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C 8201-7-1

:2016

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  一般 

1

1.1

  適用範囲  

1

1.2

  引用規格  

2

2

  用語及び定義  

2

3

  分類 

2

4

  特性 

3

4.1

  特性の要約  

3

4.2

  端子台の形式  

3

4.3

  定格値及び限界値  

3

5

  製品情報  

5

5.1

  表示  

5

5.2

  追加情報  

5

6

  標準使用,取付け及び輸送条件  

6

7

  構造及び性能に関する要求事項  

6

7.1

  構造に関する要求事項  

6

7.2

  性能要求事項  

7

7.3

  電磁両立性(EMC  

7

8

  試験 

7

8.1

  試験の種類  

7

8.2

  一般  

8

8.3

  機械的特性の検証  

8

8.4

  電気的特性の検証  

11

8.5

  熱的特性の検証  

15

8.6

  電磁両立性の立証  

16

附属書 A(空欄)  

17

附属書 B(参考)製造業者と使用者との合意事項  

17

附属書 C(空欄)  

17

附属書 D(規定)断路端子台の要求事項  

18

附属書 JA(規定)銅の円形導体に対するねん回及び引張試験の試験値(JIS C 3307 及び JIS C 3316  

    導体への対応)  

26

附属書 JB(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

27


C 8201-7-1

:2016

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人日本

電気制御機器工業会(NECA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工

業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工

業規格である。これによって,JIS C 8201-7-1:2010 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 8201

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 8201-1

  第 1 部:通則

JIS C 8201-2-1

  第 2-1 部:回路遮断器(配線用遮断器及びその他の遮断器)

JIS C 8201-2-2

  第 2-2 部:漏電遮断器

JIS C 8201-3

  第 3 部:開閉器,断路器,断路用開閉器及びヒューズ組みユニット

JIS C 8201-4-1

  第 4-1 部:接触器及びモータスタータ:電気機械式接触器及びモータスタータ

JIS C 8201-4-2

  第 4-2 部:接触器及びモータスタータ:交流半導体モータ制御器及びスタータ

JIS C 8201-4-3

  第 4-3 部:接触器及びモータスタータ:非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器

JIS C 8201-5-1

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 1 節:電気機械式制御回路機器

JIS C 8201-5-2

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 2 節:近接スイッチ

JIS C 8201-5-5

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 5 節:機械的ラッチング機能をもつ電気的非

常停止機器

JIS C 8201-5-8

  第 5-8 部:制御回路機器及び開閉素子−3 ポジションイネーブルスイッチ

JIS C 8201-7-1

  第 7 部:補助装置−第 1 節:銅導体用端子台

JIS C 8201-7-2

  第 7-2 部:補助装置−銅導体用保護導体端子台


日本工業規格

JIS

 C

8201-7-1

:2016

低圧開閉装置及び制御装置−

第 7 部:補助装置−第 1 節:銅導体用端子台

Low-voltage switchgear and controlgear-

Part 7-1: Ancillary equipment-Terminal blocks for copper conductors

序文 

この規格は,2009 年に第 3 版として発行された IEC 60947-7-1 を基とし,国内の使用実態を反映させる

ため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所及び

附属書 JA は,対応国際規格にはない事項

である。変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JB に示す。

一般 

1.1 

適用範囲 

この規格は,工業用途のねじ式又はねじなし締付具によって,銅導体間を電気的及び機械的に接続し,

支持体に固定する端子台について規定する。

この規格は,1 000 Hz 以下の周波数の定格電圧交流 1 000 V 以下又は直流 1 500 V 以下の回路に使用する

0.2

∼325 mm

2

(AWG24∼600 kcmil)の断面積をもつ端末処理した円形銅導体又は未処理の円形銅導体を接

続する端子台に適用できる。

なお,断路端子台については,

附属書 に規定する。

注記 1 AWG とは,“American Wire Gage”を略した記号である。

なお,AWG 及び mil は従来単位だが,国際規格で規定されているため,この規格では,参

考値として併記した。

1 kcmil

=1 000 cmil

1 cmil

=1 circular mil=直径 1 mil の円の面積

1 mil

=1/1 000 in(インチ)

この規格は,次の端子台のための指針として使うことが望ましい。

−  導体の固定に特別な器具を必要とする端子台。例えば,平形接続子,タブなどによる接続。

−  絶縁体を突き刺す刃又はとがった先端によって導体に直接接触する端子台。例えば,絶縁体圧接接続

など。

−  特別形式の端子台。例えば,ダイオード,バリスタ,同様の構成要素などを取り付けられる構造をも

った端子台など。

JIS C 8201-1

を引用する場合,用語の“端子”を“締付具”に読み替える。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60947-7-1:2009

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 7-1: Ancillary equipment−


2

C 8201-7-1

:2016

Terminal blocks for copper conductors

(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

1.2 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

JIS C 3307:2000

  600 V ビニル絶縁電線(IV)

JIS C 3316:2000

  電気機器用ビニル絶縁電線

JIS C 8201-1:2007

  低圧開閉装置及び制御装置−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 60947-1:2004,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules

(MOD)

JIS C 60695-11-5:2007

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バ

ーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame

test method

−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

ISO 4046-4:2002

,Paper, board, pulps and related terms−Vocabulary−Part 4: Paper and board grades and

converted products

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 8201-1 の箇条 2(用語及び定義)によるほか,次による。

2.1 

端子台(terminal block)

端子組立品

2.4 参照)

を絶縁部品に組み合わせた構造で,

支持体に固定できる電気的接続のための器具。

2.2 

定格断面積(rated cross-section)

接続可能な形式の製造業者が定めた硬質(単線又はより線)又は可とう導体の最大断面積の値。熱的,

機械的及び電気的要求事項は,その値による。

2.3 

定格接続容量(rated connecting capacity)

設計した端子台が接続可能な断面積の範囲,及び適用できる場合は導体数。

2.4 

端子組立品(terminal assembly)

同じ導電部に固定した二つ以上の締付具。

分類 

端子台の形式は,次によって区別する。

−  支持体に端子台を固定する方法

−  極数

−  締付具の形式:ねじ式締付具又はねじなし締付具

−  端末処理導体[JIS C 8201-1 の 2.3.27(端末処理導体)参照]を収納する能力


3

C 8201-7-1

:2016

−  同一又は異なる締付具を備えた端子組立品

−  個々の端子組立品の締付具の数

−  使用条件

特性 

4.1 

特性の要約 

端子台の特性は,次による。

−  端子台の形式(4.2 参照)

−  定格値及び限界値(4.3 参照)

4.2 

端子台の形式 

端子台の形式は,次による。

−  締付具(

例  ねじ式締付具,ねじなし締付具)の形式

−  締付具の数

4.3 

定格値及び限界値 

4.3.1 

定格電圧 

定格電圧は,JIS C 8201-1 の 4.3.1.2(定格絶縁電圧)及び 4.3.1.3(定格インパルス耐電圧)による。

4.3.2 

短時間耐電流 

短時間耐電流は,規定する使用条件及び動作条件の下で,指定する時間中に端子台に流すことができる

電流の実効値とする(7.2.3 及び 8.4.6 参照)

4.3.3 

標準断面積 

使用する円形銅導体断面積の公称値は,

表 又は表 1A による。

表 1−円形銅導体の標準断面積 

メートル表示の

標準断面積

mm

2

標準断面積

AWG

又は kcmil

(参考値)

等価のメートル断面積

mm

2

0.2

24

0.205

0.34

22

0.324

0.5

20

0.519

0.75

18

0.82

1

1.5

16

1.3

2.5

14

2.1

4

12

3.3

6

10

5.3

10

8

8.4

16

6

13.3

25

4

21.2

35

2

33.6

50

0

53.5

70

00

67.4

95

000

85

0 000

107.2


4

C 8201-7-1

:2016

表 1−円形銅導体の標準断面積(続き) 

