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C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

(1) 

目  次

ページ

序文

1

1

  一般適用範囲

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  引用規格

2

ヒューズシステム A  刃形接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ(NH ヒューズシステム)

4

1

  一般

4

2

  用語及び定義

4

3

  使用状態の条件

4

4

  類別

4

5

  ヒューズの特性

5

6

  表示

6

7

  構造の標準条件

6

8

  試験

9

附属書 AA(参考)ケーブル過負荷保護に関する特別試験

38

ヒューズシステム B  刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンクを備えたヒューズ

NH

ヒューズシステム)

39

1

  一般

39

2

  用語及び定義

39

3

  使用状態の条件

39

4

  類別

39

5

  ヒューズの特性

39

6

  表示

40

7

  構造の標準条件

40

8

  試験

40

ヒューズシステム C  ヒューズレール(NH ヒューズシステム)

49

1

  一般

49

2

  用語及び定義

49

3

  使用状態の条件

49

4

  類別

49

5

  ヒューズの特性

49

6

  表示

49

7

  構造の標準条件

49

8

  試験

50

ヒューズシステム D  母線取付用のヒューズベース(40 mm システム)(NH ヒューズシステム)

58

1

  一般

58


C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)  目次

(2) 

ページ

2

  用語及び定義

58

3

  使用状態の条件

58

4

  類別

58

5

  ヒューズの特性

58

6

  表示

59

7

  構造の標準条件

59

8

  試験

60

ヒューズシステム E  ボルト締め接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ

BS

ボルト締めヒューズシステム)

67

1

  一般

67

2

  用語及び定義

67

3

  使用状態の条件

67

4

  類別

67

5

  ヒューズの特性

67

6

  表示

68

7

  構造の標準条件

68

8

  試験

69

ヒューズシステム F  円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ

NF

筒形ヒューズシステム)

79

1

  一般

79

2

  用語及び定義

79

3

  使用状態の条件

79

4

  類別

79

5

  ヒューズの特性

79

6

  表示

81

7

  構造の標準条件

82

8

  試験

83

ヒューズシステム G  オフセット刃形接触部をもつヒューズリンクのヒューズ

BS

クリップインヒューズシステム)

90

1

  一般

90

2

  用語及び定義

90

3

  使用状態の条件

90

4

  類別

90

5

  ヒューズの特性

90

6

  表示

91

7

  構造の標準条件

92

8

  試験

92

ヒューズシステム H  gD”及び“gN”特性のヒューズリンクを用いたヒューズ

クラス 及びクラス の遅動及び非遅動形ヒューズ)

99


C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

(3) 

ページ

1

  一般

99

2

  用語及び定義

99

3

  使用状態の条件

99

4

  類別

99

5

  ヒューズの特性

99

6

  表示

100

7

  構造の標準条件

101

8

  試験

103

ヒューズシステム I  ウェッジ締め接触部をもつ“gU”ヒューズリンク

120

1

  一般

120

2

  用語及び定義

120

3

  使用状態の条件

120

4

  類別

121

5

  ヒューズの特性

121

6

  表示

122

7

  構造の標準条件

122

8

  試験

123

ヒューズシステム J  gD クラス CC”及び“gN クラス CC”特性のヒューズリンクを用いた

ヒューズ(クラス CC の遅動及び非遅動形ヒューズ)

133

1

  一般

133

2

  用語及び定義

133

3

  使用状態の条件

133

4

  類別

133

5

  ヒューズの特性

133

6

  表示

134

7

  構造の標準条件

134

8

  試験

136

ヒューズシステム K  ボルト締め接触部をもつ“gK”ヒューズリンク−1 2504 800 A 

大電流ヒューズリンク定格(マスター・ヒューズリンク)

148

1

  一般

148

2

  用語及び定義

148

3

  使用状態の条件

148

4

  類別

148

5

  ヒューズの特性

148

6

  表示

150

7

  構造の標準条件

150

8

  試験

151

参考文献

161

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

目次


C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)  目次

(4) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人日本

電機工業会(JEMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を

改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格で

ある。これによって,JIS C 8269-2:2000 は改正され,この規格に置き換えられ,また,JIS C 8269-2-1:2000

は廃止され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 8269

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

8269-1

  第 1 部:通則

JIS

C

8269-2

  第 2 部:専門家用ヒューズの追加要求事項(主として工業用ヒューズ)−標準化された

ヒューズシステム A∼K


   

日本工業規格

JIS

 C

8269-2

:2016

(IEC 60269-2

:2013

)

低電圧ヒューズ−

第 2 部:専門家用ヒューズの追加要求事項

主として工業用ヒューズ)−

標準化されたヒューズシステム A∼K

Low-voltage fuses-

Part 2: Supplementary requirements for fuses for use by authorized

persons (fuses mainly for industrial application)-

Examples of standardized systems of fuses A to K

序文

この規格は,2013 年に第 5 版として発行された IEC 60269-2 を基に,技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

一般適用範囲

1.1

適用範囲

この規格は,一般に専門家によってだけ,ヒューズリンクに接近でき,かつ,取換えを行う装置に用い

るように設計している,専門家用ヒューズについて規定する。

次のヒューズシステムに基づく専門家用ヒューズは,この規格でほかに規定がない限り,JIS C 8269-1

の箇条の要求事項にも適合しなければならない。

この規格は,次に示すヒューズシステムに分かれており,それぞれが専門家用標準ヒューズの特定の例

を取り上げている。

ヒューズシステム A

刃形接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ(NH ヒューズシステム)

ヒューズシステム B

刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンクを備えたヒューズ(NH ヒュ

ーズシステム)

ヒューズシステム C

ヒューズレール(NH ヒューズシステム)

ヒューズシステム D

母線取付用のヒューズベース(40 mm システム)

(NH ヒューズシステム)

ヒューズシステム E

ボルト締め接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ(BS ボルト締めヒュ

ーズシステム)

ヒューズシステム F

円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ(NF 筒形ヒュ

ーズシステム)

ヒューズシステム G

オフセット刃形接触部をもつヒューズリンクのヒューズ(BS クリップインヒュ


2

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ーズシステム)

ヒューズシステム H

“gD”及び“gN”特性のヒューズリンクを用いたヒューズ(クラス J 及びクラ

ス L の遅動及び非遅動形ヒューズ)

ヒューズシステム I

ウェッジ締め接触部をもつ“gU”ヒューズリンク

ヒューズシステム J

“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”特性のヒューズリンクを用いたヒュー

ズ(クラス CC の遅動及び非遅動形ヒューズ)

ヒューズシステム K

ボルト締め接触部をもつ“gK”ヒューズリンク−1 250∼4 800 A の大電流ヒュ

ーズリンク定格(マスター・ヒューズリンク)

注記 1  この規格は,JIS C 60364 建築電気設備規定に対応するヒューズを対象とする。

注記 2  JIS C 60364 建築電気設備規定とは,電気事業法に基づく電気設備の技術基準の解釈の第 218

条の規定をいう。

注記 3  この規格を適用する場合,適用するヒューズを適用範囲に含む他の規格と混用してはならな

い。

混用できない規格の例を次に示す。

−  JIS C 8352  配線用ヒューズ通則

−  JIS C 8313  配線用つめ付きヒューズ

−  JIS C 8314  配線用筒形ヒューズ

−  JIS C 8319  配線用栓形ヒューズ

注記 4  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60269-2:2013

,Low-voltage fuses−Part 2: Supplementary requirements for fuses for use by

authorized persons (fuses mainly for industrial application)−Examples of standardized systems 
of fuses A to K(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”

ことを示す。

1.2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 2134

  固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法

注記  対応国際規格:IEC 60112,Method for the determination of the proof and the comparative tracking

indices of solid insulating materials(IDT)

JIS C 8269-1

  低電圧ヒューズ−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 60269-1,Low-voltage fuses−Part 1: General requirements(IDT)

JIS C 60664-1

  低圧系統内機器の絶縁協調−第 1 部:基本原則,要求事項及び試験

注記  対応国際規格:IEC 60664-1,Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−

Part 1: Principles, requirements and tests(IDT)

IEC 60060-1

,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements

IEC 60999 (all parts)

,Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type

and screwless-type clamping units

IEC 60999-1

,Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type and

screwless-type clamping units−Part 1: General requirements and particular requirements for clamping


3

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

units for conductors from 0.2 mm

2

 up to 35 mm

2

 (included)

IEC 60999-2

,Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type and

screwless-type clamping units−Part 2: Particular requirements for clamping units for conductors above 35 
mm

2

 up to 300 mm

2

 (included)

ISO 6988

,Metallic and other non organic coatings−Sulfur dioxide test with general condensation of moisture


4

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ヒューズシステム A

刃形接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ

(NH

ヒューズシステム)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の追加要求事項は,

図 101 及び図 102 に規定する寸法に適合する,例えば,交換ハンドル(図 103 

照)

などの装置で交換することを意図した刃形接触部をもつヒューズリンクを用いるヒューズに適用する。

ヒューズの定格電流は,1 250 A 以下であり,定格電圧は,交流 1 000 V 又は直流 1 500 V 以下である。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

−  最小定格遮断容量

−  時間−電流特性

−  I

2

特性

−  構造の標準条件

−  ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 8269-1 によるほか,次による。

2.1.101

グリップラグ(gripping-lugs)

交換ハンドル又はヒューズキャリヤに用いるヒューズリンクの部品。グリップラグは,金属製でも絶縁

材料製でもよい。金属製グリップラグは,使用条件によって,充電部でも非充電部であってもよい。

2.1.102

充電グリップラグ(live gripping-lugs)

ヒューズリンクの刃形接触部と電気的に接続される金属製グリップラグ。刃形接触部と電気的に接続さ

れていない金属製グリップラグであっても,沿面距離及び空間距離が不十分な場合,この規格では充電グ

リップラグとみなす。

2.1.103

絶縁グリップラグ(isolated gripping-lugs)

絶縁材料又は金属製の非充電部グリップラグ。金属製の場合,グリップラグとヒューズベース接触部と

の間と同様に,グリップラグと刃形接触部との間も,該当過電圧カテゴリに基づき沿面距離及び空間距離

が要求される。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。


5

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

交流の場合,定格電圧の標準値は 400 V,500 V 及び 690 V とする。直流の場合,定格電圧の標準値は

250 V 及び 440 V とする。直流定格電圧の標準値は,交流定格電圧の標準値と関連していない。例えば,

交流 500 V−直流 250 V,交流 500 V−直流 440 V,交流 500 V などの標準組合せが可能である。

図 102 によるヒューズベースの定格電圧は,690 V 以上とする。

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流

各サイズの最大定格電流は,

図 101 による。これらの値は,用途区分及び定格電圧によって決まる。

定格電流 224 A を JIS C 8269-1 の 5.3.1 の値に追加する。

5.3.2

ヒューズホルダの定格電流

各サイズのヒューズベースの定格電流は,

図 102 による。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損

各サイズのヒューズリンクの定格ワット損の最大値は,

図 101 による。これらの値は,ヒューズリンク

の最大定格電流に適用する。ヒューズベースの定格受容ワット損値は,

図 102 による。

5.6

時間−電流特性の制限

5.6.1

時間−電流特性,時間−電流ゾーン及び過電流曲線

製造業者が示す時間−電流特性の許容範囲は,電流に関して±10 %を超えて逸脱してはならない。8.7.4

に基づく試験電圧で測定した全ての溶断及び動作時間は,許容範囲を含めて

図 104 に示す時間−電流ゾー

ンを満たさなければならない。

5.6.2

協約時間及び協約電流

協約時間及び協約電流は,JIS C 8269-1 の値に加えて,

表 101 による。

表 101−定格電流が 16 A 未満の“gG”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流

定格電流 I

n

協約時間

協約電流

A h I

nf

I

f

    I

n

 ≦ 4

1

1.5 I

n

 2.1

I

n

 4

<  I

n

 < 16

1

1.5 I

n

 1.9

I

n

5.6.3

ゲート

“gG”ヒューズリンクは,JIS C 8269-1 のゲートに加えて,

表 102 に規定するゲートを適用する。

表 102−“gG”ヒューズリンクの規定溶断及び動作時間に関するゲート

単位  A

I

n

I

min

(10 s)

I

max

(5 s)

I

min

(0.1 s)

I

max

(0.1 s)

2 3.7 9.2

6.0

23.0

4 7.8

18.5

14.0

47.0

6 11.0 28.0

26.0

72.0

8 16.0 35.2

41.6

92.0

10 22.0 46.5

58.0

110.0

12 24.0 55.2

69.6

140.4

224

680

1 450

2 240

3 980


6

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

5.7.2

定格遮断容量

最小定格遮断容量は,

表 103 による。

表 103−最小定格遮断容量

定格電圧  U

n

最小定格遮断容量

交流 690 V 以下 50

kA

直流 750 V 以下 25

kA

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

この規格の

ヒューズシステム の要求事項及び試験を満足するヒューズリンク及びヒューズホルダは,

JIS C 8269-2

を表示できる。

6.1

ヒューズホルダの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

−  サイズ

定格電流及び定格電圧の表示は,ヒューズリンクを取り付けていないときに正面から識別できなければ

ならない。

6.2

ヒューズリンクの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

−  サイズ又は関連コード

−  定格遮断容量(JIS C 8269-1 の 5.7.2 参照)

定格電流及び定格電圧の表示は,正面から識別できなければならない。さらに,ヒューズリンクには,

表 104 に規定する表示を行う。

表 104−ヒューズリンクの表示

特性 gG

aM

表示の色

印刷の種類

反転印刷の帯

通常印刷

反転印刷の帯

通常印刷

電圧

400 V

a)

×

×

500 V

×

×

690 V

×

×

注記  ×は,表示することを意味する。 

a)

 400

VgG については,青でもよい。

絶縁グリップラグをもつヒューズリンクの場合,前面から容易に見える箇所に四角形で囲まれたグリッ

プラグの図形記号を表示してもよい。表示した場合,ヒューズリンクの適合性は,7.2 によって確認する。

注記  記号の大きさの詳細は,図 112 を参照。

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。


7

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

7.1

機械的設計

ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は,

図 101 及び図 102 による。

7.1.2

端子を含む接続

ラグ端子の場合は,端子が接続できる断面積の範囲は,

表 105 の各サイズのヒューズリンクの定格電流

範囲から生じる。

未加工導体用に設計した端子は,少なくとも,

表 105 に規定する断面積範囲内の連続三つのサイズの導

体を接続できなければならない。端子がラグ端子の場合(IEC 60999 の規格群参照)

,加えるトルクは,

111

による。ほかの端子に関するトルク値は,製造業者の取扱説明書に記載する。

表 105−未加工導体の最小断面積範囲

サイズ

ヒューズリンクの定格電流範囲

A

断面積範囲

mm

2

アルミニウム

000

2

∼ 160

6

∼ 70

25 ∼ 95

00

2

∼ 160

6

∼ 70

25 ∼ 95

0

a)

2

∼ 160

6

∼ 70

25 ∼ 95

1

80

∼ 250

25

∼ 120

35 ∼ 150

2   125

∼ 400

50

∼ 240

70 ∼ 300

3   315

∼ 630

数値なし

4   500

∼ 1 000

4a   500

∼ 1 250

a)

  ストライカ付きヒューズリンクを除き,新設備には許容しない。

より大きな及び/又はより小さな断面積の接続部が必要な場合がある。これらの場合,端子の構造によ

って,又は製造業者推奨の追加接続手段によって実現できる。

未加工導体用端子は,銅,アルミニウム,又は銅とアルミニウムのうち,適合するものを表示する。さ

らに,断面積範囲をクランプサドル上若しくはその近くに表示するか,又は製造業者の取扱説明書などに

明示する。

7.1.3

ヒューズ接触部

ヒューズリンク及びヒューズベースの接触面は,通常の動作中に損なわれないことを検証しない限り,

銀めっきを施す。ヒューズリンクの刃形接触部に銀めっきを施していない場合,8.10.1 に規定するダミー

ヒューズを用いた 8.10 の試験に合格しなければならない。

ヒューズリンクを負荷状態で取外し又は装着する場合,ヒューズの構造,特に,ヒューズ接触部は,損

傷を受けにくいものでなければならない。

7.1.6

ヒューズベースの構造

ヒューズは,動的な短絡に対し,必要な場合は,

表 112 に規定する限流値に適合しなければならない。

ヒューズベースは,使用を意図する全ての保護カバーを含み,8.3 による温度上昇試験に適合しなければ

ならない。

7.1.7

ヒューズリンクの構造

望ましい構造を,次に示す。

刃形接触部は,固体材料製とする。ほかの刃形接触部構造を用いる場合には,製造業者は,その構造が

目的に合うことを実証する。


8

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

交換ハンドルのアタッチメントを除き,

エンドプレートは,

絶縁体から放射状に突き出してはならない。

一部の用途については,グリップラグを充電部から絶縁することが望ましい。

ヒューズリンクは,表示器をもたなければならない。表示器の導電部は,動作中にヒューズリンクから

放出されてはならない。

7.2

絶縁性能及び絶縁適合性

ヒューズ及びヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は,JIS C 60664-1 の過電圧カテゴリ III 及び汚損

度 3 の要求事項に適合しなければならない。

最小空間距離は,

永久充電部でない可触金属部にも適用する。

それらは,ヒューズリンクを取り換える間,減少させてはならない。金属製絶縁グリップラグと充電部と

の間の沿面距離は,定格電圧を

3

で除した値に基づいて選択する。

短時間だけ電圧が印加される絶縁では,金属製絶縁グリップラグの沿面距離は,2 段階低い電圧に相当

する値を用いてもよい。

充電部を支持するヒューズベース絶縁部分は,試液 A を使用して,JIS C 2134 に従って行った PTI 400

の試験に合格しなければならない。

7.7

I

2

t

特性

この項を適用するヒューズリンクの場合,JIS C 8269-1 

表 に規定する最大溶断 I

2

値を最大動作 I

2

t

値に適用する。16 A 未満の定格電流及び 224 A に関する値は,

表 106 による。

表 106−“gG”ヒューズリンクに関する 0.01 s 時の溶断及び動作 I

2

t

I

n

A

I

2

t

min

A

2

s

I

2

t

max

A

2

s

2 1

23

4 6.25

90.25

6 24

225

8 49

420

10 100 576 
12 160 750

224

200 000

520 000

“aM”ヒューズリンクの最大動作 I

2

値は,定格電圧の 1.1 倍の試験電圧において,各同形シリーズの

最大定格電流における試験 No.2(JIS C 8269-1 

表 20)について表 107 による。

表 107−“aM”ヒューズリンクの最大動作 I

2

t

定格電圧  U

n

V

最大 I

2

t

max

A

2

s

  U

n

  ≦ 400

18 I

n

2

 400

<  U

n

  ≦ 500

24 I

n

2

 500

<  U

n

  ≦ 690

35 I

n

2

注記  交流 230 V の場合,最小動作 I

2

値は,12 I

n

2

である。

これらの値は,0.01 秒未満の溶断時間に相当する固有電流に適用する。

7.8

gG”ヒューズリンクの過電流動作協調

定格電流比が 1:1.6,定格電流が 16 A 以上の直列のヒューズリンクは,8.7.4 に規定する値で動作協調

が取れなければならない。


9

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

回路遮断器を使用するときの動作協調については,

表 108 の I

2

値による。

表 108gG ヒューズリンクの動作協調の I

2

t

溶断値

I

n

A

I

2

t

max

A

2

s

I

p

A

16 250 500 
20 450 670 
25 810 900 
32

1 400

1 180

40

2 500

1 580

50

4 000

2 000

63

6 300

2 510

80

10 000

3 160

100

16 000

4 000

125

24 000

4 900

160

42 500

6 520

200

78 000

8 830

7.9

感電に対する保護

ヒューズ接触部に対する仕切壁及びカバーを設けることによって,感電保護を高めることができる。

この規格に従う交換ハンドル又は連結ヒューズキャリヤを用いて,電気的知識をもつ専門家によって,

ヒューズリンクの取付け又は交換を行う場合は,ヒューズリンクは,安全に動作するとみなす。適切な場

合,絶縁カバー及び/又は相分離器を用いてもよい。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.1.4

ヒューズの配置及び寸法

7.2

の要求事項は,ヒューズベースで検証する。ヒューズベースは,

表 105 の範囲で最小及び最大断面積

をもつ導体に接続する。

金属製絶縁グリップラグの場合,7.2 によってヒューズリンクの沿面距離及び空間距離を検証する。空間

距離は,

図 111 による規準ヒューズベースにヒューズリンクを挿入して検証する。

8.1.6

ヒューズホルダの試験

ヒューズホルダは,JIS C 8269-1 に規定する試験に加えて,

表 109 に基づく試験を行う。

表 109−ヒューズホルダの試験の概要及び供試ヒューズホルダ数

箇条に基づく試験

ヒューズホルダ数

3 1 1 1 5

8.5.5.1

ヒューズベースのピーク耐電流の検証

×

×

8.9

耐熱性の検証

×

8.10.1.2

直接端子クランプ

×

8.11.1.2

ヒューズベースの機械的強度

×

8.11.2.4

ヒューズリンク及びヒューズベースの絶縁部分の不劣化

×

注記  ×は,試験を実施することを意味する。


10

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

8.2.2.1

試験電圧印加箇所

JIS C 8269-1

に次を追加する。

e)

金属製絶縁グリップラグと試験ヒューズベースの端子との間。

8.2.3.2

試験電圧値

金属製絶縁グリップラグの絶縁特性は,任意のインパルス耐電圧試験によって確認してもよい。適切な

定格インパルス耐電圧は,ヒューズリンクの定格電圧に応じて,

表 110 による。

表 110−定格インパルス耐電圧

定格電圧

V

定格インパルス耐電圧

kV

400 4 
500 4 
690 6

8.2.3.3

試験方法

波高値が

表 110 の定格インパルス耐電圧で IEC 60060-1 の 1.2/50 μs 電圧波形の正極性及び負極性インパ

ルス電圧を,それぞれ 5 回試験対象に印加する。インパルス間の最小間隔は 1 s とする。

注記 1  別途規定されている場合を除き,インパルス発生器のインピーダンスは,500  Ω 以下とする

ことが望ましい。

注記 2  試験装置の詳細は,IEC 60060-1IEC 60060-2 及び IEC 60060-3 を参照。

8.2.4

試験結果の評価

8.2.4.3

試験中にフラッシオーバ又は穴があいてはならない。部分放電は,無視する。

7.2

の要求事項に適合しない刃形接触部と電気的に接触しない金属製グリップラグをもつヒューズリン

クは,使用中に断路しているとみなさない。ただし,8.9.2 及び 8.11.1.8 の要求事項を満足する必要がある。

8.2.5

耐トラッキング性

ヒューズリンク(ヒューズ本体)及びヒューズベースの充電部を支持する絶縁部分の試験は,試液 A を

使って JIS C 2134 によって行う。5 個の試料を試験し,PTI 400 に合格しなければならない。セラミック性

の絶縁材料は,試験する必要はない。

8.3

温度上昇及びワット損の検証

8.3.1

ヒューズの配置

8.3

及び 8.10 の試験では,端子のねじ又はナットの締付けトルクは,製造業者の指定がある場合は,そ

れによる。製造業者の指定がない場合は,

表 111 による。

2 個以上のヒューズを一緒に試験する場合,2 個のヒューズの中央線が図 101 による e

2

の 3 倍離れるよ

うに試料を木板上の通常の使用状態になるように取り付ける。

試験電流 500 A から 1 250 A で用いる銅の棒は,つや消しの黒に塗装する。


11

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

表 111−端子ねじに加えるトルク

I

n

A

サイズ

ねじのサイズ

トルク

Nm

 160

000

M8

10

 160

00

M8

10

 160

0

a)

 M8  10

 250

1

M10

32

 400

2

M10/M12

32

 630

3

M10/M12

32

 1

000

4

M12

56

 1

250

4a

2×M12/M16 56

a)

  ストライカ付きヒューズリンクを除き,新設備には許容しない。

8.3.2

温度上昇測定

製造業者が用意する保護カバー及びヒューズキャリヤを取り付ける。

8.3.4.1

ヒューズホルダの温度上昇

ダミーは,

図 105 による。温度上昇を測定する箇所は,図 106 に E で示す。

8.3.4.2

ヒューズリンクのワット損

その間でヒューズリンクのワット損を測定する 2 か所は,

図 106 に S で示す。

8.4.3.1

協約不溶断電流及び協約溶断電流の検証

不溶断電流試験で時間−電流特性の検証も行う場合,不溶断試験の試料を b)  の試験に用いる。

8.4.3.5

協約ケーブル過負荷保護(“gG”ヒューズリンクだけ)

