C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般適用範囲 ··················································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 引用規格 ······················································································································ 2
ヒューズシステムA 刃形接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ（NHヒューズシステム） ····· 4
1 一般······························································································································· 4
2 用語及び定義 ··················································································································· 4
3 使用状態の条件 ················································································································ 4
4 類別······························································································································· 4
5 ヒューズの特性 ················································································································ 5
6 表示······························································································································· 6
7 構造の標準条件 ················································································································ 6
8 試験······························································································································· 9
附属書AA（参考）ケーブル過負荷保護に関する特別試験 ··························································· 38
ヒューズシステムB 刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンクを備えたヒューズ
（NHヒューズシステム） ····································································································· 39
1 一般······························································································································ 39
2 用語及び定義 ·················································································································· 39
3 使用状態の条件 ··············································································································· 39
4 類別······························································································································ 39
5 ヒューズの特性 ··············································································································· 39
6 表示······························································································································ 40
7 構造の標準条件 ··············································································································· 40
8 試験······························································································································ 40
ヒューズシステムC ヒューズレール（NHヒューズシステム） ···················································· 49
1 一般······························································································································ 49
2 用語及び定義 ·················································································································· 49
3 使用状態の条件 ··············································································································· 49
4 類別······························································································································ 49
5 ヒューズの特性 ··············································································································· 49
6 表示······························································································································ 49
7 構造の標準条件 ··············································································································· 49
8 試験······························································································································ 50
ヒューズシステムD 母線取付用のヒューズベース（40 mmシステム）（NHヒューズシステム） ········ 58
1 一般······························································································································ 58
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013) 目次
（2）
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ページ
2 用語及び定義 ·················································································································· 58
3 使用状態の条件 ··············································································································· 58
4 類別······························································································································ 58
5 ヒューズの特性 ··············································································································· 58
6 表示······························································································································ 59
7 構造の標準条件 ··············································································································· 59
8 試験······························································································································ 60
ヒューズシステムE ボルト締め接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ
（BSボルト締めヒューズシステム） ······················································································· 67
1 一般······························································································································ 67
2 用語及び定義 ·················································································································· 67
3 使用状態の条件 ··············································································································· 67
4 類別······························································································································ 67
5 ヒューズの特性 ··············································································································· 67
6 表示······························································································································ 68
7 構造の標準条件 ··············································································································· 68
8 試験······························································································································ 69
ヒューズシステムF 円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ
（NF筒形ヒューズシステム） ······························································································· 79
1 一般······························································································································ 79
2 用語及び定義 ·················································································································· 79
3 使用状態の条件 ··············································································································· 79
4 類別······························································································································ 79
5 ヒューズの特性 ··············································································································· 79
6 表示······························································································································ 81
7 構造の標準条件 ··············································································································· 82
8 試験······························································································································ 83
ヒューズシステムG オフセット刃形接触部をもつヒューズリンクのヒューズ
（BSクリップインヒューズシステム） ···················································································· 90
1 一般······························································································································ 90
2 用語及び定義 ·················································································································· 90
3 使用状態の条件 ··············································································································· 90
4 類別······························································································································ 90
5 ヒューズの特性 ··············································································································· 90
6 表示······························································································································ 91
7 構造の標準条件 ··············································································································· 92
8 試験······························································································································ 92
ヒューズシステムH “gD”及び“gN”特性のヒューズリンクを用いたヒューズ
（クラスJ及びクラスLの遅動及び非遅動形ヒューズ） ····························································· 99
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ページ
1 一般······························································································································ 99
2 用語及び定義 ·················································································································· 99
3 使用状態の条件 ··············································································································· 99
4 類別······························································································································ 99
5 ヒューズの特性 ··············································································································· 99
6 表示····························································································································· 100
7 構造の標準条件 ·············································································································· 101
8 試験····························································································································· 103
ヒューズシステムI ウェッジ締め接触部をもつ“gU”ヒューズリンク·········································· 120
1 一般····························································································································· 120
2 用語及び定義 ················································································································· 120
3 使用状態の条件 ·············································································································· 120
4 類別····························································································································· 121
5 ヒューズの特性 ·············································································································· 121
6 表示····························································································································· 122
7 構造の標準条件 ·············································································································· 122
8 試験····························································································································· 123
ヒューズシステムJ “gDクラスCC”及び“gNクラスCC”特性のヒューズリンクを用いた
ヒューズ（クラスCCの遅動及び非遅動形ヒューズ） ································································ 133
1 一般····························································································································· 133
2 用語及び定義 ················································································································· 133
3 使用状態の条件 ·············································································································· 133
4 類別····························································································································· 133
5 ヒューズの特性 ·············································································································· 133
6 表示····························································································································· 134
7 構造の標準条件 ·············································································································· 134
8 試験····························································································································· 136
ヒューズシステムK ボルト締め接触部をもつ“gK”ヒューズリンク−1 250〜4 800 Aの
大電流ヒューズリンク定格（マスター・ヒューズリンク）·························································· 148
1 一般····························································································································· 148
2 用語及び定義 ················································································································· 148
3 使用状態の条件 ·············································································································· 148
4 類別····························································································································· 148
5 ヒューズの特性 ·············································································································· 148
6 表示····························································································································· 150
7 構造の標準条件 ·············································································································· 150
8 試験····························································································································· 151
参考文献 ··························································································································· 161
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013) 目次
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013) 目次
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
電機工業会（JEMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を
改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格で
ある。これによって，JIS C 8269-2:2000は改正され，この規格に置き換えられ，また，JIS C 8269-2-1:2000
は廃止され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 8269の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 8269-1 第1部：通則
JIS C 8269-2 第2部：専門家用ヒューズの追加要求事項（主として工業用ヒューズ）−標準化された
ヒューズシステムA〜K
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 8269-2：2016
(IEC 60269-2：2013)
低電圧ヒューズ−
第2部：専門家用ヒューズの追加要求事項
（主として工業用ヒューズ）−
標準化されたヒューズシステムA〜K
Low-voltage fuses-
Part 2: Supplementary requirements for fuses for use by authorized
persons (fuses mainly for industrial application)-
Examples of standardized systems of fuses A to K
序文
この規格は，2013年に第5版として発行されたIEC 60269-2を基に，技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般適用範囲
1.1
適用範囲
この規格は，一般に専門家によってだけ，ヒューズリンクに接近でき，かつ，取換えを行う装置に用い
るように設計している，専門家用ヒューズについて規定する。
次のヒューズシステムに基づく専門家用ヒューズは，この規格でほかに規定がない限り，JIS C 8269-1
の箇条の要求事項にも適合しなければならない。
この規格は，次に示すヒューズシステムに分かれており，それぞれが専門家用標準ヒューズの特定の例
を取り上げている。
ヒューズシステムA
刃形接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ（NHヒューズシステム）
ヒューズシステムB
刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンクを備えたヒューズ（NHヒュ
ーズシステム）
ヒューズシステムC
ヒューズレール（NHヒューズシステム）
ヒューズシステムD
母線取付用のヒューズベース（40 mmシステム）（NHヒューズシステム）
ヒューズシステムE
ボルト締め接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ（BSボルト締めヒュ
ーズシステム）
ヒューズシステムF
円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ（NF筒形ヒュ
ーズシステム）
ヒューズシステムG
オフセット刃形接触部をもつヒューズリンクのヒューズ（BSクリップインヒュ
2
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ーズシステム）
ヒューズシステムH
“gD”及び“gN”特性のヒューズリンクを用いたヒューズ（クラスJ及びクラ
スLの遅動及び非遅動形ヒューズ）
ヒューズシステムI
ウェッジ締め接触部をもつ“gU”ヒューズリンク
ヒューズシステムJ
“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”特性のヒューズリンクを用いたヒュー
ズ（クラスCCの遅動及び非遅動形ヒューズ）
ヒューズシステムK
ボルト締め接触部をもつ“gK”ヒューズリンク−1 250〜4 800 Aの大電流ヒュ
ーズリンク定格（マスター・ヒューズリンク）
注記1 この規格は，JIS C 60364建築電気設備規定に対応するヒューズを対象とする。
注記2 JIS C 60364建築電気設備規定とは，電気事業法に基づく電気設備の技術基準の解釈の第218
条の規定をいう。
注記3 この規格を適用する場合，適用するヒューズを適用範囲に含む他の規格と混用してはならな
い。
混用できない規格の例を次に示す。
− JIS C 8352 配線用ヒューズ通則
− JIS C 8313 配線用つめ付きヒューズ
− JIS C 8314 配線用筒形ヒューズ
− JIS C 8319 配線用栓形ヒューズ
注記4 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60269-2:2013，Low-voltage fuses−Part 2: Supplementary requirements for fuses for use by
authorized persons (fuses mainly for industrial application)−Examples of standardized systems
of fuses A to K（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
1.2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 2134 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
注記 対応国際規格：IEC 60112，Method for the determination of the proof and the comparative tracking
indices of solid insulating materials（IDT）
JIS C 8269-1 低電圧ヒューズ−第1部：通則
注記 対応国際規格：IEC 60269-1，Low-voltage fuses−Part 1: General requirements（IDT）
JIS C 60664-1 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 60664-1，Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−
Part 1: Principles, requirements and tests（IDT）
IEC 60060-1，High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 60999 (all parts)，Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type
and screwless-type clamping units
IEC 60999-1，Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type and
screwless-type clamping units−Part 1: General requirements and particular requirements for clamping
3
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
units for conductors from 0.2 mm2 up to 35 mm2 (included)
IEC 60999-2，Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type and
screwless-type clamping units−Part 2: Particular requirements for clamping units for conductors above 35
mm2 up to 300 mm2 (included)
ISO 6988，Metallic and other non organic coatings−Sulfur dioxide test with general condensation of moisture
4
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムA
刃形接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ
（NHヒューズシステム）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の追加要求事項は，図101及び図102に規定する寸法に適合する，例えば，交換ハンドル（図103参
照）などの装置で交換することを意図した刃形接触部をもつヒューズリンクを用いるヒューズに適用する。
ヒューズの定格電流は，1 250 A以下であり，定格電圧は，交流1 000 V又は直流1 500 V以下である。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
− 最小定格遮断容量
− 時間−電流特性
− I2t特性
− 構造の標準条件
− ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 8269-1によるほか，次による。
2.1.101
グリップラグ（gripping-lugs）
交換ハンドル又はヒューズキャリヤに用いるヒューズリンクの部品。グリップラグは，金属製でも絶縁
材料製でもよい。金属製グリップラグは，使用条件によって，充電部でも非充電部であってもよい。
2.1.102
充電グリップラグ（live gripping-lugs）
ヒューズリンクの刃形接触部と電気的に接続される金属製グリップラグ。刃形接触部と電気的に接続さ
れていない金属製グリップラグであっても，沿面距離及び空間距離が不十分な場合，この規格では充電グ
リップラグとみなす。
2.1.103
絶縁グリップラグ（isolated gripping-lugs）
絶縁材料又は金属製の非充電部グリップラグ。金属製の場合，グリップラグとヒューズベース接触部と
の間と同様に，グリップラグと刃形接触部との間も，該当過電圧カテゴリに基づき沿面距離及び空間距離
が要求される。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
交流の場合，定格電圧の標準値は400 V，500 V及び690 Vとする。直流の場合，定格電圧の標準値は
250 V及び440 Vとする。直流定格電圧の標準値は，交流定格電圧の標準値と関連していない。例えば，
交流500 V−直流250 V，交流500 V−直流440 V，交流500 Vなどの標準組合せが可能である。
図102によるヒューズベースの定格電圧は，690 V以上とする。
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
各サイズの最大定格電流は，図101による。これらの値は，用途区分及び定格電圧によって決まる。
定格電流224 AをJIS C 8269-1の5.3.1の値に追加する。
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流
各サイズのヒューズベースの定格電流は，図102による。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損
各サイズのヒューズリンクの定格ワット損の最大値は，図101による。これらの値は，ヒューズリンク
の最大定格電流に適用する。ヒューズベースの定格受容ワット損値は，図102による。
5.6
時間−電流特性の制限
5.6.1
時間−電流特性，時間−電流ゾーン及び過電流曲線
製造業者が示す時間−電流特性の許容範囲は，電流に関して±10 %を超えて逸脱してはならない。8.7.4
に基づく試験電圧で測定した全ての溶断及び動作時間は，許容範囲を含めて図104に示す時間−電流ゾー
ンを満たさなければならない。
5.6.2
協約時間及び協約電流
協約時間及び協約電流は，JIS C 8269-1の値に加えて，表101による。
表101−定格電流が16 A未満の“gG”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流
定格電流In
協約時間
協約電流
A
h
Inf
If
In ≦ 4
1
1.5 In
2.1 In
4 ＜ In ＜ 16
1
1.5 In
1.9 In
5.6.3
ゲート
“gG”ヒューズリンクは，JIS C 8269-1のゲートに加えて，表102に規定するゲートを適用する。
表102−“gG”ヒューズリンクの規定溶断及び動作時間に関するゲート
単位 A
In
Imin（10 s）
Imax（5 s）
Imin（0.1 s）
Imax（0.1 s）
2
3.7
9.2
6.0
23.0
4
7.8
18.5
14.0
47.0
6
11.0
28.0
26.0
72.0
8
16.0
35.2
41.6
92.0
10
22.0
46.5
58.0
110.0
12
24.0
55.2
69.6
140.4
224
680
1 450
2 240
3 980
6
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.7.2
定格遮断容量
最小定格遮断容量は，表103による。
表103−最小定格遮断容量
定格電圧 Un
最小定格遮断容量
交流690 V以下
50 kA
直流750 V以下
25 kA
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
この規格のヒューズシステムAの要求事項及び試験を満足するヒューズリンク及びヒューズホルダは，
JIS C 8269-2を表示できる。
6.1
ヒューズホルダの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ
定格電流及び定格電圧の表示は，ヒューズリンクを取り付けていないときに正面から識別できなければ
ならない。
6.2
ヒューズリンクの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ又は関連コード
− 定格遮断容量（JIS C 8269-1の5.7.2参照）
