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C 8147-1:2017

1)

目  次

ページ

序文  

1

1  適用範囲  

1

2  引用規格  

2

3  用語及び定義  

4

4  一般的要求事項  

10

5  試験上の一般的注意事項  

10

6  分類 

11

7  表示 

11

7.1  表示する項目  

11

7.2  表示の耐久性及び判読性  

13

8  端子 

13

9  接地 

13

9.1  保護接地  

13

9.2  機能接地  

13

9.3  プリント基板上の導体パターンで構成する保護接地用導体付きランプ制御装置  

14

9.4  器具内用ランプ制御装置の接地  

14

9.5  独立形ランプ制御装置を経由した接地  

14

10  充電部との偶発接触からの保護  

15

11  耐湿性及び絶縁性  

16

12  耐電圧  

16

13  安定器巻線の熱耐久性試験  

17

14  故障状態  

20

15  構造  

23

15.1  木,綿,絹,紙及び同様な繊維質材料  

23

15.2  プリント配線板  

23

15.3  SELV 又は ELV で使用するプラグ及びコンセント(outlet  

23

16  沿面距離及び空間距離  

24

17  ねじ,通電部及び接続部  

25

18  耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性  

25

19  耐食性  

26

20  無負荷出力電圧  

26

附属書 A(規定)導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験  

27

附属書 B(規定)熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項  

28

附属書 C(規定)過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項  

36

附属書 D(規定)熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法  

39


C 8147-1:2017  目次

2)

ページ

附属書 E(規定)t

w

試験での 4 500 以外の定数 の使用  

41

附属書 F(規定)風防容器  

44

附属書 G(規定)パルス電圧の値の由来の説明  

45

附属書 H(規定)試験  

49

附属書 I(規定)二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項  

54

附属書 J(規定)より面倒な要求事項の一覧  

57

附属書 K(参考)製造工程における適合試験  

58

附属書 L(規定)SELV 制御装置の個別追加要求事項  

60

附属書 M(参考)耐インパルスカテゴリ III の制御装置の耐電圧試験電圧  

69

附属書 N(規定)二重絶縁又は強化絶縁のために使用される絶縁材料の要求事項  

70

附属書 O(規定)二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置の追加要求事項  

74

附属書 JA(規定)追加の安全性要求事項  

77

参考文献  

80

附属書 JB(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

81


C 8147-1:2017

3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第

14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人日本

照明工業会(

JLMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を

改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格で

ある。

これによって,JIS C 8147-1:2011 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 8147 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 8147-1  第 1 部:通則及び安全性要求事項

JIS C 8147-2-1  第 2-1 部:始動装置の個別要求事項(グロースタータを除く)

JIS C 8147-2-2  第 2-2 部:直流又は交流電源用低電圧電球用電子トランスの個別要求事項

JIS C 8147-2-3  第 2-3 部:交流及び直流電源用蛍光灯電子安定器の個別要求事項

JIS C 8147-2-7  第 2-7 部:非常時照明用制御装置の個別要求事項

JIS C 8147-2-8  第 2-8 部:蛍光灯安定器の個別要求事項

JIS C 8147-2-9  第 2-9 部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く)

JIS C 8147-2-10  第 2-10 部:管形冷陰極放電ランプ(ネオン管)の高周波動作用電子インバータ及び

変換器の個別要求事項

JIS C 8147-2-11  第 2-11 部:照明器具用のその他の電子回路の個別要求事項

JIS C 8147-2-12  第 2-12 部:直流又は交流電源用放電灯電子安定器の個別要求事項(蛍光灯電子安定

器を除く)

JIS C 8147-2-13  第 2-13 部:直流又は交流電源用 LED モジュール用制御装置の個別要求事項


日本工業規格

JIS

 C

8147-1

2017

ランプ制御装置-第 1 部:通則及び安全性要求事項

Lamp controlgear-Part 1: General and safety requirements

序文 

この規格は,

2007 年に第 2 版として発行された IEC 61347-1,Amendment 1:2010 及び Amendment 2:

2012 を基とし,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。ただし,追補(amendment)につい

ては,編集し,一体とした。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,附属書 JB に示す。また,附属書 JA は対応国際規格にはない事項であ

る。

適用範囲 

この規格は,

250 V 以下の直流電源及び/又は 1 000 V 以下の 50 Hz 又は 60 Hz の交流電源に使用する,

ランプ制御装置の通則及び安全性要求事項について規定する。

この規格は,まだ規格化されていないランプのためのランプ制御装置についても適用する。

この規格で扱う試験は,形式試験だけである。生産しているランプ制御装置個々の試験の要求事項は,

規定しない。

準照明器具の安全性要求事項は,JIS C 8105-1(準照明器具の定義は,JIS C 8105-1 の 1.2.60 参照)によ

る。

注記 1  熱的保護機能付きランプ制御装置に適用する通則及び安全性要求事項は,附属書 B,過熱保

護手段付き電子ランプ制御装置に適用する通則及び安全性要求事項は,附属書 C,安全特別

低電圧(

SELV)を供給するランプ制御装置特有の安全性要求事項は,附属書 L,追加の安全

性要求事項は,附属書 JA による。

注記 2  この規格に適合するランプ制御装置は,独立形として又は照明器具の安全性要求事項通則

JIS C 8105-1 及びその個別安全性要求事項を規定する JIS C 8105-2 規格群に適合する照明器

具内蔵形として動作するため,定格電圧

90 %~110 %の範囲で安全性が期待できる。また,

性能要求はより厳しい限界が必要となる。

注記 3  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61347-1:2007,Lamp controlgear-Part 1: General and safety requirements,Amendment 1:2010

及び

Amendment 2:2012(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“

MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,“修正している”

ことを示す。


2

C 8147-1:2017

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。

JIS C 0366:1997  建築電気設備の電圧バンド

JIS C 0920  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記

  対応国際規格:IEC 60529:1989,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code) 及び

Amendment 1:1999(IDT)

JIS C 2143(規格群)  電気絶縁材料-熱的耐久性

注記

  対応国際規格:IEC 60216 (all parts),Electrical insulating materials-Thermal endurance properties

MOD)

JIS C 3215-0-1  巻線共通規格-第 0-1 部:一般特性-エナメル銅線

注記

  対応国際規格:IEC 60317-0-1:2008,Specifications for particular types of winding wires-Part 0-1:

General requirements-Enamelled round copper wire(MOD)

JIS C 3301  ゴムコード

JIS C 3306  ビニルコード

JIS C 3307  600 V ビニル絶縁電線(IV)

JIS C 3315  口出用ゴム絶縁電線

JIS C 3316  電気機器用ビニル絶縁電線

JIS C 3317  600 V 二種ビニル絶縁電線(HIV)

JIS C 3663(規格群)  定格電圧 450/750 V 以下のゴム絶縁ケーブル

JIS C 4003  電気絶縁-熱的耐久性評価及び呼び方

注記

  対応国際規格:IEC 60085:2007,Electrical insulation-Thermal evaluation and designation(MOD)

JIS C 4908  電気機器用コンデンサ

JIS C 5101-14  電子機器用固定コンデンサ-第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデン

注記

  対応国際規格:IEC 60384-14,Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 14: Sectional

specification-Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the

supply mains(IDT)

JIS C 6065:2013,オーディオ,ビデオ及び類似の電子機器-安全性要求事項

注記

  対 応 国 際 規 格 : IEC 60065:2001 , Audio, video and similar electronic apparatus - Safety

requirements(MOD)

JIS C 6691  温度ヒューズ-要求事項及び適用の指針

注記

  対応国際規格:IEC 60691:2002,Thermal-links-Requirements and application guide(MOD)

JIS C 6950-1  情報技術機器-安全性-第 1 部:一般要求事項

注記

  対応国際規格:IEC 60950-1,Information technology equipment-Safety-Part 1: General

requirements(MOD)

JIS C 7601  蛍光ランプ(一般照明用)

JIS C 8105-1  照明器具-第 1 部:安全性要求事項通則

注記

  対応国際規格:IEC 60598-1:2008,Luminaires-Part 1: General requirements and tests(MOD)


3

C 8147-1:2017

JIS C 8105-2(規格群)  照明器具-第 2 部:個別安全性要求事項

注記

  対応国際規格:IEC 60598-2 (all parts),Luminaires. Part 2: Particular requirements(MOD)

JIS C 8118  蛍光灯安定器-性能要求事項

注記

  対応国際規格:IEC 60921:2004,Ballasts for tubular fluorescent lamps-Performance requirements

MOD)

JIS C 8119  放電灯安定器(蛍光灯を除く)-性能要求事項

注記

  対応国際規格:IEC 60923:2005,Auxiliaries for lamps-Ballasts for discharge lamps (excluding

tubular fluorescent lamps)-Performance requirements(MOD)

JIS C 8147-2(規格群)  ランプ制御装置-第 2 部:個別要求事項

注記

  対応国際規格:IEC 61347-2 (all parts),Lamp controlgear-Part 2: Particular requirements(MOD)

JIS C 8147-2-8  ランプ制御装置-第 2-8 部:蛍光灯安定器の個別要求事項

注記

  対応国際規格:IEC 61347-2-8,Lamp controlgear-Part 2-8: Particular requirements for ballasts for

fluorescent lamps(MOD)

JIS C 8147-2-9  ランプ制御装置-第 2-9 部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く)

注記

  対応国際規格:IEC 61347-2-9:2000,Lamp controlgear-Part 2-9: Particular requirements for

ballasts for discharge lamps (excluding fluorescent lamps),Amendment 1:2003 及び Amendment

2:2006(MOD)

JIS C 9730-2-3  家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置-第 2-3 部:蛍光ランプ用安定器の

感熱式保護装置の個別要求事項

注記

  対応国際規格:IEC 60730-2-3,Automatic electrical controls for household and similar use-Part

2-3: Particular requirements for thermal protectors for ballasts for tubular fluorescent lamps(MOD)

JIS C 60664-1:2009  低圧系統内機器の絶縁協調-第 1 部:基本原則,要求事項及び試験

注記

  対応国際規格:IEC 60664-1:2007,Insulation coordination for equipment within low-voltage

systems-Part 1: Principles, requirements and tests(IDT)

JIS C 60664-3  低圧系統内機器の絶縁協調-第 3 部:汚損保護のためのコーティング,ポッティング

及びモールディングの使用

注記

  対応国際規格:IEC 60664-3,Insulation coordination for equipment within low-voltage systems-

Part 3: Use of coating, potting or moulding for protection against pollution(IDT)

JIS C 60695-2-10  耐火性試験-電気・電子-第 2-10 部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法-グ

ローワイヤ試験装置及び一般試験方法

注記

  対応国際規格:IEC 60695-2-10,Fire hazard testing-Part 2-10: Glowing/hot-wire based test

methods-Glow-wire apparatus and common test procedure(IDT)

JIS C 60695-11-5  耐火性試験-電気・電子-第 11-5 部:試験炎-ニードルフレーム(注射針バーナ)

試験方法-装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記

  対応国際規格:IEC 60695-11-5,Fire hazard testing-Part 11-5: Test flames-Needle-flame test

method-Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

JIS C 61558-1:2012  変圧器,電源装置,リアクトル及びこれに類する装置の安全性-第 1 部:通則及

び試験

注記

  対応国際規格:IEC 61558-1:2005,Safety of power transformers, power supplies, reactors and

similar products-Part 1: General requirements and tests(MOD)


4

C 8147-1:2017

JIS C 61558-2-6:2012  入力電圧 1 100V 以下の変圧器,リアクトル,電源装置及びこれに類する装置

の安全性-第

2-6 部:安全絶縁変圧器及び安全絶縁変圧器を組み込んだ電源装置の個別要求事項

及び試験

注記

  対応国際規格:IEC 61558-2-6:2009,Safety of transformers, reactors, power supply units and

similar products for supply voltages up to 1 100 V-Part 2-6: Particular requirements and tests for

safety isolating transformers and power supply units incorporating safety isolating transformers

MOD)

JIS C 61558-2-16:2012  入力電圧 1 100V 以下の変圧器,リアクトル,電源装置及びこれに類する装置

の安全性-第

2-16 部:スイッチモード電源装置及びスイッチモード電源装置用変圧器の個別要求

事項及び試験

注記

  対応国際規格:IEC 61558-2-16:2009,Safety of transformers, reactors, power supply units and

similar products for voltages up to 1 100 V-Part 2-16: Particular requirements and tests for switch

mode power supply units and transformers for switch mode power supply units(MOD)

JIS P 0001  紙・板紙及びパルプ用語

注記

  対応国際規格:ISO 4046-4:2002,Paper, board, pulps and related terms-Vocabulary-Part 4: Paper

and board grades and converted products(MOD)

JIS Z 8113  照明用語

IEC 60227(all parts)

Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and including 450/750 V

IEC 60417,Graphical symbols for use on equipment

IEC 60884-2-4,Plugs and socket-outlets for household and similar purposes-Part 2-4: Particular requirements

for plugs and socket-outlets for SELV

IEC 60906-3,IEC System of plugs and socket-outlets for household and similar purposes-Part 3: SELV plugs

and socket-outlets, 16 A 6 V, 12 V, 24 V, 48 V, a.c. and d.c.

IEC 61189-2,Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and

assemblies-Part 2: Test methods for materials for interconnection structures

IEC 61249-2(all parts)

Materials for printed boards and other interconnecting structures

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8113 によるほか,次による。

3.1 

ランプ制御装置(

lamp controlgear)

電源電圧を変圧する,ランプ電流を規定の値に制限する,始動電圧及び予熱電流の供給,コールドスタ

ートの防止,力率の改善,無線障害の低減などに役立つ,電源と

1 個又はそれ以上のランプとの間に挿入

する単独又は複数の構成部品。

3.1.1 

器具内用ランプ制御装置(

built-in lamp controlgear)

照明器具,箱,外郭又は類似のものに組み込むように設計したランプ制御装置。特別な防護なしに,照

明器具などの外部に設置することを意図しない。

注記

  道路照明用ポール底部のランプ制御装置収納部は,外郭と考える。

3.1.2 


5

C 8147-1:2017

独立形ランプ制御装置(

independent lamp controlgear)

ランプ制御装置の表示に従った保護を備え,何らかの外郭を付加することなく,照明器具の外側に別置

できるよう設計した,

1 個以上の素子で構成したランプ制御装置。

注記

  独立形ランプ制御装置は,表示に従って必要な保護を備えた適切な外郭の中に設置した器具内

用ランプ制御装置で構成してもよい。

3.1.3 

器具一体形ランプ制御装置(

integral lamp controlgear)

照明器具の交換不可能な部分を形成し,照明器具から分離して試験することのできないランプ制御装置。

3.2 

安定器(

ballast)

電源と

1 個又は複数のランプとの間に挿入される装置であり,インダクタ,コンデンサ又はインダクタ

とコンデンサとの組合せによって,主としてランプ電流を規定の値に制限するもの。

注記

  電源電圧を変圧する手段,始動電圧及び予熱電流の提供を補助するための手段を含んでもよい。

3.2.1 

直流電源用電子安定器(

d.c. supplied electronic ballast)

半導体部品を用いた直流-交流インバータ。

1 個又は複数の蛍光ランプに電力を供給するための安定化

素子を含んだものがある。

3.2.2 

試験用安定器(

reference ballast)

安定器の試験に用いる比較の基準及び試験用ランプ選定のために設計した特別な誘導形安定器。この安

定器は,JIS C 8118 の附属書 C(試験用安定器)及び JIS C 8119 の附属書 A(試験用安定器)に規定する

ように,電流,温度及び電磁的環境の変化に対し,相対的に影響を受けない安定した電圧-電流特性をも

つという,本質的な特性がある。

3.2.3 

外部制御形安定器(

controllable ballast)

ランプ点灯特性を,主電源又は外部制御入力によって変更することができる電子安定器。

3.3 

試験用ランプ(

reference lamp)

安定器の試験用に選定したランプ。試験用安定器と組合せたとき,関連するランプ規格に規定する定格

値に近い電気特性をもつ。

3.4 

試験用安定器の基準電流(

calibration current of a reference ballast)

試験用安定器の校正及び管理の基準となる電流。

注記

  この電流は,試験用安定器に適合するランプの定格ランプ電流と,ほぼ等しくすることが望ま

しい。

3.5 

入力電圧(

supply voltage)

ランプ及びランプ制御装置の回路全体に印加する電圧。

3.6 

動作電圧(

working voltage)


6

C 8147-1:2017

ランプ制御装置を定格電圧で動作させるとき,過渡的なものは無視し,無負荷状態又は通常動作中に絶

縁物間に生じる最大実効値電圧。

3.7 

設計電圧(

design voltage)

ランプ制御装置の全ての特性が満足すると,製造業者が宣言した電圧。この値は,定格電圧範囲の最大

値の

85 %以上である。

3.8 

電圧範囲(

voltage range)

安定器を動作させることを意図した入力電圧の範囲。

3.9 

定格無負荷出力電圧(

rated no-load output voltage)

安定器出力に負荷を接続しない状態で,定格周波数の定格入力電圧を印加したとき,出力する電圧。過

渡的及び始動時は除く。

3.10 

入力電流(

supply current)

ランプ及びランプ制御装置の回路全体に供給する電流。

3.11 

充電部(

live part)

通常の使用中に電撃を生じるおそれのある導電部。中性線は,充電部とみなす。

注記

  導電部が,電撃を生じるおそれのある充電部であるかどうかを確認するための試験を,附属書

に規定している。

3.12 

形式試験(

type test)

関連する規定の要求事項に対する製品設計の適合性確認の目的のために,形式試験試料で行う試験又は

一連の試験。

3.13 

形式試験試料(

type-test sample)

形式試験のために,製造業者又は責任がある販売業者によって提出される,

1 個又は複数の同様のユニ

ットからなる試料。

3.14 

回路力率,

λ(circuit power factor,λ

ランプ制御装置とランプ制御装置が設計の対象としたランプとを組み合わせたときの力率。

3.15 

高力率形安定器(

high power factor ballast)

回路力率(進相又は遅相)が

0.85 以上の安定器。

注記 1 0.85 の値は,電流波形ひず(歪)みの力率への影響を考慮している。

注記 2  北米では,高力率は 0.9 以上と定義されている。

3.16 

定格最高温度,

t

c

rated maximum temperature,t

c

通常使用状態で,定格電圧又は定格電圧範囲内において,温度が厳しくなる電圧にて,外郭で生じる(表


7

C 8147-1:2017

示している場合には表示した箇所)最高許容温度。

3.17 

ランプ制御装置巻線の定格最高使用温度,

t

w

rated maximum operating temperature of a lamp controlgear

winding,t

w

50/60 Hz でランプ制御装置が,10 年間以上の連続寿命をもつと期待し得る最高温度で,製造業者が指定

した巻線温度。

3.18 

整流現象(

rectifying effect)

片側の電極の破損又は不十分な電子放射によって,連続する半サイクルに放電電流の不均衡な状態が継

続する,ランプ寿命末期に生じる現象。

3.19 

熱耐久性試験の試験期間,

D(test duration of endurance test,D

温度条件に基づいた選択可能な熱耐久性試験の期間。

3.20 

安定器巻線の絶縁劣化定数,

S(degradation of insulation of a ballast winding,S

安定器絶縁の劣化を決定する定数。

3.21 

イグナイタ(

ignitor)

放電ランプを始動するためにパルス電圧を発生させる装置。両電極の予熱を行うものではない。

注記

  始動パルス電圧を発生する素子は,トリガーのあり又はなしのいずれでもよい。

3.22 

保護接地(大地)

,    [IEC 60417 の 5019 (2002-10)][protective earth (ground),      ]

安全上の理由で,端子によって大地に接続する部分。

3.23 

機能接地(大地)

IEC 60417 の 5017 (2002-10)][functional earth (ground),

安全以外の理由で,端子によって大地に接続する部分。

注記 1  機能接地は,始動の容易性及び/又は電磁両立性のために必要となることがある。

3.24 

フレーム(シャーシ),    [IEC 60417 の 5020 (2002-10)][frame (chassis),      ]

その電位を基準とみなす端子。

3.25 

制御端子(

control terminals)

電源入力端子以外の電子安定器接続端子で,安定器との情報交換をする端子。

注記

  電源入力端子を,情報交換をする端子としてもよい。

3.26 

制御信号(

control signal)

安定器を制御するために,安定器と情報交換をする信号。この信号は,交流又は直流の電圧であっても,

アナログ,ディジタル又はその他の変調信号でもよい。

3.27 

特別低電圧,ELV(extra-low voltage)


8

C 8147-1:2017

導体間又は導体と接地との間の,交流

50 V(実効値)又はリップルのない直流 120 V 以下の電圧(JIS C 

0366:1997 の電圧バンド I)

注記

  “リップルのない”とは,従来から,“正弦波で 10 %(実効値)以下のリップル成分”という

定義がある。したがって,公称

120 V のリップルのない直流系統での最大ピーク電圧は 140 V

以下である。

3.28 

安全特別低電圧,SELV(safety extra low voltage)

JIS C 61558-2-6:2012 に規定する安全絶縁変圧器の,一次側と二次側との間の絶縁と同等以上の絶縁によ

って,電源から絶縁した回路における特別低電圧。

注記 1  特に充電部との直接的な接触が許される場合,交流 50 V 又はリップルのない直流 120 V 以下

の最大電圧を特別要求事項で規定できる。

注記 2  電源が安全絶縁変圧器である場合,電圧は最大負荷と無負荷の間のいかなる負荷でも限度を

超えない。

注記 3  “リップルのない”とは,従来から,“正弦波で 10 %(実効値)以下のリップル成分”とい

う定義がある。したがって,公称

120 V のリップルのない直流系統での最大ピーク電圧は 140

V 以下であり,公称 60 V のリップルのない直流系統での最大ピーク電圧は 70 V 以下である。

3.29 

きょう(筐)体(

body)

全ての可触導電部,シャフト,ハンドル,ノブ,グリップ及び同種のもの並びに可触金属固定ねじ。絶

縁物の可触表面に使用する金属はく(箔)(非可触金属部は含まない)を含む。

3.30 

耐インパルスカテゴリ(

impulse withstand category)

過渡的な過電圧状態を定義する数字。過電圧カテゴリともいう。

注記

  耐インパルスカテゴリには,I,II,III 及び IV がある。各カテゴリの詳細な情報は,JIS C 8105-1

及び JIS C 60664-1:2009 を参照。

3.31 

クラス ランプ制御装置(class I lamp controlgear)

感電に対する保護が基礎絶縁だけに依存しておらず,追加安全予防措置をもつ独立形制御装置。基礎絶

縁が故障を起こした場合でも,可触導電部が充電部にならないように,設備の固定配線の保護接地用導体

にそれらを接続する手段をもっている。

注記 1  クラス I 独立形制御装置は,二重絶縁又は強化絶縁の部分があってもよい。

注記 2  クラス I 独立形制御装置は,SELV に対応する感電に対する保護の部分があってもよい。

注記 3  基礎絶縁だけによって感電を防止する独立形制御装置は,クラス 0 独立形制御装置と定義さ

れる。これは最終の使用状態において,人が触れるおそれのある導体部があっても,これを

電源配線の保護接地導体に接続する手段がないことを意味している。すなわち,基礎絶縁が

故障した場合は使用環境だけが頼りである。クラス

0 独立形制御装置には,基礎絶縁で全体

又は一部を形成する絶縁外郭のもの及び少なくとも基礎絶縁によって充電部から隔離した金

属の外郭のものがある。

3.32 

クラス II ランプ制御装置(class II lamp controlgear)


9

C 8147-1:2017

感電に対する保護が,基礎絶縁だけに依存しておらず,二重絶縁又は強化絶縁のような追加安全予防措

置をもつ独立形制御装置。この制御装置は,保護接地の手段を備えておらず,また,設置条件に依存しな

い。

3.33 

クラス III ランプ制御装置(class III lamp controlgear)

感電に対する保護を

SELV の電源に依存し,かつ,内部で SELV を超える電圧を発生しない独立形制御

装置。

3.34 

保護インピーダンスデバイス(

protective impedance device)

定常状態の接触電流と電荷を危険なレベルにならないように制限するインピーダンス部品又は構造。

3.35 

最大動作電圧,

U

out

maximum working voltage,U

out

正常又は異常動作状態中の出力端子間又は出力端子と接地との間に発生する動作電圧の最大値(実効

値)。

注記

  過渡現象及び始動電圧は除く。

3.36 

基礎絶縁(

basic insulation)