注記  JIS C 8269-1 の試験は,周囲温度 30  ℃の代表的な三相用途において,1.45 I

n

で申し分のない結

果をもたらすとみなす。特別試験の詳細は,

附属書 AA に記載がある。

8.5.5

試験方法

次を追加して,JIS C 8269-1 の 8.5.5 を適用する。

8.5.5.1

ヒューズベースのピーク耐電流の検証

そのサイズに関する最大定格を用いたヒューズリンクの遮断容量試験中に,既に検証されている場合に

は,ヒューズベースのピーク耐電流の検証は行う必要はない。

8.5.5.1.1

ヒューズの配置

試験は,単相タイプとする。ヒューズベースの試験セットアップは,JIS C 8269-1 の 8.5.1 と一致しなけ

ればならない。

電流は,それぞれのサイズにおける最大定格のヒューズリンクで制限する。到達した試験電流のピーク

値は,

表 112 に規定する範囲内とする。


12

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

表 112−試験電流

サイズ

限流値

kA

000 22∼24

00 22∼24

0 22∼24 
1 34∼37 
2 44∼48 
3 65∼70

8.5.5.1.3

に規定した要求事項を満たす限り,最大値を超えてもよい。

該当するサイズの最大定格電流のヒューズリンクで,規定の限流値範囲に到達しない場合は,規定の限

流値範囲に適合する別のヒューズを直列に接続して用いる。この場合,供試品には,ダミーヒューズリン

クを装着する。ダミーヒューズリンクの外形寸法は,

図 101 による。

8.5.5.1.2

試験方法

試験は,2 個のヒューズベースで行う。ヒューズベース No.1 の場合には,接触部を一定範囲まで開くた

めに,

図 107 に示した鋼製の焼入れ研磨テストナイフを手で差し込む。この試験は,弾性スプリングの行

程が弾性域に限定されることを確認するために行う。接触部は,3 回開く。機械的止め具がギャップを 7 mm

未満に制限するためにテスト刃形を手で正しく取り付けられない場合は,この試験を省略する。ヒューズ

ベース No.2 は,8.11.1.2 に従って試験する。

表 118 に基づく F

max

の値を遵守しなければならない。これら

の事前試験の後に,上記の電流試験を行う。

8.5.5.1.3

試験結果の評価

ヒューズリンクは,飛び出してはならない。アーク若しくは溶着又はそれ以上のヒューズベースの使用

を妨げるようなほかの損傷があってはならない。接触部の電流による損傷は,許容する。

8.5.8

試験結果の評価

ヒューズ又は電源保護用回路遮断器は,試験中,動作してはならない。

8.7.4

過電流動作協調の検証

記録した試験結果から評価した I

2

値によって,定格電流が 12 A 以下のヒューズの過電流動作協調及び

定格電流が 12 A を超えるヒューズの過電流動作協調比 1:1.6 を検証する。

試験回路及び電流の許容範囲に関する JIS C 8269-1 の 8.5 及び

表 20 に基づく遮断容量試験 No.1 及び No.2

の場合と同様に,試料を配置する。

4 個の試料を試験する。2 個の試料は,最小溶断 I

2

値に基づく固有試験電流実効値 で試験し,残りの

2 個の試料は,動作 I

2

値に対応する固有試験電流実効値 で試験する。

690 V ヒューズの試験電圧は,1.05×U

n

/

3

である。

ほかの全てのヒューズの試験電圧は,1.1×U

n

/

3

である。


13

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

表 113−動作協調試験の試験電流及び I

2

t

範囲

I

n

 

A

最小溶断  I

2

t

最大動作  I

2

t

動作協調比

固有電流

実効値  kA

I

2

t

A

2

s

固有電流

実効値  kA

I

2

t

A

2

s

2 0.013

0.67

0.064

16.4

計算で求める。

4 0.035

4.90

0.130

67.6

6 0.064  16.40

0.220

193.6

8 0.1

40 0.31

390

10 0.13

67.6

0.4

640

12 0.18  130 0.45

820

16 0.27  291 0.55

1

210

1:1.6

20 0.4

640 0.79

2

500

25

0.55

1 210

1

4 000

32

0.79

2 500

1.2

5 750

40

1

4 000

1.5

9 000

50

1.2

5 750

1.85

13 700

63

1.5

9 000

2.3

21 200

80

1.85

13 700

3

36 000

100

2.3

21 200

4

64 000

125

3

36 000

5.1

104 000

160

4

64 000

6.8

185 000

200

5.1

104 000

8.7

302 000

224

5.9

139 000

10.2

412 000

250

6.8

185 000

11.8

557 000

315

8.7

302 000

15

900 000

400

11.8

557 000

20

1 600 000

500

15

900 000

26

2 700 000

630

20

  1 600 000

37

5 470 000

800

26

  2 700 000

50

  10 000 000

1 000

37

  5 470 000

66

  17 400 000

1 250

50

  10 000 000

90

  33 100 000

評価した I

2

値は,表 113 に規定した対応する I

2

範囲内でなければならない。

8.9

耐熱性の検証

これらの試験は,ヒューズリンク及びヒューズベースに適用する。

ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル

ダは,事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 に規定し

ている。通常の温度まで下げた後に,JIS C 8269-1 の 8.5 によって I

1

の遮断容量試験を行う。

有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは,

上記と同じ試験を行う。

これらのヒューズリンクは,

試験電流 I

1

及び I

5

で遮断しなければならない。

8.9.1

ヒューズベース

部品が所定の温度及び引抜力の悪影響を受けないことが明白でない場合には,次の試験を適用する。

8.9.1.1

試験配置

図 105 に基づくダミーヒューズリンクをヒューズベースに取り付けて,例えば,図 108 に規定する測定


14

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

装置からつり下げる。ヒューズベースにダミーを取り付けて(例えば,ロックピンで)固定する方法によ

って熱放散が悪影響を受けてはならない。導体断面積は,定格電流(JIS C 8269-1 

表 17 参照)に依存し,

加熱室外の接続部は,長さが

1 m

以上でなければならない。

測定設備及び接続部のブッシング,その他が適切に封じられるように注意した加熱室又は容量

50 L

以上

の加熱可能なカバーの下に供試品を設置する。

加熱器は,次の試験順序中に試験電流の有無に関係なく

80

0

5

+

℃の温度が維持されるようなものでなけ

ればならない。温度は,ダミーの中心点から水平に

150 mm

離れたところで測定する。

8.9.1.2

試験方法

加熱室の温度を

80

0

5

+

℃に上げて,

2

時間維持する。続いて,許容範囲±

2 %

で,定格電流の約

160 %

電流をダミーに

2

時間通電する。低減した電圧で試験を行ってもよい。

通電後及び電源を切ってから

3

分後に,引張力 F

max

表 118 参照)をダミーに穏やかに

15

秒間加える。

8.9.1.3

試験結果の評価

この試験の後,ヒューズベースの接触片は,ヒューズベースの使用に影響を及ぼすほど移動していては

ならない。ダミーを引き出した後,

図 102 の寸法を考慮しなければならない。ヒューズベースの絶縁取付

部分は,破損してはならず,かつ,亀裂の痕跡があってはならない。

8.9.2

成形材製又は成形材に固定された金属製のグリップラグ付きヒューズリンク

8.9.2.1

試験装置

あるサイズの最大定格のヒューズリンクを,ヒューズベースに取り付ける。ヒューズリンクをそこに固

定して,

図 108 に示した測定装置からつり下げる。

8.9.2.2

試験方法

加熱室の温度を

80

0

5

+

℃に上げて,

2

時間維持する。続いて,ヒューズリンクが溶断するまで定格電流の

150 %

の電流をヒューズリンクに通電するが,試験は協約時間までとする。試験は,低減した電圧で行っ

てもよい。ヒューズリンクが溶断又は協約時間が経過してから

3

分後に,引張力 F

max

表 118 参照)をグ

リップラグに穏やかに約

15

秒間加える。

8.9.2.3

試験結果の評価

グリップラグは,完全に使用可能な状態にとどまらなければならず,特に,ネック部分の長さ

2.5

0

5

.

0

+

 mm

は,

図 101 の寸法 に従って,

2 mm

以下とする。寸法 c

2

の最大値も同様である。

8.10

接触部の不劣化の検証

8.10.1

ヒューズの配置

ダミーヒューズリンクは,

図 105 による。銀めっき刃形接触部をもつダミーヒューズリンクは,銀めっ

き刃形接触部をもつヒューズリンクの典型である。不劣化試験で銀以外のヒューズリンクの刃形接触部の

表面めっきがその要求事項に適合することを実証する場合,

ダミーヒューズリンクの刃形接触部の表面を,

それに応じてめっきする。

ラグ端子のトルクは,

表 111 による。

導体の絶縁物は,長さ全体にわたって取り去る。この試験に限り,接触部及び端子のカバーは,全て取

り去る。

8.10.1.1

接触部

JIS C 8269-1

の 8.10.1 を適用する。

8.10.1.2

直接端子クランプ

次の修正を加えて,JIS C 8269-1 の 8.10.1 を適用する。


15

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

五つのヒューズベースの

10

の直接端子クランプについて試験を行う。

試験装置は,次による。

ヒューズベースの中心間距離を,

図 101 に示した e

2

3

倍以上にして,ヒューズリンクを垂直位置に並

べて取り付ける。アルミニウム導体同様銅を使用する直接端子クランプの試験は,アルミニウム導体で行

う。

製造業者による情報がない場合は,直接端子クランプのねじは,

表 114 によるトルクで締める。

注記 1

トルクは,ねじ山及びねじ頭の摩擦係数 μ

0.12

及び JIS B 1051 による最大の伸び R

p0.2

に基

づく。ねじの軸は,締め付ける間の値の

90 %

で力が加わる。トルクは,

5.6

クラスのねじに

基づく。

注記 2

ラグ端子のトルクは,

表 111 による。

表 114−製造業者による値がない場合に適用するトルク

ねじ山

トルク

Nm

M5 2.6 
M6 4.5 
M8 11

M10 21 
M12 38

銅導体にだけ用いる直接端子クランプは,クリーニング及び保管が必要ないことを除き,アルミニウム

用直接端子クランプのように試験する。さらに,銅クランプの試験は,接触部の試験の一部を行うことが

できる。接触部が

250

サイクル(8.10.2.1 参照)後に要求事項に適合する場合,銅クランプはこの要求事

項を満足するとみなす。

導体断面積は,定格電流に依存する(銅導体は,JIS C 8269-1 

表 17 参照)。

アルミ導体の関係断面積は,

表 115 による。

表 1158.10 に対応した試験用のアルミ導体の断面積

定格電流

A

断面積

mm

2

40 25 
50 25 
63 35 
80 50

100 70 
125 95 
160 95 
200 150 
250 185 
315 240 
400 300

絶縁物を貫通するクランプの場合,クランプ外の絶縁物だけを取り去る。


16

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

六つの導体の接触域を,次のとおりに加工する。

導体を適切な研磨剤で清浄化して,

5

分以下の時間内に接続する。

残りの四つの導体は,絶縁体及びグリースだけを取り去った後,室内に

14

日間保管する。これらの清浄

化していない導体は,接続前に処理してはならない。

クランプのボルトは,製造業者の指示どおりに固定する。試験中,ボルトを再調整してはならない。

アルミニウムより線の場合,試験電流は,できる限り均等に断面に入るようにする。これは,導体の長

さの中間で導体を一つに溶接又は圧接して実現できる。

8.10.2

試験方法

試験サイクルは,協約時間を参照した負荷期間及び無負荷期間からなる。負荷期間及び無負荷期間の試

験電流は,次のとおりに規定している(JIS C 8269-1 

表 参照)。

試験電流:協約不溶断電流 I

nf

負荷期間:協約時間の

25 %

無負荷期間:協約時間の

10 %

定格電圧よりも低い試験電圧を用いてもよい。

無負荷期間中に試料を

35

℃よりも低い温度まで冷却する。追加の冷却(例えば,ファン)を用いても

よい。

温度上昇は,定格電流を通電して,JIS C 8269-1 の 8.10.2 に従って測定する。

50

及び

250

サイクル後,必要な場合は

500

及び

750

サイクル後に電圧降下を測定する。

電圧降下を直流 I

m

(0.05

0.20)

I

nf

で測定する。ただし,電流 I

m

100 μV

以上の電圧降下が得られるよ

うに選択する。必要な場合は,I

m

の上限を

0.30

I

nf

に引き上げてもよい。

測定中の I

m

の許容範囲は,

0

1

+

 %

とする。

電圧降下は,接触部の抵抗に変える。試料は,測定前に室温まで冷却する。測定中の室温 

20

℃か

ら逸脱する場合には,次の式を適用し補正してもよい。

(

)

20

1

20

T

20

+

=

T

R

R

α

α

20

は,導体の材質(アルミニウム又は銅)に基づく関係係数である。

8.10.2.1

接触部

電圧降下を測定する箇所を,

図 106 

A

及び

B

に規定する。

250

及び

750

サイクルの試験の終了時に,引抜力を測定する。そのために,可能な場合には,接触部を

一定範囲まで開くために,

図 107 に規定する鋼製の焼入れ研磨テストナイフを差し込む(8.5.5.1.2 参照)。

その後,8.11.1.2 で規定した焼入れ鋼製試験リンクで引抜力を測定する。試験リンクをヒューズベースに

3

回差し込む。引抜力が

表 118 の範囲内でなければならない。測定値が低すぎる場合,8.5.5.1 に基づく動

的試験を行う。

8.10.2.2

直接端子クランプ

その間で試験試料の電圧降下

ΔU

を測定する箇所は,

図 110 による。導体

F

の測定箇所は,固体導体に

関わる場合には,中央穴あけ箇所又はより線に巻き付けた裸線とする。アルミニウム導体の場合,例えば,

溶接平衡装置(アルミニウムケーブルを切断し,それぞれの部分の導体を互いに溶接し,

2

か所の部分を

溶接し,測定は溶接した部分に穴をあけて行う。

)など,使用に特別な予防策を講じる。

さらに,アルミニウム導体は,サイクル試験開始前の電圧降下を測定する。いかなる場合でも,アルミ

ニウム導体の場合,

750

サイクルの試験を行う。


17

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

全てのタイプの導体(アルミニウム及び銅)の試験順序は,

表 116 による。

表 116−直接端子クランプの試験順序

I

n

時の温度上昇の検証

R

cl 0

の測定

50 サイクル 
R

cl 50

の測定

200 サイクル 
R

cl 250

の測定

I

n

時の温度上昇の検証

250 サイクル 
R

cl 500

の測定

250 サイクル 
R

cl 750

の測定

I

n

時の温度上昇の検証

サイクル試験終了後,温度上昇の検証は,8.3.4.1 によって行う。サイクル試験に用いる取外し絶縁体を

もつ導体は,締め付けたままとする。導体上で測定する温度上昇点

F

は,クランプから

10 mm

離す(

110

参照)

8.10.3

試験結果の評価

許容変化は,試験所の経験に基づくものである。最終的な判定基準は,合致しなければならないが,中

間基準の合計ではない。

8.10.3.1

接触部

250

番目のサイクルの終了時に測定値が次の限度を超えなかった場合,ヒューズベースは,試験に合格

したとみなして,試験を中止してよい。

50

cl

50

cl

250

cl

R

R

R

15 %

250

番目のサイクルの終了時に測定値が上記の限界を超えた場合,試験を続行する。

500

サイクル後に次

の限界を超えてはならない。

250

cl

250

cl

500

cl

R

R

R

30 %

限界を超えた場合,試験は不合格とする。限界を超えなかった場合,

750

サイクルまで試験を続行する。

750

番目のサイクルの終了時に次の限界を超えてはならない。

50

cl

50

cl

750

cl

R

R

R

40 %

最初及び最後に測定した温度上昇の差は,

20 K

未満とする。

8.10.3.2

直接端子クランプ

清浄なアルミニウム導体を用いた試料の抵抗左

R

cl 0

の許容範囲は,次の式による。

R

cl 0 max

2R

cl 0 min

R

cl 50

から

R

cl 750

への抵抗の変化は,

表 117 の値を満足しなければならない。


18

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

表 117−許容する抵抗の変化

許容する変化

%

銅導体又は清浄なアルミニウム導体

清浄でないアルミニウム導体

100

50

cl

50

cl

250

cl

×

R

R

R

15 30

100

250

cl

250

cl

500

cl

×

R

R

R

20 40

100

500

cl

500

cl

750

cl

×

R

R

R

15 30

100

50

cl

50

cl

750

cl

×

R

R

R

40 80

試験スポット

F

で測定した温度上昇は,

75 K

未満とする。

8.11

機械的試験及びその他の試験

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

図 105 のダミーヒューズリンクを取り付けたヒューズホルダの場合,又はヒューズホルダに適合できる

最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には,定格電流を通電して温度上昇試験を

行う。

温度上昇試験の終了後,ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは,該当するヒューズベースに

100

回の

着脱を行う。

これらの試験終了後,全ての部品は損傷することなく,正常に機能しなければならない。

評価は,最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い,得られた値が機械的試験の開始前に行う

温度上昇試験から得られた値を,

5 K

又は

15 %

のいずれか大きなほうを超えないことを検証する。

8.11.1.2

ヒューズベースの機械的強度

ヒューズベース及びその部品の機械的強度は,次の試験によって検証する。

ヒューズベースの接触力を検証する試験は,提供された未使用のヒューズベース

3

個を用いる。表面が

研磨及びクロムめっきされた焼入れ鋼製の試験リンクを,ヒューズベースに

3

回差し込む。ヒューズリン

クの刃形接触部の寸法は,

図 101 に基づく寸法である。

適切な試験装置で一様に引き抜いたときに,引抜力

F

の測定値(

図 108 参照)は,表 118 に規定した範

囲内でなければならない。

表 118−ヒューズベース接触部からヒューズリンクの引抜力

サイズ

引抜力

F

min

N

F

max

N

00 60

250

0 80

300

1 110 350 
2 150 400 
3 210 400


19

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

ヒューズベース接触部がしっかりと着座していることを検証するため,鋼製ねじ(クラス

8.8

)を端子に

固定する。鋼製ねじを製造業者が指定する値の

1.2

倍,又は製造業者の指定がない場合は,

表 111 の値の

1.2

倍のトルクで

3

回締める。

この試験の後,ヒューズベースの接触片は,ヒューズベースの使用に影響を及ぼす以上に移動していて

はならない。ヒューズベースの絶縁取付部分が破損してはならず,かつ,亀裂の痕跡があってはならない。

測定値が低すぎる場合,

ヒューズリンクシステム の 8.5.5.1 に従って試験する。

8.11.1.8

成形材製又は成形材に固定された金属製のグリップラグの耐衝撃性

8.11.1.8.1

試験装置

耐衝撃性を検証する装置は,

図 109 による。ドロップハンマの質量は

300 g

であり,衝撃軸とグリップ

ラグとの間の落下の高さは,

300 mm

である。

8.11.1.8.2

試験方法

1

個のヒューズリンクを

150

±

5

℃で

168

時間保持し,別の

1

個を−

15

℃で

72

時間保持する。加熱した

ヒューズリンクは,動的応力を加える前に室温まで冷却する。冷却した試料の場合,取り出してから応力

をかけるまでの時間間隔は,

1

分以下とする。

ストロークがヒューズリンクの縦軸に平行になるように,試料を

図 109 の試験装置に配置する。各グリ

ップラグを,衝撃箇所がグリップラグネックの中間となる応力を

1

回だけ加える。毎回上部グリップラグ

だけに衝撃による応力がかかるようにする。

8.11.1.8.3

試験結果の評価

グリップラグは,使用を妨げるような損傷があってはならない。衝撃の前後に測定して,各グリップラ

グが

3 mm

を超えて曲がってはならない。さらに,

図 103 に基づくハンドルとの結合を妨げてはならない。

8.11.2.3

耐さび性の評価

8.11.2.3.1

試験は ISO 6988 に従い,

0.2 %

SO

2

SWF 0.2 S

)を含むサイクル湿度環境で

1

サイクル行う。

試験を経済的に行うため,8.10 に従い,接触部の不劣化試験に用いた試料を用いてこの試験を行っても

よい。

8.11.2.3.2

次の試験は,製造業者と使用者とが合意した場合の追加試験である。これは,過酷な環境条件

とみなす。

JIS C 60664-1

による汚損度

3

以上の環境で用いることを意図したヒューズリンク及びヒューズベースは,

SWF 2.0 S

5

サイクル試験する。それに応じて記録する。

8.11.2.4

ヒューズリンク及びヒューズベースの絶縁部分の不劣化

8.11.2.4.1

試験方法

試験する

3

個のヒューズリンク及び

3

個のヒューズベースを,次の温度で保持する。

充電部を支えるように意図された成形エレメントから成るヒューズリンク及びヒューズベースの場合

150

±

5

℃で,カバーの場合は

100

±

5

℃で

168

時間保持する。

封止用コンパウンド及び表示の安定性の場合は,

150

±

5

℃で

1

時間以上保持する。

周囲温度まで冷却した後,次の試験をしなければならない。

ヒューズリンク:JIS C 8269-1 の 8.5 に基づく

I

1

及び

I

2

による遮断容量の検証。

ヒューズベース:8.11.1.2 に基づく機械的強度の検証。

8.11.2.4.2

試験結果の評価

ヒューズリンクを装着するヒューズベースの接触部の位置が,ヒューズリンクの適正な機能に影響を及

ぼすほど変化してはならない。端子を固定している絶縁体が破断してはならず,かつ,破断の痕跡があっ


20

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

てはならない。セメント接合した接合部の機械的強度は,損なわれてはならない。封止用コンパウンドが

充電部を露出させるほど移動していてはならない。ヒューズリンクは,適切に動作しなければならない。

表示は,耐久性があり,かつ,容易に判読できなければならない。

単位  mm

図面は,

注及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。

図 101−刃形接触部をもつヒューズリンク

9)

2)

 10)

3)

4)

キー

A

表示器, 注記を参照

8)

B

接触部

C

エンドプレート

D

停止面

E

Y

部詳細(断面図)

F

丸める

13)

G

接触面

r

 5)

 5

以上

 7)

7)

 7)

 4

以上

 4

以上

 2

以上

b

4

b

1

b

3

b

2

b

1

キー 
 
A

  表示器

8)

B

  接触部

C

  エンドプレート

D

  停止面

E

  Y 部詳細(断面図)

F

  丸める

13)

G

  接触面

サイズ 4 の寸法

X

部詳細


21

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

定格ワット損の最大値 P

n

サイズ gG

aM

交流 400 V

交流 500 V

交流 690 V

交流 400 V 及び 500 V

交流 690 V

I

n

A

P

n

W

I

n

A

P

n

W

I

n

A

P

n

W

I

n

A

P

n

W

I

n

A

P

n

W

000 100

160

6

10

100 
125

7.5
9

63 12

100 7  80 6.5

00 160

12 160

12 100

12

100/160

7/11  160  11

0 160

12 160

16 100

25  160  13  100  10

1 250

18 250

23 200

32  250  18  250  22

2 400

28 400

34 315

45  400  35  400  40

3 630

40 630

48 500

60  630  50  630  53

4

1 000

90

800

90

1 000

80

1 000

80

4a

1 250

90

1 250

110

1 000

110

1 250

110

1 250

110

サイズ

a

1

 

a

2

 

a

3

 

a

4

 

b

1

 

b

2

b

3

b

4

c

1

c

2

 d e

1

e

2

e

3

 

e

4

 f  r

Z

1)

2)

1)

1)

最小 最小 最大 最大

±

5)

最大 最大

±

最大

最小

最大

12)

12)

12)

12)

0.8

6)

6)

 0.2

000 78.5±1.5 54−6 45±1.5 49±1.5 15  4.5

5

12

35 10−1

1

5

.

0

2

48

30

5

2

16

  6 8  1

3

00 78.5±1.5 54−6 45±1.5 49±1.5 15  4.5

5

12

35 10−1

1

5

.

0

2

48

30 20±5  6 15  2

3

0 125±2.5 68−8

3

5

.

1

62

5

.

1

3

68

  15 4.5

5

12

35 11−2

5

.

1

5

.

0

2

48

40 20±5  6 15  2

3

1 135±2.5

75−

10

62±2.5 68±2.5 20  5

6

17

40 11−2

5

.

1

5

.

0

5

.

2

53

52

5

2

20

  6 15  4

5

2 150±2.5

75−

10

62±2.5 68±2.5 25  8

6

22

48 11−2

5

.

1

5

.

0

5

.

2

61

60

5

2

20

  6 15  5

5

3 150±2.5

75−

10

62±2.5 68±2.5 32  11

6

29

60 11−2

5

.

1

5

.

0

5

.

2

76

75

5

2

20

  6 18  7

5

4

7)

 200±3

90

最大

62±2.5 68±2.5 49 19.5

8

45

87 11−2

5

.

1

5

.

0

5

.

2

110 105

5

2

20

  8 25 10

5

4a

11)

200±3

100

最大

84±3 90±3 49 −

8

45 84±3 11−2

5

.

1

5

.

0

5

.

