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C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  引用規格

2

2

  用語及び定義

4

2.1

  基本定義

6

2.2

  制御スイッチ

6

2.3

  制御スイッチの部品

9

2.4

  制御スイッチの動作

11

3

  分類

13

3.1

  接点素子

13

3.2

  制御スイッチ

14

3.3

  制御回路機器

14

3.4

  時延開閉素子

14

3.5

  制御スイッチの取付け

14

4

  特性

14

4.1

  特性の要約

14

4.2

  制御回路機器又は開閉素子の形式

14

4.3

  開閉素子の定格値及び限界値

15

4.4

  開閉素子の使用負荷種別

16

4.5

  空欄

16

4.6

  空欄

16

4.7

  空欄

16

4.8

  空欄

16

4.9

  開閉過電圧

16

4.10

  電気的に分離した接点素子

17

4.11

  検出スイッチに関する動作特性

17

4.12

  個以上の接点素子をもつ検出スイッチ

17

5

  製品情報

17

5.1

  情報の種類

17

5.2

  表示

17

5.3

  取付け,操作及び保守にかかわる指示

18

5.4

  追加情報

18

6

  標準使用,取付け及び輸送条件

18

7

  構造及び性能に関する要求事項

20


C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)  目次

(2)

ページ

7.1

  構造に関する要求事項

20

7.2

  性能に関する要求事項

21

7.3

  電磁両立性  (EMC)

22

8

  試験

23

8.1

  試験の種類

23

8.2

  構造に関する要求事項に対する適合性

24

8.3

  性能

24

附属書 A(規定)使用負荷種別に基づいた電気的定格

36

附属書 B(規定)直流接点に対する誘導負荷試験の例

38

附属書 C(規定)特殊試験−耐久性試験

40

附属書 D(規定)制御回路機器の空間距離及び沿面距離

43

附属書 E(規定)受渡当事者間で協定を必要とする項目

45

附属書 F(規定)封止によって絶縁したクラスⅡの制御回路機器要求事項及び試験

46

附属書 G(規定)内部接続ケーブルをもつ制御回路機器に対する追加の要求事項

49

附属書 H(規定)制御回路機器用半導体開閉素子の追加要求事項

51

附属書 J(規定)表示灯及び表示タワーに関する特別要求事項

57

附属書 K(規定)直接開路動作機能付制御スイッチに対する特別要求事項

62

附属書 L(規定)機械的に結合された接点素子(リンクドコンタクト)に対する特別要求事項

67

 


C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電気

制御機器工業会 (NECA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を

改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格で

ある。

これによって,JIS C 8201-5-1:1999 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 8201

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 8201-1

第 1 部:通則

JIS C 8201-2-1

第 2-1 部:回路遮断器(配線用遮断器及びその他の遮断器)

JIS C 8201-2-2

第 2-2 部:漏電遮断器

JIS C 8201-3

第 3 部:開閉器,断路器,断路用開閉器及びヒューズ組みユニット

JIS C 8201-4-1

第 4 部:接触器及びモータスタータ−第 1 節:電気機械式接触器及びモータスタータ

JIS C 8201-5-1

第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 1 節:電気機械式制御回路機器

JIS C 8201-5-2

第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 2 節:近接スイッチ

JIS C 8201-5-101

第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 101 節:接触器形リレー及びスタータの補

助接点(検討中)


C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)  目次

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

8201-5-1

:2007

(IEC 60947-5-1

:2003

)

低圧開閉装置及び制御装置−

第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−

第 1 節:電気機械式制御回路機器

Low-voltage switchgear and controlgear

Part 5-1: Control circuit devices and switching elements

Electromechanical control circuit devices

序文

この規格は,2003 年に第 3 版として発行された IEC 60947-5-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

1

一般

1.1

適用範囲

この規格は,開閉制御装置の,制御,信号,インターロックなどを意図する制御回路機器及び開閉素子

に適用する。

この規格は,定格電圧交流 1 000 V 以下(1 000 Hz を超えない周波数において)又は直流 600 V 以下の

制御回路に適用する。ただし,交流又は直流 100 V 以下の動作電圧に関しては,4.3.1.1 

注記 を参照す

る。

この規格は,次に示す各種の制御回路機器に適用する。

−  手動制御スイッチ,例えば,押しボタンスイッチ,ロータリスイッチ,フットスイッチなど

−  時延作動又は瞬時作動を含む電磁作動制御スイッチ,例えば,接触器形リレー

−  パイロットスイッチ,例えば,圧力スイッチ,温度スイッチ(サーモスタット)

,プログラマなど

−  位置検出スイッチ,例えば,機械部品又は機構部品によって操作する制御スイッチ

−  制御用回路附属機器,例えば,表示灯など

注記 1  制御回路機器は,制御スイッチ(単数又は複数),表示灯(単数又は複数)などの附属機器を

含む。

注記 2  制御スイッチは,開閉素子(単数又は複数)及び操作部を含む。

注記 3  開閉素子は,接点素子であっても,半導体素子であってもよい。

この規格は,更に,他の機器(その主回路が他の規格で規定している。

)に使用する次の開閉素子にも適

用する。

−  開閉機器(例えば,接触器,回路遮断器など)の補助接点

−  エンクロージャドアのインターロック接点

−  ロータリスイッチの制御回路接点


2

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

−  過負荷リレーの制御回路接点

接触器形リレーは,この規格で満足しなければならない使用負荷種別以外に,JIS C 8201-4-1 の要求事

項及び試験も満足しなければならない。

この規格は,JIS C 4523 が適用するリレー,又は家庭用及び類似目的の自動電気制御機器を含まない。

表示灯,押ボタンなどの色の要求事項は,IEC 60073 及び国際照明委員会 (CIE) の Pub.2 に規定してい

る。

この規格は,次の事項について規定する。

a)

制御回路機器の特性

b)

次の事項に関する電気的及び機械的要求事項

1)

実行しなければならない種々の責務

2)

定格特性及び表示の意味

3)

定格特性を検定するための試験

c)

次の事項に関し,制御回路機器によって満足しなければならない機能上の要求事項

1)

環境条件,箱入り機器の外囲条件を含む

2)

耐電圧性能

3)

端子

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60947-5-1:2003

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control circuit devices and

switching elements−Electromechanical control circuit devices(IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示

す。

1.2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。

これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追

補を含む。

)には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0025:1988

  環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14:1984,Environmental testing−Part 2: Tests−Test  N:  Change  of

temperature(MOD)

JIS C 0617-7

  電気用図記号    第 7 部:開閉装置,制御装置及び保護装置

注記  対応国際規格:IEC 60617,Graphical symbols for diagrams(IDT)

JIS C 4523

  制御用リードリレー

JIS C 8201-1

  低圧開閉装置及び制御装置−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 60947-1:2004,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules

(MOD)

JIS C 8201-4-1

  低圧開閉装置及び制御装置−第 4 部:接触器及びモータスタータ−第 1 節:電気機械

式接触器及びモータスタータ

注記  対応国際規格:IEC 60947-4-1:2000,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 4-1: Contactors

and motor-starters−Electromechanical contactors and motor-starters 及び Amendment 1 (2002)

(MOD)


3

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

JIS C 60068-2-6

  環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6:1995,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fc: Vibration

(sinusoidal)(IDT)

JIS C 60068-2-27

  環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-27:1987,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ea and guidance:

Shock(IDT)

JIS C 60068-2-30

  環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12 時間サイクル)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-30:1980,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Db and guidance:

Damp heat, cyclic (12+12 hour cycle)(IDT)

JIS C 61000-4-2

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 2 節:静電気放電イミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-2:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and

measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test(IDT)

JIS C 61000-4-3

  電磁両立性−第 4-3 部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-3:2002,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and

measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test(IDT)

JIS C 61000-4-4

  電磁両立性−第 4-4 部:試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バー

ストイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-4:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and

measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test(IDT)

JIS C 61000-4-5

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 5 節:サージイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-5:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and

measurement techniques−Surge immunity tests(MOD)

JIS C 61000-4-6

  電磁両立性−第 4-6 部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導

妨害に対するイミュニティ

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-6:1996,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances,induced by radio-frequency fields

(MOD)

JIS C 61000-4-8

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 8 節:電源周波数磁界イミュニティ試

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-8:1993,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques−Section 8: Power frequency magnetic field immunity test. Basic EMC

Publication(MOD)

JIS C 61000-4-11

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 11 節:電圧ディップ,短時間停電及

び電圧変化に対するイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-11:1994,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measuring techniques−Section 11: Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity

tests 及び Amendment 1:2000(MOD)

IEC 60050 (441)

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 441: Switchgear, controlgear and

fuses (IEV 441)

IEC 60050 (446)

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 446: Electrical relays (IEV 446)


4

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

IEC 60073:2002

,Basic and safety principles for man-machine interface,marking and identification−Coding

principles for indicators and actuators

IEC 60112:2003

,Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid

insulating materials

IEC 61000-4-13:2002

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-13: Testing and measurement techniques

−Harmonics and interharmonics including mains signalling at a.c.power port, low frequency immunity

tests

IEC 61140:2001

,Protection against electric shock−Common aspects for installation and equipment

CISPR 11:1997

, Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment − Electromagnetic

disturbance characteristics−Limits and methods of measurement

2

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 8201-1 の箇条 2(用語及び定義)によるほか,次による。

ただし,定義の五十音順の索引は,アルファベット順から五十音順に変更した。

定義の五十音順索引

e-遅延(接点素子の)[e-delay (of a contact element)]

2.4.1.1

位置決め機構(ロータリスイッチの)[locating mechanism (of a rotary switch)]

2.3.5

位置検出スイッチ [position switch]

2.2.1.3

ウォッブルスティックスイッチ [wobble stick]

2.2.2.20

動き制限ロータリスイッチ  [limited movement rotary switch]

2.2.2.17

エンドストップ [end stop]

2.3.6

応差の値 [differential value]

2.4.2.4

押し引きボタンスイッチ [push-pull button]

2.2.2.3

押しボタンスイッチ [push-button]

2.2.2.1

回転可能押しボタンスイッチ [free push-button]

2.2.2.13

回転制限押しボタンスイッチ [guided push-button]

2.2.2.14

開閉素子 [switching element]

2.3.1

かぎ操作ロータリスイッチ [key-operated rotary switch]

2.2.2.16

かぎ付き押しボタンスイッチ [key-operated push-button]

2.2.2.7

ガード付き押しボタンスイッチ [shrouded push-button]

2.2.2.12

ガード付きボタン [recessed button]

2.3.4.2

カバー付き押しボタンスイッチ [covered push-button]

2.2.2.11

可変遅延(接点素子の)[adjustable delay (of a contact element)]

2.4.1.4

間接(スナップ)動作接点素子  [independent (snap) action contact element]

2.3.3.8

きのこボタン [mushroom button]

2.3.4.4

強制駆動 [positive drive]

2.4.4.4

切換接点素子 [change-over contact elements]

2.3.3.5

限時押しボタンスイッチ  [delayed action push-button]

2.2.2.9

固定遅延(接点素子の)[fixed delay (of a contact element)]

2.4.1.3

最小起動力(又はモーメント)[minimum starting force (or moment)]

2.4.4.6


5

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

最小駆動力(又はモーメント)[minimum actuating force (or moment)]

2.4.4.7

時延押しボタンスイッチ [time-delay push-button]

2.2.2.8

時延接触器形リレー  [time-delay contactor relay]

2.2.1.2

遮断接点素子(常閉)[break-contact element (normally closed)]

2.3.3.4

瞬時接触器形リレー  [instantaneous contactor relay]

2.2.1.1

照光押しボタンスイッチ [illuminated push-button]

2.2.2.10

シングルギャップ接点素子  [single gap contact element]

2.3.3.1

制御回路機器  [control circuit device]

2.1.1

制御スイッチ(制御回路及び補助回路用)[control switch (for control and auxiliary circuits)]

2.1.2

制御盤 [control station]

2.1.4

制限駆動 [limited drive]

2.4.4.5

静止位置  [position of rest]

2.4.3.2

接点素子(制御スイッチの)[contact element (of a control switch)]

2.3.3

接点素子の動作後の動き  [over-travel of the contact element]

2.4.4.9

接点素子の動作までの動き  [pre-travel of the contact element]

2.4.4.8

接点ユニット [contact unit]

2.3.3.10

操作ダイアグラム [operating diagram]

2.4.3.7

操作量 [actuating quantity]

2.4.2.1

ダブルギャップ接点素子  [double gap contact element]

2.3.3.2

多方向スイッチ [joy stick]

2.2.2.19

単方向性ロータリスイッチ  [unidirectional movement rotary switch]

2.2.2.18

断路(アイソレーション)に適する制御スイッチ  [control switch suitable for isolation]

2.1.3

直接駆動 [direct drive]

2.4.4.3

直接動作接点素子  [dependent action contact element]

2.3.3.9

通過位置 [transit position]

2.4.3.3

定位置(略語:位置)

(ロータリスイッチの)[definite position (abbreviation: position)

2.4.3.1

  (of a rotary switch)]

d-遅延(接点素子の)[d-delay (of a contact element)]

2.4.1.2

電気的に分離した接点素子  [electrically separated contact elements]

2.3.3.7

動作後の動き(操作部の)[over-travel of the actuator]

2.4.4.2

動作値 [operating value]

2.4.2.2

動作までの動き(操作部の)[pre-travel of the actuator]

2.4.4.1

投入接点素子(常開)[make-contact element normally open]

2.3.3.3

突形ボタン [extended button]

2.3.4.3

バイアス位置 [biased position]

2.4.3.4

バウンスタイム [bounce time]

2.4.4.10

パルス(瞬時)接点素子  [pulse (fleeting) contact element]

2.3.3.6

半導体素子 [semiconductor element]

2.3.2

引きボタンスイッチ [pull-button]

2.2.2.2

平形ボタン [flush-button]

2.3.4.1


6

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

復帰値 [return value]

2.4.2.3

フットスイッチ(ペダル)[foot switch (pedal)]

2.2.2.21

プログラマ [programmer]

2.2.1.4

ボタン [button]

2.3.4

ラッチする位置 [latched position]

2.4.3.5

ラッチ付き押しボタンスイッチ [latched push-button]

2.2.2.5

ロータリ制御スイッチ(略語:ロータリスイッチ)[rotary control switch]

2.2.2.15

ロータリボタンスイッチ(例えば,セレクタスイッチ)[rotary button (e.g.: selector switch)]

2.2.2.4

ロックする位置 [locked position]

2.4.3.6

ロック付き押しボタンスイッチ [locked push-button]

2.2.2.6

2.1

基本定義

2.1.1

制御回路機器  (control circuit device)

開閉装置及び制御装置の,制御,信号,インターロックなど目的とした電気機器。

注記  制御回路機器は,計器,ポテンショメータ,リレーなど,他の規格で取り扱う附属機器が,前

記に規定している目的のために使用されている限りにおいて,これを含むものとする。

2.1.2

制御スイッチ(制御回路及び補助回路用)[control switch (for control and auxiliary circuits)]

信号,インターロックなどを含み,開閉装置及び制御装置の作動を制御する目的に役立つ機械的開閉装

置。

注記 1  制御スイッチは,操作部を備えていて,1 個又は複数の接点素子を含む。

注記 2  制御スイッチは,半導体素子又は接点素子を含むことがあるので(2.3.2 及び 2.3.3 参照),こ

の定義は,IEV 441-14-46 とは異なる。

2.1.3

断路(アイソレーション)に適する制御スイッチ  (control switch suitable for isolation)

遮断の状態で規定する断路(アイソレーション)機能を満足する制御スイッチ[JIS C 8201-1 の 2.1.19

及び JIS C 8201-1 の 7.2.3.1 1) b)参照]

注記  前記の制御スイッチは,機器が制御動作中に作業員に対し,より高い安全度を提供することを

目的とする。したがって,接点が十分に開いていない場合など操作に失敗した場合には,これ

に対処するため,よく訓練された人が十分注意して手動で操作する。

2.1.4

制御盤  (control station)

1 個以上の制御スイッチが同一のパネル上に固定され,又は同じエンクロージャに位置しているアセン

ブリ  (IEV 441-12-08)。

注記  制御盤又はエンクロージャは,更に関連機器,例えば,ポテンショメータ,信号灯,計器など

を含んでもよい。

2.2

制御スイッチ  (control switches)

2.2.1

自動制御スイッチ  (automatic control switches)

注記  自動制御スイッチは,自動制御(JIS C 8201-1 の 2.4.5 参照)によって操作する。これらのスイ


7

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

ッチは,パイロットスイッチ(JIS C 8201-1 の 2.2.18 参照)と呼ぶこともある。

2.2.1.1

瞬時接触器形リレー  (instantaneous contactor relay)

意図的な時間遅延動作をしない接触器形リレー(IEV 441-14-36

注記  別に特記する場合を除き,接触器形リレーは瞬時接触器形リレーである。

2.2.1.2

時延接触器形リレー  (time-delay contactor relay)

規定する時延特性をもつ接触器形リレー  (IEV 441-14-37)。

注記 1  時延には,e-遅延若しくは d-遅延又はこの両方が附属してもよい。

注記 2  時延接触器形リレーは,同時に,瞬時接点素子を内蔵してもよい。

2.2.1.3

位置検出スイッチ  (position switch)

操作部が機械の可動部によって作動し,この可動部が所定の位置に達したときに作動するパイロットス

イッチ  (IEV 441-14-49)。

2.2.1.4

プログラマ  (programmer)

