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C 8201-1

:2007

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  総則

1

1.1

  適用範囲及び目的

2

1.2

  引用規格

2

2

  用語及び定義

5

2.1

  共通用語

5

2.2

  開閉機器

7

2.3

  開閉機器の部品

10

2.4

  開閉機器の動作

12

2.5

  特性値

16

2.6

  試験

23

3

  分類

24

4

  特性

24

4.1

  一般

25

4.2

  装置の形式

25

4.3

  主回路の定格値及び限界値

25

4.4

  使用負荷種別

30

4.5

  制御回路

30

4.6

  補助回路

31

4.7

  リレー及び引外し装置

31

4.8

  短絡保護装置(SCPD)との協調

31

4.9

  開閉過電圧

31

5

  製品情報

31

5.1

  情報の性質

31

5.2

  表示

32

5.3

  取付け,操作及び保守にかかわる指示

33

6

  標準使用,取付け及び輸送条件

33

6.1

  標準使用条件

33

6.2

  輸送中及び保管中の条件

34

6.3

  取付け

35

7

  構造及び性能に関する要求事項

35

7.1

  構造に関する要求事項

35

7.2

  性能に関する要求事項

41

7.3

  電磁両立性(EMC

46

8

  試験

47


C 8201-1

:2007  目次

(2)

ページ

8.1

  試験の種類

47

8.2

  構造に関する要求事項に対する適合性

48

8.3

  性能

52

8.4

  EMC 試験

67

附属書 A(規定)低圧用開閉装置及び制御装置の使用負荷種別例

98

附属書 B(規定)使用時の動作条件が標準使用条件と異なる場合の装置の適用

100

附属書 C(規定)箱入り装置の保護等級

101

附属書 D(参考)端子の例

107

附属書 E(参考)負荷回路の調整方法についての説明

112

附属書 F(参考)短絡力率又は時定数の求め方

114

附属書 G(参考)沿面距離及び空間距離の測定

116

附属書 H(参考)電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係

121

附属書 J(参考)受渡当事者間で協定を必要とする項目

123

附属書 L(参考)端子表示及び識別数字

124

附属書 M(規定)可燃性試験

129

附属書 N(規定)保護分離をもつ装置に対する要求事項及び試験

132

附属書 O(参考)環境側面

135

附属書 P(参考)銅導体を接続する低圧開閉装置及び制御装置のためのラグ端子

141

附属書 JA(規定)定格インパルス耐電圧を表示しない装置の絶縁距離

142

附属書 JB(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

151

参考文献

153


C 8201-1

:2007

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電機

工業会(JEMA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査

会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 8201-1:2004 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 8201

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 8201-1

  第 1 部:通則

JIS C 8201-2-1

  第 2-1 部:回路遮断器(配線用遮断器及びその他の遮断器)

JIS C 8201-2-2

  第 2-2 部:漏電遮断器

JIS C 8201-3

  第 3 部:開閉器,断路器,断路用開閉器及びヒューズ組みユニット

JIS C 8201-4-1

  第 4 部:接触器及びモータスタータ−第 1 節:電気機械式接触器及びモータスタータ

JIS C 8201-5-1

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 1 節:電気機械式制御回路機器

JIS C 8201-5-2

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 2 節:近接スイッチ

JIS C 8201-5-101

  第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 101 節:接触器形リレー及びスタータの補

助接点(検討中)


C 8201-1

:2007

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

8201-1

:2007

低圧開閉装置及び制御装置−第 1 部:通則

Low-voltage switchgear and controlgear

Part 1: General rules

序文

この規格は,2004 年に第 4 版として発行された IEC 60947-1 を基に,我が国の風土,気候,配電方式を

考慮して技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JB に示す。

1

総則

この規格の目的は,低圧開閉装置及び制御装置に適用する一般的な性能に関する規定及び要求事項を,

できるだけ実情に合うように調和させて,すべての装置の範囲に応じた要求事項及び試験方法の統一を図

り,必要な試験方法を個々の規格で規定することを避けることにある。

各々の装置の規格の中では,共通性をもっている部分がある。したがって,この規格ではそれぞれの装

置に広く関係があり,かつ,適用する特定の項目を集めた。例えば,温度上昇,耐電圧性能などをまとめ

ている。

いろいろな形式の開閉装置及び制御装置があるが,すべての要求事項及び試験を決めるために,二つの

主要な文書が必要である。

1)

この規格は,通則規格として“第 1 部”を構成しており,様々な低圧開閉装置及び制御装置に対し

て適用する。

2)

個別機器の規格は,以降“個別規格”として示す。

個別規格では,この規格を適用するために“JIS C 8201-1”の後ろに箇条番号を引用する。例えば,これ

らは文の末尾に“JIS C 8201-1 の 7.2.3”のように明確に示す。

個別規格にこの規格が(適用できないので)必要ないときは,省略してもよい。また,本質的に技術上

の正当性がある場合には(不十分だと思われるような場合には)

,個別規格は,この規格の当該箇所に独自

の規定を加えて採用してもよい。ただし,技術上の正当性がない場合は,この規格から逸脱してはならな

い。

注記  低圧開閉装置及び制御装置の個別規格の部編成の JIS 又は IEC 規格は,次のとおりである。

JIS C 8201-1

  低圧開閉装置及び制御装置−第 1 部:通則

JIS C 8201-2-1

  低圧開閉装置及び制御装置−第 2-1 部:回路遮断器(配線用遮断器及びその他

の遮断器)

JIS C 8201-2-2

  低圧開閉装置及び制御装置−第 2-2 部:漏電遮断器

JIS C 8201-3

  低圧開閉装置及び制御装置−第 3 部:開閉器,断路器,断路用開閉器及びヒュー

ズ組みユニット


2

C 8201-1

:2007

JIS C 8201-4-1

  低圧開閉装置及び制御装置−第 4 部:接触器及びモータスタータ−第 1 節:電

気機械式接触器及びモータスタータ

JIS C 8201-5-1

  低圧開閉装置及び制御装置−第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 1 節:電

気機械式制御回路機器

JIS C 8201-5-2

  低圧開閉装置及び制御装置−第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 2 節:近

接スイッチ

JIS C 8201-5-101

  低圧開閉装置及び制御装置−第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 101

節:接触器形リレー及びスタータの補助接点(検討中)

IEC 60947-6

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 6: Multiple function equipment

IEC 60947-7

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 7: Ancillary equipment

1.1

適用範囲及び目的

この規格は,交流 1 000 V 以下又は直流 1 500 V 以下の定格電圧で,かつ,これらの回路に接続し,規格

本文中に“装置(equipment)

”として規定する開閉装置及び制御装置の通則的事項について規定する。し

たがって,要求事項は個別規格でそれぞれ規定する。

この規格は,IEC 60439 の規格群で取り扱う,低圧開閉装置及び制御装置の盤には適用しない。

注記  この規格の幾つかの箇条の中で,この規格の範囲の装置を,その箇条の文章に合わせ,機器

(device)と述べることがある。

この規格の目的は,

低圧開閉装置に共通する通則及び要求事項を,次の例を含めて規定することである。

−  定義

−  特性

−  装置とともに供給する情報

−  通常使用,取付け及び輸送条件

−  構造及び性能に関する要求事項

−  特性及び性能の検証

注記 1  日本の配電電圧は,電気設備に関する技術基準を規定する省令において,低圧は交流 600 V

以下,直流 750 V 以下と規定している。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60947-1:2004

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules (MOD)

なお,対応の程度を表す記号(MOD)は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,修正していることを

示す。

1.2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。

これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追

補を含む。

)には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0365:2007

  感電保護−設備及び機器の共通事項

注記  IEC 61140:2001,Protection against electric shock−Common aspects for installation and equipment

(IDT)

JIS C 0447:1997

  マンマシンインタフェース(MMI)−操作の基準

注記  対応国際規格:IEC 60447:1993,Man-machine interface (MM)−Actuating principles (IDT)

JIS C 0448

  表示装置(表示部)及び操作機器(操作部)のための色及び補助手段に関する規準


3

C 8201-1

:2007

JIS C 0920:2003

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529:1989,Degrees of protection provided by enclosures (IP code) 及び

Amendment 1 (1999) (IDT)

JIS C 3001

  電気用銅材の電気抵抗

JIS C 3307

  600V ビニル絶縁電線(IV)

JIS C 4003:1998

  電気絶縁の耐熱クラス及び耐熱性評価

注記  対応国際規格:IEC 60085:1984,Thermal evaluation and classification of electrical insulation (IDT)

JIS C 4526

(規格群)  機器用スイッチ

JIS C 8201-5-1

  低圧開閉装置及び制御装置−第 5 部:制御回路機器及び開閉素子−第 1 節:電気機械

式制御回路機器

注記  対応国際規格:IEC 60947-5-1:2003,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control

circuit devices and switching elements−Electromechanical control circuit devices (IDT)

JIS C 60068-2-78:2004

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp

heat, steady state (IDT)

JIS C 60695-2-10:2004

  耐火性試験−電気・電子−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-10:2000,Fire hazard testing−Part 2-10: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire apparatus and common test procedure (IDT)

JIS C 60695-2-11:2004

  耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-11:2000,Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire flammability test method for end-products (IDT)

JIS C 60695-11-10

  耐火性試験−電気・電子−第 11-10 部:試験炎−50W 試験炎による水平及び垂直

燃焼試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-10:1999,Fire hazard testing−Part 11-10: Test flames−50 W

horizontal and vertical flame test methods 及び Amendment 1 (2003) (IDT)

JIS C 61000-3-2:2005

  電磁両立性−第 3-2 部:限度値−高調波電流発生限度値(1 相当たりの入力電

流が 20 A 以下の機器)

注記  対応国際規格:IEC 61000-3-2:2000,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−

Limits for harmonic current emissions (equipment input current ≤ 16 A per phase),Amendment 1

(2001)  及び Amendment 2 (2004) (MOD)

JIS C 61000-4-2:1999

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 2 節:静電気放電イミュニティ試

注記  IEC 61000-4-2:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement

techniques − Section 2: Electrostatic discharge immunity test − Basic EMC publication 及 び

Amendment 1 (1998) (IDT)

JIS C 61000-4-3:2005

  電磁両立性−第 4-3 部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ

試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-3:2002,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and

measurement techniques − Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test ,

Amendment 1 (2002) (IDT)


4

C 8201-1

:2007

JIS C 61000-4-4:1999

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 4 節:電気的ファストトランジェ

ント/バーストイミュニティ試験

注記  IEC 61000-4-4:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement

techniques−Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test−Basic EMC publication (MOD)

JIS C 61000-4-5:1999

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 5 節:サージイミュニティ試験

注記  IEC 61000-4-5:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement

techniques−Section 5: Surge immunity test (MOD)

JIS C 61000-4-8:2003

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 8 節:電源周波数磁界イミュニテ

ィ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-8:1993,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques−Section 8: Power frequency magnetic field immunity test−Basic EMC

Publication 及び Amendment 1 (2000) (MOD)

JIS C 61000-4-11:2003

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 11 節:電圧ディップ,短時間停

電及び電圧変化に対するイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-11:1994,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques− Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations

immunity test 及び Amendment 1 (2000) (MOD)

IEC 60050-441:1984

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 441: Switchgear, controlgear

and fuses,Amendment 1 (2000)

IEC 60050-604:1987

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 604: Generation, transmission

and distribution of electricity−Operation,Amendment 1 (1998)

IEC 60050-826:1982

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 826: Electrical installations of

buildings,Amendment 1 (1990),Amendment 2 (1995),Amendment 3 (1999)

IEC 60071-1:1993

,Insulation co-ordination−Part 1: Definitions, principles and rules

IEC 60216

,Guide for the determination of thermal endurance properties of electrical insulating materials

IEC 60417-DB:2002

1)

,Graphical symbols for use on equipment

IEC 60439 Series

,Low-voltage switchgear and controlgear assemblies

IEC 60445:1999

,Basic and safety principles for man-machine interface, marking and identification−

Identification of equipment terminals and of terminations of certain designated conductors, including

general rules of an alphanumeric system

IEC 60617-DB:2001

1)

,Graphical symbols for diagrams

IEC 60664-1

, Insulation coordination for equipment within low-voltage systems − Part 1: Principles,

requirements and tests

IEC 60947-5 Series

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5: Control circuit devices and switching

elements

IEC 60981:1989

,Extra-heavy duty rigid steel conduits for electrical installations

IEC 61000-3-3:1994

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3: Limits−Section 3: Limitation of voltage

fluctuations and flicker in low-voltage supply systems for equipment with rated current ≤16 A,

Amendment 1 (2001)

IEC 61000-4-6:1996

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement techniques−


5

C 8201-1

:2007

Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields,Amendment 1 (2000)

IEC 61000-4-13:2002

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-13: Testing and measurement techniques

−Harmonics and interharmonics including mains signalling at a.c. pawer port, low-frequency immunity

tests

IEC 61180 (all parts)

,High-voltage test techniques for low voltage equipment

CISPR 11:2003

, Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment − Electromagnetic

disturbance characteristics−Limits and methods of measurement

1)

  IEC ホームページのデータベース(DB)参照。

2

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

注記 1  この箇条の定義の大部分は,IEVIEC 60050)から変更なしに引用している。この場合,参

照 IEV 番号をタイトルとともに括弧内に示す(最初の 3 けたの数字は,IEV の章を示す。

)。

IEV

の定義を修正している場合,参照 IEV 番号はタイトルとともに記載しないで注釈に入

れる。

注記 2  特性(定格又は非定格としての)及びシンボルの一覧表を,箇条 に示す。

2.1

共通用語

2.1.1

開閉装置及び制御装置(switchgear and controlgear)(441-11-01

開閉機器並びにこれに付随した制御,計測,保護及び調整装置との組合せ,また,内部接続,附属品,

エンクロージャ及び支持構造をもった機器並びに装置の盤。

2.1.2

開閉装置(switchgear)(441-11-02

電気エネルギーの発電,変電,配電及び変換を主な目的とし,開閉機器並びにこれに付随した制御,計

測,保護及び調整装置との組合せ,また,内部接続,附属品,エンクロージャ及び支持構造をもった機器

並びに装置の盤。

2.1.3

制御装置(controlgear)(441-11-03

電気エネルギーを消費する装置の制御を主な目的とし,開閉機器並びにこれに付随した制御,計測,保

護及び調整装置との組合せ,また,内部接続,附属品,エンクロージャ及び支持構造をもった機器並びに

装置の盤。

2.1.4

過電流(over-current)(441-11-06

定格電流を超える電流。

2.1.5

短絡(short circuit

電位差が等しくなる又はゼロに近くなる二つ以上の導電部間の偶発的又は意図的な導電経路。

2.1.6

短絡電流(short-circuit current)(441-11-07


6

C 8201-1

:2007

電気回路の故障又は誤った接続によって短絡した回路に流れる過電流。

2.1.7

過負荷(overload)(441-11-08

過電流が発生しても,回路には電気的な損傷を生じない動作状態。

2.1.8

過負荷電流(overload current

回路に電気的な損傷を生じない範囲の過電流。

2.1.9

周囲温度(ambient air temperature)(441-11-13

規定した条件の下で決めた,開閉機器又はヒューズを取り巻く空気の温度。

注記  エンクロージャ内部に取り付けた開閉機器又はヒューズの場合は,エンクロージャの外側の空

気の温度。

2.1.10

導電部(conductive part)(441-11-09

電気を導通させる機能がある部分。導電部には,使用電流を必ずしも通電しなくてもよい。

2.1.11

露出導電部(exposed conductive part)(441-11-10

容易に人の接触が可能で,通常は充電部にはなっていないが,故障したとき充電部となり得る導電部。

注記  典型的な露出導電部には,エンクロージャの周囲の壁,操作ハンドルなどがある。

2.1.12

系統外導電部(extraneous conductive part)(826-03-03

電気系統を構成しない導電部で,大地電位などにするためのもの。

注記  系統外導電部には,水道管,建築の金属部構造体などがある。

2.1.13

充電部(live part)(826-03-01

通常の使用状態で電圧を印加している導体又は導電部。中性線を含むが慣例的に PEN 導体は含まない。

注記  この用語は,必ずしも感電の危険性を意味しない。

2.1.14

保護導体(記号 PE)[protective conductor (symbol PE)](826-04-05

電気的な接続に対して,感電に対する保護を要求する導体。保護導体には,次のようなものがある。

−  露出導電部

−  系統外導電部

−  主接地端子

−  接地極

−  電源又は中性点の接地点

2.1.15

中性線(記号 N)[neutral conductor (symbol N)](826-01-03

システムの中性点に接続し,電気エネルギーの伝達に用いる導体。

注記  ある特定の条件の下では,中性線及び保護導体の機能を兼ねることがあり,PEN 導体と呼ぶ(記

号 PEN)


7

C 8201-1

:2007

2.1.16

エンクロージャ(enclosure

外部から受ける影響に対する装置の保護等級,並びに充電部及び可動部に人が接近又は接触することを

防ぐための保護等級を決めている部分。

注記  この定義は,IEV 441-13-01 の盤に適用している内容とほぼ同一である。

2.1.17

一体形エンクロージャ(integral enclosure

外郭のような,装置と一体となっているエンクロージャ。

2.1.18

使用負荷種別(開閉機器又はヒューズに対する)[utilization category (for a switching device or a fuse)]

441-17-19

開閉機器又はヒューズが,本来の目的を達成する条件に関係した,規定の要求事項の組合せ。実使用上

の特定グループを代表するものを選択する。

注記  ここで規定する要求事項は,関連する回路,適用条件及び動作条件に関連する。例えば,(適用

できるものがあるとき)投入容量,遮断容量及びその他の特性値がある。

2.1.19

断路(アイソレーション)(断路機能)[isolation (isolating function)]

安全のために,あらゆる電気エネルギー源から設備又は区域を分離することによって,設備のすべて又

は分離した区域から電源を切り離す機能。

2.1.20

感電(electric shock)(826-03-04

電流が,人体又は動物の体を通して流れるときに生じる,生理病理学的な影響。

2.2

開閉機器

2.2.1

開閉機器(switching devices)(441-14-01

回路において,電流を投入又は遮断するために設計した機器。

注記  開閉機器は,これらの動作のいずれか一つ又は両方を行う。

2.2.2

機械式開閉機器(mechanical switching device)(441-14-02

開離できる接点を用いて,電気回路を開閉するように設計した開閉機器。

注記  機械式開閉機器は,その接点の開閉に関係する媒体(例えば,空気,SF

6

,油)について指定す

る。

2.2.3

半導体開閉機器(semiconductor switching device

半導体の導通制御機能を用いて,電気回路の電流の投入及び/又は遮断を行わせるように設計した開閉

機器。

注記  IEV 441-14-03 にも半導体開閉機器があって,電流を遮断することを目的として設計している

が,この用語とは異なる。

2.2.4


8

C 8201-1

:2007

ヒューズ(fuse)(441-18-01

種類に応じて仕様設計した部品(component)の溶断機能を用いたもので,ある一定時間電流がある一定

値を超えるとき,それが挿入してある回路の電流を遮断することによって開路する機器。ヒューズは,完

全な機器を構成するすべての部品(part)を含む。

2.2.5

ヒューズリンク(fuse-link)(441-18-09

ヒューズが溶断した後に,これと交換するヒューズの部品(ヒューズエレメントを含む。

2.2.6

ヒューズエレメント(fuse-element)(441-18-08

電流が規定時間の間,ある規定した値を超えているとき溶断するように設計したヒューズリンクの一部。

2.2.7

ヒューズ組みユニット(fuse-combination unit)(441-14-04

製造業者が組み込むか,又は製造業者の指示に従って組み立てたユニットで,機械式開閉機器及びヒュ

ーズを組み合わせたもの。

2.2.8

断路器(disconnector

開路位置で,断路機能の規定要求事項に対応する機械式開閉機器。

注記  この定義は,断路機能に対する要求事項が断路距離だけに依存しないので,IEV 441-14-05 とは

異なる。

2.2.9

開閉器(機械式)[switch (mechanical)](441-14-10

規定した過負荷動作を含む通常の回路条件の下で,電流を投入,通電及び遮断することができ,かつ,

回路の短絡によって生じるような,特定の異常回路条件の下でも規定した時間,電流を流すことができる

能力をもつ機械式開閉機器。

注記  この開閉器は,電流の投入は可能であってもよいが,短絡の遮断は不可能であってもよい。

2.2.10

断路用開閉器(switch-disconnector)(441-14-12

開路位置で,断路器について規定した断路に関する要求事項を満足する開閉器。

2.2.11

回路遮断器(circuit-breaker)(441-14-20

通常の回路条件の下で,電流を投入,通電及び遮断することができ,かつ,回路の短絡のような特定の

異常回路条件の下でも,

投入,

規定した時間の通電及び遮断することができる能力をもつ機械式開閉機器。

注記  回路遮断器には,通常配線用遮断器,漏電遮断器及び低圧遮断器(ACB)がある。

2.2.12

接触器(機械的)[contactor (mechanical)](441-14-33

機械的動作位置として安定位置が一つだけあり,手以外によって動作するようになっている機械式開閉

機器で,過負荷動作を含む通常の回路条件の下で,電流を投入,通電及び遮断することができる能力をも

つ機械式開閉機器。

注記  主接点の開閉動作を行わせる力を供給する方法によって接触器の方式を指定してもよい。

2.2.13


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C 8201-1

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半導体接触器(ソリッドステート接触器)[semiconductor contactor (solid-state contactor)]

半導体開閉機器によって,接触器の機能をもつ装置。

注記  半導体接触器には,機械式開閉機器も含むこともある。

2.2.14

接触器形リレー(contactor relay)(441-14-35

制御スイッチとして用いる接触器。

2.2.15

スタータ(starter)(441-14-38

モータを始動及び停止するために必要な開閉手段を組み合わせたもの。適度な過負荷の保護の機能を併

せもっている。

注記  主接点の閉路を行わせる力によって,そのスタータの方式を指定してもよい。

2.2.16

制御回路装置(control circuit device

開閉装置及び制御装置の制御,信号の処理,インタロックなどの目的に用いる電気式装置。

注記  制御回路装置として組み込まれたものを計測器,電位差計,リレーのように,ある限定した目

的に用いる限り,ほかの規格によって取り扱われたこれらを組み合わせた装置も制御回路装置

に含まれる。

2.2.17

制御スイッチ(制御回路及び補助回路用)[control switch (for control and auxiliary circuits)](441-14-46

信号の処理,電気的インタロックなどを含む,開閉装置又は制御装置の動作を制御することを目的とす

る,機械式開閉機器。

注記  制御スイッチは,共通の動作システムをもつ接点素子で構成している。

2.2.18

パイロットスイッチ(pilot switch)(441-14-48

規定する操作量の条件に応じた動作をする,非手動制御スイッチ。

注記  操作量とは,圧力,温度,速度,液位,経過時間などをいう。

2.2.19

押しボタンスイッチ(push-button)(441-14-53

人体の一部,通常は指又は手のひらの作用で動作する操作部をもち,かつ,蓄積エネルギー(ばね)で

元に戻る制御スイッチ。

2.2.20

端子台(terminal block

相互に絶縁した端子を組み合わせた構造で,支持体に固定するようになっている絶縁部品。

2.2.21

短絡保護装置(SCPD)[short-circuit protective device (SCPD)]

短絡電流に対して,回路を遮断することによって,その回路及び回路部品を保護する装置。

2.2.22

サージアレスタ(surge arrester)(604-03-51

電気機器を高い過渡過電圧から保護するとともに,流入電流の持続時間及び多くの場合は振幅をも制限

する機器。


10

C 8201-1

:2007

2.3

開閉機器の部品

2.3.1

開閉機器の極(pole of a switching devices)(441-15-01

独立した開閉機器の一部分で,電気的に分離した主回路によって構成する一つの導電路の部分。一緒に

なった極全体の取付け又は動作の手段として設けた部分は含まない。

注記  開閉機器で,一つの極だけで構成しているものは単極と呼ぶ。二つ以上の極のものは多極(2

極,3 極など)と呼ばれ,複数の極を同時に動作するような方法を用い,対になる,又は対に

できるようになっている。

2.3.2

主回路(開閉機器の)[main circuit (of a switching device)](441-15-02

回路を閉路又は開路するために設計した回路を含む,開閉機器のすべての導電部。

2.3.3

制御回路(開閉機器の)[control circuit (of a switching device)](441-15-03

装置の閉動作若しくは開動作又はその両方に用いる回路を含む(主回路を除く。

,開閉機器のすべての

導電部。

2.3.4

補助回路(開閉機器の)[auxiliary circuit (of a switching device)](441-15-04

機器の主回路及び制御回路以外の回路を含めた開閉機器のすべての導電部。

注記  信号処理,インタロック処理などのような付加機能を行う補助回路もある。そのような補助回

路は,ほかの開閉機器の制御回路の一部になることもある。

2.3.5

接点(機械式開閉機器の)[contact (of a mechanical switching device)](441-15-05

接触時に回路の接続性を確立し,動作中の相対的な振る舞いによって回路を開路又は閉路し,また,ヒ

ンジ形又はしゅう(摺)動形の場合には,回路の接続性を維持するように設計した導電部。

2.3.6

接触片(contact piece)(441-15-06

接点を形成する導電部の一つ。

2.3.7

主接点(main contact)(441-15-07

機械式開閉機器の主回路に用い,閉路位置で主回路の電流が流れるようになっている接点。

2.3.8

アーク接点(arcing contact)(441-15-08

アークを確実に流すために設けた接点。

注記  アーク接点は主接点として用いてもよい。アーク接点はほかと分離されてもよい接点で,その

動作は,接点の損傷を防ぐ目的で,ほかの接点が開いた後に開き,閉じる前に閉じるようにす

る。

2.3.9

制御接点(control contact)(441-15-09

機械式開閉機器の制御回路に用い,この機器によって機械的に動作する接点。


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C 8201-1

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2.3.10

補助接点(auxiliary contact)(441-15-10

補助回路に用い,開閉機器によって機械的に動作する接点。

2.3.11

補助スイッチ(機械式開閉機器の)[auxiliary switch (of a mechanical switching device)](441-15-11

開閉機器によって機械的に動作する制御接点及び/又は補助接点を含む開閉器。

2.3.12

a”接点(“a contact)投入接点(make contact)(441-15-12

機械式開閉機器の主接点が閉じたとき閉路し,主接点が開いたときに開路する制御接点又は補助接点。

2.3.13

b”接点(“b contact)遮断接点(break contact)(441-15-13

機械式開閉機器の主接点が閉じたとき開路し,主接点が開いたときに閉路する制御接点又は補助接点。

2.3.14

リレー(電気式)[relay (electrical)](446-11-01

機器を制御している電気的入力回路がある条件を満足したとき,電気的出力回路の切換えを直ちに行う

ように設計した機器。

2.3.15

引外し装置(機械式開閉機器の)[release (of a mechanical switching device)](441-15-17

機械式開閉機器に機械的に接続する機器で,開閉機器の保持機構を引き外し,開路又は閉路を可能にす

る装置。

注記  引外し装置は,瞬時,時延などの動作がある。引外し装置の形式は,2.4.242.4.35 に定義する。

2.3.16

動作システム(機械式開閉機器の)[actuating system (of a mechanical switching device)]

接触片に駆動力を伝える機械式開閉機器の操作手段のすべて。

注記  ここでいう,動作システムの操作手段には,機械式,電磁式,流体式,空気式,熱式などがあ

る。

2.3.17

操作部(actuator)(441-15-22

外部から駆動力を加える動作システムの一部分。

注記  操作部は,ハンドル,ノブ,押しボタン,ローラ,プランジャなどの形態をしている。

2.3.18

位置表示装置(position indicating device)(441-15-25

開路,閉路又は接地のいずれか適切な位置を表示する機械式開閉機器の一部分。

2.3.19

表示灯(indicator light

点灯又は点滅によって情報を伝達する光源を用いた表示用の器具。

2.3.20

ポンピング防止装置(anti-pumping device)(441-16-48

機器が閉動作開始の待機位置で保持しているとき,閉−開動作の後で再閉動作が起こらないようにする

機器。


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C 8201-1

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2.3.21

インタロック装置(interlocking device)(441-16-49

装置の部品の位置又は動きに関連させて,開閉機器を動作させる機器。

2.3.22

端子(terminal

外部回路へ電気的接続を行う機器の導電部。

2.3.23

ねじ式端子(screw-type terminal

導体の接続及び取外し又は二つ以上の導体の相互接続に用いる各種のねじ又はナットを用いて,直接的

又は間接的に接続する端子。

注記  附属書 にその例を示す。

2.3.24

ねじなし端子(screwless-type terminal

導体の接続及び取外し又は二つ以上の導体の相互接続に用いるばね,くさび,偏心,円柱形状などを用

いて,直接的又は間接的に接続する端子。

注記  附属書 にその例を示す。

2.3.25

締付具(clamping unit

機械的な締付け及び導体を電気的に接続するのに必要な,端子の部分(又は部品)

2.3.26

未処理導体(unprepared conductor

端子に挿入するために切断し,絶縁物を除去した導体。

注記  端子に差し込むために先端を整えた状態の導体(導体をほぼ均等に二つに分けて先端を整える

ものも含める。

)又は,端末をねじって固くしたより線は,未処理導体と考える。

2.3.27

端末処理導体(prepared conductor

導体の端末にケーブル用のラグ,アイレット(eyelet)などを固着した導体。

2.4

開閉機器の動作

2.4.1

動作(機械式開閉機器の)[operation (of a mechanical switching device)](441-16-01

ある位置から隣接したほかの位置への可動接点の移動。

注記 1  例えば,回路遮断器では,閉動作又は開動作がこれに当たる。

注記 2  区別が必要な場合,投入又は遮断のような電気的な動作は電気開閉動作といい,閉路又は開

路のような機械的な動作は機械的動作という。

2.4.2

動作サイクル(機械式開閉機器の)[operating cycle (of a mechanical switching device)](441-16-02

ある位置からほかの位置への動作,及びもしあれば,すべての位置を経て最初の位置に戻るような,動

作の継続。

2.4.3


13

C 8201-1

:2007

動作シーケンス(機械式開閉機器の)[operating sequence (of a mechanical switching device)](441-16-03

定めた時間間隔で進行するようにした,定めた動作の継続。

2.4.4

手動制御(manual control)(441-16-04

人間が介在して行われる制御。

2.4.5

自動制御(automatic control)(441-16-05

人間が介在せずに,あらかじめ決めた条件に応じて動作する制御。

2.4.6

現場制御(local control)(441-16-06

制御している開閉機器が置かれている場所又はその付近で行われる制御。

2.4.7

遠隔制御(remote control)(441-16-07

制御している開閉機器から離れている場所で行われる制御。

2.4.8

閉動作(機械式開閉機器の)[closing operation (of a mechanical switching device)](441-16-08

機器を開路位置から閉路位置まで移動させる動作。

2.4.9

開動作(機械式開閉機器の)[opening operation (of a mechanical switching device)](441-16-09

機器を閉路位置から開路位置まで移動させる動作。

2.4.10

強制開離動作(機械式開閉機器の)[positive opening operation (of a mechanical switching device)]

441-16-11

指定する要求事項に従って,操作部が,その機器の開に相当する位置にあるとき,すべての主接点が確

実にその指定した開路位置にくるようにする開動作。

2.4.11

強制駆動動作(positively driven operation)(441-16-12

指定する要求事項に従って,機械式開閉機器の補助接点が,主接点の開又は閉のそれぞれの位置に対応

して確実に動くように設計した動作。

2.4.12

直接手動動作(機械式開閉機器の)[dependent manual operation (of a mechanical switching device)]

441-16-13

動作の速さ及び動力が,操作者の操作に依存するような,人が直接エネルギーを加えるだけの動作。依

存するとは,動力がなくなれば,動作が止まるようなものをいう。

2.4.13

直接動力動作(機械式開閉機器の)[dependent power operation (of a mechanical switching device)]

441-16-14

(ソレノイド,電気式モータ,空気式モータなどによって)供給される連続的な動力によって動作を完

了する,人力以外のエネルギーによる動作。

2.4.14


14

C 8201-1

:2007

蓄積エネルギー動作(機械式開閉機器の)[stored energy operation (of a mechanical switching device)]

441-16-15

ある定められた条件の下で,動作が完了する前に機械自身に蓄えられており,動作を完了するのに十分

なエネルギーによる動作。

注記  この動作の種類は,次のように区分する。

1)

エネルギーの蓄積方法(ばね,おもりなど)

2)

エネルギー源(手動,電気的など)

3)

エネルギーの引外し方法(手動,電気的など)

2.4.15

間接手動動作(機械式開閉機器の)[independent manual operation (of a mechanical switching device)]

441-16-16

一連の動作中に蓄積及び引外しをする蓄積エネルギー動作で,人力がエネルギーとなるもの。その動作

時の速さ及び力が操作者の動作とは無関係であるもの。

2.4.16

間接動力動作(機械式開閉機器の)[independent power operation (of a mechanical switching device)]

一連の動作の中で蓄積及び引外しをする蓄積エネルギー動作で,外部の動力がエネルギーとなるもの。

その動作時の速さ及び力が操作者の操作には依存しないもの。

2.4.17

駆動力(モーメント)[actuating force (moment)](441-16-17

意図した動作を完了するのに必要な,操作部に加える力(モーメント)

2.4.18

復帰力(モーメント)[restoring force (moment)](441-16-19

操作部又は接点素子を,最初の位置に復帰させるために供給する力(モーメント)

2.4.19

トラベル(機械式開閉機器又はその一部分の)[travel (of a mechanical switching device or a part thereof)]

441-16-21

可動素子上の 1 点の(並行又は回転運動による。

)位置の移動。

注記  移動開始前の動き,移動完了後の動きなどと区別してもよい。

2.4.20

閉路位置(機械式開閉機器の)[closed position (of a mechanical switching device)](441-16-22

機器の主回路が,規定の導通状態を保持している位置。

2.4.21

開路位置(機械式開閉機器の)[open position (of a mechanical switching device)]

機器の主回路の開路した接点間が,規定の耐電圧に関する要求事項を満足する位置。

注記  この定義は,絶縁特性に関する要求事項を満足している IEV 441-16-23 とは異なる。

2.4.22

引外し(動作)[tripping (operation)]

リレー又は引外し装置によって開始する,機械式開閉機器の開動作。

2.4.23

引外し自由機械式開閉機器(trip-free mechanical switching device


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C 8201-1

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閉路動作が行われた後,閉の命令が維持していても,開動作が開始すると(例えば,引外しなどで)

,開

路位置に戻るか又はそのまま開の状態を保持するようになっている可動接点をもつ機械式開閉機器。

注記 1  流れた電流を確実に遮断するために,接点が瞬間的に閉路位置に達することが必要となって

もよい。

注記 2  引外し自由機械式開閉機器は,開動作が自動的に制御されるようになっているので,IEV 

441-16-31

の用語に“

(例えば,引外しを)

”を加えることによって,完全な表現となる。

2.4.24

瞬時リレー又は引外し装置(instantaneous relay or release

意図的な時延がなく動作する,リレー又は引外し装置。

2.4.25

過電流リレー又は引外し装置(over-current relay or release

リレー又は引外し装置の電流が規定値を超過したときに,時延を伴ったり又は伴わずに機械式開閉機器

を開路させる,リレー又は引外し装置。

注記  この値は,電流の増加率によるものもある。

2.4.26

定限時時延過電流リレー又は引外し装置(definite time-delay over-current relay or release

過電流値に関係なく調整可能な定限時の時延をもつ,過電流リレー又は引外し装置。

2.4.27

反限時時延過電流リレー又は引外し装置(inverse time-delay over-current relay or release

過電流値によって決まる反限時動作の経過時間後に動作する,過電流リレー又は引外し装置。

注記  このようなリレー又は引外し装置の時延は,過電流の高い値に対して最低の一定値をとるよう

に設計するものもある。

2.4.28

直接過電流リレー又は引外し装置(direct over-current relay or release

開閉機器の主回路の電流によって直接励磁される,過電流リレー又は引外し装置。

2.4.29

間接過電流リレー又は引外し装置(indirect over-current relay or release

変流器又は分流器を経由した開閉機器の主回路の電流によって励磁される,過電流リレー又は引外し装

置。

2.4.30

過負荷リレー又は引外し装置(overload relay or release

過負荷に対する保護を目的とした,過電流リレー又は引外し装置。

2.4.31

熱動形過負荷リレー又は引外し装置(thermal overload relay or release

(時延を含めた)動作が,リレー又は引外し装置に流れる電流による熱作用に依存する,反限時時延過

負荷リレー又は引外し装置。

2.4.32

電磁過負荷リレー又は引外し装置(magnetic overload relay or release

電磁石のコイルを励磁している主回路の電流によって働く力で動作する,

過負荷リレー又は引外し装置。

注記  通常,このようなリレー又は引外し装置は,反限時時延/電流特性になっている。


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C 8201-1

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2.4.33

電圧引外し装置(shunt release)(441-16-41

電源電圧で励磁される引外し装置。

注記  この電源電圧は,主回路の電圧とは関係なくてもよい。

2.4.34

不足電圧リレー又は引外し装置(under-voltage relay or release

リレー又は引外し装置の端子間の電圧があらかじめ決めた値より低くなったときに,時延を伴い又は伴

わずに,機械式開閉機器を開路又は閉路させるようにしたリレー若しくは引外し装置。

2.4.35

逆電流リレー又は引外し装置(直流だけ)[reverse current relay or release (d.c. only)]

電流が逆方向へ流れ,あらかじめ決めた値を超過したときに,時延を伴い又は伴わずに,機械式開閉機

器を開路させるようにしたリレー又は引外し装置。

2.4.36

動作電流(過電流リレー又は引外し装置の)[operating current (of an over-current relay or release)]

リレー又は引外し装置が動作する電流以上の電流値。

2.4.37

整定電流(過電流リレー又は引外し装置,若しくは過負荷リレー又は引外し装置の)

current-setting (of an 

over-current or overload relay or release)

リレー又は引外し装置の動作特性の基準となる主回路電流値。リレー又は引外し装置は,その電流値で

整定する。

注記  リレー又は引外し装置は,調整用ダイヤル,入換え可能なヒータなどによって電流整定値をも

つ。

2.4.38

整定電流範囲(過電流リレー若しくは引外し装置,又は過負荷リレー若しくは引外し装置の)[current 

setting range (of an over-current or overload relay or release)

リレー又は引外し装置の整定電流を調整できる,最小値から最大値までの範囲。

2.5

特性値

2.5.1

公称値(nominal value)(151-16-09

部品,機器,装置又はシステムを,指定又は確認するときに用いる概略値(量)

