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C 8201-7-1

:2010

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  一般

1

1.1

  適用範囲 

1

1.2

  引用規格 

2

2

  用語及び定義 

2

3

  分類

2

4

  特性

3

4.1

  特性の要約 

3

4.2

  端子台の形式 

3

4.3

  定格値及び限界値

3

5

  製品情報

5

5.1

  表示

5

5.2

  追加情報 

5

6

  標準使用,取付け及び輸送条件

6

7

  構造及び性能に関する要求事項

6

7.1

  構造に関する要求事項 

6

7.2

  性能要求事項 

7

7.3

  電磁両立性(EMC) 

7

8

  試験

7

8.1

  試験の種類 

7

8.2

  一般

7

8.3

  機械的特性の検証

8

8.4

  電気的特性の検証

11

8.5

  熱的特性の検証

15

8.6

  電磁両立性の立証

16

附属書 A(参考)空間距離及び沿面距離 

17

附属書 B(参考)製造業者と使用者との合意事項 

18

附属書 C(規定)機械的強度の検証を行うときのねじ式締付具に加える締付トルク 

19

附属書 JA(規定)銅の円形導体に対するねん回及び引張試験の試験値(JIS C 3307 及び JIS C 3316  

       

導体への対応)

20

附属書 JB(参考)JIS と対応国際規格との対比表 

21


C 8201-7-1

:2010

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電気制御機器工業会(NECA)

及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があ

り,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 8201

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

8201-1

  第 1 部:通則

JIS

C

8201-2-1

  第 2-1 部:回路遮断器(配線用遮断器及びその他の遮断器)

JIS

C

8201-2-2

  第 2-2 部:漏電遮断器

JIS

C

8201-3

  第 3 部:開閉器,断路器,断路用開閉器及びヒューズ組みユニット

JIS

C

8201-4-1

  第 4 部:接触器及びモータスタータ−第 1 節:電気機械式接触器及びモータスタータ

JIS

C

8201-5-1

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 1 節:電気機械式制御回路機器

JIS

C

8201-5-2

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 2 節:近接スイッチ

JIS

C

8201-5-5

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 5 節:機械的ラッチング機能をもつ電気的非

常停止機器

JIS

C

8201-5-8

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 8 節:3 ポジションイネーブルスイッチ

JIS

C

8201-5-101

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 101 節:接触器形リレー及びスタータの補

助接点

JIS

C

8201-7-1

  第 7 部:補助装置−第 1 節:銅導体用端子台


日本工業規格

JIS

 C

8201-7-1

:2010

低圧開閉装置及び制御装置−

第 7 部:補助装置−第 1 節:銅導体用端子台

Low-voltage switchgear and controlgear-

Part 7-1: Ancillary equipment-Terminal blocks for copper conductors

序文 

この規格は,2002 年に第 2 版として発行された IEC 60947-7-1 を基に,対応する部分(形状及び寸法)

については対応国際規格を翻訳し,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格であるが,対応

国際規格には規定されていない規定項目を日本工業規格として追加している。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所及び

附属書 JA は,対応国際規格にはない事項

である。変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JB に示す。

一般 

1.1 

適用範囲 

この規格は,工業用途のねじ式又はねじなし締付具によって,銅導体間を電気的及び機械的に接続し,

支持体に固定する端子台について規定する。

定格電圧交流 1 000 V 以下(1 000 Hz 以下の周波数において)又は直流 1 500 V 以下の回路に使用する

0.2

∼325 mm

2

(AWG24∼600 kcmil)の断面積をもつ端末処理した円形銅導体又は未処理の円形銅導体を接

続する端子台に適用する。

注記 1 AWG は,“American Wire Gage”を略した記号。

1 kcmil

=1 000 cmil

1 cmil

=1 circular mil=直径 1 mil の円の面積

1 mil

=1/1 000 インチ

この規格は,次の端子台のための指針として使うことが望ましい。

−  導体の固定に特別な器具を必要とする端子台。例えば,平形接続子,タブなどによる接続。

−  絶縁体を突き刺す刃又はとがった先端によって導体に直接接触する端子台。例えば,絶縁体圧接接続

など。

−  特別形式の端子台。例えば,断路式端子台など。

JIS C 8201-1

を参照する場合,用語“端子”を用語“締付具”に読み替える。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60947-7-1:2002

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 7-1: Ancillary equipment−

Terminal blocks for copper conductors

(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。


2

C 8201-7-1

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1.2 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

JIS C 3307:2000

  600 V ビニル絶縁電線(IV)

JIS C 3316:2000

  電気機器用ビニル絶縁電線

JIS C 8201-1:2007

  低圧開閉装置及び制御装置−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 60947-1:2004,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules

(MOD) 

JIS C 60695-11-5:2007

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バ

ーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame

test method

−Apparatus,confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

ISO 4046-4:2002

,Paper, board, pulps and related terms−Vocabulary−Part 4: Paper and board grades and

converted products

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 8201-1 の箇条 2(用語及び定義)によるほか,次による。

2.1 

端子台(terminal block) 

端子組立品(2.4 参照)を絶縁部品に組み合わせた構造で,支持体に固定できる電気的接続のための器具。

2.2 

定格断面積(rated cross-section) 

接続可能な形式の製造業者が定めた硬質(単線又はより線)又は可とう導体の最大断面積の値。熱的,

機械的及び電気的要求事項は,その値による。

2.3 

定格接続容量(rated connecting capacity) 

設計した端子台が接続可能な断面積の範囲,及び適用できる場合は導体数。

2.4 

端子組立品(terminal assembly) 

同じ導電部に固定した二つ以上の締付具。

分類 

次によって,端子台の形式を区別する。

−  支持体に端子台を固定する方法

−  極数

−  締付具の形式:ねじ式締付具又はねじなし締付具

−  端末処理導体[JIS C 8201-1 の 2.3.27(端末処理導体)参照]を収納する能力

−  同一又は異なる締付具を備えた端子組立品

−  個々の端子組立品の締付具の数

−  使用条件


3

C 8201-7-1

:2010

特性 

4.1 

特性の要約 

端子台の特性は,次による。

−  端子台の形式(4.2 参照)

−  定格値及び限界値(4.3 参照)

