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C 8122

:2012

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  一般事項  

1

1.1

  適用範囲  

1

1.2

  引用規格  

1

2

  用語及び定義  

3

2.1

  材料  

3

2.2

  固定手段  

3

3

  一般的要求事項  

6

4

  試験に関する共通条件  

7

5

  定格の標準値  

8

5.1

  定格電圧の標準値  

8

5.2

  定格電流の標準値  

8

6

  分類 

8

7

  表示 

9

8

  寸法 

11

9

  感電に対する保護  

12

10

  端子  

12

11

  保護接地  

14

12

  構造  

15

13

  スイッチ付きランプソケット  

19

14

  耐湿性,絶縁抵抗及び耐電圧  

20

15

  機械的強度  

21

16

  ねじ,通電部及び接続部  

24

17

  沿面距離及び空間距離  

25

18

  一般的耐熱性  

25

19

  耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性  

29

20

  過度の残留応力(自然割れ)及びさびに対する抵抗力  

31

附属書 A(規定)自然割れ又は腐食試験  

46

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

48


C 8122

:2012

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人日本

照明器具工業会(JLA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格

を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格

である。

これによって,JIS C 8122:2006 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。


日本工業規格

JIS

 C

8122

:2012

差込みランプソケット

Bayonet lampholders

序文 

この規格は,2008 年に第 3 版として発行された IEC 61184 を基に作成した日本工業規格であり,規格内

容の一部を我が国の実情に合わせるため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

一般事項 

1.1 

適用範囲 

この規格は,電源電圧 250 V 以下のランプ及び準照明器具(セミルミネア)で用いられる,差込みラン

プソケット B15d 及び B22d について規定する。

この規格は,照明器具一体形ソケット又は電気器具組込用ソケットについても規定する。この規格は,

ソケットに対する要求事項だけを規定する。

その他の全ての要求事項(例えば,端子部における感電保護など)については関連する電気器具の規格

に従い,電気器具をその個別規格に従って試験する場合は,電気器具に組み込んだ後に試験を行わなけれ

ばならない。

注記 1  ランプソケットを照明器具で使用する場合,その最高動作温度は,JIS C 8105-1 で規定され

ている。

B15

は,対応するゲージをもつ JIS C 7709-1 のシート 1-1 及び JIS C 7709-2 のシート 2-1 に規定する口

金及びソケットの組合せを意味する。

B22

は,対応するゲージをもつ JIS C 7709-1 のシート 1-2 及び JIS C 7709-2 のシート 2-2 に規定する口

金及びソケットの組合せを意味する。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61184:2008

,Bayonet lampholders(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

1.2 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0920:2003

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529:1989,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)


2

C 8122

:2012

JIS C 2134:2007

  固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法

注記  対応国際規格:IEC 60112:2003,Method for the determination of the proof and the comparative

tracking indices of solid insulating materials

(IDT)

JIS C 3301:2000

  ゴムコード

JIS C 3306:2000

  ビニルコード

JIS C 3662-1

  定格電圧 450/750 V 以下の塩化ビニル絶縁ケーブル−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 60227-1,Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and

including 450/750 V

−Part 1: General requirements(MOD)

JIS C 3662-5

  定格電圧 450/750 V 以下の塩化ビニル絶縁ケーブル−第 5 部:可とうケーブル(コード)

注記  対応国際規格:IEC 60227-5,Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and

including 450/750 V

−Part 5: Flexible cables (cords)(MOD)

JIS C 3663-1

  定格電圧 450/750 V 以下のゴム絶縁ケーブル−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 60245-1,Rubber insulated cables−Rated voltages up to and including 450/750

V

−Part 1: General requirements(MOD)

JIS C 3663-4

  定格電圧 450/750 V 以下のゴム絶縁ケーブル−第 4 部:コード及び可とうケーブル

注記  対応国際規格:IEC 60245-4,Rubber insulated cables−Rated voltages up to and including 450/750

V

−Part 4: Cords and flexible cables(MOD)

JIS C 7551-1

  白熱電球類の安全仕様−第 1 部:一般照明用白熱電球

注記  対応国際規格:IEC 60432-1,Incandescent lamps−Safety specifications−Part 1: Tungsten filament

lamps for domestic and similar general lighting purposes

(MOD)

JIS C 7709

(規格群)  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性

注記  対応国際規格:IEC 60061 (all parts),Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety

(MOD)

JIS C 7709-1

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性    第 1 部    口金

注記  対応国際規格:IEC 60061-1,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety

−Part 1: Lamp caps(MOD)

JIS C 7709-2

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性    第 2 部    受金

注記  対応国際規格:IEC 60061-2,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety

−Part 2: Lampholders(MOD)

JIS C 7709-3

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性    第 3 部    ゲージ

注記  対応国際規格:IEC 60061-3,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety

−Part 3: Gauges(MOD)

JIS C 8105-1

  照明器具−第 1 部:安全性要求事項通則

注記  対応国際規格:IEC 60598-1,Luminaires−Part 1: General requirements and tests(MOD)

JIS C 60068-2-75:2004

  環境試験方法−電気・電子−第 2-75 部:ハンマ試験

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-75:1997,Environmental testing−Part 2-75: Tests−Test Eh: Hammer

tests

(IDT)

JIS C 60695-2-11

  耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-11:2000,Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test

methods

−Glow-wire flammability test method for end-products(IDT)


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C 8122

:2012

JIS C 60695-11-5

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バーナ)

試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame

test method

−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

JIS Z 8113

  照明用語

ISO 4046-4:2002

,Paper, board, pulps and related terms−Vocabulary−Part 4: Paper and board grades and

converted products

IEC 60061-3

,Lamp caps and holders together with gauges for the control of interchangeability and safety−

Part 3: Gauges

IEC 60399

,Barrel thread for lampholders with shade holder ring

IEC 60417

,Graphical symbols for use on equipment

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8113 によるほか,次による。

注記  一部の定義の明確化のため,図 も参照。

2.1 

材料 

2.1.1

合成樹脂ランプソケット(plastic lampholder)

外郭が全て合成樹脂製のランプソケット。

注記  外郭とは,配線して完全に組み立てて図 に示す試験装置を取り付けたときに,JIS C 0920:2003

の関節付きテストフィンガで直接触れることができるランプソケットの部分である。

2.1.2

セラミックランプソケット(ceramic lampholder)

外郭が全てセラミック製のランプソケット(2.1.1 

注記参照)。

2.1.3

金属ランプソケット(metal lampholder)

外郭が全て又は部分的に金属製のランプソケット(2.1.1 

注記参照)。

2.2 

固定手段 

2.2.1

コードグリップランプソケット(cord grip lampholder)

可とうコードでつり下げるように,可とうコードで保持する方法を組み込んだランプソケット[

図 4  a)

参照]

2.2.2

ねじ取付形ランプソケット(threaded entry lampholder)

ランプソケットをねじ込み支持物に取り付けることができるように,電源電線の入る箇所にねじ部付き

部品を組み込んだランプソケット(旧称,管継手ランプソケット)

図 4 b)  参照]。

2.2.3

背板形ランプソケット(backplate lampholder)

組合せ形又は一体形背板によって,支持面又は適切な箱に直接取り付けるのに適するように設計したラ

ンプソケット[

図 4 c)  参照]。


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C 8122

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2.3

端子又は接点の組立て(terminal/contact assembly)

次の二つのタイプをもち,かつ,接触圧力を維持する弾性手段と同様に,電源用導体の終端と対応する

ランプ口金の接触面との接続手段の部分又は部分の組立て。

a)

立上がりタイプ  ランプ口金を差し込んだときに,端子がランプ軸と平行に立ち上がるタイプ。

b)

非立上がりタイプ  ランプ口金を差し込んだときに,端子が立ち上がらないタイプ。

注記  端子及びバレルは,特有の構成要素としてもよい。

2.4

ユニオンリング(union ring)

ランプソケットの分離した外郭部分を,一つに合わせる円筒状部品。

2.5

シェードリング(shade ring)

外郭の対応する支持物とかみ合うめねじ部又は他の手段をもち,シェードを支える又は保持するように

意図した円筒状部品。

2.6

スカート(skirt)(合成樹脂ランプソケットだけ)

シェードリングに類似しているが,円筒状部分が長く,

ランプソケットの器体の全長に延びている部品。

2.6.1

保護シールド(protective shield)(合成樹脂ランプソケットだけ)

スカートに類似しているが,使用者がランプ口金に偶発的に接触するのを保護するためのフレア開放端

をもつ部品(

図 参照)。

2.7

ドーム(dome)

接続端子を遮蔽するコードグリップランプソケット又はねじ取付形ランプソケットの部分。

2.8

バレル(barrel)

ランプ口金とランプソケットとを機械的に接続するためのランプソケットの部分。

2.9

器具内用ランプソケット(lampholder for building-in)

照明器具内,追加外郭又は類似の外郭に組み込むように設計したランプソケット。

2.9.1

外郭のないランプソケット(unenclosed lampholder)

感電保護に関してこの規格の要求事項を満たすために,例えば,外郭といった付加手段を必要とするよ

うに設計した器具内用ランプソケット。

2.9.2

外郭のあるランプソケット(enclosed lampholder)

ランプソケット単独で,感電保護及び適切な場合には IP 分類に関して,この規格の要求事項を満たすよ

うに設計した器具内用ランプソケット。

2.10

独立形ランプソケット(independent lampholder)


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C 8122

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照明器具から独立して取付けができ,同時にその分類に従って,必要な全ての保護及び表示を備えるよ

うに設計したランプソケット。

2.11

スイッチ付きランプソケット(switched lampholder)

ランプに対する電源を制御する一体形スイッチが付いたランプソケット。

2.12

基礎絶縁(basic insulation)

感電に対する基礎的保護を行うために,充電部に施す絶縁。

注記  基礎絶縁には,専ら機能的な用途に用いられる絶縁物を必ずしも含める必要はない。

2.13

付加絶縁(supplementary insulation)

基礎絶縁が故障したときに感電保護を行うため,基礎絶縁に追加して設けた独立した絶縁。

2.14

二重絶縁(double insulation)

基礎絶縁及び付加絶縁の両方で構成する絶縁。

2.15

強化絶縁(reinforced insulation)

規定する条件の下で,二重絶縁と同等の感電に対する保護度合いを備え,充電部に適用する単一絶縁シ

ステム。

注記  “絶縁システム”という用語は,絶縁が一つの同質の物でなければならないことを意味しない。

強化絶縁は,付加絶縁又は基礎絶縁として単独で試験することができない幾つかの層で構成し

てもよい。

2.16

充電部(live part)

通常の使用状態で感電を引き起こすおそれのある導電部。ただし,中性線は,充電部とみなす。

注記  感電のおそれの有無を調べる試験は,JIS C 8105-1 の附属書 A(導電部が感電を生じるかどう

かを決める試験)を参照する。

2.17

形式試験(type test)

製品の設計が関連規格の要求事項に適合するか否かを判定する目的で,形式試験試料を対象に行う試験,

又は一連の試験。

2.18

形式試験試料(type test sample)

形式試験のために,製造業者又は責任ある販売業者が提供した,1 個以上の類似見本からなる試料。

注記  この規格の“製造業者又は責任ある販売業者”とは,電気用品安全法の“届出事業者”に類す

る者で,製品の日本国内での製造事業者及び輸入事業を行う販売(卸売など)業者である。

2.19

準照明器具(セミルミネア)(semi-luminaire)

安定器内蔵形ランプと類似の構造をもつが,光源及び/又は始動装置を交換して使用できるよう設計し

た器具。


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C 8122

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2.20

定格動作温度(rated operating temperature)

ランプソケットの最高動作許容温度。

2.21

耐インパルスカテゴリ(impulse withstand category)

過渡的な過電圧状態を定義する数字(過電圧カテゴリともいう。

注記  耐インパルスカテゴリには,次の I,II,III 及び IV を使用する。

a)

耐インパルスカテゴリによる分類の目的  耐インパルスカテゴリは,利用の継統性及び故

障の許容可能な危険性に関して,機器の有用性の程度を区別するために規定する。

機器の絶緑について,耐インパルスレベルを選択することによって,過電圧制御に基づ

いて,故障の危険性を許容レベルにまで低減させ,設備全体の絶縁協調が達成できる。

高い耐インパルスカテゴリ数は,機器の耐電圧特性が高いことを示しており,過電圧制

御に対する選択方法が広がる。

耐インパルスカテゴリの考え方は,幹線から直接,電力を供給する機器に使用する。

b)

耐インパルスカテゴリの説明  耐インパルスカテゴリ I の機器は,建築物の固定電気設備

に接続することを意図した機器である。過渡過電圧を特定のレベルに抑制するために,機

器の外部に保護手段を設ける。保護手段は,固定設備の中又は固定設備と機器との間のい

ずれでもよい。

耐インパルスカテゴリ II の機器は,建築物の固定電気設備に接続する機器である。

耐インパルスカテゴリ III の機器は,固定電気設備の一部となる機器である。また,固定

電気設備の一部となる機器以外であっても,更に高い有用性を期待する機器である。

耐インパルスカテゴリ IV の機器は,建築物の電気設備の主分電盤より上位の,受電側に

近い位置又はその近傍で用いる機器である。

2.22

一次回路(primary circuit)