定格電流及び定格電圧の表示は，正面から識別できなければならない。さらに，ヒューズリンクには，
表104に規定する表示を行う。
表104−ヒューズリンクの表示
特性
gG
aM
表示の色
黒
緑
印刷の種類
反転印刷の帯
通常印刷
反転印刷の帯
通常印刷
電圧
400 V a)
×
×
500 V
×
×
690 V
×
×
注記 ×は，表示することを意味する。
注a) 400 VgGについては，青でもよい。
絶縁グリップラグをもつヒューズリンクの場合，前面から容易に見える箇所に四角形で囲まれたグリッ
プラグの図形記号を表示してもよい。表示した場合，ヒューズリンクの適合性は，7.2によって確認する。
注記 記号の大きさの詳細は，図112を参照。
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.1
機械的設計
ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は，図101及び図102による。
7.1.2
端子を含む接続
ラグ端子の場合は，端子が接続できる断面積の範囲は，表105の各サイズのヒューズリンクの定格電流
範囲から生じる。
未加工導体用に設計した端子は，少なくとも，表105に規定する断面積範囲内の連続三つのサイズの導
体を接続できなければならない。端子がラグ端子の場合（IEC 60999の規格群参照），加えるトルクは，表
111による。ほかの端子に関するトルク値は，製造業者の取扱説明書に記載する。
表105−未加工導体の最小断面積範囲
サイズ
ヒューズリンクの定格電流範囲
A
断面積範囲
mm2
銅
アルミニウム
000
2 〜 160
6 〜 70
25 〜 95
00
2 〜 160
6 〜 70
25 〜 95
0 a)
2 〜 160
6 〜 70
25 〜 95
1
80 〜 250
25 〜 120
35 〜 150
2
125 〜 400
50 〜 240
70 〜 300
3
315 〜 630
数値なし
4
500 〜 1 000
4a
500 〜 1 250
注a) ストライカ付きヒューズリンクを除き，新設備には許容しない。
より大きな及び／又はより小さな断面積の接続部が必要な場合がある。これらの場合，端子の構造によ
って，又は製造業者推奨の追加接続手段によって実現できる。
未加工導体用端子は，銅，アルミニウム，又は銅とアルミニウムのうち，適合するものを表示する。さ
らに，断面積範囲をクランプサドル上若しくはその近くに表示するか，又は製造業者の取扱説明書などに
明示する。
7.1.3
ヒューズ接触部
ヒューズリンク及びヒューズベースの接触面は，通常の動作中に損なわれないことを検証しない限り，
銀めっきを施す。ヒューズリンクの刃形接触部に銀めっきを施していない場合，8.10.1に規定するダミー
ヒューズを用いた8.10の試験に合格しなければならない。
ヒューズリンクを負荷状態で取外し又は装着する場合，ヒューズの構造，特に，ヒューズ接触部は，損
傷を受けにくいものでなければならない。
7.1.6
ヒューズベースの構造
ヒューズは，動的な短絡に対し，必要な場合は，表112に規定する限流値に適合しなければならない。
ヒューズベースは，使用を意図する全ての保護カバーを含み，8.3による温度上昇試験に適合しなければ
ならない。
7.1.7
ヒューズリンクの構造
望ましい構造を，次に示す。
刃形接触部は，固体材料製とする。ほかの刃形接触部構造を用いる場合には，製造業者は，その構造が
目的に合うことを実証する。
8
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
交換ハンドルのアタッチメントを除き，エンドプレートは，絶縁体から放射状に突き出してはならない。
一部の用途については，グリップラグを充電部から絶縁することが望ましい。
ヒューズリンクは，表示器をもたなければならない。表示器の導電部は，動作中にヒューズリンクから
放出されてはならない。
7.2
絶縁性能及び絶縁適合性
ヒューズ及びヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は，JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIII及び汚損
度3の要求事項に適合しなければならない。最小空間距離は，永久充電部でない可触金属部にも適用する。
それらは，ヒューズリンクを取り換える間，減少させてはならない。金属製絶縁グリップラグと充電部と
の間の沿面距離は，定格電圧を3で除した値に基づいて選択する。
短時間だけ電圧が印加される絶縁では，金属製絶縁グリップラグの沿面距離は，2段階低い電圧に相当
する値を用いてもよい。
充電部を支持するヒューズベース絶縁部分は，試液Aを使用して，JIS C 2134に従って行ったPTI 400
の試験に合格しなければならない。
7.7
I2t特性
この項を適用するヒューズリンクの場合，JIS C 8269-1の表7に規定する最大溶断I2t値を最大動作I2t
値に適用する。16 A未満の定格電流及び224 Aに関する値は，表106による。
表106−“gG”ヒューズリンクに関する0.01 s時の溶断及び動作I2t値
In
A
I2tmin
A2s
I2tmax
A2s
2
1
23
4
6.25
90.25
6
24
225
8
49
420
10
100
576
12
160
750
224
200 000
520 000
“aM”ヒューズリンクの最大動作I2t値は，定格電圧の1.1倍の試験電圧において，各同形シリーズの
最大定格電流における試験No.2（JIS C 8269-1の表20）について表107による。
表107−“aM”ヒューズリンクの最大動作I2t値
定格電圧 Un
V
最大I2tmax
A2s
Un ≦ 400
18 In2
400 ＜ Un ≦ 500
24 In2
500 ＜ Un ≦ 690
35 In2
注記 交流230 Vの場合，最小動作I2t値は，12 In2である。
これらの値は，0.01秒未満の溶断時間に相当する固有電流に適用する。
7.8
“gG”ヒューズリンクの過電流動作協調
定格電流比が1：1.6，定格電流が16 A以上の直列のヒューズリンクは，8.7.4に規定する値で動作協調
が取れなければならない。
9
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
回路遮断器を使用するときの動作協調については，表108のI2t値による。
表108−gGヒューズリンクの動作協調のI2t溶断値
In
A
I2tmax
A2s
Ip
A
16
250
500
20
450
670
25
810
900
32
1 400
1 180
40
2 500
1 580
50
4 000
2 000
63
6 300
2 510
80
10 000
3 160
100
16 000
4 000
125
24 000
4 900
160
42 500
6 520
200
78 000
8 830
7.9
感電に対する保護
ヒューズ接触部に対する仕切壁及びカバーを設けることによって，感電保護を高めることができる。
この規格に従う交換ハンドル又は連結ヒューズキャリヤを用いて，電気的知識をもつ専門家によって，
ヒューズリンクの取付け又は交換を行う場合は，ヒューズリンクは，安全に動作するとみなす。適切な場
合，絶縁カバー及び／又は相分離器を用いてもよい。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.1.4
ヒューズの配置及び寸法
7.2の要求事項は，ヒューズベースで検証する。ヒューズベースは，表105の範囲で最小及び最大断面積
をもつ導体に接続する。
金属製絶縁グリップラグの場合，7.2によってヒューズリンクの沿面距離及び空間距離を検証する。空間
距離は，図111による規準ヒューズベースにヒューズリンクを挿入して検証する。
8.1.6
ヒューズホルダの試験
ヒューズホルダは，JIS C 8269-1に規定する試験に加えて，表109に基づく試験を行う。
表109−ヒューズホルダの試験の概要及び供試ヒューズホルダ数
箇条に基づく試験
ヒューズホルダ数
3
1
1
1
5
8.5.5.1
ヒューズベースのピーク耐電流の検証
×
×
8.9
耐熱性の検証
×
8.10.1.2 直接端子クランプ
×
8.11.1.2 ヒューズベースの機械的強度
×
8.11.2.4 ヒューズリンク及びヒューズベースの絶縁部分の不劣化
×
注記 ×は，試験を実施することを意味する。
10
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.2.2.1
試験電圧印加箇所
JIS C 8269-1に次を追加する。
e) 金属製絶縁グリップラグと試験ヒューズベースの端子との間。
8.2.3.2
試験電圧値
金属製絶縁グリップラグの絶縁特性は，任意のインパルス耐電圧試験によって確認してもよい。適切な
定格インパルス耐電圧は，ヒューズリンクの定格電圧に応じて，表110による。
表110−定格インパルス耐電圧
定格電圧
V
定格インパルス耐電圧
kV
400
4
500
4
690
6
8.2.3.3
試験方法
波高値が表110の定格インパルス耐電圧でIEC 60060-1の1.2/50 μs電圧波形の正極性及び負極性インパ
ルス電圧を，それぞれ5回試験対象に印加する。インパルス間の最小間隔は1 sとする。
注記1 別途規定されている場合を除き，インパルス発生器のインピーダンスは，500 Ω以下とする
ことが望ましい。
注記2 試験装置の詳細は，IEC 60060-1，IEC 60060-2及びIEC 60060-3を参照。
8.2.4
試験結果の評価
8.2.4.3
試験中にフラッシオーバ又は穴があいてはならない。部分放電は，無視する。
7.2の要求事項に適合しない刃形接触部と電気的に接触しない金属製グリップラグをもつヒューズリン
クは，使用中に断路しているとみなさない。ただし，8.9.2及び8.11.1.8の要求事項を満足する必要がある。
8.2.5
耐トラッキング性
ヒューズリンク（ヒューズ本体）及びヒューズベースの充電部を支持する絶縁部分の試験は，試液Aを
使ってJIS C 2134によって行う。5個の試料を試験し，PTI 400に合格しなければならない。セラミック性
の絶縁材料は，試験する必要はない。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
8.3.1
ヒューズの配置
8.3及び8.10の試験では，端子のねじ又はナットの締付けトルクは，製造業者の指定がある場合は，そ
れによる。製造業者の指定がない場合は，表111による。
2個以上のヒューズを一緒に試験する場合，2個のヒューズの中央線が図101によるe2の3倍離れるよ
うに試料を木板上の通常の使用状態になるように取り付ける。
試験電流500 Aから1 250 Aで用いる銅の棒は，つや消しの黒に塗装する。
11
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表111−端子ねじに加えるトルク
In
A
サイズ
ねじのサイズ
トルク
Nm
160
000
M8
10
160
00
M8
10
160
0 a)
M8
10
250
1
M10
32
400
2
M10/M12
32
630
3
M10/M12
32
1 000
4
M12
56
1 250
4a
2×M12/M16
56
注a) ストライカ付きヒューズリンクを除き，新設備には許容しない。
8.3.2
温度上昇測定
製造業者が用意する保護カバー及びヒューズキャリヤを取り付ける。
8.3.4.1
ヒューズホルダの温度上昇
ダミーは，図105による。温度上昇を測定する箇所は，図106にEで示す。
8.3.4.2
ヒューズリンクのワット損
その間でヒューズリンクのワット損を測定する2か所は，図106にSで示す。
8.4.3.1
協約不溶断電流及び協約溶断電流の検証
不溶断電流試験で時間−電流特性の検証も行う場合，不溶断試験の試料をb) の試験に用いる。
8.4.3.5
協約ケーブル過負荷保護（“gG”ヒューズリンクだけ）
注記 JIS C 8269-1の試験は，周囲温度30 ℃の代表的な三相用途において，1.45 Inで申し分のない結
果をもたらすとみなす。特別試験の詳細は，附属書AAに記載がある。
8.5.5
試験方法
次を追加して，JIS C 8269-1の8.5.5を適用する。
8.5.5.1
ヒューズベースのピーク耐電流の検証
そのサイズに関する最大定格を用いたヒューズリンクの遮断容量試験中に，既に検証されている場合に
は，ヒューズベースのピーク耐電流の検証は行う必要はない。
8.5.5.1.1
ヒューズの配置
試験は，単相タイプとする。ヒューズベースの試験セットアップは，JIS C 8269-1の8.5.1と一致しなけ
ればならない。
電流は，それぞれのサイズにおける最大定格のヒューズリンクで制限する。到達した試験電流のピーク
値は，表112に規定する範囲内とする。
12
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表112−試験電流
サイズ
限流値
kA
000
22〜24
00
22〜24
0
22〜24
1
34〜37
2
44〜48
3
65〜70
8.5.5.1.3に規定した要求事項を満たす限り，最大値を超えてもよい。
該当するサイズの最大定格電流のヒューズリンクで，規定の限流値範囲に到達しない場合は，規定の限
流値範囲に適合する別のヒューズを直列に接続して用いる。この場合，供試品には，ダミーヒューズリン
クを装着する。ダミーヒューズリンクの外形寸法は，図101による。
8.5.5.1.2
試験方法
試験は，2個のヒューズベースで行う。ヒューズベースNo.1の場合には，接触部を一定範囲まで開くた
めに，図107に示した鋼製の焼入れ研磨テストナイフを手で差し込む。この試験は，弾性スプリングの行
程が弾性域に限定されることを確認するために行う。接触部は，3回開く。機械的止め具がギャップを7 mm
未満に制限するためにテスト刃形を手で正しく取り付けられない場合は，この試験を省略する。ヒューズ
ベースNo.2は，8.11.1.2に従って試験する。表118に基づくFmaxの値を遵守しなければならない。これら
の事前試験の後に，上記の電流試験を行う。
8.5.5.1.3
試験結果の評価
ヒューズリンクは，飛び出してはならない。アーク若しくは溶着又はそれ以上のヒューズベースの使用
を妨げるようなほかの損傷があってはならない。接触部の電流による損傷は，許容する。
8.5.8
試験結果の評価
ヒューズ又は電源保護用回路遮断器は，試験中，動作してはならない。
8.7.4
過電流動作協調の検証
記録した試験結果から評価したI2t値によって，定格電流が12 A以下のヒューズの過電流動作協調及び
定格電流が12 Aを超えるヒューズの過電流動作協調比1：1.6を検証する。
試験回路及び電流の許容範囲に関するJIS C 8269-1の8.5及び表20に基づく遮断容量試験No.1及びNo.2
の場合と同様に，試料を配置する。
4個の試料を試験する。2個の試料は，最小溶断I2t値に基づく固有試験電流実効値Iで試験し，残りの
2個の試料は，動作I2t値に対応する固有試験電流実効値Iで試験する。
690 Vヒューズの試験電圧は，1.05×Un/3である。
ほかの全てのヒューズの試験電圧は，1.1×Un/3である。
13
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表113−動作協調試験の試験電流及びI2t範囲
In
A
最小溶断 I2t
最大動作 I2t
動作協調比
固有電流
I
実効値 kA
I2t
A2s
固有電流
I
実効値 kA
I2t
A2s
2
0.013
0.67
0.064
16.4
計算で求める。
4
0.035
4.90
0.130
67.6
6
0.064
16.40
0.220
193.6
8
0.1
40
0.31
390
10
0.13
67.6
0.4
640
12
0.18
130
0.45
820
16
0.27
291
0.55
1 210
1：1.6
20
0.4
640
0.79
2 500
25
0.55
1 210
1
4 000
32
0.79
2 500
1.2
5 750
40
1
4 000
1.5
9 000
50
1.2
5 750
1.85
13 700
63
1.5
9 000
2.3
21 200
80
1.85
13 700
3
36 000
100
2.3
21 200
4
64 000
125
3
36 000
5.1
104 000
160
4
64 000
6.8
185 000
200
5.1
104 000
8.7
302 000
224
5.9
139 000
10.2
412 000
250
6.8
185 000
11.8
557 000
315
8.7
302 000
15
900 000
400
11.8
557 000
20
1 600 000
500
15
900 000
26
2 700 000
630
20
1 600 000
37
5 470 000
800
26
2 700 000
50
10 000 000
1 000
37
5 470 000
66
17 400 000
1 250
50
10 000 000
90
33 100 000
評価したI2t値は，表113に規定した対応するI2t範囲内でなければならない。
8.9
耐熱性の検証
これらの試験は，ヒューズリンク及びヒューズベースに適用する。
ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル
ダは，事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理はJIS C 8269-1の8.4.3.2に規定し
ている。通常の温度まで下げた後に，JIS C 8269-1の8.5によってI1の遮断容量試験を行う。
有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは，上記と同じ試験を行う。これらのヒューズリンクは，
試験電流I1及びI5で遮断しなければならない。
8.9.1
ヒューズベース
部品が所定の温度及び引抜力の悪影響を受けないことが明白でない場合には，次の試験を適用する。
8.9.1.1
試験配置
図105に基づくダミーヒューズリンクをヒューズベースに取り付けて，例えば，図108に規定する測定
14
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
装置からつり下げる。ヒューズベースにダミーを取り付けて（例えば，ロックピンで）固定する方法によ
って熱放散が悪影響を受けてはならない。導体断面積は，定格電流（JIS C 8269-1の表17参照）に依存し，
加熱室外の接続部は，長さが1 m以上でなければならない。
測定設備及び接続部のブッシング，その他が適切に封じられるように注意した加熱室又は容量50 L以上
の加熱可能なカバーの下に供試品を設置する。
加熱器は，次の試験順序中に試験電流の有無に関係なく8005
+ ℃の温度が維持されるようなものでなけ
ればならない。温度は，ダミーの中心点から水平に150 mm離れたところで測定する。
8.9.1.2
試験方法
加熱室の温度を8005
+ ℃に上げて，2時間維持する。続いて，許容範囲±2 %で，定格電流の約160 %の
電流をダミーに2時間通電する。低減した電圧で試験を行ってもよい。
通電後及び電源を切ってから3分後に，引張力Fmax（表118参照）をダミーに穏やかに15秒間加える。
8.9.1.3
試験結果の評価
この試験の後，ヒューズベースの接触片は，ヒューズベースの使用に影響を及ぼすほど移動していては
ならない。ダミーを引き出した後，図102の寸法を考慮しなければならない。ヒューズベースの絶縁取付
部分は，破損してはならず，かつ，亀裂の痕跡があってはならない。
8.9.2
成形材製又は成形材に固定された金属製のグリップラグ付きヒューズリンク
8.9.2.1
試験装置
あるサイズの最大定格のヒューズリンクを，ヒューズベースに取り付ける。ヒューズリンクをそこに固
定して，図108に示した測定装置からつり下げる。
8.9.2.2
試験方法
加熱室の温度を8005
+ ℃に上げて，2時間維持する。続いて，ヒューズリンクが溶断するまで定格電流の
150 %の電流をヒューズリンクに通電するが，試験は協約時間までとする。試験は，低減した電圧で行っ
てもよい。ヒューズリンクが溶断又は協約時間が経過してから3分後に，引張力Fmax（表118参照）をグ
リップラグに穏やかに約15秒間加える。
8.9.2.3
試験結果の評価
グリップラグは，完全に使用可能な状態にとどまらなければならず，特に，ネック部分の長さ2.505.0
+
mm
は，図101の寸法dに従って，2 mm以下とする。寸法c2の最大値も同様である。
8.10
接触部の不劣化の検証
8.10.1
ヒューズの配置
ダミーヒューズリンクは，図105による。銀めっき刃形接触部をもつダミーヒューズリンクは，銀めっ
き刃形接触部をもつヒューズリンクの典型である。不劣化試験で銀以外のヒューズリンクの刃形接触部の
表面めっきがその要求事項に適合することを実証する場合，ダミーヒューズリンクの刃形接触部の表面を，
それに応じてめっきする。
ラグ端子のトルクは，表111による。
導体の絶縁物は，長さ全体にわたって取り去る。この試験に限り，接触部及び端子のカバーは，全て取
り去る。
8.10.1.1 接触部
JIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
8.10.1.2 直接端子クランプ
次の修正を加えて，JIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
15
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
五つのヒューズベースの10の直接端子クランプについて試験を行う。
試験装置は，次による。
ヒューズベースの中心間距離を，図101に示したe2の3倍以上にして，ヒューズリンクを垂直位置に並
べて取り付ける。アルミニウム導体同様銅を使用する直接端子クランプの試験は，アルミニウム導体で行
う。
製造業者による情報がない場合は，直接端子クランプのねじは，表114によるトルクで締める。
注記1 トルクは，ねじ山及びねじ頭の摩擦係数μ＝0.12及びJIS B 1051による最大の伸びRp0.2に基
づく。ねじの軸は，締め付ける間の値の90 %で力が加わる。トルクは，5.6クラスのねじに
基づく。
注記2 ラグ端子のトルクは，表111による。
表114−製造業者による値がない場合に適用するトルク
ねじ山
トルク
Nm
M5
2.6
M6
4.5
M8
11
M10
21
M12
38
銅導体にだけ用いる直接端子クランプは，クリーニング及び保管が必要ないことを除き，アルミニウム
用直接端子クランプのように試験する。さらに，銅クランプの試験は，接触部の試験の一部を行うことが
できる。接触部が250サイクル（8.10.2.1参照）後に要求事項に適合する場合，銅クランプはこの要求事
項を満足するとみなす。
導体断面積は，定格電流に依存する（銅導体は，JIS C 8269-1の表17参照）。
アルミ導体の関係断面積は，表115による。
表115−8.10に対応した試験用のアルミ導体の断面積
定格電流
A
断面積
mm2
40
25
50
25
63
35
80
50
100
70
125
95
160
95
200
150
250
185
315
240
400
300
絶縁物を貫通するクランプの場合，クランプ外の絶縁物だけを取り去る。
16
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
六つの導体の接触域を，次のとおりに加工する。
導体を適切な研磨剤で清浄化して，5分以下の時間内に接続する。
残りの四つの導体は，絶縁体及びグリースだけを取り去った後，室内に14日間保管する。これらの清浄
化していない導体は，接続前に処理してはならない。
クランプのボルトは，製造業者の指示どおりに固定する。試験中，ボルトを再調整してはならない。
アルミニウムより線の場合，試験電流は，できる限り均等に断面に入るようにする。これは，導体の長
さの中間で導体を一つに溶接又は圧接して実現できる。
8.10.2
試験方法
試験サイクルは，協約時間を参照した負荷期間及び無負荷期間からなる。負荷期間及び無負荷期間の試
験電流は，次のとおりに規定している（JIS C 8269-1の表2参照）。
試験電流：協約不溶断電流Inf
負荷期間：協約時間の25 %
無負荷期間：協約時間の10 %
定格電圧よりも低い試験電圧を用いてもよい。
無負荷期間中に試料を35 ℃よりも低い温度まで冷却する。追加の冷却（例えば，ファン）を用いても
よい。
温度上昇は，定格電流を通電して，JIS C 8269-1の8.10.2に従って測定する。
50及び250サイクル後，必要な場合は500及び750サイクル後に電圧降下を測定する。
電圧降下を直流Im＝(0.05〜0.20) Infで測定する。ただし，電流Imは100 μV以上の電圧降下が得られるよ
うに選択する。必要な場合は，Imの上限を0.30Infに引き上げてもよい。
測定中のImの許容範囲は，01
+ %とする。
電圧降下は，接触部の抵抗に変える。試料は，測定前に室温まで冷却する。測定中の室温Tが20 ℃か
ら逸脱する場合には，次の式を適用し補正してもよい。
(
)
20
1
20
T
20
−
+
=
T
R
R
α
α20は，導体の材質（アルミニウム又は銅）に基づく関係係数である。
8.10.2.1 接触部
電圧降下を測定する箇所を，図106のA及びBに規定する。
250及び750サイクルの試験の終了時に，引抜力を測定する。そのために，可能な場合には，接触部を
一定範囲まで開くために，図107に規定する鋼製の焼入れ研磨テストナイフを差し込む（8.5.5.1.2参照）。
その後，8.11.1.2で規定した焼入れ鋼製試験リンクで引抜力を測定する。試験リンクをヒューズベースに
3回差し込む。引抜力が表118の範囲内でなければならない。測定値が低すぎる場合，8.5.5.1に基づく動
的試験を行う。
8.10.2.2 直接端子クランプ
その間で試験試料の電圧降下ΔUを測定する箇所は，図110による。導体Fの測定箇所は，固体導体に
関わる場合には，中央穴あけ箇所又はより線に巻き付けた裸線とする。アルミニウム導体の場合，例えば，
溶接平衡装置（アルミニウムケーブルを切断し，それぞれの部分の導体を互いに溶接し，2か所の部分を
溶接し，測定は溶接した部分に穴をあけて行う。）など，使用に特別な予防策を講じる。
さらに，アルミニウム導体は，サイクル試験開始前の電圧降下を測定する。いかなる場合でも，アルミ
ニウム導体の場合，750サイクルの試験を行う。
17
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
全てのタイプの導体（アルミニウム及び銅）の試験順序は，表116による。
表116−直接端子クランプの試験順序
In時の温度上昇の検証
Rcl 0の測定
50サイクル
Rcl 50の測定
200サイクル
Rcl 250の測定
In時の温度上昇の検証
250サイクル
Rcl 500の測定
250サイクル
Rcl 750の測定
In時の温度上昇の検証
サイクル試験終了後，温度上昇の検証は，8.3.4.1によって行う。サイクル試験に用いる取外し絶縁体を
もつ導体は，締め付けたままとする。導体上で測定する温度上昇点Fは，クランプから10 mm離す（図
110参照）。
8.10.3
試験結果の評価
許容変化は，試験所の経験に基づくものである。最終的な判定基準は，合致しなければならないが，中
間基準の合計ではない。
8.10.3.1 接触部
250番目のサイクルの終了時に測定値が次の限度を超えなかった場合，ヒューズベースは，試験に合格
したとみなして，試験を中止してよい。
50
cl
50
cl
250
cl
R
R
R
−
≦15 %
250番目のサイクルの終了時に測定値が上記の限界を超えた場合，試験を続行する。500サイクル後に次
の限界を超えてはならない。
250
cl
250
cl
500
cl
R
R
R
−
≦30 %
限界を超えた場合，試験は不合格とする。限界を超えなかった場合，750サイクルまで試験を続行する。
750番目のサイクルの終了時に次の限界を超えてはならない。
50
cl
50
cl
750
cl
R
R
R
−
≦40 %
最初及び最後に測定した温度上昇の差は，20 K未満とする。
8.10.3.2 直接端子クランプ
清浄なアルミニウム導体を用いた試料の抵抗左Rcl 0の許容範囲は，次の式による。
Rcl 0 max≦2Rcl 0 min
Rcl 50からRcl 750への抵抗の変化は，表117の値を満足しなければならない。
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C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表117−許容する抵抗の変化
許容する変化
%
銅導体又は清浄なアルミニウム導体
清浄でないアルミニウム導体
100
50
cl
50
cl
250
cl
×
−
R
R
R
15
30
100
250
cl
250
cl
500
cl
×
−
R
R
R
20
40
100
500
cl
500
cl
750
cl
×
−
R
R
R
15
30
100
50
cl
50
cl
750
cl
×
−
R
R
R
40
80
試験スポットFで測定した温度上昇は，75 K未満とする。
8.11
機械的試験及びその他の試験
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
図105のダミーヒューズリンクを取り付けたヒューズホルダの場合，又はヒューズホルダに適合できる
最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には，定格電流を通電して温度上昇試験を
行う。
温度上昇試験の終了後，ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは，該当するヒューズベースに100回の
着脱を行う。
これらの試験終了後，全ての部品は損傷することなく，正常に機能しなければならない。
評価は，最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い，得られた値が機械的試験の開始前に行う
温度上昇試験から得られた値を，5 K又は15 %のいずれか大きなほうを超えないことを検証する。
8.11.1.2
ヒューズベースの機械的強度
ヒューズベース及びその部品の機械的強度は，次の試験によって検証する。
ヒューズベースの接触力を検証する試験は，提供された未使用のヒューズベース3個を用いる。表面が
研磨及びクロムめっきされた焼入れ鋼製の試験リンクを，ヒューズベースに3回差し込む。ヒューズリン
クの刃形接触部の寸法は，図101に基づく寸法である。
適切な試験装置で一様に引き抜いたときに，引抜力Fの測定値（図108参照）は，表118に規定した範
囲内でなければならない。
表118−ヒューズベース接触部からヒューズリンクの引抜力
サイズ
引抜力
Fmin
N
Fmax
N
00
60
250
0
80
300
1
110
350
2
150
400
3
210
400
19
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズベース接触部がしっかりと着座していることを検証するため，鋼製ねじ（クラス8.8）を端子に
固定する。鋼製ねじを製造業者が指定する値の1.2倍，又は製造業者の指定がない場合は，表111の値の
1.2倍のトルクで3回締める。
この試験の後，ヒューズベースの接触片は，ヒューズベースの使用に影響を及ぼす以上に移動していて
はならない。ヒューズベースの絶縁取付部分が破損してはならず，かつ，亀裂の痕跡があってはならない。
測定値が低すぎる場合，ヒューズリンクシステムCの8.5.5.1に従って試験する。
8.11.1.8
成形材製又は成形材に固定された金属製のグリップラグの耐衝撃性
8.11.1.8.1 試験装置
耐衝撃性を検証する装置は，図109による。ドロップハンマの質量は300 gであり，衝撃軸とグリップ
ラグとの間の落下の高さは，300 mmである。
8.11.1.8.2 試験方法
1個のヒューズリンクを150±5 ℃で168時間保持し，別の1個を−15 ℃で72時間保持する。加熱した
ヒューズリンクは，動的応力を加える前に室温まで冷却する。冷却した試料の場合，取り出してから応力
をかけるまでの時間間隔は，1分以下とする。
ストロークがヒューズリンクの縦軸に平行になるように，試料を図109の試験装置に配置する。各グリ
ップラグを，衝撃箇所がグリップラグネックの中間となる応力を1回だけ加える。毎回上部グリップラグ
だけに衝撃による応力がかかるようにする。
8.11.1.8.3 試験結果の評価
グリップラグは，使用を妨げるような損傷があってはならない。衝撃の前後に測定して，各グリップラ
グが3 mmを超えて曲がってはならない。さらに，図103に基づくハンドルとの結合を妨げてはならない。
8.11.2.3
耐さび性の評価
8.11.2.3.1 試験はISO 6988に従い，0.2 %のSO2（SWF 0.2 S）を含むサイクル湿度環境で1サイクル行う。
試験を経済的に行うため，8.10に従い，接触部の不劣化試験に用いた試料を用いてこの試験を行っても
よい。
8.11.2.3.2 次の試験は，製造業者と使用者とが合意した場合の追加試験である。これは，過酷な環境条件
とみなす。
JIS C 60664-1による汚損度3以上の環境で用いることを意図したヒューズリンク及びヒューズベースは，
SWF 2.0 Sで5サイクル試験する。それに応じて記録する。
8.11.2.4
ヒューズリンク及びヒューズベースの絶縁部分の不劣化
8.11.2.4.1 試験方法
試験する3個のヒューズリンク及び3個のヒューズベースを，次の温度で保持する。
充電部を支えるように意図された成形エレメントから成るヒューズリンク及びヒューズベースの場合
150±5 ℃で，カバーの場合は100±5 ℃で168時間保持する。
封止用コンパウンド及び表示の安定性の場合は，150±5 ℃で1時間以上保持する。
周囲温度まで冷却した後，次の試験をしなければならない。
− ヒューズリンク：JIS C 8269-1の8.5に基づくI1及びI2による遮断容量の検証。
− ヒューズベース：8.11.1.2に基づく機械的強度の検証。
8.11.2.4.2 試験結果の評価
ヒューズリンクを装着するヒューズベースの接触部の位置が，ヒューズリンクの適正な機能に影響を及
ぼすほど変化してはならない。端子を固定している絶縁体が破断してはならず，かつ，破断の痕跡があっ
20
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
てはならない。セメント接合した接合部の機械的強度は，損なわれてはならない。封止用コンパウンドが
充電部を露出させるほど移動していてはならない。ヒューズリンクは，適切に動作しなければならない。
表示は，耐久性があり，かつ，容易に判読できなければならない。
単位 mm
図面は，注及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。
図101−刃形接触部をもつヒューズリンク
9)
2)
10)
3)
4)
キー
A
表示器, 注記を参照8)
B
接触部
C
エンドプレート
D
停止面
E
Y部詳細（断面図）
F
丸める13)
G
接触面
r
5)
5以上
7)
7)
7)
4以上
4以上
2
以上
b
4
b
1
b
3
b
2
b
1
キー
A 表示器8)
B 接触部
C エンドプレート
D 停止面
E Y部詳細（断面図）
F 丸める13)
G 接触面
サイズ4の寸法
X部詳細
21
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
定格ワット損の最大値Pn
サイズ
gG
aM
交流400 V
交流500 V
交流690 V
交流400 V及び500 V
交流690 V
In
A
Pn
W
In
A
Pn
W
In
A
Pn
W
In
A
Pn
W
In
A
Pn
W
000
100
160
6
10
100
125
7.5
9
63
12
100
7
80
6.5
00
160
12
160
12
100
12
100/160
7/11
160
11
0
160
12
160
16
100
25
160
13
100
10
1
250
18
250
23
200
32
250
18
250
22
2
400
28
400
34
315
45
400
35
400
40
3
630
40
630
48
500
60
630
50
630
53
4
−
−
1 000
90
800
90
1 000
80
1 000
80
4a
1 250
90
1 250
110
1 000
110
1 250
110
1 250
110
サ
イ
ズ
a1
a2
a3
a4
b1 b2 b3 b4
c1
c2
d
e1
e2
e3
e4
f
r
Z
1)
2)
1)
1)
最小 最小 最大 最大 ±
5)
最大 最大
± 最
大
最
小
最
大
12)
12)
12)
12)
0.8
6)
6)
0.2
000 78.5±1.5 54−6 45±1.5 49±1.5 15 4.5
5
12
35 10−1
15.0
2＋
−
48 30
52
16＋
− 6
8
1
3
00 78.5±1.5 54−6 45±1.5 49±1.5 15 4.5
5
12
35 10−1
15.0
2＋
−
48 30 20±5 6
15
2
3
0 125±2.5 68−8
35.1
62＋
−
5.13
68＋
− 15 4.5
5
12
35 11−2
5.15.0
2＋
−
48 40 20±5 6
15
2
3
1 135±2.5 75−
10 62±2.5 68±2.5 20
5
6
17
40 11−2
5.15.0
5.2
＋
−
53 52
52
20＋
− 6
15
4
5
2 150±2.5 75−
10 62±2.5 68±2.5 25
8
6
22
48 11−2
5.15.0
5.2
＋
−
61 60
52
20＋
− 6
15
5
5
3 150±2.5 75−
10 62±2.5 68±2.5 32
11
6
29
60 11−2
5.15.0
5.2
＋
−
76 75
52
20＋
− 6
18
7
5
4 7) 200±3
90
最大 62±2.5 68±2.5 49 19.5 8
45
87 11−2
5.15.0
5.2
＋
−
110 105
52
20＋
− 8
25
10
5
4a
11)
200±3
100
最大 84±3 90±3 49
−
8
45 84±3 11−2
5.15.0
5.2
＋
−
110 102 30±10 6
30
10
−
注1) 寸法a1，a3，a4の中心は，a2の中心から1.5 mmを超えて外れてはならない。
2) 寸法a2は，刃形の両側の停止面（b2×4最小）の全区域内で遵守する。これらの区域外では，a2の最大寸法に
代える。
3) 絶縁材
4) 刃形接触面は軸方向に整列させ，接触面を平らにする。
5) 交換用ハンドルの取付部（X部詳細）。
6) 半径rのヒューズリンクのエンクロージャの最大寸法。この範囲内でヒューズリンクは，例えば，正方形，
長方形，円形，だ円形，多角形など，任意の形であってよい。
7) サイズ4のヒューズリンクについては，スロットが必須である。
8) 表示装置。製造業者が選択した表示装置の位置。
9) 充電部，グリップラグを絶縁できる。
10) 交換用ハンドルの取付部（X部詳細）を除き，端板が絶縁体から放射状に突き出してはならない。
11) 必ずインタロック装置をもつスイベルユニット（swivel unit）と併用する。
12) サイズ0，1，2，3の範囲内で定格電流の重複が存在する限り，小さいほうのサイズの寸法でよい。
13) 全ての角は，ベース接触部の接触面の損傷を防ぐために丸める。
図101−刃形接触部をもつヒューズリンク（続き）
22
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図面は，注及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。
サ
イ
ズ
g
h
n1
n2
p1
p2
r
s
t
v
w1
w2
x
y
z
±1 ±1.5 最大 最大 最大 ±1.5 最小 最大 最小
7)
7)
最小 ±0.5 最大
8)
7)
7)
7)
00 14)
47
100
30
38
40
−
17
21
15
56.5±1.5 0±0.7 25±0.7
14
7.5
3
0 13)
52
150
40
48
48
−
17
25
15
74±3
0±0.7 25±0.7
14
7.5
3
1
53
175
52
60
55
35
17
38
21
80±3
30±0.7 25±0.7
20
10.5
5
2
61
200
60
68
60
35
17
46
27
80±3
30±0.7 25±0.7
20
10.5
5
3
73
210
75
83
68
35
20
58
33
80±3
30±0.7 25±0.7
20
10.5
5
4
100
−
−
−
−
−
27
84
50
97最小
−
−
−
−
5
4a 6) 100
270
102
115
−
40
32
84
50
110±15 45±0.7 30±0.7
36
14
6
図102−刃形接触部をもつヒューズリンク用ヒューズベース
3
)
キー
A
仕切壁
B
注記を参照 1)
C
接触部
D
接触面，注記を参照 5)
7)
2)
7)
4)
4)
4)
3
)
キー
A 仕切壁
B 区域1)
C 接触部
D 接触面5)
23
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サイズ
定格電流
A
定格受容ワット損
W
00 14)
160
12
0 13)
160
25
1
250
32
2
400
45
3
630
60
4
1 000
90
4a
1 250
110
単位 mm
サイズ
a 9) 12)
b 9)
c 11)
d±0.25
e±0.5
最小
最小
最小
穴径
ねじ部
00 14)
20
20
3
9
M8
10
0 13)
23
20
3
9
M8
10
1
24
25
4
11
M10
12.5
2
28
25
4
11 10)
M10 10)
12.5
3
35
30
5
11 10)
M10 10)
15
4
45
40
8
14
M12
20
4a
45
40
10
18
M16
20
図102−刃形接触部をもつヒューズリンク用ヒューズベース（続き）
24
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注1) この区域は，充電部とみなす。
2) 寸法vの最大値は，接触点を規定することを意図したものである。ヒューズリンク（図101）のb2×4最小の2
区域の範囲内の一つ以上の接触点でこれを遵守しなければならない。寸法vは，絶縁接触部カバーによっても
よい。
3) 接触面の高さ。接触面が滑らかではなく，溝付き又は分割されている場合にも，図101に基づく刃形接触部を
もつヒューズリンクを差し込むことも可能でなければならない。
4) サイズ4の寸法。サイズ4については，固定ボルトが必須である。ねじ付きのときにはM12。
5) サイズ4を除き，弾性接触面。補助手段による接触力。
6) 必ずインタロック装置をもつ座金を併用する。
7) これらの数値は，ヒューズベースの互換性を要する場合にだけ必要である。
8) 多極又は単極ヒューズベースアセンブリを組み立てるときには，安全のために，n1について規定した最大寸法
に適合した絶縁隔壁（例えば，寸法“g”で推奨される仕切壁）を取り付ける必要がある。
9) 構造の特徴に関連して大きな“a”及び“b”の寸法，又は寸法“d”及び“e”を遵守した，例えば，丸味又は
円形といった逸脱した形状が許容される。
10) 通り穴14付きM12が許容される。
11) 接触部の変形なしで導体接続時の機械的応力に耐えられる場合には，寸法“c”を小さくすることができる。ね
じ部付きタイプは，試験トルク要求事項に適合しなければならない。
12) 寸法“a”は，接触部の上側で測定する。
13) ストライカ付きヒューズリンクを除き，新設備には許容されない。
14) サイズ00のヒューズベースは，サイズ00のヒューズリンクに使用する。
図102−刃形接触部をもつヒューズリンク用ヒューズベース（続き）
25
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図面は，示した寸法に関する場合を除き，ハンドルの設計を規制することを意図したものではない。
サイズ
L
mm
距離
M−M1
mm
M−M2
mm
000又は00
14
0±3
−
0〜3
16
−
9±5
ハンドル測定に関するヒューズリンクの基本位置は，製造業者が指定している。
セットイン及びブロックアップヒューズリンクの中心
M1 サイズ000又は00の場合
M2 サイズ0〜3の場合
M：結合の中心
L：ヒューズリンクの差込み及び引抜きについて許容されるリフト
図103−交換ハンドル
注* 幾つかの国では最低でも
100 mm必要
130以下
125以下
30以下
6
5
±
0
.