メートル表示の

標準断面積

mm

2

標準断面積

AWG

又は kcmil

(参考値)

等価のメートル断面積

mm

2

120

250 kcmil

127

150

300 kcmil

152

185

350 kcmil

177

240

500 kcmil

253

300

600 kcmil

304

表 1A−円形銅導体の標準断面積及び導体径(JIS C 3307 及び JIS C 3316 による導体) 

標準断面積及び導体径

より線

mm

2

単線

mm

0.5

a)

0.5

a)

0.8

0.75

1

1.25

1.2

2

1.6

3.5

2

5.5

2.6

8

3.2

14

22

38

60

100

150

200

250

325

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積

及び導体径である。

4.3.4 

定格断面積 

定格断面積は,

表 又は表 1A に示す標準断面積から選択する。

4.3.5 

定格接続容量 

定格断面積が 0.2∼38 mm

2

(単線の場合は,導体径 0.5∼3.2 mm)の端子台だけに適用する。

端子台は,明示する定格断面積に対し

表 又は表 2A に示す範囲の断面積又は導体径の導体を接続でき

なければならない。定格断面積が 38 mm

2

を超える端子台については,定格接続容量を規定しない。

導体は,硬質(単線又はより線)又は可とうのいずれでもよい。

製造業者は,接続できる導体の最大及び最小の断面積並びに形式を明確にし,該当する場合には,各締

付具に同時に接続できる導体の数を明確にする。

製造業者は,導体の端末に必要な処理方法も明確にする。


5

C 8201-7-1

:2016

表 2−端子台の定格断面積と定格接続容量との関係 

定格断面積

定格接続容量

mm

2

AWG

(参考値)

mm

2

AWG

(参考値)

0.2

24

0.2

24

0.34

22

0.2

,0.34

24

,22

0.5

20

0.2

,0.34,0.5

24

,22,20

0.75

18

0.34

,0.5,0.75

24

,20,18

1

0.5

,0.75,1

1.5

16

0.75

,1,1.5

20

,18,16

2.5

14

1

,1.5,2.5

18

,16,14

4

12

1.5

,2.5,4

16

,14,12

6

10

2.5

,4,6

14

,12,10

10

8

4

,6,10

12

,10,8

16

6

6

,10,16

10

,8,6

25

4

10

,16,25

8

,6,4

35

2

16

,25,35

6

,4,2

表 2A−端子台の JIS C 3307 及び JIS C 3316 の定格断面積又は導体径と定格接続容量との関係 

定格断面積又は導体径

定格接続容量

より線

mm

2

単線

mm

より線

mm

2

単線

mm

0.5

a)

0.5

a)

0.5

a)

0.8

0.5

a)

0.5

a)

,0.8

0.75

1

0.5

a)

,0.75

0.5

a)

,0.8,1

1.25

1.2

0.5

a)

,0.75,1.25

0.8

,1,1.2

2

1.6

0.75

,1.25,2

1

,1.2,1.6

3.5

2

1.25

,2,3.5

1.2

,1.6,2

5.5

2.6

2

,3.5,5.5

1.6

,2,2.6

8

3.2

3.5

,5.5,8

2

,2.6,3.2

14

5.5

,8,14

22

8

,14,22

38

14

,22,38

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。

製品情報 

5.1 

表示 

端子台には,容易に消えない方法で明瞭に次の事項を表示しなければならない。

a)

容易に識別できる製造業者名又は商標

b)

製造業者から,又は製造業者のカタログから関連情報を得るためにその識別ができる形式記号

5.2 

追加情報 

この規格の全ての要求事項に適合した端子台には,次の情報を,例えば,製造業者の形式試験成績書,

カタログ又は包装箱上に明示しなければならない。

a)

この規格の規格番号

b)

定格断面積

c)

定格接続容量[

表 又は表 2A と異なる場合(同時に接続できる導体の数を含む。)]


6

C 8201-7-1

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ただし,断面積 0.5 mm

2

及び 0.75 mm

2

の場合は,定格接続容量を明示する。

d)

定格絶縁電圧

e)

定格インパルス耐電圧(インパルス耐電圧を指定しているとき)

f)

使用条件(箇条 の使用条件と異なる場合)

g)

開放熱電流値

注記  開放熱電流は,自由大気中での開放形装置の温度上昇試験に用いる試験電流の最大値である

JIS C 8201-1 の 4.3.2.1(開放熱電流)参照]

標準使用,取付け及び輸送条件 

JIS C 8201-1

の箇条 6(標準使用,取付け及び輸送条件)による。

構造及び性能に関する要求事項 

7.1 

構造に関する要求事項 

7.1.1 

締付具 

JIS C 8201-1

の 7.1.7.1(構造的要求)によるほか,次による。

締付具は,信頼できる機械的結合及び電気的接触が適切に維持されることを確実にする手段によって導

体を接続できなければならない。

注記  ねじ式締付具は,端末をはんだあげした可とう導体の接続には適さない。

締付具は,接続する導体を通して加える力に耐えなければならない。

適合性は,8.3.3.18.3.3.3 の試験によって検証する。

接触圧力は,セラミックス(又はより適合する特性をもつ材料)以外の絶縁材料を介して加えてはなら

ない。ただし,金属部に絶縁材料の収縮を補正する十分な弾性がある場合を除く。

接触圧力の試験方法は,考慮中である。

7.1.2 

取付け 

端子台は,レール又は取付面に確実に取り付ける手段を備えなければならない。

試験方法は,8.3.2 による。

注記  レール取付けに関する情報は,JIS C 2812 に記載する。

7.1.3 

空間距離及び沿面距離 

製造業者が指定した端子台の定格インパルス耐電圧(U

imp

)及び定格絶縁電圧(U

i

)に基づく空間距離

及び沿面距離の最小値は,JIS C 8201-1 

表 13 及び表 15 による。

製造業者が定格インパルス耐電圧(U

imp

)の値を指定していない場合,最低値は JIS C 8201-1 

附属書

H

(電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係)による。

電気的要求事項は,7.2.2 による。

7.1.4 

締付具の識別及び表示 

JIS C 8201-1

の 7.1.7.4(端子の識別及び表示)によるほか,次による。

端子台は,各々の締付具又はある部分を形成する回路に接続する端子組立品に対し,識別表示又は番号

表示のための手段(少なくともスペース)をもっていなければならない。

注記  その手段は,表示タグ,識別ラベルなどのように,別々に表示する品目からなっていてもよい。

端子台には,緑及び黄色を組み合わせた色を使用してはならない。


7

C 8201-7-1

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7.1.5 

異常過熱及び炎に対する耐性 

端子台の絶縁材は,異常過熱及び炎によって影響を受けてはならない。

適合性は,8.5 の試験によって検証する。

7.1.6 

定格断面積及び定格接続容量 

端子台は,定格断面積及び定格接続容量の導体が接続できるように設計しなければならない。

適合性は,8.3.3.4 の試験によって検証する。

定格断面積の検証は,8.3.3.5 の特殊試験によるのが望ましい。

7.2 

性能要求事項 

7.2.1 

温度上昇 

端子台は,8.4.5 によって試験したとき,温度上昇は,45 K 以下とする。

7.2.2 

絶縁特性 

製造業者が定格インパルス耐電圧(U

imp

)の値を指定する場合[JIS C 8201-1 の 4.3.1.3(定格インパルス

耐電圧)参照]