4.2 

端子台の形式 

端子台の形式は,次による。

−  締付具(例:ねじ式締付具,ねじなし締付具)の形式

−  締付具の数

4.3 

定格値及び限界値 

4.3.1 

定格電圧 

JIS C 8201-1

の 4.3.1.2(定格絶縁電圧)及び 4.3.1.3(定格インパルス耐電圧)による。

4.3.2 

短時間耐電流 

規定する使用条件及び動作条件のもとで,指定する時間中に端子台に流すことができる実効電流につい

て規定する(7.2.3 及び 8.4.6 参照)

4.3.3 

標準断面積 

使用する円形銅導体断面積の公称値を,

表 及び表 1A に示す。

表 1−円形銅導体の標準断面積

AWG

又は kcmil 表示の標準断面積

メートル表示の

標準断面積

mm

2

AWG

又は kcmil

等価のメートル断面積(参考値)

mm

2

0.2

0.34

0.5

0.75

1

1.5

2.5

4

6

10

16

25

35

50

70

95

120

150

185

240

300

24

22

20

18

16

14

12

10

8

6

4

2

0

00

000

0 000

250 kcmil

300 kcmil

350 kcmil

500 kcmil

600 kcmil

0.205

0.324

0.519

0.82

1.3

2.1

3.3

5.3

8.4

13.3

21.2

33.6

53.5

67.4

85

107.2

127

152

177

253

304


4

C 8201-7-1

:2010

表 1A−円形銅導体の標準断面積及び導体径(JIS C 3307 及び JIS C 3316 による導体)

標準断面積及び導体径

より線

mm

2

単線

mm

0.5

a)

0.75

1.25

2

3.5

5.5

8

14

22

38

60

100

150

200

250

325

0.5

a)

0.8

1

1.2

1.6

2

− 

− 
− 

− 
− 

− 
− 

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び

導体径である。

4.3.4 

定格断面積 

定格断面積は,

表 及び表 1A に示す標準断面積から選択する。

4.3.5 

定格接続容量 

定格断面積が 0.2∼38 mm

2

(単線の場合は導体径 0.5∼2 mm)の端子台だけに適用する。

端子台は,明示する定格断面積に対し

表 及び表 2A に示す範囲の断面積又は導体径の導体を接続でき

なければならない。定格断面積が 38 mm

2

を超える端子台については,定格接続容量を規定しない。

導体は,硬質(単線又はより線)

,可とうのいずれでもよい。

製造業者は,接続できる導体の最大及び最小の断面積並びに形式を明確にし,該当する場合には,各締

付具に同時に接続できる導体の数を明確にする。

製造業者は,導体の端末に必要な処理方法も明確にする。


5

C 8201-7-1

:2010

表 2−端子台の定格断面積と定格接続容量との関係

定格断面積

定格接続容量

mm

2

 AWG  mm

2

 AWG

0.2 24  0.2

24

0.34 22 0.2

,0.34 24,22

0.5 20

0.2

,0.34,0.5 24,22,20

0.75 18

0.34

,0.5,0.75 24,20,18

1

− 0.5,0.75,1

1.5 16

0.75

,1,1.5 20,18,16

2.5 14

1

,1.5,2.5 18,16,14

4 12

1.5

,2.5,4 16,14,12

6 10

2.5

,4,6 14,12,10

10

8

4

,6,10 12,10,8

16

6

6

,10,16 10,8,6

25

4

10

,16,25 8,6,4

35

2

16

,25,35 6,4,2

表 2A−端子台の JIS C 3307 及び JIS C 3316 の定格断面積又は導体径と定格接続容量との関係 

定格断面積又は導体径

定格接続容量

より線

mm

2

単線

mm

より線

mm

2

単線

mm

− 0.5

a)

− 0.5

a)

0.5

a)

 0.8 0.5

a)

 0.5

a)

,0.8

0.75 1

0.5

a)

,0.75 0.5

a)

,0.8,1

1.25 1.2

0.5

a)

,0.75,1.25 0.8,1,1.2

2 1.6

0.75

,1.25,2 1,1.2,1.6

3.5 2

1.25

,2,3.5 1.2,1.6,2

5.5

2

,3.5,5.5

8

− 3.5,5.5,8

14

− 5.5,8,14

22

8

,14,22

38

− 14,22,38

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。

製品情報 

5.1 

表示 

端子台には,容易に消えない方法で明りょうに次の事項を表示しなければならない。

a)

容易に識別できる製造業者の名称又は商標

b)

製造業者又は製造業者のカタログから関連情報を得るためにその識別ができる形式記号

5.2 

追加情報 

この規格のすべての要求事項に適合する場合,次の情報を,例えば製造業者の形式試験成績書,カタロ

グ,又は包装箱上に明示しなければならない。

a)

この規格の規格番号

b)

定格断面積

c)

定格接続容量[

表 及び表 2A と異なる場合(同時に接続できる導体の数を含む。)]


6

C 8201-7-1

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d)

定格絶縁電圧

e)

定格インパルス耐電圧(インパルス耐電圧を指定しているとき)

f)

使用条件(箇条 の使用条件と異なる場合)