正常状態で,感電に対する基礎的な保護を与えるために充電部に施した絶縁。

注記

  基礎絶縁は,必ずしも機能目的(感電に対する保護)にだけ使用する絶縁に限らない。

3.37 

二重絶縁(

double insulation)

基礎絶縁が破壊したときに,感電に対する保護を行うために,基礎絶縁及び付加絶縁の二つで構成する

絶縁。

3.38 

強化絶縁(

reinforced insulation)

二重絶縁と同程度の感電に対する保護をもつ,充電部に施した単一の絶縁方式。

注記

  “絶縁方式”は,絶縁が単一で均質のものであることを意味しない。付加絶縁又は基礎絶縁と

して単独に試験できない数層の絶縁で構成してもよい。

3.38A 

入力電力(

supply wattage)

ランプ及びランプ制御装置の回路全体に供給する電力。

3.38B 

変圧式安定器(

transformer type ballast)

変圧器の機能をもつ安定器。この安定器には,絶縁変圧器形とそうでないものとがある。

3.38C 

二次電圧(

secondary voltage)

安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えたとき,二次側に定常的に発生する,無負荷(多灯用では全

てのランプを外した状態)又は適合ランプ点灯時(定格点灯又は調光負荷時)のいずれか高い方の電圧。

3.38D 

二次短絡電流(

secondary short-circuit current)


10

C 8147-1:2017

安定器に定格周波数の定格入力電圧を加え,二次側(フィラメント端子間を除く。)を短絡したときに二

次側に定常的に流れる電流(無負荷時の二次電圧を定格二次電圧とするものに限る。)。

3.38E 

定格最高周囲温度,

t

a

rated maximum operating ambient temperature,t

a

ランプ制御装置が通常の状態で使用できる,製造業者が宣言した最高周囲温度。

一般的要求事項 

ランプ制御装置は,通常の使用状態で使用者及び周囲を危険にさらすことなく使用できるように,設計

及び構成しなければならない。

適合性は,規定する全ての試験を実施することによって判定する。

ランプ制御装置の二重絶縁又は強化絶縁のために使用する絶縁材の要求事項は,附属書 で規定する。

独立形ランプ制御装置は,

IP 分類などの分類及び表示の要求事項も含めて,JIS C 8105-1 の要求事項

を満足しなければならない。

二重絶縁又は強化絶縁を備えた器具内用磁気回路式安定器は,附属書 の要求事項に適合しなければ

ならない。

二重絶縁又は強化絶縁を備えた器具内用電子制御装置は,附属書 の要求事項に適合しなければなら

ない。

外郭をもたず,プリント基板及びその基板上の部品で構成する器具内用ランプ制御装置は,照明器具

に組み込まれた場合に,JIS C 8105-1 の要求事項を満足しなければならない。

外郭をもたない器具一体形ランプ制御装置は,JIS C 8105-1 の 0.5(照明器具の構成部品)で定義した

一体化構成部品として扱い,器具に組み込んだ状態で試験する。

注記

  必要がある場合,試験方法について照明器具製造業者が安定器製造業者に相談することを推奨

する。

ランプ安全規格では,ランプの安全動作のために“安定器設計のための情報”を提供している。安定器

の試験時,これは規定とみなす。

SELV 制御装置は,附属書 の要求事項に従わなければならない。これには,一次回路と二次回路との

間の絶縁抵抗,耐電圧,沿面距離及び空間距離を含む。

試験上の一般的注意事項 

5.1

この規格による試験は,形式試験である。

注記

  要求事項及びこの規格で規定する許容差は,形式試験のために製造業者が提出した形式試験試

料の試験に適用することになる。この形式試験試料が適合しても,製造業者の全ての製品がこ

の安全規格に適合していることを保証するものではない。

製品の適合性は,製造業者の責任であり,形式試験のほかに日常試験及び品質保証を含んで

もよい。

5.2

試験は,その他に規定がない場合,

10  ℃~30  ℃の周囲温度で実施する。

5.3

形式試験は,その他に規定がない場合,形式試験の目的のために提出された

1 個又は複数の品目

からなる一つの試料で実施する。

一般に,全ての試験は,それぞれの形式のランプ制御装置に対して実施するか,一連の同様なランプ制

御装置を含む場合は,製造業者の同意を得てその範囲の中の各ワット数のもの,又はその範囲から代表を


11

C 8147-1:2017

選んで実施する。

JIS C 61558-1:2012 の 14.3 又は 15.5 の試験をする場合,試験は新たな 3 個の試験試料を用いて行う。こ

れらの試料は,このそれぞれの試験だけに用いる。

5.4

試験は,JIS C 8147-2 の規格群に規定がない場合,この規格に規定する順番で実施する。

5.5

温度上昇試験では,厚さ

15 mm~20 mm の 3 枚のつや消し黒色塗装した木製又は木繊維板を部屋の

二つの壁及び天井に模した試験コーナーの中に,独立形ランプ制御装置を取り付ける。ランプ制御装置は,

壁にできる限り近い天井に固定し,天井は,ランプ制御装置の壁側以外の端部から

250 mm 以上離れてい

なければならない。

5.6

電池を用いて動作することを意図している直流電源安定器では,電源インピーダンスが電池のもの

と同等である場合,電池以外の直流電源を代わりに用いてもよい。

注記

  適切な定格電圧で 50  μF 以上の静電容量をもつ無誘導性コンデンサを,試験中のユニットの電

源端子の両端に接続している場合,通常,電池のものと同等の電源インピーダンスをもってい

る。

5.7

この規格の要求事項に対してランプ制御装置を試験する場合,新しい試験試料を以前の試験報告書

とともに提出することで,以前の試験報告書をこの規格に従って更新してもよい。

一般的には,全ての形式試験は必要としない。製品と以前の試験結果とは,附属書 に“R”と表記し

た修正箇条だけ,見直す。

分類 

ランプ制御装置は,取付方法によって次のように分類する。

  器具内用

  独立形

  器具一体形

表示 

7.1 

表示する項目 

JIS C 8147-2 の規格群には,次の項目のいずれかを,必須の表示として表示するか,情報としてランプ

制御装置本体又は製造業者のカタログ若しくは類似の資料に表示するかを,規定している。

器具内用に分類されるが,外郭をもたないランプ制御装置(例えば,基板が露出した構造)は,a)b)

及び JIS C 8147-2 の規格群による他の必須表示について,情報としてランプ制御装置の本体又はカタログ

若しくは類似の資料に表示する。

a)

供給者の名称等(登録商標,製造業者名又は責任のある販売業者名若しくは納入業者名)。

b)  製造業者の形式番号又は形式名。

c)

独立形ランプ制御装置の記号

      (該当する場合)。

d)  ランプ制御装置のヒューズなどの交換部品と互換部品との相関関係は,ランプ制御装置上の凡例によ

って表示するか,又はヒューズは除いて,製造業者のカタログに記載してもよい。

e)

定格入力電圧(複数の電圧がある場合,それぞれの電圧),電圧範囲,電源周波数,入力電流及び定格

入力電力。

注記 1  定格入力電力は,製造業者の資料に記載してもよい。

f)

接地用端子がある場合,記号    又は

によって識別しなければならない。これらの記号は,ねじ


12

C 8147-1:2017

又はその他の容易に取り外せる部品には表示しない。ランプ制御装置が接地用記号を備え,接地接続

なしでの使用について製造業者の取扱説明書に記載しなければならない。

注記 2  記号の用い方は,IEC 60417 参照。

g)

記号

t

w

の後に,巻線の定格最高使用温度の宣言値。値は,

5  ℃の倍数で表記する。

h)  ランプ制御装置が,充電部との偶発的な接触から保護するために,照明器具の外郭に依存しない場合

は,照明器具の外郭に依存しないことを表示する。

i)

端子がある場合,適合する電線の断面積又は導体径。

表記:断面積で表す場合には,該当する値の平方ミリメートル(

mm

2

)の後に,小さな四角□を付け

る。導体径で表す場合には,関連する導体の導体径のミリメートル(

mm)の値の前に,φを付ける。

j)

ランプ制御装置に適したランプ形式及び定格電力若しくは電力範囲,又はランプ制御装置が設計の対

象とするランプ形式についてのランプデータシート上の名称。ランプ制御装置が複数のランプを点灯

することを意図している場合には,ランプの数及び各ランプの定格電力を表示する。

注記 3  JIS C 8147-2-2 に規定するランプ制御装置では,製造業者の印刷物にその他の規定がない

場合,表示した電力範囲は,範囲内の定格を全て含むことを前提としている。

k)  端子の位置及び目的を示す配線図。端子のないランプ制御装置の場合には,結線に用いる電線の記号

の意味を配線図に明確に記載する。特定回路だけで動作するランプ制御装置は,例えば,表示,配線

図などによって記載する。

l)

t

c

の値。これがランプ制御装置の特定の位置に関係する場合には,この位置を明示するか,又は製造

業者のカタログに記載する。

m)  動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置の記号    (附属書 参照)

。この三角形の中

の点は,製造業者が指定する定格最高ケース温度(単位は℃)の値に置き換えることとし,その値は,

10 の倍数で表記する。

n)  ランプ制御装置に追加で要求する放熱手段。

o)

照明器具設計の情報として,制御装置を照明器具に内蔵する場合の異常状態における巻線の限界温度。

注記 4  異常状態となり得ない回路に用いるランプ制御装置,又はランプ制御装置が JIS C 8105-1

の附属書 C(異常回路状態)の異常回路状態になることを防止するために用いる始動装置

とランプ制御装置との組合せだけの場合には,異常回路状態を示す巻線温度の表示は,不

要である。

p)  製造業者の選択によって,30 日を超える期間にわたり試験するランプ制御装置の熱耐久性試験の試験

期間は,記号

及びその後に,60 日間,90 日間,120 日間などの 10 日間隔の適切な日数を t

w

の表示

の直後に括弧に入れて表示することができる。例えば,“

D6”は,試験期間が 60 日間の制御装置であ

る。

注記 5  標準的な 30 日間の熱耐久性試験では,表示する必要はない。

q)  製造業者が宣言する 4 500 以外の定数 のランプ制御装置では,記号 の表示とともに,1 000 単位の

適切な値を表示する。例えば,

が 6 000 の値であれば,“S6”となる。

注記 6  の望ましい値は,4 500,5 000,6 000,8 000,11 000 及び 16 000 である。

r)

定格無負荷出力電圧。ただし,変圧式のものに限る。

s) SELV 制御装置である場合は,その図記号を記載する(表 L.1 参照)

t)

ランプ収納部の接続のために使用する独立形制御装置の接地端子がある場合は,記号      で表示す

る。この記号は,ねじ又はその他の容易に取り外せる部品には表記してはならない。ランプ収納部の


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C 8147-1:2017

接続に使用する独立形制御装置の接地端子の記号サイズは,文字を含めて全体で

5 mm 以上とする。

u)  最大動作電圧 U

out

(実効値)。最大動作電圧

U

out

(実効値)は,出力端子間及び該当の出力端子と接地

との間の動作電圧に対し,表 に示す電圧ステップで記載する。

最も大きい最大動作電圧

U

out

(実効値)を“出力動作電圧=

…V”又は“U-OUT=…V”又は“U

out

…V”

として制御装置に表示しなければならない。

注記 7  JIS C 61558-1:2012 で定義される SELV 回路を備えた端子に適用しない。

表 5-動作電圧及び U

out

ステップ 

動作電圧

50 V

500 V

500 V

U

out

 1

V 刻み 10

V 刻み 50

V 刻み

uA)  定格二次電圧。

uB)  定格二次短絡電流又は定格二次電流のいずれか大きい値。

uC)  t

a

の記号の後に,定格最高周囲温度の宣言値。値は,

5  ℃の倍数とする。

7.2 

表示の耐久性及び判読性 

表示は耐久性があり,かつ,判読できなければならない。

表示の適合性は,次の両方の検査又は試験を行い,その結果で,判定する。

a)

目視検査を行う。

b)  2 枚の布の一方を水に浸し,残りの布を石油系溶剤に浸す。その浸したそれぞれの布で試料の表示を,

15 秒間ずつ軽くこする。

試験後,表示は判読できなければならない。

注記

  使用する石油系溶剤は,芳香族成分が容積分率 0.1 %以下,カウリブタノール価 29,初期沸点

65  ℃,蒸発温度約 69  ℃で,密度が約 0.68 g/cm

3

のへキサン系溶剤が望ましい。

端子 

ねじ端子は,JIS C 8105-1 の第 14 章(ねじ締め式端子)に適合しなければならない。

ねじなし端子は,JIS C 8105-1 の第 15 章(ねじなし端子及び電気接続)に適合しなければならない。

接地 

9.1 

保護接地[記号:IEC 60417-5019(2006-08)]

接地用端子は,箇条 の要求事項に適合しなければならない。電気的接続及び締付け手段は,緩まない

ように適切に固定でき,かつ,工具を用いないで手で電気的接続及び締付け手段が緩んではならない。ね

じなし端子は,意図せず締付け手段及び電気的接続が緩んではならない。

接地用端子の全ての部品は,接地導体又はそれらと接触する金属から生じる電食の危険性を最小限にし

なければならない。

ねじ又はその他の接地用端子の部品は,黄銅若しくはこれと同等以上の耐食性をもつ金属,又はさびな

い表面をもつ材料で,接触する表面のうちの一つ以上は,金属面が露出していなければならない。

適合性は,JIS C 8105-1 の 7.2.3 による。

9.2 

機能接地[記号:IEC 60417-5018(2011-07)]

機能接地端子は,箇条 及び 9.1 の要求事項による。ランプ制御装置の機能接地の接触子(電位)は充


14

C 8147-1:2017

電部から二重絶縁又は強化絶縁で絶縁しなければならない。

9.3 

プリント基板上の導体パターンで構成する保護接地用導体付きランプ制御装置 

器具内用,独立形又は器具一体形制御装置において,プリント基板上の導体パターンを内部保護接地と

して使用する場合には,次によって試験する。

a) 25

A の交流電流を,接地用端子又はプリント基板上の導体パターンを経由した接地接点と,人の触れ

るおそれのある各金属部品との間に,順に

1 分間通電する。

b)  試験後,

制御装置を周囲温度まで冷やし,JIS C 8105-1 の 7.2.3 の要求事項に適合しなければならない。

9.4 

器具内用ランプ制御装置の接地 

照明器具の接地した金属にランプ制御装置を固定することで,器具内用ランプ制御装置の接地ができる。

JIS C 8105-1 の 7.2(保護接地)に従って判定しなければならない。ランプ制御装置に接地用端子がある場

合,その端子は,器具内用ランプ制御装置を接地するためだけに用いる。器具内用ランプ制御装置を介し

て,照明器具又は他の設備(機器)を接地してはならない。

9.5 

独立形ランプ制御装置を経由した接地 

9.5.1 

他の設備への接地接続 

独立形ランプ制御装置は,

施工時に,他の設備への接地接続を許容する接地端子を具備する場合がある。

貫通配線又は送り配線の導体は,断面積が

1.5 mm

2

以上の銅又は等価の導電材料を使用する。照明器具の

保護接地する線は,JIS C 8105-1 の 5.3.1.1 及び第 章(保護接地)による。送り配線及び貫通配線の断面

積は

1.5 mm

2

以上必要である。適合性は検査及び測定によって判定する。

9.5.1A

独立形ランプ制御装置は,定格入力電圧及び定格二次電圧が

150 V 以下で,屋内の乾燥した場所

で使用するものを除き,安定器の外郭の表面又はその他の適切な場所に,接地用端子又は接地用の口出し

線を取り付ける。

9.5.1B

接地用端子は,呼び径が

4 mm 以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子であって,直径が

2 mm 以上の電線を確実に取り付けることができる,ねじ端子又は同等の導体を取り付けることができる

ものとする。定格二次電圧が

600 V を超え,かつ,定格二次短絡電流が 1 A を超えるものに取り付ける接

地用端子には,

5 mm 以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子であって,直径が 2.6 mm 以上の電線

を確実に取り付けることができる,ねじ端子又は同等の導体を取り付けることができるものとする。

押し締めねじ形の接地用端子には,呼び径が

3.5 mm 以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子でな

ければならない。ただし,器具内用,独立形(屋内使用に限る)には,速結端子を用いることができる。

9.5.1C

接地用口出し線については,口出し線の種類及び断面積を除き,JA.3 に適合しなければならない。

また,口出し線の種類及び断面積は,次のいずれか又は同等以上とする。

a)

直径が

1.6 mm の軟銅線又はこれと同等以上の強さ及び太さをもつ容易に腐食し難い金属線。

b)  断面積が 1.25 mm

2

以上の単心コード又は単心キャブタイヤケーブル。

c)

断面積が

0.75 mm

2

以上の

2 心コードであって,その 2 本の導体を両端でより合わせ,かつ,ろう付け

又は圧着したもの。

d)  断面積が 0.75 mm

2

以上の多心コード(より合わせコードを除く。

)又は多心キャブタイヤケーブルの

線心の

1 心。

9.5.2 

独立形ランプ制御装置によって電力供給されたランプ収納部の接地 

独立形ランプ制御装置は,この制御装置によって電力が供給されるランプ収納部の接地を許容する接地

端子を具備する場合がある。このような場合,制御装置の接地端子の入出力間の接地経路は,次の試験に


15

C 8147-1:2017

耐えなければならない。

25 A の交流電流を,接地用端子又は接地点(プリント基板上の導体パターンを保護接地として使用する

場合)と,人の触れるおそれのある各金属部品との間に,順に

1 分間通電する。

試験の後,制御装置を周囲温度まで冷やし,

12 V を超えない無負荷電圧を備えた電源から,10 A 以上の

電流を,接地用端子又は接地点(プリント基板上の導体パターンを保護接地として使用する場合)と,人

の触れるおそれのある各金属部品との間に,順に流す。

接地用端子又は接地点と人の触れるおそれのある各金属部品との間の電圧降下を,測定する。その電流

及び電圧降下から求めた抵抗値は,

0.5 Ω 以下とする。

7.1 t)  に記載するように,ランプ収納部への接地端子が表示されなければならない。

10  充電部との偶発接触からの保護 

10.1  電撃からの保護を照明器具の外郭に依存しないランプ制御装置は,通常の使用状態で設置したとき,

充電部(附属書 参照)との偶発接触に対して十分に保護しなければならない。

照明器具の外郭に保護を依存する器具一体形ランプ制御装置は,その意図した用途に従って試験する。

ラッカー又はエナメルは,この要求事項に対して適切な保護又は絶縁性をもつものとはみなさない。

偶発接触に対する保護のための部品は,機械的強度が十分であり,通常の使用状態で緩みが生じてはな

らない。また,工具を用いないで取り外すことができてはならない。

適合性は,目視及び手による試験によって,また,偶発接触に対する保護に関しては,接触を検出する

ために電気指示器を用いた JIS C 0920 の付図 に示すテストフィンガによって,判定する。このテストフ

ィンガは,考えられる全ての位置に当てて,必要がある場合,

10 N の力を加える。

接触の検出をするためにランプを用いる場合は,電圧は

40 V 以上にすることが望ましい。

10.2  合計静電容量が 0.5  μF を超えるコンデンサを組み込んだランプ制御装置は,定格電圧の電源からラ

ンプ制御装置を遮断し,

1 分間以内にランプ制御装置の端子間の電圧が 50 V 以下となる構造にしなければ

ならない。

10.3 SELV 制御装置の可触導電部は,少なくとも二重絶縁又は強化絶縁で充電部から電気的に分離しなけ

ればならない。出力回路ときょう(筐)体又は保護接地回路とは,接続してはならない。また,その構造

は,その他の導電部を通じて直接又は間接的にこれらの回路間に接続の可能性がないようにしなければな

らない。ただし,意図的に接続するものは除く(10.4 参照)。

SELV 出力回路は,少なくとも基礎絶縁によって接地から電気的に分離しなければならない。

“回路”という用語には,制御装置の内部変圧器(高周波など)の巻線も含む。

特別低電圧(

ELV)制御装置では,導電部は充電部とみなすので,絶縁しなければならない。

適合性は,目視検査,該当する絶縁試験及び測定によって確認する。

その他は,附属書 による。

10.4 SELV 制御装置は,負荷時定格出力電圧が実効値 25 V,又はリップルのない直流電圧 60 V を超えな

い場合,

SELV 回路には可触導電部があってもよい。また,電圧が実効値 25 V 又はリップルのない直流電

60 V を超える場合は,接触電流は,次の値を超えてはならない。

  交流の場合,0.7 mA(ピーク値)

  直流の場合,2.0 mA

  無負荷出力は,交流電圧ピーク値 35 V 又はリップルのない直流電圧 60 V を超えない。

注記

  上限値は,IEC 60364-4-41 に基づいている。


16

C 8147-1:2017

適合性は,制御装置に定格電源電圧及び定格周波数を入力して,安定状態に達してから,出力電圧を測

定することによって確認する。制御装置の負荷時試験は,定格出力電圧で定格出力電流又は定格出力電力

を与える抵抗器を接続する。複数の電源電圧をもつ制御装置の要求事項は,定格電源電圧の各々に適用す

る。

接触電流は,JIS C 8105-1 の附属書 G(接触電流及び保護導体電流の測定)による測定によって確認す

る。

上記の値を超える定格出力電圧又は電流をもつ

SELV 制御装置については,SELV 回路の導電部の一つ

以上は,実効値

500 V の試験電圧に 1 分間耐えられる絶縁体で絶縁しなければならない。

同じ定格値(抵抗又は容量)の二つ以上の個別部品で構成し,それぞれの定格が合計の動作電圧に対応

し,また,そのインピーダンスが制御装置の個別の寿命期間中で大きく変化しない場合,抵抗器又は

Y2

コンデンサで二重絶縁又は強化絶縁によって分離された可触導電部[例えば,充電部及びきょう(筐)体

又は一次及び二次回路など]をブリッジ(導電ブリッジ)してもよい。さらに,充電部から二重絶縁又は

強化絶縁によって分離された可触導電部は,単一の

Y1 コンデンサでブリッジしてもよい。

Y1 又は Y2 コンデンサは,JIS C 5101-14 の表 2(クラス Y のコンデンサの分類)及び表 3(サンプリン

グ計画  安全性を要求する試験)に適合し,また,抵抗器を使用する場合,抵抗器は,JIS C 6065:2013 の

14.1(抵抗器)の試験 a)の要求事項に適合しなければならない。

11  耐湿性及び絶縁性 

ランプ制御装置は,次の試験を満足する耐湿性をもっていなければならない。次の試験を行った後,使

用上問題となる損傷があってはならない。ランプ制御装置は,相対湿度

91 %~95 %に保った加湿容器内に,

通常の使用で最も好ましくない位置に置く。試料を設置する全ての場所の温度は,

20  ℃~30  ℃の任意の

の 1  ℃以内に保たなければならない。加湿容器に入れる前に,試料は と(t+4)℃との間の温度に

保つ。試料は,

48 時間容器内に保管する。

注記

  多くの場合,試料は耐湿試験の前に,4 時間以上 と(t+4)℃との間の温度の室内に保管する

ことによって,

と(t+4)℃との間の規定温度になる。

この容器内を規定した状態にするために,一般に,熱的に遮断した容器を用い,内部空気の

一定循環を確実にする必要がある。

充電部ときょう(筐)体との間の絶縁抵抗は,基礎絶縁の場合は

2 MΩ 以上,強化絶縁の場合は 4 MΩ

以上とする。一次回路と二次回路との間の絶縁について,

SELV 制御装置では,他の値を用いる(附属書 L

参照)。

次の箇所では,十分絶縁していなければならない。

a)

充電部と,固定ねじ又は外部絶縁部と接触している金属はく(箔)を含む外部金属との間

b)  充電部と関連する制御端子との間

一つ以上の出力端末と接地用端子との間で,内部接続部又は部品をもつランプ制御装置の場合,この接

続は試験中に外さなければならない。

試験では,入出力端子は全て接合する。絶縁カバー又は覆いをもっている制御装置は,金属はく(箔)

