C 8121-1：2019
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 一般要求事項 ··················································································································· 7
5 一般試験条件 ··················································································································· 7
6 分類······························································································································· 8
7 表示······························································································································· 9
8 感電に対する保護 ············································································································ 10
9 端子······························································································································ 11
10 保護接地 ······················································································································ 12
11 構造 ···························································································································· 13
12 耐湿性，絶縁抵抗及び耐電圧 ··························································································· 14
13 機械的強度 ··················································································································· 15
14 ねじ，通電部及び接続 ···································································································· 16
15 沿面距離及び空間距離 ···································································································· 16
16 耐久性 ························································································································· 20
17 耐熱性及び耐火性 ·········································································································· 21
18 過度の残留応力（自然割れ）及びさび（錆）に対する抵抗力 ················································· 23
附属書A（参考）この規格の対象であるランプソケットの例························································ 25
附属書B（参考）適切な金属 ································································································· 27
附属書C（規定）自然割れを判定するための腐食試験 ································································ 28
附属書D（規定）振り子ハンマ試験装置 ·················································································· 30
附属書E（参考）旧規格に対して新規又はより厳しい要求事項を含む箇条 ······································ 32
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 34
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（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
照明工業会（JLMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を
改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格で
ある。これによって，JIS C 8121-1:2011は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 8121の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 8121-1 第1部：一般要求事項及び試験
JIS C 8121-2-1 第2-1部：S14形ランプソケットに関する安全性要求事項
JIS C 8121-2-2 第2-2部：プリント回路板ベースLEDモジュール用コネクタに関する安全性要求事
項
JIS C 8121-2-3 第2-3部：直管LEDランプソケットに関する安全性要求事項
日本工業規格 JIS
C 8121-1：2019
ランプソケット類−第1部：一般要求事項及び試験
Miscellaneous lampholders-Part 1: General requirements and tests
序文
この規格は，2017年に第5.1版として発行されたIEC 60838-1を基とし，技術的内容を変更して作成し
た日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，照明器具などに組み込むことを意図した様々なタイプのランプソケット（例えば，附属書
Aに記載する受金をもつ，一般照明用光源，映写用電球，投光照明用ランプ及び街路照明用ランプを装着
するランプソケット）の一般要求事項及びこれらのランプソケットに装着したランプの安全な使用を確認
するための試験方法について規定する。
この規格は，照明器具一体形のランプソケットにも適用する。ただし，この規格の要求事項は，ランプ
ソケットの部分だけに適用する。
この規格は，外側枠とドームとで構成されるねじ込みランプソケットにも適用する。このようなランプ
ソケットは，更にJIS C 8280の関連する箇条によって試験が規定されている。
蛍光灯ソケット，ねじ込みランプソケット及び差込みランプソケットに対する要求事項は，別の規格に
よる。
注記0A この規格は，2011年版以前とは箇条番号に差異がある。JIS C 8121規格群の他の規格から引
用・参照する際は，箇条の題名を合わせて確認する必要がある。
注記1 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60838-1:2017，Miscellaneous lampholders−Part 1: General requirements and tests（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
注記 対応国際規格：IEC 60529:1989，Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)，
Amendment 1:1999及びAmendment 2:2013（IDT）
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JIS C 2134 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
注記 対応国際規格：IEC 60112:2003，Method for the determination of the proof and the comparative
tracking indices of solid insulating materials及びAmendment 1:2009（IDT）
JIS C 3662（規格群） 定格電圧450/750 V以下の塩化ビニル絶縁ケーブル
注記 対応国際規格：IEC 60227 (all parts)，Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and
including 450/750 V（MOD）
JIS C 3663（規格群） 定格電圧 450/750 V 以下のゴム絶縁ケーブル
注記 対応国際規格：IEC 60245 (all parts)，Rubber insulated cables−Rated voltages up to and including
450/750 V（MOD）
JIS C 7709（規格群） 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性
注記 対応国際規格：IEC 60061 (all parts)，Lamp caps and holders together with gauges for the control of
interchangeability and safety（MOD）
JIS C 7709-2 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第2部：受金
注記 対応国際規格：IEC 60061-2，Lamp caps and holders together with gauges for the control of
interchangeability and safety−Part 2: Lampholders（MOD）
JIS C 7709-3 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第3部：ゲージ
注記 対応国際規格：IEC 60061-3，Lamp caps and holders together with gauges for the control of