2

110 102 30±10 6  30  10

1)

  寸法 a

1

a

3

a

4

の中心は,a

2

の中心から 1.5 mm を超えて外れてはならない。

2)

  寸法 a

2

は,刃形の両側の停止面(b

2

×4 最小)の全区域内で遵守する。これらの区域外では,a

2

の最大寸法に

代える。

3)

  絶縁材

4)

  刃形接触面は軸方向に整列させ,接触面を平らにする。

5)

  交換用ハンドルの取付部(X 部詳細)。

6)

  半径 のヒューズリンクのエンクロージャの最大寸法。この範囲内でヒューズリンクは,例えば,正方形,

長方形,円形,だ円形,多角形など,任意の形であってよい。

7)

  サイズ 4 のヒューズリンクについては,スロットが必須である。

8)

  表示装置。製造業者が選択した表示装置の位置。

9)

  充電部,グリップラグを絶縁できる。

10)

  交換用ハンドルの取付部(X 部詳細)を除き,端板が絶縁体から放射状に突き出してはならない。

11)

  必ずインタロック装置をもつスイベルユニット(swivel unit)と併用する。

12)

  サイズ 0,1,2,3 の範囲内で定格電流の重複が存在する限り,小さいほうのサイズの寸法でよい。

13)

  全ての角は,ベース接触部の接触面の損傷を防ぐために丸める。

図 101−刃形接触部をもつヒューズリンク(続き)


22

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

図面は,

注及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。

サイズ

g h n

1

 

n

2

 

p

1

 

p

2

 r  s  t 

w

1

 

w

2

 x y z 

±1  ±1.5  最大  最大  最大  ±1.5 最小

最大

最小

7) 

7) 

最小  ±0.5 最大

8) 

7) 

7) 

7) 

00

14)

 47 100 30  38  40  − 17

21

15

56.5±1.5

0±0.7

25±0.7 14  7.5

3

0

13)

 52 150 40  48  48  − 17

25

15

74±3 0±0.7

25±0.7 14  7.5

3

1  53 175 52 60 55 35 17

38

21

80±3 30±0.7 25±0.7 20  10.5

5

2  61 200 60 68 60 35 17

46

27

80±3 30±0.7 25±0.7 20  10.5

5

3  73 210 75 83 68 35 20

58

33

80±3 30±0.7 25±0.7 20  10.5

5

4 100 −

− 27

84

50

97 最小

5

4a

6)

 100 270 102 115  − 40 32

84

50

110±15

45±0.7 30±0.7 36  14

6

図 102−刃形接触部をもつヒューズリンク用ヒューズベース

3) 

キー 

A

仕切壁

B

注記を参照

1)

C

接触部

D

接触面,注記を参照

5)

7)

2)

7)

4)

4)

4)

3

)

キー 
 
A

  仕切壁

B

  区域

1)

C

  接触部

D

  接触面

5)


23

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

サイズ

定格電流

A

定格受容ワット損

W

00

14)

 160  12

0

13)

 160  25

1 250

32

2 400

45

3 630

60

4 1

000 90

4a 1

250 110

単位  mm

サイズ

a

912)

b

9)

c

11)

d±0.25

e±0.5

最小

最小

最小

穴径

ねじ部

00

14)

 20  20  3  9

M8  10

0

13)

 23  20  3  9

M8  10

1 24

25 4

11

M10

12.5

2 28

25 4

11

10)

  M10

10)

 12.5

3 35

30 5

11

10)

  M10

10)

 15

4 45

40 8

14

M12

20

4a 45 40 10 18

M16

20

図 102−刃形接触部をもつヒューズリンク用ヒューズベース(続き)


24

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

1)

  この区域は,充電部とみなす。

2)

  寸法 の最大値は,接触点を規定することを意図したものである。ヒューズリンク(図 101)の b

2

×4 最小の 2

区域の範囲内の一つ以上の接触点でこれを遵守しなければならない。寸法 は,絶縁接触部カバーによっても
よい。

3)

  接触面の高さ。接触面が滑らかではなく,溝付き又は分割されている場合にも,図 101 に基づく刃形接触部を

もつヒューズリンクを差し込むことも可能でなければならない。

4)

  サイズ 4 の寸法。サイズ 4 については,固定ボルトが必須である。ねじ付きのときには M12。

5)

  サイズ 4 を除き,弾性接触面。補助手段による接触力。

6)

  必ずインタロック装置をもつ座金を併用する。

7)

  これらの数値は,ヒューズベースの互換性を要する場合にだけ必要である。

8)

  多極又は単極ヒューズベースアセンブリを組み立てるときには,安全のために,n

1

について規定した最大寸法

に適合した絶縁隔壁(例えば,寸法“g”で推奨される仕切壁)を取り付ける必要がある。

9)

  構造の特徴に関連して大きな“a”及び“b”の寸法,又は寸法“d”及び“e”を遵守した,例えば,丸味又は

円形といった逸脱した形状が許容される。

10)

  通り穴 14 付き M12 が許容される。

11)

  接触部の変形なしで導体接続時の機械的応力に耐えられる場合には,寸法“c”を小さくすることができる。ね

じ部付きタイプは,試験トルク要求事項に適合しなければならない。

12)

  寸法“a”は,接触部の上側で測定する。

13)

  ストライカ付きヒューズリンクを除き,新設備には許容されない。

14)

  サイズ 00 のヒューズベースは,サイズ 00 のヒューズリンクに使用する。

図 102−刃形接触部をもつヒューズリンク用ヒューズベース(続き)


25

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

図面は,示した寸法に関する場合を除き,ハンドルの設計を規制することを意図したものではない。

サイズ

mm

距離

M−M1

mm

M−M2

mm

000 又は 00 14 0±3

0∼3 16

9±5

ハンドル測定に関するヒューズリンクの基本位置は,製造業者が指定している。

セットイン及びブロックアップヒューズリンクの中心 
M1  サイズ 000 又は 00 の場合 
M2  サイズ 0∼3 の場合 
M:結合の中心 
L:ヒューズリンクの差込み及び引抜きについて許容されるリフト 

図 103−交換ハンドル

注*  幾つかの国では最低でも

100 mm 必要

130 以下

125 以下

30 以下

65±0.5

26

以下

92 以上

26

以下

*

R

13.5 以上

R

11 以上


26

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

10

4

gG

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

固有電流

(A

)


27

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

10

4

gG

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

続き

固有電流

(A

)


28

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

 

t  

 s

 

8 A

I

p

 A

 

4

2

6

4

2

6

4

2

6

4

2

4

2

4

10

4

10

3

10

2

10

1

10

0

10

–1

6

10

0

10

1

2

3

4

5

6

2

3

4

5

6

10

2

2

3

4

5

6

10

3

2

3

4

5

6

10

4

2

3

4

5

6

10

5

6

IE

C

  

 1813/06

 

固有電流

(A

)

10

4

gG

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

続き


29

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

 

t  

 s

 

I

p

 A

 

4

2

6

4

2

6

4

2

6

4

2

4

2

4

10

4

10

3

10

2

10

1

10

0

10

–1

6

10

0

10

1

2

3

4

5

6

2

3

4

5

6

10

2

2

3

4

5

6

10

3

2

3

4

5

6

10

4

2

3

4

5

6

10

5

6

12 A

IE

C

   1814/06

 

10

4

gG

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

続き

固有電流

(A

)


30

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 104−“gG”ヒューズリンクの時間−電流ゾーン(続き)

10

4

10

3

10

2

10

1

10

0

10

–1

5

2

5

2

5

2

5

2

5

2

224

2

5

2

5

2

5

10

3

10

4

10

5

I

p

   A 

IEC   487/04 

時間(

s)

固有電流  (A)


31

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

グリップラグの寸法は,

図 101 による。

ほかの寸法は,

図 101 による。

サイズ

l P

a)

R

b)

W

mΩ

直径

00

30.5

0

3

12 0.47  1

7

0

46

0

4

25 0.97  1

6

1

46

0

4

32 0.51  1

8

2

46

0

4

45 0.281  2

8

3

46

0

4

60 0.151  3

9

4

54

0

6

90 0.09  3  12

4a

54

0

6

110 0.07  4  12

a)

  サイズの最大定格電流時。

b)

  グリップラグで測定。許容範囲±2 %と同等。

図 1058.3.4.18.9.1 及び 8.10 に基づくダミーヒューズリンク

b

1

はんだ付け

バー

サイズ  00∼3:銅合金,銀めっき 
サイズ  4 及び 4a:銅,銀めっき


32

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

図 106JIS C 8269-1 の 8.3.4 並びにヒューズシステム の 8.3.4.18.3.4.2 及び 8.10.2 に基づく測定点

単位  mm

図 1078.5.5.1.2 に基づく鋼製の焼入れ研磨テストナイフ

A

A

E

S

S

B

b

1

/2

b

1

丸める


33

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

図 1088.9.1 及び 8.11.1.2 に基づく引抜力を決定するための測定装置の例

サイズ 00 のヒューズベース

他のサイズのヒューズベース

ヒューズリンク,ダミー又はテス
トヒューズリンクのグリップラグ
を取り上げるのに適した寸法

シートメタル

テストナイフ


34

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

図 109−グリップラグの機械的強度を検証するための設備(8.11.1.8 参照)

ドロップハンマ

衝撃軸

ガイドバー

ハンマ質量:300 g

落下高さ:300 mm

X 軸詳細


35

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

1  導体 
2  クランプ 
3  ヒューズベース 
4  ダミーヒューズリンク

図 1108.10.2 による測定箇所


36

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 111−規準ヒューズベース

Z

Z

2.

5:

1

絶縁物

バー

1

±

0.

1

X

2.

5:

1

X

寸法は

1

102

による

9.

5

以上

ma

x

.

c

1

17

以上

7

±

0.

5

S

以下

c

1

絶縁

物カ

バー

寸法は

10

1

及び

102

による。

絶縁物カバー

絶縁物カバー


37

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

a

a

≧3 mm

図 112−絶縁グリップラグのデザイン記号


38

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

附属書 AA

参考)

ケーブル過負荷保護に関する特別試験

注記

ヒューズシステム の 8.4.3.5 の注記参照。

サイズ

00

0

1

及び

2

の定格電流が

16 A

を超えるヒューズは,この附属書に従って試験する。

AA.1

ヒューズの配置

同一定格電流及び同一サイズについて,

3

個のヒューズリンクを,

図 102 に基づく寸法

n

2max

に対応する

極中心間距離でボックスに取り付けた

図 102 に基づくヒューズベースで,試験する。

接続は,ヒューズリンクの定格電流によって決定する。JIS C 8269-1 

表 19 参照。接続ケーブルは,黒

PVC

絶縁銅導体で作る。ヒューズを一つの電源(安定器)に直列に接続する。ヒューズボックス外の周

囲温度は,

30

5

0

℃とする。

注記

製造業者との合意によって,より低い温度を用いてもよい。

ボックスの壁は,厚さ

10 mm

の絶縁材製とする。試験中は,接続ケーブル用の穴を封止する。ボックス

の体積は,次による。

サイズ

000

又は

00

の場合,

 2.5

×

10

3

 m

3

サイズ

0

の場合,

6

×

10

3

 m

3

サイズ

1

の場合,

9

×

10

3

 m

3

サイズ

2

の場合,

 12

×

10

3

 m

3

ボックスの寸法は,ヒューズベースの外囲寸法に対応しなければならない。

AA.2

試験方法及び試験結果の合否

JIS C 8269-1

表 に規定する協約時間の間,

1.13  I

n

に等しい試験電流をヒューズリンクに通電する。

どのヒューズリンクも,作動してはならない。続いて,中断なしに

5

秒以内に試験電流を

1.4  I

n

まで引き

上げる。協約時間内に

1

個のヒューズリンクが作動しなければならない。


39

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

ヒューズシステム B

刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンクを備えたヒューズ

(NH

ヒューズシステム)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の追加要求事項は,

図 201 及び図 202 に規定した寸法に適合する,交換ハンドルなどの装置で交換す

ることを意図した刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンクをもつヒューズに適用する。ヒューズ

の定格電流は,

1 250 A

以下であり,定格電圧は,交流

1 000 V

又は直流

1 500 V

以下である。

ストライカ付きヒューズの動作特性は様々であるため,このヒューズシステムでは,

A

種及び

B

種を区

別する。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

最小定格遮断容量

時間−電流特性

  I

2

t

特性

構造の標準条件

ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

JIS C 8269-1

を適用する。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

ヒューズシステム の 5.2 を適用する。

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流

各サイズの最大定格電流は,

図 201 による。これらの値は,用途区分及び定格電圧によって決まる。

5.3.2

ヒューズホルダの定格電流

各サイズのヒューズベースの定格電流は,

図 202 による。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損

各サイズのヒューズリンクの定格ワット損の最大値は,

図 201 による。これらの値は,ヒューズリンク

の最大定格電流に適用する。ヒューズベースの定格受容ワット損値は,

図 202 による。


40

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

5.6

時間−電流特性の制限

ヒューズシステム の 5.6 を適用する。

5.7.2

定格遮断容量

ヒューズシステム の 5.7.2 を適用する。

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

ヒューズシステム の箇条 を適用する。

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

7.1

機械的設計

ヒューズリング及びヒューズベースの寸法は,

図 201 及び図 202 による。

制御装置及びストライカによって作動する接触部は,次のようにヒューズベース上に固定する。

ヒューズベースが,このヒューズシステムに適合する同一規格のストライカをもつあらゆるヒューズ

リンク,及び

ヒューズシステム に適合するストライカをもたない同一サイズのあらゆるヒューズリ

ンクを組み合わせることができる。

充電部とみなすストライカの突起部の表面と全ての金属部品との間の最小空間距離は,JIS C 60664-1

に適合しなければならない(

図 201 参照)。

7.1.2

端子を含む接続

ヒューズシステム の 7.1.2 を適用する。

7.1.3

ヒューズ接触部

ヒューズシステム の 7.1.3 を適用する。

7.1.7

ヒューズリンクの構造

次を追加して,

ヒューズシステム の 7.1.7 を適用する。

ヒューズリンクのストライカは,表示器とみなす。

7.2

絶縁性能及び絶縁適合性

ヒューズシステム の 7.2 を適用する。

7.7

I

2

t

特性

ヒューズシステム の 7.7 を適用する。

7.8

gG”ヒューズリンクの過電流動作協調

ヒューズシステム の 7.8 を適用する。

7.9

感電に対する保護

ヒューズシステム の 7.9 を適用する。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.1.6

ヒューズホルダの試験

ヒューズシステム の 8.1.6 を適用する。

8.3

温度上昇及びワット損の検証


41

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

ヒューズシステム の 8.3 を適用する。

8.4.3.6

表示器及びストライカの動作(ある場合)

次を追加して,JIS C 8269-1 の 8.4.3.6 を適用する。

動作後,ストライカは固定状態のままでなければならない。

A

種及び

B

種に対するストライカの位置及び力は,

表 201 による。

表 201−ストライカの位置及び力

サイズ

A 種

B 種

0∼4 1∼4a 000 又は 00

S

0max

mm

 1

 1

 1

S

1

 mm

13∼20

最低 10

最低 5.5

位置 0 と 1 との間の F

min

N

 8

 1

 1

位置 1 における F

max

 N

20

20

20

 S

0

: 動作前のストライカの突き出し(位置 0)

 S

1

: 動作後のストライカの飛び出し(位置 1)

  F: ストライカの力

8.5.5.1

ヒューズベースのピーク耐電流の検証

ヒューズシステム の 8.5.5.1 を適用する。

8.7.4

過電流動作協調の検証

ヒューズシステム の 8.7.4 を適用する。

8.9.1

ヒューズベース

ヒューズシステム の 8.9.1 を適用する。

8.9.1.1

試験装置

ヒューズシステム の 8.9.1.1 を適用する。

8.9.1.2

試験方法

ヒューズシステム の 8.9.1.2 を適用する。

8.9.1.3

試験結果の評価

この試験の後,ヒューズベースの接触片は,ヒューズベースの使用に影響を及ぼすほど移動していては

ならない。ダミーを抜き出した後,

図 202 の寸法を考慮しなければならない。ヒューズベースの絶縁取付

部分は,破損してはならず,かつ,亀裂の痕跡があってはならない。

8.9.2.1

試験装置

ヒューズシステム の 8.9.2.1 を適用する。

8.9.2.2

試験方法

ヒューズシステム の 8.9.2.2 を適用する。

8.9.2.3

試験結果の評価

グリップラグは,完全に使用可能な状態にとどまらなければならず,特に,ネック部分の長さ

2.5

5

.

0

0

 mm

は,

図 201 の寸法

d

に従って,

2 mm

以下とする。寸法

c

2

の最大値も同様である。

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

ヒューズシステム の 8.11.1.1 を適用する。

8.11.1.2

ヒューズベースの機械的強度


42

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ヒューズベース及びその部品の機械的強度は,次の試験によって検証する。

ヒューズベースの接触力を検証する試験は,提供された未使用のヒューズベース

3

個を用いる。表面が

研磨及びクロムめっきされた焼入れ鋼製の試験リンクを,ヒューズベースに

3

回差し込む。ヒューズリン

クの刃形接触部の寸法は,

図 201 に基づく寸法である。

適切な試験装置で一様に引き抜いたときに,引抜力

F

の測定値(

図 108 参照)は,ヒューズシステム A

表 118 に規定した範囲内でなければならない。

ヒューズベース接触部がしっかりと着座していることを検証するために,鋼製ねじ(クラス

8.8

)を端子

に固定する。鋼製ねじを製造業者が指定する値の

1.2

倍,又は製造業者の指定がない場合は,

ヒューズシ

ステム の表 111 の値の

1.2

倍のトルクで

3

回締める。ナットを必要とする平形接続の場合,ナットが回

らないように,適切な手段を講じなければならない。

この試験の後,ヒューズベースの接触片は,ヒューズベースの使用に影響を及ぼす以上に移動していて

はならない。ヒューズベースの絶縁取付部分が破損してはならず,かつ,亀裂の痕跡があってはならない。

8.11.1.8

成形材製又は成形材に固定された金属製のグリップラグの耐衝撃性

ヒューズシステム の 8.11.1.8 を適用する。

8.11.2.4.1

試験方法

ヒューズシステム の 8.11.2.4.1 を適用する。


43

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

図面は,

注及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。

図 201−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク

停止線の端から端までの寸法

Y 部詳細(表 201 参照)

X 部詳細

動く 
部分

シース

10

3

.

0

0

c

2

5) 

s

1

s

0

e

1

e

4

e

2

k

c

1

13)

9)

e

3

10)

X

Y

4) 

f

b

d

9)

4)

3) 

a

2

9) 

8) 

s

0

a

3

a

4

5 以上

2 以上

∅4∼8

∅10 以下

m

r

c

1

a'

2

a

1

2.5

0

5

.

0

+

6

3

.

0

0


44

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

最大定格許容ワット損 P

n

サイズ gG

aM

交流 500 V

交流 690 V

交流 500 V

交流 690 V

I

n

A

P

n

W

I

n

A

P

n

W

I

n

A

P

n

W

I

n

A

P

n

W

000

100 7.5  63 12  100  7  80  6.5 
125 9

00 160

12  100 12

100/160

7/11 160 11

0 160

16  100 25 160 13 100

10

1 250

23  200 32 250 18 250

22

2 400

34  315 45 400 35 400

40

3 630

48  500 60 630 50 630

53

4

1 000

90

800

90

1 000

80

1 000

80

4a

1 250

110

1 000

110

1 250

110

1 250

110

図 201−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク(続き)

2.5

±

0.5

8)

7)

150

±2

32

±

0.5

16

±

0.5

7)

サイズ 4 の寸法

32

±0.5


45

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

A


a

1

 

a

2

 a'

2

 

a

3

 

a

4

 b c

1

c

2

 d e

1

e

2

e

3

 

e

4

 f k  l  m r

1) 

2) 

1) 

1) 

12)

±0.8

5) 

最大

6) 

最大

6) 

±0.2  最

0 125±

2.5

68−8  73

0

5

.

1

  62

3

5

.

1

 68

5

.

1

3

  15

35

11−2 2

5

.

1

5

.

0

48

45 20±5

6 15

14.5

14 25±

0.5

2

1 135±

2.5

75−10  79

0

5

.

1

  62±2.5 68±2.5 20

40

11−2 2.5

5

.

1

5

.

0

53

52 20

5

2

6 15

16 14.5

25.5
±0.5

4

2 150±

2.5

75−10  79

0

5

.

1

  62±2.5 68±2.5 25

48

11−2 2.5

5

.

1

5

.

0

61

60 20

5

2

6 15

19 14.5

25.5
±0.5

5

3 150±

2.5

75−10  79

0

5

.

1

  62±2.5 68±2.5 32

60

11−2 2.5

5

.

1

5

.

0

76

75 20

5

2

6 18

24 14.5

25.5
±0.5

7

4 200±

3

90

最大

− 62±2.5 68±2.5 49

87

11−2 2.5

5

.

1

5

.

0

110 105 20

5

2

6 25

27.5

14.5 − 10

B


a

1

 

a

2

 

a

3

 

a

4

 b c

1

 

c

2

 d e

1

e

2

e

3

 

e

4

f k l m'

1) 

2) 

1) 

1) 

最小

12) 

±0.8

5) 

最大

6) 

最大

6) 

±0.2 最大

最小

000 78.5±

2.5

54−6 45±1.5 49±1.5 15  35

10−1 2

5

.

1

5

.

0

48

21 20±5

6

8 0  21.5

16.6
±0.5

1

00 78.5±

2.5

54−6 45±1.5 49±1.5 15  35

10−1 2

5

.

1

5

.

0

48

30 20±5

6

15 0  21.5

16.6
±0.5

2

1 135±

2.5

75−10 62±2.5 68±2.5 20  40

11−2 2.5

5

.

1

5

.

0

53

52 20

5

2

6

15 13.7 20.5 23.5

±0.5

4

2 150±

2.5

75−10 62±2.5 68±2.5 25  48

11−2 2.5

5

.

1

5

.

0

61

60 20

5

2

6

15 16.2 27.3 23.5

±0.5

5

3 150±

2.5

75−10 62±2.5 68±2.5 32  60

11−2 2.5

5

.

1

5

.

0

76

75 20

5

2

6

18 17.0 35.6 23.5

±0.5

7

4a

11) 

200±3 100

最大

84±3 90±3 49 85±2 11−2 2.5

5

.

1

5

.

0

110 102 30±10

6

30 24.0 49.0 23.5

±0.5

10

1)

  寸法 a

1

a

3

a

4

の中心は,a

2

の中心から 1.5 mm を超えて外れてはならない。

2)

  寸法 a

2

は,刃形の両側から少なくとも 4 mm 以上の幅で,刃形の下縁から測定して b

min

/2 の全区域内で遵守

しなければならない。この区域外では,寸法を a

2

について示した値よりも小さくすることができる。

3)

  絶縁材。

4)

  接触面を平らにするか又はリブを設けることができる。

5)

  交換用ハンドルの取付部(X 部詳細)。

6)

  半径 のヒューズリンクのエンクロージャの最大寸法。この範囲内でヒューズリンクは,例えば,正方形,

長方形,円形,だ円形,多角形,その他といった任意の形をとることができる。

7)

  サイズ 4 のヒューズリンクについてはスロットが必須である。

8)

  ストライカ。

9)

  充電部及びグリップラグを絶縁できる。

10)

  交換用ハンドルの取付部(X 部詳細)を除き,端板が絶縁体から放射状に突き出すことは許容されない。

11)

  必ずインタロック装置をもつスイベルユニット(swivel unit)と併用する。

12)

  サイズ 0,1,2 及び 3 の範囲内で定格電流の重複が存在する限り,小さいほうのサイズの寸法が許容される。

13)

  刃形接触部の縁は,丸くするか又は適切な形状にすることができる。

図 201−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク(続き)


46

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

図面は,

注及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。

図 202−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク用のヒューズベース

キー 
A:隔壁

1)

6) 

3) 

4) 

4) 

5)

6)

6) 

7) 

4)

10) 

2) 


47

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

A

単位  mm

サ 

h n

1

 

n

2

 

p

1

 

p

2

 r  s  t 

w

1

 

w

2

 x y 

±1.5

7) 

最大  最大  最大  ±1.5  最小 最大 最小

7) 

7) 

最小

7) 

±0.5

7) 

最大

0  150 44 52 48 − 17 25

15

74+3 0±0.7 25±0.7 14

7.5

3

1  175 52 60 55 35 17 38

21

80+3 30±0.7

25±0.7 20  10.5

5

2  200 60 68 60 35 17 46

27

80+3 30±0.7

25±0.7 20  10.5

5

3  210 75 83 68 35 20 58

33

80+3 30±0.7

25±0.7 20  10.5

5

4

− 27 84

50

97 最小

− 5

B

単位  mm

g h n

1

 

n

2

 

p

1

 

p

2

 r  s  t 

v' w

1

w

2

w

1

  w

2

 x  y  z 

±1

8) 

±1.5

7) 

最大  最大 最大  ±

1.5

最小 最大 最小

7) 

7) 

最小

7) 

±0.5

7) 

最大

00

11) 

47 100  30  38

40  − 17

21

15

56.5+1.5 55−1

0±0.7

25±0.7 14  7.5

3

1  53 175 52 60

55 35 17

38

21

80+3 76−1 30±0.7 25±0.7 20  10.5

5

2  61 200 60 68

60 35 17

46

27

80+3 76−1 30±0.7 25±0.7 20  10.5

5

3  73 210 75 83

68 35 20

58

33

80+3 76−1 30±0.7 25±0.7 20  10.5

5

4a

9)

 100  270  102  115

− 40 32

84

50

110±15

− 45±0.7

30±0.7 36  14

6

サイズ

定格電流

A

定格許容ワット損

W

00

11)

 160  12

0 160

25

1 250

32

2 400

45

3 630

60

4 1

000 90

4a 1

250 110

図 202−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク用のヒューズベース(続き)


48

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

A

サイズ

j

1

 

j

2

 

j

3

 

j

4

 

最小

最大

最小

最大

最小

最大

0 66 10.5 27 30 −

1 75.5

12  27 30 −

2 79.5

15  27 30 −

3 87.5

20  27 30 −

4

− 23.5 −

− 6.5  9

B

サイズ

j

1

 

j

2

 

j

3

 

最小

最大

最小

最大

00

11)

