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C 7624

:2013

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

2

4

  一般的安全要求事項  

4

4.1

  一般事項  

4

4.2

  表示  

4

4.3

  機械的要求事項  

5

4.4

  電気的要求事項  

6

4.5

  熱的要求事項  

7

5

  個別安全要求事項  

8

5.1

  高圧ナトリウムランプ  

8

5.2

  メタルハライドランプ  

8

6

  照明器具設計のための情報  

9

6A

  安定器設計のための情報  

9

7

  評価 

9

7.1

  一般事項  

9

7.2

  製造業者の記録による全製品の評価 

9

7.3

  ロット判定  

10

7.3A

  検査  

10

附属書 A(規定)口金及びゲージリスト  

12

附属書 B(規定)引張試験及びねじり試験の値  

13

附属書 C(規定)ねじり試験用ホルダ  

14

附属書 D(規定)耐熱性試験のための指示  

16

附属書 E(規定)始動器内蔵形ランプのパルス高さの測定方法  

17

附属書 F(参考)照明器具設計のための情報  

20

附属書 G(規定)設計試験の合否条件  

23

附属書 H(規定)シンボルマーク  

24

附属書 I(規定)石英発光管メタルハライドランプの密閉性試験 

25

附属書 J(規定)セラミック発光管メタルハライドランプの密閉性試験  

29

附属書 JA(参考)安定器設計のための情報  

32

附属書 JB(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

33


C 7624

:2013

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人日本

電球工業会(JELMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格

を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格

である。これによって,JIS C 7624:2006 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。


日本工業規格

JIS

 C

7624

:2013

放電ランプ(蛍光ランプを除く)−安全仕様

Discharge lamps (excluding fluorescent lamps)-Safety specifications

序文 

この規格は,1999 年に第 1 版として発行された IEC 62035,Amendment 1:2003 及び Amendment 2:2012

を基とし,我が国の実情及び独自製品に合わせるため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格であ

る。ただし,追補(Amendment)については,編集し,一体とした。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JB に示す。また,附属書 JA は対応国際規格にはない事項であ

る。

適用範囲 

この規格は,一般照明用放電ランプ(蛍光ランプを除く。

(以下,ランプという。

)の安全性について,

合否判定に必要な試験方法とともに規定する。この規格の対象は,低圧ナトリウムランプ及び高輝度放電

ランプ(HID ランプ)であり,HID ランプとは,高圧水銀ランプ(安定器内蔵形水銀ランプを含む。

,高

圧ナトリウムランプ及びメタルハライドランプで,

附属書 に規定する口金をもつ片口金形及び両口金形

のランプとする。ランプは,JIS C 8119 及び JIS C 8147-2-9 に規定する安定器,JIS C 8147-1JIS C 8147-2-1

及び IEC 60927 に規定する始動装置,並びに JIS C 8105-1 に規定する照明器具で,供給電圧が定格電圧の

90∼110 %の範囲で使用したときに,安全に動作する必要がある。

この規格の対象外の口金をもつランプについても,この規格に該当する項目を可能な限り適用する。

注記 1  この規格は,安全性だけを規定している。性能については,JIS C 7604JIS C 7610JIS C 7621

及び JIS C 7623 を参照する。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 62035:1999

,Discharge lamps (excluding fluorescent lamps)−Safety specifications,Amendment

1:2003 及び Amendment 2:2012(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 7621

  高圧ナトリウムランプ−性能仕様

注記  対応国際規格:IEC 60662,High-pressure sodium vapour lamps−Performance specifications

(MOD)


2

C 7624

:2013

JIS C 7622

  蛍光ランプ用グロースタータ−性能規定

注記  対応国際規格:IEC 60155,Glow-starters for fluorescent lamps 及び Amendment 1:1995(MOD)

JIS C 7623

  メタルハライドランプ−性能仕様

注記  対応国際規格:IEC 61167,Metal halide lamps−Performance specification(MOD)

JIS C 7709-0

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性    第 0 部    電球類の口

金・受金及びそれらのゲージ類の統括的事項

注記  対応国際規格:IEC 60061-4,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety−Part 4: Guidelines and general information(MOD)

JIS C 7709-1

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性    第 1 部    口金

注記  対応国際規格:IEC 60061-1,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety−Part 1: Lamp caps(MOD)

JIS C 7709-2

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性    第 2 部    受金

注記  対応国際規格:IEC 60061-2,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety−Part 2: Lampholders(MOD)

JIS C 7709-3

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性    第 3 部    ゲージ

注記  対応国際規格:IEC 60061-3,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety−Part 3: Gauges(MOD)

JIS C 8105-1

  照明器具−第 1 部:安全性要求事項通則

注記  対応国際規格:IEC 60598-1,Luminaires−Part 1: General requirements and tests(MOD)

JIS C 8119

  放電灯安定器(蛍光灯を除く)−性能要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60923,Auxiliaries for lamps−Ballasts for discharge lamps (excluding tubular

fluorescent lamps)−Performance requirements(MOD)

JIS C 8147-1

  ランプ制御装置−第 1 部:通則及び安全性要求事項

JIS C 8147-2-1

  ランプ制御装置−第 2-1 部:始動装置の個別要求事項(グロースタータを除く)

JIS C 8147-2-9

  ランプ制御装置−第 2-9 部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く)

JIS C 60695-2-10

  耐火性試験−電気・電子−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-10,Fire Hazard testing−Part 2-10: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire apparatus and common test procedure(IDT)

JIS P 0001

  紙・板紙及びパルプ用語

注記  対応国際規格:ISO 4046,Paper, board, pulp and related terms−Vocabulary(MOD)

JIS Z 8113

  照明用語

注記  対応国際規格:IEC 60050-845,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 845: Lighting

(MOD)

JIS Z 8120

  光学用語

JIS Z 8812

  有害紫外放射の測定方法

IEC 60927

,Auxiliaries for lamps−Starting devices (other than glow starters)−Performance requirements

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8113 及び JIS Z 8120 によるほか,次による。


3

C 7624

:2013

3.1

高輝度放電ランプ,HID ランプ(high-intensity discharge lamp)

発光管の管壁負荷が 3 W/cm

2

以上であって,発光管の管壁温度によってアーク放電の安定が保たれる放

電ランプ。

注記 HID ランプは,高圧水銀ランプ,高圧ナトリウムランプ及びメタルハライドランプの総称であ

る。

3.2

高圧水銀ランプ[high-pressure mercury (vapour) lamp]

光の大部分が,直接又は間接的に,点灯中の蒸気分圧が 100 kPa 以上の水銀蒸気中の放電によって発光

する高輝度放電ランプ。

注記  高圧水銀ランプには,安定器内蔵形水銀ランプも含む。

3.3

安定器内蔵形水銀ランプ(self-ballasted mercury lamp)

外管内に,発光管と直列に白熱電球用フィラメントを接続した高圧水銀ランプ。

3.4

高圧ナトリウムランプ[high-pressure sodium (vapour) lamp]

点灯中の蒸気分圧が 10 kPa 程度のナトリウム蒸気中の放電によって発光する高輝度放電ランプ。

3.5

低圧ナトリウムランプ[low-pressure sodium (vapour) lamp]

点灯中の蒸気分圧が 0.1∼1.5 Pa のナトリウム蒸気中の放電によって発光する放電ランプ。

3.6

メタルハライドランプ(metal halide lamp)

光の大部分が,金属蒸気,金属ハロゲン化物及び金属ハロゲン化物の解離生成物の混合物蒸気の放電に

よって発光する高輝度放電ランプ。

3.7

公称電力(nominal wattage)

ランプを指定又は特定するために用いるランプ電力の概算値。

3.8

有害紫外放射束(specific effective radiant UV power)

人体への紫外放射露光による有害性を表す放射束で,ランプ光束に関連付けられる値。単位は,ミリワ

ット毎キロルーメン(mW/klm)で表す。

3.9

形式検査(type test)

規格の要求事項に対して,製品設計の適合性を判定するために,形式検査用サンプルについて行う一つ

の検査又は一連の検査。

3.10

形式検査用サンプル(type test sample)

形式検査用として,製造業者又は責任ある販売業者が提出する 1 個又はそれ以上の同種の集団からなる

サンプル。


4

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3.11

種別(group)

同じ種類のランプ(3.23.6 参照)

3.12

形式(type)

同じ種別で,公称電力,バルブ形状及び口金が同じランプ。

3.13

ファミリー(family)

材料,部品,製造方法などが共通のランプ。

3.14

設計試作時検査(design test)

関連する箇条又は細分箇条の要求事項に対して,あるファミリー,種別又は幾つかの種別の製品設計の

適合性を判定するために,サンプルについて行う検査。

3.15

定期検査(periodic test)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.16

稼動時検査(running test)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.17

ロット(batch)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.18

全生産品(whole production)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.19

セルフシールドありメタルハライドランプ(self-shield metal halide lamp)

