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C 8121-1

:2011

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  引用規格

1

2

  用語及び定義

3

3

  一般要求事項

5

4

  一般試験条件

5

5

  分類

6

6

  表示

6

7

  感電に対する保護

8

8

  端子

9

9

  保護接地

10

10

  構造

11

11

  耐湿性,絶縁抵抗及び耐電圧

12

12

  機械的強度

13

13

  ねじ,通電部及び接続

13

14

  沿面距離及び空間距離

14

15

  耐久性

16

16

  耐熱性及び耐火性

17

17

  過度の残留応力(自然割れ)及びさび(錆)に対する抵抗力

19

附属書 A(規定)この規格の対象となるランプソケットの例

21

附属書 B(規定)適切な金属

23

附属書 C(規定)自然割れ又は腐食試験

24

附属書 D(規定)振子式衝撃試験器

26

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表

28

 


C 8121-1

:2011

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本照明

器具工業会(JLA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 8121-1:2005 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 8121

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 8121-1

  第 1 部:一般要求事項及び試験

JIS C 8121-2-1

  第 2-1 部:S14 形ランプソケットに関する安全性要求事項

JIS C 8121-2-2

  第 2-2 部:プリント回路板ベース LED モジュール用コネクタに関する安全性要求事


日本工業規格

JIS

 C

8121-1

:2011

ランプソケット類−第 1 部:一般要求事項及び試験

Miscellaneous lampholders

−Part 1: General requirements and tests

序文

この規格は,2008 年に第 4.1 版として発行された IEC 60838-1 を基とし,技術的内容を変更して作成し

た日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,器具内用を意図した様々なタイプのランプソケット,例えば,

附属書 に記載した口金を

もつ一般照明用光源,投射ランプ,投光ランプ及び街路灯ランプを用いるためのランプソケット(以下,

ランプソケットという。

の一般要求事項及びランプの安全性要求事項を評価する試験方法について規定す

る。

この規格は,照明器具一体形のランプソケットにも適用する。ただし,ランプソケットだけに要求事項

を適用する。

この規格は,外側枠及びねじ込みランプソケットのようなドームと一体形のランプソケットにも適用す

る。

このようなランプソケットは,更に JIS C 8280 の次に示す箇条によって試験する。

8.4

8.58.69.310.7,箇条 1112.212.512.612.7,箇条 1315.315.415.5 及び 15.9

蛍光灯ソケット,ねじ込みランプソケット及び差込みランプソケットに対する要求事項は,別の規格に

よる。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60838-1:2008

,Miscellaneous lampholders−Part 1: General requirements and tests(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

1.2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0920

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529:1989,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)及び

Amendment 1:1999(IDT)


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C 8121-1

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JIS C 2134

  固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法

注記  対応国際規格:IEC 60112:1979,Method for the determination of the proof and the comparative

tracking indices of solid insulating materials(IDT)

JIS C 3662

(規格群)  定格電圧 450/750 V 以下の塩化ビニル絶縁ケーブル

注記  対応国際規格:IEC 60227 (all parts),Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and

including 450/750 V(MOD)

JIS C 3663

(規格群)  定格電圧 450/750 V 以下のゴム絶縁ケーブル

注記  対応国際規格:IEC 60245 (all parts),Rubber insulated cables−Rated voltages up to and including

450/750V(MOD)

JIS C 7709

(規格群)  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性

注記  対応国際規格:IEC 60061 (all parts),Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety(MOD)

JIS C 7709-1

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性  第 1 部:口金

注記  対応国際規格:IEC 60061-1,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety. Part 1: Lamp caps(MOD)

JIS C 7709-2

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性  第 2 部:受金

注記  対応国際規格:IEC 60061-2,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety. Part 2: Lampholders(MOD)

JIS C 7709-3

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性  第 3 部:ゲージ

注記  対応国際規格:IEC 60061-3,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety. Part 3: Gauges(MOD)

JIS C 8105-1

  照明器具−第 1 部:安全性要求事項通則

注記  対応国際規格:IEC 60598-1,Luminaires−Part 1: General requirements and tests(MOD)

JIS C 8280:2011

  ねじ込みランプソケット

注記  対応国際規格:IEC 60238:2004,Edison screw lampholders 及び Amendment 1:2008(MOD)

JIS C 60068-2-20

  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T−端子付部品のはんだ付け

性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20:1979,Basic environmental testing procedures Part 2: Tests. Test T :

Soldering(MOD)

JIS C 60068-2-75:2004

  環境試験方法−電気・電子−第 2-75 部:ハンマ試験

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-75:1997,Environmental testing−Part 2-75: Tests−Test Eh: Hammer

tests(IDT)

JIS C 60664-1

  低圧系統内機器の絶縁協調−第 1 部:基本原則,要求事項及び試験

注記  対応国際規格:IEC 60664-1:1992,Insulation coordination for equipment within low-voltage

systems−Part 1: Principles, requirements and tests,Amendment 1:2000 及び Amendment 2:2002

(MOD)

JIS C 60695-2-11

  耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-11,Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire flammability test method for end-products(IDT)

JIS C 60695-11-5

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バーナ)


3

C 8121-1

:2011

試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame

test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

JIS H 8610

  電気亜鉛めっき

注記  対応国際規格:ISO 2081:1986,Metallic coatings−Electroplated coatings of zinc on iron or steel

(MOD)

JIS H 8617

  ニッケルめっき及びニッケル−クロムめっき

注記  対応国際規格:ISO 1456:2003,Metallic coatings−Electrodeposited coatings of nickel plus

chromium and of copper plus nickel plus chromium(MOD)

JIS H 8619

  電気すずめっき

注記  対応国際規格:ISO 2093:1986,Electroplated coatings of tin−Specification and test methods

(MOD)

JIS P 0001

  紙・板紙及びパルプ用語

注記  対応国際規格:ISO 4046-4:2002,Paper,board,pulps and related terms−Vocabulary−Part 4: Paper

and board grades and converted products(MOD)

JIS Z 8113

  照明用語

IEC 60352-1

,Solderless connections−Part 1: Wrapped connections−General requirements, test methods and

practical guidance

IEC 60399

,Barrel thread for lampholders with shade holder ring

2

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8113 によるほか,次による。

2.1

定格電圧(rated voltage)

ランプソケットが意図する最大動作電圧を示すために,製造業者が指定する電圧。

2.2

動作電圧(working voltage)

ランプが正常状態で動作しているとき及びランプを取り外したときに,一時的なものを除いて任意の絶

縁体に加わることが想定される最大実効値電圧。

2.3

定格電流(rated current)

ランプソケットが意図する最大電流を示すために,製造業者が指定する電流。

2.4

器具内用ランプソケット(lampholder for building-in)

照明器具内又は追加外郭類に組み込むように設計したランプソケット。

2.4.1

外郭のないランプソケット(unenclosed lampholder)

感電保護に関してこの規格の要求事項を満たすように,追加手段,例えば,外郭などを必要とするよう

に設計した器具内用ランプソケット。


4

C 8121-1

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2.4.2

外郭付きランプソケット(enclosed lampholder)

感電保護に関して,ソケット自身がこの規格の要求を満たすように設計した器具内用ランプソケット。

2.5

定格動作温度(rated operating temperature)

ランプソケットの設計で想定している最高温度。

2.6

定格パルス電圧(rated pulse voltage)

ランプソケットが耐える最高パルスピーク電圧。

2.7

ランプコネクタ(lamp connectors)

ランプは支持することはないが,電気的接触を備えるために特別に設計した組になった接触子。

2.8

形式試験(type test)

関連規格の要求事項に対する製品設計の適合性を判定する目的で行う形式試験試料に行う,一つ又は一

連の試験。

2.9

形式試験試料(type test sample)

形式試験のために,製造業者又は責任ある販売業者が提出した,1 個又はそれ以上の類似見本から成る

試料。

2.10

充電部(live part)

感電を引き起こす可能性がある導電部。

2.11

耐インパルスカテゴリ,過電圧カテゴリ(impulse withstand category)

過渡的な過電圧状態を定めている数字。

注記  JIS C 60664-1 では,耐インパルスカテゴリ分類として次の I,II,III 及び IV を規定している。

a)