標準使用,取付け及び輸送条件 

JIS C 8201-1

の箇条 6(標準使用,取付け及び輸送条件)による。

構造及び性能に関する要求事項 

7.1 

構造に関する要求事項 

7.1.1 

締付具 

JIS C 8201-1

の 7.1.7.1(構造的要求)によるほか,次による。

締付具は,信頼できる機械的結合及び電気的接触が適切に維持されることを確実にする手段によって導

体を接続できなければならない。

注記  ねじ式締付具は,端末をはんだあげした可とう導体の接続には適さない。

締付具は,接続する導体を通して加える力に耐えなければならない。

適合性は,8.3.3.18.3.3.3 の試験によって確認する。

接触圧力は,セラミックス(又はより適合する特性をもつ材料)以外の絶縁材料を介して加えてはなら

ない。ただし,金属部に絶縁材料の収縮を補正する十分な弾性がある場合を除く。

接触圧力の試験方法は,考慮中である。

7.1.2 

取付け 

端子台は,レール又は取付面に確実に取り付ける手段を備えなければならない。

試験方法は,8.3.2 による。

注記  レール取付けに関する情報は,JIS C 2812 に記載する。

7.1.3 

空間距離及び沿面距離 

製造業者が指定した端子台の定格インパルス耐電圧値(U

imp

及び定格絶縁電圧値(U

i

)に基づく空間距

離及び沿面距離の最小値は,JIS C 8201-1 

表 13 及び表 15 による。

製造業者が定格インパルス耐電圧値(U

imp

)を指定しない端子台の最小値の指針は,JIS C 8201-1 

附属

書 JA(定格インパルス耐電圧を表示しない装置の絶縁距離)に従わなければならない。 

電気的要求事項は,7.2.2 による。

7.1.4 

締付具の識別及び表示 

JIS C 8201-1

の 7.1.7.4(端子の識別及び表示)によるほか,次による。

端子台は,各々の締付具又はある部分を形成する回路に接続する端子組立品に対し,識別表示又は番号

表示のための手段(少なくともスペース)をもっていなければならない。

注記  その手段は,表示タグ,識別ラベルなどのように,別々に表示する品目からなっていてもよい。

7.1.5 

異常加熱及び炎に対する耐性 

端子台の絶縁材は,異常加熱及び炎によって影響を受けてはならない。

適合性は,8.5 の試験によって検証する。

7.1.6 

定格断面積及び定格接続容量 

端子台は,定格断面積及び定格接続容量の導体が接続できるように設計しなければならない。

適合性は,8.3.3.4 の試験によって検証する。


7

C 8201-7-1

:2010

定格断面積の検証は,8.3.3.5 の特殊試験によるのが望ましい。

7.2 

性能要求事項 

7.2.1 

温度上昇 

端子台は,8.4.5 によって試験したとき,温度上昇は,45 K 以下とする。

7.2.2 

絶縁特性 

製造業者が定格インパルス耐電圧値(U

imp

)を指定する場合[JIS C 8201-1 の 4.3.1.3(定格インパルス耐

電圧)参照]

JIS C 8201-1 の 7.2.3(耐電圧性能)及び 7.2.3.1(インパルス耐電圧)の要求事項を適用す

る。

適用する場合,8.4.3 a)によってインパルス耐電圧試験を実施し,これに耐えなければならない。

絶縁の検証に対しては,JIS C 8201-1 の 7.2.37.2.3.2(主回路,補助回路及び制御回路の商用周波耐電

圧)及び 7.2.3.5(固体絶縁)の要求事項を適用する。

8.4.3 b)

によって商用周波耐電圧試験を実施し,これに耐えなければならない。

空間距離及び沿面距離の検証は,8.4.2 による。

定格インパルス耐電圧値(U

imp

)の値を指定していない場合,空間距離及び沿面距離の検証は,JIS C 

8201-1

附属書 JA(定格インパルス耐電圧を表示しない装置の絶縁距離)による。

7.2.3 

定格短時間耐電流 

端子台は,8.4.6 の手順に従って試験したとき,120 A/mm

2

の定格短時間耐電流に 1 秒間耐えなければな

らない。

7.2.4 

電圧降下 

端子台に導体を接続することによって生じる電圧降下は,8.4.4 によって測定し,8.4.4 に規定する値を超

えてはならない。

7.2.5 

エージング後の電気的特性(ねじなし端子台だけ適用) 

端子台は,8.4.7 の手順に従ってエージング試験を実施し,これに耐えなければならない。

7.3 

電磁両立性(EMC 

JIS C 8201-1

の 7.3[電磁両立性(EMC)

]及びこの規格の 8.6 を適用する。

試験 

8.1 

試験の種類 

JIS C 8201-1

の 8.1.1(一般)によるほか,次による。

受渡試験は,規定しない。

8.3.3.5

による定格断面積の検証は,特殊試験である。

その他のすべての試験は,形式試験である。

注記  製造業者と使用者との合意事項は,附属書 に示す。

8.2 

一般 

特に指定しない場合には,端子台は新品を用い,正常な雰囲気中で,通常に使用するように取り付けて

JIS C 8201-1 の 6.3(取付け)参照]周囲温度 20±5  ℃で試験する。

注記  一般的に通常に使用するように取り付けるとは,5 個の端子台を連結し,導電部が露出してい

る側をエンドプレートで閉じ,エンドブラケットで支持体に取り付けることを示す。

試験は,細分箇条で指示する順に行う。

各試験は,別々の新しい試料で行う。


8

C 8201-7-1

:2010

8.3.3.2

及び 8.3.3.3 の試験は同一試料で行う。

導体表面は,性能が低下するような汚損及び腐食があってはならない。

導体の被覆をはがすとき,断線,刻み,擦りきずなどのダメージを与えないように注意する。

製造業者が特別な端末処理の必要性を明示する場合,試験報告書にはその処理方法を表示する。

試験は,製造業者が明示する導体(硬質又は可とうのもの)で行う。

8.3 

機械的特性の検証 

8.3.1 

一般 

機械的特性の検証は,次の試験を含む。

−  支持体への端子台の取付け(8.3.2 参照)

−  締付具の機械的強度(8.3.3.1 参照)

−  締付具への導体の取付け(8.3.3.2 及び 8.3.3.3 参照)

−  定格断面積及び定格接続容量(8.3.3.4 及び 8.3.3.5 参照)

8.3.2 

支持体への端子台の取付け 

この試験は,製造業者の指示に従って支持体に取り付けた 5 個の端子台において,中央に位置する端子

台の締付具 2 個に対して行う。

長さ 150 mm で

表 及び表 3A に定める直径の鋼製の丸棒を,各締付具に連続して固定する。

表 及び表 3A で指定の鋼製の丸棒を固定できない締付具をもつ端子台(例えばケーブルラグなど端末

処理導体だけを接続する目的の締付具を備えたもの)に対しては,

表 及び表 3A で指定する鋼製の丸棒

によらず,締付具に接続可能な棒(例えば,先端に端子ねじに対応した穴をもつ平らな条片など)で代用

してよい。この場合,

表 及び表 3A で指定する力で変形などがなく十分耐力のある棒でなければならな

い。

締付トルクは,JIS C 8201-1 

表 4(直径 2.8 mm 以下のねじ式締付具に関しては個別に表 C.1 に規定),

又は製造業者が定めるトルクの 110 %とする。

図 に従って締付具の中心から 100 mm の所の上方向及び下方向に,表 及び表 3A の値に等しい力を

衝撃なしに棒に加える。

試験の間端子台は,

そのレール又は支持体からの緩みがなく,その他のどんな損傷も受けてはならない。

図 18.3.2 による試験配置 


9

C 8201-7-1

:2010

表 3−取付け試験の試験値

端子台の定格断面積

mm

2

 AWG

又は kcmil

N

鋼製の丸棒の直径

mm

0.2

0.34

0.5

0.75

1.0

1.5

2.5

4

24

22

20

18

16

14

12

 1

 1.0

6

10

16

10

8

6

 5

 2.8

25

35

50

70

4

2

0

00

10

5.7

95

120

150

185

000

0 000

250 kcmil

300 kcmil

350 kcmil

15 12.8

240

300

500 kcmil

600 kcmil

20 20.5

表 3AJIS C 3307 及び JIS C 3316 による導体での取付試験の試験値 

端子台の定格断面積又は導体径

JIS C 3307

及び JIS C 3316

mm

2

 mm

N

鋼製の丸棒の直径

mm

0.5

a)

