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C 8156:2017  

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 適用範囲 1 

2 引用規格 1 

3 用語及び定義  3 

4 一般要求事項及び一般試験要求事項  4 

5 表示 4 

5.1 製品の表示  4 

5.2 包装などの表示  4 

5.3 表示の適合性  5 

6 互換性 6 

6.1 口金の互換性  6 

6.2 受金にてランプから受ける曲げモーメント及びランプ質量  6 

7 感電に対する保護  7 

8 絶縁抵抗及び耐電圧  8 

8.1 一般事項  8 

8.2 絶縁抵抗  8 

8.3 耐電圧  8 

9 口金部の機械的強度  8 

9.1 要求事項  8 

9.2 試験  9 

9.3 判定基準  12 

9.4 ねじ込み口金の軸方向強度  12 

10 口金温度上昇  13 

11 耐熱性  13 

12 耐燃焼性  14 

13 故障状態における安全性  14 

13.1 一般要求事項  14 

13.2 試験条件  14 

13.3 判定基準  15 

14 沿面距離及び空間距離  15 

15 異常動作  15 

16 調光対応ランプの試験条件  16 

17 光生物学的安全性  16 

17.1 紫外放射  16 

17.2 青色光傷害  17 


 

C 8156:2017 目次 

(2) 

ページ 

17.3 赤外放射  17 

18 水の浸入に対する保護  17 

18.1 要求事項  17 

18.2 試験  17 

19 照明器具設計のための情報  17 

附属書A(参考)照明器具設計のための情報  18 

附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表  19 

 

 


 

C 8156:2017  

(3) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本

照明工業会(JLMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を

改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格で

ある。これによって,JIS C 8156:2011は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

 

 


 

 

日本工業規格          JIS 

 

C 8156:2017 

 

一般照明用電球形LEDランプ(電源電圧50 V超)

−安全仕様 

Self-ballasted LED-lamps for general lighting services  

by voltage > 50 V-Safety specifications 

 

序文 

この規格は,2011年に第1版として発行されたIEC 62560及びAmendment 1(2015)を基に,技術的内

容を変更して作成した日本工業規格である。ただし,追補(amendment)については,編集し,一体とし

た。 

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。 

 

適用範囲 

この規格は,家庭用又はそれに類する一般照明用に使われ,かつ,安定に点灯動作する装置と一体化し

た電球形LEDランプ(以下,ランプという。)に要求する安全性及び互換性についての要求事項,並びに

その判定に必要な試験方法及びその基準について規定する。 

この規格で適用するランプの範囲を,次に示す。 

− 定格ランプ電力:60 W以下 

− 定格入力電圧:50 Vを超え250 V以下 

− 口金は,表1による。 

この規格の要求事項は,形式試験だけに関するものである。 

注記1 この規格で用いる“ランプ”という用語は,“電球形LEDランプ”を意味する。 

注記2 この規格は,光生物学的安全性の情報を含む。 

注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 62560:2011,Self-ballasted LED-lamps for general lighting services by voltage > 50 V−Safety 

specifications及びAmendment 1:2015(MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード) 


C 8156:2017  

 

注記 対応国際規格:IEC 60529:1989,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code) 

JIS C 7550 ランプ及びランプシステムの光生物学的安全性 

JIS C 7551-1 白熱電球類の安全仕様−第1部:一般照明用白熱電球 

JIS C 7620-1 一般照明用電球形蛍光ランプ−第1部:安全仕様 

JIS C 7709-1 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第1部 口金 

注記 対応国際規格:IEC 60061-1,Lamp caps and holders together with gauges for the control of 

interchangeability and safety−Part 1: Lamp caps(MOD) 

JIS C 7709-2 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第2部 受金 

JIS C 7709-3 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第3部 ゲージ 

注記 対応国際規格:IEC 60061-3,Lamp caps and holders together with gauges for the control of 

interchangeability and safety−Part 3: Gauges(MOD) 

JIS C 8105-1 照明器具−第1部:安全性要求事項通則 

注記 対応国際規格:IEC 60598-1,Luminaires−Part 1: General requirements and tests(MOD) 

JIS C 8147-1 ランプ制御装置−第1部:通則及び安全性要求事項 

注記 対応国際規格:IEC 61347-1,Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements(MOD) 

JIS C 8154 一般照明用LEDモジュール−安全仕様 

注記 対応国際規格:IEC 62031,LED modules for general lighting−Safety specifications(MOD) 

JIS C 8280 ねじ込みランプソケット 

JIS C 8324 蛍光灯ソケット及びスタータソケット 

JIS C 60695-2-10:2015 耐火性試験−電気・電子−第2-10部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法

−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60695-2-10:2013,Fire hazard testing−Part 2-10: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire apparatus and common test procedure(IDT) 

JIS C 60695-2-11:2004 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60695-2-11:2000,Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire flammability test method for end-products(IDT) 

JIS C 60695-2-12:2013 耐火性試験−電気・電子−第2-12部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法

−材料に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWFI) 

注記 対応国際規格:IEC 60695-2-12:2010,Fire hazard testing−Part 2-12: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire flammability index (GWFI) test method for materials(IDT) 

JIS C 60695-2-13:2013 耐火性試験−電気・電子−第2-13部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法

−材料に対するグローワイヤ着火温度指数(GWIT) 

注記 対応国際規格:IEC 60695-2-13:2010,Fire hazard testing−Part 2-13: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire ignition temperature (GWIT) test method for materials(IDT) 

JIS C 62504 一般照明用LED製品及び関連装置の用語及び定義 

注記 対応国際規格:IEC 62504,General lighting−Light emitting diode (LED) products and related 

equipment−Terms and definitions(MOD) 

JIS P 0001:1998 紙・板紙及びパルプ用語 

JIS Z 8113 照明用語 


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用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 8154,JIS C 62504及びJIS Z 8113によるほか,次による。 

