C 8202-1：2013 (IEC 62026-1：2007)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 分類······························································································································· 4
5 特性······························································································································· 4
5.1 CDIコンポーネント ······································································································· 4
5.2 インタフェース ············································································································· 4
5.3 トポロジ ······················································································································ 4
5.4 情報交換 ······················································································································ 4
5.5 アトリビュート ············································································································· 5
6 製品情報························································································································· 5
6.1 取付け，操作及び保守に関わる指示··················································································· 5
6.2 プロファイル ················································································································ 5
6.3 表示 ···························································································································· 5
6.4 保護等級 ······················································································································ 5
7 標準使用，取付け及び輸送条件 ··························································································· 5
7.1 一般 ···························································································································· 5
7.2 標準使用条件 ················································································································ 5
7.3 輸送中及び保管中の条件 ································································································· 6
7.4 取付け ························································································································· 6
8 構造及び性能に関する要求事項 ··························································································· 6
8.1 一般 ···························································································································· 6
8.2 電磁両立性（EMC） ······································································································ 7
9 試験······························································································································· 7
9.1 一般 ···························································································································· 7
9.2 形式試験 ······················································································································ 7
9.3 電磁両立性（EMC） ······································································································ 8
C 8202-1：2013 (IEC 62026-1：2007)
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電機工業会（JEMA）から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 8202の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 8202-1 第1部：通則
JIS C 8202-2 第2部：アクチュエータ・センサ・インタフェース（AS-i）
JIS C 8202-7 第7部：CompoNet
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日本工業規格 JIS
C 8202-1：2013
(IEC 62026-1：2007)
低圧開閉装置及び制御装置−
コントローラ−装置間インタフェース（CDI）−
第1部：通則
Low-voltage switchgear and controlgear-
Controller-device interfaces (CDIs)-Part 1: General rules
序文
この規格は，2007年に第2版として発行されたIEC 62026-1を基に，技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，低圧開閉装置及び制御装置とコントローラ（プログラマブルコントローラ，パーソナルコ
ンピュータなど）との間のインタフェースについて規定する。
この規格は，それよりも上位に位置する産業用通信ネットワーク（フィールドバス）には適用しない。
この規格の目的は，規則，構成及び産業用CDIに適用可能な一般的特性の要求事項を統一及び定義する
ことである。各種CDI規格の一般的な特性とみなせる事項については，この規格に含める。
各種CDIの全ての要求事項及び試験を決めるためには，次に示す二つの規格が必要である。
a) この規格
b) JIS C 8202規格群の個別CDI規格を規定する部（以下，個別CDI規格という。）
個別CDI規格では，この規格の一般要求事項（箇条4〜箇条9）が適用できないときは，これらを削除
してもよい。特定の用途の場合であって，この規格の一般要求事項だけでは不十分なときには，個別CDI
規格独自の要求事項を追加してもよい。ただし，技術的に十分な正当性がない場合は，この規格の一般要
求事項から逸脱しないことが望ましい。
注記1 CDIを組み込む製品に対する製品独自の要求事項は，個別製品規格に規定する。これらの要
求事項は，この規格での規定に加えて適用する。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 62026-1:2007，Low-voltage switchgear and controlgear−Controller-device interfaces (CDIs)−
Part 1: General rules（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
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2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 8201-1 低圧開閉装置及び制御装置−第1部：通則
注記 対応国際規格：IEC 60947-1:2007，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules
（IDT）
JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test, Amendment 1:1998及び
Amendment 2:2000（MOD）
JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test（MOD）
JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／バー
ストイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-4:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-5:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導
妨害に対するイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-6:2003，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields,
Amendment 1:2004及びAmendment 2:2006（IDT）
JIS C 61000-6-2 電磁両立性−第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-6-2:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic
standards−Immunity for industrial environments（MOD）
CISPR 11:2003，Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment−Electromagnetic
disturbance characteristics−Limits and methods of measurement, Amendment 1:2004及びAmendment
2:2006