耐インパルスカテゴリ分類の目的  耐インパルスカテゴリは,サービスの継続性及び故障の

許容可能な危険性について予測することが必要なときに機器の使用等級を区別するために用

いる。

機器の耐インパルスレベルを選定し,過電圧抑制を備えることによって,事故発生確率を

許容レベルまで低減させ,設備全体の絶縁協調を達成することができる。

耐インパルスカテゴリの数字が大きいほど,機器の耐インパルス性が高いことを示してお

り,また,過電圧抑制のための方法のより幅広い選択ができる。

耐インパルスカテゴリの概念は,商用電源から直接充電される機器に対して用いる。

b)

耐インパルスカテゴリの説明  耐インパルスカテゴリ I の機器は,建築物の固定電気設備に

接続することを意図している機器である。規定のレベルにまで過渡過電圧を抑制するために,

機器の外部(固定設備中又は固定設備と機器との間)に保護手段を用いる。

耐インパルスカテゴリ II の機器は,建築物の固定電気設備に接続する機器である。

耐インパルスカテゴリ III の機器は,固定電気設備の一部となる機器及びより高い有用性を


5

C 8121-1

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期待している機器である。

耐インパルスカテゴリ IV の機器は,建築物の電気設備の引込口部又はその近傍で使用し,

主分電盤の電源側で使用する機器である。

2.12

一次回路(primary circuit)

商用電源に直接接続した回路。

一次回路には,例えば,商用電源への接続手段,変圧器の一次巻線,モータ,その他の負荷装置などを

含む。

2.13

二次回路(secondary circuit)

一次回路に直接接続せず,変圧器,コンバータ若しくは類似の絶縁装置,又は電池から給電される回路。

単巻変圧器は一次回路に直接接続されるが,一次回路の途中から引き出したタップは二次回路とみなす。

注記  このような回路では,商用電源の過渡電圧は,一次巻線によって減衰する。さらに,誘導性安

定器も商用電源の過渡電圧を減衰する。したがって,一次回路の後又は誘導性安定器の後に設

置された機器は,一段階下の耐インパルスカテゴリ,すなわち,耐インパルスカテゴリ II を適

用できる。

3

一般要求事項

ランプソケットは,通常使用で確実に機能し,かつ,人及び周囲に危険を生じない設計及び構造でなけ

ればならない。

一般に合否は,規定する全ての試験を行って判定する。

4

一般試験条件

4.1

この規格による試験は,形式試験とする。

注記  この規格の要求事項及び許容差は,形式試験の目的で提出される試料の試験に関連する。試料

の適合性は,製造業者の全製品がこの安全規格に適合することを保証するものではない。形式

試験に加え,製品のこの規格への適合性は,製造業者の責任である。定期検査及び品質保証も

製造業者の責任に含めてよい。

詳細は,JIS C 7709-0 を参照(製造工程中での適合試験の指針の追加を準備中である。

4.2

特に規定がない場合,試験は,

(20±5)℃の周囲温度及び通常使用の最も不利な位置に,ランプソ

ケットを置いて行う。

ランプソケットが種類の異なるランプを受け入れることをランプソケット製造業者が宣言する場合,規

定するそれぞれの要求事項に適合しなければならない。

合否は,4.3 に従った試料の組合せによって判定する。

種類の異なるランプを順番に取り付けることを製造業者が認める場合,試料の組合せの一つだけを全て

の要求事項の適合の判定に使用する。

全ての試験は,最も重要なランプソケット及びゲージを使用し,最も負担になる順序で行う。

4.3

試験及び検査は,箇条番号の順に次の数量で行う。

−  両口金ランプに対し,10 組のランプソケット

注記 1  1 組のランプソケットを同一のランプソケットで構成する場合,1 組のランプソケットが必


6

C 8121-1

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要となる箇条 710.210.3,箇条 12,箇条 15 及び 16.6 を除いて,全ての試験は,1 組の

代わりに 1 個のランプソケットで行えば十分である。

−  片口金ランプに対し,10 個のランプソケット

次の箇条によって,行う。

−  3 組又は 3 個のランプソケット:箇条 3∼箇条 148.2 を除く。

注記 2  8.2 の試験は,関連する規格ごとに,規定された数量で行われる。

−  3 組又は 3 個のランプソケット:箇条 15 及び 16.6

−  1 組又は 1 個のランプソケット:16.1

−  1 組又は 1 個のランプソケット:16.3

−  1 組又は 1 個のランプソケット:16.4

−  1 組又は 1 個のランプソケット:16.5 及び箇条 17

これらのランプソケットとともに,製造業者の取扱説明書(6.3 参照)を提供しなければならない。

取扱説明書に従ったとき,口金を挿入した状態でだけランプソケットの定格パルス電圧を規定している

場合,適切な口金を試料とともに提出する。これに関連した試験は,口金を挿入した状態で行う。

4.4

全ての試料が 4.3 に規定する全ての試験に合格する場合,ランプソケットはこの規格に適合するとみ

なす。

1 個の試料が一つの試験に不合格の場合,4.3 で必要とする数のその他の試料を用いて,その試験及びそ

の試験の結果に影響する可能性のある先行する試験を繰り返し,全ての試料がその再試験及びそれに続く

試験に適合しなければならない。それらの試験で,2 個以上の不合格があれば,ランプソケットはこの規

格に不適合とみなす。

試験申請者は,最初に提出する 1 組の試料の 1 個が不合格の場合に要求される追加の 1 組の試料を最初

の 1 組の試料とともに提出してもよい。試験機関は,更なる要求なしに追加の 1 組の試料を試験し,更に

1 個が不合格の場合だけ不適合とする。

追加の 1 組の試料が同時に提出されない場合,最初の 1 組の試料の不合格をもって不適合とみなす。

5

分類

ランプソケットは,次のように分類する。

5.1

取付状態による分類は,次による。

−  外郭のないランプソケット

−  外郭付きランプソケット

5.2

耐熱性による分類は,次による。

− 80 ℃以下の定格動作温度用のランプソケット(以下,T マークのないランプソケットという。

− 80 ℃を超える定格動作温度用のランプソケット(以下,T マーク付きランプソケットという。

動作温度の測定点は,ランプロ金及び受金が電気的接続する範囲とする。ランプソケットの絶縁物,端

子部及び口出線の耐熱性が動作温度とは異なる場合,これらの値を製造業者のカタログに明示しなければ

ならない。この場合,ランプソケットを照明器具内へ適切に組み込むか,又は適切な外郭を追加した後,

該当する規格に規定する試験によってその適合性を評価する。

6

表示

6.1

ランプソケットは,次の内容を表示しなければならない。


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C 8121-1

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a)

製造業者名(商標,製造業者の識別マーク,又は責任のある販売業者名でもよい。

b)

ランプソケット独自のカタログ番号又は識別表示。

注記  識別表示には,製造業者カタログ又は類似した宣伝用印刷物で参照する,そのランプソケッ

トが同一物とみなせる番号,字体,色,その他を含んでもよい。例えば,ランプコネクタ及

び保持ばねの組立て部品のように,ランプソケットの組合せ部品がランプソケットの指定に

よって決まる場合は,その組合せは,明確に識別できることが望ましい。

合否は,目視検査によって判定する。

6.2

6.1

の表示に加えて,次の情報をランプソケットに表示するか,又は製造業者カタログ若しくはこれ

に類したものに記載する。

a)

定格電圧[ボルト(V)で表示]

,及び適用する場合,定格パルス電圧[キロボルト(kV)で表示]

注記 1  幾つかのランプソケットは,500 V を超える定格電圧を表示している。これは定格電圧を

介して許容するパルス電圧を表現する初期の方法である。このようなランプソケットの沿

面距離及び空間距離については,JIS C 8105-1 参照。

b)

定格電流[アンペア(A)で表示]

c)

定格動作温度が 80  ℃を超える場合,定格動作温度を示す“T”を 10  ℃刻みで表示する。

d)