3.1 

電球形LEDランプ(self-ballasted LED-lamp) 

口金を備え,LED光源及びそれが安定に点灯動作するために必要な付加装置を組み合わせて一体となっ

たもので,機能を損なわずには恒久的に分解できないもの。 

注記1 口金は,JIS C 7709-1にて規定している。 

注記2 電球形LEDランプは,一般消費者による交換を想定して設計する。 

3.2 

定格入力電圧(rated voltage) 

製造業者又は責任ある販売業者(以下,製造業者等という。)が指定した電圧又は電圧範囲。 

3.3 

定格ランプ電力(rated wattage) 

製造業者等が指定した電力。 

3.4 

定格周波数(rated frequency) 

製造業者等が指定した周波数。 

3.5 

口金温度上昇値(cap temperature rise),Δts 

関連規格で規定する方法によって測定したときの周囲温度からの温度上昇値。 

単位は,ケルビン(K)で表す。 

注記 口金温度上昇値の測定方法は,JIS C 7551-1及びJIS C 7620-1に規定している。 

3.6 

充電部(live part) 

通常の使用状態で感電を起こし得る導電部分。 

3.7 

形式(type) 

この規定で要求する試験方法,試験結果が同一となるランプのグループ。 

注記 口金,電気特性,光生物学的安全性のリスクグループなどが異なる場合には,異なる形式とな

る。 

3.8 

形式検査(type test) 

製品の設計が,関連する規格の要求事項に適合していることを確認するために,形式検査用サンプルを

用いて行う一つの検査又は一連の検査。 

3.9 

形式検査用サンプル(type test sample) 

形式検査のために製造業者等が提供する,一つのサンプル又は同じような集団から成るサンプル。 

3.10 

単位光束(可視放射)当たりの有害紫外放射(ultraviolet hazard efficacy of luminous radiation),Ks,v 

目及び皮膚に対する有害な紫外放射を,対応する測光量としての光束で除した値。 


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注記1 単位可視放射(光束)当たりの有害紫外放射は,ミリワット毎キロルーメン(mW/klm)で

表す。 

注記2 有害紫外放射は,ランプ又はLEDモジュールの分光放射パワーを,JIS C 7550に規定する紫

外放射傷害作用関数SUV(

‰枑

み付けすることで求められる。この値は,人体の紫外放射露

光だけに関するものであって,光放射の影響による,物体の機械的損傷,退色などの可能性

に関するものではない。 

注記3 この用語は,JIS C 7550の5.1(目及び皮膚に対する紫外放射傷害の実効放射照度及び露光許

容時間)に対応するものである。また,紫外放射には,これ以外に,JIS C 7550の5.2(目に

対する近紫外放射傷害の放射照度及び露光許容時間)に関するものがある。 

 

一般要求事項及び一般試験要求事項 

4.1 

ランプは,通常の使用で,使用者又は周囲に危害を与えないように設計し,かつ,製造しなければ

ならない。 

適合性の判定は,この規格に規定する全ての試験を実施して行う。 

4.2 

ランプは,分解すると安全性及び性能を損なう場合があるので,容易に分解できない構造とする。

また,いかなる試験においても分解してはならない。ただし,箇条13に規定する試験などで故障状態を模

擬した試験用のサンプルが必要な場合,製造業者等がその目的に対応して製作したランプで,試験しなけ

ればならない。 

4.3 

全てのランプの形式に対して,全ての試験項目を行うことを基本とする。製造業者の同意の下に,

ある製品グループから各ワットに対して選定した機種などを代表機種として試験を行うことも含む。 

4.4 

ある試験において安全な状況(発火,発煙及び可燃性ガスの放出がない。)で試験ランプが故障した

場合,試験サンプルを交換する。安全を損なう場合の更なる要求事項は,箇条12による。 

 

表示 

5.1 

製品の表示 

ランプには,次の事項を,見やすく,容易に消えない方法で表示しなければならない。 

a) 製造業者に関する表示(製造業者名,責任ある販売業者名又は商標) 

b) 定格入力電圧又は電圧範囲(単位は,“V”,“volts”又は“ボルト”で表示する。) 

c) 定格ランプ電力(単位は,“W”,“watts”又は“ワット”で表示する。) 

d) 定格周波数(単位は,“Hz”で表示する。) 

dA) 形式 形式には,性能関連事項などのその他の要素を含んでもよい。 

5.2 

包装などの表示 

ランプの製造業者等は,包装,取扱説明書などに,5.1の事項及び次の事項を表示しなければならない。

ただし,ランプに表示してもよい。 

b) 定格ランプ電流又は定格入力電流(単位は,“A”,“ampere”又は“アンペア”で表示する。) 

c) (削除) 

d) 必要な場合,特別な使用条件(点灯方向を含む)などの制限事項[図記号(ピクトグラム)の高さは

5 mm以上とする。] 

例えば,調光に対応していないランプ(調光機能が付いた照明器具での使用を認めないランプ)は,

図1の図記号(ピクトグラム)を表示するか,又は文字での注意書きを表示する。 


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注記 “調光に対応していないランプ”とは,意図的な入力電圧又は入力電流の大きさによって調光

する機能をもたない又は耐久性を備えていないランプを指す。 

なお,意図的な入力電圧又は入力電流に対する耐久性を備え,異常動作を生じないランプは,

調光に対応しているランプに含む。 

 

 

図1−調光機能が付いた照明器具での使用を認めないランプ 

 

e) 水との接触の防止に関わる制限事項 8.3において4U+2 000 V(Uは定格入力電圧)の試験電圧及び

箇条18に適合しないランプは,乾燥した条件などで使用するランプである次の注意書きを表示する。 

“水滴がかかる状態や,湿度の高いところで使用しないでください。” 