複数個の開閉素子を備え,起動後,規定するシーケンスで作動する制御スイッチ。

2.2.2

制御用操作スイッチ  (manually operated control switches)

注記  制御用操作スイッチは,手動制御によって作動する(JIS C 8201-1 の 2.4.4 参照)。

2.2.2.1

押しボタンスイッチ  (push-button)

人体の部分,通常は手の指又は手のひらによって加える力で作動する操作部及び蓄積エネルギー(スプ

リング)で復帰する制御スイッチ  (IEV 441-14-53)。

2.2.2.2

引きボタンスイッチ  (pull-button)

手動引張りによって作動し,蓄積エネルギー(スプリング)で復帰する制御スイッチ。

2.2.2.3

押し引きボタンスイッチ  (push-pull button)

手動押しによって作動し,手動引きによって元の位置に復帰し,又はその逆に作動する操作部を備えた

制御スイッチ。

注記  このほかに“押し−押し”又は“押し回し”,その他のボタン組合せがある。

2.2.2.4

ロータリボタンスイッチ(例えば,セレクタスイッチ)[rotary button (e.g.: selector switch)]

手動回転によって作動する操作部を備え,押しボタン用開閉素子からなるスイッチ(2.2.2.152.2.2.18

参照)

注記  ロータリ押しボタンスイッチは,2 か所以上の位置を備える。スプリングで復帰してもしなく

てもよい。

2.2.2.5

ラッチ付き押しボタンスイッチ  (latched push-button)


8

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

スプリング復帰で復帰するが,

別の操作でラッチが開放するまでは作動した位置に保持したままでいる,

スプリング復帰付き押しボタンスイッチ。

注記  ラッチングは,同じ押しボタン又はその近くの押しボタンの,電磁石の作用などによる事後の

起動(押し,回転など)によって開放する。

2.2.2.6

ロック付き押しボタンスイッチ  (locked push-button)

別の操作によって,1 か所以上の位置において固定することのできる押しボタンスイッチ。

注記  ロッキングは,ボタンの回転,かぎの回転,レバーの回転などによって行うことができる。

2.2.2.7

かぎ付き押しボタンスイッチ  (key-operated push-button)

かぎを挿入している間だけ限定して操作できる押しボタンスイッチ。

注記  かぎ引抜きは,任意の位置で行うことができる。

2.2.2.8

時延押しボタンスイッチ  (time-delay push-button)

操作力を開放した後,所定時間を経過した後でなければ元の位置に復帰できない接点を備える押しボタ

ンスイッチ。

2.2.2.9

限時押しボタンスイッチ  (delayed action push-button)

ボタン上の力が所定の時間保持するまでは開閉動作を行わない押しボタンスイッチ。

2.2.2.10

照光押しボタンスイッチ  (illuminated push-button)

押しボタン内に信号ランプを内蔵する押しボタンスイッチ。

2.2.2.11

カバー付き押しボタンスイッチ  (covered push-button)

ボタンが,ふた又はカバーで,不注意操作に対して保護する押しボタンスイッチ。

2.2.2.12

ガード付き押しボタンスイッチ  (shrouded push-button)

ボタンが,ある特定方向における不注意操作に対して保護する押しボタンスイッチ。

2.2.2.13

回転可能押しボタンスイッチ  (free push-button)

ボタンの回転が,その回転軸回りで制約されない押しボタンスイッチ。

2.2.2.14

回転制限押しボタンスイッチ  (guided push-button)

ボタンが,その軸回りの回転を制限する押しボタンスイッチ。

注記  回転制限押しボタンスイッチの例:そのボタンがキー付き,正方形又は長方形のもの。

2.2.2.15

ロータリ制御スイッチ(略語:ロータリスイッチ)(rotary control switch)

回転によって操作する操作部を備える制御スイッチ。

2.2.2.16

かぎ操作ロータリスイッチ  (key-operated rotary switch)


9

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

操作にかぎを用いるロータリスイッチ。

注記  任意の位置でかぎの引抜きを行うこともできる。

2.2.2.17

動き制限ロータリスイッチ  (limited movement rotary switch)

操作部が,その回転運動を制約するロータリスイッチ。

2.2.2.18

単方向性ロータリスイッチ  (unidirectional movement rotary switch)

操作部の回転が,その回転を一方向に制約するロータリスイッチ。

2.2.2.19

多方向スイッチ  (joy stick)

操作部がピン又はスティック状をなして,その一つの位置で,パネル又はきょう体面から直角に突き出

ており,これに角偏位を与えることによって操作する制御スイッチ。

注記 1  多方向スイッチは,スティックの偏位の異なる方向に二つ以上の位置をもち,接点素子の操

作を変えることができる。このような多方向スイッチは,ジョイスティックセレクタと呼ば

れる。

注記 2  ピン又はスティックは,スプリングリターンを備えても,備えなくてもよい。

2.2.2.20

ウォッブルスティックスイッチ  (wobble stick)

偏位がいずれの方向に生じても,すべての接点素子が同様に作動する無方向スイッチ。

2.2.2.21

フットスイッチ(ペダル)[foot switch(pedal)]

足で加える力によって操作する操作部をもつ制御スイッチ(IEV 441-14-52 改訂)

2.3

制御スイッチの部品

2.3.1

開閉素子  (switching element)

半導体素子(2.3.2 参照)又は接点素子(2.3.3 参照)のいずれか。

2.3.2

半導体素子  (semiconductor element)

半導体によって電気回路の電流を開閉するように設計した素子。

2.3.3

接点素子(制御スイッチの)[contact element (of a control switch)]

回路の単一電路を開閉するために必要な,制御スイッチの固定及び可動接点で,導電及び絶縁を行う部

分。

注記 1  接点素子及び操作部は,不可分なユニットを構成するが,往々にして 1 個以上の接点素子が

1 個以上の操作部と組み合わされる場合がある。その操作部は,相互に異なっていてもよい。

注記 2  いろいろな種類の接点素子に関する定義は,2.3.3.12.3.3.10 に示す。

注記 3  この定義は,制御用コイル及び電磁システムを含まない。

次の定義は,制御スイッチの単一接点素子に関するものである。

2.3.3.1

シングルギャップ接点素子  (single gap contact element)[図 の a),c)参照]


10

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

その回路の電路をただ 1 か所で開閉する接点素子。

2.3.3.2

ダブルギャップ接点素子  (double gap contact element)[図 の b),d),e)参照]

その回路の電路を直列配置の 2 か所において開閉する接点素子。

2.3.3.3

投入接点素子(常開)[make-contact element (normally open)]

制御スイッチが作動したときに電路を閉じる接点素子。

2.3.3.4

遮断接点素子(常閉)[break-contact element (normally closed)]

制御スイッチが作動したときに電路を開放する接点素子。

2.3.3.5

切換接点素子  (change-over contact elements)[図 の c),d),e)参照]

投入接点素子 1 個と遮断接点素子 1 個とを組み合わせた接点素子。

2.3.3.6

パルス(瞬時)接点素子 [pulse (fleeting) contact element]

操作部が一つの位置から他の位置へ移動する間の走行の一部分の間だけ回路を閉じる接点素子。

2.3.3.7

電気的に分離した接点素子  (electrically separated contact elements)

同一の制御スイッチに属しているが,相互に適切に絶縁されていて,電気的に分離した回路に接続する

接点素子  (lEV 441-15-24)。

2.3.3.8

間接(スナップ)動作接点素子 [independent (snap) action contact element]

手動又は自動制御装置において,接点接触速度が操作部の速度とは実質的に無関係である接点素子。

2.3.3.9

直接動作接点素子  (dependent action contact element)

接点接触速度が操作部の速度に依存する手動又は自動制御装置の接点素子。

2.3.3.10

接点ユニット  (contact unit)

共通の操作部によって操作する類似のユニットを複合化した接点素子又はその複合ユニット。

2.3.4

ボタン  (button)

動作力を加える押しボタン操作部の上端。

2.3.4.1

平形ボタン  (flush-button)

初期位置がその周辺表面と実質的に同じ平面に固定しており,

操作したときにこの表面より下るボタン。

2.3.4.2

ガード付きボタン  (recessed button)

初期位置及び操作した位置が共に周辺固定面より低くなっているボタン。

2.3.4.3

突形ボタン  (extended button)


11

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

初期位置及び操作した位置が共に周辺固定面より高く突出しているボタン。

2.3.4.4

きのこボタン  (mushroom button)

ボタンの直径が拡大されている操作部ボタン。

2.3.5

位置決め機構(ロータリスイッチの)[locating mechanism (of a rotary switch)]

操作部又は接点素子をその位置に保持する操作部の部分。

2.3.6

エンドストップ  (end stop)

可動部の動きを制限する部分。

注記  エンドストップは,操作部又は接点素子のいずれかに属する。

2.4

制御スイッチの動作

2.4.1

接触器形リレーの動作

2.4.1.1

e-

遅延(接点素子の)[e-delay (of a contact element)]

接触器形リレーの電磁コイルの励磁後,接触器形リレーの接点素子が作動するまでの遅れ。

注記  閉路接点の投入遅れ(ON ディレイ)

2.4.1.2

d-

遅延(接点素子の)[d-delay (of a contact element)]

接触器形リレーの電磁コイルの消磁後,接触器形リレーの接点素子が作動するまでの遅れ。

例  閉路接点の開放遅れ(OFF ディレイ)

2.4.1.1

と 2.4.1.2 に対する

注記  “e-遅延”及び“d-遅延”という術語は,どんな種類の接点素子に対

しても適用可能である(2.3.3 参照)

2.4.1.3

固定遅延(接点素子の)[fixed delay (of a contact element)]

遅延の値を調節するように作られていない接触器形リレーの,接点素子の作動遅れ。

2.4.1.4

可変遅延(接点素子の)[adjustable delay (of a contact element)]

接触器形リレーの取付け後に,種々な値に調整できるように作られている,接触器形リレーの接点素子

の作動遅れ。

2.4.2

パイロットスイッチの動作

2.4.2.1

操作量  (actuating quantity)

パイロットスイッチの動作及び不動作を決定する物理量の値。

2.4.2.2

動作値  (operating value)

パイロットスイッチが動作するのに十分な操作量の値。

2.4.2.3

復帰値  (return value)

動作したパイロットスイッチを元の位置へ戻すために必要な操作量の値。


12

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

2.4.2.4

応差の値  (differential value)

動作値と復帰値との差。

2.4.3

ロータリスイッチの操作

2.4.3.1

定位置(略語:位置)(ロータリスイッチの)[definite position (abbreviation: position) (of a rotary switch)]

位置決め機構がロータリスイッチを引き止めて,起動モーメントが所定値を超えない限りこれを保持す

る位置。

2.4.3.2

静止位置  (position of rest)

位置決め機構の蓄積エネルギーでロータリスイッチを保持する安定(決まった)位置。

2.4.3.3

通過位置  (transit position)

ある(決まった)位置において,操作の間に(位置決め機構が意図されている明確な変化を行う)操作

部自体ではその位置に止まらせることができない位置。

2.4.3.4

バイアス位置  (biased position)

ロータリスイッチのある(決まった)位置から,蓄積エネルギー(例えば,スプリングを用いて)によ

って元の位置に復帰する位置。

注記  バイアス位置から最寄りの元の位置まで移行する間にロータリスイッチは 1 個以上の通過位置

を通ることができる。

2.4.3.5

ラッチする位置  (latched position)

復帰がラッチング機構によって保持するバイアス位置。

注記  ラッチング機構は,手動その他で開放することができる。

2.4.3.6

ロックする位置  (locked position)

ロータリスイッチが別の操作によって固定される(決まった)位置。

注記  ロッキングは,かぎの回転,レバー操作などによって得ることができる。

2.4.3.7

操作ダイアグラム  (operating diagram)

ロータリスイッチの操作で,接点素子が作動する順序のダイアグラム。

2.4.4

機械式制御スイッチの操作

2.4.4.1

動作までの動き(操作部の)(pre-travel of the actuator)(図 の寸法 a

接点素子が動く直前までの操作部の動き。

2.4.4.2

動作後の動き(操作部の)(over-travel of the actuator)

すべての接点が閉(開)位置に達した後の操作部の動き。

2.4.4.3


13

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

直接駆動  (direct drive)

操作部と接点素子との間を結合し,操作部の動作までの動きをなくしたもの。

2.4.4.4

強制駆動  (positive drive)

操作部と接点素子との間を結合し,操作部に加えた力を直接接点素子に伝達するもの。

2.4.4.5

制限駆動  (limited drive)

操作部と接点素子との間を結合し,接点素子に伝達する力を制限したもの。

2.4.4.6

最小起動力(又はモーメント)[minimum starting force (or moment)]

操作部を動作させるのに必要な力(又はモーメント)の最小値。

2.4.4.7

最小駆動力(又はモーメント)[minimum actuating force (or moment)]

すべての接点を閉(開)位置に到達させるために操作部に加える力(又はモーメント)の最小値。

2.4.4.8

接点素子の動作までの動き  (pre-travel of the contact element)(図 の寸法 b

すべての接点が閉(開)位置に到達するまでの,接点素子内の動き。

2.4.4.9

接点素子の動作後の動き  (over-travel of the contact element)(図 の寸法 d

接点が閉(開)位置に到達した後の,接点素子内の動き。

2.4.4.10

バウンスタイム  (bounce time)

閉じ(開き)つつある接点に関して,その回路が最初に閉じ(開い)た瞬間と,回路が最終的に閉じ(開

い)た時点との間の時間  (IEV 446-17-13)。

3

分類

3.1

接点素子

接点素子は,次のように分類する。

a)

使用負荷種別(4.4 参照)

b)

使用負荷種別に基づいた電気的定格(

附属書 参照)

c)

接触形式一次の接触形式文字のいずれか一つ(

図 参照)

1)

接触形式 A−シングルギャップ常開接点素子

2)

接触形式 B−シングルギャップ常閉接点素子

3)

接触形式 C−シングルギャップ切換接点素子(3 端子)

4)

接触形式 X−ダブルギャップ常開接点素子

5)

接触形式 Y−ダブルギャップ常閉接点素子

6)

接触形式 Z−ダブルギャップ切換接点素子(4 端子)

d)  c)

に含まれないその他のタイプ

注記 1  図 の e)は,可動接点を電気的に分離した例である(2.3.3.7 参照)。

注記 2  可動接点が他の位置へ切り替わる途中で,二つの回路が共に閉じる接触形式(これをオー


14

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

バーラップという。

)と,切り替わる途中で二つの回路が開となる接触形式(これをブレー

クビフォアメークという。

)とに区別する。特に規定のない場合は,ブレークビフォアメー

クを意味する。

3.2

制御スイッチ

制御スイッチは,接点素子及び操作部の種類によって分類する。例えば,押ボタン,接触形式 X。

3.3

制御回路機器

制御回路機器は,制御スイッチ及びそれに取り付けた器具によって分類する。例えば,表示灯付押ボタ

ン。

3.4

時延開閉素子

開閉素子の時延を達成する手段によって分類する。例えば,電気的遅延,磁気的遅延,機械的遅延又は

ニューマチック遅延。

3.5

制御スイッチの取付け

制御スイッチの取付けは,取付孔サイズによって分類する。例えば,D12,D16,D22,D30(6.3.1 参照)

4

特性

4.1

特性の要約

制御回路機器及び開閉素子の特性は,適用可能な場合には,次の用語で述べる必要がある。

−  機器の形(4.2 参照)

−  開閉素子の定格値及び限界値(4.3 参照)

−  開閉素子の使用負荷種別(4.4 参照)

−  正常及び異常負荷特性(4.3.5 参照)

−  開閉過電圧(4.9 参照)

4.1.1

制御スイッチの用途

制御スイッチの主要用途は,

表 の種々の使用負荷種別に対して示す負荷の開閉である。

その他の用途,例えば,白熱灯,小形モータなどの開閉は,この規格では詳細には取り扱わないが,4.3.5.2

に規定する。

4.1.1.1

正常な使用条件

制御スイッチの正常使用は,

表 に示す使用負荷種別に従って,回路を閉じ,保持し,及び開放するこ

とである。また,

表 を参照。

4.1.1.2

異常な使用条件

異常条件が起こることがある。例えば,電磁石が通電されたにもかかわらず回路を閉じない場合が生じ

ることがある(

表 を参照)。

制御スイッチは,使用上このような条件に応じて電流を遮断できなければならない。

4.2

制御回路機器又は開閉素子の形式

次の事項を規定しなければならない。

4.2.1

制御回路機器の種類

−  制御用操作スイッチ,例えば,押しボタンスイッチ,ロータリスイッチ,フットスイッチなど

−  電磁的に,遅延又は瞬時操作する制御スイッチ,例えば,接触器形リレー

−  パイロットスイッチ,例えば,圧力スイッチ,温度スイッチ(サーモスタット)

,プログラマなど


15

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

−  位置検出スイッチ

−  関連制御器具,例えば,表示灯など

4.2.2

開閉素子の種類

−  開閉機器(例えば,接触子,回路遮断器など)の補助接点で,その機器のコイルによる作動に限定し

ていない補助接点

−  エンクロージャドアのインターロック接点

−  ロータリスイッチの制御回路接点

−  過負荷リレーの制御回路接点

4.2.3

極数

4.2.4

電流の種類

交流又は直流

4.2.5

遮断媒体

空気,油,ガス,真空など

4.2.6

操作条件

4.2.6.1

操作方法

手動,電磁,空気,電磁−空気

4.2.6.2

制御の方法

−  自動

−  非自動

−  半自動

4.3

開閉素子の定格値及び限界値

制御回路機器の開閉素子に設定した定格値を,4.3.14.3.5 に従って明示する。ただし,すべての定格値

を規定する必要はない。

4.3.1

定格電圧(開閉素子について)

