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C 7620-1:2017  

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 適用範囲 1 

2 引用規格 1 

3 用語及び定義  2 

4 一般要求事項及び一般試験要求事項  4 

5 表示 4 

6 互換性,質量及び曲げモーメント  6 

7 感電に対する保護  7 

8 絶縁抵抗及び耐電圧性  8 

9 機械的強度  9 

10 口金温度上昇  12 

11 耐熱性  13 

12 耐燃焼性  14 

13 寿命となる条件(異常状態における安全性)  14 

14 沿面距離及び空間距離  16 

15 ランプの寿命  16 

16 光生物学的危険  16 

17 異常動作  17 

18 調光器対応ランプの試験条件  18 

19 全生産品の評価(不採用)  18 

20 形式試験による証拠での表示などの照合  18 

21 照明器具設計のための情報  19 

附属書A(参考)全生産品の評価(不採用)  20 

附属書B(参考)照明器具設計のための情報 21 

附属書JA(規定)GX53口金付電球形蛍光ランプの最大口金温度上昇試験  22 

附属書JB(参考)検査  23 

附属書JC(規定)包装又は取扱説明書の安全に関わる注意事項の表示  25 

附属書JD(参考)JISと対応国際規格との対比表  28 

 

 


 

C 7620-1:2017  

(2) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本

照明工業会(JLMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を

改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格で

ある。これによって,JIS C 7620-1:2010は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 7620の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 7620-1 第1部:安全仕様 

JIS C 7620-2 第2部:性能仕様 

 

 


 

 

日本工業規格          JIS 

 

C 7620-1:2017 

 

一般照明用電球形蛍光ランプ−第1部:安全仕様 

Self-ballasted fluorescent lamps for general lighting service- 

Part 1: Safety specifications 

 

序文 

この規格は,2015年に第3版として発行されたIEC 60968を基とし,我が国の実状に適合させるため,

技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,附属書JDに示す。また,附属書JA〜附属書JCは対応国際規格にはない事項

である。 

 

適用範囲 

この規格は,始動及び点灯のための回路と一体化した電球形蛍光ランプの適合性判定のための試験方法

及び試験条件並びに安全及び互換性の要求事項について規定する。 

対象は,定格入力電圧50 V〜250 V,定格周波数50 Hz又は60 Hz,JIS C 7709-1に適合する口金をもつ

屋内用及び類似用途の一般照明用として用いるランプとする。 

この規格において,特に記載しない口金・受金システムを使用する場合,製造業者は,安全に関する試

験の適切な情報を提供する。 

この規格の要求事項は,形式試験だけに関係する。 

この規格の光生物学的安全性の規定部分は,JIS C 7550及びIEC/TR 62471-2に従い適用する。 

また,この規格の蛍光ランプの青色光及び赤外放射傷害は,表示を要求される基準を下回る。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 60968:2015,Self-ballasted fluorescent lamps for general lighting services−Safety requirements

(MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード) 

JIS C 7550 ランプ及びランプシステムの光生物学的安全性 

注記 対応国際規格:IEC 62471,Photobiological safety of lamps and lamp systems(MOD) 


C 7620-1:2017  

 

JIS C 7551-1 白熱電球類の安全仕様−第1部:一般照明用白熱電球 

JIS C 7618-1 片口金蛍光ランプ−第1部:安全仕様 

注記 対応国際規格:IEC 61199,Single-capped fluorescent lamps−Safety specifications(MOD) 

JIS C 7620-2 一般照明用電球形蛍光ランプ−第2部:性能仕様 

JIS C 7709-1 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第1部 口金 

注記 対応国際規格:IEC 60061-1,Lamp caps and holders together with gauges for the control of 

interchangeability and safety−Part 1: Lamp caps(MOD) 

JIS C 7709-3 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第3部 ゲージ 

注記 対応国際規格:IEC 60061-3,Lamp caps and holders together with gauges for the control of 

interchangeability and safety−Part 3: Gauges(MOD) 

JIS C 8105-1 照明器具−第1部:安全性要求事項通則 

注記 対応国際規格:IEC 60598-1,Luminaires−Part 1: General requirements and tests(MOD) 

JIS C 8147-1 ランプ制御装置−第1部:通則及び安全性要求事項 

注記 対応国際規格:IEC 61347-1,Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements(MOD) 

JIS C 60695-2-10:2015 耐火性試験−電気・電子−第2-10部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法

−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60695-2-10:2013,Fire hazard testing−Part 2-10: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire apparatus and common test procedure(IDT) 

JIS C 60695-2-11:2004 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60695-2-11:2000,Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire flammability test method for end-products(IDT) 

JIS C 60695-2-12 耐火性試験−電気・電子−第2-12部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法−材

料に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWFI) 

JIS C 60695-2-13 耐火性試験−電気・電子−第2-13部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法−材

料に対するグローワイヤ着火温度指数(GWIT) 

JIS Z 8113 照明用語 

IEC 60360,Standard method of measurement of lamp cap temperature rise 

ISO 4046-4:2002,Paper, board, pulps and related terms−Vocabulary−Part 4: Paper and board grades and 

converted products 

 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8113によるほか,次による。 

3.1 

電球形蛍光ランプ(self-ballasted fluorescent lamp) 

口金,発光管,並びに発光管の始動及び点灯に必要な全ての要素部品を破壊しなければ分解できない構

造で一体化した蛍光ランプ。 

3.1A 

種別(group) 

同一の口金であり,電気特性,寸法及び始動方法が同じランプの区分。 


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3.1B 

形式(type) 

同じ種別のランプで,光学的特性及び光源色が同じランプの区分。 

3.2 

公称値(nominal value) 

ランプを特定し,他と区別するために用いるおおよその数値。 

3.3 

定格値(rated value) 

規格化した点灯条件におけるランプ特性のための数値。 

注記 その数値及び条件は,この規格で規定する。規格に規定しない場合は,製造業者又は責任ある

販売業者が指定する。 

3.4 

口金温度上昇値Δts(cap temperature rise) 

JIS C 7551-1又はIEC 60360に規定した標準的方法に従って測定したときの,ランプの口金に合った標

準の試験用受金表面の周囲温度からの温度上昇値。ただし,GX53の口金については,附属書JAに規定し

た標準方法に従って測定したときの,その口金の周囲温度からの温度上昇値。 

3.5 

充電部(live part) 

通常の使用状態で感電する導電部分。 

3.6 

形式試験(検査)(type test) 

製品の設計が,関連する規格の要求事項に適合していることを確認するために,形式試験(検査)サン

プルを用いて行う一つの試験又は一連の試験。 

3.7 

形式試験(検査)サンプル(type test sample) 

形式試験(検査)のために製造業者又は責任ある販売業者が提供する,一つのサンプル又は同じような

集団からなるサンプル。 

3.8 

実効紫外放射強度(specific effective radiant UV power) 