interchangeability and safety−Part 3: Gauges（MOD）
JIS C 8105-1 照明器具−第1部：安全性要求事項通則
注記 対応国際規格：IEC 60598-1:2014，Luminaires−Part 1: General requirements and tests（MOD）
JIS C 8280 ねじ込みランプソケット
注記 対応国際規格：IEC 60238，Edison screw lampholders
JIS C 60068-2-75 環境試験方法−電気・電子−第2-75部：ハンマ試験（試験記号：Eh）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-75:2014，Environmental testing−Part 2-75: Tests−Test Eh: Hammer
tests（IDT）
JIS C 60664-1 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 60664-1，Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−
Part 1: Principles, requirements and tests（IDT）
JIS C 60695-2-11 耐火性試験−電気・電子−第2-11部：グローワイヤ／ホットワイヤ試験方法−最
終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数（GWEPT）
注記 対応国際規格：IEC 60695-2-11，Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test
methods−Glow-wire flammability test method for end-products（GWEPT）（IDT）
JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部：試験炎−ニードルフレーム（注射針バーナ）
試験方法−装置，試験炎確認試験装置の配置及び指針
注記 対応国際規格：IEC 60695-11-5，Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame test
method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance（IDT）
JIS P 0001 紙・板紙及びパルプ用語
注記 対応国際規格：ISO 4046-4:2002，Paper, board, pulps and related terms−Vocabulary−Part 4: Paper
and board grades and converted products（MOD）
IEC 60352-1，Solderless connections−Part 1: Wrapped connections−General requirements, test methods and
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practical guidance
IEC 60399，Barrel thread for lampholders with shade holder ring
IEC 60417:2002，Graphical symbols for use on equipment
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
定格電圧（rated voltage）
製造業者が，想定するランプソケットの最大動作電圧を示すために，宣言する電圧。
3.2
動作電圧（working voltage）
ランプの通常動作状態，及びランプを取り外した状態において，過渡的なものを除いて絶縁箇所に加わ
ることが想定される最大実効値電圧。
3.3
定格電流（rated current）
製造業者が，想定するランプソケットの最大電流を示すために，宣言する電流。
3.4
器具内用ランプソケット（lampholder for building-in）
照明器具又は付加された外郭に組み込むように設計したランプソケット。
3.4.1
外郭のないランプソケット（unenclosed lampholder）
感電保護に関してこの規格の要求事項を満たすためには，追加手段，例えば，外郭などを必要とするよ
うに設計した器具内用ランプソケット。
3.4.2
外郭付ランプソケット（enclosed lampholder）
感電保護に関して，ランプソケット自体でこの規格の要求事項を満たすように設計した器具内用ランプ
ソケット。
3.5
定格動作温度（rated operating temperature）
製造業者が設計上想定する，ランプソケットの動作温度の上限値。
注記 この規格では，動作温度の測定点は，ランプ口金とコンタクトとの接触点である（6.2参照）。
定格動作温度は，ランプソケットの外郭樹脂の耐熱温度ではない。
3.6
定格イグニッション電圧（rated ignition voltage）
ランプソケットが耐えるイグニッションパルス電圧のうち，製造業者が宣言する最も高いピーク電圧。
注記1 JIS C 7623（メタルハライドランプ）においては，イグニッションパルス電圧のほか，安定
器設計のための情報として，ピーク値の90 %でのパルス幅に関する要求が存在する。
注記2 非対称のイグニッション電圧波形に対応する極性付ランプソケットについては，二つの定格
イグニッション電圧を宣言する（7.2参照）。
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3.7
ランプコネクタ（lamp connectors）
ランプを支持しないが，ランプと電気的に接続するために特別に設計した，一対の接触子（極）。
3.8
形式試験（type test）
形式試験用試料について行う一つの試験，又はその一連の試験をいい，その製品設計の，該当する規格
の要求事項への適否の判定を目的とした試験。
3.9
形式試験試料（type test sample）
形式試験のために，製造業者又は責任のある販売業者が提出する，1個以上の同種の試料。
3.10
充電部（live part）
感電を引き起こす可能性がある導電部。
3.11
耐インパルスカテゴリ（過電圧カテゴリ）（impulse withstand category）
過渡的な過電圧状態を定めている数字。
注記 耐インパルスカテゴリは，次に示すとおり，I，II，III及びIVに分類される（この規格では，
JIS C 60664-1に規定する過電圧カテゴリを耐インパルスカテゴリと読み替える。）。
a) 耐インパルスカテゴリ分類の目的 耐インパルスカテゴリは，利用の継続性及び故障の許
容可能な危険性に関して，機器の可用性の程度を区別するために用いる。
耐インパルスレベルで機器の選定を行うことによって，故障の発生確率を許容されるレ
ベルにまで低減し，設備全体の絶縁協調が達成できる。
耐インパルスカテゴリの数字が大きいほど，機器の耐インパルスレベルが高いことを示
しており，また，過電圧抑制のための方法のより幅広い選択ができる。
耐インパルスカテゴリの概念は，商用電源から直接給電される機器に対して用いる。
b) 耐インパルスカテゴリの説明 耐インパルスカテゴリIの機器は，建築物の固定電気設備
に接続することを意図している機器であって，規定のレベルにまで過渡過電圧を抑制する
ために，機器の外部（固定設備中又は固定設備と機器との間）に保護手段を用いる。
耐インパルスカテゴリIIの機器は，建築物の固定電気設備に接続する機器である。
耐インパルスカテゴリIIIの機器は，固定電気設備の一部となる機器及びより高い有用性
を期待されている機器である。
耐インパルスカテゴリIVの機器は，建築物の電気設備の引込口部又はその近傍で使用し，
配電盤の電源側で用いる機器である。
3.12
一次回路（primary circuit）
商用電源に直接接続される回路。
注記 一次回路には，例えば，商用電源への接続手段，変圧器又はモータの一次巻線，その他の負荷
装置を含む。
3.13
（削除）
5
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3.14
基礎絶縁（basic insulation）
感電に対する基礎的な保護を与えるために充電部に施した絶縁。
注記 基礎絶縁には，機能目的だけに使われる絶縁（機能絶縁）は含まれない。
なお，機器の適切な機能だけに必要な導電部間の絶縁を機能絶縁という。
3.15
付加絶縁（supplementary insulation）
基礎絶縁が破壊したときに，感電に対する保護を行うために基礎絶縁に追加した独立の絶縁。
3.16
二重絶縁（double insulation）
基礎絶縁及び付加絶縁の二つから構成する絶縁。
3.17
強化絶縁（reinforced insulation）
指定された条件下で二重絶縁と同程度の感電保護を与える充電部に施した単一の絶縁方式。
注記 “絶縁方式”は，必ずしも絶縁が単一で均質なものであることを意味しない。付加絶縁又は基
礎絶縁として単独に試験できない数層の絶縁で構成される場合がある。
3.18
外郭付強化絶縁ランプソケット（enclosed reinforced insulated lampholder）
二重絶縁又は強化絶縁に対する要求事項に適合する絶縁外郭をもつ，クラスII照明器具に組み込むラン
プソケット。
注記0A クラスIIの定義は，JIS C 8105-1の1.2.23を参照。
3.19
部分強化絶縁ランプソケット（partly reinforced insulated lampholder）
二重絶縁又は強化絶縁に対する要求事項を満たすために，部分的な追加手段を必要とする器具内用ラン
プソケット。
注記 絶縁距離（沿面距離及び空間距離）は照明器具に組み込み後，達成してもよい。
3.20
極性付ランプソケット（polarized lampholder）
非対称のイグニッション電圧に対応して，高圧側の極が決まっている，特別に設計された器具内用ラン
プソケット。
3.21
片極印加イグニッション電圧（single contact ignition voltage）
ランプソケットの片側の極だけに印加するイグニッション電圧。
注記 3.6の注記を参照。
3.22
両極印加イグニッション電圧（dual contact ignition voltage）
ランプソケットの両極で分割して負担するイグニッション電圧。
注記 3.6の注記参照。
3.23
臨界周波数，ƒcrit（critical frequency）
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ある空間距離において絶縁破壊電圧の低下が始まる（生じる）周波数。
注記 臨界周波数は，次の式で求めることができる。
ƒcrit≒0.2/d（MHz）
ここに，
d： 周波数にかかわらず表3に規定する空間距離（mm）。基礎絶
縁又は付加絶縁，及び強化絶縁についてそれぞれ規定する。
3.24
イグニッション電圧（ignition voltage）
放電ランプを始動するために印加するピーク電圧。
注記 3.6の注記参照。
3.24.1
イグニッションパルス電圧（ignition pulse voltage）
10 ms間において，絶対最大ピーク値の50 %の位置における各パルスの幅の合計が750 μs以内のピーク
イグニッション電圧。
注記0A 3.6の注記参照。
注記1 イグニッションパルス波形が，30 kHzを超える支配的な周波数成分を含まない場合，又は（振