“水滴”は,“雨や水滴”又は“雨若しくは水滴”としてもよく,“湿度の高いところ”は,“湿度の

高いところ,結露のおそれがあるところ”としてもよい。 

また,図2の図記号(ピクトグラム)を表示してもよい。図記号(ピクトグラム)の高さは,5 mm

以上とする。 

 

 

図2−水との接触に適さないランプ 

 

5.3 

表示の適合性 

適合性は,次による。 

a) 5.1の表示事項の内容及び明瞭さは,目視で検査する。 

b) 5.1の表示事項の丈夫さは,水でぬらした滑らかな布で15秒間(1秒1往復程度の速さ)軽く拭き,

その後乾かしてからへキサンでぬらした布で更に15秒間(1秒1往復程度の速さ)軽く拭いて検査す

る。表示事項は,試験後,判読できなければならない。 

c) 5.2の表示事項の読みやすさは,目視で検査する。 


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互換性 

6.1 

口金の互換性 

互換性を確保するため,JIS C 7709-1に規定する口金を使用しなければならない。 

完成したランプの口金における適合性は,表1に示すJIS C 7709-3の互換性検査用のゲージで行う。JIS 

C 7709-1に規定する測定器を用いる方法で行ってもよい。 

 

表1−口金の寸法検査項目に対応する互換性検査用ゲージ 

口金の 

種類 

JIS C 7709-1の 

口金シート番号 

ゲージ及び検査項目 

JIS C 7709-3の 

ゲージシート番号 

B22d 

1-2-1 

ピンの位置及び受金への挿入力 

3-2-1-1 

ピンの位置及び受金の保持力 

3-2-2-1 

E11 

1-16-1 

完成ランプ通りゲージ 

3-16-1-1 

E12/15 

1-17-1 

完成ランプ通りゲージ 

3-17-1-1 

完成ランプ止りゲージ 

3-17-2-1 

E14/20 

1-18-1 

ねじ山径の最大寸法 

3-18-1-1 

ねじ山径の最小寸法 

3-18-2-1 

E17/20 

1-20-1 

ねじ山径の最大寸法 

3-20-1-1 

ねじ山径の最小寸法 

3-20-2-1 

E26/25 

1-21-2 

ねじ山径の最大寸法 

3-21-1-1 

ねじ山径の最小寸法 

3-21-2-1 

GX53 

1-122-1 

口金止りゲージ 

3-122-2-1 

口金通り止りゲージ(キー溝確認用) 

3-122-2A-1 

口金止りゲージ(キー溝確認用) 

3-122-2B-1 

 

6.2 

受金にてランプから受ける曲げモーメント及びランプ質量 

ランプソケットに加わる曲げモーメントは,表2の値を超えてはならない。 

曲げモーメントは,水平に保持したランプの先端で測定した荷重(N)と,回転軸からランプ本体の先

端までの距離(L)とを乗じて決定する。その回転軸は,E形又はB形口金の円筒部分の底部又はピンタ

イプ口金の接触部の端部である。ランプは,回転軸に直角に立つ薄い金属板又はそれに類する部材で保持

する。 

注記1 曲げモーメントの測定は,JIS C 7709-0のシート0-11によって,図2Aに示す配置で実施す

ることが望ましい。 


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図2A−ランプ受金でのランプから受ける曲げモーメントの試験サンプルの配置 

 

注記2 照明器具のランプソケット取付部は,曲げモーメントに耐えなければならないことに注意す

る。曲げモーメントを計算する場合,口金のトップ部から照明器具の表面までの距離を加算

する必要がある。この場合,表面部材の高温での軟化を考慮した試験をするため,点灯によ

る温度上昇を加えた条件で確認することが望ましい。 

ランプ質量は,表2に示す質量を超えてはならない。 

 

表2−曲げモーメント及び質量 

口金の種類 

曲げモーメント 

Nm 

質量 

kg 

B22d 

E11 

0.5 

− 

E12/15 

0.5 

− 

E14/20 

1.0 

− 

E17/20 

1.0 

− 

E26/25 

GX53 

0.3 

− 

 

感電に対する保護 

感電に対する保護における合否は,次による。 

a) ランプは,照明器具のカバーを外した状態で,JIS C 8280に規定するランプソケットに装着したとき,

ランプ内部の金属部分及び口金の充電部分に触れない構造でなければならない。 

合否は,JIS C 0920の表6(危険な箇所への接近に対する保護の試験に使用する近接プローブ)の

第一特性数字2及び付加文字Bに規定するテストフィンガを用いて検査し,口金充電部に触れてはな

らない。必要がある場合,テストフィンガを10 Nの力で押し付けて判定する。 

b) E形口金付きのランプは,JIS C 8280に規定するねじ込み形ランプソケットに確実に挿入した後,a) の

テストフィンガが,口金充電部(口金表面からの導体突出部は除く。)に触れてはならない。GX53形

口金付きのランプは,JIS C 8324に規定するランプソケットに確実に挿入した後,a) のテストフィン


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ガが,口金充電部に触れてはならない。 

c) B22d口金付きランプは,同じ口金付きの一般照明用白熱電球への要求事項を満足しなければならな

い。 

d) 口金以外の露出している金属部分は,充電の状態になってはならない。 

e) 試験中,ランプの導電部品は,工具を用いずに動き得る最も悪い条件となる位置に置く。 

f) 

合否は,絶縁抵抗及び耐電圧試験(箇条8参照)によって判定する。 

 