 21.5  0  17.5  19.5

1 20.5

13.7

24.5

26.5

2 27.3

16.2

24.5

26.5

3 35.3

17.0

24.5

26.5

4a 49  24.0 24.5 26.5

1)

  この区域は,充電部とみなす。

2)

  寸法 の最大値は,接触点を規定することを意図したものである。ヒューズリンクの刃形接触部の下縁から

測定して b

min

/2 の範囲内の少なくとも一つの接触点でこれを遵守しなければならない。刃形接触部の上縁で

は,の値を遵守する必要はない。

3)

  接触面の高さ。接触面が滑らかではなく,溝付き又は分割されている場合にも,図 201 に基づく刃形接触部

をもつヒューズリンクを差し込むことも可能でなければならない。

4)

  サイズ 4 の寸法。サイズ 4 については,固定ボルトが必須である。ねじ付きのときには M12。

5)

  サイズ 4 を除き,弾性接触面。補助手段による接触力。

6)

  装置の間隔はストライカによる。ストライカを収納することを意図する機器を備えたヒューズベースは n

2

り大きな寸法であってもよい。

7)

  これらの数値は,ヒューズベースの互換性を要する場合にだけ必要である。

8)

  多極又は単極ヒューズベースアセンブリを組み立てるときには,安全のために,n

1

について規定された最大

寸法に適合した絶縁隔壁(例えば,仕切壁)を取り付ける必要がある。

9)

  必ずインタロック装置をもつスイベルユニット(swivel unit)と併用する。

10)

  v'は縦の停止面の間で寸法を測定する。

11)

  サイズ 00 のヒューズベースは,サイズ 000 及びサイズ 00 のヒューズリンクに使用する。

図 202−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク用のヒューズベース(続き)


49

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

ヒューズシステム C

ヒューズレール(NH ヒューズシステム)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

100 mm

及び

185 mm

母線系統に取り付けるレール設計における,

00

3

サイズのヒューズベースが

ヒュ

ーズシステム によって適切に取り扱えない場合に限り,次の要求事項を追加して,それらに適用する。

2

用語及び定義

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

2.1.301

ヒューズレール(

fuse-rails

一つの装置の中に三つの単極ヒューズベースを縦方向に並べて組み合わたもの。各極の一つの端子(通

常,

“母線端子”という。

)は,三相母線系統の一つの相に特別なクランプを用いるか,又は用いずに直接

に接続される。ほかの端子(

“ケーブル端子”

)は,出力側導体又は入力側導体が接続できるように準備さ

れる。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

ヒューズシステム の 5.2 を適用する。

5.3.2

定格電流

ヒューズレールの各サイズの定格電流は,

図 301 による。

5.5.1

定格受容ワット損

ヒューズレールの定格受容ワット損は,

図 301 による。

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

ヒューズシステム の箇条 を適用する。

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。


50

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

7.1

機械的設計

ヒューズレールの寸法は,

図 301 による。

7.1.2

端子を含む接続

ヒューズシステム の 7.1.2 を適用する。

直接端子クランプをもつヒューズレールは,

表 301 の範囲内の導体を接続できなければならない。

表 301−ヒューズレール用の未加工導体の最小断面積範囲

サイズ

ヒューズレールの定格電流

A

断面積範囲

mm

2

   Cu

Al

00 160  6∼70 25∼95

1 250  25∼120 35∼150 
2 400  50∼250 70∼300 
3 630

規定できる値はない。

7.2

絶縁性能

ヒューズレールの沿面距離及び空間距離は,JIS C 60664-1 の過電圧カテゴリ

III

及び汚損度

3

に関する

要求事項を満たさなければならない。最小空間距離は,常時は電圧が印加されない,接触できる金属部品

にも適用する。沿面距離及び空間距離は,ヒューズリンクの交換時に損なわれてはならない。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.1.6

ヒューズホルダの試験

ヒューズレールは,

表 302 に従って試験を行う。この表は,JIS C 8269-1 の表 14 と置き換える。

表 302−ヒューズレールの試験全体の概括及び供試ヒューズレール数

箇条に基づく試験

ヒューズレール数

1 1 1 2

8.1.4 

ヒューズの配置及び寸法

×

8.2 

絶縁性能及び絶縁適合性の検証

×

8.11.2.2 

耐異常熱及び耐火炎の検証

×

8.11.1.2 

ヒューズベースの機械的強度

×

8.3 

温度上昇及びワット損の検証

×

8.11.1.1 

ヒューズホルダの機械的強度

×

8.3 

温度上昇及びワット損の検証

×

8.10.1.1 

接触部の不劣化

×

8.11.1.2 

ヒューズベースの機械的強度

×

8.5.5.1 

ヒューズベースのピーク耐電流の検証

a)

×

8.9 

耐熱性の検証

b)

×

8.11.2.4 

ヒューズリンク及びヒューズベースの絶縁部分の不劣化

×

8.11.1.2 

ヒューズベースの機械的強度

×

8.10.1.2 

直接端子クランプ(該当する場合)

×

×

8.11.2.3 

耐さび性の検証

×


51

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

表 302−ヒューズレールの試験全体の概括及び供試ヒューズレール数(続き)

注記  ×は,試験を実施することを意味する。 

a)

  8.11.1.2 に従う引張力を満たす場合,不要である。

b)

  相 L1(1 番上の相)のダミーを固定する。

8.3

温度上昇及びワット損の検証

次の変更を加えて,

ヒューズシステム の 8.3 を適用する。

8.3.1

ヒューズの配置

次の変更を加えて,

ヒューズシステム の 8.3.1 を適用する。

ヒューズレールの試験装置は,

図 302 による。

8.5.5.1

ヒューズベースのピーク耐電流の検証

ヒューズレールのピーク耐電流の検証は,8.10 に従う接触部の不劣化の検証によって満足する。試験結

果の評価には,

ヒューズシステム の 8.10.3.1 を適用する。

接触部及び直端子クランプの不劣化の検証の後,8.10.2.1 による引抜力の測定値が

表 118 の数値を下回る

場合,

ヒューズシステム の 8.5.5.1.1 に従ってピーク耐電流の検証を行う。

8.5.5.1.1

ヒューズの配置

ヒューズレールは,三相配置で試験する(ヒューズレールの製造業者の同意を得て,三つの相を直列に

接続して単相試験を行うこともできる。

ヒューズレールの場合,試験電流は

50 kA

で,特定のサイズの最高定格の“

gG

”ヒューズリンクで制限

する。限流は,

ヒューズシステム の表 112 に規定する値を下回ってもよい。

ヒューズレールの試験構成は,

図 302 による。

母線の断面積は,

図 302 によるか,又は製造業者の説明書に従う。

8.5.5.1.2

試験方法

次のように明確化して,

ヒューズシステム の 8.5.5.1.2 を適用する。試験は,一つのヒューズレールの

三つの相で行う。

8.9

耐熱性の検証

ヒューズシステム の 8.9 を適用する。

8.9.1

ヒューズベース

ヒューズシステム の 8.9.1 を適用する。

8.9.1.1

試験配置

ヒューズシステム の 8.9.1.1 を適用する。

8.9.1.2

試験方法

ヒューズシステム の 8.9.1.2 を適用する。

8.9.1.3

試験結果の評価

この試験の後,ヒューズベースの接触片は,ヒューズベースの使用に影響を与えるほど移動していては

ならない。ダミーを抜き出した後,

図 301 の寸法を考慮しなければならない。

ヒューズベースの絶縁取付部分は破損してはならず,かつ,亀裂の痕跡があってはならない。

8.10

接触部の不劣化の検証

次に規定がない場合,

ヒューズシステム の 8.10 を適用する。

8.10.1

ヒューズの配置


52

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

次を追加して,

ヒューズシステム の 8.10.1 を適用する。

試験のために,

図 301 による

1

個のヒューズベースの三つの相を直列に接続する。試験装置は,

図 302

による。

8.10.1.2

直接端子クランプ

次を追加して,

ヒューズシステム の 8.10.1.2 を適用する。

試験は,三つのヒューズレールの九つの端子クランプで行う。

8.11.1.2

ヒューズベースの機械的強度

次を追加して,

ヒューズシステム の 8.11.1.2 を適用する。

新しいヒューズレールの三つの相全てで,接触力を試験する。

測定値が低すぎる場合,8.5.5.1

ヒューズシステム C)による動的試験を行う。

8.11.2.4.1

試験方法

次のように明確化して,

ヒューズシステム の 8.11.2.4.1 を適用する。

一つのヒューズレールを試験する。


53

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

図 301−刃形接触部付きヒューズレール

端子

端子

絶縁バリア

8)

母線

接続

5) 

2) 

3) 

 X1 部詳細 X2 部詳細

Y 部詳細

Z 部詳細

X1

又は X2

X1

又は X2

X1

又は X2

X1

又は X2

2) 

A 種ヒューズレール端子が右側にあるもの

C 種ヒューズレール,端子だけ,B 種の残留部品

m

3

B 種ヒューズレール端子が下側にあるもの


54

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

図面は,

注及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を制限することを意図したものではない。

図 301−刃形接触部付きヒューズレール(続き)

最小

30

最小

30

最小 0

最小 24

最小 24

D 種ヒューズレール,サイズ 00,端子だけ,B 種の残留部品


55

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

設計  サイズ

母線

c

d

1

d

2

h

1

h

2

b)

m

1

a)

m

2

m

3

m

4

m

5

n

2

r

v

d)

z

システム  最大  ±0.5  最小 最小 最大

20

5

±2.5 最大 ±10 ±15 最大 最小  最大 最小

最大

中心寸法

参照 A 00

c)

 100 40

9

16  90 155 100 165

70

17 21 15 56.5±1.5

3

00

c)

 185

175 285 185 280

1 185

60

14

22

35 175 285 185 280

100

17 38 21  80±3 5

2

46 27

3 65

110

20

58

33

参照 B 00

c)

 100 −

9 16 10

90 155 100 165

30

60

17 21 15 56.5±1.5

3

00

c)

 185

175 285 185 280

1 185

14 22 40 175 285 185 280

50

100

17 38 21  80±3 5

2

46 27

3

20 58 33

参照 C 00

c)

 100 −

9 16 25

90 155 100 165

30

25

60

17 21 15

56.5±1.5

3

00

c)

 185

175 285 185 280

1 185

14 22 40 175 285 185 280

40

55

80

17 38 21  80±3 5

2

46 27

3

20 58 53

a)

  ほかの寸法を許容する。その場合,形式試験報告書及び製造業者の文献で記述する。

b)

  最大合計寸法。

c)

  サイズ 00 のヒューズベースは,サイズ 000 及びサイズ 00 のヒューズリンクに使用できる。

d)

  寸法 は,絶縁接触部カバー間と合致してもよい。

サイズ

相ごとの定格電流

A

定格許容ワット損

W

00 160 12

1 250 32 
2 400 45 
3 630 60

2)

3)

5)

 及び

8)

 は,図 102 の注

2)

3)

5)

 及び

8)

 を適用する。

図 301−刃形接触部付きヒューズレール(続き)


56

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単相

三相 

A 種設計 
銅母線の断面積:サイズ 00 又は 1 の場合 30 mm×5 mm 又は 32 mm×5 mm

サイズ 2 の場合 30 mm×10 mm 又は 32 mm×10 mm

サイズ 3 の場合 40 mm×10 mm

8.3.4.1

及び 8.10 による試験:  JIS C 8269-1 の 8.3.1 による接続

8.5.5.1

による試験:  適切なクロスバー及び接続

 
図面は,設計基準及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものでは

ない。

図 302−ヒューズレールの試験配置

接続

接続

クロスバー

クロスバー

クロス

バー

接続


57

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単相

三相 

B 種設計及び C 種設計 
銅母線の断面積:サイズ 00 又は 1 の場合 30 mm×5 mm 又は 32 mm×5 mm

サイズ 2 の場合 30 mm×10 mm 又は 32 mm×10 mm

サイズ 3 の場合 40 mm×10 mm

8.3.4.1

及び 8.10 による試験:  JIS C 8269-1 の 8.3.1 による接続によって交換するクロスバー

8.5.5.1

による試験:  適切なクロスバー及び接続

図 302−ヒューズレールの試験配置(続き)

接続

クロスバー

支持

接続

接続

クロス 
バー

クロスバー

支持


58

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ヒューズシステム D

母線取付用のヒューズベース(40 mm システム)

(NH

ヒューズシステム)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

ヒューズシステム で適切に取り扱われない場合に限り,次の要求事項を追加して,

40 mm

の中心距離

をもつ母線系統用の複合単極ヒューズベースサイズ

00

に適用する。

ほかの母線系統に取り付けるための単

極ヒューズベースサイズ

00

4a

は,

図 102 によるヒューズベース同様に処理する。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

構造の標準条件

ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

2.1.401

40 mm

母線系統用ヒューズベース(

fuse-base for 40 mm busbar systems

特別な締付手段を用いて

40 mm

母線系統上に取り付ける,複合単極ヒューズベース(

図 401 参照)。

注記

このようなヒューズベースは,

3

極ヒューズベース(

図 402)又は“タンデムヒューズベース”

と呼ばれる

1

極当たり二つのコンセントをもつ

3

極ヒューズベース(

図 403)の場合,複数の

ものを一緒に取り付けてもよい。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

ヒューズシステム の 5.2 を適用する。

5.3.2

定格電流

タンデムヒューズベースサイズ

00

の定格電流は,各コンセントに対して

63 A

である。

63 A

は,メータパネルの引込み線区画内で用いるときのタンデムヒューズベースの推奨値である。その

他の用途では,

2

×

160 A

以下の高い電流定格であってもよい。これらは,そのように表示する。また,こ

の規格に従って試験することが望ましい。

5.5.2

タンデムヒューズベースの定格受容ワット損


59

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

コンセント当たり

63 A

の定格電流をもつタンデムヒューズベースの定格受容ワット損は,コンセント当

たり

7.5 W

である。

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

ヒューズシステム の箇条 を適用する。

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

7.1

機械的設計

40 mm

母線系統用ヒューズベースの寸法は,

図 401,図 402 及び図 403 による。

7.1.2

端子を含む接続

ヒューズシステム の 7.1.2 を適用する。

63 A

タンデムヒューズベースサイズ

00

の端子は,

表 401 の範囲内の導体を受け入れることができなけ

ればならない。

製造業者は,文書の中に,タンデムヒューズベースを使用できる母線の寸法及び中心距離を明示しなけ

ればならない。

母線接触部が締付手段,例えば,ねじ付きのフック形留め具によって影響されるときは,構造的手段に

よって,接触要素の機能が損なわれないことを保証しなければならない。

注記

例えば,ISO 1207 によるすり割付きソケット形押さえねじを用いた場合,機能が損なわれるこ

とを防止できる。

表 401−母線取付用ヒューズベースの未加工導体の最小断面積範囲

サイズ

ヒューズベースの定格電流

A

断面積範囲

mm

2

Cu Al

00 63 2.5∼25

7.1.5

母線取付用ヒューズベースの構造

図 401,図 402 及び図 403 による母線取付ヒューズベースは,隣接する充電部相互間に隔壁をもたなけ

ればならない。ヒューズベースは,隔壁が結果的に固定できる設計であることが望ましい。必要な場合,

外壁を固定する手段を講じる。

図 103 による交換ハンドルによって,ヒューズリンクをヒューズベースの中に差し込み,かつ,引き出

すことができなければならない。

12 mm

×

5 mm

及び/又は

12 mm

×

10 mm

の母線寸法をもつ

40 mm

母線系統上の特別なクランプによっ

て,母線取付用のヒューズベースを固定できなければならない。

ヒューズベースが,締付ねじ及び接触ねじを締め付けることなく母線上に保持されることを保証するた

めに,構造的手段を備えなければならない。

締付手段の締付ねじ及び端子ねじは,正面から接近できなければならない。

接触片は,

図 101 によるヒューズリンクの刃形接触部を組み込むことができなければならない。接触圧


60

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

は,ばね式接触片又はほかの適切な手段によって保証しなければならない。

図 401,図 402 及び図 403 で規定していない寸法は,図 102 による。

7.2

絶縁性能及び絶縁適合性

ヒューズシステム の 7.2 を適用する。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.3

温度上昇及びワット損の検証

次の変更を加えて,

ヒューズシステム の 8.3 を適用する。

8.3.1

ヒューズの配置

次の変更を加えて,

ヒューズシステム の 8.3.1 を適用する。

導体を含む試験装置は,

図 404 及び図 405 による。試料の接触部システムにはまる母線の断面積は,

12 mm

×

5 mm

以上とする。ヒューズベースの接触締付をねじによって行う場合,

表 402 に規定するトルクを加

える。

表 402−接触ねじに加えるトルク

I

n

A

サイズ

トルク

Nm

2×63 00

6

8.3.4.1

ヒューズホルダの温度上昇

図 407 で記述するダミーヒューズリンクサイズ

00 63 A

を除き,

ヒューズシステム の 8.3.4.1 を適用す

る。

8.5.5.1.1

ヒューズの配置

図 406 の試験装置は,

40 mm

母線系統用ヒューズベースに適用する。これらのヒューズベースは,常に,

単極配置で試験する。

母線の断面積は,

図 406 によるか,又は製造業者の説明書による。

タンデムヒューズベースの場合,

表 403 の限流の範囲を適用する。

表 403−試験電流

サイズ

限流

kA

00 4∼5

a)

a)

  計器盤の下半分の接続範囲におけるタンデム性能 2×63 A の推

奨値。定格電流 2×00 A をもつほかの性能の場合,9 kA∼11 kA
の間の限流を推奨する。

8.9.1

ヒューズベース

次に特に規定がない限り,

ヒューズシステム の 8.9.1 を適用する。

8.9.1.1

試験装置

タンデムヒューズリンクの試験装置は,

図 405 による。ダミーヒューズリンクは,図 407 による。タン


61

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

デムヒューズベースを試験するときは,測定機器を中心部の上の電流路につるす。試験は,通常,母線で

行う。母線の支持絶縁体を,母線が曲がらないように,試料の幅に合わせる。母線の断面積は,試料の締

付手段に一致させ,かつ,

12 mm

×

5 mm

以上とする。接触締付をねじによって行う場合は,

表 402 を適用

する。

8.9.1.3

試験結果の評価

図 401 及び図 403 に準拠して,ヒューズシステム の 8.9.1.3 を適用する。

8.10

接触部の不劣化の検証

8.10.1

及び 8.10.2 を除き,

ヒューズシステム の 8.10 を適用する。

8.10.1

ヒューズの配置

次を追加して,

ヒューズシステム の 8.10.1 を適用する。

サイズ

00 63 A

用のダミーヒューズリンクは,

図 407 による。

40 mm

母線系統上のヒューズベースの接触締付トルクは,

表 402 による。

8.10.2

試験方法

次を追加して,

ヒューズシステム の 8.10.2 を適用する。

40 mm

母線系統用ヒューズベースの単一接触片に関する限り,抵抗測定のタップ点は,接触部面積にで

きる限り近くする。

8.11

機械的試験及びその他の試験

ヒューズシステム の 8.11 を適用する。

8.11.1.2

ヒューズベースの機械的強度

次を追加して,

ヒューズシステム の 8.11.1.2 を適用する。

接触力は,未使用のヒューズベースの全てのコンセントで行う。引張力は,

表 404 に規定する限界内と

する。

表 404−ヒューズベース接触部からヒューズリンクを引き出す力

サイズ

定格電流

A

引張力

F

min

N

F

max

N

00 63 80

200

a)

a)

  計器盤の下半分の接続範囲におけるタンデムヒューズベース 2×63 A の推奨値。定格電流 2×100 A をもつほ

かのタンデムヒューズベースの場合,電極当たり F

max

=250 N が望ましい。

8.11.2.4.1

試験方法

次のように明確化して,

ヒューズシステム の 8.11.2.4.1 を適用する。

三つのヒューズベースか,又は

1

個のタンデムヒューズベースを試験する。


62

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

サイズ

a v r g h

3)

k e

1

4)

l

4)

±1  最小

±1

2

4

±2.5

00

5)

 33

56.5±1.5

17 47 50 26.5 10 18

1)

  母線の上端と挿入するヒューズリンクのベアリングショルダとの間の寸法 78

2
3


図 101 の c

1

及び e

3

の寸法

による。

2)

  母線取付用ベースは,母線上に置いてもよい。

3)

  金属板に用いる望ましい寸法。

4)

  平らな接続だけ。

5)

  サイズ 00 のヒューズベースは,サイズ 000 及びサイズ 00 のヒューズリンクに使用できる。

図 401−母線取付用ベース,

上部接続の説明 O

下部接続の説明 U

1)

キー 
 
A

接続片

B

仕切壁

C

充電部金属部区域及びほかの構成部品

D

接触部

2)

E

保護シールド

27

以下

65

以下

65

以下


63

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

サイズ

a v r g h

3)

k e

1

4)

l

4)

±1  最小

±1

2

4

±2.5

00

5)

 33

56.5±1.5

17 47 50 26.5 10 18

1)

5)

 は,図 401 の注

1)

5)

 を適用する。

図 402−母線取付用ベース,

上部接続の説明 O

下部接続の説明 U

A

  接続片

B

  仕切壁

C

  充電部金属部区域及びほかの構成部品

D

  接触部

2)

E

  保護シールド

1)

27

以下

65

以下

 65

以下


64

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

サイズ

a v r g h

3)

e

1

4)

l

4)

±1  最小

±1

2

4

00

5)

 33

56.5±1.5

17 47 50 10 18

1)

5)

 は,図 401 の注

1)

5)

 を適用する。

図 403−母線取付用ベース,サイズ 002×極(タンデムヒューズベース)

上部及び下部接続の説明 O 及び U

キー 
 
A

接続片

B

仕切壁

C

充電部金属部区域及びほかの構成部品

D

接触部

2)

E

保護シールド

F

保護カバー

1)

27

以下

65

以下

65

以下


65

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

キー 
1

  単極(3 極を組み合わせてもよい)

2

  接続部

3

  それぞれ長さ 1 m のケーブル

図 4048.3.1 による母線取付用単極及び 極ヒューズベースの試験配置

単位  mm

キー 
1

  タンデム配置した 2 台の単極ヒューズベース

2

  接続部

3

  それぞれ長さ 1 m のケーブル

図 4058.3.1 による母線取付用タンデム配置の 台の単極及び

6

台の単極ヒューズベースの試験配置

1

3

1

2

2

3

2

1


66

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

図 406−ピーク耐電流の定義の試験配置

単位  mm

グリップラグの寸法及びほかの寸法は,

ヒューズシステム の図 101 による。

サイズ

I

n

l P

a)

R

b)

バー

 A  W

mΩ

寸法

00 63

30.5

0

3

7.5 1.88  1  3.5

a)

  I

n

は第 2 列を参照。

b)

  グリップラグを測定し,許容差±2 %でと同等。

図 407−ダミーヒューズリンク

キー 
1

  単極の試料(又は,多極試料の 1 極)

2

  支持

3

  クランプ端子のためのアダプタが必要

になる。

4

  電源

1

2

3

4

キー 
1

  はんだ付け

2

  CuMn12Ni

3

  銀めっきした銅合金

1

2

3


67

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

ヒューズシステム E

ボルト締め接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ

(BS

ボルト締めヒューズシステム)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の追加要求事項は,ボルト締め接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズに適用する。ヒューズ

の定格電流は,

1 250 A

以下のものとし,定格電圧は交流

690 V

又は直流

500 V

以下のものとする。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

最小定格遮断容量

時間−電流特性

  I

2

t

特性

構造の標準条件

ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

JIS C 8269-1

を適用する。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流

各形の最大定格電流は,

図 501 による。

5.3.2

ヒューズホルダの定格電流

各形のヒューズホルダの最大定格電流は,

図 502 による。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損

ヒューズリンクの定格ワット損の最大値は,

図 501 による。

8.3.1

による定格電流試験時のヒューズホルダの定格受容ワット損値は,

図 502 による。

5.6

時間−電流特性の制限

5.6.1

時間−電流特性,時間−電流ゾーン及び過電流曲線

ゲート並びに協約時間及び協約電流によって示される溶断時間の範囲は,製造誤差範囲を除き,時間−

電流ゾーンとして

図 503 及び図 504 に示す。時間−電流特性の誤差範囲は電流値で±

10 %

でなければなら

ない。


68

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

5.6.2

協約時間及び協約電流

JIS C 8269-1

の値のほか,協約時間及び協約電流は,

表 501 による。

表 501−“gG”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流

定格電流  I

n

協約時間

協約電流

A h I

nf

I

f

I

n

<16 1 1.25

I

n

 1.6

I

n

5.6.3

ゲート

gG

”ヒューズリンクは,

表 502 及び JIS C 8269-1 に規定するゲートを適用する。

表 502−“gG”ヒューズリンクの規定された溶断時間に関するゲート

I

n

I

min

(10 s)

I

max

(5 s)

I

min

(0.1 s)

I

max

(0.1 s)