動波形であっても）大きく減衰する（20 µs後のピーク電圧レベルが最大ピーク電圧の半分未
満）場合，イグニッションパルス電圧とみなしてよい。支配的な周波数の評価については，
IEC 60664-4の附属書Eを参照することが望ましい。
3.25
最大動作電圧（maximum working voltage）
Uout
通常動作状態又は異常動作状態中に，制御装置の出力端子間又は出力端子とアースとの間に発生する動
作電圧（実効値）の最大値。
注記 過渡電圧及びイグニッション電圧は除く。
3.26
最大動作ピーク出力電圧（maximum working peak output voltage）
Ûout
通常動作状態又は異常動作状態中に，制御装置の出力端子間又は出力端子とアースとの間に繰り返し発
生する，ピーク動作電圧の最大値。ただし，過渡電圧を除く。
3.27
等価変換ピーク電圧（equivalent transformed peak voltage）
Up
組み合わせるランプ制御装置が出力する周波数における，最も厳しいピーク電圧をイグニッションパル
ス電圧へ変換した出力ピーク電圧。
注記1 製造業者による等価変換ピーク電圧（Up）の宣言値は，構成部品を選択するための重要なパ
ラメータである。
注記2 3.24.1参照
注記3 基礎絶縁における等価変換ピーク電圧（Up）の宣言値を決定するためには，発生する最大ピ
ーク電圧及び周波数の最も厳しい組合せを考慮する必要がある。つまり，IEC 61347-1:2015
の表10における，基礎絶縁による最大の空間距離を意味する。
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注記4 強化絶縁における等価変換ピーク電圧（Up）の宣言値を決定するためには，発生する最大ピ
ーク電圧及び周波数の最も厳しい組合せを考慮する必要がある。つまり，IEC 61347-1の表
11における，強化絶縁による最大の空間距離を意味する。
注記4A JIS C 8147-2-12では“ignition voltage”の記号にUpを使っている。
4
一般要求事項
ランプソケットは，通常の使用において確実に機能し，かつ，人及び周囲に危険を与えない設計及び構
造でなければならない。
一般に合否は，規定する全ての試験を行って判定する。
注記 適合性に関する旧規格との差異については，附属書Eを参照。
5
一般試験条件
5.1
この規格による試験は，形式試験とする。
注記1 この規格の要求事項及びその許容差は，形式試験用試料の試験に関わるものである。形式試
験用試料の合否は，製造業者の全ての製品の合否を保証するものではない。製品の適合性は，
製造業者の責任であり，形式試験のほか，日常の試験及び品質保証を含む。
注記2 工程における適合性に関する試験の詳細は，JIS C 7709-0を参照。
5.2
特に規定がない場合，試験は，20±5 ℃の周囲温度，及び通常の使用において最も不利な位置にラ
ンプソケットを置いて行う。
種類の異なるランプ口金を装着可能なランプソケットであると製造業者が宣言する場合，装着可能な全
ての口金の要求事項に適合しなければならない。
合否は，5.3に規定する試料の組合せによって判定する。
種類の異なる口金を装着可能なランプソケットである場合，1個の試料について，全ての口金との適合
性を確認する。
試験は，最も不利な口金及びゲージを用いて，厳しい順に全ての試験を行う。
5.3
試験又は検査は，次の数量の試料を用いて箇条番号の順に行う。
− 両口金ランプ用のランプソケットの場合，10組の試料
一組のランプソケットが同一のランプソケットで構成される場合，一組のランプソケットが必要と
なる箇条8，11.2，11.3，箇条13，箇条16及び17.6を除く試験は，片側のランプソケットで行えばよ
い。
− 片口金ランプ用のランプソケットの場合，10個の試料
各箇条に用いる数量は，次による。
− 3組又は3個の試料：箇条4〜箇条15（9.2を除く）
注記 9.2に規定する端子に対する試験は，関連する規格に規定された数量で行う。
− 3組又は3個の試料：箇条16及び17.6
− 1組又は1個の試料：17.1
− 1組又は1個の試料：17.3
− 1組又は1個の試料：17.4
− 1組又は1個の試料：17.5及び箇条18
製造業者は，これらの試料とともに，取扱説明書（7.3参照）を提供しなければならない。
8
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取扱説明書に口金を挿入した状態でだけ定格イグニッション電圧に関する要求事項に適合する旨を記載
したランプソケットの場合，適切な口金及びランプソケットの形式試験試料の組合せで試験する。また，
これに関連した試験は，口金を挿入した状態で行う。
5.4
全ての試料が5.3に規定する全ての試験に合格する場合，ランプソケットは，この規格に適合すると
みなす。
一つの試験において，1個の試料が不合格となった場合，5.3に規定する数量の試料を別途用意して，不
合格になった試験及びその試験の結果に影響する可能性のある先行する試験を繰り返し，全ての試料がこ
の再試験に合格しなければならない。再試験でも不合格があった場合，ランプソケットは，この規格に不
適合とみなす。
試験申請者が試験機関に試験を依頼する場合，最初に提出する数量の試料に加えて，1個の不合格に備
えて同数の予備の試料を提出してもよい。試験機関は，1個の試料が不合格となった場合，予備の試料で
試験する。更に不合格があった場合，不適合とみなす。
予備の試料が同時に提出されなかった場合は，最初の1個の不合格をもって不適合とみなす。
6
分類
ランプソケットは，次のように分類する。
6.1
取付け状態による分類は，次による。
− 外郭のないランプソケット
− 外郭付ランプソケット
− 部分強化絶縁ランプソケット
− 外郭付強化絶縁ランプソケット
注記 ランプソケットを定格電圧の50 %以下の動作電圧で用いる場合，強化絶縁ランプソケットと同
等であるとみなすことができる。
6.2
耐熱性による分類は，次による。
− 定格動作温度が80 ℃以下のランプソケット
− 定格動作温度が80 ℃を超えるランプソケット（以下，Tマーク付きランプソケットという。）
動作温度の測定点は，ランプロ金とコンタクトとの電気的接触点とする。ランプソケットの絶縁物，端
子部及び口出線の耐熱性が動作温度と異なる場合は，これらの値を製造業者のカタログ（印刷物又は電子
カタログ）に記載しなければならない。この場合，ランプソケットを照明器具内に適切に組み込んだ後，
又は適切な外郭を取り付けた後，該当する規格に規定する試験によってその適合性を評価する。
6.3
極性による分類は，次による。
− 極性のないランプソケット
− 極性付ランプソケット
6.4
イグニッション電圧による分類は，次による。
− 片極印加イグニッション電圧用のランプソケット
− 両極印加イグニッション電圧用のランプソケット
注記 両極印加イグニッション電圧用のランプソケットは，沿面距離及び空間距離の要求値を低減
できるという利点がある。
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7
表示
7.1
ランプソケットには，次の内容を表示しなければならない。
a) 製造業者名（商標，製造業者の識別マーク又は責任のある販売業者名でもよい。）。
b) 固有のカタログ番号又は識別表示。
製造業者のカタログ（印刷物又は電子カタログ）には，製品の必須特性及び基本設計仕様を記載し，ラ
ンプソケット上に表示するカタログ番号又は識別表示によってランプソケットを明確に区別できるように
しなければならない。製品の安全性又は性能に影響を及ぼさない電線長，固定手段，色などの追加仕様を
表す記号は，製品上に表示する識別表示に含めなくてもよい。ただし，製品試験報告書には，基本設計仕
様とともに，試験を行った追加仕様も記載する。
ランプコネクタと保持ばねとの組立品のように，構成要素の組合せでランプソケットの設計が決まる場
合は，構成要素の組合せを表示することが望ましい。
合否は，目視検査によって判定する。
7.2
7.1の表示に加えて，次の情報を，ランプソケットに表示するか，又は製造業者のカタログ若しくは
これに類するもので提供しなければならない。
a) 定格電圧［単位：ボルト（V）］，及び該当する場合，定格イグニッション電圧［単位：キロボルト（kV）］。
極性付ランプソケットの場合，定格電圧及びそれぞれの極に対する定格イグニッション電圧。
注記1 ランプソケットによっては，500 Vを超える定格電圧を表示している場合がある。これは，
許容可能なパルス電圧を含めて定格電圧を表示していた，初期の方法によるものである。
このようなランプソケットの沿面距離及び空間距離については，JIS C 8105-1を参照。
b) 定格電流［単位：アンペア（A）］。
c) Tマーク付ランプソケットの場合，定格動作温度。Tの次に，動作温度を10 ℃刻みで表示する（例え
ば，T200）。
d) 端子部に適合する導体の断面積又は直径。
e) 極性付ランプソケットの場合，定格イグニッション電圧（高圧側）への接続を識別するための，危険
電圧マーク（IEC 60417-5036による）。このマークは，導体をランプソケットに接続する際に識別可
能なように，適切な端子又は電線挿入口の近傍に表示しなければならない。
f)
イグニッション電圧の適用に関する情報。
記号を用いる場合，電気的定格に対しては，次の記号を用いる。
− 電圧：V
− 電流：A
− 電力：W
− イグニッション電圧：kV
注記2 別の方法として，定格電圧及び定格電流の定格に数字だけを用いることがある。定格電流の
数字は，定格電圧の数字の前又は上に表示し，斜線又は直線によって定格電圧と分離して，
次のように表示することができる。
2 A 250 Vの場合，2/250又は250
2
定格イグニッション電圧については，その値を電気的定格の記号の前に表示しなければならない（例え
ば，5 kV）。極性付ランプソケットについては，二つの定格イグニッション電圧を斜線で区切って表示しな
10
C 8121-1：2019
ければならない（例えば，15/2.5 kV）。
両極印加イグニッション電圧用のランプソケットの場合，製造業者のカタログ又はこれに類するものに
定格イグニッション電圧の情報を記載しなければならない。
極性付ランプソケットの場合，斜線の前の数字は，より高いイグニッション電圧を表す。斜線の後ろの
数字は，ランプソケットが想定するイグニッション電圧か，耐インパルスカテゴリに基づく定格インパル
ス電圧の，大きい方の値を表す。両極印加イグニッション電圧用のランプソケットの場合，斜線の前の数
字は，合計のイグニッション電圧を表示し，斜線の後ろの数字は，端子と，取付面又は可触になる可能性
がある外郭の間のイグニッション電圧を表示する。
合否は，目視検査によって判定する。
この規格によるランプソケットでは，通常，耐インパルスカテゴリIIの絶縁距離を適用する。耐インパ
ルスカテゴリIIIの絶縁距離を適用したランプソケットは，より広い用途に用いることができる。これらの
情報は，製造業者のカタログ又はこれに類するものにも記載しなければならない。
外郭付強化絶縁ランプソケットは，照明器具内で通常の使用において可触になる位置にあっても，適切
な保護レベルが確保されている。この情報は，製造業者のカタログ又はこれに類するものに記載しなけれ
ばならない。
部分強化絶縁ランプソケットは，可触になる外郭表面に対する十分な沿面距離及び空間距離を確保する
ためには，照明器具の設計又は追加部材若しくはカバーの使用によって，ランプソケットの一部を追加で
保護する必要がある。この情報は，製造業者のカタログ又はこれに類するものに記載しなければならない。