交流電源に直接接続する回路。

例えば,交流電源への接続手段,変圧器の一次巻線,電動機及びその他の負荷装置が該当する。

2.23

二次回路(secondary circuit)

一次回路に直接に接統しておらず,変圧器,コンバータ若しくは同等の装置又は電池から電力を供給す

る回路。

例外として,単巻変圧器では一次回路への直接接統部分があるが,変圧器のタップ部分は,上記でいう

二次回路とみなす。

注記  二次回路では,電源の過渡電圧は,一次巻線によって減衰する。誘導性安定器も同様に,電源

の過渡電圧の大きさを減じる。したがって,一次回路又は誘導性安定器の後ろにある部品には,

一段低い耐インパルスカテゴリ,すなわち耐インパルスカテゴリ II が適用できる。

一般的要求事項 

ランプソケットは,通常の使用状態で確実に機能し,かつ,人又は周囲に危険を生じない設計及び構造

とする。


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C 8122

:2012

適合性は,通常,該当する試験を全て実施して判定する。

特に器具内用を意図していない独立形ランプソケットの場合,この規格に規定していない項目は,JIS C 

8105-1

の次の章による。

第 章−照明器具の分類

第 章−表示

第 章−構造(適切に適用する。)

第 章−感電に対する保護

第 章−じんあい,固形物及び水気の侵入に対する保護

第 10 章−絶縁抵抗,耐電圧,接触電流及び保護導体電流(クラス II が対象)

12.4

及び 12.5−温度試験

試験に関する共通条件 

4.1

この規格による試験は,形式試験とする。

注記  この規格に規定する要求事項及び許容差は,その目的で提出される形式試験試料の試験に関連

する。形式試験試料の適合性は,製造業者の全製品のこの安全規格に対する適合性を保証する

ものではない。製品のこの規格への適合性は,製造業者の責任であり,形式試験に加え,定期

検査及び品質保証を含めて実施してもよい。

詳細は,JIS C 7709-0 のシート 0-8-1 を参照。

4.2

その他の規定がない場合,試料は,納入状態のままで,ランプなしに通常の使用状態に取り付け,

周囲温度 20±5  ℃で試験する。

4.3

全ての検査及び試験は,次の合計試料数で実施する。

−  スイッチなしランプソケットでは,8 個の試料

−  スイッチ付きランプソケットでは,11 個の試料

箇条別の試料数は,次のとおりである。

−  箇条 3∼箇条 12:3 個の試料

−  箇条 14∼箇条 18:3 個の試料

−  箇条 13(スイッチ付きランプソケット試験だけ)

:3 個の試料

−  箇条 19 及び箇条 20:2 個の試料

注記  10.2 に規定するねじなし端子の試験では,別個の追加試料が必要である。特に組込用に意図し

ない独立形ランプソケットでも,追加試料が必要である(箇条 参照)

4.4

4.3

に規定する全ての試験でランプソケットが全て合格になった場合,その形式のランプソケットは

この規格に適合するとみなす。

4.3

に規定する全ての試験でいずれのグループのうち 1 個のランプソケットが不合格になった場合,

その

ランプソケットが通常の生産又は設計を代表するものではないことを証明できる場合を除き,その形式の

ランプソケットは,この規定に適合しなかったとみなす。不合格となったランプソケットが通常の生産又

は設計を代表するものではないことを証明できる場合には,もう 1 組のランプソケットを使用して,その

グループの単数又は複数の試験を行わなければならない。一般に,不合格となった試験だけを繰り返せば

よい。ただし,ランプソケットが箇条 14∼箇条 18 までに規定する試験に不合格となった場合には,箇条

14

以降の試験を繰り返さなければならない。

1

個のランプソケットが不合格となる場合に備えて最初の形式試験試料とともに,1 組の追加形式試験試


8

C 8122

:2012

料を提出することができ,1 個のランプソケットが不合格となった場合には,追加形式試験試料を試験し,

その試料も不合格になった場合にだけ,この形式試験試料は不合格とみなす。この再試験で不合格となら

なかった場合には,その形式のランプソケットは,この規格に適合するものとみなす。追加形式試験試料

が同時に提出されなかった場合には,1 個のランプソケットの不合格をもって,不適合とみなす。

4.3

に規定する全ての試験で複数の試料が不合格となった場合には,その形式のランプソケットは,この

規格に適合しなかったとみなす。

注記  試験期間の短縮を考慮して,同じ構造及び原料で構成されており,細部だけが異なるランプソ

ケットは,申込者と試験機関との協定によって,代表的な 1 品種の試験で代用することができ

る。

定格の標準値 

5.1 

定格電圧の標準値 

全てのランプソケットに対し,定格電圧は 250 V だけとする。

ランプソケット B15d は,イグナイタ回路での使用を意図していない。

ランプソケット B22d は,ランプソケット製造業者の承認がない限り,イグナイタ回路では使用できな

い。

注記  理論的な観点から,ランプソケット B22d に要求する最小の沿面距離は,2.5 kV のパルス電圧

に耐えるに十分な空間距離である。

接触子の移動及びランプの取外しを容易にする手段は,ある状況では絶縁距離の不測の減少を伴い,空

間距離の減少は正常な動作

(始動時を除く。

には影響せず,

沿面距離の減少だけが危険となる場合がある。

ランプソケット BY22d は,イグナイタ回路での使用に特別に設計されたものである。

5.2 

定格電流の標準値 

定格電流の標準値は,次による。

−  ランプソケット B15 は,2 A

−  ランプソケット B22 は,2 A

定格電流は,標準値以上でなければならない。2 A を超える定格電流を許容する。

5.1

及び 5.2 の要求事項の適合性は,表示の目視検査によって判定する。

分類 

6.1

外郭の材質による分類は,次による。

−  合成樹脂ランプソケット

−  セラミックランプソケット

−  金属ランプソケット

注記  部分的に金属製の外郭部分をもつランプソケット及び導電性外面(例えば,金属化外面)をも

つ絶縁材製の外郭部分からなるランプソケットは,金属ランプソケットとみなす。

これは,例えば,絶縁材製ランプソケットの外側に絶縁が機能しない場合にも充電部になり

得ない取り付けた金属シェードリングなどのねじ込み口及び外郭部分には適用しない。絶縁被

覆をもつ金属ランプソケットは,金属ランプソケットとみなす。

表面が導電性であるか疑義がある場合は,幅 1.5 mm,長さ 25 mm の 2 本の帯状電極(例えば,銀導電

塗料)を平行に相互の距離 2 mm で表面に密着させた後,14.3 に従って,電極間の絶縁抵抗を測定する。


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C 8122

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抵抗が 5 M

Ω 未満の場合,その表面は導電性とみなす。

6.2

固形物及び水の侵入に対する保護等級による分類は,次による。

−  普通形ランプソケット

−  防滴形ランプソケット

注記  水の浸入に対する,更に高い保護の等級に関する分類は,検討中である。

6.3

固定方法による分類は,次による。

−  ねじ取付形ランプソケット

−  コードグリップランプソケット

−  背板形ランプソケット

−  その他のランプソケット

注記  その他のランプソケットの例には,フックのような機械的つり下げ装置が付いたランプソケ

ットがある。

6.4

スイッチの有無による分類は,次による。

−  電源を制御する一体形スイッチが付いたスイッチ付きランプソケット

−  スイッチなしランプソケット

6.5

感電に対する保護による分類は,次による。

−  外郭のあるランプソケット

−  外郭のないランプソケット

−  独立形ランプソケット

6.6

耐熱性による分類は,次による。

−  T 表示のない場合,B15d ランプソケットは 135  ℃以下,B22d ランプソケットは 165  ℃以下の定格動

作温度に適する。

− Txxx 表示付きの場合,定格温度動作は,製造業者が表示又は宣言した温度以下の定格動作温度に適す

る。これらの温度は B15d ランプソケットでは 140  ℃以上,B22d ランプソケットでは 170  ℃以上で

なければならない。

注記 1  温度表示の数値は,10  ℃刻みで増加させる。

− T1 表示付きの場合,165  ℃以下の温度のランプ口金に適する。

注記 2 T1 ランプソケットの継続使用については,再検討を行う。

− T2 表示付きの場合,210  ℃以下の温度のランプ口金に適する。

表示 

7.1

ランプソケットには,次の事項を表示しなければならない。

−  定格電圧(V で表示)

−  定格動作温度がある場合,定格動作温度 Txxx,T1 又は T2(6.6 参照)

Txxx

表示の場合は,文字“T”の次に定格動作温度をセルシウス度(℃)で表さなければならない。

−  必要な場合,電源の性質に関する記号(スイッチ付きランプソケットだけ。

−  外郭の全てがセラミック製のランプソケットの場合,定格動作温度をランプソケットの表面又は製造

業者のカタログに表示しなければならない。

−  製造業者名(登録商標,製造業者名,責任ある販売業者名又はそれらを識別する表示でもよい。

注記 1  製造業者名の表示は,製造業者の国を意味することは意図していない。


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C 8122

:2012

−  特有のカタログ品番又は参照識別

注記 2  参照識別には,製造業者又は責任ある販売業者のカタログ又は類似文書を参照することに

よって,ランプソケットが識別できる数字,文字,色などを含んでもよい。

−  定格電流(A で表示)

(2 A を超えるものに限る。

−  普通形以外のものは,水の浸入に対する保護等級を表す IP コード(6.2 参照)

−  単極スイッチ付きランプソケットは,切換え極を表示する。

この規格に適合するランプソケットについて,耐インパルスカテゴリ(過電圧カテゴリ)II の距離を適

用する。この情報は,製造業者のカタログなどに表示しなければならない。

二重絶縁又は強化絶縁の耐電圧試験に合格し,かつ,沿面距離及び空間距離が二重絶縁又は強化絶縁と

同等であるランプソケットは,通常使用時にランプソケットが可触となる照明器具に対して十分な保護レ

ベルを提供する。このようなランプソケットは,クラス II 用途のランプソケットとして取り扱う。この情

報は,製造業者のカタログなどに表示しなければならない。

注記 3  二重絶縁又は強化絶縁に対する沿面距離及び空間距離の値は,耐電圧試験の試験電圧ととも

に JIS C 8105-1 で規定している。

可触の外面までの十分な沿面距離及び空間距離を確保するために,取付物を追加してもよい。これらの

距離は,ランプソケットを照明器具に取り付けた後でしか確保できないこともある。関連情報を,製造業

者のカタログなどに表示することが望ましい。

7.2

電流及び電圧について記号を使用する場合には,A がアンペア,V がボルトを意味しなければなら

ない。

代わりに,数字だけを使用し,定格電流に関する数字を定格電圧に関する数字の前又は上に表示し,間

を線で分離してもよい。

したがって,電流及び電圧の表示は,次のいずれでもよい。

4 A250 V

,4/250 又は

250

4

直流の記号は,

でなければならない[IEC 60417 の記号 IEC60417-5031(2002-10)参照]

水の浸入に対する保護の記号は,防滴形ランプソケットの場合,IPX1 でなければならない。

注記 IP コードに使用する X は,記号の欠けている数字の表示を意味する。JIS C 0920:2003 に従っ

て 2 桁の適切な数字をランプソケットに表示する。

7.3

水の浸入に対する保護等級の表示は,ランプソケットの外側に付けなければならない。

7.4

接地用端子は,記号      で表示しなければならない[IEC 60417 の記号 IEC60417-5019(2006-08)

参照]

。この記号をねじ,取外し可能な座金,又は他の容易に取り外すことができる部分に付けてはならな

い。

適合性は,目視検査によって判定する。

注記  (イギリスにおける,小売販売用の金属製ランプソケットに対する警告表示に関する情報であ

り,我が国とは無関係であるので削除した。

7.5

ランプソケットの端子が 10.2 に規定する端子寸法に適合しない場合,接続できる導体の断面積又は

断面積範囲を平方ミリメートル(mm

2

)単位で表した値に,小さな□を付けて表示しなければならない(例

えば,0.5□)

