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C 8147-1

:2011

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  用語及び定義 

3

4

  一般的要求事項 

7

5

  試験上の一般的注意事項 

7

6

  分類

8

7

  表示

8

7.1

  表示する項目 

8

7.2

  表示の耐久性及び判読性 

10

8

  端子

10

9

  保護接地

10

10

  充電部との偶発接触からの保護

11

11

  耐湿性及び絶縁性 

11

12

  耐電圧

12

13

  安定器巻線の熱耐久性試験 

12

14

  故障状態 

15

15

  構造

19

15.1

  木,綿,絹,紙及び同様な繊維質材料 

19

15.2

  プリント配線板

19

16

  沿面距離及び空間距離 

19

17

  ねじ,通電部及び接続部 

20

18

  耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性 

21

19

  耐食性

21

20

  無負荷出力電圧

22

附属書 A(規定)導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験 

23

附属書 B(規定)熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項

24

附属書 C(規定)過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項 

32

附属書 D(規定)熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法 

35

附属書 E(規定)t

w

試験での 4 500 以外の定数 の使用

37

附属書 F(規定)風防容器 

39

附属書 G(規定)パルス電圧の値の由来の説明

40

附属書 H(規定)試験

44

附属書 I(規定)二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項 

49

附属書 J(規定)より面倒な要求事項の一覧 

52


C 8147-1

:2011  目次

(2)

ページ

附属書 K(参考)製造工程における適合試験

53

附属書 JA(規定)追加の安全性要求事項 

55

附属書 JB(参考)JIS と対応国際規格との対比表 

59


C 8147-1

:2011

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電球

工業会(JELMA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 8147-1:2005 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 8147

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 8147-1

  第 1 部:通則及び安全性要求事項

JIS C 8147-2-1

  第 2-1 部:始動装置の個別要求事項(グロースタータを除く)

JIS C 8147-2-2

  第 2-2 部:直流又は交流電源用低電圧電球用電子トランスの個別要求事項

JIS C 8147-2-3

  第 2-3 部:交流電源用蛍光灯電子安定器の個別要求事項

JIS C 8147-2-8

  第 2-8 部:蛍光灯安定器の個別要求事項

JIS C 8147-2-9

  第 2-9 部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く)

JIS C 8147-2-10

  第 2-10 部:管形冷陰極放電ランプ(ネオン管)の高周波動作用電子インバータ及び

変換器の個別要求事項

JIS C 8147-2-11

  第 2-11 部:照明器具用のその他の電子回路の個別要求事項

JIS C 8147-2-12

  第 2-12 部:直流又は交流電源用放電灯電子安定器の個別要求事項(蛍光灯を除く)

JIS C 8147-2-13

  第 2-13 部:直流又は交流電源用 LED モジュール用制御装置の個別要求事項


日本工業規格

JIS

 C

8147-1

:2011

ランプ制御装置−第 1 部:通則及び安全性要求事項

Lamp controlgear-Part 1: General and safety requirements

序文 

この規格は,2007 年に第 2 版として発行された IEC 61347-1 及び Amendment 1(2010)を基とし,技術

的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JB に示す。また,附属書 JA は対応国際規格にはない事項であ

る。

適用範囲 

この規格は,250 V 以下の直流電源及び/又は 1 000 V 以下の 50 Hz 又は 60 Hz の交流電源に使用する,

ランプ制御装置の通則及び安全性要求事項について規定する。

この規格は,まだ規格化されていないランプのためのランプ制御装置についても適用する。

この規格で扱う試験は,形式試験である。生産しているランプ制御装置個々の試験の要求事項は,規定

しない。

準照明器具の要求事項は,JIS C 8105-1(準照明器具の定義は,JIS C 8105-1 の 1.2.60 参照)による。

附属書 は,熱的保護機能付きランプ制御装置に適用する通則及び安全性要求事項を規定する。

附属書 は,過熱保護手段付き電子ランプ制御装置に適用する通則及び安全性要求事項を規定する。

附属書 は,二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項を規定する。

さらに,追加の安全性要求事項については,

附属書 JA に規定する。

注記 1  この規格に適合するランプ制御装置は,独立形として,又は照明器具の安全性要求事項通則

JIS C 8105-1

及びその個別要求事項 JIS C 8105-2 の規格群に適合する照明器具内蔵形として

動作するため,定格電圧 90∼110 %の範囲で安全性が期待できる。また,性能要求はより厳

しい限界が必要となる。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61347-1:2007

,Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements 及び Amendment

1:2010(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。


2

C 8147-1

:2011

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0920

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529:1989,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)及び

Amendment 1:1999(IDT)

JIS C 3215-0-1

  巻線個別規格−第 0 部:一般特性−第 1 節:エナメル銅線

注記  対応国際規格:IEC 60317-0-1:1997,Specifications for particular types of winding wires−Part 0:

General requirements − Section 1: Enamelled round copper wire , Amendment 1:1999 及 び

Amendment 2:2005(IDT)

JIS C 3301

  ゴムコード

JIS C 3306

  ビニルコード

JIS C 3307

  600 V ビニル絶縁電線(IV)

JIS C 3315

  口出用ゴム絶縁電線

JIS C 3316

  電気機器用ビニル絶縁電線

JIS C 3317

  600 V 二種ビニル絶縁電線(HIV)

JIS C 3663

(規格群)定格電圧 450/750 V 以下のゴム絶縁ケーブル

JIS C 4908

  電気機器用コンデンサ

JIS C 5101-14

  電子機器用固定コンデンサ−第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデン

注記  対応国際規格:IEC 60384-14,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14: Sectional

specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the

supply mains(IDT)

JIS C 6691

,温度ヒューズ−要求事項及び適用の指針

注記  対応国際規格:IEC 60691:2002,Thermal-links−Requirements and application guide(MOD)

JIS C 7601

  蛍光ランプ(一般照明用)

JIS C 8105-1

  照明器具−第 1 部:安全性要求事項通則

注記  対応国際規格:IEC 60598-1:2008,Luminaires−Part 1: General requirements and tests(MOD)

JIS C 8118

  蛍光灯安定器−性能要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60921:2004,Ballasts for tubular fluorescent lamps−Performance requirements

(MOD)

JIS C 8119

  放電灯安定器(蛍光灯を除く)−性能要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60923:2005,Auxiliaries for lamps−Ballasts for discharge lamps (excluding

tubular fluorescent lamps)−Performance requirements(MOD)

JIS C 8147-2

(規格群)  ランプ制御装置−第 2 部:個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61347-2 (all parts),Lamp controlgear−Part 2: Particular requirements(MOD)

JIS C 8147-2-8

  ランプ制御装置−第 2-8 部:蛍光灯安定器の個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61347-2-8,Lamp controlgear−Part 2-8: Particular requirements for ballasts for

fluorescent lamps(MOD)

JIS C 8147-2-9

  ランプ制御装置−第 2-9 部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く)

注記  対応国際規格:IEC 61347-2-9:2009,Lamp controlgear−Part 2-9: Particular requirements for

ballasts for discharge lamps (excluding fluorescent lamps)(MOD)


3

C 8147-1

:2011

JIS C 9730-2-3

  家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置−第 2-3 部:蛍光ランプ用安定器の

感熱式保護装置の個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60730-2-3,Automatic electrical controls for household and similar use−Part

2-3: Particular requirements for thermal protectors for ballasts for tubular fluorescent lamps(MOD)

JIS C 60664-3

  低圧系統内機器の絶縁協調−第 3 部:汚損保護のためのコーティング,ポッティング

及びモールディングの使用

注記  対応国際規格:IEC 60664-3,Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−

Part 3: Use of coating, potting or moulding for protection against pollution(IDT)

JIS C 60695-2-10

  耐火性試験−電気・電子−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-10,Fire hazard testing−Part 2-10: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire apparatus and common test procedure(IDT)

JIS C 60695-11-5

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バーナ)

試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame test

method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

JIS P 0001

  紙・板紙及びパルプ用語

注記  対応国際規格:ISO 4046-4:2002,Paper,board,pulps and related terms−Vocabulary−Part 4: Paper

and board grades and converted products(MOD)

JIS Z 8113

  照明用語

IEC 60227 (all parts)

,Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and including 450/750 V

IEC 60417

,Graphical symbols for use on equipment

IEC 60990:1999

,Methods of measurement of touch current and protective conductor current

IEC 61189-2

,Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and

assemblies−Part 2: Test methods for materials for interconnection structures

IEC 61249-2 (all parts)

,Materials for printed boards and other interconnecting structures

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8113 によるほか,次による。

3.1 

ランプ制御装置(lamp controlgear) 

電源と 1 個又はそれ以上のランプとの間に挿入する単独又は複数の構成部品。電源電圧を変圧する,ラ

ンプ電流を所定の値に制限する,始動電圧及び予熱電流の供給,コールドスタートの防止,力率の改善,

無線障害の低減などに役立つ。

3.1.1 

器具内用ランプ制御装置(built-in lamp controlgear) 

照明器具,箱,外郭又は類似のものに組み込むように設計したランプ制御装置。特別な防護なしに,照

明器具などの外部に設置することを意図しないランプ制御装置。

注記  道路照明用ポール底部のランプ制御装置収納部は,外郭とみなす。

3.1.2 

独立形ランプ制御装置(independent lamp controlgear) 


4

C 8147-1

:2011

ランプ制御装置の表示に従った保護を備え,何らかの外郭を付加することなく,照明器具の外側に別置

できるよう設計した,1 個以上の素子で構成したランプ制御装置。

注記  これは,表示に従って必要な保護を備えた適切な外郭の中に設置した器具内用ランプ制御装置

で構成してもよい。

3.1.3 

器具一体形ランプ制御装置(integral lamp controlgear) 

照明器具の交換不可能な部分を形成し,

照明器具から分離して試験することのできないランプ制御装置。

3.2 

安定器(ballast) 

電源と 1 個又は複数のランプとの間に挿入される装置であり,インダクタンス,コンデンサ又はインダ

クタンスとコンデンサとの組合せによって,主としてランプ電流を所定の値に制限するもの。

注記  電源電圧を変圧する手段,始動電圧及び予熱電流の提供を補助するための手段を含んでもよい。

3.2.1 

直流電源用電子安定器(d.c. supplied electronic ballast) 

半導体部品を用いた直流−交流インバータ。1 個又は複数の蛍光ランプに電力を供給するための安定化

素子を含んだものがある。

3.2.2 

試験用安定器(reference ballast) 

供試安定器の試験に用いる比較の基準及び試験用ランプ選定のために設計した特別な誘導形安定器。こ

の安定器は,JIS C 8118 

附属書 C(試験用安定器)及び JIS C 8119 の附属書 A(試験用安定器)に規定

するように,電流,温度及び電磁的環境の変化に対し,相対的に影響を受けない安定した電圧−電流特性

をもつという,本質的な特性がある。

3.2.3 

外部制御形安定器(controllable ballast) 

ランプ点灯特性を,主電源又は外部制御入力によって変更することができる電子安定器。

3.3 

試験用ランプ(reference lamp) 

安定器の試験用に選定したランプ。試験用安定器と組み合わせたとき,関連するランプ規格に規定した

定格値に近い電気特性をもつ。

3.4 

試験用安定器の基準電流(calibration current of a reference ballast) 

試験用安定器の校正及び管理の基準となる電流。

注記  この電流は,試験用安定器に適合するランプの定格ランプ電流と,ほぼ等しくすることが望ま

しい。

3.5 

入力電圧(supply voltage) 

ランプ及びランプ制御装置の回路全体に印加する電圧。

3.6 

動作電圧(working voltage) 

ランプ制御装置を定格電圧で動作させるとき,過渡的なものは無視し,無負荷状態又は通常動作中に絶


5

C 8147-1

:2011

縁物間に生じる最大実効値電圧。

3.7 

設計電圧(design voltage) 

ランプ制御装置の全ての特性が満足すると,製造業者が宣言した電圧。この値は,定格電圧範囲の最大

値の 85 %以上である。

3.8 

電圧範囲(voltage range) 

安定器を動作させることを意図した入力電圧の範囲。

3.9 

定格無負荷出力電圧(rated no-load output voltage)

安定器出力に負荷を接続しない状態で,定格周波数の定格入力電圧を印加したとき,出力する電圧。過

渡的及び始動時は無視する。

3.10 

入力電流(supply current) 

ランプ及びランプ制御装置の回路全体に供給する電流。

3.11 

充電部(live part) 

通常の使用中に電撃を生じるおそれのある導電部。中性線は,充電部とみなす。

注記  導電部が,電撃を生じるおそれのある充電部であるかどうかを確認するための試験を,附属書

A

に規定している。

3.12 

形式試験(type test) 

関連する規定の要求事項に対する製品設計の適合性確認の目的のために,形式試験試料で行う試験又は

一連の試験。

3.13 

形式試験試料(type-test sample) 

形式試験のために,製造業者又は責任がある販売業者によって提出する,1 個又は複数の同様のユニッ

トからなる試料。

3.14 

回路力率,λ(circuit power factor, λ 

ランプ制御装置とランプ制御装置が設計の対象としたランプとを組み合わせたときの力率。

3.15 

高力率形安定器(high power factor ballast) 

回路力率(進相又は遅相)が 0.85 以上の安定器。

注記 1 0.85 の値は,電流波形ひず(歪)みの力率への影響を考慮している。

注記 2  北米では,高力率は 0.9 以上と定義されている。

3.16 

定格最高温度,t

c

(rated maximum temperature, t

c

 

通常使用状態で,定格電圧又は最大定格電圧範囲において,外郭で生じる(表示している場合には表示

した箇所)最高許容温度。


6

C 8147-1

:2011

3.17 

ランプ制御装置巻線の定格最高使用温度,t

w

(rated maximum operating temperature of a lamp controlgear

winding, t

w

 

50/60 Hz でランプ制御装置が,10 年間以上の連続寿命をもつと期待し得る最高温度で,製造業者が指定

した巻線温度。

3.18 

整流現象(rectifying effect) 

片側の電極の破損又は不十分な電子放射によって,連続する半サイクルに放電電流の不均衡な状態が継

続する,ランプ寿命末期に生じる現象。

3.19 

熱耐久性試験の試験期間,D(test duration of endurance test, D 

温度条件に基づいた選択可能な熱耐久性試験の期間。

3.20 

安定器巻線の絶縁劣化定数,S(degradation of insulation of a ballast winding, S 

安定器絶縁の劣化を決定する定数。

3.21 

イグナイタ(ignitor) 

放電ランプを始動するためにパルス電圧を発生させる装置。両電極の予熱を行うものではない。

注記  始動パルス電圧を発生する素子は,トリガーのあり又はなしのいずれでもよい。

3.22 

保護接地(大地),    [IEC 60417 の 5019 (2002-10)][protective earth (ground),      ]

安全上の理由で,端子によって大地に接続する部分。

3.23 

機能接地(大地),    [IEC 60417 の 5017 (2002-10)][functional earth (ground),      ]

安全以外の理由で,端子によって大地に接続する部分。

注記 1  ある場合には,ランプに近接した始動補助を出力端子の一方に接続するが,電源側で大地に

接続する必要はない。

注記 2  ある場合には,機能接地は,始動の容易性及び電磁両立性のために必要とすることがある。

3.24 

フレーム(シャーシ),    [IEC 60417 の 5020 (2002-10)][frame (chassis),      ]

その電位を基準とみなす端子。

3.25 

制御端子(control terminals) 

電源入力端子以外の電子安定器接続端子で,安定器との情報交換をする端子。

注記  電源入力端子を,情報交換をする端子としてもよい。

3.26 

制御信号(control signal)

安定器を制御するために,安定器と情報交換をする信号。この信号は,交流又は直流の電圧であっても,

アナログ,ディジタル又はその他の変調信号でもよい。


7

C 8147-1

:2011

3.26A 

入力電力(supply wattage) 

ランプ及びランプ制御装置の回路全体に供給する電力。

3.26B 

変圧式安定器(transformer type ballast) 

変圧器の機能をもつ安定器。この安定器には,絶縁変圧器形とそうでないものとがある。

3.26C 

二次電圧(secondary voltage) 

安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えたとき,二次側に定常的に発生する,無負荷(多灯用では全

てのランプを外した状態)又は適合ランプ点灯時(定格点灯又は調光負荷時)のいずれか高い方の電圧。

3.26D 

二次短絡電流(secondary short-circuit current) 

安定器に定格周波数の定格入力電圧を加え,二次側(フィラメント端子間を除く。

)を短絡したときに二

次側に定常的に流れる電流(無負荷時の二次電圧を定格二次電圧とするものに限る。

3.26E 

定格最高周囲温度,t

a

(rated maximum operating ambient temperature, t

a

 