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
状態変化通信方式（change of state）
特定の変化条件に従い，装置又はコントローラのデータが状態を変化させる場合だけに発生するデータ
交換方式。
3
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3.2
コントローラ（controller）
プログラマブルコントローラ，パーソナルコンピュータ，又は同等のコンピューティングハードウェア。
ソフトウェアが，アプリケーション又はプロセスの実行を制御する。
3.3
コントローラ−装置間の通信媒体（controller-device communication medium）
装置又はコントローラが，ほかの装置又はコントローラにデータを転送するために利用する媒体（2本
以上のワイヤ，光ファイバケーブルなど）。
注記 “通信媒体への電源投入”構造をもつCDIは，CDI内部で配電も行う2線を用いる。
3.4
コントローラ−装置間インタフェース，CDI（controller-device interface, CDI）
産業用制御システムにおいて，コントローラと装置との間で情報を伝送するノード及びノード相互接続
の配置。
3.5
CDIコンポーネント（CDI component）
CDI規格で規定している要求事項を実現する装置，コントローラ，又はその他のコンポーネント。
3.6
CDI電源（CDI power supply）
CDIの機能及び性能に適した特性及びパラメータを備えた電源。
3.7
CDI配電媒体（CDI power distribution medium）
CDI内部で電力を伝達するために用いる相互接続の媒体。
注記 “通信媒体への電源投入”構造をもつCDIの場合，このCDI配電媒体はCDI内部におけるデ
ータ伝送も行う。
3.8
装置（device）
アプリケーション要素を含む物理的な装置。この装置には通信要素を含めてもよい。
例 制御回路装置［JIS C 8201-1の2.2（開閉機器）を参照］，存在検知装置，圧力検知装置，アクチ
ュエータ，信号表示器，オペレータ端末，モータコントローラ，電流センサ，制御弁，データ記
録装置，バーコードスキャナ，押しボタン，パイロットランプなど。
3.9
装置プロファイル（device profile）
CDIで利用可能な装置機能を定義したプロファイル。
3.10
マルチキャスト通信方式（multicast）
1台の装置又はコントローラが，複数の装置及び／又はコントローラに対するメッセージを生成し，こ
れらの装置及び／又はコントローラを適切に動作させるときに発生するデータ交換方式。
3.11
ポーリング通信方式（polling）
1台の装置又はコントローラが，特定の装置若しくはコントローラにデータを送信する，又は特定の装
4
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置若しくはコントローラからデータを要求するときに発生するデータ交換方式。
注記 受信装置は，受信するデータに従って動作することによって，又はステータスデータを返すこ
とによって，ポーリングに応答する。このトランザクションが完了すると，この装置は次の装
置を所定の手順でポーリングする。
3.12
ストロービング通信方式（strobing）
装置又はコントローラが，1台以上の装置及び／又はコントローラからデータを得るために，単一の要
求を送信するときに発生するデータ交換方式。
注記 このとき，メッセージを受信する各装置は，要求されたデータを用いて，所定の手順で応答す
る。
4
分類
CDIの分類項目を，次に示す。
− CDIコンポーネント
− インタフェース
− トポロジ
− 情報交換
− アトリビュート
5
特性
5.1
CDIコンポーネント
個別CDI規格には，装置，コントローラ，使用可能なその他のコンポーネントに関する要求事項を規定
しなければならない。
5.2
インタフェース
個別CDI規格には，該当する場合，次の事項を規定しなければならない。
− インタフェースシステムがいつ立ち上がり又はいつ立ち下がるか，インタフェースシステムがいつデ
ータ交換を開始し又はいつ終了するかなど，どの順番で何を発生させるかの手順。
− インタフェースをまたがって装置に要求する情報交換の方式
例1 ポーリング，状態変化
− サービス及びプロトコル。すなわち，インタフェースを通過するメッセージの構造及び内容。
例2 ピアツーピア，マスタースレーブ
− CDIから見たときの装置及びコントローラの振舞い
− 形状，構造，ピンサイズなどの機械的な情報
− CDI上のビットレベルの電圧，電流，タイミングなどの電気的な情報
− 何のインタフェースがどの機能を提供するかという機能的な情報
5.3
トポロジ
個別CDI規格には，使用可能なトポロジを規定しなければならない。
例 デイジーチェーン，スター，ツリー，幹線，支線
5.4
情報交換
個別CDI規格には，使用可能な情報交換方式を規定しなければならない。
5
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5.5
アトリビュート
個別CDI規格には，少なくとも次を含むアトリビュート値を規定しなければならない。
− データ伝送速度（bit/s）
− 通信媒体又は端末間距離の最大長
− 1回の伝送におけるメッセージ長
例 4ビット，8バイト
− システム当たりの最大ノード数
これらの項目以外に，CDIの伝送時間の評価を裏付ける情報も規定する。
6
製品情報
6.1
取付け，操作及び保守に関わる指示
製造業者は，CDIコンポーネントの取付け，操作及び保守に対する条件を，取扱説明書，カタログなど
に明記しなければならない。また，8.2で規定するEMCの適合性を確保するために必要な対策がある場合
には，それを明記しなければならない。
6.2
プロファイル
装置及びコントローラは，サポートする装置プロファイルの識別を明示するか，又はこの識別を操作に
関する説明書に明記しなければならない。
6.3
表示
CDIコンポーネントは，次の事項を表示しなければならない。
a) 製造業者の名称又は商標
b) 形式指定又はCDIコンポーネントを特定し，製造業者又はこの業者のカタログから関連情報を入手で
きるようにするその他の表示
c) 適用する個別CDI規格番号
d) 個別CDI規格に規定するその他の表示
ただし，表示する場所に物理的な制約があるCDIコンポーネントの場合，ラベル又は製造業者の取扱説