0.75

1.25

2

3.5

0.5

a)

0.8

1

1.2

1.6

2

 1

 1.0

5.5

8

14

− 

 5

 2.8

22

38

60

− 

10

5.7

100

150

200

− 

15 12.8

250

325

− 

20 20.5

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。


10

C 8201-7-1

:2010

8.3.3 

締付具の機械的特性 

8.3.3.1 

締付具の機械的強度試験 

JIS C 8201-1

の 8.2.4.1(試験の共通条件)及び 8.2.4.2(端子の機械的強度の試験)を適用する。

JIS C 8201-1

の 8.2.4.2 に規定する試験を,ねじ式締付具に適用する。

この試験は,製造業者の指示に従い適切な支持体に通常の状態で取り付けた 5 個の端子台において,中

央に位置する端子台の締付具 2 個に対して行う。

ねじの直径 2.8 mm 以下のねじ式締付具に対する締付トルクは,

表 C.1 によるか,又は製造業者が指定

するトルクの 110 %のいずれか大きい方で行う。

8.4.4

によって電圧降下を検証後,製造業者が定める定格断面積の硬質の導体を接続して行う。

適用可能な場合,製造業者が定める最小断面積の可とう導体も接続して行う。

定格断面積の硬質の導体で接続及び取外しを 5 回行う。

試験の最後に端子台は,定格断面積の硬質の導体を接続し,その後に適用可能な場合最小断面積の可と

う導体を接続して 8.4.4 による電圧降下試験に合格しなければならない。

8.3.3.2 

端子台における導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験(ねん回試験) 

JIS C 8201-1

の 8.2.4.1 及び 8.2.4.3[導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験法(ねん回試験)

]に次の

追加事項を適用する。

それぞれの試験において,一つの端子台の二つの締付具で行う。ただし,JIS C 3307 及び JIS C 3316 

導体断面積に対するねん回試験の試験値は,

附属書 JA による。

ねじの直径 2.8 mm 以下のねじ式締付具における締付トルクは,

表 C.1 によるか又は製造業者の指定に

よる。

この試験は,次のとおり製造業者が指定する形式(硬質又は可とうのもの)及び数の導体で行う。

−  指定した最小断面積の導体(一つの接続)

−  定格断面積の導体(適用可能な場合一つの接続で)

−  指定した定格断面積より大きい場合,接続可能な最大断面積の導体(一つの接続)

−  最小断面積の導体を最大数接続した状態

−  最大断面積の導体を最大数接続した状態

−  最小断面積の導体と最大断面積の導体とを同時に最大数接続した状態

8.3.3.3 

引張試験 

JIS C 8201-1

の 8.2.4.4(引張試験)に従い,引張力は,断面積が 0.34 mm

2

(AWG22)の導体については

15 N

とし,断面積が 0.5 mm

2

(AWG20)の導体については 20 N とする。ただし,JIS C 3307 及び JIS C 3316

の導体断面積に対する引張試験の試験値は,

附属書 JA による。

8.3.3.4 

定格断面積及び定格接続容量の検証 

試験は,一つの端子台の各締付具で実施する。

定格断面積の導体及び定格断面積 38 mm

2

以下の端子台においては,定格接続容量の最も小さい断面積

の導体を容易に挿入し,接続できなければならない(

表 及び表 2A 参照)。

8.3.3.5 

定格断面積の検証(ゲージによる特殊試験) 

JIS C 8201-1

の 8.2.4.5(最大規定断面をもった未処理の銅の円形導体の挿入性に関する試験)に次の追

加事項を適用する。

試験は,一つの端子台の各締付具で実施する。ただし,ケーブルラグなどによる端末処理導体だけを接

続する目的の締付具を備えた端子台については,このゲージによる検証は除外ができる。


11

C 8201-7-1

:2010

8.4 

電気的特性の検証 

8.4.1 

一般 

電気的特性の検証は,次の内容を含む。

−  空間距離及び沿面距離の検証(8.4.2 参照,

附属書 参考)

−  絶縁試験(8.4.3 参照)

−  電圧降下の検証(8.4.4 参照)

−  温度上昇試験(8.4.5 参照)

−  短時間耐電流試験(8.4.6 参照)

−  ねじなし端子台のエージング試験(8.4.7 参照)

8.4.2 

空間距離及び沿面距離の検証 

8.4.2.1 

一般 

検証は,隣接する二つの端子台間及び端子台と端子台とを取り付けた金属支持体間で実施し,その接続

は次による。

a)

端子台は,製造業者が示す最も大きな断面積の導体を接続する。

b)

導体の先端は,製造業者が規定する長さに被覆をはがす。

c)

製造業者が異なる金属支持体の使用を認める場合は,端子台の充電部位と支持体間の絶縁距離が最も

短くなるものを使用する。

注記  空間距離及び沿面距離の測定方法は,JIS C 8201-1 の附属書 G(沿面距離及び空間距離の測定)

を参照。

8.4.2.2 

空間距離 

空間距離の測定値は,JIS C 8201-1 

表 13 ケース B の場合の値より大きくなければならない。

ケース B とは,定格インパルス耐電圧(U

imp

)及び製造業者が指定した汚損度に依存する均一電界条件

のことをいう[JIS C 8201-1 の 7.2.3.3(空間距離)参照]

インパルス耐電圧試験は,空間距離の測定値が JIS C 8201-1 

表 13 のケース A の値以下の場合,8.4.3 a)

によって実施する。

ケース A とは,不均一電界条件のことをいう[JIS C 8201-1 の 8.3.3.4.1(形式試験)2)参照]

8.4.2.3 

沿面距離 

沿面距離の測定値は,JIS C 8201-1 の 7.2.3.4(沿面距離)の a)及び b)と関連して,製造業者が指定した

定格絶縁電圧,材料グループ及び汚損度による JIS C 8201-1 

表 15 の値以上でなければならない。

8.4.3 

絶縁試験 

絶縁試験は,次による。

a)

製造業者が定格インパルス耐電圧(U

imp

)の値を指定する場合,インパルス耐電圧試験は,JIS C 8201-1

の 8.3.3.4.1 2)2) c)は除く]によって行う。 

b)