ランプ制御装置が通常の状態で使用できる,製造業者が宣言した最高周囲温度。

一般的要求事項 

ランプ制御装置は,通常の使用状態で使用者及び周囲を危険にさらすことなく使用できるように,設計

及び構成しなければならない。

適合性は,規定した全ての試験を実施することによって判定する。

独立形ランプ制御装置は,IP 分類などの分類及び表示の要求事項も含めて,JIS C 8105-1 の要求事項を

満たさなければならない。さらに,二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器は,

附属書 I

の要求事項にも適合しなければならない。

外郭をもたず,プリント基板及びその基板上の部品で構成する器具内用ランプ制御装置は,照明器具に

組み込まれた場合に,JIS C 8105-1 の要求事項を満足しなければならない。外郭をもたない器具一体形ラ

ンプ制御装置は,JIS C 8105-1 の 0.5(照明器具の構成部品)で定義した器具一体形部品として扱い,器具

に組み込んだ状態で試験しなければならない。

注記  必要がある場合,試験方法について照明器具製造業者が安定器製造業者に相談することを推奨

する。

ランプ安全規格では,ランプの安全動作のために“安定器設計のための情報”を提供している。安定器

の試験時,これは規定とみなす。

試験上の一般的注意事項 

5.1

この規格による試験は,形式試験である。

注記  要求事項及びこの規格で規定する許容差は,形式試験のために製造業者が提出した形式試験試

料の試験に適用することになる。この形式試験試料が適合しても,製造業者の全ての製品がこ

の安全規格に適合していることを保証するものではない。

製品の適合性は,製造業者の責任であり,形式試験のほかに日常試験及び品質保証を含んで


8

C 8147-1

:2011

もよいことになる。

5.2

試験は,その他に規定がない場合,10  ℃∼30  ℃の周囲温度で実施する。

5.3

形式試験は,その他に規定がない場合,形式試験の目的のために提出された 1 個又は複数の品目

からなる一つの試料で実施する。

一般に,全ての試験は,それぞれの形式のランプ制御装置に対して実施するか,一連の同様なランプ制

御装置を含む場合は,製造業者の同意を得てその範囲の中の各ワット数のもの,又はその範囲から代表を

選んで実施する。

5.4

試験は,JIS C 8147-2 の規格群に規定がない場合,この規格に規定する順番で実施しなければならな

い。

5.5

温度上昇試験では,15 mm∼20 mm の厚さの 3 枚のつや消し黒色塗装した木製又は木繊維板を部屋

の二つの壁及び天井に模した試験コーナーの中に,独立形ランプ制御装置を取り付ける。ランプ制御装置

は,壁にできる限り近い天井に固定し,天井は,ランプ制御装置の壁側以外の端部から 250 mm 以上伸ば

さなければならない。

5.6

電池を用いて動作することを意図している直流電源安定器では,電源インピーダンスが電池のもの

と同等である場合,電池以外の直流電源を代わりに用いてもよい。

注記  適切な定格電圧で少なくとも 50  μF の静電容量をもつ無誘導性コンデンサを,試験中のユニッ

トの電源端子の両端に接続している場合,通常,電池のものと同等の電源インピーダンスを示

す。

5.7

この規格の要求事項に対してランプ制御装置を試験する場合,新しい試験試料を以前の試験報告書

とともに提出することで,以前の試験報告書をこの規格に従って更新してもよい。

一般的には,全ての形式試験は必要としない。製品と以前の試験結果とは,

附属書 に“R”と表記し

た修正項に対してだけ,見直す。

分類 

ランプ制御装置は,取付方法によって次のように分類する。

−  器具内用

−  独立形

−  器具一体形

表示 

7.1 

表示する項目 

JIS C 8147-2

の規格群には,次の項目のいずれを,強制的な表示として表示するか,情報としてランプ

制御装置本体又は製造業者のカタログ若しくは類似の資料に表示するかを,規定している。

a)

供給者の表示(登録商標,製造業者名又は責任のある販売業者名若しくは納入業者名)

b)

製造業者の形式番号又は形式名。

c)

独立形ランプ制御装置の記号      (該当する場合)

d)

ランプ制御装置のヒューズなどの交換部品と互換部品との相関関係は,ランプ制御装置上の凡例によ

って明白に表示する,又はヒューズは除いて,製造業者のカタログで指定しなければならない。

e)

定格入力電圧(複数の電圧がある場合,それぞれの電圧)

,電圧範囲,電源周波数,入力電流及び定格

入力電力は,製造業者の資料に記載してもよい。


9

C 8147-1

:2011

f)

接地用端子がある場合,記号      ,      又は      によって識別しなければならない。これらの記号

は,ねじ又はその他の容易に取り外せる部品には表記してはならない。

注記 1  記号の用い方は,IEC 60417 参照。 

g)

記号 t

w

の後に,巻線の定格最高使用温度の宣言値。値は,5  ℃の倍数で増加する。

h)

ランプ制御装置が,充電部との偶発的な接触から保護するために,照明器具の外郭に依存しない場合

は,照明器具の外郭に依存しないことの表示。

i)

端子がある場合,適合する電線の断面積又は導体径。

記号:断面積で表す場合には,該当する値の平方ミリメートル(mm

2

)の後に,小さな四角□を付け

る。又は,導体径で表す場合には,関連する導体の導体径のミリメートル(mm)の値の前に,φを

付ける。

j)

ランプ制御装置に適したランプ形式及び定格電力若しくは電力範囲,又はランプ制御装置が設計の対

象としたランプ形式についてのランプデータシート上の名称。ランプ制御装置が複数のランプを点灯

することを意図している場合には,各ランプの数及び定格電力数を表示しなければならない。

注記 2  JIS C 8147-2-2 に規定するランプ制御装置では,製造業者の印刷物にその他の規定がない

場合,表示した電力数範囲は,範囲内の定格を全て含むことを前提としている。

k)

端子の位置及び目的を示す配線図。端子のないランプ制御装置の場合には,結線に用いる電線の記号

の意味を配線図に明確に記載しなければならない。特定回路だけで動作するランプ制御装置は,例え

ば,表示,配線図などによって記載しなければならない。

l)

t

c

の値。これがランプ制御装置の特定の位置に関係する場合には,この位置を明示するか,又は製造

業者のカタログに記載しなければならない。

m)

動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置の記号    (

附属書 参照)。この三角形の中

の点は,製造業者が指定した定格最高ケース温度(単位は℃表示)の値に置き換えることとし,その

値は,10 の倍数で増加する。

n)

ランプ制御装置に追加で要求する放熱手段。

o)

照明器具設計の情報として,制御装置を照明器具に内蔵する場合の異常状態における巻線の限界温度。

注記 3  異常状態となり得ない回路に用いるランプ制御装置,又はランプ制御装置が JIS C 8105-1

附属書 C(異常回路状態)の異常回路状態になるのを防止するために用いる始動装置と

ランプ制御装置との組合せだけの場合には,異常回路状態を示す巻線温度の表示は,不要

である。

p)

製造業者の選択によって,30 日を超える期間にわたり試験しなければならないランプ制御装置の熱耐

久性試験の試験期間は,記号 D,及びその後に,10 日間間隔の 60 日間,90 日間,120 日間などの適

切な日数を t

w

の表示の直後に括弧に入れて表示することができる。例えば,

D6”は,試験期間が 60

日間の制御装置である。

注記 4  標準的な 30 日間の熱耐久性試験では,表示する必要はない。

q)

製造業者が宣言する 4 500 以外の定数 のランプ制御装置では,記号 の表示とともに,1 000 単位の

適切な値を表示する。例えば,が 6 000 の値であれば“S6”となる。

注記 5  の望ましい値は,4 500,5 000,6 000,8 000,11 000 及び 16 000 である。

qA)

定格二次電圧

qB)

定格二次短絡電流又は定格二次電流のいずれか大きい値

qC)  t

a

の記号の後に,定格最高周囲温度の宣言値。値は,5  ℃の倍数とする。


10

C 8147-1

:2011

r)

定格無負荷出力電圧。ただし,変圧式のものに限る。

7.2 

表示の耐久性及び判読性 

表示は耐久性があり,かつ,判読できなければならない。

表示の適合性は,次の両方の検査又は試験を行い,その結果で,判定する。

a)

目視検査を行う。

b)  2

枚の布の一方を水に浸し,残りの布を石油系溶剤に浸す。その浸したそれぞれの布で試料の表示を,

15 秒間ずつ軽くこする。

試験後,表示は判読できなければならない。

注記  用いる石油系溶剤は,最大容積分率 0.1 %の芳香剤を含み,カウリブタノール価 29,初期沸点

約 65  ℃,蒸発温度約 69  ℃で,密度が約 0.68 g/cm

3

で構成する溶剤ヘキサンが望ましい。

端子 

ねじ端子は,JIS C 8105-1 

第 14 章(ねじ締め式端子)に適合しなければならない。

ねじなし端子は,JIS C 8105-1 

第 15 章(ねじなし端子及び電気接続)に適合しなければならない。

保護接地 

端子は,箇条 の要求事項を満足しなければならない。電気的接続及び締付け手段は,緩まないように

適切に固定できる方法を用いることで,工具を用いないで手で電気的接続及び締め付け手段が緩んではな

らない。ねじなし端子は,意図せず締付け手段及び電気的接続が緩んではならない。

ランプ制御装置(独立形ランプ制御装置を除く。

)の接地は,接地した金属にランプ制御装置を固定する

手段によって行うことを許容している。ただし,ランプ制御装置に接地用端子がある場合には,その端子

は,ランプ制御装置を接地するためだけに用いなければならない。

接地用端子の全ての部品は,接地導体又はそれらと接触する金属から生じる電食の危険性を最小限にし

なければならない。

ねじ又はその他の接地用端子の部品は,黄銅若しくはこれと同等以上の耐食性をもつ金属,又はさびな

い表面をもつ材料でなければならない。また,接触する表面のうちの少なくとも一つは,金属面が露出し

ていなければならない。

適合性は,目視,手による試験及び箇条 の要求事項に従って検査する。

プリント基板上の導体パターンで構成する保護接地用導体付きランプ制御装置は,次のように試験しな

ければならない。

25 A の交流電流を,接地用端子又はプリント基板上の導体パターンを経由した接地点と,人の触れるお

それのある金属部品との間に,順に 1 分間通電する。

接地用端子又は接点と人の触れるおそれのある金属部品との間の電圧降下を,

測定しなければならない。

その電流及び電圧降下から求めた抵抗値は,0.5 Ω を超えてはならない。

9.0A

独立形安定器は,定格入力電圧及び定格二次電圧が 150 V 以下で,屋内の乾燥した場所で使用する

ものを除き,安定器の外郭の表面又はその他の適切な場所に,接地用端子又は接地用の口出し線を取り付

けなければならない。

9.0B

接地用端子は,呼び径が 4 mm 以上(定格二次電圧が 600 V を超え,かつ,定格二次短絡電流が 1 A

を超えるものに取り付ける接地用端子にあっては,5 mm 以上,押し締めねじ形のものにあっては,3.5 mm

以上)のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子であって,直径が 2 mm 以上(定格二次電圧が 600 V を


11

C 8147-1

:2011

超え,かつ,定格二次短絡電流が 1 A を超えるものに取り付ける接地用端子にあっては,2.6 mm 以上)の

電線を確実に取り付けることができるねじ端子又は同等の導体を取り付けることができるものとする。た

だし,器具内用,独立形(屋内使用に限る)のものにあっては,速結端子を用いることができる。

9.0C

接地用口出し線については,口出し線の種類及び断面積を除き,JA.3 に適合しなければならない。

また,口出し線の種類及び断面積は,次のいずれか又は同等以上とする。

a)

直径が 1.6 mm の軟銅線又はこれと同等以上の強さ及び太さをもつ容易に腐食し難い金属線。

b)

断面積が 1.25 mm

2

以上の単心コード又は単心キャブタイヤケーブル。

c)

断面積が 0.75 mm

2

以上の 2 心コードであって,その 2 本の導体を両端でより合わせ,かつ,ろう付け

又は圧着したもの。

d)

断面積が 0.75 mm

2

以上の多心コード(より合わせコードを除く。

)又は多心キャブタイヤケーブルの

線心の 1 心。

10 

充電部との偶発接触からの保護 

10.1

電撃からの保護を照明器具の外郭に依存しないランプ制御装置は,通常の使用状態で設置したとき,

充電部(

附属書 参照)との偶発接触に対して十分に保護しなければならない。

照明器具の外郭に保護を依存する器具一体形ランプ制御装置は,その意図した用途に従って試験する。

ラッカー又はエナメルは,この要求事項に対して適切な保護又は絶縁性をもつものとはみなさない。

偶発接触に対する保護のための部品は,機械的強度が十分であり,通常の使用状態で緩みが生じてはな

らない。また,工具を用いないで取り外すことができないようにする。

適合性は,目視及び手による試験によって,また,偶発接触に対する保護に関しては,接触を検出する

ために電気指示器を用いた JIS C 0920 

付図 に示すテストフィンガによって,判定する。このテストフ

ィンガは,考えられる全ての位置に当てて,必要がある場合,10 N の力を加える。

接触の検出をするためにランプを用いる場合は,電圧は 40 V 以上にすることが望ましい。

10.2

合計静電容量が 0.5  μF を超えるコンデンサを組み込んだランプ制御装置は,定格電圧の電源からラ

ンプ制御装置を遮断し,1 分間以内にランプ制御装置の端子間の電圧が 50 V を超えないような構造にしな

ければならない。

11 

耐湿性及び絶縁性 

ランプ制御装置は,耐湿性をもっていなければならない。次の試験を行った後,使用上問題となる損傷

があってはならない。ランプ制御装置は,相対湿度 91 %∼95 %に保った加湿容器内に,通常の使用で最も

好ましくない位置に置く。試料を設置する全ての場所の温度は,20  ℃∼30  ℃の任意の値 の 1  ℃以内に

保たれなければならない。加湿容器に入れる前に,試料は と(t+4)℃との間の温度に保つ。試料は,

48 時間容器内に保管しなければならない。

注記  多くの場合,試料は耐湿試験の前に,4 時間以上 と(t+4)℃との間の温度の室内に保管する

ことによって,と(t+4)℃との間の指定温度にしてもよい。

この容器内を規定した状態にするために,一般に,熱的に遮断された容器を用い,内部空気

の一定循環を確実にする必要がある。

目に見える水滴がある場合には,絶縁試験の前に,吸い取り紙によって取り除く。

加湿処理の直後,約 500 V の直流電圧を 1 分間印加し,絶縁抵抗を測定する。絶縁カバー又は覆いをも

っているランプ制御装置は,金属はく(箔)で包まなければならない。


12

C 8147-1

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充電部ときょう(筐)体との間の絶縁抵抗は,基礎絶縁の場合は 2 MΩ 以上,強化絶縁の場合は 4 MΩ

以上でなければならない。

次の箇所では,十分絶縁していなければならない。

a)

分離しているか又は分離できる異極充電部相互間

b)

充電部と,固定ねじ又は外部絶縁部と接触している金属はく(箔)を含む外部金属との間

c)

充電部と関連する制御端子との間

一つ以上の出力端末と接地用端子との間で,内部接続部又は部品をもつランプ制御装置の場合,この接

続は試験中に外さなければならない。

12 

耐電圧 

ランプ制御装置は,十分な耐電圧をもたなければならない。

絶縁抵抗の測定の直後に,

箇条 11 に規定する部品間に 1 分間の耐電圧試験を適用し,

ランプ制御装置は,

それに耐えなければならない。

50 Hz 又は 60 Hz で実質的に正弦波の試験電圧は,表 に規定する値でなければならない。

初めは規定する電圧の半分以下を印加し,それから,その電圧は急速に規定する値まで上昇させなけれ

ばならない。

表 1−耐電圧試験電圧 

動作電圧 

試験電圧

V

42 V 以下 500

基礎絶縁 2

U+1 000

付加絶縁 2

U+1 750

42 V を超え 1 000 V 以下

二重絶縁又は強化絶縁 4

U+2 750

注記  強化絶縁及び二重絶縁の両方を用いる場合,強化絶縁に適用する試験電圧は,基

礎絶縁又は付加絶縁に過剰ストレスを加えないよう,注意する必要がある。

フラッシオーバ又は遮断は,試験中に発生してはならない。

試験に用いる高圧変圧器は,出力電圧を適切な試験電圧に設定した後,出力端子を短絡したとき,その

出力電流が少なくとも 200 mA 以上となるように,設計していなければならない。

過電流リレーは,出力電流が 100 mA 未満の場合に,トリップしてはならない。

印加する試験電圧の実効値は,測定精度±3 %以内とする。

箇条 11 に規定する金属はくは,絶縁体の縁でフラッシオーバが起きないように,配置しなければならな

い。

電圧降下なしのグロー放電は,無視する。

13 

安定器巻線の熱耐久性試験 

安定器巻線は,十分な熱耐久性をもっていなければならない。

適合性は,次の試験で判定する。

この試験の目的は,

安定器に表示した定格最高使用温度 t

w

の正当性を確認することである。

この試験は,

他の試験をしていない新しい 7 台の安定器で実施する。これらは,これ以降の試験に用いてはならない。

この試験は,照明器具に一体化し,照明器具から分離して試験できない安定器にも適用する。このため,


13

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器具一体形安定器にも t

w

値を表示する。

試験の前に,各安定器は通常に始動及び動作させ,ランプ電流は,通常の動作状態及び定格電圧で測定

する。熱耐久性試験の詳細を,次に規定する。温度条件は,製造業者が指定した目標試験期間に調整しな

ければならない。指定がない場合,試験期間は,30 日間とする。

試験は,適切な恒温槽の中で行う。

安定器は,通常の使用時と同様に,電気的に機能しなければならない。試験を受けなくてよいコンデン

サ,部品又はその他補助部品を取り外し,恒温槽の外部で,回路に再度接続しなければならない。巻線の

動作状態に影響しない他の部品は,外してよい。

注記 1  コンデンサ,部品又は他の補助部品を取り外す必要がある場合,製造業者がこれらの部品を

外し,その他あらゆる必要な追加接続部品を安定器から取り除いた特別な安定器を供給する

ことが望ましい。

一般に,通常の動作状態を得るために,その安定器は適合するランプで試験する。

安定器の容器が金属の場合,容器を接地する。ランプは,常に恒温槽の外に設置する。

単一のインピーダンス(例えば,スイッチスタート式チョークコイル式安定器)の場合,その安定器は,

ランプ又は抵抗を用いず,定格入力電圧時のランプの電流と同じ値に調節した電流値で試験を行う。

安定器は,ランプ制御装置の巻線と接地との電圧ストレスがランプを用いた場合と同じであるように電

源を接続する。

7 台の安定器を恒温槽内に配置し,各回路に定格電源電圧を印加する。

恒温槽の内部温度によって,各安定器の中の最も高い巻線温度が,

表 に規定する理論値とほぼ等しく

なるよう恒温槽のサーモスタットを調整する。

30 日間を超える試験期間を適用する安定器では,理論的試験温度は,この箇条の注記 での説明のよう

に,式(2)によって求める。

巻線温度が安定し始めた後に,巻線の実際の温度を抵抗法で決定する。必要がある場合,恒温槽のサー

モスタットは,目標試験温度にできるだけ近づくよう再調整する。その後,恒温槽内の温度を毎日読み,

サーモスタットが正しい値の±2  ℃以内に保っているかを確かめる。

巻線温度は,24 時間後に再度測定し,それぞれのランプ制御装置の最終試験期間は,式(2)によって決め

る。

図 は,これをグラフで表したものである。試験中の安定器の実測最高巻線温度と理論値との間の許

容差は,その最終試験期間が少なくとも目標に対し,等しいか,又は 2 倍以下でなければならない。


14

C 8147-1

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注記  これらの曲線は,参考として,500 の定数 を用いた式(2)を説明したものである(附属書 参照)。