5
2
6
以
下
92以上
2
6
以
下
*
R 13.5以上
R 11以上
26
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
1
0
4
−
“
gG
”
ヒ
ュー
ズ
リン
ク
の
時間
−
電流
ゾ
ー
ン
固
有
電
流
(A
)
27
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
1
0
4
−
“
gG
”
ヒ
ュー
ズ
リン
ク
の
時間
−
電流
ゾ
ー
ン（続
き
）
固
有
電
流
(A
)
28
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
t
s
8
A
I
p
A
4
2
6
4
2
6
4
2
6
4
2
4
2
4
1
0
4
1
0
3
1
0
2
1
0
1
1
0
0
1
0
‒
1
6
1
0
0
1
0
1
2
3
4
5
6
2
3
4
5
6
1
0
2
2
3
4
5
6
1
0
3
2
3
4
5
6
1
0
4
2
3
4
5
6
1
0
5
6
IE
C
1
8
1
3
/0
6
固
有
電
流
(A
)
図
1
0
4
−
“
gG
”
ヒ
ュー
ズ
リン
ク
の
時間
−
電流
ゾ
ー
ン（続
き
）
29
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
t
s
I
p
A
4
2
6
4
2
6
4
2
6
4
2
4
2
4
1
0
4
1
0
3
1
0
2
1
0
1
1
0
0
1
0
‒
1
6
1
0
0
1
0
1
2
3
4
5
6
2
3
4
5
6
1
0
2
2
3
4
5
6
1
0
3
2
3
4
5
6
1
0
4
2
3
4
5
6
1
0
5
6
1
2
A
IE
C
1
8
1
4
/0
6
図
1
0
4
−
“
gG
”
ヒ
ュー
ズ
リン
ク
の
時間
−
電流
ゾ
ー
ン（続
き
）
固
有
電
流
(A
)
30
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図104−“gG”ヒューズリンクの時間−電流ゾーン（続き）
104
103
102
101
100
10‒1
5
2
5
2
5
2
5
2
5
2
224
2
5
2
5
2
5
103
104
105
t
s
Ip A
IEC 487/04
時
間
（
s）
固有電流 (A)
31
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
グリップラグの寸法は，図101による。
ほかの寸法は，図101による。
サイズ
l
P a)
R b)
棒
W
mΩ
数
直径
00
30.503
−
12
0.47
1
7
0
46
0
4
−
25
0.97
1
6
1
46
0
4
−
32
0.51
1
8
2
46
0
4
−
45
0.281
2
8
3
46
0
4
−
60
0.151
3
9
4
54
0
6
−
90
0.09
3
12
4a
54
0
6
−
110
0.07
4
12
注a) サイズの最大定格電流時。
b) グリップラグで測定。許容範囲±2 %と同等。
図105−8.3.4.1，8.9.1及び8.10に基づくダミーヒューズリンク
b
1
はんだ付け
バー
サイズ 00〜3：銅合金，銀めっき
サイズ 4及び4a：銅，銀めっき
32
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図106−JIS C 8269-1の8.3.4並びにヒューズシステムAの8.3.4.1，8.3.4.2及び8.10.2に基づく測定点
単位 mm
図107−8.5.5.1.2に基づく鋼製の焼入れ研磨テストナイフ
A
A
E
S
S
B
b
1
/2
b
1
丸める
33
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図108−8.9.1及び8.11.1.2に基づく引抜力を決定するための測定装置の例
サイズ00のヒューズベース
他のサイズのヒューズベース
ヒューズリンク，ダミー又はテス
トヒューズリンクのグリップラグ
を取り上げるのに適した寸法
シートメタル
テストナイフ
34
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図109−グリップラグの機械的強度を検証するための設備（8.11.1.8参照）
ドロップハンマ
衝撃軸
ガイドバー
ハンマ質量：300 g
落下高さ：300 mm
X軸詳細
35
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
1 導体
2 クランプ
3 ヒューズベース
4 ダミーヒューズリンク
図110−8.10.2による測定箇所
36
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図111−規準ヒューズベース
Z
Z
2
.5
:1
絶
縁物
カバー
1
±
0
.1
X
2
.5
:1
X
寸法
は，図
1
0
1
及び
図
1
0
2
に
よる。
9
.5
以
上
m
a
x.
c
1
1
7
以上
7
±
0
.5
S
以
下
c
1
絶
縁物
カバー
寸
法
は
，
図
1
0
1
及
び
図
1
0
2
に
よ
る
。
絶
縁
物
カ
バ
ー
絶
縁
物
カ
バ
ー
37
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a
a
a ≧3 mm
図112−絶縁グリップラグのデザイン記号
38
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書AA
（参考）
ケーブル過負荷保護に関する特別試験
注記 ヒューズシステムAの8.4.3.5の注記参照。
サイズ00，0，1及び2の定格電流が16 Aを超えるヒューズは，この附属書に従って試験する。
AA.1 ヒューズの配置
同一定格電流及び同一サイズについて，3個のヒューズリンクを，図102に基づく寸法n2maxに対応する
極中心間距離でボックスに取り付けた図102に基づくヒューズベースで，試験する。
接続は，ヒューズリンクの定格電流によって決定する。JIS C 8269-1の表19参照。接続ケーブルは，黒
のPVC絶縁銅導体で作る。ヒューズを一つの電源（安定器）に直列に接続する。ヒューズボックス外の周
囲温度は，30
50
＋ ℃とする。
注記 製造業者との合意によって，より低い温度を用いてもよい。
ボックスの壁は，厚さ10 mmの絶縁材製とする。試験中は，接続ケーブル用の穴を封止する。ボックス
の体積は，次による。
サイズ000又は00の場合，
2.5×10−3 m3
サイズ0の場合，
6×10−3 m3
サイズ1の場合，
9×10−3 m3
サイズ2の場合，
12×10−3 m3
ボックスの寸法は，ヒューズベースの外囲寸法に対応しなければならない。
AA.2 試験方法及び試験結果の合否
JIS C 8269-1の表2に規定する協約時間の間，1.13 Inに等しい試験電流をヒューズリンクに通電する。
どのヒューズリンクも，作動してはならない。続いて，中断なしに5秒以内に試験電流を1.4 Inまで引き
上げる。協約時間内に1個のヒューズリンクが作動しなければならない。
39
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムB
刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンクを備えたヒューズ
（NHヒューズシステム）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の追加要求事項は，図201及び図202に規定した寸法に適合する，交換ハンドルなどの装置で交換す
ることを意図した刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンクをもつヒューズに適用する。ヒューズ
の定格電流は，1 250 A以下であり，定格電圧は，交流1 000 V又は直流1 500 V以下である。
ストライカ付きヒューズの動作特性は様々であるため，このヒューズシステムでは，A種及びB種を区
別する。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
・ 最小定格遮断容量
・ 時間−電流特性
・ I2t特性
・ 構造の標準条件
・ ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
JIS C 8269-1を適用する。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
ヒューズシステムAの5.2を適用する。
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
各サイズの最大定格電流は，図201による。これらの値は，用途区分及び定格電圧によって決まる。
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流
各サイズのヒューズベースの定格電流は，図202による。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損
各サイズのヒューズリンクの定格ワット損の最大値は，図201による。これらの値は，ヒューズリンク
の最大定格電流に適用する。ヒューズベースの定格受容ワット損値は，図202による。
40
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.6
時間−電流特性の制限
ヒューズシステムAの5.6を適用する。
5.7.2
定格遮断容量
ヒューズシステムAの5.7.2を適用する。
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
ヒューズシステムAの箇条6を適用する。
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7.1
機械的設計
ヒューズリング及びヒューズベースの寸法は，図201及び図202による。
制御装置及びストライカによって作動する接触部は，次のようにヒューズベース上に固定する。
− ヒューズベースが，このヒューズシステムに適合する同一規格のストライカをもつあらゆるヒューズ
リンク，及びヒューズシステムAに適合するストライカをもたない同一サイズのあらゆるヒューズリ
ンクを組み合わせることができる。
− 充電部とみなすストライカの突起部の表面と全ての金属部品との間の最小空間距離は，JIS C 60664-1
に適合しなければならない（図201参照）。
7.1.2
端子を含む接続
ヒューズシステムAの7.1.2を適用する。
7.1.3
ヒューズ接触部
ヒューズシステムAの7.1.3を適用する。
7.1.7
ヒューズリンクの構造
次を追加して，ヒューズシステムAの7.1.7を適用する。
ヒューズリンクのストライカは，表示器とみなす。
7.2
絶縁性能及び絶縁適合性
ヒューズシステムAの7.2を適用する。
7.7
I2t特性
ヒューズシステムAの7.7を適用する。
7.8
“gG”ヒューズリンクの過電流動作協調
ヒューズシステムAの7.8を適用する。
7.9
感電に対する保護
ヒューズシステムAの7.9を適用する。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.1.6
ヒューズホルダの試験
ヒューズシステムAの8.1.6を適用する。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
41
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムAの8.3を適用する。
8.4.3.6
表示器及びストライカの動作（ある場合）
次を追加して，JIS C 8269-1の8.4.3.6を適用する。
動作後，ストライカは固定状態のままでなければならない。
A種及びB種に対するストライカの位置及び力は，表201による。
表201−ストライカの位置及び力
サイズ
A種
B種
0〜4
1〜4a
000又は00
S0max
mm
1
1
1
S1
mm
13〜20
最低10
最低5.5
位置0と1との間のFmin
N
8
1
1
位置1におけるFmax
N
20
20
20
S0： 動作前のストライカの突き出し（位置0）
S1： 動作後のストライカの飛び出し（位置1）
F： ストライカの力
8.5.5.1
ヒューズベースのピーク耐電流の検証
ヒューズシステムAの8.5.5.1を適用する。
8.7.4
過電流動作協調の検証
ヒューズシステムAの8.7.4を適用する。
8.9.1
ヒューズベース
ヒューズシステムAの8.9.1を適用する。
8.9.1.1
試験装置
ヒューズシステムAの8.9.1.1を適用する。
8.9.1.2
試験方法
ヒューズシステムAの8.9.1.2を適用する。
8.9.1.3
試験結果の評価
この試験の後，ヒューズベースの接触片は，ヒューズベースの使用に影響を及ぼすほど移動していては
ならない。ダミーを抜き出した後，図202の寸法を考慮しなければならない。ヒューズベースの絶縁取付
部分は，破損してはならず，かつ，亀裂の痕跡があってはならない。
8.9.2.1
試験装置
ヒューズシステムAの8.9.2.1を適用する。
8.9.2.2
試験方法
ヒューズシステムAの8.9.2.2を適用する。
8.9.2.3
試験結果の評価
グリップラグは，完全に使用可能な状態にとどまらなければならず，特に，ネック部分の長さ2.5
5.0
0
＋ mm
は，図201の寸法dに従って，2 mm以下とする。寸法c2の最大値も同様である。
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
ヒューズシステムAの8.11.1.1を適用する。
8.11.1.2
ヒューズベースの機械的強度
42
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズベース及びその部品の機械的強度は，次の試験によって検証する。
ヒューズベースの接触力を検証する試験は，提供された未使用のヒューズベース3個を用いる。表面が
研磨及びクロムめっきされた焼入れ鋼製の試験リンクを，ヒューズベースに3回差し込む。ヒューズリン
クの刃形接触部の寸法は，図201に基づく寸法である。
適切な試験装置で一様に引き抜いたときに，引抜力Fの測定値（図108参照）は，ヒューズシステムA
の表118に規定した範囲内でなければならない。
ヒューズベース接触部がしっかりと着座していることを検証するために，鋼製ねじ（クラス8.8）を端子
に固定する。鋼製ねじを製造業者が指定する値の1.2倍，又は製造業者の指定がない場合は，ヒューズシ
ステムAの表111の値の1.2倍のトルクで3回締める。ナットを必要とする平形接続の場合，ナットが回
らないように，適切な手段を講じなければならない。
この試験の後，ヒューズベースの接触片は，ヒューズベースの使用に影響を及ぼす以上に移動していて
はならない。ヒューズベースの絶縁取付部分が破損してはならず，かつ，亀裂の痕跡があってはならない。
8.11.1.8
成形材製又は成形材に固定された金属製のグリップラグの耐衝撃性
ヒューズシステムAの8.11.1.8を適用する。
8.11.2.4.1 試験方法
ヒューズシステムAの8.11.2.4.1を適用する。
43
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図面は，注及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。
図201−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク
停止線の端から端までの寸法
Y部詳細（表201参照）
X部詳細
動く
部分
シース
10
3.00
−
c2
5)
s1
s0
e1
e4
e2
k
c1
l
13)
9)
e3
10)
X
Y
4)
f
b
d
9)
4)
3)
a2
9)
8)
m
s0
a3
a4
5以上
2以上
∅4〜8
∅10以下
mI
r
c1
a'2
a1
2.505.0
+
6
3.00
−
44
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
最大定格許容ワット損Pn
サイズ
gG
aM
交流500 V
交流690 V
交流500 V
交流690 V
In
A
Pn
W
In
A
Pn
W
In
A
Pn
W
In
A
Pn
W
000
100
7.5
63
12
100
7
80
6.5
125
9
00
160
12
100
12
100/160
7/11
160
11
0
160
16
100
25
160
13
100
10
1
250
23
200
32
250
18
250
22
2
400
34
315
45
400
35
400
40
3
630
48
500
60
630
50
630
53
4
1 000
90
800
90
1 000
80
1 000
80
4a
1 250
110
1 000
110
1 250
110
1 250
110
図201−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク（続き）
2.5±0.5
8)
7)
150±2
32±0.5
16±0.5
7)
サイズ4の寸法
32±0.5
45
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A種
サ
イ
ズ
a1
a2
a'2
a3
a4
b
c1
c2
d
e1
e2
e3
e4
f
k
l
m
r
1)
2)
1)
1)
最
小
12)
±0.8
5)
最大
6)
最大
6)
±0.2 最
大
最
小
0 125±
2.5
68−8 73
0
5.1
−
62
35.1
＋
−
68
5.13
＋
−
15
35 11−2 2
5.15.0
＋
−
48
45 20±5
6
15 14.5 14 25±
0.5
2
1 135±
2.5
75−10 79
0
5.1
−
62±2.5 68±2.5 20
40 11−2 2.5
5.15.0
＋
−
53
52 20
52
＋
−
6
15 16 14.5 25.5
±0.5
4
2 150±
2.5
75−10 79
0
5.1
−
62±2.5 68±2.5 25
48 11−2 2.5
5.15.0
＋
−
61
60 20
52
＋
−
6
15 19 14.5 25.5
±0.5
5
3 150±
2.5
75−10 79
0
5.1
−
62±2.5 68±2.5 32
60 11−2 2.5
5.15.0
＋
−
76
75 20
52
＋
−
6
18 24 14.5 25.5
±0.5
7
4 200±
3
90
最大
−
62±2.5 68±2.5 49
87 11−2 2.5
5.15.0
＋
−
110 105 20
52
＋
−
6
25 27.5 14.5
−
10
B種
サ
イ
ズ
a1
a2
a3
a4
b
c1
c2
d
e1
e2
e3
e4
f
k
l
m'
r
1)
2)
1)
1)
最小
12)
±0.8
5)
最大
6)
最大
6)
±0.2 最大
最小
000 78.5±
2.5
54−6 45±1.5 49±1.5 15
35 10−1 2
5.15.0
＋
−
48
21 20±5
6
8
0
21.5 16.6
±0.5
1
00 78.5±
2.5
54−6 45±1.5 49±1.5 15
35 10−1 2
5.15.0
＋
−
48
30 20±5
6
15
0
21.5 16.6
±0.5
2
1
135±
2.5
75−10 62±2.5 68±2.5 20
40
11−2 2.5
5.15.0
＋
−
53
52 20
52
＋
−
6
15 13.7 20.5 23.5
±0.5
4
2
150±
2.5
75−10 62±2.5 68±2.5 25
48
11−2 2.5
5.15.0
＋
−
61
60 20
52
＋
−
6
15 16.2 27.3 23.5
±0.5
5
3
150±
2.5
75−10 62±2.5 68±2.5 32
60
11−2 2.5
5.15.0
＋
−
76
75 20
52
＋
−
6
18 17.0 35.6 23.5
±0.5
7
4a
11)
200±3
100
最大
84±3
90±3
49 85±2 11−2 2.5
5.15.0
＋
−
110 102 30±10
6
30 24.0 49.0 23.5
±0.5
10
注1) 寸法a1，a3，a4の中心は，a2の中心から1.5 mmを超えて外れてはならない。
2) 寸法a2は，刃形の両側から少なくとも4 mm以上の幅で，刃形の下縁から測定してbmin/2の全区域内で遵守
しなければならない。この区域外では，寸法をa2について示した値よりも小さくすることができる。
3) 絶縁材。
4) 接触面を平らにするか又はリブを設けることができる。
5) 交換用ハンドルの取付部（X部詳細）。
6) 半径rのヒューズリンクのエンクロージャの最大寸法。この範囲内でヒューズリンクは，例えば，正方形，
長方形，円形，だ円形，多角形，その他といった任意の形をとることができる。
7) サイズ4のヒューズリンクについてはスロットが必須である。
8) ストライカ。
9) 充電部及びグリップラグを絶縁できる。
10) 交換用ハンドルの取付部（X部詳細）を除き，端板が絶縁体から放射状に突き出すことは許容されない。
11) 必ずインタロック装置をもつスイベルユニット（swivel unit）と併用する。
12) サイズ0，1，2及び3の範囲内で定格電流の重複が存在する限り，小さいほうのサイズの寸法が許容される。
13) 刃形接触部の縁は，丸くするか又は適切な形状にすることができる。
図201−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク（続き）
46
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図面は，注及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。
図202−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク用のヒューズベース
キー
A：隔壁
1)
6)
3)
4)
4)
5)
6)
6)
7)
4)
10)
2)
47
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A種
単位 mm
サ
イ
ズ
h
n1
n2
p1
p2
r
s
t
v
w1
w2
x
y
z
±1.5
7)
最大 最大 最大 ±1.5 最小 最大 最小
7)
7)
最小
7)
±0.5
7)
最大
0
150
44
52
48
−
17
25
15
74＋3
0±0.7
25±0.7
14
7.5
3
1
175
52
60
55
35
17
38
21
80＋3
30±0.7
25±0.7
20
10.5
5
2
200
60
68
60
35
17
46
27
80＋3
30±0.7
25±0.7
20
10.5
5
3
210
75
83
68
35
20
58
33
80＋3
30±0.7
25±0.7
20
10.5
5
4
−
−
−
−
−
27
84
50
97最小
−
−
−
−
5
B種
単位 mm
サ
イ
ズ
g
h
n1
n2
p1
p2
r
s
t
v
v'
w1 w2 w1 w2
x
y
z
±1
8)
±1.5
7)
最大 最大 最大 ±
1.5
最小 最大 最小
7)
7)
最小
7)
±0.5
7)
最大
00 11) 47 100
30
38
40
−
17
21
15 56.5＋1.5 55−1 0±0.7
25±0.7
14
7.5
3
1
53 175
52
60
55
35
17
38
21
80＋3
76−1 30±0.7 25±0.7
20
10.5
5
2
61 200
60
68
60
35
17
46
27
80＋3
76−1 30±0.7 25±0.7
20
10.5
5
3
73 210
75
83
68
35
20
58
33
80＋3
76−1 30±0.7 25±0.7
20
10.5
5
4a 9) 100 270
102 115
−
40
32
84
50
110±15
−
45±0.7 30±0.7
36
14
6
サイズ
定格電流
A
定格許容ワット損
W
00 11)
160
12
0
160
25
1
250
32
2
400
45
3
630
60
4
1 000
90
4a
1 250
110
図202−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク用のヒューズベース（続き）
48
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A種
サイズ
j1
j2
j3
j4
最小
最大
最小
最大
最小
最大
0
66
10.5
27
30
−
−
1
75.5
12
27
30
−
−
2
79.5
15
27
30
−
−
3
87.5
20
27
30
−
−
4
−
23.5
−
−
6.5
9
B種
サイズ
j1
j2
j3
最小
最大
最小
最大
00 11)
21.5
0
17.5
19.5
1
20.5
13.7
24.5
26.5
2
27.3
16.2
24.5
26.5
3
35.3
17.0
24.5
26.5
4a
49
24.0
24.5
26.5
注1) この区域は，充電部とみなす。
2) 寸法vの最大値は，接触点を規定することを意図したものである。ヒューズリンクの刃形接触部の下縁から
測定してbmin/2の範囲内の少なくとも一つの接触点でこれを遵守しなければならない。刃形接触部の上縁で
は，vの値を遵守する必要はない。
3) 接触面の高さ。接触面が滑らかではなく，溝付き又は分割されている場合にも，図201に基づく刃形接触部
をもつヒューズリンクを差し込むことも可能でなければならない。
4) サイズ4の寸法。サイズ4については，固定ボルトが必須である。ねじ付きのときにはM12。
5) サイズ4を除き，弾性接触面。補助手段による接触力。
6) 装置の間隔はストライカによる。ストライカを収納することを意図する機器を備えたヒューズベースはn2よ
り大きな寸法であってもよい。
7) これらの数値は，ヒューズベースの互換性を要する場合にだけ必要である。
8) 多極又は単極ヒューズベースアセンブリを組み立てるときには，安全のために，n1について規定された最大
寸法に適合した絶縁隔壁（例えば，仕切壁）を取り付ける必要がある。
9) 必ずインタロック装置をもつスイベルユニット（swivel unit）と併用する。
10) v'は縦の停止面の間で寸法を測定する。
11) サイズ00のヒューズベースは，サイズ000及びサイズ00のヒューズリンクに使用する。
図202−刃形接触部をもつストライカ付きヒューズリンク用のヒューズベース（続き）
49
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムC
ヒューズレール（NHヒューズシステム）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
100 mm及び185 mm母線系統に取り付けるレール設計における，00〜3サイズのヒューズベースがヒュ
ーズシステムAによって適切に取り扱えない場合に限り，次の要求事項を追加して，それらに適用する。
2
用語及び定義
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
2.1.301
ヒューズレール（fuse-rails）
一つの装置の中に三つの単極ヒューズベースを縦方向に並べて組み合わたもの。各極の一つの端子（通
常，“母線端子”という。）は，三相母線系統の一つの相に特別なクランプを用いるか，又は用いずに直接
に接続される。ほかの端子（“ケーブル端子”）は，出力側導体又は入力側導体が接続できるように準備さ
れる。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
ヒューズシステムAの5.2を適用する。
5.3.2
定格電流
ヒューズレールの各サイズの定格電流は，図301による。
5.5.1
定格受容ワット損
ヒューズレールの定格受容ワット損は，図301による。
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
ヒューズシステムAの箇条6を適用する。
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
50
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.1
機械的設計
ヒューズレールの寸法は，図301による。
7.1.2
端子を含む接続
ヒューズシステムAの7.1.2を適用する。
直接端子クランプをもつヒューズレールは，表301の範囲内の導体を接続できなければならない。
表301−ヒューズレール用の未加工導体の最小断面積範囲
サイズ
ヒューズレールの定格電流
A
断面積範囲
mm2
Cu
Al
00
160
6〜70
25〜95
1
250
25〜120
35〜150
2
400
50〜250
70〜300
3
630
規定できる値はない。
7.2
絶縁性能
ヒューズレールの沿面距離及び空間距離は，JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIII及び汚損度3に関する
要求事項を満たさなければならない。最小空間距離は，常時は電圧が印加されない，接触できる金属部品
にも適用する。沿面距離及び空間距離は，ヒューズリンクの交換時に損なわれてはならない。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.1.6
ヒューズホルダの試験
ヒューズレールは，表302に従って試験を行う。この表は，JIS C 8269-1の表14と置き換える。
表302−ヒューズレールの試験全体の概括及び供試ヒューズレール数
箇条に基づく試験
ヒューズレール数
1
1
1
2
8.1.4
ヒューズの配置及び寸法
×
8.2
絶縁性能及び絶縁適合性の検証
×
8.11.2.2
耐異常熱及び耐火炎の検証
×
8.11.1.2
ヒューズベースの機械的強度
×
8.3
温度上昇及びワット損の検証
×
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
×
8.3
温度上昇及びワット損の検証
×
8.10.1.1
接触部の不劣化
×
8.11.1.2
ヒューズベースの機械的強度
×
8.5.5.1
ヒューズベースのピーク耐電流の検証a)
×
8.9
耐熱性の検証b)
×
8.11.2.4
ヒューズリンク及びヒューズベースの絶縁部分の不劣化
×
8.11.1.2
ヒューズベースの機械的強度
×
8.10.1.2
直接端子クランプ（該当する場合）
×
×