絶縁抵抗及び耐電圧 

8.1 

一般事項 

絶縁抵抗及び耐電圧は,ランプの通電部分及びランプの手の触れる部分(可触部分)との間で十分な値

でなければならない。 

試験中は,口金の異極コンタクトは短絡する。ランプの手が触れる部分は金属はく(箔)で覆う。 

ランプは,相対湿度91 %〜95 %とした恒温槽内に48時間放置する。周囲温度は,20 ℃〜30 ℃の任意

な値にて,±1 ℃の変化で維持する。8.2及び8.3の試験は,上記の条件の下,恒温槽内で行う。 

8.2 

絶縁抵抗 

口金の通電部分とランプの可触部分[絶縁物の可触部分を金属はく(箔)で包む。]との絶縁抵抗値は,

4 MΩ以上でなければならない。 

絶縁抵抗値は,約500 Vの直流電圧を1分間印加して測定する。 

また,JIS C 8147-1の附属書A(導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験)の

要求事項も満足しなければならない。 

8.3 

耐電圧 

絶縁抵抗(8.2)の試験後,直ちに,絶縁抵抗(8.2)と同じ部分において,次に規定する交流電圧又は規

定の交流電圧のピーク電圧に等しい直流電圧での1分間の印加試験を行い,その試験に耐えなければなら

ない。 

初めは,通電部と金属はく(箔)との間に,表2Aに規定する試験電圧の半分以下の電圧を印加する。

さらに,徐々に試験電圧まで上昇させる。金属はく(箔)は絶縁物の端部で絶縁破壊が起きないように取

り付ける。 

試験中はフラッシオーバ又は絶縁破壊が生じてはならない。 

注記 工程での検査は,口金の通電部とランプの可触金属部又は絶縁の最も弱いと考えられる可触非

金属部との間で試験してもよい。 

 

表2A−口金の試験電圧 

定格入力電圧 

試験電圧 V 

[実効値(r.m.s.)] 

 

100 V以下 

2U a)+1 000 

100 V超 

4U a)+2 000 

注a) Uは定格入力電圧を表す。 

 

口金部の機械的強度 

9.1 

要求事項 

ランプは9.2に規定する機械的強度に耐えなければならない。 


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9.2 

試験 

9.2.1 

未使用ランプのねじり強度 

未使用ランプの口金接着部は,口金とランプを着脱するために取り扱う部分との間にねじりモーメント

を加えたとき,表3に規定する強さに耐えなければならない。 

 

表3−未使用ランプのねじり強度試験値 

口金の種類 

ねじり 

モーメント 

Nm 

B22d 

E11 

0.8 

E12/15 

0.8 

E14/20 

1.15 

E17/20 

1.5 

E26/25 

GX53 


10 

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ねじ部の最小表面粗さはRa=0.4 μm以上(注記参照) 

 

注記 最小表面粗さが上記より小さい場合は,入りすぎるおそれがあるため,口金に対して機械的に過負荷となる。

JIS C 7551-1のC.1 b) も参照。 

  

単位 mm 

寸法 

E12 

E14 

E17 

E26 

公差 

15.27 

20.0 

20.0 

32.0 

最小値 

9.0 

11.5 

10.0 

11.0 

3.00.0

 

9.5 

12.0 

14.0 

23.0 

1.01.0

+ 

4.0 

7.0 

8.0 

12.0 

最小値 

11.89 

13.89 

16.64 

26.492 

0.01.0

 

d1 

10.62 

12.29 

15.27 

24.816 

0.01.0

 

2.540 

2.822 

2.822 

3.629 

− 

0.792 

0.822 

0.897 

1.191 

− 

注記 図は,試験の適用について疑義のある場合に確認する必要がある寸法を示している。 

図3−ねじ込み口金をもつランプのねじり強度試験用ランプソケット 


11 

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単位 mm 

寸法 

B22 

公差 

22.27 

+0.03 

19.0 

最小値 

28.0 

最小値 

9.5 

最小値 

3.0 

+0.17 

24.6 

±0.3 

12.15 

最小値 

12.7 

±0.3 

(1.5) 

参考値 

注記 図は,試験の適用について疑義のある場合に確認する必要がある寸法を示している。 

図4−差込み口金をもつランプのねじり強度試験用ランプソケット 

 

使用前に,ねじ込み口金の試験用ランプソケットは,汚れがなく,かつ,潤滑油又はグリースの付着が

ないことを確認する。 

試験ランプの口金は,図3及び図4に示す該当するランプソケットに取り付ける。口金又はランプを着

脱するために取り扱う部分は,機械的に固定するためにジグを用いてつかんでもよい。GX53形口金付き

ランプはJIS C 7709-2に規定する受金に取り付ける。口金又はランプを機械的に固定してもよい。 

該当するランプ部品に急激な負荷がかからないように,徐々にねじりモーメントを加える。ねじりモー

メントの加え方は,次のいずれかによる。 

a) 表3に規定するねじりモーメントを加える。 

b) 表3の規定値より高いねじりモーメントを加え,故障となるねじりモーメント値を得る。この場合,

広範囲の故障レベルのねじりモーメントを測定できる装置を使用する。 

判定基準 

口金は,表3に規定したねじりモーメントを加えたとき,ランプを着脱するために取り扱う部分に,し

っかりと固定されていなければならない。ランプの口金をランプソケットに固定した状態で,可動できる

ように設計されたランプもある(例えば,ライトセンサー又は装飾リング)。これらのランプにおいて,ラ


12 

C 8156:2017  

 

ンプの口金部以外の部品が動くことには,適用しない。 

接着剤を用いないで取り付けられた口金の場合は,口金とランプを着脱するために取り扱う部分との間

は,10°を超えて動いてはならない。 

9.2.2 (対応国際規格では,この細分箇条において,使用後のねじり強度に関する参考情報を記載している

が,この規格では不要であり,不採用とした。) 

9.2.3 (対応国際規格では,この細分箇条において,引っ張り及び曲げモーメントに関する参考情報を記載

しているが,この規格では不要であり,不採用とした。) 