7.3
製造業者又は責任のある販売業者が提供する取扱説明書には，ランプコネクタ又はランプソケット
の正しい取付方法及び使用方法に関する全ての情報を記載しなければならない（例えば，UV放射，使用
可能な動作電圧の周波数上限，規格要求値を超える沿面距離，PTIなどに関する情報）。
注記 これらの情報は，製造業者又は責任のある販売業者のカタログの一部に記載してもよい。
合否は，目視検査によって判定する。
7.4
表示は，耐久性があり，かつ，容易に読めなければならない。
合否は，目視検査による。また，17.6の試験が完了した後，表示部を水で浸した布で15秒間軽くこすり，
更に石油成分を浸した布で15秒間軽くこすり，表示が消えないか試験して判定する。
試験後，表示は，判読できなければならない。
注記 試験に用いる石油成分は，沸点約65 ℃，乾点約69 ℃及び密度約0.68 g/cm3で，カウリ・ブタ
ノール値29及び芳香族成分容量分率0.1 %以下のヘキサン溶液から成るものが一般的である。
8
感電に対する保護
8.1
外郭付ランプソケットは，通常の使用状態に取り付けて配線したとき，次に規定する状態で，充電
部が可触にならない構造でなければならない。
− ランプなしの状態。
− 適合するランプを取り付けた状態。
− ランプの取付け及び取外しの作業中。
B22d-3，BY22d，G22，G38，P28s，P30s及びP40の受金をもつランプソケットに対しては，適合する
ランプを取り付けた後の状態だけに適用する。
ランプ（2本以上のピンをもつ口金の場合）の1本のピンだけをランプソケットに挿入した状態で，こ
のピンが充電部に接触しない構造でなければならない。
11
C 8121-1：2019
G22及びG38の受金をもつランプソケットには，この要求事項は，適用しない。
合否は，JIS C 0920に規定する関節付きテストフィンガによって判定する。テストフィンガは，10 Nの
力で，可能なあらゆる箇所に押し当てる。テストフィンガと充電部との接触を確認するために，導通イン
ジケータを用いて試験する。
導通試験電圧は，40 V以上が望ましい。
ランプソケットは，この試験を行う前に，取付け可能で最も不利な寸法の導体をつなぎ，取付面又は同
等のものに通常の使用状態で据え付けておく。
外郭のないランプソケットは，照明器具内へ適切に組み込むか，又は適切な外郭を取り付けた後，組み
込む製品に適用する製品規格に従って試験する。
8.2
両口金ランプ用のランプソケットは，通常の使用状態に組み込み，取り付けて配線したとき，次に
規定する状態で，充電部が可触にならない構造でなければならない。
− ランプなしの状態。
− 適合するランプを取り付けた状態。
− ランプの取付け及び取外しの作業中。
R7s及びRX7sの受金をもつランプソケットの場合，ランプの取付け及び取外しは片側の受金のばね力
に抗して行うため，この状態で模擬試験を行うことは困難であり，評価に必要な再現性は得られない。し
たがって，試験は，ランプを取り付けた状態で行う。
合否は，JIS C 7709の規格群に規定する試験方法によって行う。JIS C 7709の規格群に規定がない場合，
テストフィンガによる試験（8.1参照）によって判定する。
9
端子
9.1
ランプソケットは，次の端子などによる接続方法のうち，少なくとも一つを備えるものでなければ
ならない。
− ねじ締め式端子
− ねじなし端子
− 平形差込み端子，又は丸形差込み端子
− ワイヤ巻付け用端子
− はんだ用端子
− 口出線（端末線）
端子ねじ及びナットは，JISに規定するメートルねじでなければならない。
ねじなし端子付ランプソケットは，照明器具及び装置の製造業者に販売する場合を除き，非可とう電線
（単線又はより線）及び可とう電線（ケーブル又はコード）の両方に適合する端子を備えていなければな
らない。
同等の性能をもつ場合，規定する接続方法以外の接続方法でもよい。同等の性能をもつ接続方法の例と
しては，ランプソケットを組み込むときに照明器具の金属部分に電気的接続をする特別低電圧ハロゲンラ
ンプ用ソケットがある。
合否は，9.2又は9.3に規定する試験によってそれぞれ判定する。
9.2
それぞれの接続方法は，次による。
− ねじ締め式端子の場合，端子はJIS C 8105-1の第14章（ねじ締め式端子）に適合しなければならない。
− ねじなし端子の場合，端子はJIS C 8105-1の第15章（ねじなし端子及び電気接続）に適合しなければ
12
C 8121-1：2019
ならない。
− 平形差込み端子又は丸形差込み端子の場合，端子はJIS C 8105-1の第15章に適合しなければならない。
− ワイヤ巻付け用端子の場合，端子はIEC 60352-1に適合しなければならない。ワイヤ巻付け方式は，
内部配線用の単線だけに適用する。
− はんだ用端子の場合，端子は良好なはんだ付け性の要求事項に適合しなければならない。適切な要求
事項は，JIS C 60068-2-20を参照。
− 口出線（端末線）の場合，9.3に規定する要求事項に適合しなければならない。
Tマーク付きランプソケットの端子に対しては，製造業者による指定がない場合，定格動作温度で試験
する。
ランプソケットを組み込むときに照明器具の金属部分に電気的接続をする特別低電圧ハロゲンランプ用
ソケットは，照明器具製造業者による使用に限定し，小売販売向けとはしない。
確実な装着及び操作の条件，特に照明器具にランプソケットを取り付ける場合，固定に用いる材料，必
要寸法及び公差の制限については，製造業者又は責任ある販売業者の文書に記載しなければならない。
ランプソケットを組み込むときに照明器具の金属部分に電気的接続をするランプソケットのコンタクト
は，JIS C 8105-1の第15章の要求事項に適合しなければならない。
合否は，関連する試験によって判定する。
9.3
ランプソケットへの口出線（端末線）の接続は，はんだ，溶接，かしめ，又はその他の同等以上の
方法で行わなければならない。
口出線は，絶縁電線でなければならない。口出線の絶縁は，JIS C 3662の規格群及びJIS C 3663の規格
群に規定する機械的特性及び電気的特性と同等以上であるか，又はJIS C 8105-1の5.3（内部配線）の関
連要求事項に適合しなければならない。
口出線の自由側先端部の絶縁は，剝がしてもよい。
ランプソケットへの口出線の固定は，通常の使用状態で発生する機械的な力に耐えなければならない。
合否は，目視及び箇条16の試験後，同じ3個の試料で，次の試験によって判定する。
全ての口出線に20 Nの引張力を加える。引張力は，徐々に加え，最も不利な方向で1分間加える。試験
中，口出線は，固定状態から動かないことが望ましい。ただし，組立指示上，許可していない引張方向に
は，試験しないでよい。
試験後，試料に損傷があってはならない。
10 保護接地
10.1 保護接地を口出線以外によって行うランプソケットは，一つ以上の保護接地端子を設けなければな
らない。ただし，照明器具製造業者が保護接地を施す場合は除く。
合否は，目視検査によって判定する。
注記 保護接地端子も保護接地用の口出線もないもので，保護接地を要求するランプソケットは，小
売販売向けとはしない。
10.2 保護接地端子付きのランプソケットの場合，絶縁破壊したときに充電部となる可触金属部分は，永
久的かつ確実に保護接地端子に接続しなければならない。
保護接地端子のないランプソケットの場合，絶縁破壊したときに充電部となる可触金属部分は，確実な
保護接地を施せる手段が備わっていなければならない。
外部金属部分が二重絶縁又は強化絶縁によって充電部から保護されていない場合は，該当する全ての外
13
C 8121-1：2019
部金属部分間で保護接地の連続性がなければならない。
合否は，次の試験によって判定する。
保護接地端子付ランプソケットの場合，端子部に適合する最小断面積の非可とう電線を接続する。
12.2.2に規定する試験電圧をかけた後，直ちに，保護接地端子部と外部金属部分との間の抵抗値を測定
する。保護接地端子付ランプソケットの場合は，保護接地端子から電線を引き出した点と外部金属部分と
の間で測定する。
保護接地端子のないランプソケットの場合は，ランプソケットの照明器具に保護接地する部分と外部金
属部分との間で測定する。
無負荷電圧が12 V以下である電源から供給した，10 A以上の電流を1分間，保護接地端子又は保護接
地接続部分と全ての可触金属部分との間に個々に流す。
保護接地端子又は保護接地接続部分と可触金属部分との間の電圧降下を測定し，電流及び電圧降下から
抵抗値を計算する。いかなる場合にも，抵抗値は，0.1 Ωを超えてはならない。
なお，この要求事項の目的から，固定台又はカバーに固定する（構造的に分離された）小さい金属ねじ
のようなものは，絶縁破壊を起こして充電部となるような可触金属部分とはみなさない。
10.3 保護接地端子は，箇条9に規定する要求事項に適合しなければならない。
保護接地端子は，偶発的な緩みが生じないように適切に固定し，ねじ締め式端子及びねじなし端子は，
手で緩めることができてはならない。ただし，ねじなし端子に対する意図的な操作についてはこの限りで
ない。
合否は，目視及び箇条9に規定する試験によって判定する。
一般的な通電端子設計によれば，後述の要求事項に適合する十分な弾力性が得られる。その他の設計で
は不用意に外れないような，適切な弾力性のある部品を用いるなどの特別な準備が必要となる場合がある。
10.4 保護接地端子に用いる金属は，保護接地導体の銅との接触で起きる腐食のおそれがない材質でなけ
ればならない。
保護接地端子又はねじのいずれかは，黄銅又はその他の耐腐食性が同等以上の金属でなければならない。
また，保護接地導体との接触面は，裸金属でなければならない。
合否は，目視検査によって判定する。
注記 腐食のおそれは，銅とアルミニウムとを接触させたときに特に大きくなる。
10.5 締付けねじを含むコードの固定用の金属は，保護接地回路から絶縁しなければならない。
合否は，目視検査によって判定する。
11 構造
11.1 木材，綿，絹，紙及び類似の吸湿材料は，適切に含浸しない場合には，絶縁材料として用いてはな
らない。ラッカー及びエナメルは，絶縁材料とはみなさない。
合否は，目視検査によって判定する。
11.2 ランプソケットは，ランプを容易に着脱することができ，温度変化又は振動によって緩むことがな
い構造でなければならない。
受金の寸法は，JIS C 7709-2に寸法規定がある場合，この規定に適合しなければならない。
合否は，JIS C 7709-2に規定する寸法の測定及び11.4の試験によって判定する。
11.3 接点の材質に銀を用いるR7s及びRX7sランプソケットは，接点の厚さを0.25 mm以上に設計しな
ければならない。
14
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合否は，寸法測定によって判定する。
注記 接点の厚さは，0.1 mm単位の目盛をもつ拡大鏡（約6倍の倍率）を用いて測定することができ
る。必要によって，接点を切断して銀の厚さを測定してもよい。
11.4 接点その他の通電部は，過度の温度上昇を防止するような構造でなければならない。
合否は，次の試験によって判定する。
公称寸法の試験用口金を，該当するランプソケットに適合する最大断面積の電線を接続したランプソケ
ットに差し込み，接点に接続する。
口金のキーが誤使用防止機能だけをもつ場合，キーをもつ試験用口金を用いる必要はない。
注記 公称値は，通常，中央値である。
ランプ本体と一体構造の口金の場合は，ランプピンを取り外して用いることが望ましい。
両口金ランプ用のランプソケットの場合，両端部間を電気的に接続（短絡）させた疑似ランプを用いる。