開閉素子は,次の定格電圧によって定義する。

4.3.1.1

定格使用電圧  (U

e

)

次の条件とともに JIS C 8201-1 の 4.3.1.1 を適用する。三相回路の場合,U

e

は線間電圧 (r.m.s.) で規定す

る。

注記 1  開閉素子は,定格使用電圧及び定格使用電流の組合せとして指示することができる。

注記 2  この規格で扱う制御スイッチは,通常非常に低い電圧で使用することを意図しておらず,こ

のような使用には適さないことがあり得る。したがって,例えば交流又は直流 100 V 以下の

ような低使用電圧用に関しては,製造業者のアドバイスを求めることを勧める。

4.3.1.2

定格絶縁電圧  (U

i

)

JIS C 8201-1

の 4.3.1.2 を適用する。

4.3.1.3

定格インパルス耐電圧  (U

imp

)

JIS C 8201-1

の 4.3.1.3 を適用する。

4.3.2

電流

開閉素子は,次の電流によって特性を示す。

4.3.2.1

開放熱電流  (I

th

)

JIS C 8201-1

の 4.3.2.1 を適用する。


16

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

4.3.2.2

閉鎖熱電流  (I

the

)

JIS C 8201-1

の 4.3.2.2 を適用する。

4.3.2.3

定格使用電流  (I

e

)

JIS C 8201-1

の 4.3.2.3 の最初の段落を適用する。

4.3.3

定格周波数

JIS C 8201-1

の 4.3.3 を適用する。

4.3.4

空欄

4.3.5

正常及び異常負荷特性

4.3.5.1

定格投入及び遮断容量並びに正常条件下における開閉素子の挙動

開閉素子は,指定する使用負荷種別に対応して

表 に規定する定格使用電圧に応じた要求事項を満足し

なければならない。

注記 1  使用負荷種別を指定した開閉素子に関しては,改めて投入及び遮断容量を規定する必要はな

い。

注記 2  小形モータ及び白熱灯負荷の開閉用として使用する開閉素子は,JIS C 8201-4-1 に規定する

使用負荷種別を指定し,この規格に示す適切な対応要求条件を満足しなければならない。

4.3.5.2

異常条件における投入及び遮断容量

開閉素子は,指定する使用負荷種別に対応して

表 に規定する要求事項を満足しなければならない。

注記  異常条件使用の例は,電磁石が作動せず,開閉素子が投入電流を遮断しなければならない例で

ある。

4.3.6

短絡特性

4.3.6.1

定格条件付短絡電流

JIS C 8201-1

の 4.3.6.4 を適用する。

4.4

開閉素子の使用負荷種別

使用負荷種別を

表 に規定する。これ以外の用途の場合は,製造業者と使用者との合意に基づくものと

するが,製造業者のカタログ又は仕様書の情報であってもよい。

表 1−開閉素子の使用負荷種別(投入及び遮断電流容量による級別)

交直流の別

種別

代表的適用例

AC-12

フォトカプラによって絶縁した抵抗負荷及び半導体負荷の制御

AC-13

変圧器によって絶縁した半導体負荷の制御

AC-14

小容量電磁負荷  (≦72 VA)  の制御

交流

AC-15

交流電磁負荷  (>72 VA)  の制御

DC-12

フォトカプラによって絶縁した抵抗負荷及び半導体負荷の制御

DC-13

直流電磁石の制御

直流

DC-14

回路内に節約抵抗を含む直流電磁負荷の制御

4.5

空欄

4.6

空欄

4.7

空欄

4.8

空欄

4.9

開閉過電圧


17

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

JIS C 8201-1

の 4.9 を適用する。

4.10

電気的に分離した接点素子

製造業者は,制御回路機器の接点素子が電気的に分離しているか否かを明示しなければならない(2.3.3.7

参照)

4.11

検出スイッチに関する動作特性

動作特性の動作値及び復帰値は,

動作特性の一定な上昇値及び正常な下降値で決定しなければならない。

別途明示する場合を除き,変化率は規則的で,動作(又は復帰)値は 10 秒以下で到達しなければならない。

動作値及び復帰値は,いずれも固定値であるか,又はその一方若しくは双方が調整可能(又は両者の差

の値が調整可能)であってもよい。

適切な場合に,製造業者は,動作値の最大設定値よりも高い最大値,又は,復帰値の最小設定値よりも

低い最小値となる限界値を示さなければならない。限界値は,検出スイッチに損傷を与えたり,その特性

に変化をもたらさないことを意味する。

4.12  2

個以上の接点素子をもつ検出スイッチ

個々には調整できない 2 個以上の接点素子をもつ検出スイッチは,それぞれの接点素子に対して異なっ

た動作値及び復帰値をもつ。

個々に調整できる 2 個以上の接点素子をもつ検出スイッチは,検出スイッチの組合せとみなす。

5

製品情報

5.1

情報の種類

製造業者は,次の情報を提供しなければならない。

識別

a)

製造業者の名称又は商標。

b)

開閉素子(又は制御用スイッチのすべて)に関する関連情報が製造業者のカタログ,又は

附属書 

選択によって,得られるようにするための形式指定又は製造番号。

c)

製造業者がこの規格に適合していると主張する場合は“JIS C 8201-5-1

基本定格値及び用途

d)

定格使用電圧(4.3.1.1 参照)

e)

制御回路機器の使用負荷種別及び定格使用電圧における定格使用電流。

f)

定格絶縁電圧(4.3.1.2 参照)

g)

決定している場合は,定格インパルス耐電圧(4.3.1.3 参照)

h)

適用可能な場合は,開閉過電圧(4.9 参照)

i)

保護構造の場合は,IP コード(JIS C 8201-1 の 5.1 及び JIS C 8201-1 

附属書 参照)。

j)

汚損度(6.1.3.2 参照)

k)

短絡保護装置の形及び最大定格(8.3.4.3 参照)

l) 1

000

A 未満の場合の条件付短絡電流。

m)

断路(アイソレーション)に対して適合する場合は,JIS C 0617-7 の 07-13-06 の断路器の記号を適用

する。

n)

同一極性の接点素子の表示。

5.2

表示

5.2.1

全般


18

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

5.1

の a)及び b)のデータの表示は,完全な情報が製造業者から得られるように制御回路機器の銘板に表

示しなければならない。

表示は,

消えにくく読みやすくなければならず,

ねじ及び取外し可能なワッシャ上に施してはならない。

スペースの許す限り,c)∼n)のデータは,銘板上若しくはその制御回路機器上に,又は製造業者の発行

する印刷物に含めなければならない。

5.2.2

端子の識別及び表示

JIS C 8201-1

の 7.1.7.4 による。

5.2.3

機能表示

操作部は,彫刻による図記号で識別表示することができる。停止ボタンが,操作部上に彫刻又はマーク

された図記号をもつ場合には,この図記号は円又はだ円(ゼロの値を意味する。

)としなければならない。

円又はだ円の図記号は停止ボタンにだけ使用しなければならない。

明確な識別を保証するのに十分なスペースのある場合には,文字又は語句を用いてもよい。その他の場

合,識別表示は各操作部の周囲又は近接して耐久性のあるラベルを取り付けなければならない。

5.2.4

非常停止

非常時の“停止”用途向け制御スイッチの操作部は赤色とし,押しボタンの場合にはきのこ形としなけ

ればならない。

5.2.5

動作ダイアグラム

ロータリスイッチは,複数個の接点素子及び複数個の操作部位置をもち得るので,製造業者は,操作部

位置とそれに附属する接点素子位置との間の関係を示すことが必要である。

この関係は,動作ダイアグラムの形で与えることを推奨し,

図 に説明付きで例示する。

5.2.5.1

位置表示

位置表示は明りょうで,附属の文字又は図記号は消えにくく読みやすくなければならない。

5.2.5.2

動作ダイアグラム用の端子表示

端子表示は,動作ダイアグラムに関して明りょうに識別可能でなければならない。

5.2.6

時延表示

接触器形リレーの時延に関しての表示は,固定時延の場合にはその時延時間の値を,可変時延の場合に

は時延時間の範囲を含まなければならない。

二組以上の時延接点素子の場合には,それぞれの接点素子動作間の相対的時延及び第 2 の時延は,第 1

の時延に続く接点素子の時延として表示できる。

二組以上の可変時延接点素子の場合には,それが独立して調整可能であるかどうかを示さなければなら

ない。

製造業者は,それぞれの時延接点素子に対して,2.4.1.1 又は 2.4.1.2 に従って時延特性を示さなければな

らない。

5.3

取付け,操作及び保守にかかわる指示

JIS C 8201-1

の 5.3 による。

5.4

追加情報

制御回路機器の形によっては,必要な追加情報を,

附属書 及び附属書 に規定する。この追加情報は,

製造業者が提供し,制御回路機器とともに提供する結線図又は説明書の形式で行うことができる。

6

標準使用,取付け及び輸送条件


19

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

JIS C 8201-1

の箇条 に,次の事項を追加して適用する。

6.1.3.2

汚損度

製造業者によって特に指定がない限り,制御回路機器は,汚損度 3 の環境条件下で使用することを意図

する。ただし,限られた狭い範囲の環境では,他の汚損度を適用することができる。

6.3.1

単一取付機器の取付け

単一の穴に取り付けられる押しボタン及び表示灯は,丸穴のパネルに取り付け,丸穴には固定のための

キー溝をもつことができる。

表 に取付穴直径及びキー溝(もつ場合)の寸法を示す。

表 2−取付穴直径及びキー溝(もつ場合)の寸法

単位  mm

キー幅(もつ場合)

サイズ

取付穴の

直径  d

高さ  h

幅  b

D 30

5

.

0

0

5

.

30

+

5

.

0

0

0

.

3

3

+

2

.

0

0

8

.

4

+

D 22

4

.

0

0

3

.

22

+

4

.

0

0

1

.

24

+

2

.

0

0

2

.

3

+

D 16

2

.

0

0

2

.

16

+

2

.

0

0

9

.

17

+

2

.

0

0

7

.

1

+

D 12

2

.

0

0

1

.

12

+

2

.

0

0

8

.

13

+

2

.

0

0

7

.

1

+

6.3.1.1

キー溝の位置(もつ場合)

キーの標準位置は,上方位置(時計の

12

時方向)で

表 の寸法 と関連する。

6.3.1.2

パネル厚さの範囲

製造業者が示すシーリングガスケットの有無にかかわらず,

機器は

1 mm

6 mm

のパネルに取り付ける。

ただし,必要に応じて取付けのために供給するスペーサを用いることができる。

注記

シーリングガスケットは,標準化されてはいない。

6.3.1.3

機器のグループ化

6.3.1

の寸法の機器を,パネル上に列をなして配列する場合,同じ列内の取付け中心間隔 a,及び列と列

との間の中心間隔 は,製造業者が指定した場合を除き,

表 以上でなければならない。

表 3−取付穴の中心間の望ましい最小距離

単位  mm

サイズ

a b 

D 30 
D 22 
D 16 
D 12

50 
30 
25 
20

65 
50 
25 
20

中心間隔 及び は,入れ替わってもよい。

これらの値は,開発の目安として意図している。ただし,製造業者の異なる機器を取り付ける場合,使

b

h

d

rmax = 0.8mm

b

d

h

r

max

=0.8 mm


20

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

用者は機器の共用性を確認し,それらの機器を取り付け接続したときに,空間距離及び沿面距離が確保で

きることを確認しなければならない。

注記

設計の詳細,接続,ラベルなどによって,機器によっては,製造業者の指示に従って,

表 

距離よりも小さな距離で取り付ける場合がある。逆に,機器の形によっては,

表 の距離より

も大きな距離を必要とする場合もある。

7

構造及び性能に関する要求事項

7.1

構造に関する要求事項

JIS C 8201-1

の 7.1 によるほか,次による。ただし,JIS C 8201-1 の 7.1.17.1.27.1.67.1.8 及び 7.1.12

を除く。

7.1.1

材料

材料は,機器が関連する試験の要求事項に従うことができるように適切でなければならない。

燃焼性及び湿度には特別な注意を払わなければならない。また,ある特定の絶縁材料においては,湿度

に対する保護を必要とする。

注記

要求事項は,検討中である。

7.1.2

通電部及び接続

通電部は,それらの使用に対し,必要な機械的強度及び通電容量を備えなければならない。

電気的接続における接触圧力は,セラミック又は適合した特性をもつ材料以外の絶縁材料を介して加え

なければならない。

ただし,

絶縁材料の収縮又は曲がりを補正する金属部に十分な弾性がある場合を除く。

7.1.3

空間距離及び沿面距離

制御スイッチについて,製造業者が定格インパルス耐電圧

  (

U

imp

)

を宣言しているときは,JIS C 8201-1

表 13 及び表 15 に最小値を示す。

製造業者が定格インパルス耐電圧

  (

U

imp

)

を宣言していない制御スイッチに対しては,

附属書 による

空間距離及び沿面距離がなければならない。

7.1.4.3

駆動力(又はモーメント)

操作部を動作させるために必要な力(モーメント)は,操作部のサイズ,きょう体又はパネルの形,装

備環境及び用途と両立できるものでなければならない。

最小起動力(又はモーメント)は,不注意による作動を防止するために十分に大きくなければならない。

例えば,保護等級

IPX5

又は

IPX6

を満足するきょう体とともに用いる押しボタンスイッチ及びロータリス

イッチは,保護構造の試験で加えられる噴流で打たれたときに駆動状態となってはならない。

7.1.4.4

回転限界(ロータリスイッチ)

制限運動,又は単方向運動の操作部を用いる場合には,実際の最大起動モーメントの

5

倍に耐える頑丈

な制限手段を装着しなければならない。

7.1.4.5

非常停止

操作部は,起動した位置で,かつ,制御接点が開いた状態でラッチしなければならない。このラッチン

グは別の動き,例えば,引張り,回転又はかぎを用いて解放しなければならない。

注記

非常停止装置に関するその他の要求事項は,IEC 60947-5-5 による。

7.1.6

断路(アイソレーション)に適した制御スイッチの条件

断路(アイソレーション)に適する制御スイッチは,直接開路動作機能付操作(

附属書 参照)で手動

操作して,開路位置において断路(アイソレーション)機能を満足しなければならない(JIS C 8201-1 


21

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

2.1.19

及び 7.1.6 参照)

断路(アイソレーション)に適する制御スイッチの開路位置は,操作力を加えないときにスイッチが止

まっていることのできる位置でなければならない。

意図しない再投入を避けるため,断路(アイソレーション)に適する制御スイッチの接点素子が開路位

置にあるときには,その操作を阻止しなければならない。このことは,特殊工具又はかぎでなければ戻る

ことのできないパドロッキング[南京(なんきん)錠]又はラッチで行うことができる。

7.1.7

クラスⅡの制御回路機器

これらの機器には,保護接地の手段を付けない(IEC 61140 参照)

封止によって絶縁したクラスⅡの制御回路機器については,

附属書 を参照。

7.1.8

内部接続ケーブルをもつ制御回路機器に対する要求事項

附属書 参照。

7.2

性能に関する要求事項

JIS C 8201-1

の 7.2.1 及び 7.2.2 によるほか,次による。

7.2.1.2

接触器形リレーの動作上の制限

接触器形リレーの動作上の制限は,JIS C 8201-4-1 に従う。

7.2.3

耐電圧性能

JIS C 8201-1

の 7.2.3 によるほか,次による。

封止によって絶縁したクラスⅡの制御回路機器については,

附属書 を参照。

7.2.4

無負荷,通常負荷及び過負荷において電流を投入,通電及び遮断できる能力

7.2.4.1

投入及び遮断容量

a

)

正常条件の投入及び遮断容量  開閉素子は,表 の使用負荷種別の条件のもとに,故障することなく,

その動作サイクルの回数を電流開閉できなければならない。ただし,試験条件は 8.3.3.5.2 による。

この試験の間に発生する過電圧は,製造業者が宣言しているインパルス耐電圧を超えてはならない

7.2.6 参照)

b

)

異常条件の投入及び遮断容量  開閉素子は,表 の使用負荷種別の条件のもとに,故障することなく,

その動作サイクルの回数を電流開閉できなければならない。ただし,試験条件は

表 による。

7.2.4.2

空欄

7.2.4.3

耐久性

JIS C 8201-1

の 7.2.4.3 によるほか,次による。

a

)

機械的耐久性  制御回路機器の機械的耐久性は,要求された場合に製造業者の判断によって行う特別

試験によって検証する。この試験の実施要件は,

附属書 に示す。

b

)

電気的耐久性  制御回路機器の電気的耐久性は,要求された場合に製造業者の判断によって行う特別

試験によって検証する。この試験の実施要件は,

附属書 に示す。

7.2.5

条件付短絡電流

開閉素子は,8.3.4 に規定する条件による短絡電流に耐えなければならない。

7.2.6

開閉過電圧

JIS C 8201-1

の 7.2.6 による。

7.2.7

断路(アイソレーション)機能をもつ制御用スイッチの追加要求事項

断路(アイソレーション)機能をもつ制御用スイッチは,製造業者が宣言している定格インパルス耐電

  (

U

imp

)