ランプ自体に安全施策が盛り込まれており,保護シールドを具備しない照明器具で使用可能な,メタル

ハライドランプ。

3.19A

電子式スイッチ

電子回路で構成する,スイッチング機能をもつランプの始動器。

一般的安全要求事項 

4.1 

一般事項 

ランプは,通常状態で使用する場合,使用者又は周囲に危害を与えないように設計し,かつ,製造しな

ければならない。合否は,この規格で規定する全ての試験を実施して判定する。

4.2 

表示 

4.2.1 

ランプへの表示 

ランプには,次の事項を表示する。


5

C 7624

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−  製造業者名若しくは責任ある販売業者名又はそれらのいずれかの商標

−  ランプ形式

注記  ランプ形式記号は,JIS C 7604JIS C 7610JIS C 7621 及び JIS C 7623 を参照する。

表示は,読みやすく,かつ,容易に消えてはならない。合否は,未使用ランプにおいて,次の項目を確

認し判定する。

a)

表示内容及び読みやすさは,目視によって検査する。

b)

表示の消えにくさは,水でぬ(濡)らした滑らかな布を用いて,15 秒間(1 秒 1 往復程度の速さで)

手で軽くこする。試験後,表示は,判読できなければならない。

4.2.2 

補足情報の表示 

安全な設置及び使用を保証するために必要な情報は,ランプの取扱説明書に記載するか,又は,個装に

表示しなければならない。ただし,個装への表示で

附属書 に規定する情報は,シンボルマークだけでも

よい。

次の場合には,表示しなければならない。

a)

保護シールドを具備した照明器具だけで使用する場合(H.1 参照)

b)

高レベルの紫外放射を発生する場合(H.2 参照)

−  非リフレクタ形ランプの場合:有害紫外放射束 6 mW/klm 超

−  リフレクタ形ランプの場合:有害紫外放射束 6 mW/(m

2

・klx)超

これらの場合,最大有害紫外放射束の値は,照明器具設計に反映させなければならない(F.5 参照)

注記  露光限界は,有害紫外放射照度値(W/m

2

)で与えられるが,一般照明用ランプのリスクグル

ープ分類では,500 lx の照度レベルにおける紫外放射照度値を適用している(JIS C 7550 

照)

例えば,

リスクグループから免除される境界値は,

照度レベル 500 lx において 0.001 W/m

2

である。0.001 W/m

2

を 500 lx で除して,単位照度当たりの値に換えれば,2 mW/(m

2

・klx)とな

る。また,単位のルクス(lx)は,ルーメン毎平方メートル(lm/m

2

)であるから,有害紫外

放射束は 2 mW/klm となる。リスクグループ 1 及び 2 の境界値は,0.003 W/m

2

なので,有害

紫外放射束は 6 mW/klm となる。

c)

寿命末期に異常な動作を起こす可能性がある場合。

d)

外管バルブが破損したランプの使用を禁止する場合(H.3 参照)

合否は,目視検査によって判定する。

4.3 

機械的要求事項 

4.3.1 

口金 

4.3.1.1 

寸法 

口金寸法は,

附属書 に規定する JIS C 7709-1 の該当する口金データシートの規定による。

なお,規格化されていない口金の寸法は,ランプ製造業者の公表値による。合否は,

附属書 に規定す

る JIS C 7709-3 の該当するゲージを用いて,完成ランプで検査し判定する。

4.3.1.2 

沿面距離 

口金のコンタクトのピン又はコンタクトと人が触れることができる金属シェルとの沿面距離は,JIS C 

7709-1

に規定する該当口金のデータシート,又は JIS C 7709-0 のシート No. 0-3-2 の規定による。合否は,

測定によって判定する。

4.3.1.3 

キーをもつ口金 

キーをもつ口金は,類似したランプの非互換性を保証するために,正しい口金及びキーを用いなければ


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C 7624

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ならない。合否は,目視検査によって判定する。

4.3.2 

構造及び組立て 

口金は,全ての組立部品をランプの正常な使用中及び使用後に損なわれないように取り付け,かつ,バ

ルブを組み立てなければならない。

合否は,4.3.2.1 及び 4.3.2.2 によって判定する。

4.3.2.1 

引張強度 

次のランプにおいて,ランプ軸方向への引張試験を 1 分間行ったとき,口金の脱落,口金の部品類の脱

落,口金とバルブとの間の緩み,又は口金とバルブとの分離があってはならない。

a)

未使用のランプ。

b)

恒温槽で 2 000±50 時間加熱したランプ。

ランプの引張りに用いる手段(クランプなど)が,ランプの構造を弱めないように注意する。

恒温槽の温度及び引張強度の判定値は,

附属書 による。

引張りは,急激に引っ張らずに,ゼロから

表 B.1 に規定する値まで徐々に増加させ試験を行う。

4.3.2.2 

ねじり強度 

次のランプにおいて,

附属書 に規定するねじり試験用ホルダを用いて,ねじり力を口金,口金の部品

類又は口金とバルブとの接続部に加えたとき,接続部間に緩みがあってはならない。メカニカル固定方式

の口金の場合,口金とバルブとの緩み角度は,相対角度 10°以下とする。

a)

未使用のランプ。

b)

恒温槽で 2 000±50 時間加熱したランプ。

恒温槽の温度及びねじり強度の判定値は,

附属書 による。

試験の手順は,次による。

−  試験器のねじり試験用ホルダは,潤滑油又はグリースが完全に取り除かれ,清浄であることを確認す

る。

−  試験するランプの口金を,口金に適合するねじり試験用ホルダに装着する。口金又はバルブを機械的

に固定してもよい。

−  ねじり力を加える。

ねじり力は,急激に加えず,ゼロから

表 B.2 に規定する値まで徐々に増加させ試験を行う。

4.4 

電気的要求事項 

4.4.1 

充電部の露出 

導電部から絶縁している金属部分は,充電の状態にしない。工具を用いずに動かすことのできる充電部

分は,検査前に最も条件が悪い位置に置かなければならない。差込形口金の場合,コンタクト面からの導

体突出しは,1 mm 以下とする。E 形口金の場合,口金シェルからの導体突出しは,3 mm 以下とする(

1

参照)

合否は,適切な自動検査装置又は目視検査し判定する。さらに,装置の日常点検,又は検査の有効性を,

定期的に確認する。


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C 7624

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単位  mm

図 1形口金ランプ

4.4.2 

絶縁抵抗 

受金へ挿入後,口金の金属シェルに触れることができるランプの場合,口金の金属シェルとピン又はコ

ンタクトとの間の絶縁抵抗は,2 MΩ 以上とする。合否は,適切な試験器を用いて,直流 500 V の電圧で

検査し判定する。

4.4.3 

耐電圧 

耐電圧試験は,50 Hz 又は 60 Hz の正弦波をもつ交流 750 V 以下の電圧を加え,その後速やかに 1 500 V

電圧まで上昇させ,その後,1 分間保持する。合否は,耐電圧試験中に,4.4.2 と同じ部分間におけるフラ

ッシオーバ又は絶縁破壊の有無で判定する。電圧降下を伴わないグロー放電は,不合格とはみなさない。

4.5 

熱的要求事項 

口金に使う絶縁材料は,感電に対する保護を備え,耐熱性及び耐燃焼性のものでなければならない。合

否は,4.5.1 及び 4.5.2 によって判定する。これらの試験は,セラミックス材料又はガラス材料の部品に対

しては行わない。

4.5.1 

耐熱性 

4.5.1.1 

加熱試験 

試料を恒温槽に入れ,

附属書 に規定する温度で 168 時間試験する。

試験終了後,試料は,特に次の点で安全性を損なう変化があってはならない。

−  感電からの保護を損なうような,絶縁抵抗及び耐電圧の低下。

−  目視検査で判定できる口金の部品類の緩み,ひび割れ,膨張及び収縮。

試験終了後,口金は,4.3.1.1 に規定する寸法を満足しなければならない。

4.5.1.2 

ボールプレッシャー試験 

試験は,

附属書 に規定する装置を用い,試料を恒温槽に入れ,附属書 に規定する温度で行う。試験

する試料の表面を水平にし,直径 5 mm の装置の球状部分を 20 N の力で押し付ける。

試料,試験用荷重及び支持具は,試験前に恒温槽において,

附属書 に規定する温度で 1 時間以上置い

ておく。

試験時に表面が曲がる場合は,装置の球状部分を押し付ける部分を支えなければならない。このため,

試験を完全な試料で行えない場合は,適切な部分を切り取ってもよい。

試料は,2.5 mm 以上の厚さでなければならない。その厚さの試料が準備できない場合は,2 枚以上の試

料片を重ねてもよい。

1 時間後,装置の球状部分を試料から取り外し,室温まで冷却するために冷たい水の中へ 10 秒間浸す。


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C 7624

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試験後の,押し圧部分の直径は,2 mm 以下とする。押し圧で試料が曲がった表面の場合で,かつ,へこ