9.3 

判定基準 

9.2の機械的強度試験の後,サンプルは,箇条8を満足しなければならない。 

9.4 

ねじ込み口金の軸方向強度 

ランプを表4のゲージにねじ込む。十分にねじ込んだ後,表4の力(図5に示す矢印の方向へ印加する

力)を中心の接点に加える。図5参照。 

口金がランプ完成品に組み付けられたとき,口金の軸方向強度が減少しない場合は,口金の単体部品と

しての試験結果を適用することができる。 

注記 ゲージはランプを保持するのに用いられる。校正は必要ない。 

判定基準 

この試験の後,中心の接点周囲の絶縁物は損傷があってはならない。9.2.1のねじり強度試験を行ったと

きに口金の底部が口金ねじ部の中に押し込まれてはならない。 

 

表4−ねじ込み口金の軸方向の力 

口金の種類 

JIS C 7709-3の 

ゲージシート番号 

軸方向の力 

E14/20 

3-18-1-1 

 80 

E26/25 

3-21-1-1 

120 

注記 対応国際規格の,考慮中の口金等に関する記述を表から削除

した。 

 

 

図5−軸方向に力を加えるための試験装置 


13 

C 8156:2017  

 

10 

口金温度上昇 

口金温度上昇値Δtsは,表4Aに規定する値を超えてはならない。測定は,JIS C 7551-1の附属書JB(口

金温度上昇試験)に規定する方法で行う。ただし,GX53形口金は,JIS C 7620-1の附属書JA(GX53口

金付電球形蛍光ランプの最大口金温度上昇試験)による。 

測定は,定格入力電圧で行う。ランプに電圧範囲が指定されている場合は,その範囲内で温度上昇が最

大となる電圧で測定する。 

 

表4A−ランプの口金温度上昇の上限値 

単位 K 

口金の種類 

口金温度上昇値 Δts 

B22d 

120 

E11 

60 

E12/15 

60 

E14/20 

60 

E17/20 

60 

E26/25 

60 

GX53 

55 

 

11 

耐熱性 

ランプは,十分な耐熱性をもっていなければならない。 

感電保護用の外郭を構成する絶縁物及び導電部を所定位置に保持する絶縁物は,十分な耐熱性をもって

いなければならない。適合性は,部品をJIS C 8105-1の図10(ボールプレッシャ装置)に規定する装置で

ボールプレッシャ試験にかけることによって判定する。この試験は,セラミック製の部品には適用しない。 

試験条件及び試験手順は,次による。 

a) 試験は,箇条10に沿った関連部品の動作温度を,25±5 ℃に加えた温度の恒温槽で行う。ただし,導

電部を所定の位置に保持する部品は,125 ℃以上で試験する。その他の部品については80 ℃以上と

する。 

b) 試験は,部品の上面が水平になるように置き,部品が恒温槽内温度になじむまで10分間槽内に放置後,

部品表面を直径5 mmの鋼球で垂直に20 Nの力で押圧する。必要がある場合,試験中に鋼球が押圧し

ている表面が曲がらないように部品を保持する。 

c) 部品形状がこの試験に適切でない場合は,試料として適切な部分を切り取って行うか,試験対象部品

に用いる材料を別に成形したものを試料として用いることができる。試料は,2.5 mm以上の厚さがな

ければならないが,満足しない場合は2枚以上を重ねて試料とする。 

d) 試験を開始してから1時間後に鋼球を試料から取り外し,おおむね室温まで冷やすために10秒間冷水

中に浸す。 

e) 痕跡の直径を測定し,2 mm以下でなければならない。ただし,表面が曲がり,かつ,くぼ(窪)み

がだ(楕)円形の場合は,短径を測定する。痕跡の境界が不明瞭な場合は,痕跡の深さ(p)を測定し

て,次の式を用いて直径φを算出する。 

)

5(

2

p

p

φ

 

ここに, 

p: 痕跡の深さ(mm) 

 

φ: 痕跡の直径(mm) 


14 

C 8156:2017  

 

12 

耐燃焼性 

導電部を所定位置に保持する絶縁物及び感電保護用の外郭を構成する絶縁物は,JIS C 60695-2-10〜JIS 

C 60695-2-13に基づき,次の条件に従って,グローワイヤテストを実施する。この試験は,セラミック製

の部品には適用しない。 

a) 試料は,完成品のランプとする。 

b) 試験を行うためにランプの一部分を取り除くことが必要な場合は,試験条件が通常の使用状態と著し

く異なることがないように,十分配慮しなければならない。 

c) 試料は,保持具に取り付け,1 Nの力でグローワイヤの先端を押し付ける。 

なお,試験する表面の中心は,試料の上端から15 mm以上離れた場所にあることが望ましい。 

d) 試料へのグローワイヤの侵入は,機械的に7 mmに制限する。 

e) 試料が小さすぎて上記のように試験できない場合,30 mm角で厚さが試料の最小厚さに等しい同じ材

質の別の試料を用いて,試験を行う。 

f) 

グローワイヤの先端の温度は,650 ℃とする。 

g) グローワイヤの先端を1 Nの力で押し付け始めてから30秒後に,試料をグローワイヤの先端から引き

離す。 

h) グローワイヤ温度及び加熱電流は,試験開始前1分間,一定にしておかなければならない。 

i) 

試験開始前1分間,放射熱が試料に影響を及ぼさないように配慮しなければならない。 

j) 

グローワイヤの先端温度は,被覆した細い線径の熱電対を用いて測定する。熱電対の構造及び構成は

JIS C 60695-2-10による。 

試料のいかなる火炎又は赤熱も,グローワイヤを引き離してから30秒以内に消えなければならない。

また,燃焼又は溶融した試料の小片で,試料の200±5 mm下に水平に広げたJIS P 0001の6228に規

定する包装用ティシュが発火してはならない。 

 