注記  公称値は,一般的に端数のない数値である。

2.5.2

限界値(limiting value)(151-16-10

部品,機器,装置又はシステムの仕様において許容される,最大又は最小値。

2.5.3

定格値(rated value)(151-16-08

仕様の目的で使用する量の値で,部品,機器,装置又はシステムの動作条件を確立するもの。

2.5.4

定格(rating)(151-16-11


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C 8201-1

:2007

定格値と動作条件との組合せ。

2.5.5

推定電流(開閉機器又はヒューズに関係する回路の)

prospective current (of a circuit and with respect to a 

switching device or a fuse)

441-17-01

開閉機器又はヒューズの各極を,インピーダンスが無視できる導体に置き換えたとき,その回路に流れ

る電流。

注記  推定電流を評価又は表現するのに用いる方法を,個別規格で規定する。

2.5.6

推定ピーク電流(prospective peak current)(441-17-02

電流が流れ始める過渡期における推定電流のピーク値。

注記  この定義は,インピーダンスが瞬時に無限大からゼロに推移するような理想的な開閉機器によ

って電流が流れると仮定している。例えば,多相回路のように,電流が複数の異なる経路を流

れる回路に対しては,例え 1 極だけとみなす電流であっても,電流は全極に同時に流れること

が想定できる。

2.5.7

推定対称電流(交流回路の)[prospective symmetrical current (of an a.c. circuit)](441-17-03

電流が流れ始めた時間から,過渡現象を伴わない推定電流。

注記 1  多相回路では,この過渡期間がない条件は,そのときの 1 極の電流に対して満足する。

注記 2  推定対称電流は,実効値で表す。

2.5.8

最大推定ピーク電流(交流回路の)[maximum prospective peak current (of an a.c. circuit)](441- 17-04

初期電流が,最高の可能な値になる瞬間に起こるときの推定ピーク電流。

注記  多相回路の多極装置に対する,最大推定電流波高値は,1 極だけを対象としている。

2.5.9

推定投入電流(開閉機器の極の)

prospective making current (for a pole of a switching device)]

441-17-05

規定条件で流れ始める,推定電流。

注記  規定条件は,開始の方式(例えば,理想的な開閉機器による場合),開始の瞬間(例えば,交流

回路の最大推定ピーク電流)

,又は上昇率に関係する。これらの条件仕様は,個別規格で規定す

る。

2.5.10

推定遮断電流(開閉機器又はヒューズの極の [prospective breaking current (for a pole of a switching device 

or a fuse)

441-17-06

遮断過程の開始の瞬間に対応する時間で評価する推定電流。

注記  遮断過程の開始の瞬間に関する仕様は,個別規格で規定する。機械式開閉機器又はヒューズで

は,遮断過程の開始の瞬間は,通常,遮断過程におけるアーク開始の瞬間として定義する。

2.5.11

遮断電流(開閉機器又はヒューズの)[breaking current (of a switching device or a fuse)](441-17-07

遮断過程において,アーク発生の瞬間に流れる開閉機器又はヒューズの極の電流。

注記  交流においては,電流は,交流分の対称交流実効値として表す。

2.5.12


18

C 8201-1

:2007

遮断容量(開閉機器又はヒューズの)[breaking capacity (of a switching device or a fuse)](441- 17-08

使用及び動作の規定する条件の下で,所定の電圧で開閉機器又はヒューズが遮断できる推定遮断電流値。

注記 1  所定の電圧及び規定する条件は,個別規格で規定する。

注記 2  交流においては,電流は交流分の対称交流実効値として表す。

注記 3  短絡遮断容量については,2.5.14 参照。

2.5.13

投入容量(開閉機器の)[making capacity (of a switching device)](441-17-09

使用及び動作の規定する条件の下で,所定の電圧で開閉機器が投入できる推定投入電流値。

注記 1  所定の電圧及び規定する条件は,個別規格で規定する。

注記 2  短絡投入容量については,2.5.15 を参照。

2.5.14

短絡遮断容量(short-circuit breaking capacity)(441-17-11

開閉機器の端子での短絡を含む,規定条件の下における遮断容量。

2.5.15

短絡投入容量(short-circuit making capacity)(441-17-10

開閉機器の端子での短絡を含む,規定条件の下における投入容量。

2.5.16

臨界負荷電流(critical load current

使用条件の範囲において,アーク時間が極めて長くなる遮断電流値。

2.5.17

臨界短絡電流(critical short-circuit current

定格短絡遮断容量未満の状態で,アークエネルギーが定格短絡遮断容量より極めて高い値の遮断電流値。

2.5.18

ジュール積分(I

2

t)[joule integral (I

2

t)](441-18-23

規定時間内に流れる電流の二乗積分値。

ò

1

0

2

2

t

t

dt

i

t

2.5.19

カットオフ電流(cut-off current),通過電流(let-through current)(441-17-12

開閉機器又はヒューズの遮断動作における,到達する電流の最大瞬時値。

注記  回路の推定ピーク電流に到達しないという方法の下で開閉機器又はヒューズが動作する場合,

この概念は特に重要である。

2.5.20

時間−電流特性(time-current characteristic)(441-17-13

所定の動作条件の下で,例えば,プレアーク時間,動作時間など,推定電流の関数としての時間を与え

る曲線。

2.5.21

カットオフ(電流)特性−通過電流特性[cut-off (currentcharacteristic let-through (current) characteristic

441-17-14

所定の動作条件の下で,推定電流の関数としてのカットオフ電流を与える曲線。


19

C 8201-1

:2007

注記  交流の場合,カットオフ電流値は,非対称の程度にかかわらず到達する最大値である。直流の

場合,カットオフ電流値は,規定する時定数に関係して到達する最大値である。

2.5.22

過電流保護装置の過電流保護協調(over-current protective co-ordination of over-current protective devices

過電流選択動作(識別)及び/又はバックアップ保護協調を行うために,直列にした二つ以上の過電流

保護装置の協調。

2.5.23

過電流選択動作(over-current discrimination)(441-17-15

所定の限界内の過電流が生じたとき,所定の限界内で動作するようになっている装置で,一方は動作す

るが他方は動作しないように組み合わせた二つ以上の過電流保護装置間の動作特性の協調。

注記  実際は同じ過電流が流れる異なる過電流保護装置を含む直列選択動作と,異なる比率の過電流

が流れる同じ保護装置を含むネットワーク選択動作とは,区別する。

2.5.24

バックアップ保護協調(back-up protection

一般的に電源側にあるが,必ずしも電源側でなくてもよい保護装置で,ほかの保護装置の補助の有無に

かかわらず,過電流保護を行ったとき,後段側の過度のストレスを防止するように直列に接続する二つの

過電流保護装置の過電流協調。

2.5.25

テイクオーバ電流(take-over current)(441-17-16

二つの過電流保護装置の時間−電流特性間で交差する電流の値。

2.5.26

短限時(short-time delay

定格短時間耐電流の限界内での動作における,意図的な遅延。

2.5.27

短時間耐電流(short-time withstand current)(441-17-17

閉路位置の回路又は開閉機器が規定する使用及び動作条件の下で,規定する短時間流すことができる電

流。

2.5.28

ピーク耐電流(peak withstand current)(441-17-18

閉路位置の回路又は開閉機器が,規定する使用及び動作条件の下で耐えることができるピーク電流値。

2.5.29

条件付短絡電流(回路又は開閉機器の)

conditional short-circuit current (of a circuit or a switching device)]

規定する短絡保護装置で保護している回路又は開閉機器が,規定する使用及び動作条件の下で,その機

器の全動作時間の間満足に耐えることができる推定電流。

注記 1  この規定においては,短絡保護装置は,一般的に回路遮断器又はヒューズである。

注記 2  この定義は,電流制限装置の概念を短絡保護装置に広げたことによって IEV 441-17-20 とは

異なっており,その機能は電流を制限するだけではない。

2.5.30

不動作電流(過電流リレー又は引外し装置の)

conventional non-tripping current (of an over- current relay 

or release)


20

C 8201-1

:2007

リレー又は引外し装置が動作しないで規定した時間(規約時間)通電できる,電流の規定値。

2.5.31

動作電流(過電流リレー又は過電流引外し装置)

conventional tripping current (of an over-current relay or 

release)

リレー又は引外し装置を規定した時間(規約時間)内で動作させる,電流の規定値。

2.5.32

給与電圧(開閉機器の)[applied voltage (for a switching device)](441-17-24

電流を投入する直前に,開閉機器の極の端子間に存在する電圧。

注記  この定義は,単極機器に適用する。多極機器では,機器の電源端子間に加える線間電圧である。

2.5.33

回復電圧(recovery voltage)(441-17-25

電流の遮断直後に,開閉機器又はヒューズの極の端子間に現れる電圧。

注記 1  この電圧には,二つの連続した期間が考えられる。一つは,過渡電圧が存在する期間,及び

それに続く,商用周波電圧又は定常状態の回復電圧だけが存在する第二の期間である。

注記 2  この定義は,単極装置に適用する。多極機器に対しては,機器の電源端子の線間電圧である。

2.5.34

過渡回復電圧(略号 TRV)[transient recovery voltage (abbreviation TRV)](441-17-26

過渡特性が生じている期間の回復電圧。

注記  過渡電圧は,回路遮断器,開閉機器又はヒューズの特性によって,振動,非振動又はこれらの

組合せとなる。過電圧には,多相回路の中性点の電圧シフトも含まれる。

2.5.35

商用周波回復電圧(power-frequency recovery voltage)(441-17-27

過渡電圧現象が収まった後の,回復電圧。

2.5.36

直流定常回復電圧(d.c. steady-state recovery voltage)(441-17-28

過渡電圧現象が収まった後の直流回路の回復電圧で,リプルがある場合は平均値で表す。

2.5.37

推定過渡回復電圧(回路の)[prospective transient recovery voltage (of a circuit)](441-17-29

理想的な開閉機器において推定対称電流の遮断に続いて起こる過渡回復電圧。

注記  この定義は,開閉機器又はヒューズの推定過渡回復電圧を決めるために,例えば,“自然”ゼロ

となるような電流ゼロの瞬間,インピーダンスがゼロから瞬時に無限大になるような理想開閉

機器と置き換えて考えられると仮定している。電流が,例えば,多相回路のように,幾つかの

異なる経路をたどることができる回路では,この定義は,更に,理想的な開閉機器による電流

遮断は対象とする極だけで発生すると仮定している。

2.5.38

ピークアーク電圧(機械式開閉機器の)[peak arc voltage (of a mechanical switching device)](441-17-30

規定条件において,アーク時間中の開閉機器の極の端子間に現れる電圧の瞬時最大値。

2.5.39

開路時間(機械式開閉機器の)[opening time (of a mechanical switching device)](441-17-36

規定する開動作開始の瞬間から,アークを発生している接点がすべての極において開離した瞬間までの


21

C 8201-1

:2007

時間。

注記  開動作開始の瞬間,例えば,開路指令(例えば,引外し装置を付勢するなど)の適用について

は,個別規格で規定する。

2.5.40

アーク時間(単極又は 個のヒューズの)[arcing time (of a pole or a fuse)](441-17-37

単極又は 1 個のヒューズのアークの開始の瞬間から,最終アークが消滅した瞬間までの時間。

2.5.41

アーク時間(多極開閉機器の)[arcing time (of a multipole switching device)](441-17-38

最初のアークの始まった瞬間から,最終的に全極のアークが消滅した瞬間までの時間。

2.5.42

遮断時間(break time)(441-17-39

機械式開閉機器(又はヒューズのプレアーク時間)の開路時間の始めから,アーク時間の終わりまでの

時間。

2.5.43

投入時間(make time)(441-17-40

閉路動作の開始から,主回路に電流が流れ始める瞬間までの時間。

2.5.44

閉路時間(closing time)(441-17-41

閉路動作の開始から,すべての極の接点が接触する瞬間までの時間。

2.5.45

投入−遮断時間(make-break time)(441-17-43

電流が主回路に流れ始める瞬間に開路引外し装置を付勢して開路するとき,ある極に電流が流れ始める

瞬間から,最終的に全極のアークが消滅した瞬間までの時間。

2.5.46

空間距離(clearance)(441-17-31

二つの導電部間に最短の方法でひもを張ってできる最短の通路に沿って測った,導電部間の距離。

2.5.47

極間の空間距離(clearance between poles)(441-17-32

隣接する極の導電部間の空間距離。

2.5.48

対地空間距離(clearance to earth)(441-17-33

任意の導電部と,接地又は接地を意図した部分との間の空間距離。

2.5.49

開接点間の空間距離(ギャップ)[clearance between open contacts (gap)](441-17-34

開路位置における機械式開閉機器の極の接点間,又は接点を接続した導電部との間の総空間距離。

2.5.50

断路距離(機械式開閉機器の極の)[isolating distance (of a pole of a mechanical switching device)]

441-17-35

断路器に対して規定する安全に関する要求事項に適合する,開接点間の空間距離。

2.5.51


22

C 8201-1

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沿面距離(creepage distance

二つの導電部間の絶縁材料の表面に沿う最短距離。

注記  二つの絶縁材料の接合部分は,表面の一部分とみなす。

2.5.52

ワーキング電圧(working voltage

装置に定格電圧を加えたとき,それぞれの絶縁物間に発生している最高の交流実効値又は直流電圧。

注記 1  過渡状態は,無視する。

注記 2  開路状態又は通常動作状態も考慮する。

2.5.53

一時過電圧(temporary overvoltage

ある箇所で,電圧相対大地間,電圧相対中性点間又は線間にかかる比較的長い期間(数秒)の過電圧。

2.5.54

過渡過電圧(transient overvoltages

この規格における過渡過電圧の内容は,次のとおりである。

2.5.54.1

開閉過電圧(switching overvoltage

特定の開閉動作又は故障によって,システムがある場所に現れる,過渡過電圧。

2.5.54.2

雷過電圧(lightning overvoltage

特定の雷放電(IEC 60060 及び IEC 60071-1 参照)によって,システムがある場所に現れる,過渡過電

圧。

2.5.54.3

機能過電圧(functional overvoltage

機器の機能上必要な,意図的に発生させる過電圧。

2.5.55

インパルス耐電圧(impulse withstand voltage

規定試験条件の下では絶縁破壊を起こさない,規定する波形及び極性をもつインパルス電圧の最大ピー

ク値。

2.5.56

商用周波耐電圧(power-frequency withstand voltage

規定試験条件の下で,絶縁破壊を起こさない商用周波数の正弦波電圧の実効値。

2.5.57

汚損(pollution

絶縁耐力又は絶縁物表面の抵抗に影響する,固体,液体,又はガス状(イオン化したガス)の外部物質

の諸条件。

2.5.58

汚損度(環境条件の)[pollution degree (of environmental conditions)]

導電性又は吸湿性のじんあい,イオン化したガス及び塩分の量,並びに相対湿度及びその現象の発生の

頻度を基準にして決めた度合い。この現象は空気中の湿度の吸収又は結露を生じ,絶縁耐力及び/又は絶

縁物表面抵抗の低下を引き起こす。


23

C 8201-1

:2007

注記 1  装置がさらされる汚損度は,吸湿又は結露を防ぐためのエンクロージャ又は内部加熱のよう

な手段による保護によって,装置自体の置かれている場所で受けるマクロ環境の汚損度と異

なっている場合もある。

注記 2  この規定は,ミクロ環境の汚損度である。

2.5.59

ミクロ環境(空間距離又は沿面距離の)[micro-environment (of a clearance or creepage distance)]

対象とする空間距離又は沿面距離を取り巻く周囲条件。

注記  絶縁に影響を及ぼすのは,沿面距離又は空間距離のミクロ環境で,装置の環境ではない。ミク

ロ環境は,装置の環境より良くても悪くてもよい。それは,気候条件,電磁的条件,汚損の発

生など,絶縁に影響するすべての要因を含んでいる。

2.5.60

過電圧種別(回路の,又は電気系統内の)

overvoltage category (of a circuit or within an electrical system)]

回路(又は異なった公称電圧の電気系統)に発生する推定過渡過電圧の制限値(又は制御値)及び過電

圧に影響を与える使用された手段に基づく番号。

注記  電気系統において,ある過電圧種別から,ほかの低い種別へ移行するにはインタフェースに関

する要求事項に応じて,それに適した方法を用いればよい。過電圧保護装置又は直列シャント

インピーダンス回路に,サージ電流に付随したエネルギーを放散,吸収又は分散させる能力を

もたせることによって,希望する低い過電圧種別まで下げることができる。

2.5.61

絶縁協調(co-ordination of insulation

一方では予測できる過電圧及び過電圧保護装置の特性を,他方では予測できるミクロ環境及び汚損の保

護方法をもった,電気装置の絶縁特性に関する相互関係。

2.5.62

均一電界[homogeneous (uniform) field

それぞれの半径が,相互間の距離より大きい二つの球体の間の空間のように,本質的に極間電圧こう配

が一定な電界。

2.5.63

不均一電界[inhomogeneous (non-uniform) field

本質的に極間電圧こう配が一定ではない電界。

2.5.64

トラッキング(tracking

固体絶縁材料の表面に,電気的ストレスと電解質の汚損との複合作用によって生じる導電経路の生成状

態。

2.5.65

比較トラッキング指数(CTI)[comparative tracking index (CTI)]

絶縁材料に試験液を 50 滴落下したとき,トラッキングを生じない電圧の最大電圧の数値。

注記 1  各試験電圧及び CTI の値は,25 で割り切れることが望ましい。

注記 2  この定義は,IEC 60112 の 2.3 を転記したものである。

2.6

試験


24

C 8201-1

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2.6.1

形式試験(type test

ある定められた設計によって製作された 1 個以上の機器に対して,その設計が規定の仕様に適合してい

るかどうかを証明する試験。

2.6.2

受渡試験(routine test

規定の基準に合致しているかどうかを確かめるために,個々の機器それぞれに対し,製造中及び/又は

製造後に行う試験。

2.6.3

抜取試験(sampling test

1 回分の中から,無作為に取り出した複数の機器に対して行う試験。

2.6.4

特殊試験(special test

形式試験及び受渡試験に加え,製造業者の判断又は受渡当事者間の協定の下に行う試験。

3

分類

装置の特性について,製造業者の提供する情報及び必ずしも試験で確認する必要がない項目を,個別規

格に規定することがこの箇条を規定する目的である。

この箇条は,個別規格によっては必ずしも必要となる箇条ではないが,その場合でも,分類基準を必要

に応じて規定することのために,空欄として空けておくことが望ましい。

4

特性

特性(定格又は非定格としての)及びシンボルの一覧表

特性

シンボル

箇条

閉鎖熱電流

I

the

4.3.2.2 

開放熱電流

I

th

4.3.2.1 

8 時間責務

4.3.4.1 

反復責務又は間欠責務

4.3.4.3 

周期的責務

4.3.4.5 

定格遮断容量

4.3.5.3 

定格条件付短絡電流

4.3.6.4 

定格制御回路電圧

U

c

4.5.1 

定格制御電源電圧

U

s

4.5.1 

定格電流

I

n

a) 

定格周波数

4.3.3 

定格インパルス耐電圧

U

imp

4.3.1.3 

定格絶縁電圧

U

i

4.3.1.2 

定格投入容量

4.3.5.2 

定格使用電流

I

e

4.3.2.3 

定格使用電力

4.3.2.3 

定格使用電圧

U

e

4.3.1.1 

定格ロータ絶縁電圧

U

ir

a) 

定格ロータ使用電流

I

er

a) 


25

C 8201-1

:2007

特性(定格又は非定格としての)及びシンボルの一覧表(続き)

特性

シンボル

箇条

定格ロータ使用電圧

U

er

a)

定格使用短絡遮断容量

I

cs

a) 

定格短絡遮断容量

I

cn

4.3.6.3 

定格短絡投入容量

I

cm

4.3.6.2 

定格短時間耐電流

I

cw

4.3.6.1 

単巻変圧器スタータの定格始動電圧

a) 

定格ステータ絶縁電圧

U

is

a) 

定格ステータ使用電流

I

es

a) 

定格ステータ使用電圧

U

es

a) 

定格限界短絡遮断容量

I

cu

a) 

定格連続電流

I

u

4.3.2.4 

ロータ通電電流

I

thr

a) 

選択限界電流

I

s

a) 

ステータ通電電流

I

ths

a) 

テイクオーバ電流

I

B

2.5.25 

一時的責務

4.3.4.4 

連続責務

4.3.4.2 

使用負荷種別

4.4 

注記  この表の一覧は,すべてを表したものではない。 

a)

  この定格は,個別規格で定義する。

4.1

一般

装置の特性は,次に関して適用する場合は個別規格で規定する。

−  装置の形式(4.2

−  主回路の定格値及び限界値(4.3

−  使用負荷種別(4.4

−  制御回路(4.5

−  補助回路(4.6

−  リレー及び引外し装置(4.7

−  短絡保護装置(SCPD)との協調(4.8

−  開閉過電圧(4.9

4.2

装置の形式

個別規格には,該当する場合は,次について規定する。

−  装置の種類

例  接触器,回路遮断器など

−  極数

−  電流の種類

−  消弧媒質

−  動作条件(動作方法,制御方法など)

注記  上記の一覧はすべてを表したものではない。

4.3

主回路の定格値及び限界値

定格は,製造業者が指定する。これらの定格は,個別規格で規定するように 4.3.14.3.6 に従って規定す


26

C 8201-1

:2007

るが,必ずしも一覧中のすべてを定格として規定する必要はない。

4.3.1

定格電圧

装置は,次の定格電圧をもつ。

注記  装置の形式によっては,一つ以上の定格電圧,又は定格電圧範囲をもつ場合がある。

4.3.1.1

定格使用電圧(U

e

装置の定格使用電圧は,定格使用電流と組み合わせて装置の適用を決める電圧の値で,かつ,関係の試

験及び使用負荷種別がこの電圧の値を基準にして決められる。

単極の装置の場合,定格使用電圧は,一般に極間の電圧として規定する。

多極の装置の場合,一般にそれは線間の電圧として規定する。

注記 1  ある種の機器及び特別な用途のときには,U

e

の規定が異なることがある。これは,個別規格

で規定する。

注記 2  多相回路で用いる多極装置の場合,次の区別をする。

a)

単一の地絡が発生したとき,1 極の接点間に全線間電圧を生じさせないシステム(すな

わち,非接地又は中性点接地システム)上で用いる装置。

b)

単一の地絡が発生したとき,1 極の接点間に全線間電圧を生じさせるシステム(すなわ

ち,電圧相接地システム)上で用いる装置。

注記 3  異なる責務及び使用負荷種別に対して,定格使用電圧及び定格使用電流又は定格電力の複数

の組合せを装置に指定してもよい。

注記 4  異なる責務及び使用負荷種別に対して,複数の定格使用電圧並びに関連する投入及び遮断容

量を装置に指定してもよい。

注記 5  装置において使用電圧がワーキング電圧(2.5.52 参照)と異なることがあるということに注

意する。

4.3.1.2

定格絶縁電圧(U

i

装置の定格絶縁電圧は,耐電圧試験の電圧及び沿面距離の基準となる電圧の値とする。いかなる場合で

も,定格使用電圧の最大値は定格絶縁電圧の最大値を超えてはならない。

注記  定格絶縁電圧の指定がない装置の場合,定格使用電圧の最高値を定格絶縁電圧とみなす。

4.3.1.3

定格インパルス耐電圧(U

imp

装置が指定の試験条件下で故障なしに耐えることができる規定の波形と極性とをもつインパルス電圧の

ピーク値で,空間距離の値の基準となる。

装置の定格インパルス耐電圧は,装置が取り付けてある回路に生じる過渡過電圧に対して規定する値以

上とする。

注記  定格インパルス耐電圧の推奨値を,表 12 に示す。

4.3.2

電流

装置は,次の電流に関する事項をもつ。

4.3.2.1

開放熱電流(I

th

開放熱電流は,自由大気中での開放形装置の温度上昇試験に用いる試験電流の最大値とする(8.3.3.3 

照)

開放熱電流の値は,少なくとも 8 時間責務(4.3.4.1 参照)での開放形装置の定格使用電流(4.3.2.3 参照)

の最大値に等しい。

自由大気とは,通風及び外部放射がない正常な屋内状態下での大気とする。


27

C 8201-1

:2007

注記 1  この電流は定格ではなく,また,装置への表示は必す(須)ではない。

注記 2  開放形装置とは,エンクロージャなしに製造業者が供給する装置,又はそれ自身で完全に保

護しない一体形エンクロージャを伴う装置で,製造業者が供給する装置である。

4.3.2.2

閉鎖熱電流(I

the

閉鎖熱電流は,指定のエンクロージャ内に取り付けたときの装置の温度上昇試験に使うための,製造業

者が定める電流値である。装置が製造業者のカタログで箱入り装置として説明されており,かつ,通常指

定された形式及びサイズ(

注記 参照)のエンクロージャと一緒に使うことを意図している場合は,この

種の試験は 8.3.3.3 に従い,必すとなる。

閉鎖熱電流は,少なくとも 8 時間責務(4.3.4.1 参照)での箱入り装置の定格使用電流(4.3.2.3 参照)の

最大値と等しくなければならない。

装置が通常規定していないエンクロージャ内で用いるのを意図している場合,開放熱電流(I

th

)につい

ての試験が既に行われている場合は,その試験は必すではない。この場合,製造業者は閉鎖熱電流の値又

は低減率の指針を示さなければならない。

注記 1  この電流は定格ではなく,また,装置への表示は必すではない。

注記 2  閉鎖熱電流値は,非換気式装置向けの値であり,この場合,試験に用いたエンクロージャは

使用できる最少サイズとして製造業者が指定するエンクロージャでなければならない。また,

製造業者のデータによって,その値は換気式装置用としてもよい。

注記 3  箱入り装置は,通常,規定の形式及びサイズのエンクロージャとともに用いるか,又は 1 種

類以上のエンクロージャとともに用いることを目的としている。

4.3.2.3

定格使用電流(I

e

又は定格使用電力

装置の定格使用電流は製造業者が指定し,定格使用電圧(4.3.1.1 参照)

,定格周波数(4.3.3 参照)

,定格

責務(4.3.4 参照)

,使用負荷種別(4.4 参照)及び該当する場合は,保護エンクロージャの形式も考慮され

る。

個々のモータを直接開閉する装置の場合,定格使用電流の表示は,装置が目的としているモータの定格

使用電圧で最大定格出力表示に置き換えるか,又は補足してもよい。製造業者は,必要がある場合,使用

電流と使用電力との間で仮定した関係について説明しなければならない。

4.3.2.4

定格連続電流(I

u

装置の定格連続電流は,装置が連続責務(4.3.4.2 参照)として流すことができる,製造業者が指定する

電流値である。

4.3.3

定格周波数

電源の周波数。この周波数を基に装置を設計し,かつ,装置のほかの特性値は,この周波数に対応する。

注記  同じ装置に多数の,又はある範囲の定格周波数が割り当てられることがある。また,交流及び

直流の両方が割り当てられることもある。

4.3.4

定格責務

定格責務は標準的なものとして,次に関する事項がある。

4.3.4.1

8

時間責務

装置の主接点を閉路状態で,装置が熱平衡するのに十分な時間で 8 時間を超えずに,遮断することなく

定常電流を通電する責務。

注記 1  これは,装置の熱電流 I

th

及び I

the

を決める基本的な責務である。

注記 2  遮断は,装置の動作による電流の遮断を意味する。


28

C 8201-1

:2007

4.3.4.2

連続責務

装置の主接点が閉路状態で,8 時間以上(数週間,数箇月又は数年)遮断なしで定常電流を通電し,い

かなる無通電期間もない責務。

注記  この種類の使用は,酸化物及びじんあいが接点上にたい積して漸進的な過熱を導く可能性があ

るため,8 時間責務とは別に指定する。連続使用は,通電電流の低減係数又は特別な設計上の

配慮(例えば,銀接点にする。

)によって実施可能である。

4.3.4.3

反復責務又は間欠責務

装置の主接点が閉路状態に保たれ,通電期間と無通電期間との関係を定義し,両方の期間とも装置が熱

的平衡に達するには短かすぎる通電期間をもつ責務。

間欠責務は,電流値,電流が流れている持続期間,及び全期間に対する通電期間の比である通電率によ

って表し,通電率は,通常%で表す。

通電率の標準値は,15  %,25  %,40  %及び 60  %である。

装置が 1 時間当たりに流すことができる使用回数の数に従って,装置を次の等級に分ける。

−  等級 1

:  1 時間当たり 1

動作サイクル

−  等級 3

:  1 時間当たり 3

動作サイクル

−  等級 12

:  1 時間当たり 12

動作サイクル

−  等級 30

:  1 時間当たり 30

動作サイクル

−  等級 120

:  1 時間当たり 120  動作サイクル

−  等級 300

:  1 時間当たり 300  動作サイクル

−  等級 1

200

:  1 時間当たり 1

200 動作サイクル

−  等級 3

000

:  1 時間当たり 3

000 動作サイクル

−  等級 12

000  :  1 時間当たり 12

000 動作サイクル

−  等級 30

000  :  1 時間当たり 30

000 動作サイクル

−  等級 120

000  :  1 時間当たり 120

000

動作サイクル

−  等級 300

000  :  1 時間当たり 300

000

動作サイクル

1 時間当たりの使用回数が非常に多い間欠責務の場合には,製造業者は,これが既知であるときには実

際の回数か,又は製造業者が指定した規約サイクルによって,次のような定格使用電流値を表示しなけれ

ばならない。

T

I

T

I

dt

i

T

×

×

ò

2

the

0

2

th

2

又は

いずれかを適用する。 
ここに,

T: 動作サイクルの合計時間

注記  前記の公式は,開閉時のアークエネルギーを考慮していない。

間欠責務を目的としている開閉機器は,間欠責務の特性によって指定してもよい。

例  5 分間ごとに 2 分間 100 A が流れる間欠責務は,100 A,等級 12,40  %と表現してもよい。

4.3.4.4

一時的責務

装置が熱的平衡状態に到達するには不十分な時間,装置の主接点が閉路状態を維持し,十分な負荷の切

離し時間によって区別する無負荷期間が冷却媒体によって同等の温度を回復する責務。

接点を閉じた状態で 3 分,10 分,30 分,60 分及び 90 分を一時的責務の標準値とする。

4.3.4.5

周期的責務


29

C 8201-1

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一定又は可変の負荷を定期的に繰り返す責務。

4.3.5

通常負荷及び過負荷特性

この箇条は,通常及び過負荷状態下での,定格に関する一般要求事項を規定する。

注記  適用できる場合,4.4 に規定する使用負荷種別は,過負荷条件下の性能に関する要求事項を含む

ことがある。

詳細な要求事項は,7.2.4 に規定する。

4.3.5.1

モータ開閉過負荷耐容量

モータの開閉を目的としている装置は,始動,通常速度までのモータの加速,及び過負荷動作による熱

応力に耐えなければならない。

これらの条件に適合するための詳細な要求事項は,個別規格で規定する。

4.3.5.2

定格投入容量

装置の定格投入容量は,製造業者が指定した,装置が規定の投入条件下で満足に投入できる電流値とす

る。

規定すべき投入条件は,次による。

−  給与電圧(2.5.32 参照)

−  試験回路の特性

定格投入容量は,定格使用電圧及び定格使用電流を基準にして,個別規格で規定する。

注記 1  適用できる場合は,個別規格は,定格投入容量と使用負荷種別との関係を示す。

交流の場合,定格投入容量は,一定と仮定する電流の対称成分の実効値で表現する。

注記 2  交流の場合,装置の主接点の閉動作に続く最初の半サイクル間の電流のピーク値は,回路の

力率及び投入動作の電圧位相によって,投入容量を決めるのに使われる定常状態下での電流

のピーク値より多少大きいことがある。

装置は,個別規格で規定する力率から生じる結果の限度内で,固有の直流分の値がどうで

あっても,その定格投入容量を規定する交流分と等しい交流分をもつ電流を投入できる能力

がなければならない。

4.3.5.3

定格遮断容量

装置の定格遮断容量は,規定の遮断条件下で装置が十分に遮断することができる,製造業者が定めた電

流値とする。

規定すべき遮断条件は,次による。

−  試験回路特性

−  商用周波回復電圧

定格遮断容量は,個別規格に従って定格使用電圧及び定格使用電流を基準にして決定する。

装置は,定格遮断容量までの電流値を遮断できる能力がなければならない。

注記 1  開閉機器は,複数の定格遮断容量をもってもよい。各々の定格遮断容量は,使用電圧及び使

用負荷種別に対応する。

交流の場合,定格遮断容量は,電流の対称成分の実効値によって表現する。

注記 2  適用する場合には,個別規格で,定格遮断容量と使用負荷種別との間の関係を示す。

4.3.6

短絡特性

この箇条は,短絡条件下での定格についての一般要求事項を規定する。

4.3.6.1

定格短時間耐電流(I

cw


30

C 8201-1

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装置の定格短時間耐電流は,個別規格の規定条件の下で装置が損傷なしに流すことができる,製造業者

がその装置に定めた短時間耐電流値とする。

4.3.6.2

定格短絡投入容量(I

cm

装置の定格短絡投入容量は,定格周波数での定格使用電圧,交流のときは規定の力率,直流のときは規

定の時定数において,製造業者がその装置に定めた短絡投入容量値とする。それは規定条件下での最大推

定ピーク電流として表現する。

4.3.6.3

定格短絡遮断容量(I

cn

装置の定格短絡遮断容量は,定格周波数での定格使用電圧,交流のときは規定の力率,直流のときは規

定の時定数において,製造業者がその装置に定めた短絡遮断容量値とする。それは規定の条件下での推定

遮断電流値(交流の場合には交流分実効値)として表現する。

4.3.6.4

定格条件付短絡電流

装置の定格条件付短絡電流は,製造業者が指定している短絡保護装置によって保護している装置が,個

別規格で規定する試験条件下で,この装置の動作時間の間,耐えることができる,製造業者が定めた推定

電流値とする。

指定している短絡保護装置の詳細は,製造業者が示さなければならない。

注記 1  交流の場合,定格条件付短絡電流は交流分の実効値によって表現する。

注記 2  短絡保護装置は,装置と一体形又は分離形であってもよい。

4.4

使用負荷種別

装置の使用負荷種別は,目的とした用途を明確にし,かつ,個別規格で規定する。使用負荷種別は,次

の使用条件の一つ以上によって表現する。

−  電流:定格使用電流の倍数として表現する。

−  電圧:定格使用電圧の倍数として表現する。

−  力率又は時定数

−  短絡性能

−  選択度

−  その他の使用条件(適用する場合)

低電圧開閉装置及び制御装置に関する使用負荷種別の例を,

附属書 に示す。

4.5

制御回路

4.5.1

電気制御回路

電気制御回路の特性は,次による。

−  電流の種類

−  定格周波数(交流の場合)

−  定格制御回路電圧 U

c

(交流・直流の別,及び交流の場合は周波数)

−  定格制御電源電圧 U

s

(交流・直流の別,及び交流の場合は周波数)

(適用する場合)

注記 1  制御回路中の“a”接点(2.3.12 参照)間に出現する電圧である制御回路電圧と,装置の制御

回路の入力端子に加えられ,内蔵変圧器,整流器,抵抗器などがあるために制御回路電圧と

は異なる制御電源電圧との間には,上記の区別を適用する。

定格制御回路電圧及び定格周波数は,制御回路の動作及び温度上昇特性に基づく値である。正規の使用

条件は,制御回路の電流が最大値の状態でその定格値の 85  %以上で 110  %以下の制御電源電圧の値に基

づいている。


31

C 8201-1

:2007

注記 2  製造業者は,定格制御電源電圧における制御回路による一つ又は複数の電流値を示すものと

する。

制御回路装置の定格及び特性は,IEC 60947-5 の規格群(箇条 

注記参照)の要求事項,又は JIS C 4526

の規格群に合致しなければならない。

4.5.2

空気供給制御回路(空気式又は電気空気式)

空気供給制御回路の特性は,次による。

−  定格圧力及びその限度

−  各々の開動作及び閉動作に要求する大気圧での空気の量

空気式又は電気空気式装置の定格供給圧力は,空気式制御システムの動作特性が定められている空気圧

である。

4.6

補助回路

補助回路の特性は,IEC 60947-5 の規格群(箇条 

注記参照)及び JIS C 4526 の規格群によれば,各々

の回路中の接点の数及び種類(a 接点,b 接点など)並びにそれらの定格である。

補助接点及び補助スイッチの特性は,前記の規格の要求事項に合致しなければならない。

4.7

リレー及び引外し装置

リレー及び引外し装置にかかわる次の特性は,個別規格で規定する。

−  リレー及び引外し装置の形式

−  定格値

−  電流設定又は電流設定範囲

−  時間/電流特性(時間/電流特性の表示については 4.8 参照。

−  周囲温度の影響

4.8

短絡保護装置(SCPD)との協調

製造業者は,SCPD との協調をする場合には,装置又は装置内で用いるべき短絡保護装置の形式又は特

性,及び短絡保護装置を含めて指定した使用電圧で適合する最大推定短絡電流を示さなければならない。

注記 1  電流を横座標として,また,時間を縦座標として対数目盛でプロットするのがよい。電流を

電流設定値の倍数で,また,時間を秒で標準のグラフ用紙上に JIS C 8269-1(2000 年版,5.6.4

及び JIS C 8269-2

図 1∼図 7)に詳述してあるようにプロットする。

注記 2  一般に国内では,社団法人日本電気協会で発行の保護協調グラフを用いている。

4.9

開閉過電圧

個別規格で要求する場合,製造業者は,開閉機器の動作によって発生する開閉過電圧の最大値を指定し

なければならない。

この値は,定格インパルス耐電圧の最大値を超えてはならない(4.3.1.3 参照)

5

製品情報

5.1

情報の性質

個別規格で要求する場合には,製造業者は,次の情報を提供しなければならない。

明示事項

−  製造業者の名称又は商標

−  形式指定又は製造番号

−  製造業者が適合性を主張する場合は,個別規格の番号


32

C 8201-1

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特性

−  定格使用電圧(4.3.1.1 参照)

−  装置の定格使用電圧における使用負荷種別及び定格使用電流(又は定格電力若しくは定格連続電流)

場合によって,この情報は装置が校正された基準周囲温度の値によって達成できてもよい(4.3.1.1

4.3.2.3

4.3.2.4 及び 4.4 参照)

−  定格周波数の値,例えば,50 Hz,50 Hz/60 Hz 及び/又は“d.c.”