端子に対する接続線の寸法

記号を用いる場合は,次による。

電気的定格に対しては,次の記号を用いる。

−  電圧:V

−  電流:A

−  電力:W

−  パルス電圧:kV

注記 2  別の方法として,電圧及び電流の定格に数字だけを用いてもよい。定格電流の数字は定格

電圧の数字の前又は上に表示し,斜線又は直線によって定格電圧と分離して表示する。し

たがって,電流及び電圧の表示は次のようになる。

2A  250V,2/250 又は

250

2

定格パルス電圧は,値を先に書き,その後に記号を書く(

5 kV

定格動作温度は,記号

T

の後に,その値を℃で表示する(

T300

接続線の断面積の適正値又は範囲を平方ミリメートルで表す場合には,値の後ろに小さな正方形を書く

0.5

で表示)

。導体が単線の場合は,導体の直径をミリメートル単位の数値で表し,φと表示して

もよい(は直径を示す。

合否は,目視検査によって判定する。

この規格によるランプソケットでは,通常,耐インパルスカテゴリ

II

の絶縁距離を適用する。より高い

有用性を期待する機器のランプソケットは,耐インパルスカテゴリ

III

の絶縁距離を適用してもよい。この

情報は,製造業者のカタログ又はこれに類するものに記載しなければならない。

二重絶縁又は強化絶縁に対する耐電圧試験に合格し,二重絶縁又は強化絶縁と同等の沿面距離及び空間

距離をもつランプソケットは,通常使用で手が触れる位置にランプソケットがある照明器具の使用におい

ても,十分な保護レベルがある。このようなランプソケットを,クラス

II

照明器具に使用するランプソケ

ットとする。この情報は,製造業者のカタログ又はこれに類するものに記載しなければならない。


8

C 8121-1

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注記 3

二重絶縁又は強化絶縁に対する耐電圧試験の試験電圧と同様に,沿面距離及び空間距離の値

は,JIS C 8105-1 参照。

可触となるランプソケット表面に対して十分な沿面距離及び空間距離を確保するために,追加部材を用

いてもよい。照明器具にランプソケットを取り付けたときだけ,十分な沿面距離及び空間距離を確保して

もよい。関連情報は,製造業者のカタログ又はこれに類するものに記載することが望ましい。

6.3

ランプソケット製造業者又は責任のある販売業者が提供する取扱説明書には,接続器又はランプソ

ケットの正しい取付け方及び使用方法に関する全ての情報を記載しなければならない。

注記

情報は,製造業者又は責任のある販売業者のカタログの一部に記載してもよい。

合否は,目視検査によって判定する。

6.4

表示は,耐久性があり,容易に読めなければならない。

合否は,目視検査及び表示部を水に浸した布で

15

秒間軽くこすり,更に石油成分を浸した布で

15

秒間

軽くこすり,表示が消えないか試験して判定する。

試験後,その表示は,判読できなければならない。

注記

使用する石油成分は,沸点約

65

℃,乾点約

69

℃及び密度約

0.68 g/cm

3

で,カウリ・ブタノー

ル値

29

及び芳香族成分容量分率

0.1 %

以下のヘキサン溶液から成るものが望ましい。

7

感電に対する保護

7.1

外郭付きランプソケットは,通常の使用状態に組み込んだり,取り付けて配線したりしたときに,

次に記載する状態で,充電部が可触にならない構造でなければならない。

ランプなしの状態

適合するランプを取り付けた状態

ランプの取付け及び取外しのとき

B22d-3

BY22d

G22

G38

P28s

P30s

P30d

及び

P40

のランプソケットに対しては,上記の要求事

項は,適合ランプ取付け後の状態だけに適用する。

充電部との接触の最初に,ランプ(

2

本以上のピンをもつ口金の場合)の片側のピンだけの挿入ができ

てはならない。

G22

及び

G38

ランプソケットには,この要求事項は適用しない。

合否は,JIS C 0920 に規定するテストフィンガによって判定する。充電部に対するテストフィンガの接

触を確認するために電気的表示計を用い,

10 N

以下の力で可能な全ての箇所にテストフィンガを当てる。

電圧は,

40 V

以上が望ましい。

ランプソケットは,上記の試験を行う前に,取付可能で最も不利な寸法の導体をつなぎ,取付面又は同

等のものに通常使用状態で据え付けておく。

外郭のないランプソケットは,照明器具内へ適切に組み込むか,又は適切な外郭を追加した後,該当す

る規格に従って試験する。

7.2

両口金ランプ用ランプソケットは,通常の使用状態に組み込み,取り付けて配線したときに,次に

規定する状態で充電部が可触にならない構造でなければならない。

ランプなしの状態

適合するランプを取り付けた状態

ランプの取付け及び取外しの場合

R7s

RX7s

及び

Fc2

の場合,いずれの場合も試験は,片側の受金のばね力に対抗して行うので,ランプ


9

C 8121-1

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の取付け及び取外しの場合の模擬試験を行うことは困難である。この状態では,評価に必要な再現性は得

られない。したがって,試験は,ランプ取付け後の状態だけで行う。

合否は,JIS C 7709 の規格群に規定する試験方法によって行う。JIS C 7709 の規格群に試験方法を規定

していない場合,テストフィンガによる試験によって判定する。

8

端子

8.1

ランプソケットの接続方法は,次のいずれか一つとする。

ねじ締め式端子

ねじなし端子

平形差込み端子,又は丸形差込み端子

ワイヤ巻付け用端子

はんだ用端子

口出線(端末線)付き

端子ねじ及びナットは,JIS のメートルねじでなければならない。

ねじなし端子付きランプソケットは,照明器具及び装置の製造業者に販売する場合を除き,非可とう導

体(単線,又はより線)及び可とうケーブル又はコードの両方とも同等に満足する端子を備えていなけれ

ばならない。

規定した接続方法と同等の性能をもつ場合,上記の接続方法以外の接続方法でもよい。これら接続方法

の例としては,ランプソケットを組み込むときに照明器具の金属部品に電気的接続をする低電圧ハロゲン

ランプ用ソケットがある。

合否は,8.2 又は 8.3 の試験によって判定する。

8.2

端子は,次の要求事項に適合しなければならない。

ねじ締め式端子は,JIS C 8105-1 

第 14 章(ねじ締め式端子)に適合しなければならない。

ねじなし端子は,JIS C 8105-1 

第 15 章(ねじなし端子及び電気接続)に適合しなければならない。

平形差込み端子又は丸形差込み端子は,JIS C 8105-1 

第 15 章に適合しなければならない。

ワイヤ巻付け用端子は,IEC 60352-1 に適合しなければならない。ワイヤ巻付け方式は,内部配線用

の単線だけに適用する。

はんだ用端子は,良好なはんだ付け性の要求事項に適合しなければならない。適切な要求事項は,JIS 

C 60068-2-20

を参照する。

口出線(端末線)は,8.3 の要求事項に適合しなければならない。

T

マーク付きランプソケットの端子は,ランプソケット製造業者による指定がない場合には,定格動作

温度で試験する。

ランプソケットを組み込むときに照明器具の金属部品に電気的接続をする低電圧ハロゲンランプ用ソケ

ットは,照明器具製造業者の使用に限定し,小売販売向けとはしない。

確実な装着及び操作の条件,特にランプソケットの照明器具への取付けのための使用材料,必要寸法及

び公差の制限については,ランプソケット製造業者又は責任ある販売業者の文書に記載しなければならな

い。

ランプソケットを組み込むときに照明器具の金属部品に電気的接続をするランプソケットの接触子は,

JIS C 8105-1

第 15 章の要求事項に適合しなければならない。

合否は,関連する試験によって判定する。


10

C 8121-1

:2011

8.3

ランプソケットへの口出線(端末線)の接続は,はんだ,溶接,かしめ又は他の同等以上の方法で

行わなければならない。

口出線は,絶縁電線でなければならない。口出線の絶縁は,JIS C 3662 の規格群及び JIS C 3663 の規格

群に規定する機械的及び電気的性能と同等以上,又は JIS C 8105-1 の 5.3(内部配線)の関連要求事項に

適合しなければならない。

口出線の自由側先端部の絶縁は,

がしてもよい。

ランプソケットへの口出線の固定は,通常の使用状態で発生する機械的応力に耐えなければならない。

合否は,目視及び箇条 15 の試験後,同じ

3

個の試料で,次の試験によって判定する。

各口出線に

20 N

の引張り力を加える。引張り力は,徐々に加え,最も不利な方向で

1

分間加える。試験

中,口出線は,固定状態から動かないのが望ましい。ただし,組立指示上,許されない引張り方向につい

ては,試験しないでよい。

試験後,ランプソケットにこの規格の意図を外れるような損傷があってはならない。

9

保護接地

9.1

保護接地を口出線以外によって行うランプソケットは,一つ以上の保護接地端子を設けなければな

らない。

合否は,目視検査によって判定する。

注記

保護接地端子付き又は口出線方式でないもので,保護接地をしなければならないランプソケッ

トは,小売販売用ではない。

9.2

保護接地端子付きランプソケットの,絶縁破壊したときに充電部となる可触金属部は,永久的かつ

確実に保護接地端子に接続しなければならない。

保護接地端子のないランプソケットの,絶縁破壊したときに充電部となる可触金属部は,確実に保護接

地を施せるようにしなければならない。

二重絶縁又は強化絶縁によって充電部から遮蔽していない場合は,外部金属部との間で保護接地の連続

性がなければならない。

合否は,次の試験によって判定する。

a

)

