御装置に対して)を,制限用終端停止装置

の強度を確認するために,各運動の末端部(位置)に加えなければならない。トルクは通常の操作

トルクの 5 倍又は 1.0 N・m のうち,いずれか小さい方の値とする。ただし,0.2 N・m 以上とする。

力は通常の操作力の 5 倍又は 45 N のうち,いずれか小さい方の値とする。ただし 9 N 以上とする。

通常の操作トルクが 1.0 N・m 又は平常操作力が 45 N を超えるものは,加えるトルク又は力は,平常

操作トルク又は操作力と同一とする。

−  運動が一方向に限定されない回転動作用に設計されている制御装置について,各試験において動作サ

イクル数の 4 分の 3 を時計方向に,4 分の 1 を反時計方向に行う。

−  一方向だけに操作するように設計している制御装置に対しては,試験は設計した方向で行わなければ

ならない。ただし,上述の規定のトルクを使用して逆方向に操作部を回転することが不可能である場

合に限る。

17.4.5

追加の潤滑剤は,これらの試験中に加えてはならない。

17.5

耐電圧要求事項

17.5.1

この箇条のすべての試験後,13.2 の要求事項を適用しなければならない。ただし,サンプルは試験


81

C 9730-1

:2010

電圧印加前に,湿度処理は行わない。試験電圧は,13.2 に規定する対応する試験電圧の 75 %とする。

17.6

エージング試験

17.6.1

この試験中,検出素子は箇条 14 で決定し,用いる作動量の値に維持しなければならない。その他

の部分は 17.3 に規定するように維持しなければならない。制御装置は,該当する断路条件に対して 17.2

に規定する電気的負荷をかける。試験継続時間は (100+0.02 y)  時間とする。ここに,

y”は 7.2 で宣言さ

れた値とする。試験は,タイプ 1.M 又はタイプ 2.M の分類の作動をもつ制御装置に適用する。

17.6.2

この試験の間に試験品が作動した場合,作動量の値を逆動作を引き起こすように増加又は減少さ

せ,次に,試験を再開できるように元の値から量“x”だけ異なる値に復帰させる。この手順は,この試験

を完了するのに必要である回数だけ又は箇条 15 の該当する手続を繰り返すとき,7.2 で宣言されたドリフ

ト限度値を超えるまで繰り返す。値“x”は,JIS C 9730 の規格群の該当する第 2 部に規定する。

17.7

加速速度での自動作動の過電圧試験

17.7.1

電気的条件は,17.2 の過電圧に対して規定する電気的条件でなければならない。

17.7.2

温度条件は,17.3 に規定する条件でなければならない。

17.7.3

動作方法及び動作速度は,次による。

−  タイプ 1 作動に対しては,動作速度及び動作方法は,試験機関と製造業者との間で協定しなければな

らない。

−  タイプ 2 作動に対して,動作方法は,設計によって意図された方法でなければならない。タイプ 2 検

出用作動に対しては,動作速度が 7.2 において宣言された定格最大サイクルまで,又は作動量の変化

率が同一の細分箇条内において宣言された

α

2

及び

β

2

を超えないように増加できる。

注記  上述の方法の例は,空気圧力装置をもつ水圧システムの毛細管の交換又は速度の異なる駆動装

置の取付けである。

17.7.4

タイプ 2 検出用作動に対しては,各動作におけるオーバシュートは 7.2 で宣言された値の間になけ

ればならない。

17.7.5

検出用作動の場合に,作動量の変化率を増加すること,又は他のタイプ 1 作動において複数の動作

間で駆動装置を無効にすることは,動作と結果に著しい影響を与えないときに限り,許容する。

17.7.6

試験のための自動サイクル数は,7.2 で宣言された数の 10 分の 1 又は 200 回のうち,いずれか小さ

い方とする。

17.7.7

試験中,操作部を,その最も不利な姿勢に置く。

17.8

加速速度での自動作動の試験

17.8.1

電気的条件は,17.2 に規定する条件でなければならない。

17.8.2

温度条件は,17.3 に規定する条件でなければならない。

17.8.3

動作方法及び動作速度は,17.7.3 の試験中使用するとおりでなければならない。

17.8.4

スローメイク,スローブレイク自動作動を除く自動サイクル数は,7.2 において宣言されたサイク

ル数から 17.7 の試験中に実施されるサイクル数を引いた数とする。試験中,操作部は最も不利となる位置

に置かなければならない。試験中,タイプ 1 作動の構成部品の故障であって,この試験の要求事項によれ

ば重要でなく,また,加速試験による結果として破壊していると考えられるものは,不合格の原因として

はならない。ただし,それが修理若しくは交換できるか,又は同意済みの代替方法で試験を継続できると

きに限る。例えば,7.2 において言及された自動サイクルの全数が完了できるときに限る。

17.8.4.1

スローメイク及びスローブレイク自動動作に対しては,17.8.4 に規定する自動サイクル数の 75 %

だけ実施する。残りの 25 %は,17.9 に規定するとおり実施する。


82

C 9730-1

:2010

17.9

低速度での自動作動の試験

17.9.1

スローメイク及びスローブレイク自動作動は,17.8 に規定する自動サイクル数の残り 25 %につい

て,試験する。

17.9.2

電気的及び温度条件は,17.2 及び 17.3 に規定するように試験しなければならない。

17.9.3

動作方法は,作動量の値の変化を検出素子に加える,又は駆動装置による方法のいずれかである。

検出素子に対しては,作動量の変化率は,7.2 で宣言されたように

α

1

及び

β

1

でなければならない。複数の

動作の間で,検出制御装置の場合には作動量の変化率を増大すること,又はその他の自動制御装置に対し

ては駆動装置を無効にすることは,その結果に著しい影響を与えないときに限り,許容する。

検出素子に関しては,各動作のオーバシュートは,7.2 で宣言された値の間になければならない。このタ

イプ 2 作動に対する試験中に,動作値,オーバシュート又は動作シーケンスの記録を取るために連続的に

モニタすることが重要である。

17.9.3.1

上記のモニタリングは,試験の一貫性を保証するために,その他の制御装置に対しても行うこと

が望ましい。

17.9.4

閉路又は開路だけがスロー自動作動である場合,試験機関と製造業者との間の協定によって,その

他の作動を加速することが可能である。これには 17.8 の詳細を適用する。

17.10   

加速速度での手動作動の過電圧試験

17.10.1

電気的条件は,17.2 に規定する過電圧の電気的条件とする。

17.10.2

温度条件は,17.3 に規定する温度条件とする。

17.10.3

動作方法は,加速速度に対して 17.4 に規定する方法とする。操作サイクル数は,7.2 で宣言され

た数の 10 分の 1 又は 100 回のうちいずれか小さい方とする。試験中,検出用素子は作動量のうち適切な値

に維持し,駆動装置は,操作によって適切な動作が確実に起きるように配置する。

17.10.4

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。

17.11

低速度での手動作動の試験

17.11.1

電気的条件は,17.2 に規定する電気的条件とする。

17.11.2

温度条件は,17.3 に規定する温度条件とする。

17.11.3

動作方法は,低速度に対して 17.4 に規定する方法とする。

17.11.4

操作サイクル数は,

7.2

で宣言された数の 10 分の 1 又は 100 回のうち,

いずれか小さい方とする。

試験中,検出用素子は,作動量のうち適切な値に維持し,駆動装置は,操作によって適切な動作が確実に

起きるように配置する。

17.12

高速度での手動作動の試験

注記  この試験は,2 極以上の作動だけで極性逆転が作動中に発生する場合に適用する。

17.12.1

電気的条件は,17.2 に規定する条件とする。

17.12.2

温度条件は,17.3 に規定する温度条件とする。

17.12.3

動作方法は,高速度に対して 17.4 に規定する方法とする。

17.12.4

操作サイクル数は 100 回とする。試験中,検出用素子は,作動量のうち適切な値に維持し,駆動

装置は,操作によって適切な動作が確実に起きるように配置する。

17.12.5

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。


83

C 9730-1

:2010

17.13

加速速度での手動作動の試験

17.13.1

電気的条件は,17.2 に規定する条件とする。

17.13.2

温度条件は,17.3 に規定する条件とする。

17.13.3

動作方法は,加速速度に対して 17.4 に規定する方法とする。

17.13.4

操作サイクル数は,7.2 で宣言された数から,17.1017.11 及び 17.12 の試験中,実際に行った数

を引いた数である。試験中,検出素子は,作動量のうち適切な値に維持し,駆動装置は,操作によって適

切な動作が引き起こされることを保証するように配置する。

17.13.5

試験中,この試験の要求事項からみて重要ではない,保護制御装置以外のタイプ 1 作動の構成部

品の故障は,それが修理若しくは交換できるか,又は全要求操作サイクル数を完了できるような同意済み

の代替方法で試験を継続できる場合,不合格の原因としてはならない。

17.14

適合性評価

JIS C 9730

の規格群の該当する第 2 部に規定するように変更した,17.617.13 のすべての該当する試験

後,制御装置は,次の状態であれば適合とみなす。

−  この規格の意味の範囲内で意図し宣言された方法で,自動及び手動のすべての作動が機能する場合。

表 14.1 の注

1)

によって指示された物品,すなわち,端子,導電性部分及び支持面に関する箇条 14 

要求事項を満足している場合。

−  箇条 817.5 及び箇条 20 の要求事項を満足している場合。17.5 及び箇条 20 の試験については,箇条

13

に対して提出された特殊サンプルの制御装置を,その接点が開路していることを確認するために適

切な条件で試験する。

−  タイプ 2 作動については箇条 15 の該当する試験を繰り返し,

動作値,

動作時間又は動作シーケンスが,

ドリフト値,

又はドリフト及び製造偏差の複合値のいずれか宣言された方のものの範囲内にある場合。

−  各手動作動に対して宣言された回路断路を,初期のとおりに得ることができる場合。

−  充電部と接地された金属,可触金属部又は操作部との間に過渡的故障が発生したというこん(痕)跡

がない場合。

H.17.14

も適用する。

17.15

(規定なし)