みが長円形(又はだ円形)になった場合は,短いほうの長さが 2 mm 以下でなければならない。

不明瞭な場合,へこみの深さを測定し,次の式を用いて計算する。

)

5

(

2

p

p

φ=

ここに,

φ:

直径(mm)

p

へこみの深さ(mm)

4.5.2 

耐燃焼性 

4.5.2.1 

グローワイヤ(赤熱棒押付け)試験 

試験は,650  ℃に熱したニッケルクロム製グローワイヤ(赤熱棒)及び JIS C 60695-2-10 に規定する試

験装置を用い,次によって行う。

グローワイヤ(赤熱棒)の温度及び加熱電流は,試験を開始する前の 1 分間,一定に保つ。この間,試

料に熱放射の影響を与えないように注意する。グローワイヤ(赤熱棒)の先端の温度は,JIS C 60695-2-10

に規定する方法で調整し,かつ,さや(鞘)に入れた細い熱電対で測定する。

試料を台の上に鉛直に取り付け,上部の端部から 15 mm 以上のところに,1 N の力でグローワイヤ(赤

熱棒)の先端を 30 秒間押し付けることが望ましい。試料へのグローワイヤ(赤熱棒)の挿入は,7 mm と

する。

試料のいかなる火炎又は赤熱は,グローワイヤ(赤熱棒)の引上げ後 30 秒以内に消えなければならず,

かつ,燃焼又は赤熱した試料の小片が,試料の下方 200±5 mm の位置に水平に広げた JIS P 0001 に規定す

る 5 層からなる包装用ティシュが発火してはならない。

個別安全要求事項 

5.1 

高圧ナトリウムランプ 

5.1.1 

始動器内蔵形ランプのパルス高さ 

始動器内蔵形ランプにおいて,始動時に発生するパルス電圧は,JIS C 7621 の該当するランプデータシ

ートの,安定器設計のための情報に規定するパルス高さを超えてはならない。合否は,

附属書 に規定す

る測定によって判定する。

5.2 

メタルハライドランプ 

5.2.0A 

始動器内蔵形ランプのパルス高さ 

始動器内蔵形ランプにおいて,始動時に発生するパルス電圧は,JIS C 7623 の該当するランプデータシ

ートの,安定器設計のための情報に規定するパルス高さを超えてはならない。合否は,

附属書 に規定す

る測定によって判定する。

5.2.1 

セルフシールドなしメタルハライドランプ 

5.2.1.1 

表示 

4.2

に規定する表示の要求事項に加え,有害紫外放射束が次の値を超える場合は,ランプの個装に,H.2

に規定するシンボルマークを表示するか,又は適切な警告注意文を表示しなければならない。

−  非リフレクタ形ランプ:6 mW/klm

−  リフレクタ形ランプ:6 mW/(m

2

・klx)

合否は,目視検査によって判定する。

5.2.1.2 

紫外放射 

ランプから放射される有害紫外放射束は,JIS C 7623 の該当するランプデータシートの,照明器具設計


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C 7624

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のための情報に規定する値を超えてはならない。規格化されていないランプについては,有害紫外放射束

は,製造業者が指定する値を超えてはならない。

合否は,JIS Z 8812 に規定する測定によって判定する。

この測定において,設計の違いから紫外放射及び可視放射の波長の分光特性に差異が生じない場合,同

種のランプとしてグループ化してもよい。

注記  設計の違いから分光特性に差異が生じる例としては,発光管及び外管バルブのガラスの違いが

ある。また,設計の違いから分光特性に差異が生じない例としては,口金及びリフレクタ形ラ

ンプのビーム角の違いがある。

5.2.2 

セルフシールドありメタルハライドランプ 

セルフシールドありメタルハライドランプは,次の事項に適合しなければならない。

5.2.2.1 

表示 

4.2

の要求事項に加え,セルフシールドありメタルハライドランプは,保護シールドを具備しない照明器

具でも使用可能な条件を,ランプの取扱説明書に記載するか,又は,個装に表示しなければならない。

なお,個装への表示は,H.4 に規定するシンボルマークだけでもよい。

合否は,目視検査によって判定する。

5.2.2.2 

紫外放射 

ランプから放射される有害紫外放射束は,次の値を超えてはならない。

−  非リフレクタ形ランプの場合:2 mW/klm

−  リフレクタ形ランプの場合:2 mW/(m

2

・klx)

合否は,5.2.1.2 と同じ測定によって判定する。

5.2.2.3 

密閉性 

発光管が破裂した場合,外管バルブ内に全ての破片を収納するように設計する。試験方法及び合否判定

基準は,

附属書 及び附属書 による。

5.2.2.3A 

異極間距離 

電子安定器点灯で,かつ,3 kV 以上のパルス電圧で始動する外管バルブ内に蒸発形ゲッタ(例えば,Ba

ゲッタ)に電位が加わる構造のランプにおいて,蒸発形ゲッタと異極間との空間距離又は沿面距離は,7 mm

以上でなければならない(石英ガラス製外管バルブのランプを除く。

照明器具設計のための情報 

照明器具設計のための情報を,

附属書 に示す。

6A 

安定器設計のための情報 

安定器設計のための情報を,

附属書 JA に示す。

評価 

7.1 

一般事項 

製造業者が,この規格に適合することを示す評価方法について規定する。

7.2 

製造業者の記録による全製品の評価 

(対応国際規格の規定を不採用とした。


10

C 7624

:2013

7.2.1 

特定の試験に対する製造業者の記録の評価 

(対応国際規格の規定を不採用とした。

7.2.2 

試験する全製品のサンプリング手順 

(対応国際規格の規定を不採用とした。

7.3 

ロット判定 

7.3.1 

ロット検査のための抜取り 

(対応国際規格の規定を不採用とした。

7.3.2 

ロット抜取数 

(対応国際規格の規定を不採用とした。

7.3.3 

検査の順序 

(対応国際規格の規定を不採用とした。

7.3.4 

大きいロット(501 個以上)の不合格条件 

(対応国際規格の規定を不採用とした。

7.3.5 

小さいロット(500 個以下)の不合格条件 

(対応国際規格の規定を不採用とした。

7.3A 

検査 

7.3A.1 

設計試作時検査 

設計試作時検査は,箇条 及び箇条 に規定する方法で,

表 の項目について行う。

表 1−設計試作時検査項目

細分箇条番号

検査項目

4.2.1 

表示の内容及び判読性

表示の耐久性

4.2.2 

補足情報の表示

4.3.1.1 

口金の寸法

4.3.1.2 

口金の沿面距離

4.3.1.3 

口金のキー

4.3.2.1 a)

口金の引張強度(差込形口金−未使用ランプ)

4.3.2.1 b)

口金の引張強度(差込形口金−加熱後ランプ)

4.3.2.2 a)

口金のねじり強度(E 形口金−未使用ランプ)

4.3.2.2 b)

口金のねじり強度(E 形口金−加熱後ランプ)

4.4.1 

充電部の露出

4.4.2 

絶縁抵抗

4.4.3 

耐電圧

4.5.1.1 

加熱試験

4.5.1.2 

ボールプレッシャー試験

4.5.2.1 

グローワイヤ(赤熱棒押付け)試験

5.1.1 

始動器内蔵形ランプのパルス高さ(高圧ナトリウムランプ)

5.2.0A 

始動器内蔵形ランプのパルス高さ(メタルハライドランプ)

5.2.1.1 

表示(セルフシールドなしメタルハライドランプ)

5.2.1.2 

紫外放射(セルフシールドなしメタルハライドランプ)

5.2.2.1 

表示(セルフシールドありメタルハライドランプ)

5.2.2.2 

紫外放射(セルフシールドありメタルハライドランプ)

5.2.2.3 

密閉性(セルフシールドありメタルハライドランプ)

5.2.2.3A 

異極間距離(セルフシールドありメタルハライドランプ)


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C 7624

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7.3A.2 

形式検査 

形式検査は,箇条 及び箇条 に規定する方法で,

表 の項目について行う。

表 2−形式検査項目

細分箇条番号

検査項目

4.2.1 

表示の内容及び判読性

表示の耐久性

4.2.2 

補足情報の表示

4.3.1.1 

口金の寸法

4.3.1.3 

口金のキー

4.3.2.1 a)

口金の引張強度(差込形口金−未使用ランプ)

4.3.2.2 a)

口金のねじり強度(E 形口金−未使用ランプ)

4.4.1 

充電部の露出

5.2.1.1 

表示(セルフシールドなしメタルハライドランプ)

5.2.2.1 

表示(セルフシールドありメタルハライドランプ)