保護接地端子付きランプソケットでは,端子部に適合最小断面積の非可とう電線を接続する。

b

)

11.2.2

の耐電圧試験後,直ちに,保護接地端子部と外部金属部との間の抵抗を測る。保護接地端子付

きのランプソケットの場合は,保護接地端子から導体が出る点と外部金属部との間で測る。

c

)

保護接地端子がないランプソケットの場合は,照明器具に保護接地するランプソケット部と外部金属

部との間で測る。

無負荷電圧が

12 V

以下の電源から供給した,

10 A

以上の電流を

1

分間,保護接地端子又は保護接地接

続と各可触金属部分との間に順次に流す。

保護接地端子又は保護接地接続と可触金属部との間の電圧降下を測定し,その抵抗値を電流及び電圧降

下から計算する。いかなる場合にも,抵抗値は,

0.1 Ω

を超えてはならない。

注記

この要求事項の目的は,口金又はカバーに固定する絶縁した小さい金属ねじなどは,絶縁破壊

の場合に,可触充電部になるとはみなさないためである。

9.3

保護接地端子は,箇条 の要求事項に適合しなければならない。

保護接地端子は,偶発的な緩みが生じないように適切に固定し,ねじ締め式端子,及びねじなし端子は

意図的に行う場合を除き,手で緩めることができてはならない。


11

C 8121-1

:2011

合否は,目視及び箇条 の試験によって判定する。

注記

一般に通電端子によく用いる設計の方法に従えば,

(この規格の要求事項に適合するための)後

述の要求事項に適合する十分な弾力性が得られる。その他の設計では不用意に外れないような,

適切な弾力性のある部品を用いるなど特殊な準備が必要となる場合がある。

9.4

保護接地端子の金属は,保護接地導体の銅との接触で起きる腐食の危険性のないものでなければな

らない。

保護接地端子のねじ及び本体は,黄銅又は耐腐食性が同等以上の他の金属でなければならない。また,

その接触面は,裸金属でなければならない。

合否は,目視検査によって判定する。

注記

腐食の危険性は,銅とアルミニウムとを接触させたときに特に大きくなる。

9.5

締付けねじを含むコードの固定用の金属は,保護接地回路から絶縁しなければならない。

合否は,目視検査によって判定する。

10

構造

10.1

木材,綿,絹,紙及び類似の吸湿材料は,適切に含浸しない場合には,絶縁材料とはみなさない。

ラッカー及びエナメルは,絶縁材料とはみなさない。

合否は,目視検査によって判定する。

10.2

ランプソケットは,ランプを容易に差し込み,取り外すことができ,温度変化又は振動によって緩

むことのない構造でなければならない。

ランプソケットの寸法は,JIS C 7709-2 に寸法規定が存在する場合,それに適合しなければならない。

合否は,JIS C 7709-2 及び 10.4 の試験によって判定する。

10.3

 R7s

及び

RX7s

ランプソケットにおいて,接点材質を銀と表示するものの接点部の厚さは,

0.25 mm

以上でなければならない。

合否は,寸法測定によって判定する。

注記

接点部の厚さは,

0.1 mm

の目盛をもつ拡大鏡(約

6

倍の倍率)を用いて測定してもよい。接点

を切断して,銀の厚さを測定することが必要になる場合がある。

10.4

接触片及び他の通電部は,過度の温度上昇を防止するような構造でなければならない。

合否は,次の試験によって判定する。

公称寸法の試験用口金を,そのランプソケットに適合する最大断面積の導体を接続したランプソケット

に差し込み,接触片を橋絡する。

注記 1

口金がキー機能だけをもつ場合,キーをもつ試験用口金を使用する必要はない。

注記 2

公称値は,通常,中央値である。

ランプ受金の場合は,ルーズコンタクトピンを使用することが望ましい。

両口金ランプ用ソケットの場合,両端部が電気的に接続しているダミーランプを使用する。このダミー

ランプが実際のランプの代わりとなる。

多接点のランプソケットには,試験用口金の適切な接点を差し込み,定格電流を通電する。

試験用口金接点は,黄銅材など優れた導電性をもつ材料であることが望ましい。ダミーランプのバルブ

部分は,絶縁材料によって保護することが望ましい。

接点は,試験を行う前に,注意して清掃し,磨かなければならない。

ランプソケットは,定格電流の

1.25

倍の電流を

1

時間通電する。


12

C 8121-1

:2011

接点の温度上昇は,

45 K

を超えてはならない。温度の測定は,溶解粒子又は熱電対を使用し,温度計で

測定してはならない。

注記

周囲温度が

20

℃に等しい条件では,蜜ろうのペレット(直径

3 mm

,溶解温度

65

℃)を溶解

粒子として用いてもよい。

10.5

シェードホルダリング及びシェードホルダリングのための外ねじをもつランプソケットは,IEC 

60399

による。

合否は,IEC 60399 のゲージによって判定する。

11

耐湿性,絶縁抵抗及び耐電圧

11.1

ランプソケットは,耐湿性をもたなければならない。

合否は,次によって判定する。

耐湿試験は,相対湿度

91 %

95 %

に維持した恒湿槽の中で行う。試験品を置く恒湿槽内の温度は,

20

30

℃の間の任意の温度 t±

1

℃に維持する。

恒湿槽に入れる前に試験品を t

℃∼

(

t

4)

℃の温度にする。

試験品を恒湿槽に

2

日間(

48

時間)入れておく。

試験後,ランプソケットにこの規格で意図する損傷があってはならない。

11.2

ランプソケットの次の箇所の絶縁抵抗及び耐電圧は,適切でなければならない。

異極充電部間

充電部と取付けねじを含む外部金属部との間

合否は,ランプソケットが規定温度状態となっている恒湿槽又は恒湿室において,耐湿試験後,直ちに

11.2.1

の絶縁抵抗の測定及び 11.2.2 の耐電圧試験によって判定する。

注記

外郭のないランプソケットは,照明器具内へ適切に組み込むか,又は適切な外郭を追加して該

当する規格に従って試験した後,充電部と外部金属部との間の絶縁抵抗の測定及び耐電圧試験

を行う。

11.2.1

絶縁抵抗は,耐湿試験後直ちに約

500 V

の直流電圧を印加し,

1

分後に測定する。絶縁抵抗を

表 1

に示す各部分間で連続的に測定し,その値は

表 の値以上でなければならない。

表 1−絶縁抵抗の最小値

絶縁抵抗の最小値

MΩ

試験箇所

定格電圧 50 V 以下のもの

定格電圧 50 V 超えるもの

異極充電部間 1

2

充電部一括と保護接地する外部金属部との間

− 2

充電部一括と取付けねじを含む保護接地しない外
部金属又は絶縁材料を覆っている金属はくとの間

1 4

11.2.2

耐電圧試験は,絶縁抵抗測定後直ちに行う。

試験電圧を絶縁抵抗の測定と同じ部分に印加する。

周波数

50 Hz

又は

60 Hz

のほぼ正弦波の交流で,次の実効電圧を

1

分間印加する。

ランプソケットの定格電圧

50 V

以下の場合,試験電圧は,

500 V

ランプソケットのランプ接触片間の試験電圧は,動作電圧の

2

倍の電圧。

上記以外の全ての場合の試験電圧は,

2

U

1 000

V

は,定格電圧)