13 

故障状態における安全性 

13.1 

一般要求事項 

ランプは,通常使用中に発生が想定される故障状態において,安全性を損なってはならない。 

13.2 

試験条件 

次の故障状態について,順次試験を行うが,一つの故障状態によって論理的帰結として発生し得る他の

故障状態も同様に試験する。故障試験は,1回につき一つの電子部品を故障状態にする。 

回路図又は構造から部品の故障が安全を損なう可能性がある場合,回路内のその部品を開放又は短絡す

る。 

一般に,ランプ及びその回路図を調べることで,適用する故障状態が判明する。最も容易に試験できる

故障状態から順番に試験を行う。 

故障状態で短絡が発生しない電子部品又は装置は,短絡しない。同様に,故障状態で開放が発生すると

想定できない電子部品又は装置は,断路しない。 

製造業者等は,部品が安全性を損なわないように動作することを証明しなければならない。例えば,部

品規格を満足することによって証明してもよい。 

適合性は,室温で口金を垂直上向きにし,ランプの定格電圧の90 %〜110 %の間の最も不利な電圧でサ

ンプルを点灯させることによって確認する。 

定格電圧範囲が指定されている場合には,試験は,電圧範囲の平均値の90 %〜110 %の間の最も厳しい


15 

C 8156:2017  

 

試験電圧か,又は指定の電圧範囲内がそれ以上に広い場合は,指定範囲内の最も厳しい試験電圧のいずれ

かで実施する。 

複数の定格電圧の場合,試験は,それぞれの定格電圧に対して別々に実施する。 

例1 指定された電圧範囲が,220 V〜240 Vの場合,試験電圧207 V〜253 V以内とする(230 Vの90 %

〜110 %は指定された範囲より広い。)。 

例2 指定された電圧範囲が,170 V〜280 Vの場合,試験電圧170 V〜280 V以内とする(指定され

た電圧は,225 Vの90 %〜110 %より広い。)。 

13.3 

判定基準 

適合性は,室温で最も厳しい電圧にし,安定した状態になるまで動作させて,その後,故障状態にして

判定する。試験時間は,その後の8時間とする。この試験の間,発火又はランプからの可燃性ガスの発生

及び充電部露出があってはならない。 

充電部露出の判定は,箇条7に従って試験する。絶縁抵抗(8.1参照)は,約1 000 Vの直流電圧で試験

する。 

 

14 

沿面距離及び空間距離 

JIS C 8105-1の第11章(沿面距離及び空間距離)による。 

内部に組み込まれた部位の沿面距離及び空間距離は,JIS C 8147-1による。 

 

15 

異常動作 

ランプは,異常動作状態で危険を生じてはならない。 

ランプは,異常動作又は不注意な操作の結果として感電に対する安全保護を損なわないように,火災又

は機械的損傷の危険を回避する構造でなければならない。 

調光に対応しないランプを調光器又は電子スイッチにて使用することは,異常動作を起こし得る事例と

して試験を行わなければならない。 

試験手順 

図6に示す試験回路で調光に対応しないランプを試験する。 

ランプ電流(I r.m.s.)が最大となるように可変抵抗器(R1)及びスイッチ(S1)を設定する。 

この状態で試験し,ランプが60分以内に不点灯になる場合,その都度,10 %低いランプ電流(I r.m.s.)

に調整して試験を繰り返す。ランプ電流(I r.m.s.)の調整は,可変抵抗器(R1)で行う。 

安定動作が60分以上になるまでこの手順を繰り返す。 

ランプは,可変抵抗器(R1)によって,上記の最も厳しく調整した発光レベルで8時間動作させる。 

判定基準 

適合性は,垂直で口金上向き又は包装に表示された点灯姿勢で,室温,定格入力電圧での点灯試験によ

る。 

定格入力電圧範囲が指定されている場合,試験はその電圧範囲の中央値で行う。 

複数の定格入力電圧が指定されている場合,試験はそれぞれの定格入力電圧で行う。 

ランプの試験中,炎又は可燃性ガスを発生してはならない。また,箇条7に規定するテストフィンガに

よって充電部に接触できるようになってはならない。 


16 

C 8156:2017  

 

 

 

 a 

電源 

可変抵抗器R1:470 kΩ 

抵抗器R:3.3 kΩ 

トライアックBTA16/700 

ダイアックDB3 

コンデンサC1:100 nF 

コンデンサC2:68 nF〜150 nF 

コイルL1:3 mH 

基本負荷,白熱電球P:60 W 

スイッチS1 

実効値電流計(I r.m.s.) 

試験する素子(DUT)(ランプ) 

注記 安全性が影響される最も厄介な状態は,直ちに故障を起こす電流値ではないが,ランプ電流(I r.m.s.)が最大の

ときである。 

図6−調光器又は電子スイッチでの調光に対応しないランプを試験するための試験回路 

 

16 

調光対応ランプの試験条件 

調光に対応するランプの試験条件は,次を満足しなければならない。 

箇条10及び箇条17において,ランプ電力が最大となる製造業者等が指定する調光状態で試験し,これ

らの箇条の判定基準に適合しなければならない。 

箇条13の試験条件は検討中である。 

 

17 

光生物学的安全性 

17.1 

紫外放射 

目及び皮膚に対する紫外放射は,次による。 

目及び皮膚に対する紫外放射は,500 lx当たり1 mW/m2を超えてはならない。 

試験は,JIS C 7550の箇条6(試験方法)で実施する。ただし,紫外放射からの変換に頼ることなく,

単位光束(可視放射)当たりの有害紫外放射の最大値を超えることがないランプは,この箇条の適合性を

測定せず,データなど(LEDチップ,LEDパッケージ,LEDモジュールなどの試験成績書を含む。)で示

してもよい。 

注記 目及び皮膚に対する紫外放射において,500 lx当たり1 mW/m2以下及び対応国際規格に規定さ


17 

C 8156:2017  

 