8.11.2.3
耐さび性の検証
×
51
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表302−ヒューズレールの試験全体の概括及び供試ヒューズレール数（続き）
注記 ×は，試験を実施することを意味する。
注a) 8.11.1.2に従う引張力を満たす場合，不要である。
b) 相L1（1番上の相）のダミーを固定する。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
次の変更を加えて，ヒューズシステムAの8.3を適用する。
8.3.1
ヒューズの配置
次の変更を加えて，ヒューズシステムAの8.3.1を適用する。
ヒューズレールの試験装置は，図302による。
8.5.5.1
ヒューズベースのピーク耐電流の検証
ヒューズレールのピーク耐電流の検証は，8.10に従う接触部の不劣化の検証によって満足する。試験結
果の評価には，ヒューズシステムAの8.10.3.1を適用する。
接触部及び直端子クランプの不劣化の検証の後，8.10.2.1による引抜力の測定値が表118の数値を下回る
場合，ヒューズシステムCの8.5.5.1.1に従ってピーク耐電流の検証を行う。
8.5.5.1.1
ヒューズの配置
ヒューズレールは，三相配置で試験する（ヒューズレールの製造業者の同意を得て，三つの相を直列に
接続して単相試験を行うこともできる。）。
ヒューズレールの場合，試験電流は50 kAで，特定のサイズの最高定格の“gG”ヒューズリンクで制限
する。限流は，ヒューズシステムAの表112に規定する値を下回ってもよい。
ヒューズレールの試験構成は，図302による。
母線の断面積は，図302によるか，又は製造業者の説明書に従う。
8.5.5.1.2
試験方法
次のように明確化して，ヒューズシステムAの8.5.5.1.2を適用する。試験は，一つのヒューズレールの
三つの相で行う。
8.9
耐熱性の検証
ヒューズシステムAの8.9を適用する。
8.9.1
ヒューズベース
ヒューズシステムAの8.9.1を適用する。
8.9.1.1
試験配置
ヒューズシステムAの8.9.1.1を適用する。
8.9.1.2
試験方法
ヒューズシステムAの8.9.1.2を適用する。
8.9.1.3
試験結果の評価
この試験の後，ヒューズベースの接触片は，ヒューズベースの使用に影響を与えるほど移動していては
ならない。ダミーを抜き出した後，図301の寸法を考慮しなければならない。
ヒューズベースの絶縁取付部分は破損してはならず，かつ，亀裂の痕跡があってはならない。
8.10
接触部の不劣化の検証
次に規定がない場合，ヒューズシステムAの8.10を適用する。
8.10.1
ヒューズの配置
52
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
次を追加して，ヒューズシステムAの8.10.1を適用する。
試験のために，図301による1個のヒューズベースの三つの相を直列に接続する。試験装置は，図302
による。
8.10.1.2 直接端子クランプ
次を追加して，ヒューズシステムAの8.10.1.2を適用する。
試験は，三つのヒューズレールの九つの端子クランプで行う。
8.11.1.2
ヒューズベースの機械的強度
次を追加して，ヒューズシステムAの8.11.1.2を適用する。
新しいヒューズレールの三つの相全てで，接触力を試験する。
測定値が低すぎる場合，8.5.5.1（ヒューズシステムC）による動的試験を行う。
8.11.2.4.1 試験方法
次のように明確化して，ヒューズシステムAの8.11.2.4.1を適用する。
一つのヒューズレールを試験する。
53
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図301−刃形接触部付きヒューズレール
端子
端子
絶縁バリア8)
母
線
接
続
5)
2
)
3
)
X1部詳細
X2部詳細
Y部詳細
Z部詳細
X1又はX2
X1又はX2
X1又はX2
X1又はX2
2
)
A種ヒューズレール端子が右側にあるもの
C種ヒューズレール，端子だけ，B種の残留部品
m
3
B種ヒューズレール端子が下側にあるもの
54
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図面は，注及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を制限することを意図したものではない。
図301−刃形接触部付きヒューズレール（続き）
最
小
3
0
最
小
3
0
最小0
最小24
最小24
D種ヒューズレール，サイズ00，端子だけ，B種の残留部品
55
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
設計 サイズ
母線
c
d1
d2
h1 h2 b) m1 a) m2
m3
m4
m5
n2
r
s
t
v d)
z
システム 最大 ±0.5 最小 最小 最大
205
＋
− ±2.5 最大 ±10 ±15 最大 最小 最大 最小
最大
中心寸法
参照A
00 c)
100
40
9
16
90 155 100 165 −
−
70 17
21
15 56.5±1.5
3
00 c)
185
175 285 185 280
1
185
60
14
22
35 175 285 185 280 −
− 100 17
38
21
80±3
5
2
46
27
3
65
110 20
58
33
参照B
00 c)
100
−
9
16
10
90 155 100 165 30
−
60 17
21
15 56.5±1.5
3
00 c)
185
175 285 185 280
1
185
−
14
22
40 175 285 185 280 50
− 100 17
38
21
80±3
5
2
46
27
3
20
58
33
参照C
00 c)
100
−
9
16
25
90 155 100 165 30
25
60 17
21
15 56.5±1.5
3
00 c)
185
175 285 185 280
1
185
−
14
22
40 175 285 185 280 40
55
80 17
38
21
80±3
5
2
46
27
3
20
58
53
注a) ほかの寸法を許容する。その場合，形式試験報告書及び製造業者の文献で記述する。
b) 最大合計寸法。
c) サイズ00のヒューズベースは，サイズ000及びサイズ00のヒューズリンクに使用できる。
d) 寸法vは，絶縁接触部カバー間と合致してもよい。
サイズ
相ごとの定格電流
A
定格許容ワット損
W
00
160
12
1
250
32
2
400
45
3
630
60
注2)，3)，5) 及び8) は，図102の注2)，3)，5) 及び8) を適用する。
図301−刃形接触部付きヒューズレール（続き）
56
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単相
三相
A種設計
銅母線の断面積：サイズ00又は1の場合30 mm×5 mm又は32 mm×5 mm
サイズ2の場合30 mm×10 mm又は32 mm×10 mm
サイズ3の場合40 mm×10 mm
8.3.4.1及び8.10による試験： JIS C 8269-1の8.3.1による接続
8.5.5.1による試験： 適切なクロスバー及び接続
図面は，設計基準及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものでは
ない。
図302−ヒューズレールの試験配置
接続
接続
クロスバー
クロスバー
クロス
バー
接続
57
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単相
三相
B種設計及びC種設計
銅母線の断面積：サイズ00又は1の場合30 mm×5 mm又は32 mm×5 mm
サイズ2の場合30 mm×10 mm又は32 mm×10 mm
サイズ3の場合40 mm×10 mm
8.3.4.1及び8.10による試験： JIS C 8269-1の8.3.1による接続によって交換するクロスバー
8.5.5.1による試験： 適切なクロスバー及び接続
図302−ヒューズレールの試験配置（続き）
接続
クロスバー
支持
接続
接続
クロス
バー
クロスバー
支持
58
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムD
母線取付用のヒューズベース（40 mmシステム）
（NHヒューズシステム）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
ヒューズシステムAで適切に取り扱われない場合に限り，次の要求事項を追加して，40 mmの中心距離
をもつ母線系統用の複合単極ヒューズベースサイズ00に適用する。ほかの母線系統に取り付けるための単
極ヒューズベースサイズ00〜4aは，図102によるヒューズベース同様に処理する。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
・ 構造の標準条件
・ ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
2.1.401
40 mm母線系統用ヒューズベース（fuse-base for 40 mm busbar systems）
特別な締付手段を用いて40 mm母線系統上に取り付ける，複合単極ヒューズベース（図401参照）。
注記 このようなヒューズベースは，3極ヒューズベース（図402）又は“タンデムヒューズベース”
と呼ばれる1極当たり二つのコンセントをもつ3極ヒューズベース（図403）の場合，複数の
ものを一緒に取り付けてもよい。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
ヒューズシステムAの5.2を適用する。
5.3.2
定格電流
タンデムヒューズベースサイズ00の定格電流は，各コンセントに対して63 Aである。
63 Aは，メータパネルの引込み線区画内で用いるときのタンデムヒューズベースの推奨値である。その
他の用途では，2×160 A以下の高い電流定格であってもよい。これらは，そのように表示する。また，こ
の規格に従って試験することが望ましい。
5.5.2
タンデムヒューズベースの定格受容ワット損
59
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
コンセント当たり63 Aの定格電流をもつタンデムヒューズベースの定格受容ワット損は，コンセント当
たり7.5 Wである。
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
ヒューズシステムAの箇条6を適用する。
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7.1
機械的設計
40 mm母線系統用ヒューズベースの寸法は，図401，図402及び図403による。
7.1.2
端子を含む接続
ヒューズシステムAの7.1.2を適用する。
63 Aタンデムヒューズベースサイズ00の端子は，表401の範囲内の導体を受け入れることができなけ
ればならない。
製造業者は，文書の中に，タンデムヒューズベースを使用できる母線の寸法及び中心距離を明示しなけ
ればならない。
母線接触部が締付手段，例えば，ねじ付きのフック形留め具によって影響されるときは，構造的手段に
よって，接触要素の機能が損なわれないことを保証しなければならない。
注記 例えば，ISO 1207によるすり割付きソケット形押さえねじを用いた場合，機能が損なわれるこ
とを防止できる。
表401−母線取付用ヒューズベースの未加工導体の最小断面積範囲
サイズ
ヒューズベースの定格電流
A
断面積範囲
mm2
Cu
Al
00
63
2.5〜25
−
7.1.5
母線取付用ヒューズベースの構造
図401，図402及び図403による母線取付ヒューズベースは，隣接する充電部相互間に隔壁をもたなけ
ればならない。ヒューズベースは，隔壁が結果的に固定できる設計であることが望ましい。必要な場合，
外壁を固定する手段を講じる。
図103による交換ハンドルによって，ヒューズリンクをヒューズベースの中に差し込み，かつ，引き出
すことができなければならない。
12 mm×5 mm及び／又は12 mm×10 mmの母線寸法をもつ40 mm母線系統上の特別なクランプによっ
て，母線取付用のヒューズベースを固定できなければならない。
ヒューズベースが，締付ねじ及び接触ねじを締め付けることなく母線上に保持されることを保証するた
めに，構造的手段を備えなければならない。
締付手段の締付ねじ及び端子ねじは，正面から接近できなければならない。
接触片は，図101によるヒューズリンクの刃形接触部を組み込むことができなければならない。接触圧
60
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
は，ばね式接触片又はほかの適切な手段によって保証しなければならない。
図401，図402及び図403で規定していない寸法は，図102による。
7.2
絶縁性能及び絶縁適合性
ヒューズシステムAの7.2を適用する。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
次の変更を加えて，ヒューズシステムAの8.3を適用する。
8.3.1
ヒューズの配置
次の変更を加えて，ヒューズシステムAの8.3.1を適用する。
導体を含む試験装置は，図404及び図405による。試料の接触部システムにはまる母線の断面積は，12 mm
×5 mm以上とする。ヒューズベースの接触締付をねじによって行う場合，表402に規定するトルクを加
える。
表402−接触ねじに加えるトルク
In
A
サイズ
トルク
Nm
2×63
00
6
8.3.4.1
ヒューズホルダの温度上昇
図407で記述するダミーヒューズリンクサイズ00 63 Aを除き，ヒューズシステムAの8.3.4.1を適用す
る。
8.5.5.1.1
ヒューズの配置
図406の試験装置は，40 mm母線系統用ヒューズベースに適用する。これらのヒューズベースは，常に，
単極配置で試験する。
母線の断面積は，図406によるか，又は製造業者の説明書による。
タンデムヒューズベースの場合，表403の限流の範囲を適用する。
表403−試験電流
サイズ
限流
kA
00
4〜5 a)
注a) 計器盤の下半分の接続範囲におけるタンデム性能2×63 Aの推
奨値。定格電流2×00 Aをもつほかの性能の場合，9 kA〜11 kA
の間の限流を推奨する。
8.9.1
ヒューズベース
次に特に規定がない限り，ヒューズシステムAの8.9.1を適用する。
8.9.1.1
試験装置
タンデムヒューズリンクの試験装置は，図405による。ダミーヒューズリンクは，図407による。タン
61
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
デムヒューズベースを試験するときは，測定機器を中心部の上の電流路につるす。試験は，通常，母線で
行う。母線の支持絶縁体を，母線が曲がらないように，試料の幅に合わせる。母線の断面積は，試料の締
付手段に一致させ，かつ，12 mm×5 mm以上とする。接触締付をねじによって行う場合は，表402を適用
する。
8.9.1.3
試験結果の評価
図401及び図403に準拠して，ヒューズシステムAの8.9.1.3を適用する。
8.10
接触部の不劣化の検証
8.10.1及び8.10.2を除き，ヒューズシステムAの8.10を適用する。
8.10.1
ヒューズの配置
次を追加して，ヒューズシステムAの8.10.1を適用する。
サイズ00 63 A用のダミーヒューズリンクは，図407による。
40 mm母線系統上のヒューズベースの接触締付トルクは，表402による。
8.10.2
試験方法
次を追加して，ヒューズシステムAの8.10.2を適用する。
40 mm母線系統用ヒューズベースの単一接触片に関する限り，抵抗測定のタップ点は，接触部面積にで
きる限り近くする。
8.11
機械的試験及びその他の試験
ヒューズシステムAの8.11を適用する。
8.11.1.2
ヒューズベースの機械的強度
次を追加して，ヒューズシステムAの8.11.1.2を適用する。
接触力は，未使用のヒューズベースの全てのコンセントで行う。引張力は，表404に規定する限界内と
する。
表404−ヒューズベース接触部からヒューズリンクを引き出す力
サイズ
定格電流
A
引張力
Fmin
N
Fmax
N
00
63
80
200 a)
注a) 計器盤の下半分の接続範囲におけるタンデムヒューズベース2×63 Aの推奨値。定格電流2×100 Aをもつほ
かのタンデムヒューズベースの場合，電極当たりFmax＝250 Nが望ましい。
8.11.2.4.1 試験方法
次のように明確化して，ヒューズシステムAの8.11.2.4.1を適用する。
三つのヒューズベースか，又は1個のタンデムヒューズベースを試験する。
62
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
サイズ
a
v
r
g
h 3)
k
e1 4)
l 4)
±1
最小
±1
24
＋
−
±2.5
00 5)
33
56.5±1.5
17
47
50
26.5
10
18
注1) 母線の上端と挿入するヒューズリンクのベアリングショルダとの間の寸法78
2
3
＋
−（図101のc1及びe3の寸法
による。）。
2) 母線取付用ベースは，母線上に置いてもよい。
3) 金属板に用いる望ましい寸法。
4) 平らな接続だけ。
5) サイズ00のヒューズベースは，サイズ000及びサイズ00のヒューズリンクに使用できる。
図401−母線取付用ベース，1極
上部接続の説明O
下部接続の説明U
1)
キー
A
接続片
B
仕切壁
C
充電部金属部区域及びほかの構成部品
D
接触部2)
E
保護シールド
27以下
6
5
以
下
6
5
以
下
63
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
サイズ
a
v
r
g
h 3)
k
e1 4)
l 4)
±1
最小
±1
24
＋
−
±2.5
00 5)
33
56.5±1.5
17
47
50
26.5
10
18
注1)〜5) は，図401の注1)〜5) を適用する。
図402−母線取付用ベース，3極
上部接続の説明O
下部接続の説明U
A 接続片
B 仕切壁
C 充電部金属部区域及びほかの構成部品
D 接触部2)
E 保護シールド
1)
27以下
6
5
以
下
6
5
以
下
64
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
サイズ
a
v
r
g
h 3)
e1 4)
l 4)
±1
最小
±1
24
＋
−
00 5)
33
56.5±1.5
17
47
50
10
18
注1)〜5) は，図401の注1)〜5) を適用する。
図403−母線取付用ベース，サイズ00，2×3極（タンデムヒューズベース）
上部及び下部接続の説明O及びU
キー
A
接続片
B
仕切壁
C
充電部金属部区域及びほかの構成部品
D
接触部2)
E
保護シールド
F
保護カバー
1)
27以下
6
5
以
下
6
5
以
下
65
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
キー
1 単極（3極を組み合わせてもよい）
2 接続部
3 それぞれ長さ1 mのケーブル
図404−8.3.1による母線取付用単極及び3極ヒューズベースの試験配置
単位 mm
キー
1 タンデム配置した2台の単極ヒューズベース
2 接続部
3 それぞれ長さ1 mのケーブル
図405−8.3.1による母線取付用タンデム配置の2台の単極及び
6台の単極ヒューズベースの試験配置
1
3
1
2
2
3
2
1
66
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図406−ピーク耐電流の定義の試験配置
単位 mm
グリップラグの寸法及びほかの寸法は，ヒューズシステムAの図101による。
サイズ
In
l
P a)
R b)
バー
A
W
mΩ
数
寸法
00
63
30.5
0
3
−
7.5
1.88
1
3.5
注a) Inは第2列を参照。
b) グリップラグを測定し，許容差±2 %でと同等。
図407−ダミーヒューズリンク
キー
1 単極の試料（又は，多極試料の1極）
2 支持
3 クランプ端子のためのアダプタが必要
になる。
4 電源
1
2
3
4
キー
1 はんだ付け
2 CuMn12Ni
3 銀めっきした銅合金
1
2
3
67
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムE
ボルト締め接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ
（BSボルト締めヒューズシステム）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の追加要求事項は，ボルト締め接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズに適用する。ヒューズ
の定格電流は，1 250 A以下のものとし，定格電圧は交流690 V又は直流500 V以下のものとする。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
・ 最小定格遮断容量
・ 時間−電流特性
・ I2t特性
・ 構造の標準条件
・ ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
JIS C 8269-1を適用する。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
各形の最大定格電流は，図501による。
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流
各形のヒューズホルダの最大定格電流は，図502による。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損
ヒューズリンクの定格ワット損の最大値は，図501による。
8.3.1による定格電流試験時のヒューズホルダの定格受容ワット損値は，図502による。
5.6
時間−電流特性の制限
5.6.1
時間−電流特性，時間−電流ゾーン及び過電流曲線
ゲート並びに協約時間及び協約電流によって示される溶断時間の範囲は，製造誤差範囲を除き，時間−
電流ゾーンとして図503及び図504に示す。時間−電流特性の誤差範囲は電流値で±10 %でなければなら
ない。
68
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.6.2
協約時間及び協約電流
JIS C 8269-1の値のほか，協約時間及び協約電流は，表501による。
表501−“gG”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流
定格電流 In
協約時間
協約電流
A
h
Inf
If
In＜16
1
1.25 In
1.6 In
5.6.3
ゲート
“gG”ヒューズリンクは，表502及びJIS C 8269-1に規定するゲートを適用する。
表502−“gG”ヒューズリンクの規定された溶断時間に関するゲート
In
Imin（10 s）
Imax（5 s）
Imin（0.1 s）
Imax（0.1 s）
2
3.4
5.0
4.6
7.5
4
6.5
10.5
10.0
18.5
6
10.0
18.0
17.0
35.0
10
18.0
36.0
35.0
60.0
5.7.2
定格遮断容量
定格遮断容量は，交流80 kA及び直流40 kAとする。
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
6.1
ヒューズホルダの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ
定格電流及び定格電圧の表示は，ヒューズリンクが取り付けられていないときに正面から識別できなけ
ればならない。
6.2
ヒューズリンクの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ又は関連コード
− 定格遮断容量
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7.1
機械的設計
ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は，図501及び図502による。
7.1.2
端子を含む接続
検討中。
7.2
絶縁性能及び絶縁適合性
ヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は，JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIII及び汚損度3の要求事
69
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項に適合しなければならない。
7.9
感電に対する保護
図502に基づく標準ヒューズホルダを用いる場合には，感電に対する保護の程度は3段階全てについて
IP2X以上でなければならない。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
8.3.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクの試験装置は，図505による。試験装置は，垂直に取り付けなければならない。
8.3.3
ヒューズリンクのワット損の測定
ワット損の測定点は，図505による。
8.4
動作の検証
8.4.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクの試験装置は，図505による。試験装置は，垂直に取り付けなければならない。
8.5
遮断容量の検証
8.5.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクの試験装置は，図506による。
8.5.8
試験結果の評価
JIS C 8269-1の要求事項を適用し，更に，細いヒューズ線の溶解及び装置の機械的損傷がなく，ヒュー
ズリンクが動作しなければならない。
8.9
耐熱性の検証
ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル
ダは，事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は，JIS C 8269-1の8.4.3.2に規定
している。通常の温度まで下げた後に8.5によってI1の遮断容量試験を行う。
有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは，上記と同じ試験を行う。これらのヒューズリンクは，
試験電流I1及びI5で遮断しなければならない。
8.10
接触部の不劣化の検証
JIS C 8269-1の8.10を適用する。
8.10.1
ヒューズの配置
次を追加してJIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
ダミーヒューズリンクは，図501に適合した寸法のもので，図502に規定する標準ヒューズホルダに装
着できるものでなければならない。
ダミーヒューズリンクのワット損は，図505に規定する標準ワット損試験装置で試験したときに，図502
に規定するヒューズホルダの定格受容ワット損でなければならない。
ダミーヒューズリンクは，過負荷電流Infが流れている間は作動しない構造でなければならない。
8.10.2
試験方法
次の事項のほかに，JIS C 8269-1の8.10.2を適用する。
JIS C 8269-1の8.10.2の第1段落の後に，次の語句を追加する。
次の試験値を適用しなければならない。
70
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験電流：協約不溶断電流Inf
通電時間：協約時間の25 %
休止時間：協約時間の10 %
定格電圧よりも低い試験電圧を用いてもよい。
8.10.3
試験結果の評価
250サイクル後に測定した温度は，試験開始時に測定した値に対し，上昇値が15 Kを超えてはならない。
必要な場合，750サイクル後に，温度は，試験開始時に測定した値に対し，上昇値が20 Kを超えてはな
らない。
8.11.1
機械的強度
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
ヒューズホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には，定格
電流を通電して温度上昇試験を行う。
温度上昇試験の終了後，ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは，該当するヒューズベースに100回の
着脱を行う。
これらの試験終了後，全ての部品は損傷することなく，正常に機能しなければならない。
評価は，最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い，得られた値が機械的試験の開始に先立つ
温度上昇試験から得られた値を，5 K又は15 %のいずれか大きなほうを超えないことを検証する。
71
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図面は，注及び示す寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。
図501−ボルト締め接続形ヒューズリンク−A形，B形，C形及びD形
サイズBヒューズリンク
サイズDヒューズリンク
サイズAヒューズリンク
サイズCヒューズリンク
72
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サイズ
最大
最大
a
b
d
e
f
g
h
j
k
l
m
定格電流 ワット損 最大 最大 最大 最大
最大
公称
公称
最小
最大
公称
最大
A
W
a) b)
c)
c)
b) d)
a)
A1
20
2.7
36.5
14.5
56
11.2
0.8
1.5
44.5
4.2
5.5
14.5
−
36.5
A2
32
4.4
57
24
86
9.2
0.8
1.5
73
5.5
7
25.5
−
60
A3
63
6.9
58
27
91
13
1.2
1.6
73
5.5
7
28
−
61
A4
100
9.1
70
37
111
20
2.4
3.2
94
8.7
9.5
38.5
−
74
B1
100
9.1
70
37
138
20
3.2
4
111
8.7
11
−
−
82
B2
200
17
77
42
138
20
3.2
4
111
8.7
11
−
−
82
B3
315
32
77
61
138
26
3.2
4.8
111
8.7
11
−
−
82
B4
400
40
83
66
138
26
4.8
6.6