で包まなければならない。

12  耐電圧 

ランプ制御装置は,十分な耐電圧をもたなければならない。


17

C 8147-1:2017

絶縁抵抗の測定の直後に,

箇条 11 に規定する部品間に 1 分間の耐電圧試験を適用し,ランプ制御装置は,

それに耐えなければならない。

試験電圧は,

50 Hz 又は 60 Hz の実質的に正弦波で,表 に規定する値でなければならない。

初めは規定する電圧の半分以下を印加し,それから,その電圧は急速に規定する値まで上げる。

表 1-耐電圧試験電圧 

動作電圧

U

試験電圧

V

SELV の電圧のための基礎絶縁 500 
50 V 以下 500 
50 V を超え 1 000 V 以下

基礎絶縁

2U+1 000

付加絶縁

2U+1 000

二重絶縁又は強化絶縁

4U+2 000

強化絶縁及び二重絶縁の両方を用いる場合,強化絶縁に適用する試験電圧は,基礎絶

縁又は付加絶縁に過剰ストレスを加えないよう,注意する必要がある。

入出力間の絶縁にかかわらず制御装置を試験する場合,入力側は,供給電圧に一致す

る試験電圧で試験する。また,出力側は,

U

out

に一致する試験電圧で試験する。

二重又は強化絶縁のために使用する固体絶縁又は薄板絶縁については,附属書 を適用する。

試験中に,フラッシオーバ又は絶縁破壊が発生してはならない。

試験に用いる高圧変圧器は,出力電圧を適切な試験電圧に設定した後,出力端子を短絡したとき,その

出力電流が

200 mA 以上となるように,設計する。

過電流リレーは,出力電流が

100 mA 未満の場合に,トリップしてはならない。

印加する試験電圧の実効値は,±

3 %以内とする。

箇条 11 に規定する金属はく(箔)は,絶縁体の縁でフラッシオーバが起きないように,配置する。

電圧降下なしのグロー放電は,無視する。

13  安定器巻線の熱耐久性試験 

安定器巻線は,十分な熱耐久性をもっていなければならない。

適合性は,次の試験で判定する。

注記 1 SELV を備える制御装置に用いられる巻線は,JIS C 61558-1:2012 の附属書 を参照。

この試験の目的は,安定器に表示した定格最高使用温度

t

w

の正当性を確認することである。この試験は,

他の試験をしていない新しい

7 台の安定器で実施する。これらは,これ以降の試験に用いてはならない。

この試験は,照明器具に一体化し,照明器具から分離して試験できない安定器にも適用する。このため,

器具一体形安定器にも

t

w

値を表示する。

試験の前に,各安定器は通常に始動及び動作させ,ランプ電流は,通常の動作状態及び定格電圧で測定

する。熱耐久性試験の詳細を,次に規定する。温度条件は,製造業者が指定した目標試験期間に調整しな

ければならない。指定がない場合,試験期間は,

30 日間とする。

試験は,適切な恒温槽の中で行う。

安定器は,通常の使用時と同様に,電気的に機能しなければならない。試験対象でないコンデンサ,部

品又はその他補助部品を取り外し,恒温槽の外部で,回路に再度接続する。巻線の動作状態に影響しない

他の部品は,外してよい。

注記 2  コンデンサ,部品又は他の補助部品を取り外す必要がある場合,製造業者がこれらの部品を


18

C 8147-1:2017

外し,その他あらゆる必要な追加接続部品を安定器から取り除いた特別な安定器を供給する

ことが望ましい。

一般に,通常の動作状態を得るために,その安定器は適合するランプで試験する。

安定器の容器が金属の場合,容器を接地する。ランプは,常に恒温槽の外に設置する。

単一のインピーダンス(例えば,スイッチスタート式チョークコイル式安定器)の場合,その安定器は,

ランプ又は抵抗を用いず,定格入力電圧時のランプの電流と同じ値に調節した電流値で試験を行う。

安定器は,ランプ制御装置の巻線と接地との電圧ストレスがランプを用いた場合と同じであるように電

源を接続する。

7 台の安定器を恒温槽内に配置し,各回路に定格電源電圧を印加する。

恒温槽の内部温度によって,各安定器の中の最も高い巻線温度が,表 に規定する理論値とほぼ等しく

なるように恒温槽のサーモスタットを調整する。

30 日間を超える試験期間を適用する安定器では,理論的試験温度は,この箇条の注記 での説明のよう

に,式

(2)によって求める。

巻線温度が安定し始めた後に,巻線の実際の温度を抵抗法で決定する。必要がある場合,恒温槽のサー

モスタットは,目標試験温度にできるだけ近づくよう再調整する。その後,恒温槽内の温度を毎日読み,

サーモスタットが正しい値の±

2  ℃以内に保っているかを確かめる。

巻線温度は,

24 時間後に再度測定し,それぞれのランプ制御装置の最終試験期間は,式(2)によって決め

る。図 は,これをグラフで表したものである。試験中の安定器の実測最高巻線温度と理論値との間の許

容差は,その最終試験期間が目標と同等以上かつ

2 倍以下でなければならない。

注記

  これらの曲線は,参考として,4 500 の定数 を用いた式(2)を説明したものである(附属書 参照)。

図 1-巻線温度と熱耐久性試験期間との関係 


19

C 8147-1:2017

表 2-熱耐久性試験期間 30 日を要する安定器に対する理論的試験温度 

単位  ℃

定格最高
使用温度

t

w

定数

S

S4.5

S5

S6

S8

S11

S16

90 163 155 142 128 117 108 
95 171 162 149 134 123 113

100 178 169 156 140 128 119 
105 185 176 162 146 134 125

110 193 183 169 152 140 130 
115 200 190 175 159 146 136

120 207 197 182 165 152 141 
125 215 204 189 171 157 147 
130 222 211 196 177 163 152 
135 230 219 202 184 169 158 
140 238 226 209 190 175 163 
145 245 233 216 196 181 169 
150 253 241 223 202 187 175

注記

  安定器上に表示してない場合,S4.5 欄に規定する理論的試験温度を適用する。

S4.5 以外の定数を用いる場合は,附属書 に従って立証することが望ましい。

注記 3  抵抗法による巻線温度の測定では,式(1)を適用する。

(

)

234.5

234.5

1

1

2

2

+

=

t

R

R

t

  (1)

ここに,

t

1

: 初期温度(℃)

t

2

: 最終温度(℃)

R

1

: 温度

t

1

での抵抗値

R

2

: 温度

t

2

での抵抗値

234.5: 銅巻線に適用する定数(アルミニウムの場合は,229)

24 時間後の測定後に,巻線温度を一定に保とうとして条件を変えてはならない。サーモスタット制御で

は,周囲温度だけを安定化させる。

各安定器の試験期間は,安定器を電源に接続したときから始まる。この試験の終了時に,関連する安定

器は電源から外すが,その他の安定器の試験が完了するまで恒温槽から取り出さない。

注記 4  図 に示す理論的試験温度は,定格最高使用温度 t

w

での

10 年連続使用の寿命に相当する。

それらは,式

(2)によって求める。





+

=

w

0

1

1

log

log

T

T

S

L

L

  (2)

ここに,

L: 目標の熱耐久性試験日数(30 日,60 日,90 日,120 日など)

L

0

3 652 日(10 年)

T: 絶対温度による理論的試験温度(t+273)

T

w

: 絶対温度による定格最高使用温度(

t

w

273)

S: ランプ制御装置の設計及び用いる巻線絶縁体で決まる定数

試験後,安定器は,室温に戻ったとき,次の要求事項を満たさなければならない。

a)

定格電圧では,安定器は同一ランプを始動でき,ランプ電流は試験前に測定した値の

115 %以下とす

る。


20

C 8147-1:2017

注記 5  この試験は,出力特性に何らかの悪い変化がないかを判定するためのものである。

したがって,試験前及び試験後のランプ電流測定に用いるランプは,特性試験だけに用い

る。

b)  約 500 V の直流電圧で測定した巻線と安定器のケースとの間の絶縁抵抗は,1 MΩ 以上とする。

14  故障状態 

14.0  ランプ制御装置は,故障状態の下で動作させたときに,炎若しくは溶融物質の放出又は可燃性ガス

の発生がないように設計する。10.1 に規定する偶発接触に対する保護が損なわれてはならない。

故障状態での動作とは,14.114.4 に規定する条件の各々を順次適用することを意味する。これと関連

して,一度に

1 個の部品だけが故障状態になるという条件の下で,理論的に予測することができるその他

の故障状態を意味する。

製造業者が保護接地記号を記したランプ制御装置に関して,仕様書にて接地接続なしでの使用を許可す

る場合は,故障状態での動作は接地接続あり,及び接地接続なしの両方で試験する。

製造業者が機能接地記号を記したランプ制御装置に関して,仕様書にて機能接地接続なしでの使用を許

可する場合は,故障状態での動作は接地接続あり,及び接地接続なしの両方で試験する。

通常,供試装置及び回路図を検討すれば,適用することが望ましい故障状態が分かる。故障状態の試験

は,最も都合のよい順序で適用する。

全体が覆われたランプ制御装置又は部品は,試験のため又は内部の故障状態を適用するために開けては

ならない。ただし,回路図を検討して疑わしい場合には,出力端子を短絡するか,又は製造業者の同意を

得て,製造業者が特別に準備したランプ制御装置で試験する。

関連する表面に自己硬化形充塡剤が充塡され,空間距離が存在しないランプ制御装置は,全体が覆われ

たランプ制御装置又は部品とみなす。

製造業者の仕様によって,短絡が発生しない部品又は短絡を無視できる部品は,短絡しない。

製造業者の仕様書によって,開路することがない部品は,開放しない。

JIS C 5101-14 に適合する主電源に直接接続した X1 又は X2 のフィルタ用コンデンサは,試験する必要

はない。

製造業者は,例えば,関連規格に適合していることを明らかにすることなどによって,部品の予測動作

を明示しなければならない。

関連規格に適合しないコンデンサ,抵抗器又はインダクタは,短絡するか又は開放するかのいずれかよ

り好ましくない状態で試験する。

    を表示したランプ制御装置は,ランプ制御装置の外郭温度がいずれの箇所においても表示した温度

を超えてはならない。

注記

  記号の表示がないランプ制御装置及びフィルタコイルがある場合,JIS C 8105-1 に従って,照

明器具とともに検査する。

14.1  沿面距離及び空間距離が,14.114.4 において許容する低減措置を考慮に入れた上で,箇条 16 に規

定する値未満の場合は,その部分を短絡する。

箇条 16 に規定する値未満の沿面距離及び空間距離は,充電部と人が接触するおそれがある各金属部分と

の間であってはならない。

IEC 61189-2 の引抜強度及び剝離強度の要求事項に適合するプリント基板上で,電源からのサージエネ

ルギーから保護した導体間(例えば,チョーク巻線又はコンデンサによって)では,沿面距離の要求事項


21

C 8147-1:2017

を修正する。表 の距離は,式(3)から値を求める。ただし,0.5 mm 以上



=

300

ˆ

log

0.78

log

V

d

   (3)

ここに,

d: 最小沿面距離(mm)

Vˆ

: 動作電圧のピーク値(V)

これらの距離は,図 を参照して決定することができる。

注記 1  プリント基板上のラッカーなどの被覆は,距離を求める場合には無視する。

プリント基板上の沿面距離は,JIS C 60664-3 に適合するコーティングをしてある場合は,上記の値より

も小さくてもよい。この規定は,充電部と人が接触するおそれがある金属部分に接続した部分との沿面距

離にも適用する。JIS C 60664-3 の関連項目に従って試験する場合,要求事項に適合しなければならない。

図 2-直接電源に電気的に接続していないプリント配線板の導体間の沿面距離 

14.2  半導体素子両端の短絡又は開放

一度に

1 個の部品だけを短絡(又は開放)する。


22

C 8147-1:2017

14.3  ラッカー,エナメル又は繊維被覆で構成する絶縁物の短絡

このような被覆は,表 に規定する沿面距離及び空間距離を評価するときには無視する。ただし,エナ

メルが電線の絶縁体を形成して,JIS C 3215-0-1 の箇条 13(絶縁破壊)に規定する電圧試験に耐える場合

には,沿面距離及び空間距離に対して

1 mm を付加するものとみなす。

この細分箇条は,コイルのターン間,絶縁スリーブ又はチューブの間の絶縁を短絡する必要性を意味す

るものではない。

14.4  電解コンデンサ端子間の短絡

14.5  14.114.4 の適合性は,14.6 に示す試験手順で,ランプを接続し,ランプ制御装置の外郭温度を定格

最高温度

t

c

にして,定格入力電圧を加えてランプ制御装置を動作させて判定する。そして,14.114.4 

規定する故障状態を,順次適用する。

注記 1  この細分箇条の目的は,試験電圧がランプ制御装置の供給電圧範囲内,又は単一の定格入力

電圧の場合はその±

5 %の,いずれかの値とすることである。これは,この試験で高い入力

電流容量を要求することを認めている。

試験は,安定状態になるまで継続し,ランプ制御装置の外郭温度を測定する。

注記 2  試験中,抵抗器,コンデンサ,半導体ヒューズなどの部品が故障する場合がある。試験を継

続するために,このような部品を交換してもよい。

一括した入出力端子間と,全ての露出した金属部分及び関連する制御端子との間の絶縁は適切でなけれ

ばならない。絶縁カバー又は覆いをもっている制御装置は,金属はく(箔)で包まなければならない。

試験後に,ランプ制御装置が周囲温度に戻ったとき,約

500 V の直流電圧で測定した絶縁抵抗は,1 MΩ

以上でなければならない。

部品から出るガスが可燃性であるかどうかを確認するためには,高周波火花発生器を用いて試験を行う。

接触するおそれのある部品が充電部であるか確認するために,附属書 に従って試験を実施する。

発生した炎又は溶融物質の放出が安全であるかどうかを確認するために,JIS P 0001 の 6228 に規定する

1 枚の包装用ティシュで試験片を包んだとき,包装用ティシュが着火してはならない。

14.6  試験対象のランプ制御装置を,160 A

0

10

+

  %の短絡電流を供給できる大電力交流電源に,図 に示す

ように接続し,関連する故障状態を適用する。


23

C 8147-1:2017

 

U

N

:電源電圧

 DUT:供試品 

R:電源配線又は電流調整用の抵抗器

T:分流器

X1,X2,X3 及び X4:配線接続又は抵抗接続用の端子 

A 及び B:短絡用端子及びランプ制御装置接続用の端子

 C.P.:電流プローブ

図 3-制御装置の試験回路 

試験は,次の手順で行う。

a)

端子

A 及び端子 B を短絡し,X1-X2 間及び X3-X4 間の配線及び抵抗器で,電流値を 160 A

0

10

+

  %に調

整する。

b)  短絡を解除し,端子 A 及び端子 B にランプ制御装置を接続する。

c)

ランプ制御装置の試験を行う。

15  構造 

15.1  木,綿,絹,紙及び同様な繊維質材料 

木,綿,絹,紙及び同様な繊維質材料は,含浸していない場合,絶縁物として用いてはならない。

適合性は,目視検査によって判定する。

15.2  プリント配線板 

プリント配線板は,内部接続として許容する。

適合性は,箇条 14 を参照して判定する。

15.3 SELV 又は ELV で使用するプラグ及びコンセント(outlet 

SELV 又は ELV のコンセント(outlet)を具備する制御装置の出力回路については,設置基準,電圧及び

周波数に関連して入力回路として使用するコンセントとそのコンセントに直接接続するプラグとの互換性

は,危険のないようにしなければならない。

SELV のプラグ及びコンセント差込口は,IEC 60906-3 及び IEC 

60884-2-4 の要求事項に適合しなければならない。

ただし,

72 W を超えない定格電流 3 A,最大交流電圧 25 V 又は直流電圧 60 V 以下の SELV のプラグ及

びコンセントは次の要求事項を満足する場合,許容する。


24

C 8147-1:2017

  プラグは,その他の規格で規定するコンセント差込口に差し込むことができてはならない。

  コンセントは,その他の規格で規定する電圧規格のプラグを差し込むことができてはならない。

  コンセントは,保護接地をもってはならない。

IEC 60906-3 は,6 V,12 V,24 V 又は 48 V の出力電圧の制御装置を規定している。中間の出力電圧の

制御装置は,最も近い高い側の電圧に耐えることができなければならない。

16  沿面距離及び空間距離 

沿面距離及び空間距離は,特に箇条 14 に規定する場合を除き,表 及び表 に規定する値以上でなけれ

ばならない。また,

SELV 制御装置は,L.11 が適用する。

1 mm 未満の溝の沿面距離は,その幅とする。

1 mm 未満の空隙は,総空間距離の計算では無視する。

注記 1  沿面距離は,絶縁物の表面に沿って測定した空間での距離である。

安定器の巻線間の距離は,熱耐久性試験で調べるので,測定しない。これは,タップ間の距離にも適用

する。ただし,絶縁を要求する巻線間は除く。

金属製外郭に絶縁ライニング(裏打ち)がなく,充電部と外郭との間の沿面距離又は空間距離が,関連

する表に規定する値よりも小さい場合には,JIS C 8105-1 に従って,金属製外郭に絶縁ライニング(裏打

ち)を施さなければならない。

注記 2  開放形コアの安定器において,巻線の絶縁を形成し,JIS C 3215-0-1 の箇条 13(絶縁破壊)

のグレード

1 又はグレード 2 の電圧試験に耐えるエナメル又は同様の材料では,異なる巻線

のエナメル被覆巻線間又はエナメル被覆巻線からカバー若しくは鉄心までの距離は,表 

び表 に規定する値より 1 mm 少ない値を最小距離としてもよい。

ただし,これは沿面距離及び空間距離がエナメル層に加えて

2 mm を超える箇所にだけ適

用する。

部品を自己硬化形充塡剤で充塡し,絶縁が必要な各面の間に空隙が存在しないランプ制御装置は検査し

ない。

プリント配線板の基礎絶縁の距離は,箇条 14 に従って試験するので,この箇条の要求事項から除外する。

ただし,プリント配線板の二重絶縁又は強化絶縁を設けられているところでは,除外しない。

表 3-正弦波交流電圧(50/60 Hz)の場合の最小距離 

右記の電圧以下の動作電圧(実効値)

V

50 100 150 200 250 500 750 1

000

最小距離

mm

沿面距離

  基礎絶縁      PTI≧600

 PTI<600 

  付加絶縁      PTI≧600

 PTI<600 

  強化絶縁

0.6 
1.2

0.71

1.4

0.71

1.4

2.8

b)

0.8 
1.6 
0.8 
1.6 
3.2

a)

1.5 
2.0 
1.5 
2.0

4.0

a)

1.5 
2.5 
1.5 
2.5

5

a)





6





8

5.5

10

5.5

10

11

空間距離

  基礎絶縁

  付加絶縁

  強化絶縁

0.2

0.5 
0.5 
1.5

0.8 
0.8 
1.6

1.5 
1.5 
3

1.5 
1.5 
3



6



8

5.5 
5.5

11


25

C 8147-1:2017

表 3-正弦波交流電圧(50/60 Hz)の場合の最小距離(続き) 

注記 1 PTI(保証トラッキング指数)は,IEC 60112 に基づく。 
注記 2  トラッキングが起こり得ない場所の電圧が加わらない部分,又は接地を意図していない部分の沿面距離は,

PTI≧600 の材料に規定する値を全ての材料に適用する(実際の PTI に関係なく)。60 秒間未満の動作電圧
が印加される沿面距離については,

PTI≧600 の材料に規定する値を全ての材料に適用する。

注記 3  じんあい又は湿気で汚染されにくい箇所の沿面距離は,PTI≧600 の材料に規定する値を適用する(実際の

PTI に関係なく)。

注記 4  IEC 61347-2-1 に規定するランプ制御装置では,人が触れるおそれのある金属部は充電部に関して強固に設

置する。

注記 5  この箇条に規定する沿面距離及び空間距離は,IEC 60155 に規定する寸法に適合する IEC 61347-2-1 に規定

する装置には適用しない。このような場合には,その規格の要求事項を適用する。

注記 6  規定する電圧の中間の電圧の絶縁距離は,直線補間を適用する。 
注記 7  クラス 0 照明器具に組み込むことを意図した器具内用及び器具一体形ランプ制御装置,又はクラス 0 独立

形ランプ制御装置は,JIS C 8105-1 の 11.2(沿面距離及び空間距離)も配慮する。

a)

 PTI≧600 の絶縁材料では,この材料の基礎絶縁に対する値の 2 倍まで小さくできる。

b)

 PTI≧600 の絶縁材料では,1.5 mm まで低減できる。

表 4-非正弦波パルス電圧の場合の最小距離 

定格パルス電圧

ピーク

kV

2.0 2.5 3.0 4.0 5.0 6.0 8.0

10

12

15

20

25

30  40  50  60  80 100

最小空間距離

mm 1.0 1.5 2  3  4  5.5

8  11

14

18

25

33

40 60 75 90 130 170

正弦波電圧及び非正弦波パルス電圧がともに印加される場合,要求する最小距離は,表 又は表 に規

定する,いずれか大きい方の値以上でなければならない。

沿面距離は,要求する最小空間距離以上でなければならない。

17  ねじ,通電部及び接続部 

その故障によってランプ制御装置の安全性を損なうおそれがあるねじ,通電部及び機械的接続部は,通

常の使用で起こる機械的ストレスに耐えなければならない。

適合性は,JIS C 8105-1 の 4.11(電気的接続及び通電部)及び 4.12(ねじ,機械的接続及びグランド)

の検査及び試験によって判定する。

18  耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性 

18.1  充電部を規定の位置に保持する絶縁部品及び電撃保護用絶縁部品は,十分な耐熱性をもたなければ

ならない。

セラミック以外の材料の適合性は,JIS C 8105-1 の第 13 章(耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性)に

よるボールプレッシャ試験をその部品に対して行って判定する。

18.2  電撃保護のために用いる外部絶縁部品及び充電部を規定の位置に保持する絶縁材料部品は,十分な

耐炎性,耐着火性及び耐火性をもっていなければならない。

セラミック以外の材料の適合性は,18.3 又は 18.4 の試験によって判定する。

プリント基板は,18.3 又は 18.4 の試験は行わず,IEC 61189-2 の 8.7 及び IEC 61249-2 の規格群の関係す

る部分によって試験する。自己持続炎は,ガスの炎を除去した後

30 秒間以内に消滅しなければならない。


26

C 8147-1:2017

また,燃焼滴下物によって,JIS P 0001 の 6228 に規定する 1 枚の包装用ティシュに着火してはならない。

18.3  電撃保護のために用いる外部絶縁部品は,JIS C 60695-2-10 に従って,次の条件で 30 秒間グローワ

イヤ試験を実施する。

  試験試料は,1 個とする。

  試験試料は,完成したランプ制御装置とする。

  グローワイヤの先端温度は,650  ℃とする。

  グローワイヤを取り除いてから 30 秒間以内に,試験用試料のいかなる炎(自己持続炎)及び赤熱状態

も消滅しなければならない。また,燃焼滴下物によって,試験用試料の下方

200 mm±5 mm に水平に

広げた JIS P 0001 の 6228 に規定する 1 枚の包装用ティシュに着火してはならない。

18.4  充電部を規定の位置に保持する絶縁材料部品は,JIS C 60695-11-5 に従って次の条件でニードルフレ

ーム試験を実施する。

  試験試料は,1 個とする。

  試験試料は,完成したランプ制御装置とする。ランプ制御装置の部品を取り外して試験を行う必要が

ある場合には,試験条件が通常使用時の状態と大きく異ならないように留意する。

  試験炎を試験する表面の中心に当てる。

  試験炎を 10 秒間当てる。

  自己持続炎は,ガスの炎を除去した後,30 秒間以内に消滅しなければならない。また,燃焼滴下物に

よって,試験用試料の下方

200 mm±5 mm に水平に広げた JIS P 0001 の 6228 に規定する 1 枚の包装

用ティシュに着火してはならない。

18.5  普通形照明器具以外の照明器具に組み込むことを意図する器具内用ランプ制御装置,独立形ランプ

制御装置及びピーク値が

1 500 V よりも高い始動電圧を印加する絶縁体をもつランプ制御装置は,充電部

を固定している場合並びに充電部と接触する絶縁性部品を湿気及びじんあいにさらされることがないよう

保護している場合を除き,耐トラッキング性をもっていなければならない。

セラミック以外の材料の適合性は,JIS C 8105-1 の第 13 章(耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性)で

規定するトラッキング試験を,その部品に実施して判定する。

19  耐食性 

腐食することによって,ランプ制御装置の安全性を損なうおそれのある鋼鉄製部品は,腐食に対して適

切に保護していなければならない。ただし,外被によって機械的に十分保護した安定器の露出した鉄心は,

その表面にさびが生じても適切に保護されているものとみなす。

適合性は,JIS C 8105-1 の 4.18.1 による試験によって判定する。ワニスによる保護は,外部表面に対し

て適切であるとみなす。

20  無負荷出力電圧 

無負荷出力電圧は,無負荷出力電圧は,電源周波数で動作する,変圧器をもつ磁気回路式安定器だけに

適用する。

無負荷の状態で磁気回路式安定器に定格周波数の定格入力電圧を印加したとき,出力電圧は,定格無負

荷出力電圧の±

10 %以内とする。


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C 8147-1:2017

附属書 A

(規定)