JIS C 8201-1 の 7.2.3(耐電圧性能)及び 7.2.3.1(インパルス耐電圧)の要求事項を適用

する。

適用する場合,8.4.3 a)  によってインパルス耐電圧試験を実施し,これに耐えなければならない。

絶縁の検証に対しては,JIS C 8201-1 の 7.2.37.2.3.2(主回路,補助回路及び制御回路の商用周波耐電

圧)及び 7.2.3.5(固体絶縁)の要求事項を適用する。

8.4.3 b)

によって商用周波耐電圧試験を実施し,これに耐えなければならない。

空間距離及び沿面距離の検証は,8.4.2 による。

製造業者が定格インパルス耐電圧(U

imp

)の値を指定していない場合,最低値は JIS C 8201-1 

附属書

H

(電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係)による。

7.2.3 

定格短時間耐電流 

端子台は,8.4.6 の手順に従って試験したとき,120 A/mm

2

の定格短時間耐電流に 1 秒間耐えなければな

らない。

7.2.4 

電圧降下 

端子台に導体を接続することによって生じる電圧降下は,8.4.4 によって測定し,8.4.4 及び適用する場合

には 8.4.7 に規定する値を超えてはならない。

7.2.5 

エージング後の電気的特性(ねじなし端子台だけ適用) 

ねじなし端子台は,8.4.7 の手順に従ってエージング試験を実施し,これに耐えなければならない。

7.3 

電磁両立性(EMC 

JIS C 8201-1

の 7.3[電磁両立性(EMC)

]及びこの規格の 8.6 を適用する。

試験 

8.1 

試験の種類 

JIS C 8201-1

の 8.1.1(一般)によるほか,次による。

−  受渡試験は,規定しない。

−  8.3.3.5 による定格断面積の検証は,特殊試験とする。

−  その他の全ての試験は,形式試験とする。

注記  製造業者と使用者との合意事項は,附属書 に示す。


8

C 8201-7-1

:2016

8.2 

一般 

特に指定しない場合には,端子台は新品を用い,清浄な雰囲気中で,通常に使用するように取り付けて

JIS C 8201-1 の 6.3(取付け)参照]

,周囲温度 20±5  ℃で試験する。

注記 1  一般的に,通常に使用するように取り付けるとは,5 個の端子台を連結し,導電部が露出し

ている側をエンドプレートで閉じ,エンドブラケットで支持体に取り付けることを示す。

試験は,細分箇条で規定する順番に行う。

各試験は,別々の新しい試料で行う。

8.3.3.2

及び 8.3.3.3 の試験は同一試料で行う。

導体表面は,性能が低下するような汚損及び腐食があってはならない。

導体の被覆を剝がすとき,断線,刻み,擦りきずなどのダメージを与えないように注意する。

製造業者が特別な端末処理の必要性を明示する場合,試験報告書にはその処理方法を記載する。

試験は,製造業者が明示する導体(硬質又は可とうのもの)で行う。

端子台の一つ以上が試験に耐えられなかった場合,別の端子台のセットで再試験を行う。再試験は,関

連する全ての試験を再度行わなければならない。

注記 2  関連する試験とは,同一試料で行う一連の試験をいう。

8.3 

機械的特性の検証 

8.3.1 

一般 

機械的特性の検証は,次の試験を含む。

−  支持体への端子台の取付け(8.3.2 参照)

−  締付具の機械的強度(8.3.3.1 参照)

−  締付具への導体の取付け(8.3.3.2 及び 8.3.3.3 参照)

−  定格断面積及び定格接続容量(8.3.3.4 及び 8.3.3.5 参照)

8.3.2 

支持体への端子台の取付け 

この試験は,製造業者の指示に従って支持体に取り付けた 5 個の端子台において,中央に位置する端子

台の締付具 2 個に対して行う。

長さ 150 mm で

表 又は表 3A に規定する直径の鋼製の丸棒を,各締付具に連続して固定する。

表 又は表 3A で指定の鋼製の丸棒を固定できない締付具をもつ端子台(例えば,ケーブルラグなど端

末処理導体だけを接続する目的の締付具を備えたもの)に対しては,

表 又は表 3A で指定する鋼製の丸

棒によらず,締付具に接続可能な棒(例えば,先端に端子ねじに対応した孔をもつ平らな条片など)で代

用してもよい。この場合,

表 又は表 3A で指定する力で変形などがなく十分耐力のある棒でなければな

らない。

締付トルクは,JIS C 8201-1 

表 又は製造業者が定めるトルクの 110 %とする。

図 に従って締付具の中心から 100 mm の所の上方向及び下方向に,表 又は表 3A の値に等しい力を

衝撃なしに棒に加える。

試験の間端子台は,

そのレール又は支持体からの緩みがなく,

その他のどんな損傷も受けてはならない。


9

C 8201-7-1

:2016

図 18.3.2 による試験配置 

表 3−取付試験の試験値 

端子台の定格断面積

N

鋼製の丸棒の直径

mm

mm

2

AWG

又は kcmil

(参考値)

0.2

24

1

1.0

0.34

22

0.5

20

0.75

18

1.0

1.5

16

2.5

14

4

12

6

10

5

2.8

10

8

16

6

25

4

10

5.7

35

2

50

0

70

00

95

000

15

12.8

0 000

120

250 kcmil

150

300 kcmil

185

350 kcmil

240

500 kcmil

20

20.5

300

600 kcmil


10

C 8201-7-1

:2016

表 3AJIS C 3307 及び JIS C 3316 による導体での取付試験の試験値 

端子台の定格断面積又は導体径

N

鋼製の丸棒の直径

mm

JIS C 3307

及び JIS C 3316

mm

2

mm

0.5

a)

1

1.0

0.5

a)

0.8

0.75

1

1.25

1.2

2

1.6

3.5

2

5.5

2.6

5

2.8

8

3.2

14

22

10

5.7

38

60

100

15

12.8

150

200

250

20

20.5

325

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。

8.3.3 

締付具の機械的特性 

8.3.3.1 

締付具の機械的強度試験 

JIS C 8201-1

の 8.2.4.1(試験の共通条件)及び 8.2.4.2(端子の機械的強度の試験)を適用する。

JIS C 8201-1

の 8.2.4.2 に規定する試験を,ねじ式締付具に適用する。

この試験は,製造業者の指示に従って適切な支持体に通常に使用するように取り付けた 5 個の端子台に

おいて,中央に位置する端子台の締付具 2 個に対して行う。

8.4.4

によって電圧降下を検証後,製造業者が定める定格断面積の硬質の導体を接続して行う。

適用可能な場合,製造業者が定める最小断面積の可とう導体も接続して行う。

定格断面積の硬質の導体で接続及び取外しを 5 回行う。

試験の最後に端子台は,定格断面積の硬質の導体を接続し,その後に適用可能な場合最小断面積の可と

う導体を接続して 8.4.4 による電圧降下試験に適合しなければならない。

8.3.3.2 

端子台における導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験(ねん回試験) 

JIS C 8201-1

の 8.2.4.1 及び 8.2.4.3[導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験法(ねん回試験)

]に次の

追加事項を適用する。

それぞれの試験において,一つの端子台の二つの締付具で行う。ただし,JIS C 3307 及び JIS C 3316 

導体断面積に対するねん回試験の試験値は,

附属書 JA による。

この試験は,次のとおり製造業者が指定する形式(硬質又は可とうのもの)及び数の導体で行う。

−  指定した最小断面積の導体(1 本の接続)

−  定格断面積の導体(適用可能な場合 1 本の接続で)

−  指定した定格断面積より大きい場合,接続可能な最大断面積の導体(1 本の接続)


11

C 8201-7-1

:2016

−  最小断面積の導体を最大数接続した状態

−  最大断面積の導体を最大数接続した状態

−  最小断面積の導体と最大断面積の導体とを同時に最大数接続した状態

8.3.3.3 

引張試験 

JIS C 8201-1

の 8.2.4.4(引張試験)による。ただし,JIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体断面積に対する