に対応する JIS C 8201-1 

表 14 に示す試験電圧で JIS C 8201-1 の 8.3.3.4 によって試験しなけれ


22

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

ばならない。この形式に適用するその他の要求事項は,検討中である。

7.3

電磁両立性 

(

EMC

)

この規格の中で,別途規定する場合を除き,JIS C 8201-1 の 7.3 による。

表 4−正常条件における使用負荷種別開閉素子の投入及び遮断容量の検証

a

)

表 4a

表 4b

投入

b)

遮断

b)

使用負
荷種別

I/I

e

U/U

e

I/I

e

U/U

e

最小通電時間

連続操作回数及び頻度

AC    cosφ

 cosφ

サイクル

(50 Hz 又は
60 Hz での)

順位

g)

1 分間

当たり

の頻度

AC-12

1 1 0.9 1  1 0.9

2

1  50

d)

 6

AC-13

2 1 0.65

1  1 0.65  2

c)

 2

10

敏速

e)

AC-14

6 1 0.3 1  1 0.3

2

c)

 3

990

60

AC-15

10 1 0.3 1  1 0.3

2

c)

4 5

000  6

DC    T

0.95

ms

T

0.95

ms

時間

ms

DC-12

1 1 1 1 1 1

25

DC-13

1  1  6×

f)

 1

1 6×P

f)

T

0.95

DC-14

10 1 15 1  1 15

25

c)

I

e

定格使用電流

I

試験電流

U

e

定格使用電圧

U

投入前の電圧

P

U

e

×I

e

  消費電力 (W)

T

0.95

試験電流の 95 %に達する時間

a)

8.3.3.5.2

参照。

b)

許容差に関しては 8.3.2.2 参照。

c)

  通電時間値ともに(1 投入及び 1 遮断に対し)2 サイクル(又は DC-14 での 25 ms)以上とする。

d)

  始めの 50 回の動作サイクルは,U

e

×1.1 まで上昇させた試験電圧を使用し,試験電流 I

e

は電圧 U

e

での電流値

とする。

e)

  接点が完全開閉するのを確認しながら,できるだけ早く行う。

f)

  “6×P”の値は,多くの直流誘導負荷が上限 P=50 W,すなわち 6×P=300 ms であることから決めた実験的

値である。消費電力が 50 W を超える負荷は,小さな負荷の並列接続で構成するものとみなす。したがって,

消費電力の値には無関係に 300 ms が上限となる。

g)

  すべての使用負荷種別に対して,連続試験は与えられた条件下で行う。


23

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

表 5−異常条件における使用負荷種別開閉素子の投入及び遮断容量の検証

a

)

投入

b)

遮断

b)

投入及び遮断

使用負
荷種別

I/I

e

U/U

e

I/I

e

U/U

e

最小通電時間

回数

1 分間当た

りの頻度

AC    cosφ

 cosφ

サイクル(50 Hz
又は 60 Hz での)

AC-12

AC-13

c)

10 1.1 0.65 1.1 1.1 0.65  2

d)

 10

6

AC-14 6 1.1 0.7  6  1.1 0.7

2

10  6

AC-15

10  1.1 0.3 10  1.1 0.3

2

10  6

DC    T

0.95

ms

T

0.95

ms

時間

ms

DC-12

    

DC-13

c)

 1.1 1.1 6×P

e)

 1.1  1.1 6×P

e)

T

0.95

 10 6

DC-14 10  1.1  15  10

1.1  15

25

d)

 10 6

I

e

定格使用電流

I

試験電流

U

e

定格使用電圧

U

投入前の電圧

P

U

e

×I

e

  消費電力 (W)

T

0.95

試験電流の 95 %に達する時間

a)

異常条件は,ブロックされた遮断電磁をシミュレートしたものである。8.3.3.5.3 参照。

b)

許容差に関しては 8.3.2.2 参照。

c)

半導体開閉機器は,製造業者が指定する過負荷保護装置を使用して異常条件下で検証する。

d)

通電時間値ともに(1 投入及び 1 遮断に対し)2 サイクル(又は DC-14 での 25 ms)以上とする。

e)

“6×P”の値は,多くの直流誘導負荷が上限 P=50 W,すなわち,6×P=300 ms であることから決めた実験的値
である。

消費電力が 50 W を超える負荷は,小さな負荷の並列接続で構成するものとみなす。したがって,消費電力の値

には無関係に 300 ms が上限となる。

半導体開閉機器に対して,最大時定数は 60 ms でなければならない。すなわち,T

0.95

=180 ms(3×時定数)

8

試験

8.1

試験の種類

8.1.1

一般

JIS C 8201-1

の 8.1.1 による。

8.1.2

形式試験

形式試験は,制御回路機器の設計がこの規格を満足することを検証するために行う。

形式試験は,次の事項の検証を含む。

a

)

温度上昇

  (

8.3.3.3

)

b

)

耐電圧性能

  (

8.3.3.4

)

c

)

正常条件における開閉素子の投入及び遮断容量

  (

8.3.3.5.2

)

d

)

異常条件における開閉素子の投入及び遮断容量

  (

8.3.3.5.3

)

e

)

条件付短絡電流における性能

  (

8.3.4

)

f

)

構造上の要求

  (

8.2

)

g

)

閉鎖形制御回路機器の保護等級

  (

8.3.1

)

8.1.3

受渡試験

受渡試験は,製造業者の責任であり,通常は機械的検査及び機械的動作の検証に限定する。

附属書 及び附属書 で規定する場合には,この試験は耐電圧試験によって補足する。


24

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

実施に当たって,耐電圧試験は,次の修正事項を含み,8.3.3.4 に従って実施する電圧印加の要求最小継

続時間は約

1

秒に短縮し,金属はく及び外部端子接続は必要ない。

制御スイッチ又は制御回路機器に対する追加の受渡試験は,適切に指定することができる。抜取方式も

認める。

8.1.4

抜取検査

抜取検査は,時延機器に対して,時間遅れ又は時間遅れの範囲を製造業者が決めた仕様に適合するかど

うか検証するために行う。

注記

JIS C 8201-1

の 8.3.3.4.3 による空間距離検証用の抜取試験は,考慮中である。

8.1.5

特殊試験

これらの試験は,製造業者と使用者との合意による。

これらの試験は,耐久性の検証を含む(

附属書 参照)。

機械的及び電気的耐久性試験は,操作部を 8.3.2.1 の要求事項を満足する機械によって動作させて実施し

なければならない。

8.2

構造に関する要求事項に対する適合性

JIS C 8201-1

の 8.2 を,次の 8.2.5 及び 8.2.6 の場合を除き適用する。

8.2.5

駆動力(又はモーメント)の検証

最小駆動力又はモーメントの試験を 7.1.4.3 で要求する場合は,8.3.1 の試験シーケンス

5

の中で行わなけ

ればならない。7.1.4.3 に示す性能でなければならない。

8.2.6

回転限界の検証(ロ−タリスイッチ)

この試験を 7.1.4.4 で要求する場合は,8.3.1 の試験シーケンス

6

で行わなければならない。供試品は,製

造業者の指示に従って取り付けなければならない。

操作モーメントを

5

回測定して,その最高値を記録しなければならない。操作つまみを回し,回転限界

に対してその最高値の

5

倍のモーメントを

10

秒間加えなければならない。

回転止めが動いたり緩んだりせず,又は操作つまみの正常な動作が阻害されないならば,試験は,合格

とする。

8.3

性能

8.3.1

試験シーケンス

代表的供試品に関して実行すべき試験シーケンスは,次による。

試験シーケンス 1(供試品

No.1

試験

No.1

  適用する場合,接触器形リレーの動作限界

  (

8.3.3.2

)

試験

No.2

  温度上昇

  (

8.3.3.3

)

試験

No.3

  耐電圧性能

  (

8.3.3.4

)

試験

No.4

  端子の機械的特性(JIS C 8201-1 の 8.2.4

試験シーケンス 2(供試品

No.2

試験

No.1

  正常条件における開閉素子の投入及び遮断容量

  (

8.3.3.5.2

)

試験

No.2

  耐電圧の検証

  [

8.3.3.5.5 b

)]

試験シーケンス 3(供試品

No.3

試験

No.1

  異常条件における開閉素子の投入及び遮断容量

  (

8.3.3.5.3

)

試験

No.2

  耐電圧の検証

  [

8.3.3.5.5 b

)]

試験シーケンス 4(供試品

No.4


25

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

試験

No.1

  条件付短絡電流における性能

  (

8.3.4

)

試験

No.2

  耐電圧の検証

  [

8.3.3.5.5 b

)]

試験シーケンス 5(供試品

No.5

試験

No.1

  閉鎖形制御回路機器の保護等級(JIS C 8201-1 

附属書 C

試験

No.2

  駆動力又はモーメントの検証

  (

8.2.5

)

試験シーケンス 6(供試品

No.6

試験

No.1

  適用する場合,空間距離及び沿面距離の測定

  (

7.1.3

)

試験

No.2

  ロータリスイッチの回転限界の検証

  (

8.2.6

)

前記のいずれの試験においても,不合格があってはならない。

製造業者が求めるなら,一つの供試品について,試験シーケンスを二つ以上又は全部を実施することが

できる。ただし,各供試品について定めたシーケンスで,試験を実施しなければならない。

注記

封止によって絶縁したクラスⅡの制御回路機器については,追加の供試品が必要である(

附属

書 参照)。内部接続ケーブル付きの制御回路機器に関しては,附属書 参照。

8.3.2

一般的試験条件

8.3.2.1

一般要求事項

JIS C 8201-1

の 8.3.2.1 によるほか,次による。

この試験は,8.3.2.1 a

)

の要求事項を満足する機械によって操作する操作部を用いて,又はロータリスイ

ッチに対しては 8.3.2.1 b

)

に従って実行しなければならない。

a

)

押しボタン及び/又は関連制御スイッチに対しては,操作試験機は,操作部に対して操作力(又はモ

ーメント)をその運動方向に対して与える。

操作試験機の力(又はモーメント)又は走行は,製造業者の指示によって次の条件の一つを満足さ

せる。

操作部にかかる最大の力(又はモーメント)は,接点素子の作動後の動きに対して要求される力

(又はモーメント)の

1.5

倍を超えてはならない。

接点素子の作動後の動きは,その設計上もっている動作後の動きの

50 %

80 %

との間でなければ

ならない。

接点が開位置から閉位置へ(又はその逆に)動く操作サイクルの全体を通じ,又は少なくとも開閉

操作が生じる瞬間には,操作試験機の速度は,操作部と接触部とで測定し,

0.05 m/s

0.15 m/s

との間

でなければならない。操作試験機と操作部との間の機械的結合は,操作試験機が操作部の離脱自由運

動を妨げないように十分な遊びがなければならない。

b

)

両方向にフルに回転するスイッチに対しては,操作の

1

サイクルは,操作部の時計方向回り完全

1

転動作,又は反時計方向回り完全

1

回転動作のいずれかで構成する。ただし,この場合には,動作サ

イクルの動作回数の約

3/4

を時計方向に,次いで残りを半時計方向に操作する。各速度は

1

秒間に

0.5

回転と

1

回転との間でなければならない。

8.3.2.2

試験条件

JIS C 8201-1

の 8.3.2.2 による。ただし,8.3.2.2.3 を除く。

8.3.2.3

試験結果の評価

それぞれの試験後の制御回路機器の条件は,それぞれの試験に対して適用できる検証によってチェック

しなければならない。

制御回路機器は,適用できるそれぞれの単独試験及び/又は試験シーケンスの要求事項を満足したとき


26

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

に,この規格の要求事項に適合したものとみなす。

8.3.2.4

試験報告書

JIS C 8201-1

の 8.3.2.4 による。

8.3.3

無負荷,通常負荷及び過負荷状態における性能

8.3.3.1

動作

JIS C 8201-1

の 8.3.3.1 による。

8.3.3.2

接触器形リレーの動作限界

接触器形リレーの動作限界は,

接触器に適用可能な規格によらなければならない

JIS C 8201-4-1 参照)

8.3.3.3

温度上昇

JIS C 8201-1

の 8.3.3.3 によるほか,次による。

制御回路機器のすべての開閉素子を試験する。同時に閉じるすべての開閉素子は同時に試験しなければ

ならない。ただし,動作システムと一体の部分を構成していて,その素子が閉じたまま留まれない場合に

は,その開閉素子はこの試験を適用しない。

注記

制御回路機器が複数個の位置で閉位置にある開閉素子をもつ場合には,複数回の温度上昇試験

が必要である。

端子から端子への結線の長さは,最短

1 m

とする。

8.3.3.4

耐電圧性能

JIS C 8201-1

の 8.3.3.4 によるほか,次による。

封止によって絶縁したクラスⅡの制御回路機器については,

附属書 参照。

8.3.3.4.1

形式試験

JIS C 8201-1

の 8.3.3.4.1 によるほか,次による。

次の事項を,JIS C 8201-1 の 8.3.3.4.1 の 3

)

の c

)

の第

2

段落の後に加える。

制御回路機器は,次のように印加する試験電圧に耐えなければならない。

開閉素子の充電部と制御スイッチの接地する部分との間

開閉素子の充電部と,使用中に使用者が触れるおそれがある制御スイッチの導電性,又は金属はくで

導電性にした表面との間

電気的に分離した開閉素子の充電部間

8.3.3.5

投入及び遮断容量

投入及び遮断容量を検証するための試験は,8.3.2.1 に規定する一般試験要求事項に従って実行しなけれ

ばならない。

8.3.3.5.1

試験回路及び接続

試験は,単極素子又は多極機器の一つの極について実施しなければならない。ただし,すべての極の構

造及び動作は,同一でなければならない。

隣接の接点素子は,製造業者が特に明示しない限り反対の極性とみなす。

接触形式

C

及び

Za

の切換接点は同極性であり,接触形式

Zb

の切換接点は反対の極性である。

単極性素子,又は,同極性として明示する多極機器における接点素子は,

図 に示す回路図に従って接

続しなければならない。試験しない隣接する接点素子は,いずれも接続してはならない。

接触形式

C

及び

Za

の切換接点は,

図 に従って接続した通常の開位置及び閉位置で,別々に試験しな

ければならない。

反対の極性の接点素子は,

図 に示す回路図に従って接続しなければならない。試験しない隣接する反


27

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

対の極性の接点素子は,図のようにまとめて電源に接続する。

接触形式

Zb

の切換接点は,通常の開位置及び閉位置で別々に試験しなければならないが,反対位置の

両端子ともに,

図 で反対の極性の隣接接点について示すように,電源に接続しなければならない。

投入及び遮断動作で,異なった値を必要とする場合は,

図 に示す回路は図 及び図 の負荷 L

d

に相当

する。

交流試験:規定の力率を得るために必要ならば,負荷は,抵抗に直列に接続した空心インダクタでな

ければならない。インダクタには抵抗によって,総消費電力の

3 %

の分路を設けなければならない(

7

参照)

直流試験:規定の定常電流を得るために,試験電流は

0

から定常値まで,

図 に規定する限界内で増

加させなければならない。指針として,

附属書 に鉄心コイルの負荷の例を示す。

試験電圧及び電流は,

表 及び表 に準じなければならない。適用した試験回路は,試験報告書で明ら

かにしなければならない。

8.3.3.5.2

正常条件における開閉素子の投入及び遮断容量

試験は,制御回路機器が,使用負荷種別に応じて設計された役割を果たすことができるかを検証する。

表 に規定した負荷で,

6 050

回の動作サイクルを次の流れに従って実施しなければならない。

電圧を

1.1

U

e

に設定して,

10

秒間隔で

50

回動作

接点が完全に開閉するのを確認しながら,できるだけ早く

10

回動作する。

  1

秒間隔で,

990

回動作

 10

秒間隔で,

5 000

回動作

例えば,過負荷リレー接点のように機器の構造上素早い繰返しができない場合には,動作は

10

秒間隔で,

又は機器が許す限り素早く行わなければならない。

接触器,回路遮断器のような開閉機器の補助接点についての動作サイクルの回数は,開閉機器の動作性

能に要求されているのと同じでなければならない(関連製品規格を参照)

8.3.3.5.3

異常条件における開閉素子の投入及び遮断容量

この試験の目的は,電磁石負荷に使用する制御回路機器の

表 に示す電流を動作順序で投入及び遮断で

きるかを検証することである。

8.3.3.5.4

空欄

8.3.3.5.5

得るべき結果

a

)

8.3.3.5.2

及び 8.3.3.5.3 の試験で,電気的又は機械的故障,接点溶着,アークの持続及びヒューズの溶

断があってはならない。

b

)

8.3.3.5.2

及び 8.3.3.5.3 の試験後,機器は,8.3.3.4.1 で規定するように,最低

1 000 V

2

U

e

の商用周波

耐電圧に耐えなければならない。

8.3.4

条件付短絡電流における性能

8.3.4.1

短絡試験の一般的条件

開閉素子は,実際の使用状態に取り付け,新品,かつ,清浄な状態でなければならない。

8.3.4.2

試験手順

開閉素子は,試験に先立って,無負荷又は定格電流を超えない電流で,数回操作してもよい。

二つの端子を備えている接点素子は,開閉素子の試験において,閉路位置にして試験を行わなければな

らない。

試験をする接点素子は,短絡保護装置

 (SCPD)