17.16

特殊目的の制御装置の試験

特殊目的の制御装置のための試験は,JIS C 9730 の規格群の該当する第 2 部で規定する。

17.17  J.17.17

による。

17.18  J.17.18

による。

18

機械的強度

18.1

一般要求事項

18.1.1

制御装置は,通常使用状態で発生する機械的ストレスに耐える構造でなければならない。

18.1.2

クラス I 及びクラス II 制御装置の操作部並びにクラス I 及びクラス II 機器用制御装置の操作部は,

十分な機械的強度をもつ,又は操作部が壊されても十分な感電保護を維持するものでなければならない。

18.1.3

一体形制御装置及び組込形制御装置は,それらの耐衝撃性が,その機器規格によって試験されるた

め,18.2 による試験は行わない。

18.1.4

適否は,1 個のサンプルについて連続的に実施する,18.218.8 の該当する試験によって判定する。

18.1.5

該当する試験の後,制御装置は,この規格への適合,特に箇条 8,箇条 13 及び箇条 20 への適合を


84

C 9730-1

:2010

阻害するいかなる損傷も示してはならない。絶縁用裏打ち,隔壁及び類似のものは,緩んでいてはならな

い。

カバーのような取外しできる部品その他の外部部品は,それらの絶縁用裏打ちを壊すことなしに外すこ

と及び交換することが可能でなければならない。

制御装置の完全断路及びマイクロ断路が得られるような,どのような位置にも操作することができなけ

ればならない。

疑わしい場合には,付加絶縁又は強化絶縁は,箇条 13 に規定する耐電圧試験を行う。

仕上げ部への損傷及び沿面距離又は空間距離を箇条 20 に規定する値より低減しない小さいへこみ及び

感電保護又は湿気保護に悪い影響を与えない小さい欠けた箇所は,無視する。裸眼で見ることができない

クラック,及び繊維強化成形品中の表面クラックは無視する。装飾用カバーが,内側のカバーで裏打ちさ

れており,装飾用カバーの取外し後,内側のカバーが試験に耐える場合,装飾用カバーの割れ目は無視す

る。

18.1.6

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。

18.2

耐衝撃性

18.2.1  18.4

に適合する制御装置を除き,インラインコード形,自立構造形及び独立取付形制御装置は,JIS 

C 60068-2-75

の装置によって,打撃をサンプルに加えることによって判定する。

18.2.2

制御装置を通常使用状態のように取り付けたときに可触となるすべての表面は,この装置を用いて

試験する。

18.2.3

制御装置は,背後に金属製の板が付いていない厚さ 8 mm,175 mm 四方のベニヤ板の垂直シート

と接触するように保持する。ベニヤ板は,れんが,コンクリート又は類似のものの板壁に固定した固く曲

がらない枠に取り付ける。

18.2.4

打撃は,操作部を含め,いかなる角度であっても,すべての可触面に加える。試験装置は 0.5±0.04

N・m のエネルギーを与えるように校正する。

18.2.4.1

足で操作する制御装置は,同一の試験を行わなければならないが,1.0±0.05 N・m のエネルギー

を与えるように校正した試験装置を使用する。

18.2.5

すべての可触面に対して 3 回の打撃を,弱いと思われるすべての点に加える。

18.2.5.1

一連の 3 回の打撃が,続いて行う一連の打撃に影響を与えないように留意しなければならない。

18.2.5.2

その欠陥が先に与えた打撃によるものかどうか分からないときは,その欠陥を無視して新しいサ

ンプルの同一の箇所に一連の 3 回の打撃を加え,その試験に耐えなければならない。

18.2.6

信号ランプ及びそのカバーは,外郭から 10 mm を超えて突出するか,又は面積が 4 cm

2

を超えると

きに限り試験する。ただし,それが操作部と一体となっているときは除く。この場合,それは操作部と同

一の方法で試験しなければならない。

18.3

(規定なし)

18.4

代替適合−耐衝撃性

(対応国際規格の規定は,

カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,

この規格では採用しない。

18.5

自立構造形制御装置

18.5.1

自立構造形制御装置は,

図 に示す装置を用いて,18.5.2 及び 18.5.3 の追加試験によって検査する。

18.5.2  10.1.4

で使用する最もグレードの低いタイプの可とうコード 2 m を入力端子に接続し,目的とする

とおりに固定する。出力端子に接続した可とうコードと共に使用する設計の制御装置は,最もグレードの


85

C 9730-1

:2010

低いタイプのコード 2 m を

図 に示すように同様に接続し,配置する。

サンプルは,図示のとおりガラス表面上に立てるか,又は寝かせる。コードは,

表 11.7.2 に示す値まで

徐々に増加し(ただし,その値を超えない。

)静的な引張力を加える。試料が動いたら,できる限りゆっく

りガラス表面から引っ張り,コンクリートの裏打ちがある硬木基台の上に落とす。

基台の上にある表面の高さは,0.5 m とする。硬木及びコンクリート基台の寸法は,その制御装置が落

下後,その上に留まることを保証するのに十分でなければならない。

試験は,3 回繰り返す。

18.5.3

試験後,サンプルは 18.1.5 によって評価する。

18.6

インラインコード形制御装置

18.6.1

自立構造形制御装置以外のインラインコード形制御装置は,更に

図 に示すタンブリングバレルで

試験する。バレルの幅は 200 mm 以上で,18.6.2 で要求するコードを取り付けたとき,制御装置の連続落

下を保証するために必要である幅とする。

18.6.2  X

形取付けを使用する取外しできないコードをもつ制御装置は,10.1.4 で規定する最小断面積及び

長さ約 50 mm の可とうコード又は複数のコードを取り付ける。端子ねじを,

表 19.1 に規定するトルクの 3

分の 2 のトルクで締め付ける。M 形取付け,Y 形取付け又は Z 形取付けの取外しできないコードをもつ制

御装置は,宣言されたか供給されたコード又は複数のコードを用いて試験する。コード又は複数のコード

は,約 50 mm の自由な長さが制御装置から突き出すように切断する。

18.6.3

サンプルは,厚さ 3 mm の鋼板上に高さ 50 cm から落下する。落下数は,次による。

−  コードのないサンプルの重量が 100 g 以下の場合,1 000 回

−  コードのないサンプルの重量が 100 g 超えるが 200 g 以下の場合,500 回

18.6.4

重量が 200 g を超えるインラインコード形制御装置は,タンブリングバレル中では試験せず 18.5

の試験を行う。

18.6.5

バレルは 5 回転/分の速度で回転する。こうして 10 回落下/分を行う。

18.6.6

この試験後,制御装置は 18.1.5 によって評価する。可とうコード又は複数のコードの接続部には特

に注意する。

18.7

引きひも操作制御装置

18.7.1

引きひも操作制御装置は,追加として 18.7.2 及び 18.7.3 の試験を行わなければならない。

18.7.2

制御装置を,製造業者によって宣言されたように取り付け,引きひもを一気に引っ張ることなく滑

らかに力を加える。まず正規の方向に 1 分間,次に,最も不利な方向(ただし,正規の方向から 45゜以内)