111
8.7
11
−
−
89
C1
400
40
83
66
212
26
4.8
6.6 133
10.3
11
−
25.4
95
C2
630
55
85
77
212
26
6.3
7.8 133
10.3
11
−
25.4
95
C3
800
70
89
84
212
39
9.5
11.1 133
10.3
12.5
−
25.4 101
D1
1 250
100
89
102
200
64
9.5
12.7 149
14.3
16.5
−
31.8
95
注a) 全てのサイズにおいて，寸法aは，リベット頭といった突起物を含むが，寸法aとmとの間の端子の設計は，
接触面に対して45°の角度で引かれた線によって限定される。
b) 全ての取付穴は，寸法aに関する製造公差を考慮してjによって示すとおりに延長されている。
c) 寸法e及びfは，公称材料サイズであり，原材料に関する関係規格に規定された製造公差を条件とする。
d) A1からA4の形のヒューズリンクの場合，取付穴を軸方向又は横方向に延ばして，開放溝としてもよい。
標準 “gM”ヒューズリンク
サイズ
標準定格
電流定格
A
特性定格
A
A1
20M25
20
25
20M32
20
32
A2
32M40
32
40
32M50
32
50
32M63
32
63
A3
63M80
63
80
63M100
63
100
A4及びB1
100M125
100
125
100M160
100
160
100M200
100
200
B2
200M250
200
250
200M315
200
315
注記 “gM”ヒューズリンクのワット損は，同一寸法基準の“gG”ヒューズリ
ンクについて示す値よりも低い。
図501−ボルト締め接続形ヒューズリンク−A形，B形，C形及びD形（続き）
73
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 ヒューズキャリヤは，同軸端子形又は段違い端子形のヒューズリンクを装着できる。
注記 カバーの隙間は，IP2Xの保護の程度（JIS C 0920）を保持するものである。
単位 mm
最大定格電流
定格受容ワット損
A
B
B1
C
D
ヒューズリンク
A
W
最大
最大
最大
最大
サイズ
20
2.7
30
91
110
62
44.5
A1
32
4.4
35
114
134
75
73
A2
63
6.9
47
140
140
91
73
A3
100
9.1
61
175
175
121
94
A4
200
17.0
86
233
310
159
111
B1＋B2
注記 この図は，実例として示すものであり，上記の寸法の範囲内に収まる限り，ほかの形状又は形式の使用を妨
げない。
図502−代表的なヒューズホルダ
ヒューズリンク取付中心
ヒューズキャリヤ
ヒューズシステムE：ボルト締め接触部をも
つヒューズリンク
ブレード接点
固定接触部
ヒューズベース
接触部カバー
74
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
5
0
3
−
“
gG
”
ヒ
ュー
ズ
リン
ク
の
時間
−
電流
ゾ
ー
ン
固
有
電
流
(A
)
75
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
固
有
電
流
(A
)
図
5
0
4
−
“
gG
”
ヒ
ュー
ズ
リン
ク
の
時間
−
電流
ゾ
ー
ン
76
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
ヒューズリンクの
サイズ
寸法
定格電流
A（以下）
a
b
c
d
m
t
A1
10
12.5
16
50
38
0.5
20
A2
10
12.5
16
50
61
0.5
32
A3
16
12.5
16
50
62
1.0
63
A4
20
25
25
70
75
1.6
100
B1
20
25
25
70
83
1.6
100
B2
20
25
25
70
83
5
200
B3
25
38
25
80
83
8
315
B4
25
38
25
80
90
10
400
C1
25
38
25
80
96
10
400
C2
32
38
25
80
96
12
530
C3
40
45
32
100
101
12
800
D1
80
60
45
160
96
10
1 250
注記 近似寸法が許容される。
図505−ワット損試験装置
等間隔
高導電銅導体
ヒューズリンクの形
に適合する固定ボルト
すずめっき又は
銀めっきすべき
接触面
絶縁基板
つや消し黒仕上げ
絶縁クランプ
ワット損を決定
するための電圧
測定点
試験導体の終端に
適した穴径
77
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
ヒューズリンクの形別
最大定格電流
寸法
A
a
b
c
d
e
f
g
h
j
A1〜A4
400
187
127
25
36.5
38
12
114
M12
111
B1〜B4
C1〜C3
800
248
140
38
51
50
20
114
M20
159
D1
1 250
305
152
63
83
57
20
114
M24
159
図506−ボルト締め接触部をもつヒューズリンクの遮断容量試験装置
7)
19以下
8)
3)
1)
9)
4)
6)
5)
2)
10)
19以下
78
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注1) 適切な剛性を確保する厚さの編組金網，軟鋼板又は有孔軟鋼板で作られた着脱式カバー。金網又は有孔軟鋼
板の個々の孔は，面積が8.5 mm2以下でなければならない。カバーと充電金属部との間の空間距離が19 mm
以下である場合は，カバーの断面を図に示すものとは違うものにすることができる。
2) 高導電銅製の接続スタッド。
3) A1〜A3のヒューズリンクの固定中心部には，断面積が25 mm×6.3 mm以上の適切なアダプタを用いなけれ
ばならない。
4) 両端のキャップを接続金具で支えないようにするために，この位置で目に見える隙間が不可欠である。
5) 試験装置を超えた試験接続部の配置は，指定していない（JIS C 8269-1の8.5.1の第2段落は適用しない。）。
銅導体の大きさは，定格遮断容量に従って選択しなければならない。
6) ベースは曲げ強さが85 MPa以上の積層板を接合したフェノール樹脂製でなければならない。
7) 銅板
8) 細いヒューズ線用端子。この端子及び試験電源の一つの極に，50 mm以上の自由長で直径約0.1 mmの銅製の
細いヒューズ線を接続する。
9) 面取り部
10) 固有電流試験に必要な短絡導体。これは，開路を容易にするために溝付きにしてもよい。銅導体の大きさは，
定格遮断容量に基づいて選択しなければならない。
図506−ボルト締め接触部をもつヒューズリンクの遮断容量試験装置（続き）
79
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムF
円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズ
（NF筒形ヒューズシステム）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の追加要求事項は，125 A以下の定格電流及び交流440 V以下又は直流690 V以下の定格電圧用の図
601及び図603による寸法に適合する，ストライカ付き又はストライカなし円筒形キャップ接触部をもつ
ヒューズリンクを用いるヒューズに適用する。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
・ 最小定格遮断容量
・ 時間−電流特性
・ I2t特性
・ 構造の標準条件
・ ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
JIS C 8269-1を適用する。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
交流の場合，定格電圧の標準値は400 V，500 V及び690 Vとする。直流の場合，定格電流は250 V，440V
及び500 Vとする。直流定格電圧の標準値は，交流定格電圧の標準値とは関連しない。例えば，次の基準
値の組合せが可能である。交流500 V及び直流440 V，交流690 V及び直流440 Vなど。
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
ヒューズリンクの最大定格電流は，表601による。これらの値は，使用カテゴリ及び定格電圧によって
異なる。
80
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表601−円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクの最大定格電流In
単位 A
サイズ
交流400 V
交流500 V
交流690 V
gG
aM
gG
aM
gG
aM
8×32
25
12
−
−
−
−
10×38
32
32
25
20
16
12
14×51
−
−
50
50
50
40
22×58
−
−
100
100
80
80
注記 定格電流が高いヒューズリンクが存在してもよい。
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流
ヒューズホルダの最大定格電流は，表602による。
表602−ヒューズホルダの最大定格電流
サイズ
In
A
8×32
25
10×38
32
14×51
50
22×58
100
注記 定格電圧が高いヒューズリンクの使用については，製
造業者と使用者との協定による。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損
ヒューズリンクの定格ワット損最大値は，表603による。
表603−ワット数で示されたヒューズリンクの最大定格ワット損
gG
aM
寸法
交流 400 V
交流 500 V
交流 690 V
交流 400 V
交流 500 V
交流 690 V
In
Pn
In
Pn
In
Pn
In
Pn
In
Pn
In
Pn
A
W
A
W
A
W
A
W
A
W
A
W
8×32
20
25
2.3
2.5
−
−
−
−
10
12
0.6
0.8
−
−
−
−
10×38
32
3.0
20
25
2.8
3.0
16
2.2
25
32
1.3
2.0
16
20
1
1.2
12
0.9
14×51
−
−
50
5.0
40
50
4.6
5.0
−
−
40
50
2.9
3.2
32
40
2.3
2.9
22×58
−
−
100
9.5
63
80
7.3
8.5
−
−
100
7.0
63
80
5.3
6.8
注記 ワット損は，ヒューズリンクの最大ワット損，及び同時にヒューズベース又はヒューズホルダによって許容
される最小ワット損を示す。
ヒューズベースの定格受容ワット損最大値は，表604による。
81
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表604−ヒューズホルダの定格受容ワット損
サイズ
8×32
10×38
14×51
22×58
定格受容ワット損
2.5 W
3 W
5 W
9.5 W
5.6
時間−電流特性の制限
5.6.1
時間−電流特性，時間−電流ゾーン及び過電流曲線
適用する場合，試験で測定した全ての溶断及び動作時間は，許容範囲を含めてヒューズシステムAの図
104に規定する時間−電流ゾーンを満たさなければならない。
5.6.2
協約時間及び協約電流
JIS C 8269-1の値に加えて，協約時間及び協約電流は，表605による。
表605−定格電流が16 A未満の“gG”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流
定格電流 In
協約時間
協約電流
A
h
Inf
If
In ≦ 4
1
1.5 In
2.1 In
4 ＜ In ＜ 16
1
1.5 In
1.9 In
5.6.3
ゲート
“gG”ヒューズリンクは，JIS C 8269-1のゲートに加えて，表606に規定するゲートを適用する。
表606−定格電流が16 A未満の“gG”ヒューズリンクの規定溶断及び動作時間に関するゲート
In
A
Imin（10 s）
A
Imax（5 s）
A
Imin（0.1 s）
A
Imax（0.1 s）
A
2
3.7
9.2
6.0
23.0
4
7.8
18.5
14.0
47.0
6
11.0
28.0
26.0
72.0
8
16.0
35.2
41.6
92.0
10
22.0
46.5
58.0
110.0
12
24.0
55.2
69.6
140.4
5.7.2
定格遮断容量
最小定格遮断容量は，表607による。
表607−最小定格遮断容量
定格電圧Un
最小定格遮断容量
交流
Un ≦ 500 V
100 kA
500 V ＜ Un ≦ 690 V
50 kA
直流
Un ≦ 750 V
25 kA
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
このヒューズシステムの要求事項及び試験を満たすヒューズリンク及びヒューズホルダは，JIS C 8269-2
82
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
を表示できる。
6.1
ヒューズホルダの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ
6.2
ヒューズリンクの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ又は関連コード
− 定格遮断容量
ヒューズリンクには，表608に規定するとおりの表示を付けなければならない。
表608−ヒューズリンクの表示
特性
gG
aM
表示の色
黒
緑
印刷の種類
反転印刷の帯
通常印刷
反転印刷の帯
通常印刷
電圧
400 V
×
×
500 V
×
×
690 V
×
×
注記 ×は，表示することを意味する。
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7.1
機械的設計
ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は，図601及び図603による。
ストライカ付きヒューズリンクは，図602による寸法に適合しなければならない。
7.1.2
端子を含む接続
端子は，表609による断面積を受け入れられるものとする。
表609−剛性銅導体の最小断面種範囲
サイズ
8×32
10×38
14×51
22×58
断面積
mm2
1.5〜4
1.5〜6
2.5〜16
4〜50
端子の例は，IEC 60999-1及びIEC 60999-2による。
7.2
絶縁性能及び絶縁適合性
ヒューズ部品の沿面距離及び空間距離は，JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIII及び汚損度3の要求事項
に適合しなければならない。
7.7
I2t特性
この項が適用されるヒューズリンクの場合，JIS C 8269-1の表7に示された最大溶断I2t値を最大動作I2t
値に適用する。16 A未満の定格電流に関する値は，表610による。
83
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表610−“gG”ヒューズリンクに関する0.01 s時の溶断及び動作I2t値
In
A
溶断I2tmin
A2s
動作I2tmax
A2s
2
1
23
4
6
90
6
24
225
8
49
420
10
100
576
12
160
750
“aM”ヒューズリンクの最大動作I2t値は，定格電圧の1.1倍の試験電圧の下において，各同形シリー
ズの最大定格電流における試験No.2（JIS C 8269-1の表20）について，表611の規定による。
表611−“aM”ヒューズリンクの最大動作I2t値
定格電圧 Un
V
最大I2tmax
A2s
Un ≦ 400
18 In2
400 ＜ Un ≦ 500
24 In2
500 ＜ Un ≦ 690
35 In2
注記 交流230 Vの電圧の場合，最大動作I2t値は，12 I2nである。
これらの値は，0.01秒より小さい溶断時間に相当する固有電流に適用する。
7.8
“gG”ヒューズリンクの過電流動作協調
定格電流比が1：1.6，定格電流が16 A以上の直列のヒューズリンクは，8.7.4に規定された値で動作協
調がとれなければならない。
7.9
感電に対する保護
感電に対する保護は，仕切壁及びヒューズ接触部のカバーによって高めることができる。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.1.6
ヒューズホルダの試験
ヒューズホルダは，JIS C 8269-1に規定する試験に加えて，表612に基づく試験を行う。
表612−ヒューズホルダの試験の概括及び供試ヒューズホルダ数
項に基づく試験
ヒューズホルダ数
3
1
1
1
5
8.5.5.1 ヒューズベースのピーク耐電流
の検証
×
×
8.9
耐熱性の検証
×
8.10
接触部の不劣化の検証
×
8.11.1.1 ヒューズホルダの機械的強度
×
注記 ×は，試験を実施することを意味する。
84
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.3.1
ヒューズの配置
端子のねじは，表613によるトルクを加えて締める。
表613−端子ねじに適用するトルク
ねじ部の呼び径
mm
トルク
Nm
I
II
III
IV
V
2.8以下
0.2
−
0.4
0.4
−
2.8を超え 3.0以下
0.25
−
0.5
0.5
−
3.0を超え 3.2以下
0.3
−
0.6
0.6
−
3.2を超え 3.6以下
0.4
−
0.8
0.8
−
3.6を超え 4.1以下
0.7
1.2
1.2
1.2
1.2
4.1を超え 4.7以下
0.8
1.2
1.8
1.8
1.8
4.7を超え 5.3以下
0.8
1.4
2.0
2.0
2.0
5.3を超え 6.0以下
1.2
1.8
2.5
3.0
3.0
6.0を超え 8.0以下
2.5
2.5
3.5
6.0
4.0
8.0を超え 10.0以下
−
3.5
4.0
10.0
6.0
10.0を超え 12.0以下
−
4.0
−
−
8.0
12.0を超え 15.0以下
−
5.0
−
−
10.0
ねじ又はナットを緩めるときには，その都度，導体を移動する。
欄Iは，締めたときにねじが穴から突き出ない場合の頭なしねじ，及びねじの直径よりも幅が広い刃形
をもつねじまわしでは締めることができないほかのねじに適用する。
欄IIは，ねじまわしで締めるマントル端子のナットに適用する。
欄IIIは，ねじまわしで締めるほかのねじに適用する。
欄IVは，ねじまわし以外の手段で締めるマントル端子のナット以外のねじ及びナットに適用する。
欄Vは，ねじまわし以外の手段で締めるマントル端子のナットに適用する。
8.3.4.1
ヒューズホルダの温度上昇
ダミーヒューズは，図601の寸法及び表604による定格受容ワット損をもたなければならない。
8.3.4.2
ヒューズリンクのワット損
その間でヒューズリンクのワット損を測定する2か所は，図601にSで示す。
8.4.3.6
表示器及びストライカの動作（ある場合）
次を追加して，JIS C 8269-1の8.4.3.6を適用する。
（S0）動作前にストライカの突出は1 mmを超えてはならず，動作後，7 mm〜10 mm（S1）でなければな
らない。図602参照。
最大限界の全ての点でストライカの力は2.5 N以上でなければならず，動作終了時に20 Nを超えてはな
らない。
動作後，ストライカは固定状態のままでなければならない。
ストライカ付きヒューズリンクは，ストライカ以外の表示器をもたなくてもよい。
85
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.5.5.1
ヒューズベースのピーク耐電流の検証
各サイズの最大定格電流のヒューズリンクの遮断試験において，表614に示した範囲内の限流値が検証
されている場合には，ヒューズベースのピーク耐電流の検証は行う必要はない。
8.5.5.1.1
ヒューズの配置
試験は，単相タイプでなければならない。ヒューズベースの試験セットアップは，JIS C 8269-1の8.5.1
と一致しなければならない。
8.5.5.1.2
試験方法
電流をそれぞれのサイズにおける最大定格のヒューズリンクで制限しなければならない。到達した試験
電流のピーク値は，表614に示した範囲内でなければならない。
表614−限流値
サイズ
限流値
kA
8×32
3〜4
10×38
5〜6
14×51
13〜16
22×58
17〜21
8.5.5.1.3に規定した要求事項を満たす限り，最大値を超えてもよい。
該当するサイズの最大定格電流のヒューズリンクで，規定の限流値範囲に到達しない場合は，規定の限
流値範囲に適合する別のヒューズを直列に接続して用いなければならない。この場合，供試品には，ダミ
ーヒューズリンクを装着しなければならない。ダミーヒューズリンクの外形寸法は，図601による。
8.5.5.1.3
試験結果の評価
ヒューズリンクは，飛び出してはならない。アーク若しくは溶着又はそれ以上のヒューズベースの使用
を妨げるようなほかの損傷があってはならない。接触部の電流による損傷は許容する。
8.7.4
過電流動作協調の検証
記録された試験結果から評価されたI2t値によって，定格電流が12 A以下のヒューズの過電流動作協調
及び定格電流が12 Aを超えるヒューズの過電流動作協調比1：1.6を検証する。
試験回路及び電流の許容範囲に関するJIS C 8269-1の8.5及び表20に基づく遮断容量試験の場合と同様
に，試料を配置する。
4個の試料を試験する。2個の試料は，最小溶断I2t値に基づく固有試験電流I（実効値）で試験し，残
りの2個の試料は，動作I2t値に対応する固有試験電流I（実効値）で試験する。
690 Vヒューズの試験電圧は，1.05×Un/3である。
ほかの全てのヒューズの試験電圧は，1.1×Un/3である。
86
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表615−動作協調試験の試験電流及びI2t範囲
In
最小溶断 I2t
最大動作 I2t
動作協調比
固有電流 I
I2t
固有電流 I
I2t
実効値
A2s
実効値
A2s
A
kA
kA
2
0.013
0.67
0.064
16
計算で求める。
4
0.035
4
0.130
67
6
0.064
16
0.220
193
8
0.100
40
0.310
390
10
0.130
67
0.400
640
12
0.180
130
0.450
820
16
0.270
291
0.550
1 210
1：1.6
20
0.400
640
0.790
2 500
25
0.550
1 210
1.000
4 000
32
0.790
2 500
1.200
5 750
40
1.000
4 000
1.500
9 000
50
1.200
5 750
1.850
13 700
63
1.500
9 000
2.300
21 200
80
1.850
13 700
3.000
36 000
100
2.300
21 200
4.000
64 000
125
3.000
36 000
5.100
104 000
評価I2t値は，表615に規定した対応するI2t範囲内でなければならない。
8.9
耐熱性の検証
ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル
ダは，事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は，JIS C 8269-1の8.4.3.2に規定
している。通常の温度まで下げた後に8.5によってI1の遮断容量試験を行う。
有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは，上記と同じ試験を行う。これらのヒューズリンクは，
試験電流I1及びI5で遮断しなければならない。
8.10
接触部の不劣化の検証
JIS C 8269-1の8.10を適用する。
8.10.1
ヒューズの配置
次の事項を追加して，JIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
ダミーヒューズは，図601の寸法及び表604による適切な値に等しい定格ワット損をもたなければなら
ない。
8.10.2
試験方法
JIS C 8269-1の8.10.2の第1段落の後に，次の語句を追加する。
次の試験値を適用しなければならない。
試験電流：協約不溶断電流Inf
負荷期間：協約時間の25 %
無負荷期間：協約時間の10 %
これらの試験は，低い電圧で行ってもよい。
8.10.3
試験結果の評価
87
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
250サイクル後に測定した温度上昇値は，試験開始時に測定した温度上昇を15 K以上超えてはならない。
必要な場合，750サイクル後に，温度上昇値は，試験開始時に測定した値を20 K以上超えてはならない。
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
ヒューズホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には，定格
電流を通電して温度上昇試験を行う。
温度上昇試験の終了後，ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは，該当するヒューズベースに100回の
着脱を行う。
これらの試験終了後，全ての部品は損傷することなく，正常に機能しなければならない。
評価は，最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い，得られた値が機械的試験の開始に先立つ
温度上昇試験から得られた値を，5 K又は15 %のいずれか大きなほうを超えないことを検証する。
単位 mm
8.3.4.2による点Sを測定する。
図面は，注及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。
注1) 円筒部の内側は，指定された許容差を超えてはならない。
2) エンドキャップ間のヒューズリンクの直径は，cを超えてはならない。
サイズ
a
b
最大
c
d
最小
r
8×32
31.5±0.5
6.7
8.5±0.1
4
1±0.5
10×38
38±0.6
10.5
10.3±0.1
6
1.5±0.5
14×51
6.01
51＋
−
13.8
14.3±0.1
7.5
2±1
22×58
1.02
58＋
−
16.2
22.2±0.1
11
2±1
図601−円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンク
S
S
1)
2)
88
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図面は，注及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意図したものではない。
注1) ストライカを停止させるシリンダの寸法。
図602−ストライカ付き円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンク−
サイズ14×51及び22×58に対する追加の寸法
単位 mm
サイズ
In
G1
H1
L 08.0
+
（A）
最大
最小
8×32
16
11.5
14
16
10×38
25
13
15.5
19.3
14×51
50
18
20.5
25.8
22×58
100
18
25
29
図603−円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクのヒューズベース
〜
半径方向ストップ
軸方向ストップ
接触域
スプリング式
半径方向接触片
半径方向ストップ
軸方向ストップ
接触域
スプリング式
半径方向接触片
ベースB 二つの円筒面上の接触部
ベースA 二つの円筒形キャップの接触部
89
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
サイズ
In
A
G2
最大
H2
最小
8×32
16
26.5
29.5
10×38
25
31.5
34.5
14×51
50
43
47
22×58
100
46
52
図面は，注及び示した寸法に関する場合を除き，ヒューズリンクの設計を規制することを意
図したものではない。
接触は，ヒューズリンク上に示された接触域内で行う。サイズ14×51及び22×58は，外部
スプリングが接触力を与えなければならない（サイズ8×32及び10×38は，接触片そのもの
の弾性で十分である。）。接触片の弾性特性及びコーティングは，実際面で通常予測される熱的
及び機械的応力にさらされたときにも安定していなければならない。
軸方向ストップ，アプリケーションピース及び接触片は，ヒューズリンクに組み込まれるこ
とがある表示装置又はストライカの動作を妨げないような構造でなければならない。
接触片の一つ以上，又はベースCの場合には，アプリケーションピースは，ヒューズリン
クの寸法の軸方向公差を考慮して，矢印の方向に十分な弾性を（サイズ14×51及び22×58
の場合には，外部スプリングによって）もたなければならない。
ヒューズリンクの接触片の近くに位置する半径方向ストップによって設けられたゾーン内
で接触が確保されなければならない。
“➡”は，ヒューズリンクを引き抜く方向を示す。
図603−円筒形キャップ接触部をもつヒューズリンクのヒューズベース（続き）
アプリケーションピース
スプリング式半径
方向接触片
接触域
半径方向ストップ
端接触片
ベースC 円筒面上の一方の接触部及び端面上の他方の接触部
90
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムG
オフセット刃形接触部をもつヒューズリンクのヒューズ
（BSクリップインヒューズシステム）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の要求事項は，オフセット刃形接触部をもつヒューズリンクを用いたヒューズに適用する。ヒューズ
の定格電流は，125 A以下のものとし，定格電圧は，交流400 V以下のものとする。
注記 これらのヒューズは，既存の公称220/380 V及び240/415 Vシステムから進化する，将来的な標
準電圧交流230/400 V用システムで用いる予定である。しかし，多くの国では，しばらくの間
もっと高い電圧240/415 Vを用いるため，これらのヒューズは，全ての電源が230 V又は400 V
の推奨値に進化する時期まで供給され続け，定格電圧 交流240 V又は415 Vで試験することに