。導体が単線の場合は,導体の直径をミリメートル(mm)単位の数値 X で表し,

φ

X

として

もよい。

外郭のないランプソケットには,表示しなくてもよいが,製造業者の取扱説明書に関連情報を示さなけ


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C 8122

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ればならない。

7.6

表示は,耐久性があり,容易に読めなければならない。

7.1

7.5 の要求事項に対する適合性は,目視検査,及び水に浸した布切れで 15 秒間軽くこすり,乾かし

た後に,石油成分溶液に浸した布切れで更に 15 秒間軽くこすった後,表示が読み取れるかで判定する。

注記  使用する石油成分溶液は,沸点約 65  ℃,乾点約 69  ℃及び密度約 0.68 g/cm

3

で,カウリブタノ

ール値 29,芳香族成分容量比 0.1 %以下のヘキサン溶液からなるものが望ましい。

7.7

(イギリスにおける,小売販売用の,可とうコードを保持する手段のないねじ込みランプソケット

に対する警告表示に関する情報であり,我が国とは無関係であるので削除した。

寸法 

8.1

ランプソケットの寸法は,JIS C 7709(規格群)に規定するシートに適合しなければならない。

適合性は,JIS C 7709-2 のシート 2-1 又はシート 2-2 に適合していることを,最新の JIS C 7709-3 に規定

するゲージを用いた測定によって判定する。

シェード支持装置とともに使用するように設計したランプソケットは,

図 に示す寸法に関する要求事

項,及び該当する場合には IEC 60399 に規定するシートの要求事項に,適合しなければならない。

適合性は,測定及び IEC 60399 に規定するゲージによって判定する。

8.2

ねじ取付形ランプソケットのねじ込み口には,

図 13 に示す次のねじ部を付けなければならない。

−  ランプソケット B15:M10×1

−  ランプソケット B22:M10×1 又は M13×1

注記 1

−  ねじ込み口 M10×1 は,主として照明器具の内部配線用である。

−  (イギリスにおける,小売販売が許されるねじ取付形ランプソケットの仕様に関する情報

であり,我が国とは無関係であるので削除した。

−  (フランスにおける,ねじ取付形ランプソケットにて置換えが許されるソケット形式に関

する情報であり,我が国とは無関係であるので削除した。

適合性は,

図 14 に示すゲージによって判定する。疑義がある場合には,0.5 N・m の力を加えてゲージを

入口に差し込む。

注記 2  小売販売を意図しないランプソケットは,他のねじ寸法でもよい。

8.3

ねじ取付形ランプソケットのねじ込み口及び止めねじ(ある場合)の寸法は,

表 に規定する数値

以上でなければならない。

表 1−ねじ込み口及び止めねじの寸法

単位  mm

ねじ部の呼び径 M10×1

M13

×1

ねじ込み口の長さ

3.0

金属製入口

絶縁材製入口 5.0

止 め ね じ ( あ る 場
合)の直径

2.5

頭付きねじ

頭なしねじ 3.0


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ねじ部の直径の許容差は,

0
0.15

mm

とする。

適合性は,測定によって判定する。

注記  8.28.3 の要求事項に対する適合性を判定するために,ランプソケットを分解する必要がある

場合には,その判定は箇条 12 の試験の後で行う。

感電に対する保護 

9.1

ランプソケットは,完成品を

図 に示す試験装置に取り付けたとき,ランプソケットの充電部が,

非可触となる設計でなければならない。

注記  スカート又は保護シールド(2.6 及び 2.6.1 参照)の使用は,任意である。保護シールドの例を

図 に示す。

独立形ランプソケット及び外郭のあるランプソケットは,JIS C 0920:2003 に規定する関節付きテストフ

ィンガを用いて,適合性を判定しなければならない。

充電部との接触を示す表示灯を使用して,10 N の力でこの関節付きテストフィンガをあらゆる可能な位

置に押し付ける。表示灯の回路電圧は,40 V 以上が望ましい。

独立形ランプソケット及び外郭のあるランプソケットは,通常の使用状態と同様に,ねじ込み支持物若

しくは支持面又はこれに類するものに取り付ける。

外郭のないランプソケットは,必ず照明器具又は他の追加外郭に適切に取り付けた後に試験する。

9.2

端子及び接触機構以外のランプソケットの金属部は,通常の使用状態において,ランプの差込み前,

途中及び取付状態で,充電部にならない構造でなければならない。

適合性は,目視検査によって判定する。

9.3

充電部との偶発的接触に対する保護を行う部分の構造は,正しく組み立てたときに,電源コード又

は電源ケーブルを取り付けるために必要な通常の取外し及び再取付け中に生じる力に耐えられる機械的強

度をもたなければならない。

それらの部分は,対応する通常のランプ及び適切なランプシェードの取付けによって生じる通常の応力

にも,耐えなければならない。

充電部との偶発的接触に対する保護を行う部分を取り外さずに,通常の使用に対応する適度の力によっ

て,対応する通常のランプ及びシェード又はこれに類する装置(取り付けられている場合)を取り外して,

再び取り付けることが可能でなければならない。

適合性は,目視検査,及び 18.1 の試験の後に繰り返す 15.3 の試験によって判定する。

9.4

防滴形ランプソケットの外郭部分であって,故障の場合にも充電部になることがないねじ込み口及

びシェードキャリアリング以外の部分は,絶縁物でなければならない。

ラッカー又はエナメルの塗装は,この細分箇条の要求に対する適切な保護とはみなさない。

適合性は,目視検査によって判定する。

注記  二重絶縁又は強化絶縁によって絶縁している部分は,故障の場合に充電部となる部分とはみな

さない。

10 

端子 

10.1

ランプソケットは,次の一つ以上の接続方法をもたなければならない。

−  ねじ締め式端子

−  ねじなし端子


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−  平形差込み端子又は丸形差込み端子

−  ワイヤ巻付け用端子

−  はんだ用端子

−  口出し線(コード非交換形端末線)

適合性は,目視検査によって判定する。

10.2

端子は,製造業者の取扱説明書に別途記載する場合,又はランプソケットに別途表示する場合を除

き,次の公称断面積をもつ導体を接続できなければならない(7.5 参照)

−  ランプソケット B15d 及び M10×1 ねじ込み口をもち,

コードグリップランプソケット B22d は,

0.5 mm

2

∼1.0 mm

2

注記  (イギリスにおける,B15d/B22d コードグリップランプソケット及びねじ取付形ランプソケ

ットの可とうコードに対する規定に関する情報であり,我が国とは無関係であるので削除し

た。

−  他の B22d ランプソケットは,0.5 mm

2

∼2.5 mm

2

適合性は,目視検査,規定する最小及び最大断面積の導体の取付け,並びに箇条 16 の試験によって判定

する。

コードグリップランプソケット,並びに M10×1 ねじ込み口をもつランプソケット B15d 及び B22d は,

可とう導体を使用する。その他の場合には,単線を使用する。ねじ取付形ランプソケットは,ねじ込み形

電線管に取り付けて試験する。

10.3

端子は,ねじ締め式端子又はこれと同等な接続方法で接続できるものでなければならない。ねじ締

め式端子は,一般用メートルねじ又は ISO ねじと同等なピッチ及び機械的強度をもち,更に JIS C 8105-1

第 14 章(ねじ締め式端子)に適合しなければならない。

ピラー端子の寸法は,

表 に規定する数値以上でなければならない。

表 2−ピラー端子のねじ寸法及び導体挿入孔径

単位  mm

ランプソケット

ねじの最小呼び径

導体挿入孔の最小直径

B22d 2.5

2.5

B15d 2.5

2.5

a)

a)

挿入孔の直径は,ねじの直径よりも大きくなければならないが,

0.6 mm

以上大きくてはならない。

端子ねじのねじ部の長さは,導体挿入孔の直径とピラーのねじ部の長さとの和以上でなければならない。

注記  導体の損傷を最小限に抑えるために,ねじの端を僅かに丸めて,挿入孔の壁(ねじが導体を締

め付けるときに導体を押し付ける。

)は,切れ目のない壁にするのが望ましい。

ねじなし端子は,JIS C 8105-1 

第 15 章(ねじなし端子及び電気接続)に適合するときには,ねじ締め

式端子と同等とみなす。照明器具又は他の機器の製造業者に販売するように意図している場合を除き,ラ

ンプソケットには,非可とう電線(単線又はより線)

,可とうケーブル及びコードに適合する端子を付けな

ければならない。

適合性は,目視検査及び測定によって判定する。

10.4

端子は,ワイヤを適正に取り付けた後,ランプ着脱操作前,中,後に充電部と可触金属部又はスイ

ッチの可動部との間で偶然に接触する危険がないように配置しなければならない。


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適合性は,目視検査及び次の試験によって判定する。

10.2

に規定する最小公称断面積をもつ可とう導体の端から長さ 4 mm にわたり,絶縁物を除去する。よ

り線の 1 本の素線を自由な状態とし,残りを通常の場合と同様に取り付けて,据え付けた(ロックねじを

締めるなど)ランプソケットの端子に完全に差し込んで締め付ける。

自由な状態とした 1 本の素線を,隔壁で鋭く曲げないで,また,絶縁物を引き裂かずに,可能なあらゆ

る方向に曲げる。

充電している端子に接続した導体の自由状態の 1 本の素線は,可触金属部又はスイッチの可動部に接触

してはならない。また,接地端子に接続した導体の自由状態の 1 本の素線は,充電部に接触してはならな

い。

必要な場合は,他の位置の自由状態の 1 本の素線で試験を繰り返す。

注記  隔壁での鋭い曲げの禁止は,試験中に自由状態の 1 本の素線を真っすぐにしておくことを意味

しない。さらに,ランプソケットの通常の組立中に鋭い曲げが生じる可能性があるとみなす場

合には,鋭い曲げを行う。

10.5  10.3

の要求事項は,工場で照明器具に取り付けるように意図し,口出し線(コード非交換形端末線)

差込み端子又は同等に有効な手段が付いているランプソケットには適用しない。

口出し線(コード非交換形端末線)は,はんだ付け,溶接,クリンピング又は他の同等な方法によって,

ランプソケットに接続しなければならない。

口出し線は,絶縁された導体でなければならない。

口出し線の絶縁物は,機械的及び電気的特性が,JIS C 3662-1 又は JIS C 3663-1 に規定する特性と同等

以上か,又は JIS C 8105-1 の 5.3(内部配線)の関連する要求事項に適合しなければならない。

口出し線の自由端の絶縁物は,剝ぎ取ってあってもよい。

ランプソケットに対する口出し線の固定は,通常の使用で生じる機械的応力に耐えなければならない。

適合性は,目視検査,及び同一の 3 個の試料を用いて 18.2 の試験を行った後に次の試験によって判定す

る。

衝撃を加えずに,各接続口出し線に 20 N の引張力を最も不利になる方向に 1 分間加える。

試験中,口出し線がその固定部から動いてはならない。

ランプソケットは試験後,この規格に不適合となる損傷があってはならない。

11 

保護接地 

11.1

ランプソケットを接地接続するための手段が必要な場合,採用する手段は,空間距離若しくは沿面

距離又はランプソケットの正常な機能を妨げてはならない。金属ランプソケットでは,接地端子又は他の

接地用手段は,全ての露出非通電金属部と電気的に有効に接続しなければならない。

コード止め具の金属部は,締付けねじを含めて,接地回路から絶縁しなければならない。

適合性は,目視検査によって判定する。

11.2

接地用端子は,箇条 10 の要求事項に適合しなければならない。

接地用端子の締付けは,工具を使用せずにねじ端子を緩められず,又はねじなし端子を手で偶然に緩め

られない手段でなければならない。

適合性は,目視検査及び箇条 10 の試験によって判定する。

注記  一般に,この規格の要求事項に適合する通電端子は,後述する要求事項に適合するのに十分な

弾力性を備えるように設計されている。そうでない場合には,不注意で外されることがないよ


15

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うに,適切な弾性部品を使用するなどの特別な配慮が必要である。

11.3

接地するように意図した金属ランプソケットは,全ての可触外郭金属部を電気的に接地できる設計

でなければならない。接続方法は,ランプソケットの意図した取付方法による。

この要求事項は,接地用端子の使用又は独立の接地導通導体を接続するための他の特別な手段によって

満たすことができる。ただし,ニップル,背板,シェードリング又は他の手段を使用して照明器具の接地

した部分にランプソケットを取り付けることによって接地導通を行ってもよい。

注記 1  (接地して使用すべきソケットにおいて,接地端子又は接地線を備えていないものは,小売

販売用ではないことを述べており,JIS に記載する事柄ではないため削除した。

絶縁が故障した場合に充電するおそれがある,接地用端子のないランプソケットの可触金属部は,確実

に接地できなければならない。外郭シェルが二重絶縁又は強化絶縁によって充電部から遮蔽されている場

合を除き,外郭シェルとドームとの間に接地導通がなければならない。

注記 2  この要求事項に関しては,ベース又はカバーを固定するための絶縁された小さな金属ねじ及

びこれに類するものは,絶縁が故障した場合に充電するおそれがある可触部とはみなさない。

適合性は,次の試験によって判定する。

接地用端子の付いたランプソケットにランプソケットが意図している最小断面積の非可とう導体を取り

付ける。外郭シェルとドームとの間の接地導通も判定する場合には,これらの部分間の接続部を,15.3 

示す試験値に等しいトルクで締め付けなければならない。

14.3

の耐電圧試験の直後に,接地手段とドーム(外郭シェル)との間の抵抗値を測定する。接地用端子

の付いたランプソケットの場合には,この測定を,導体が接地用端子を離れる点とドーム(外郭シェル)