に 1 分間とする。

18.7.3

引張力の値は,

表 18.7 による。

表 18.7−引きひもの引張力

引張力

N

定格電流

A

正規の方向

最も不利な方向

4 以下 50

25

4 を超え 100

50

18.7.4

この試験後,制御装置は 18.1.5 によって評価する。


86

C 9730-1

:2010

18.8

足で操作する制御装置

18.8.1

足で操作する制御装置は,追加として次の試験を行わなければならない。

18.8.2

制御装置は,直径 50 mm の円形圧力鋼板によって力を加える。力は連続的に初期値約 250 N から

750 N まで 1 分以内に増加させる。この後,力はこの値で 1 分間維持する。

18.8.3

制御装置は,該当する可とうコードを付けた状態で,平たんな水平鋼製支持物の上に置く。力は,

そのサンプルを異なる姿勢に配置した状態で 3 回加える。最も不利な姿勢を選ぶ。

18.8.4

試験後,制御装置は 18.1.5 によって評価しなければならない。

18.9

操作部及び操作手段

18.9.1

操作部と共に供給される,又は操作部と共に取り付ける目的の制御装置は,次のように試験する。

−  まず,軸方向の引張力を 1 分間加え,操作部を引き外すように行う。

−  形状が,軸方向の引張力を通常使用状態において加えることが不可能であるようなものであれば,こ

の最初の試験は,適用しない。

−  操作部の形状が,軸方向の引張力を通常使用状態において加えるおそれがないようであれば,力は 15

N とする。

−  形状が,軸方向の引張力が加えられるおそれがあるような形状であれば,力は 30 N とする。

−  次に,30 N の軸方向の押圧力を 1 分間,すべての操作部に加える。

18.9.2

制御装置が,操作部をもつことを意図しているが,操作部なしで認証のために提出される,又は容

易に外すことができる操作部を備えているものは,30 N の引張力及び押圧力を操作手段に加える。

注記  自己硬化性樹脂以外のシーリングコンパウンド及び類似のものは,緩みを防止するのに十分で

あるとはみなさない。

18.9.3

各試験の間及び試験後,制御装置は損傷を示してはならず,操作部がこの規格への適合を阻害する

ように動いてはならない。

19

ねじ山付き部品及び接続部

19.1

取付け又はサービス中に動かすねじ山付き部品

19.1.1

制御装置が取り付けられている間又はサービス中に動かされるおそれがあるねじ山付き部品は,電

気的であっても,その他のものであっても,通常使用状態で発生する機械的ストレスに耐えなければなら

ない。

注記  制御装置が取り付けられている間又はサービス中に動かすねじ山付き部品は,端子ねじ,コー

ド止めねじ,固定用及び取付用ねじ,ナット,ねじを切ったリング,カバー板ねじのようなも

のを含む。

19.1.2

ねじ山付き部品は,完全に外すことができるものは,容易に交換できなければならない。

注記  ねじ山付き部品の完全な取外しを制限する構造は,この要求事項に適合するとみなす。

19.1.3

ねじ山付き部品は,ISO メートルねじ又は同等の実効性があるねじ山をもたなければならない。

注記 SI,BA 及びユニファイねじは,ISO メートルねじと同等の実効性があるものとみなす。ISO

SI,BA 及びユニファイ以外のねじの場合の同等の有効性をもつ試験は検討中であり,それは,

トルク値を 20 %増加させるものである。

19.1.4

ねじ山付き部品がねじであって,かつ,それが別の部分にねじ山を作るものである場合,そのねじ

は,スレッドカッティング形のものであってはならない。そのねじは,スレッドフォーミング(スウェー

ジング)形のものであってもよい。そのようにして作られたねじ山の形に対しての要求事項は,存在しな


87

C 9730-1

:2010

い。

19.1.5

上述のねじは,緩みを防止する適切な装置を装備する場合,スペーススレッド形のもの(シートメ

タル)であってもよい。

注記  シートメタルねじの緩み防止に適切な装置は,スプリングナット,類似の弾性があるその他の

構成部品又は弾性材でできたねじ山を含む。

19.1.6

上述のねじ山付き部品は,寸法的に類似の金属ねじに交換したときに箇条 13 又は箇条 20 との適合

性を阻害するおそれがある場合,非金属材料製であってはならない。

19.1.7

上述のねじは,亜鉛又はアルミニウムのような軟らかい又はクリープしやすい金属であってはなら

ない。

この要求事項は,設定手段に対する接近を制限するカバーとして使用する部品又はガス制御装置の流量

又は圧力調整装置のような設定手段として使用する部分には適用しない。

19.1.8

非金属材料製のねじ山の中で作用するねじは,その受入れ側にそのねじを正しく導入することが保

証されているようなものでなければならない。

注記  非金属材料製ねじに金属ねじを適正に導入することの要求事項は,斜めにねじを導入すること

が,例えば,ねじ又はめねじ山中のくぼみによって固定すべき部分を案内することによって,

又は引込みねじ山を除いた状態のねじの使用によって防止する場合,満足できる。

19.1.9

インラインコード形制御装置用に使用したとき,上述のねじ山付き部品は,接触圧を伝達しており,

呼び径が 3 mm 未満である場合,金属ねじにねじ込まれなければならない。それが非金属材料製であれば,

3 mm 以上の呼び径をもたなければならず,電気的接続用に使用してはならない。

19.1.10  19.1.1

19.1.9 への適否は,19.1.1119.1.15 の試験によって判定する。

19.1.11

ねじ山付き部品は,次のように締め付け,そして緩める。

−  ねじ山付き部品のうち片方が,非金属材料製である場合,10 回,

−  ねじ山付き部品の両方が,金属材料製である場合,5 回

19.1.12

非金属材料製のねじ山 1 個とかみ合っているねじは,毎回完全に外し,再挿入する。端子ねじ及

びナットを試験するときに,10.1.4 で使用する最大断面積又は 10.2.1 に規定する最小断面積の導体を端子

中に配置する。

19.1.13

ドライバの形状は,試験するねじ頭部に合うことが望ましい。

19.1.14

導体はねじ山付き部品を緩めるごとに動かす。試験中,ねじ山付き部品の更なる使用を阻害する

損傷が発生してはならない。例えば,ねじの破損又はすりわり付き頭部若しくは座金の損傷。

19.1.15

試験は,

表 19.1 に示すトルクを一気ではなく,滑らかに加えながら適切な試験用ドライバ,スパ

ナ又はキーを用いて行う。


88

C 9730-1

:2010

表 19.1−引きひもの引張力

トルク

N・m

ねじ呼び径

mm

I II III

1.7 以下 0.1

0.2 0.2

1.7 を超え 2.2 以下 0.15

0.3 0.3

2.2 を超え 2.8 以下 0.2

0.4 0.4

2.8 を超え 3.0 以下 0.25

0.5 0.5

3.0 を超え 3.2 以下 0.3

0.6 0.6

3.2 を超え 3.6 以下 0.4

0.8 0.6

3.6 を超え 4.1 以下 0.7

1.2 0.6

4.1 を超え 4.7 以下 0.8

1.8 0.9

4.7 を超え 5.3 以下

1)

 0.8  2.0  1.0

5.3 を超え

1)

− 2.5 1.25

1)

  直径が 4.7 mm を超え,かつ単一ブッシュを取り付けて使用するナット及びねじリングは,

1.8 N・m のトルクで試験を行う。ただし,熱可塑性材料を使用する単一ブッシュ取付用の
制御装置の場合,及び設定又は再設定のときに何らトルクを生じない場合(例えば,温
度過昇防止装置の場合)

,取付ねじは,製造業者が指定する最大トルクで試験するが,そ

のトルクが 0.5 N・m 未満であってはならない。

注記  欄 I の使用

−  ねじを締め付けるとき,その孔から突出していない場合又はドライバの接近が,その

ねじの主要な直径に制限される場合,頭なしの金属ねじに適用する。

欄 II の使用

−  次に示すその他の金属ねじ及びナットに適用する。

・  円筒形頭部及び特殊工具用ソケット付きで,ソケットの対角寸法はねじ外径を超え

る寸法をもつもの。

・  長さがねじ外径の 1.5 倍を超える,単数又は複数のすりわりをもつ頭付きのもの。

−  非金属材料製で,平たん部の対角寸法がねじの外径より大きい六角頭付きねじに適用

する。

欄 III の使用

−  非金属材料製のその他のねじに適用する。

19.2

導電接続

19.2.1

取付け又はサービス中に影響されない導電接続部で,効力又は確実性が,ねじ,ねじ切り部,リベ

ット又はそれに類似したものの圧力によって維持するものは,通常使用状態において発生する機械的,熱

的及び電気的ストレスに耐えなければならない。

19.2.2

通常使用状態でねじりも受ける(すなわち,ねじ端子など一体になっているか堅固に接続されてい

る部品をもつ。

,上述の導電接続部は,箇条 13 又は箇条 20 への適合を阻害するおそれがある,いかなる

動きに対しても固定していなければならない。

注記 1  動きに対して固定することに関する要求事項は,導電接続部の回転又は変位を防止するよう

に設計しなければならないことを意味しない。ただし,いかなる運動も適切に制限され,こ

の規格との不適合を引き起こさないときに限る。

注記 2  1 個のねじ,リベット又は類似のものによって構成する接続は,その部品自身が部品の間の

機械的相互作用によって,又はばね座金若しくは類似のものの設置によって,上述の運動を

することを防止する場合は十分である。

注記 3  導電性部品中にあけた適切な形状の穴に一致する非円形又は切れ込み付きの軸をもつ 1 個の


89

C 9730-1

:2010

リベットによる接続は,この要求事項に適合するとみなす。2 個以上の又はリベットによる

接続部も,この要求事項を満足する。

注記 4  シーリングコンパウンドは,それでシールされた部分が通常使用状態でストレスを受けない

場合に使用できる。

19.2.3

上記の導電接続部は,接触圧力がセラミック又は同じくらい適切である特性をもつその他の非金属

材料以外の非金属材料を通して,伝達されないような設計でなければならない。ただし,接続する金属部

品中において,非金属材料の収縮又はひずみを補償するのに十分な弾性があるときはこの限りではない。

注記  非金属材料が適切であるかどうかは,その制御装置に適用できる温度範囲内の寸法安定性に関

して考慮する。

19.2.4

上記の導電接続は,そのねじが相互に直接接触している導電性部分を締め付け,かつ,適切な固定

装置を装備している場合を除き,シートメタルねじを使用してはならない。

19.2.4.1

シートメタルねじは,2 個以上の上記のねじを,それぞれの接続に対して用いる場合,接地連続

性を提供するために用いてもよい。

19.2.5

上記の導電接続は,スレッドカッティングねじを使用してもよい。ただし,完全形状の標準機械ね

じのねじ山を作るときに限る。

19.2.5.1  2

個以上の上記のねじを,それぞれの接続に対して用いる場合,スレッドカッティングねじを接

地連続性を提供するために用いてもよい。

19.2.6

それらの部品の適正な機能が圧力に依存する上記の導電接続部は,接触面積にわたって,黄銅の耐

食性以上の耐食性をもたなければならない。この要求事項は,その本質的な特性が,例えば,バイメタル

の薄板のようにめっきすることによって悪い影響を受けるおそれがある部品には適用しない。めっきしな

い場合は,十分な耐食性をもつ部品と接触するように締め付けなければならない。適切な耐食性は,めっ

き又は類似の加工によって達成できる。

19.2.7  19.2.1

19.2.6 への適否は,目視検査によって判定する。さらに,19.2.3 及び 19.2.6 への適否は,箇

条 17 の試験が完了した後,金属弾性部の目視検査によって判定する。

20

沿面距離,空間距離及び固体絶縁物を通しての距離

制御装置は,想定できる電気的ストレスに対し,十分に耐えることができる空間距離,沿面距離及び固

体絶縁物を通しての距離を備えるような構造でなければならない。

JIS C 60664-3

に規定しているタイプ 2 保護に対するすべての要求事項に適合しているプリント配線板は,

固体絶縁物に対する 20.3 の最低必要な要求事項に適合しなければならない。タイプ 2 保護の下の導体寸法

には,沿面距離又は空間距離は適用しない。

附属書 も適用する。

外部導体を接続するための端子間の沿面距離及び空間距離は,2 mm 又は規定された値のいずれか大き

い方の値未満であってはならない。この要求事項は,工場で接続する端子部又は ELV 回路に接続する端子

には適用しない。

適否は,目視検査,測定及びこの箇条の試験によって検査する。

注記 1  要求事項及び試験は,JIS C 0664 を基礎としている。したがって,これ以上の情報は,当該

規格から得られる。

注記 2  沿面距離は,それと組み合わされる空間距離よりも小さくはできない。可能な沿面距離の最

小値は,空間距離と等しい。

注記 3  この箇条で表として与えられる値は絶対的最小値であり,製造業者は,あらゆる製造状態及


90

C 9730-1

:2010

び機器の寿命期間を通じて,維持しなければならないことを考慮することが望ましい。

注記 4  指針については,附属書 を参照。

20.1

空間距離

空間距離は,汚損度及び

表 20.1 の過電圧カテゴリに従って要求される定格インパルス電圧を考慮して,

表 20.2 のケース A の値以上でなければならない。ただし,基礎絶縁及び動作絶縁については,制御装置が

20.1.12

のインパルス耐電圧試験に耐え,かつ,その部品が堅固である若しくは成形(モールド)によって

保持されている,又はその構造が変形及び部品の運動(例えば,動作中又は組立て中に)によって距離が

減少するようなおそれのない構造であれば,より小さい値を用いてもよいが,その場合でも,ケース B の

値未満になってはならない。

適否は,目視検査,測定及び必要であれば 20.1.12 の試験によって判定する。

注記 1  制御装置は,特別な環境条件で他のカテゴリが適切である場合を除き,通常それが用いられ

る機器の過電圧カテゴリに適合することが期待される。

附属書 に指針を示す。

注記 2  表 20.2 のケース A に従った最小寸法で構成されている制御装置では,20.1.12 のインパルス

試験を行う必要はない。ケース A 及びケース B についての追加情報については,JIS C 0664

の 3.1.2.1 及び 3.1.2.2 を参照。

取外し可能な部分は,取り外す。空間距離は,可動部分及び六角ナットのような組立状態によって位置

が異なるものは,最も不利な条件で測定する。

裸導体及び可触表面には,測定するときに空間距離を減少させるように次の力を加える。

裸導体には,2 N

可触表面には,30 N

力は,

図 に示す標準テストフィンガによって加える。開口部は,平面金属片によって覆われているも

のとみなす。

注記 3  空間距離は,附属書 によって測定する。

表 20.1−商用主電源から直接給電される機器のための定格インパルス電圧(JIS C 0664 の表 から引用)