なる。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
・ 最小定格遮断容量
・ 時間−電流特性
・ I2t特性
・ 構造の標準条件
・ ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
JIS C 8269-1を適用する。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
この規格に適用するJIS C 8269-1の表1の標準定格電圧値は，次のとおりとする。
ヒューズリンクサイズE1
交流230 V
ヒューズリンクサイズF1，F2，F3
交流400 V
（1.1の注記も参照）
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
各サイズに関する最大定格電流は，図701による。この項には，8 A及び12 Aの定格は含まない。
91
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流
ヒューズホルダの最大定格電流は，図702による。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損
図705に規定する標準装置で測定したときに，8.3.1によって試験するヒューズリンクが許容される最大
ワット損値は，図701による。
8.3.1によって試験したときに，ヒューズホルダの定格受容ワット損の値は，図702による。
注記 ヒューズホルダの定格受容ワット損の電圧の測定点は，図702による。
5.6.1
時間−電流特性及び時間−電流ゾーン
ゲート並びに協約時間及び協約電流によって示す溶断時間範囲のほかに，製造許容範囲を除く時間−電
流ゾーンは，図703及び図704による。時間−電流特性の誤差範囲は，電流値で±10 %でなければならな
い。
5.6.2
協約時間及び協約電流
JIS C 8269-1の値のほかに，協約時間及び協約電流は，表701による。
表701−“gG”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流
定格電流 In
協約時間
協約電流
A
h
Inf
It
4 ＜ In ＜ 16
1
1.25 In
1.6 In
In ≦ 4
1
1.25 In
2.1 In
5.6.3
ゲート
“gG”ヒューズリンクは，表702及びJIS C 8269-1に規定するゲートを適用する。
表702−“gG”ヒューズリンクの規定溶断時間に関するゲート
In
Imin（10 s）
Imax（5 s）
Imin（0.1 s）
Imax（0.1 s）
2
3
6
4
8
4
6
12
9
20
6
9
20
16
36
10
16
36
33
70
5.7.2
定格遮断容量
定格遮断容量は，次のとおりとする。
a) サイズE1ヒューズリンクは50 kA
b) サイズF1，F2，F3ヒューズリンクは80 kA
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
6.1
ヒューズホルダの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ
6.2
ヒューズリンクの表示
92
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ又は関連コード
− 定格遮断容量
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7.1
機械的設計
ヒューズリンク及びヒューズホルダの寸法は，図701及び図702による。
7.1.2
端子を含む接続
ヒューズホルダの端子は，表703に規定する断面積をもつより線又は単線を受け入れなければならない。
表703−銅導体のサイズ
ヒューズホルダの定格電流
A
導体の断面積
mm2
サイズ
20
4
E1
32
10
F1
63
25
F2
125
70
F3
7.2
絶縁性能及び絶縁適合性
ヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は，JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIII及び汚損度3の要求事
項に適合しなければならない。
7.7
I2t特性
JIS C 8269-1の表7に示した値のほかに，16 A未満の定格電流に関する値は，表704による。
表704−“gG”ヒューズリンクに関する0.01 s時の溶断I2t値
In
A
I2tmin
A2s
I2tmax
A2s
2
0.30
2.5
4
2.0
15
6
5
45
10
25
200
7.9
感電に対する保護
図702に基づく標準ヒューズホルダを用いる場合には，感電保護度は3段階全てについてIP2X以上で
なければならない。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.3.3
ヒューズリンクのワット損の測定
図705に規定する試験装置にヒューズリンクを取り付ける。ワット損の測定点は，図705による。
93
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.3.4.1
ヒューズホルダの温度上昇
ダミーヒューズリンクは，図701に適合した寸法の下で，図702に規定するヒューズホルダで試験する。
ダミーヒューズリンクのワット損は，図705の標準ワット損試験装置で試験したときに，図702に規定す
るヒューズホルダの定格受容ワット損とする。
8.4.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクの試験装置は，図705による。
8.5.1
ヒューズの配置
この規格に適合したヒューズホルダでヒューズリンクの遮断容量を試験する。ヒューズホルダは，しっ
かり支えられ，主回路試験接続部にヒューズホルダを接続するための導体は表703に規定するヒューズホ
ルダ端子に適切な断面積をもたなければならない。それらの導体は，接続装置の平面における完成品ヒュ
ーズの両側で，ヒューズの端子間の接続線の方向に，0.2 m以下とすることができる。
ヒューズホルダ及びヒューズホルダを試験接続部に接続する導体のような試験装置以外の試験接続部の
処理は，規定しない。
8.7.4
過電流動作協調の検証
電流定格16 A以上については，JIS C 8269-1の8.7.4を適用する。
16 A未満の電流定格については，JIS C 8269-1の8.7.1によって検証した製造業者のデータから動作協調
を決定する。
8.9
耐熱性の検証
ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル
ダは，事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は，JIS C 8269-1の8.4.3.2に規定
している。通常の温度まで下げた後に8.5によってI1の遮断容量試験を行う。
有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは，上記と同じ試験を行う。これらのヒューズリンクは，
試験電流I1及びI5で遮断しなければならない。
8.10
接触部の不劣化の検証
JIS C 8269-1の8.10を適用する。
8.10.1
ヒューズの配置
次のほかに，JIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
ダミーヒューズリンクは，図702に規定する対応するヒューズホルダでの試験のために図701に適合し
た寸法をもたなければならない。
ダミーヒューズリンクのワット損は，図705に示した標準ワット損試験装置で試験したときに，図702
に規定するヒューズホルダの最大定格受容ワット損とする。
8.10.2
試験方法
次の事項のほかに，JIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
JIS C 8269-1の8.10.2の第1段落の後に，次の語句を追加する。
次の試験値を適用する。
試験電流：不溶断電流Inf
負荷期間：協約時間の25 %
無負荷期間：協約時間の10 %
定格電圧よりも低い試験電圧で実施してもよい。
8.10.3
試験結果の評価
94
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
250サイクル後に測定した温度上昇値は，試験開始時に測定した温度上昇を15 K以上超えてはならない。
必要な場合，750サイクル後に，温度は，試験開始時に測定した値を20 K以上超えてはならない。
8.11
機械的試験及びその他の試験
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
ヒューズホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には，定格
電流を通電して温度上昇試験を行う。
温度上昇試験の終了後，ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは，該当するヒューズベースに100回の
着脱を行う。
これらの試験終了後，全ての部品は損傷することなく，正常に機能しなければならない。
評価は，最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い，得られた値が機械的試験の開始に先立つ
温度上昇試験から得られた値を，5 K又は15 %（いずれか大きなほう）を超えないことを検証する。
単位 mm
サイズ 最大定格電流 最大ワット損
a 1)
b
d
e
f
n
A
W
最大
最大
最大
最小
最大
最小
最大
最小
最大
最小
E1
20
1.8
25
14.5
51
47
13
11
1.5
0.8
3.8
3.2
F1
32
3.2
35.5
14.5
62
58
13
11
1.5
0.8
3.8
3.2
F2
63
4.8
39
17.5
69
65
15.5
14.5
1.6
1.2
3.8
3.2
F3
125
7.5
39
27
80
76
20
19
2.0
1.6
3.8
3.2
注1) 寸法“a”は，タグ面の中心でのリベット頭の突出を考慮して規定値よりも0.5 mmまで大きくしてもよい。
図701−オフセット刃形接触部をもつヒューズリンク，サイズE1，F1，F2及びF3
95
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
ヒューズリンクのサイズ
最大定格電流
A
定格受容ワット損
W
A
最大
B
最大
C
最大
E1
20
2
26
71
59
F1
32
3.5
26
81
59
F2
63
5
32
96
68
F3
125
7.5
40.5
110
81
注記 図例は，この表に規定する最大寸法の範囲内である場合，ほかの形状又は形の使用を妨げない。
図702−代表的なヒューズホルダ
ワット損を決定するための
電圧測定点
ケーブル入口
96
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図703−“gG”ヒューズリンクの時間−電流ゾーン
電流（A）
時
間
（
s）
97
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図704−“gG”ヒューズリンクの時間−電流ゾーン
電流（A）
時
間
（
s）
98
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
キー
X−X：ワット損に関する電圧降下の測定点
サイズ
a
b
c
d
e
f
g
h
j
m
t
定格電流
A 以下
E1
10
12.5
16
50
12.5
40
28
1.6
M4
30
0.5
20
F1
10
12.5
16
50
12.5
40
28
1.6
M4
40
0.5
32
F2
16
12.5
16
50
15
45
28
1.6
M5
45
1.0
63
F3
20
25
25
50
15
50
35
2
M5
45
1.6
125
図705−ワット損試験装置
試験導体の終端に適した穴
の直径
導体の全長210
絶縁ペースポート
180×100
鋼
端子クランプ鋼
接触面，すず又は
銀めっき
絶縁クランプ幅d
導体の全長210
銅導体
99
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムH
“gD”及び“gN”特性のヒューズリンクを用いたヒューズ
（クラスJ及びクラスLの遅動及び非遅動形ヒューズ）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の追加要求事項は，図801，図802，図803，図804，図805及び図806に規定する寸法に適合した“gD”
及び“gN”ヒューズに適用する。ヒューズの定格電流は，円筒形接触部のものについては，60 A以下，刃
形及びボルト締め接触部のものについては，600 A以下，ボルト締め接触部については，6 000 A以下であ
る。定格電圧は，交流600 V，定格遮断容量は，200 kAとする。
このヒューズリンクは，タイムラグ及び非タイムラグの二つの異なる時間−電流特性をもつ。いずれの
時間−電流特性も同一の基準溶断及び不溶断電流範囲に適合し，装置について指定された限流及び最大動
作I2t範囲に適合する。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
・ 最小定格遮断容量
・ 時間−電流特性
・ I2t特性
・ 構造の標準条件
・ ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
JIS C 8269-1を適用する。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
定格電圧は，交流600 Vとする。
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
JIS C 8269-1に規定した定格のほかに，R40シリーズから適切な定格を選択でき，更に，次の値を許容
する。
5，17.5，35，70，175，350，700，1 200，3 500
各サイズについて最大定格電流は，図801，図802及び図805による。
100
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流
ヒューズホルダの最大定格電流は，図803，図804及び図806による。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損
最大定格ワット損値は図801，図802及び図805による。ヒューズベースの定格受容ワット損は，同一
定格のヒューズリンクの最大定格ワット損値以上とする。
5.6
時間−電流特性の制限
5.6.1
時間−電流特性及び時間−電流ゾーン
ゲート並びに協約時間及び協約電流によって示す溶断時間範囲のほかに製造許容範囲を除く時間−電流
ゾーンは，図808，図809，図810，図811，図812及び図813による。時間−電流特性の誤差範囲は，電
流値で±10 %でなければならない。
5.6.2
協約時間及び協約電流
“gD”及び“gN”ヒューズリンクは，表801に規定する協約時間及び協約電流を適用する。
表801−“gD”及び“gN”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流
定格電流In
協約時間
協約電流
A
h
Inf
If
In ≦
60
1
1.1 In
1.35 In
60 ＜ In ≦
600
2
1.1 In
1.35 In
600 ＜ In ≦ 6 000
4
1.1 In
1.50 In
5.6.3
ゲート
“gD”及び“gN”ヒューズリンクは，表802に規定するゲートを適用する。
表802−“gD”及び“gN”ヒューズリンクの規定溶断時間に関するゲート
ヒューズリンク
In a)
Imin
Imax
Imin
Imax
（10 s）
（5 s）
（0.1 s）
（0.1 s）
gD a)
15 ≦ In ≦ 600
5.0 In
8 In
8.5 In
13 In
gN a)
15 ≦ In ≦
60
2.0 In
3.5 In
4.7 In
7.5 In
gN
60 ＜ In ≦ 600
2.5 In
4.5 In
5.8 In
9.0 In
gN
600 ＜ In ≦ 6 000
3.5 In
6.0 In
9.0 In
13 In
注a) 定格電流15 A未満のヒューズリンクに関する値は，検討中。
5.7.2
定格遮断容量
定格交流遮断容量は，200 kAとする。
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
6.1
ヒューズホルダの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ
6.2
ヒューズリンクの表示
101
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ又は関連コード
− 定格遮断容量
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7.1
機械的設計
ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は，図801，図802，図803，図804，図805及び図806とす
る。
7.2
絶縁性能及び絶縁適合性
ヒューズ部品の沿面距離及び空間距離は，JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIII及び汚損度3の要求事項
に適合しなければならない。
7.5
遮断容量
“gN”及び“gD”の600 V定格ヒューズのJIS C 8269-1の表6に規定する最大アーク電圧は3 000 Vで
ある。
7.6
限流特性
最大値は，表807に規定する値以下とする。
7.7
I2t特性
“gD”及び“gN”ヒューズリンクに関する0.01 s時の溶断I2t値は，表803に規定する範囲内とする。
最大動作I2t値は，表808による。
102
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表803−“gD”及び“gN”ヒューズリンクに関する0.01 s時の溶断I2t値
In
I2tmin
I2tmax
A
103×A2s
103×A2s
10
0.08
0.23
15
0.17
0.49
17.5
0.24
0.70
20
0.31
0.93
25
0.50
1.4
30
0.70
2.1
35
1.2
3.5
40
1.6
4.7
50
2.4
7.1
60
3.5
10
70
5.5
17
80
7.5
23
100
11
33
125
17
49
150
24
70
175
33
98
200
49
130
250
70
200
300
98
290
350
130
390
400
200
580
500
300
890
600
410
1 200
700
730
2 000
800
900
2 700
1 000
1 300
3 800
1 200
2 100
6 000
1 400
2 800
8 400
1 600
3 800
11 000
2 000
6 000
17 000
2 500
9 000
26 000
3 000
13 000
38 000
3 500
17 000
50 000
4 000
26 000
74 000
5 000
38 000
110 000
6 000
50 000
150 000
7.8
過電流動作協調
同一の種類及び使用カテゴリのヒューズリンクの15 Aを超えるものの動作強調は，上側ヒューズ定格電
流と下側ヒューズ定格電流との比を2：1に維持することによって得られる。“gD”ヒューズリンクの定格
電流が高い場合，“gD”及び“gN”ヒューズリンクの間で1.6：1の比が可能である。
7.9
感電に対する保護
仕切壁及びヒューズ接触部は，カバーで感電保護を高めることができる。
103
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
8.3.1
ヒューズの配置
ヒューズは，ヒューズの長軸を水平位置にして取り付けなければならない。定格が600 Aを超えるヒュ
ーズリンクは，各端子をヒューズリンクとの接触点が銀めっきされた銅ブスバーに接続する。
ケーブル又はブスバーの断面積は，表804に規定する値から選ぶものとする。
表804−8.3及び8.4に基づく試験用の銅導体の断面積
ヒューズ定格
断面積
A
mm2
In ≦
30
8.4
30 ＜ In ≦
60
21.1
60 ＜ In ≦
100
42.3
100 ＜ In ≦
200
107
200 ＜ In ≦
400
253
400 ＜ In ≦
600
507
600 ＜ In ≦
800
484
800 ＜ In ≦ 1 200
645
1 200 ＜ In ≦ 1 600
1 290
1 600 ＜ In ≦ 2 000
1 940
2 000 ＜ In ≦ 2 500
2 580
2 500 ＜ In ≦ 3 000
2 900
3 000 ＜ In ≦ 4 000
3 870
4 000 ＜ In ≦ 6 000
5 810
8.3.4.1
ヒューズホルダの温度上昇
温度上昇の測定点は，ダミーヒューズリンクが使用される場合を除き，図807の点Aで示す。クラスJ
及びクラスTのダミーヒューズリンクは，表805及び表806による。
表805−クラスJダミーヒューズリンク寸法
定格
形式
寸法
mm
A
外径
肉厚
長さ
厚さ
幅
30
管
20.62
1.45
57.15
−
−
60
管
26.97
1.63
60.32
−
−
100
刃形
−
−
117.48
3.18
19.05
200
刃形
−
−
146.05
4.75
28.58
400
刃形
−
−
180.98
180.98
41.28
600
刃形
−
−
203.2
9.52
50.8
注記 ダミーヒューズリンクはめっきされていない銅製。
104
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表806−クラスTダミーヒューズリンク寸法
定格
形式
寸法
mm
A
外径
肉厚
長さ
厚さ
幅
30
管
14.3
1.45
38.1
−
−
60
管
20.62
1.45
39.62
−
−
100
刃形
−
−
75.01
3.18
19.05
200
刃形
−
−
82.55
4.78
22.22
400
刃形
−
−
92.08
6.35
25.4
600
刃形
−
−
101.19
7.92
31.75
800
刃形
−
−
109.93
9.53
44.45
1 200
刃形
−
−
133.66
11.11
50.8
注記 ダミーヒューズリンクはめっきされていない銅製。
8.3.4.2
ヒューズリンクのワット損
ワット損の測定点は，図807の点Bで示す。
8.4
動作の検証
8.4.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクの試験装置は，8.3.1に規定されたものとする。
8.4.3.3.2
ゲートの検証
次の試験は，低い電圧で実施してもよい。“gD”及び“gN”ヒューズリンクは，JIS C 8269-1の8.4.3.3.1
で規定する試験のほかに，次の事項を検証する。
a) ヒューズリンクは表802，列3の電流を10秒間流したとき，溶断してはならない。
b) ヒューズリンクは表802，列4の電流を流したとき，5秒以内に溶断しなければならない。
c) ヒューズリンクは表802，列5の電流を0.1秒間流したとき，溶断してはならない。
d) ヒューズリンクは表802，列6の電流を流したとき，0.1秒以内に溶断しなければならない。
8.5.4
回復電圧
JIS C 8269-1の表20による交流商用周波回復電圧の値は，“gN”及び“gD”ヒューズリンクの定格電圧
600 Vの（100 05
+）%に差し替えるものとする。JIS C 8269-1の表21による直流回復電圧の平均値は，“gN”
及び“gD”ヒューズリンクの定格電圧600 Vの（100 05
+）%に差し替えるものとする。
8.6
限流特性の検証
限流値は，表807に規定する範囲を超えてはならない。
JIS C 8269-1の8.5及び表20に基づく遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。
105
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表807−200 kA固有電流時の“gD”及び“gN”ヒューズリンクの最大限流値（Ic）
In
Ic
In
Ic
A
kA
A
kA
10
4.1
300
33
15
5.0
350
36
17.5
5.7
400
38
20
6.2
500
52
25
7.5
600
55
30
9.5
700
73
35
9.5
800
80
40
10
1 000
89
50
11.3
1 200
100
60
12.5
1 400
115
70
14.4
1 600
125
80
15.7
2 000
150
100
17.5
2 500
180
125
19.6
3 000
200
150
21.2
3 500
229
175
23
4 000
250
200
25
5 000
300
250
25
6 000
350
8.7
I2t特性及び過電流動作協調の検証
最大動作I2t値は，表808に規定する範囲を超えてはならない。
JIS C 8269-1の8.5及び表20に基づく遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。
表808−200 kA固有電流時の“gD”及び“gN”ヒューズリンクの最大動作I2t値
In
I2t
In
I2t
A
103×A2s
A
103×A2s
10
0.78
300
470
15
1.8
350
840
17.5
2.4
400
1 100
20
3.1
500
1 740
25
4.9
600
2 500
30
7.0
700
7 700
35
10
800
10 000
40
13
1 000
10 400
50
21
1 200
15 000
60
30
1 400
23 000
70
39
1 600
30 000
80
51
2 000
40 000
100
80
2 500
75 000
125
117
3 000
100 000
150
169
3 500
115 000
175
230
4 000
150 000
200
300
5 000
350 000
250
439
6 000
500 000
106
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.9
耐熱性の検証
ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル
ダは，事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理はJIS C 8269-1の8.4.3.2に規定し
ている。通常の温度まで下げた後に8.5によってI1の遮断容量試験を行う。
有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは，上記と同じ試験を行う。これらのヒューズリンクは，
試験電流I1及びI5で遮断しなければならない。
8.10
接触部の不劣化の検証
JIS C 8269-1の8.10を適用する。
8.10.1
ヒューズの配置
次の事項のほかに，JIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
表805及び表806に規定するダミーヒューズリンクは，図801，図802及び図805に示す寸法及び最大
ワット損Pn（W）である。
ダミーヒューズリンクは，図のとおりの寸法でめっきされていない銅でできた，過負荷電流Infが流れて
いる間は動作しない構造とする。
8.10.2
試験方法
次の試験値を適用する。
試験電流：不溶断電流Inf
負荷期間：協約時間の25 %
無負荷期間：協約時間の10 %
定格電圧よりも低い試験電圧で実施してもよい。
8.10.3
試験結果の評価
250サイクル後に測定した温度上昇値は，試験開始時に測定した温度上昇を15 K以上超えてはならない。
必要な場合，750サイクル後に，温度は，試験開始前に測定した値を20 K以上超えてはならない。
8.11
機械的試験及びその他の試験
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
図805及び図806に規定したダミーヒューズリンクを取り付けたヒューズホルダの場合，又はヒューズ
ホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には，定格電流を通電
して温度上昇試験を行う。
温度上昇試験の終了後，ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは，該当するヒューズベースに100回の
着脱を行う。
これらの試験終了後，全ての部品は損傷することなく，正常に機能しなければならない。
評価は，最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い，得られた値が機械的試験の開始に先立つ
温度上昇試験から得られた値を，5 K又は15 %（いずれか大きなほう）を超えないことを検証する。
8.11.2
その他の試験
8.11.2.2
耐異常熱及び耐火炎の検証
検討中。
107
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
交流600 V
寸法
mm
In
Pn
a a)
b b)
c
d
e
f
g
h
A
W
±0.08
±0.9
最小
±1.6
±1.5
±0.13
A
1〜30
6
57.1
20.6
−
−
12.7
−
−
−
35〜60
8
60.3
27.0
−
−
15.9
−
−
−
B
70〜100
18
118
28.6
3.18
19.1
24.6
92.1
9.52
7.14
125〜200
25
146
41.3
4.78
28.6
34.1
111
9.52
7.14
250〜400
50
181
54.0
6.35
41.3
46.8
133
13.5
10.3
500〜600
70
203
66.7
9.52
50.8
53.2
152
17.5
13.5
注a) 1〜60 A：±0.8
70〜600 A：±2.4
b) 1〜60 A：±0.20
70〜600 A：最大
図801−ヒューズリンク（1〜600 A）
A（1〜60 A）
B（70〜600 A）
108
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図
交流600 V
寸法
In
Pn
mm
A
W
a±2.4
b 最大
c±0.8
d±1.6
C
700
63
219
64.3
9.5
50.8
800
72
219
64.3
9.5
50.8
D
1 000
90
273
70.6