引張試験の試験値は,

附属書 JA による。

8.3.3.4 

定格断面積及び定格接続容量の検証 

試験は,一つの端子台の各締付具で実施する。

定格断面積の導体及び定格断面積 38 mm

2

以下の端子台においては,定格接続容量の最も小さい断面積

の導体を容易に挿入し,接続できなければならない(

表 又は表 2A 参照)。

8.3.3.5 

定格断面積の検証(ゲージによる特殊試験) 

JIS C 8201-1

の 8.2.4.5(最大規定断面をもった未処理の銅の円形導体の挿入性に関する試験)に次の追

加事項を適用する。

試験は,一つの端子台の各締付具で実施する。ただし,ケーブルラグなどによる端末処理導体だけを接

続する目的の締付具を備えた端子台については,このゲージによる検証は適用しない。

8.4 

電気的特性の検証 

8.4.1 

一般 

電気的特性の検証は,次の内容を含む。

−  空間距離及び沿面距離の検証(8.4.2 参照)

−  絶縁試験(8.4.3 参照)

−  電圧降下の検証(8.4.4 参照)

−  温度上昇試験(8.4.5 参照)

−  短時間耐電流試験(8.4.6 参照)

−  ねじなし端子台のエージング試験(8.4.7 参照)

8.4.2 

空間距離及び沿面距離の検証 

8.4.2.1 

一般 

検証は,隣接する二つの端子台間及び端子台と端子台とを取り付けた金属支持体間で実施し,その接続

は次による。

a)

端子台は,製造業者が示す最も大きな断面積の導体を接続する。

b)

導体の先端は,製造業者が規定する長さに被覆を剝がす。

c)

製造業者が異なる金属支持体の使用を認める場合は,端子台の充電部位と支持体間との絶縁距離が最

も短くなるものを使用する。

注記  空間距離及び沿面距離の測定方法は,JIS C 8201-1 の附属書 G(沿面距離及び空間距離の測定)

を参照。

8.4.2.2 

空間距離 

空間距離の測定値は,JIS C 8201-1 

表 13 のケース B の場合の値より大きくなければならない。

ケース B とは,定格インパルス耐電圧(U

imp

)及び製造業者が指定した汚損度に依存する均一電界条件

のことをいう[JIS C 8201-1 の 7.2.3.3(空間距離)参照]

インパルス耐電圧試験は,空間距離の測定値が JIS C 8201-1 

表 13 のケース A の値以下の場合,8.4.3 a)

によって実施する。


12

C 8201-7-1

:2016

ケース A とは,不均一電界条件のことをいう[JIS C 8201-1 の 8.3.3.4.1(形式試験)2)  参照]

8.4.2.3 

沿面距離 

沿面距離の測定値は,JIS C 8201-1 の 7.2.3.4(沿面距離)の a)  及び b)  と関連して,製造業者が指定し

た定格絶縁電圧,材料グループ及び汚損度による JIS C 8201-1 

表 15 の値以上でなければならない。

8.4.3 

絶縁試験 

絶縁試験は,次による。

a)

製造業者が定格インパルス耐電圧(U

imp

)の値を指定する場合,インパルス耐電圧試験は,JIS C 8201-1

の 8.3.3.4.1 2)2) c)  は除く。

]によって行う。

b)

固体絶縁物の商用周波耐電圧の検証は,JIS C 8201-1 の 8.3.3.4.1 3)  によって行う。

試験電圧は,JIS C 8201-1 

表 12A の値とする[JIS C 8201-1 の 8.3.3.4.1 3) b) i)  参照]。

各試験は,8.4.2.1 の a)c)  に示す条件で金属支持体に取り付け,導体を接続した 5 個の隣接する端子台

で行う。

試験電圧は,最初に隣接する 5 個の端子台間に印加し,次いで,互いに接続した全ての端子台とそれら

を取り付けた支持体との間に印加する。

8.4.4 

電圧降下の検証 

電圧降下は,次の場合に検証する。

a)

締付具の機械的強度試験の前後(8.3.3.1 参照)

b)

温度上昇試験の前後(8.4.5 参照)

c)

短時間耐電流試験の前後(8.4.6 参照)

d)

エージング試験の前後及びその途中(8.4.7 参照)

検証は,8.3.3.1 及び 8.4.58.4.7 に規定する方法で行う。

電圧降下は,

図 に例示する測定点で全ての端子台を測定する。測定は,表 4,表 4A 又は表 に示す電

流値の 0.1 倍の直流電流で行う。

上記の a)d)  の試験前の電圧降下の測定は,3.2 mV 以下とする。

図 による測定値が 3.2 mV を超えた場合,電圧降下は個々の締付具で独立して決定する。その場合の個々

の電圧降下の値は,1.6 mV 以下とする。

上記の a)c)  の試験後の電圧降下は,試験前の値の 150 %以下とする。

上記の d)  の試験中及び試験後の電圧降下は,8.4.7 に規定する値以下とする。

表 4−メートル導体による温度上昇試験,エージング試験及び電圧降下試験の試験電流値 

定格断面積  mm

2

0.2

0.34

0.5

0.75

1

1.5

2.5

4

6

10

16

試験電流    A

4

5

6

9

13.5

17.5

24

32

41

57

76

定格断面積  mm

2

25

35

50

70

95

120

150

185

240

300

試験電流    A

101

125

150

192

232

269

309

353

415

520


13

C 8201-7-1

:2016

表 4AJIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体による温度上昇試験,エージング試験 

及び電圧降下試験の試験電流値 

定格断面積

又は導体径

より線  mm

2

0.5

a)

0.75

1.25

2

3.5

5.5

8

単線    mm

0.5

a)

0.8

1

1.2

1.6

2

2.6

3.2

試験電流 A

4

7

11

16

21

30

40

50

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。

定格断面積  mm

2

14

22

38

60

100

150

200

250

325

試験電流    A

70

94

132

175

240

310

370

430

520

図 28.4.48.4.5 及び 8.4.7 の試験及び電圧降下の検証のための試験配線 

表 5AWG 又は kcmil 導体による温度上昇試験,エージング試験及び電圧降下試験の試験電流値(参考値) 

定格断面積  AWG

24

22

20

18

16

14

12

10

8

6

4

試験電流    A

4

6

8

10

16

22

29

38

50

67

90

定格断面積

 AWG

又は kcmil

2

1

0

00

000

0 000

250

kcmil

300

kcmil

350

kcmil

500

kcmil

600

kcmil

試験電流    A

121

139

162

185

217

242

271

309

353

415

520

8.4.5 

温度上昇試験 

試験は,

図 に示すように定格断面積の PVC 絶縁導体によって 5 個の隣接する端子台を直列に接続して

同時に行う。

導体は,ねじ式締付具のための JIS C 8201-1 

表 によるトルク,又は製造業者が定める JIS C 8201-1

表 より高い値のトルクで締め付ける。

6

本の導体の長さは,定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以下のときは 1 m 以上とし,これを超えるものは


14

C 8201-7-1

:2016

2 m

以上とする。

木製の表面(

例  卓上又は床上)に端子台を水平に確実に取り付け,導体を図 の試験回路のとおりに

配線する。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,ねじ若しくはボ

ルトの頭の下面又はナットの下面だけで押し締めする構造で,ケーブルラグ(圧着端子)など端末処理導

体だけを接続する目的の締付具の場合は,端末処理したより線で行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。