図 1−巻線温度と熱耐久性試験期間との関係 

表 2−熱耐久性試験期間 30 日を要する安定器に対する理論的試験温度 

単位  ℃

定数 S

定格最高
使用温度

t

w

S4.5

S5

S6

S8

S11

S16

90 163 155 142 128 117 108 
95 171 162 149 134 123 113

100 178 169 156 140 128 119 
105 185 176 162 146 134 125

110 193 183 169 152 140 130 
115 200 190 175 159 146 136

120 207 197 182 165 152 141 
125 215 204 189 171 157 147 
130 222 211 196 177 163 152 
135 230 219 202 184 169 158 
140 238 226 209 190 175 163 
145 245 233 216 196 181 169 
150 253 241 223 202 187 175

注記  安定器上に表示してなければ,S4.5 欄に規定する理論的試験温度を適用する。

S4.5 以外の定数を用いる場合は,附属書 に従って正当化することが望ましい。

注記 2  抵抗法による巻線温度の測定では,次の式(1)を適用する。


15

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(

)

234.5

234.5

1

1

2

2

+

=

t

R

R

t

 (1)

ここに,

t

1

初期温度(℃)

t

2

最終温度(℃)

R

1

温度

t

1

での抵抗値

R

2

温度

t

2

での抵抗値

234.5

銅巻線に適用する定数で,アルミニウムの場合は,

229

とする。

24

時間後の測定後に,巻線温度を一定に保とうとして条件を変えてはならない。サーモスタット制御で

は,周囲温度だけを安定化させる。

各安定器の試験期間は,安定器を電源に接続したときから始まる。この試験の終了時に,関連する安定

器は電源から外すが,その他の安定器の試験が完了するまで恒温槽から取り出さない。

注記 3

図 に示す理論的試験温度は,定格最高使用温度

t

w

での

10

年連続使用の寿命に相当する。

それらは,次の式

(2)

によって求める。

⎟⎟

⎜⎜

+

=

w

0

1

1

log

log

T

T

S

L

L

 (2)

ここに,

L: 目標の熱耐久性試験日数(30,60,90,120 日など)

L

0

3 652 日(10 年)

T: 絶対温度による理論的試験温度(t+273)

T

w

絶対温度による定格最高使用温度(t

w

+273)

S: ランプ制御装置の設計及び用いる巻線絶縁体で決まる定数

試験後,安定器は,室温に戻ったとき,次の要求事項を満たさなければならない。

a)

定格電圧では,安定器は同一ランプを始動でき,ランプ電流は試験前に測定した値の 115 %を超えて

はならない。

注記 4  この試験は,出力特性に何らかの悪い変化がないかを判定するためのものである。

したがって,試験前及び試験後のランプ電流測定に用いるランプは,特性試験だけに用

いる。

b)

約 500 V の直流電圧で測定した巻線と安定器のケースとの間の絶縁抵抗は,1 MΩ 以上でなければな

らない。

7 個のうちの 6 個以上の安定器がこれらの要求事項を満たす場合,試験結果は合格とみなす。3 個以上の

安定器がこれらの要求事項を満たさない場合は,試験結果は不合格とみなす。

2 個の安定器が要求事項を満たさない場合には,更に 7 個の安定器で試験を行い,全てが要求事項を満

たす場合は,試験結果は合格とみなす。

14 

故障状態 

ランプ制御装置は,故障状態の下で動作させたときに,炎若しくは溶融物質の放出又は可燃性ガスの発

生がないように設計する。10.1 に規定する偶発接触に対する保護が損なわれてはならない。

故障状態での動作とは,14.114.4 に規定する条件の各々を順次適用することを意味する。これと関連

して,一度に 1 個の部品だけが故障状態になるという条件の下で,理論的に予測することができるその他

の故障状態を意味する。

通常,供試装置及び回路図を検討すれば,適用すべき故障状態が分かる。故障状態の試験は,最も都合

のよい順序で適用する。

全体が覆われたランプ制御装置又は部品は,試験のため又は内部の故障状態を適用するために開けては


16

C 8147-1

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ならない。ただし,回路図を検討して疑わしい場合には,出力端子を短絡するか,製造業者の同意を得て,

特別に準備したランプ制御装置で試験しなければならない。

関連する表面に自己硬化形充塡剤が充塡され,空間距離が存在しないランプ制御装置は,全体が覆われ

たランプ制御装置又は部品とみなす。

製造業者の仕様によって,短絡が発生しない部品又は短絡を無視できる部品は,短絡しない。製造業者

の仕様書によって,開路することがない部品は,開放しない。JIS C 5101-14 に適合する主電源に直接接続

した X1 又は X2 フィルタコンデンサは,試験する必要はない。

製造業者は,例えば,関連規格に適合していることを明らかにすることなどによって,部品の予測する

動作を明示しなければならない。

関連規格に適合しないコンデンサ,抵抗又はインダクタは,短絡するか又は開放するかのいずれか不具

合な状態で試験する。

      を表示したランプ制御装置は,

ランプ制御装置の外郭温度がいずれの箇所においても表示した値を

超えてはならない。

注記  これらの記号の表示がないランプ制御装置及びフィルタコイルがある場合,JIS C 8105-1 に従

って,照明器具とともに検査することになっている。

14.1

沿面距離及び空間距離が,14.114.4 において許容する低減措置を考慮に入れた上で,箇条 16 に規

定する値未満の場合は,その部分を短絡する。

注記 1  箇条 16 に規定する値未満の沿面距離及び空間距離は,充電部と人が接触するおそれがある金

属部分との間では適用する必要がない。

IEC 61189-2

の引抜強度及び

離教度の要求事項に適合するプリント基板上で,電源からのサージエネ

ルギーから保護した導体間(例えば,チョーク巻線又はコンデンサによって)では,沿面距離の要求事項

を修正する。

表 の距離は,次の式から求めた値と置き換える。

⎟⎟

⎜⎜

=

300

ˆ

log

0.78

log

V

d

ただし,0.5 mm 以上

ここに,

d: 最小沿面距離(mm)

Vˆ

動作電圧のピーク値(V)

これらの距離は,

図 を参照して決定することができる。

注記 2  プリント基板上のラッカーなどの被覆は,距離を求める場合には無視する。

プリント基板上の沿面距離は,JIS C 60664-3 に適合するコーティングをしてある場合は,上記の値より

も小さくてもよい。この規定は,充電部と人が接触するおそれがある金属部分に接続した部分との沿面距

離にも適用する。JIS C 60664-3 の関連項目に従って試験する場合,要求事項に適合しなければならない。


17

C 8147-1

:2011

図 2−直接電源に電気的に接続していないプリント配線板の導体間の沿面距離 

14.2

半導体素子両端の短絡又は開放

一度に 1 個の部品だけを短絡(又は開放)しなければならない。

14.3

ラッカー,エナメル又は繊維被覆で構成する絶縁物の短絡

このような被覆は,

表 に規定する沿面距離及び空間距離を評価するときには無視する。ただし,エナ

メルが電線の絶縁体を形成して,JIS C 3215-0-1 の 13.(絶縁破壊)に規定する電圧試験に耐える場合には,

沿面距離及び空間距離に対して 1 mm を寄与するものとみなす。

この箇条は,コイルのターン間,絶縁スリーブ又はチューブの間の絶縁を短絡する必要性を意味するも

のではない。

14.4

電解コンデンサ端子間の短絡

14.5

適合性は,14.6 に示す試験回路で,ランプを接続し,ランプ制御装置の外郭温度を定格最高温度 t

c

にして,定格入力電圧の 0.9∼1.1 倍の電圧を加えてランプ制御装置を動作させて判定する。そして,14.1

14.4 に規定した故障状態を,順次適用する。

これらの試験は,形式試験の目的で提出された一つ又は複数の項目からなる各々の故障条件に対して,

三つの試験試料で実施しなければならない。試験試料のうち一つが不合格の場合,試験は新たに三つの試


18

C 8147-1

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験試料を用いて行い,そのうちの一つでも不合格であってはならない。

試験は,安定状態になるまで継続し,ランプ制御装置の外郭温度を測定する。試験中,抵抗器,コンデ

ンサ,半導体ヒューズなどの部品が故障する場合がある。試験を継続するために,このような部品を交換

してもよい。

試験後に,ランプ制御装置が周囲温度に戻ったとき,約 500 V の直流電圧で測定した絶縁抵抗は,1 MΩ

以上でなければならない。

部品から出るガスが可燃性であるかどうかを調べるためには,高周波火花発生器を用いて試験を行う。

接触するおそれのある部品が充電部であるか調べるために,

附属書 に従って試験を実施する。

発生した炎又は溶融物質の放出が安全であるかどうかを調べるために,JIS P 0001 の 6228 に規定する

1 枚の包装用ティシュで試験片を包んだとき,包装用ティシュが着火してはならない。

14.6

試験対象のランプ制御装置を,160 A

10

0

+

  %の短絡電流を供給できる大電力交流電源に,図 に示す

ように接続し,関連する故障状態に適用する。

U

N

:電源電圧

DUT:供試品 
R:電源配線又は電流調整用の抵抗 
T:分流器 
X1,X2,X3 及び X4:配線接続又は抵抗接続用の端子 
A 及び B:短絡用端子及びランプ制御装置接続用の端子 
C.P.:電流プローブ

図 3−制御装置の試験回路 

試験は,次の手順で行う。

a)

端子 A 及び B を短絡する。

X1-X2 間,及び X3-X4 間の配線及び抵抗器で,電流値を 160 A

10

0

+

  %に調整する。

b)

短絡を解除する。

端子 A 及び B にランプ制御装置を接続する。

c)

ランプ制御装置の試験を行う。


19

C 8147-1

:2011

15 

構造 

15.1 

木,綿,絹,紙及び同様な繊維質材料 

木,綿,絹,紙及び同様な繊維質材料は,含浸していない場合,絶縁物として用いてはならない。適合

性は,目視検査によって判定する。

15.2 

プリント配線板 

プリント配線板は,内部接続として許容する。

適合性は,箇条 14 を参照して判定する。

16 

沿面距離及び空間距離 

沿面距離及び空間距離は,特に箇条 14 に規定した場合を除き,

表 及び表 に規定する値以上でなけれ

ばならない。

幅 1 mm 未満の溝の沿面距離は,その幅とする。

1 mm 未満の空隙は,総空間距離の計算では無視する。

注記 1  沿面距離は,絶縁物の表面に沿って測定した空間での距離である。

注記 2  安定器の巻線間の距離は,熱耐久性試験で調べるので,測定しない。これは,タップ間の距

離にも適用する。ただし,絶縁を要求する巻線間は除く。

金属外郭に絶縁裏打ちがなく,充電部と外郭との間の沿面距離又は空間距離が,関連する表に規定する

値よりも小さい場合には,JIS C 8105-1 に従って,金属製外郭には内面絶縁を施す。

注記 3  開放形コアの安定器において,巻線の絶縁を形成し,JIS C 3215-0-1 の 13.のグレード 1 若し

くはグレード 2 の電圧試験に耐えるエナメル又は同様の材料では,異なる巻線のエナメル被

覆巻線間又はエナメル被覆巻線からカバー若しくは鉄心までの距離は,

表 及び表 に規定

する値より 1 mm 少ない値を最小距離としてもよい。

ただし,これは沿面距離及び空間距離がエナメル層に加えて 2 mm を超える箇所にだけ適

用する。

部品を自己硬化形充塡剤で充塡し,絶縁が必要な各面の間に空隙が存在しないランプ制御装置は検査し

ない。

プリント配線板は,箇条 14 に従って試験するので,この箇条の要求事項から除外する。


20

C 8147-1

:2011

表 3−正弦波交流電圧(50/60 Hz)の場合の最小距離 

距離

最大動作電圧実効値

V

50  150 250 500 750 1

000

最小距離(mm)

a)

異極充電部相互間

b)

充電部と,ランプ制御装置に固定して取り外せないように
取り付けた人が触れるおそれのある金属部との間。この金
属部には,カバーを固定したり,ランプ制御装置を支持体

に固定するためのねじ又は部品を含む。

c)

電撃からの保護を照明器具の外郭に依存しない安定器の
場合,充電部と人が触れるおそれのある絶縁部の表面との

間。

−  沿面距離

絶縁物の PTI≧600

絶縁物の PTI<600

−  空間距離

 
 
 
 
 
 
 
 
 

0.6 
1.2 
0.2

 
 
 
 
 
 
 
 
 

1.4 
1.6 
1.4

 
 
 
 
 
 
 
 
 

1.7 
2.5 
1.7

 
 
 
 
 
 
 
 
 



3

 
 
 
 
 
 
 
 
 



4

 
 
 
 
 
 
 
 
 

5.5

10

5.5

d)

最も不都合な状態の下で,上記 b)の値が構造上確保できな
い場合,充電部と平たんな支持面との間又は固定していな
い金属カバーとの間。

−  空間距離

 
 

2

 
 

3.2

 
 

3.6

 
 

4.8

 
 

6

 
 

8

注記 1 PTI(保証トラッキング指数)は,JIS C 2134 に基づく。 
注記 2  トラッキングが起こり得ない場所の電圧が加わらない部分,又は接地を意図していない部分の沿面距離は,

PTI≧600 の材料に規定する値を全ての材料に適用する(実際の PTI に関係なく)。60 秒間未満の動作電圧
が印加される沿面距離については,PTI≧600 の材料に規定する値を全ての材料に適用する。

注記 3  じんあい又は湿気で汚染されにくい箇所の沿面距離は,PTI≧600 の材料に規定する値を適用する(実際の

PTI に関係なく)。

注記 4  JIS C 8147-2-1 に規定するランプ制御装置では,人が触れるおそれのある金属部は充電部に関して強固に設

置する。

注記 5  この箇条に規定する沿面距離及び空間距離は,JIS C 7603 に規定する寸法に適合する JIS C 8147-2-1 に規定

する装置には適用しない。このような場合には,その規格の要求事項を適用する。

注記 6  規定する電圧の中間の電圧の絶縁距離は,直線補完を適用する。

表 4−非正弦波パルス電圧の場合の最小距離 

定格パルス電圧

ピーク kV

2.0 2.5 3.0 4.0 5.0 6.0 8.0 10

12

15

20

25

30

40  50  60  80 100

最小空間距離  mm 1.0 1.5 2  3  4

5.5

8

11

14

18

25

33

40

60 75 90 130 170

正弦波電圧及び非正弦波パルス電圧をともに印加する場合の距離については,要求する最小距離は,

3

又は

表 に規定する,いずれか大きい方の値以上でなければならない。

沿面距離は,要求する最小空間距離以上でなければならない。

17 

ねじ,通電部及び接続部 

その故障によってランプ制御装置の安全性を損なうおそれがあるねじ,通電部及び機械的接続部は,通

常の使用で起こる機械的ストレスに耐えなければならない。

適合性は,JIS C 8105-1 の 4.11(電気的接続及び通電部)及び 4.12(ねじ,機械的接続及びグランド)

の検査及び試験によって判定する。


21

C 8147-1

:2011

18 

耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性 

18.1

充電部を所定の位置に保持する絶縁部品及び電撃保護用絶縁部品は,十分な耐熱性をもたなければ

ならない。

セラミック以外の材料の適合性は,JIS C 8105-1 

第 13 章(耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性)に

よるボールプレッシャ試験をその部品に対して行って判定する。

18.2

電撃保護のために用いる外部絶縁部品及び充電部を所定の位置に保持する絶縁材料部品は,十分な

耐炎性及び耐着火性・耐火性をもっていなければならない。

セラミック以外の材料の適合性は,18.3 又は 18.4 の試験によって判定する。

プリント基板は,18.3 又は 18.4 の試験は行わず,IEC 61189-2 の 8.7 及び IEC 61249-2 の規格群の関係す

る部分によって試験する。自己持続炎は,ガスの炎を除去した後 30 秒間以内に消滅しなければならない。

また,燃焼滴下物によって,JIS P 0001 の 6228 に規定する 1 枚の包装用ティシュに着火してはならない。

18.3

電撃保護のために用いる外部絶縁部品は,JIS C 60695-2-10 に従って,次の条件で 30 秒間グローワ

イヤ試験を実施する。

a)

試験試料は,1 個とする。

b)

試験試料は,完成したランプ制御装置とする。

c)

グローワイヤの先端温度は,650  ℃とする。

d)