給電系統の公称電圧

1), 4)

V

過電圧カテゴリに従って要求される

定格インパルス電圧

3)

V

三相 4 線系統

単相系統

2)

交流又は直流公称電圧,

充電線の対地電圧 V(以下)

V

I II III IV

50

330 500 800

1

500

100 500

800

1 500

500

100

100-200

150

5)

 800

1 500

2 500

000

200 230/400

1)

300

1 500

2 500

4 000

6

000

600

2 500

4 000

6 000

8

000

1)

  掲げられている最初の値は,三相 4 線系統の対地電圧の値で,2 番目の数字は,線間電圧である。

2)

  その他の供給系統については,附属書 を参照(例  幾つかの三相系統は,三線式のものが同じ電圧の三相

4 線系統よりも高いインパルス耐電圧が要求されることに注意する。)。

3)

  過電圧カテゴリについては,附属書 による。過電圧カテゴリは,JIS C 9730 の規格群の第 2 部に規定する

場合がある。

4)

  例えば,切換装置のように,制御装置の端子部で過電圧を発生するおそれのあるものでは,定格インパルス

電圧とは,関連規格及び製造業者の指示によって使用したとき,この電圧以上の過電圧を発生してはならな

いことを示している。

5)

  日本では,給電系統の公称(対地)電圧 100 V は,150 V の欄を適用する(附属書 参照)。


91

C 9730-1

:2010

表 20.2−絶縁協調のための空間距離(JIS C 0664 の表 から引用)

海抜 2 000 m までの空気中空間距離

3)

mm

ケース A

ケース B

(インパルス耐電圧試験が要求される−20.1.12

参照)

汚損度

2)

汚損度

2)

表 20.1 から

得られる定格

インパルス

電圧

1)

kV

1 2 3 4 1 2 3 4

0.33 0.01

   0.01

 

0.50 0.04

0.20

  0.04

0.2

0.80  0.10   0.8 1.6 0.1    0.8 1.6 
1.5  0.5

0.5

  0.3

0.3

2.5

1.5 1.5 1.5    0.6 0.6

4.0  3 3 3 3 1.2

1.2

1.2

6.0

5.5 5.5 5.5 5.5 2  2  2  2

8.0  8 8 8 8 3 3 3 3

注記  空間距離の小さな値の部分においては,電界の均一性が汚損の存在によってひずませられる。このことによ

ってケース B の空間距離値より増加させることが,必要となる。

1)

  動作絶縁の場合,定格インパルス電圧は,製造業者が別に指定してその根拠を示している場合を除き,空間

距離における電圧測定値を示す

表 20.1 の第 3 欄の値から導出する。降圧変圧器の二次巻線が接地してある場

合,又は接地した遮へい体が一次巻線と二次巻線との間にある場合,二次側の基礎絶縁の空間距離に対する

定格インパルス電圧の基準は,変圧器の一次側の定格入力電圧に対する基準より 1 ステップ低くしなければ
ならない。

接地した保護遮へい体をもたない絶縁変圧器を使用する場合,定格インパルス電圧は低減できない。

2)

  汚損度の説明は,附属書 に示す。

3)