ランプ照度に関連するランプの紫外放射強度。 

注記1 実効紫外放射強度は,mW/klmの単位で表す。 

注記2 実効紫外放射強度は,ランプの分光強度分布に,紫外放射傷害作用関数SUV(

‰銑

み付けし

て算出する。相当する紫外放射傷害作用関数は,JIS C 7550に情報が与えられている。これ

は,人が暴露する紫外放射に関する傷害の可能性に関連するだけである。機械的ダメージ及

び退色のような材質への光学的放射の影響の可能性は,扱わない。 

3.9 

試験ファミリー(test family) 

材料,部品,ランプ径,使用方法などが共通のランプ種別。 

3.9A 

磁気安定器式(magnetic ballast type) 


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スタータを内蔵し,磁気式安定器によって動作させる点灯周波数と電源周波数とが等しいランプの点灯

方式。 

注記 ランプの点灯方式には,磁気安定器式のほかに電子安定器式がある。電子安定器式とは,直流

又は交流を電源として,1個以上の放電ランプを交流電力で点灯させるための安定化素子を含

む半導体素子からなる装置を組み込んだものをいう。 

3.9B 

設計試作時試験(検査)(design test) 

ランプの構造,使用材料などの主要な設計変更をするときに実施する試験。 

3.9C 

受渡検査 

販売業者から製造業者へ要求があった場合に実施する特別な検査。 

 

一般要求事項及び一般試験要求事項 

4.1 

一般要求事項 

電球形蛍光ランプは,通常に使用したとき確実に機能し,かつ,使用者及び周囲に危害を与えないよう

に,設計及び製造しなければならない。 

適合性の判定は,他の規定がない場合には,この規格に規定する全ての試験を実施して行う。 

設計試作時試験(検査),形式試験(検査)及び受渡検査の検査項目及び合格判定基準は,箇条20又は

附属書JBによることが望ましい。 

4.2 

一般試験要求事項 

この規格に特に規定しない限り,全ての測定は定格入力電圧及び定格周波数で,無風状態で行う。周囲

温度は23 ℃〜27 ℃とし,測定中に1 ℃を超える変化があってはならない。ランプが複数の周波数に対し

て定格をもつ場合は,試験は最も厳しい条件で行う。 

試験電圧は,適切な箇条で規定する。 

4.3 

構造に対する一般事項 

電球形蛍光ランプは,分解すると安全及び性能を損なう場合があるので,容易に分解できない構造とす

る。13.2を除いて,どのような試験においても分解してはならない。 

電球形蛍光ランプの目視検査及び回路図の検査で疑義がある場合並びに製造業者又は責任ある販売業者

の同意がある場合には,異常状態が模擬的に再現できるように特別に作ったランプで試験をする(箇条13

及び箇条15参照)。 

 

表示 

5.1 

製品の表示 

電球形蛍光ランプには,見やすく,容易に消えない方法で,次の事項を表示しなければならない。 

a) 製造業者名若しくは責任ある販売業者名,又はその略号 

b) 定格入力電圧又は電圧範囲(単位は,“V”又は“volts”で表示する。) 

c) JIS C 7620-2による定格ランプ電力(単位は,“W”,“watts”又は“ワット”で表示する。) 

d) 定格周波数(単位は,“Hz”で表示する。) 

e) 形式 

製品形式を特定するのに必要な上記以外の情報を形式と表現することにする。 


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例 モデルNo.,参照形式 

5.2 

追加の表示 

ランプ製造業者は,ランプ,包装又は取扱説明書に次の事項を追加表示する。 

a) 定格ランプ電流 

b) 制限のある場合には点灯方向などの制限事項 

c) 置き換えるランプより著しく重い場合には,重さが照明器具の機械的強度に影響することがある旨の

注意事項 

d) 安全に関わる警告,注意の区分,その図記号及び指示文(附属書JCから必要に応じ選定) 

e) 調光に対応していないランプは,図1の図記号又は文字での注意書き 

表示は,包装又は取扱説明書で行う。図記号の高さは5 mm以上とする。 

f) 

図2の図記号,又は乾燥した条件又は防水する照明器具内で使用するランプである旨の文字での注意

書き 

表示は,包装又は取扱説明書で行う。図記号の高さは5 mm以上とする。発光管の形状は,ランプ

の形状を示すために変化させてよい。 

 

 

図1−調光機能が付いた照明器具での使用はしない 

 

 

図2−乾燥した条件又は防水する照明器具内で使用するランプ 

 

5.3 

表示の適合性 

合否判定は,次による。 

a) 5.1の表示事項の表示の有無,内容及び明瞭さは,目視によって判定する。 

b) 表示事項の丈夫さは,水でぬらした滑らかな布で15秒間(1秒1往復程度の速さ),軽く拭いて試験


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する。表示事項は,試験後,判読可能でなければならない。 

c) 5.2の表示事項の読みやすさは,目視によって判定する。 

5.4 

表示を要求する場所 

表1に表示を要求する場所を示す。 

 

表1−表示を要求する場所 

表示事項 

製品 

製品包装 

製品データシート又はリーフ 

製造業者又は販売業者
(適切な用語を使う) 

定格電圧(複数)又は
定格電圧範囲 

定格電力 

定格周波数 

製品形式(特性が特定
できる記述) 

定格ランプ電流 

− 

製品質量 

− 

調光の制限 

− 

水接触の防止 

− 

x:要求,−:要求しないが任意 

 

互換性,質量及び曲げモーメント 

6.1 

互換性 

互換性を確保するため,JIS C 7709-1に規定する口金を使用しなければならない。 

完成したランプの口金の適合性確認は,JIS C 7709-3に規定する互換性検査用のゲージで行う。JIS C 

7709-1に規定する測定器を用いる方法を用いてもよい。 

注記 ランプの口金取付け部近傍の形状寸法は,互換性を確保するためにJIS C 7501の附属書JB及

びJIS C 7530の附属書3(電球の最大外郭寸法)を満たすことが望ましい。 

6.2 

受金にてランプから受ける曲げモーメント及びランプ質量 

ランプソケットに加わる曲げモーメントは,表2の数値を超えてはならない。 

曲げモーメントは,水平に保持したランプの先端で測定した荷重(N)と,回転軸からランプ本体の先

端までの距離とを乗じて決定する。その回転軸は,E形又はB形口金の円筒部分の底部又はピンタイプ口

金の接触部の端部である。ランプは,回転軸に直角に立つ薄い金属板又はそれに類する部材で保持する。

曲げモーメント試験のサンプルの配置は,図3に示す。表2と異なる口金を付けたランプにおいては,曲

げモーメントの効果を考慮して制限する。これらの口金を付けたランプの測定方法は,検討中である。ラ

ンプ受金に固定される照明器具表面は,曲げモーメントに耐えなければならないことに注意する。照明器

具表面の曲げモーメントの計算のために,全長を測定するときに,ランプ受金の長さを考慮する。このこ

とは,点灯中の温度上昇で外郭材料が軟化した場合でも,規定の曲げモーメントに耐えなければならない

ことに注意する。 


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図3−ランプ受金でのランプから受ける曲げモーメントのサンプル試験の配置 