始めに規定の半分以下の電圧を印加し,その後速やかに規定の電圧に上昇させる。


13

C 8121-1

:2011

試験中にせん(閃)絡又は絶縁破壊が生じてはならない。

注記

パルス電圧に対応する絶縁距離を考慮した耐電圧試験の要求事項は,検討中である。

12

機械的強度

ランプソケットは,十分な機械的強度がなければならない。

外郭表面の導電性の有無にかかわらず,外郭部分の機械的強度は,JIS C 60068-2-75 に規定する振り子

ハンマ試験装置を用いて,次によって判定する[JIS C 60068-2-75 の 4.(試験

Eha

:振り子ハンマ)を参

照。

a

)

取付方法  JIS C 60068-2-75 の規定による。

一対で組み合わせて使用するランプソケットは,適切な支持具に固定する。

ランプコネクタは,支持物をあてがって保持する。

注記

円筒形でないランプコネクタの場合,支持物に平行な軸の状態は,適切な松材の詰め木を用

いて保持してもよい。

b

)

落下高さ  衝撃素子は,表 1A に示す高さの一つから落下させる。

表 1A−衝撃素子落下高さ

単位  mm

材質

落下の高さ

セラミック製部分 100±1

他の材料製部分 150±1.5

c

)

衝突回数  外郭部分の表面の上で均等に分割した点にそれぞれ

4

回衝撃を加える。

d

)

事前調整  適用しない。

e

)

初期測定  適用しない。

f

)

姿勢及び衝突位置  c

)

による。

g

)

動作状態及び機能の監視  試料は,衝突の間,動作させてはならない。

h

)

合否判定基準  試験後,試料にはこの規格の意図する重大な損傷があってはならない。特に,次によ

る。

1

)

充電部は,可触になってはならない。

箇条 14 に規定する沿面距離及び空間距離を短くしないようなランプソケットの損傷は,無視する。

また,感電保護及び水の浸入に対する保護に悪影響を及ぼさない小さな欠けも無視する。

2

)

肉眼で見えない割れ及び繊維強化樹脂成形品などの表面の割れは,無視する。

ランプソケットの一部分がなくてもランプソケットがこの規格に適合している場合,ランプソケ

ットのその他の部分の表面の孔及び割れは,無視する。

i

)

後処理  適用しない。

j

)

最終測定  h

)

による。

注記

照明器具又はその他の機器に使用するランプソケットの機械的強度は,JIS C 60068-2-75 

規定するスプリングハンマ試験装置を用いて試験してもよい。JIS C 8105-1 

表 4.3(衝撃エ

ネルギー及びスプリング圧縮長)では,衝撃試験のエネルギーは,構成材料及び照明器具の

種類によって

0.2 N

m

から

0.7 N

m

までの範囲で規定している。

13

ねじ,通電部及び接続


14

C 8121-1

:2011

ねじ,通電部及び機械的接続(これらが故障した場合,ランプソケットの安全性を損なうおそれがある

もの)は,通常使用中に発生する機械的応力に耐えなければならない。

合否は,目視検査並びに JIS C 8105-1 の 4.11(電気的接続及び通電部)及び 4.12(ねじ,機械的接続及

びグランド)で規定する試験によって判定する。

注記

許容温度範囲内及び通常の化学的汚染の条件の下で使用する場合に,機械的強度,導電率及び

耐食性の観点から,通電部品として適切な材質の例を

附属書 に示す。

14

沿面距離及び空間距離

充電部及び近傍の金属部は,適切に空間を設けなければならない。沿面距離及び空間距離は,

表 2a 及び

表 2b に示す値以上でなければならない。

注記

表 2a に規定する距離は,JIS C 60664-1 の耐インパルスカテゴリ(過電圧カテゴリ)

II

の分類

機器に適用し,また,

表 2b に規定する距離は,JIS C 60664-1 の耐インパルスカテゴリ(過電

圧カテゴリ)

III

の分類機器に適用し,いずれの表も,汚損度

2

(非導電性の汚損は発生するが,

たまたま結露による一時的に導電性が引き起こされることが予測される。

)を適用する。その他

の耐インパルスカテゴリ及びより高い汚損度に対する情報は,JIS C 60664-1 を参照する。

この箇条で示す沿面距離及び空間距離は,絶対的な最小値であることに注意する。

表 2a 及び表 2b に示す電圧は,定格電圧であり,始動電圧ではない。

表 2a−正弦波交流(50 Hz 又は 60 Hz)電圧に対する最小距離−

耐インパルスカテゴリ II(過電圧カテゴリ II

単位  mm

定格電圧

距離

50(V)

150(V) 250(V) 500(V)

1  異極充電部間 
2  充電部と,カバーをランプソケットに固定するねじ,若しくは
ランプソケット

a)

を支持物に固定するねじ,又は装置を含めた外

部金属部との間,並びに充電部とランプソケットに永久的に固定
した絶縁材料の部品の外面との間

−  沿面距離 

絶縁材料  PTI

b)

  ≧600

          PTI

b)

  <600

−  空間距離

 
 
 
 
 

0.6 
1.2 
0.2

 
 
 
 
 

1.2 
1.6 
1.2

 
 
 
 
 

1.5 
2.5 
1.5

 
 
 
 
 



3

3  充電部と取付け面との間,又は取付けが不十分な金属カバーが
あり,最も不利な状態で 2 に適合しないおそれがある場合には,
充電部とカバーとの間 
−  空間距離

 
 

0.6

 
 

1.2

 
 

1.5

 
 

3

この表に記載した電圧の間の定格電圧に対する絶縁距離は,直線補間法によって求めてもよい。25 V 未満の定格

電圧に対しては,11.2.2 の耐電圧試験にて十分とみなすため,規定していない。 

a)

  ランプソケットの接触片と受口面(基準面)との距離は,関連する JIS C 7709-2 による。

b)

 PTI(保証トラッキング指数)は,JIS C 2134 によるほか,次による。

−  電圧を加えない部分又は接地を意図しない部分の沿面距離の場合,トラッキングが発生しないときは,

(実

際の PTI の値に関係なく)PTI 600 以上の材料に対する値を全ての材料に適用する。

−  動作電圧を印加する時間が 60 秒未満の部分の沿面距離は,PTI 600 以上の材料に対する値を全ての材料に

適用する。

−  ほこり又は湿気による汚損が生じにくい部分の沿面距離は,

(実際の PTI の値に関係なく)PTI 600 以上の

材料に対する値を全ての材料に適用する。


15

C 8121-1

:2011

表 2b−正弦波交流(50 Hz 又は 60 Hz)電圧に対する最小距離−

耐インパルスカテゴリ III(過電圧カテゴリ III

単位  mm

定格電圧

距離

50(V)

150(V) 250(V) 500(V)

1  異極充電部間の沿面距離及び空間距離 
2  充電部と,カバーをランプソケットに固定するねじ,若しくは
ランプソケット

a)

を支持物に固定するねじ,又は装置を含めた外

部金属部との間,及び充電部とランプソケットに永久的に固定し
た絶縁材料の部品の外面との間は,次による。

−  沿面距離 

絶縁材料  PTI

b)

  ≧600

          PTI

b)

  <600

−  空間距離

0.6

 
 
 
 

0.6 
1.2 
0.2

1.2

 
 
 
 

1.5 
1.6 
1.5

1.5

 
 
 
 



3

3

 
 
 
 



4

3  充電部と取付け面との間,又は取付けが不十分な金属カバーが
あり,最も不利な状態で 2 に適合しないおそれがある場合には,
充電部とカバーとの間は,次による。 
−  空間距離

 
 

0.6

 
 

1.5

 
 

3

 
 

4

この表に記載した電圧の間の定格電圧に対する絶縁距離は,直線補間法によって求めてもよい。25 V 未満の定格

電圧に対しては,11.2.2 の耐電圧試験にて十分とみなすため,規定していない。 

a)

  ランプソケットの接触片と受口面(基準面)との距離は,関連する JIS C 7709-2 による。

b)