固体絶縁物の商用周波耐電圧の検証は,JIS C 8201-1 の 8.3.3.4.1 3)によって行う。

試験電圧は,JIS C 8201-1 

表 12A の値とする[JIS C 8201-1 の 8.3.3.4.1 3) b) i)参照]。

各試験は,8.4.2.1 a)c)に示す条件で金属支持体に取り付け,導体を接続した 5 個の隣接する端子台で

行う。

試験電圧は,最初に隣接する 5 個の端子台間に印加し,次いで互いに接続したすべての端子台とそれら

を取り付けた支持体との間に印加する。

8.4.4 

電圧降下の検証 


12

C 8201-7-1

:2010

電圧降下は,次のときに検証する。

a)

締付具の機械的強度試験の前後(8.3.3.1 参照)

b)

温度上昇試験の前後(8.4.5 参照)

c)

短時間耐電流試験の前後(8.4.6 参照)

d) 

エージング試験の前後及びその途中(8.4.7 参照)

検証は,8.3.3.18.4.58.4.7 に規定する方法で行う。

電圧降下は,

図 に例示する測定点ですべての端子台を測定する。測定は,表 4,表 4A 又は表 に示す

電流値の 0.1 倍の直流電流で行う。

上記の a)d)の試験前の電圧降下の測定は,3.2 mV 以下とする。

測定値が 3.2 mV を超えた場合,電圧降下は個々の締付具で独立して決定する。その場合の個々の電圧降

下の値は,1.6 mV 以下とする。

上記の a)c)の試験後の電圧降下は,試験前の値の 150 %以下とする。

上記の d)の試験中及び試験後の電圧降下は,8.4.7 に規定する値以下とする。

表 4−メートル導体サイズによる温度上昇試験,エージング試験及び電圧降下試験の試験電流値

定格断面積  mm

2

 0.2 0.34 0.5 0.75

1  1.5  2.5  4

6  10  16

試験電流  A 4

5

6

9

13.5

17.5

24

32

41

57

76

定格断面積  mm

2

25

35

50

70

95 120 150 185 240 300

試験電流  A

101  125 150 192 232 269 309 353 415 520

表 4AJIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体による温度上昇試験,エージング試験 

及び電圧降下試験の試験電流値 

より線 mm

2

− 0.5

 a)

 0.75

 1.25

 2

3.5

  5.5

 8

定 格 断 面 積

又は導体径

単線  mm 0.5

a)

0.8

 1

 1.2

 1.6

2

試験電流   A

4

7

11

16

21

30

40

50

a)

  JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。

定格断面積      mm

2

  14  22

38

60 100 150 200 250 325

試験電流

A

70  94  132 175 240 310 370 430 520


13

C 8201-7-1

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図 28.4.48.4.5 及び 8.4.7 の試験及び電圧降下の検証のための試験配線 

表 5AWG 又は kcmil 導体による温度上昇試験,エージング試験及び電圧降下試験の試験電流値 

定格断面積  AWG

24 22 20 18 16 14 12 10

8

6

4

試験電流    A

4

6

8 10 16 22 29 38 50 67 90

定格断面積

AWG

又は kcmil

  2

  1

  0

 00

000

0 000

250

kcmil

300

kcmil

350

kcmil

500

kcmil

600

kcmil

試験電流

A

121 139 162 185 217  242

271 309 353 415 520

8.4.5 

温度上昇試験 

試験は,

図 に示すように定格断面積の PVC 絶縁導体によって 5 個の隣接する端子台を直列に接続して

同時に行う。

導体は,ねじ式締付具のための JIS C 8201-1 

表 4(ねじの直径が 2.8 mm 以下の締付具については表

C.1

に個別に規定)によるトルク,又は製造業者が定めるより高い値のトルクで締め付ける。

6

本の導体の長さは,定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以下のときは 1 m 以上とし,これを超えるものは

2 m

以上とする。

木製の表面(例:卓上又は床上)に端子台を水平に確実に取り付け,導体を

図 の試験回路のとおりに

配線する。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,ねじ若しくはボ

ルトの頭の下面又はナットの下面だけで押し締めする構造で,ケーブルラグ(圧着端子)など端末処理導

体だけを接続する目的の締付具の場合は,端末処理したより線で行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。

試験の間,締付具のねじは,締め直してはならない。

8.4.4

による電圧降下の検証後,試験は,

表 4,表 4A 又は表 に示す定格断面積に対応する交流単相電


14

C 8201-7-1

:2010

流で行う。

試験は,一定温度に達するまで続ける。測定は,5 分間隔で 3 回連続して行い,いずれの測定値間の差

が 1 K 以下の場合一定温度とみなす。

多層端子台における試験は,

表 4,表 4A 又は表 に示す試験電流(交流単相電流)又は製造業者の指定

する電流で行う。

中央に位置する端子台のいずれの部分の温度上昇も,7.2.1 に示す限界値以下とする(

図 参照)。

試験の終了後に配線を変えることなく,周囲温度まで冷やした後,端子台は,8.4.4 による電圧降下試験

に適合しなければならない。

8.4.6 

短時間耐電流試験 

この試験の目的は,熱的衝撃に対する耐力を検証することである。

試験は,製造業者の説明に従って取り付け,そしてねじ式締付具のための JIS C 8201-1 

表 4(ねじの

直径 2.8 mm 以下の締付具については個別に

表 C.1 に規定),又は製造業者が定めるより高い値のトルクで,

適切な定格断面積の導体を接続した一つの端子台で行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,ねじ若しくはボ

ルトの頭の下面又はナットの下面だけで押し締めする構造で,ケーブルラグ(圧着端子)など端末処理導

体だけを接続する目的の締付具の場合は,端末処理したより線で行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。

8.4.4

による電圧降下の検証後,試験電流の電流値及び通電時間は 7.2.3 に適合しなければならない。

試験の終了後,継続使用を損なうような損傷を端子台のいずれの部分にも生じてはならない。

端子台は,周囲温度にまで戻した後,配線を変更せずに 8.4.4 による電圧降下試験に合格しなければなら

ない。

8.4.7 

ねじなし端子台のエージング試験 

試験は,

図 に示すように 5 個の隣接する端子台に,定格断面積の導体を直列に接続して行う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,製造業者が接続