7.3A.3 

受渡検査 

受渡検査は,要求がある場合に限り抜取検査を行い,検査項目,サンプルの数及び合格判定数は,受渡

当事者間の協定による。

7.3A.4 

抜取検査方法 

設計試作時検査及び形式検査における,サンプルの数及び合格判定数は,

表 による。

表 3−サンプルの数及び合格判定数

検査項目

サンプルの数

合格判定数

合格判定基準

表示の内容及び判読性 5

0

4.2.1

による。

表示の耐久性 5

4.2.1

による。

補足情報の表示 5

4.2.2

による。

口金の寸法 5

4.3.1.1

による。

口金の沿面距離 5

4.3.1.2

による。

口金のキー 10

4.3.1.3

による。

口金の引張強度(差込形口金−未使用ランプ) 10 4.3.2.1 a)による。

口金の引張強度(差込形口金−加熱後ランプ) 10 4.3.2.1 b)による。

口金のねじり強度(E 形口金−未使用ランプ) 10 4.3.2.2 a)による。

口金のねじり強度(E 形口金−加熱後ランプ) 10 4.3.2.2 b)による。

充電部の露出 20

4.4.1

による。

絶縁抵抗 15

4.4.2

による。

耐電圧 15

4.4.3

による。

加熱試験 5

4.5.1.1

による。

ボールプレッシャー試験 5

4.5.1.2

による。

グローワイヤ(赤熱棒押付け)試験 5

4.5.2.1

による。

始動器内蔵形ランプのパルス高さ(高圧ナトリウムランプ) 5

5.1.1

による。

始動器内蔵形ランプのパルス高さ(メタルハライドランプ) 5

5.2.0A

による。

表示(セルフシールドなしメタルハライドランプ) 5

5.2.1.1

による。

紫外放射(セルフシールドなしメタルハライドランプ) 5

5.2.1.2

による。

表示(セルフシールドありメタルハライドランプ) 5

5.2.2.1

による。

紫外放射(セルフシールドありメタルハライドランプ) 5

5.2.2.2

による。

密閉性(セルフシールドありメタルハライドランプ) 10

5.2.2.3

による。

異極間距離(セルフシールドありメタルハライドランプ) 5

5.2.2.3A

による。


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C 7624

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附属書 A

(規定)

口金及びゲージリスト

この規格に該当するランプの,口金及びゲージは,

表 A.1 による。

表 A.1JIS C 7709-1 及び JIS C 7709-3 に規定するデータシート

口金

JIS C 7709-1

に規定する

口金データシート No.

JIS C 7709-3

に規定する

ゲージデータシート No.

BY22d 1-14 3-14-1,3-14-2 
E26 1-21

3-21-1,3-21-2

E39 1-26,1-27 3-26-1,3-26-2,3-27-1 
Fc2 1-32  3-32-1 
G12 1-39  3-39-1 
PG12 1-87  3-87-1 
PGX12 1-90

3-90-1

RX7s 1-102  3-102-1


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C 7624

:2013

附属書 B

(規定)

引張試験及びねじり試験の値

加熱温度及び判定値は,

表 B.1 及び表 B.2 による。

表 B.1−引張試験の値

口金

未使用のランプ

2 000 時間加熱したランプ

引張強度

N

温度

引張強度

N

G12 120

a)

 280

a)

 90

a)

PG12,PGX12 160

a)

 210

a)

 120

a)

a)

  製造業者,又は責任ある販売業者が公表する値による。

表 B.2−ねじり試験の値

口金

未使用のランプ

2 000 時間加熱したランプ

ねじり強度

N・m

温度

ねじり強度

N・m

BY22d 3.0

150

a) 

E26 3.0

165

2.5

E39 5.0

230

a) 

a)

  製造業者,又は責任ある販売業者が公表する値による。


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C 7624

:2013

附属書 C

(規定)

ねじり試験用ホルダ

C.1 E

形口金付きランプの口金ねじり強度試験用ホルダ 

E 形口金付きランプの口金ねじり強度試験に用いるホルダの寸法は,図 C.1 による。

単位  mm

ねじ寸法は,JIS C 7709-2 に規定する受金寸法とする。

寸法

口金

許容差

E26 E39

32.0 以上 47.0 以上

11.0 19.0  0

−0.3

23.0 34.0 ±0.1

12.0 以上 13.0 以上

図 C.1−寸法


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C 7624

:2013

C.2 

差込形口金付きランプの口金ねじり強度試験用ホルダ 

差込形口金付きランプの口金ねじり強度試験に用いるホルダの寸法は,

図 C.2 による。

単位  mm

寸法

口金

許容差

BY22d

22.27

+0.03

0

19.0 以上

28.0 以上

9.5 以上

3.0

+0.17

0

24.6

±0.3

12.15 以上

12.7

±0.3

1.5(参考)

図 C.2−寸法


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C 7624

:2013

附属書 D

(規定)

耐熱性試験のための指示

耐熱性試験の試験温度を,

表 D.1 に規定し,試験装置を,図 D.1 に示す。

表 D.1−温度

口金

温度

BY22d 150

a)

G12 280

a)

PG12,PGX12

210

a)

a)

  製造業者,又は責任ある販売業者が公表する値による。

図 D.1−ボールプレッシャー試験装置


17

C 7624

:2013

附属書 E

(規定)

始動器内蔵形ランプのパルス高さの測定方法

E.1 

はじめに 

始動器内蔵形ランプは,始動時に高電圧パルスが発生する。この附属書では,高電圧パルスのパルス高

さの測定方法及び測定に用いる安定器について規定する。内蔵する始動器によって発生する高電圧パルス

の大きさは,用いる安定器に依存するため,安定器の特性を規定しなければならない。

E.2 

試験回路 

図 E.1−試験回路

パルス電圧は,

図 E.1 の回路を用いて測定する。

この回路は,次による。

−  S は,内部グロースイッチ及び電子式スイッチをもつランプに対しては,始動器を表す。

−  S は,内部サーマルスイッチをもつランプに対しては,ランプを表す。

−  安定器の特性は,E.2.1 による。

−  力率改善コンデンサは,E.2.2 による。

−  パルス高さの測定回路は,E.2.3 による。

−  安定器とランプ又は始動器との線間容量は,20 pF を超えてはならない。

E.2.1 

安定器特性 

パルス高さの測定には,JIS C 8119 に規定する要求事項に適合し,かつ,

表 E.1 に規定する共振特性を

もつ安定器を用いる。共振特性は,安定器に 20 V の電圧を印加し,種々の周波数における電流を測定し決

定する。この測定の間,安定器の接地は,ラインターミナルで示すターミナルに接続する。共振特性は,

適切なコンデンサを用いて調整してもよい。


18

C 7624

:2013

表 E.1−安定器の共振特性

共振特性

ランプ

種類

定格電力

W

高圧ナトリウムランプ 110

−  180 220 270 360 660  940

メタルハライドランプ

−  100 200 250 300 400 700 1 000

安定器の大きさ  W(参考)

110 100 200 250 300 400 700 1 000

共振周波数 (kHz)±10

%

25 20 30 30 35 35 40  40

共振周波数でのインピーダンス (kΩ)±10

% 60 40 30 25 25 20 15  15

注記  これらの共振特性は,パルス高さの最大値を発生させる 200 V 用の安定器の代表特性である。

E.2.2 

力率改善コンデンサ 

力率改善コンデンサは,

表 E.2 に規定する容量のものを用いる。

表 E.2−試験用力率改善コンデンサ

力率改善コン

デンサの容量

ランプ

種類

定格電力

W

高圧ナトリウムランプ 110

−  180 220 270 360 660  940

メタルハライドランプ

−  100 200 250 300 400 700 1 000

容量  (μF)±10

%

12.5

10 15 15 20 25 40  55

E.2.3 

パルス高さの測定回路 

パルス高さの測定回路は,次による。

−  内部グロースイッチ及び電子式スイッチをもつランプのパルス高さの測定回路は,JIS C 7622 

付図

3

(パルス電圧測定回路)による。

−  内部サーマルスイッチをもつランプのパルス高さの測定回路は,JIS C 8147-2-1 

図 1(イグナイタの

始動電圧測定)による。

注記  上記の測定回路は,非常に狭い高電圧パルスを正確に検出できないことが広く知られている。

ただし,経験的には,そのようなパルスは,実用上問題にならない。

なお,静電電圧計の代わりに,次の特性をもつ,高圧プローブ付きのメモリオシロスコープを用いても

よい。

−  入力抵抗 100

MΩ 以上

−  入力キャパシタンス 15

pF 以下

−  遮断周波数 1

MHz 以上

また,パルス電圧計を用いた測定回路で測定してもよい(

図 E.1A 参照)。


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C 7624

:2013

P:パルス電圧計 
LPF:低域フィルタ(遮断周波数 100 kHz)