,又は記号      の表示。

−  定格責務,場合によっては間欠責務の等級の表示(4.3.4 参照)

−  定格投入容量及び/又は遮断容量。これらの表示は,適用する場合,使用負荷種別の表示によって置

き換えてもよい。

−  定格絶縁電圧(4.3.1.2 参照)

−  定格インパルス耐電圧(4.3.1.3 参照)

−  開閉過電圧(4.9 参照)

−  その持続時間も含めた定格短時間耐電流(4.3.6.1 参照)

(適用する場合)

−  定格短絡投入容量及び/又は定格短絡遮断容量(4.3.6.2 及び 4.3.6.3 参照)

(適用する場合)

−  定格条件付短絡電流(4.3.6.4 参照)

(適用する場合)

−  箱入り装置の場合,IP コード(

附属書 参照)

−  汚損度(6.1.3.2 参照)

−  短絡保護装置の形式及び最大定格(適用する場合)

−  感電保護の等級(IEC 61140 参照)

(適用する場合)

−  定格制御回路電圧,電流の種類及び周波数

−  制御コイルの電圧と異なる場合は,定格制御電源電圧,電流の種類及び周波数

−  (空気圧式制御装置に対しては)空気圧の定格供給圧力及び圧力変化の限度

−  断路に対する適合性

注記  上記一覧がすべてではない。

5.2

表示

5.1

に詳細規定したうち,装置に表示するすべての関連情報は,個別規格で規定する。

表示は消えにくく,かつ,容易に読めなければならない。

製造業者の名称又は商標,及び形式指定又は製造番号を,装置及び銘板がある場合はできれば銘板にも

表示することは,製造業者すべてのデータを得ることを可能とするために,必すである。

次の情報もまた,表示し,取付け後に目視できなければならない。

−  操作部の動作の方向(7.1.4.2 参照)

(適用する場合)

−  操作部の位置の表示(7.1.5.1 及び 7.1.5.2 参照)

−  承認又は認証マーク(適用する場合)

−  小形化した装置の場合,シンボル,色記号又は文字記号

−  端子の識別及び表示(7.1.7.4 参照)

− IP 記号及び感電に対する保護等級(できる限り装置上に表示する。

(適用する場合)

−  断路に対する適合性について適用する場合,装置に対して,IEC 60617,07-01-03 の断路機能の記号か

ら,適切な機能の記号を組み合わせて完成させてもよい。例えば,

                      断路に適した回路遮断器


33

C 8201-1

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                      断路用開閉器

この記号は,

−  明確に,かつ,誤認しないように表示しなければならない。

−  装置が通常の使用状態に取り付けられ,操作するとき,目視できなければならない。

前記要求事項は,装置が 7.1.10 による箱入りか,箱入りではないかにかかわらず適用する。

前記要求事項は,記号を結線図に表示するときでも,この結線図が断路に対する適合を示す場合でも適

用する。

5.3

取付け,操作及び保守にかかわる指示

製造業者は,操作中及び故障後の装置の設置,操作及び保守に対する条件があれば,文書又はカタログ

に明記しなければならない。

製造業者は,また,EMC に関し取るべき対策があれば,それを明示しなければならない。環境 A(7.3.1

参照)だけに適合する装置に対して,製造業者は,次の文書を用意しなければならない。

注意

この製品は,環境 に対して設計しています。この製品を環境 で使用すれば,使用者が適

切な軽減対策を講じる必要があるかもしれない不要電磁妨害を起こす可能性があります。 

必要な場合,装置の輸送,取付け及び操作に関する指示書は,装置の適切で,正しい取付け,取扱い及

び操作に関する特に重要な方法を指示する。

これらの文書には,推奨範囲及び保守の周期を表示する。

注記  この規格の対象となるすべての装置は,必ずしも保守できるように設計する必要はない。

6

標準使用,取付け及び輸送条件

6.1

標準使用条件

この規格に適合する装置は,次に示す標準状態の下で動作できなければならない。

注記  特殊使用条件については,附属書 参照。この場合,受渡当事者間の協定が必要となる場合が

ある。

6.1.1

周囲温度

周囲温度は,40  ℃を超えることがなく,かつ,24 時間の平均が 35  ℃を超えてはならない。

周囲温度の下限は,−5  ℃とする。

周囲温度は,エンクロージャがない場合は装置の周辺,エンクロージャがある場合はエンクロージャ近

辺の温度をいう。

注記 1 40

℃を超える周囲温度(例えば,鍛造工場,ボイラ室,熱帯地方の国)又は−5  ℃より低い

周囲温度(例えば,IEC 60439-1 では,−25  ℃として要求している。

)で用いる装置は,適

用する場合,個別規格によって,

又は製造業者と使用者との協定によって設計又は使用する。

製造業者のカタログによる情報は,このような協定に置き換えてもよい。

注記 2  例えば,回路遮断器又はスタータ用の過負荷リレーのような,特定の装置に対する周囲温度

の標準値は,個別規格で規定する。

6.1.2

標高

据付場所の標高は,2 000 m を超えない。


34

C 8201-1

:2007

注記  更に高い標高で用いる装置に対しては,絶縁耐力の低下及び空気の冷却効果の低下を考慮に入

れることが必要である。これらの条件で用いる電気装置は,製造業者と使用者との協定によっ

て設計又は使用する。

6.1.3

雰囲気

6.1.3.1

湿度

空気中の相対湿度は,最高温度 40  ℃で 85  %を超えてはならない。例えば,20  ℃で 90  %のように,

低い温度では相対湿度が,より高くなってもよい。温度変化によって結露及び氷結が生じる場合,特別な

手段が必要である。

注記  6.1.3.2 に規定する汚損度で,環境条件を更に詳細に定義している。

6.1.3.2

汚損度

汚損度(2.5.58 参照)は,装置を用いる環境条件に関係する。

注記 1  沿面距離又は空間距離のミクロ環境が絶縁への影響を決定し,装置の環境が決定するのでは

ない。ミクロ環境は,装置の環境よりよいことも悪いこともある。これは,例えば,気候条

件,電磁的条件,汚損の発生などのような,絶縁に影響を及ぼすすべての要因を含んでいる。

エンクロージャの内部で用いる装置又は一体形エンクロージャ付の装置に対しては,エンクロージャ内

の環境の汚損度が適用できる。

沿面距離及び空間距離を評価する目的に対しては,次の四つのミクロ環境の汚損度が確立している(異

なる汚損度ごとの沿面距離及び空間距離を,

表 13 及び表 15 に示す。)。

汚損度 1

  汚損がない,又は乾燥した非導電性の汚損だけが生じる。

汚損度 2

  通常,非導電性の汚損だけが生じる。しかし,まれに結露によって一時的な導電性の汚損が生じるこ

とがある。

汚損度 3

  導電性の汚損が生じる,又は結露のために導電性になる乾燥した非導電性の汚損が生じる。

汚損度 4

  例えば,導電性じんあい(塵埃)

,雨又は雪が引き起こす持続的な導電性汚損が生じる。

工業用途の標準汚損度:

  個別規格に規定がない場合,工業用途の装置には,一般的に汚損度 3 の環境を適用する。しかし,特

別用途又はミクロ環境に応じて別の汚損度を適用してもよい。

注記 2  装置に対するミクロ環境の汚損度は,エンクロージャ内へ据え付けることによって影響され

ることがある。

一体形エンクロージャ内では,コーティングした場合は汚損度 2 を適用し,ポッティング

した場合は汚損度 1 を適用する。

住宅用及び類似用途の標準汚損度:

  個別規格に規定がない場合,住宅用及び類似製品には,一般的に汚損度 2 の環境を適用する。一体形

エンクロージャ内でポッティングした場合は,汚損度 1 を適用する。

6.1.4

衝撃及び振動

装置に関する衝撃及び振動の標準条件は,検討中。

6.2

輸送中及び保管中の条件


35

C 8201-1

:2007

輸送中及び保管中の条件,温度,湿度などが 6.1 の規定と異なる場合は,次を除いて使用者と製造業者

との間で特別な協定を取り交わさなければならない。ほかに規定がない限り,次の温度範囲を輸送中及び

保管中に適用する。

−25∼55  ℃及び 24 時間を超えない短期間で 70  ℃以下で,かつ,結露及び氷結があってはならない。

運転していない状態でこれらの極端な温度にさらされた装置は,回復できないいかなる損傷も受けず,

標準使用条件の下で正常に動作しなければならない。

6.3

取付け

装置は,製造業者の指示書に従い取り付ける。

7

構造及び性能に関する要求事項

7.1

構造に関する要求事項

装置,及び(もしあればその)エンクロージャは,単体か組合せ品かによらず,設置及び通常の使用の

間に起こるストレスに耐える設計及び構造でなければならない。さらに,異常な加熱又は火災に対する耐

量を規定した等級を示さなければならない。

注記  製品ライフのすべての段階において,自然環境への影響を低減する必要が認識されている。JIS 

C 8201

のすべての部(IEC 60947 シリーズ)に関連する製品にかかわる環境面での配慮は,

属書 に示す。

7.1.1

材料

用いる材料の適合性は,次の a)∼c)に示すいずれかの試験によって評価する。

a)

装置に対して

b)

装置からとった一部に対して

c)

同一断面積をもつ同一材料の供試品に対して

適合性は,異常な加熱及び火災に対する耐性で決定する。

製造業者は,a),b)及び c)の中で,どれを用いて試験するかを示す。

同一断面積をもつ同一材料の供試品が,既に 8.2.1 のいずれかの試験を満足している場合は,その試験

8.2.1 の試験)を行う必要はない。

7.1.1.1

異常加熱及び火災に対する耐量

絶縁材料の部品は,それらが電気的影響による熱ストレスを受け,装置の安全を損なう劣化が生じるお

それがあるとき,異常加熱及び火災によって悪影響を受けてはならない。

装置に対する試験は,JIS C 60695-2-10 及び JIS C 60695-2-11 によるグローワイヤ試験を最終製品で実施

する。

通電部品を保持する必要がある絶縁材料部品は,8.2.1.1.1 のグローワイヤ試験で,予想できる火災の危

険性に対する試験温度 850  ℃,又は 960  ℃に適合しなければならない。個別規格においては,JIS C 

60695-2-11

附属書 を考慮して製品に適切な値を規定する。

前記に示す以外の絶縁材料は,8.2.1.1.1 のグローワイヤ試験で,試験温度 650  ℃に適合しなければなら

ない。

注記  JIS C 60695-2-11 に規定する小さな部品に対しては,個別規格で別の試験を規定してもよい(例

えば,JIS C 60695-11-5 に従うニードルフレーム試験)

。金属部分が絶縁材料に比べて大きい場

合(端子台の場合)

,ほかの実用上の理由によって同じ手順を適用してもよい。

材料に関する試験を行うときは,試験は 8.2.1.1.2 で規定するように,燃焼性試験,及びホットワイヤ着


36

C 8201-1

:2007

火試験,適用する場合はアーク着火試験を行う。

個別規格で JIS C 60695-11-10 に要求している燃焼性分類を規定する。

材料試験は,

附属書 に従って行う。ホットワイヤ着火試験(HWI)とアーク着火試験(AI)との材料

の燃焼性分類に関しての試験の要求値は,

表 M.1 で確認する。

製造業者は,

この要求に適合することを証明するため,

絶縁材料供給者からのデータを用意してもよい。

7.1.2

通電部及び接続

通電部は,それらの使用に対し,必要な機械的強度及び通電容量を備えていなければならない。

電気的接続における接触圧力は,セラミックス又は適合した特性をもつ材料以外の絶縁材料を介して加

えてはならない。ただし,絶縁材料の収縮又は曲がりを補正する金属部に,十分な弾性がある場合を除く。

適合性は,検査及び個別規格に従って試験シーケンスを行うことによって検証する。

7.1.3

空間距離及び沿面距離

この規格の 8.3.3.4 に従って試験する装置に対して,その最小値を

表 13 及び表 15 に示す。

定格インパルス電圧を表示しない装置に対しては,その最小値を

附属書 JA に示す。

電気的要求事項を 7.2.3 に規定する。

その他の場合の最小値は,個別規格で規定する。

7.1.4

操作部

7.1.4.1

絶縁

装置の操作部は,定格絶縁電圧及び適用する場合,定格インパルス耐電圧に対し,充電部から絶縁する。

さらに,

−  金属性の場合には,信頼性のある追加絶縁を備えていない限り,保護導体に確実に接続しなければな

らない。

−  絶縁材料で製作しているか又は絶縁材料で覆われている場合には,絶縁破壊の場合に,接触するおそ

れがあるすべての内部の金属部も定格絶縁電圧に対して充電部から絶縁しなければならない。

7.1.4.2

動作方向

操作部の動作方向は,通常,JIS C 0447 の要求に適合しなければならない。装置が,例えば,特別な適

用をするとき又は逆に取付けできるときのようにこの要求事項を満足しない場合は,装置には“  ”及び

○”位置並びに動作方向に関して明確になるようにはっきりと表示しなければならない。

7.1.5

接点位置の表示

7.1.5.1

表示手段

装置が開路位置及び閉路位置の表示手段を備えている場合,明確にこれらの位置を表示しなければなら

ない。

注記  箱入り装置の場合には,表示は外側から見えても,見えなくてもよい。

これは,位置表示によって行われる(2.3.18 参照)

個別規格で,装置が位置表示を備えているかどうかを規定してもよい。

シンボルを用いる場合には,IEC 60417 に従い,開及び閉の位置を示す。

      60417-IEC5007

    オン(On)

(電源)

      60417-IEC5008          オフ(Off)

(電源)

閉位置を文字で表示する場合は,オン(On)又は入によって表示する。開位置を文字で表示する場合は,

オフ(Off)又は切によって表示する。2 個の押しボタンで操作する装置は,開操作用として設計した押し


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C 8201-1

:2007

ボタンだけを赤,シンボル“○”又はオフ(Off)若しくは切の文字で表示する。

赤色は,ほかのいかなる押しボタンにも用いてはならない。

ほかの押しボタン,照光式押しボタンスイッチ及び表示ランプの色は,JIS C 0448 に従う。

7.1.5.2

操作部による表示

接点の位置を示す手段に操作部も用いる場合,引き外したとき,可動接点に対応する位置に自動的に移

動又は停止しなければならない。

この場合の操作部は,可動接点に対応する,二つの別々の停止位置をもっていなければならない。

しかし,自動開放に対しては操作部の第三の別な位置を備えていてもよい。

7.1.6

断路(アイソレーション)に適した装置に対する追加要求

7.1.6.1

追加構造要求

注記 1  (アメリカ合衆国独自の内容のため空白)

断路に適した装置は,開路位置(2.4.21 参照)において,断路機能を満足するのに必要な要求事項に従

った断路距離を備えなければならない。主接点の位置表示は,次に示すいずれか一つ以上の方法を備えな

ければならない。

−  操作部の位置

−  分離した機械式表示装置

−  可動接点位置が見える構造

装置に備わる各々の表示手段の有効性及び機械的強度は,8.2.5 に従って検証する。

開路位置において装置をロックするために,製造業者が準備し又は指定したとき,その位置におけるロ

ックについては,主接点が開路位置にあるときに限って可能でなければならない。これは 8.2.5 に従って

検証する。正しい接点位置の表示及びロックを確実にするため,操作部,表板又はカバーを装置に取り付

けるように設計する。

注記 2  閉路位置におけるロックは,特定の適用に対して認める。

注記 3  補助接点がインタロックのために設けられる場合は,製造業者は,補助接点及び主接点の動

作時間を記載する。さらなる仕様要求は,個別規格で規定してもよい。

表示している開路位置は,接点間の規定の断路距離を保証する唯一の位置とする。

“引外し位置”又は“待機位置”のように,開路位置ではない位置を表示する機器は,それらの位置を

明確に確認できるものとする。そのような位置の記号は,

“|”又は“○”を含まないものとする。

一つの停止位置だけをもつ操作部は,主接点の位置表示に用いてはならない。

7.1.6.2

電磁接触器又は回路遮断器との電気的インタロックをもつ装置に対する追加要求

断路に適した装置が,

接触器又は回路遮断器との電気的インタロックの目的で補助スイッチをもつ場合,

モータ回路で使用する場合及び装置が AC-23 の使用負荷種別の定格を満足しない場合は,次の要求を適用

しなければならない。

補助スイッチは JIS C 8201-5-1 に従って,製造業者が指定した定格とする。

装置の主極が開路する前に連動する接触器又は回路遮断器が電流を確実に遮断するために,補助スイッ

チの接点の開極及び主接点の開極動作の時間差は,十分でなければならない。

製造業者の技術資料に記載しない場合は,その時間差は,製造業者の取扱説明書に従って装置を操作し

たときに 20 ms 以上とする。

製造業者の取扱説明書に従って操作した場合,無負荷状態で補助スイッチが開路したときと主極が開路

したときとの時間差を測定することによって,適合性を検証する。


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C 8201-1

:2007

閉路動作中,補助スイッチの接点は,主接点より遅いか又は同時に閉路する。また,適切な開極動作の

時間差が,インタロック接点が開路及び主極がまだ閉路状態であるような中間の位置(ON と OFF との間)

で与えられてもよい。

7.1.6.3

開路位置でパドロックする手段をもつ装置に対する追加要求

ロック手段は,取り付ける専用パドロックとともに取り外すことがないように設計する。装置を 1 個だ

けのパドロックでロックしているとき,操作部の動作によって,開路接点間の空間距離が 7.2.3.1 b)の要求

を満足できない範囲まで減少しないようにする。

別の方法として,操作部へのアクセスを妨害するパドロック手段を設計してもよい。

操作部をパドロックする要求事項の適合性は,製造業者が指定するパドロック又はロック状態を模擬し

て最悪の状態を与える等価ゲージを用いて検証する。8.2.5.2.1 に規定する力 を,装置を開路位置から閉

路位置へ動作する操作中に,操作部に適用する。力 を適用している間,装置には開路接点間に試験電圧

を印加する。装置は,定格インパルス耐電圧に適用する

表 14 に従う要求試験電圧に耐える能力のものとす

る。

7.1.7

端子

7.1.7.1

構造的要求

接触を維持し,電流を流す端子においては,すべての部分は適切な機械的強度がある金属製のものとす

る。

端子の接続は,所要の接触圧力の維持を確実に行えるように,ねじ,ばね又はほかの類似の手段を講じ

て導体を接続するものとする。

端子は,導体又は端子のどちらも有害な損傷を受けることなく,適切な表面に導体を締付けできるよう

な構造のものとする。端子は,装置の動作に害を与えるように導体を移動させたり,又は端子自身が移動

したりしてはならない。また,絶縁電圧は,定格値より小さくなってはならない。

適用上必要な場合は,端子と導体とは銅導体用のケーブルラグによって接続してもよい。

注記 1  装置のスタッド端子を直接接続するのに適したラグ端子の外形寸法例を,附属書 に示す。

端子の例を,

附属書 に示す。

この箇条の要求事項は,適用できるものとして 8.2.4.28.2.4.3 及び 8.2.4.4 の試験で確認する。

注記 2  (北米独自の内容のため空白)

7.1.7.2

接続容量

製造業者は,形式[硬質のもの(単線又はより線)又は可とう性があるもの]

,端子に適している導体部

の最大及び最小断面積,並びに適用可能な場合には,端子に同時に接続可能な導体の数を明示する。ただ

し,最大断面積は,8.3.3.3 の規定値よりも小さくてはならない。端子は,

表 の欄に記載の少なくとも 2

サイズ小さい同じ形式[硬質のもの(単線又はより線)又は可とう性があるもの]の導体が接続可能なも

のとする。また,JIS C 3307 のように,公称断面積を規定する例(

表 1A)の場合で,電線を直接取り付け

る構造のものについては,少なくとも

表 1B に掲げる電線を容易に,かつ,確実に接続できなければなら

ない。

注記 1  最小値より小さい導体の断面積を,異なる個別規格で要求してもよい。

注記 2  電圧降下及びほかの条件によって,温度上昇試験に規定しているものより大きい導体の断面

積に適合する端子を個別規格で要求してもよい。導体断面積と定格電流との関係は個別規格

で規定してもよい。

銅の円形導体の断面積標準値(メートル及び AWG/kcmil サイズ)は,

表 による。また,JIS C 3307 


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C 8201-1

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どに基づく銅の円形導体の断面積標準値は,

表 1A による。

7.1.7.3

接続

外部導体への接続端子は,据付け時に容易に接続できなければならない。

締付けねじ及びナットは,端子を定位置に保持する又は回転を防ぐために用いてもよいが,ほかの部品

(component)を固定するために用いてはならない。

7.1.7.4

端子の識別及び表示

端子は,個別規格に規定がない場合,IEC 60445 及び

附属書 によって明確に,また,恒久的に識別で

きるものとする。ただし,製造業者が発行する情報(カタログ,取扱説明書など)によってもよい。

中性導体用に限定している端子は,IEC 60445 に従い,文字記号 N を用いなければならない。

保護接地端子は,7.1.9.3 によって識別しなければならない。

7.1.8

中性極付装置の追加要求事項

装置が中性点だけに接続するように意図した極を備えている場合,この極は,

“N”

7.1.7.4 参照)の文

字で,その働きを明確に表示しなければならない。

開閉する中性極は,ほかの極より前に開路してはならず,ほかの極より後に閉路してはならない。

適切な投入容量及び遮断容量(2.5.14 及び 2.5.15 参照)をもつ極が中性極として使われた場合,構造上

中性極を含むすべての極が実質上同時に動作してもよい。

注記  中性極に過電流引外し装置を取り付けてもよい。

63 A 以下の開放熱電流(大気中又はエンクロージャ内,4.3.2.1 及び 4.3.2.2 参照)の装置では,その値は

すべての極に対し同じものとする。

63 A を超える通電容量のものについては,中性極の通電容量は,ほかの極と異なる通電容量であっても

よい。ただし,電圧極の通電容量の値の半分又は 63 A のいずれか高い方の値以上とする。

7.1.9

保護接地に関する規定

7.1.9.1

構造に関する要求事項

露出導電部(シャーシ,枠組,金属のエンクロージャの固定部など)は,危険を引き起こさない部分を

除き,電気的に相互接続し,かつ,接地電極又は外部保護導体に接続するための保護接地端子に接続する。

この要求事項は,十分な電気的連続性を与える通常の構造部品によって満たすことができ,装置をそれ

自体で用いる場合にも又は盤に組み込まれる場合にも適用する。

注記  必要に応じて,要求事項及び試験を,個別規格で規定してもよい。

露出導電部が大きな範囲で接触することができないような場合,露出導電部を手で握ることができない

ような場合,露出導電部が小さい寸法(約 50 mm×50 mm)であるような場合又は露出導電部に接触する

ことができない配置にしている場合には,露出導電部は危険を生じないとみなす。

代表例としては,大きさに関係なく,ねじ,リベット,銘板,変圧器の鉄心,開閉機器の電磁石,引外

し装置などの特殊部品がある。

7.1.9.2

保護接地端子

保護接地端子は,取り扱いやすく,また,接地電極又は保護導体への装置の接続がカバー又は取外し可

能な部品を外すときにも,保持できるように配置する。

保護接地端子は,さびに対して適切に保護する。

導電性構造物,エンクロージャなどの付いた装置の場合,必要に応じて装置の露出導電部と接続導体の

金属シースとの間で,導通を確実にする手段を講じる。

保護接地端子は,PEN 導体(2.1.15 

注記参照)を接続するよう意図している場合を除き,ほかの機能


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C 8201-1

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をもってはならない。この場合には,保護接地端子に対して適切に要求事項を満たし,更に,中性端子と

しての機能を備えていなければならない。

7.1.9.3

保護接地端子の表示及び識別

保護接地端子は,次の事項を明確に,恒久的に表示していなければならない。

識別は,色(緑−黄色のマーク)

IEC 60445 の 5.3 による記号 PE 若しくは適用できれば PEN 又は装置

に用いる図式シンボルで行う。用いる図式シンボルは IEC 60417-2 に従い,次による。

60417-2 IEC-5019              保護接地 

注記  以前に使用していたシンボル    (60417-2 IEC 5017)は,上記のシンボル 60417-2 IEC 5019 に

徐々に置き換える。

7.1.10

装置のエンクロージャ

次の要求事項は,装置とともに用いるように意図したエンクロージャ又は供給されたエンクロージャだ

けに適用する。

7.1.10.1

設計

エンクロージャは,それが開かれ,ほかの保護手段を取り外したとき,据付け及び保守作業のために接

近を必要とするすべての部品は,製造業者の指示どおりに簡単に接近できるように設計する。

エンクロージャの内部には,外部導体を導入孔から内部へ引き込み,端子に確実に接続できるように十

分なスペースを設ける。

金属のエンクロージャの固定部は,装置のほかの露出導電部と電気的に接続して,それらを接地するか

又は保護導体の端子へ接続する。

エンクロージャの取外し可能な金属部品は,定位置に配置しているときには,いかなる事情にかかわら

ず,接地端子を接続している部品から絶縁してはならない。

エンクロージャの取外し可能な金属部品は,装置の動作又は振動の影響のため偶発的に緩んだり外れた

りしないよう固定部に確実に固定する。

エンクロージャが,工具を用いずにカバーを開けることができるように設計している場合には,締付部

品の紛失を防ぐ手段を施す。

一体化したエンクロージャは,取外しできない部品とみなす。

エンクロージャに押しボタンを装着するものにあっては,押しボタンの取外しは,エンクロージャの中

側からでなければならない。外側からの取外しは,この目的のために用意した工具を使用するときだけで

なければならない。

7.1.10.2

絶縁

金属エンクロージャと充電部との偶発的な接触を避けるために,絶縁材でエンクロージャを部分的又は

完全に内ばりする場合,この内ばりは,確実にエンクロージャに取り付ける。

7.1.11

箱入り装置の保護等級

箱入り装置の保護等級及び関連試験は,

附属書 に規定する。

7.1.12

金属電線管の引張強度,ねじり強度及び曲げ強度

ねじを切った電線管用の口をもった合成樹脂製の装置のエンクロージャで,それらは IEC 60981 による

特別な重責務の硬質ねじ切り金属電線管を接続するものでは,取付け中に発生するストレス,例えば,引

張り,ねじり及び曲げに耐えなければならない。


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適合性は,8.2.7 の試験によって検証する。

7.2

性能に関する要求事項

次の要求事項は,個別規格に規定がない場合,清浄な新しい装置に適用する。

7.2.1

操作又は動作条件

7.2.1.1

一般

特に投入容量及び遮断容量が操作者の熟練度に依存する直接手動操作のものは,製造業者の取扱説明書

又は個別規格に従って操作しなければならない。

7.2.1.2

動力操作装置の動作限界

個別規格に規定がない場合,電磁式及び電気空気式装置は,定格制御電源電圧 U

s

の 85∼110  %及び周

囲温度範囲−5∼40  ℃の間で閉路できなければならない。

この制限値は,交流又は直流のいずれでも適用する。

個別規格に規定がない場合,空気式及び電気空気式装置の供給空気圧力の限界値は,定格圧力の 85  %

及び 110  %とする。

動作範囲が与えられている場合には,85  %の値は範囲の下限に,また,110  %の値は範囲の上限に適用

する。

注記  ラッチ式装置については,動作限度は,受渡当事者間の協定が必要である。

電磁式及び電気空気式装置に関しては,開放電圧は定格制御電源電圧 U

s

の 75  %以下(直流及び交流)

直流の場合は U

s

の 10  %以上,交流の場合は定格周波数で U

s

の 20  %以上でなければならない。

空気式及び電気空気式装置については,個別規格に規定がない場合,定格圧力の 10∼75  %の間の圧力

で開路できなければならない。

動作範囲が与えられている場合には,その場合に応じ 20  %又は 10  %の値は範囲の上限に対し,75  %

の値は範囲の下限に対して適用する。

コイルの場合,コイル回路の抵抗が−5  ℃で得られる抵抗と等しいときに限界降下値を適用する。

このことは,通常の周囲温度で得られる値に基づいて計算で確かめてもよい。

7.2.1.3

不足電圧リレー及び引外し装置の動作範囲

a)

動作電圧  不足電圧リレー又は引外し装置は,開閉機器に装着している場合には,緩やかに降下する

電圧の場合にも,定格電圧の 70∼35  %の範囲内で装置を開路できなければならない。

注記  無電圧引外し装置は,定格電源電圧の 35∼10  %を動作電圧とする不足電圧引外し装置の特

殊形である。

不足電圧リレー又は引外し装置は,電源電圧がリレー又は引外し装置の定格値の 35  %未満である

ときには装置が閉路できてはならない。定格値の 85  %以上の電源電圧で装置は閉路できなければな

らない。個別規格に規定がない場合,電源電圧の上限は,定格値の 110  %でなければならない。

前記の数字は,直流及び定格周波数の交流に同じように適用する。

b)

動作時間  時延形不足電圧リレー又は引外し装置については,時間遅れは,動作電圧に達した瞬間か

ら,そのリレー又は引外し装置が装置の引外し機構を起動させる瞬間までの計測時間とする。

7.2.1.4

電圧引外し装置の動作の限界

開路用電圧引外し装置は,引外し動作中に計測した電圧引外し装置の電源電圧が定格制御電圧の 70∼

110  %の間にあり,また,交流の場合には定格周波数であるとき,装置のあらゆる動作条件の下で引外し

ができなければならない。

7.2.1.5

電流動作形リレー及び引外し装置の動作限界


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C 8201-1

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電流動作形リレー及び引外し装置の動作限界は,個別規格で規定する。

注記  電流動作形リレー及び引外し装置の用語は,過電流リレー及び引外し装置,過負荷リレー及び

引外し装置,逆電流リレー及び引外し装置を含む。

7.2.2

温度上昇

装置に取り付けている部品の温度上昇は,8.3.3.3 に規定する条件で試験中に測定するが,この箇条に規

定する値を超えてはならない。

注記 1  通常使用中の温度上昇は,取付条件及び接続導体の大きさによって試験値と異なってもよい。

注記 2  表 及び表 に規定する温度上昇の限度は,新しくて,清浄な条件で試験する装置に適用す

る。異なる試験条件及び小形の部品に対し個別規格に異なった値を規定してもよい。ただし,

10 K を超えてはならない。

7.2.2.1

端子

端子の温度上昇は,

表 に規定する値を超えてはならない。

7.2.2.2

アクセスできる部品

アクセスできる部品の温度上昇は,

表 に規定する値を超えてはならない。

注記  その他の部品の温度上昇は,7.2.2.8 に規定する。

7.2.2.3

周囲温度

周囲温度が,6.1.1 に規定する範囲内にある場合にだけ,

表 及び表 に規定する温度上昇限度を適用す

る。

7.2.2.4

主回路

装置の主回路は,8.3.3.3.4 に従って試験したとき,

表 及び表 に規定する温度上昇を超えることなく

装置の熱電流を通電できなければならい。

7.2.2.5

制御回路

開動作及び閉動作に用いる制御回路機器を含む装置の制御回路は,4.3.4 による定格責務を満たし,

8.3.3.3.5

に規定する温度上昇試験で,

表 及び表 に規定する限度を超える温度上昇があってはならない。

7.2.2.6

コイル及び電磁石の巻線

コイル及び電磁石の巻線は,8.3.3.3.6 に従って試験したとき,主回路を流れる電流で 7.2.2.8 に規定する

限度を超える温度上昇がなく,定格電圧に耐えなければならない。

注記  この箇条は,製造業者が動作条件を定義するパルス動作コイルには適用しない。

7.2.2.7

補助回路

補助スイッチの回路を含む装置の補助回路は,8.3.3.3.7 に従って試験を行ったとき,

表 及び表 に規

定する限度を超える温度上昇がなく,

熱電流を流すことができる電流容量をもつ回路でなければならない。

注記  装置と一体になったような補助回路では,主体の装置と同時に試験してもよい。ただし,その

ときの電流は,実用時の値とする。

7.2.2.8

その他の部分

試験中の温度上昇によって,

装置の通電部分又はそれに隣接した部分の損傷が生じてはならない。

特に,

絶縁材料に対しては,製造業者は(IEC 60216 の方法によって決められた)

,絶縁温度指数を参考にするか,

又は JIS C 4003 に従っているかを明確にする。

7.2.3

耐電圧性能

耐電圧性能は,基本的に安全に関する IEC 60664-1 及び IEC 61140 に基づいている。

a)

次に示す要求事項は,設置の条件にかかわる装置の絶縁協調を達成する方法を提示している。


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C 8201-1

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b)

装置は,次に耐える性能をもたなければならない。

附属書 に記載する過電圧種別に従った,定格インパルス耐電圧(4.3.1.3 参照)。

表 14 に規定する断路に適した装置の接点間に加えるインパルス耐電圧。

−  商用周波耐電圧。

注記  電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との相互関係は,附属書 に記

載する。

ある定格使用電圧(4.3.1.1 

注記 及び注記 参照)に対する定格インパルス耐電圧は,附属書 H

に記載するように,その装置を用いる時点の回路に供給する電源の公称電圧に対応する定格インパル

ス耐電圧で,かつ,それに合致した過電圧種別に属した電圧とする。

c)

この項の要求は,8.3.3.4 の試験によって検証する。

7.2.3.1

インパルス耐電圧

1)

主回路

a)

充電部と接地用部品との間,及び極間の空間距離に,

表 12 に規定する定格インパルス耐電圧に応じ

た試験電圧を加えたとき,これに耐えなければならない。

b)

開接点の接点間の空間距離は,次による。

−  個別規格を適用するときは,その規格に規定する定格インパルス耐電圧。

−  断路に適していることを明示した装置に対しては,

表 14 に規定する定格インパルス耐電圧に応

じた試験電圧に耐えなければならない。

注記  空間距離 a)及び/又は b)に固体絶縁物を加えた装置の絶縁に適用する場合,a)及び/

又は b)に規定する定格インパルス耐電圧にも耐えなければならない。

2)

補助回路及び制御回路

a)

定格使用電圧で,主回路から直接操作する補助回路及び制御回路は,7.2.3.1 の 1),a)の要求事項に

従わなければならない[7.2.3.1 の 1)の

注記参照]。

b)

主回路から直接操作しない補助回路及び制御回路は,主回路の耐過電圧容量(overvoltage withstand

capacity)と異なった耐過電圧容量にしてもよい。そのときの回路の空間距離及び固体絶縁物が加わ

った空間距離は,交流又は直流のいずれでも,

附属書 を参照し,該当する電圧に耐えなければな

らない。

7.2.3.2

主回路,補助回路及び制御回路の商用周波耐電圧

a)

商用周波耐電圧試験  商用周波耐電圧試験は,次のケースを適用する。

−  固体絶縁の検証のための形式試験としての耐電圧試験

−  開閉又は短絡の形式試験後の不具合の評価としての耐電圧検証試験

−  受渡試験

b)

耐電圧性能の形式試験  耐電圧性能の試験は,形式試験として,8.3.3.4 に従って行う。

断路に適した装置に対しては,最大漏れ電流は 7.2.7 に従って,かつ,8.3.3.4 に従って試験を行う。

c)

開閉又は短絡の形式試験後の耐電圧の検証  開閉又は短絡の試験後の不具合の評価としての耐電圧の

検証は,必ず 8.3.3.4.1 の 4)に従って商用周波数の電圧で行う。

断路に適した装置に対しては,最大漏れ電流は 7.2.7 に従って,かつ,8.3.3.4 に従って試験を行い,

この値は,個別規格で規定する値を超えてはならない。

d)

(空白)

e)

受渡試験での耐電圧の検証  材料及び製作における欠陥の検出の試験は,8.3.3.4.2 の 2)に従って商用


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C 8201-1

:2007

周波数の電圧で行う。

7.2.3.3

空間距離

空間距離は,7.2.3.1 に従い,定格インパルス耐電圧をその装置に加えたときこれに耐えるように,十分

にとる。

空間距離は,

表 13 のケース B(均一電界)(2.5.62 参照)に規定する値より大きく,かつ,8.3.3.4.3 によ

る抜取試験によって確証する。定格インパルス耐電圧及び汚損度に関係がある空間距離が,

表 13 のケース

A(不均一電界)(2.5.63 参照)に規定する値より大きいときは,この試験は行わない。

空間距離の測定方法は,

附属書 に記載してある。

7.2.3.4

沿面距離

a)

寸法決定法  汚損度 1 及び汚損度 2 においては,沿面距離は 7.2.3.3 に従って選択し,組み合わせた,

空間距離以上とする。

汚損度 3 及び汚損度 4 に対する沿面距離は,過電圧による放電破壊のおそれがないように,ケース

A の空間距離(表 13)以上とする。空間距離が 7.2.3.3 で許容されたとしても,ケース A の値に達し

ない沿面距離は認められない。

沿面距離の測定方法は,

附属書 に記載してある。

沿面距離は,6.1.3.2 で規定する汚損度及び/又は個別規格で規定する汚損度に対応しているととも

に,

表 15 に示す定格絶縁電圧(又はワーキング電圧)に対応する材料グループと一致していなければ

ならない。

材料グループは,比較トラッキング指数(CTI)

2.5.65 参照)の値の範囲に応じて,次のように区

分する。

−  材料グループⅠ 600

≦ CTI

−  材料グループⅡ 400

≦ CTI < 600

−  材料グループⅢa 175

≦ CTI < 400

−  材料グループⅢb 100

≦ CTI < 175

注記 1 CTI 値は,JIS C 2134 の試験液 A,絶縁材料に対するものから得られた値を参照。

注記 2  ガラス又はセラミックスのようなこん跡を生じない無機質の絶縁材料については,組み合

わせた空間距離を超える沿面距離には要求しない。しかし,放電破壊に対する危険は考慮

しなければならない。

b)

リブの使用  沿面距離は,最低高さ 2 mm のリブを用いるとき,リブの数にかかわりなく,表 15 の関

係する値の 0.8 倍まで小さくしてもよい。リブのベース部分の最小寸法は,機械的要求事項で決める

附属書 参照)。

c)

特殊な適用法  表 15 は,装置ごとに与えられた定格絶縁電圧より高い絶縁電圧を達成するための基準

として役立てることができるので,絶縁不良によって生じる重大な結果を考慮しなければならないよ

うな,ある使用目的を限定した装置を設計するときは,

表 15 の中のそれに影響がある要素(距離,絶

縁材料及びミクロ環境の汚損)について一つ以上を選択し,適用するのがよい。

7.2.3.5

固体絶縁

固体絶縁は,8.3.3.4.1 の 3)に従って商用周波数試験,又は直流装置の場合,直流試験で検証する。固体

絶縁に対する寸法決定方法及び直流試験電圧は,検討中である。

7.2.3.6

分離された回路間の距離

分離回路との間の空間距離,沿面距離及び固体絶縁の寸法を決定するときは,最も高い電圧定格を用い


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C 8201-1

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なければならない(空間距離及び固体絶縁物を加えたものでは,定格インパルス耐電圧,また,沿面距離

では,定格絶縁電圧又はワーキング電圧)