,負荷インピーダンス及び

図 に示すような,単相回路


28

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

の別のスイッチを直列に挿入する。試験の台数は,8.3.4.3 に準拠する。

試験は,別の投入スイッチで電流を投入し,電流は

SCPD

が動作するまで維持しなければならない。

試験は同一接点素子で

3

回実施し,

SCPD

はリセットするか各試験後に交換しなければならない。

試験の間隔は

3

分以上とする。実際の間隔は試験報告書に明示する。

切換接点素子は,前記の試験を常閉及び常開の双方の接点に対して別々に行う。

注記

二つの端子及び切換接点素子の双方を備えた制御スイッチに対しては,双方のタイプを試験し

なければならない。

分離した制御回路機器は,各接点素子ごとに行ってもよい。

8.3.4.3

試験回路及び試験条件

開閉素子は,製造業者が決める種類及び定格の短絡保護装置と直列に接続し,また,回路を閉じるため

のスイッチとも,直列に接続しなければならない。

試験回路の負荷インピーダンスは,推定電流が

1 000 A

以上になるように,調整した抵抗器と直列の空

心インダクタとし,製造業者から指定がある場合,力率

0.5

0.7

で定格使用電圧とする。

並列分岐回路は,加えてはならない。投入電圧は,開閉素子の最大定格使用電圧の

1.1

倍でなければな

らない。開閉素子は,その使用電流に適合した全長

1 m

の電線を用いて回路に接続しなければならない。

8.3.4.4

試験後の開閉素子の状態

a

)

短絡試験後,開閉素子は正規の操作部によって遮断できなければならない。

b

)

試験後,機器は

2

U

e

の商用周波耐電圧に耐えるものとするが,8.3.3.4.1 に規定する

1 000 V

以上の電圧

でなければならない。


29

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

操作部の位置

No

.1

だけ閉路する接点素子

操作部の位置

No

.2

4,

5

閉路する接点素子

3

端子で切換接点素子とし

て用いる二つの接点素子

操作部の位置の

No

.2

3

間で瞬時閉路する接点素子

操作部の位置の

No

.3

4

間で瞬時開路する接点素子

操作部の位置の

No

.4

5

間で接触を保持する接点素

操作の位置

No

.1

2

の間で

開路前に閉路する二つの接

素子

操作部の位置

No

.1

2

の間

で閉路前に開路する二つの

点素子

接点素子

B

が接点素子

A

り早く閉じて早く開路する

5

×

×

×

4

×

×

×

×

3

×

×

×

2

×

×

×

×

×

1

×

×

×

×

×

×

接点素子の配列

1

2

3

4

5

6

7

8

 

9

A

   

 B

閉路前に開路する接点

素子は,他の回路に電流を

入する前に,一方の回路の

流を遮断するために用いる

1

ロー

タリ

スイ

ッチ

動作ダ

イア

グラ

ムを

描く方

法の推

奨例


30

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

 

a

:接点素子が動く直前までの操作部の動き 

 

b

:接点素子の動作までの動き 

 

c

:適切なギャップを与えるために必要な最小値 

 

d

:接点素子の動作後の動き 

 

b

cd:接点素子の全体の動き

a

bcde)*  :操作部全体の動き

注*

操作部と接点素子との間が弾性接続になっているので(

例  図 参照),操作部の動作後の動きは接点素子の

動作後の動きを長さ まで超えてもよい。

図 2−押しボタンの操作


31

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

図 3−操作部の動作後の動き及び接点素子の動作後の動きの差


32

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

図番

図記号

形式

説明

*

 
 

A

a) 

*

 
 

B

2 端子シングルギャップ接点素子

*

 
 

X

b) 

*

 
 

Y

2 端子ダブルギャップ接点素子

c) 

*

 
 
 
 

C 3 端子シングルギャップ切換接点素子

d) 

Za

4 端子ダブルギャップ切換接点素子 
注記  この接点は同極性である。

e) 

Zb

4 端子ダブルギャップ切換接点素子 
(2 個の可動接点は,電気的に分離して
いる。

注*

図記号は,JIS C 0617-7 による。

図 4−接点素子の例(模式図)


33

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

L

d

図 に示す負荷

F:ヒューズ又は断路(アイソレーション)測定機器 
S:開閉素子(NO 又は NC)

図 5−多極制御スイッチの試験回路−電気的に分離しない同極の接点

L

d

図 に示す負荷

F:ヒューズ又は断路(アイソレーション)測定機器 
S:開閉素子(NO 又は NC)

図 6−多極制御スイッチの試験回路−電気的に分離した反対極性の接点


34

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

図 7−開路及び遮断電流及び/又は力率(時定数)にいろいろな値をとった場合の

試験条件に対する負荷 L

d

の詳細

注*

後続試験で 1 又は 2 に交互に接続する。

図 8−試験回路及び短絡電流(8.3.4.2 参照)


35

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

図 9−直流試験負荷に対する電流立ち上がり限界(8.3.3.5 参照)


36

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 A

規定)

使用負荷種別に基づいた電気的定格

3.1 参照)

使用負荷種別に基づいた接点定格の呼称例は,

表 A.1 による。

表 A.1−使用負荷種別に基づいた接点定格の呼称例

呼称

使用負
荷種別

閉鎖熱

電流

I

the

 A

定格使用電圧 U

e

における

定格使用電流 I

e

 (A)

VA 定格

VA

交流

120 V

240 V

380 V

480 V

500 V

600 V

M

B

A150 
A300 
A600 
B150 
B300 
B600 
C150 
C300 
C600 
D150 
D300 
E150

AC-15 
AC-15 
AC-15 
AC-15 
AC-15 
AC-15 
AC-15 
AC-15 
AC-15 
AC-14 
AC-14 
AC-14

10 
10 
10



5

2.5 
2.5 
2.5 
1.0 
1.0 
0.5






3

1.5 
1.5 
1.5 
0.6 
0.6 
0.3

− 


1.5 
1.5

0.75 
0.75

0.3

1.9

0.95

0.47

− 

1.5

0.75

0.375

− 

1.4

0.72

0.35

− 

1.2

0.6

0.3

− 

7 200 
7 200 
7 200 
3 600 
3 600 
3 600 
1 800 
1 800 
1 800

432 
432 
216

720 
720 
720 
360 
360 
360 
180 
180 
180

72 
72 
36

直流

125 V

250 V

400 V

500 V

600 V

N150 
N300 
N600 
P150 
P300 
P600 
Q150 
Q300 
Q600 
R150 
R300

DC-13 
DC-13 
DC-13 
DC-13 
DC-13 
DC-13 
DC-13 
DC-13 
DC-13 
DC-13 
DC-13

10 
10 
10



5

2.5 
2.5 
2.5 
1.0 
1.0

2.2 
2.2 
2.2 
1.1 
1.1 
1.1 
0.55 
0.55 
0.55 
0.22 
0.22

1.1 
1.1

0.55 
0.55

0.27 
0.27

0.1

− 

0.63

− 

0.31

− 

0.15

− 

− 

0.55

− 

0.27

− 

0.13

− 

− 

0.4

− 

0.2

− 

0.1

− 

275 
275 
275 
138 
138 
138

69 
69 
69 
28 
28

275 
275 
275 
138 
138 
138

69 
69 
69 
28 
28

M=make(投入)

B=break(遮断)

注記 1  文字は閉鎖熱電流を表し,交流又は直流で区別する。例えば,B は交流 5 A である。

定格絶縁電圧 U

i

は文字の後の数字と同じである。

注記 2  定格使用電流 I

e

 (A),定格使用電圧 U

e

 (V)  及び見掛け上の遮断電力 B (VA)  の間に次の式が成り立つ。

B=U

e

I

e


37

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

表 A.250 Hz 及び/又は 60 Hz に対する半導体開閉素子の定格の例

a

)

定格投入電流

A

開閉素子定

格記号

定格使用

電流 I

e

A

AC-15 AC-14 AC-13 AC-12

最小動作

電流

A

最大 OFF

状態電流

mA

SA 
SB 
SC 
SD

SE 
SF

SG

10




0.5 
0.25 
0.1

100

50 
20 
10


2.5 
1

60 
30 
12



1.5 
0.6

20 
10




0.5 
0.2

10



1

0.5

0.25

0.1

0.1 
0.1 
0.05 
0.05 
0.01 
0.01 
0.01

15 
15 
10 
10 
10


3

a)

  定格使用電圧は,製造業者が指定しなければならない。

表 A.3−直流に対する半導体開閉素子の定格の例

a

)

定格投入電流

A

開閉素子 
定格記号

定格使用電流

I

e

A

DC-14 DC-13 DC-12

最大 OFF 状態電流

mA

SN

SP

SQ 
SR

SS 
ST

SU 
SV

10




0.5 
0.25 
0.1 
0.05

100

50 
20 
10


2.5 

0.5

10




0.5 
0.25 
0.1 
0.05

10




0.5 
0.25 
0.1 
0.05







0.4 
0.2

a)

  定格使用電圧は,製造業者が指定しなければならない。


38

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 B

規定)

直流接点に対する誘導負荷試験の例

B.1

一般

制御回路で使用する直流誘導負荷は,通常,電磁リレー接触器及び定格

50 W

以下のソリッド鉄心ソレ

ノイドである。これら負荷の制御回路接点への影響は,インダクタに蓄積されるエネルギーによって決定

する。このエネルギーは,インダクタの電流増加の平均値又はインダクタの充電時間に関連する。

50 W

以下の誘導負荷はほとんどの場合,全電流の

95 %

への充電時間

  (

T

0.95

)

は,

6 ms/W

以下であること

が経験的に知られている。

B.2

構造

直流制御回路で用いる接点にかかる負荷を近似するために,次の誘導試験負荷を用いる。

磁気回路は,直径

44.5 mm

長さ

158.7 mm

2

本のソリッド鉄心がその両端において

25.4 mm

×

63.5 mm

×

152.4 mm

の鉄製ヨークにねじ止めする(ねじ間ピッチ

101.6 mm

図 B.1 参照)。鉄材は,

13.3

19.9

μΩ/cm

の抵抗をもつ(JIS G 4051 

S10C

又は

S15C

AISI 1018

又は

116

相当の冷間圧延鋼板はこの要求

を満足する。

。それぞれのコアの一端に厚さ

0.127 mm

0.762 mm

の範囲で調節可能な非磁性スペーサを

ヨークとの間に挿入する。コアとヨークを結合するために,非磁性スペーサを挿入した一端は非磁性ねじ

で,他端は鉄製ねじで締め付ける。

図 B.1 に規定する巻線特性をもつコイルがコアに巻く。試験電圧を加えたとき,直列抵抗で,コイル電

流が

表 B.1 で規定する値になるように調節する。

スペーサの厚さは,

コイル電流が

0

から本体の

図 に示す全電流の

95 %

まで増加できるように調整する。

電流曲線が最少時間限度より下回った場合は,ヨークの断面積を増加する。また,最大時間限度を上回っ

た場合は,ヨークの断面積を削減する。


39

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

単位  mm

図 B.1−直流接点用負荷の構造

表 B.1−直流負荷

コイル構成

試験電圧

 

V

巻数

コイル断面積

 

mm

2

コイル抵抗の近

似値

抵抗を直列接続
したときの電流

限界

A

試験電圧におけ

る電力

W

125 7

000

0.52  74 1.1  138

250 14

000 0.26  295 0.55  138

600 33

400 0.10  1

680  0.20  120


40

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 C 

規定)

特殊試験−耐久性試験

C.1

一般

C.1.1

耐久性の宣言

この附属書で規定する特殊耐久試験(7.2.4.3 参照)は,製造業者が任意で行う。製造業者が機械的及び

/又は電気的耐久性を宣言する場合,その特性は C.2 及び/又は C.3 でそれぞれ規定する特殊試験を満足

しなければならない。

注記

両方の耐久性は,完全な制御回路機器に適用する。

両方の耐久性は,動作サイクルの回数で表す(C.2.1 及び/又は C.3.1 参照)

望ましい動作サイクルの回数は,次による。

0.01

0.03

0.1

0.3

1

3

10

30

又は

100

百万回

C.1.2

試験方法

C.1.2.1

一般

すべての試験は,8.3.2.1 の一般的条件下で,製造業者が宣言した値と同等又はより高い値で行う。製造

業者が推奨するように,機器の可動部分は両方向の最大操作位置に置かなければならない。

その試験結果は,シングル

8

C.1.2.2 参照)又はダブル

3

C.1.2.3 参照)試験方法による統計分析によ

って検証する。

製造業者は,同種の設計経験を基に機械的耐久を宣言してもよい。

注記

シングル

8

又はダブル

3

試験方法は,両者ともに IEC 60410

表 X-C-2 及び X-D-2 参照)に規

定している。これら二つの試験は,制御回路機器の限定された動作サイクル回数で,同じ統計

的特性(許容品質レベル:

10 %

)を得る目的で選ばれた。

10 %

許容品質レベルを得られる他の

方法を使用してもよい。

C.1.2.2

シングル 試験

8

個の制御回路機器は,宣言した動作サイクルの回数で試験する。

不具合の数が

2

個以下ならば,試験は合格とみなす。

C.1.2.3

ダブル 試験

3

個の制御回路機器は,宣言した動作サイクル回数で試験する。

その試験で不具合が見当たらなければ合格とみなし,

2

個以上の不具合が見つかれば不合格とみなす。

ただ

1

個の不具合だけであれば

3

個の制御回路機器を追加し,宣言した動作サイクル回数で試験を行い,

回路に不具合がなければ,その試験は合格とみなす。

C.1.3

不具合基準

C.2.2

及び C.3.2 で規定する試験の間,電気的及び/又は機械的不具合があってはならない。試験中,開

閉素子は最小

1 000 V

2

U

e

の定格試験電圧で 8.3.3.4 の耐電圧試験に合格しなければならない。

C.2

機械的耐久性

C.2.1

一般

制御回路機器の機械的耐久性は,いずれの部品の修理又は交換なしに試験し,すべての機器の

90 %

以上


41

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

が耐える無負荷の動作サイクル回数で定義する。

C.2.2

試験方法

試験は,C.1.2 によって実施する。

試験中,

接点は周期的に製造業者が選択した電圧及び電流でチェックし,

不具合がないようにしておく。

C.3

電気的耐久性

C.3.1

一般

制御回路機器の電気的耐久性は,いずれの部品の修理又は交換なしに試験し,すべての機器の

90 %

以上

が耐える実負荷の動作サイクルの回数で定義する。

C.3.2

試験方法

電気的耐久性試験は,

表 C.1 及び C.3.2.1 の交流又は C.3.2.2 の直流のとおりに定義される条件下で機器

の操作を実施する。

それぞれの動作サイクルは,試験電流の遮断を含む。

通電時間は,動作サイクルの

1

サイクル当たりの

10 %

50 %

とする。

図 C.1 で示す試験電流を使用する

場合には,I

e

10

倍の通電時間は過熱の原因とはならない。

この試験は,実負荷で実行してもよい。

表 C.1−電気的開閉耐久性試験条件

交流,直流の別

使用負荷種別

投入

遮断

I U 

cosφ

I U 

cosφ

交流 AC-15

10I

e

U

e

 0.7

a)

I

e

U

e

 0.4

a)

I U 

T

0.95

I U 

T

0.95

直流

b)

 DC-13

I

e

U

e

P

c)

I

e

U

e

P

c)

I

e

定格使用電流

I

試験電流

U

e

定格使用電圧

U

試験電圧

P

U

e

×I

e

  消費電力 W

T

0.95

定常電流の 95 %に達するまでの時間 (ms)

a)

  規定する力率は通常値で,導通回路(コイル回路)の電気的特性をシミュレートする試験回路だけに適用す

る。

力率 0.4 の回路に対しては,実際の電磁石の渦電流損のダンピング効果をシミュレートするために並列抵抗

を用いる。

b)

  経済抵抗を導入している開閉機器とともに,供給される直流電磁負荷(誘導負荷)に対して定格使用電流は,

突入電流の最大値と同等でなければならない。

c)

  “6×P”の値は,多くの直流誘導負荷が上限 P=50 W,すなわち,6×P=300 ms であることから決められた

実験的値である。消費電力が 50 W を超える負荷は,小さな負荷の並列接続で構成するものとみなす。したが

って,消費電力の値には無関係に 300 ms が上限となる。

C.3.2.1

交流試験について

使用回路は,

図 C.1 に示す。また,次のように構成する。

開閉回路は,抵抗と直列な,力率

0.7

の空心インダクタンスからなり,

10

I

e

の電流を流す。

遮断回路は,抵抗と直列な空心インダクタンスと遮断電流 I

e

の約

3 %

が流れる並列抵抗とからなり,

全力率は

0.4

にする。

接点素子が

3 ms

より短いバウンスタイムをもてば,この試験は,

図 C.2 の単純化した回路で行うことが

できる。


42

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

試験報告書には,いずれの試験回路を使用したかを記録しなければならない。

C.3.2.2

直流試験について

使用回路は,次のように構成する。

a

)

抵抗器と空心インダクタとを直列に接続した回路  渦電流によるダンピングをシミュレートするため

に,試験回路(の両端)にまたがって抵抗器を接続し,その抵抗値は,試験電流の

1 %

がこの抵抗器

を通るような値にする。

b

)

表 C.1 に示す接続時間 T

0.95

を得るために,必要に応じて抵抗器と鉄心インダクタとを直列に接続した

回路  定常電流の

95 %

に達するまでの時間が,

表 C.1 に示す値の±

10 %

に等しく,そして定常電流の

63 %

に達する時間が,

表 C.1 に示す値の±

20 %

1/3

であることをオシログラムで検証しなければな

らない。

図 C.1−正常回路(C.3.2.1 参照)