9.5
50.8
1 200
108
273
70.6
9.5
50.8
1 400
126
273
77.0
11.1
60.3
1 600
144
273
77.0
11.1
60.3
2 000
180
273
89.7
12.7
69.8
E
2 500
213
273
128
19.0
88.9
3 000
255
273
130
19.0
102
F
3 500
300
273
147
19.0
121
4 000
340
273
147
19.0
121
G
5 000
425
273
182
25.4
133
6 000
510
273
182
25.4
146
図802−クラスLヒューズリンク（700〜6 000 A）
E（2 500〜3 000 A）
D（1 000〜2 000 A）
G（5 000〜6 000 A）
F（3 500〜4 000 A）
C（700〜800 A）
109
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
In
寸法
最大
mm
A
a
b
c
d
e
f
g
h
i
−
接触部
クリッ
プの最
小幅
接触部
クリッ
プ間の
距離
エンド
ストッ
プ間の
最小距
離
ヒュー
ズリン
ク接触
部の公
称径
ヒュー
ズリン
ク刃形
の公称
厚さ
最小ク
リアラ
ンス
最大
クリア
ランス
ホール
の間隔
クリア
ランス
ホール
の直径
スタッ
ドの直
径
A
30
12.7
31.8
57.9
20.6
−
−
−
−
−
−
B
及び
C
60
15.9
28.6
61.1
27.0
−
−
−
−
−
−
100
22.2
69.9
120
−
3.18
120
9.53
92.1
7.14
6.35
200
31.8
79.4
148
−
4.76
148
14.3
111
7.14
6.35
400
44.5
88.9
183
−
6.35
183
20.2
133
10.3
9.53
600
50.8
98.4
206
−
9.53
206
25.0
152
13.5
12.7
図803−クラスJヒューズリンク1〜600 A用ヒューズベース及び接触部
A 円筒形キャップ接触部用ベース
B 刃形接触部用ベース
C ボルト締め接触部用ベース
c，f
c
110
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図
ヒューズリンクの定格電流
A
寸法
mm
接触部幅
a
b
最小
c
D
700〜800
51
220
−
E
1 000〜1 200
51
280
−
1 400〜1 600
60
280
−
2 000
70
280
−
F
2 500
89
280
41
3 000
100
280
41
3 500〜4 000
120
280
83
G
5 000
130
280
41
6 000
150
280
41
図804−クラスLヒューズリンク700〜6 000 A用ヒューズベース及び接触部
600 Aを超え800 A以下
800 Aを超え2 000 A以下
2 000 Aを超え
4 000 A以下
4 000 Aを超え
6 000 A以下
最大クリアランス
直径15.9 mm
穴
111
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
交流600 V
寸法
mm
In
Pn
a
b a)
c
d b)
e
f
g
h c)
i
A
W
±1.02
±0.15
最小
±1.02
±0.15
最小
A
1〜30
8
38.10
14.30
−
−
6.6
−
−
−
−
B
35〜60
12
39.62
20.62
−
20.62
9.9
−
1.57
−
−
C
35〜60
12
39.62
20.62
25.25
−
9.9
−
1.57
−
−
D
70〜100
18
75.01
21.03
3.18
19.05
16.41
59.74
−
7.14
12.7
125〜200
34
82.55
27.38
4.78
22.22
19.99
63.67
−
8.74
12.7
250〜400
64
92.08
41.28
6.35
25.40
23.52
69.06
−
10.31
12.7
500〜600
92
101.19
53.19
7.92
31.75
27.28
75.01
−
12.29
12.7
650〜800
120
109.93
63.91
9.53
44.45
30.66
80.57
−
13.89
12.7
1 000〜1 200
180
133.66
66.68
11.00
50.8
37.57
96.55
−
15.47
12.7
注記1 刃形の実効長eは，刃端からヒューズ本体，又は刃形に通したピン，カラー（環）などの他の許容可能な
障害手段まで測定する。
注記2 30〜60 A：BとCとは代替可能である。
注記3 700〜1 200 A：破線は，ねじ，リベット頭などの突起の範囲が最大1.58 mmであることを示す。
注a) 1〜60 A：±0.51，70〜800 A：示した最大寸法
b) 35〜60 A：−0.15＋0.41，70〜800 A：±0.51
c) 61〜100 A：＋0.013，125〜200 A：＋0.15，250〜400 A：＋0.18，500〜1 200 A：＋0.20
図805−クラスTヒューズリンク（1〜1 200 A）
A（1〜30 A）
B（35〜60 A）
C（35〜60 A）
D（65〜800 A）
注記3参照
112
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
In
寸法
最大
A
mm
a
b
c
d
e
f
g
h
i
j
接触部
クリッ
プの最
小幅
接触部
クリッ
プ間の
距離
エンド
ストッ
プ間の
最小距
離
ヒュー
ズリン
クの公
称径
排除ス
ロット
の最小
幅
エンド
ストッ
プの最
小幅
最大値 逃げ穴
間隔
逃げ穴
径
最小隙
間
スタッ
ド径
A
30
6.6
29.90
39.12
14.30
−
3.18
−
−
−
−
−
60
9.9
19.82
40.64
20.62
1.72
3.18
−
−
−
−
−
B
100
−
−
−
−
−
−
5.46
59.74
7.14
76.02
6.47
200
−
−
−
−
−
−
7.25
63.67
8.94
83.57
7.93
400
−
−
−
−
−
−
9.01
69.06
10.31
93.10
9.47
600
−
−
−
−
−
−
10.89
75.01
12.29
102.21
11.45
800
−
−
−
−
−
−
12.58
80.51
13.89
110.95
13.03
1 200
−
−
−
−
−
−
15.03
96.55
15.47
134.68
14.63
図806−クラスTヒューズリンク1〜1 200 A用ヒューズベース及び接触部
B ボルト締め接触部用ベース
A 円筒形キャップ接触部用ベース
113
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
キー
A：温度測定点
B：ワット損測定点
図807−温度試験装置
図807a
B
A
B
A
A
B
A
B
B
B
図807b
114
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
8
0
8
−
“
g
N
”
ヒュ
ー
ズリ
ン
ク
の時
間
−電
流
ゾ
ーン
固
有
電
流
（
A
）
115
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
8
0
9
−
“
g
N
”
ヒュ
ー
ズリ
ン
ク
の時
間
−電
流
ゾ
ーン
固
有
電
流
（
A
）
116
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
8
1
0
−
“
g
N
”
ヒュ
ー
ズリ
ン
ク
の時
間
−電
流
ゾ
ーン
固
有
電
流
（
A
）
117
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
8
11
−
“
g
D
”ヒ
ュ
ーズ
リ
ン
クの
時
間−
電
流
ゾー
ン
固
有
電
流
（
A
）
118
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
8
1
2
−
“
g
D
”
ヒュ
ー
ズリ
ン
ク
の時
間
−電
流
ゾ
ーン
固
有
電
流
（
A
）
119
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図
8
1
3
−
“
g
D
”
ヒュ
ー
ズリ
ン
ク
の時
間
−電
流
ゾ
ーン
固
有
電
流
（
A
）
120
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムI
ウェッジ締め接触部をもつ“gU”ヒューズリンク
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の要求事項を追加して，交流供給回路網において用いることを意図し，そこにおいて適切な専門家だ
けが接近でき，また，取り換えてよい標準寸法及び性能のウェッジ締め接触部をもつヒューズリンクに適
用する。このようなヒューズリンクは，630 A以下の定格電流及び交流400 Vの定格電圧をもつ。直流回
路網に用いるヒューズリンク及び一体形表示器を組み込んだヒューズリンクに関する要求事項は含んでい
ない。
注記1 これらのヒューズは，既存の公称380 V及び415 Vシステムから進化する，将来的な標準電
圧交流400 V用システムで用いる予定である。しかし，暫定期間においては，多くの国が，
交流433 Vの設計開路電圧及び交流415 Vの目標負荷時電圧をもつ関連配電変圧器を引き続
き用いている。したがって，これらのヒューズリンクは，全ての電源が交流400 Vの推奨値
に進化する時期まで供給され続け，交流415 Vとして試験することになる。
注記2 非互換性及び充電部の偶発的な接触に対する保護は，構造的手段で確実にする必要はない。
これらのヒューズリンクは，標準“gG”タイプに非常に類似しており，変圧器の一次側の高圧ヒューズ
リンクとの優れた動作協調を保証するために，特に短い時間領域での高速性能特性が要求される。これは，
これらのヒューズリンクの性能が，gGの要求事項に合わなければならないということである。暫定期間に
おいては，ヒューズシステムIで記述される遮断範囲及び利用カテゴリは，gUと規定しなければならない。
ほとんどの場合，関連機器の一部は，ヒューズベースの目的に適合する。機器の多様性のために，一般
的な規則を示すことはできない。ヒューズベースとして役立つ関連機器の適合性は，製造業者と使用者と
の間の合意によることが望ましい。
個別のヒューズベース又はホルダを用いる場合，それらはJIS C 8269-1の妥当な要求事項に適合するこ
とが望ましい。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
・ 最小定格遮断容量
・ 時間−電流特性
・ I2t特性
・ 構造の標準条件
・ ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
JIS C 8269-1を適用する。
3
使用状態の条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
3.9
ヒューズリンクの動作協調
121
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 8269-1の3.9は適用しない。これらのヒューズリンクの場合，正しい動作協調は，JIS C 8269-1の
表2及び5.6.1に規定され，図901，図902，図903及び図904に規定する時間−電流特性の標準ゾーンへ
の適合，並びに7.7の表902に規定する値への適合で保証する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
この規格に適用する，JIS C 8269-1の表1に示されている標準定格電圧値は，交流400 Vである（1.1の
注記1も参照）。
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
締付け中心部間82 mmのヒューズリンクの標準電流定格は，100 A，160 A，200 A，250 A，315 A，355 A
及び400 Aである。締付け中心部間92 mmのヒューズリンクの標準電流定格は，100 A，160 A，200 A，250
A，315 A，355 A，400 A，500 A及び630 Aである。20 A以上のその他の電流定格は，JIS C 8269-1の5.3.1
に規定する値から選択してよい。これらのほかの定格の性能値は標準化されていないが，隣接する上位の
最高標準電流定格に適用する性能値を超えてはならず，また，隣接する下位の最低標準電流定格に適用す
る性能値以上でなければならない。全ての定格は，図905に規定する標準寸法に適合しなければならない。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損
8.3.1に従って試験し，図906に規定する標準試験リグで測定した，ヒューズリンクに許容されたワット
損の最大値は，表901による。
表901−ワット損の最大値
定格電流
A
100
160
200
250
315
355
400
500
630
ワット損
W
10
14
18
22
29
29
33
38
46
注記 ワット損を測定するための電圧の測定点を，図906に示す。
5.6.1
時間−電流特性及び時間−電流ゾーン
製作公差を除く，時間−電流ゾーンは，図901，図902，図903及び図904による。時間−電流特性の公
差は，電流に関して，10 %を超えて逸脱してはならない。
5.6.2
協約時間及び協約電流
協約時間及び協約電流は，JIS C 8269-1の表2による。
5.6.3
ゲート
これらのヒューズリンクには，JIS C 8269-1の5.6.3を適用しない。正しい動作協調は，5.6.1に規定し，
図901，図902，図903及び図904に規定する時間−電流特性の標準ゾーンへの適合で保証する。
5.7.2
定格遮断容量
定格遮断容量は，交流50 kAとする。
5.8
限流特性及びI2t特性
JIS C 8269-1の5.8を適用する。I2t特性は，定格電流の関数としての溶断値及び全動作値を示すグラフ
122
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
として表わしてもよい。
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
6.1
ヒューズホルダの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ
6.2
ヒューズリンクの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ又は関連コード
− 定格遮断容量
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7.1
機械的設計
ヒューズリンクの寸法は，図905による。
7.2
絶縁性能及び絶縁適合性
ヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は，JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIIIの要求事項に適合しな
ければならない。
7.5
遮断容量
次の注記を追加して，JIS C 8269-1の表6に規定する最大アーク電圧を適用する。
注記 交流の場合，アーク電圧は，超過期間が1 msを超えない場合，示された値の2倍に達してよ
い。
7.7
I2t特性
JIS C 8269-1の表7の値を，gUヒューズリンクに関する表902に規定する値に置き換えて，JIS C 8269-1
の7.7を適用する。その他の定格値は規定しないが，JIS C 8269-1の5.3に示されている非標準電流定格の
性能要求事項に適合しなければならない。
表902−0.01 sにおけるgUヒューズリンクの溶断I2t値
tn
最小 I2t
最大 I2t
A
103×(A2s)
103×(A2s)
100
12.0
33.0
160
40.0
130.0
200
67.0
200.0
250
100.0
380.0
315
160.0
520.0
355
280.0
1 000.0
400
420.0
1 400.0
500
800.0
2 400.0
630
1 400.0
4 000.0
123
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.8
ヒューズリンクの過電流動作協調
正しい動作協調は，5.6.1に規定し，図901，図902，図903及び図904に示されている時間−電流特性
の標準化ゾーンへの適合で保証される。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.1.1
試験の種類
JIS C 8269-1の8.1.1を適用するが，標準の寸法及び性能のヒューズリンクは，このヒューズシステムに
従って試験を行った場合，その試験結果は同一構成のヒューズリンクで，異なった接触部寸法及び締付け
部中心寸法のものも包含するとみなす。ただし，その変更が性能の低下とならないようにすることが条件
である。
8.3.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクは，適切なキャリヤの中に取り付け，図906に規定する試験リグの中で試験しなければ
ならない。ヒューズへの接続の場合，JIS C 8269-1の表17は適用せず，また，標準定格の場合，試験リグ
のいずれかの側における接続は，それぞれが長さが1 m以上で，表903に従って選択した銅帯でなければ
ならない。その他の定格の場合，実際の定格電流より大きい，表903の定格電流に対応する導体の断面積
を適用する。
表903−ワット損及び温度上昇試験の導体の断面積
ヒューズリンクの定格電流
導体の断面積a)
A
mm2
100
20×1.6
160
20×2.5
200
20×3.15
250
20×5
315
25×5
355
25×6
400
25×8
500
40×6
630
40×10
注a) これらの導体サイズの近似値を許容する。
8.3.3
ヒューズリンクのワット損の測定
JIS C 8269-1の8.3.3を適用する。ワット損の測定点は，図906による。
8.4.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクは，適切なキャリヤの中に取り付け，図906に規定する試験リグにおいて時間−電流特
性を試験しなければならない。
8.4.3.3.2
ゲートの検証
正しい動作協調は，5.6.1に規定され，図901，図902，図903及び図904に示され，JIS C 8269-1の8.4.3.3
のとおりに検証される，gUヒューズリンクの時間−電流特性の標準ゾーンへの適合で保証される。
8.5.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクは，図907に規定する試験リグにおいて遮断容量を試験しなければならない。試験リグ
124
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
を越える試験接続の配置は規定されない。
8.5.2
試験回路の特性
直流試験を省略することを除き，JIS C 8269-1の8.5を適用する。
8.5.5
試験方法
直流試験を省略することを除き，JIS C 8269-1の8.5.5.1を適用する。試験設備のために試験が直接でき
ない場合（例えば，In≧200 Aの場合），2部構成試験を用いてよい。
直流試験を省略することを除き，JIS C 8269-1の8.5.5.2を適用する。
8.5.8
試験結果の評価
JIS C 8269-1の8.5.8を適用し，更に，ヒューズリンクは，金属製遮蔽へのアークを示す細いワイヤヒュ
ーズが溶融することなく，また，試験リグが機械的損傷を受けることなく動作しなければならない。
8.7.3
0.01 sにおけるヒューズリンクの適合の検証
JIS C 8269-1の表7への適合を，この規格の表902への適合に置き換えることを除き，JIS C 8269-1の
8.7.3を適用する。
8.9
耐熱性の検証
ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル
ダは，事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理は，JIS C 8269-1の8.4.3.2に規定
している。通常の温度まで下げた後に8.5によってI1の遮断容量試験を行う。
有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは，上記と同じ試験を行う。これらのヒューズリンクは，
試験電流I1及びI5で遮断しなければならない。
8.11
機械的試験及びその他の試験
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
ヒューズホルダに適合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には，定格
電流を通電して温度上昇試験を行う。
温度上昇試験の終了後，ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは，該当するヒューズベースに100回の
着脱を行う。
これらの試験終了後，全ての部品は損傷することなく，正常に機能しなければならない。
評価は，最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い，得られた値が機械的試験の開始に先立つ
温度上昇試験から得られた値を，5 K又は15 %（いずれか大きなほう）を超えないことを検証する。
8.11.2.2
耐異常熱及び耐火炎の検証
JIS C 8269-1の8.11.2.2は適用しない。
125
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図901−定格電流100 A，200 A，355 A及び630 Aの時間−電流ゾーン
固有電流（A）
時
間
（
s）
126
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図902−定格電流160 A及び315 Aの時間−電流ゾーン
固有電流（A）
時
間
（
s）
127
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図903−定格電流250 A及び500 Aの時間−電流ゾーン
固有電流（A）
時
間
（
s）
128
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図904−定格電流200 A及び400 Aの時間−電流ゾーン
固有電流（A）
時
間
（
s）
129
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注1) Mは，エンドキャップの表面から7 mmの位置の寸法。
タグは，次の関連寸法Fの注a) に確実に従うとみなせる形状でなければならない。
最大定格
締付け部間寸法82 mmのもの
電流
A
B
C
D
E
F a)
G
H
J
K
L
M b)
N
P
Q
A
最大 公称 最大 最大 最大 最大 公称 公称 公称 最大 公称
公称 公称 公称
400
112
82
61
25
36
48
19
17
14
35
2.4
6.53
6.45
13
10
3
注a) Fは，びょう頭を含めた本体の有効長さの最大寸法を表す。
b) Mは，最大及び最小寸法を表す。
最大定格
締付け部間寸法92 mmのもの
電流
A
B
C
D
E
F a)
G
H
J
K
L
M b)
N
P
Q
A
最大 公称 最大 最大 最大 最大 公称 公称 公称 最大 公称
公称 公称 公称
630
132
92
75
25
50
48
24
20
17
42
3.2
8.13
8.05
16
11
3
注a) Fは，びょう頭を含めた本体の有効長さの最大寸法を表す。
b) Mは，最大及び最小寸法を表す。
図905−L形及びU形タグをもつヒューズリンクの寸法
L形タグをもつヒューズリンク
タグ構造の代表形状
1)
F／2
F／2
B／2
B／2
A／2
A／2
F／2
F／2
Ｕ形タグをもつヒューズリンク
タグ構造の代表形状
130
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
キー
1 A（締付け中心寸法）
2 電圧降下測定点
3 すずめっきした銅
4 絶縁板
注記1 適切な外部導体にボルト締めする。
注記2 ヒューズキャリヤは明確に除外する。
単位 mm
最大定格電流
A
B
C
D
E
F
G
H
（A）
400
82.0
31.5
6.3
35.0
24.0
76.2
16.0
13.5
630
92.0
40.0
8.0
41.3
28.6
76.2
22.3
17.5
図906−ワット損測定の試験装置
131
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
注1) 取り外せるカバーは，ワイヤで織られた柔らかいシート状の布，又は適切な硬さを保持する厚さの孔をあけた
軟鋼シートで作る。ワイヤクロス又は孔をあけた軟鋼シートのそれぞれの孔は，1区画で8.5 mm2を超えない。
図に示すカバーの断面は，単に例示であり，カバーと充電金属部との間の最小空間距離が19 mm以下の場合，
ほかの形状のものを用いてもよい。
2) この位置における目に見える隙間はエンドキャップが試験装置接触部から支持されないことを確実にするため
に不可欠である。
3) 銅導体のサイズは，試験所によって選択し，また，適切な遮断容量でなければならない。
4) ベース及びベースへの試験接触部の固定は，試験においてヒューズリンクへの外部負荷なしに加えられた力に
耐えられるよう十分硬くなければならない。ベースに適合する材料は，フェノール樹脂積層板である。
5) 銅帯
6) ファインワイヤヒューズの端子。銅線の寸法が約0.1 mmのファインワイヤヒューズを，75 mm以上の任意の長
さで，端子と試験品の1極との間に接続する。
7) 短絡リンクは固有電流試験に要求される。これは，簡単な接続で組み込んでもよい。銅リンクのサイズは試験
所によって選択し，また，適切な遮断容量でなければならない。
8) 絶縁ベースボード。
9) 32×32×5の軟銅アングルブラケット。
図907−遮断試験用リグ
1)
2)
3)
4)
5)
6)
7)
8)
9)
132
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
最大定格電流
A
B
C
D
E
F
G
H
X
Y
ボルトに適合する
A
ヒューズリンク
400
82.0
31.5
6.3
35.0
24.0
76.2
16.0
13.5
152
124
M12
630
92.0
40.0
8.0
41.3
28.6
76.2
22.3
17.5
170
138
M16
図907−遮断試験用リグ（続き）
133
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムJ
“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”特性のヒューズリンクを用いた
ヒューズ（クラスCCの遅動及び非遅動形ヒューズ）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の追加要求事項は，図1001，図1002，図1003及び図1004に規定する寸法に適合した“gDクラスCC”
及び“gNクラスCC”ヒューズに適用する。ヒューズの定格電流は，円筒形接触部のものについては30 A
以下である。定格電圧は，交流600 V，定格遮断容量は，200 kAとする。
このヒューズリンクは，タイムラグ及び非タイムラグの二つの異なる時間−電流特性をもつ。いずれの
時間−電流特性も同一の基準溶断及び不溶断電流範囲に適合し，装置について指定された限流及び最大動
作I2t範囲に適合する。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
・ 最小定格遮断容量
・ 時間−電流特性
・ I2t特性
・ 構造の標準条件
・ ワット損及び受容ワット損
2
用語及び定義
JIS C 8269-1を適用する。
3
使用状態の条件
JIS C 8269-1を適用する。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
定格電圧は，交流600 Vとする。
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
JIS C 8269-1に規定する定格のほかに，R40シリーズから適切な定格を選択でき，さらに，5 A及び17.5
Aであってもよい。最大定格電流は，図1001に規定するように30 Aである。
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流
ヒューズホルダの最大定格電流は，図1002に規定するように30 Aである。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損
134
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
最大定格ワット損値は図1001による。ヒューズベースの定格受容ワット損は，同一定格のヒューズリン
クの最大定格ワット損値以上とする。
5.6
時間−電流特性の制限
5.6.1
時間−電流特性及び時間−電流ゾーン
ゲート並びに協約時間及び協約電流によって示す溶断時間範囲のほかに製造許容範囲を除く時間−電流
ゾーンは，図1005，図1006，図1007，図1008，図1009及び図1010による。時間−電流特性の誤差範囲
は，電流値で±10 %でなければならない。
5.6.2
協約時間及び協約電流
“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”ヒューズリンクは，表1001に規定する協約時間及び協約電流
を適用する。
表1001−“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流
定格電流In
協約時間
協約電流
A
h
Int
If
In≦30
1
1.1 In
1.35 In
5.6.3
ゲート
“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”ヒューズリンクは，表1002に規定するゲートを適用する。
表1002−“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”ヒューズリンクの規定溶断時間に関するゲート