形態を指定する場合は,それに従う。

定格断面積が 10 mm

2

(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。

標準使用条件[JIS C 8201-1 の 6.1.1(周囲温度)による最大 40  ℃]での用途を意図した端子台は,PVC

絶縁導体を使用する。

製造業者が 40  ℃を超える最大使用状態を指定した端子台[JIS C 8201-1 の 6.1.1 

注記 参照]は,耐熱

絶縁導体又は裸導体を使用する。

橋絡する導体の最小長さは,300 mm とする。

端子台を 20±2  ℃に保った恒温槽に置き,電圧降下を検証する。

導体を含むすべての試験装置は,電圧降下試験が完了するまで動かしてはならない。

その端子台は,次に示す 192 回の温度サイクル試験に使用する。

恒温槽の温度は,JIS C 8201-1 の 8.3.3.3.1(周囲温度)に従って 40  ℃まで,又は製造業者の指定する最

大使用状態の温度まで上げる。

温度は,約 10 分間この値の±5  ℃以内に維持する。

この試験の間,電流は 8.4.5 を適用する。

次に端子台を,約 30  ℃まで冷却する。強制冷却してもよい。約 10 分間その温度を保つ。

電圧降下の測定が必要な場合,更に 20±5  ℃まで冷却してもよい。


15

C 8201-7-1

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注記  恒温槽における加熱及び冷却の速度は,通常 1.5  ℃/分の値を目安とする。

24

回目の温度サイクル後及び 192 回目の温度サイクルが完了後に,

その度ごとに 20±5  ℃で端子台の電

圧降下を 8.4.4 によって測定する。

電圧降下は,4.8 mV 以下又は 24 回目の温度サイクルの後に測定した値の 1.5 倍以下とする。

5

個の隣接する端子台の一つが試験に耐えられなかった場合,試験はその他の端子台のセットで繰り返

す。

他の端子台のセットは,すべての試験を再度行わなければならない。

この試験の後,目視検査においてき(亀)裂,ひずみなどの継続使用に支障があるような変化があって

はならない。

その後,8.3.3.3 による引張試験を行う。

8.5 

熱的特性の検証 

熱的特性は,ニードルフレーム(注射針バーナ)試験によって検証する。

試験は,三つの端子台に対して行い,それぞれの端子台 1 個の締付具領域に対し,JIS C 60695-11-5 

よって行う。

試験室は,空気を適切に供給できる広さで,無風状態とする。

試験の前に端子台を,温度 15∼35  ℃で,かつ,相対湿度 45∼75 %の雰囲気に 24 時間放置する。

前処理した後に,端子台を適切な支持体に取り付け,適切な方法で固定する。端子台の一つの絶縁側の

壁が,その下に置く包装用薄葉紙を載せる木の板に平行な状態にする(

図 参照)。

導体は,接続しない。

下に置く包装用薄葉紙(ISO 4046-4 の 4.215 に規定する 12 g/m

2

∼30 g/m

2

のもの)を載せる木の板は,単

一層で厚さが約 10 mm とする。

また,木の板は,端子台から 200±5 mm 下の位置に置く。

JIS C 60695-11-5

図 1 a に従って調整した試験炎を,絶縁側の壁の 45゜下に置く。

炎の先端は,締付具が接する絶縁側の壁に当てる(

図 参照)。

炎は,10 秒間当てる。

絶縁側の壁の厚さが 1 mm 以下及び/又は締付具の投影面積が 100 mm

2

以下の場合,

炎を 5 秒間当てる。

炎を外した後も燃焼している場合は,燃焼時間を計測する。

燃焼時間とは,試験炎を外しても端子台が燃焼し,自然に消えるまでの時間を意味する。

燃焼時間が 30 秒未満のとき,試験は合格とする。

また,端子台から有炎燃焼物が落下する場合,木板上の包装用薄葉紙が発火してはならない。


16

C 8201-7-1

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図 38.5 による試験の配置

図 4−炎を当てるポイント(下方向から見た図)

8.6 

電磁両立性の立証 

JIS C 8201-1

の 8.4(EMC 試験)によるほか,次による。

8.6.1 

イミュニティ 

端子台は,電磁妨害に関して影響を受けないため,イミュニティ試験は行わなくてもよい。

8.6.2 

放射 

端子台は,電磁妨害を発生しないため,放射試験は行わなくてもよい。


17

C 8201-7-1

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附属書 A

(参考)

空間距離及び沿面距離

A.1 

一般 

A.1.1 

空間距離及び沿面距離の適切な値は,大気条件,採用する絶縁の種類,沿面の経路及び端子台を使

うシステムの状態のような可変的な要因に依存する。

これらの理由から,適切な値の選択は,製造業者の責任である。

A.1.2 

形成するおそれのある導電性たい(堆)積物の連続性を断ち切るように配置したリブを絶縁部分の

表面に設計するのが望ましい。 

A.1.3 

ワニス若しくはエナメルだけで被覆した導電部,又は酸化若しくはこれと類似のプロセスだけで保

護した導電部は,空間距離及び沿面距離の観点からは,絶縁しているものとはみなさない。

A.1.4 

空間距離及び沿面距離は,次の状況下で維持しなければならない。 

a)

外部との接続をしていない端子台に,指定した形式及び寸法の導体(裸導体又は絶縁導体)を製造業

者の指示に従って接続する状況。 

b)

製造業者が指定する温度,エージング,衝撃,振動又は短絡状態によって変形が生じるおそれのある

状況。

A.2 

空間距離及び沿面距離の測定 

空間距離及び沿面距離は,次の点に考慮して測定するのが望ましい。

A.2.1 

沿面距離の測定において,幅 2 mm 及び深さ 2 mm 以上の溝はこれら輪郭に沿って測定する。これ

らの寸法より小さな寸法の溝及びほこりで埋まりやすい溝は,無視して直線距離を測定する。

A.2.2 

高さ 2 mm より小さいリブの沿面距離は,無視し測定しない。高さ 2 mm 以上のリブは,次のよう

に測定する。

−  それらが絶縁材料で一体成形された部品の場合(溶着を含む。

,輪郭に沿って測定する。

−  それらが絶縁材料で一体成形された部品でない場合,合わせ目の長さ又はリブの輪郭は二つの通路の

短い方に沿って測定する。

A.2.3 

空間距離及び沿面距離の測定例を,JIS C 8201-1 

附属書 の例 1∼例 11 に示す。


18

C 8201-7-1

:2010

附属書 B

(参考)