  海抜 2 000 m を超える場合,空間距離の値は,JIS C 0664 の表 A.2 に規定している補正係数を乗じる。

20.1.1

基礎絶縁の空間距離は,定格インパルス電圧を考慮して,使用時に予期される過電圧に十分耐えな

ければならない。20.1.7 で許容する場合を除き,

表 20.2 のケース A の値を用いる。

適否は,測定によって判定する。

20.1.2

動作絶縁に対しては,次のいずれかの場合を除き,

表 20.2 のケース A を適用する。

−  20.1.7 が適用できる。

−  空間距離を短絡した場合でも H.27.1.3 の要求事項に適合する場合には,電子制御装置に対して空間距

離は規定しない。

20.1.3  20.1

への適否は,

附属書 及び図 17 に示す方法を用いて測定することによって判定する。

20.1.3.1

機器用インレット又はコンセントを備えている制御装置は,測定は 2 回行う。1 回は適切なコネ

クタ又はプラグを接続して行い,もう 1 回はコネクタ又はプラグを接続せずに行う。

20.1.3.2

外部導体に接続する端子の測定は,2 回行う。1 回は 10.1.4 で用いられる最大断面積の導体を接

続して行い,もう 1 回は導体を接続しないで行う。

20.1.3.3

内部導体を接続する端子については,測定は 2 回行う。1 回は 10.2.1 で用いられる最小断面積の

導体を接続して行い,もう 1 回は導体を接続せずに行う。

20.1.4

絶縁材料製の表面に開けた溝又は開口部を貫通する距離は,表面と接触している金属はくまでを測

定する。金属はくは,

図 に示す標準テストフィンガによって隅などに押し込むが,開口部には押し込ま

ない。

20.1.5

標準テストフィンガは,8.1 に規定する開口部に適用する。そのとき,充電部と金属はくとの間の


92

C 9730-1

:2010

絶縁を通しての距離は,規定する値未満になってはならない。

20.1.6

必要であれば,制御装置を取り付ける前に可触である裸の充電部上の任意の点に,及び制御装置を

取り付けた後,可触である表面の外側に力を加える。測定を行っている間,沿面距離,空間距離及び絶縁

物を通しての距離を低減するようにつとめる。

20.1.6.1

力は標準テストフィンガによって加え,その値は,次による。

−  裸充電部に対しては,2 N

−  可触表面に対しては,30 N

適否は,必要であれば測定及び試験によって判定する。

20.1.7

基礎絶縁及び動作絶縁では,20.1.12 のインパルス耐電圧試験に適合し,かつ,その部分が剛性が

あり成形されている,又はその構造が変形,部品の運動若しくは組立てによって距離が減少することがな

い場合には,より小さな値を用いることができる。ただし,いずれの場合も,空間距離はケース B の値未

満になってはならない。

適否は,20.1.12 の試験によって判定する。

動作絶縁を試験する場合,インパルス電圧は,空間距離の両端に加える。

注記  インパルス試験を行う場合,制御装置の部分又は構成部品を切り離す必要のある場合がある。

20.1.7.1

マイクロ断路及び開路では,接点間に最小空間距離の規定はない。接点の作動によって分離され

るその他の部分は,

表 20.2 に規定する空間距離より小さくてもよいが,接点間隔より小さくてはならない。

20.1.7.2

完全断路については,接点が完全な開位置にあるとき,

表 20.2 のケース A に規定する値を,接

点によって分離された部分及び接点間隔に適用する。

20.1.8

付加絶縁の空間距離は,

表 20.2 のケース A に規定する基礎絶縁に対する規定値以上でなければな

らない。

適否は,測定によって判定する。

20.1.9

強化絶縁の空間距離は,

基準となる定格インパルス電圧の一段上の電圧を用いて

表 20.2 のケース A

の値を適用しなければならない。

注記  二重絶縁において,基礎絶縁と付加絶縁の中間に導電性部分がない場合,空間距離は,導電性

部分と可触表面又は可触金属部との間で測定する。この絶縁システムは,強化絶縁として扱う。

適否は,測定によって判定する。

20.1.10

制御装置又は制御装置の一部であって,二重絶縁を備えた変圧器より電圧を供給されている部分

で二次側にある動作絶縁及び基礎絶縁の空間距離は,二次側電圧を基礎として定めるが,その値は,

表 20.1

の公称電圧を基準とする。

注記 1  一つの分離巻線の変圧器の使用では,過電圧カテゴリの変更はできない。

分離巻線を用いない変圧器から得る供給電圧の場合,

表 20.1 から決定するインパルス耐電圧は,降圧変

圧器の場合には,一次側電圧を基礎とする。昇圧変圧器の場合には,二次側電圧の測定最高電圧の実効値

を基礎とする。

注記 2  幾つかの状態(例えば,高圧着火装置)に対しては,JIS C 9730 の規格群の第 2 部で,異な

った基準を規定する場合がある。

JIS C 0664

表 においては,より高いインパルス耐電圧に対する空間距離を与えている。

適否は,必要に応じて測定又は試験によって判定する。

20.1.11

保護インピーダンスから得る特別低電圧を備えた回路では,動作絶縁の空間距離は,特別低電圧

回路内の動作電圧の最大測定値を基準として,

表 20.1 から決定する。


93

C 9730-1

:2010

20.1.12

インパルス耐電圧試験が要求される場合,JIS C 0664 の 4.1.1.2.1 に従って適用する。

注記 1  JIS C 9730 の規格群の第 2 部において,環境試験条件を規定する場合がある。

基礎絶縁又は動作絶縁で分離されている充電部と金属部との間に,インパルス電圧を加える。

注記 2  動作絶縁の場合,制御装置の部分又は構成部品の取外しが必要な場合がある。

20.1.13

変圧器の二次巻線が接地されている場合,又は接地した遮へい体が一次巻線と二次巻線との間に

ある場合,二次側の基礎絶縁の空間距離は,

表 20.2 に規定する空間距離以上でなければならないが,定格

インパルス電圧に対する次に低いステップを基準として用いる。

注記  接地した保護遮へい体がない又は二次巻線を接地してない絶縁変圧器を使用する場合,定格イ

ンパルス電圧は低減できない。

定格電圧より低い電圧が供給される回路の場合,例えば,変圧器の二次側では,動作絶縁の空間距離は,

表 20.1 で定格電圧(公称電圧)としている箇所を,動作電圧に基づいたものとする。

20.2

沿面距離

20.2.1

制御装置は,基礎絶縁の沿面距離が,材料グループ及び汚損度を考慮して,定格電圧に対する

20.3

に規定する値以上となる構造でなければならない。

沿面距離を短絡しても H.27.1.3 の要求事項に適合する場合には,電子制御装置に対して沿面距離は規定

しない。

適否は,目視と測定によって判定する。

取外し可能な部分は,取り外す。沿面距離は,可動部及び取付方向を変えて組立てできるものでは,最

も不利な状態にして測定する。

裸導体及び可触表面には,測定するときに沿面距離を減少させるように次の力を加える。

裸導体には,2 N

可触表面には,30 N

力は,

図 に示す標準テストフィンガによって加える。開口部は,平面金属片によって覆われているも

のとみなす。

注記  沿面距離は,附属書 に示すように測定する。

20.2.2

制御装置は,動作絶縁の沿面距離が,材料グループ及び汚損度を考慮して,動作電圧に対する

20.4

に規定する値以上となる構造でなければならない。

注記 1  幾つかの状態(例えば,高圧着火装置)に対しては,JIS C 9730 の規格群の第 2 部で,異な

った基準を規定する場合がある。

適否は,目視及び測定によって判定する。

取外し可能な部分は,取り外す。沿面距離は,可動部及び取付方向を変えて組立てできるものでは,最

も不利な状態にして測定する。

裸導体及び可触表面には,測定するときに沿面距離を減少させるように次の力を加える。

裸導体には,2 N

可触表面には,30 N

力は,

図 に示す標準テストフィンガによって加える。開口部は,平面金属片によって覆われているも

のとみなす。

注記 2  沿面距離は,附属書 に示すように測定する。

注記 3  材料グループと保証トラッキング指数 (PTI) との関係は,6.13 に示す。

この PTI の値は,JIS C 2134 によって,溶液 A を使って測定する。


94

C 9730-1

:2010

PTI の値が,その材料グループに適合すると既に判明しているものは,試験を省略できる。

注記 4  絶縁協調の目的で,ガラス,磁器,その他の無機材料でトラックを生じないものの沿面距離

は,関連する空間距離よりも大きくする必要はない。

表 20.3−基礎絶縁の最小沿面距離

沿面距離

1)

mm

汚損度

2 3 4

材料グループ

材料グループ

材料グループ

この値

以下の

定格電圧

V

1

I II

III

2)

 I  II III

2)

 I  II III

2)

50  0.2 0.6 0.9 1.2  1.5 1.7 1.9 2.0 2.5 3.2

125  0.3 0.8 1.1 1.5  1.9 2.1 2.4 2.5 3.2 4.0 
250  0.6 1.3 1.8 2.5  3.2 3.6 4.0 5.0 6.3 8.0 
400  1.0 2.0 2.8 4.0  5.0 5.6 6.3 8.0 10.0 12.5 
500  1.3 2.5 3.6 5.0  6.3 7.1 8.0 10.0 12.5 16.0 
630  1.8 3.2 4.5 6.3  8.0 9.0 10.0 12.5 16.0 20.0 
800  2.4 4.0 5.6 8.0 10.0 11.0 12.5 16.0 20.0 25.0

1)

  巻線のように,ラッカーを塗布した導体は,裸導体とみなす。ただし,沿面距離は,表 20.2 に規定する

関連する空間距離よりも大きくすることは要求しない。

2)

  材料グループ III は,IIIa,IIIb を含む。材料グループ IIIb は,630 V を超える用途,又は汚損度 4 の用途

には適用できない。


95

C 9730-1

:2010

表 20.4−動作絶縁の最小沿面距離

沿面距離

2)

mm

汚損度

2 3 4

プリント配線

板材

1)

汚損度

材料グループ

材料グループ

材料グループ

動作電圧

rms

3)

V

1

4)

 2

5)

1

I II III I II

III

6)

 I  II III

6)

10 0.025

0.04

0.08

0.40

0.40

0.40

1 1 1 1.6

1.6

1.6

12.5 0.025

0.04  0.09 0.42 0.42

0.42

1.05

1.05

1.05 1.6  1.6  1.6

16 0.025

0.04

0.1 0.45

0.45

0.45

1.1 1.1 1.1 1.6 1.6 1.6

20 0.025

0.04

0.11

0.48

0.48

0.48

1.2 1.2 1.2 1.6 1.6 1.6

25 0.025

0.04

0.125

0.5 0.5 0.5 1.25

1.25

1.25

1.7 1.7 1.7

32 0.025

0.04

0.14

0.53

0.53

0.53

1.3 1.3 1.3 1.8 1.8 1.8

40 0.025

0.04

0.16

0.56

0.8 1.1  1.4 1.6 1.8 1.9 2.4 3

50 0.025

0.04

0.18

0.6 0.85

1.2  1.5 1.7 1.9 2  2.5 3.2

63  0.04 0.063

0.2 0.63 0.9 1.25

1.6 1.8 2  2.1 2.6 3.4

80 0.063

0.1 0.22

0.67

0.95

1.3  1.7 1.9 2.1 2.2 2.8 3.6

100  0.1 0.16 0.25 0.71 1  1.4  1.8 2  2.2 2.4 3  3.8 
125  0.16 0.25  0.28 0.75 1.05

1.5  1.9 2.1 2.4 2.5 3.2 4

160  0.25 0.4  0.32 0.8 1.1 1.6  2  2.2 2.5 3.2 4  5 
200  0.4 0.63 0.42 1  1.4 2  2.5 2.8 3.2 4  5  6.3 
250  0.56 1  0.56 1.25 1.8 2.5  3.2 3.6 4  5  6.3 8 
320  0.75 1.6  0.75 1.6 2.2 3.2  4  4.5 5  6.3 8  10 
400 1 2  1 2 2.8

4  5 5.6

6.3

8 10 12.5

500  1.3 2.5  1.3 2.5 3.6 5  6.3 7.1 8  10  12.5 16 
630  1.8 3.2 1.8 3.2 4.5 6.3 8  9 10 12.5

16 21

800  2.4 4  2.4 4  5.6 8  10  11  12.5 16  20  25

1)

  プリント回路板が,附属書 又は Q.1 によって塗装されている場合であってその塗装の PTI が 175 以上であ

れば,汚損度 1 の値を許容する。その PTI は,JIS C 2134 によって測定されたものとする。

2)

  ガラス,磁器その他の無機材料で,トラックを生じないものは,沿面距離は,関連する空間距離より大きく

する必要はない。

3)

  より高い電圧に対しては,JIS C 0664 の表 の値を適用する。

4)

  材料グループ I,II,IIIa 及び IIIb とする。

5)

  材料グループ I,II 及び IIIa とする。

6)

  材料グループ III は,IIIa 及び IIIb を含む。材料グループ IIIb は,630 V を超える用途,又は汚損度 4 の用途

には認められない。

7)

  端子∼終端間以外のマイクロ開路に対する要求事項はない。端子∼終端間に対する要求事項は,この表に示

すとおりとする。

適否は,目視及び測定によって判定する。

20.2.3

付加絶縁の沿面距離は,材料グループ及び汚損度を考慮して,基礎絶縁に対する規定値以上でなけ

ればならない。

適否は,目視及び測定によって判定する。

20.2.4

強化絶縁の沿面距離は,材料グループ及び汚損度を考慮して,基礎絶縁に対する規定値の 2 倍以上

でなければならない。

適否は,目視及び測定によって判定する。


96

C 9730-1

:2010

20.3

固体絶縁

固体絶縁は,電気的及び機械的ストレスに恒久的に耐えなければならない。同様に,機器の期待寿命の

間に発生する熱的及び環境的影響にも恒久的に耐えなければならない。

20.3.1

基礎絶縁及び動作絶縁に対する厚さの寸法要求事項はない。

20.3.2 300

V 以下の動作電圧の場合,付加絶縁及び強化絶縁を通しての金属部品間の距離は,0.7 mm 未満

であってはならない。

注記  このことは,距離が絶縁を貫通する場合に限らなければならないということは意味しない。絶

縁は,固体材料と 1 層又は複数の層の空気とで構成してもよい。

基礎絶縁と付加絶縁との間に金属がない二重絶縁を施した部品をもつ制御装置の場合,測定は 2 層の絶

縁の間に金属はくがあるものと仮定して行う。

20.3.2.1

マイカ又は類似のりん(鱗)片状材料を除き,絶縁に薄いシート形状を適用する場合,20.3.2 

要求事項は適用しない。ただし,次による。

−  付加絶縁の場合は 2 層以上で構成するが,各層は付加絶縁に関する 13.2 の耐電圧試験に耐えなければ

ならない。

−  強化絶縁の場合は 3 層以上で構成するが,いずれか 2 層が一体となって 13.2 の耐電圧試験に耐えなけ

ればならない。

適否は,目視検査及び試験によって判定する。

20.3.2.2  20.3.2

の要求事項は,付加絶縁又は強化絶縁が接触可能でなく,また,次の基準のいずれかを満

たす場合は適用しない。

−  箇条 27 及び H.27 の試験中に求めた最高温度が,

表 14.1 に規定する許容値を超えない。

−  箇条 14 の試験で求めた最高温度を 25 K 超える温度に維持した炉内で 168 時間,状態調節した後,絶

縁が 13.2 の耐電圧試験に耐える。この絶縁に対する試験は,炉内で発生する温度において,また,ほ

ぼ室温まで冷却した後の両方の場合について実施する。

オプトカプラの場合,状態調節手順は,箇条 14,箇条 27 及び H.27 の試験中にオプトカプラで測定した

最高温度を 25 K 超える温度で実施し,オプトカプラは,試験中に発生する最も好ましくない条件で動作さ

せる。

適否は,目視検査及び試験によって判定する。

21

耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性

21.1

一般要求事項

制御装置のすべての非金属部分は,耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性がなければならない。