との間で行う。

接地用端子のないランプソケットの場合には,この測定をランプソケットが照明器具で接地されている

ランプソケットの部分とドーム(外郭シェル)との間で行う。

無負荷電圧が 12 V 以下の電源から供給する 10 A 以上の電流を,接地用端子又は接地接点と各可触金属

部との間に,順次 1 分間流す。

接地用端子又は接地接点と可触金属部との間の電圧降下を測定し,電流及び電圧降下から抵抗値を計算

する。いかなる場合にも,抵抗値が 0.1

Ω 以下でなければならない。

11.4

接地用端子の金属は,接地用導体の銅との接触に起因する腐食の危険がない金属でなければならな

い。

接地用端子のねじ又は器体は,黄銅製又は同等以上の耐食性をもつ他の金属製とし,接触面は裸金属で

なければならない。

適合性は,目視検査によって判定する。

注記  銅がアルミニウムと接触するときには,腐食の危険性が特に大きい。

12 

構造 

12.1

接触面は,滑らかであり,エッジは,対応するランプの容易な差込み及び取外しを妨げない形状で

なければならない。

接触断面は,JIS C 7709-2 のシート 2-1(B15)又はシート 2-2(B22)によらなければならない。

接触機構は,適切な接触圧力を与えなければならない。各接点の接触圧力は,

表 に規定する数値に適

合しなければならない。


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表 3−接触圧力の限度値

定格電流

A

接触圧力

N

最小

最大

4

以下 2.5

15

4

超え 5

20

適合性は,目視検査及び JIS C 7709-2 のシート 2-1 又はシート 2-2 に規定する測定によって判定する。

接触圧力は,JIS C 7709-3 のシート 3-1(B15d)又はシート 3-2(B22d)に規定するゲージで検査する。

この試験は,18.2 の試験の後に繰り返さなければならない。

12.2

ランプソケットの各部は,互いに確実に接続されなければならない。シェードを固定するための装

置は,シェードリングを回すことによってランプソケットが分解されない設計でなければならない。

器体に直接ねじ込むドーム,又はユニオンリングで固定するドーム若しくは他の部分によって,充電部

との偶然の接触に対する保護を設けたコードグリップ形又はねじ取付形ランプソケットでは,それらの部

分をねじ部の 1

4

3

回転以上で取り付けられなければならない。

適合性は,目視検査及び 15.3 に規定する試験によって判定する。

12.3

ねじ取付形のシェードリングを設ける場合には,リングの外縁は手による回転を容易にする設計で

なければならない。

適合性は,目視検査によって判定する。

12.4

ユニオンリングを使用する場合,ユニオンリングは手による回転を容易にする設計でなければなら

ない。ユニオンリングは,ランプソケットの各部を同心位置に保持し,それらの部分の相対的回転を防止

する設計でなければならない。

適合性は,目視検査によって判定する。

12.5

通電部を支持する別個の内部部材を構造に含む場合には,その部材は,ランプソケットの他の部分

に対する回転を防止するようなキーをもたなければならない。

適合性は,目視検査によって判定する。

12.6

ランプソケットのドームには,電源電線用の適切な空間がなければならない。絶縁導体が接触する

おそれのあるランプソケットの部分は,シャープエッジ又は絶縁物を損傷させるような形状であってはな

らない。

ドームのあるねじ取付形ランプソケットには,電線管がドームに入りすぎないようにする手段を設けな

ければならない。

上記の手段は,ランプソケットの一部にするか又は照明器具の設計によって設けることができる。

注記 1  照明器具の設計によって上記の手段を設ける場合には,ランプソケットを試験するときにそ

の有効性を検査することはできない。そうした検査は,照明器具の試験時に行う必要がある。

適合性は,目視検査及び次によって判定する。

− M10×1 ねじ部をもつコードグリップランプソケット,B15d ランプソケット及び B22d ランプソケッ

トの場合,10.2 に規定する最大断面積のケーブル又はコードを取り付ける。

−  他の B22d ランプソケットの場合,規定最大断面積よりも 1 サイズ小さい断面積をもつ導体を取り付

ける。

コードグリップランプソケットは,通常の被覆付き可とうコードを使用する。他の全ての場合には,2

本又は 3 本の塩化ビニル絶縁単心ケーブルを使用する。


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ねじ取付形ランプソケットは,ランプソケットのドームを長さ約 100 mm の電線管にねじ込む。次いで,

ケーブルを電線管及びドームに差し込み,電線管の自由端のところで締め付ける。

ケーブルの両端を通常の方法で前加工した後に,ケーブルを接続できる長さに切り,ランプソケットの

端子に接続する。電線管の締付けを除去し,ケーブル及び器体を電線管の方向に 10 mm 移動させる。

この後,ケーブルを電線管の自由端のところで再び締め付けて,ランプソケットを組み立てる。

分解後,ケーブル及びコードに損傷があってはならない。

注記 2  シャープエッジに関する要求事項は,ランプソケットを電線管に取り付けたときにねじ込み

口のねじ端がワイヤと接触しない場合,ねじ込み口のねじ端には適用しない。

ねじ取付形ランプソケットのドームに電線管が入りすぎないようにする手段について疑義がある場合に

は,ランプソケットを通常の使用状態と同様に,適切なニップル又は電線管に固定して,時計回り方向に

次のトルクを 1 分間加える。

−  ねじ部 M10×1 は,1.0 N・m

−  ねじ部 M13×1 は,1.3 N・m

この試験の後,ニップル又は電線管はランプソケットのドームに設けた電源電線用のスペースに入って

はならず,ランプソケットは使えなくなるような変化を示してはならない。

12.7

ねじ込み口は,電線管にロックできなければならない。そうした装置は,ランプソケットの一部と

するか又は照明器具の設計によって設けることができる。

アングルランプソケットの場合を除き,ロック装置をランプソケットの一部として設けている場合,ロ

ック装置は内側から操作できなければならない。

注記  照明器具の設計によって上記の手段を設ける場合,ランプソケットを試験するときにその有効

性を検査することはできない。そうした検査は,照明器具の試験時に行う必要がある。

適合性は,目視検査,及び一体形ロック装置をもつランプソケットは,15.2 の試験によって判定する。

12.8

コードグリップランプソケットは,導体を端子に接続した場合,ねじれを含む導体のひずみを除去

し,並びにコードの外被覆はランプソケットにグリップし,及び摩耗から保護するように,ランプソケッ

トを可とうコードに固定できる装置を付けなければならない。

注記  (ポーランド及びイギリスでは,ラビリンス構造をもち,コードの外部被覆をグリップしない

形式が用いられているが,これはこの規格の要求事項を満足するとの情報であり,我が国とは

無関係であるので削除した。

ひずみ除去及びねじれ防止をどのように行うかが,明確でなければならない。

コードに過大な機械的応力又は熱応力がかかるほど,

コードをランプソケットに押し込めてはならない。

コードに結び目を付ける,又は端をひもで縛るといった,間に合わせの手段は認めない。

コードの絶縁が故障したときに可触外郭金属部が充電部になるおそれがある場合には,装置を絶縁物に

するか,又は装置に固定絶縁材裏打ちを付けなければならない。

装置の設計は,次によらなければならない。

−  装置の一つ以上の部分を,ランプソケットに固定している,又はランプソケットと一体である。

−  装置が,ランプソケットに接続する様々なタイプの可とうコードに適している。

−  装置が,コードに過大な圧力を加えない。

−  装置が,通常の使用状態と同様に,締めたとき又は緩めたときに損傷するおそれがない。

装置は,次のいずれかのタイプの可とうコードにも適していなければならない。

−  タイプ 60245 IEC 51 又は JIS C 3301:2000 に規定する全てのタイプ


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−  JIS C 3663-4 のタイプ 60245 IEC 53 又はそれに類するもの

−  JIS C 3662-5 のタイプ 60227 IEC 52 又は JIS C 3306:2000 に規定する全てのタイプ

適合性は,目視検査,及び次の試験によって判定する。

ひずみ及びねじれ除去装置を適切に用いて,

ランプソケットに上記の可とうコードの一つを取り付ける。

導体を端子に差し込み,導体がその位置を容易に変えられないように端子ねじを僅かに締め付ける。この

準備の後,コードを更にランプソケットに押し込むことができてはならない。

次いで,

表 に規定する引張力を,可とうケーブルにそれぞれ 1 秒間ずつ 100 回加える。急激な引張力

を加えてはならない。

直後に,

表 に規定するトルクを,可とうコードのコード入口にできるだけ近いところに,最も不利に

なる方向に 1 分間加える。

表 4−引張力及びトルク値

全ての導体を合わせた

合計公称断面積

mm

2

引張力

N

トルク

N

・m

1.5

以下 60  0.15

 1.5

を超え  3 以下 60

0.25

3

を超え

5

以下 80

0.35

5

を超え

8

以下 120 0.35

ランプソケットは,JIS C 3663-4 の箇条 2(編組付きコード)

JIS C 3663-4 の箇条 3(オーディナリータ

フゴムシースコード)

JIS C 3662-5 の箇条 5(ライトビニルシースコード)

JIS C 3301:2000 又は JIS C 

3306:2000

に適合する上記の適切なタイプのコードを使用して試験する。

試験は,まず 10.2 に規定する最小断面積の導体を使用して行い,次いで,つり下げ装置が許容する最大

断面積又は 10.2 に規定する最大断面積のうち小さい断面積の導体を使用して行う。

試験中,ひずみ及びねじれ除去装置によって,可とうコードに損傷があってはならない。試験終了時に,

コードが 2 mm を超えて変位してはならず,端子内で導体の端が顕著に変位してはならない。

変位を測定するために,試験開始前に,ひずみを受けるコードのひずみ除去装置から約 20 mm 離れたと

ころにマークを付ける。試験終了時に,コードにひずみが生じている状態で,ひずみ除去装置に対するこ

のマークの変位を測定する。

12.9

外郭のあるランプソケット及び独立形ランプソケットのつり下げ装置は,ランプソケットが故障し

た場合に,充電部となる可触金属部があってはならない。さらに,ねじ取付形ランプソケットにねじ込む

ように意図したつり下げ装置は,12.8 の要求事項に適合しなければならない。

12.10

背板形ランプソケットの可触外面に,一つ以上のケーブル入り口を設ける場合には,その入り口

は,背板形ランプソケットの可触外面から測定して 1 mm 以上にわたる部分を機械的に保護するために,

ケーブル被覆,電線管,トランクなどを差し込むことができなければならない。

適合性は,測定及び 10.2 の取付試験によって判定する。

注記  この要求事項を満たすために,横に並べた又は同心状に配置したノックアウトを利用してもよ

い。

12.11

特に組込用に意図したもの以外の背板形ランプソケットのベースは,直径 4 mm 以上のねじで固定

できなければならない。

適合性は,

図 に示すゲージによって判定する。この試験は,プラグを裏から孔に差し込み,ブッシュ


19

C 8122

:2012

を表からプラグに載せる。ブッシュがねじ頭用のくぼみに入らなければならない。

12.12

端子が立上がりタイプである場合,不注意によって異極の導体間に接触するのを防止するために,

ランプソケットの一体部分を形成する絶縁隔壁を,端子間に設けなければならない。これは,端子の移動

範囲に関係なく適用する。

立上がりタイプの端子は,特に組込用に意図したもの以外の背板形ランプソケットに使用してはならな

い。

適合性は,目視検査及び箇条 17 の試験によって判定する。

12.13

ランプソケットにコンセントを付けてはならない。

適合性は,目視検査によって判定する。

13 

スイッチ付きランプソケット 

13.1

スイッチは,普通形ランプソケットだけに使用することができる。

適合性は,目視検査によって判定する。

13.2

ランプソケットは,スイッチの可動部と電源用導体との間の偶然の接触を防止する構造でなければ

ならない。

適合性は,10.4 の試験及び手による試験によって判定する。

13.3

スイッチの操作部材は,充電部から有効に絶縁してあり,破損又は損傷した場合に充電部が露出し

てはならない。

適合性は,目視検査及び 13.4 の試験によって判定する。

13.4

スイッチ付きランプソケットは,定格電圧で一般照明用白熱電球からなる負荷を開閉できなければ

ならない。

適合性は,次の試験によって判定する。

温度表示のないランプソケット又は Txxx 表示のあるランプソケットは,定格電圧の 1.1 倍及び定格電流

の 1.25 倍の力率 cos

φ

=0.6±0.05 の交流を使用して,恒温槽内でスイッチを試験する。

毎分 30 回の均一動作速度で,通常のスイッチ操作で 200 回の開閉動作を行う。

次に,定格電圧及び定格電流の力率 cos

φ

=1 を用いてスイッチを試験する。

毎分 30 回の均一動作速度で,通常のスイッチ操作で 20 000 回の開閉動作を行う。

注記  この試験は JIS C 8280 の要求事項に基づいている。JIS C 4526-1 の対応する試験への置換えは,

検討中である。

温度表示のないランプソケット B15d のスイッチは,100  ℃の動作温度で,また,温度表示のないラン

プソケット B22d のスイッチは,125  ℃の動作温度で,試験する。

Txxx

表示のあるランプソケットのスイッチは,次の動作温度で試験する。

−  ランプソケット B15d  ランプソケットの温度表示から 40  ℃減じた温度

−  ランプソケット B22d  ランプソケットの温度表示から 50  ℃減じた温度

T1

及び T2 定格のランプソケットは,ランプソケットをシェードに取り付けて,18.5 に規定する通風の

ない箱に入れなければならない。スイッチ操作ができるように,適切な開口部を設けてもよいが,規定の

試験条件を維持するために,その開口部はできる限り小さくしなければならない。

18.6 a)