グローワイヤを取り除いてから 30 秒間以内に,試験用試料のいかなる炎(自己持続炎)及び白熱状態

も消滅しなければならない。また,燃焼滴下物によって,試験用試料の下方 200 mm±5 mm に水平に

広げた JIS P 0001 の 6228 に規定する 1 枚の包装用ティシュに着火してはならない。

18.4

充電部を所定の位置に保持する絶縁材料部品は,JIS C 60695-11-5 に従って次の条件でニードルフレ

ーム試験を実施する。

a)

試験試料は,1 個とする。

b)

試験試料は,完成したランプ制御装置とする。ランプ制御装置の部品を取り外して試験を行う必要の

ある場合には,試験条件が通常使用時の状態と大きく異ならないように留意する。

c)

試験炎を試験する表面の中心に当てる。

d)

試験炎を 10 秒間当てる。

e)

自己持続炎は,ガスの炎を除去した後,30 秒間以内に消滅しなければならない。また,燃焼滴下物に

よって,試験用試料の下方 200 mm±5 mm に水平に広げた JIS P 0001 の 6228 に規定する 1 枚の包装

用ティシュに着火してはならない。

18.5

普通形照明器具以外の照明器具に組み込むことを意図した器具内用ランプ制御装置,独立形ランプ

制御装置及びピーク値が 1 500 V よりも高い始動電圧を印加する絶縁体をもつランプ制御装置は,充電部

を固定している場合,又は充電部と接触する絶縁性部品を湿気及びじんあいにさらされることがないよう

保護している場合を除き,耐トラッキング性をもっていなければならない。

セラミック以外の材料の適合性は,JIS C 8105-1 

第 13 章で規定したトラッキング試験を,その部品に

実施して判定する。

19 

耐食性 

腐食することによってランプ制御装置の安全性を損なうおそれのある鋼鉄製部品は,腐食に対して適切

に保護していなければならない。ただし,外被によって機械的に十分保護した安定器の露出した鉄心の表

面は,さびが生じても安全性を損なうおそれがないものとみなす。


22

C 8147-1

:2011

適合性は,JIS C 8105-1 の 4.18.1 による試験によって判定する。ワニスによる保護は,外部表面に対し

て適切であるとみなす。

20 

無負荷出力電圧 

無負荷の状態で安定器に定格周波数の定格入力電圧を印加したとき,出力電圧は,定格無負荷出力電圧

の±10 %以内でなければならない。


23

C 8147-1

:2011

附属書 A

(規定)

導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験

導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決定するために,ランプ制御装置を定格電圧及び公称電

源周波数で動作させて,次の試験を行う。

a)

ピーク値で 0.7 mA 又は直流で 2 mA を超える電流を測定する部分は,充電部とみなす。

1 kHz 以上の周波数に関しては,0.7 mA にキロヘルツ(kHz)を単位とした周波数値を乗じた値を

限度値とする。ただし,ピーク値で 70 mA を超えてはならない。

当該部分と接地との間を流れる電流を測定する。

適合性は,IEC 60990 

図 4(Measuring network, touch current weighted for perception or reaction)及び

7.1

(Perception, reaction and let-go)によって測定して判定する。

b) 50

kΩ の無誘導抵抗で測定し,当該部分と可触部分との間の電圧が,ピーク値で 34 V を超える場合,

その部分は充電部とみなす。

a)

及び b)の試験は,試験電源の 1 極は,接地電位でなければならない。


24

C 8147-1

:2011

附属書 B

(規定)

熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項

B.1 

一般事項 

熱的保護機能付きランプ制御装置の二つの異なる分類が,この附属書に含んでいる。第一の分類は,米

国で用いられている“クラス P”

B.9.2 による。

)ランプ制御装置で,この規格では“保護機能付きランプ

制御装置”と呼んでおり,これは寿命末期の過熱に対し,照明器具の取付面を保護することを含め,いか

なる使用状態においてもランプ制御装置の過熱を防止することを意図したものである。

第二の分類は,

“動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置”

B.9.3

B.9.4

及び B.9.5 による。

で,ランプ制御装置に表示した熱的保護手段の動作温度と照明器具との組合せによって,ランプ制御装置

の寿命末期の過熱に対して照明器具の取付面を保護するものである。

注記  熱的保護機能付きランプ制御装置における第三の分類では,取付面の温度保護がランプ制御装

置以外の熱的保護手段によることを認めている。関連する要求事項は,JIS C 8105-1 を参照。

この附属書の各箇条は,本体の対応する箇条を補足している。この附属書に対応する箇条又は細分箇条

がない場合には,本体の箇条又は細分箇条を修正なしでそのまま適用する。

B.2 

適用範囲 

この附属書は,照明器具に組み入れることを意図しているランプ制御装置のうちで,ランプ制御装置の

ケース温度を規定した限度値を超える前に,ランプ制御装置への電源を遮断することを意図している熱的

保護手段が組み込んである,放電ランプ用ランプ制御装置に適用する。

B.3 

用語及び定義 

B.3.1 

クラス P”熱的保護機能付きランプ制御装置(“class P” thermally protected lamp controlgear)

いかなる使用状態においても過熱を防止するため,及び寿命末期の影響による過熱に対して照明器具の

取付面を保護する熱的保護手段をもつランプ制御装置。

B.3.2 

動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置(temperature declared thermally protected lamp

controlgear)

いかなる使用状態においてもランプ制御装置のケースの温度が表示値を超えるのを防止するために,過

熱に対する保護手段をもつランプ制御装置。

注記  三角形の中の点は,B.9 の条件の下で製造業者が宣言するものであり,ランプ制御装置のケー

スの外面上の全ての箇所での定格最高ケース温度(℃)の値で置き換える。

ケースの最高温度 130  ℃以下の値を表示したランプ制御装置は,照明器具の表示要求事項に従い,寿命

末期の影響による過熱に対して保護を表したものである。JIS C 8105-1 参照。

P


25

C 8147-1

:2011

ケースの最高温度が 130  ℃を超える場合は,照明器具に温度感知制御を用いていない場合を考慮し,可

燃性材料表面へ直接取り付ける照明器具は,JIS C 8105-1 に従って追加の試験をしなければならない。

B.3.3 

定格動作温度(rated opening temperature)

無通電状態で熱的保護手段が動作するように設計した温度。

B.4 

熱的保護機能付きランプ制御装置の一般的要求事項 

熱的保護手段は,ランプ制御装置と一体になっており,機械的損傷から保護した場所に設置しなければ

ならない。交換可能な部品がある場合,その部品は工具を用いる場合だけ取り替え可能なものでなければ

ならない。

保護手段の機能に極性があり,極性のないプラグが付いているコード付き器具に用いる場合,両極に保

護手段がなければならない。

適合性は,目視検査及び該当する JIS C 9730-2-3 又は JIS C 6691 の試験によって判定する。

B.5 

試験上の一般的注意事項 

B.9

に従い特別に準備した適切な数の試料を準備する。

B.9.2

に規定する最も厳しい故障状態で 1 個の試料だけを試験し,B.9.3 又は B.9.4 に規定する状態で 1

個の試料を試験する。さらに,

“クラス P”熱的保護機能付きランプ制御装置及び動作温度を宣言する熱的

保護機能付きランプ制御装置では,B.9.2 に規定する最も厳しい故障状態となるように,1 個以上のランプ

制御装置を準備する。

B.6 

分類 

ランプ制御装置は,B.6.1 又は B.6.2 によって分類する。

B.6.1 

保護クラスによるもの 

a)

“クラス P”熱的保護機能付きランプ制御装置,記号

b)

動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置,記号

B.6.2 

保護タイプによるもの 

a)

自動復帰(繰り返し)タイプ

b)

手動復帰(繰り返し)タイプ

c)

交換不能な非復帰(ヒューズ)タイプ

d)

交換可能な非復帰(ヒューズ)タイプ

e)

同等の熱的保護手段をもつその他のタイプの保護方法

B.7 

表示 

B.7.1

過熱に対する保護手段を組み込んだランプ制御装置は,保護クラスに従って表示する。

−  記号      は“クラス P”熱的保護機能付きランプ制御装置。

−  記号      は,動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置。値は,10 の倍数ずつ増加する。

熱的保護手段を接続している端子は,この記号によって識別する。

さらに,交換可能な熱的保護手段では,用いる熱的保護手段のタイプを表示に含めるものとする。

P

P


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C 8147-1

:2011

注記 1  この表示は,表示した端子がランプ制御装置のランプ側に接続しないようにするために,照

明器具の製造業者から要求されている。

注記 2  ある国の配線規定によっては,熱的保護手段は,非接地側に接続するように要求しているこ

とがある。これは,極性のある電源を用いるクラス I 器具において最も重要なことである。

B.7.2

上記の表示のほかに,ランプ制御装置の製造業者は,B.6.2 に従って保護タイプを宣言しなければ

ならない。

B.8 

巻線の熱耐久性 

熱的保護手段を組み込んだランプ制御装置は,熱的保護手段を短絡して,巻線の熱耐久性試験を行い,

適合しなければならない。

注記  形式試験のために,製造業者は,熱的保護手段を短絡した試料を求められることがある。

B.9 

ランプ制御装置の加熱 

B.9.1 

事前選別試験 

この試験を開始する前に,熱的保護手段の定格動作温度よりも 5 K 低い温度に保った恒温槽の中に,ラ

ンプ制御装置を 12 時間以上放置する(無通電で)

さらに,温度ヒューズ付きランプ制御装置は,恒温槽から取り出す前に,温度ヒューズの定格動作温度

より 20 K 以上低い温度に冷却させることを許容する。

この期間の終了時に,僅かな電流,例えば,ランプ制御装置の公称入力電流の 3 %以下の電流を,ラン

プ制御装置に通電して,熱的保護手段が閉じているかどうかを判定する。

熱的保護手段を作動させたランプ制御装置は,それ以降,試験に用いてはならない。

B.9.2 

クラス P”熱的保護機能付きランプ制御装置 

このランプ制御装置の限度値は,ランプ制御装置の最高ケース温度が 90  ℃,定格最高使用温度 t

w

105  ℃及びコンデンサ定格最高温度 t

c

が 70  ℃である。

注記  これらのランプ制御装置は,米国において実際に使用されている。

ランプ制御装置は,周囲温度 40

0
5

  ℃の試験容器の中で,通常状態下の温度安定状態で動作させる。試

験容器については,

附属書 による。

熱的保護手段は,この操作状態下で開路してはならない。

次の故障状態における最も厳しいものを対象に,最後まで完全に試験を実施しなければならない。

この状態を得るためには,特別に準備したランプ制御装置が必要である。

B.9.2.1

トランス式のものに対しては,次の関連する故障状態を適用する[JIS C 8105-1 

附属書 C(異

常回路状態)に規定するものに加えて。

a)  JIS C 8147-2-8

に規定するランプ制御装置では,次による。

−  一次巻線の外側 10 %の巻線を短絡する。

−  任意の二次電源巻線の外側 10 %の巻線を短絡する。

−  任意の電力コンデンサを短絡する。ただし,これによって安定器の一次巻線を短絡しない場合に限

る。

b)  JIS C 8147-2-9

に規定するランプ制御装置では,次による。

−  一次巻線の外側 20 %の巻線を短絡する。

−  任意の二次電源巻線の外側 20 %の巻線を短絡する。


27

C 8147-1

:2011

−  任意の電力コンデンサを短絡する。ただし,これによって安定器の一次巻線を短絡しない場合に限

る。

B.9.2.2

チョークコイル式のものに対しては,JIS C 8105-1 

附属書 によるほか,次の故障状態を適用

する。

a)  JIS C 8147-2-8

に規定するランプ制御装置では,次による。

−  各巻線の外側 10 %の巻線を短絡する。

−  該当する場合,直列コンデンサを短絡する。

b)  JIS C 8147-2-9

に規定するランプ制御装置では,次による。

−  各巻線の外部 20 %の巻線を短絡する。

−  該当する場合,直列コンデンサを短絡する。

この測定のために,加熱と冷却とを 3 サイクル実施する。非復帰形熱的保護手段では,特別に準備した

各ランプ制御装置に 1 サイクルだけを実施する。

ランプ制御装置のケース温度は,熱的保護手段の開路に続いて,継続して測定する。熱的保護手段の再

閉温度を試験する場合を除き,熱的保護手段の開路後でケース温度が下がり始めた場合又は規定の温度限

度値を超えた場合には,試験を中止してもよい。

注記  ケース温度が 110  ℃を超えることなく一定になるか,又は下降し始めた場合には,ピーク温度

に初めて達したときの 1 時間後に,試験を中止してもよい。

試験中に,ランプ制御装置のケース温度は 110  ℃を超えてはならない。また,熱的保護手段が回路を再

び閉じたとき(復帰式熱的保護手段を用いて)には,85  ℃を超えてはならない。ただし,試験中の熱的保

護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,

表 B.1 に規定する最高

温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない場合,ケース

温度は 110  ℃を超えてもよい。

このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭の温度は,90  ℃を超えてはならない。た

だし,ケース温度が 110  ℃以上の場合には,コンデンサの外郭温度は 90  ℃を超えてもよい。

表 B.1−熱的保護手段の動作 

ランプ制御装置のケースの最高温度

110  ℃から最高温度に達するまでの最大時間

150 を超え 0 
145 を超え 150 以下 5.3 
140 を超え 145 以下 7.1 
135 を超え 140 以下 10 
130 を超え 135 以下 14 
125 を超え 130 以下 20 
120 を超え 125 以下 31

115 を超え 120 以下 53 
110 を超え 115 以下 120

B.9.3  JIS C 8147-2-8

に規定する定格最高ケース温度が 130  ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能

付きランプ制御装置 

附属書 に規定する試験容器の中で,通常状態で(t

w

+5)℃の巻線温度を得るような周囲温度,又は(t

a

+5)℃の周囲温度の温度安定状態で,ランプ制御装置を動作させる。


28

C 8147-1

:2011

ただし,安定器の外部表面の定格最高温度 t

c

を宣言しているものは,安定器の外部表面が(t

c

+5)℃と

なる温度安定状態で動作させる。

熱的保護手段は,この状態下で動作してはならない。

B.9.2

に規定する故障状態のうちで最も厳しい条件を,試験全体において導入及び適用しなければならな

い。

注記  B.9.2 に規定する最も厳しい故障状態と同等な巻線温度をもたらす電流で,ランプ制御装置を動

作させることが許容されている。

試験中に,ランプ制御装置のケース温度は 135  ℃を超えてはならない。また,熱的保護手段が回路を再

び閉じたとき(復帰式熱的保護手段を用いて)には,110  ℃を超えてはならない。ただし,試験中の熱的

保護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,

表 B.2 に規定する最

高温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない場合,ケー

ス温度は 135  ℃を超えてもよい。

このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭温度は,定格最高温度 t

c

の表示があって

もなくても,故障動作状態では 60  ℃又は(t

c

+10)℃を超えてはならない。

なお,JIS C 4908 に規定する保安装置内蔵コンデンサ及び保安機構付コンデンサは,適用外とする。ま

た,力率改善用又は進相用以外のコンデンサで,そのコンデンサの故障によって危険が生じるおそれのな

いものは,適用外とする。

表 B.2−熱的保護手段の動作 

ランプ制御装置のケースの最高温度

135  ℃から最高温度に達するまでの最大時間

180 を超え 0 
175 を超え 180 以下 15 
170 を超え 175 以下 20 
165 を超え 170 以下 25 
160 を超え 165 以下 30 
155 を超え 160 以下 40 
150 を超え 155 以下 50 
145 を超え 150 以下 60 
140 を超え 145 以下 90 
135 を超え 140 以下 120

B.9.4  JIS C 8147-2-8

に規定する定格最高ケース温度が 130  ℃を超える動作温度を宣言する熱的保護機

能付きランプ制御装置 

JIS C 8147-2-8

に規定する定格最高ケース温度が 130  ℃を超える動作温度を宣言する熱的保護機能付き

ランプ制御装置は,次による。

a)

安定器は,B.9.3 に規定する条件でランプを点灯させる。ただし,チョークコイル式安定器は,

附属書

D

に規定する条件下において,

t

w

+5)℃の巻線温度を生じる短絡電流で,温度安定状態でランプ制

御装置を動作させてもよい。

熱的保護手段は,この状態下で動作してはならない。

b)

ランプ制御装置は,B.9.2 に規定する故障状態のうちの最も厳しい条件の下での温度と同等な巻線温度

を生じる電流において動作させる。

試験中に,ランプ制御装置のケース温度を測定する。


29

C 8147-1

:2011

次に,必要がある場合,巻線を流れる電流を,熱的保護手段が動作するまで,ゆっくりと連続的に

増加させる。

時間間隔及び電流の増加は,巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間が,できる限り温度安定状態

が得られるように設定する。

試験中に,ランプ制御装置表面の最高温度を,連続的に測定する。

自動復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段[B.6.2 a)参照]若しくは別のタイプの保護機構

B.6.2 e)参照]を取り付けたランプ制御装置では,安定した表面温度に達するまで,試験を継続する。

自動復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段は,その状態でランプ制御装置のオン・オフのス

イッチング動作によって 3 回動作させる。

手動復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置では,試験を 3 回繰

り返し行い,試験と試験との間は 30 分間の間隔をとる。各 30 分間の間隔終了時に,熱的保護手段を復帰

させる。

交換不能な非復帰タイプを取り付けたランプ制御装置及び熱的保護手段が交換可能なランプ制御装置で

は,試験は 1 回だけ実施する。

ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度が,表示値を超えない場合,適合性は合格とする。

宣言した値の 10 %のオーバシュートは,保護手段が動作した後の 15 分以内まで許容する。その後は,

宣言した値を超えてはならない。

B.9.5 

JIS C 8147-2-9

に規定する温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置 

B.9.5.1 

一般 

ランプ制御装置は,熱的保護手段を備えることが望ましい。

図 B.1 の試験回路を用いて,B.9.5.1B.9.5.3

に規定する条件の下で試験を行った場合,ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度は,表示した値を