製造業者と使用者との合意事項

注記  この附属書において,

“協定”という語句は,非常に幅広い意味に用いる。

“使用者”という語句には,試験機関を含む。

この規格の箇条及び細分箇条があてはまる場合,JIS C 8201-1 

附属書 J(受渡当事者間で協定を必要と

する項目)に,次の事項を追加して適用してもよい。

こ の 規 格 の 箇 条 及 び
細分箇条の番号

要点

8.2 

試験導体

−  必要な場合特別な端末処理 
−  タイプ(可とう又は硬質のもの)

8.3.3.1 

電圧降下を検証するための接続可能な最小断面積

8.3.2 

8.3.3 

8.4.5 

8.4.6 

試験導体を固定するための締付トルク

JIS C 8201-1

表 の値及びねじの直径 2.8 mm 以下の

ねじ式締付具に対する

表 C.1 の値と異なる場合

8.3.3.5 

特殊試験

8.4.7 

40

℃と異なる場合のエージング試験温度 

注記  上記の適用する項目は,製造業者が提示する。


19

C 8201-7-1

:2010

附属書 C 
(規定)

機械的強度の検証を行うときのねじ式締付具に加える締付トルク

表 C.1−機械的強度の検証を行うときのねじ式締付具に加える締付トルク

ねじ部の寸法

mm

締付けトルク

N

・m

メートル表示の基準値

直径の範囲

I

a)

 II

b)

 III

c)

1.6 1.6

以下 0.05 0.1  0.1

2.0 1.6

を超え 2.0 以下 0.1

0.2

0.2

2.5 2.0

を超え 2.8 以下 0.2

0.4

0.4

a) 

締め付けるとき,ねじ穴からはみ出る部分がない頭なしねじ,又は先端の刃の部分がねじの直径より大
きい(マイナス)ねじ回しでは締め付けできないねじに適用する。

b) 

ねじ回しで締め付けるねじ及びナットに適用する。

c) 

ねじ回し以外の手段で締め付けるねじ及びナットに適用する。


20

C 8201-7-1

:2010

附属書 JA

(規定)

銅の円形導体に対するねん回及び引張試験の試験値

(JIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体への対応)

JIS C 3307

及び JIS C 3316 の導体に対するねん回試験及び引張試験の試験値は,

表 JA.1 による。

表 JA.1−銅の円形導体に対するねん回及び引張試験の試験値 

JIS C 3307 及び JIS C 3316 の導体への対応) 

標準断面積又は導体径

より線

mm

2

単線

mm

ブッシング穴の

直径

a) b) 

mm

高さ

H

a) 

mm

おもり

kg

引張力

N

− 0.5

c)

      6.5

260

     0.3

      20

              0.5

c)

              0.75

0.8

1.0

            6.5

            6.5

260

260

     0.3

     0.4

            20

            30

              1.25

              2

1.2

1.6

            6.5

            9.5

260

260

     0.4

     0.7

            40

            50

              3.5

              5.5

2

            9.5

            9.5

280

280

     0.9

     1.4

            60

            80

              8

            14

− 

            9.5

     13.0

280

300

     2.0

     2.9

            90

     100

            22

            38

− 

     13.0

     14.5

300

320

     4.5

     6.8

     135

     190

            60

     100

− 

     19.1

     19.1

368

368

        10.4

        14

     285

     351

     150

     200

− 

     22.2

     25.4

406

432

        15

        16.8

     427

     503

     250

     325

     28.6

     28.6

464

464

        20

        22.7

     578

     578

a)

許容差:ブッシング孔の直径については±2 mm,高さ については±15 mm。

b)

ブッシング孔の直径が,その導体を拘束せずに収納できる大きさでないときは,次に大きい径のブッシ
ングを用いてもよい。

c) 

JIS C 3307

及び JIS C 3316 にない標準断面積及び導体径である。 

参考文献   

JIS C 2812:1998

  機器取付け用レール

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60715:1981 , Dimensions of low-voltage switchgear and controlgear.

Standardized mounting on rails for mechanical support of electrical devices in switchgear and

controlgear installations

及び Amendment 1:1995(MOD)


附属書 JB

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 8201-7-1:2010

  低圧開閉装置及び制御装置−第 7 部:補助装置−第 1 節:銅導

体用端子台

IEC 60947-7-1:2002

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 7-1: Ancillary

equipment

−Terminal blocks for copper conductors

 
(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容

箇 条 番 号
及び題名

内容

(II) 
国 際 規
格番号

箇条番号

内容

箇 条 ご と
の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

1.1

適 用

範囲

こ の規 格が 適用で

きる端子台の範囲

1.1

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は適用できる導体断面

積の上限が JIS C 3307 にない導
体断面積となっている。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