7.2.3.7

保護分離をもつ装置に対する要求

保護分離をもつ装置に対する要求は,

附属書 を参照。

7.2.4

無負荷,通常負荷及び過負荷において電流を投入,通電及び遮断できる能力

7.2.4.1

投入及び遮断容量

装置は,個別規格(8.3.3.5 の共通試験条件も参照)で規定する使用負荷種別で,かつ,この定格におい

て指定する動作回数の条件の下で,負荷電流及び過負荷電流を損傷しないで投入及び遮断できる能力がな

ければならない。

7.2.4.2

動作性能

動作性能に関する試験は,装置の使用負荷種別に応じた条件の下で,装置が損傷しないで主回路に流れ

る電流を投入,通電及び遮断できる能力があることを検証するために行う。

指定要求事項及び試験条件は個別規格で規定するが,関係する事項は,次のとおりである。

−  無負荷状態での動作性能では,制御回路に電源を加え,主回路に電源を加えない状態で試験を行う。

これは,その装置の制御回路の開動作及び閉動作中の規定供給電源電圧及び/又は圧力の上限及び下

限で,規定する動作条件に合っていることを実証するためである。

−  次に,負荷をかけた状態での動作性能では,この間,装置は,個別規格で規定する動作回数に対する

使用負荷種別と一致する指定された電流の投入及び遮断を行う。

個別規格によっては,1 回のシーケンスにまとめて無負荷及び有負荷の動作性能の確証の試験を実施す

るものもある。

7.2.4.3

耐久性

注記  対応国際規格では,動作回数に対する期待度を表す耐久性について,“endurance”を用いない

で,その代わりに“durability”という用語にしている。この箇条の動作回数は,その装置が修

理又は部品の交換をするまで実行できる回数である。

“endurance”は,一般的には,7.2.4.2 

定義したような,一般的な動作性能に対して用いる。この二つの概念の混同を避けるために,

対応国際規格では“endurance”という表現は必然性がないと考え,

“durability”を選んでいる。

7.2.4.3.1

機械的耐久性

機械的な摩耗にどのように耐えるかは,装置について個別規格で規定する何らかの機構部品の修理又は

交換が必要になるまでの無負荷(すなわち,主接点に電流が流れない。

)での動作サイクルの回数によって

判断する。しかし,保守を考慮している装置については,製造業者の説明書に応じた通常の保守を許す。

各動作サイクルは,1 回の閉動作と,次の 1 回の開動作でなっている。

試験は,製造業者の説明書に従って,その装置を取り付けて行い,無負荷の動作サイクルの回数は,個

別規格で推奨回数を規定する。

7.2.4.3.2

電気的耐久性

電気的な摩耗にどのように耐えるかは,装置が,個別規格で規定する使用条件に応じて,修理又は交換

を行わないで実行できる有負荷での動作サイクルの回数によって判断する。

有負荷の動作サイクルの回数は,個別規格において,推奨回数を規定する。

7.2.5

短絡時において電流を投入,通電及び遮断できる能力

個別規格で規定する条件の下で,装置は短絡電流によって生じる熱的,機械的及び電気的ストレスに耐

える能力がある構造でなければならない。特に,8.3.4.1.8 の要求事項に従った動きをするような装置でな


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C 8201-1

:2007

ければならない。

短絡電流は,次のような状況で発生することがある。

−  電流を投入動作中

−  閉路位置で通電中

−  電流遮断中

装置の短絡時の電流を投入,通電及び遮断できる能力を,次の定格のうちのいずれかで表現する。

−  定格短絡投入容量(4.3.6.2 参照)

−  定格短絡遮断容量(4.3.6.3 参照)

−  定格短時間耐電流(4.3.6.1 参照)

−  短絡保護装置(SCPD)と協調された装置の場合

a)

定格条件付短絡電流(4.3.6.4 参照)

b)

個別規格で単独に規定するほかのタイプの協調。

前記 a)及び b)による定格値及び制限値を,製造業者がその装置の保護に必要な短絡保護装置(SCPD)

の形式及び特性(例えば,電流定格,遮断容量,遮断電流,I

2

t)として,表示する。

7.2.6

開閉過電圧

個別規格で規定する場合,その開閉過電圧試験を適用してよい。

この場合,試験手順及び要求事項は,個別規格で規定する。

7.2.7

断路に適した装置の漏れ電流

断路に適した装置及び 50 V 以上の定格使用電圧 U

e

の装置は,接点を開路位置とし,各極の漏れ電流を

測定する。

漏れ電流値は,定格使用電圧の 1.1 倍の試験電圧で次の値を超えてはならない。

−  新品の装置で,0.5 mA/極

−  個別規格の試験要求による投入動作及び遮断動作を実施した後で,2 mA/極

定格使用電圧の 1.1 倍の電圧での 6 mA の漏れ電流は,断路に適した装置に対する限界値であり,いかな

る状況においてもこの値を超えてはならない。この条件を検証する試験は,個別規格で規定する。

7.3

電磁両立性(EMC

7.3.1

一般

この規格の範囲内で該当する製品に対して,2 種類の環境条件を考慮して次のように示す。

a)

環境 A

b)

環境 B

環境 A は,高い妨害電源も含む低圧の非公共又は工業用配電網/地域/設備に関係する。

注記 1  環境 A は,CISPR 11 の A クラスの装置と一致する。

環境 B は,低圧の公共又は住宅,商業及び軽工業の地域/設備のような配電網に関係する。アーク溶接

のような高妨害電源はこの環境には含まない。

注記 2  環境 B は,CISPR 11 の B クラスの装置と一致する。

7.3.2

イミュニティ

7.3.2.1

電子回路を搭載していない装置

電子回路を搭載していない装置は,電磁妨害を受けないので,イミュニティ試験を行う必要はない。

7.3.2.2

電子回路を搭載している装置

電子回路を搭載している装置は,電磁妨害に対して確実にイミュニティをもたなければならない。


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C 8201-1

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ここでは,用語“電子回路”にはすべての素子が受動素子からなる回路は含まれない(例えば,ダイオ

ード,抵抗,バリスタ,コンデンサ,サージ吸収素子,インダクタンス)

この要求事項の適合性を検証するための適切な試験は,8.4 を参照する。

性能評価は,個別規格で規定する。

特殊な性能基準は,

表 24 に示す許容基準に基づき,関連した個別規格で規定する。

7.3.3

エミッション

7.3.3.1

電子回路を搭載していない装置

電子回路を搭載しない装置の場合,電磁妨害は時々の開閉操作中,装置から発生するだけである。発生

時間はミリ秒レベルの期間である。

これらエミッションの周波数及びレベルの重要性は,低圧設備の通常の電磁環境の一部としてみなす。

そのため,電磁エミッションに対する要求は,満足しているとの考えから,検証の必要はない。

7.3.3.2

電子回路を搭載する装置

7.3.3.2.1

高周波エミッションの限界

電子回路を搭載する装置(例えば,スイッチング電源,高いクロック周波数をもつマイクロプロセッサ

を搭載する回路)は,継続的に電磁妨害を発生している。

そのようなエミッションに対しては,環境 A と環境 B とに対して CISPR 11 に基づいて,個別規格で規

定する限界を超えてはならない。

制御及び補助回路のどちらか又は両方が 9 kHz 以上の基本スイッチング周波数をもつ構成部品をもって

いるときだけ,これらの試験が必要となる。

試験方法は,個別規格で規定する。

7.3.3.2.2

低周波エミッションの限界

高調波を発生する装置の場合には,JIS C 61000-3-2 の要求を用いる。

低周波電圧変動を発生する装置の場合には,IEC 61000-3-3 の要求を用いる。

8

試験

8.1

試験の種類

8.1.1

一般

それぞれに適用する試験によって,この規格及び個別規格で規定する要求事項を満足していることを実

証する。

試験には,次のものがある。

−  形式試験(2.6.1 参照)

,これは個々の装置の中から代表的な供試品を取り出して行う。

−  受渡試験(2.6.2 参照)

,この規格又は個別規格のいずれかを適用して製作する装置で,それぞれ個々

の製品のすべてに行う。

−  抜取試験(2.6.3 参照)

,個別規格で,要求したときに行う。空間距離の検証のための抜取試験につい

ては,8.3.3.4.3 を参照。

前記の試験は,個別規格の規定に従った試験シーケンスを構成してもよい。

試験結果が試験を進めても影響を受けなくて,規定の試験シーケンスのサブシーケンスにとって重要で

はないような試験シーケンスを個別規格で規定する場合は,製造業者との協定によって,試験シーケンス

から除外してもよい。また,分離して新しい供試品で行ってもよい。

適用する場合は,個別規格で,その試験を規定する。


48

C 8201-1

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この試験は,製造業者が実施しなければならない。製造業者の工場で行うか,適切な研究所で行うかは

製造業者の選択となる。

個別規格の仕様に従うことが適切であり,かつ,受渡当事者間の合意を得られたときは,特殊試験(2.6.4

参照)を行ってもよい。

8.1.2

形式試験

形式試験は,この規格又は個別規格によって製作した製品の設計の適合性を検証するものである。

次の事項を検証することが適切である。

−  構造に関する要求事項

−  温度上昇

−  耐電圧性能(適用する場合は,8.3.3.4.1 参照)

−  投入及び遮断容量

−  短絡投入容量及び短絡遮断容量

−  動作限界

−  動作性能

−  箱入り装置の保護等級

− EMC の試験

注記  前記の事項の一覧がすべてではない。

装置に実施しなければならない形式試験,得られる結果,並びに必要な場合の試験シーケンス及び抜取

数は,個別規格で規定する。

8.1.3

受渡試験

受渡試験は,材料,仕上がりの不具合の発見及びその装置が正しく機能するかどうか確かめるためのも

ので,すべての個々の製品に対して実施する。

受渡試験には,次を含む。

a)

機能試験

b)

耐電圧試験

受渡試験及びその試験の実施条件の詳細は,個別規格で規定する。

8.1.4

抜取試験

技術的及び統計上の解析によって,受渡試験の必要がないことを検証したとき,また,個別規格で,そ

のように規定するときは,受渡試験の代わりに抜取試験を行ってもよい。

抜取試験には,次を含む。

a)

機能試験

b)

耐電圧試験

抜取試験は,製造業者が決めた又は使用者と製造業者とで協定した装置の特定の性能又は特徴を証明す

るために行ってもよい。

8.2

構造に関する要求事項に対する適合性

構造が,7.1 に規定する要求事項を満足していることを評価するには,例えば,次の事項が関係する。

−  材料

−  装置

−  箱入り装置の保護等級

−  端子の機械的特性


49

C 8201-1

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−  操作部

−  位置表示(2.3.18 参照)

8.2.1

材料

8.2.1.1

異常過熱及び火災に対する耐性

8.2.1.1.1

グローワイヤ試験(装置において)

グローワイヤ試験は,7.1.1.1 に規定する条件で JIS C 60695-2-10 及び JIS C 60695-2-11 の 4.10.に従っ

て行う。

この試験の目的から,保護導体は通電部分としてみなさない。

注記  試験として同じ供試品で多数の箇所の試験を行う必要がある場合は,前の試験で起こる悪化が

次の試験に影響を与えないように注意する。

8.2.1.1.2

燃焼性試験,ホットワイヤ着火試験及びアーク着火試験(材料において)

材料の適切な試験片で,次の試験を行わなければならない。

a)  JIS C 60695-11-10

に規定する燃焼性試験。

b)

附属書 に規定するホットワイヤ着火試験(HWI)。

c)

附属書 に規定するアーク着火試験(AI)。

試験 c)は,

材料がアーク部品から 13 mm 以内にある場合,

又は接続の緩みを想定できる充電部から 13 mm

以内にある場合だけに行う。装置が投入/遮断試験を行う場合,アーク部品から 13 mm 以内にある材料は,

この試験は行わなくてもよい。

8.2.2

装置

箇条 8.2 を参照。

8.2.3

装置のエンクロージャ

箱入り装置の保護等級については,

附属書 を参照。

8.2.4

端子の機械的特性

この箇条は,アルミニウム端子及びアルミニウム導体を接続した端子には適用しない。

8.2.4.1

試験の共通条件

製造業者が特に指定しない限り,各々の試験は清浄で新品の端子で行う。

試験に用いる丸銅導体は,JIS C 3001 に規定する銅導体でなければならない。

試験に平角銅導体を用いるときは,次の特性をもつものでなければならない。

−  最低純度:99.5  %

−  引張限界強度:200∼280 N/mm

2

−  ビッカース硬度:40∼65

8.2.4.2

端子の機械的強度の試験

試験は,最大断面積の適切な形式の導体で行う。

導体は,5 回脱着する。

ねじ式端子の締付トルクは,

表 又は製造業者が指定するトルクの 110  %の値のいずれか大きい方の値

とする。

試験は,二つの別の締付具で実施する。

ねじ回しで締付けできる六角頭のねじで,かつ,Ⅱ列及びⅢ列の値が異なっている場合には,二つの試

験を実施する。まず,Ⅲ列で規定するトルクを六角頭に加え,次に,もう一つの別の組の供試品にねじ回

しを用いてⅡ列に規定するトルクを加える。


50

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Ⅱ列及びⅢ列の値が同じであるときは,試験はねじ回しを用いる方法だけで行う。

各々の締付試験には,毎回,クランプしたねじ又はナットを緩めて,新しい導体に取り換えて行う。

試験中は,締付具及び端子部に緩みが生じないで,かつ,損傷が発生してはならない。この損傷は,ね

じの破壊又は,以後これを引き続き使用することが困難となるような,ねじなどの頭の溝,ねじ山,座金

又はあぶみ形の金具(電線のばらけ止めなど)の損傷が含まれる。

なお,これらの緩み及び損傷は,8.2.4.3 のねん回試験及び 8.2.4.4 の引張試験によっても発生してはなら

ない。

8.2.4.3

導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験法(ねん回試験)

この試験は,製造業者が指定する本数,断面積及び形式[可とう性があるもの及び/又は硬質のもの(よ

り線及び/又は単線)

]の未処理の丸銅導体とを接続するための端子に適用する。

注記  銅の板状導体に適した試験法は,受渡当事者間の協定で決めてよい。

次の試験は,二つの新しい供試品を用いて行う。

a)

最小断面積の導体を,最大接続数まで接続した状態

b)

最大断面積の導体を,最大接続数まで接続した状態

c)

最小断面積の導体と最大断面積の導体を,同時に最大接続数まで接続した状態

可とう性がある又は硬質の(単線及び/又はより線)導体のいずれかを接続するようになっている端子

は,各々の形式の導体を用いて,それぞれ別の供試品で試験を行う。

可とう性がある又は硬質の(単線及び/又はより線)導体両方を同時に接続するようになっている端子

は,前記 c)による試験を行わなければならない。

試験は,それに適した試験装置を用いて実施する。端子には,指定する本数の導体を接続する。

試験導体の長さは,

表 に規定する高さ より 75 mm 長いものでなければならない。クランプねじは,

表 に従ったトルク又は製造業者が指定するトルクで締め付ける。供試機器は,図 に示すようにしっか

り固定する。

各導体は,次の手順に従って,円運動をさせる。

試験する導体の先端は,

表 に示すように,装置の端子の下部で高さ のところに設けた回転板にあけ

た適切な大きさのブッシングに通す。ほかの導体は,試験の結果に影響しないように曲げておく。ブッシ

ングは,水平の回転板を通る導体と同一中心にくるような位置にしなければならない。そのブッシングの

中心線が,回転板の中心の周りを 10±2 min

1

で水平に,直径 75 mm の円を描くように動かす。端子の接

続口からブッシングの上面までの距離は,

表 の高さ で 15 mm の公差でなければならない。ブッシン

グには,油などを塗って滑らかにし,絶縁導体を締め付けたり,ゆがんだり,回転したりしないようにす

る。

表 のおもりは導体の先端につるしておく。試験は,135 回連続回転させる。

試験中に導体が端子から抜けたり,締付具付近で破断してはならない。

このねん回試験の後,直ちに,各々の導体は次の試験,8.2.4.4 にあるような試験装置を用いた試験を受

けなければならない。

8.2.4.4

引張試験

8.2.4.4.1

銅の円形導体

8.2.4.3

の試験に続き,

表 に示す引張力を,8.2.4.3 に従い,試験した導体に加える。

締付ねじは,この試験のために再度締め付けてはならない。

引張力は,静的に 1 分間加える。

試験中,導体は端子から抜けてはならず,締付具の近くで折れてはならない。


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8.2.4.4.2

銅の板状導体

適切な長さの導体は,端子に確実に固定する。導体の挿入方向とは反対の方向に,

表 に示す引張力を,

静的に 1 分間加える。試験の間,導体は,端子から抜けてはならず,締付具の近くで折れてはならない。

8.2.4.5

最大規定断面をもった未処理の銅の円形導体の挿入性に関する試験

8.2.4.5.1

試験方法

試験は,

表 で規定する形状 A 又は形状 B の適切なゲージを用いて行う。

ゲージの測定部は,端子のすき間を通して端子の深さいっぱいまで差し込むことができなければならな

い(

表 の注記参照)。

8.2.4.5.2

ゲージの構造

ゲージの構造は,

図 による。

寸法 a及びそれらに適用する許容差は,

表 による。

ゲージの測定部は,ゲージスチールで作る。

8.2.4.6

長方形の断面積をもった板状導体の挿入性試験

(検討中)

8.2.5

断路に適した装置の主接点位置表示の有効性の検証

注記  7.1.6 の注記参照。

7.1.6

に規定する主接点位置表示の有効性の検証のために,すべての接点位置表示は,動作性能試験及び

特殊な耐久試験を行った後も,正規の機能を維持しなければならない。

8.2.5.1

試験における装置の状態

試験における装置の状態は,個別規格で規定する。

8.2.5.2

試験方法

8.2.5.2.1

直接手動操作及び間接手動操作

装置を開路位置に動かすために必要な,操作部の先端での通常の操作力 を,最初に決める。

装置の閉路位置で,最も厳しい試験とみなせる極の固定及び可動接点を,溶接などによって固定する。

操作部は,3の力で試験しなければならない。ただし,その力は,形式に応じた

表 17 の最小値より小

さくする必要はなく,また,最大値を超える必要はない。

試験力は,操作部の先端に衝撃を加えることなく,接点を開路する方向に 10 秒間加える。

操作部に応じた試験力の印加方向は,

図 16 に示すように,試験の間は維持する。

8.2.5.2.2

直接動力操作

装置の閉路状態で,最も厳しい試験とみなせる極の固定及び可動接点を,溶接などによって固定する。

動力操作装置に,装置の接触機構が開極する方向へ,通常定格電圧の 110  %の電圧を印加しなければな

らない。

5 秒間電圧を印加し,5 分間間隔で 3 回操作を行う。動力操作装置に保護装置が附属していなければ,よ

り短い周期で操作を行ってもよい。

判定は,8.2.5.3.2 によって行う。

8.2.5.2.3

間接動力操作

装置の閉路状態で,最も厳しい試験とみなせる極の固定及び可動接点を,溶接などによって固定する。

動力操作装置の蓄積エネルギーを,装置の接触機構が開極する方向に解放しなければならない。

蓄積エネルギーの解放による装置の操作を,3 回繰り返す。

判定は,8.2.5.3.2 によって行う。


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8.2.5.3

試験中及び試験後の装置の状態

8.2.5.3.1

直接手動操作及び間接手動操作

試験力解除後,操作部は自由で,どのようなことがあっても開路位置を表示してはならない。また,装

置は,通常の動作を損なうような損傷があってはならない。

開路位置におけるロック手段をもつ装置の場合は,試験力を印加している間,装置をロックできてはな

らない。

8.2.5.3.2

直接動力操作及び間接動力操作

試験中及び試験後,どのようなことがあっても開路位置を示してはならない。また,装置は,通常の動

作を損なう損傷があってはならない。

装置に開路状態での施錠装置を備えている場合は,試験中施錠できてはならない。

8.2.6

(空白)

8.2.7

電線管引張試験,金属電線管のトルク試験及び曲げ試験

試験は,300±10 mm の長さで,適切なサイズの金属電線管で行わなければならない。

合成樹脂製のエンクロージャは,製造業者の指示に従って最も不利な状態にして設置しなければならな

い。

試験は,同じ金属電線管の,最も不利な入口で行わなければならない。

試験は,8.2.7.18.2.7.2 及び 8.2.7.3 の手順で行わなければならない。

8.2.7.1

引張試験

電線管は,入口に対して急激な力を加えることなく

表 22 に規定する値の 2/3 に等しいトルクで,ねじ込

まなければならない。電線管に対して 5 分間,急激な力を加えることなく,直接引張りを加えなければな

らない。

個別規格に規定がない場合,引張力は,

表 20 によらなければならない。

試験後,入口に関する電線管の位置ずれは,ねじ 1 山の深さより少なく,また,エンクロージャの継続

使用を損なうような損傷があってはならない。

8.2.7.2

曲げ試験

電線管の自由端末に急激な力を加えることなく曲げモーメントを加えなければならない。

曲げモーメントが電線管の長さ 300 mm に対して 25 mm の変形を生じるか,又は曲げモーメントが

表 21

に示した値に達したとき,そのモーメントを 1 分間保持する。次に,直角となる方向で試験を繰り返す。

試験後,エンクロージャの継続使用を損なうような明らかな損傷があってはならない。

8.2.7.3

トルク試験

電線管は,

表 22 に従ったトルクで,急激な力を加えることなく締め付けなければならない。

トルク試験は,事前に電線管入口を準備していないエンクロージャ,及び電線管入口がエンクロージャ

に接続する前に電線管に対して機械的に接続するように指示がしているものには適用しない。

引込専用で引出用ではない電線管をもち,16H 以下の単一電線管のエンクロージャに対しては締付トル

クを,25 Nm に減少する。

試験後,電線管を緩めることができなければならず,また,エンクロージャの継続使用を損なうような

明らかな損傷があってはならない。

8.3

性能

8.3.1

試験シーケンス

個別規格には,必要に応じて試験シーケンスを規定しなければならない。


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C 8201-1

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8.3.2

一般試験条件

注記  この規格の要求による試験は,装置の盤に関する追加試験要求を排除するものではない。IEC 

60439-1

によって行う試験がその例である。

8.3.2.1

一般要求事項

試験する装置は,すべての本質的な細部において,その装置が示す形式の設計に一致していなければな

らない。

個別規格に規定がない場合,それぞれの試験は,単独試験又は試験シーケンスにかかわらず清浄で新品

の状態で実施しなければならない。

特に示していない限り,試験は,意図する使用状態と同じ種類の電流(及び交流の場合,規定している

ものと同じ周波数,同じ数の相)で実施する。

個別規格は,この規格で規定していない試験条件の値を規定する。

試験の便宜のため,試験の厳しさを増すことが望ましい場合(例えば,試験時間を短縮するために,よ

り高い動作条件を採用するなど)

,製造業者の合意が得られる場合だけ実施してもよい。

試験する装置は,製造業者の取扱説明書に従い,かつ,6.1 に示す周囲条件下で,通常の使用状態と同様

に,それ自身で支持するか,又は等価的に支持することによって完全に取り付け,かつ,接続する。

端子ねじに適用する締付トルクは,製造業者の指示書による。指示書がない場合は,

表 による。

一体形エンクロージャをもつ装置(2.1.17 参照)は,完全に取り付け,通常の使用状態で閉じているす

べての開口部は,試験のために閉じなければならない。

単独のエンクロージャ内で用いることを意図した装置は,製造業者が指定するエンクロージャのうち最

小のもので試験する。

注記  単独のエンクロージャとは,1 個の装置を入れるような寸法で設計しているエンクロージャを

いう。

ほかのすべての装置は,大気中で試験する。このような装置が特有のエンクロージャで用いられるとき

には,大気中で試験した場合,更に,製造業者が指定する最小のエンクロージャにおいて追加試験を行う。

また,この追加試験は,個別規格で規定するとともに試験報告書に記載する。

しかし,そのような装置が,特有のエンクロージャ内で用いられ,製造業者の指定する最小のエンクロ

ージャで試験する場合,大気中での試験は,裸の金属で絶縁をしていないエンクロージャを準備する必要

はない。詳細は,エンクロージャの寸法を含めて,試験報告書に記載する。

大気中での試験に対して,個別規格に規定がない場合,投入容量及び遮断容量,並びに短絡状態におけ

る動作試験に対して,製造業者が明示する配置及び距離に従って,故障が発生する外的現象の要因となる

装置のすべての部分に金属スクリーンを配置する。詳細は,試験装置から金属スクリーンまでの距離を含

めて,試験報告書に記載する。

金属スクリーンの特性を,次に示す。

−  構造:金網,孔あき金属板又は網状金属板

−  材料:鋼材

−  材料の厚さ,径は,最小 1.5 mm

−  全面積に対する孔面積の比率:0.45∼0.65

−  孔のサイズ:30 mm

2

以下

−  表面処理:無処理又は導電性めっき

−  抵抗:アークの放射によって到達すると思われる金属スクリーンの最も遠い点で測り,ヒューズエレ


54

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メント回路[8.3.3.5.2 g)  及び 8.3.4.1.2 d)  参照]の推定故障電流の計算に含めなければならない。

個別規格に規定がない場合,修理又は部品の置換えは認められない。

装置は,試験前に無負荷で動作してもよい。

試験に対して,機械式開閉機器の動作システムは,この規格又は個別規格に規定がない場合,製造業者

が示す使用方法及び規定制御量(例えば,電圧及び圧力)で動作する。

8.3.2.2

試験条件

8.3.2.2.1

試験条件の値

すべての試験は,関連する表及び個別規格のデータに従い,製造業者が指定する定格に相当する試験値

で実施する。

8.3.2.2.2

試験条件の許容差

試験報告書に記録する試験は,関連する箇条で規定がない限り,

表 に示す許容差内でなければならな

い。しかし,製造業者との協定によって,示されたより厳しい条件で試験を実施してもよい。

8.3.2.2.3

回復電圧

a)

商用周波回復電圧  すべての遮断容量試験及び短絡遮断試験に対して,商用周波回復電圧の値は,製

造業者が指定するか,又は個別規格で規定する定格使用電圧の値の 1.1 倍とする。

注記 1  商用周波回復電圧のための定格使用電圧の 1.1 倍の値は,通常動作状態での系統電圧の変

化の影響をカバーすることを考慮している。

なお,回復電圧の値は,個別規格で規定してもよい。

注記 2  給与電圧が増大することを要求してもよいが,予想できるピーク投入電流を,製造業者と

の協定なしに超えてはならない。

注記 3  商用周波回復電圧の上限は,製造業者の承認で増大してもよい(8.3.2.2.2 参照)。

b)

過渡回復電圧  個別規格で必要とする過渡回復電圧は,8.3.3.5.2 で規定する。

8.3.2.3

試験結果の評価

試験中の装置の動作状態及び試験後の状態は,個別規格で規定する。

短絡試験については,8.3.4.1.7 及び 8.3.4.1.9 を参照。

8.3.2.4

試験報告書

個別規格に従っていることを証明する形式試験の報告書は,製造業者が準備しなければならない。形式

及びエンクロージャの大きさ,また,必要な場合,導体の大きさ,充電部からエンクロージャ又は動作中

通常接地している部分までの距離,動作システムの動作方法などの試験方法の詳細は,試験報告書に示さ

なければならない。

試験の数値及びパラメータは,試験報告書の一部を構成する。

8.3.3

無負荷,通常負荷及び過負荷状態での性能

8.3.3.1

動作

試験は,製品が正確に 7.2.1 の要求事項に従い動作することを検証する。

8.3.3.2

動作限界

8.3.3.2.1

動力動作装置

装置が個別規格で規定する電圧,電流,気圧,温度のような制御量の限界値内で正しく開路及び閉路す

ることを検証する。試験は特に規定がない場合,主回路に電流を流さないで実施する。

8.3.3.2.2

リレー及び引外し装置

リレー及び引外し装置の動作限界は,7.2.1.37.2.1.4 及び 7.2.1.5 の要求事項に従い,かつ,個別規格で


55

C 8201-1

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定義する試験方法に従い検証する。

不足電圧リレー及び引外し装置については,7.2.1.3 参照。

電圧引外し装置については,7.2.1.4 参照。

電流動作形リレー及び引外し装置については,7.2.1.5 参照。

8.3.3.3

温度上昇

8.3.3.3.1

周囲温度

周囲温度は,装置の中央の高さで装置から約 1 m の距離で装置の周囲に均等に配置した最低二つの温度

測定器,例えば,温度計又は熱電対によって,試験時間の最後の 4 分の 1 の間記録する。温度測定器は,

気流,熱放射及び急激な温度変化による測定誤差に対して保護しなければならない。

試験中,周囲温度は 10∼40  ℃とし,かつ,10 K を超える変化はないものとする。

しかし,3 K を超える周囲温度の変化がある場合,装置の熱時定数によって決まる適切な補正値を,そ

の部分の測定値に適用する。

8.3.3.3.2

部品の温度測定

コイル以外の部品については,異なる部分の温度は,最大温度に到達する最も適切な測定点で,適切な

温度測定器によって測定する。これらの測定点は,試験報告書に記述する。

油中に浸された装置の油の温度は,油の最上部で測定する。測定は,温度計の読取値によって行っても

よい。

温度測定器は,温度上昇に影響を与えてはならない。

温度測定器と部品表面との間に良好な熱伝導性を確保しなければならない。

電磁コイルでは,抵抗変化による温度測定方法を一般的に利用する。ほかの方法は,抵抗法を用いるこ

とが困難である場合にだけ認められる。

試験開始前のコイルの温度は,周囲の媒体の温度との間で 3 K を超える差があってはならない。

銅導体では,高温度 T

2

は,次の式によって高温での抵抗 R

2

と低温での抵抗 R

1

との比の関係として,低

温度 T

1

から得られる。

5

.

234

)

5

.

234

(

1

1

2

2

T

R

R

T

ここに,

T

1

低温度(℃)

T

2

高温度(℃)

R

1

低温での抵抗

R

2

高温での抵抗

試験は,8 時間を超えない範囲で温度上昇が十分飽和状態に達するまでの時間実施する。温度変化が 1

時間当たり 1 K を超えなくなったとき,飽和状態に到達したとみなす。

8.3.3.3.3

部品の温度上昇

部品の温度上昇は,

8.3.3.3.2

に従って測定した部品の温度と,

8.3.3.3.1

に従って測定した周囲温度との差

とする。

8.3.3.3.4

主回路の温度上昇

装置は,

8.3.2.1

に示すよう取り付け,外部の異常な過熱又は冷却から保護する。

熱電流試験のために,一体形エンクロージャをもった装置及び指定する形式のエンクロージャに入れて

だけ用いる装置は,そのエンクロージャ内で試験する。誤った換気を与える開放があってはならない。

複数の形式のエンクロージャで用いる装置は,製造業者が適切に指定する最小のエンクロージャで試験


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C 8201-1

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するか,又はエンクロージャなしで試験する。エンクロージャなしで試験する場合,製造業者は閉鎖熱電

流の値を示さなければならない(

4.3.2.2

参照)

多相電流で試験する場合,電流は,各相で±5  %以内に平衡しており,これら電流の平均は,試験電流

より小さくなってはならない。

個別規格に規定がない場合,主回路の温度上昇試験は,

4.3.2.1

及び

4.3.2.2

で定義する一つ又は二つの熱

電流で実施し,試験しやすい電圧で実施してもよい。

主回路,制御回路及び補助回路間で熱交換がある場合,

8.3.3.3.4

8.3.3.3.7

に規定する温度上昇試験は,

個別規格で認めている場合に限り,同時に実施する。

直流用の装置の試験は,製造業者が合意するときだけ,試験の便宜のため交流で試験してもよい。

同一の極を合わせた複数極の装置で交流で試験する場合は,磁気的な影響を無視できるように考慮し,

試験は製造業者の合意を条件として,すべての極を直列に接続した単相電流で実施してもよい。

各相極とは別の中性極をもった 3 極用装置の場合,試験は次のものを含む。

−  三つの同様の極への三相試験。

−  隣接する極に直列に接続した中性極への単相試験。試験量の値は,中性極の熱電流値に従って決定す

る(

7.1.8

参照)

短絡保護装置付の装置は,個別規格で規定する要求事項に従って試験する。

試験終了時,主回路の異なった部品の温度上昇は,個別規格に規定がない場合,

表 2

及び

表 3

に示す値

を超えてはならない。

熱電流値によって,次の試験用接続設備の一つを用いる。

i

)

400 A

以下の試験電流の場合

a

)  接続は単心,ポリ塩化ビニル(PVC)で絶縁し,

表 9

又は

表 9A

に示す断面積の銅導体とする。

b

)  接続は空気中で端子間に存在する程度のスペースを空ける。

c

)  単相及び多相試験について,装置の端子からほかの端子,又は試験装置,中性点への配線の最短長

は,

− 35

mm

2

(AWG2)以下の断面積の場合,1 m。

− 35

mm

2

(AWG2)を超える断面積の場合,2 m。

ii

)

400 A

を超え 800 A 以下の試験電流の場合

a

)  接続は単心,PVC で絶縁した,

表 10

又は

表 9A

で示す断面積領域の銅導体か,又は製造業者が推奨

する

表 11

に規定する同等の銅帯とする。

b

)

a

)で示した接続は,端子間に等しい程度の距離を空ける。銅帯はつや消しの黒で塗装する。一つの

端子に複数の銅帯を用いるときは,束ねて互いに 10 mm 程度のスペースを空ける。一つの端子に複

数の銅帯を用いるときは,板厚程度の距離を空ける。示された銅帯のサイズが端子に適さないか,

又は利用できない場合,同等の断面積をもち,同等又はより小さな冷却領域をもったほかの銅帯が

使用できる。銅導体又は銅帯は,厚さ方向に分割してはならない。

c

)  単相,又は多相試験について,装置の端子からほかの端子又は試験装置への最短長は 2 m とし,中

性点への最短長は 1.2 m に減じてもよい。

iii

)

800 A

を超え 3 150 A 以下の試験電流の場合

a

)  接続は,装置が電線での接続だけを目的に設計した場合を除き,

表 11

に示したサイズの銅帯とする。

この場合,サイズ及び電線の配線方法は,製造業者が指定するものと同じものとする。

b

)  銅帯は,端子間と同等の距離を空ける。銅帯は,つや消し黒で塗装する。一つの端子に複数の銅帯


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を用いるときは,板厚と同等の距離を空ける。示されたサイズのバーが端子に適さないか有効でな

い場合,

ほぼ同等の断面積をもち,

同等又はより小さな冷却領域をもったほかのバーが使用できる。

銅帯は,厚さ方向に分割してはならない。

c

)  単相,多相試験について,装置の端子からほかの端子,又は電源への最短長は 3 m とし,しかし,

この距離は配線の電源端での温度上昇が,配線長の中間での温度上昇より 5 K 以内に低い条件では

2 m に軽減する。中性点への最短長は,2 m とする。

iv

)

3 150 A

を超える試験電流の場合

  すべての関連する試験条件,例えば,電源の種類,相数及び(適用

できる場合)周波数,試験接続導体の断面積などについて,受渡当事者間で協定を行う。この情報は,

試験報告書に記載する。

8.3.3.3.5

制御回路の温度上昇

制御回路の温度上昇試験は,指定する電流で,かつ,交流の場合には,定格周波数で行う。制御回路は,

定格電圧で試験する。

連続動作を行うことを意図した回路は,温度上昇が定常状態に達するのに足りる程度の十分な時間をか

けて試験する。

間欠責務のための回路は,個別規格で規定するとおりに試験する。

これらの試験終了時の制御回路の各部の温度上昇は,個別規格に規定がない場合を除き,

7.2.2.5

に規定

する値を超えてはならない。

8.3.3.3.6

電磁石コイルの温度上昇

コイル及び電磁石は,

7.2.2.6

に示した条件に従って試験する。

これらの試験は,温度上昇が定常状態に達することができる程度の十分な時間をかけて行う。

温度は,電磁石の主回路及びコイルの両方が熱平衡に達したときに測定する。

間欠責務を行うことを意図した装置のコイル及び電磁石は,個別規格で規定するとおりに試験する。

これらの試験終了時の各部の温度上昇は,

7.2.2.6

に規定する値を超えてはならない。

8.3.3.3.7

補助回路の温度上昇

補助回路の温度上昇試験は,

8.3.3.3.5

に規定するものと同じ条件で行うが,都合のよい電圧で行っても

よい。

これらの試験終了時の補助回路の温度上昇は,

7.2.2.7

に規定する値を超えてはならない。

8.3.3.4

耐電圧性能

8.3.3.4.1

形式試験

1

)

耐電圧試験の一般条件

  供試装置は,

8.3.2.1

の一般要求事項に適合しなければならない。

この装置がエンクロージャなしで用いるものである場合には,装置を金属板上に取り付け,かつ,

通常の使用では保護接地極に接続する露出導電部(フレームなど)は,すべてこの金属板に接続する。

装置の基台が絶縁材料製の場合,金属部品は装置の通常使用状態に従ってすべての場所に取り付け

る。そしてこれらの部品は,装置のフレームの一部とする。

すべての絶縁材料製の操作部,及び追加エンクロージャなしでの使用を意図している装置の非金属

製一体形エンクロージャは,金属はくで覆い,かつ,フレーム又は取付板に接続する。金属はくは,

装置の調整又は操作の間にテストフィンガが触れることができる表面だけを覆わなければならない。

付加的なエンクロージャがあるために,一体形エンクロージャの絶縁部分にテストフィンガが触れな

いようになっている場合は,その部分には金属はくは不要である。

注記 1

  これは装置の調整又は操作の間に操作者が接触可能な部分(押しボタンスイッチの操作部


58

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など)に対応している。

装置の絶縁耐力がリードテープ又は特別な絶縁物の使用に依存している場合,このようなリードテ

ープ又は特別な絶縁物は,試験中も用いなければならない。

注記 2

  半導体の絶縁については,検討中。

2

)

インパルス耐電圧の検証

a

)

一般

  装置は,

7.2.3.1

に規定する要求事項に適合しなければならない。

絶縁の検証は,定格インパルス耐電圧での試験によって行う。

装置の耐電圧性能が標高に影響されない(例えば,オプトカプラ,カプセル入り部品)場合,絶

縁の検証は標高補正率を適用しないで,定格インパルス耐電圧試験によって置き換えてもよい。

これらの部品を切り離した装置の残りの部分は,標高補正率を使用した定格インパルス耐電圧で

試験しなければならない。

表 13

のケース A に示した値以上の値の空間距離は,

附属書 G

に述べた方法に従って,計測によ

って検証してもよい。

b

)