超えてはならない。熱的保護手段の動作後 15 分間以内は,表示した値の 10 %のオーバシュートは許容す

る。

ただし,ケースの最高温度が 130  ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置の場合,

試験中に,ランプ制御装置のケース温度は 135  ℃を超えてはならない。また,熱的保護手段が回路を再び

閉じたとき(復帰式熱的保護手段を用いて)には,ケース温度は 110  ℃を超えてはならない。ただし,試

験中の熱的保護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,

表 B.2 

規定する最高温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない

場合,ケース温度は 135  ℃を超えてもよい。

このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭温度は,定格最高温度 t

c

の表示があって

もなくても,故障動作状態では 60  ℃又は(t

c

+10)℃を超えてはならない。

なお,JIS C 4908 に規定する保安装置内蔵コンデンサ及び保安機構付コンデンサは,適用外とする。ま

た,力率改善用又は進相用以外のコンデンサで,このコンデンサの故障によって危険が生じるおそれのな

いものは,適用外とする。

直列コンデンサは,試験中短絡する。

試験中,巻線温度及びランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度を継続して測定する。


30

C 8147-1

:2011

DUT:供試品 
D:ダイオード,100 A,600 V 
R:抵抗器,0∼200 Ω(ランプ電力の 1/2) 
U

N

:試験電圧,可変

図 B.1−熱的保護機能付きランプ制御装置の試験回路 

B.9.5.2 

試験手順 

試験手順は,次による。

a)  5 K

上昇させた平常巻線温度状態の試験  H.12 に規定する条件の下,(t

w

+5)℃の巻線温度を得る短

絡電流(抵抗器 R で調整する)でランプ制御装置が温度安定状態となるように動作させる。t

w

の表示

のない安定器で,絶縁の種類が A 種のものは t

w

=105,E 種のものは t

w

=120,B 種のものは t

w

=130

を適用する。ただし,

図 B.1 による試験が困難な場合,(t

w

+5)℃の巻線温度を得る周囲温度,又は

定格最高周囲温度 t

a

を宣言しているものは(t

a

+5)℃の周囲温度で,ランプを点灯させてもよい。さ

らに,安定器の外部表面の定格最高温度 t

c

が宣言されているものは,安定器の外部表面が(t

c

+5)℃

で温度安定状態となるように動作させてもよい。

このとき,熱的保護手段は開いてはならない。

電流値 I

tw

5

は,試験 b)のための基準となる電流として,記録する。

b)

熱的保護手段の機能試験−表示した温度限界値の制御  (t

w

+5)℃の平常巻線温度状態での試験後,

熱的保護手段が動作するまで次のように電流を増加させ,ランプ制御装置を動作させる。

−  ステップ 1:I

tw

5

+5 %となる電流値。

−  ステップ 2:I

tw

5

+10 %となる電流値。

−  ステップ 3:I

tw

5

+15 %となる電流値。

熱的保護手段が動作し接点が開放するまで,5 %ステップで電流を増加させる。

各ステップ間において,ランプ制御装置の温度が安定するまでの時間を測定する。

なお,

図 B.1 による試験が困難な場合,巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間が,できるだ

け温度安定状態を得るように,熱的保護手段が動作し接点が開放するまで,ゆっくりと連続的に温度

を上昇させる。

B.9.5.3 

試験サイクル 

試験サイクルは,次による。


31

C 8147-1

:2011

a)  B.6.2 a)

による自動復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段若しくは B.6.2 e)によるその他の

タイプの保護手段を備えたランプ制御装置では,表面温度が安定するまで試験を継続する。自動復帰

の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段は,その状態でランプ制御装置のオン・オフによって 3

回以上動作させる。

b)  B.6.2 b)

による手動復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段を備えたランプ制御装置では,試

験を 3 回繰り返し行い,試験と試験との間は 30 分間の間隔をとる。各 30 分間の間隔終了時に,熱的

保護手段を復帰させる。

c)

B.6.2 c)

による交換不能な非復帰の温度過昇防止装置及び/又は熱的保護手段並びに B.6.2 d)による交

換可能な熱的保護手段を備えたランプ制御装置では,試験は 1 回だけ行う。

d)

保護装置を組み合わせたランプ制御装置では,製造業者の宣言によって,温度制御で最も重要な保護

機能を提供する保護装置に対して,試験を行う。

B.9.5A 

熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置 

JIS C 8105-1

附属書 N(可燃材料表面への取付け及び断熱材で覆うことに適さない照明器具に対する

表示の説明)の要求事項に基づき,かつ,次のいずれかの要求事項を満足する熱的保護機能付き独立形ラ

ンプ制御装置は,可燃材料表面への直接取付けに適合している。

a)

“クラス P”熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置に関する要求事項

b)

“定格最高ケース温度が 130  ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置”に関す

る要求事項

温度試験は,JIS C 8105-1 によらなければならない。

注記  温度の判定は,安定器の最高ケース温度ではなく,安定器の取付面の温度の最大値である[JIS 

C 8105-1

の 12.6.2(安定器及び変圧器の外部に温度感知制御素子を備えた照明器具及び 130  ℃

を超える温度を表示した      マーク表示又は

若しくは      マーク表示のある熱的保護

機能付き安定器をもつ照明器具の試験)参照]


32

C 8147-1

:2011

附属書 C 
(規定)

過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項

C.1 

適用範囲 

この附属書は,ランプ制御装置のケース温度を宣言した限度値を超える前にランプ制御装置の電源回路

を開放する熱的保護手段を組み込んである電子ランプ制御装置に適用する。

C.2 

用語及び定義 

C.2.1 

動作温度を宣言する過熱保護手段付きランプ制御装置(temperature declared thermally protected lamp

controlgear)

ランプ制御装置のケースの温度が表示値を超えることを防止するために,過熱に対して保護する手段を

組み込んだランプ制御装置。

注記  三角形の中の三つの点は,定格最高ケース温度(℃)の値で置き換え,C.7 の条件の下で製造

業者が宣言するものであり,ランプ制御装置のケースの外面上の全ての箇所に適用する。

ケースの最高温度が 130  ℃以下の値を表示したランプ制御装置は,照明器具の表示要求事項に従った寿

命末期の過熱に対して保護するものである(JIS C 8105-1 参照)

ケースの最高温度が 130  ℃を超える場合,照明器具に温度感知制御を用いないことを考慮し,可燃性材

料表面へ直接取り付ける照明器具は,JIS C 8105-1 に従って追加の試験を行う。

C.3 

過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の一般的要求事項 

C.3.1

熱的保護手段は,ランプ制御装置と一体であり,機械的損傷から保護した位置に設置しなければな

らない。

交換可能な部品がある場合,

その部品は工具を用いる場合だけ取り替え可能でなければならない。

保護手段の機能に極性があり,極性のないプラグが付いているコード付き器具に用いる場合,両極に保

護手段がなければならない。

適合性は,目視検査及び該当する JIS C 9730-2-3 又は JIS C 6691 の試験によって判定する。

C.3.2

保護手段の回路破損によって,火災の危険を引き起こしてはならない。

適合性は,C.7 の試験によって判定する。

C.4 

試験上の一般的注意事項 

C.7

に従って,特別に準備した適切な数の試料を提供しなければならない。

C.7.2

に規定する最も厳しい故障状態にする必要がある。

C.5 

分類 

過熱保護手段付きランプ制御装置は,保護のタイプに従って次のように分類する。

a)

自動復帰タイプ

b)

手動復帰タイプ


33

C 8147-1

:2011

c)

交換不能な非復帰タイプ

d)

交換可能な非復帰タイプ

e)

同等の熱的保護をもつその他のタイプの保護方法

C.6 

表示 

熱的保護手段付きランプ制御装置は,次のように表示する。

C.6.1

記号      は,動作温度を宣言する過熱保護手段付きランプ制御装置を表す。値は,10 の倍数ずつ

増加する。

C.6.2

C.6.1

の表示のほかに,ランプ制御装置の製造業者は,C.5 に従って保護タイプを宣言しなければ

ならない。この情報は,製造業者のカタログなどに示してもよい。

C.7 

加熱の制限 

C.7.1 

事前選別試験 

この試験を開始する前に,ケース温度 t

c

よりも 5 K 低い温度に保った恒温槽の中に,ランプ制御装置を

12 時間以上放置する(無通電で)。

熱的保護手段が動作したランプ制御装置は,それ以降の試験に用いてはならない。

C.7.2 

熱的保護手段の機能 

附属書 に規定する試験容器の中で,通常状態で(t

c

0
5

)℃のケース温度が得られるような周囲温度の

温度安定状態で,ランプ制御装置を動作させる。

熱的保護手段は,この状態下で動作してはならない。

14.1

14.4 に規定する故障状態のうちで最も厳しい条件を,試験全体において適用する。

高調波を抑制するために,主電源に接続したフィルタコイルなどの巻線が,試験するランプ制御装置に

含まれる場合には,これらの巻線の出力接続を短絡し,ランプ制御装置の残りの部分は,通常条件下で動

作させる。電波障害防止用フィルタコイルに対しては,この試験を行わなくてもよい。

注記  これは特別に準備した試料によって実施することができる。

次に,必要に応じて,当該巻線を流れる電流を,保護手段が動作するまで,ゆっくりと連続的に増加さ

せる。時間間隔及び電流の増加は,巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間で,できるだけ温度安定

状態を得るように設定する。試験中に,ランプ制御装置表面の最高温度を,連続的に測定する。

自動復帰タイプ熱的保護手段[C.5 a)参照]又は他のタイプの保護方法[C.5 e)参照]を取り付けたラン

プ制御装置では,安定した表面温度に達するまで,試験を継続する。

自動復帰タイプ熱的保護手段は,所定の条件下でランプ制御装置のオン・オフのスイッチング動作によ

って 3 回動作させる。

手動復帰タイプ熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置では,試験を 6 回繰り返し行い,試験と試験

との間は 30 分間の間隔をとる。各 30 分間の間隔終了時に,熱的保護手段を復帰させる。

交換不能又は非復帰タイプの熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置及び交換可能な熱的保護手段付

きランプ制御装置では,試験は 1 回だけ実施する。

ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度が,表示値を超えない場合,適合性は合格とする。

表示した値の 10 %のオーバシュートは,保護手段を動作させた後の 15 分間以内まで許容する。その後

は,表示値を超えてはならない。


34

C 8147-1

:2011

ただし,最高表面温度が 130  ℃以下の表示をする安定器にあっては,安定器の表面温度が 135  ℃以下と

なるか,又は表面温度と時間との関係が

表 C.1 に規定する値を満足しなければならない。

なお,自動復帰形の保護機構が動作する場合は,保護機構解除時の安定器の表面温度は,110  ℃以下で

なければならない。

表 C.1−最高表面温度に対する許容時間 

最高表面温度

許容時間

a)

最高表面温度

許容時間

a)

175 を超え 180 以下 15 以下 150 を超え 155 以下 50 以下 
170 を超え 175 以下 20 以下 145 を超え 150 以下 60 以下 
165 を超え 170 以下 25 以下 140 を超え 145 以下 90 以下 
160 を超え 165 以下 30 以下 135 を超え 140 以下 120 以下 
155 を超え 160 以下 40 以下

a)

  許容時間は,安定器の表面温度が 135  ℃を超過してから,最高表面温

度に達するまでの時間。


35

C 8147-1

:2011

附属書 D 
(規定)

熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法

D.0 

一般事項 

大形の安定器は,この附属書に規定する試験容器に収まらない場合があるので,

附属書 に規定した構

造又は空気の循環のない恒温槽で代用することができる。ただし,試験の再現性を確保するため,安定器

製造業者は,代用した試験方法を試験機関に対して提示しなければならない。

D.1 

試験容器 

加熱試験は,周囲温度を所定の温度に維持できる容器内で行う(

図 D.1 参照)。試験容器全体は,25 mm

の厚さの断熱材で構成する。この容器の試験区画の内寸は,610 mm×610 mm×610 mm とする。試験区画

の床は 560 mm×560 mm とし,加熱した空気の循環用に台の全周に 25 mm の空間を設ける。試験区画の床

下には,ヒーターエレメント用に 75 mm のヒーター区画を設ける。試験区画の一つの側面は取り外すこと

ができ,かつ,容器にしっかりと固定できるような構造とする。側面の一つには,試験区画の底部の中央

に位置する 150 mm 角の正方形開口部を設け,この開口部だけを通して空気の循環ができるような容器の

構造とする。開口部は,

図 D.1 に示すようなアルミニウム製のシールドで覆う。

D.2 

容器の加熱 

D.1

の試験容器に用いる熱源は,約 40 mm×300 mm の加熱表面寸法をもつ 4 個の 300 W ストリップヒ

ーターとする。これらのエレメントは,電源と並列に接続する。これらのエレメントは,試験区画の床と

容器の底との間の 75 mm のヒーター区画に設置し,容器の内壁から各エレメントの端をそれぞれ 65 mm

離して,四角形になるよう取り付ける。エレメントは,適切な温度制御装置によって制御する。

D.3 

ランプ制御装置の動作条件 

試験中,電源の周波数はランプ制御装置の定格周波数とし,電源電圧はランプ制御装置の定格入力電圧

とする。試験容器内の温度は,試験中 40

0
5

  ℃に保つ。試験に先立ち,ランプ制御装置(無通電で)を,

全ての部品が容器内の温度に達するまで,十分な時間容器に入れておく。試験終了時の容器内の温度が,

試験の初めの温度と異なる場合には,その温度差を,ランプ制御装置の部品の温度上昇を決定するときに

考慮しなければならない。ランプ制御装置は,意図する大きさ及び本数のランプを点灯できるようにして

おく。ランプは,容器の外部に置く。

D.4 

容器内のランプ制御装置の位置 

試験中に,ランプ制御装置は,75 mm の 2 個の木製ブロックによって試験区画の床の上 75 mm に浮かし

た位置に通常動作姿勢にして,容器の各側面に対して中央になるように置く。電気的接続は,

図 D.1 に示

す 150 mm の正方形の開口部を通して容器の外へ出してもよい。試験中,容器はシールドした開口部が通

風又は急激な気流に触れないところに置く。


36

C 8147-1

:2011

D.5 

温度測定 

容器内の平均温度は,最も近い壁から 76 mm 以上離れた位置で,ランプ制御装置の中心と同一高さにお

ける平均空気温度とする。通常,温度は棒状ガラス温度計によって測定する。代替の測定器として,放射

熱を遮蔽する小さな金属羽根に取り付けた熱電対又は“サーミスタ”がある。通常,ケース温度は,熱電

対によって測定する。それまでに経過した試験時間の 10 %の間隔(ただし,5 分間間隔以上)をおいた連

続した 3 回の値が変化しない場合,温度安定であるとみなす。

単位  mm

図 D.1−熱的保護機能付ランプ制御装置の加熱用容器の例 


37

C 8147-1

:2011

附属書 E

(規定)

t

w

試験での 4 500 以外の定数 の使用

E.1 

一般事項 

この附属書は,4 500 以外の定数 の宣言値を製造業者が立証するための試験について規定する。

安定器の耐久性試験に用いる理論的試験温度 は,箇条 13 に示す式(2)によって求める。

その他の規定がない場合には,定数 は 4 500 とするが,次の手順 A 又は手順 B によって正当化するこ

とができる場合には,製造業者は

表 に規定するいずれの値を用いるかを宣言できる。

特定の安定器に 4 500 以外の定数を用いることを手順 A 又は手順 B に基づいて立証した場合には,その

定数を,その安定器及び同じ構造又は材料のその他の安定器の耐久性試験に用いてもよい。

E.2 

手順 

製造業者は,30 個以上の十分な数の試料に基づいて,対象安定器の設計に関する寿命及び巻線温度につ

いての実験データを提出する。

このデータから,と log とを関係付ける回帰線を 95 %信頼度曲線とともに計算する。

次に,10 日及び 120 日の座標を横切る 95 %信頼度曲線のそれぞれ上方と下方とが交差する点を通る直

線を引く。代表的な例を,

図 E.1 に示す。この線の勾配の逆数が,定数 の宣言値以上である場合,定数

の宣言値が 95 %信頼度限界以内にあることを立証したことになる。故障の基準については,手順 B 参照。

注記 1 10 日及び 120 日の点は,信頼度曲線の適用に必要な最小間隔を表している。同等又はより大

きい間隔の場合には,その他の点を用いることができる。

注記 2  ここに規定する手法に関する情報並びに回帰線及び信頼度限界を計算する方法は,IEC 

60216-1

及び IEEE 101 を参照。

E.3 

手順 

試験機関は,耐久性試験に要求した安定器のほかに,製造業者が提出した 14 個の新しい安定器を,無作

為に 7 個の二つのグループに分けて試験をする。製造業者は,定数 の宣言値及びその試験温度 T

1

(10

日間の公称平均寿命を達成するのに必要な温度)並びに箇条 13 の式(2)を変形した次の式(E.1)によって求

めた温度 T

2

(120 日間以上の公称平均寿命のための温度)を宣言する。

S

T

T

S

T

T

079

.