2  3.4 5.0 4.6 7.5 
4

6.5 10.5 10.0 18.5

6  10.0 18.0 17.0 35.0

10  18.0 36.0 35.0 60.0

5.7.2

定格遮断容量

定格遮断容量は,交流

80 kA

及び直流

40 kA

とする。

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

6.1

ヒューズホルダの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ

定格電流及び定格電圧の表示は,ヒューズリンクが取り付けられていないときに正面から識別できなけ

ればならない。

6.2

ヒューズリンクの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ又は関連コード

定格遮断容量

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

7.1

機械的設計

ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は,

図 501 及び図 502 による。

7.1.2

端子を含む接続

検討中。

7.2

絶縁性能及び絶縁適合性

ヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は,JIS C 60664-1 の過電圧カテゴリ

III

及び汚損度

3

の要求事


69

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

項に適合しなければならない。

7.9

感電に対する保護

図 502 に基づく標準ヒューズホルダを用いる場合には,感電に対する保護の程度は

3

段階全てについて

IP2X

以上でなければならない。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.3

温度上昇及びワット損の検証

8.3.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクの試験装置は,

図 505 による。試験装置は,垂直に取り付けなければならない。

8.3.3

ヒューズリンクのワット損の測定

ワット損の測定点は,

図 505 による。

8.4

動作の検証

8.4.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクの試験装置は,

図 505 による。試験装置は,垂直に取り付けなければならない。

8.5

遮断容量の検証

8.5.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクの試験装置は,

図 506 による。

8.5.8

試験結果の評価

JIS C 8269-1

の要求事項を適用し,更に,細いヒューズ線の溶解及び装置の機械的損傷がなく,ヒュー

ズリンクが動作しなければならない。

8.9

耐熱性の検証

ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル

ダは,事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は,JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 に規定

している。通常の温度まで下げた後に 8.5 によって

I

1

の遮断容量試験を行う。

有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは,

上記と同じ試験を行う。

これらのヒューズリンクは,

試験電流

I

1

及び

I

5

で遮断しなければならない。

8.10

接触部の不劣化の検証

JIS C 8269-1

の 8.10 を適用する。

8.10.1

ヒューズの配置

次を追加して JIS C 8269-1 の 8.10.1 を適用する。

ダミーヒューズリンクは,

図 501 に適合した寸法のもので,図 502 に規定する標準ヒューズホルダに装

着できるものでなければならない。

ダミーヒューズリンクのワット損は,

図 505 に規定する標準ワット損試験装置で試験したときに,図 502

に規定するヒューズホルダの定格受容ワット損でなければならない。

ダミーヒューズリンクは,過負荷電流

I

nf

が流れている間は作動しない構造でなければならない。

8.10.2

試験方法

次の事項のほかに,JIS C 8269-1 の 8.10.2 を適用する。

JIS C 8269-1

の 8.10.2 の第

1

段落の後に,次の語句を追加する。

次の試験値を適用しなければならない。


70

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

    試験電流:協約不溶断電流

I

nf

    通電時間:協約時間の

25 %

    休止時間:協約時間の

10 %

定格電圧よりも低い試験電圧を用いてもよい。

8.10.3

試験結果の評価

250

サイクル後に測定した温度は,

試験開始時に測定した値に対し,

上昇値が

15 K

を超えてはならない。

必要な場合,

750

サイクル後に,温度は,試験開始時に測定した値に対し,上昇値が

20 K

を超えてはな

らない。

8.11.1

機械的強度

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

ヒューズホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には,定格

電流を通電して温度上昇試験を行う。

温度上昇試験の終了後,ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは,該当するヒューズベースに

100

回の

着脱を行う。

これらの試験終了後,全ての部品は損傷することなく,正常に機能しなければならない。

評価は,最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い,得られた値が機械的試験の開始に先立つ

温度上昇試験から得られた値を,

5 K

又は

15 %

のいずれか大きなほうを超えないことを検証する。


71

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

図面は,

注及び示す寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。

図 501−ボルト締め接続形ヒューズリンク−形,形,形及び 

サイズ B ヒューズリンク

サイズ D ヒューズリンク

サイズ A ヒューズリンク

サイズ C ヒューズリンク


72

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

サイズ

最大

最大

a b d e 

g  h  j  k  l  m 

定格電流  ワット損 最大  最大  最大

最大

最大

公称

公称

最小

最大

公称

最大

 A W

a) b) 

c) 

c) 

b) d) 

a) 

A1 20 2.7

36.5

14.5

56

11.2

0.8

1.5

44.5

4.2

5.5

14.5

− 36.5

A2 32 4.4

57

24

86

9.2

0.8

1.5

73

5.5

7

25.5

− 60

A3 63 6.9

58

27

91

13

1.2

1.6

73

5.5

7

28

− 61

A4 100  9.1

70

37

111

20

2.4

3.2

94

8.7

9.5

38.5

− 74

B1 100 9.1

70

37

138

20

3.2

4

111

8.7

11

− 82

B2 200 17

77

42

138

20

3.2

4

111

8.7

11

− 82

B3 315 32

77

61

138

26

3.2

4.8

111

8.7

11

− 82

B4 400 40

83

66

138

26

4.8

6.6

111

8.7

11

− 89

C1 400 40

83

66

212

26

4.8

6.6

133

10.3

11

− 25.4

95

C2 630 55

85

77

212

26

6.3

7.8

133

10.3

11

− 25.4

95

C3 800 70

89

84

212

39

9.5

11.1

133

10.3

12.5

− 25.4

101

D1 1

250 100  89

102

200

64 9.5

12.7

149 14.3

16.5

− 31.8

95

a)

  全てのサイズにおいて,寸法 は,リベット頭といった突起物を含むが,寸法 と との間の端子の設計は,

接触面に対して 45°の角度で引かれた線によって限定される。

b)

  全ての取付穴は,寸法 に関する製造公差を考慮して によって示すとおりに延長されている。

c)

  寸法 及び は,公称材料サイズであり,原材料に関する関係規格に規定された製造公差を条件とする。

d)

 A1 から A4 の形のヒューズリンクの場合,取付穴を軸方向又は横方向に延ばして,開放溝としてもよい。

標準  “gM”ヒューズリンク

サイズ

標準定格

電流定格

A

特性定格

A

A1 20M25  20  25

20M32 20  32

A2 32M40  32  40

32M50 32  50 
32M63 32  63

A3 63M80  63  80

63M100 63  100

A4 及び B1 100M125

100

125

100M160 100

160

100M200 100

200

B2 200M250 200  250

200M315 200

315

注記  “gM”ヒューズリンクのワット損は,同一寸法基準の“gG”ヒューズリ

ンクについて示す値よりも低い。

図 501−ボルト締め接続形ヒューズリンク−形,形,形及び 形(続き)


73

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

注記  ヒューズキャリヤは,同軸端子形又は段違い端子形のヒューズリンクを装着できる。

注記  カバーの隙間は,IP2X の保護の程度(JIS C 0920)を保持するものである。

単位  mm

最大定格電流

定格受容ワット損

A B B

1

C D 

ヒューズリンク

A W

最大

最大

最大

最大

サイズ

20 2.7

30

91

110

62

44.5

A1

32 4.4

35

114

134

75

73

A2

63 6.9

47

140

140

91

73

A3

100 9.1

61

175

175

121

94

A4

200 17.0 86

233

310

159

111

B1+B2

注記  この図は,実例として示すものであり,上記の寸法の範囲内に収まる限り,ほかの形状又は形式の使用を妨

げない。

図 502−代表的なヒューズホルダ

ヒューズリンク取付中心

ヒューズキャリヤ

ヒューズシステム E:ボルト締め接触部をも

つヒューズリンク

ブレード接点

固定接触部

ヒューズベース

接触部カバー


74

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

50

3

gG

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

固有電流

(A

)


75

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

固有電流

(A

)

50

4

gG

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン


76

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

ヒューズリンクの

サイズ

寸法

定格電流

A(以下)

a b c d m t 

A1 10

12.5

16

50

38

0.5

20

A2 10

12.5

16

50

61

0.5

32

A3 16

12.5

16

50

62

1.0

63

A4 20

25

25

70

75

1.6

100

B1 20

25

25

70

83

1.6

100

B2 20

25

25

70

83

5 200

B3 25

38

25

80

83

8 315

B4 25

38

25

80

90

10 400

C1 25

38

25

80

96

10 400

C2 32

38

25

80

96

12 530

C3 40

45

32

100

101

12 800

D1 80

60

45

160

96

10

1

250

注記  近似寸法が許容される。

図 505−ワット損試験装置

等間隔

  高導電銅導体

ヒューズリンクの形

に適合する固定ボルト

すずめっき又は

銀めっきすべき
接触面

絶縁基板

つや消し黒仕上げ

絶縁クランプ

ワット損を決定

するための電圧 
測定点

試験導体の終端に 
適した穴径


77

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

ヒューズリンクの形別

最大定格電流

寸法

A

a b c d e f g h j 

A1∼A4 400

187

127

25

36.5

38

12

114

M12

111

B1∼B

C1∼C3 800

248

140

38

51

50

20

114

M20

159

D1 1

250

305

152

63

83

57

20

114

M24

159

図 506−ボルト締め接触部をもつヒューズリンクの遮断容量試験装置

7) 

19

以下

8) 

3) 

1)

9)

4)

6)

5)

2)

10)

19

以下


78

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

1)

  適切な剛性を確保する厚さの編組金網,軟鋼板又は有孔軟鋼板で作られた着脱式カバー。金網又は有孔軟鋼

板の個々の孔は,面積が 8.5 mm

2

以下でなければならない。カバーと充電金属部との間の空間距離が 19 mm

以下である場合は,カバーの断面を図に示すものとは違うものにすることができる。

2)

  高導電銅製の接続スタッド。

3)

 A1∼A3 のヒューズリンクの固定中心部には,断面積が 25 mm×6.3 mm 以上の適切なアダプタを用いなけれ

ばならない。

4)

  両端のキャップを接続金具で支えないようにするために,この位置で目に見える隙間が不可欠である。

5)

  試験装置を超えた試験接続部の配置は,指定していない(JIS C 8269-1 の 8.5.1 の第 2 段落は適用しない。)。

銅導体の大きさは,定格遮断容量に従って選択しなければならない。

6)

  ベースは曲げ強さが 85 MPa 以上の積層板を接合したフェノール樹脂製でなければならない。

7)

  銅板

8)

  細いヒューズ線用端子。この端子及び試験電源の一つの極に,50 mm 以上の自由長で直径約 0.1 mm の銅製の

細いヒューズ線を接続する。

9)

  面取り部

10)

  固有電流試験に必要な短絡導体。これは,開路を容易にするために溝付きにしてもよい。銅導体の大きさは,

定格遮断容量に基づいて選択しなければならない。

図 506−ボルト締め接触部をもつヒューズリンクの遮断容量試験装置(続き)


79

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

ヒューズシステム F

円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ

(NF

筒形ヒューズシステム)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の追加要求事項は,

125 A

以下の定格電流及び交流

440 V

以下又は直流

690 V

以下の定格電圧用の

601

及び

図 603 による寸法に適合する,ストライカ付き又はストライカなし円筒形キャップ接触部をもつ

ヒューズリンクを用いるヒューズに適用する。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

最小定格遮断容量

時間−電流特性

  I

2

t

特性

構造の標準条件

ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

JIS C 8269-1

を適用する。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

交流の場合,定格電圧の標準値は

400 V

500 V

及び

690 V

とする。直流の場合,定格電流は

250 V

440V

及び

500 V

とする。直流定格電圧の標準値は,交流定格電圧の標準値とは関連しない。例えば,次の基準

値の組合せが可能である。交流

500 V

及び直流

440 V

,交流

690 V

及び直流

440 V

など。

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流

ヒューズリンクの最大定格電流は,

表 601 による。これらの値は,使用カテゴリ及び定格電圧によって

異なる。


80

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

表 601−円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクの最大定格電流 I

n

単位  A

サイズ

交流 400 V

交流 500 V

交流 690 V

gG aM gG aM gG aM

  8×32 25 12 −

10×38  32 32  25 20 16 12 
14×51

− 50 50 50 40

22×58

− 100 100  80  80

注記  定格電流が高いヒューズリンクが存在してもよい。

5.3.2

ヒューズホルダの定格電流

ヒューズホルダの最大定格電流は,

表 602 による。

表 602−ヒューズホルダの最大定格電流

サイズ

I

n

A

  8×32 25 
10×38 32 
14×51 50 
22×58 100

注記  定格電圧が高いヒューズリンクの使用については,製

造業者と使用者との協定による。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損

ヒューズリンクの定格ワット損最大値は,

表 603 による。

表 603−ワット数で示されたヒューズリンクの最大定格ワット損

 gG  aM

寸法

交流  400 V

交流  500 V

交流  690 V

交流  400 V

交流  500 V

交流  690 V

I

n

P

n

I

n

P

n

I

n

P

n

I

n

P

n

I

n

P

n

I

n

P

n

A W A W A W A W A W A W

  8×32 20

25

2.3 
2.5

− 10

12

0.6 
0.8

10×38 32

3.0

20

 25

2.8 
3.0

16 2.2 25

32

1.3 
2.0

 16 
 20


1.2

12 0.9

14×51

50  5.0  40

50

4.6 
5.0

40

 50

2.9 
3.2

32 
40

2.3 
2.9

22×58

− 100  9.5  63

80

7.3 
8.5

− 100  7.0  63

80

5.3 
6.8

注記  ワット損は,ヒューズリンクの最大ワット損,及び同時にヒューズベース又はヒューズホルダによって許容

される最小ワット損を示す。

ヒューズベースの定格受容ワット損最大値は,

表 604 による。


81

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

表 604−ヒューズホルダの定格受容ワット損

サイズ

8×32 10×38 14×51 22×58

定格受容ワット損

2.5 W

3 W

5 W

9.5 W

5.6

時間−電流特性の制限

5.6.1

時間−電流特性,時間−電流ゾーン及び過電流曲線

適用する場合,試験で測定した全ての溶断及び動作時間は,許容範囲を含めて

ヒューズシステム の図

104

に規定する時間−電流ゾーンを満たさなければならない。

5.6.2

協約時間及び協約電流

JIS C 8269-1

の値に加えて,協約時間及び協約電流は,

表 605 による。

表 605−定格電流が 16 A 未満の“gG”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流

定格電流  I

n

協約時間

協約電流

A h I

nf

I

f

    I

n

  ≦ 4

1

1.5 I

n

 2.1

I

n

 4

< I

n

  < 16

1

1.5 I

n

 1.9

I

n

5.6.3

ゲート

gG

”ヒューズリンクは,JIS C 8269-1 のゲートに加えて,

表 606 に規定するゲートを適用する。

表 606−定格電流が 16 A 未満の“gG”ヒューズリンクの規定溶断及び動作時間に関するゲート

I

n

A

I

min

(10 s)

A

I

max

(5 s)

A

I

min

(0.1 s)

A

I

max

(0.1 s)

A

2 3.7

9.2

6.0

23.0

4

7.8 18.5 14.0 47.0

6  11.0 28.0 26.0 72.0 
8  16.0 35.2 41.6 92.0

10 22.0

46.5

58.0

110.0

12 24.0

55.2

69.6

140.4

5.7.2

定格遮断容量

最小定格遮断容量は,

表 607 による。

表 607−最小定格遮断容量

定格電圧 U

n

最小定格遮断容量

交流

  U

n

  ≦ 500 V

100 kA

 500

V

< U

n

  ≦ 690 V

50 kA

直流

  U

n

  ≦ 750 V

25 kA

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

このヒューズシステムの要求事項及び試験を満たすヒューズリンク及びヒューズホルダは,

JIS C 8269-2


82

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

を表示できる。

6.1

ヒューズホルダの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ

6.2

ヒューズリンクの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ又は関連コード

定格遮断容量

ヒューズリンクには,

表 608 に規定するとおりの表示を付けなければならない。

表 608−ヒューズリンクの表示

特性 gG

aM

表示の色

印刷の種類

反転印刷の帯

通常印刷

反転印刷の帯

通常印刷

電圧

400 V

×

×

500 V

×

×

690 V

×

×

注記  ×は,表示することを意味する。

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

7.1

機械的設計

ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は,

図 601 及び図 603 による。

ストライカ付きヒューズリンクは,

図 602 による寸法に適合しなければならない。

7.1.2

端子を含む接続

端子は,

表 609 による断面積を受け入れられるものとする。

表 609−剛性銅導体の最小断面種範囲

サイズ

8×32 10×38 14×51 22×58

断面積 mm

2

 1.5∼4 1.5∼6 2.5∼16 4∼50

端子の例は,IEC 60999-1 及び IEC 60999-2 による。

7.2

絶縁性能及び絶縁適合性

ヒューズ部品の沿面距離及び空間距離は,JIS C 60664-1 の過電圧カテゴリ

III

及び汚損度

3

の要求事項

に適合しなければならない。

7.7

I

2

t

特性

この項が適用されるヒューズリンクの場合,JIS C 8269-1 

表 に示された最大溶断

I

2

t

値を最大動作

I

2

t

値に適用する。

16 A

未満の定格電流に関する値は,

表 610 による。


83

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

表 610−“gG”ヒューズリンクに関する 0.01 s 時の溶断及び動作 I

2

t

I

n

A

溶断 I

2

t

min

A

2

s

動作 I

2

t

max

A

2

s

2 1

23

4 6

90

6 24

225

8 49

420

10 100

576

12 160

750

aM

”ヒューズリンクの最大動作

I

2

t

値は,定格電圧の

1.1

倍の試験電圧の下において,各同形シリー

ズの最大定格電流における試験

No.2

JIS C 8269-1 

表 20)について,表 611 の規定による。

表 611−“aM”ヒューズリンクの最大動作 I

2

t

定格電圧  U

n

V

最大 I

2

t

max

A

2

s

    U

n

  ≦ 400

18 I

n

2

 400

<  U

n

  ≦ 500

24 I

n

2

 500

<  U

n

  ≦ 690

35 I

n

2

注記  交流 230 V の電圧の場合,最大動作 I

2

値は,12 I

2

n

である。

これらの値は,

0.01

秒より小さい溶断時間に相当する固有電流に適用する。

7.8

gG”ヒューズリンクの過電流動作協調

定格電流比が

1

1.6

,定格電流が

16 A

以上の直列のヒューズリンクは,8.7.4 に規定された値で動作協

調がとれなければならない。

7.9

感電に対する保護

感電に対する保護は,仕切壁及びヒューズ接触部のカバーによって高めることができる。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.1.6

ヒューズホルダの試験

ヒューズホルダは,JIS C 8269-1 に規定する試験に加えて,

表 612 に基づく試験を行う。

表 612−ヒューズホルダの試験の概括及び供試ヒューズホルダ数

項に基づく試験

ヒューズホルダ数

3 1 1 1 5

8.5.5.1

ヒューズベースのピーク耐電流
の検証

×

×

8.9

耐熱性の検証

×

8.10

接触部の不劣化の検証

×

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

×

注記  ×は,試験を実施することを意味する。


84

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

8.3.1

ヒューズの配置

端子のねじは,

表 613 によるトルクを加えて締める。

表 613−端子ねじに適用するトルク

ねじ部の呼び径

mm

トルク

Nm

I II III IV V

2.8 以下 0.2

− 0.4 0.4  −

 2.8 を超え 3.0 以下 0.25

− 0.5 0.5  −

 3.0 を超え 3.2 以下 0.3

− 0.6 0.6  −

 3.2 を超え 3.6 以下 0.4

− 0.8 0.8  −

 3.6 を超え 4.1 以下

0.7 1.2 1.2 1.2 1.2

 4.1 を超え 4.7 以下

0.8 1.2 1.8 1.8 1.8

 4.7 を超え 5.3 以下

0.8 1.4 2.0 2.0 2.0

 5.3 を超え 6.0 以下

1.2 1.8 2.5 3.0 3.0

 6.0 を超え 8.0 以下

2.5 2.5 3.5 6.0 4.0

 8.0 を超え 10.0 以下

− 3.5 4.0

10.0 6.0

 10.0 を超え 12.0 以下

− 4.0  −

− 8.0

 12.0 を超え 15.0 以下

− 5.0  −

− 10.0

ねじ又はナットを緩めるときには,その都度,導体を移動する。

I

は,締めたときにねじが穴から突き出ない場合の頭なしねじ,及びねじの直径よりも幅が広い刃形

をもつねじまわしでは締めることができないほかのねじに適用する。

II

は,ねじまわしで締めるマントル端子のナットに適用する。

III

は,ねじまわしで締めるほかのねじに適用する。

IV

は,ねじまわし以外の手段で締めるマントル端子のナット以外のねじ及びナットに適用する。

V

は,ねじまわし以外の手段で締めるマントル端子のナットに適用する。

8.3.4.1

ヒューズホルダの温度上昇

ダミーヒューズは,

図 601 の寸法及び表 604 による定格受容ワット損をもたなければならない。

8.3.4.2

ヒューズリンクのワット損

その間でヒューズリンクのワット損を測定する

2

か所は,

図 601 

S

で示す。

8.4.3.6

表示器及びストライカの動作(ある場合)

次を追加して,JIS C 8269-1 の 8.4.3.6 を適用する。

S

0

)動作前にストライカの突出は

1 mm

を超えてはならず,動作後,

7 mm

10 mm

S

1

)でなければな

らない。

図 602 参照。

最大限界の全ての点でストライカの力は

2.5 N

以上でなければならず,動作終了時に

20 N

を超えてはな

らない。

動作後,ストライカは固定状態のままでなければならない。

ストライカ付きヒューズリンクは,ストライカ以外の表示器をもたなくてもよい。


85

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

8.5.5.1

ヒューズベースのピーク耐電流の検証

各サイズの最大定格電流のヒューズリンクの遮断試験において,

表 614 に示した範囲内の限流値が検証

されている場合には,ヒューズベースのピーク耐電流の検証は行う必要はない。

8.5.5.1.1

ヒューズの配置

試験は,単相タイプでなければならない。ヒューズベースの試験セットアップは,JIS C 8269-1 の 8.5.1

と一致しなければならない。

8.5.5.1.2

試験方法

電流をそれぞれのサイズにおける最大定格のヒューズリンクで制限しなければならない。到達した試験

電流のピーク値は,

表 614 に示した範囲内でなければならない。

表 614−限流値

サイズ

限流値

kA

  8×32 3∼4 
10×38 5∼6 
14×51 13∼16 
22×58 17∼21

8.5.5.1.3

に規定した要求事項を満たす限り,最大値を超えてもよい。

該当するサイズの最大定格電流のヒューズリンクで,規定の限流値範囲に到達しない場合は,規定の限

流値範囲に適合する別のヒューズを直列に接続して用いなければならない。この場合,供試品には,ダミ

ーヒューズリンクを装着しなければならない。ダミーヒューズリンクの外形寸法は,

図 601 による。

8.5.5.1.3

試験結果の評価

ヒューズリンクは,飛び出してはならない。アーク若しくは溶着又はそれ以上のヒューズベースの使用

を妨げるようなほかの損傷があってはならない。接触部の電流による損傷は許容する。

8.7.4

過電流動作協調の検証

記録された試験結果から評価された

I

2

t

値によって,定格電流が

12 A

以下のヒューズの過電流動作協調

及び定格電流が

12 A

を超えるヒューズの過電流動作協調比

1

1.6

を検証する。

試験回路及び電流の許容範囲に関する JIS C 8269-1 の 8.5 及び

表 20 に基づく遮断容量試験の場合と同様

に,試料を配置する。

4

個の試料を試験する。

2

個の試料は,最小溶断

I

2

t

値に基づく固有試験電流

I

(実効値)で試験し,残

りの

2

個の試料は,動作

I

2

t

値に対応する固有試験電流

I

(実効値)で試験する。

690 V

ヒューズの試験電圧は,

1.05

×

U

n

/ 3

である。

ほかの全てのヒューズの試験電圧は,

1.1

×

U

n

/ 3

である。


86

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

表 615−動作協調試験の試験電流及び I

2

t

範囲

I

n

最小溶断  I

2

t

最大動作  I

2

t

動作協調比

固有電流  I

I

2

t

固有電流  I

I

2

t

実効値

A

2

s

実効値

A

2

s

A kA  kA

2 0.013

0.67

0.064

16

計算で求める。

4 0.035

4

0.130

67

6 0.064  16

0.220  193

8 0.100  40

0.310  390

10 0.130  67

0.400  640

12 0.180  130

0.450  820

16 0.270  291

0.550  1

210  1:1.6

20 0.400  640

0.790  2

500

25

0.550

1 210

1.000

4 000

32

0.790

2 500

1.200

5 750

40

1.000

4 000

1.500

9 000

50

1.200

5 750

1.850

13 700

63

1.500

9 000

2.300

21 200

80

1.850

13 700

3.000

36 000

100

2.300

21 200

4.000

64 000

125

3.000

36 000

5.100

104 000

評価

I

2

t

値は,

表 615 に規定した対応する

I

2

t

範囲内でなければならない。

8.9

耐熱性の検証

ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル

ダは,事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は,JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 に規定

している。通常の温度まで下げた後に 8.5 によって

I

1

の遮断容量試験を行う。

有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは,

上記と同じ試験を行う。

これらのヒューズリンクは,

試験電流

I

1

及び

I

5

で遮断しなければならない。

8.10

接触部の不劣化の検証

JIS C 8269-1

の 8.10 を適用する。

8.10.1

ヒューズの配置

次の事項を追加して,JIS C 8269-1 の 8.10.1 を適用する。

ダミーヒューズは,

図 601 の寸法及び表 604 による適切な値に等しい定格ワット損をもたなければなら

ない。

8.10.2

試験方法

JIS C 8269-1

の 8.10.2 の第

1

段落の後に,次の語句を追加する。

次の試験値を適用しなければならない。

    試験電流:協約不溶断電流

I

nf

    負荷期間:協約時間の

25 %

    無負荷期間:協約時間の

10 %

これらの試験は,低い電圧で行ってもよい。

8.10.3

試験結果の評価


87

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

250

サイクル後に測定した温度上昇値は,

試験開始時に測定した温度上昇を

15 K

以上超えてはならない。

必要な場合,

750

サイクル後に,温度上昇値は,試験開始時に測定した値を

20 K

以上超えてはならない。

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

ヒューズホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には,定格

電流を通電して温度上昇試験を行う。

温度上昇試験の終了後,ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは,該当するヒューズベースに

100

回の

着脱を行う。

これらの試験終了後,全ての部品は損傷することなく,正常に機能しなければならない。

評価は,最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い,得られた値が機械的試験の開始に先立つ

温度上昇試験から得られた値を,

5 K

又は

15 %

のいずれか大きなほうを超えないことを検証する。

単位  mm

8.3.4.2

による点 S を測定する。

図面は,

注及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。

1)

  円筒部の内側は,指定された許容差を超えてはならない。

2)

  エンドキャップ間のヒューズリンクの直径は,を超えてはならない。

サイズ

a b 

最大

c d 

最小

  8×32 31.5±0.5 6.7 8.5±0.1 4

1±0.5

10×38 38±0.6 10.5 10.3±0.1 6  1.5±0.5

14×51

6

.