図 E.1A−パルス電圧計を用いたパルス高さの測定回路

E.3 

試験 

E.3.1 

内部グロースイッチ及び電子式スイッチをもつランプ 

パルス高さは,E.2 に規定する条件で 30 秒間試験し,E.2.3 の測定回路内の二つの電圧計に記録した値

の最大値とする。常温始動及び再始動の両方で測定する。

注記  内部グロースイッチ及び電子式スイッチをもつランプのパルス高さは,始動器自体で制限され

る。この試験目的に対しては,完全なランプではなく,ランプの中で用いる始動器だけで試験

してもよい。ただし,始動器をランプから分離した場合,動作状態が変化するときは,完全な

ランプで試験をする。

E.3.2 

内部サーマルスイッチをもつランプ 

試験は,試験前に一定の条件に調整した完全なランプで,次のように実施する。パルス高さは,常温始

動と再始動との両者で測定する。

注記  内部サーマルスイッチをもつランプのパルス高さは,始動器の設計と発光管特性との組合せに

影響される。したがって,試験は完全なランプで行う。

a)

常温始動  初期調整として,試験前に,ランプを 2 時間以上点灯し,消灯後 1 時間以上放置する。

初期調整後,5∼10 秒間点灯し,消灯後 15 分間以上放置する。

パルス高さは,E.2 に規定する条件で,電源投入からランプ始動後 5 秒までの間試験し,E.2.3 の測

定回路内に示す二つの電圧計に記録された値の最大値とする。

再測定する場合は,初期調整なしで同じランプで行うことができる。この場合,ランプを,5∼10

秒間点灯し,消灯後 15 分間以上放置する。

b)

再始動  ランプを,15 分間以上点灯する。ランプを消灯するために電源を一旦遮断後,再投入する。

パルス高さは,E.2 に規定する条件で,電源再投入からランプ始動後 5 秒までの間試験し,E.2.3 

測定回路内に示す二つの電圧計に記録された値の最大値とする。

再測定する場合は,再度 15 分間以上点灯して行う。


20

C 7624

:2013

附属書 F

(参考)

照明器具設計のための情報

F.1 

安全に動作させるためのガイドライン 

ランプを安全に動作させるために,照明器具の設計は,次の情報に留意することが望ましい。

F.2 

最大口金温度 

口金の温度は,

表 F.1 の値を超えないことが望ましい。E 形口金及び差込形口金の温度測定方法は,JIS 

C 7551-1

附属書 K(照明器具設計のための参考情報)に記載されている。ランプ電力は,JIS C 7604

JIS C 7610

JIS C 7621 及び JIS C 7623 の該当するランプデータシートのランプ電力目標値又は定格値の

10 %過負荷とし,点灯方向は,点灯可能な範囲で,最も高い温度になる方向とする。ただし,ランプ電力

を一定にコントロールできる安定器だけで使用するランプ電力は,ランプ電力目標値又は定格値でよい。

なお,Fc2,G12 及び RX7s の口金温度は,封止部温度を表す。測定方法は,JIS C 7802 による。

表 F.1−最大口金温度

口金

最大口金温度

BY22d 150

E26

接着剤固定 165

メカニカル固定 230

E39 230

Fc2 300

a)

G12 280

a)

PG12 210

PGX12 210

RX7s 280

a)

注記  技術的に説明できる材料を用いている場合は,この限りではない。 

a)

 Fc2,G12 及び RX7s は,封止部温度を表す。製造業者,又は責任

ある販売業者が公表する値による。

F.2A 

最大外管バルブ温度 

外管バルブの温度は,

表 F.1A の値を超えないことが望ましい。外管石英タイプのコンパクト形メタルハ

ライドランプの外管バルブ温度の測定方法は,JIS C 7527 

附属書 D(ガラス球温度測定方法)に記載さ

れている。ランプ電力は,JIS C 7604JIS C 7610JIS C 7621 及び JIS C 7623 の該当するランプデータシ

ートのランプ電力目標値又は定格値の 10 %過負荷とし,点灯方向は,点灯可能な範囲で,最も高い温度に

なる方向とする。ただし,ランプ電力を一定にコントロールできる安定器だけで使用するランプ電力は,

ランプ電力目標値又は定格値でよい。ランプを 20 分間以上点灯し,各部の温度が十分安定した後,熱電対

温度計を用いて測定する。

注記  熱電対の接着方法は,接点部を避けて耐熱セメント若しくは耐熱テープで固定するか,又はタ

ングステンのスプリングによって引張り固定(非セメント)する。


21

C 7624

:2013

表 F.1A−最大外管バルブ温度

ランプ及び外管バルブの種類

最大外管バルブ温度

ふっ素樹脂被膜付き 260

屋外用(耐水形) 300

軟質ガラス製 385

硬質ガラス製 430

特殊硬質ガラス製 500

石英ガラス製 650

注記  技術的に説明できる材料を用いる場合は,この限りではない。

F.3 

口金及び受金のキー構造 

適合するランプ及び安定器が,照明器具に取り付けできるように,キー構造の口金及び受金を採用する

ことが望ましい。

F.4 

ランプ破損に対する防護 

メタルハライドランプの多くは,発光管が破裂する危険性がある。ランプ製造業者は,ランプ破損の危

険性について警告している。JIS C 7623 のランプデータシートの照明器具設計のための情報に,保護シー

ルドの必要性が規定しているランプを使用する照明器具は,ランプ破損時の保護シールドを具備すること

が望ましい。

F.5 

紫外放射に対する防護 

数種類のメタルハライドランプは,高レベルの紫外放射[非リフレクタ形ランプでは 6 mW/klm を超え

る,又はリフレクタ形ランプでは 6 mW/(m

2

・klx)を超える]を発生する。

例えば,ランプ製造業者が,高レベルの紫外放射を発生するランプであることを,

附属書 に規定する

シンボルマーク(H.2 参照)又は警告注意文とともに,保護シールドを具備した照明器具だけでの使用(H.1

参照)の表示によって示している場合には,照明器具は,JIS C 8105-1 

附属書 P(高レベル紫外放射メ

タルハライドランプ用照明器具に使用する保護シールドの要求事項)に規定する保護シールドを具備する

ことが望ましい(JIS C 7623 に規定するランプは,最大有害紫外放射束値をデータシートに規定している。

規定していないランプは,最大有害紫外放射束値はランプ製造業者から入手する。

数種類のメタルハライドランプは,低レベルの紫外放射[非リフレクタ形ランプでは 2 mW/klm を超え

6 mW/klm 以下,又はリフレクタ形ランプでは 2 mW/(m

2

・klx)を超え 6 mW/(m

2

・klx)以下]を発生する。

例えば,ランプ製造業者が,

附属書 に規定するシンボルマーク(H.1 参照)又は警告注意文を表示し,

かつ,高レベルの紫外放射を発生するランプであること(H.2 参照)を表示,又は警告注意文を表示しな

い場合は,照明器具に具備する保護シールドに対する JIS C 8105-1 

附属書 の要求事項を適用しない。

この場合,いかなるガラスであっても紫外放射を十分低い水準に低減していることを意味している。

F.6 

ランプの寿命末期現象に対する注意事項 

ランプの寿命末期現象に対する注意事項は,次による。

a)

ほとんどの高圧ナトリウムランプは,寿命末期に異常な動作を起こす可能性がある。この異常な動作

は,安定器,トランス及び/又は始動器を過負荷に至らせる。したがって,このような条件下でも安


22

C 7624

:2013

全が保たれる適切な保護手段をとることが望ましい。

ただし,

安定器で保護手段をとっている場合は,

不要である。

次のランプは,異常な動作を起こしにくい。

− 1

000 W 高圧ナトリウムランプ

−  始動器内蔵形高圧ナトリウムランプ

−  ランプ製造業者が,異常な動作を起こしにくいと公表している高圧ナトリウムランプ

b)

数種類のメタルハライドランプは,

寿命末期に異常な動作を起こす可能性がある。

この異常な動作は,

安定器,トランス及び始動器を過負荷に至らせる。したがって,このような条件下でも安全が保たれ

る適切な保護手段をとることが望ましい。ただし,安定器で保護手段をとっている場合は,不要であ

る。

次のランプは,異常な動作を起こしやすい。

−  JIS C 7623 のランプデータシートに,寿命末期に異常な動作を起こす可能性があると記載している

メタルハライドランプ

−  ランプ製造業者が,異常な動作を起こす可能性があると公表しているメタルハライドランプ

F.7 

参考文献 

(対応国際規格のこの箇条を不採用とした。


23

C 7624

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附属書 G 
(規定)

設計試験の合否条件

(対応国際規格の規定を不採用とした。


24

C 7624

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附属書 H

(規定)

シンボルマーク

シンボルマークの高さは,5 mm 以上,文字の高さは,2 mm 以上とする。

H.1 

保護シールドを具備した照明器具だけで使用する場合 

H.2 

高レベルの紫外放射を発生する場合 

H.3 

外管バルブが破損したランプの使用を禁止する場合 

注記  図示した外管バルブ形状と実際のランプ形状とは異なる場合がある。

H.4 

セルフシールドありランプの場合(保護シールドを具備しない照明器具で使用可能) 


25

C 7624

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附属書 I

(規定)