れている光束1 000 lm当たり2 mW以下である場合は,JIS C 7550に規定する“免除グループ”

に分類される。 

17.2 

青色光傷害 

青色光傷害は,JIS C 7550又はJIS C 8105-1の附属書JC(青色光による網膜傷害のリスクグループ判定

方法)に従う。 

ランプは,免除グループ又はリスクグループ1でなければならない。 

適合性は,JIS C 7550又はJIS C 8105-1の附属書JCによる。ただし,測定距離は,0.2 mとする。 

注記 リスクグループに関しては,JIS C 7550を参照。 

17.3 

赤外放射 

ランプの赤外放射に対する測定は,不要である。 

注記 家庭用又はそれに類する一般照明用に使われるランプの赤外放射は,安全性評価を表示しなけ

ればならないレベルに達しない。 

 

18 

水の浸入に対する保護  

18.1 

要求事項 

ランプは5.2 e) に示す表示がない場合,水への接触に耐えるものでなければならない。 

18.2 

試験 

水への接触に対する耐久性は,次のように行う。 

試験中,ガスケットなどによってランプ管端部全周にシーリングをすることによって防水レベルIPX4

を確保する構造のランプソケットは,固定しておかなければならない。適合性の基準はJIS C 8105-1の9.2

(じんあい,固形物及び水気の侵入に対する試験)による。 

注記 水の浸入に対する保護(IP)における更なる情報は,JIS C 8105-1の附属書J(保護等級を表す

IPコードの説明)に記載されている。 

例えば,ソケットのガスケットの部分まで,一体かつ均質の継ぎ目及び開口部のないガラス又はプラス

チックのバルブ構造を持つランプは,この試験の対象ではない。 

 

19 

照明器具設計のための情報 

照明器具設計のための情報は,附属書Aを参照するとよい。 


18 

C 8156:2017  

 

附属書A 

(参考) 

照明器具設計のための情報 

 

5.2 e) に示す表示のあるランプは,IPX1以上の照明器具によって,例えば,滴下する水,水の飛まつな

どの,水との直接の接触から保護されることが望ましい。 

注記 IP等級のXは数字が記載していないが,照明器具には適切な数字を表示する。 

 

ランプ接触領域へのIPX1以上の保護は,ランプ端部の径を密封し,かつ,接触領域を含むランプ端部

の部品も保護する,適切なIP等級をもつランプソケットを備える照明器具によってだけ実現できる。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

参考文献 JIS C 7709-0 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第0部 電球類

の口金・受金及びそれらのゲージ類の総括的事項 


19 

C 8156:2017  

 

附属書JA 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

 

JIS C 8156:2017 一般照明用電球形LEDランプ(電源電圧50 V超)−安全仕様 IEC 62560:2011,Self-ballasted LED-lamps for general lighting services by voltage > 50 V

−Safety specifications及びAmendment 1:2015 

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

3 用語及び
定義 

この規格で用いる主
な用語及び定義は,
JIS C 8154,JIS C 
62504及びJIS Z 8113
によるほか,次によ
る。 

 

JISとほぼ同じ 
この規格で用いる主な用
語及び定義は,IEC/TS 
62504(in preparation)及
びIEC 62031によるほか,
次による。 

追加 

IEC規格にはない照明用語(JIS Z 
8113)を追加した。 

この規格の理解を深めるため,関連
規格で定義する用語を追加した。 
IEC規格の基準を変更するもので
はない。 

5 表示 

5.1 製品の表示 
dA) 形式 

 

− 

− 

追加 

IEC規格にはない“形式”を追加
した。 

我が国において,ランプ買い替え・
交換の際に必要な“形式”を追加し
た。我が国固有の商慣行への対応の
ためIECへは提案しない。 

 

5.2 包装などの表示 
c) 

 

5.2 c) 

交換しようとするものよ
りランプの質量が著しく
大きくなる場合における
注意書き 

削除 

IEC規格にある注意書きの要求事
項を削除した。 

我が国では,消費者保護の観点にお
ける同様の注意書きがあり,その内
容がIEC規格と異なるため削除す
る。なお,同様の注意書きの要求事
項は,JISの製品規格(JIS C 8158)
に規定している。 

 

5.2 包装などの表示 
d) 
図記号(ピクトグラ
ム)の高さは5 mm以
上とする。 

 

5.2 d) 

JISとほぼ同じ 

追加 

IEC規格にはない“図記号の高さ”
を追加した。 

IEC規格のe) にある大きさの要求
がd) の図記号にも必要と判断し
た。 

 
 

2

 

C

 8

1

5

6

2

0

1

7

 

 

 

 

 


20 

C 8156:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

5 表示 
(続き) 

5.2 包装などの表示 
e) 
水との接触の防止に
関わる制限事項 

 

5.2 e) 

− 

変更 

IEC規格では,注意書き又は図記
号(ピクトグラム)のいずれかを
表示すれば適合する要求事項とし
ている。この規格では,注意書き
を必須の要求事項とし,図記号を
任意の要求事項と変更した。 

図2に示すピクトグラムの国内に
おける一般認識が不十分と判断し,
文書による表示を優先することと
した。ピクトグラムの普及を図り,
IECとの整合が望まれる。 

 

5.3 表示の適合性 
製品,包装などの表
示に対する合否判定
について規定 

 

5.3 

− 

追加 

IEC規格にはない検査する際の試
験方法等(1秒1往復程度の速さ)
を追加した。 

IEC規格で規定が曖昧な試験手順
の補足。 

6 互換性 

6.1 口金の互換性 

 