によって電圧調整を行い,開閉試験直前の 2 時間にわたり,ランプ口金の温度を規定の T1 又は

T2

の試験温度範囲内に維持する。

次いで,毎分 12 回以下の均一動作速度で,通常のスイッチ操作で 20 000 回の開閉動作を行う。


20

C 8122

:2012

試験終了時に,ランプソケットは,14.3 に規定する絶縁抵抗及び耐電圧試験に耐えなければならず,ま

た,正常に動作しなければならない。

14 

耐湿性,絶縁抵抗及び耐電圧 

14.1

防滴形ランプソケットの外郭は,水の浸入に対して必要な保護を行わなければならない。

防滴形ランプソケットの導入口は,水滴がワイヤを伝ってランプソケットの内側に浸入しないように,

電源電線を接続できなければならない。

適合性は,次の試験によって判定する。

ランプソケットに,ランプソケットに適したケーブル又は電線管を取り付ける。

背板形ランプソケットは,一つの排水孔(ある場合)を開けて,下方に向けて垂直面に取り付ける。他

のランプソケットは,ランプ入り口を垂直に下方に向けて取り付ける。

試験は,JIS C 0920:2003 の

付図 に示す原理の機器を用いて行う。滴水率は,試験器の全域にわたって

一様とし,ランプソケットの上 200 mm の位置から垂直に毎分 3 mm∼5 mm の水量で降水する。試験時間

は,10 分間とし,試験に使用する水は,温度 15±10  ℃とする。

この処理の直後に,ランプソケットは,14.3 に規定する耐電圧試験に耐え,目視検査によって水がかな

りの程度浸入していないことが明らかでなければならない。

注記  水が充電部に接触した場合には,水がかなりの程度浸入したとみなす。

14.2

ランプソケットは,通常の使用で生じる湿潤状態に対する耐性がなければならない。

適合性は,この箇条に規定する湿度処理,その直後に行う 14.3 に規定する絶縁抵抗の測定及び耐電圧試

験によって判定する。

ケーブルの入り口(ある場合)は開けておく。ノックアウトを設けている場合には,そのうちの一つを

開ける。

湿度処理は,相対湿度 91 %∼95 %に維持した空気を含む恒湿槽内で行う。

試料を配置できるあらゆる場所の空気を,20  ℃∼30  ℃の任意な値 t  ℃から 1  ℃以内に維持する。

恒湿槽に入れる前に,試料を t  ℃∼(t+4)  ℃との間の温度にする。

ランプソケットは,次の時間,恒湿槽に入れておく。

−  普通形ランプソケットは,2 日間(48 時間)

− IPX1 防滴形ランプソケットは,7 日間(168 時間)

注記  ほとんどの場合,湿度処理前に 4 時間以上,試料を規定温度に保つことによって,試料を規定

温度にすることができる。

91 %

∼95 %の相対湿度は,十分に大きな空気との接触面をもつ硫酸ナトリウム(Na

2

SO

4

)又は硝酸カリ

ウム(KNO

3

)飽和水溶液を,恒湿槽に入れることによって得ることができる。恒湿槽内に規定の状態を実

現するためには,恒湿槽内の空気の一定循環を確保し,一般に断熱された槽を使用する必要がある。

この処理後,ランプソケットはこの規格に不適合となる損傷があってはならない。

14.3

絶縁抵抗及び絶縁耐力は,次の間で適切でなければならない。

a)

異極の充電部間

注記 1  この細分箇条では,開位置のスイッチ接点を,異極の充電部とみなす。

b)

上記の充電部と,背板形ランプソケットのベース又は外郭の固定ねじ及び可触の組立ねじを含む外郭

金属部との間。

c)

充電部と外郭金属部との間の距離が,

表 の項目 2 に規定した距離よりも小さい場合に,保護を行う


21

C 8122

:2012

ために可触裏打ちが必要なときは,外郭金属部の裏打ちの内面と外面との間。

適合性は,恒湿槽又は試料を規定温度にした室内で行う 14.2 の湿度処理の直後の,絶縁抵抗試験及び耐

電圧試験によって判定する。

約 500 V の直流電圧を使用して,絶縁抵抗を測定する。測定は,電圧印加の 1 分間後に行う。

絶縁抵抗は,次の間で連続して測定する。

−  異極の充電部間

−  一つにまとめた上記の充電部と,外郭金属部,ベース及び外郭の固定ねじ,可触の組立ねじ,並びに

外郭絶縁部と接触させた金属ホイルとの間。

上記の測定は,いずれも,まず

図 10 又は図 11 に示す試験用口金を差し込んだランプソケットで行

い,次いで空のランプソケットで行う。

−  可触金属部と絶縁材裏打ち(ある場合)の内面に接触させた金属ホイルとの間

スイッチがある場合は,閉の位置とする。

絶縁抵抗は,4 M

Ω以上でなければならない。異極の充電部間の測定では,この数値を 2 MΩに引き下げ

ることができる。

試験用口金の絶縁材が,結果に影響を及ぼさないように注意しなければならない。

絶縁抵抗試験の直後に,周波数が 50 Hz 又は 60 Hz,実効値が (2U+1 000) V(は定格電圧)の,実質

的に正弦波形の交流電圧を上記に規定した箇所間に 1 分間印加する。さらに,スイッチ付きランプソケッ

トについては,スイッチを閉及び開の両方にして,充電部と他の金属部との間にこの電圧を印加する。

最初は,規定電圧の半分以下の電圧を印加し,次いで電圧を速やかに規定値まで引き上げる。

せん(閃)絡又は絶縁破壊が生じてはならない。

注記 2  試験に使用する高電圧変圧器は,出力電圧を適切な試験電圧に調整した後,出力端子を短絡

したとき,出力電流が 200 mA 以上になる設計でなければならない。

出力電圧が 100 mA 未満のときに過電流リレーが動作してはならない。

印加する試験電圧の実効値が,±3 %になるように注意する。

電圧降下のないグロー放電は,無視する。

15 

機械的強度 

15.1

ランプソケットは,使用中の通常操作の応力に耐える強度をもたなければならない。

注記  ランプソケットの据付け若しくは取付用のブラケット又はこれに類する部品には,この箇条の

要求事項は適用しない。これらの部品の機械的強度は,ランプソケットの使用を意図している

機器に関する規格の要求事項に適合する必要がある。

適合性は,次の試験によって判定する。

開放端を垂直に下方に向けて,ランプソケットを試験に便利なように取り付ける。

図 に示す荷重装置

で差込みスロットから 5 kg のおもりを均一につり下げる。このときプランジャ接点(

図 参照)が荷重装

置と接触しないようにしなければならない。

1

時間後に,通常の使用に影響を及ぼすような異常があってはならない。

15.2

ねじ取付形ランプソケットは,取付ねじ部による取付けが有効で,通常の使用でランプソケットを

危険にするような,ランプソケットの損傷を引き起こさない設計でなければならない。

適合性は,次の試験によって判定する。

通常の使用状態と同様に,ランプソケットを適切な電線管に固定し,次のトルクを加える。


22

C 8122

:2012

− B15d ランプソケットの場合,1.2 N・m

− B22d ランプソケットの場合,2.0 N・m

トルクは,時計回り方向に 1 分間加える。

電線管に関するロック装置がランプソケットに付いている場合,上記の試験を逆時計回り方向に 1 分間

繰り返して,その有効性を検査する。止めねじは,箇条 16 に規定するトルクで締め付ける。ただし,ラン

プソケットが緩んだ場合には,この試験中にランプソケットが緩まないようにするために,必要な最小の

トルクで止めねじを更に締め付ける。加えた最小トルク値を箇条 16 の試験のために記録しておくとよい。

注記  この試験では,経験上,約 20 %の増分でトルクを大きくするのがよい。

試験終了後に,通常の使用でランプソケットの安全性を危うくするようなランプソケットの変形,部分

の損傷,又は緩みがあってはならない。

15.3

適正に組み立てたランプソケットの外郭は,適切な機械的強度をもたなければならない。

適合性は,目視検査,及び次の試験によって判定する。

充電部との偶然の接触に対する保護を,器体に直接ねじ込むドーム,

ユニオンリングで固定するドーム,

又は外郭の他のねじ込み部分によって行う場合には,手によってそれらの部分の取外し及び再取付けを 10

回行い,毎回次のトルクで締め付けなければならない。

− B15d ドーム及びユニオンリングの場合,0.75 N・m

− B22d ドーム及びユニオンリングの場合,1.25 N・m

−  外郭の他のねじ込み部分の場合,その呼び外径に応じて,次の式による。

(0.03

×d) N・m

ここに,

d

直径(mm)

注記 0.03 という定数は,一般に知られている寸法のドーム及びユニオンリングに関する試験トルク

から導いており,他の寸法の部品に関する相対的なトルクを計算できるようにしている。

ねじ込みシェードリング又は同等の部分を設けている場合,手によってそれらの取外し及び再取付けを

10

回行い,毎回ドーム及びユニオンリングについて規定するトルクの半分で締め付ける。

充電部との偶然の接触に対する保護が,共働ねじ込み部品の回転によって組み立てられない構造によっ

て行う場合,外郭保護部分の分解及び組立てを 10 回行い,各組立て後に,差込みスロットとそれらの部分

との間に,ドーム及びユニオンリングについて規定するトルクと同じ値の軸方向トルクを加えて,その構

造を検査する。トルクは,毎回時計回り方向及び逆時計回り方向に加え,各方向にトルクを 5 秒間持続す

る。

試験中に各部に以後の使用を損なう異常が生じてはならず,充電部との偶然の接触に対する保護を損な

ってはならない。

15.4

ドームとねじ込み口との間の接続の強度を,

図 に示すとおりに検査しなければならない。

試料が水平になるようにねじ込み口を固定する。

口金は許容される最大寸法をもち,その他の部分は

図 の寸法をもつ曲げ試験器をランプソケットに差

し込んで,図に示すとおりに固定する。次に,おもりによってそれに荷重を 1 分間加える。主軸の端が 5 mm

を超えて垂れ下がってはならない。

試料に損傷があってはならない。永久的な変形が生じた場合,試料を強制的に元の位置に戻して,試験

を 5 回繰り返し,その後に試料は通常の使用を損なう損傷があってはならない。

15.5

導電部の有無にかかわらず外郭を構成する絶縁物の機械的強度は,JIS C 60068-2-75:2004 に規定す

る振り子ハンマ試験方法[詳細は,JIS C 60068-2-75:2004 の 4.(試験  Eha:振り子ハンマ)及び

図 15 


23

C 8122

:2012

照]に基づき,次によって試験する。

a)

試料の支持方法  試料は,その軸が水平で合板の支持物に平行になるように固定する。また,試料の

外郭は,その合板に接触させる(

図 16 参照)。

注記  円筒形でないランプソケットの場合,支持物に対して平行にするために,適切な松材の詰め

もので満たしてもよい。

b)

落下高さ  衝撃素子は,表 に規定する高さから落下させる。

表 5−落下高さ

材質

落下高さ

mm

セラミック製部分 100±1

他の材料製部分 150±1.5

c)

衝撃回数  差込みスロット域を除き,外郭部分の円周上の均一に分割した点に,4 回打撃を加える。

d)

事前調整  適用しない。

e)

初期測定  適用しない。

f)

姿勢及び衝撃印加位置  c)  による。

g)

試験手順及び取付条件  試料は衝撃試験中,動作させてはならない。

h)

判定基準  試験後,試料は,この規格に不適合となる損傷があってはならない。特に次による。

1)

充電部が可触になってはならない。

沿面距離又は空間距離を,箇条 17 に規定する値未満に縮めないランプソケットの損傷,及び感電

又は水の浸入に対する保護に悪影響を及ぼさない小さな欠けは,無視する。

2)

肉眼では見えない亀裂並びに繊維強化成形物及びこれに類するものの表面の亀裂は,無視する。

ランプソケットの外郭表面中にある亀裂又は穴は,その部分がなくなってもランプソケットがこ

の規格に適合するならば,無視する。

i)

回復  適用しない。

j)