石英発光管メタルハライドランプの密閉性試験

I.1 

試験の概要 

I.1.1 

試験の適用範囲 

この附属書は,発光管が破裂した場合,外管バルブ内に全ての破片を収納するように設計している石英

発光管メタルハライドランプの密閉性試験方法及び合否判定基準について規定する。これらのランプは,

保護シールドを具備しない照明器具で使用してもよい。ただし,この試験方法及び合否判定基準は,防護

被膜(例えば,外管バルブへの樹脂被膜)を使用する密閉性のある設計の評価には適用しない。

I.1.2 

試験の説明 

この試験では,寿命末期の発光管破裂を模擬するため,点灯中のランプに電荷を放電させる。試験の前

半部分では,

発光管を確実に破裂させるために必要なエネルギーの基準値を決める。

試験の後半部分では,

発光管をエネルギーの基準値で破裂させ,ランプの外管バルブの損傷を評価する。

この試験は,次の事項を含み,多くの点において,典型的な寿命末期の状況と異なっている。

a)

ランプは,新品である。

b)

発光管を破裂させるため,大きなエネルギーを発光管に加える必要があり,実際の寿命末期の発光管

破裂よりも高い圧力及び大きなエネルギーを発生させている。

c)

発光管破裂のメカニズムは,実際の寿命末期ランプのメカニズムと異なる場合がある。

I.2 

試験の準備 

I.2.1 

予防措置 

この試験では,高電圧及び大きい電気エネルギーを用いるため,最大限の注意が必要である。外管バル

ブが損傷した場合,高温のランプ部品の破片が飛び散るため,物理的な試験箱が必要である。破片が外管

バルブを貫通した場合,ランプからの水銀及び有害物質を封じ込め,かつ,除去するために予防措置を施

す。

I.2.2 

試験回路 

メタルハライドランプの密閉性試験に用いる基本的な試験回路を,

図 I.1 に示す。

回路インピーダンスが試験結果に影響するため,放電コンデンサとランプとの間の配線は,1 m 未満と

し,かつ,ランプホルダへの接続を容易にするため,配線部分の断面積は,直径を小さくしている接続部

分を除いて,20 mm

2

以上でなければならない。

放電コンデンサを充電するための直流電源は,5 000 V までのいずれの電圧も放電コンデンサに充電でき

なければならない。放電コンデンサを充電するための可変抵抗器の値は,供給電源が適切な時間以内にコ

ンデンサを充電できるように調整できなければならない。

放電コンデンサは,より大きい容量が,より高い出力のランプに要求されるため,10∼50  μF の値に調

整してもよいが,5 000 V の電圧に耐えなければならない。

ランプを点灯するための供給電源は,定格電力でランプを点灯させるために,十分な電圧及び電流を供

給することができなければならない。

時間調整回路は,電流が最大の位相のとき,コンデンサが放電するように,回路に挿入してもよい。


26

C 7624

:2013

ランプへの電流を制限するための安定器は,適用するランプ規格に規定する適切なインピーダンスをも

つリアクタ又は商用安定器でもよいが,短期間の 5 000 V の高圧パルスに耐えなければならない。

スイッチは,開放状態で短期間の 5 000 V の高圧パルスに耐えなければならない。

試験後にコンデンサを放電するための放電抵抗器は,1 000 Ω 及び 25 W 以上の定格とする。

1

ランプを点灯するための供給電源

2

ランプへの電流を制限するための安定器又は耐電圧インダクタ

3

ランプの点灯時の電気的特性を測定するための電圧・電流・電力計

4

ランプ

5

密閉性試験のために強いエネルギーを蓄えるための放電コンデンサ

6

試験後にコンデンサを放電するための放電抵抗器

7

コンデンサ電圧を測定するための電圧計

8

放電コンデンサを充電するための可変抵抗器

9

放電コンデンサを充電するための直流電源

S1∼S7  スイッチ

注記  スイッチは,この図では開放状態である。I.3.2 の決定手順には対応していない。

図 I.1−試験回路

I.2.3 

試験箱の要求事項 

メタルハライドランプの密閉性試験に必要な試験箱は,高温の破片(1 200  ℃の中を 50 m/s で移動する

最大 1.1 g の破片)の衝撃に耐えることができる材料で構成しなければならない。適切な材料には,金属板

及び耐衝撃性をもつ耐熱性ポリマーがある。金属製試験箱の場合,接地しなければならない。

試験箱は,ランプを口金上向き又は規定する点灯姿勢で点灯できる適切な受金を備えていなければなら

ない。

試験箱の寸法は,重要ではないが,ランプを収納するために十分な大きさで,かつ,ランプの側面及び

下面に十分な空間を与えることが望ましい。

I.3 

試験手順 

I.3.1 

ランプの選択及び準備 

供試ランプは,通常の量産品又は試作品から無作為に選択しなければならない。

ランプの構成寸法は,ランプデータシートの値,又は製造業者が指定する値以内でなければならない。


27

C 7624

:2013

I.3.2 

破裂エネルギーの基準値の決定手順 

ランプに内蔵する発光管を破裂させるために必要なエネルギーの基準値を決定するために,

図 I.1 を参

考にして,次の a)o)の手順を実施する。

これらの手順は,異なるランプ形式ごとに実行する必要があることに注意する。

a)

最初の状態は,

充電のエネルギー源とランプ点灯のエネルギー源とを接続せず,

ランプを装着しない。

b)

最初のエネルギーを 5 J 以上とし,コンデンサの直流供給電圧を次の式によって求める。

C

E

U

2

=

ここに,

U

コンデンサの直流供給電圧(V)

E

エネルギー(J)

C

コンデンサの容量(F)

c) S1

,S2,S3 及び S4 のスイッチを開路し,S5,S6 及び S7 のスイッチを閉路する。

d)

ランプを試験箱の中の受金に挿入する。

e)

ランプの供給電源に電源を投入し,ランプが点灯するときの適切な特性になるように,調整する。こ

の供給電源だけでなく,ランプ始動に追加手段が必要になる場合がある。

f)

試験箱を確実に閉じる。

g)  5

分後,S1 及び S2 のスイッチを閉路し,S6 のスイッチを開路する。

h)

電圧・電流・電力計によって,ランプの電気的な点灯状態を測定し,ランプを定常点灯にするため,

必要に応じて供給電源を調整する。

i)

ランプを 20 分間点灯させる。

j)

ランプが立ち上がるまでの間,コンデンサの充電を開始するため,コンデンサの直流供給電源の電源

を投入して,S5 のスイッチを開路し,かつ,S4 のスイッチを閉路する。そして,電圧計によってコ

ンデンサの電圧を監視する。

k)

コンデンサが最終的な充電に達し,ランプが 20 分間以上点灯した後に,S6 のスイッチを閉路し,S1,

S2 及び S4 のスイッチを開路する。

l)

ランプを介してコンデンサを放電させるため,S3 のスイッチの閉路動作を誘導する S7 のスイッチを

開路する。

m)

放電後,S3 のスイッチを開路し,S5 のスイッチを閉路する。ランプの供給電源及びコンデンサの直

流供給電源の両方の電源を切る。

n)

発光管が l)において破裂した場合,8 本のランプを試験するまで,c)m)の手順を繰り返す。8 本中 4

本以上の発光管が破裂した場合,そのエネルギー及び電圧の値を記録する。これらの値は,I.3.3 に規

定する試験の基準値として用いる。

o)

発光管が l)において破裂しなかったか,又は 8 本中 4 本未満の発光管がその後の試験において破裂し

た場合,5 J 以上の増加エネルギーを得るために,放電コンデンサの電圧を増加させる。その後,c)

n)

の手順を繰り返す。発光管が電圧を増加した後でも確実に破裂しない場合,コンデンサの容量の増

加が必要になる場合がある。

I.3.3 

破裂試験の実施手順 

発光管を破裂させるために必要なエネルギーの基準値を決定後(I.3.2 参照)

,ランプが密閉しているか

どうか決定するために,次の手順を実施する。

a)  I.3.2

の a)o)の手順で決定した発光管を破裂させるために必要なエネルギーの基準値を用いて,I.3.2


28

C 7624

:2013

の c)m)の手順を実施する。

b)

供試ランプのグループの全てのランプについて,この手順を実施する。

c)

供試ランプのグループにおけるランプ数量は,10 本以上の発光管を確実に破裂させるために,十分な

数量でなければならない。

I.4 

密閉性のあるランプの設計 

I.4.1 

外管バルブの損傷の定義 

発光管を破裂させたそれぞれのランプについて,外管バルブに損傷がないか調べる。この試験の結果で

ある外管バルブの損傷には,破砕,貫通孔又は壁面の穴が考えられる。全ての破片が外管バルブの中に収

納されていて,外管バルブが元の状態のままである場合,外管バルブの壁面のきず,亀裂及び欠けは問題

ない。

I.4.2 

密閉性の合否判定基準 

I.3.3

の供試ランプのグループの全てのランプにおいて,外管バルブの損傷がない場合(I.4.1 参照)