試験電圧

  試験電圧は,

7.2.3.1

に規定する値でなければならない。

過電圧抑制手段を組み込んだ装置に対しては,試験電流のエネルギー量はその過電圧抑制手段の

エネルギー定格を超えてはならない。抑制手段のエネルギー定格は,その用途に適したものでなけ

ればならない。

注記 1

  このような定格については検討中である。

試験装置は,

IEC 61180

の規定の 1.2/50 µs 波形で校正しなければならない。

その出力は,試験する装置に接続し,最小 1 s 間隔で各極性で 5 回インパルスを印加しなければ

ならない。

試験する装置への影響が,波形にあったとしても無視する。

試験手順の間に耐電圧試験を繰り返し行うことが必要ならば,この耐電圧試験の条件は,個別規

格で規定する。

注記 2

  試験装置の例については検討中である。

c

)

試験電圧の印加

  前記

a

)に規定するように装置を取り付け,かつ,準備を行った上で,試験電圧を

次のように印加する。

i

)

まとめて接続した主回路(主回路に接続した制御回路及び補助回路を含む。

)の全端子と,エン

クロージャ又は取付板との間。接点は,すべて通常の動作位置とする。

ii

)  主回路の各極と,エンクロージャ又は取付板にまとめて接続したほかの極との間。接点は,す

べて通常の動作位置とする。

iii

)  通常は主回路に接続しない制御回路及び補助回路と,次の項目との間。

−  主回路

−  その他の回路

−  露出導電部

−  エンクロージャ又は取付板

前記の回路は,適切な場合にはともに接続してもよい。

iv

)  断路に適した装置の場合,主回路の同極間。電源端子はまとめて接続し,かつ,各負荷端子も

まとめて接続する。

試験電圧は,電源端子と負荷端子との間に,各接点を開路位置にして加える。その値は,

7.2.3.1


59

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1

)

 b

)に規定するとおりとする。

断路に適さない装置では,接点を開路位置にして試験を行うための要求事項は,個別規格で

規定する。

d

)

合格判定基準

  試験中,偶発的な放電破壊があってはならない。

注記 1

  例えば,過渡的過電圧抑制手段などによる意図的な放電破壊は,例外とする。

注記 2

  “放電破壊(disruptive discharge)”という用語は,電気的ストレス下での絶縁不良に付随

した現象を指し,ここでは放電が試験対象の絶縁を完全にブリッジして電極間の電圧を

ゼロ又はほとんどゼロに低下させてしまう。

注記 3

  “火花放電(sparkover)”という用語は,放電破壊が気体又は液体の誘電体中に発生した

場合に用いる。

注記 4

  “フラッシオーバ(flashover)”という用語は,放電破壊が気体又は液体媒体内にある誘

電体の表面で発生した場合に用いる。

注記 5

  “絶縁破壊(puncture)”という用語は,放電破壊が固体の誘電体で発生した場合に用い

る。

注記 6

  固体誘電体内で放電破壊が発生すると,絶縁耐力は永久的に喪失する。しかし液体又は

気体の誘電体では,この喪失は一時的である。

3

)

固体絶縁に対する商用周波耐電圧の検証

a

)

一般

  この試験は,固体絶縁及び一時的な過電圧への耐量を検証するために行う。

表 12A

の値は,一時的な過電圧への耐量[

表 12A

b)

参照]を網羅しているとみなす。

b

)

試験電圧

  試験電圧は,正弦波形で周波数は 45∼65 Hz とする。

試験用高圧変圧器は,出力電圧を適切な試験電圧に調整した状態で,出力端子が短絡したときに

出力電流が少なくとも 200 mA になるように設計する。

過電流継電器は,100 mA 以下の出力電流で動作してはならない。

試験電圧値は,次による。

i

)

主回路,制御及び補助回路については,

表 12A

による。試験電圧の測定精度は,±3  %以内と

しなければならない。

ii

)  例えば,EMC フィルタ部品のため交流の試験電圧が適用できないときは,

表 12A

の 3 番目の

欄の値の直流の試験電圧を用いてもよい。

c

)

試験電圧の印加

  電圧相間の耐電圧試験において,電圧相間のすべての回路は,試験のため切り離

してもよい。

注記 1

  この試験の目的は,基礎絶縁及び付加絶縁だけを調べることにある。

装置の回路が,モータ,計器,スナップスイッチ,コンデンサ及び半導体装置を含む場合,それ

らの関連仕様に従って前記

b

)に記載する値よりも低い電圧で耐電圧試験を行うか,試験の前にその

ような装置を取り外して試験する。電圧相と大地との間の耐電圧試験は,すべての回路を接続して

行う。

注記 2

  試験の目的は,基礎と付加絶縁との両方,及び一時的な過電圧の耐量を調べることにあ

る。

試験電圧は,前記

2

)

 c

)の

i

),

ii

)及び

iii

)に従って 5 秒間印加する。

特別な場合,例えば,装置が二つ以上の開路位置をもっている場合又は半導体装置の場合には,

個別規格で試験条件の詳細を規定してもよい。


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C 8201-1

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プリント回路及び多点コネクタのモジュールは絶縁試験の間,引き出したり,断路したり,ダミ

ーによる置換えをしてもよい。

しかし,補助回路の絶縁破壊の場合に電圧がハウジングにつな(繋)がっていない接触部分に印

加したり,高い電圧側から低い電圧側に印加するもの(例,補助トランス,測定装置,パルストラ

ンス,主回路と同じ絶縁耐力部分)には適用しない。

d

)

合格判定基準

  試験中にフラッシオーバがなく,外部(表面)

,内部(貫通)のいずれにも絶縁破壊

又は破壊的な放電の兆候が起こってはならない。グロー放電は,無視する。

電圧相と大地との間に接続した構成部分は,試験で故障してもよいが,その故障が,危険な状態

となってはならない。個別規格が詳細な合格判定基準を規定してもよい。

注記

  大地に対する電圧基準は,一般的に実際には起こり得ない最悪の条件の下で

IEC 60664-1

に基づくものである。

4

)

開閉試験及び短絡試験後の商用周波耐電圧検証

a

)

一般

  試験は開閉試験又は短絡試験後,装置を取り付けた状態で実施する。このことが実際上不都

合な場合には,

試験回路から取り外して試験してもよいが,

試験結果に影響がないように取り扱う。

b

)

試験電圧

  試験電圧が 2U

e

,ただし,最小で交流 1 000 V(実効値)又は交流が適用できない場合は

最小で直流 1 415 V であることを除いて,前記

3

)

 b

)を適用する。U

e

は開閉試験,短絡試験にかかわ

る値である。

注記

  個別規格は,次の改正時に,この規定を採用しなければならない。

c

)

試験電圧の印加

  前記

3

)

 c

)の要求事項を適用する。

8.3.3.4.1

1

)に金属はくの適用はしない。

d

)

合格判定基準

  前記

3

)

 d

)の要求事項を適用する。

5

)  (空白)

6

)

直流耐電圧の検証

  (検討中)

7

)

沿面距離の検証

  各相間の最小沿面距離,異電圧回路導体間の最小沿面距離及び充電部と露出導電部

との間の最小沿面距離を測定する。測定した沿面距離は,材料グループ及び汚損度に対して,

7.2.3.4

の要求事項に適合していなければならない。

8

)

断路に適した装置の漏えい電流の検証

  試験は,個別規格で規定する。

8.3.3.4.2

受渡試験

1

)

インパルス耐電圧

  試験は,

8.3.3.4.1

2

)に従って行う。試験電圧は,定格インパルス耐電圧(標高

補正率なしで)の 30  %又は 2U

i

のいずれか高い方の値とする。

2

)

商用周波耐電圧

a

)

試験電圧

  試験装置は

8.3.3.4.1

3

)

 b

)に示したものと同様とする。ただし,過電流引外しは 25 mA

に設定しなければならない。しかし,安全上の理由で製造業者が指定する場合は,低い引外し設定

をもつ装置又は低電力の装置を使ってもよい。ただし,試験装置の短絡電流は,少なくとも過電流

継電器の通常の引外し設定の 8 倍とする。例えば,短絡電流 40 mA の変圧器については,過電流継

電器は 5±1 mA 以下で動作しなければならない。

注記 1

  装置の静電容量を考慮してもよい。

試験電圧は,2U

e

,最低実効値 1 000 V に設定する。

注記 2

  複数の電圧値の場合,U

e

は,装置に示す又は製造業者が示す最大値を適用する。

b

)

試験電圧の印加

8.3.3.4.1

3

)

 c

)を適用する。ただし,試験電圧の持続時間は,1 秒間とする。

しかし,絶縁に等価のストレスが加わると考えられる場合は,代用として,簡素な試験手順(例


61

C 8201-1

:2007

えば,試験電圧を上げて短い時間)を採用してもよい。

c

)

合格判定基準

  過電流継電器は,動作してはならない。

3

)

インパルス耐電圧及び商用周波耐電圧の同時実施

  前記

1

)及び

2

)の試験が,一つの商用周波耐電圧試

験に置き換えられる場合,個別規格でそのように規定してもよい。その場合,正弦波電圧のピーク値

は,前記

1

)又は

2

)で示した値のいずれか大きい方の値とする。

4

)

8.3.3.4.1

1

)による金属はくを使用する必要はない。

8.3.3.4.3

空間距離検証のための抜取試験

1

)

一般

  試験は,空間距離に関する設計の適合性が維持しているかを検証するためのものであり,

表 13

のケース A に対応するよりも小さな空間距離をもつ装置に対してだけ適用する。

2

)

試験電圧

  試験電圧は,定格インパルス耐電圧に相当するものとする。

個別規格では,抜取方式及び手順について規定する。

3

)

試験電圧の印加

8.3.3.4.1

2

)

  c

)を適用する。ただし,操作部又はエンクロージャへの金属はくは不

要である。

4

)

合格判定基準

  放電破壊があってはならない。

8.3.3.4.4

保護分離機能をもった装置の試験

保護分離機能をもった装置の試験は,

附属書 N

で規定する。

8.3.3.5

投入容量及び遮断容量

8.3.3.5.1

一般試験条件

投入容量及び遮断容量の検証の試験は,

8.3.2

に規定する一般試験条件に従って行う。

各相に対する許容差は,規定がない場合,

表 8

による。

4 極装置は,不使用の極付きの 3 極装置として試験する。この不使用極は,中性極がある装置ではその

中性極とし,フレームに接続する。すべての極が同一な場合,3 個の隣接した極に対して 1 回の試験を行

えば十分である。これ以外の場合には,中性極と最も近い極との間で追加試験を行う。この追加試験は

4

に従って中性極の定格電流及び相電圧によって,

ほかの 2 個の使用しない極はフレームに接続して行う。

過渡回復電圧については,通常の負荷及び過負荷条件下での遮断容量試験の場合は,値は個別規格で規

定する。

8.3.3.5.2

試験回路

a

)

図 3

6

には,次についての試験に用いるべき回路の図を示す。

−  単相交流又は直流の単極装置(

図 3

−  単相交流又は直流の 2 極装置(

図 4

−  三相交流動作の 3 極装置又は 3 台の単極装置(

図 5

−  三相 4 線式交流動作の 4 極装置(

図 6

試験報告書には,試験に用いた回路の詳細図を掲載する。

b

)  装置の電源端子の推定電流は,試験電流の 10 倍又は 50 kA のうち低い方の値より低くてはならない。

c

)  試験回路には,電源,供試装置 D 及び負荷回路を含む。

d

)  負荷回路は,直列の抵抗及び空心リアクトルで構成する。各相の空心リアクトルは,リアクトルを流

れる電流の約 0.6  %をもつ抵抗で分流する。ただし,過渡回復電圧を規定する場合は,0.6  %シャン

ト抵抗器の代わりに負荷に対して並列な抵抗及びコンデンサを入れ,負荷回路全体は,

図 8

に示すと

おりとする。

注記

  L/R>10 ms の場合の直流試験では,直列抵抗とともに鉄心リアクトルを用いてもよい。必要


62

C 8201-1

:2007

な場合,オシロスコープで L/R  値は指定のとおり

(

)

+15

0

であり,また,電流の 95  %を得る

ために必要な時間は 3×(L/R)±20  %であることを確認する。

過渡突入電流を指定する場合(例えば,使用負荷種別 AC-5b,AC-6 及び DC-6)には,個別規格で

別タイプの負荷を規定してもよい。

e

)  負荷は,指定する電圧において次のものが得られるように調整する。

−  個別規格で規定する電流値,及び力率又は時定数の値。

−  商用周波回復電圧値。

−  指定する場合には,過渡回復電圧の振動周波数及び振幅率 γ の値。振幅率 γ とは,商用周波回復

電圧成分の過渡回復電圧の最高ピークの値 U

1

の電流ゼロの瞬間の瞬時値 U

2

に対する比である

7

参照)

f

)  試験回路は 1 か所だけで接地しなければならない。接地箇所は負荷のスター結合点でもよいし,電源

のスター結合点でもよい。接地の位置は,試験成績書に記入する。

注記

  R 及び X(

図 8a

及び

図 8b

参照)の接続順序は,負荷調整時及び試験時で変更してはならな

い。

g

)  通常の使用時に接地する装置の部分は,すべてエンクロージャ又はスクリーンも含み,大地からは絶

縁し,

図 3

6

に示したように接続する。

この接続は,故障電流の検出のために直径が 0.8 mm で長さは 50 mm 以上の銅線で構成するヒュー

ズエレメント F 又は相当するヒューズエレメントを含んでいなければならない。

ヒューズエレメント回路の推定故障電流は,

注記 2

及び

注記 3

に記載する場合を除き 1 500 A±10  %

とする。必要な場合,電流をこの値に制限するための抵抗を用いる。

注記 1

  直径 0.8 mm の銅線は,1 500 A では 45∼67 Hz の周波数では約半サイクル(直流電流では

0.01 秒)で溶融する。

注記 2

  人工中性点の電源の場合は,製造業者の承諾に応じて次の表による小直径の銅線を用い

て,より低い推定故障電流としてもよい。

銅線の直径

mm

ヒューズエレメント回路の推定故障電流

A

0.1 50 
0.2 150 
0.3 300 
0.4 500 
0.5 800 
0.8 1

500

注記 3

  ヒューズエレメントの抵抗値については,

8.3.2.1

を参照。

8.3.3.5.3

過渡回復電圧の特性

個々のモータ負荷(誘電負荷)を含む回路内の条件を模擬するために,負荷回路の振動周波数を,次の

値に調整する。

10

000

2

8

.

0

e

2

.

0

c

±

×

×

U

I

f

ここに,

f: 振動周波数(kHz)

I

c

遮断電流(A)

U

e

装置の定格使用電圧(V)

振幅率 γ は,次の値に調整する。

γ=1.1±0.05


63

C 8201-1

:2007

試験に必要なリアクタンス値は,過渡回復電圧の振動周波数が一つの周波数であるとみなせるという条

件で,複数のリアクトルを並列に結合させて得てもよい。これは,一般的には各リアクトルが実際上同じ

時定数をもつ場合である。

装置の各負荷端子は,調整した負荷回路の端子とはできるだけ近く接続する。負荷の調整は,これらを

接続した状態で行わなければならない。

附属書 E

に,接地の位置による 2 種類の負荷回路調整手順を示す。

8.3.3.5.4

  (空白)

8.3.3.5.5

投入及び遮断容量の試験手順

動作の回数,

“オン(ON)

”及び“オフ(OFF)

”の回数,並びに周囲条件は,個別規格で規定する。

8.3.3.5.6

投入容量試験及び遮断容量試験の試験中及び試験後の装置の挙動

試験中及び試験後の判定基準は,個別規格で規定する。

8.3.3.6

動作性能能力

試験は,

7.2.4.2

の要求事項に対する適合性を検証する目的で行う。

試験回路は,

8.3.3.5.2

及び

8.3.3.5.3

に従う。

詳細な試験条件は,個別規格で規定する。

8.3.3.7

耐久性

耐久性試験は,ある装置が修理又は部品の交換なしで行える動作サイクル数を検証することを意図して

いる。

耐久性試験は,統計的寿命評価の基礎を形成し,この推定は,製造量によって可能となる。

8.3.3.7.1

機械的耐久性

試験中は,主回路中には電圧又は電流が存在してはならない。通常の使用時に潤滑を行うことを規定し

ている場合には,試験前に装置を潤滑してもよい。

制御回路は,定格電圧で,かつ,適用可能な場合には定格周波数で提供する。

空気式及び電気空気式の装置には,定格圧力の圧縮空気を供給する。

手動動作装置は,通常の使用どおりに動作する。

動作サイクル数は,個別規格で規定する回数以上とする。

開放リレー又は引外し装置を装備している装置では,このようなリレー又は引外し装置の実行すべき開

放動作の合計数は,個別規格で規定する。

試験結果の評価は,個別規格で規定する。

8.3.3.7.2

電気的耐久性

試験条件は,主回路は個別規格の要求事項に従って電圧印加する点を除いて,

8.3.3.7.1

の条件とする。

試験結果の評価は,個別規格で規定する。

8.3.4

短絡条件下での性能

この箇条では,

7.2.5

の定格及び極限値の検証のための試験条件を規定する。試験手順,動作シーケンス

及び試験シーケンス,試験後の装置の状態,並びに短絡保護装置(SCPD)付装置の協調の試験に関する追

加要求事項は,個別規格で規定する。

8.3.4.1

短絡試験の一般条件

8.3.4.1.1

一般要求事項

8.3.2.1

の一般要求事項を適用する。制御機構は,個別規格で規定する条件下で動作させる。この機構を

電気式又は空気式で制御する場合は,個別規格で規定する最低電圧又は最低圧力で供給しなければならな


64

C 8201-1

:2007

い。装置を前記の条件下で動作させた場合には,装置は無負荷状態で正しく動作することを検証する。

追加試験条件は,個別規格で規定してもよい。

8.3.4.1.2

試験回路

a

)

図 9

12

に,試験に関する使用すべき回路図を示す。

−  単相交流又は直流の単極装置(

図 9

−  単相交流又は直流の 2 極装置(

図 10

−  三相交流の 3 極装置(

図 11

−  三相 4 線式交流の 4 極装置(

図 12

試験報告書には,試験に用いた回路の詳細図を記載する。

注記

  短絡保護装置との組合せについては,個別規格で短絡保護装置と試験対象装置との間の相対

的配置を規定する。

b

)  電源 S は,抵抗 R

1

,リアクトル X 及び試験対象装置 D を含む回路への電源供給を行う。

どのような場合にも,電源は,製造業者の与えた特性の検証を行うのに十分な容量を備えていなけ

ればならない。

試験回路の抵抗及びリアクトルは,規定する試験条件を満たすように調整可能でなければならない。

リアクトル X は,空心とする。リアクトルは抵抗 R

1

と直列に接続し,リアクトル値は個々のリアク

トルの直列結合によって得られる値とする。各リアクトルが実際上同一の時定数を備えている場合に

は,

リアクトルを並列接続してもよい。

大きな空心リアクトルを含む試験回路の過渡回復電圧特性は,

通常使用状態を代表するものではないので,各相の空心リアクトルは,リアクトルを流れる電流の約

0.6  %をもつシャント抵抗器で分流する。これ以外の場合は,製造業者と使用者との協定で行う。

c

)

図 9

12

の各試験回路において,

抵抗及びリアクトルは,

電源 S 及び試験対象装置 D の間に挿入する。

閉路装置 A 及び電流検出装置(I

1

,I

2

,I

3

)の位置は異なってもよい。試験回路と供試装置との接続は,

個別規格で規定する。

定格値より少ない電流で試験する場合,必要な追加インピーダンスは,装置の負荷側で,装置の負

荷側と短絡との間に挿入する。これらを電源側に挿入する場合は,試験報告書に記載する。

これは,短時間耐電流試験には要求しない(

8.3.4.3

参照)

受渡当事者間で合意した特別事項を除いて,試験報告書に詳細に示し,試験回路図は,図に従わな

ければならない。

単一で試験回路の 1 か所だけを,接地する。接地点は,試験回路の短絡導体,供給電源の中性点,

又はほかの都合がよい箇所のいずれでもよい。ただし,接地方法は,試験報告書に記載する。

d

)  エンクロージャ又はスクリーンを含む使用中は,通常,接地する装置のすべての部分は,接地から絶

縁し,

図 9

12

に示す箇所に接続しなければならない。

この接続には,φ0.8 mm,最短 50 mm の銅線から構成するヒューズエレメント F,又は故障電流を

検出するために同等の機能をもつヒューズエレメントを含む。

ヒューズエレメント回路の推定故障電流は,

注記 2

及び

注記 3

の規定を除き 1 500 A±10  %とする。

必要な場合,この値に電流を制限するために抵抗を用いる。

注記 1

  φ0.8 mm の銅線は,1 500 A の電流を流したとき,45 Hz と 67 Hz との間の周波数で約半サ

イクル(又は直流に対して 0.01 s)で溶断する。

注記 2

  人工中性点の電源の場合は,製造業者の承諾に応じて,次の表による小直径の銅線を用い

て,より低い推定故障電流としてもよい。


65

C 8201-1

:2007

銅導線の直径

mm

ヒューズエレメント回路の推定故障電流

A

0.1 50 
0.2 150 
0.3 300 
0.4 500 
0.5 800 
0.8 1

500

注記 3

  ヒューズエレメント回路の抵抗値については,

8.3.2.1

を参照。

8.3.4.1.3

試験回路の力率

交流の場合,試験回路の各相の力率は,試験報告書に記載する方法に従って確定する。

二つの例を,

附属書 F

に示す。

−  多相回路の力率は,各相の力率の平均値とする。

−  力率は,

表 16

に適合しなければならない。

異なる相の力率の平均値と,最大値と最小値との差異は,±0.05 以内とする。

8.3.4.1.4

試験回路の時定数

直流試験回路の時定数は,

F.2

に規定する方法に従って決定する。

時定数は,

表 16

に適合しなければならない。

8.3.4.1.5

試験回路の校正

試験回路の校正は,試験時,供試装置を接続する端子にインピーダンスを無視してもよい程度の仮の接

続 B を施して行う。

交流回路の場合,その給与電圧において

8.3.4.1.3

に示す力率で定格短絡遮断容量に等しい電流が得られ

るように,抵抗 R

1

及びリアクトル X を調整する。

校正オシログラムから試験する装置の短絡投入容量を確定するためには,ある一相で推定投入電流が確

かめられるように,回路を校正することが必要である。

注記

  給与電圧は,規定の商用周波回復電圧となるような開回路電圧である(

8.3.2.2.3

注記 1

参照)

直流回路の場合,その試験電圧において

8.3.4.1.4

に規定する時定数で定格短絡遮断容量に等しい電流の

最大値が得られるよう,抵抗 R

1

とリアクトル X とを調整する。

試験は,すべての極に同時に印加し,電流曲線は少なくとも 0.1  秒間記録する。

校正曲線の最大値に到達するまでにその接点が開離する直流開閉器の場合は,アンペア/秒(A/s)で表

す電流の上昇割合が,その試験電流に対して規定する時定数と同じであることを示すためには,その回路

へ純粋な抵抗を追加して試験記録を作る方法でよい。この追加抵抗は,校正電流曲線のピーク値が少なく

とも遮断電流のピーク値に等しくなるようなものとする。この抵抗は,実際の試験では外さなければなら

ない[

8.3.4.1.8 b

)参照]。

8.3.4.1.6

試験順序

8.3.4.1.5

に適合するように試験回路を校正した後,臨時配線,その接続ケーブルなどは,供試装置へ置

き換える。

短絡試験時の性能試験は,個別規格の要求事項に適合しなければならない。

8.3.4.1.7

短絡投入及び遮断試験における機器の挙動

電極相互間及び電極とフレームとの間で,発弧及びフラッシオーバが生じてはならない。また,漏えい

検出回路のヒューズエレメント F が溶断してはならない(

8.3.4.1.2

参照)


66

C 8201-1

:2007

アーク生成物の発散に関する評価は,検討中である。

試験に関係するアークによって発散する物質の評価は,重要である。

8.3.4.1.8

試験の解釈

a

)

給与電圧及び商用周波回復電圧の確定

  給与電圧及び商用周波回復電圧は,その供試装置について行

われた遮断試験の記録から確定し,交流は

図 13

に,直流は

図 14

に示すように決定する。

電源側の電圧は,すべての極のアークが消滅し,高い周波数の現象が鎮静化した後の,最初の完全

なサイクルの間に測定する(

図 13

参照)

。例えば,個々の極間の電圧,アーク時間,アークエネルギ

ー,

開閉過電圧などの追加の情報が必要な場合は,

各極間へ検出機器を追加してこれを求めてもよい。

ただし,この場合,これらの測定回路の抵抗値は,極間の電圧実効値当たり 100 Ω 未満であってはな

らない。この値は,試験報告書に記載する。

b

)

推定遮断電流の決定

  推定遮断電流の確定は,試験回路の校正時に記録した電流曲線とその装置の遮

断試験記録とを比較して決定する(

図 13

参照)

交流の場合,推定遮断電流の交流分は,アーク接点が開離した瞬間における校正電流の交流分実効

値とする[この値は

図 13

a

)の A

2

/(2

2 )

に相当する。

。推定遮断電流は,

表 8

の許容差内で,すべて

の相の推定遮断電流の平均値とする。各相の推定電流は,定格値の±

10

%以内とする。

開離が半サイクル以内の場合には,半サイクルの時点での電流値で定めてもよい。

許容差は,

表 8

による。

注記

製造業者の合意があれば,各相の電流は平均値の

10

%以内でもよい。

直流の場合,推定遮断電流値は,電流がその最大値に達する前に装置が遮断したときは,校正曲線

から求めた最大値 A

2

とし,電流がその最大値に達した後に装置が遮断したときは,値 とする[

14

b)

及び

c)

参照]

8.3.4.1.5

の要求事項に従って試験する直流装置については,定格遮断容量より小さい電流 I

1

で回路

を校正したときには,実際の遮断電流 I

2

が I

1

より大きい場合,校正は無効となる。この場合は,I

2

り高い値の電流 I

3

で校正した後,再度試験を行う(

図 15

参照)

推定遮断電流は,校正回路の抵抗

R

1

に対応する試験回路の抵抗

R

によって計算で確定する。試験

回路の時定数は,次の式とする。

dt

di

A

T

/

2

許容差は,

表 による。

c)

推定ピーク投入電流の決定  推定ピーク投入電流は,校正記録から求め,その値は,交流の場合は図

13 a)

の A

1

,直流の場合は

図 14 a)の A

2

に相当する値とする。三相の試験の場合は,記録から得られる

三つの A

1

の値の最高値を採用する。

注記  単相装置の場合,投入した位相に依存するので,校正記録から求めた推定ピーク投入電流は

実際の投入電流と違いがあってもよい。

8.3.4.1.9

試験後の装置の状態

試験後,装置は個別規格に適合しなければならない。

8.3.4.2

短絡投入及び遮断容量

装置の短絡時の定格投入容量及び遮断容量の検証試験手順は,個別規格に適合しなければならない。

8.3.4.3

定格短時間耐電流の通電能力の検証

この試験は,装置を閉路位置として,8.3.4.1 の一般条件で,定格短時間耐電流に等しい推定電流を使用


67

C 8201-1

:2007

電圧で印加する。

使用電圧での試験が困難な試験設備の場合には,任意の電圧で,定格短時間耐電流 I

cw

に等しい電流で行

ってもよい。このことは,試験報告書に記載する。しかし,試験中に接点が瞬間的に開離する場合には,

定格使用電圧で試験を繰り返し行う。

試験中に動作する場合,過電流引外し装置は,動作しないようにする。

a)

交流の場合  この試験は,機器の定格周波数の±25  %以内で,定格短時間耐電流に対応する表 16 

示す力率で行う。

校正電流値は,すべての相の交流分実効値の平均値とする(4.3.6.1 参照)

。その平均値は,

表 の許

容差以内とする。

各相の電流は,定格値の±5  %以内とする。

定格使用電圧で試験をする場合には,校正電流は推定電流とする。

低電圧で試験をする場合には,校正電流は実際の試験電流とする。

電流は,その交流分の実効値が一定値を保持している規定の時間通電する。

注記  試験設備において困難な場合,製造業者の合意があれば,各相の電流は平均値の±10  %以内

でもよい。

最初の 1 サイクル間の電流最大値は,定格短時間耐電流の 倍以下になってはならない。この電流

値に対応する の値は,

表 16 による。

しかし,試験設備の特性によって前記の要求事項を満足しない場合には,次に示す条件でもよい。

ò

×

test

0

st

2

2

test

t

t

I

i

ここに,

t

test

試験の持続時間

t

st

短時間

i

test

交流成分が一定でない場合又は≧I

cw

の場合の校正電流

I: 交流成分が一定と仮定する場合の実際の校正電流

試験設備の短絡電流の減衰によって,定格短時間耐電流が定格時間得られない場合は,電流の実効

値を試験中規定する値以下に下げ,その持続時間を適切に増加してもよい。ただし,最大ピーク電流

値は規定値以上でなければならない。

要求された電流ピーク値が得られるように電流値を規定以上に増加させる場合は,試験の持続時間

を適切に減じなければならない。

b)

直流の場合  電流を規定の期間供給したとき,電流の平均値は,規定する値でなければならない。

試験設備の短絡電流の減衰によって,前記の要求事項を満足できない場合は,試験中電流を規定す

る値以下に下げて,その持続時間を適宜に増加してもよい。ただし,電流の最大値は,規定値以上と

する。

製造業者と使用者との間の合意があれば,これらの直流試験ができない試験設備の場合は,交流で

行ってもよい。ただし,電流のピーク値は,試験装置の容量を超えてはならない。

c)

試験中及び試験後の装置の挙動  試験中の装置の挙動は,個別規格に規定する。

試験後,通常の操作手段によって動作できなければならない。

8.3.4.4

短絡保護装置との協調及び定格条件付短絡電流

試験条件及び試験手順は,個別規格で規定する。

8.4

EMC

試験


68

C 8201-1

:2007

エミッション及びイミュニティ試験は,製造業者が指定する取付条件で動作及び環境の両方を代表する

条件で行わなければならない。

試験は関係する EMC 規格に従って行う。しかし,個別規格は,製品の性能基準を検証するために必要

な任意で追加した方法を明記する(例えば,休止時間の適用)

8.4.1

イミュニティ

8.4.1.1

電子回路がない場合

試験は,必要としない(7.3.2.1 参照)

8.4.1.2

電子回路がある場合

すべての構成部品が受動素子(例えば,ダイオード,抵抗,バリスタ,コンデンサ,サージ吸収素子,

インダクタンス)である回路を使用する装置は試験の必要はない。

異なる試験水準を個別規格で規定する場合を除いて,試験は

表 23 の規定値によって行う。

性能基準は,

表 24 に規定する許容基準に基づき個別規格で規定する。

8.4.2

エミッション

8.4.2.1

電子回路がない場合

試験は,必要としない(7.3.3.1 参照)

8.4.2.2

電子回路がある場合

個別規格で試験方法の詳細を規定する(7.3.3.2 参照)


69

C 8201-1

:2007

表 1−銅の円形導体の標準断面積及び mm

2

と AWG/kcmil サイズとの近似関係

7.1.7.2 参照)

断面積 AWG/kcmil

mm

2

サイズ

等価断面積

mm

2

0.2 24

0.205

0.34 22

0.324

0.5 20

0.519

0.75 18

0.82

1

1.5 16

1.3

2.5 14

2.1

4 12  3.3 
6 10  5.3

10 8  8.4 
16 6 13.3 
25 4 21.2 
35 2 33.6

− 1  42.4

50 0 53.5 
70 00  67.4 
95 000  85.0

− 0000

107.2

120 250

kcmil

127

150 300

kcmil

152

185 350

kcmil

177

− 400

kcmil

203

240 500

kcmil

253

300 600

kcmil

304

注記  ダッシュ(−)は,接続容量を検討するときサイズの一つ

として数える(7.1.7.2 参照)


70

C 8201-1

:2007

表 1A−電線の公称断面積

7.1.7.2 参照)

銅の円形導体(より線)

公称断面積

mm

2

銅の円形導体(単線)

導体径

mm

0.5 0.5 
0.75 0.8 
1.25 1.0 
2 1.2 
3.5 1.6 
5.5 2.0 
8 2.6

14 3.2 
22 4.0 
38 5.0 
60

100  
150  
200  
250  
325  
400  
500

表 1B−接続可能電線

7.1.7.2 参照)

定格電流

電線

I

n

A

  単線(直径)

mm

  より線(断面積)

mm

2

I

n

  ≦        15

1.6

 15  <  I

n

  ≦ 20

1.6 及び 2.0

2

∼ 5.5

 20  <  I

n

  ≦ 30

2.0 及び 2.6

3.5

∼ 8

 30  <  I

n

  ≦ 50

8

∼ 14

 50  <  I

n

  ≦ 60

8

∼ 22

 60  <  I

n

  ≦ 75

14

∼ 22

 75  <  I

n

  ≦ 100

22

∼ 38

 100  <  I

n

  ≦ 125

38

∼ 60

 125  <  I

n

  ≦ 150

38

∼ 60

 150  <  I

n

  ≦ 175

60

∼ 100

 175  <  I

n

  ≦ 200

100

∼ 150

 200  <  I

n

  ≦ 225

100

∼ 150

a)

 225  <  I

n

  ≦ 300

100

∼ 200

a)

 300  <  I

n

  ≦ 350

150

∼ 250

a)

 350  <  I

n

  ≦ 400

2×   (60∼100)

a)

 400  <  I

n

  ≦ 500

2×  (100∼150)

a)

 500  <  I

n

  ≦ 600

2×  (100∼200)

a)

a)

  端子は,600 V ビニル絶縁電線のこれらの断面積とほぼ等しい断面積をもつ

銅帯が接続できる構造でもよい。


71

C 8201-1

:2007

表 2−端子の温度上昇限度

7.2.2.1 及び 8.3.3.3.4 参照)

端子の材質

温度上昇の限度

K

a) c)

裸銅 60

銅合金(真ちゅう) 65

すずめっきの銅又は銅合金(真ちゅう) 65

銀めっき,又はニッケルめっきの銅又は銅合金(真ちゅう)

70

その他の材料

b) 

注記  表 は,IEC 規格の PVC ケーブルを基準にしている。 

a)

  表 9,表 9A 及び表 10 に示すものより小さい導体を用いて使用するときは,端子及び

内部の部品の温度が高くなるおそれがある。また,温度の上昇によって,装置が故障
することもあるので製造業者との協定なしでそのような導体を使わない方がよい。

b)

  使用経験又は寿命試験を基準にした温度上昇限度。ただし,65 K を超えない。

c)

  この試験の条件と異なったもの,及び寸法の小さい装置に対して,別の値を製造業者

の規格として規定してもよい。ただし,

表 の値より 10 K を超えてはならない。

表 3−アクセスできる部分(部品)の温度上昇限度

7.2.2.2 及び 8.3.3.3.4 参照)

アクセスできる部分

温度上昇の限度

K

a)

つまむ,握るなどによって手動で操作する部分 
金属

非金属

15 
25

触れようとはするが,つかむところではない部分 
金属

非金属

30 
40

通常の操作をする間,人が触れる必要がない部分

b)

金属 
非金属

40 
50

通常の操作中では人が触れることがない部分

b)

ケーブル引込口に隣接したエンクロージャの表面部分 
金属

非金属

 

40 
50

抵抗器のエンクロージャの表面部分

抵抗器のエンクロージャの換気口から出る空気

200

b)

200

b)

a)

  個別規格で規定する数値は,試験の条件の違い及び小形装置などによって異なっても

よいが,

表 の値を 10 K を超えてはならない。

b)

  装置は,燃えやすい材料への接触又は使用者の不慮の接触に対して保護しなければな

らない。200 K の限界は,製造業者によって申し立てがあれば,超えてもよい。危険
を防ぐ配置及び保護は,設置する人の責任である。製造業者は,5.3 によって適切な

指示を用意しなければならない。


72

C 8201-1

:2007

表 4−機械的強度の検証を行うときのねじ式端子に加える締付トルク

8.3.2.18.2.6 及び 8.2.6.2 参照)

ねじ部の直径

mm

締付トルク

N・m

メートル表示の基準値

直径の範囲

1.6

1.6

以下 0.05

0.1

0.1

2.0

1.6

を超え 2.0

以下 0.1

0.2  0.2

2.5

2.0

を超え 2.8

以下 0.2

0.4  0.4

3.0

2.8

を超え 3.0

以下 0.25  0.5

0.5

3.0

を超え 3.2

以下 0.3

0.6  0.6

3.5

3.2

を超え 3.6

以下 0.4

0.8  0.8

4.0

3.6

を超え 4.1

以下 0.7

1.2  1.2

4.5

4.1

を超え 4.7

以下 0.8

1.8  1.8

5

4.7

を超え 5.3

以下 0.8

2.0  2.0

6

5.3

を超え 6.0

以下 1.2

2.5  3.0

8

6.0

を超え 8.0

以下 2.5

3.5  6.0

10

8.0

を超え 10.0 以下

− 4.0

10.0

12

10

を超え 12  以下

− 14.0

14

12

を超え 15  以下

− 19.0

16

15

を超え 20  以下

− 25.0

20

20

を超え 24  以下

− 36.0

24

24

を超えるもの

− 50.0

Ⅰ列  締め付けるとき,ねじ穴からはみ出る部分がないような頭なしねじ,又は先端の刃の部分がねじの基

本部分の直径より大きい(マイナス)ねじ回しでは締付けができないようなねじに適用する。

Ⅱ列  ねじ回しで締め付けるようにしたねじ及びナットに適用する。

Ⅲ列  ねじ回し以外の手段で,締め付けるようにしたねじ及びナットに適用する。


73

C 8201-1

:2007

表 5−銅の円形導体に対するねん回及び引張試験の試験値

8.2.4.4.1 参照)

導体サイズ

ブッシング孔の

直径

a) b)

高さ

a)

おもり

引張力

mm

2

(AWG/ kcmil) mm

mm

kg

N

0.2 
0.34

24 
22

6.5 
6.5

260 
260

0.2 
0.2

10 
15

0.5 
0.75

20 
18

6.5 
6.5

260 
260

0.3 
0.4

20 
30

1.0 
1.5

16

6.5 
6.5

260 
260

0.4 
0.4

35 
40

2.5 
4.0

14 
12

9.5 
9.5

280 
280

0.7 
0.9

50 
60

6.0

10

10

8

9.5 
9.5

280 
280

1.4 
2.0

80 
90

16 
25


4

13.0 
13.0

300 
300

2.9 
4.5

100 
135

35


2

14.5 
14.5

320 
320

5.9 
6.8

156 
190

50


0

15.9 
15.9

343 
343

8.6 
9.5

236 
236

70 
95

00

000

19.1 
19.1

368 
368

10.4 
14

285 
351

120

0000

250 kcmil

19.1 
22.2

368 
406

14 
14

427 
427

150 
185

300 kcmil 
350 kcmil

22.2 
25.4

406 
432

15 
16.8

427 
503

240

400 kcmil 
500 kcmil

25.4 
28.6

432 
464

16.8 
20

503 
578

300 600

kcmil

28.6  464

22.7  578

a)

  許容差:高さ については±15 mm,ブッシング孔の直径については±2 mm。

b)

  ブッシング孔の直径が,その導体を拘束しないで収納できる大きさでないときは,次に大きい径のブッシ

ングを用いてもよい。

表 6−銅の板状導体の引張試験の数値

8.2.4.4.2 参照)

銅の板状導体の最大幅

mm

引張力

N

12 100 
14 120 
16 160 
20 180 
25 220 
30 280


74

C 8201-1

:2007

表 7−最大導体断面積及び相当するゲージ

8.2.4.5.1 参照)

導体サイズ

ゲージ(

図 参照)

可とう導体  可とう性がない導体

形状 A

形状 B

と との

mm

2

(単線又はより線)

mm

2

マーキング

直径 a

mm

直径 b

mm

マーキング

直径 a

mm

許容差

mm

1.5

1.5

A1 2.4 1.5 B1  1.9 0

2.5 2.5

A2

2.8

2.0

B2

2.4

−0.05

2.5 4 A3

2.8

2.4

B3

2.7

4

6

A4 3.6 3.1 B4  3.5 0

6 10 A5

4.3

4.0

B5

4.4

−0.06

10 16 A6

5.4

5.1

B6

5.3

16

25

A7 7.1 6.3 B7  6.9 0

25 35 A8

8.3

7.8

B8

8.2

−0.07

35 50 A9

10.2

9.2

B9

10.0

50 70

A10

12.3

11.0

B10

12.0

0

70 95

A11

14.2

13.1

B11

14.0

−0.08

95 120 A12

16.2

15.1

B12

16.0

120 150 A13

18.2

17.0

B13

18.0

150 185 A14

20.2

19.0

B14

20.0

185 240 A15

22.2

21.0

B15

22.0

0

240 300 A16

26.5

24.0

B16

26.0

−0.09

注記  表 に示す以外の異なる形状の単線,又はより線の規定導体断面積には,適切な断面積の未処理導体を

ゲージとして用いてもよい。挿入力は,5 N より大きくてはならない。

表 8−試験条件の許容差

8.3.4.3 a)参照]

全試験

無負荷,通常負荷及び過負荷状態での試験

短絡条件での試験

電流:

5

0

+

  %

力率:±0.05

力率:

0

05

.