で規定する導体断面積が必要

であり,JIS C 3307 の導体断面積
を上限とした。

4.3.3

準断面積

こ の規 格が 適用で
き る円 形銅 導体断

面積の公称値

4.3.3

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は IEC 導体断面積及び

AWG

で 規 定しており,JIS C 

3307

及び JIS C 3316 の導体断面

積と異なるものがある。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

及び JIS C 3316 で規定する導

体断面積が必要であり,これらを
表 1A として追加した。

4.3.4

格断面積

こ の規 格の 端子台

に 接続 でき る最大
の導体断面積

4.3.4

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は IEC 導体断面積及び

AWG

で 規 定しており,JIS C 

3307

及び JIS C 3316 の導体断面

積と異なるものがある。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

及び JIS C 3316 で規定する導

体断面積が必要であり,これらを
表 1A として追加した。

4.3.5

格 接 続 容

定 格断 面積 におけ
る 接続 可能 な導体

断面積の範囲

4.3.5

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は適用できる導体断面

積の上限が JIS C 3307 にない導

体断面積となっている。 

IEC

規格は IEC 導体断面積及び

AWG

で 規 定しており,JIS C 

3307

及び JIS C 3316 の導体断面

積と異なるものがある。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

で規定する導体断面積が必要

であり,JIS C 3307 の導体断面積
を上限とした。 

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

及び JIS C 3316 で規定する導

体断面積が必要であり,これらを
表 2A として追加した。

21

C

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1

0


(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容

箇 条 番 号

及び題名

内容

(II) 
国 際 規
格番号

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

7.1.3

間 距 離 及
び 沿 面 距

製 造業 者が 指定し

た 空間 距離 及び沿
面 距離 の最 小値を
規定

7.1.3

JIS

に同じ 

変更

IEC

規格は,定格インパルス耐電

圧値を指定しない端子台の最小
値の指針を附属書 A としている
が,JIS C 8201-1 の附属書 JA に

従うことにした。 

定格インパルス耐電圧値を指定し

ない端子台の最小値の指針は,附
属書 A に従うとなっているが,附
属書 A には数値が示されていない

ため,JIS C 8201 の附属書 JA に従
うことにした。

7.2.2

縁特性

絶 縁特 性に ついて

規定

7.2.2

JIS

に同じ 

変更

IEC

規格は,定格インパルス耐電

圧値を指定しない端子台の最小
値の指針を附属書 A としている
が,JIS C 8201-1 の附属書 JA に

従うことにした。 

定格インパルス耐電圧値を指定し

ない端子台の最小値の指針は,附
属書 A に従うとなっているが,附
属書 A には数値が示されていない

ため,JIS C 8201 の附属書 JA に従
うことにした。

7.2.4

圧降下

端 子台 に導 体を接
続 する こと によっ
て 生じ る電 圧降下

について規定

7.2.4

JIS

に同じ 

削除

IEC

規格では,8.4.4 及び 8.4.7 の

値を超えないこととしているが,

JIS

では 8.4.4 の値を超えてはな

らないとして,8.4.7 を削除した。

ねじ式締付具とねじなし締付具の
基準の違いを明確にするため,電
圧降下試験から 8.4.7 を削除した。 

8.3.2

持 体 へ の

端 子 台 の
取付け

レ ール など への取
付 け確 実性 の試験

方法

8.3.2

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は IEC 導体断面積及び

AWG

で規定しており,

JIS C 3307

及び JIS C 3316 の導体断面積と
異なるものがある。

IEC

規格は鋼製の丸棒を接続し

て行うとしている。我が国の端子
台はケーブルラグ対応タイプが
多く鋼製の丸棒を適用できない

ものも多い。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

及び JIS C 3316 で規定する導

体断面積が必要であり,これらを
表 3A として追加した。

JIS

では,ケーブルラグなどによ

る端末処理導体だけ接続する目的
のものには接続可能な棒で代用で
きるとした。

22

C

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010


(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容

箇 条 番 号

及び題名

内容

(II) 
国 際 規
格番号

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

8.3.3.2

子 台 に お
け る 導 体
の 偶 発 的

な 緩 み 及
び 損 傷 に
対 す る 試

締 付具 に対 し導体

の ねん 回に より緩
み 性を 検証 する方

8.3.3.2

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は IEC 導体断面積及び

AWG

で規定しており,

JIS C 3307

及び JIS C 3316 の導体断面積と
異なるものがある。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

及び JIS C 3316 で規定する導

体 断 面 積 が 必 要 で あ り , JIS C 

3307

及び JIS C 3316 の導体断面積

の試験値を附属書 JA として追加
した。

8.3.3.3

張試験

締 付具 に対 し導体
の ねん 回後 更に導

体に引張力を加え 
保 持力 を検 証する
方法

8.3.3.3

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は IEC 導体断面積及び

AWG

で規定しており,

JIS C 3307

及び JIS C 3316 の導体断面積と
異なるものがある。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

及び JIS C 3316 で規定する導

体 断 面 積 が 必 要 で あ り , JIS C 

3307

及び JIS C 3316 の導体断面積

の試験値を附属書 JA として追加

した。

8.3.3.4

格 断 面 積
及 び 定 格
接 続 容 量

の検証

定 格断 面積 及び定

格 接続 容量 の検証
方法を規定

8.3.3.4

JIS

に同じ 

変更

IEC

規格は適用できる導体断面

積の上限が JIS C 3307 にない導
体断面積となっている。 

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

で規定する導体断面積が必

要であり,JIS C 3307 の導体断面
積を上限とした。 

8.3.3.5

格 断 面 積

の 検 証
( ゲ ー ジ
に よ る 特

殊試験)

定 格断 面積 及び定
格 接続 容量 の導体

の 受け 入れ に関す
る要求事項

8.3.3.5

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は導体の受け入れ性の

検証を指定のゲージで行うとし

ている。我が国の端子台は 
ケーブルラグ対応タイプが多く
ゲージでの検証になじまない。

JIS

では,ケーブルラグなどによ

る端末処理導体だけ接続する目的

の物にはゲージによる検証を除外
できるとした。

8.4.4

圧 降 下 の
検証

 8.4.4

JIS

に同じ 

追加

IEC

規格は IEC 導体断面積で規

定しており,JIS C 3307 及び JIS 

C 3316

の導体断面積と異なるも

のがある。 

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

及び JIS C 3316 で規定する導

体断面積が必要であり,これらを
表 4A として追加した。 

変更

図 2 は,簡略化されておりわかり
にくいため変更 

技術的な差異はないが,わかりや
すい図に変更した。

23

C

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0


(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容

箇 条 番 号

及び名称

内容

(II) 
国 際 規
格番号

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

8.4.5

度 上 昇 試

定 格断 面積 に見合

う 電流 通電 を行い
導 電体 の温 度測定
の試験方法

8.4.5

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は使用電線について 10

mm

2

(AWG8)未満の場合,単線

としている。我が国の端子台は 
ケーブルラグ対応タイプが多く

単線だけの使用はなじまない。

IEC

規格は IEC 導体断面積で規

定しており,JIS C 3307 及び JIS 

C 3316

の導体断面積と異なるも

のがある。

JIS

では,使用者の要求から単線

使用を意図していない物に対して
は,端末処理したより線を使用で
きるよう併記した。

JIS

では,使用者の要求から JIS C 

3307

及び JIS C 3316 で規定する導

体断面積が必要であり,これらを

表 4A として追加した。

8.4.6

時 間 耐 電
流試験

熱的衝撃に対する

耐 力を 検証 する方

8.4.6

JIS

に同じ

追加

IEC

規格は使用電線について 10

mm

2

(AWG8)未満の場合,単線

としている。我が国で製造されて
いる端子台は,ケーブルラグ対応

タイプが多く単線だけの使用は
なじまない。

JIS

では,使用者の要求から単線

使用を意図していない物に対して
は,端末処理したより線を使用で
きるよう併記した。

8.4.7

じ な し 端
子 台 の エ

ー ジ ン グ
試験

ね じな し端 子台に
対 する エー ジング
試験方法

8.4.7

JIS

に同じ 

追加

IEC

規格は使用電線について 10

mm

2

(AWG8)未満の場合,単線

としている。一方,我が国で製造

されている端子台は,接続施工の
実態から単線だけの使用はなじ
まない。 

JIS

では,より線の使用などを含

め,製造業者が接続形態を指定す
る場合はそれに従うこととした。 

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60947-7-1:2002,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

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