最終測定  h)  による。

注記  照 明 器 具 又 は そ の 他 の 機 器 に 使 用 す る ラ ン プ ソ ケ ッ ト の 機 械 的 強 度 は , JIS C 

60068-2-75:2004

に規定するスプリング式衝撃装置によって検査してもよい。JIS C 8105-1 

は,衝撃試験のエネルギーは,構成材料及び照明器具の種類によって 0.2 N・m∼0.7 N・m の範

囲で規定している。

15.6

金属ランプソケットは,

図 18 に示す圧力試験器によって外郭金属部の機械的強度を試験する。

完全なランプソケットで各部を試験する。各部分に 2 回,

表 に規定する力を 1 分間加える。互いに直

角を成す二つの直径に圧力を加える。

導電外面をもつ絶縁材製外部ケースは,試験を行わない。さらに,差込みバレルには,この試験を適用

しない。

試験中及び試験後,試料の変形は,

表 に規定する数値を超えてはならない。


24

C 8122

:2012

表 6−最大変形値

ランプソケット

N

最大変形

mm

試験中

試験後

B15d 75

1

0.3

B22d 100

2

0.3

15.7

防滴形ランプソケットの入り口スパウト及びグランドは,通常の取付け中及び使用中に生じる機械

的応力に耐えなければならない。

適合性は,次の試験によって判定する。

ねじ込みグランドに,パッキングの内径よりも小さくて最も近いミリメートル単位の整数に等しい直径

の円柱状金属棒を取り付ける。

次に,グランドを適切なスパナで締め付ける。金属グランドの場合は 30 N,成形材料製グランドの場合

は 20 N の力を,それぞれ 250 mm の半径に 1 分間加えて締め付ける。

試験終了時に,グランド,スパウト及び外郭に,損傷があってはならない。

15.8

背板形ランプソケットは,支持物へ取り付けるときに損傷なく耐えられる設計でなければならない。

適合性は,次の試験によって判定する。

ランプソケットの背板を,M4 ねじ又は差込み可能な最大径のねじで,堅い平らな鋼板に固定する。こ

の鋼板には,背板の固定穴の軸間距離に等しい距離に二つのねじ穴がある。ねじに徐々に最大 1.2 N・m の

トルクを加えて締め付ける。

特に組込用に意図した背板形ランプソケットは,製造業者が指定する取付手段を使用してこの試験を行

う。

この試験後,背板形ランプソケットは,以後の使用を損なう損傷があってはならない。

16 

ねじ,通電部及び接続部 

故障するとランプソケットの安全性を危うくするおそれのあるねじ,通電部及び機械的接続部は,通常

の使用で生じる機械的応力に耐えなければならない。

適合性は,目視検査並びに JIS C 8105-1 の 4.11(電気的接続及び通電部)及び 4.12(ねじ,機械的接続

及びグランド)の試験によって判定する。ただし,JIS C 8105-1 

表 4.1(ねじに加えるトルク)の第 1 行

表 に差し替える。

表 7−トルク値

ねじの公称直径

mm

トルク

N

・m

1 2

 2.6

以下

0.15 0.3

2.6

を超え 2.8 以下

0.2 0.4

注記 1  ねじ込み接続部は,箇条 15 の試験によって既に部分的に検査している。

注記 2  JIS C 8105-1 の 4.11.4 に規定する材料の要求事項“通電部は,銅若しくは銅が 50 %以上含ま

れている合金,又はその他の同等以上の特性をもつ材料でなければならない。

”に適合するか

どうかは,箇条 18 及び箇条 20 の試験によって調べる。


25

C 8122

:2012

17 

沿面距離及び空間距離 

沿面距離及び空間距離は,ランプソケットを通常の使用状態に取り付けたとき,

表 に規定する数値以

上でなければならない。

全ての距離は,プランジャのあらゆる位置において適用する。

注記 1  表 に規定する距離は,JIS C 60664-1 に規定する耐インパルスカテゴリ II(過電圧カテゴリ

II

)を適用し,汚損度 2 を参照している。この汚損度 2 は,通常は非導電性の汚染しか生じ

ないが,ときおり結露によって一時的な導電性が生じると予想しなければならない状態であ

る。他の耐インパルスカテゴリ(過電圧カテゴリ)又はより高い汚損度の距離については,

JIS C 8105-1

及び JIS C 60664-1 を参照することが望ましい。

注記 2  この箇条に規定する沿面距離及び空間距離の値は,絶対最小値であることに注意する。

注記 3  表 に規定する電圧は定格電圧であり,始動電圧ではない。

表 8−正弦波交流(50 Hz/60 Hz)電圧に対する最小距離−

耐インパルスカテゴリ II(過電圧カテゴリ II

定格電圧

250 V

距離

mm

異極の充電部間

a)

及び

充電部と絶縁材で裏打ちされていない外郭金属部(これは背板形ラ
ンプソケットのねじを含む。

)との間

b)

−  沿面距離

絶縁材料  PTI

a)

≧600 の材料

          PTI

a)

<600 の材料

1.5

2.5

−  空間距離

d)

1.5

背板形ランプソケットの空間距離

c)e)

−  充電部と取付面との間 
−  充電部と電源電線用スペースの境界との間

3.6

a)

 PTI

(保証トラッキング指数)は,JIS C 2134:2007 による。

b)

電圧を加えない部分又は接地を意図しない部分の沿面距離の場合,トラッ
キングが発生しないときは,

(実際の PTI の値に関係なく)PTI 600 以上の

材料に対する値を全ての材料に適用する。

動作電圧を印加する時間が 60 秒未満の部分の沿面距離は,PTI 600 以上

の材料に対する値を全ての材料に適用する。

c)

じんあい又は湿気による汚損が生じにくい部分の沿面距離は,PTI 600 以
上の材料に対する値を全ての材料に適用する。

d)

 B15

ランプソケットは,空間距離を 1.4 mm に引き下げる。

e)

これらの値は,取付面が平たん(坦)でない可能性を考慮に入れている。

適合性は,10.2 に規定する最大断面積の適合電線を,端子に接続して及び接続せずに測定することによ

って判定する。

18 

一般的耐熱性 

18.1

ランプソケットは,十分な耐熱性をもたなければならない。

適合性は,次によって判定する。

−  温度表示のない又は Txxx 表示のあるランプソケットの場合,18.218.3 及び 18.4 の試験。


26

C 8122

:2012

− T1 又は T2 表示のあるランプソケットの場合,18.318.518.6 及び 18.7 の試験。

18.2

温度表示のないランプソケットは,まず

表 に規定する温度の恒温槽で試験する。

表 9−耐熱試験温度

ランプソケット

温度

B15d 145

B22d 175

Txxx

表示のあるランプソケットは,表示温度に 10  ℃を加えた温度で試験する。

照明器具一体形ランプソケットでは,この温度は,JIS C 8105-1 の 12.4.2(合否)に規定する動作状態に

従って測定した温度に,10±5  ℃を加えた温度とする。

この試験では,鋼製試験用口金の質量がランプソケットにかかってはならないので,垂直の上向き位置

のランプソケットに試験用口金を差し込む。接点の領域については,試験用口金は,JIS C 7709-1 のシー

ト 1-2(B22d/22)及びシート 1-1(B15d/19)に規定する最大寸法に適合しなければならない。

温度は,±5  ℃の許容差で中断なく 48 時間維持する。

24

時間の冷却後,試験用口金なしに,12.1 に規定する接触圧力試験を繰り返す。

18.3

接点及び他の全ての通電部は,過大な温度上昇を防止する構造でなければならない。

適合性は,10.2 に規定する最大断面積の導体を端子に取り付けたランプソケットで,18.2 の試験の直後

に行う次の試験によって判定する。

端子ねじを,箇条 16 に規定するトルクの 2/3 に等しいトルクで締め付ける。ランプソケットは,開放端

を下向きにして配置し,定格電流の 1.25 倍の電流を 1 時間通電する。端子の温度上昇が 45  ℃以下でなけ

ればならない。

この温度は,温度計ではなく,溶融粒子又は熱電対を用いて決定する。

この試験は,

図 又は図 に示す特別試験用口金を用いる。試験前に接触面を慎重に清浄及び研磨する。

注記  周囲温度が 20  ℃に等しい場合には,蜜ろう(蝋)のペレット(直径 3 mm,溶融温度 65  ℃)

を溶融粒子として使用してもよい。

試験後,導体に損傷があってはならない。

18.4

次いで,

表 10 に規定する温度の恒温槽で耐熱性を試験する。

表 10−耐熱試験温度

ランプソケット

温度

B15d 170

B22d 200

Txxx

表示のあるランプソケットは,表示温度に 35  ℃を加えた温度で試験しなければならない。

照明器具一体形ランプソケットは,照明器具内で JIS C 8105-1 の 12.4.2 に従って測定したものに 35±

5

℃を加えた温度で試験する。

この試験では,鋼(ステンレス鋼が望ましい。

)製試験用口金をランプソケットに差し込む。接点の領域

については,試験用口金は,JIS C 7709-1 のシート 1-2(B22d/22)及びシート 1-1(B15d/19)に規定する

最大寸法に適合しなければならない。

垂直の上向き位置のランプソケットに試験用口金を差し込み(試験用口金の質量がランプソケットにか


27

C 8122

:2012

かってはならないため)

表 10 に規定する温度の約半分の温度の恒温槽に入れる。この温度を,(60±15)  分

間で規定の試験温度まで上げる。その後,試験を中断なく 168 時間続ける。±5  ℃の許容差で試験温度を

維持する。

試験中,ランプソケットに,特に次の点で,以後の使用に耐えなくなるような変化があってはならない。

−  感電保護の低下

−  電気的接点の緩み

−  亀裂,膨潤又は縮小

−  封止用コンパウンドの流出

試験時間経過後,ほぼ室温まで冷却した後に試験用口金をランプソケットから外す。

試験後,ランプソケットを検査して次のことを確認する。

−  シェードリング又はスカート(付いている場合)の取外し及び再取付けが損傷なしに行える。

次の適合性は,目視検査及び手による試験によって判定する。

−  ランプソケットの安全性又は以後の使用に影響を及ぼすおそれのある変形がない。

適合性は,JIS C 7709-3 のシート 3-1(B15d)

,シート 3-2-3 及び IEC 60061-3 のシート 7006-12B(B22d)

に規定するゲージを使用して判定する。

ゲージは,成形材料の変形の判定にだけ使用するものであり,接触の判定には使用しない。

注記  安全性に影響を及ぼさないランプソケットの劣化(いずれかの部分の変色を含む。)は,無視し

てもよい。

さらに,ランプソケットは,トルクをもとの値の 50 %に引き下げ,落下高さを 50 mm に引き下げて,

15.2

15.3 及び 15.5 に規定する条件の下で行う機械的強度試験に耐えなければならない。

18.5 T1

又は T2 表示のあるランプソケットは,通気を妨げる内部隔壁及び

図 12 に示す寸法をもち,開放

端がある円筒状金属製シェードを使用して試験する。

試験後のランプソケットの検査を容易にするために,

隔壁を取外し可能にしてもよい。

適切な耐熱絶縁物をもつ 0.5 mm

2

の導体を用いて,ランプソケットに配線する。

試験のために,シェード内の構造に適切な方法で,次のようにランプソケットを取り付ける。

a)

全てのランプソケット  ランプソケットの軸が試験用シェードの垂直軸とほぼ一直線となるよう配置

したランプソケットにランプを挿入する。

b)

シェードキャリアデバイスのあるランプソケット  シェードキャリアデバイスを,通常の使用状態で

ランプソケットから金属製試験用シェードをつり下げ,外郭ねじ込み部分を 15.3 に規定する適切なト

ルク値で締め付ける。ただし,ねじ込み形シェードキャリアデバイスは,18.6 に規定する試験を開始

する前に,1/8 回転だけ緩める。

c)

シェードキャリアデバイスのないランプソケット  金属製試験用シェードの内部隔壁の下側に,意図

する取付手段で,ランプソケットを取り付ける。

注記  必要な場合には,ねじ込みニップル又は特別取付けブラケットといった追加装置を用いても

よい。

ランプソケットの取付後,完全組立品を 0.5 mm

2

の試験用電線で,

図 12 に示す通気のない囲いのほぼ中

心につり下げる。

JIS C 7551-1

に規定する新品で,二重コイルの,艶消し又は内部が白く塗装された白熱電球を用いて,

各ランプソケットを試験する。試験用電球の他の詳細事項は,

表 11 による。

電球のガラスと口金との接合部の 3 mm 上の位置で,電球フィラメントの中心にできる限り近付けて,


28

C 8122

:2012

熱電対を電球口金に取り付ける。

この熱電対のリード線を,

表 11 に規定する電球口金温度を測定できる温度表示器又は感温装置に接続す

る。これらの温度を実現し維持するように,電球の電源を制御する。熱電対は,電球口金と密着するよう,

注意して固定する。

表 11−試験温度及び試験用電球データ

T1

又は T2 表示のあるランプソケット

表示

ランプソケット

材料

電球口金

温度

0

10

サイクル

ソケット

タイプ

試験用電球データ

定格消費電力

W

T1

合成樹脂,セラミ

ック又は金属

175 12 B15d

60

B22d 100

T2

合 成 樹 脂 製 部 品

を 組 み 込 ん で い
るもの

a)

220 25 B15d

60

B22d 150

T2

合 成 樹 脂 製 部 品
を 組 み 込 ん で い
ないもの

a)

220 12 B15d

60

B22d 150

注記 1  電球口金温度 220

0

10

℃は,試験条件の下で T2 ランプソケットの性能を証明

するために選んだものであり,JIS C 7551-1 に規定する使用中の電球に対す

る制限温度とは異なる。

注記 2 12 サイクルは,試験温度で 480 時間に等しい。25 サイクルは,試験温度で

1 000

時間に等しい。

a)