擬似ランプは，実際のランプと同等のランプピンをもつものを用いる。
多接点のランプソケットの場合，定格電流が通電できるように，適切な試験用口金のランプピンを接続
する。
試験用口金のランプピンは，黄銅材などの良好な導電性をもつ材料であることが望ましい。擬似ランプ
の発光部に相当する部分は，絶縁材料によって保護することが望ましい。
ランプピンは，試験を行う前に，注意して清掃し，磨く。
ランプソケットには，定格電流の1.25倍の電流を1時間通電する。
コンタクトの温度上昇は，45 Kを超えてはならない。温度は，温度計ではなく，溶解粒子又は熱電対を
用いて測定する。
周囲温度が20 ℃の条件では，蜜ろうのペレット（直径3 mm，溶解温度65 ℃）を溶解粒子として用い
てもよい。
11.5 シェードホルダリングが互換性をもつことを意図して用いる場合は，シェードホルダリングのため
の外ねじをもつランプソケット及びシェードホルダリングは，IEC 60399に適合しなければならない。
合否は，IEC 60399に規定するゲージ又は測定器によって判定する。
12 耐湿性，絶縁抵抗及び耐電圧
12.1 ランプソケットは，耐湿性をもたなければならない。
合否は，次に規定する耐湿試験によって判定する。
試験は，相対湿度91 %〜95 %に維持した恒湿槽の中で行う。恒湿槽内の試料を置く場所の温度は，20 ℃
〜30 ℃の間の任意の温度t±1 ℃に維持する。試料は，恒湿槽に入れる前にt ℃〜（t＋4）℃の間の温度
にしておく。
試料を，恒湿槽に2日間（48時間）保持する。
試験後，ランプソケットに損傷があってはならない。
12.2 ランプソケットは，次の箇所において，絶縁抵抗及び耐電圧は，適切でなければならない。
− 異極充電部間
− 充電部と取付ねじを含む外部（金属）部分との間
合否は，12.2.1に規定する絶縁抵抗の測定及び12.2.2に規定する耐電圧試験によって判定する。測定及
び試験は，12.1に規定する環境の恒湿槽内又は恒湿室内で行う。
注記 外郭のないランプソケットは，照明器具内へ適切に組み込むか，又は適切な外郭を取り付けて
15
C 8121-1：2019
該当する規格に従って試験するときに（8.1参照），充電部と外部金属部分との間の絶縁抵抗の
測定及び耐電圧試験を行う。
12.2.1 絶縁抵抗は，耐湿試験の直後に，約500 Vの直流電圧を1分間印加した後，表1に規定する各部間
を連続して測定する。絶縁抵抗は，表1に規定する値以上でなければならない。
表1−絶縁抵抗の最小値
試験箇所
絶縁抵抗の最小値
MΩ
定格電圧50 V以下のもの
定格電圧50 Vを超えるもの
異極充電部間
1
2
充電部一括と保護接地する外部金属部分との間
要求しない
2
充電部一括と取付ねじを含む保護接地しない外部
金属部分又は絶縁材料a)を覆う金属はくとの間
1
4
注a) 外部部分が絶縁材料の場合，絶縁抵抗の測定は，絶縁材料を金属はくで覆って行う。
12.2.2 耐電圧試験は，絶縁抵抗を測定した後，直ちに行う。
試験電圧を絶縁抵抗の測定と同じ箇所に印加する。
周波数50 Hz又は60 Hzのほぼ正弦波の交流であって次の実効値を，1分間印加する。
− 定格電圧が50 V以下のランプソケットの場合，試験電圧は，全て500 V。
− 定格電圧が50 Vを超えるランプソケットの場合，ランプコンタクト間の試験電圧は，動作電圧の2
倍の電圧。
− 上記以外の試験電圧は，（2U＋1 000）V（Uは，定格電圧）。
− 外郭付及び外郭のない強化絶縁されたランプソケットに限り，試験電圧は，JIS C 8105-1の表10.2（耐
電圧）による。
最初に，規定する試験電圧の半分以下を印加し，その後，規定する電圧値まで速やかに上げる。
試験中にフラッシオーバ又は絶縁破壊が生じてはならない。
注記 パルス電圧に対応する絶縁距離を考慮した耐電圧試験の要求事項は，検討中である。
13 機械的強度
ランプソケットは，十分な機械的強度をもたなければならない。
外郭部分の機械的強度は，外郭表面の導電性の有無にかかわらず，JIS C 60068-2-75に規定する振り子
ハンマ試験によって判定する。試験の詳細は，図D.1，図D.2及びJIS C 60068-2-75の箇条5（試験Eha：
振り子ハンマ）による。
a) 取付方法 JIS C 60068-2-75に従って，直接合板に取り付ける。ただし，次の場合を除く。
一対で組み合わせて用いるランプソケットは，適切な取付具を用いて取り付ける。
ランプコネクタは，保持具を介して取り付ける。
注記1 円筒形でないランプコネクタの場合，軸を保持具に平行に保つために，適切な松材の詰め木
を用いてもよい。
b) 落下高さ 打撃要素は，表2に規定する高さから落下させる。
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表2−落下高さ
単位 mm
材質
落下高さ
セラミック製部分
その他の材質製部分
100±1
150±1.5
c) 衝突数 外郭部分の表面の上で均等に分割した点にそれぞれ4回衝突させる。
d) 前処理 適用しない。
e) 初期測定 適用しない。
f)
姿勢及び衝突位置 c)による。
g) 動作及び機能検査 試料は，衝突の間，動作させない。
h) 合否判定基準 試験後，試料に重大な損傷があってはならない。特に次は注意する。
1) 充電部が可触になる損傷があってはならない。
沿面距離及び空間距離が箇条15に規定する値未満にならないランプソケットの損傷並びに感電
保護及び水の浸入に対する保護に悪影響を及ぼさない小さな欠けは，重大な損傷とはみなさない。
2) 肉眼で見えない割れ及び繊維強化樹脂成形品などの表面の割れは，重大な損傷とはみなさない。
ランプソケットの一部がなくてもランプソケットがこの規格に適合している場合，ランプソケッ
トのその他の部分の表面の穴及び割れは，重大な損傷とはみなさない。
i)
後処理条件 適用しない。
j)
最終測定 h)による。
注記2 照明器具又はその他機器に組み込まれたランプソケットの機械的強度は，JIS C 60068-2-75
に規定するスプリングハンマ試験装置を用いて試験してもよい。JIS C 8105-1の表4.3（衝
撃エネルギー及びスプリング圧縮長）では，衝撃エネルギーは，構成材料及び照明器具の
種類によって0.2 N･mから0.7 N･mまでの範囲で規定している。
14 ねじ，通電部及び接続
ねじ，通電部及び機械的接続は，これらが故障したとき，ランプソケットの安全性を損なう可能性があ
る場合，通常の使用において発生する機械的応力に耐えなければならない。
合否は，目視検査並びにJIS C 8105-1の4.11（電気的接続及び通電部）及び4.12（ねじ，機械的接続及
びグランド）に規定する試験によって判定する。
注記 許容温度範囲内及び通常の化学的汚染の条件の下で用いる場合に，機械的強度，導電率及び耐
食性の観点から，通電部品として適切な金属の例を，附属書Bに示す。
15 沿面距離及び空間距離
充電部及び近傍の金属部分は，距離を設けなければならない。沿面距離及び空間距離は，表2a及び表
2bに規定する値以上でなければならない。
表2aに規定する距離は，JIS C 60664-1の耐インパルスカテゴリIIの機器に適用し，また，表2bに規定
する距離は，JIS C 60664-1の耐インパルスカテゴリIIIの機器に適用し，いずれの表も，汚損度2（通常は
非導電性の汚れが発生するだけであるが，ときどき結露によって一時的に導電性となる汚れが予想され
る。）を適用する。その他の耐インパルスカテゴリ及びより高い汚損度のための絶縁距離の情報は，JIS C
60664-1を参照する。
17
C 8121-1：2019
箇条15に規定する沿面距離及び空間距離の値は，絶対的な最小値であることに注意する。
表2a及び表2bに規定する電圧は，定格電圧であり，イグニッション電圧ではない。
表2a−30 kHz以下の正弦波交流電圧に対する最小距離−耐インパルスカテゴリII
単位 mm
距離
定格電圧
50（V）
150（V）
250（V）
［300（V）d)］
500（V）
［600（V）d)］
基礎絶縁
1
異極充電部間の距離
2
充電部と次の部位との間a)
・ 外部金属部分
・ 取付面
・ 固定せずに用いる金属製カバー
・ ランプソケットを永久的に固定する絶縁材料の外面
・ カバー又は支持物へランプソケットを固定するため
のねじ及び構造の表面
− 沿面距離
絶縁材料 PTI b) ≧600
0.6
0.8
1.5
3
PTI b) ＜600
1.2
1.6
2.5
5
− 空間距離c)
0.2
0.5
1.5
3
強化絶縁
充電部と次の部位との間a)
・ 外部金属部分
・ 取付面
・ 固定せずに用いる金属製カバー
・ ランプソケットを永久的に固定する絶縁材料の外面
・ カバー又は支持物へランプソケットを固定するため
のねじ及び構造の表面
− 沿面距離
絶縁材料 PTI b) ≧600
−
1.6
3
5.5
PTI b) ＜600
−
3.2
5
10
− 空間距離c)
0.4
1.6
3
5.5
沿面距離の値は，定格電圧の中間値について，表内の値と値との間を直線補間法によって求めてもよい。交流25
V未満及びリップルがない直流60 V未満の定格電圧に対しては，12.2.2の耐電圧試験を行うことで十分とみなし，
値は規定しない。沿面距離は，この表に規定する最小空間距離よりも小さくしてはならない。
注記 対応国際規格の記載を削除した。
注a) ただし，充電部となるコンタクトとランプソケットの受口面（基準面）との間の絶縁距離は，JIS C 7709-2
の関連するシートによる。
b) PTI（保証トラッキング指数）はJIS C 2134参照。
− 電圧を加えない部分又は接地を意図しない部分の沿面距離の場合，トラッキングが発生しないときは，
（実際のPTIの値に関係なく）PTI 600以上の材料に対する値を全ての材料に適用する。
− 動作電圧を印加する時間が60秒未満の部分の沿面距離は，PTI 600以上の材料に示された値を全ての材
料に適用する。
− ほこり又は湿気による汚損が生じにくい部分の沿面距離は，（実際のPTI値にかかわらず）PTI 600以上
の材料に示された値を全ての材料に適用する。
− 沿面距離について，直流の定格電圧は，正弦波交流電圧の実効値を適用する。
c) 空間距離について，直流の定格電圧は，正弦波交流電圧のピーク値を適用する。
d) 括弧内の定格区分は，空間距離だけに適用する。
18
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表2b−30 kHz以下の正弦波交流電圧に対する最小距離−耐インパルスカテゴリIII
単位 mm
距離
定格電圧
50（V）
150（V）
250（V）
［300（V）d)］
500（V）
［600（V）d)］
基礎絶縁
1
異極充電部間の距離
− 沿面距離
絶縁材料 PTI b) ≧600
0.6
0.8
1.5
3
PTI b) ＜600
1.2
1.6
2.5
5
− 空間距離c)
0.2
0.5
1.5
3
2
充電部と次の部位との間a)
・ 外部金属部分
・ 取付面
・ 固定せずに用いる金属製カバー
・ ランプソケットを永久的に固定する絶縁材料の外面
・ カバー又は支持物へランプソケットを固定するため
のねじ及び構造の表面
− 沿面距離
絶縁材料 PTI b) ≧600
0.6
1.5
3
5.5
PTI b) ＜600
1.2
1.6
3
5.5
− 空間距離c)
0.2
1.5
3
5.5
強化絶縁
充電部と次の部位との間a)
・ 外部金属部分
・ 取付面
・ 固定せずに用いる金属製カバー
・ ランプソケットを永久的に固定する絶縁材料の外面
・ カバー又は支持物へランプソケットを固定するため
のねじ及び構造の表面
− 沿面距離