導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験

A.1

導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるために,被測定装置(

DUT)を定格電圧及び

公称電源周波数で動作させる。A.2 又は A.3 に適合する場合,導電部は充電部でない。

A.2 及び A.3 による試験は,次の条件で行う。

 DUT の電源の 1 極は,接地電位でなければならない。

極性の明確でない

DUT の場合,両方の極性で試験する。

  関係する部分とあらゆる接触可能導電性部分の間,次に関係する部分と接地の間との測定を進める。

注記

  この附属書の目的は,人が触れたとき導体部が感電を起こすかを特定することである。使用す

る絶縁物の種類又は程度を要求するものではない。

A.2

電圧は,

50 kΩ の無誘導抵抗で構成する測定回路によって測定する。

電圧は,交流電圧ピーク値

35 V 以下,又はリプルのない直流電圧 60 V 以下でなければならない。

A.3 A.2 によって測定した電圧が許容値を上回る場合又は保護インピーダンスを使用する場合,接触電流

は次の値を上回ってはならない。

  交流:0.7 mA(ピーク値)

  直流:2.0 mA

適合性は,JIS C 8105-1 の図 G.2 の測定ネットワークを使用することによって判定する。


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C 8147-1:2017

附属書 B

(規定)

熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項

B.1 

一般事項 

熱的保護機能付きランプ制御装置の二つの異なる分類が,この附属書に含まれる。

第一の分類は,米国で用いられている“クラス

P”(B.9.2 による。)ランプ制御装置で,この規格では“保

護機能付きランプ制御装置”と呼んでいる。これは寿命末期の過熱に対し,照明器具の取付面を保護する

ことを含め,いかなる使用状態においてもランプ制御装置の過熱を防止することを意図する。

第二の分類は,“動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置”(B.9.3B.9.4 及び B.9.5 によ

る。)で,ランプ制御装置に表示した熱的保護手段の動作温度と照明器具との組合せによって,ランプ制御

装置の寿命末期の過熱に対して照明器具の取付面を保護する。

注記

  熱的保護機能付きランプ制御装置における第三の分類では,取付面の温度保護がランプ制御装

置以外の熱的保護手段によることを認めている。関連する要求事項は,JIS C 8105-1 による。

この附属書の各箇条は,本体の対応する箇条を補足している。この附属書に対応する箇条又は細分箇条

がない場合には,本体の箇条又は細分箇条を修正なしでそのまま適用する。

B.2 

適用範囲 

この附属書は,照明器具に組込むことを意図しているランプ制御装置のうち,ランプ制御装置のケース

温度が規定した限度値を超える前に,ランプ制御装置への電源を遮断することを意図する熱的保護手段を

組み込んだ放電ランプ用ランプ制御装置に適用する。

B.3 

用語及び定義 

B.3.1 

“クラス P”熱的保護機能付きランプ制御装置(“class P”thermally protected lamp controlgear)

いかなる使用状態においても過熱を防止するため,及び寿命末期の影響による過熱に対して照明器具の

取付面を保護する熱的保護手段をもつランプ制御装置。

B.3.2 

動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置(

temperature declared thermally protected lamp

controlgear)

いかなる使用状態においても,ランプ制御装置のケースの温度が表示値を超えるのを防止するために,

過熱に対する保護手段をもつランプ制御装置。

注記

  三角形の中の点は,B.9 の条件の下で製造業者が宣言するものであり,ランプ制御装置のケー

スの外面上の全ての箇所での定格最高ケース温度(℃)の値で置き換える。

ケースの最高温度

130  ℃以下の値を表示したランプ制御装置は,照明器具の表示要求事項に従い,寿命

末期の影響による過熱に対して保護を表したものである。JIS C 8105-1 参照。

P


29

C 8147-1:2017

ケースの最高温度が

130  ℃を超える場合は,照明器具に温度感知制御を用いていない場合を考慮し,可

燃性材料表面へ直接取り付ける照明器具は,JIS C 8105-1 に従って追加の試験をしなければならない。

B.3.3 

定格動作温度(

rated opening temperature)

無通電状態で熱的保護手段が動作するように設計した温度。

B.4 

熱的保護機能付きランプ制御装置の一般的要求事項 

熱的保護手段は,ランプ制御装置と一体になっており,機械的損傷から保護した場所に設置しなければ

ならない。交換可能な部品がある場合,その部品は工具を用いる場合だけ取替え可能なものでなければな

らない。

保護手段の機能に極性があり,極性のないプラグが付いているコード付き器具に用いる場合,両極に保

護手段がなければならない。

適合性は,目視検査及び該当する JIS C 9730-2-3 又は JIS C 6691 の試験によって判定する。

B.5 

試験上の一般的注意事項 

B.9 に従って特別に準備した適切な数の試料を準備する。

B.9.2 に規定する最も厳しい故障状態で 1 個の試料だけを試験し,B.9.3 又は B.9.4 に規定する状態で 1

個の試料を試験する。さらに,“クラス

P”熱的保護機能付きランプ制御装置及び動作温度を宣言する熱的

保護機能付きランプ制御装置では,B.9.2 に規定する最も厳しい故障状態となるように,1 個以上のランプ

制御装置を準備する。

B.6 

分類 

B.6.0

ランプ制御装置は,B.6.1 又は B.6.2 によって分類する。

B.6.1 

保護クラスによるもの 

a)

“クラス

P”熱的保護機能付きランプ制御装置,記号

b)  動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置,記号

B.6.2 

保護タイプによるもの 

a)

自動復帰(繰返し)タイプ

b)  手動復帰(繰返し)タイプ

c)

交換不能な非復帰(ヒューズ)タイプ

d)  交換可能な非復帰(ヒューズ)タイプ

e)

同等の熱的保護手段をもつその他のタイプの保護方法

B.7 

表示 

B.7.1

過熱に対する保護手段を組み込んだランプ制御装置は,保護クラスに従って次の表示をする。

  記号      は“クラス P”熱的保護機能付きランプ制御装置。

  記号      は,動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置。値は,10 の倍数ずつ増加する。

熱的保護手段を接続している端子は,この記号によって識別する。

さらに,交換可能な熱的保護手段では,用いる熱的保護手段のタイプを表示に含めなければならない。

P

P


30

C 8147-1:2017

注記 1  この表示は,表示した端子がランプ制御装置のランプ側に接続されないようにするために,

照明器具の製造業者から要求されている。

注記 2  ある国の配線規定では,熱的保護手段は,非接地側に接続するように要求していることがあ

る。これは,極性のある電源を用いるクラス

I 器具において最も重要なことである。

B.7.2

B.7.1 の表示のほかに,ランプ制御装置の製造業者は,B.6.2 に従って保護タイプを宣言しなければ

ならない。

B.8 

巻線の熱耐久性 

熱的保護手段を組み込んだランプ制御装置は,熱的保護手段を短絡して,巻線の熱耐久性試験を行い,

適合しなければならない。

注記

  形式試験のために,製造業者は,熱的保護手段を短絡した試料を求められることがある。

B.9 

ランプ制御装置の加熱 

B.9.1 

事前選別試験 

この試験を開始する前に,熱的保護手段の定格動作温度よりも

5 K 低い温度に保った恒温槽の中に,ラ

ンプ制御装置を

12 時間以上放置する(無通電で)。

さらに,温度ヒューズ付きランプ制御装置は,恒温槽から取り出す前に,温度ヒューズの定格動作温度

より

20 K 以上低い温度に冷却させる。

この期間の終了時に,僅かな電流,例えば,ランプ制御装置の公称入力電流の

3 %以下の電流を,ラン

プ制御装置に通電して,熱的保護手段が閉じているかどうかを判定する。

熱的保護手段を作動させたランプ制御装置は,それ以降,試験に用いてはならない。

B.9.2 

“クラス P”熱的保護機能付きランプ制御装置 

このランプ制御装置の限度値は,ランプ制御装置の最高ケース温度が

90  ℃,定格最高巻線温度 t

w

105  ℃及びコンデンサ定格最高使用温度 t

c

70  ℃である。

注記

  これらのランプ制御装置は,米国において実際に使用されている。

ランプ制御装置は,周囲温度

40

5

0

℃の試験容器の中で,通常状態下の温度安定状態で動作させる。試

験容器については,附属書 による。

熱的保護手段は,この操作状態下で開路してはならない。

B.9.2.1 及び B.9.2.2 の故障状態における最も厳しいものを対象に,最後まで完全に試験を実施しなけれ

ばならない。

この状態を得るためには,特別に準備したランプ制御装置が必要である。

B.9.2.1

変圧式のものに対しては,JIS C 8105-1 の附属書 C(異常回路状態)によるほか,次の関連する

故障状態を適用する。

a) JIS 

8147-2-8 に規定するランプ制御装置では,次による。

  一次巻線の外側 10 %の巻線を短絡する。

  任意の二次電源巻線の外側 10 %の巻線を短絡する。

  任意の電力コンデンサを短絡する。ただし,これによって安定器の一次巻線を短絡しない場合に限

る。

b) JIS 

8147-2-9 に規定するランプ制御装置では,次による。

  一次巻線の外側 20 %の巻線を短絡する。


31

C 8147-1:2017

  任意の二次電源巻線の外側 20 %の巻線を短絡する。

  任意の電力コンデンサを短絡する。ただし,これによって安定器の一次巻線を短絡しない場合に限

る。

B.9.2.2

チョークコイル式のものに対しては,JIS C 8105-1 の附属書 によるほか,次の故障状態を適用

する。

a) JIS 

8147-2-8 に規定するランプ制御装置では,次による。

  各巻線の外側 10 %の巻線を短絡する。

  該当する場合,直列コンデンサを短絡する。

b) JIS 

8147-2-9 に規定するランプ制御装置では,次による。

  各巻線の外部 20 %の巻線を短絡する。

  該当する場合,直列コンデンサを短絡する。

この測定のために,加熱と冷却とを

3 サイクル実施する。非復帰形熱的保護手段では,特別に準備した

各ランプ制御装置に

1 サイクルだけを実施する。

ランプ制御装置のケース温度は,熱的保護手段の開路後も,継続して測定する。熱的保護手段の再閉温

度を試験する場合を除き,熱的保護手段の開路後でケース温度が下がり始めた場合又は規定の温度限度値

を超えた場合には,試験を中止してもよい。

注記

  ケース温度が 110  ℃を超えることなく一定になるか,又は下降し始めた場合には,ピーク温度

に初めて達したときの

1 時間後に,試験を中止してもよい。

試験中に,ランプ制御装置のケース温度は

110  ℃を超えてはならない。また,熱的保護手段が回路を再

び閉じたとき(復帰タイプ熱的保護手段を用いて)には,

85  ℃を超えてはならない。ただし,試験中の熱

的保護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,表 B.1 に規定する

最高温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない場合,ケ

ース温度は

110  ℃を超えてもよい。

このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭温度は,

90  ℃を超えてはならない。ただ

し,ケース温度が

110  ℃以上の場合には,コンデンサの外郭温度は 90  ℃を超えてもよい。

表 B.1-熱的保護手段の動作 

ランプ制御装置のケースの最高温度

110  ℃から最高温度に達するまでの最大時間

150 を超え 0

145 を超え 150 以下 5.3 
140 を超え 145 以下 7.1 
135 を超え 140 以下 10 
130 を超え 135 以下 14 
125 を超え 130 以下 20 
120 を超え 125 以下 31 
115 を超え 120 以下 53

110 を超え 115 以下 120

B.9.3  JIS C 8147-2-8 に規定する定格最高ケース温度が 130  ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能

付きランプ制御装置 

附属書 に規定する試験容器の中で,通常状態で(t

w

5)℃の巻線温度を得るような周囲温度,又は(t

a


32

C 8147-1:2017

5)℃の周囲温度の温度安定状態で,ランプ制御装置を動作させる。

ただし,安定器の外部表面の定格最高温度

t

c

を宣言しているものは,安定器の外部表面が(

t

c

5)℃と

なる温度安定状態で動作させる。

熱的保護手段は,この状態下で動作してはならない。

B.9.2 に規定する故障状態のうちで最も厳しい条件を,試験全体において導入及び適用しなければならな

い。

注記 B.9.2 に規定する最も厳しい故障状態と同等な巻線温度をもたらす電流で,ランプ制御装置を動

作させることが許容されている。

試験中に,ランプ制御装置のケース温度は

135  ℃を超えてはならない。また,熱的保護手段が回路を再

び閉じたとき(復帰タイプ熱的保護手段を用いて)には,

110  ℃を超えてはならない。ただし,試験中の

熱的保護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,表 B.2 に規定す

る最高温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない場合,

ケース温度は

135  ℃を超えてもよい。

このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭温度は,定格最高温度

t

c

の表示があって

もなくても,通常動作状態では

50  ℃又は t

c

  ℃,故障動作状態では 60  ℃又は(t

c

10)℃を超えてはなら

ない。ただし,JIS C 4908 に規定する保安装置内蔵コンデンサ及び保安機構付きコンデンサは,適用外と

する。また,力率改善用又は進相用以外のコンデンサで,そのコンデンサの故障によって使用者及び周囲

に危険が生じるおそれのないものは,適用外とする。

表 B.2-熱的保護手段の動作 

ランプ制御装置のケースの最高温度

135  ℃から最高温度に達するまでの最大時間

180 を超え 0

175 を超え 180 以下 15 
170 を超え 175 以下 20 
165 を超え 170 以下 25 
160 を超え 165 以下 30 
155 を超え 160 以下 40 
150 を超え 155 以下 50 
145 を超え 150 以下 60 
140 を超え 145 以下 90 
135 を超え 140 以下 120

B.9.4  JIS C 8147-2-8 に規定する定格最高ケース温度が 130  ℃を超える動作温度を宣言する熱的保護機

能付きランプ制御装置 

JIS C 8147-2-8 に規定する定格最高ケース温度が 130  ℃を超える動作温度を宣言する熱的保護機能付き

ランプ制御装置は,次による。

a)

安定器は,B.9.3 に規定する条件でランプを点灯させる。ただし,チョークコイル式安定器は,附属書

に規定する条件下において,

t

w

5)℃の巻線温度を生じる短絡電流で,温度安定状態でランプ制

御装置を動作させてもよい。

熱的保護手段は,この状態下で動作してはならない。

b)  ランプ制御装置は,B.9.2 に規定する故障状態のうちの最も厳しい条件の下での温度と同等な巻線温度


33

C 8147-1:2017

を生じる電流において動作させる。

試験中に,ランプ制御装置のケース温度を測定する。

次に,必要がある場合,巻線を流れる電流を,熱的保護手段が動作するまで,ゆっくりと連続的に

増加させる。

時間間隔及び電流の増加は,巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間で,できる限り温度安定状態

が得られるように設定する。

試験中に,ランプ制御装置表面の最高温度を,連続的に測定する。

自動復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段[B.6.2 a)参照]又は別のタイプの保護機構[B.6.2 

e)参照]を取り付けたランプ制御装置では,安定した表面温度に達するまで,試験を継続する。

自動復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段は,その状態でランプ制御装置のオン・オフのス

イッチング動作によって

3 回動作させる。

手動復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置では,試験を

3 回繰

り返し行い,試験と試験との間は

30 分間の間隔をとる。各 30 分間の間隔終了時に,熱的保護手段を復帰

させる。

交換不能な非復帰タイプを取り付けたランプ制御装置及び熱的保護手段が交換可能なランプ制御装置で

は,試験は

1 回だけ実施する。

ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度が,表示値を超えない場合,適合と判定する。

宣言した値の

10 %のオーバシュートは,保護手段が動作した後の 15 分以内まで許容する。その後は,

宣言した値を超えてはならない。

B.9.5 JIS 

8147-2-9 に規定する温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置 

B.9.5.1 

一般 

ランプ制御装置は,熱的保護手段を備えなければならない。図 B.1 の試験回路を用いて,B.9.5.1B.9.5.3

に規定する条件の下で試験を行った場合,ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度は,表示した値を

超えてはならない。熱的保護手段の動作後

15 分間以内は,表示した値の 10 %のオーバシュートは許容す

る。

ただし,ケースの最高温度が

130  ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置の場合,

試験中に,ランプ制御装置のケース温度は

135  ℃を超えてはならない。また,熱的保護手段が回路を再び

閉じたとき(復帰式熱的保護手段を用いて)には,ケース温度は

110  ℃を超えてはならない。ただし,試

験中の熱的保護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,表 B.2 

規定する最高温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない

場合,ケース温度は

135  ℃を超えてもよい。

このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭温度は,定格最高温度

t

c

の表示があって

もなくても,故障動作状態では

60  ℃又は(t

c

10)℃以下とする。ただし,JIS C 4908 に規定する保安装

置内蔵コンデンサ及び保安機構付きコンデンサは,適用外とする。また,力率改善用又は進相用以外のコ

ンデンサで,このコンデンサの故障によって危険が生じるおそれのないものは,適用外とする。

直列コンデンサは,試験中短絡する。

試験中,巻線温度及びランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度を継続して測定する。


34

C 8147-1:2017

DUT:供試品 
  D:ダイオード,100 A,600 V 
  R:抵抗器,0 Ω~200 Ω(ランプ電力の 1/2) 
  U

N

:試験電圧

図 B.1-熱的保護機能付きランプ制御装置の試験回路 

B.9.5.2 

試験手順 

試験手順は,次による。

a) 5 

上昇させた平常巻線温度状態の試験  H.12 に規定する条件の下,

t

w

5)℃の巻線温度を得る短

絡電流(抵抗器

R で調整する)でランプ制御装置が温度安定状態となるように動作させる。t

w

の表示

のない安定器で,絶縁の種類が

A 種のものは t

w

105,E 種のものは t

w

120,B 種のものは t

w

130

を適用する。ただし,図 B.1 による試験が困難な場合,(t

w

5)℃の巻線温度を得る周囲温度,又は

定格最高周囲温度

t

a

を宣言しているものは(

t

a

5)℃の周囲温度で,ランプを点灯させてもよい。さ

らに,安定器の外部表面の定格最高温度

t

c

が宣言されているものは,安定器の外部表面が(

t

c

5)℃

で温度安定状態となるように動作させてもよい。

このとき,熱的保護手段は,この状態下で動作してはならない。

電流値

I

tw

5

は,試験 b)のための基準となる電流として,記録する。

b)  熱的保護手段の機能試験-表示した温度限界値の制御(t

w

5)℃の平常巻線温度状態での試験後,熱

的保護手段が動作するまで次のように電流を増加させ,ランプ制御装置を動作させる。

  ステップ 1:I

tw

5

5 %となる電流値。

  ステップ 2:I

tw

5

10 %となる電流値。

  ステップ 3:I

tw

5

15 %となる電流値。

熱的保護手段が動作し接点が開放するまで,

5 %ステップで電流を増加させる。

各ステップ間において,ランプ制御装置の温度が安定するまでの時間を測定する。

なお,図 B.1 による試験が困難な場合,巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間が,できるだ

け温度安定状態を得るように,熱的保護手段が動作し接点が開放するまで,ゆっくりと連続的に温度

を上昇させる。

B.9.5.3 

試験サイクル 

熱的保護機能付きランプ制御装置の保護タイプごとの試験サイクルは,次による。


35

C 8147-1:2017

a) B.6.2 

a)による自動復帰タイプの熱的保護手段又は B.6.2 e)によるその他のタイプの保護方法を備えた

ランプ制御装置では,表面温度が安定するまで試験を継続する。自動復帰タイプの熱的保護手段は,

その状態でランプ制御装置のオン・オフによって

3 回以上動作させる。

b) B.6.2 b)による手動復帰タイプの熱的保護手段を備えたランプ制御装置では,試験を 3 回繰り返し行い,

試験と試験との間は

30 分間の間隔をとる。各 30 分間の間隔終了時に,熱的保護手段を復帰させる。

c) B.6.2 

c)による交換不能な非復帰タイプの熱的保護手段及び B.6.2 d)による交換可能なタイプの熱的保

護手段を備えたランプ制御装置では,試験は

1 回だけ行う。

d)  保護装置を組合せたランプ制御装置では,製造業者の宣言によって,温度制御で最も重要な保護機能

を提供する保護装置に対して,試験を行う。

B.9.5A  熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置 

可燃材料表面への直接取付けする熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置は,JIS C 8105-1 の附属書 N

(可燃材料表面への取付け及び断熱材で覆うことに適さない照明器具に対する表示の説明)の要求事項に

基づき,かつ,次のいずれかの要求事項を満足しなければならない。

a)  “クラス P”熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置に関する要求事項

b)  “定格最高ケース温度が 130  ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置”に関す

る要求事項

温度試験は,JIS C 8105-1 による。

注記

  温度の判定は,安定器の最高ケース温度ではなく,安定器の取付面の温度の最大値である[JIS 

C 8105-1 の 12.6.2(安定器及び変圧器の外部に温度感知制御素子を備えた照明器具及び 130  ℃

を超える温度を表示した

    マーク表示又は

若しくは

    マーク表示のある熱的保護

機能付き安定器をもつ照明器具の試験)参照]。


36

C 8147-1:2017

附属書 C 
(規定)

過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項

C.1 

適用範囲 

この附属書は,ランプ制御装置のケース温度が宣言した限度値を超える前にランプ制御装置の電源回路

を開放する熱的保護手段を組み込んでいる電子ランプ制御装置に適用する。

C.2 

用語及び定義 

C.2.1 

動作温度を宣言する過熱保護手段付きランプ制御装置(

temperature declared thermally protected lamp

controlgear)

ランプ制御装置のケースの温度が表示値を超えることを防止するために,過熱に対して保護する手段を

組み込んだランプ制御装置。

注記

  三角形の中の点は,C.7 の条件の下で製造業者が宣言するものであり,ランプ制御装置のケー

スの外面上の全ての箇所での定格最高ケース温度(℃)の値で置き換える。

ケースの最高温度が

130  ℃以下の値を表示したランプ制御装置は,照明器具の表示要求事項に従った寿

命末期の過熱に対して保護するものである(JIS C 8105-1 参照)。

ケースの最高温度が

130  ℃を超える場合,照明器具に温度感知制御を用いないことを考慮し,可燃性材

料表面へ直接取り付ける照明器具は,JIS C 8105-1 に従って追加の試験を行う。

C.3 

過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の一般的要求事項 

C.3.1

熱的保護手段は,ランプ制御装置と一体であり,機械的損傷から保護した位置に設置しなければな

らない。交換可能な部品がある場合,その部品は工具を用いる場合だけ取替え可能でなければならない。

保護手段の機能に極性があり,極性のないプラグが付いているコード付き器具に用いる場合,両極に保

護手段がなければならない。

適合性は,目視検査及び該当する JIS C 9730-2-3 又は JIS C 6691 の試験によって判定する。

C.3.2

保護手段の回路破損によって,火災の危険を引き起こしてはならない。

適合性は,C.7 の試験によって判定する。

C.4 

試験上の一般的注意事項 

C.7 に従って,特別に準備した適切な数の試料を提供しなければならない。

C.7.2 に規定する最も厳しい故障状態にする必要がある。

C.5 

分類 

過熱保護手段付きランプ制御装置は,保護のタイプに従って次のように分類する。

a)

自動復帰タイプ

b)  手動復帰タイプ


37

C 8147-1:2017

c)

交換不能な非復帰タイプ

d)  交換可能な非復帰タイプ

e)