,ラ

ンプの構造は,密閉されていると判断する。

I.3.3

の供試ランプのグループの 2 本以上のランプにおいて,外管バルブの損傷がある場合(I.4.1 参照)

ランプの構造は,密閉されていないと判断する。

I.3.3

の供試ランプのグループのランプの 1 本だけに外管バルブの損傷があり,この損傷が外管バルブの

壁面で 3 mm 未満の直径の穴に制限できる場合,新たに試験ランプを準備して試験を繰り返さなければな

らない。その場合のランプ数量は,10 本以上の発光管を確実に破裂させるために,十分な数量でなければ

ならない。第二回目の供試ランプのグループの全てのランプにおいて,外管バルブの損傷がない場合,ラ

ンプの構造は密閉されていると判断する。

第二回目の供試ランプのグループの 1 本以上のランプにおいて,

外管バルブの損傷がある場合,ランプの構造は密閉されていないと判断する。


29

C 7624

:2013

附属書 J

(規定)

セラミック発光管メタルハライドランプの密閉性試験

J.1 

試験の概要 

J.1.1 

試験の適用範囲 

この附属書は,発光管が破裂した場合,外管バルブ内に全ての破片を収納するように設計しているセラ

ミック発光管メタルハライドランプの密閉性試験方法及び合否判定基準について規定する。これらのラン

プは,保護シールドを具備しない照明器具で使用してもよい。ただし,この試験方法及び合否判定基準は,

防護被膜(例えば,外管バルブへの樹脂被膜)を使用する密閉性のある設計の評価には適用しない。

J.1.2 

試験の説明 

この試験では,寿命末期の発光管破裂を模擬するため,発光管のエネルギーを増大させて,ランプを点

灯させている安定器と並列に設置した追加インピーダンスとを切り替えている。試験の前半部分では,発

光管を確実に破裂させるために必要なエネルギーの基準値を決める。試験の後半部分では,発光管をエネ

ルギーの基準値で破裂させ,ランプの外管バルブの損傷を評価する。

この試験は,次の事項を含み,多くの点において,典型的な寿命末期の状況と異なっている。

a)

ランプは,新品である。

b)

発光管を破裂させるため,大きいエネルギーを発光管に加える必要があり,実際の寿命末期の発光管

破裂よりも高い圧力及び大きなエネルギーを発生させている。

c)

発光管破裂のメカニズムは,実際の寿命末期ランプのメカニズムと異なる場合がある。

J.2 

試験の準備 

J.2.1 

予防措置 

この試験では,大きい電気エネルギーを用いるため,最大限の注意が必要である。外管バルブが損傷し

た場合,高温のランプ部品の破片が飛び散るため,物理的な試験箱が必要である。破片が外管バルブを貫

通した場合,ランプからの水銀及び有害物質を封じ込め,かつ,除去するために予防措置を施す。

J.2.2 

試験回路 

メタルハライドランプの密閉性試験に用いる基本的な試験回路を,

図 J.1 に示す。

ランプを点灯するための供給電源は,通常の電力でランプを点灯させる場合,及び発光管を破裂させる

ために通常の 5∼20 倍のエネルギーを発生させる場合に,十分な電圧及び電流を供給することができなけ

ればならない。

ランプを点灯するための安定器は,適用するランプ規格に規定する適切なインピーダンスをもつリアク

タ又は商用安定器でもよい。

追加インピーダンスは,

可変リアクタ,リアクタ安定器又はリアクタ安定器の組合せで構成してもよい。

配線及びスイッチは,40 A 以上の電流に耐えなければならない。


30

C 7624

:2013

1

ランプを点灯するため及び発光管を破裂させる追加エネルギーの供給電源

2

ランプを点灯するための安定器

3

ランプを点灯させている安定器と並列に設置した追加インピーダンス

4

ランプの点灯時の電気的特性を測定するための電流計

5

ランプの点灯時の電気的特性を測定するための電圧計

6

ランプ

7

スイッチ

図 J.1−試験回路

J.2.3 

試験箱の要求事項 

メタルハライドランプの密閉性試験に必要な試験箱は,高温の破片(1 200  ℃の中を 50 m/s で移動する

最大 1.1 g の破片)の衝撃に耐えることができる材料で構成しなければならない。適切な材料には,金属板

及び耐衝撃性をもつ耐熱性ポリマーがある。金属製試験箱の場合,接地しなければならない。

試験箱は,ランプを口金上向き又は規定する点灯姿勢で点灯できる適切な受金を備えていなければなら

ない。

試験箱の寸法は,重要ではないが,ランプを収納するために十分な大きさで,かつ,ランプの側面及び

下面に十分な空間を与えることが望ましい。

J.3 

試験手順 

J.3.1 

ランプの選択及び準備 

供試ランプは,通常の量産品又は試作品から無作為に選択しなければならない。

ランプの構成寸法は,ランプデータシートの値,又は製造業者が指定する値以内でなければならない。

J.3.2 

破裂エネルギーの基準値の決定手順 

ランプに内蔵する発光管を破裂させるために必要なエネルギーの基準値を決定するために,

図 J.1 を参

考にして,次の a)k)の手順を実施する。

これらの手順は,異なるランプ形式ごとに実行する必要があることに注意する。

a)

最初の状態は,

充電のエネルギー源とランプ点灯のエネルギー源とを接続せず,

ランプを装着しない。

b)

ランプを点灯するため,安定器の約 20 %の追加インピーダンスを選択する。

c)

スイッチを開路し,ランプを試験箱の中の受金に挿入する。

d)

ランプの供給電源に電源を投入し,供給電圧を定格電圧又は高めに設定する。定格電圧値の 110 %及


31

C 7624

:2013

び/又は定格電力値の 120 %までとする。

e)

ランプを点灯させ,試験箱を確実に閉じる。

f)

ランプを 10 分間以上,点灯させる。

g)

発光管内部のエネルギーを増加させるため,スイッチを閉路する。

h)

発光管が,約 5 秒以内で破裂するかどうか観察する。

i)

スイッチを開路し,電源を切る。

j)

発光管が h)において破裂した場合,8 本のランプを試験するまで,c)i)の手順を繰り返す。8 本中 4

本以上の発光管が破裂した場合,その電圧及びインピーダンスの値を記録する。これらの値は,J.3.3

に規定する試験に用いる。

k)

発光管が残存し,かつ,約 5 秒以内に破裂しなかった場合,追加インピーダンス値を減少させ,c)

j)

の手順を繰り返す。発光管が破裂せず,かつ,ランプが消灯した場合,10 分の予熱の間に,供給電

圧を増加させ,更にランプ点灯を維持するために,ランプを点灯するための安定器のインピーダンス

を定格電力の 120 %まで増加させ,c)j)の手順を繰り返す。

J.3.3 

破裂試験の実施手順 

発光管を破裂させるために必要なエネルギーの基準値を決定後(J.3.2 参照)

,ランプが密閉しているか

どうか決定するために,次の手順を実施する。

a)  J.3.2

の a)k)の手順で決定した発光管を破裂させるために必要なエネルギーの基準値を用いて,J.3.2

の c)i)の手順を実施する。

b)

供試ランプのグループの全てのランプについて,この手順を実施する。

c)

供試ランプのグループにおけるランプ数量は,10 本以上の発光管を確実に破裂させるために,十分な

数量でなければならない。

J.4 

密閉性のあるランプの設計 

J.4.1 

外管バルブの損傷の定義 

発光管を破裂させたそれぞれのランプについて,外管バルブに損傷がないか調べる。この試験の結果で

ある外管バルブの損傷には,破砕,貫通孔又は壁面の穴が考えられる。全ての破片が外管バルブの中に収

納されていて,外管バルブが元の状態のままである場合,外管バルブの壁面のきず,亀裂及び欠けは問題

ない。

J.4.2 

密閉性の合否判定基準 

J.3.3

の供試ランプのグループの全てのランプにおいて,外管バルブの損傷がない場合(J.4.1 参照)

,ラ

ンプの構造は,密閉されていると判断する。

J.3.3

の供試ランプのグループの 2 本以上のランプにおいて,

外管バルブの損傷がある場合

J.4.1 参照)

ランプの構造は,密閉されていないと判断する。

J.3.3

の供試ランプのグループのランプの 1 本だけに外管バルブの損傷があり,この損傷が外管バルブの

壁面で 3 mm 未満の直径の穴に制限できる場合,新たに試験ランプを準備して試験を繰り返さなければな

らない。その場合のランプ数量は,10 本以上の発光管を確実に破裂させるために,十分な数量でなければ

ならない。第二回目の供試ランプのグループの全てのランプにおいて,外管バルブの損傷がない場合,ラ

ンプの構造は密閉されていると判断する。

第二回目の供試ランプのグループの 1 本以上のランプにおいて,

外管バルブの損傷がある場合,ランプの構造は密閉されていないと判断する。


32

C 7624

:2013

附属書 JA

(参考)

安定器設計のための情報

安定器設計のための情報を,次に示す。

a)