適否は,21.2 の試験によって判定する。ただし,独立取付形制御装置は,21.3 の試験によって判定する。

21.2

一体形,組込形及びインラインコード形制御装置

次の試験シーケンスを,該当する非金属部の位置及び宣言されたカテゴリに合わせて導入しなければな

らない。

注記  カテゴリの指針については,附属書 参照。

21.2.1

制御装置を意図する方法で取り付けるとき,可触でその劣化によって制御装置が不安全になる部品

は,次の試験を行う。

−  21.2.5 のボールプレッシャ試験

引き続き,次のいずれかの試験を行う。


97

C 9730-1

:2010

−  G.1 の水平燃焼試験

−  (その箇条が要求する特別試験片がない場合,その材料が試験に合格するという関連する証拠がない

場合,又は特別試験片が試験に不合格となる場合)550  ℃で実施する G.2 のグローワイヤ試験

21.2.2

電気接続部以外の通電部分を正しい位置に保持する部分に対しては,次の試験を行う。

−  21.2.6 のボールプレッシャ試験

引き続き,次のいずれかの試験を行う。

−  G.1 の水平燃焼試験

−  (その箇条が要求する特別試験片がない場合,その材料が試験に合格するという関連する証拠がない

場合,又は特別試験片が試験に不合格となる場合)550  ℃で実施する G.2 のグローワイヤ試験

21.2.3

電気接続部を正しい位置に維持又は保持する部分に対しては,試験は,その制御装置の宣言された

カテゴリに対して,次に示す試験を行う。

カテゴリ A:

−  21.2.6 のボールプレッシャ試験

引き続き,次のいずれかの試験を行う。

−  G.1 の水平燃焼試験

−  (その箇条が要求する特別試験片がない場合,その材料が試験に合格するという関連する証拠がない

場合,又は特別試験片が試験に不合格となる場合)550  ℃で実施する G.2 のグローワイヤ試験

カテゴリ B:

−  21.2.6 のボールプレッシャ試験

引き続き,次のいずれかの試験を行う。

−  G.1 の水平燃焼試験

−  (その箇条が要求する特別試験片がない場合,その材料が試験に合格するという関連する証拠がない

場合,又は特別試験片が試験に不合格となる場合)550  ℃で実施する G.2 のグローワイヤ試験

さらに,その制御装置の一部であり,通電部分を支持する部分の 50 mm 以内に位置する,すべての非金

属部分は,G.3 のニードルフレーム試験の要求事項に適合しなければならない。

カテゴリ C:

−  21.2.6 のボールプレッシャ試験及びその後に続く,750  ℃で実施する G.2 のグローワイヤ試験

カテゴリ D:

−  21.2.6 のボールプレッシャ試験及びその後に続く,850  ℃で実施する G.2 のグローワイヤ試験

21.2.4

その他のすべての部分に対しては,次のいずれかの試験による。

[ただし,装飾用内装,ノブ,そ

の他のグローワイヤ試験を行うのには小さすぎて,そのために着火するおそれがない小形部分(これに対

しては,試験を要求しない。

)は除く。

−  G.1 の水平燃焼試験

−  (その箇条が要求する特別試験片がない場合,その材料が試験に合格するという関連する証拠がない

場合,又は特別試験片が試験に不合格となる場合)550  ℃で実施する G.2 のグローワイヤ試験

注記  JIS C 9730 の規格群の第 2 部に別の指示がなければ,仕切板,ガスケット(漏出防止用の継ぎ

目に詰めるパッキング)及びグランドのシーリングリングは,この細分箇条の試験を行わない。

21.2.5

ボールプレッシャ試験 1

ボールプレッシャ試験は,

図 に示す装置を用いて実施する。

試験する部分は,試験開始前に温度 15∼35  ℃及び相対湿度 45∼75 %の雰囲気中で 24 時間保管する。


98

C 9730-1

:2010

試験する部分の表面を水平に置き,直径 5 mm の鋼球を 20 N の力で,この表面に向けて押し付ける。試

験片の厚さは 2.5 mm 以上でなければならない。必要であれば,試験を行う部分を 2 層以上として使用す

る。

試験は,次のいずれかのうちの最高温度の恒温槽で行う。

−  箇条 14 の試験中,測定された最高温度を 20±2 K(JIS C 9335-1 の適用範囲内の機器に組み込む目的

の制御装置に対しては 15±2 K)超える温度

− 75±2  ℃

−  宣言された温度

支持物及びボールは,試験を開始する前に,規定の試験温度にしなければならない。

1 時間後,ボールをサンプルから取り去り,次に,冷水中に 10 秒以内浸せきすることによって,ほぼ室

温に冷やす。ボールによるこん跡の直径を測定し,こん跡の直径は,2 mm を超えてはならない。

注記  試験は,セラミック材料の部品については実施しない。

21.2.6

ボールプレッシャ試験 2

ボールプレッシャ試験は,21.2.5 に示すとおりに実施する。ただし,恒温槽の温度は,T

b

±2  ℃とする。

ここに,T

b

は,次のうち最も高い温度に等しい値とする。

−  T

max

が 30  ℃以上 55  ℃未満の場合,100  ℃

−  JIS C 9335-1 の適用範囲内の機器に組み込む制御装置(ただし,インラインコード形制御装置は除く。

及び T

max

が 55  ℃以上 85  ℃未満の場合,125  ℃

−  T

max

が 85  ℃以上の場合,(T

max

+40)  ℃

−  箇条 14 の温度上昇試験のときに記録した最高温度プラス 20 K。ただし,このことが,高い方の温度

となるとき。

−  H.21.2.6 による。

注記  試験は,セラミック材料の部分では行わない。

21.2.7

耐トラッキング性

20.2

に規定する沿面距離のすべての非金属部は,宣言された耐トラッキング性をもたなければならない。

注記 1  耐トラッキング性の要求値は,JIS C 9730 の規格群の第 2 部又は関連機器規格のいずれかに

おいて示される。

特別低電圧における動作用に設計された制御装置は,耐トラッキング試験は行わない。

注記 2  制御装置内で異なる部分は,その部分のミクロ環境に該当する異なる PTI 値をもってもよい。

適否は,

表 7.2 の項目 30 で宣言された次のいずれか一つの電圧で実施する,G.4 の保証トラッキング試

験によって判定する。

− 100

V

− 175

V

− 250

V

− 400

V

− 600

V

注記 3  この箇条の目的に対しては,アークを発生する接点の近傍は,箇条 17 の耐久性試験及び続い

て行う箇条 13 の耐電圧試験がその制御装置内で発生する汚損効果を決定するのに十分であ

るとみなせるので,外部からの導電性物質のたい(堆)の増加は考慮しない。


99

C 9730-1

:2010

21.3

独立取付形制御装置

21.3.1

事前状態調節

事前状態調節は,21.3.221.3.5 の試験に先立って,恒温槽中で次のとおりに実施する。

−  T 定格がない場合:80±2  ℃において,1×24 時間。開閉部分の回路及び駆動機構は接続せず,取外

し可能なカバーは外した状態とする。

−  温度に対する T 定格(スイッチヘッドの周囲温度限度)が 85  ℃未満の場合:80±2  ℃で,1×24 時

間,制御装置及び駆動機構の開閉部分は接続せずカバーは外す。それに続いて,カバーを付けて T

max

±2 K で 6×24 時間,開閉部分及び駆動機構の回路は接続した状態とする。

−  温度に対する T 定格が 85  ℃以上の場合:T

max

±2 K で 6×24 時間,カバーは付け,開閉部分及び駆動

機構の回路は接続した状態とする。

21.3.2

充電部を保持する絶縁部は,カテゴリ B 又はカテゴリ D の要求事項に適合しなければならない。

21.3.3

可触非金属部は,21.2.1 の要求事項に適合しなければならない。

21.3.4

その他の非金属部は,21.2.4 の要求事項に適合しなければならない。

21.3.5

独立取付形制御装置は,21.2.7 の要求事項に適合しなければならない。

21.4  2.1.3

で定義する動作電圧の回路に接続する水銀チューブスイッチを用いる制御装置は,17.1.1 にお

いて試験のために規定する電圧の直流回路で標準非交換形筒形ヒューズと直列に試験するとき,合格しな

ければならない。ただし,そのデバイスが交流専用を目的とする場合,無誘導形負荷と共に交流を使用で

きる。試験回路のヒューズ定格及び容量は,

表 21.4 に規定するとおりでなければならない。

外郭及びすべての他の露出金属は,接地しなければならず,外郭に開いたすべての開口部の周りに綿を

配置する。

綿又は回路導体上の絶縁物に着火があってはならず,スイッチを収容する外郭から炎又は溶融金属(水

銀を除く。

)の放出があってはならない。そのデバイスに取り付けた配線(チューブリード線を除く。

)は,

損傷してはならない。短絡回路において水銀チューブを閉じ,水銀チューブが接続されている短絡回路を

他の適切な開閉装置で閉じる連続動作を交互に行う。

表 21.4−水銀スイッチ短絡条件

最小ヒューズ定格

1), 2)

V

最高定格 S.