1

1

1

10

120

log

1

1

1

1

2

1

2

+

=

+

+

=

又は

(E.1)

ここに,

T

1

10

日間に対する絶対温度による理論的試験温度

T

2

120

日間に対する絶対温度による理論的試験温度

S

宣言する定数

耐久性試験は,理論的試験温度

T

1

(試験

1

)及び

T

2

(試験

2

)に基づいて,それぞれ

7

個ずつ

2

グルー

プの安定器に箇条

13

に規定する基本的方法を用いて実施する。

試験開始の

24

時間後に,電流が最初の値から

15 %

を超えて外れた場合には,より低い温度で試験を繰

り返さなければならない。試験期間は,箇条

13

の式

(2)

を用いて計算する。恒温槽での動作中に次の状態

になった場合,安定器は故障したものとみなす。

a)

安定器が開路状態になる。


38

C 8147-1

:2011

b) 24

時間後に測定した電流値が,初期入力電流の

150 %

200 %

の定格電流の即断ヒューズが動作する

ような絶縁物の絶縁破壊が起こる。

試験

1

は,全ての安定器が故障するまで

10

日間以上続ける。平均寿命

L

1

は,温度

T

1

での個々の寿命の

対数の平均から求める。これから,温度

T

2

における平均寿命

L

2

を,箇条

13

の式

(2)

を変形した次の式

(E.2)

によって求める。

⎟⎟

⎜⎜

=

1

2

e

1exp

2

1

1

log

T

T

S

L

L

(E.2)

注記 1  1 個以上の安定器が故障した場合には,試験中の残りの安定器の温度に影響を及ぼさないよ

うに,注意を払うのが望ましい。

試験 2 は,温度 T

2

での平均寿命が L

2

を超える時間まで続ける。この結果は,試料の定数 が少なくと

も宣言値どおりであることを意味する。ただし,平均寿命が L

2

に達する前に試験 2 の試料が全て故障した

場合,試料に関して宣言した定数 は立証されなかったことになる。

試験寿命は,宣言した定数 を用いて,実際の試験温度から理論的試験温度に正規化する。

注記 2  一般に,全ての安定器が故障するまで試験 2 を続ける必要はない。試験に必要な期間の計算

は容易であるが,故障が起きるたびに計算し直す必要がある。

温度に敏感な材料を組み込んだ安定器の場合,10 日間の公称安定器寿命は適切でないことがある。その

場合,適切な耐久性試験期間,例えば 30 日間,60 日間,90 日間又は 120 日間よりも短い場合,製造業者

はより長い寿命を採用できる。その場合には,長い公称安定器寿命は,短い期間の 10 倍以上(例えば,15/150

日間,18/180 日間など)とする。

図 E.1−定数 の宣言値の評価


39

C 8147-1

:2011

附属書 F

(規定) 
風防容器

ランプ制御装置の温度上昇試験で要求するような,適切な風防容器の構造及び用い方については,次の

推奨事項を適用する。同様な結果の得られることが確証できる場合は,風防容器の代わりにその他の構造

を用いることを許容する。

風防容器は長方形で,上面及び少なくとも三つの側面は二重の外板とし,底面は頑丈であることが望ま

しい。二重の外板は孔の開いた金属で互いの間隔を約 150 mm 離し,規則正しく直径 1 mm∼2 mm の孔が

それぞれの外板の全体の面積の約 40 %を占めるように開いていることが望ましい。

内面は,つや消し塗料で塗装することが望ましい。三つの主要内部寸法は,各々900 mm 以上とするこ

とが望ましい。最大のランプ制御装置の上面及び四つの側面と容器内面との間の距離が 200 mm 以上とな

るように,容器を設計することが望ましい。

注記  大形容器で 2 組以上のランプ制御装置を試験する必要がある場合には,一つのランプ制御装置

からの放射熱がその他の容器に影響を及ぼすことがないように,注意することが望ましい。

この容器の上面の上方及び孔の開いた側面の周囲には,300 mm 以上の距離があることが望ましい。容

器は,通風及び気温の突然の変化からできる限り影響しない位置に置き,放射熱源からも保護することが

望ましい。

試験中のランプ制御装置は,この容器の五つの内面からできるだけ離れた位置に置き,

附属書 に従っ

て,この容器の底面に立っている木台の上に置くことが望ましい。


40

C 8147-1

:2011

附属書 G 
(規定)

パルス電圧の値の由来の説明

G.1

パルス電圧の立上り時間 は,インバータの入力フィルタを衝撃励振させて,

“最悪状況”の影響を

与えるよう意図している。非常に簡単な入力フィルタの立上り未満の時間として,5 μs の時間を選択する。

LC

T

π

=

 (G.1)

ここに,

L: 入力フィルタのインダクタンス

C: 入力フィルタの静電容量

G.2

長時間パルス電圧のピーク値は,設計電圧の 2 倍とする(

図 G.2 参照)。

13 V 及び 26 V のインバータでは,インバータに印加する電圧は次の各々による。

(13×2)+15=41 V

(26×2)+30=82 V

注記 15 及び 30 は,各々13 V 及び 26 V のインバータの電圧範囲の最大値である。

G.3

短時間パルス電圧のピーク値は,設計電圧の 8 倍とする。

13 V 及び 26 V のインバータでは,インバータに印加する電圧は次の各々による。

(13×8)+15=119 V

(26×8)+30=238 V

注記 15 及び 30 は,各々13 V 及び 26 V のインバータの電圧範囲の最大値である。

G.4

図 G.1 に示す短時間パルスエネルギーの測定回路の部品定数の選択に関する説明。

ツェナーダイオードに 1 パルスだけを印加するように,非周期的に放電を行う。したがって,次の事項

を満足するよう,抵抗 は十分大きな値とする。

a)

配線による回路の自己インダクタンスの影響が十分に小さい。すなわち,時定数 L/が時定数 RC 

りも明らかに小さいことを意味する。

b)

電流の最大値[(V

pk

V

Z

)/によって評価することができる。]は,ツェナーダイオードが良好な動作

を示す電流値の範囲内が望ましい。

一方,この抵抗値 は,パルスを短時間とするためには大きすぎないほうがよい。

総インダクタンスが 14 μH∼16 μH(

図 G.1 に示すとおり)で,の値が次に示すもののときに,設計電

圧が 13 V であるインバータで約 20 Ω の値から,110 V の設計電圧に対して約 200 Ω の値までが,前述の

条件[a)及び b)]を満たすことができると思われる。

別のインダクタンス 

図 G.1 の回路に挿入する必要がないことに注意することが望ましい。

非周期的放電を想定した場合,容量 の値は,ツェナーダイオード(インバータの代わりになる)に加

えるエネルギーE

Z

及び関連する電圧に関連し,次の式(G.2)によって表す。

Z

CT

Z

pk

Z

)

(

V

V

V

V

E

C

×

=

 (G.2)

ここに,

V

pk

コンデンサ C の初期電圧

V

Z

ツェナーダイオードの電圧


41

C 8147-1

:2011

V

CT

コンデンサ C

T

の最終電圧

次の記号を用いる。

V

d

試験をするインバータの設計電圧

V

max

その定格電圧範囲の最大値

次のように決める。

V

Z

V

max

  (最適近似)

V

pk

=8 V

d

V

max

そして,更に V

CT

は,1 V 以下とする。

この条件によって,この電圧 V

CT

は,差(V

pk

V

Z

)に関して無視することができるので,次のようにな

る。

Z

Z

pk

Z

)

(

V

V

V

E

C

×

=

 (G.3)

上述の電圧値及び規定条件 E

Z

=1 mJ から,C(μF)の式は次のようになる。

max

d

125

)

μF

(

V

V

C

×

=

 (G.4)

一方,容量 C

T

の最小値は,次の式から計算を始める。

Z

CT

T

Z

V

V

C

E

=

 (G.5)

E

C

に 1 mJ,及び V

CT

に 1 V を代入すると,次の式が得られる。

max

T

000

1

)

μF

(

V

C

=

 (G.6)

V

max

=1.25 V

d

の場合,コンデンサ C 及び C

T

の値は,設計電圧 V

d

の関数として次のように表される。

( )

2

d

100

)

μF

(

V

C

 (G.7)

d

T

800

)

μF

(

V

C

 (G.8)


42

C 8147-1

:2011

構成部品 

R: 回路の抵抗 
L: 回路の自己インダクタンスを表すインダクタンス 
Z: 電圧 V

Z

を電圧範囲の最大値(V

max

)のできるだけ近くに選択するツェナーダイオード

C: インバータの設定電圧の 8 倍に等しい電圧 V

pk

に初期充電されたコンデンサ。1 mJ のエネルギーをダ

イオード Z に送り込むことを意図している。

式(G.4)に示したように,その容量の値は,次の式によって求める。

( )

2

d

d

max

max

d

100

1.25

125

)

μF

(

V

V

V

V

V

C

の場合, 

又は

×

C

T

:放電後に,その電圧が 1 V 以下になるように選んだコンデンサ

式(G.6)に示したように,その容量の最小値(1 V の電圧に対応)は,次の式によって求める。

d

d

max

max

T

800

1.25

000

1

)

μF

(

V

V

V

V

C

の場合, 

又は

このコンデンサは,初期充電前に誘電体薄膜によって電圧が誘導されない非電解形でなければならない。

D

1

:逆電圧バイパスダイオード,PIV(ピーク逆電圧)の定格は,設計電圧の 20 倍。高速形とし,ターン

オン及びターンオフ 200 ns。

D

2

:逆電流阻止ダイオード。toff が 200 ns の高速オフ形が望ましい。

S: 跳ね返り時間が放電時間よりも長いオン・オフスイッチ。半導体スイッチを用いてもよい。 
V: 入力抵抗が 10 MΩ より高い電圧計(通常は電子式)。

表 G.1 は,ごく普通に見られる設計電圧に対する次の項目を与えるものである。 
a)  V

max

=1.25 V

d

の場合の,上式によるコンデンサ C 及び C

T

の値。

b)

時定数 L/と RC とが次の関係を満足する抵抗値 R

RC

R

L

05

.

0

=

ここで,は 15 μH と仮定する。

この抵抗値 は,最大電流を 4.5 A 程度に制限することが望ましい。

c)

時定数 RC は,評価するパルス幅の大きさを決める。

図 G.1−短時間パルスエネルギーを測定するための回路 

表 G.1−パルスエネルギーを測定する回路定数 

設計電圧

V

コンデンサ C

μF

コンデンサ C

T

μF

抵抗 R

時定数 RC

μs

13 0.59  61.5  22.5  13.3 
26 0.15  30.8  45

6.7

50 0.04  16  87

3.5

110 0.008

3 7.3 190

1.6

注記  この表の C

T

は,最小値である。電圧計の読み V が安定している場合,より大きな静電容量

のコンデンサを用いてもよい。電圧 V を観測した場合,ツェナーダイオードに加えられた
エネルギーは,次のように表される。

E

Z

=C

T

V

CT

V

Z


43

C 8147-1

:2011

構成部品 

PSU

1

: 2 %の電圧レギュレーション(無負荷から全負荷まで)で,規定する最大パルス電圧(電圧範囲の最大

+X 設計電圧)及びその電圧においてインバータが規定するパルス電流を供給できる電源装置。

PSU

2

:  入力電圧範囲の最大値に調整した電源装置。

注記 1  両 PSU は,試験中のインバータが故障した場合に損傷することを防ぐために,電流制限を

設けることが望ましい。

TH

1

:  電圧パルスをインバータに印加するための主スイッチングサイリスタ。多くのサイリスタがこの動作

に適している。約 1 μs のターンオン時間があり,十分なパルス電流能力がある。

TH

2

:  リレーRLC の動作を制御するサイリスタ。

D

1

: TH

1

用逆電流バイパスダイオード。TH

1

が動作したときの初期振動性過渡電流を流す。電圧定格が最大

パルス電圧の 2 倍の高速形(200 ns∼500 ns)である。

D

2

: PSU

2

用ブロッキングダイオード。PSU

2

の出力インピーダンスが,電圧パルス源(PSU

1

)の負荷にな

ることを防止する。電圧定格が,最大パルス電圧の 2 倍の高速形(約 1 μs のターンオフ)である。

RLC:  接点 K のパルス終止用リレー。 
R 及び C:スパーク抑止構成部品。R 及び C は,26 V インバータ用には,100 Ω 及び 0.1 μF が提示されている。
S

1

オン/オフ又はリセット制御に用いるスイッチ

注記 2  正しいパルス幅を確保するための遅延システムは,図示していない。TH

1

の作動 500 ms 後

にサイリスタ TH

2

をトリガーすることを確実に行い,リレー作動時間を考慮に入れる。

図 G.2−長時間パルスを生成して適用するための適した回路 


44

C 8147-1

:2011

附属書 H 
(規定)

試験

H.1 

周囲温度及び試験室 

H.1.1

測定は,通風のない部屋の中で 20  ℃∼27  ℃の範囲内の周囲温度で行う。

安定したランプ特性を必要とする試験では,ランプの周囲温度は,23  ℃∼27  ℃の範囲内とし,試験中

に 1  ℃を超えて変化してはならない。

H.1.2

周囲温度のほかに,空気の循環もランプ制御装置の温度に影響を及ぼす。信頼性のある結果を得る

ためには,試験室は通風があってはならない。

H.1.3

冷間の巻線抵抗を測定する前に,ランプ制御装置は,試験室の周囲温度に確実に到達するように,

試験前に十分な時間試験室に放置する。

ランプ制御装置の温度試験の前後に,周囲温度の相違が存在することがある。ランプ制御装置の温度は

変化した周囲温度よりも遅れるので,補正が困難である。このため,試験するランプ制御装置のほかに,

別のランプ制御装置を試験室に設置して,温度試験の始め及び終わりにその冷間の抵抗を測定する。この

抵抗値の差は,温度を求めるための式に用いて,試験中のランプ制御装置の値を補正するための根拠とし

て用いることができる。

補正の困難さは,恒温の室内で測定を実施することによって排除することができる。この場合,補正は

必要ない。

H.2 

入力電圧及び周波数 

H.2.1 

試験電圧及び周波数 

特に規定がない限り,試験中の制御装置はその設計電圧で動作させ,試験用安定器はその定格電圧及び

周波数で動作させる。

H.2.2 

電源及び周波数の安定 

特に規定がない限り,入力電圧及び試験用安定器に該当する場合,周波数は±0.5 %以内の一定値に維持

しなければならない。ただし,実際の測定中には,電圧は指定試験値の±0.2 %以内に調整しなければなら

ない。

H.2.3 

試験用安定器だけに対する入力電圧波形 

入力電圧の全高調波含有率は,3 %を超えないものとする。高調波含有率は,基本周波数を 100 %とした

ときの個々の成分の実効値(rms)の総和として定義している。

H.3 

ランプの電気特性 

周囲温度は,ランプの電気特性に影響を及ぼすことがある(H.1 参照)