ヒューズリンク
In
A
Imin
（10 s）
Imax
（5 s）
Imin
（0.1 s）
Imax
（0.1 s）
gDクラスCC
1≦In≦30
2.0 In
5.0 In
5.0 In
9.0 In
gNクラスCC
1≦In≦30
1.5 In
3.0 In
2.0 In
6.5 In
5.7.2
定格遮断容量
定格交流遮断容量は，200 kAとする。
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
6.1
ヒューズホルダの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ
6.2
ヒューズリンクの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ又は関連コード
− 定格遮断容量
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
135
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.1
機械的設計
ヒューズリンク及びヒューズベースの寸法は，それぞれ図1001及び図1002とする。
7.2
絶縁特性及び絶縁適合性
ヒューズ附属品の沿面距離及び空間距離は，JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIIIの要求事項に適合しな
ければならない。
7.5
遮断容量
“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”の600 V定格ヒューズのJIS C 8269-1の表6に規定する最大ア
ーク電圧は3 000 Vである。
7.6
限流特性
最大値は，表1005に規定する値以下とする。
7.7
I2t特性
“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”ヒューズリンクに関する0.01 s時の溶断I2t値は，表1003に規
定する範囲内とする。
最大動作I2t値は，表1006による。
表1003−“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”ヒューズリンクに関する0.01 s時の溶断I2t値
In
A
I2t最小
103×A2s
I2t最大
103×A2s
1
0.001 2
0.002 8
2
0.003 5
0.008
3
0.007
0.017
4
0.015
0.035
5
0.02
0.051
6
0.03
0.072
7
0.04
0.1
9
0.06
0.15
10
0.08
0.23
12
0.11
0.32
15
0.17
0.49
17.5
0.24
0.70
20
0.31
0.93
25
0.50
1.4
30
0.70
2.1
7.8
ヒューズリンクの過電流動作協調
同一の種類及び使用カテゴリのヒューズリンクの15 Aのものとそれよりも上のものとの動作強調は，上
側ヒューズ定格電流と下側ヒューズ定格電流との比を2：1に維持することによって得られる。“gDクラス
CC”ヒューズリンクの定格電流が高い場合，“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”ヒューズリンクの間
で1.6：1の比が可能である。15 A未満の定格電流については，製造業者に問い合わせるのが望ましい。
7.9
感電に対する保護
仕切壁及びヒューズ接触部は，カバーで感電保護を高めることができる。
136
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
8.3.1
ヒューズの配置
ヒューズは，ヒューズの長軸を水平位置にして取り付けなければならない。導体の断面積は，8.4 mm2
とする。
8.3.4.1
ヒューズホルダの温度上昇
ダミーヒューズリンクは，図1003による。温度上昇の測定点は，ダミーヒューズリンクを使用する場合
を除き，図1004の点Aで示す。
8.3.4.2
ヒューズリンクのワット損
ワット損の測定点は，図1004の点Bで示す。
8.4
動作の検証
8.4.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクの試験装置は，8.3.1に規定するものとする。
8.4.3.3.2
ゲートの検証
次の試験は，低い電圧で実施してもよい。“gDクラスCC”及び“gNクラスCC”ヒューズリンクは，
JIS C 8269-1の8.4.3.3.1に指定された試験のほかに，次の事項を検証する。
a) ヒューズリンクは表1002，列3の電流を10秒間流したとき，溶断してはならない。
b) ヒューズリンクは表1002，列4の電流を流したとき，5秒以内に溶断しなければならない。
c) ヒューズリンクは表1002，列5の電流を0.1秒間流したとき，溶断してはならない。
d) ヒューズリンクは表1002，列6の電流を流したとき，0.1秒以内に溶断しなければならない。
8.5.4
回復電圧
JIS C 8269-1の表20において，“gNクラスCC”及び“gDクラスCC”ヒューズリンクの交流商用周波
回復電圧は，定格電圧，600 Vの10005
+ %とする。
JIS C 8269-1の表21において，“gNクラスCC”及び“gDクラスCC”ヒューズリンクの回復電圧の直
流平均値は，定格電圧，600 Vの10005
+ %とする。
8.6
限流特性の検証
限流値は，表1005に規定する範囲を超えてはならない。
JIS C 8269-1の8.5及び表20に基づく遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。
137
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1005−200 kA固有電流時の“gDクラスCC”及び
“gNクラスCC”ヒューズリンクの最大限流値（Ic）
In
A
Ic
kA
1
0.98
2
1.4
3
1.8
4
2.2
5
2.5
6
2.8
7
3.1
9
3.5
10
4.1
12
4.5
15
5.0
17.5
5.7
20
6.2
25
7.5
30
9.5
8.7
I2t特性及び過電流動作協調の検証
最大動作I2t値は，表1006に規定する範囲を超えてはならない。JIS C 8269-1の8.5及び表20に基づく
遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。
表1006−200 kA固有電流時の“gDクラスCC”及び
“gNクラスCC”ヒューズリンクの最大動作I2t値
In
A
I2t
103×A2s
1
0.000 8
2
0.025
3
0.054
4
0.105
5
0.15
6
0.23
7
0.35
9
0.50
10
0.78
12
1.2
15
1.8
17.5
2.4
20
3.1
25
4.9
30
7.0
8.9
耐熱性の検証
ヒューズホルダの受容ワット損に相当する最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したヒューズホル
138
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ダは，事前処理として周期的に負荷をかけなければならない。事前処理はJIS C 8269-1の8.4.3.2に規定し
ている。通常の温度まで下げた後に8.5によってI1の遮断容量試験を行う。
有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは，上記と同じ試験を行う。これらのヒューズリンクは，
試験電流I1及びI5で遮断しなければならない。
8.10
接触部の不劣化の検証
JIS C 8269-1の8.10を適用する。
8.10.1
ヒューズの配置
次の事項のほかに，JIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
図1003に規定するダミーヒューズリンクは，図1001に規定する寸法及び最大ワット損Pn（W）である。
ダミーヒューズリンクは，図のとおりの寸法でめっきされていない銅でできた，過負荷電流Infが流れてい
る間は作動しない構造とする。
8.10.2
試験方法
次の試験値を適用する。
試験電流：不溶断電流Inf
負荷期間：協約時間の25 %
無負荷期間：協約時間の10 %
定格電圧よりも低い試験電圧で実施してもよい。
8.10.3
試験結果の評価
250サイクル後に測定した温度上昇値は，試験開始時に測定した温度上昇を15 K以上超えてはならない。
必要な場合，750サイクル後に，温度は，試験開始前に測定した値を20 K以上超えてはならない。
8.11
機械的試験及びその他の試験
8.11.1.1
ヒューズホルダの機械的強度
図1003に規定したダミーヒューズリンクを取り付けたヒューズホルダの場合，又はヒューズホルダに適
合できる最大定格電流及びワット損のヒューズリンクを取り付けた場合には，定格電流を通電して温度上
昇試験を行う。
温度上昇試験の終了後，ヒューズリンク又はヒューズキャリヤは，該当するヒューズベースに100回の
着脱を行う。
これらの試験終了後，全ての部品は損傷することなく，正常に機能しなければならない。
評価は，最後に再度定格電流を通電した温度上昇試験を行い，得られた値が機械的試験の開始に先立つ
温度上昇試験から得られた値を，5 K又は15 %（いずれか大きなほう）を超えないことを検証する。
8.11.2
その他の試験
8.11.2.2
耐異常熱及び耐火炎の検証
検討中。
139
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
定格電流
寸法
mm
In
Pn
a
b
c
d
e
A
W
±0.79
±0.13
±0.13
最小
最小
1〜30
8
38.10
10.29
6.35
3.05
9.4
図1001−クラスCCヒューズリンク（1〜30 A）
In
最大
A
寸法
mm
a
b
c
d
e
f
g
接触部クリッ
プの最小幅
接触部クリッ
プ間の距離
エンドストッ
プ間の最小距
離
ヒューズリン
ク接触部の公
称径
ヒューズリン
ク接触部の公
称径
ヒューズリン
ク支持部の最
大幅
接触部クリッ
プの最小幅
30
9.4
25.65
34.26
10.29
6.35
9.4
3.05
図1002−ヒューズリンク1〜30 A用ヒューズベース及び接触部
140
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
定格
A
ヒューズの
クラス
形式
寸法
mm
外径
肉厚
A
B
30
CC
管
10.31
1.17
38.1 a)
34.1 a)
注記 ダミーヒューズリンクはめっきされていない銅製。
注a) 許容差±0.79
図1003−クラスCCダミーヒューズリンク寸法
141
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
キー
A：温度測定点
B：ワット損測定点
図1004−温度試験装置
A
B
A
B
B
142
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1005−クラスCC“gN”ヒューズの時間−電流ゾーン
固有電流 (A)
時
間
(
s)
143
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1006−クラスCC“gN”ヒューズの時間−電流ゾーン
固有電流 (A)
時
間
(
s)
144
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1007−クラスCC“gN”ヒューズの時間−電流ゾーン
固有電流 (A)
時
間
(
s)
145
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1008−クラスCC“gD”ヒューズの時間−電流ゾーン
固有電流 (A)
時
間
(
s)
146
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1009−クラスCC“gD”ヒューズの時間−電流ゾーン
固有電流 (A)
時
間
(
s)
147
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1010−クラスCC“gD”ヒューズの時間−電流ゾーン
固有電流 (A)
時
間
(
s)
148
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズシステムK
ボルト締め接触部をもつ“gK”ヒューズリンク−
1 250〜4 800 Aの大電流ヒューズリンク定格
（マスター・ヒューズリンク）
1
一般
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
1.1
適用範囲
次の追加要求事項は，図1101に規定した寸法に適合した，ボルト締め接触部をもつ“gK”ヒューズリ
ンクに適用する。ヒューズの定格電流は，1 250〜4 800 Aであり，定格電圧は，交流690 V又は直流500 V
以下である。
JIS C 8269-1に加えて，次のヒューズ特性を規定する。
− 定格値
− ワット損及び受容ワット損
− 時間−電流特性
− 最小定格遮断容量
− 限流特性及びI2t特性
− 構造の標準条件
2
用語及び定義
JIS C 8269-1を適用する。
3
使用状態の条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
3.9
ヒューズリンクの動作協調
0.1秒より長い時間における動作協調の限界は，表1103による。
“gK”ヒューズリンクの溶断I2t値及び動作I2t値は，表1105による。
4
類別
JIS C 8269-1を適用する。
5
ヒューズの特性
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
5.2
定格電圧
交流の場合，定格電圧の標準値は400 V，500 V及び690 Vである。直流の場合は，定格電圧の標準値は
250 V，440 V及び500 Vである。
直流定格電圧の標準値は，交流定格電圧の標準値と関連していない。例えば，次の標準組合せが可能で
ある。交流500 V−直流250 V，交流500 V−直流500 V，交流690 V−直流440 V，その他。
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
149
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 8269-1に規定した定格のほかに，シリーズから次の適切な定格を選択できる。1 250，1 600，2 000，
2 500，3 200，4 000，4 800
各サイズについて最大定格電流は，図1101による。
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流
接続寸法に応じたヒューズホルダの最大定格電流は，図1102による。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット損
図1102に規定する標準装置で測定したときに，8.3.1によって試験するヒューズリンクが許容される最
大定格ワット損値は，表1101による。
表1101−“gK”ヒューズリンクの最大ワット損値
ヒューズ
寸法図
交流500 V
交流690 V
In
A
Pn
W
In
A
Pn
W
D
1 250
100
D
1 600
125
E
2 000
150
2 000
150
E
2 500
190
2 500
190
F
3 200
230
3 200
230
G
4 000
280
G
4 800
330
注記1 ヒューズ寸法図は，図1101に記載がある。
注記2 ワット損を測定するための電圧の測定点は，図1103に記
載がある。
5.6
時間−電流特性の制限
5.6.1
時間−電流特性及び時間−電流ゾーン
製造業者が示す時間−電流特性の許容範囲は，電流に関して±10 %を超えて逸脱してはならない。8.7
に基づく試験電圧で測定した全ての溶断及び動作時間は，許容範囲を含めて図1104に示した時間−電流ゾ
ーンを満たさなければならない。
5.6.2
協約時間及び協約電流
協約時間及び協約電流は，表1102による。
表1102−“gK”ヒューズリンクの協約時間及び協約電流
“gK”の定格電流 In
協約時間
協約電流
A
h
Inf
If
In≧1 250
4
1.25 In
1.6 In
5.6.3
ゲート
“gK”ヒューズリンクは，表1103に規定するゲートを適用する。
150
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1103−“gK”ヒューズリンクの規定された溶断時間に関するゲート
In
A
Imin（10 s）
A
Imax（5 s）
A
Imin（0.1 s）
A
Imax（0.1 s）
A
1 250
5 300
9 600
13 000
21 800
1 600
6 800
12 600
17 000
28 000
2 000
8 700
16 100
21 800
35 400
2 500
11 100
20 500
28 000
44 600
3 200
14 300
26 500
35 400
56 500
4 000
18 500
34 400
44 600
72 200
4 800
23 000
42 500
56 500
87 000
5.7.2
定格遮断容量
“gK”ヒューズリンクの定格遮断容量は，表1104による。
表1104−“gK”ヒューズリンクの最小定格遮断容量
定格電圧
最小定格遮断容量
交流500 V以下
200 kA
交流690 V
160 kA
直流500 V以下
100 kA
6
表示
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
この規格のヒューズシステムKの要求事項及び試験を満足するヒューズリンク及びヒューズホルダは，
JIS C 8269-2を表示できる。
6.2
ヒューズリンクの表示
JIS C 8269-1に加えて，次の事項を適用する。
− サイズ又は関連コード
7
構造の標準条件
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
7.1
機械的設計
ヒューズリンクの寸法は，図1101による。使用する接続寸法は，図1102による。
7.1.3
ヒューズ接触部
ヒューズリンクと銅ブスバーとの接触面は，通常の動作中に損なわれないことを検証しない限り，銀め
っきしなければならない。
7.6
限流特性
最大値は，表1107に規定する値以下とする。
7.7
I2t特性
この“gK”ヒューズシステムKが適用されるヒューズリンクの場合，最大溶断I2t値を最大動作I2t値は，
表1105に規定する範囲内とする。
151
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1105−“gK”ヒューズリンクに関する0.01 s時の溶断及び動作I2t値
In
A
I2tmin
k A2s
I2tmax
k A2s
1 250
2 700
7 900
1 600
4 760
13 700
2 000
7 900
23 800
2 500
13 700
40 000
3 200
23 800
66 000
4 000
40 000
120 000
4 800
66 000
185 000
7.8
“gK”ヒューズリンクの過電流選択性
定格電流比が1：1.6のヒューズリンクは，8.7に規定した値で動作協調がとれなければならない。
7.9
感電に対する保護
感電に対する保護は，仕切壁及びヒューズ接触部のカバーによって高めることができる。
8
試験
次の追加要求事項とともに，JIS C 8269-1を適用する。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
8.3.1
ヒューズの配置
ヒューズは，ヒューズの長軸を水平位置にして取り付けなければならない。ヒューズリンクの各端子は，
図1102の数値に従った寸法の銀めっきした銅ブスバーに接点で接続する。
ブスバーの断面積は，表1106に規定する数値に従って選ぶ。
表1106−8.3及び8.4に基づく試験用の銅導体の断面積
定格電流
A
断面積
mm2
1 250
800
1 600
1 200
2 000
1 500
2 500
2 000
3 200
2 500
4 000
3 000
4 800
4 000
8.3.4.2
ヒューズリンクのワット損
ワット損の測定点は，図1103の点Aで示す。
8.4.1
ヒューズの配置
ヒューズリンクの試験装置は，8.3.1に規定するものとする。
8.4.3.1
協約不溶断電流及び協約溶断電流の検証
不溶断電流試験で時間−電流特性の検証も行う場合，不溶断試験のサンプルをJIS C 8269-1の8.4.3.1 b)
の試験に用いなければならない。
8.6
限流特性の検証
152
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
限流値は，表1107に規定する範囲を超えてはならない。
JIS C 8269-1の8.5及び表20に基づく遮断容量試験の場合と同様に試料を配置する。
表1107−100 kA固有電流時の“gK”ヒューズリンクの最大動作I2t値（1 250〜4 800 A）
In
A
Ic
kA
1 250
92
1 600
110
2 000
135
2 500
150
3 200
200
4 000
230
4 800
260
8.7
I2t特性及び過電流選択性の検証
記録された試験結果から評価されたI2t値によって，“gK”ヒューズリンクに関する1：1.6の過電流の選
択性を検証する。
試験回路及び電流の許容範囲に関するJIS C 8269-1の8.5及び表20に基づく遮断容量試験の場合と同様
に，試料を配置する。
4個の試料を試験する。2個の試料は，最小溶断I2t値（表1108参照）に基づく固有試験電流I（実効値）
で試験し，残りの2個の試料は，動作I2t値（表1108参照）に対応する固有試験電流I（実効値）で試験す
る。
690 Vヒューズの試験電圧許容範囲は，100
0
10
+ %である。
それ以外のヒューズの試験電圧許容範囲は，全て100
0
15
+ %である。
表1108−“gK”ヒューズリンク選択性試験の試験電流及びI2t範囲
In
A
最小遮断 I2t
最大動作 I2t
動作協調比
固有電流
I
実効値
kA
I2t
kA2s
固有電流
I
実効値
kA
I2t
kA2s
1 250
24
2 300
41
6 700
1：1.6
1 600
32
4 100
54
11 700
2 000
41
6 700
71
20 000
2 500
54
11 700
92
34 000
3 150
71
20 000
120
55 000
4 000
92
34 000
160
102 000
4 800
116
55 000
197
155 000
評価I2t値は，表1108に規定した対応するI2t範囲内でなければならない。
注記 “gK”ヒューズシステムKの過電流選択性は，“gG”ヒューズリンク，ヒューズシステムA〜
ヒューズシステムDについて1：3.2である。
8.9
耐熱性の検証
153
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
最大ワット損をもつヒューズリンクを装着したブスバーは，事前処理として周期的に負荷をかけなけれ
ばならない。事前処理は，JIS C 8269-1の8.4.3.2に規定している。通常の温度まで下げた後に8.5によっ
てI1の遮断容量試験を行う。
有機物を本体又は充塡材に含むヒューズリンクは，上記と同じ試験を行う。これらのヒューズリンクは，
試験電流I1及びI5で遮断しなければならない。
8.10
接触部の不劣化の検証
JIS C 8269-1の8.10を適用する。
8.10.1
ヒューズの配置
次の事項のほかに，JIS C 8269-1の8.10.1を適用する。
ヒューズリンクは，図1101に規定する寸法及び表1101に規定する最大ワット損Pn（W）をもたなけれ
ばならない。
ヒューズリンクは，過負荷電流Infが流れている間は作動しない構造とする。
8.10.2
試験方法
次の試験値のほかに，JIS C 8269-1の8.10.2を適用する。
試験電流：不溶断電流Inf
負荷期間：協約時間の25 %
無負荷期間：協約時間の10 %
定格電圧よりも低い試験電圧で実施してもよい。
8.10.3
試験結果の評価
試験所の経験に基づき，許容変化を決定する。最終的な判定基準は合致しなければならないが，中間基
準（250サイクル）の合計ではない。
8.11.2.2
耐異常熱及び耐火炎の検証
検討中。
154
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm−許容値±1 mm
88.9
∅15.9
102 以下
136
225
273
∅89.7以下 69.8
12.7
D（1 250〜1 600 A）
E（2 000〜2 500 A）
図1101−“gK”ヒューズリンク
∅15.9
102.0以下
140.0
230.0
273.0
4
0
.
0
6
0
.0
∅
1
3
0
.0
以
下
1
0
2
.
0
19.0
155
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm−許容値±1 mm
F（3 200 A）
∅15.9
102.0以下
244.0
273.0
9
6
.0
∅
1
8
2
.0
以
下
1
4
6
.0
25.4
228.0
158.0
142.0
G（4 000〜4 800 A）
図1101−“gK”ヒューズリンク（続き）
∅15.9
102.0以下
132.0
220.0
273.0
5
0
.0
8
0
.0
∅
1
4
7
.0
以
下
1
2
1
.0
19.0
156
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm−許容値±1 mm
∅15.9
225
18
45
4
0
6
0
D（1 250〜1 600 A）
∅15.9
230
18
45
4
0
6
0
E（2 000〜2 500 A）
図1102−“gK”ヒューズリンクの接続寸法
157
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm−許容値±1 mm
∅15.9
220
14
44
5
0
8
0
F（3 200 A）
∅15.9
244
27
43
9
6
228
43
19
G（4 000〜4 800 A）
図1102−“gK”ヒューズリンクの接続寸法（続き）
158
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ヒューズ寸法図
ヒューズリンク
の定格電流
A
接触部幅
mm
D
1 250
60
1 600
70
E
2 000
90
2 500
100
F
3 200
120
G
4 000
130
4 800
150
図1102−“gK”ヒューズリンクの接続寸法（続き）
A：電圧の測定ポイント
図1103−ダミーヒューズリンク
エレメント
絶縁体
接点
フィラー
はんだ
A
A
159
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1104−“gK”ヒューズシステムの時間−電源ゾーン
固有電流（A）
時
間
（
s）
160
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1104−“gK”ヒューズシステムの時間−電源ゾーン（続き）
固有電流（A）
時
間
（
s）
161
C 8269-2：2016 (IEC 60269-2：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献
IEC 60060-2，High-voltage test techniques−Part 2: Measuring systems
IEC 60060-3，High-voltage test techniques−Part 3: Definitions and requirements for on-site testing
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
注記 対応国際規格：IEC 60529，Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)（IDT）
IEC 60672-1，Ceramic and glass insulating materials−Part 1: Definitions and classification
IEC 60672-2，Ceramic and glass insulating materials−Part 2: Methods of test
IEC 60672-3，Ceramic and glass-insulating materials−Part 3: Specifications for individual materials
IEC/TR 60943，Guidance concerning the permissible temperature rise for parts of electrical equipment, in
particular for terminals
IEC 62262，Degrees of protection provided by enclosures for electrical equipment against external mechanical
impacts (IK code)
JIS B 1051 炭素鋼及び合金鋼製締結用部品の機械的性質−強度区分を規定したボルト，小ねじ及び
植込みボルト−並目ねじ及び細目ねじ
注記 対応国際規格：ISO 898-1，Mechanical properties of fasteners made of carbon steel and alloy steel
−Part 1: Bolts, screws and studs with specified property classes−Coarse thread and fine pitch thread
（IDT）
ISO 1207，Slotted cheese head screws−Product grade A
ISO 4589-1，Plastics−Determination of burning behaviour by oxygen index−Part 1: Guidance
EN 50102，Degrees of protection provided by enclosures for electrical equipment against external mechanical
impacts (IK code)