明書にこれらの事項を記載する。
6.4
保護等級
製造業者は，JIS C 8201-1の附属書C（箱入り装置の保護等級）によって保護等級を明記しなければな
らない。
7
標準使用，取付け及び輸送条件
7.1
一般
全てのCDIコンポーネントにおいて，7.2〜7.4の要求事項を満たさなければならない。
注記 使用条件がこの規格又は製造業者が規定した条件と異なる場合，使用者はこの規格条件からの
逸脱を明示し，そのような条件下での使用に対する装置の適用について製造業者の同意を得る
ことが望ましい。
なお，製造業者のカタログに明記した情報を，このような同意の代わりとしてもよい。
7.2
標準使用条件
7.2.1
一般
全てのCDIコンポーネントは，個別CDI規格に従って設計し，かつ，使用しなければならない。
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7.2.2
周囲温度
全てのCDIコンポーネントの動作特性の周囲温度は，少なくとも−5 ℃〜＋40 ℃の範囲で維持しなけ
ればならない。
7.2.3
標高
CDIコンポーネントは，最高2 000 mの標高において動作可能でなければならない。
注記 更に高い標高で用いるCDIコンポーネントに対しては，絶縁耐力の低下及び空気の冷却効果の
低下を考慮に入れる必要がある。
7.2.4
気象条件
7.2.4.1
湿度
CDIコンポーネントは，温度＋40 ℃，空気中の相対湿度50 %で正常に動作しなければならない。例え
ば，温度＋20 ℃で相対湿度90 %のように，低い温度では相対湿度がより高くなってもよい。温度変化に
よって結露が生じる場合，特別な手段が必要になる場合がある。
7.2.4.2
汚損度
製造業者が特に指定しない限り，JIS C 8201-1で規定するように，CDIコンポーネントは汚損度3の環
境条件に設置する。ただし，ミクロ環境に応じて，別の汚損度を適用してもよい。
7.3
輸送中及び保管中の条件
輸送中及び保管中の条件，例えば，温度，湿度などが7.2の規定と異なる場合は，受渡当事者間の合意
による。ほかに規定がない限り，−25 ℃〜＋55 ℃の温度範囲を輸送中及び保管中に適用する。ただし，
輸送及び保管時間が24時間以内の場合には，−25 ℃〜＋70 ℃でもよい。
7.4
取付け
CDIコンポーネントの取付け寸法及び条件は，個別CDI規格に規定するか，又はこれらを個別CDI規格
に規定してない場合は，製造業者の指示書に明記しなければならない。
8
構造及び性能に関する要求事項
8.1
一般
CDIを組み込む全ての製品は，この規格に加えて，関連する製品規格に適合しなければならない。
個別CDI規格に，構造及び性能に関する次の要求事項を規定しなければならない。
− 電源
− 装置
− コントローラ
− 電気機械コンポーネント
− 通信媒体
要求事項には，次の内容を含まなければならない。
− 一般要求事項
− 接続及びポート
− メッセージ，I/O構成及び診断メッセージの開始，送信，受信及び応答時における装置又はコントロ
ーラの機能
− 電磁両立性（EMC）
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8.2
電磁両立性（EMC）
8.2.1
イミュニティ
個別CDI規格が表1とは異なる試験レベルを規定していない限り，CDIは表1に示す最小要求事項を満
たさなければならない。
表1−イミュニティに関する要求事項
試験の種類
試験レベル（該当する場合）
性能基準
静電気放電
JIS C 61000-4-2
8 kV，気中放電
4 kV，接触放電
B
放射無線周波電磁界
（80 MHz〜1 GHz及び1.4 GHz〜2.0 GHz）
JIS C 61000-4-3
10 V/m
A
電気的ファストトランジェント／バースト
JIS C 61000-4-4
CDI通信媒体を含む全てのケーブルに対して
1 kV/5 kHz
上記以外の全てのケーブル及びポートに対して
2 kV/5 kHz
B
サージ（1.2/50 μs及び8/20 μs）
JIS C 61000-4-5
2 kV，交流：導電部と大地との間
1 kV，交流：ライン−ライン間
B
無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害
（150 kHz〜80 MHz）
JIS C 61000-4-6
10 V
A
電圧低下及び瞬停
個別CDI規格を参照
−
性能基準及び規定限度値は，JIS C 61000-6-2の性能判定基準を用いて，個別CDI規格に明記しなければ
ならない。
8.2.2
エミッション
CDIは，CISPR 11:2003のグループ1クラスAに規定している要求事項を満たさなければならない。
これらの要求事項は，工業環境において用いるCDIだけに適用する。工業環境以外においてCDIを用い
る可能性がある場合は，取扱説明書に次の注意文を記載しなければならない。
注意
この製品は，クラスA機器です。この製品を工業環境以外で使用する場合，電磁妨害を起こす可能性
がありますので，その場合，使用者は適切な軽減対策を講じてください。
8.2.3
電磁両立性（EMC）試験
EMC試験は，9.3による。
9
試験
9.1
一般
試験を実施し，この規格の要求事項に適合することを検証しなければならない。
9.2
形式試験
形式試験の目的は，この規格に適合することを検証することにある。該当する場合，次に対する形式試
験を実施しなければならない。
− 電源
8
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 装置
− コントローラ
− 電気機械コンポーネント
− 通信媒体
形式試験では，適宜，次の検証を実施する。
− 一般要求事項
− 接続及びポート
− メッセージ，I/O構成及び診断メッセージの開始，送信，受信及び応答時における装置又はコントロ
ーラの機能
− 電磁両立性（EMC）
9.3
電磁両立性（EMC）
試験の方法及び構成の詳細については，個別CDI規格に規定しなければならない。
エミッション及びイミュニティ試験は形式試験であり，製造業者の設置指示書を用いて，動作及び環境
双方の代表的な条件下で実施しなければならない。
これらの試験は，引用するJIS C 61000規格群及び該当するCISPR規格に準拠して実施しなければなら
ない。ただし，性能の検証に必要なこれら以外の方法については，個別CDI規格に規定しなければならな
い。