合成樹脂製のコードグリップデバイス以外に適用する。

18.6

試験手順は,次による。

a)

準備  表 11 から関連する電球の定格及び試験温度を決定し,次いで 18.5 に規定する試験用シェード

及び試験箱内にランプソケットを組み立て,熱電対を取り付けた試験用電球を取り付ける。電球に電

源を接続し,電球口金が

表 11 に規定する許容差内の定常温度に維持されるまで,定格ランプ電圧の

110 %

以下の電圧で調整する。この段階で最初の 40 時間の試験期間を開始しなければならない。

注記  電球の特性にばらつきがある場合,許容電圧範囲内で規定温度を実現するために,試験用電

球を同一仕様の別の電球と取り替えてもよい。

b)

繰返し試験  試験全体は,各サイクルが次の 3 連続周期からなる,表 11 に規定する 12 連続サイクル

又は 25 連続サイクルで構成する。

1)  1

周期 40 時間,電源を入れて,電球口金の試験温度を規定の範囲内に維持する。

2)  1

周期 2 時間以上,電源を切って,電球口金の温度を周囲レベルまで下げる。

3)  1

周期 1 時間以上,電源を入れて,電球口金の試験温度を再確立する。

試験用電球が故障した場合,電球を交換してから温度を再確立するために必要な時間を,試験の一部と

みなしてはならない。

18.7  18.6

に規定する試験を終え,室温まで冷却した後に,ランプソケットを検査して次の事項を確認し

なければならない。

a)

ランプソケットが JIS C 7709-1 に規定する最大又は最小寸法をもつ対応する電球口金を適切に受け入

れられないほど変形していない。

適合性は,

JIS C 7709-3

のシート 3-1

(B15d)

シート 3-2-3 及び IEC 60061-3 のシート 7006-12B

(B22d)


29

C 8122

:2012

に規定するゲージを用いて判定する。

b)

シェードリング,スカート又は保護シールド(付いている場合)の取外し及び再取付けが損傷なしに

行える。

適合性は,目視検査及びシェードリング,スカート又は保護シールドの取外し及び再取付けによっ

て判定する。

c)

絶縁された部分に取り付けられた金属部を,引き続き確実に保持している。

適合性は,目視検査によって判定する。

d)

各接触機構を押し込むのに必要な力は,引き続き要求事項を満たしている。

適合性は,12.1 に規定する試験を繰り返すことによって判定する。

e)

14.3

に規定する絶縁抵抗及び耐電圧試験の要求事項を満たしている。

充電部との偶然の接触に対する保護を行う部分に関する要求事項は,9.1 及び 15.3 に規定する試験

を繰り返すことによって検査する。

注記  安全性に影響を及ぼさないランプソケットの劣化(いずれかの部分の変色を含む。)は,無視し

てもよい。

19 

耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性 

19.1

絶縁材製ランプソケット及び導電性外面をもつ絶縁材製外郭からなるランプソケットの,接点を保

持する部分及び外郭部分は,耐熱性をもたなければならない。

セラミック以外の材料の場合,適合性は,

図 17 に示す試験器を用いたボールプレッシャ試験によって判

定する。

箇条 19 に規定する試験は,JIS C 8105-1 

第 13 章(耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性)に類似の

試験を規定しているため,照明器具一体形ランプソケットには行わない。ただし,試験の動作条件では,

箇条 19 でも定義しているランプソケットの特定の条件を考慮している。

供試部分の表面を水平位置に置き,その表面に対して直径 5 mm の鋼球を 20 N の力で押し付ける。

温度表示のない,又は Txxx 表示のあるランプソケットは,18.4 に規定する温度の恒温槽内でこの試験

を行う。

T1

又は T2 表示のあるランプソケットは,125±5  ℃の温度で試験を行う。

なお,照明器具の試験{JIS C 8105-1 の 12.4[温度試験(通常動作)

]参照}において,上記の部分で 100  ℃

を超える温度を測定した場合には,その温度よりも 25±5  ℃高い温度で試験を繰り返す。

試験に用いる荷重及び支持物は,試験に先立ち恒温槽に入れて試験温度に到達するよう十分な時間放置

する。

試験荷重を加える前に,供試部分を恒温槽に 1 時間入れる。

供試表面が曲がる場合には,球が押す部分を支持する。そのために,完全な試料で試験ができない場合

には,適切な部分を切り取ることができる。

試料の厚さは 2.5 mm 以上とし,試料にその厚さがない場合には,2 枚以上の試料片を合わせる。

1

時間後に球を試料から外し,10 秒間以内に試料を冷水に浸せきしてほぼ室温まで冷却する。球によっ

て生じた圧痕の直径を測定し,その直径が 2 mm 以下でなければならない。

注記  ランプソケットシェルのような曲面の場合,へこみがだ(楕)円形のとき,短軸を測定する。

疑義がある場合には,直径

φ

は,圧痕の深さ を測定し,公式

(

)

p

p

5

2

φ

を用いて算出する。

19.2

導電性外面をもつものを含めて,感電保護を行う絶縁材製の外郭部分(外郭シェル,差込みバレル,


30

C 8122

:2012

ドーム又は背板)及び充電部を所定の位置に保持する絶縁材製の部分(端子/接点の組立て)は,耐炎性

及び耐着火性をもたなければならない。

セラミック以外の材料の場合,適合性は,19.3 及び 19.4 の試験によって判定する。

19.3

導電外面をもつものを含めて,感電保護を行う絶縁材製の外郭部分は,次に従って,JIS C 60695-2-11

に規定するグローワイヤ試験を行う。

−  試料は,完成品ランプソケットとする。試験を行うためにはランプソケットの部分を取り去ってもよ

いが,試験条件が通常の使用状態で生じる条件と大きく異ならないように注意する。

−  試料をキャリッジに取り付けて,できれば上端から 15 mm 以上離れて,供試面の中心に入るように,

1 N

の力でグローワイヤチップに押し付ける。試料へのグローワイヤの侵入は,機械的に 7 mm に制

限する。

試料が小さすぎるために,上記のような試験を行うことができない場合には,30 mm×30 mm の正

方形で,厚さが試料の最小厚さに等しい,類似の工程で製造した同一材料製の別個の試料を用いて試

験を行う。

−  グローワイヤの先端の温度は,650  ℃とする。30 秒間後にグローワイヤの先端を試料から離す。グロ

ーワイヤ温度及び加熱電流は,試験開始前の 1 分間一定でなければならない。この期間中に熱放射が

試料に影響を及ぼさないように注意する。グローワイヤ先端の温度は,JIS C 60695-2-11 に規定する

とおりに校正した被覆細線熱電対で測定する。

−  試料の炎又は白熱は,グローワイヤを引き離してから 30 秒間以内に消えなければならず,材料の燃焼

滴下は,試料の(200±5) mm 下に水平に広げた ISO 4046-4:2002 の 4.187 に規定する 1 枚の包装用ティ

ッシュを着火させてはならない。

19.4

充電部を所定の位置に保持する絶縁材製の部分は,次に従って,JIS C 60695-11-5 に規定するニード

ルフレーム試験を行う。

−  試料は,完成品ランプソケットとする。試験を行うためにはランプソケットの部分を取り去ってもよ

いが,試験条件が通常の使用で生じる条件と大きく異ならないように注意する。

−  供試面の中心に試験炎を当てる。

−  接炎時間は,10 秒間とする。

−  自続炎は,ガス炎を引き離してから 30 秒間以内に消えなければならず,材料の燃焼滴下は,試料の

(200

±5) mm 下に水平に広げた ISO 4046-4:2002 の 4.187 に規定する 1 枚の包装用ティッシュを着火さ

せてはならない。

19.5

普通形ランプソケット以外のランプソケットは,充電部を保持する絶縁材部分が,適切な耐トラッ

キング性をもたなければならない。

セラミック以外の材料の適合性は,次に従って,JIS C 2134:2007 に規定する耐トラッキング試験によっ

て適合性を判定する。

−  試料に 15 mm×15 mm 以上の平らな表面がない場合,試験中に液滴が試料から流れ出さない限り,こ

れ未満の寸法の平らな表面で試験を行うことができる。

ただし,表面に液を保持するために人為的な手段を用いないほうがよい。疑義がある場合には,規

定の寸法をもち,同一の工程で製造した同じ材料の別の小片で試験してもよい。

−  試料の厚さが 3 mm 未満の場合には,2 枚又は必要なときはそれ以上の試料を積み重ねて,3 mm 以上

の厚さにする。

−  試料の 3 か所で,又は 3 個の試料で試験を行う。


31

C 8122

:2012

−  電極は,白金製とし,JIS C 2134:2007 の 7.3(測定溶液)に規定する測定溶液 A を用いる。

−  試料は,PTI 175 の試験電圧で 50 滴まで絶縁破壊することなく耐えなければならない。

−  試料の表面の電極間の導電経路に 0.5 A 以上の電流が 2 秒間以上流れて過電流リレーが動作した場合,

又は過電流リレーが動作することなく試料が燃えた場合,絶縁破壊が生じたものとみなす。

−  侵食の決定に関する JIS C 2134:2007 の 9.(浸食の測定)は,適用しない。

20 

過度の残留応力(自然割れ)及びさびに対する抵抗力 

20.1

故障するとランプソケットの安全性を危うくするおそれのある銅板又は銅合金板製の接点及び他の

部分は,過大な残留応力によって損傷してはならない。

適合性は,次の試験によって判定する。

試料の表面を慎重に清浄し,ワニスをアセトンで除去し,グリース及び指紋をアルコール又はこれに類

するもので除去する。

試料は,底部を pH 値 10 の塩化アンモニウム溶液で満たした試験容器に,24 時間入れる(試験容器,試

験用溶液及び試験手順の詳細は,

附属書 参照)。

この処理後,試料を流水で洗い,24 時間経過した後,光学的に 8 倍に拡大して検査したとき,試料に亀

裂があってはならない。

金属ランプソケットの外部シェルの,絶縁環の固定部分近くの極めて限られた部分に生じる亀裂は,亀

裂とはみなさない。

試験の結果に影響を及ぼさないために,試料を慎重に取り扱わなければならない。

20.2

さびがランプソケットの安全性を危うくするおそれのある鉄製部分は,適切に防せい(錆)しなけ

ればならない。

適合性は,次の試験によって判定する。

適切な脱脂剤に 10 分間浸せきして,供試部分の全てのグリースを除去する。次いで,温度 20±5  ℃の

10 %

塩化アンモニウム水溶液に供試部分を 10 分間浸せきする。

供試部分は,水滴を振り落とし,乾燥させずに温度 20±5  ℃の水分飽和空気を含む箱内に 10 分間入れ

る。

供試部分は,温度 100±5  ℃の恒温槽で 10 分間乾燥させた後,シャープエッジのさび(錆)の痕跡及び

黄ばんだ薄膜は,こすって除去してもよい。その後,供試部分の表面にさびの兆候があってはならない。

小さならせん状のスプリング及びこれに類するもの並びに摩耗にさらされる鉄製部分では,グリースの

層は,十分な防せいがあるとみなす。そうした部分については,試験を行わない。


32

C 8122

:2012

単位  mm

a)

この半径は,接点を通過するために局部的修正を必要とする場合がある。

単位  mm

記号

寸法

許容差

B15d B22d

14 21

±0.05

17.5 27.5

±0.5

2.5 2.5

±0.05

5 5

±0.05

図 1−荷重装置(15.1 参照)

単位  mm

ランプソケット

G

kg

− B15d

1

− B22d

2

図 2−曲げ試験器(15.4 参照)


33

C 8122

:2012

単位  mm

記号

寸法

許容差

製造時

摩耗時

4.1

+0.03

0

0

−0.03

8.2

+0.03

0

0

−0.03

18

±0.1

図 3−背板形ランプソケットのねじの孔用のゲージ(12.11 参照)


34

C 8122

:2012

b)

  ねじ取付形ランプソケット

c)

  背板形ランプソケット 

1

コードクリップ

2

ドーム

3

器体

4

端子

5

プランジャ接点

6

バレル

7

シェードリング

8

スカート

9

保護シールド

10

ユニオンリング

11

背板

a)

  コードグリップランプソケット 

注記  図は,ランプソケットの代表的な部分を示すことだけを意図したものであり,設計を制限するものではない。

図 4−箇条 の一部の定義の明確化


35

C 8122

:2012

単位  mm

記号

寸法

許容差

15.125

±0.05

13

±0.05

1.8

±0.05

6

±0.05

2

±0.05

1

±0.05

22

±0.5

図 5−試験用口金 B15d18.3 参照)

単位  mm

記号

寸法

許容差

21.95

±0.05

17

±0.05

2.2

±0.05

6

±0.05

2

±0.05

2.5

±0.05

22

±0.5

図 6−試験用口金 B22d18.3 参照)


36

C 8122

:2012

単位  mm

記号

寸法

許容差

記号

寸法

許容差

B15d B22d

B15d B22d

15.25 22.15

+0.1

0

17.1 26.45

+0.1

0

6.4 6.9  0

−0.1

26.0 27.0  0

−0.1

E

a)