試験の間,締付具のねじは,締め直してはならない。

8.4.4

による電圧降下の検証後,試験は,

表 4,表 4A 又は表 に示す定格断面積に対応する交流単相電

流で行う。

試験は,一定温度に達するまで続ける。測定は,5 分間隔で 3 回連続して行い,いずれの測定値間の差

が 1 K 以下の場合一定温度とみなす。

多層端子台における試験は,

表 4,表 4A 若しくは表 に示す試験電流(交流単相電流)又は製造業者の

指定する電流で行う。

中央に位置する端子台のいずれの部分の温度上昇も,7.2.1 に示す限界値以下でなければならない(

図 2

参照)

試験の終了後に配線を変えることなく,周囲温度まで冷やした後,端子台は,8.4.4 による電圧降下試験

に適合しなければならない。

8.4.6 

短時間耐電流試験 

この試験の目的は,熱的衝撃に対する耐力を検証することである。

試験は,製造業者の説明に従って取り付け,さらに,ねじ式締付具のための JIS C 8201-1 

表 4,又は

製造業者が定める JIS C 8201-1 

表 より高い値のトルクで,適切な定格断面積の導体を接続した一つの

端子台で行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,ねじ若しくはボ

ルトの頭の下面又はナットの下面だけで押し締めする構造で,ケーブルラグ(圧着端子)など端末処理導

体だけを接続する目的の締付具の場合は,端末処理したより線で行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。

8.4.4

による電圧降下の検証後,試験電流の電流値及び通電時間は 7.2.3 に適合しなければならない。

試験の終了後,端子台には,継続使用を損なうような,いかなる亀裂,破損,その他の重要な損傷があ

ってはならない。

端子台は,周囲温度にまで戻した後,配線を変更せずに 8.4.4 による電圧降下試験に適合しなければなら

ない。

8.4.7 

ねじなし端子台のエージング試験 

試験は,

図 に示すように 5 個の隣接する端子台に,定格断面積の導体を直列に接続して行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,製造業者が接続

形態を指定する場合は,それに従う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。

標準使用条件[JIS C 8201-1 の 6.1.1(周囲温度)による最大 40  ℃]での用途を意図した端子台は,PVC

絶縁導体を使用する。

製造業者が 40  ℃を超える最大使用状態を指定した端子台(JIS C 8201-1 の 6.1.1 

注記 参照)は,耐


15

C 8201-7-1

:2016

熱絶縁導体又は裸導体を使用する。

橋絡する導体の最小長さは,300 mm とする。

端子台を 20±2  ℃に保った恒温槽に置き,電圧降下を検証する。

導体を含む全ての試験装置は,電圧降下試験が完了するまで動かしてはならない。

その端子台は,次に示す 192 回の温度サイクル試験に使用する。

恒温槽の温度は,JIS C 8201-1 の 8.3.3.3.1(周囲温度)に従って 40  ℃まで,又は製造業者の指定する最

大使用状態の温度まで上げる。

温度は,約 10 分間この値の±5  ℃以内に維持する。

この試験の間,8.4.5 に従った電流を通電する。

次に端子台を,約 30  ℃まで冷却する。強制冷却してもよい。約 10 分間その温度を保つ。

電圧降下の測定が必要な場合,更に 20±5  ℃まで冷却してもよい。

注記  恒温槽における加熱及び冷却の速度は,通常,1.5  ℃/min の値を目安とする。

24

回目の温度サイクル後及び 192 回目の温度サイクルが完了後に,

その度ごとに 20±5  ℃で端子台の電

圧降下を 8.4.4 によって測定する。

電圧降下は,4.8 mV 以下又は 24 回目の温度サイクルの後に測定した値の 1.5 倍以下とする。

この試験の後,目視検査において亀裂,ひずみなどの継続使用に支障があるような変化があってはなら

ない。

その後,8.3.3.3 による引張試験を行う。

8.5 

熱的特性の検証 

熱的特性は,ニードルフレーム(注射針バーナ)試験によって検証する。

試験は,三つの端子台に対して行い,それぞれの端子台 1 個の締付具領域に対し,JIS C 60695-11-5 

よって行う。

試験室は,空気を適切に供給できる広さで,無風状態とする。

試験の前に端子台を,温度 15∼35  ℃で,かつ,相対湿度 45∼75 %の雰囲気に 24 時間放置する。

前処理した後に,端子台を適切な支持体に取り付け,適切な方法で固定する。端子台の一つの絶縁側の

壁が,その下に置く包装用薄葉紙を載せる木の板に平行な状態にする(

図 参照)。

導体は,接続しない。

下に置く包装用薄葉紙(ISO 4046-4 の 4.215 に規定する 12∼30 g/m

2

のもの)を載せる木の板は,単一層

で厚さが約 10 mm とする。

また,木の板は,端子台から 200±5 mm 下の位置に置く。

JIS C 60695-11-5

図 1 a に従って調節した試験炎を,絶縁側の壁の 45°下に置く。

炎の先端は,締付具が接する絶縁側の壁に当てる(

図 参照)。

炎は,10 秒間当てる。

絶縁側の壁の厚さが 1 mm 以下及び/又は締付具の投影面積が 100 mm

2

以下の場合,

炎を 5 秒間当てる。

炎を外した後も燃焼している場合は,燃焼時間を計測する。

燃焼時間とは,試験炎を外しても端子台が燃焼し,自然に消えるまでの時間を意味する。

燃焼時間が 30 秒未満のとき,試験は合格とする。

さらに,端子台から有炎燃焼物が落下する場合には,木板上の包装用薄葉紙が発火してはならない。


16

C 8201-7-1

:2016

図 38.5 による試験の配置 

図 4−炎を当てる位置(下方向から見た図) 

8.6 

電磁両立性の立証 

JIS C 8201-1

の 8.4(EMC 試験)によるほか,次による。

8.6.1 

イミュニティ 

端子台は,電磁妨害に関して影響を受けないため,イミュニティ試験は行わなくてもよい。

8.6.2 

放射 

端子台は,電磁妨害を発生しないため,放射試験は行わなくてもよい。


17

C 8201-7-1

:2016

附属書 A

(空欄)

附属書 B

(参考)

製造業者と使用者との合意事項

この規格の箇条及び細分箇条が当てはまる場合,JIS C 8201-1 

附属書 J(受渡当事者間で協定を必要と

する項目)に,次の事項を追加して適用してもよい。

この規格の箇条及び

細分箇条の番号

要点

8.2 

試験導体 
−  必要な場合,特別な端末処理

−  タイプ(可とう又は硬質のもの)

8.3.3.1 

電圧降下を検証するための接続可能な最小断面積

8.3.2 

8.3.3 

8.4.5 

8.4.6 

試験導体を固定するための締付トルク

JIS C 8201-1

表 の値と異なる場合

8.3.3.5 

特殊試験

8.4.7 

40

℃と異なる場合のエージング試験温度

注記  上記の適用する項目は,製造業者が提示する。

注記  この附属書で,

“協定”という用語は,非常に幅広い意味に用いる。

“使用者”という用語には,

試験機関を含む。

附属書 C

(空欄)


18

C 8201-7-1

:2016

附属書 D 
(規定)

断路端子台の要求事項

D.1 

一般 

この附属書は,0.2∼38 mm

2

の断面積をもつ導体に対応する断路端子台について適用する。これらの端

子台は電源及び制御回路においてゼロ電位及び負荷のない状態での一時的断路

(試験の目的)

で使用する。

D.2 

用語及び定義 

この附属書で用いる用語及び定義は,箇条 によるほか,次による。

D.2.1

断路端子台(test disconnect terminal block)

一つ以上の締付具を備え,試験及び測定の目的で,電流回路においてゼロ電位で電源及び制御回路の一

時的な開閉を行う断路装置を備えた端子台。

D.2.2

直列断路(longitudinal disconnection)

一つの端子台の各締付具間又は端子組立品各々の締付具とブスバーとの間の回路の断路[

図 D.1a)  及び

図 D.1c)  参照]。

D.2.3

並列断路(perpendicular disconnection)