0

1

51

13.8 14.3±0.1 7.5  2±1

22×58

1

.

0

2

58

16.2 22.2±0.1 11

2±1

図 601−円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンク

S

S

1) 

2)


88

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

図面は,

注及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。

1)

  ストライカを停止させるシリンダの寸法。

図 602−ストライカ付き円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンク−

サイズ 14×51 及び 22×58 に対する追加の寸法

単位  mm

サイズ

I

n

G

1

H

1

L

0

8

.

0

+

(A)

最大

最小

8×32 16  11.5  14  16

10×38 25  13  15.5  19.3 
14×51 50  18  20.5  25.8 
22×58 100  18

25

29

図 603−円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクのヒューズベース

半径方向ストップ

軸方向ストップ

接触域

スプリング式 
半径方向接触片

半径方向ストップ

軸方向ストップ

接触域

スプリング式 
半径方向接触片

ベース B  二つの円筒面上の接触部

ベース A  二つの円筒形キャップの接触部


89

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

サイズ

I

n

A

G

2

最大

H

2

最小

8×32 16 26.5 29.5

10×38 25 31.5 34.5 
14×51 50 43  47 
22×58 100  46

52

図面は,

注及び示した寸法に関する場合を除き,ヒューズリンクの設計を規制することを意

図したものではない。

接触は,ヒューズリンク上に示された接触域内で行う。サイズ 14×51 及び 22×58 は,外部

スプリングが接触力を与えなければならない(サイズ 8×32 及び 10×38 は,接触片そのもの

の弾性で十分である。

。接触片の弾性特性及びコーティングは,実際面で通常予測される熱的

及び機械的応力にさらされたときにも安定していなければならない。

軸方向ストップ,アプリケーションピース及び接触片は,ヒューズリンクに組み込まれるこ

とがある表示装置又はストライカの動作を妨げないような構造でなければならない。

接触片の一つ以上,又はベース C の場合には,アプリケーションピースは,ヒューズリン

クの寸法の軸方向公差を考慮して,矢印の方向に十分な弾性を(サイズ 14×51 及び 22×58

の場合には,外部スプリングによって)もたなければならない。

ヒューズリンクの接触片の近くに位置する半径方向ストップによって設けられたゾーン内

で接触が確保されなければならない。

“➡”は,ヒューズリンクを引き抜く方向を示す。

図 603−円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクのヒューズベース(続き)

アプリケーションピース

スプリング式半径

方向接触片

接触域

半径方向ストップ

端接触片

ベース C  円筒面上の一方の接触部及び端面上の他方の接触部


90

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ヒューズシステム G

オフセット刃形接触部をもつヒューズリンクのヒューズ

(BS

クリップインヒューズシステム)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の要求事項は,オフセット刃形接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズに適用する。ヒューズ

の定格電流は,

125 A

以下のものとし,定格電圧は,交流

400 V

以下のものとする。

注記

これらのヒューズは,既存の公称

220/380 V

及び

240/415 V

システムから進化する,将来的な標

準電圧交流

230/400 V

用システムで用いる予定である。しかし,多くの国では,しばらくの間

もっと高い電圧

240/415 V

を用いるため,これらのヒューズは,全ての電源が

230 V

又は

400 V

の推奨値に進化する時期まで供給され続け,定格電圧

交流

240 V

又は

415 V

で試験することに

なる。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

最小定格遮断容量

時間−電流特性

  I

2

t

特性

構造の標準条件

ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

JIS C 8269-1

を適用する。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

この規格に適用する JIS C 8269-1 

表 の標準定格電圧値は,次のとおりとする。

ヒューズリンクサイズ

E1

交流

230 V

ヒューズリンクサイズ

F1

F2

F3

交流

400 V

1.1 

注記も参照)

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流

各サイズに関する最大定格電流は,

図 701 による。この項には,

8 A

及び

12 A

の定格は含まない。


91

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

5.3.2

ヒューズホルダの定格電流

ヒューズホルダの最大定格電流は,

図 702 による。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損

図 705 に規定する標準装置で測定したときに,8.3.1 によって試験するヒューズリンクが許容される最大

ワット損値は,

図 701 による。

8.3.1

によって試験したときに,ヒューズホルダの定格受容ワット損の値は,

図 702 による。

注記

ヒューズホルダの定格受容ワット損の電圧の測定点は,

図 702 による。

5.6.1

時間−電流特性及び時間−電流ゾーン

ゲート並びに協約時間及び協約電流によって示す溶断時間範囲のほかに,製造許容範囲を除く時間−電

流ゾーンは,

図 703 及び図 704 による。時間−電流特性の誤差範囲は,電流値で±

10 %

でなければならな

い。

5.6.2

協約時間及び協約電流

JIS C 8269-1

の値のほかに,協約時間及び協約電流は,

表 701 による。

表 701−“gG”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流

定格電流  I

n

協約時間

協約電流

A h I

nf

I

t

 4

<  I

n

  < 16

1

1.25 I

n

 1.6

I

n

    I

n

  ≦ 4

1

1.25

I

n

 2.1

I

n

5.6.3

ゲート

gG

”ヒューズリンクは,

表 702 及び JIS C 8269-1 に規定するゲートを適用する。

表 702−“gG”ヒューズリンクの規定溶断時間に関するゲート

I

n

I

min

(10 s)

I

max

(5 s)

I

min

(0.1 s)

I

max

(0.1 s)

2 3 6 4 8 
4  6 12  9 20 
6  9 20 16 36

10 16 36 33 70

5.7.2

定格遮断容量

定格遮断容量は,次のとおりとする。

a

)

サイズ

E1

ヒューズリンクは

50 kA

b

)

サイズ

F1

F2

F3

ヒューズリンクは

80 kA

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

6.1

ヒューズホルダの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ

6.2

ヒューズリンクの表示


92

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ又は関連コード

定格遮断容量

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

7.1

機械的設計

ヒューズリンク及びヒューズホルダの寸法は,

図 701 及び図 702 による。

7.1.2

端子を含む接続

ヒューズホルダの端子は,

表 703 に規定する断面積をもつより線又は単線を受け入れなければならない。

表 703−銅導体のサイズ

ヒューズホルダの定格電流

A

導体の断面積

mm

2

サイズ

20 4 E1 
32 10  F1 
63 25  F2

125 70  F3

7.2

絶縁性能及び絶縁適合性

ヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は,JIS C 60664-1 の過電圧カテゴリ

III

及び汚損度

3

の要求事

項に適合しなければならない。

7.7

I

2

t

特性

JIS C 8269-1

表 に示した値のほかに,

16 A

未満の定格電流に関する値は,

表 704 による。

表 704−“gG”ヒューズリンクに関する 0.01 s 時の溶断 I

2

t

I

n

A

I

2

t

min

A

2

s

I

2

t

max

A

2

s

2 0.30

2.5

4 2.0

15

6 5 45

10 25 200

7.9

感電に対する保護

図 702 に基づく標準ヒューズホルダを用いる場合には,感電保護度は

3

段階全てについて

IP2X

以上で

なければならない。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.3.3

ヒューズリンクのワット損の測定

図 705 に規定する試験装置にヒューズリンクを取り付ける。ワット損の測定点は,図 705 による。


93

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

8.3.4.1

ヒューズホルダの温度上昇

ダミーヒューズリンクは,

図 701 に適合した寸法の下で,図 702 に規定するヒューズホルダで試験する。

ダミーヒューズリンクのワット損は,

図 705 の標準ワット損試験装置で試験したときに,図 702 に規定す

るヒューズホルダの定格受容ワット損とする。

8.4.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクの試験装置は,

図 705 による。

8.5.1

ヒューズの配置

この規格に適合したヒューズホルダでヒューズリンクの遮断容量を試験する。ヒューズホルダは,しっ

かり支えられ,主回路試験接続部にヒューズホルダを接続するための導体は

表 703 に規定するヒューズホ

ルダ端子に適切な断面積をもたなければならない。それらの導体は,接続装置の平面における完成品ヒュ

ーズの両側で,ヒューズの端子間の接続線の方向に,

0.2 m

以下とすることができる。

ヒューズホルダ及びヒューズホルダを試験接続部に接続する導体のような試験装置以外の試験接続部の

処理は,規定しない。

8.7.4

過電流動作協調の検証

電流定格

16 A

以上については,JIS C 8269-1 の 8.7.4 を適用する。

16 A

未満の電流定格については,JIS C 8269-1 の 8.7.1 によって検証した製造業者のデータから動作協調

を決定する。

8.9

耐熱性の検証

ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル

ダは,事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は,JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 に規定

している。通常の温度まで下げた後に 8.5 によって

I

1

の遮断容量試験を行う。

有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは,

上記と同じ試験を行う。

これらのヒューズリンクは,

試験電流

I

1

及び

I

5

で遮断しなければならない。

8.10

接触部の不劣化の検証

JIS C 8269-1

の 8.10 を適用する。

8.10.1

ヒューズの配置

次のほかに,JIS C 8269-1 の 8.10.1 を適用する。

ダミーヒューズリンクは,

図 702 に規定する対応するヒューズホルダでの試験のために図 701 に適合し

た寸法をもたなければならない。

ダミーヒューズリンクのワット損は,

図 705 に示した標準ワット損試験装置で試験したときに,図 702

に規定するヒューズホルダの最大定格受容ワット損とする。

8.10.2

試験方法

次の事項のほかに,JIS C 8269-1 の 8.10.1 を適用する。

JIS C 8269-1

の 8.10.2 の第

1

段落の後に,次の語句を追加する。

次の試験値を適用する。

    試験電流:不溶断電流

I

nf

    負荷期間:協約時間の

25 %

    無負荷期間:協約時間の

10 %

定格電圧よりも低い試験電圧で実施してもよい。

8.10.3

試験結果の評価


94

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

250

サイクル後に測定した温度上昇値は,

試験開始時に測定した温度上昇を

15 K

以上超えてはならない。

必要な場合,

750

サイクル後に,温度は,試験開始時に測定した値を

20 K

以上超えてはならない。

8.11

機械的試験及びその他の試験

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

ヒューズホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には,定格

電流を通電して温度上昇試験を行う。

温度上昇試験の終了後,ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは,該当するヒューズベースに

100

回の

着脱を行う。

これらの試験終了後,全ての部品は損傷することなく,正常に機能しなければならない。

評価は,最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い,得られた値が機械的試験の開始に先立つ

温度上昇試験から得られた値を,

5 K

又は

15 %

(いずれか大きなほう)を超えないことを検証する。

単位  mm

サイズ  最大定格電流  最大ワット損

a

1)

b d 

 A  W

最大

最大

最大

最小

最大

最小

最大

最小

最大

最小

E1

20

1.8

25 14.5

51 47 13 11  1.5 0.8 3.8 3.2

F1

32

3.2

35.5

14.5

62  58 13  11  1.5 0.8 3.8 3.2

F2

63

4.8

39 17.5

69 65 15.5

14.5

1.6 1.2 3.8 3.2

F3

125

7.5

39 27  80 76 20 19  2.0 1.6 3.8 3.2

1)

  寸法“a”は,タグ面の中心でのリベット頭の突出を考慮して規定値よりも 0.5 mm まで大きくしてもよい。

図 701−オフセット刃形接触部をもつヒューズリンク,サイズ E1F1F2 及び F3


95

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

ヒューズリンクのサイズ

最大定格電流

A

定格受容ワット損

W

最大 

最大 

最大 

E1 20

2

26

71

59

F1 32

3.5

26

81

59

F2 63

5

32

96

68

F3 125

7.5

40.5

110

81

注記  図例は,この表に規定する最大寸法の範囲内である場合,ほかの形状又は形の使用を妨げない。

図 702−代表的なヒューズホルダ

ワット損を決定するための
電圧測定点

ケーブル入口


96

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 703−“gG”ヒューズリンクの時間−電流ゾーン

電流(A)

時間(

s)


97

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

図 704−“gG”ヒューズリンクの時間−電流ゾーン

電流(A)

時間(

s)


98

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

キー 
X−X:ワット損に関する電圧降下の測定点

サイズ

a b c d e  f g h j m t 定格電流

A  以下

E1  10 12.5 16 50 12.5

40 28 1.6 M4 30 0.5

20

F1  10 12.5 16 50 12.5

40 28 1.6 M4 40 0.5

32

F2  16 12.5 16 50 15  45 28 1.6 M5 45 1.0

63

F3  20 25  25 50 15  50 35 2  M5 45 1.6  125

図 705−ワット損試験装置

試験導体の終端に適した穴

の直径

導体の全長 210

絶縁ペースポート 
180×100

端子クランプ鋼

接触面,すず又は

銀めっき

絶縁クランプ幅 d

導体の全長 210

銅導体


99

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

ヒューズシステム H

“gD”及び“gN”特性のヒューズリンクを用いたヒューズ

クラス J 及びクラス L の遅動及び非遅動形ヒューズ)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の追加要求事項は,

図 801,図 802,図 803,図 804,図 805 及び図 806 に規定する寸法に適合した“

gD

及び“

gN

”ヒューズに適用する。ヒューズの定格電流は,円筒形接触部のものについては,

60 A

以下,刃

形及びボルト締め接触部のものについては,

600 A

以下,ボルト締め接触部については,

6 000 A

以下であ

る。定格電圧は,交流

600 V

,定格遮断容量は,

200 kA

とする。

このヒューズリンクは,タイムラグ及び非タイムラグの二つの異なる時間−電流特性をもつ。いずれの

時間−電流特性も同一の基準溶断及び不溶断電流範囲に適合し,装置について指定された限流及び最大動

I

2

t

範囲に適合する。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

最小定格遮断容量

時間−電流特性

  I

2

t

特性

構造の標準条件

ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

JIS C 8269-1

を適用する。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

定格電圧は,交流

600 V

とする。

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流

JIS C 8269-1

に規定した定格のほかに,

R40

シリーズから適切な定格を選択でき,更に,次の値を許容

する。

5

17.5

35

70

175

350

700

1 200

3 500

各サイズについて最大定格電流は,

図 801,図 802 及び図 805 による。


100

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

5.3.2

ヒューズホルダの定格電流

ヒューズホルダの最大定格電流は,

図 803,図 804 及び図 806 による。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損

最大定格ワット損値は

図 801,図 802 及び図 805 による。ヒューズベースの定格受容ワット損は,同一

定格のヒューズリンクの最大定格ワット損値以上とする。

5.6

時間−電流特性の制限

5.6.1

時間−電流特性及び時間−電流ゾーン

ゲート並びに協約時間及び協約電流によって示す溶断時間範囲のほかに製造許容範囲を除く時間−電流

ゾーンは,

図 808,図 809,図 810,図 811,図 812 及び図 813 による。時間−電流特性の誤差範囲は,電

流値で±

10 %

でなければならない。

5.6.2

協約時間及び協約電流

gD

”及び“

gN

”ヒューズリンクは,

表 801 に規定する協約時間及び協約電流を適用する。

表 801−“gD”及び“gN”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流

定格電流 I

n

協約時間

協約電流

A h I

nf

I

f

    I

n

  ≦ 60

1

1.1

I

n

 1.35

I

n

 60

<  I

n

  ≦ 600

2

1.1

I

n

 1.35

I

n

 600

<  I

n

  ≦ 6 000

4

1.1 I

n

 1.50

I

n

5.6.3

ゲート

gD

”及び“

gN

”ヒューズリンクは,

表 802 に規定するゲートを適用する。

表 802−“gD”及び“gN”ヒューズリンクの規定溶断時間に関するゲート

ヒューズリンク

I

n

a)

I

min

I

max

I

min

I

max

(10 s)

(5 s)

(0.1 s)

(0.1 s)

gD

a)

15

≦  I

n

  ≦ 600

5.0

I

n

 8

I

n

 8.5

I

n

 13

I

n

gN

a)

15

≦  I

n

  ≦ 60

2.0

I

n

 3.5

I

n

 4.7

I

n

 7.5

I

n

gN

60

<  I

n

  ≦ 600

2.5

I

n

 4.5

I

n

 5.8

I

n

 9.0

I

n

gN

600

<  I

n

  ≦ 6 000

3.5 I

n

 6.0

I

n

 9.0

I

n

 13

I

n

a)

  定格電流 15 A 未満のヒューズリンクに関する値は,検討中。

5.7.2

定格遮断容量

定格交流遮断容量は,

200 kA

とする。

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

6.1

ヒューズホルダの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ

6.2

ヒューズリンクの表示


101

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ又は関連コード

定格遮断容量

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

7.1

機械的設計

ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は,

図 801,図 802,図 803,図 804,図 805 及び図 806 とす

る。

7.2

絶縁性能及び絶縁適合性

ヒューズ部品の沿面距離及び空間距離は,JIS C 60664-1 の過電圧カテゴリ

III

及び汚損度

3

の要求事項

に適合しなければならない。

7.5

遮断容量

gN

”及び“

gD

”の

600 V

定格ヒューズの JIS C 8269-1 

表 に規定する最大アーク電圧は

3 000 V

ある。

7.6

限流特性

最大値は,

表 807 に規定する値以下とする。

7.7

I

2

t

特性

gD

”及び“

gN

”ヒューズリンクに関する

0.01 s

時の溶断

I

2

t

値は,

表 803 に規定する範囲内とする。

最大動作

I

2

t

値は,

表 808 による。


102

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

表 803−“gD”及び“gN”ヒューズリンクに関する 0.01 s 時の溶断 I

2

t

I

n

I

2

t

min

I

2

t

max

A 10

3

×A

2

s 10

3

×A

2

s

10 0.08

0.23

15 0.17

0.49

17.5 0.24  0.70 
20 0.31

0.93

25 0.50

1.4

30 0.70

2.1

35 1.2 3.5 
40 1.6 4.7 
50 2.4 7.1 
60 3.5

10

70 5.5

17

80 7.5

23

100 11  33 
125 17  49 
150 24  70 
175 33  98 
200 49  130 
250 70  200 
300 98  290 
350 130  390 
400 200  580 
500 300  890 
600 410  200 
700 730  000 
800 900  700

1 000

1 300

3 800

1 200

2 100

6 000

1 400

2 800

8 400

1 600

3 800

11 000

2 000

6 000

17 000

2 500

9 000

26 000

3 000

13 000

38 000

3 500

17 000

50 000

4 000

26 000

74 000

5 000

38 000

110 000

6 000

50 000

150 000

7.8

過電流動作協調

同一の種類及び使用カテゴリのヒューズリンクの

15 A

を超えるものの動作強調は,上側ヒューズ定格電

流と下側ヒューズ定格電流との比を

2

1

に維持することによって得られる。

gD

”ヒューズリンクの定格

電流が高い場合,

gD

”及び“

gN

”ヒューズリンクの間で

1.6

1

の比が可能である。

7.9

感電に対する保護

仕切壁及びヒューズ接触部は,カバーで感電保護を高めることができる。


103

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.3

温度上昇及びワット損の検証

8.3.1

ヒューズの配置

ヒューズは,ヒューズの長軸を水平位置にして取り付けなければならない。定格が

600 A

を超えるヒュ

ーズリンクは,各端子をヒューズリンクとの接触点が銀めっきされた銅ブスバーに接続する。

ケーブル又はブスバーの断面積は,

表 804 に規定する値から選ぶものとする。

表 8048.3 及び 8.4 に基づく試験用の銅導体の断面積

ヒューズ定格

断面積

A mm

2

    I

n

  ≦ 30

8.4

 30

<  I

n

  ≦ 60

21.1

 60

<  I

n

  ≦ 100

42.3

 100

<  I

n

  ≦ 200

107

 200

<  I

n

  ≦ 400

253

 400

<  I

n

  ≦ 600

507

 600

<  I

n

  ≦ 800

484

 800

<  I

n

  ≦ 1 200

645

 1

200

<  I

n

  ≦  1 600

1 290

 1

600

<  I

n

  ≦  2 000

1 940

 2

000

<  I

n

  ≦  2 500

2 580

 2

500

<  I

n

  ≦  3 000

2 900

 3

000

<  I

n

  ≦  4 000

3 870

 4

000

<  I

n

  ≦  6 000

5 810

8.3.4.1

ヒューズホルダの温度上昇

温度上昇の測定点は,ダミーヒューズリンクが使用される場合を除き,

図 807 の点

A

で示す。クラス

J

及びクラス

T

のダミーヒューズリンクは,

表 805 及び表 806 による。

表 805−クラス ダミーヒューズリンク寸法

定格

形式

寸法

mm

A   外径

肉厚

長さ

厚さ

30

管 20.62  1.45  57.15  −

60

管 26.97  1.63  60.32  −

100

刃形

− 117.48 3.18

19.05

200

刃形

− 146.05 4.75

28.58

400

刃形

− 180.98

180.98

41.28

600

刃形

− 203.2  9.52

50.8

注記  ダミーヒューズリンクはめっきされていない銅製。


104

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

表 806−クラス ダミーヒューズリンク寸法

定格

形式

寸法

mm

A   外径

肉厚

長さ

厚さ

30

管 14.3  1.45  38.1  −

60

管 20.62  1.45  39.62  −

100

刃形

− 75.01

3.18

19.05

200

刃形

− 82.55

4.78

22.22

400

刃形

− 92.08

6.35

25.4

600

刃形

− 101.19 7.92 31.75

800

刃形

− 109.93 9.53 44.45

1 200

刃形

− 133.66

11.11 50.8

注記  ダミーヒューズリンクはめっきされていない銅製。

8.3.4.2

ヒューズリンクのワット損

ワット損の測定点は,

図 807 の点

B

で示す。

8.4

動作の検証

8.4.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクの試験装置は,8.3.1 に規定されたものとする。

8.4.3.3.2

ゲートの検証

次の試験は,低い電圧で実施してもよい。

gD

”及び“

gN

”ヒューズリンクは,JIS C 8269-1 の 8.4.3.3.1

で規定する試験のほかに,次の事項を検証する。

a

)

ヒューズリンクは

表 802,列

3

の電流を

10

秒間流したとき,溶断してはならない。

b

)

ヒューズリンクは

表 802,列

4

の電流を流したとき,

5

秒以内に溶断しなければならない。

c

)

ヒューズリンクは

表 802,列

5

の電流を

0.1

秒間流したとき,溶断してはならない。

d

)

ヒューズリンクは

表 802,列

6

の電流を流したとき,

0.1

秒以内に溶断しなければならない。

8.5.4

回復電圧

JIS C 8269-1

表 20 による交流商用周波回復電圧の値は,

gN

”及び“

gD

”ヒューズリンクの定格電圧

600 V

の(

100

0

5

+

%

に差し替えるものとする。JIS C 8269-1 

表 21 による直流回復電圧の平均値は,

gN

及び“

gD

”ヒューズリンクの定格電圧

600 V

の(

100

0

5

+

%

に差し替えるものとする。

8.6

限流特性の検証

限流値は,

表 807 に規定する範囲を超えてはならない。

JIS C 8269-1

の 8.5 及び

表 20 に基づく遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。


105

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

表 807200 kA 固有電流時の“gD”及び“gN”ヒューズリンクの最大限流値(I

c

I

n

I

c

I

n

I

c

A kA A kA

10 4.1

300

33

15 5.0

350

36

17.5 5.7  400  38 
20 6.2

500

52

25 7.5

600

55

30 9.5

700

73

35 9.5

800

80

40 10  000 89 
50 11.3 200

100

60 12.5 400

115

70 14.4 600

125

80 15.7 000

150

100 17.5 500

180

125 19.6 000

200

150 21.2 500

229

175 23  000

250

200 25  000

300

250 25  000

350

8.7

I

2

t

特性及び過電流動作協調の検証

最大動作

I

2

t

値は,

表 808 に規定する範囲を超えてはならない。

JIS C 8269-1

の 8.5 及び

表 20 に基づく遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。

表 808200 kA 固有電流時の“gD”及び“gN”ヒューズリンクの最大動作 I

2

t

I

n

I

2

t

I

n

I

2

t

A 10

3

×A

2

s A 10

3

×A

2

s

10 0.78

300  470

15 1.8 350  840 
17.5 2.4  400  100 
20 3.1 500  740 
25 4.9 600  500 
30 7.0 700  700 
35 10  800  000 
40