 PTI(保証トラッキング指数)は,JIS C 2134 によるほか,次による。

−  電圧を加えない部分又は接地を意図しない部分の沿面距離の場合,トラッキングが発生しないときは,

(実

際の PTI の値に関係なく)PTI 600 以上の材料に対する値を全ての材料に適用する。

−  動作電圧を印加する時間が 60 秒未満の部分の沿面距離は,PTI 600 以上の材料に対する値を全ての材料に

適用する。

−  ほこり又は湿気による汚損が生じにくい部分の沿面距離は,

(実際の PTI の値に関係なく)PTI 600 以上の

材料に対する値を全ての材料に適用する。

ただし,接触片とランプソケット表面(基準面)との間の距離は,要求がある場合,JIS C 7709-2 の該

当する受金シートによる。

非正弦波パルス電圧の場合は,空間距離は,

表 に示す値以上にしなければならない。

表 3−非正弦波パルス電圧に対する最小距離

定格パルス電圧(波高値)

kV 2 2.5 3 4

5

6

8

10

12

15

20

25

30 40 50 60 80 100

空間距離

mm 1 1.5 2 3

4 5.5

8

11

14

18

25

33

40 60 75 90 130 170

表 の中の空間距離は,JIS C 60664-1 から得られる(不平等電界条件)。正弦波電圧及び非正弦波パル

ス電圧の両方を印加する場合,最小距離は,

表 2a,表 2b 又は表 に規定する大きい値以上でなければな

らない。

安全性に影響のない空間距離(例えば,接触部間の距離)は,より緩和された電界条件から導いてもよ

いが,この場合でも平等電界(JIS C 60664-1 参照)での値が絶対最小値である。

合否は,ランプソケットの定格パルス電圧を用いる試験によって判定する。電圧低下があってはならな

い。

沿面距離は,最小の空間距離以上でなければならない。


16

C 8121-1

:2011

15

耐久性

ランプソケットは,ランプ接点との良好な電気的接触を維持しなければならない。

合否は,耐久試験によって判定する。

JIS

に準拠する市販のランプの口金をランプソケットに

10

回抜き挿しする。

10.4

に規定する試験口金と同じ寸法の鋼製の試験口金を挿入する。組み合わせた一対のランプソケット

の場合は,ダミーランプは保護のない鋼製のダミーランプに置き換える。

その後,ランプソケットを恒温槽内に置く。

温度が安定した後,定格電流の

1.1

倍の電流を流しながら,定格動作温度の測定点が

(90

±

5)

℃,又は

T

マーク付きランプソケットは

[(

T

10)

±

5]

℃に達するように槽内温度を調節する。

照明器具一体形のランプソケットの場合,この温度は,JIS C 8105-1 の 12.4.2(合否)で規定する動作条

件で測定した値に

10 K

(許容差±

5

℃)を加えた値に置き換える。

この温度に到達して維持した後,ランプソケットは,その状態下に

48

時間置く。

この時間が経過した後,

ランプソケットを恒温槽から取り出し,

試験口金又はダミーランプを取り外し,

24

時間冷却する。

試験の間,ランプソケットは,特に次に示す観点から,継続使用に対して悪影響を及ぼすいかなる変化

もあってはならない。

感電に対する保護機能の低下があってはならない。

電気的接触部の緩みがあってはならない。

割れ,膨張及び収縮があってはならない。

ランプソケットは,JIS C 7709-3 に規定するゲージがある場合,ゲージに適合しなければならない(規

定が存在する場合に限る。

耐久性試験の後,ランプソケットの接点及び接続部の接触抵抗は,次のように測定する。

10.4

を満足する試験口金又はダミーランプをランプソケットに挿入し,ランプソケットの定格電流に

等しい電流を流して接触抵抗を測定する。

口出線を備えたランプソケットでは,接触抵抗は,ランプソケットの導線口出し位置から

5 mm

の間

で測定する。

口出線なしのランプソケットでは,そのランプソケットが設計された最小サイズの導線線(ただし,

少なくとも

0.5 mm

2

以上の銅線)を接続する。接触抵抗は,取り付けた導線口出し位置から

5 mm

間で測定する。

試験用口金は,JIS C 7709-1 の関連するスタンダードシートの最小寸法でなければならない。接点は

黄銅製とし,注意深くきれいに磨いておかなくてはならない。

試験口金は,プランジャがある場合は,その位置にかかわらず,ランプソケットに完全に取り付けな

ければならない。

両口金ランプは,組み合わせた一対のランプソケットを測定する。この場合,10.4 で規定するダミー

ランプを用いる。

測定した抵抗値は,次の値を超えてはならない。単位は,

である。

0.045

(

A

×n

)

ここに,

n

ソケットと口金との間の測定に含まれる,分離した接触点の数
n

2

の場合,A

0.01

n

2

の場合,A

0.015


17

C 8121-1

:2011

例えば,ケーブルから絶縁体を取り除くなど,ケーブル絶縁体の酸化物が抵抗値に影響を及ぼさないよ

うに注意を払うことが望ましい。

16

耐熱性及び耐火性

16.1

感電に対して保護する絶縁材料の外郭部品,及び充電部又は

ELV

部を所定の位置に保持する絶縁材

料部品は,耐熱性がなければならない。

合否は,

図 に示すボールプレッシャ試験装置をその部品に適用して判定する。

照明器具一体形のランプソケットは,JIS C 8105-1 

第 13 章(耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性)

で類似の試験を行うので,この箇条(16.6 を除く。

)で規定する全ての試験は行わない。ただし,これらの

試験の動作条件では,ランプソケット製造業者が指定しているランプソケットに規定する条件及びこの箇

条で規定する条件を考慮しなければならない。

単位  mm

図 1−ボールプレッシャ試験装置

ボールプレッシャ試験は,磁器材料の部品及び電線の絶縁物には行わない。

試験する部品の表面を水平に置き,直径

5 mm

の鋼製ボールを

20 N

の力で表面に押し付ける。

試験は,動作温度(5.2 参照。

)に(

25

±

5

)℃を加えた温度の恒温槽の中で行う。また,充電部を保持す

る部品を試験する場合は,最低温度は

125

℃とする。

試験負荷及び支持装置は,試験前に安定した試験温度に達するよう,十分な時間,恒温槽の中に入れて

おく。

試験する部品は,試験負荷を加える前に

1

時間,恒温槽の中に入れておく。

試験する表面が曲がるときは,ボールを押し付ける部分を支持する。この目的のため,完全な試料で試

験ができない場合は,適切な部分を切り取ってもよい。

試料の厚さが

2.5 mm

未満の場合は,試料を二つ以上重ねて

2.5 mm

以上にする。

1

時間後,ボールを試料から外し,

10

秒以内に試料を冷水に浸してほぼ室温まで下げる。

ボールを押し付けた跡の直径を測定し,直径は

2 mm

以下でなければならない。

注記

表面が曲面の場合,跡がだ(楕)円形のときは短辺を測定する。

疑わしい場合は,痕跡の深さを測定し,次の式によって直径φを求める。

(

)

p

p

=

5

2

φ

ここに,

φ:

直径(mm)

p

押し付けた跡の深さ(mm)

16.2

充電部を所定の位置に保持する絶縁材料の部品,及び感電に対して保護するための絶縁材料の外郭

部品は,耐炎性及び耐着火性をもたなければならない。


18

C 8121-1

:2011

合否は,16.3 又は 16.4 の適切な試験によって判定する。

これらの試験は,磁器材料の部品には行わない。

16.3

感電に対して保護する,導電性外表面を含む絶縁材料製の外郭部品及び ELV 部を所定の位置に保持

する絶縁材料の部品は,次によって JIS C 60695-2-11 のグローワイヤ試験を行う。

−  試料は,完成品のランプソケットとする。試験のために部品を取り外してもよいが,試験条件が通常

の使用条件から大きく異なるものにならないように注意することが望ましい。

−  試料を運搬台に載せ,1 N の力でグローワイヤチップに押し付け,できれば上端から 15 mm 以上の所

で,試験表面の中央に押し込む。グローワイヤが試料に食い込むのは,機械的に 7 mm に制限する。

試料が小さすぎて上記の試験ができない場合は,同じプロセスで製造した,同じ材料の 30 mm×30

mm の大きさの,試料の最小厚さと同じ厚さの別の試料で行う。

−  グローワイヤチップの温度は 650  ℃とする。30 秒後に試料をグローワイヤチップから引き離す。

グローワイヤの温度及び加熱電流は,

試験開始前の 1 分間一定でなければならない。この期間中に,

試料が放熱の影響を受けないように注意しなければならない。

グローワイヤチップの温度は,JIS C 60695-2-11 の規定に従って,校正した被覆細線熱電対を用いて

測定する。

−  試料の炎又は赤熱は,グローワイヤを離してから 30 秒以内に消え,燃焼滴下物が試料から(200±5)