0

電圧:

5

0

+

  %

時定数:

15

0

  %

時定数:

5

2

0

  %

(商用周波回復電圧は,±3  %
とする。

周波数:±5  %

周波数:±5  %

注記 1  最大動作限界,及び/又は最小動作限界が製品仕様書で示す場合,上記許容差は適用しない。 
注記 2  受渡当事者間の協定によって,50 Hz での試験は 60 Hz での動作として認めてもよい。その逆も同様。


75

C 8201-1

:2007

表 9−試験電流 400 以下の試験用銅導体*

8.3.3.3.4 参照)

試験電流の範囲

a)

導体のサイズ

b) c) d)

A mm

2

 AWG/kcmil

0 8 1.0

18

8 12  1.5

16

12 15  2.5

14

15 20  2.5

12

20 25  4.0

10

25 32  6.0

10

32 50 10  8 
50 65 16  6 
65 85 25  4 
85 100  35  3

100 115  35  2

115 130  50  1

130 150  50  0 
150 175 70 00 
175 200  95 000 
200 225  95 0000 
225 250 120 250

kcmil

250 275 150 300

kcmil

275 300 185 350

kcmil

300 350 185 400

kcmil

350 400 240 500

kcmil

a)

d)

表 11 の注

a)

d)

に同じ。


76

C 8201-1

:2007

表 9A−試験用銅導体

8.3.3.3.4 参照)

定格電流

電線

I

n

A

単線(直径)

mm

より線(断面積)

mm

2

                        I

n

  ≦ 15

1.6

 15

<  I

n

  ≦ 20

2.0

 20

<  I

n

  ≦ 30

− 5.5

 30

<  I

n

  ≦ 40

− 8

 40

<  I

n

  ≦ 50(60)

a)

− 14

 50

<  I

n

  ≦ 75

− 22

 75

<  I

n

  ≦ 113

− 38

 113

<  I

n

  ≦ 152

− 60

 152

<  I

n

  ≦ 208

− 100

 208

<  I

n

  ≦ 276

− 150

 276

<  I

n

  ≦ 328

− 200

 328

<  I

n

  ≦ 389

− 250

 389

<  I

n

  ≦ 455

2×100,又は 325

 455

<  I

n

  ≦ 520

2×150,又は 400

 520

<  I

n

  ≦ 600

2×200,又は 500

a)

 (60)は,配線用遮断器及び漏電遮断器に適用する。

表 10−試験電流 400 を超え 800 以下の試験用銅導体* 

8.3.3.3.4 参照)

試験電流の範囲

a)

導体

b) c) d)

メートル kcmil

A

本数

サイズ

mm

2

本数

サイズ

kcmil

400

500 2 150 2 250

500

630 2 185 2 350

630

800 2 240 3 300

a)

d)

表 11 の注

a)

d)

に同じ。


77

C 8201-1

:2007

表 11−試験電流 400 を超え 3 150 以下の試験用銅帯

8.3.3.3.4 参照)

試験電流の範囲

a)

銅帯

b) c) d) e) f)

A

本数

寸法

mm

寸法

inch

400 500

2

30

× 5

  1 × 0.250

500 630

2

40

× 5

  1.25

× 0.250

630 800

2

50

× 5

  1.5

× 0.250

800 1

000

2

60

× 5

  2 × 0.250

1 000

1 250

2

80

× 5

  2.5

× 0.250

1 250

1 600


2

 100 × 5 
 50

× 10

 3

× 0.250

1 600

2 000


2

 100 × 5 
 75

× 10

 3

× 0.250

2 000

2 500


2

 100 × 5 
 100 × 10

 3

× 0.250

2 500

3 150


2

 100 × 10 
 150 × 10

 6

× 0.250

a)

  試験電流値は,第 1 列での最初の値より大きく,その列での第 2 番目の値以下とする。

b)

  試験の便宜のため,製造業者の合意を得た場合には,示された試験電流用の導体より小

さな導体を用いてもよい。

c)

  上記の表はメートル法と AWG/kcmil システムで導体のサイズを,ミリメートル(mm)

とインチ(inch)で銅帯のサイズをそれぞれ示す。AWG/kcmil とメートル法でのサイズ
の比較は,

表 を参照。

d)

  示した電流範囲に対して規定する二つの導体のうちいずれを用いてもよい。

e)

  銅帯は,長い面を垂直にして配線する。製造業者が示す場合には,長い面を水平にして

配線することがある。

f)

  四つの銅帯を用いる場合には,この銅帯の対とし,各々の対の中心間の距離は,100 mm

以内とする。

表 12−インパルス試験耐電圧値

7.2.3 a)及び 7.2.3.1 1a)参照]

単位  kV

試験電圧及び対応標高

定格インパ
ルス耐電圧

U

1.2/50

U

imp

海水面

200 m

500 m

1 000 m

2 000 m

0.33  0.35 0.35 0.35 0.34 0.33 
0.5  0.55 0.54 0.53 0.52 0.5 
0.8  0.91 0.9 0.9 0.85 0.8 
1.5  1.75 1.7 1.7 1.6 1.5 
2.5  2.95 2.8 2.8 2.7 2.5 
4

4.9 4.8 4.7 4.4 4.0

6

7.3 7.2 7.0 6.7 6.0

8

9.8 9.6 9.3 9.0 8.0

12

14.8 14.5 14  13.3 12

注記  表 12 は,均一電界,ケース B の特性を用いている(2.5.62 参照)。


78

C 8201-1

:2007

表 12A−定格絶縁電圧に対する耐電圧試験電圧

単位  V

定格絶縁電圧値

U

i

耐電圧試験電圧

(交流,実効値)

耐電圧試験電圧

b) c)

(直流)

      U

i

  ≦

60 1

000 1

415

 60

<  U

i

  ≦

300 1

500 2

120

 300

<  U

i

  ≦

690 1

890 2

670

 690

<  U

i

  ≦

800 2

000 2

830

 800

<  U

i

  ≦  1 000

2 200

3 110

 1 000

<  U

i

  ≦  1 500

a)

− 3

820

a)

  直流用。

b)

  IEC 60664-1 の 4.1.2.3.1 の第 3 パラグラフによる試験電圧

c)

  直流試験電圧は交流試験電圧が適用できない場合にだけ使用してよい。8.3.3.4.1 の 3) 

b) ii)

を参照。

表 13−最小空間距離

定格インパルス

耐電圧

最小距離

mm

U

imp

ケース A

不均一電界

2.5.63 参照)

ケース B

理想的均一電界

2.5.62 参照)

汚損度

汚損度

kV

1 2 3 4 1 2 3 4

0.33 0.01

0.2

0.8

1.6 0.01

0.2 0.8 1.6

0.5  0.04

   0.04

0.8

0.1       0.1

1.5

0.5 0.5

  0.3 0.3

2.5

1.5 1.5 1.5    0.6 0.6

4.0  3 3 3 3 1.2

1.2

1.2

6.0

5.5 5.5 5.5 5.5 2  2  2  2

8.0  8 8 8 8 3 3 3 3

12

14 14 14 14  4.5 4.5 4.5 4.5

注記  最小空間距離の値は,インパルス電圧 1.2/50 µs,標高 2 000 m での通常の気圧に相当する 80 kPa の気

圧に基づいている。

表 14−断路に適した装置の開路接点間の試験電圧

単位  kV

試験電圧及び対応標高

定格インパ
ルス耐電圧

U

1.2/50

U

imp

海水面

200 m

500 m

1 000 m

2 000 m

0.33 1.8 1.7 1.7 1.6 1.5 
0.5  1.8 1.7 1.7 1.6 1.5 
0.8  1.8 1.7 1.7 1.6 1.5 
1.5  2.3 2.3 2.2 2.2 2 
2.5  3.5 3.5 3.4 3.2 3 
4.0  6.2 6.0 5.8 5.6 5 
6.0  9.8 9.6 9.3 9.0 8 
8.0 12.3 12.1 11.7 11.1 10

12

18.5 18.1 17.5 16.7 15


79

C 8201-1

:2007

表 15−最小沿面距離

長期間ストレスにさらす装置に対する沿面距離

汚損度

汚損度

汚損度

汚損度

1

e)

2

e)

 1

2

3

4

材料グループ

材料グループ

材料グループ

材料グループ

装置の定格絶
縁電圧又はワ
ーキング電圧

交流実効値又
は直流

d)

V

a) 

b) 

a) 

Ⅲa Ⅲb

Ⅲa Ⅲb

Ⅲa

Ⅲb

10 0.025

0.04

0.08

0.4

0.4

0.4 1  1

1

1.6  1.6 1.6

c) 

12.5 0.025

0.04

0.09 0.42

0.42

0.42

1.05

1.05

1.05 1.6 1.6

1.6

16 0.025

0.04

0.1

0.45

0.45

0.45

1.1

1.1 1.1  1.6 1.6

1.6

20 0.025

0.04

0.11

0.48

0.48

0.48

1.2

1.2 1.2  1.6 1.6

1.6

25 0.025

0.04

0.125

0.5

0.5

0.5 1.25

1.25

1.25  1.7  1.7 1.7

32 0.025

0.04

0.14

0.53

0.53

0.53

1.3

1.3 1.3  1.8 1.8

1.8

40 0.025

0.04

0.16

0.56

0.8

1.1 1.4

1.6  1.8  1.9  2.4 3

50 0.025

0.04

0.18

0.6

0.85

1.2 1.5

1.7  1.9  2  2.5 3.2

63 0.04

0.063

0.2

0.63

0.9

1.25

1.6

1.8  2

2.1 2.6

3.4

80 0.063

0.1 0.22

0.67

0.95

1.3 1.7

1.9  2.1  2.2  2.8 3.6

100 0.1

0.16

0.25

0.71

1  1.4 1.8

2

2.2  2.4  3.0 3.8

125 0.16

0.25

0.28

0.75

1.05

1.5 1.9

2.1  2.4  2.5  3.2 4

160 0.25

0.4 0.32

0.8

1.1

1.6 2  2.2  2.5  3.2  4  5

200 0.4

0.63

0.42

1 1.4

2  2.5

2.8  3.2  4  5  6.3

250

f)

 0.56

1  0.56

1.25

1.8

2.5  3.2

3.6  4

5  6.3 8.0

320 0.75

1.6 0.75

1.6

2.2

3.2 4  4.5  5

6.3  8.0

10

400 1  2  1  2 2.8

4  5  5.6  6.3  8.0

10 12.5

500 1.3

2.5 1.3

2.5

3.6

5  6.3

7.1  8.0 10  12.5

16

630  1.8 3.2 1.8 3.2 4.5

6.3  8  9  10

12.5 16  20

800 2.4

4  2.4

4 5.6

8 10 11 12.5

c)

16 20 25

1 000 3.2

5  3.2

5 7.1

10 12.5

14 16

 20  25 32

1 250      4.2

6.3

9 12.5

16 18 20

 25  32 40

1 600      5.6

8

11 16 20 22 25

 32  40 50

2 000      7.5

10

14 20 25 28 32

 40  50 63

2 500     10 12.5

18 25 32 36 40

 50  63 80

3 200     12.5

16

22 32 40 45 50

 63  80

100

4 000     16 20

28 40 50 56 63

 80 100

125

5 000     20 25

36 50 63 71 80

100 125

160

6 300     25 32

45 63 80 90 100

125 160

200

8 000

32

40

56 80

100

110

125

160

200

250

10 000

40

50

71

100

125

140

160

200

250

320

注記 1 32

V 以下のワーキング電圧用の絶縁では,トラッキング又は浸食は発生しないことが認められる。ただし,

電食の可能性を考慮しなければならず,このために最小沿面距離を指定する。

注記 2  電圧値は,R

10

シリーズに従って選択する。

a)

  材料グループⅠ,Ⅱ,Ⅲa,Ⅲb。

b)

  材料グループⅠ,Ⅱ,Ⅲa。

c)

  この領域での沿面距離値は確定していない。一般には,材料グループⅢb の適用は 630 V を超える汚損度 3

及び汚損度 4 は望ましくはない。

d)

  例外として,127,208,415/440,660/690 及び 830 V では,各々より低い値の 125,200,400,630 及び 800 V

の沿面距離を用いる。

e)

  これら二欄の値は,プリント配線材料の沿面距離に適用する。

f)

 250

V の沿面距離の値は公称電圧 230 V(±10  %)に使用できる。


80

C 8201-1

:2007

表 16−試験電流に対応する力率及び時定数,並びに試験電流のピーク値と実効値との比率 

8.3.4.3 a)参照]

試験電流  I

A

力率

時定数

ms

      I  ≦ 1 500

0.95

5

1.41

 1 500 <  I  ≦ 3 000

0.9

5

1.42

 3 000 <  I  ≦ 4 500

0.8

5

1.47

 4 500 <  I  ≦ 6 000

0.7

5

1.53

 6 000 <  I  ≦ 10 000

0.5

5

1.7

 10 000 <  I  ≦ 20 000

0.3

10

2.0

 20 000 <  I  ≦ 50 000

0.25

15

2.1

 50 000 <  I

0.2

15

2.2

表 17−操作部の形式に対する試験力の限度

8.2.5.2.1 参照)

単位  N

操作部の形式

a)

最小操作力

最大操作力

押しボタン(a) 50

150

一本指操作(b) 50

150

二本指操作(c) 100

200

片手操作(d 及び e) 150

400

両手操作(f 及び g) 200

600

a)

  図 16 参照。

表 18−空白

表 19−空白

表 20−金属電線管引張試験値

8.2.7.1 参照)

電線管の規格

電線管の径

引張力

IEC 60981 

内径

mm

外径

mm

N

12H 12.5 17.1  900

16H∼41H 16.1∼41.2 21.3∼48.3 900

53H∼155H 52.9∼154.8 60.3∼168.3 900


81

C 8201-1

:2007

表 21−金属電線管曲げ試験値

8.2.7.2 参照)

電線管の規格

電線管の径

曲げモーメント

IEC 60981 

内径

mm

外径

mm

Nm

12H 12.5 17.1 35

a)

16H∼41H 16.1∼41.2 21.3∼48.3 70

53H∼155H 52.9∼154.8 60.3∼168.3 70

a)

  この値は,エンクロージャの入口側の電線管に対しては,17 Nm に低減す

る。ただし,出口側の電線管には適用しない。

表 22−金属電線管のねじり試験値

8.2.7.1 及び 8.2.7.3 参照)

電線管の規格

電線管の径

トルク

IEC 60981 

内径

mm

外径

mm

Nm

12H 12.5 17.1  90

16H∼41H 16.1∼41.2 21.3∼48.3 120

53H∼155H 52.9∼154.8 60.3∼168.3 180


82

C 8201-1

:2007

表 23EMC イミュニティ試験

8.4.1.2 参照)

形式試験

要求レベル

静電気放電イミュニティ試験

JIS C 61000-4-2 

8 kV /  気中放電 
又は 
4 kV /  接触放電

放射無線周波電磁界イミュニティ試験(80 MHz  ∼ 1 GHz)

JIS C 61000-4-3 

10 V/m

電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験

JIS C 61000-4-4 

2 kV  電源ポート

a)

1 kV  信号ポート

b)

1.2/50

µs – 8/20 µs  サージイミュニティ試験

JIS C 61000-4-5

c)

2 kV  (充電部と大地間) 
1 kV  (充電部間)

伝導無線周波イミュニティ試験 (150 kHz ∼ 80 MHz)

IEC 61000-4-6 

10 V

電源周波数磁界イミュニティ試験

JIS C 61000-4-8

d)

30 A/m

電圧ディップ,停電に対するイミュニティ試験

JIS C 61000-4-11 

0.5 サイクル 30  %  減   
5 サイクル及び 50 サイクル
60  %減 
250 サイクル 100  %減

供給電源における高調波のイミュニティ試験

IEC 61000-4-13 

要求なし

e)

a)

  電源ポート:機器又は関連機器の動作のために必要な一次電源を供給している導体又

はケーブルを接続しているポイント。

b)

  信号ポート:データ又は信号転送のために情報を搬送している導体又はケーブルと機器

とを接続しているポイント。

c)

  定格直流 24 V 以下のポートには適用しない。

d)

  電源周波数磁界の影響を受けやすい素子を含んだ機器だけに適用

e)

  要求事項は検討中


83

C 8201-1

:2007

表 24EM 妨害がある場合の許容基準

許容基準

(試験中の性能基準)

項目

A B C

全般性能

動作特性の顕著な変化なし 
意図している動作をする

自己回復可能な性能の一時
的な低下又は喪失

オペレータの介在又はシス
テムの再設定が必要な性能

の一時的な低下又は喪失

a)

電源及び制御回路の

動作

動作不良がない

自己回復可能な性能の一時

的な低下又は喪失

a)

オペレータの介在又はシス

テムの再設定が必要な性能
の一時的な低下又は喪失

a)

表示及び制御パネル
の動作

情報の表示の変化なし 
LED のわずかな光強度の変
化だけ,又は特性のわずかな

変化

一時的な明白な変化,又は情
報の喪失 
望ましくない LED 照明

表示の停止又は永久喪失 
誤情報及び/又は許可して
いない操作は明りょうでな

ければならない,若しくは表
示を設けなければならない。
自己回復なし

情報の処理及び機能
の検出

外部機器との妨害されない
通信及びデータ交換

内部及び外部機器の誤り報
告をもった一時的な妨害通

a)

誤った情報の処理 
データ若しくは情報の喪失

通信中のエラー 
自己回復なし

a)

  特別な要求は,個別規格に記載する。


84

C 8201-1

:2007

単位  mm

図 1−ねん回試験の試験装置

8.2.4.3 及び

表 参照)

図 2−形状 及び形状 のゲージ

8.2.4.5.2 及び

表 参照)


85

C 8201-1

:2007

図 3−単相交流又は直流の単極装置の投入容量及び遮断容量検証試験回路図

8.3.3.5.2 参照)

S

:電源

U

r

1,U

r

2  :電圧検出器

V

:電圧測定器

F

:ヒューズエレメント

  [8.3.3.5.2 g)

Z

:負荷回路(

図 参照)

R

L

:故障電流制限抵抗器

D

:供試装置(接続ケーブルを含む。

  注記  外形線は,金属スクリーン

又はエンクロージャを含む。

B

:校正用臨時配線

I

1

:電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負荷側又は

供給側)


86

C 8201-1

:2007

注記 1  U

r

1 は,電圧相と中性線との間に接続してもよい。

注記 2  相を接地するシステムで用いる装置,又はこの回路図が 4 極装置の中性極と隣接する極との試験に用いる場

合には,F は電源の一つの相へ接続する。

直流の場合,F は,電源の負極に接続する。

図 4−単相交流又は直流の 極装置の投入容量及び遮断容量検証試験回路図

8.3.3.5.2 参照)

S

:電源

U

r

1,U

r

2,U

r

3  :電圧検出器

V

:電圧測定器

F

:ヒューズエレメント

  [8.3.3.5.2 g)

Z

:負荷回路(

図 参照)

R

L

:故障電流制限抵抗器

D

:供試装置(接続ケーブルを

  含む。)

  注記  外形線は,金属スクリー

ン又はエンクロージャを

含む。

B

:校正用臨時配線

I

1

,I

2

:電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負荷側

又は供給側)


87

C 8201-1

:2007

注記 1  U

r

1,U

r

2 及び U

r

3 は,電圧相と中性線との間に接続してもよい。

注記 2  相を接地するシステムで用いる装置,又はこの回路図が 4 極装置の中性極と隣接する極との試験に用いる場

合には,F は電源の一つの相へ接続する。

直流の場合,F は,電源の負極に接続する。

図 5極装置の投入容量及び遮断容量検証試験回路図

8.3.3.5.2 参照)

S

:電源

U

r

1,U

r

2, :電圧検出器

U

r

3,U

r

4,

U

r

5,U

r

6

V

:電圧測定器

N

:電源の中性線(又は中性点)

F

:ヒューズエレメント

  [8.3.3.5.2 g)

Z

:負荷回路(

図 参照)

R

L

:故障電流制限抵抗器

D

:供試装置(接続ケーブルを含む。

  注記  外形線は,金属スクリーン

又はエンクロージャを含む。

B

:校正用臨時配線

I

1

,I

2

,I

3

  :電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負荷側

  又は供給側)。


88

C 8201-1

:2007

注記  U

r

1,U

r

2 及び U

r

3 は,電圧相と中性線との間に接続してもよい。

図 6極装置の投入容量及び遮断容量検証試験回路図

8.3.3.5.2 参照)

図 7−最初に遮断した相の接点間の回復電圧の理想状態の説明図

8.3.3.5.2 e)参照]

S

:電源

U

r

1,U

r

2, :電圧検出器

U

r

3,U

r

4,

U

r

5,U

r

6

V

:電圧測定器

N

:電源の中性線(又は中性点)

F

:ヒューズエレメント

  [8.3.3.5.2 g)

Z

:負荷回路(

図 参照)

R

L

:故障電流制限抵抗器

D

:供試装置(接続ケーブルを含む。

  注記

外形線は,金属スクリーン

又はエンクロージャを含む。

B

:校正用臨時配線

I

1

,I

2

,I

3

  :電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負荷側

  又は供給側)。


89

C 8201-1

:2007

高周波発生器(G)及びダイオード(B)の位置関係を示す。図に示す 1 点を除き,ほかの回路は接地してはならな

い。

図 8a−負荷回路の調整方法の図:電源側の中性点を接地した場合

8.3.4.3 参照)

S

:電源

D

:供試装置

C

:相切換スイッチ

B

:ダイオード

A

:レコーダ

R

a

:抵抗器

G

:高周波発生器

R

:負荷側回路抵抗

X

:負荷側回路リアクトル

  [8.3.3.5.2 d)

R

P

:並列抵抗

C

P

:並列キャパシタ

I

1

,I

2

,I

3

  :電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負荷側

  又は供給側)


90

C 8201-1

:2007

高周波発生器(G)及びダイオード(B)の位置関係を示す。図に示す 1 点を除き,ほかの回路は接地してはならな

い。

この図は,例として 1,2,3 が,並列に接続した 2,3 相と直列に接続した 1 相の調整する対応位置を表している。

図 8b−負荷回路の調整方法の図:電源側の中性点を接地した場合

S

:電源

D

:供試装置

C

:相切換スイッチ

B

:ダイオード

A

:レコーダ

R

a

:抵抗器

G

:高周波発生器

R

:負荷側回路抵抗

X

:負荷側回路リアクトル

  [8.3.3.5.2 d)

R

P

:並列抵抗

C

P

:並列キャパシタ

I

1

,I

2

,I

3

  :電流検出器

T

:接地−一点接地に限る

  (負荷側又は供給側)


91

C 8201-1

:2007

注記  投入装置が電源の低圧側にある場合,調整負荷 X 及び R

1

は,電源回路の高圧側,低圧側のいずれに配置しても

よい。

図 9−単相交流又は直流の単極装置の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証回路図

8.3.4.1.2 参照)

S

:電源

U

r

1,U

r

2  :電圧検出器

A

:投入装置

R

1

:調整抵抗

F

:ヒューズエレメント

  [8.3.4.1.2 d)

X

:調整リアクトル

R

L

:故障電流制限抵抗器

D

:供試装置(接続ケーブルを含む。

  注記  外形線は,金属スクリーン

又はエンクロージャを含む。

B

:校正用臨時配線

I

1

:電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負荷側

又は供給側)

r

:分流抵抗[8.3.4.1.2 b)


92

C 8201-1

:2007

注記 1  投入装置が電源の低圧側にある場合,調整負荷 X 及び R

1

は,電源回路の高圧側,低圧側のいずれに配置して

もよい。

注記 2  U

r

1 は,電圧相と中性線との間に接続してもよい。

注記 3  相を接地するシステムで用いる装置,又はこの回路図が 4 極装置の中性極と隣接する極との試験に用いる場

合には,F は電源の一つの相へ接続する。

直流の場合,F は,電源の負極に接続する。

図 10−単相交流又は直流の 極装置の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証試験回路

8.3.4.1.2 参照)

S

:電源

U

r

1,U

r

2, :電圧検出器

U

r

3

V

:電圧測定器

A

:投入装置

R

1

:調整抵抗

N

:電源の中性線(又は中性点)

F

:ヒューズエレメント

  [8.3.4.1.2 d)

X

:調整リアクトル

R

L

:故障電流制限抵抗器

D

:供試装置(接続ケーブルを含む。

  注記  外形線は,金属スクリーン

又はエンクロージャを含む。

B

:校正用臨時配線

I

1

,I

2

,I

3

  :電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負荷側

  又は供給側)。

r

:分流抵抗[8.3.4.1.2 b)


93

C 8201-1

:2007

注記 1  投入装置が電源の低圧側にある場合,調整負荷 X 及び R

1

は,電源回路の高圧側,低圧側のいずれに配置して

もよい。

注記 2  U

r

1,U

r

2 及び U

r

3 は,電圧相と中性線との間に接続してもよい。

注記 3  相を接地するシステムで用いる装置,又はこの回路図が 4 極装置の中性極と隣接する極との試験に用いる場

合には,F は電源の一つの相へ接続する。

直流の場合,F は,電源の負極に接続する。

図 11極装置の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証試験回路

8.3.4.1.2 参照)

S

:電源

U

r

1,U

r

2,  :電圧検出器

U

r

3,U

r

4,

U

r

5,U

r

6

V

:電圧測定器

A

:投入装置

R

1

:調整抵抗

N

:電源の中性線(又は中性点)

F

:ヒューズエレメント[8.3.4.1.2 d)

X

:調整リアクトル

R

L

:故障電流制限抵抗器

D

:供試装置(接続ケーブルを含む。

  注記  外形線は,金属スクリーン

又はエンクロージャを含む。

B

:校正用臨時配線

I

1

,I

2

,I

3

  :電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負荷側

  又は供給側)。

r

:分流抵抗[8.3.4.1.2 b)


94

C 8201-1

:2007

注記 1  投入装置が電源の低圧側にある場合,調整負荷 X 及び R

1

は,電源回路の高圧側,低圧側のいずれに配置して

もよい。

注記 2  U

r

1,U

r

2 及び U

r

3 は,電圧相と中性線との間に接続してもよい。

注記 3  中性極と隣接する極との間で追加試験を要求する場合,接続 C1 及び C2 は取り除く。

図 12極装置の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証試験回路

8.3.4.1.2 参照)

S

:電源

U

r

1,U

r

2, :電圧検出器

U

r

3,U

r

4,

U

r

5,U

r

6

V

:電圧測定器

A

:投入装置

R

1

:調整抵抗

N

:電源の中性線(又は中性点)

F

:ヒューズエレメント

  [8.3.4.1.2 d)

X

:調整リアクトル

R

L

:故障電流制限抵抗器

D

:供試装置(接続ケーブルを

  含む。)

  注記  外形線は,金属スクリ

ーン又はエンクロージ

ャを含む。

B

:校正用臨時配線

I

1

,I

2

,I

3

  :電流検出器

T

:接地−一点接地に限る(負

  荷側又は供給側)。

r

:分流抵抗[8.3.4.1.2 b)


95

C 8201-1

:2007

投入容量(波高値)

:  A

1

      [8.3.4.1.8b)及び c)参照]

遮断容量(実効値)

2

2

2

A

8.3.4.1.8b)及び c)参照]

注記 1  試験電流が流れ始めたときの電圧軌跡の振幅は,投入装置の調整用インピーダンス,電圧測定器の関係位置

及び試験回路構成によって変わる。

注記 2  投入の瞬間は,校正時も試験時も同一であると仮定する。

図 13−単相交流の単極装置の場合の短絡投入及び遮断試験記録の例

8.3.4.1.8 参照)

a)

  回路の校正 

  A

1

:推定ピーク投入電流

2

2

2

A

  :推定対称遮断電流

  (実効値)

2

2

1

B

  :給与電圧(実効値)

 
 
 
 
 
 
 
 
 

b)

  又は CO 動作 

2

2

2

B

  :商用周波回復電圧

  (実効値)


96

C 8201-1

:2007

図 14−直流での短絡投入容量及び短絡遮断容量検証

8.3.4.1.8 参照)

a)

  回路の校正 

推定ピーク投入電流:A

2

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
b)

  最大値通過後に遮断したと

きのオシログラム

短絡遮断容量:

電圧 UB

1

での電流 IA

短絡投入容量:

電圧 Uでの電流 IA

2

 
 
 
 
 
 
 
 
c)

  最大値通過前に遮断したと

きのオシログラム

短絡遮断容量:

電圧 UB

2

での電流 IA

2

短絡投入容量:

電圧 Uでの電流 IA

2


97

C 8201-1

:2007

図 15−試験回路の最初の校正が定格遮断容量より低い試験

    電流で実施された場合の推定遮断電流の確定

8.3.4.1.8 b)参照]

図 16−操作部の試験力

8.2.5.2.1 及び

表 17 参照)


98

C 8201-1

:2007

附属書 A

規定)

低圧用開閉装置及び制御装置の使用負荷種別例

序文

この附属書は,低圧用開閉装置及び制御装置の使用負荷種別例について規定する。

交直流

の別

種別

代表的適用例

個別規格

交流 AC-20

AC-21 
AC-22 
AC-23

無負荷での接続・切断 
中程度の過負荷を含む,抵抗負荷の開閉 
中程度の過負荷を含む,抵抗・誘導混合形負荷の開閉

モータ負荷その他の高誘導負荷の開閉

JIS C 8201-3 

 AC-1

AC-2 
AC-3 
AC-4 
AC-5a 
AC-5b 
AC-6a 
AC-6b 
AC-8a 
 
AC-8b 

無誘導又は軽誘導負荷,抵抗炉 
巻線形モータの始動,停止

かご形モータの始動,運転中の停止 
かご形モータの始動,プラッギング

a)

,インチング

b)

放電ランプ制御開閉

白熱灯の開閉 
変圧器の開閉 
コンデンサバンク開閉

手動復帰式過負荷引外し装置付密閉冷却用コンプレッサ 
モータの制御 
自動復帰式過負荷引外し装置付密閉冷却用コンプレッサ

モータ制御

JIS C 8201-4-1 

 AC-52a

AC-52b 
AC-53a 
AC-53b 
AC-58a 
 
AC-58b

巻線形モータステータ制御:始動閉路電流,加速,運転の 8 時間責務

巻線形モータステータ制御:間欠責務 
かご形モータステータ制御:始動閉路電流,加速,運転の 8 時間責務 
かご形モータステータ制御:間欠責務

自動復帰式過負荷引外し装置付密閉冷却用コンプレッサ 
モータ制御:始動閉路電流,加速,運転の 8 時間責務 
自動復帰式過負荷引外し装置付密閉冷却用コンプレッサモータ制御:間欠

責務

IEC 60947-4-2 

 AC-51

AC-55a 
AC-55b 
AC-56a 
AC-56b

無誘導又は軽誘導負荷,抵抗炉

放電ランプ制御の開閉 
白熱灯の開閉 
変圧器の開閉

コンデンサバンクの開閉

IEC 60947-4-3 

 AC-12

 
AC-13 
AC-14 
AC-15

フォトカプラによって絶縁された抵抗負荷及び半導体

負荷の制御 
変圧器によって絶縁された半導体負荷の制御 
小形電磁負荷の制御

交流電磁負荷の制御

JIS C 8201-5-1 

 AC-12

AC-140 

光学絶縁された抵抗負荷及び半導体負荷の制御 
閉路電流 0.2 A 以下の小形電磁負荷の制御

(例,コンタクタリレーなど)

JIS C 8201-5-2 


99

C 8201-1

:2007

交流 
(続き)

AC-31 
AC-33 
AC-35 
AC-36

無負荷又は微少誘導負荷 
モータ負荷又は抵抗負荷 30  %以下のモータ混合負荷

放電ランプ負荷 
白熱灯負荷

IEC 60947-6-1 

 AC-40

AC-41 
AC-42 
AC-43 
AC-44 
AC-45a 
AC-45b

抵抗及び誘導リアクタンスを含む配電回路 
無誘導又は軽誘導負荷,抵抗炉 
巻線形モータの始動,停止

かご形モータの始動,運転中の停止 
かご形モータの始動,プラッギング

a)

,インチング

b)

放電ランプ制御開閉

白熱灯の開閉

IEC 60947-6-2 

 AC-7a

AC-7b

家庭用及び同様の適用における軽誘導負荷 
家庭用のモータ負荷

IEC 61095 

交流及 
び直流


B

定格短時間耐電流を含まない,回路の保護 
定格短時間耐電流を含む,回路の保護

JIS C 8201-2-1

JIS C 8201-2-2

直流 DC-20

DC-21 
DC-22 
DC-23

無負荷での接続・切断 
中程度の過負荷を含む,抵抗負荷の開閉

中程度の過負荷を含む,抵抗・誘導混合負荷の開閉例(分巻モータなど) 
高誘導負荷の開閉(直巻モータなど)

JIS C 8201-3 

 DC-1

DC-3 
DC-5 
DC-6

無誘導又は軽誘導負荷,抵抗炉 
分巻モータの始動,プラッギング

a)

,インチング

b)

発電制御

分巻モータの始動,プラッギング

a)

,インチング

b)

発電制御

白熱灯の開閉

JIS C 8201-4-1 

 DC-12

DC-13 
DC-14

フォトカプラによって絶縁された抵抗負荷及び半導体負荷の制御 
直流電磁石の制御

回路に節約抵抗を含む直流電磁負荷の制御

JIS C 8201-5-1 

 DC-12

DC-13

光学絶縁された抵抗負荷及び半導体負荷の制御

電磁石の制御

JIS C 8201-5-2 

 DC-31

DC-33 
DC-36

抵抗負荷

モータ負荷又はモータ混合負荷 
白熱灯負荷

IEC 60947-6-1 

 DC-40

DC-41 
DC-43 
 
DC-45 
 
DC-46

抵抗及び誘導リアクタンスを含む配電回路 
無誘導又は軽誘導負荷,抵抗炉 
分巻モータ:直流モータの始動,プラッギング

a)

,インチング

b)

,機械的

遮断 
直巻モータ:直流モータの始動,プラッギング

a)

,インチング

b)

,機械的

遮断

白熱灯の開閉

IEC 60947-6-2 

a)

  プラッギングとは,モータ運転中にモータの一次側接続を逆にして,モータを急激に停止又は逆転させるこ

とをいう。

b)

  インチング(ジョギング)とは,モータを 1 回又は短時間繰り返して付勢し被動機構を小さく移動させるこ

とをいう。


100

C 8201-1

:2007

附属書 B

規定)

使用時の動作条件が標準使用条件と異なる場合の装置の適用

序文

この附属書は,使用時の動作条件が標準使用条件と異なる場合の装置の適用について規定する。

使用時の動作条件及び用途が,この規格に規定するものと異なる場合,使用者は,規格条件からの逸脱

事項を明示し,そのような条件下での使用に対する装置の適用について製造業者と協議しなければならな

い。

B.1

標準使用条件と異なる条件の例

B.1.1

周囲温度

周囲温度の予想範囲が,−5  ℃未満又は 40  ℃を超える場合。

B.1.2

標高

設置場所の標高が,2 000 m を超える場合。

B.1.3

大気条件

装置の設置環境が,6.1.3 の規定値より高い相対湿度である場合,又は過度のじんあい,酸,腐食ガスな

どを含む場合。

装置を,海の近くに設置する場合。

B.1.4

設置条件

装置を可動機器に取り付ける場合,装置の支持が永久的若しくは一時的に傾斜位置をとる可能性がある

場合(装置を船舶に取り付けた場合)

,又は使用時に装置が異常な衝撃若しくは振動を受ける可能性がある

場合。

B.2

他器具との接続

他器具と接続する場合,使用者は,この規格及び/又は個別規格で規定する設置及び温度上昇条件に適

合するエンクロージャ及び端子を準備するため,かつ,必要に応じてエンクロージャ内で導体を広げるた

めのスペースを設けるため,他器具との電気的接続部品の種類及び寸法を製造業者に通知しなければなら

ない。

B.3

補助接点

使用者は,信号,インタロック,その他の類似機能などの要求事項を満たすために供給される補助接点

の数及び種類を指定しなければならない。

B.4

特殊用途

使用者は,この規格及び/又は個別規格で規定していない特殊用途に装置を用いる可能性がある場合に

は,製造業者に提示しなければならない。


101

C 8201-1

:2007

附属書 C 

規定)