絶縁材料 PTI b) ≧600
−
3
5.5
8
PTI b) ＜600
−
3.2
5.5
10
− 空間距離c)
−
3
5.5
8
沿面距離の値は，定格電圧の中間値について，表内の値と値との間を直線補間法によって求めてもよい。交流25
V未満及びリップルがない直流60 V未満の定格電圧に対しては，12.2.2の耐電圧試験を行うことで十分とみなし，
値は規定しない。沿面距離は要求される最小空間距離より小さくしてはならない。
注記 対応国際規格の記載を削除した。
注a) ただし，充電部となるコンタクトとランプソケットの受口面（基準面）に対する絶縁距離は，JIS C 7709-2
の関連するシートによる。
b) PTI（保証トラッキング指数）は，JIS C 2134参照。
− 電圧を加えない部分又は接地を意図しない部分の沿面距離の場合，トラッキングが発生しないときは，
（実際のPTIの値に関係なく）PTI 600以上の材料に対する値を全ての材料に適用する。
− 動作電圧を印加する時間が60秒未満の部分の沿面距離は，PTI 600以上の材料に示された値を全ての材
料に適用する。
− ほこり又は湿気による汚損が生じにくい部分の沿面距離は，（実際のPTI値にかかわらず）PTI 600以上
の材料に示された値を全ての材料に適用する。
− 沿面距離について，直流の定格電圧は，正弦波交流電圧の実効値を適用する。
c) 空間距離について，直流の定格電圧は，正弦波交流電圧のピーク値を適用する。
d) 括弧内の定格区分は，空間距離だけに適用する。
19
C 8121-1：2019
注記1 表2a及び表2bの要求値を上回る沿面距離を求める電圧と周波数（30 kHzを超える）の組合
せの場合，ランプ制御装置にはこの組合せの詳細が記載されている（Ûout及びその関連する
周波数fUout）［IEC 61347-1の7.1 w)参照］。沿面距離の要求値及び詳細はIEC 61347-1の16.2
を参照。
ランプソケットの定格イグニッション電圧に対する空間距離は，表3に規定する値以上でなければなら
ない。
注記2 次の状況下では，定格電圧よりも高い動作電圧がランプソケットにかかる場合がある。
− 電源電圧の公称値及び耐インパルスカテゴリがランプソケットの定格電圧以下の場合
− 制御装置に表示されている動作電圧（実効値）及び最大動作ピーク出力電圧（Ûout）に対
する沿面距離が，それぞれランプソケットの定格電圧に対する沿面距離を上回らない場
合
− ランプ制御装置の動作電圧に対する空間距離が，ランプソケットの定格電圧及び定格イ
グニッション電圧に対する空間距離を上回らない場合
表3−イグニッションパルス電圧（等価変換ピーク電圧を含む。）に対する最小空間距離
定格イグニッショ
ン電圧（波高値）
kV
最小空間距離
mm
基礎絶縁
及び付加絶縁
強化絶縁
2
1
2.2
2.5
1.5
3
3
2
3.8
4
3
6
5
4
8
6
5.5
10.4
8
8
15
10
11
19.4
12
14
24
15
18
31.4
20
25
44
25
33
60
30
40
72
40
60
98
50
75
130
60
90
162
80
130
a)
100
170
a)
注a) 数値は未定義
表3に規定する最小空間距離は，JIS C 60664-1（の5.1.3.2に規定する不平等電界の状態）から得た値で
ある。正弦波電圧及びイグニッション電圧の両方がかかる空間距離に対する最小距離は，耐インパルスカ
テゴリに関連して表2a，表2b及び表3に規定する最も大きな値以上でなければならない。
注記3 イグニッションパルス電圧の全体の時間幅が750 μsより長いか，又は臨界周波数（ƒcrit）より
も高い周波数成分をもつ場合，そのピーク電圧がランプソケットの定格イグニッション電圧
よりも低いときであっても，表3の規定値を上回る空間距離を必要とすることがある。
20
C 8121-1：2019
そのため，それぞれの制御装置にはランプソケットの定格イグニッション電圧と直接比較
可能な等価変換ピーク電圧を表示している。
極性付ランプソケットの場合，充電部と外部金属部分又は絶縁材料の外面との間の沿面距離及び空間距
離を，極性ごとに設計することがある。この場合，沿面距離及び空間距離は，極性ごとに評価する。接触
片間の距離は，最大のイグニッション電圧によって設計しなければならない。
沿面距離は規定された最小の空間距離以上でなければならない。
合否は，絶縁距離を測定して判定する。
例えば，接触片間の距離のように安全性に影響がない空間距離は，より緩和された電界条件から導いて
もよいが，この場合でも平等電界（JIS C 60664-1の5.1.3.3参照）の値が絶対最小値である。
合否判定は，ランプソケットの定格イグニッション電圧に対応して，JIS C 60664-1の6.1.2.2.1.1に規定
する試験による。試験中に電圧低下があってはならない。
注記4 この試験において，定格イグニッション電圧とは，JIS C 60664-1における定格インパルス電
圧に相当する。
16 耐久性
ランプソケットは，ランプピンとの良好な電気的接触を維持しなければならない。
合否は，次の耐久性試験によって判定する。
市販のランプの口金をランプソケットに10回着脱する。ランプは，適用可能なJISが存在する場合，JIS
に適合するものを用いる。
次に，11.4に規定する試験用口金と同じ寸法の鋼製の試験用口金を，ランプソケットに挿入する。組み
合わせた一対のランプソケットの場合，擬似ランプは，絶縁保護がない鋼製の擬似ランプに置き換える。
試験中に，コンタクトの温度超過又は鋼製の試験用口金に損傷が生じる場合は，市販のランプのピンを
用いてもよい。
この状態のまま，ランプソケットを恒温槽内に置く。
温度が安定した後，定格電流の1.1倍の電流を流しながら，定格動作温度の測定点が（90±5）℃，又は
Tマーク付きランプソケットの場合は［(T＋10)±5］℃，に達するように槽内温度を調節する。
照明器具一体形のランプソケットの場合，この温度は，JIS C 8105-1の12.4.2（合否）に規定する動作条
件で測定した値に10 Kを加えた値（ただし，許容差は±5 ℃）に置き換える。
この温度に到達して維持した後，ランプソケットは，その状態下に48時間置く。
この時間が経過した後，ランプソケットを恒温槽から取り出し，試験用口金又は擬似ランプを取り外し
て，24時間冷却する。
試験中，ランプソケットは，特に次の観点から，継続使用を損なういかなる変化もあってはならない。
− 感電に対する保護機能の低下があってはならない。
− 電気的接触部の緩みがあってはならない。
− 割れ，膨張及び収縮があってはならない。
− ランプソケットは，JIS C 7709-3に規定するゲージがある場合，ゲージに適合しなければならない。
耐久性試験の後，ランプソケットのコンタクト及び端子部の接触抵抗は，次のように測定する。
− 11.4に規定する試験用口金又は擬似ランプをランプソケットに挿入し，ランプソケットの定格電流に
等しい電流を流して接触抵抗を測定する。
21
C 8121-1：2019
− 口出線を備えたランプソケットの場合，接触抵抗は，ランプソケットの導線口出し位置から5 mm以
内で測定する。
− 口出線がないランプソケットの場合，そのランプソケットに設計された最小断面積の導線（ただし，
0.5 mm2以上の銅線）を接続する。接触抵抗は，取り付けた導線口出し位置から5 mm以内で測定する。
− プランジャがあるランプソケットの場合は，プランジャの位置にかかわらず，試験用口金は，ランプ
ソケットに完全に取り付ける。
− 両口金ランプの場合は，組み合わせた一対のランプソケットを測定する。この場合，11.4に規定する
擬似ランプを用いる。
測定した抵抗値は，次の値を超えてはならない。
0.045＋(A×n)（Ω）
ここに，
A： 係数
n＝2の場合，A＝0.01
n＞2の場合，A＝0.015
n： ランプソケットと口金との間の測定対象となる接触点数
導体表面の酸化物が抵抗値の測定に影響を及ぼさないように注意を払うことが望ましい。
17 耐熱性及び耐火性
17.1 感電に対して保護するための絶縁材料の外郭部品，及び充電部又はELV部を所定の位置に保持する
絶縁材料部品は，耐熱性がなければならない。
注記0A ELVの定義は，JIS C 8105-1の1.2.42を参照。
合否は，図1に示す装置を用いたボールプレッシャー試験によって判定する。
照明器具一体形ランプソケットは，17.6を除き，この箇条に規定する試験は行わない。これは，JIS C
8105-1の第13章（耐熱性，耐火性及び耐トラッキング性）で同様の試験が要求されており，試験条件は
ランプソケット特有の条件及びこの箇条に規定している条件を考慮しているためである。
単位 mm
図1−ボールプレッシャー試験の負荷装置
ボールプレッシャー試験は，セラミック材料の部品及び電線の絶縁物には行わない。
試験する部品の表面を，水平になるように置き，20 Nの力で直径5 mmの鋼球を表面に押し付ける。
試験は，6.2の分類によって指定した定格動作温度に25 ℃±5 ℃を加えた温度の恒温槽の中で行う。ま
た，充電部を保持する部品を試験する場合，最低温度は125 ℃とする。
負荷装置及び試験片受台は，試験前に規定した試験温度になるまで，十分な時間恒温槽の中に入れてお
く。
試験する部品は，負荷装置を載せる前に1時間，恒温槽の中に入れておく。
22
C 8121-1：2019
試験する表面が湾曲しているときは，鋼球を押し付ける部分を支持する。完成品で試験ができない場合
は，試験に適した部分を切り出して試料としてもよい。
試料の厚さは2.5 mm以上とする。2.5 mm未満の場合は，二つ以上重ね合わせて，2.5 mm以上にする。
1時間後，試料から鋼球を取り除き，10秒以内に冷水に試料を浸し，室温まで冷やす。
鋼球によって生じたへこみ部分の直径を測定したとき，2 mm以下でなければならない。
注記1 試料表面が曲面でへこみ部分がだ（楕）円形のときは短辺を測定する。
注記1A 疑義のある場合の代替方法に関する規定を削除した。
17.2 充電部又はELV部を所定の位置に保持する絶縁材料部品及び感電に対して保護するための絶縁材料
の外郭部品は，耐炎性及び耐着火性をもたなければならない。
合否は，17.3及び17.4の試験によって判定する。
これらの試験は，セラミック材料の部品には行わない。
17.3 感電に対して保護する導電性外面を含む絶縁材料の外郭部品及びELV部を所定の位置に保持する絶
縁材料部品（ELVランプのコンタクトを保持する部品を除く。）には，JIS C 60695-2-11のグローワイヤ試
験を行う。詳細は，次による。
− 試料は，ランプソケットの最終製品とする。試験のために部品を取り外してもよいが，試験時の状態
が通常の使用状態から大きく逸脱していないように注意することが望ましい。
− 試料を運台に載せて，可能な限り試料上端から下方に15 mm以上離れた試料表面の平面部分の中央に
グローワイヤの先端を1 Nの力で押し付ける。グローワイヤの試料への侵入深さは7 mmを限度とす
る。
試料が小さすぎて上記の試験ができない場合は，同じ製法で製作した同じ材料で，30 mm×30 mm
の大きさで試料の最小厚さと同じ厚さの別の試料で行う。
− グローワイヤ先端の温度は650 ℃とする。30秒後にグローワイヤ先端を試料から引き離す。
グローワイヤ温度及び加熱電流は，試験開始前の1分間一定にする。この期間中に，試料が熱放射
の影響を受けないように注意する。
グローワイヤ先端の温度は，JIS C 60695-2-11の規定に従って校正したシース付き細線熱電対を用い
て測定する。
− 試料の火炎及び赤熱燃焼は，グローワイヤを引き離した後30秒以内に消えなければならない。燃焼滴