 

ランプ質量は,表2に示す質量を超えてはならない。 

 

表2−曲げモーメント及び質量 

口金 

曲げモーメント 

Nm 

質量 

kg 

B15d 

a) 

B22d 

E11 

0.5 

a) 

E12 

0.5 

a) 

E14 

a) 

E17 

E26 

E27 

E39 

1 a) 

a) 

E40 

1 a) 

a) 

GU10 

0.1 

a) 

GZ10 

0.1 

a) 

GX53 

0.3 

a) 

R7s 

a) 

1 a) 

注a) 検討中 

 

感電に対する保護 

照明器具のカバーを外した状態で,関連するJISの受金のデータシートに従うランプ受金にランプをセ

ットしたときに,内部の金属部分,最小限の絶縁がなされただけの外部金属部分,ランプ口金又はランプ

本体の充電部分に,接触できないように,ランプを構成する。 

適合性は,図4に規定する試験指の方法によって,必要であれば10 Nの力を加えて確認する。 


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単位 mm 

 

図4−標準試験指(出展は,JIS C 0920の付図1) 

 

GX53口金付ランプの要求事項は検討中。 

口金の導電金属部以外の外部金属部分は,充電していたり,又は充電する状態になったりしてはならな

い。試験において,可動の導電材料は,道具を用いることなく,最も厳しい条件となる場所に位置させる。 

適合性は,絶縁抵抗及び耐電圧試験の方法で確認する(箇条8参照)。 

 

絶縁抵抗及び耐電圧性 

8.1 

一般 

絶縁抵抗及び耐電圧試験は,ランプの充電部とランプの手が触れる部分との間で実施する。 

試験中は,口金の異極コンタクトは短絡する。ランプの手が触れる部分は金属はく(箔)で覆う。 

金属はく(箔)は,エッジで絶縁破壊が起こらないように配置するよう注意を払う。金属はく(箔)と

充電部との沿面距離は,JIS C 8105-1の第11章(沿面距離及び空間距離)に従い,強化絶縁とし,沿面距

離以上とする。ただし,最大6 mmとする。 

ランプは,相対湿度91 %〜95 %とした恒温槽内に48時間放置する。恒温槽内の温度は,20 ℃〜30 ℃の


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任意な値にて,±1 ℃の変化で維持する。8.2及び8.3の試験は,上記の条件の下,恒温槽内で行う。 

8.2 

絶縁抵抗 

絶縁抵抗は,直流500 Vを1分間印加した後に測定する。口金の充電部と金属はく(箔)との絶縁抵抗

は,4 MΩ以上でなければならない。 

JIS C 8147-1の附属書A(導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験)の要求事

項に,適合しなければならない。 

注記 B形口金のシェルとコンタクトとの間の絶縁抵抗は検討中。 

8.3 

耐電圧 

耐電圧は,充電部と金属はく(箔)との間で試験する。次のように交流電圧を1分間かけ,電圧試験に

耐えなければならない。まず,JIS C 8105-1の表10.2(耐電圧)のクラスII照明器具に対して規定する電

圧の半分以下を,両コンタクトと金属はく(箔)との間に印加する。さらに,徐々に最終電圧値まで上昇

させる。 

試験の間に,フラッシュオーバー又は絶縁破壊が発生してはならない。 

 

機械的強度 

9.1 

一般 

ランプ構造は,外部からの軸方向引き抜き力及び曲げモーメントに耐えなければならない。測定方法と

しては,JIS C 7618-1のA.2.1(未試験ランプ)を参照。GRZ10d及びGRZ10t口金の引抜き抵抗力は,JIS 

C 7618-1のA.1.1(未試験ランプ)のGR10q口金の規定に従う。 

9.2 

ねじり強さ(口金接着強度) 

9.2.1 

未使用ランプのねじり強さ(口金接着強度) 

口金のランプシェルへの接着強度を試験するために,未使用ランプのねじり強さは次のとおり試験する。 

試験用受金のE形口金のねじ部の表面粗さRaは,0.4 µm以上とする。 

注記 表面がより滑らかであると(Raが小さいと),ねじ込み過ぎて口金の機械的過負荷が大きくな

り,接着部への荷重に影響する可能性がある。 

 

 

図5−ねじ込み形口金付ランプのねじり強さ試験用受金 


10 

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単位 mm 

寸法 

E12 

E14 

E17 

E26,E26d 

E27 

許容差 

15.27 

20.0 

20.0 

32.0 

32.0 

最小 

9.0 

11.5 

10.0 

11.0 

13.5 

0.0,−0.3 

9.5 

12.0 

14.0 

23.0 

23.0 

±0.1 

4.0 

7.0 

8.0 

12.0 

12.0 

最小 

11.89 

13.89 

16.64 

26.492 

26.45 

+0.1,0.0 

d1 

10.62 

12.29 

15.27 

24.816 

24.26 

+0.1,0.0 

2.540 

2.822 

2.822 

3.629 

3.629 

− 

0.792 

0.822 

0.897 

1.191 

1.025 

− 

注記 図は,試験の適用時に疑義を生じた場合に確認するために必要な受金の必須の寸法だけを描いてい

る。 

図5−ねじ込み形口金付ランプのねじり強さ試験用受金(続き) 

 

 

 

単位 mm 

寸法 

B15 

B22 

許容差 

15.27 

22.27 

+0.03 

19.0 

19.0 

最小 

21.0 

28.0 

最小 

9.5 

9.5 

最小 

3.0 

3.0 

+0.17 

18.3 

24.6 

±0.3 

9.0 

12.15 

最小 

12.7 

12.7 

±0.3 

1.5 

1.5 

おおよそ 

注記 図は,試験の適用時に疑義を生じた場合に確認するた

めに必要な受金の必須の寸法だけを描いている。 

図6−B形口金付ランプのねじり強さ試験用受金 


11 

C 7620-1:2017  

 

表3−未使用ランプのねじり強さ試験値(口金接着強度の試験条件) 

口金 

ねじりモーメント 

Nm 

B15d 

1.15 

B22d 

E11 

0.8 

E12 

0.8 

E14 

1.15 

E17 

1.5 

E26 

E26d 

E27 

E39 

E40 

GX53 

 