同等の熱的保護をもつその他のタイプの過熱保護方法

C.6 

表示 

熱的保護手段付きランプ制御装置は,C.6.1 及び C.6.2 のように表示する。

C.6.1

記号

    は,動作温度を宣言する過熱保護手段付きランプ制御装置を表す。値は,10 の倍数ずつ

増加する。

C.6.2

C.6.1 の表示のほかに,ランプ制御装置の製造業者は,C.5 に従って保護タイプを宣言しなければ

ならない。この情報は,製造業者のカタログなどに示してもよい。

C.7 

加熱の制限 

C.7.1 

事前選別試験 

この試験を開始する前に,ケース温度

t

c

よりも

5 K 低い温度に保った恒温槽の中に,ランプ制御装置を

12 時間以上放置する(無通電で)。

熱的保護手段が動作したランプ制御装置は,それ以降の試験に用いてはならない。

C.7.2 

熱的保護手段の機能 

附属書 に規定する試験容器の中で,通常状態で(t

c

5

0

)℃のケース温度が得られるような周囲温度の

温度安定状態で,ランプ制御装置を動作させる。

熱的保護手段は,この状態下で動作してはならない。

14.114.4 に規定する故障状態のうちで最も厳しい条件を,試験全体において適用する。

高調波を抑制するために,主電源に接続したフィルタコイルなどの巻線が,試験するランプ制御装置に

含まれる場合には,これらの巻線の出力接続を短絡し,ランプ制御装置の残りの部分は,通常条件下で動

作させる。電波障害防止用フィルタコイルに対しては,この試験を行わなくてもよい。

注記

  これは特別に準備した試料によって実施することができる。

次に,必要に応じて,当該巻線を流れる電流を,保護手段が動作するまで,ゆっくりと連続的に増加さ

せる。時間間隔及び電流の増加は,巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間で,できるだけ温度安定

状態を得るように設定する。試験中に,ランプ制御装置表面の最高温度を,連続的に測定する。

自動復帰タイプ熱的保護手段[C.5 a)参照]又は他のタイプの過熱保護方法[C.5 e)参照]を取り付けた

ランプ制御装置では,安定した表面温度に達するまで,試験を継続する。

自動復帰タイプ熱的保護手段は,規定の条件下でランプ制御装置のオン・オフのスイッチング動作によ

って

3 回動作させる。

手動復帰タイプ熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置では,試験を

6 回繰り返し行い,試験と試験

との間は

30 分間の間隔をとる。各 30 分間の間隔終了時に,熱的保護手段を復帰させる。

交換不能又は非復帰タイプの熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置及び交換可能な熱的保護手段付

きランプ制御装置では,試験は

1 回だけ実施する。

ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度が,表示値を超えない場合,適合と判定する。

表示した値の

10 %のオーバシュートは,保護手段を動作させた後の 15 分間以内まで許容する。その後

は,表示値を超えてはならない。


38

C 8147-1:2017

ただし,最高表面温度が

130  ℃以下の表示をする安定器にあっては,安定器の表面温度が 135  ℃以下と

なるか,又は表面温度と時間との関係が表 C.1 に規定する値を満足しなければならない。

なお,自動復帰タイプの保護機構が動作する場合は,保護機構解除時の安定器の表面温度は,

110  ℃以

下とする。

表 C.1-最高表面温度に対する許容時間 

最高表面温度

許容時間

a)

最高表面温度

許容時間

a)

175 を超え 180 以下 15 以下 150 を超え 155 以下 50 以下 
170 を超え 175 以下 20 以下 145 を超え 150 以下 60 以下 
165 を超え 170 以下 25 以下 140 を超え 145 以下 90 以下 
160 を超え 165 以下 30 以下 135 を超え 140 以下 120 以下 
155 を超え 160 以下 40 以下

a)

  許容時間は,安定器の表面温度が 135  ℃を超過してから,最高表面温

度に達するまでの時間。


39

C 8147-1:2017

附属書 D 
(規定)

熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法

D.0 

一般事項 

大形の安定器は,この附属書に規定する試験容器に収まらない場合があるので,附属書 に規定する構

造又は空気の循環のない恒温槽で代用することができる。ただし,試験の再現性を確保するため,安定器

製造業者は,代用した試験方法を提示しなければならない。

D.1 

試験容器 

加熱試験は,周囲温度を規定の温度に維持できる容器内で行う(図 D.1 参照)。試験容器全体は,厚さ

25 mm の断熱材で覆う。この容器の試験区画の内寸は,610 mm×610 mm×610 mm とする。試験区画の床

560 mm×560 mm とし,加熱した空気の循環用に台の全周に 25 mm の空間を設ける。試験区画の床下に

は,ヒーターエレメント用に

75 mm のヒーター区画を設ける。試験区画の一つの側面は取り外すことがで

き,かつ,容器にしっかりと固定できるような構造とする。側面の一つには,試験区画の底部の中央に位

置する

150 mm 角の正方形開口部を設け,この開口部だけを通して空気の循環ができるような容器の構造

とする。開口部は,図 D.1 に示すようなアルミニウム製のシールドで覆う。

D.2 

容器の加熱 

D.1 の試験容器に用いる熱源は,約 40 mm×300 mm の加熱表面寸法をもつ 4 個の 300 W ストリップヒ

ーターとする。これらのエレメントは,電源と並列に接続する。これらのエレメントは,試験区画の床と

容器の底との間の

75 mm のヒーター区画に設置し,容器の内壁から各エレメントの端をそれぞれ 65 mm

離して,四角形になるよう取り付ける。エレメントは,適切な温度制御装置によって制御する。

D.3 

ランプ制御装置の動作条件 

試験中,電源の周波数はランプ制御装置の定格周波数とし,電源電圧はランプ制御装置の定格入力電圧

とする。試験容器内の温度は,試験中

40

5

0

  ℃に保つ。試験に先立ち,ランプ制御装置(無通電で)を,

全ての部品が容器内の温度に達するまで,十分な時間容器に入れておく。試験終了時の容器内の温度が,

試験の初めの温度と異なる場合には,その温度差を,ランプ制御装置の部品の温度上昇を決定するときに

考慮しなければならない。ランプ制御装置は,意図する大きさ及び本数のランプを点灯できるようにして

おく。ランプは,容器の外部に置く。

D.4 

容器内のランプ制御装置の位置 

試験中に,ランプ制御装置は,

75 mm の 2 個の木製ブロックによって試験区画の床の上 75 mm に浮かし

た位置に通常動作姿勢にして,容器の各側面に対して中央になるように置く。電気的接続は,図 D.1 に示

150 mm の正方形の開口部を通して容器の外へ出してもよい。試験中,容器はシールドした開口部が通

風又は急激な気流に触れないところに置く。


40

C 8147-1:2017

D.5 

温度測定 

容器内の平均温度は,最も近い壁から

76 mm 以上離れた位置で,ランプ制御装置の中心と同一高さにお

ける平均空気温度とする。通常,温度は棒状ガラス温度計によって測定する。代替の測定器には,放射熱

を遮へいする小さな金属羽根に取り付けた熱電対又は“サーミスタ”がある。通常,ケース温度は,熱電

対によって測定する。それまでに経過した試験時間の

10 %の間隔(ただし,5 分間間隔以上)をおいた連

続した

3 回の値が変化しない場合,温度安定であるとみなす。

単位

mm

図 D.1-熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱用容器の例 


41

C 8147-1:2017

附属書 E

(規定)

t

w

試験での 4 500 以外の定数 の使用

E.1 

一般事項 

この附属書は,

4 500 以外の定数 の宣言値を製造業者が立証するための試験について規定する。

安定器の耐久性試験に用いる理論的試験温度

は,箇条 13 に示す式(2)によって求める。

その他の規定がない場合には,定数

は 4 500 とするが,手順 A 又は手順 B によって正当化することが

できる場合には,製造業者は表 に規定するいずれの値を用いるかを宣言できる。

特定の安定器に

4 500 以外の定数を用いることを手順 A 又は手順 B に基づいて立証した場合には,その

定数を,その安定器,並びに同じ構造及び材料のその他の安定器の耐久性試験に用いてもよい。

E.2 

手順 

製造業者は,

30 個以上の十分な数の試料に基づいて,対象安定器の設計に関する寿命及び巻線温度につ

いての実験データを提出する。

このデータから,

と log とを関係付ける回帰線を 95 %信頼度曲線とともに計算する。

次に,

10 日及び 120 日の座標を横切る 95 %信頼度曲線のそれぞれ上方及び下方が交差する点を通る直

線を引く。代表的な例を,図 E.1 に示す。この線の勾配の逆数が,定数 の宣言値以上である場合,定数

の宣言値が 95 %信頼度限界以内にあることを立証したことになる。故障の基準については,手順 B 参照。

注記 1 10 日及び 120 日の点は,信頼度曲線の適用に必要な最小間隔を表している。同等又はより大

きい間隔の場合には,その他の点を用いることができる。

注記 2  ここに規定する手法に関する情報並びに回帰線及び信頼度限界を計算する方法は,JIS C 

2143 規格群及び IEEE 101:1987 を参照。

E.3 

手順 

耐久性試験に要求した安定器のほかに,製造業者が提出した

14 個の新しい安定器を,無作為に 7 個の二

つのグループに分けて試験をする。製造業者は,定数

の宣言値及びその試験温度 T

1

10 日間の公称平均

寿命を達成するのに必要な温度)並びに箇条 13 の式(2)を変形した式(E.1)によって求めた温度 T

2

120 日

間以上の公称平均寿命のための温度)を宣言する。

S

T

T

S

T

T

079

.

1

1

1

10

120

log

1

1

1

1

2

1

2

+

=

+

=

 

又は

   (E.1)

ここに,

T

1

10 日間に対する絶対温度による理論的試験温度

T

2

120 日間に対する絶対温度による理論的試験温度

S: 製造業者が宣言する定数

耐久性試験は,理論的試験温度

T

1

(試験

1)及び T

2

(試験

2)に基づいて,それぞれ 7 個ずつ 2 グルー

プの安定器に箇条 13 に規定する基本的方法を用いて実施する。

試験開始の

24 時間後に,電流が最初の値から 15 %を超えて外れた場合には,より低い温度で試験を繰

り返さなければならない。試験期間は,箇条 13 の式(2)を用いて求める。恒温槽での動作中に次のいずれ

かの状態になった場合,安定器は故障したものとみなす。

a)

安定器が開路状態になる。


42

C 8147-1:2017

b) 24 時間後に測定した電流値によって,初期入力電流の 150 %~200 %の定格電流の速動溶断ヒューズ

が動作するような絶縁物の絶縁破壊を起こす。

試験

1 は,全ての安定器が故障するまで 10 日間以上続ける。平均寿命 L

1

は,温度

T

1

での個々の寿命の

対数の平均から求める。これから,温度

T

2

における平均寿命

L

2

を,箇条 13 の式(2)を変形した式(E.2)によ

って求める。





=

1

2

e

1

2

1

1

log

exp

T

T

S

L

L

  (E.2)

注記 1  1 個以上の安定器が故障した場合には,試験中の残りの安定器の温度に影響を及ぼさないよ

うに,注意を払うことが望ましい。

試験

2 は,温度 T

2

での平均寿命が

L

2

を超える時間まで続ける。この結果は,試料の定数

が少なくと

も宣言値どおりであることを意味する。ただし,平均寿命が

L

2

に達する前に試験

2 の試料が全て故障した

場合,試料に関して宣言した定数

は立証されなかったことになる。

試験寿命は,宣言した定数

を用いて,実際の試験温度から理論的試験温度に正規化する。

注記 2  一般に,全ての安定器が故障するまで試験 2 を続ける必要はない。試験に必要な期間の計算

は容易であるが,故障が起きるたびに計算し直す必要がある。

温度に敏感な材料を組み込んだ安定器の場合,

10 日間の公称安定器寿命は適切でないことがある。その

場合,適切な耐久性試験期間,例えば

30 日間,60 日間,90 日間又は 120 日間よりも短い場合,製造業者

はより長い寿命を採用できる。その場合には,長い公称安定器寿命は,短い期間の

10 倍以上(例えば,15/150

日間,

18/180 日間など)とする。


43

C 8147-1:2017

図 E.1-定数 の宣言値の評価 


44

C 8147-1:2017

附属書 F

(規定) 
風防容器

ランプ制御装置の温度上昇試験で要求するような,適切な風防容器の構造及び用い方については,次の

推奨事項を適用する。同様な結果の得られることが確証できる場合は,風防容器の代わりにその他の構造

を用いることを許容する。

風防容器は長方形で,上面及び三つ以上の側面は二重の外板とし,底面は頑丈であることが望ましい。

二重の外板は孔の開いた金属で互いの間隔を約

150 mm 離し,規則正しく直径 1 mm~2 mm の孔がそれぞ

れの外板の全体の面積の約

40 %を占めるように開いていることが望ましい。

内面は,つや消し塗料で塗装することが望ましい。三つの主要内部寸法は,各々

900 mm 以上とするこ

とが望ましい。最大のランプ制御装置の上面及び四つの側面と容器内面との間の距離が

200 mm 以上とな

るように,容器を設計することが望ましい。

注記

大形容器で

2 組以上のランプ制御装置を試験する必要がある場合には,一つのランプ制御装

置からの放射熱がその他の容器に影響を及ぼすことがないように,注意することが望ましい。

この容器の上面の上方及び孔の開いた側面の周囲には,

300 mm 以上の距離があることが望ましい。容

器は,通風及び気温の突然の変化からできる限り影響しない位置に置き,放射熱源からも保護することが

望ましい。

試験中のランプ制御装置は,この容器の五つの内面からできるだけ離れた位置に置き,附属書 に従っ

て,この容器の底面に立っている木台の上に置くことが望ましい。


45

C 8147-1:2017

附属書 G 
(規定)

パルス電圧の値の由来の説明

G.1

パルス電圧の立ち上がり時間

は,インバータの入力フィルタを衝撃励振させて,“最悪状況”の影

響を与えるよう意図している。非常に簡単な入力フィルタの立ち上がり未満の時間として,

5 μs の時間を

選択する。

LC

T

π

=

   (G.1)

ここに,

L: 入力フィルタのインダクタンス

C: 入力フィルタの静電容量

G.2

長時間パルス電圧のピーク値は,設計電圧の

2 倍とする(図 G.2 参照)。

13 V 及び 26 V のインバータでは,インバータに印加する電圧はそれぞれ次のようになる。

(13×2)+15=41 V

(26×2)+30=82 V

注記

 15 及び 30 は,各々13 V 及び 26 V のインバータの電圧範囲の最大値である。

G.3

短時間パルス電圧のピーク値は,設計電圧の

8 倍とする。

13 V 及び 26 V のインバータでは,インバータに印加する電圧はそれぞれ次のようになる。

(13×8)+15=119 V

(26×8)+30=238 V

注記

 15 及び 30 は,各々13 V 及び 26 V のインバータの電圧範囲の最大値である。

G.4 

図 G.1 に示す短時間パルスエネルギーの測定回路の部品定数の選択に関する説明。

ツェナーダイオードに

1 パルスだけを印加するように,非周期的に放電を行う。したがって,次の事項

を満足するよう,抵抗値

は十分大きな値とする。

a)

配線による回路の自己インダクタンスの影響が十分に小さい。すなわち,時定数

L/が時定数 RC 

りも明らかに小さいことを意味する。

b)  電流の最大値[(V

pk

V

Z

)/によって評価することができる。]は,ツェナーダイオードが良好な動作

を示す電流値の範囲内が望ましい。

一方,この抵抗値

は,パルスを短時間とするためには大きすぎないほうがよい。

総インダクタンスが

14  μH~16  μH(図 G.1 参照)で,の値が式(G.2)によるときに,設計電圧が 13 V

であるインバータで約

20 Ω の値から,110 V の設計電圧に対して約 200 Ω の値までが,上記の条件[a)

び b)]を満たすことができると思われる。

別にインダクタ

を図 G.1 の回路に挿入する必要がないことに注意することが望ましい。

非周期的放電を想定した場合,容量

の値は,ツェナーダイオード(インバータの代わりになる)に加

えるエネルギー

E

Z

及び関連する電圧に関連し,式

(G.2)によって表す。

Z

CT

Z

pk

Z

)

(

V

V

V

V

E

C

×

=

   (G.2)

ここに,

V

pk

: コンデンサ

C の初期電圧


46

C 8147-1:2017

V

Z

: ツェナーダイオードの電圧

V

CT

: コンデンサ

C

T

の最終電圧

V

Z

及び

V

pk

は,次による。

V

Z

V

max

(最適近似)

V

pk

V

d

V

max

ここに,

V

d

: 試験をするインバータの設計電圧

V

max

: その定格電圧範囲の最大値

更に

V

CT

は,

1 V 以下とする。

この条件によって,この電圧

V

CT

は,差(

V

pk

V

Z

)に関して無視することができるので,式

(G.3)のよう

になる。

Z

Z

pk

Z

)

(

V

V

V

E

C

×

=

   (G.3)

上記の電圧値及び規定条件

E

Z

1 mJ(図 G.1 参照)から,C(μF)の式は式(G.4)になる。

max

d

125

)

μF

(

V

V

C

×

=

  (G.4)

一方,容量

C

T

の最小値は,式

(G.5)から計算を始める。

Z

CT

T

Z

V

V

C

E

=

   (G.5)

E

Z

1 mJ,及び V

CT

1 V を代入すると,式(G.6)が得られる。

max

T

000

1

)

μF

(

V

C

 

=

   (G.6)

V

max

1.25  V

d

の場合,コンデンサ

C 及び C

T

の値は,設計電圧

V

d

の関数として式

(G.7)及び式(G.8)のよう

に表される。

( )

2

d

100

)

μF

(

V

C

   (G.7)

d

T

800

)

μF

(

V

C

   (G.8)


47

C 8147-1:2017

構成部品 

R : 回路の抵抗器 
L  : 回路の自己インダクタンスを表すインダクタ 
Z  : 電圧 V

Z

を電圧範囲の最大値(

V

max

)のできるだけ近くに選択するツェナーダイオード

C : インバータの設定電圧の 8 倍に等しい電圧 V

pk

に初期充電されたコンデンサ。

1 mJ のエネルギーをダ

イオード

Z に送り込むことを意図している。

(G.4)に示したように,その容量の値は,次の式によって求める。

( )

2

d

d

max

max

d

100

1.25

125

)

μF

(

V

V

V

V

V

C

の場合, 

又は

×

C

T

 放電後に,その電圧が 1 V 以下になるように選んだコンデンサ

(G.6)に示したように,その容量の最小値(1 V の電圧に対応)は,次の式によって求める。

d

d

max

max

T

800

1.25

000

1

)

μF

(

V

V

V

V

C

の場合, 

又は

 

このコンデンサは,初期充電前に誘電体薄膜によって電圧が誘導されない非電解形でなければなら
ない。

D

1

 逆電圧バイパスダイオード,PIV(ピーク逆電圧)の定格は,設計電圧の 20 倍。高速形とし,ター

ンオン及びターンオフ

200 ns。

D

2

 逆電流阻止ダイオード。ターンオフが 200 ns の高速オフ形が望ましい。

S  : 跳ね返り時間が放電時間よりも長いオン・オフスイッチ。半導体スイッチを用いてもよい。 
V : 入力抵抗が 10 MΩ より高い電圧計(通常は電子式)。

表 G.1 は,ごく普通に見られる設計電圧に対する次の項目を与えるものである。

a)  V

max

1.25 V

d

の場合の,上の式によるコンデンサ

C 及び C

T

の値。

b)  時定数 L/と RC とが次の関係を満足する抵抗値 R

RC

R

L

05

.

0

=

ここで,

は 15 μH と仮定する。

この抵抗値

は,最大電流を 4.5 A 程度に制限することが望ましい。

c)  評価するパルス幅の大きさを決める時定数 RC

図 G.1-短時間パルスエネルギーを測定するための回路 

表 G.1-短時間パルスエネルギーを測定する回路定数 

設計電圧

V

コンデンサ

C

μF

コンデンサ

C

T

μF

抵抗

R

時定数

RC

μs

13  0.59 61.5 22.5 13.3 
26 0.15 30.8 45

6.7

50 0.04 16  87

3.5

110 0.008

3

7.3

190

1.6

注記

  この表の C

T

は,最小値である。電圧計の読み

V が安定している場合,より大きな静電容量

のコンデンサを用いてもよい。電圧

V を観測した場合,ツェナーダイオードに加えられた

エネルギーは,次のように表される。

E

Z

 = C

T

V

CT

V

Z


48

C 8147-1:2017

構成部品 

PSU

1

 : 2  %の電圧レギュレーション(無負荷から全負荷まで)で,規定する最大パルス電圧(電圧範囲の最大

+設計電圧

X)及びその電圧においてインバータが規定するパルス電流を供給できる電源装置。

PSU

2

 : 入力電圧範囲の最大値に調整した電源装置。

注記 1  両 PSU は,試験中のインバータが故障した場合に損傷することを防ぐために,電流制限を設

けることが望ましい。

TH

1

  : 電圧パルスをインバータに印加するための主スイッチングサイリスタ。多くのサイリスタがこの動作に

適している。約

1 μs のターンオン時間があり,十分なパルス電流能力がある。

TH

2

  : リレーRLC の動作を制御するサイリスタ。

D

1

  : TH

1

用逆電流バイパスダイオード。

TH

1

が動作したときの初期振動性過渡電流を流す。電圧定格が最大

パルス電圧の

2 倍の高速形(200 ns~500 ns)である。

D

2

  : PSU

2

用ブロッキングダイオード。

PSU

2

の出力インピーダンスが,電圧パルス源(

PSU

1

)の負荷になる

ことを防止する。電圧定格が,最大パルス電圧の

2 倍の高速形(約 1 μs のターンオフ)である。

RLC : 接点 K のパルス終止用リレー。 
R 及び C:スパーク抑止構成部品。R 及び C は,26 V インバータ用には,100 Ω 及び 0.1 μF を提案する。 
S

1

 オン/オフ又はリセット制御に用いるスイッチ

注記 2  正しいパルス幅を確保するための遅延システムは,図示していない。TH

1

の作動

500 ms 後に

サイリスタ

TH

2

をトリガーすることを確実に行い,リレー作動時間を考慮に入れる。

図 G.2-長時間パルスを生成して適用するための適した回路 


49

C 8147-1:2017

附属書 H 
(規定)