13

1 000

10 400

50

21

1 200

15 000

60

30

1 400

23 000

70

39

1 600

30 000

80

51

2 000

40 000

100

80

2 500

75 000

125

117

3 000

100 000

150

169

3 500

115 000

175

230

4 000

150 000

200

300

5 000

350 000

250

439

6 000

500 000


106

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

8.9

耐熱性の検証

ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル

ダは,事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 に規定し

ている。通常の温度まで下げた後に 8.5 によって

I

1

の遮断容量試験を行う。

有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは,

上記と同じ試験を行う。

これらのヒューズリンクは,

試験電流

I

1

及び

I

5

で遮断しなければならない。

8.10

接触部の不劣化の検証

JIS C 8269-1

の 8.10 を適用する。

8.10.1

ヒューズの配置

次の事項のほかに,JIS C 8269-1 の 8.10.1 を適用する。

表 805 及び表 806 に規定するダミーヒューズリンクは,図 801,図 802 及び図 805 に示す寸法及び最大

ワット損

P

n

W

)である。

ダミーヒューズリンクは,図のとおりの寸法でめっきされていない銅でできた,過負荷電流

I

nf

が流れて

いる間は動作しない構造とする。

8.10.2

試験方法

次の試験値を適用する。

試験電流:不溶断電流

I

nf

負荷期間:協約時間の

25 %

無負荷期間:協約時間の

10 %

定格電圧よりも低い試験電圧で実施してもよい。

8.10.3

試験結果の評価

250

サイクル後に測定した温度上昇値は,

試験開始時に測定した温度上昇を

15 K

以上超えてはならない。

必要な場合,

750

サイクル後に,温度は,試験開始前に測定した値を

20 K

以上超えてはならない。

8.11

機械的試験及びその他の試験

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

図 805 及び図 806 に規定したダミーヒューズリンクを取り付けたヒューズホルダの場合,又はヒューズ

ホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には,定格電流を通電

して温度上昇試験を行う。

温度上昇試験の終了後,ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは,該当するヒューズベースに

100

回の

着脱を行う。

これらの試験終了後,全ての部品は損傷することなく,正常に機能しなければならない。

評価は,最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い,得られた値が機械的試験の開始に先立つ

温度上昇試験から得られた値を,

5 K

又は

15 %

(いずれか大きなほう)を超えないことを検証する。

8.11.2

その他の試験

8.11.2.2

耐異常熱及び耐火炎の検証

検討中。


107

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

交流 600 V

寸法

mm

I

n

P

n

a

a)

b

b)

c d e f g h 

A W

±0.08

±0.9

最小

±1.6

±1.5

±0.13

A 1∼30 6

57.1

20.6

− 12.7 −

35∼60 8

60.3

27.0

− 15.9 −

B 70∼100  18  118  28.6 3.18 19.1 24.6 92.1 9.52 7.14

125∼200  25  146  41.3 4.78 28.6 34.1 111  9.52 7.14 
250∼400  50  181  54.0 6.35 41.3 46.8 133  13.5 10.3 
500∼600  70  203  66.7 9.52 50.8 53.2 152  17.5 13.5

a)

  1∼60 A:±0.8

 70∼600 A:±2.4

b)

  1∼60 A:±0.20

 70∼600 A:最大

図 801−ヒューズリンク(1600 A

A

(1∼60 A)

B

(70∼600 A)


108

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

交流 600 V

寸法

I

n

P

n

 mm

A W

a±2.4

b

  最大

c±0.8

d±1.6

C 700

63

219

64.3

9.5

50.8

800 72 219 64.3 9.5 50.8

D 1

000 90 273 70.6 9.5 50.8

1 200

108

273

70.6

9.5

50.8

1 400

126

273

77.0

11.1

60.3

1 600

144

273

77.0

11.1

60.3

2 000

180

273

89.7

12.7

69.8

E 2

500 213 273 128 19.0 88.9

3 000

255

273

130

19.0

102

F 3

500 300 273 147 19.0 121

4 000

340

273

147

19.0

121

G 5

000 425 273 182  25.4 133

6 000

510

273

182

25.4

146

図 802−クラス ヒューズリンク(7006

000 A

E

(2 500∼3 000 A)

D

(1 000∼2 000 A)

G

(5 000∼6 000 A)

F

(3 500∼4 000 A)

C

(700∼800 A)


109

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

I

n

寸法

最大 mm

 A  a b c d e  f g h i − 

接 触 部

ク リ ッ
プ の 最

小幅

接 触 部

ク リ ッ
プ 間 の

距離

エ ン ド

ス ト ッ
プ 間 の

最 小 距

ヒ ュ ー

ズ リ ン
ク 接 触

部 の 公

称径

ヒ ュ ー

ズ リ ン
ク 刃 形

の 公 称

厚さ

最 小 ク

リ ア ラ
ンス

最大

ク リ ア

ラ ン ス
ホ ー ル

の間隔

ク リ ア

ラ ン ス
ホ ー ル

の直径

ス タ ッ

ド の 直

A 30 12.7  31.8  57.9  20.6  −

B

及び

C

60 15.9  28.6  61.1  27.0  −

100 22.2  69.9  120

− 3.18 120  9.53

92.1 7.14 6.35

200 31.8  79.4  148

− 4.76 148 14.3

111  7.14 6.35

400 44.5  88.9  183

− 6.35 183 20.2

133 10.3  9.53

600 50.8  98.4  206

− 9.53 206 25.0

152 13.5 12.7

図 803−クラス ヒューズリンク 1600 A 用ヒューズベース及び接触部

A

  円筒形キャップ接触部用ベース 

B

  刃形接触部用ベース 

C

  ボルト締め接触部用ベース 

cf

c


110

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

ヒューズリンクの定格電流

A

寸法

mm

接触部幅

最小

D 700∼800 51

220

E 1

000∼1 200

51

280

1 400∼1 600

60

280

2 000

70

280

F 2

500

89

280

41

3 000

100

280

41

3 500∼4 000

120

280

83

G 5

000

130

280

41

6 000

150

280

41

図 804−クラス ヒューズリンク 7006

000 A

用ヒューズベース及び接触部

600 A

を超え 800 A 以下

800 A

を超え 2 000 A 以下

2 000 A

を超え

4 000 A

以下

4 000 A

を超え

6 000 A

以下

最大クリアランス

直径 15.9 mm


111

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

交流 600 V

寸法

 mm 

I

n

P

n

a b

a)

c d

b)

e f g h

c)

 A W

±1.02  ±0.15

最小

±1.02

±0.15   最小

A 1∼30 8

38.10

14.30

− 6.6 −

B 35∼60 12

39.62

20.62

− 20.62

9.9  − 1.57 −

C 35∼60 12

39.62

20.62

25.25

− 9.9 − 1.57 −

D 70∼100 18

75.01

21.03

3.18

19.05

16.41

59.74

− 7.14

12.7

 125∼200 34

82.55

27.38

4.78

22.22

19.99

63.67

− 8.74

12.7

 250∼400 64

92.08

41.28

6.35

25.40

23.52

69.06

− 10.31 12.7

 500∼600 92

101.19

53.19

7.92

31.75

27.28

75.01

− 12.29 12.7

 650∼800 120

109.93

63.91

9.53

44.45

30.66

80.57

− 13.89 12.7

 1

000∼1 200

180

133.66

66.68

11.00

50.8

37.57

96.55

− 15.47 12.7

注記 1  刃形の実効長 は,刃端からヒューズ本体,又は刃形に通したピン,カラー(環)などの他の許容可能な

障害手段まで測定する。

注記 2 30∼60 A:B と C とは代替可能である。 
注記 3 700∼1 200 A:破線は,ねじ,リベット頭などの突起の範囲が最大 1.58 mm であることを示す。 

a)

  1∼60 A:±0.51,70∼800 A:示した最大寸法

b)

 35∼60 A:−0.15+0.41,70∼800 A:±0.51

c)

 61∼100 A:+0.013,125∼200 A:+0.15,250∼400 A:+0.18,500∼1 200 A:+0.20

図 805−クラス ヒューズリンク(11

200 A

A

(1∼30 A)

B

(35∼60 A)

C

(35∼60 A)

D

(65∼800 A)

注記 参照


112

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

I

n

寸法

最大

A

mm

a b c d e  f g h i  j   

接 触 部

ク リ ッ

プ の 最
小幅

接触部

クリッ

プ間の
距離

エ ン ド

ス ト ッ

プ 間 の
最 小 距

ヒ ュ ー

ズ リ ン

ク の 公
称径

排 除 ス

ロ ッ ト

の 最 小

エ ン ド

ス ト ッ

プ の 最
小幅

最大値 逃 げ 穴

間隔

逃 げ 穴

最 小 隙

ス タ ッ

ド径

A 30

6.6

29.90

39.12

14.30

− 3.18 −

60 9.9 19.82 40.64 20.62

1.72 3.18  −

B 100

− 5.46

59.74

7.14

76.02

6.47

200

− 7.25

63.67

8.94

83.57

7.93

400

− 9.01

69.06

10.31

93.10

9.47

600

− 10.89

75.01

12.29

102.21

11.45

800

− 12.58

80.51

13.89

110.95

13.03

1 200

− 15.03

96.55

15.47

134.68

14.63

図 806−クラス ヒューズリンク 11

200 A

用ヒューズベース及び接触部

B

  ボルト締め接触部用ベース 

A

  円筒形キャップ接触部用ベース


113

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

キー 
A:温度測定点 
B:ワット損測定点

図 807−温度試験装置

図 807a 

B

A

B

A

A

B

A

B

B

B

図 807b 


114

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

80

8

gN

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

固有電流(

A


115

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

80

9

gN

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

固有電流(

A


116

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

81

0

gN

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

固有電流(

A

 
 


117

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

81

1

gD

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

固有電流(

A


118

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

81

2

gD

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

固有電流(

A

 
 


119

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

81

3

gD

”ヒューズリ

ンクの時間−

電流ゾーン

固有電流(

A


120

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ヒューズシステム I

ウェッジ締め接触部をもつ“gU”ヒューズリンク

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の要求事項を追加して,交流供給回路網において用いることを意図し,そこにおいて適切な専門家だ

けが接近でき,また,取り換えてよい標準寸法及び性能のウェッジ締め接触部をもつヒューズリンクに適

用する。このようなヒューズリンクは,

630 A

以下の定格電流及び交流

400 V

の定格電圧をもつ。直流回

路網に用いるヒューズリンク及び一体形表示器を組み込んだヒューズリンクに関する要求事項は含んでい

ない。

注記 1

これらのヒューズは,既存の公称

380 V

及び

415 V

システムから進化する,将来的な標準電

圧交流

400 V

用システムで用いる予定である。しかし,暫定期間においては,多くの国が,

交流

433 V

の設計開路電圧及び交流

415 V

の目標負荷時電圧をもつ関連配電変圧器を引き続

き用いている。したがって,これらのヒューズリンクは,全ての電源が交流

400 V

の推奨値

に進化する時期まで供給され続け,交流

415 V

として試験することになる。

注記 2

非互換性及び充電部の偶発的な接触に対する保護は,構造的手段で確実にする必要はない。

これらのヒューズリンクは,標準“

gG

”タイプに非常に類似しており,変圧器の一次側の高圧ヒューズ

リンクとの優れた動作協調を保証するために,

特に短い時間領域での高速性能特性が要求される。

これは,

これらのヒューズリンクの性能が,

gG

の要求事項に合わなければならないということである。暫定期間に

おいては,

ヒューズシステム で記述される遮断範囲及び利用カテゴリは,

gU

と規定しなければならない。

ほとんどの場合,関連機器の一部は,ヒューズベースの目的に適合する。機器の多様性のために,一般

的な規則を示すことはできない。ヒューズベースとして役立つ関連機器の適合性は,製造業者と使用者と

の間の合意によることが望ましい。

個別のヒューズベース又はホルダを用いる場合,それらは JIS C 8269-1 の妥当な要求事項に適合するこ

とが望ましい。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

最小定格遮断容量

時間−電流特性

  I

2

t

特性

構造の標準条件

ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

JIS C 8269-1

を適用する。

3

使用状態の条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

3.9

ヒューズリンクの動作協調


121

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

JIS C 8269-1

の 3.9 は適用しない。これらのヒューズリンクの場合,正しい動作協調は,JIS C 8269-1 

表 及び 5.6.1 に規定され,図 901,図 902,図 903 及び図 904 に規定する時間−電流特性の標準ゾーンへ

の適合,並びに 7.7 

表 902 に規定する値への適合で保証する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

この規格に適用する,JIS C 8269-1 

表 に示されている標準定格電圧値は,交流

400 V

である(1.1 

注記 も参照)。

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流

締付け中心部間

82 mm

のヒューズリンクの標準電流定格は,

100 A

160 A

200 A

250 A

315 A

355 A

及び

400 A

である。締付け中心部間

92 mm

のヒューズリンクの標準電流定格は,

100 A

160 A

200 A

250

A

315 A

355 A

400 A

500 A

及び

630 A

である。

20 A

以上のその他の電流定格は,JIS C 8269-1 の 5.3.1

に規定する値から選択してよい。これらのほかの定格の性能値は標準化されていないが,隣接する上位の

最高標準電流定格に適用する性能値を超えてはならず,また,隣接する下位の最低標準電流定格に適用す

る性能値以上でなければならない。

全ての定格は,

図 905 に規定する標準寸法に適合しなければならない。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損

8.3.1

に従って試験し,

図 906 に規定する標準試験リグで測定した,ヒューズリンクに許容されたワット

損の最大値は,

表 901 による。

表 901−ワット損の最大値

定格電流 A

100 160 200 250 315 355 400 500 630

ワット損

W

10 14 18 22 29 29 33 38 46

注記  ワット損を測定するための電圧の測定点を,図 906 に示す。

5.6.1

時間−電流特性及び時間−電流ゾーン

製作公差を除く,時間−電流ゾーンは,

図 901,図 902,図 903 及び図 904 による。時間−電流特性の公

差は,電流に関して,

10 %

を超えて逸脱してはならない。

5.6.2

協約時間及び協約電流

協約時間及び協約電流は,JIS C 8269-1 

表 による。

5.6.3

ゲート

これらのヒューズリンクには,JIS C 8269-1 の 5.6.3 を適用しない。正しい動作協調は,5.6.1 に規定し,

図 901,図 902,図 903 及び図 904 に規定する時間−電流特性の標準ゾーンへの適合で保証する。

5.7.2

定格遮断容量

定格遮断容量は,交流

50 kA

とする。

5.8

限流特性及び I

2

t

特性

JIS C 8269-1

の 5.8 を適用する。

I

2

t

特性は,定格電流の関数としての溶断値及び全動作値を示すグラフ


122

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

として表わしてもよい。

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

6.1

ヒューズホルダの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ

6.2

ヒューズリンクの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

サイズ又は関連コード

定格遮断容量

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

7.1

機械的設計

ヒューズリンクの寸法は,

図 905 による。

7.2

絶縁性能及び絶縁適合性

ヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は,JIS C 60664-1 の過電圧カテゴリ

III

の要求事項に適合しな

ければならない。

7.5

遮断容量

次の

注記を追加して,JIS C 8269-1 の表 に規定する最大アーク電圧を適用する。

注記

交流の場合,アーク電圧は,超過期間が

1 ms

を超えない場合,示された値の 2 倍に達してよ

い。

7.7

I

2

t

特性

JIS C 8269-1

表 の値を,gU ヒューズリンクに関する表 902 に規定する値に置き換えて,JIS C 8269-1

の 7.7 を適用する。その他の定格値は規定しないが,JIS C 8269-1 の 5.3 に示されている非標準電流定格の

性能要求事項に適合しなければならない。

表 9020.01 s における gU ヒューズリンクの溶断 I

2

t

t

n

最小  I

2

t

最大  I

2

t

A 10

3

×(A

2

s) 10

3

×(A

2

s)

100 12.0

33.0

160 40.0

130.0

200 67.0

200.0

250 100.0

380.0

315 160.0

520.0

355 280.0

1

000.0

400 420.0

1

400.0

500 800.0

2

400.0

630

1 400.0

4 000.0


123

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

7.8

ヒューズリンクの過電流動作協調

正しい動作協調は,5.6.1 に規定し,

図 901,図 902,図 903 及び図 904 に示されている時間−電流特性

の標準化ゾーンへの適合で保証される。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.1.1

試験の種類

JIS C 8269-1

の 8.1.1 を適用するが,標準の寸法及び性能のヒューズリンクは,このヒューズシステムに

従って試験を行った場合,その試験結果は同一構成のヒューズリンクで,異なった接触部寸法及び締付け

部中心寸法のものも包含するとみなす。ただし,その変更が性能の低下とならないようにすることが条件

である。

8.3.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクは,適切なキャリヤの中に取り付け,

図 906 に規定する試験リグの中で試験しなければ

ならない。ヒューズへの接続の場合,JIS C 8269-1 

表 17 は適用せず,また,標準定格の場合,試験リグ

のいずれかの側における接続は,それぞれが長さが 1 m 以上で,

表 903 に従って選択した銅帯でなければ

ならない。その他の定格の場合,実際の定格電流より大きい,

表 903 の定格電流に対応する導体の断面積

を適用する。

表 903−ワット損及び温度上昇試験の導体の断面積

ヒューズリンクの定格電流

導体の断面積

a)

A mm

2

100 20×1.6 
160 20×2.5 
200 20×3.15 
250 20×5 
315 25×5 
355 25×6 
400 25×8 
500 40×6 
630

40×10

a)

  これらの導体サイズの近似値を許容する。

8.3.3

ヒューズリンクのワット損の測定

JIS C 8269-1

の 8.3.3 を適用する。ワット損の測定点は,

図 906 による。

8.4.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクは,適切なキャリヤの中に取り付け,

図 906 に規定する試験リグにおいて時間−電流特

性を試験しなければならない。

8.4.3.3.2

ゲートの検証

正しい動作協調は,5.6.1 に規定され,

図 901,図 902,図 903 及び図 904 に示され,JIS C 8269-1 の 8.4.3.3

のとおりに検証される,gU ヒューズリンクの時間−電流特性の標準ゾーンへの適合で保証される。

8.5.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクは,

図 907 に規定する試験リグにおいて遮断容量を試験しなければならない。試験リグ


124

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

を越える試験接続の配置は規定されない。

8.5.2

試験回路の特性

直流試験を省略することを除き,JIS C 8269-1 の 8.5 を適用する。

8.5.5

試験方法

直流試験を省略することを除き,JIS C 8269-1 の 8.5.5.1 を適用する。試験設備のために試験が直接でき

ない場合(例えば,

I

n

≧200 A の場合)

,2 部構成試験を用いてよい。

直流試験を省略することを除き,JIS C 8269-1 の 8.5.5.2 を適用する。

8.5.8

試験結果の評価

JIS C 8269-1

の 8.5.8 を適用し,更に,ヒューズリンクは,金属製遮蔽へのアークを示す細いワイヤヒュ

ーズが溶融することなく,また,試験リグが機械的損傷を受けることなく動作しなければならない。

8.7.3

0.01 s

におけるヒューズリンクの適合の検証

JIS C 8269-1

表 への適合を,この規格の表 902 への適合に置き換えることを除き,JIS C 8269-1 

8.7.3

を適用する。

8.9

耐熱性の検証

ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル

ダは,事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は,JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 に規定

している。通常の温度まで下げた後に 8.5 によって

I

1

の遮断容量試験を行う。

有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは,

上記と同じ試験を行う。

これらのヒューズリンクは,

試験電流

I

1

及び

I

5

で遮断しなければならない。

8.11

機械的試験及びその他の試験

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

ヒューズホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には,定格

電流を通電して温度上昇試験を行う。

温度上昇試験の終了後,ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは,該当するヒューズベースに 100 回の

着脱を行う。

これらの試験終了後,全ての部品は損傷することなく,正常に機能しなければならない。

評価は,最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い,得られた値が機械的試験の開始に先立つ

温度上昇試験から得られた値を,5 K 又は 15 %(いずれか大きなほう)を超えないことを検証する。

8.11.2.2

耐異常熱及び耐火炎の検証

JIS C 8269-1

の 8.11.2.2 は適用しない。


125

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

図 901−定格電流 100 A200 A355 A 及び 630 A の時間−電流ゾーン

固有電流(A)

時間(

s)


126

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 902−定格電流 160 A 及び 315 A の時間−電流ゾーン

固有電流(A)

時間(

s)


127

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

図 903−定格電流 250 A 及び 500 A の時間−電流ゾーン

固有電流(A)

時間(

s)


128

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 904−定格電流 200 A 及び 400 A の時間−電流ゾーン

固有電流(A)

時間(

s)


129

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

1)

  は,エンドキャップの表面から 7 mm の位置の寸法。

タグは,次の関連寸法 

a)

 に確実に従うとみなせる形状でなければならない。

最大定格

締付け部間寸法 82 mm のもの

電流

A B C D E F

a)

G H  J  K  L M

b)

N P Q 

A

最大  公称  最大  最大  最大  最大

公称

公称

公称

最大

公称

公称  公称

公称

400  112 82 61 25 36 48 19 17 14 35 2.4

6.53 
6.45

13 10  3

a)

  は,びょう頭を含めた本体の有効長さの最大寸法を表す。

b)

  は,最大及び最小寸法を表す。

最大定格

締付け部間寸法 92 mm のもの

電流

A B C D E F

a)

G H  J  K  L M

b)

 N  P  Q 

A

最大  公称  最大  最大  最大  最大

公称

公称

公称

最大

公称

公称  公称

公称

630  132 92 75 25 50 48 24 20 17 42 3.2

8.13 
8.05

16 11  3

a)

  は,びょう頭を含めた本体の有効長さの最大寸法を表す。

b)

  は,最大及び最小寸法を表す。

図 905形及び 形タグをもつヒューズリンクの寸法

L 形タグをもつヒューズリンク

タグ構造の代表形状

1) 

F

/2

F

/2

B

/2

B

/2

A

/2

A

/2

F

/2 F/2

U形タグをもつヒューズリンク

タグ構造の代表形状


130

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

キー 
1

  A(締付け中心寸法)

2

  電圧降下測定点

3

  すずめっきした銅

4

  絶縁板

注記 1  適切な外部導体にボルト締めする。 
注記 2  ヒューズキャリヤは明確に除外する。

単位  mm

最大定格電流

A B C D E F G H 

(A)

400

82.0 31.5  6.3  35.0 24.0 76.2 16.0 13.5

630

92.0 40.0  8.0  41.3 28.6 76.2 22.3 17.5

図 906−ワット損測定の試験装置


131

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm

1)

  取り外せるカバーは,ワイヤで織られた柔らかいシート状の布,又は適切な硬さを保持する厚さの孔をあけた

軟鋼シートで作る。ワイヤクロス又は孔をあけた軟鋼シートのそれぞれの孔は,1 区画で 8.5 mm

2

を超えない。

図に示すカバーの断面は,単に例示であり,カバーと充電金属部との間の最小空間距離が 19 mm 以下の場合,
ほかの形状のものを用いてもよい。

2)

  この位置における目に見える隙間はエンドキャップが試験装置接触部から支持されないことを確実にするため

に不可欠である。

3)

  銅導体のサイズは,試験所によって選択し,また,適切な遮断容量でなければならない。

4)

  ベース及びベースへの試験接触部の固定は,試験においてヒューズリンクへの外部負荷なしに加えられた力に

耐えられるよう十分硬くなければならない。ベースに適合する材料は,フェノール樹脂積層板である。

5)

  銅帯

6)

  ファインワイヤヒューズの端子。銅線の寸法が約 0.1 mm のファインワイヤヒューズを,75 mm 以上の任意の長

さで,端子と試験品の 1 極との間に接続する。

7)

  短絡リンクは固有電流試験に要求される。これは,簡単な接続で組み込んでもよい。銅リンクのサイズは試験

所によって選択し,また,適切な遮断容量でなければならない。

8)

  絶縁ベースボード。

9)

 32×32×5 の軟銅アングルブラケット。

図 907−遮断試験用リグ

1)

2)

3)

4)

5)

6)

7)

8)

9)


132

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

最大定格電流

A B C D E F G H X Y 

ボルトに適合する

ヒューズリンク

400 82.0

31.5

6.3

35.0

24.0

76.2

16.0

13.5

152

124  M12

630 92.0

40.0

8.0

41.3

28.6

76.2

22.3

17.5

170

138  M16

図 907−遮断試験用リグ(続き)


133

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

ヒューズシステム J

“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”特性のヒューズリンクを用いた

ヒューズ(クラス CC の遅動及び非遅動形ヒューズ)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の追加要求事項は,

図 1001,図 1002,図 1003 及び図 1004 に規定する寸法に適合した“gD クラス CC”