C.(短絡)電流

A

0∼125 126∼250 251∼660

0∼250 2 000

VA  1

000

20

15

0∼250 30

A  3

500  30  30  −

0∼250 63

A  3

500  70  70  −

251∼660 63

A  5

000  −

− 30

1)

  最小ヒューズ定格は,スイッチアンペア定格以上又はモータ全負荷アンペア定格の 4 倍以下の最も近い

標準ヒューズ定格とする。いかなる場合でも,示した定格以上でなければならない。

2)

  この試験の目的に対しては,ヒューズのアンペア定格は,15,20,25,30,35,40,45,50,60,70,

80,90,100,110,125,150,175,200,225 及び 250 である。中間寸法のヒューズを使用してもよい。

使用する綿は,

附属書 による。

スイッチは,試験後,機能する必要はない。


100

C 9730-1

:2010

22

耐腐食性

22.1

防せい(錆)性

22.1.1

その腐食が,この規格への適合性を阻害するおそれがあるカバー及び外郭を含む鉄の部分は,さび

ないように保護しなければならない。

22.1.2

この要求事項は,温度検出素子又はその性能が保護処理によって悪い影響を受けるその他の構成部

分には適用しない。

22.1.3

適否は,次の試験によって判定する。

22.1.4 40

±2  ℃,相対湿度の 93∼97 %で継続時間 14 日間の試験を行う。

22.1.5

この部分を,温度 100±5  ℃の恒温槽に入れて 10 分間乾燥した後,その面には,箇条 8,箇条 13

及び箇条 20 への適合性を阻害する腐食があってはならない。

22.1.6

鋭い縁の上のさびのこん跡及びこすることによって除くことができる黄色っぽい膜は無視する。

注記 1  エナメル塗装,電気めっき,亜鉛めっき,シェラダイズ,その他の認知された同等の保護が,

この要求事項を満たすと考える。

注記 2  小形のら(螺)旋ばねなどに対して,また,摩耗を受ける部品に対しては,グリースの層が

さびに対する十分な保護となる場合がある。このような部品は,グリース膜の有効性につい

て疑いがあるときに限り試験を行う。そのときは試験は,グリースを取り除かないで行う。

23

電磁両立性  (EMC)  要求事項−エミッション

H.23

も適用する。

23.1

自立構造形及び独立取付形制御装置で,通常運転中に繰り返し運転するものについては,過度の通

信障害を発生しないような構造でなければならない。一体形及び組込形制御装置については,この箇条に

従わなくてもよい。すなわち,この試験は,機器への制御装置の組込みによって,試験結果が影響される

からである。ただし,そのようなものでも製造業者の要求があれば,実施してもよい。

適否は,次のいずれかの方法によって判定する。

a)

次の修正を加えた CISPR 14-1 及び/又は,CISPR 22 クラス B の試験。CISPR 14-1 の 4.2.3.4 におい

て,200 ms の値は,20 ms と置き換える。

b) 20

ms の無線周波数放射の最大持続期間に終わる 23.1.1 及び 23.1.2 で詳述された試験。この場合にお

いて,クリック率が,5 を超えるものは,方法 a)に従う。

c)

通常動作中に接点動作間の最短時間が 10 分未満になることがないことを示すための検査及び/又は

試験。

b)

又は c)の方法による適合性は,a)の方法に対する適合性を示す。

23.1.1

試験条件

新品の 3 個のサンプルでこの試験を行う。

次に示すことを除き,電気的及び温度条件は,17.2 及び 17.3 の規定による。

−  検出制御装置の作動量の変化率は,α

1

及び β

1

とする。

−  非検出制御装置は,制御装置を通常動作における最低接点動作速度となるように動作させる。

−  誘導負荷に使用するよう宣言された制御装置は,

表 7.2 の項目 7 で別に宣言されていない限り,力率

0.6 とする。実質的に抵抗負荷に使用するよう宣言された制御装置については,力率 1 とする。

23.1.2

試験方法

制御装置は,接点動作サイクルを 5 とする。


101

C 9730-1

:2010

無線障害の期間は,接点間の電圧降下を測定するように接続したオシロスコープによって測定する。

注記  この試験の目的に対しては,接点動作の結果,電源波形に重畳して観測された接点間のあらゆ

る電圧変動を無線障害とする。

24

部品

24.1 SELV

回路又は PELV 回路に電力を供給する変圧器は,安全絶縁形のものであり,JIS C 61558-2-6 

関連する要求事項に適合しなければならない。

無線障害抑圧を行うために使用するコンデンサは,JIS C 5101-14 の要求事項に適合しなければならない。

ヒューズは,JIS C 6575(規格群)又は JIS C 8269(規格群)の該当する要求事項に適合しなければな

らない。

24.1.1

外部の SELV 回路又は PELV 回路への電源として変圧器を組み込んだ制御装置は,一次回路に

17.2.2

17.2.3.1 及び 17.2.3.2 に示す定格電圧の上限値を印加した状態で出力試験を行う。

非容量性負荷条件(無負荷から,いずれか又はすべての二次低圧設備配線端子の短絡まで)で,内部接

続に干渉しない状態で,二次出力電圧は,2.1.5 に規定する値以下でなければならない。

外部の SELV 回路又は PELV 回路への電源としてコンバータを使用している場合,T.3 を適用する。

制限二次絶縁回路への端子における二次出力は,100 VA 以下でなければならず,二次出力電流は,過電

流保護装置があれば,それをバイパスした状態で 1 分間運転した後,8 A 以下でなければならない。

24.2  24.1

に詳述する部品以外の部品は,この規格の試験を実施して判定する。

24.2.1

ただし,前もって関連する JIS 安全規格に適合していると判定されている構成部品に対しては,必

要な試験を減少させるために,評価は次のように制限する。

1)

その制御装置内の構成部品の用い方は,JIS 安全規格に従って前もって行われた試験によってカバー

されていることを確認するために検査する。

2)  JIS

安全規格に従って前もって行われた試験によってカバーされていない,この規格の基準による試

験を行う。

24.2.2  J.24.2.2

も適用する。

24.3

制御装置の構成部品として使用するリレーには,

附属書 を適用しない。

25

通常動作

附属書 による。

26

電磁両立性  (EMC)  要求事項−イミュニティ

H.26

による。

注記  通常,H.26 の試験は,非電子式制御装置は電磁妨害に対してイミュニティが高いため,この試

験は行わない。非電子式制御装置の特別なタイプのものについては,適切な JIS C 9730 の規格

群の第 2 部の別の項目に包含される場合がある。

27

異常動作

27.1  H.27.1

による。

27.2

焼損試験

電磁石を組み込んでいる制御装置は,制御機構の拘束の影響に耐えなければならない。


102

C 9730-1

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適否は,27.2.1 及び 27.2.2 の試験によって判定する。

注記  リレー及び接触器に対しては,この要求事項への適合は,箇条 17 の試験が終了して合格であれ

ば,確立している。

27.2.1

制御機構は,その制御装置が電源を断路されたときに至る位置で拘束する。次に,制御装置は,定

格周波数及び定格電圧(17.2.217.2.3.1 及び 17.2.3.2 に示す。

)で通電する。

試験の継続時間は,7 時間か,内部保護装置があればそれが動作するまでか,又は焼損するまでのうち,

いずれか最初に発生したときまでとする。

27.2.2

この試験後,制御装置が次による場合,適合していると考える。

−  炎又は溶融金属の放出がなく,制御装置には,この規格への適合性を阻害するおそれのある損傷がな

い。

−  13.2 の要求事項を満足する場合。

注記  この試験後,制御装置は,機能する必要はない。

27.2.3

機械出力拘束試験(異常温度試験)

電気アクチュエータのようなモータを備えた制御装置は,

表 27.2.3 に示す温度を超えることなく,出力

拘束の影響に耐えなければならない。温度は,14.7.1 に規定する方法で測定する。7 時間出力を拘束した

状態で試験しても,保護装置があれば拘束状態で動作を繰り返すことがなく,かつ,

表 14.1 の温度限度値

を超えない場合,電気アクチュエータのようなモータを備えた制御装置に対してこの試験は実施しない。

27.2.3.1

電気アクチュエータのようなモータを備えた制御装置は,24 時間にわたり定格電圧で出力を拘束

した状態で,室温 15∼30  ℃の範囲で試験する。温度の測定結果を 25  ℃の基準値に対して補正する。

三相で動作することが宣言されたモータを備えた制御装置は,試験は,任意の一つの相を接続せずに実

施する。

表 27.2.3−最大巻線温度(機械出力拘束条件の試験用)

クラスによる絶縁物の温度

d)

条件

A E B F H 200

220

250

インピーダンス保護の場合 150 165 175 190 210 230 250 280

保護装置による保護の場合

初めの 1 時間

−  最大値

a), b)

200 215 225 240 260 280 300 330

初めの 1 時間の後

−  最大値

a)

175 190 200 215 235 255 275 305

−  算術平均

c)

150 165 175 190 210 230 250 280

a)

  温度保護を備えたモータに適用できる。

b)

  組み込んだヒューズ又は温度過昇防止装置によって保護されているモータに適用できる。

c)

  保護のないモータに適用できる。

d)

  これらの分類は,JIS C 4003 の温度分類に対応する。

27.2.3.2

平均温度は,試験の 2 時間目∼24 時間目の限度値(

“初めの 1 時間の後”の限度値)以下でなけ

ればならない。

注記  巻線の平均温度は,その 1 時間の巻線温度の最大値及び最小値の算術平均である。

27.2.3.3

試験の間,電力は継続的にモータに供給する。

27.2.3.4

この試験の終了後直ちに,モータは箇条 13 に規定する耐電圧試験に耐えなければならない。た


103

C 9730-1

:2010

だし,初めに 12.2 の湿度処理は行わない。

27.3

過電圧及び不足電圧試験

電磁石を組み込んだ制御装置は,最低定格電圧  (V

R min

)  の 85 %と最高定格電圧  (V

R max

)  の 110 %との間

のいかなる電圧でも,意図されたとおりに動作しなければならない。

適否は,制御装置を宣言された最高及び最低動作条件において,

次の試験を行うことによって判定する。

ただし,0  ℃未満の T 定格  (T

min

)  をもつ制御装置だけは,T

min

で試験する。

制御装置は,平衡温度に達するまで 1.1 V

R max

を加え,次に,直ちに 1.1 V

R max

及び定格電圧における動作

の試験を行う。

制御装置は,また,平衡温度に達するまで 0.85 V

R min

を加え,次に,直ちに 0.85 V

R min

における動作の試

験を行う。

27.4  H.27.4

による。

28

電子的断路の使用に関する指針

H.28

による。

単位  mm

図 1−テストピン


104

C 9730-1

:2010

単位  mm

規定の許容差がない寸法の許容差;

  角度

0

10

°

  直線寸法:

  25 mm 以下:

0

05

.