箱入り装置の保護等級

序文

この附属書は,箱入り装置の保護等級について規定する。

製造業者が箱入り装置及び一体形エンクロージャをもつ装置に対して IP コードを指定する場合,JIS C 

0920

の保護等級(IP コード)の要求事項,並びに次の修正及び追加に従う。

注記  図 C.1 は,JIS C 0920 に規定する IP コードの理解を容易にする追加情報を示している。

箱入り装置に適用可能な JIS C 0920 の箇条について,この附属書で詳細を示す。この附属書の箇条番号

は,JIS C 0920 の箇条番号に対応している。

C.1

適用範囲

この附属書は,直流 1 500 V 又は交流 1 000 V 以下の定格電圧の箱入り開閉装置及び制御装置(以下,

“装

置”という。

)の保護等級に適用する。

C.2

目的

JIS C 0920

の 1.は,この附属書の追加要求事項として適用する。

C.3

用語の定義

JIS C 0920

の 3.を適用する。ただし,3.1 において

備考以外を,次に置き換える。

“外的な影響に対する装置の保護等級,充電部及び可動部への接近又は接触に対する保護等級を備えた

部分。

注記  この規格の 2.1.16 に示す定義は,盤に適用する IEV 441-13-01 に類似している。

C.4

指定方法

JIS C 0920

の 4.を,文字 H,M 及び S を除いて適用する。

C.5

第一特性数字で表す危険な箇所への接近及び外来固形異物に対する保護等級

JIS C 0920

の 5.を適用する。

C.6

第二特性数字で表す水の浸入に対する保護等級

JIS C 0920

の 6.を適用する。

C.7

付加文字で表す危険な部分への接近に対する保護等級

JIS C 0920

の 7.を適用する。

C.8

補助文字記号

JIS C 0920

の 8.を,記号 H,M 及び S を除いて適用する。


102

C 8201-1

:2007

C.9

IP

コードによる表示例

JIS C 0920

の 9.を適用する。

C.10

表示

JIS C 0920

の 10.を,次の追加事項とともに適用する。

IP コードを一つの取付位置にだけ指定する場合,装置のこの位置を規定する IP コードの次に ISO 7000

の記号 0623 を表示する。

例  垂直の場合

C.11

試験の一般的要求事項

C.11.1  JIS C 0920

の 11.1 を適用する。

C.11.2  JIS C 0920

の 11.2 を,次の追加事項とともに適用する。

すべての試験は,無電源状態で行う。

機器(例えば,押しボタンの露出表面)によっては,検査で検証できる。

供試品の温度は,実際の周囲温度に対して 5 K 以内でなければならない。

既に IP コード(JIS C 0920 の 11.5 参照)をもつ空のエンクロージャに装置を取り付ける場合には,次の

要求事項を適用する。

a) IP1X

∼IP4X 及び追加文字 A∼D について検査及びエンクロージャ製造業者の指示書に従って検証す

る。

b) IP6X

じんあい試験について検査及びエンクロージャ製造業者の指示書に従って検証する。

c) IP5X

じんあい試験及び IPX1∼IPX8 水に対する試験について,箱入り装置の試験はじんあい又は水の

浸入が装置の動作を損なう場合にだけ要求する。

注記 IP5X じんあい及び IPX1∼IPX8 までの水に対する試験は,危害を与えない量のじんあい及び

水の浸入を許容する。したがって,すべての内部装置の形状を別途検討するべきである。

C.11.3  JIS C 0920

の 11.3 を,次の追加事項とともに適用する。

排水及び換気口を,通常開口部として取り扱う。

C.11.4  JIS C 0920

の 11.4 を適用する。

C.11.5

空のエンクロージャを箱入り装置の部品として用いる場合,JIS C 0920 の箇条 12 を,12.3.2 を除

いて適用する。

C.12

第一特性数字によって表す危険な箇所への接近に対する保護に関する試験

JIS C 0920

の 12.を,12.3.2 を除いて適用する。

C.13

第一特性数字によって表す外来固形物に対する保護の試験

次を除いて,JIS C 0920 の 13.を適用する。

C.13.4

第一特性数字 及び に対するじんあい試験

保護等級 IP5X の箱入り装置は,JIS C 0920 の 13.4 に規定するカテゴリー2 に従って試験しなければな

らない。


103

C 8201-1

:2007

注記 1  特別の製品規格をもつ保護等級 IP5X の装置は,JIS C 0920 の 13.4 に規定する種別 1 を試験

することを要求する場合がある。保護等級 IP6X の箱入り装置は,JIS C 0920 の 13.4 に規定

するカテゴリー1 を試験することを要求する場合がある。

注記 2  この規格の保護等級 IP5X の箱入り装置は,一般的に十分であると考えられる。

C.13.5.2

第一特性数字 に対する適合条件

次の事項を追加する。

じんあいのたい積が正規の機能及び装置の安全性に関して疑義を生じる場合,前調整及び耐電圧試験を

次のように行う。

じんあいに対する試験後の前調整を,次の試験条件の下で JIS C 60068-2-78 による Ca 試験;湿度加熱,

放置試験によって検証する。

じんあいのたい積を受けやすい試験となるようにふたを開けたままとし,及び/又は工具なしで可能な

場合,部品を取り外して,装置を準備する。

試験室に置く前に,装置を少なくとも試験前 4 時間は室温に保管する。

試験の継続時間は,24 時間とする。

この試験時間の後,装置を 15 分以内に試験室から取り出し,2U

e

+1 000 V,1 分間の商用周波耐電圧試

験を行う。

C.14

第二特性数字によって表す水に対する保護等級の試験

C.14.1  JIS C 0920

の 14.1 を適用する。

C.14.2  JIS C 0920

の 14.2 を適用する。

C.14.3  JIS C 0920

の 14.3 を適用する。

次の事項を追加する。

装置は,2U

e

+1 000 V,1 分間の商用周波耐電圧試験に耐えなければならない。

C.15

追加付加文字によって表す危険な部分への接近に対する保護のための試験

JIS C 0920

の 15.を適用する。

C.16

個別製品規格で規定する事項

個別規格は,この規格の

附属書 の前記に規定する補足事項を考慮して,JIS C 0920 の附属書 に指針

として記載している詳細情報を規定する。

なお,IP コードの理解を容易にするための図を

図 C.1 に示す。


104

C 8201-1

:2007

C.1a  第一特性数字

固形異物の侵入に対する保護

IP

要求事項

危険部分への接近に対

する人体の保護方法

0

無保護

無保護

1

直径 50 mm の球が完全に侵入してはな
らない。危険部分との接触を許容しな

い。

手のこぶし(拳)

2

直径 12.5 mm の球が完全に侵入しては
ならない。結合したテストフィンガは,
危険部分から十分な空間距離をもたな

ければならない。

3

直径 2.5 mm の接近度検査用プローブが

全く侵入しない。

工具

4

直径 1.0 mm の接近度検査用プローブが
全く侵入しない。

電線

5

限定したじんあいの侵入は許容する(有
害なたい積があってはならない。

電線

6

じんあいの侵入に対する完全な保護。

電線

図 C.1IP コード


105

C 8201-1

:2007

C.1b  第二特性数字

水の浸入に対する保護

IP

要求事項

水からの保護方法

0

無保護

無保護

1

垂直に滴下する保護に対して保護して
いる。限定した浸入は許容する。

垂直滴下

2 15 度以内で傾斜しても垂直落下水滴に

対して保護している。限定した浸入は許
容する。

垂直から 15 度までの傾

斜への滴下

3

垂直線から 60 度までの噴霧した水に対
して保護している。限定した浸入は許容

する。

限定された散水

4

あらゆる方向からの水の飛まつに対し
て保護している。限定した浸入は許容す
る。

あらゆる角度からの飛
まつ

5

噴流に対して保護している。限定した浸
入は許容する。

あらゆる角度からのホ
ースによる吹きかけ

6

暴噴流に対して保護している。限定した

浸入は許容する。

あらゆる角度からの強

いホースによる吹きか

7 15

cm から 1 m の潜水の影響に対する保

護。

一時的な潜水

8

水圧下における長期潜水に対する保護。

連続的な潜水

図 C.1IP コード(続き)


106

C 8201-1

:2007

C.1c  付加文字(オプション)

IP

要求事項

危険部分への接近に対

する人体の保護方法

A

第一特性数字

0 に適用

バリヤまでの直径 50 mm の球の侵入

は,危険部分に接触してはならない。

手のこぶし(拳)

B

第一特性数字

0 及び 1 に適用

最大 80 mm のテストフィンガの侵入
は,危険部分に接触してはならない。

C

第一特性数字

1 及び 2 に適用

球形の端面を部分的に入れた場合,
直径 2.5 mm,長さ 100 mm の電線が
危険部分に接触してはならない。

工具

D

第一特性数字

2 及び 3 に適用

球形の端面を部分的に入れた場合,

直径 1 mm,長さ 100 mm の電線は,
危険部分に接触してはならない。

電線

図 C.1IP コード(続き)


107

C 8201-1

:2007

附属書 D 

参考)

端子の例

序文

この附属書は,端子の例について記載するものであって,規定の一部ではない。

注記  ここに示している例は,導線がねじの両側に分割することを禁止していない。

ねじ端子

1 本以上のねじの頭で導線を締め付けているねじ式端子。 
締付け圧力は,ねじの頭で直接加えてもよく,座金,締付板,ばらけ防止部材などの中間部品を介して加えても

よい。

図 D.1−ねじ端子


108

C 8201-1

:2007

ピラー端子

導線を孔又は空洞部中に挿入し,ねじの軸によって締め付けるねじ式端子。締付け圧力をねじの軸によって直接

加えるか,又は圧力をねじの軸によって加える中間部品を介してもよい。

図 D.2−ピラー端子


109

C 8201-1

:2007

注記  導線を締め付けるのに必要な圧力が絶縁材料を介して伝達しない場合,導線を所定位置に保持する部分は,絶

縁材料でもよい。

スタッド端子

導線が 1 本又は 2 本のナットで締め付けているねじ式端子。締付け圧力は,適切な形をしたナットで直接加えて

もよく,座金,締付板,ばらけ防止部材などの中間部品を介して加えてもよい。

図 D.3−スタッド端子

サドル端子

複数のねじ又はナットによって導線をサドルで締め付けるねじ式端子。

図 D.4−サドル端子


110

C 8201-1

:2007

ラグ端子

ねじ又はナットによって,ケーブルラグ又は導帯を締め付けるように設計してあるねじ端子又はスタッド端子。

注記  ケーブルラグの寸法例は附属書 による。

図 D.5−ラグ端子


111

C 8201-1

:2007

マントル端子

ナットによって,ねじ溝を切ったスタッドの孔の基部に締め付けるねじ式端子。

導線は,ナットの下部の適切な形をした座金によって孔の基部に締め付けるか,キャップナットの場合には中央

の脚によって締め付けるか,又は圧力をナットから孔内の導線に伝達する同等の有効な手段によって締め付ける。

図 D.6−マントル端子

図 D.7−ねじなし端子


112

C 8201-1

:2007

附属書 E

参考)

負荷回路の調整方法についての説明

序文

この附属書は,負荷回路の調整方法についての説明を記載するものであって,規定の一部ではない。

過渡回復電圧の特性を得るための負荷回路を調整するには,幾つかの方法を実施してもよい。その方法

の一つを次に記載する。

原理は,本体の

図 に示す。

過渡回復電圧の振動周波数 及び振幅率 γ の値は,固有周波数及び負荷回路の減衰によって基本的に決

定される。これらの値は,回路に印加する電圧及び周波数とは無関係であるため,校正は,交流電源から

負荷回路にエネルギーを与えることによってでき,かつ,この電圧及び周波数は,装置の試験に利用する

電源の電圧及び周波数とは異なっていてもよい。回路は,ダイオードによって,電流がゼロとなる点で遮

断され,かつ,回復電圧の振動は,ブラウン管オシロスコープの画面によって観察する。この掃引は,電

源の周波数と同期している(

図 E.1 参照)。

信頼度の高い測定を実施するために,負荷回路は高周波発振器 G によってエネルギーを与えられ,ダイ

オードの許容範囲の電圧を発生している。発振器の周波数は,次のように選定する。

a) 1

000

A までの試験電流に対して 2 kHz。

b) 1

000

A を超える場合の試験電流に対して 4 kHz。

発振器に直列に接続しているのは,次のとおりである。

−  a)及び b)の各々の場合の負荷回路インピーダンスに対して高い抵抗値 R

a

をもっている電圧降下用抵抗

器[R

a

≧10Z,ただし,

2

2

)

L

R

Z

ω

,ここに a)及び b)それぞれに対して ω=2π×2 000s

1

又は 2π

×4 000s

1

−  瞬間的に遮断するスイッチング・ダイオード B,1 A 以下の順方向定格電流の拡散接合シリコンスイ

ッチングダイオードなどのように,コンピュータに通常使用するスイッチングダイオードがこの方法

に適している。

発振器 G の周波数の値によって,負荷回路は実質上,純粋に誘導負荷になり,かつ,電流がゼロの瞬間

に負荷回路にかかる給与電圧はそのピーク値となる。負荷回路の成分が適切なものであることを確認する

ために,初期(

図 E.1 の A 点)の点における過渡電圧の曲線が事実上,水平の接線をもっていることを画

面上で確認しなければならない。

振幅率 γ の実際の値は,比率 U

11

/U

12

である。U

11

は画面上で読み取り,U

12

は負荷回路が発振器によって

もはやエネルギーを与えてないときのオシロスコープの記録の縦座標の値と,A 点の縦座標の値との間で

読み取る(

図 E.1 参照)。

並列に抵抗器 R

p

又はコンデンサ C

p

がない負荷回路の過渡電圧を観察する場合,画面で負荷回路の固有

振動周波数を読む。オシロスコープのキャパシタンス,又はその接続リード線のキャパシタンスは,負荷

回路の共振周波数に影響しないことに注意しなければならない。

前記で得られた固有周波数が要求値 の上限を超える場合,周波数及び振幅率 γ の適切値は,適切な値

の並列コンデンサ C

p

と抵抗器 R

p

とを接続することによって得ることができる。抵抗器 R

p

は,実質的に無


113

C 8201-1

:2007

誘導とする。

接地の位置によって,負荷回路の調整は,次の二つの手順で実施するのが望ましい。

a)

負荷の中性点に接地がある場合  図 8a に示すように負荷回路の三相の各々の相を独立に調整する。

b)

電源側の中性点に接地がある場合  図 8b に示すように一つの相とほかの並列にした二つの相を直列

接続する。

調整は,高周波発振器に接続してできる限りの組合せで繰り返し実施する。

注記 1  発振器 G から得た高い周波数の値は,画面の観察を容易にし,かつ,分解能を向上する。

注記 2  周波数及び振幅率 γ を決定するためにほかの方法(負荷回路に方形波電流の印加)を用い

てもよい。

注記 3  スター接続の場合,負荷短絡の方法(接地又はフローティング)が調整と試験で変更がな

ければ負荷の抵抗端,又はインダクタンス端のいずれかを接続してもよい。

事由:負荷側が短絡されることによって,異なった発信周波数が生じる。

注記 4  高周波発振器の浮遊容量が負荷回路の共振周波数に影響しないように考慮しなければなら

ない。

図 E.1−振幅率 γ の実際の値の決定


114

C 8201-1

:2007

附属書 F

参考)

短絡力率又は時定数の求め方

序文

この附属書は,短絡力率又は時定数の求め方について記載するものであって,規定の一部ではない。

短絡力率又は時定数を精度よく求める方法はないが,この規格の目的のために,試験回路の力率又は時

定数の決定を,次の方法のうちの一方で行ってもよい。

注記  短絡力率を求めるためのほかの方法は,検討中である。

F.1

短絡力率の求め方

方法Ⅰ  直流成分からの決定

短絡が形成された時点及び接点が開離した時点との間で流れた非対称直流の直流成分の電流曲線から,

次のように角度 φ を求めてもよい。

1.

直流成分に対する式から時定数 L/を算出する方法

直流成分に対する式は,次のとおりである。

L

Rt

I

i

/

do

d

e

ここに,

i

d

時刻 における直流分の値

I

do

基準時間における直流分の値

L/R: 回路の時定数(s)

t: 基準時間からの経過時間(s)

e: 自然対数の底

時定数 L/は,次の手順で求められる。

a)

短絡開始時点の電流値 I

do

及び接点開離前のある時間 における電流値 i

d

を測定する。

b)

電流値 i

d

を電流値 I

do

で除して,e

Rt/L

を求める。

c)

i

d

/I

do

の比に対応する−χ の値を e

χ

値の表から求める。

この χ が Rt/の値であり,これによって R/が得られる。

2.

角度

ϕ

を次の式から求める方法

R

L

ω

ϕ

tan

arc 

ここに,

ω: 実際の周波数に 2π を乗じた値

変流器を用いて電流値を測定する場合は,この方法を用いてはならない。ただし,次の原因による誤差

を除去するために,次の適切な予防策を講じる場合を除く。

−  変流器の時定数及び一次側回路の時定数に関連する変流器の負担。

−  過渡磁束条件と残留磁気との組合せの結果として起きる磁気飽和。

方法Ⅱ  パイロット発電機を用いての決定

試験用発電機と同一の軸でパイロット発電機を使用する場合,パイロット発電機の電圧と試験用発電機


115

C 8201-1

:2007

の電圧との位相をオシログラム上で比較し,次にパイロット発電機の電圧と試験用発電機の電流との位相

を比較する。

パイロット発電機の電圧と試験発電機との電圧との位相角,及びパイロット発電機の電圧と試験発電機

の電流との位相角から,試験発電機の電圧と電流との位相角が分かり,力率が求まる。

F.2

短絡時定数の決定

オシログラム法

回路校正オシログラム曲線の増加部分の縦座標 0.632A

2

に対応する横座標から時定数が求まる(

図 14

照)


116

C 8201-1

:2007

附属書 G 

参考)

沿面距離及び空間距離の測定

序文

この附属書は,沿面距離及び空間距離の測定について記載するものであって,規定の一部ではない。

G.1

基本原理

例 1

例 11

に指定した溝の幅 X は,次のとおり汚損の関数として全例に適用する。

汚損度

溝幅 X の最小値  mm

1 0.25 
2 1.0 
3 1.5 
4 2.5

接点受け台の固定及び可動部絶縁体間の沿面距離に関して,相互に関連して動く絶縁している部品間に

は X の最小値は要求しない(

図 G.2

参照)

空間距離が 3 mm 未満の場合,溝の最小幅は,この空間距離の 1/3 まで減少してもよい。

沿面距離及び空間距離の測定方法は,次の

例 1

例 11

に示す。

これらの例では,すき間と溝とを区別せず,また,絶縁の形式による差を区別しない。

さらに,

−  どのようなコーナも,最も望ましくない位置に移動した X mm 幅の絶縁物ですき間を埋め,橋絡する

ことを想定している(

例 3

参照)

−  溝の上部の溝幅の距離が X mm 以上の場合,沿面距離は溝の輪郭に沿って測定する(

例 2

参照)

−  相互に関連して移動する部品間の沿面距離及び空間距離は,それらの部品が最も望ましくない位置に

あるときに測定する。

G.2

リブの使用

汚損に対する影響及び良好な乾燥効果のため,

リブは漏えい電流の発生を相当減少させる。

したがって,

リブの高さが 2 mm 以上の場合,沿面距離は所要値の 0.8 倍まで減少させてもよい。

図 G.1

リブの測定


117

C 8201-1

:2007

図 G.2

接点受け台の固定及び可動部絶縁体間の沿面距離

次に示す図は,

例 1

例 11

の空間距離及び沿面距離を示す。

例 1

条件

  :沿面距離の経路が,溝の側面が平行であるかテーパであるかにかかわらず,X mm 未満の幅をも

つ溝を含む場合。

ルール

:沿面距離及び空間距離は,図に示すように溝の間を直線的に測定する。

例 2

条件

  :沿面距離の経路が,X mm 以上の幅をもつ溝を含み,その溝の側面が平行である場合。

ルール

:空間距離は,

“見通し”距離である。沿面距離の経路は,溝の輪郭に沿って測定する。

例 3

条件

  :沿面距離の経路が,X mm 以上の幅をもつ V 形溝を含む場合。

ルール

:空間距離は,

“見通し”距離である。沿面距離の経路は,溝の輪郭に従うが溝の底部を X mm で“短

絡”して測定する。


118

C 8201-1

:2007

例 4

条件

  :沿面距離の経路が,リブを含む場合。

ルール

:空間距離の経路は,リブ上面の最短空間距離経路である。沿面距離経路はリブの輪郭に従う。

例 5

条件

  :沿面距離の経路が,各側面に X mm 未満の幅の溝をもつ,接着していない突合せ面を含む場合。

ルール

:沿面距離及び空間距離とは,図に示す“見通し”距離である。

例 6

条件

  :沿面距離の経路が,各側面に X mm 以上の幅の溝をもつ,接着していない突合せ面を含む場合。

ルール

:空間距離とは,

“見通し”距離である。沿面距離経路は溝の輪郭に従う。

例 7

条件

  :沿面距離の経路が,一側面に X mm 未満の幅の溝をもち,ほかの側面に X mm 以上の幅の溝をも

つ,接着していない突合せ面を含む場合。

ルール

:空間距離及び沿面距離経路は,図に示すとおりである。


119

C 8201-1

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例 8

条件

  :接着していない突合せ面を通る沿面距離が,障壁上を通る沿面距離以下の場合。

ルール

:空間距離は,接着していない突合せ面を通る経路(沿面距離と同一)又は図の破線で示す経路の

うち短い方の経路による。

例 9

条件

  :ねじの頭とくぼみの側面との間のすき間が,十分な幅をもつ場合。

ルール

:空間距離及び沿面距離の経路は,図に示すとおりである。


120

C 8201-1

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例 10

条件

  :ねじの頭とくぼみの側面との間のすき間が狭い場合。

ルール

:沿面距離の測定は,距離が X mm に等しいときは,ねじから壁までとする。

例 11


121

C 8201-1

:2007

附属書 H 

参考)

電源システムの公称電圧と装置の

定格インパルス耐電圧との間の相関関係

序文

この附属書は,電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係について記載

するものであって,規定の一部ではない。

この附属書は,電気システム内又はその一部のシステム内の回路で用いるため,装置の選定に関して必

要な情報を提供することを目的としている。

表 H.1

には,

電源システムの公称電圧と対応する装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係の例を,

記載する。

表 H.1

に記載した定格インパルス耐電圧の値は,サージアレスタの動作特性に基づく。

表 H.1

の値に関する過電圧の制御は,適切なインピーダンスの存在又はケーブルのようなシステムにお

ける条件によって達成することを認識すべきである。

前記の場合,過電圧の制御がサージアレスタ以外の手段で行われるとき,電源システムの公称電圧と定

格インパルス耐電圧との間の相関関係に関する手引きは,

JIS C 60364-4-44

に記載してある。


122

C

 8201-

1


200

7

122

C

 8201-

1


200

7

表 H.1

IEC 60099-1

に準拠するサージアレスタによって過電圧を保護する場合の,

電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の関係

電源システムの公称電圧

(装置の定格絶縁電圧≧)

2 000 m における定格インパルス耐電圧の望ましい値

(1.2/50 µs)

kV

過電圧種別

定格使用対地電
圧の最大値

交流実効値又は

直流

V

交流実効値

V

交流実効値

V

交流実効値又は

直流

V

交流実効値又は直流

V

設置起点

(引込口)

のレベル

配電回路の

レベル

負荷(製品

及び装置)

レベル

特別に保護

したレベル

50

− 12.5,24,25

30,42,48

60−30 1.5

0.8

0.5

0.33

100 66/115

66

60

− 2.5

1.5

0.8

0.5

150

a)

 120/208

127/220

115,120

127

 100,110,120 100-200,220−110,

240−120

4 2.5 1.5 0.8

300 220/380,230/400

240/415,260/440

277/480

 200,220,230

240,260

277

220 440−220 6 4

2.5

1.5

600 347/600,380/660

400/690,415/720

480/830

347,380,400 
415,440,480 
500,577,600

480 960−480 8 6 4

2.5

1 000

− 660

690,720

830,1 000

1 000

− 12

8

6

4

a)

  日本においては,給電系統の公称(対地)電圧 100 V は,150 V の欄を適用する(JIS C 0664 参照。)。


123

C 8201-1

:2007

附属書 J

参考)

受渡当事者間で協定を必要とする項目

この附属書は,受渡当事者間で協定を必要とする項目について記載するもので,規定の一部ではない。

注記

  この附属書のために,

−  “協定”は非常に幅広い意味に用いる。

−  “使用者”には試験所を含む。

本体の箇条番号

項目

2.6.4 

特殊試験

6.1 

非標準使用条件については,

附属書 を参照。

6.1.1 

−5∼+40  ℃の範囲以上又は以下の周囲温度で用いることを意図する装置。

注記参照。

6.1.2 

標高 2 000 m 以上で用いることを意図する装置。

注記参照。

6.2 

この箇条で指定した条件と異なる場合の輸送及び保管に関する条件。

7.2.1.2 

ラッチ式の装置の使用制限。

7.2.2.1

表 2

表 9,表 9A 及び表 10 に記載した値よりもかなり小さい断面積の導体を接続して用いる場合。

7.2.2.2

表 3

抵抗器のエンクロージャの温度上昇制限に関して製造業者が提供する情報。

7.2.2.6 

パルス動作コイルの使用条件(製造業者が規定する。

7.2.2.8 

絶縁材料は,JIS C 4003 及び/又は IEC 60216 に準拠(製造業者が証明する。

8.1.1 

特殊試験

8.1.4 

抜取試験

8.2.4.3 

銅製の板状導体のねん回試験。

8.3.2.1 

試験を便利よくするため,試験の厳格度を高くする。試験装置に最小のエンクロージャを用い
るのは,1 形式又は寸法的に十分に満たすエンクロージャで使うことを意図したものである。

8.3.2.2.2 

より厳格な試験条件(製造業者との協定による。

60 Hz で用いる装置を 50 Hz で試験した場合(又はその逆)の受入れ。表 の注記 参照。

8.3.2.2.3 

商用周波数の回復電圧の上限を高くする(製造業者との協定が必要である。

注記 参照。

8.3.3.3.4

主回路の温度上昇 
試験

直流定格の装置を交流電源で試験する(製造業者との協定が必要である。

単相電流で多極装置を試験する。 
3 150 A を超える試験電流値で試験する場合の接続配置。 
表 9,表 9A,表 10 及び表 11 に記載した値よりも小さい断面積の導体を用いる(製造業者と
の協定が必要である。

b)

参照。

8.3.3.4.1 

商用周波数又は直流電圧で絶縁耐力試験(製造業者との協定が必要である。

8.3.3.5.2

注記 2

8.3.4.1.2 

推定故障電流<1 500 A の受領状態(製造業者との協定が必要である。

b)

短絡試験用の試験回路で,b)で定義した抵抗器と異なる抵抗器で空心リアクトルを分流す

る。

c)

図 9,図 10,図 11 又は図 12 の回路図と異なる場合の短絡試験用の試験回路図。

8.3.4.3 

I

cw

用試験電流値の増加。

直流定格の装置に対して交流電流 I

cw

を導通する能力の確認。


124

C 8201-1

:2007

附属書 L

参考)

端子表示及び識別数字

序文

この附属書は,端子表示及び識別数字について記載するものであって,規定の一部ではない。

L.1

一般

開閉機器の端子を色分けする目的は,端子の機能又は関連する端子同士の配置又はほかの用途について

の情報を与えるためである。

製造業者が引き渡す開閉機器には端子表示を付け,その表示は,明確でなければならない。その表示は,

一度だけで同じ表示を用いてはならない。しかし,構造上接続されている端子は,同一表示でもよい。

一つの回路の要素の異なる端子の表示は,同一電流経路にあることを示さなければならない。

インピーダンス要素の端子の表示は,

常にアルファベット順で,

一つ又は二つの機能を示す文字があり,

数字はその後に続く。文字は大文字であり(特別な場合はローマ字)で,数字はアラビア数字とする。

接点要素の端子に対しては,端子の一方は奇数で表示しており,他方は,直近上位の偶数で表示する。

要素の入出力端子を,色別する場合は,小さい数字は入力端子とする(すなわち 11 を入力とすると 12

が出力であり,A1 を入力とすると A2 が出力である。

注記 1

L.2

及び

L.3

の装置は,

IEC 60617-7

による図記号で示している。しかし,これらの図記号は

装置上の端子表示のために用いられているものではないことを考慮しなければならない。

注記 2

  図中に示す端子の位置は,機器自身の実際の端子位置の情報を伝えているわけではない。

L.2

インピーダンス要素の端子表示

アルファベット順

L.2.1

コイル

L.2.1.1

  電磁駆動装置用の電磁コイルの二つの端子は,A1 及び A2 で表示する。

L.2.1.2

  中間口出線があるコイルについては,中間口出端子は,A3,A4 など順番に表示する。

L.2.1.3

  二重巻線コイルについては,1 番目の巻線の端子は A1 及び A2 で表示し,2 番目の巻線の端子は

B1 及び B2 として表示する。


125

C 8201-1

:2007

L.2.2

電磁引外し装置

L.2.2.1

電圧引外し装置

電圧引外し装置の二つの端子は,C1 及び C2 で表示する。

注記

  二つの電圧引外し装置(例えば,違う定格)をもつ装置において,2 番目の引外し装置の端子

は,可能な場合は C3 及び C4 で表示する。

L.2.2.2

不足電圧引外し装置

不足電圧引外し装置として使われるコイルの二つの端子は,D1 及び D2 で表示する。

注記

  二つの電圧引外し装置(例えば,違う定格)をもつ装置において,2 番目の引外し装置の端子

は,可能な場合は D3 及び D4 で表示する。

L.2.3

インタロック電磁石

インタロック電磁石の二つの端子は,E1 及び E2 で表示する。

L.2.4

表示灯装置

表示灯装置の二つの端子は,X1 及び X2 で表示する。

注記

  “表示灯装置”という用語は,抵抗又はトランスと一体となったものを含んでいる。


126

C 8201-1

:2007

L.3

二つの位置をもつ開閉機器の接点要素の端子表示

数字表示

L.3.1

主回路の接点要素

主接点要素

主開閉機器の端子は,1 けたの番号で示す。

奇数で表示する各端子は,それに続く偶数で表示する端子と関連付けられる。

主接点要素

主接点要素

開閉機器に五つ以上の主接点要素があるときは,

IEC 60445

によるアルファベット順の表示を選択しな

ければならない。

L.3.2

補助回路の接点要素

補助接点要素

補助接点要素の端子は,2 けたの番号で示す。

−  1 の位の数字は,機能番号である。

− 10 の位の数字は,一連番号である。

L.3.2.1

機能番号

L.3.2.1.1

  機能番号 1 及び 2 は遮断接点,機能番号 3 及び 4 は投入接点を示す[遮断接点及び投入接点は,

IEC 60050

(

441

)の中で定義している。]。

切替接点の端子は,機能番号 1,2 及び 4 で示す。

注記

  切替接点は,“c 接点”又は“投入−遮断接点”ともいう。

L.3.2.1.2

  時延形補助接点のように特別な機能をもつ補助接点は,遮断接点を機能番号 5 及び 6,投入接

点を 7 及び 8 のようにそれぞれ示す。

特別な機能をもつ切替接点端子は,機能番号 5,6 及び 8 で示す。

閉路するときに時延で動作する遮断接点

閉路するときに時延で動作する投入接点

閉路するときに両方に時延機能がある切替接点


127

C 8201-1

:2007

L.3.2.2

連続番号

同一の接点素子に属する端子は,同じ一連番号で示す。

同一機能をもつすべての接点には,異なる一連番号をもたなければならない。

L.3.2.2.2

  製造業者によって追加情報が与えられた場合,又は使用者によって明確に番号が付加されてい

る場合にだけ,一連番号は端子から省略してもよい。

注記

L.3.2

の例に示した“.

”は,それらの関係を表すためだけに用いられているものであり,使用

上用いる必要はない。

L.4

過負荷保護装置の端子表示

過負荷保護装置の主回路の端子は,主開閉素子の端子と同じ表示方法である。

過負荷保護装置の補助接点端子は,特別な接点端子(

L.3.2.1.2

参照)と同じ表示方法とするが,一連番

号 9 を用いる。

二つ目の一連番号が必要である場合,番号 0 を用いる。


128

C 8201-1

:2007

L.5

分別番号

個々の数の投入接点及び遮断接点をもつ装置は,2 けたの分別番号で示してもよい。

最初の数字は投入接点の数を表し,二つ目の数字は遮断接点の数を表す。


129

C 8201-1

:2007

附属書 M

規定)

可燃性試験

序文

この附属書は,可燃性試験について規定する。

M.1

ホットワイヤ着火試験

M.1.1

  各材料に五つの試験片で試験しなければならない。試験片は,長さ 150 mm,幅 13 mm,そしてそ

の材料の製造業者が明示した均一の厚さとする。

端には,ばり,フィンなどがあってはならない。

M.1.2

  直径約 0.5 mm 及び約 5.28  Ω/m の常温抵抗をもつ長さ A(250±5)mm のニクロム線(80  %ニッ

ケル,20  %クローム及び鉄を含まない。

)を用いなければならない。ニクロム線は,まっすぐな状態で調

整可能な電源に接続し,そして 8∼12 秒の間にニクロム線に 0.26 W/mm の消費電力を生じるように電源を

調整しなければならない。冷却した後,6 mm 間隔で完全に 5 ターンになるようにニクロム線を試験片の

周りに巻き付ける。

M.1.3

  巻き付けた試験片を,水平な位置に保ち,その線の端は可変電源に接続しなければならない。その

電源は,0.26 W/mm の消費電力になるように再度調節する(

図 M.1

参照)

図 M.1

ホットワイヤ着火試験の試験装置

M.1.4

  回路に電圧を加え,0.26 W/mm を生じるようヒータ線に電流を流し,試験を始める。

M.1.5

  試験片が着火するまで加熱しつづけ,着火が生じたら電源を切り,着火した時間を記録する。

もし着火が 120 秒以内で生じなかったら試験を中止する。着火しないで溶融するような試験片に対して

は,試験片がヒータ線の 5 巻きすべてと接触しなくなったとき,試験を中止する。

M.1.6

  残りの試験片についても試験を繰り返す。

M.1.7

  試験片ごとに厚さ及び平均着火時間の記録をとる。


130

C 8201-1

:2007

M.2

アーク着火試験

M.2.1

  材料ごとに三つの試験片について試験する。試験片は長さ 150 mm 及び幅 13 mm,その材料の製造

業者が明示した厚さとする。端には,ばり,フィンなどがあってはならない。

M.2.2

  試験は一対の試験電極と,交流 230 V,周波数 50 又は 60 Hz の電源に直列に接続した可変誘導イ

ンピーダンス負荷を用いる(

図 M.2

参照)

図 M.2

アーク着火試験回路

M.2.3

  一つの電極を固定し,もう一方を可動としなければならない。固定電極は,全角 30 度の水平なた

がね状のとがった先端をもつ 8∼12 mm

2

の固体銅板で作らなければならない。可動電極は全角 60 度の対

称円すい(錐)形状のとがった先端をもつ直径 3 mm のステンレス製棒であり,その軸線に沿って可動と

しなければならない。電極先端の湾曲部の半径は,試験開始時に 0.1 mm を超えてはならない。両電極は,

水平位置に対し 45 度の角度で対向して配置しなければならない。両電極を短絡した状態で,電流は力率

0.5 の 33 A になるまで,可変誘導インピーダンス負荷を調整しなければならない。

M.2.4

  試験に用いる試験片は,電極が互いに接触したとき,試験片表面に接触するように空中に水平に保

たなければならない。回路を遮断するために可動電極の軸線に沿って固定電極との接触から引き上げ,ま

た,引き下げて回路を再投入できるように可動電極は手動又は他の方法で制御できなければならない。こ

こで,制御は分離速度(250±25)mm/秒であって,約 40 アーク回数/分の割合で一連のアークを生成す

るようなものである。

M.2.5

  試験は,試験片が着火するか,試験片が焼けて貫通孔があくか,又は合計 200 サイクルが経過する

まで続ける。

M.2.6

  材料の各組ごとの厚さ及び着火するまでの平均アーク回数を記録しなければならない。

材料の可燃性の種別に関するホットワイヤ着火(HWI)及びアーク着火(AI)試験の要求値を,

表 M.1

に示す。

各欄は,可燃性の種別に関する HWI 及び AI の最小特性を表している。


131

C 8201-1

:2007

表 M.1

HWI

及び AI の特性

可燃性の種別  FV0 FV1 FV2 FH1

FH3

≦40 mm/min

FH3

≦75 mm/min

試験品の厚さ

mm

任意

任意

任意

任意

≧3 <3

HWI

着火までの最小時間

s

7  15 30 30

30

30

AI

着火までの

最小アーク回数

15 30 30 60

60

60

例  任意の厚さがある可燃性種別が FV1 の材料は,少なくとも HWI 値の 15 秒を満足しなければならない。

適合する場合,少なくとも AI 値の 30 アーク回数を満足しなければならない。


132

C 8201-1

:2007

附属書 N 

規定)

保護分離をもつ装置に対する要求事項及び試験

序文

この附属書は,保護分離をもつ装置に対する要求事項及び試験について規定する。

この附属書は,SELV(PELV)で使用される回路が一つ以上ある機器に適用する(機器自体はクラスⅢ

でないもの:

IEC 61140

7.4

参照)

N.1

一般

この附属書の目的は,要求事項及び試験について統一性を得て,異なる規格の試験に対する要求を回避

するために,SELV(PELV)回路とほかの回路との間の保護分離を備えた低圧開閉装置並びに制御装置に

適用するすべての規定及び要求事項との間で,できる限り実用的に調和を図ることにある。

N.2

用語及び定義

N.2.1

機能絶縁

functional insulation

装置が適切に機能するために必要な導電部間の絶縁。

N.2.2

基礎絶縁

basic insulation

感電に対して基本的な保護をする危険な充電部間に適用する絶縁。

注記

  基礎絶縁は,機能的に使用される絶縁を必ずしも含んでいない(

N.2.1

参照)

N.2.3

付加絶縁

supplementary insulation

基礎絶縁が破壊した場合に,確実に感電防止ができるように基礎絶縁に付加して設けた独立した絶縁。

N.2.4

二重絶縁

double insulation

基礎絶縁及び付加絶縁を含んでいる絶縁。

N.2.5

強化絶縁

reinforced insulation

感電に対して,二重絶縁と等価な保護を与える充電部間に与える単一の絶縁。

注記

  強化絶縁は,基礎絶縁又は保護絶縁のように,一つずつ分けて試験することができない幾つか

の層から構成してもよい。

N.2.6

保護分離

protective separation

次の手段による回路間の分離。

−  基礎的な保護(基礎絶縁)

,及び,

−  事故保護[保護絶縁又は保護遮へい(蔽)