図 C.2−単純化回路(C.3.2.1 参照)


43

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 D 

規定)

制御回路機器の空間距離及び沿面距離

D.1

適用範囲

この附属書の推奨値は,この規格で規定する制御回路機器に適用する。それらは,6.1.3.2 に定義する。

大気条件が標準と異なる場合は,

エンクロージャの選定をするか,

又は大きな沿面距離を取るべきである。

これらの推奨値は,機器がこの規格の試験要求事項に適合することを意味するものではない。

それらは,7.1.3 の要求事項を満足する断路(アイソレーション)に適した機器又は U

imp

の値を宣言して

いる機器に適用しない。

D.2

定義(空欄)

D.3

一般

D.3.1

絶縁部の表面にはリブを設け,導電性のちりのたい(堆)積を防ぐように設計することを推奨する。

D.3.2

推奨する空間距離及び沿面距離は,アークの生じない部分に適用する。アークの近傍,又はイオン化ガ

スの存在するおそれのある領域では,6.1.3.2 で定義する標準の大気状態ではなく,大きな値をとる必要が

ある。

D.3.3

推奨する空間距離は,開路位置にあるときに同極の分離できる接点のギャップには適用しない。

D.3.4

ワニス若しくはエナメルだけで覆う導電部,又は酸化若しくはこれと類似した処理で保護した導電部は,

絶縁したものとはみなさない。

D.3.5

推奨する空間距離及び沿面距離は,次の状況下で維持しなければならない。

a

)

一つは外部接続を行わない状態,もう一つは,製造業者の指示があればそれに従い,制御回路機器用

に規定した絶縁導体などを接続した状態。

b

)

交換できる部分を処理した後,最大許容製造公差を考慮しなければならない。

c

)

接触器が耐える温度,エージング,衝撃,振動又は短絡条件による変形を考慮しなければならない。

D.4

空間距離及び沿面距離の測定

空間距離及び沿面距離の測定は,次の点を考慮しなければならない。

D.4.1

空間距離又は沿面距離が金属部に影響を受ける場合は,それらの一部が最小規定値以上であるか,又は

その中の大きな二つの部分の合計が最小規定値の

1.25

倍以上でなければならない。長さが

2 mm

以下の部

分は,空間距離及び沿面距離の計算に考慮してはならない。


44

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

D.4.2

2 mm

以上及び深さ

2 mm

以上の溝の沿面距離の測定は,これらの輪郭に沿って行う。これらの寸法

より小さな寸法をもつ溝及びほこりで埋まりやすい溝は無視してまっすぐな距離だけ測定する。

D.4.3

沿面距離の測定には,高さ

2 mm

未満のリブは無視しなければならない。高さ

2 mm

以上であれば,次

によって測定する。

それらが絶縁材料で構成した完全な部品であるならば(例えば,成形品又は溶接による。

,これらは

輪郭に沿って測定する。

それらが絶縁材料で構成した完全な部品でないならば,リブの断面又は接合部のうち短い方に沿って

測定する。

D.4.4

これらの測定方法は,JIS C 8201-1 

附属書 の例 1∼例 11 によって示す。

D.5

空間距離及び沿面距離の最小値

D.5.1

空間距離及び沿面距離の値は,制御回路機器の定格絶縁電圧

  (

U

i

)

に応じて

表 D.1 に示す。

D.5.2

空間距離の値は,二つの充電部間

 (L-L)

と充電部と露出導電部間

 (L-A)

に適用する。充電部と接地部

品(露出導電性部分ではない。

)との間の距離は,対応する電圧に対して

L-L

の値としてもよい。

D.5.3

沿面距離の値もまた,絶縁材料及び絶縁物の断面形状で定まる。

a

)

1

)

  セラミック(ステアタイト,磁器)

2

)

  他の種類の絶縁材料でリブ又は垂直な面をもち,経験によってセラミックと同等の絶縁距離で十

分使用できると考えられるもの。

注記

このような材料は,

140 V

以上の比較トラッキング指数

 (CTI)

をもっている材料でもよ

い(IEC 60112 参照)

。例えば,フェノール樹脂成形品。

b

)

その他のすべての場合  表 D.1 の値は,最小値である。

表 D.1−空間距離及び沿面距離

定格絶縁電圧 U

i

V

空間距離

mm

沿面距離

mm

 L-L

L-A

a

b

U

i

  ≦

60 2 3 2 3

60  <  U

i

  ≦

250 3 5 3 4

250  <  U

i

  ≦

400 4 6 4 6

400  <  U

i

  ≦

500 6 8 6 10

500  <  U

i

  ≦

690 6 8 8 12

690  <  U

i

  ≦ 750

交流

10 14 10 14

750  <  U

i

  ≦  1 000  交流

14 20 14 20

注記 1  表 D.1 の値は JIS C 8201-1 の 6.1.3.2 に規定する大気条件に適用する。より厳しい条件及び海上使用

に対して沿面距離は,b の値以上でなければならない。

注記 2  空間距離 L-A が a 又は b の沿面距離よりも大きい場合は,充電部と露出導電性部分との間の沿面距

離は,空間距離以上としなければならない。


45

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 E

規定)

受渡当事者間で協定を必要とする項目

注記

この附属書では,

“協定”は非常に幅広い意味に用いる。

“使用者”には試験所も含む。

本体の規定に含まれる範囲において,JIS C 8201-1 

附属書 によるほか,次による。

JIS C 8201-5-1

の箇条番号

項目

5.2.5 
 

5.2.6 
 
6.1.1

附属書 K

 
8.3.1 

8.3.4.3 

動作ダイアグラムにおけるロータリスイッチの操作部及びそれに付いてい
る接点素子の位置関係(製造業者が示す。

 
接触器形リレーの可調整時限付接点素子の時延特性(製造業者が示す。

 
直接開路動作機能付位置検出スイッチ用接続導体の選定。 
 
供試品 1 個だけで実施する試験シーケンス(製造業者の要求による。

 
条件付短絡電流試験 
−  試験電流が 1 000 A と異なる場合,試験回路の調整(製造業者の指定事

項)

− 0.5 未満の試験回路の力率(製造業者の同意が必要)


46

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 F

規定)

封止によって絶縁した

クラスⅡの制御回路機器要求事項及び試験

F.1

一般

この附属書は,クラスⅡの制御回路機器又は封止によって,IEC 61140 のクラスⅡを実現する機器の部

品に対する構造上の要求事項及び試験を規定する。

封止しないすべての部品は,空間距離及び沿面距離に関して,二重絶縁について規定する要求事項に従

わなければならない

  (

7.1.3

)

F.2

定義

この附属書では,次の定義を適用する。

F.2.1

封止 

(

encapsulation

)

すべての部品,導体及び内部ケーブルの末端を,成形,注形などの適切な方法によって,絶縁樹脂に入

れる方法。

F.2.1.1

成形 

(

embedding

)

型に入れた電気機器の全体を覆うように樹脂を注入して完全に封止し,封止した機器を樹脂の固化後に

型から抜く方法。

F.2.1.2

注形 

(

potting

)

ケースが,封止する電気機器に付着して残る成形方法。

F.2.2

樹脂 

(

compound

)

充てん剤及び添加剤の有無にかかわらず,固化した熱硬化性,熱可塑性,触媒作用で硬化したもの又は

エラストマー材料。

F.2.3

樹脂の温度範囲 

(

temperature range of the compound

)

JIS C 8201-1

の 6.1.1 で規定する周囲温度範囲。

F.5

表示

この附属書に従う制御機器には,次の記号を印しなければならない。

この記号は,60417-2-IEC-5172 のものである。


47

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

F.7

構造及び性能要求事項

F.7.1

樹脂の選択

樹脂は,封止する制御機器が F.8 で定める試験を満足するように選択しなければならない。

F.7.2

樹脂の接着性

樹脂の接着性は,樹脂と封止される全部品との間に水分が入らないよう,また,ケーブルに封止部分が

あればそれが動かないよう,十分なものでなければならない。

適合性を,F.8.1.2.5 及び F.8.1.2.2 の試験によって検証しなければならない。

図 F.1−封止絶縁

F.7.3

耐電圧性能

7.2.3

は,次の変更に適用する。

インパルス耐電圧の検証は,試験電圧は JIS C 8201-1 

表 H.1 の第

1

列の中の最大定格使用電圧の

2

目に高い分類のものでなければならない。

電源周波耐電圧の検証は,試験電圧は JIS C 8201-1 

表 12A に示す電圧に

1 000 V

を加えたものでなけ

ればならない。

F.8

試験

F.8.1

試験の種類

F.8.1.1

一般

JIS C 8201-1

の 8.1.1 による。

F.8.1.2

形式試験

次の六つの試験を,

3

個の各供試品に対して定められた順序で行わなければならない。

F.8.1.2.1

耐電圧試験

試験電圧は,ケーブルの被覆をはいだ接合末端,又は短絡した端子と,封止される機器の表面の任意の

位置(又は表面上の金属はく)との間に加えなければならない。これ以外は JIS C 8201-1 の 8.3.3.4 の規定

による(

図 F.1 参照)。絶縁破壊が起きてはならない。

F.8.1.2.2

ケーブル試験(該当する場合)

内部接続ケーブルをもつ制御回路機器は,

附属書 の要求事項を満たさなければならない。

F.8.1.2.3

温度急変試験

JIS C 0025

に従って,次の値で試験

Na

を実施しなければならない。

T

A

及び T

B

は,F.2.3 に示す最低及び最高温度である。


48

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

移し換え時間 t

2

2

3

分の間

サイクル数

5

放置時間 t

1

3

時間

この試験の後,目に見える損傷があってはならない

1

)

1

)

成形された樹脂の小さなき裂などは,F.8.1.2.3F.8.1.2.4 及び F.8.1.2.5 の試験の後であれば仮に

あったとしても(

図 F.1 参照)許容する。こうしたき裂が,最終試験である F.8.1.2.6 の結果を

損なうことがないためである。

F.8.1.2.4

打撃試験

この試験は,次によって実施する(

図 F.2 参照)。供試品を硬い土台の上に置く。

0.5 J

の打撃を

3

回封止した機器の最大表面又は最長軸(円筒形のとき)の中心付近に加える。この打撃

は,

0.25 kg

の鋼球を

0.20 m

の高さから落下させることで与える。

図 F.2−試験装置

土台の硬さは,加えられた打撃エネルギーによるへこみが

0.1 mm

以下であれば適合とする。

この試験の後,目に見える損傷があってはならない

2

)

2

)

F.8.1.2.3

1

)

参照

F.8.1.2.5

温湿度サイクル試験

JIS C 60068-2-30

に従って,次の値で試験

Db

を実施しなければならない。

上限温度

55

サイクル数

6

試験報告書には,方法

1

又は方法

2

のいずれを適用したかを記述しなければならない。

この試験の後,目に見える損傷があってはならない

3

)

3

)

F.8.1.2.3

1

)

参照。

F.8.1.2.6

ストレス印加後の耐電圧試験

F.8.1.2.5

の試験を終了後,電源周波数電圧を

5

秒間加えながら 8.3.3.4 に規定する試験を考慮して,耐電

圧性能を調べなければならない。

得られる結果は,8.3.3.4 に規定する内容と同様であり,更に,漏えい電流は

1.1

U

i

2 mA

を超えてはな

らない。

F.8.1.3

受渡試験

8.1.3

を適用するが,耐電圧試験は必す(須)である。


49

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 G 

規定)

内部接続ケーブルをもつ制御回路機器に対する追加の要求事項

G.1

一般

この附属書は,他の装置及び/又は,電源と接続するための内部接続ケーブルをもつ,制御回路機器に

適用する追加の要求事項である。

このような制御回路機器に,内部的に接続されているケーブルは,利用者によって取り外すことができ

るようには考慮されていない。この附属書は,ケーブルの固定及びケーブル引込みシールについての構造

並びに性能の要求事項を規定している。

G.2

定義

この附属書では,次の定義を適用する。

G.2.1

ケーブル接続制御回路機器 

(

cable connected control circuit device

)

他の機器及び/又は,電源との電気的接続のための内部接続線をもつ制御回路機器。

G.2.2

ケーブル引込みシーリング方法 

(

cable entrance sealing means

)

ケーブルと機器のエンクロージャの間のケーブルが,はく離することを防ぐために必要な保護を与える

シーリング方法。これは,また,エンクロージャ及びケーブル固定に必要なシーリングを与えるものでも

よい。

G.2.3

ケーブル固定 

(

cable anchorage

)

機器とケーブルとの間の電気的接続に対する障害を防ぐために,ケーブルの末端から機械的応力を除く

ための方法。

G.7

構造及び性能要求事項

G.7.1

構造の要求事項

G.7.1.1

ケーブルの材料

制御回路機器には,電圧,電流,温度定格及び環境条件に適切な可とう(撓)ケーブルを付けなければ

ならない。

注記

付けるケーブルの長さは,関連の製品規格に規定するものでもよい。

G.7.1.2

ケーブル固定

ケーブル固定は,ケーブルに加えられる力が,機器の内部の電気的接続に伝わることのないようなもの

でなければならない。

ケーブルの制御回路機器の内部に対して,又は外へ向かっての動きが,ケーブル接続及び機器の内部部

品に障害を起こしてはならない。

G.7.1.3

ケーブル引込みシーリング方法

機器について規定する保護等級に対して適切なシーリング方法が,制御回路機器へのケーブル引込口の


50

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

ところになければならない(JIS C 8201-1 

附属書 を参照)。

注記

このシーリング方法は,機器の封止の内部のものであってもよい。

G.7.2

性能要求事項

ケーブル及びケーブル引込みシーリング方法は,G.8 に示す試験に耐えなければならない。

G.8

試験

この試験の目的は,運搬及び取付中のケーブル固定の確実性を保証することである。取付後は,制御回

路機器及びケーブルをお互いに固定してもよい。

G.8.1

形式試験

次の四つの順番の試験を規定の順序で,代表的な供試品について実施しなければならない。

G.8.1.1

引張試験

ケーブル引込み軸に沿って,ケーブルの絶縁被覆に

1

分間引張力を維持しなければならない。

引張力は,直径が

8 mm

以上のケーブルに対しては,

160 N

としなければならない。直径

8 mm

未満のケ

ーブルに対する引張力は,ケーブル外径(単位

mm

)の

20

倍の値(単位

N

)としなければならない。

G.8.1.2

トルク試験

ケーブルに

0.1 N

m

又は

360

度トルク角を限度とするトルクを与えなければならない。このトルクは

1

分間時計回りに,そして次に

1

分間反時計回りに,制御回路機器の引込口から

100 mm

の距離のところで

ケーブルに与えなければならない。

G.8.1.3

押し試験

押し力は,ケーブル引込口のできるだけ近くで,ケーブルの軸に沿って加えなければならない。

この力は

20 N

までゆっくりと増やさなければならない。この力は,各回

1

分間及び適用の間に

1

分の休

みをおいて加えなければならない。

この試験の後,ケーブル引込みシーリング方法に,目に見える損傷及びケーブルの変形を認めてはなら

ない。

G.8.1.4

曲げ試験

ケーブルに,次の方法で負荷をかけて曲げなければならない。

a

)

ケーブル引込口から

1 m

のところ,及びケーブル引込みに垂直な軸で,ケーブルに

3 kg

の質量を取り

付けてつり下げる。

b

)

ケーブルに

90

度の曲げを生じるように,制御回路機器を

90

度傾けてその位置で

1

分間保持する。

c

)

ケーブルに

90

度逆の曲げを生じるように,制御回路機器を垂直の反対方向に

90

度傾けてその位置で

1

分間保持する。

G.8.2

得るべき結果

ケーブルのシーリング方法,ケーブルの引込口,又は制御回路機器の電気的接続方法に損傷があっては

ならない。このことは,目視検査及び

IP

等級の規定を満たすことを確認することで確かめる。


51

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 H 

規定)

制御回路機器用半導体開閉素子の追加要求事項

H.1

一般

H.1.1

適用範囲

この附属書は,開閉制御装置を,制御,信号,インターロックなどとするための半導体開閉素子を使用

した制御回路機器に適用する。同時に,これらの開閉素子は,この規格に適合しなければならない。

H.1.2

目的

この附属書は,本体に含まれない制御回路機器用半導体開閉素子の追加要求事項について規定する。

H.2

定義

本体の定義に加えて,次の定義を適用する。

H.2.1

電圧降下 

(

U

d

)

 [voltage drop]

規定の条件で動作電流を流した場合に,半導体開閉素子の両端で測定した電圧。

H.2.2

最少動作電流 

(

I

m

)

 [minimum operational current]

半導体開閉素子をオン状態に保持するために必要な最小電流。

H.2.3

オフ状態電流 

(

I

r

)

 [OFF-state current]

半導体開閉素子がオフ状態の場合に,負荷回路に流れる電流。

H.3

分類

H.3.1

半導体開閉素子

a

)

使用負荷種別(4.4 及び H.4.2 参照)

b

)

使用負荷種別に基づく電気的定格(

附属書 参照)

H.4

特性

H.4.1

定格電圧

H.4.1.1

定格使用電圧 

(

U

e

)

