C 8936 : 2005
(1)
まえがき
この追補は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日
本工業規格の追補である。これによって JIS C 8936：1995 は改正され，JIS C 8936：1995 の
3.
，4.，6.
はこの追補によって変更される。
日本工業規格
JIS
C
8936
: 2005
アモルファス太陽電池分光感度特性測定方法
（追補 1）
Measuring methods of spectral response for
amorphous solar cells and modules
−Amendment 1
序文 この追補は JIS C 8936：1995 と併用されるものであり，JIS C 8936：1995 の一部は改正され，この
追補に置き換えられる。
JIS C 8936
：1995 を次のように改正する。
3.
測定条件
(3)
，(6)及び(7)を次に置き替える。
(3)
部分照射及び切り出しサンプルを用いる場合のサンプル数又は測定箇所数は，
表 1 による。
表 1 太陽電池セル・モジュールの測定区分
太陽電池セル・モジュール
測定
部分照射
5
か所以上
区分
切 り 出 し
サンプル
5
サンプル以上
(6)
測定時の周辺温度及び相対湿度は，(25±5) ℃及び 75%以下とする。
(7)
干渉フィルタ型モノクロメータを用いる場合は，半値幅は 5 nm 以下，測定の波長間隔は 25 nm 以下，
その透過比は 350 nm 以上 400 nm 未満の領域で 0.02%以下，400 nm 以上で 0.2%以下とする。
4.
測定装置
(2)
及び(4)を次に置き替える。
(2)
モノクロメータ 回折格子，プリズム又は干渉フィルタによるもの。
(4)
短絡電流測定回路 図 1 による。抵抗値は両端の直流電圧降下が開放電圧の 3%を超えないように選
ぶ。
(a)
単色光をチョッピングする場合 図 1 の電圧測定器は交流電圧計又はロックイン検出器を用いる。
(b)
単色光をチョッピングしない場合 図 1 の電圧測定器は直流電圧計を用いる。
2
C 8936 : 2005
図 1 短絡電流測定回路
6.
太陽電池セル・モジュールの測定結果の処理
(2)
を次に置き替える。
(2)
被測定太陽電池セル・モジュールを同一テスト面上で測定する場合の短絡電流 I
sc
(
λ) のばらつきが，
測定波長領域のどこかで平均値の±5%を超える場合，照射される測定領域がセル全面積の 30%以上に
なるように部分照射箇所又は切り出しサンプルの数を増やし，各波長での短絡電流の平均値 I
sc
(
λ) を
用いて相対分光感度 Q (
λ) を求める。