試験

H.1 

周囲温度及び試験室 

H.1.1  測定は,通風のない部屋の中で 20  ℃~27  ℃の範囲内の周囲温度で行う。

安定したランプ特性を必要とする試験において,ランプの周囲温度は,

23  ℃~27  ℃の範囲内で,試験

中に

1  ℃を超えて変化してはならない。

H.1.2  周囲温度のほかに,空気の循環もランプ制御装置の温度に影響を及ぼす。信頼性のある結果を得る

ためには,試験室は通風があってはならない。

H.1.3  冷間の巻線抵抗を測定する前に,ランプ制御装置は,試験室の周囲温度に確実に到達するように,

試験前に十分な時間試験室に放置する。

ランプ制御装置の温度試験の前後で,周囲温度が相違することがある。ランプ制御装置の温度は変化し

た周囲温度よりも遅れるので,補正が困難である。このため,試験するランプ制御装置のほかに,別のラ

ンプ制御装置を試験室に設置して,温度試験の始め及び終わりにその冷間の抵抗を測定する。この抵抗値

の差は,温度を求めるための式に用いて,試験中のランプ制御装置の値を補正するための根拠として用い

ることができる。

補正の困難さは,恒温の室内で測定を実施することによって排除することができる。この場合,補正は

必要ない。

H.2 

入力電圧及び周波数 

H.2.1  試験電圧及び周波数 

特に規定がない場合,試験中の制御装置はその設計電圧で動作させ,試験用安定器はその定格電圧及び

周波数で動作させる。

H.2.2  電源及び周波数の安定 

特に規定がない場合,入力電圧及び試験用安定器に該当する場合,周波数は±

0.5 %以内の一定値に維持

しなければならない。ただし,実際の測定中には,電圧は指定試験値の±

0.2 %以内に調整しなければなら

ない。

H.2.3  試験用安定器だけに対する入力電圧波形 

入力電圧の全高調波含有率は,

3 %を超えないものとする。高調波含有率は,基本周波数を 100 %とした

ときの個々の成分の実効値(

rms)の総和として定義している。

H.3 

ランプの電気特性 

周囲温度は,ランプの電気特性に影響を及ぼすことがある(H.1 参照)。また,ランプは,周囲温度とは

無関係に,初期特性のばらつきを示す。さらに,この特性はランプの寿命中に変化することがある。

定格入力電圧の

100 %及び 110 %でのランプ制御装置の温度の測定では,定格電圧の 100 %又は 110 %で

試験用ランプを用いて得た値と等しい短絡電流でランプ制御装置を動作させることによって,ランプの影

響を排除することもできる(例えば,スタータ動作回路で用いるチョークコイル式安定器など。)。ランプ

を短絡し,要求する電流が回路を流れるように,入力電圧を調節する。


50

C 8147-1:2017

疑義が生じた場合には,ランプを用いて測定を行う。このランプは,試験用ランプと同じようにして選

択するが,試験用ランプに要求するようなランプ電圧及び電力に対する狭い公差は,要求しない。

ランプ制御装置の温度上昇を評価する場合には,巻線に流れる電流を測定し,記録する。

H.4 

磁気の影響 

特に規定がない場合,試験用安定器又は試験中のランプ制御装置の全ての側面から

25 mm 以内に,磁気

を帯びた物体があってはならない。

H.5 

試験用ランプの装着及び接続 

試験用ランプの電気特性の再現性が最もよく得られるよう,ランプを関連するランプ規格に規定する方

向に取り付けて,この試験用ソケットに取り付けたままにしておくことが望ましい。ランプ制御装置の端

子の識別(番号)で判別できる場合は,試験用ランプは,エージング中での接続の極性と同じ極性となる

回路にして接続することが望ましい。

H.6 

試験用ランプの安定性 

H.6.1  ランプは,安定した動作状態になってから測定を実施する。移動じま(縞)が存在してはならない。

H.6.2  ランプの特性は,一連の各試験の直前及び直後に検査する。

H.7 

計器の特性 

H.7.1  電圧回路 

ランプと並列に接続した計器の電圧回路は,公称電流の

3 %を超える電流が流れてはならない。

H.7.2  電流回路 

ランプと直列に接続した計器の電流回路は,電圧降下が目標ランプ電圧の

2 %を超えないよう十分に低

いインピーダンスとする。測定器を並列予熱回路に挿入する場合,計器の総インピーダンスが

0.5  Ω を超

えてはならない。

H.7.3  実効値測定 

計器は,波形のひずみによる誤差がないものとし,使用周波数に適しているものでなければならない。

計器の対地静電容量が試験中のユニットの動作を妨げないことを確実にするように注意しなければならな

い。試験中の回路の測定箇所を接地電位にする必要があることもある。

H.8 

インバータの電源 

ランプ制御装置が電池から電力を供給して使用することを意図する場合,電源インピーダンスが電池の

インピーダンスと同等であるとき,電池以外の直流電源を用いることを許容する。

注記

  適切な定格電圧で 50  μF 以上の静電容量の無誘導形コンデンサが,試験中のユニットの電源端

子の両端に接続されている場合,通常,電池のインピーダンスと同等の電源インピーダンスを

示す。

H.9 

試験用安定器 

JIS C 8118 に規定する要求事項に従って測定したときに,試験用安定器は,その規格及び JIS C 7601 

該当するランプのデータシートの両方に規定する特性をもっていなければならない。


51

C 8147-1:2017

H.10  試験用ランプ 

試験用ランプは,JIS C 8118 の規定に従い測定及び選定し,JIS C 7601 の適合ランプのデータシートに

規定する特性をもっていなければならない。

JIS C 7601 に規定されていないランプの場合,周囲温度が 25  ℃の環境において試験用安定器でランプ

を点灯させたとき,ランプ電流が製造業者の宣言値から

2.5 %を超えて外れてはならない。

H.11  試験条件 

H.11.1  抵抗測定の時間遅延 

ランプ制御装置はスイッチをオフにした後に急速に冷却することがあるので,スイッチオフから抵抗測

定までの時間の遅延は,最小とすることが望ましい。コイル抵抗は,経過時間の関数として決定し,これ

によってスイッチオフの瞬間の抵抗を求めることができる。

H.11.2  接点及びリード線の電気抵抗 

接続部分は,できるだけ回路から取り除く。スイッチを用いて通常条件から試験条件に切り換える場合

には,スイッチの接触抵抗が試験結果に影響を及ぼさないように十分に低く維持していることを確かめる

ために,定期的に検査を行わなければならない。ランプ制御装置と抵抗測定計器との間の接続リード線の

抵抗値は,全て考慮しなければならない。

測定精度を確実に向上させるためには,いわゆるダブル結線による

4 点測定法を適用することが望まし

い。

H.12  ランプ制御装置の温度上昇 

H.12.1  器具内用ランプ制御装置 

H.12.1.1  ランプ制御装置の各部分の温度 

ランプ制御装置は,巻線の熱耐久性試験について箇条 13 に規定するように,恒温槽の中に設置する。

H.12.4 に規定するように,ランプ制御装置は,定格入力電圧での通常使用時と同様の電気的動作状態と

する。

次に,巻線の最高温度が,規定する

t

w

の値とほぼ等しい温度になるように,恒温槽のサーモスタットを

調整する。ただし,安定器の外部表面の定格最高温度

t

c

を宣言しているものは,安定器の外部表面が

t

c

ほぼ等しくなるように調整する。

4 時間後に,巻線の実際の温度を抵抗法[箇条 13 の式(1)参照]によって求めて,t

w

の値との差が±

5 K

を超える場合,温度

t

w

にできる限り近くになるように,恒温槽のサーモスタットを再調整する。

温度が安定した後,抵抗法[箇条 13 の式(1)参照]によって,巻線温度を測定する。

電源電圧が定格電圧の

100 %における巻線温度の測定終了後,電源電圧を定格電圧の 106 %に増加する

(ただし,個別規格の規定に基づいて,製造業者の要求がある場合,電源電圧は定格電圧の

100 %のまま

とすることができる。)

。温度が安定した後,

t

w

と測定した巻線温度,又は

t

c

と測定したケース温度との差

を補正した安定器の各部分の温度は,個別規格で規定する要求事項に適合しなければならない。

H.12.1.2  ランプ制御装置の巻線温度 

通常状態での巻線の温度上昇を宣言するランプ制御装置では,試験条件は次による。

ランプ制御装置は,附属書 に規定するような風防容器の中に入れて,図 H.1 に示すような二つの木台

によって支持する。

木台は,高さ

75 mm,厚さ 10 mm で,幅はランプ制御装置の幅以上とする。さらに,この木台は,ラン


52

C 8147-1:2017

プ制御装置の一番端がこの木台の外側垂直面に一致するように置く。

ランプ制御装置を二つ以上のユニットで構成する場合,各ユニットは別々の木台で試験をしてもよい。

コンデンサは,ランプ制御装置のケースに収納されていない場合,風防容器の中に入れてはならない。

ランプ制御装置は,温度が安定するまで,定格入力電圧及び定格周波数の通常状態で,試験する。

巻線温度は,可能ならば抵抗法[箇条 13 の式(1)参照]によって,測定する。

H.12.2  独立形ランプ制御装置 

独立形ランプ制御装置は,附属書 に規定するような風防容器の中に入れて,部屋の 2 面の壁と天井と

を模した厚さが

15 mm~20 mm の 3 枚のつや消しの黒い塗装板からなる試験コーナーの中に取り付ける。

ランプ制御装置は,壁のできるだけ近くの試験コーナーの天井に固定し,天井は,ランプ制御装置の壁側

以外の各側面から

250 mm 以上伸びていなければならない。

他の試験条件は,JIS C 8105-1 の照明器具に対して規定したものと同じである。

H.12.3  器具一体形ランプ制御装置 

器具一体形ランプ制御装置は,JIS C 8105-1 に従う照明器具の一部として試験するので,ランプ制御装

置の温度上昇の限度に対して,個別に試験しない。

H.12.4  試験条件 

通常条件の試験では,ランプ制御装置を適合ランプとともに動作させるが,発生する熱がランプ制御装

置の温度上昇に影響しないように,配置しなければならない。

ランプ制御装置の温度上昇試験の限度に関して用いるランプは,試験用安定器で

25  ℃の周囲温度で点

灯したときに,ランプ電流が,関連するランプ規格に規定する目標値から,又はまだ規格化していないラ

ンプでは製造業者が宣言した値から

2.5 %を超えて外れていない場合,適切であるとみなす。

注記

  リアクタ形のランプ制御装置(単一チョークコイル式安定器)の場合,製造業者の判断によっ

て,定格入力電圧においてランプを用いたときと同じ値の電流値に調整しているときは,ラン

プなしで試験又は測定を行うことを許容している。

非リアクタ形のランプ制御装置の場合,相当する損失があることを明確にする必要がある。

並列陰極予熱の変圧器をもったスタータを用いないランプ制御装置では,JIS C 7601 の規定にて,同じ

定格のランプを低抵抗の陰極又は高抵抗の陰極いずれでも用いることができる場合,低抵抗の陰極をもつ

ランプを用いて試験を実施する。


53

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単位

mm

(寸法許容差±

1.0)

図 H.1-温度試験用試験台 


54

C 8147-1:2017

附属書 I

(規定)

二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項

I.1 

適用範囲 

この附属書は,二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器に適用する。

I.2 

用語及び定義 

この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。

I.2.1 

二重絶縁又は強化絶縁形器具内用安定器(

built-in ballast with double or reinforced insulation)

接触可能な金属部を二重絶縁又は強化絶縁によって充電部から絶縁している安定器。

I.2.2 

基礎絶縁(

basic insulation)

電撃に対し基礎的な保護を与えるために充電部に施す絶縁。

I.2.3 

付加絶縁(

supplementary insulation)

基礎絶縁の破壊の場合において,電撃に対する保護を与えるために基礎絶縁に加えて施す独立した絶縁。

I.2.4 

二重絶縁(

double insulation)

基礎絶縁と付加絶縁との双方からなる絶縁。

I.2.5 

強化絶縁(

reinforced insulation)

二重絶縁と同等の電撃保護の程度をもつ充電部に施す単一の絶縁システム。

注記

  “絶縁システム”の用語は,絶縁が単一均質片でなければならないということを意味しない。

絶縁システムは,付加絶縁又は基礎絶縁として単独に試験のできない数層から構成していても

よい。

I.3 

一般的要求事項 

二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は,工具なしで橋絡又は取り外しできない熱的保護機能を具備しな

ければならない。さらに,保護装置の故障だけが回路開放状態を生じさせなければならない。

注記 1  上記の内容は,熱的保護手段の製造業者が宣言することが望ましい。

注記 2  非復帰タイプの装置の使用は認められている。

二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器は,また,

附属書 に適合しなければならない。

ただし,短絡する巻線は,熱的保護手段からできるだけ遠くに配置しなければならない。

さらに,試験の最後に,安定器は,I.10 に加えて表 に規定する値の 35 %に減じた試験電圧の耐電圧を

満足しなければならない。絶縁抵抗は,

4 MΩ 以上とする。


55

C 8147-1:2017

I.4 

試験上の一般的注意事項 

箇条 を適用する。

I.5 

分類 

箇条 を適用する。

I.6 

表示 

7.1 で規定した表示に加え,二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は,記号      によって識別できなけれ

ばならない。

注記

  この表示の意味を製造業者の印刷物又はカタログに説明することが望ましい。

I.7 

充電部との偶発接触からの保護 

箇条 10 の要求事項に加え,テストフィンガが基礎絶縁だけで保護した金属部と接触してはならない。

注記

  この要求事項は,充電部を二重絶縁又は強化絶縁によってテストフィンガから隔離しなければ

ならないことを必ずしも意味しない。

I.8 

端子 

箇条 を適用する。

I.9 

保護接地 

二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は,保護接地端子をもってはならない。

I.10  耐湿性及び絶縁性 

箇条 11 を適用する。

I.11  高電圧インパルス試験 

JIS C 8147-2-9 の箇条 15(高電圧インパルス試験)を HID 安定器に適用する。

I.12  安定器巻線の熱耐久性試験 

熱耐久性試験は,箇条 13 によって実施する。

温度を制限する装置は,熱耐久性試験前に橋絡しなければならない。特別に準備したサンプルが必要な

場合がある。

試験後,安定器温度が周囲温度に戻ったとき,次の要求事項を満足しなければならない。

a)

定格電圧において,

7 台中 6 台以上の安定器は,同じランプを始動させなければならない。ランプ電

流は,試験前に測定した値の

115 %を超えてはならない。

注記

  この試験は,安定器の設置条件において,幾つかの不利な変化を割り出すためのものである。

b)  全ての安定器に対して,巻線と安定器ケースとの間の絶縁抵抗は,500 V の直流電圧で測定したとき,

4 MΩ 未満であってはならない。

c)

全ての安定器は,巻線と安定器ケースとの間に表 に規定する値の 35 %に減じた電圧を 1 分間印加し

た耐電圧試験に耐えなければならない。


56

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I.13  安定器の温度上昇 

JIS C 8147-2-9 の箇条 14(安定器の温度上昇)を適用する。

I.14  ねじ,通電部及び接続部 

箇条 17 を適用する。

I.15  沿面距離及び空間距離 

次の事項とともに,箇条 16 を適用する。二重絶縁又は強化絶縁を施した器具内用安定器に対して,JIS C 

8105-1 の照明器具の関連する値を適用する。

I.16  耐熱性,耐火性及び耐トラッキング 

箇条 18 を適用する。

I.17  耐食性 

箇条 19 を適用する。


57

C 8147-1:2017

附属書 J

(規定)

より面倒な要求事項の一覧

J.1 

適用範囲 

この附属書は,再試験が必要な製品に要求するより厳しい,かつ,面倒な要求事項を含む,修正箇条に

適用する。

注記

  “R”と表記し,この附属書の一覧に記載する箇条は,将来の改正版に含まれる。現時点では,

規定されていない。


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C 8147-1:2017

附属書 K

(参考)

製造工程における適合試験

K.1 

適用範囲 

この附属書に記載する試験は,安全上容認できない材料及び製品の不適合を発見することを目的に,製

造業者が製造後,全ての制御装置に対し行うことが望ましい。これらの試験は,制御装置の特性及び信頼

性を損なうものではなく,より低い電圧を用いるため,規格に対する形式試験とは異なる。

全ての制御装置がここに記載されている形式試験に合格したサンプルと一致することを保証するには,

更に試験が必要となる場合がある。それらの試験は,製造業者が経験で決めることが望ましい。

品質マニュアルの範囲内で,この附属書に記載するのと同じレベル以上の安全性を確保することを確認

できる場合,試験の手順書及び試験の値を製造設備に適合した形に変えたり,製造工程中の適切な段階に

試験を設けることができる。

K.2 

試験 

電気的試験は,表 K.1 の一覧に従って全数実施することが望ましい。不合格品は,廃棄又は再生のため

隔離する。


表 K.1-電気的試験の最小値 

試験

制御装置の種類及び法令遵守

磁気式安定器

交流及び直流電子安定器

低電圧白熱電球及び

LED

モジュール用の電子トランス

高周波冷陰極ランプ用

インバータ及び変換器

イグナイタ

目視検査

a)

適用

機能試験/回路接続

( ラ ン プ 又 は 模 擬 ラ
ンプとともに)

インピーダンス試験

b)

ランプ/動作電圧

ランプ/動作電圧

ランプ/動作電圧

最 小 定 格 入 力 電 圧

90 %

ピーク電圧

接地導通

c)

制 御 装 置 の 接 地 用 端
子と,人が触れるおそ
れがあり,充電部にな
る 部 品 と の 間 に 適 用
する。

(クラス

I  独立形制

御装置だけ)

最大

0.5 Ω

12 V を超えない無負
荷電圧で,

10 A 以上の

電流を

1 秒間以上通電

し,測定する。

最大

0.5 Ω

12 V を超えない無負荷電
圧で,

10 A 以上の電流を 1

秒間以上通電し,測定する。

最大

0.5 Ω

12 V を超えない無負荷電圧で,10 
A 以上の電流を 1 秒間以上通電し,
測定する。

最大

0.5 Ω

12 V を超えない無負荷電
圧で,

10 A 以上の電流を 1

秒間以上通電し,測定する。

最大

0.5 Ω

12 V を超えない無
負荷電圧で,

10 A 以

上の電流を

1 秒間以

上 通 電 し , 測 定 す
る。

耐電圧

c)

回 路 端 子 一 括 と き ょ
う(筐)体との間に交

1.5 kV 又は直流 1.5

×

2  kV の電圧を 1

秒 間 印 加 し , 測 定 す
る。

入 出 力 端 子 一 括 と き ょ う
(筐)体との間に交流

1.5

kV 又は直流 1.5× 2  kV
の電圧を

1 秒間印加し,測

定する。

入出力端子一括ときょう(筐)体
との間に交流

1.5 kV 又は直流 1.5

×

2  kV の電圧を 1 秒間印加し,

測定する。

入出力端子間は,交流

3 kV 又は直

3× 2  kV の電圧を 1 秒間印加

し,測定する。

入 出 力 端 子 一 括 と き ょ う
(筐)体との間及び入力と
出力との間に交流

1.5 kV 又

は直流

1.5× 2  kV の電圧

1 秒間印加し,測定する。

回 路 端 子 一 括 と き
ょう(筐)体との間
に交流

1.5 kV 又は

直 流

1.5 × 2  kV

の電圧を

1 秒間印加

し,測定する。

a)

  目視検査は,制御装置を完全に組み立て,破損又は傷害をもたらすシャープエッジなどがないことを確認することが望ましい。どのラベルも読みやすい印刷

で読みやすく適正に貼られていることを確認することが望ましい。

b)

  インピーダンス試験は,安定器の定格電流負荷で動作させたとき,安定器の電圧を測定するか,又は固定電圧(適切なランプデータシートで,定義している。)

で安定器の電流を測定する。

c)

  クラス II の(独立形)制御装置,又は接地用端子のないプラスチックケースの制御装置には,接地導通,耐電圧及び絶縁抵抗試験は,適用しない。

59

C

 814

7-1

201

7


60

C 8147-1:2017

附属書 L

(規定)

SELV 制御装置の個別追加要求事項

L.1 

一般 

この附属書は,照明器具用

SELV 入力として使用する制御装置について規定する。この附属書は,機器

用変圧器に対する JIS C 61558-1:2012 の 4.2 の要求事項及び安全絶縁変圧器に対する JIS C 61558-2-6:2012

の該当要求事項から構成する。また,高周波変圧器を含む制御装置に対しては,JIS C 61558-2-16:2012 の

該当要求事項も適用する。

L.2 

用語及び定義 

この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。

L.2.1 

耐短絡制御装置(

short-circuit proof controlgear)

制御装置が過負荷又は短絡したときに温度が規定する限界値を超えず,過負荷又は短絡を取り除いた後

に継続して,この規格全ての要求事項を満たす制御装置。

L.2.2 

非本質耐短絡制御装置(

non-inherently short-circuit proof controlgear)

制御装置が過負荷又は短絡したときに,入力回路若しくは出力回路を開放するか,又は入力回路若しく

は出力回路の電流を減少させ,かつ,過負荷又は短絡を取り除いた後,及び可能である場合,保護装置の

リセット又は交換後に継続して,この規格全ての要求事項を満たす保護装置を備えている耐短絡制御装置。

注記 1  保護装置の例には,ヒューズ,過負荷開放,温度ヒューズ,サーマルリンク,サーマルカッ

トアウト,

PTC 抵抗,自動停止機械式器具,及びプリント基板上のプリント配線ヒューズが

ある。

注記 2  交換もリセットも不可能な装置による保護の場合,“過負荷又は短絡を取り除いた後,及び可

能である場合,保護装置のリセット又は交換後に継続して,この規格全ての要求事項を満た

す”という表現は,制御装置が継続して動作するということを意味しない。

L.2.3 

本質耐短絡制御装置(

inherently short-circuit proof controlgear)

制御装置を保護する装置をもたず,過負荷又は短絡したときに,温度が規定する限度値を超えず,過負

荷又は短絡を取り除いた後に継続して動作して,この規格全ての要求事項を満たす耐短絡制御装置。

L.2.4 

フェールセーフ制御装置(

fail-safe controlgear)

異常状態の下で,入力回路の停止によって永久に機能しなくなり,使用者及び周囲に危険を及ぼさない

制御装置。

注記

  リセット不可及び取替不可の保護装置を用いてもよい。

L.2.5 

非耐短絡制御装置(

non short-circuit proof controlgear)

制御装置に組み込んでいない保護装置を用いて温度の過大な上昇に対する保護を意図し,過負荷又は短


61

C 8147-1:2017

絡を取り除いた後及び保護装置のリセット後に継続して,この規格全ての要求事項を満たす制御装置。

L.2.6 

分離形高周波変圧器(

separating HF-transformer)

定格周波数が電源周波数より非常に高い制御装置の構成部品。

注記

  この高周波変圧器は,制御装置の入力回路と出力回路とを分離することができる。

L.3 

分類 

L.3.1 

感電保護による分類 

感電保護による独立形制御装置の分類は,次による。

a)  クラス I 制御装置

b)  クラス II 制御装置

c)

クラス

III 制御装置

L.3.2 

短絡保護又は異常使用に対する保護による分類 

短絡保護又は異常使用に対する保護による制御装置の分類は,次による。

a)

非本質耐短絡制御装置

b)  本質耐短絡制御装置

c)

フェールセーフ制御装置

d)  非耐短絡制御装置

L.4 

表示記号 

表示図記号は,表 L.1 による。

表 L.1-表示図記号 

図記号

内容

PRI

入力

SEC

出力

直流

N

中性線

単相

ヒューズリンク(時間-電流特性の記号追加)

t

a

定格最高周囲温度

フレーム又は鉄心の端子

F

又は

F

フェールセーフランプ制御装置

又は

非耐短絡ランプ制御装置

又は

耐短絡ランプ制御装置(本質又は非本質)

安全絶縁ランプ制御装置(

SELV ランプ制御装置)


62

C 8147-1:2017

L.5 

感電保護 

SELV 制御装置は,10.3 及び 10.4 の要求事項に加えて,JIS C 61558-1:2012 の 9.2 に規定する要求事項に

適合しなければならない。

適合性は,JIS C 61558-1:2012 の 9.2 に規定する検査による。

L.6 

温度上昇 

SELV 制御装置及びその支持部又は取付表面は,通常使用において過度の温度に達してはならない。

適合性は,JIS C 61558-1:2012 の箇条 14 に規定する試験に,次の修正を加えて確認する。

  14.1 の第 10 段落(“変圧器は定格入力電圧で給電し”で始まる段落):

10 %を,6 %に置き換える。

  表 を,表 L.2 に置き換える。

表 L.2-通常使用中の温度値 

部品

温度

コンデンサのケース

  t

c

が表示されている場合

t

c

c)

  t

c

が表示されていない場合

 50

巻線(ボビン付き,ラミネーションに接点あり。

)の絶縁が次の材料の場合

  A 種材料

a)

100

  E 種材料

115

  B 種材料

120

  F 種材料

140

  H 種材料

165

  その他の材料

b)

a)

  材料の分類は,JIS C 4003:1998,JIS C 3215-0-1,又は同等規格に従う。

b)

  JIS C 4003:1998 に規定する A 種,E 種,B 種,F 種及び H 種以外の材料が使用されている場合は,JIS C 

61558-1:2012 の 14.3 の試験に耐えなければならない。

c)

  分離変圧器をブリッジするコンデンサの最高温度は,t

c

が表示されていない場合は

50  ℃未満,t

c

が表示さ

れている場合は

t

c

でなければならない。その他の部品については,JIS C 8105-1 の表 12.112.4.1 の試験条

件における主要部分の最高温度)を参照する。

  14.1(一般要求事項)の最後から第 2 段落:

18.3 への参照を,この附属書の L.8.3 に置き換える。

  14.3(絶縁階級が明示されない絶縁システムの加速エージング試験)の第 1 段落:

14.219.12.3 及び 26.3 への参照を,L.6 に置き換える。

  14.3.4(測定)の第 1 段落:

18.118.218.3 及び 18.4 への参照を,L.8 に置き換える。

モールド変圧器については,熱電対を備えた特別に準備したサンプルを試験用として提出する。

L.7 

短絡及び過負荷保護 

SELV 制御装置は,通常の使用中に起こり得る短絡又は過負荷によって危険になってはならない。


63

C 8147-1:2017

適合性は,JIS C 61558-1:2012 の箇条 15 に規定する試験に,次の修正を加えて確認する。

  15.1(一般)の第 2 段落:

14.1 への参照を,L.6 に置き換える。

  15.1(一般)の表 の後の第 2 段落:

箇条 への参照を,この規格の箇条 10 に置き換える。

  15.1(一般)の表 の後の第 3 段落:

18.3 への参照を L.8.3 に置き換える。

  15.3.4

適用しない。

  15.5.1 の第 2 段落:

14.1 への参照を,L.6 に置き換える。

L.8 

絶縁抵抗及び耐電圧 

L.8.1 

一般 

SELV 制御装置の絶縁抵抗及び耐電圧は,十分でなければならない。

適合性は,箇条 11,箇条 12L.8.2 及び L.8.3 の試験によって判定する。試験は,取り外した部品の再

取付け後に,加湿状態,又は試料が規定温度になった部屋の中で,この規格の箇条 11 の試験の直後に行う。

L.8.2 

絶縁抵抗 

絶縁抵抗は,約

500 V の直流電圧を印加して 1 分後に測定する。絶縁抵抗は表 L.3 に規定する値以上で

なければならない。

表 L.3-絶縁抵抗値 

試験対象の絶縁箇所

絶縁抵抗

MΩ

入力回路と出力回路との間

5

基礎絶縁だけによって充電部から分離されたクラス

II 制御装置の金属部ときょう(筐)体と

の間

5

絶縁材のきょう(筐)体の内面に接触する金属はく(箔)と,外面に接触する金属はく(箔)
との間

2

L.8.3 

耐電圧 

L.8.2 の試験の直後に,絶縁物には,定格周波数の正弦波交流電圧を 1 分間印加する。試験電圧の値及び

印加箇所は,表 L.4 による。

注記

  より高い有用性を要求する照明器具で用いられる制御装置の試験電圧は,附属書 に記載があ

る。


64

C 8147-1:2017

表 L.4-耐インパルスカテゴリ II の制御装置の耐電圧試験電圧 

耐電圧試験電圧の印加箇所

b)

動作電圧

V

a)

50 未満

100 以上
150 以下

150 超え
300 以下

600

1 000

1)  入力回路の充電部と出力回路の充電部と

の間(二重絶縁又は強化絶縁)

500

2 000

3 000

4 200

5 000

2)  次の間の基礎絶縁又は付加絶縁

a)  故障状態でない通常使用で,極性の異な

る充電部相互間。同一巻線内では試験を
適用しない。

b)  保護接地を意図する場合,充電部ときょ

う(筐)体との間

c)  接触可能な導電部と,コード挿入口のブ

ッシング,コードガード及びコード止め
などに挿入する可とうケーブル又はコ
ードと直径が同じ金属棒[又はコードの
周りを包んだ金属はく(箔)]との間

d)  充電部と中間導電部との間

e)  中間導電部と本体との間

f)

各入力回路と同時接続したその他の全
ての入力回路との間

250

1 000

1 500

2 100

2 500

3)  本体と充電部との間の強化絶縁

500

2 000

3 000

4 200

5 000

a)

  動作電圧の中間値に対する試験電圧の値は,表の値の間での補間によって得られる。100 V 以上 150 V

以下及び

150 V を超え 300 V 以下の列は,補間は適用しない。

b)

  JIS C 61558-1:2012 の 19.12.3 c)及び 26.2.4.1 の試験 B に規定する構造では,電圧は 1.25 倍する。JIS C 

61558-1:2012 の 26.2.4.2 に規定する構造では,電圧は 1.35 倍する。

L.9 

構造 

SELV 制御装置に使用する変圧器の構造は,JIS C 61558-1:2012 の 19.12 及び JIS C 61558-2-6:2012 の箇

条 19 による。ただし,独立形でない制御装置の場合,19.1.6 を除く。

絶縁電線を

300 V 以下の入力電圧を備えた制御装置に使用する場合は,原材料に対しての絶縁耐圧試験

電圧は

3 kV に制限する。

なお,分離形高周波変圧器の構造は,JIS C 61558-2-16:2012 の箇条 19 による。ただし,独立形でない制

御装置の場合,19.1.3.7 を除く。

適合性は,検査及び測定によって判定する。

L.10  部品 

SELV 制御装置の保護装置として使用する部品は,JIS C 61558-1:2012 の 20.620.11 の要求事項に適合

しなければならない。

適合性は,検査及び JIS C 61558-1:2012 の関連する試験によって判定する。

L.11  沿面距離,空間距離及び絶縁物を通しての距離 

沿面距離,空間距離及び絶縁物を通しての距離は,この規格の表 及び表 L.5 に規定する値以上でなけ

ればならない。さらに,

SELV 制御装置と一体の変圧器は,JIS C 61558-1:2012 の箇条 26 に規定する要求


65

C 8147-1:2017

事項及び試験に適合しなければならない。

JIS C 6950-1 に規定する二重絶縁又は強化絶縁の要求事項に適合するフォトカプラ内部の絶縁物を通し

ての距離は,個々の絶縁が十分に密閉されており,かつ,個々の材料間の空気を除去している場合には測

定しない。そうでない場合,フォトカプラの入出力間の絶縁物を通しての距離は

0.4 mm 以上でなければ

ならない。いずれの場合も,L.8 に規定する試験を適用する。

注記

  沿面距離,空間距離及び絶縁物を通しての距離に関する詳細は,JIS C 61558-1:2012 の附属書 A

附属書 C,附属書 D,附属書 M,附属書 及び附属書 を参照。


表 L.5-耐インパルスカテゴリ II に対する沿面距離(cr),空間距離(cl),及び絶縁物を通しての距離(dti)(汚損度 の場合) 

材料グループ IIIa175CTI400 

単位

mm

絶縁の形式

測定対象

動作電圧

c)

i)

V

巻線エナメ
ルを通す場

b)

巻線エナメ
ルを通さな
い場合

25 を超え 50 未満

100 150 250

cl  cr  cl cr cl cr cl cr

1)  入 力 回 路 と 出

力 回 路 と の 間
の絶縁(基礎絶
縁)

a)  入力回路の充電部と出力回路の充電部と

の間の沿面距離及び空間距離

 0.2

1.2

0.5

1.4

1.5 1.6 2.5 2.6

 0.2

1.2

0.2

1.4

0.5 1.6 1.2 2.6

  低減値

a)

 0.18  - 0.25  - 0.3 - 0.57

b)  入力回路又は出力回路と接地された金属

遮蔽板との間の絶縁物を通しての距離

   dti

dti  dti  dti

要求事項なし

c)  入力回路と出力回路との間の絶縁物を通

しての距離

要求事項なし

2)  入 力 回 路 と 出

力 回 路 と の 間
の絶縁(二重絶
縁 又 は 強 化 絶
縁)

a)  入力回路の充電部と出力回路の充電部と

の間の沿面距離及び空間距離

cl  cr  cl cr cl cr cl cr

 0.5

1.4

1.5

2.0

3.0 3.0 4.7 5.0

 0.5

1.4

0.5

2.0

1.5 3.0 2.5 5.0

  低減値

a)

 0.25  - 0.4 - 0.7 - 1.4

b)  入力回路又は出力回路と接地された金属

遮蔽板との間の絶縁物を通しての距離

a)

dti dti dti dti

0.1

 e)

 0.2

 e)

 0.25

 e)

 0.42

 e)

[0.05]

 f)

 [0.07]

 f)

 [0.08]

 f)

 [0.14]

 f)

c)  入力回路と出力回路との間の絶縁物を通

しての距離

a)

0.2

 e)

 0.3

 e)

 0.5

 e)

 0.83

 e)

[0.1]

 f)

 [0.1]

 f)

 [0.15]

 f)

 [0.25]

 f)

3)  近 接 す る 入 力

回路間の絶縁,
又 は 近 接 す る
出 力 回 路 間 の
絶縁

d)

沿面距離及び空間距離

cl  cr  cl cr cl cr cl cr

 0.2

1.2

0.2

1.4

0.2 1.6 0.4 2.6

  低減値

a)

 0.18  - 0.25  - 0.3 - 0.57

66

C

 814

7-1

201

7


表 L.5-耐インパルスカテゴリ II に対する沿面距離(cr),空間距離(cl),及び絶縁物を通しての距離(dti)(汚損度 の場合) 

材料グループ IIIa175CTI400)(続き) 

単位

mm

絶縁の形式

測定対象

動作電圧

c)

i)

V

巻線エナメ
ルを通す場

b)

巻線エナメ
ルを通さな
い場合

25 を超え 50 未満

100 150 250

dti dti dti dti

4)  外部ケーブル及びコードの接続用端子間の沿面距離及び空間

距離。ただし,入力回路用端子と出力回路用端子との間を除く。

 3.0  3.6  4.0  5.4

5)  基 礎 絶 縁 又 は

付加絶縁

h)

規格で要求する箇所,例えば,次の間

a)  異極充電部相互間

cl

cr

cl

cr

cl

cr

cl

cr

 0.2

1.2

0.5

1.4

1.5 1.6 2.5 2.6

b)  保護接地を意図する場合,充電部ときょ

う(筐)体との間

 0.2

1.2

0.2

1.4

0.5 1.6 1.2 2.5

c)  接触可能導電部とコード挿入口ブッシン

グ,コード止めなどの内部に挿入した可
とうケーブル又はコード[又は金属はく
(箔)被覆コード]と同一直径の

1 本の

金属棒との間

d)  充電部と単一中間導電部との間

e)  単一中間導電部ときょう(筐)体との間

  低減値

a)

 0.18 - 0.25 - 0.3 - 0.57

6)  強 化 絶 縁 又 は

二重絶縁

きょう(筐)体と充電部との間又は規格で要
求する箇所(入出力巻線間の絶縁を除く。)

 0.5

1.4

1.5

2.0

3.0 3.0 4.7 5.0

 0.2

1.4

0.5

2.0

1.5 3.0 2.5 5.0

過渡電圧に対し追加装備で保護される場合,
きょう(筐)体と出力回路の充電部との間

 0.2

1.4

0.2

2.0

0.5 3.0 1.2 5.0

  低減値

a)

 0.25 - 0.4 - 0.7 - 1.4

7)  絶 縁 体 を 通 し

ての距離

a)  基礎絶縁

g)

要求事項なし

b)  付加絶縁

g)

dti dti dti dti

0.1

 e)

 0.15

 e)

 0.25

 e)

 0.42

 e)

[0.05]

 f)

 [0.05]

 f)

 [0.08]

 f)

 [0.13]

 f)

c)  強化絶縁(入出力回路間の絶縁を除く。

0.2

 e)

 0.3

 e)

 0.5

 e)

 0.9

 e)

[0.1]

 f)

 [0.1]

 f)

 [0.15]

 f)

 [0.25]

 f)

67

C

 814

7-1

201

7


表 L.5-耐インパルスカテゴリ II に対する沿面距離(cr),空間距離(cl),及び絶縁物を通しての距離(dti)(汚損度 の場合) 

材料グループ IIIa175CTI400)(続き) 

注記 1  ○は,適用を意味する。 
注記 2  数値の代わりに“-”と示す箇所は,要求数値がないことを意味する。 
注記 3  表中の空間距離の最小値は,海抜 0 m~2 000 m の大気に適用できる。 
注記 4  安全特別低電圧回路とその他の安全特別低電圧回路との間の絶縁は,絶縁の形式 6)及び 7)  による(JIS C 61558-1:2012 の 19.1 による。)。 

a)

  JIS C 61558-1:2012 の 26.2(低減値に関して)及び 26.3[絶縁の形式 2)の b)及び c)に関して]の汚損度 1(P1)の要求事項及び JIS C 60664-1:2009 の表 F.4 を参

照。

b)

  1 本以上の巻線が JIS C 3215-0-1 のグレード 1 以上の適合電線で構成されている場合,巻線のエナメルを介して測定する。

c)

  沿面距離,空間距離及び絶縁物を通しての距離は,表の値を補間して得られる動作電圧の中間値として求めてもよい。動作電圧 25 V 以下については,値を規

定していない。これは表 L.4 の電圧試験で十分であるとみなせるためである。

d)

  これらの値は,次には適用しない。

1)  同時に接続する巻線の端末が同電位の場合,各巻線内部又は同時に永久に接続する巻線のグループ相互間

2)  巻線が直列又は並列に接続しているだけの場合で(例  入力電圧が 110/220 V)

,動作電圧が

300 V 以下,かつ,巻線の電線が JIS C 3215-0-1 のグレード 1

以上に適合するとき。

e)

  固体絶縁に関しての値を示す。

f)

  薄いシートからなる絶縁の場合の値を示す。

g)

  入力巻線と出力巻線間との間で二重絶縁が必要な場合,絶縁を通しての厚さの合計は,直接又は金属部を介して測定するかを問わず,絶縁の形式 2) c)に示す値

と同じでなければならない。ただし,絶縁電線は例外とする(JIS C 61558-1:2012 の 19.12 を参照)。

h)

  基礎絶縁又は付加絶縁の絶縁(破壊)耐力はその空間距離に依存する。

i)

 300

V を超える動作電圧は,JIS C 61558-1:2012 を参照。

68

C

 814

7-1

201

7


69

C 8147-1:2017

附属書 M

(参考)

耐インパルスカテゴリ III の制御装置の耐電圧試験電圧

表 M.1 は,より高い有用性を要求する照明器具のための耐インパルスカテゴリ III で設計された制御装

置で使用することを意図している。

注記

  詳細情報については,JIS C 8105-1 の附属書 を参照。

表 M.1-耐インパルスカテゴリ III の制御装置の耐電圧試験電圧 

耐電圧試験電圧の印加箇所

b)

動作電圧

V

 a)

50 未満

100 以上
150 以下

150 超え
300 以下

600

1 000

1)  入力回路の充電部と出力回路の充電部と

の間(二重絶縁又は強化絶縁)

500

2 800

4 200

5 000

5 500

2)  次の間の基礎絶縁又は付加絶縁

a)  極性の異なる充電部相互間。同一巻線

内での試験には適用しない。

b)  保護接地に接続することを意図した充

電部と本体との間

c)  接触可能な導電部と,コード挿入口の

ブッシング,コードガード及びコード
止めなどに挿入する可とうケーブル又
はコードと直径が同じ金属棒[又はコ
ードの周りを包んだ金属はく(箔)

]と

の間

d)  充電部と中間導電部との間

e)  中間導電部と本体との間

250

1 400

2 100

2 500

2 700

3)  本体と充電部との間の強化絶縁

500

2 800

4 200

5 000

5 500

a)

  動作電圧の中間値に対する試験電圧の値は,表の値の間での補間によって得られる。100 V 以上 150

V 以下及び 150 V を超え 300 V 以下の列は,補間は適用しない。

b)

  JIS C 61558-1:2012 の 19.12.3 c)及び 26.2.4.1 の試験 B に規定する構造では,電圧は 1.25 倍する。JIS 

C 61558-1:2012 の 26.2.4.2 に規定する構造では,電圧は 1.35 倍する。

試験には,JIS C 61558-1:2012 の 18.3 の要求事項を適用する。


70

C 8147-1:2017

附属書 N 
(規定)

二重絶縁又は強化絶縁のために使用される絶縁材料の要求事項

N.1 

一般 

この附属書は,二重絶縁又は強化絶縁の要求事項を満たすために使用する固体絶縁材料又は薄板絶縁材

料に適用する。

この附属書は,制御装置の絶縁巻線及び絶縁カバー又は覆いに適用しない。

N.2 

引用規格 

箇条 を適用する。

N.3 

用語及び定義 

この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。

N.3.1 

固体絶縁(

solid insulation)

二つの導電性部品間に挿入した一層の均質材料で作られる絶縁。

N.3.2 

薄板絶縁(

thin sheet insulation)

二つの導電性部品間に挿入した薄板(複数枚)の絶縁材料で構成される絶縁。

N.4 

一般要求事項 

N.4.1 

材料の要求事項 

絶縁材料は,JIS C 4003 及び JIS C 2143 規格群に適合しなければならない。

N.4.2 

固体絶縁 

固体絶縁の妥当性は,

5 kV 又は表 N.1 に規定する適用可能試験電圧に 1.35 を乗じた値のいずれか大きい

電圧での耐電圧試験(箇条 12)によって,検証する。

材料が,JIS C 4003 及び JIS C 2143 規格群によって分類されていない場合,耐電圧試験電圧の値は,規

定値の更に

10 %だけ増やす。つまり,5.5 kV 又は表 N.1 に規定する適用可能試験電圧に 1.5 を乗じた値の

いずれか大きい電圧とする。

N.4.3 

薄板絶縁 

N.4.3.1  薄板絶縁の厚さ及び構成 

薄板絶縁の厚さ及び構成は,次による。

a)

薄板材料が安定器の内部で使用され,かつ,安定器の生産及び保守の期間に手が触れる扱い又は磨耗

がない場合,薄板材料による絶縁は,その厚さに関係なく許容する。

b)  全ての絶縁層が同じ材料である必要がない。

c)

樹脂含浸塗膜は,薄板材料の絶縁とみなさない。

d)  薄板材料で構成する絶縁は,全ての箇所で次の層数以上をもつ絶縁でなければならない。

1)

層が分離できない(一体接着)場合


71

C 8147-1:2017

  3 層

  全多層板は,150 N の引張力によるマンドレル試験(N.4.3.2 参照)に耐えなければならない。

2)  層が分離できる場合

  2 層

  各層は,50 N の引張力によるマンドレル試験(N.4.3.2 参照)に耐えなければならない。

3)  層が分離できる場合(代替)

  3 層

  全層数の 2/3 は,100 N の引張力によるマンドレル試験(N.4.3.2 参照)に耐えなければならない。

N.4.3.2  マンドレル試験(機械的応力下の耐電圧試験) 

マンドレル試験は,製造業者が提供する薄板の試験片を,図 N.1 に示すように,ニッケルめっきを施し

た鋼又は黄銅製の表面を,平滑に仕上げしたマンドレル上に固定して行わなければならない。試験片は,

70 mm の薄板三枚を準備する。

70 mm の薄板の三枚の個別試験片を製造業者は供給しなければならない。

厚さ

0.035 mm±0.005 mm の金属はく(箔)(アルミニウム又は銅)を試験片の表面に密着させ,1 N の

引張力を加えなければならない。金属はく(箔)の境界が試験片の境界から

20 mm 離れるように金属はく

(箔)の位置決めをしなければならない。また,マンドレルがその最終位置にある場合,マンドレルは,

試験片が置かれている端部を

10 mm 以上覆うように配置する。

試験片は,適切な締付け装置によってその自由端で規定の位置に保持し,次の引張力を加える。

a)

分離できない数層で構成される試験片の場合,

150 N の引張力

b)  全層の 2/3 が分離できる層で構成される試験片の場合,100 N の引張力[のこぎり(鋸)歯状又は非の

こぎり(鋸)歯状]

c)

単層で構成される試験片の場合,

50 N の引張力

マンドレルは,急に動かすことなくゆっくりと前後に

3 回,230°回転させなければならない。試験片が

回転中に締付け装置で壊れる場合,試験は繰り返して行わなければならない。一つ以上の試験片が他の箇

所で壊れる場合,試験は不合格とする。マンドレルがその最終位置にある間,最終位置決め後

1 分以内に,

箇条 12 に規定する耐電圧試験電圧を,マンドレルと金属はく(箔)との間に,次のように 1 分間印加しな

ければならない。

d)  分離できない数層で構成される試験片の場合,3 層以上に 5 kV の試験電圧又は表 N.1 に規定する試験

電圧に

1.35 を乗じた値のいずれか大きい方の試験電圧

e)

全層の

2/3 が分離できる層で構成される試験片の場合,3 層以上に 5 kV の試験電圧又は表 N.1 に規定

する試験電圧に

1.25 を乗じた値のいずれか大きい方の試験電圧

f)

二つの分離できる層の一つで構成される試験片の場合,

5 kV の試験電圧又は表 N.1 に規定する試験電

圧に

1.25 を乗じた値のいずれか大きい方の試験電圧

試験中にフラッシュオーバー又は絶縁破壊は,発生してはならない。コロナ効果及び同様の現象は,無

視しなければならない。


72

C 8147-1:2017

表 N.1-マンドレル試験中に要求する耐電圧試験電圧 

項目

最大動作電圧実効値

V

50  150 250 500 750 1

000

きょう(筐)体と充電部との間の二重絶
縁又は強化絶縁に,更に

1.25 又は 1.35 を

乗じる試験電圧(N.4.2 参照)

500

2 800

3 750

4 750

5 200

5 500

動作電圧の中間値に対する試験電圧の値は,表の値の間での補間によって得る。

単位

mm

a)  マンドレル 

図 N.1-薄板層の絶縁材料の機械的耐力判定用試験要領 


73

C 8147-1:2017

単位

mm

b)  マンドレルの位置 

c)  紙上の金属はく(箔)の位置 

図 N.1-薄板層の絶縁材料の機械的耐力判定用試験要領(続き) 


74

C 8147-1:2017

附属書 O 
(規定)

二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置の追加要求事項

O.1 

適用範囲 

この附属書は,二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置に適用する。

O.2 

用語及び定義 

この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。

O.2.1 

二重絶縁又は強化絶縁形器具内用電子制御装置(

built-in electronic controlgear with double or reinforced

insulation)

照明器具,箱,きょう(筐)体又は相当のものに組み込むように設計され,照明器具の外に取り付ける

ことを意図していない電子式ランプ制御装置であって,接触可能な金属部が充電部から二重絶縁又は強化

絶縁によって絶縁されているもの。

注記 1  二重絶縁又は強化絶縁をもつ電子制御装置は,金属きょう(筐)体をもつクラス II 照明器具

に適用してもよい

注記 2  機能接地線の絶縁に対する要求事項がないため,この附属書の要求事項を,電子制御装置の

機能接地端子にも適用する。

O.2.2 

基礎絶縁(

basic insulation)

電撃に対し基礎的な保護を与えるために充電部に施す絶縁。

O.2.3 

付加絶縁(

supplementary insulation)

基礎絶縁の破壊の場合において,電撃に対する保護を与えるために基礎絶縁に加えて施す独立した絶縁。

O.2.4 

二重絶縁(

double insulation)

基礎絶縁と付加絶縁との双方からなる絶縁。

O.2.5 

強化絶縁(

reinforced insulation)

二重絶縁と同等の電撃保護の程度をもつ充電部に施す単一の絶縁システム。

注記 1  “絶縁システム”の用語は,絶縁が単一均質片でなければならないということを意味しない。

絶縁システムは,付加絶縁又は基礎絶縁として単独に試験のできない数層から構成していて

もよい。

O.3 

一般的要求事項 

箇条 を適用する。


75

C 8147-1:2017

O.4 

試験上の一般的注意事項 

箇条 を適用する。

O.5 

分類 

箇条 を適用する。

O.6 

表示 

7.1 で規定した表示に加え,二重絶縁又は強化絶縁をもつ電子制御装置は,記号      によって識別でき

なければならない。この表示の意味を製造業者の印刷物又はカタログに説明することが望ましい。

O.7 

充電部との偶発接触からの保護 

箇条 10 の要求事項に加え,テストフィンガが基礎絶縁だけで保護した金属部と接触してはならない。

O.8 

端子 

箇条 を適用する。

O.9 

保護接地 

二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置は,機能接地だけ許容する。箇条 の要求事項は,

機能接地端子に適用する。二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置は,保護接地端子をもって

はならない。

O.10  耐湿性及び絶縁性 

箇条 11 を適用する。

O.11  耐電圧試験 

箇条 12 を適用する。

O.12  巻線の熱耐久性試験 

箇条 13 は適用しない。

O.13  故障状態 

次の追加事項とともに箇条 14 を適用する。

試験が終了し,制御装置が周囲温度に戻った時点で,箇条 12 に加えて,充電部と接触可能な金属部の間

又は充電部と支持している表面と接触している絶縁材料の外部部分との間で,試験電圧値を表 の要求値

35 %に低減した耐電圧試験に適合しなければならない。

さらに,充電部と接触可能な金属部又は支持している表面と接触している絶縁材料の外部部分の間で,

O.10 に従った絶縁抵抗は,4 MΩ 未満であってはならない。

O.14  構造 

次の追加とともに箇条 15 を適用する。


76

C 8147-1:2017

器具内用電子制御装置の,全ての接触可能な金属部は,充電部から二重絶縁又は強化絶縁で絶縁しなけ

ればならない。さらに,充電部と制御装置の外面を接触から支持している表面との間の絶縁は,二重絶縁

又は強化絶縁で構成していなければならない。

O.15  沿面距離及び空間距離 

次の事項とともに,箇条 16 を適用する。二重絶縁又は強化絶縁を施した器具内用安定器に対して,JIS C 

8105-1 の照明器具の関連する値を適用する。

O.16  ねじ,通電部及び接続部 

箇条 17 を適用する。

O.17  耐熱性,耐火性及び耐トラッキング 

箇条 18 を適用する。

O.18  耐食性 

箇条 19 を適用する。


77

C 8147-1:2017

附属書 JA

(規定)