4.3.1.1

による。

H.4.1.2

使用電圧

使用電圧は,単一値又は範囲で規定する。範囲で示す場合は,許容範囲 U

e

の全体を含む範囲を U

B

とす

る。U

e

と U

B

との関係を

図 H.1 に示す。


52

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

図 H.1U

e

と U

B

との関係

H.4.2

使用負荷種別

表 に示す使用負荷種別を規格とみなす。すべての他の形式の適用は,製造業者と使用者との合意に基

づくものでなければならないが,製造業者のカタログ又は提供する資料によって与えられる情報で,この

契約を構成してもよい。

H.5

製品情報

情報の内容

次の情報は製造業者が提供する。5.1 によるほか,次による。

基本定格値及び使用箇所

a

)

電圧降下(H.7.1.1 参照)

b

)

最小動作電流(H.7.1.2 参照)

c

)

オフ状態電流(H.7.1.3 参照)

d

)

投入及び遮断容量(H.7.2.1 参照)

e

)

条件付短絡電流(H.7.3 参照)

f

)

電磁両立性

 (EMC)

H.7.4 参照)

H.7

構造及び性能要求事項

H.7.1

性能要求事項

7.2

によるほか,次による。

H.7.1.1

電圧降下 

(

U

d

)

導通モードの開閉素子の両端で測定する電圧降下であり,製造業者が指定し,H.8.2 に従って検証しな

ければならない。

H.7.1.2

最小動作電流 

(

I

m

)

この項目は製造業者が指定し,H.8.3 に従って検証しなければならない。

注記

定格についての最小動作電流を,

表 A.2 及び表 A.3 で規定している。

H.7.1.3

オフ状態電流 

(

I

r

)

オフ状態で負荷に流れる最大電流

  (

I

r

)

は,関連の製品規格で別途指定している場合を除き,

表 A.2 及び

表 A.3 に示す値に適合しなければならない。オフ状態電流は,H.8.4 に従って検証しなければならない。

H.7.2

異常状態及び正常状態で投入する能力

H.7.2.1

投入及び遮断容量

4.3.5

による。


53

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

H.7.3

条件付短絡電流

開閉素子は,H.8.6 で規定する条件の短絡電流によって発生するストレスに耐えなければならない。

H.7.4

電磁両立性 

(

EMC

)

JIS C 8201-1

の 7.3 による。

H.8

試験

H.8.1

形式試験

8.1.2

によるほか,次による。

a

)

電圧降下(H.8.2 参照)

b

)

オフ状態電流(H.8.4 参照)

c

)

投入及び遮断容量(H.8.5 参照)

d

)

短絡電流状態での性能(H.8.6 参照)

e

)

電磁両立性の検証(H.8.7 参照)

f

)

インパルス耐電圧試験(8.3.3.4 参照)

H.8.2

電圧降下 

(

U

d

)

電圧降下はオン状態の開閉素子の両端に発生する電圧を測定する。電流の範囲は I

m

及び I

e,

周囲温度は

23

℃±

5

℃,周波数は定格周波数とする

この測定は

図 H.2 の回路でスイッチ

S

を閉じて実施する。負

荷は抵抗性で,電源電圧 U

e

において規定の試験電流が流れるように R

2

を調整する。

測定された電圧降下は,H.7.1.1 に規定する値を超えてはならない。

図 H.2−電圧降下,最小動作電流及びオフ状態電流の検証のための試験回路例

H.8.2H.8.3 及び H.8.4 参照)

H.8.3

最小動作電流 

(

I

m

)

この試験は,開閉素子を

図 H.2 に示す試験回路に接続して実施する。電源電圧

  (

U

e

)

を印加し,スイッ

R

1

  =  抵抗負荷

R

2

  =  抵抗負荷

V  =  高インピーダンス電圧計,入力抵抗 0.2 MΩ/V
A  =  電流計 
S  =  スイッチ 
 
交流は実効値で示す。

直流は平均値で示す。


54

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

S

を開き,開閉素子をオン状態にし,最小動作電流 I

m

が流れるように抵抗負荷 R

1

を調整する。測定結

果の最小動作電流は,H.7.1.2 に適合しなければならない。

H.8.4

オフ状態電流 

(

I

r

)

図 H.2 に示す試験回路で電源電圧の最高電圧

  (

U

e

)

を印加し,スイッチ

S

を閉じ,定格使用電流

  (

I

e

)

流れるように抵抗負荷 R

2

を調整する。その後,開閉素子をオフ状態とし,オフ状態電流を測定する。測定

結果のオフ状態電流は H.7.1.3 に適合しなければならない。

H.8.5

投入及び遮断容量

8.3.3.5

による。

H.8.6

短絡電流状態での性能

H.8.6.1

試験回路及び試験手順

新品の開閉素子を正常使用状態と同様に接続し,自然空冷下で,その開閉素子の動作電流に適合する合

計長

2 m

のケーブルを使用して試験回路に接続する(

図 H.3 参照)。

短絡保護装置

 (SCPD)

は製造業者が示す形式及び定格のものでなければならない。この

SCPD

は,短絡

に対して開閉素子が内部的に保護されている場合は,除かなければならない。

本体の

表 に示す定格使用電圧

  (

U

e

)

,力率又は時定数 T

0.95

の条件において開閉素子に流れる電流が定格

使用電流となるように負荷 及び の値を選択する。製品の規格で別途指定する場合を除き,電源

S

は定

格使用電圧

  (

U

e

)

における推定短絡電流が

1 000 A

となるように調整する。電源回路は空心リアクトルに抵

抗を直列接続し

0.5

0.7

の力率を得られるようにする。これらのリアクトルと並列にダンピング負荷を接

続してはならない。回路開放電圧は開閉素子の最大定格使用電圧の

1.1

倍とする。

図 H.3−短絡電流試験回路(H.8.6.1 を参照)

この試験は,スイッチ

SC

をランダムなタイミングで閉じ,

3

回実施する。試験電流は

SCPD

が動作する

まで保持する。又は自己保護機能をもつ素子では

30

分間保持する。それぞれの試験の実施後,

SCPD

は交

換又はリセットしなければならない。

3

回の試験の実施間隔は

3

分以下であってはならない。実際の試験

実施間隔は,試験報告書で明らかにしなければならない。

H.8.6.2

試験後の開閉素子の状態

8.3.4.4

による。

H.8.7

電磁両立性の検証

H.8.7.1

一般

エミッション及びイミュニティ試験は,形式試験であり,次の共通条件下で実施する。


55

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

自然空冷下で,開閉素子に定格使用電流

  (

I

e

)

に対応する負荷を接続し,定格使用電圧

  (

U

e

)

又は電圧範

囲内の最高電圧を印加する。

接続線長さは

2 m

とする。

次の試験を実施する。

a

)

開閉素子がオン状態の場合

b

)

開閉素子がオフ状態の場合

H.8.7.2

イミュニティ

H.8.7.2.1

一般

性能基準は,JIS C 8201-1 

表 24 の許容基準に基づいている。

性能基準

A

:この試験の間に,開閉素子の出力状態が変化してはならない。

性能基準

B

:この試験の間に,開閉素子の出力状態が直流装置では

1 ms

以上又は交流装置では電源周波

数の半波長以上変化してはならない。

性能基準

C

:性能の一次低下及び損失は自己回復できるかシステムの再設定が要求される。

表 H.1−イミュニティ試験

試験形式

要求試験レベル

受入基準

静電気放電

JIS C 61000-4-2 

8 kV/気中放電 
4 kV/接触放電

B

放射無線周波数電磁界 (80 MHz∼1 GHz)

JIS C 61000-4-3 

10 V/m

A

電気的ファーストトランジェント/バースト

JIS C 61000-4-4 

2 kV/電源ポート

a)

1 kV/信号ポート

b)

B

サージ (1.2/50 μs∼8/20 μs)

JIS C 61000-4-5

c)

2 kV/(対地) 
1 kV/(線間)

B

伝導性無線周波数妨害 (150 kHz∼80 MHz)

JIS C 61000-4-6 

10 V

A

電源周波数磁界

JIS C 61000-4-8 

30 A/m

A

電圧ディップ,遮断及び電圧変動

JIS C 61000-4-11 

0.5 周期に 30 % U

T

減少

5 及び 50 周期に 60 % U

T

減少

B

電源高調波

IEC 61000-4-13 

要求事項なし

d)

a)

  電源ポート:開閉素子又は組み合わせされた装置の操作に必要な一次電力を流す導体又はケーブルに接続す

るポイント。

b)

  信号ポート:伝送データ又は信号用の情報を搬送する導体又はケーブルを開閉素子に接続するポイント。

c)

  定格電圧直流 24 V 以下のポートには適用しない。

d)

  試験レベルは,検討中である。

H.8.7.2.2

静電気放電

この試験は,JIS C 61000-4-2 及び

表 H.1 によって実施する。

H.8.7.2.3

放射無線周波数電磁界

この試験は,JIS C 61000-4-3 及び

表 H.1 によって実施する。

最悪の場合の方向が知られている場合には,その試験の必要性はその方向でだけ実施する。そうでなけ

れば,電磁界,試験中の装置(供試装置)に相互垂直三方向

  (three mutually perpendicular directions)

で向か


56

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

わせなければならない。

H.8.7.2.4

電気的ファーストトランジェント/バースト

この試験は,容量性結合クランプ回路の中に置かれた装置の接続線において JIS C 61000-4-4 及び

表 H.1

によって実施する。

注記

容量性結合は,並行導線の結果のように通常使用中に現れる妨害をシミュレートする理由で推

奨する試験方法。

H.8.7.2.5

サージ

この試験は,

EMC

要求事項の検証の妥当性を損なうことなく試験順序を簡素化するために,次の要求事

項を追加して JIS C 61000-4-5 及び

表 H.1 によって実施する。

試験中,開閉素子に通電する。

このインパルス試験は次の箇所に対して実施する。

a

)

電源側端子間

b

)

各出力側端子間と電源側端子との間

2

点間に

5

秒以上の間隔で

3

回の正極性パルス及び

3

回の負極性パルスを印加する。

H.8.7.2.6

伝導性無線周波数妨害

この試験は,JIS C 61000-4-6 及び

表 H.1 に従って実施する。

H.8.7.2.7

電源周波数磁界

この試験は,JIS C 61000-4-8 及び

表 H.1 によって実施する。

電源周波数磁界に感受性の強い装置を含む機器にだけ適用する。

H.8.7.2.8

電圧ディップ,瞬断及び電圧変動

この試験は,JIS C 61000-4-11 及び

表 H.1 によって実施する。

交流用開閉素子にだけ適用する。

H.8.7.3

エミッション

この試験は,CISPR 11 グループ

1

,クラス

A

及び JIS C 8201-1 の 7.3.3.2 によって最悪の場合の条件下

で実施する。

これらの限度値は工業環境

A

で使用する開閉素子全般に対して規定する。住宅,商業及び軽工業環境

B

で使用するときには,次のような警告を使用説明書に含まなければならない。

警告

この製品はクラス A の製品である。住宅,商業及び軽工業環境では,この製品は無線妨害を引き起

こすかもしれないので,その場合には使用者が適切な処置を取る必要があるかもしれない。


57

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 J

規定)

表示灯及び表示タワーに関する特別要求事項

J.1

一般

J.1.1

適用範囲

この附属書は,この規格の関連要求事項を満足しなければならない表示灯及び表示タワーに適用する。

J.1.2

目的

この附属書は,表示灯に適用する付加の要求事項並びに設計及び性能に関する要求性能を規定するため

に用いられる定義・用語に関して規定する。

J.2

定義

この附属書では,次の定義を適用する。

J.2.1

表示灯 

(

indicator light

)

点灯又は点滅によって情報を伝達する光源を用いた信号。

J.2.2

表示灯のレンズ 

(

lens of an indicator light

)

着脱の可否にかかわらず,表面を意図的に透明又は半透明に作った可視部。

J.2.3

ベゼル 

(

bezel

)

レンズのホルダ。

J.2.4

電圧を減じる機器を備えた表示灯 

(

indicator light with a built-in voltage-reducing device

)

ランプ端子に光源の定格使用電圧と異なる電圧を供給するための機器(変圧器,抵抗など)を本体内に

内蔵する表示灯。

J.2.5

表示タワー 

(

indicating tower

)

可視信号又は音響信号で情報を与える一つ以上の信号ユニットを含む組立品。

注記

ネットワーク通信機器の表示部分なども含む場合がある。

J.3

分類

表示灯は,次によって分類する。

定格電力

取付穴の直径

接続手段

適用電流の性質及びその周波数

変圧器付光源


58

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

ランプソケットの形式

J.4

特性

J.4.1

表示灯の定格使用電圧

製造業者によって指定された,表示灯の適用を決定する電圧値。

J.4.2

表示灯の定格通電電力

表示灯の最大ランプ電力は,温度上昇試験で規定した条件の下で許容される。

注記

光源の電力は,温度上昇に影響するので取付条件に従って,その電力を制限する必要がある。

表示灯製造業者は,定格電力として二つの値を指定することができる(J.8.3.3.3 参照)

スチールプレートに取り付けるための光源の定格電力

絶縁きょう体内に取り付けるための光源の定格電力

J.4.3

ランプの定格値

製造業者が指定したランプの定格値で,その表示灯の部品が,破損しない温度で作動する値。

注記 1

定格電力と電圧は,形式指定によって指示することができる。

注記 2

ランプは,その定格電圧では定格電力よりも大きな電力を浪費しないものと仮定した。

J.5

製品情報

適用できる必要条件。

5.1

の a

)

及び b

)

c

)

次の表示を,表示灯に表す。

1

)

表示灯の定格電圧

2

)

ランプの定格電圧(表示灯の定格電圧と異なる場合。

3

)

ランプの定格電力又はその形式指定,若しくは

LED

に対する定格電流

J.6

正常な使用,取付け及び輸送条件

追加要求はない。

表示タワーの取付部には,次の寸法を推奨する。

J.7

構造及び性能に関する要求事項

箇条 によるほか,次による。


59

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

J.7.1.12

変圧器付表示灯

変圧器は,分離巻線でなければならない。

表示灯が 8.3.3.4.1 に規定する試験に適合すれば,この条件を満たしたものとする。

J.7.1.13

レンズの色

レンズの色は,IEC 60073 と国際照明委員会

 (CIE) Pub.2

に規定する中から選定することを推奨する。

色は,紫外線の影響を含み,環境の悪影響にもかかわらず本質的に変化しないものとする。

認識のために使用する色は,明るく,そして容易に区別できなければならない。

注記

機器に設置された表示タワーについて,IEC 60204-1 

5

版では,最上部から最下部にかけて

次のような色の配置を要求している。赤,黄,青,緑,白。

J.7.2.1.6

動作限界

表示灯の端子に供給する電圧の限界値は,定格使用電圧の

1.1

倍でなければならない。この要求事項は,

J.8.3.4

の変圧器付表示灯にだけ適用する。

J.7.2.5.1

組込変圧器の短絡耐性

変圧器は,二次巻線の短絡に永久に耐えるものとし,表示灯が J.8.3.3.3 に規定する試験に適合すれば,

この条件が達成したものとする。

J.8

試験

J.8.3

表示灯と表示タワーの試験

試験は形式試験で,この附属書では,付加の試験(通常の試験及び特殊試験)は規定しない。

J.8.3.3.3

J.8.3.3.4J.8.3.4 及び J.8.4 の各試験は,試験要領に従って取り付けた新しい機器で行う。

J.8.3.3.3

温度上昇試験

a

)

表示灯が,取付状態にかかわらず同一定格通電電力(J.4.2 参照)をもっていれば,絶縁きょう体で

1

回だけ試験する。

b

)

定格通電電力(J.4.2 参照)が,取付条件によるならば,二つの試験を行う。

スチールプレート

絶縁きょう体内

c

)

スチールプレートへの取付け  緑色のレンズを備えている

5

か所の表示灯は,黒のつや消し塗装で

2

mm

厚のスチールプレートに,次の図表に従って取り付ける。


60

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

a

及び の寸法

1

)

押しボタン配列に必要な部分で構成する表示灯に関しては,6.3.1.3 に従う。

2

)

その他の表示灯に関しては,製造業者が指定する。しかし,使用する値は,試験報告書に記載する。

表示灯は,変圧器又は抵抗器などの組込機器がある場合でも,製造業者によって指定のランプとともに

取り付ける。結線長さは 8.3.3.3 に規定する。

プレートは,テーブルの上に垂直に置き,表示灯はそれらの定格電圧を供給する。試験の持続期間は,

温度が定常状態に達するまでとする。

d

)

絶縁きょう体への取付け  c

)

に記述した試験は,ベークライト被覆の

2 mm

厚の紙のような絶縁材料

で,その前面がスチールプレートと同一寸法をもつ,奥行き

110 mm

のきょう体の中に取り付けられ

た表示灯で再実行する。

表示灯は,ランプとともにこの形の用途のために製造業者が指定した取付方法で取り付ける。それ

らには,定格使用電圧を供給する。

試験の持続期間は,温度が定常状態に達するまでとする。

e

)

得るべき結果  c

)

及び d

)

で規定した,それぞれの試験の後で温度を測定する。

表示灯の本体上

端子上

影響しやすいレンズの部分

f

)