各試験の前に,E形口金の試験受金は,汚れがなく,また,潤滑油及びグリースが全くないことを確認

しなければならない。 

試験ランプの口金は,図5及び図6に示す適切な受金の中に位置させる。 

ランプをねじ込む,又はねじ外す(取り外す)ときに使われる口金もランプの部分も,機械的にしっか

り固定してもよい。 

ねじりモーメントは,適切なランプの部品に,急に動かさないように徐々に加える。ねじりモーメント

は,次のいずれに従って加えてもよい。 

a) 要求するねじりモーメントを,表3に示す試験値に従い,加える。 

b) 降伏するねじりモーメントが得られるように,関連する試験値より高いねじりモーメントを加える。 

この場合,降伏レベルの広い範囲を超えるねじりモーメントをはかることができる装置を用いる必

要がある。 

合否判定は次に示す。 

表3に示す試験値に従い,ランプをねじ込む,又はねじ外すときにもつ(使用する)場所,又は発光管

が,口金としっかり接着していなければならない。 

幾つかのランプは,ねじ込み後に動くよう設計された部品(例,光センサ)が付いている。これらの部

品の移動は,不適合に相当しない。 

接着されていない口金の場合は,口金と発光管との間の可動範囲が10°を超えてはならない。 

試験後にランプの電気的特性に疑義がある場合は,箇条7の試験を繰り返す。 

9.2.2 

定義された時間使用されたランプのねじり強さ 

使用されたランプのねじり強さは検討中。 

9.3 

E形口金の軸方向の強さ 

ランプは,表4のゲージにねじ込む。最後までねじ込んだ後,表4の軸方向の力を中央のコンタクト(ト

ップ部)に加える(図7参照)。 

部品の状態の口金が,ランプに組み立てられることで,口金の軸方向の強さが低下しない場合は,部品

としての口金の試験結果を適用できる。 

注記 ゲージは,ランプを保持するために用いる。校正は要求しない。 


12 

C 7620-1:2017  

 

適合性は次に示す。 

この試験後,中央コンタクト(トップ部)周りの絶縁性が変わってはならない。9.2のねじりモーメント

を加えたとき,シェルへ口金の底面部分を押し付けることになってはならない。 

 

表4−軸方向の力の値 

口金 

ゲージ 

軸方向の力 

追加情報 

E11 

3-16-1-1 

検討中 

 

E12 

3-17-1-1 

検討中 

− 接触を確認する必要なし 
− T1高さのねじ山ゲージ 
− 寸法Cと寸法Hとは無関係 

E14 

3-18-1-1 

80 

 

E26 

3-24-1-1 

120 

 

E26d 

3-24-1-1 

120 

 

E27 

3-24-1-1 

120 

 

E39 

3-26-1-1 

検討中 

 

E40 

7006-27-7 

検討中 

 

 

 

図7−軸方向の力を加えるための試験装置 

 

10 

口金温度上昇 

点灯立ち上がり中,安定化期間及び安定後において,ランプの口金温度上昇値Δtsは,IEC 60360に規定

する条件下で測定したとき,表5に示す値を超えてはならない。このとき,E形口金付電球形蛍光ランプ

及びGX53口金付電球形蛍光ランプの場合は,次に示す条件下での測定とする。 

a) E形口金付電球形蛍光ランプ JIS C 7551-1の附属書JB(口金温度上昇試験)による。 

b) GX53口金付電球形蛍光ランプ 附属書JAによる。 


13 

C 7620-1:2017  

 

表5−口金温度上昇値の最大値 

口金 

口金温度上昇 

B15d 

120 

B22d 

125 

E12 

90 

E14 

120 

E17 

60 

E26 

60 

E26d 

125 

E27 

120 

GX53 

55 

 

GRZ10d及びGRZ10t口金には,JIS C 7618-1の4.9に規定するGR10q口金の適合性の要求事項及び条件

を適用する。 

測定は,最大の定格入力電圧で行う。 

 

11 

耐熱性 

電球形蛍光ランプは,熱に対して十分に耐えなければならない。すなわち,感電に対する保護の役目を

もっている絶縁材の外郭部品及び充電部品を保持する絶縁部品は,熱に対して十分に耐えなければならな

い。 

図8に示す装置を用いて,試験材料にボールプレッシャー試験を行い,適合性を確認する。 

試験は,箇条10に従う該当する部分の動作温度,又は充電部を保持する部分では125 ℃,若しくは他の

部分では80 ℃(検討中)のうち,いずれか高い温度で実施する。試験する部分の表面は水平状態に位置さ

せ,5 mm径の鋼球をこの表面に対し20 Nの力で押し付ける。 

試験開始前に試験温度を確実に安定させるために,試験装置及び保持手段は,十分な時間恒温槽の中に

置いておく。 

試料は,試験負荷がかけられる前に,10分間恒温槽の中に置いておく。 

試験時に,試料の表面が変形する場合には,鋼球を押し付ける部分を支えなければならない。この目的

で完成品の試料で試験が行えない場合,適した試験片を切り取って行ってもよい。 

試料の厚さは,2.5 mm以上とする。しかし,この厚さが得られない場合は二つ以上の試料を重ねて置く。 

試験を開始してから1時間後,鋼球を試料から取り外し,試料を,おおよそ室温にまで下げるために冷

水に10秒間つける。測定されるくぼみの直径は,2 mmを超えてはならない。 

表面が曲がった場合において,くぼみがだ円になるときは,短い軸を測定する。 

疑義がある場合は,押付けの深さを測定し,次の計算式を用いて径を計算する。 

)

5(

2

p

p

φ

 

ここに, 

φ: くぼみの直径(mm) 

 

p : くぼみの深さ(mm) 

試験は,セラミック材料の部分では行わない。 


14 

C 7620-1:2017  

 

 

 

図8−ボールプレッシャー装置 

 

12 

耐燃焼性 

感電に対する保護を提供する絶縁材料の外部部分,充電部を保持する絶縁材料の部分は,JIS C 

60695-2-10,JIS C 60695-2-11,JIS C 60695-2-12及びJIS C 60695-2-13に従い,グローワイヤ試験(赤熱棒

押付け)を行う。 

次の詳細に従う。 

− 試料は完成ランプとする。試験をするためにランプの部品を取り去る必要があるかもしれないが,試

験条件が通常使用時の条件と著しく異なることにならないように配慮する。 

− 試料は,試料台に載せ,1 Nの力でグローワイヤを押し付ける。試料の上端から15 mm以上離れた場

所が望ましい。グローワイヤは,試料の中へ7 mm以上入り込まないようにする。 

試料が小さすぎるために上記に示すような試験が行えない場合,試料と同じ材料で,試料の最小の

厚さと同じにした30 mm角に切り分けた試料で,上記試験を行う。 

− グローワイヤの先端の温度は,650 ℃とする。30秒後,試料からグローワイヤの先端を引き離す。 

グローワイヤの温度及び加熱電流は,試験開始前に1分間以上一定にしておく。この間,熱放射が

試料に影響を及ぼさないように配慮する。グローワイヤの温度は,被覆された細い線径の熱電対を用

いて測定する。熱電対の構造及び校正については,JIS C 60695-2-10による。 

− 試料のいかなる火炎又は赤熱も,グローワイヤを引き離してから30秒以内に消えなければならない。

燃焼又は溶融した試料の小片で,試料の下200 mm±5 mmに水平に置いた1枚の薄葉紙が発火しては

ならない。薄葉紙片は,ISO 4046-4:2002の4.187に規定されている。 

試験は,セラミック材料の部分では行わない。 

 

13 

寿命となる条件(異常状態における安全性) 