 

2.2 2.2  0

−0.1

15.5 15.5  0

−0.1

1.1 2.7  0

−0.1

α

 

30

° 30°

±5′

70 70

+0.1 
−0.1

β

 

45

° 45°

±5′

55 65

+0.1

0

a)

ピンは,金属製でもよい。

図 7−試験装置(9.1 参照)


37

C 8122

:2012

単位  mm

記号

寸法

B15d B22d

最小

最大

最小

最大

22.5 24.8  31.5 38.1

8.0

− 8.0

M

a)

 3.0

− 3.5

M

b)

 3.5

− 4.0

T

c)

18.0 19.0  18.0 20.0

W

d)

− 20.0 − 28.5

a)

この寸法は,金属製シェードキャリアリングに適用する。

b)

この寸法は,合成樹脂製シェードキャリアリングに適用する。

c)

  T

は,使用するときに照明器具又は保護シールドの位置に対するランプの位

置が重要となる場合の,ランプソケットの任意の寸法である。

d)

寸法 は,B22d 口金では 29.0 mm 以上,B15d 口金では 20.5 mm 以上のクリ

アランスホールをもつ照明器具を受け入れるように設計し,シェードキャリ
アデバイスで支持するように意図したランプソケットにだけ適用する。

図 8−シェード支持装置に関する寸法(8.1 参照)


38

C 8122

:2012

単位  mm

記号

最小

最大

31.75

4.75

29.0

− 13.5

45.0

38.0

48.0 49.5

39.0 40.0

1.5

注記  図は,JIS C 7501 の要求事項に適合する寸法を示すことだけを意図したものである。 

a)

影の付いた断面に侵食があってはならない。ただし,寸法 EF及び によって規定

するフレア入口は,この部分内でも寸法 が適合する場合には,任意の好都合な断面と
することができる。

寸法 は,対応するランプソケットに取り付けるためのめねじ部又は他の手段を意味

する。

b)

シールドの壁には,累計面積が 115 mm

2

以上の三つ以上の通気孔がなければならず,各

孔の幅は,6.5 mm 以下でなければならない。これらの孔に隣接する部分では,1.5 mm の

肉厚を引き下げることができる。

図 9B22d ランプソケットの保護シールドに関する寸法(9.1 参照)


39

C 8122

:2012

注記  このゲージは,ランプのはめあいを証明するものではなく,絶縁抵抗及び耐

電圧試験中にプランジャ接点を操作することだけを意図したものである。

単位  mm

記号

寸法

許容差

15

±0.1

13

±0.1

1.8

±0.1

7

±0.1

2

±0.1

1

±0.1

図 10−試験用口金 B15d14.3 参照)


40

C 8122

:2012

注記  このゲージは,ランプのはめあいを証明するものではなく,絶縁抵抗及び耐

電圧試験中にプランジャ接点を操作することだけを意図したものである。

単位  mm

記号

寸法

許容差

22

±0.1

17

±0.1

2.2

±0.1

7

±0.1

2

±0.1

2.5

±0.1

図 11−試験用口金 B22d14.3 参照)


41

C 8122

:2012

単位  mm

A

−試験箱 

材質: 10 mm(呼び)合板

内部仕上げ:2 層の艶消し塗装

内寸: 500 mm×500 mm×500 mm,各寸法の許容差は±10 mm

アクセスできるように壁の一つを取り外せるようにする。

位置: 隣接面からの最小距離は,次による。

−  水平:全ての側面で 150 mm

−  垂直:上方 300 mm,下方 500 mm

注記  試験箱は,隣接面から加熱又は冷却を受けないほうがよい。また,極端な空気の移動

がないほうがよい。

B

及び C−試験用シェードの詳細 

材質:厚さ 0.5 mm(呼び)の鋼板

仕上げ:B15d/T1,B22d/T1 及び B22d/T2 ランプソケットの場合は,次による。

−  シェード内外は,2 層以上の艶消し黒色塗装とする。

B15d/T2

ランプソケットの場合は次による。

−  シェード外部及び内部シェード隔壁の上側は,2 層以上の黒色塗装とし,シェー

ド内部はシェード隔壁 C の下側を含めて光輝めっき又は磨き仕上げとする。

B

−  シェード寸法:上から 50 mm のところにシェード隔壁に載るフランジが付き,内径 150 mm,

長さ 225 mm の開放端のあるチューブ。

C

−  シェード隔壁寸法:中央孔(B22d ランプソケットの場合は直径 29.0 mm,B15d ランプソケッ

トの場合は直径 20.5 mm)がある直径 150 mm の円板。

図 12−温度上昇試験用の代表的な試験器(18.5 参照)


42

C 8122

:2012

一般用メートルねじ山の寸法 

s

:ピッチ

h

=0.866 03s

4

h

=0.216 51s

8

h

=0.108 25s

t

0

h

8

5

=0.541 27s

注記  基準山形は,外部ねじ山の限界値を定める偏差を適用する山形である。

a)

  基準山形 

b)

  ねじの設計寸法 

単位  mm

名称

ねじ

ナット

d d

2

d

1

D D

2

D

1

最大

最小

最大

最小

最大

最小

最大

最小

最大

最小

M10

×1  1  10.000 9.800 9.350

9.238

8.917

10.000

9.462

9.350 9.117 8.917

M13

×1

1  13.000 12.800 12.350

12.190

11.917

13.000

12.510

12.350 12.117 11.917

図 13−ランプソケットのニップルねじ部−ナット及びねじの基準山形及び設計寸法(8.2 参照)


43

C 8122

:2012

a)

  ねじのゲージ 

単位  mm

名称

s d 

d

2

d

1

摩耗

寸法

許容差

寸法

許容差

寸法

許容差

M10

×1 1  9.800  ±0.004 9.350 −0.012

−0.020

8.917

±0.004 0.012

M13

×1 1  12.800  ±0.004 12.350  −0.012

−0.020

11.917

±0.004 0.012

b)

  ナットのゲージ 

単位  mm

名称

s D 

D

2

D

1

摩耗

寸法

許容差

寸法

許容差

寸法

許容差

M10

×1 1  10.000 ±0.004 9.350 +0.012

+0.020

9.117

±0.004 0.012

M13

×1 1  13.000 ±0.004 12.350  +0.012

+0.020

12.117

±0.004 0.012

図 14−ニップルの一般用メートルねじ部のゲージ(8.2 参照)


44

C 8122

:2012

注記  基本規格が存在するが,参考のため,この規格に図を記載する。図に関して疑義が

ある場合には,JIS C 60068-2-75:2004 の

附属書 図 に従う。

図 15−衝撃試験器

単位  mm

図 16−取付支持台

単位  mm


45

C 8122

:2012

図 17−ボールプレッシャ試験器

図 18−圧力試験器(15.6 参照)


46

C 8122

:2012

附属書 A

(規定)

自然割れ又は腐食試験

注記  環境保護の観点から,試験機関の判断によって,試験溶液,容積及び容器の体積に関する要求

事項を変更してもよい。

その場合,試験容器は,試料の体積より 500 倍∼1 000 倍の体積とし,試験溶液体積は,容器

体積と試験溶液体積との比率が 20:1∼10:1 となるようにするのが望ましい。疑義が生じた場

合は,A.1 を適用する。

A.1 

試験槽 

試験には,閉じることができるガラス容器を使用しなければならない。その容器は,例えば,デシケー

タ容器,又は研磨した縁及び蓋付きの簡単なガラストラフであってよい。容器の体積は,10 リットル以上

でなければならない。試験空間の試験溶液の体積に対する比率を一定に維持しなければならない(20:1

∼10:1)

A.2 

試験溶液 

溶液 1 リットルの作成:  約 0.75 リットルの蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水の中に塩化アンモ

ニウム[NH

4

Cl

(試薬級)

]107 g を溶解し,22  ℃で pH 値が 10 に達するのに必要とする量の 30 %水酸化

ナトリウム溶液[NaOH(試薬級)

,及び蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水から作成]を加える。そ

の他の温度では,この溶液を

表 A.1 に規定する pH 値に調製する。

表 A.1−試験溶液

温度

試験溶液

pH

22

±1 10.0±0.1

25

±1 9.9±0.1

27

±1 9.8±0.1

30

±1 9.7±0.1

pH

値を調製後,蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水で 1 リットルにする。この操作は,pH 値を変

化させない。

いかなる場合でも,pH 調製中の温度は±1  ℃に保持し,pH 値を±0.02 に調製可能な計器を用いて,pH

測定を行う。

試験溶液は,長い期間にわたって使用できるが,蒸気雰囲気中のアンモニア濃度を決める pH 値は,少

なくとも 3 週間ごとに確認し,必要がある場合,調製しなければならない。

A.3 

試験手順 

試料は,アンモニア蒸気が,妨害なく当たるように試験槽中に入れる。試料は,つるすことが望ましい。

試料は,試験溶液に浸してはならない。また,相互に接触してはならない。支持物又はつり下げ装置は,

アンモニア蒸気で腐食されない材料,例えば,ガラス又は陶器でなければならない。


47

C 8122

:2012

温度変化によって,試験結果に影響を与える目に見える凝結水の形成を排除するために,試験は,温度

30

±1  ℃で行わなければならない。

試験に先立って,試験溶液を含む試験槽を,30±1  ℃にしなければならない。試料を 30  ℃に予熱して,

できる限り短時間に試験槽に入れる。

試料を試験槽に入れた時点を,試験の開始とみなす。

参考文献  JIS C 4526-1  機器用スイッチ−第 1 部:一般要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61058-1,Switches for appliances−Part 1: General requirements(MOD)

JIS C 7501

  一般照明用白熱電球

注記  対応国際規格:IEC 60064,Tungsten filament lamps for domestic and similar general lighting

purposes

−Performance requirements(MOD)

JIS C 7709-0

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性  第 0 部  電球類

の口金・受金及びそれらのゲージ類の総括的事項

注記  対応国際規格:IEC 60061-4,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety. Part 4: Guidelines and general information

(MOD)

JIS C 8280

  ねじ込みランプソケット

注記  対応国際規格:IEC 60238,Edison screw lampholders(MOD)

JIS C 60664-1

  低圧系統内機器の絶縁協調−第 1 部:基本原則,要求事項及び試験

注記  対応国際規格:IEC 60664-1,Insulation coordination for equipment within low-voltage

systems

−Part 1: Principles, requirements and tests(IDT)


48

C 8122

:2012

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 8122:2012

  差込みランプソケット

IEC 61184:2008

  Bayonet lampholders 

(I)JIS の規定

(II) 
国際
規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇
条ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

1

一 般 事

1.1

適用範囲

・ランプ及び準照明器具接続
用の差込みランプソケット 
・電源電圧 250 V 以下に対す

る B15d 及び B22d

 1.1

・ランプ及び準照明器具接続

用の差込みランプソケット 
・電源電圧 250 V に対する

B15d

及び B22d

追加

・国内の電源電圧を包含する。 ・我が国の電源事情を考慮する。

2

用 語 及

び定義

・ソケット形態に関する用語
・使用条件に関する用語

 2

JIS とほぼ同じ。

追加

JIS

は,照明用語の JIS を引用。

7

表示

・表示事項 
導 体 の 寸 法 表 示 は 外 径 表 示

φ

)でもよい。

・表示場所

 7

・表示事項

・表示場所

変更

JIS は,外径表示(

φ

)方法

も認める。

・我が国では外径表示(

φ

)方法

が普及している。

12

構造

・接触機構の接触力

・部品及びコード接続構造 
・コンセントを排除 
JIS の電線を採用

 12

・接触機構の接触力

・部品及びコード接続構造 
・コンセントを排除 
・電線は IEC 規格の電線だ

けを規定。

追加

JIS は,我が国で使用されて

いる電線を追加。

・我が国では JIS に規定した電

線が普及している。

17

沿面距

離 及 び 空
間距離

・表 8 によって各箇所の沿面

距離及び空間距離を規定

 17

JIS とほぼ同じ。

削除

JIS は,国際規格の我が国に

対する規定[注

f)

]を削除。

・照明器具安全規格及び他のソ

ケット安全規格と整合させる。
国際規格の修正を申請する。

48

C

 812

2


2

012


49

C 8122

:2012

(I)JIS の規定

(II) 
国際
規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇
条ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと 
の評価

技術的差異の内容

19

耐 熱

性,

耐火性

及 び 耐 ト
ラ ッ キ ン

グ性

19.1

照明器具の試験(JIS C 

8105-1

の 12.4 ) に お い て

100

℃を超える温度を測定し

た 場 合 の 繰 返 し 温 度 を 規 定

した。

 19

・ 照 明 器 具 の 試 験 ( IEC 

60598-1

の 12.4)において

100

℃を超える温度を測定

し た 場 合 の 繰 返 し 温 度 が

Note

扱い。

変更

規定内容であるため,Note か

ら規定文に変更した。

国際規格の修正を申請する。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61184:2008,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

−  削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

−  MOD  国際規格を修正している。

49

C

 812

2


2

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