追加の安全性要求事項

JA.1  電源からの絶縁 

定格二次電圧が

300 V を超える変圧式の安定器の変圧器は,絶縁変圧器でなければならない。ただし,

次に適合するものにあっては,この限りでない。

a)  ランプを取り外したとき,二次電圧が 300 V 以下になるもの。

b)  ランプが取り外されたときに一次側の回路を自動的に遮断する装置を設けるべき旨が,安定器本体に

表示されている接続図によって示されているもの。

JA.2  特性試験 

JA.2.1  二次短絡電流特性 

定格周波数に等しい周波数の定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した二次短絡電流は,定格二次短絡

電流の

115 %以下とする。

JA.2.2  点灯特性 

定格周波数に等しい周波数の下で,試験用ランプを接続して点灯したとき,次に適合しなければならな

い。

a)

定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した試験用ランプの管電流は,次の表 JA.1 の値である。

表 JA.1-安定器の種別及び試験用ランプの試験用安定器の値に対する比 

単位

%

安定器の種別

試験用ランプの試験用
安定器の値に対する比

蛍光灯安定器

予熱始動式

 115 以下

ラピッドスタート式

 115 以下

その他のもの

 120 以下

蛍光灯電子安定器

 120 以下

高圧放電灯安定器

水銀灯安定器

 110 以下

その他のもの

 120 以下

低圧ナトリウム灯安定器

 120 以下

放電灯電子安定器

 115 以下

b)  定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した入力電流及び入力電力は,定格入力電流及び定格入力電力

90 %以上 110 %以下とする。ただし,試験用ランプの定格消費電力が 10 W 以下の場合にあっては,

定格入力電流及び定格入力電力の

80 %以上 120 %以下とすることができる。

JA.2.3  二次電圧特性 

二次電圧特性は,次による。

a)

定格二次電圧は,

1 000 V 以下とする。

b)  定格周波数に等しい周波数の定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した二次電圧は,定格二次電圧の

110 %以下とする。


78

C 8147-1:2017

JA.3  口出し線 

独立形ランプ制御装置の口出し線は,JIS C 8105-1 の 5.2(電源との接続及びその他の外部配線)及び 7.2

(保護接地)の規定に,また,独立形ランプ制御装置以外のランプ制御装置の口出し線については,JIS C 

8105-1 の 5.3(内部配線)の規定に適合しなければならない。ただし,JIS C 8105-1 の 5.2.2 及び 5.3.1 の規

定を次の a)及び b)に置き換える。

a)  表 JA.2 に規定する電線若しくはこれと同等以上の絶縁効力で表 JA.2 に規定する導体の公称断面積を

もつ電線,又は IEC 60227 の規格群及び JIS C 3663 の規格群に適合する電線(屋外用の独立形ランプ

制御装置の場合,キャブタイヤケーブル又は絶縁電線に限る。)は,断面積が

0.75 mm

2

以上のもので

なければならない。

ただし,定格電圧が

300 V 以下の蛍光灯安定器及び殺菌灯安定器の場合,負荷側の口出し線又はそ

の構造上,直接電源に接続されることのない電源側の口出し線,若しくはその表示する接続図によっ

て直接電源に接続されない旨が示されている電源側の口出し線は,独立形ランプ制御装置を除き,断

面積が

0.5 mm

2

以上のゴムコード又はビニルコードを使用することができる。

b) a)のただし書きの規定によって,断面積が 0.75 mm

2

未満のゴムコード又はビニルコードを口出し線に

用いる場合は,色分けその他の方法によって当該口出し線をその他の口出し線と容易に識別できるよ

うにする。

表 JA.2-電線の種類 

定格入力電圧又は

定格二次電圧

V

電線の種類

JIS 番号

導体の公称断面積

mm

2

蛍光灯安定器

蛍光灯電子安定器

電子トランス

LED モジュール用
制御装置

放電灯安定器

放 電 灯 電 子 安
定器

 300 以下

ゴムコード

JIS C 3301

0.75 以上 0.75 以上

ビニルコード

JIS C 3306

300 を超え  600 以下 600

V ビニル絶縁電線(IV)

JIS C 3307

0.9 以上 1.25 以上

口出用ゴム絶縁電線

JIS C 3315

0.75 以上

電気機器用ビニル絶縁電線

JIS C 3316

600 V 二種ビニル絶縁電線(HIV) JIS C 3317

600 を超え 1 000 以下 1

000

V 蛍光放電灯用電線

 0.75 以上

JA.4  試験方法 

JA.4.1  二次電圧試験 

二次電圧試験は,安定器を例えば図 JA.1 のように接続し,入力端子間に定格周波数の定格電圧を加え,

ランプの両端に接続する端子のいずれか高い電圧を測定する。

注記

  無負荷の二次電圧が間欠的に変化する場合,実効値指示計器の最大指示値を二次電圧と考える。

なお,陰極線オシロスコープで波形を観察し,実効値の平均を計算によって求めてもよい。

JA.4.2  二次短絡電流試験 

二次短絡電流は,安定器の入力端子間に定格周波数の定格入力電圧を加え,JA.4.1 に規定する端子間を

電流計で短絡して測定する。


79

C 8147-1:2017

注記

  短絡時の二次電流が間欠的に変化するものにあっては,実効値指示計器の最大指示値を二次短

絡電流とみなす。

なお,陰極線オシロスコープで波形を観察し,実効値の平均を計算によって求めてもよい。

図 JA.1-二次電圧測定回路 


80

C 8147-1:2017

参考文献

[1]  IEC 60065:2001,Audio, video and similar electronic apparatus-Safety requirements 及び Amendment 1:2005

[2]  IEC 60112:2003,Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid

insulating materials

[3]  IEC 60155:1993,Glow-starters for fluorescent lamps

[4]  IEC 60479 (all parts),Effects of current on human beings and livestock

[5]  IEC 60598 (all parts),Luminaires

[6]  IEC 60925:1989,DC supplied electronic ballasts for tubular fluorescent lamps-Performance requirements,

Amendment 1:1996 及び Amendment 2:2001

[7]  IEC 60927:1996 , Auxiliaries for lamps - Starting devices (other than glow starters) - Performance

requirements,Amendment 1:1999 及び Amendment 2:2004

[8]  IEC 61047:2004,DC or AC supplied electronic step-down convertors for filament lamps-Performance

requirements

[9]  IEC 61347-2-1,Lamp controlgear-Part 2-1: Particular requirements for starting devices (other than glow

starters)

[10]  IEC 61347-2-2:2011,Lamp controlgear-Part 2-2: Particular requirements for d.c. or a.c. supplied electronic

step-down convertors for filament lamps

[11]  IEC 62384,DC or AC supplied electronic controlgear for LED modules-Performance requirements

[12]  IEEE 101:1987,IEEE Guide for the Statistical Analysis of Thermal Life Test Data

  IEC/TR 60083:2009,Plugs and socket-outlets for domestic and similar general use Standardized in member

countries of IEC

  IEC 60364-4-41:2001,Electrical installations of buildings-Part 4-41: Protection for safety-Protection

against electric shock

  IEC 60449:1973,Voltage bands for electrical installations of buildings


附属書 JB

(参考)

JIS と対応国際規格との対比表

JIS C 8147-1:2017  ランプ制御装置-第 1 部:通則及び安全性要求事項

IEC 61347-1:2007 , Lamp controlgear - Part 1: General and safety requirements ,
Amendment 1:2010 及び Amendment 2:2012

(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

1  適用範囲

250 V 以下の直流電
源及び/又は

1 000

V 以下の 50 Hz 又は
60 Hz の交流電源に
使用する,ランプ制
御 装 置 の 通 則 及 び
安 全 性 要 求 事 項 に
ついて規定。

 1

JIS とほぼ同じ。

追加

“追加の安全性要求事項”を
附属書

JA に規定

我が国の法規制を追加。

81

C

 814

7-1

201

7


(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

3  用語及び
定義

49 項目の用語の定
義を規定。

 3

JIS とほぼ同じ。

追加

 
 
 
追加

 
 
 
変更

a)  入力電力,変圧式安定

器,二次電圧,二次短絡
電 流 及 び 定 格 最 高 周 囲
温度を追加。

b)  クラス I ランプ制御装置

の注記に,クラス

0 ラン

プ 制 御 装 置 の 情 報 を 追
加。

c) IEC 

61347-1 Ed3.0 記載

の 機 能 接 地 記 号 を 先 取
りした。

a)  電気用品安全法に日本独自の必須表

示項目があるので,これらを用語及び
定義に追加した。我が国固有の安全・
電気設備に関連する技術の内容であ
り,

WTO/TBT 協定に影響ない。また,

独立形ランプ制御装置においては,

JIS C 8105-1 の要求規定を満たすこ
とが明記されており,定格最高周囲温
度をランプ制御装置に表示する場合
があるため,この定義を追加した。こ
れによって試験条件もより明確にし
た。国際貿易の不必要な障害にならな
い事柄であり,

WTO/TBT に関する影

響はない。

b)  JIS C 8105-1:2010 では,クラス 0 照明

器具の定義があるため,同様に,クラ

0 ランプ制御装置の情報を追加し

た。我が国固有の安全・電気設備に関
連する技術の内容であり,

WTO/TBT

協定に影響ない。

c)  IEC 61347-1 Ed2.2 記載の機能接地記

号は誤りであるため。

5  試験上の
一般的注意
事項

試験条件・方法に関
す る 事 項 に つ い て
規定。

 5

5.3 
ある国では,試験個

3 台のうち 1 台の

不適合を認め,追加

3 台が適合すれば

よ い と の 規 定 が 記
載されている。

削除

我が国では適用しないため,試験個数

3

台のうち

1 台の不適合を認める記載は削

除した。

82

C

 814

7-1

201

7


(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

7  表示 7.1

表示する項目

本 体 又 は カ タ ロ グ
に 表 示 す る 項 目 を
規定。

 7

JIS とほぼ同じ。

追加

 
 
 
 
変更

a) uA),uB)及び uC)を追

加。また,

e),i),p)及

r)に,国内規定内容

を追加。

 
b)  外郭をもたないランプ

制御装置の必須表示は,
カ タ ロ グ 又 は 類 似 の 資
料 で の 表 示 を 許 容 す る
内容に変更。

a)  我が国では,電気用品安全法及び電気

設備技術基準があり,その表示規定を
追加。我が国固有の安全・電気設備に
関 連 す る 技 術 の 内 容 で あ り ,
WTO/TBT 協定に影響ない。

b)  今後の小形化と実装密度向上を見込

み,カタログ又は類似の資料での表示
を許容する内容に変更。今後,差異解
消に向け,表示方法の追加を IEC 
提案していく。

9.5.1  他 の
設備への接
地接続

接地用端子材料,適
合性,接地を要する
条件,接地用端子及
び 接 地 用 口 出 し 線
の仕様を規定。

 9.5.1

JIS とほぼ同じ。

追加

接地を要する条件,接地用端
子及び接地用口出し線の仕
様を追加。

国内技術基準(電気用品安全法)の接地
要求基準を追加。我が国固有の安全に関
連する技術の内容であり,

WTO/TBT 協定

に影響ない。

13  安 定 器
巻線の熱耐
久性試験

試 験 方 法 及 び 絶 縁
性能について規定。

 13

JIS とほぼ同じ。

変更

 
 
 
 
追加

 
 
 
削除

a)  抵抗法による巻線の温

度条件を“巻線温度が安
定し始めた後に”に変更
した(対応国際規格では

4 時間後に”)。

b)  注記 5 で試験前及び試験

後 の ラ ン プ 電 流 測 定 用
ラ ン プ は 特 性 試 験 だ け
に使用することを追加。

c)  不合格の存在を許容す

る 試 験 結 果 の 判 定 基 準
を削除

a)  熱容量の大きい放電灯安定器などは,

安定前に時間を要するため変更した。
今後,差異解消に向け,表示方法の追
加を IEC に提案していく。

 
b)  熱耐久性試験に用いるランプとラン

プ電流測定用ランプとを明確に区別
するため追加した。

 
c)  不合格を認めるのは,技術基準とし

て,不適切と判断した。我が国固有の
安全に関連する技術の内容であり,
WTO/TBT 協定に影響ない。

83

C

 814

7-1

201

7


(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

14  故 障 状

故 障 状 態 に つ い て
規定

 14

JIS とほぼ同じ。

削除

三つの試験試料で実施し,一
つの試験試料が不合格であ
る場合には,新たに三つの試
験試料で実施して全て合格
であれば合格とする判定基
準を削除。

不合格を認めるのは,技術基準として,
不適切と判断した。我が国固有の安全に
関連する技術の内容であり,

WTO/TBT 協

定に影響ない。

16  沿 面 距
離及び空間
距離

ラ ン プ 制 御 装 置 各
部 間 の 沿 面 距 離 及
び 空 間 距 離 の 考 え
方及び値(直線補完
法採用)について規
定。

 16

JIS とほぼ同じ。

追加

“ただし,絶縁を要求する巻
線間は除く。”を追加。

旧 規 格 か ら の デ ビ エ ー シ ョ ン を 継 続 す
る。 

3 の注記に“規定する電圧

の中間の電圧の絶縁距離は,
直線補完を適用する。”を追
加。

IEC 60598-1 Ed5.0 では,絶縁距離の規定
として直線補完が認められており,これ
に合わせた。

我が国固有の定格電圧での
絶縁距離について,数値を記
載した。また,クラス

0 ラン

プ制御装置の絶縁距離は,

JIS C 8105-1 の 11.2 を配慮す
る旨を追記した。

JIS C 8105-1 で記載された我が国固有の
定格電圧及びクラス

0 照明器具の絶縁距

離の要求事項を追加した。これによって,
器具とランプ制御装置との絶縁距離の要
求事項を整合させた。我が国固有の安全
に関連する技術の内容であり,

WTO/TBT

協定に影響ない。

18  耐熱性,
耐火性及び
耐トラッキ
ング性

外部絶縁部品,充電
部 保 持 部 品 の 耐 熱
性,耐火性及び耐ト
ラ ッ キ ン グ 性 に つ
いて規定。

 18

JIS とほぼ同じ。

追加

 18.5 において,耐トラッキン

グ性をもつランプ制御装置
の種類条件に対象となる部
品及び除外項目を追加し,部
位を明確化。

対応国際規格は,ランプ制御装置のどの
部位が耐トラッキング性をもたなくてよ
いのか不明であるため,具体的部位を明
確にした。

なお,国際貿易の不必要な障害にならな
い事柄であり,

WTO/TBT に関する影響は

ない。

19  耐食性

鋼 鉄 製 部 品 の 腐 食
に対し,その試験及
び評価方法を規定。

 19

JIS とほぼ同じ。

追加

安定器の露出した鉄心表面
の耐食性を緩和する条件を
追加。

さびが生じても適切に保護されているも
のとみなす条件を追加。

なお,国際貿易の不必要な障害にならな
い事柄であり,

WTO/TBT に関する影響は

ない。

84

C

 814

7-1

201

7


(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

附属書

B

(規定)

熱的保護機
能付きラン
プ制御装置
の個別要求
事項

B.9.3 JIS C 8147-2-8
に 規 定 す る 定 格 最
高 ケ ー ス 温 度 が ,
130  ℃ 以 下 の 動 作
温 度 を 宣 言 す る 熱
的 保 護 機 能 付 き ラ
ン プ 制 御 装 置 に つ
い て の 要 求 事 項 を
規定。

附属書

B

(規定)
B.9.3

JIS とほぼ同じ。

追加

 B.9.3“通常状態で(t

w

5)℃

の巻線温度を得るような周
囲温度,又は(

t

a

5)℃の周

囲温度の温度安定状態でラ
ンプ制御装置を動作させる。
ただし,安定器の外部表面の
定格最高温度

t

c

を宣言して

いるものは,安定器の外部表
面が(

t

c

5)℃となる温度安

定状態で動作させる。”旨を
追加。“各々,通常動作状態
では

50  ℃又は t

c

を超えては

ならない。”を削除,“なお,

JIS C 4908 に規定する保安
装置内蔵コンデンサ及び保
安機構付きコンデンサは,適
用外とする。また,力率改善
用又は進相用以外のコンデ
ンサで,そのコンデンサの故
障によって危険が生じるお
それのないものは,適用外と
する。”を追加。

蛍光灯安定器及び放電灯安定器では,コ
ンデンサをケースに内蔵し,巻線を含め
コンパウンドに充塡したものが広く用い
られている。この種の安定器は,特に器
具込みの温度上昇について,定格最高使
用温度

t

w

となる周囲温度で試験を実施し

たとき,コンデンサの定格最高温度

t

c

上となる場合がある。このため,安定器
外郭表面(コンデンサ)の定格最高温度
t

c

となる周囲温度での試験条件を追加し

た。また,独立形の場合,

t

a

表示もあるの

で,

t

a

での試験条件も併せて追加した。コ

ンデンサの通常状態での試験条件は,重
複するので削除した。また,故障状態で

t

c

10)℃以下は困難であるため,保安

装置内蔵コンデンサは除外した。

なお,我が国で普及している代替方法の
追加で

WTO/TBT に関する影響はない。

85

C

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7-1

201

7


(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

附属書

B

(規定)

B.9.4 JIS C 8147-2-8
に 規 定 す る 定 格 最
高 ケ ー ス 温 度 が
130  ℃ を 超 え る 動
作 温 度 を 宣 言 す る
熱 的 保 護 機 能 付 き
ラ ン プ 制 御 装 置 に
つ い て の 要 求 事 項
を規定。

 B.9.4

JIS とほぼ同じ。

追加

変更

B.9.4 a) “安定器は,B.9.3
に規定する条件でランプを
点灯させる。ただし,チョー
クコイル式安定器は,附属書
D”を追加し,“…動作させ
ること”を“

…動作させても

よい”旨に変更。

我が国の変圧式安定器には短絡電流は適
合できないため,ランプ点灯状態とする
必要がある。我が国で普及している代替
方法の追加で

WTO/TBT に関する影響は

ない。

 B.9.5

JIS C 8147-2-9

に 規 定 す る 温 度 を
宣 言 す る 熱 的 保 護
機 能 付 き ラ ン プ 制
御 装 置 に つ い て の
要求事項を規定。

 B.9.5

追加

JIS としてのデビエーション
を追加した。

“表

B.2 に規定する最高温度

に達するまでの時間が,当該
表に規定するケースの最高
温度に対応する時間を超え
な い 場 合 , ケ ー ス 温 度 は
135  ℃を超えてもよい。” 
“なお,JIS C 4908 に規定す
る保安装置内蔵コンデンサ
及び保安機構付きコンデン
サは,適用外とする。また,
力率改善用又は進相用以外
のコンデンサで,このコンデ
ンサの故障によって危険が
生じるおそれのないものは,
適用外とする。”を追加。

上記に加え,

B.9.3 と同様の理由によるほ

か,放電灯安定器は,一般的に安定器ケ
ー ス 内 に コ ン パ ウ ン ド が 充 塡 さ れ て お
り,熱容量も大きいため,オーバシュー
トの規定が必要である。我が国で普及し
ている代替方法の追加で

WTO/TBT に関

する影響はない。

86

C

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7-1

201

7


(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

附属書

B

(規定)

B.9.5

B.9.5

試 験 回 路 及 び 試 験
条件が明確でない。
構成順序が異なる。

変更

 B.9.5.2 の試験手順は,温度条

件を(

t

w

20)℃から(t

w

5)℃に変更した。 
t

w

の表示のない安定器で,絶

縁の種類が

A 種のものは t

w

105,E 種のものは t

w

120,

B 種のものは t

w

130 を適用

する。

試験手順の熱的保護機能付きランプ制御
装置の不動作条件(

t

w

20)℃については,

我が国の安定器では自動復帰タイプ熱的
保護手段内蔵の場合,(

t

w

10)℃で動作

するものがあるため,(

t

w

5)℃に修正し

た。また,

t

w

を表示しない我が国固有の絶

縁クラス表示(

A 種など)は,t

w

温度との

相関を規定し,試験に適用させた。また,
ダイオード+抵抗の試験回路では困難な
場合も適用できるよう,ランプ負荷での
試験条件も認めた[(

t

a

5)℃及び/又は

t

c

5)℃双方の条件]。我が国で普及し

ている代替方法の追加で

WTO/TBT に関

する影響はない。

 B.9.5A

熱 的 保 護 機

能 付 き 独 立 形 ラ ン
プ 制 御 装 置 に つ い
て の 要 求 事 項 を 規
定。

追加

熱的保護機能付き独立形ラ
ンプ制御装置についての要
求事項を規定。

従来,JIS で規定していた“取付け面の動
作温度を宣言した熱的保護機能付き独立
形安定器”は,

130  ℃を超えるものがな

いため削除し,この規定でカバーできる
として追加。我が国で普及している代替
方法の追加で

WTO/TBT に関する影響は

ない。

87

C

 814

7-1

201

7


(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

附属書

C

(規定)

過 熱 保 護 手 段 付 き
電 子 ラ ン プ 制 御 装
置の個別要求事項

附属書

C

(規定)

JIS とほぼ同じ。

追加

 C.7.2 に,“最高表面温度が

130  ℃以下の表示をする安
定器の表面温度と時間との
関係”の旨の規定を追加。

安全性の確保のため追加。我が国で普及
している代替方法の追加で

WTO/TBT に

関する影響はない。

附属書

D

(規定)

熱 的 保 護 機 能 付 き
ラ ン プ 制 御 装 置 の
加熱試験方法

附属書

D

(規定)

JIS とほぼ同じ。

追加

 D.0 として,“大形の安定器

は,この附属書に規定する試
験容器に収まらない場合が
あるので,附属書

F に規定す

る構造又は空気の循環のな
い恒温槽を代用することが
できる”を追加。

大 形 の 安 定 器 で の 試 験 条 件 を 明 確 化 し
た。今後,差異解消に向け,表示方法の
追加を IEC に提案していく。

附属書

H

(規定)

H.5  試 験 用 ラ ン プ
の装着及び接続

 H.5

JIS とほぼ同じ。

変更

ランプを“水平に”を“関連
するランプ規格に規定する
方向に”に変更。

ランプによって取付け方向が異なる場合
があるため,表現を変更した。国際貿易
の不必要な障害にならない事柄であり,
WTO/TBT に関する影響はない。

 H.10

試験用ランプ

H.10

JIS とほぼ同じ。

追加

JIS C 7601 に規定されて
いないランプの場合,周囲温
度が

25  ℃の環境において試

験用安定器でランプを点灯
させたとき,ランプ電流が製
造業者の宣言値から

2.5 %を

超えて外れてはならない。”
を追加。

JIS に規定されていないランプもあるた
め,ランプ電流が製造者の宣言値から逸
脱しないよう追記。国際貿易の不必要な
障害にならない事柄であり,

WTO/TBT に

関する影響はない。

88

C

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7-1

201

7


(

I)JIS の規定

(

II)国際

規格番号

(

III)国際規格の規定

(

IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

(

V)JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

附属書

H

(規定)

H.12.1.1  ラ ン プ 制
御 装 置 の 各 部 分 の
温度

 H.12.1.1

JIS とほぼ同じ。

追加

 a)

“ただし,安定器の外部
表面の定格最高温度

t

c

宣言しているものは,安
定器の外部表面が

t

c

とほ

ぼ 等 し く な る よ う に 調
整する。”を追加。

b)  巻線温度の測定は“抵抗

法”に限定。

 
c)  “(ただし,個別規格の

規定に基づいて,製造業
者の要求がある場合,電
源 電 圧 は 定 格 電 圧 の
100 %のままとすること
ができる。)”及び“

t

w

測定した巻線温度,又は
t

c

と測定したケース温度

との差を補正した”を追
加。

a)  t

c

宣言の安定器の試験条件の追加。国

際貿易の不必要な障害にならない事
柄であり,

WTO/TBT に関する影響は

ない。

 
 
b)  巻線の温度上昇は,抵抗法に統一し

た。我が国で普及している方法であ
り,

WTO/TBT に関する影響はない。

c)  国際規格を作成するときにも(洩)れ

たと思われるため,JIS C 8118-1(現
在は廃止)の規定内容を追加した。

IEC 規格の見直しの際,改修提案を行
う。

附属書

JA

(規定)

追 加 の 安 全 性 要 求
事項

追加

我が国の技術基準(電気用品安全法,電
気設備技術基準)の安全要求事項を追加
し,安全性を確保する。我が国固有の安
全・電気設備に関連する技術の内容であ
り,

WTO/TBT 協定に影響ない。

JIS と国際規格との対応の程度の全体評価:

IEC 61347-1:2007,Amd.1:2010 及び Amd.2:2012,MOD)

89

C

 814

7-1

201

7


注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

  削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

 MOD

国際規格を修正している。

90

C

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