13.1 

一般要求事項 

想定する使用方法でも異常状態が発生し得るが,その場合でもランプは安全性を損なってはならない。 

13.2 

試験条件 

電球形蛍光ランプを使用中に発生が予期できる異常状態を,次に示す。また,これらの項目から,理論

的に類推できるその他の異常状態も含まれる。異常状態の安全性を確認するときには,1回に一つの部品

を異常状態にして試験する。 

a) スタータの短絡(磁気安定器式に適用) 

b) 片側の電極断線による電球形蛍光ランプの不点灯 

c) 電極予熱回路に異常はないが,エミッタ消耗による電球形蛍光ランプの不点灯 


15 

C 7620-1:2017  

 

d) 電球形蛍光ランプは点灯するが,片側電極がエミッタ消耗又は断線のため半波放電 

e) 安全性を損なうことになる回路上の短絡又は開放 

電球形蛍光ランプ及び回路図面を調べることで,適用する異常状態を選定できる。最も容易に試験でき

る異常状態から順番に,試験を実施するのがよい。 

適用する異常状態で短絡が発生しないと想定する部品又は装置は,短絡してはならない。また,適用す

る異常状態で開放が発生しないと想定する部品又は装置は,開放してはならない。 

製造業者又は責任ある販売業者は,部品が安全性を損なわないように動作することを証明しなければな

らない。例えば,部品規格を満足することによって証明してもよい。 

適合性は,サンプルが室温での単独点灯で,口金を垂直に上方にし,定格電圧の90 %〜110 %の間の最

も厳しい試験電圧で動作することで確認する。 

定格電圧範囲を宣言している場合には,試験は,宣言している電圧範囲の中央値の90 %〜110 %の間の

最も厳しい試験電圧又は宣言している電圧範囲内がそれ以上に広い場合は,範囲内の最も厳しい試験電圧

のいずれかで実施する。 

複数の定格電圧の場合,試験は,それぞれの定格電圧に対して別々に実施する。 

例1 宣言する電圧範囲が,220 V〜240 Vの場合,試験電圧207 V〜253 V以内とする(230 Vの90 %

〜110 %は宣言する範囲より広い。)。 

例2 宣言する電圧範囲が,170 V〜280 Vの場合,試験電圧170 V〜280 V以内とする(宣言する電

圧は,225 Vの90 %〜110 %より広い。)。 

a) 又はe) の異常状態の場合,適合性は,サンプルを室温にて単独点灯で,最も厳しい試験電圧で動作

させ,安定状態に到達させた後,異常状態に移行させて確認する。 

b),c) 又はd) の異常状態の場合,試験の始めに異常状態にする以外は,上記と同じ点灯条件を適用す

る。試験時間は,8時間とする。この試験の間,発火,又は電球形蛍光ランプからの可燃性ガスの発生及

び充電部露出(充電部間が近づく電球形蛍光ランプの変形)があってはならない。 

電球形蛍光ランプから発生するガスが可燃性のものであるかを判定するには,高周波のスパーク発生器

を用いて試験する。 

充電部露出を判定するには,8.1に従って試験する。絶縁抵抗は,1 000 Vの直流で試験する。 

13.3 

始動しないランプの試験セットアップ[13.2.c) の試験セットアップ] 

試験する製品内で点灯されることを意図した同じ形式の二つの異なる発光管を,始動しないランプを模

擬する制御装置の出力につなぐ。電気回路の略図は,図9を参照。 

 

 

図9−始動しないランプ試験の電気回路の略図 


16 

C 7620-1:2017  

 

14 

沿面距離及び空間距離 

導電性の可触部分にJIS C 8105-1を適用する。 

JIS C 8105-1を適用しない部分は,JIS C 8147-1によるほか,それぞれの部品に該当する規格による。 

 

15 

ランプの寿命 

15.1 

一般要求事項 

片側の電極がエミッタ枯渇となるか,又は断線する場合,ランプが動作を継続するとき(半波放電),ラ

ンプ両端部の加熱によって,不安全な状況になってはならない。 

15.2 

試験のセットアップ 

製造業者は,試験用サンプルを提供するとき,次の選択肢の一つを選択する。 

選択1 六つのサンプルを試験に使用する。サンプル中の三つは,一方の側のランプフィラメントに

エミッタをもたない。他の三つのサンプルは,もう一方の側のランプフィラメントにエミッ

タをもたない。 

選択2 六つのサンプルを試験に使用する。サンプルは,片側又は両側の電極にエミッタが最少量し

かもたないようにする。 

エミッタ量は,試験時間短縮のため,減らす。用意した電極をもつこのようなランプは,100 h以上の寿

命をもつようにする。適合性は,サンプルを単独点灯し,室温にて,口金を垂直で上方向にするか,又は

包装に示された点灯中の方向にて13.2に記載する最も厳しい試験電圧にて,確認する。 

15.3 

適合性 

サンプルは,発火,焦げ又は管壁のクラックの証拠確認のために,試験中観察する。次の場合,試験は

合格となる。 

a) 火炎が外郭の中にとどまる。 

b) 外郭にできる隙間を火が通り抜けない。 

c) 3.8 mmより大きいガラス片が離脱しない。 

d) 焦げた黒い点の結合した領域が75 mm2を超えない[e) で示される領域は含まない。]。 

e) 管の周りの焦げた黒い領域が,管壁に対して垂直に測定したとき,3.8 mmを超えない。 

 

16 

光生物学的危険 

16.1 

紫外放射 

ランプからの比有効放射強度は,2 mW/klmを超えてはならない。反射形ランプの場合,2 mW/(m2・klx)

を超えてはならない。 

注記 JIS C 7550にて,暴露の制限は,実効放射の値(単位 W/m2)で与えられ,リスクグループの

区分けに対し,一般用照明用ランプの値は,500 lxの照度レベルにて報告されている。リスク

グループ除外の境界線は,500 lxの照度レベルにおいて,0.001 W/m2である。これは,照度に

関する比での値は,0.001を500で除した値,つまり,2 mW/(m2・klx) であることを意味する。

lx=lm/m2であるから,これは2 mW/klmの紫外強度と等しい。 

測定は,最大の定格電圧で行う。適合性の確認は,JIS C 7620-2で与えられるランプの電気的・光学的

特性と同じ条件下での分光放射測定によって行う。 

16.2 

他の光生物学的危険 

適用しない。 


17 

C 7620-1:2017  

 

17 

異常動作 

電球形蛍光ランプは,異常動作状態の下でも危険が発生してはならない。 

電球形蛍光ランプは,異常又は不注意な動作の結果,発火のリスク及び感電に対する保護の安全性を損

なう機械的損傷が取り除かれるように構成する。 

調光器非対応の電球形蛍光ランプが調光器又は電子スイッチに適用されることについて,発生し得る異

常な動作にて試験を行う。 

試験手順:図10に示す試験回路によって,調光器非対応ランプを試験する。 

 実効電流Ir.m.sが最大となるときの設定で,2(R1)及び10(SW1)を決める。 

 この状況で試験し,ランプが60分以内に不点灯となる場合,10 %低い実効電流Ir.m.sにて

試験を繰り返す。 

 安定動作が最少60分に到達するまで,この手順を繰り返す。 

 