下物によって，試料から200 mm±5 mm下に水平に広げたJIS P 0001の6228に規定する5層で1枚
の包装用ティシュが着火してはならない。
17.4 充電部又はELVランプのコンタクトを保持する絶縁材料の部品には，JIS C 60695-11-5のニードル
フレーム試験を行う。詳細は，次による。
− 試料は，ランプソケットの最終製品とする。試験のために部品を取り外してもよいが，試験時の状態
が通常の使用状態から大きく逸脱していないように注意することが望ましい。
− 試験炎は，試料表面の中央部分に当てる。
− 接炎時間は，10秒とする。
− 自己持続炎は，ガスの炎を離してから30秒以内に消えなければならない。燃焼滴下物によって，試料
から200 mm±5 mm下に水平に広げたJIS P 0001の6228に規定する5層で1枚の包装用ティシュを
発火させてはならない。
17.5 充電部若しくはELV部を所定の位置に保持するか，又はこれらと接触する絶縁材料の部品は，過度
の湿気にさらされる場合及び／又は過度のじんあいの堆積がある場合，耐トラッキング性のある材料でな
23
C 8121-1：2019
ければならない。
セラミック以外の材料は，JIS C 2134に規定する保証トラッキング試験によって合否を判定する。詳細
は，次による。
− 試料が15 mm×15 mm以上の平らな表面をもたない場合，試験中に試験液が試料から流れ落ちないと
いう条件に当てはまるときは，規定の寸法以下の平らな表面で試験を行ってもよい。ただし，表面上
に試験液をとどめるために人為的な手段を取らない方がよい。疑義がある場合は，規定の寸法で，同
じ製法で製作した同じ材料の別の小片で試験を行ってもよい。
− 試料の厚さは，3 mm以上とする。3 mm未満の場合は，2枚以上重ねて合わせて，3 mm以上にする。
− 試験は，試料上の3か所，又は3個の試料で行う。
− 電極は白金とし，JIS C 2134の7.3（測定溶液）に規定する試験溶液Aを用いる。
− 試料は，PTI 175の試験電圧で，50滴の滴下に対して故障なく耐えなければならない。
− 試料表面上の電極間の導路に0.5 A以上の電流が2秒間以上流れて過電流継電器が作動するか，又は
過電流継電器が作動せず試料に持続炎が発生した場合は，不合格とみなす。
− 浸食の判定は，適用しない。
17.6 ランプソケットの外郭部品及び絶縁材料の耐熱性は，（115±5）℃，又はTマーク付きランプソケッ
トの場合は［(T＋35)±5］℃の温度の恒温槽で試験する。
外郭部品及び絶縁材料の耐熱性がランプソケットの定格動作温度から外れている場合，試験温度は，こ
れらの部品の製造業者のカタログに指定した耐熱温度よりも（35±5）K高く調整する。
照明器具一体形ランプソケットは，JIS C 8105-1で類似の試験を規定しているため，この試験を実施し
ない。
ランプソケットに，中空でない鋼の試験口金又は箇条16に規定する鋼製の擬似ランプを装着する。
ランプソケットは，試験温度のおよそ半分の温度の恒温槽へ置く。1時間±15分の時間をかけて規定す
る試験温度に上げ，168時間中断することなく試験を続ける。試験温度は±5 Kの許容差で維持する。
試験中，ランプソケットは，特に次の観点から，継続使用を損なういかなる変化も受けてはならない。
− 感電に対する保護機能の低下があってはならない。
− 電気的接触部の緩みがあってはならない。
− 割れ，膨張及び収縮があってはならない。
− ランプソケットは，JIS C 7709-3に規定するゲージがある場合，ゲージに適合しなければならない。
ゲージは，成形材料に起こる可能性がある変形を検査するために用いるもので，電気的接触部の検査を
するものではない。
耐熱性試験後のランプソケットは，箇条13に規定する機械的強度の試験を実施し，この試験に耐えなけ
ればならない。ただし，落下高さは，50 mmで行う。
充塡材は僅かな移動があってもよいが，充電部が露出するほど流出してはならない。
18 過度の残留応力（自然割れ）及びさび（錆）に対する抵抗力
18.1 銅又は銅合金のロール材の接点その他の部分は，故障によってランプソケットが不安全となるおそ
れがある場合，過度の残留応力によって損傷してはならない。
合否は，次の試験によって判定する。
試料の表面の汚れを注意して取り除く。ワニスはアセトンで取り除き，グリース及び指紋は石油成分又
は類似のもので取り除く。
24
C 8121-1：2019
試料は，底部をpH 10の塩化アンモニウム溶液で満たした試験槽の中に，24時間放置する。試験槽，試
験溶液及び試験手順の詳細は，附属書Cによる。
この処理の後，試料を流水で洗い，24時間経過した後，光学倍率で8倍に拡大して観察したとき，ひび
割れが観察されてはならない。
18.2 鉄の部分は，ランプソケットに危険を生じさせるようなさびが生じないように適切に保護しなけれ
ばならない。
合否は，次の試験で判定する。
適切な脱脂剤に10分間浸して，試験する部分から全てのグリースを取り除く。
試験する部分を，（20±5）℃の塩化アンモニウムの10 %水溶液中に10分間浸す。水滴をふるい落とし，
乾燥させないように（20±5）℃の飽和水蒸気の箱内に，10分間放置する。
試料を（100±5）℃の恒温槽内で10分間乾燥し，シャープエッジ上のさびの痕跡及び黄色がかった薄膜
をこす（擦）り取る。鉄の表面には，いかなるさびの痕跡もあってはならない。
小さな，ら旋状のスプリング及びこれに類するもの，並びに摩耗にさらされる鉄の部分に対するグリー
スの層は，さびに対する十分な保護があるとみなし，これらの部分は試験しない。
25
C 8121-1：2019
附属書A
（参考）
この規格の対象であるランプソケットの例
表A.1に記載する受金をもつ，一般照明用光源，映写用電球，投光照明用ランプ及び街路照明用ランプ
を装着する器具内用ランプソケットは，この規格の対象となる（箇条1を参照）。
なお，この一覧は，全てのランプソケットを記載してはいない。
表A.1−この規格対象ランプソケット
受金
受金シート
（IEC 60061-2参照）
（JIS C 7709-2参照）
B22d-3
7005-10A
−
BY22d
7005-17
2-14
Fa4
7005-…
−
Fc2
7005-114
2-32
G1.27，GX1.27
7005-…
−
GUX2.5d，GUY2.5d，GUZ2.5d
7005-137
−
G2.54，GX2.54
7005-…
−
G3.17
7005-…
−
G4
7005-72
2-33
GU4
7005-108
2-49
GZ4
7005-67
2-62
G5.3
7005-73
−
G5.3-4.8
7005-126
−
GU5.3
7005-109
2-50
GX5.3
7005-73A
2-51
GY5.3
7005-73B
2-57
G6.35，GX6.35，GY6.35
7005-59
2-35
GZ6.35
7005-59A
2-63
GU7
7005-113
−
GZX7d-.，GZY7d-.，GZZ7d
7005-136
−
G8.5
7005-122
2-129
G9
7005-129
2-117
G9.5
7005-70
2-37
GX9.5
7005-70A
2-52
GY9.5，GZ9.5
7005-70B
2-59
GU10
7005-121
−
GZ10
7005-120
−
G12
7005-63
2-39
GY16
7005-…
−
G17q，GX17q，GY17q
7005-45
−
G22
7005-75
2-44
G38
7005-76
2-47
26
C 8121-1：2019
表A.1−この規格対象ランプソケット（続き）
受金
受金シート
（IEC 60061-2参照）
（JIS C 7709-2参照）
PG12
7005-64
2-87
PGX12
7005-64
2-90
PG22-6.35
7005-…
−
P28s
7005-42
2-77
P30s-10.3
7005-44
2-78
P40
7005-43
−
R7s
7005-53/53A
2-100
RX7s
7005-53/53A
2-102
SX4s
7005-…
−
SY4s
7005-…
−
27
C 8121-1：2019
附属書B
（参考）
適切な金属
箇条14における，許容温度範囲内及び通常の化学的汚染の条件の下で用いる場合に，通電部品として適
切な金属材質の例を，次に記載する。ただし，これらの例示に限定しない。
− 銅合金であって，圧延板（冷間圧延状態）は58 %以上，その他のものは50 %以上の銅を含むもの。
− ステンレス鋼であって，13 %以上のクロムを含み，炭素が0.09 %以下のもの。
− 鋼であって，JIS H 8610による条件で亜鉛の電気めっきを行い，5 μm以上のめっき厚さ［JIS H 8610
に規定するISOサービスコンディションナンバー1（通常の屋内環境）以上］をもつもの。
− 鋼であって，JIS H 8617による条件でニッケル−クロムの電気めっきを行い，20 μm以上のめっき厚
さ［JIS H 8617に規定するISOサービスコンディションナンバー2（湿度の高い屋内環境）以上］を
もつもの。
− 鋼であって，JIS H 8619による条件ですずの電気めっきを行い，12 μm以上のめっき厚さ［JIS H 8619
に規定するISOサービスコンディションナンバー2（湿度の高い屋内環境）以上］をもつもの。
− 純ニッケル（99 %以上）
− 銀（90 %以上）
28
C 8121-1：2019
附属書C
（規定）
自然割れを判定するための腐食試験
試験機関は，環境保護の観点から，試験溶液，試験溶液の体積及び容器の容積に関する要求事項を変更
してもよい。このとき，試験容器は試料の体積の500倍〜1 000倍の容積をもつことが望ましく，また，試
験溶液の体積は20：1〜10：1の比率で容器の容積に割り当てることが望ましい。ただし，疑義が生じた場
合は，C.1を適用する。
C.1 試験槽
試験には，密閉することができるガラス容器を用いる。例えば，デシケータ容器又は研磨した縁及び蓋
付きの簡単なガラストラフでもよい。容器の容積は，10 L以上とする。試験空間の試験溶液の体積に対す
る比率は，20：1〜10：1を維持する。
C.2 試験溶液
溶液1 Lの調製
約0.75 Lの蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水の中に，塩化アンモニウム（NH4Cl，試薬級）107 g
を溶解し，22 ℃でpH値が10に達するのに必要とする量の30 %水酸化ナトリウム溶液［NaOH（試薬級）
及び蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水から作製したもの］を加える。異なる温度の場合は，この溶
液を表C.1に規定するpH値に調整する。
表C.1−試験溶液と温度の関係
温度
℃
試験溶液のpH
22±1
10.0±0.1
25±1
9.9±0.1
27±1
9.8±0.1
30±1
9.7±0.1
pH調整後，蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水で1 Lまで，希釈する。このとき，pH値は変化さ
せない。
いかなる場合でもpH調整中の温度は±1 ℃に保持し，pH値を±0.02で調節可能な計器を用いて，pH
測定を実施する。
試験溶液は，長期間にわたって用いてもよいが，蒸気雰囲気中のアンモニア濃度の指標となるpH値は，
少なくとも3週間ごとに確認し，必要があれば調整する。
C.3 試験手続
アンモニア蒸気の影響を妨げないように，試験槽中に試料を入れる。試料は，つるすことが望ましい。
試料は，試験溶液に浸けたり，相互に接触させたりしない。