隣接する断路端子台間又は端子台間の幾つかの回路の断路[

図 D.1b)  参照]。

D.3 

分類 

箇条 に,次の追加事項を適用する。

−  直列断路

−  並列断路

D.4 

特性 

箇条 に,次の追加事項を適用する。

D.4.2 

端子台の形式

−  断路機能(

例  ねじ式スライド形断路又はねじなしスライド形断路,接点形断路,ナイフ形断路など)

の形式

D.5 

製品情報 

箇条 に,次の追加事項を適用する。

D.5.2 

追加情報 

h)

  使用可能な開閉回数


19

C 8201-7-1

:2016

D.6 

標準使用,取付け及び輸送条件 

箇条 を適用する。

D.7 

構造及び性能に関する要求事項 

箇条 に,次の追加事項を適用する。

D.7.1 

構造に関する要求事項 

D.7.1.3 

空間距離及び沿面距離 

開路の状態では,空間距離及び沿面距離は測定する必要はない。

ただし,開路の状態でも,製造業者が標高補正率を適用しない JIS C 8201-1 

表 13 に従って指定した,

定格インパルス耐電圧(U

imp

)を検証しなければならない。

D.7.1.7 

断路装置 

直列及び並列断路を行うために,断路端子台には断路装置を備えるものとする。

次は形式の例である。

プラグ形

接点形

ナイフ形

スライド形(ブスバーの有無)

断路装置の状態は通常識別できるようにし,閉路と開路とが意図せず切り替わってはならない。

D.7.2 

性能要求事項 

D.7.2.1 

温度上昇 

断路端子台は,D.8.4.5 によって試験したとき,温度上昇は,45 K 以下とする。

D.7.2.2 

絶縁特性

7.2.2

に,開路接点(間隔)を除いて次の規格を適用する。

製造業者が指定した定格インパルス耐電圧(U

imp

)の値は,標高補正率を適用せず JIS C 8201-1 

表 13

に従ってインパルス耐電圧試験を検証する。

製造業者が定格インパルス耐電圧(U

imp

)の値を指定していない場合,最低値は JIS C 8201-1 

附属書

H

(電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係)による。

D.7.2.3 

定格短時間耐電流 

7.2.3

の文章は次によって補足する。

製造業者が断路端子台の開放熱電流値(I

th

)を指定する場合,D.8.4.6 に従って導体の断面積に対し 120

A/mm

2

の定格短時間耐電流に 1 秒間耐えなければならない。

D.7.2.4 

電圧降下 

断路端子台の電圧降下は,D.8.4.4 によって測定し,D.8.4.4 に規定する値及び当てはまる場合には D.8.4.7

に規定する値を超えてはならない。

D.7.2.5 

エージング後の電気的特性(ねじなし断路端子台だけ適用) 

7.2.5

に,次の追加事項を適用する。

電流値は,D.8.4.7 を適用する。

D.7.2.6 

使用可能な開閉回数 

断路端子台は,通常の機械的及び温度的使用環境に十分に耐えなければならない。

製造業者が示す情報は,断路装置の機械的動作について考慮しなければならない。


20

C 8201-7-1

:2016

動作サイクルの推奨回数は,

表 D.1 を参照。

適合性は,D.8.5.1 によって検証する。

表 D.1−動作サイクルの推奨回数 

推奨回数

10

50

100

500

1 000

D.8 

試験 

箇条 に,次の修正を適用する。

D.8.4.4 

電圧降下の検証 

8.4.4

を,次の文に置き換える。

電圧降下は,次の場合に検証する。

a)

締付具の機械的強度試験の前後(8.3.3.1 参照)

b)

温度上昇試験の前後(8.4.5 参照)

c)

短時間耐電流試験の前後(8.4.6 参照,又は製造業者が電流値を明記した場合は D.8.4.6 参照)

d)

エージング試験の前後及びその途中(8.4.7 参照,又は製造業者が電流値を明記した場合は D.8.4.7 

照)

e)

寿命試験の前後(D.8.5.1 参照)

検証は,8.3.3.1D.8.4.58.4.6 又は D.8.4.68.4.7 又は D.8.4.7,及び D.8.5.1 に規定する方法で行う。

電圧降下は,

図 D.1 に例示するそれぞれの端子台で測定する。測定は,表 D.2,表 D.2A 又は表 D.3 に示

す電流値の 0.1 倍の直流電流で行う。

上記の a)b)c)d)  及び e)  の試験前における断路端子台の電圧降下は,導線締付具及び断路ユニッ

トの接触点の総数に 1.6 mV を乗じた値以下とする。測定値がこの合計を超えた場合,電圧降下は個々の導

線締付具及び断路ユニットの接触点で独立して測定する。その場合の個々の電圧降下の測定値は,1.6 mV

以下とする。

上記の a)b)c)  及び e)  の試験後の電圧降下は,試験前の測定値の 150 %以下とする。

上記の d)  の試験中及び試験後の電圧降下は,D.8.4.7 に規定する値以下とする。


21

C 8201-7-1

:2016

a)

  直列方向の断路端子台の場合 

b)

  並列方向の断路端子台の場合 

図 D.1D.8.4.4 による電圧降下の検証のための試験要件 


22

C 8201-7-1

:2016

c)

  ブスバーに接続する直列方向の断路端子台の場合 

注目点 
①  電圧降下測定点

②  温度の測定

③  ブスバーの有無

図 D.1D.8.4.4 による電圧降下の検証のための試験要件(続き) 

表 D.2−メートル導体による温度上昇試験,エージング試験及び電圧降下試験の試験電流値 

定格断面積  mm

2

0.2

0.34

0.5

0.75

1

1.5

2.5

4

6

10

16

25

35

試験電流    A

4

5

6

9

13.5

17.5

24

32

41

57

76

101

125

表 D.2AJIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体による温度上昇試験,エージング試験 

及び電圧降下試験の試験電流値 

定格断面積 
又は導体径

より線  mm

2

0.5

a)

0.75

1.25

2

3.5

5.5

8

14

22

38

単線    mm

0.5

a)

0.8

1

1.2

1.6

2

2.6

3.2

試験電流 A

4

7

11

16

21

30

40

50

70

94

132

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。

表 D.3AWG 又は kcmil 導体による温度上昇試験,エージング試験及び電圧降下試験の 

試験電流値(参考値) 

定格断面積  AWG

24

22

20

18

16

14

12

10

8

6

4

2

試験電流    A

4

6

8

10

16

22

29

38

50

67

90

121

D.8.4.5 

温度上昇試験 

8.4.5

は次のように修正する。

試験は,

図 D.1 に示すように定格断面積の PVC 絶縁導体によって断路端子台を直列に接続して同時に行

う。

ねじ式締付具とねじ式断路具とをもつ端子台の導体は,JIS C 8201-1 

表 によるトルク,又は製造業

者が定める JIS C 8201-1 

表 より高い値のトルクで締め付ける。


23

C 8201-7-1

:2016

製造業者が,断路端子台に開放熱電流値(I

th

)を宣言している場合は,試験はこの値に従って交流単相

電流で行う。

製造業者が,断路端子台に開放熱電流値(I

th

)を宣言していない場合は,試験は

表 D.2,表 D.2A 又は表

D.3

に従って交流単相電流で行う。

D.8.4.6 

短時間耐電流試験 

この試験の目的は,熱的衝撃に対する耐力を検証することである。

試験は,製造業者の説明に従って取り付け,さらに,ねじ式締付具のための JIS C 8201-1 

表 4,又は

製造業者が定める JIS C 8201-1 

表 より高い値のトルクで,適切な定格断面積の導体を接続した一つの

断路端子台で行う。

端子台に接続された導体断面積と短時間耐電流とは,

表 D.4,表 D.4A 又は表 D.5 による。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,ねじ若しくはボ