 

 1 

電源 

電位差計R1=470 kΩ 

抵抗R=3.3 kΩ 

トライアックBTA16/700 

ダイアックDB3 

コンデンサC1=100 nF 

コンデンサC2=68 nF〜150 nF 

コイルL1=3 mH 

基本負荷,白熱電球 P=60 W 

10 スイッチS1 
11 実効電流(Ir.m.s)計 
12 試験する素子(ランプ) 

注記 起こり得る安全影響に最も厳しい状況は,すぐ不点灯にならない最大の実効電流Ir.m.sのときである。 

 

図10−調光器又は電子スイッチでの調光器非対応の電球形蛍光ランプを試験するときの試験回路 

 

上記の最も厳しい調光レベル(電位差計の調整)にて8時間ランプを動作させる。 

合否判定は,室温及び定格電圧にて,単独点灯で,口金上方,又は包装に示す点灯方向で点灯して確認

する。 

電圧範囲を宣言している場合,試験は宣言した範囲の平均の電圧で行う。複数の定格電圧のある場合,

試験は各定格電圧で別々に行う。 

この試験中,発火,又は電球形蛍光ランプからの可燃性ガスの発生があってはならない。充電部は図4


18 

C 7620-1:2017  

 

の試験指で接触可能となってはならない。 

 

18 

調光器対応ランプの試験条件 

試験は,箇条10及び16.1の最大電力設定で行う。 

箇条13及び箇条14における試験条件は,検討中である。 

 

19 

全生産品の評価 

(最新IEC規格では評価の項目を設けない形式に変わってきていることを先取りし,整合規格の観点か

ら,全生産品の評価を不採用とした。) 

 

20 

形式試験による証拠での表示などの照合 

形式試験の最小のサンプリング数は,表6に従うことが望ましい。サンプルは,製造業者の製造製品を

代表する。形式試験サンプルの全てのランプは,試験に合格する。 

ランプは,表6の試験に対して,個々の試験に関連する一般的な特長をもつファミリーにグループ分け

することができる。 

 

表6−形式試験のサンプリング数 

箇条 

試験 

試験ファミリー 

形式試験サ
ンプルの最

小サイズ 

5.1及び5.2 

表示−あり 

なし 

5.3 

表示−判読可 

表示表面,表示プロセス及び表示材
料が同じもの 

5.3 

表示−耐久性 

表示表面,表示プロセス及び表示材
料が同じもの 

6.1 

互換性 

口金ゲージで同定される寸法が同じ
もの 

6.2 

曲げモーメント及び
受金にてランプから
受ける質量 

異なるCCTをもつが設計が同じもの 

感電に対する保護 

制御装置のハウジング及び口金が同
じもの 

8.2 

絶縁抵抗 

制御装置のハウジング及び口金が同
じで,放電管及び制御装置ハウジン
グとの間の接続方法が同じもの 

8.3 

耐電圧 

制御装置のハウジング及び口金が同
じで,放電管及び制御装置ハウジン
グとの間の接続方法が同じもの 

9.2.1 

未使用ランプのねじ
り強さ 

口金の固定方法の設計,材料,プロ
セスが同じもの 

9.2.2 

定義された時間使用
されたランプのねじ
り強さ 

口金の固定方法の設計,材料,プロ
セスが同じもの 

a) 

9.3 

E形口金の軸方向の強
さ 

口金設計が同じもの 

10 

口金温度上昇 

口金設計及びワットが同じもの 


19 

C 7620-1:2017  

 

表6−形式試験のサンプリング数(続き) 

箇条 

試験 

試験ファミリー 

形式試験サ
ンプルの最

小サイズ 

11 

耐熱性 

材料が同じもの 

12 

耐燃焼性 

材料及び厚さが同じもの 

13 

異常状態における安
全性 

制御装置及び電極設計が同じもの 

1 b) 

14 

沿面距離及び空間距
離 

制御装置設計及び口金を含む機械的
構造が同じもの 

15 

ランプの寿命 

制御装置,電極設計,ハウジングが
同じもの 

16.1 

紫外放射 

定格電力及び放電管設計が同じもの 

17 

異常動作 

制御装置設計及び口金を含む機械的
構造が同じもの 

注a) 検討中 

b) 全ての要求される試験を一度行うため,サンプルは十分な数を使う必要がある。 

 

21 

照明器具設計のための情報 

附属書Bを参照。 


20 

C 7620-1:2017  

 

附属書A 

(参考) 

全生産品の評価 

(対応国際規格の規定を不採用とした。) 


21 

C 7620-1:2017  

 

附属書B 

(参考) 

照明器具設計のための情報 

 

B.1 

水接触 

この規格の適用範囲の全てのランプは,IPX1又はそれ以上に等級付けされている場合は,照明器具によ

って,例えば水滴,水飛まつ(沫)による直接の水接触から保護されることが望ましい。 

注記 IP数のXは数値を記していないが,照明器具には適切な数値を表示する。 


22 

C 7620-1:2017  

 

附属書JA 

(規定) 

GX53口金付電球形蛍光ランプの最大口金温度上昇試験 

 

GX53口金付電球形蛍光ランプの最大口金温度上昇試験は,次の方法によって行う。 

a) 試験電圧は,定格入力電圧を用いる。 

b) 電球形蛍光ランプへの電気的接続には断面積1 mm2±5 %の銅線を用い,口金ピンに直接接続する。 

c) 試験に用いる電球形蛍光ランプは,裸の状態で,JIS C 7709-1に規定する口金基準面ができるだけ水

平となるようにつ(吊)るす。水平を保つため補助具を使用する場合は,ナイロン糸を使用する。 

d) 口金の温度は,被覆付きの細い熱電対で測定する。熱電対は,口金の2本のピン間のできるだけ中央

へ取り付ける。 

e) 周囲温度は25 ℃±5 ℃で,無風状態で測定する。 

f) 

この試験は,温度が安定点に達するまで継続する。 


23 

C 7620-1:2017  

 

附属書JB 

(参考) 

検査 

 

JB.1 設計試作時試験(検査) 

設計試作検査は,電球形蛍光ランプの構造,使用材料などの主要な設計変更をするとき,次によって行

うのがよい。 

a) 検査項目 検査は,次の項目について行うのがよい。 

1) 表示 

2) 互換性 

3) 感電に対する保護 

4) 質量及び曲げモーメント 

5) 絶縁抵抗及び耐電圧性 

6) ねじり強さ(口金接着強度) 

7) E形口金の軸方向の強さ 

8) 口金温度上昇 

9) 耐熱性 

10) 耐燃焼性 

11) 寿命となる条件(異常状態における安全性) 