mm 下に水平に広げた JIS P 0001 の 6228 に規定する 5 枚重ねの包装用ティシュを発火させてはならな

い。

16.4

充電部又は ELV ランプ接点を所定の位置に保持する絶縁材料の部品は,

次によって JIS C 60695-11-5

のニードルフレーム試験を行う。

−  試料は,完成品のランプソケットとする。試験のために部品を取り外してもよいが,試験条件が通常

の使用条件から大きく異なるものにならないように注意することが望ましい。

−  試験炎は,試料表面の中央に当てる。

−  当てる時間は,10 秒とする。

−  自己持続炎は,ガスの炎を離してから 30 秒以内に消え,燃焼滴下物が試料から(200±5)mm 下に水

平に広げた JIS P 0001 の 6228 に規定する 5 枚重ねの包装用ティシュを発火させてはならない。

16.5

充電部若しくは ELV 部を所定の位置に保持する,

又はそのような部分と接触する絶縁材料の部品は,

通常使用において過度の湿気及びじんあいの堆積にさらされる場合,耐トラッキング性のある材料でなけ

ればならない。

セラミック以外の材料は,JIS C 2134 に従い,次に規定する保証トラッキング試験によって合否を判定

する。

−  試料が 15 mm×15 mm 以上の平らな表面をもたない場合,

試験中に液体が試料から流れ落ちない限り,

これ以下の寸法の表面で試験してもよい。ただし,液体を表面上にとどめるための人工的な方法を講

じないほうがよい。疑わしい場合は,要求する寸法で,かつ,同じプロセスで製造した同じ材料の別

の小片で試験してもよい。

−  試料の厚さが 3 mm 未満のときは,2 個又は必要に応じてそれ以上の試料を重ねて 3 mm 以上の厚さに

しなければならない。

−  試験は,試料上の 3 か所,又は 3 個の試料で実施する。

−  電極は白金とし,JIS C 2134 の 7.3(測定溶液)に規定する溶液 A を用いる。

−  試料は,PTI 175 の試験電圧で,50 滴の滴下に対して故障なく耐えなければならない。


19

C 8121-1

:2011

−  試料表面上の電極間の導路に 2 秒間以上 0.5 A 以上の電流が流れて過電流リレーを動作させるか,又

は過電流リレーが動作せずに試料が燃えた場合は,故障が発生したものとみなす。

−  浸食の決定に関する JIS C 2134 の 9.(浸食の測定)は,適用しない。

16.6

ランプソケットの外郭部品及び絶縁材料の耐熱性は,T マークのないランプソケットでは(115±

5)  ℃,T マーク付きランプソケットでは,[(T+35)±5]  ℃の温度の恒温槽で試験する。

外郭部品及び絶縁材料の耐熱性がランプソケットの温度表示から外れている場合,試験温度は,これら

の部品の製造事業者のカタログに指定した耐熱温度より(35±5) K 上に合わせる。

この試験は,JIS C 8105-1 で類似の試験を規定している,照明器具一体形ランプソケットには行わない。

ランプソケットに,

中空ではない鋼の試験口金,

又は箇条 15 に規定する鋼製のダミーランプを装着する。

ランプソケットは,試験温度のおよそ半分の温度の加熱槽に置き,1 時間±15 分以内に要求する試験温

度に上げる。そして 168 時間中断することがなく試験を続ける。試験温度は,±5 K の範囲内に維持する。

試験の間,ランプソケットは,特に次の観点から,継続使用に対して悪影響を及ぼすいかなる変化もあ

ってはならない。

−  感電に対する保護の低下があってはならない。

−  電気的接触部の緩みがあってはならない。

−  割れ,膨張及び収縮があってはならない。

−  ランプソケットは,JIS C 7709-3 のゲージに適合しなければならない(規定が存在する場合に限る。

ゲージの使用は,接触の確実性の検査を意図していない。成形材料の起こり得る変形の検査だけである。

さらに,ランプソケットは,箇条 12 で規定した条件の下で行う機械的強度試験に耐えなければならない。

落下高さは,50 mm に減らして行う。

充塡材は,充電部が露出するほど流出してはならない。僅かな移動は,無視する。

17

過度の残留応力(自然割れ)及びさび(錆)に対する抵抗力

17.1

銅又は銅合金のロール材の接触片及びその他の部分の故障によってランプソケットが不安全となる

おそれがある場合は,それらは過度の残留応力によって損傷してはならない。

合否は,次の試験によって判定する。

試料の表面の汚れを注意して取り除く。ワニスはアセトンで取り除き,グリース及び指紋はアルコール

又はその類のもので取り除く。

試料は,底部を pH 10 の塩化アンモニウム溶液で満たした試験槽の中に,24 時間放置する(試験槽,試

験溶液及び試験手順の詳細は,

附属書 参照。)。

この処理の後,試料を流水で洗い,24 時間経過した後,光学倍率で 8 倍に拡大して観察したとき,ひび

割れがあってはならない。

17.2

鉄の部分は,ランプソケットに危険を生じさせるようなさびのないように適切に保護しなければな

らない。

合否は,次の試験で判定する。

適切な脱脂剤に 10 分間浸して,全てのグリースを試験する部分から取り除く。

温度(20±5)  ℃の塩化アンモニウムの 10 %水溶液中に,試験する部分を 10 分間浸す。水滴をふるい落と

し,乾燥させずに温度(20±5)  ℃の飽和水蒸気の箱内に,10 分間放置する。

試料を(100±5)  ℃の恒温槽内で 10 分間乾燥した後,シャープエッジ上のさびの痕跡及び黄色がかった

薄膜を擦り取った後,その表面にはいかなるさびの痕跡もあってはならない。


20

C 8121-1

:2011

小さなら旋状のスプリング,それに類するもの,及び摩耗にさらされる鉄の部分には,グリースの層は

さびに対する十分な保護があるとみなす。そのような部分は,試験をする必要はない。


21

C 8121-1

:2011

附属書 A

規定)

この規格の対象となるランプソケットの例

一般用のランプ,投影用ランプ,投光照明用ランプ及び道路照明用ランプ用であって,次の表に記載す

る器具内用のランプソケットは,この規格の対象となる(1.1 を参照)

注記  この一覧は,全てのランプソケットを記載してはいない。

表 A.0A−ランプソケットとシートとの対応

ランプソケットシート

ランプソケット

IEC 60061-2 参照) (JIS C 7709-2 参照)

B22d-3 7005-10A

BY22d 7005-17

2-14

Fa4 7005-..

Fc2 7005-114

2-32

G1.27,GX1.27 7005-..

GUX2.5d,GUY2.5d,GUZ2.5d 7005-137

G2.54,GX2.54 7005-..

G3.17 7005-..

G4 7005-72

2-33

GU4 7005-108

2-49

GZ4 7005-67

2-62

G5.3 7005-73

G5.3-4.8 7005-126

GU5.3 7005-109

2-50

GX5.3 7005-73A

2-51

GY5.3 7005-73B

2-57

G6.35,GX6.35,GY6.35 7005-59

2-35

GZ6.35 7005-59A

2-63

GU7 7005-113

GZX7d-,GZY7d-,GZZ7d- 7005-136

G8.5 7005-122

G9 7005-129

2-117

G9.5 7005-70

2-37

GX9.5 7005-70A

2-52

GY9.5,GZ9.5 7005-70B

2-59

GU10 7005-121

GZ10 7005-120

G12 7005-63

2-39

GY16 7005-..

G17q,GX17q,GY17q 7005-45

G22 7005-75

2-44

G38 7005-76

2-47

PG12 7005-64

2-87

PGX12 7005-64

2-90

PG22-6.35 7005-..