0

  25 mm を超える:±0.2 
テストフィンガの材料:例えば,熱処理鋼

このテストフィンガの両方の接合部は,角度      °まで曲げることができるが同一方向だけ
に限る。

ピン及び溝による手法を用いることが,曲げ角度を 90°に制限するために可能な手法の唯

一のものである。この理由で,これらの詳細な寸法及び偏差は図面で示さない。実際の設計は,
90°屈曲角偏差 0∼10°を保証しなければならない。

図 2−標準テストフィンガ

10

0

90

+


105

C 9730-1

:2010

単位  mm

図 3−標準テストフィンガネイル

105

C

 9730-1


2010


106

C 9730-1

:2010

図 4−自立構造形制御装置の衝撃試験

単位  mm

図 5−タンブリングバレル

図 6−ボールプレッシャ試験


107

C 9730-1

:2010

単位  mm

図 7−水平燃焼試験

単位  mm

図 8−定格銘板上の表示の耐久性試験機器(例)


108

C 9730-1

:2010

単位  mm

図 9−屈曲試験装置


109

C 9730-1

:2010

図 10−ねじ端子及びスタッド端子


110

C 9730-1

:2010

端子を流れる電流

最小トルク

N・m

すりわり付きねじ

その他のねじ

可とう導体に

対して

A

固定導体に

対して

A

最小直径の

導体空間

mm

導体捕そく部
品間の最大空

げき(隙)

mm

1 個の

ねじ

2 個の

ねじ

1 個の

ねじ

2 個の

ねじ

  0 以上

6 以下

6 を超え 10 以下

10 を超え 16 以下 
16 を超え 25 以下 
25 を超え 32 以下

32 を超え 40 以下 
40 を超え 63 以下

  0 以上

6 以下

  0 以上

6 以下

6 を超え 10 以下

10 を超え 16 以下 
16 を超え 25 以下 
25 を超え 32 以下 
32 を超え 40 以下 
40 を超え 63 以下

1.4 
1.7 
2.0 
2.7 
3.6 
4.3 
5.5 
7.0

1.0 
1.0 
1.5 
1.5 
1.5 
2.0 
2.0 
2.0

0.4 
0.5 
0.8 
1.2 
2.0 
2.0 
2.0 
2.0

− 
− 

0.5 
1.2 
1.2 
1.2 
2.0

0.4 
0.5 
0.8 
1.2 
2.0 
2.0 
2.0 
3.0

− 
− 

0.5 
1.2 
1.2 
1.2 
2.0

注記  導体を正しい位置に支持する部分は,その導体を締め付けるのに必要な圧力が,絶縁材料を通して伝達され

ない場合,絶縁材料製でもよい。

指示図は,示された寸法を除き,設計を制限する意図はない。

図 10−ねじ端子及びスタッド端子(続き)


111

C 9730-1

:2010

端子導電電流

最小トルク

N・m

完全に挿入さ

れたとき,締め

ねじと導体の
端末との間の

最小距離

mm

頭なしねじ

すりわり付き

のねじ

その他のねじ

可とう

導体用

 
 
 

A

固定

導体用

 
 
 

A

最小径

導体 
空間

 

 

mm

部品を捕

そくする
導体間の
最大間げ

き(隙)

 

mm

1 個の

ねじ

2 個の

ねじ

1 個の

ねじ

2 個の

ねじ

1 個の

ねじ

2 個の

ねじ

1 個の

ねじ

2 個の

ねじ

0 以上

10 以下

0 以上 
6 以下

2.5  0.5  1.5 1.5 0.2 0.2 0.4 0.4 0.4 0.4

10 を超え

16 以下

6 を超え

10 以下

3.0  0.5  1.5 1.5 0.25 0.2 0.5 0.4 0.5 0.4

16 を超え

25 以下

10 を超え

16 以下

3.6  0.5  1.8 1.5 0.4 0.2 0.8 0.4 0.8 0.4

25 を超え

32 以下

16 を超え

25 以下

4.0  0.6  1.8 1.5 0.4 0.25 0.8 0.5 0.8 0.5

− 25 を超え

32 以下

4.5  1.0  2.0 1.5 0.7 0.25 1.2 0.5 1.2 0.5

32 を超え

40 以下

32 を超え

40 以下

5.5  1.3  2.5 2.0 0.8 0.7 2.0 1.2 2.0 1.2

40 を超え

63 以下

40 を超え

63 以下

7.0  1.5  3.0 2.0 1.2 0.7 2.5 1.2 3.0 1.2

注記  端子のねじ部付きの穴を含む部分及び,導体がねじによって締め付けられる部分は,2 個の分離した部分で

あってもよい。スターラップを装備した端子の場合も同じ。

導体空間の形状は,に対して規定する最小値に等しい直径の円が内接できる場合,図に示すものと異な

ってもよい。

完全に挿入したとき,締付用のねじと導体の端末との間の最小距離は,導体がその中を通過できない端子

に限り適用する。

指示図は,示された寸法を除き,設計を制限する意図はない。

図 11−ピラー端子


112

C 9730-1

:2010

端子寸法

導体空間の最小直径

1)

mm

完全に挿入したとき,固定部分と

導体端末との間の最小距離

mm

0 1.4

1.5

1 1.7

1.5

2 2.0

1.5

3 2.7

1.8

4 3.6

1.8

5 4.3

2.0

6 5.0

2.5

7 7.0

3.0

8 8.5

4.0

1)

  加えるべきトルクの値は,表 19.1 に規定する値である。

図 12−マントル端子


113

C 9730-1

:2010

図 13a−サドル端子

図 13b−ラグ端子


114

C 9730-1

:2010

単位  mm

コネクタ寸法

寸法

図 14 及び図 15

7)

2.8 4.8 6.3 9.5

l

1

(最小)

1)

 7.7 6.9 8.6 14.0

l

2

(最小)

1)

 7.0 6.2 7.9 12.0

l

3

(最大)

2)

 3.0 5.2 6.7 8.2

l

4

 1.0±0.2 2.5±0.25 3.2±0.3 4.2±0.3

l

5

(最大) 0.7

1.2 1.3

1.7

l

6

(最大) 0.7

1.2 1.3

1.7

b

1

(穴)

7)

1.2

0.1

0

 1.4

0.2

0

 1.6

0

.

2

0

3)

 2.1

0

.

2

0

3)

b

1

(スロット)

7)

1.2

0.1

0

 1.4

0.2

0

 1.6

0.1

0

 2.1

0.2

0

b

2

 2.8±0.1 4.75±0.2

6.3

015

1

.

0


 9.5

015

1

.

0


b

3

(最小)

4)

 2.0  2.0  2.5  2.5

t

5)

 0.5±0.025 0.8±0.03 0.8±0.03 1.2±0.03

p(最大)

6)

 0.8 1.2 1.2 1.7

0.7

0

1

.

0

 0.1

0

1

.

0

 1.5

0

1

.

0

− 1.0±0.2 1.0±0.2 1.4±0.2

注記  指示図は,示された寸法を除き,設計を制限する意図はない。 

1)

  スリーブを付けることによってレセプタクルに対して十分な空間距離を与えるために,位置決定が適正

に働くことを確保するために,0.5 mm だけこの寸法を増加させることが必要であると思われる。

2)

  スロット  (l

3

l

4

)  の長さは,その幅  (b

1

)  以上でなければならない。

3)

  これらの偏差は,タブを,ねじ締付端子の一部分として使用することができるように選ばなければなら

ない。

4)

  二重にハッチを付けた部分も含め,厚さは,規定された材料の厚さの上限値を超えてはならない。

5)

  くぼみ又は穴及び寸法“b”で指示された領域を除き,厚さ“t”は,接続領域全体にわたって維持しな

ければならない。適否は,円形領域内の任意の部分 3.2±0.2 mm

2

を測定して判定する。さらに,全体の

平たん度は,0.03 mm の許容差をもたなければならない。

6)

  この寸法は,タブの一段高い側面にだけ適用する。逆の側面では,平たん度許容差はタブの全幅にわた

って適用する。

7)

  タブは,外れ止めがあってもよい。円形のくぼみの外れ止め,方形のくぼみの外れ止め及び保持用の外

れ止めは,タブの中心線に沿って,寸法 b

1

l

3

及び l

4

で囲まれた領域内に配置しなければならない。

タブは,この規格に適合する場合,2 層以上の材料で製造してもよい。

図 14−タブ


115

C 9730-1

:2010

図 15−非可逆コネクタ用のタブ


116

C 9730-1

:2010

コネクタ寸法

mm

寸法

2.8 4.8 6.3 9.5

b(最大) 4

6

8

12.5

e(最大)

12 12 15 20

h(最大)

1)

 1

2

2.5

3.2

l(最大)

18 18 22 27

s(最小) 4.5

5

6

10

x(最小)

2)

−  0.9 1.2 1.7

y(最大)

0.5 0.5 0.5 1.0

z(最大)

1.5 1.5 2.0 2.0

注記  図示された寸法は,圧着スリーブ付きレセプタクルにだけ適用する。

指示図は示された寸法を除き,設計を制限する意図はない。

1)

  タブの刃の中心線からの最大片寄り寸法。

2)

  非可逆導体に対するレセプタクルだけに適用。

図 16−レセプタクル


117

C 9730-1

:2010

1:充電部とその他の金属部(物理的に露出した電気的に絶縁された金属を含む。)との間。 
2:相互に絶縁される必要がある充電部(動作絶縁)間。ただし,接点間は除く。 
3:制御装置の作動によって,分離される充電部(同極)間。

a  完全断路 
b  これらの距離は,固定配線への接続を目的とする端子間に適用しない。

4:充電部と囲まれた制御装置の金属外郭との間(これらの距離は,制御されている機器の外郭内に据え付けることを

目的とする制御装置の収容箱,フレーム又は一体となった取付装置には適用しない)

5:独立取付形制御装置のくぼみの充電部と制御装置が取り付けられる表面との間。この距離は,適切なシール又はバ

リアを追加することによって,低減することができる。

図 17−沿面距離及び空間距離の測定

図 18∼図 24 は,対応国際規格で削除されている。

図 25−クラス II 制御装置の単相電源に対する,耐湿前の漏えい電流測定回路


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C 9730-1

:2010

図 26−クラス II 以外の制御装置の単相電源に対する,耐湿前の漏えい電流測定回路

図 27−クラス II 制御装置の三相電源に対する,耐湿前の漏えい電流測定回路


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C 9730-1

:2010

図 28−クラス II 以外の制御装置の三相電源に対する,耐湿前の漏えい電流測定回路

図 29−クラス II 以外の制御装置の単相 線電源に対する,耐湿前の漏えい電流測定回路

図 30−クラス II 以外の制御装置の単相 線電源に対する,耐湿前の漏えい電流測定回路