12) 沿面距離及び空間距離 

13) ランプの寿命 

14) 紫外放射 

15) 異常動作 

b) 検査方法 検査は,抜取検査にて実施し,試料の大きさ(検査試料数)及び合格判定個数は,表JB.1

によって行うのがよい。 

 

表JB.1−試料の大きさ,合格判定個数,試験方法及び要求事項 

検査項目 

試料の大きさ 

個 

合格判定個数a) 

個 

試験方法及び要求事項 

表示 

箇条5による 

互換性 

10 

箇条6による 

質量及び曲げモーメント 

箇条6による 

感電に対する保護 

箇条7による 

絶縁抵抗及び耐電圧性 

箇条8による 

ねじり強さ(口金接着強度) 

箇条9による 

E形口金の軸方向の強さ 

箇条9による 

口金温度上昇 

箇条10による 

耐熱性 

箇条11による 

耐燃焼性 

箇条12による 

異常状態における安全性 

箇条13による 

沿面距離及び空間距離 

箇条14による 

ランプの寿命 

箇条15による 


24 

C 7620-1:2017  

 

表JB.1−試料の大きさ,合格判定個数,試験方法及び要求事項(続き) 

検査項目 

試料の大きさ 

個 

合格判定個数a) 

個 

試験方法及び要求事項 

紫外放射 

箇条16による 

異常動作 

箇条17による 

注a) 合格判定個数は,許容できる不合格個数を表す。 

 

JB.2 形式試験 

形式試験は,次によって行うのがよい。 

a) 検査項目 検査は,次の項目について行うのがよい。 

1) 表示 

2) 互換性 

3) ねじり強さ(口金接着強度) 

b) 検査方法 検査は,抜取検査にて実施し,試料の大きさ(検査試料数)及び合格判定個数は,表JB.1

によって行うのがよい。 

 

JB.3 受渡検査 

受渡検査は,要求があったときに限り抜取検査で行い,次によって行うのがよい。 

a) 検査項目 検査項目は,ねじり強さ(口金接着強度)について行うのがよい。 

b) 検査方法 検査は,抜取検査にて実施し,試料の大きさ(検査試料数)及び合格判定個数は,受渡当

事者間で協定する。また,品質管理(AQL)指標型抜取検査方式を用いる場合は,JIS Z 9015-1によ

って行うのがよい。 


25 

C 7620-1:2017  

 

附属書JC 

(規定) 

包装又は取扱説明書の安全に関わる注意事項の表示 

 

JC.1 一般事項 

電球形蛍光ランプを安全に使用するため,最小包装容器又は取扱説明書には,JC.3に規定する事項から

適切な項目を選定して表示する。 

 

JC.2 表示方法 

表示方法は,次による。 

a) 表示の場所 

使用者の見やすい場所 

b) 文字の大きさ 

指示文の文字1.2 mm以上 

c) 区分及び図記号 

5 mm以上 

 

JC.3 表示内容 

表示内容は,表JC.1による。 

 

表JC.1−包装又は取扱説明書への表示内容 

No. 

区分 

図記号 

指示文 

理由 

措置 

適用品種 

警告 

 

紙又は布でおおったり,燃えやすいもの
に近づけたりしないでください。火災又
は器具過熱の原因となります。 

火災 
器具過熱 

 

発光管露出
タイプ以外
は,区分“注
意”。 

警告 

 

ランプの放熱穴には,金属類(ヘアピン
や針金)をさしこんだり,穴をふさいだ
りしないでください。感電又は発煙の原
因となります。 

感電 
発煙 

 

放熱穴をも
つ品種 

警告 

 

調光機能のついた照明器具及び回路,非
常用照明器具,誘導灯器具並びにHIDラ
ンプ用器具では絶対に使用しないでくだ
さい。ランプの破損,発煙又は安定器損
傷の原因となります。破損した場合,ラ
ンプ落下又はガラス破片が飛散し,けが
の原因になることがあります。 

破損 
発煙 
安定器損傷 
ガラス破片
飛散 

 

 

警告 

 

直流電源では絶対に使用しないでくださ
い。ランプの破損,発煙又は安定器損傷
の原因となります。破損した場合,ラン
プ落下又はガラス破片が飛散し,けがの
原因になることがあります。 

破損 
発煙 
安定器損傷 
ガラス破片
飛散 

 

 

警告 

 

取付け,取外し又は器具清掃のときは,
必ず電源を切ってください。感電の原因
となります。 

感電 

 

 


26 

C 7620-1:2017  

 

表JC.1−包装又は取扱説明書への表示内容(続き) 

No. 

区分 

図記号 

指示文 

理由 

措置 

適用品種 

注意 

 

雨若しくは水滴のかかる状態又は湿度の
高いところで使用しないでください。破
損又は絶縁不良の原因となることがあり
ます。破損した場合,ランプ落下又はガ
ラス破片が飛散し,けがの原因になるこ
とがあります。 

破損 
絶縁不良 
ガラス破片
飛散 

防水構造の器
具を使用して
ください。 

 

注意 

 

落としたり,物をぶつけたり,無理な力
を加えたり,きずをつけたりしないでく
ださい。特に器具の清掃のときは,ご注
意ください。破損した場合,ランプ落下
又はガラス破片が飛散しけがの原因とな
ることがあります。 

けが 
破損 
ランプ落下 
ガラス破片
飛散 

 

 

注意 

 

点灯中又は消灯後しばらくは,ランプが
熱いので絶対に手や肌などが触れないよ
うにしてください。やけどの原因となる
ことがあります。 

やけど 

交換や清掃は,
十分に冷えて
から行ってく
ださい。 

 

注意 

 

引火する危険性の雰囲気[ガソリン,可
燃性スプレー,シンナー,ラッカー,粉
じん(塵)など]で使用しないでくださ
い。火災又は爆発の原因となることがあ
ります。 

火災 
爆発 

防爆構造の器
具を使用して
ください。 

 

10 

注意 

 

取付け又は取外しのときは,ガラス管を
強く握りしめないでください。破損した
場合,ランプ落下又はガラス破片が飛散
し,けがの原因になることがあります。 

けが 
破損 
ガラス破片
飛散 

 

 

11 

注意 

 

塗料などを塗らないでください。ランプ
が過熱し,破損の原因となることがあり
ます。破損した場合,ランプ落下又はガ
ラス破片が飛散し,けがの原因になるこ
とがあります。 

破損 
過熱 
ガラス破片
飛散 

カラーランプ
を使用してく
ださい。 

 

12 

注意 

 

振動又は衝撃のあるところでは,一般器
具によるランプの使用はしないでくださ
い。ランプ落下若しくは破損によるけが
又は器具過熱の原因となることがありま
す。破損した場合,ランプ落下又はガラ
ス破片が飛散し,けがの原因になること
があります。 

けが 
破損 
ランプ落下 
器具過熱 
ガラス破片
飛散 

耐震構造を考
慮した設計に
してください。 

 

13 

注意 

 

酸などの腐食性雰囲気のところでは,一
般器具によるランプの使用はしないでく
ださい。短寿命,ランプ落下,口金腐食
及び漏電の原因となることがあります。 

漏電 
ランプ落下 
口金腐食 
短寿命 

耐食構造の器
具を使用して
ください。 

 

14 

注意 

 

粉じんの多いところでは,一般器具によ 
るランプの使用はしないでください。器 
具過熱の原因となることがあります。 

器具過熱 

防じん(塵)構
造の器具を使
用してくださ
い。 

 

15 

注意 

 

ソケットに確実に取り付けてください。
ランプ落下の原因となることがありま
す。 

落下 

 

 


27 

C 7620-1:2017  

 

表JC.1−包装又は取扱説明書への表示内容(続き) 

No. 