表示タワーの

5

個のランプユニットの配置は垂直方向とする。上部の

3

個又は製造業者が指定した場

合は

3

個以上の最大数のランプユニットは,製造業者が指定した最大電力の信号ランプを定格電圧で

使用する。温度状態が定常状態に達した後,

タワー最上部とタワー中央部のレンズの温度を測定する。

いずれも温度上昇は,JIS C 8201-1 の 7.2.2 で規定する限界を超えてはならない。

J.8.3.3.4

耐電圧試験

8.3.3.4

による。

J.8.3.3.4.3

変圧器付表示灯

二つの耐電圧試験で,それぞれ

1

分間持続しなければならない。

8.3.3.4

に規定する試験電圧値を,変圧器の一次側及び二次側巻線に加える。

表示灯の定格絶縁電圧に関係なく,試験電圧

1 000 V

を変圧器の二次側巻線と表示灯フレ−ムとの間

に加える。

J.8.3.4

短絡試験(変圧器付きの場合)

試験は,次の条件の下で行う。

一次電圧

1.1

×U

e

周囲温度

20

℃±

5

試験の持続時間

1

時間

変圧器は,インピ−ダンスの無視できる導体で短絡する。

試験後及び周囲温度まで冷却後,変圧器は,J.8.3.3.4.3 に規定する耐電圧試験に耐えなければならない。

J.8.4

衝撃及び振動

J.8.4.1

直接の設置

J.8.4.1.1

一般

5

個の表示ランプをもつ表示タワーは,

支柱の延長をせずに製造業者が指定したとおりに設置し上部の

3

個の表示ユニットは定格電力で使用する。


61

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

試験は次に従って行う。

J.8.4.1.2

衝撃

JIS C 60068-2-27

の要求事項に従う。

直行する三軸すべての方向から各々

6

回(合計

36

回)の衝撃を加える。

パルス波形

:片振りサイン波

最大加速度

15 G

パルス保持時間

11 ms

J.8.4.1.3

振動

直行する三軸に対して JIS C 60068-2-6 の要求事項に従う。

振動数範囲:

10 Hz

55 Hz

振幅:

0.5 mm

継続掃引サイクル:

5

共振する振動数又は

55 Hz

で,三軸方向の各々に対して各

30

分間(合計

90

分間)

J.8.4.2

直接接しない補助器具

製品に関する情報に他の設置条件(支柱による設置等)が許されている場合,製造業者は衝撃試験及び

振動試験の基準を J.8.4.3 に適合するように指定しなければならない。

J.8.4.3

得られる結果

試験後に目視で確認し,損傷があってはならない。また,信号も損傷してはならない。

J.8.5

表示タワーに関する保護等級

製造業者が保護等級を指定している場合,試験は,取外し可能な部品をすべて装備し,通常の使用条件

に合わせて JIS C 8201-1 

附属書 の要求事項に従う。


62

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 K

規定)

直接開路動作機能付制御スイッチに対する特別要求事項

K.1

一般

K.1.1

適用範囲

この附属書は,直接開路動作機能付制御スイッチに適用する。

直接開路動作機能付制御スイッチには,

附属書 F,附属書 G,附属書 及び/又は附属書 の関連要求

事項を適用する。

K.1.2

目的

この附属書は,設計及び性能に必要な特性を記載するために役立つ定義及び条件とともに,直接開路動

作機能付制御スイッチに適用する付加の要求事項について規定する。

K.2

定義

次の項目を追加して適用する。

K.2.1

直接開路動作機能付制御スイッチ 

(

control switch with direct opening action

)

操作部と接点との間に,弾性構造材(例えば,スプリング)を介在することなく,遮断接点素子が動作

する制御スイッチで,製造業者の指定する力を加えることによって,直接開路動作までの動作距離(含む

角度,以下,同じ。

)を操作部が移動したとき,遮断接点素子のすべての接点が開路するスイッチ。

K.2.2

直接開路動作機能(接点素子)[direct opening action 

(

of a contact element

)

]

操作部の一定の動きによって,非弾性構造材を経由して接点が開離する機能。

K.2.3

直接開路動作機能までの動作距離 

(

direct opening travel

)

操作部が操作を開始してから,直接開路動作機能が完了するまでの最小移動距離。

K.2.4

直接開路動作力(又はモーメント)[direct opening force 

(

or moment

)

]

直接開路動作が機能するのに必要な力,又はロータリ制御スイッチにおいてはモーメント。

K.3

分類

直接開路動作機能付制御スイッチには,次の

2

種類がある。

タイプ

1

:接点素子を

1

個だけもつもので,その接点素子は直接開路動作が機能しなければならない。

タイプ

2

1

個以上の直接開路動作機能付接点素子をもつもので,通常,次のいずれかが付加されたもの。

1

個以上の常開接点素子

1

個以上の切換接点素子

1

個以上の常開接点素子及び

1

個以上の切換接点素子

この切換接点素子の常閉側は,直接開路動作が機能しなければならない。


63

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

K.4

特性

次の付加の特性を適用する。

K.4.3.1.2

定格絶縁電圧

定格絶縁電圧の最小値は,

250 V

とする。

K.4.3.2.1

開放熱電流

開放熱電流の最小値は,

2.5 A

とする。

K.4.4

接点素子の使用負荷種別

使用負荷種別は,

AC-15

又は

DC-13

とする。

注記

付加の使用負荷種別は,

AC-14

及び

DC-14

も認められる。

K.5

製品情報

箇条 によるほか,次による。

K.5.2

表示

K.5.2.7

直接開路動作機能

直接開路動作機能付接点素子は,エンクロージャに      の記号を見やすく,容易に消えない方法で表

示しなければならない。

K.5.2.8

切換接点素子に関する電気的分離

4

個の端子をもつ切換接点素子は,

図 

Za

又は

Zb

の文字を見やすく,容易に消えない方法で表示し

なければならない。

K.5.4

追加情報

K.5.4.1

操作部の動作距離及び操作力

製造業者は,次の事項を明示しなければならない。

a

)

直接開路動作機能までの最小動作距離

b

)

すべての遮断接点素子の直接開路動作が機能するために必要な最小の力

c

)

最小動作位置を超える動作を含む最大動作距離(すなわち動作限度)

d

)

リミットスイッチに対する操作の最大速度

e

)

リミットスイッチに対する操作の最大頻度

これらの情報は,表示又は回路図,その他製造業者の発行する文書に明示しなければならない。

注記 1

K.7.1.5.3

参照。

注記 2

タイプ

2

の制御スイッチは,製造業者が明示した直接開路動作機能までの距離よりも短い動

作距離で開いてもよい。

K.5.4.2

短絡保護

短絡保護装置の形は,スイッチ又は取扱説明書で明示しなければならない。

K.6

正常な使用,取付け及び輸送条件

箇条 によるほか,次による。

K.6.1.1

周囲温度

直接開路動作機能を伴う位置検出スイッチを除き,JIS C 8201-1 の 6.1.1 による。前記スイッチに対して

は,温度の上限及び下限はそれぞれ,+

70

℃及び−

25

℃で,

24

時間の周期を通じての平均温度は,+

35

を超えない。


64

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

注記

接続導体の選沢は,必要なら製造業者と使用者との合意事項によるものとする[JIS C 8201-1

表 の注

a

)

参照]

K.7

構造及び性能に関する要求事項

箇条 によるほか,次による。

K.7.1.4.3.1

操作部の強度

操作部は,K.8.3.7 に規定する,試験に適合する十分な強度がなければならない。

K.7.1.4.3.2

直接開路動作機能

直接開路動作機能を備えているスイッチは,K.8.3.4K.8.3.5(直接開路動作機能を備えている位置スイ

ッチの場合)及び K.8.3.7 に規定する試験で,接点ギャップのインパルス耐電圧を低下させることなく適

合しなければならない。

K.7.1.4.5

ケーブル(引ひも)操作制御スイッチの自動開放

直接開路動作機能を備えているケーブル(引ひも)操作制御スイッチは,ケーブル(引ひも)が故障又

は固着した場合に自動的に開放位置に戻らなければならない。

K.7.1.4.6

直接開路動作機能に関する条件(JIS C 8201-1 の 2.4.10 を参照)

動作中の接点を分離する部品は,弾性材(例えば,ばね)でない部品を用いて,可動接点と力が加えら

れている操作部上との間で直接開路動作機能を行う。

K.7.1.4.6.1

接点素子形式

直接開路動作機能を備える制御スイッチは,スナップアクション又は直接動作接点素子を備えることが

できる。

遮断接点素子は,投入接点素子から互いに電気的に分離していなければならない。

制御スイッチが,接触形式

C

又は接触形式

Za

の切換接点素子[

図 の c

)

及び d

)

参照]

,をもつ場合には,

一つのコンタクト(投入又は遮断)だけを用いるものとする。接触形式

Zb

の切換接点素子の場合には,

両方のコンタクトを用いることができる。

K.7.1.5.3

操作部の動作表示

外部操作手段,例えば,カムとの関連で,操作部のセッティングアップを可能にするために,そのスイ

ッチは,直接開路動作機能を保証する操作部の最小動作距離を示す手段,例えば,操作部プランジャ上に

マークを設けなければならない[K.5.4.1 a

)

注記 参照]。

K.8

試験

箇条 及び

附属書 に付加して次を適用する。

K.8.3.1

試験シーケンス

次の付加とともに 8.3.1 を適用する。

試験シーケンス

7

(供試品

No.7

)−直接開路動作機能付位置検出スイッチの機械的動作

試験

No.1

−温度限界における機械的操作(K.8.3.5 参照)

試験

No.2

−直接開路動作機能の検証(K.8.3.6 参照)

試験シーケンス

8

(供試品

No.8

操作部の強度検証(K.8.3.7 参照)

K.8.3.4

条件付短絡状態での動作性能

次の付加とともに 8.3.4 を適用する。


65

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

K.8.3.4.2.1

条件付短絡状態の検証

試験は,8.3.4.2 によって行う。電流を除いては,付加の開閉機器ではなく,直接開路動作機能付接点素

子によって行う試験は,単相回路の同じ接点素子で

3

回電流を投入することによって,三つの機器それぞ

れについて行う。

タイプ

2

の制御スイッチでは,接点素子をランダム(不規則)に選ばなければならない。

K.8.3.4.4.1

試験後の操作能力

各々の試験後に,直接開路動作機能付接点素子は,操作部に製造業者の指定する力を加えたとき,直接

開路動作機能までの動作距離で開路しなければならない[K.5.4.1 a

)

及び b

)

を参照]

接点素子の開放位置(接点ギャップ)の検証は,接点素子に

2 500 V

のインパルス試験電圧を加えるこ

とによって立証する。

K.8.3.5

温度限界における位置検出スイッチの機械的操作機構の検証

この試験は,直接開路動作機能をもつ位置検出スイッチに適用する。位置検出スイッチは+

70

℃の状態

8

時間放置する。

放置時間の終了前に+

70

℃のまま,最大定格使用電流を

10

分間通電する。次に,K.5.4.1 b

)

に従って製

造業者が指定する力を加え

10

回操作する。

25

℃で連続放置後に,K.5.4.1 b

)

に従って製造業者が指定する力を加え

10

回操作する。ただし,電流

は流さない。

この試験の完了後に,K.8.3.6 に従って,接点の開放位置を検証しなければならない。

K.8.3.6

直接開路動作機能の機構に対する検証

位置検出スイッチが,K.5.4.1 a

)

で規定する直接開路動作機能までの動作距離に対応する位置にあるとき,

その接点ギャップは,

2 500 V

のインパルス耐電圧に耐えなければならない。

断路(アイソレーション)に適する位置検出スイッチに対しては,製造業者が指定する定格インパルス

耐電圧

  (

U

imp

)

に応じた JIS C 8201-1 

表 14 の値に耐えなければならない。

K.8.3.7

操作部強度の検証

閉じている接点に

10 N

図 K.1 参照)の力 F

1

を加える。

製造業者が指定する力 F

1

より大きい力(モーメント)F

2

を,直接開路動作が機能するまでの動作距離の

間に加える。

この試験後,可動接点及び操作部に変形があってもよいが,K.8.3.6 によるインパルス耐電圧に耐えなけ

ればならない。また,断路(アイソレーション)に適する位置検出スイッチは,製造業者が指定した定格

インパルス耐電圧

  (

U

imp

)

に応じた JIS C 8201-1 

表 14 の値に耐えなければならない。


66

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

F

1

=必要な開路力=10 N

F

2

=製造業者指定の力(モーメント)

図 K.1−操作部強度の検証


67

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

附属書 L

規定)

機械的に結合された接点素子(リンクドコンタクト)に対する

特別要求事項

L.1

一般

L.1.1

適用範囲

この附属書は,例えばコンタクタ形電磁継電器のように駆動力を内蔵する制御回路機器に含まれている

機械的に結合した補助接点素子(以下,リンクドコンタクト)に適用する。

補助接点と主接点との間には,この附属書は適用しない。

注記 1

リンクドコンタクトの代表的な使用例は,機械制御回路の自己モニタリングなどである。

注記 2

従来,リンクドコンタクトは,

“forced contacts”

“positively activated contacts”

又は

 “linked

contacts”

と呼ばれた。

注記 3

駆動力が外から伝わる制御回路機器(例えば,押しボタンスイッチ又はリミットスイッチ)

は,L.8.4 a

)

 2

)

に示す駆動力の最大値を設定できない。これらは,リンクドコンタクトの適用

外である。通常それらの機器の安全性については,直接開路動作機能(

附属書 K)を適用す

る。

L.1.2

目的

この附属書は,リンクドコンタクトに要求する設計特性,表示及び性能を記載するために用いる付加の

仕様(定義,要求事項及び試験)について規定する。

L.2

定義

次の定義を追加して適用する。

L.2.1

リンクドコンタクト 

(

mechanically linked contact elements

)

L.8.4

で定められた条件下で,同時に閉じた状態にならないように設計した 個の投入接点素子と 

の遮断接点素子との組合せ。

注記 1

一つの制御回路機器が

2

グループ以上のリンクドコンタクトをもっていてもよい。

注記 2

L.7.1.9

も参照。

L.3

分類

箇条 による。

L.4

特徴

すべてのリンクドコンタクトは,この規格で規定した関連要求事項にも従わなければならない。

L.5

製品の情報

箇条 によるほか,次による。

L.5.2.7

コンタクトの識別と表示


68

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

リンクドコンタクトは,

制御回路機器本体において

又は,製造業者の文書において

又は,それら両方において

明確に識別しなければならない。

機械的な結合は,各々のリンクドコンタクトの接点記号上に黒丸でつないだ

2

本の平行線を付加した接

続図で識別しなければならない。例を

図 L.1 に示す。

図 L.1−機械的に結合された NO 及び NC 接点と,結合していない NC 接点の代表例

リンクドコンタクトを含む機器の表示は,

図 L.2 に示す記号を用いなければならない。

図 L.2−機械的に結合された接点からなる装置の図記号

L.6

通常の取扱い,取付け,輸送の状態

追加要求事項はない。

L.7

構造及び性能に関する要求事項

箇条 によるほか,次による。

L.7.1.9

リンクドコンタクトのための要求事項

n

個の投入接点素子のうちいずれかが閉じている間,個の遮断接点素子のうちのどの遮断接点素子も

閉じてはならない。

m

個の遮断接点素子のうちいずれかが閉じている間,個の投入接点素子のうちのどの投入接点素子も

閉じてはならない。

L.8

試験

箇条 によるほか,次による。

L.8.4

リンクドコンタクトのための特別な試験

この特別な試験は,個の遮断接点素子と 個の投入接点素子からなる供試品で行われる。

各組の接点の試験は,新しい供試品を用いる。


69

C 8201-5-1

:2007 (IEC 60947-5-1:2003)

試験は,新品で清浄な状態で行わなければならない。試験手順は,次による。

a

)

NC

接点の試験

1

) NC

接点素子は,例えば溶着又は接着して閉じた状態を維持しなければならない(ツインの

NC

接点

の場合,

2

か所の接触面で溶着する。

。溶着又は接着の厚さは,

0.02 mm

以下とする。

2

)

駆動力は,操作コイル定格電圧の

110 %

の励磁により加えなければならない。

3

)

駆動力が加えている間,インパルス電圧

2.5 kV

1.2/50 μs

,高度補正は JIS C 8201-1 

表 12 による)

が溶着した接点以外の各

NO

接点の電源側−負荷側間に加える。そのとき,絶縁破壊があってはな

らない。

注記

この試験は,JIS C 8201-1 

表 13 による最低のギャップ

0.5 mm

を保証する。

b

)

NO

接点の試験

1

)

駆動力は,操作コイル定格電圧の励磁により加えなければならない。

2

) NO

接点素子は,例えば溶着又は接着して閉じた状態を維持しなければならない(ツインの

NC

点の場合,

2

か所の接触面で溶着する。

。溶着又は接着の厚さは,

0.02 mm

以下とする。

3

)

駆動力は,操作コイルの励磁を解くことにより与えられる力でなければならない。

4

)

操作コイルの励磁を解いた状態で,インパルス電圧

2.5 kV

1.2/50 μs

,高度補正は JIS C 8201-1 

表 12 による)が溶着した接点以外の各

NC

接点の電源側−負荷側間に加える。そのとき,絶縁破壊

があってはならない。

注記

この試験は,JIS C 8201-1 

表 13 による最低のギャップ

0.5 mm

を保証する。

参考文献

JIS G 4051

  機械構造用炭素鋼鋼材

IEC 60204-1

Safety of machinery

Electrical equipment of machines

Part 1: General requirements

IEC 60410

Sampling plans and procedures for inspection by attributes

IEC 60947-5-5

Low-voltage switchgear and controlgear

Part 5-5: Control circuit devices and

switching elements

Electrical emergency stop device with mechanical latching function