JISとほぼ同じ 

追加 

JIS C 7709-1ではIEC規格で規定
されているゲージでの検査以外に
測定器での測定も許容しているた
め,同様にこれを許容するための
記載を追加した。 

口金を規定するJIS C 7709-1との
統一が必要なためJIS C 7709-1を
追加。 
代替手法として我が国独自の寸法
測定を評価に追加したものであり
IECへは提案しない。 

 

表1(口金の寸法検査
項目に対応する互換
性検査用ゲージ) 

 

JISとほぼ同じ 

削除 
 
 
 
 
 
変更 

この規格の適用範囲である“家庭
用又はそれに類する一般照明用”
において,国内では使用を認めな
いE27口金,並びに使用されてい
ないB15d,GU10及びGZ10の口
金を削除した。 
また,互換性検査用ゲージ(B22d,
E12,E14,E17及びE26)は,JIS 
C 7709-3との整合を実施し修正し
た。 

我が国の市場にない基準を削除し
た。 

 
 
 
 
 

2

 

C

 8

1

5

6

2

0

1

7

 

 

 

 

 


21 

C 8156:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

6 互換性 
(続き) 

表2(曲げモーメント
及び質量) 

 

JISとほぼ同じ 

削除 

この規格の適用範囲である“家庭
用又はそれに類する一般照明用”
において,国内では使用を認めな
いE27口金,並びに使用されてい
ないB15d,E39,E40,GU10及び
GZ10の口金を削除した。 

我が国の市場にない基準を削除し
た。 

7 感電に対
する保護 

b) E形口金付きのラ
ンプ及びGX53形口
金付きのランプに対
する要求事項 

 

JISとほぼ同じ 

変更 
 
 
追加 

E形口金(E26口金)付きのラン
プへの要求事項をより具体的な規
定内容へと変更。 
GX53形口金付きのランプへの要
求事項(試験方法を含む)を追加
した。 

我が国の固有の機種の追加である
E26口金付きは,IECへは提案しな
い。GX53形口金付きは,IECに類
似機種があることから提案したい。 

8 絶縁抵抗
及び耐電圧 

8.3 耐電圧 
表2A(口金の試験電
圧) 

 

JISとほぼ同じ 

追加 

我が国固有の定格電圧における耐
電圧の試験電圧値を追加した(ク
ラス0相当の基礎絶縁に対応する
要求事項)。 

IEC規格で規定のないクラス0に
相当する製品の安全性を確保する
ためのもの(当分の間,削除できな
い。)。基礎絶縁への緩和基準を追加
している。 

9 口金部の
機械的強度 

9.2 試験 
9.2.1 未使用ランプ
のねじり強度 

 

JISとほぼ同じ 

追加 

GX53形口金付きのランプへの試
験方法を追加した。 

我が国の固有の機種の追加である
が,IECに類似機種があり,提案し
たい。 

 

9.2 試験 
9.2.1 未使用ランプ
のねじり強度 
図3及び図4 

 

JISとほぼ同じ 

削除 

この規格の適用範囲である“家庭
用又はそれに類する一般照明用”
において,国内では使用を認めな
いE27及びE26dの口金,並びに
使用されていないB15口金を削除
した。 

我が国の市場にない基準を削除し
た。 

 
 
 
 
 

2

 

C

 8

1

5

6

2

0

1

7

 

 

 

 

 


22 

C 8156:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

9 口金部の
機械的強度 
(続き) 

9.2 試験 
表3(未使用ランプの
ねじり強度試験値) 

 

JISとほぼ同じ 

削除 

この規格の適用範囲である“家庭
用又はそれに類する一般照明用”
において,国内では使用を認めな
いE27及びE26dの口金,並びに
使用されていないB15d,E39,E40,
GU10及びGZ10の口金を削除し
た。 

我が国の市場にない基準を削除し
た。 

 

9.4 ねじ込み口金の
軸方向強度 
表4(ねじ込み口金の
軸方向の力) 

 

JISとほぼ同じ 

削除 

この規格の適用範囲である“家庭
用又はそれに類する一般照明用”
において,国内では使用を認めな
いE27及びE26dの口金,並びに
使用されていないE39及びE40の
口金を削除した。 
なお,E11及びE12の口金は,対
応国際規格も規定値がないため,
削除した。 

我が国の市場にない基準を削除し
た。 

10 口金温
度上昇 

GX53形口金に対す
る試験方法 

 

10 

JISとほぼ同じ 

追加 

GX53形口金付きのランプへの試
験方法を追加した。 

我が国の固有の機種の追加である
が,IECに類似機種があり提案した
い。 

 

表4A(ランプの口金
温度上昇の上限値) 

 

10 

JISとほぼ同じ 

変更 

IEC規格では,全ての口金におい
て120 Kと規定している。この規
格では,E形の口金を60 Kと規定
し,GX53形口金を55 Kと規定し
た。 

我が国では白熱電球と電球形ラン
プとは市場で区別されており,電球
形としての部品及び規格が採用さ
れている。温度基準を緩和してい
る。 

 
 
 
 
 
 
 

2

 

C

 8

1

5

6

2

0

1

7

 

 

 

 

 


23 

C 8156:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

17 光生物
学的安全性 

17.1 紫外放射 

 

17 

JISと同じ 

変更 

JIS C 7550と整合させるため,次
の規定表記に変更した。 
“目及び皮膚に対する紫外放射
は,500 lx当たり1 mW/m2を超え
てはならない。” 
水準に差はない。 

IEC規格では,1 000 lm当たり2 
mW超えてはならないと規定され
ている。 
なお,JISで規定する“500 lx当た
り1 mW/m2以下”は,ともに“免
除グループ”に分類されることを補
足情報として注記に記した。 
IECに提案中。 

 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:(IEC 62560:2011,Amd 1:2015,MOD) 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

− 削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
− 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
− 変更  国際規格の規定内容を変更している。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

− MOD  国際規格を修正している。 

 

 

2

 

C

 8

1

5

6

2

0

1

7