区分 

図記号 

指示文 

理由 

措置 

適用品種 

16 

注意 

 

ランプの大きさ(外径及び長さ)並びに
重さを十分考慮し,必ず適した器具で使
用してください。器具落下の原因となる
ことがあります。 

器具落下 

 

 

17 

注意 

 

電球スタンド又は多灯器具では,ランプ
が重いため器具の転倒又は器具落下の原
因となることがあります。 

転倒 
器具落下 

器具の強度や
天井への取付
け強度を確認
してください。 

電子安定器
形を除く。 

18 

注意 

 

使用済のランプは,割らずに廃棄してく
ださい。ランプを割るとガラスが飛散し,
けがの原因となることがあります。 

けが 
ガラス破片 
飛散 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

参考文献 JIS C 7501 一般照明用白熱電球 

JIS C 7530 ボール電球 

JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部:ロットごとの検査に対するAQL指

標型抜取検査方式 

IEC 60410,Sampling plans and procedures for inspection by attributes 

IEC 60417,Graphical symbols for use on equipment 

(http://www.graphical-symbols.info/equipmentで利用可) 

IEC/TR 62471-2,Photobiological safety of lamps and lamp systems−Part 2: Guidance on 

manufacturing requirements relating to non-laser optical radiation safety 


28 

C 7620-1:2017  

 

附属書JD 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

 

JIS C 7620-1:2017 一般照明用電球形蛍光ランプ−第1部:安全仕様 

IEC 60968:2015,Self-ballasted fluorescent lamps for general lighting services−Safety 
requirements 

 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

3 用語及び
定義 

主な用語の規定 

 

主な用語の定義 

追加 

種別,形式,磁気安定器式,設計試
作時試験(検査)及び受渡検査を追
加した。 

この規格を利用するために必要な 
情報を与えるため。 

4 一般要求
事項及び一
般試験要求
事項 

安全性に関する一
般要求事項及び試
験に関する一般的
な条件について規
定 

 

安全性に関する一般要
求事項及び試験に関す
る一般的条件 

追加 

設計試作時試験(検査),形式試験

(検査)及び受渡検査の検査項目及

び合格判定基準を推奨として追加
した。 

我が国において従来から行われて
いる試験判定基準を推奨するも
の。我が国固有であり,かつ,推
奨規定であるのでIECに提案しな
い。 

5 表示 

製品,包装又は取扱
説明書への表示項
目及び合否判定に
ついて規定 

 

製品,包装又は取扱説明
書への表示項目及び合
否判定について規定 

追加 

制限のある場合制限事項及び安全
に関わる図記号及び指示文(附属書
JC)を追加した。 

一般消費者が直接購入する情報と
して図記号以外の指示文が必要な
ため。我が国固有の商習慣に関す
る事項でありIECへは提案しな
い。 

6 互換性,
質量及び曲
げモーメン
ト 

口金受金の互換性
及び試験方法 

 

口金受金の互換性及び
試験方法 

選択 

JIS C 7709-1に規定する測定器を
用いる方法を追加した。 

対応国際規格の試験方法のほか
に,我が国で過去から行われてき
た試験方法でもよいことを認める
ため。容易な方法での代替試験方
法の追加であり,IECへは提案し
ない。 

10 口金温
度上昇 

照明器具に取り付
けたときの口金部
の温度上昇限度値
を規定 

 

10 

照明器具に取り付けた
ときの口金部の温度上
昇限度値を規定 

追加 

E形口金の場合の測定条件を追加
した。 

我が国固有の部品及び規格に関す
る要求事項であるため,IECへは
提案しない。 

 

2

 

C

 7

6

2

0

-1

2

0

1

7

 

 

 

 

 


29 

C 7620-1:2017  

 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

10 口金温
度上昇 
(続き) 

照明器具に取り付
けたときの口金部
の温度上昇限度値
を規定 

 

10 

照明器具に取り付けた
ときの口金部の温度上
昇限度値を規定 

追加 

GX53口金の口金温度上昇値を追加
した。 

国内市場実績が大きいGX53口金
ランプに対して追加した。海外で
は僅かな流通であるため,IECへ
の提案はしない。 

19 全生産
品の評価 

− 

 

19 

全生産品の評価 

削除 

 

対応国際規格に限らずIEC規格全
体の合否判定基準の規定として,
適合性の判断を規定しないという
方針を先取りした。 

附属書A 

− 

 

附属書A 

全生産品の評価 

削除 

 

対応国際規格に限らずIEC規格全
体の合否判定基準の規定として,
適合性の判断を規定しないという
方針を先取りした。 

附属書JA 
(規定) 
GX53口金
付電球形蛍
光ランプの
最大口金温
度上昇試験 

口金温度上昇試験
の試験方法を規定 

 

− 

− 

追加 

GX53口金付電球形蛍光ランプの電
気的接続方法,試験環境及び温度測
定方法を規定。 

最新対応国際規格で追加された
GX53口金付電球形蛍光ランプの
測定方法について明確化が必要で
あり追加した。 
国内市場実績が大きいが,海外で
は僅かな流通であるためIECへの
提案はしない。 

附属書JB 
(参考) 
検査 

検査レベル,対象項
目及び判定基準 

 

− 

− 

追加 

設計試作時試験(検査),形式試験
及び受渡検査について検査項目及
び判定基準を追加した。 

我が国固有の商習慣として,消費
者の要求に対する試験判定に関す
る事項でありIECへは提案しな
い。 

附属書JC 
(規定) 
包装又は取
扱説明書の
安全に関わ
る注意事項
の表示 

最小包装容器又は
取扱説明書に表示
内容を規定 

 

− 

− 

追加 

安全性確保を目的に表示必要項目
を明確化したため,これを本文で引
用した。 

我が国固有の商習慣・消費者保護
ニーズに関する事項でありIECへ
は提案しない。 

 

2

 

C

 7

6

2

0

-1

2

0

1

7

 

 

 

 

 


30 

C 7620-1:2017  

 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60968:2015,MOD 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

− 削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
− 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
− 選択  国際規格の規定内容とは異なる規定内容を追加し,それらのいずれかを選択するとしている。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

− MOD  国際規格を修正している。 

 

 

2

 

C

 7

6

2

0

-1

2

0

1

7