支持物又はつり下げ装置は，アンモニア蒸気で腐食しない材料，例えば，ガラス又は磁器のような材料
を用いる。
29
C 8121-1：2019
温度変化によって結露し，試料表面に目視可能な大きさの液滴が生じると，結果の判定に大きな影響を
及ぼすため，試験は（30±1）℃で実施する。
試験に先立って，試験溶液を試験槽に入れ，（30±1）℃にする。また，試料を30 ℃に予熱しておき，
できる限り短時間で試験槽に入れる。
この時点を，試験の開始とする。
30
C 8121-1：2019
附属書D
（規定）
振り子ハンマ試験装置
この附属書には，ハンマ試験に関する情報を記載する。詳細は，基本規格であるJIS C 60068-2-75を参
照。
単位 mm
図D.1−振り子ハンマ試験装置の例
31
C 8121-1：2019
単位 mm
図D.2−取付具
32
C 8121-1：2019
附属書E
（参考）
旧規格に対して新規又はより厳しい要求事項を含む箇条
この附属書に記載する事項は，旧規格であるJIS C 8121-1:2011の規定による製品の適合性評価に対して，
再試験が必要となる可能性がある事項の詳細である。以前の評価結果によって合否判定できる場合，再試
験を必要としない場合がある。
注記 この規格はIEC 60838-1の5.1版を基にしており，旧規格は4.1版を基にしている。この間の適
合性評価に関連する規定の主な差分を抽出している。
a) 箇条15 30 kHzを超える周波数についての沿面距離及び空間距離の更新並びに制御装置からのUout
の追加。
b) 3.21，3.22，6.4及び7.2 片極印加イグニッション電圧用及び両極印加イグニッション電圧用のランプ
ソケットの区分及び表示規定を追加。
c) 7.4 表示の耐久性試験における試験手順を明確化。
d) 箇条16 黄銅製試験口金の矛盾した寸法要求値の修正。
e) 箇条16 鋼材の導電率が低いことによる接触温度の超過及び試験口金の損傷が生じる場合に，鋼製試
験口金の代わりに市販ランプのピンを用いる方法を許容。
f)
3.14から3.20，6.1，6.3及び7.2 様々な絶縁種類に対応したランプソケットにおける新しい区分，表
示規定などの追加。
g) 12.2.2 強化絶縁のランプソケットにおける耐電圧試験の要求項目の追加。
h) 箇条15 強化絶縁の要求事項などの改正。
33
C 8121-1：2019
参考文献
JIS C 7623 メタルハライドランプ−性能仕様
JIS C 7709-0 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第0部 電球類の口金・
受金及びそれらのゲージ類の総括的事項
注記 対応国際規格：IEC 60061-4，Lamp caps and holders together with gauges for the control of
interchangeability and safety−Part 4: Guidelines and general information
JIS C 7709-1 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第1部 口金
注記 対応国際規格：IEC 60061-1，Lamp caps and holders together with gauges for the control of
interchangeability and safety−Part 1: Lamp caps
JIS C 8147-2-12 ランプ制御装置−第2-12部：直流又は交流電源用放電灯電子安定器の個別要求事項（蛍
光灯電子安定器を除く）
JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ付け性
及びはんだ耐熱性試験方法
JIS C 60695-10-2 耐火性試験−電気・電子−第10-2部：異常発生熱−ボールプレッシャー試験方法
JIS H 8610 電気亜鉛めっき
JIS H 8617 ニッケルめっき及びニッケル−クロムめっき
JIS H 8619 電気すずめっき
IEC 60664-4，Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−Part 4: Consideration of
high-frequency voltage stress
IEC 61347-1，Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements
34
C 8121-1：2019
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 8121-1:2019 ランプソケット類−第1部：一般要求事項及び試験
IEC 60838-1:2017，Miscellaneous lampholders−Part 1: General requirements and tests
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3.13
−
3.13
二次回路の用語と定義
削除
項目を削除した。
二次回路という用語は本文中で使
われていないため，項目を削除し
た。IECに修正提案を行う。
5.3
この規格における一般
的な試験条件
5.3
この規格における一般的
な試験条件
変更
“rated pulse voltage”を“定格イグ
ニッション電圧”と読み替えた。
対応国際規格において，Ed.5.0まで
用いていた“rated pulse voltage”を
Ed.5.1で“rated ignition voltage”に
変更したが，この細分箇条では修正
が漏れていた。
IECに修正提案を行う。
7.2
ランプソケット及びカ
タログ等に表示すべき
事項，表現方法等
7.2
ランプソケット及びカタ
ログ等に表示すべき事
項，表現方法等
変更
“the higher pulse voltage”を“より
高いイグニッション電圧”と読み替
えた。
対応国際規格において，Ed.5.0まで
用いていた“rated pulse voltage”を
Ed.5.1で“rated ignition voltage”に
変更したが，この細分箇条では修正
が漏れていた。
IECに修正提案を行う。
2
C
8
1
2
1
-1
：
2
0
1
9
35
C 8121-1：2019
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
11.5
シェードホルダリング
及びシェードホルダリ
ングのための外ねじを
もつランプソケット
の，IEC 60399への適
合確認方法
11.5
シェードホルダリング及
びシェードホルダリング
のための外ねじをもつラ
ンプソケットの，IEC
60399への適合確認方法
追加
JISでは互換性をもつことを意図し
ている場合だけ，IEC 60399への適
合を求めることとした。
我が国では，シェードホルダリング
と同様の構造であるが，特定のラン
プソケット専用として設計された
部品を，セード等の器具附属部品の
固定手段として用いることが一般
的である。照明器具の設計的事項に
関する差異であり，IECへの提案は
不要である。
追加
対応国際規格ではゲージによって
合否判定を行うが，JISでは測定器
による判定方法を追加した。
対応国際規格の試験方法のほかに，
我が国で過去から行われてきた試
験方法でもよいことを認めた。貿易
障壁にならないため，IECへの提案
は行わない。
12.2
ランプソケットに要求
する絶縁抵抗及び耐電
圧性能
12.2
ランプソケットに要求す
る絶縁抵抗及び耐電圧性
能
追加
JISでは外部絶縁材料を金属はくで
覆う試験方法を表1内の注a)として
追加した。技術的な差異はない。
対応国際規格においては，金属はく
がランプソケットの構成部品とも
読み取れる表現になっている。IEC
に修正提案を行う。
15
表2a，
表2b
定格電圧及び耐インパ
ルスカテゴリ別の絶縁
距離
15
表2a，
表2b
定格電圧及び耐インパル
スカテゴリ別の絶縁距離
変更
空間距離にだけ適用する定格電圧
の区分を追加した。250 Vは300 V，
500 Vは600 Vにそれぞれ読み替え
ることとした。
IEC 61347-1のEd3.0 Amd1では，
左記の改正が実施された。この内容
は各ソケット規格にも水平展開さ
れる見込みであるため，今回の改正
において，先行して取り入れる。
15
表3
イグニッションパルス
電圧（等価変換ピーク
電圧を含む）に対する
最小空間距離
15
表3
イグニッションパルス電
圧又は等価ピーク電圧に
対する最小空間距離
変更
“rated pulse voltage”を“定格イグ
ニッション電圧”と読み替えた。
対応国際規格において，Ed.5.0まで
用いていた“rated pulse voltage”を
Ed.5.1で“rated ignition voltage”に
変更したが，この表では修正が漏れ
ていた。
IECに修正提案を行う。
2
C
8
1
2
1
-1
：
2
0
1
9
36
C 8121-1：2019
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
15
表3及び本
文
イグニッションパルス
電圧又は等価ピーク電
圧に対する最小空間距
離
15
表3
及び
本文
イグニッションパルス電
圧又は等価ピーク電圧に
対する最小空間距離
変更
適用部位及び試験方法の参照先を
追記することで，合否判定方法を明
確にした。
合否判定方法の明確化が目的の修
正である。IECに修正提案を行う。
17.1
感電保護を目的とした
絶縁材料の外郭部品，
及び充電部又はELV
部を所定の位置に保持
する絶縁材料部品の，
耐熱性
17.1
感電保護を目的とした絶
縁材料の外郭部品，及び
充電部又はELV部を所定
の位置に保持する絶縁材
料部品の，耐熱性
削除
対応国際規格では，へこみ深さによ
る判定方法が代替手段として規定
されているが，この規格では，この
代替手段を削除した。
JIS C 60695-10-2には，へこみ深さ
による判定は，直径による判定に比
べ再現性が劣る旨が記載されてい
るため削除した。
JIS C 60695-10-2の対応国際規格も
同様に規定されており，IECに修正
提案を行う。
附属書B
通電部品として適切な
金属材質の例
附属
書B
通電部品として適切な金
属材質の例
変更
対応国際規格では規定としている
が，この規格では参考とした。
通電部品として適切な材質の例を
示しており，規定ではなく参考とす
ることが適切である。IECに修正提
案を行う。
附属書D
振り子ハンマ試験装置
の例
附属
書D
振り子ハンマ試験装置の
例
変更
附属書内容を説明する段落を追加
し，図D.1中の注記を削除した。
注記の削除について，IECに修正提
案を行う。
附属書E
旧版に対して新設され
た箇条又はより厳しい
要求事項を含んだ箇条
を列挙している。
附属
書E
旧版に対して新設された
箇条又はより厳しい要求
事項を含んだ箇条を列挙
している。
追加
対応国際規格ではEd5.0とEd5.1と
の差異について記載している。この
規格では，対応国際規格のEd.4.1
からEd.5.1までの差異を記載した。
今回のJIS改正に伴って，対応国際
規格の複数回の修正項目を一括し
て記載したものであり，今後の対応
は不要である。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60838-1:2017，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
2
C
8
1
2
1
-1
：
2
0
1
9