ほとんどの高圧ナトリウムランプは,寿命末期に異常な動作を起こす可能性がある。この異常な動作

は,安定器,トランス及び始動器を過負荷に至らせる。したがって,このような条件下でも安全が保

たれる適切な保護手段をとることが望ましい。ただし,照明器具で保護手段がとられている場合は,

不要である。

次のランプは,異常な動作を起こしにくい。

− 1

000 W 高圧ナトリウムランプ

−  始動器内蔵形高圧ナトリウムランプ

−  ランプ製造業者が,異常な動作を起こしにくいと公表している高圧ナトリウムランプ

b)

数種類のメタルハライドランプは,

寿命末期に異常な動作を起こす可能性がある。この異常な動作は,

安定器,トランス及び始動器を過負荷に至らせる。したがって,このような条件下でも安全が保たれ

る適切な保護手段をとることが望ましい。ただし,照明器具で保護手段がとられている場合は,不要

である。

次のランプは,異常な動作を起こす可能性がある。

−  JIS C 7623 のランプデータシートに,寿命末期に異常な動作を起こす可能性があると記載している

メタルハライドランプ

−  ランプ製造業者が,異常な動作を起こす可能性があると公表しているメタルハライドランプ

参考文献  JIS C 7527  ハロゲン電球(自動車用を除く)−性能仕様

注記  対応国際規格:IEC 60357:2002,Tungsten halogen lamps (non vehicle)−Performance

specifications,Amendment 1:2006 及び Amendment 2:2008(MOD)

JIS C 7550

  ランプ及びランプシステムの光生物学的安全性

注記  対応国際規格:IEC 62471:2006,Photobiological safety of lamps and lamp systems(MOD)

JIS C 7551-1

  白熱電球類の安全仕様−第 1 部:一般照明用白熱電球

注記  対応国際規格:IEC 60432-1,Incandescent lamps−Safety specifications−Part 1: Tungsten

filament lamps for domestic and similar general lighting purposes(MOD)

JIS C 7604

  高圧水銀ランプ−性能規定

JIS C 7610

  低圧ナトリウムランプ

JIS C 7802

  石英ランプの封止部温度測定方法

注記  対応国際規格:IEC 60682:1980,Standard method of measuring the pinch temperature of

quartz-tungsten-halogen lamps,Amendment 1:1987 及び Amendment 2:1997(MOD)


附属書 JB

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 7624:2013

  放電ランプ(蛍光ランプを除く)−安全仕様

IEC 62035:1999

  Discharge lamps (excluding fluorescent lamps)−Safety specifications,

Amendment 1:2003 及び Amendment 2:2012

(I)JIS の規定

(II)

国際
規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと

の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

箇条番号 
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと 
の評価

技術的差異の内容

1  適用範囲

一般照明用 HID ランプ
及び低圧ナトリウムラ

ンプの安全性合否判定
及び試験方法を規定。

JIS

に規定の安定器,始

動器,照明器具で供給電
圧 90∼110 %で安全に
動作する必要がある。

この規格の対象外の口
金をもつランプについ
ても,可能な限り適用す

る。

 1 JIS と同じだが,規格の対

象外の口金をもつランプ

についてはコメントなし。

追加

特殊な口金をもつ HID ランプにつ
いても,この規格を可能な限り適用

する。

安全に関わる規定であり,HID
ランプ全般を対象とするため,追

加した。IEC 規格も本体では同
様の内容表現となっており,IEC
に修正を提案する。

3  用語及び
定義

16 用語を定義。

3

19 用語を定義。

削除 
 
 
追加

評価に関連する一部の用語の定義
を不採用とした。 
 
電子式スイッチを追加。

評価の考え方に相違があるため。
判定基準について IEC に提案す

る。 
我が国独自のランプ始動器に対
応するため。

4  一般的安
全要求事項

4.2.1  ランプへの表示 
表示内容

−  ランプ形式

 4.2.1

表示内容 
−  公 称 電 力 又 は 他 の 識

変更

ランプ形式の表示を採用。

品種が多く区分できないため定
格ランプ電力を含むランプ形式

の表示を安全性確保のため採用。

IEC

規格の他の識別と同じ。

合否判定方法

合否判定方法

追加

こすり試験のこする速さを明確化。 試験条件の標準化のため。

33

C

 762

4


20
1

3


(I)JIS の規定

(II) 
国際
規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号 
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと 
の評価

技術的差異の内容

4  一般的安
全要求事項
(続き)

4.2.2  補足情報の表示 
特別な内容は,補足とし
て,取扱説明書又は個装
に表示。

個装への表示はシンボ
ルマークだけでもよい。

 4.2.2

特別な内容は,補足とし

て,取扱説明書に表示。 
個装又は外装への表示は
シンボルマークだけでも

よい。

変更

個装への表示でも可,外装への表示

は不可とした。

安全表示であり,取扱説明書又は

個装への表示とした。基本的に

IEC

規格と同じ。

5  個別安全
要求事項

5.2.0A  始動器内蔵形ラ
ンプのパルス高さ 
試験方法,規定及び合否

判定。

IEC

規格になし。

追加

5.1.1

を元にパルス高さを規定。

我が国で主流の水銀灯安定器点
灯形ランプに対応するため。

5.2.2.1  表示 
保護シールドなしの器

具で使用可を,取扱説明
書又は個装に表示。 
個装への表示はシンボ

ルマークだけでもよい。

 5.2.2.1 保護シールドなしの器具

で使用可を,個装又は外装

に表示。 
個装又は外装への表示は
シンボルマーク。

変更

取扱説明書への表示でも可,外装だ
けへの表示は不可とした。

我が国は取扱説明書への記載が
慣習となっているとともに,この

使用条件のランプが一般的であ
り,特に包装への表示に限定する
必要がないため。基本的には IEC

規格と同じ。IEC へ提案する。

5.2.2.3A  異極間距離 
規定及び合否判定

IEC

規格になし。

追加

異極間距離を規定。

IEC

へ提案を検討する。

6A  安 定 器
設計のため

の情報

附属書 JA に規定

IEC

規格になし。

追加

寿命末期現象に対する注意を規定。 我が国の現状の照明システム構

成に合わせるため。IEC へ提案

を検討する。

7  評価 7.2

製 造 業 者 の 記 録 に

よる全製品の評価 
不採用

 7.2

安全性の要求に合致して

いる根拠のための評価。

削除 7.3A の方法に変更。

現在我が国で一般的に用いてい

る判定基準に変更した。IEC 
提案を検討する。

7.3  ロット判定 
不採用

 7.3

ロット判定のための評価。 削除 7.3A の方法に変更。

7.3A  検査 
設計試作時検査,形式検
査及び受渡検査の項目
規定。抜取検査の合否判

定個数規定。

IEC

規格になし。

追加

34

C

 762

4


2

013


(I)JIS の規定

(II) 
国際
規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号 
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと 
の評価

技術的差異の内容

附属書 A

(規定)

対象の口金及びゲージ

のリスト。

附属

書 A

対象の口金及びゲージの

リスト。

変更

JIS

に規定されている口金に限定。

安全性及びソケットとの互換性

確保のため。

附属書 B

(規定)

加熱温度及び判定値。

附属

書 B

加熱温度及び判定値。

変更

JIS

に規定されている口金に限定。

安全性及びソケットとの互換性

確保のため。

附属書 C 
(規定)

ホルダの形状寸法。

附属
書 C

ホルダの形状寸法。

変更

JIS

に規定されている口金に限定。

不要な穴加工を削除。

安全性及びソケットとの互換性
確保のため。

附属書 E 
(規定)

測定方法及び用いる安
定器。

附属
書 E

測定方法及び用いる安定
器。

変更

我が国独自のランプに対応する安
定器を規定。

我が国で主流の水銀灯安定器点
灯形ランプに対応するため。

追加

パルス高さ測定回路の追加。

我が国の実態に合わせ,計測器の
種類を増加。基本的に IEC 規格
と同じ。

附属書 F 
(参考)

照明器具設計のための
情報。

附属
書 F

照明器具設計のための情
報。

追加

測定条件としてランプ電力を明確
にした。

測定条件の標準化のため。

変更

口金種類を,JIS に規定されている
口金に限定。

安全性及びソケットとの互換性
確保のため。

追加

最大外管バルブ温度規定を追加。

安全性に関する項目と判断した
ため。IEC に提案する。

附属書 G

(規定)

設計試験の合否条件

不採用

附属

書 G

設計試験の合否判定個数。 削除 7.3A に規定。

本体部分に規定したため。

附属書 JA

(参考)

安定器設計のための情

IEC

規格になし。

追加

寿命末期現象に対する注意を規定。 我が国の現状の照明システム構

成に合わせるため。IEC に提案
する。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:

IEC 62035:1999,Amendment 1:2003,Amendment 2:2012,MOD)

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

−  削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

−  MOD  国際規格を修正している。

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C

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