。また,ランプは,周囲温度とは

無関係に,初期特性のばらつきを示す。さらに,この特性はランプの寿命中に変化することがある。

定格入力電圧の 100 %及び 110 %でのランプ制御装置の温度の測定では,定格電圧の 100 %又は 110 %で

試験用ランプを用いて得た値と等しい短絡電流でランプ制御装置を動作させることによって,ランプの影

響を排除することもできる(例えば,スタータ動作回路で用いるチョークコイル式安定器など。

。ランプ

を短絡し,要求する電流が回路を流れるように,入力電圧を調節する。


45

C 8147-1

:2011

疑義が生じた場合には,ランプを用いて測定を行う。このランプは,試験用ランプと同じようにして選

択するが,試験用ランプに要求するようなランプ電圧及び電力に対する狭い公差は,要求としない。

ランプ制御装置の温度上昇を評価する場合には,巻線に流れる電流を測定し,記録する。

H.4 

磁気の影響 

特に規定がない限り,試験用安定器又は試験中のランプ制御装置の全ての側面から 25 mm 以内に,磁気

を帯びた物体があってはならない。

H.5 

試験用ランプの装着及び接続 

試験用ランプの電気特性の再現性が最もよく得られるよう,ランプを関連するランプ規格に規定する方

向に取り付けて,この試験用ソケットに取り付けたままにしておくことが望ましい。ランプ制御装置の端

子の識別(番号)で判別できる場合は,試験用ランプは,エージング中での接続の極性と同じ極性となる

回路にして接続することが望ましい。

H.6 

試験用ランプの安定性 

H.6.1

ランプは,安定した動作状態になってから測定を実施する。移動じま(縞)が存在してはならない。

H.6.2

ランプの特性は,一連の各試験の直前及び直後に検査する。

H.7 

計器の特性 

H.7.1 

電圧回路 

ランプと並列に接続した計器の電圧回路は,公称電流の 3 %を超える電流が流れてはならない。

H.7.2 

電流回路 

ランプと直列に接続した計器の電流回路は,電圧降下が目標ランプ電圧の 2 %を超えないよう十分に低

いインピーダンスとする。測定器を並列予熱回路に挿入する場合,計器の総インピーダンスが 0.5  Ω を超

えてはならない。

H.7.3 

実効値測定 

計器は,波形のひずみによる誤差がないものとし,使用周波数に適しているものでなければならない。

計器の対地静電容量が試験中のユニットの動作を妨げていないことを確かめるように注意しなければなら

ない。試験中の回路の測定箇所が接地電位であることを確かめてもよい。

H.8 

インバータの電源 

ランプ制御装置が電池から電力を供給して使用することを意図する場合,電源インピーダンスが電池の

インピーダンスと同等であるとき,電池以外の直流電源を用いることを許容する。

注記  適切な定格電圧で 50  μF 以上の静電容量の無誘導形コンデンサが,試験中のユニットの電源端

子の両端に接続されている場合,通常,電池のインピーダンスと同等の電源インピーダンスを

示す。

H.9 

試験用安定器 

JIS C 8118

に規定する要求事項に従って測定したときに,試験用安定器は,その規格及び JIS C 7601 

該当するランプのデータシートの両方に規定する特性をもっていなければならない。


46

C 8147-1

:2011

H.10 

試験用ランプ 

試験用ランプは,JIS C 8118 の規定に従い測定及び選定し,JIS C 7601 の適合ランプのデータシートに

規定する特性をもっていなければならない。

ランプ規格が規定されていないランプについては,周囲温度が 25  ℃の環境において試験用安定器でラ

ンプを点灯させたとき,ランプ電流が製造業者の宣言値から 2.5 %を超えて外れてはならない。

H.11 

試験条件 

H.11.1 

抵抗測定の時間遅延 

ランプ制御装置はスイッチをオフにした後に急速に冷却することがあるので,スイッチオフから抵抗測

定までの時間の遅延は,最小とすることが望ましい。したがって,コイル抵抗は,経過時間の関数として

決定し,これによってスイッチオフの瞬間の抵抗を求めることができる。

H.11.2 

接点及びリード線の電気抵抗 

接続部分は,できるだけ回路から取り除く。スイッチを用いて通常条件から試験条件に切り換える場合

には,スイッチの接触抵抗が試験結果に影響を及ぼさないように十分に低く維持していることを確かめる

ために,定期的に検査を行わなければならない。ランプ制御装置と抵抗測定計器との間の接続リード線の

抵抗値は,全て考慮しなければならない。

測定精度を確実に向上させるためには,いわゆるダブル結線による 4 点測定法を適用することが望まし

い。

H.12 

ランプ制御装置の温度上昇 

H.12.1 

器具内用ランプ制御装置 

H.12.1.1 

ランプ制御装置の各部分の温度 

ランプ制御装置は,巻線の熱耐久性試験について箇条 13 に詳述するように,恒温槽の中に設置する。

H.12.4

に規定するように,ランプ制御装置は,定格入力電圧での通常使用時と同様の電気的動作状態と

する。

次に,巻線の最高温度が,規定する t

w

の値とほぼ等しい温度になるように,恒温槽のサーモスタットを

調整する。ただし,安定器の外部表面の定格最高温度 t

c

を宣言しているものは,安定器の外部表面が t

c

ほぼ等しくなるように調整する。

4 時間後に,巻線の実際の温度を抵抗法[箇条 13 の式(1)参照]によって求めて,t

w

の値との差が±5 K

を超える場合,温度 t

w

にできる限り近くになるように,恒温槽のサーモスタットを再調整する。

温度が安定した後,抵抗法[箇条 13 の式(1)参照]によって,巻線温度を測定する。

電源電圧が定格電圧の 100 %における巻線温度の測定終了後,電源電圧を定格電圧の 106 %に増加する

(ただし,個別規格の規定に基づいて,製造業者の要求がある場合,電源電圧は定格電圧の 100 %のまま

とすることができる。

。温度が安定した後,t

w

と測定した巻線温度,又は t

c

と測定したケース温度との差

を補正した安定器の各部分の温度は,個別規格で規定する要求事項に適合しなければならない。

H.12.1.2 

ランプ制御装置の巻線温度 

通常状態での巻線の温度上昇を宣言するランプ制御装置では,試験条件は次による。

ランプ制御装置は,

附属書 に規定するような風防容器の中に入れて,図 H.1 に示すような二つの木台

によって支持する。

木台は,高さ 75 mm,厚さ 10 mm で,幅はランプ制御装置の幅以上とする。さらに,この木台は,ラン


47

C 8147-1

:2011

プ制御装置の一番端をこの木台の外側垂直面に一致するように置く。

ランプ制御装置を二つ以上のユニットで構成する場合,各ユニットは別々の木台で試験をしてもよい。

コンデンサは,ランプ制御装置のケースに収納されていない場合,風防容器の中に入れてはならない。

ランプ制御装置は,温度が安定するまで,定格入力電圧及び定格周波数の通常状態で,試験する。

巻線温度は,可能ならば抵抗法[箇条 13 の式(1)参照]によって,測定する。

H.12.2 

独立形ランプ制御装置 

独立形ランプ制御装置は,

附属書 に規定するような風防容器の中に入れて,部屋の 2 面の壁と天井と

を模した厚さが 15 mm∼20 mm の 3 枚のつや消しの黒い塗装板からなる試験コーナーの中に取り付ける。

ランプ制御装置は,壁のできるだけ近くの試験コーナーの天井に固定し,天井は,ランプ制御装置の壁側

以外の各側面から 250 mm 以上伸びていなければならない。

他の試験条件は,JIS C 8105-1 の照明器具に対して規定したものと同じである。

H.12.3 

器具一体形ランプ制御装置 

器具一体形ランプ制御装置は,JIS C 8105-1 に従う照明器具の一部として試験するので,ランプ制御装

置の温度上昇の限度に対して,個別に試験しない。

H.12.4 

試験条件 

通常条件の試験では,ランプ制御装置を適合ランプとともに動作させるが,発生する熱がランプ制御装

置の温度上昇に影響しないように,配置しなければならない。

ランプ制御装置の温度上昇試験の限度に関して用いるランプは,試験用安定器で 25  ℃の周囲温度で点

灯したときに,ランプ電流が,関連するランプ規格に規定する目標値から,又はまだ規格化していないラ

ンプでは製造業者が宣言した値から 2.5 %を超えて外れていない場合,適切であるとみなす。

注記  リアクタ形のランプ制御装置(単一チョークコイル式安定器)の場合,製造業者の判断によっ

て,定格入力電圧においてランプを用いたときと同じ値の電流値に調整しているときは,ラン

プなしで試験又は測定を行うことを許容している。

非リアクタ形のランプ制御装置の場合,相当する損失があることを明確にする必要がある。

並列陰極予熱の変圧器をもったスタータを用いないランプ制御装置では,同じ定格のランプを低抵抗の

陰極又は高抵抗の陰極いずれでも用いることができることが,JIS C 7601 に規定してある場合には,低抵

抗の陰極をもつランプを用いて試験を実施する。


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C 8147-1

:2011

単位  mm

(寸法許容差±1.0)

図 H.1−温度試験用試験台 


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C 8147-1

:2011

附属書 I

(規定)

二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項

I.1 

適用範囲 

この附属書は,二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器に適用する。

I.2 

用語及び定義 

この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。

I.2.1  

二重絶縁又は強化絶縁形器具内用安定器(built-in ballast with double or reinforced insulation)

接触可能な金属部が二重絶縁又は強化絶縁によって充電部から絶縁している安定器。

I.2.2 

基礎絶縁(basic insulation)

電撃に対し基礎的な保護を与えるために充電部に施す絶縁。

I.2.3 

付加絶縁(supplementary insulation)

基礎絶縁の破壊の場合において,

電撃に対する保護を与えるために基礎絶縁に加えて施す独立した絶縁。

I.2.4  

二重絶縁(double insulation)

基礎絶縁と付加絶縁との双方からなる絶縁。

I.2.5  

強化絶縁(reinforced insulation)

二重絶縁と同等の電撃保護の程度をもつ充電部に施す単一の絶縁システム。

注記  “絶縁システム”の用語は,絶縁が単一均質片でなければならないということを意味しない。

絶縁システムは,付加絶縁又は基礎絶縁として単独に試験のできない数層から構成していても

よい。

I.3 

一般的要求事項 

二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は,工具なしで橋絡又は取り外しできない熱的保護手段を具備しな

ければならない。さらに,保護装置の故障だけが回路開放状態を生じさせなければならない。

注記 1  これは,熱的保護手段の製造業者が宣言することが望ましい。

注記 2  非復帰タイプの装置の使用は認められている。

それらの安定器は,また,

附属書 に適合しなければならない。ただし,短絡する巻線は,熱的保護手

段からできるだけ遠くに配置しなければならない。

さらに,試験の最後に,安定器は,I.10 に加えて

表 に規定する値から 35 %を減じた試験電圧の耐電圧

を満足しなければならない。絶縁抵抗は,4 MΩ 以下であってはならない。


50

C 8147-1

:2011

I.4 

試験上の一般的注意事項 

箇条 を適用する。

I.5 

分類 

箇条 を適用する。

I.6 

表示 

7.1

で規定した表示に加え,二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は,記号      によって識別できなけれ

ばならない。

注記  この表示の意味を製造業者の印刷物又はカタログに説明することが望ましい。

I.7 

充電部との偶発接触からの保護 

箇条 10 の要求事項に加え,テストフィンガが基礎絶縁だけで保護した金属部と接触してはならない。

注記  この要求事項は,充電部を二重絶縁又は強化絶縁によってテストフィンガから隔離しなければ

ならないことを必ずしも意味しない。

I.8 

端子 

箇条 を適用する。

I.9 

保護接地 

二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は,保護接地端子をもってはならない。

I.10 

耐湿性及び絶縁性 

箇条 11 を適用する。

I.11 

高電圧インパルス試験 

JIS C 8147-2-9

の箇条 15(高電圧インパルス試験)を HID 安定器に適用する。

I.12 

安定器巻線の熱耐久性試験 

熱耐久性試験は,箇条 13 によって実施する。

温度を制限する装置は,熱耐久性試験前に橋絡しなければならない。特別に準備したサンプルが必要な

場合がある。

試験後,安定器温度が周囲温度に戻ったとき,次の要求事項を満足しなければならない。

a)

定格電圧において,7 台中 6 台以上の安定器は,同じランプを始動させなければならない。ランプ電

流は,試験前に測定した値の 115 %を超えてはならない。

注記  この試験は,安定器の設置条件において,幾つかの不利な変化を割り出すためのものである。

b)

全ての安定器に対して,巻線と安定器ケースとの間の絶縁抵抗は,500 V の直流電圧で測定したとき,

4 MΩ 未満であってはならない。

c)

全ての安定器は,巻線と安定器ケースとの間に

表 に規定する値から 35 %を減じた電圧を 1 分間印加

した耐電圧試験に耐えなければならない。


51

C 8147-1

:2011

I.13 

安定器の温度上昇 

JIS C 8147-2-9

の箇条 14(安定器の温度上昇)を適用する。

I.14 

ねじ,通電部及び接続部 

箇条 17 を適用する。

I.15 

沿面距離及び空間距離 

次の事項とともに,箇条 16 を適用する。二重又は強化絶縁を施した器具内用安定器に対して,JIS C 

8105-1

の照明器具の関連する値を適用する。

I.16 

耐熱性及び耐火性 

箇条 18 を適用する。

I.17 

耐食性 

箇条 19 を適用する。


52

C 8147-1

:2011

附属書 J

(規定)

より面倒な要求事項の一覧

J.1 

適用範囲 

この附属書は,再試験が必要な製品に要求するより厳しい,かつ,重大な要求事項を含む,修正箇条に

適用する。

注記  “R”と表記され,この附属書の一覧された箇条は,将来の改正版に含まれる。現時点では,

規定されていない。


53

C 8147-1

:2011

附属書 K

(参考)

製造工程における適合試験

K.1 

適用範囲 

この附属書に記載する試験は,安全上容認できない材料及び製品の不適合を発見することを目的に,製

造業者が製造後,全ての制御装置に対し行うことが望ましい。これらの試験は,制御装置の特性及び信頼

性を損なうものではなく,より低い電圧を用いるため,規格に対する形式試験とは異なる。

全ての制御装置がここに記載されている形式試験に合格したサンプルと一致することを保証するには,

更に試験が必要となる場合がある。それらの試験は,製造業者が経験で決めるのが望ましい。

品質マニュアルの範囲内で,この附属書に記載するのと同じレベル以上の安全性を確保することを確認

できる場合,試験の手順書及び試験の値を製造設備に適合した形に変えたり,製造工程中の適切な段階に

試験を設けることができる。

K.2 

試験 

電気的試験は,

表 K.1 の一覧に従って全数実施することが望ましい。不合格品は,廃棄又は再生のため

隔離する。


54

C 8147-1

:2011

表 K.1−電気的試験の最小値 

制御装置の種類及び法令遵守

試験

磁気式安定器

交流及び直流電子安定器

低電圧白熱電球及び LED

モジュール用の電子トランス

高周波冷陰極ランプ用 
インバータ及び変換器

始動装置

目視検査

a)

適用

機能試験/回路接続

(ランプ又は模擬ラン
プとともに)

インピーダンス試験

b)

ランプ/動作電圧

ランプ/動作電圧

ランプ/動作電圧

最 小 定 格 入 力 電 圧 
90 % 
ピーク電圧

接地導通

c)

制御装置の接地用端子
と,人が触れるおそれ

があり,充電部になる
部 品 と の 間 に 適 用 す
る。

(クラス I  独立形制
御装置だけ)

最大 0.5 Ω 
12 V を超えない無負
荷電圧で,最低 10 A の

電流を 1 秒間以上通電
し,測定する。

最大 0.5 Ω 
12 V を超えない無負荷電圧
で,最低 10 A の電流を 1 秒

間以上通電し,測定する。

最大 0.5 Ω 
12 V を超えない無負荷電圧で,最
低 10 A の電流を 1 秒間以上通電し,

測定する。

最大 0.5 Ω 
12 V を超えない無負荷電圧
で,最低 10 A の電流を 1 秒

間以上通電し,測定する。

最大 0.5 Ω 
12 V を超えない無
負荷電圧で,最低 10 
A の電流を 1 秒間以
上 通 電 し , 測 定 す
る。

耐電圧

c)

回 路 端 子 一 括 と き ょ
う(筐)体との間に交
流 1.5 kV 又は直流 1.5

×

2

 kV の電圧を 1

秒 間 印 加 し , 測 定 す
る。

入 出 力 端 子 一 括 と き ょ う
(筐)体との間に交流 1.5 
kV 又は直流 1.5×

2

 kV の

電圧を 1 秒間印加し,測定
する。

入出力端子一括ときょう(筐)体と
の間に交流 1.5 kV 又は直流 1.5×

2

 kV の電圧を 1 秒間印加し,測

定する。 
入出力端子間は,交流 3 kV 又は直
流 3×

2

 kV の電圧を 1 秒間印加

し,測定する。

入 出 力 端 子 一 括 と き ょ う
(筐)体との間及び入力と
出力との間に交流 1.5 kV 又

は直流 1.5×

2

 kV の電圧

を 1 秒間印加し,測定する。

回 路 端 子 一 括 と き
ょう(筐)体との間
に交流 1.5 kV 又は

直流 1.5×

2

 kV の

電圧を 1 秒間印加
し,測定する。

a)

  目視検査は,制御装置を完全に組み立て,被害又は損害をもたらすシャープエッジなどがないことを確認することが望ましい。どのラベルも読みやすい印刷で読

みやすく適正に貼られていることを確認することが望ましい。

b)

  インピーダンス試験は,安定器の定格電流負荷で動作させたとき,安定器の電圧を測定するか,又は固定電圧(適切なランプデータシートで,定義している。)

で安定器の電流を測定する。

c)

  クラス II の(独立形)制御装置,又はプラスチックケース及び接地用端子のない制御装置には,接地導通,耐電圧及び絶縁抵抗試験は,適用しない。

54

C

 8147-1


201

1


55

C 8147-1

:2011

附属書 JA

(規定)

追加の安全性要求事項

JA.1 

電源からの絶縁 

定格二次電圧が 300 V を超える変圧式の安定器の変圧器は,絶縁変圧器でなければならない。ただし,

次に適合するものにあっては,この限りでない。

a)

ランプを取り外したとき,二次電圧が 300 V 以下になるもの。

b)

表示する接続図によってランプを取り外したとき,一次側の回路を自動的に遮断する装置を設ける旨

が示されているもの。

JA.2 

特性試験 

JA.2.1 

二次短絡電流特性 

定格周波数に等しい周波数の定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した二次短絡電流は,定格二次短絡

電流の 115 %以下でなければならない。

JA.2.2 

点灯特性 

定格周波数に等しい周波数の下で,試験用ランプを接続して点灯したとき,次に適合しなければならな

い。

a)

定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した試験用ランプの管電流は,次の

表 JA.1 に適合しなければな

らない。

表 JA.1−安定器の種別及び試験用ランプの試験用安定器の値に対する比 

単位  %

安定器の種別

試験用ランプの試験用
安定器の値に対する比

予熱始動式 115 以下

ラピッドスタート式 115 以下

蛍光灯安定器

その他のもの 120 以下

蛍光灯電子安定器 120 以下

水銀灯安定器 110 以下

高圧放電灯安定器

その他のもの 120 以下

低圧ナトリウム灯安定器 120 以下

放電灯電子安定器 115 以下

b)

定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した入力電流及び入力電力は,定格入力電流及び定格入力電力

の 90 %以上 110 %以下とする。ただし,試験用ランプの定格消費電力が 10 W 以下の場合にあっては,

定格入力電流及び定格入力電力の 80 %以上 120 %以下とすることができる。

JA.2.3 

二次電圧特性 

二次電圧特性は,次による。

a)

定格二次電圧は,1 000 V 以下とする。

b)

定格周波数に等しい周波数の定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した二次電圧は,定格二次電圧の

110 %以下でなければならない。


56

C 8147-1

:2011

JA.3 

口出し線 

独立形ランプ制御装置の口出し線は,JIS C 8105-1 の 5.2(電源との接続及びその他の外部配線)及び 7.2

(保護接地)の規定に,また,独立形ランプ制御装置以外のランプ制御装置の口出し線については,JIS C 

8105-1

の 5.3(内部配線)の規定に適合しなければならない。ただし,JIS C 8105-1 の 5.2.2 及び 5.3.1 の規

定を次の a)及び b)に置き換える。

a)

表 JA.2 に規定する電線若しくはこれと同等以上の絶縁効力で表 JA.2 に規定する導体の公称断面積を

もつ電線,又は IEC 60227 の規格群及び JIS C 3663 の規格群に適合する電線(屋外用の独立形ランプ

制御装置の場合,キャブタイヤケーブル又は絶縁電線に限る。

)は,断面積が 0.75 mm

2

以上のもので

なければならない。

ただし,定格電圧が 300 V 以下の蛍光灯安定器及び殺菌灯安定器の場合,負荷側の口出し線又はそ

の構造上,直接電源に接続されることのない電源側の口出し線,若しくはその表示する接続図によっ

て直接電源に接続されない旨が示されている電源側の口出し線は,独立形安定器を除き,断面積が 0.5

mm

2

以上のゴムコード又はビニルコードを使用することができる。

b)  a)