,又は,


133

C 8201-1

:2007

−  同等な保護対策による(例えば,強化絶縁)

N.2.7

SELV

回路

SELV circuit

次の電気回路。

−  電圧が ELV を超えない。

− SELV 回路をその他の回路から保護分離する。

− SELV 回路は接地手段をもたず,また,露出導電部ももたない。

−  大地から単純に分離している。

N.2.8

PELV

回路

PELV circuit

次の電気回路。

−  電圧が ELV を超えない。

− PELV 回路をその他の回路から保護分離する。

− PELV 回路は,接地対策をもつか又は露出導電部をもつか,若しくは両方の接地手段をもつもの。

N.3

要求事項

一般

個別規格に規定がない場合,次を適用する。

−  保護分離を確立するため,この規格で考慮される唯一の方法は,SELV(PELV)回路とその他の回路

との間を二重絶縁又は強化絶縁する。

−  開閉装置及び制御装置の消弧室で通常生じる電気アークの絶縁への影響は,沿面距離の寸法の測定の

考慮が必要と思われるが,具体的な検証の必要はない。

−  部分放電現象は考慮しない。

N.3.1

耐電圧要求事項

N.3.1.1

沿面距離

SELV(PELV)回路とほかの回路との沿面距離は,SELV(PELV)回路の定格電圧値(

IEC 60664-1

3.2.3

に記載の原則による。

に基づく

表 15

の基礎絶縁の距離の 2 倍以上であることを検証しなければならない。

沿面距離は,

N.4.2.1

に従って検証しなければならない。

N.3.1.2

空げき

距離

機器の SELV(PELV)回路とほかの回路との空げき(隙)距離は,定格インパルス耐電圧に耐える距離

でなければならない。その定格インパルス耐電圧は,

JIS C 0664

3.1.5

の原則に従った

附属書 H

の基礎

絶縁の値より一階級高い値(又は,基礎絶縁で要求する電圧の 160  %の値に等しい値とする。

)にしなけ

ればならない。試験条件は,

N.4.2.2

による。

N.3.2

構造要件

構造は,次の項目を考慮しなければならない。

−  材料のエージング。

−  回路間の絶縁を不良にする熱疲労又は機械的な故障。

−  配線が断線した場合の回路間の電気的接触。

構造上の考慮するべき例を

N.4.3

に示す。


134

C 8201-1

:2007

N.4

試験

N.4.1

  通常これらの試験は,形式試験として実施する。

製品の状況によって保護分離の絶縁性能を阻害しないことを保証できないときは,製造業者が実施する

試験又は関連製品規格の試験として,これらの一部,又は全部を受渡試験として実施する。

試験検証は,機器の SELV(PELV)回路とほかの機器との回路(主回路,制御と補助回路)間で行う。

試験は,すべての動作状態について実施する。開,閉,トリップの各位置。

N.4.2

耐電圧試験

N.4.2.1

沿面の検証

測定条件は,

8.3.3.4.1

及び

附属書 G

に示す。

N.4.2.2

空げき

距離の確認

N.4.2.2.1

試験装置の条件

試験は,配線し,乾いた清浄な状態で,使用状態に設置して行う。

N.4.2.2.2

試験電圧の印加

試験中は,機器の各回路の外部端子を一括して接続しなければならない。

N.4.2.2.3

インパルス試験電圧

インパルス試験電圧は,

8.3.3.4.1

に規定する 1.2/50 µs の波形とし,その値は

N.3.1.2

から選ばなければな

らない。

N.4.2.2.4

試験

空げき(隙)距離は,

N.4.2.2.3

の試験電圧を印加して検証する。

試験は,

8.3.3.4.1

の方法で各極性で 1.2/50 µs のインパルス試験電圧を最小 1 秒の間隔で 3 回印加しなけ

ればならない。

表 13

に規定する試験電圧における空げき(隙)距離以上の場合,試験電圧を印加しなくてもよい。

N.4.2.2.5

試験結果

電圧を印加して,絶縁破壊又はフラッシオーバがなければ,その試験は合格とする。

N.4.3

構造上の配慮の例

例えば,はんだピンの曲がり,はんだ点の外れ又は壊れた巻き線(コイル)

,緩んだり,落ちたりしたね

じなどのような一つの機械的故障が,基礎絶縁の要求事項を満たさなくなるような絶縁破壊にならないよ

うな手段をとらなければならない。


135

C 8201-1

:2007

附属書 O 

参考)

環境側面

序文

この附属書は,環境側面について記載するものであって,規定の一部ではない。

製品ライフのすべての段階(材料の獲得から製造,流通,使用,再利用,リサイクル,廃棄処理まで)

で,その自然環境への影響を低減する必要は世界中で認識している。その製品ライフの各々の段階中で行

った選択によって,それの影響が何になるかが決定される。しかし,最良の環境オプションを選択するこ

とについての作業を非常に難しくするかなりの障害がある。例えば,環境への影響を最小にするようにデ

ザインオプションを選ぶことは,エネルギー効率がよい反面,リサイクル性が低いというようなトレード

オフの難題を伴う可能性がある。

新製品及び新材料のライフサイクルへの影響を算定するには,データを追加しなければならないので,

新製品及び新材料の継続的な導入は評価をますます難しくする可能性がある。さらに,既存材料の環境へ

の影響についての利用可能なデータが現在極めて少ししかない。しかし,そのデータは,環境への影響に

関して製品改良のための基礎として用いることができる。環境影響アセスメント(EIA)及び環境適合設

計(DFE)の原則は,この点に関して有用となる追加の道具として使用できる。この附属書は,これらの

問題についての背景の情報を与えるために若干の EIA の原則を詳述する。

製造業者は,より多くのデータが利用可能になるまで,環境影響アセスメント(EIA)を使用すること

によって設計方法の選択と,それを指定した理由をいっそう広範囲に文書化することができる。これはそ

のような取捨選択に基づいた知識を広げ,また,ライフの最後(EOL)に製品のリサイクルと廃棄処理と

の助けとなる。

技術水準が発展するまでは,この附属書が助けになるということに注意すべきである。よりいっそうの

研究及び分析が完了していくにつれて,もっと多くのライフサイクルデータが蓄積されるし,より環境に

有効な選択が可能となる。そのときまで,注意して専門的な判断,健全な批評能力とともにこの附属書を

使うことを勧告する。

O.1

適用範囲

この附属書は,

JIS C 8201

シリーズの製品の,

“自然”環境への影響に関係する環境側面を考察すること

の助けとなるものである。

この附属書で使われる環境用語は,電気技術製品に関する環境条件の影響を記述している

IEC

規格で使

われた用語とは異なる。

注記

  製品の性能に関する環境条件の影響に関連して,参考文献として

IEC 60068

IEC 60721

シリ

ーズ及び

IEC Guide 106

がある。

O.2

用語及び定義

この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。


136

C 8201-1

:2007

O.2.1

“自然”環境

以下,環境という。

(“

natural

 environment

水,大気,土壌の品質などのライフの品質,エネルギー及び材料の保護,ごみの回避に影響する特性。

O.2.2

ライフサイクル

life cycle

天然資源の採掘及び開発から,元に戻らない廃棄物及び消費エネルギーとしてのすべての材料の最終処

理までのシステムについての連続,かつ,相互に関連している段階及びすべての直接的に関連する重要な

入力及び出力。

O.2.3

ライフサイクルアセスメント

life cycle assessment 

(

LCA

)]

ライフサイクルを通して経済的システムの機能に直接起因する材料とエネルギーに関連する環境影響と

の入力及び出力を編集し,評価するための体系的な一連の手順。

O.2.4

環境負荷

environmental burden

永久的に又は一次的,結果的に天然資源の喪失又は大気,水及び土壌の自然品質の悪化を引き起こすよ

うな環境に影響を与える変化。

O.2.5

環境影響

environmental impact

システムの入力及び出力の流れに起因する,人の健康及び動植物の生存に対して,又は天然資源の将来

の有用性に対しての影響。

O.2.6

環境影響アセスメント

environmental impact assessment 

(

EIA

)]

ライフサイクルアセスメントによって定義する目標,範囲及び目的の領域で,環境影響の大きさ及び重

要性を決定するための過程。

O.2.7

リサイクル

recycling

廃棄物として処理する材料を,有効な材料の生産に寄与する経済的なシステムに転換するための,一連

の過程。

O.2.8

リサイクル性

recyclability

リサイクルを可能とする,物質又は材料及びリサイクルされた部品の特性。

O.2.9

ライフの最終状態

end of life

製品(product)が最終的に使用を止めるときの,製品の状態。

O.2.10

環境適合設計

DFE

既存の技術及び経済状態において,

製品の環境性をよくするための製品を設計するための,

一連の処置。

O.3

一般的な考慮事項

製品のライフサイクルを通して製品の環境影響を常に最小にするため,次の考慮を確認しなければばら


137

C 8201-1

:2007

ない。

−  資源保護を考慮した材料保存

−  エネルギー及び資源の有効利用

−  放出物及び廃棄物の削減

−  製品材料の最少限化[こん(梱)包材料を含む。

−  異なる材料数の削減

−  有害物質の削減及び代替物質への切換え

−  部品又は中間組立品の再利用及び改造

−  容易なメンテナンス,分解及びリサイクル性をもった設計

−  表面塗装又はリサイクルが困難なほかの材料との組合せ

−  使用者に対する十分な環境情報取扱説明書

O.4

考慮すべき入力及び出力

O.4.1

一般

ISO/TC207/WG1 に基づいた

図 O.1

は,製品,製品の性能,その製品設計,環境影響及び製品ライフサイ

クルでの基本的なステップとほかの外的考慮との間の相互関係を示す。

環境規格の主要な目的として,材料又はエネルギーの消費,環境へのエミッション,リサイクル性,分

解容易性について挙げている。

製品のライフサイクルの各ステップで材料及びエネルギーについてのバランスを考慮しなければならな

い。データが利用できる場合,アセスメントは“ゆりかご”から“墓場”までのライフサイクルのスパン

まで適用できる。また,

図 O.1

は,汚損防止又は資源保護を導く製品改良サイクルを示している。

O.4.2

入力及び出力

製品の環境影響は,使用される入力及び製品ライフサイクルのすべての段階で発生する出力によって大

きく左右される。

用いる材料及びエネルギーに変換するため,入力を変更した場合であっても,又は一つの出力が変更す

るため,入力を変更した場合であっても,ほかの入力及び出力に影響を与える(

図 O.1

参照)


138

C 8201-1

:2007

注記 1  この図は,ISO/TC 207 の作業に基づいている。 
注記 2  電気機械分野においては,“その他の放出”とは,電磁放射,イオン化又は非イオン放射線の土壌への放出を

意味する。

図 O.1

製品のライフサイクルに関連する環境側面

O.4.3

入力

材料及びエネルギー

O.4.3.1

  使用する材料の入力は,製品の開発において十分考慮しなければならない。種々の影響には,再

使用可能な,又は再使用不可能な資源の消耗,土壌への有害な使用及び環境又は人間への危険物質の暴露

を含む。また,材料の入力は,廃棄物の発生,大気への放射,水への影響,その他放出を発生させる。

材料の入力は,原料の入手,製造,輸送[こん(梱)包及び保管を含む。

,使用/メンテナンス,再使

用/リサイクル,製品の廃棄などに関連して種々の環境への影響を生み出している。

O.4.3.2

  エネルギーの入力は,製品のライフサイクルの各段階でそれぞれ必要である。

エネルギー資源として,化石燃料,原子力,廃棄物の使用,水力,地熱,太陽光,風力,その他を含む。

それぞれのエネルギー資源は,各々環境に対する影響をもつ。

O.4.4

出力

O.4.4.1

  出力には,一般的に製品のライフサイクルの間を通して,製品それ自身,中間の製品又は併用す

る製品,大気放出,廃液,廃棄物,その他がある。

O.4.4.2

  大気への放出は,大気中にガス,蒸気又は微粒子を放出する問題を含む。

有毒,腐食性,可燃性,爆発性,酸性,又は臭気性物質の放出は,植物,動物,人類,建物などに有害

に作用したり,

又はオゾン層破壊若しくはスモッグ発生と同様なほかの環境影響に寄与するおそれがある。

大気への放出は,放出源ではない地点からの放出,未処理状態ではない処理されたものの放出,不慮の


139

C 8201-1

:2007

偶発事故ではなく通常の操作での放出も含む。

O.4.4.3

  廃水とは,地表,又は地下水のいずれかの水路への物質の流出を含む。

栄養,有毒,腐食性,放射性,分解しにくい,蓄積する,又は酸素を消滅させる物質の流出は,水の生

態系及び自然水の好ましくない富栄養化に,種々の汚損影響を含む有害な環境影響を生じさせるおそれが

ある。

廃水は,放出源ではない地点からの流出,未処理状態ではない処理されたものの流れ出し,不慮の偶発

事故ではない通常の操作での流出も含む。

O.4.4.4

  廃棄材料は,固体,液体材料又は処分される製品を含む。

廃棄材料は,ライフサイクルすべての段階で作り出される。

廃棄材料は,有害な環境影響を与えるおそれがある多くの入力又は出力に関するリサイクル,処置,回

収,又は処分技術次第である。

O.4.4.5

  その他の放出は,土壌への排出,騒音及び振動並びに放射線及び排熱を含む。

O.5

環境への影響を確認又は評価する技術

O.5.1

  製品によってどのように環境への影響を受けるのかを正確に確認又は評価する方法には,複雑で注

意深い考慮及び専門家に相談する必要がある。ある手法は,製品の環境影響へのアセスメント及び識別の

ガイドとして発展してきている。

これらの手法及び限界の完全な理解は,環境科学の広範囲な経験及び研究を必要としているが,どのよ

うに,それらを知ることによって,製品が環境に影響を与えるかという一般的な理解を与える。

O.5.2

  このような技法の一つの例であるライフサイクルアセスメント(LCA)は,

ISO/TC

 207/SC 5 及び

JIS Q 14040

によって,規格化の項目となっている。

LCA は,製品に関する環境側面及び潜在的な影響を評価するための技法であり,分析の 3 段階のシリー

ズから構成されている。

第 段階:ライフサイクルインベントリ

LCI

として知られる分析一覧

全ライフサイクルの間に発生した結果の環境放出/負荷及び用いられたエネルギー又は材料の

数量化,識別,確認又は数値化。

第 段階:影響アセスメント

最終製品自体の環境影響と同様に,全ライフサイクル期間中のすべての環境放出及び環境負荷

も加えた,最終製品自体の用いたエネルギー又は材料の環境影響の評価。

第 段階:改良アセスメント

環境性能を改良する機会を評価し,その上改良目標に達するために行う変更。

LCA は,製品の原材料の採取から製造,使用及び処分に至るまでの製品ライフサイクル(すなわち,“ゆ

りかご”から“墓場”まで)を通しての環境側面及び潜在的影響を調査するものである。考慮が必要な環

境への影響の一般的なカテゴリーとしては,資源利用,人の健康及び生態系への影響が含まれる。

LCA は,次の事項を支援できる。

−  製品のライフサイクル中の種々の時点における環境側面の改良余地の特定。

−  産業界,政府又は非政府機関(NGO)における意志決定(例えば,戦略立案,優先順位の設定,製品

又は工程の設計若しくは再設計)

−  測定技法を含む環境パフォーマンスの適切な指標の選択。

−  マーケティング(例えば,環境クレーム,環境ラベル制度又は製品の環境宣言)


140

C 8201-1

:2007

LCA に加えて,製造業者は環境適合設計(DFE)についての新興分野を知らなければならない。

O.6

ISO

に関した技術委員会

TC/SC

TC 61

プラスチック

TC 79

軽金属及び同合金

TC 122  包装

TC 146  大気の質

TC 147  水質 
TC 190  土壌の質

TC 203  技術エネルギーシステム

TC 205  建築環境設計 
TC 207  環境管理

SC 1  環境管理システム

SC 2  環境監査 
SC 3  環境ラベル

SC 4  環境パフォーマンス評価

SC 5  ライフサイクル・アセスメント 
SC 6  用語及び定義

WG 1  製品規格における環境側面

O.7

環境影響アセスメント

EIA

原則の手引き

検討中である。

O.8

環境のための設計

DFE

原則の手引き

検討中である。

O.9

関連規格

IEC Guide 106

,Guide for specifying environmental conditions for equipment performance rating

IEC 60068

(all parts)

,Environmental testing

IEC 60721

(all parts)

,Classification of environmental conditions

JIS Q 14040

,環境マネジメント−ライフサイクルアセスメント−原則及び枠組み


141

C 8201-1

:2007

附属書 P

参考)

銅導体を接続する低圧開閉装置及び制御装置のためのラグ端子

序文

この附属書は,銅導体を接続する低圧開閉装置及び制御装置のためのラグ端子について記載するもので

あって,規定の一部ではない。

表 P.1

銅導体を接続する低圧開閉装置及び制御装置のためのラグ端子の例

導体のサイズ(断面積)

mm

2

寸法

図 P.1 参照)

mm

取付ねじ

用穴

可とう導体

単線又はより線

最大

最大

最大

W ゲージ

最大

最小

6 10

22

6

10

− 12  6  M5

10 16

26

6

10

− 12  6  M5

16 25

28

6

10

− 12  6  M5

25

35

33 7 12

12.5

17 7 M6

35

50

38 7 12

12.5

17 7 M6

50

70

41 7 12

12.5

17 7 M6

70 95

48

8.5

16

16.5

20

8.5

M8

95

120

51 10.5 20 20.5 25 10.5 M10

120

150

60 10.5 20 20.5 25 10.5 M10

150 185

72

11

25

25.5

25

11

M10

185

240

78 12.5 31 32.5 31 12.5 M12

240

300

89 12.5 31 32.5 31 12.5 M12

300

400  105 17 40 40.5 40 17 M16

400

500  110 17 40 40.5 40 17 M16

注記  ケーブルラグの他の異なる寸法も使用可能。

図 P.1

寸法


142

C 8201-1

:2007

附属書 JA

規定)

定格インパルス耐電圧を表示しない装置の絶縁距離

序文

この附属書は,定格インパルス耐電圧を表示しない装置の絶縁距離について規定する。

JA.1

充電部の距離

台の裏面

1)

の充電部は,造営材に取り付ける屋外用のものにあっては台の裏面から,その他のものにあ

っては,台の取付面

2)

からそれぞれ 3 mm 以上[熱硬化性樹脂を充てん(填)するものにあっては,1 mm

以上]の深さとし,かつ,その上を電気絶縁物[75  ℃の温度で軟化しない

3)

耐水性のもの(硫黄を除く。

に限る。

]によって覆っていなければならない。ただし,屋内用のものであって,台の裏面の充電部が台の

取付面から 6 mm 以上の深さにあるものにあっては,この限りではない。

1)

  “台の裏面”とは,取付面だけでなく裏面全体をいう。

2)

  “台の取付面”とは,造営材に接する面を含む平面をいう。

3)

  “軟化しない”とは,規定温度の空気中に放置したとき,流出しないことをいう。

通常の使用状態において,人が触れるおそれがある外面に露出するおそれがある充電部は,外面から 3

mm 以上[熱硬化性樹脂を充てん(填)するものにあっては,1 mm 以上]の深さとし,かつ,その上を電

気絶縁物[75  ℃の温度で軟化しない耐水質のもの(硫黄を除く。

)に限る。

]によって覆っていなければな

らない。

電線取付部の充電部は,この規格に特別に規定するものを除き,エンクロージャの外面からの深さが次

の値以上である。

−  電線取付部の穴の短径が 3 mm 以下のものにあっては,1.2 mm

−  電線取付部の穴の短径が 3 mm を超え 7 mm 以下のものにあっては,1.5 mm

−  電線取付部の穴の短径が 7 mm を超えるものにあっては,3 mm

その他の箇所は,

表 JA.1

の値以上でなければならない。


143

C 8201-1

:2007

表 JA.1

電線取付部の充電部の距離

その他の箇所

空間距離

mm

沿面距離

mm

極性が異なる 
充電部相互間

充電部と接地 するお
それがある非 充電金
属部又は人が 触れる

おそれがある 非金属
部の表面との間

極性が異なる 
充電部相互間

充電部と接 地するお
それがある 非充電金
属部又は人 が触れる

おそれがあ る非金属
部の表面との間

定格電流


端子部以

外の固定
している
部分で金

属粉が付
着しにく
い箇所

その他

の箇所


端 子 部 以

外 の 固 定
し て い る
部 分 で 金

属 粉 が 付
着 し に く
い箇所

その他

の箇所


端子部以

外の固定
している
部分で金

属粉が付
着しにく
い箇所

その他

の箇所


端 子 部 以

外 の 固 定
し て い る
部 分 で 金

属 粉 が 付
着 し に く
い箇所

その他

の箇所

15 A 以上のもの 4 4  4

4

4  4

6

6  6

6 6  6

機 械 器 具 に
組 み 込 ま れ
る も の で あ

っ て 定 格 電
圧が 150 V
以下のもの

3  1.5  2.5

2.5 1.5  2 3

1.5  2.5

2.5 1.5  2

15 A 
未満の 
もの

その他のもの 3

1.5

3

3

1.5

3

3

1.5

3

3

1.5

3

  “空間距離”とは,空気を介する部分の最短距離(の和)をいい,“沿面距離”とは,絶縁物表面に沿った最短距離
(の和)をいう。

JA.2

空間距離

沿面距離を含む。

JA.2.1

測定方法

“空間距離(沿面距離を含む。

”の測定方法は,次の

図 JA.1

によるものとし,スイッチの可動片,可動

金属部などは,その可動範囲内のあらゆる位置で測定する。

なお,

図 JA.1

中 は空間距離,は沿面距離,A 及び B は充電部又は接地するおそれがある非充電金

属部,E は接地するおそれがない非充電金属部を,それぞれ示す。


144

C 8201-1

:2007

図 JA.1

測定方法

JA.2.2

空間距離

沿面距離を含む。

の適用方法

空間距離(沿面距離を含む。以下,空間距離という。

)の適用方法は,次による。

a

)  機能を発揮するために設ける,特殊目的をもった放電ギャップなどの電極間には,“空間距離”の規定

は適用しない。

b

)  絶縁変圧器以外のものを用いて電圧降下をさせている充電部の電圧は,極性が異なる充電部相互間に

あってはその電圧とし,充電部とその他の部分間にあっては入力電圧とする。

c

)

“充電部と人が触れるおそれがある非金属部の表面との間”の空間距離は,開口部(くぼみを含む。

をもつものにあっては,次の

図 JA.2

による。この場合において,テストフィンガに 30 N の力を加え

たときに変化するものは,変形した位置から測定する。

Labcde(c≧1 mm)

Lace(c<1 mm) 
Gac

 

Lab(c≧1 mm) 
La+(b)+c(c<1 mm)

Ga又は aのいずれか小さい方 

 

La+2bce(a≧1 mm,e≧1 mm)

La+2(b)+c(a<1 mm,e<1 mm)

Lab+(b)+c(a≧1 mm,e<1 mm) 
Gg

1

cg

2

 

 

LG 
Gae(a≧1 mm,e≧1 mm)

Ga(e<1 mm) 

Ge(a<1 mm) 
 

Lace(f  ≧1 mm)

La(a≧1 mm,e≧1 mm) 
Gae(a≧1 mm,e≧1 mm) 

Ga(e<1 mm)

Ge(a<1 mm) 

LG

Labcde(b>0,d>0)


145

C 8201-1

:2007

例 1

例 2

例 3

図 JA.2

開口部

くぼみを含む。

の例

d

)  非金属製エンクロージャの突合せ面を通して人が触れる部分と充電部との間は,“充電部と人が触れ

るおそれがある非金属部の表面との間”とみなす。ただし,突合せ面が接着剤で固定してある場合は,

空間距離は適用しない。

e

)  定格電流が 15 A 以上のもので電流計を部品として用いるものにあっては,電流計の内部の空間距離は

3 mm 以上,沿面距離を 4 mm 以上とすることができる。

f

)  定格電流が“15 A 以上のもの”の,制御回路及び励磁コイル(過電流引外しコイルは除く。)の極性

が異なる充電部相互間(これらの回路と主回路との間は除く。

)の空間距離又は沿面距離は,

“その他

のもの”の欄を適用する。

g

)  空間距離は,器具の外面にあっては,30 N,器具の内部にあっては 2 N の力を距離が最も小さくなる

ように加えて測定したときの距離とする。

h

)  ばね,ジャンパ線であって機能上やむを得ない部分には,無理な方向に 2 N の力を加えないものとす

る。

i

)

エンクロージャの突合せ面の間げきが 0.3 mm 以下のものにあっては,充電部と人が触れるおそれが

ある非金属部の表面との間の空間距離及び沿面距離は,1.5 mm 以上とすることができる。ただし,造

営材(分電盤を含む。

)に取り付けるものの取付面を除く。

j

)  定格電流が 15 A 以上のものであって,ふた又は外部を使用者が開けることができない構造のものの端

子部以外の箇所にあっては,沿面距離を 4 mm 以上とすることができる。

k

)  線間電圧又は対地電圧が 15 V 以下の部分であって,耐湿性の絶縁皮膜をもつものにあっては,その空

間距離及び沿面距離は,0.5 mm 以上とすることができる。

l

)

次の箇所を閉路したとき同極となり,開路したとき異極となる部分の極間には,空間距離の規定は,

適用しない。

開閉器の遮断距離及び開閉接触部の近傍の例を,次に示す(

図 JA.3

参照)


146

C 8201-1

:2007

例 1

例 2

図 JA.3

JA.3

端子部

JA3.1

端子部の該当部分

“端子部”とは,電源及び負荷用接続端子の端子金具をいい,次の部分を含む。

なお,電線の接続箇所を特定できないものは,端子金具を端子部とみなす。

a

)  端子ねじの頭部で電線(又はコード),座金などを締め付ける端子構造のものにあっては,端子ねじの

頭径から 1 mm 大きい範囲内(座金,当金を含む。

)の頭側(

図 JA.4

参照)

図 JA.4

b

)  端子ねじの先端で電線(又はコード),当金などを押し締めする端子構造のもの,及び端子ねじに設け

た引締め金具で電線(又はコード)を引き締める構造のものにあっては,端子ねじ,当金(引締め金

具を含む。

,端子金具の電線挿入孔内面(

図 JA.5

参照)

図 JA.5


147

C 8201-1

:2007

c

)

a

)及び

b

)を併用できる端子構造のものにあっては,

a

)及び

b

)を適用した範囲。

d

)  端子にはんだ付け,かしめ又は溶接するものにあっては,端子金具のうち,これらの加工を施すこと

ができる範囲(

図 JA.6

参照)

図 JA.6

e

)  平形接続子(ファストン端子)にあっては,おす側端子金具のショルダ以外の部分(

図 JA.7

参照)

図 JA.7

f

)  速詰端子(スプリング式ねじなし端子)にあっては,端子金具のうち電線を挿入した状態において接

触し得る部分(

図 JA.8

参照)


148

C 8201-1

:2007

図 JA.8

“極性が異なる充電部相互間”の“端子部”の空間距離の測定は,次の例による(

図 JA.9

参照)

測定箇所 
A-B

図 X1

A-B 
A-C 
B-C

図 X2

A-B  B-C 
A-C  B-D 
A-D  C-D

図 X3

A-B 
A-C

図 X4

図 JA.9

JA.3.2

端子部の適用方法

端子部の適用方法は,次による。

a

)  “端子部とその他の箇所との間”及び“端子部”は,電線を取り付けた状態で距離が変化するものに

あっては,器具の定格に応じた太さの電線及び取り付けることができる最少の太さの電線を,

表 4

規定するトルクを加えて取り付けたときの距離をいう。


149

C 8201-1

:2007

b

)  “固定している部分”には,導電金具が,開閉動作などによって定められた範囲内を移動するものを

含む。

c

)  口出し線付きのものの,その口出し線の接続が,器具内部の端子部にはんだ付け,かしめ又は溶接し

てあるものであって,器具がリベットなどで組み立てられ容易に解体できないものの口出し線取付部

は,

“端子部”には含まない。

d

)  開閉動作によって発生する金属粉の発生箇所に直面する箇所,及びこれらの金属粉がたい(堆)積す

るおそれがある箇所であって,沿面せん(閃)絡を発生するおそれがない箇所は,

“金属粉が付着しに

くい箇所”とみなす(

図 JA.10

参照)

図 JA.10

e

)  絶縁変圧器の 2 次側の回路,整流後の回路などの構造上やむを得ない部分であって,次の場合には,

表 JA.1

を適用しない。

1

)  極性が異なる充電部相互間を短絡した場合に,短絡回路に接続された部分が,燃焼しない。ただし,

当該回路に接続されている一つの部品が燃焼した場合において,ほかの部品が燃焼するおそれがな

いものは,この限りではない。この試験の約 2 分後,500 V 絶縁抵抗計によって測定した充電部と

人が触れるおそれがある非充電部との間の絶縁抵抗は,0.1 MΩ 以上である。

又は,

2

)  極性が異なる充電部相互間,又は充電部と人が触れるおそれがある非充電金属部との間を接続した

場合に,その非充電金属部又は露出する充電部が,次のいずれかに適合する。

2.1

)  対地電圧及び線間電圧が,交流は 30 V 以下,直流は 45 V 以下である。

2.2

) 1

kΩ の抵抗を,大地との間及び線間並びに非充電金属部との間に接続したとき,当該抵抗に流れ

る電流は,商用周波数以上の周波数において,感電の危険が生じるおそれがない場合を除き,1 mA

以下である。

“絶縁変圧器の 2 次側の回路,整流後の回路など”の“など”とは,機器の入力電源の一端と

回路の一部とを短絡したとき,電源電流が定常的に 10 A 以下(機器の定格電流が 7 A 以上のもの

にあっては,定格電流の 150  %以下)の回路をいう。


150

C 8201-1

:2007

“構造上やむを得ない部分”には,次のものを含む。ただし,当該部分中空間距離が表の値に

満たない箇所を,個々に短絡したとき,電源電流が定常的に 10 A(機器の定格電流が 7 A 以上の

ものにあっては,定格電流の 150  %)を超えて流れる部分は含まないものとする。

−  絶縁変圧器の 2 次側の回路及び整流後の回路であって,電子部品(半導体素子,コンデンサ,

電子管など)をもつ部分。

−  絶縁変圧器の 2 次側の回路,

整流後の回路などに用いる,

パイロットランプ

(ネオンを含む。

整流器,半導体素子(サイリスタ,トライアックなど)などであって,高インピーダンスに

よって保護される部分。

f

)  主回路の通電電流を小形変流器で検出しランプを点灯させ通電表示を行う方式の回路であって,次の

各項目に適合するものの主回路と通電表示回路間とは,

“極性が異なる充電部相互間”には含めない。

1

)  点灯回路の充電部と接地するおそれがある非充電部,又は人が触れるおそれがある非金属部との間

の絶縁距離は,主回路電圧に対応して要求される値以上でなければならない。

2

)  通電点灯回路の充電部は,テストフィンガで試験したとき充電部に触れない構造でなければならな

い。

3

)  変流器に 1 次−2 次間を電気的に接続したとき,火災,感電などの危険が生じてはならない。

g

)  “短絡”は,回路間,部分相互間及び部品の端子間で,空間距離が限定値を満足しない箇所を 1 か所

ずつ行う。

h

)  “短絡回路に接続された部品”には,変圧器(入力電源に用いるものに限る。)をもつものにあっては

当該変圧器の 1 次及び 2 次巻線,整流回路をもつものにあっては整流器(入力電源に用いるものに限

る。

)を含む。この場合において,これらのものが燃焼した場合にあっては,

“一つの部品が燃焼した

場合においてほかの部品が燃焼するおそれ”があるとみなす。

i

)

“一つの部品”に施したスリーブ,チューブなどは,それら含めて“一つの部品”とみなす。

j

)  “燃焼するおそれ”には,単なる発煙,焦げなどは含まない。


151

C

 8201-

1


200

7

151

C

 8201-

1


200

7

附属書 JB

参考)

JIS

と対応する国際規格との対比表

JIS C 8201-1:2007

  低圧開閉装置及び制御装置−第 1 部:通則

IEC 60947-1:2004

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

箇 条 番 号
及び名称

内容

(Ⅱ) 
国 際
規 格

番号

箇条 
番号

内容

箇 条 ご と
の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

2  用 語 及
び定義

共通用語,開閉機器,開

閉機器の部品,開閉機器
の動作,特性値,試験,
未処 理導 体で 導体 の定

義を規定。

共通用語,開閉機器,開閉

機器の部品,開閉機器の動
作,特性値,試験,未処理
導 体 で 導 体 の 定 義 に つ い

ては特に規定なし。

変更

JIS

では,導体を“導体をほぼ

均等に二つに分けて先端を整
えるものを含める”ように規定
している。

JIS

ではより詳細に定義している。

4  特性

一般,装置の形式,主回

路の定格値及び限界値,
使用 負荷 種別 ,制 御回
路,補助回路,リレー及

び引外し装置,SCPD と
の協調,開閉過電圧

JIS

に同じ

追加

スイッチ,制御装置関連の IEC 

60947-5

と並列させて JIS C 

4526

の規格群を追加した。

国内品での対応も必要なため JIS

を追加し,IEC 規格と並列した。

6  標 準 使
用,取付け
及 び 輸 送

条件

標準使用条件,湿度(JIS
では 40  ℃で 85  %を規
定)

,取付け

標準使用条件,湿度(IEC
規格では,85  %の規定は
ない)

,取付け

変更

日本の湿度環境から,85  %を
規定している。

JIS

では使用者の要求から必要。

7  構 造 及
び 性 能 に
関 す る 要
求事項

構造に関する要求事項,

空間 距離 及び 沿面 距離
(定 格イ ンパ ルス 電圧
を表示しない装置は,附

属書 JA を参照),接続容
量(JIS 電線を引用),性
能に関する要求事項

構造に関する要求事項,空

間距離及び沿面距離,接続
容量,性能に関する要求事

変更

強制法規で規定の絶縁距離の

内容の追加,国内で広く使用さ
れている JIS 電線などについ
て JIS では規定している。

JIS

では使用者の要求から JIS 電線

の規定は必要。また,絶縁距離に
ついては,強制法規の改正が必要。


152

C

 8201-

1


200

7

152

C

 8201-

1


200

7 ()

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

箇 条 番 号
及び名称

内容

(Ⅱ) 
国 際
規 格

番号

箇条 
番号

内容

箇 条 ご と
の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

8  試験

一般,受渡試験,抜取試

験,構造,温度上昇(JIS
電線を引用)

,EMC 試験

総 則 , 受 渡 試 験 , 抜 取 試

験,構造,温度上昇,EMC
試験

変更

国内で広く使用されている JIS

電線などについて JIS では規
定している。

JIS

では使用者の要求から JIS 電線

の規定は必要。

変更

国内での使用がほとんどない
過電圧の制御をサージアレス
タ以外の手段で行う場合につ

いての記載とした。

附属書 H 
(参考)

電源 シス テム の公 称電
圧と 装置 の定 格イ ンパ
ルス 耐電 圧間 の相 関関

係。 
過電 圧の 制御 をサ ージ
アレ スタ で行 われ るこ

と が 多 い た め , JIS C 

60364-4-44

の 適 用 に は

十分 検討 が必 要で ある

旨を記載。

電 源 シ ス テ ム の 公 称 電 圧
と 装 置 の 定 格 イ ン パ ル ス
耐電圧間の相関関係。

過 電 圧 の 制 御 を サ ー ジ ア
レ ス タ 以 外 の 手 段 で 行 わ
れるときの手引きは,IEC 

60364-4-44

を用いる旨の記

載。

追加

JIS C 0664

と整合させ,我が国

の給電系統の公称(対地)電圧
を注として取り入れた。

我が国の給電系統の公称(対地)
電圧の取り入れ。

附属書 JA

(規定)

定格 イン パル ス耐 電圧

を表 示し ない 装置 の絶
縁距離

規定なし

追加

強制法規で規定の絶縁距離の

内容の追加。

絶縁距離については,強制法規の

改正が必要。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60947-1:2004,MOD

 
注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD 国際規格を修正している。


153

C 8201-1

:2007

参考文献

JIS C 0664

  低圧系統内機器の絶縁協調  第 1 部:原理,要求事項及び試験

JIS C 0704

  制御機器の絶縁距離・絶縁抵抗及び耐電圧

注記

  対応国際規格:

IEC 60439-1

,Low-voltage switchgear and controlgear assemblies−Part 1:

Type-tested and partially type-tested assemblies,

IEC 60664-1

,Insulation coordination for

equipment within low-voltage systems−Part 1: Principles, requirements and tests,

IEC 60664-3

Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−Part 3: Use of coating, potting

or moulding for protection against pollution ,

IEC 60947-1

, Low-voltage switchgear and

controlgear-Part 1: General rules,

IEC 60947-4-1

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part

4-1: Contactors and motor-starters − Electromechanical contactors and motor-starters ,

IEC 

60947-5-1

,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control circuit devices and

switching elements−Electromechanical control circuit devices(全体評価:MOD)

JIS C 60364-4-44

  建築電気設備−第 4-44 部:安全保護−妨害電圧及び電磁妨害に対する保護

注記

  対応国際規格:

IEC 60364-4-44

,Electrical installations of buildings−Part 4-44: Protection for

safety−Protection against voltage disturbances and electromagnetic disturbances (IDT)

JIS C 2134

  固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法

注記

  対応国際規格:

IEC 60112

,Method for the determination of the proof and the comparative

tracking indices of solid insulating materials (IDT)

JIS C 8201

規格群

低圧開閉装置及び制御装置

JIS C 8269-1

  低電圧ヒューズ−第 1 部:一般要求事項

注記

  対応国際規格:

IEC 60269-1

,Low-voltage fuses−Part 1: General requirements,Amendment 1

及び Amendment 2 (IDT)

JIS C 8269-2

  低電圧ヒューズ−第 2 部:専門家用ヒューズの追加要求事項(主として工業用のヒュ

ーズ)

注記

  対応国際規格:

IEC 60269-2

,Low-voltage fuses−Part 2: Supplementary requirements for fuses

for use by authorized persons (fuses mainly for industrial application)及び Amendment 1 (IDT)

JIS C 60695-11-5

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バー

ナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記

  対応国際規格:

IEC 60695-11-5

,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame test

method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance (IDT)

IEC 60099-1

,Surge arresters−Part 1: Non-linear resistor type gapped surge arresters for a.c. systems

IEC 60112

:2003,Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid

insulating materials

IEC 60439-1

:1999,Low-voltage switchgear and controlgear assemblies−Part 1: Type-tested and partially

type-tested assemblies

IEC 60947 

(

all parts

),Low-voltage switchgear and controlgear

IEC 61095

,Electromechanical contactors for household and similar purposes