ルトの頭の下面又はナットの下面だけで押し締めする構造で,ケーブルラグ(圧着端子)など端末処理導

体だけを接続する目的の締付具の場合は,端末処理したより線で行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。

D.8.4.4

による電圧降下の検証後,

試験電流の電流値及び通電時間は D.7.2.3 に適合しなければならない。

試験の終了後,断路端子台には,継続使用を損なうような,いかなる亀裂,破損,その他の重要な損傷

があってはならない。

断路端子台は,周囲温度にまで戻した後,配線を変更せずに D.8.4.4 による電圧降下試験に適合しなけれ

ばならない。

表 D.4−短時間耐電流及び対応する mm

2

電線サイズ 

製造業者によって

定められた電流 I

A

導体断面積

mm

2

短時間耐電流(120 A/mm

2

A

 0

<  I  ≦ 4

0.2

24

 4

<  I  ≦ 5

0.34

40.8

 5

<  I  ≦ 6

0.5

60

 6

<  I  ≦ 9

0.75

90

 9

<  I  ≦ 13.5

1

120

 13.5

<  I  ≦ 17.5

1.5

180

 17.5

<  I  ≦ 24

2.5

300

 24

<  I  ≦ 32

4

480

 32

<  I  ≦ 41

6

720

 41

<  I  ≦ 57

10

1 200

 57

<  I  ≦ 76

16

1 920

 76

<  I  ≦ 101

25

3 000

 101

<  I  ≦ 125

35

4 200


24

C 8201-7-1

:2016

表 D.4A−短時間耐電流及び対応する JIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体による mm

2

電線サイズ 

製造業者によって

定められた電流 I

A

定格断面積又は導体径

短時間耐電流(120 A/mm

2

A

より線

mm

2

単線

mm

より線

単線

 0

<  I  ≦ 4

0.5

a)

24

 4

<  I  ≦ 7

0.5

a)

0.8

60

60

 7

<  I  ≦ 11

0.75

1

90

90

 11

<  I  ≦ 16

1.25

1.2

150

150

 16

<  I  ≦ 21

2

1.6

240

240

 21

<  I  ≦ 30

3.5

2

420

420

 30

<  I  ≦ 40

5.5

2.6

660

660

 40

<  I  ≦ 50

8

3.2

960

960

 50

<  I  ≦ 70

14

1 680

 70

<  I  ≦ 94

22

2 640

 94

<  I  ≦ 132

38

4 560

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。

表 D.5−短時間耐電流及び対応する AWG 電線サイズ(参考値) 

製造業者によって

定められた電流 I

A

導体断面積

AWG

短時間耐電流(120 A/mm

2

A

 0

<  I  ≦ 4

24

24.6

 4

<  I  ≦ 6

22

38.9

 6

<  I  ≦ 8

20

62.3

 8

<  I  ≦ 10

18

98.4

 10

<  I  ≦ 16

16

156

 16

<  I  ≦ 22

14

252

 22

<  I  ≦ 29

12

396

 29

<  I  ≦ 38

10

636

 38

<  I  ≦ 50

8

1 008

 50

<  I  ≦ 67

6

1 596

 67

<  I  ≦ 90

4

2 544

 90

<  I  ≦ 121

2

4 032

D.8.4.7 

ねじなし締付具をもつ断路端子台のエージング試験 

8.4.7

に次の内容を追加する。

この試験の電流値は,D.8.4.5 を適用する。ねじ式断路具の締付けトルクは,JIS C 8201-1 

表 による

か,又は製造業者が定める JIS C 8201-1 

表 より高い値のトルクで締め付ける。

電圧降下の測定に当たっては,

図 D.1 で示すそれぞれの測定点で測定する。

それぞれの測定点の電圧降下は,2.4 mV 以下,又は 24 回目の温度サイクル後の測定した値の 1.5 倍以下

のいずれか小さい値とする。

D.8.5 

熱的特性の検証 

8.5

に次の内容を追加する。


25

C 8201-7-1

:2016

D.8.5.1 

耐用年数 

試験は,

図 D.1 のように断路端子台を隣接して配置し定格断面積の電線で直列に接続する。

ねじ式締付具及びねじ式断路具の締付けトルクは,JIS C 8201-1 

表 によるか,又は製造業者が定め

る JIS C 8201-1 

表 より高い値のトルクで締め付ける。

D.8.4.4

による電圧降下の検証後,断路具は,ゼロ電位の状態で,通常使用状態と同じように,断路及び

接続を製造業者によって定められたサイクル数だけ交互に行う。

その断路端子台は,乾燥した 85  ℃の雰囲気に 168 時間放置する。

試験終了後,周囲温度まで冷まし,手を加えることなく D.8.4.4 による電圧降下試験に適合しなければな

らない。

D.8.6 

電磁両立性の立証 

8.6

による。


26

C 8201-7-1

:2016

附属書 JA

(規定)

銅の円形導体に対するねん回及び引張試験の試験値

(JIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体への対応)

JIS C 3307

及び JIS C 3316 の導体に対するねん回試験及び引張試験の試験値は,

表 JA.1 による。

表 JA.1−銅の円形導体に対するねん回及び引張試験の試験値 

JIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体への対応) 

標準断面積又は導体径

ブッシング孔の

直径

a) b)

mm

高さ

H

a)

mm

おもり

kg

引張力

N

より線

mm

2

単線

mm

0.5

c)

6.5

260

0.3

20

0.5

c)

0.8

6.5

260

0.3

20

0.75

1.0

6.5

260

0.4

30

1.25

1.2

6.5

260

0.4

40

2

1.6

9.5

260

0.7

50

3.5

2

9.5

280

0.9

60

5.5

2.6

9.5

280

1.4

80

8

3.2

9.5

280

2.0

90

14

13.0

300

2.9

100

22

13.0

300

4.5

135

38

14.5

320

6.8

190

60

19.1

368

10.4

285

100

19.1

368

14

351

150

22.2

406

15

427

200

25.4

432

16.8

503

250

28.6

464

20

578

325

28.6

464

22.7

578

a)

許容差:ブッシング孔の直径については±2 mm,高さ については±15 mm。

b)

ブッシング孔の直径が,その導体を拘束せずに収納できる大きさでないときは,次に大きい径のブッシ

ングを用いてもよい。

c)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。

参考文献

JIS C 2812:1998

  機器取付け用レール

注記  対応国際規格:IEC 60715:1981,Dimensions of low-voltage switchgear and controlgear. Standardized

mounting on rails for mechanical support of electrical devices in switchgear and controlgear installations

及び Amendment 1:1995(MOD)


27

C 8201-7-1

:2016

附属書 JB

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 8201-7-1:2016

  低圧開閉装置及び制御装置−第 7 部:補助装置−第 1 節:

銅導体用端子台

IEC 60947-7-1:2009

, Low-voltage switchgear and controlgear − Part 7-1: Ancillary

equipment

−Terminal blocks for copper conductors

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

1.1

適 用 範

支持体に固定する端子台

について規定。

1.1

JIS

とほぼ同じ

変更

JIS

では,使用者の要求から JIS C 3307

で規定する導体断面積が必要であり,

JIS C 3307

の導体断面積を上限とする

よう変更した。

国内の使用実態を反映し,JIS

で規定する導 体断面積を追 加
して上限を広げたものであり,

IEC

規格と技術的な差異がない

ため,提案は行わない。

4.3.3

標準断

面積

この規格が適用できる円
形銅導体断面積の公称値

4.3.3

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積

が必要であり,これらを表 1A として

追加し,IEC 規格の表 1 又は表 1A の
選択とした。

国内の使用実態を反映し,IEC
規格では規定 していない導 体

断面積を表と して追加して 選

択可能としたものであり,IEC
規格と技術的 な差異がない た

め,提案は行わない。

4.3.4

定格断

面積

この規格の端子台に接続

できる最大の導体断面積

4.3.4

JIS

とほぼ同じ

選択

上記と同じ

上記と同じ

4.3.5

定格接

続容量

定格断面積における接続
可能な導体断面積の範囲

4.3.5

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積

が必要であり,これらを表 2A として

追加し,IEC 規格の表 2 又は表 2A の
選択とした。

上記と同じ

27

C

 82

01
-7

-1


20
16


28

C 8201-7-1

:2016

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

8.3.2

支持体

へ の 端 子 台
の取付け

レールなどへの取付け確

実性の試験方法

8.3.2

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積
が必要であり,これらを表 3A として

追加した。

JIS

では,

ケーブルラグなどによる端末

処理導体だけ接続する目的のものには

接続可能な棒で代用できるとした。

4.3.3

と同じ

8.3.3.2

端 子

台 に お け る
導 体 の 偶 発

的 な 緩 み 及

び 損 傷 に 対
する試験(ね

ん回試験)

締付具に対し導体のねん

回によって緩み性を検証
する方法

8.3.3.2

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積
が必要であり,これらの試験値を附属

書 JA として追加し,8.3.3.2 又は附属書

JA

の選択とした。

国内の使用実態を反映し,IEC

規格では規定 していない試 験
値を追加して 選択可能とし た

ものであり,IEC 規格と技術的

な差異がないため,提案は行わ
ない。

8.3.3.3

引 張

試験

締付具に対し導体のねん

回後,さらに導体に引張
力を加え,保持力を検証

する方法

8.3.3.3

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積
が必要であり,これらの試験値を附属

書 JA として追加し,8.3.3.3 又は附属書

JA

の選択とした。

上記と同じ

8.3.3.4

定 格

断 面 積 及 び

定 格 接 続 容

量の検証

定格断面積及び定格接続
容量の検証方法を規定

8.3.3.4

JIS

とほぼ同じ

変更

1.1

と同じ

1.1

と同じ

8.3.3.5

定 格

断 面 積 の 検

証(ゲージに

よ る 特 殊 試
験)

定格断面積及び定格接続
容量の導体の受入れに関

する要求事項

8.3.3.5

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,

ケーブルラグなどによる端末

処理導体だけを接続する目的のものに

はゲージによる検証を除外できるとし

た。

国内の使用実態を反映し,端末
処理導体だけ を接続する場 合

はゲージによ る検証を除外 で

きるとして選 択可能とした も
のであり,IEC 規格と技術的な
差異がないため,提案は行わな

い。

28

C

 82

01
-7

-1


20
16


29

C 8201-7-1

:2016

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

8.4.4

電圧降

下の検証

定格断面積に見合う電流

通電を行う導電体の電圧
降下の検証方法

8.4.4

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積
が必要であり,これらを表 4A として

追加し,IEC 規格の表 4 又は表 4A の

選択とした。

4.3.3

と同じ

変更

JIS

では,技術的な差異はないが,図 2

を分かりやすい図に変更した。

IEC

規格では簡略化されて分か

りにくい図を 分かりやすい 図

に変更したが,IEC 規格と技術

的な差異がないため,提案は行
わない。

8.4.5

温度上

昇試験

定格断面積に見合う電流

通電を行う導電体の温度

測定の試験方法

8.4.5

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,

使用者の要求から単線使用を

意図していないものに対しては,端末

処理したより線を使用できるよう併記
した。

10 mm

2

(AWG8)未満の使用電

線の場合,単線と端末処理した

より線との選 択を可能とし た
ものであり,IEC 規格と技術的
な差異がないため,提案は行わ

ない。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積

が必要であり,これらを表 4A として

追加し,IEC の表 4 又は表 4A の選択
とした。

4.3.3

と同じ

8.4.6

短時間

耐電流試験

熱的衝撃に対する耐力を

検証する方法

8.4.6

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,

使用者の要求から単線使用を

意図していないものに対しては,端末

処理したより線を使用できるよう併記
した。

8.4.5

と同じ

8.4.7

ねじな

し 端 子 台 の

エ ー ジ ン グ
試験

ねじなし端子台に対する

エージング試験方法

8.4.7

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,より線の使用などを含め,製

造業者が接続形態を指定する場合はそ

れに従うこととした。

上記と同じ

29

C

 82

01
-7

-1


20
16


30

C 8201-7-1

:2016

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

D.1

附属書 D の適用範囲を規

D.1

JIS

とほぼ同じ

変更

JIS

では,

使用者の要求から JIS C 3307

で規定する導体断面積が必要であり,
表 D.2A に示す導体断面積を上限とす

るよう変更した。

1.1

と同じ

D.2.2

直 列

断路

附属書 D で用いる直列断

路の参照図

D.2.2

JIS

とほぼ同じ

追加

JIS

には,図 D.1 c)  を追記した。

IEC

規格では,図 D.1 c)  が記載

漏れと思われるため。

IEC

規格の改正提案を行う。

D.4.2

端 子

台の形式

断路機能の形式例

D.4.2

JIS

とほぼ同じ

追加

JIS

には,

“接点形断路”を追加した。

我が国で一般的に使用されて

いる形式を追加したが,実質的

な差異がないため,提案は行わ
ない。

D.5.2

追 加

情報

附属書 D で参照情報に追

加する事項

追加

JIS

には,D.5.2(追加情報)を追記し

た。

IEC

規格では,D.5.2(追加情報)

が記載漏れであった。

IEC

規格の改正提案を行う。

D.7.1.7

断路

装置

断路装置の形式例

D.7.1.7

JIS

とほぼ同じ

追加

JIS

には,

“接点形”を追加した。

D.4.2

と同じ

D.8.4.4

電圧

降下の検証

定格断面積に見合う電流

通電を行う導電体の電圧

降下の検証方法

D.8.4.4

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,

使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積

が必要であり,これらを表 D.2A とし
て追加し,IEC の表 D.2 又は表 D.2A

の選択とした。

4.3.3

と同じ

変更

JIS

では,技術的な差異はないが,図

D.1

を分かりやすい図に変更した。

8.4.4

と同じ

D.8.4.5

温度

上昇試験

定格断面積に見合う電流
通電を行う導電体の温度

測定の試験方法

D.8.4.5

JIS

とほぼ同じ

選択

D.8.4.4

と同じ

4.3.3

と同じ

30

C

 82

01
-7

-1


20
16


31

C 8201-7-1

:2016

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

D.8.4.6

短時

間 耐 電 流 試

熱的衝撃に対する耐力を

検証する方法

D.8.4.6

JIS

とほぼ同じ

選択

JIS

では,使用者の要求から単線使用

を意図していないものに対しては,端
末処理したより線を使用できるよう併

記した。

8.4.5

と同じ

JIS

では,

使用者の要求から JIS C 3307

及び JIS C 3316 で規定する導体断面積

が必要であり,これらを表 D.4A とし

て追加し,IEC の表 D.4 又は表 D.4A
の選択とした。

4.3.3

と同じ

附属書 JA

(規定)

銅の円形導体に対するね

ん回及び引張試験の試験

追加

JIS C 3307

及び JIS C 3316 の導体に対

するねん回試験及び引張試験の試験値

を追加した。

8.3.3.2

と同じ

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60947-7-1:2009,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

−  選択  国際規格の規定内容とは異なる規定内容を追加し,それらのいずれかを選択するとしている。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

− MOD

国際規格を修正している。

31

C

 82

01
-7

-1


20
16