のただし書きの規定によって,断面積が 0.75 mm

2

未満のゴムコード又はビニルコードを口出し線に

用いる場合は,色分けその他の方法によって当該口出し線をその他の口出し線と容易に識別できるよ

うにする。

表 JA.2−電線の種類 

導体の公称断面積

mm

2

定格入力電圧又は

定格二次電圧

V

電線の種類

日本工業 
規格番号

蛍光灯安定器

蛍光灯電子安定器

電子トランス

LED モジュール用

制御装置

放電灯安定器

放電灯電子

安定器

ゴムコード

JIS C 3301

300 以下

ビニルコード

JIS C 3306

0.75 以上 0.75 以上

600 V ビニル絶縁電線(IV)

JIS C 3307

0.9 以上

口出用ゴム絶縁電線

JIS C 3315

電気機器用ビニル絶縁電線

JIS C 3316

300 を超え 600 V 以下

600 V 二種ビニル絶縁電線(HIV) JIS C 3317

1.25 以上

600 を超え 1 000 以下 1

000

V 蛍光放電灯用電線

0.75 以上

0.75 以上

JA.4 

試験方法 

JA.4.1 

二次電圧試験 

二次電圧試験は,安定器を例えば

図 JA.1 のように接続し,入力端子間に定格周波数の定格電圧を加え,

ランプの両端に接続する端子のいずれか高い電圧を測定する。

注記  無負荷の二次電圧が間欠的に変化する場合,実効値指示計器の最大指示値を二次電圧とみなす。

なお,陰極線オシロスコープで波形を観察し,実効値の平均を計算によって求めてもよい。

JA.4.2 

二次短絡電流試験 

安定器の入力端子間に定格周波数の定格入力電圧を加え,JA.4.1 に規定する端子間を電流計で短絡して

測定する。

注記  短絡時の二次電流が間欠的に変化するものにあっては,実効値指示計器の最大指示値を二次短


57

C 8147-1

:2011

絡電流とみなす。

なお,陰極線オシロスコープで波形を観察し,実効値の平均を計算によって求めてもよい。

図 JA.1−二次電圧測定回路 


58

C 8147-1

:2011

参考文献 

[1]  JIS C 2134  固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法

注記  対応国際規格:IEC 60112,Method for the determination of the proof and the comparative

tracking indices of solid insulating materials(IDT)

[2]  JIS C 7603  蛍光ランプ用グロースタータ

[3]  JIS C 8105-2(規格群)  照明器具−第 2 部 
[4]  JIS C 8147-2-1  ランプ制御装置−第 2-1 部:始動装置の個別要求事項(グロースタータを除く)

注記  対応国際規格:IEC 61347-2-1,Lamp controlgear−Part 2-1: Particular requirements for starting

devices (other than glow starters)(MOD)

[5]  JIS C 8147-2-2  ランプ制御装置−第 2-2 部:直流又は交流電源用低電圧電球用電子トランスの個別

要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61347-2-2,Lamp controlgear−Part 2-2: Particular requirements for d.c. or a.c.

supplied electronic step-down convertors for filament lamps(MOD)

[6]  JIS C 8153  LED モジュール用制御装置−性能要求事項

注記  対応国際規格:IEC 62384,DC or AC supplied electronic control gear for LED modules−

Performance requirements(MOD)

[7]  JIS C 60664-1  低圧系統内機器の絶縁協調−第 1 部:基本原則,要求事項及び試験

注記  対応国際規格:IEC 60664-1,Insulation coordination for equipment within low-voltage systems

−Part 1: Principles, requirements and tests(IDT)

[8]  JIS C 60664-4  低圧系統内機器の絶縁協調−第 4 部:高周波電圧ストレスの考慮

注記  対応国際規格:IEC 60664-4,Insulation coordination for equipment within low-voltage systems

−Part 4: Consideration of high-frequency voltage stress(IDT)

[9]  JIS C 60664-5  低圧系統内機器の絶縁協調−第 5 部:2 mm 以下の空間距離及び沿面距離を決定する

ための包括的方法

注記  対応国際規格:IEC 60664-5,Insulation coordination for equipment within low-voltage systems

−Part 5: Comprehensive method for determining clearances and creepage distances equal to or less

than 2 mm(IDT)

[10]  IEC 60216-1:2001,Electrical insulating materials−Properties of thermal endurance−Part 1: Ageing

procedures and evaluation of test results

[11]  IEC 60479 (all parts),Effects of current on human beings and livestock 
[12]  IEC 60598 (all parts),Luminaires

[13]  IEC 60925:1989,D.C. supplied electronic ballasts for tubular fluorescent lamps−Performance requirements,

Amendment 1:1996 及び Amendment 2:2001

[14]  IEC 60927:1996 , Auxiliaries for lamps − Starting Devices (other than glow starters) − Performance

requirements,Amendment 1:1999 及び Amendment 2:2004

[15]  IEC 61047:2004,DC or AC supplied electronic step-down convertors for filament lamps−Performance

requirements

[16]  IEEE 101:1987,IEEE Guide for the Statistical Analysis of Thermal Life Test Data


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C 8147-1

:2011

附属書 JB

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 8147-1:2011

  ランプ制御装置−第 1 部:通則及び安全性要求事項

IEC 61347-1:2007

  Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements 及び

Amendment 1:2010 

(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

箇条番号 
及び題名

内容

(II) 
国際

規格
番号

箇条 
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

1 適 用 範

250 V 以下の直流電源及
び/又は 1 000 V 以下の
50 Hz 又は 60 Hz の交流
電源に使用する,ランプ
制御装置の通則及び安
全性要求事項について

規定。

 1

JIS

とほぼ同じ。

追加

“追加の安全性要求事項”を附属書
JA に規定

国内規定を追加。

3  用 語 及
び定義

37 項目の用語の定義を
規定。

 3

JIS

とほぼ同じ。

追加

入力電力,変圧式安定器,二次電圧,

二次短絡電流及び定格最高周囲温
度を追加。

電気用品安全法に日本独自の必須

表示項目があるので,これらを用
語及び定義に追加した。また,独
立形ランプ制御装置においては,

JIS C 8105-1

の要求規定を満たす

ことが明記されており,定格最高
周囲温度をランプ制御装置に表示

する場合があるため,この定義を
追加した。これによって試験条件
もより明確にした。

5  試 験 上
の 一 般 的
注意事項

試験条件・方法に関する
事項について規定。

 5

5.3 
ある国では,試験個数 3
台のうち 1 台の不適合

を認め,追加の 3 台が適
合すればよいとの規定
が記載されている。

削除

不合格を認めるのは技術基準とし
て不適切であり,試験個数 3 台の
うち 1 台の不適合を認める記載は

削除した。

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C

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C 8147-1

:2011

 (I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

箇条番号

及び題名

内容

(II) 
国際
規格

番号

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

7  表示

本体又はカタログに表

示する項目並びに表示
の耐久性及び判読性を
規定。

 7

JIS

とほぼ同じ。

追加 qA)

,qB)及び qC)を追加。また,

e),i),p)及び r)に,国内規定内
容を追加。

我が国では,電気用品安全法及び

電気設備技術基準があり,その表
示規定を追加。

9  保 護 接

接地用端子材料,適合
性,接地を要する条件,
接地用端子及び接地用

口出し線の仕様を規定。

 9

JIS

とほぼ同じ。

判定条件だけ変更

追加・変

接地を要する条件,接地用端子及び
接地用口出し線の仕様を追加。

国内技術基準(電気用品安全法)
の接地要求基準を追加。

13  安 定
器 巻 線 の
熱 耐 久 性
試験

試験方法及び絶縁性能

について規定。

 13  JIS とほぼ同じ。

変更 
 
 
 
追加

①  抵抗法による巻線の温度条件を

“巻線温度が安定し始めた後に”に
変更した(対応国際規格では“4 時
間後に”

②試験前及び試験後のランプ電流
測定用ランプは特性試験だけに使
用することを追加。

①熱容量の大きい放電灯安定器な

どは,安定前に時間を要するため
変更した。 
 
②熱耐久性試験に用いるランプと
ランプ電流測定用ランプとを明確
に区別するため追加した。

表 3 の注記に“規定する電圧の中間
の電圧の絶縁距離は,直線補完を適
用する。

”を追加。

IEC 60598-1

第 5 版では,絶縁距

離の規定として直線補完が認めら
れており,これに合わせた。

16  沿 面
距 離 及 び
空間距離

ランプ制御装置各部間
の沿面距離及び空間距
離の考え方及び値(直線

補完法採用)について規
定。

 16  JIS とほぼ同じ。

追加

“ただし,絶縁を要求する巻線間は
除く。

”を追加。

旧規格からのデビエーションを継
続する。 

18  耐 熱
性 , 耐 火
性 及 び 耐

ト ラ ッ キ
ング性

外部絶縁部品,充電部保
持部品の耐熱性,耐火性
及び耐トラッキング性

について規定。

 18  JIS とほぼ同じ

追加 18.5 において,耐トラッキング性を

もつランプ制御装置の種類条件に
対象となる部品及び除外項目を追

加し,部位を明確化。

対応国際規格は,ランプ制御装置
のどの部位が耐トラッキング性を
もつのか不明であるため,具体的

部位を明確にした。

19  耐 食

鉄製部品の腐食に対し,
その試験及び評価方法
を規定。

 19  JIS とほぼ同じ。

追加

安定器の露出した鉄心表面の耐食
性を緩和する条件を追加。

安全性を損なわない,さびの条件
を追加。

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(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

箇条番号

及び題名

内容

(II) 
国際
規格

番号

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

附属書 B

(規定) 
B.9.3

熱的保護機能付きラン

プ制御装置の個別要求
事項。

JIS C 8147-2-8

に規定す

る定格最高ケース温度
が,130  ℃以下の動作温
度を宣言する熱的保護

機能付きランプ制御装
置についての要求事項
を規定。

附属書 B

(規定)
B.9.3

JIS

とほぼ同じ。

追加 B.9.3“通常状態で(t

w

+5)℃の巻

線温度を得るような周囲温度,又は
t

a

+5)℃の周囲温度の温度安定状

態でランプ制御装置を動作させる。

ただし,安定器の外部表面の定格最
高温度 t

c

を宣言しているものは,安

定器の外部表面が(t

c

+5)℃となる

温度安定状態で動作させる。

”を追

加。

“各々,

通常動作状態では 50  ℃

又は t

c

を超えてはならない。

”を削

除,

“なお,JIS C 4908 に規定する

保安装置内蔵コンデンサ及び保安
機構付コンデンサは,適用外とす

る。また,力率改善用又は進相用以
外のコンデンサで,そのコンデンサ
の故障によって危険が生じるおそ

れのないものは,適用外とする。

を追加。

蛍光灯安定器及び放電灯安定器で

は,コンデンサをケースに内蔵し,
巻線を含めコンパウンドに充塡し
たものが広く用いられている。こ

の種の安定器は,特に器具込みの
温度上昇について,定格最高使用
温度 t

w

となる周囲温度で試験を実

施したとき,コンデンサの定格最
高温度 t

c

以上となる場合がある。

このため,安定器外郭表面(コン

デンサ)の定格最高温度 t

c

となる

周囲温度での試験条件を追加し
た。また,独立形の場合,t

a

表示

もあるので,t

a

での試験条件も併

せて追加した。コンデンサの通常
状態での試験条件は,重複するの

で削除した。また,故障状態で(t

c

+10)℃以下は困難であるため,
保安装置内蔵コンデンサは除外し

た。

B.9.4

JIS C 8147-2-8

に規定す

る定格最高ケース温度

が 130  ℃を超える動作
温度を宣言する熱的保
護機能付きランプ制御

装置についての要求事
項を規定。

 B.9.4 JIS とほぼ同じ。

追加・変

B.9.4 a) “安定器は,B.9.3 に規定す
る条件でランプを点灯させる。ただ

し,チョークコイル式安定器は,附
属書 D”を追加し,

“…動作させる

こと”を“…動作させてもよい”に

変更。

我が国の変圧式安定器には短絡電
流は適合できないため,ランプ点

灯状態とする必要がある。

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 (I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

箇条番号

及び題名

内容

(II) 
国際
規格

番号

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

附属書 B

(規定) 
(続き) 
B.9.5

JIS C 8147-2-9

に規定す

る温度を宣言する熱的
保護機能付きランプ制
御装置についての要求

事項を規定。

 B.9.5 試験回路及び試験条件

が明確でない。構成順序
が異なる。

変更

試験手順は,温度条件を(t

w

+20)℃

から(t

w

+5)℃に変更した。

t

w

の表示のない安定器で,絶縁の種

類が A 種のものは t

w

=105,E 種のも

のは t

w

=120,B 種のものは t

w

=130

を適用する。

試験手順の熱的保護機能付きラン

プ 制 御 装 置 の 不 動 作 条 件 ( t

w

20)℃については,我が国の安定
器では自動復帰形熱的保護手段内

蔵の場合,

t

w

+10)℃で動作する

ものがあるため,(t

w

+5)℃に修

正した。また,t

w

を表示しない日

本固有の絶縁クラス表示(A 種な
ど)は,t

w

温度との相関を規定し,

試験に適用させた。また,ダイオ

ード+抵抗の試験回路では困難な
場合も適用できるよう,ランプ負
荷での試験条件も認めた[(t

a

5)℃及び/又は(t

c

+5)℃双方の

条件]

追加

また,それに加え,JIS としてのデ

ビエーションを追加した。 
“表 B.2 に規定する最高温度に達
するまでの時間が,当該表に規定す

るケースの最高温度に対応する時
間を超えない場合,ケース温度は
135  ℃を超えてもよい。” 
“なお,JIS C 4908 に規定する保安
装置内蔵コンデンサ及び保安機構
付コンデンサは,適用外とする。ま

た,力率改善用又は進相用以外のコ
ンデンサで,このコンデンサの故障
によって危険が生じるおそれのな

いものは,適用外とする。

”を追加。

上記に加え,B.9.3 と同様の理由に

よるほか,放電灯安定器は,一般
的に安定器ケース内にコンパウン
ドが充塡されており,熱容量も大

きいため,オーバシュートの規定
が必要である。

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(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

箇条番号

及び題名

内容

(II) 
国際
規格

番号

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

附属書 B

(規定) 
(続き) 
B.9.5A

熱的保護機能付き独立

形ランプ制御装置につ
いての要求事項を規定。

追加

熱的保護機能付き独立形ランプ制

御装置についての要求事項を規定。

従来,JIS で規定していた“取付

け面の動作温度を宣言した熱的保
護機能付き独立形安定器”は,
130  ℃を超えるものがないため削
除し,この規定でカバーできると
して追加。

附属書 C

(規定)

過熱保護手段付き電子

ランプ制御装置の個別
要求事項

附属書 C

(規定)

JIS

とほぼ同じ。

追加 C.7.2 に,

“最高表面温度が 130  ℃

以下の表示をする安定器の表面温
度と時間との関係”規定を追加。

安全性の確保のため追加。

附属書 D 
(規定)

熱的保護機能付きラン
プ制御装置の加熱試験
方法

附属書 D
(規定)

JIS

とほぼ同じ。

追加 D.0 として,

“大形の安定器で試験

容器に収まらない場合は,附属書 F
に規定した構造又は空気の循環の

ない恒温槽を代用できる”を追加。

大形の安定器での試験条件を明確
化した。

附属書 H 
(規定)

H.5  試験用ランプの装
着及び接続

 H.5  JIS とほぼ同じ。

変更

ランプを“水平に”を“関連するラ
ンプ規格に規定する方向に”に変

更。

ランプによって取り付け方向が異
なる場合があるため,表現を変更

した。

 H.10

試験用ランプ   H.10 JIS とほぼ同じ。

追加

“ランプ規格が規定されていない

ラ ン プ に つ い て は , 周 囲 温 度 が
25  ℃の環境において試験用安定器
でランプを点灯させたとき,ランプ

電流が製造業者の宣言値から 2.5 %
を超えて外れてはならない。

”を追

加。

JIS

に規定されていないランプも

あるため,ランプ電流が製造者の
宣言値から逸脱しないよう追記。

63

C

 8147-1


201

1


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C 8147-1

:2011

(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

箇条番号

及び題名

内容

(II) 
国際
規格

番号

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

附属書 H

(規定) 
(続き)

H.12.1.1  ラ ンプ 制御 装
置の各部分の温度

 H.12.1.1

JIS

とほぼ同じ。

追加

①“ただし,安定器の外部表面の定

格最高温度 t

c

を宣言しているもの

は,安定器の外部表面が t

c

とほぼ等

しくなるように調整する。

”を追加。

②巻線温度の測定は“抵抗法”に限
定。 
③“(ただし,個別規格の規定に基

づいて,製造業者の要求がある場
合,電源電圧は定格電圧の 100 %の
ままとすることができる。

)。

”及び

t

w

と測定した巻線温度,又は t

c

と測定したケース温度との差を補
正した”を追加。

①  t

c

宣言の安定器の試験条件の

追加。 
 
 
②巻線の温度上昇は,抵抗法に統
一した。 
③国際規格を作成するときにも

(洩)れたと思われるため,JIS C 

8118-1

(現在は廃止)の規定内容

を追加した。

附属書 JA
(規定)

追加の安全性要求事項

追加

我が国の技術基準(電気用品安全
法,電気設備技術基準)の安全要
求事項を追加し,安全性を確保す

る。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61347-1:2007,Amd. 1:2010,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

−  削除国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

−  追加国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

−  MOD 国際規格を修正している。

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C

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