及び“gN クラス CC”ヒューズに適用する。ヒューズの定格電流は,円筒形接触部のものについては 30 A

以下である。定格電圧は,交流 600 V,定格遮断容量は,200 kA とする。

このヒューズリンクは,タイムラグ及び非タイムラグの二つの異なる時間−電流特性をもつ。いずれの

時間−電流特性も同一の基準溶断及び不溶断電流範囲に適合し,装置について指定された限流及び最大動

I

2

t

範囲に適合する。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

・  最小定格遮断容量

・  時間−電流特性

I

2

t

特性

・  構造の標準条件

・  ワット損及び受容ワット損

2

用語及び定義

JIS C 8269-1

を適用する。

3

使用状態の条件

JIS C 8269-1

を適用する。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

定格電圧は,交流 600 V とする。

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流

JIS C 8269-1

に規定する定格のほかに,R40 シリーズから適切な定格を選択でき,さらに,5 A 及び 17.5

A であってもよい。最大定格電流は,図 1001 に規定するように 30 A である。

5.3.2

ヒューズホルダの定格電流

ヒューズホルダの最大定格電流は,

図 1002 に規定するように 30 A である。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損


134

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

最大定格ワット損値は

図 1001 による。ヒューズベースの定格受容ワット損は,同一定格のヒューズリン

クの最大定格ワット損値以上とする。

5.6

時間−電流特性の制限

5.6.1

時間−電流特性及び時間−電流ゾーン

ゲート並びに協約時間及び協約電流によって示す溶断時間範囲のほかに製造許容範囲を除く時間−電流

ゾーンは,

図 1005,図 1006,図 1007,図 1008,図 1009 及び図 1010 による。時間−電流特性の誤差範囲

は,電流値で±10 %でなければならない。

5.6.2

協約時間及び協約電流

“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”ヒューズリンクは,

表 1001 に規定する協約時間及び協約電流

を適用する。

表 1001−“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流

定格電流 I

n

協約時間

協約電流

A h

I

nt

I

f

I

n

≦30 1

1.1

I

n

 1.35

I

n

5.6.3

ゲート

“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”ヒューズリンクは,

表 1002 に規定するゲートを適用する。

表 1002−“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”ヒューズリンクの規定溶断時間に関するゲート

ヒューズリンク

I

n

A

I

min

(10 s)

I

max

(5 s)

I

min

(0.1 s)

I

max

(0.1 s)

gD クラス CC 1≦I

n

≦30 2.0

I

n

 5.0

I

n

 5.0

I

n

 9.0

I

n

gN クラス CC 1≦I

n

≦30 1.5

I

n

 3.0

I

n

 2.0

I

n

 6.5

I

n

5.7.2

定格遮断容量

定格交流遮断容量は,200 kA とする。

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

6.1

ヒューズホルダの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

−  サイズ

6.2

ヒューズリンクの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

−  サイズ又は関連コード

−  定格遮断容量

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。


135

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

7.1

機械的設計

ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は,それぞれ

図 1001 及び図 1002 とする。

7.2

絶縁特性及び絶縁適合性

ヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は,JIS C 60664-1 の過電圧カテゴリ III の要求事項に適合しな

ければならない。

7.5

遮断容量

“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”の 600 V 定格ヒューズの JIS C 8269-1 

表 に規定する最大ア

ーク電圧は 3 000 V である。

7.6

限流特性

最大値は,

表 1005 に規定する値以下とする。

7.7

I

2

t

特性

“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”ヒューズリンクに関する 0.01 s 時の溶断

I

2

t

値は,

表 1003 に規

定する範囲内とする。

最大動作

I

2

t

値は,

表 1006 による。

表 1003−“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”ヒューズリンクに関する 0.01 s 時の溶断 I

2

t

I

n

A

I

2

最小

10

3

×A

2

s

I

2

最大

10

3

×A

2

s

1

0.001 2

0.002 8

2 0.003

5

0.008

3 0.007 0.017 
4 0.015 0.035 
5 0.02  0.051 
6 0.03  0.072 
7 0.04  0.1 
9 0.06  0.15

10 0.08  0.23 
12 0.11  0.32 
15 0.17  0.49 
17.5 0.24

0.70

20 0.31  0.93 
25 0.50  1.4 
30 0.70  2.1

7.8

ヒューズリンクの過電流動作協調

同一の種類及び使用カテゴリのヒューズリンクの 15 A のものとそれよりも上のものとの動作強調は,上

側ヒューズ定格電流と下側ヒューズ定格電流との比を 2:1 に維持することによって得られる。

“gD クラス

CC”ヒューズリンクの定格電流が高い場合,“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”ヒューズリンクの間

で 1.6:1 の比が可能である。15 A 未満の定格電流については,製造業者に問い合わせるのが望ましい。

7.9

感電に対する保護

仕切壁及びヒューズ接触部は,カバーで感電保護を高めることができる。


136

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.3

温度上昇及びワット損の検証

8.3.1

ヒューズの配置

ヒューズは,ヒューズの長軸を水平位置にして取り付けなければならない。導体の断面積は,8.4 mm

2

とする。

8.3.4.1

ヒューズホルダの温度上昇

ダミーヒューズリンクは,

図 1003 による。温度上昇の測定点は,ダミーヒューズリンクを使用する場合

を除き,

図 1004 の点 A で示す。

8.3.4.2

ヒューズリンクのワット損

ワット損の測定点は,

図 1004 の点 B で示す。

8.4

動作の検証

8.4.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクの試験装置は,8.3.1 に規定するものとする。

8.4.3.3.2

ゲートの検証

次の試験は,低い電圧で実施してもよい。

“gD クラス CC”及び“gN クラス CC”ヒューズリンクは,

JIS C 8269-1

の 8.4.3.3.1 に指定された試験のほかに,次の事項を検証する。

a)

ヒューズリンクは

表 1002,列 3 の電流を 10 秒間流したとき,溶断してはならない。

b)

ヒューズリンクは

表 1002,列 4 の電流を流したとき,5 秒以内に溶断しなければならない。

c)

ヒューズリンクは

表 1002,列 5 の電流を 0.1 秒間流したとき,溶断してはならない。

d)

ヒューズリンクは

表 1002,列 6 の電流を流したとき,0.1 秒以内に溶断しなければならない。

8.5.4

回復電圧

JIS C 8269-1

表 20 において,“gN クラス CC”及び“gD クラス CC”ヒューズリンクの交流商用周波

回復電圧は,定格電圧,600 V の 100

0

5

+

 %とする。

JIS C 8269-1

表 21 において,“gN クラス CC”及び“gD クラス CC”ヒューズリンクの回復電圧の直

流平均値は,定格電圧,600 V の 100

0

5

+

 %とする。

8.6

限流特性の検証

限流値は,

表 1005 に規定する範囲を超えてはならない。

JIS C 8269-1

の 8.5 及び

表 20 に基づく遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。


137

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

表 1005200 kA 固有電流時の“gD クラス CC”及び

gN クラス CC”ヒューズリンクの最大限流値(I

c

I

n

A

I

c

kA

1 0.98 
2 1.4 
3 1.8 
4 2.2 
5 2.5 
6 2.8 
7 3.1 
9 3.5

10 4.1 
12 4.5 
15 5.0 
17.5 5.7 
20 6.2 
25 7.5 
30 9.5

8.7

I

2

t

特性及び過電流動作協調の検証

最大動作

I

2

t

値は,

表 1006 に規定する範囲を超えてはならない。JIS C 8269-1 の 8.5 及び表 20 に基づく

遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。

表 1006200 kA 固有電流時の“gD クラス CC”及び

gN クラス CC”ヒューズリンクの最大動作 I

2

t

I

n

A

I

2

t

10

3

×A

2

s

1 0.000

8

2 0.025 
3 0.054 
4 0.105 
5 0.15 
6 0.23 
7 0.35 
9 0.50

10 0.78 
12 1.2 
15 1.8 
17.5 2.4 
20 3.1 
25 4.9 
30 7.0

8.9

耐熱性の検証

ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル


138

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ダは,事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 に規定し

ている。通常の温度まで下げた後に 8.5 によって

I

1

の遮断容量試験を行う。

有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは,

上記と同じ試験を行う。

これらのヒューズリンクは,

試験電流

I

1

及び

I

5

で遮断しなければならない。

8.10

接触部の不劣化の検証

JIS C 8269-1

の 8.10 を適用する。

8.10.1

ヒューズの配置

次の事項のほかに,JIS C 8269-1 の 8.10.1 を適用する。

図 1003 に規定するダミーヒューズリンクは,図 1001 に規定する寸法及び最大ワット損

P

n

(W)である。

ダミーヒューズリンクは,図のとおりの寸法でめっきされていない銅でできた,過負荷電流

I

nf

が流れてい

る間は作動しない構造とする。

8.10.2

試験方法

次の試験値を適用する。

試験電流:不溶断電流

I

nf

負荷期間:協約時間の 25 %

無負荷期間:協約時間の 10 %

定格電圧よりも低い試験電圧で実施してもよい。

8.10.3

試験結果の評価

250 サイクル後に測定した温度上昇値は,試験開始時に測定した温度上昇を 15 K 以上超えてはならない。

必要な場合,750 サイクル後に,温度は,試験開始前に測定した値を 20 K 以上超えてはならない。

8.11

機械的試験及びその他の試験

8.11.1.1

ヒューズホルダの機械的強度

図 1003 に規定したダミーヒューズリンクを取り付けたヒューズホルダの場合,又はヒューズホルダに適

合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には,定格電流を通電して温度上

昇試験を行う。

温度上昇試験の終了後,ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは,該当するヒューズベースに 100 回の

着脱を行う。

これらの試験終了後,全ての部品は損傷することなく,正常に機能しなければならない。

評価は,最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い,得られた値が機械的試験の開始に先立つ

温度上昇試験から得られた値を,5 K 又は 15 %(いずれか大きなほう)を超えないことを検証する。

8.11.2

その他の試験

8.11.2.2

耐異常熱及び耐火炎の検証

検討中。


139

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

定格電流

寸法

mm

I

n

P

n

a b c d e 

A W

±0.79

±0.13

±0.13

最小

最小

1∼30 8 38.10

10.29

6.35

3.05

9.4

図 1001−クラス CC ヒューズリンク(130 A

I

n

最大

A

寸法

mm

a b c d e  f g 

接触部クリッ

プの最小幅

接触部クリッ

プ間の距離

エンドストッ

プ間の最小距

ヒューズリン

ク接触部の公

称径

ヒューズリン

ク接触部の公

称径

ヒューズリン

ク支持部の最

大幅

接触部クリッ

プの最小幅

30 9.4

25.65  34.26  10.29  6.35

9.4

3.05

図 1002−ヒューズリンク 130 A 用ヒューズベース及び接触部


140

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm

定格

A

ヒューズの

クラス

形式

寸法

mm

外径

肉厚

A B 

30 CC 管 10.31 1.17 38.1

a)

 34.1

a)

注記  ダミーヒューズリンクはめっきされていない銅製。 

a)

  許容差±0.79

図 1003−クラス CC ダミーヒューズリンク寸法


141

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

キー 
A:温度測定点 
B:ワット損測定点

図 1004−温度試験装置

A

B

A

B

B


142

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 1005−クラス CCgN”ヒューズの時間−電流ゾーン

固有電流  (A)

時間

 (s)


143

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

図 1006−クラス CCgN”ヒューズの時間−電流ゾーン

固有電流  (A)

時間

 (s)


144

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 1007−クラス CCgN”ヒューズの時間−電流ゾーン

固有電流  (A)

時間

 (s)


145

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

図 1008−クラス CCgD”ヒューズの時間−電流ゾーン

固有電流  (A)

時間

 (s)


146

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 1009−クラス CCgD”ヒューズの時間−電流ゾーン

固有電流  (A)

時間

 (s)


147

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

図 1010−クラス CCgD”ヒューズの時間−電流ゾーン

固有電流  (A)

時間

 (s)


148

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ヒューズシステム K

ボルト締め接触部をもつ“gK”ヒューズリンク−

1 250

∼4 800 A の大電流ヒューズリンク定格

マスター・ヒューズリンク)

1

一般

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

1.1

適用範囲

次の追加要求事項は,

図 1101 に規定した寸法に適合した,ボルト締め接触部をもつ“gK”ヒューズリ

ンクに適用する。ヒューズの定格電流は,1 250∼4 800 A であり,定格電圧は,交流 690 V 又は直流 500 V

以下である。

JIS C 8269-1

に加えて,次のヒューズ特性を規定する。

−  定格値

−  ワット損及び受容ワット損

−  時間−電流特性

−  最小定格遮断容量

−  限流特性及び

I

2

t

特性

−  構造の標準条件

2

用語及び定義

JIS C 8269-1

を適用する。

3

使用状態の条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

3.9

ヒューズリンクの動作協調

0.1 秒より長い時間における動作協調の限界は,表 1103 による。

“gK”ヒューズリンクの溶断

I

2

t

値及び動作

I

2

t

値は,

表 1105 による。

4

類別

JIS C 8269-1

を適用する。

5

ヒューズの特性

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

5.2

定格電圧

交流の場合,定格電圧の標準値は 400 V,500 V 及び 690 V である。直流の場合は,定格電圧の標準値は

250 V,440 V 及び 500 V である。

直流定格電圧の標準値は,交流定格電圧の標準値と関連していない。例えば,次の標準組合せが可能で

ある。交流 500 V−直流 250 V,交流 500 V−直流 500 V,交流 690 V−直流 440 V,その他。

5.3.1

ヒューズリンクの定格電流


149

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

JIS C 8269-1

に規定した定格のほかに,シリーズから次の適切な定格を選択できる。1 250,1 600,2 000,

2 500,3 200,4 000,4 800

各サイズについて最大定格電流は,

図 1101 による。

5.3.2

ヒューズホルダの定格電流

接続寸法に応じたヒューズホルダの最大定格電流は,

図 1102 による。

5.5

ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損

図 1102 に規定する標準装置で測定したときに,8.3.1 によって試験するヒューズリンクが許容される最

大定格ワット損値は,

表 1101 による。

表 1101−“gK”ヒューズリンクの最大ワット損値

ヒューズ

寸法図

交流 500 V

交流 690 V

I

n

A

P

n

W

I

n

A

P

n

W

D

1

250

100

D

1

600

125

E

2

000 150 2

000 150

E

2

500 190 2

500 190

F

3

200 230 3

200 230

G 4

000

280

G 4

800

330

注記 1  ヒューズ寸法図は,図 1101 に記載がある。 
注記 2  ワット損を測定するための電圧の測定点は,図 1103 に記

載がある。

5.6

時間−電流特性の制限

5.6.1

時間−電流特性及び時間−電流ゾーン

製造業者が示す時間−電流特性の許容範囲は,電流に関して±10 %を超えて逸脱してはならない。8.7

に基づく試験電圧で測定した全ての溶断及び動作時間は,許容範囲を含めて

図 1104 に示した時間−電流ゾ

ーンを満たさなければならない。

5.6.2

協約時間及び協約電流

協約時間及び協約電流は,

表 1102 による。

表 1102−“gK”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流

“gK”の定格電流  I

n

協約時間

協約電流

A h

I

nf

I

f

I

n

≧1 250

4

1.25 I

n

 1.6

I

n

5.6.3

ゲート

“gK”ヒューズリンクは,

表 1103 に規定するゲートを適用する。


150

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

表 1103−“gK”ヒューズリンクの規定された溶断時間に関するゲート

I

n

A

I

min

(10 s)

A

I

max

(5 s)

A

I

min

(0.1 s)

A

I

max

(0.1 s)

A

1 250

  5 300

  9 600

13 000

21 800

1 600

  6 800

12 600

17 000

28 000

2 000

  8 700

16 100

21 800

35 400

2 500

11 100

20 500

28 000

44 600

3 200

14 300

26 500

35 400

56 500

4 000

18 500

34 400

44 600

72 200

4 800

23 000

42 500

56 500

87 000

5.7.2

定格遮断容量

“gK”ヒューズリンクの定格遮断容量は,

表 1104 による。

表 1104−“gK”ヒューズリンクの最小定格遮断容量

定格電圧

最小定格遮断容量

交流 500 V 以下 200

kA

交流 690 V

160 kA

直流 500 V 以下 100

kA

6

表示

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

この規格の

ヒューズシステム の要求事項及び試験を満足するヒューズリンク及びヒューズホルダは,

JIS C 8269-2

を表示できる。

6.2

ヒューズリンクの表示

JIS C 8269-1

に加えて,次の事項を適用する。

−  サイズ又は関連コード

7

構造の標準条件

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

7.1

機械的設計

ヒューズリンクの寸法は,

図 1101 による。使用する接続寸法は,図 1102 による。

7.1.3

ヒューズ接触部

ヒューズリンクと銅ブスバーとの接触面は,通常の動作中に損なわれないことを検証しない限り,銀め

っきしなければならない。

7.6

限流特性

最大値は,

表 1107 に規定する値以下とする。

7.7

I

2

t

特性

この“gK”

ヒューズシステム が適用されるヒューズリンクの場合,最大溶断

I

2

t

値を最大動作

I

2

t

値は,

表 1105 に規定する範囲内とする。


151

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

表 1105−“gK”ヒューズリンクに関する 0.01 s 時の溶断及び動作 I

2

t

I

n

A

I

2

t

min

k A

2

s

I

2

t

max

k A

2

s

1 250

2 700

7 900

1 600

4 760

13 700

2 000

7 900

23 800

2 500

13 700

40 000

3 200

23 800

66 000

4 000

40 000

120 000

4 800

66 000

185 000

7.8

gK”ヒューズリンクの過電流選択性

定格電流比が 1:1.6 のヒューズリンクは,8.7 に規定した値で動作協調がとれなければならない。

7.9

感電に対する保護

感電に対する保護は,仕切壁及びヒューズ接触部のカバーによって高めることができる。

8

試験

次の追加要求事項とともに,JIS C 8269-1 を適用する。

8.3

温度上昇及びワット損の検証

8.3.1

ヒューズの配置

ヒューズは,

ヒューズの長軸を水平位置にして取り付けなければならない。

ヒューズリンクの各端子は,

図 1102 の数値に従った寸法の銀めっきした銅ブスバーに接点で接続する。

ブスバーの断面積は,

表 1106 に規定する数値に従って選ぶ。

表 11068.3 及び 8.4 に基づく試験用の銅導体の断面積

定格電流

A

断面積

mm

2

1 250

800

1 600

1 200

2 000

1 500

2 500

2 000

3 200

2 500

4 000

3 000

4 800

4 000

8.3.4.2

ヒューズリンクのワット損

ワット損の測定点は,

図 1103 の点 A で示す。

8.4.1

ヒューズの配置

ヒューズリンクの試験装置は,8.3.1 に規定するものとする。

8.4.3.1

協約不溶断電流及び協約溶断電流の検証

不溶断電流試験で時間−電流特性の検証も行う場合,不溶断試験のサンプルを JIS C 8269-1 の 8.4.3.1 b)

の試験に用いなければならない。

8.6

限流特性の検証


152

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

限流値は,

表 1107 に規定する範囲を超えてはならない。

JIS C 8269-1

の 8.5 及び

表 20 に基づく遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。

表 1107100 kA 固有電流時の“gK”ヒューズリンクの最大動作 I

2

t

値(1 2504 800 A

I

n

A

I

c

kA

1 250

  92

1 600

110

2 000

135

2 500

150

3 200

200

4 000

230

4 800

260

8.7

I

2

t

特性及び過電流選択性の検証

記録された試験結果から評価された

I

2

t

値によって,

“gK”ヒューズリンクに関する 1:1.6 の過電流の選

択性を検証する。

試験回路及び電流の許容範囲に関する JIS C 8269-1 の 8.5 及び

表 20 に基づく遮断容量試験の場合と同様

に,試料を配置する。

4 個の試料を試験する。2 個の試料は,最小溶断

I

2

t

値(

表 1108 参照)に基づく固有試験電流

I

(実効値)

で試験し,残りの 2 個の試料は,動作

I

2

t

値(

表 1108 参照)に対応する固有試験電流

I

(実効値)で試験す

る。

690 V ヒューズの試験電圧許容範囲は,100

0

10

+

 %である。

それ以外のヒューズの試験電圧許容範囲は,全て 100

0

15

+

 %である。

表 1108−“gK”ヒューズリンク選択性試験の試験電流及び I

2

t

範囲

I

n

A

最小遮断  I

2

t

最大動作  I

2

t

動作協調比

固有電流

実効値

kA

 

I

2

t

kA

2

s

固有電流

実効値

kA

 

I

2

t

kA

2

s

1 250

24

2 300

41

6 700

1:1.6

1 600

32

4 100

54

11 700

2 000

41

6 700

71

20 000

2 500

54

11 700

92

34 000

3 150

71

20 000

120

55 000

4 000

92

34 000

160

102 000

4 800

116

55 000

197

155 000

評価

I

2

t

値は,

表 1108 に規定した対応する

I

2

t

範囲内でなければならない。

注記  “gK”ヒューズシステム の過電流選択性は,

“gG”ヒューズリンク,

ヒューズシステム A

ヒューズシステム について 1:3.2 である。

8.9

耐熱性の検証


153

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したブスバーは,事前処理として周期的に負荷をかけなけれ

ばならない。事前処理は,JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 に規定している。通常の温度まで下げた後に 8.5 によっ

I

1

の遮断容量試験を行う。

有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは,

上記と同じ試験を行う。

これらのヒューズリンクは,

試験電流

I

1

及び

I

5

で遮断しなければならない。

8.10

接触部の不劣化の検証

JIS C 8269-1

の 8.10 を適用する。

8.10.1

ヒューズの配置

次の事項のほかに,JIS C 8269-1 の 8.10.1 を適用する。

ヒューズリンクは,

図 1101 に規定する寸法及び表 1101 に規定する最大ワット損

P

n

(W)をもたなけれ

ばならない。

ヒューズリンクは,過負荷電流

I

nf

が流れている間は作動しない構造とする。

8.10.2

試験方法

次の試験値のほかに,JIS C 8269-1 の 8.10.2 を適用する。

試験電流:不溶断電流

I

nf

負荷期間:協約時間の 25 %

無負荷期間:協約時間の 10 %

定格電圧よりも低い試験電圧で実施してもよい。

8.10.3

試験結果の評価

試験所の経験に基づき,許容変化を決定する。最終的な判定基準は合致しなければならないが,中間基

準(250 サイクル)の合計ではない。

8.11.2.2

耐異常熱及び耐火炎の検証

検討中。


154

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm−許容値±1 mm

88.9

∅15.9

102

以下

136

225

273

∅89.7 以下 69.8

12.7

D

1 250

1 600 A 

E

2 000

2 500 A 

図 1101−“gK”ヒューズリンク

∅15.9

102.0

以下

140.0

230.0

273.0

40

.

0

60

.

0

130

.

0

以下

10

2

.

0

19.0


155

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm−許容値±1 mm

F

3 200 A 

∅15.9

102.0

以下

244.0

273.0

96

.0

18

2.

0

以下

1

46.0

25.4

228.0

158.0

142.0

G

4 000

4 800 A 

図 1101−“gK”ヒューズリンク(続き)

∅15.9

102.0

以下

132.0

220.0 
273.0

50

.0

80

.0

147

.0

以下

121

.0

19.0


156

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

単位  mm−許容値±1 mm

∅15.9

225

18

45

40

60

D

1 250

1 600 A 

∅15.9

230

18

45

40

60

E

2 000

2 500 A 

図 1102−“gK”ヒューズリンクの接続寸法


157

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

単位  mm−許容値±1 mm

∅15.9

220

14

44

50

80

F

3 200 A 

∅15.9

244

27

43

96

228

43

19

G

4 000

4 800 A 

図 1102−“gK”ヒューズリンクの接続寸法(続き)


158

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

ヒューズ寸法図

ヒューズリンク

の定格電流

A

接触部幅

 

mm

D

1 250

60

1 600

70

E

2 000

90

2 500

100

F 3

200 120

G

4 000

130

4 800

150

図 1102−“gK”ヒューズリンクの接続寸法(続き)

A:電圧の測定ポイント

図 1103−ダミーヒューズリンク

エレメント

        絶縁体

接点

フィラー

はんだ

A

A


159

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

図 1104−“gK”ヒューズシステムの時間−電源ゾーン

固有電流(A)

時間(

s)


160

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

   

図 1104−“gK”ヒューズシステムの時間−電源ゾーン(続き)

固有電流(A)

時間(

s)


161

C 8269-2

:2016 (IEC 60269-2:2013)

参考文献

IEC 60060-2

,High-voltage test techniques−Part 2: Measuring systems

IEC 60060-3

,High-voltage test techniques−Part 3: Definitions and requirements for on-site testing

JIS C 0920

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)

IEC 60672-1

,Ceramic and glass insulating materials−Part 1: Definitions and classification

IEC 60672-2

,Ceramic and glass insulating materials−Part 2: Methods of test

IEC 60672-3

,Ceramic and glass-insulating materials−Part 3: Specifications for individual materials

IEC/TR 60943

,Guidance concerning the permissible temperature rise for parts of electrical equipment, in

particular for terminals

IEC 62262

,Degrees of protection provided by enclosures for electrical equipment against external mechanical

impacts (IK code)

JIS B 1051

  炭素鋼及び合金鋼製締結用部品の機械的性質−強度区分を規定したボルト,小ねじ及び

植込みボルト−並目ねじ及び細目ねじ

注記  対応国際規格:ISO 898-1,Mechanical properties of fasteners made of carbon steel and alloy steel

−Part 1: Bolts, screws and studs with specified property classes−Coarse thread and fine pitch thread

(IDT)

ISO 1207

,Slotted cheese head screws−Product grade A

ISO 4589-1

,Plastics−Determination of burning behaviour by oxygen index−Part 1: Guidance

EN 50102

,Degrees of protection provided by enclosures for electrical equipment against external mechanical

impacts (IK code)