22

C 8121-1

:2011

表 A.0A−ランプソケットとシートとの対応(続き)

ランプソケットシート

ランプソケット

IEC 60061-2 参照) (JIS C 7709-2 参照)

P28s 7005-42

2-77

P30s-10.3 7005-44

2-78

P30d-10.3

− 2-79

P40 7005-43

R7s 7005-53/53A

2-100

RX7s 7005-53/53A

2-102

SX4s 7005-..

SY4s 7005-..


23

C 8121-1

:2011

附属書 B

規定)

適切な金属

箇条 13 における,許容温度範囲内及び通常の化学的汚染の条件の下で使用する場合に,機械的強度,導

電率及び耐食性の観点から,通電部品として適切な材質の例を,次に示す。

−  銅は,圧延板(冷間圧延状態)で作られた合金では 58 %以上,その他のものは 50 %以上銅を含まな

ければならない。

−  ステンレス鋼は,13 %以上のクロームを含み,炭素が 0.09 %以下でなければならない。

−  鋼は,JIS H 8610 による条件で亜鉛の電気めっきを行い,JIS H 8610 に規定する ISO のサービスコン

ディションナンバ 1(普通の機器用)で 5 μm 以上の厚さをもたなければならない。

−  鋼は,JIS H 8617 による条件でニッケル及びクロームの電気めっきを行い,JIS H 8617 に規定する ISO

のサービスコンディションナンバ 2(普通の機器用)で 20 μm 以上の厚さをもたなければならない。

−  鋼は,JIS H 8619 による条件ですずの電気めっきを行い,JIS H 8619 に規定する ISO のサービスコン

ディションナンバ 2(普通の機器用)で 12 μm 以上の厚さをもたなければならない。

−  純粋なニッケル(99 %以上)

−  銀(90 %以上)


24

C 8121-1

:2011

附属書 C 

規定)

自然割れ又は腐食試験

注記  試験機関は,環境保護の観点から,試験溶液,容積及び容器の体積に関する要求事項を変更し

てもよい。このとき,試験容器は,試料の体積の 500 倍∼1 000 倍の体積で,試験溶液の体積は,

20:1∼10:1 の容積で容器の体積に割り当てることが望ましい。ただし,疑義が生じた場合は C.1

を適用する。

C.1

試験槽

試験には,閉じることができるガラス容器を使用しなければならない。例えば,デシケータ容器又は研

磨した縁及び蓋付きの簡単なガラストラフでよい。容器の体積は,10 L 以上でなければならない。試験空

間の試験溶液の体積に対する比率は,20:1∼10:1 を維持しなければならない。

C.2

試験溶液

溶液 1 L を作成する。

約 0.75 L の蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水の中に,塩化アンモニウム(NH

4

CI,試薬級)107 g

を溶解し,22  ℃で pH 値が 10 に達するのに必要とする量の 30 %水酸化ナトリウム溶液[NaOH(試薬級)

及び蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水から作成]を加える。その他の温度では,この溶液を

表 C.0A

に規定する pH 値に調整する。

表 C.0A−試験溶液と温度との関係

温度

試験溶液の pH

22±1 10.0±0.1 
25±1 9.9±0.1 
27±1 9.8±0.1 
30±1 9.7±0.1

pH 調整後,蒸留水又は完全に鉱物質を取り除いた水で 1 L まで,調合する。このとき,pH 値は一切変

化しない。

いかなる場合でも,pH 調整中の温度は±1  ℃に保持し,pH 値を±0.02 に調節可能にする計器を用いて,

pH 測定を実施する。

試験溶液は,長い期間にわたり使用できるが,蒸気雰囲気中のアンモニア濃度の指標となる pH 値は,

少なくとも 3 週間ごとに確認し,必要があれば調整しなければならない。

C.3

試験手続

アンモニア蒸気の影響を妨げないように,試験槽中に試験品を入れる。試験品は,つるすことが望まし

い。

試験品は,試験溶剤に浸けたり,相互に接触させたりしてはならない。

支持物又はつり下げ装置は,アンモニア蒸気で腐食されない材料,例えば,ガラス又は陶器のような材


25

C 8121-1

:2011

料でなければならない。

試験結果にひどく誤差が出る温度変化による目に見える凝結水の形成を排除するために,試験は温度

(30

±1)℃で実施しなければならない。

試験に先立って,試験溶液を内蔵する試験槽を,

(30±1)℃にしなければならない。試験品を 30  ℃に

予熱して,できる限り短時間で試験槽に入れる。

この時を,試験の開始とみなす。


26

C 8121-1

:2011

附属書 D 

規定)

振子式衝撃試験器

単位  mm

注記  基本規格が存在するが,参考のため,この規格に図を記載する。図に関して疑義がある

場合には,JIS C 60068-2-75 

附属書 図 に従う。

図 D.1−衝撃試験装置


27

C 8121-1

:2011

単位  mm

図 D.2−取付用支持台

参考文献  JIS C 7709-0  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性  第 0 部:電球類

の口金・受金及びそれらのゲージ類の総括的事項


28

C 8121-1

:2011

附属書 JA

参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 8121-1:2011

  ランプソケット類−第 1 部:一般要求事項及び試験

IEC 60838-1:2008

  Miscellaneous lampholders−Part 1: General requirements and tests

(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の

箇条ごとの評価及びその内容

箇条番号

及び題名

内容

(II)

国際
規格
番号

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

6  表示

ランプソケットに必ず必要な
表示

ランプソケット又はカタログ
類に必要な表示 
接続線が単線の場合の表示方

法 
取扱説明書へ記載すべき情報
表示品質

 6 ランプソケットに必ず必要な

表示

ランプソケット又はカタログ
類に必要な表示 
接続線は断面積表示

取扱説明書へ記載すべき情報
表示品質

追加

接続線が単線の場合は,断
面積表示以外に,外径表示

でもよいとした。

日本では外径表示(φ)方法が普
及しており,継続してこの方法を

採用する。

7  感 電 に
対 す る 保

外郭付きランプソケットへの
感電保護

ランプのないときの感電保護
ランプ装着状態の感電保護 
ランプ交換時の感電保護

両口金ランプ用ソケットの感
電保護 
R7s,RX7s 及び Fc2 の場合は
ランプ装着状態だけ対象とす
る。

 7 外郭付きランプソケットへの

感電保護

ランプのないときの感電保護
ランプ装着状態の感電保護 
ランプ交換時の感電保護

両口金ランプ用ソケットの感
電保護 
R7s 又は RX7s の場合はランプ
装着状態だけ対象とする。

追加 P30d 及び Fc2 を追加した。

我が国で普及している製品をカ
バーする必要がある。

28

C

 8121-1


201

1


29

C 8121-1

:2011

(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容

箇条番号

及び題名

内容

(II) 
国際
規格

番号

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

14  沿面距
離 及 び 空
間距離

表 2a にて,

定格電圧欄の 150 V

欄の電圧区分にて絶縁材料が
PTI≧600 の沿面距離の値(1
か所),及び空間距離の値(2

か所)を 1.2 mm とした。 
表 2b にて,150 V 欄の電圧区
分にて異極充電部間の沿面距

離及び空間距離を 1.2 mm とし
た。

 14

表 2a にて,150 V 欄の電圧区

分にて絶縁材料が PTI≧600 の
沿面距離の値(1 か所)

,及び

空間距離の値(2 か所)を 0.8 
mm としている。 
表 2b にて,150 V 欄の電圧区
分にて異極充電部間の沿面距

離及び空間距離を 0.8 mm とし
ている。

変更

電気用品安全法  技術基準

第 1 項で規定される絶縁距
離を規定した。

我が国では,100 V 機器にて,ク

ラス 0 照明器具が使用されるた
め,JIS C 8105-1 での規定の考え
方及びソケットに対する電気用

品安全法  技術基準第 1 項に規
定される絶縁距離を勘案した。そ
の他の電圧区分は IEC 規格に整

合した。

附属書 A

(規定)

この規格が対象とするランプ

ソケットのリストを記載。

 Annex

A

この規格が対象とするランプ

ソケットのリストを記載。

変更

JIS C 7709-2

にて修正され

たシートを反映して変更。

我が国で普及している製品をカ

バーする必要がある。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60838-1:2008,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

−  追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

−  MOD 国際規格を修正している。

29

C

 8121-1


201

1